Probes with planar unbiased spring elements for electronic component contact, methods for making such probes, and methods for using such probes
Номер патента: US20230358785A1
Опубликовано: 09-11-2023
Автор(ы): Arun S. VEERAMANI, Dennis R. Smalley, Ming Ting Wu
Принадлежит: Microfabrica Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 09-11-2023
Автор(ы): Arun S. VEERAMANI, Dennis R. Smalley, Ming Ting Wu
Принадлежит: Microfabrica Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probes with planar unbiased spring elements for electronic component contact, methods for making such probes, and methods for using such probes
Номер патента: WO2023196425A1. Автор: Dennis R. Smalley,Ming Ting Wu,Arun S. VEERAMANI. Владелец: Microfabrica Inc.. Дата публикации: 2023-10-12.