Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Npu with capability of built-in self-test

Номер патента: US20240321384A1
Опубликовано: 26-09-2024
Автор(ы): Jeong Kyun Yim, Lok Won Kim
Принадлежит: DeepX Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Memory built-in self test system

Номер патента: US09946620B2. Автор: Thomas Chadwick,Kevin W. Gorman,Nancy Pratt. Владелец: Invecas Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Logic built-in self-test of an electronic circuit

Номер патента: US20230035157A1. Автор: Michael B. Kugel,Thomas Gentner,Alejandro Alberto Cook Lobo,Otto Andreas Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

System on chip including built-in self test circuit and built-in self test method thereof

Номер патента: US09575861B2. Автор: Yong-Jun HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Built-in self-test circuit and semiconductor device including the same

Номер патента: US09837171B2. Автор: Hee-Won Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Built-in self-test circuit and semiconductor device including the same

Номер патента: US09405648B2. Автор: Hee-Won Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-08-02.

Programmable computer system element with built-in self test method and apparatus for repair during power-on

Номер патента: US5659551A. Автор: Tin-Chee Lo,Pradip Patel,Timothy John Slegel,William Vincent Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-08-19.

Built-in self-test enhancements

Номер патента: US20240319268A1. Автор: Gaurav Verma,Saksham TANDON. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Programmable counter to control memory built in self-test

Номер патента: US09859019B1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: US6874111B1. Автор: R. Dean Adams,Kamran Zarrineh,Thomas J. Eckenrode,Steven L. Gregor. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-29.

Logic built-in self-test of an electronic circuit

Номер патента: WO2023007344A1. Автор: Otto Torreiter,Thomas Gentner,Alejandro COOK LOBO,Michael Kugel. Владелец: Ibm (China) Investment Company Ltd.. Дата публикации: 2023-02-02.

Built in self-testing and repair device and method

Номер патента: EP2798639A1. Автор: Jay Patel,Bendik Kleveland,Rajesh Chopra,Dipak K. Sikdar. Владелец: Mosys Inc. Дата публикации: 2014-11-05.

Dynamic built-in self-test system

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Steven M. Douskey,Ryan A. Fitch,Michael J. Hamilton,Amanda R. Kaufer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Memory protection circuitry testing and memory scrubbing using memory built-in self-test

Номер патента: US09984766B1. Автор: Alan Jeremy BECKER,Peter Logan Harrod. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Method for performing built-in self-tests

Номер патента: US09679665B2. Автор: Martin Eckert,Christian Zoellin,Otto A. Torreiter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Memory built-in self-test for a data processing apparatus

Номер патента: US09449717B2. Автор: Robert Campbell Aitken,Chiloda Ashan Senerath Pathirane,Alan Jeremy BECKER. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for testing memory by built-in self-test storage space and related device

Номер патента: US12045150B2. Автор: Li Ding,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Memory section selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US11894085B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-06.

Memory section selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395173A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Dynamic random access memory built-in self-test power fail mitigation

Номер патента: US20240021263A1. Автор: Bill Nale. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Memory built-in self test error correcting code (mbist ecc) for low voltage memories

Номер патента: US20200321070A1. Автор: Igor Arsovski,Michael A. Ziegerhofer,Valerie H. Chickanosky,Deepak I. Hanagandi,Kalpesh R. LODHA. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Memory built-in self-test with automated multiple step reference trimming

Номер патента: US12009044B2. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (bist)

Номер патента: WO2013091446A1. Автор: Miguel Comparan,Jeffrey D. Brown,Robert A. Shearer,Alfred T. Watson Iii. Владелец: Ibm (China) Co., Limited. Дата публикации: 2013-06-27.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A1. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: WO2020092406A8. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-12-03.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20190348137A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Zero test time memory using background built-in self-test

Номер патента: US20180286491A1. Автор: Igor Arsovski,Eric D. Hunt-Schroeder,Michael A. Ziegerhofer. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-10-04.

Built in self test with memory

Номер патента: US5764655A. Автор: Toshiaki Kirihata,Christopher D. Wait. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1998-06-09.

Single-bit error indication for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240069764A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Method and apparatus to inject errors in a memory block and validate diagnostic actions for memory built-in-self-test (mbist) failures

Номер патента: US20240320112A1. Автор: Ashish Goel,Ajay Sharma,Umesh Pratap Singh,Ruchi Bora. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-09-26.

Integrated circuit memory with built-in self-test (bist)

Номер патента: US20210407617A1. Автор: Arijit Banerjee,Russell Schreiber,Vance Threatt,James A. Wingfield,Keith A. Kasprak,William A. Halliday,Srinivas R. Sathu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2021-12-30.

Method of testing memory device, memory built-in self test (MBIST) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US11899959B2. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-13.

Memory built-in self-test with automated multiple step reference trimming

Номер патента: EP4073802A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-19.

Multi-phase test point insertion for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: US5737340A. Автор: Janusz Rajski,Nagesh Tamarapalli. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

Built-in self-test circuit and built-in self-test method for physical unclonable function quality check

Номер патента: US11782090B2. Автор: Meng-Yi Wu,Chi-Yi Shao,Kai-Hsin Chuang,Jun-Heng You. Владелец: Pufsecurity Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11810632B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus

Номер патента: CA2145403C. Автор: Imtiaz Shaik,Michael L. Bushnell. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 2002-01-29.

Method of creating built-in self test (bist) table for monitoring a thermal processing system, method of operating controller in same system, and computer-readable media

Номер патента: TWI332131B. Автор: Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-10-21.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240362134A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US09689920B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Design-Based weighting for logic built-in self-test

Номер патента: US9292399B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Timothy J. Koprowski,Gregory J. Cook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-22.

Built-in self-testing method of a near field communication device

Номер патента: US09632896B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-04-25.

Built-in self-test system and method for self test of an integrated circuit

Номер патента: US5515383A. Автор: Mehdi Katoozi. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1996-05-07.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240061758A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Resource allocation for a memory built-in self-test

Номер патента: US12001305B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Apparatus for testing semiconductor chip having built-in self test function

Номер патента: EP3040730A3. Автор: Jungyang Bae. Владелец: IA Inc. Дата публикации: 2016-08-03.

Method and interconnect interface for built-in self-test

Номер патента: US12013771B2. Автор: Jiao Li,Chunhui ZHENG. Владелец: Shanghai Zhaoxin Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Built-in self test for a/d converter

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Xiankun Jin,Mark Stachew. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design

Номер патента: AU2002304504A1. Автор: Louis Lu-Chen Hsu,Li-Kong Wang,Howard Hao Chen. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-12-03.

Methods and apparatus for providing a built-in self test

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Kenneth Charles Barnett,Manas Behera,Gaurab Banerjee. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-01-19.

Design-based weighting for logic built-in self-test

Номер патента: US20150168489A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Timothy J. Koprowski,Gregory J. Cook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-06-18.

Memory controller, mirrored memory modules and associated built-in self-test

Номер патента: EP4394776A1. Автор: Sungjoon Kim,Changho YUN,Chaeeun LEE,Yukyoung KIM,Jongwon Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-03.

Test device and method with built-in self-test logic

Номер патента: US20210173005A1. Автор: Xiao Zhu,Xin Liu,Dan Wang,Zhongyuan Chang,Ranran FAN. Владелец: Montage Technology Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-10.

Built-in self-test control network

Номер патента: US5570374A. Автор: Yervant Zorian,Chi W. Yau. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1996-10-29.

Multi-lane transmitting apparatus and method of performing a built-in self-test in the multi-lane transmitting apparatus

Номер патента: US20220329405A1. Автор: Tamal Das,Mohit Arora,Akshay Karkal Kamath,Nageswara Rao Kunchapu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Built-in self testing of a flash memory

Номер патента: TW200836208A. Автор: Ola Jonsson,Hakan Brink,Daniel Flinck. Владелец: Sony Ericsson Mobile Comm Ab. Дата публикации: 2008-09-01.

MEMORIES HAVING A BUILT-IN SELF-TEST (BIST) FEATURE

Номер патента: US20150162098A1. Автор: Silveira Reinaldo,SPRUTH HENNING F.,Qureshi Qadeer A.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: CA3171796A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: EP4150356A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2023-03-22.

Test and characterization of ring in superconducting domain through built-in self-test

Номер патента: WO2021231017A1. Автор: Miguel Comparan,Kshitiz Saxena,Clint Wayne Mumford,Adam MUFF,Oscar ROSELL. Владелец: Northrop Grumman Systems Corporation. Дата публикации: 2021-11-18.

Integrated circuit having memory built-in self test (bist) programmable characteristics and method of operation

Номер патента: SG74088A1. Автор: Charles A Brown,Damir Smitlener,Jay D Mcdougal. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2001-01-16.

Software programmable verification tool having multiple built-in self-test (BIST) modules for testing and debugging multiple devices under test (DUT)

Номер патента: US20040073840A1. Автор: Esin Terzioglu,Gil Winograd,Zevnep Toros. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-04-15.

Method and apparatus for exercising external memory with a memory built-in self-test

Номер патента: EP1242998A1. Автор: Sie Boo Chiang,Beng Chew Khou,Jacques Wong. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-09-25.

Method and apparatus for exercising external memory with a memory built-in self-test

Номер патента: WO2001050474A1. Автор: Sie Boo Chiang,Beng Chew Khou,Jacques Wong. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2001-07-12.

Full address coverage during memory array built-in self test with minimum transitions

Номер патента: US9651617B2. Автор: Thomas Jew,David W. Chrudimsky,Edward Bryann C. Fernandez. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Software programmable verification tool having a single built-in self-test (BIST) module for testing and debugging multiple memory modules in a device under test (DUT)

Номер патента: US7519862B2. Автор: Zeynep M. Toros,Esin Terzioglu,Gil Winograd. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-04-14.

MEMORY DEVICE WITH BACKGROUND BUILT-IN SELF-REPAIR USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TESTING

Номер патента: US20140317460A1. Автор: Patel Jay,Kleveland Bendik,Sikdar Dipak K.,Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2014-10-23.

FULL ADDRESS COVERAGE DURING MEMORY ARRAY BUILT-IN SELF-TEST WITH MINIMUM TRANSITIONS

Номер патента: US20170213601A1. Автор: Jew Thomas,Strauss Timothy J.,Shao Botang,FERNANDEZ Edward Bryann C.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

Built-in self-test for stacked memory architecture

Номер патента: CN104205233A. Автор: D.科布拉,D.齐默曼,V.K.纳塔拉简. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-12-10.

System initialization of microcode-based memory built-in self-test

Номер патента: EP1303815A2. Автор: Kamran Zarrineh,Thomas Eckenrode,Steven Gregor,Robert Dean Adams. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-04-23.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US12040037B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US20240339170A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Low cost built-in self test state machine for general purpose RAM testing

Номер патента: US20030159095A1. Автор: Eric Wehage. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-08-21.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: US12046315B2. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US20240274216A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Method for built-in self test of an electronic circuit

Номер патента: US20020046377A1. Автор: Oliver Kniffler,Gerd Dirscherl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-04-18.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US12051477B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Built-in-self-test of flash memory cells

Номер патента: EP1529293A1. Автор: Colin S. Bill,Darlene Hamilton,Edward V. Bautista, Jr.,Ken Cheong Cheah,Weng Fook Lee,Azrul Halim,Boon Tang Teh,Syahrizal Salleh,Joseph Kucera,Chee Boon Law. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-05-11.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US20240347125A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: US20230140090A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: EP4385020A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Memory built-in self-test with automated write trim tuning

Номер патента: WO2024196372A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Memory built in self test circuit and method for generating a hardware circuit comprising the routing boxes thereof

Номер патента: US20070260924A1. Автор: Che-Chiang Chang,Jian-Dai Pan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-08.

Built-in self-testing and failure correction circuitry

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Garima Sharda,Nidhi Sinha,Dinesh Joshi,Akshay Pathak. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2021-06-10.

Generic march element based memory built-in self test

Номер патента: EP2548205A1. Автор: Said Hamdioui,Zaid Al-Ars,Georgi Nedeltchev Gaydadjiev,Adrianus Van De Goor. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2013-01-23.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09761329B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Built-in self-test (BIST) circuit and associated BIST method for embedded memories

Номер патента: US09715942B2. Автор: Michael R. Ouellette,Aravindan J. BUSI,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Integrated circuit memory device having built-in self test circuit with monitor and tester modes

Номер патента: US5936900A. Автор: Kuong Hua Hii,Theo J. Powell,Daniel R. Cline. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-08-10.

Interrupting a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395179A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

3-D memory and built-in self-test circuit thereof

Номер патента: US09406401B2. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-08-02.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US11929134B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Indicating a status of a memory built-in self-test using a data mask inversion bit

Номер патента: US20240038320A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US20240127902A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Memory built-in self-test with address skipping trim search

Номер патента: EP4453940A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun,Christopher Münch,Mehdi Baradaran Tahoori. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-10-30.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: WO2021118634A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2021-06-17.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: US20240013846A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Indicating a status of a memory built-in self-test

Номер патента: US20230410933A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-21.

Refresh rate selection for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395174A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2022-10-19.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US20230395177A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Built in self test transport controller architecture

Номер патента: US20080109688A1. Автор: Ivan Pavisic,Sergey Gribok,Alexander Andreev. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2008-05-08.

Enabling or disabling on-die error-correcting code for a memory built-in self-test

Номер патента: US11984180B2. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-14.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US7673200B2. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2010-03-02.

Indicating a status of a memory built-in self-test for multiple memory device ranks

Номер патента: US20240047004A1. Автор: Scott E. Schaefer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US12033710B2. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

System and method for conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240321377A1. Автор: Ted Wong,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Memory built-in self-test with automated detection of magnetic tunneling junction degradation for repair

Номер патента: WO2024215333A1. Автор: Martin Keim,Jongsin Yun,Sina BAKHTAVARI MAMAGHANI,Christopher Münch,Mehdi Baradaran Tahoori. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-10-17.

Packetized power-on-self-test controller for built-in self-test

Номер патента: US20220108760A1. Автор: Anubhav Sinha,Ramalingam KOLISETTI,Amit Gopal M. PUROHIT,Sai Manish Rao MARRU,Sahil SONI,Salvatore Talluto. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Semiconductor memory device witih a built-in self test circuit for adjusting a memory device property

Номер патента: US10629284B2. Автор: Masaru Yano. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-04-21.

Circuit and method for performing built-in self test and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: US20070011538A1. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-11.

Method for generating an memory built-in self-test algorithm circuit

Номер патента: US11776649B2. Автор: Chia Wei Lee. Владелец: Istart Tek Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Method for generating an memory built-in self-test algorithm circuit

Номер патента: US20230223093A1. Автор: Chia Wei Lee. Владелец: Istart Tek Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (MBIST) system and method

Номер патента: US20040230395A1. Автор: Luis Basto. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: US12002530B2. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Deterministic Diagnostic Information Capture from Memory Devices with Built-in Self Test

Номер патента: US20080077834A1. Автор: Ajay Khoche,Klaus-Dieter Hilliges. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2008-03-27.

Embedded memory transparent in-system built-in self-test

Номер патента: WO2023076671A1. Автор: Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Samvel Shoukourian,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2023-05-04.

Generic march element based memory built-in self test

Номер патента: WO2011115485A1. Автор: Said Hamdioui,Zaid Al-Ars,Georgi Nedeltchev Gaydadjiev,Adrianus Van De Goor. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2011-09-22.

Built-in self-test burst patterns based on architecture of memory

Номер патента: US20240087664A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Chad B. Erickson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Built-in self test schemes and testing algorithms for randon access memories

Номер патента: GR990100210A. Автор: . Владелец: I.S.D.. Дата публикации: 2001-02-28.

Built-in self-test circuit for row hammering in memory

Номер патента: US20240096435A1. Автор: Arun Kumar,Yervant Zorian,Gurgen Harutyunyan,Grigor Tshagharyan. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US11823758B2. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Conducting built-in self-test of memory macro

Номер патента: US20240055066A1. Автор: Ted Wong,Vineet Joshi,Saman Adham,Marat GERSHOIG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Built-in self-test circuitry

Номер патента: US20240087663A1. Автор: William Yu,Daniele Balluchi,Danilo Caraccio,Joemar Sinipete,Thomas T. Tangelder,Jacob S. Robertson,James G. Steele. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Method for performing built-in self-tests and electronic circuit

Номер патента: GB201319034D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-12-11.

DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY BUILT-IN SELF-TEST POWER FAIL MITIGATION

Номер патента: US20200176072A1. Автор: NALE Bill. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

Apparatus for memory built-in self-test with error detection and correction code awareness

Номер патента: US20190227121A1. Автор: Asad Azam,R Selvakumar Raja Gopal,Kaitlyn Chen. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Automatic built-in self test for memory arrays

Номер патента: US9715944B1. Автор: Stefan Payer,Wolfgang Penth,Lior Binyamini,Ido Rozenberg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: EP3874506A4. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2021-12-15.

Programmable memory built-in self-test combining microcode and finite state machine self-test

Номер патента: JP3640350B2. Автор: アール・ディーン・アダムス,トーマス・ジェイ・エッケンロード,スティーブン・エル・グレゴー,カムラン・ザリニー. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-04-20.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB201410749D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-30.

Multi-core processor with internal voting-based built in self test (BIST)

Номер патента: GB2511972B. Автор: Comparan Miguel,D Brown Jeffrey,A Shearer Robert,T Watson Alfred Iii. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-20.

Method of testing memory device, memory built-in self test (mbist) circuit, and memory device for reducing test time

Номер патента: US20220113889A1. Автор: Jaewon Park,Jaehoon Lee,Sangkil PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-14.

TEST SYSTEM FOR EXECUTING BUILT-IN SELF-TEST IN DEPLOYMENT FOR AUTOMOTIVE APPLICATIONS

Номер патента: US20200075116A1. Автор: Kalva Anitha,Wu Jue. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

TESTING READ-ONLY MEMORY USING MEMORY BUILT-IN SELF-TEST CONTROLLER

Номер патента: US20200135290A1. Автор: Singh Jasbir,Narayanan Prakash,NARESH Nikita,INUGANTI Prathyusha Teja,YARADUYATHINAHALLI Rakesh Channabasappa,ACHARYA Aravinda,NARAYANAN Naveen Ambalametil. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180286491A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

ZERO TEST TIME MEMORY USING BACKGROUND BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20190348137A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Hunt-Schroeder Eric D.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

TESTING READ-ONLY MEMORY USING MEMORY BUILT-IN SELF-TEST CONTROLLER

Номер патента: US20200388346A1. Автор: Singh Jasbir,Narayanan Prakash,NARESH Nikita,INUGANTI Prathyusha Teja,YARADUYATHINAHALLI Rakesh Channabasappa,ACHARYA Aravinda,NARAYANAN Naveen Ambalametil. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Test system for executing built-in self-test in deployment for automotive applications

Номер патента: US11424000B2. Автор: Jue Wu,Anitha Kalva. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2022-08-23.

Testing read-only memory using memory built-in self-test controller

Номер патента: US10818374B2. Автор: Jasbir Singh,Prakash Narayanan,Nikita Naresh,Prathyusha Teja INUGANTI,Rakesh Channabasappa Yaraduyathinahalli,Aravinda Acharya,Naveen Ambalametil NARAYANAN. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-10-27.

Built-In-Self-Test Circuits And Methods Using Pipeline Registers

Номер патента: US20190043601A1. Автор: Tan Tze Sin. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2019-02-07.

ENCODER BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT APPLIED IN FLASH MEMORY CONTROLLER AND ASSOCIATED METHOD

Номер патента: US20200118641A1. Автор: Yang Tsung-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

독자적 지연장애 내장자체테스트방법 및 장치 [robust delay fault built-in self-testing method and apparatus]

Номер патента: KR950703767A. Автор: 마이클 엘. 부쉬넬,임티어즈 셰이크. Владелец: 러트거스 유니버시티. Дата публикации: 1995-09-20.

Encoder built-in self-test circuit applied in flash memory controller and associated method

Номер патента: US11373723B2. Автор: Tsung-Chieh Yang. Владелец: Silicon Motion Inc. Дата публикации: 2022-06-28.

Built-in self-test for logic circuitry at memory array output

Номер патента: KR0174340B1. Автор: 폴 코너 존,터르넬로 주니어 루이지. Владелец: 윌리엄 티. 엘리스. Дата публикации: 1999-04-01.

Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus

Номер патента: EP0663092A1. Автор: Michael L. Bushnell,Imtiaz Cook Campus Shaik. Владелец: Rutgers State University of New Jersey. Дата публикации: 1995-07-19.

Built-in self-test emulator

Номер патента: US20060143524A1. Автор: Elias Gedamu,Denise Man. Владелец: Denise Man. Дата публикации: 2006-06-29.

Methods and circuitry for built-in self-testing of content addressable memories

Номер патента: US6609222B1. Автор: Sanjay Gupta,G. F. Randall Gibson. Владелец: SiberCore Tech Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Integrated circuit with a built-in self-test arrangement

Номер патента: DE69729771T2. Автор: Kuong Hua Hii,Theo J. Dallas Powell,Danny R. Dallas Cline. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2004-12-02.

Encoder built-in self-test circuit applied in flash memory controller and associated method

Номер патента: TWI677876B. Автор: Tsung-Chieh Yang,楊宗杰. Владелец: 慧榮科技股份有限公司. Дата публикации: 2019-11-21.

Built-in self-test for processor unit with combined memory and logic

Номер патента: US11449404B1. Автор: Thomas Alan Ziaja,Dinesh Rajasavari AMIRTHARAJ. Владелец: SambaNova Systems Inc. Дата публикации: 2022-09-20.

Built-in self-test arrangement for integrated circuit memory devices

Номер патента: US20020071325A1. Автор: Kuong Hii,Danny Cline,Theo Powell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-13.

Runtime non-destructive memory built-in self-test (bist)

Номер патента: US20230084463A1. Автор: Sreejit Chakravarty,Rakesh KANDULA,Deep BAROT,Vishal VENDE. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Structure of built-in self-test for pressure tester and method thereof

Номер патента: US20140083158A1. Автор: Wei-Jen Cheng. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-27.

Built-in self test system, system on a chip and method for controlling built-in self tests

Номер патента: US09823296B2. Автор: Juergen Frank,Manfred Thanner,Michael Staudenmaier,Carl Culshaw. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Semiconductor device that supporting a built-in self-test (BIST) operation and multi-semiconductor package including the same

Номер патента: US09606174B2. Автор: Dae-Suk Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Packaged oscillators with built-in self-test circuits that support resonator testing with reduced pin count

Номер патента: US09791503B1. Автор: James Bryan Northcutt,Bruce Edward Clark,Stephen Amar Tibbitts,Robert A. Gubser,John William Fallisgaard,Kenneth Astrof. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Apparatus and method for automatic determination of operating frequency with built-in self-test

Номер патента: US20030034791A1. Автор: Hung-Ju Huang,Hung-Ta Pai,Chun-An Tu. Владелец: SILICON INTEGRATED SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2003-02-20.

Deterministic built-in self-test based on compressed test patterns stored on chip and their derivatives

Номер патента: US09933485B2. Автор: Jerzy Tyszer,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski,Lukasz Rybak,Jedrzej Solecki. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520A1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Juniper Networks Inc. Дата публикации: 2022-01-26.

Built-in self test controller for a random number generator core

Номер патента: US09983262B1. Автор: Ron Diamant,Dan Trock. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Test control point insertion and X-bounding for logic built-in self-test (LBIST) using observation circuitry

Номер патента: US09547043B2. Автор: Nisar Ahmed,Orman G. Shofner, JR.. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Logic built in self test circuitry for use in an integrated circuit with scan chains

Номер патента: US20170192054A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Raghu G. Gopalakrishnasetty,Satya R.S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Multiple clock and clock cycle selection for x-tolerant logic built in self test (XLBIST)

Номер патента: US12117488B1. Автор: Peter Wohl,John Arthur Waicukauski. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

System and method for built-in self test (bist) in an integrated circuit

Номер патента: WO2014049402A1. Автор: Bharadwaj Amrutur,Rajath VASUDEVAMURTHY. Владелец: Department of Electronics and Information Technology. Дата публикации: 2014-04-03.

Distributed built-in self-test and monitoring

Номер патента: WO2024182208A1. Автор: Zdravko Lukic,Brett Walker,Huiqiao HE,Raymond Rosik. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-09-06.

System and method for a built-in-self-test of a battery

Номер патента: US09995793B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-06-12.

A system and method for an infra-red (ir) thermometer with a built-in self-test

Номер патента: US20230349769A1. Автор: Eyal Bychkov. Владелец: Tyto Care Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Distributed built-in self-test and monitoring

Номер патента: US20240295601A1. Автор: Zdravko Lukic,Brett Walker,Huiqiao HE,Raymond Rosik. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Integrated circuit having a built-in self test design

Номер патента: US4724380A. Автор: Mark Paraskeva,David F. Burrows,William L. Knight. Владелец: Plessey Overseas Ltd. Дата публикации: 1988-02-09.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: EP3602187A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-02-05.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: WO2018175640A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2018-09-27.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US12099092B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: WO2024205742A1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: PseudolithIC, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US20240329136A1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US09530338B2. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Integrated circuit built-in self-test structure

Номер патента: US5130645A. Автор: Paul S. Levy. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1992-07-14.

Built-in self-test for light emitting diodes

Номер патента: US20210311116A1. Автор: Adolfo DE CICCO,Rosario Chiodo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-10-07.

Built-in self-test for light emitting diodes

Номер патента: US20210311117A1. Автор: Adolfo DE CICCO,Rosario Chiodo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-10-07.

System and Method for Advanced Logic Built-in Self Test with Selection of Scan Channels

Номер патента: US20080052579A1. Автор: Michael Fan Wang,Mack Wayne Riley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-28.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US20230280398A1. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US11686766B2. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-27.

Logic built-in self-test (lbist) with pipeline scan enable launch on shift (los) flip-flop circuit

Номер патента: US20180031631A1. Автор: Venkata Narayanan Srinivasan,Tripti Gupta. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2018-02-01.

Digitally controlled jitter injection for built in self-testing (bist)

Номер патента: WO2014055779A1. Автор: Zhi Zhu,Xiaohua Kong,Nam Van Dang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: EP4429164A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-11.

Built-in self test circuit for measuring performance of clock data recovery and system-on-chip including the same

Номер патента: US20240302432A1. Автор: Jiyoung Kim,Jaehyun Park,Hobin Song,Juyun LEE,Sooeun Lee,Insik HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Circuit arrangement for logic built-in self-test of a semiconductor device and a method of operating such circuit arrangement

Номер патента: US09448283B2. Автор: Bernhard Richter,Heiko Ahrens,Claudia LATZEL. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-09-20.

System and method for bit-wise selective masking of scan vectors for X-value tolerant built-in self test

Номер патента: US09448282B1. Автор: Dale Edward Meehl. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit

Номер патента: WO2002033433A3. Автор: Russell Ott. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2003-10-09.

Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit

Номер патента: WO2002033433A2. Автор: Russell Ott. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-04-25.

Method and built-in self-test apparatus for testing an integrated circuit which capture failure information for a selected failure

Номер патента: US5912901A. Автор: Michael R. Ouellette,R. Dean Adams,Ronald J. Prilik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1999-06-15.

Built-in self-test for multi-channel transceivers without data alignment

Номер патента: WO2001011536A1. Автор: JUN Cao,Afshin Momtaz. Владелец: Newport Communications, Inc.. Дата публикации: 2001-02-15.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: US20220029705A1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Juniper Networks Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Apparatus and method of RF built in self-test (RFBIST) in a radar system

Номер патента: US11921195B2. Автор: Abraham Bauer,Noam ARKIND. Владелец: ARBE Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A4. Автор: Michael Ricchetti,Christopher J Clark. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2005-05-18.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: EP1451599A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2004-09-01.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: AU2002352644A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corp. Дата публикации: 2003-06-17.

Built in self test input generator for programmable logic arrays

Номер патента: US4672610A. Автор: John E. Salick. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1987-06-09.

Component die validation built-in self-test (vbist) engine

Номер патента: US20240003974A1. Автор: Sandeep Brahmadathan,Stephan Jourdan,Nagi Aboulenein,Jared BENDT,Kedar KARANDIKAR. Владелец: Ampere Computing LLC. Дата публикации: 2024-01-04.

Dynamic weight selection process for logic built-in self test

Номер патента: US20210156910A1. Автор: Franco Motika,Mary P. Kusko,Eugene Atwood. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Built-in self-test circuits and semiconductor integrated circuits including the same

Номер патента: US11867757B2. Автор: Jinwoo Park,Michael Choi,Sungno Lee,Younghyo PARK,Eunhye OH,Heejune Lee,Youngjae CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Built-in self-test circuits and semiconductor integrated circuits including the same

Номер патента: US20220187366A1. Автор: Jinwoo Park,Michael Choi,Sungno Lee,Younghyo PARK,Eunhye OH,Heejune Lee,Youngjae CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-06-16.

Logic built-in self-test programmable pattern bit mask

Номер патента: WO2011116116A3. Автор: Paul F. Policke,Paul Douglas Bassett,Hong S. Kim. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-12-15.

Apparatus and method for integrated functional built-in self test for an ASIC

Номер патента: US20070157059A1. Автор: Michael Tsao,R. Tremaine. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-07-05.

Ophthalmic device with built-in self-test circuitry for testing an adjustable lens

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Shungneng Lee. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-11-05.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US11733297B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,Florian Herrault,James Buckwaiter. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Built in self-test of heterogeneous integrated radio frequency chiplets

Номер патента: US11940495B1. Автор: Justin Kim,Michael Hodge,Daniel Green,James Buckwalter,Florian Herrault. Владелец: Pseudolithic Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Methods and systems for performing built-in-self-test operations without a dedicated clock source

Номер патента: US11906585B2. Автор: Sanjeeb Kumar Ghosh,Gunjan Mandal,A Santosh Kumar REDDY,Parin Rajnikant Bhuta,Raghavendra Molthati,Saikat Hazra,Sunil Rajan,Krupal Jitendra Mehta,Praveen S Bharadwaj. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-20.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: US20200271722A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: WO2021211822A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: BFLY Operations, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-05-22.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: US20180019781A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US11815492B2. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Methods and circuitry for built-in self-testing of circuitry and/or transducers in ultrasound devices

Номер патента: US20240159714A1. Автор: CHAO Chen,Kailiang Chen,Nevada J. Sanchez,Jihee Lee,Youn-Jae Kook,Hamid Soleimani,Joseph Lutsky,Leung Kin CHIU,Sebastian Schaetz. Владелец: Bfly Operations Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Built-in self-test circuits and related methods

Номер патента: WO2020176306A1. Автор: Jacco van Oevelen. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2020-09-03.

Circuit arrangement for use in an integrated circuit having built in self-test design

Номер патента: IE57175B1. Автор: . Владелец: Roke Manor Research. Дата публикации: 1992-05-20.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20140068333A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20130080835A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2013-03-28.

Built-in-self-test using on embedded memory and a processor in an application specific integrated circuit

Номер патента: EP1282041B1. Автор: Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmermann. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-06-14.

Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific intergrated circuit

Номер патента: US20130080835A1. Автор: John D. Marshall,Richard D. Taylor,Mark D. Montierth,Melvin D. Bodily,Gary Zimmerman. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2013-03-28.

Built in self test (BIST) for clock generation circuitry

Номер патента: US11821946B2. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Built in self test (bist) for clock generation circuitry

Номер патента: EP4152018A1. Автор: Anurag Jindal,Jorge Arturo Corso Sarmiento. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

SYSTEM ON CHIP INCLUDING BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT AND BUILT-IN SELF TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20150074459A1. Автор: HONG Yong-Jun. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-12.

Data processing system with built-in self-test and method therefor

Номер патента: US20170082686A1. Автор: Alexander B. Hoefler,Andrew H. Payne,Chris P. Nappi,Colin MacDonald,Jose A. Lyon. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-03-23.

Low Cost Built-in-Self-Test Centric Testing

Номер патента: US20200088790A1. Автор: Chi YUAN,Peter BALUN. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Interruptible non-destructive run-time built-in self-test for field testing

Номер патента: US8799713B2. Автор: Swathi Gangasani,Srinivasulu Alampally,Prohor Chowdhury,Srinivasa B S Chakravarthy,Padmini Sampath,Rubin Ajit Parekhji. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-08-05.

BUILT-IN-SELF-TEST USING EMBEDDED MEMORY AND PROCESSOR IN AN APPLICATION SPECIFIC INTERGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20140068333A1. Автор: Taylor Richard D.,Montierth Mark D.,Bodily Melvin D.,Zimmerman Gary,Marshall John D.. Владелец: MARVELL INTERNATIONAL TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

BUILT-IN SELF TEST FOR A/D CONVERTER

Номер патента: US20190026205A1. Автор: Jin Xiankun,Stachew Mark. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

DYNAMIC BUILT-IN SELF-TEST SYSTEM

Номер патента: US20150039957A1. Автор: Douskey Steven M.,Hamilton Michael J.,Kaufer Amanda R.,Fitch Ryan A.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-05.

FUNCTIONAL BUILT-IN SELF TEST FOR A CHIP

Номер патента: US20140156253A1. Автор: Tremaine Robert B.,Mcilvain Kevin M.,Van Huben Gary. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

DATA PROCESSING SYSTEM WITH BUILT-IN SELF-TEST AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20170082686A1. Автор: Hoefler Alexander B.,MacDonald Colin,LYON JOSE A.,NAPPI CHRIS P.,PAYNE ANDREW H.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

BUILT-IN SELF-TEST FOR STACKED MEMORY ARCHITECTURE

Номер патента: US20140164833A1. Автор: Kobla Darshan,Zimmerman David,Natarajan Vimal K.. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-12.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150154095A1. Автор: Kang Hee-Won. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2015-06-04.

DESIGN-BASED WEIGHTING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20150169423A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Cook Gregory J.,Koprowski Timothy J.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2015-06-18.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US20160178696A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-06-23.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281717A1. Автор: AHMED NISAR. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Memory Built-In Self Test System

Номер патента: US20160224450A1. Автор: Gorman Kevin W.,Chadwick Thomas,Pratt Nancy. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

DATA PROTECTION FOR MEMORY WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20170220443A1. Автор: Broutin Mickael,ANQUET Nicolas,Lelievre Benoit. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Built-In Self-Testing Method of a Near Field Communication Device

Номер патента: US20140349586A1. Автор: DHAYNI Achraf. Владелец: ST-Ericsson SA. Дата публикации: 2014-11-27.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US20170285104A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

Functional built-in self test for a chip

Номер патента: US9384108B2. Автор: Kevin M. McIlvain,Robert B. Tremaine,Gary Van Huben. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Circuits, systems, and methods for external evaluation of microprocessor built-in self-test

Номер патента: US6061811A. Автор: John M. Johnsen,James O. Bondi,Donald E. Steiss,Joel J. Graber. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2000-05-09.

Built-in self test for a thermal processing system

Номер патента: US7165011B1. Автор: David Smith,Kenji Sugishima,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey,Anthony Dip,Raymond Joe,Sundar Gandhi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-01-16.

System, method, and device including built-in self tests for communication bus device

Номер патента: US7865773B2. Автор: Bryan J. Thornley,Craig Chaiken,Vinod Makhija,Andrew O'Rourke. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2011-01-04.

Pre-announce signaling for interconnect built-in self test

Номер патента: US20040117708A1. Автор: David Ellis,Jay Nejedlo,Bruce Querbach,Amjad Khan,Sean Babcock,Eric Gayles,Eshwar Gollapudi. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-06-17.

Built-in self test for a thermal processing system

Номер патента: TW200723403A. Автор: Kenji Sugishima,Dave Smith,Sanjeev Kaushal,Pradeep Pandey,Anthony Dip,Raymond Joe,Sundar Gandhi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-16.

Latency built-in self-test

Номер патента: US9100112B1. Автор: Yanjing Ke,Han Hua Leong. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2015-08-04.

Identification of unknown sources for logic built-in self test in verification

Номер патента: US10598727B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya R. S. Bhamidipati,Srinivas V. N. Polisetty. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-24.

Built-in self test circuit for integrated circuits

Номер патента: EP1388788B1. Автор: Massimiliano Barone,Antonio Griseta. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-11-22.

Multi-memory built-in self-test method based on multi-target clustering genetic algorithm

Номер патента: CN110459258B. Автор: 陈佳楠,马永涛. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-03-12.

Internally controlling and enhancing logic built-in self test in a multiple core microprocessor

Номер патента: US8122312B2. Автор: Michael S. Floyd,Robert B. Gass,Joshua D. Friedrich,Norman K. James. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-02-21.

Serial Interface Device Built-In Self Test

Номер патента: US20090119053A1. Автор: Wayne Tseng. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2009-05-07.

Hierarchical built-in self-test for system-on-chip design

Номер патента: TWI220024B. Автор: Li-Kong Wang,Louis L Hsu,Howard H Chen. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2004-08-01.

Memory system capable of generating notification signals

Номер патента: US09959185B2. Автор: Hsin-Wen Chen. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

The state validation method of the state confirmation device of built-in object, movement confirmation arrangement and built-in object

Номер патента: CN109891345A. Автор: 井上博之,菊地修. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2019-06-14.

Method for analyzing dysfunctions of built-in system, corresponding computer software product and device for analysis

Номер патента: RU2743505C2. Автор: Кристиан САННИНО,Фабиен КУНЦ,Джонатан ШПРАУЕЛЬ. Владелец: Талес. Дата публикации: 2021-02-19.

Built-in self-test system of neural network tensor processor

Номер патента: CN113656310B. Автор: 周志新,罗闳訚,何日辉. Владелец: Xiamen Yipu Intelligent Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-07-14.

Debugger based memory dump using built in self test

Номер патента: EP2619672A1. Автор: Paul F. Policke,Paul Douglas Bassett,Hong S. Kim. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-07-31.

Built-in self-test in a data processing apparatus

Номер патента: US20200278395A1. Автор: Kar-Lik Kasim Wong,Christopher Vincent SEVERINO,Joseph Samuel HERD. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2020-09-03.

Computer motherboard with basic input output system capable of built-in configuration display

Номер патента: US20100275000A1. Автор: Ming-Chung Hsieh,Pai-Lin HUANG,Rong-Jiang Kuang. Владелец: MSI Electronic Kunshan Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-28.

Built-in self-test (bist) circuit

Номер патента: US5230000A. Автор: Charles E. Stroud,Kenneth D. Mozingo. Владелец: AT&T Bell Laboratories Inc. Дата публикации: 1993-07-20.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US12050548B2. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US20230037738A1. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P. Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Systems and methods for built-in self test of low dropout regulators

Номер патента: US09933802B1. Автор: Jae Woong Jeong,Leroy Winemberg,Ender Yilmaz. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Self-contained built-in self-test circuit with phase-shifting abilities for high-speed receivers

Номер патента: US20230055935A1. Автор: Glen A. Wiedemeier,Chad Andrew Marquart,Nathan Ross Blanchard,Venkat Harish Nammi,Dereje Yilma,Jeffrey Kwabena Okyere,Erik English,Christopher STEFFEN,Vikram B. Raj,Michael Wayne Harper. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Method and Apparatus for Optimizing Memory-Built-In-Self Test

Номер патента: US20140089874A1. Автор: Norman Card,Steven Gregor,Puneet Arora,Navneet Kaushik. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2014-03-27.

BUILT-IN SELF-TEST IN A DATA PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20200278395A1. Автор: SEVERINO Christopher Vincent,WONG Kar-Lik Kasim,HERD Joseph Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

Built-in self-test for a radar unit receiver and method therefor

Номер патента: US11215694B2. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2022-01-04.

Built-in self-test for a programmable vision accelerator of a system on a chip

Номер патента: US20230125397A1. Автор: Jagadeesh Sankaran,Ching-Yu Hung,Ravi P. Singh,Ahmad Itani,Yen-Te Shih. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Built-in self-test for a radar unit receiver and method therefor

Номер патента: EP3524999B1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2023-12-06.

Gan reliability built-in self test (bist) apparatus and method for qualifying dynamic on-state resistance degradation

Номер патента: US20230280391A1. Автор: Kun-Lung Chen,Chan-Hong Chern,Chun-Yi Yang,Yu-Ann LAI,Ruo-Rung HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Signal processing system capable of performing voltage and frequency calibration

Номер патента: US20210365097A1. Автор: Cheng-Pin Chang,Tsung-Peng Chuang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-11-25.

Signal processing system capable of performing voltage and frequency calibration

Номер патента: US11854643B2. Автор: Cheng-Pin Chang,Tsung-Peng Chuang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Latency Detection in a Memory Built-In Self-Test by Using a Ping Signal

Номер патента: US20130232385A1. Автор: Kay Hesse,Suresh Periyacheri. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

Test-facilitating circuit using built-in self test circuit

Номер патента: US20030145261A1. Автор: Tetsushi Tanizaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-07-31.

Robust built-in self test circuitry

Номер патента: US20180080986A1. Автор: John B. DeForge,Kirk D. Peterson,Terence B. Hook,Theresa A. Newton. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Built-in self-test for adaptive delay-locked loop

Номер патента: US09805822B1. Автор: Dan Aleksandrowicz. Владелец: Marvell Israel MISL Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A8. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-08-28.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: WO2014105967A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh, Sheau-yang CH'NG. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Memory interface circuitry and built-in self-testing method

Номер патента: US20240274214A1. Автор: Hyeon Jae Lee,Jeong Ho Bang,Ki Hyung Ryoo,Kwang Rae Cho,Sun Byeong Yoon,Wol Jin LEE. Владелец: Integrated Silicon Solution Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Built-in-self-test (BIST) test time reduction

Номер патента: US09773570B2. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Built-in-self-test and self-repair methods and devices for computer memories comprising a reconfiguration memory device

Номер патента: US20020019957A1. Автор: Yervant Zorian,Hai Quang Pham,Ilyoung Kim,Goh Komoriya,Frank P. Higgins. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Reference bits test and repair using memory built-in self-test

Номер патента: US11929136B2. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Jongsin Yun,Harshitha Kodali. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Reference bits test and repair using memory built-in self-test

Номер патента: EP4128242A1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Jongsin Yun,Harshitha Kodali. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Integrated circuit including built-in self test circuit to test memory and memory test method

Номер патента: US7876633B2. Автор: Yoshitaka Aoki,Yasuyuki Hirasaki,Katsumi Shinbo. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Integrated circuit including Built-In Self Test circuit to test memory and memory test method

Номер патента: US20090238018A1. Автор: Yoshitaka Aoki,Yasuyuki Hirasaki,Katsumi Shinbo. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Built-in self test circuit for segmented static random access memory (sram) array input/output

Номер патента: US20240071546A1. Автор: Promod Kumar,Harsh Rawat,Kedar Janardan Dhori,Nitin Chawla,Bhupender Singh,Hitesh Chawla,Manuj Ayodhyawasi,Tanuj KUMAR. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-29.

Built-in self test for one-time-programmable memory

Номер патента: US8508972B2. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-08-13.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20120092916A1. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2012-04-19.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20130294143A1. Автор: James M. Lee,Howard R. Samuels,Thomas W. Kelly. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-11-07.

Design for test (dft) read speed through transition detector in built-in self-test (bist) sort

Номер патента: US20140185393A1. Автор: Boon-Weng Teoh,Mee-Choo Ong,Wei-Kent ONG,Sheau-Yang Ch'ng,Sie Wei Henry Lau,Jih Hong Beh. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2014-07-03.

Built-in-self-test für flash speicherzellen

Номер патента: DE60302473D1. Автор: Darlene Hamilton,Azrul Halim,Syahrizal Salleh,S Bill,V Bautista,Fook Lee,Cheong Cheah,Boon Law,Tang Teh,Joseph Kucera. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Built-in self-test circuit for RAMBUS DRAM

Номер патента: TW425567B. Автор: Shi-Yu Huang,Ding-Ming Kuai. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2001-03-11.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: WO2024064010A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj,Rodd E. NOVAK. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2024-03-28.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US20240106430A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj. Владелец: pSemi Corporation. Дата публикации: 2024-03-28.

Memory module and memory component built-in self test

Номер патента: AU2001290935A1. Автор: John Halbert,Randy Bonella. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2002-04-02.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801B1. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Built-in self-test hierarchy for an integrated circuit

Номер патента: TW200416399A. Автор: Jing Wu,IL-Young Kim,Laurence Reeves,Paul W Rutkowski. Владелец: AGERE SYSTEMS INC. Дата публикации: 2004-09-01.

Memory built-in self-test with automated reference trim feedback for memory sensing

Номер патента: EP4073801C0. Автор: Benoit Nadeau-Dostie,Martin Keim,Jongsin Yun. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US09728276B2. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

RRAM controller built in self test memory

Номер патента: US20070091702A1. Автор: Andrey Nikitin,Alexander Andreev,Ilya Neznanov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2007-04-26.

Recording of result information in a built-in self-test circuit and method therefor

Номер патента: TW569232B. Автор: James S Ledford,Alex S Yap,Brian E Cook. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2004-01-01.

Memory module and memory component built-in self test and methods thereof

Номер патента: HK1063264A1. Автор: John Halbert,Randy Bonella. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-12-17.

MEMORY DEVICE WITH BACKGROUND BUILT-IN SELF-TESTING AND BACKGROUND BUILT-IN SELF-REPAIR

Номер патента: US20130173970A1. Автор: Patel Jay,Kleveland Bendik,Sikdar Dipak K.,Chopra Rajesh. Владелец: MOSYS, INC.. Дата публикации: 2013-07-04.

DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT

Номер патента: US20140185393A1. Автор: ONG Wei-Kent,ONG Mee-Choo,"Chng Sheau-Yang",Teoh Boon-Weng,Lau Sie Wei Henry,Beh Jih Hong. Владелец: Spansion, LLC.. Дата публикации: 2014-07-03.

BUILT-IN-SELF-TEST LOGIC, MEMORY DEVICE WITH SAME, AND MEMORY MODULE TESTING METHOD

Номер патента: US20220293205A1. Автор: Lee Yong Ki,Kim Jaehyeok,OH Eunhye,KIM GAPKYOUNG,PARK TAEWOOK. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

Built-in-self-test (bist) test time reduction

Номер патента: US20140258797A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Krishnendu Mondal,Deepak I. Hanagandi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) TEST TIME REDUCTION

Номер патента: US20170229191A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

METHOD AND SYSTEM FOR REDUCING MEMORY TEST TIME UTILIZING A BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE

Номер патента: US20150262710A1. Автор: Chakravarty Sreejit. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2015-09-17.

Configurable Test Address And Data Generation For Multimode Memory Built-In Self-Testing

Номер патента: US20150310933A1. Автор: Chakraborty Kanad,Purushotham Naveen,Ratchen Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

Deterministic test pattern generator for built-in self test

Номер патента: KR100444763B1. Автор: 강용석,강성호. Владелец: 강성호. Дата публикации: 2004-08-21.

Array-built-in-self-test(abist) for efficient, fast, bitmapping of large embedded arrays in manufacturing test

Номер патента: KR100447910B1. Автор: 헤슬립제이지.,메이어개리더블유.,살렘제라드엠.,본레인티모시제이.. Владелец: 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션. Дата публикации: 2004-09-13.

Semiconductor memory circuit with built-in self-test and self-repair

Номер патента: DE60001291T2. Автор: Tomoya Kawagoe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-10-02.

Built-in self-test circuit using multiple input signature register, especially securing maximal test points

Номер патента: KR100455373B1. Автор: 이동순. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-01-17.

Self-repairing built-in self test for linked list memories

Номер патента: US6781898B2. Автор: Hyung Won Kim,Chuen-Shen Shung. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-08-24.

Device and method for subarray testing in dynamic random access memory using built-in self-test device

Номер патента: KR100480852B1. Автор: 데니 알. 클린,데오 제이. 포웰,히 퀑 후아,와 킷 로. Владелец: 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드. Дата публикации: 2005-07-07.

Built-in-self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US9881694B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Conditional access chip, its built-in self-test circuit and method of testing

Номер патента: CN107492395A. Автор: 蔡尚达,翁培恩,吕宗达. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2017-12-19.

Test interface for random access memory (RAM) built-in self-test (BIST)

Номер патента: US7490279B1. Автор: Rahul Kumar,Partha Ray,Suryanarayana R. Maturi. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Built-in self test for memory interconnect testing

Номер патента: US20050080581A1. Автор: David Zimmerman,Jay Nejedlo. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Reprogrammable built-in-self-test integrated circuit and test method for the same

Номер патента: US20090100305A1. Автор: Hsun-Yao Jan,Ting-Han Su,Cheng-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp. Дата публикации: 2009-04-16.

System and method including built-in self test (BIST) circuit to test cache memory

Номер патента: US8127184B2. Автор: Baker Mohammad. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-02-28.

Generation of test sequences during memory built-in self testing of multiple memories

Номер патента: US7788563B2. Автор: Ranko Scepanovic,Alexandre E. Andreev,Anatoli A. Bolotov. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2010-08-31.

Built-in-self-test logic, memory device with same, and memory module testing method

Номер патента: US20240021261A1. Автор: Jaehyeok Kim,Yong Ki Lee,Eunhye OH,Gapkyoung Kim,Taewook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Automated tests for built-in self test

Номер патента: TW200636266A. Автор: Xin Guo,Darlene Hamilton,Kendra Nguyen,Mi-Mi Lee,Ken-Cheong Cheah. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2006-10-16.

Built-in-self-test logic, memory device with same, and memory module testing method

Номер патента: US11804276B2. Автор: Jaehyeok Kim,Yong Ki Lee,Eunhye OH,Gapkyoung Kim,Taewook Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-31.

Built-in self test circuit for segmented static random access memory (sram) array input/output

Номер патента: US20240069096A1. Автор: Promod Kumar,Harsh Rawat,Kedar Janardan Dhori,Nitin Chawla,Bhupender Singh,Hitesh Chawla,Manuj Ayodhyawasi,Tanuj KUMAR. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2024-02-29.

Dram device with built-in self-test circuitry

Номер патента: US20120182776A1. Автор: Ming Li,Scott C. Best. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2012-07-19.

Mechanisms for built-in self test and repair for memory devices

Номер патента: US20130021861A1. Автор: Volodymyr SHVYDUN,Saman M. I. Adham. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-24.

GENERIC MARCH ELEMENT BASED MEMORY BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20130086440A1. Автор: Hamdioui Said,Al-Ars Zaid,Gaydadjiev Georgi Nedeltchev,Van de Goor Adrianus. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2013-04-04.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT APPLIED TO HIGH SPEED I/O PORT

Номер патента: US20130194876A1. Автор: Chen Yu-Lin,Liu Hsian-Feng,Chen Chung-Ching. Владелец: MStar Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2013-08-01.

INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY HAVING ENHANCED FEATURES AND METHODS

Номер патента: US20130205179A1. Автор: Chen Wei-yu,Badgett Kevin,Hesse Kay. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2013-08-08.

Deeply pipelined integrated memory built-in self-test (bist) system and method

Номер патента: US20130223168A1. Автор: Gary L. Taylor,Rosalee D. Gunderson. Владелец: Avago Technologies Enterprise IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

Latency Detection in a Memory Built-In Self-Test by Using a Ping Signal

Номер патента: US20130232385A1. Автор: Hesse Kay,Periyacheri Suresh. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2013-09-05.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20130294143A1. Автор: Samuels Howard R.,Kelly Thomas W.,Lee James M.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

Built-in self-test (bist) engine

Номер патента: US20170018313A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-19.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180053566A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20180061509A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

BUILT-IN SELF-TEST FOR BIT-WRITE ENABLED MEMORY ARRAYS

Номер патента: US20210074376A1. Автор: Huott William,Rodko Daniel,Patel Pradip,Hyde Matthew Steven. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ENGINE CONFIGURED TO STORE A PER PATTERN BASED FAIL STATUS IN A PATTERN MASK REGISTER

Номер патента: US20200075119A1. Автор: Ouellette Michael R.,Ziegerhofer Michael A.,Goss John R.,BUSI Aravindan J.,NARAYAN Kiran K.,GRZYMKOWSKI Paul J.,MONDAL Krishnendu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-05.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US20160093401A1. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-03-31.

FULL ADDRESS COVERAGE DURING MEMORY ARRAY BUILT-IN SELF TEST WITH MINIMUM TRANSITIONS

Номер патента: US20170092380A1. Автор: Jew Thomas,Chrudimsky David W.,FERNANDEZ Edward Bryann C.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

FAILING ADDRESS REGISTERS FOR BUILT-IN SELF TESTS

Номер патента: US20210098069A1. Автор: Miller Thomas E.,Srinivasan Uma,Fredeman Gregory J.,Hyde Matthew Steven,KNIPS THOMAS J.. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

MECHANISMS FOR BUILT-IN SELF TEST AND REPAIR FOR MEMORY DEVICES

Номер патента: US20150109848A1. Автор: ADHAM Saman M. I.,HUNG Chao-Jung. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

ENHANCED MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ARCHITECTURE FOR DE-FEATURED MEMORIES

Номер патента: US20170110204A1. Автор: Tiwari Rajesh,Bhat Shankarnarayan,Bhat Anand,Anand Ashutosh,BHUSHAN SINGH Nishi,Kothiala Abhinav. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20170110205A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

BYTE ENABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST (MBIST) ALGORITHM

Номер патента: US20190115091A1. Автор: Jung Chulmin,AHMED Fahad,Seok Greg. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

Built-In-Self-Test Circuits And Methods In Sectors Of Integrated Circuits

Номер патента: US20220277799A1. Автор: Khor Kok Wah. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2022-09-01.

BUILT-IN SELF-TESTING AND FAILURE CORRECTION CIRCUITRY

Номер патента: US20210174888A1. Автор: Sharda Garima,Sinha Nidhi,Joshi Dinesh,Pathak Akshay. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

BUILT-IN SELF-TEST FOR EMBEDDED SPIN-TRANSFER TORQUE MAGNETIC RANDOM ACCESS MEMORY

Номер патента: US20180151246A1. Автор: Rajamani Karthick,Sethuraman Saravanan,Hunter Hillery C.,Healy Michael B.,Mukundan Janani. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Method for performing built-in self-tests and electronic circuit

Номер патента: US20150162097A1. Автор: ECKERT Martin,Torreiter Otto,Zoelin Christian. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT, MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD OF OPERATING THE BIST CIRCUIT

Номер патента: US20170162276A1. Автор: SHIN Sang-Hoon,PARK Ki-Hyun,PARK Yong-Sik,OK Seung-Ho,Zhang Pyung-moon. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

MEMORY DEVICE AND BUILT-IN SELF TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200152285A1. Автор: NAKAOKA Yuji. Владелец: WINBOND ELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2020-05-14.

Built-in self-test (bist) circuit, memory device including the same, and method of operating the bist circuit

Номер патента: US20190180837A1. Автор: Yong-Sik Park,Sang-Hoon Shin,Ki-Hyun Park,Pyung-Moon Zhang,Seung-Ho OK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-13.

ADDRESS WINDOWING FOR AT-SPEED BITMAPPING WITH MEMORY BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20140359383A1. Автор: Rodriguez Geovanny,Vincent Brian J.,Vonreyn Timothy J.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20160307644A1. Автор: Kang Hee-Won. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

EMBEDDED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUITRY FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR (DSP) VALIDATION

Номер патента: US20170328951A1. Автор: Liew Weng Hong. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST ERROR CORRECTING CODE (MBIST ECC) FOR LOW VOLTAGE MEMORIES

Номер патента: US20200321070A1. Автор: ARSOVSKI Igor,Ziegerhofer Michael A.,Chickanosky Valerie H.,HANAGANDI Deepak I.,LODHA Kalpesh R.. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

BUILT-IN SELF-TEST (BIST) CIRCUIT AND ASSOCIATED BIST METHOD FOR EMBEDDED MEMORIES

Номер патента: US20160365156A1. Автор: Ouellette Michael R.,BUSI Aravindan J.,MONDAL Krishnendu,HANAGANDI Deepak I.. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-15.

MEMORY BUILT-IN SELF-TEST FOR A DATA PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20150371718A1. Автор: Aitken Robert Campbell,PATHIRANE Chiloda Ashan Senerath,BECKER Alan Jeremy. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

Built-in self-test (bist) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US20190378587A1. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Fault Repair Circuit with Built-in Self Test Circuit and Defect Repair Method Using the Same

Номер патента: KR19990069338A. Автор: 최용진. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-09-06.

Redundancy circuit having built-in self test circuit and repair method using the same

Номер патента: KR100265765B1. Автор: 최용진. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2000-10-02.

DRAM device with built-in self-test circuitry

Номер патента: US8456934B2. Автор: Ming Li,Scott C. Best. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2013-06-04.

Combined processor access and built in self test in hierarchical memory systems

Номер патента: US7844867B1. Автор: Sudhakar Reddy,Gary Depelteau. Владелец: Netlogic Microsystems Inc. Дата публикации: 2010-11-30.

Configurable and memory architecture independent memory built-in self test

Номер патента: US6760872B2. Автор: Jay K. Gupta,Somnath Paul. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2004-07-06.

Dram memory controller with built-in self test and methods for use therewith

Номер патента: CN102385560A. Автор: R·古普塔,C-C·叶. Владелец: ViXS Systems Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

Integrated circuit with built-in self-test device

Номер патента: DE19835258A1. Автор: Robert Kaiser,Florian Schamberger,Hans-Juergen Krasser. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2000-02-10.

Method and system for performing built-in self-test routines using an accumulator to store fault information

Номер патента: US7260758B1. Автор: Ghasi R. Agrawal,William Schwarz,Mukesh K. Puri. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2007-08-21.

Built-in self test (BIST) architecture having distributed interpretation and generalized command protocol

Номер патента: US7814380B2. Автор: David W. Hansquine,Roberto Fabian Averbuj. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Method and system of fast clearing of memory using a built-in self-test circuit

Номер патента: WO2008100495A1. Автор: Lewis Adams,Alan Herring. Владелец: GainSpan Corporation. Дата публикации: 2008-08-21.

Techniques for logic built-in self-test diagnostics of integrated circuit devices

Номер патента: US7856582B2. Автор: Daniel W. Cervantes,Robert B. Gass,Joshua P. Hernandez,Timothy M. Skergan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-12-21.

Built-in self-test technique and system for conteni-addressable memory

Номер патента: KR940011427B1. Автор: 조리안 에반트. Владелец: 알.비.레비. Дата публикации: 1994-12-15.

Built-in self test system and method for two-dimensional memory redundancy allocation

Номер патента: US20040225939A1. Автор: R. Adams,Thomas Eckenrode,Steven Gregor,Gary Koch. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-11-11.

Weighted random pattern built-in self-test

Номер патента: KR100309537B1. Автор: 프란코 모티카,스티븐 브이 파테라스,존 제임스 슈셰레바. Владелец: 포만 제프리 엘. Дата публикации: 2001-11-30.

Built-in self-test circuit applied to high speed I/O port

Номер патента: US8773932B2. Автор: Yu-Lin Chen,Hsian-Feng Liu,Chung-ching Chen. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2014-07-08.

Memory built-in self test (MBIST) circuitry configured to facilitate production of pre-stressed integrated circuits and methods

Номер патента: US8468408B2. Автор: Wei-Yu Chen,Kevin Badgett,Kay Hessee. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2013-06-18.

Built-in self-testing for double data rate input/output

Номер патента: US20030101376A1. Автор: Amit Sanghani. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2003-05-29.

Semiconductor integrated circuit having a (BIST) built-in self test circuit for fault diagnosing operation of a memory

Номер патента: US7653854B2. Автор: Kenichi Anzou,Chikako Tokunaga. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-01-26.

Programmable Built In Self Test (pBIST) system

Номер патента: CN103871476A. Автор: 拉古拉姆·达莫达兰,纳韦恩·布霍里亚,阿曼·科克拉迪. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-06-18.

Built-in self test circuit

Номер патента: JP3298621B2. Автор: 芳行 中村. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-02.

Built-in self-test (BIST) engine configured to store a per pattern based fail status in a pattern mask register

Номер патента: US11295829B2. Автор: Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Aravindan J. BUSI,John R. Goss,Paul J. Grzymkowski,Krishnendu Mondal,Kiran K. Narayan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

Performing memory built-in-self-test (MBIST)

Номер патента: US7426668B2. Автор: Nilanjan Mukherjee,Wu-Tung Cheng,Xiaogang Du. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2008-09-16.

Dft technique for avoiding contention/conflict in logic built-in self-test

Номер патента: US20030053358A1. Автор: Sandip Kundu,Sanjay Sengupta,Rajesh Galivanche. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

System for and method of performing high speed memory diagnostics via built-in-self-test

Номер патента: US20080082883A1. Автор: Michael R. Ouellette,Donald L. Wheater,Kevin W Gorman,Emory D. Keller. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Built-in self-testing for double data rate input/output interface

Номер патента: WO2003046925A2. Автор: Amit Sanghani. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2003-06-05.

Built-in self test circuit

Номер патента: KR100206128B1. Автор: 김헌철. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-07-01.

Memory circuit with built-in self-test

Номер патента: DE69901534D1. Автор: Ding-Ming Kwai,Shi-Yu Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2002-06-27.

A built-in self-test circuit for a memory card

Номер патента: KR100384777B1. Автор: 이성근. Владелец: 주식회사 하이닉스반도체. Дата публикации: 2003-05-22.

Mechanisms for built-in self test and repair for memory devices

Номер патента: CN103578562A. Автор: 萨曼·M·I·阿扎姆,洪照荣. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-02-12.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (MBIST) system and method

Номер патента: US6959256B2. Автор: Luis Antonio Basto. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2005-10-25.

Built-in self-test circuit and memory

Номер патента: CN111354412A. Автор: 陈岚,秦毅,陈巍巍,尤云霞. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2020-06-30.

At-speed bitmapping in a memory built-in self-test by locking an n-th failure

Номер патента: US20100223511A1. Автор: Kay Hesse,Markus Seuring,Kai Eichhorn. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2010-09-02.

Universally accessible fully programmable memory built-in self-test (mbist) system and method

Номер патента: WO2004105040A2. Автор: Luis Antonio Basto. Владелец: Analog Devices, Inc. Дата публикации: 2004-12-02.

On-chip erase pulse counter for efficient erase verify BIST (built-in-self-test) mode

Номер патента: US6665214B1. Автор: Edward V. Bautista, Jr.,Ken Cheong Cheah,Weng Fook Lee,Boon Tang Teh. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-12-16.

Built-in self test system and method

Номер патента: CN1551225A. Автор: ,王力,T,T·博赫勒,J·V·达萨帕. Владелец: Infenion Tech North America Corp. Дата публикации: 2004-12-01.

DRAM memory controller with built-in self test and methods for use therewith

Номер патента: US8438432B2. Автор: Chun-Chin Yeh,Rajat Gupta. Владелец: ViXS Systems Inc. Дата публикации: 2013-05-07.

Built-in self test circuit using linear feedback shift register

Номер патента: US20020194557A1. Автор: Jin-Young Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-12-19.

Built-in self-test circuit

Номер патента: US9733309B2. Автор: Ming Li. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Built-in self-testing of multilevel signal interfaces

Номер патента: US20060242483A1. Автор: Jared Zerbe,Carl Werner,William Stonecypher. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2006-10-26.

3D memory and built-in self test circuit thereof

Номер патента: TW201348722A. Автор: Ding-Ming Kwai,Chih-Yen Lo,Jin-Fu Li,yun-chao Yu,Che-Wei Chou. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2013-12-01.

Systems for Built-In-Self-Test for content addressable memories and methods of operating the same

Номер патента: US20050088904A1. Автор: Mohit Jain,Danish Syed. Владелец: STMICROELECTRONICS PVT LTD. Дата публикации: 2005-04-28.

Method and apparatus for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: WO2000011674A1. Автор: Yervant David Lepejian,Hrant Marandjian,Hovhannes Ghukasyan,Lawrence Kraus. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2000-03-02.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: CA2519618A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: Roberto F. Averbuj. Дата публикации: 2004-10-07.

Programmable memory built-in self test (MBIST) method and apparatus

Номер патента: JP4494474B2. Автор: ムカルジー，ニランジャン,ドゥ，シャオガン,チェン，ウー−タン. Владелец: メンター・グラフィクス・コーポレーション. Дата публикации: 2010-06-30.

Memory built-in self-test with adjustable pause time

Номер патента: US20230069351A1. Автор: Yoshinori Fujiwara,Daniel S. Miller. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Memory built-in self-test (bist) architecture having distributed command interpretation and generalized command protocol

Номер патента: WO2004086411A1. Автор: David W. Hansquine,Roberto F. Averbuj. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2004-10-07.

Procedures for entry to and exit from a built-in-self-test unit in a semiconductor memory

Номер патента: TW351812B. Автор: Kuong-Hua Hii,Danny R Cline,Theo L Powell. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 1999-02-01.

Integrated circuits with built-in self test mechanism

Номер патента: US20160093401A1. Автор: Chia-Wei Wang,Shi-Wei Chang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-03-31.

Temperature-controlled driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US20240106420A1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Rodd E. NOVAK. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Simultaneous code checker and hardware-efficient high-speed input / output with built-in self-test and debug functions

Номер патента: DE602007011840D1. Автор: Hoon Choi,Chinsong Sul,Gijung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features

Номер патента: TW200737739A. Автор: Hoon Choi,Chin-Song Sung,Gi-Jung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2007-10-01.

A kind of built-in heat dissipation electric power cabinet and its cooling control method that vibration is isolated

Номер патента: CN107293954B. Автор: 王涛,高明. Владелец: SHENZHEN OUYATE ELECTRICAL APPLIANCE EQUIPMENT CO Ltd. Дата публикации: 2019-05-07.

The electronic installation and its control method of built-in real time operating system

Номер патента: CN106773998A. Автор: 萧应瑞. Владелец: Family Technology (shanghai) Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-31.

The MCU chip of built-in amplifier and its application on frequency conversion refrigerator

Номер патента: CN107678334A. Автор: 韩大强,蒲显城. Владелец: Sichuan Changhong Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-09.

Monitoring of plurality of joints using combination of built-in sensors and external sensor

Номер патента: RU2745429C2. Автор: Харшавардана Нараяна КИККЕРИ. Владелец: Харшавардана Нараяна КИККЕРИ. Дата публикации: 2021-03-25.

Voltage calibration circuit capable of updating voltage to be calibrated automatically

Номер патента: US20170115340A1. Автор: Hung-Ta Sung. Владелец: Powerchip Technology Corp. Дата публикации: 2017-04-27.

Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop with digital output and method thereof

Номер патента: TW200610275A. Автор: Yu-Chen Chen. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074934A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US09651623B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US09651616B2. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Logic built-in self-test with high test coverage and low switching activity

Номер патента: US09568552B2. Автор: Janusz Rajski,Xijiang Lin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

STRUCTURE OF BUILT-IN SELF-TEST FOR PRESSURE TESTER AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20140083158A1. Автор: Cheng Wei-Jen. Владелец: KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD. Дата публикации: 2014-03-27.

Built-in self test technique for programmable impedance drivers for RapidChip and ASIC drivers

Номер патента: US20050264314A1. Автор: Kevin Gearhardt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-01.

Optimizing generation of test configurations for built-in self-testing

Номер патента: US09588177B1. Автор: Franco Motika,Andrew A. Turner,Eugene R. Atwood,Mary P. Kusko,Paul J. Logsdon. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Isolating Failing Latches Using a Logic Built-In Self-Test

Номер патента: US20140149814A1. Автор: Mack W. Riley,Ra'ed M. Al-Omari,Micheal W. Harper,Cindy Phan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Device with blockable/un-blockable fluid channels and built-in self-test equipment

Номер патента: US11921126B2. Автор: Mengchu Li,Tsun-Ming Tseng,Ulf Schlichtmann. Владелец: Technische Universitaet Muenchen. Дата публикации: 2024-03-05.

Wrapper cell design and built-in self-test architecture for 3DIC test and diagnosis

Номер патента: US12066490B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240280630A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20240361385A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US20240259023A1. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Built-in self-test technique for detection of imperfectly connected antenna in OFDM transceivers

Номер патента: US09577769B2. Автор: Achraf Dhayni. Владелец: Optis Circuit Technology LLC. Дата публикации: 2017-02-21.

Autonomous built-in self-test for integrated circuits

Номер патента: WO2004088478A3. Автор: Tibor Boros,Veerendra Bhora,Pulakesh Roy. Владелец: Pulakesh Roy. Дата публикации: 2005-04-21.

Logic Built-In Self-Test with High Test Coverage and Low Switching Activity

Номер патента: US20140365840A1. Автор: Janusz Rajski,Xijiang Lin. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Logic built-in self-test system and method for applying a logic built-in self-test to a device under test

Номер патента: US20110221469A1. Автор: Rolf Schlagenhaft. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2011-09-15.

Logic built-in self-test system and method for applying a logic built-in self-test to a device under test

Номер патента: US8461865B2. Автор: Rolf Schlagenhaft. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2013-06-11.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074935A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20220365135A1. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Built-in self-test for die-to-die physical interfaces

Номер патента: US11940491B2. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20230384377A1. Автор: Vikram MEHTA,Arnaud J. Forestier,Fabien S. Faure. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

SYSTEM CHIP, AND BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND SELF-TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200096565A1. Автор: Lin I-Hsueh,Liu Chia-Min. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

BUILT-IN SELF TEST SYSTEM, SYSTEM ON A CHIP AND METHOD FOR CONTROLLING BUILT-IN SELF TESTS

Номер патента: US20150137841A1. Автор: Staudenmaier Michael,Frank Juergen,THANNER MANFRED,CULSHAW CARL. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-05-21.

System chip, built-in self-test circuit and self-test method thereof

Номер патента: CN111025132B. Автор: 林宜学,刘佳旻. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2022-02-15.

System chip, and built-in self-test circuit and self-test method thereof

Номер патента: TWI674423B. Автор: 林宜學,劉佳旻. Владелец: 瑞昱半導體股份有限公司. Дата публикации: 2019-10-11.

Optocoupler built-in self test for applications requiring isolation

Номер патента: US5323014A. Автор: Edward P. Liscio,Richard A. Riggio. Владелец: AEG Transportation Systems Inc. Дата публикации: 1994-06-21.

Built-in self test circuit and self test method for parallel plate capacitive MEMS (Micro-Electro-Mechanical-System) accelerometer

Номер патента: CN105823907A. Автор: 李佳,余丹. Владелец: Jiangsu IoT Research and Development Center. Дата публикации: 2016-08-03.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285B1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-05-03.

System and method for calibration and built-in self test of automobile radar system

Номер патента: EP2972468A1. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Autoliv ASP Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

An analog built-in self-test scheme for high volume power management integrated circuit products

Номер патента: EP4421503A1. Автор: Xicheng Jiang,Shengyuan Li. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Analog built-in self-test scheme for high volume power management integrated circuit products

Номер патента: US12025662B1. Автор: Xicheng Jiang,Shengyuan Li. Владелец: Avago Technologies International Sales Pte Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Signal processing system with built-in self-testing function, testing method thereof and testing signal generator

Номер патента: TWI517605B. Автор: 顏仕傑,洪誌銘. Владелец: 晨星半導體股份有限公司. Дата публикации: 2016-01-11.

Transducer built-in self-test

Номер патента: US11913988B2. Автор: Michael Carfore. Владелец: Qualcomm Technologies Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Enhanced direct current (dc) built-in-self-test (bist) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US20240019485A1. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Wrapper Cell Design and Built-In Self-Test Architecture for 3DIC Test and Diagnosis

Номер патента: US20230366930A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Anshuman Chandra. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Transducer built-in self-test

Номер патента: WO2022240888A3. Автор: Michael Carfore. Владелец: VESPER TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2023-01-05.

Enhanced direct current (DC) built-in-self-test (BIST) coverage for optical engines and advanced packaging

Номер патента: US12007432B2. Автор: Sanjay Sunder,Alexander C. Kurylak. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Test Generator For Low Power Built-In Self-Test

Номер патента: US20120272110A1. Автор: Jerzy Tyszer,Benoit Nadeau-Dostie,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Path-based crosstalk fault test scanning in built-in self-testing

Номер патента: US20140095951A1. Автор: Xiao Liu,Nisar Ahmed,Corey Jason Goodrich,Chris Therrien. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Reducing power requirements and switching during logic built-in-self-test and scan test

Номер патента: US20170074934A1. Автор: Cedric Lichtenau,Mary P. Kusko,Satya Rama S. Bhamidipati. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170074935A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

Trajectory-Optimized Test Pattern Generation for Built-In Self-Test

Номер патента: US20210156918A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Mukherjee Nilanjan,Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Rybak Lukasz. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

TEST CONTROL POINT INSERTION AND X-BOUNDING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST (LBIST) USING OBSERVATION CIRCUITRY

Номер патента: US20140258798A1. Автор: AHMED NISAR,Shofner,JR. Orman G.. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-09-11.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170176531A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

REDUCING POWER REQUIREMENTS AND SWITCHING DURING LOGIC BUILT-IN-SELF-TEST AND SCAN TEST

Номер патента: US20170176532A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya Rama S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Logic Built-In Self-Test with High Test Coverage and Low Switching Activity

Номер патента: US20140365840A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Lin Xijiang. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

OPHTHALMIC DEVICE WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY FOR TESTING AN ADJUSTABLE LENS

Номер патента: US20180275424A1. Автор: Lee Shungneng. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

CONDITIONAL ACCESS CHIP, BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20170336472A1. Автор: TSAI Shang-Ta,WENG PEI-EN,LU TSUNG-TA. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

OPHTHALMIC DEVICE WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITRY FOR TESTING AN ADJUSTABLE LENS

Номер патента: US20200348537A1. Автор: Lee Shungneng. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

Built-in self-testing device and testing method of MEMS piezoresistive sensor

Номер патента: CN111238698B. Автор: 陈大鹏,李佳,王玮冰,朱曼红. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2021-10-22.

Method and Apparatus for Testing a Ring of Non-Scan Latches with Logic Built-in Self-Test

Номер патента: US20080250290A1. Автор: Louis Bernard Bushard,Nathan Paul Chelstrom,Naoki Kiryu,David John Krolak. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Method and apparatus for testing a ring of non-scan latches with logic built-in self-test

Номер патента: US7406640B2. Автор: Louis Bernard Bushard,Nathan Paul Chelstrom,Naoki Kiryu,David John Krolak. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-07-29.

Test pattern generation circuit and generation method for built in self test circuit

Номер патента: JP2003030000A. Автор: Yoshihiro Nagura,Yukikazu Matsuo,幸和 松尾,義博 名倉. Владелец: Renesas Semiconductor Engineering Corp. Дата публикации: 2003-01-31.

Array self repair using built-in self test techniques

Номер патента: US20060174175A1. Автор: Pradip Patel,Franco Motika,Daniel Rodko,William Huott. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-08-03.

Method, system, and program product for controlling test data of a logic built-in self-test of an integrated circuit

Номер патента: US20060107149A1. Автор: Jay Herring,Marvin Rich. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-18.

Trajectory-optimized test pattern generation for built-in self-test

Номер патента: US11585853B2. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Grzegorz Mrugalski,Janusz Rajski,Lukasz Rybak. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-02-21.

Method, system, and program product for boundary I/O testing employing a logic built-in self-test of an integrated circuit

Номер патента: US20060095820A1. Автор: Jay Herring,Marvin Rich. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-04.

Method and apparatus for testing a ring of non-scan latches with logic built-in self-test

Номер патента: US20070234159A1. Автор: Naoki Kiryu,Louis Bushard,Nathan Chelstrom,David Krolak. Владелец: Toshiba America Electronic Components Inc. Дата публикации: 2007-10-04.

Built-in self-test circuit for phase locked loops, test method and computer program product therefore

Номер патента: EP1475891B1. Автор: Leonardo Napolitano. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2006-03-15.

Method and structure for picosecond-imaging-circuit-analysis based built-in-self-test diagnostic

Номер патента: US20050188290A1. Автор: Peilin Song,Franco Motika. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-08-25.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US20230216505A1. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Multi-phase logic built-in self-test observation scan technology

Номер патента: WO2024076370A1. Автор: Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Jedrzej Solecki,Yingdi Liu. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2024-04-11.

Partial-Scan Built-In Self-Testing Circuit Having Improved Testability

Номер патента: CA2119226A1. Автор: Chih-Jen Lin. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1994-11-18.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: WO2023130109A3. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2023-08-10.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: WO2023130109A2. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2023-07-06.

Redundant analog built-in self test

Номер патента: US11996843B2. Автор: Timothy Paul Duryea. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Magnetoresistance sensor with built-in self-test and device configuring ability and method for manufacturing same

Номер патента: US20120293164A1. Автор: Fu-Tai Liou,Ta-Yung WONG,Tai-Lang TANG,Wei-Tung Peng. Владелец: Voltafield Technology Corp. Дата публикации: 2012-11-22.

DIAGNOSING FAILURE LOCATIONS OF AN INTEGRATED CIRCUIT WITH LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20180003768A1. Автор: Douskey Steven M.,Kaufer Amanda R.,PFEIFER PASTEL LEAH MARIE. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2018-01-04.

METHOD AND APPARATUS FOR BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20200003830A1. Автор: Lu Ming,WANG Juncheng,Chiang Patrick Yin,Bai Rui,Chen Xuefeng,Ma Jianxu. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

Device with Blockable/Un-Blockable Fluid Channels and Built-In Self-Test Equipment

Номер патента: US20220011329A1. Автор: Li Mengchu,Tseng Tsun-Ming,Schlichtmann Ulf. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-13.

BUILT-IN-SELF-TEST FOR AN ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER

Номер патента: US20150009052A1. Автор: BOGNER Peter,Mejri Jaafar. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: US20180019781A1. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-18.

METHOD AND SYSTEM FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20160025808A1. Автор: JINDAL ANURAG,Jindal Amit,Singh Nitin. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2016-01-28.

LOGIC-BUILT-IN-SELF-TEST DIAGNOSTIC METHOD FOR ROOT CAUSE IDENTIFICATION

Номер патента: US20160033570A1. Автор: Forlenza Donato O.,Forlenza Orazio P.,Robbins Bryan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

LOGIC-BUILT-IN-SELF-TEST DIAGNOSTIC METHOD FOR ROOT CAUSE IDENTIFICATION

Номер патента: US20160033571A1. Автор: Forlenza Donato O.,Forlenza Orazio P.,Robbins Bryan J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

LOGIC BUILT-IN SELF-TEST (LBIST) WITH PIPELINE SCAN ENABLE LAUNCH ON SHIFT (LOS) FLIP-FLOP CIRCUIT

Номер патента: US20180031631A1. Автор: Srinivasan Venkata Narayanan,GUPTA Tripti. Владелец: STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.. Дата публикации: 2018-02-01.

SCALABLE BUILT-IN SELF TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20140132291A1. Автор: GORTI ATCHYUTH K.,Somachudan Archana. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

Isolating Failing Latches Using a Logic Built-In Self-Test

Номер патента: US20140149814A1. Автор: Riley Mack W.,"Al-omari Raed M.",Harper Micheal W.,Phan Cindy. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-29.

ROBUST BUILT-IN SELF TEST CIRCUITRY

Номер патента: US20180080986A1. Автор: Peterson Kirk D.,Hook Terence B.,DeForge John B.,Newton Theresa A.. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

GAN RELIABILITY BUILT-IN SELF TEST (BIST) APPARATUS AND METHOD FOR QUALIFYING DYNAMIC ON-STATE RESISTANCE DEGRADATION

Номер патента: US20220099726A1. Автор: CHERN Chan-Hong,Yang Chun-Yi,CHEN Kun-Lung,LAI Yu-Ann,HUANG Ruo-Rung. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

BUILT-IN SELF TEST FOR AN ARRAY OF CIRCUIT ELEMENTS

Номер патента: US20200081058A1. Автор: Schmalzl Erwin. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

METHOD AND APPARATUS FOR ON-THE-FLY MEMORY CHANNEL BUILT-IN-SELF-TEST

Номер патента: US20150106673A1. Автор: Chen Chao Yu,Huang Jung Chi,Hu Wen Hsuan. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

3D BUILT-IN SELF-TEST SCHEME FOR 3D ASSEMBLY DEFECT DETECTION

Номер патента: US20140189456A1. Автор: Loh Siang Poh,Lim Chooi Pei. Владелец: Altera Corporation. Дата публикации: 2014-07-03.

Driving circuit having built-in-self-test function

Номер патента: US20140197868A1. Автор: Ko-Yang Tso,Chih-Chuan Huang. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

DYNAMIC WEIGHT SELECTION PROCESS FOR LOGIC BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20210156910A1. Автор: Motika Franco,Kusko Mary P.,Atwood Eugene. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

Logic built-in self test dynamic weight selection method

Номер патента: US20210156911A1. Автор: Franco Motika,Mary P. Kusko,Eugene Atwood. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT FOR MEASURING PHASE NOISE OF A PHASE LOCKED LOOP

Номер патента: US20200132764A1. Автор: Sheen Ruey-Bin,CHOU Mao-Hsuan,CHANG Chih-Hsien,Chang Ya-Tin. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT FOR MEASURING PHASE NOISE OF A PHASE LOCKED LOOP

Номер патента: US20210173009A1. Автор: CHOU Mao-Hsuan,CHANG Chih-Hsien,Chang Ya-Tin,Sheen Ruey-Ben. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

BUILT-IN SELF-TEST RADAR UNIT AND METHOD FOR PHASE SHIFT MEASUREMENT THEREIN

Номер патента: US20190146059A1. Автор: SCHAT Jan-Peter,Zanati Abdellatif. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-16.

DESIGN-BASED WEIGHTING FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20150168489A1. Автор: Lichtenau Cedric,Kusko Mary P.,Cook Gregory J.,Koprowski Timothy J.. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-18.

ADJUSTABLE BED FOUNDATION SYSTEM WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20140250597A1. Автор: CHEN YI-CHING,Stusynski Stacy,McGuire John. Владелец: SELECT COMFORT CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-11.

Waveform Calibration Using Built In Self Test Mechanism

Номер патента: US20150177326A1. Автор: Graul Jens,Chakraborty Sudipto. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND TEMPERATURE MEASUREMENT CIRCUIT INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20210199719A1. Автор: Kim Sangho,LEE Yongjin,Choi Michael,KIM Kwangho,Shin Junhee,Kim Jooseong. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

System And Method For Calibration And Built-In Self Test Of Automobile Radar System

Номер патента: US20140266865A1. Автор: Doyle Scott B.. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192054A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192055A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20170192057A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

BUILT-IN SELF TEST (BIST) WITH CLOCK CONTROL

Номер патента: US20140281778A1. Автор: JINDAL ANURAG,AHMED NISAR,Mahajan Nipun. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

MEMS PEIZOELECTRIC ACCELEROMETER WITH BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20170205440A1. Автор: Zhang Weibin,Huynh Cuong Tho,McTighe James Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-20.

A CIRCUIT ARRANGEMENT FOR LOGIC BUILT-IN SELF-TEST OF A SEMICONDUCTOR DEVICE AND A METHOD OF OPERATING SUCH CIRCUIT ARRANGEMENT

Номер патента: US20150219717A1. Автор: AHRENS HEIKO,RICHTER Bernhard,Latzel Claudia. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2015-08-06.

Apparatus And Method Of RF Built In Self-Test (RFBIST) In A Radar System

Номер патента: US20210263147A1. Автор: ARKIND Noam,Bauer Abraham. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

Deterministic Built-In Self-Test

Номер патента: US20160245863A1. Автор: RAJSKI JANUSZ,Tyszer Jerzy,Mrugalski Grzegorz,Rybak Lukasz,Solecki Jedrzej. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-25.

BUILT-IN SELF-TEST FOR A RADAR UNIT RECEIVER AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20190242973A1. Автор: SCHAT Jan-Peter,Zanati Abdellatif. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

METHODS AND CIRCUITRY FOR BUILT-IN SELF-TESTING OF CIRCUITRY AND/OR TRANSDUCERS IN ULTRASOUND DEVICES

Номер патента: US20210325349A1. Автор: Chen Chao,Chen Kailiang,Sanchez Nevada J.,Kook Youn-Jae,Lutsky Joseph,Soleimani Hamid,Lee Jihee,Chiu Leung Kin,Schaetz Sebastian. Владелец: Butterfly Network, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

System and Method for a Built-In-Self-Test of a Battery

Номер патента: US20170269166A1. Автор: Bernardon Derek. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUITS AND RELATED METHODS

Номер патента: US20200271722A1. Автор: van Oevelen Jacco. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT

Номер патента: US20160306010A1. Автор: Li Ming. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

INTERFACE CHIP AND BUILT-IN SELF-TEST METHOD THEREFOR

Номер патента: US20160313399A1. Автор: LIN YU-LUNG,LIN Po-Chou. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-27.

LOGIC BUILT IN SELF TEST CIRCUITRY FOR USE IN AN INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAINS

Номер патента: US20180306858A1. Автор: Lichtenau Cedric,GopalaKrishnaSetty Raghu G.,Kusko Mary P.,Bhamidipati Satya R.S.. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-25.

BUILT-IN SELF-TEST METHOD AND APPARATUS FOR SINGLE-PIN CRYSTAL OSCILLATORS

Номер патента: US20190353699A1. Автор: Ciubotaru Alexandru Aurelian. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Built-in self-test method and apparatus for single-pin crystal oscillators

Номер патента: US20190353700A1. Автор: Alexandru Aurelian Ciubotaru. Владелец: ARM LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

BUILT IN SELF TEST TRANSMITTER PHASE CALIBRATION

Номер патента: US20200400783A1. Автор: Doaré Olivier Vincent,Orlando Julien. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Built-in Self-Test for Die-to-Die Physical Interfaces

Номер патента: US20220365135A1. Автор: FORESTIER Arnaud J.,Mehta Vikram,Faure Fabien S.. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: KR20210083537A. Автор: 김광호,김상호,최병주,김주성,이용진,신준희. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-07-07.

Method and apparatus for built-in self-test

Номер патента: CN110446935B. Автор: 陈学峰,陆明,姜培,马建旭,白睿,王俊成. Владелец: Photonic Technologies Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

RF receiver with built-in self-test function

Номер патента: US10278084B2. Автор: Thomas Sailer,Oliver Frank,Florian STARZER,Peter Bogner,Guenter Haider,Michael Kropfitsch,Jochen O. SCHRATTENECKER,Rainer Stuhlberger. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2019-04-30.

Built-in self-test system based on on-chip system or system-in-package

Номер патента: CN102768336A. Автор: 徐国卿,李慧云,朱洪宇. Владелец: Shenzhen Institute of Advanced Technology of CAS. Дата публикации: 2012-11-07.

Mixed signal integrated circuit, with built in self test and method

Номер патента: US20110181312A1. Автор: Chris Ouslis,Scott Howe. Владелец: FRESCO MICROCHIP Inc. Дата публикации: 2011-07-28.

Mems sensor with built-in self-test

Номер патента: US20100145660A1. Автор: Christoph Lang,Udo-Martin Gomez,Valdimir Petkov. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2010-06-10.

Built-in self-test for analog-digital converter

Номер патента: CN104283559B. Автор: P.博格纳,J.梅杰里. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-02-06.

Built in self test for input/output characterization

Номер патента: US7814386B2. Автор: JOHN Joseph SEIBOLD,Vinay B. Jayaram,Elie Torbey. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Lowering power consumption during logic built-in self-testing (LBIST) via channel suppression

Номер патента: US7793184B2. Автор: Steven M. Douskey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-09-07.

Apparatus and method of rf built in self-test (rfbist) in a radar system

Номер патента: WO2020016879A1. Автор: Abraham Bauer,Noam ARKIND. Владелец: Arbe Robotics Ltd.. Дата публикации: 2020-01-23.

Method of improving logical built-in self test (LBIST) AC fault isolations

Номер патента: US7376875B2. Автор: Rolf Hilgendorf,Thomas Pflueger,Johannes Koesters. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-05-20.

Microcontroller for logic built-in self test (LBIST)

Номер патента: US7490280B2. Автор: Steven F. Oakland,Gary D. Grise,David E. Lackey,Donald L. Wheater. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-02-10.

Automatically extensible addressing for shared array built-in self-test (abist) circuitry

Номер патента: US20090249146A1. Автор: Kevin W. Gorman,Michael R. Ouellette,Michael A. Ziegerhofer,Valerie H. Chickanosky. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Built-in-self-test arrangement for a single multiple-integrated circuit package and methods thereof

Номер патента: US7795894B1. Автор: Dhiraj Sogani. Владелец: Wi2Wi Inc. Дата публикации: 2010-09-14.

Microcontroller for logic built-in self test (LBIST)

Номер патента: US8423847B2. Автор: Steven F. Oakland,Gary D. Grise,David E. Lackey,Donald L. Wheater. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

Look-ahead built-in self tests with temperature elevation of functional elements

Номер патента: US8028211B1. Автор: Michael Miller,Chuen-Der Lien. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2011-09-27.

Method and system for logic built-in self-test

Номер патента: US9285424B2. Автор: Anurag Jindal,Nitin Singh,Amit Jindal. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-03-15.

Method and apparatus for performing logic built-in self-testing of an integrated circuit

Номер патента: US7934134B2. Автор: Donato O. Forlenza,Orazio P. Forlenza,Bryan J. Robbins,Phong T. Tran. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-04-26.

Integrated circuit with low-power built-in self-test logic

Номер патента: US7895491B2. Автор: Yuqian C. Wong. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2011-02-22.

System and method for a built-in self-test of a battery

Номер патента: US9689928B2. Автор: Derek Bernardon. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-06-27.

Built-in-self test for high-speed serial bit stream multiplexing and demultiplexing chip set

Номер патента: US20040028065A1. Автор: Ichiro Fujimori,Daniel Schoch. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

Built-in self-test emulator

Номер патента: US20060020411A1. Автор: Elias Gedamu,Denise Man. Владелец: Denise Man. Дата публикации: 2006-01-26.

A circuit arrangement for logic built-in self-test of a semiconductor device and a method of operating such circuit arrangement

Номер патента: WO2014030034A1. Автор: Bernhard Richter,Heiko Ahrens,Claudia LATZEL. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-02-27.

Integrated circuit having built-in self-test features

Номер патента: US7800389B2. Автор: Paul David,Andrea Foletto,Andreas P. Friedrich,P. Karl Scheller. Владелец: Allegro Microsystems LLC. Дата публикации: 2010-09-21.

Logic built-in self-test channel skipping during functional scan operations

Номер патента: US20080052581A1. Автор: Steven M. Douskey. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-28.

Mems piezoelectric accelerometer with built-in self test

Номер патента: EP3196660B1. Автор: Cuong Tho Huynh,Weibin Zhang,James Joseph Mctighe. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2018-09-05.

Built-in self test method and apparatus for jitter transfer, jitter tolerance, and fifo data buffer

Номер патента: EP1730539A2. Автор: BHAKTA Bhavesh,James B. Cho. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-12-13.

Logic built-in self test

Номер патента: US6327685B1. Автор: Franco Motika,Timothy J. Koprowski. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2001-12-04.

Method and apparatus for built-in self-test of logic circuits with multiple clock domains

Номер патента: WO2003075029A1. Автор: Eric West,Shridhar Mukund. Владелец: Lightspeed Semiconductor. Дата публикации: 2003-09-12.

Built in self test

Номер патента: US20050286433A1. Автор: Bhajan Singh,Vipul Raithatha,Tom Leslie. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Circuit with built-in self-test function

Номер патента: JP2002542491A. Автор: ノレス ユルゲン,ディルシャール ゲルト,ゲルトナー ヴォルフガング. Владелец: インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト. Дата публикации: 2002-12-10.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: CN113049129A. Автор: 金光镐,金柱成,李龙珍,金赏镐,申浚熙,崔炳注. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-29.

Digital built-in self-test circuitry for phase locked loop

Номер патента: DE60122960D1. Автор: Hari Balachandran,Pramodchandran N Variyam. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

System and method for calibration and built-in self test of automobile radar system

Номер патента: US9383433B2. Автор: Scott B. Doyle. Владелец: Autoliv ASP Inc. Дата публикации: 2016-07-05.

Built-in self-test circuit suitable for 1553 bus protocol

Номер патента: CN105572565A. Автор: 刘士全,蔡洁明,印琴. Владелец: CETC 58 Research Institute. Дата публикации: 2016-05-11.

Circuitry for built-in self-test

Номер патента: US20110302471A1. Автор: Herve Le-Gall. Владелец: STMicroelectronics Grenoble 2 SAS. Дата публикации: 2011-12-08.

Performance built-in self test system for a device and a method of use

Номер патента: US20040103355A1. Автор: Anthony Correale,Thomas Dick,Les DeBruyne,Waleed Al-Assadi,Jay Grollimund. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2004-05-27.

Systems and methods for a phase locked loop built in self test

Номер патента: WO2010132714A1. Автор: Sachin D. Dasnurkar. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2010-11-18.

Method and apparatus for embeded built-in self-test (bist) of electronic circuits and systems

Номер патента: WO2003048794A1. Автор: Christopher J. Clark,Michael Ricchetti. Владелец: Intellitech Corporation. Дата публикации: 2003-06-12.

Built-in self-test apparatus and method for digital-to-analog converter

Номер патента: US7355537B2. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2008-04-08.

Built-in self test for analog to digital converters

Номер патента: HK118497A. Автор: Michael R Dewitt,George F Cross Jr,R Ramachandran. Владелец: At & T Corp. Дата публикации: 1997-09-05.

Built-in Self Test function leakage protection circuit and its detection method

Номер патента: CN108736438B. Автор: 刘军,宋夏冰. Владелец: Zhejiang Longway Microsystem Co ltd. Дата публикации: 2019-09-20.

Radar device that implements built-in self-test using noise injection

Номер патента: EP3454078B1. Автор: Jan-Peter Schat,Abdellatif Zanati. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2020-03-25.

System and method for built-in self-test of electronic circuits

Номер патента: EP3485285A4. Автор: Robert Floyd Payne,Lambert Jacob Helleman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-08-21.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520B1. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Openlight Photonics Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Deterministic stellar built-in self-test

Номер патента: EP3756020B1. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Yingdi Liu. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

High-lane count optical transceiver with built-in self test

Номер патента: EP3944520C0. Автор: John Parker,John Garcia,Anand Ramaswamy,Molly Piels,Brandon Gomez. Владелец: Openlight Photonics Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Switch cabinet with devices for monitoring and control of built-in and / or attached parts

Номер патента: KR19990087274A. Автор: 귄터 체리옥스,마르쿠스 하인,요르그 크라일링,아크힘 에델만. Владелец: 리탈-베르크 루돌프 로흐 게엠베하 운트 코.카게. Дата публикации: 1999-12-15.

Motor driver having built in self test function

Номер патента: US20130221891A1. Автор: Joo Yul Ko. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-29.

Apparatus for built-in self-test (BIST) of a Nyquist rate analog-to-digital converter (ADC) circuit

Номер патента: US09780803B1. Автор: Ankur Bal,Chandrajit Debnath,Neha Bhargava. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-10-03.

Built-in-self-test circuit for sigma-delta modulator

Номер патента: US09748970B1. Автор: Chao Liang,ZHOU Fang,Wanggen Zhang,Song Huang,Yifeng Liu. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Built-in-self-test apparatus and method for analog-to-digital converter

Номер патента: US20050093723A1. Автор: Chun Wei Lin. Владелец: Spirox Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US09960888B2. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-05-01.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test

Номер патента: US20020095632A1. Автор: Benoit Veillette. Владелец: Philips Electronics North America Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A3. Автор: Benoit R Veillette. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2004-01-08.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: EP1400042A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-03-24.

Method and apparatus for creating and testing a channel decoder with built-in self-test (bist)

Номер патента: WO2002047298A2. Автор: Benoit R. Veillette. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2002-06-13.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: WO2014164229A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-10-09.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Steffen Gloeckner,Stefan Barabas,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2018-08-23.

A kind of built-in system software debugging system based on run time verification technology

Номер патента: CN106980576B. Автор: 赵慧,李昂,黄滟鸿,史建琦,何积丰,方徽星. Владелец: Shanghai Fenglei Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-12.

It is a kind of built-in wireless with screen touch-control electronic blank

Номер патента: CN107015779A. Автор: 蔡明塘,汪华明. Владелец: Suzhou Teng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-04.

OPERATING DEVICE FOR CONTROLS OF BUILT-IN HOUSEHOLD APPLIANCES

Номер патента: FR2643733B1. Автор: Santiago Lazaro Vela. Владелец: Balay SA. Дата публикации: 1993-06-18.

A kind of built-in type touch display screen and its manufacture method

Номер патента: CN104407459B. Автор: 林志贤,张永爱,郭太良,周雄图,叶芸,林金堂,林锑杭,林婷. Владелец: FUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-01-12.

A kind of built-in touch panel and display device

Номер патента: CN106773347A. Автор: 王超,陈归,张春倩. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-31.

A kind of built-in type touch display screen, its driving method and display device

Номер патента: CN104898888B. Автор: 李伟,王春雷,赵卫杰,杨盛际,陈小川,董学,许睿,王海生,刘英明,刘红娟,谢晓波. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

RECEIVING DEVICE WITH RFID DETECTION OF BUILT-IN COMPONENTS HELD THEREIN, AND RFID DETECTION METHOD

Номер патента: US20150235067A1. Автор: KILIAN Dieter. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Receiving device with rfid detection of built-in components held therein, and rfid detection method

Номер патента: WO2011015212A1. Автор: Dieter Kilian. Владелец: Dieter Kilian. Дата публикации: 2011-02-10.

Receiving device with RFID detection of built-in components held therein, and RFID detection method

Номер патента: US9066441B2. Автор: Dieter Kilian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-06-23.

Receiving device with RFID detection of built-in components held therein, and RFID detection method

Номер патента: US9165172B2. Автор: Dieter Kilian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-10-20.

Method and apparatus of built-in self-diagnosis and repair in a memory with syndrome indentification

Номер патента: TW200611117A. Автор: Cheng-Wen Wu,Wen-Ching Wu,Rei-Fu Huang,Yeong-Jar Chang,Chin-Lung Su,Kun Lun Luo,Shen Tien Lin. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2006-04-01.

Semiconductor device allowing easy confirmation of operation of built in clock generation circuit

Номер патента: US6763079B1. Автор: Hisashi Iwamoto. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2004-07-13.

Double seal structure of inner cavity of built-in valve for intelligent gas meter

Номер патента: LU100393B1. Автор: Zhenbiao Wu. Владелец: Nanan Yaosen Intelligent Device Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-13.

Split head lamp of built-in energy storage element

Номер патента: US11965643B1. Автор: Wenjie Li. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-23.

Smart dimming & sensor failure detection as part of built in ambient light harvesting inside the luminaire

Номер патента: CA3150093A1. Автор: Ravindra Viraj GURJAR. Владелец: Appleton Grp Llc. Дата публикации: 2021-03-25.

Semiconductor integrated circuit and test method of built-in analog circuit

Номер патента: US20020026609A1. Автор: Shuji Murakami,Brian Worobey. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-02-28.

Smart dimming & sensor failure detection as part of built in ambient light harvesting inside the luminaire

Номер патента: WO2021055139A1. Автор: Ravindra Viraj GURJAR. Владелец: Appleton Grp Llc. Дата публикации: 2021-03-25.

Smart Dimming & Sensor Failure Detection as Part of Built in Daylight Harvesting Inside the Luminaire

Номер патента: US20210092822A1. Автор: Ravindra Viraj GURJAR. Владелец: Appleton Grp Llc. Дата публикации: 2021-03-25.

CIRCUIT FOR AUTOMATICALLY MEASURING GAIN OF BUILT-IN TRANS-IMPEDANCE AMPLIFIER

Номер патента: US20180262171A1. Автор: Lin Shaoheng. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

Cabinet panel of built-in neutral line protection function

Номер патента: KR101246886B1. Автор: 김인태,김나운,강기욱. Владелец: 강기욱. Дата публикации: 2013-03-25.

Cabinet panel of built-in neutral line repair function and control method thereof

Номер патента: KR101415814B1. Автор: 김인태,김나운,강기욱. Владелец: 강기욱. Дата публикации: 2014-07-08.

A kind of phase transformation filling sealing material of built-in graphite fibre

Номер патента: CN106240037B. Автор: 范勇. Владелец: Shanghai Alaid Industrial Ltd By Share Ltd. Дата публикации: 2018-06-01.

A kind of built-in machine tool chief axis axial direction device for testing dynamic stiffness and method of testing

Номер патента: CN106768748A. Автор: 李莉,张俊峰,韩靖,朱志辉,彭凯,李增强,范敏,杨泽青,张炳寅,刘丽冰,张艳蕊,谭飏,朱金达,陈英姝,杨伟东. Владелец: HEBEI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-05-31.

A kind of built-in camera and light splitting interface structure

Номер патента: CN106873143A. Автор: 李志荣. Владелец: GUANGXI AOSHUN INSTRUMENT Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

A kind of built in pipeline rotary ultrasonic detecting system

Номер патента: CN107843649A. Автор: 李鹏. Владелец: Tianjin Heng Feng Dong Sheng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

A kind of built-in turnbuckle full-automatic detection apparatus

Номер патента: CN106643395B. Автор: 刘杰,唐彬,童波,吴李辉. Владелец: Hunan Wo Wo Wo New Energy Polytron Technologies Inc. Дата публикации: 2019-02-12.

A kind of built-in type high pressure cable local discharge detection device and its installation method

Номер патента: CN110082659A. Автор: 王干军,吴毅江. Владелец: Guangdong Power Grid Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-02.

Mechanism for changing attaching angle of built-in gyrosensor and method of mounting mechanism for changing attaching angle

Номер патента: WO1999002943A1. Автор: Yasushi Takahashi,Hiroaki Sugino,Kazunari Yamakado. Владелец: Kubo, Hirotoshi. Дата публикации: 1999-01-21.

There is the waterproof coding device of built-in lifting magnet

Номер патента: CN103591969B. Автор: 王嘉,杨秀文,杨建茁. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-01-20.

A kind of built-in chip health status towards integrated micro-system is from monitoring method

Номер патента: CN107422254A. Автор: 李楠,李璟,韩逸飞,王建永,陆振林,任永正,焦烨,荣金叶,祝长民,王枭鸿. Владелец: Mxtronics Corp. Дата публикации: 2017-12-01.

Jitter signal circuit device of built-in-self-test phase locked loop and method thereof

Номер патента: TW200610274A. Автор: Yu-Chen Chen. Владелец: Ali Corp. Дата публикации: 2006-03-16.

Loopback-based built-in-self-test

Номер патента: US09425907B2. Автор: Achraf Dhayni,Christophe Arnal. Владелец: St Ericsson SA. Дата публикации: 2016-08-23.

System and method of using active belt tensioning mechanism of built-in starter-generator with belt transmission

Номер патента: RU2688613C1. Автор: Джон Эрик РОЛЛИНГЕР,Алекс О`Коннор ГИБСОН,Дэвид Лью,Дэвид СПУЛЛЕР,Вероника Пабло ОСОРИО. Владелец: ФОРД ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЛЛК. Дата публикации: 2019-05-21.

Built-in self test for integrated digital-to-analog converters

Номер патента: EP1151540A1. Автор: Jean-Yves Michel. Владелец: Philips Semiconductors Inc. Дата публикации: 2001-11-07.

Pipe line with impingement washer for protection of built-in equipment (versions)

Номер патента: RU2193723C2. Автор: Хайнц БЕРГМАНН,Александер ХЕЙТМАНН. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2002-11-27.

Method for erection of built-in-place pile-shell

Номер патента: RU2739531C1. Автор: Владимир Васильевич Кочерженко,Андрей Игоревич Лукьянов,Вадим Александрович Тюфанов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова". Дата публикации: 2020-12-25.

Switch module of built-in anti-surge disconnection structure

Номер патента: US09805899B2. Автор: Yi-Hsiang Wang,I-Ying Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

Assembly of built-in working surface for cargo area of motor vehicle (versions) and motor vehicle (versions)

Номер патента: RU2717110C2. Автор: САРКО Педро ГАРСИЯ,БРАВО Юрен МЕНДОСА. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2020-03-18.

Technology of built-in acoustic transmission line with closed loop

Номер патента: RU2377740C2. Автор: Ян ПЛАММЕР,Ян ПЛАММЕР (US). Владелец: ТиБиАй Аудио Системс ЛЛК, Делавэр Лимитед лайабилити компани. Дата публикации: 2009-12-27.

Built in self-test

Номер патента: US20170324422A1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2017-11-09.

Built in self-test

Номер патента: US20160218730A1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2016-07-28.

Transmitter linearity built-in-self-test

Номер патента: US20190341964A1. Автор: HONG Jiang,Wael Al-Qaq. Владелец: FutureWei Technologies Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

Built in self-test

Номер патента: US09705523B1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Built-in self test for a satellite demodulator

Номер патента: CA2296916C. Автор: Vincent C. Moretti,Sam H. Liu,Edward L. Niu. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 2002-09-17.

Fastening devices for attaching of built-in elements

Номер патента: US4456206A. Автор: Hartmut Tijssen. Владелец: Airbus Defence and Space GmbH. Дата публикации: 1984-06-26.

Switch module of built-in anti-surge disconnection structure

Номер патента: US20170148601A1. Автор: Yi-Hsiang Wang,I-Ying Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-25.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09935706B2. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09774391B2. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Analog built-in self test transceiver

Номер патента: US09628203B2. Автор: Lior Raviv,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US09548809B1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Signal converting apparatus with built-in self test

Номер патента: TW200828819A. Автор: Chao-Chi Yang,Yao-Ren Fan. Владелец: Elan Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-07-01.

Built in self test and method for RF transceiver systems

Номер патента: US09385774B2. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-07-05.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: US20110169577A1. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: Nortel Networks Ltd. Дата публикации: 2011-07-14.

Apparatus for quick positioning and mounting of built-in boxes for electric, electronic, telephone, junction and similar components

Номер патента: WO2007003983A1. Автор: Carlo Bottoli. Владелец: Carlo Bottoli. Дата публикации: 2007-01-11.

An item of built-in furniture and a method for installing furniture

Номер патента: GB2621235A. Автор: Nicklin David. Владелец: Hass Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

SUCCESSIVE APPROXIMATION REGISTER ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND METHOD OF OPERATING BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR TESTING THE CONVERTER

Номер патента: US20150029048A1. Автор: JEON Young-deuk. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2015-01-29.

Digital-domain self-calibration and built-in self-testing techniques for high-speed integrated A/D converters using white gaussian noise

Номер патента: EP1473836B1. Автор: Nuno Filipe Silva Verissimo Paulino,Manuel Duarte Ortigueira,Martin Unterweissacher,Guiomar Gaspar de Andrade Evans D. Fisica Evans,Joao Carlos Da Palma Goes. Владелец: Acacia Semiconductor Lda. Дата публикации: 2006-08-02.

ADC built-in self-test circuits and test method in system on chip

Номер патента: CN105680859B. Автор: 王东,陈岚,冯燕,柳臻朝. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2018-09-11.

CAPACITIVE MEMS MICROPHONE WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20200053496A1. Автор: Ihs Hassan. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

ON-CHIP CALIBRATION AND BUILT-IN-SELF-TEST FOR SOC MILLIMETER-WAVE INTEGRATED DIGITAL RADIO AND MODEM

Номер патента: US20140162568A1. Автор: Laskar Joy. Владелец: ANAYAS360.COM, LLC. Дата публикации: 2014-06-12.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20170141843A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

Built-in Self-test Circuit for Voltage Controlled Oscillator

Номер патента: US20140225676A1. Автор: JOU Chewn-PU,TSAI Ming Hsien,HSIEH Hsieh-Hung,YEH Tzu-Jin,HSUEH Fu-Lung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-08-14.

Wireless device with built-in self test (bist) capability for transmit and receive circuits

Номер патента: US20140256376A1. Автор: Lior Raviv,Mohammad Ali Tassoudji,Yu-Chin Ou,Haim Mendel Weissman,Mazhareddin Taghivand,Avigdor Brillant. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Built-In Self-Test Technique for Detection of Imperfectly Connected Antenna in OFDM Transceivers

Номер патента: US20150180595A1. Автор: DHAYNI Achraf. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20180191430A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

BUILT-IN SELF-TEST FOR ADC

Номер патента: US20180198460A1. Автор: BOGNER Peter,Pernull Martin,Mejri Jaafar,Kalt Andreas. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

BUILT IN SELF-TEST

Номер патента: US20160218730A1. Автор: Hamilton David,Clayton Tom,Sharp Gordon,Stevenson Ian. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20180241517A1. Автор: Gloeckner Steffen,DENTON SCOTT,BALARDETA JOSEPH,Barabas Stefan,Pang Simon,Sahni Subal. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

ANALOG BUILT-IN SELF TEST TRANSCEIVER

Номер патента: US20150256272A1. Автор: RAVIV Lior,WEISSMAN Haim Mendel. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-09-10.

BUILT IN SELF TEST AND METHOD FOR RF TRANSCEIVER SYSTEMS

Номер патента: US20140355655A1. Автор: Chakraborty Sudipto. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

METHODS AND CIRCUITRY FOR BUILT-IN SELF-TESTING OF CIRCUITRY AND/OR TRANSDUCERS IN ULTRASOUND DEVICES

Номер патента: US20210328564A1. Автор: Chen Chao,Chen Kailiang,Sanchez Nevada J.,Kook Youn-Jae,Lutsky Joseph,Soleimani Hamid,Lee Jihee,Chiu Leung Kin,Schaetz Sebastian. Владелец: Butterfly Network, Inc.. Дата публикации: 2021-10-21.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20180262268A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-13.

BUILT IN SELF-TEST

Номер патента: US20170324422A1. Автор: Hamilton David,Clayton Tom,Sharp Gordon,Stevenson Ian. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-09.

Built in self test and method for rf transceiver systems

Номер патента: US20150349834A1. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

Номер патента: US20180332488A1. Автор: Haider Guenter,Kropfitsch Michael,BOGNER Peter,Stuhlberger Rainer,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-11-15.

Method and System For An Optoelectronic Built-In Self-Test System For Silicon Photonics Optical Transceivers

Номер патента: US20190327036A1. Автор: Gloeckner Steffen,DENTON SCOTT,BALARDETA JOSEPH,Barabas Stefan,Pang Simon,Sahni Subal. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

BUILT-IN SELF TEST FOR LOOPBACK ON COMMUNICATION SYSTEM ON CHIP

Номер патента: US20170346552A1. Автор: Nagarajan Radhakrishnan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-30.

RF RECEIVER WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

Номер патента: US20170353876A1. Автор: Haider Guenter,Kropfitsch Michael,BOGNER Peter,Stuhlberger Rainer,SCHRATTENECKER Jochen O.,FRANK Oliver,SAILER Thomas,Starzer Florian. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-12-07.

TRANSMITTER LINEARITY BUILT-IN-SELF-TEST

Номер патента: US20190341964A1. Автор: Jiang Hong,Al-Qaq Wael. Владелец: Futurewei Technologies, Inc.. Дата публикации: 2019-11-07.

Built-in self-test for receiver

Номер патента: US20150372773A1. Автор: Markus Hammes,Harald Doppke,Rainer Kreienkamp,Junlin Yan. Владелец: Intel Mobile Communications GmbH. Дата публикации: 2015-12-24.

Method and system for an optoelectronic built-in self-test system for silicon photonics optical transceivers

Номер патента: US20150381273A1. Автор: Steffen Gloeckner,Joseph Balardeta,Scott Denton,Simon Pang,Subal Sahni. Владелец: Luxtera LLC. Дата публикации: 2015-12-31.

BUILT-IN SELF-TEST FOR RECEIVER CHANNEL

Номер патента: US20190363813A1. Автор: Spear Michael B.,Rell,Harper Michael W.,Riley Mack W.,III John G.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

Built-in self test for a CMOS imager

Номер патента: US7667751B2. Автор: Miriam Fraenkel,Tiberiu C. Galambos,Alexander Shnayder,Ben Furman,Ilia Antsiferov,Yair Elmakias. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-02-23.

Method and circuit for built in self test of phase locked loops

Номер патента: US6396889B1. Автор: Stephen Kenneth Sunter,Aubin P. J. Roy. Владелец: LogicVision Inc. Дата публикации: 2002-05-28.

Built-in self-test for receiver

Номер патента: US9515751B2. Автор: Markus Hammes,Harald Doppke,Rainer Kreienkamp,Junlin Yan. Владелец: INTEL DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2016-12-06.

Built-in self test signals for column output circuits in X-Y addressable image sensor

Номер патента: EP1152599A2. Автор: Paul Poo-Kam Eastman Kodak Company Lee. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2001-11-07.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: US8884706B2. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2014-11-11.

Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features

Номер патента: US7984369B2. Автор: Hoon Choi,Chinsong Sul,Gijung Ahn. Владелец: Silicon Image Inc. Дата публикации: 2011-07-19.

System and method for built in self test for timing module holdover

Номер патента: EP2579462A2. Автор: Charles Nicholls,Philippe Wu. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2013-04-10.

Built in self-test

Номер патента: US9246503B1. Автор: David Hamilton,Tom Clayton,Ian Stevenson,Gordon Sharp. Владелец: Ateeda Ltd. Дата публикации: 2016-01-26.

Built-in-self-test and characterization of a high speed serial link receiver

Номер патента: US11528102B1. Автор: Glen A. Wiedemeier,Chad Andrew Marquart,Nathan Ross Blanchard,Venkat Harish Nammi,Dereje Yilma,Jeffrey Kwabena Okyere,Erik English,Christopher STEFFEN,Michael Wayne Harper,James Crugnale,Vikram B Raj. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-12-13.

Driver with built-in self testing of switch status

Номер патента: US11936374B1. Автор: Jeffrey A. Dykstra,Jaroslaw Adamski,Douglas Lacy,Smita Kanikaraj. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Built in self test and method for rf transceiver systems

Номер патента: US20150349834A1. Автор: Sudipto Chakraborty. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US20170346552A1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2017-11-30.

Analog built-in self test transceiver

Номер патента: EP3114782B1. Автор: Lior Raviv,Haim Mendel Weissman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-04-17.

Microelectromechanical systems (“MEMS”) device having a built-in self-test (“BIST”) and a method of application of a BIST to measure MEMS health

Номер патента: US11975963B2. Автор: John J. Albers,Jorge GRILO. Владелец: Knowles Electronics LLC. Дата публикации: 2024-05-07.

Built-in self test for loopback on communication system on chip

Номер патента: US20180191430A1. Автор: Radhakrishnan L. Nagarajan. Владелец: Inphi Corp. Дата публикации: 2018-07-05.

Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Номер патента: US20240056307A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Cryptocurrency miner and statistical built-in self tests

Номер патента: WO2024033716A1. Автор: Michael Tal,Rony Gutierrez,Shteingart Zvi AVRAHAM. Владелец: Chain Reaction Ltd.. Дата публикации: 2024-02-15.

HOUSEHOLD BUILT-IN APPLIANCE WITH A SPECIFIC EXTERIOR WIDTH MEASUREMENT IN THE FORM OF A NON-EVEN IMPERIAL MEASUREMENT, APPARATUS WITH A RECESS AND A PLURALITY OF BUILT-IN APPLIANCES, AND METHOD FOR FITTING BUILT-IN APPLIANCES IN A RECESS

Номер патента: US20150115789A1. Автор: Görz Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

ROTOR OF BUILT-IN PERMANENT MAGNET MOTOR AND BUILT-IN PERMANENT MAGNET MOTOR USING SAME

Номер патента: US20150042200A1. Автор: Yao Li,Wang Zhenyu,Liu Wanzhen,Lin Yan. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

Tubular frame of bicycle, vehicle frame and its electric bicycle of built-in built-in motor

Номер патента: CN108791643A. Автор: 董超祺. Владелец: GUANGZHOU ZHANHUI ELECTRONIC CO Ltd. Дата публикации: 2018-11-13.

A kind of built-in motor link and built-in motor

Номер патента: CN106160298A. Автор: 王清华,张苏北. Владелец: SUZHOU BAFANG MOTOR TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-23.

Built-in lithium battery and protection board of built-in electric motor of electric bicycle

Номер патента: CN101830269A. Автор: 陈龙,吕成学,吕松检. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-15.

Manufacturing method of built-in component wiring substrate, built-in component two-layer wiring substrate, and semiconductor device

Номер патента: TWI634826B. Автор: 中村茂雄,真子玄迅,奈良橋弘久. Владелец: 味之素股份有限公司. Дата публикации: 2018-09-01.

Device for fastening a cladding to the door opening at the front of built-in household appliances, in particular dishwashers

Номер патента: CH652284A5. Автор: Josef Degel. Владелец: EURO HAUSGERAETE GmbH. Дата публикации: 1985-11-15.

An item of built-in furniture and a method for installing furniture

Номер патента: GB202209185D0. Автор: . Владелец: Hass Equipment Ltd. Дата публикации: 2022-08-10.

An item of built-in furniture and a method for installing furniture

Номер патента: GB202309462D0. Автор: . Владелец: Hass Equipment Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Arrangement of built-in lamps in motor vehicles, e.g. in door or glove box, utilizes open recess in support surface and elastic slides that grip edge of recess to retain lamp in support

Номер патента: FR2816263A3. Автор: Hubert Zwick,Andreas Göbel. Владелец: Hella KGaA Huek and Co. Дата публикации: 2002-05-10.

Attachments of built-in spot light in hole made in wall and build in light with such devices

Номер патента: RU2496052C2. Автор: Эрик Франс ХЮЙСМАНС. Владелец: ТЕКНА, Беслотен венотсап мет беперкте анспракелейкейд. Дата публикации: 2013-10-20.

A kind of built-in bone tumour pathological tissue withdrawing device in channel

Номер патента: CN109124695A. Автор: 吕智,陈成龙,陈韵如,焦玉睿. Владелец: Second Hospital of Shanxi Medical University. Дата публикации: 2019-01-04.

Method for regulating capacitance value of built-in capacitor in multilayered ceramic substrate, and multilayered ceramic substrate and process for producing the same

Номер патента: CN101336461A. Автор: 大贺聪,杉本安隆. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-31.

A kind of built-in suspension integrated form In-wheel motor driving Electric Motor Wheel

Номер патента: CN104290593B. Автор: 罗玉涛. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2017-04-05.

System and method for obtaining radiation characteristics of built-in antenna in mobile communication terminal

Номер патента: US7668575B2. Автор: Byung-Duck Park,Soo-Cheoul Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2010-02-23.

THERMODYNAMIC SYSTEM COUPLING VENTILATION AND AIR CONDITIONING CIRCUITS FOR RECOVERING ENERGY FROM AIR EXTRACTED BY VENTILATION, AND INTEGRATION IN THE FORM OF BUILT-IN BOXES

Номер патента: FR2805602B1. Автор: Laurent Poncelet. Владелец: CALECO. Дата публикации: 2002-05-24.

Method for regulating capacitance value of built-in capacitor in multilayered ceramic substrate, and multilayered ceramic substrate and process for producing the same

Номер патента: CN101336461B. Автор: 大贺聪,杉本安隆. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-20.

Method for regulating capacitance value of built-in capacitor in multilayered ceramic substrate, and multilayered ceramic substrate and process for producing the same

Номер патента: WO2007086184A1. Автор: Yasutaka Sugimoto,Satoshi Ohga. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2007-08-02.

Hinge with movable axis of rotation in particular for the panel-finished doors of built-in dish washing machines

Номер патента: EP0744521A1. Автор: Alvaro Faringosi. Владелец: Faringosi Hinges Srl. Дата публикации: 1996-11-27.

Furniture fitting for use in side wall of e.g. shelf, has groove and/or nut region formed on opposite side of fitting part on outer surface of built-in part, where functional parts are fastened by rotating, pivoting, linking or halting

Номер патента: DE102009004349A1. Автор: . Владелец: Kunststoff KG Nehl and Co. Дата публикации: 2009-11-05.

Fasteners for holding means of built-in components in vehicle cells, with steplessly adjustable adapter

Номер патента: DE202008012307U1. Автор: . Владелец: AST Security Equipment GmbH. Дата публикации: 2009-03-19.

SWITCH MODULE OF BUILT-IN ANTI-SURGE DISCONNECTION STRUCTURE

Номер патента: US20170047180A1. Автор: Wang Yi-Hsiang,WANG I-YING. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-16.

Smart Dimming & Sensor Failure Detection as Part of Built in Daylight Harvesting Inside the Luminaire

Номер патента: US20210092822A1. Автор: Gurjar Ravindra Viraj. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

SWITCH MODULE OF BUILT-IN ANTI-SURGE DISCONNECTION STRUCTURE

Номер патента: US20170148601A1. Автор: Wang Yi-Hsiang,WANG I-YING. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

SWITCH MODULE OF BUILT-IN ANTI-SURGE DISCONNECTION STRUCTURE

Номер патента: US20160233041A1. Автор: Wang Yi-Hsiang,WANG I-YING. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

OPTICAL TRANSCEIVER WITH A PLURALITY OF BUILT-IN OPTICAL SUBASSEMBLIES

Номер патента: US20190312645A1. Автор: Ishii Kuniyuki,Kurashima Hiromi. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2019-10-10.

The air cleaning unit of built-in dielectric impedance reaction of low temperature plasma device

Номер патента: CN206262363U. Автор: 施利毅,张剑平,黄垒,张登松. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-06-20.

A kind of built-in bogie of high-speed railway lorry axle box

Номер патента: CN109515465A. Автор: 周张义,王雨舟. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2019-03-26.

Manufacturing method of built-in low energy wall panels

Номер патента: ES2674242T3. Автор: Kevin Surace,Meredith Ware,Denise Hoover,Jiaping Han,Tiandan Chen. Владелец: Serious Materials Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

A kind of curved steel hollow glass of built-in louver

Номер патента: CN109281599A. Автор: 吴建峰,徐国华,徐礼洋. Владелец: Jiangyin Hua Reed Glass Products Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-29.

A kind of built-in combination box-shaped steel plate shear force wall

Номер патента: CN106906924A. Автор: 梁青. Владелец: Zhejiang Euler Steel Structure Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-30.

The apparatus and method of rfid location informaion by using the mobile communication terminal of built-in rf control chip

Номер патента: KR100901349B1. Автор: 김주정. Владелец: (주)애니쿼터스. Дата публикации: 2009-06-05.

Cooling system for electric oven of built-in type

Номер патента: KR100633171B1. Автор: 강명렬. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2006-10-11.

The door attachment device and embedded fridge device of built-in refrigerator

Номер патента: CN106839620B. Автор: 杨松,杨艳侠,葛鹤龄. Владелец: Hefei Hualing Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-01.

Radiating apparatus of built-in refrigerator

Номер патента: US7549300B2. Автор: Se Young Kim,Chan Ho Chun,Yang Kyu Kim,Kyung Sik Kim,Hyoung Keun Lim,Youn Seok Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2009-06-23.

A kind of built-in hybrid permanent magnet motor

Номер патента: CN108808910A. Автор: 徐磊,朱孝勇,华亦峰,郑诗玥. Владелец: Jiangsu University. Дата публикации: 2018-11-13.

A kind of the band diagonal brace steel pipe concrete frame shear wall and the practice of built-in prestressed steel bar

Номер патента: CN108678227A. Автор: 武海鹏,曹万林,李艳娜,董宏英,唐云鹏. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-10-19.

A exhaust structure of built-in type gas ovenrange

Номер патента: KR200349536Y1. Автор: 황윤석. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2004-05-04.

A kind of wheel hub motor of built-in decelerator

Номер патента: CN107733155A. Автор: 孙丽丽,许德章,何翔,苏学满. Владелец: ANHUI POLYTECHNIC UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-02-23.

safety gas valve of built in type gas range

Номер патента: KR200332298Y1. Автор: 이상철,장인배,이종문,김상주,이한종,주광명. Владелец: 주식회사 성철사. Дата публикации: 2003-11-05.

Anchorage end structure of built-in member

Номер патента: JPH01146013A. Автор: 昌一 鴨下,Shoichi Kamoshita. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1989-06-08.

A kind of built-in type W-waveband waveguide filter based on medium integrated waveguide antarafacial feed

Номер патента: CN108428975A. Автор: 肖钰,孙厚军,朱凯强,单培哲. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2018-08-21.

A kind of pyrolysis reactor of built-in dust arrester

Номер патента: CN106281380A. Автор: 吴道洪,赵延兵,陈水渺,姜朝兴,马正民. Владелец: Beijing Shenwu Environmental and Energy Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-04.

A kind of built-in spring self-restoring concrete shear force wall

Номер патента: CN107489294B. Автор: 李忠献,徐龙河,肖水晶. Владелец: Beijing Jiaotong University. Дата публикации: 2019-05-21.

The nanofiber mouth mask of built-in breathing sensor-based system

Номер патента: CN107373820A. Автор: 杨威,汪滨,李从举. Владелец: Beijing Institute of Nanoenergy and Nanosystems. Дата публикации: 2017-11-24.

A kind of advanced standing vortex burning chamber of built-in flow spoiler

Номер патента: CN108954393A. Автор: 张永祺,张继国,王浩渊,曾卓雄. Владелец: Shanghai University of Electric Power. Дата публикации: 2018-12-07.

Rear-viewing mirror of built-in camera

Номер патента: CN1234558C. Автор: 美才治健,大冈直树. Владелец: Murakami Corp. Дата публикации: 2006-01-04.

A kind of solar lawn lamp of built-in audio signal reception device

Номер патента: CN205716975U. Автор: 王永刚,胡晶. Владелец: Harbin Jindu Solar Energy Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-23.

A kind of built-in wardrobe assembly for saving space

Номер патента: CN107836868A. Автор: 蔡勇霞. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-27.

The heavy damping magnetorheological fluid shock absorber of a kind of built-in ungulate iron core and method

Номер патента: CN106065916A. Автор: 刘宇翔,陈钧驰,肖国权,陆竑,陈广浩. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2016-11-02.

DEVICE FOR FASTENING ADJUSTABLE OPTICAL BLOCKS TO THE SOCKETS OF BUILT-IN MOTOR VEHICLE LAMPS.

Номер патента: DE1827406U. Автор: Pierre Cibie. Владелец: Individual. Дата публикации: 1961-03-02.

Big ball bubble lamp of built-in power

Номер патента: CN108006452B. Автор: 陈胜雄. Владелец: Dongguan City Jia Meng Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-21.

A kind of LED flat lamp of built-in driving

Номер патента: CN106545783A. Автор: 贺叶青. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-29.

Installation structure of built-in type for discharge element part and installing method thereof

Номер патента: KR100547042B1. Автор: 김기홍,박대용,오성택,정석제,박도서. Владелец: 우리산업 주식회사. Дата публикации: 2006-01-31.

An exhaustive device of built in type ovenrange

Номер патента: KR100596255B1. Автор: 이석재. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2006-07-03.

A kind of built-in arc-shaped distraction device

Номер патента: CN104586481B. Автор: 吴玮,周丽斌,徐冰血. Владелец: 306 HOSPITAL OF PLA. Дата публикации: 2017-03-08.

Water supply cut-off device of built-in sink water purifier

Номер патента: KR200416651Y1. Автор: 이준. Владелец: 주식회사 맥코이. Дата публикации: 2006-05-19.

A kind of solar LED street lamp of built-in storage battery

Номер патента: CN107131472A. Автор: 杨晓艳. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-05.

A kind of neck-protecting pillow of built-in health-care material

Номер патента: CN107114969A. Автор: 陈盈颖. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-01.

A kind of built-in paddy electricity steam boiler and the heat-exchange method of exchanging heat of single tank of fused salt heat accumulation

Номер патента: CN105627276B. Автор: 曾智勇,徐慧芬,赵士良,周厚国. Владелец: SHENZHEN ENESOON EQUIPMENT TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-28.

Electrical Driving System of Built-in Type for Machine Tools, And Method for Operating the Same

Номер патента: KR101999330B1. Автор: 윤용선,장정환,구본생. Владелец: 칸워크홀딩 주식회사. Дата публикации: 2019-07-11.

The protective mask of built-in type nasal cushion

Номер патента: CN106858820B. Автор: 郑永柱,郑乾锋,郑羽良. Владелец: Center Healthcare Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-29.

Method for restricting photography of built-in camera of mobile communication terminal

Номер патента: KR100971809B1. Автор: 김수미. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2010-07-22.

Device for derail leave prevention of built-in wardrobe door

Номер патента: KR200458679Y1. Автор: 김야현. Владелец: 김야현. Дата публикации: 2012-03-06.

A kind of built-in automatic coating device based on noble metal 3D printing

Номер патента: CN206065411U. Автор: 王迪,杨永强,宋长辉,王安民,白玉超. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2017-04-05.

Water supply cut-off device of built-in sink water purifier

Номер патента: KR100684690B1. Автор: 이준. Владелец: 주식회사 맥코이. Дата публикации: 2007-02-22.

Green building material electricity generation wall brick of built -in electric wiring

Номер патента: CN205100466U. Автор: 王德言. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-03-23.

A kind of built-in medical supersonic thromboembolism treatment instrument

Номер патента: CN108187183A. Автор: 刘细宝,郁涛,汪跃群. Владелец: 715th Research Institute of CSIC. Дата публикации: 2018-06-22.

Device for connecting up the flue and/or air inlet and/or hot air outlet pipes of built-in gas-fired heating appliances

Номер патента: FR2649473A1. Автор: Cecilio Arribas. Владелец: MULLER CIE. Дата публикации: 1991-01-11.

DEVICE FOR CONNECTING THE SMOKE AND / OR AIR INLET AND / OR HOT AIR OUTLET CONDUITS OF BUILT-IN GAS HEATERS

Номер патента: FR2649473B1. Автор: Arribas Cecilio. Владелец: MULLER CIE. Дата публикации: 1994-01-14.

Radiating apparatus of built-in refrigerator

Номер патента: KR100557099B1. Автор: 김세영,김경식,이윤석,김양규,임형근,전찬호. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2006-03-03.

DEVICE FOR INDIVIDUAL SEPARATION OF BUILT-IN BARS

Номер патента: FR2273742A1. Автор: Vladimiro Fabbri. Владелец: IEMCA SpA Industria Elettromeccanica Complessi Automatici. Дата публикации: 1976-01-02.

Lithium ion battery of built -in protection shield

Номер патента: CN206194900U. Автор: 杨维元. Владелец: Sichuan Sai'er Lei Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2017-05-24.

Electric oven of built-in type

Номер патента: KR100674724B1. Автор: 강명렬. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2007-01-25.

A kind of built-in Self-resetting beam-column connection for squeezing energy-consuming device of assembled band

Номер патента: CN110145021A. Автор: 徐赵东,黄兴淮,贺泽锋. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-08-20.

A kind of built-in bogie framework of axle box

Номер патента: CN108045397B. Автор: 王志明,陈晓峰,陶功安,吴才香,贺兴. Владелец: CRRC Zhuzhou Locomotive Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-20.

A seatback cover assembly having air purifying apparatus of built-in type and a vehicle seat including the same

Номер патента: KR200491354Y1. Автор: 이우근,최찬욱,김승재,강철민,구윤수. Владелец: 오토앤 주식회사. Дата публикации: 2020-03-26.

A kind of heat-insulating pipe fitting and processing method of built-in fiber

Номер патента: CN108506596A. Автор: 郭兰芳,张红莲,韩成鹏,柳根,姜新闻. Владелец: BEIJING HTN PIPELINE EQUIPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-07.

The electric supply installation of built-in GPS module

Номер патента: CN106230073A. Автор: 张新河,张建立,喻晓智. Владелец: Dongguan Mcnair New Power Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-14.

A kind of production method and circuit board of built-in component type circuit board

Номер патента: CN106879188B. Автор: 徐波,谢长虹,吉圣平. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd Beijing Branch. Дата публикации: 2018-11-30.

A kind of built-in refrigerator buffer hinge

Номер патента: CN108332498A. Автор: 胡涛,张翔,杨文明. Владелец: Jiangsu Star Emblem Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-27.

A kind of high efficiency grain drying device of built-in roller

Номер патента: CN106962476A. Автор: 不公告发明人. Владелец: Huian County Smart Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-21.

Mounting structure of built-in fiber grating strain transducer of cable

Номер патента: CN201614548U. Автор: 赵霞,李盛,刘礼华,姜德生,薛花娟,张恩隆,周祝兵,吉俊兵,周明宝. Владелец: Fasten Group Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-27.

A kind of the PC box girder web ruggedized construction and method of built-in tiltedly netting piece

Номер патента: CN109610349A. Автор: 刘亚南,袁慧,周宏宇,麻全周. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-04-12.

A kind of goods basket of built-in rotational structure

Номер патента: CN204394154U. Автор: 邓军. Владелец: 邓军. Дата публикации: 2015-06-17.

A kind of independent double air duct rotational moulding ceilings of built-in air-conditioning

Номер патента: CN106915218B. Автор: 陈冬梅,张德春,宋晓阳. Владелец: Yantai Zhentai Rotational Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-12.

A kind of built-in pilot solenoid valve

Номер патента: CN105570470B. Автор: 孙亮,宋会玲,袁洪滨,曾维亮,张思坤,罗大亮,白少卿. Владелец: Xian Aerospace Propulsion Institute. Дата публикации: 2017-12-15.

Water supply cut-off device of built-in sink water purifier

Номер патента: KR200390811Y1. Автор: 이준. Владелец: 주식회사 맥코이. Дата публикации: 2005-07-29.

High rotational speed main shaft unit structure of built-in big moment of torsion of unclamping cylinder

Номер патента: CN113857505B. Автор: 李震,刘鑫,林小亮,成小飞,宋卫海,李曰阳. Владелец: Shandong Agriculture and Engineering University. Дата публикации: 2022-07-05.

A kind of portable power source of built-in double forwarding electric installations

Номер патента: CN206442167U. Автор: 刘艳开. Владелец: Hunan Electric General New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-25.

Activation method of built-in getter of vacuum glass, coating structure and packaging structure

Номер патента: CN112441755B. Автор: 蒋毅,刘谦,孙景春. Владелец: Sichuan Zero Energy Hao Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-02-21.

The spliced miniature circuit breaker of built-in current mutual inductor and zero sequence current mutual inductor

Номер патента: CN109616384A. Автор: 郑文秀,钱江波. Владелец: HONGXIU ELECTRIC CO Ltd. Дата публикации: 2019-04-12.

The pressurized strut of a kind of built-in machines lock and the method locking, unblank thereof

Номер патента: CN106089853A. Автор: 程国良,黄立新,关维,孟清河,张航舟,邓晓山,慕建全,禹新鹏,鲁德发. Владелец: AVIC Landing Gear Advanced Manufacturing Corp. Дата публикации: 2016-11-09.

Hand-held dry-type fluorescence immunoassay appearance of built-in printer

Номер патента: CN216670016U. Автор: 刘兴仁,颜佳森. Владелец: Wuxi Tianzong Yijun Biotechnology Co ltd. Дата публикации: 2022-06-03.

A kind of independent double air channel rotational moulding ceilings of built-in air-conditioning

Номер патента: CN106915218A. Автор: 陈冬梅,张德春,宋晓阳. Владелец: Yantai Zhentai Rotational Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Production of built-in SMD drip irrigation pipe is with even winding laying winding displacement machine

Номер патента: CN217920836U. Автор: 董洪波. Владелец: Shandong Hengxiang Plastic Machinery Co ltd. Дата публикации: 2022-11-29.

A kind of built-in electric automobiles power brick heat abstractor forcing liquid cooling

Номер патента: CN204333163U. Автор: 胡学功,王际辉. Владелец: Institute of Engineering Thermophysics of CAS. Дата публикации: 2015-05-13.

Fastening of built-in switches with a neck-like attachment to panels or device walls

Номер патента: DE676874C. Автор: Carl Baer. Владелец: Individual. Дата публикации: 1939-06-14.

Improved control method of built-in permanent magnet synchronous motor

Номер патента: CN110784144B. Автор: 张瑞峰,杨高兴,张吉斌,路瑶,柴璐军,丁志勇,梁海刚,贺志学. Владелец: CRRC Yongji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-02.

A kind of integrated harmonic speed reducer device of built-in motor

Номер патента: CN106224488A. Автор: 胡天链. Владелец: Sichuan Fude Robot Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-14.

Supersonic spindle of built in type and method for vibrating spindle

Номер патента: KR102463249B1. Автор: 김기수. Владелец: (주) 카스윈. Дата публикации: 2022-11-07.

A kind of built-in permanent magnet motor rotor

Номер патента: CN107086686B. Автор: 王凯,刘闯,李健,吴科明. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2019-04-19.

The multiple rows of hole concrete panel and its processing method of built-in sound insulating material

Номер патента: CN109610690A. Автор: 刘翔,陈振富,甘元初,陶秋旺,方耀楚. Владелец: University of South China. Дата публикации: 2019-04-12.

The foot bath of built in shock wave generating device

Номер патента: CN106491020A. Автор: 彭晟罡. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-15.

Vertical connection structure of built-in steel sleeve of prefabricated reinforced concrete shear wall

Номер патента: CN111188429B. Автор: 丁尧,刘界鹏,齐宏拓. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2021-02-09.

Boost converter of voltage doubling unit of built-in transformer and switched capacitor

Номер патента: CN201985757U. Автор: 何湘宁,李武华,荣强. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2011-09-21.

Method and apparatus for verifying the accuracy of built-in self-test

Номер патента: TW477898B. Автор: Nai-Yin Sung,Ming-Chiuan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2002-03-01.

Trial method of two-channel electronic system of gte automatic control with block of built in control

Номер патента: RU2351909C2. Автор: Юрий Петрович Дудкин,Виктор Александрович Гладких,Геннадий Викторович Фомин. Владелец: Открытое акционерное общество "СТАР". Дата публикации: 2009-04-10.

Gear for installation of built-in lighting fixture

Номер патента: RU2140607C1. Автор: С.Б. Тарасов. Владелец: Тарасов Сергей Борисович. Дата публикации: 1999-10-27.

Data acquisition system based on BIST (Built-In Self-Test) and method for realizing acquisition and self-tests

Номер патента: CN101930221A. Автор: 朱敏,李洋,陈宇,杨春玲,刘思久. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2010-12-29.

BUILT-IN SELF-TEST METHODS, CIRCUITS AND APPARATUS FOR CONCURRENT TEST OF RF MODULES WITH A DYNAMICALLY CONFIGURABLE TEST STRUCTURE

Номер патента: US20120191400A1. Автор: Parekhji Rubin A.,Mittal Rajesh Kumar,Sontakke Adesh Sharadrao,Tripathi Upendra Narayan. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2012-07-26.

A memory built-in self-test circuit

Номер патента: TWI222069B. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-10-11.

A memory built-in self-test circuit

Номер патента: TW200426835A. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-12-01.

VIDEO SPECIFIC BUILT-IN SELF TEST AND SYSTEM TEST FOR CROSSPOINT SWITCHES

Номер патента: US20120019668A1. Автор: . Владелец: GENNUM CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-26.

INTERRUPTIBLE NON-DESTRUCTIVE RUN-TIME BUILT-IN SELF-TEST FOR FIELD TESTING

Номер патента: US20120226942A1. Автор: Chowdhury Prohor,Parekhji Rubin Ajit,SAMPATH PADMINI,Alampally Srinivasulu,Gangasani Swathi,Chakravarthy Srinivasa B S. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS, INCORPORATED. Дата публикации: 2012-09-06.

Digital-to-Analog Converter circuit with Rapid Built-in Self-test and Test Method

Номер патента: US20120274493A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-01.

Built-in self test and built-in self-repairing technology of TSV (Through Silicon Via) interconnection of 3D chip

Номер патента: CN102655101A. Автор: 冯建华,谭晓慧. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-09-05.

Programmable integrated circuit with built-in self testing circuit and its test method

Номер патента: TW200912936A. Автор: Ting-Han Su,Xun-Yao Zhan,Zhen-Fang Yang. Владелец: Asix Electronics Corp Ltd. Дата публикации: 2009-03-16.

METHODS AND APPARATUS FOR PROVIDING A BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20120017131A1. Автор: Behera Manas,BANERJEE Gaurab,Barnett Kenneth Charles. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-01-19.

Built-in-Self-Test Using Embedded Memory and Processor in an Application Specific Integrated Circuit

Номер патента: US20120036396A1. Автор: Taylor Richard D.,Montierth Mark D.,Bodily Melvin D.,Zimmerman Gary,Marshall John D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-09.

TIME-TO-DIGITAL CONVERTER WITH BUILT-IN SELF TEST

Номер патента: US20120044102A1. Автор: . Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2012-02-23.

DRAM MEMORY CONTROLLER WITH BUILT-IN SELF TEST AND METHODS FOR USE THEREWITH

Номер патента: US20120054566A1. Автор: Gupta Rajat,Yeh Chun-Chin. Владелец: VIXS SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-03-01.

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT-BASED RADIATION SENSOR, RADIATION SENSING METHOD AND INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING THE SAME

Номер патента: US20120065919A1. Автор: Turner Mark F.,Brown Jeff S.,Byrn Jonathan. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2012-03-15.

INTEGRATED CIRCUIT WITH MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY HAVING ENHANCED FEATURES AND METHODS

Номер патента: US20120072788A1. Автор: . Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-03-22.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST) CIRCUITRY CONFIGURED TO FACILITATE PRODUCTION OF PRE-STRESSED INTEGRATED CIRCUITS AND METHODS

Номер патента: US20120072789A1. Автор: Chen Wei-yu,Badgett Kevin,Hesse Kay. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-03-22.

Debugger Based Memory Dump Using Built in Self Test

Номер патента: US20120072791A1. Автор: Policke Paul F.,Kim Hong S.,Bassett Paul Douglas. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-03-22.

Built-In Self Test for One-Time-Programmable Memory

Номер патента: US20120092916A1. Автор: Samuels Howard R.,Kelly Thomas W.,Lee James M.. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2012-04-19.

METHOD AND APPARATUS FOR PERFORMING A MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ON A PLURALITY OF MEMORY ELEMENT ARRAYS

Номер патента: US20120137185A1. Автор: . Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-05-31.

MEMORY BUILT-IN SELF TEST SCHEME FOR CONTENT ADDRESSABLE MEMORY ARRAY

Номер патента: US20120140541A1. Автор: Vinh James,Viau Kyle S.. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2012-06-07.

APPARATUS TO FACILITATE BUILT-IN SELF-TEST DATA COLLECTION

Номер патента: US20120159274A1. Автор: Balakrishnan Kedarnath J.,Giles Grady,Wood Tim,Vadlamani Eswar. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-21.

BUILT IN SELF TEST FOR TRANSCEIVER

Номер патента: US20120169361A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-07-05.

MICROCONTROLLER FOR LOGIC BUILT-IN SELF TEST (LBIST)

Номер патента: US20120221910A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-30.

BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT AND DESIGNING APPARATUS

Номер патента: US20120246527A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-09-27.

PREDISTORTION CALIBRATION AND BUILT IN SELF TESTING OF A RADIO FREQUENCY POWER AMPLIFIER USING SUBHARMONIC MIXING

Номер патента: US20120252382A1. Автор: Eliezer Oren E.,Staszewski Robert B.,Bashir Imran. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-04.

Built-in Self-test Circuit for Voltage Controlled Oscillators

Номер патента: US20120286836A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-11-15.

USING BUILT-IN SELF TEST FOR PREVENTING SIDE CHANNEL SECURITY ATTACKS ON MULTI-PROCESSOR SYSTEMS

Номер патента: US20120331309A1. Автор: Moyer William C.,Scott Jeffrey W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

SYSTEM AND METHOD FOR BUILT IN SELF TEST FOR TIMING MODULE HOLDOVER

Номер патента: US20130046497A1. Автор: Nicholls Charles,Wu Philippe. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-21.

BUILT-IN SELF-TEST FOR INTERPOSER

Номер патента: US20130047049A1. Автор: Chen Ji-Jan,Liu Chin-Chou,Tseng Nan-Hsin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-02-21.

BUILT-IN SELF-TEST FOR RADIO FREQUENCY SYSTEMS

Номер патента: US20130049780A1. Автор: III Thomas E.,Collins,Flewelling Gregory M.. Владелец: BAE SYSTEMS Information and Electonic Systems Integration Inc.. Дата публикации: 2013-02-28.

FLASH ARRAY BUILT IN SELF TEST ENGINE WITH TRACE ARRAY AND FLASH METRIC REPORTING

Номер патента: US20130151914A1. Автор: Tressler Gary A.,Griffin Thomas J.,Vanstee Dustin J.,Cadigan David D.,Shetty Archana. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

IIMPLEMENTING ENHANCED APERTURE FUNCTION CALIBRATION FOR LOGIC BUILT IN SELF TEST (LBIST)

Номер патента: US20130151918A1. Автор: Douskey Steven M.,Hamilton Michael J.,Kaufer Amanda R.,Fitch Ryan A.,Worisek James M.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-13.

MULTI-CORE PROCESSOR WITH INTERNAL VOTING-BASED BUILT IN SELF TEST (BIST)

Номер патента: US20130159799A1. Автор: Shearer Robert A.,Comparan Miguel,Watson,III Alfred T.,Brown Jeffrey D.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

ASYNCHRONOUS CIRCUIT WITH AN AT-SPEED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) ARCHITECTURE

Номер патента: US20130159803A1. Автор: PAKBAZ Faraydon,VENTRONE Sebastian T.,Smith Jack R.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-20.

MOTOR DRIVER HAVING BUILT IN SELF TEST FUNCTION

Номер патента: US20130221891A1. Автор: Ko Joo Yul. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

BUILT-IN SELF-TEST METHOD AND STRUCTURE

Номер патента: US20130265068A1. Автор: Ellis-Monaghan John J.,ZHANG ZHIHONG,Amoah Yoba,Kuo Roger C.,Leitch Molly J.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-10.

SCAN-BASED CAPTURE AND SHIFT OF INTERFACE FUNCTIONAL SIGNAL VALUES IN CONJUNCTION WITH BUILT-IN SELF-TEST

Номер патента: US20130275824A1. Автор: Tekumalla Ramesh C.,Madhani Parag,Mendhalkar Avinash. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2013-10-17.

3-D Memory and Built-In Self-Test Circuit Thereof

Номер патента: US20130326294A1. Автор: Kwai Ding-Ming,Lo Chih-Yen,Li Jin-Fu,Yu Yun-Chao,Chou Che-Wei. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2013-12-05.

Noise Rejection for Built-In Self-Test with Loopback

Номер патента: US20140019817A1. Автор: Hoang Anh T.,Scott Gregory S.,Park Brian S.. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-16.

BUILT-IN-SELF-TEST (BIST) ORGANIZATIONAL FILE GENERATION

Номер патента: US20140040685A1. Автор: Ouellette Michael R.,Monroe Craig M.,Sprague Douglas E.. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

RANDOM TIMESLOT CONTROLLER FOR ENABLING BUILT-IN SELF TEST MODULE

Номер патента: US20140053003A1. Автор: Moyer William C.,Scott Jeffrey W.. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2014-02-20.

Method and Apparatus for Optimizing Memory-Built-In-Self Test

Номер патента: US20140089875A1. Автор: Arora Puneet,Kaushik Navneet,Gregor Steven,Card Norman. Владелец: CADENCE DESIGN SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2014-03-27.

DIGITALLY CONTROLLED JITTER INJECTION FOR BUILT IN SELF-TESTING (BIST)

Номер патента: US20140098843A1. Автор: Kong Xiaohua,Zhu Zhi,Dang Vannam. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-04-10.

Memory built in self test of sram circuit

Номер патента: CN102903393B. Автор: 李鸣. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2017-04-05.

A kind of power switch circuit with built-in self-test

Номер патента: CN103310853B. Автор: 陈强,吴宁,黄辉,陈鑫,夏欢,胡薇,张婉桥,段倩妮. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2016-02-24.

Built-in self-test system aiming at micro-electro-mechanical integrated system

Номер патента: CN102879729B. Автор: 李佳,王玮冰. Владелец: Jiangsu IoT Research and Development Center. Дата публикации: 2014-09-24.

Built-in self-test circuit

Номер патента: JP3955708B2. Автор: 孝光 山田. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-08.

Embedded type memory built-in self-testing structure

Номер патента: CN201117296Y. Автор: 郑涛,石岭,周显文,刘欣祺,常军锋,孙华义,孙耕. Владелец: Arkmicro Technologies Inc. Дата публикации: 2008-09-17.

Apply to speedy carding process enter end on built-in self-test circuit

Номер патента: CN103295646B. Автор: 陈忠敬,陈宥霖,刘先凤. Владелец: MStar Software R&D Shenzhen Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Programmable static random access memory (SRAM) sequential control circuit based on built-in self-test (BIST) control

Номер патента: CN202662294U. Автор: 徐超,孟坚,周燕,李正平,洪琪,谭守标,柏娜,吴秀龙,陈军宁. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-01-09.

Input vector monitoring concurrency built-in self-test circuit based on comparator and response analyzer

Номер патента: CN102495357B. Автор: 俞洋,王帅,王继业,彭喜元,乔立岩. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2013-09-11.

Memory built-in self-testing method as well as memory error inspection method

Номер патента: CN103745752A. Автор: 钱亮. Владелец: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2014-04-23.

On-chip RAM built-in self-testing method and circuit

Номер патента: CN104361909A. Автор: 王震,王国状. Владелец: Datang Microelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-18.

Digital/analog converter and phase locking loop built-in self test circuit and its measurement method

Номер патента: CN101127529A. Автор: 张永嘉. Владелец: Faraday Technology Corp. Дата публикации: 2008-02-20.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TWI263225B. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-10-01.

Circuit and method for built-in self test (BIST) and computer readable recording medium for storing program thereof

Номер патента: TW200627461A. Автор: Chung-Hui Chen. Владелец: Faraday Tech Corp. Дата публикации: 2006-08-01.

Auto-projecting mechanism of built-in straw used in can

Номер патента: TW306474U. Автор: yao-rong Cheng. Владелец: yao-rong Cheng. Дата публикации: 1997-05-21.

Improvements in or relating to the mounting of built in ovens

Номер патента: AU3402668A. Автор: George Badger Gordon. Владелец: He Shacklock Ltd. Дата публикации: 1969-08-28.

A kind of built-in light compensating lamp and use the snapshot one-piece machine of this built-in light compensating lamp

Номер патента: CN204114717U. Автор: 陈忠河,陆爱明,刘洪模,方俊慧,徐虎成. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-21.

BUILT-IN SATURATOR (OPTIONS), SATURATION INSTALLATION, INSTALLATION OF DRINKS, APPLICATION OF BUILT-IN SATUATOR (OPTIONS)

Номер патента: RU2008142747A. Автор: Георг ФИШЕР,Георг ФИШЕР (DE). Владелец: Карботек Холдинг Гмбх (De). Дата публикации: 2010-05-10.

Wheel hub structure of built-in switch in internal stator

Номер патента: TW517431B. Автор: Jiun-Fu Shiu. Владелец: Jiun-Fu Shiu. Дата публикации: 2003-01-11.

A kind of built-up piston of built-in thermal column

Номер патента: CN207989160U. Автор: 李新,李世清,王艳利. Владелец: JIANGSU BAIAN TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-19.

A kind of built-up piston of built-in heat-dissipating cylinder

Номер патента: CN207813770U. Автор: 李新,李世清,王艳利. Владелец: JIANGSU BAIAN TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-04.

Improved structure of built-in type shutter door

Номер патента: TW408789U. Автор: Ming-Jiun Chen. Владелец: Chen Ming Jiun. Дата публикации: 2000-10-11.

An item of built-in furniture and a method for installing furniture

Номер патента: GB202209182D0. Автор: . Владелец: Hass Equipment Ltd. Дата публикации: 2022-08-10.

Armrest massage structure of built-in type massage chair

Номер патента: TWM405863U. Автор: Yuan-Chuen Chen. Владелец: Hsin Hao Health Materials Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Structure of built in roller slide slot member of aluminum window/door

Номер патента: TWM421374U. Автор: zhen-li Lin. Владелец: zhen-li Lin. Дата публикации: 2012-01-21.

Refurbishment of built-in cupboards

Номер патента: ZA953737B. Автор: Barend Albertus Johan Prinsloo,John Edward Prinsloo,Barend Prinsloo. Владелец: Prinfam Interiors Proprietary. Дата публикации: 1996-01-11.

Permanent magnet cavity structure robust design method capable of reducing iron loss of built-in permanent magnet motor

Номер патента: CN104967262A. Автор: 张振,王慧敏,夏长亮,史婷娜,郭丽艳. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-10-07.

Turnover box capable of reducing friction of built-in folding box

Номер патента: CN214494026U. Автор: 陈秀娟,李春飞,刘光田,杨成彦,杨鸿伟,傅义. Владелец: SICHUAN YIBIN PUSH GROUP 3D CO Ltd. Дата публикации: 2021-10-26.

Construction method of built-in structural elements in soil

Номер патента: RU2221918C2. Автор: . Владелец: Джантимиров Христофор Авдеевич. Дата публикации: 2004-01-20.

The cleaning machine of built-in lifting cleaning cover clean in place

Номер патента: CN207103271U. Автор: 王卫东. Владелец: Wuxi Baima Machinery Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-16.

The axle digital control system in open type of built-in small four

Номер патента: CN102914998B. Автор: 张飞,朱兴华,庄源昌,郑湃. Владелец: Changzhou Digit Control Technique Institute. Дата публикации: 2018-03-09.

Novel vertical mill of high-efficient selection powder of built-in combination in side air inlet area

Номер патента: CN209791679U. Автор: 赵俊,王路明. Владелец: Nanjing Kisen International Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-17.

Device for adjustment of zero sight line of tank guns with the aid of built-in adjuster at night or in the conditions of poor visibility

Номер патента: RU2227890C1. Автор: Н.Н. Куликов,С.П. Пишевец,А.В. Растопка,А.Н. Садов. Владелец: ОБЩЕВОЙСКОВАЯ АКАДЕМИЯ ВООРУЖЕННЫХ СИЛ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ. Дата публикации: 2004-04-27.

Helmet is used in riding of built-in display screen regulation of being convenient for

Номер патента: CN213587549U. Автор: 代多学. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-02.

Node in steel construction archaize building of built-in shear type friction damper

Номер патента: CN214942945U. Автор: 袁振,薛建阳,戚亮杰,薛高明,苑晨旭,刘孟达. Владелец: Xian University of Architecture and Technology. Дата публикации: 2021-11-30.

Oven of built -in thermoreflectance board in top

Номер патента: CN206166703U. Автор: 田光辉. Владелец: Shangyu Yinyan Forging And Pressing Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-17.

The slide of the sub-guide rail in a kind of built-in reversible formula loam core

Номер патента: CN204702922U. Автор: 郑建峰. Владелец: Suzhou Meishanzi Garments Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Improvement in radiation structure of built-in Kimchi-refrigerator

Номер патента: KR200288524Y1. Автор: 최종한. Владелец: 주식회사 파세코. Дата публикации: 2002-09-11.

A kind of built-in sliding chute device applied to plate in subway station

Номер патента: CN209194579U. Автор: 张涛,胡楠,邓海涛,刘中南,吴天林,王长贤,吴群辉. Владелец: CCCC SECOND HIGHWAY ENGINEERING ELECTRICAL WORKS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-02.

Structure of built-in controller in middle-placed motor

Номер патента: CN212099227U. Автор: 顾挺. Владелец: Zhangjiagang Kaicheng Software Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-12-08.

Dropwise add groove is used in processing of medicine intermediate of built-in mixed structure

Номер патента: CN214183064U. Автор: 汪永胜. Владелец: Jiangxi Nobel Chemical Co ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Modified tapered end of built-in type Plug-in type door lock

Номер патента: CN200949352Y. Автор: 雷先鸣. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-19.

New cover structure used in joint trap of built-in faucet

Номер патента: TW493636U. Автор: Jr-Yu Chen. Владелец: Kingston Brass Corp. Дата публикации: 2002-07-01.

RECEIVING DEVICE WITH RFID DETECTION OF BUILT-IN COMPONENTS HELD THEREIN, AND RFID DETECTION METHOD

Номер патента: US20120161938A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-28.

Anchor of built-in part

Номер патента: SU808643A1. Автор: Лео Антонович Силс,Освальд Аугустович Крастиньш,Никита Петрович Козлов,Имант Ульянович Гейданс,Гунар Рудольфович Бейтиньш. Владелец: Латвийский Научно-Исследовательскийи Экспериментально-Технологическийинститут Строительства. Дата публикации: 1981-02-28.

A kind of built-in test design method and system

Номер патента: CN109782157A. Автор: 陈圣俭,宋钱骞. Владелец: Beijing Watertek Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-21.

A kind of built-in current sensor vacuum circuit breaker

Номер патента: CN206849759U. Автор: 郑岳双,汪绍华. Владелец: ZHAORUI ELECTRIC Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-05.

Intelligent high-voltage cable joint of built-in partial discharge sensor

Номер патента: CN202978201U. Автор: 朱晓辉,唐庆华,周凤争,孟峥峥,刘宝成. Владелец: Tianjin Electric Power Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

Control rod of built -in gesture appearance and have its electric motor car

Номер патента: CN205381350U. Автор: 陈云飞. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-13.

A assistant bar assembly structure of built in type Kim-Chi storage

Номер патента: KR200240648Y1. Автор: 최종한. Владелец: 주식회사 파세코. Дата публикации: 2001-10-12.

The detachable screw of built-in type

Номер патента: CN207145416U. Автор: 孙洪坤. Владелец: Preparation Team Of Datang Changchun No3 Co-Generation Power Plant Project. Дата публикации: 2018-03-27.

Fine coal pyrolysis dust pelletizing system of built -in circulating grain bed

Номер патента: CN205974376U. Автор: 吴道洪,肖磊,薛逊,陈水渺,姜朝兴. Владелец: Beijing Shenwu Environmental and Energy Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-22.

A kind of built-in magnetic shielding transformer device body pressing plate

Номер патента: CN206363869U. Автор: 王刚,刘钢,王喜权,郑国培,颜伟嘉,李丰田,梁谦诚,胥颖群. Владелец: Into Electrical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-28.

Constitutional member of built-in storage furniture

Номер патента: JPS6458762A. Автор: Takao Inoue. Владелец: Eidai Co Ltd. Дата публикации: 1989-03-06.

A kind of built-in deflector makes the reactor that material fully reacts

Номер патента: CN207204084U. Автор: 贾建强,陆兵,许林鹏,袁现章,赵小青. Владелец: Luoyang Huagong Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

A kind of pan shell type waste heat boiler of built in bypass control valve

Номер патента: CN204187592U. Автор: 李金和. Владелец: Sinopec Nanjing Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-04.

A kind of built-in type silo delivery device

Номер патента: CN209283776U. Автор: 曹凯宇. Владелец: Anhui Huasheng Environmental Protection Equipment Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-23.

Stator and rotor structure of built-in permanent magnet brushless direct current motor

Номер патента: CN104104168A. Автор: 徐磊,李红艳,林明耀. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-10-15.

A kind of built-in superfrequency sensor for partial discharge of transformer detection

Номер патента: CN205749788U. Автор: 刘亚东,钱勇,盛戈皞,江秀臣,周海洋. Владелец: SHANGHAI JUDIAN ELECTRIC EQUIPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-30.

The production method of the encapsulating structure of built-in type electronic building brick

Номер патента: CN106935516B. Автор: 余丞博,陈盈儒. Владелец: Xinxing Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-03.

A kind of power distribution cabinet of built-in cooling air channel

Номер патента: CN204088970U. Автор: 钱晓刚. Владелец: SUZHOU KUN YANG ELECTRIC EQUIPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-07.

A kind of cabinet for TV of built-in decorated lamp

Номер патента: CN204467471U. Автор: 陈杏芬. Владелец: 陈杏芬. Дата публикации: 2015-07-15.

A kind of built-in steel-ball type hydraulic differential mechanism of two-tube core drill

Номер патента: CN208934629U. Автор: 王志刚,王文,李宽,梁健,尹浩,孙建华,李鑫淼,刘秀美. Владелец: Institute of Exploration Technology Chinese Academy of Geological Sciences. Дата публикации: 2019-06-04.

A kind of reinforced heat exchanger of built-in rotating fan blades formula

Номер патента: CN207635933U. Автор: 罗茜,朱志阳,翟彤. Владелец: Changan University. Дата публикации: 2018-07-20.

A kind of built-in siphon pulse water distributing device

Номер патента: CN207827889U. Автор: 李海波,冯梅,杨宗雷,左洛,姚阳,黎欢. Владелец: Wuhan Sentai Environmental Protection Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-07.

A kind of full-automatic anti-eccentrically worn tubing circulator of built-in passive type

Номер патента: CN207944902U. Автор: 周琢如,胡柏潮,苏家琪. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-10-09.

Foam cushion structure of built-in drainage tube provided with flushing pipe

Номер патента: CN201529311U. Автор: 喻爱喜,官红霞. Владелец: Wuhan VSD Medical Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-21.

Contact box of built-in overheating protection device

Номер патента: CN203337276U. Автор: 刘权,严俨. Владелец: XI'AN SHENGHUAAN ELECTRICAL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-11.

Timbering wall of built-in prestressed reinforced concrete rectangular pile and construction method thereof

Номер патента: CN102061705B. Автор: 凌德祥. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-10-05.

A kind of enhanced variation rigidity viscous damping devices of built-in permanent magnet

Номер патента: CN209067751U. Автор: 李茂�,张春巍,付伟庆,段存坤. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-07-05.

The single crystal growing furnace of built-in gas barrier

Номер патента: CN203923441U. Автор: 李德建,张晓朋,赵会刚. Владелец: HEBEI NINGTONG ELECTRONIC MATERIAL CO Ltd. Дата публикации: 2014-11-05.

Injection molding machine servo control system of built -in wireless WIFI receiving and dispatching port

Номер патента: CN204773445U. Автор: 徐红周. Владелец: Zhongshan City Liyi Plastic Hardware Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

A kind of built-in steel wood composite door

Номер патента: CN204299392U. Автор: 陆代胜. Владелец: SHANGHAI PUYU DOORS Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-29.

A kind of built-in ring type sample acquisition machine

Номер патента: CN203981431U. Автор: 沈昊男,严家平,范廷玉,谷得明,程方奎,邓诗慧. Владелец: ANHUI UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2014-12-03.

A kind of built-in Gear Planet Transmission high rigidity gear with small teeth difference transmission device

Номер патента: CN204127213U. Автор: 张和平,吴恒,陈正宇,张立勇,王伟功,王长路,张军顺,黄首峰,侯耐,杨会波. Владелец: ZHENGZHOU RESEARCH INSTITUTE OF ADVANCED EQUIPMENT & INFORMATION INDUSTRY TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-28.

TV bench of built -in TV set

Номер патента: CN205125570U. Автор: 江秀川. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-04-06.

A kind of detection circuit and detection method of built-in mining diving pump

Номер патента: CN109813373A. Автор: 张强,王丕涛,赵丽楠. Владелец: University of Jinan. Дата публикации: 2019-05-28.

A kind of built-in argon-filling device for pipeline and pipeline welding

Номер патента: CN204413369U. Автор: 李国钰,兰龙洋. Владелец: Jiangsu Center Hua Rui Construction Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-24.

Single tower of built-in graphite condenser full blows out technique lime set stripping process

Номер патента: CN103408084B. Автор: 马超凡,王秋枫,马连强,冯延忠. Владелец: China Huanqiu Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-09.

A kind of dining table of built-in electromagnetic stove

Номер патента: CN204410039U. Автор: 羊正山. Владелец: Fuyang Huai Bang Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-24.

A kind of built-in lightweight bogie of quick lorry axle box

Номер патента: CN209683707U. Автор: 周张义,李博之,刘承聪. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2019-11-26.

The coupled column assembled beam frame of built-in pipe high-strength concrete stem stem and constructional method thereof

Номер патента: CN103967129B. Автор: 刘迎春,计静,张文福,袁朝庆,姜良芹,卢召红. Владелец: Northeast Petroleum University. Дата публикации: 2016-06-01.

Reinforcing bar concrete dysmorphism post of built -in CFRP pipe

Номер патента: CN205116561U. Автор: 张月,徐亚丰,徐诚皓,牟璐. Владелец: Shenyang Jianzhu University. Дата публикации: 2016-03-30.

Drying device is concocted to traditional chinese medicine of built-in structure of rolling

Номер патента: CN216977412U. Автор: 王�华. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-15.

The mounting structure of a kind of built-in motor system and suspension bracket

Номер патента: CN204674763U. Автор: 黄岩. Владелец: VICTORY SINCERITY TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-30.

Device for blocking connection of built-in modular supply unit

Номер патента: SU1661908A1. Автор: Олег Анатольевич Бузинов,Алексей Григорьевич Петрик,Виталий Станиславович Татарников. Владелец: Предприятие П/Я Ю-9192. Дата публикации: 1991-07-07.

A kind of built-in browser and its implementation

Номер патента: CN103177095B. Автор: 沈宜,邹严. Владелец: Chengdu 30kaitian Communication Industry Co ltd. Дата публикации: 2015-12-02.

The bottle cap assembly of built-in seasoning material

Номер патента: CN203975515U. Автор: 靳凯钧. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-12-03.

A kind of built-in folding airstair of aircraft airborne

Номер патента: CN206797772U. Автор: 王辉,曾强,卢强,曾晓康,杨玉明,李奇权,朱甚臻,韩长京. Владелец: Chengdu Fuli Weihang Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

A kind of linear voltage regulators of built-in compensation electric capacity

Номер патента: CN102707755B. Автор: 王晓飞,孙权,袁小云. Владелец: XI'AN AEROSEMI TECHNOLOGY Co. Дата публикации: 2016-12-14.

A kind of built-in lifting transfer device of vehicle body from skid body rotary lifting

Номер патента: CN206938916U. Автор: 王银明,刘进明,宋泰宇,胡全心. Владелец: Dongfeng Design Institute Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

A kind of press-type bottle cover of built-in solid granules

Номер патента: CN207208885U. Автор: 付腾飞,齐然,周桂波. Владелец: Beijing Upstart Health Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Test method of built-in memory, and bus interface unit and command decoder used therefor

Номер патента: JPH11329000A. Автор: Masao Okui,正雄 奥井. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1999-11-30.

Environmental-protective smokeless boiler of built-in secondary combustion

Номер патента: CN2926823Y. Автор: 颜辉成. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-25.

The flowmeter of built-in heating device

Номер патента: CN103206998B. Автор: 叶杨,李继豪,徐迎雪,字学. Владелец: Emerson Process Management Flow Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-30.

Energy and internal volume ratio regulating mechanism of built-in type screw compressor of oil cylinder

Номер патента: CN202040084U. Автор: 李军,丁杰,夏航,刘进亮,苏应春,霍正齐. Владелец: XINSHIJIE REFRIGERATION INDUSTRY Co Ltd WUHAN. Дата публикации: 2011-11-16.

A kind of Built-in hinge

Номер патента: CN207633915U. Автор: 王风. Владелец: ZHONGSHAN DELIMA WARE CO Ltd. Дата публикации: 2018-07-20.

A kind of built-in mixed flow dynamic formula MR damper every disk

Номер патента: CN209041423U. Автор: 胡国良,龙铭,喻理梵,童旺. Владелец: East China Jiaotong University. Дата публикации: 2019-06-28.

A kind of hub unit bearing of built-in roller cage

Номер патента: CN209026008U. Автор: 单荣国,俞水康. Владелец: Hangzhou Xiaoshan Jinteng Bearing Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-25.

Novel multi -functional socket of built -in cell -phone charging wire

Номер патента: CN204885722U. Автор: 田志强. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-16.

The steel wire net rack composite sand wiched wall board of built-in three layers of warming plate

Номер патента: CN206737254U. Автор: 刘造友,申海良,常卫华. Владелец: Baoding Ji Chuang Construction Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Secondary structure of built-in permanent magnetic synchronous linear motor

Номер патента: CN202455246U. Автор: 张建,李金�,吴蔚. Владелец: NANJING ESTUN AUTOMATIC CONTROL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-26.

LED fluorescent tube of built -in heat dissipation base

Номер патента: CN205299148U. Автор: 赵国松,蒋江峰,蒲纪忠. Владелец: CH Lighting Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-08.

A kind of built-in electronic executing agency, the dual control lock of the emergent lock of mechanical cipher

Номер патента: CN206600072U. Автор: 吴其良. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

The streaming storage device and its method of built-in hard disk video tape recorder

Номер патента: CN104333725B. Автор: 戴林,陆翔云. Владелец: Tiandi Weiye Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

A kind of built-in fabricated shear wall supported

Номер патента: CN207863226U. Автор: 张超,张佳明,袁康,白宏思,郭军林. Владелец: Shihezi University. Дата публикации: 2018-09-14.

support structure of built-in light

Номер патента: KR200237599Y1. Автор: 강정훈. Владелец: 강정훈. Дата публикации: 2001-10-11.

A kind of built-in pipe formula rubber vulcanizing tank

Номер патента: CN207789489U. Автор: 邓中阳. Владелец: Jiangsu Hanglian Special Equipment Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-31.

A kind of camshaft of built-in decompressor

Номер патента: CN204186439U. Автор: 蔡国武. Владелец: WENZHOU YINGWU CAMSHAFT Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-04.

A kind of built-in high-temperature resisting heating cable of joint

Номер патента: CN205793436U. Автор: 王伟,王传福,徐楚楠,余章普. Владелец: Wuhu Jiahong New Materials Ltd By Share Ltd. Дата публикации: 2016-12-07.

Temperature measurement and identification circuit of built-in battery, battery, detecting device and detecting method

Номер патента: CN103884383A. Автор: 杨旭辉,颜再寒. Владелец: Shenzhen ZTE Mobile Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-25.

Test method and system for time-correlating events of built-in equipment

Номер патента: CN101477478B. Автор: 李芊芊. Владелец: Fujian Star Net Communication Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-20.

Structure of built-in temperature sensor of high voltage GIS

Номер патента: CN103376170A. Автор: 陈津. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-10-30.

A kind of LED light strip of built-in constant current chip

Номер патента: CN209146786U. Автор: 周武军,颜卫军,班华辉. Владелец: Bluevision Shenzhen Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-23.

Remote intelligent control system and method of built-in mobile type voice communication device

Номер патента: CN103209271A. Автор: 胡东明,周利民,杜学文. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-07-17.

Fast retrieval method for data of built-in Flash of single chip microcomputer

Номер патента: CN102629234B. Автор: 刘和兴,陈万. Владелец: M2MICRO (CHANGSHU) CO Ltd. Дата публикации: 2015-01-21.

Ground sewer pipe of built -in toper chamfer piece current -limiting

Номер патента: CN205331696U. Автор: 吴伟良. Владелец: WUXI SANLIUJIU STEEL PIPE Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-22.

Plane display panel of built-in DC-DC converter

Номер патента: CN100345034C. Автор: 孙文堂. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2007-10-24.

A kind of LED light strip of built-in resistor

Номер патента: CN209495168U. Автор: 张传海. Владелец: Jiangsu Haicheng Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-15.

Soil-concrete composition for filling cavity of built-in-place pile

Номер патента: SU631485A1. Автор: Петр Прохорович Заболотный,Иван Петрович Коваль,Владимир Владимирович Чаплыгин. Владелец: Научно-Исследовательский Институт Строительных Конструкций Госстроя Ссср. Дата публикации: 1978-11-05.

Equipment and method of rapid life tests of built-in multihole heater

Номер патента: CN103116086B. Автор: 王鹏,赵宇航,易凡,李曙,段德莉,侯思焓. Владелец: Institute of Metal Research of CAS. Дата публикации: 2015-03-25.

Propeller under a kind of Quan Haishen of built-in motor driving

Номер патента: CN207510687U. Автор: 吕新,韩野,罗凯林,钟齐,范朝伟. Владелец: TIANJIN HAOYE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-19.

Automatic reversing device of built-in protector

Номер патента: CN211197597U. Автор: 林锦武. Владелец: Foshan Bolite Electromechanical Co ltd. Дата публикации: 2020-08-07.

A kind of built-in winding mechanism clothes hanger

Номер патента: CN204000337U. Автор: 刘江华. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-12-10.

A kind of built-in bandage lifting lug rubber parts of automobile exhaust system

Номер патента: CN207274400U. Автор: 张大伟,李俊,彭岩,何建国,祝明元. Владелец: V-Kool Technologies (anhui) Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-27.

A kind of built-in fabric strengthens the compound shear wall of composite material tube

Номер патента: CN205857456U. Автор: 陈光明,林楚君. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-01-04.

A kind of pop can of built in suction pipe

Номер патента: CN208731640U. Автор: 毕嘉倩. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-04-12.

Method for cleaning filter liners of built-in and combined filter chambers of water purifier

Номер патента: CN101991987A. Автор: 杜也兵,冉伊虹. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-03-30.

A kind of built-in type scaffold fastening apparatus

Номер патента: CN208830695U. Автор: 李翠翠,陈德刚. Владелец: Qingjian Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-07.

A kind of method of built-in temperature sensor and temperature

Номер патента: CN105987762B. Автор: 谢俊杰. Владелец: Shanghai Actions Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-28.

The bottle cap of built-in beverage raw material

Номер патента: CN206857317U. Автор: 马伟东. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-01-09.

A kind of rfid system and the anti-electricity-theft low pressure CT of built in RFID

Номер патента: CN204463144U. Автор: 李英,张晓东,张洁,梁飞,黄吉涛. Владелец: Electric Power Research Institute of State Grid Ningxia Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-08.

MTPA control method of built-in PMSM and MTPA control system

Номер патента: CN105262394A. Автор: 吴波,吴超,齐丹丹,孙园园. Владелец: NANJING ESTUN AUTOMATIC CONTROL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-20.

A kind of reciprocating piston pump of built-in vent channel

Номер патента: CN207513773U. Автор: 陆健,束涛,林征宇,左志强,唐中,祝显强. Владелец: Jiangsu Hao Tai Kang Medical Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-19.

A kind of built-in type tea cup cleaning device

Номер патента: CN208909219U. Автор: 纪东林. Владелец: Rugao Changxu Machinery Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-31.

A kind of heat storage electric water heater of built-in thermostatic valve

Номер патента: CN207635596U. Автор: 佘群. Владелец: Guangdong Ji Bao Electrical Appliance Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-20.

A kind of Built-in protection type personnel archive box

Номер патента: CN208543973U. Автор: 肖鸿强. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-26.

Execution of built-in kotatu

Номер патента: JPS56117044A. Автор: Toru Sano,Katsumori Numata,Mataichi Nabeshima. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 1981-09-14.

A kind of corrugated expansion joint of built-in elastic connection structure

Номер патента: CN208138680U. Автор: 张锦龙,陈剑峰,麦文达. Владелец: Guangzhou Bengten Corrugated Pipe Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-23.

A kind of Millimeter Wave Rectangular Wave-guide filter of built-in transverse superconduction diaphragm

Номер патента: CN204088535U. Автор: 周凌俐,段东林,徐爱东,羊恺,杨超伟,曾华新. Владелец: CHENGDU SHUNWEI SUPERCONDUCTOR TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-07.

A kind of built-in steel plate RPC compound shear wall

Номер патента: CN204401822U. Автор: 刘超,刘伯权,马恺泽,阙昂. Владелец: Changan University. Дата публикации: 2015-06-17.

A kind of built-in plate distillation column condenser

Номер патента: CN206746019U. Автор: 徐勇,张厚清. Владелец: Shanghai Wei Wei Industrial Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-15.

A kind of built-in driven motor cucurbit

Номер патента: CN204057835U. Автор: 王志东,王冲,杨建伟,翟战军,李计全. Владелец: HENAN RUIGE TRANSMISSION MACHINERY CO Ltd. Дата публикации: 2014-12-31.

A kind of built-in part connecting structure of plastic fuel tank of slip-off preventing

Номер патента: CN204354812U. Автор: 刘亮,吕昊,周刚,孙岩,姜林,洪文斌. Владелец: Yapp Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-27.

A kind of built-in camera device of interactive intelligent tablet computer

Номер патента: CN206323461U. Автор: 周平,邓芳光. Владелец: Guangzhou Shirui Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Structural device for shielding electromagnetic interference of built-in magnetic encoder of motor

Номер патента: CN214480147U. Автор: 伍锦敏. Владелец: Shenzhen Lianzhan Power Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-10-22.

Wooden intelligent book case of built-in expelling parasite mechanism

Номер патента: CN210630512U. Автор: 王磊,范祥林. Владелец: Luan Wanxin Software Co ltd. Дата публикации: 2020-05-29.

The integrated display of built-in prolongation receiver function

Номер патента: CN204462951U. Автор: 马强,刘德志. Владелец: Shenzhen Hollyland Technology Co ltd. Дата публикации: 2015-07-08.

A kind of built-in bolt mechanism and helicopter hatch door

Номер патента: CN103883183B. Автор: 杨建国,张淼,罗国仁,阴俊. Владелец: China Helicopter Research and Development Institute. Дата публикации: 2016-08-10.

A kind of built-in driving downlight for opening up radiating groove

Номер патента: CN207527416U. Автор: 彭斌,彭继辉. Владелец: ZHONGSHAN LINGHANG OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-22.

A kind of built-in lightning-protection module advanced for instrument

Номер патента: CN205790423U. Автор: 张可贵. Владелец: Dqing Meilong Measurement And Control Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-07.

A kind of cast aluminium alloy gold motor casing of built-in aluminium alloy spiral coil water channel

Номер патента: CN207039357U. Автор: 黄培青. Владелец: Fujian Ju'neng Machinery Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-23.

A kind of electric hot water bag with separated of built-in flame-proof switch

Номер патента: CN104490514B. Автор: 俞秋良. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

A kind of built-in automation print system

Номер патента: CN206287667U. Автор: 陈照峰,郑青,叶信立. Владелец: Nanjing Fengyuan New Materials Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-30.

The body concrete combination column of built-in cellular structure

Номер патента: CN206971552U. Автор: 王岩,王云鹏,白飞飞,李玉波,刘玉奎. Владелец: Upper Marine Jian Dongfu Investment And Development Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Power line broadband carrier communication module networking test system of built-in programmable attenuator

Номер патента: CN104734745B. Автор: 吕俊,吴斌,刘述钢. Владелец: ZHUHAI WELLTHING ELECTRONIC Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-12.

The transport case of built-in floating damping type molybdenum powder storage capsule

Номер патента: CN107585440A. Автор: 陆真,华燕锦. Владелец: Wuxi Huamei Molybdenum Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.