Verfahren und vorrichtung zur optischen qualitätskontrolle während der fertigung von leiterplatten
Номер патента: EP4233500A1
Опубликовано: 30-08-2023
Автор(ы): Alexis GUIBOURGÉ, Daniel Fiebag, Marcel Kuhn, Ulrike Dowie
Принадлежит: SIEMENS AG
Опубликовано: 30-08-2023
Автор(ы): Alexis GUIBOURGÉ, Daniel Fiebag, Marcel Kuhn, Ulrike Dowie
Принадлежит: SIEMENS AG
Реферат: Verfahren zur optischen Qualitätskontrolle (Q) während der Fertigung (1) von Leiterplatten (L), umfassend: Erfassen (S3) eines Bildes (P1) einer Leiterplatte (L), und Bestimmen (S4) eines ersten Fehlerindikators (F1) mittels optischer Bildverarbeitung basierend auf dem erfassten Bild, Bestimmen (S5) eines zweiten Fehlerindikators (F2) mittels eines trainierten lernfähigen Algorithmus (ML) basierend auf dem erfassten Bild (P1), und wobei in dem Fall, dass der mittels der optischen Bildverarbeitung (OR) bestimmte erste Fehlerindikator (F1) die Leiterplatte (L) als fehlerhaft indiziert (S41), mittels des trainierten lernfähigen Algorithmus (ML) der zweite Fehlerindikator (F2) bestimmt wird (S5), Ausgeben (S6) des zweiten Fehlerindikators (F2) anstatt des ersten Fehlerindikators (F1) als Ergebnis der Qualitätskontrolle (Q).
Verfahren und Vorrichtung zur optischen Qualitätskontrolle während der Fertigung von Leiterplatten
Номер патента: DE112021006641A5. Автор: Marcel Kuhn,Ulrike Dowie,Daniel Fiebag,Alexis GUIBOURGÉ. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2023-11-09.