ANALYTICAL MODEL FOR PREDICTING CURRENT MISMATCH IN METAL OXIDE SEMICONDUCTOR ARRAYS
Номер патента: US20140372959A1
Опубликовано: 18-12-2014
Автор(ы): HORNG Jaw-Juinn, KUNDU Amit, Lin Chung-Kai, Peng Yung-Chow, Yang Shih-Cheng
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-12-2014
Автор(ы): HORNG Jaw-Juinn, KUNDU Amit, Lin Chung-Kai, Peng Yung-Chow, Yang Shih-Cheng
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Systems and methods for predictive signaling analytics in high-speed data links
Номер патента: US20240028448A1. Автор: Bhyrav M. Mutnury,Bhavesh Govindbhai Patel,Arun Chada. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-01-25.