Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Номер патента: WO2024033716A1
Опубликовано: 15-02-2024
Автор(ы): Michael Tal, Rony Gutierrez, Shteingart Zvi AVRAHAM
Принадлежит: Chain Reaction Ltd.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Номер патента: US20240056307A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Cryptocurrency miner and job distribution

Номер патента: WO2024042378A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2024-02-29.

Cryptocurrency miner and job distribution

Номер патента: US20240062170A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Cryptocurrency miner with current reducing compute engine arrangement

Номер патента: US12061513B2. Автор: Yossi Smeloy,Eyal Frost,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Cryptocurrency miner with current reducing compute engine arrangement

Номер патента: WO2023073487A1. Автор: Eyal Frost,Yosi SMELOY,Gil SHEFFER,Rony GUTIEREZ. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2023-05-04.

Cryptocurrency miner with current reducing compute engine arrangement

Номер патента: US20240329725A1. Автор: Yossi Smeloy,Eyal Frost,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Multi-lane transmitting apparatus and method of performing a built-in self-test in the multi-lane transmitting apparatus

Номер патента: US20220329405A1. Автор: Tamal Das,Mohit Arora,Akshay Karkal Kamath,Nageswara Rao Kunchapu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Digitally controlled jitter injection for built in self-testing (bist)

Номер патента: WO2014055779A1. Автор: Zhi Zhu,Xiaohua Kong,Nam Van Dang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: EP4429164A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-11.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: US20240302432A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US09960888B2. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-05-01.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test

Номер патента: US20020095632A1. Автор: Benoit Veillette. Владелец: Philips Electronics North America Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A3. Автор: Benoit R Veillette. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2004-01-08.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: EP1400042A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-03-24.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-06-13.

Built-in self-test for multi-channel transceivers without data alignment

Номер патента: WO2001011536A1. Автор: JUN Cao,Afshin Momtaz. Владелец: Newport Communications, Inc.. Дата публикации: 2001-02-15.

Built-in self-test circuit and built-in self-test method for physical unclonable function quality check

Номер патента: US11782090B2. Автор: Meng-Yi Wu,Chi-Yi Shao,Kai-Hsin Chuang,Jun-Heng You. Владелец: Pufsecurity Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Steffen Gloeckner,Stefan Barabas,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-08-23.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-05-22.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: US20180019781A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

Methods for built-in self-measurement of jitter for link components

Номер патента: US09596160B1. Автор: Peng Li,Hsinho Wu,Masashi Shimanouchi. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Loopback-based built-in-self-test

Номер патента: US09425907B2. Автор: Achraf Dhayni,Christophe Arnal. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2016-08-23.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520A1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Juniper Networks Inc. Дата публикации: 2022-01-26.

Built-in self-testing method of a near field communication device

Номер патента: US09632896B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-04-25.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: WO2014164229A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-10-09.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: US20220029705A1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Juniper Networks Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Apparatus and method for self-testing a component for signal recovery

Номер патента: US20140164861A1. Автор: Brian Wall. Владелец: Cortina Systems Inc. Дата публикации: 2014-06-12.

Built-in self-test technique for detection of imperfectly connected antenna in OFDM transceivers

Номер патента: US09577769B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-02-21.

Built-in self test for a satellite demodulator

Номер патента: CA2296916C. Автор: Vincent C. Moretti,Sam H. Liu,Edward L. Niu. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 2002-09-17.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285B1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-05-03.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09935706B2. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09774391B2. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09548809B1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: US20110169577A1. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: Nortel Networks Ltd. Дата публикации: 2011-07-14.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: US20180019781A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20170141843A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20180191430A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Gloeckner Steffen,DENTON SCOTT,BALARDETA JOSEPH,Barabas Stefan,Pang Simon,Sahni Subal. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20190327036A1. Автор: Gloeckner Steffen,DENTON SCOTT,BALARDETA JOSEPH,Barabas Stefan,Pang Simon,Sahni Subal. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20170346552A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-30.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US20150381273A1. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2015-12-31.

BUILT-IN SELF-TEST FOR RECEIVER CHANNEL

Номер патента: US20190363813A1. Автор: Spear Michael B.,Rell,Harper Michael W.,Riley Mack W.,III John G.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

Simultaneous code checker and hardware-efficient high-speed input / output with built-in self-test and debug functions

Номер патента: DE602007011840D1. Автор: Hoon Choi,Chinsong Sul,Gijung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features

Номер патента: TW200737739A. Автор: Hoon Choi,Chin-Song Sung,Gi-Jung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2007-10-01.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: US8884706B2. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2014-11-11.

Built-in-self test for high-speed serial bit stream multiplexing and demultiplexing chip set

Номер патента: US20040028065A1. Автор: Ichiro Fujimori,Daniel Schoch. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: EP2579462A2. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2013-04-10.

Built in self test

Номер патента: US20050286433A1. Автор: Bhajan Singh,Vipul Raithatha,Tom Leslie. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Serial Interface Device Built-In Self Test

Номер патента: US20090119053A1. Автор: Wayne Tseng. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2009-05-07.

Built-in-self-test and characterization of a high speed serial link receiver

Номер патента: US11528102B1. Автор: Glen A. Wiedemeier,Chad Andrew Marquart,Nathan Ross Blanchard,Venkat Harish Nammi,Dereje Yilma,Jeffrey Kwabena Okyere,Erik English,Christopher STEFFEN,Michael Wayne Harper,James Crugnale,Vikram B Raj. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-12-13.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US20170346552A1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-11-30.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285A4. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-08-21.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US20180191430A1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Cryptocurrency miner and device enumeration

Номер патента: US12026119B2. Автор: Michael Tal,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Cryptocurrency miner and device enumeration

Номер патента: US20240311329A1. Автор: Michael Tal,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Cryptocurrency miner and multicast read

Номер патента: WO2024038327A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2024-02-22.

Cryptocurrency miner and multicast read

Номер патента: US20240061801A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Cryptocurrency miner with multiple power domains

Номер патента: WO2023052891A1. Автор: Yosi SMELOY,Gil SHEFFER,Rony GUTIEREZ. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2023-04-06.

Cryptocurrency miner with multiple power domains

Номер патента: US20240289298A1. Автор: Yossi Smeloy,Gil SHEFFER,Rony GUTIEREZ. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Cryptocurrency miner and device enumeration

Номер патента: US20230401169A1. Автор: Michael Tal,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Cryptocurrency miner and device enumeration

Номер патента: WO2023238037A1. Автор: Michael Tal,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2023-12-14.

Cryptocurrency miner with multiple power domains

Номер патента: US11989153B2. Автор: Yossi Smeloy,Gil Shefer,Rony Gutierrez. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Providing a landscape and statistics service to a mobile communications device

Номер патента: US20170180215A1. Автор: Duong-Han Tran. Владелец: SAP SE. Дата публикации: 2017-06-22.

Persistent scheduling method and apparatus based on semi-grouping and statistically multiplexing

Номер патента: US09445167B2. Автор: YAN Zhao,Tao Yang,Mingli You. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2016-09-13.

System and method for retransmitting received data using index coding and statistical characteristics

Номер патента: US20160365951A1. Автор: Sang Won Choi,Yong Gyu Kim,Ju Yeop KIM,Yong Soo SONG. Владелец: Korea Railroad Research Institute KRRI. Дата публикации: 2016-12-15.

Self test circuit for evaluating a high-speed serial interface

Номер патента: US6977960B2. Автор: Jun Takinosawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

Ultrasound system self-test data feedback for system trend analysis

Номер патента: US20240032897A1. Автор: Changhong Hu,Daniel Schmiesing,II Richard Anthony Sampson,Shubha Rao,Justus Daniel Smitchger. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-02-01.

Method of generating self-test signals, corresponding circuit and apparatus

Номер патента: US11860223B2. Автор: Salvatore Scaccianoce,Angelo Scuderi,Giorgio Maiellaro,Angela Bruno. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-01-02.

Transmitter linearity built-in-self-test

Номер патента: US20190341964A1. Автор: HONG Jiang,Wael Al-Qaq. Владелец: FutureWei Technologies Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

Optocoupler built-in self test for applications requiring isolation

Номер патента: US5323014A. Автор: Edward P. Liscio,Richard A. Riggio. Владелец: AEG Transportation Systems Inc. Дата публикации: 1994-06-21.

Analog built-in self test transceiver

Номер патента: US09628203B2. Автор: Lior Raviv,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Built in self test and method for RF transceiver systems

Номер патента: US09385774B2. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-07-05.

Signal processing system with built-in self-testing function, testing method thereof and testing signal generator

Номер патента: TWI517605B. Автор: 顏仕傑,洪誌銘. Владелец: 晨星半導體股份有限公司. Дата публикации: 2016-01-11.

Transducer built-in self-test

Номер патента: US11913988B2. Автор: Michael Carfore. Владелец: Qualcomm Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Transducer built-in self-test

Номер патента: WO2022240888A3. Автор: Michael Carfore. Владелец: VESPER TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2023-01-05.

CAPACITIVE MEMS MICROPHONE WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20200053496A1. Автор: Ihs Hassan. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

ON-CHIP CALIBRATION AND BUILT-IN-SELF-TEST FOR SOC MILLIMETER-WAVE INTEGRATED DIGITAL RADIO AND MODEM

Номер патента: US20140162568A1. Автор: Laskar Joy. Владелец: ANAYAS360.COM, LLC. Дата публикации: 2014-06-12.

Waveform Calibration Using Built In Self Test Mechanism

Номер патента: US20150177326A1. Автор: Graul Jens,Chakraborty Sudipto. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: US20140256376A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Built-In Self-Test Technique for Detection of Imperfectly Connected Antenna in OFDM Transceivers

Номер патента: US20150180595A1. Автор: DHAYNI Achraf. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

ANALOG BUILT-IN SELF TEST TRANSCEIVER

Номер патента: US20150256272A1. Автор: RAVIV Lior,WEISSMAN Haim Mendel. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-09-10.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: DHAYNI Achraf. Владелец: ST-Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

BUILT IN SELF TEST AND METHOD FOR RF TRANSCEIVER SYSTEMS

Номер патента: US20140355655A1. Автор: Chakraborty Sudipto. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20180262268A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

Built in self test and method for rf transceiver systems

Номер патента: US20150349834A1. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

Номер патента: US20180332488A1. Автор: Haider Guenter,Kropfitsch Michael,BOGNER Peter,Stuhlberger Rainer,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-11-15.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

Номер патента: US20170353876A1. Автор: Haider Guenter,Kropfitsch Michael,BOGNER Peter,Stuhlberger Rainer,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-12-07.

TRANSMITTER LINEARITY BUILT-IN-SELF-TEST

Номер патента: US20190341964A1. Автор: Jiang Hong,Al-Qaq Wael. Владелец: Futurewei Technologies, Inc.. Дата публикации: 2019-11-07.

Built-in self-test for receiver

Номер патента: US20150372773A1. Автор: Markus Hammes,Harald Doppke,Rainer Kreienkamp,Junlin Yan. Владелец: Intel Mobile Communications GmbH. Дата публикации: 2015-12-24.

RF receiver with built-in self-test function

Номер патента: US10278084B2. Автор: Thomas Sailer,Oliver Frank,Florian STARZER,Peter Bogner,Guenter Haider,Michael Kropfitsch,Jochen O. SCHRATTENECKER,Rainer Stuhlberger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2019-04-30.

Built-in self test for a CMOS imager

Номер патента: US7667751B2. Автор: Miriam Fraenkel,Tiberiu C. Galambos,Alexander Shnayder,Ben Furman,Ilia Antsiferov,Yair Elmakias. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-02-23.

Built-in self-test for a radar unit receiver and method therefor

Номер патента: US11215694B2. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2022-01-04.

Built-in self-test for receiver

Номер патента: US9515751B2. Автор: Markus Hammes,Harald Doppke,Rainer Kreienkamp,Junlin Yan. Владелец: INTEL DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2016-12-06.

Built-in-self-test arrangement for a single multiple-integrated circuit package and methods thereof

Номер патента: US7795894B1. Автор: Dhiraj Sogani. Владелец: Wi2Wi Inc. Дата публикации: 2010-09-14.

Built-in self test signals for column output circuits in X-Y addressable image sensor

Номер патента: EP1152599A2. Автор: Paul Poo-Kam Eastman Kodak Company Lee. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2001-11-07.

Latency built-in self-test

Номер патента: US9100112B1. Автор: Yanjing Ke,Han Hua Leong. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2015-08-04.

Built-in self test method and apparatus for jitter transfer, jitter tolerance, and fifo data buffer

Номер патента: EP1730539A2. Автор: BHAKTA Bhavesh,James B. Cho. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-12-13.

Built in self test and method for rf transceiver systems

Номер патента: US20150349834A1. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

Built-in self-test for a radar unit receiver and method therefor

Номер патента: EP3524999B1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-12-06.

Analog built-in self test transceiver

Номер патента: EP3114782B1. Автор: Lior Raviv,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-04-17.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520B1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Openlight Photonics Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Microelectromechanical systems (“MEMS”) device having a built-in self-test (“BIST”) and a method of application of a BIST to measure MEMS health

Номер патента: US11975963B2. Автор: John J. Albers,Jorge GRILO. Владелец: Knowles Electronics LLC. Дата публикации: 2024-05-07.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520C0. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Openlight Photonics Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Packaged oscillators with built-in self-test circuits that support resonator testing with reduced pin count

Номер патента: US09791503B1. Автор: James Bryan Northcutt,Bruce Edward Clark,Stephen Amar Tibbitts,Robert A. Gubser,John William Fallisgaard,Kenneth Astrof. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Motor driver having built in self test function

Номер патента: US20130221891A1. Автор: Joo Yul Ko. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

Built-in self-testing and failure correction circuitry

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Garima Sharda,Nidhi Sinha,Dinesh Joshi,Akshay Pathak. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2021-06-10.

Apparatus for built-in self-test (BIST) of a Nyquist rate analog-to-digital converter (ADC) circuit

Номер патента: US09780803B1. Автор: Ankur Bal,Chandrajit Debnath,Neha Bhargava. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-10-03.

Distributed built-in self-test and monitoring

Номер патента: WO2024182208A1. Автор: Zdravko Lukic,Brett Walker,Huiqiao HE,Raymond Rosik. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-09-06.

System and method for a built-in-self-test of a battery

Номер патента: US09995793B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-06-12.

Distributed built-in self-test and monitoring

Номер патента: US20240295601A1. Автор: Zdravko Lukic,Brett Walker,Huiqiao HE,Raymond Rosik. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Built-in-self-test circuit for sigma-delta modulator

Номер патента: US09748970B1. Автор: Chao Liang,ZHOU Fang,Wanggen Zhang,Song Huang,Yifeng Liu. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Built-in self-test for light emitting diodes

Номер патента: US20210311116A1. Автор: Adolfo DE CICCO,Rosario Chiodo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-10-07.

Built-in self-test for light emitting diodes

Номер патента: US20210311117A1. Автор: Adolfo DE CICCO,Rosario Chiodo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-10-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US20230280398A1. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US11686766B2. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-27.

Built-in-self-test apparatus and method for analog-to-digital converter

Номер патента: US20050093723A1. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit

Номер патента: WO2002033433A3. Автор: Russell Ott. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2003-10-09.

Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit

Номер патента: WO2002033433A2. Автор: Russell Ott. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-04-25.

Method and built-in self-test apparatus for testing an integrated circuit which capture failure information for a selected failure

Номер патента: US5912901A. Автор: Michael R. Ouellette,R. Dean Adams,Ronald J. Prilik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1999-06-15.

Built-in self test for a/d converter

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Xiankun Jin,Mark Stachew. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: CA3171796A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: EP4150356A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2023-03-22.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: WO2021231017A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corporation. Дата публикации: 2021-11-18.

Built-in self-test circuits and semiconductor integrated circuits including the same

Номер патента: US11867757B2. Автор: Jinwoo Park,Michael Choi,Sungno Lee,Younghyo PARK,Eunhye OH,Heejune Lee,Youngjae CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Built-in self-test circuits and semiconductor integrated circuits including the same

Номер патента: US20220187366A1. Автор: Jinwoo Park,Michael Choi,Sungno Lee,Younghyo PARK,Eunhye OH,Heejune Lee,Youngjae CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-06-16.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: US20200271722A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: WO2021211822A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: BFLY Operations, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US11815492B2. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Memory built-in self test error correcting code (mbist ecc) for low voltage memories

Номер патента: US20200321070A1. Автор: Igor Arsovski,Michael A. Ziegerhofer,Valerie H. Chickanosky,Deepak I. Hanagandi,Kalpesh R. LODHA. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US20240159714A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: WO2020176306A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-09-03.

Built-in self-healing without added physical redundancy in time-interleaved ADCs

Номер патента: US8860589B1. Автор: Krishna Shivaram,Sandeep Louis D'Souza,Craig Allison Hornbuckle. Владелец: Semtech Corp. Дата публикации: 2014-10-14.

Built-in self-healing without added physical redundancy in time-interleaved ADCs

Номер патента: EP2827500A3. Автор: Krishna Shivaram,Sandeep Louis D'Souza,Craig Allison Hornbuckle. Владелец: Semtech Corp. Дата публикации: 2015-05-20.

Built-in self test for integrated digital-to-analog converters

Номер патента: EP1151540A1. Автор: Jean-Yves Michel. Владелец: Philips Semiconductors Inc. Дата публикации: 2001-11-07.

Self-Test Procedure for a Control Device

Номер патента: US20230309209A1. Автор: Richard S. Camden,Jordan H. Crafts,Vidur Garg,Kevin L. Gascho,Alexander F. Mosolgo,Dragan Veskovic,Sean R. Pearson. Владелец: Lutron Technology Co LLC. Дата публикации: 2023-09-28.

Rf transceiver ic having internal loopback conductor for ip2 self test

Номер патента: WO2010057035A1. Автор: Michael Kohlmann,Jin-Su Ko,Bahman Ahrari. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2010-05-20.

Radio frequency chips having waveform generators for self-testing

Номер патента: US20220368434A1. Автор: Jifeng Geng,Hong Kui Yang. Владелец: Zeku Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Radio frequency chips having waveform generators for self-testing

Номер патента: US12081279B2. Автор: Jifeng Geng,Hong Kui Yang. Владелец: Zeku Technology Shanghai Corp Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Rf transceiver ic having internal loopback conductor for ip2 self test

Номер патента: EP2359485A1. Автор: Michael Kohlmann,Jin-Su Ko,Bahman Ahrari. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2011-08-24.

Electronic device with over-the-air wireless self-testing capabilities

Номер патента: US09673916B2. Автор: Mattia Pascolini,Yi Jiang,Ruben Caballero,Basim Noori,Matthew A. Mow,Yuehui Ouyang. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Piezo sounder self-test using feedback pin

Номер патента: US12066499B2. Автор: Frank Trotto. Владелец: Carrier Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Phase shifter chip radio frequency self-test

Номер патента: US09871602B2. Автор: Benjamin Joseph Mossawir,Arnold Feldman. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2018-01-16.

Frame buffer self-test

Номер патента: US4780755A. Автор: David L. Knierim. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1988-10-25.

Self-test system and method for external programming device

Номер патента: US4979506A. Автор: Sergiu Silvian. Владелец: Siemens Pacesetter Inc. Дата публикации: 1990-12-25.

Self test of image signal chain while running in streaming mode

Номер патента: US9686538B2. Автор: Tore Martinussen,Johannes Solhusvik. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2017-06-20.

Self test of image signal chain while running in streaming mode

Номер патента: US20140347496A1. Автор: Tore Martinussen,Johannes Solhusvik. Владелец: Aptina Imaging Corp. Дата публикации: 2014-11-27.

Self test of image signal chain while running in streaming mode

Номер патента: US9294763B2. Автор: Tore Martinussen,Johannes Solhusvik. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2016-03-22.

Self-test and status reporting system for microcontroller-controlled devices

Номер патента: US6104304A. Автор: Ricke W. Clark,Sean O'Leary,David M. Shaheen,Earl C. Cox. Владелец: Conexant Systems LLC. Дата публикации: 2000-08-15.

Capacitively coupled machine tool safety having a self-test network

Номер патента: US4518958A. Автор: William A. Cook,Gary R. Hoffman,William M. Pulford. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1985-05-21.

Self-test device for monitor

Номер патента: GB2315949A. Автор: Chan Seog Park. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 1998-02-11.

Automatic self-test system for a digital multiplexed telecommunication system

Номер патента: US4393491A. Автор: David J. Rasmussen,Theodore M. Stump,Robert L. Ashlock,Carl E. Gabrielson,Douglas P. Kerr,Charles W. Thode. Владелец: Anaconda Ericsson Inc. Дата публикации: 1983-07-12.

Remote control incorporating self test capability

Номер патента: WO2000070796A8. Автор: Christopher J Verzulli. Владелец: U S ELECTRONICS COMPONENTS COR. Дата публикации: 2001-03-08.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US12040037B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US20240339170A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: US12046315B2. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Built-in self test system, system on a chip and method for controlling built-in self tests

Номер патента: US09823296B2. Автор: Juergen Frank,Manfred Thanner,Michael Staudenmaier,Carl Culshaw. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Semiconductor device that supporting a built-in self-test (BIST) operation and multi-semiconductor package including the same

Номер патента: US09606174B2. Автор: Dae-Suk Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240274216A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Apparatus and method for automatic determination of operating frequency with built-in self-test

Номер патента: US20030034791A1. Автор: Hung-Ju Huang,Hung-Ta Pai,Chun-An Tu. Владелец: SILICON INTEGRATED SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2003-02-20.

Method for built-in self test of an electronic circuit

Номер патента: US20020046377A1. Автор: Oliver Kniffler,Gerd Dirscherl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-04-18.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US12051477B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Built-in-self-test of flash memory cells

Номер патента: EP1529293A1. Автор: Colin S. Bill,Darlene Hamilton,Edward V. Bautista, Jr.,Ken Cheong Cheah,Weng Fook Lee,Azrul Halim,Boon Tang Teh,Syahrizal Salleh,Joseph Kucera,Chee Boon Law. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-05-11.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US20240347125A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240362134A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Memory protection circuitry testing and memory scrubbing using memory built-in self-test

Номер патента: US09984766B1. Автор: Alan Jeremy BECKER,Peter Logan Harrod. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Deterministic built-in self-test based on compressed test patterns stored on chip and their derivatives

Номер патента: US09933485B2. Автор: Jerzy Tyszer,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski,Lukasz Rybak,Jedrzej Solecki. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Memory built-in self-test with automated multiple step reference trimming

Номер патента: US12009044B2. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: US20230140090A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: EP4385020A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Memory built-in self-test with automated write trim tuning

Номер патента: WO2024196372A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Memory built in self test circuit and method for generating a hardware circuit comprising the routing boxes thereof

Номер патента: US20070260924A1. Автор: Che-Chiang Chang,Jian-Dai Pan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-08.

Built-in self test controller for a random number generator core

Номер патента: US09983262B1. Автор: Ron Diamant,Dan Trock. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Test control point insertion and X-bounding for logic built-in self-test (LBIST) using observation circuitry

Номер патента: US09547043B2. Автор: Nisar Ahmed,Orman G. Shofner, JR.. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Logic built in self test circuitry for use in an integrated circuit with scan chains

Номер патента: US20170192054A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Raghu G. Gopalakrishnasetty,Satya R.S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Structure of built-in self-test for pressure tester and method thereof

Номер патента: US20140083158A1. Автор: Wei-Jen Cheng. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-27.

Logic built-in self-test of an electronic circuit

Номер патента: US20230035157A1. Автор: Michael B. Kugel,Thomas Gentner,Alejandro Alberto Cook Lobo,Otto Andreas Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (bist)

Номер патента: WO2013091446A1. Автор: Miguel Comparan,Jeffrey D. Brown,Robert A. Shearer,Alfred T. Watson Iii. Владелец: Ibm (China) Co., Limited. Дата публикации: 2013-06-27.

Generic march element based memory built-in self test

Номер патента: EP2548205A1. Автор: Said Hamdioui,Zaid Al-Ars,Georgi Nedeltchev Gaydadjiev,Adrianus Van De Goor. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2013-01-23.

Multiple clock and clock cycle selection for x-tolerant logic built in self test (XLBIST)

Номер патента: US12117488B1. Автор: Peter Wohl,John Arthur Waicukauski. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09761329B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09715942B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Method for performing built-in self-tests

Номер патента: US09679665B2. Автор: Martin Eckert,Christian Zoellin,Otto A. Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Memory built-in self-test for a data processing apparatus

Номер патента: US09449717B2. Автор: Robert Campbell Aitken,Chiloda Ashan Senerath Pathirane,Alan Jeremy BECKER. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2016-09-20.

System and method for built-in self test (bist) in an integrated circuit

Номер патента: WO2014049402A1. Автор: Bharadwaj Amrutur,Rajath VASUDEVAMURTHY. Владелец: Department of Electronics and Information Technology. Дата публикации: 2014-04-03.

Test device and method with built-in self-test logic

Номер патента: US20210173005A1. Автор: Xiao Zhu,Xin Liu,Dan Wang,Zhongyuan Chang,Ranran FAN. Владелец: Montage Technology Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-10.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A1. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

Method for testing memory by built-in self-test storage space and related device

Номер патента: US12045150B2. Автор: Li Ding,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Low cost built-in self test state machine for general purpose RAM testing

Номер патента: US20030159095A1. Автор: Eric Wehage. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-08-21.

Memory built-in self test system

Номер патента: US09946620B2. Автор: Thomas Chadwick,Kevin W. Gorman,Nancy Pratt. Владелец: Invecas Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

System on chip including built-in self test circuit and built-in self test method thereof

Номер патента: US09575861B2. Автор: Yong-Jun HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Integrated circuit memory device having built-in self test circuit with monitor and tester modes

Номер патента: US5936900A. Автор: Kuong Hua Hii,Theo J. Powell,Daniel R. Cline. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-08-10.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395179A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: WO2020092406A8. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-12-03.

Built-in self-test circuit and semiconductor device including the same

Номер патента: US09837171B2. Автор: Hee-Won Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US09689920B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

3-D memory and built-in self-test circuit thereof

Номер патента: US09406401B2. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-08-02.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20190348137A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20180286491A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Design-Based weighting for logic built-in self-test

Номер патента: US9292399B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Timothy J. Koprowski,Gregory J. Cook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-22.

Integrated circuit having a built-in self test design

Номер патента: US4724380A. Автор: Mark Paraskeva,David F. Burrows,William L. Knight. Владелец: Plessey Overseas Ltd. Дата публикации: 1988-02-09.

Built-in self-test circuit and semiconductor device including the same

Номер патента: US09405648B2. Автор: Hee-Won Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-08-02.

Built-in self-test system and method for self test of an integrated circuit

Номер патента: US5515383A. Автор: Mehdi Katoozi. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1996-05-07.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US11929134B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Indicating a status of a memory built-in self-test using a data mask inversion bit

Номер патента: US20240038320A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US20240127902A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: EP3602187A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-02-05.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: WO2018175640A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US12099092B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: WO2024205742A1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: PseudolithIC, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US20240329136A1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Memory built-in self-test with address skipping trim search

Номер патента: EP4453940A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun,Christopher Münch,Mehdi Baradaran Tahoori. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-10-30.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US09530338B2. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: WO2021118634A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2021-06-17.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: US20240013846A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US20230410933A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-21.

Refresh rate selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395174A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-19.

Programmable computer system element with built-in self test method and apparatus for repair during power-on

Номер патента: US5659551A. Автор: Tin-Chee Lo,Pradip Patel,Timothy John Slegel,William Vincent Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-08-19.

Memory section selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US11894085B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-06.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395177A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Memory section selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395173A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Built in self test transport controller architecture

Номер патента: US20080109688A1. Автор: Ivan Pavisic,Sergey Gribok,Alexander Andreev. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2008-05-08.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US11984180B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US7673200B2. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2010-03-02.

Integrated circuit built-in self-test structure

Номер патента: US5130645A. Автор: Paul S. Levy. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1992-07-14.

Built in self test with memory

Номер патента: US5764655A. Автор: Toshiaki Kirihata,Christopher D. Wait. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1998-06-09.

Built-in self-test control network

Номер патента: US5570374A. Автор: Yervant Zorian,Chi W. Yau. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1996-10-29.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240061758A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

A system and method for an infra-red (ir) thermometer with a built-in self-test

Номер патента: US20230349769A1. Автор: Eyal Bychkov. Владелец: Tyto Care Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Single-bit error indication for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240069764A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US20240047004A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US12001305B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US12033710B2. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

System and Method for Advanced Logic Built-in Self Test with Selection of Scan Channels

Номер патента: US20080052579A1. Автор: Michael Fan Wang,Mack Wayne Riley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-28.

Logic built-in self-test (lbist) with pipeline scan enable launch on shift (los) flip-flop circuit

Номер патента: US20180031631A1. Автор: Venkata Narayanan Srinivasan,Tripti Gupta. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2018-02-01.

Built-in self-test enhancements

Номер патента: US20240319268A1. Автор: Gaurav Verma,Saksham TANDON. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and apparatus to inject errors in a memory block and validate diagnostic actions for memory built-in-self-test (mbist) failures

Номер патента: US20240320112A1. Автор: Ashish Goel,Ajay Sharma,Umesh Pratap Singh,Ruchi Bora. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240321377A1. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Memory built-in self-test with automated detection of magnetic tunneling junction degradation for repair

Номер патента: WO2024215333A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun,Sina BAKHTAVARI MAMAGHANI,Christopher Münch,Mehdi Baradaran Tahoori. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-10-17.

Programmable counter to control memory built in self-test

Номер патента: US09859019B1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Circuit arrangement for logic built-in self-test of a semiconductor device and a method of operating such circuit arrangement

Номер патента: US09448283B2. Автор: Bernhard Richter,Heiko Ahrens,Claudia LATZEL. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-09-20.

System and method for bit-wise selective masking of scan vectors for X-value tolerant built-in self test

Номер патента: US09448282B1. Автор: Dale Edward Meehl. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Packetized power-on-self-test controller for built-in self-test

Номер патента: US20220108760A1. Автор: Anubhav Sinha,Ramalingam KOLISETTI,Amit Gopal M. PUROHIT,Sai Manish Rao MARRU,Sahil SONI,Salvatore Talluto. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Semiconductor memory device witih a built-in self test circuit for adjusting a memory device property

Номер патента: US10629284B2. Автор: Masaru Yano. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-04-21.

Circuit and method for performing built-in self test and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: US20070011538A1. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-11.

Method for generating an memory built-in self-test algorithm circuit

Номер патента: US11776649B2. Автор: Chia Wei Lee. Владелец: Istart Tek Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Integrated circuit memory with built-in self-test (bist)

Номер патента: US20210407617A1. Автор: Arijit Banerjee,Russell Schreiber,Vance Threatt,James A. Wingfield,Keith A. Kasprak,William A. Halliday,Srinivas R. Sathu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

Method for generating an memory built-in self-test algorithm circuit

Номер патента: US20230223093A1. Автор: Chia Wei Lee. Владелец: Istart Tek Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (MBIST) system and method

Номер патента: US20040230395A1. Автор: Luis Basto. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

Method of testing memory device, memory built-in self test (MBIST) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US11899959B2. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-13.

Memory built-in self-test with automated multiple step reference trimming

Номер патента: EP4073802A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-19.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: US12002530B2. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Multi-phase test point insertion for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: US5737340A. Автор: Janusz Rajski,Nagesh Tamarapalli. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: US6874111B1. Автор: R. Dean Adams,Kamran Zarrineh,Thomas J. Eckenrode,Steven L. Gregor. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-29.

Logic built-in self-test of an electronic circuit

Номер патента: WO2023007344A1. Автор: Otto Torreiter,Thomas Gentner,Alejandro COOK LOBO,Michael Kugel. Владелец: Ibm (China) Investment Company Ltd.. Дата публикации: 2023-02-02.

Deterministic Diagnostic Information Capture from Memory Devices with Built-in Self Test

Номер патента: US20080077834A1. Автор: Ajay Khoche,Klaus-Dieter Hilliges. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2008-03-27.

Built-in self-repair wrapper methodology, design flow and design architecture

Номер патента: US20020136066A1. Автор: Johnnie Huang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-26.

Apparatus for testing semiconductor chip having built-in self test function

Номер патента: EP3040730A3. Автор: Jungyang Bae. Владелец: IA Inc. Дата публикации: 2016-08-03.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: WO2023076671A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2023-05-04.

Method and interconnect interface for built-in self-test

Номер патента: US12013771B2. Автор: Jiao Li,Chunhui ZHENG. Владелец: Shanghai Zhaoxin Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Generic march element based memory built-in self test

Номер патента: WO2011115485A1. Автор: Said Hamdioui,Zaid Al-Ars,Georgi Nedeltchev Gaydadjiev,Adrianus Van De Goor. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2011-09-22.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A4. Автор: Michael Ricchetti,Christopher J Clark. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2005-05-18.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2004-09-01.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: AU2002352644A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2003-06-17.

Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design

Номер патента: AU2002304504A1. Автор: Louis Lu-Chen Hsu,Li-Kong Wang,Howard Hao Chen. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-12-03.

Built in self test input generator for programmable logic arrays

Номер патента: US4672610A. Автор: John E. Salick. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1987-06-09.

Built in self-testing and repair device and method

Номер патента: EP2798639A1. Автор: Jay Patel,Bendik Kleveland,Rajesh Chopra,Dipak K. Sikdar. Владелец: Mosys Inc. Дата публикации: 2014-11-05.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11810632B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Component die validation built-in self-test (vbist) engine

Номер патента: US20240003974A1. Автор: Sandeep Brahmadathan,Stephan Jourdan,Nagi Aboulenein,Jared BENDT,Kedar KARANDIKAR. Владелец: Ampere Computing LLC. Дата публикации: 2024-01-04.

Dynamic random access memory built-in self-test power fail mitigation

Номер патента: US20240021263A1. Автор: Bill Nale. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Dynamic built-in self-test system

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Steven M. Douskey,Ryan A. Fitch,Michael J. Hamilton,Amanda R. Kaufer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Built-in self-test burst patterns based on architecture of memory

Номер патента: US20240087664A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Chad B. Erickson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Dynamic weight selection process for logic built-in self test

Номер патента: US20210156910A1. Автор: Franco Motika,Mary P. Kusko,Eugene Atwood. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus

Номер патента: CA2145403C. Автор: Imtiaz Shaik,Michael L. Bushnell. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2002-01-29.

Methods and apparatus for providing a built-in self test

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Kenneth Charles Barnett,Manas Behera,Gaurab Banerjee. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-01-19.

Design-based weighting for logic built-in self-test

Номер патента: US20150168489A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Timothy J. Koprowski,Gregory J. Cook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-06-18.

Logic built-in self-test programmable pattern bit mask

Номер патента: WO2011116116A3. Автор: Paul F. Policke,Paul Douglas Bassett,Hong S. Kim. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-12-15.

Apparatus and method for integrated functional built-in self test for an ASIC

Номер патента: US20070157059A1. Автор: Michael Tsao,R. Tremaine. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-07-05.

Built-in self test schemes and testing algorithms for randon access memories

Номер патента: GR990100210A. Автор: . Владелец: I.S.D.. Дата публикации: 2001-02-28.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-11-05.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US11733297B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,Florian Herrault,James Buckwaiter. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Built-in self-test circuit for row hammering in memory

Номер патента: US20240096435A1. Автор: Arun Kumar,Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US11940495B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Methods and systems for performing built-in-self-test operations without a dedicated clock source

Номер патента: US11906585B2. Автор: Sanjeeb Kumar Ghosh,Gunjan Mandal,A Santosh Kumar REDDY,Parin Rajnikant Bhuta,Raghavendra Molthati,Saikat Hazra,Sunil Rajan,Krupal Jitendra Mehta,Praveen S Bharadwaj. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-20.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US11823758B2. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Apparatus and method of RF built in self-test (RFBIST) in a radar system

Номер патента: US11921195B2. Автор: Abraham Bauer,Noam ARKIND. Владелец: ARBE Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240055066A1. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Built-in self-test circuitry

Номер патента: US20240087663A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Joemar Sinipete,Thomas T. Tangelder,Jacob S. Robertson,James G. Steele. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Circuit arrangement for use in an integrated circuit having built in self-test design

Номер патента: IE57175B1. Автор: . Владелец: Roke Manor Research. Дата публикации: 1992-05-20.

Shared built-in self-analysis of memory systems employing a memory array tile architecture

Номер патента: US09653183B1. Автор: Jung Pill Kim,Sungryul KIM,Hyunsuk Shin. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Deep draw hvac coils with built-in self-cleaning mechanism and method of treating deep hvac coils

Номер патента: WO2023168451A3. Автор: James Metropoulous. Владелец: Blue Box Air, LLC. Дата публикации: 2023-10-05.

Deep draw hvac coils with built-in self-cleaning mechanism and method of treating deep hvac coils

Номер патента: WO2023168451A2. Автор: James Metropoulous. Владелец: Blue Box Air, LLC. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self trim for non-volatile memory reference current

Номер патента: US8687428B2. Автор: CHEN He,Yanzhuo Wang,Richard K. Eguchi. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2014-04-01.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20140068333A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20130080835A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2013-03-28.

Built-in self-test for adaptive delay-locked loop

Номер патента: US09805822B1. Автор: Dan Aleksandrowicz. Владелец: Marvell Israel MISL Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Built in self-test

Номер патента: US20170324422A1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2017-11-09.

Built in self-test

Номер патента: US20160218730A1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2016-07-28.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US20240259023A1. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Built in self-test

Номер патента: US09705523B1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US12050548B2. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: WO2024064010A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj,Rodd E. NOVAK. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2024-03-28.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US20240106430A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj. Владелец: pSemi Corporation. Дата публикации: 2024-03-28.

Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop and method thereof

Номер патента: TW200610274A. Автор: Yu-Chen Chen. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US20230037738A1. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P. Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Analog built-in self-test scheme for high volume power management integrated circuit products

Номер патента: US12025662B1. Автор: Xicheng Jiang,Shengyuan Li. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Signal converting apparatus with built-in self test

Номер патента: TW200828819A. Автор: Chao-Chi Yang,Yao-Ren Fan. Владелец: Elan Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-07-01.

Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop with digital output and method thereof

Номер патента: TW200610275A. Автор: Yu-Chen Chen. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Built-in-self-test using on embedded memory and a processor in an application specific integrated circuit

Номер патента: EP1282041B1. Автор: Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmermann. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-06-14.

SUCCESSIVE APPROXIMATION REGISTER ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND METHOD OF OPERATING BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR TESTING THE CONVERTER

Номер патента: US20150029048A1. Автор: JEON Young-deuk. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2015-01-29.

Digital-domain self-calibration and built-in self-testing techniques for high-speed integrated A/D converters using white gaussian noise

Номер патента: EP1473836B1. Автор: Nuno Filipe Silva Verissimo Paulino,Manuel Duarte Ortigueira,Martin Unterweissacher,Guiomar Gaspar de Andrade Evans D. Fisica Evans,Joao Carlos Da Palma Goes. Владелец: Acacia Semiconductor Lda. Дата публикации: 2006-08-02.

ADC built-in self-test circuits and test method in system on chip

Номер патента: CN105680859B. Автор: 王东,陈岚,冯燕,柳臻朝. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2018-09-11.

Built-in self-test circuit for phase locked loops, test method and computer program product therefore

Номер патента: EP1475891B1. Автор: Leonardo Napolitano. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-03-15.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US20230216505A1. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Gan reliability built-in self test (bist) apparatus and method for qualifying dynamic on-state resistance degradation

Номер патента: US20230280391A1. Автор: Kun-Lung Chen,Chan-Hong Chern,Chun-Yi Yang,Yu-Ann LAI,Ruo-Rung HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: WO2023130109A3. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2023-08-10.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: WO2023130109A2. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2023-07-06.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US11996843B2. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Dram device with built-in self-test circuitry

Номер патента: US20120182776A1. Автор: Ming Li,Scott C. Best. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2012-07-19.

Magnetoresistance sensor with built-in self-test and device configuring ability and method for manufacturing same

Номер патента: US20120293164A1. Автор: Fu-Tai Liou,Ta-Yung WONG,Tai-Lang TANG,Wei-Tung Peng. Владелец: Voltafield Technology Corp. Дата публикации: 2012-11-22.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20130080835A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2013-03-28.

BUILT-IN-SELF-TEST FOR AN ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER

Номер патента: US20150009052A1. Автор: BOGNER Peter,Mejri Jaafar. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

GAN RELIABILITY BUILT-IN SELF TEST (BIST) APPARATUS AND METHOD FOR QUALIFYING DYNAMIC ON-STATE RESISTANCE DEGRADATION

Номер патента: US20220099726A1. Автор: CHERN Chan-Hong,Yang Chun-Yi,CHEN Kun-Lung,LAI Yu-Ann,HUANG Ruo-Rung. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT FOR MEASURING PHASE NOISE OF A PHASE LOCKED LOOP

Номер патента: US20200132764A1. Автор: Sheen Ruey-Bin,CHOU Mao-Hsuan,CHANG Chih-Hsien,Chang Ya-Tin. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

Built-in Self-test Circuit for Voltage Controlled Oscillator

Номер патента: US20140225676A1. Автор: JOU Chewn-PU,TSAI Ming Hsien,HSIEH Hsieh-Hung,YEH Tzu-Jin,HSUEH Fu-Lung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-08-14.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT FOR MEASURING PHASE NOISE OF A PHASE LOCKED LOOP

Номер патента: US20210173009A1. Автор: CHOU Mao-Hsuan,CHANG Chih-Hsien,Chang Ya-Tin,Sheen Ruey-Ben. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

BUILT-IN SELF-TESTING AND FAILURE CORRECTION CIRCUITRY

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Sharda Garima,Sinha Nidhi,Joshi Dinesh,Pathak Akshay. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

BUILT-IN SELF-TEST RADAR UNIT AND METHOD FOR PHASE SHIFT MEASUREMENT THEREIN

Номер патента: US20190146059A1. Автор: SCHAT Jan-Peter,Zanati Abdellatif. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-16.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND TEMPERATURE MEASUREMENT CIRCUIT INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20210199719A1. Автор: Kim Sangho,LEE Yongjin,Choi Michael,KIM Kwangho,Shin Junhee,Kim Jooseong. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

BUILT-IN SELF-TEST FOR ADC

Номер патента: US20180198460A1. Автор: BOGNER Peter,Pernull Martin,Mejri Jaafar,Kalt Andreas. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

BUILT IN SELF-TEST

Номер патента: US20160218730A1. Автор: Hamilton David,Clayton Tom,Sharp Gordon,Stevenson Ian. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

METHODS AND CIRCUITRY FOR BUILT-IN SELF-TESTING OF CIRCUITRY AND/OR TRANSDUCERS IN ULTRASOUND DEVICES

Номер патента: US20210328564A1. Автор: Chen Chao,Chen Kailiang,Sanchez Nevada J.,Kook Youn-Jae,Lutsky Joseph,Soleimani Hamid,Lee Jihee,Chiu Leung Kin,Schaetz Sebastian. Владелец: Butterfly Network, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

System and Method for a Built-In-Self-Test of a Battery

Номер патента: US20170269166A1. Автор: Bernardon Derek. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITS AND RELATED METHODS

Номер патента: US20200271722A1. Автор: van Oevelen Jacco. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

BUILT IN SELF-TEST

Номер патента: US20170324422A1. Автор: Hamilton David,Clayton Tom,Sharp Gordon,Stevenson Ian. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-09.

BUILT-IN SELF-TEST METHOD AND APPARATUS FOR SINGLE-PIN CRYSTAL OSCILLATORS

Номер патента: US20190353699A1. Автор: Ciubotaru Alexandru Aurelian. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Built-in self-test method and apparatus for single-pin crystal oscillators

Номер патента: US20190353700A1. Автор: Alexandru Aurelian Ciubotaru. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

BUILT IN SELF TEST TRANSMITTER PHASE CALIBRATION

Номер патента: US20200400783A1. Автор: Doaré Olivier Vincent,Orlando Julien. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: KR20210083537A. Автор: 김광호,김상호,최병주,김주성,이용진,신준희. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-07-07.

Built-in self-test system based on on-chip system or system-in-package

Номер патента: CN102768336A. Автор: 徐国卿,李慧云,朱洪宇. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2012-11-07.

DRAM device with built-in self-test circuitry

Номер патента: US8456934B2. Автор: Ming Li,Scott C. Best. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2013-06-04.

Built-in self-test for analog-digital converter

Номер патента: CN104283559B. Автор: P.博格纳,J.梅杰里. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and circuit for built in self test of phase locked loops

Номер патента: US6396889B1. Автор: Stephen Kenneth Sunter,Aubin P. J. Roy. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 2002-05-28.

Built-in self test for a thermal processing system

Номер патента: US7165011B1. Автор: David Smith,Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey,Anthony Dip,Raymond Joe,Sundar Gandhi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-01-16.

Built-in self test for a thermal processing system

Номер патента: TW200723403A. Автор: Kenji Sugishima,Dave Smith,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey,Anthony Dip,Raymond Joe,Sundar Gandhi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-16.

System and method for a built-in self-test of a battery

Номер патента: US9689928B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-06-27.

Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features

Номер патента: US7984369B2. Автор: Hoon Choi,Chinsong Sul,Gijung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2011-07-19.

Integrated circuit with a built-in self-test arrangement

Номер патента: DE69729771T2. Автор: Kuong Hua Hii,Theo J. Dallas Powell,Danny R. Dallas Cline. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2004-12-02.

Built in self-test

Номер патента: US9246503B1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2016-01-26.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: CN113049129A. Автор: 金光镐,金柱成,李龙珍,金赏镐,申浚熙,崔炳注. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-29.

Built-in self-test apparatus and method for digital-to-analog converter

Номер патента: US7355537B2. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2008-04-08.

Built-in self test for analog to digital converters

Номер патента: HK118497A. Автор: Michael R Dewitt,George F Cross Jr,R Ramachandran. Владелец: At & T Corp. Дата публикации: 1997-09-05.

Built-in Self Test function leakage protection circuit and its detection method

Номер патента: CN108736438B. Автор: 刘军,宋夏冰. Владелец: Zhejiang Longway Microsystem Co ltd. Дата публикации: 2019-09-20.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US20230125397A1. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P. Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US11936374B1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Method of creating built-in self test (bist) table for monitoring a thermal processing system, method of operating controller in same system, and computer-readable media

Номер патента: TWI332131B. Автор: Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-10-21.

Temperature-controlled driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US20240106420A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Rodd E. NOVAK. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Stacked chip module with integrated circuit chips having integratable and reconfigurable built-in self-maintenance blocks

Номер патента: CN103779332A. Автор: K.W.戈尔曼,K.芒达尔,S.塞苏拉曼. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-05-07.

Integrated circuit chip having built-in self measurement for PLL jitter and phase error

Номер патента: US5663991A. Автор: Ram Kelkar,Ilya Iosephovich Novof,Stephen Dale Wyatt. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-09-02.

Antenna system assembly with built-in self-supporting antenna, and corresponding antenna system

Номер патента: WO2009156612A2. Автор: Peter Dunser. Владелец: KYEMO. Дата публикации: 2009-12-30.

Latency Detection in a Memory Built-In Self-Test by Using a Ping Signal

Номер патента: US20130232385A1. Автор: Kay Hesse,Suresh Periyacheri. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

Device with blockable/un-blockable fluid channels and built-in self-test equipment

Номер патента: US11921126B2. Автор: Mengchu Li,Tsun-Ming Tseng,Ulf Schlichtmann. Владелец: Technische Universitaet Muenchen. Дата публикации: 2024-03-05.

Built-in self-test in a data processing apparatus

Номер патента: US20200278395A1. Автор: Kar-Lik Kasim Wong,Christopher Vincent SEVERINO,Joseph Samuel HERD. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2020-09-03.

Self-testing ground fault circuit interrupter and associated method

Номер патента: US09829539B2. Автор: Victor Doualla Epee. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Controllable test-pulse width and position for self-test ground fault circuit interrupter

Номер патента: US09640975B2. Автор: Stephen Simonin. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Cascaded multilevel converter self-test system and self-test method for the same

Номер патента: US09906022B2. Автор: Yongli Xiao,Baoqi LIU,Zhihuai ZENG,Liying XUE. Владелец: Sungrow Power Supply Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Self-test module of electronic circuit breaker

Номер патента: US09797953B2. Автор: Xianjun YI,Lijun Chen,Yinglong Hu. Владелец: SEARI Electric Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Fault current protection device for monitoring an electric load for a vehicle, and method for carrying out a self-test of a fault current sensor

Номер патента: US20180299499A1. Автор: Michael Meier,Klaus Seidler. Владелец: JENOPTIK Advanced Systems GmbH. Дата публикации: 2018-10-18.

Power source arrangements for self-testing alarm systems

Номер патента: US20240273998A1. Автор: Michael Barson,Christopher Dearden,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Self test structure for interconnect and logic element testing in programmable devices

Номер патента: US20070011539A1. Автор: Danish Syed,Vishal Srivastava. Владелец: STMICROELECTRONICS PVT LTD. Дата публикации: 2007-01-11.

Arc flash protection system with self-test

Номер патента: US09653904B2. Автор: Veselin Skendzic,Dhruba P. Das,Gary W. Scheer,James R. Kesler,Douglas M. Trout,Edmund O. Schweitzer, Iii,Mark L. Zeller. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Charging circuit interrupt devices with self-test and methods thereof

Номер патента: US09991695B2. Автор: Ming-Whang Wang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

System and method for self-testing a ground fault circuit interrupter

Номер патента: US09766282B2. Автор: Vincent Ferri,Jason Okerman,Adonna Angelika Anderson. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Testing system for circuit board self-test

Номер патента: CA2296135A1. Автор: Douglas Streeter Daudelin,Richard Parkinson Wells,Frank Joseph Mcnerney. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2000-07-29.

Clock self-testing method and associated circuit

Номер патента: US11609271B2. Автор: Changxian Zhong. Владелец: Chengdu Monolithic Power Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-21.

Luminaire with integrated self-test

Номер патента: US12060986B2. Автор: Steffen Block,Thomas Steffens,Andreas Radler. Владелец: Zumtobel Lighting GmbH Austria. Дата публикации: 2024-08-13.

Integrated circuit with memory self-test

Номер патента: CA1299289C. Автор: Duane Rodney Aadsen,Sunil Kumar Jain,Charles Eugene Stroud. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1992-04-21.

Self-testing ground fault circuit interrupter and associated method

Номер патента: CA2926864C. Автор: Victor Doualla Epee. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Self-test capable integrated circuit apparatus and method of self-testing an integrated circuit

Номер патента: US20180145041A1. Автор: Yassine Fkih,Djordje Zegarac,Eric DEMEY,Luca PLUTINO,Marzia SAPIENZA. Владелец: U Blox AG. Дата публикации: 2018-05-24.

Ground fault interrupter self test circuits and related methods

Номер патента: US20220268840A1. Автор: Riley BECK,Rishi Pratap SINGH,Bruce G. Armstrong,Sanath Kumar KONDUR SURYA KUMAR. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2022-08-25.

Ground fault interrupter self test circuits and related methods

Номер патента: US20200041567A1. Автор: Riley BECK,Rishi Pratap SINGH,Bruce G. Armstrong,Sanath Kumar KONDUR SURYA KUMAR. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-02-06.

Methods and apparatus to disable a trip circuit during self test in ground fault circuit interrupters

Номер патента: CA3004038C. Автор: Hugh T. Kinsel,Joselito Endozo. Владелец: Siemens Industry Inc. Дата публикации: 2019-11-12.

Programmable word length and self-testing memory in a gate array with bidirectional symmetry

Номер патента: CA1242276A. Автор: Joseph L. Angleton,Jeffery L. Gutgsell. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1988-09-20.

Fault interrupter using microcontroller for fault sensing and automatic self-testing

Номер патента: CA2363743C. Автор: John R. Baldwin,Thomas J. Batko,David F. Ellison,Thomas M. Mcdonald. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2013-11-12.

Apparatus, systems and methods for performing ground fault self-testing

Номер патента: US11916370B2. Автор: Michael Ostrovsky,John Libretto. Владелец: LEVITON MANUFACTURING CO INC. Дата публикации: 2024-02-27.

Fault current protection device for monitoring an electric load for a vehicle, and method for carrying out a self-test of a fault current sensor

Номер патента: CA3000874C. Автор: Michael Meier,Klaus Seidler. Владелец: Vincorion Advanced Systems GmbH. Дата публикации: 2023-10-17.

Self-test circuit and a method of checking the integrity of a signal through a signal path

Номер патента: US12000886B2. Автор: Julian Franchitti. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2024-06-04.

Arc flash protection with self-test

Номер патента: CA2736009C. Автор: Edmund O. Schweitzer,Veselin Skendzic,Dhruba P. Das,Gary W. Scheer,James R. Kesler,Douglas M. Trout. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-07-16.

Gfci self test software functional program for autonomous monitoring and fail safe power denial operations

Номер патента: CA2905851C. Автор: Stephen Simonin. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2022-10-18.

Circuit interrupter with self-test circuit and method of operating a circuit interrupter

Номер патента: US20190305541A1. Автор: Jason Kohei Arthur Okerman,Andrew William Courson. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Gfci self test software for autonomous monitoring and fail safe power denial

Номер патента: CA3009051C. Автор: Stephen Paul Simonin. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2024-01-16.

Power source arrangements for self-testing alarm systems

Номер патента: US11875666B2. Автор: Michael Barson,Christopher Dearden,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-01-16.

Architecture of biult-in self test of storing device having distributed command interpretation and generic command protocol

Номер патента: RU2336581C2. Автор: Роберто Ф. АВЕРБУХ,Дэвид В. ХАНСКУИН. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2008-10-20.

Wirelessly loaded impedance sensor for self-test

Номер патента: US11733546B1. Автор: Tong Zhang,Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2023-08-22.

Systems and methods for magnetic field sensors with self-test

Номер патента: US09851416B2. Автор: Andrea Foletto,P. Karl Scheller,Devon Fernandez,James E. Burgess,Kristann L. Moody,Steven E. SNYDER. Владелец: Allegro Microsystems Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Re-programmable self-test

Номер патента: US11768240B2. Автор: Neil John Simpson,Alan David Hales. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Dynamically Re-Configurable In-Field Self-Test Capability For Automotive Systems

Номер патента: US20220243437A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-08-04.

Re-programmable self-test

Номер патента: US20190227122A1. Автор: Neil John Simpson,Alan David Hales. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-07-25.

In-field multi core self-test controller with stored test pattern for safety critical automotive use cases

Номер патента: SG11201905685XA. Автор: Arvind Jain,Rahul Gulati,Pranjal BHUYAN,Rakesh Kumar Kinger,Roberto AVERBUJ,Singh Nishi Bhushan. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-08-27.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074934A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Self-test solution for delay locked loops

Номер патента: US09977077B1. Автор: Edzel Gerald Dela Cruz Raffiñan. Владелец: BITMICRO LLC. Дата публикации: 2018-05-22.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US09651623B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US09651616B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Logic built-in self-test with high test coverage and low switching activity

Номер патента: US09568552B2. Автор: Janusz Rajski,Xijiang Lin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Self-test solution for delay locked loops

Номер патента: US09423457B2. Автор: Edzel Gerald Dela Cruz Raffiñan. Владелец: Bitmicro Networks Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Built-in self test technique for programmable impedance drivers for RapidChip and ASIC drivers

Номер патента: US20050264314A1. Автор: Kevin Gearhardt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-01.

Optimizing generation of test configurations for built-in self-testing

Номер патента: US09588177B1. Автор: Franco Motika,Andrew A. Turner,Eugene R. Atwood,Mary P. Kusko,Paul J. Logsdon. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Integrated circuit having memory built-in self test (bist) programmable characteristics and method of operation

Номер патента: SG74088A1. Автор: Charles A Brown,Damir Smitlener,Jay D Mcdougal. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2001-01-16.

In-field multi core self-test controller with stored test pattern for safety critical automotive use cases

Номер патента: WO2018148038A1. Автор: Arvind Jain,Nishi Bhushan Singh,Rahul Gulati,Pranjal BHUYAN,Rakesh Kumar Kinger,Roberto AVERBUJ. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2018-08-16.

In-field multi core self-test controller with stored test pattern for safety critical automotive use cases

Номер патента: EP3580762A1. Автор: Arvind Jain,Nishi Bhushan Singh,Rahul Gulati,Pranjal BHUYAN,Rakesh Kumar Kinger,Roberto AVERBUJ. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-12-18.

Test-facilitating circuit using built-in self test circuit

Номер патента: US20030145261A1. Автор: Tetsushi Tanizaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-07-31.

Robust built-in self test circuitry

Номер патента: US20180080986A1. Автор: John B. DeForge,Kirk D. Peterson,Terence B. Hook,Theresa A. Newton. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Isolating Failing Latches Using a Logic Built-In Self-Test

Номер патента: US20140149814A1. Автор: Mack W. Riley,Ra'ed M. Al-Omari,Micheal W. Harper,Cindy Phan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Npu with capability of built-in self-test

Номер патента: US20240321384A1. Автор: Lok Won Kim,Jeong Kyun Yim. Владелец: DeepX Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A8. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-08-28.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh, Sheau-yang CH'NG. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Memory interface circuitry and built-in self-testing method

Номер патента: US20240274214A1. Автор: Hyeon Jae Lee,Jeong Ho Bang,Ki Hyung Ryoo,Kwang Rae Cho,Sun Byeong Yoon,Wol Jin LEE. Владелец: Integrated Silicon Solution Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Built-in-self-test (BIST) test time reduction

Номер патента: US09773570B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Integrated circuit with self-test device for an embedded non-volatile memory and related test method

Номер патента: US20040109370A1. Автор: Steffen Gappisch,Georg Farkas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-10.

Memory self test comparative circuit and System On Chip including the circuit

Номер патента: KR100894504B1. Автор: 신용환,채은석. Владелец: (주)알파칩스. Дата публикации: 2009-04-22.

Self-test controller, and associated method

Номер патента: US11835991B2. Автор: Balwinder Singh Soni,Venkata Narayanan Srinivasan,Amulya Pandey,Amritanshu Anand. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2023-12-05.

Self-test controller, and associated method

Номер патента: EP4063879A3. Автор: V Narayanan SRINIVASAN,Amulya Pandey,Amritanshu Anand,Mr. Balwinder Singh SONI. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2022-12-07.

Self-test controller, and associated method

Номер патента: EP4063879A2. Автор: V Narayanan SRINIVASAN,Amulya Pandey,Amritanshu Anand,Mr. Balwinder Singh SONI. Владелец: STMicroelectronics International NV Switzerland. Дата публикации: 2022-09-28.

Wrapper cell design and built-in self-test architecture for 3DIC test and diagnosis

Номер патента: US12066490B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240280630A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20240361385A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Test systems for executing self-testing in deployed automotive platforms

Номер патента: US20210341537A1. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Test systems for executing self-testing in deployed automotive platforms

Номер патента: US20200116783A1. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2020-04-16.

Test systems for executing self-testing in deployed automotive platforms

Номер патента: US11768241B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Dynamically Re-Configurable In-Field Self-Test Capability For Automotive Systems

Номер патента: US20230203796A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-06-29.

Dynamically re-configurable in-field self-test capability for automotive systems

Номер патента: EP4285221A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-12-06.

Dynamically re-configurable in-field self-test capability for automotive systems

Номер патента: WO2022164512A1. Автор: Rahul Gulati,Kiran Kumar Malipeddi. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-08-04.

Built-in-self-test and self-repair methods and devices for computer memories comprising a reconfiguration memory device

Номер патента: US20020019957A1. Автор: Yervant Zorian,Hai Quang Pham,Ilyoung Kim,Goh Komoriya,Frank P. Higgins. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A4. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-12-15.

Autonomous built-in self-test for integrated circuits

Номер патента: WO2004088478A3. Автор: Tibor Boros,Veerendra Bhora,Pulakesh Roy. Владелец: Pulakesh Roy. Дата публикации: 2005-04-21.

Logic Built-In Self-Test with High Test Coverage and Low Switching Activity

Номер патента: US20140365840A1. Автор: Janusz Rajski,Xijiang Lin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Built-in self-test (bist) circuit

Номер патента: US5230000A. Автор: Charles E. Stroud,Kenneth D. Mozingo. Владелец: AT&T Bell Laboratories Inc. Дата публикации: 1993-07-20.

Logic built-in self-test system and method for applying a logic built-in self-test to a device under test

Номер патента: US20110221469A1. Автор: Rolf Schlagenhaft. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2011-09-15.

Logic built-in self-test system and method for applying a logic built-in self-test to a device under test

Номер патента: US8461865B2. Автор: Rolf Schlagenhaft. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2013-06-11.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074935A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Software programmable verification tool having multiple built-in self-test (BIST) modules for testing and debugging multiple devices under test (DUT)

Номер патента: US20040073840A1. Автор: Esin Terzioglu,Gil Winograd,Zevnep Toros. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-04-15.

Reference bits test and repair using memory built-in self-test

Номер патента: US11929136B2. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Jongsin Yun,Harshitha Kodali. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Built in self test (BIST) for clock generation circuitry

Номер патента: US11821946B2. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Reference bits test and repair using memory built-in self-test

Номер патента: EP4128242A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Jongsin Yun,Harshitha Kodali. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Integrated circuit including built-in self test circuit to test memory and memory test method

Номер патента: US7876633B2. Автор: Yoshitaka Aoki,Yasuyuki Hirasaki,Katsumi Shinbo. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20220365135A1. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Method and apparatus for exercising external memory with a memory built-in self-test

Номер патента: EP1242998A1. Автор: Sie Boo Chiang,Beng Chew Khou,Jacques Wong. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-09-25.

Built in self test (bist) for clock generation circuitry

Номер патента: EP4152018A1. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

Integrated circuit including Built-In Self Test circuit to test memory and memory test method

Номер патента: US20090238018A1. Автор: Yoshitaka Aoki,Yasuyuki Hirasaki,Katsumi Shinbo. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Built-in self-test for die-to-die physical interfaces

Номер патента: US11940491B2. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Method and apparatus for exercising external memory with a memory built-in self-test

Номер патента: WO2001050474A1. Автор: Sie Boo Chiang,Beng Chew Khou,Jacques Wong. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2001-07-12.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20230384377A1. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

SYSTEM ON CHIP INCLUDING BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT AND BUILT-IN SELF TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20150074459A1. Автор: HONG Yong-Jun. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

SYSTEM CHIP, AND BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SELF-TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200096565A1. Автор: Lin I-Hsueh,Liu Chia-Min. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

BUILT-IN SELF TEST SYSTEM, SYSTEM ON A CHIP AND METHOD FOR CONTROLLING BUILT-IN SELF TESTS

Номер патента: US20150137841A1. Автор: Staudenmaier Michael,Frank Juergen,THANNER MANFRED,CULSHAW CARL. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-05-21.

System chip, built-in self-test circuit and self-test method thereof

Номер патента: CN111025132B. Автор: 林宜学,刘佳旻. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2022-02-15.

System chip, and built-in self-test circuit and self-test method thereof

Номер патента: TWI674423B. Автор: 林宜學,劉佳旻. Владелец: 瑞昱半導體股份有限公司. Дата публикации: 2019-10-11.

Programmable memory built-in self-test combining microcode and finite state machine self-test

Номер патента: JP3640350B2. Автор: アール・ディーン・アダムス,トーマス・ジェイ・エッケンロード,スティーブン・エル・グレゴー,カムラン・ザリニー. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-04-20.

Built-in self test circuit and self test method for parallel plate capacitive MEMS (Micro-Electro-Mechanical-System) accelerometer

Номер патента: CN105823907A. Автор: 李佳,余丹. Владелец: Jiangsu IoT Research and Development Center. Дата публикации: 2016-08-03.

Built-in self test circuit for segmented static random access memory (sram) array input/output

Номер патента: US20240071546A1. Автор: Promod Kumar,Harsh Rawat,Kedar Janardan Dhori,Nitin Chawla,Bhupender Singh,Hitesh Chawla,Manuj Ayodhyawasi,Tanuj KUMAR. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-29.

Built-in self test for one-time-programmable memory

Номер патента: US8508972B2. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-08-13.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20120092916A1. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2012-04-19.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20130294143A1. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-11-07.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: US20140185393A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Built-in-self-test für flash speicherzellen

Номер патента: DE60302473D1. Автор: Darlene Hamilton,Azrul Halim,Syahrizal Salleh,S Bill,V Bautista,Fook Lee,Cheong Cheah,Boon Law,Tang Teh,Joseph Kucera. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Memory controller, mirrored memory modules and associated built-in self-test

Номер патента: EP4394776A1. Автор: Sungjoon Kim,Changho YUN,Chaeeun LEE,Yukyoung KIM,Jongwon Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-03.

Full address coverage during memory array built-in self test with minimum transitions

Номер патента: US9651617B2. Автор: Thomas Jew,David W. Chrudimsky,Edward Bryann C. Fernandez. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Built-in self testing of a flash memory

Номер патента: TW200836208A. Автор: Ola Jonsson,Hakan Brink,Daniel Flinck. Владелец: Sony Ericsson Mobile Comm Ab. Дата публикации: 2008-09-01.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB201410749D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-30.

Built-in self-test circuit for RAMBUS DRAM

Номер патента: TW425567B. Автор: Shi-Yu Huang,Ding-Ming Kuai. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2001-03-11.

Data processing system with built-in self-test and method therefor

Номер патента: US20170082686A1. Автор: Alexander B. Hoefler,Andrew H. Payne,Chris P. Nappi,Colin MacDonald,Jose A. Lyon. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-03-23.

Memory module and memory component built-in self test

Номер патента: AU2001290935A1. Автор: John Halbert,Randy Bonella. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2002-04-02.

System and method for calibration and built-in self test of automobile radar system

Номер патента: EP2972468A1. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Autoliv ASP Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB2511972B. Автор: Comparan Miguel,D Brown Jeffrey,A Shearer Robert,T Watson Alfred Iii. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-20.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801B1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Built-in self-test hierarchy for an integrated circuit

Номер патента: TW200416399A. Автор: Jing Wu,IL-Young Kim,Laurence Reeves,Paul W Rutkowski. Владелец: AGERE SYSTEMS INC. Дата публикации: 2004-09-01.

Method for performing built-in self-tests and electronic circuit

Номер патента: GB201319034D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-12-11.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801C0. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

An analog built-in self-test scheme for high volume power management integrated circuit products

Номер патента: EP4421503A1. Автор: Xicheng Jiang,Shengyuan Li. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Systems and methods for built-in self test of low dropout regulators

Номер патента: US09933802B1. Автор: Jae Woong Jeong,Leroy Winemberg,Ender Yilmaz. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US09728276B2. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Software programmable verification tool having a single built-in self-test (BIST) module for testing and debugging multiple memory modules in a device under test (DUT)

Номер патента: US7519862B2. Автор: Zeynep M. Toros,Esin Terzioglu,Gil Winograd. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-04-14.

Method of testing memory device, memory built-in self test (mbist) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US20220113889A1. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-14.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240019485A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20230366930A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Enhanced direct current (DC) built-in-self-test (BIST) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US12007432B2. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

RRAM controller built in self test memory

Номер патента: US20070091702A1. Автор: Andrey Nikitin,Alexander Andreev,Ilya Neznanov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2007-04-26.

Recording of result information in a built-in self-test circuit and method therefor

Номер патента: TW569232B. Автор: James S Ledford,Alex S Yap,Brian E Cook. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2004-01-01.

Memory module and memory component built-in self test and methods thereof

Номер патента: HK1063264A1. Автор: John Halbert,Randy Bonella. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-12-17.

Test Generator For Low Power Built-In Self-Test

Номер патента: US20120272110A1. Автор: Jerzy Tyszer,Benoit Nadeau-Dostie,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

MEMORY DEVICE WITH BACKGROUND BUILT-IN SELF-TESTING AND BACKGROUND BUILT-IN SELF-REPAIR

Номер патента: US20130173970A1. Автор: Patel Jay,Kleveland Bendik,Sikdar Dipak K.,Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2013-07-04.

Path-based crosstalk fault test scanning in built-in self-testing

Номер патента: US20140095951A1. Автор: Xiao Liu,Nisar Ahmed,Corey Jason Goodrich,Chris Therrien. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074934A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170074935A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

TEST SYSTEM FOR EXECUTING BUILT-IN SELF-TEST IN DEPLOYMENT FOR AUTOMOTIVE APPLICATIONS

Номер патента: US20200075116A1. Автор: Kalva Anitha,Wu Jue. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

Low Cost Built-in-Self-Test Centric Testing

Номер патента: US20200088790A1. Автор: Chi YUAN,Peter BALUN. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT

Номер патента: US20140185393A1. Автор: ONG Wei-Kent,ONG Mee-Choo,"Chng Sheau-Yang",Teoh Boon-Weng,Lau Sie Wei Henry,Beh Jih Hong. Владелец: Spansion, LLC.. Дата публикации: 2014-07-03.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test

Номер патента: US20210156918A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Mukherjee Nilanjan,Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Rybak Lukasz. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

TESTING READ-ONLY MEMORY USING MEMORY BUILT-IN SELF-TEST CONTROLLER

Номер патента: US20200135290A1. Автор: Singh Jasbir,Narayanan Prakash,NARESH Nikita,INUGANTI Prathyusha Teja,YARADUYATHINAHALLI Rakesh Channabasappa,ACHARYA Aravinda,NARAYANAN Naveen Ambalametil. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

BUILT-IN-SELF-TEST LOGIC, MEMORY DEVICE WITH SAME, AND MEMORY MODULE TESTING METHOD

Номер патента: US20220293205A1. Автор: Lee Yong Ki,Kim Jaehyeok,OH Eunhye,KIM GAPKYOUNG,PARK TAEWOOK. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

Built-in-self-test (bist) test time reduction

Номер патента: US20140258797A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

TEST CONTROL POINT INSERTION AND X-BOUNDING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST (LBIST) USING OBSERVATION CIRCUITRY

Номер патента: US20140258798A1. Автор: AHMED NISAR,Shofner,JR. Orman G.. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-09-11.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170176531A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170176532A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

MEMORY DEVICE WITH BACKGROUND BUILT-IN SELF-REPAIR USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TESTING

Номер патента: US20140317460A1. Автор: Patel Jay,Kleveland Bendik,Sikdar Dipak K.,Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2014-10-23.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) TEST TIME REDUCTION

Номер патента: US20170229191A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

METHOD AND SYSTEM FOR REDUCING MEMORY TEST TIME UTILIZING A BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE

Номер патента: US20150262710A1. Автор: Chakravarty Sreejit. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2015-09-17.

Logic Built-In Self-Test with High Test Coverage and Low Switching Activity

Номер патента: US20140365840A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Lin Xijiang. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

OPHTHALMIC DEVICE WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY FOR TESTING AN ADJUSTABLE LENS

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Lee Shungneng. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180286491A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

Configurable Test Address And Data Generation For Multimode Memory Built-In Self-Testing

Номер патента: US20150310933A1. Автор: Chakraborty Kanad,Purushotham Naveen,Ratchen Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

CONDITIONAL ACCESS CHIP, BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20170336472A1. Автор: TSAI Shang-Ta,WENG PEI-EN,LU TSUNG-TA. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20190348137A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

OPHTHALMIC DEVICE WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY FOR TESTING AN ADJUSTABLE LENS

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Lee Shungneng. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

TESTING READ-ONLY MEMORY USING MEMORY BUILT-IN SELF-TEST CONTROLLER

Номер патента: US20200388346A1. Автор: Singh Jasbir,Narayanan Prakash,NARESH Nikita,INUGANTI Prathyusha Teja,YARADUYATHINAHALLI Rakesh Channabasappa,ACHARYA Aravinda,NARAYANAN Naveen Ambalametil. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Deterministic test pattern generator for built-in self test

Номер патента: KR100444763B1. Автор: 강용석,강성호. Владелец: 강성호. Дата публикации: 2004-08-21.

Array-built-in-self-test(abist) for efficient, fast, bitmapping of large embedded arrays in manufacturing test

Номер патента: KR100447910B1. Автор: 헤슬립제이지.,메이어개리더블유.,살렘제라드엠.,본레인티모시제이.. Владелец: 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션. Дата публикации: 2004-09-13.

Semiconductor memory circuit with built-in self-test and self-repair

Номер патента: DE60001291T2. Автор: Tomoya Kawagoe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-10-02.

Built-in self-test circuit using multiple input signature register, especially securing maximal test points

Номер патента: KR100455373B1. Автор: 이동순. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-01-17.

Built-in self-testing device and testing method of MEMS piezoresistive sensor

Номер патента: CN111238698B. Автор: 陈大鹏,李佳,王玮冰,朱曼红. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2021-10-22.

Interruptible non-destructive run-time built-in self-test for field testing

Номер патента: US8799713B2. Автор: Swathi Gangasani,Srinivasulu Alampally,Prohor Chowdhury,Srinivasa B S Chakravarthy,Padmini Sampath,Rubin Ajit Parekhji. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-08-05.

Method and Apparatus for Testing a Ring of Non-Scan Latches with Logic Built-in Self-Test

Номер патента: US20080250290A1. Автор: Louis Bernard Bushard,Nathan Paul Chelstrom,Naoki Kiryu,David John Krolak. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Self-repairing built-in self test for linked list memories

Номер патента: US6781898B2. Автор: Hyung Won Kim,Chuen-Shen Shung. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-08-24.

Method and apparatus for testing a ring of non-scan latches with logic built-in self-test

Номер патента: US7406640B2. Автор: Louis Bernard Bushard,Nathan Paul Chelstrom,Naoki Kiryu,David John Krolak. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-07-29.

Test pattern generation circuit and generation method for built in self test circuit

Номер патента: JP2003030000A. Автор: Yoshihiro Nagura,Yukikazu Matsuo,幸和 松尾,義博 名倉. Владелец: Renesas Semiconductor Engineering Corp. Дата публикации: 2003-01-31.

Device and method for subarray testing in dynamic random access memory using built-in self-test device

Номер патента: KR100480852B1. Автор: 데니 알. 클린,데오 제이. 포웰,히 퀑 후아,와 킷 로. Владелец: 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드. Дата публикации: 2005-07-07.

Array self repair using built-in self test techniques

Номер патента: US20060174175A1. Автор: Pradip Patel,Franco Motika,Daniel Rodko,William Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-08-03.

Built-in-self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US9881694B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Method, system, and program product for controlling test data of a logic built-in self-test of an integrated circuit

Номер патента: US20060107149A1. Автор: Jay Herring,Marvin Rich. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-18.

Conditional access chip, its built-in self-test circuit and method of testing

Номер патента: CN107492395A. Автор: 蔡尚达,翁培恩,吕宗达. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2017-12-19.

Trajectory-optimized test pattern generation for built-in self-test

Номер патента: US11585853B2. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski,Lukasz Rybak. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-02-21.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11424000B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2022-08-23.

Method, system, and program product for boundary I/O testing employing a logic built-in self-test of an integrated circuit

Номер патента: US20060095820A1. Автор: Jay Herring,Marvin Rich. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-04.

Self-contained built-in self-test circuit with phase-shifting abilities for high-speed receivers

Номер патента: US20230055935A1. Автор: Glen A. Wiedemeier,Chad Andrew Marquart,Nathan Ross Blanchard,Venkat Harish Nammi,Dereje Yilma,Jeffrey Kwabena Okyere,Erik English,Christopher STEFFEN,Vikram B. Raj,Michael Wayne Harper. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Test interface for random access memory (RAM) built-in self-test (BIST)

Номер патента: US7490279B1. Автор: Rahul Kumar,Partha Ray,Suryanarayana R. Maturi. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: US10818374B2. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-10-27.

Built-in self test for memory interconnect testing

Номер патента: US20050080581A1. Автор: David Zimmerman,Jay Nejedlo. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US20090100305A1. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2009-04-16.

Method and apparatus for testing a ring of non-scan latches with logic built-in self-test

Номер патента: US20070234159A1. Автор: Naoki Kiryu,Louis Bushard,Nathan Chelstrom,David Krolak. Владелец: Toshiba America Electronic Components Inc. Дата публикации: 2007-10-04.

System and method including built-in self test (BIST) circuit to test cache memory

Номер патента: US8127184B2. Автор: Baker Mohammad. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-02-28.

Generation of test sequences during memory built-in self testing of multiple memories

Номер патента: US7788563B2. Автор: Ranko Scepanovic,Alexandre E. Andreev,Anatoli A. Bolotov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2010-08-31.

Built-in-self-test logic, memory device with same, and memory module testing method

Номер патента: US20240021261A1. Автор: Jaehyeok Kim,Yong Ki Lee,Eunhye OH,Gapkyoung Kim,Taewook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Method and structure for picosecond-imaging-circuit-analysis based built-in-self-test diagnostic

Номер патента: US20050188290A1. Автор: Peilin Song,Franco Motika. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-08-25.

Automated tests for built-in self test

Номер патента: TW200636266A. Автор: Xin Guo,Darlene Hamilton,Kendra Nguyen,Mi-Mi Lee,Ken-Cheong Cheah. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2006-10-16.

Built-in-self-test logic, memory device with same, and memory module testing method

Номер патента: US11804276B2. Автор: Jaehyeok Kim,Yong Ki Lee,Eunhye OH,Gapkyoung Kim,Taewook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-31.

Multi-phase logic built-in self-test observation scan technology

Номер патента: WO2024076370A1. Автор: Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Jedrzej Solecki,Yingdi Liu. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-04-11.

Partial-Scan Built-In Self-Testing Circuit Having Improved Testability

Номер патента: CA2119226A1. Автор: Chih-Jen Lin. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1994-11-18.

Built-in self test circuit for segmented static random access memory (sram) array input/output

Номер патента: US20240069096A1. Автор: Promod Kumar,Harsh Rawat,Kedar Janardan Dhori,Nitin Chawla,Bhupender Singh,Hitesh Chawla,Manuj Ayodhyawasi,Tanuj KUMAR. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-29.

Mechanisms for built-in self test and repair for memory devices

Номер патента: US20130021861A1. Автор: Volodymyr SHVYDUN,Saman M. I. Adham. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-24.

GENERIC MARCH ELEMENT BASED MEMORY BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20130086440A1. Автор: Hamdioui Said,Al-Ars Zaid,Gaydadjiev Georgi Nedeltchev,Van de Goor Adrianus. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2013-04-04.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT APPLIED TO HIGH SPEED I/O PORT

Номер патента: US20130194876A1. Автор: Chen Yu-Lin,Liu Hsian-Feng,Chen Chung-Ching. Владелец: MStar Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2013-08-01.

INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY HAVING ENHANCED FEATURES AND METHODS

Номер патента: US20130205179A1. Автор: Chen Wei-yu,Badgett Kevin,Hesse Kay. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2013-08-08.

Deeply pipelined integrated memory built-in self-test (bist) system and method

Номер патента: US20130223168A1. Автор: Gary L. Taylor,Rosalee D. Gunderson. Владелец: Avago Technologies Enterprise IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

Latency Detection in a Memory Built-In Self-Test by Using a Ping Signal

Номер патента: US20130232385A1. Автор: Hesse Kay,Periyacheri Suresh. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2013-09-05.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20130294143A1. Автор: Samuels Howard R.,Kelly Thomas W.,Lee James M.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

BUILT-IN-SELF-TEST USING EMBEDDED MEMORY AND PROCESSOR IN AN APPLICATION SPECIFIC INTERGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20140068333A1. Автор: Taylor Richard D.,Montierth Mark D.,Bodily Melvin D.,Zimmerman Gary,Marshall John D.. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

STRUCTURE OF BUILT-IN SELF-TEST FOR PRESSURE TESTER AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20140083158A1. Автор: Cheng Wei-Jen. Владелец: KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD. Дата публикации: 2014-03-27.

Method and Apparatus for Optimizing Memory-Built-In-Self Test

Номер патента: US20140089874A1. Автор: Norman Card,Steven Gregor,Puneet Arora,Navneet Kaushik. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2014-03-27.

DIAGNOSING FAILURE LOCATIONS OF AN INTEGRATED CIRCUIT WITH LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180003768A1. Автор: Douskey Steven M.,Kaufer Amanda R.,PFEIFER PASTEL LEAH MARIE. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2018-01-04.

METHOD AND APPARATUS FOR BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20200003830A1. Автор: Lu Ming,WANG Juncheng,Chiang Patrick Yin,Bai Rui,Chen Xuefeng,Ma Jianxu. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

Device with Blockable/Un-Blockable Fluid Channels and Built-In Self-Test Equipment

Номер патента: US20220011329A1. Автор: Li Mengchu,Tseng Tsun-Ming,Schlichtmann Ulf. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-13.

Built-in self-test (bist) engine

Номер патента: US20170018313A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-19.

METHOD AND SYSTEM FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20160025808A1. Автор: JINDAL ANURAG,Jindal Amit,Singh Nitin. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2016-01-28.

BUILT-IN SELF TEST FOR A/D CONVERTER

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Jin Xiankun,Stachew Mark. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

LOGIC-BUILT-IN-SELF-TEST DIAGNOSTIC METHOD FOR ROOT CAUSE IDENTIFICATION

Номер патента: US20160033570A1. Автор: Forlenza Donato O.,Forlenza Orazio P.,Robbins Bryan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

LOGIC-BUILT-IN-SELF-TEST DIAGNOSTIC METHOD FOR ROOT CAUSE IDENTIFICATION

Номер патента: US20160033571A1. Автор: Forlenza Donato O.,Forlenza Orazio P.,Robbins Bryan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

LOGIC BUILT-IN SELF-TEST (LBIST) WITH PIPELINE SCAN ENABLE LAUNCH ON SHIFT (LOS) FLIP-FLOP CIRCUIT

Номер патента: US20180031631A1. Автор: Srinivasan Venkata Narayanan,GUPTA Tripti. Владелец: STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.. Дата публикации: 2018-02-01.

DYNAMIC BUILT-IN SELF-TEST SYSTEM

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Douskey Steven M.,Hamilton Michael J.,Kaufer Amanda R.,Fitch Ryan A.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-05.

Built-In-Self-Test Circuits And Methods Using Pipeline Registers

Номер патента: US20190043601A1. Автор: Tan Tze Sin. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-02-07.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180053566A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

SCALABLE BUILT-IN SELF TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20140132291A1. Автор: GORTI ATCHYUTH K.,Somachudan Archana. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180061509A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

Isolating Failing Latches Using a Logic Built-In Self-Test

Номер патента: US20140149814A1. Автор: Riley Mack W.,"Al-omari Raed M.",Harper Micheal W.,Phan Cindy. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-29.

BUILT-IN SELF-TEST FOR BIT-WRITE ENABLED MEMORY ARRAYS

Номер патента: US20210074376A1. Автор: Huott William,Rodko Daniel,Patel Pradip,Hyde Matthew Steven. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

FUNCTIONAL BUILT-IN SELF TEST FOR A CHIP

Номер патента: US20140156253A1. Автор: Tremaine Robert B.,Mcilvain Kevin M.,Van Huben Gary. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20200075119A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

ROBUST BUILT-IN SELF TEST CIRCUITRY

Номер патента: US20180080986A1. Автор: Peterson Kirk D.,Hook Terence B.,DeForge John B.,Newton Theresa A.. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

DATA PROCESSING SYSTEM WITH BUILT-IN SELF-TEST AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20170082686A1. Автор: Hoefler Alexander B.,MacDonald Colin,LYON JOSE A.,NAPPI CHRIS P.,PAYNE ANDREW H.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

BUILT-IN SELF-TEST FOR STACKED MEMORY ARCHITECTURE

Номер патента: US20140164833A1. Автор: Kobla Darshan,Zimmerman David,Natarajan Vimal K.. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-12.

BUILT-IN SELF TEST FOR AN ARRAY OF CIRCUIT ELEMENTS

Номер патента: US20200081058A1. Автор: Schmalzl Erwin. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US20160093401A1. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-03-31.

FULL ADDRESS COVERAGE DURING MEMORY ARRAY BUILT-IN SELF TEST WITH MINIMUM TRANSITIONS

Номер патента: US20170092380A1. Автор: Jew Thomas,Chrudimsky David W.,FERNANDEZ Edward Bryann C.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

FAILING ADDRESS REGISTERS FOR BUILT-IN SELF TESTS

Номер патента: US20210098069A1. Автор: Miller Thomas E.,Srinivasan Uma,Fredeman Gregory J.,Hyde Matthew Steven,KNIPS THOMAS J.. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

METHOD AND APPARATUS FOR ON-THE-FLY MEMORY CHANNEL BUILT-IN-SELF-TEST

Номер патента: US20150106673A1. Автор: Chen Chao Yu,Huang Jung Chi,Hu Wen Hsuan. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

MECHANISMS FOR BUILT-IN SELF TEST AND REPAIR FOR MEMORY DEVICES

Номер патента: US20150109848A1. Автор: ADHAM Saman M. I.,HUNG Chao-Jung. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

3D BUILT-IN SELF-TEST SCHEME FOR 3D ASSEMBLY DEFECT DETECTION

Номер патента: US20140189456A1. Автор: Loh Siang Poh,Lim Chooi Pei. Владелец: Altera Corporation. Дата публикации: 2014-07-03.

ENHANCED MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE FOR DE-FEATURED MEMORIES

Номер патента: US20170110204A1. Автор: Tiwari Rajesh,Bhat Shankarnarayan,Bhat Anand,Anand Ashutosh,BHUSHAN SINGH Nishi,Kothiala Abhinav. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20170110205A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

BYTE ENABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) ALGORITHM

Номер патента: US20190115091A1. Автор: Jung Chulmin,AHMED Fahad,Seok Greg. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

DYNAMIC WEIGHT SELECTION PROCESS FOR LOGIC BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20210156910A1. Автор: Motika Franco,Kusko Mary P.,Atwood Eugene. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

Logic built-in self test dynamic weight selection method

Номер патента: US20210156911A1. Автор: Franco Motika,Mary P. Kusko,Eugene Atwood. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

ENCODER BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT APPLIED IN FLASH MEMORY CONTROLLER AND ASSOCIATED METHOD

Номер патента: US20200118641A1. Автор: Yang Tsung-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

Built-In-Self-Test Circuits And Methods In Sectors Of Integrated Circuits

Номер патента: US20220277799A1. Автор: Khor Kok Wah. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2022-09-01.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150154095A1. Автор: Kang Hee-Won. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2015-06-04.

BUILT-IN SELF-TEST FOR EMBEDDED SPIN-TRANSFER TORQUE MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY

Номер патента: US20180151246A1. Автор: Rajamani Karthick,Sethuraman Saravanan,Hunter Hillery C.,Healy Michael B.,Mukundan Janani. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Method for performing built-in self-tests and electronic circuit

Номер патента: US20150162097A1. Автор: ECKERT Martin,Torreiter Otto,Zoelin Christian. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

MEMORIES HAVING A BUILT-IN SELF-TEST (BIST) FEATURE

Номер патента: US20150162098A1. Автор: Silveira Reinaldo,SPRUTH HENNING F.,Qureshi Qadeer A.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

DESIGN-BASED WEIGHTING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20150168489A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Cook Gregory J.,Koprowski Timothy J.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-18.

DESIGN-BASED WEIGHTING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20150169423A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Cook Gregory J.,Koprowski Timothy J.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-06-18.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT, MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD OF OPERATING THE BIST CIRCUIT

Номер патента: US20170162276A1. Автор: SHIN Sang-Hoon,PARK Ki-Hyun,PARK Yong-Sik,OK Seung-Ho,Zhang Pyung-moon. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

MEMORY DEVICE AND BUILT-IN SELF TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200152285A1. Автор: NAKAOKA Yuji. Владелец: WINBOND ELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2020-05-14.

ADJUSTABLE BED FOUNDATION SYSTEM WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20140250597A1. Автор: CHEN YI-CHING,Stusynski Stacy,McGuire John. Владелец: SELECT COMFORT CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-11.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US20160178696A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-06-23.

System And Method For Calibration And Built-In Self Test Of Automobile Radar System

Номер патента: US20140266865A1. Автор: Doyle Scott B.. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Built-in self-test (bist) circuit, memory device including the same, and method of operating the bist circuit

Номер патента: US20190180837A1. Автор: Yong-Sik Park,Sang-Hoon Shin,Ki-Hyun Park,Pyung-Moon Zhang,Seung-Ho OK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-13.

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY BUILT-IN SELF-TEST POWER FAIL MITIGATION

Номер патента: US20200176072A1. Автор: NALE Bill. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192054A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192055A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192057A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281717A1. Автор: AHMED NISAR. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281778A1. Автор: JINDAL ANURAG,AHMED NISAR,Mahajan Nipun. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

MEMS PEIZOELECTRIC ACCELEROMETER WITH BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20170205440A1. Автор: Zhang Weibin,Huynh Cuong Tho,McTighe James Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-20.

A CIRCUIT ARRANGEMENT FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST OF A SEMICONDUCTOR DEVICE AND A METHOD OF OPERATING SUCH CIRCUIT ARRANGEMENT

Номер патента: US20150219717A1. Автор: AHRENS HEIKO,RICHTER Bernhard,Latzel Claudia. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-08-06.

FULL ADDRESS COVERAGE DURING MEMORY ARRAY BUILT-IN SELF-TEST WITH MINIMUM TRANSITIONS

Номер патента: US20170213601A1. Автор: Jew Thomas,Strauss Timothy J.,Shao Botang,FERNANDEZ Edward Bryann C.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

Memory Built-In Self Test System

Номер патента: US20160224450A1. Автор: Gorman Kevin W.,Chadwick Thomas,Pratt Nancy. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

DATA PROTECTION FOR MEMORY WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20170220443A1. Автор: Broutin Mickael,ANQUET Nicolas,Lelievre Benoit. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Apparatus for memory built-in self-test with error detection and correction code awareness

Номер патента: US20190227121A1. Автор: Asad Azam,R Selvakumar Raja Gopal,Kaitlyn Chen. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Apparatus And Method Of RF Built In Self-Test (RFBIST) In A Radar System

Номер патента: US20210263147A1. Автор: ARKIND Noam,Bauer Abraham. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

Deterministic Built-In Self-Test

Номер патента: US20160245863A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Rybak Lukasz,Solecki Jedrzej. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-25.

BUILT-IN SELF-TEST FOR A RADAR UNIT RECEIVER AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20190242973A1. Автор: SCHAT Jan-Peter,Zanati Abdellatif. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

METHODS AND CIRCUITRY FOR BUILT-IN SELF-TESTING OF CIRCUITRY AND/OR TRANSDUCERS IN ULTRASOUND DEVICES

Номер патента: US20210325349A1. Автор: Chen Chao,Chen Kailiang,Sanchez Nevada J.,Kook Youn-Jae,Lutsky Joseph,Soleimani Hamid,Lee Jihee,Chiu Leung Kin,Schaetz Sebastian. Владелец: Butterfly Network, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

ADDRESS WINDOWING FOR AT-SPEED BITMAPPING WITH MEMORY BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20140359383A1. Автор: Rodriguez Geovanny,Vincent Brian J.,Vonreyn Timothy J.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US20170285104A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

BUILT-IN SELF-TEST IN A DATA PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20200278395A1. Автор: SEVERINO Christopher Vincent,WONG Kar-Lik Kasim,HERD Joseph Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT

Номер патента: US20160306010A1. Автор: Li Ming. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20160307644A1. Автор: Kang Hee-Won. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

INTERFACE CHIP AND BUILT-IN SELF-TEST METHOD THEREFOR

Номер патента: US20160313399A1. Автор: LIN YU-LUNG,LIN Po-Chou. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-27.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20180306858A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-25.

EMBEDDED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUITRY FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR (DSP) VALIDATION

Номер патента: US20170328951A1. Автор: Liew Weng Hong. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST ERROR CORRECTING CODE (MBIST ECC) FOR LOW VOLTAGE MEMORIES

Номер патента: US20200321070A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Chickanosky Valerie H.,HANAGANDI Deepak I.,LODHA Kalpesh R.. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20160365156A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-15.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST FOR A DATA PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20150371718A1. Автор: Aitken Robert Campbell,PATHIRANE Chiloda Ashan Senerath,BECKER Alan Jeremy. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

Built-in self-test (bist) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US20190378587A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20220365135A1. Автор: FORESTIER Arnaud J.,Mehta Vikram,Faure Fabien S.. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

독자적 지연장애 내장자체테스트방법 및 장치 [robust delay fault built-in self-testing method and apparatus]

Номер патента: KR950703767A. Автор: 마이클 엘. 부쉬넬,임티어즈 셰이크. Владелец: 러트거스 유니버시티. Дата публикации: 1995-09-20.

Method and apparatus for built-in self-test

Номер патента: CN110446935B. Автор: 陈学峰,陆明,姜培,马建旭,白睿,王俊成. Владелец: Photonic Technologies Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Functional built-in self test for a chip

Номер патента: US9384108B2. Автор: Kevin M. McIlvain,Robert B. Tremaine,Gary Van Huben. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Fault Repair Circuit with Built-in Self Test Circuit and Defect Repair Method Using the Same

Номер патента: KR19990069338A. Автор: 최용진. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-09-06.

Redundancy circuit having built-in self test circuit and repair method using the same

Номер патента: KR100265765B1. Автор: 최용진. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2000-10-02.

Mixed signal integrated circuit, with built in self test and method

Номер патента: US20110181312A1. Автор: Chris Ouslis,Scott Howe. Владелец: FRESCO MICROCHIP Inc. Дата публикации: 2011-07-28.

Mems sensor with built-in self-test

Номер патента: US20100145660A1. Автор: Christoph Lang,Udo-Martin Gomez,Valdimir Petkov. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2010-06-10.

Combined processor access and built in self test in hierarchical memory systems

Номер патента: US7844867B1. Автор: Sudhakar Reddy,Gary Depelteau. Владелец: Netlogic Microsystems Inc. Дата публикации: 2010-11-30.

Configurable and memory architecture independent memory built-in self test

Номер патента: US6760872B2. Автор: Jay K. Gupta,Somnath Paul. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2004-07-06.

Circuits, systems, and methods for external evaluation of microprocessor built-in self-test

Номер патента: US6061811A. Автор: John M. Johnsen,James O. Bondi,Donald E. Steiss,Joel J. Graber. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2000-05-09.

Dram memory controller with built-in self test and methods for use therewith

Номер патента: CN102385560A. Автор: R·古普塔,C-C·叶. Владелец: ViXS Systems Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

Integrated circuit with built-in self-test device

Номер патента: DE19835258A1. Автор: Robert Kaiser,Florian Schamberger,Hans-Juergen Krasser. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2000-02-10.

Method and system for performing built-in self-test routines using an accumulator to store fault information

Номер патента: US7260758B1. Автор: Ghasi R. Agrawal,William Schwarz,Mukesh K. Puri. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2007-08-21.

Built in self test for input/output characterization

Номер патента: US7814386B2. Автор: JOHN Joseph SEIBOLD,Vinay B. Jayaram,Elie Torbey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Encoder built-in self-test circuit applied in flash memory controller and associated method

Номер патента: US11373723B2. Автор: Tsung-Chieh Yang. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2022-06-28.

Built-in self-test for stacked memory architecture

Номер патента: CN104205233A. Автор: D.科布拉,D.齐默曼,V.K.纳塔拉简. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-12-10.

Lowering power consumption during logic built-in self-testing (LBIST) via channel suppression

Номер патента: US7793184B2. Автор: Steven M. Douskey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-09-07.

System, method, and device including built-in self tests for communication bus device

Номер патента: US7865773B2. Автор: Bryan J. Thornley,Craig Chaiken,Vinod Makhija,Andrew O'Rourke. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2011-01-04.

Built-in self-test for logic circuitry at memory array output

Номер патента: KR0174340B1. Автор: 폴 코너 존,터르넬로 주니어 루이지. Владелец: 윌리엄 티. 엘리스. Дата публикации: 1999-04-01.

Built-in self test (BIST) architecture having distributed interpretation and generalized command protocol

Номер патента: US7814380B2. Автор: David W. Hansquine,Roberto Fabian Averbuj. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Method and system of fast clearing of memory using a built-in self-test circuit

Номер патента: WO2008100495A1. Автор: Lewis Adams,Alan Herring. Владелец: GainSpan Corporation. Дата публикации: 2008-08-21.

Techniques for logic built-in self-test diagnostics of integrated circuit devices

Номер патента: US7856582B2. Автор: Daniel W. Cervantes,Robert B. Gass,Joshua P. Hernandez,Timothy M. Skergan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-12-21.

Built-in self-test technique and system for conteni-addressable memory

Номер патента: KR940011427B1. Автор: 조리안 에반트. Владелец: 알.비.레비. Дата публикации: 1994-12-15.

Built-in self test system and method for two-dimensional memory redundancy allocation

Номер патента: US20040225939A1. Автор: R. Adams,Thomas Eckenrode,Steven Gregor,Gary Koch. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-11-11.

Weighted random pattern built-in self-test

Номер патента: KR100309537B1. Автор: 프란코 모티카,스티븐 브이 파테라스,존 제임스 슈셰레바. Владелец: 포만 제프리 엘. Дата публикации: 2001-11-30.

Apparatus and method of rf built in self-test (rfbist) in a radar system

Номер патента: WO2020016879A1. Автор: Abraham Bauer,Noam ARKIND. Владелец: Arbe Robotics Ltd.. Дата публикации: 2020-01-23.

Built-in self-test circuit applied to high speed I/O port

Номер патента: US8773932B2. Автор: Yu-Lin Chen,Hsian-Feng Liu,Chung-ching Chen. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2014-07-08.

Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus

Номер патента: EP0663092A1. Автор: Michael L. Bushnell,Imtiaz Cook Campus Shaik. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 1995-07-19.

Memory built-in self test (MBIST) circuitry configured to facilitate production of pre-stressed integrated circuits and methods

Номер патента: US8468408B2. Автор: Wei-Yu Chen,Kevin Badgett,Kay Hessee. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2013-06-18.

Method of improving logical built-in self test (LBIST) AC fault isolations

Номер патента: US7376875B2. Автор: Rolf Hilgendorf,Thomas Pflueger,Johannes Koesters. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-05-20.

Microcontroller for logic built-in self test (LBIST)

Номер патента: US7490280B2. Автор: Steven F. Oakland,Gary D. Grise,David E. Lackey,Donald L. Wheater. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Automatically extensible addressing for shared array built-in self-test (abist) circuitry

Номер патента: US20090249146A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Valerie H. Chickanosky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Built-in self-testing for double data rate input/output

Номер патента: US20030101376A1. Автор: Amit Sanghani. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2003-05-29.

Semiconductor integrated circuit having a (BIST) built-in self test circuit for fault diagnosing operation of a memory

Номер патента: US7653854B2. Автор: Kenichi Anzou,Chikako Tokunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-01-26.

Programmable Built In Self Test (pBIST) system

Номер патента: CN103871476A. Автор: 拉古拉姆·达莫达兰,纳韦恩·布霍里亚,阿曼·科克拉迪. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-06-18.

Built-in self test circuit

Номер патента: JP3298621B2. Автор: 芳行 中村. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-02.

Built-in self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US11295829B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

Performing memory built-in-self-test (MBIST)

Номер патента: US7426668B2. Автор: Nilanjan Mukherjee,Wu-Tung Cheng,Xiaogang Du. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2008-09-16.

Dft technique for avoiding contention/conflict in logic built-in self-test

Номер патента: US20030053358A1. Автор: Sandip Kundu,Sanjay Sengupta,Rajesh Galivanche. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Microcontroller for logic built-in self test (LBIST)

Номер патента: US8423847B2. Автор: Steven F. Oakland,Gary D. Grise,David E. Lackey,Donald L. Wheater. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

Pre-announce signaling for interconnect built-in self test

Номер патента: US20040117708A1. Автор: David Ellis,Jay Nejedlo,Bruce Querbach,Amjad Khan,Sean Babcock,Eric Gayles,Eshwar Gollapudi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-06-17.

System for and method of performing high speed memory diagnostics via built-in-self-test

Номер патента: US20080082883A1. Автор: Michael R. Ouellette,Donald L. Wheater,Kevin W Gorman,Emory D. Keller. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Built-in self-testing for double data rate input/output interface

Номер патента: WO2003046925A2. Автор: Amit Sanghani. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2003-06-05.

Built-in self test circuit

Номер патента: KR100206128B1. Автор: 김헌철. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-07-01.

Look-ahead built-in self tests with temperature elevation of functional elements

Номер патента: US8028211B1. Автор: Michael Miller,Chuen-Der Lien. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2011-09-27.

Memory circuit with built-in self-test

Номер патента: DE69901534D1. Автор: Ding-Ming Kwai,Shi-Yu Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2002-06-27.

A built-in self-test circuit for a memory card

Номер патента: KR100384777B1. Автор: 이성근. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2003-05-22.

Mechanisms for built-in self test and repair for memory devices

Номер патента: CN103578562A. Автор: 萨曼·M·I·阿扎姆,洪照荣. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-02-12.

Method and system for logic built-in self-test

Номер патента: US9285424B2. Автор: Anurag Jindal,Nitin Singh,Amit Jindal. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-03-15.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (MBIST) system and method

Номер патента: US6959256B2. Автор: Luis Antonio Basto. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2005-10-25.

Method and apparatus for performing logic built-in self-testing of an integrated circuit

Номер патента: US7934134B2. Автор: Donato O. Forlenza,Orazio P. Forlenza,Bryan J. Robbins,Phong T. Tran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-04-26.

Built-in self-test emulator

Номер патента: US20060143524A1. Автор: Elias Gedamu,Denise Man. Владелец: Denise Man. Дата публикации: 2006-06-29.

Methods and circuitry for built-in self-testing of content addressable memories

Номер патента: US6609222B1. Автор: Sanjay Gupta,G. F. Randall Gibson. Владелец: SiberCore Tech Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Built-in self-test circuit and memory

Номер патента: CN111354412A. Автор: 陈岚,秦毅,陈巍巍,尤云霞. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2020-06-30.

Integrated circuit with low-power built-in self-test logic

Номер патента: US7895491B2. Автор: Yuqian C. Wong. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2011-02-22.

At-speed bitmapping in a memory built-in self-test by locking an n-th failure

Номер патента: US20100223511A1. Автор: Kay Hesse,Markus Seuring,Kai Eichhorn. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2010-09-02.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (mbist) system and method

Номер патента: WO2004105040A2. Автор: Luis Antonio Basto. Владелец: Analog Devices, Inc. Дата публикации: 2004-12-02.

On-chip erase pulse counter for efficient erase verify BIST (built-in-self-test) mode

Номер патента: US6665214B1. Автор: Edward V. Bautista, Jr.,Ken Cheong Cheah,Weng Fook Lee,Boon Tang Teh. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-12-16.

Built-in self test system and method

Номер патента: CN1551225A. Автор: ,王力,T,T·博赫勒,J·V·达萨帕. Владелец: Infenion Tech North America Corp. Дата публикации: 2004-12-01.

DRAM memory controller with built-in self test and methods for use therewith

Номер патента: US8438432B2. Автор: Chun-Chin Yeh,Rajat Gupta. Владелец: ViXS Systems Inc. Дата публикации: 2013-05-07.

Built-in self-test emulator

Номер патента: US20060020411A1. Автор: Elias Gedamu,Denise Man. Владелец: Denise Man. Дата публикации: 2006-01-26.

A circuit arrangement for logic built-in self-test of a semiconductor device and a method of operating such circuit arrangement

Номер патента: WO2014030034A1. Автор: Bernhard Richter,Heiko Ahrens,Claudia LATZEL. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-02-27.

Built-in self test circuit using linear feedback shift register

Номер патента: US20020194557A1. Автор: Jin-Young Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-12-19.

Built-in self-test circuit

Номер патента: US9733309B2. Автор: Ming Li. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Integrated circuit having built-in self-test features

Номер патента: US7800389B2. Автор: Paul David,Andrea Foletto,Andreas P. Friedrich,P. Karl Scheller. Владелец: Allegro Microsystems LLC. Дата публикации: 2010-09-21.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US10598727B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-24.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: EP1303815A2. Автор: Kamran Zarrineh,Thomas Eckenrode,Steven Gregor,Robert Dean Adams. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-04-23.

Built-in self-testing of multilevel signal interfaces

Номер патента: US20060242483A1. Автор: Jared Zerbe,Carl Werner,William Stonecypher. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2006-10-26.

Encoder built-in self-test circuit applied in flash memory controller and associated method

Номер патента: TWI677876B. Автор: Tsung-Chieh Yang,楊宗杰. Владелец: 慧榮科技股份有限公司. Дата публикации: 2019-11-21.

Built-in self test circuit for integrated circuits

Номер патента: EP1388788B1. Автор: Massimiliano Barone,Antonio Griseta. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-11-22.

Logic built-in self-test channel skipping during functional scan operations

Номер патента: US20080052581A1. Автор: Steven M. Douskey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-28.

Built-in self-test for processor unit with combined memory and logic

Номер патента: US11449404B1. Автор: Thomas Alan Ziaja,Dinesh Rajasavari AMIRTHARAJ. Владелец: SambaNova Systems Inc. Дата публикации: 2022-09-20.

Mems piezoelectric accelerometer with built-in self test

Номер патента: EP3196660B1. Автор: Cuong Tho Huynh,Weibin Zhang,James Joseph Mctighe. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2018-09-05.

Logic built-in self test

Номер патента: US6327685B1. Автор: Franco Motika,Timothy J. Koprowski. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2001-12-04.

Multi-memory built-in self-test method based on multi-target clustering genetic algorithm

Номер патента: CN110459258B. Автор: 陈佳楠,马永涛. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-03-12.

Method and apparatus for built-in self-test of logic circuits with multiple clock domains

Номер патента: WO2003075029A1. Автор: Eric West,Shridhar Mukund. Владелец: Lightspeed Semiconductor. Дата публикации: 2003-09-12.

3D memory and built-in self test circuit thereof

Номер патента: TW201348722A. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2013-12-01.

Circuit with built-in self-test function

Номер патента: JP2002542491A. Автор: ノレス ユルゲン,ディルシャール ゲルト,ゲルトナー ヴォルフガング. Владелец: インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト. Дата публикации: 2002-12-10.

Systems for Built-In-Self-Test for content addressable memories and methods of operating the same

Номер патента: US20050088904A1. Автор: Mohit Jain,Danish Syed. Владелец: STMICROELECTRONICS PVT LTD. Дата публикации: 2005-04-28.

Method and apparatus for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: WO2000011674A1. Автор: Yervant David Lepejian,Hrant Marandjian,Hovhannes Ghukasyan,Lawrence Kraus. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2000-03-02.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: CA2519618A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: Roberto F. Averbuj. Дата публикации: 2004-10-07.

Digital built-in self-test circuitry for phase locked loop

Номер патента: DE60122960D1. Автор: Hari Balachandran,Pramodchandran N Variyam. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Programmable memory built-in self test (MBIST) method and apparatus

Номер патента: JP4494474B2. Автор: ムカルジー，ニランジャン,ドゥ，シャオガン,チェン，ウー−タン. Владелец: メンター・グラフィクス・コーポレーション. Дата публикации: 2010-06-30.

System and method for calibration and built-in self test of automobile radar system

Номер патента: US9383433B2. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Autoliv ASP Inc. Дата публикации: 2016-07-05.

Built-in self-test circuit suitable for 1553 bus protocol

Номер патента: CN105572565A. Автор: 刘士全,蔡洁明,印琴. Владелец: CETC 58 Research Institute. Дата публикации: 2016-05-11.

Internally controlling and enhancing logic built-in self test in a multiple core microprocessor

Номер патента: US8122312B2. Автор: Michael S. Floyd,Robert B. Gass,Joshua D. Friedrich,Norman K. James. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-02-21.

Built-in self-test arrangement for integrated circuit memory devices

Номер патента: US20020071325A1. Автор: Kuong Hii,Danny Cline,Theo Powell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Circuitry for built-in self-test

Номер патента: US20110302471A1. Автор: Herve Le-Gall. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2011-12-08.

Performance built-in self test system for a device and a method of use

Номер патента: US20040103355A1. Автор: Anthony Correale,Thomas Dick,Les DeBruyne,Waleed Al-Assadi,Jay Grollimund. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-05-27.

Memory built-in self-test with adjustable pause time

Номер патента: US20230069351A1. Автор: Yoshinori Fujiwara,Daniel S. Miller. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Systems and methods for a phase locked loop built in self test

Номер патента: WO2010132714A1. Автор: Sachin D. Dasnurkar. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2010-11-18.

Automatic built-in self test for memory arrays

Номер патента: US9715944B1. Автор: Stefan Payer,Wolfgang Penth,Lior Binyamini,Ido Rozenberg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: WO2003048794A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corporation. Дата публикации: 2003-06-12.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: WO2004086411A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2004-10-07.

Built-in self-test system of neural network tensor processor

Номер патента: CN113656310B. Автор: 周志新,罗闳訚,何日辉. Владелец: Xiamen Yipu Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-07-14.

Runtime non-destructive memory built-in self-test (bist)

Номер патента: US20230084463A1. Автор: Sreejit Chakravarty,Rakesh KANDULA,Deep BAROT,Vishal VENDE. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Radar device that implements built-in self-test using noise injection

Номер патента: EP3454078B1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2020-03-25.

Procedures for entry to and exit from a built-in-self-test unit in a semiconductor memory

Номер патента: TW351812B. Автор: Kuong-Hua Hii,Danny R Cline,Theo L Powell. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-02-01.

Debugger based memory dump using built in self test

Номер патента: EP2619672A1. Автор: Paul F. Policke,Paul Douglas Bassett,Hong S. Kim. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-07-31.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US20160093401A1. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-03-31.

Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design

Номер патента: TWI220024B. Автор: Li-Kong Wang,Louis L Hsu,Howard H Chen. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2004-08-01.

Deterministic stellar built-in self-test

Номер патента: EP3756020B1. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Yingdi Liu. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Shutter release time preliminary indication device for a photographic camera having a built-in self-timer

Номер патента: US3667367A. Автор: Fumihiro Miyagawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 1972-06-06.

Memory built-in self repair (MBISR) circuits / devices and method for repairing a memory comprising a memory built-in self repair (MBISR) structure

Номер патента: EP1447813B9. Автор: Yannick Martelloni,Mario Di Ronza. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2008-10-22.

Method and apparatus for built-in self-repair of memory storage arrays

Номер патента: EP1352396A2. Автор: Timothy J. Wood,Gerald D. Zuraski, Jr.,Raghuram S. Tupuri. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-10-15.

Method and apparatus of built-in self-diagnosis and repair in a memory with syndrome indentification

Номер патента: TW200611117A. Автор: Cheng-Wen Wu,Wen-Ching Wu,Rei-Fu Huang,Yeong-Jar Chang,Chin-Lung Su,Kun Lun Luo,Shen Tien Lin. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2006-04-01.

System and method for built in self repair of memories using speed stress test

Номер патента: AU2002318355A1. Автор: Dhrumil Gandhi,Mark Templeton. Владелец: Artisan Components Inc. Дата публикации: 2003-01-02.

MECHANISMS FOR BUILT-IN SELF REPAIR OF MEMORY DEVICES USING FAILED BIT MAPS AND OBVIOUS REPAIRS

Номер патента: US20130301369A1. Автор: SHVYDUN Volodymyr,ADHAM Saman M. I.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-14.

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT IN SELF REPAIR CIRCUIT

Номер патента: US20140078841A1. Автор: Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2014-03-20.

Built-in self trim for non-volatile memory reference current

Номер патента: US20140160869A1. Автор: CHEN He,Yanzhuo Wang,Richard K. Eguchi. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2014-06-12.

PROGRAMMABLE BUILT-IN-SELF TESTER (BIST) IN MEMORY CONTROLLER

Номер патента: US20140173344A1. Автор: Shah Manish,Kang Wootag,Averbuj Roberto F.. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-06-19.

TYRE HAVING A BUILT-IN SELF-SEALING LAYER

Номер патента: US20140174639A1. Автор: Voge Bozena,Merino Lopez Jose,AHOUANTO Michel. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-26.

Hierarchical, Distributed Built-in Self-Repair Solution

Номер патента: US20140189450A1. Автор: Varadarajan Devanathan,Ellur Harsharaj,KS Raghavendra Prasad. Владелец: . Дата публикации: 2014-07-03.

METHOD TO DYNAMICALLY INJECT ERRORS IN A REPAIRABLE MEMORY ON SILICON AND A METHOD TO VALIDATE BUILT-IN-SELF-REPAIR LOGIC

Номер патента: US20180174665A1. Автор: Parmar Vijay,Kraipak Waseem,Vallabhaneni Babji,Chatterjee Mitrajit. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

DEVICE FOR GENERATING A MAGNETIC FIELD OF CALIBRATION AND BUILT-IN SELF-CALIBRATION MAGNETIC SENSOR AND CALIBRATION METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20200300928A1. Автор: FU NAI-CHUNG,WONG TA-YUNG,Kuo Ming-Yu. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

Built in self stress control fuse device and control method thereof

Номер патента: KR100913960B1. Автор: 정진일. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2009-08-26.

Soldering station with built-in self-calibration function

Номер патента: US6580050B1. Автор: Thomas W. Miller,Paul Alan Dunham,William Jordan Siegel,Charles H. McDavid,Eric Stephen Siegel. Владелец: Pace Inc. Дата публикации: 2003-06-17.

Built-in self-protection temperature sensor

Номер патента: CN109612599B. Автор: 胡靖阳. Владелец: Foshan Getie Electrical Appliance Co ltd. Дата публикации: 2021-02-26.

A kind of built-in Self-resetting beam-column connection for squeezing energy-consuming device of assembled band

Номер патента: CN110145021A. Автор: 徐赵东,黄兴淮,贺泽锋. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-08-20.

Soldering station with built-in self-calibration function

Номер патента: EP1329276A3. Автор: Thomas W. Miller,Paul Alan Dunham,William Jordan Siegel,Charles H. McDavid,Eric Stephen Siegel. Владелец: Pace Inc. Дата публикации: 2005-11-09.

Built-in self diagnosis device for a random access memory and method of diagnosing a random access memory

Номер патента: US20060028891A1. Автор: Carolina Selva,Rita Zappa,Danilo Rimondi,Cosimo Torelli,Giovanni Mastrodomenico. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-02-09.

Tyre having a built-in self-sealing layer

Номер патента: US8757233B2. Автор: José Merino Lopez,Bozena Voge,Michel Ahouanto. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2014-06-24.

Process and Memory Built-In Self Repair (MBISR) to repair a memory

Номер патента: DE60320745D1. Автор: Ronza Mario Di,Yannick Martelloni. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2008-06-19.

Fast built-in self-repair circuit

Номер патента: US6505308B1. Автор: William Schwarz. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2003-01-07.

Built-in self-cleaning wall oven

Номер патента: CA925142A. Автор: J. Barnett Eugene,E. Baker Gerald. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1973-04-24.

Built-in self repair for an integrated circuit

Номер патента: US6972587B2. Автор: David A. Zimlich. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-12-06.

Memory built-in self repair (MBISR) circuits / devices

Номер патента: EP1465204A3. Автор: Yannick Martelloni,Mario Di Ronza. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2005-03-30.

Mcu built-in self-locking body and method for controlling thereof

Номер патента: KR102303441B1. Автор: 바오치앙 장. Владелец: 시’안 후이징 인텔리전트 테크 컴퍼니. 리미티드.. Дата публикации: 2021-09-17.

Built-in self timing test method and apparatus

Номер патента: US6867613B1. Автор: Michael D. Bienek. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-03-15.

Built-in self trim for non-volatile memory reference current

Номер патента: US9076508B2. Автор: CHEN He,Yanzhuo Wang,Richard K. Eguchi. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2015-07-07.

Tire having a built-in self-sealing layer

Номер патента: EP2512836B1. Автор: José Merino Lopez,Bozena Voge,Michel Ahouanto. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2018-02-21.

Pneumatic tyre with built-in self-sealing ply

Номер патента: CN102574434A. Автор: E·库斯托代罗,J·蒂耶,S·里戈. Владелец: Michelin Recherche et Technique SA Switzerland. Дата публикации: 2012-07-11.

Testing methodology for embedded memories using built-in self repair and identification circuitry

Номер патента: US6367042B1. Автор: V. Swamy Irrinki,Tuan L. Phan. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2002-04-02.

Semiconductor memory device with built-in self-diagnostic function and semiconductor device having the semiconductor memory device

Номер патента: KR100890413B1. Автор: 오자와다다시. Владелец: 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2009-03-26.

Built-in self repair for an integrated circuit

Номер патента: US6836146B2. Автор: David A. Zimlich. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2004-12-28.

BRAKE CYLINDER WITH BUILT-IN SELF ADJUSTMENT

Номер патента: SE8605118L. Автор: H Hirashita,M Uchiyama. Владелец: Akebono Brake Ind. Дата публикации: 1987-05-30.

Mechanisms for built-in self repair of memory devices using failed bit maps and obvious repairs

Номер патента: US8873318B2. Автор: Volodymyr SHVYDUN,Saman M. I. Adham. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-10-28.

Inflatable fender incorporated in the side and / or in the stern and / or in the bow of a boat and built-in self-inflating fender system.

Номер патента: IT201600124775A1. Автор: Flavio Nanni. Владелец: Flavio Nanni. Дата публикации: 2018-06-12.

Fuse apparatus for controlling built-in self stress and control method thereof

Номер патента: TW200937433A. Автор: Jin-Il Chung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-09-01.

System and method for built in self repair of memories using speed stress test

Номер патента: WO2002103522A3. Автор: Dhrumil Gandhi,Mark Templeton. Владелец: Artisan Components Inc. Дата публикации: 2003-03-27.

Configurable built-in self-repair chain for fast repair data loading

Номер патента: US11495315B1. Автор: Wei Zou,Benoit Nadeau-Dostie. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-11-08.

Built-in self-repair method for NAND flash memory and system thereof

Номер патента: TW200929235A. Автор: Cheng-Wen Wu,Yu-Ying Hsiao. Владелец: Nat Univ Tsing Hua. Дата публикации: 2009-07-01.

Integrated circuit semiconductor device having built-in self-repair circuit for embedded memory and method for repairing the memory

Номер патента: TW451473B. Автор: Jin-Young Park,Heon-cheol Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2001-08-21.

Method and apparatus for built-in self-repair of memory storage arrays

Номер патента: TW533423B. Автор: Timothy J WOOD,Raghuram S Tupuri,Gerald D Zuraski Jr. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-05-21.

Premise generation based on both analytical processes and statistical processes

Номер патента: US09704107B1. Автор: Tsehsin Jason Liu,Charles F. Baker, IV,Benjamin Louis Anthony Katz. Владелец: Connect Financial LLC. Дата публикации: 2017-07-11.

Integrated Research and Development System for High-throughput Preparation and Statistical Mapping Characterization of Materials

Номер патента: US20230205175A1. Автор: Lei Yu,XING Yu,HUI Wang,Lei Zhao,Lixia Yang,Haizhou Wang,Dongling LI,Xuejing Shen,Yunhai JIA,Xuebin Chen. Владелец: NCS TESTING TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Neural network patch aggregation and statistics

Номер патента: US09996768B2. Автор: Xin Lu,Xiaohui SHEN,Zhe Lin,Radomir Mech. Владелец: Adobe Systems Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Recognition using re-recognition and statistical classification

Номер патента: RU2571519C2. Автор: Шуанюй ЧАН,Майкл ЛЕВИТ,Брюс БУНЧУХ. Владелец: МАЙКРОСОФТ ТЕКНОЛОДЖИ ЛАЙСЕНСИНГ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2015-12-20.

Adaptive self-testing and stress analysis of medical devices

Номер патента: RU2666114C2. Автор: Дэниел Дж. ПАУЭРС,Карлтон Б. МОРГАН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2018-09-05.

Premise generation based on both analytical processes and statistical processes

Номер патента: WO2018031495A1. Автор: Tsehsin Jason Liu,Charles F. Baker, IV,Benjamin Louis Anthony Katz. Владелец: Connect Financial LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Premise Generation Based on Both Analytical Processes and Statistical Processes

Номер патента: US20180039912A1. Автор: Tsehsin Jason Liu,Charles F. Baker, IV,Benjamin Louis Anthony Katz. Владелец: Connect Financial LLC. Дата публикации: 2018-02-08.

Method and apparatus for performing self-testing within an IC device

Номер патента: US9091726B1. Автор: Markus Regner,Heiko Ahrens,Vladimir Vorisek. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2015-07-28.

Electronic device and corresponding self-test method

Номер патента: US12038471B2. Автор: Calogero Andrea Trecarichi,Vincenzo Randazzo,Mirko Dondini,Roberto CRISAFULLI. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2024-07-16.

Integrated circuit with self-test circuit, method for operating an integrated circuit with self-test circuit, multi-core processor device and method for operating a multi-core processor device

Номер патента: US11619668B2. Автор: Jens Rosenbusch,Heiko Ahrens,Daniel Tille. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-04-04.

Simultaneous bi-directional buffer including self-test circuit having function of generating input signal and self testing method of the simultaneous bi-directional buffer

Номер патента: US20040109464A1. Автор: Jung-hwan Choi,Hee-Young Seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-06-10.

Power-aware memory self-test unit

Номер патента: US09589672B2. Автор: Dragos F. Botea. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Self-test device for scraper conveyor central chute and method of its testing

Номер патента: RU2693127C1. Автор: Вэй Ли,Чжэньцай ЧЖУ,Гунбо Чжоу,Юйсин ПЭН,Гохуа ЦАО,Цзюньлян ЛЮ,Гоань ЧЭНЬ,Хао ЛУ,Чжэньтао МИ,Чжиюань ШИ. Владелец: Сюйчжоу Чжижунь Майнинг Эквипмент Сайнз Энд Технолоджи Ко., Лтд. Дата публикации: 2019-07-01.

Weld sequencer part and statistical limits analyzer

Номер патента: CA2952446C. Автор: Joseph Allen Daniel. Владелец: Lincoln Global Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Methods and systems for self-testing mems inertial sensors

Номер патента: US20200011702A1. Автор: William A. Clark. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2020-01-09.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: EP1472552A2. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Philips Intellectual Property and Standards GmbH. Дата публикации: 2004-11-03.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: WO2003060534A2. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Philips Intellectual Property & Standards Gmbh. Дата публикации: 2003-07-24.

Self-test circuit and self-test method for comparator

Номер патента: US20190204385A1. Автор: Chih-Lung Chen,Shih-Hsiung Huang,Liang-Huan Lei. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-07-04.

Continuous self-test of a gyroscope

Номер патента: EP3754300A1. Автор: Lasse Aaltonen,Jouni ERKKILÄ. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Robust inertial sensor self-test

Номер патента: US20230183058A1. Автор: Aurelio Pellegrini. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2023-06-15.

Cache based physical layer self test

Номер патента: US20060005092A1. Автор: Sanjay Dabral,David Dunning,Tim Frodsham,Theodore Schoenborn,Naveen Cherukuri,Lakshminarayan Krishnamurty. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2006-01-05.

Content addressable memory apparatus, content addressable memory circuit and memory self-test method thereof

Номер патента: US20240312548A1. Автор: I-Hao Chiang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Self-test circuit in integrated circuit, and data processing circuit

Номер патента: US09989590B2. Автор: Shigeru Uekusa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and device for recovering self-test exception of server component, system and medium

Номер патента: US20240264914A1. Автор: WenYu Liu,Min Zhang,Mingyang YE. Владелец: Suzhou Metabrain Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Memory self-testing device and method thereof

Номер патента: US20160260500A1. Автор: Chung-ching Chen,Chen-Nan Lin,Yi-Hao LO. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2016-09-08.

Self test for safety logic

Номер патента: US09964597B2. Автор: Sundarrajan Rangachari,Saket Jalan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

Self testing device for memory channels and memory control units and method thereof

Номер патента: US09589671B2. Автор: Chung-ching Chen,Chen-Nan Lin,Yi-Hao LO. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2017-03-07.

Scaling and statistical adjustments of precipitation rates for apparatuses having precipitation sensitive sensors

Номер патента: AU2020469132C1. Автор: William B. Gail. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Packages and processes for radio frequency mitigation and self-test

Номер патента: US20240094779A1. Автор: Krishna Prasad VUMMIDI MURALI. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Microelectromechanical gyroscope with continuous self-test function

Номер патента: US20130239651A1. Автор: Andrea Donadel,Carlo Caminada,Luciano Prandi. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2013-09-19.

Multiple-Capture DFT System for Detecting or Locating Crossing Clock-Domain Faults During Self-Test or Scan-Test

Номер патента: US20140082446A1. Автор: Laung-Terng WANG,Po-Ching Hsu,Shih-Chia Kao,Meng-Chyi Lin,Hsin-Po Wang,Hao-Jan Chao,Xiaqing Wen. Владелец: Syntest Technologies Inc. Дата публикации: 2014-03-20.

Trend analysis and statistical process control using multitargeted screening assays

Номер патента: EP1745139A4. Автор: Mansour Samadpour. Владелец: Institute for Environmental Health Inc. Дата публикации: 2008-11-05.

Trend analysis and statistical process control using multitargeted screening assays

Номер патента: CA2564145A1. Автор: Mansour Samadpour. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-11-03.

Trend analysis and statistical process control using multitargeted screening assays

Номер патента: EP1745139A2. Автор: Mansour Samadpour. Владелец: Institute for Environmental Health Inc. Дата публикации: 2007-01-24.

Trend analysis and statistical process control using multitargeted screening assays

Номер патента: US20210147913A1. Автор: Mansour Samadpour. Владелец: Institute for Environmental Health Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

Sensor self-test

Номер патента: US20160054271A1. Автор: Joseph ERSKINE. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2016-02-25.

Self-testing duct environment detector

Номер патента: EP4404166A2. Автор: Michael Barson,Christopher Dearden,Scott Lang,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and system providing a self-test on one or more sensors coupled to a device

Номер патента: US9720794B2. Автор: Ge Gao,William Kerry Keal,James Lim. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and system providng a self-test on one or more sensors coupled to a device

Номер патента: US20150186239A1. Автор: Ge Gao,William Kerry Keal,James Lim. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2015-07-02.

Smoke detector self-test

Номер патента: US20230230468A1. Автор: Ross Werner. Владелец: Johnson Controls Tyco IP Holdings LLP. Дата публикации: 2023-07-20.

Self-testing a storage device via system management bus interface

Номер патента: US20170337987A1. Автор: Michael Rothberg,George Sneed,Gurjit Chadha. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2017-11-23.

Sensor self-test

Номер патента: EP2976633A1. Автор: Joseph ERSKINE. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2016-01-27.

Initiating a fire response at a self-testing fire sensing device

Номер патента: US20240282189A1. Автор: Himanshu Goyal,Hariprasad Kozhikkotakathitta Veetil,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Self testing and securing RAM system and method

Номер патента: EP1638033A3. Автор: David M. Callaghan. Владелец: Rockwell Automation Technologies Inc. Дата публикации: 2009-02-04.

Self-testing duct environment detector

Номер патента: US20240346917A1. Автор: Michael Barson,Christopher Dearden,Scott Lang,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Self-testing duct environment detector

Номер патента: EP4404166A3. Автор: Michael Barson,Christopher Dearden,Scott Lang,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Locator self-test

Номер патента: US09869744B2. Автор: Stevan Polak. Владелец: Metrotech Corp Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

GFCI self test software for autonomous monitoring and fail safe power denial

Номер патента: US09696374B2. Автор: Stephen Paul Simonin. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

System and method for performing self-test in an automatic external defibrillator (AED)

Номер патента: US09687665B2. Автор: Kyle R. Bowers. Владелец: Scion Medical Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Multiple-capture DFT method for detecting or locating crossing clock-domain faults during self-test or scan-test

Номер патента: US09678156B2. Автор: Laung-Terng WANG,Po-Ching Hsu,Xiaoqing Wen. Владелец: Syntest Technologies Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Self-test circuit for an integrated circuit, and method for operating a self-test circuit for an integrated circuit

Номер патента: US20220107364A1. Автор: Juergen Alt. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2022-04-07.

Methods and systems for providing a game center having player specific options and statistics

Номер патента: EP2555839A1. Автор: Marcel Van Os,Mike Lampell. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2013-02-13.

Stepper motor automated self-test routine

Номер патента: US20040162704A1. Автор: Robert Siegel,Kevin Price. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2004-08-19.

Functional self-test for a piezoelectric element deployed in an end-product

Номер патента: EP4421497A2. Автор: David CADA. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Self-test methods and systems for submersible pump systems

Номер патента: US20170370369A1. Автор: Mark Grzeika. Владелец: Stancor Lp. Дата публикации: 2017-12-28.

Optical coherence tomography (oct) self-testing system, optical coherence tomography method, and eye disease monitoring system

Номер патента: US20240277224A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Yung-En Kuo,Wei Ting Tseng,Chien-Chi Huang,Hung-Chin Chen,Li-Ren Cai,Pei-Sheng WU. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

FMCW radar self-test

Номер патента: US09910135B2. Автор: Jonathan Moss,Alan Jenkins. Владелец: Autoliv Development AB. Дата публикации: 2018-03-06.

Sensor package including a magnetic field sensor and a continuous coil structure for enabling z-axis self-test capability

Номер патента: US09720051B2. Автор: Lianjun Liu,Paige M. Holm. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Gyroscope self test by applying rotation on coriolis sense mass

Номер патента: US09714842B2. Автор: Joseph Seeger,Ozan ANAC. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Capacitive microelectromechanical sensor with self-test capability

Номер патента: US09696375B2. Автор: Lasse Aaltonen,Jouni ERKKILÄ. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Multifunctional latch circuit for use with both sram array and self test device

Номер патента: US20060176731A1. Автор: Michael Hyeok Lee,Philip Shephard,Yuen Chan,William Huott,Andrew Bianchi,Edelmar Seewann. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-08-10.

Testing a heat detector of a self-testing hazard sensing device

Номер патента: EP4231265A1. Автор: Michael Barson,Christopher Dearden,Benjamin H. WOLF. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2023-08-23.

Modular panel that can be assembled with other similar panels, whereby to form magnetic boards for programming and statistical purposes

Номер патента: US4146976A. Автор: Franco Zambiasi. Владелец: Tecno Planning Italia di Giulini e Zambiasi. Дата публикации: 1979-04-03.

A modular panel utilizable with other identical units for building magnetic programming and statistics boards

Номер патента: GB2007901A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1979-05-23.

Scaling and statistical adjustments of precipitation rates for apparatuses having precipitation sensitive sensors

Номер патента: US20230333280A1. Автор: William B. Gail. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-10-19.

Method and apparatus for unifying self-test with scan-test during prototype debug and production test

Номер патента: WO2003088040A1. Автор: Laung-Terng WANG,Po-Ching Hsu,Shih-Chia Kao,Meng-Chyi Lin,Hsin-Po Wang,Xiaoqing Wen,Shyh-Horng Lin,Chi-Chan Hsu,Khader S. Abdel-Hafez,Ming-Tung Chang. Владелец: Syntest Technologies, Inc.. Дата публикации: 2003-10-23.

Self-test apparatuses involving distributed self-test controller circuits and methods thereof

Номер патента: US20200124662A1. Автор: Tao Chen,Lei Ma,Xiankun Jin,Jan-Peter Schat. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2020-04-23.

Scaling and statistical adjustments of precipitation rates for apparatuses having precipitation sensitive sensors

Номер патента: AU2020469132A1. Автор: William B. Gail. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-04-06.

Scaling and statistical adjustments of precipitation rates for apparatuses having precipitation sensitive sensors

Номер патента: CA3193405A1. Автор: William B. Gail. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2022-03-31.

Scaling and statistical adjustments of precipitation rates for apparatuses having precipitation sensitive sensors

Номер патента: EP4217770A1. Автор: William B. Gail. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-08-02.

Scaling and statistical adjustments of precipitation rates for apparatuses having precipitation sensitive sensors

Номер патента: WO2022066138A1. Автор: William B. Gail. Владелец: Global Weather Corporation. Дата публикации: 2022-03-31.

Method and Apparatus for Unifying Self-Test with Scan-Test During Prototype Debug and Production Test

Номер патента: US20100218062A1. Автор: Xiaoqing Wen,Laung-Terng (L.-T.) Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-08-26.

Trend analysis and statistical process control using multitargeted screening assays

Номер патента: US20150125853A1. Автор: Mansour Samadpour. Владелец: Institute for Environmental Health Inc. Дата публикации: 2015-05-07.

Self-test electronic assembly and test system

Номер патента: EP1203294A1. Автор: David Platt,James M. Barton,Shahin Tahmassebi. Владелец: Tivo Inc. Дата публикации: 2002-05-08.

Method and apparatus for unifying self-test with scan-test during prototype debug and production test

Номер патента: EP1493085A1. Автор: Laung-Terng WANG,Po-Ching Hsu,Shih-Chia Kao,Meng-Chyi Lin,Hsin-Po Wang,Xiaoqing Wen,Shyh-Horng Lin,Chi-Chan Hsu,Khader S. Abdel-Hafez,Ming-Tung No. 8 Alley 22 CHANG. Владелец: Syntest Technologies Inc. Дата публикации: 2005-01-05.

Measuring device with self-test function

Номер патента: US20240192044A1. Автор: Christoph Mueller,Manuel Kaufmann,René Herrmann. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-06-13.

Image-forming apparatus having an automatic self-test reporting function and method thereof

Номер патента: US20050265734A1. Автор: Hyung-sik Byun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-12-01.

Memory self-test circuit, semiconductor device and ic card including the same, and memory self-test method

Номер патента: US20090316488A1. Автор: Kazuki Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-12-24.

Method and system for performing self-tests in an electronic system

Номер патента: US8659310B2. Автор: Martin Eckert,Jochen Supper,Roland Frech,Otto A. Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-02-25.

Self-testing fire sensing device

Номер патента: US20210248901A1. Автор: Benjamin Wolf,Michael Barson,Christopher Dearden,Scott Lang. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-08-12.

Self-testing fire sensing device

Номер патента: US20230162593A1. Автор: Benjamin Wolf,Michael Barson,Christopher Dearden,Scott Lang. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2023-05-25.

Self-testing fire sensing device

Номер патента: EP4235613A2. Автор: Benjamin Wolf,Michael Barson,Christopher Dearden,Scott Lang. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2023-08-30.

Systems and methods of self test for a slowly varying sensor

Номер патента: US20060272382A1. Автор: Jeanne Pitz,Ted Lekan,Michael Vincze. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-12-07.

Memory self-test circuit, semiconductor device and IC card including the same, and memory self-test method

Номер патента: US20070279997A1. Автор: Kazuki Yoshioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-12-06.

Sensor having free fall self-test capability and method therefor

Номер патента: EP2074434A2. Автор: Andrew C. McNeil,Akihiro Ueda. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-07-01.

Self-testing data storage devices and methods

Номер патента: US09972403B2. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Lowell L. Wood, JR.,Jordin T. Kare,Jeffrey A. Bowers,Victoria Y. H. Wood,Peter L. Hagelstein. Владелец: ELWHA LLC. Дата публикации: 2018-05-15.

Robotic cleaner and self testing method of the same

Номер патента: US09928459B2. Автор: Jihoon Sung,Siyong Kim,Yongju Kim,Hyungtae Yun. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-03-27.

Self-test in a closed-loop vibratory gyroscope

Номер патента: US09846037B2. Автор: Lasse Aaltonen. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Self-testing smoke detector with integrated smoke source

Номер патента: US09659485B2. Автор: Joseph Piccolo, III. Владелец: Tyco Fire and Security GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Self testing data processing system with processor independent test program

Номер патента: US4633466A. Автор: Keith E. Diefendorff,Gerald E. Laws. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1986-12-30.

Software-based self-test and diagnosis using on-chip memory

Номер патента: US9864007B2. Автор: Sergej Deutsch,Krishnendu Chakrabarty. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2018-01-09.

Data processing system with self-test

Номер патента: GB2132394A. Автор: David R Bourgeois,James A Ryan,Subhash C Varshney. Владелец: Honeywell Information Systems Inc. Дата публикации: 1984-07-04.

Circuit device having a self-testing function and a testing method thereof

Номер патента: US4829237A. Автор: Hiroshi Segawa,Masahiko Yoshimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-05-09.

Self-test circuit and memory device incorporating it

Номер патента: US6907555B1. Автор: Yukihiro Nomura,Takahiro Suzuki,Hiroyuki Fujimoto,Hiroyoshi Tomita,Yasurou Matsuzaki,Tatsuya Kanda,Masahiko Saitou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-06-14.

Method and system for automatic self test for the fire system

Номер патента: US20230368649A1. Автор: Ramesh Lingala,Ramakrishna Pulluru,Saikrishna Gajula,Rizwana Begum. Владелец: Carrier Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Power on self test (post) and extended self test (est) for ultrasonic imaging system

Номер патента: WO2003012474A2. Автор: William R. Martin,Joseph R. Fallon,Thomas P. Mckernan,Melissa A. Powell. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2003-02-13.

Sensor device with self-test capability

Номер патента: US8938364B2. Автор: Rainer Willig,Burkhard Kuhlmann,Wolfram Bauer,Michael Veith,Mathias Reimann,Emma Abel,Michael Baus,Wolfgang Fuerst,Patrick Goerlich,Ermin Esch,Riad Stefo,Gregor Wetekam. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2015-01-20.

Method for initiating a remote hazardous condition detector self test and for testing the interconnection of remote hazardous condition detectors

Номер патента: WO2006044360A2. Автор: Timothy D. Kaiser,Charles D. Adkins. Владелец: Ranco Incorporated Of Delaware. Дата публикации: 2006-04-27.

Self-test circuit in integrated circuit, and data processing circuit

Номер патента: US20170003344A1. Автор: Shigeru Uekusa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-05.

Power on self test (post) and extended self test (est) for ultrasonic imaging system

Номер патента: EP1438605A2. Автор: William R. Martin,Joseph R. Fallon,Thomas P. Mckernan,Melissa A. Powell. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-07-21.

Integrated circuit with self-testing circuit

Номер патента: WO2003060534A3. Автор: Friedrich Hapke. Владелец: Friedrich Hapke. Дата публикации: 2003-11-13.

Method for initiating a remote hazardous condition detector self test and for testing the interconnection of remote hazardous condition detectors

Номер патента: WO2006044360A8. Автор: Timothy D Kaiser,Charles D Adkins. Владелец: Charles D Adkins. Дата публикации: 2007-02-22.

Method for initiating a remote hazardous condition detector self test and for testing the interconnection of remote hazardous condition detectors

Номер патента: WO2006044360A3. Автор: Timothy D Kaiser,Charles D Adkins. Владелец: Charles D Adkins. Дата публикации: 2006-06-15.

Self testing system for reproduction machine

Номер патента: US4499581A. Автор: Tuan A. Nguyen,Dennis E. Miazga,Michael T. Dugan. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1985-02-12.

Self-testing dynamic ram

Номер патента: US4757503A. Автор: John P. Hayes,Younggap You. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 1988-07-12.

Configurable self-test for embedded RAMs

Номер патента: US5301156A. Автор: Harlan A. Talley. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1994-04-05.

Device and method for inductive measurements - self test

Номер патента: US20100295551A1. Автор: Roland Hölzl. Владелец: PRUEFTECHNIK DIETER BUSCH AG. Дата публикации: 2010-11-25.

Self-test design for serializer / deserializer testing

Номер патента: US8972806B2. Автор: Glen Miller. Владелец: Applied Micro Circuits Corp. Дата публикации: 2015-03-03.

Method for performing self-test in a defibrillator

Номер патента: US5800460A. Автор: David Cameron,Daniel J. Powers,Thomas D. Lyster,Carlton B. Morgan,Steven T. Mydynski,Clinton S. Cole. Владелец: Heartstream Inc. Дата публикации: 1998-09-01.

Self-testing multi-processor die with internal compare points

Номер патента: US5732209A. Автор: James S. Blomgren,Peter J. Vigil,Louis S. Lederer. Владелец: Exponential Technology Inc. Дата публикации: 1998-03-24.

Semiconductor device having self test function

Номер патента: US20020128794A1. Автор: Seiji Kobayashi,Masahide Miyazaki,Kazumi Hatayama,Kazunori Hikone. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-12.

Self-test system for a medical device

Номер патента: GB2402747A. Автор: Desmond Bryan Mills,Kevin Herbert. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-15.

Method for self-testing notification appliances in alarm systems

Номер патента: WO2014151482A1. Автор: Joseph Piccolo, III,David Dahlstrom. Владелец: Tyco Fire & Security GmbH. Дата публикации: 2014-09-25.

Electronic apparatus performing self-test using self-test application and control method thereof

Номер патента: US11966288B2. Автор: Sungjun Kim,Jaehoon Kim,Kyuseon SON,Seunghee Shin,Myunggyun Yoon,Youngchang LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-23.

Self test device and self test method for reconfigurable device mounted board

Номер патента: US7487416B2. Автор: Yoshiyuki Oota. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-02-03.

Chip with power-glitch detection and power-glitch self-testing

Номер патента: US20230213579A1. Автор: Pin-Wen Chen,Kuan-Chung Chen. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Self testing process for a railway brake system

Номер патента: EP3183146A1. Автор: Nigel Anstey. Владелец: Knorr Bremse Rail Systems UK Ltd. Дата публикации: 2017-06-28.

Distributed Field Self-test for Shingled Magnetic Recording Drives

Номер патента: US20130142024A1. Автор: Cyril Guyot,Zvonimir Bandic,Tomohiro Harayama,Jorge Campello De Souza,Marco Sanvido,Yuval Cassuto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-06-06.

Self-test for electrostatic charge variation sensors

Номер патента: EP4215930A1. Автор: Enrico Rosario Alessi,Fabio Passaniti,Daniele De Pascalis. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-07-26.

Method for self-testing notification appliances in alarm systems

Номер патента: EP2973479A1. Автор: Joseph Piccolo, III,David Dahlstrom. Владелец: Tyco Fire and Security GmbH. Дата публикации: 2016-01-20.

Self-test circuitry

Номер патента: GB2589652A. Автор: Wells James,Wilson Gavin,Foster Simon,McCloy-Stevens Mark,Singh Saurabh,Binh Le Huy,Mcgurnaghan Niall. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Method and apparatus for loopback self testing

Номер патента: US20100153799A1. Автор: Gregg B. Lesartre,Peter D. Maroni. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2010-06-17.

Self-testing hazard sensing device diagnostics

Номер патента: US20240203240A1. Автор: Karthikeyan Muthukrishnan,Vipin Das E K. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Self-testing hazard sensing device diagnostics

Номер патента: EP4386706A1. Автор: Karthikeyan Muthukrishnan,Das E K Vipin. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Rescue/Evacuation Self-Testing System for Traction Elevators

Номер патента: US20200270096A1. Автор: James C. Hall,Werner John Reinartz. Владелец: Reynolds and Reynolds Electronics Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Rescue/Evacuation Self-Testing System for Traction Elevators

Номер патента: US20210387830A1. Автор: James C. Hall,Werner John Reinartz. Владелец: Reyonolds & Reynolds Electronics Inc. Дата публикации: 2021-12-16.

Chip with power-glitch detection and power-glitch self-testing

Номер патента: EP4209792A1. Автор: Pin-Wen Chen,Kuan-Chung Chen. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2023-07-12.

Self test device and self test method for reconfigurable device mounted board

Номер патента: US20070234160A1. Автор: Yoshiyuki Oota. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-10-04.

Method and apparatus for training multiplication table and self-testing knowledge of multiplication table using augmented reality elements and graphical carrier for generating thereof

Номер патента: RU2685808C1. Автор: Оксана Ивановна Боева,Андрей Вячеславович Казарян. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Торговый дом "Технолайн" (ООО"Торговый дом"Технолайн"). Дата публикации: 2019-04-23.

Self testing system for reproduction machine

Номер патента: CA1213311A. Автор: Tuan A. Nguyen,Dennis E. Miazga,Michael T. Dugan. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1986-10-28.

Self-testing probe system to reveal software errors

Номер патента: US5193178A. Автор: Ram Chillarege,Philip L. Rosenfeld. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1993-03-09.

Serial data transmitter with dual buffers operating separately and having scan and self test modes

Номер патента: US5167020A. Автор: Michael F. Kahn,Richard M. Brodhead. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1992-11-24.

Functional safety compliant self-testing

Номер патента: US20200241987A1. Автор: Maurizio Iacaruso,Gabriele Paoloni. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Data acquisition system based on BIST (Built-In Self-Test) and method for realizing acquisition and self-tests

Номер патента: CN101930221A. Автор: 朱敏,李洋,陈宇,杨春玲,刘思久. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2010-12-29.

BUILT-IN SELF-TEST METHODS, CIRCUITS AND APPARATUS FOR CONCURRENT TEST OF RF MODULES WITH A DYNAMICALLY CONFIGURABLE TEST STRUCTURE

Номер патента: US20120191400A1. Автор: Parekhji Rubin A.,Mittal Rajesh Kumar,Sontakke Adesh Sharadrao,Tripathi Upendra Narayan. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2012-07-26.

A memory built-in self-test circuit

Номер патента: TWI222069B. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-10-11.

A memory built-in self-test circuit

Номер патента: TW200426835A. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-12-01.

VIDEO SPECIFIC BUILT-IN SELF TEST AND SYSTEM TEST FOR CROSSPOINT SWITCHES

Номер патента: US20120019668A1. Автор: . Владелец: GENNUM CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-26.

INTERRUPTIBLE NON-DESTRUCTIVE RUN-TIME BUILT-IN SELF-TEST FOR FIELD TESTING

Номер патента: US20120226942A1. Автор: Chowdhury Prohor,Parekhji Rubin Ajit,SAMPATH PADMINI,Alampally Srinivasulu,Gangasani Swathi,Chakravarthy Srinivasa B S. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS, INCORPORATED. Дата публикации: 2012-09-06.

Digital-to-Analog Converter circuit with Rapid Built-in Self-test and Test Method

Номер патента: US20120274493A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-01.

Built-in self test and built-in self-repairing technology of TSV (Through Silicon Via) interconnection of 3D chip

Номер патента: CN102655101A. Автор: 冯建华,谭晓慧. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-09-05.

Programmable integrated circuit with built-in self testing circuit and its test method

Номер патента: TW200912936A. Автор: Ting-Han Su,Xun-Yao Zhan,Zhen-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp Ltd. Дата публикации: 2009-03-16.

METHODS AND APPARATUS FOR PROVIDING A BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Behera Manas,BANERJEE Gaurab,Barnett Kenneth Charles. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-01-19.

Built-in-Self-Test Using Embedded Memory and Processor in an Application Specific Integrated Circuit

Номер патента: US20120036396A1. Автор: Taylor Richard D.,Montierth Mark D.,Bodily Melvin D.,Zimmerman Gary,Marshall John D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-09.

TIME-TO-DIGITAL CONVERTER WITH BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20120044102A1. Автор: . Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2012-02-23.

DRAM MEMORY CONTROLLER WITH BUILT-IN SELF TEST AND METHODS FOR USE THEREWITH

Номер патента: US20120054566A1. Автор: Gupta Rajat,Yeh Chun-Chin. Владелец: VIXS SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-03-01.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT-BASED RADIATION SENSOR, RADIATION SENSING METHOD AND INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING THE SAME

Номер патента: US20120065919A1. Автор: Turner Mark F.,Brown Jeff S.,Byrn Jonathan. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2012-03-15.

INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY HAVING ENHANCED FEATURES AND METHODS

Номер патента: US20120072788A1. Автор: . Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-03-22.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY CONFIGURED TO FACILITATE PRODUCTION OF PRE-STRESSED INTEGRATED CIRCUITS AND METHODS

Номер патента: US20120072789A1. Автор: Chen Wei-yu,Badgett Kevin,Hesse Kay. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-03-22.

Debugger Based Memory Dump Using Built in Self Test

Номер патента: US20120072791A1. Автор: Policke Paul F.,Kim Hong S.,Bassett Paul Douglas. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-03-22.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20120092916A1. Автор: Samuels Howard R.,Kelly Thomas W.,Lee James M.. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2012-04-19.

METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING A MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ON A PLURALITY OF MEMORY ELEMENT ARRAYS

Номер патента: US20120137185A1. Автор: . Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-05-31.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST SCHEME FOR CONTENT ADDRESSABLE MEMORY ARRAY

Номер патента: US20120140541A1. Автор: Vinh James,Viau Kyle S.. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-06-07.

APPARATUS TO FACILITATE BUILT-IN SELF-TEST DATA COLLECTION

Номер патента: US20120159274A1. Автор: Balakrishnan Kedarnath J.,Giles Grady,Wood Tim,Vadlamani Eswar. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-21.

BUILT IN SELF TEST FOR TRANSCEIVER

Номер патента: US20120169361A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-07-05.

MICROCONTROLLER FOR LOGIC BUILT-IN SELF TEST (LBIST)

Номер патента: US20120221910A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-30.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT AND DESIGNING APPARATUS

Номер патента: US20120246527A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-09-27.

PREDISTORTION CALIBRATION AND BUILT IN SELF TESTING OF A RADIO FREQUENCY POWER AMPLIFIER USING SUBHARMONIC MIXING

Номер патента: US20120252382A1. Автор: Eliezer Oren E.,Staszewski Robert B.,Bashir Imran. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-04.

Built-in Self-test Circuit for Voltage Controlled Oscillators

Номер патента: US20120286836A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-11-15.

USING BUILT-IN SELF TEST FOR PREVENTING SIDE CHANNEL SECURITY ATTACKS ON MULTI-PROCESSOR SYSTEMS

Номер патента: US20120331309A1. Автор: Moyer William C.,Scott Jeffrey W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

SYSTEM AND METHOD FOR BUILT IN SELF TEST FOR TIMING MODULE HOLDOVER

Номер патента: US20130046497A1. Автор: Nicholls Charles,Wu Philippe. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-21.

BUILT-IN SELF-TEST FOR INTERPOSER

Номер патента: US20130047049A1. Автор: Chen Ji-Jan,Liu Chin-Chou,Tseng Nan-Hsin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-02-21.

BUILT-IN SELF-TEST FOR RADIO FREQUENCY SYSTEMS

Номер патента: US20130049780A1. Автор: III Thomas E.,Collins,Flewelling Gregory M.. Владелец: BAE SYSTEMS Information and Electonic Systems Integration Inc.. Дата публикации: 2013-02-28.

FLASH ARRAY BUILT IN SELF TEST ENGINE WITH TRACE ARRAY AND FLASH METRIC REPORTING

Номер патента: US20130151914A1. Автор: Tressler Gary A.,Griffin Thomas J.,Vanstee Dustin J.,Cadigan David D.,Shetty Archana. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

IIMPLEMENTING ENHANCED APERTURE FUNCTION CALIBRATION FOR LOGIC BUILT IN SELF TEST (LBIST)

Номер патента: US20130151918A1. Автор: Douskey Steven M.,Hamilton Michael J.,Kaufer Amanda R.,Fitch Ryan A.,Worisek James M.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

MULTI-CORE PROCESSOR WITH INTERNAL VOTING-BASED BUILT IN SELF TEST (BIST)

Номер патента: US20130159799A1. Автор: Shearer Robert A.,Comparan Miguel,Watson,III Alfred T.,Brown Jeffrey D.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

ASYNCHRONOUS CIRCUIT WITH AN AT-SPEED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20130159803A1. Автор: PAKBAZ Faraydon,VENTRONE Sebastian T.,Smith Jack R.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

MOTOR DRIVER HAVING BUILT IN SELF TEST FUNCTION

Номер патента: US20130221891A1. Автор: Ko Joo Yul. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

BUILT-IN SELF-TEST METHOD AND STRUCTURE

Номер патента: US20130265068A1. Автор: Ellis-Monaghan John J.,ZHANG ZHIHONG,Amoah Yoba,Kuo Roger C.,Leitch Molly J.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-10.

SCAN-BASED CAPTURE AND SHIFT OF INTERFACE FUNCTIONAL SIGNAL VALUES IN CONJUNCTION WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20130275824A1. Автор: Tekumalla Ramesh C.,Madhani Parag,Mendhalkar Avinash. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2013-10-17.

3-D Memory and Built-In Self-Test Circuit Thereof

Номер патента: US20130326294A1. Автор: Kwai Ding-Ming,Lo Chih-Yen,Li Jin-Fu,Yu Yun-Chao,Chou Che-Wei. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2013-12-05.

Noise Rejection for Built-In Self-Test with Loopback

Номер патента: US20140019817A1. Автор: Hoang Anh T.,Scott Gregory S.,Park Brian S.. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-16.

BUILT-IN-SELF-TEST (BIST) ORGANIZATIONAL FILE GENERATION

Номер патента: US20140040685A1. Автор: Ouellette Michael R.,Monroe Craig M.,Sprague Douglas E.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

RANDOM TIMESLOT CONTROLLER FOR ENABLING BUILT-IN SELF TEST MODULE

Номер патента: US20140053003A1. Автор: Moyer William C.,Scott Jeffrey W.. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-02-20.

Method and Apparatus for Optimizing Memory-Built-In-Self Test

Номер патента: US20140089875A1. Автор: Arora Puneet,Kaushik Navneet,Gregor Steven,Card Norman. Владелец: CADENCE DESIGN SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2014-03-27.

DIGITALLY CONTROLLED JITTER INJECTION FOR BUILT IN SELF-TESTING (BIST)

Номер патента: US20140098843A1. Автор: Kong Xiaohua,Zhu Zhi,Dang Vannam. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Memory built in self test of sram circuit

Номер патента: CN102903393B. Автор: 李鸣. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2017-04-05.

A kind of power switch circuit with built-in self-test

Номер патента: CN103310853B. Автор: 陈强,吴宁,黄辉,陈鑫,夏欢,胡薇,张婉桥,段倩妮. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2016-02-24.

Built-in self-test system aiming at micro-electro-mechanical integrated system

Номер патента: CN102879729B. Автор: 李佳,王玮冰. Владелец: Jiangsu IoT Research and Development Center. Дата публикации: 2014-09-24.

Built-in self-test circuit

Номер патента: JP3955708B2. Автор: 孝光 山田. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-08.

Embedded type memory built-in self-testing structure

Номер патента: CN201117296Y. Автор: 郑涛,石岭,周显文,刘欣祺,常军锋,孙华义,孙耕. Владелец: Arkmicro Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-17.

Apply to speedy carding process enter end on built-in self-test circuit

Номер патента: CN103295646B. Автор: 陈忠敬,陈宥霖,刘先凤. Владелец: MStar Software R&D Shenzhen Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Programmable static random access memory (SRAM) sequential control circuit based on built-in self-test (BIST) control

Номер патента: CN202662294U. Автор: 徐超,孟坚,周燕,李正平,洪琪,谭守标,柏娜,吴秀龙,陈军宁. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-01-09.

Input vector monitoring concurrency built-in self-test circuit based on comparator and response analyzer

Номер патента: CN102495357B. Автор: 俞洋,王帅,王继业,彭喜元,乔立岩. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2013-09-11.

Memory built-in self-testing method as well as memory error inspection method

Номер патента: CN103745752A. Автор: 钱亮. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2014-04-23.

On-chip RAM built-in self-testing method and circuit

Номер патента: CN104361909A. Автор: 王震,王国状. Владелец: Datang Microelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-18.

Method and apparatus for verifying the accuracy of built-in self-test

Номер патента: TW477898B. Автор: Nai-Yin Sung,Ming-Chiuan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2002-03-01.

Digital/analog converter and phase locking loop built-in self test circuit and its measurement method

Номер патента: CN101127529A. Автор: 张永嘉. Владелец: Faraday Technology Corp. Дата публикации: 2008-02-20.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TWI263225B. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-10-01.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TW200627461A. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-08-01.

Improvements in or relating to built - in self cleaning wall oven

Номер патента: AU2374070A. Автор: JASPER BARNETT and GERALD ELWOOD BAKER EUGENE. Владелец: White Consolidated Industries Inc. Дата публикации: 1972-06-29.

Improvements in or relating to built - in self cleaning wall oven

Номер патента: AU440823B2. Автор: JASPER BARNETT and GERALD ELWOOD BAKER EUGENE. Владелец: White Consolidated Industries Inc. Дата публикации: 1972-06-29.

BUILT-IN SELF REPAIR FOR MEMORY

Номер патента: US20120069689A1. Автор: Li Tsung-Hsiung,YU Jiunn-Der. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-03-22.

PNEUMATIC TYRE WITH BUILT-IN SELF-SEALING PLY

Номер патента: US20120180923A1. Автор: Custodero Emmanuel,Thuilliez Julien,Rigo Sebastien. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-19.

TIRE HAVING A BUILT-IN SELF-SEALING LAYER

Номер патента: US20120199260A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-09.

PNEUMATIC TYRE WITH BUILT-IN SELF-SEALING AND PROTECTIVE LAYERS

Номер патента: US20120234449A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-09-20.

TYRE HAVING A BUILT-IN SELF-SEALING LAYER

Номер патента: US20120273109A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-01.

MECHANISMS FOR BUILT-IN SELF REPAIR OF MEMORY DEVICES USING FAILED BIT MAPS AND OBVIOUS REPAIRS

Номер патента: US20130021859A1. Автор: SHVYDUN Volodymyr,ADHAM Saman M. I.. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-01-24.

MECHANISMS FOR BUILT-IN SELF REPAIR OF MEMORY DEVICES USING FAILED BIT MAPS AND OBVIOUS REPAIRS

Номер патента: US20130021860A1. Автор: SHVYDUN Volodymyr,ADHAM Saman M. I.. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-01-24.

BUILT-IN SELF TRIM FOR NON-VOLATILE MEMORY REFERENCE CURRENT

Номер патента: US20130107621A1. Автор: He Chen,Eguchi Richard K.,Wang Yanzhuo. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-02.

STACKED CHIP MODULE WITH INTEGRATED CIRCUIT CHIPS HAVING INTEGRATABLE AND RECONFIGURABLE BUILT-IN SELF-MAINTENANCE BLOCKS

Номер патента: US20140110710A1. Автор: Gorman Kevin W.,Sethuraman Saravanan,MONDAL Krishnendu. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-24.

STACKED CHIP MODULE WITH INTEGRATED CIRCUIT CHIPS HAVING INTEGRATABLE BUILT-IN SELF-MAINTENANCE BLOCKS

Номер патента: US20140110711A1. Автор: Gorman Kevin W.,Sethuraman Saravanan,MONDAL Krishnendu,Leu Derek H.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-24.

Strobe built-in self-processing type camera

Номер патента: JPS5642224A. Автор: Shinichi Sato. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 1981-04-20.

Camera with built-in self-timer

Номер патента: JP2541225Y2. Автор: 央 若林,敏行 中村,一之 風見. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1997-07-16.

Ball valve built in self-pressure-sealed upper dress formula

Номер патента: CN207278921U. Автор: 章成选,林函才,孙冬萍,孙永玲. Владелец: KCM VALVE CO Ltd. Дата публикации: 2018-04-27.

Bearing with built-in self-lubricating structure

Номер патента: CN214146296U. Автор: 张勇,李志伟,支文锋,邹文策,谢守进. Владелец: Hubei Tianlun Automobile Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-09-07.

Camera with built-in self-timer

Номер патента: JPH0633454Y2. Автор: 央 若林,敏行 中村,一之 風見. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1994-08-31.

Built-in self-control catheter for men

Номер патента: CN203694361U. Автор: 吴振声. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-07-09.

Plastic mould with built-in self-circulation cooling structure for plastic product production

Номер патента: CN215095434U. Автор: 杨文斌. Владелец: Shenzhen Huihui High Tech Co ltd. Дата публикации: 2021-12-10.

Device for winding window shutters without spring with built-in self blocking action

Номер патента: YU49284A. Автор: Ofentausek Anton,Anton Ofentausek. Владелец: Anton Ofentausek. Дата публикации: 1987-06-30.

Protective apparatus with self-testing

Номер патента: RU2279730C2. Автор: Игорь Григорьевич Стрижков,Антон Евгеньевич Усков,Александр Николаевич Трубин. Владелец: Кубанский государственный аграрный университет. Дата публикации: 2006-07-10.

Error detecting and correcting device with memory self-testing function

Номер патента: RU2490696C1. Автор: Андрей Юрьевич Сидоров,Сергей Иванович Аряшев,Евгений Васильевич Ткаченко. Владелец: Открытое акционерное общество "КОНСТРУКТОРСКОЕ БЮРО "КОРУНД-М" (ОАО КБ "КОРУНД-М"). Дата публикации: 2013-08-20.

Flight information acquisition, recording, and statistical processing device

Номер патента: RU2115163C1. Автор: В.А. Горшков,С.А. Пинаев,А.М. Краснопирка,Ю.А. Киташин,Ю.И. Мазничка,Е.Ю. Егоршев,В.И. Спельников,А.П. Алембаторов. Владелец: Национальные телекоммуникационные сети. Дата публикации: 1998-07-10.

Data processing system with self testing and configuration mapping capability

Номер патента: CA1179781A. Автор: David R. Bourgeois,Subhash C. Varshney,James A. Ryan. Владелец: Honeywell Information Systems Inc. Дата публикации: 1984-12-18.

Self-testing combustion products detector

Номер патента: CA1248245A. Автор: Stephen L. Siegel. Владелец: Pittway Corp. Дата публикации: 1989-01-03.

Current leakage circuit breaker with self-test function for water heater

Номер патента: MY165119A. Автор: Pang Hock Yeo,Peng Lian Yeo,Kian Boon Lee. Владелец: Alpha Electric Co Sdn Bhd. Дата публикации: 2018-02-28.

Self-test probe design and method for non-contact voltage detectors

Номер патента: CA2607922C. Автор: Richard A. Duke. Владелец: Greenlee Tools Inc. Дата публикации: 2011-07-26.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.