Built-in-self-test (bist) test time reduction.

Built-in-self-test (bist) test time reduction

Номер патента: US20140258797A1
Опубликовано: 11-09-2014
Автор(ы): Deepak I. Hanagandi, Kevin W. Gorman, Krishnendu Mondal, Michael R. Ouellette
Принадлежит: International Business Machines Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Built-in-self-test (BIST) test time reduction

Номер патента: US09773570B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Software programmable verification tool having multiple built-in self-test (BIST) modules for testing and debugging multiple devices under test (DUT)

Номер патента: US20040073840A1. Автор: Esin Terzioglu,Gil Winograd,Zevnep Toros. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-04-15.

Software programmable verification tool having a single built-in self-test (BIST) module for testing and debugging multiple memory modules in a device under test (DUT)

Номер патента: US7519862B2. Автор: Zeynep M. Toros,Esin Terzioglu,Gil Winograd. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-04-14.

EMBEDDED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUITRY FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR (DSP) VALIDATION

Номер патента: US20170328951A1. Автор: Liew Weng Hong. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

Built-in self-test (bist) circuit

Номер патента: US5230000A. Автор: Charles E. Stroud,Kenneth D. Mozingo. Владелец: AT&T Bell Laboratories Inc. Дата публикации: 1993-07-20.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (bist)

Номер патента: WO2013091446A1. Автор: Miguel Comparan,Jeffrey D. Brown,Robert A. Shearer,Alfred T. Watson Iii. Владелец: Ibm (China) Co., Limited. Дата публикации: 2013-06-27.

Semiconductor device that supporting a built-in self-test (BIST) operation and multi-semiconductor package including the same

Номер патента: US09606174B2. Автор: Dae-Suk Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2004-09-01.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: AU2002352644A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2003-06-17.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A4. Автор: Michael Ricchetti,Christopher J Clark. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2005-05-18.

Digitally controlled jitter injection for built in self-testing (bist)

Номер патента: WO2014055779A1. Автор: Zhi Zhu,Xiaohua Kong,Nam Van Dang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240280630A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Built in self test (bist) for clock generation circuitry

Номер патента: EP4152018A1. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

Built in self test (BIST) for clock generation circuitry

Номер патента: US11821946B2. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Enhanced direct current (DC) built-in-self-test (BIST) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US12007432B2. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240019485A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281778A1. Автор: JINDAL ANURAG,AHMED NISAR,Mahajan Nipun. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: WO2003048794A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corporation. Дата публикации: 2003-06-12.

System and method for built-in self test (bist) in an integrated circuit

Номер патента: WO2014049402A1. Автор: Bharadwaj Amrutur,Rajath VASUDEVAMURTHY. Владелец: Department of Electronics and Information Technology. Дата публикации: 2014-04-03.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB2511972B. Автор: Comparan Miguel,D Brown Jeffrey,A Shearer Robert,T Watson Alfred Iii. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-20.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB201410749D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-30.

SCALABLE BUILT-IN SELF TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20140132291A1. Автор: GORTI ATCHYUTH K.,Somachudan Archana. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

Memory device with reduced test time

Номер патента: US09575125B1. Автор: THOMAS Andre,Syed M. Alam,William Meadows. Владелец: Everspin Technologies Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09761329B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09715942B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Integrated circuit memory with built-in self-test (bist)

Номер патента: US20210407617A1. Автор: Arijit Banerjee,Russell Schreiber,Vance Threatt,James A. Wingfield,Keith A. Kasprak,William A. Halliday,Srinivas R. Sathu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

Gan reliability built-in self test (bist) apparatus and method for qualifying dynamic on-state resistance degradation

Номер патента: US20230280391A1. Автор: Kun-Lung Chen,Chan-Hong Chern,Chun-Yi Yang,Yu-Ann LAI,Ruo-Rung HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

GAN RELIABILITY BUILT-IN SELF TEST (BIST) APPARATUS AND METHOD FOR QUALIFYING DYNAMIC ON-STATE RESISTANCE DEGRADATION

Номер патента: US20220099726A1. Автор: CHERN Chan-Hong,Yang Chun-Yi,CHEN Kun-Lung,LAI Yu-Ann,HUANG Ruo-Rung. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

System for reducing test time using embedded test compression cycle balancing

Номер патента: US20150323595A1. Автор: Deepak Agrawal,Ajaykumar B. Prajapati,Hariprasad U. Bhat. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2015-11-12.

Circuit for reducing test time and semiconductor memory device including the circuit

Номер патента: US20020056061A1. Автор: Katsumi Dosaka,Tetsushi Tanizaki,Masaru Haraguchi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-05-09.

Implementing misr compression methods for test time reduction

Номер патента: US20150113348A1. Автор: Cedric Lichtenau,Steven M. Douskey,Mary P. Kusko. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-04-23.

Adaptive test time reduction

Номер патента: WO2017007575A1. Автор: Shankarnarayan Bhat,Michael Laisne,Prakash Krishnan,Arul SUBBARAYAN,Sachin BADOLE,Archana MATTA,Madhura HEGDE,Sergio MIER,Glenn Mark PLOWMAN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2017-01-12.

Systems and methods for reducing testing times on integrated circuit dies

Номер патента: US20070236238A1. Автор: Chien-Jung Chiu,Hsing-Ya Huo,Tsung-Yu Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2007-10-11.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A8. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-08-28.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh, Sheau-yang CH'NG. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Built-in-self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US9881694B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: US20140185393A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20170110205A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

System and method including built-in self test (BIST) circuit to test cache memory

Номер патента: US8127184B2. Автор: Baker Mohammad. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-02-28.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180053566A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180061509A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20200075119A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

Built-in self-test (bist) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US20190378587A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Built-in self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US11295829B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

Built-in self-test (bist) engine

Номер патента: US20170018313A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-19.

Dynamic voltage frequency scaling to reduce test time

Номер патента: US20240110979A1. Автор: Anshul Varma,Hsin Chen Chen. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Integrated circuit having memory built-in self test (bist) programmable characteristics and method of operation

Номер патента: SG74088A1. Автор: Charles A Brown,Damir Smitlener,Jay D Mcdougal. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2001-01-16.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT, MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD OF OPERATING THE BIST CIRCUIT

Номер патента: US20170162276A1. Автор: SHIN Sang-Hoon,PARK Ki-Hyun,PARK Yong-Sik,OK Seung-Ho,Zhang Pyung-moon. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

Built-in self-test (bist) circuit, memory device including the same, and method of operating the bist circuit

Номер патента: US20190180837A1. Автор: Yong-Sik Park,Sang-Hoon Shin,Ki-Hyun Park,Pyung-Moon Zhang,Seung-Ho OK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-13.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20160365156A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-15.

DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT

Номер патента: US20140185393A1. Автор: ONG Wei-Kent,ONG Mee-Choo,"Chng Sheau-Yang",Teoh Boon-Weng,Lau Sie Wei Henry,Beh Jih Hong. Владелец: Spansion, LLC.. Дата публикации: 2014-07-03.

Test interface for random access memory (RAM) built-in self-test (BIST)

Номер патента: US7490279B1. Автор: Rahul Kumar,Partha Ray,Suryanarayana R. Maturi. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Built-in self test (BIST) architecture having distributed interpretation and generalized command protocol

Номер патента: US7814380B2. Автор: David W. Hansquine,Roberto Fabian Averbuj. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: CA2519618A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: Roberto F. Averbuj. Дата публикации: 2004-10-07.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: WO2004086411A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2004-10-07.

Runtime non-destructive memory built-in self-test (bist)

Номер патента: US20230084463A1. Автор: Sreejit Chakravarty,Rakesh KANDULA,Deep BAROT,Vishal VENDE. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Re-programmable self-test

Номер патента: US11768240B2. Автор: Neil John Simpson,Alan David Hales. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Re-programmable self-test

Номер патента: US20190227122A1. Автор: Neil John Simpson,Alan David Hales. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-07-25.

Deeply pipelined integrated memory built-in self-test (bist) system and method

Номер патента: US20130223168A1. Автор: Gary L. Taylor,Rosalee D. Gunderson. Владелец: Avago Technologies Enterprise IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

MEMORIES HAVING A BUILT-IN SELF-TEST (BIST) FEATURE

Номер патента: US20150162098A1. Автор: Silveira Reinaldo,SPRUTH HENNING F.,Qureshi Qadeer A.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

System and method for bit-wise selective masking of scan vectors for X-value tolerant built-in self test

Номер патента: US09448282B1. Автор: Dale Edward Meehl. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Testing a feedback shift-register

Номер патента: US09933481B2. Автор: Mats NÄSLUND,Göran Selander,Elena DUBROVA. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2018-04-03.

Testing a feedback shift-register

Номер патента: EP3105674A1. Автор: Mats NÄSLUND,Göran Selander,Elena DUBROVA. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2016-12-21.

Testing a feedback shift-register

Номер патента: WO2015080637A1. Автор: Mats NÄSLUND,Göran Selander,Elena DUBROVA. Владелец: TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (PUBL). Дата публикации: 2015-06-04.

Testing a feedback shift-register

Номер патента: US20160299189A1. Автор: Mats NÄSLUND,Göran Selander,Elena DUBROVA. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2016-10-13.

Method and apparatus for test time reduction using fractional data packing

Номер патента: US09970987B2. Автор: Mudasir Shafat Kawoosa,Sreenath Narayanan Potty,Vivek Singhal,Rajesh Mittal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Method and apparatus for test time reduction using fractional data packing

Номер патента: US09448284B2. Автор: Mudasir Shafat Kawoosa,Sreenath Narayanan Potty,Vivek Singhal,Rajesh Mittal. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Systems and methods for test time outlier detection and correction in integrated circuit testing

Номер патента: US20130193994A1. Автор: Gil Balog,Reed Linde,Avi Golan. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2013-08-01.

Systems and methods for test time outlier detection and correction in integrated circuit testing

Номер патента: US20150012237A1. Автор: Gil Balog,Reed Linde,Avi Golan. Владелец: Optimal Plus Ltd. Дата публикации: 2015-01-08.

Systems and methods for test time outlier detection and correction in integrated circuit testing

Номер патента: US09529036B2. Автор: Gil Balog,Reed Linde,Avi Golan. Владелец: Optimal Plus Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Systems and methods for test time outlier detection and correction in integrated circuit testing

Номер патента: US8421494B2. Автор: Gil Balog,Reed Linde,Avi Golan. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2013-04-16.

System and methods for test time outlier detection and correction in integrated circuit testing

Номер патента: US20070132477A1. Автор: Gil Balog,Reed Linde,Avi Golan. Владелец: Optimal Test Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Low power Scan-BIST test data generator and compactor pass/fail output

Номер патента: US09476941B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Partition-able storage of test results using inactive storage elements

Номер патента: US20170350940A1. Автор: Pradip Patel,William V. Huott,Daniel Rodko,Thomas J. Knips. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-07.

Partition-able storage of test results using inactive storage elements

Номер патента: US09983261B2. Автор: Pradip Patel,William V. Huott,Daniel Rodko,Thomas J. Knips. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Self-test solution for delay locked loops

Номер патента: US09423457B2. Автор: Edzel Gerald Dela Cruz Raffiñan. Владелец: Bitmicro Networks Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Self-test solution for delay locked loops

Номер патента: US09977077B1. Автор: Edzel Gerald Dela Cruz Raffiñan. Владелец: BITMICRO LLC. Дата публикации: 2018-05-22.

Circuit and method for performing built-in self test and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: US20070011538A1. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-11.

Fast auto shift of failing memory diagnostics data using pattern detection

Номер патента: US09514844B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Kiran K. Narayan. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

At-speed test of functional memory interface logic in devices

Номер патента: US20240120016A1. Автор: Lei Wu,Devanathan Varadarajan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Distributed test architecture for multiport RAMs or other circuitry

Номер патента: US6675336B1. Автор: Pidugu L. Narayana,Sangeeta Thakur,Emad Hamadeh. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2004-01-06.

Interleaved testing of digital and analog subsystems with on-chip testing interface

Номер патента: US20220034965A1. Автор: Praveen Raghuraman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-02-03.

Interleaved testing of digital and analog subsystems with on-chip testing interface

Номер патента: US11940490B2. Автор: Praveen Raghuraman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Apparatus for built-in self-test (BIST) of a Nyquist rate analog-to-digital converter (ADC) circuit

Номер патента: US09780803B1. Автор: Ankur Bal,Chandrajit Debnath,Neha Bhargava. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A3. Автор: Benoit R Veillette. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2004-01-08.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-06-13.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: EP1400042A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-03-24.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: WO2014164229A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-10-09.

Built-in self-test enhancements

Номер патента: US20240319268A1. Автор: Gaurav Verma,Saksham TANDON. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Semiconductor device with its test time reduced and a test method therefor

Номер патента: US7564265B2. Автор: Shinsuke Onishi,Hideo Ikejiri. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-21.

Self-test controller, and associated method

Номер патента: US11835991B2. Автор: Balwinder Singh Soni,Venkata Narayanan Srinivasan,Amulya Pandey,Amritanshu Anand. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2023-12-05.

Self-test controller, and associated method

Номер патента: EP4063879A3. Автор: V Narayanan SRINIVASAN,Amulya Pandey,Amritanshu Anand,Mr. Balwinder Singh SONI. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2022-12-07.

Self-test controller, and associated method

Номер патента: EP4063879A2. Автор: V Narayanan SRINIVASAN,Amulya Pandey,Amritanshu Anand,Mr. Balwinder Singh SONI. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2022-09-28.

Semiconductor memory device, method of testing the same and test system

Номер патента: US20220076778A1. Автор: Youngdon CHOI,Sanglok Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-03-10.

Test method for control chip and related device

Номер патента: US11867758B2. Автор: Li Ding,Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Method for testing control chip and related device

Номер патента: EP3933842A1. Автор: Li Ding,Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Testing logic and embedded memory in parallel

Номер патента: US7103814B2. Автор: Donald L. Wheater,William R. Corbin,Erik A. Nelson,Thomas E. Obremski,Brian R. Kessler. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-09-05.

Method of creating built-in self test (bist) table for monitoring a thermal processing system, method of operating controller in same system, and computer-readable media

Номер патента: TWI332131B. Автор: Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-10-21.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281717A1. Автор: AHMED NISAR. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Arbitration for memory diagnostics

Номер патента: US20190035486A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Kiran K. Narayan,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Test time forecast system and method thereof

Номер патента: TWI293418B. Автор: Keng Chia Yang,yi sheng Huang,Ben Hui Yu,Chung Lin Hsieh,Chien Wei Wang,Tsung Hsin Yang,Tzu Cheng Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2008-02-11.

Built in self test with memory

Номер патента: US5764655A. Автор: Toshiaki Kirihata,Christopher D. Wait. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1998-06-09.

Memory bist employing a memory bist signature

Номер патента: WO2003034439A2. Автор: Michael C. Dorsey. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2003-04-24.

Hardware-based memory initialization

Номер патента: US09595350B2. Автор: Qadeer A. Qureshi,Reinaldo Silveira,Henning F. Spruth. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

ADAPTIVE TEST TIME REDUCTION

Номер патента: US20170010325A1. Автор: Subbarayan Arul,Badole Sachin,Matta Archana,Hegde Madhura,Mier Sergio,Bhat Shankarnarayan,Laisne Michael,Plowman Glenn Mark,Krishnan Prakash. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-12.

METHOD AND APPARATUS FOR TEST TIME REDUCTION USING FRACTIONAL DATA PACKING

Номер патента: US20150323596A1. Автор: Potty Sreenath Narayanan,Singhal Vivek,Kawoosa Mudasir Shafat,Mittal Rajesh. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2015-11-12.

Method and Apparatus for Test Time Reduction Using Fractional Data Packing

Номер патента: US20160356849A1. Автор: Potty Sreenath Narayanan,Singhal Vivek,Kawoosa Mudasir Shafat,Mittal Rajesh. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-08.

Method and apparatus for contemporary test time reduction for JTAG

Номер патента: US11662382B1. Автор: Umesh Prabhakar Hade,Balaji Upputuri. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2023-05-30.

Test Application Time Reduction Using Capture-Per-Cycle Test Points

Номер патента: US20180252768A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Mukherjee Nilanjan,Tyszer Jerzy,Milewski Sylwester,Solecki Jedrzej,Zawada Justyna. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-06.

Systems and methods for test time outlier detection and correction in integrated circuit testing

Номер патента: WO2008081419A3. Автор: Gil Balog,Reed Linde,Avi Golan. Владелец: Avi Golan. Дата публикации: 2009-04-16.

SYSTEM FOR REDUCING TEST TIME USING EMBEDDED TEST COMPRESSION CYCLE BALANCING

Номер патента: US20150323595A1. Автор: Agrawal Deepak,Prajapati Ajaykumar B.,Bhat Hariprasad U.. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2015-11-12.

MCP for reducing test time

Номер патента: KR100630730B1. Автор: 이상호. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-10-02.

Method of reducing test time for NVM cell-based FPGA

Номер патента: US6272655B1. Автор: Volker Hecht,Timothy Saxe. Владелец: Actel Corp. Дата публикации: 2001-08-07.

Method to reduce test vectors/test time in devices using equivalent blocks

Номер патента: WO1992013281A1. Автор: William C. Martin. Владелец: Vlsi Technology, Inc.. Дата публикации: 1992-08-06.

System and method for reducing test time for loading and executing an architecture verification program for a SoC

Номер патента: US7512925B2. Автор: Tilman Gloekler,Parag Birmiwal,Mack W. Riley,Devi Shanmugam,Polisetty V. N. Srinivas. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-03-31.

Multi-chip package for reducing test time

Номер патента: US20060151866A1. Автор: Sang-Ho Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-07-13.

Reducing test time and system-on-chip (soc) area reduction using simultaneous clock capture based on voltage sensor input

Номер патента: WO2017011119A1. Автор: Dipti Ranjan Pal,Kumar Kanti Ghosh. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2017-01-19.

CPU BIST TESTING OF INTEGRATED CIRCUITS USING SERIAL WIRE DEBUG

Номер патента: US20170045579A1. Автор: Leung Nelson Kei. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-16.

Multiple uses for bist test latches

Номер патента: US20060242519A1. Автор: Michael White,Osamu Takahashi,Steven Ferguson,Garrett Koch. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Diagnostic enhancement for multiple instances of identical structures

Номер патента: GB2604975A. Автор: Motika Franco,Michael Douskey Steven,Pasquale Forlenza Orazio,P Kusko Mary,Michael Salem Gerard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-09-21.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20190348137A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20180286491A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Test system for detecting faults in multiple devices of the same type

Номер патента: EP4397983A1. Автор: Jan-Peter Schat,Paul Wielage. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-07-10.

Methods and systems for performing built-in-self-test operations without a dedicated clock source

Номер патента: US11906585B2. Автор: Sanjeeb Kumar Ghosh,Gunjan Mandal,A Santosh Kumar REDDY,Parin Rajnikant Bhuta,Raghavendra Molthati,Saikat Hazra,Sunil Rajan,Krupal Jitendra Mehta,Praveen S Bharadwaj. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-20.

Testing apparatus for electronic device

Номер патента: US09607536B2. Автор: Chun-Sheng Chen,Zhen-Sheng Wang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Wuhan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Spectral leakage-based loopback method for predicting performance of mixed-signal circuit, and system therefor

Номер патента: US20230052971A1. Автор: Byoungho KIM. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2023-02-16.

혼성신호 회로의 성능예측을 위한 스펙트럼 누출 기반의 루프백 방법 및 그 시스템

Номер патента: WO2021132894A1. Автор: 김병호. Владелец: 한양대학교 에리카산학협력단. Дата публикации: 2021-07-01.

Digital method of measuring driver slew rates for reduced test time

Номер патента: US20030141891A1. Автор: Mehedi Hassan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2003-07-31.

Method and apparatus for adaptively learning test measurement delays on an individual device test for reducing total device test time

Номер патента: US6377901B1. Автор: David T. Crook,Steven K List. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-04-23.

Digital method of measuring driver slew rates for reduced test time

Номер патента: US6798233B2. Автор: Mehedi Hassan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2004-09-28.

Method and circuitry for controlling clocks of embedded blocks during logic bist test mode

Номер патента: US6614263B2. Автор: Jean-Francois Cote,Benoit Nadeau-Dostie. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 2003-09-02.

Automated BIST test pattern sequence generator software system and method

Номер патента: US7117415B2. Автор: William J. Hurley,Donato O. Forlenza,Orazio P. Forlenza,Bryan J. Robbins. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-10-03.

Automated bist test pattern sequence generator software system and method

Номер патента: US20050160339A1. Автор: William Hurley,Donato Forlenza,Orazio Forlenza,Bryan Robbins. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-07-21.

Method and System for Testing Time Parameters of Adaptor

Номер патента: US20200132755A1. Автор: Chen Tian. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-04-30.

Microelectromechanical systems (“MEMS”) device having a built-in self-test (“BIST”) and a method of application of a BIST to measure MEMS health

Номер патента: US11975963B2. Автор: John J. Albers,Jorge GRILO. Владелец: Knowles Electronics LLC. Дата публикации: 2024-05-07.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: US20140256376A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Integral circuit with programmable logic analyser with expanded analysis and tuning capabilities and method

Номер патента: RU2579814C2. Автор: Джеймс Рэй БЕЙЛИ,Кристофер Уилсон КЭЙС,Джеймс Патрик ШАРП. Владелец: Лексмарк Интернэшнл, Инк.. Дата публикации: 2016-04-10.

Staggered start of bist controllers and bist engines

Номер патента: US20140129888A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Suzanne Granato,Nancy H. Pratt,Valerie H. Chickanosky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-05-08.

Switchable FMCW/PMCW radar transceiver

Номер патента: US12085664B2. Автор: Tom Heller. Владелец: AyDeeKay LLC. Дата публикации: 2024-09-10.

System for testing an electronic circuit comprising a digital to analog converter and corresponding method and computer program product

Номер патента: US12105143B2. Автор: Leonardo Pedone,Matteo VENTURELLI,Matteo BRIVIO,Simone SCADUTO,Rossella GAUDIANO. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-10-01.

Built-in self-test control network

Номер патента: US5570374A. Автор: Yervant Zorian,Chi W. Yau. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1996-10-29.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US20230280398A1. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US11686766B2. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-27.

BIST circuit for variable impedance system

Номер патента: US20020130697A1. Автор: Harold Pilo,Steven Burns,George Braceras,Patrick Hansen. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-09-19.

Method and apparatus for non-invasively testing integrated circuits

Номер патента: US7474112B2. Автор: Kendall Scott Wills. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-01-06.

Method and apparatus for generating pseudorandom numbers or for performing data compression in a data processor

Номер патента: US5416783A. Автор: James L. Broseghini,James G. Viot,Donald H. Lenhert. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1995-05-16.

System for testing an electronic circuit comprising a digital to analog converter and corresponding method and computer program product

Номер патента: US20230140765A1. Автор: Leonardo Pedone,Matteo VENTURELLI,Matteo BRIVIO,Simone SCADUTO,Rossella GAUDIANO. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-05-04.

Switchable fmcw/pmcw radar transceiver

Номер патента: US20200341108A1. Автор: Tom Heller. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-10-29.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: WO2020176306A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-09-03.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: US20200271722A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Method and/or system for testing devices in non-secured environment

Номер патента: US20220196734A1. Автор: Rainer Herberholz,Peter Andrew Rees Williams,Richard Andrew PATERSON,Oded GOLOMBEK,Einat LUKO,Jeffrey Scott BOYER. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2022-06-23.

Voltage adjusting circuits and voltage adjusting methods

Номер патента: US20090167094A1. Автор: YAMASAKI Kyoji,Chun-Yi Tu,Te-Chang Tseng. Владелец: Powerchip Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-07-02.

Solid state drive systems and methods of reducing test times of the same

Номер патента: US8331175B2. Автор: Hyun-Soo Kim,Kwang-Kyu Bang,Kwan-jong PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-12-11.

Apparatus and method for automatic determination of operating frequency with built-in self-test

Номер патента: US20030034791A1. Автор: Hung-Ju Huang,Hung-Ta Pai,Chun-An Tu. Владелец: SILICON INTEGRATED SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2003-02-20.

Automatic analog test & compensation with built-in pattern generator & analyzer

Номер патента: WO2006012503A3. Автор: Fa Dai,Charles E Stroud. Владелец: Univ Auburn. Дата публикации: 2006-05-18.

Systems and methods for gradient-modulated pointwise encoding time reduction with radial acquisition magnetic resonance imaging

Номер патента: US20160334483A1. Автор: Michael Garwood,Naoharu Kobayashi. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 2016-11-17.

Integrated circuit with self-verification function, verification method and method for generating a BIST signature adjustment code

Номер патента: US09885754B2. Автор: Chun-Yi Kuo,Chi-Shun Weng. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Semiconductor device test method for optimizing test time

Номер патента: US20020073366A1. Автор: Byeong-Hwan Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-06-13.

Method and built-in self-test apparatus for testing an integrated circuit which capture failure information for a selected failure

Номер патента: US5912901A. Автор: Michael R. Ouellette,R. Dean Adams,Ronald J. Prilik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1999-06-15.

Ieee std.1149.4 compatible analog bist methodology

Номер патента: WO2006028857A3. Автор: Shyh-Horng Lin,Chauchin Su,Laung-Terng L-T Wang. Владелец: Syntest Technologies Inc. Дата публикации: 2007-04-19.

Methods and apparatus for providing a built-in self test

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Kenneth Charles Barnett,Manas Behera,Gaurab Banerjee. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-01-19.

Method for monitoring and adjusting circuit performance

Номер патента: EP2201396A1. Автор: Anand Dixit,Raymond A. Heald,Steven R. Boyle. Владелец: Oracle America Inc. Дата публикации: 2010-06-30.

Method for monitoring and adjusting circuit performance

Номер патента: WO2009042678A1. Автор: Anand Dixit,Raymond A. Heald,Steven R. Boyle. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2009-04-02.

Multi-phase test point insertion for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: US5737340A. Автор: Janusz Rajski,Nagesh Tamarapalli. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Generation of cryptographically strong random numbers using MISR registers

Номер патента: EP1202165A3. Автор: Richard M. Butler. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 2005-06-01.

Active bridge for chiplet and module inter-communication

Номер патента: US20240103065A1. Автор: Arvind Kumar,Ramachandra Divakaruni,Mukta Ghate Farooq,John W. Golz,Jin Ping HAN,Mounir Meghelli. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Method for determining the concentration of an analyte in a liquid sample using small volume samples and fast test times

Номер патента: US09658183B2. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Multi-modal test-time adaptation

Номер патента: US20230081913A1. Автор: Yi-Hsuan Tsai,Samuel Schulter,Buyu Liu,Ramin Moslemi,Sparsh Garg,Bingbing Zhuang,Inkyu Shin. Владелец: NEC Laboratories America Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Method and device for testing memory

Номер патента: EP2109864A1. Автор: Jian Shen,Paul Bassett. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2009-10-21.

Method for reducing SRAM test time by applying power-up state knowledge

Номер патента: US20060190778A1. Автор: Wah Loh. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-08-24.

Multi-bank read/write to reduce test-time in memories

Номер патента: WO2011142966A1. Автор: Hari Rao. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-11-17.

Method of testing memory device, memory built-in self test (MBIST) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US11899959B2. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-13.

Non-volatile memory octo mode program and erase operation method with reduced test time

Номер патента: US20230087413A1. Автор: Yong Hwan Kim,Kee Sik AHN,Sung Bum Park,Weon-Hwa Jeong,Young Chul SEO,Chul Geun LIM. Владелец: Key Foundry Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

System and method of reducing test time via address aware bist circuitry

Номер патента: US20140149810A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan,George M. Belansek. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

System and method of reducing test time via address aware BIST circuitry

Номер патента: US8914688B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan,George M. Belansek. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-12-16.

Methods and devices for reducing device test time

Номер патента: US10339448B2. Автор: ChengYi Guo,TeckKhoon Lim,TeckHoon Chua. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2019-07-02.

Methods and devices for reducing device test time

Номер патента: US20180197574A1. Автор: ChengYi Guo,TeckKhoon Lim,TeckHoon Chua. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2018-07-12.

Method of address distribution time reduction for high speed memory macro

Номер патента: US20060083101A1. Автор: Osamu Takahashi,Hiroaki Murakami,Sang Dhong,Shohji Onishi. Владелец: Toshiba America Electronic Components Inc. Дата публикации: 2006-04-20.

System and method for a built-in-self-test of a battery

Номер патента: US09995793B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-06-12.

Defect detecting system of automotive apparatus

Номер патента: EP4280217A2. Автор: Sang Ho Kim,Hyun Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-22.

Defect detecting system of automotive apparatus

Номер патента: EP4280217A3. Автор: Sang Ho Kim,Hyun Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-29.

Defect detecting system of automotive apparatus

Номер патента: US20230375606A1. Автор: Sang Ho Kim,Hyun Seok Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-23.

System and methods for parametric test time reduction

Номер патента: US8112249B2. Автор: Gil Balog,Leonid Gurov,Alexander Chufarovsky. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2012-02-07.

System and Methods for Parametric Test Time Reduction

Номер патента: US20100161276A1. Автор: Gil Balog,Leonid Gurov,Alexander Chufarovsky. Владелец: OptimalTest Ltd. Дата публикации: 2010-06-24.

REDUCING TEST TIME AND SYSTEM-ON-CHIP (SOC) AREA REDUCTION USING SIMULTANEOUS CLOCK CAPTURE BASED ON VOLTAGE SENSOR INPUT

Номер патента: US20170010320A1. Автор: GHOSH Kumar Kanti,Pal Dipti Ranjan. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-12.

SYSTEMS AND METHODS FOR TEST TIME OUTLIER DETECTION AND CORRECTION IN INTEGRATED CIRCUIT TESTING

Номер патента: US20150012237A1. Автор: Golan Avi,LINDE Reed,Balog Gil. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

METHOD FOR RELATING TEST TIME AND ESCAPE RATE FOR MULTIVARIATE ISSUE

Номер патента: US20150051869A1. Автор: Hovis William P.,Chadwick Nathaniel R.,Appleyard Jennifer E.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-19.

Method and System for Testing Time Parameters of Adaptor

Номер патента: US20200132755A1. Автор: Tian Chen. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

Test time calculator

Номер патента: TW200741207A. Автор: Andree Weyh. Владелец: Verigy Pte Ltd Singapore. Дата публикации: 2007-11-01.

Test structure, method and circuit for simultaneously testing time dependent dielectric breakdown and electromigration or stress migration

Номер патента: US8754655B2. Автор: Fen Chen,Michael A. Shinosky,Roger A. Dufresne,David G. Brochu, JR.,Travis S. Merrill. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-06-17.

Test time calculation method based on multi-stress accelerated life model

Номер патента: CN111141977A. Автор: 王伟,张睿,朱炜,张晓军,蔡健平,徐洪武,陈凤熹,伍招冲,施帆,松钛,宋汝宁. Владелец: CHINA AEROSPACE STANDARDIZATION INSTITUTE. Дата публикации: 2020-05-12.

Method for Establishing Solenoid Valve Test Time of Automatic Transmission

Номер патента: KR101836593B1. Автор: 전경원. Владелец: 현대 파워텍 주식회사. Дата публикации: 2018-03-08.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11810632B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Built-in self-test circuit and built-in self-test method for physical unclonable function quality check

Номер патента: US11782090B2. Автор: Meng-Yi Wu,Chi-Yi Shao,Kai-Hsin Chuang,Jun-Heng You. Владелец: Pufsecurity Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Test systems for executing self-testing in deployed automotive platforms

Номер патента: US20210341537A1. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Test systems for executing self-testing in deployed automotive platforms

Номер патента: US20200116783A1. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2020-04-16.

Test systems for executing self-testing in deployed automotive platforms

Номер патента: US11768241B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Method and apparatus for puf generator characterization

Номер патента: US20190378575A1. Автор: Shih-Lien Linus Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-12-12.

Runtime reconfiguration of reconfigurable circuits

Номер патента: US20070283190A1. Автор: Frederic Reblewski. Владелец: M2000 SA. Дата публикации: 2007-12-06.

Runtime reconfiguration of reconfigurable circuits

Номер патента: WO2007059973A1. Автор: Frederic Reblewski. Владелец: M2000 Sa.. Дата публикации: 2007-05-31.

METHODS AND APPARATUS FOR SCAN TIME REDUCTIONS IN MAGNETIC RESONANCE IMAGING USING OUTER VOLUME SUPRESSION

Номер патента: US20180292487A1. Автор: AKCAKAYA Mehmet,Moeller Steen,Weingartner Sebastian. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-11.

Systems and methods for gradient-modulated pointwise encoding time reduction with radial acquisition magnetic resonance imaging

Номер патента: US20160334483A1. Автор: Michael Garwood,Naoharu Kobayashi. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 2016-11-17.

MRI apparatus and imaging time reduction method

Номер патента: JP6495057B2. Автор: 由守葛西,大貴近藤,匡朗梅田,直之高林,慎也小澤,高林　直之. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2019-04-03.

Scan time reduction using conjugate symmetry and recalled echo

Номер патента: US4833407A. Автор: Gordon D. DeMeester,Kenneth S. Denison,G. Neil Holland,Terrence J. Provost. Владелец: Picker International Inc. Дата публикации: 1989-05-23.

METHODS FOR REDUCING CHIP TESTING TIME USING TRANS-THRESHOLD CORRELATIONS

Номер патента: US20190074229A1. Автор: Calhoun Benton H.,Lukas Christopher J.,Yahya Farah B.. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-07.

Method and system for testing time measurement precision of digital relay protection tester

Номер патента: CN110954855A. Автор: 李翔,庞涛,黄岩,陈光华,王朋飞,贺春,杨兴超,赵华云,任春梅,刘德森,郑蓬,银庆伟,穆小亮,贠雨含. Владелец: Zhuhai Ketop Detection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-04-03.

Method and device for optimizing an amount of testing with respect to a total test time

Номер патента: US20240055304A1. Автор: Michel Janus,Sebastian Bayer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-02-15.

Test time reduction for manufacturing processes by removing a redundant test

Номер патента: US10990092B2. Автор: Soundararajan Srinivasan,Ruobing CHEN,Rumi Ghosh,Shan Kang,Marc Naumann,Mahesh Goud Tandarpally. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2021-04-27.

Test Time Estimation Suggestion Providing System Based On Product Configuration Information And Method Thereof

Номер патента: US20220405769A1. Автор: Jian-Ming Li. Владелец: Inventec Pudong Technology Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Method, computer program product, and apparatus for static timing with run-time reduction

Номер патента: US20080163147A1. Автор: Kerim Kalafala,Alexander Suess,James C. Gregerson. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-07-03.

A computer-implemented method and system for response time reduction in emergency incident events

Номер патента: EP4307650A1. Автор: Ioannis Kolaxis,Gavriil Papadopoulos. Владелец: Unify Patente GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-17.

Transformer-based automatic speech recognition system incorporating time-reduction layer

Номер патента: WO2022083165A1. Автор: Chao Xing,Md Akmal HAIDAR. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-04-28.

Computer-implemented method and system for response time reduction in emergency incident events

Номер патента: US20240022663A1. Автор: Ioannis Kolaxis,Gavriil Papadopoulos. Владелец: Unify Patente GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-18.

Method and apparatus for learning of noise label based on test-time augmented cross-entropy and noise mixing

Номер патента: US20240086772A1. Автор: Hansang Lee,Helen Hong. Владелец: Industry University Cooperation Foundation of Seoul Womens University . Дата публикации: 2024-03-14.

Robust test-time adaptation without error accumulation

Номер патента: US20240303497A1. Автор: Sungha CHOI,Jungsoo Lee,Debasmit DAS. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Robust test-time adaptation without error accumulation

Номер патента: WO2024186380A1. Автор: Sungha CHOI,Jungsoo Lee,Debasmit DAS. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-09-12.

System and method for test-time adaptation via conjugate pseudolabels

Номер патента: US20240037416A1. Автор: Wan-Yi Lin,Jeremy KOLTER,Mingjie Sun,Aditi Raghunathan,Sachin Goyal. Владелец: CARNEGIE MELLON UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-02-01.

Test-Time Adaptation for Visual Document Understanding

Номер патента: US20230377359A1. Автор: Sercan Omer Arik,Tomas Pfister,Sayna Ebrahimi. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-11-23.

Packaged oscillators with built-in self-test circuits that support resonator testing with reduced pin count

Номер патента: US09791503B1. Автор: James Bryan Northcutt,Bruce Edward Clark,Stephen Amar Tibbitts,Robert A. Gubser,John William Fallisgaard,Kenneth Astrof. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Method and apparatus for RF built-in test system for a beamforming module in a radar system

Номер патента: US12111350B2. Автор: Andrew John Bonthron,Wei-Min Kuo,Michael Terry Nilsson,Viktor Yevgenyevich NOVOZHILOV,Phuoc Thanh NGUYEN. Владелец: Metawave Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Method of generating self-test signals, corresponding circuit and apparatus

Номер патента: US11860223B2. Автор: Salvatore Scaccianoce,Angelo Scuderi,Giorgio Maiellaro,Angela Bruno. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-01-02.

Current and voltage sensing based voltage-standing-wave-ratio impedance and power detector and method

Номер патента: WO2023154518A3. Автор: Hua Wang,David J. Munzer,Naga Sasikanth Mannem. Владелец: GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2023-09-28.

Current and voltage sensing based voltage-standing-wave-ratio impedance and power detector and method

Номер патента: WO2023154518A2. Автор: Hua Wang,David J. Munzer,Naga Sasikanth Mannem. Владелец: GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2023-08-17.

Motor vehicle navigation method, involves issuing fuel consumption savings with associated travel time range extension and/or increase in fuel consumption with associated travel time reduction depending on comparison

Номер патента: DE102009006249A1. Автор: Christian Dr. Kobetz,Martin Dipl.-Ing. Kobetz. Владелец: DAIMLER AG. Дата публикации: 2009-09-24.

Writing system and method using delay time reduction processing, and low complexity distance measurement algorithm based on chirp spread spectrum for the same

Номер патента: KR102366052B1. Автор: 박성곤. Владелец: (유)벨류이. Дата публикации: 2022-02-23.

Method for determining the concentration of an analyte in a liquid sample using small volume samples and fast test times

Номер патента: US20120103834A1. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Roche Diagnostics Operations Inc. Дата публикации: 2012-05-03.

Determination of blood glucose in a small volume and in a short test time using a chemical coating including binders and very short read potentials

Номер патента: US20120181188A1. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Roche Diagnostics Operations Inc. Дата публикации: 2012-07-19.

Method for determining the concentration of an analyte in a liquid sample using small volume samples and fast test times

Номер патента: US20130228473A1. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Roche Diagnostics Operations Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

DETERMINATION OF BLOOD GLUCOSE IN A SMALL VOLUME AND IN A SHORT TEST TIME USING A CHEMICAL COATING INLUDING BINDERS AND VERY SHORT READ POTENTIALS

Номер патента: US20140008245A1. Автор: Wilsey Christopher D.. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

METHOD FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF AN ANALYTE IN A LIQUID SAMPLE USING SMALL VOLUME SAMPLES AND FAST TEST TIMES

Номер патента: US20150226693A1. Автор: Wilsey Christopher D.. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-13.

METHOD FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF AN ANALYTE IN A LIQUID SAMPLE USING SMALL VOLUME SAMPLES AND FAST TEST TIMES

Номер патента: US20170248538A1. Автор: Wilsey Christopher D.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-31.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: US8652831B2. Автор: Dirk Boecker. Владелец: Sanofi Aventis Deutschland GmbH. Дата публикации: 2014-02-18.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: US20080210574A1. Автор: Dirk Boecker. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-04.

Method for determining the concentration of an analyte in a liquid sample using small volume samples and fast test times

Номер патента: US7276147B2. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Corange International Ltd. Дата публикации: 2007-10-02.

Determination of blood glucose in a small volume and in a short test time using short read potentials

Номер патента: US8329026B2. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-11.

Method for determining optimal test time of laser inertial measurement unit based on evidence reasoning

Номер патента: CN111238534B. Автор: 周志杰,王杰,曹友,胡昌华,唐帅文,贺维,胡冠宇. Владелец: Rocket Force University of Engineering of PLA. Дата публикации: 2021-09-14.

System and method for testing time constant of underwater explosion near-field shock wave

Номер патента: CN113155338A. Автор: 高源�,王树山,贾曦雨,孙雨荟,张静骁. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2021-07-23.

System and method for testing time constant of underwater explosion near-field shock wave

Номер патента: CN113155338B. Автор: 高源�,王树山,贾曦雨,孙雨荟,张静骁. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2022-04-05.

Method and device for testing time-pieces and articles of jewellery

Номер патента: EP0471632B1. Автор: Alain Tyrode. Владелец: FABRICATION MATY(SFM) SARL Ste. Дата публикации: 1995-05-17.

Method for testing compressed air containers uses compressed air rather than water thus reducing testing time, obviating the use of water that can become polluted and ensuring the compressed air network remains operational

Номер патента: DE10129030A1. Автор: Walter Kragulj. Владелец: KKS KESSELPRUEF und KORROSSION. Дата публикации: 2002-12-19.

Method for determining the concentration of an analyte in a liquid sample using small volume samples and fast test times

Номер патента: US9017543B2. Автор: Christopher D. Wilsey. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2015-04-28.

A kind of aero-engine is at attachment random vibration endurance test time calculation method

Номер патента: CN110263443A. Автор: 张生,王志会,吴新,田慧清,刘海年. Владелец: AECC Shenyang Engine Research Institute. Дата публикации: 2019-09-20.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) TEST TIME REDUCTION

Номер патента: US20170229191A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

Semiconductor memory device with reduced package test time

Номер патента: TW200400357A. Автор: Jun-Keun Lee,Byung-Jae Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-01-01.

Cost effective semiconductor devices and semiconductor systems with reduced test time

Номер патента: US09911505B2. Автор: Mi Hyun Hwang,Chul Moon JUNG. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Test circuit for reducing test time in semiconductor memory device having multiple data input/output terminals

Номер патента: US6301678B1. Автор: Shigeki Ohbayashi,Hirotoshi Sato,Tomohisa Wada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2001-10-09.

Semiconductor memory device with reduced package test time

Номер патента: CN1266754C. Автор: 李准根,李炳在. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-07-26.

Synchronous semiconductor integrated circuit device capable of test time reduction

Номер патента: US6385125B1. Автор: Shigeki Tomishima,Tsukasa Ooishi,Hiroaki Tanizaki,Yutaka Komai. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-05-07.

Synchronous semiconductor integrated circuit device capable of test time reduction

Номер патента: US20020051404A1. Автор: Shigeki Tomishima,Tsukasa Ooishi,Hiroaki Tanizaki,Yutaka Komai. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-05-02.

Non-volatile, programmable semiconductor memory having reduced testing time

Номер патента: US4862418A. Автор: Roger Cuppens,Joannes J. M. Koomen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1989-08-29.

Non-volatile storage system with power on read timing reduction

Номер патента: US20230260589A1. Автор: Hua-Ling Cynthia Hsu,YenLung Li. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2023-08-17.

Apparatus and method for selective sub word line activation for reducing testing time

Номер патента: US9595351B2. Автор: Don Hyun Choi. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Memory device reducing test time and computing system including the same

Номер патента: US09653160B2. Автор: Yun-Kil Kim,Jeong-Yun Cha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

Apparatus and method for selective sub word line activation for reducing testing time

Номер патента: US09595351B2. Автор: Don Hyun Choi. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

SYSTEM AND METHOD OF REDUCING TEST TIME VIA ADDRESS AWARE BIST CIRCUITRY

Номер патента: US20140149810A1. Автор: Gorman Kevin W.,Ouellette Michael R.,NARAYAN Kiran K.,MONDAL Krishnendu,Belansek George M.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-29.

MEMORY DEVICE REDUCING TEST TIME AND COMPUTING SYSTEM INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20160148682A1. Автор: Cha Jeong-Yun,KIM YUN-KIL. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

METHOD AND SYSTEM FOR REDUCING MEMORY TEST TIME UTILIZING A BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE

Номер патента: US20150262710A1. Автор: Chakravarty Sreejit. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2015-09-17.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180286491A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20190348137A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Semiconductor memory device enabling reduction of test time period

Номер патента: KR100420427B1. Автор: 이토다카시. Владелец: 미쓰비시덴키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2004-03-04.

Semiconductor Memory Device and Multi row address test method which reduces Multi row address test time.

Номер патента: KR100809683B1. Автор: 이희춘. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2008-03-07.

Layout method of redundancy fuse block array for reducing test time and memory device employing the same

Номер патента: KR100744124B1. Автор: 김성훈,이유림. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2007-08-01.

Memory device reducing test time and computing system including the same

Номер патента: KR102237563B1. Автор: 차정윤,김윤길. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-04-07.

Method of testing memory device, memory built-in self test (mbist) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US20220113889A1. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-14.

Multi-port memory test method using a sequence convolution scheme to reduce test time

Номер патента: DE10359234A1. Автор: Cheng-Wen Wu,Chih-Tsun Huang,Chih-Wea Wang,Kao-Liang Cheng. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2004-11-18.

Addressing circuit for store in telephone system - has decoder selecting several memory modules simultaneously during testing to reduce test time

Номер патента: DE2852985A1. Автор: Wolfgang Dipl Ing Fakler. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1980-06-19.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: EP3602187A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-02-05.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: WO2018175640A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Multi-lane transmitting apparatus and method of performing a built-in self-test in the multi-lane transmitting apparatus

Номер патента: US20220329405A1. Автор: Tamal Das,Mohit Arora,Akshay Karkal Kamath,Nageswara Rao Kunchapu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Integrated circuit and method of performing a bist procedure

Номер патента: US20210359773A1. Автор: Estelle Nguyen,Christophe ATHANASSIOU,Jerome MALLET. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2021-11-18.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: US20240302432A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: EP4429164A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-11.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-11-05.

Semiconductor memory device capable of test time reduction within pipeline

Номер патента: KR100319897B1. Автор: 김형동,김태현. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2002-01-10.

Systems and methods for efuse fusing time reduction

Номер патента: WO2008014209A2. Автор: Andrew Marshall. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2008-01-31.

Systems and methods for efuse fusing time reduction

Номер патента: WO2008014209A3. Автор: Andrew Marshall. Владелец: Andrew Marshall. Дата публикации: 2008-12-31.

Systems and methods for efuse fusing time reduction

Номер патента: TW200816444A. Автор: Andrew Marshall. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-04-01.

PARALLEL PROGRAMMING OF ONE TIME PROGRAMMABLE MEMORY ARRAY FOR REDUCED TEST TIME

Номер патента: US20180158532A1. Автор: ANAND Darren L.,Hunt-Schroeder Eric D.,LAMPHIER Steven. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

PROGRAM VERIFICATION TIME REDUCTION IN NON-VOLATILE MEMORY DEVICES

Номер патента: US20190043563A1. Автор: Khakifirooz Ali,Ha Chang Wan,Kalavade Pranav,CHANDRASEKHAR UDAY,Bemalkhedkar Trupti. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-07.

Selector relaxation time reduction

Номер патента: US20170271009A1. Автор: Ning Ge,John Paul Strachan,Gary Gibson,Jianhua Yang,Warren Jackson. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2017-09-21.

SYSTEM IDLE TIME REDUCTION METHODS AND APPARATUS

Номер патента: US20210397372A1. Автор: Singla Nihal,Vo Chinh,Sravan Harihara. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2021-12-23.

RERAM PROGRAMMING METHOD INCLUDING LOW-CURRENT PRE-PROGRAMMING FOR PROGRAM TIME REDUCTION

Номер патента: US20200327938A1. Автор: Nguyen Victor,Dhaoui Fethi,McCollum John L.,Xue Fengliang. Владелец: Microchip Technology Inc.. Дата публикации: 2020-10-15.

ReRAM programming method including low-current pre-programming for program time reduction

Номер патента: US10872661B2. Автор: Victor Nguyen,Fethi Dhaoui,John L. Mccollum,Fengliang Xue. Владелец: Microchip Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-22.

Reram programming method including low-current pre-programming for program time reduction

Номер патента: WO2020209885A1. Автор: Victor Nguyen,Fethi Dhaoui,John L. Mccollum,Fengliang Xue. Владелец: Microchip Technology Inc.. Дата публикации: 2020-10-15.

Time reduction of address setup/hold time for semiconductor memory

Номер патента: US20110103157A1. Автор: Kenji Nagai,Takaaki Furuyama,Makoto Niimi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-05.

Selector relaxation time reduction

Номер патента: US10026477B2. Автор: Ning Ge,John Paul Strachan,Gary Gibson,Jianhua Yang,Warren Jackson. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2018-07-17.

RERAM programming method including low current pre-programming for programming time reduction

Номер патента: CN113661540A. Автор: J·L·麦科勒姆,V·恩古延,薛丰良,F·扎维. Владелец: Microchip Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Data access time reduction circuit for semiconductor memory device

Номер патента: JP3729276B2. Автор: 瀛湖林,應門延. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-12-21.

Read time reduction with p-well bias in memory device

Номер патента: WO2022046219A1. Автор: Jiahui Yuan,Ohwon KWON,Abu Naser Zainuddin. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2022-03-03.

Utilizing data pattern effect to control read clock timing and bit line kick for read time reduction

Номер патента: US11887674B2. Автор: Yi Song,Yanjie Wang,Guirong Liang,Xiaoyu Che. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-01-30.

State look ahead quick pass write algorithm to tighten ongoing natural threshold voltage of upcoming states for program time reduction

Номер патента: US20230402110A1. Автор: Liang Li,Ming Wang,Ke Zhang. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2023-12-14.

Voltage level shifter transition time reduction

Номер патента: US11854647B2. Автор: Pierguido Garofalo. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Read time reduction with p-well bias in memory device

Номер патента: EP4055606A1. Автор: Jiahui Yuan,Ohwon KWON,Abu Naser Zainuddin. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2022-09-14.

State look ahead quick pass write algorithm to tighten ongoing natural threshold voltage of upcoming states for program time reduction

Номер патента: US11972817B2. Автор: Liang Li,Ming Wang,Ke Zhang. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-04-30.

Utilizing data pattern effect to control read clock timing and bit line kick for read time reduction

Номер патента: US20230317174A1. Автор: Yi Song,Yanjie Wang,Guirong Liang,Xiaoyu Che. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2023-10-05.

Program verification time reduction in non-volatile memory devices

Номер патента: US20190043563A1. Автор: Chang Wan Ha,Ali Khakifirooz,Pranav Kalavade,Uday Chandrasekhar,Trupti Bemalkhedkar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-07.

Read time reduction with p-well bias in memory device

Номер патента: EP4055606A4. Автор: Jiahui Yuan,Ohwon KWON,Abu Naser Zainuddin. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2023-12-06.

Semiconductor memory device with reduced power consumption and with reduced test time

Номер патента: KR100678427B1. Автор: 요시오카히로시,노로고우이치. Владелец: 후지쯔 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2007-02-05.

Memory device and method for reducing bad block test time

Номер патента: US20210272645A1. Автор: Sang-Hyun Joo,Myoung-Won Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-09-02.

Circuit device having a self-testing function and a testing method thereof

Номер патента: US4829237A. Автор: Hiroshi Segawa,Masahiko Yoshimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-05-09.

Optical bleach time reduction method in optical nonliner high molecule thin film by sensitizer

Номер патента: KR970011522B1. Автор: 정상돈,김장주,정태형,황월연. Владелец: 양승택. Дата публикации: 1997-07-11.

Motor transient status time reduction circuit in recording & reproducing apparatus

Номер патента: KR950008952Y1. Автор: 최낙의. Владелец: 강진구. Дата публикации: 1995-10-18.

Queue time reduction in a data storage hierarchy using volume mount rate

Номер патента: US5423018A. Автор: Daniel J. Winarski,Chi H. Dang,Michael T. Solan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1995-06-06.

Methods, devices, and systems for reducing device test time

Номер патента: US20190171940A1. Автор: Teck Khoon Lim,ChengYi Guo,Teck Hoon Chua. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2019-06-06.

Methods, devices, and systems for reducing device test time

Номер патента: US20190171940A1. Автор: Teck Khoon Lim,ChengYi Guo,Teck Hoon Chua. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2019-06-06.

METHODS AND DEVICES FOR REDUCING DEVICE TEST TIME

Номер патента: US20180197574A1. Автор: Guo ChengYi,Lim TeckKhoon,Chua TeckHoon. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

Implementing decreased scan data interdependence in on product multiple input signature register (OPMISR) through PRPG control rotation

Номер патента: US09964591B2. Автор: Steven M. Douskey,Michael J. Hamilton,Amanda R. Kaufer,Phillip A. Senum. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Implementing decreased scan data interdependence in on product multiple input signature register (opmisr) through prpg control rotation

Номер патента: US20170299654A1. Автор: Steven M. Douskey,Michael J. Hamilton,Amanda R. Kaufer,Phillip A. Senum. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Concurrent testing of a logic device and a memory device within a system package

Номер патента: US20210057036A1. Автор: Kelly YANG,Lianrui Zhang,Amanulla Khan,Himakiran Kodihalli,Thenappan Nachiappan,Sreekar Sreesailam. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2021-02-25.

3-D memory and built-in self-test circuit thereof

Номер патента: US09406401B2. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-08-02.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US20240159714A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US11815492B2. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: WO2021211822A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: BFLY Operations, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

Field monitoring of analog signals in a radar system

Номер патента: US11796634B2. Автор: Karthik Subburaj,Brian P. Ginsburg,Indu Prathapan,Karthik Ramasubramanian. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-10-24.

Built-in self-repair wrapper methodology, design flow and design architecture

Номер патента: US20020136066A1. Автор: Johnnie Huang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-26.

Selectors on interface die for memory device

Номер патента: US09881693B2. Автор: Ryota Suzuki,Tomoyuki Shibata,Chikara Kondo. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Selectors on interface die for memory device

Номер патента: US20180096734A1. Автор: Ryota Suzuki,Tomoyuki Shibata,Chikara Kondo. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-04-05.

Test system simultaneously testing semiconductor devices

Номер патента: US09620243B2. Автор: Sunghun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-11.

Packetized power-on-self-test controller for built-in self-test

Номер патента: US20220108760A1. Автор: Anubhav Sinha,Ramalingam KOLISETTI,Amit Gopal M. PUROHIT,Sai Manish Rao MARRU,Sahil SONI,Salvatore Talluto. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Method, system and apparatus for aggregating failures across multiple memories and applying a common defect repair solution to all of the multiple memories

Номер патента: US20040268198A1. Автор: Michael Ouellette,Paul Zuchowski,Gustavo Tellez. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-12-30.

Programmable universal test interface for testing memories with different test methodologies

Номер патента: US6044481A. Автор: Scott T. Becker,Steve P. Kornachuk,Craig R. Silver. Владелец: Artisan Components Inc. Дата публикации: 2000-03-28.

Memory error capture logic

Номер патента: US09805825B1. Автор: Preminder Singh. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Built-in self-test burst patterns based on architecture of memory

Номер патента: US20240087664A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Chad B. Erickson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Built-in self-test circuit for row hammering in memory

Номер патента: US20240096435A1. Автор: Arun Kumar,Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Built-in self-test circuitry

Номер патента: US20240087663A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Joemar Sinipete,Thomas T. Tangelder,Jacob S. Robertson,James G. Steele. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Auto-blow memory repair

Номер патента: US09490033B2. Автор: David A. Carlson,Steven W. Aiken. Владелец: Cavium LLC. Дата публикации: 2016-11-08.

MRAM self-repair with BIST logic

Номер патента: US8929167B2. Автор: Xia Li,Seung H. Kang,Jung Pill Kim,Taehyun Kim. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2015-01-06.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US11823758B2. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240055066A1. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Method of test and repair of memory cells during power-up sequence of memory device

Номер патента: US20210065836A1. Автор: Sangyeol Lee,Jonggeon Lee,Youngman Ahn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20130070545A1. Автор: Kenichi Anzou,Chikako Tokunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-03-21.

Memory Repair Device

Номер патента: US20240233853A9. Автор: Yong Sup Lee,Jun Soo KWACK. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Test system simultaneously testing semiconductor devices

Номер патента: US20160099077A1. Автор: Sunghun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-04-07.

Sequential error capture during memory test

Номер патента: US20210074375A1. Автор: Pradip Patel,Daniel Rodko,William Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-03-11.

Mechanism for implementing redundancy to mask failing SRAM

Номер патента: US7346815B2. Автор: Marcin Nowicki. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2008-03-18.

Interruption time reduction

Номер патента: US20240259891A1. Автор: UMUR Karabulut,Ingo Viering,Tero Henttonen,Christian Rom,Panagiotis SPAPIS,Sanjay Goyal,Chitradeep MAJUMDAR. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-01.

Real-time reduction of CPU overhead for data compression

Номер патента: US09564918B2. Автор: Ron Asher,Danny Harnik,Dmitry Sotnikov,Oded Margalit,Kat I. RONEN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Memory card test interface

Номер патента: US20140351653A1. Автор: Loc Tu,Charles Moana Hook,Nyi Nyi Thein,James Floyd Cardosa,Ian Arthur Myers. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2014-11-27.

Centrally logging and aggregating miscompares on chip during memory test

Номер патента: US11869616B2. Автор: Andrew Payne,Senwen Kan,Jeffrey W Gossett,Michael Joseph Pluhta,Richard A Rodell, Jr.,Bjarni Benjaminsson. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Memory Repair Device

Номер патента: US20240136007A1. Автор: Yong Sup Lee,Jun Soo KWACK. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Failure analysis and repair register sharing for memory bist

Номер патента: US20170309349A1. Автор: Michael R. Ouellette,Valerie H. Chickanosky,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

System and method for data packet transceiver testing after signal calibration and power settling to minimize test time

Номер патента: WO2015073400A1. Автор: Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-21.

Circuit and method for efficient memory repair

Номер патента: US8612813B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Suzanne Granato,Valerie H. Chickanosky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-12-17.

Low power scan path cells with hold state multiplexer circuitry

Номер патента: US09684033B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

TEST TIME REDUCTION FOR MANUFACTURING PROCESSES BY SUBSTITUTING A TEST PARAMETER

Номер патента: US20200387148A1. Автор: Srinivasan Soundararajan,Chen Ruobing,Naumann Marc,Ghosh Rumi,Kang Shan,Tandarpally Mahesh Goud. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

TEST TIME REDUCTION FOR MANUFACTURING PROCESSES BY REMOVING A REDUNDANT TEST

Номер патента: US20200387152A1. Автор: Srinivasan Soundararajan,Chen Ruobing,Naumann Marc,Ghosh Rumi,Kang Shan,Tandarpally Mahesh Goud. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Self-adjusting test time estimation

Номер патента: US09811070B2. Автор: David Monczynski,Kaoru Stabnow,Jason yue. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Load reduction and response time reduction for web-based applications

Номер патента: US8516040B2. Автор: Ravi G. Thota,Phani Kumar Nunna. Владелец: VERIZON PATENT AND LICENSING INC. Дата публикации: 2013-08-20.

Load reduction and response time reduction for web-based applications

Номер патента: US20120110061A1. Автор: Ravi G. Thota,Phani Kumar Nunna. Владелец: Verzion Patent and Licensing Inc. Дата публикации: 2012-05-03.

Divided scan path cells with first and state hold multiplexers

Номер патента: US9476942B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Adapting scan architectures for low power operation

Номер патента: US20010047498A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2001-11-29.

Scan speed optimization of input and output paths

Номер патента: WO2014166549A1. Автор: Martin Fischer,Jürgen SERRER. Владелец: Advantest (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2014-10-16.

Scan speed optimization of input and output paths

Номер патента: US9977081B2. Автор: Martin Fischer,Jürgen SERRER. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Automatable scan partitioning for low power using external control

Номер патента: US20110078524A1. Автор: Lee D. Whetsel,Jayashree Saxena. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-03-31.

System boot time reduction method

Номер патента: WO2003003202A1. Автор: Robert Royer, Jr.,Richard Coulson,John Garney,Jeanna Matthews. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2003-01-09.

Test cycle time reduction and optimization

Номер патента: US20210334196A1. Автор: Shivakumar Ningappa,Srinivas Bandi Ramesh Babu,Uri Scheiner. Владелец: Harness Inc. Дата публикации: 2021-10-28.

Compilation time reduction for memory and compute bound neural networks

Номер патента: US12079734B1. Автор: Randy Renfu Huang,Richard John Heaton,Hongbin Zheng. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Training time reduction in automatic data augmentation

Номер патента: US20200349425A1. Автор: XIANG Gao,Indradeep Ghosh,Mukul R. Prasad,Ripon K. SAHA. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Service outage time reduction for a planned event in a system

Номер патента: US20180341562A1. Автор: Lu Yu,Yu Fang,Ying MAO,E Feng Lu,Ning LL Liu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Paving machine engine idle time reduction

Номер патента: US20210310432A1. Автор: Nathan K. Just. Владелец: Caterpillar Paving Products Inc. Дата публикации: 2021-10-07.

Boot time reduction for an information handling system with a data processing unit

Номер патента: US20240303086A1. Автор: Wei G. Liu,Michael D. Christensen. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-09-12.

Intelligent concurrent testing for test cycle time reduction

Номер патента: US20240320135A1. Автор: Dinesh Garg,Hemanth Mantri,Rutvij Mehta. Владелец: Harness Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Web page load time reduction by optimized authentication

Номер патента: US09892202B2. Автор: Dillon Nugent,Arye Gittelman,Sterling Crockett,Kfir Ami-Ad. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2018-02-13.

Tail response time reduction method for SSD

Номер патента: US09846650B2. Автор: Mu-Tien Chang,Dimin Niu,Hongzhong Zheng. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and apparatus for line time reduction

Номер патента: US20120235968A1. Автор: Mark M. Todorovich,Koorosh Aflatooni,Wilhelmus Johannes Robertus Van Lier. Владелец: Qualcomm Mems Technologies Inc. Дата публикации: 2012-09-20.

Methods and apparatus for boot time reduction in a processor and programmable logic device enviroment

Номер патента: US20210026652A1. Автор: Vincent Zimmer,Tung Lun Loo,Yah Wen Ho. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

DISPLAY UPDATE TIME REDUCTION FOR A NEAR-EYE DISPLAY

Номер патента: US20140184475A1. Автор: Bohn David D.,Fleck Rod G.,Tantos Andras,Perry Jedd. Владелец: . Дата публикации: 2014-07-03.

RC Tool Accuracy Time Reduction

Номер патента: US20200110913A1. Автор: Su Ke-Ying,LO WAN-TING,Wu Hui-I,Vepuri Niranjan,Chang Hsiang-Ho. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-09.

RC Tool Accuracy Time Reduction

Номер патента: US20190121928A1. Автор: Su Ke-Ying,LO WAN-TING,Wu Hui-I,Vepuri Niranjan,Chang Hsiang-Ho. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-25.

SCAN TIME REDUCTION IN APPLICATION CODE SECURITY SCANNING

Номер патента: US20180137279A1. Автор: Jr. John T.,Peyton,Turnham Jeffrey C.,Sharma Babita,Todd Jason N.,Merineau Mathieu,Merlo Ettore. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-17.

Job-launch time reduction by node pre-configuration

Номер патента: US20210201130A1. Автор: Eun Kyung Lee,Yoonho Park,Alessandro Morari,Giacomo Domeniconi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

MULTIPHASE SIGNALING FOR SCAN TIME REDUCTION FOR A TOUCH SYSTEM

Номер патента: US20180188844A1. Автор: Hosur Srinath,Khandelwal Ashish,GUVELIOGLU BERK. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

ALARM SYSTEM RESPONSE TIME REDUCTION

Номер патента: US20170236404A1. Автор: LEE Jun-Min,Skolnik Jay,Skolnik Daniel,Harness Connor. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

TAIL RESPONSE TIME REDUCTION METHOD FOR SSD

Номер патента: US20160267011A1. Автор: Zheng Hongzhong,NIU Dimin,Chang Mu-Tien. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-15.

Service outage time reduction for a planned event in a system

Номер патента: US20180341560A1. Автор: Lu Yu,Yu Fang,Ying MAO,E Feng Lu,Ning LL Liu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

SERVICE OUTAGE TIME REDUCTION FOR A PLANNED EVENT IN A SYSTEM

Номер патента: US20180341562A1. Автор: Fang Yu,Yu Lu,Mao Ying,Lu E Feng,Liu Ning LL. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-29.

MULTI-USER CAx ASSEMBLY LOAD TIME REDUCTION WHILE MAINTAINING INTER-PART CONSISTENCY

Номер патента: US20170357741A1. Автор: Hepworth Ammon,Staves Daniel,Trent Mark S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-14.

TRAINING TIME REDUCTION IN AUTOMATIC DATA AUGMENTATION

Номер патента: US20200349425A1. Автор: Gao Xiang,Ghosh Indradeep,PRASAD Mukul R.,SAHA Ripon K.. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2020-11-05.

RFID Reaction time reduction

Номер патента: EP2166485B1. Автор: Dirk Lorenz,Anatoly Grinberg. Владелец: Rockwell Automation Germany GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-02-24.

Display update time reduction for a near-eye display

Номер патента: CN105340279A. Автор: R·G·弗莱克,D·D·博恩,J·佩里,A·坦托斯. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2016-02-17.

method of parallel processing of data copy and device hardware initialization for boot time reduction

Номер патента: KR101678571B1. Автор: 박찬호,정명준,임근식,서상범. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2016-11-22.

Display update time reduction for a near-eye display

Номер патента: KR102192927B1. Автор: 로드 지 플렉,안드라스 탄토스,제드 페리,데이디드 디 본. Владелец: 마이크로소프트 테크놀로지 라이센싱, 엘엘씨. Дата публикации: 2020-12-18.

A method and apparatus of processing time reduction for CPU using reset

Номер патента: KR100731706B1. Автор: 남세진. Владелец: 엘지노텔 주식회사. Дата публикации: 2007-06-25.

Ignition time reduction device and method for gas dryer

Номер патента: KR101063584B1. Автор: 김상두. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2011-09-07.

Cycle time reduction masterbatches and their use in thermoplastic compounds

Номер патента: US9290645B2. Автор: Jason D. Piunti,Jack R. Prince. Владелец: Revolutionary Plastics LLC. Дата публикации: 2016-03-22.

Start time reduction device and electronic device

Номер патента: WO2004092934A1. Автор: Norihiko Mizobata,Mikihiko Yamada,Taku Arakawa. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2004-10-28.

Image forming apparatus for reducing consecutive printing's time and consecutive printing time reduction method thereof

Номер патента: KR100637073B1. Автор: 채석헌. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-10-23.

Method and apparatus for command queue ordering with a sort time reduction algorithm

Номер патента: US20020091882A1. Автор: David Hall,Adam Espeseth. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-07-11.

Computation time reduction in a polyphonic tone synthesizer

Номер патента: US4579032A. Автор: Ralph Deutsch. Владелец: Kawai Musical Instrument Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1986-04-01.

Methods and apparatus for boot time reduction in a processor and programmable logic device environment

Номер патента: WO2019066780A1. Автор: Vincent Zimmer,Tung Lun Loo,Yah Wen Ho. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-04-04.

Computation time reduction for three-dimensional displays

Номер патента: CA2411837A1. Автор: Paul Michael Blanchard,Douglas Alan Payne. Владелец: Douglas Alan Payne. Дата публикации: 2001-12-13.

Access-time reduction by speculatively decoding non-memory read commands on a serial interface

Номер патента: WO2008070500A2. Автор: On-Pong Roderick Ho,Dixie Nguyen,Dinu Patrascu. Владелец: ATMEL CORPORATION. Дата публикации: 2008-06-12.

Cycle time reduction in data preparation

Номер патента: US8458631B2. Автор: Peng-Ren Chen,Dong-Hsu Cheng,Chi-Ta Lu,Jia-Guei Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-06-04.

Device for time reduction of command processing in a computer utilizing indirect addressing to operating store

Номер патента: PL112164B1. Автор: . Владелец: Ericsson Telefon Ab L M. Дата публикации: 1980-09-30.

Multiphase signaling for scan time reduction for a touch system

Номер патента: WO2018126149A3. Автор: ASHISH Khandelwal,Srinath Hosur,Berk GUVELIOGLU. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2018-08-09.

Reaction time reduction method based on non-touch event, and electronic device supporting same

Номер патента: WO2021125899A1. Автор: 이민우,이주석,이서영,허훈도. Владелец: 삼성전자 주식회사. Дата публикации: 2021-06-24.

Image forming apparatus for reducing consecutive printing's time and consecutive printing time reduction method thereof

Номер патента: KR20060035859A. Автор: 채석헌. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-04-27.

Holographic display system for a motor vehicle with real-time reduction of graphics speckle noise

Номер патента: US11915395B2. Автор: Thomas A. Seder,Kai-Han Chang,Manoj Sharma. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-02-27.

Alarm system response time reduction

Номер патента: US20170236404A1. Автор: Jun-Min Lee,Jay Skolnik,Daniel Skolnik,Connor Harness. Владелец: Connor Harness. Дата публикации: 2017-08-17.

Job-launch time reduction by node pre-configuration

Holographic display system for a motor vehicle with real-time reduction of graphics speckle noise

Номер патента: US20240029208A1. Автор: Thomas A. Seder,Kai-Han Chang,Manoj Sharma. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-01-25.

Testing timing of operation of machines especially copying machines

Номер патента: AU6327773A. Автор: Gerald R. Helbig Donalds. Pust. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1975-06-05.

Cache self-testing technique to reduce cache test time

Номер патента: US20140032968A1. Автор: Narendra Chakravarthy Nandam,Donald B. Kay. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

SELF-ADJUSTING TEST TIME ESTIMATION

Номер патента: US20180011464A1. Автор: Stabnow Kaoru,Monczynski David,Yue Jason. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-11.

Detection of Test-Time Evasion Attacks

Номер патента: US20210019399A1. Автор: Miller David Jonathan,Kesidis George. Владелец: Anomalee Inc.. Дата публикации: 2021-01-21.

SELF-ADJUSTING TEST TIME ESTIMATION

Номер патента: US20160041543A1. Автор: Stabnow Kaoru,Monczynski David,Yue Jason. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

EFFICIENT TEST-TIME ADAPTATION FOR IMPROVED TEMPORAL CONSISTENCY IN VIDEO PROCESSING

Номер патента: US20220292302A1. Автор: Zhang Yizhe,PORIKLI Fatih Murat,BORSE Shubhankar Mange. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

METER HAVING POST-MEAL TEST-TIME ALARM

Номер патента: US20200143662A1. Автор: Culver Jeffrey A.,Power Barry D.. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-07.

DEVICE HAVING POST-MEAL TEST-TIME ALARM

Номер патента: US20190156651A1. Автор: Culver Jeffrey A.,Power Barry D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-23.

METER HAVING POST-MEAL TEST-TIME ALARM

Номер патента: US20160321419A1. Автор: Culver Jeffrey A.,Power Barry D.. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

The optimal supplement flow leak test method and system test time diagnostic methods

Номер патента: KR101502785B1. Автор: 김창수,이승표,정남두,조용배. Владелец: 한국수력원자력 주식회사. Дата публикации: 2015-03-16.

A kind of electro spindle life test time design method

Номер патента: CN106874582B. Автор: 杨斌,郑玉彬,张英芝,申桂香,赵宪卓,秦猛猛. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2018-03-27.

Method for detecting out-of-distribution data using test-time augmentation and apparatus performing the same

Номер патента: KR102475730B1. Автор: 최재우,이지형,정동언. Владелец: 성균관대학교산학협력단. Дата публикации: 2022-12-08.

A kind of system and method reducing the software development testing time

Номер патента: CN109032944A. Автор: 李男. Владелец: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-18.

Methods, systems, and computer readable media for testing time sensitive network (TSN) elements

Номер патента: US10425321B2. Автор: Vinod Joseph,Alon Regev,Alina Crina Balan,Bogdan Tenea. Владелец: Keysight Technologies Singapore Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2019-09-24.

Meter having post-meal test-time alarm

Номер патента: WO2007019384A1. Автор: Barry D. Power,Jeffrey A Culver. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2007-02-15.

Test support system, method and computer program product, which optimize test scenarios to minimize total test time

Номер патента: US8584095B2. Автор: Yuriko Nishikawa,Yoshinori Tahara,Sakura BHANDARI,Kaoru Shinkawa. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-11-12.

Methods of resource optimization in programmable logic devices to reduce test time

Номер патента: WO2004013967A2. Автор: Sridhar Krishnamurthy,Jeffrey V. Lindholm,Andrew W. Lai,Randy J. Simmons,Teymour M. Mansour,Vincent L. Tong,Jay T. Young,William R. Troxel. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2004-02-12.

Device having post-meal test-time alarm

Номер патента: US10546482B2. Автор: Barry D. Power,Jeffrey A. Culver. Владелец: Ascensia Diabetes Care Holdings AG. Дата публикации: 2020-01-28.

Efficient test-time adaptation for improved temporal consistency in video processing

Номер патента: WO2022192449A1. Автор: Yizhe Zhang,Shubhankar Mangesh Borse,Fatih Murat PORIKLI. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-09-15.

Templates with post-test test time alarm

Номер патента: NO20081164L. Автор: Barry D Power,Jeffrey A Culver. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2008-05-05.

Meter having post-meal test-time alarm

Номер патента: EP1913508A1. Автор: Barry D. Power,Jeffrey A Culver. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2008-04-23.

Electronic product life test time calculation method on a kind of star

Номер патента: CN110196779A. Автор: 米海波,韩慧超,石士进,栾家辉,朱兴高,代永德. Владелец: CHINA ASTRONAUTICS STANDARDS INSTITUTE. Дата публикации: 2019-09-03.

Method and system for reducing device test time

Номер патента: US7930130B2. Автор: Charlotte SAKAROVITCH,Marielle PERRIN,Laurent ZENOUDA. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Test time conversion to prothrombin rate - is given instantly by mechanical hand calculator with scales for several thromboplastin values

Номер патента: FR2373834A1. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-07-07.

Test-time adaptation with unlabeled online data

Номер патента: US20230281509A1. Автор: Sungrack Yun,Sungha CHOI,Seunghan YANG,Seokeon CHOI. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Test-time adaptation via self-distilled regularization

Номер патента: WO2024102530A1. Автор: Sungha CHOI,Junha SONG. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-05-16.

Test-time adaptation via self-distilled regularization

Номер патента: US20240160926A1. Автор: Sungha CHOI,Junha SONG. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Efficient test-time adaptation for improved temporal consistency in video processing

Номер патента: EP4305551A1. Автор: Yizhe Zhang,Shubhankar Mangesh Borse,Fatih Murat PORIKLI. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Online test time adaptive semantic segmentation with augmentation consistency

Номер патента: US20240020848A1. Автор: Hong Cai,Kambiz Azarian Yazdi,Hyojin Park,Shubhankar Mangesh Borse,Fatih Murat PORIKLI,Debasmit DAS,Risheek Garrepalli. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Online test time adaptive semantic segmentation with augmentation consistency

Номер патента: WO2024015810A1. Автор: Hong Cai,Kambiz Azarian Yazdi,Hyojin Park,Shubhankar Mangesh Borse,Fatih Murat PORIKLI,Debasmit DAS,Risheek Garrepalli. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-01-18.

Test control device, test system, and control method for device testing with predictable and reduced test times

Номер патента: US12007861B2. Автор: Tsutomu Unesaki. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Programmable delay cell and a controller, a printed circuit board and a computer apparatus having the same, methods for using the same and an article holding instructions for testing timing of signals between a controller and a devices

Номер патента: TWI341461B. Автор: Tsvika Kurts,Zelig Wayner. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2011-05-01.

Testing time delay characteristics of electronic devices

Номер патента: GB1049138A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1966-11-23.

Architecture of biult-in self test of storing device having distributed command interpretation and generic command protocol

Номер патента: RU2336581C2. Автор: Роберто Ф. АВЕРБУХ,Дэвид В. ХАНСКУИН. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2008-10-20.

Adaptation of word line pulse widths in memory systems

Номер патента: RU2455713C2. Автор: Мохамед Х. АБУ-РАХМА,Сей Сеунг ЙООН. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2012-07-10.

Built-in self-testing and failure correction circuitry

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Garima Sharda,Nidhi Sinha,Dinesh Joshi,Akshay Pathak. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2021-06-10.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A1. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: WO2020092406A8. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-12-03.

Low cost built-in self test state machine for general purpose RAM testing

Номер патента: US20030159095A1. Автор: Eric Wehage. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-08-21.

Memory self test comparative circuit and System On Chip including the circuit

Номер патента: KR100894504B1. Автор: 신용환,채은석. Владелец: (주)알파칩스. Дата публикации: 2009-04-22.

Memory testing system

Номер патента: US09514842B2. Автор: Dragos F. Botea,Vijay M. Bettada,Bibo Li. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

Module controllers for memory devices and memory modules including the module controllers

Номер патента: US20190325982A1. Автор: Su Hae WOO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2019-10-24.

Memory built-in self test system

Номер патента: US09946620B2. Автор: Thomas Chadwick,Kevin W. Gorman,Nancy Pratt. Владелец: Invecas Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US12033710B2. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240321377A1. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Built-in self test schemes and testing algorithms for randon access memories

Номер патента: GR990100210A. Автор: . Владелец: I.S.D.. Дата публикации: 2001-02-28.

Programmable counter to control memory built in self-test

Номер патента: US09859019B1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Adapting word line pulse widths in memory systems

Номер патента: CA2709424C. Автор: Sei Seung Yoon,Mohamed H. Abu-Rahma. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-12-10.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: US6874111B1. Автор: R. Dean Adams,Kamran Zarrineh,Thomas J. Eckenrode,Steven L. Gregor. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-29.

Eye scan for memory channel

Номер патента: US09665289B1. Автор: CHAO Xu,Chien-Hsin Lee,Dat Tuan Mach,Alejandro Lopez-Sosa. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-05-30.

Memory control circuit and memory test method

Номер патента: US20180182466A1. Автор: Jenn-Shiang Lai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,Kuan-Te Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-06-28.

Bad column management with bit information in non-volatile memory systems

Номер патента: US09748001B2. Автор: Yan Li,Frank Tsai,Kwang-Ho Kim,Aldo Bottelli. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2017-08-29.

Testing embedded memory in an integrated circuit

Номер патента: US20060059386A1. Автор: WEI Han,Loren McLaury. Владелец: Lattice Semiconductor Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Memory having variable refresh control and method therefor

Номер патента: US20060010350A1. Автор: Perry Pelley,John Burgan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-12.

Memory having variable refresh control and method therefor

Номер патента: US20040160838A1. Автор: Perry Pelley,John Burgan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-19.

Dynamic built-in self-test system

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Steven M. Douskey,Ryan A. Fitch,Michael J. Hamilton,Amanda R. Kaufer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

A runtime programmable bist for testing a multi-port memory device

Номер патента: WO2010129127A2. Автор: Michael Nicolaidis,Slimane Boutobza. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2010-11-11.

A runtime programmable bist for testing a multi-port memory device

Номер патента: WO2010129127A3. Автор: Michael Nicolaidis,Slimane Boutobza. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2011-01-20.

Dynamic power analysis with per-memory instance activity customization

Номер патента: US20190295676A1. Автор: Igor Arsovski,Kyle M. HOLMES. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Screening of memory circuits

Номер патента: EP3939045A1. Автор: Devanathan Varadarajan,Francisco Adolfo Cano,Anthony Martin HILL. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2022-01-19.

Screening of memory circuits

Номер патента: US20200294614A1. Автор: Devanathan Varadarajan,Francisco Adolfo Cano,Anthony Martin HILL. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-09-17.

Serial Interface to Memory Using Interlaced Scan

Номер патента: KR960038622A. Автор: 백상현,조창현,김호룡,김헌철. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1996-11-21.

VLSI embedded RAM test

Номер патента: US5471482A. Автор: Larry L. Byers,Donald W. Mackenthun,Philip J. Fye,Gerald J. Maciona,Jeff A. Engel,Ferris T. Price, deceased,Dale K. Seppa. Владелец: Unisys Corp. Дата публикации: 1995-11-28.

Method of testing memory module and memory module

Номер патента: US20060064611A1. Автор: Byung-se So,Seung-jin Seo,Hui-chong Shin,Seung-Man Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-23.

Memory having variable refresh control and method therefor

Номер патента: WO2004075257A2. Автор: John M. Burgan,Perry H. Pelley. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2004-09-02.

Memory having variable refresh control and method therefor

Номер патента: WO2004075257A3. Автор: Perry H Pelley,John M Burgan. Владелец: John M Burgan. Дата публикации: 2005-01-13.

Raid decoding architecture with reduced bandwidth

Номер патента: US09899104B2. Автор: Yu-Luen Wang. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Semiconductor device

Номер патента: US10359451B2. Автор: Jong-Man Im,Yu-Ri LIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2019-07-23.

Method and apparatus for shifting at-speed scan patterns in a scan-based integrated circuit

Номер патента: EP1649622A2. Автор: Xiaoqing Wen,Augusli Kifli,Fei-Sheng Hsu,Shyh-Horng Lin,Laung-Terng Wang (L.-T.),Shianling Wu,Khader S. Abdel-Hafez,Ming-Tung Chang,Boryau Sheu, (Jack),Shun-Miin Wang (Sam). Владелец: Syntest Technologies Inc. Дата публикации: 2006-04-26.

Built-in self test for a/d converter

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Xiankun Jin,Mark Stachew. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Dynamically Re-Configurable In-Field Self-Test Capability For Automotive Systems

Номер патента: US20220243437A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-08-04.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US09530338B2. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Built in shelf test method and apparatus for booth multipliers

Номер патента: US5960009A. Автор: Yervant Zorian,Dimitris Gizopoulos,Antonis Paschalis. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1999-09-28.

Dynamically re-configurable in-field self-test capability for automotive systems

Номер патента: WO2022164512A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-08-04.

Time-triggered computer system

Номер патента: GB2619943A. Автор: Joseph Pont Michael. Владелец: SAFETTY SYSTEMS Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Dynamically Re-Configurable In-Field Self-Test Capability For Automotive Systems

Номер патента: US20230203796A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-06-29.

Dynamically re-configurable in-field self-test capability for automotive systems

Номер патента: EP4285221A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-12-06.

Time-triggered computer system with a high level of diagnostic coverage

Номер патента: WO2023247934A1. Автор: Michael Joseph Pont. Владелец: SAFETTY SYSTEMS Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Device, system and process for redundant processor error detection

Номер патента: EP3776210A1. Автор: Emre Ozer,Xabier ITURBE,Balaji VENU. Владелец: Advanced Risc Machines Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Device, system and process for redundant processor error detection

Номер патента: US20200218625A1. Автор: Emre Ozer,Xabier ITURBE,Balaji VENU. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2020-07-09.

Device, system and process for redundant processor error detection

Номер патента: WO2019186110A1. Автор: Emre Ozer,Xabier ITURBE,Balaji VENU. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2019-10-03.

Apparatus and method for testing high-speed low-latency interconnect interface (hlii) for silicon interposer

Номер патента: US20230367683A1. Автор: Xiaochen Hu,Yuting Xu,Yueer SHAN,Yanfeng Xu,Xiaojie MA,Yanfei Zhang. Владелец: Wuxi Esiontech Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Method for performing hybrid over-current protection detection in a display module, and associated timing controller

Номер патента: US20210295752A1. Автор: Ching-Lun Chen. Владелец: Himax Technologies Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

LSI circuit with self-checking facilitating circuit built therein

Номер патента: US4670877A. Автор: Shinji Nishibe. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1987-06-02.

Semiconductor integrated circuit and test method therefor

Номер патента: US20070271488A1. Автор: Kentaro Teranishi. Владелец: Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-22.

Low power scan design and delay fault testing technique using first level supply gating

Номер патента: US20060220679A1. Автор: Kaushik Roy,Saibal Mukhopadhyay,Hamid Mahmoodi,Swarup Bhunia,Arijit Raychowhury. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2006-10-05.

Low pin count, high-speed boundary scan testing

Номер патента: US7124340B2. Автор: Herve Fleury,Hendrikus Petrus Elisabeth Vranken,Gerardus Arnoldus Antonius Bos,Thomas Franciscus Waayers,David Lelouvier. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2006-10-17.

Photon transfer curve test time reduction

Номер патента: EP1976264A1. Автор: Mark Nussbacher,Giuseppe D'onofiro. Владелец: Digital Imaging Systems GmbH. Дата публикации: 2008-10-01.

Video start-time reduction employing reductive edging principles

Номер патента: US10911793B2. Автор: Alex Hwang,Bhumik Sanghavi,Joel Freeman,Sri Sreedharan. Владелец: Sony Interactive Entertainment LLC. Дата публикации: 2021-02-02.

VIDEO START-TIME REDUCTION EMPLOYING REDUCTIVE EDGING PRINCIPLES

Номер патента: US20200154155A1. Автор: Freeman Joel,Hwang Alex,Sanghavi Bhumik,Sreedharan Sri. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

VIDEO START-TIME REDUCTION EMPLOYING REDUCTIVE EDGING PRINCIPLES

Номер патента: US20210235136A1. Автор: Freeman Joel,Hwang Alex,Sanghavi Bhumik,Sreedharan Sri. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

Indication of interoperability and deployment tested time-division duplex slot formats

Номер патента: US20240313936A1. Автор: Yupeng Jia,Hongyan Lei. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2024-09-19.

Indication of interoperability and deployment tested time-division duplex slot formats

Номер патента: US12081496B2. Автор: Yupeng Jia,Hongyan Lei. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2024-09-03.

Method and means of dead time reduction in half bridge topology

Номер патента: US20240235381A1. Автор: Bernhard Strzalkowski. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-07-11.

Tune-in time reduction

Номер патента: EP1966915A2. Автор: Miska Hannuksela,Mehdi Rezaei. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2008-09-10.

Tune-in time reduction

Номер патента: WO2007074361A2. Автор: Miska Hannuksela,Mehdi Rezaei. Владелец: NOKIA, INC.. Дата публикации: 2007-07-05.

Method and means of dead time reduction in half bridge topology

Номер патента: EP4398486A1. Автор: Bernhard Strzalkowski. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-07-10.

ALD cycle time reduction using process chamber lid with tunable pumping

Номер патента: US11767590B2. Автор: Muhannad MUSTAFA,Muhammad M. Rasheed,Anqing Cui,Mario D. SANCHEZ. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

ALD cycle time reduction using process chamber lid with tunable pumping

Номер патента: US12054826B2. Автор: Muhannad MUSTAFA,Muhammad M. Rasheed,Anqing Cui,Mario D. SANCHEZ. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Lag time reduction/ice spray

Номер патента: CA3154122A1. Автор: Andreas Koch,James Paul RONNANDER. Владелец: LTS Lohmann Therapie Systeme AG. Дата публикации: 2021-05-06.

Lag time reduction/ice spray

Номер патента: US20220409533A1. Автор: Andreas Koch,James Paul RONNANDER. Владелец: LTS Lohmann Therapie Systeme AG. Дата публикации: 2022-12-29.

Cell search time reduction using known scrambling codes

Номер патента: WO2005022767A1. Автор: Gurdeep Singh,Messay Amerga,Thomas B. Wilborn. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2005-03-10.

Search time reduction with increased accuracy during resonant device interrogation

Номер патента: WO2007084200A2. Автор: George P. O'brien,Jack Thiesen. Владелец: SOCIETE DE TECHNOLOGIE MICHELIN. Дата публикации: 2007-07-26.

Settling time reduction for low noise amplifier

Номер патента: US09755595B1. Автор: Saihua LIN. Владелец: Avago Technologies General IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Controllable on-time reduction for switching voltage regulators operating in pulse frequency modulation mode

Номер патента: US09484816B2. Автор: Benjamim Tang,Darryl Tschirhart,Richard Pierson. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2016-11-01.

Method of call setup time reduction for voice over LTE

Номер патента: US09462618B2. Автор: Yih-Shen Chen,Yu-Syuan Jheng,Chia-Hung Tsai,Chien-Chun Huang-Fu,Wei-Chiang Peng. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-10-04.

Method for testing multiple data packet signal transceivers with a shared tester to maximize tester use and minimize test time

Номер патента: US20150304864A1. Автор: Christian Volf Olgaard. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2015-10-22.

Method for testing multiple data packet signal transceivers with a shared tester to maximize tester use and minimize test time

Номер патента: WO2015160442A1. Автор: Christian Volf Olgaard. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-22.

Indication of interoperability and deployment tested time-division duplex slot formats

Номер патента: US20200099501A1. Автор: Yupeng Jia,Hongyan Lei. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2020-03-26.

COMMUNICATION INTERRUPTION TIME REDUCTION METHOD IN A PACKET COMMUNICATION NETWORK

Номер патента: US20140050078A1. Автор: Mizutani Masahiko,SUZUKI Katsuyoshi,Sato Aya,NIIBE Masao. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2014-02-20.

SYSTEMS AND METHODS FOR PROCESSING TIME REDUCTION SIGNALING

Номер патента: US20180020335A1. Автор: NOGAMI Toshizo,Yin Zhanping. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-18.

Save Game Load Time Reduction for Cloud Gaming

Номер патента: US20160023109A1. Автор: Colenbrander Roderick. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

SYSTEMS AND METHODS FOR PUCCH RESOURCE ALLOCATION AND HARQ-ACK REPORTING WITH PROCESSING TIME REDUCTION

Номер патента: US20180042015A1. Автор: NOGAMI Toshizo,Yin Zhanping. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-08.

CYCLE TIME REDUCTION MASTERBATCHES AND THEIR USE IN THERMOPLASTIC COMPOUNDS

Номер патента: US20140151924A1. Автор: Prince Jack R.,Piunti Jason D.. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-05.

ALD CYCLE TIME REDUCTION USING PROCESS CHAMBER LID WITH TUNABLE PUMPING

Номер патента: US20210087686A1. Автор: Rasheed Muhammad M.,CUI ANQING,MUSTAFA Muhannad,Sanchez Mario D.. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-03-25.

Real-time reduction of cpu overhead for data compression

Номер патента: US20140195498A1. Автор: Ron Asher,Danny Harnik,Dmitry Sotnikov,Oded Margalit,Kat I. RONEN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-10.

Vehicle Idle Time Reduction System and Method

Номер патента: US20140230470A1. Автор: Cook Jonathan W.. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-21.

SWITCHING TIME REDUCTION OF AN RF SWITCH

Номер патента: US20210194476A1. Автор: Blin Guillaume Alexandre. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

METHOD FOR REALIZING TIME REDUCTION IN SHARED MESH NETWORK

Номер патента: US20150188625A1. Автор: LEE Jong Hyun,Lee Jong Seok,KIM Tae Il,KIM Dae Ub,KIM Sun Me,PARK Chan Sung. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-02.

Save Game Load Time Reduction for Cloud Gaming

Номер патента: US20200197803A1. Автор: Colenbrander Roderick. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-25.

Method of Call Setup Time Reduction for Voice over LTE

Номер патента: US20150257178A1. Автор: Chen Yih-Shen,Tsai Chia-Hung,Jheng Yu-Syuan,Huang-Fu Chien-Chun,PENG Wei-Chiang. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

CATALYST LIGHT-OFF TIME REDUCTION AND MAINTENANCE

Номер патента: US20160290308A1. Автор: SZCZEPANSKI Edward. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-06.

CRYSTAL OSCILLATOR STARTUP TIME REDUCTION

Номер патента: US20150333694A1. Автор: Smith Ryan,Røine Per Torstein,Griffith Danielle,Murdock James. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-19.

CHANCE-BASED WAIT TIME REDUCTIONS

Номер патента: US20160346677A1. Автор: Kim John. Владелец: Kabam, Inc.. Дата публикации: 2016-12-01.

Controllable On-Time Reduction for Switching Voltage Regulators Operating in Pulse Frequency Modulation Mode

Номер патента: US20150357913A1. Автор: Tang Benjamim,Pierson Richard,Tschirhart Darryl. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

Lag time reduction/ice spray

Method, device and system for start-up time reduction in switching regulators

Номер патента: CN101369773A. Автор: 黄树良,陶志波,龚大伟. Владелец: Active Semi International Inc USA. Дата публикации: 2009-02-18.

Channel hopping time reduction method in mpeg 2 system decoder

Номер патента: KR0182004B1. Автор: 허준호. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1999-05-01.

Hrc mode receiving time reduction method of catv

Номер патента: KR950001574B1. Автор: 이남혁. Владелец: 강진구. Дата публикации: 1995-02-25.

System and method for processing time reduction signaling

Номер патента: CN110036586B. Автор: 野上智造,尹占平. Владелец: FG Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-28.

Delayed coking cycle time reduction

Номер патента: US5891310A. Автор: David K. Nelsen. Владелец: Conoco Inc. Дата публикации: 1999-04-06.

Save game load time reduction for cloud gaming

Номер патента: WO2016014603A1. Автор: Roderick COLENBRANDER. Владелец: Sony Computer Entertainment America LLC. Дата публикации: 2016-01-28.

Approach for channel switch time reduction in IPDC over DVB-H

Номер патента: US20080092203A1. Автор: Miska Hannuksela,Imed Bouazizi. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2008-04-17.

Time reduction for multiple link recovery

Номер патента: EP2517371A4. Автор: Minyoung Park. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-11-29.

Real-time reduction of audio echo and background noise for a mobile device

Номер патента: DE102013021904B4. Автор: Gilles Miet,Stefano Sarghini,Nigel Paton. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2017-01-26.

Video start time reduction using reduced edge processing principles

Номер патента: CN113424166A. Автор: A.黄,J.弗里曼,B.桑加维,S.斯里达兰. Владелец: Sony Interactive Entertainment LLC. Дата публикации: 2021-09-21.

Inverting dynamic register with data-dependent hold time reduction mechanism

Номер патента: EP1684431A2. Автор: Raymond A. Bertram. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2006-07-26.

Method for signalling and time reduction during connection release

Номер патента: US20070123266A1. Автор: Richard Burbidge,Rohini Polisetty. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2007-05-31.

Storage time reduction and/or volume stability increase of waste incineration slags for building or dumping

Номер патента: DE19806083A1. Автор: Pfrang-Stotz,Reichelt. Владелец: Pfrang Stotz. Дата публикации: 1999-08-19.

INVESTOR DYNAMIC RECORD WITH TIME REDUCTION MECHANISM OF DEPENDENT MAINTENANCE.

Номер патента: ES2337287T3. Автор: Raymond A. Bertram. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2010-04-22.

Ald cycle time reduction using process chamber lid with tunable pumping

Номер патента: WO2021055990A1. Автор: Muhannad MUSTAFA,Muhammad M. Rasheed,Anqing Cui,Mario D. SANCHEZ. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-03-25.

Discharge time reduction apparatus

Номер патента: KR102070366B1. Автор: 이완용,최용한. Владелец: 최용한. Дата публикации: 2020-01-28.

Ald cycle time reduction using process chamber lid with tunable pumping

Номер патента: TW202133365A. Автор: 崔安青,姆漢納德穆斯塔法,幕哈瑪德Ｍ拉許德,馬力歐Ｄ森切斯. Владелец: 美商應用材料股份有限公司. Дата публикации: 2021-09-01.

For the controllable conduction time reduction with the regulator of PFM mode operations

Номер патента: CN105281571B. Автор: B·唐,D·奇尔哈特,R·皮尔逊. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2018-04-20.

Search time reduction with increased accuracy during resonant device interrogation

Номер патента: WO2007084200A3. Автор: Jack Thiesen,George P O'brien. Владелец: George P O'brien. Дата публикации: 2007-11-22.

Delayed coking cycle time reduction

Номер патента: CA2282475C. Автор: David K. Nelsen. Владелец: ConocoPhillips Co. Дата публикации: 2005-06-14.

Lag time reduction/ice spray

Номер патента: WO2021083593A1. Автор: Andreas Koch,James Paul RONNANDER. Владелец: LTS Lohmann Therapie-Systeme AG. Дата публикации: 2021-05-06.

Television and teletext signal receiver including teletext decoder and adaptive standby time reduction circuit

Номер патента: JP3195786B2. Автор: アドリアヌスマリアラーエイマルケストーマス. Владелец: Philips Electronics NV. Дата публикации: 2001-08-06.

Inverting dynamic register with data-dependent hold time reduction mechanism

Номер патента: EP1684431B1. Автор: Raymond A. Bertram. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2009-11-25.

Sidelink preparation procedure time reduction

Номер патента: US20240049183A1. Автор: Piyush Gupta,Junyi Li,Xiaoxia Zhang,Xiaojie Wang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Method of Call Setup Time Reduction for Voice over LTE

Номер патента: US20150257178A1. Автор: Yih-Shen Chen,Yu-Syuan Jheng,Chia-Hung Tsai,Chien-Chun Huang-Fu,Wei-Chiang Peng. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2015-09-10.

Ald cycle time reduction using process chamber lid with tunable pumping

Номер патента: US20230357927A1. Автор: Muhannad MUSTAFA,Muhammad M. Rasheed,Anqing Cui,Mario D. SANCHEZ. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Crystal oscillator startup time reduction

Номер патента: WO2015179429A1. Автор: James Murdock,Ryan Smith,Per Torstein ROINE,Danielle Griffith. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2015-11-26.

Dead-time reduction using gate current mirror in a power converter

Номер патента: EP4369603A1. Автор: Guillaume Lefevre,Johan LE LESLE. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe BV Netherlands. Дата публикации: 2024-05-15.

Sidelink preparation procedure time reduction

Номер патента: WO2024030788A1. Автор: Piyush Gupta,Junyi Li,Xiaoxia Zhang,Xiaojie Wang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-02-08.

Method of call setup time reduction for voice over lte

Номер патента: EP2989823A4. Автор: Yih-Shen Chen,Yu-Syuan Jheng,Chia-Hung Tsai,Chien-Chun Huang-Fu,Wei-Chiang Peng. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-02-22.

Method for testing the error ratio BER of a device according to confidence level, test time and selectivity

Номер патента: US7895480B2. Автор: Thomas Maucksch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2011-02-22.

Decoder for reducing test time for detecting defective switches in a digital-to-analog converter

Номер патента: TW518830B. Автор: Chang-sig Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-01-21.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: US20140121486A1. Автор: Freeman Dominique M.,Boecker Dirk. Владелец: SANOFI-AVENTIS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2014-05-01.

INDICATION OF INTEROPERABILITY AND DEPLOYMENT TESTED TIME-DIVISION DUPLEX SLOT FORMATS

Номер патента: US20200099501A1. Автор: Jia Yupeng,Lei Hongyan. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

SYSTEM AND METHOD FOR DATA PACKET TRANSCEIVER TESTING AFTER SIGNAL CALIBRATION AND POWER SETTLING TO MINIMIZE TEST TIME

Номер патента: US20150139023A1. Автор: OLGAARD Christian Volf,WANG Ruizu. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-21.

METHOD FOR TESTING MULTIPLE DATA PACKET SIGNAL TRANSCEIVERS WITH A SHARED TESTER TO MAXIMIZE TESTER USE AND MINIMIZE TEST TIME

Номер патента: US20150304864A1. Автор: OLGAARD Christian Volf. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-22.

METHODS, SYSTEMS, AND COMPUTER READABLE MEDIA FOR TESTING TIME SENSITIVE NETWORK (TSN) ELEMENTS

Номер патента: US20180309655A1. Автор: Regev Alon,Tenea Bogdan,Joseph Vinod,Balan Alina Crina. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-25.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: EP1835848A4. Автор: Dirk Boecker. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2009-07-29.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: US20090054811A1. Автор: Dirk Boecker. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2009-02-26.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: WO2006072004A3. Автор: Dirk Boecker. Владелец: Pelikan Technologies Inc. Дата публикации: 2007-05-10.

Method for testing time slot coding of field intensity of base station of maglev train vehicle-ground communication system

Номер патента: CN113115265A. Автор: 樊勇,李娜,李廷军,杨海宁,郝逸飞,颜旺. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2021-07-13.

Method and apparatus for analyte measurement test time

Номер патента: WO2006072004A2. Автор: Dirk Boecker. Владелец: Pelikan Technologies, Inc.. Дата публикации: 2006-07-06.

Method for testing timing counter of elevator

Номер патента: CN112061919B. Автор: 孙坚杰. Владелец: Hangzhou Linan Senyuan Electric Cable Co ltd. Дата публикации: 2022-04-22.

Method and equipment for testing time delay of audio loop

Номер патента: CN108702568B. Автор: 孙伟,谭利文,曹海恒. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-21.

Reduced test time finite impulse response digital filter

Номер патента: KR100188819B1. Автор: 카즈야 야마나카,슈지 무라카미,노부히로 미요시. Владелец: 다니구찌 이찌로오 기다오까 다카시. Дата публикации: 1999-06-01.

Coupling arrangement to limit test time, in particular in telephone installations with selector service

Номер патента: FR1072974A. Автор: . Владелец: Siemens and Halske AG. Дата публикации: 1954-09-17.

Method for testing timing counter of elevator

Номер патента: CN112061919A. Автор: 孙坚杰. Владелец: Hangzhou Linan Senyuan Electric Cable Co ltd. Дата публикации: 2020-12-11.

Method of using snr to reduce factory test time

Номер патента: US20090124252A1. Автор: XIN Jin,Qingzhong Jiao,Jennifer Mallalieu,Ronald Bruce Harding. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2009-05-14.

Apparatus for testing time intervals

Номер патента: US2702950A. Автор: Frederik Willem Steven. Владелец: Individual. Дата публикации: 1955-03-01.

Method for Testing the Error Ratio Ber of a Device According to Confidence Level, Test Time and Selectivity

Номер патента: US20080320344A1. Автор: Thomas Maucksch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2008-12-25.

Method for testing the error ratio ber of a device according to confidence level, test time and selectivity

Номер патента: WO2005041470A1. Автор: Thomas Maucksch. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2005-05-06.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: US20140157069A1. Автор: Masami Nishizono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-06-05.

IC testing method and IC testing device using the same

Номер патента: US6404220B1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-06-11.

Semiconductor testing equipment

Номер патента: US6163875A. Автор: Noriyuki Suzuki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2000-12-19.

Methods, systems, and apparatus for testing semiconductor packages

Номер патента: US20170261548A1. Автор: Jae Hong Kim,Ji Nyeong Yun,Jae Moo CHOI,Jong Pill Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-14.

Apparatus and method including an efficient data transfer for analog to digital converter testing

Номер патента: US6531972B2. Автор: Pramodchandran Variyam,Sumant Bapat. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2003-03-11.

Self calibration method for radio equipment with receive and transmit circuitry

Номер патента: US8781403B2. Автор: Jan Soerensen,Poul Olesen. Владелец: Intel Mobile Communications GmbH. Дата публикации: 2014-07-15.

Self calibration method for radio equipment with receive and transmit circuitry

Номер патента: US20100073220A1. Автор: Jan Soerensen,Poul Olesen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2010-03-25.

Self Calibration Method for Radio Equipment with Receive and Transmit Circuitry

Номер патента: US20140315499A1. Автор: Jan Soerensen,Poul Olesen. Владелец: Intel Mobile Communications GmbH. Дата публикации: 2014-10-23.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US09960888B2. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-05-01.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test

Номер патента: US20020095632A1. Автор: Benoit Veillette. Владелец: Philips Electronics North America Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Built-in-self-test circuit for sigma-delta modulator

Номер патента: US09748970B1. Автор: Chao Liang,ZHOU Fang,Wanggen Zhang,Song Huang,Yifeng Liu. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

System for in-band spectral cross-talk monitoring

Номер патента: US20240275480A1. Автор: Mir Ashkan SEYEDI. Владелец: MELLANOX TECHNOLOGIES LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Steffen Gloeckner,Stefan Barabas,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-08-23.

System and method for determining phase change

Номер патента: US09906316B2. Автор: Sidharth Balasubramanian. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

REAL-TIME ADAPTIVE HYBRID BiST SOLUTION FOR LOW-COST AND LOW-RESOURCE ATE PRODUCTION TESTING OF ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS

Номер патента: WO2011068904A2. Автор: Sachin D. Dasnurkar. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-06-09.

Implementing low-loss variable optical delay lines

Номер патента: US11817906B1. Автор: Mir Ashkan SEYEDI,Liron Gantz. Владелец: MELLANOX TECHNOLOGIES LTD. Дата публикации: 2023-11-14.

Method and apparatus for testing digital to analog and analog to digital converters

Номер патента: US5659312A. Автор: Stephen K. Sunter,Naveena Nagi. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 1997-08-19.

一种基于最少团覆盖的相容扫描链压缩方法

Номер патента: CN105790770A. Автор: 吴海峰,吴琼,程飞,程一飞,张翠娟,詹文法. Владелец: Anqing Normal University. Дата публикации: 2016-07-20.

Apparatus, system and method of ensuring that only randomly-generated numbers that have passed a test are used for cryptographic purposes

Номер патента: US7788479B2. Автор: Koji Ishii. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-08-31.

Transceiver for receiving and transmitting data over a network and method for testing the same

Номер патента: US20090003419A1. Автор: Joseph A. Iadanza. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-01-01.

Method for determining failure rate and selecting best burn-in time

Номер патента: US20020082796A1. Автор: Charlie Han,Walx Fang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2002-06-27.

Method for continuous tester operation during multiple stage temperature testing

Номер патента: SG11201900098UA. Автор: Roberts, Jr. Владелец: Celerint LLC. Дата публикации: 2019-02-27.

Method for continuous tester operation during multiple stage temperature testing

Номер патента: US20180313888A1. Автор: Howard H. ROBERTS, Jr.. Владелец: Celerint LLC. Дата публикации: 2018-11-01.

Battery characteristic determining device for a vehicle

Номер патента: US20160178703A1. Автор: Kuo-Liang Weng,Deng-He Lin,Bo-Han HWANG. Владелец: Automotive Research and Testing Center. Дата публикации: 2016-06-23.

Battery characteristic determining device for a vehicle

Номер патента: US09910100B2. Автор: Kuo-Liang Weng,Deng-He Lin,Bo-Han HWANG. Владелец: Automotive Research and Testing Center. Дата публикации: 2018-03-06.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Method and device for monitoring a circuit breaker

Номер патента: RU2672769C2. Автор: Чжицянь ЧЖУАН,Синь И,Конвень ЛЮ. Владелец: АББ ШВАЙЦ АГ. Дата публикации: 2018-11-19.

Method for managing a breaker and controller of a breaker

Номер патента: EP4330693A1. Автор: Xin Ye,Congwen LU,Yanyan Cheng,Chunfa CHEN. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-03-06.

Method of inspection tests on the gamma-percentile life of non-recoverable radioelectronic devices

Номер патента: RU2660748C1. Автор: Андрей Дмитриевич Вельт,Владимир Дмитриевич Митрохин. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов". Дата публикации: 2018-07-09.

Circuit for temperature stress test for memory chips

Номер патента: US12044723B2. Автор: Junsheng CHEN,Zhenan Lai. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

A circuit for temperature stress test for memory chips

Номер патента: US20240264222A9. Автор: Junsheng CHEN,Zhenan Lai. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for continuous tester operation during long soak time testing

Номер патента: US20210341531A1. Автор: Howard H. ROBERTS, Jr.. Владелец: Celerint LLC. Дата публикации: 2021-11-04.

Vertical Probe And Jig For Vertical Probe

Номер патента: US20200182908A1. Автор: Nobuo Iwakuni,Tadashi Rokkaku,Akiko Iwana. Владелец: Probe Innovation Inc. Дата публикации: 2020-06-11.

Aging Test Method and Aging Test System for Light Emitting Device

Номер патента: US20190195938A1. Автор: DONG Chen,Yinan LIANG,Chao Kong,Kening ZHENG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-27.

Semiconductor device and method for testing the semiconductor device

Номер патента: US09865586B2. Автор: Yoshiaki Toyoda,Hideaki KATAKURA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

High speed hybrid active load pull

Номер патента: US09664718B1. Автор: Christos Tsironis. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-30.

Short t2 tissue imaging with t2 prep petra sequence

Номер патента: US20210173032A1. Автор: Fang Dong,Kun Zhou. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2021-06-10.

Method of determining operating condition of medium-voltage electromagnetic switching device

Номер патента: RU2696328C2. Автор: НАТАЛЕ Габриэле Валентино ДЕ,Марко ТЕСТА,Андреа РИЧЧИ,Андреа БЬЯНКО. Владелец: АББ ШВАЙЦ АГ. Дата публикации: 2019-08-01.

Apparatus and method for testing fuses

Номер патента: US20020003425A1. Автор: Tim Damon,Phillip E. Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-10.

System for calculating electric quantity, transformer sub-station comprising such system and method for calculating electric quantity with such system

Номер патента: RU2652170C2. Автор: Оливье КУТЛУ,Дамьен СИЛЛАН,Максим ГАЙЯР. Владелец: ШНЕЙДЕР ЭЛЕКТРИК ЭНДЮСТРИ САС. Дата публикации: 2018-04-25.

Reduced Grid For Measurement Of Total Radiated Power

Номер патента: US20190229817A1. Автор: Joakim Axmon,Thomas Chapman,Torbjörn ELFSTRÖM,Esther SIENKIEWICZ. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2019-07-25.

Method and control device for operating a charger for electrically driven vehicles and charger

Номер патента: GB2621670A. Автор: Heyne Raoul,ZIEGLER Daniel,Ochs Thorsten,Ochhs Holger,Bareiss Simon. Владелец: ADS TEC Energy GmbH. Дата публикации: 2024-02-21.

Semiconductor memory test circuit and method for the same

Номер патента: US6389563B1. Автор: Young Hee Kim,Jin Keun Oh. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2002-05-14.

Heat metering devices, flow meters of various types metrological control method and device for its implementation

Номер патента: RU2664775C1. Автор: Равиль Ханифович Садыков,Аскар Алмазович Юлдашев. Владелец: Аскар Алмазович Юлдашев. Дата публикации: 2018-08-22.

Method for determining the efficiency range of lubricants

Номер патента: RU2650602C1. Автор: Болеслав Иванович Ковальский,Юрий Николаевич Безбородов,Евгений Александрович Ермилов,Николай Сергеевич Батов,Владимир Ильич Афанасов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский федеральный университет". Дата публикации: 2018-04-16.

Forecasting method of thermo-oxidative stability of lubricant materials

Номер патента: RU2695704C1. Автор: Олег Николаевич Петров,Болеслав Иванович Ковальский,Наталья Николаевна Лысянникова,Вячеслав Геннадьевич Шрам. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский федеральный университет". Дата публикации: 2019-07-25.

Method for secondary immunodeficiency diagnostics

Номер патента: RU2749781C1. Автор: Людмила Петровна Сизякина,Наталия Сергеевна Зайцева,Александр Данилович Багмет,Мария Владимировна Харитонова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ростовский Государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБОУ ВО РостГМУ Минзрава России). Дата публикации: 2021-06-16.

Acoustic method of controlling quality and process of generating ice walls during construction of underground objects

Номер патента: RU2581188C1. Автор: Владимир Лазаревич Шкуратник,Евгений Александрович Новиков,Алексей Алексеевич Кормнов,Роман Олегович Ошкин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2016-04-20.

Method for testing grinding balls for impact resistance

Номер патента: RU2759709C1. Автор: Виталий Юрьевич Рубцов,Константин Николаевич Шведов,Сергей Владимирович Борисов,Павел Анатольевич Зажигаев,Михаил Андреевич Казаковцев,Кирилл Андреевич Улегин. Владелец: Акционерное общество «ЕВРАЗ Нижнетагильский металлургический комбинат» (АО «ЕВРАЗ НТМК»). Дата публикации: 2021-11-17.

Method to define packed product storage life and device to this effect

Номер патента: RU2348033C2. Автор: . Владелец: Рудольф Вильд Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2009-02-27.

Method for determining a spatial displacement vector field

Номер патента: US09939257B2. Автор: Bernhard Wieneke. Владелец: LaVision GmbH. Дата публикации: 2018-04-10.

Method for determining sensitivity of bacterial hemocultures to antibiotics

Номер патента: RU2666257C1. Автор: Дмитрий Александрович Попов,Татьяна Юрьевна Вострикова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный научно-практический центр сердечно-сосудистой хирургии им. А.Н. Бакулева" Министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2018-09-06.

Portable hydraulic brinell testing apparatus

Номер патента: WO2016134153A1. Автор: Giancarlo Mazzoleni. Владелец: Giancarlo Mazzoleni. Дата публикации: 2016-08-25.

Portable hydraulic brinell testing apparatus

Номер патента: US09921142B2. Автор: Giancarlo Mazzoleni. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-20.

Method of measuring dynamic stresses in a turbomachine pipeline

Номер патента: RU2696943C1. Автор: Сергей Михайлович Гусенко,Антон Герольдович Терешко,Антон Сергеевич Макарычев. Владелец: Публичное акционерное общество "ОДК - Уфимское моторостроительное производственное объединение" (ПАО "ОДК-УМПО"). Дата публикации: 2019-08-07.

Method of determining maximum permissible performance indicators of lubricants

Номер патента: RU2705942C1. Автор: Болеслав Иванович Ковальский,Наталья Николаевна Лысянникова,Юрий Николаевич Безбородов,Вячеслав Геннадьевич Шрам,Валерий Иванович Верещагин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский федеральный университет". Дата публикации: 2019-11-12.

Glycan analysis method

Номер патента: US20190317101A1. Автор: Takashi NISHIKAZE. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-10-17.

Glycan analysis method

Номер патента: US11906522B2. Автор: Takashi NISHIKAZE. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Device for measurement of friction coefficient of road and aerodrome coatings

Номер патента: RU2601246C1. Автор: Юрий Владимирович Кузнецов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский автомобильно-дорожный государственный технический университет (МАДИ)". Дата публикации: 2016-10-27.

Method of determining deaeration properties of oils and device for its implementation

Номер патента: RU2691749C1. Автор: Сергей Юрьевич Поляков,Александр Анатольевич Мухин,Маргарита Сергеевна Дронова. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-исследовательский институт природных газов и газовых технологий - Газпром ВНИИГАЗ". Дата публикации: 2019-06-18.

Method of assessing stability of hydraulic fluids for aircraft engineering

Номер патента: RU2712230C1. Автор: Валерий Александрович Митягин,Игорь Витальевич Поплавский,Юрий Михайлович Пименов. Владелец: Федеральное автономное учреждение "25 Государственный научно-исследовательский институт химмотологии Министерства обороны Российской Федерации". Дата публикации: 2020-01-27.

System and method for automatic determination of the physical location of data center equipment

Номер патента: WO2010048205A1. Автор: Siva Somasundaram,Naim Malik,Brian Wang. Владелец: RARITAN AMERICAS, INC.. Дата публикации: 2010-04-29.

Method for monitoring the technical condition of a liquid rocket engine in transitional modes of a bench test

Номер патента: RU2758781C1. Автор: Петр Сергеевич Лёвочкин,Давид Суренович Мартиросов,Сергей Станиславович Каменский. Владелец: Акционерное общество "НПО Энергомаш имени академика В.П. Глушко". Дата публикации: 2021-11-01.

Stand for research of compensator with quasi-zero stiffness

Номер патента: RU2684933C1. Автор: Камил Рахматуллович Уразаков,Роза Ильгизовна Вахитова,Елена Борисовна Думлер,Павел Михайлович Тугунов,Алексей Николаевич Зотов,Олег Юрьевич Думлер. Владелец: Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Альметьевский государственный нефтяной институт". Дата публикации: 2019-04-16.

Stand for complex testing of drilling rigs and drill pipes

Номер патента: RU2746680C1. Автор: Андрей Петрович Фот. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Оренбургский государственный университет». Дата публикации: 2021-04-19.

Method of determining water impermeability of concrete and device for its implementation

Номер патента: RU2728727C1. Автор: Юрий Владимирович Пухаренко,Георгий Михайлович Хренов,Максим Павлович Кострикин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный архитектурно-строительный университет". Дата публикации: 2020-07-30.

Method for assessing liquid toxicity

Номер патента: RU2682673C1. Автор: Владимир Викторович Чайка,Кирилл Сергеевич Голохваст,Валерий Валерьевич Чернышев,Константин Сергеевич Пикула,Александр Михайлович Захаренко,Сергей Максимович Угай. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Дальневосточный федеральный университет" (ДВФУ). Дата публикации: 2019-03-20.

Dynamic load reproducing bench

Номер патента: RU2694127C1. Автор: Андрей Юрьевич Исаев,Вячеслав Николаевич Толочек,Дмитрий Анатольевич Марковских. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики имени академика Е.И. Забабахина". Дата публикации: 2019-07-09.

Method and apparatus for testing output cables of traction electric engines for complex effect of mechanical and climatic loads

Номер патента: RU2753176C1. Автор: Денис Юрьевич Василенко,Владимир Владиславович Карпенко,Александр Иванович Сулима. Владелец: Государственное Предприятие "Завод "Электротяжмаш". Дата публикации: 2021-08-12.

Crude oil demulsifier characterization

Номер патента: US11852648B2. Автор: Nagoorpitchai S. Meeranpillai,Ali Almuhaimeed,Osama Alzahrani. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-12-26.

Crude oil demulsifier characterization

Номер патента: US20230266218A1. Автор: Nagoorpitchai S. Meeranpillai,Ali Almuhaimeed,Osama Alzahrani. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-08-24.

Dummy for Testing the Pressure Comfort of an Office Chair

Номер патента: AU2021101373A4. Автор: Huimin Hu,Linghua RAN,Chaoyi Zhao. Владелец: CHINA NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDIZATION. Дата публикации: 2021-05-13.

Method for detecting concentration distribution of helium in depth direction in metal material with radio-frequency glow discharge optical emission spectrometer

Номер патента: NL2029687A. Автор: ZHANG Hong,WANG Peng,He Ran,QIAO LI. Владелец: Lanzhou Inst Chemical Physics Cas. Дата публикации: 2022-01-13.

Devices and methods for temperature correction for lateral flow testing

Номер патента: EP4217743A1. Автор: John Davenport,Lingyun Chen. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Optical detection device for monitoring a monitoring region with check on functional safety

Номер патента: US20240345231A1. Автор: Heiko Hofmann,Juergen Nies,Jochen Schenk,Frank Selbmann,Johannes Appl. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2024-10-17.

Electronic analyte assaying device

Номер патента: US09970923B2. Автор: Albert Nazareth,Andy Sturman,Benedict Zin,Henry Bell. Владелец: Church and Dwight Co Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Apparatus and method for testing multi-function and drug response of centrifugal microfluidic-based platelets

Номер патента: US09927425B2. Автор: Se Hyun SHIN,Jeong Hoon NAM,Chae Seung Lim,Hyun Jung Lim. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2018-03-27.

Electronic analyte assaying device

Номер патента: US09453850B2. Автор: Albert Nazareth,Andy Sturman,Benedict Zin,Henry Bell. Владелец: Church and Dwight Co Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Light detector

Номер патента: RU2617704C2. Автор: БРЮЭЙН Фредерик Ян ДЕ,Лоренцо ФЕРИ,Томмазо ГРИТТИ. Владелец: Филипс Лайтинг Холдинг Б.В.. Дата публикации: 2017-04-26.

Method for automatic tritium extraction from atmospheric water vapour

Номер патента: RU2442129C2. Автор: Ив БАРОН,Дени МАРО,Ив БАРОН (FR),Дени МАРО (FR). Владелец: Энститю Де Радиопротексьон Э Де Сюрте Нюклеэр. Дата публикации: 2012-02-10.

Set pressure measuring system

Номер патента: CA1132359A. Автор: Leonard J. Thompson. Владелец: Crosby Valve and Gage Co. Дата публикации: 1982-09-28.

A framework for 3d object detection and depth prediction from 2d images

Номер патента: EP4305594A2. Автор: Gaurav Singh,Arun Kumar Chockalingam Santha Kumar,Paridhi SINGH. Владелец: RIDECELL Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

A framework for 3d object detection and depth prediction from 2d images

Номер патента: WO2022192266A2. Автор: Gaurav Singh,Arun Kumar Chockalingam Santha Kumar,Paridhi SINGH. Владелец: Ridecell, Inc.. Дата публикации: 2022-09-15.

A framework for 3d object detection and depth prediction from 2d images

Номер патента: WO2022192266A3. Автор: Gaurav Singh,Arun Kumar Chockalingam Santha Kumar,Paridhi SINGH. Владелец: Ridecell, Inc.. Дата публикации: 2022-12-08.

System and method for evaluating residual life of components made of composite materials

Номер патента: EP4160201A1. Автор: Tapas Chakravarty,Arijit Sinharay,Arpan Pal,Chirabrata BHAUMIK,Amit Gangadhar Salvi,Abhijeet Gorey,Supriya Gain,Yagnik Pravinchandra KALARIYA,Subhadeep Basu,Sooriyan Senguttuvan. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Method for evaluating particle concentrations in a clean room or machine mini-environment

Номер патента: US20040069045A1. Автор: Christophe Maleville. Владелец: Soitec SA. Дата публикации: 2004-04-15.

Accelerated cooking using surface temperature measurements

Номер патента: US20230333579A1. Автор: Christopher Charles Young. Владелец: Combustion LLC. Дата публикации: 2023-10-19.

Method for determining thermal-oxidative resistance of lubricants

Номер патента: RU2627562C1. Автор: Болеслав Иванович Ковальский,Александр Николаевич Сокольников,Евгений Александрович Ермилов,Валерий Александрович Балясников,Николай Сергеевич Батов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский федеральный университет". Дата публикации: 2017-08-08.

Plurality of reaction chambers in test cassette

Номер патента: RU2644476C2. Автор: ФАБРА Хорди КАРРЕРА,ГИБЕРТ Рафаэль БРУ,КАСАС Анна КОМЕНХЕС,САНЧЕЗ Хосе Антонио ГАРСИА. Владелец: Стат-Диагностика Энд Инновэйшн, С.Л.. Дата публикации: 2018-02-12.

Stand for strength tests of aircraft structures

Номер патента: RU2746174C1. Автор: Виктор Иванович Сабельников,Денис Евгеньевич Сиденко,Анатолий Анатольевич Кабанцев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Сибирский научно-исследовательский институт авиации им. С.А. Чаплыгина". Дата публикации: 2021-04-08.

Method of gas-separators testing on gas-liquid mixtures and bench for its implementation

Номер патента: RU2647175C1. Автор: Алексей Владимирович Трулев,Вячеслав Владимирович Леонов. Владелец: Акционерное общество "РИМЕРА" (АО "РИМЕРА"). Дата публикации: 2018-03-14.

Method for testing afterburner of gas turbine engine

Номер патента: RU2749779C1. Автор: Владимир Александрович Шишков. Владелец: Владимир Александрович Шишков. Дата публикации: 2021-06-16.

Biosensor with improved analyte specificity

Номер патента: CA2719255C. Автор: Christopher D. Wilsey,Mitali Ghoshal,Herbert Wieder. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2016-05-03.

Enhanced stability filter integrity test

Номер патента: US10702832B2. Автор: Salvatore Giglia,David Nhiem. Владелец: EMD Millipore Corp. Дата публикации: 2020-07-07.

Method and apparatus for electronic leak testing

Номер патента: US4587619A. Автор: Richard L. Smith,Ronald K. Mudge,Theodore R. Bott,Vernon G. Converse, III,James M. Bordato,Charles E. Foerster, Jr.,Desra N. Herbst, Jr.,Frank R. Young. Владелец: SCANS ASSOC Inc. Дата публикации: 1986-05-06.

Method for testing memory device

Номер патента: US7307903B2. Автор: Young Bo Shim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-12-11.

Semiconductor test method, semiconductor test apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20110055645A1. Автор: Atsushi Inoue,Tsunehiro Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Method, Apparatus and Program Product to Concurrently Detect, Repair, Verify and Isolate Memory Failures

Номер патента: US20080195902A1. Автор: Tara Astigarraga,William Edward Atherton,Michael E. Browne. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20010027546A1. Автор: Takehiko Hojo,Toshiyuki Kouchi,Yoshinori Sugisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-04.

Self-testing dynamic ram

Номер патента: US4757503A. Автор: John P. Hayes,Younggap You. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 1988-07-12.

Integrated circuit with self-test device for an embedded non-volatile memory and related test method

Номер патента: US20040109370A1. Автор: Steffen Gappisch,Georg Farkas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-10.

Semiconductor device

Номер патента: US20060198183A1. Автор: Takayuki Kawahara,Kenichi Osada,Riichiro Takemura. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2006-09-07.

Voltage holding device and electronic apparatus using the same

Номер патента: US12132484B2. Автор: Hsin Hung Chen,Wei Min Hung. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Forced pulldown of array read bitlines for generating MUX select signals

Номер патента: US20060087878A1. Автор: Shohji Onishi,Scott Cottier. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-04-27.

Array read access control using MUX select signal gating of the read port

Номер патента: US20060083074A1. Автор: Peichun Liu,Shohji Onishi,Scott Cottier. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-04-20.

Main amplifier circuit and input-output bus for a dynamic random access memory

Номер патента: MY119441A. Автор: Shoji Wada. Владелец: Hitachi Ulsi Eng Corp. Дата публикации: 2005-05-31.

Apparatus and method for synchronizing additional data and base data

Номер патента: US8332059B2. Автор: Oliver Hellmuth,Juergen Herre,Andreas Hoelzer,Stefan Geyersberger. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2012-12-11.

Method for automated control of a robotic operational exoscope

Номер патента: RU2757991C2. Автор: Валерий Владимирович Шеваль,Николай Борисович Рожнин,Андрей Егорович Быканов,Давид Ильич Пицхелаури,Александр Заурович Саникидзе,Николай Александрович Коновалов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Толикети". Дата публикации: 2021-10-25.

Data deployment determination apparatus, data deployment determination program, and data deployment determination method

Номер патента: US09842049B2. Автор: Naoto Fukumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Neural networks for handling variable-dimensional time series data

Номер патента: US12136035B2. Автор: Gautam Shroff,Lovekesh VIG,Pankaj Malhotra,Jyoti Narwariya,Vishnu TANKASALA VEPARALA,Vibhor Gupta. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Method, System, Computer Program and Computer Readable Medium for Generating Closure Data Relating to Closure of a Stretch of Navigable Elements

Номер патента: US20240194063A1. Автор: Lucian Ionescu,Gijs Peters,Soren Sven SONNENBURG,Przemyslaw Polewski,Yucel Kenan OZTURK. Владелец: TomTom Traffic BV. Дата публикации: 2024-06-13.

Method, system, computer program and computer readable medium for generating closure data relating to closure of a stretch of navigable elements

Номер патента: EP4264591A1. Автор: Lucian Ionescu,Soren Sven SONNENBURG,Przemyslaw Polewski,Peter GIJS,Yucel Kenan OZTURK. Владелец: TomTom Traffic BV. Дата публикации: 2023-10-25.

Method of determining adequacy of monitoring electronic equipment in failure mode

Номер патента: RU2717630C1. Автор: Дмитрий Александрович Недорезов. Владелец: Акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2020-03-24.

Data deployment determination apparatus, data deployment determination program, and data deployment determination method

Номер патента: US20160253106A1. Автор: Naoto Fukumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

High-speed reading test method using eye tracking

Номер патента: US20240249641A1. Автор: Se-Ho Park,Gyu-Jin Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Identification and individualization device and its manufacturing method

Номер патента: RU2676932C1. Автор: Сергей Николаевич Полушкин. Владелец: Сергей Николаевич Полушкин. Дата публикации: 2019-01-11.

Ship device for fire detection

Номер патента: RU2661759C1. Автор: Игорь Владимирович Русаков. Владелец: Игорь Владимирович Русаков. Дата публикации: 2018-07-19.

Audio signal noise reduction in noisy environments

Номер патента: US09928848B2. Автор: Michael Nolan,Mark Y. KELLY,Niall CAHILL,Jakub Wenus. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

User equipment, base stations and methods

Номер патента: RU2746301C2. Автор: Тосидзо Ногами,Чжаньпин ИНЬ. Владелец: ЭфДжи ИННОВЕЙШН КОМПАНИ ЛИМИТЕД. Дата публикации: 2021-04-12.

Systems and methods for coupled representation using transform learning for solving inverse problems

Номер патента: US20200012889A1. Автор: Angshul MAJUMDAR,Brojeshwar Bhowmick,Kavya Gupta. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Predicting future network issues for users with digital model personas

Номер патента: US20240146824A1. Автор: Jay Kemper Johnston,David C. White, Jr.,Magnus Mortensen,Jeffrey Dominick Jackson,Matthew R. Engle,Ryan Alan MacLennan. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Dnn classification improvement at prediction time

Номер патента: WO2022161858A1. Автор: Louis Chevallier,Jonathan Kervec,Hassane Guermoud,Hai-Dang NGUYEN. Владелец: Interdigital Ce Patent Holdings, Sas. Дата публикации: 2022-08-04.

Temperature control method in heating chamber

Номер патента: RU2629645C1. Автор: Валерий Аркадьевич Зяблов,Дмитрий Борисович Иванов,Виктор Викторович Платонов,Эдуард Викторович Щербаков. Владелец: Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" имени С.П. Королева". Дата публикации: 2017-08-30.

Thermal load prediction method and apparatus, readable medium, and electronic device

Номер патента: US11887020B2. Автор: Xin Huang,Shengwei Liu. Владелец: Ennew Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Neural networks for handling variable-dimensional time series data

Номер патента: EP3958185A1. Автор: Gautam Shroff,Lovekesh VIG,Pankaj Malhotra,Jyoti Narwariya,Vishnu TANKASALA VEPARALA,Vibhor Gupta. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2022-02-23.

Methods and Systems of Random Projection Filter Banks for Time Series Prediction and Fault Prognosis

Номер патента: US20180168515A1. Автор: Daniel Nikolaev Nikovski,Amir massoud Farahmand. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2018-06-21.

Method, system, computer program and computer readable medium for generating closure data relating to closure of a stretch of navigable elements

Номер патента: WO2022229289A1. Автор: Lucian Ionescu,Soren Sven SONNENBURG,Przemyslaw Polewski,Peter GIJS,Yucel Kenan OZTURK. Владелец: TomTom Traffic B.V.. Дата публикации: 2022-11-03.

Pre-Seeding Databases For Integration Testing

Номер патента: US20240202102A1. Автор: Benson Margulies,Srinath Badrinath,Derek Karl Hunter. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Pre-seeding databases for integration testing

Номер патента: WO2024129438A1. Автор: Benson Margulies,Srinath Badrinath,Derek Karl Hunter. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Method for learning exemplars for anomaly detection

Номер патента: US09779361B2. Автор: Daniel Nikolaev Nikovski,Michael J Jones. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Quick start for stream environment

Номер патента: RU2364924C2. Автор: Эдуарду П. ОЛИВЕЙРА,Санджай БХАТТ,Андерс Е. КЛЕМЕТС,Тонг Л. УИНН. Владелец: МАЙКРОСОФТ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2009-08-20.

Reaction Time Tester

Номер патента: GB2045982A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-11-05.

Computer controlled diesel engine fire pump controller

Номер патента: US4611290A. Автор: Lee A. Henningsen,Quentin J. Gardiner. Владелец: Firetrol Inc. Дата публикации: 1986-09-09.

Design and implementation of convolution neural network on edge computing smart phone for human activity recognition

Номер патента: AU2021101172A4. Автор: Seema Agarwal,Tarun Jaiswal,Srilatha Toomula,Tarun Kumar Arora,Sushma Jaiswal,Pavan Kumar Chaubey,Sridevi R.,Shiv Raj Singh,A. Sathish,S. Vatchala. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-05-06.

HiL testing platform for photovoltaic power station, and PPC performance testing method

Номер патента: AU2023202335A1. Автор: Tao Jiang,Yuanze Zhang,Zijian Da. Владелец: Sungrow Power Supply Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Virtual keyboard of mobile terminal device

Номер патента: RU2494442C2. Автор: Герд МОСАКОВСКИ. Владелец: Т-Мобиле Интернациональ Аг. Дата публикации: 2013-09-27.

Regression-tree compressed feature vector machine for time-expiring inventory utilization prediction

Номер патента: US20200090116A1. Автор: LI ZHANG,PENG Ye,Yangli Hector Yee,Spencer de Mars,Kim Pham,Fenglin Liao,Julian Qian,Benjamin Yolken. Владелец: Airbnb Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Failed and censored instances based remaining useful life (rul) estimation of entities

Номер патента: US20200012921A1. Автор: Gautam Shroff,Lovekesh VIG,Pankaj Malhotra,Vishnu TV. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Medical apparatus and test assisting method

Номер патента: US11819314B2. Автор: Hideaki Ishii. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Failed and censored instances based remaining useful life (RUL) estimation of entities

Номер патента: US11568203B2. Автор: Gautam Shroff,Lovekesh VIG,Pankaj Malhotra,Vishnu TV. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2023-01-31.

Failed and censored instances based remaining useful life (rul) estimation of entities

Номер патента: CA3037024C. Автор: Gautam Shroff,Lovekesh VIG,Pankaj Malhotra,Vishnu TV. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2021-10-19.

Regression-tree compressed feature vector machine for tim-expiring inventory utilization prediction

Номер патента: WO2017184379A1. Автор: LI ZHANG,PENG Ye,Yangli Hector Yee,Spencer de Mars,Kim Pham,Fenglin Liao,Julian Qian,Benjamin Yolken. Владелец: AIRBNB, Inc.. Дата публикации: 2017-10-26.

Domain generalization via batch normalization statistics

Номер патента: EP4081953A1. Автор: Federico Tombari,Alessio Tonioni,Mattia Segù. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2022-11-02.

Power supply health check system and method thereof

Номер патента: US12026075B2. Автор: Ming-Hung Chung,Hung-Ju LIN,Shu-Chiao LIAO,Cheng-Wei Gu,Yao-Hsun Huang,Yuan-I TSENG. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Regionalized change detection using digital fingerprints

Номер патента: EP3693890A1. Автор: Cheng Qian,David Justin Ross,Will Charles Shannon. Владелец: Alitheon Inc. Дата публикации: 2020-08-12.

Continuous online safety and reliability monitoring

Номер патента: WO2005013098A3. Автор: David Barron,Leslie V Powers,Dyk Paul P Van,Robert S Adamski,Robin Mccrea-Steele. Владелец: Robin Mccrea-Steele. Дата публикации: 2007-11-15.

Study-connect methods and systems

Номер патента: US20110238445A1. Автор: Mike Woods. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-09-29.

Efficient calibration of circuits in tiled integrated circuits

Номер патента: US20220206552A1. Автор: Miguel Rodriguez,Stephen Victor Kosonocky,Peter T. Hardman. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Systems for and methods of automatically scheduling and executing in situ tests on electrical and mechanical systems

Номер патента: US20240263821A1. Автор: Francesco Borrelli,Bruce Christopher Wootton,Rory Joseph Timar,Colin Patrick Murphy,Allan Daly. Владелец: Nextracker LLC. Дата публикации: 2024-08-08.

Online fault detection in reram-based ai/ml

Номер патента: US20240289239A1. Автор: Krishnendu Chakrabarty,Mengyun Liu. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Electric circuit assembly method

Номер патента: RU2621442C1. Автор: Николай Михайлович Стецюк,Владимир Павлович Смий,Максим Павлович Селезнев. Владелец: Максим Павлович Селезнев. Дата публикации: 2017-06-06.

A system and method of using meta-data in speech-processing

Номер патента: CA2486125C. Автор: Richard William Sproat,Brian E. Roark,Michiel A.U. Bacchiani,Sameer Raj Maskey. Владелец: AT&T Corp. Дата публикации: 2011-02-08.

Detecting malicious behavior in a network using security analytics by analyzing process interaction ratios

Номер патента: US20210303682A1. Автор: Partha Bhattacharya,Ernest Mugambi,Gun Sumlut. Владелец: Fortinet Inc. Дата публикации: 2021-09-30.

Method for Operating a System for Checking Parking Probabilities, System, Computer Program and Computer Program Product

Номер патента: US20200279484A1. Автор: Carl Hallmann. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2020-09-03.

Detecting malicious behavior in a network using security analytics by analyzing process interaction ratios

Номер патента: US11836247B2. Автор: Partha Bhattacharya,Ernest Mugambi,Gun Sumlut. Владелец: Fortinet Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Detecting malicious behavior in a network using security analytics by analyzing process interaction ratios

Номер патента: US20240070267A1. Автор: Partha Bhattacharya,Ernest Mugambi,Gun Sumlut. Владелец: Fortinet Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Reconstructing documents from n-gram information

Номер патента: US9201980B2. Автор: Matthias Galle,Matias D. Tealdi. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2015-12-01.

Burn-in compensation for plasma display panels

Номер патента: WO2003107317A1. Автор: Carlos Correa,Sebastien Weitbruch,Rainer Zwing,Cedric Thebault. Владелец: THOMSON LICENSING S.A.. Дата публикации: 2003-12-24.

Method and apparatus for crating a message digest using a parallel, one-way hash algorithm

Номер патента: WO2002101595A2. Автор: Richard J. Takahashi. Владелец: Corrent Corporation. Дата публикации: 2002-12-19.

Method and apparatus for crating a message digest using a parallel, one-way hash algorithm

Номер патента: WO2002101595A3. Автор: Richard J Takahashi. Владелец: Corrent Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Rapid Estimation of Effective Illuminance Patterns for Projected Light Fields

Номер патента: US20210287618A1. Автор: Helge Seetzen,Wolfgang Heidrich,Lorne A. Whitehead,Gregory John Ward. Владелец: Dolby Laboratories Licensing Corp. Дата публикации: 2021-09-16.

Rapid estimation of effective illuminance patterns for projected light fields

Номер патента: US20180182310A1. Автор: Helge Seetzen,Wolfgang Heidrich,Lorne A. Whitehead,Gregory John Ward. Владелец: Dolby Laboratories Licensing Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Rapid Estimation of Effective Illuminance Patterns for Projected Light Fields

Номер патента: US20200394974A1. Автор: Helge Seetzen,Wolfgang Heidrich,Lorne A. Whitehead,Gregory John Ward. Владелец: Dolby Laboratories Licensing Corp. Дата публикации: 2020-12-17.

Rapid Estimation Of Effective Illuminance Patterns For Projected Light Fields

Номер патента: US20160111049A1. Автор: Helge Seetzen,Wolfgang Heidrich,Lorne A. Whitehead,Gregory John Ward. Владелец: Dolby Laboratories Licensing Corp. Дата публикации: 2016-04-21.

Method and system of backing up data

Номер патента: US20030196138A1. Автор: Masakazu Ito. Владелец: Nec Infrontia Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Very deep convolutional neural networks for end-to-end speech recognition

Номер патента: US20190236451A1. Автор: Yu Zhang,William Chan,Navdeep Jaitly. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2019-08-01.

Audio signal processing in noisy environments

Номер патента: WO2017112343A1. Автор: Mark Kelly,Michael Nolan,Niall CAHILL,Jakub Wenus. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2017-06-29.

Rapid estimation of effective illuminance patterns for projected light fields

Номер патента: US09934733B2. Автор: Helge Seetzen,Wolfgang Heidrich,Lorne A. Whitehead,Gregory John Ward. Владелец: Dolby Laboratories Licensing Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Liquid crystal display panel

Номер патента: US09858873B2. Автор: HUI Wang,Ming-Tsung Wang,Chia-Hua Huang,Wen-Lin Mei. Владелец: Century Technology Shenzhen Corp Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Classifying user behavior as anomalous

Номер патента: US10430721B2. Автор: JIN Yu,Regunathan Radhakrishnan,Anirudh Kondaveeti. Владелец: Pivotal Software Inc. Дата публикации: 2019-10-01.

Online fault detection in reram-based ai/ml

Номер патента: US20220066888A1. Автор: Krishnendu Chakrabarty,Mengyun Liu. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Device for queen-bee tool insemination

Номер патента: RU2635691C1. Автор: Василий Иванович Комлацкий,Татьяна Александровна Усенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный аграрный университет имени И.Т. Трубилина". Дата публикации: 2017-11-15.

Method of development of deposits of high viscosity oil with the use of steam horizontal wells

Номер патента: RU2663530C1. Автор: Марат Инкилапович Амерханов,Фаниль Муктасимович Ахметзянов,Наиль Мунирович Ахметшин,Роберт Рафаэлович Ахмадуллин. Владелец: Публичное акционерное общество "Татнефть" имени В.Д. Шашина. Дата публикации: 2018-08-07.

Method for installing zygomatic implants

Номер патента: RU2750440C1. Автор: Владимир Анатольевич Путь,Михаил Владимирович Гладышев,Анастасия Михайловна Гладышева. Владелец: Михаил Владимирович Гладышев. Дата публикации: 2021-06-28.

System for predicting fan motor failure and a method thereof

Номер патента: US20240125501A1. Автор: Kanna Selvakani. Владелец: Carrier Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Thermoplastic polymeric composition, preparation method and use thereof

Номер патента: RU2406736C2. Автор: Роберт Кит СЭЛСМАН. Владелец: БОЛЬЁ ГРУП, ЭлЭлСи Ди/Би/Эй БОЛЬЁ ОФ АМЕРИКА. Дата публикации: 2010-12-20.

Periodic scheduling of routing verification tests

Номер патента: WO1997008902A1. Автор: Roch Glitho,Richard Holm. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 1997-03-06.

Periodic scheduling of routing verification tests

Номер патента: WO1997003528A1. Автор: Roch Glitho. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 1997-01-30.

Field operations framework

Номер патента: US20240360758A1. Автор: Wael Abdallah,Ramy Ahmed MOHAMED,Sachit Saumya,Mahmoud Yassin. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Method of producing large-scale castings of high-strength cast iron with spherical graphite

Номер патента: RU2637459C2. Автор: Илья Романович Шегельман,Алексей Сергеевич Васильев,Александр Натанович Капилевич,Вадим Александрович Тряпичкин,Дмитрий Михайлович Богданов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Петрозаводский государственный университет". Дата публикации: 2017-12-04.

Robotic complex for application of polymer and medical coatings on implants

Номер патента: RU2699356C1. Автор: Алексей Валерьевич Токтонов,Виталий Олегович Таханов,Евгений Сергеевич Ермолаев,Поповски Георг. Владелец: Акростак Корпорейшн (Кипр) Лимитед. Дата публикации: 2019-09-05.

Method for installing zygomatic implants

Номер патента: RU2750441C1. Автор: Владимир Анатольевич Путь,Михаил Владимирович Гладышев,Анастасия Михайловна Гладышева. Владелец: Михаил Владимирович Гладышев. Дата публикации: 2021-06-28.

Method for preservation of cells and cell cultures

Номер патента: RU2583179C2. Автор: Илья ИЛЬИН,Уилльям Э. ГРИСХОБЕР,Джеймс С. ДЖОУНЗ,Семен Коган,Нателла И. ЕНУКАШВИЛИ,Яна А. ФИЛЬКИНА,Александр Н. ШУМЕЕВ,Станислав А. КОЛЧАНОВ. Владелец: ЭДВАНСТ ПРЕЗЕРВЕЙШНЗ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2016-05-10.

Method of fuel with variable composition combustion process automatic optimization

Номер патента: RU2647940C1. Автор: Виктор Михайлович Ларионов,Юрий Витальевич Ваньков,Эмиль Ринатович Сайфуллин,Сергей Александрович Назарычев,Алексей Олегович Малахов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Казанский (Приволжский) федеральный университет" (ФГАОУ ВО КФУ). Дата публикации: 2018-03-21.

Method for cleaning surfaces of machine parts and gas ducts from scale

Номер патента: RU2691350C1. Автор: Николай Геннадьевич Кириллов,Владимир Викторович Тимкин,Владимир Павлович Пониматкин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ПКФ Альянс". Дата публикации: 2019-06-11.

Facility and method for operation of arc furnace

Номер патента: RU2355964C2. Автор: Томас МАЧУЛЛАТ,Уве ШТЮРМЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2009-05-20.

Filter-based lock-in circuits for PLL and fast system startup

Номер патента: US20080297263A1. Автор: Sangbeom Park. Владелец: Yoon Bang Ja. Дата публикации: 2008-12-04.

Adjusting a configuration of a wireless telecommunication network

Номер патента: US20230246676A1. Автор: Raymond E. Reeves. Владелец: T Mobile USA Inc. Дата публикации: 2023-08-03.

Internal combustion engine and method of ice fuel combustion

Номер патента: RU2359136C2. Автор: Владимир Рудольфович Гальговский,Ольга Владимировна Гальговская,Анатолий Александрович Голосов. Владелец: Анатолий Александрович Голосов. Дата публикации: 2009-06-20.

Process additives and use thereof in rotary moulding

Номер патента: RU2597918C2. Автор: Рам ГУПТА,Томас Стил,Дж. Мон Хей ИНГ,Линцин ПЭН,Сери-Бет СЭМЬЮЭЛЗ. Владелец: Сайтек Текнолоджи Корп.. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for dismounting spent defective fuel assemblies

Номер патента: RU2253158C1. Автор: С.А. Митрофанов,Н.И. Александров,В.К. Булыгин,А.Б. Гончаренко,Ю.Н. Стружка. Владелец: Закрытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "ЭКОАТОМ". Дата публикации: 2005-05-27.

Pneumatic tire

Номер патента: RU2712488C1. Автор: Синия ХАРИКАЕ. Владелец: Дзе Йокогама Раббер Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-01-29.

Construction element

Номер патента: RU2769615C1. Автор: Александр Суренович Марутян,Мурат Рашидович Абитов,Юрий Алексеевич Агдалов,Никита Валерьевич Нарыжный,Юрий Рудольфович Нордгеймер,Петанова, (Севастиди) Ирина Алексеевна,Анна Владимировна Сивцова. Владелец: Александр Суренович Марутян. Дата публикации: 2022-04-04.

Method for determining the time of arterial phase for echo contrasting of liver, kidney and spleen

Номер патента: RU2744825C1. Автор: Алексей Васильевич Борсуков,Анна Витальевна Тиханкова,Антон Олегович Тагиль,Ольга Александровна Горбатенко,Семен Алексеевич Борсуков,Татьяна Игоревна Гончарова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Смоленский государственный медицинский университет" министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2021-03-16.

Method of building up an inoperative side of deep open pit

Номер патента: RU2713844C1. Автор: Артур Дмитриевич Андросов,Григорий Владимирович Шубин,Борис Николаевич Заровняев,Мария Петровна Собакина. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Восточный федеральный университет имени М.К.Аммосова". Дата публикации: 2020-02-07.

Method for production of insulated hv direct current (dc) electric cable or hv direct current (dc) electric cable of hv junction

Номер патента: RU2477539C2. Автор: Карл-Олоф Ольссон. Владелец: АББ Рисерч ЛТД. Дата публикации: 2013-03-10.

Torsion spin device with low lifting path

Номер патента: RU2669150C1. Автор: Норберт Вайс,Маркус РЮКХАЙМ,Кристиан МАСТ,Уве ДИНГЕРТ,Райнер ВАЛЛЬБАУМ,Йоханнес ХОЕНХАУС. Владелец: Карл Фройденберг Кг. Дата публикации: 2018-10-08.

Air-screen grinding machine

Номер патента: RU2706193C1. Автор: Игорь Евгеньевич Припоров,Владимир Станиславович Курасов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный аграрный университет имени И.Т. Трубилина". Дата публикации: 2019-11-14.

Power transmitting device having wire-free power transfer safety detection

Номер патента: US20180006484A1. Автор: Reed D. VILHAUER,John J. Fallin. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-01-04.

Setting a rescue time period

Номер патента: US20240076163A1. Автор: Peter Herkel,Sebastian Gehrke,Jan Ruhnke,Matthias Hoinkis. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Reduction of interruption time due to time advance acquisition in mobility of multi-panel ue based on layer 1 measurements

Номер патента: EP4412307A1. Автор: UMUR Karabulut,Ingo Viering,Tero Henttonen,Christian Rom,Panagiotis SPAPIS,Sanjay Goyal,Chitradeep MAJUMDAR. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-07.

Innovative method of calcination in twin shaft regenerative kiln

Номер патента: EP2882694A1. Автор: Carlo Cella. Владелец: Qualical International Srl. Дата публикации: 2015-06-17.

Method for determination of target recognition time during firing from a tank

Номер патента: RU2706432C1. Автор: Валентин Иванович Корнилов,Владимир Павлович Колесник. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "3 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2019-11-19.

Method of producing hot-rolled sheets from constructional low-alloy steel with guaranteed maintenance of construction perfomance properties at low temperatures (versions)

Номер патента: RU2613269C2. Автор: Вячеслав Викторович Михеев,Олег Николаевич Сычев,Максим Сергеевич Сахаров,Сергей Константинович Чибриков. Владелец: Публичное акционерное общество "Северсталь" (ПАО "Северсталь"). Дата публикации: 2017-03-15.

Terminal device and method

Номер патента: RU2739526C2. Автор: Тацуси АИБА,Такаси ХАЯСИ,Ватару Оути,Томоки ЙОСИМУРА,Лицин ЛЮ,Сёити СУДЗУКИ. Владелец: ЭфДжи ИННОВЕЙШН КОМПАНИ ЛИМИТЕД. Дата публикации: 2020-12-25.

Method for determining parameters of long-term strength of frozen soils at various temperatures under field conditions and device for its implementation

Номер патента: RU2758288C1. Автор: Михаил Владимирович Королев,Александр Николаевич Власов. Владелец: Публичное акционерное общество "Газпром". Дата публикации: 2021-10-28.

Method and apparatus for predicting power consumption of refrigerator having defrosting heater

Номер патента: CA2284234C. Автор: Yong Jong Park,Hak Gyun Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-09-16.

A system for predicting fan motor failure and a method thereof

Номер патента: EP4354034A1. Автор: Kanna Selvakani. Владелец: Carrier Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Time-synchronization testing in a network element

Номер патента: US12081427B2. Автор: Avraham Ganor,Dotan David Levi,Nimer Khazen,Arnon Sattinger,Shahar Givony. Владелец: MELLANOX TECHNOLOGIES LTD. Дата публикации: 2024-09-03.

Test controller for a rotary pump

Номер патента: US09841013B2. Автор: Kirk A. Lehmann,Oliver K. Marseille,Christian W. Vohburger. Владелец: CircuLite Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Method for surgical management of junior angiofibroma of nasopharynx

Номер патента: RU2732205C1. Автор: Сергей Анатольевич Карпищенко,Александр Александрович Кривопалов,Евгений Васильевич Тимошенский,Никита Алексеевич Гудукин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Санкт-Петербургский научно-исследовательский институт уха, горла, носа и речи" Министерства здравоохранения Российской Федерации" (ФГБУ "СПб НИИ ЛОР Минздрава России"). Дата публикации: 2020-09-14.

Process additives and their use in rotary molding

Номер патента: RU2742578C2. Автор: Рам ГУПТА,Сари-Бет СЭМЬЮЭЛЗ,Томас Стил,Дж. Мон Хей ИНГ,Линцин ПЭН. Владелец: Сайтек Текнолоджи Корп.. Дата публикации: 2021-02-08.

Modular binding of coal-methanol well

Номер патента: RU2629500C2. Автор: Артем Павлович Коровицын,Дмитрий Александрович Проничев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром добыча Кузнецк". Дата публикации: 2017-08-29.

Device for limiting torque and farm machine using same

Номер патента: RU2648922C2. Автор: Бернар ВАТТРОН,Жюльен РУЭН,Дамион БАБЛЕР. Владелец: Кюн С.А.. Дата публикации: 2018-03-28.

Well inhibition method

Номер патента: RU2728015C1. Автор: Дмитрий Алексеевич Пичугин,Андрей Геннадиевич Екотов,Николай Евгеньевич Рылов,Аскар Рамазанович Тимербулатов,Игорь Генрихович Поляков,Дмитрий Анатольевич Малышев,Иван Николаевич Леонтьев,Сергей Александрович Идиатулин,Алексей Петрович Сережников. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром добыча Астрахань" (ООО "Газпром добыча Астрахань"). Дата публикации: 2020-07-28.

Method of water-soluble polysaccharides extraction from milk gowan roots

Номер патента: RU2635996C2. Автор: Алексей Иванович Сливкин,Нина Алексеевна Дьякова,Ирина Александровна Самылина,Сергей Петрович Гапонов,Анна Андреевна Мындра. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный университет" (ФГБОУ ВО "ВГУ"). Дата публикации: 2017-11-17.

Method of recuperation of kinetic energy and vehicle with recuperator (design versions)

Номер патента: RU2184660C1. Автор: В.С. Леонов. Владелец: Леонов Владимир Семенович. Дата публикации: 2002-07-10.

Polyurethane protective composition

Номер патента: RU2690116C1. Автор: Олег Олегович Сазонов,Ильсия Муллаяновна Давлетбаева,Руслан Сагитович Давлетбаев,Асхат Мухаметзянович Гумеров,Мударрис Нафисович Каюмов,Ольга Юрьевна Емелина. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Казанский национальный исследовательский технологический университет" (ФГБОУ ВО "КНИТУ"). Дата публикации: 2019-05-30.

High flow polyvinyl halide compound and methods of making and using same

Номер патента: CA2731175C. Автор: Sang Lee,Saleem Shakir. Владелец: PolyOne Corp. Дата публикации: 2013-07-23.

Alkaline battery charging method and battery charger

Номер патента: CA2155345C. Автор: John David Pfeiffer. Владелец: JDP Innovations Inc. Дата публикации: 1999-12-21.

Digital information switch matrix with on-line/off-line diagnostic features

Номер патента: US4485467A. Автор: John D. Meyers,Larry L. Miles. Владелец: Teknekron Infoswitch Corp. Дата публикации: 1984-11-27.

Control system for leather cut pieces

Номер патента: WO2023249572A1. Автор: Özgür ATALAY. Владелец: Aunde Tekni̇k Teksti̇l Sanayi̇ Ve Ti̇caret Anoni̇m Şi̇rketi̇. Дата публикации: 2023-12-28.

Adjusting a configuration of a wireless telecommunication network

Номер патента: US11973548B2. Автор: Raymond E. Reeves. Владелец: T Mobile USA Inc. Дата публикации: 2024-04-30.

Method for checking the first check relay and second check relay of the cyclical code coding unit for railway interlocking system equipment and the cyclical code coding unit for implementing the method

Номер патента: WO2009046686A1. Автор: Antonin Faran,Stanislav SRB,Radek Dobiáš. Владелец: Azd Praha S.R.O.. Дата публикации: 2009-04-16.

Device for receiving water from snow and (or) ice

Номер патента: RU2630907C2. Автор: Алексей Николаевич Олюнин,Михаил Викторович Гневушев,Артем Иванович Дрозд,Владимир Всеволодович Комар,Антонина Ивановна Черная,Виктория Владимировна Бедарева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Центральный научно-исследовательский испытательный институт инженерных войск" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2017-09-14.

Setting a rescue time period

Номер патента: EP4332042A1. Автор: Peter Herkel,Sebastian Gehrke,Jan Ruhnke,Matthias Hoinkis. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-03-06.

Method of imitation testing instrument structure resistance to irradiation by fast neutrons (versions)

Номер патента: RU2638107C1. Автор: Давид Исаакович Тетельбаум,Давуд Вадимович Гусейнов,Алексей Николаевич Михайлов,Алексей Иванович Белов,Дмитрий Сергеевич Королев,Сергей Владимирович Оболенский,Александр Николаевич Качемцев,Юрий Александрович Данилов,Ольга Викторовна Вихрова,Александр Николаевич Шарапов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского". Дата публикации: 2017-12-11.

Method for determining characteristics of soil swelling

Номер патента: RU2708768C1. Автор: Павел Алексеевич Ляшенко,Виктор Викторович Денисенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный технологический университет" (ФГБОУ ВО "КубГТУ"). Дата публикации: 2019-12-11.

Method for determining soil swelling pressure

Номер патента: RU2708767C1. Автор: Павел Алексеевич Ляшенко,Виктор Викторович Денисенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный технологический университет" (ФГБОУ ВО "КубГТУ"). Дата публикации: 2019-12-11.

Tire press and mold leakage control

Номер патента: US3942922A. Автор: Clarence R. Cole,Robert L. Duncan. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 1976-03-09.

Systems and methods for optimizing ventricular pacing delays for use with multi-pole leads

Номер патента: US20110022110A1. Автор: Xiaoyi Min. Владелец: Pacesetter Inc. Дата публикации: 2011-01-27.

Method of optimizing the timing between signals

Номер патента: US20050246118A1. Автор: Aaron Nygren. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-11-03.

Heating, ventilation, air conditioning, and refrigeration protection system

Номер патента: US11933530B2. Автор: Stephen T. Fasolino,Rodney Minchey. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Method and apparatus for estimating electromagnetic environmental effects on rf dependent systems

Номер патента: CA3215329A1. Автор: Theodore Leonard HARWOOD II,Jerick Craig BLACK. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-20.

Method and apparatus for estimating electromagnetic environmental effects on rf dependent systems

Номер патента: AU2022256302A1. Автор: Theodore Leonard HARWOOD II,Jerick Craig BLACK. Владелец: Kellogg Brown and Root LLC. Дата публикации: 2023-11-02.

Method and apparatus for estimating electromagnetic environmental effects on rf dependent systems

Номер патента: WO2022221022A1. Автор: Theodore Leonard HARWOOD II,Jerick Craig BLACK. Владелец: Kellogg Brown & Root LLC. Дата публикации: 2022-10-20.

Apparatus and methods for parallel testing of devices

Номер патента: US20170363392A1. Автор: Mark Halter. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2017-12-21.

Testing operation of an HVAC system

Номер патента: US11754310B2. Автор: Payam DELGOSHAEI,Glenn William Kowald. Владелец: Lennox Industries Inc. Дата публикации: 2023-09-12.

Speech detection device for detecting a speech signal in an input signal

Номер патента: EP1080576A1. Автор: Christian Fleischer,Othmar Aigner. Владелец: Sagem SA. Дата публикации: 2001-03-07.

Method and apparatus for estimating electromagnetic environmental effects on rf dependent systems

Номер патента: US20220337326A1. Автор: Jerick Craig BLACK,Ii Theodore Leonard Harwood. Владелец: Kellogg Brown and Root LLC. Дата публикации: 2022-10-20.

Rf transceiver ic having internal loopback conductor for ip2 self test

Номер патента: EP2359485A1. Автор: Michael Kohlmann,Jin-Su Ko,Bahman Ahrari. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2011-08-24.

Rf transceiver ic having internal loopback conductor for ip2 self test

Номер патента: WO2010057035A1. Автор: Michael Kohlmann,Jin-Su Ko,Bahman Ahrari. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2010-05-20.

Method and system for aggressive cycling of leak detection pump to ascertain vapor leak size

Номер патента: US20010025523A1. Автор: John Cook,Craig Weldon,Ray Rasokas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-04.

Calibration module and remote test sequence unit for monitoring and dynamically controlling discharge and distribution of a fire suppression agent

Номер патента: US20150060092A1. Автор: Abdul N. Sitabkhan,Edwin R. Kho,Souvanh Bounpraseuth,Ramy S. Ghebrial. Владелец: Ametek Ameron LLC. Дата публикации: 2015-03-05.

Method for fluorocarbon emulsions stability determination

Номер патента: RU2616244C2. Автор: Татьяна Александровна Фармаковская,Валерий Васильевич Макарцев,Оксана Валерьевна Константинова,Алексей Владимирович Карасев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научно-исследовательский институт органической химии технологии" (ФГУП "ГосНИИОХТ"). Дата публикации: 2017-04-13.

Piezoceramic material production method

Номер патента: RU2677723C1. Автор: Олег Николаевич Логинов,Валерий Георгиевич Андреев,Чир Ген Пак,Глеб Александрович Кошкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пензенский государственный университет". Дата публикации: 2019-01-21.

Methods and systems for reducing recovery time of system information

Номер патента: RU2747374C1. Автор: Йохан БЕРГМАН,Ютао СУЙ,И-Пинь Эрик ВАН,Олоф ЛИБЕРГ,Андерс ВАЛЛЕН,Антти РАТИЛАЙНЕН,Туомас ТИРРОНЕН,Андреас ХЁГЛУНД,Эмре ЯВУЗ. Владелец: Телефонактиеболагет Лм Эрикссон (Пабл). Дата публикации: 2021-05-04.

Method for polymeric hydrogel preparation

Номер патента: RU2612703C1. Автор: Лев Иванович Валуев,Иван Львович Валуев,Людмила Витальевна Ванчугова,Ирина Васильевна Обыденнова,Николай Александрович Сивов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Ордена Трудового Красного Знамени Институт нефтехимического синтеза им. А.В. Топчиева Российской академии наук (ИНХС РАН). Дата публикации: 2017-03-13.

Method and apparatus for physical layer security in low power wireless sensor networks

Номер патента: US20190149519A1. Автор: Sanjay Bajekal. Владелец: Simmonds Precision Products Inc. Дата публикации: 2019-05-16.

Optical Element, Method for Manufacturing Optical Element, Light Emitting Unit, and Method for Assembling Light Emitting Unit

Номер патента: US20110317431A1. Автор: Shuji Ikenaga. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2011-12-29.

3d memory having nand strings switched by transistors with elongated polysilicon gates

Номер патента: US20160087055A1. Автор: Raul Adrian Cernea. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2016-03-24.

Systems and methods for uplink transmission power control

Номер патента: US09686759B2. Автор: Shohei Yamada,Zhanping Yin. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Compositions and methods for well completions

Номер патента: US09617461B2. Автор: Erik Nelson,Tatiana Pyatina,Sylwia Komocki. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

3D memory having NAND strings switched by transistors with elongated polysilicon gates

Номер патента: US09496272B2. Автор: Raul Adrian Cernea. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Method for assessing the interaction of sportsmen in competitive sports

Номер патента: RU2646015C2. Автор: Владимир Евгеньевич Афоньшин. Владелец: Владимир Евгеньевич Афоньшин. Дата публикации: 2018-02-28.

Method for determining the interaction of athletes

Номер патента: RU2641972C1. Автор: Владимир Евгеньевич Афоньшин. Владелец: Владимир Евгеньевич Афоньшин. Дата публикации: 2018-01-23.

Testing method of protection from super-nominal rotation speed of single shaft gas-steam turbine plant

Номер патента: RU2629244C2. Автор: Мартин БЕННАУЭР,Эдвин ГОБРЕХТ,Мартин ХАЛЛЕКАМП. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2017-08-28.

Method for determining characteristics of soil swelling

Номер патента: RU2707624C1. Автор: Павел Алексеевич Ляшенко,Виктор Викторович Денисенко,Сергей Олегович Гудзенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный аграрный университет имени И.Т. Трубилина". Дата публикации: 2019-11-28.

Method of psycho-physiological polygraph testing

Номер патента: RU2669733C1. Автор: Валерий Вячеславович Соколов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Специализированное агентство информации и безопасности". Дата публикации: 2018-10-15.

System for functional testing housed random-access memory microcircuit chips

Номер патента: RU2438164C2. Автор: Александр Анатольевич Сашов,Михаил Игоревич Краснов. Владелец: Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы"). Дата публикации: 2011-12-27.

Method for cooling the system of a space object operating in a vacuum when modeling the conditions of regular operation

Номер патента: RU2771263C1. Автор: Валерий Аркадьевич Зяблов,Виктор Викторович Платонов,Дмитрий Валерьевич Давиденко,Максим Викторович Платонов. Владелец: Публичное акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" имени С.П. Королёва". Дата публикации: 2022-04-29.

Programmable static random access memory (SRAM) sequential control circuit based on built-in self-test (BIST) control

Номер патента: CN202662294U. Автор: 徐超,孟坚,周燕,李正平,洪琪,谭守标,柏娜,吴秀龙,陈军宁. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-01-09.

BUILT-IN-SELF-TEST (BIST) ORGANIZATIONAL FILE GENERATION

Номер патента: US20140040685A1. Автор: Ouellette Michael R.,Monroe Craig M.,Sprague Douglas E.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

DIGITALLY CONTROLLED JITTER INJECTION FOR BUILT IN SELF-TESTING (BIST)

Номер патента: US20140098843A1. Автор: Kong Xiaohua,Zhu Zhi,Dang Vannam. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

ASYNCHRONOUS CIRCUIT WITH AN AT-SPEED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20130159803A1. Автор: PAKBAZ Faraydon,VENTRONE Sebastian T.,Smith Jack R.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TWI263225B. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-10-01.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TW200627461A. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-08-01.

MULTI-CORE PROCESSOR WITH INTERNAL VOTING-BASED BUILT IN SELF TEST (BIST)

Номер патента: US20130159799A1. Автор: Shearer Robert A.,Comparan Miguel,Watson,III Alfred T.,Brown Jeffrey D.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

Method of testing time of person's reaction

Номер патента: RU2506047C1. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Владимир Евгеньевич Афоньшин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ЛЭМА". Дата публикации: 2014-02-10.

LOAD REDUCTION AND RESPONSE TIME REDUCTION FOR WEB-BASED APPLICATIONS

Номер патента: US20120110061A1. Автор: . Владелец: VERZION PATENT AND LICENSING INC.. Дата публикации: 2012-05-03.

An apparatus and method for real time reduction of credit card fraud

Номер патента: IL157018A0. Автор: . Владелец: Frank K F Abitbol. Дата публикации: 2004-02-08.

Connection for amplifier's saturation time reduction

Номер патента: CS407787A1. Автор: Jan Ing Vesely,Otakar Ing Jaros. Владелец: Jaros Otakar. Дата публикации: 1989-08-14.

PARTIAL HIBERNATION RESTORE FOR BOOT TIME REDUCTION

Номер патента: US20120036346A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-02-09.

CAPTURE TIME REDUCTION FOR CORRECTION OF DISPLAY NON-UNIFORMITIES

Номер патента: US20120075354A1. Автор: Su Yeping,Feng Xiaofan. Владелец: Sharp Laboratories of America, Inc.. Дата публикации: 2012-03-29.

LOCK WAIT TIME REDUCTION IN A DISTRIBUTED PROCESSING ENVIRONMENT

Номер патента: US20130013833A1. Автор: RAMANATHAN Sri,Trevathan Matthew Bunkley,Nagpal Abhinay Ravinder,Patil Sandeep Ramesh. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-10.

CYCLE TIME REDUCTION IN DATA PREPARATION

Номер патента: US20130042210A1. Автор: Jou Jia-Guei,Chen Peng-Ren,Cheng Dong-Hsu,LU CHI-TA. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

WEB PAGE LOAD TIME REDUCTION BY OPTIMIZED AUTHENTICATION

Номер патента: US20130191498A1. Автор: Gittelman Arye,Crockett Sterling,Nugent Dillon,Ami-ad Kfir. Владелец: MICROSOFT CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-25.

SPIKE ANNEAL RESIDENCE TIME REDUCTION IN RAPID THERMAL PROCESSING CHAMBERS

Номер патента: US20130206362A1. Автор: Koelmel Blake,Li Jiping,Hunter Aaron Muir,Aderhold Wolfgang R.. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2013-08-15.

Image reading apparatus, image processing system, and printing time reduction method thereof

Номер патента: JP4640041B2. Автор: 孝栗原. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-02.

Delay time reduction method by fluctuation

Номер патента: JP3036914B2. Автор: 伸二田中. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2000-04-24.

Rise time reduction circuit

Номер патента: JP4076292B2. Автор: 正弘浜本,和幸青野. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2008-04-16.

Real-time reduction method for Chinese fonts

Номер патента: TW475158B. Автор: He-Jiun Jian. Владелец: Inst Information Industry. Дата публикации: 2002-02-01.

Testing timing of operation of machines especially copying machines

Номер патента: AU483989B2. Автор: Gerald R. Helbig Donalds. Pust. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1975-06-05.

METHOD FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF AN ANALYTE IN A LIQUID SAMPLE USING SMALL VOLUME SAMPLES AND FAST TEST TIMES

Номер патента: US20120103833A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-03.

DETERMINATION OF BLOOD GLUCOSE IN A SMALL VOLUME AND IN A SHORT TEST TIME

Номер патента: US20120181187A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-07-19.

DETERMINATION OF BLOOD GLUCOSE IN A SMALL VOLUME AND IN A SHORT TEST TIME USING SHORT READ POTENTIALS

Номер патента: US20120186996A1. Автор: Wilsey Christopher D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-26.

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING TIMING OPERATIONS OF A PULSE-BASED TRANSCEIVER

Номер патента: US20130003787A1. Автор: Anda Barney Edward,Garcia Jorge A.. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2013-01-03.

TEST STRUCTURE, METHOD AND CIRCUIT FOR SIMULTANEOUSLY TESTING TIME DEPENDENT DIELECTRIC BREAKDOWN AND ELECTROMIGRATION OR STRESS MIGRATION

Номер патента: US20130038334A1. Автор: Chen Fen,Dufresne Roger A.,JR. David G.,Brochu,Shinosky Michael A.,Merrill Travis S.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-02-14.

APPLICATION QUALITY TESTING TIME PREDICTIONS

Номер патента: US20130185246A1. Автор: Salloum Ghassan G.,Grover Benjamin T.. Владелец: MICROSOFT CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-18.

CACHE SELF-TESTING TECHNIQUE TO REDUCE CACHE TEST TIME

Номер патента: US20140032968A1. Автор: Nandam Narendra Chakravarthy,Kay Donald B.. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-30.

Device for testing timing contacts of photo flashes

Номер патента: SU1597853A1. Автор: Александр Александрович Жуков,Владимир Юрьевич Лукоянов,Виктор Николаевич Кузин,Лариса Геннадиевна Гагарина,Марина Валериевна Пенько,Борис Лукич Панин. Владелец: Предприятие П/Я А-3695. Дата публикации: 1990-10-07.

Device for testing time intervals, inversely proportional to the speed of movement of the strip, in the system of automatic control of the thickness of the rolling mill of the rolling mill

Номер патента: SU149580A1. Автор: И.И. Лавров. Владелец: И.И. Лавров. Дата публикации: 1961-11-30.

Номер патента: RU2245825C1. Автор: А.А. Михайлов,Л.Н. Калинина,А.В. Максимов,А.М. Термосесов,Е.Н. Четвериков,Ю.А. Банщиков,В.П. Наумкин,хтин С.А. Шл,С.А. Шляхтин,П.А. Сорокин,Ю.М. Гончаров,Н.И. Зеленщиков,М.П. Кашицын,П.П. Масенко,Б.М. Бугер,Б.М. Бугеря,М.Р. Шура-Бура,В.В. Луцикович,Т.П. Баранова,А.Е. Москаленко,А.А. Мотов. Владелец: Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им. С.П. Королева". Дата публикации: 2005-02-10.

ANODE-SUPPORTED SOLID OXIDE FUEL CELL COMPRISING A NANOPOROUS LAYER HAVING A PORE GRADIENT STRUCTURE, AND A PRODUCTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120003565A1. Автор: Lee Jong Ho,KIM Jong Cheol,LEE Hae-Weon,SON Ji-Won,KIM Hae-Ryoung,Noh Ho-Sung. Владелец: KOREA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-01-05.

High-speed rotary-wing aircraft

Номер патента: RU2507121C1. Автор: Станислав Петрович Мидзяновский,Николай Иванович Дорошенко,Владимир Антонович Анимица,Сергей Леонидович Чернышев,Геннадий Петрович Смирнов,Сергей Николаевич Баско,Михаил Захарович Короткевич,Александр Николаевич Птицын,Александр Иванович Акимов,Николай Серафимович Павленко,Евгений Юрьевич Прокопов,Валерий Андреевич Ивчин,Владимир Степанович Макарейкин. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Московский Вертолётный Завод Им. М.Л. Миля". Дата публикации: 2014-02-20.

Номер патента: RU2310777C2. Автор: Ибрагимхан Камилович Камилов,Евгений Петрович Терешин,Темирлан Ахмедович Шахназаров,Якуб Магомедович Абдурахманов,Юлия Александровна Тахтарова,нц Марат Аванесович Ато,Марат Аванесович Атоянц,Юли Александровна Тахтарова. Владелец: Институт физики Дагестанского научного центра РАН. Дата публикации: 2007-11-20.

Ventilator-Initiated Prompt Regarding Auto-PEEP Detection During Volume Ventilation Of Triggering Patient Exhibiting Obstructive Component

Номер патента: US20120000467A1. Автор: . Владелец: Nellcor Puritan Bennett LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Ventilator-Initiated Prompt Regarding Auto-PEEP Detection During Volume Ventilation Of Non-Triggering Patient Exhibiting Obstructive Component

Номер патента: US20120000468A1. Автор: . Владелец: Nellcor Puritan Bennett LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Device of fire arms magazine

Номер патента: RU2545209C1. Автор: Евгений Валерьевич Алексютин. Владелец: Евгений Валерьевич Алексютин. Дата публикации: 2015-03-27.

Method of sewage water purification against copper ions

Номер патента: RU2327647C1. Автор: Лариса Борисовна Сватовская,Лариса Борисовна Сватовска,Мария Владимировна Шершнева,Юлия Евгеньевна Пузанова,Татьяна Александровна Смирнова,Тать на Александровна Смирнова,Мари Владимировна Шершнева,Ксени Юрьевна Соловьева,Ксения Юрьевна Соловьева,Юли Евгеньевна Пузанова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Петербургский государственный университет путей сообщения". Дата публикации: 2008-06-27.

Plant material drying device

Номер патента: RU2480692C1. Автор: Юрий Владимирович Борисов,Вадим Фаритович Юсупов,Владислав Геннадьевич Бабин. Владелец: Владислав Геннадьевич Бабин. Дата публикации: 2013-04-27.

Ventilator-Initiated Prompt Regarding Auto-PEEP Detection During Pressure Ventilation Of Patient Exhibiting Obstructive Component

Номер патента: US20120000469A1. Автор: Milne Gary,Hensley Kirk,Doyle Peter R.,Kimm Gardner. Владелец: Nellcor Puritan Bennett LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: RU2375718C2. Автор: Сергей Михайлович Лебедев,Ольга Семеновна Гефле,Владислав Александрович Волохин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский политехнический университет. Дата публикации: 2009-12-10.

POLYAMIDE RESIN COMPOSITION, FILM COMPRISING THE SAME AND POLYAMIDE-BASED LAMINATE FILM

Номер патента: US20120003361A1. Автор: . Владелец: UBE INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

RNA Interference Mediated Inhibition of the Intercellular Adhesion Molecule 1 (ICAM-1) Gene Expression Using Short Interfering Nucleic Acid (siNA)

Номер патента: US20120004282A1. Автор: Pickering Victoria,Shah Jyoti K.,Strapps Walter. Владелец: Merck Sharp & Dohme Corp,. Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: RU2337070C2. Автор: Владимир Дмитриевич Назаров,Максим Владимирович Назаров,Станислав Александрович Алексеев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский Государственный Нефтяной Технический Университет (УГНТУ). Дата публикации: 2008-10-27.

Generation time estimation procedure

Номер патента: RU2367334C1. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Михаил Михайлович Полевщиков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2009-09-20.

Номер патента: RU2505264C2. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Михаил Михайлович Полевщиков,Владимир Евгеньевич Афоньшин,Юрий Александрович Минаков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Марийский государственный университет". Дата публикации: 2014-01-27.

Method for determining time of intercentral linkage in central nervous system accompanying motor responses

Номер патента: RU2511250C2. Автор: Николай Дмитриевич Овчинников,Валентина Ивановна Егозина,Дмитрий Николаевич Овчинников. Владелец: Николай Дмитриевич Овчинников. Дата публикации: 2014-04-10.

Method of profile shutter installation in well

Номер патента: RU2392416C1. Автор: Наиль Габдулбариевич Ибрагимов,Фарит Фоатович Ахмадишин,Алмаз Адгамович Мухаметшин,Ильгиз Камаевич Кашапов,Константин Викторович Мелинг,Ренат Ильгизович Кашапов. Владелец: Открытое акционерное общество "Татнефть" им. В.Д. Шашина. Дата публикации: 2010-06-20.

Differential diagnosis method for distinguishing among glaucoma and ophthalmic hypertension

Номер патента: RU2303388C1. Автор: Виктор Петрович Фокин,Сергей Викторович Балалин. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Межотраслевой научно-технический комплекс "Микрохирургия глаза" имени академика С.Н. Федорова Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию". Дата публикации: 2007-07-27.

Method of testing devices and apparatus for transportation

Номер патента: RU2389995C1. Автор: Александр Сергеевич Орлов,Сергей Александрович Орлов. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2010-05-20.

Method for determination of personal fatigue extent

Номер патента: RU2364316C1. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Михаил Михайлович Полевщиков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2009-08-20.

Номер патента: RU2343439C2. Автор: Дмитрий Викторович Садин,Алексей Николаевич Добролюбов. Владелец: ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ ВОЕННО-КОСМИЧЕСКАЯ АКАДЕМИЯ ИМЕНИ А.Ф. МОЖАЙСКОГО. Дата публикации: 2009-01-10.

Psoriasis treatment mode

Номер патента: RU2366471C1. Автор: Евгений Федорович Левицкий,Андрей Викторович Зуев,Евгения Евгеньевна Колупаева,Вадим Станиславович Дмитрук,Елена Валериевна Мазур,Лилия Хоязитдимовна Бикбаева. Владелец: Лилия Хоязитдимовна Бикбаева. Дата публикации: 2009-09-10.

Method for treating children for perinatal central nervous system injuries by applying pulsating reversing magnetic therapy approach

Номер патента: RU2315637C1. Автор: Лилия Михайловна Бабина,Наталия Юрьевна Гурова. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Пятигорский государственный научно-исследовательский институт курортологии Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (ФГУ "Пятигорский ГНИИК Росздрава"). Дата публикации: 2008-01-27.

Method of production of anthelmintic for group treatment of sheep with monieziasis

Номер патента: RU2538723C1. Автор: Владислав Евгеньевич Абрамов,Дмитрий Петрович Скачков,Елена Владиславовна Абрамова. Владелец: Государственное научное учреждение (ГНУ) Всероссийский научно-исследовательский институт гельминтологии им. К.И. Скрябина (ВИГИС). Дата публикации: 2015-01-10.

Method of manufacturing of thick-film structure on basis of high-temperature superconductor

Номер патента: RU2352025C1. Автор: Юрий Евгеньевич Григорашвили,Нина Николаевна Волик. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский государственный институт электронной техники (технический университет). Дата публикации: 2009-04-10.

Номер патента: RU2346979C1. Автор: Василий Евгеньевич Тарасов,Мари Георгиевна Серикова,Мария Георгиевна Серикова,Владимир Михайлович Кириченко,Елена Владимировна Штарева,Роман Михайлович Кириченко. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Кубанский государственный технологический университет" (ГОУВПО "КубГТУ"). Дата публикации: 2009-02-20.

Method for sterilisation of nutritional media and fermenter for citric acid production

Номер патента: RU2555521C2. Автор: Наталья Юрьевна Шарова,Анастасия Андреевна Принцева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Всероссийский научно-исследовательский институт пищевых добавок" (ФГБНУ ВНИИПД). Дата публикации: 2015-07-10.

Tube-rolling mill's back table

Номер патента: RU2360751C1. Автор: Игорь Константинович Тартаковский,Петр Григорьевич Боровик,Юрий Сергеевич Артемьев,Борис Игоревич Тартаковский,Владимир Владимирович Бедняков,Александр Владимирович Есаков. Владелец: Открытое акционерное общество "Электростальский завод тяжелого машиностроения". Дата публикации: 2009-07-10.

Functional biologically active product (versions) and its production method (versions)

Номер патента: RU2446711C1. Автор: Игорь Иванович Агапов,Михаил Михайлович Мойсенович,Анастасия Александровна Казюлина,Василий Васильевич Богословский. Владелец: Анастасия Александровна Казюлина. Дата публикации: 2012-04-10.

Method of commutator shrink ring manufacture for electric machine (versions)

Номер патента: RU2330361C1. Автор: Виктор Гаврилович Щербаков,Владимир Иванович Захаров,Юрий Михайлович Украинский,Александр Олегович Симонов,Виктор Гаврилович Щербаков (RU),Юрий Михайлович Украинский (RU),Владимир Иванович Захаров (RU),Александр Олегович Симонов (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Всероссийский научно-исследовательский и проектно-конструкторский институт электровозостроения" (ОАО "ВЭлНИИ"). Дата публикации: 2008-07-27.

Method of boron-silicon cladding of steel articles in fluidized bed

Номер патента: RU2190689C1. Автор: Ю.А. Баландин. Владелец: Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И.Носова. Дата публикации: 2002-10-10.

Forecast method of durability of industrial corrosion-protection paint coatings for metal surfaces

Номер патента: RU2520164C2. Автор: Елена Владиславовна Бакирова,Борис Суренович Агаян,Татьяна Владимировна Варагина,Игорь Александрович Корольченко,Игорь Константинович Гречановский. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение Научно-исследовательский институт проблем хранения Федерального агенства по государственным резервам. Дата публикации: 2014-06-20.

Method of checking condition of vehicle damping devices

Номер патента: RU2284023C1. Автор: Сергей Маркович Калачев. Владелец: Сергей Маркович Калачев. Дата публикации: 2006-09-20.

Method of testing equipment on mechanical effects

Номер патента: RU2399032C1. Автор: Александр Сергеевич Орлов,Сергей Александрович Орлов,Алексей Юрьевич Усанов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие Федерального космического агентства "Опытное конструкторское бюро "Факел". Дата публикации: 2010-09-10.

Method and device for determining concentration of hydrogen ions

Номер патента: RU2423689C2. Автор: Евгений Иванович Глинкин,Ольга Сергеевна Стебенькова,Татьяна Сергеевна Соколова,Наталия Львовна Шалаева. Владелец: Государственное образовательное учреждение Высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" ГОУ ВПО "ТГТУ". Дата публикации: 2011-07-10.

Method of experimental detection of gradient of variation of long-term strength of loaded and corroded concrete and device for its realisation

Номер патента: RU2571307C1. Автор: Наталья Витальевна Клюева,Дмитрий Александрович Рыпаков,Дмитрий Анатольевич Творогов,Светлана Алексеевна Филатова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Юго-Западный государственный университет" (ЮЗГУ). Дата публикации: 2015-12-20.

Method for defining speed of ammunition approaching target

Номер патента: RU2477833C2. Автор: Владимир Викторович Черниченко,Виталий Борисович Шепеленко. Владелец: Виталий Борисович Шепеленко. Дата публикации: 2013-03-20.

Method for reducing necrosis of incisional wound edges following ankle replacement

Номер патента: RU2476231C1. Автор: Олег Константинович Чегуров,Людмила Юрьевна Горбачева,Юлия Олеговна Якиманская. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова" Министерства здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-02-27.

Greenhouse complex for far north regions (device and method)

Номер патента: RU2550599C2. Автор: Игорь Александрович Антуфьев,Сергей Анатольевич Попов,Маргарита Игоревна Алексеева,Валентина Ивановна Антуфьева,Софья Игоревна Попова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Всероссийский научно-исследовательский институт электрификации сельского хозяйства" (ФГБНУ ВИЭСХ). Дата публикации: 2015-05-10.

Method of determining approach speed of two bodies moving at different speed

Номер патента: RU2477870C2. Автор: Владимир Викторович Черниченко,Виталий Борисович Шепеленко. Владелец: Виталий Борисович Шепеленко. Дата публикации: 2013-03-20.

Milk sugar production method

Номер патента: RU2464321C2. Автор: Владимир Георгиевич Куленко,Евгения Александровна Фиалкова,Евгений Михайлович Костюков,Елена Александровна Качалова,Дарья Александровна Белозерова. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Вологодская государственная молочнохозяйственная академия им. Н.В. Верещагина". Дата публикации: 2012-10-20.

Method of intravital diagnostics of trichinosis at carnivorous and omnivores

Номер патента: RU2339038C2. Автор: Елена Михайловна Черкасова,Ирина Михайловна Одоевска,Ирина Михайловна Одоевская,Ольга Петровна Курносова,Александр Витальевич Успенский,Игорь Иванович Бенедиктов,Юли Валерьевна Кушнарева,Юлия Валерьевна Кушнарева. Владелец: Всероссийский научно-исследовательский институт гельминтологии им. К.И. Скрябина (ВИГИС). Дата публикации: 2008-11-20.

Method of treating epilepsy by electric stimulation of carotid sinus reflexogenic zone nerves of after karshurov se-bersnev vp

Номер патента: RU2383368C2. Автор: Валерий Павлович Берснев,Вугар Рауфович Касумов,Наталья Юрьевна Титова,Сергей Егорович Карашуров,Амжад Дарвиш,Тамара Сергеевна Степанова,Рауф Джаббарович Касумов,Жанибек Срымович Жанайдаров,Марина Викторовна Никитина,Леонид Михайлович Гудовский,Светлана Валентиновна Кравцова. Владелец: Светлана Валентиновна Кравцова. Дата публикации: 2010-03-10.

Method for production of dry complex starter for kvass fermentation

Номер патента: RU2541758C1. Автор: Геннадий Созырович Качмазов,Элина Александровна Драпп,Рузана Хазбиевна Бетеева. Владелец: Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Северо-Осетинский Государственный Университет Имени Коста Левановича Хетагурова". Дата публикации: 2015-02-20.

Diagnostic technique for joint implant with metal friction pair

Номер патента: RU2556789C2. Автор: Вадим Игоревич Некрасов,Владислав Владимирович Мишин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Государственный университет-учебно-научно-производственный комплекс" (ФГБОУ ВПО "Госуниверситет-УНПК"). Дата публикации: 2015-07-20.

Oligonucleotide primers, fluorescent probe and method for recognising rna of ibaraki disease virus by real-time polymerase chain reaction

Номер патента: RU2540142C2. Автор: Содном Жамьянович Цыбанов,Исмаил Мусаевич Калабеков,Елена Владимировна Аронова,Андрей Владимирович Луницин. Владелец: Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт ветеринарной вирусологии и микробиологии. Дата публикации: 2015-02-10.

Mode of filling a rocket-cosmic system with liquid cryogenic component

Номер патента: RU2252180C2. Автор: А.М. Егоров,М.Н. Сыровец,Н.Н. Тупицын,Э.А. Лукьянова,В.И. Федоров,В.Г. Хаспеков,Е.В. Сулягин,О.В. Сухачева,А.М. Егоров (RU),нова Э.А. Лукь (RU),гин Е.В. Сул (RU),М.Н. Сыровец (RU),Н.Н. Тупицын (RU),В.И. Федоров (RU),В.Г. Хаспеков (RU),О.В. Сухачева (RU). Владелец: Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" имени С.П. Королева". Дата публикации: 2005-05-20.

Device for blank target into labour roll mill stand

Номер патента: RU2360753C1. Автор: Игорь Константинович Тартаковский,Борис Александрович Серман,Борис Игоревич Тартаковский,Сергей Олегович Касаткин. Владелец: Открытое акционерное общество "Электростальский завод тяжелого машиностроения". Дата публикации: 2009-07-10.

Method of making composite copper-titanium material

Номер патента: RU2560897C1. Автор: Леонид Моисеевич Гуревич,Сергей Петрович Писарев,Дмитрий Владимирович Проничев,Вячеслав Фёдорович Казак,Виктор Георгиевич Шморгун,Дмитрий Анатольевич Евстропов,Вера Николаевна Арисова,Юрий Павлович Трыков,Олег Викторович Слаутин,Анна Андреевна Чешева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Волгоградский государственный технический университет" (ВолгГТУ). Дата публикации: 2015-08-20.

Method for vacuum sublimation drying with convective input of thermal energy and vacuum sublimation drying installation

Номер патента: RU2420215C1. Автор: Сергей Анатольевич Ермаков. Владелец: Сергей Анатольевич Ермаков. Дата публикации: 2011-06-10.

Method for estimating physical efficiency of person

Номер патента: RU2372063C1. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Михаил Михайлович Полевщиков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2009-11-10.

Method of thermal treatment of metallic shots

Номер патента: RU2372409C2. Автор: Людмила Алексеевна Мальцева,Сергей Владимирович Грачев,Олег Владимирович Жуйков,Владимир Петрович Гвоздовский,Сергей Николаевич Шляпников,Василий Иванович Воронцов,Станислав Валерьевич Орловский,Сергей Владимирович Грачев (RU),Людмила Алексеевна Мальцева (RU),Олег Владимирович Жуйков (RU),Владимир Петрович Гвоздовский (RU),Сергей Николаевич Шляпников (RU),Василий Иванович Воронцов (RU),Станислав Валерьевич Орловский (RU). Владелец: ООО "Уральский электрометаллургический завод". Дата публикации: 2009-11-10.

Method and device for performing soil test by static load application

Номер патента: RU2252297C1. Автор: В.И. Каширский. Владелец: Каширский Владимир Иванович. Дата публикации: 2005-05-20.

Способ контрольных испытаний на гамма-процентный ресурс невосстанавливаемых радиоэлектронных устройств с экспоненциальным законом распределения времени до отказа

Номер патента: RU2517948C1. Автор: Андрей Дмитриевич Вельт,Владимир Дмитриевич Митрохин. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов". Дата публикации: 2014-06-10.

Номер патента: RU2561868C1. Автор: . Владелец: Федеральное казенное учреждение "Центр экстренной психологической помощи Министерства Российской Федерации по делам гражданской обороны, чрезвычайным ситуациям и ликвидации последствий стихийных бедствий" (ФКУ ЦЭПП МЧС России). Дата публикации: 2015-09-10.

Selection method for cyclic sports

Номер патента: RU2386396C1. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Михаил Михайлович Полевщиков. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2010-04-20.

Test method of ball hinges of front suspension of passenger car

Номер патента: RU2566796C2. Автор: Александр Николаевич Новиков,Андрей Александрович Катунин,Максим Дмитриевич Тебекин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Государственный университет - учебно-научно-производственный комплекс" (ФГБОУ ВПО "Госуниверситет-УНПК"). Дата публикации: 2015-10-27.

Method for defining distance to target

Номер патента: RU2477869C2. Автор: Владимир Викторович Черниченко,Виталий Борисович Шепеленко. Владелец: Виталий Борисович Шепеленко. Дата публикации: 2013-03-20.

Method for application of inter-crystallite corrosion damage on aluminium alloys

Номер патента: RU2572075C1. Автор: Евгений Николаевич Каблов,Дмитрий Владимирович Чесноков,Алексей Евгеньевич Кутырев,Степан Сергеевич Лешко,Яков Сергеевич Кузин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (ФГУП "ВИАМ"). Дата публикации: 2015-12-27.

Method for accurate determination of displacement factor and relative permeability

Номер патента: RU2453832C1. Автор: Болеслав Иванович Ковальский,Юрий Николаевич Безбородов,Екатерина Геннадьевна Мальцева,Валерий Станиславович Янович,Артем Андреевич Игнатьев. Владелец: Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Сибирский Федеральный Университет" (Сфу). Дата публикации: 2012-06-20.

Method and device for quantitative determination of content of waxes and wax-like substances in refined vegetable oils

Номер патента: RU2522239C2. Автор: Алексей Аркадьевич Черторийский,Борис Александрович Соломин,Азат Маратович Низаметдинов,Михаил Леонидович Конторович. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2014-07-10.

Method of quantitative determination of phthalic acid in blood serum

Номер патента: RU2324185C1. Автор: Нина Владимировна Зайцева,Татьяна Сергеевна Уланова,Татьяна Дмитриевна Карнажицкая,Анастасия Витальевна Кислицина,Тать на Сергеевна Уланова,Тать на Дмитриевна Карнажицка,Надежда Владимировна Теплоухова,Анастаси Витальевна Кислицина. Владелец: Пермский научно-исследовательский клинический институт детской экопатологии. Дата публикации: 2008-05-10.

Method of nondestructive test of machinery parts

Номер патента: RU2305268C1. Автор: Юрий Николаевич Санкин,нов Михаил Владимирович Гурь,Михаил Владимирович Гурьянов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2007-08-27.

Method of diagnostics of dynamic objects

Номер патента: RU2153188C1. Автор: С.В. Шалобанов,В.В. Бобышев. Владелец: Хабаровский государственный технический университет. Дата публикации: 2000-07-20.

Method and device for taking air samples for subsequent analyzing gaseous or aerosol admixtures

Номер патента: RU2298776C2. Автор: Владимир Александрович Павлов,Николай Иванович Алимов,Галина Юрьевна Полякова,Андрей Юрьевич Бойко,кова Галина Юрьевна Пол,Сергей Анатольевич Дымнич. Владелец: Войсковая часть 61469. Дата публикации: 2007-05-10.

Method to determine steel building beam fire resistance

Номер патента: RU2320982C1. Автор: Николай Алексеевич Ильин,Сергей Сергеевич Ведерников. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный архитектурно-строительный университет" (СГАСУ). Дата публикации: 2008-03-27.

Method for accelerated test of aluminide coating for high- temperature corrosive durability

Номер патента: RU2247359C1. Автор: А.М. Смыслов,Р.Р. Невьянцева,Е.В. Парфенов,А.А. Быбин,нцева Р.Р. Невь,И.П. Семенова,О.Г. Смольникова. Владелец: Уфимский государственный авиационный технический университет. Дата публикации: 2005-02-27.

Method for detection of active medium degradation speed in ring helium-neon laser

Номер патента: RU2402833C1. Автор: Дмитрий Александрович Морозов,Михаил Викторович Чиркин,Алексей Владимирович Молчанов,Илья Викторович Осетров,Александр Георгиевич Сауриди. Владелец: Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Рязанский государственный радиотехнический университет. Дата публикации: 2010-10-27.

Method for increasing objectivity level of manual muscle testing

Номер патента: RU2269927C2. Автор: Владимир Ильич Коренбаум,Татьяна Николаевна Чернышева,Тать на Николаевна Чернышёва,Тать на Петровна Апухтина,Татьяна Петровна Апухтина. Владелец: Татьяна Николаевна Чернышева. Дата публикации: 2006-02-20.

Номер патента: RU2323743C2. Автор: Эдуард Джавадович Джавадов,Борис Борисович Трефилов,Нина Васильевна Никитина,Лариса Ивановна Явдошак. Владелец: Российская академия сельскохозяйственных наук, Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский ветеринарный институт птицеводства (ГНУ ВНИВИП Россельхозакадемии). Дата публикации: 2008-05-10.

Method for determining degree of persistent disability in patients with posttraumatic epilepsy

Номер патента: RU2572781C1. Автор: Вячеслав Викторович Линьков,Илья Владимирович Холодков,Екатерина Сергеевна Гаранина. Владелец: Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ивановская государственная медицинская академия" Министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2016-01-20.

TUBE-SHAPED KNITTED FABRIC, AND KNITTING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120000252A1. Автор: Funaki Nobuo,Yamashita Takahiro,Yumiba Isao,Kino Takashi. Владелец: SHIMA SEIKI MFG., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.