Method and apparatus for measuring the piezoelectric constant of a thin film type piezoelectric material
Номер патента: AU1072197A
Опубликовано: 29-06-1998
Автор(ы): Dong Guk Kim
Принадлежит: Daewoo Electronics Co Ltd
Опубликовано: 29-06-1998
Автор(ы): Dong Guk Kim
Принадлежит: Daewoo Electronics Co Ltd
Method and a device for measuring the amplitude noise and/or phase noise of a signal
Номер патента: US09485598B2. Автор: Alexander Roth,Thomas BECHTELER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-11-01.