Memory device reducing test time and computing system including the same
Номер патента: KR102237563B1
Опубликовано: 07-04-2021
Автор(ы): 김윤길, 차정윤
Принадлежит: 삼성전자주식회사
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-04-2021
Автор(ы): 김윤길, 차정윤
Принадлежит: 삼성전자주식회사
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Memory device reducing test time and computing system including the same
Номер патента: US09653160B2. Автор: Yun-Kil Kim,Jeong-Yun Cha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.