Mode of measuring adhesion of the covering with a substrate
Номер патента: RU2313783C2
Опубликовано: 27-12-2007
Автор(ы): Жан-Ив ШАТЕЛЛЬЕ
Принадлежит: Снекма Мотер
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 27-12-2007
Автор(ы): Жан-Ив ШАТЕЛЛЬЕ
Принадлежит: Снекма Мотер
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for measuring adhesive strength of thin film using dispersion characteristics of surface waves, and computer-readable recording medium having program for performing same recorded thereon
Номер патента: US20200217820A1. Автор: Yu Min Choi,Tae Sung Park,Ik Keun PARK,Dong Ryul KWAK. Владелец: Seoul National University of Technology Center for Industry Cllaboration. Дата публикации: 2020-07-09.