FILM THICKNESS MEASURING SYSTEM AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD.

FILM THICKNESS MEASURING SYSTEM AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20210293531A1
Опубликовано: 23-09-2021
Автор(ы): UMEHARA Yasutoshi
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: KR20200105475A. Автор: 겐이치 오츠카. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-09-07.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TW201930818A. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-01.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: WO2019138614A1. Автор: 賢一大塚. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2019-07-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TWI766116B. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210080250A1. Автор: Ohtsuka Kenichi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2021-03-18.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method, film thickness measuring program, and recording medium for recording film thickness measuring program

Номер патента: JP6487579B1. Автор: 賢一大塚. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-03-20.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US7321129B2. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2008-01-22.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Method of detecting abnormality in measuring of film thickness of workpiece, optical film-thickness measuring apparatus, and storage medium storing program

Номер патента: US20240102791A1. Автор: Akira Nakamura. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Wavelength determining apparatus, method and program for thin film thickness monitoring light

Номер патента: US20070223008A1. Автор: Takahiro Itoh,You Mimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US20060033057A1. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2006-02-16.

Thin film thickness monitor

Номер патента: US4355903A. Автор: John R. Sandercock. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-10-26.

Device for measuring ink film thickness

Номер патента: US4149802A. Автор: Peter Schramm,Alfred Dorn,Klaus Wolf,Gunther Schniggenfittig,Edgar F. Schoneberger. Владелец: Roland Offsetmaschinenfabrik Faber and Schleicher AG. Дата публикации: 1979-04-17.

Method for measuring epitaxial film thickness of multilayer epitaxial wafer

Номер патента: US6025596A. Автор: Toshio Abe,Hiroshi Shirai,Kenji Akai,Katsuyuki Iwata,Chikara Tojima. Владелец: Toshiba Ceramics Co Ltd. Дата публикации: 2000-02-15.

Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method

Номер патента: US8582124B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Sota Okamoto. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-12.

Coating thickness measurement using a near infrared absorbance technique and a light diffuser

Номер патента: WO2008070411A2. Автор: Paul H. Shelley,Gregory J Werner. Владелец: The Boeing Company. Дата публикации: 2008-06-12.

Coating thickness measurement using a near infrared absorbance technique and a light diffuser

Номер патента: WO2008070411A3. Автор: Gregory J Werner,Paul H Shelley. Владелец: Paul H Shelley. Дата публикации: 2008-10-23.

Coating thickness measurement system and method of measuring a coating thickness

Номер патента: US6052191A. Автор: Thomas H. Brayden, Jr.,Thomas D. Winters, Jr.. Владелец: Northrop Grumman Corp. Дата публикации: 2000-04-18.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: US20240271927A1. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2024-08-15.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: WO2023043379A3. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-06-01.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: WO2023043379A2. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-03-23.

THIN FILM THICKNESS GAUGING METHOD USING CsI(Tl) SCINTILATOR, INTEGRATED THIN FILM THICKNESS GAUGE AND METHOD FOR THE GAUGE

Номер патента: KR100497715B1. Автор: 박세환,문병수,홍석붕,김용균,김정복,한상효,이우교,정종은. Владелец: 한국원자력연구소. Дата публикации: 2005-06-28.

SHEL for measuring film thickness divides displacement measurement method

Номер патента: CN107246844A. Автор: 李洋,刘庆纲,秦自瑞,岳翀,郎垚璞. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-10-13.

A kind of online thickness measurement with laser system and method for film

Номер патента: CN107796317A. Автор: 张云,王云明,周华民,黄志高,宋世典,谭鹏辉,黄天仑. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-03-13.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Film thickness measuring apparatus employing microprojector of spectral reflection measurement

Номер патента: US4673294A. Автор: Nobuo Adachi,Yoshihiro Mochida,Ichiro Shirahama. Владелец: Orc Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-16.

Methods and systems for blown film thickness measurement

Номер патента: US12123700B2. Автор: Christopher J. Rother,David L. Hofeldt,Jay M. Krieger,Paul C. Thomas,Thomas J. STREY,Gregory J. McGill. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method and wafer polishing system measuring a film thickness in conjunction with a liquid tank

Номер патента: US5657123A. Автор: Osamu Endo,Katsumi Mogi. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1997-08-12.

Thin film thickness and optimal focus measuring using reflectivity

Номер патента: US5982496A. Автор: David H. Ziger. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1999-11-09.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in a photoacoustic film thickness measurement system

Номер патента: EP1417450A4. Автор: Christopher Morath,Robert J Stoner. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-06-10.

Film thickness measuring device with signal averaging to compensate for roller eccentricity

Номер патента: US4748331A. Автор: Yoshiaki Ida,Toshishige Nagao,Masayuki Ariki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-05-31.

Development of film thickness measuring device with configuration of ball-on-cup for simulating artificial joint lubrication

Номер патента: NL2029676B1. Автор: Guo Feng,LI Xinming,YANG Shuyan,Song Luping. Владелец: Univ Qingdao Technology. Дата публикации: 2022-10-21.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: US20210140758A1. Автор: Shiro Kawaguchi,Kazuya Nakajima. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Use of full-size matrix image sensor for measurement of film thickness in real time on film making equipment

Номер патента: RU2717384C2. Автор: Пол С. БОНИНО,Роберт П. ГЕРЛОСКИ,Джейсон М. ЛЕФЕВР. Владелец: Зирокс Корпорейшн. Дата публикации: 2020-03-23.

Method of measuring film thickness

Номер патента: US20200363192A1. Автор: Tatsuji Nagaoka,Hiroyuki Nishinaka,Masahiro Yoshimoto. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2020-11-19.

Device for measuring frictional force and film thickness of lubricating oil film in different surface velocity directions

Номер патента: US11768149B2. Автор: Feng Guo,Jianjun Zhang,Chenglong LIU,Jiahao Zhang,Qinglun CHE,Hewei LU,Zhaogang JING. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-09-26.

Device and method for measuring oxide film thickness

Номер патента: US11761752B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Oxide film thickness measurement device and method

Номер патента: US11852458B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Use of a full width array imaging sensor to measure real time film thicknesses on film manufacturing equipment

Номер патента: US09702689B2. Автор: Jason M. LeFevre,Robert P. Herloski,Paul S. Bonino. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

System and method for simultaneously measuring lubricant thickness and degradation, thin film thickness and wear, and surface roughness

Номер патента: US6031615A. Автор: Steven W. Meeks,Rusmin Kudinar,Ronny Soetarman. Владелец: Candela Instruments Inc. Дата публикации: 2000-02-29.

Thin film thickness measurement using multichannel infrared sensor

Номер патента: CA2563777C. Автор: Steve Axelrod,Igor N. Germanenko. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2012-03-20.

Dielectric film thickness monitoring and control system and method

Номер патента: US3612692A. Автор: Robert W Kruppa,Ernest S Ward. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-10-12.

Optical film thickness monitor

Номер патента: US3744916A. Автор: P Bey,R Patten. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1973-07-10.

Apparatus to characterize substrates and films

Номер патента: WO2024020136A1. Автор: Jian Ding,Ju Jin,Nathan UNRUH,Nazar ORISHCHIN. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus to characterize substrates and films

Номер патента: US20240027186A1. Автор: Jian Ding,Ju Jin,Nathan UNRUH,Nazar ORISHCHIN. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Thin-flim characteristic measuring method using spectroellipsometer

Номер патента: US20040207844A1. Автор: Nataliya Nabatova-Gabain,Yoko Wasai. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2004-10-21.

Electronic component thickness measurement method, method for manufacturing a series of electronic components using the measurement method, a series of electronic components manufactured by the manufacturing method, and electronic component inspection apparatus

Номер патента: US09404732B2. Автор: Yoshinao Nishioka,Masayoshi HARUKI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Method of measuring thickness of long sheet material and thickness measuring system

Номер патента: CA3020509C. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-06-15.

Optical metrology systems and methods

Номер патента: US20090174883A1. Автор: Emad Zawaideh,Javier Ruiz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-09.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for bump height measurement

Номер патента: WO2004044831A1. Автор: Charles Harris,Weerakiat Wahawisan,Gerald Brown,Chuah Sim Hak,Richard Goedeken. Владелец: Semiconductor Technologies & Instruments, Inc.. Дата публикации: 2004-05-27.

Tubing dimensional measurement system

Номер патента: US11920914B2. Автор: Aniello Mario Palumbo,Jerry Lee Hepburn. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-03-05.

System and method for measuring patterns

Номер патента: US20190148108A1. Автор: Wei Sun,Yasunari Sohda,Taku Ninomiya,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Wafer thickness measurement device and method for same

Номер патента: EP4431866A1. Автор: Kazuhiko Tahara,Ryo USAKI. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Thickness measuring apparatus, thickness measuring method, and wet etching apparatus and wet etching method utilizing them

Номер патента: EP1258916A1. Автор: Hidenori Takahashi,Teruo c/o Hamamatsu Photonics K.K. TAKAHASHI,Motoyuki C/O Hamamatsu Photonics K.K. Watanabe. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2002-11-20.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: EP3853581A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-07-28.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: US20210341282A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-11-04.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: AU2019341495A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2021-03-18.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: CA3111691A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2020-03-26.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: AU2019341495B2. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: Europaisches Laboratorium fuer Molekularbiologie EMBL. Дата публикации: 2024-08-22.

Sample thickness measuring arrangement and method for measuring a thickness of a sample at cryogenic temperature by interferometry using a cryostat

Номер патента: WO2020058140A1. Автор: Gergely Papp,Florent Cipriani. Владелец: EUROPEAN MOLECULAR BIOLOGY LABORATORY. Дата публикации: 2020-03-26.

Spectrometer, distance measuring system, and method for operating a spectrometer

Номер патента: US20240255348A1. Автор: Tobias Otto,Christoph GRUEBER,Alexander Haussmann. Владелец: Micro Epsilon Optronic GmbH. Дата публикации: 2024-08-01.

Target material thickness measuring apparatus

Номер патента: US09778024B2. Автор: Liang Peng,Daeyoung Choi,Deyong Wang,Yefa Li,Congqi Zheng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP3370035A1. Автор: Takahiro Kubota,Takuya Goto,Yuichi Sasano,Kei Yoshitomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A3. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US20240134294A1. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US12007702B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

MEASUREMENT DEVICE, LITHOGRAPHY SYSTEM AND EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD, OVERLAY MEASUREMENT METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180046096A1. Автор: Shibazaki Yuichi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2018-02-15.

MEASUREMENT DEVICE, LITHOGRAPHY SYSTEM AND EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD, OVERLAY MEASUREMENT METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20200285160A1. Автор: Shibazaki Yuichi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-10.

MEASUREMENT DEVICE, LITHOGRAPHY SYSTEM AND EXPOSURE APPARATUS, AND CONTROL METHOD, OVERLAY MEASUREMENT METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20220365453A1. Автор: Shibazaki Yuichi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2022-11-17.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US10698326B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, superposition measurement method and device manufacturing method

Номер патента: TWI696042B. Автор: 柴崎祐一. Владелец: 日商尼康股份有限公司. Дата публикации: 2020-06-11.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, superposition measurement method and device manufacturing method

Номер патента: TW202036177A. Автор: 柴崎祐一. Владелец: 日商尼康股份有限公司. Дата публикации: 2020-10-01.

Position measurement system and position measurement method

Номер патента: US12025422B2. Автор: Haruki Mori,Junpei Yamaguchi,Masanobu TSUTSUI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Shape Measuring System and Shape Measuring Method

Номер патента: US20220178680A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Akio Yazaki,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-06-09.

Distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: CA3146353A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-02-11.

Fin tip position measurement method, fin tip position measurement system, and jig for measuring fin tip position

Номер патента: US12044629B2. Автор: Satoshi Kumagai,Koji Ishibashi,Shunsuke Mizumi,Masaru Sekihara,Juichi KODERA,Jose Carlos KUROKI RAMIREZ. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Three-dimensional measuring system, and three-dimensional measuring method

Номер патента: US20210293519A1. Автор: Hitoshi Tamura,Yoichi Togawa,Kento Kurihara,Tomotaka Yamagata. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Bubble measurement system and method

Номер патента: WO2023131880A1. Автор: Du Wen,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Jiankun Zhou. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2023-07-13.

System and Method for Collecting Measurement Data of Shaped Cooling Holes of CMC Components

Номер патента: US20200326180A1. Автор: Sean Allen Campion,Cody Daniel Burbank,Joshua Ryan Wilson. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2020-10-15.

Bubble measurement system and method

Номер патента: US20230215032A1. Автор: Du Wen,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Jiankun Zhou. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2023-07-06.

Size measurement method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4361555A1. Автор: Fei Chen,Guannan JIANG,Tianhui WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Tracking measurement system and method

Номер патента: US09575183B2. Автор: William T. Edwards,Michael L. Piasse,Craig M. Farniok. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-02-21.

Micro-displacement measurement system having picometer scale resolution and measurement method

Номер патента: US20240151558A1. Автор: XIN Ran,Wei Zhou,Fangfang Liu,Xinyang Liu,Hongli Li,Haojie Xia. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Interferometric displacement measurement system and method based on phase modulation of polarized light of micro probe

Номер патента: US12078472B1. Автор: Chen Zhang,Pengcheng HU,Yisi Dong. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-09-03.

Laser measurement system and method for measuring 21 GMEs

Номер патента: US09982997B2. Автор: Bin Zhang,Qibo FENG,Cunxing Cui. Владелец: Beijing Jiaotong University. Дата публикации: 2018-05-29.

Hole-measurement systems and methods using a non-rotating chromatic point sensor (CPS) pen

Номер патента: US09329026B2. Автор: Eric Herbert Altendorf. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Sensor, magnetic field position measuring system and method for determining position

Номер патента: US20230184852A1. Автор: Ulrich Ritter,Matthias Niethammer,Christoph Boeckenhoff. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2023-06-15.

Digital measurement system and method

Номер патента: WO2024144473A1. Автор: Ferhat KOVANCI. Владелец: Kovanci Ferhat. Дата публикации: 2024-07-04.

Measurement system

Номер патента: US11506480B2. Автор: Mark Stephens. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-22.

Continuous Measuring System for High-density Resistivity of Capacitor Electrodes and Measuring Method

Номер патента: LU500628B1. Автор: Zhixin Liu,Zhanguo Lu,Xingang Xu. Владелец: Univ China Mining. Дата публикации: 2022-03-07.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US20150338206A1. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-11-26.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09874435B2. Автор: Sang-hyun Park,Sangwook Park,Taekyu SON,Sangdon Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Shape Measurement System and Shape Measurement Method

Номер патента: US20180306573A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-25.

Optical measurement method and measurement system for determining 3D coordinates on a measurement object surface

Номер патента: US09683837B2. Автор: Knut Siercks. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2017-06-20.

Orientation characteristic measurement method, orientation characteristic measurement program, and orientation characteristic measurement device

Номер патента: US11920921B2. Автор: Kiyotada HOSOKAWA,Shigeru EURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-05.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: EP4404004A1. Автор: Tsutomu Mizuguchi,Hiroyuki Sano,Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20240200935A1. Автор: Chung-Lun Kuo,Chih-Hsiang Liu,Hsiang-Chun Wei,Chun-Wei Lo. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Three-dimensional shape measurement system and three-dimensional shape measurement method

Номер патента: US20200246979A1. Автор: Jun Wada. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20190392193A1. Автор: Toyoo Iida,Hitoshi Nakatsuka. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Hybrid systems and methods for characterizing stress in chemically strengthened transparent substrates

Номер патента: US20200300615A1. Автор: Nathaniel David Wetmore,Rostislav Vatchev Roussev,Babak Robert Raj,Ryan Claude Andrews,Pierre Michel Bouzi,William John Furnas,Jeremiah Robert Jacobson,Evan Lewis Olson,Glenn Abram NEWCOMER,Viktor STEPANOV. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Strain distribution measurement system and strain distribution measurement method that measure strain distribution based on distribution of reflectance or polarization characteristic

Номер патента: US12055382B2. Автор: Norio Hirayama,Yukimitsu Iwanaga,Tomotaka Nagashima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US09766058B2. Автор: Hidetaka Nishida,Hideo Matsumura,Tatsuya KENZUME,Daisuke ARAKAWA. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Shape measurement system and shape measurement method

Номер патента: EP4455617A1. Автор: Kazuhide Nakajima,Takashi Matsui,Hideaki Murayama,Nobutomo Hanzawa,Ryota Wada,Makito Kobayashi. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-10-30.

Optical metrology system and method

Номер патента: US20240264538A1. Автор: Gilad Barak,Amir Shayari. Владелец: Nova Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

System and method for measuring electrical properties of materials

Номер патента: US11009525B1. Автор: Jay Mody,Hemant Dixit. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2021-05-18.

Regularity measurement system and method for seat arrangement

Номер патента: US20220319150A1. Автор: Aili Zhou. Владелец: Ningbo Juzhong Machinery Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Systems and methods for wafer surface feature detection and quantification

Номер патента: US09702829B1. Автор: Haiguang Chen,Jaydeep Sinha,Sergey Kamensky,Shouhong Tang,Enrique Chavez,Mark Plemmons. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and measurement system for carrying out and/or displaying a measurement process

Номер патента: US20240241623A1. Автор: Hannes Loferer,Thomas Wisspeintner,Andreas Liebl. Владелец: Micro Epsilon Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Misalignment measurement system, production equipment for welded steel pipe, imaging terminal, imaging system, information processing device, misalignment measurement method, welded steel pipe production method, and quality control method for welded steel pipe

Номер патента: EP4417934A1. Автор: Shinichi Haga,Yusuke Tsukamoto. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

System and methods for intraoperative guidance feedback

Номер патента: US09901409B2. Автор: Victor Xiao Dong Yang,Beau Anthony STANDISH,Adrian Linus Dinesh Mariampillai,Michael Ka Kit LEUNG. Владелец: RYERSON UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-02-27.

System and methods for intraoperative guidance feedback

Номер патента: US12137985B2. Автор: Victor Xiao Dong Yang,Beau Anthony STANDISH,Adrian Linus Dinesh Mariampillai,Michael Ka Kit LEUNG. Владелец: 7D Surgical ULC. Дата публикации: 2024-11-12.

System and methods for intraoperative guidance feedback

Номер патента: US09510914B2. Автор: Victor Xiao Dong Yang,Beau Anthony STANDISH,Adrian Linus Dinesh Mariampillai,Michael Ka Kit LEUNG. Владелец: RYERSON UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-12-06.

Distributed measurement system for scanning projects

Номер патента: US20200301885A1. Автор: Oliver Zweigle,Aleksej Frank,Ahmad RAMADNEH,Joao Santos. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Armored vehicle, method, and weapon measurement system for determining barrel elevation

Номер патента: US20200370868A1. Автор: James Hugh Lougheed. Владелец: General Dynamics Mission Systems Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

Line spectral confocal three-dimensional measurement system and method using linear variable filter

Номер патента: US20240310163A1. Автор: Weimin Shen,Xinhua Chen,Shiyu Ge. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-19.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Optical measuring method, and optical measuring system

Номер патента: EP4431888A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Measuring system and method using light source and cylindrical mirror

Номер патента: US09885562B2. Автор: Simon Melikian. Владелец: RECOGNITION ROBOTICS Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Detection apparatus, measurement apparatus, exposure apparatus, method of manufacturing article, and measurement method

Номер патента: US09534888B2. Автор: Akio Akamatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Optical film thickness measuring device and thin film forming apparatus using the optical film thickness measuring device

Номер патента: US20140016139A1. Автор: Kenji Ozawa,Yousong Jiang,Kyokuyo Sai. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-16.

Photovoltaic rolled glass on-line automatic thickness measuring device and photovoltaic rolled glass on-line automatic thickness measuring method

Номер патента: CN105091821A. Автор: 陈和平,杨建新,陈向飞,秦文生,王庆勇,潘新征,邱崇宝,成新利. Владелец: Henan Ancai Hi Tech Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

COMPOSITE CARRIER AND AUTOMATED THICKNESS MEASUREMENT AND CALIBRATION SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20160238383A1. Автор: III John A.,II John A.,KANE. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-18.

Assembly comprising a wall and a non-contact measurement system of a deformation of the wall, and associated measurement method

Номер патента: FR3111422A1. Автор: Stephane Gaillot,Gilles Gobillot. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-12-17.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Film Thickness Measurement Device and Method

Номер патента: US20240044637A1. Автор: Soichi Oka,Azusa Ishii,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US09879971B2. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: US20050220267A1. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-10-06.

Contactless film thickness measuring device for plastic film blowing machine

Номер патента: EP3964347A1. Автор: Jui-Chien Yang. Владелец: Nano Trend Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Halfway cutter changing method for large-area microstructure cutting based on in-situation film thickness measurement

Номер патента: US20200023441A1. Автор: Li Jiao,Jia Zhou,Zhiqiang Liang,Zhibing Liu,Lijing Xie,Xibin Wang,Tianfeng ZHOU,Benshuai RUAN,Longlong TANG,Pei YA N. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2020-01-23.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, AND FILM FORMATION SYSTEM

Номер патента: US20230011226A1. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-01-12.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: US12062583B2. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Abnormality detection method for preset spectrum data for use in measuring film thickness, and optical film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20240255440A1. Автор: Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Lubrication film thickness measuring system and method

Номер патента: CA1304129C. Автор: Dennis W. Smith. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Film-thickness measuring method and film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20230204342A1. Автор: Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20220228995A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20210148834A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Plating apparatus and film thickness measuring method for substrate

Номер патента: US11906299B2. Автор: Masaki Tomita,Masaya Seki,Shao Hua CHANG. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Apparatus and method of using impedance resonance sensor for thickness measurement

Номер патента: US09528814B2. Автор: Yury Nikolenko,Matthew Fauss. Владелец: NeoVision LLC. Дата публикации: 2016-12-27.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Thickness measurement using afm for next generation lithography

Номер патента: EP1269112A1. Автор: Bharath Rangarajan,Bhanwar Singh,Khoi A. Phan. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-01-02.

Protective film thickness measuring method

Номер патента: US11892282B2. Автор: Kunimitsu Takahashi,Nobuyasu Kitahara,Hiroto Yoshida,Joel Koerwer,Kuo Wei Wu,Naoki Murazawa. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Film thickness measurement device and method

Номер патента: CA2630129C. Автор: Yoshiyuki Saito,Takehito Yagi,Tsuyoshi Terauchi,Hidetoshi Takimoto. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2011-01-11.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: EP1559993A3. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-12.

Optical film-thickness measuring apparatus and polishing apparatus

Номер патента: US11951588B2. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Yoshikazu Kato. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Methods and apparatus for thin metal film thickness measurement

Номер патента: US8128278B2. Автор: Yehiel Gotkis,Mikhail Korolik. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2012-03-06.

Plating analysis method, plating analysis system, and computer readable storage medium for plating analysis

Номер патента: US20190137445A1. Автор: Masashi Shimoyama,Mitsuhiro Shamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Method for calculating film thickness of grain boundary oxide layer, method for determining platability, method for producing plated steel sheet, and apparatus for calculating film thickness

Номер патента: EP4407063A1. Автор: Kazushi Hayashi,Masanori Kobayashi,Koji Sasaki,Masahiro Inui,Koki Fukushima. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Method of producing a model for estimating film thickness of workpiece, method of estimating film thickness of workpiece using such a model, and computer readable storage medium storing program for causing computer to perform the methods

Номер патента: US20220316863A1. Автор: Akira Nakamura,Keita Yagi,Nachiketa Chauhan,Rohit KAWDE. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: WO2022191969A1. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Isreal Ltd.. Дата публикации: 2022-09-15.

Product removal apparatus, treatment system, and product removal method

Номер патента: US20230119979A1. Автор: Fumiya OKAZAKI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US7875468B2. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20090309200A1. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-12-17.

Method and system for monitoring the film thickness of a lubricant within a lubricated bearing

Номер патента: US20230251075A1. Автор: Robert Jan Meijer,Pieter Martin Lugt,Jude Asuelimen Osara,Pramod Shetty. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-08-10.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US20220307818A1. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US11867497B2. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Thickness measuring system and method

Номер патента: WO2020263857A1. Автор: Peter Neumann,Michael Jenkins. Владелец: Michael Jenkins. Дата публикации: 2020-12-30.

Device and Method for Detecting Film Thickness

Номер патента: US20200318941A1. Автор: LI Jiang,Mingfeng SUN,Yonghui LIN,Xiumei QI. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Ultrasonic method and system for simultaneously measuring lubrication film thickness and liner wear of sliding bearing

Номер патента: US20230273158A1. Автор: PENG Zheng,Tonghai WU,Yaguo LEI,Junyi CAO,Wenzhuo ZHAO,Pan DOU,Yaping JIA. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2023-08-31.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US11092429B2. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-17.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: SG11201906425RA. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Film thickness sensor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20160252347A1. Автор: Ang Xiao. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US20190025045A1. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-24.

Radiometer for determining oil film thickness

Номер патента: US5672007A. Автор: Elliott R. Brown,Gregory G. Hogan,Gerald M. Daniels. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1997-09-30.

Fluid film thickness sensor

Номер патента: GB1471196A. Автор: . Владелец: Multigraphics Inc. Дата публикации: 1977-04-21.

Systems and Methods for Monitoring One or More Characteristics of a Substrate

Номер патента: US20210109015A1. Автор: Mark Somervell,Masahide Tadokoro,Michael Carcasi,Joshua Hooge. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: EP4378786A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Film thickness gauge

Номер патента: GB2112518A. Автор: Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1983-07-20.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: US20240175679A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Measuring system and measuring method

Номер патента: US09915519B2. Автор: Qiang Wu,Yuntao Jiang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: AU5759400A. Автор: Robert Linder,Sergey Borodyansky,Charles E. Bryson Iii,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: Surface Interface Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Method for measuring film thickness distribution of wafer with thin films

Номер патента: US11965730B2. Автор: Philippe Gastaldo,Susumu Kuwabara,Kevin QUINQUINET. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: EP1192416A1. Автор: Robert Linder,Charles E. Bryson, III,Sergey Borodyansky,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2002-04-03.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Contour accuracy measuring system and contour accuracy measuring method

Номер патента: US20200326185A1. Автор: Yu-Sheng Tseng,Tsung-Yu Yang,Chien-Yi Lee,Po-Hsun Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-10-15.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: WO2018148303A1. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-08-16.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: EP3551964A1. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-10-16.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: EP2734755A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2014-05-28.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: WO2013011086A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: AKTIEBOLAGET SKF. Дата публикации: 2013-01-24.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for measuring etching amount, and measurement system therefor

Номер патента: US20240328776A1. Автор: Kiyoshi Kojima,Tadaaki Kaneko. Владелец: Toyota Tsusho Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Thickness measurement system

Номер патента: US20240003669A1. Автор: Mete Bakir,Abdullah GOZUM,Elif Gaye ERKI,Oguzhan AKGOL. Владелец: Tusas Turk Havacilik Ve Uzay Sanayii AS. Дата публикации: 2024-01-04.

Fluorescent x-ray film thickness gauge for very small areas

Номер патента: CA1195438A. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-10-15.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Measuring system and measuring method for a road construction machine

Номер патента: US09891036B2. Автор: Achim Eul. Владелец: JOSEPH VOEGELE AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Position measurement system and respective method of measurement for determination of marked position of linear mobile guiding element

Номер патента: RU2553718C2. Автор: Маркус РЕЙМАНН. Владелец: Арефа Гмбх. Дата публикации: 2015-06-20.

Measuring system and measurement method

Номер патента: US20240240926A1. Автор: Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Non-intrusive process fluid pressure measurement system

Номер патента: RU2769409C1. Автор: Чарльз Р. УИЛЛКОКС. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2022-03-31.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: EP2277003A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2011-01-26.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: WO2009121916A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2009-10-08.

Foot shape measurement system and foot shape measurement method

Номер патента: US20240255275A1. Автор: Nozomu Seike,Motohide Arayama. Владелец: Wacoal Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Marine vessel measuring system and method

Номер патента: WO2024168402A1. Автор: Ayrton SUE,Scott Vincent Wovodich. Владелец: Scott Vincent Wovodich. Дата публикации: 2024-08-22.

Optical apparatus and distance measuring system

Номер патента: US20200300610A1. Автор: Takehiro Nishimori. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

System and method/process for in-field measurements of plant crops

Номер патента: EP4416525A1. Автор: German Carlos Spangenberg,Bikram Pratap BANERJEE,Surya Kant. Владелец: AGRICULTURE VICTORIA SERVICES PTY LTD. Дата публикации: 2024-08-21.

Optical measurement system and method for measuring critical dimension of nanostructure

Номер патента: US09995648B2. Автор: Maksim RIABKO,Anton MEDVEDEV,Alexey SHCHEKIN,Sergey KOPTYAEV. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-12.

Build plane measurement systems and related methods

Номер патента: US11987005B2. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-05-21.

Methods and systems for semiconductor structure thickness measurement

Номер патента: US20210295496A1. Автор: Olmez Fatih. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Build plane measurement systems and related methods

Номер патента: US20240262040A1. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-08-08.

Conveyor system and measuring device for determining water content of a construction material

Номер патента: EP2909610A1. Автор: Robert Ernest Troxler,W. H. Linus DEP. Владелец: Troxler Electronic Laboratories Inc. Дата публикации: 2015-08-26.

Build plane measurement system and related additive manufacturing method

Номер патента: EP3839422A1. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-06-23.

Measurement, coating and monitoring system and method

Номер патента: EP2005108A2. Автор: Michael James Fraser,Jörg Peter Feist,Andrew Lawrence Heyes,John Raymond Nicholls. Владелец: Southside Thermal Sciences Sts Ltd. Дата публикации: 2008-12-24.

JAK measuring system and method of use

Номер патента: US20040117997A1. Автор: John Anthony Karageorge. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-24.

Projection apparatus for measurement system based on exit pupil positions

Номер патента: US09658056B2. Автор: Masakazu Tohara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Multi-mode thickness measurement device and methods

Номер патента: WO2024030726A2. Автор: Sr. Mark F. Zanella. Владелец: AGR International, Inc.. Дата публикации: 2024-02-08.

Optical systems and methods for measuring turbine blade tip clearance

Номер патента: US12060865B2. Автор: Russell E. Altieri,Lewis J. Boyd. Владелец: Parker Hannifin Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

System and method for manufacturing cementitious boards with on-line board measurement

Номер патента: US09964942B2. Автор: Robert Nelson,Andrew Rowe,Charles Whittington,Christopher Mark Pauly. Владелец: United States Gypsum Co. Дата публикации: 2018-05-08.

Precision hydrostatic level and flatness measuring device, system and method

Номер патента: US09587940B2. Автор: Frank Olshefsky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-07.

Endoscopic measurement system and method

Номер патента: US09545220B2. Автор: Avishay Sidlesky. Владелец: VTM (virtual Tape Measure) Technologies Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Stereoscopic measurement system and method

Номер патента: US09482515B2. Автор: Warren Redden,Windflower Waters,Steven Weintraub,Carl Redden,George B. Stevens,Grady A. Clendening,Robert W. Srack,Janet M. Srack. Владелец: Matrix Electronic Measuring Properties LLC. Дата публикации: 2016-11-01.

Multi-mode thickness measurement device and methods

Номер патента: WO2024030726A3. Автор: Sr. Mark F. Zanella. Владелец: AGR International, Inc.. Дата публикации: 2024-03-14.

Cable measurement system and cutter apparatus

Номер патента: US11981041B2. Автор: Joseph David Barnes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-14.

Bubble measurement system and method

Номер патента: US12039748B2. Автор: Du Wen,LEI Zhou,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Michael Ritchie,Michael Pedrick,Philip Amante. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Cable Measurement System and Cutter Apparatus

Номер патента: US20220143855A1. Автор: Joseph David Barnes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-05-12.

Automatic measuring systems and control method for automatic measuring systems

Номер патента: US20240346694A1. Автор: Seiji Sasaki,Kunio Ueda,Daisuke Sakai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Measurement system and method of use

Номер патента: US10416118B1. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark D Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2019-09-17.

System and method for optical measurements in a rotary machine

Номер патента: EP3816574A1. Автор: Kurt Kramer Schleif,Andrew David Ellis. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-05-05.

Automatic measuring system and control method for automatic measuring system

Номер патента: US20240345116A1. Автор: Seiji Sasaki,Daisuke Sakai,Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Thickness measuring system and method

Номер патента: US11879723B2. Автор: Peter Neumann,Michael Jenkins. Владелец: Jenbit LLC. Дата публикации: 2024-01-23.

Contactless method for polymer coating thickness measurement

Номер патента: US11852457B2. Автор: Hongliang Wang,Mei Cai,Fang DAI,Shuru Chen. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2023-12-26.

Wafer measurement apparatus, wafer measurement system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20190229023A1. Автор: Je-Hyun Lee,Sung-Bo Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-07-25.

Dual laser frequency sweep interferometry system and method

Номер патента: WO2015198044A1. Автор: Nigel Joseph Copner,Edward Benjamin Hughes,Matthew Stuard Warden,Juan Jose MARTINEZ,Michael Aloysius CAMPBELL. Владелец: The Secretary of State For Business, Innovation & Skills. Дата публикации: 2015-12-30.

Dual laser frequency sweep interferometry system and method

Номер патента: EP3161408A1. Автор: Nigel Joseph Copner,Edward Benjamin Hughes,Matthew Stuard Warden,Juan Jose MARTINEZ,Michael Aloysius CAMPBELL. Владелец: Sec Dep For Business Innovation & Skills. Дата публикации: 2017-05-03.

System and method for evaluating surface finish of tire retread

Номер патента: EP2449360A1. Автор: Bruce E. Carney. Владелец: Michelin Recherche et Technique SA Switzerland. Дата публикации: 2012-05-09.

Wafer measurement apparatus, wafer measurement system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US10790200B2. Автор: Je-Hyun Lee,Sung-Bo Shim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-09-29.

Thickness measurement device

Номер патента: US20230218273A1. Автор: Yoshio Arai,Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Pitch angle measuring system and method for wind turbines

Номер патента: US09896959B2. Автор: Fabio Bertolotti,Christian Bott. Владелец: SSB Wind Systems GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-20.

Measuring system for non-destructive thickness measurement of electrically non-conductive coating on electrically conductive bodies

Номер патента: GB1406644A. Автор: I Szasz. Владелец: Paratronic Ag. Дата публикации: 1975-09-17.

Ring size measurement system and method for digitally measuring ring size

Номер патента: US20200013182A1. Автор: Mehul Sompura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-01-09.

Pneumatic plug gauge and measuring system

Номер патента: US10775162B2. Автор: Herbert Beck,Johannes Weickmann,Andreas Schruefer,Christoph Schmidtlein. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-09-15.

Lymphatic pressure-measuring system and method for controlling same

Номер патента: US20120123254A1. Автор: Naoki Unno. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2012-05-17.

Pneumatic plug gauge and measuring system

Номер патента: US20170328707A1. Автор: Herbert Beck,Johannes Weickmann,Andreas Schruefer,Christoph Schmidtlein. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-11-16.

Lymphatic Pressure-Measuring System and Method for Controlling Same

Номер патента: US20150238134A1. Автор: Naoki Unno. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2015-08-27.

Compression sock and foot measuring system having the same

Номер патента: US20240023639A1. Автор: Tsung-E Liao. Владелец: Nesi Trading Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Seine net position measurement system and method of determining seine net position

Номер патента: US20240324563A1. Автор: David O'Neill,Carles Castro Muniain,John Wescott Carroll,Cooper Van Vranken. Владелец: Caledonia Nets Llc. Дата публикации: 2024-10-03.

Coating thickness measuring instrument and methods

Номер патента: US09927233B2. Автор: Michael Carrington Sellars,Joseph J. Walker. Владелец: Elcometer Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Lymphatic pressure-measuring system and method for controlling same

Номер патента: US09597031B2. Автор: Naoki Unno. Владелец: Hamamatsu University School of Medicine NUC. Дата публикации: 2017-03-21.

Appliance for lubricating media boundary layers thickness measurement

Номер патента: RU2630545C1. Автор: Василий Геннадьевич Конесев,Фарит Наилович Янгиров,Артур Рамилевич Яхин,Дамир Фаткулбаянович Ибатуллин,Олег Борисович Трушкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2017-09-11.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US11965735B2. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Large-panel ultrasonic on-machine non-contact scanning thickness measurement equipment and thickness measurement method

Номер патента: US20210072195A1. Автор: Yongqing Wang,Te Li,Kuo LIU,Haibo LIU,Meng Lian,Zhenyuan JIA. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2021-03-11.

Measurement system and checking method

Номер патента: US20240019238A1. Автор: Miyuki Hayashi,Yoshikane Tanaami. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Depth Measurement Device, Depth Measurement System, and Depth Index Calculation Method

Номер патента: US20240240937A1. Автор: Ayumi Doi,Makoto Suzuki,Aoi YAMAUCHI,Shuuichirou TAKAHASHI,Masaki SUGIE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

System and processing apparatus for measuring surface acoustic wave sensitive area size and method thereof

Номер патента: US20140169137A1. Автор: Shang-Tai Yeh,Teng-Wei Hsieh. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2014-06-19.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Accessibility measurement system

Номер патента: US20240283889A1. Автор: Ortal Yahdav,Hilary Catherine Sun,Aishwarya Nirmal. Владелец: Airbnb Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Angle measurement system based on magnetic method and measurement method therefor

Номер патента: US12085420B2. Автор: Kyoung Soo Kwon,Chae Dong GO,Je Kook Kim,Suk Jung LEE. Владелец: SNA CO Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Measurement system and controller

Номер патента: CN115917245. Автор: 多米尼克·贝歇尔,托尔斯滕·舍恩巴赫,亚罗什拉夫·尤拉什,阿尔方斯·霍恩,米夏埃尔·法瑟丽,贝恩德·弗利森凯姆佩尔,马丁·扎尼科,多米尼克·霍恩,海科·格罗. Владелец: MOBA Mobile Automation AG. Дата публикации: 2023-04-04.

Film thickness measurement method, epitaxial wafer production process and epitaxial wafer

Номер патента: US20090305021A1. Автор: Kazuhiro Ohkubo. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Barrier range-measurement system and the vehicle with it and TOF measurement method

Номер патента: CN108663682A. Автор: 杨倩倩. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-16.

Test piece storage container continuous processing apparatus, measuring system, test piece storage container continuous processing method, and measuring method

Номер патента: US20190033333A1. Автор: Teiji Tanaka,Satoshi Takai,Hirokazu YAMANAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Bulletproof performance measurement system using 3 dimensional measuring instrument and bulletproof performance measurement method thereby

Номер патента: KR101129259B1. Автор: 박준호,임대영,유의상,김주혜,윤이나,조영숙. Владелец: 한국생산기술연구원. Дата публикации: 2012-03-26.

Digital measurement system for measuring lightning electric field change signal, and measurement method thereof

Номер патента: WO2017016140A1. Автор: 陈坤,黄�俊,李哲,韩冬,陈扬,刘新,曾瑜,徐霞,章涵,万帅,吴大伟,严碧武,许远根,俞坤师,周愚. Владелец: 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司. Дата публикации: 2017-02-02.

Sensor device for measuring the speed of a wheel of a vehicle, brake system and vehicle with it and thus feasible measuring method for speed measurement and braking

Номер патента: DE102012012384A1. Автор: Oliver Gründker,Siegfried Höfler,Jürgen Dalisdas. Владелец: WABCO GmbH. Дата публикации: 2013-12-24.

Calculation method for local film stress measurements using local film thickness values

Номер патента: US09625823B1. Автор: Leonid Poslavsky,Torsten R. Kaack,Yu Tay. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Paste transfer unit, electronic component mounting device, and transferred film thickness measuring method

Номер патента: US9285204B2. Автор: Masanori Ikeda,Masahiro Taniguchi,Michinori Tomomatsu,Satoshi Furuichi,Yousuke Hassaku. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-15.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US20240210334A1. Автор: Akira Hamaguchi,Kazuhiro Nojima,Yuki Abe,Takaki Hashimoto,Kaori FUMITA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240230500A9. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: CA3209370A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Cmp apparatus and method for estimating film thickness

Номер патента: US20190157170A1. Автор: Hsun-Chung KUANG,Sheng-Chau Chen,Yu-Min Chen,Chin-Wei Liang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-23.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: SE1951544A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-21.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: CA3165249A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-24.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: EP4077801A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2022-10-26.

System and method for measuring grain particle granulometry and grain particle granulometry measurement system calibration method

Номер патента: US20240133787A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-04-25.

Measuring system and method of determining the measuring value

Номер патента: RU2641512C2. Автор: Михаэль ДАХАЙМ. Владелец: Кроне Месстехник Гмбх. Дата публикации: 2018-01-17.

Method and smart device to determine the substrate optical constant and the film thickness of absorbing-film-absorbing-substrate systems in an absorbing medium using a closed-form formula and reflection ellipsometry

Номер патента: US20070024851A1. Автор: Yasser Zaghloul,Mervat Zaghloul,A R Zaghloul. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-01.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Lidar measuring system and lidar measuring method

Номер патента: US09702975B2. Автор: Ernst Brinkmeyer,Thomas Waterholter. Владелец: Technische Universitaet Hamburg TUHH. Дата публикации: 2017-07-11.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Analyte measurement method and system

Номер патента: US09500618B2. Автор: Michael Malecha,Adam Craggs. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Analyte measurement method and system with hematocrit compensation

Номер патента: US09476088B2. Автор: Michael Malecha,Adam Craggs,Steve Blythe. Владелец: LifeScan Scotland Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Solid body density measuring system and method

Номер патента: WO2024144645A1. Автор: Tarkan KOCA. Владелец: İnönü Üni̇versi̇tesi̇ Rektörlüğü. Дата публикации: 2024-07-04.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B1. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292A. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2023-06-29.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B9. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-02-23.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Macro-micro composite grating ruler measuring system and measuring method using same comprising a macro-scale reading module, a micro-scale reading module and a measuring reference line

Номер патента: US09945698B2. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Meng Wang,Zhijun Yang,Youdun Bai,Haidong YANG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-17.

Polyacrylamide-containing indirect negative cavity water pressure measurement system and method

Номер патента: WO2024058745A1. Автор: Asli Senem Acikel,Mehmet Onder Pekcan,Bengu Ozugur Uysal. Владелец: Kadir Has Universitesi. Дата публикации: 2024-03-21.

Measurement system and measurement method for measuring detection performance of human body safety inspection equipment

Номер патента: US20230375743A1. Автор: Caixia Liu,Fangyi Xie. Владелец: Third Research Institute of the Ministry of Public Security. Дата публикации: 2023-11-23.

Measurement system, calibration and measurement method for bulk radiation wastes

Номер патента: US09841516B1. Автор: Ping-Ji Huang,Ming-Chen Yuan,Chin-Hsien Yeh,Wun-Jhih Huang. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-12-12.

Oil concentration measurement system and oil concentration measurement method

Номер патента: US09739707B2. Автор: Kazuhisa Ogasawara. Владелец: Act Five Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Magnetic field probe, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09606198B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-03-28.

Reaction carrier, measuring system and measuring method for determining gas and particle concentrations, and optical flow sensor

Номер патента: US09759702B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-09-12.

System And Method For Extraction Of Piezoelectric Constants Electrically

Номер патента: US20210349137A1. Автор: Mahmoud F.Y. AL AHMAD. Владелец: UNITED ARAB EMIRATES UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-11-11.

System and method for characterizing a film by x-ray photoelectron and low-energy x-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: EP2761284A1. Автор: David A. Reed,Rodney Smedt,Bruno W. Schueler,Jeffrey Thomas FANTON. Владелец: Revera Inc. Дата публикации: 2014-08-06.

Optical measurement system and optical measurement method

Номер патента: WO2024106517A1. Автор: Peter Seitz. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2024-05-23.

Light intensity measurement system, raman scattered light spectroscopic measurement system, and light intensity measurement method

Номер патента: US20240288373A1. Автор: Toshihide KURIHARA,Taku Kinoshita,Mio SAWADA,Ari SHINOJIMA. Владелец: Seed Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Environment measurement system and environment measurement method

Номер патента: US20150309173A1. Автор: Hisashi Shiba. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-10-29.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: EP4414750A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Transistor-type viscosity sensor, and viscosity measurement system and viscosity measuring method using the same

Номер патента: US09752972B2. Автор: Jen-Inn Chyi,Yu-Lin Wang,Jung-Ying Fang. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2017-09-05.

Environment measurement system and environment measurement method

Номер патента: US09702973B2. Автор: Hisashi Shiba. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

System and method of determining state of container filling with flowing medium in system of treatment by reduced pressure

Номер патента: RU2433838C2. Автор: Тимоти Марк РОБИНСОН,Кристофер Брайан ЛОКК,Дэвид Робсон БЛЭНДФОРД. Владелец: КейСиАй Лайсензинг Инк.. Дата публикации: 2011-11-20.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20240230548A9. Автор: Fumito Hiramura,Alexander Turner. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Power loss measuring system for measuring power loss at harmonic filter included in high voltage direct current (hvdc) transmission system, and power loss measuring method thereof

Номер патента: US20170030978A1. Автор: Yong Kil CHOI. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Water quality measurement system and water quality measurement method

Номер патента: US20230295018A1. Автор: Yukio Noguchi,Akira Tanji. Владелец: Nomura Micro Science Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: US20240272318A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

System and method of measuring concentration of radiopharmaceutical agents

Номер патента: RU2599866C2. Автор: Марк А. МАБИ,Ларри А. МАККАТЧЕН,Чад Е. БУТОН,Джеймс Е. ДВОРСКИ. Владелец: Байер Медикал Кэа Инк.,. Дата публикации: 2016-10-20.

Calibration method of measurement system

Номер патента: RU2479832C2. Автор: Хельмут ПРАДЕЛЬ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-04-20.

Leak measurement system, semiconductor manufacturing system, and leak measurement method

Номер патента: US20210104422A1. Автор: Yuta KUNITAKE. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Resolution measurement method, resolution measurement system, and program

Номер патента: US20240121380A1. Автор: Kouichi Toda. Владелец: Leader Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Shape measuring system and shape measuring method

Номер патента: AU2021201894A1. Автор: Taiki Sugawara,Hiroyoshi Yamaguchi,Shun Kawamoto. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2021-04-22.

Force measurement system and force measurement method

Номер патента: US12066345B2. Автор: Wei Pei,Zhengxian Zhang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Optical waveform measurement system and optical waveform measurement method

Номер патента: US7877017B2. Автор: Shigeki Watanabe,Fumio Futami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-01-25.

Real-time measurement system and measurement method for mechanical parameters of rock slag during excavation

Номер патента: US12092616B2. Автор: Tao Yang,Quansheng Liu,Xuhai Tang. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2024-09-17.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Method for increasing the accuracy of determining the coordinates of an object by a radio engineering range measuring system

Номер патента: RU2762999C1. Автор: Анатолий Борисович Шаповалов,Игорь Леонидович Ажгиревич,Александр Викторович Измайлов-Перкин,Георгий Алексеевич Кветкин,Вадим Вячеславович Костюков,Андрей Владимирович Свиязов,Виктор Викторович Щербинин. Владелец: АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Центральный научно-исследовательский институт автоматики и гидравлики", (АО "ЦНИИАГ"). Дата публикации: 2021-12-24.

Analytical system and method of measurement and control over glass production process

Номер патента: RU2332655C2. Автор: Йоп ДАЛСТРА. Владелец: Сентрюм Вор Технише Информатика Б.В.. Дата публикации: 2008-08-27.

Method of controlling mass fraction of uranium-235 isotope in gas phase of uranium hexafluoride and measuring system for implementation of the method

Номер патента: RU2256963C2. Автор: Д.В. Дорофеев,В.И. Рощупкин,В.В. Водолазских,В.И. Мазин,Ю.Б. Торгунаков,Б.М. Зимин,А.В. Абрамович,В.Е. Горохов,Ю.В. Жилейко,В.М. Илюхин,Н.Н. Сидоренко. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Сибирский химический комбинат" Министерства Российской Федерации по атомной энергии. Дата публикации: 2005-07-20.

Sensor head, calibration system and measurement system for reagent in form of dry powder

Номер патента: RU2424019C1. Автор: Скотт ЭЕРС,Брайен ПОУВЕЛЛ. Владелец: Кидде Текнолоджиз, Инк.. Дата публикации: 2011-07-20.

Systems and methods for determining a valid state of measurement systems

Номер патента: US20230186042A1. Автор: Roland Friedrich,Bernd Beterke,Piotr SKWIERAWSKI,Petra FUNKE. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Fibre-optic measurement system, method of adaptation of the communication optical fibre into a measurement system, and fibre-optic measurement and communication system

Номер патента: US12068779B2. Автор: Marek Napierala,Lukasz Szostkiewicz,Tomasz Nasilowski,Jakub KACZOROWSKI,Krzystof Markiewicz,Alejandro Dominguez-Lopez. Владелец: Inphotech Sp zoo. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement system and method of electric permittivity at 0 hz

Номер патента: US20240272109A1. Автор: Giovanni DE BELLIS. Владелец: Universita degli Studi di Roma La Sapienza. Дата публикации: 2024-08-15.

Measuring System

Номер патента: US20160049081A1. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2016-02-18.

Temperature measurement system and temperature measurement method

Номер патента: US8342746B2. Автор: Atsushi Furuya,Yuji Ohba,Junichi Ishimine. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-01-01.

Measuring system for determination of traction characteristics of transport and tractor units

Номер патента: RU2735160C1. Автор: Юрий Дмитриевич Смирнов,Эльдар Абдоллович Кремчеев,Динара Абдолловна Кремчеева,Яна Алексеевна Лунтовская. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский горный университет". Дата публикации: 2020-10-28.

System and method for measuring multi-phase stream

Номер патента: RU2270981C2. Автор: Роберт Е. ДАТТОН,Чад СТИЛ. Владелец: Майкро Моушн, Инк.. Дата публикации: 2006-02-27.

System of electric power measurement, transformer point containing such system, and method for measuring electric power using such system

Номер патента: RU2617283C2. Автор: Паскаль Убр,Франсуа ВЕНСАН,Оливье КУТЛУ. Владелец: ШНЕЙДЕР ЭЛЕКТРИК ЭНДЮСТРИ САС. Дата публикации: 2017-04-24.

Sensor head, calibration system and measurement system for reagent, such as dry powder

Номер патента: RU2449841C1. Автор: Скотт ЭЙЕРС,Дармендр ЛЕН,Адитиананд ГИРДАРИ. Владелец: Кидде Текнолоджиз, Инк.. Дата публикации: 2012-05-10.

Partial discharge measurement system and partial discharge measurement method

Номер патента: AU2022222030A1. Автор: Akira Fujimoto,Satoshi HIROSHIMA,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Maturity measurement method and maturity measurement device for glass fiber reinforced concretes

Номер патента: EP4386380A1. Автор: Muhammed Marasli,Serkan Subasi,Sefa Guntepe,Mert Cevirmen,Volkan Ozdal. Владелец: Fibrobeton Yapi Elemanlari Sanayi Insaat Ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-06-19.

System and method for characterizing three-dimensional structures

Номер патента: WO2004046655A9. Автор: Mehrdad Nikoohahad. Владелец: Mehrdad Nikoohahad. Дата публикации: 2004-10-28.

Measurement system and method for determining a status of a power system in a vehicle using the measurement system

Номер патента: US12055594B2. Автор: Mats Nyström. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Method for performing emc immunity measurements and vehicle emc immunity measurement system

Номер патента: EP4431954A1. Автор: Robert MOESTAM. Владелец: Ningbo Geely Automobile Research and Development Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Method for performing emc immunity measurements and vehicle emc immunity measurement system

Номер патента: WO2024188040A1. Автор: Robert MOESTAM. Владелец: Ningbo Geely Automobile Research & Development Co., Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Partial discharge measurement system and partial discharge measurement method

Номер патента: AU2022222030B2. Автор: Akira Fujimoto,Satoshi HIROSHIMA,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for communication of energy consumption-specific measurement data elements between a smart meter device and a computer system of a utility company and/or operator of a measuring system

Номер патента: US09491172B2. Автор: Manfred Paeschke,Frank Dietrich. Владелец: BUNDESDRUCKEREI GMBH. Дата публикации: 2016-11-08.

Method of generating received spatial-time signal reflected from observed multipoint target during operation of radar system, and bench simulating test space-time signals reflected from observed multipoint target, for testing sample of radar system

Номер патента: RU2738249C1. Автор: Владимир Иванович Шапошников,Сергей Борисович Медведев. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов" (АО "НИИ ТП"). Дата публикации: 2020-12-11.

Measurement system and method to measure changes of material properties

Номер патента: RU2488088C2. Автор: Каришма ДЖАЙН,Кристофер Р. ЛОУИ,Квентин ТЕННОК,Эдриан СТЕВЕНСОН. Владелец: Парамата Лимитед. Дата публикации: 2013-07-20.

Method of measuring, system and sensor for continuous casting machine

Номер патента: RU2703606C2. Автор: МОНТЕ Стефано ДЕ,Стефано СПАНЬЮЛ,Изабелла МАЦЦА. Владелец: Эрголайнз Лэб С.Р.Л.. Дата публикации: 2019-10-21.

Relative humidity sensor, method of relative humidity measuring and relative humidity measurement system

Номер патента: RU2668947C2. Автор: Андрей Борисович Борткевич. Владелец: Андрей Борисович Борткевич. Дата публикации: 2018-10-05.

A system and method for fault detection and calibration of an electro‐magnetic measuring system

Номер патента: WO2024136673A1. Автор: Philip Heelan. Владелец: Argeo Robotics As. Дата публикации: 2024-06-27.

Protecting a measurement system from unauthorized changes

Номер патента: US20230177222A1. Автор: Roland Friedrich,Bernd Beterke,Piotr SKWIERAWSKI,Petra FUNKE. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

System and method for producing and controlling production of viscous material such as battery paste for industrial application

Номер патента: CA3239574A1. Автор: Jan MARTI,Valentin DOLDER. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2023-06-29.

A drilling mud management system and method

Номер патента: AU2018328759B2. Автор: Frans Christiaan Havenga,Storm Kyle Burnham,Shaun David Wilson. Владелец: Australian Mud Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Inertial position target measuring systems and methods

Номер патента: US20050178876A1. Автор: James Negro,Richard Brunson,James Dillow. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2005-08-18.

Multi-dimensional approach to imaging, monitoring, or measuring systems and processes utilizing capacitance sensors

Номер патента: US20190310217A1. Автор: Benjamin Straiton,Qussai Marashdeh,Christopher Zuccarelli. Владелец: Tech4Imaging LLC. Дата публикации: 2019-10-10.

Measurement system for a drug delivery device, drug delivery device with such a measurement system and method for measuring the dose dispensed and/or dose set of a drug delivery device

Номер патента: EP4405644A1. Автор: Paul Richard Draper,Anthony Paul MORRIS,Ronald Smith,Hester Jane CORNE. Владелец: SANOFI SA. Дата публикации: 2024-07-31.

Integrated measurement systems and methods for synchronous, accurate materials property measurement

Номер патента: US11762050B2. Автор: Houston Fortney,Noah Faust. Владелец: Lake Shore Cryotronics Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Slide measuring system for filling pouches and associated method

Номер патента: US11744275B2. Автор: Travis M. Garthaffner,James D. Evans,Tamika S. MURRELL,Jeremy J. Straight,Jarrod W. Chalkley,Leah A. Meyers,Herbert C. Longest. Владелец: Altria Client Services LLC. Дата публикации: 2023-09-05.

Inertial position target measuring systems and methods

Номер патента: US20060266878A1. Автор: James Negro,Richard Brunson,James Dillow. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2006-11-30.

Raman scattered light measuring system and raman scattered light measuring method

Номер патента: EP4431918A1. Автор: Hidemi Shigekawa,Yusuke ARASHIDA. Владелец: Bio Xcelerator Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Measuring systems, processing systems, and related apparatus and methods, including band gap materials

Номер патента: WO2024226128A1. Автор: TAO Sheng,Ala Moradian,Ashur J. Atanos,Zuoming Zhu,Zhepeng Cong,Khokan C. PAUL. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-31.

Measuring systems, processing systems, and related apparatus and methods, including band gap materials

Номер патента: US20240363448A1. Автор: TAO Sheng,Ala Moradian,Ashur J. Atanos,Zuoming Zhu,Zhepeng Cong,Khokan C. PAUL. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Measuring system, and portable radio transceiver and measurement pole used in measuring system

Номер патента: US09989632B2. Автор: Satoshi Yanobe. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Measuring system and method for marking a known target point in a coordinate system

Номер патента: US09903715B2. Автор: Norbert Kotzur,Jürgen Mayer. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2018-02-27.

Measuring system

Номер патента: US09773420B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

System and method for detection of wire breakage

Номер патента: US09599652B2. Автор: Bjarne Funch Skipper. Владелец: PR Electronics AS. Дата публикации: 2017-03-21.

Ketone measurement system capable of detecting correlations between measurements and user behaviors

Номер патента: US09341632B1. Автор: Zachary Smith,Lubna M. Ahmad,Salman A. Ahmad. Владелец: Invoy Technologies LLC. Дата публикации: 2016-05-17.

Micrometeoroids spatial density and space debris particles measuring system

Номер патента: RU2658072C2. Автор: Михаил Павлович Калаев,Дмитрий Михайлович Рязанов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2018-06-19.

System and method for determining hematocrit insensitive glucose concentrations

Номер патента: RU2684938C2. Автор: Майкл МАЛЕЧА. Владелец: Цилаг Гмбх Интернэшнл. Дата публикации: 2019-04-16.

System of measurements and method of measurement as per weight deviations of appropriate separated parts of body and system and method of their use

Номер патента: RU2546848C2. Автор: Тадао КУРАТА,Сумико КУРАТА,Норико КУРАТА. Владелец: Норико КУРАТА. Дата публикации: 2015-04-10.

Stereoscopic measuring system and method

Номер патента: RU2471147C2. Автор: Уоррен РЕДДЕН,Джордж Б. СТИВЕНС,Грейди А. КЛИНДЕНИНГ,Уиндфлауэр УОТЕРС,Стивен ВЕЙНТРАУБ,Карл РЕДДЕН,Роберт В. СРЭК,Дженет М. СРЭК. Владелец: МАТРИКС ЭЛЕКТРОНИК МЕЖЕРИНГ ПРОПЕРТИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2012-12-27.

System and method for a directable countermeasure with divergent laser

Номер патента: US20170205496A1. Автор: Philip Soletsky,Jan Stephan LUNDQUIST. Владелец: ELBIT SYSTEMS OF AMERICA LLC. Дата публикации: 2017-07-20.

Radome measuring system and method

Номер патента: EP4398420A2. Автор: Florian Pfeiffer. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2024-07-10.

Systems and methods for analyzing a rail

Номер патента: US11787452B2. Автор: Jeffrey Bloom,Anthony Kim,David G. Ford. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Foam layer measuring system

Номер патента: WO2024044645A3. Автор: Mark Thomas Smith,Ronald Abraham MARTIN,Joshua Lynn ADAMS. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2024-04-11.

Electric power generation system and gas measuring system

Номер патента: EP2571086A3. Автор: Yasuharu Ooishi. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Electric power generation system and gas measuring system

Номер патента: US20130065146A1. Автор: Yasuharu Ooishi. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2013-03-14.

Method for performing a function test of a position measuring system and position measuring system for executing the method

Номер патента: US20060136159A1. Автор: Erich Strasser. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2006-06-22.

Water vapor differential minimization systems and methods for gas exchange measurements of aqueous or water saturated samples

Номер патента: US11761893B2. Автор: Mark JOHNSON,Jason Hupp,Bob Eckles,Douglas Lynch. Владелец: Li Cor Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Systems and methods for analyzing a rail

Номер патента: US20230174122A1. Автор: Jeffrey Bloom,Anthony Kim,David G. Ford. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2023-06-08.

Probe extension system, measurement system and probe extension method

Номер патента: US20220146551A1. Автор: Alexander Kunze,Martin Peschke,Stefan Ketzer,Benedikt LIPPERT. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-05-12.

Distance measuring systems and methods thereof

Номер патента: WO2004031688A3. Автор: James F Munro. Владелец: James F Munro. Дата публикации: 2004-07-29.

System and method for improving chemical efficiency of a battery in a flow measurement system

Номер патента: EP2932575A1. Автор: Reza Kassayan. Владелец: Badger Meter Inc. Дата публикации: 2015-10-21.

Radome measuring system and method

Номер патента: EP4398420A3. Автор: Florian Pfeiffer. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2024-09-25.

Parallel sensing camera based metrology systems and methods

Номер патента: WO2024193929A1. Автор: Simon Reinald HUISMAN,Twan Van Lippen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for improving chemical efficiency of a battery in a flow measurement system

Номер патента: US09910094B2. Автор: Reza Kassayan. Владелец: Badger Meter Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Allocation measurement systems and methods

Номер патента: US09895630B2. Автор: Steven Thomas Croft,Jeffrey Adler,Jared Micah Lanig. Владелец: VALIN CORP. Дата публикации: 2018-02-20.

Fluid transport system including a flow measurement system and a purge system

Номер патента: US09752905B2. Автор: Christian Aalburg,Andreas Herrig,Erik MELE,Carsten Michael Schneider. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-09-05.

System and method for inferring operational specifications of a fleet of photovoltaic power generation systems with the aid of a digital computer

Номер патента: US09740803B2. Автор: Thomas E. HOFF. Владелец: Clean Power Research LLC. Дата публикации: 2017-08-22.

System and method for measuring product flow to an agricultural implement

Номер патента: US09739654B2. Автор: Jim Henry,Pana Binsirawanich,Scott David Noble. Владелец: CNH Industrial Canada Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

System and method for a directable countermeasure with divergent laser

Номер патента: US09709670B1. Автор: Philip Soletsky,Jan Stephan LUNDQUIST. Владелец: ELBIT SYSTEMS OF AMERICA LLC. Дата публикации: 2017-07-18.

Communication systems and methods for distributed power system measurement

Номер патента: US09667408B2. Автор: Donald Jeffrey DIONNE,Jennifer Marie Mccann. Владелец: Smart Energy Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

System and method for a directable countermeasure with divergent laser

Номер патента: US09465100B2. Автор: Philip Soletsky,Jan Stephan LUNDQUIST. Владелец: ELBIT SYSTEMS OF AMERICA LLC. Дата публикации: 2016-10-11.

Systems and methods to capture and utilize temperature information in a battery system

Номер патента: US09417270B2. Автор: Ramesh Rebba,Sudhakar INGUVA,John T. GUERIN,Rashed S. Rabaa,Sanjay K. Mahajan. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2016-08-16.

On-tool wavefront aberrations measurement system and method

Номер патента: US09395266B2. Автор: Haim Feldman,Boris Golberg,Amir Moshe Sagiv,Adam Baer,Uriel Malul. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Systems and methods of production, infusion input and control of radioactive isotope delivery

Номер патента: RU2741629C2. Автор: Эндрю ШИММЕЛЛЕР,Клиф МОЙЕРС,Адриан НАНН,Брайан ЧЕРУНДОЛО,Тарах БОЛАС. Владелец: Бракко Дайэгностикс Инк.. Дата публикации: 2021-01-28.

Radio frequency measurement system and a method for recording baseband and positioning data

Номер патента: US20230076938A1. Автор: Corbett Rowell,Christoph Hausl,Joachim Stegmaier,Frédéric Pierre Denis Boulay. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-03-09.

A radio frequency measurement system and a method for recording baseband and positioning data

Номер патента: EP4145711A1. Автор: Corbett Rowell,Christoph Hausl,Joachim Stegmaier,Frédéric Pierre Denis Boulay. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-03-08.

Method and system to measure and represent the measured value of a limit in terms of another measurement in a signal measurement system

Номер патента: EP2256509A3. Автор: Mark L. Guenther,V. Anuradha,Manisha Ajgaonkar,Krishna N.H. Sri. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2010-12-15.

Method and System to Measure and Represent the Measured Value of a Limit in Terms of Another Measurement in a Signal Measurement System

Номер патента: US20110119688A1. Автор: Mark L. Guenther,Pechluck Pongched,G R N Prasanth,Raghavendran N,Krishna N. H. Sri,Manisha D. Ajgaonkar,Anuradha V. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2011-05-19.

Method and system to measure and represent the measured value of a limit in terms of another measurement in a signal measurement system

Номер патента: EP2253965A3. Автор: Mark L. Guenther,Manisha Ajgaonkar,Krishna N.H. Sri,Prasanth Grn,Pechluck Pongched,N. Raghavendran. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2010-12-15.

System and method of dithering a sensor assembly

Номер патента: WO2018093720A1. Автор: David J. Falabella. Владелец: LOCKHEED MARTIN CORPORATION. Дата публикации: 2018-05-24.

Radar velocity measurement system and method and radar device thereof

Номер патента: US20230086601A1. Автор: Hong-Lun CHEN,Yu-Wang HU. Владелец: Cubtek Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

An x-ray measurement system and a cooling method for cooling a ge x-ray detector

Номер патента: WO2023242464A1. Автор: Heikki Sipila. Владелец: HEIKKI SIPILA OY. Дата публикации: 2023-12-21.

Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits

Номер патента: EP2074436A2. Автор: Peter E. Raad. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-01.

Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits

Номер патента: WO2008039621A2. Автор: Peter E. Raad. Владелец: Raad Peter E. Дата публикации: 2008-04-03.

System and method for process measurement

Номер патента: US20060076948A1. Автор: Francisco Gutierrez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-13.

System and method for process measurement

Номер патента: CA2583181A1. Автор: Francisco M. Gutierrez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

System and method for process measurement

Номер патента: WO2006044229A2. Автор: Francisco M. Gutierrez. Владелец: Dresser, Inc.. Дата публикации: 2006-04-27.

System and method for process measurement

Номер патента: EP1802944A2. Автор: Francisco M. Gutierrez. Владелец: Dresser LLC. Дата публикации: 2007-07-04.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11125587B2. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-09-21.

Measuring system and drive system

Номер патента: US10119840B2. Автор: Stefan Albrecht,Yan BONDAR. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2018-11-06.

Measurement system and method of measuring a device under test

Номер патента: US20220155369A1. Автор: Sascha Kunisch,Philipp Weigell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-05-19.

System and method for performing laser-induced breakdown spectroscopy measurements on molten metal samples

Номер патента: EP4399509A2. Автор: Kristján LEÓSSON,Sveinn Hinrik GUDMUNDSSON. Владелец: Dte Ehf. Дата публикации: 2024-07-17.

System and method for processing stereoscopic vehicle information

Номер патента: WO2014015268A3. Автор: Robert Bailey,George Stevens,Robert Srack,Janet Srack,Thomas Srack,Mark Anzalone. Владелец: MATRIX ELECTRONIC MEASURING PROPERTIES, LLC. Дата публикации: 2014-05-30.

Fiber optic rotary joint and antenna, antenna measurement system, and wireless communication system

Номер патента: WO2010050662A3. Автор: Je-Hoon Yun,In-Kui Cho,Sung-Woong Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2010-07-15.

Fiber optic rotary joint and antenna, antenna measurement system, and wireless communication system

Номер патента: WO2010050662A2. Автор: Je-Hoon Yun,In-Kui Cho,Sung-Woong Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2010-05-06.

Systems and methods for downhole determination of drilling characteristics

Номер патента: EP3724447A1. Автор: Holger Mathiszik. Владелец: Baker Hughes Holdings LLC. Дата публикации: 2020-10-21.

System and method for measuring a flow of gas through a channel

Номер патента: WO2021130308A1. Автор: Patrick Reissner. Владелец: Belimo Holding AG. Дата публикации: 2021-07-01.

Long-Term Benthic Incubation and Measuring System and Method

Номер патента: US20240230613A1. Автор: Jordon Beckler,Csaba Vaczo. Владелец: Florida Atlantic University. Дата публикации: 2024-07-11.

Body impact evaluation system and wearable measurement system therefor

Номер патента: WO2024180172A1. Автор: Kamiar Aminian,Christophe Guberan,Mathieu Pascal FALBRIARD,Tom-Alexandre BERTRAND,Harshal Arun SONAR. Владелец: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL). Дата публикации: 2024-09-06.

Measurement system for micro-mixing and measurement method thereof

Номер патента: US20240310289A1. Автор: ZHENG Li,Jie Chen,Chao Yang,Xin Feng,Weipeng Zhang,Yuanyuan Li,Minghui Xie,Zaisha MAO,Xiaoxia DUAN,Dingwang HUANG. Владелец: Nanjing Jiuzhang Chemical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Temperature measurement system for an aerosol-generating device, aerosol-generating device comprising the temperature measurement system and method for measuring a temperature in an aerosol-generating device

Номер патента: EP4426146A1. Автор: Pier Paolo Monticone,Layth Sliman BOUCHUIGUIR. Владелец: JT INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-09-11.

System and method for calibrating an optical fiber measurement system

Номер патента: US20200271487A1. Автор: James Davis,Bernard Willem Been,Dominic Isopi,Kees Waagmeester,Todd Vernaz. Владелец: Humanetics Innovative Solutions Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

System and method for refining coordinate-based three-dimensional images obtained from a three-dimensional measurement system

Номер патента: US09933522B2. Автор: Richard L. Sebastian,Anatoley T. Zheleznyak. Владелец: Digital Signal Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Systems and methods for measuring torque on rotating shaft

Номер патента: US09933323B2. Автор: Michael Schulz,Pascal Schweizer,Christophe Le Moing,Remy Chaumont,Stefan Simon,Andy Mark Nicol. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

System and method for controlling an unmanned air vehicle

Номер патента: US09758239B2. Автор: Knut Siercks,Bernhard Metzler. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-09-12.

Signal measurement systems and methods

Номер патента: US09709654B2. Автор: Gary R. Simpson. Владелец: Maury Microwave Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

System and method for prepolarizing magnetic resonance- or relaxation-based measurements

Номер патента: US09684051B2. Автор: Risto Ilmoniemi,Jaakko Nieminen,Cornelis ZEVENHOVEN,Panu Vesanen. Владелец: Aalto Korkeakoulusäätiö sr. Дата публикации: 2017-06-20.

Force and/or motion measurement system and a method of testing a subject

Номер патента: US09526443B1. Автор: Necip Berme,Scott Zerkle Barnes,Lewis Michael Nashner. Владелец: Bertec Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Systems and methods related to near-field electromagnetic scanners

Номер патента: US09506968B2. Автор: Hoang Mong Nguyen,Guohao Zhang,Dinhphuoc Vu Hoang,Howard E. CHEN,Dean Kazuo ENOMOTO. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

System and method for obtaining nuclear magnetic resonance measurements on reservoir fluids for prediction of fluid properties

Номер патента: US09459330B2. Автор: Robert Freedman,Krishnamurthy Ganesan,Douglas W. Grant,Vivek Anand,Payam Tabrizi,Daniel Catina,Ricardo Y. Torres. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Systems and methods for attitude fault detection based on air data and aircraft control settings

Номер патента: US09435661B2. Автор: Mats Anders Brenner,Danny Thomas Kimmel,John R. Morrison,Jay Joseph Hansen. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

System and method for determining hematocrit insensitive glucose concentration

Номер патента: RU2661608C2. Автор: Майкл МАЛЕЧА. Владелец: Цилаг Гмбх Интернэшнл. Дата публикации: 2018-07-17.

Fountain solution thickness measurement system and method using ellipsometry

Номер патента: US11835446B2. Автор: Bruce H. Smith,Michael N. Soures,Donald Thresh,Jonathan Ireland,James D. VanBortel. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Drone-based water measurement system

Номер патента: US20240127701A1. Автор: Thomas Robert Swanson,Harrison PHAM. Владелец: X Development LLC. Дата публикации: 2024-04-18.

Sensing chip, measuring chip, measurement system and methods and computer program products thereof

Номер патента: EP4372336A1. Автор: Tsai-Chung Yu,Nan-Huei Lee. Владелец: Joy Express Investment Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Level measurement system and wireless operator device

Номер патента: EP4372328A1. Автор: Christoffer WIDAHL,Nicolas PREISIG. Владелец: ROSEMOUNT TANK RADAR AB. Дата публикации: 2024-05-22.

Level measurement system and wireless operator device

Номер патента: US20240167867A1. Автор: Christoffer WIDAHL,Nicolas PREISIG. Владелец: ROSEMOUNT TANK RADAR AB. Дата публикации: 2024-05-23.

Distance measurement system and solid-state imaging sensor used therefor

Номер патента: US20190072673A1. Автор: Junji Ito,Tohru Yamada,Toshiya Fujii. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

System and method for measuring rotation of a wire feed mechanism

Номер патента: EP3215856A1. Автор: Marc Lee Denis. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2017-09-13.

System and method for measuring rotation of a wire feed mechanism

Номер патента: WO2016073092A1. Автор: Marc Lee Denis. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC.. Дата публикации: 2016-05-12.

Measuring system repeatable bandwidth for simulation testing

Номер патента: WO2000028802A3. Автор: Roger G Brown,Douglas S Mann,Richard A Lund. Владелец: Mts System Corp. Дата публикации: 2000-07-20.

Measuring system repeatable bandwidth for simulation testing

Номер патента: EP1138018A2. Автор: Richard A. Lund,Roger G. Brown,Douglas S. Mann. Владелец: MTS Systems Corp. Дата публикации: 2001-10-04.

Measuring system repeatable bandwidth for simulation testing

Номер патента: EP1138018A4. Автор: Roger G Brown,Douglas S Mann,Richard A Lund. Владелец: MTS Systems Corp. Дата публикации: 2008-04-30.

Apparatuses, systems, and methods for determining gas emssion rate detection sensitivity and gas flow speed using remote gas concentration measurements

Номер патента: US20230221219A1. Автор: Michael James THORPE,Aaron Thomas KREITINGER. Владелец: Bridger Photonics Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Hybrid fluorescence-absorbance measurement system and method for sub-microliter and sub-nanoliter volume measurement

Номер патента: WO2024144798A1. Автор: Richard Curtis,John Thomas Bradshaw,Gail Johnson,Heather Macken,Jordyn LAWRENCE. Владелец: ARTEL, INC.. Дата публикации: 2024-07-04.

Human motion identification and measurement system and method

Номер патента: EP1651927A1. Автор: Wayne A. Soehren,Charles T Bye. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2006-05-03.

Level measurement system and wireless operator device

Номер патента: US20240167868A1. Автор: Christoffer WIDAHL,Nicolas PREISIG. Владелец: ROSEMOUNT TANK RADAR AB. Дата публикации: 2024-05-23.

Cartridge device for a measuring system for measuring viscoelastic characteristics of a sample liquid, a corresponding measuring system, and a corresponding method

Номер патента: US11768211B2. Автор: Axel Schubert,Max Kessler,Jose J. Romero-Galeano. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2023-09-26.

Body impact evaluation system and wearable measurement system therefor

Номер патента: WO2024180171A1. Автор: Kamiar Aminian,Christophe Guberan,Mathieu Pascal FALBRIARD,Tom-Alexandre BERTRAND,Harshal Arun SONAR. Владелец: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL). Дата публикации: 2024-09-06.

An integrated system and method for measuring deformations and/or stresses in one-dimensional elements

Номер патента: EP3545275A2. Автор: Di Torino Politecnico. Владелец: POLITECNICO DI TORINO. Дата публикации: 2019-10-02.

Apparatuses, systems, and methods for determining gas emssion rate detection sensitivity and gas flow speed using remote gas concentration measurements

Номер патента: CA3241188A1. Автор: Michael James THORPE,Aaron Thomas KREITINGER. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-13.

Apparatuses, systems, and methods for determining gas emssion rate detection sensitivity and gas flow speed using remote gas concentration measurements

Номер патента: AU2022431237A1. Автор: Michael James THORPE,Aaron Thomas KREITINGER. Владелец: Bridger Photonics Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Water-containing simulated lunar soil preparation and water content measurement system and method

Номер патента: US20240242952A1. Автор: Fei Su,Jiannan LI,Ziheng LIU,Huaiyu He. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-07-18.

Method, central test control unit, measurement system

Номер патента: US20240241175A1. Автор: Florian Lang,Thomas Braunstorfinger,Bjoern Schmid,Sebastian ROEGLINGER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Hybrid fluorescence-absorbance measurement system and method for sub-microliter and sub-nanoliter volume measurement

Номер патента: WO2024144798A9. Автор: Richard Curtis,John Thomas Bradshaw,Gail Johnson,Heather Macken,Jordyn LAWRENCE. Владелец: ARTEL, INC.. Дата публикации: 2024-08-15.

Apparent resistivity measuring system and method using semi-airborne electromagnetic method

Номер патента: US20240295670A1. Автор: Zhongxing WANG,Lili Kang,Tianxin ZHANG,Zhiyao LIU. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-09-05.

Continuous flow structural health monitoring system and method

Номер патента: EP2245437A1. Автор: John Davies,Martin Doyle. Владелец: Structural Monitoring Systems Ltd. Дата публикации: 2010-11-03.

Water-containing simulated lunar soil preparation and water content measurement system and method

Номер патента: US12080538B2. Автор: Fei Su,Jiannan LI,Ziheng LIU,Huaiyu He. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-09-03.

Method, central test control unit, measurement system

Номер патента: EP4404483A1. Автор: Florian Lang,Björn Schmid,Thomas Braunstorfinger,Sebastian ROEGLINGER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement system, measurement method, injector, and method for injecting biomolecule-containing solution into to-be-injected cell using same

Номер патента: US20240325648A1. Автор: HIROSHI Miyazaki,Toru Kitaguchi,Yuko Sakaguchi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Water detection and measurement system and method

Номер патента: US12104486B2. Автор: Christophe Marie Blaise VIELLIARD. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Igcc fuel component analysis and calorific value measurement system

Номер патента: US20240345009A1. Автор: Jian Wang,Zhiqiang Li,Jianbo DING,Hang Guo,Jiye TAO,Xiangping Wang,Guangli Zhou,Haipeng Qi,Yuntao Ai. Владелец: Huaneng Tianjin Coal Gasification Power Generation Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Specimen measurement system and specimen measurement method

Номер патента: EP4455678A2. Автор: Takaaki Nagai,Tomohiro Tsuji,Hideki Hirayama,Hiroo Tatsutani. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Cartridge device for a measuring system for measuring viscoelastic characteristics of a sample liquid, a corresponding measuring system, and a corresponding method

Номер патента: US12105103B2. Автор: Axel Schubert,Max Kessler,Jose J. Romero-Galeano. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2024-10-01.

Measurement system for radio frequency mos device modeling and modeling method for radio frequency mos device

Номер патента: US20240369612A1. Автор: QUAN Wang,Linlin Liu,Yueyi FENG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Fiber inspection microscope and power measurement system, fiber inspection tip and method using same

Номер патента: US09915790B2. Автор: Robert BARIBAULT. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Measurement system and method for measuring a quantity

Номер патента: US09788086B2. Автор: Andreas Clemens Van Der Ham,Gerard McGoogan,Frank Bartl,Joseph ERSKINE. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2017-10-10.

Sensor assembly, method, and measuring system for capturing the distribution of at least one variable of an object

Номер патента: US09759660B2. Автор: Achim Stangelmayer. Владелец: PreSens Precision Sensing GmbH. Дата публикации: 2017-09-12.

Cartridge device for a measuring system for measuring viscoelastic characteristics of a sample liquid, a corresponding measuring system, and a corresponding method

Номер патента: US09739789B2. Автор: Axel Schubert,Max Kessler,Jose J. Romero-Galeano. Владелец: CA Casyso AG. Дата публикации: 2017-08-22.

Radiation measurement system and method with synchronous high speed tracking laser based position measurement

Номер патента: US09726704B2. Автор: Jeffrey Fordham,Martin Mannion,Charles P. B. Pinson,Marion Baggett. Владелец: NSI MI Technologies LLC. Дата публикации: 2017-08-08.

Radiopharmaceutical concentration measurement system and method

Номер патента: US09715020B2. Автор: Chad E. Bouton,Larry McCutchan,James E. Dvorsky,Marc A. Mabie. Владелец: Bayer HealthCare LLC. Дата публикации: 2017-07-25.

Systems and methods for attitude fault detection based on integrated GNSS/inertial hybrid filter residuals

Номер патента: US09593962B2. Автор: Mark A. Ahlbrecht,Mats Anders Brenner,John R. Morrison. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

System and method for optical measurement of a target

Номер патента: US09581499B2. Автор: Heikki Saari,Christer Holmlund,Uula Kantojarvi,Rami Mannila,Antti Lamminpaa,Pekka Teppola. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2017-02-28.

High-resolution surface measurement systems and methods

Номер патента: US09538056B2. Автор: Edward H. Adelson,Micah K. Johnson. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-01-03.

Optical measuring system and gas detecting method

Номер патента: US09377359B1. Автор: Urs Boegli,Andreas Wittmann,Marc-Oliver Zufferey,Kai Hassler. Владелец: AXETRIS AG. Дата публикации: 2016-06-28.

Rail measuring system

Номер патента: RU2672772C2. Автор: Матиас Мюллер,Мартин ГЛЮК. Владелец: Талес Дойчланд ГмбХ. Дата публикации: 2018-11-19.

System and method for measuring transformer hot-spot temperature

Номер патента: US12000906B2. Автор: HAN Liu,Qingquan LI,Dongxin HE,Qingjing ZANG,Wenjie GONG,Xinyan FENG. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2024-06-04.

Gas concentration measurement system and airway adapter thereof

Номер патента: US20220187192A1. Автор: Yi-Sung Kuo. Владелец: Comdek Industrial Corp. Дата публикации: 2022-06-16.

Accurate turbidity measurement system and method, using speckle pattern

Номер патента: US20240230531A9. Автор: Young Dug Kim,Kyoung Man Cho. Владелец: Wave Talk Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Rivet Measurement System

Номер патента: US20180341725A1. Автор: Kelsea Cox,Robert Michael Lawton,Lindsay Leigh Waite Jones,Ivan V. Kwok. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-11-29.

System and method for measuring downhole mud flow density

Номер патента: GB2624324A. Автор: Peters Volker. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-05-15.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: CA2937537C. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: US10926848B1. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2021-02-23.

Aeromechanical identification systems and methods

Номер патента: US12038011B2. Автор: Allison Clark Nicklous,Steven Tyler Englerth. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: US20040037347A1. Автор: David Tao,Robert Meadows,Douglas Brown,Mathias Koch. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2004-02-26.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: EP1532666A2. Автор: David Tao,Douglas Brown,Mathias Koch,Robert David Meadows. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2005-05-25.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: WO2004019386A2. Автор: David Tao,Douglas Brown,Mathias Koch,Robert David Meadows. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2004-03-04.

Sporting Field Measurement System

Номер патента: US20190025055A1. Автор: Lee Edward Haynes,Byron Lee Robinson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-01-24.

System and method for measuring downhole mud flow density

Номер патента: US20230003628A1. Автор: Volker Peters. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2023-01-05.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11674978B2. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-13.

Acceleration measurement system

Номер патента: AU2022419401A1. Автор: James Rabeau. Владелец: UNIVERSITY OF SYDNEY. Дата публикации: 2024-07-11.

Acceleration measurement system

Номер патента: WO2023115126A1. Автор: James Rabeau. Владелец: THE UNIVERSITY OF SYDNEY. Дата публикации: 2023-06-29.

Systems and methods for resistivity measurement

Номер патента: WO2004068172A1. Автор: David Beamish,Oliver Kuras,Richard D. Ogilvy,Philip I. Meldrum. Владелец: Natural Environment Research Council. Дата публикации: 2004-08-12.

Laser Radar-based Adaptive Traffic Flow Measurement System and Method

Номер патента: NL2036060B1. Автор: Guo Min,Wang Yingjie,Yang Xiaoxiao,WU Hongbo. Владелец: Hebei Transp Investment Group Company Limited. Дата публикации: 2024-07-12.

System and method for post-exposure dosimetry using electron paramagnetic resonance spectroscopy of teeth

Номер патента: US20160370446A1. Автор: Harold M. Swartz,Benjamin B. Williams,Sergey V. Petryakov,Wilson A. Schreiber. Владелец: Dartmouth College. Дата публикации: 2016-12-22.

Periodic pressure field measurement system and method based on superposed lifetime of pressure sensitive paint

Номер патента: US20240121534A1. Автор: Lei Wang,Ning Ge,Bo Ouyang,Limin Gao,Xiangfu Lei. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2024-04-11.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: US10414470B1. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2019-09-17.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Systems and methods for carbon dioxide measurement

Номер патента: US20240255392A1. Автор: Phil Bresnahan,Michael Tydings,Elizabeth Farquhar. Владелец: UNIVERSITY OF NORTH CAROLINA AT WILMINGTON. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for introducing a structure into an element, in particular an element of an angle measuring system

Номер патента: US20160178405A1. Автор: Randolf Karl HOCHE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-23.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: US20240311698A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-19.

Calibration method for a flow measurement system, flow measurement system and computer program product

Номер патента: AU2022368950A1. Автор: Wilko Wilkening,Jürgen Kiefer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-03-14.

A wind turbine system and a method for providing measurement data

Номер патента: EP4426936A1. Автор: Tommy JANSSON,Daniel Neri,Henrik Thuvander,Mattias Skog,Johan FINSTEEN GJØDVAD. Владелец: Sigicom Ab. Дата публикации: 2024-09-11.

Angular displacement measuring arrangement, angular displacement measuring system and electric motor

Номер патента: US12111183B2. Автор: Michael Loeken,Carmen Alejandro Sanchez Gonzalez. Владелец: Fraba BV. Дата публикации: 2024-10-08.

System and method for increasing resolution of images obtained from a three-dimensional measurement system

Номер патента: US09983309B2. Автор: Richard L. Sebastian,Anatoley T. Zheleznyak. Владелец: Stereovision Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Wakeboat draft measuring system and methods

Номер патента: US09873491B2. Автор: Richard L. Hartman. Владелец: SKIER'S CHOICE Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Water detection and measurement system and method

Номер патента: US20240360756A1. Автор: Christophe Marie Blaise VIELLIARD. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

System and method for measuring an analyte in a sample and correcting for interferents

Номер патента: US09709521B2. Автор: Maria Teodorczyk,David Matzinger. Владелец: Cilag GmbH International. Дата публикации: 2017-07-18.

System and method for measuring fluorescence of a sample

Номер патента: US09689799B2. Автор: Vincent J. Riot. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2017-06-27.

Position measurement system, grating for a position measurement system and method

Номер патента: US09651877B2. Автор: Willem Herman Gertruda Anna Koenen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-16.

Systems and methods of object measurement in an automated data reader

Номер патента: US09651363B2. Автор: Bryan L. Olmstead,Alan Shearin,WenLiang Gao. Владелец: Datalogic USA Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

System and method for increasing resolution of images obtained from a three-dimensional measurement system

Номер патента: US09606233B2. Автор: Richard L. Sebastian,Anatoley T. Zheleznyak. Владелец: Digital Signal Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Systems and methods of thermal energy measurement

Номер патента: US09593988B1. Автор: Sergey Liberman,Stanislav Elektrov,Paul Sandberg,Marc Zacharias. Владелец: Calmetrix Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Dietary measurement system and method of correlating dietary contents information to a defined volume

Номер патента: US09398775B2. Автор: George Alexander Nathanson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-26.

Clamping force measurement system and method for head-mounted device

Номер патента: US20240201033A1. Автор: Sheng Cyuan FAN,Chien Kai TSENG,Chuan Hsin CHANG,Han-Ting CHIN. Владелец: Lanto Electronic Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measuring system and method for determining a force and/or a torque on a torque-transmitting shaft

Номер патента: US12013301B2. Автор: Helmut Kokal,Alexander Schricker,Franz DREISIEBNER,Mario PROPST,Michael Hirschler. Владелец: PIEZOCRYST ADVANCED SENSORICS GMBH. Дата публикации: 2024-06-18.

Improved position measurement system and method using cone math calibration

Номер патента: EP1337872A2. Автор: Thomas M. Arc Second Inc. HEDGES,Hiro Arc Second Inc. TAKAGI,Timothy Arc Second Inc. PRATT,Michael J. Arc Second Inc. SOBEL. Владелец: Arc Second Inc. Дата публикации: 2003-08-27.

Measurement system and testing method of testing a device under test

Номер патента: US20240142345A1. Автор: Paul Gareth Lloyd. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-02.

Fire extinguishing agent concentration measuring system and method of measuring a fire extinguishing agent within an environment

Номер патента: US20210404954A1. Автор: Mark P. Fazzio. Владелец: Kidde Technologies Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: CA3174650A1. Автор: Enrico François Hubert BERBERS. Владелец: Berbers Optical Network Service BV. Дата публикации: 2021-10-21.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: EP4136780A1. Автор: Enrico François Hubert BERBERS. Владелец: Berbers Optical Netwerk Service BV. Дата публикации: 2023-02-22.

Optical measuring system and method for optically measuring an object in a three-dimensional manner

Номер патента: US20160296304A1. Автор: Mark Weber,Georg Wiora,Lukas Wewer. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2016-10-13.

Pneumatic level measurement system and method for measurement of powder material

Номер патента: WO2021177837A1. Автор: Bjørn Olav Leikvang. Владелец: Thorium Holding As. Дата публикации: 2021-09-10.

Measuring system, slide valve comprising such a measuring system, and method for measuring the position of a slide valve

Номер патента: US20220082179A1. Автор: Alexander Braun,Holger BREUER,Andreas RÜHE. Владелец: Z&J Technologies GmbH. Дата публикации: 2022-03-17.

Systems and methods for detecting toxins in a sample

Номер патента: EP2150622A2. Автор: Scott Gallager. Владелец: Woods Hole Oceanographic Institute WHOI. Дата публикации: 2010-02-10.

Dielectrophoresis separator cross-over frequency measurement systems

Номер патента: US20240201130A1. Автор: Yang Lei,Viktor Shkolnikov,Daixi XIN. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: NL2025348B1. Автор: François Hubert Berbers Enrico. Владелец: Berbers Optical Netwerk Service B V. Дата публикации: 2021-10-26.

Optical fiber connection measurement system and method

Номер патента: WO2021209569A1. Автор: Enrico François Hubert BERBERS. Владелец: Berbers Optical Netwerk Service B.V.. Дата публикации: 2021-10-21.

Radome measuring system and method

Номер патента: US12050240B2. Автор: Florian Pfeiffer. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement system and method of use

Номер патента: US20240255323A1. Автор: Neil J Goldfine,Todd M Dunford,Mark Windoloski,Stuart D Chaplan,Yanko K Sheiretov,Scott A Denenberg,Kevin P Dixon,Saber Bahranifard. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

System and method for measuring volume and pressure

Номер патента: EP3368869A1. Автор: Gary Stacey. Владелец: Haemonetics Corp. Дата публикации: 2018-09-05.

Roll firmness measuring system and process

Номер патента: US7204154B2. Автор: Nathan Harris,James Baggot,Steve Wojcik,Kevin Sartain,Rick Urquhart,Mike Daniels. Владелец: Kimberly Clark Worldwide Inc. Дата публикации: 2007-04-17.

System and method for measuring content of a bin

Номер патента: CA2598979A1. Автор: Yossi Zlotnick,Ofir Perl. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-31.

Smart measurement system

Номер патента: WO2015042068A1. Автор: Thomas Madden,Thomas Neilson,Donald R. Hammill,Daniel Brent Baxter. Владелец: Cameron International Corporation. Дата публикации: 2015-03-26.

Pneumatic level measurement system and method for measurement of powder material

Номер патента: EP4115155A1. Автор: Bjørn Olav Leikvang. Владелец: Thorium Holding As. Дата публикации: 2023-01-11.

Dose measurement system and method

Номер патента: US20230243685A1. Автор: James White,Richard Whalley. Владелец: Bigfoot Biomedical Inc. Дата публикации: 2023-08-03.

Vital sign detection apparatus and system and data processing method

Номер патента: US20240237905A1. Автор: BO Wang,Zhi Zheng,Yongxin Guo. Владелец: Singapore Suzhou Research Institute, National University of. Дата публикации: 2024-07-18.

Elevator car load measurement system and method for determining a load of an elevator car

Номер патента: EP3601131A1. Автор: Oliver Simmonds,Frank Olivier Roussel. Владелец: INVENTIO AG. Дата публикации: 2020-02-05.

Systems and methods for on-chip power management

Номер патента: WO2007117895A3. Автор: Jien-Chung Lo,Chuen-Song Chen. Владелец: Chuen-Song Chen. Дата публикации: 2008-07-24.

Multi-material inspection system and velocity measurement method of critically refracted longitudinal wave based on single-angle wedges

Номер патента: US20220268739A1. Автор: Li Lin,Song Zhang,Hong Wang,Zhiyuan Ma,Shijie Jin,Zhongbing Luo. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-08-25.

System and method for removal of frequency-dependent timing distortion

Номер патента: US20090045863A1. Автор: Steve Mccoy,John David Hamre. Владелец: Wavecrest Corp. Дата публикации: 2009-02-19.

Systems and methods for monitoring batteries in user devices

Номер патента: US20240241186A1. Автор: Shawn D. Murphy,Colin David Campbell,Georgios KAPODISTRIAS,Vahidreza ALIZADEH. Владелец: Titan Advanced Energy Solutions Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement system and method for testing an object

Номер патента: US20240241165A1. Автор: Corbett Rowell,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-18.

Metallic bone measurement system and method

Номер патента: US20240138790A1. Автор: Aaron James Specht,Linda H. Nie. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-05-02.

Measuring system, slide valve comprising such a measuring system, and method for measuring the position of a slide valve

Номер патента: US12085190B2. Автор: Alexander Braun,Holger BREUER,Andreas RÜHE. Владелец: Z&J Technologies GmbH. Дата публикации: 2024-09-10.

Dose measurement system and method

Номер патента: US20240318993A1. Автор: James White,Richard Whalley. Владелец: Bigfoot Biomedical Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Systems and methods for on-chip power management

Номер патента: WO2007117895A2. Автор: Jien-Chung Lo,Chuen-Song Chen. Владелец: The Board of Governors for Higher Education, State of Rhode Island and Providence Plantations. Дата публикации: 2007-10-18.

Systems and methods for monitoring batteries in user devices

Номер патента: WO2024148001A1. Автор: Colin Campbell,Shawn Murphy,Georgios KAPODISTRIAS,Vahidreza ALIZADEH. Владелец: Titan Advanced Energy Solutions, Inc.. Дата публикации: 2024-07-11.

An apparatus correcting the frequency response of a current measurement system

Номер патента: EP4396591A2. Автор: Michael O'Brien,Jonathan Ephraim Hurwitz. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-07-10.

Multiphase flow metering system and method

Номер патента: EP4431881A1. Автор: Mengying Wang,Shiwen Chen,Feng Deng,Junfeng SHI,Guanhong CHEN,Chunming Xiong,Xishun Zhang,Ruidong Zhao,Qun LEI. Владелец: Petrochina Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Measuring system and method for operating a measuring system

Номер патента: US12123755B2. Автор: Jan Forster. Владелец: Krohne Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-22.

Measuring system and method of measuring static charges

Номер патента: US20240304480A1. Автор: Chi Wen Kuo,Chwen Yu,Tzu-Sou Chuang,En Tian LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Fit for purpose measurement system for drill hole logging

Номер патента: AU2020396915B2. Автор: John Carl JACKSON,Christopher PELL,David Charles Lawie,Erik GUTTERUD,Christopher Thomas Koplan,Cory Bryce WILSON,Frederick BLAINE,Joel HITCHEN. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Method for ascertaining the fill level of a pipe, analysis unit, flow measuring system, and computer program product

Номер патента: AU2023246473A1. Автор: Wilko Wilkening,Mohamed NAIT MEZIANE,Timo Reckwerth. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-10-31.

Measuring system and operating method thereof

Номер патента: US09995577B2. Автор: Qiwei Zhou,Guigong Ni. Владелец: Chevron HK Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Magnetic measurement system and apparatus utilizing X-ray to measure comparatively thick magnetic materials

Номер патента: US09835569B2. Автор: Masao Yano,Kanta Ono. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2017-12-05.

Electrochemical test strip, measurement system and method for determining sample content in the reactive region of the electrochemical test strip

Номер патента: US09823213B2. Автор: Ching Yuan Chu,Chun Ming Cheng,Po Min Wang,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

System and method for diffuse imaging with time-varying illumination intensity

Номер патента: US09759995B2. Автор: Vivek K. Goyal,Ghulam Ahmed Kirmani. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-09-12.

Line cycle correlated spectral analysis for power measurement systems

Номер патента: US09759751B1. Автор: Shruti Sethi. Владелец: Cirrus Logic Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Spectral ellipsometry measurement and data analysis device and related systems and methods

Номер патента: US09733178B2. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Sung-Yoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

System and method of conducting particle monitoring using low cost particle sensors

Номер патента: US09726579B2. Автор: Robert Caldow,James E. Farnsworth,Hee-Siew Han. Владелец: TSI Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Measuring system and operating method thereof

Номер патента: US09714830B2. Автор: Qiwei Zhou,Guigong Ni. Владелец: Chevron HK Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Dose measurement system and method

Номер патента: US09642968B2. Автор: James White,Richard Whalley. Владелец: COMMON SENSING Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Ballonet measurement system

Номер патента: US09611024B2. Автор: Douglas H. Greiner,John P. Morehead,Brian T. Holm-Hansen. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Flare-measuring mask, flare-measuring method, and exposure method

Номер патента: US09529251B2. Автор: Masayuki Shiraishi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Vehicle damage detection system and method of manufacturing the same

Номер патента: US09430189B2. Автор: Matthew R. Walsh,Alexander M. Soles,Eric B. Scott. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2016-08-30.

Position measuring system and method for assembly

Номер патента: US20120000269A1. Автор: Wolfgang Pucher,Markus Kühler. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2012-01-05.

Multi-sensory measuring system and method for transportation vehicle operating systems

Номер патента: US12026952B2. Автор: Philipp Nils KUEPPER. Владелец: Dr Ing HCF Porsche AG. Дата публикации: 2024-07-02.

Systems and methods for predicting soil carbon content

Номер патента: AU2022403479A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Rotor assembly system and method

Номер патента: WO2009088696A8. Автор: Karl Lee Borneman,Jeffrey John Eschenbach,Craig Ronald Ziegler,Gregory Patrick Foley. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2010-08-12.

Rotor assembly system and method

Номер патента: WO2009088696A3. Автор: Karl Lee Borneman,Jeffrey John Eschenbach,Craig Ronald Ziegler,Gregory Patrick Foley. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2009-09-03.

Gas delivery and nitrogen dioxide measurement system

Номер патента: US20210372979A1. Автор: Khaled Gasmi,Watheq AL-BASHEER,Abdulaziz Aljalal,Sameh Altanany. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2021-12-02.

Oscillation frequency measuring system and method for a mems sensor

Номер патента: US20150000402A1. Автор: Ferenc Nagy,Massimo Cataldo MAZZILLO,Alfio Russo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2015-01-01.

Adhesion strength measurement system for wet electrode specimen and adhesion strength measurement method for wet electrode specimen using the same

Номер патента: US20240219291A1. Автор: Sung Soo Yoon,Je Gwon Lee,Young Seok Kim,Woo Ha Kim,Joo Yong Park,Ji Hee YOON,Hye Jin Sim,Hyeon Jeong Kang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230305046A1. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Systems and methods for predicting soil properties

Номер патента: AU2022410502A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Measurement system and method for testing a device under test

Номер патента: US11762018B2. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-09-19.

Oscillation frequency measuring system and method for a mems sensor

Номер патента: US20170297910A1. Автор: Ferenc Nagy,Massimo Cataldo MAZZILLO,Alfio Russo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-10-19.

System and method for determining successive single molecular decay

Номер патента: US12050130B2. Автор: J. Paul Robinson,Masanobu Yamamoto,Keegan HERNANDEZ,John Jaiber González Murillo. Владелец: Miftek Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Over-the-air measurement system and method of testing a device under test over-the-air

Номер патента: US20220236310A1. Автор: Corbett Rowell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-28.

Torque measurement system

Номер патента: WO2009087476A2. Автор: Sean McCarthy. Владелец: Steorn Limited. Дата публикации: 2009-07-16.

Time-of-flight sensor, distance measurement system, and electronic apparatus

Номер патента: EP4043926A1. Автор: Meng-Ta Yang,Yu-An Liang. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Automatic measurement system and method for plant features, and recording medium thereof

Номер патента: US20110116688A1. Автор: Szu-Hsuan WANG,Yi-Fang LI. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2011-05-19.

Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus

Номер патента: US12058794B2. Автор: Wei Wang,Jun Wu,Yalong Liu,Zhixian ZHOU. Владелец: Suzhou Op Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Water level measuring system and non-condensable gas discharge device for same

Номер патента: US20130276530A1. Автор: Kei Sato,Seiji Kanasaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-10-24.

System and method to combine and weight multiple sensors with overlapping sensing range to create a measurement system utilized in a high integrity or safety environment

Номер патента: WO2007101132A2. Автор: Richard Galera,James E. Dogul,George E. Rollins,Derek W. Jones,George K. Schuster,Suresh R. Nair,Ray C. Delcher. Владелец: ROCKWELL AUTOMATION TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2007-09-07.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12044716B2. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Odor sensor, odor measurement system, and method for producing odor sensor

Номер патента: US20230031936A1. Автор: Masahiro Kishida,Kenichi Hashizume,Erika Terada,Kenichi Maeno. Владелец: Aroma Bit Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

Odor sensor, odor measurement system, and method for producing odor sensor

Номер патента: EP4083599A1. Автор: Masahiro Kishida,Kenichi Hashizume,Erika Terada,Kenichi Maeno. Владелец: Aroma Bit Inc. Дата публикации: 2022-11-02.

Traversing measurement system for a dryer and associated method

Номер патента: US20050011528A1. Автор: Todd Rae. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-20.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20130315276A1. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2013-11-28.

Torque measurement system

Номер патента: WO2009087476A3. Автор: Sean McCarthy. Владелец: Steorn Limited. Дата публикации: 2009-10-22.

Speed measurement method, system, and apparatus of medium and low speed maglev train

Номер патента: US20240219417A1. Автор: Jing Shi,Jia Liu,Hui Yang,Ling Liu,Junfeng Cui,Yating FU,Zhongqi LI,Yanli Zhou,Shuaiqiang DONG. Владелец: CRSC Research and Design Institute Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Measurement systems and methods for oxygenated hemoglobin saturation level

Номер патента: US20090115997A1. Автор: Chih-Wei Lu,Chih-Chung Yang,Cheng-Kuang Lee,Meng-Tsan Tsai,Yih-Ming Wang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2009-05-07.

Fruit quantity measurement system and method

Номер патента: US20230401845A1. Автор: Young Ho Song,Seung Heon Han,Ju Hyeon CHOI,Jeong Hwan IN,Seon Hoon Kim,Doo Gun Kim. Владелец: Korea Photonics Technology Institute. Дата публикации: 2023-12-14.

Optical fiber measurement system, optical fiber measurement method, control arithmetic device, and program

Номер патента: US20230332980A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Tomokazu Oda,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Material property characterization by acoustic systems and methods

Номер патента: US20240328974A1. Автор: Oliver Smith. Владелец: Innogized Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

System and methods to accurately measure dynamic resistance for power devices

Номер патента: US20240353470A1. Автор: Daniel G. Knierim,Joshua J. O'Brien,Krishna N H Sri,Vivek Shivaram,Niranjan R. Hegde,Shubha B,Yogesh M. Pai. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Systems and methods for predicting soil properties

Номер патента: EP4449101A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Systems and methods for predicting soil carbon content

Номер патента: US20240344992A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Systems and methods for predicting soil properties

Номер патента: US20240337599A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Aquatic total alkalinity measurement system and method

Номер патента: WO2024213768A1. Автор: Lane Hoy,Xavier Darok,Sébastien ETTLING COËFFIER,René BRUNIER. Владелец: Pcfr. Дата публикации: 2024-10-17.

System and methods to accurately measure dynamic resistance for power devices

Номер патента: WO2024220945A1. Автор: Daniel G. Knierim,Joshua J. O'Brien,Krishna N H Sri,Vivek Shivaram,Yogesh M. Pai,Niranjan R Hegde,Shubha B.. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2024-10-24.

Super-resolution thermoreflectance thermal measurement system

Номер патента: US12130228B2. Автор: Brian M. Foley,Devon A. Eichfeld. Владелец: PENN STATE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-10-29.

Systems and methods for distributed measurement

Номер патента: US09869607B2. Автор: Majid Nayeri,Susanne Madeline Lee,Sachin Narahari Dekate,Sudeep Mandal. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-16.

Tensioner load measurement system

Номер патента: US09857249B2. Автор: Aaron Barr. Владелец: Transocean Sedco Forex Ventures Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Runway measurement system and method

Номер патента: US09784579B2. Автор: Matti Pekkarinen,Juha Sunio,Jonna Nousiainen. Владелец: Konecranes Global Oy. Дата публикации: 2017-10-10.

Systems and methods for predicting soil carbon content

Номер патента: EP4441748A1. Автор: Vinod Parmar,Austin Caulfield ROTHWELL,Sadegh Shokatian,Travis Godwin GOOD,Hoda AGHAEI,Maryamsadat RASOULIDANESH,Conor Andrew SEXTON. Владелец: Terramera Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Measuring system and method for determining new points

Номер патента: US09772185B2. Автор: Bernhard Metzler. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-09-26.

Oscillation frequency measuring system and method for a MEMS sensor

Номер патента: US09725308B2. Автор: Ferenc Nagy,Massimo Cataldo MAZZILLO,Alfio Russo. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-08-08.

Method for determining time differences between signals measured by at least two coupled measuring devices and measurement system and corresponding switching device

Номер патента: US09678153B2. Автор: Kurt Schmidt,Manfred Mueller,Markus Freidhof,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-06-13.

Liquid gas vaporization and measurement system and method

Номер патента: US09625431B2. Автор: Walter F. Gerhold,Kenneth O. Thompson. Владелец: MUSTANG SAMPLING LLC. Дата публикации: 2017-04-18.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US09593985B2. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Systems and methods for pressure and temperature measurement

Номер патента: US09512715B2. Автор: William Albert Challener,Li Airey. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Measuring system having electromechanical resonators, method for manufacturing such a system, and method for reading at least two electromechanical resonators

Номер патента: US09470576B2. Автор: Laurent Duraffourg,Sébastien Hentz,Philippe Andreucci,Eric Colinet. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2016-10-18.

System and method for monitoring a bi-phase fluid

Номер патента: US09441995B2. Автор: Brian Goddard,Brian Eldredge,Wakova Carter. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Drilling mud flow metering system and method

Номер патента: US12013273B2. Автор: Sakethraman Mahalingam,Michael Affleck. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-06-18.

Measuring system and method for measuring soil enzymatic activity

Номер патента: WO2024067953A1. Автор: Keith Gunura,Sonia MELLER,Hélène IVEN. Владелец: Digit Soil Ag. Дата публикации: 2024-04-04.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Measurement device, measurement system and method

Номер патента: US20180335470A1. Автор: Markus Freidhof. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-11-22.

Power measurement methods and systems for hot pluggable solid-state drives in servers

Номер патента: US20240159806A1. Автор: Wenwei Wang,XiaoFang Chen. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Pressure measurement system and method for operating same

Номер патента: US20230054983A1. Автор: Christian Bissonnette,Patrice Remy,Frederic Doucet,Luc Archambault. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Measuring system and method for measuring light sources

Номер патента: US20230244070A1. Автор: Frank Münchow,Stephanie Grabher,Martin Finger. Владелец: Instrument Systems GmbH. Дата публикации: 2023-08-03.

Measuring mechanism for wide-angle moving coil systems and method for its assembly

Номер патента: US4330747A. Автор: Karl H. Rivoir. Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-05-18.

System and method for measuring distance using acoustic signal

Номер патента: EP3974866A1. Автор: Sungchan Kang,Cheheung KIM,Daehyuk SON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-03-30.

Light signal deflecting device for an optical measuring system for detecting objects, measuring system, and method for operating a light signal deflecting device

Номер патента: US20220196808A1. Автор: Ho-Hoai-Duc Nguyen,Thomas Schuler. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2022-06-23.

Electrochemical measurement system and method for monitoring a concrete structure

Номер патента: US20220260548A1. Автор: Ioannis Ignatiadis,Stephane Gaboreau,Stephanie Betelu,Romain RODRIGUES,Julien GANCE. Владелец: BRGM SA. Дата публикации: 2022-08-18.

Airflow measurement system and communication module

Номер патента: EP4001926A1. Автор: Minoru NAGAWATARI. Владелец: MinebeaMitsumi Inc. Дата публикации: 2022-05-25.

Converter device and measurement system

Номер патента: EP4236213A1. Автор: Janne HOKKANEN. Владелец: Iotflow Oy. Дата публикации: 2023-08-30.

Multi-region optical filters and systems and methods using same

Номер патента: US20230296511A1. Автор: Hanoch Kislev,Alexander RACHMAN,Shahar SOBOL,Yehonatan Evgeniy TILCHIN. Владелец: Maytronics Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measuring system and method

Номер патента: US20080031093A1. Автор: Kenji Suzuki,Hiroyuki Kobayashi,Keiji Oura. Владелец: NEC Display Solutions Ltd. Дата публикации: 2008-02-07.

Measurement system and method therefore

Номер патента: WO2019105870A1. Автор: James Molloy,Robert Douglas Burchesky. Владелец: GE HEALTHCARE BIO-SCIENCES CORP.. Дата публикации: 2019-06-06.

Main measurement device, secondary measurement device, measurement system and method

Номер патента: US20220231769A1. Автор: Andreas Ziegler,Michael Grimm,Detlef Schlager,Thomas Kuhwald,Andrew Schaefer,Jens Naumann,Sebastian Petzsch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-21.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20240142314A1. Автор: Guillermo Paniagua-Perez,Roberto Felix Nares Alcala,Lakshya Bhatnagar. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-05-02.

Measuring system and pressure medium cylinder comprising a measuring system

Номер патента: US20230265869A1. Автор: Leo Caspers. Владелец: Van Halteren Technologies Boxtel BV. Дата публикации: 2023-08-24.

Perceptual-realistic Colored Sparkle Evaluation And Measurement System For Image-based Matching Of Color And Appearance Of Coatings Containing Effect Pigments

Номер патента: US20240310213A1. Автор: Larry E. Steenhoek,Francisco Miguel MARTÍNEZ VERDÚ. Владелец: AXALTA COATING SYSTEMS IP CO LLC. Дата публикации: 2024-09-19.

Perceptual-realistic colored sparkle evaluation and measurement system for image-based matching of color and appearance of coatings containing effect pigments

Номер патента: WO2024192037A1. Автор: Larry E. Steenhoek,Francisco Miguel MARTÍNEZ VERDÚ. Владелец: AXALTA COATING SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2024-09-19.

Switch tube junction temperature measurement method, electric motor controller, electric motor control system, and medium

Номер патента: EP4439973A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Yunsong SHEN. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Switch tube junction temperature measurement method, electric motor controller, electric motor control system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240361188A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Yunsong SHEN. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Strapdown inertial navigation heave measurement method using multiple low-pass filter units

Номер патента: US12061087B2. Автор: QIAN LI,Lei Wu,Yuxin Zhao,Qianqian GAO,Shuaiyang LI,Xiaofeng Wei,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2024-08-13.

Optical detector module, measurement system and method of detecting presence of a substance in a test material

Номер патента: US09976950B2. Автор: LIN Zhang,Mehmet Aytun Erdentug,Zhijun Yan,Kaiming Zhou. Владелец: Aston University. Дата публикации: 2018-05-22.

Systems and methods for time of flight measurement using a single exposure

Номер патента: US09971023B2. Автор: Michael Mark,Markus Dielacher,Martin Flatscher,Josef Prainsack,Hartwig Unterassinger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-05-15.

Subsea measurement system and method of determining a subsea location-related parameter

Номер патента: US09939527B2. Автор: Christopher Pearce,Mikael Larsen,David Lawes. Владелец: Sonardyne International Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Temperature measurement system and abnormality detection method

Номер патента: US09816878B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Real time diagnostics for flow controller systems and methods

Номер патента: US09454158B2. Автор: Bhushan Somani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-27.

System and method to determine bearing condition

Номер патента: RU2529644C2. Автор: Карстен ПРОБОЛЬ,Йорг ХАССЕЛЬ,Ханс ТИШМАХЕР,Томас ФРУ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2014-09-27.

Detector assemblies for a wearable module of an optical measurement system and including spring-loaded light-receiving members

Номер патента: US20240237942A1. Автор: Scott Jeremy Seidman,Ryan Field,Isai Olvera,Jennifer Rines. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2024-07-18.

Artificial intelligence and vision-based broiler body weight measurement system and process

Номер патента: EP4395539A1. Автор: Michael T. Kidd,Thi Hoang Ngan Le,Khoa Ho Viet VO. Владелец: University of Arkansas. Дата публикации: 2024-07-10.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Fuel level measurement system for a machine

Номер патента: US20220090953A1. Автор: BALASUBRAMANIAN Ramachandran,Michael Joseph Campagna,Matthew Jordan Engfehr,Joshua Thomas Perko. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

Ranging systems and methods for decreasing transitive effects in multi-range materials measurements

Номер патента: US20240255599A1. Автор: Houston Fortney. Владелец: Lake Shore Cryotronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Temperature measurement system and method using multimode of an optical resonator

Номер патента: WO2023183064A1. Автор: Mohammad Amin Tadayon,Robert B. Haines. Владелец: FLUKE CORPORATION. Дата публикации: 2023-09-28.

Measuring mechanism having a positive locking arrangment for wide-angle moving coil systems and method for its assembly

Номер патента: US4208628A. Автор: Karl H. Rivoir. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-17.

Techniques for Characterizing a Nonlinearity of a Time-to-Digital Converter in an Optical Measurement System

Номер патента: US20210290146A1. Автор: Sebastian SORGENFREI,Ryan Field,Katherine Perdue,Isai Olvera,Viswanath Ambalapuzha Gopalakrishnan. Владелец: HI LLC. Дата публикации: 2021-09-23.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Hand held power tool with laser measuring system and interactive display

Номер патента: EP3720638A1. Автор: Andrei Matei. Владелец: Robbox Inc. Дата публикации: 2020-10-14.

Color measuring system and program

Номер патента: US20220268630A1. Автор: YUKA Kobayashi,Ayako Kobayashi,Yasuo KOYAUCHI,Marina MINENO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Systems and methods for measurement of a vehicle load

Номер патента: US20230236060A1. Автор: Thomas H. Johnson,Kevin Detert,Andrew Sukalski. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-07-27.

Measurement system and probe tip landing method

Номер патента: US20240280605A1. Автор: Hsueh-Cheng Liao. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US20220187221A1. Автор: Michael Krumm,Christoph Sauerwein. Владелец: Rayscan Technologies GmbH. Дата публикации: 2022-06-16.

System and method for improved measurement of a flow of fluid through a channel

Номер патента: EP4081765A1. Автор: Patrick Reissner,Lucien BUCHMANN. Владелец: Belimo Holding AG. Дата публикации: 2022-11-02.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Ultrasonic tree measurement system

Номер патента: EP4401553A1. Автор: Kevin S. CROWE,James Schnaider,Yuzhe Ouyang (Solomon). Владелец: Topcon Positioning Systems Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Global pressure acquisition system and method for rotating model

Номер патента: US20240118148A1. Автор: Lei Wang,Ning Ge,Bo Ouyang,Limin Gao,Xiangfu Lei. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2024-04-11.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Aquatic total alkalinity measurement system and method

Номер патента: US20240345023A1. Автор: Lane Hoy,Xavier Darok,Sébastien ETTLING COËFFIER,René BRUNIER. Владелец: Pcfr Sas. Дата публикации: 2024-10-17.

Optical fiber distribution measurement system and signal processing method for optical fiber distribution measurement

Номер патента: US12066408B2. Автор: Kinzo Kishida,Ahmad Riza GHAZALI,Mohamad Faizal bin ABD RAHIM. Владелец: Petroliam Nasional Bhd Petronas. Дата публикации: 2024-08-20.

Electron microscope system and resist pattern film thickness reduction evaluation method using the same

Номер патента: JP5150303B2. Автор: 麻紀田中,千絵宍戸,真由香岩▲崎▼. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-20.

Object-based short range measurement method, device and system, and storage medium

Номер патента: US20220343532A1. Автор: Ran Meng,Haitao Zhu,Zhao Sun,Qiwei Xie,An JIANG,Feng CUI. Владелец: Beijing Smarter Eye Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: WO2022005916A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2022-01-06.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US20160249799A1. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2016-09-01.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US09993151B2. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US09668647B2. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11847776B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US20240062364A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Method and apparatus for scanning exposure having thickness measurements of a film surface

Номер патента: US5744814A. Автор: Takayuki Uchiyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-04-28.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11836913B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Method and system relating to flux distribution and film deposition

Номер патента: WO2001040539A3. Автор: Christopher Walton,Claude Montcalm,James A Folta. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2002-02-14.

Method for determining film thickness by white light interferometry

Номер патента: RU2634328C1. Автор: Виктор Владимирович Сысоев,Илья Викторович КИСЕЛЕВ,Егор Ильич Киселев,Екатерина Владимировна Ушакова,Илья Викторович Беляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2017-10-25.

Film forming method,multilayer film reflector manufacturing method, and film forming device

Номер патента: US20030129325A1. Автор: Noriaki Kandaka. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-07-10.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US20180279871A1. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography

Номер патента: US20190150728A1. Автор: Donald R. Korb,Stephen M. Grenon. Владелец: TearScience Inc. Дата публикации: 2019-05-23.

Optical element having antireflective film, optical system, and optical apparatus

Номер патента: US20140133032A1. Автор: Sayoko Amano,Kazuhiko Momoki,Kazue Uchida. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-05-15.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: US20240185058A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: WO2024123635A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

Imprint system and imprint method

Номер патента: US8019462B2. Автор: Ikuo Yoneda,Shinji Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-09-13.

Imprint system and imprint method

Номер патента: US7856288B2. Автор: Ikuo Yoneda,Shinji Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-12-21.

Imprint system and imprint method

Номер патента: US20110066273A1. Автор: Ikuo Yoneda,Shinji Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US20040019871A1. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-29.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US6905966B2. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-14.

Pellicle film for photolithography, pellicle, photolithography mask, photolithography system, and method of producing pellicle film for photolithography

Номер патента: US20230194977A1. Автор: YING Zhou,Ryohei Ogawa,Takeo Yamada,Yuichi Kato,Atsushi Okubo,Kazuo Kohmura,Atsuko Sekiguchi,Hisako Ishikawa,Yousuke ONO. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-06-22.

Measuring system and measuring method for analyzing knee joint motion trajectory during cycling

Номер патента: US09592423B2. Автор: Yu-Shin Chang,Po-Shin Li,Keh-Tao Liu,Sai-Wei Yang. Владелец: Global Action Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Optical disk with a uniform film thickness by having different angles of inclination for the side surfaces of grooves

Номер патента: US6108297A. Автор: Masahiro Furuta,Teruyuki Ohta. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Ophthalmological measuring device and measurement method

Номер патента: US20110304822A1. Автор: Christian Rathjen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-15.

Biometric data measurement system and biometric data measurement method

Номер патента: US20210127994A1. Автор: Yasuhiro Kawabata,Kenji Fujii,Naomi Matsumura,Reiji Fujita,Akito Ito. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2021-05-06.

Lithographic system and method of storing target position data

Номер патента: RU2583003C2. Автор: БУР Гвидо ДЕ,Алексиус Отто ЛОЭЙЕ,Михел Петер ДАНСБЕРГ,КЕРВИНК Марсел Николас Якобус ВАН. Владелец: МЭППЕР ЛИТОГРАФИ АйПи Б.В.. Дата публикации: 2016-04-27.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Measurement system and measurement method for measuring video processing quality

Номер патента: US09723302B2. Автор: Chun Guan TAY,Rajashekar DURAI. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Gripping and locking/unlocking system and its application for handling holders of samples of nuclear materials

Номер патента: RU2642437C2. Автор: Себастьен ГЕ,Нильс ПЕЙР. Владелец: Комиссарья А Л'Энержи Атомик Э Оз Энержи Альтернатив. Дата публикации: 2018-01-25.

Measuring system and method of delay measurement

Номер патента: RU2639671C2. Автор: Уильям Брендан БЛАНТОН,Роберт Креншоу АЛЛЕН,Томас Альфред ДЮБУА. Владелец: Зе Боинг Компани. Дата публикации: 2017-12-21.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20200042847A1. Автор: Yutaka Kato,Toyoo Iida,Hitoshi Nakatsuka. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Method and system in the maintenance of machines, processes, automation systems and equipment relating to papermaking

Номер патента: EP1719029A2. Автор: Jari Tiitta,Petteri Lannes,Tatu Pitkanen,Kaarlo Lackman,Jouni Pyotsia,Timo M. Pekkarinen. Владелец: Metso Paper Oy. Дата публикации: 2006-11-08.

Method and system in the maintenance of machines, processes, automation systems and equipment relating to papermaking

Номер патента: WO2005083530A2. Автор: Jari Tiitta,Petteri Lannes,Tatu Pitkanen,Kaarlo Lackman,Jouni Pyotsia,Timo M. Pekkarinen. Владелец: METSO PAPER, INC.. Дата публикации: 2005-09-09.

Automated calibration system and calibration method for flexible robot actuator

Номер патента: US12064884B2. Автор: Aiguo SONG,Huijun Li,Baoguo XU,Hong Zeng,Jianwei LAI. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-20.

System and method for scalable, high accuracy, sensor and ID based audience measurement system based on distributed computing architecture

Номер патента: US09635405B2. Автор: Arthur Vaysman,Eduard Zaslavsky. Владелец: WebTuner Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Region setting for intima media thickness measurement in an ultrasound system

Номер патента: US09510804B2. Автор: Jin Yong Lee,Jae Yoon Shim. Владелец: Samsung Medison Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Measurement system, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20200379360A1. Автор: Han-Kwang Nienhuys,Borgert Kruizinga,Günes NAKIBOGLU,Remco Yuri VAN DE MOESDIJK,Frank Johannes Jacobus Van Boxtel,Hermen Folken Pen,Rita Marguerite Albin Lambertine Petit. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-12-03.

System and method for remote measurement of optical focus

Номер патента: RU2612500C2. Автор: БРЮЭЙН Фредерик Ян ДЕ,Харолд Агнес Вильхельмус ШМАЙТЦ,Руд ВЛЮТТЕРС,Томмазо ГРИТТИ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2017-03-09.

A method and system for detecting operational irregularities in a thermal energy exchange system, and a method of training a machine learning model

Номер патента: WO2023222807A1. Автор: Dirk Vanhoudt,Jad AL KOUSSA. Владелец: VITO NV. Дата публикации: 2023-11-23.

A temperature set point adjusting and a temperature of an environment measuring system for a cooling system, a method of adjusting the temperature set point and measuring the temperature of an environment and a sensing assembly

Номер патента: WO2005052712A1. Автор: Marcos Guilherme Schwarz,Rogerio Romariz Ferreira. Владелец: Empresa Brasileira De Compressores S.A.- Embraco. Дата публикации: 2005-06-09.

Stage system and stage driving method for use in exposure apparatus

Номер патента: EP1965411A3. Автор: Nobushige Korenaga,Ryuichi Ebinuma. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-08-08.

A temperature set point adjusting and a temperature of an environment measuring system for a cooling system, a method of adjusting the temperature set point and measuring the temperature of an environment and a sensing assembly

Номер патента: EP1692581A1. Автор: Marcos Guilherme Schwarz,Rogerio Romariz Ferreira. Владелец: Whirlpool SA. Дата публикации: 2006-08-23.

Athleticism rating and performance measuring system

Номер патента: US09623316B2. Автор: Adam C. Braun,Rodolfo Chapa, Jr.,Hamid G. Arjomand,Andrew Bark. Владелец: Nike Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Methods, systems and devices for spinal surgery position optimization

Номер патента: US09491415B2. Автор: Adam Deitz,Richard K. Grant. Владелец: Ortho Kinematics Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

System and method to detect and correct hemodynamic instability in hemodynamic measurements

Номер патента: EP4360543A1. Автор: Rene Martinus Maria Derkx,Jens Muehlsteff,Ralph Wilhelm Christianus Gemma Rosa WIJSHOFF,Maria Estrella Mena Benito,Achim Rudolf HILGERS,Valentina-Geta DAVIDOIU. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-05-01.

Composite manufacturing system and method

Номер патента: US20230415429A1. Автор: Michael K. Louie,Luis A. Perla,Marcin A. RABIEGA,Ethan G. Sherrard,Todd Rudberg,Brandon Poe,Richard E. Wood. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-12-28.

System and method to detect and correct hemodynamic instability in hemodynamic measurements

Номер патента: WO2024094505A1. Автор: Rene Martinus Maria Derkx,Jens Muehlsteff,Ralph Wilhelm Christianus Gemma Rosa WIJSHOFF,Maria Estrella Mena Benito,Achim Rudolf HILGERS,Valentina-Geta DAVIDOIU. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2024-05-10.

System and method for biological feedback measurement from video

Номер патента: US20240216757A1. Автор: Arturas Serackis,Kristina DAUNORAVICIENE,Andzela SESOK,Rytis MASKELIUNAS,Julius GRISKEVICIUS,Darius Plonis. Владелец: Vilnius Gediminas Technical University. Дата публикации: 2024-07-04.

Systems and methods for measuring system performances

Номер патента: US20240296084A1. Автор: Mohammad J. AL MUMEN,Alaa M. ZARBAN. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Referencing pose manipulation system for marker based tracking of position measurement system

Номер патента: US12115652B2. Автор: Rolf Heidemann,Matthias Wolke,Steffen Kappes. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Media usage monitoring and measurement system and method

Номер патента: US12040883B2. Автор: Jonathan S. Steuer,Christopher W. Otto. Владелец: Anonymous Media Research Holdings LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Sensor device for reading information on a golf throw and a measurement method using a system

Номер патента: RU2736259C1. Автор: Джи Хван КВОН,Донг Джин ХУР. Владелец: Голфзон Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-11-12.

Lung water content measurement system and calibration method

Номер патента: WO2016130857A1. Автор: Magdy F. Iskander,Ruthsenne R.G. Perron. Владелец: UNIVERSITY OF HAWAII. Дата публикации: 2016-08-18.

System and method for improving and adjusting pcm digital signals to provide health benefits to listeners

Номер патента: US20240188824A1. Автор: Mark Levinson. Владелец: Daniel Hertz SA. Дата публикации: 2024-06-13.

Method for measuring anchoring strength of liquid crystal and measurement system therefor

Номер патента: US20030150278A1. Автор: Hiroshi Yokoyama. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2003-08-14.

Method, measurement system controller, and measurement system

Номер патента: US20240280945A1. Автор: Florian Lang,Jochen Pliquett,Bjoern Schmid,Sebastian ROEGLINGER,Thomas SCHOUWINK. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-22.

Systems and methods to encode mobile device testing results in machine-readable symbols displayable by a mobile device

Номер патента: US09686026B1. Автор: Philip E. Brown,David K. Reed,Mark Knasiak,Nicholas J. Dollinger. Владелец: Mobile Experience Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Systems and methods for remote measurement of the eyes and delivering of sunglasses and eyeglasses

Номер патента: US09649032B2. Автор: Junzhong Liang. Владелец: Perfect Vision Tech (HK) Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

A measuring system and a method for determining parameters of a multi-segment rod-like article

Номер патента: US20240338808A1. Автор: Bartosz Cieślikowski. Владелец: International Tobacco Machinery Poland Sp zoo. Дата публикации: 2024-10-10.

Optical designs of miniaturized overlay measurement system

Номер патента: US12140872B2. Автор: Yevgeniy Konstantinovich Shmarev,Tamer Mohamed Tawfik Ahmed Mohamed ELAZHARY,Mohamed Swillam,Stephen Roux. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2024-11-12.

Camera system, colour measuring system, and offset printing press

Номер патента: US09531936B2. Автор: Menno Jansen,Erik Andreas Van Holten. Владелец: Q I Press Controls Holding BV. Дата публикации: 2016-12-27.

System and method for processing stereoscopic vehicle information

Номер патента: US09449378B2. Автор: George B. Stevens,Robert W. Srack,Janet M. Srack,Robert D. Bailey,Thomas L. SRACK,Mark A. ANZALONE. Владелец: Matrix Electronic Measuring Properties LLC. Дата публикации: 2016-09-20.

Systems and methods of assisting in parking vehicle

Номер патента: RU2710505C1. Автор: Джамель СИГРЕЙВС,Судипто АИЧ,Кэси Брайан ФЕЛЬДМАН,Йонатан РЕДДА. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-12-26.

Composition and film

Номер патента: US10723909B2. Автор: Takeshi Osaki,Risa WADA. Владелец: Toyo Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-28.

Camera, colour measuring system, and offset printing press

Номер патента: WO2014073962A8. Автор: Menno Jansen,Erik Andreas Van Holten. Владелец: Q.I. Press Controls Holding B.V.. Дата публикации: 2014-06-19.

System and method for obtaining accurate measurements and quantification of x-ray image from estimation of key anatomical locations

Номер патента: EP4186429A1. Автор: CHEN Liu,Gopal B. Avinash,Ravi Soni,Gireesha Chinthamani Rao,Zita Herczeg,Poonam Dalal,Molin Zhang. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2023-05-31.

Biological Measurement Systems And Methods

Номер патента: US20210282690A1. Автор: Ashitosh Swarup. Владелец: Cuica LLC. Дата публикации: 2021-09-16.

Systems and methods for identifying paved surface features and estimating repairs

Номер патента: US20240218613A1. Автор: Austin Van Putten,Jarod Hanko. Владелец: Crafco Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Systems and methods for identifying paved surface features and estimating repairs

Номер патента: WO2024148118A3. Автор: Austin Van Putten,Jarod Hanko. Владелец: Crafco, Inc.. Дата публикации: 2024-08-29.

Systems and methods for identifying paved surface features and estimating repairs

Номер патента: WO2024148118A2. Автор: Austin Van Putten,Jarod Hanko. Владелец: Crafco, Inc.. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for determining pose data for a vehicle

Номер патента: US09915947B1. Автор: Russell Smith,Craig Lewin Robinson,John Tisdale,Seth Michael LaForge. Владелец: Waymo LLC. Дата публикации: 2018-03-13.

Systems and methods to improve sensor sensitivity and range in an electronic computing device

Номер патента: US09730367B1. Автор: Zhibin Zhang,Haleigh Alessandro Vierra. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Downrange wind profile measurement system and method of use

Номер патента: US09506724B1. Автор: Lyman Robert Hazelton. Владелец: Lyman Robert Hazelton. Дата публикации: 2016-11-29.

Stereoscopic measurement system and method

Номер патента: US09454822B2. Автор: Warren Redden,Windflower Waters,Steven Weintraub,Carl Redden,George B. Stevens,Grady A. Clendening,Robert W. Srack,Janet M. Srack. Владелец: Matrix Electronic Measuring Properties LLC. Дата публикации: 2016-09-27.

Data input system and key data sending method

Номер патента: WO2024147739A1. Автор: Laurens van de Laar,Theodorus Pieter BRUINSMA. Владелец: van de Laar Laurens. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Data input system and key data sending method

Номер патента: NL2033901B1. Автор: van de Laar Laurens. Владелец: van de Laar Laurens. Дата публикации: 2024-07-12.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: EP4453654A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Method and arrangement for the control of measuring systems, corresponding computer program and corresponding computer-readable storage medium

Номер патента: US09818588B2. Автор: Andreas Kuhn,Katja Tham,Johann-Christoph Freytag,Stephan Werner Heymann,Michael W. Linscheid. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-11-14.

Computerized pupillary distance measurement system and method

Номер патента: US09603517B2. Автор: Steven P. Lee,Aaron DALLEK. Владелец: Opternative Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Imaging system and method

Номер патента: EP2510403A1. Автор: Mark Sandler,Shai Lior. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2012-10-17.

Luminary measurement system and method

Номер патента: US20240233317A9. Автор: Chao Shuan Huang. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Methods and systems for clock correction and/or synchronization for audio media measurement systems

Номер патента: EP2910015A1. Автор: John Stavropoulos,Alan Neuhauser,Wendell Lynch,David Gish,Vladimir Kuznetsov,Anand Jain,Jack Crystal. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2015-08-26.

Systems and methods for privacy-preserving facemask-compliance-level measurement

Номер патента: US20210117649A1. Автор: Ignacio J. Alvarez,Julio ZAMORA ESQUIVEL,David Gonzalez Aguirre,Javier Felip Leon. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-04-22.

Performance measurement system for out of home media

Номер патента: US20110173064A1. Автор: Janice Lesiotis. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-07-14.

Blood flow velocity measurement system and method coupling laser speckle and fluorescence imaging

Номер патента: NL2035463B1. Автор: Chen Bin,Li Dong,Sang Xu,Pan Deqing. Владелец: Univ Xi An Jiaotong. Дата публикации: 2024-01-26.

Package dimension measurement system

Номер патента: US20190066395A1. Автор: Nico Ryan James Geguiera Sy. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Guest measurement systems and methods

Номер патента: WO2023239800A1. Автор: Anthony Melo,Dionté Omar Henderson,Angelo PAGLIUCA,Julia Ann Javorsky,Logan Bender. Владелец: Universal City Studios LLC. Дата публикации: 2023-12-14.

Control apparatus, robot system, and method of detecting object

Номер патента: US20190278991A1. Автор: Masaki Hayashi,tomonori Mano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Laser scanning system and method employing corner-projected orthogonal laser scanning patterns

Номер патента: WO2000057348A8. Автор: Ka Man Au,Sankar Ghosh,Thomas Amundsen,George Kolis,LeRoy Dickson,Gennady Germaine,Carl Harry Knowles,Frank Lodge,David M Wilz Sr,Robert E Blake,Stephen J Colavito,Timothy A Good,George B Rockstein,Xiaoxun Zhu Zhu,Ian A Scott,Andrew D Dehennis. Владелец: Andrew D Dehennis. Дата публикации: 2001-04-26.

Optical imaging and measurement systems and methods for cataract surgery and treatment planning

Номер патента: US11730359B2. Автор: Wei Xiong,Daniel Neal,Carmen Canovas Vidal,Richard J. Copland,Thomas D. Raymond,Paul D. Pulaski,Daniel Hamrick,Stephen FARRER. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2023-08-22.

System and method for statistical measurment validation

Номер патента: US8666911B2. Автор: Steven Srebranig. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2014-03-04.

Automated system and method for identifying and measuring packages transported through an omnidirectional laser scanning tunnel

Номер патента: US20030006289A1. Автор: Xiaoxun Zhu,C. Knowles,Ka Au,Timothy Good,Robert Blake,George Kolis,Stephen Colavito,David Wilz,Andrew DeHennis,George Rockstein. Владелец: Metrologic Instruments Inc. Дата публикации: 2003-01-09.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

System and method for controlling landing of mobile unit using human flow data

Номер патента: US12125377B2. Автор: Masamichi Asukai,Atsushi Shionozaki. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Interface wires for a measurement system diagram

Номер патента: US09483304B2. Автор: Matthew C. Curtis,Matthew E. Novacek,Christopher F. Graf,Ariane M. Chan-You,Amanda E. Cruess. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Distributed audience measurement systems and methods

Номер патента: US09437214B2. Автор: Alan Neuhauser,Wendell Lynch,Anand Jain,Taymoor Arshi. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2016-09-06.

Model eye for calibrating an optical measurement system or a treatment laser system

Номер патента: EP2391260A1. Автор: Gerhard Youssefi,Julia Hoff,Hans-Joachim Polland,Birgit Lutzenberger. Владелец: Bausch and Lomb Inc. Дата публикации: 2011-12-07.

Method for transmitting or receiving biometric information in continuous blood glucose measurement system

Номер патента: AU2021225709A1. Автор: Choong Beom You,Hyo Seon Park. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2022-08-25.

Measurement method and system of undeformed chip thickness in micro-milling

Номер патента: US20240029229A1. Автор: Kedong Zhang,Tongshun Liu,Chengdong Wang,Xuhong Guo. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-25.

Measurement method and system of undeformed chip thickness in micro-milling

Номер патента: US11869180B1. Автор: Kedong Zhang,Tongshun Liu,Chengdong Wang,Xuhong Guo. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-01-09.

Method for calibrating blood glucose value in continuous blood glucose measurement system

Номер патента: EP3932310A1. Автор: David Lee,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Method for calibrating blood glucose value in continuous blood glucose measurement system

Номер патента: US20220160266A1. Автор: David Lee,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Linear displacement measurement system

Номер патента: US12073275B1. Автор: Joseph C. Fiore. Владелец: Metal Goods Manufacturing Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Imaging system having media stack component measuring system

Номер патента: US20040057738A1. Автор: Jeffrey Weaver,Phillip Luque,David Luman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Non-invasive glycated hemoglobin or blood glucose measurement system and method which use monte carlo simulation

Номер патента: US20240233961A1. Автор: Ki Doo KIM,Hossain SHIFAT. Владелец: Korea ITS Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory storage medium storing optical measurement program

Номер патента: US20240319486A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Method of cleaning an optical film-thickness measuring system

Номер патента: US11919048B2. Автор: Nobuyuki Takahashi,Toru Maruyama,Taichi Yokoyama,Zhongxin WEN. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US20210043483A1. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: EP4222291A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2023-08-09.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: CA3188407A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US11769679B2. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Automated sanding system and method

Номер патента: US09505101B1. Автор: Justin H. Register. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-11-29.

The Oil Film Thickness for Hydrostatic Slide control system and method compensated based on oil temperature

Номер патента: CN104772653B. Автор: 李龙,王幼民,徐彬雪,蔡志成. Владелец: ANHUI POLYTECHNIC UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-09-15.

Communication apparatus, wave quality measuring system, wave quality measuring method and program

Номер патента: EP2063556A3. Автор: Hidenaru Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-05-22.

Real-time simultaneous measurement system, real-time simultaneous measurement apparatus, real-time simultaneous measurement method, and storage medium in which program is stored

Номер патента: US8396525B2. Автор: Masaaki Sato,Akihiro Ishikawa,Tatsuya Okabe. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2013-03-12.

Base station apparatus, mobile station apparatus, mobile communication system and communication method having selectable inter-frequency measurement methods

Номер патента: US8639239B2. Автор: Katsunari Uemura,Waho Oh. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Light intensity adjustment method for optical film thickness measuring device and polishing apparatus

Номер патента: US20240207997A1. Автор: Masaki Kinoshita. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Method of manufacturing semiconductor apparatus including measuring a film thickness of an SOG film

Номер патента: US11037840B2. Автор: Yuji Kawasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-06-15.

Film forming apparatus and film forming method

Номер патента: US20240117486A1. Автор: Yasunobu Suzuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Axis determination apparatus, film-thickness measurement apparatus, deposition apparatus, axis determination method, and film-thickness measurement method

Номер патента: US20020071129A1. Автор: Kai Chen,Shizuo Nakamura,Fumihiko Omura,Akihito Minamitsu. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2002-06-13.

Device for controlling film formation, film forming device, and film forming method

Номер патента: EP4431632A1. Автор: Takeshi Yamaguchi,Mitsuhiro Miyauchi,Takayuki Matsudaira,Yoshiyuki OHTAKI. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Method of controlling the film thickness of flat films produced in flat film extruder installations

Номер патента: US4426239A. Автор: Hartmut Upmeier. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1984-01-17.

Film forming position misalignment correction method and film forming system

Номер патента: US20240011148A1. Автор: Atsushi Gomi,Atsushi Takeuchi,Kanto Nakamura,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Electronic component mounting machine including a film thickness gauge

Номер патента: US09961818B2. Автор: Yoshinori Nagata. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Film thickness signal processing apparatus, polishing apparatus, film thickness signal processing method, and polishing method

Номер патента: US09555517B2. Автор: Akira Nakamura,Hidetaka Nakao,Taro Takahashi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Film thickness regulator and manufacturing method thereof, film thickness regulating method and evaporation apparatus

Номер патента: US09930787B2. Автор: Zhongyuan Sun,Xiaohu Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Composition for treatment of metal surface, method of surface treatment of metals using it, and film obtained by surface treatment of metals using it

Номер патента: RU2496925C2. Автор: Ресуке КАВАГОСИ,Косеи ЯБЕ. Владелец: Нихон Паркерайзинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-10-27.

Systems and Methods for UV-Based Suppression of Plasma Instability

Номер патента: US20190057864A1. Автор: Shankar Swaminathan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Systems and Methods for UV-Based Suppression of Plasma Instability

Номер патента: US20180076028A1. Автор: Shankar Swaminathan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2018-03-15.

Polishing apparatus, polishing method and method for outputting visualization information of film thickness distribution on substrate

Номер патента: US12083646B2. Автор: Taro Takahashi,Toshiki Miyakawa,Hiroaki Shibue. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Systems and Methods for UV-Based Suppression of Plasma Instability

Номер патента: US20200111666A1. Автор: Shankar Swaminathan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2020-04-09.

Systems and methods for UV-based suppression of plasma instability

Номер патента: US11120989B2. Автор: Shankar Swaminathan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2021-09-14.

Film forming method and film forming apparatus

Номер патента: US20200058504A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Rui KANEMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Method of depositing a film, recording medium, and film deposition apparatus

Номер патента: US09777369B2. Автор: Hitoshi Kato,Masahiro Murata,Shigehiro Miura,Kentaro Oshimo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Selective epitaxial growth method and film forming apparatus

Номер патента: US09797067B2. Автор: Daisuke Suzuki,Satoshi Onodera,Akinobu Kakimoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Method for producing gallium oxide semiconductor film and film formation device

Номер патента: EP4180557A1. Автор: Takenori Watabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Multimodal polyethylene composition and film including it

Номер патента: RU2759997C2. Автор: Варахад КЛОМКАМОЛ,Ватчари ЧИВАСРИРУНГРЫАНГ,Саранья ТРАЙСИЛАНУН,Арунсри МАТТАЯН. Владелец: ЭсСиДжи КЕМИКАЛЗ КО., ЛТД.. Дата публикации: 2021-11-22.

An electron beam evaporator with prolonged inter-maintenance periods and greater film thickness monitoring stability

Номер патента: GB201117595D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2011-11-23.

Film forming method and film forming apparatus

Номер патента: US20240052483A1. Автор: Junya Suzuki,Yoshihiro Kato,Kazuki Goto,Yuji Otsuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Method and apparatus for film thickness adjustment

Номер патента: US20090236312A1. Автор: Sergey Mishin. Владелец: Advanced Modular System Inc. Дата публикации: 2009-09-24.

Polyethylene composition and film having high stiffness, outstanding sealability and high permeability

Номер патента: WO2020012300A3. Автор: Peter Zoricak,XiaoChuan Wang,Qinyan Wang,Norman AUBEE,Brian Molloy,Lawrence VanAsseldonk. Владелец: NOVA CHEMICALS (INTERNATIONAL) S.A.. Дата публикации: 2020-04-30.

Test pattern group and a method of measuring an insulation film thickness utilizing the same

Номер патента: US5801538A. Автор: Oh Jung Kwon. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-09-01.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: US20220028656A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: EP4189723A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-06-07.

Systems and methods for UV-based suppression of plasma instability

Номер патента: US10529557B2. Автор: Shankar Swaminathan. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2020-01-07.

Film formation apparatus and film formation method

Номер патента: EP3396016A1. Автор: Ryoji Matsuda,Hidetaka Jidai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-10-31.

System and method for separating particles in suspension utilizing bubbles

Номер патента: US20190314826A1. Автор: Howard A. Stone,Sepideh Khodaparast,Yingxian Yu. Владелец: PRINCETON UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-10-17.

Polishing head system and polishing apparatus

Номер патента: US12017323B2. Автор: Itsuki Kobata,Hozumi Yasuda,Nobuyuki Takahashi,Nobuyuki Takada,Takamasa Nakamura,Akio Yanai,Yasuhiro Takada,Katsuhide Watanabe,Yuji Yagi,Keisuke Sakata. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Semiconductor device having electrode film in which film thickness of periphery is thinner than film thickness of center

Номер патента: US20090057836A1. Автор: Tadahiro Okazaki. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2009-03-05.

System and method for measuring physiological parameters

Номер патента: US09339234B2. Автор: Chieh-Hsing Chen,Chih-Lung Yeh. Владелец: Bionime Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Process for electrophoretic film deposition achieving increased film thickness

Номер патента: CA1212352A. Автор: Rene J. Al,John W. Krise, Jr.. Владелец: Dresser Industries Inc. Дата публикации: 1986-10-07.

Thermally-protective intumescent coating system and method

Номер патента: US5989706A. Автор: Vincent D. McGinniss,Richard J. Dick,Robert E. Russell, III,Stephen D. Rogers. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 1999-11-23.

System and method for preventing scale defects during hot rolling

Номер патента: EP1034857A2. Автор: Junsou Mitsubishi Heavy Ind. Ltd. Fukumori,Tsutomu Mitsubishi Heavy Ind. Ltd. Kawamizu,Akira Mitsubishi Heavy Ind. Ltd. Kaya,John Won Pohang Iron & Steel Co. Ltd. Lee,Kyung Zoon Pohang Iron & Steel Co. Ltd. Min,Yong Woon Pohang Iron & Steel Co. Ltd. Choi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2000-09-13.

Automated test measurement system and method therefor

Номер патента: US7990418B2. Автор: Pai-Chen Liu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-02.

Wafer boat and film formation method

Номер патента: US6156121A. Автор: Kazuhide Hasebe,Kenji Tago,Atsumi Ito. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2000-12-05.

Film forming method for forming metal film and film forming apparatus for forming metal film

Номер патента: US11718923B2. Автор: Yuki Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Film forming method for forming metal film and film forming apparatus for forming metal film

Номер патента: US20220380923A1. Автор: Yuki Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Coupled physiological signal measurement method, coupled physiological signal measurement system and graphic user interface

Номер патента: US20230082564A1. Автор: Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Min-Hsuan Lee,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-03-16.

System and method for updating an arm scan profile through a graphical user interface

Номер патента: US09870928B2. Автор: David A. Goldberg,Jonathan YUTKOWITZ. Владелец: Veeco Precision Surface Processing LLC. Дата публикации: 2018-01-16.

Measurement system in the process of drilling near to the bit

Номер патента: RU2682400C1. Автор: Юнцин ИНЬ,Шаоцю ШИ,Бошэн ЯН,Сиюань ВАН,Цзинь ХУ,Личжун ЛУ,Гоцин ЦЮЙ. Владелец: Ориент Энэрджи Энд Текнолоджис Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-03-19.

Analyte measurement system and initialisation method

Номер патента: RU2721934C1. Автор: Херберт ВИДЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2020-05-25.

Ground station of geostationary spacecraft control and measurement system control system

Номер патента: RU2731822C1. Автор: Анатолий Александрович Алексеев,Владимир Леонидович Быстрицкий,Дмитрий Николаевич Нагорных,Евгений Сергеевич Овчинников,Иван Игоревич Рузяков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2020-09-08.

Fuel tank shutoff valve, measurement system for use with fuel system, fuel system and vehicle

Номер патента: RU2730305C2. Автор: Омер ВУЛКАН,Денис КЛЕЙМАН,Владимир ОЛЬШАНЕТСКИ. Владелец: РАВАЛ А.К.С. ЛТД.. Дата публикации: 2020-08-21.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20210234779A1. Автор: Toru Okugawa,Hidetaka NISHIHARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Test-software-supported measuring system and measuring method

Номер патента: US09843493B2. Автор: Ingo Gruber,Uwe Baeder,Holger Jauch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-12-12.

Devices for measuring and controlling fluid film thickness of a hydrostatic or hydrodynamic bearing

Номер патента: EP2113055A1. Автор: Johan Larsson,Anna Lind. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2009-11-04.

Film forming apparatus and film forming method

Номер патента: US20100236918A1. Автор: Hiroki Yamamoto,Shinya Nakamura,Tadashi Morita,Naoki Morimoto,Kenichi Imakita,Ayao Nabeya. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2010-09-23.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

System and method for optimizing train operations considering rail car parameters

Номер патента: RU2605648C2. Автор: Вольфганг ДАУМ,Гленн Роберт ШЭФФЕР,Джон Эрик ХЕРШИ,Дэвид Майкл Пельтц,Джозеф Форест НОФФСИНГЕР,Джон БОРНТРАЕГЕР,Аджит Кумар. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2016-12-27.

Ballonet measurement systems and methods

Номер патента: WO2020214552A1. Автор: James Dakota Walker,Louise Kathryn Moores,Clinton Jullens. Владелец: LOCKHEED MARTIN CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-22.

Measurement and control systems and methods for electrosurgical procedures

Номер патента: US09861424B2. Автор: Robert Behnke. Владелец: COVIDIEN LP. Дата публикации: 2018-01-09.

Uv stable polyetherester copolymer composition and film therefrom

Номер патента: CA2333462A1. Автор: Pieter Gijsman,Krijn Dijkstra. Владелец: Krijn Dijkstra. Дата публикации: 1999-12-09.

Displacement measurement system and sheet feed system incorporating the same

Номер патента: US20030209657A1. Автор: David Vejtasa. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2003-11-13.

Methods and apparatus to perform identity matching across audience measurement systems

Номер патента: US20200404352A1. Автор: Peter Campbell Doe,Jonathan Sullivan,Edmond Wong. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2020-12-24.

All-optical timing jitter measurement system and method

Номер патента: WO2003042722A3. Автор: Yung Jui Chen,Jochen Karl Walter Doerring. Владелец: Jochen Karl Walter Doerring. Дата публикации: 2004-07-15.

All-optical timing jitter measurement system and method

Номер патента: US7636524B2. Автор: Yung Jui Chen,Jochen Karl Walter Dorring. Владелец: University of Maryland at Baltimore County UMBC. Дата публикации: 2009-12-22.

All-optical timing jitter measurement system and method

Номер патента: WO2003042722A9. Автор: Yung Jui Chen,Jochen Karl Walter Doerring. Владелец: Jochen Karl Walter Doerring. Дата публикации: 2004-01-08.

Optical ankle-brachial index and blood pressure measurement system and method

Номер патента: US20210393153A1. Автор: Lloyd A. Marks. Владелец: Mgi LLC. Дата публикации: 2021-12-23.

Electrode patch and wireless physiological measurement system and method

Номер патента: US09693732B1. Автор: Matthew D Tarler. Владелец: Orbital Research Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

System and method for cooling dynamoelectric machine

Номер патента: US09473002B2. Автор: Tobias Bathon,Erich KRUCKENHAUSER,Sadhasivam Vallinayagam. Владелец: GE Jenbacher GmbH and Co oHG. Дата публикации: 2016-10-18.

Displacement measurement system and sheet feed system incorporating the same

Номер патента: WO2003095345A1. Автор: David S Vejtasa. Владелец: Hewlett-Packard Development Company, L.P.. Дата публикации: 2003-11-20.

Automated Dewpoint Oxygen Measurement System

Номер патента: US20130177038A1. Автор: Manfried Carl VERCH, Jr.,Peter N. HORNIAK. Владелец: Pratt and Whitney Co Inc. Дата публикации: 2013-07-11.

Systems and methods for chain wear elongation measurement and drive compensation

Номер патента: US20200130946A1. Автор: Owen Eugene Morey,Scott E. STANG. Владелец: John Bean Technologies Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Methods and apparatus to perform identity matching across audience measurement systems

Номер патента: US10771829B2. Автор: Peter Campbell Doe,Jonathan Sullivan,Edmond Wong. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2020-09-08.

System and method for limiting the stack height of articles in drop pocket

Номер патента: WO2003049877A1. Автор: Bruce A. Williams,Michael D. Senger,Bruce H. Hanson. Владелец: LOCKHEED MARTIN CORPORATION. Дата публикации: 2003-06-19.

Systems and methods for gathering viewership statistics and providing viewer-driven mass media content

Номер патента: WO2012075167A3. Автор: FENG DING,Ramachandiran Durai Vaithilingam,Thirugnanam Kaneshalingam,Ding Yanjun,Mark Joseph Gravina,Thajudeen Shahul Hameed,Danny Lee Mabey. Владелец: 121 View Usa. Дата публикации: 2012-07-26.

Corneal implant systems and methods

Номер патента: US20230277300A1. Автор: David Müller,Michael Mrochen. Владелец: Allotex Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Measurement system for an analyte determination and a method

Номер патента: US09931064B2. Автор: Juergen Rasch-Menges,Uwe Kraemer. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Measurement and treatment system and method

Номер патента: US09872643B2. Автор: John Erik Hershey,Harold Woodruff Tomlinson, Jr.,Glenn Alan Forman,Michael Joseph Mahony,William Eugene Powell, III. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Implantable shunt system and associated pressure sensors

Номер патента: US09713429B2. Автор: Guangqiang Jiang,John C. Gord,Charles L. Byers,Brian R. Dearden,Siegmar Schmidt,Daniel Rodriguez. Владелец: ALFRED E MANN FOUNDATION FOR SCIENTIFIC RESEARCH. Дата публикации: 2017-07-25.

Surgical rod measuring system and method

Номер патента: US09414859B2. Автор: David Mire,William Alan Rezach,Rodney Ballard. Владелец: WARSAW ORTHOPEDIC INC. Дата публикации: 2016-08-16.

Latch position indicator system and method

Номер патента: US09404346B2. Автор: Thomas F. Bailey,Kevin L. Gray,Nicky A. White,James W. Chambers,Jonathan P. Sokol. Владелец: Weatherford Technology Holdings LLC. Дата публикации: 2016-08-02.

Indirect rotation angles measurement method in operator's joints

Номер патента: RU2700118C1. Автор: Вячеслав Иванович Петренко,Фариза Биляловна Тебуева,Андрей Сергеевич Павлов,Михаил Михайлович Гурчинский,Владимир Олегович Антонов,Сергей Сергеевич Рябцев. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет". Дата публикации: 2019-09-12.

A food product outer layer removal system and method, measurement device, control unit and computer program product

Номер патента: EP3672399A2. Автор: Marinus Jacobus Van Der Hoek,Reinier DE WALL. Владелец: Tecuma BV. Дата публикации: 2020-07-01.

A food product outer layer removal system and method, measurement device, control unit and computer program product

Номер патента: WO2019039940A3. Автор: Marinus Jacobus Van Der Hoek,Reinier DE WALL. Владелец: Tecuma B.V.. Дата публикации: 2019-04-25.

Wearable system and method for determining blood pressure

Номер патента: EP3773152A1. Автор: Martin Proença,Olivier Chetelat,Josep SOLA I CAROS,Jonas RACINE. Владелец: Centre Suisse dElectronique et Microtechnique SA CSEM. Дата публикации: 2021-02-17.

Systems and methods for tuning and measuring a device under test using machine learning

Номер патента: US20240235669A1. Автор: KAN Tan,John J. Pickerd,Heike Tritschler,Evan Douglas Smith,Williams Fabricio Flores Yepez. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Adapter and external support structure for biosignal measurement system, biosignal measurement system and connection method

Номер патента: US20200305749A1. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Arto Remes. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2020-10-01.

Automated riser recoil control system and method

Номер патента: EP1285146A1. Автор: Larry Russell Jordan. Владелец: Cooper Cameron Corp. Дата публикации: 2003-02-26.

Automated riser recoil control system and method

Номер патента: EP1285146A4. Автор: Larry Russell Jordan. Владелец: Cooper Cameron Corp. Дата публикации: 2004-10-13.

Automated riser recoil control system and method

Номер патента: US20030205383A1. Автор: Larry Jordan. Владелец: Cooper Cameron Corp. Дата публикации: 2003-11-06.

Systems and methods for a talking height measurement system

Номер патента: US20220313115A1. Автор: Martin Poulter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-06.

Systems and methods for non-invasive pulse pressure waveform measurement

Номер патента: EP4384069A1. Автор: Morteza Gharib,Alessio TAMBORINI. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-06-19.

Real-time robotic-assisted dimension measurement system

Номер патента: US20220087768A1. Автор: Mary Lynn Gaddis,Yiming Xu,Jianning Mai,Wanning Zhu,Lela DiMonte. Владелец: Verb Surgical Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

Cough assistance and measurement system and method cross-reference to related applications

Номер патента: EP2852321A1. Автор: Bernard F. Hete,Winslow Kevin Duff,April Stewart Nathan,Michael Howard KISSEL. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2015-04-01.

Systems and methods nanofiber-reinforced metal halide perovskite optoelectronic devices

Номер патента: WO2024112968A1. Автор: Adam Printz,Anton SAMOYLOV,Nikolaus SWENSON,Antonio MURRIETA,Juliana BALTRAM. Владелец: Arizona Board of Regents on Behalf of the University of Arizona. Дата публикации: 2024-05-30.

Measurement system and method for measuring and analyzing modulated signals

Номер патента: EP4391419A1. Автор: Johan Nilsson,Christian Dr. Kuhn,Darren TIPTON. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-26.

A measuring system and a method for determining parameters of a multi-segment rod-like article

Номер патента: EP4369956A1. Автор: Bartosz Cieślikowski. Владелец: International Tobacco Machinery Poland Sp zoo. Дата публикации: 2024-05-22.

System and method for measuring bioelectrical signals of a user

Номер патента: EP1890590A1. Автор: J.A.J. C/o Philips I.P. & Standards GmbH THIJS,O. C/o Philips I.P. & Standards GmbH SUCH,J. C/o Philips I.P. & Standards GmbH MUEHLSTEFF,H. C/o Philips I.P. & Standards GmbH REITER. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2008-02-27.

Measurement system and method for measuring and analyzing modulated signals

Номер патента: US20240214084A1. Автор: Johan Nilsson,Christian Kuhn,Darren TIPTON. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-27.

Elevator safety system, elevator system and method for limiting elevator car travel path

Номер патента: WO2024183880A1. Автор: Ari Kattainen,Juha-Matti Aitamurto. Владелец: KONE CORPORATION. Дата публикации: 2024-09-12.

System and method for cultivating algae

Номер патента: WO2024208632A1. Автор: Marcellinus Petrus Carolus Michael Krijn,Marc Andre De Samber. Владелец: SIGNIFY HOLDING B.V.. Дата публикации: 2024-10-10.

Systems and methods for determining cross-linking distribution in a cornea and/or structural characteristics of a cornea

Номер патента: US12004811B2. Автор: David Usher,Marc D. Friedman,Mikhail Z. Smirnov,Grace Elizabeth Lytle,Desmond Christopher ADLER,David C. Iannetta,Jun A. Zhang. Владелец: Avedro Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Body shape change measurement system and method

Номер патента: WO2024128830A1. Автор: Jeong Ho Shin,Young Sun Cho,Sung Keun Kwak,Min Seong Son,Na Kyung Lee,Ji Hwan Woo. Владелец: Cj Olivenetworks Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-06-20.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: EP1964149A2. Автор: Brian Freer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-03.

Network measurement system and method, device and storage medium

Номер патента: EP4024771A1. Автор: Kai Zheng,Yongming Zhang,Junwu Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Jitter measurement system and method

Номер патента: EP1171961A1. Автор: Thomas H. Rinderknecht,Arnold M. Frisch. Владелец: Fluence Technology Inc. Дата публикации: 2002-01-16.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: WO2007075970A2. Автор: Brian Freer. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2007-07-05.

Ion beam angle measurement systems and methods employing varied angle slot arrays for ion implantation systems

Номер патента: WO2007075970A3. Автор: Brian Freer. Владелец: Brian Freer. Дата публикации: 2007-10-04.

Interface unit, measurement system and a method in an interface unit

Номер патента: EP2637556A1. Автор: Magnus Samuelsson. Владелец: St Jude Medical Systems Ab. Дата публикации: 2013-09-18.

System and method for determining broadcast dimensionality

Номер патента: US20140337873A1. Автор: William Krug. Владелец: Nielsen Holdings NV. Дата публикации: 2014-11-13.

System and method for evaluation of audio-video desynchronization

Номер патента: EP4203470A1. Автор: Jens Berger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-28.

Measurement system and a method

Номер патента: US20180035312A1. Автор: Philip Mehrgardt. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-01.

System and method for determining broadcast dimensionality

Номер патента: EP2419844A1. Автор: William K. Krug. Владелец: Arbitron Inc. Дата публикации: 2012-02-22.

Vital signs measurement system, detecting method of the vital signs measurement system, and vital signs measurement earphone

Номер патента: US09788737B2. Автор: Cheng Lee,Wen-Bing HSU,Kuo Yang Wu,Hsiang-Ling Chung. Владелец: Cheng Uei Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Wireless measuring system and method for measurement of a device under test with an antenna-array, considering maximum gain direction of the antenna array

Номер патента: US09780890B2. Автор: Meik Kottkamp,Andreas Pauly,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-10-03.

Optical measurement system and method including blink rate monitor and/or tear film breakup detector

Номер патента: US09706912B2. Автор: Richard J. Copland,John G. DIXSON. Владелец: AMO Wavefront Sciences LLC. Дата публикации: 2017-07-18.

Dual mode closed-loop system and method for measuring a parameter of the muscular-skeletal system

Номер патента: US09592010B2. Автор: Marc Stein. Владелец: ORTHOSENSOR INC. Дата публикации: 2017-03-14.

Spirometry system and disposable volume spirometry apparatus

Номер патента: US09456768B2. Автор: Stefano Soatto,Giuseppe Torresin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-04.

Portable retina measuring device, and ophthalmologic disease measuring system and ophthalmologic disease management method using portable terminal

Номер патента: US20230301512A1. Автор: Eu Na Heo,Eunsim Heo,Woojin Heo. Владелец: Aiforpet. Дата публикации: 2023-09-28.

Gas turbine fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: EP4261389A1. Автор: Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-10-18.

Fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: CA3197136A1. Автор: Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-10-15.

Fluid measurement system and method for operating same

Номер патента: US20230332511A1. Автор: Patrice Remy. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Measurement method and apparatus using multiple frequency partial band in wireless communication system

Номер патента: US12028721B2. Автор: ANIL Agiwal,Jaehyuk JANG,Byounghoon JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Ligament laxity measuring system and method for measuring ligment laxity

Номер патента: US20140343461A1. Автор: Chen-Chou Lin. Владелец: National Taiwan Ocean University NTOU. Дата публикации: 2014-11-20.

Systems and methods for determining fractional flow reserve without adenosine or other pharmacological agents

Номер патента: EP3068292A1. Автор: Barry O'Connell,Colm Connolly,Allan H. STEINGISSER. Владелец: Medtronic Vascular Galway ULC. Дата публикации: 2016-09-21.

Heartbeat and pulse measuring system and method thereof

Номер патента: US20160100767A1. Автор: Cheng-Han Wu,Bo-Jau Kuo,Wei-Yi Li,Vincent I-Te Hsieh. Владелец: Cloud Care Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-14.

Rotary press registration systems and methods

Номер патента: US20060230958A1. Автор: Michael Hart,Carlos Noa,Greg Tabor. Владелец: Pressline Services. Дата публикации: 2006-10-19.

Systems and methods for measuring blood pressure

Номер патента: US20240277240A1. Автор: Massi Joe E. Kiani,Cristiano Dalvi,Jeroen Poeze,Hung The Vo,Marcelo M. Lamego. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Biological information measurement system and recording medium

Номер патента: US20200100695A1. Автор: Hirofumi Morise,Kiwamu Kudo,Yoshihiro MISAKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Sludge flow measuring system

Номер патента: US09926925B2. Автор: Charles M. Wanstrom,Thomas M. Anderson,Shahzad M. Khan,Michael M. Mott. Владелец: Schwing Bioset Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Systems and methods for determining fractional flow reserve without adenosine or other pharmalogical agent

Номер патента: US09877660B2. Автор: H. Allan Steingisser,Barry O'Connell,Colm Connolly. Владелец: Medtronic Vascular Galway ULC. Дата публикации: 2018-01-30.

Method for managing radio resource in multi-cell wireless communication system and device therefor

Номер патента: US09775066B2. Автор: Hanbyul Seo,Seungmin Lee,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-09-26.

Biological signal measuring system and biological signal measuring apparatus

Номер патента: US09521969B2. Автор: Naoki Kobayashi,Hideaki Hirabara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Overlay measuring method and system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US09455206B2. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Thickness measuring method and device

Номер патента: EP4344614A1. Автор: Jae Seung Oh,Seon Hwan Choi. Владелец: Huvitz Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Systems and methods for preparing corneal tissue for implant

Номер патента: US12016970B2. Автор: Timothy G. Baldwin,Kevin Potts,Edward J. Holland. Владелец: CorneaGen Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Monitoring system and oxygen measurement system

Номер патента: US12016691B2. Автор: Akihiro Takahashi,Satoru Suehara. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Mobile terminal measurement system and communication management information display method

Номер патента: US20210258810A1. Автор: Makoto Ueda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Quantum key distribution systems and associated methods

Номер патента: US20240097794A1. Автор: Daniele Vito Finocchiaro,Alessandro LE PERA,Ivan Ferrario,Bob Petrus Franciscus Dirks. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2024-03-21.

Systems and methods for preparing corneal tissue for implant

Номер патента: US20200268941A1. Автор: Timothy G. Baldwin,Kevin Potts,Edward J. Holland. Владелец: CorneaGen Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Systems and methods for preparing corneal tissue for implant

Номер патента: US20230097900A1. Автор: Timothy G. Baldwin,Kevin Potts,Edward J. Holland. Владелец: CorneaGen Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Seine net position measurement system and method of determining seine net position

Номер патента: WO2024107722A1. Автор: David O'Neill,Muniain Carles CASTRO,Carroll John WESCOTT,Vranken Cooper VAN. Владелец: Caledonia Nets Llc. Дата публикации: 2024-05-23.

Dialysis systems and methods including sensor feedback to improve patient experience

Номер патента: US12042589B2. Автор: Sukhraaj Basati,Shantanu Avinash Gadre,Mohammad Ali Jamnia,Lakshmy M. Nair,William J. O'Reilly,Marta Wlodarczyk. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement system with controlled pressure ramp

Номер патента: US12042253B2. Автор: Craig Alexander Easson,John Philip Hanks. Владелец: Maxim Integrated Products Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Optical measurement systems and processes with wavefront aberrometer having variable focal length lens

Номер патента: US20190183337A1. Автор: Daniel R. Neal,Richard J. Copland. Владелец: AMO Wavefront Sciences LLC. Дата публикации: 2019-06-20.

Impedance measurement system

Номер патента: US20180199885A1. Автор: David W. Mortara. Владелец: Mortara Instrument LLC. Дата публикации: 2018-07-19.

Impedance measurement system

Номер патента: US09913614B2. Автор: David W. Mortara. Владелец: Mortara Instrument LLC. Дата публикации: 2018-03-13.

Muscle fatigue measuring device and associated systems and methods

Номер патента: US09730627B2. Автор: Damian Andrisani. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-15.

Method for measuring etching amount, and measurement system therefor

Номер патента: EP4279642A1. Автор: Kiyoshi Kojima,Tadaaki Kaneko. Владелец: Toyota Tsusho Corp. Дата публикации: 2023-11-22.

An extractor for an microcoloum, an alignment method for an extractor aperture to an electon emitter, and a measuring method and an alignment method using thereof

Номер патента: EP1586106A1. Автор: Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-19.

Method for correcting biometric signals in continuous biometric information measurement system

Номер патента: AU2023207023A1. Автор: YUN Hee Kang,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah,Min Ji Jang. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Orthopedic leg alignment system and method

Номер патента: US20230270568A1. Автор: Gordon Goodchild,Ryan M. Chapman,Doug W. Van Citters. Владелец: ORTHOSENSOR INC. Дата публикации: 2023-08-31.

An extractor for an microcoloum, an alignment method for an extractor aperture to an electon emitter, and a measuring method and an alignment method using thereof

Номер патента: AU2003289574A1. Автор: Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2004-07-22.

Ophthalmic laser surgical system and method implementing simultaneous laser treatment and oct measurement

Номер патента: EP3923877A1. Автор: David A. Dewey,Javier G. GONZALEZ,Michael J. Simoneau. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2021-12-22.

Ophthalmic laser surgical system and method implementing simultaneous laser treatment and oct measurement

Номер патента: US20200261267A1. Автор: David A. Dewey,Javier G. GONZALEZ,Michael J. Simoneau. Владелец: AMO DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2020-08-20.

Ophthalmic laser surgical system and method implementing simultaneous laser treatment and OCT measurement

Номер патента: AU2020222274A1. Автор: David A. Dewey,Javier G. GONZALEZ,Michael J. Simoneau. Владелец: Optimedica Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Tubular stress measurement system and method

Номер патента: WO2015099973A2. Автор: Douglas Greening,Marinel Mihai,Brian DEWALD,Piew Soe Saw. Владелец: Tesco Corporation. Дата публикации: 2015-07-02.

Electronic device, signal processing method thereof, biological signal measurement system, and non-transitory computer readable recording medium

Номер патента: US20180360388A1. Автор: Jae-Geol Cho,Jea-Hyuck Lee,Chan-Yul Kim,Kwang-Hyun Won,Min-Hyoung Lee,Do-Yoon Kim,Hyung-Soon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-12-20.

Biopotential measurement system with electrode preheating unit

Номер патента: EP4410186A1. Автор: Vanessa Tolosa,Murat Yokus,Ahmet Alpkilic,Muhammed Agcayazi. Владелец: Meta Platforms Technologies LLC. Дата публикации: 2024-08-07.

Measurement system and method enabling over-the-air measurements in full-duplex mode for two polarisations

Номер патента: US20240297679A1. Автор: Hendrik Bartko,Adam Tankielun,Thomas Gemmer,Nico Riedmann. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-05.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

System and method for determination of dry weight by multi-frequency bioimpedance measurements

Номер патента: US20230061704A1. Автор: Philip Hamski,Robert Rinehart,Dios Aba,Marc O. Griofa. Владелец: Seemedx Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Orthopedic leg alignment system and method

Номер патента: US12097130B2. Автор: Gordon Goodchild,Ryan M. Chapman,Doug W. Van Citters. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for correcting biometric signals in continuous biometric information measurement system

Номер патента: EP4437956A1. Автор: YUN Hee Kang,Young Jea Kang,Jung Hee Seo,Ji Seon Nah,Min Ji Jang. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Network status measuring system and a method for measuring status of a network

Номер патента: US09992073B2. Автор: Staffan Olsson,Ulf Ahlfors,Ted Hartzell,Ralph Myrnäs,Henrik Henriksson,Mikael Ranbro,Erik Jansson,Fredrik Olsson. Владелец: AXIS AB. Дата публикации: 2018-06-05.

Fluid delivery and measurement systems and methods

Номер патента: US09981083B2. Автор: Robert R. Gonnelli,Steven F. Levesque,David Lipson,Peter F. Marshall. Владелец: Valeritas Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Gas-liquid/oil-gas-water multiphase flow liquid film thickness distributed conductivity measurement method

Номер патента: CN109708564B. Автор: 金宁德,王大阳,翟路生,任英玉. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-11-06.

GAME APPARATUS, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, STORAGE MEDIUM HAVING GAME PROGRAM OR INFORMATION PROCESSING PROGRAM STORED THEREIN, GAME SYSTEM, DELAY MEASUREMENT SYSTEM, IMAGE DISPLAY METHOD, AUDIO OUTPUT METHOD, AND DELAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120172118A1. Автор: Shimamura Takayuki,Ohta Keizo,Yamazaki Hitoshi. Владелец: NINTENDO CO., LTD.. Дата публикации: 2012-07-05.

Powder metallurgy sintered alloy sample conductivity measurement system and powder metallurgy sintered alloy sample conductivity measurement method

Номер патента: CN104749439A. Автор: 肖文凯,穆迪琨祺,阮学锋,翟显,范桃桃. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2015-07-01.

Time pulse width measurement system for ultrashort pulses in different spatial positions and measurement method thereof

Номер патента: CN102353465A. Автор: 谭超,傅喜泉,邓杨保,文双春. Владелец: Hunan University. Дата публикации: 2012-02-15.

Optical measurement system, carrying structure for configuring the same, and optical measurement method

Номер патента: TW201339550A. Автор: Chien-Hsiang Hung,Jan-Liang Yeh. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2013-10-01.

Optical measurement system, carrying structure for configuring the same, and optical measurement method

Номер патента: TWI468651B. Автор: Chien Hsiang Hung,Jan Liang Yeh. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2015-01-11.

Method testing parameters of film coat in process of change of film thickness on backing and device for its implementation

Номер патента: RU2087861C1. Автор: А.М. Баранов,В.В. Слепцов,И.Ф. Михайлов,В.И. Пинегин,И.Н. Бабенко. Владелец: Товарищество с ограниченной ответственностью "Фрактал". Дата публикации: 1997-08-20.

Remote four-wave method for measurement of thin film thickness

Номер патента: RU2359220C1. Автор: Валентин Иванович Козинцев,Ольга Алексеевна Смирнова,Михаил Леонидович Белов,Виктор Александрович Городничев,Юрий Викторович Федотов. Владелец: ООО "НИИ Радиоэлектроники и лазерной техники". Дата публикации: 2009-06-20.

Film thickness measuring device

Номер патента: RU2016376C1. Автор: Д.А. Усанов,В.С. Панченко,В.Д. Тупикин,В.В. Писарев. Владелец: Центральный научно-исследовательский институт измерительной аппаратуры. Дата публикации: 1994-07-15.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

System and Method for Joint Resurface Repair

Номер патента: US20120004663A1. Автор: . Владелец: ARTHROSURFACE INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Optical method to measure instantaneous field of transparent film thickness

Номер патента: RU2506537C2. Автор: Владимир Генриевич Меледин,Игорь Владимирович Наумов,Виталий Владиславович Рахманов,Сергей Владимирович Двойнишников,Иван Константинович Кабардин,Иван Алексеевич Елисеев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук (ИТ СО РАН). Дата публикации: 2014-02-10.

Device for non-destructive measurement of dielectric and semiconductor film thickness

Номер патента: RU2411448C1. Автор: Алексей Сергеевич Иванов,Александр Борисович Федорцов,Юрий Валентинович Чуркин,Василий Владимирович Манухов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Северо-западный государственный заочный технический университет (СЗТУ). Дата публикации: 2011-02-10.

Номер патента: RU2533940C1. Автор: Владимир Михайлович Федоров,Валентин Владимирович Смирнов,Игорь Николаевич Гончаров,Александр Ростиславович Шелохнев. Владелец: Закрытое акционерное общество "ПРОМЫШЛЕННЫЙ СОЮЗ" ЗАО "ПРОМСОЮЗ". Дата публикации: 2014-11-27.

Device for measurement of amplitude and phase of electromagnetic field in working volume of radar measuring system

Номер патента: RU2308043C1. Автор: Виктор Вячеславович Беляев,Галина Николаевна Акиньшина,Виктор Архипович Понькин,Юрий Николаевич Богданов,Алексей Тихонович Маюнов,ев Виктор В чеславович Бел,нов Сергей Владимирович Емель,Сергей Владимирович Емельянов,нов Олег Евгеньевич Кирь,Олег Евгеньевич Кирьянов,Николай Андреевич Мартынов,Сергей Витальевич Зубков. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Федеральный государственный научно-исследовательский испытательный центр радиоэлектронной борьбы и оценки эффективности снижения заметности" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2007-10-10.

Номер патента: RU2354932C2. Автор: Владимир Климентьевич Качанов,Игорь Вячеславович Соколов,Сергей Леонидович Авраменко. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский энергетический институт (технический университет)" (ГОУВПО "МЭИ (ТУ)"). Дата публикации: 2009-05-10.

Measurement method of thickness of non-ferromagnetic electrically conducting coating of steel

Номер патента: RU2532858C2. Автор: Владимир Александрович Сясько,Антон Евгеньевич Ивкин,Павел Валентинович Соломенчук,Алексей Владимирович СЯСЬКО. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА". Дата публикации: 2014-11-10.

Method for directing deflector when constructing assembly of lower portion of drilling column with incline measuring system and device for realization of said method

Номер патента: RU2237806C2. Автор: н В.К. Т,В.К. Тян,А.С. Федечкин. Владелец: Федечкин Александр Сергеевич. Дата публикации: 2004-10-10.

Measuring method of thermal fields of electric radio items

Номер патента: RU2564053C2. Автор: Сергей Борисович Сунцов,Валерий Александрович Деревянко,Егор Александрович Морозов,Александр Васильевич Макуха,Екатерина Федоровна Смолякова. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2015-09-27.

Ice thickness measuring method

Номер патента: RU2559159C1. Автор: Валерий Григорьевич Тимошенков,Станислав Алексеевич Смирнов. Владелец: Открытое акционерное общество "Концерн "Океанприбор". Дата публикации: 2015-08-10.

Method of ultrasound echo-pulse thickness measurement

Номер патента: RU2422769C1. Автор: Владимир Климентьевич Качанов,Игорь Вячеславович Соколов,Алексей Алексеевич Синицын,Алексей Борисович Родин,Дмитрий Валерьевич Тимофеев,Михаил Михайлович Конов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский энергетический институт (технический университет)" (ГОУВПО "МЭИ(ТУ)"). Дата публикации: 2011-06-27.

Thickness measuring gauge

Номер патента: RU2131110C1. Автор: М.А. Аксельрод,Д.Г. Безлуцкий. Владелец: Аксельрод Моисей Абрамович. Дата публикации: 1999-05-27.

FILM THICKNESS MEASURING SYSTEM AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты