Method and device for scanning a sample
Номер патента: US12066614B2
Опубликовано: 20-08-2024
Автор(ы): Lars Friedrich
Принадлежит: Leica Microsystems CMS GmbH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-08-2024
Автор(ы): Lars Friedrich
Принадлежит: Leica Microsystems CMS GmbH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and light microscope for a high-resolution examination of a sample
Номер патента: US12055728B2. Автор: Matthias Reuss,Benjamin HARKE,Lars KASTRUP,Roman Schmidt. Владелец: Abberior Instruments GmbH. Дата публикации: 2024-08-06.