THREE-DIMENSIONAL SHAPE, DISPLACEMENT, AND STRAIN MEASUREMENT DEVICE AND METHOD USING PERIODIC PATTERN, AND PROGRAM THEREFOR
Номер патента: US20190212130A1
Опубликовано: 11-07-2019
Автор(ы): RI Shien, Tsuda Hiroshi, Wang Qinghua
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 11-07-2019
Автор(ы): RI Shien, Tsuda Hiroshi, Wang Qinghua
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Three-dimensional shape estimation of objects via polarimetry
Номер патента: US20210372779A1. Автор: Michael J. DeWeert,Reid A. Noguchi,Dugan C. Yoon,Eric M. LOUCHARD. Владелец: BAE Systems Information and Electronic Systems Integration Inc. Дата публикации: 2021-12-02.