BUILT IN SELF-TEST.

BUILT IN SELF-TEST

Номер патента: US20170324422A1
Опубликовано: 09-11-2017
Автор(ы): Clayton Tom, Hamilton David, Sharp Gordon, Stevenson Ian
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

BUILT IN SELF-TEST

Номер патента: US20160218730A1. Автор: Hamilton David,Clayton Tom,Sharp Gordon,Stevenson Ian. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

Built in self-test

Номер патента: US20170324422A1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2017-11-09.

Built in self-test

Номер патента: US20160218730A1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2016-07-28.

Built in self-test

Номер патента: US09705523B1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Built in self-test

Номер патента: US9246503B1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2016-01-26.

Built-in-self-test circuit for sigma-delta modulator

Номер патента: US09748970B1. Автор: Chao Liang,ZHOU Fang,Wanggen Zhang,Song Huang,Yifeng Liu. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Built-in self test for a/d converter

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Xiankun Jin,Mark Stachew. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Apparatus for built-in self-test (BIST) of a Nyquist rate analog-to-digital converter (ADC) circuit

Номер патента: US09780803B1. Автор: Ankur Bal,Chandrajit Debnath,Neha Bhargava. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-10-03.

Distributed built-in self-test and monitoring

Номер патента: WO2024182208A1. Автор: Zdravko Lukic,Brett Walker,Huiqiao HE,Raymond Rosik. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-09-06.

Distributed built-in self-test and monitoring

Номер патента: US20240295601A1. Автор: Zdravko Lukic,Brett Walker,Huiqiao HE,Raymond Rosik. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Built-in-self-test apparatus and method for analog-to-digital converter

Номер патента: US20050093723A1. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

Built-in self-test circuits and semiconductor integrated circuits including the same

Номер патента: US11867757B2. Автор: Jinwoo Park,Michael Choi,Sungno Lee,Younghyo PARK,Eunhye OH,Heejune Lee,Youngjae CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Built-in self-test circuits and semiconductor integrated circuits including the same

Номер патента: US20220187366A1. Автор: Jinwoo Park,Michael Choi,Sungno Lee,Younghyo PARK,Eunhye OH,Heejune Lee,Youngjae CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-06-16.

Built-in self test for integrated digital-to-analog converters

Номер патента: EP1151540A1. Автор: Jean-Yves Michel. Владелец: Philips Semiconductors Inc. Дата публикации: 2001-11-07.

Signal converting apparatus with built-in self test

Номер патента: TW200828819A. Автор: Chao-Chi Yang,Yao-Ren Fan. Владелец: Elan Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-07-01.

Built-in self-test apparatus and method for digital-to-analog converter

Номер патента: US7355537B2. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2008-04-08.

Digital-domain self-calibration and built-in self-testing techniques for high-speed integrated A/D converters using white gaussian noise

Номер патента: EP1473836B1. Автор: Nuno Filipe Silva Verissimo Paulino,Manuel Duarte Ortigueira,Martin Unterweissacher,Guiomar Gaspar de Andrade Evans D. Fisica Evans,Joao Carlos Da Palma Goes. Владелец: Acacia Semiconductor Lda. Дата публикации: 2006-08-02.

Built-in self test for analog to digital converters

Номер патента: HK118497A. Автор: Michael R Dewitt,George F Cross Jr,R Ramachandran. Владелец: At & T Corp. Дата публикации: 1997-09-05.

ADC built-in self-test circuits and test method in system on chip

Номер патента: CN105680859B. Автор: 王东,陈岚,冯燕,柳臻朝. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2018-09-11.

SUCCESSIVE APPROXIMATION REGISTER ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND METHOD OF OPERATING BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR TESTING THE CONVERTER

Номер патента: US20150029048A1. Автор: JEON Young-deuk. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2015-01-29.

Built-in self-test system based on on-chip system or system-in-package

Номер патента: CN102768336A. Автор: 徐国卿,李慧云,朱洪宇. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2012-11-07.

BUILT-IN-SELF-TEST FOR AN ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER

Номер патента: US20150009052A1. Автор: BOGNER Peter,Mejri Jaafar. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

BUILT-IN SELF-TEST FOR ADC

Номер патента: US20180198460A1. Автор: BOGNER Peter,Pernull Martin,Mejri Jaafar,Kalt Andreas. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

Built-in self-test for analog-digital converter

Номер патента: CN104283559B. Автор: P.博格纳,J.梅杰里. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-02-06.

Memory built-in self test error correcting code (mbist ecc) for low voltage memories

Номер патента: US20200321070A1. Автор: Igor Arsovski,Michael A. Ziegerhofer,Valerie H. Chickanosky,Deepak I. Hanagandi,Kalpesh R. LODHA. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Analog built-in self-test scheme for high volume power management integrated circuit products

Номер патента: US12025662B1. Автор: Xicheng Jiang,Shengyuan Li. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

CAPACITIVE MEMS MICROPHONE WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20200053496A1. Автор: Ihs Hassan. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

Номер патента: US20180332488A1. Автор: Haider Guenter,Kropfitsch Michael,BOGNER Peter,Stuhlberger Rainer,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-11-15.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

Номер патента: US20170353876A1. Автор: Haider Guenter,Kropfitsch Michael,BOGNER Peter,Stuhlberger Rainer,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-12-07.

Built-in self-healing without added physical redundancy in time-interleaved ADCs

Номер патента: US8860589B1. Автор: Krishna Shivaram,Sandeep Louis D'Souza,Craig Allison Hornbuckle. Владелец: Semtech Corp. Дата публикации: 2014-10-14.

Packaged oscillators with built-in self-test circuits that support resonator testing with reduced pin count

Номер патента: US09791503B1. Автор: James Bryan Northcutt,Bruce Edward Clark,Stephen Amar Tibbitts,Robert A. Gubser,John William Fallisgaard,Kenneth Astrof. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Built-in self-testing and failure correction circuitry

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Garima Sharda,Nidhi Sinha,Dinesh Joshi,Akshay Pathak. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2021-06-10.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US20230280398A1. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US11686766B2. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-27.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: EP4429164A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-11.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: US20240302432A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test

Номер патента: US20020095632A1. Автор: Benoit Veillette. Владелец: Philips Electronics North America Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A3. Автор: Benoit R Veillette. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2004-01-08.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: EP1400042A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-03-24.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-06-13.

Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit

Номер патента: WO2002033433A3. Автор: Russell Ott. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2003-10-09.

Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit

Номер патента: WO2002033433A2. Автор: Russell Ott. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-04-25.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: EP4150356A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2023-03-22.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: CA3171796A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: WO2021231017A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corporation. Дата публикации: 2021-11-18.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US11815492B2. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US20240159714A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: WO2021211822A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: BFLY Operations, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US12050548B2. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US20230037738A1. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P. Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US20230125397A1. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P. Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

METHODS AND CIRCUITRY FOR BUILT-IN SELF-TESTING OF CIRCUITRY AND/OR TRANSDUCERS IN ULTRASOUND DEVICES

Номер патента: US20210328564A1. Автор: Chen Chao,Chen Kailiang,Sanchez Nevada J.,Kook Youn-Jae,Lutsky Joseph,Soleimani Hamid,Lee Jihee,Chiu Leung Kin,Schaetz Sebastian. Владелец: Butterfly Network, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

RF receiver with built-in self-test function

Номер патента: US10278084B2. Автор: Thomas Sailer,Oliver Frank,Florian STARZER,Peter Bogner,Guenter Haider,Michael Kropfitsch,Jochen O. SCHRATTENECKER,Rainer Stuhlberger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2019-04-30.

Simultaneous code checker and hardware-efficient high-speed input / output with built-in self-test and debug functions

Номер патента: DE602007011840D1. Автор: Hoon Choi,Chinsong Sul,Gijung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features

Номер патента: TW200737739A. Автор: Hoon Choi,Chin-Song Sung,Gi-Jung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2007-10-01.

Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features

Номер патента: US7984369B2. Автор: Hoon Choi,Chinsong Sul,Gijung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2011-07-19.

Built-in self-test for adaptive delay-locked loop

Номер патента: US09805822B1. Автор: Dan Aleksandrowicz. Владелец: Marvell Israel MISL Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US20240259023A1. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US20240106430A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj. Владелец: pSemi Corporation. Дата публикации: 2024-03-28.

Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop with digital output and method thereof

Номер патента: TW200610275A. Автор: Yu-Chen Chen. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: WO2024064010A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj,Rodd E. NOVAK. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2024-03-28.

Analog built-in self test transceiver

Номер патента: US09628203B2. Автор: Lior Raviv,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop and method thereof

Номер патента: TW200610274A. Автор: Yu-Chen Chen. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: US20110169577A1. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: Nortel Networks Ltd. Дата публикации: 2011-07-14.

Gan reliability built-in self test (bist) apparatus and method for qualifying dynamic on-state resistance degradation

Номер патента: US20230280391A1. Автор: Kun-Lung Chen,Chan-Hong Chern,Chun-Yi Yang,Yu-Ann LAI,Ruo-Rung HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self-test circuit for phase locked loops, test method and computer program product therefore

Номер патента: EP1475891B1. Автор: Leonardo Napolitano. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-03-15.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US20230216505A1. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: WO2023130109A3. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2023-08-10.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: WO2023130109A2. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2023-07-06.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US11996843B2. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US11936374B1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

GAN RELIABILITY BUILT-IN SELF TEST (BIST) APPARATUS AND METHOD FOR QUALIFYING DYNAMIC ON-STATE RESISTANCE DEGRADATION

Номер патента: US20220099726A1. Автор: CHERN Chan-Hong,Yang Chun-Yi,CHEN Kun-Lung,LAI Yu-Ann,HUANG Ruo-Rung. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT FOR MEASURING PHASE NOISE OF A PHASE LOCKED LOOP

Номер патента: US20200132764A1. Автор: Sheen Ruey-Bin,CHOU Mao-Hsuan,CHANG Chih-Hsien,Chang Ya-Tin. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

Built-in Self-test Circuit for Voltage Controlled Oscillator

Номер патента: US20140225676A1. Автор: JOU Chewn-PU,TSAI Ming Hsien,HSIEH Hsieh-Hung,YEH Tzu-Jin,HSUEH Fu-Lung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-08-14.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT FOR MEASURING PHASE NOISE OF A PHASE LOCKED LOOP

Номер патента: US20210173009A1. Автор: CHOU Mao-Hsuan,CHANG Chih-Hsien,Chang Ya-Tin,Sheen Ruey-Ben. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

BUILT-IN SELF-TESTING AND FAILURE CORRECTION CIRCUITRY

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Sharda Garima,Sinha Nidhi,Joshi Dinesh,Pathak Akshay. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND TEMPERATURE MEASUREMENT CIRCUIT INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20210199719A1. Автор: Kim Sangho,LEE Yongjin,Choi Michael,KIM Kwangho,Shin Junhee,Kim Jooseong. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

ANALOG BUILT-IN SELF TEST TRANSCEIVER

Номер патента: US20150256272A1. Автор: RAVIV Lior,WEISSMAN Haim Mendel. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-09-10.

Built-in self-test for receiver

Номер патента: US20150372773A1. Автор: Markus Hammes,Harald Doppke,Rainer Kreienkamp,Junlin Yan. Владелец: Intel Mobile Communications GmbH. Дата публикации: 2015-12-24.

BUILT-IN SELF-TEST METHOD AND APPARATUS FOR SINGLE-PIN CRYSTAL OSCILLATORS

Номер патента: US20190353699A1. Автор: Ciubotaru Alexandru Aurelian. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Built-in self-test method and apparatus for single-pin crystal oscillators

Номер патента: US20190353700A1. Автор: Alexandru Aurelian Ciubotaru. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

BUILT IN SELF TEST TRANSMITTER PHASE CALIBRATION

Номер патента: US20200400783A1. Автор: Doaré Olivier Vincent,Orlando Julien. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: KR20210083537A. Автор: 김광호,김상호,최병주,김주성,이용진,신준희. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-07-07.

Method and circuit for built in self test of phase locked loops

Номер патента: US6396889B1. Автор: Stephen Kenneth Sunter,Aubin P. J. Roy. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 2002-05-28.

Built-in self-test for receiver

Номер патента: US9515751B2. Автор: Markus Hammes,Harald Doppke,Rainer Kreienkamp,Junlin Yan. Владелец: INTEL DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2016-12-06.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: US8884706B2. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2014-11-11.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: EP2579462A2. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2013-04-10.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: CN113049129A. Автор: 金光镐,金柱成,李龙珍,金赏镐,申浚熙,崔炳注. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-29.

Analog built-in self test transceiver

Номер патента: EP3114782B1. Автор: Lior Raviv,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-04-17.

Temperature-controlled driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US20240106420A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Rodd E. NOVAK. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520A1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Juniper Networks Inc. Дата публикации: 2022-01-26.

Motor driver having built in self test function

Номер патента: US20130221891A1. Автор: Joo Yul Ko. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

System and method for a built-in-self-test of a battery

Номер патента: US09995793B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-06-12.

Built-in self-testing method of a near field communication device

Номер патента: US09632896B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-04-25.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US09960888B2. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-05-01.

Multi-lane transmitting apparatus and method of performing a built-in self-test in the multi-lane transmitting apparatus

Номер патента: US20220329405A1. Автор: Tamal Das,Mohit Arora,Akshay Karkal Kamath,Nageswara Rao Kunchapu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

Built-in self-test for light emitting diodes

Номер патента: US20210311116A1. Автор: Adolfo DE CICCO,Rosario Chiodo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-10-07.

Built-in self-test for light emitting diodes

Номер патента: US20210311117A1. Автор: Adolfo DE CICCO,Rosario Chiodo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-10-07.

Digitally controlled jitter injection for built in self-testing (bist)

Номер патента: WO2014055779A1. Автор: Zhi Zhu,Xiaohua Kong,Nam Van Dang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Method and built-in self-test apparatus for testing an integrated circuit which capture failure information for a selected failure

Номер патента: US5912901A. Автор: Michael R. Ouellette,R. Dean Adams,Ronald J. Prilik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1999-06-15.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: US20220029705A1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Juniper Networks Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Built-in self-test circuit and built-in self-test method for physical unclonable function quality check

Номер патента: US11782090B2. Автор: Meng-Yi Wu,Chi-Yi Shao,Kai-Hsin Chuang,Jun-Heng You. Владелец: Pufsecurity Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Built-in self-test for multi-channel transceivers without data alignment

Номер патента: WO2001011536A1. Автор: JUN Cao,Afshin Momtaz. Владелец: Newport Communications, Inc.. Дата публикации: 2001-02-15.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: WO2014164229A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-10-09.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Steffen Gloeckner,Stefan Barabas,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-08-23.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-05-22.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: US20180019781A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: US20200271722A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: WO2020176306A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-09-03.

Watchdog built in test (bit) circuit for fast system readiness

Номер патента: US20200225285A1. Автор: Ashish Vijay,Sesh Mohan Rao,Rajeeva Gopala Krishna. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2020-07-16.

Built-in ripple injection circuit and control chip

Номер патента: US20240313636A1. Автор: Yi Zhang,Ge Yang,Zhen Zhu,Xiaoru Gao,Rulong Jiang. Владелец: Shanghai Bright Power Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Microcontroller capacitance measuring device for built-in computer monitoring and control systems

Номер патента: RU2698492C1. Автор: Александр Витальевич Вострухин,Елена Артуровна Вахтина,Иван Александрович Болдырев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет". Дата публикации: 2019-08-28.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US12040037B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US20240339170A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Architecture of biult-in self test of storing device having distributed command interpretation and generic command protocol

Номер патента: RU2336581C2. Автор: Роберто Ф. АВЕРБУХ,Дэвид В. ХАНСКУИН. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2008-10-20.

Built-in self test system, system on a chip and method for controlling built-in self tests

Номер патента: US09823296B2. Автор: Juergen Frank,Manfred Thanner,Michael Staudenmaier,Carl Culshaw. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: US12046315B2. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240274216A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Semiconductor device that supporting a built-in self-test (BIST) operation and multi-semiconductor package including the same

Номер патента: US09606174B2. Автор: Dae-Suk Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US12051477B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US20240347125A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240362134A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Memory built-in self-test with automated multiple step reference trimming

Номер патента: US12009044B2. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Apparatus and method for automatic determination of operating frequency with built-in self-test

Номер патента: US20030034791A1. Автор: Hung-Ju Huang,Hung-Ta Pai,Chun-An Tu. Владелец: SILICON INTEGRATED SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2003-02-20.

Built-in-self-test of flash memory cells

Номер патента: EP1529293A1. Автор: Colin S. Bill,Darlene Hamilton,Edward V. Bautista, Jr.,Ken Cheong Cheah,Weng Fook Lee,Azrul Halim,Boon Tang Teh,Syahrizal Salleh,Joseph Kucera,Chee Boon Law. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-05-11.

System on chip including built-in self test circuit and built-in self test method thereof

Номер патента: US09575861B2. Автор: Yong-Jun HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Memory protection circuitry testing and memory scrubbing using memory built-in self-test

Номер патента: US09984766B1. Автор: Alan Jeremy BECKER,Peter Logan Harrod. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Memory built-in self-test with automated write trim tuning

Номер патента: WO2024196372A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Deterministic built-in self-test based on compressed test patterns stored on chip and their derivatives

Номер патента: US09933485B2. Автор: Jerzy Tyszer,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski,Lukasz Rybak,Jedrzej Solecki. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: US20230140090A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: EP4385020A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Structure of built-in self-test for pressure tester and method thereof

Номер патента: US20140083158A1. Автор: Wei-Jen Cheng. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-27.

Method for built-in self test of an electronic circuit

Номер патента: US20020046377A1. Автор: Oliver Kniffler,Gerd Dirscherl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-04-18.

Logic built in self test circuitry for use in an integrated circuit with scan chains

Номер патента: US20170192054A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Raghu G. Gopalakrishnasetty,Satya R.S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Logic built-in self-test of an electronic circuit

Номер патента: US20230035157A1. Автор: Michael B. Kugel,Thomas Gentner,Alejandro Alberto Cook Lobo,Otto Andreas Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09761329B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Test control point insertion and X-bounding for logic built-in self-test (LBIST) using observation circuitry

Номер патента: US09547043B2. Автор: Nisar Ahmed,Orman G. Shofner, JR.. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20140068333A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20130080835A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2013-03-28.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (bist)

Номер патента: WO2013091446A1. Автор: Miguel Comparan,Jeffrey D. Brown,Robert A. Shearer,Alfred T. Watson Iii. Владелец: Ibm (China) Co., Limited. Дата публикации: 2013-06-27.

Generic march element based memory built-in self test

Номер патента: EP2548205A1. Автор: Said Hamdioui,Zaid Al-Ars,Georgi Nedeltchev Gaydadjiev,Adrianus Van De Goor. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2013-01-23.

Memory built-in self-test for a data processing apparatus

Номер патента: US09449717B2. Автор: Robert Campbell Aitken,Chiloda Ashan Senerath Pathirane,Alan Jeremy BECKER. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2016-09-20.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395179A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Memory built in self test circuit and method for generating a hardware circuit comprising the routing boxes thereof

Номер патента: US20070260924A1. Автор: Che-Chiang Chang,Jian-Dai Pan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-08.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09715942B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Test device and method with built-in self-test logic

Номер патента: US20210173005A1. Автор: Xiao Zhu,Xin Liu,Dan Wang,Zhongyuan Chang,Ranran FAN. Владелец: Montage Technology Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-10.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US09689920B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Loopback-based built-in-self-test

Номер патента: US09425907B2. Автор: Achraf Dhayni,Christophe Arnal. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2016-08-23.

Multiple clock and clock cycle selection for x-tolerant logic built in self test (XLBIST)

Номер патента: US12117488B1. Автор: Peter Wohl,John Arthur Waicukauski. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Built-in self test controller for a random number generator core

Номер патента: US09983262B1. Автор: Ron Diamant,Dan Trock. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

System and method for built-in self test (bist) in an integrated circuit

Номер патента: WO2014049402A1. Автор: Bharadwaj Amrutur,Rajath VASUDEVAMURTHY. Владелец: Department of Electronics and Information Technology. Дата публикации: 2014-04-03.

Method for testing memory by built-in self-test storage space and related device

Номер патента: US12045150B2. Автор: Li Ding,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

3-D memory and built-in self-test circuit thereof

Номер патента: US09406401B2. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-08-02.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A1. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

Method for performing built-in self-tests

Номер патента: US09679665B2. Автор: Martin Eckert,Christian Zoellin,Otto A. Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US20230410933A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-21.

Indicating a status of a memory built-in self-test using a data mask inversion bit

Номер патента: US20240038320A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: WO2020092406A8. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-12-03.

Low cost built-in self test state machine for general purpose RAM testing

Номер патента: US20030159095A1. Автор: Eric Wehage. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-08-21.

Memory built-in self-test with automated detection of magnetic tunneling junction degradation for repair

Номер патента: WO2024215333A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun,Sina BAKHTAVARI MAMAGHANI,Christopher Münch,Mehdi Baradaran Tahoori. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-10-17.

Memory built-in self test system

Номер патента: US09946620B2. Автор: Thomas Chadwick,Kevin W. Gorman,Nancy Pratt. Владелец: Invecas Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US11929134B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US20240127902A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Design-Based weighting for logic built-in self-test

Номер патента: US9292399B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Timothy J. Koprowski,Gregory J. Cook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-22.

Built-in self-test circuit and semiconductor device including the same

Номер патента: US09837171B2. Автор: Hee-Won Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Built-in self-test circuit and semiconductor device including the same

Номер патента: US09405648B2. Автор: Hee-Won Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-08-02.

Integrated circuit memory device having built-in self test circuit with monitor and tester modes

Номер патента: US5936900A. Автор: Kuong Hua Hii,Theo J. Powell,Daniel R. Cline. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-08-10.

Refresh rate selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395174A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20190348137A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20180286491A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Integrated circuit having a built-in self test design

Номер патента: US4724380A. Автор: Mark Paraskeva,David F. Burrows,William L. Knight. Владелец: Plessey Overseas Ltd. Дата публикации: 1988-02-09.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: WO2021118634A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2021-06-17.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: US20240013846A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-19.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: EP3602187A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-02-05.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: WO2018175640A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395177A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US11984180B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Method and apparatus to inject errors in a memory block and validate diagnostic actions for memory built-in-self-test (mbist) failures

Номер патента: US20240320112A1. Автор: Ashish Goel,Ajay Sharma,Umesh Pratap Singh,Ruchi Bora. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US12033710B2. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US12099092B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240321377A1. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US20240329136A1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Memory built-in self-test with address skipping trim search

Номер патента: EP4453940A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun,Christopher Münch,Mehdi Baradaran Tahoori. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-10-30.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US09530338B2. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

System and method for bit-wise selective masking of scan vectors for X-value tolerant built-in self test

Номер патента: US09448282B1. Автор: Dale Edward Meehl. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Memory section selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US11894085B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-06.

Memory section selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395173A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: WO2024205742A1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: PseudolithIC, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

System and Method for Advanced Logic Built-in Self Test with Selection of Scan Channels

Номер патента: US20080052579A1. Автор: Michael Fan Wang,Mack Wayne Riley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-28.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240061758A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

A system and method for an infra-red (ir) thermometer with a built-in self-test

Номер патента: US20230349769A1. Автор: Eyal Bychkov. Владелец: Tyto Care Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Single-bit error indication for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240069764A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US20240047004A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US12001305B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Logic built-in self-test (lbist) with pipeline scan enable launch on shift (los) flip-flop circuit

Номер патента: US20180031631A1. Автор: Venkata Narayanan Srinivasan,Tripti Gupta. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2018-02-01.

Built-in self-test enhancements

Номер патента: US20240319268A1. Автор: Gaurav Verma,Saksham TANDON. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Programmable counter to control memory built in self-test

Номер патента: US09859019B1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Circuit arrangement for logic built-in self-test of a semiconductor device and a method of operating such circuit arrangement

Номер патента: US09448283B2. Автор: Bernhard Richter,Heiko Ahrens,Claudia LATZEL. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-09-20.

Integrated circuit memory with built-in self-test (bist)

Номер патента: US20210407617A1. Автор: Arijit Banerjee,Russell Schreiber,Vance Threatt,James A. Wingfield,Keith A. Kasprak,William A. Halliday,Srinivas R. Sathu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US7673200B2. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2010-03-02.

Built in self test with memory

Номер патента: US5764655A. Автор: Toshiaki Kirihata,Christopher D. Wait. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1998-06-09.

Built in self test transport controller architecture

Номер патента: US20080109688A1. Автор: Ivan Pavisic,Sergey Gribok,Alexander Andreev. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2008-05-08.

Built-in self-test system and method for self test of an integrated circuit

Номер патента: US5515383A. Автор: Mehdi Katoozi. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1996-05-07.

Semiconductor memory device witih a built-in self test circuit for adjusting a memory device property

Номер патента: US10629284B2. Автор: Masaru Yano. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-04-21.

Memory built-in self-test with automated multiple step reference trimming

Номер патента: EP4073802A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-19.

Built-in self-test technique for detection of imperfectly connected antenna in OFDM transceivers

Номер патента: US09577769B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-02-21.

Built-in self-test control network

Номер патента: US5570374A. Автор: Yervant Zorian,Chi W. Yau. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1996-10-29.

Method for generating an memory built-in self-test algorithm circuit

Номер патента: US11776649B2. Автор: Chia Wei Lee. Владелец: Istart Tek Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Method for generating an memory built-in self-test algorithm circuit

Номер патента: US20230223093A1. Автор: Chia Wei Lee. Владелец: Istart Tek Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Apparatus for testing semiconductor chip having built-in self test function

Номер патента: EP3040730A3. Автор: Jungyang Bae. Владелец: IA Inc. Дата публикации: 2016-08-03.

Programmable computer system element with built-in self test method and apparatus for repair during power-on

Номер патента: US5659551A. Автор: Tin-Chee Lo,Pradip Patel,Timothy John Slegel,William Vincent Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-08-19.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09935706B2. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09774391B2. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Integrated circuit built-in self-test structure

Номер патента: US5130645A. Автор: Paul S. Levy. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1992-07-14.

Packetized power-on-self-test controller for built-in self-test

Номер патента: US20220108760A1. Автор: Anubhav Sinha,Ramalingam KOLISETTI,Amit Gopal M. PUROHIT,Sai Manish Rao MARRU,Sahil SONI,Salvatore Talluto. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Circuit and method for performing built-in self test and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: US20070011538A1. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-11.

Transmitter linearity built-in-self-test

Номер патента: US20190341964A1. Автор: HONG Jiang,Wael Al-Qaq. Владелец: FutureWei Technologies Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09548809B1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: WO2023076671A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2023-05-04.

Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design

Номер патента: AU2002304504A1. Автор: Louis Lu-Chen Hsu,Li-Kong Wang,Howard Hao Chen. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-12-03.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: US12002530B2. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Built in self test and method for RF transceiver systems

Номер патента: US09385774B2. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-07-05.

Multi-phase test point insertion for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: US5737340A. Автор: Janusz Rajski,Nagesh Tamarapalli. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

Logic built-in self-test of an electronic circuit

Номер патента: WO2023007344A1. Автор: Otto Torreiter,Thomas Gentner,Alejandro COOK LOBO,Michael Kugel. Владелец: Ibm (China) Investment Company Ltd.. Дата публикации: 2023-02-02.

Built-in self-test burst patterns based on architecture of memory

Номер патента: US20240087664A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Chad B. Erickson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Deterministic Diagnostic Information Capture from Memory Devices with Built-in Self Test

Номер патента: US20080077834A1. Автор: Ajay Khoche,Klaus-Dieter Hilliges. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2008-03-27.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: US6874111B1. Автор: R. Dean Adams,Kamran Zarrineh,Thomas J. Eckenrode,Steven L. Gregor. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-29.

Generic march element based memory built-in self test

Номер патента: WO2011115485A1. Автор: Said Hamdioui,Zaid Al-Ars,Georgi Nedeltchev Gaydadjiev,Adrianus Van De Goor. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2011-09-22.

Method of testing memory device, memory built-in self test (MBIST) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US11899959B2. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-13.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (MBIST) system and method

Номер патента: US20040230395A1. Автор: Luis Basto. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11810632B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Dynamic random access memory built-in self-test power fail mitigation

Номер патента: US20240021263A1. Автор: Bill Nale. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2004-09-01.

Built-in-self-test using on embedded memory and a processor in an application specific integrated circuit

Номер патента: EP1282041B1. Автор: Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmermann. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-06-14.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A4. Автор: Michael Ricchetti,Christopher J Clark. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2005-05-18.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: AU2002352644A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2003-06-17.

Method and interconnect interface for built-in self-test

Номер патента: US12013771B2. Автор: Jiao Li,Chunhui ZHENG. Владелец: Shanghai Zhaoxin Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Component die validation built-in self-test (vbist) engine

Номер патента: US20240003974A1. Автор: Sandeep Brahmadathan,Stephan Jourdan,Nagi Aboulenein,Jared BENDT,Kedar KARANDIKAR. Владелец: Ampere Computing LLC. Дата публикации: 2024-01-04.

Built in self-testing and repair device and method

Номер патента: EP2798639A1. Автор: Jay Patel,Bendik Kleveland,Rajesh Chopra,Dipak K. Sikdar. Владелец: Mosys Inc. Дата публикации: 2014-11-05.

Dynamic built-in self-test system

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Steven M. Douskey,Ryan A. Fitch,Michael J. Hamilton,Amanda R. Kaufer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Design-based weighting for logic built-in self-test

Номер патента: US20150168489A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Timothy J. Koprowski,Gregory J. Cook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-06-18.

Built in self test input generator for programmable logic arrays

Номер патента: US4672610A. Автор: John E. Salick. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1987-06-09.

Dynamic weight selection process for logic built-in self test

Номер патента: US20210156910A1. Автор: Franco Motika,Mary P. Kusko,Eugene Atwood. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Logic built-in self-test programmable pattern bit mask

Номер патента: WO2011116116A3. Автор: Paul F. Policke,Paul Douglas Bassett,Hong S. Kim. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-12-15.

Methods and apparatus for providing a built-in self test

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Kenneth Charles Barnett,Manas Behera,Gaurab Banerjee. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-01-19.

Apparatus and method for integrated functional built-in self test for an ASIC

Номер патента: US20070157059A1. Автор: Michael Tsao,R. Tremaine. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-07-05.

Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus

Номер патента: CA2145403C. Автор: Imtiaz Shaik,Michael L. Bushnell. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2002-01-29.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-11-05.

Built-in self-test circuit for row hammering in memory

Номер патента: US20240096435A1. Автор: Arun Kumar,Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Built-in self test for a satellite demodulator

Номер патента: CA2296916C. Автор: Vincent C. Moretti,Sam H. Liu,Edward L. Niu. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 2002-09-17.

Built-in self test schemes and testing algorithms for randon access memories

Номер патента: GR990100210A. Автор: . Владелец: I.S.D.. Дата публикации: 2001-02-28.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285B1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-05-03.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US11823758B2. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US11733297B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,Florian Herrault,James Buckwaiter. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Apparatus and method of RF built in self-test (RFBIST) in a radar system

Номер патента: US11921195B2. Автор: Abraham Bauer,Noam ARKIND. Владелец: ARBE Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240055066A1. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US11940495B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Circuit arrangement for use in an integrated circuit having built in self-test design

Номер патента: IE57175B1. Автор: . Владелец: Roke Manor Research. Дата публикации: 1992-05-20.

Methods and systems for performing built-in-self-test operations without a dedicated clock source

Номер патента: US11906585B2. Автор: Sanjeeb Kumar Ghosh,Gunjan Mandal,A Santosh Kumar REDDY,Parin Rajnikant Bhuta,Raghavendra Molthati,Saikat Hazra,Sunil Rajan,Krupal Jitendra Mehta,Praveen S Bharadwaj. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-20.

Built-in self-test circuitry

Номер патента: US20240087663A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Joemar Sinipete,Thomas T. Tangelder,Jacob S. Robertson,James G. Steele. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Optocoupler built-in self test for applications requiring isolation

Номер патента: US5323014A. Автор: Edward P. Liscio,Richard A. Riggio. Владелец: AEG Transportation Systems Inc. Дата публикации: 1994-06-21.

Transducer built-in self-test

Номер патента: US11913988B2. Автор: Michael Carfore. Владелец: Qualcomm Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Transducer built-in self-test

Номер патента: WO2022240888A3. Автор: Michael Carfore. Владелец: VESPER TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2023-01-05.

Signal processing system with built-in self-testing function, testing method thereof and testing signal generator

Номер патента: TWI517605B. Автор: 顏仕傑,洪誌銘. Владелец: 晨星半導體股份有限公司. Дата публикации: 2016-01-11.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US20170346552A1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-11-30.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US20180191430A1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Built in self test and method for rf transceiver systems

Номер патента: US20150349834A1. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Built-In Self-Test Technique for Detection of Imperfectly Connected Antenna in OFDM Transceivers

Номер патента: US20150180595A1. Автор: DHAYNI Achraf. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

Built-in self test signals for column output circuits in X-Y addressable image sensor

Номер патента: EP1152599A2. Автор: Paul Poo-Kam Eastman Kodak Company Lee. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2001-11-07.

Method of creating built-in self test (bist) table for monitoring a thermal processing system, method of operating controller in same system, and computer-readable media

Номер патента: TWI332131B. Автор: Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-10-21.

Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Номер патента: US20240056307A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Номер патента: WO2024033716A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2024-02-15.

Dram device with built-in self-test circuitry

Номер патента: US20120182776A1. Автор: Ming Li,Scott C. Best. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2012-07-19.

Magnetoresistance sensor with built-in self-test and device configuring ability and method for manufacturing same

Номер патента: US20120293164A1. Автор: Fu-Tai Liou,Ta-Yung WONG,Tai-Lang TANG,Wei-Tung Peng. Владелец: Voltafield Technology Corp. Дата публикации: 2012-11-22.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: US20180019781A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

ON-CHIP CALIBRATION AND BUILT-IN-SELF-TEST FOR SOC MILLIMETER-WAVE INTEGRATED DIGITAL RADIO AND MODEM

Номер патента: US20140162568A1. Автор: Laskar Joy. Владелец: ANAYAS360.COM, LLC. Дата публикации: 2014-06-12.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20170141843A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

BUILT-IN SELF-TEST RADAR UNIT AND METHOD FOR PHASE SHIFT MEASUREMENT THEREIN

Номер патента: US20190146059A1. Автор: SCHAT Jan-Peter,Zanati Abdellatif. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-16.

Waveform Calibration Using Built In Self Test Mechanism

Номер патента: US20150177326A1. Автор: Graul Jens,Chakraborty Sudipto. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: US20140256376A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20180191430A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Gloeckner Steffen,DENTON SCOTT,BALARDETA JOSEPH,Barabas Stefan,Pang Simon,Sahni Subal. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: DHAYNI Achraf. Владелец: ST-Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

BUILT IN SELF TEST AND METHOD FOR RF TRANSCEIVER SYSTEMS

Номер патента: US20140355655A1. Автор: Chakraborty Sudipto. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20180262268A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

System and Method for a Built-In-Self-Test of a Battery

Номер патента: US20170269166A1. Автор: Bernardon Derek. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITS AND RELATED METHODS

Номер патента: US20200271722A1. Автор: van Oevelen Jacco. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

Built in self test and method for rf transceiver systems

Номер патента: US20150349834A1. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20190327036A1. Автор: Gloeckner Steffen,DENTON SCOTT,BALARDETA JOSEPH,Barabas Stefan,Pang Simon,Sahni Subal. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20170346552A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-30.

TRANSMITTER LINEARITY BUILT-IN-SELF-TEST

Номер патента: US20190341964A1. Автор: Jiang Hong,Al-Qaq Wael. Владелец: Futurewei Technologies, Inc.. Дата публикации: 2019-11-07.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US20150381273A1. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2015-12-31.

BUILT-IN SELF-TEST FOR RECEIVER CHANNEL

Номер патента: US20190363813A1. Автор: Spear Michael B.,Rell,Harper Michael W.,Riley Mack W.,III John G.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

DRAM device with built-in self-test circuitry

Номер патента: US8456934B2. Автор: Ming Li,Scott C. Best. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2013-06-04.

Built-in self test for a CMOS imager

Номер патента: US7667751B2. Автор: Miriam Fraenkel,Tiberiu C. Galambos,Alexander Shnayder,Ben Furman,Ilia Antsiferov,Yair Elmakias. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-02-23.

Built-in self test for a thermal processing system

Номер патента: US7165011B1. Автор: David Smith,Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey,Anthony Dip,Raymond Joe,Sundar Gandhi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-01-16.

Built-in self-test for a radar unit receiver and method therefor

Номер патента: US11215694B2. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2022-01-04.

Built-in-self-test arrangement for a single multiple-integrated circuit package and methods thereof

Номер патента: US7795894B1. Автор: Dhiraj Sogani. Владелец: Wi2Wi Inc. Дата публикации: 2010-09-14.

Built-in self test for a thermal processing system

Номер патента: TW200723403A. Автор: Kenji Sugishima,Dave Smith,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey,Anthony Dip,Raymond Joe,Sundar Gandhi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-16.

System and method for a built-in self-test of a battery

Номер патента: US9689928B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-06-27.

Built-in-self test for high-speed serial bit stream multiplexing and demultiplexing chip set

Номер патента: US20040028065A1. Автор: Ichiro Fujimori,Daniel Schoch. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

Integrated circuit with a built-in self-test arrangement

Номер патента: DE69729771T2. Автор: Kuong Hua Hii,Theo J. Dallas Powell,Danny R. Dallas Cline. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2004-12-02.

Latency built-in self-test

Номер патента: US9100112B1. Автор: Yanjing Ke,Han Hua Leong. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2015-08-04.

Built-in self test method and apparatus for jitter transfer, jitter tolerance, and fifo data buffer

Номер патента: EP1730539A2. Автор: BHAKTA Bhavesh,James B. Cho. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-12-13.

Built in self test

Номер патента: US20050286433A1. Автор: Bhajan Singh,Vipul Raithatha,Tom Leslie. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Serial Interface Device Built-In Self Test

Номер патента: US20090119053A1. Автор: Wayne Tseng. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2009-05-07.

Built-in Self Test function leakage protection circuit and its detection method

Номер патента: CN108736438B. Автор: 刘军,宋夏冰. Владелец: Zhejiang Longway Microsystem Co ltd. Дата публикации: 2019-09-20.

Built-in-self-test and characterization of a high speed serial link receiver

Номер патента: US11528102B1. Автор: Glen A. Wiedemeier,Chad Andrew Marquart,Nathan Ross Blanchard,Venkat Harish Nammi,Dereje Yilma,Jeffrey Kwabena Okyere,Erik English,Christopher STEFFEN,Michael Wayne Harper,James Crugnale,Vikram B Raj. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-12-13.

Built-in self-test for a radar unit receiver and method therefor

Номер патента: EP3524999B1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-12-06.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285A4. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-08-21.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520B1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Openlight Photonics Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Microelectromechanical systems (“MEMS”) device having a built-in self-test (“BIST”) and a method of application of a BIST to measure MEMS health

Номер патента: US11975963B2. Автор: John J. Albers,Jorge GRILO. Владелец: Knowles Electronics LLC. Дата публикации: 2024-05-07.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520C0. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Openlight Photonics Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Memory controller, mirrored memory modules and associated built-in self-test

Номер патента: EP4394776A1. Автор: Sungjoon Kim,Changho YUN,Chaeeun LEE,Yukyoung KIM,Jongwon Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-03.

System for controlling a built-in device

Номер патента: WO2008072961A9. Автор: Diaz Jose Pareja. Владелец: Diaz Jose Pareja. Дата публикации: 2008-08-07.

Component built-in board mounting body and method of manufacturing the same, and component built-in board

Номер патента: US09635763B2. Автор: Nobuki Ueta. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Semiconductor device with built-in contacts (versions) and method of making semiconductor devices with built-in contacts (versions)

Номер патента: RU2394305C2. Автор: Кеннет Скотт Александр БАТЧЕР,Эп ФУКЕ Мари-Пьер Франсуаз ВИНТРЕБЕР,Аланна Хулия Хуне ФЕРНАНДЕС. Владелец: Гэлиэм Энтерпрайзис Пти Лтд. Дата публикации: 2010-07-10.

A connecting apparatus for a video tape recorder having a built- in camera.

Номер патента: MY110457A. Автор: Ide Yoshihiro,Mitsui Hidero,Okayas Yoshisada,Sakurai Nobumasa,Kakuno Imao. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1998-05-30.

Photographing starting apparatus and method for built-in camera of portable data processing device

Номер патента: US09451159B2. Автор: Feiyun Li,Shizhu Huang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Method of generating and processing signal built in masking interference

Номер патента: RU2602598C1. Автор: Сергей Викторович Дворников,Сергей Сергеевич Манаенко,Валентин Эдуардович Гель,Михаил Алексеевич Вознюк,Дмитрий Александрович Таюрский,Юрий Игнатьевич Потылицин,Антон Романович Тимофеев. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ СВЯЗИ имени Маршала Советского Союза С.М. Буденного" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2016-11-20.

Curved multilayer glass with built-in bent coherent display device and method of production thereof

Номер патента: RU2734775C1. Автор: Патрик Вебер,Али-Осман КЫЗМАЗ,Сара БОРХАНИ ХАГИГИ. Владелец: СЭН-ГОБЭН ГЛАСС ФРАНС. Дата публикации: 2020-10-23.

Component built-in board and method of manufacturing the same, and component built-in board mounting body

Номер патента: US09591767B2. Автор: Masahiro Okamoto,Kazuhisa Itoi. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Passenger mount with built-in audio system

Номер патента: RU2768117C2. Автор: Кит Майкл МАКВИН,Грегори С. ХОЛЛ,Брайан Бёрни МАККИЛЛИАН. Владелец: ЮНИВЕРСАЛ СИТИ СТЬЮДИОС ЭлЭлСи. Дата публикации: 2022-03-23.

Built-in scanner

Номер патента: US6128418A. Автор: Hsin-Hung Tu. Владелец: Mustek Systems Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Method of production of the plastic window glass with the electroconductive structure and the plastic window glass with the built-in wires

Номер патента: RU2299808C2. Автор: Люк-Энри Бланш,Геральд ЭНГЕНХЕЙСТЕР. Владелец: Фригласс Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2007-05-27.

Digital hearing aid with built-in accumulator

Номер патента: RU2766760C2. Автор: Николай Иванович Богомолов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Исток Аудио". Дата публикации: 2022-03-15.

Inductor electric machine with built-in converter

Номер патента: RU2689380C1. Автор: Владимир Андреевич Коровин. Владелец: Владимир Андреевич Коровин. Дата публикации: 2019-05-28.

Built-in cooking oven

Номер патента: RU2304744C2. Автор: Казуити ОКАДА,Коуити ХОСОИ,Сатору КОДАМА. Владелец: МАЦУСИТА ЭЛЕКТРИК ИНДАСТРИАЛ КО., ЛТД.. Дата публикации: 2007-08-20.

Circuit Board Built-In Connector and Catcher

Номер патента: US20090280688A1. Автор: Naoki Shibata,Jinsong Wang,Kouhei Kawada. Владелец: Harada Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Built-in cooking appliance

Номер патента: WO2008082074A1. Автор: Jung-Ho Bae,Soo-Cheol Yi. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2008-07-10.

Component built-in wiring board and manufacturing method of component built-in wiring board

Номер патента: US20080163486A1. Автор: Hiroyuki Hirai,Osamu Shimada,Yuji Yamaguchi,Kenichi Matsumura,Kenji Sasaoka,Yoshitaka Fukuoka,Satoshi Shibazaki,Kazuhiro Shinozaki,Tatsuro Imamura. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2008-07-10.

On-board repeater built-in control system

Номер патента: RU2717092C1. Автор: Анатолий Львович Кунилов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ"). Дата публикации: 2020-03-18.

Circuit board with built-in components and method of manufacturing circuit board with built-in components

Номер патента: EP4380321A1. Автор: Katsuhiro Koizumi. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Built-in component board, method of manufacturing the built-in component board

Номер патента: US20220278045A1. Автор: Takashi Sato,Yasuyuki Yamaguchi,Takashi Kasuga. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-01.

Light device has built-in digital data system for record image, sound

Номер патента: US09845948B2. Автор: Tseng-Lu Chien. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-12-19.

Built-in temperature sensors

Номер патента: EP4325188A3. Автор: Yiching Chen,Zhixing ZHAO,Oscar D. Restrepo. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

System for evaluating built-in video recording device for vehicle

Номер патента: US12063347B2. Автор: Sung Hwan Jun,Kyoung Jun Kim. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Light device has built-in digital data system for record image, sound

Номер патента: US09549110B2. Автор: Tseng-Lu Chien. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Built-in electronic device and method of making built-in electronic devices

Номер патента: RU2471233C2. Автор: Роберт СИНГЛТОН,Лоренс Дж. КЕЙМ. Владелец: Инновейтир, Инк.. Дата публикации: 2012-12-27.

Power adapter with united kingdom and australia interchangeable blade with built-in fuse ip-34 protection

Номер патента: US20240213723A1. Автор: Sadhu Sharan Prasad,Vinayakrishnan Sankaran. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Built-in cross-coupled dielectric filter

Номер патента: US20080018418A1. Автор: Yuqing Zhao. Владелец: Caiqin Electronics Elements Co Ltd. Дата публикации: 2008-01-24.

Built-in cross-coupled dielectric filter

Номер патента: US7612637B2. Автор: Yuqing Zhao. Владелец: Caiqin Electronics Elements Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-03.

Hair styling iron with a built-in bluetooth

Номер патента: US20180303217A1. Автор: Joe Anthony Pena. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-10-25.

Power adapter with united kingdom and australia interchangeable blade with built-in fuse ip-34 protection

Номер патента: WO2024145087A2. Автор: Sadhu Sharan Prasad,Vinayakrishnan Sankaran. Владелец: Baxter Healthcare SA. Дата публикации: 2024-07-04.

Electric lamp with an outer bulb and a built-in lamp and associated production method

Номер патента: US8222812B2. Автор: Roland Becht,Eric Korndoerfer. Владелец: OSRAM GMBH. Дата публикации: 2012-07-17.

Power adapter with united kingdom and australia interchangeable blade with built-in fuse ip-34 protection

Номер патента: WO2024145087A3. Автор: Sadhu Sharan Prasad,Vinayakrishnan Sankaran. Владелец: Baxter Healthcare SA. Дата публикации: 2024-08-08.

Built-in chip resistor for substrate, resistor built-in module, manufacturing method of resistor built-in module, and trimming

Номер патента: US20240347237A1. Автор: Miyahito Kinoshita,Tomoki Iguchi,Kohji Eto,Tomofumi Noguchi. Владелец: Koa Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Substrate with built-in component and method for manufacturing the same

Номер патента: US09408310B2. Автор: Shunsuke CHISAKA. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Electric connector with built-in low-pass filters

Номер патента: RU2600114C2. Автор: Дмитрий Александрович Копылов. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Пензенское Производственное Объединение "Электроприбор" (Оао "По "Электроприбор"). Дата публикации: 2016-10-20.

Liquid-cooling radiating pipe and vacuum interrupter with built-in liquid-cooling radiating pipe

Номер патента: US20240234058A9. Автор: Tao Sun,Zhong Wang,Lihua Zhao,Xiaolong Huang,Zhiyun Wu,Yiwei JI,Shangyu YANG,Shuangwei ZHAO,Shenli JIA,Wenjun NING,Junwen REN. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2024-07-11.

Substrate with built-in electronic component and method for manufacturing substrate with built-in electronic component

Номер патента: US20150163919A1. Автор: Toshiki Furutani,Hisayuki Nakagome. Владелец: Ibiden Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-11.

Built-in speaker module

Номер патента: US20210136485A1. Автор: Dong Myoung Lee,Sang Ho Choi,Yong Seob Seo,Yong Son Park,Jin Cheol Park. Владелец: Ceragem Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-06.

Built-in electric equipment with improved sealing

Номер патента: RU2568558C2. Автор: Жан-Лу КАЙ,Даниель МЮЛЛЬЕ,Филипп БЮИССОН,Кристиан КОМБА. Владелец: Легран Снс. Дата публикации: 2015-11-20.

Consumer battery having a built-in indicator

Номер патента: EP1230709A2. Автор: Dragan Danilo Nebrigic,Vladimir Garstein. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2002-08-14.

Fan motor and heat sink built-in type fan motor

Номер патента: US20020056547A1. Автор: Hiroyuki Shingai,Shinya Minakuchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-16.

Built-in test for an overvoltage protection circuit

Номер патента: US20120187969A1. Автор: Gary L. Hess. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2012-07-26.

Cabinet with built in internal rotating frame

Номер патента: EP1345301A3. Автор: Stuart William Riley. Владелец: Triton Pardubice Spol S Ro. Дата публикации: 2004-06-02.

Wiring board with cavity for built-in electronic component and method for manufacturing the same

Номер патента: US09832878B2. Автор: Keisuke Shimizu,Yuichi Nakamura,Makoto Terui,Ryojiro Tominaga. Владелец: Ibiden Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Component built-in board and method of manufacturing the same, and mounting body

Номер патента: US09560770B2. Автор: Koji Munakata,Shin Hitaka. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Battery with built-in regulator

Номер патента: RU2242065C2. Автор: Владимир ГАРШТЕЙН,Драган Данило НЕБРИГИЧ. Владелец: Дзе Боард оф Трастиз оф дзе Юниверсити оф Иллинойс. Дата публикации: 2004-12-10.

Rubber socket with built-in component

Номер патента: US20240125845A1. Автор: Yun Chan NAM,Seon A. KIM. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

IC built-in connector for power source stabilization having voltage control resistors in heating proximity to the IC

Номер патента: US5233288A. Автор: Taiji Hosaka. Владелец: Yamaichi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 1993-08-03.

MEMS microphone with a built-in textile material protecting screen

Номер патента: US9131315B2. Автор: Marco Mietta,Paolo Canonico. Владелец: SAATI SpA. Дата публикации: 2015-09-08.

Mems microphone with a built-in textile material protecting screen

Номер патента: US20130058509A1. Автор: Marco Mietta,Paolo Canonico. Владелец: SAATI SpA. Дата публикации: 2013-03-07.

Antenna built-in touch panel

Номер патента: US10985450B2. Автор: Shinji Yamagishi,Yasuhiro Sugita,Jean MUGIRANEZA. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Antenna built-in touch panel

Номер патента: US20190036208A1. Автор: Shinji Yamagishi,Yasuhiro Sugita,Jean MUGIRANEZA. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Cylindrical Lithium Battery Cap Sealing Structure with Built-in BMS Board

Номер патента: US20240322314A1. Автор: Jinhui Zeng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-26.

Card with built-in electronic component

Номер патента: US09990577B2. Автор: Jintaro Tatsu. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Built-in antenna device for electronic communication device

Номер патента: US09799964B2. Автор: Se-Ho Kim,Jae-ho Lee,Austin Kim,Dong-Hwan Kim,Byung-Chan Jang,In-Jin Hwang,Kong-Min Sa,Soo-Young JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-24.

Card with built-in electronic component

Номер патента: US09656505B2. Автор: Jintaro Tatsu. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2017-05-23.

Built-in antenna for electronic device

Номер патента: US09608337B2. Автор: Jae-ho Lee,Austin Kim,Dong-Hwan Kim,Seung-Hwan Kim,Jae-Bong Chun,Kyung-Jong Lee,Young-Sung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-28.

Methods for built-in self-measurement of jitter for link components

Номер патента: US09596160B1. Автор: Peng Li,Hsinho Wu,Masashi Shimanouchi. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Optically-controlled switch of millimeter range with built-in light source, based on transmission line with semiconductor substrate

Номер патента: RU2721303C1. Автор: Михаил Николаевич Макурин,Чонгмин ЛИ,Елена Александровна Шепелева. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2020-05-18.

Ultrasonic solid-state lithium battery with built-in ultrasonic vibrating effect

Номер патента: US11923513B2. Автор: Zhijun PENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-05.

Photovoltaic modules having a built-in bypass diode and methods for manufacturing photovoltaic modules having a built-in bypass diode

Номер патента: EP2601686A1. Автор: Kevin Coakley,Jason Stephens,Guleid Hussen. Владелец: ThinSilicon Corp. Дата публикации: 2013-06-12.

Ultrasonic solid-state lithium battery with built-in ultrasonic vibrating effect

Номер патента: US20220246997A1. Автор: Zhijun PENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-08-04.

Method of manufacturing component built-in module and component built-in module

Номер патента: US20120218721A1. Автор: Shigeo Nishimura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-30.

Light device has built-in digital data system for record image, sound

Номер патента: US09970608B2. Автор: Tseng-Lu Chien. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-15.

Switch module of built-in anti-surge disconnection structure

Номер патента: US09805899B2. Автор: Yi-Hsiang Wang,I-Ying Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

Light device has built-in digital data system for record image, sound

Номер патента: US09787885B2. Автор: Tseng-Lu Chien. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-10.

Apparatus and method for controlling built-in microphone of portable terminal

Номер патента: US09456073B2. Автор: Jung-Ho Park,Seung-Yup LEE,Sang-Kyu Park,Soo-Ho SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Image capturing module having a built-in dustproof structure

Номер патента: US09432558B2. Автор: Po-Chih Hsu,Kuo-Hao Peng. Владелец: Lite On Technology Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Rotor for motor with built-in permanent magnets and motor with built-in permanent magnets complete with such rotor

Номер патента: RU2578200C2. Автор: Томонага ИВАТСУ,Йукио КАТАГИРИ,Сусуму ФУДЗИВАРА,Сигеру МОРИКАВА. Владелец: Ниссин Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2016-03-27.

Tire assembly with built-in electric power generation devices

Номер патента: RU2388621C2. Автор: Джон Д. АДАМСОН,Джордж П. О`БРАЙЕН,Джей К. СИННЕТТ. Владелец: МИШЛЕН РЕШЕРШ Э ТЕКНИК С.А.. Дата публикации: 2010-05-10.

Method of the drip etching of the contact platform of the built-in diode of a photo converter

Номер патента: RU2681660C1. Автор: Борис Николаевич Самсоненко. Владелец: Публичное акционерное общество "Сатурн" (ПАО "Сатурн"). Дата публикации: 2019-03-12.

Multi-layer body assembly with the built-in antenna

Номер патента: RU2654302C2. Автор: Телесфор КАМГЕЙНГ,Адель А. ЭЛЬШЕРБИНИ,Торри У. ФРЭНК. Владелец: Интел Корпорейшн. Дата публикации: 2018-05-17.

Turbine machine with built-in starter-generator

Номер патента: RU2321755C2. Автор: Жан-Луи ПИКАР,Мишель ФРАНШЕ. Владелец: Снекма Моторс. Дата публикации: 2008-04-10.

Device and method for pipeline transmission of data having device-built in alarm suppression function

Номер патента: RU2458471C2. Автор: Кимио ОЗАВА. Владелец: Нек Корпорейшн. Дата публикации: 2012-08-10.

Substrate with built-in electronic component

Номер патента: US8964407B2. Автор: Tatsuro Sawatari,Yuichi Sugiyama. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2015-02-24.

Substrate with built-in electronic component

Номер патента: US20140355232A1. Автор: Tatsuro Sawatari,Yuichi Sugiyama. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2014-12-04.

Handpiece with built-in camera and dental treatment method using handpiece

Номер патента: US09930294B2. Автор: Michizo Yamanaka,Takeshi Hasegawa. Владелец: Yoshida Dental Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Switch module with a built-in structure of anti-surge and dual disconnection

Номер патента: US09852869B2. Автор: Yi-Hsiang Wang,I-Ying Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-12-26.

Wall mountable connector with built in jumper functionality

Номер патента: US09774158B2. Автор: Eric Barton,David J. Emmons,Ladislav Janovec. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Wiring board with built-in electronic component and method for manufacturing the same

Номер патента: US09743534B2. Автор: Kota Noda,Mitsuhiro Tomikawa,Nobuhisa Kuroda,Haruhiko Morita. Владелец: Ibiden Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

LED array member and integrated control module assembly with built-in switching converter

Номер патента: US09730284B2. Автор: Michael Neal Gershowitz,Babak Imangholi. Владелец: Xenio Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Information processing system and method for providing built-in fault prediction logic

Номер патента: US09712687B2. Автор: Kiyohiro Hyo. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Construction of multilayer printed circuit boards with built-in heating

Номер патента: RU2677633C1. Автор: Александр Илариевич Сапожников,Сергей Васильевич Казаков,Борис Иванович Иванов,Татьяна Андреевна Жукова,Александра Сергеевна Степанова,Илья Наилевич Яхин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственный центр автоматики и приборостроения имени академика Н.А. Пилюгина" (ФГУП "НПЦАП"). Дата публикации: 2019-01-18.

Solar cell with built-in protective diode

Номер патента: RU2358356C2. Автор: Герхард ШТРОБЛЬ. Владелец: Азур Спэйс Солар Пауэр Гмбх. Дата публикации: 2009-06-10.

Digital radio device with built-in masking of electromagnetic channel of speech information leakage

Номер патента: RU2696019C1. Автор: Владимир Александрович Маковий,Сергей Александрович Ермаков,Сергей Григорьевич Зародин. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Созвездие". Дата публикации: 2019-07-30.

Built-in thermoelectric generator for wireless devices

Номер патента: RU2595326C2. Автор: Дэвид СТРЕЙ,Келли Майкл ОРС. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2016-08-27.

Cut plate for facilitating connection of plugs to plug sockets and plug socket with built-in plate

Номер патента: RU2634691C1. Автор: Атиенза Карлос Виллакорта,Атиенза Хосе Антонио Виллакорта. Владелец: Атиенза Хосе Антонио Виллакорта. Дата публикации: 2017-11-03.

Low-Voltage Alternating Current-Based Led Light With Built-In Cooling And Automatic Or Manual Dimming

Номер патента: US20170264690A1. Автор: Yvette Seifert Hirth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-14.

Low-voltage alternating current-based LED light with built-in cooling and automatic or manual dimming

Номер патента: US10728986B2. Автор: Yvette Seifert Hirth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-07-28.

Built-in light and/or camera

Номер патента: US20210404639A1. Автор: Marcus Eberhardt. Владелец: Herbert Waldmann GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-12-30.

Substrate with built-in component

Номер патента: US11158583B2. Автор: Nobutaka AOKI. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-26.

Method and apparatus for automation of personalized maintenance tasks with built-in simulation and data synchronization support in energy distribution industry or other industry

Номер патента: EP3472797A1. Автор: Soundari Arunachalam,Chandrasekar Reddy MUDIREDDY,Sabyasachi BHATTACHARYYA,Ramesh Jalgama,Shanmugapriya KANAGASABAPATHY. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2019-04-24.

Package with built-in electronic components and electronic device

Номер патента: US20230044252A1. Автор: Yoshihiro Nakata,Yukiko Oshikubo. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-02-09.

Cellular phone with built in optical projector for display of data

Номер патента: EP1368803A4. Автор: Judah Klausner. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-06.

Motor structure with built-in lens

Номер патента: US7522352B2. Автор: Ching-Hsing Huang,Chien-Long Hong,Jen-Hung Chung. Владелец: Foxconn Technology Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-21.

Automatic analog test & compensation with built-in pattern generator & analyzer

Номер патента: WO2006012503A3. Автор: Fa Dai,Charles E Stroud. Владелец: Univ Auburn. Дата публикации: 2006-05-18.

Latency Detection in a Memory Built-In Self-Test by Using a Ping Signal

Номер патента: US20130232385A1. Автор: Kay Hesse,Suresh Periyacheri. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

Logic built-in self-test with high test coverage and low switching activity

Номер патента: US09568552B2. Автор: Janusz Rajski,Xijiang Lin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074934A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Method and apparatus for RF built-in test system for a beamforming module in a radar system

Номер патента: US12111350B2. Автор: Andrew John Bonthron,Wei-Min Kuo,Michael Terry Nilsson,Viktor Yevgenyevich NOVOZHILOV,Phuoc Thanh NGUYEN. Владелец: Metawave Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US09651623B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US09651616B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Optimizing generation of test configurations for built-in self-testing

Номер патента: US09588177B1. Автор: Franco Motika,Andrew A. Turner,Eugene R. Atwood,Mary P. Kusko,Paul J. Logsdon. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A8. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-08-28.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh, Sheau-yang CH'NG. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Isolating Failing Latches Using a Logic Built-In Self-Test

Номер патента: US20140149814A1. Автор: Mack W. Riley,Ra'ed M. Al-Omari,Micheal W. Harper,Cindy Phan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Built-in self-repair wrapper methodology, design flow and design architecture

Номер патента: US20020136066A1. Автор: Johnnie Huang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-26.

Integrated circuit having memory built-in self test (bist) programmable characteristics and method of operation

Номер патента: SG74088A1. Автор: Charles A Brown,Damir Smitlener,Jay D Mcdougal. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2001-01-16.

Test-facilitating circuit using built-in self test circuit

Номер патента: US20030145261A1. Автор: Tetsushi Tanizaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-07-31.

Robust built-in self test circuitry

Номер патента: US20180080986A1. Автор: John B. DeForge,Kirk D. Peterson,Terence B. Hook,Theresa A. Newton. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Built-in self test technique for programmable impedance drivers for RapidChip and ASIC drivers

Номер патента: US20050264314A1. Автор: Kevin Gearhardt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-01.

Built-in-self-test (BIST) test time reduction

Номер патента: US09773570B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Built-in testing in modular system-on-chip device

Номер патента: EP4231152A1. Автор: Xiongzhi NING,Steffen DOLLING,Yuyi Tang. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240280630A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Npu with capability of built-in self-test

Номер патента: US20240321384A1. Автор: Lok Won Kim,Jeong Kyun Yim. Владелец: DeepX Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Device with blockable/un-blockable fluid channels and built-in self-test equipment

Номер патента: US11921126B2. Автор: Mengchu Li,Tsun-Ming Tseng,Ulf Schlichtmann. Владелец: Technische Universitaet Muenchen. Дата публикации: 2024-03-05.

Built-in-self-test and self-repair methods and devices for computer memories comprising a reconfiguration memory device

Номер патента: US20020019957A1. Автор: Yervant Zorian,Hai Quang Pham,Ilyoung Kim,Goh Komoriya,Frank P. Higgins. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Memory interface circuitry and built-in self-testing method

Номер патента: US20240274214A1. Автор: Hyeon Jae Lee,Jeong Ho Bang,Ki Hyung Ryoo,Kwang Rae Cho,Sun Byeong Yoon,Wol Jin LEE. Владелец: Integrated Silicon Solution Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Wrapper cell design and built-in self-test architecture for 3DIC test and diagnosis

Номер патента: US12066490B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20240361385A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Logic built-in self-test system and method for applying a logic built-in self-test to a device under test

Номер патента: US20110221469A1. Автор: Rolf Schlagenhaft. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2011-09-15.

Logic built-in self-test system and method for applying a logic built-in self-test to a device under test

Номер патента: US8461865B2. Автор: Rolf Schlagenhaft. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2013-06-11.

Built-in system and method for testing integrated circuit timing parameters

Номер патента: US7622908B2. Автор: Jongtae Kwak. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2009-11-24.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A4. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-12-15.

Built-in self-test in a data processing apparatus

Номер патента: US20200278395A1. Автор: Kar-Lik Kasim Wong,Christopher Vincent SEVERINO,Joseph Samuel HERD. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2020-09-03.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US09728276B2. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

SYSTEM ON CHIP INCLUDING BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT AND BUILT-IN SELF TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20150074459A1. Автор: HONG Yong-Jun. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

BUILT-IN SELF TEST SYSTEM, SYSTEM ON A CHIP AND METHOD FOR CONTROLLING BUILT-IN SELF TESTS

Номер патента: US20150137841A1. Автор: Staudenmaier Michael,Frank Juergen,THANNER MANFRED,CULSHAW CARL. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-05-21.

Full address coverage during memory array built-in self test with minimum transitions

Номер патента: US9651617B2. Автор: Thomas Jew,David W. Chrudimsky,Edward Bryann C. Fernandez. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Logic Built-In Self-Test with High Test Coverage and Low Switching Activity

Номер патента: US20140365840A1. Автор: Janusz Rajski,Xijiang Lin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Recording of result information in a built-in self-test circuit and method therefor

Номер патента: TW569232B. Автор: James S Ledford,Alex S Yap,Brian E Cook. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2004-01-01.

System and method for calibration and built-in self test of automobile radar system

Номер патента: EP2972468A1. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Autoliv ASP Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074935A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Data processing system with built-in self-test and method therefor

Номер патента: US20170082686A1. Автор: Alexander B. Hoefler,Andrew H. Payne,Chris P. Nappi,Colin MacDonald,Jose A. Lyon. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-03-23.

An analog built-in self-test scheme for high volume power management integrated circuit products

Номер патента: EP4421503A1. Автор: Xicheng Jiang,Shengyuan Li. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Built in shelf test method and apparatus for booth multipliers

Номер патента: US5960009A. Автор: Yervant Zorian,Dimitris Gizopoulos,Antonis Paschalis. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1999-09-28.

Integrated circuit including Built-In Self Test circuit to test memory and memory test method

Номер патента: US20090238018A1. Автор: Yoshitaka Aoki,Yasuyuki Hirasaki,Katsumi Shinbo. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Autonomous built-in self-test for integrated circuits

Номер патента: WO2004088478A3. Автор: Tibor Boros,Veerendra Bhora,Pulakesh Roy. Владелец: Pulakesh Roy. Дата публикации: 2005-04-21.

Reference bits test and repair using memory built-in self-test

Номер патента: US11929136B2. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Jongsin Yun,Harshitha Kodali. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Reference bits test and repair using memory built-in self-test

Номер патента: EP4128242A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Jongsin Yun,Harshitha Kodali. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Integrated circuit including built-in self test circuit to test memory and memory test method

Номер патента: US7876633B2. Автор: Yoshitaka Aoki,Yasuyuki Hirasaki,Katsumi Shinbo. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Built in self test (BIST) for clock generation circuitry

Номер патента: US11821946B2. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Built in self test (bist) for clock generation circuitry

Номер патента: EP4152018A1. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

Software programmable verification tool having multiple built-in self-test (BIST) modules for testing and debugging multiple devices under test (DUT)

Номер патента: US20040073840A1. Автор: Esin Terzioglu,Gil Winograd,Zevnep Toros. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-04-15.

Built-in-self-test für flash speicherzellen

Номер патента: DE60302473D1. Автор: Darlene Hamilton,Azrul Halim,Syahrizal Salleh,S Bill,V Bautista,Fook Lee,Cheong Cheah,Boon Law,Tang Teh,Joseph Kucera. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Built-in self testing of a flash memory

Номер патента: TW200836208A. Автор: Ola Jonsson,Hakan Brink,Daniel Flinck. Владелец: Sony Ericsson Mobile Comm Ab. Дата публикации: 2008-09-01.

Built-in self-test circuit for RAMBUS DRAM

Номер патента: TW425567B. Автор: Shi-Yu Huang,Ding-Ming Kuai. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2001-03-11.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB2511972B. Автор: Comparan Miguel,D Brown Jeffrey,A Shearer Robert,T Watson Alfred Iii. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-20.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801B1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Built-in self-test hierarchy for an integrated circuit

Номер патента: TW200416399A. Автор: Jing Wu,IL-Young Kim,Laurence Reeves,Paul W Rutkowski. Владелец: AGERE SYSTEMS INC. Дата публикации: 2004-09-01.

MEMORY DEVICE WITH BACKGROUND BUILT-IN SELF-TESTING AND BACKGROUND BUILT-IN SELF-REPAIR

Номер патента: US20130173970A1. Автор: Patel Jay,Kleveland Bendik,Sikdar Dipak K.,Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2013-07-04.

MEMORY DEVICE WITH BACKGROUND BUILT-IN SELF-REPAIR USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TESTING

Номер патента: US20140317460A1. Автор: Patel Jay,Kleveland Bendik,Sikdar Dipak K.,Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2014-10-23.

Method and apparatus for exercising external memory with a memory built-in self-test

Номер патента: EP1242998A1. Автор: Sie Boo Chiang,Beng Chew Khou,Jacques Wong. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-09-25.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: US20140185393A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Method and apparatus for exercising external memory with a memory built-in self-test

Номер патента: WO2001050474A1. Автор: Sie Boo Chiang,Beng Chew Khou,Jacques Wong. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2001-07-12.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB201410749D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-30.

RRAM controller built in self test memory

Номер патента: US20070091702A1. Автор: Andrey Nikitin,Alexander Andreev,Ilya Neznanov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2007-04-26.

Memory module and memory component built-in self test

Номер патента: AU2001290935A1. Автор: John Halbert,Randy Bonella. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2002-04-02.

Memory module and memory component built-in self test and methods thereof

Номер патента: HK1063264A1. Автор: John Halbert,Randy Bonella. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-12-17.

Method for performing built-in self-tests and electronic circuit

Номер патента: GB201319034D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-12-11.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801C0. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Systems and methods for built-in self test of low dropout regulators

Номер патента: US09933802B1. Автор: Jae Woong Jeong,Leroy Winemberg,Ender Yilmaz. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Built-in self-test (bist) circuit

Номер патента: US5230000A. Автор: Charles E. Stroud,Kenneth D. Mozingo. Владелец: AT&T Bell Laboratories Inc. Дата публикации: 1993-07-20.

Built-in self test circuit for segmented static random access memory (sram) array input/output

Номер патента: US20240071546A1. Автор: Promod Kumar,Harsh Rawat,Kedar Janardan Dhori,Nitin Chawla,Bhupender Singh,Hitesh Chawla,Manuj Ayodhyawasi,Tanuj KUMAR. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-29.

Built-in self test for one-time-programmable memory

Номер патента: US8508972B2. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-08-13.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20120092916A1. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2012-04-19.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20130294143A1. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-11-07.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240019485A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20220365135A1. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Enhanced direct current (DC) built-in-self-test (BIST) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US12007432B2. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Built-in self-test for die-to-die physical interfaces

Номер патента: US11940491B2. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20230384377A1. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

SYSTEM CHIP, AND BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SELF-TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200096565A1. Автор: Lin I-Hsueh,Liu Chia-Min. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

System chip, built-in self-test circuit and self-test method thereof

Номер патента: CN111025132B. Автор: 林宜学,刘佳旻. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2022-02-15.

System chip, and built-in self-test circuit and self-test method thereof

Номер патента: TWI674423B. Автор: 林宜學,劉佳旻. Владелец: 瑞昱半導體股份有限公司. Дата публикации: 2019-10-11.

Programmable memory built-in self-test combining microcode and finite state machine self-test

Номер патента: JP3640350B2. Автор: アール・ディーン・アダムス,トーマス・ジェイ・エッケンロード,スティーブン・エル・グレゴー,カムラン・ザリニー. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-04-20.

Built-in self test circuit and self test method for parallel plate capacitive MEMS (Micro-Electro-Mechanical-System) accelerometer

Номер патента: CN105823907A. Автор: 李佳,余丹. Владелец: Jiangsu IoT Research and Development Center. Дата публикации: 2016-08-03.

Software programmable verification tool having a single built-in self-test (BIST) module for testing and debugging multiple memory modules in a device under test (DUT)

Номер патента: US7519862B2. Автор: Zeynep M. Toros,Esin Terzioglu,Gil Winograd. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-04-14.

Multi-phase logic built-in self-test observation scan technology

Номер патента: WO2024076370A1. Автор: Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Jedrzej Solecki,Yingdi Liu. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-04-11.

Built-in self test circuit for segmented static random access memory (sram) array input/output

Номер патента: US20240069096A1. Автор: Promod Kumar,Harsh Rawat,Kedar Janardan Dhori,Nitin Chawla,Bhupender Singh,Hitesh Chawla,Manuj Ayodhyawasi,Tanuj KUMAR. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-29.

Built-in-self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US9881694B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Method of testing memory device, memory built-in self test (mbist) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US20220113889A1. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-14.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20230366930A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Path-based crosstalk fault test scanning in built-in self-testing

Номер патента: US20140095951A1. Автор: Xiao Liu,Nisar Ahmed,Corey Jason Goodrich,Chris Therrien. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

TEST SYSTEM FOR EXECUTING BUILT-IN SELF-TEST IN DEPLOYMENT FOR AUTOMOTIVE APPLICATIONS

Номер патента: US20200075116A1. Автор: Kalva Anitha,Wu Jue. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT

Номер патента: US20140185393A1. Автор: ONG Wei-Kent,ONG Mee-Choo,"Chng Sheau-Yang",Teoh Boon-Weng,Lau Sie Wei Henry,Beh Jih Hong. Владелец: Spansion, LLC.. Дата публикации: 2014-07-03.

Array-built-in-self-test(abist) for efficient, fast, bitmapping of large embedded arrays in manufacturing test

Номер патента: KR100447910B1. Автор: 헤슬립제이지.,메이어개리더블유.,살렘제라드엠.,본레인티모시제이.. Владелец: 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션. Дата публикации: 2004-09-13.

Device and method for subarray testing in dynamic random access memory using built-in self-test device

Номер патента: KR100480852B1. Автор: 데니 알. 클린,데오 제이. 포웰,히 퀑 후아,와 킷 로. Владелец: 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드. Дата публикации: 2005-07-07.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11424000B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2022-08-23.

Test Generator For Low Power Built-In Self-Test

Номер патента: US20120272110A1. Автор: Jerzy Tyszer,Benoit Nadeau-Dostie,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170074935A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

Low Cost Built-in-Self-Test Centric Testing

Номер патента: US20200088790A1. Автор: Chi YUAN,Peter BALUN. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test

Номер патента: US20210156918A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Mukherjee Nilanjan,Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Rybak Lukasz. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

TESTING READ-ONLY MEMORY USING MEMORY BUILT-IN SELF-TEST CONTROLLER

Номер патента: US20200135290A1. Автор: Singh Jasbir,Narayanan Prakash,NARESH Nikita,INUGANTI Prathyusha Teja,YARADUYATHINAHALLI Rakesh Channabasappa,ACHARYA Aravinda,NARAYANAN Naveen Ambalametil. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

BUILT-IN-SELF-TEST LOGIC, MEMORY DEVICE WITH SAME, AND MEMORY MODULE TESTING METHOD

Номер патента: US20220293205A1. Автор: Lee Yong Ki,Kim Jaehyeok,OH Eunhye,KIM GAPKYOUNG,PARK TAEWOOK. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

Built-in-self-test (bist) test time reduction

Номер патента: US20140258797A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

TEST CONTROL POINT INSERTION AND X-BOUNDING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST (LBIST) USING OBSERVATION CIRCUITRY

Номер патента: US20140258798A1. Автор: AHMED NISAR,Shofner,JR. Orman G.. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-09-11.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170176531A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170176532A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) TEST TIME REDUCTION

Номер патента: US20170229191A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

METHOD AND SYSTEM FOR REDUCING MEMORY TEST TIME UTILIZING A BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE

Номер патента: US20150262710A1. Автор: Chakravarty Sreejit. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2015-09-17.

Logic Built-In Self-Test with High Test Coverage and Low Switching Activity

Номер патента: US20140365840A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Lin Xijiang. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

OPHTHALMIC DEVICE WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY FOR TESTING AN ADJUSTABLE LENS

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Lee Shungneng. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180286491A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

Configurable Test Address And Data Generation For Multimode Memory Built-In Self-Testing

Номер патента: US20150310933A1. Автор: Chakraborty Kanad,Purushotham Naveen,Ratchen Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

CONDITIONAL ACCESS CHIP, BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20170336472A1. Автор: TSAI Shang-Ta,WENG PEI-EN,LU TSUNG-TA. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20190348137A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

OPHTHALMIC DEVICE WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY FOR TESTING AN ADJUSTABLE LENS

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Lee Shungneng. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

TESTING READ-ONLY MEMORY USING MEMORY BUILT-IN SELF-TEST CONTROLLER

Номер патента: US20200388346A1. Автор: Singh Jasbir,Narayanan Prakash,NARESH Nikita,INUGANTI Prathyusha Teja,YARADUYATHINAHALLI Rakesh Channabasappa,ACHARYA Aravinda,NARAYANAN Naveen Ambalametil. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Deterministic test pattern generator for built-in self test

Номер патента: KR100444763B1. Автор: 강용석,강성호. Владелец: 강성호. Дата публикации: 2004-08-21.

Semiconductor memory circuit with built-in self-test and self-repair

Номер патента: DE60001291T2. Автор: Tomoya Kawagoe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-10-02.

Built-in self-test circuit using multiple input signature register, especially securing maximal test points

Номер патента: KR100455373B1. Автор: 이동순. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-01-17.

Built-in self-testing device and testing method of MEMS piezoresistive sensor

Номер патента: CN111238698B. Автор: 陈大鹏,李佳,王玮冰,朱曼红. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2021-10-22.

Interruptible non-destructive run-time built-in self-test for field testing

Номер патента: US8799713B2. Автор: Swathi Gangasani,Srinivasulu Alampally,Prohor Chowdhury,Srinivasa B S Chakravarthy,Padmini Sampath,Rubin Ajit Parekhji. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-08-05.

Method and Apparatus for Testing a Ring of Non-Scan Latches with Logic Built-in Self-Test

Номер патента: US20080250290A1. Автор: Louis Bernard Bushard,Nathan Paul Chelstrom,Naoki Kiryu,David John Krolak. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Self-repairing built-in self test for linked list memories

Номер патента: US6781898B2. Автор: Hyung Won Kim,Chuen-Shen Shung. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-08-24.

Method and apparatus for testing a ring of non-scan latches with logic built-in self-test

Номер патента: US7406640B2. Автор: Louis Bernard Bushard,Nathan Paul Chelstrom,Naoki Kiryu,David John Krolak. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-07-29.

Test pattern generation circuit and generation method for built in self test circuit

Номер патента: JP2003030000A. Автор: Yoshihiro Nagura,Yukikazu Matsuo,幸和松尾,義博名倉. Владелец: Renesas Semiconductor Engineering Corp. Дата публикации: 2003-01-31.

Array self repair using built-in self test techniques

Номер патента: US20060174175A1. Автор: Pradip Patel,Franco Motika,Daniel Rodko,William Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-08-03.

Conditional access chip, its built-in self-test circuit and method of testing

Номер патента: CN107492395A. Автор: 蔡尚达,翁培恩,吕宗达. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2017-12-19.

Trajectory-optimized test pattern generation for built-in self-test

Номер патента: US11585853B2. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski,Lukasz Rybak. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-02-21.

Method, system, and program product for boundary I/O testing employing a logic built-in self-test of an integrated circuit

Номер патента: US20060095820A1. Автор: Jay Herring,Marvin Rich. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-04.

Self-contained built-in self-test circuit with phase-shifting abilities for high-speed receivers

Номер патента: US20230055935A1. Автор: Glen A. Wiedemeier,Chad Andrew Marquart,Nathan Ross Blanchard,Venkat Harish Nammi,Dereje Yilma,Jeffrey Kwabena Okyere,Erik English,Christopher STEFFEN,Vikram B. Raj,Michael Wayne Harper. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Test interface for random access memory (RAM) built-in self-test (BIST)

Номер патента: US7490279B1. Автор: Rahul Kumar,Partha Ray,Suryanarayana R. Maturi. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: US10818374B2. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-10-27.

Built-in self test for memory interconnect testing

Номер патента: US20050080581A1. Автор: David Zimmerman,Jay Nejedlo. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US20090100305A1. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2009-04-16.

Method and apparatus for testing a ring of non-scan latches with logic built-in self-test

Номер патента: US20070234159A1. Автор: Naoki Kiryu,Louis Bushard,Nathan Chelstrom,David Krolak. Владелец: Toshiba America Electronic Components Inc. Дата публикации: 2007-10-04.

System and method including built-in self test (BIST) circuit to test cache memory

Номер патента: US8127184B2. Автор: Baker Mohammad. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-02-28.

Built-in-self-test logic, memory device with same, and memory module testing method

Номер патента: US20240021261A1. Автор: Jaehyeok Kim,Yong Ki Lee,Eunhye OH,Gapkyoung Kim,Taewook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Method and structure for picosecond-imaging-circuit-analysis based built-in-self-test diagnostic

Номер патента: US20050188290A1. Автор: Peilin Song,Franco Motika. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-08-25.

Automated tests for built-in self test

Номер патента: TW200636266A. Автор: Xin Guo,Darlene Hamilton,Kendra Nguyen,Mi-Mi Lee,Ken-Cheong Cheah. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2006-10-16.

Built-in-self-test logic, memory device with same, and memory module testing method

Номер патента: US11804276B2. Автор: Jaehyeok Kim,Yong Ki Lee,Eunhye OH,Gapkyoung Kim,Taewook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-31.

Partial-Scan Built-In Self-Testing Circuit Having Improved Testability

Номер патента: CA2119226A1. Автор: Chih-Jen Lin. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1994-11-18.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Method, system, and program product for controlling test data of a logic built-in self-test of an integrated circuit

Номер патента: US20060107149A1. Автор: Jay Herring,Marvin Rich. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-18.

Generation of test sequences during memory built-in self testing of multiple memories

Номер патента: US7788563B2. Автор: Ranko Scepanovic,Alexandre E. Andreev,Anatoli A. Bolotov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2010-08-31.

Debugger based memory dump using built in self test

Номер патента: EP2619672A1. Автор: Paul F. Policke,Paul Douglas Bassett,Hong S. Kim. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-07-31.

Circuits, systems, and methods for external evaluation of microprocessor built-in self-test

Номер патента: US6061811A. Автор: John M. Johnsen,James O. Bondi,Donald E. Steiss,Joel J. Graber. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2000-05-09.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US20160093401A1. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-03-31.

Latency Detection in a Memory Built-In Self-Test by Using a Ping Signal

Номер патента: US20130232385A1. Автор: Hesse Kay,Periyacheri Suresh. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2013-09-05.

BUILT-IN-SELF-TEST USING EMBEDDED MEMORY AND PROCESSOR IN AN APPLICATION SPECIFIC INTERGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20140068333A1. Автор: Taylor Richard D.,Montierth Mark D.,Bodily Melvin D.,Zimmerman Gary,Marshall John D.. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180053566A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180061509A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20200075119A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

ENCODER BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT APPLIED IN FLASH MEMORY CONTROLLER AND ASSOCIATED METHOD

Номер патента: US20200118641A1. Автор: Yang Tsung-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

Built-In-Self-Test Circuits And Methods In Sectors Of Integrated Circuits

Номер патента: US20220277799A1. Автор: Khor Kok Wah. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2022-09-01.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US20160178696A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-06-23.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192054A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192055A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192057A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

Apparatus And Method Of RF Built In Self-Test (RFBIST) In A Radar System

Номер патента: US20210263147A1. Автор: ARKIND Noam,Bauer Abraham. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

METHODS AND CIRCUITRY FOR BUILT-IN SELF-TESTING OF CIRCUITRY AND/OR TRANSDUCERS IN ULTRASOUND DEVICES

Номер патента: US20210325349A1. Автор: Chen Chao,Chen Kailiang,Sanchez Nevada J.,Kook Youn-Jae,Lutsky Joseph,Soleimani Hamid,Lee Jihee,Chiu Leung Kin,Schaetz Sebastian. Владелец: Butterfly Network, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US20170285104A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

BUILT-IN SELF-TEST IN A DATA PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20200278395A1. Автор: SEVERINO Christopher Vincent,WONG Kar-Lik Kasim,HERD Joseph Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20180306858A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-25.

Built-in self-test (bist) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US20190378587A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Combined processor access and built in self test in hierarchical memory systems

Номер патента: US7844867B1. Автор: Sudhakar Reddy,Gary Depelteau. Владелец: Netlogic Microsystems Inc. Дата публикации: 2010-11-30.

Encoder built-in self-test circuit applied in flash memory controller and associated method

Номер патента: US11373723B2. Автор: Tsung-Chieh Yang. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2022-06-28.

Apparatus and method of rf built in self-test (rfbist) in a radar system

Номер патента: WO2020016879A1. Автор: Abraham Bauer,Noam ARKIND. Владелец: Arbe Robotics Ltd.. Дата публикации: 2020-01-23.

Built-in self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US11295829B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

Dft technique for avoiding contention/conflict in logic built-in self-test

Номер патента: US20030053358A1. Автор: Sandip Kundu,Sanjay Sengupta,Rajesh Galivanche. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

At-speed bitmapping in a memory built-in self-test by locking an n-th failure

Номер патента: US20100223511A1. Автор: Kay Hesse,Markus Seuring,Kai Eichhorn. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2010-09-02.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US10598727B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-24.

Encoder built-in self-test circuit applied in flash memory controller and associated method

Номер патента: TWI677876B. Автор: Tsung-Chieh Yang,楊宗杰. Владелец: 慧榮科技股份有限公司. Дата публикации: 2019-11-21.

Internally controlling and enhancing logic built-in self test in a multiple core microprocessor

Номер патента: US8122312B2. Автор: Michael S. Floyd,Robert B. Gass,Joshua D. Friedrich,Norman K. James. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-02-21.

Procedures for entry to and exit from a built-in-self-test unit in a semiconductor memory

Номер патента: TW351812B. Автор: Kuong-Hua Hii,Danny R Cline,Theo L Powell. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-02-01.

Mechanisms for built-in self test and repair for memory devices

Номер патента: US20130021861A1. Автор: Volodymyr SHVYDUN,Saman M. I. Adham. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-24.

GENERIC MARCH ELEMENT BASED MEMORY BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20130086440A1. Автор: Hamdioui Said,Al-Ars Zaid,Gaydadjiev Georgi Nedeltchev,Van de Goor Adrianus. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2013-04-04.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT APPLIED TO HIGH SPEED I/O PORT

Номер патента: US20130194876A1. Автор: Chen Yu-Lin,Liu Hsian-Feng,Chen Chung-Ching. Владелец: MStar Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2013-08-01.

INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY HAVING ENHANCED FEATURES AND METHODS

Номер патента: US20130205179A1. Автор: Chen Wei-yu,Badgett Kevin,Hesse Kay. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2013-08-08.

Deeply pipelined integrated memory built-in self-test (bist) system and method

Номер патента: US20130223168A1. Автор: Gary L. Taylor,Rosalee D. Gunderson. Владелец: Avago Technologies Enterprise IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20130294143A1. Автор: Samuels Howard R.,Kelly Thomas W.,Lee James M.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

STRUCTURE OF BUILT-IN SELF-TEST FOR PRESSURE TESTER AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20140083158A1. Автор: Cheng Wei-Jen. Владелец: KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD. Дата публикации: 2014-03-27.

Method and Apparatus for Optimizing Memory-Built-In-Self Test

Номер патента: US20140089874A1. Автор: Norman Card,Steven Gregor,Puneet Arora,Navneet Kaushik. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2014-03-27.

DIAGNOSING FAILURE LOCATIONS OF AN INTEGRATED CIRCUIT WITH LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180003768A1. Автор: Douskey Steven M.,Kaufer Amanda R.,PFEIFER PASTEL LEAH MARIE. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2018-01-04.

METHOD AND APPARATUS FOR BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20200003830A1. Автор: Lu Ming,WANG Juncheng,Chiang Patrick Yin,Bai Rui,Chen Xuefeng,Ma Jianxu. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

Device with Blockable/Un-Blockable Fluid Channels and Built-In Self-Test Equipment

Номер патента: US20220011329A1. Автор: Li Mengchu,Tseng Tsun-Ming,Schlichtmann Ulf. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-13.

Built-in self-test (bist) engine

Номер патента: US20170018313A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-19.

METHOD AND SYSTEM FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20160025808A1. Автор: JINDAL ANURAG,Jindal Amit,Singh Nitin. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2016-01-28.

BUILT-IN SELF TEST FOR A/D CONVERTER

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Jin Xiankun,Stachew Mark. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

LOGIC-BUILT-IN-SELF-TEST DIAGNOSTIC METHOD FOR ROOT CAUSE IDENTIFICATION

Номер патента: US20160033570A1. Автор: Forlenza Donato O.,Forlenza Orazio P.,Robbins Bryan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

LOGIC-BUILT-IN-SELF-TEST DIAGNOSTIC METHOD FOR ROOT CAUSE IDENTIFICATION

Номер патента: US20160033571A1. Автор: Forlenza Donato O.,Forlenza Orazio P.,Robbins Bryan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

LOGIC BUILT-IN SELF-TEST (LBIST) WITH PIPELINE SCAN ENABLE LAUNCH ON SHIFT (LOS) FLIP-FLOP CIRCUIT

Номер патента: US20180031631A1. Автор: Srinivasan Venkata Narayanan,GUPTA Tripti. Владелец: STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.. Дата публикации: 2018-02-01.

DYNAMIC BUILT-IN SELF-TEST SYSTEM

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Douskey Steven M.,Hamilton Michael J.,Kaufer Amanda R.,Fitch Ryan A.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-05.

Built-In-Self-Test Circuits And Methods Using Pipeline Registers

Номер патента: US20190043601A1. Автор: Tan Tze Sin. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-02-07.

SCALABLE BUILT-IN SELF TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20140132291A1. Автор: GORTI ATCHYUTH K.,Somachudan Archana. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

Isolating Failing Latches Using a Logic Built-In Self-Test

Номер патента: US20140149814A1. Автор: Riley Mack W.,"Al-omari Raed M.",Harper Micheal W.,Phan Cindy. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-29.

BUILT-IN SELF-TEST FOR BIT-WRITE ENABLED MEMORY ARRAYS

Номер патента: US20210074376A1. Автор: Huott William,Rodko Daniel,Patel Pradip,Hyde Matthew Steven. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

FUNCTIONAL BUILT-IN SELF TEST FOR A CHIP

Номер патента: US20140156253A1. Автор: Tremaine Robert B.,Mcilvain Kevin M.,Van Huben Gary. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

ROBUST BUILT-IN SELF TEST CIRCUITRY

Номер патента: US20180080986A1. Автор: Peterson Kirk D.,Hook Terence B.,DeForge John B.,Newton Theresa A.. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

DATA PROCESSING SYSTEM WITH BUILT-IN SELF-TEST AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20170082686A1. Автор: Hoefler Alexander B.,MacDonald Colin,LYON JOSE A.,NAPPI CHRIS P.,PAYNE ANDREW H.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

BUILT-IN SELF-TEST FOR STACKED MEMORY ARCHITECTURE

Номер патента: US20140164833A1. Автор: Kobla Darshan,Zimmerman David,Natarajan Vimal K.. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-12.

BUILT-IN SELF TEST FOR AN ARRAY OF CIRCUIT ELEMENTS

Номер патента: US20200081058A1. Автор: Schmalzl Erwin. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US20160093401A1. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-03-31.

FULL ADDRESS COVERAGE DURING MEMORY ARRAY BUILT-IN SELF TEST WITH MINIMUM TRANSITIONS

Номер патента: US20170092380A1. Автор: Jew Thomas,Chrudimsky David W.,FERNANDEZ Edward Bryann C.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

FAILING ADDRESS REGISTERS FOR BUILT-IN SELF TESTS

Номер патента: US20210098069A1. Автор: Miller Thomas E.,Srinivasan Uma,Fredeman Gregory J.,Hyde Matthew Steven,KNIPS THOMAS J.. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

METHOD AND APPARATUS FOR ON-THE-FLY MEMORY CHANNEL BUILT-IN-SELF-TEST

Номер патента: US20150106673A1. Автор: Chen Chao Yu,Huang Jung Chi,Hu Wen Hsuan. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

MECHANISMS FOR BUILT-IN SELF TEST AND REPAIR FOR MEMORY DEVICES

Номер патента: US20150109848A1. Автор: ADHAM Saman M. I.,HUNG Chao-Jung. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

3D BUILT-IN SELF-TEST SCHEME FOR 3D ASSEMBLY DEFECT DETECTION

Номер патента: US20140189456A1. Автор: Loh Siang Poh,Lim Chooi Pei. Владелец: Altera Corporation. Дата публикации: 2014-07-03.

ENHANCED MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE FOR DE-FEATURED MEMORIES

Номер патента: US20170110204A1. Автор: Tiwari Rajesh,Bhat Shankarnarayan,Bhat Anand,Anand Ashutosh,BHUSHAN SINGH Nishi,Kothiala Abhinav. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20170110205A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

BYTE ENABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) ALGORITHM

Номер патента: US20190115091A1. Автор: Jung Chulmin,AHMED Fahad,Seok Greg. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

DYNAMIC WEIGHT SELECTION PROCESS FOR LOGIC BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20210156910A1. Автор: Motika Franco,Kusko Mary P.,Atwood Eugene. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

Logic built-in self test dynamic weight selection method

Номер патента: US20210156911A1. Автор: Franco Motika,Mary P. Kusko,Eugene Atwood. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150154095A1. Автор: Kang Hee-Won. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2015-06-04.

BUILT-IN SELF-TEST FOR EMBEDDED SPIN-TRANSFER TORQUE MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY

Номер патента: US20180151246A1. Автор: Rajamani Karthick,Sethuraman Saravanan,Hunter Hillery C.,Healy Michael B.,Mukundan Janani. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Method for performing built-in self-tests and electronic circuit

Номер патента: US20150162097A1. Автор: ECKERT Martin,Torreiter Otto,Zoelin Christian. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

MEMORIES HAVING A BUILT-IN SELF-TEST (BIST) FEATURE

Номер патента: US20150162098A1. Автор: Silveira Reinaldo,SPRUTH HENNING F.,Qureshi Qadeer A.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

DESIGN-BASED WEIGHTING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20150168489A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Cook Gregory J.,Koprowski Timothy J.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-18.

DESIGN-BASED WEIGHTING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20150169423A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Cook Gregory J.,Koprowski Timothy J.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-06-18.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT, MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD OF OPERATING THE BIST CIRCUIT

Номер патента: US20170162276A1. Автор: SHIN Sang-Hoon,PARK Ki-Hyun,PARK Yong-Sik,OK Seung-Ho,Zhang Pyung-moon. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

MEMORY DEVICE AND BUILT-IN SELF TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200152285A1. Автор: NAKAOKA Yuji. Владелец: WINBOND ELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2020-05-14.

ADJUSTABLE BED FOUNDATION SYSTEM WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20140250597A1. Автор: CHEN YI-CHING,Stusynski Stacy,McGuire John. Владелец: SELECT COMFORT CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-11.

System And Method For Calibration And Built-In Self Test Of Automobile Radar System

Номер патента: US20140266865A1. Автор: Doyle Scott B.. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Built-in self-test (bist) circuit, memory device including the same, and method of operating the bist circuit

Номер патента: US20190180837A1. Автор: Yong-Sik Park,Sang-Hoon Shin,Ki-Hyun Park,Pyung-Moon Zhang,Seung-Ho OK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-13.

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY BUILT-IN SELF-TEST POWER FAIL MITIGATION

Номер патента: US20200176072A1. Автор: NALE Bill. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281717A1. Автор: AHMED NISAR. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281778A1. Автор: JINDAL ANURAG,AHMED NISAR,Mahajan Nipun. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

MEMS PEIZOELECTRIC ACCELEROMETER WITH BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20170205440A1. Автор: Zhang Weibin,Huynh Cuong Tho,McTighe James Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-20.

A CIRCUIT ARRANGEMENT FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST OF A SEMICONDUCTOR DEVICE AND A METHOD OF OPERATING SUCH CIRCUIT ARRANGEMENT

Номер патента: US20150219717A1. Автор: AHRENS HEIKO,RICHTER Bernhard,Latzel Claudia. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-08-06.

FULL ADDRESS COVERAGE DURING MEMORY ARRAY BUILT-IN SELF-TEST WITH MINIMUM TRANSITIONS

Номер патента: US20170213601A1. Автор: Jew Thomas,Strauss Timothy J.,Shao Botang,FERNANDEZ Edward Bryann C.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

Memory Built-In Self Test System

Номер патента: US20160224450A1. Автор: Gorman Kevin W.,Chadwick Thomas,Pratt Nancy. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

DATA PROTECTION FOR MEMORY WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20170220443A1. Автор: Broutin Mickael,ANQUET Nicolas,Lelievre Benoit. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Apparatus for memory built-in self-test with error detection and correction code awareness

Номер патента: US20190227121A1. Автор: Asad Azam,R Selvakumar Raja Gopal,Kaitlyn Chen. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Deterministic Built-In Self-Test

Номер патента: US20160245863A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Rybak Lukasz,Solecki Jedrzej. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-25.

BUILT-IN SELF-TEST FOR A RADAR UNIT RECEIVER AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20190242973A1. Автор: SCHAT Jan-Peter,Zanati Abdellatif. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

ADDRESS WINDOWING FOR AT-SPEED BITMAPPING WITH MEMORY BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20140359383A1. Автор: Rodriguez Geovanny,Vincent Brian J.,Vonreyn Timothy J.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT

Номер патента: US20160306010A1. Автор: Li Ming. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20160307644A1. Автор: Kang Hee-Won. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

INTERFACE CHIP AND BUILT-IN SELF-TEST METHOD THEREFOR

Номер патента: US20160313399A1. Автор: LIN YU-LUNG,LIN Po-Chou. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-27.

EMBEDDED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUITRY FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR (DSP) VALIDATION

Номер патента: US20170328951A1. Автор: Liew Weng Hong. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST ERROR CORRECTING CODE (MBIST ECC) FOR LOW VOLTAGE MEMORIES

Номер патента: US20200321070A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Chickanosky Valerie H.,HANAGANDI Deepak I.,LODHA Kalpesh R.. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20160365156A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-15.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST FOR A DATA PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20150371718A1. Автор: Aitken Robert Campbell,PATHIRANE Chiloda Ashan Senerath,BECKER Alan Jeremy. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20220365135A1. Автор: FORESTIER Arnaud J.,Mehta Vikram,Faure Fabien S.. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

독자적 지연장애 내장자체테스트방법 및 장치 [robust delay fault built-in self-testing method and apparatus]

Номер патента: KR950703767A. Автор: 마이클 엘. 부쉬넬,임티어즈 셰이크. Владелец: 러트거스 유니버시티. Дата публикации: 1995-09-20.

Method and apparatus for built-in self-test

Номер патента: CN110446935B. Автор: 陈学峰,陆明,姜培,马建旭,白睿,王俊成. Владелец: Photonic Technologies Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Functional built-in self test for a chip

Номер патента: US9384108B2. Автор: Kevin M. McIlvain,Robert B. Tremaine,Gary Van Huben. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Fault Repair Circuit with Built-in Self Test Circuit and Defect Repair Method Using the Same

Номер патента: KR19990069338A. Автор: 최용진. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-09-06.

Redundancy circuit having built-in self test circuit and repair method using the same

Номер патента: KR100265765B1. Автор: 최용진. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2000-10-02.

Mixed signal integrated circuit, with built in self test and method

Номер патента: US20110181312A1. Автор: Chris Ouslis,Scott Howe. Владелец: FRESCO MICROCHIP Inc. Дата публикации: 2011-07-28.

Mems sensor with built-in self-test

Номер патента: US20100145660A1. Автор: Christoph Lang,Udo-Martin Gomez,Valdimir Petkov. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2010-06-10.

Configurable and memory architecture independent memory built-in self test

Номер патента: US6760872B2. Автор: Jay K. Gupta,Somnath Paul. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2004-07-06.

Dram memory controller with built-in self test and methods for use therewith

Номер патента: CN102385560A. Автор: R·古普塔,C-C·叶. Владелец: ViXS Systems Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

Integrated circuit with built-in self-test device

Номер патента: DE19835258A1. Автор: Robert Kaiser,Florian Schamberger,Hans-Juergen Krasser. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2000-02-10.

Method and system for performing built-in self-test routines using an accumulator to store fault information

Номер патента: US7260758B1. Автор: Ghasi R. Agrawal,William Schwarz,Mukesh K. Puri. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2007-08-21.

Built in self test for input/output characterization

Номер патента: US7814386B2. Автор: JOHN Joseph SEIBOLD,Vinay B. Jayaram,Elie Torbey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Built-in self-test for stacked memory architecture

Номер патента: CN104205233A. Автор: D.科布拉,D.齐默曼,V.K.纳塔拉简. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-12-10.

Lowering power consumption during logic built-in self-testing (LBIST) via channel suppression

Номер патента: US7793184B2. Автор: Steven M. Douskey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-09-07.

System, method, and device including built-in self tests for communication bus device

Номер патента: US7865773B2. Автор: Bryan J. Thornley,Craig Chaiken,Vinod Makhija,Andrew O'Rourke. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2011-01-04.

Built-in self-test for logic circuitry at memory array output

Номер патента: KR0174340B1. Автор: 폴 코너 존,터르넬로 주니어 루이지. Владелец: 윌리엄 티. 엘리스. Дата публикации: 1999-04-01.

Built-in self test (BIST) architecture having distributed interpretation and generalized command protocol

Номер патента: US7814380B2. Автор: David W. Hansquine,Roberto Fabian Averbuj. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Method and system of fast clearing of memory using a built-in self-test circuit

Номер патента: WO2008100495A1. Автор: Lewis Adams,Alan Herring. Владелец: GainSpan Corporation. Дата публикации: 2008-08-21.

Techniques for logic built-in self-test diagnostics of integrated circuit devices

Номер патента: US7856582B2. Автор: Daniel W. Cervantes,Robert B. Gass,Joshua P. Hernandez,Timothy M. Skergan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-12-21.

Built-in self-test technique and system for conteni-addressable memory

Номер патента: KR940011427B1. Автор: 조리안 에반트. Владелец: 알.비.레비. Дата публикации: 1994-12-15.

Built-in self test system and method for two-dimensional memory redundancy allocation

Номер патента: US20040225939A1. Автор: R. Adams,Thomas Eckenrode,Steven Gregor,Gary Koch. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-11-11.

Weighted random pattern built-in self-test

Номер патента: KR100309537B1. Автор: 프란코 모티카,스티븐 브이 파테라스,존 제임스 슈셰레바. Владелец: 포만 제프리 엘. Дата публикации: 2001-11-30.

Built-in self-test circuit applied to high speed I/O port

Номер патента: US8773932B2. Автор: Yu-Lin Chen,Hsian-Feng Liu,Chung-ching Chen. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2014-07-08.

Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus

Номер патента: EP0663092A1. Автор: Michael L. Bushnell,Imtiaz Cook Campus Shaik. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 1995-07-19.

Memory built-in self test (MBIST) circuitry configured to facilitate production of pre-stressed integrated circuits and methods

Номер патента: US8468408B2. Автор: Wei-Yu Chen,Kevin Badgett,Kay Hessee. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2013-06-18.

Method of improving logical built-in self test (LBIST) AC fault isolations

Номер патента: US7376875B2. Автор: Rolf Hilgendorf,Thomas Pflueger,Johannes Koesters. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-05-20.

Microcontroller for logic built-in self test (LBIST)

Номер патента: US7490280B2. Автор: Steven F. Oakland,Gary D. Grise,David E. Lackey,Donald L. Wheater. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Automatically extensible addressing for shared array built-in self-test (abist) circuitry

Номер патента: US20090249146A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Valerie H. Chickanosky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Built-in self-testing for double data rate input/output

Номер патента: US20030101376A1. Автор: Amit Sanghani. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2003-05-29.

Semiconductor integrated circuit having a (BIST) built-in self test circuit for fault diagnosing operation of a memory

Номер патента: US7653854B2. Автор: Kenichi Anzou,Chikako Tokunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-01-26.

Programmable Built In Self Test (pBIST) system

Номер патента: CN103871476A. Автор: 拉古拉姆·达莫达兰,纳韦恩·布霍里亚,阿曼·科克拉迪. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-06-18.

Built-in self test circuit

Номер патента: JP3298621B2. Автор: 芳行中村. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-02.

Performing memory built-in-self-test (MBIST)

Номер патента: US7426668B2. Автор: Nilanjan Mukherjee,Wu-Tung Cheng,Xiaogang Du. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2008-09-16.

Microcontroller for logic built-in self test (LBIST)

Номер патента: US8423847B2. Автор: Steven F. Oakland,Gary D. Grise,David E. Lackey,Donald L. Wheater. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

Pre-announce signaling for interconnect built-in self test

Номер патента: US20040117708A1. Автор: David Ellis,Jay Nejedlo,Bruce Querbach,Amjad Khan,Sean Babcock,Eric Gayles,Eshwar Gollapudi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-06-17.

System for and method of performing high speed memory diagnostics via built-in-self-test

Номер патента: US20080082883A1. Автор: Michael R. Ouellette,Donald L. Wheater,Kevin W Gorman,Emory D. Keller. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Built-in self-testing for double data rate input/output interface

Номер патента: WO2003046925A2. Автор: Amit Sanghani. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2003-06-05.

Built-in self test circuit

Номер патента: KR100206128B1. Автор: 김헌철. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-07-01.

Look-ahead built-in self tests with temperature elevation of functional elements

Номер патента: US8028211B1. Автор: Michael Miller,Chuen-Der Lien. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2011-09-27.

Memory circuit with built-in self-test

Номер патента: DE69901534D1. Автор: Ding-Ming Kwai,Shi-Yu Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2002-06-27.

A built-in self-test circuit for a memory card

Номер патента: KR100384777B1. Автор: 이성근. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2003-05-22.

Mechanisms for built-in self test and repair for memory devices

Номер патента: CN103578562A. Автор: 萨曼·M·I·阿扎姆,洪照荣. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-02-12.

Method and system for logic built-in self-test

Номер патента: US9285424B2. Автор: Anurag Jindal,Nitin Singh,Amit Jindal. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-03-15.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (MBIST) system and method

Номер патента: US6959256B2. Автор: Luis Antonio Basto. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2005-10-25.

Method and apparatus for performing logic built-in self-testing of an integrated circuit

Номер патента: US7934134B2. Автор: Donato O. Forlenza,Orazio P. Forlenza,Bryan J. Robbins,Phong T. Tran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-04-26.

Built-in self-test emulator

Номер патента: US20060143524A1. Автор: Elias Gedamu,Denise Man. Владелец: Denise Man. Дата публикации: 2006-06-29.

Methods and circuitry for built-in self-testing of content addressable memories

Номер патента: US6609222B1. Автор: Sanjay Gupta,G. F. Randall Gibson. Владелец: SiberCore Tech Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Built-in self-test circuit and memory

Номер патента: CN111354412A. Автор: 陈岚,秦毅,陈巍巍,尤云霞. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2020-06-30.

Integrated circuit with low-power built-in self-test logic

Номер патента: US7895491B2. Автор: Yuqian C. Wong. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2011-02-22.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (mbist) system and method

Номер патента: WO2004105040A2. Автор: Luis Antonio Basto. Владелец: Analog Devices, Inc. Дата публикации: 2004-12-02.

On-chip erase pulse counter for efficient erase verify BIST (built-in-self-test) mode

Номер патента: US6665214B1. Автор: Edward V. Bautista, Jr.,Ken Cheong Cheah,Weng Fook Lee,Boon Tang Teh. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-12-16.

Built-in self test system and method

Номер патента: CN1551225A. Автор: ,王力,T,T·博赫勒,J·V·达萨帕. Владелец: Infenion Tech North America Corp. Дата публикации: 2004-12-01.

DRAM memory controller with built-in self test and methods for use therewith

Номер патента: US8438432B2. Автор: Chun-Chin Yeh,Rajat Gupta. Владелец: ViXS Systems Inc. Дата публикации: 2013-05-07.

Built-in self-test emulator

Номер патента: US20060020411A1. Автор: Elias Gedamu,Denise Man. Владелец: Denise Man. Дата публикации: 2006-01-26.

A circuit arrangement for logic built-in self-test of a semiconductor device and a method of operating such circuit arrangement

Номер патента: WO2014030034A1. Автор: Bernhard Richter,Heiko Ahrens,Claudia LATZEL. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-02-27.

Built-in self test circuit using linear feedback shift register

Номер патента: US20020194557A1. Автор: Jin-Young Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-12-19.

Built-in self-test circuit

Номер патента: US9733309B2. Автор: Ming Li. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Integrated circuit having built-in self-test features

Номер патента: US7800389B2. Автор: Paul David,Andrea Foletto,Andreas P. Friedrich,P. Karl Scheller. Владелец: Allegro Microsystems LLC. Дата публикации: 2010-09-21.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: EP1303815A2. Автор: Kamran Zarrineh,Thomas Eckenrode,Steven Gregor,Robert Dean Adams. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-04-23.

Built-in self-testing of multilevel signal interfaces

Номер патента: US20060242483A1. Автор: Jared Zerbe,Carl Werner,William Stonecypher. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2006-10-26.

Built-in self test circuit for integrated circuits

Номер патента: EP1388788B1. Автор: Massimiliano Barone,Antonio Griseta. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-11-22.

Logic built-in self-test channel skipping during functional scan operations

Номер патента: US20080052581A1. Автор: Steven M. Douskey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-28.

Built-in self-test for processor unit with combined memory and logic

Номер патента: US11449404B1. Автор: Thomas Alan Ziaja,Dinesh Rajasavari AMIRTHARAJ. Владелец: SambaNova Systems Inc. Дата публикации: 2022-09-20.

Mems piezoelectric accelerometer with built-in self test

Номер патента: EP3196660B1. Автор: Cuong Tho Huynh,Weibin Zhang,James Joseph Mctighe. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2018-09-05.

Logic built-in self test

Номер патента: US6327685B1. Автор: Franco Motika,Timothy J. Koprowski. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2001-12-04.

Multi-memory built-in self-test method based on multi-target clustering genetic algorithm

Номер патента: CN110459258B. Автор: 陈佳楠,马永涛. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-03-12.

Method and apparatus for built-in self-test of logic circuits with multiple clock domains

Номер патента: WO2003075029A1. Автор: Eric West,Shridhar Mukund. Владелец: Lightspeed Semiconductor. Дата публикации: 2003-09-12.

3D memory and built-in self test circuit thereof

Номер патента: TW201348722A. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2013-12-01.

Circuit with built-in self-test function

Номер патента: JP2002542491A. Автор: ノレスユルゲン,ディルシャールゲルト,ゲルトナーヴォルフガング. Владелец: インフィネオンテクノロジースアクチエンゲゼルシャフト. Дата публикации: 2002-12-10.

Systems for Built-In-Self-Test for content addressable memories and methods of operating the same

Номер патента: US20050088904A1. Автор: Mohit Jain,Danish Syed. Владелец: STMICROELECTRONICS PVT LTD. Дата публикации: 2005-04-28.

Method and apparatus for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: WO2000011674A1. Автор: Yervant David Lepejian,Hrant Marandjian,Hovhannes Ghukasyan,Lawrence Kraus. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2000-03-02.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: CA2519618A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: Roberto F. Averbuj. Дата публикации: 2004-10-07.

Digital built-in self-test circuitry for phase locked loop

Номер патента: DE60122960D1. Автор: Hari Balachandran,Pramodchandran N Variyam. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Programmable memory built-in self test (MBIST) method and apparatus

Номер патента: JP4494474B2. Автор: ムカルジー，ニランジャン,ドゥ，シャオガン,チェン，ウー−タン. Владелец: メンター・グラフィクス・コーポレーション. Дата публикации: 2010-06-30.

System and method for calibration and built-in self test of automobile radar system

Номер патента: US9383433B2. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Autoliv ASP Inc. Дата публикации: 2016-07-05.

Built-in self-test circuit suitable for 1553 bus protocol

Номер патента: CN105572565A. Автор: 刘士全,蔡洁明,印琴. Владелец: CETC 58 Research Institute. Дата публикации: 2016-05-11.

Built-in self-test arrangement for integrated circuit memory devices

Номер патента: US20020071325A1. Автор: Kuong Hii,Danny Cline,Theo Powell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Circuitry for built-in self-test

Номер патента: US20110302471A1. Автор: Herve Le-Gall. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2011-12-08.

Performance built-in self test system for a device and a method of use

Номер патента: US20040103355A1. Автор: Anthony Correale,Thomas Dick,Les DeBruyne,Waleed Al-Assadi,Jay Grollimund. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-05-27.

Memory built-in self-test with adjustable pause time

Номер патента: US20230069351A1. Автор: Yoshinori Fujiwara,Daniel S. Miller. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Systems and methods for a phase locked loop built in self test

Номер патента: WO2010132714A1. Автор: Sachin D. Dasnurkar. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2010-11-18.

Automatic built-in self test for memory arrays

Номер патента: US9715944B1. Автор: Stefan Payer,Wolfgang Penth,Lior Binyamini,Ido Rozenberg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: WO2003048794A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corporation. Дата публикации: 2003-06-12.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: WO2004086411A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2004-10-07.

Built-in self-test system of neural network tensor processor

Номер патента: CN113656310B. Автор: 周志新,罗闳訚,何日辉. Владелец: Xiamen Yipu Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-07-14.

Runtime non-destructive memory built-in self-test (bist)

Номер патента: US20230084463A1. Автор: Sreejit Chakravarty,Rakesh KANDULA,Deep BAROT,Vishal VENDE. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Radar device that implements built-in self-test using noise injection

Номер патента: EP3454078B1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2020-03-25.

Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design

Номер патента: TWI220024B. Автор: Li-Kong Wang,Louis L Hsu,Howard H Chen. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2004-08-01.

Deterministic stellar built-in self-test

Номер патента: EP3756020B1. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Yingdi Liu. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Integrated circuit`s manufacturing parameter testing device e.g. build-in-self test structure, for analyzing eventual variation, has ring oscillators providing frequencies, and measurement block providing counting results to shaping circuit

Номер патента: FR2900278A1. Автор: Olivier Mercier,Philippe Dreux. Владелец: Universite de Provence Aix Marseille I. Дата публикации: 2007-10-26.

Method of memory build-in self-test

Номер патента: US8082477B2. Автор: XIU YANG,Dujuan Tang. Владелец: IPGoal Microelectronics Sichuan Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-20.

Build-in self-test method of memory and system in a kind of normally opened chip of power supply

Номер патента: CN108899061A. Автор: 马国富,张楠赓. Владелец: Canaan Creative Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-27.

Method for analyzing dysfunctions of built-in system, corresponding computer software product and device for analysis

Номер патента: RU2743505C2. Автор: Кристиан САННИНО,Фабиен КУНЦ,Джонатан ШПРАУЕЛЬ. Владелец: Талес. Дата публикации: 2021-02-19.

Built-in lighting unit

Номер патента: RU2553271C2. Автор: Йозеф Андреас ШУГ,Бенно ШПИНГЕР. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-06-10.

Built-in test for satellite digital payload verification

Номер патента: US09720042B2. Автор: Robert Conder Chiu,Robert Emerson Bolton,Payman Behboudikha,Philip Stewart Jaque. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-08-01.

Monitoring of plurality of joints using combination of built-in sensors and external sensor

Номер патента: RU2745429C2. Автор: Харшавардана Нараяна КИККЕРИ. Владелец: Харшавардана Нараяна КИККЕРИ. Дата публикации: 2021-03-25.

Radiator valve, built-in valve in particular

Номер патента: RU2375629C2. Автор: Сорен Хольм СОРЕНСЕН,Пауль ХЁЛЬК,Джеймс МЕССМЕР. Владелец: Данфосс А/С. Дата публикации: 2009-12-10.

Microcontroller capacitance measuring device for built-in computer systems

Номер патента: RU2697715C1. Автор: Александр Витальевич Вострухин,Елена Артуровна Вахтина,Иван Александрович Болдырев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет". Дата публикации: 2019-08-19.

Artificial surface with built-in temperature control device

Номер патента: RU2293815C2. Автор: Жан ПРЕВО. Владелец: Филдтерф Таркетт Инк. Дата публикации: 2007-02-20.

Fastening group for hanging built-in wardrobes with prevention of detachment

Номер патента: RU2566488C2. Автор: Карло КАТТАНЕО. Владелец: Леонардо С.р.Л.. Дата публикации: 2015-10-27.

Hollow glass built-in sun-shading apparatus

Номер патента: US09540869B2. Автор: Xuezhong Zhang. Владелец: Intigral Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Door emergency exit aircraft with built-in mechanisms and method of opening / closing this door

Номер патента: RU2684950C1. Автор: Сирилл БЕССЕТС,Дамиан БУШЕ. Владелец: Латкёр. Дата публикации: 2019-04-16.

Built-in food storage container

Номер патента: RU2759748C1. Автор: Александр Геннадьевич Лащинин. Владелец: Александр Геннадьевич Лащинин. Дата публикации: 2021-11-17.

Syringe with built-in needle

Номер патента: RU2698062C2. Автор: Антуан АНЕА. Владелец: Биокорп Продюксьон. Дата публикации: 2019-08-22.

Beamless pumping unit with one engine and reducer, built in a roller

Номер патента: RU2661122C1. Автор: Су Жишен. Владелец: Дакинг Даннуо Петролеум Технолоджи Девелопмент Со. Лтд.. Дата публикации: 2018-07-11.

Built-in household appliance

Номер патента: RU2460951C2. Автор: Карл-Фридрих Лайбле,Франк ПЛАККЕ,Маттиас ШТАЛЬ,ПЕЛЬС Ульрих ВАН,Мехмет КИАНОГЛУ. Владелец: Бсх Бош Унд Сименс Хаусгерете Гмбх. Дата публикации: 2012-09-10.

Measuring instrument with built-in calibration data

Номер патента: US20240271995A1. Автор: Kouichi Kataoka. Владелец: Yokogawa Test and Measurement Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Bra with adjustable built-in cup spacing

Номер патента: US12114714B2. Автор: Zhenhui Lai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-15.

Wall fireplace on solid fuel, installed near wall or built-in to wall

Номер патента: RU2365823C2. Автор: Габи-Ив БАЛД,Фредерик ХААС. Владелец: Фондис. Дата публикации: 2009-08-27.

Vibration-type measuring transducer and use of measuring transducer in built-in device

Номер патента: RU2405128C2. Автор: Кристоф ХУБЕР,Эннио БИТТО,Мартин АНКЛИН-ИМХОФ,Кристиан ШЮТЦЕ,Дитер МУНДШИН,Михаель ЛАМБРИГГЕР. Владелец: Эндресс+Хаузер Флоутек Аг. Дата публикации: 2010-11-27.

Composite beam with built-in breakage initiator and aircraft fuselage equipped with such beams

Номер патента: RU2286918C2. Автор: Брюно БЕРАЛЬ,Жан-Марк СУКЭ. Владелец: Эрбюс Франс. Дата публикации: 2006-11-10.

Vibration isolator combined with built-in rubber-metal elastic element

Номер патента: RU2639356C1. Автор: Олег Савельевич Кочетов. Владелец: Олег Савельевич Кочетов. Дата публикации: 2017-12-21.

Atomization device with reliable connection between battery and built-in circuit board

Номер патента: EP4437877A1. Автор: Huabing Li,ZhongYuan LAI,Hongbing Yin. Владелец: Luxshare Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Atomization device with reliable connection between battery and built-in circuit board

Номер патента: US20240326079A1. Автор: Huabing Li,ZhongYuan LAI,Hongbing Yin. Владелец: Luxshare Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Aluminum electrolytic cell with continuous anode in aluminum frame with built-in conductors

Номер патента: RU2706269C1. Автор: Цзяньпин ДАН,Синпэй ДАН. Владелец: ШИ, Вэнькэ. Дата публикации: 2019-11-15.

Surveillance device-sights with built-in laser range finder

Номер патента: RU2699125C1. Автор: Александр Владимирович Медведев,Александр Васильевич Гринкевич,Светлана Николаевна Князева,Сергей Степанович Маркозов. Владелец: Публичное акционерное общество "Ростовский оптико-механический завод". Дата публикации: 2019-09-03.

Acoustic well device with built-in diagnostics system

Номер патента: RU2725005C1. Автор: Валерий Михайлович Коровин,Ильдар Захидович Кадраков,Сергей Анатольевич Селезнев. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственная фирма "Геофизика" (АО НПФ "Геофизика"). Дата публикации: 2020-06-29.

Springless pneumatic-hydraulic cushion with built-in damper

Номер патента: RU2722653C2. Автор: Николай Николаевич Дыбанев. Владелец: Николай Николаевич Дыбанев. Дата публикации: 2020-06-02.

Springless pneumatic-hydraulic cushion with built-in damper

Номер патента: RU2722653C9. Автор: Николай Николаевич Дыбанев. Владелец: Николай Николаевич Дыбанев. Дата публикации: 2020-07-24.

Cleaning apparatus with flow deflection element with built-in wall

Номер патента: US20240292988A1. Автор: Florian EBERT,Dominik Scholl. Владелец: Alfred Kaercher SE and Co KG. Дата публикации: 2024-09-05.

Device for transmitting signals from a multicomponent vibration sensor with built-in electronics

Номер патента: RU2688257C1. Автор: Игорь Иосифович Радчик,Олег Борисович Скворцов,Сергей Олегович Арестов,Татьяна Павловна Фокина,Сергей Георгиевич Гуляев,Наталья Юрьевна Батенина,Диана Мугудиновна Алиева. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-Технический Центр "Завод Балансировочных Машин". Дата публикации: 2019-05-21.

System and method of using active belt tensioning mechanism of built-in starter-generator with belt transmission

Номер патента: RU2688613C1. Автор: Джон Эрик РОЛЛИНГЕР,Алекс О`Коннор ГИБСОН,Дэвид Лью,Дэвид СПУЛЛЕР,Вероника Пабло ОСОРИО. Владелец: ФОРД ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЛЛК. Дата публикации: 2019-05-21.

Elevator with electric hardware built-in its roof

Номер патента: RU2353566C2. Автор: Эрик РОССИНЬОЛЬ. Владелец: Инвенцио Аг. Дата публикации: 2009-04-27.

Device for emission of fluid environment with built-in ink level sensor

Номер патента: RU2635080C2. Автор: Джозеф М. ТОРДЖЕРСОН,Нинг ГЭ,Патрик ЛЕОНАРД. Владелец: Хьюлетт-Паккард Дивелопмент Компани, Л.П.. Дата публикации: 2017-11-08.

Fixing system of a built-in domestic appliance to a furniture and method for fixing a built-in domestic appliance to a furniture

Номер патента: EP3938723A1. Автор: Adrian Ricklin,Federico Baldo,Sergio Naibo,Gianandrea PELLICANO. Владелец: Electrolux Appliances AB. Дата публикации: 2022-01-19.

Built-in oven with height adjuster

Номер патента: US09857083B2. Автор: Fabio Bianchi,Rodrigo Wojcik Nunes Pereira,Leonel Avila,Ramiro Ruthes Junior,Cleberson Jean Sousa. Владелец: Whirlpool Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Air/water heat pump for external built-in installation

Номер патента: WO2024176132A1. Автор: Oreste Bottaro. Владелец: INNOVA S.R.L.. Дата публикации: 2024-08-29.

Seat having built-in waste compartment

Номер патента: US09474423B2. Автор: Tiffany Terry. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-25.

Built-in device for embedding into the table top

Номер патента: RU2647085C2. Автор: Михаэль ОСТЕРРОТ,Бернд ЭЛЬЗИНГЕР. Владелец: Бланко Гмбх + Ко Кг. Дата публикации: 2018-03-13.

Section for storing and hanging clothes with twin built-in cupboard

Номер патента: RU2245093C2. Автор: Мишель КАТТУАР. Владелец: Согаль Франс. Дата публикации: 2005-01-27.

High-capacity bobbin with a built-in ball control head and folding system

Номер патента: EP1312703A1. Автор: Jordi Galan I Llongueras. Владелец: Galan Int SL. Дата публикации: 2003-05-21.

Built-In Domestic Appliance

Номер патента: US20080000051A1. Автор: Bernd Heger,Adolf Feinauer. Владелец: BSH BOSCH UND SIEMENS HAUSGERAETE GMBH. Дата публикации: 2008-01-03.

Built-in brassiere cup, undergarment having openings and undergarment processing method

Номер патента: US20240284995A1. Автор: Shuqin Wu,Xianhao CHEN,Wubin YANG. Владелец: Shenzhen Aobeite Technology Service Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Dustcap with built-in cleaner

Номер патента: US20240272373A1. Автор: John P. Hill,William J. Cruzen,James John Henschel,Cheryl Johnson Beranek. Владелец: Clearfield Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Tumbler with a built-in flag pole

Номер патента: US20020092260A1. Автор: Kun-Yuan Tong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Cabinet with built-in exercise machine

Номер патента: RU2734180C1. Автор: Вячеслав Сергеевич Перфильев. Владелец: Вячеслав Сергеевич Перфильев. Дата публикации: 2020-10-13.

Built-in system for the gas turbine engine washing

Номер патента: RU2659641C2. Автор: Даниэле Маркуччи,Пьеренцо МОРРЬЕЛЛО,Джанфранко ПИТТЕЛЛА,Марко ФРАТТАЛЛОНЕ. Владелец: Нуово Пиньоне СРЛ. Дата публикации: 2018-07-03.

Beamless pumping unit with two engines and reducer, built in a roller

Номер патента: RU2661115C1. Автор: Су Жишен. Владелец: Дакинг Даннуо Петролеум Технолоджи Девелопмент Со. Лтд.. Дата публикации: 2018-07-11.

Method of manufacturing micro chamber plate with built-in sample and analytic micro chamber plate, analytic micro chamber plate and apparatus set for manufacturing analytic micro chamber plate with built-in sample

Номер патента: US20160023205A1. Автор: Han Oh Park,Gu Young Song,Jung A Bae. Владелец: Bioneer Corp. Дата публикации: 2016-01-28.

Tube sheet built-in type structure and spiral-flow type wound tube heat exchanger

Номер патента: US20240200876A1. Автор: Jiang Tao,Yuping Li,Hongliang REN,Xianan ZHANG,Xingmiao Hu,Chenchen MA,Shuming Lv. Владелец: ZHENHAI PETROCHEMICAL JIANAN ENGINEERING Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Magnetically Latched Spring Assisted Built-In Guitar Stand

Номер патента: US20180061380A1. Автор: Sean Michael Berg. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-01.

Built-in mounting system for a sanitary device

Номер патента: WO2009017391A1. Автор: Jan Van Walraven. Владелец: J Van Walraven Holding B.V.. Дата публикации: 2009-02-05.

Built-in cartridge containing substance to produce drink

Номер патента: RU2397934C2. Автор: ЛИВЕРАНИ Фурио СУДЖИ,Лука МАСТРОПАСКУА,Бруно ДЕЛЛАПЬЕТРА,Саза СМОТЛАК,Миран ЛЕВСТИК. Владелец: Илликаффе` С.П.А.. Дата публикации: 2010-08-27.

Device built in line for water emulsion preparation in fuel in real time, method and system to this end

Номер патента: RU2567614C2. Автор: Эрик Уильям Коттелл. Владелец: Эрик Уильям Коттелл. Дата публикации: 2015-11-10.

Aerosol-generating system comprising built-in piercing element

Номер патента: RU2695840C2. Автор: Стюарт Майкл Руан ДЖОНС,Джон Энтони СТИВЕНСОН,Джонатан Хогвуд,Дэвид Эдингтон,Кристофер КОУЛСОН. Владелец: ФИЛИП МОРРИС ПРОДАКТС С.А.. Дата публикации: 2019-07-29.

Recording device and HDD built-in recording device

Номер патента: US20070253259A1. Автор: Yoshio Nakatani. Владелец: Funai Electric Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-01.

Fuel tank having built-in component with pillars

Номер патента: US11691502B2. Автор: Masaki Aono,Kazunari Nakaya. Владелец: Yachiyo Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-04.

Built-in check for confirmation of operability of digital satellite payload

Номер патента: RU2677848C2. Автор: Роберт Кондер ЧИУ,Роберт Эмерсон БОЛТОН,Пэймэн БЕХБУДИКА,Филип Стюарт ЖАК. Владелец: Зе Боинг Компани. Дата публикации: 2019-01-22.

Door with built-in burner for heating unit

Номер патента: RU2484376C1. Автор: МЕР Жозеф ЛЕ. Владелец: Джаннони Франс. Дата публикации: 2013-06-10.

Distributing valve with built-in flow meter unit

Номер патента: RU2606541C1. Автор: Андреас ШНАЙДЕР,Йорг РОЗЕНТАЛЬ,Марсель ЖИЛЬ,Надине ШТАЙНХАНЗЕС,Детлев ШМИТТ,Райнхард ПИЛМАЙЕР,Маттиас ОЙШИНГЕР,Петер БУХНЕР. Владелец: Виега Гмбх Энд Ко. Кг. Дата публикации: 2017-01-10.

Telescopic mast with built-in belt ropes

Номер патента: EP4435209A1. Автор: Jong Hee Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-25.

Built-in device of slip hanger of shank end with adaptive fixation

Номер патента: RU2423603C2. Автор: Питер Дж. ФЭЙ,Питер Дж. ФЭЙ (US). Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2011-07-10.

Coupling unit with connection elements built-in in friction rolling surface, coupler and conveyor

Номер патента: RU2529092C2. Автор: Венсан БУЛЛАР,Филипп МАНДОННЕ. Владелец: Синетик Асембли. Дата публикации: 2014-09-27.

A.C. drive built-in regulator tuning

Номер патента: EP2042951B1. Автор: Michael Morris,Simo Kekkonen,Pekka Haapamäki. Владелец: Honeywell Acs. Дата публикации: 2010-10-27.

Combined mechanism for articulation and latch locking/unlocking for built-in locks on standard doors

Номер патента: WO2015023194A2. Автор: Carlos Manuel Rosa Barbosa. Владелец: BARBOSA, Mafalda Botequilha. Дата публикации: 2015-02-19.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Casino style dealer button with built-in timer

Номер патента: US20070075491A1. Автор: Sumith Mongkolkasetarin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-05.

Free built-in refrigerator capable of increasing degree of opening

Номер патента: AU2020336771A1. Автор: Kang Li,HAO Zhang,Enpin Xia,Xiaobing Zhu. Владелец: Qingdao Haier Refrigerator Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Built-in planetary drive

Номер патента: WO2005057047A1. Автор: Jirí Dolejs,Josef Penkava. Владелец: Josef Penkava. Дата публикации: 2005-06-23.

Quality detection method for microelectrostatic device with built-in power supply

Номер патента: US20240310314A1. Автор: Kejun Jiang,Shidan LONG,Shanqing MENG. Владелец: AIRQUALITY TECHNOLOGY (SHANGHAI) Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Shared built-in self-analysis of memory systems employing a memory array tile architecture

Номер патента: US09653183B1. Автор: Jung Pill Kim,Sungryul KIM,Hyunsuk Shin. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Atomiser head assembly with built-in cover of pneumatic cylinder/nozzle for fluid spraying

Номер патента: RU2580885C2. Автор: Эрик Дж. ДЖОНСОН,Стивен С.П. ДЖОЗЕФ. Владелец: 3М Инновейтив Пропертиз Компани. Дата публикации: 2016-04-10.

Membrane control regulator unit with built-in pressure limiter

Номер патента: RU2734378C2. Автор: Трентон Ф. ДЖЕКСОН. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2020-10-15.

Pipe line with impingement washer for protection of built-in equipment (versions)

Номер патента: RU2193723C2. Автор: Хайнц БЕРГМАНН,Александер ХЕЙТМАНН. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2002-11-27.

A membrane gas separator with a built-in valve and the method of its opening and closing

Номер патента: EP4041439A1. Автор: Jaromir MIKSOVSKY. Владелец: Ekom Spol S R O. Дата публикации: 2022-08-17.

Thin substrate built-in hard disk drive and base plate member for thin substrate built-in hard disk drive

Номер патента: US12033665B2. Автор: Hideyuki Hatakeyama,Ryo Sakamoto,Kotaro Kitawaki,Wataru Kumagai. Владелец: UACJ Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Thin substrate built-in hard disk drive and base plate member for thin substrate built-in hard disk drive

Номер патента: US20240119967A1. Автор: Hideyuki Hatakeyama,Ryo Sakamoto,Kotaro Kitawaki,Wataru Kumagai. Владелец: UACJ Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Bodyboard with built in seat

Номер патента: US20240270352A1. Автор: Kameron W. Kramer,Courtney Jewett. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-15.

Quality detection method for microelectrostatic device with built-in power supply

Номер патента: US12105044B1. Автор: Kejun Jiang,Shidan LONG,Shanqing MENG. Владелец: AIRQUALITY TECHNOLOGY (SHANGHAI) Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Built-in mobile arm for a crib

Номер патента: US09585495B2. Автор: Richard Gottsleben. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-07.

Toy gun with built-in hand-tool assembly

Номер патента: US09387575B2. Автор: Ho-Sheng Wei. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-12.

Airport luggage trolley with a built-in personal computer

Номер патента: CA2635297A1. Автор: Marcelo Machado Coelho,Jose Roberto Da Paixaeo Junior. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-05.

Airport luggage trolley with a built-in personal computer

Номер патента: EP1971514A1. Автор: Marcelo Machado Coelho,José Roberto da Paixão Junior. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-24.

Built-in vacuum cleaning box with air outside discharge

Номер патента: WO2004112559A1. Автор: Giancarlo Plebani. Владелец: Tecnoplus S.R.L.. Дата публикации: 2004-12-29.

Built in pager for household articles

Номер патента: US20020158773A1. Автор: Sajid Khan,Salman Khan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-31.

Toy with built-in school pencil case

Номер патента: WO2010006400A4. Автор: Edson Rosa Fernandes. Владелец: Edson Rosa Fernandes. Дата публикации: 2010-03-11.

Cover device for covering a built-in valve mounting channel port of IBC and container

Номер патента: US09731873B2. Автор: Qingxin LIAO,Wenjing Wei. Владелец: Shanghai Hongyan Returnable Transit Packagings Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Pneumatic motor with built-in striker mechanism

Номер патента: US09545708B2. Автор: Ching-Shun Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Fishing lure with a built-in, spring-loaded, adjustable diving and release apparatus

Номер патента: US09456593B2. Автор: Shannon Patrick McWilliams. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-04.

Refrigerating device with built-in element

Номер патента: RU2531314C2. Автор: Макс АЙГЕР,Ральф ШТАУД,Томас ТИШЕР,Стефан ДАЙССЛЕР,Юрген ФИНК,Кристоф БЕККЕ. Владелец: Бсх Бош Унд Сименс Хаусгерете Гмбх. Дата публикации: 2014-10-20.

Working fluid liquid medium tank with built-in vent valve and/or air relief valve

Номер патента: RU2637586C2. Автор: Ибрахим КОУКАН,Роланд ЛИНЗЕНБОЛЛЬ,Ярослав МАГЛОВСКИ. Владелец: Каутекс Текстрон Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2017-12-05.

Image capturing apparatus having built-in microphone

Номер патента: US11029582B2. Автор: Yasuhiro Kojima,Yuta Nakamura,Yusuke Mogi,Hayato Mano,Hideki Toichi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-06-08.

Built-in vacuum cleaning box with air outside discharge

Номер патента: EP1641375A1. Автор: Giancarlo Plebani. Владелец: Tecnoplus Srl. Дата публикации: 2006-04-05.

Integrated coil assembly with built-in connector and method thereof

Номер патента: US20020190573A1. Автор: Mark Haller. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 2002-12-19.

Control valves with built-in gate

Номер патента: RU2763246C2. Автор: Томас Н. ГАБРИЭЛЬ,Майкл МАККАРТИ. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2021-12-28.

Valve with built-in balancing channel

Номер патента: RU2766162C2. Автор: Томас Н. ГАБРИЭЛЬ. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2022-02-08.

Map with built-in visible value object

Номер патента: RU2632287C2. Автор: Франсуа ДРОЗ. Владелец: файн Свисс Металз АГ, CH.. Дата публикации: 2017-10-03.

Method of detection and built-in device intended for determination of scraper conveyor scraper turning angle

Номер патента: RU2736733C1. Автор: Вэй Ли,Чжэньцай ЧЖУ,Гунбо Чжоу,Юйсин ПЭН,Гохуа ЦАО,Сян Ли,Даган ВАН,Юй ТАН,Ган ШЭНЬ,Хао ЛУ,Юнцунь ГО,Цзиньсун ЧЭНЬ,Тунцин ЛИ. Владелец: Хуайхай Институт Технологии. Дата публикации: 2020-11-19.

Computer having a built-in mouse rack

Номер патента: EP1090340A1. Автор: Byeong-Jin Lim. Владелец: Sungjin C and C Ltd. Дата публикации: 2001-04-11.

Image capturing apparatus having built-in microphone

Номер патента: US11415866B2. Автор: Yasuhiro Kojima,Yuta Nakamura,Yusuke Mogi,Hayato Mano,Hideki Toichi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-08-16.

Distributed Control Modules with Built-In Tests and Control-Preserving Fault Responses

Номер патента: US20200309852A1. Автор: Manxue Lu,R. Sheldon Carpenter,John Lawrence DeJAGER. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2020-10-01.

Built-in vacuum cleaning box with air outside discharge

Номер патента: AU2003237634A1. Автор: Giancarlo Plebani. Владелец: Tecnoplus Srl. Дата публикации: 2005-01-04.

LED light has built-in air related part(s)

Номер патента: US12092289B2. Автор: Tseng-Lu Chien. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-17.

Air bed having an improved built-in air pump

Номер патента: US12114783B2. Автор: Chi Yin Alan Leung. Владелец: Belgravia Wood Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Household appliance with built-in part

Номер патента: RU2459571C2. Автор: Михаэль КОРДОН. Владелец: Бсх Бош Унд Сименс Хаусгерете Гмбх. Дата публикации: 2012-08-27.

Method for erection of built-in-place pile-shell

Номер патента: RU2739531C1. Автор: Владимир Васильевич Кочерженко,Андрей Игоревич Лукьянов,Вадим Александрович Тюфанов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова". Дата публикации: 2020-12-25.

Method and device for moulding ophthalmologic lens with built-in data processor

Номер патента: RU2506163C2. Автор: Рэндалл Б. ПЬЮ,Фредерик А. ФЛИТШ,Дэниел Б. ОТТС. Владелец: Джонсон Энд Джонсон Вижн Кэа, Инк.. Дата публикации: 2014-02-10.

Dental cleaning tool with built-in shield

Номер патента: RU2677456C1. Автор: Чунь Юэнь То. Владелец: УОРЛД УАЙД ДЕЙЛИ ХОЛДИНГС КОМПАНИ ЛИМИТЕД. Дата публикации: 2019-01-16.

Using built-in scanner software for time saving due to re-scanning rejection

Номер патента: RU2653282C2. Автор: Андрей Анатольевич Исаев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Аби Девелопмент". Дата публикации: 2018-05-07.

Outerwear with built-in solar battery

Номер патента: RU2755291C1. Автор: Сергей Александрович Филин,Заур Исмаилович Ашурлы. Владелец: Заур Исмаилович Ашурлы. Дата публикации: 2021-09-14.

Writing pen with built-in facility for creating an embossed and metallic coated surface under- layer for signature, to secure originality

Номер патента: WO2003086778B1. Автор: Chenicheri Vadakki Venugopalan. Владелец: Chenicheri Vadakki Venugopalan. Дата публикации: 2003-12-24.

Faucets with built-in pre-selector of temperature

Номер патента: WO2004005775B1. Автор: Koramangala Nanjappa Sun Reddy. Владелец: Koramangala Nanjappa Sun Reddy. Дата публикации: 2004-04-08.

Faucets with built-in pre-selector of temperature

Номер патента: WO2004005775A3. Автор: Koramangala Nanjappa Sun Reddy. Владелец: Koramangala Nanjappa Sun Reddy. Дата публикации: 2004-02-19.

Faucets with built-in pre-selector of temperature

Номер патента: WO2004005775A2. Автор: Koramangala Nanjappa Sundara Rama Reddy. Владелец: Reddy Koramangala Nanjappa Sun. Дата публикации: 2004-01-15.

Blade angle adjustable fully-immersed motor impeller built-in tubular pump

Номер патента: NL2030364B1. Автор: Chang Lei,Zhang Aixia,Qian Weixia,Jia Bang'an. Владелец: Yatai Pump & Valve Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-15.

Camera with built-in electric circuit

Номер патента: US6345157B1. Автор: Yoji Watanabe. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2002-02-05.

Blade angle adjustable fully-immersed motor impeller built-in tubular pump

Номер патента: NL2030364A. Автор: Chang Lei,Zhang Aixia,Qian Weixia,Jia Bang'an. Владелец: Yatai Pump & Valve Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-31.

Microprocessor system architecture to correct built-in ROM code

Номер патента: US20040025087A1. Автор: Hua-Chang Chi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Assembly for vertically arranged plants with a built-in watering system

Номер патента: US09635816B2. Автор: Ignacio Garcia Arizpe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-02.

Vertically built-in stiffeners

Номер патента: RU2649839C2. Автор: Джон Х. МОЗЕЛАЖ-III. Владелец: Зе Боинг Компани. Дата публикации: 2018-04-04.

Single-pupil multispectral optical system with built-in laser range finder (versions)

Номер патента: RU2581763C2. Автор: Александр Владимирович Медведев,Александр Васильевич Гринкевич. Владелец: Открытое Акционерное общество "Ростовский оптико-механический завод". Дата публикации: 2016-04-20.

Surveillance device - sight with built-in laser range finder

Номер патента: RU2736285C1. Автор: Александр Владимирович Медведев,Александр Васильевич Гринкевич,Светлана Николаевна Князева. Владелец: Светлана Николаевна Князева. Дата публикации: 2020-11-13.

Plastic keychain equipped with built-in rfid-tag, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2715172C1. Автор: Юрий Вадимович Тырыкин. Владелец: Юрий Вадимович Тырыкин. Дата публикации: 2020-02-25.

Fire/overheat signaling detector with built-in remote operation checking device

Номер патента: RU2626753C1. Автор: Сергей Александрович Гончаров,Роман Станиславович Коновалов. Владелец: Акционерное общество Энгельсское опытно-конструкторское бюро "Сигнал" им. А.И. Глухарева. Дата публикации: 2017-07-31.

Flexible tube equipped with built-in end connectors

Номер патента: RU2397399C2. Автор: Жан-Луи Сальтель. Владелец: Сальтель Индустри. Дата публикации: 2010-08-20.

Symmetric three-axis propulsor with linear sliding support and built-in control device, and symmetric walking platform on its basis

Номер патента: RU2643613C2. Автор: Алексей Евгеньевич Васильев,Георгий Сергеевич Васильянов. Владелец: Георгий Сергеевич Васильянов. Дата публикации: 2018-02-02.

Blade-shaped diaphragm with built-in pressure extraction ports

Номер патента: RU2662463C1. Автор: Стивен Артур ИФФТ,Джон Хенри ШТЕЛЕ,Пол Тимоти ДИГАН. Владелец: Дитерих Стэндард, Инк.. Дата публикации: 2018-07-26.

Sensor device with built-in beam splitter

Номер патента: RU2724458C1. Автор: Линь Ян,Сюнь ГУ,Клаус БОНЕРТ,Андреас ФРАНК,Георг МЮЛЛЕР. Владелец: АББ ШВАЙЦ АГ. Дата публикации: 2020-06-23.

Braking system with built-in car load compensation device

Номер патента: RU2384434C2. Автор: Майкл Э. РИНГ. Владелец: Уобтек Холдинг Корпорейшн. Дата публикации: 2010-03-20.

Built-in mechanical decoupler

Номер патента: RU2641560C2. Автор: Джейсон Дэвид ПАСТЕРНАК. Владелец: Дэлмар Системс, Инк.. Дата публикации: 2018-01-18.

Metering valve with built-in function of pressure release and makeup

Номер патента: RU2427022C2. Автор: Дейвид П. СМИТ,Дэниэл Т. МЕЙТЕР,Уэйн У. ЛАРК. Владелец: Син Кейтерпиллар Мицубиси Лтд.. Дата публикации: 2011-08-20.

Sampling tube with built-in mixing piston head

Номер патента: RU2711190C1. Автор: Брэдли Кент ДРЮЗ,Майкл Дай ВАН,Умберто УЛЬМАНЕЛЛА,Стивен Уэйн КЛАРК,Майкл Адальберт НИЗИОЛЕК,Джеймс Кристофер БЛЕЙК. Владелец: Иллюмина, Инк.. Дата публикации: 2020-01-15.

Hydraulic built-in valve

Номер патента: US12031635B2. Автор: Jorg Wagner,Frank Jost,Marco Wiegandt,Jason Le Gore. Владелец: Moog Luxembourg SA RL. Дата публикации: 2024-07-09.

Double seal structure of inner cavity of built-in valve for intelligent gas meter

Номер патента: LU100393B1. Автор: Zhenbiao Wu. Владелец: Nanan Yaosen Intelligent Device Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-13.

Bicycle frame with accessible built-in damping

Номер патента: EP4393805A1. Автор: Jose Vitoria Cano. Владелец: Berria Bike SL. Дата публикации: 2024-07-03.

Water pump with built-in battery

Номер патента: EP4411145A1. Автор: Ke Yang,Junbo Zhang,Wenda CHEN,Kewei ZHU. Владелец: Ningbo Junhe Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Touch detection device, touch detection method and touch screen panel, using driving back phenomenon, and display device with built-in touch screen panel

Номер патента: US09710119B2. Автор: Sung Ho Lee. Владелец: G2touch Co ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Touch detection device, touch detection method and touch screen panel, using driving back phenomenon, and display device with built-in touch screen panel

Номер патента: US09710114B2. Автор: Sung Ho Lee. Владелец: G2touch Co ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Touch detection device, touch detection method and touch screen panel, using driving back phenomenon, and display device with built-in touch screen panel

Номер патента: US09703438B2. Автор: Sung Ho Lee. Владелец: G2touch Co ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Built-in mobile display

Номер патента: RU2749061C1. Автор: Андрей Иванович Шуда. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Эй Ви Эй Системс". Дата публикации: 2021-06-03.

Assembly of built-in working surface for cargo area of motor vehicle (versions) and motor vehicle (versions)

Номер патента: RU2717110C2. Автор: САРКО Педро ГАРСИЯ,БРАВО Юрен МЕНДОСА. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2020-03-18.

Method and device for moulding ophthalmic lens with built-in data microcontroller

Номер патента: RU2519346C2. Автор: Рэндалл Б. ПЬЮ,Фредерик А. ФЛИТШ,Дэниел Б. ОТТС. Владелец: Джонсон Энд Джонсон Вижн Кэа, Инк.. Дата публикации: 2014-06-10.

Turbojet engine reaction nozzle with built-in trust reverser mechanism

Номер патента: RU2194872C2. Автор: Жилль Ален ШАРЬЕ,Жилль Луи РОЛЛЭН,Ксавье Жан-Мишель Андре ГИОННЕ. Владелец: Снекма Мотер. Дата публикации: 2002-12-20.

Control over subsystem built in with vehicle

Номер патента: RU2573076C2. Автор: Маркус РИХТЕР,Герберт ШАНКУЛА. Владелец: Даймлер Аг. Дата публикации: 2016-01-20.

Device for cleaning bulk materials with a built-in air separator, as well as a device for cleaning bulk materials with a hollow carrier frame

Номер патента: RU2764691C1. Автор: Юрген МОСМАНН,Роман ХАГ. Владелец: Бюлер АГ. Дата публикации: 2022-01-19.

Vibration isolating system by kochetov with the built in damper

Номер патента: RU2645476C1. Автор: Олег Савельевич Кочетов. Владелец: Олег Савельевич Кочетов. Дата публикации: 2018-02-21.

Ophthalmological devices with built-in metasurface elements

Номер патента: RU2648856C2. Автор: Рэндалл Б. ПЬЮ,Фредерик А. ФЛИТШ. Владелец: Джонсон Энд Джонсон Вижн Кэа, Инк.. Дата публикации: 2018-03-28.

Key with built-in mobile element and cylindrical lock interacting with it

Номер патента: RU2635977C2. Автор: Кольо КОЛЕВ. Владелец: Мауер Локинг Системс Еоод. Дата публикации: 2017-11-17.

Aircraft with built-in fuel tanks

Номер патента: RU2653413C2. Автор: Владимир Александрович Панфилов,Александр Александрович Панфилов,Валентин Александрович Панфилов. Владелец: Валентин Александрович Панфилов. Дата публикации: 2018-05-08.

Built-in elevator safety system

Номер патента: RU2544904C2. Автор: Луис МАРТИ,Хосе Мигель АГУАДО,Хосе Луис ВЕРГАРА,Андрес МОНСОН,Франсиско Луис САНС,Франсиско СЕРВЕРА. Владелец: Отис Элевэйтор Компани. Дата публикации: 2015-03-20.

Built-in device for bending and balancing rollers for rolling mill stands

Номер патента: RU2584099C1. Автор: Лука САНДРИН,Андреа ДОРИГО,Мачей Зигмунт ПРОБУЛЬСКИЙ. Владелец: ДАНИЕЛИ И КО ОФФИЧИНЕ МЕККАНИКЕ С.п.А.. Дата публикации: 2016-05-20.

Drive assembly containing built-in fixed gear wheel

Номер патента: RU2467229C2. Автор: Ричард Дж. ДЖАЙБЗ,Джош НОЛЬКЕ,Джон Д. ГЕЙТС. Владелец: КЕЙТЕРПИЛЛАР ИНК.. Дата публикации: 2012-11-20.

Gear clamp of a gassing machine with a built-in pneumatic blocking device

Номер патента: RU2724313C2. Автор: Аллан РИНГ,Ави КОЭН,Хагай ХАРДУФФ,Дорон КРОМ,Амит АВИГДОР,Иял ШМУЭЛИ. Владелец: Содастрим Индастриз Лтд.. Дата публикации: 2020-06-22.

Article of Footwear with Built-in Drying System

Номер патента: US20240081472A1. Автор: Jesus Balderrama-Corona. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-14.

Extensible built-in object management

Номер патента: US20240241697A1. Автор: Sridhar Vembu,Akshhayaa S. Владелец: Zoho Corp Pvt Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Absorbent swimwear with built-in draining mechanism

Номер патента: WO2002034181A1. Автор: Lawrence Howell Sawyer,Michael John Niemeyer. Владелец: KIMBERLY-CLARK WORLDWIDE, INC.. Дата публикации: 2002-05-02.

Built-in propulsion system

Номер патента: US20210331775A1. Автор: Yeun-Junn Lin. Владелец: Solas Science & Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Built-in magnetic test circuit

Номер патента: KR19990079785A. Автор: 문상준. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-11-05.

Built-in self test and built-in self-repairing technology of TSV (Through Silicon Via) interconnection of 3D chip

Номер патента: CN102655101A. Автор: 冯建华,谭晓慧. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-09-05.

A memory built-in self-test circuit

Номер патента: TWI222069B. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-10-11.

A memory built-in self-test circuit

Номер патента: TW200426835A. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-12-01.

Data acquisition system based on BIST (Built-In Self-Test) and method for realizing acquisition and self-tests

Номер патента: CN101930221A. Автор: 朱敏,李洋,陈宇,杨春玲,刘思久. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2010-12-29.

BUILT-IN SELF-TEST METHODS, CIRCUITS AND APPARATUS FOR CONCURRENT TEST OF RF MODULES WITH A DYNAMICALLY CONFIGURABLE TEST STRUCTURE

Номер патента: US20120191400A1. Автор: Parekhji Rubin A.,Mittal Rajesh Kumar,Sontakke Adesh Sharadrao,Tripathi Upendra Narayan. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2012-07-26.

VIDEO SPECIFIC BUILT-IN SELF TEST AND SYSTEM TEST FOR CROSSPOINT SWITCHES

Номер патента: US20120019668A1. Автор: . Владелец: GENNUM CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-26.

INTERRUPTIBLE NON-DESTRUCTIVE RUN-TIME BUILT-IN SELF-TEST FOR FIELD TESTING

Номер патента: US20120226942A1. Автор: Chowdhury Prohor,Parekhji Rubin Ajit,SAMPATH PADMINI,Alampally Srinivasulu,Gangasani Swathi,Chakravarthy Srinivasa B S. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS, INCORPORATED. Дата публикации: 2012-09-06.

Digital-to-Analog Converter circuit with Rapid Built-in Self-test and Test Method

Номер патента: US20120274493A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-01.

Programmable integrated circuit with built-in self testing circuit and its test method

Номер патента: TW200912936A. Автор: Ting-Han Su,Xun-Yao Zhan,Zhen-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp Ltd. Дата публикации: 2009-03-16.

Built-in-Self-Test Using Embedded Memory and Processor in an Application Specific Integrated Circuit

Номер патента: US20120036396A1. Автор: Taylor Richard D.,Montierth Mark D.,Bodily Melvin D.,Zimmerman Gary,Marshall John D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-09.

SCAN-BASED CAPTURE AND SHIFT OF INTERFACE FUNCTIONAL SIGNAL VALUES IN CONJUNCTION WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20130275824A1. Автор: Tekumalla Ramesh C.,Madhani Parag,Mendhalkar Avinash. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2013-10-17.

METHODS AND APPARATUS FOR PROVIDING A BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Behera Manas,BANERJEE Gaurab,Barnett Kenneth Charles. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-01-19.

TIME-TO-DIGITAL CONVERTER WITH BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20120044102A1. Автор: . Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2012-02-23.

DRAM MEMORY CONTROLLER WITH BUILT-IN SELF TEST AND METHODS FOR USE THEREWITH

Номер патента: US20120054566A1. Автор: Gupta Rajat,Yeh Chun-Chin. Владелец: VIXS SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-03-01.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT-BASED RADIATION SENSOR, RADIATION SENSING METHOD AND INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING THE SAME

Номер патента: US20120065919A1. Автор: Turner Mark F.,Brown Jeff S.,Byrn Jonathan. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2012-03-15.

INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY HAVING ENHANCED FEATURES AND METHODS

Номер патента: US20120072788A1. Автор: . Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-03-22.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY CONFIGURED TO FACILITATE PRODUCTION OF PRE-STRESSED INTEGRATED CIRCUITS AND METHODS

Номер патента: US20120072789A1. Автор: Chen Wei-yu,Badgett Kevin,Hesse Kay. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-03-22.

Debugger Based Memory Dump Using Built in Self Test

Номер патента: US20120072791A1. Автор: Policke Paul F.,Kim Hong S.,Bassett Paul Douglas. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-03-22.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20120092916A1. Автор: Samuels Howard R.,Kelly Thomas W.,Lee James M.. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2012-04-19.

METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING A MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ON A PLURALITY OF MEMORY ELEMENT ARRAYS

Номер патента: US20120137185A1. Автор: . Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-05-31.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST SCHEME FOR CONTENT ADDRESSABLE MEMORY ARRAY

Номер патента: US20120140541A1. Автор: Vinh James,Viau Kyle S.. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-06-07.

APPARATUS TO FACILITATE BUILT-IN SELF-TEST DATA COLLECTION

Номер патента: US20120159274A1. Автор: Balakrishnan Kedarnath J.,Giles Grady,Wood Tim,Vadlamani Eswar. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-21.

BUILT IN SELF TEST FOR TRANSCEIVER

Номер патента: US20120169361A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-07-05.

MICROCONTROLLER FOR LOGIC BUILT-IN SELF TEST (LBIST)

Номер патента: US20120221910A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-30.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT AND DESIGNING APPARATUS

Номер патента: US20120246527A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-09-27.

PREDISTORTION CALIBRATION AND BUILT IN SELF TESTING OF A RADIO FREQUENCY POWER AMPLIFIER USING SUBHARMONIC MIXING

Номер патента: US20120252382A1. Автор: Eliezer Oren E.,Staszewski Robert B.,Bashir Imran. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-04.

Built-in Self-test Circuit for Voltage Controlled Oscillators

Номер патента: US20120286836A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-11-15.

USING BUILT-IN SELF TEST FOR PREVENTING SIDE CHANNEL SECURITY ATTACKS ON MULTI-PROCESSOR SYSTEMS

Номер патента: US20120331309A1. Автор: Moyer William C.,Scott Jeffrey W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

SYSTEM AND METHOD FOR BUILT IN SELF TEST FOR TIMING MODULE HOLDOVER

Номер патента: US20130046497A1. Автор: Nicholls Charles,Wu Philippe. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-21.

BUILT-IN SELF-TEST FOR INTERPOSER

Номер патента: US20130047049A1. Автор: Chen Ji-Jan,Liu Chin-Chou,Tseng Nan-Hsin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-02-21.

BUILT-IN SELF-TEST FOR RADIO FREQUENCY SYSTEMS

Номер патента: US20130049780A1. Автор: III Thomas E.,Collins,Flewelling Gregory M.. Владелец: BAE SYSTEMS Information and Electonic Systems Integration Inc.. Дата публикации: 2013-02-28.

FLASH ARRAY BUILT IN SELF TEST ENGINE WITH TRACE ARRAY AND FLASH METRIC REPORTING

Номер патента: US20130151914A1. Автор: Tressler Gary A.,Griffin Thomas J.,Vanstee Dustin J.,Cadigan David D.,Shetty Archana. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

IIMPLEMENTING ENHANCED APERTURE FUNCTION CALIBRATION FOR LOGIC BUILT IN SELF TEST (LBIST)

Номер патента: US20130151918A1. Автор: Douskey Steven M.,Hamilton Michael J.,Kaufer Amanda R.,Fitch Ryan A.,Worisek James M.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

MULTI-CORE PROCESSOR WITH INTERNAL VOTING-BASED BUILT IN SELF TEST (BIST)

Номер патента: US20130159799A1. Автор: Shearer Robert A.,Comparan Miguel,Watson,III Alfred T.,Brown Jeffrey D.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

ASYNCHRONOUS CIRCUIT WITH AN AT-SPEED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20130159803A1. Автор: PAKBAZ Faraydon,VENTRONE Sebastian T.,Smith Jack R.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

MOTOR DRIVER HAVING BUILT IN SELF TEST FUNCTION

Номер патента: US20130221891A1. Автор: Ko Joo Yul. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

BUILT-IN SELF-TEST METHOD AND STRUCTURE

Номер патента: US20130265068A1. Автор: Ellis-Monaghan John J.,ZHANG ZHIHONG,Amoah Yoba,Kuo Roger C.,Leitch Molly J.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-10.

3-D Memory and Built-In Self-Test Circuit Thereof

Номер патента: US20130326294A1. Автор: Kwai Ding-Ming,Lo Chih-Yen,Li Jin-Fu,Yu Yun-Chao,Chou Che-Wei. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2013-12-05.

Noise Rejection for Built-In Self-Test with Loopback

Номер патента: US20140019817A1. Автор: Hoang Anh T.,Scott Gregory S.,Park Brian S.. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-16.

BUILT-IN-SELF-TEST (BIST) ORGANIZATIONAL FILE GENERATION

Номер патента: US20140040685A1. Автор: Ouellette Michael R.,Monroe Craig M.,Sprague Douglas E.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

RANDOM TIMESLOT CONTROLLER FOR ENABLING BUILT-IN SELF TEST MODULE

Номер патента: US20140053003A1. Автор: Moyer William C.,Scott Jeffrey W.. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-02-20.

Method and Apparatus for Optimizing Memory-Built-In-Self Test

Номер патента: US20140089875A1. Автор: Arora Puneet,Kaushik Navneet,Gregor Steven,Card Norman. Владелец: CADENCE DESIGN SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2014-03-27.

DIGITALLY CONTROLLED JITTER INJECTION FOR BUILT IN SELF-TESTING (BIST)

Номер патента: US20140098843A1. Автор: Kong Xiaohua,Zhu Zhi,Dang Vannam. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Memory built in self test of sram circuit

Номер патента: CN102903393B. Автор: 李鸣. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2017-04-05.

A kind of power switch circuit with built-in self-test

Номер патента: CN103310853B. Автор: 陈强,吴宁,黄辉,陈鑫,夏欢,胡薇,张婉桥,段倩妮. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2016-02-24.

Built-in self-test system aiming at micro-electro-mechanical integrated system

Номер патента: CN102879729B. Автор: 李佳,王玮冰. Владелец: Jiangsu IoT Research and Development Center. Дата публикации: 2014-09-24.

Built-in self-test circuit

Номер патента: JP3955708B2. Автор: 孝光山田. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-08.

Embedded type memory built-in self-testing structure

Номер патента: CN201117296Y. Автор: 郑涛,石岭,周显文,刘欣祺,常军锋,孙华义,孙耕. Владелец: Arkmicro Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-17.

Apply to speedy carding process enter end on built-in self-test circuit

Номер патента: CN103295646B. Автор: 陈忠敬,陈宥霖,刘先凤. Владелец: MStar Software R&D Shenzhen Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Programmable static random access memory (SRAM) sequential control circuit based on built-in self-test (BIST) control

Номер патента: CN202662294U. Автор: 徐超,孟坚,周燕,李正平,洪琪,谭守标,柏娜,吴秀龙,陈军宁. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-01-09.

Input vector monitoring concurrency built-in self-test circuit based on comparator and response analyzer

Номер патента: CN102495357B. Автор: 俞洋,王帅,王继业,彭喜元,乔立岩. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2013-09-11.

Memory built-in self-testing method as well as memory error inspection method

Номер патента: CN103745752A. Автор: 钱亮. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2014-04-23.

On-chip RAM built-in self-testing method and circuit

Номер патента: CN104361909A. Автор: 王震,王国状. Владелец: Datang Microelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-18.

Method and apparatus for verifying the accuracy of built-in self-test

Номер патента: TW477898B. Автор: Nai-Yin Sung,Ming-Chiuan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2002-03-01.

Digital/analog converter and phase locking loop built-in self test circuit and its measurement method

Номер патента: CN101127529A. Автор: 张永嘉. Владелец: Faraday Technology Corp. Дата публикации: 2008-02-20.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TWI263225B. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-10-01.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TW200627461A. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-08-01.

MECHANISMS FOR BULIT-IN SELF TEST AND REPAIR FOR MEMORY DEVICES

Номер патента: US20140029362A1. Автор: ADHAM Saman,HUNG Chao-Jung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-01-30.