• Главная
  • Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20100095176A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-15.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20040084747A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-05-06.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20100100783A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-22.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20150097593A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-04-09.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20090063920A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20080136438A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-06-12.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20090063919A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20070257694A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2007-11-08.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20100100784A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-22.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20060017453A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-26.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20090058448A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20020196045A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-26.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US20140245090A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7863913B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7876112B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-01-25.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7629808B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7733110B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-06-08.

Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits

Номер патента: US7659741B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-02-09.

Process of making an integrated circuit using parallel scan paths

Номер патента: US20020039804A1. Автор: Lee Whetsel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-04.

First and second scan distributors, collectors, controllers, and multiplexers

Номер патента: US7256601B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2007-08-14.

Testing ICs with distributor, collector, and parallel scan paths

Номер патента: US6985001B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-01-10.

Parallel scan paths with three bond pads, distributors and collectors

Номер патента: US8941400B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-01-27.

Scan distributor loading scan paths simultaneous with loading test data

Номер патента: US7459926B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-12-02.

Semiconductor integrated circuit, method of testing the semiconductor integrated circuit, and semiconductor substrate

Номер патента: US11774493B2. Автор: Koichi Iwao,Eiki AOYAMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

On-chip distribution of test data for multiple dies

Номер патента: WO2023126813A1. Автор: Yuan Chao,Tassanee Payakapan,Arie MARGULIS. Владелец: Advanced Micro Devices Products (China) Co. Ltd.. Дата публикации: 2023-07-06.

System for measuring signal path resistance for an integrated circuit tester interconnect structure

Номер патента: WO2001079868A3. Автор: John M Long. Владелец: John M Long. Дата публикации: 2002-02-28.

System for measuring signal path resistance for an integrated circuit tester interconnect structure

Номер патента: US7609082B2. Автор: John M. Long. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-10-27.

System for measuring signal path resistance for an integrated circuit tester interconnect structure

Номер патента: US7486095B2. Автор: John M. Long. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-02-03.

Device and method for testing integrated circuits

Номер патента: EP2030030B1. Автор: Michael Priel,Dan Kuzmin,Ezra Baruch. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2010-11-03.

Device and method for testing integrated circuits

Номер патента: EP2030030A1. Автор: Michael Priel,Dan Kuzmin,Ezra Baruch. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2009-03-04.

Methods of testing a semiconductor structure

Номер патента: EP2901168A1. Автор: Cheang-Whang CHANG,Myongseob Kim,Henley Liu,Boon Y. Ang,Yuqing Gong,Suresh P. PARAMESWARAN. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2015-08-05.

Methods of testing a semiconductor structure

Номер патента: WO2014051708A1. Автор: Cheang-Whang CHANG,Myongseob Kim,Henley Liu,Boon Y. Ang,Yuqing Gong,Suresh P. PARAMESWARAN. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2014-04-03.

Method and testing apparatus for testing integrated circuits

Номер патента: US7408375B2. Автор: Reiner Diewald. Владелец: Atmel Germany GmbH. Дата публикации: 2008-08-05.

Method and testing apparatus for testing integrated circuits

Номер патента: US20070159206A1. Автор: Reiner Diewald. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-12.

Method and testing apparatus for testing integrated circuits

Номер патента: US7199601B2. Автор: Reiner Diewald. Владелец: Atmel Germany GmbH. Дата публикации: 2007-04-03.

Method and testing apparatus for testing integrated circuits

Номер патента: US20050218924A1. Автор: Reiner Diewald. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-06.

Method and apparatus for non-invasively testing integrated circuits

Номер патента: US7474112B2. Автор: Kendall Scott Wills. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-01-06.

Automatic test system and automatic test method for integrated-circuit devices

Номер патента: GB2620218A. Автор: HSIAO Chih-Hsiang,Lee Chao-Kun,Yu Cheng-En. Владелец: Kingston Digital Inc. Дата публикации: 2024-01-03.

Automatic test system and automatic test method for integrated-circuit devices

Номер патента: US20240003963A1. Автор: Chih-Hsiang Hsiao,Chao-Kun LEE,Cheng-En YU. Владелец: Kingston Digital Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Method of testing a stacked integrated circuit device

Номер патента: US12032021B2. Автор: Stephen Felix,Phillip HORSFIELD. Владелец: Graphcore Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Method of Testing a Stacked Integrated Circuit Device

Номер патента: US20230114044A1. Автор: Stephen Felix,Phillip HORSFIELD. Владелец: Graphcore Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Transmitter, integrated circuit, detection section and method for testing integrated circuit

Номер патента: US9991974B2. Автор: Yoshinori Takahashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Method of testing an integrated circuit and testing system

Номер патента: US11879933B2. Автор: Yun-Han Lee,Sandeep Kumar Goel,Ankita Patidar. Владелец: TSMC Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Method of testing an integrated circuit and testing system

Номер патента: US20240094281A1. Автор: Yun-Han Lee,Sandeep Kumar Goel,Ankita Patidar. Владелец: TSMC Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Scan stream sequencing for testing integrated circuits

Номер патента: US20040255212A1. Автор: Burnell West,Jamie Cullen. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2004-12-16.

Scan stream sequencing for testing integrated circuits

Номер патента: US7454678B2. Автор: Burnell G. West,Jamie S. Cullen. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2008-11-18.

Apparatus for testing integrated circuit devices and method thereof

Номер патента: US11231454B2. Автор: Eon Seok SUNG,Moo Jong SHIN. Владелец: Upe Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-25.

Method of testing a stacked integrated circuit device

Номер патента: GB202114437D0. Автор: . Владелец: Graphcore Ltd. Дата публикации: 2021-11-24.

On-board testing circuit and method for improving testing of integrated circuits

Номер патента: US20030126526A1. Автор: Robert Totorica,Charles Snodgrass. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-03.

Dual controllers for scan paths, distributors, and collectors

Номер патента: US8065577B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-11-22.

Parallel scan path distributor/collector controller having serial and control inputs

Номер патента: US9121903B2. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2015-09-01.

Reordering or Removal of Test Patterns for Detecting Faults in Integrated Circuit

Номер патента: US20140289579A1. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Sushovan Podder. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2014-09-25.

Testing integrated circuit using an A/D converter built in a semiconductor chip

Номер патента: US5436558A. Автор: Kazuyuki Uchida,Kouji Saitoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1995-07-25.

Methodology for testing integrated circuits

Номер патента: WO2015069490A9. Автор: SRIKANTH Srinivasan,Sagar Bhogela,Daisy Cynthia. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2015-07-02.

Methodology for testing integrated circuits

Номер патента: EP3066485A1. Автор: SRIKANTH Srinivasan,Sagar Bhogela,Daisy Cynthia. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-09-14.

Method of testing multiple modules on an integrated circuit

Номер патента: US20030221150A1. Автор: Prashant Balakrishnan. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-11-27.

Integrated circuit arrangement and design method

Номер патента: EP1952168A2. Автор: Hendrikus P. E. Vranken. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2008-08-06.

Integrated circuit arrangement and design method

Номер патента: WO2007054845A3. Автор: Hendrikus P E Vranken. Владелец: Hendrikus P E Vranken. Дата публикации: 2007-08-02.

Integrated circuit arrangement and design method

Номер патента: WO2007054845A2. Автор: Hendrikus P. E. Vranken. Владелец: NXP B.V.. Дата публикации: 2007-05-18.

Testing integrated circuits

Номер патента: EP1403651A3. Автор: Kang Wu,Susan Stirrat. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-07-28.

System for testing an integrated circuit

Номер патента: US20030028824A1. Автор: Robert Kaiser,Thilo Schaffroth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-02-06.

System for testing an integrated circuit using multiple test modes

Номер патента: US7165198B2. Автор: Robert Kaiser,Thilo Schaffroth. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2007-01-16.

Zero-pin test solution for integrated circuits

Номер патента: US11041904B2. Автор: Tapan Jyoti Chakraborty,Umesh Srikantiah,Rachana ROUT. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-06-22.

Semiconductor integrated circuit and a method of testing the same

Номер патента: US20070288817A1. Автор: Toshihiro Tanaka,Yutaka Shinagawa,Isao Nakamura,Masahiko Kimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-12-13.

Semiconductor integrated circuit, circuit testing system, circuit testing unit, and circuit test method

Номер патента: US20120049883A1. Автор: Hiroaki Inoue. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-03-01.

Method of testing a radio circuit involving the calculation of the bit error rate

Номер патента: GB2345346A. Автор: Wan-Ho Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2000-07-05.

Method and device for detecting a malicious circuit on an integrated circuit

Номер патента: US20190318083A1. Автор: Jan-Peter Schat. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2019-10-17.

Zero-pin test solution for integrated circuits

Номер патента: US20210096182A1. Автор: Tapan Jyoti Chakraborty,Umesh Srikantiah,Rachana ROUT. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-04-01.

Semiconductor integrated circuit and a method of testing the same

Номер патента: US7447959B2. Автор: Toshihiro Tanaka,Yutaka Shinagawa,Isao Nakamura,Masahiko Kimura. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2008-11-04.

Test device for testing integrated circuit

Номер патента: US20190120901A1. Автор: Po-Lin Chen,Chun-Yi Kuo,Ying-Yen CHEN. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Statistical system and method for testing integrated circuits

Номер патента: US6255841B1. Автор: Douglas B. Lebo,John M. Siket,Michael A. Washko. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2001-07-03.

Semiconductor integrated circuit and method of testing same

Номер патента: US20080265934A1. Автор: Hayato Ogawa. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-10-30.

Integrated circuit and method for testing the integrated circuit

Номер патента: US4975641A. Автор: Shigeki Tanaka,Koji Imura. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1990-12-04.

Integrated circuit and method of testing

Номер патента: US20200321953A1. Автор: Jinn-Yeh Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20090183043A1. Автор: Yasuyuki Niwa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-07-16.

Semiconductor integrated circuit and method of testing same

Номер патента: US7679456B2. Автор: Hayato Ogawa. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-03-16.

Wafer level methods of testing semiconductor devices using internally-generated test enable signals

Номер патента: US20240012045A1. Автор: Reum Oh,Ahn Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-11.

Wafer level methods of testing semiconductor devices using internally-generated test enable signals

Номер патента: US11867751B2. Автор: Reum Oh,Ahn Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Integrated circuit tester having pattern generator controlled data bus

Номер патента: EP1149293A4. Автор: John Mark Oonk. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2004-12-29.

Integrated circuit testing device with dual purpose analog and digital channels

Номер патента: WO2000058741A1. Автор: Bryan J. Dinteman. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2000-10-05.

Apparatus for testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20040177302A1. Автор: Teruhiko Funakura,Hisaya Mori,Hisayoshi Hanai. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2004-09-09.

Integrated circuit testing device with improved reliability

Номер патента: EP1370883A1. Автор: Stephane Briere. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2003-12-17.

Format sensitive timing calibration for an integrated circuit tester

Номер патента: EP1019735A2. Автор: Brian J. Arkin. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2000-07-19.

Integrated circuit tester with real time branching

Номер патента: EP1147470A1. Автор: Bryan J. Dinteman,Daniel J. Bedell. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2001-10-24.

Integrated circuit tester with real time branching

Номер патента: WO2000042509A1. Автор: Bryan J. Dinteman,Daniel J. Bedell. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2000-07-20.

Apparatus for testing integrated circuit

Номер патента: US20080079454A1. Автор: Po Chang Chen. Владелец: Princeton Technology Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Module for preventing instability in integrated circuit testers

Номер патента: US5006794A. Автор: Laszlo V. Gal,James E. Judy, Jr.,Kenneth C. Prentiss. Владелец: Unisys Corp. Дата публикации: 1991-04-09.

Integrated circuit and method for testing semiconductor devices using the same

Номер патента: US20150286547A1. Автор: In-Tae Kim,Woo-Sik JUNG,Weon-Seon LEE,O-Han KWON. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2015-10-08.

AC testing of leakage current in integrated circuits using RC time constant

Номер патента: US20040246017A1. Автор: Tawfik Arabi,Gregory Taylor,Dan Murray,Patrick Elwer,Srirama Pedarla. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Determining the effects of noise or crosstalk in an integrated circuit

Номер патента: GB2410802A. Автор: William Eric Corr. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-08-10.

AC testing of leakage current in integrated circuits using RC time constant

Номер патента: US6967496B2. Автор: Gregory F. Taylor,Dan Murray,Tawfik R. Arabi,Srirama Pedaria,Patrick Elwer. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-11-22.

Method of testing interconnections between integrated circuits in a circuit

Номер патента: GB9217728D0. Автор: . Владелец: Texas Instruments Ltd. Дата публикации: 1992-09-30.

Method of testing interconnections between integrated circuits in a circuit

Номер патента: EP0588507A3. Автор: Michael J. Williams. Владелец: Texas Instruments Ltd. Дата публикации: 1998-01-21.

Method of testing interconnections between integrated circuits in a circuit

Номер патента: EP0588507A2. Автор: Michael J. Williams. Владелец: Texas Instruments Ltd. Дата публикации: 1994-03-23.

A kind of test device of integrated circuit plate

Номер патента: CN108051732A. Автор: 张刚. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-05-18.

Method and apparatus for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester

Номер патента: EP1275010A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Ralph G. Whitten. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2003-01-15.

Testing of integrated circuit devices on loaded printed circuit

Номер патента: US5289117A. Автор: Mark A. Swart,Charles J. Johnston,David R. Van Loan. Владелец: Everett Charles Technologies Inc. Дата публикации: 1994-02-22.

Circuit, structure and method of testing a semiconductor, such as an integrated circuit

Номер патента: US6111269A. Автор: Nathan Y. Moyal. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2000-08-29.

Semiconductor integrated circuit and test method of built-in analog circuit

Номер патента: US20020026609A1. Автор: Shuji Murakami,Brian Worobey. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-02-28.

Integrated circuit for and method of testing die -to -die bonding

Номер патента: EP2585842A1. Автор: Arifur Rahman. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2013-05-01.

Integrated circuit for and method of testing die -to -die bonding

Номер патента: WO2012003008A1. Автор: Arifur Rahman. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Improvements in and relating to methods of testing integrated circuits

Номер патента: GB2221044B. Автор: Jonathan Bradford. Владелец: Plessey Co Ltd. Дата публикации: 1992-09-30.

Improvements in & relating to method of testing integrated circuits

Номер патента: GB8817338D0. Автор: . Владелец: Plessey Co Ltd. Дата публикации: 1988-08-24.

Method of testing integrated circuitry at system and module level

Номер патента: US20030110456A1. Автор: Nicholas Pavey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

Parallel scan test software

Номер патента: US6742152B2. Автор: Steven W. Terry. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2004-05-25.

Method for testing integrated circuits having a grid-based, "cross-check" te

Номер патента: US5065090A. Автор: Tushar R. Gheewala. Владелец: Cross-Check Technology Inc. Дата публикации: 1991-11-12.

Functional frequency testing of integrated circuits

Номер патента: US20060041802A1. Автор: Steven Oakland,Philip Stevens,Anthony Polson,Gary Grise. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-02-23.

Simultaneous core testing in multi-core integrated circuits

Номер патента: EP1872146A1. Автор: Ting-Yu Kuo,Dwight K. Elvey. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2008-01-02.

Simultaneous core testing in multi-core integrated circuits

Номер патента: WO2006102325A1. Автор: Ting-Yu Kuo,Dwight K. Elvey. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2006-09-28.

Method of testing memory array at operational speed using scan

Номер патента: US20090150729A1. Автор: Ishwardutt Parulkar,Paul J. Dickinson,Gaurav H. Agarwal,Krishna B. Rajan. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2009-06-11.

Semiconductor integrated circuit device with diagnosis function

Номер патента: US5809039A. Автор: Toshiro Takahashi,Masahiko Nagai,Kaoru Moriwaki,Fumihiko Shirotori. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-09-15.

Method of testing an integrated circuit block

Номер патента: GB1416786A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1975-12-10.

Test chip used for testing integrated circuit

Номер патента: MY153326A. Автор: WASHIO Kenichi. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2015-01-29.

Test arrangement and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US12085607B2. Автор: Alessio CIARCIA. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-09-10.

Algorithmic pattern generator for integrated circuit tester

Номер патента: WO2000045187A1. Автор: Philip Theodore Kuglin,Algirdas Joseph Gruodis,Badih John Rask. Владелец: Credence Systems Corporation. Дата публикации: 2000-08-03.

Algorithmic pattern generator for integrated circuit tester

Номер патента: EP1149294A1. Автор: Philip Theodore Kuglin,Algirdas Joseph Gruodis,Badih John Rask. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2001-10-31.

Algorithmic pattern generator for integrated circuit tester

Номер патента: EP1149294A4. Автор: Philip Theodore Kuglin,Algirdas Joseph Gruodis,John Badih Rask. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2004-12-29.

Generation of test vectors for testing electronic circuits taking into account of defect probability

Номер патента: US20060123288A1. Автор: Fong Luk. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-08.

Method of processing test patterns for an integrated circuit

Номер патента: EP1382976A1. Автор: Eric Liau. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-01-21.

Test arrangement and method for testing an integrated circuit

Номер патента: US20240085471A1. Автор: Alessio CIARCIA. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-03-14.

Built-in self-test system and method for self test of an integrated circuit

Номер патента: US5515383A. Автор: Mehdi Katoozi. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1996-05-07.

Multi-phase test point insertion for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: US5737340A. Автор: Janusz Rajski,Nagesh Tamarapalli. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

Apparatus and method for testing integrated circuits

Номер патента: US5583786A. Автор: Wayne Needham. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 1996-12-10.

Test system for vlsi digital circuit and method of testing

Номер патента: CA1222329A. Автор: Francois J. Henley. Владелец: DATAPROBE Corp. Дата публикации: 1987-05-26.

Semiconductor integrated circuit and method of testing the same

Номер патента: US20100007368A1. Автор: Hiroyuki Kobatake. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-01-14.

Conformance test apparatus, sensor system, and processes

Номер патента: US20230358639A1. Автор: Douglas Johnson,Soenke Petersen,Michael Ingram,Greg Ziegler. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-11-09.

Transmission Line Coupler for Testing of Integrated Circuits

Номер патента: US20170199226A1. Автор: Seunghwan Yoon,Jesus Castaneda,Michael BOERS,Timothy Scranton. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2017-07-13.

System for testing integrated circuits

Номер патента: US20050283331A1. Автор: Yih-Min Lin. Владелец: PROGenic Tech Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-22.

Method of testing an integrated circuit and an integrated circuit test apparatus

Номер патента: US20050099202A1. Автор: Theodore Houston,Bryan Sheffield. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-05-12.

Structure of test area for a semiconductor tester

Номер патента: US20080174331A1. Автор: Lin Yuan-Chi,Chih-Hung Hsieh,Shih-Fang Lin,Hao-Hsin Pan. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-24.

Testing multiple levels in integrated circuit technology development

Номер патента: US6875560B1. Автор: Paul J. Steffan,Shivananda S. Shetty,Jeffrey P. Erhardt. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2005-04-05.

Integrated circuit test system and method

Номер патента: US20040080311A1. Автор: Yoon-Min Kim,Ki-Yeul Kim,Jae-Hoon Cha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-04-29.

Method of testing semiconductor integrated circuits and testing board for use therein

Номер патента: US20010011906A1. Автор: Yoshiro Nakata,Shinchi Oki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-08-09.

Gallium nitride-based devices and methods of testing thereof

Номер патента: US11852675B2. Автор: Chan-Hong Chern,Cheng-Hsiang Hsieh,Yi-An Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Method of testing semiconductor integrated circuits and testing board for use therein

Номер патента: US20020190743A1. Автор: Shinichi Oki,Yoshiro Nakata. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2002-12-19.

Gallium nitride-based devices and methods of testing thereof

Номер патента: US20240085472A1. Автор: Chan-Hong Chern,Cheng-Hsiang Hsieh,Yi-An Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Method and apparatus for thermally assisted testing of integrated circuits

Номер патента: US20050054125A1. Автор: Joseph Ku. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2005-03-10.

Constant stress pin tip for testing integrated circuit chips

Номер патента: US09958499B1. Автор: David A. Johnson,John E. Nelson,Jose E. Lopez. Владелец: Johnstech International Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Chip on chip type integrated circuit device

Номер патента: US4703483A. Автор: Takeshi Sasaki,Hideo Monma,Yoshinori Enomoto,Shunzo Ohta. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1987-10-27.

Vision alignment system outside of test site

Номер патента: US20190101588A1. Автор: Kexiang Ken Ding,Michael Anthony Laver,Samer Kabbani,Kenneth B. Uekert. Владелец: Delta Design Inc. Дата публикации: 2019-04-04.

Vision alignment system outside of test site

Номер патента: WO2019070519A1. Автор: Kexiang Ken Ding,Michael Anthony Laver,Samer Kabbani,Kenneth B. Uekert. Владелец: Delta Design, Inc.. Дата публикации: 2019-04-11.

Semiconductor device tester capable of simultaneously testing a plurality of integrated circuits at the same temperature

Номер патента: US5473259A. Автор: Kunihiro Takeda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1995-12-05.

Method and apparatus for testing integrated circuits over a range of temperatures

Номер патента: US20070132471A1. Автор: Gregory Carlson. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Base board for testing integrated circuits

Номер патента: US4812755A. Автор: Nakaie Toshiyuki,Oonishi Tethuo. Владелец: Hanwa Electronic Ind Co Ltd. Дата публикации: 1989-03-14.

Method of testing structures and stacking wafers

Номер патента: US20230317529A1. Автор: Yan Wang,Nui Chong,Hui-Wen LIN,I-Ru CHEN. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Integrated circuit with a localised temperature stress application system

Номер патента: GB2362718A. Автор: Vincent Gavin,Tadhg Creedon,Una Quinlan. Владелец: 3Com Corp. Дата публикации: 2001-11-28.

Test method of test system and test system

Номер патента: US20240345155A1. Автор: Kenichi Narikawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Systems and methods for device testing to avoid resource conflicts for a large number of test scenarios

Номер патента: US12124359B2. Автор: Jochen Rivoir. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Method of testing, wafer, and testing station

Номер патента: GB2599102A. Автор: PETERS Frank,YANG Hua,Dernaika Mohamad,Caro Ludovic,Perrott Alison. Владелец: Rockley Photonics Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Method of testing, wafer, and testing station

Номер патента: US20240012043A1. Автор: Hua Yang,Frank Peters,Ludovic Caro,Mohamad Dernaika,Alison Perrott. Владелец: Rockley Photonics Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Method of testing, wafer, and testing station

Номер патента: WO2022063893A1. Автор: Hua Yang,Frank Peters,Ludovic Caro,Mohamad Dernaika,Alison Perrott. Владелец: Rockley Photonics Limited. Дата публикации: 2022-03-31.

Power management integrated circuit

Номер патента: US20190383884A1. Автор: Young Jin Woo. Владелец: Silicon Works Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-19.

Universal burn-in socket for testing integrated circuit chip

Номер патента: WO2002004968A3. Автор: Rafiqul Hussain,Phuc Dinh Do,Benjamin G Tubera. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-11-06.

Integrated circuit, test method for testing integrated circuit, and electronic device

Номер патента: US20210083672A1. Автор: Shinichi Yasuda,Masato Oda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Integrated circuit test socket

Номер патента: WO2007008754A2. Автор: Somboon Mingviriya. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2007-01-18.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotatioin link

Номер патента: PH12016502510B1. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2017-04-10.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: EP3158610A1. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2017-04-26.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: MY144280A. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: MIMOS BERHAD. Дата публикации: 2011-08-29.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: WO2009066979A3. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: Mohd Ismahadi Syono. Дата публикации: 2009-07-23.

Method of testing rf integrated circuit

Номер патента: US20190319717A1. Автор: Sun-Woo Lee,Dooseok CHOI,Thomas Byunghak Cho,Seung-Chan Heo,Dae-Young Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-10-17.

A method and structure for performing integrated circuit wafer testing and assembly

Номер патента: CA2268572A1. Автор: Ralph Dickson Mason. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-10-12.

CAD driven microprobe integrated circuit tester

Номер патента: US5030907A. Автор: Christopher Yih,Tsen-Shau Yang,Kuang-Hua Huang,Ger-Chih Chou. Владелец: Knights Technology Inc. Дата публикации: 1991-07-09.

High speed pin driver integrated circuit architecture for commercial automatic test equipment applications

Номер патента: WO2000039928A1. Автор: Lloyd F. Linder. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2000-07-06.

High speed pin driver integrated circuit architecture for commercial automatic test equipment applications

Номер патента: EP1057263A1. Автор: Lloyd F. Linder. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2000-12-06.

Apparatus, system, and method for an integrated circuit

Номер патента: WO2018165303A1. Автор: Michael G. Kane,Richard Sita. Владелец: SRI INTERNATIONAL. Дата публикации: 2018-09-13.

Integrated circuit test clamp

Номер патента: US3899239A. Автор: Frank L Allard. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1975-08-12.

Integrated circuit test socket

Номер патента: EP1907868A2. Автор: Somboon Mingviriya. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2008-04-09.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: MY183259A. Автор: Victor Landa. Владелец: Xcerra Corp. Дата публикации: 2021-02-18.

Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link

Номер патента: WO2015195201A1. Автор: Victor Landa. Владелец: XCERRA CORPORATION. Дата публикации: 2015-12-23.

Ball film for integrated circuit fabrication and testing

Номер патента: US20090075404A1. Автор: Akira Matsunami. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Contact for use in testing integrated circuits

Номер патента: CA2588313C. Автор: Jeffrey C. Sherry. Владелец: Johnstech International Corp. Дата публикации: 2016-03-29.

Facility testing containers and process of testing

Номер патента: RU2224242C2. Автор: Джон В. ДЖУВИНАЛЛ. Владелец: Оуэнс-Броквэй Гласс Контейнер Инк.. Дата публикации: 2004-02-20.

Accident sensor and processing method of at least one measuring signal

Номер патента: RU2441779C2. Автор: Михаэль ШРЮЛЛЬКАМП. Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2012-02-10.

Sensing structure of alignment of a probe for testing integrated circuits

Номер патента: US20180113168A1. Автор: Alberto Pagani. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2018-04-26.

System for inspecting exposure pattern data of semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US4774461A. Автор: Kenichi Kobayashi,Shogo Matsui,Kunihiko Shiozawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1988-09-27.

Manufacture of test strips

Номер патента: AU719244B2. Автор: Michael Evans Prior,David Alan Percival,Ian Jobling. Владелец: UNILEVER PLC. Дата публикации: 2000-05-04.

Simultaneous gated integrated detection device and process

Номер патента: WO2021119031A1. Автор: JOHN HARGROVE,James McChesney Hargrove. Владелец: JOHN HARGROVE. Дата публикации: 2021-06-17.

Device and process of level measurement by radiolocation

Номер патента: RU2327958C2. Автор: Курт Олов ЭДВАРДССОН. Владелец: Роузмаунт Тэнк Радар Аб. Дата публикации: 2008-06-27.

Apparatus and process for isolating specific physical items within a set of physical items

Номер патента: WO2012122135A3. Автор: Zachary Schulz APTE. Владелец: EVOLVEMOL, Inc.. Дата публикации: 2012-12-27.

Lidar data compression and processing

Номер патента: EP4422961A2. Автор: Kevin Wong,Ankur Jai SOOD. Владелец: Atieva Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

Sensing structure of alignment of a probe for testing integrated circuits

Номер патента: US20150301106A1. Автор: Alberto Pagani. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2015-10-22.

Technique and process for the imaging and formation of various devices and surfaces

Номер патента: WO2001031656A9. Автор: Spyridon Zafiratos. Владелец: Spyridon Zafiratos. Дата публикации: 2002-07-04.

Processing of biological growth media based on measured manufacturing characteristics

Номер патента: EP2265733A2. Автор: Phillip A. Bolea,Michael E. Hughes. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2010-12-29.

Mobile bench to test tires and method of testing

Номер патента: RU2372600C2. Автор: Оливье РЕЖИ,Никола ЛАСТЭР,Жерар СВЕЛЭНЖ. Владелец: Эрбюс Франс. Дата публикации: 2009-11-10.

Method for testing integrity of elastomeric protective barriers

Номер патента: US5493899A. Автор: William C. Beck,Donald H. Beezhold. Владелец: Donald Guthrie Foundation for Education and Res. Дата публикации: 1996-02-27.

Cyclic compounds and process for the preparation thereof

Номер патента: US11002524B2. Автор: Dumbala Srinivasa REDDY,Rahul DILIP SHINGARE. Владелец: Council of Scientific and Industrial Research CSIR. Дата публикации: 2021-05-11.

A cyclic compounds and process for the preparation thereof

Номер патента: WO2017168447A4. Автор: Dumbala Srinivasa REDDY,Rahul DILIP SHINGARE. Владелец: COUNCIL OF SCIENTIFIC & INDUSTRIAL RESEARCH. Дата публикации: 2017-11-23.

Sensor for analysis of oxidizing gas and process of its manufacture

Номер патента: RU2196322C1. Автор: А.В. Попов. Владелец: Попов Андрей Вениаминович. Дата публикации: 2003-01-10.

Low Cost Testing and Sorting of Integrated Circuits

Номер патента: US20120026817A1. Автор: Roger G. Stewart. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-02-02.

System and method for marketing integrated circuits

Номер патента: US20060010088A1. Автор: Pieter Vorenkamp,Neil Kim. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2006-01-12.

Combination storage and processing device

Номер патента: US20180121119A1. Автор: Aaron Brady. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-03.

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20150131392A1. Автор: AIZAWA KATSUAKI. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-14.

MANAGEMENT PROCESS OF MULTIPLE OPERATING SYSTEMS IN INTEGRATED CIRCUIT CARDS, CORRESPONDING SYSTEM AND IT PRODUCT

Номер патента: IT201800004293A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2019-10-06.

Method for manufacturing identification codes of integrated circuits

Номер патента: US20040002830A1. Автор: Chien-Tsai Tseng. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2004-01-01.

Machine learning-based integrated circuit test case selection for timing analysis

Номер патента: US11928411B2. Автор: Santanu PATTANAYAK,Lindsey Makana KOSTAS,Tushit Jain. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Machine learning-based integrated circuit test case selection for timing analysis

Номер патента: US20230102185A1. Автор: Santanu PATTANAYAK,Lindsey Makana KOSTAS,Tushit Jain. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Method of testing integrated circuits

Номер патента: US6445205B1. Автор: Mats Frannhagen,Per Fremrot. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2002-09-03.

Executing non-blocking parallel scans

Номер патента: WO2008121591A1. Автор: Gang He,Craig Steven FREEDMAN,Gargi Sur. Владелец: MICROSOFT CORPORATION. Дата публикации: 2008-10-09.

Test functionality integrity verification for integrated circuit design

Номер патента: WO2013044122A1. Автор: Steven M. Millendorf. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2013-03-28.

A system and process for manufacturing custom electronics by combining traditional electronics with printable electronics

Номер патента: WO2006076608A3. Автор: Chuck Edawrds. Владелец: Chuck Edawrds. Дата публикации: 2006-11-09.

Device with integrated SRAM memory and method of testing such a device

Номер патента: US20010053102A1. Автор: Roelof Salters. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-12-20.

Systems and methods for dynamic monitoring of test taking

Номер патента: US12125409B2. Автор: David Foster,Steve Addicott. Владелец: Caveon LLC. Дата публикации: 2024-10-22.

Method and apparatus for testing an integrated circuit device

Номер патента: US6052806A. Автор: Robert Beat. Владелец: STMicroelectronics Ltd Great Britain. Дата публикации: 2000-04-18.

Processing of test samples in a laboratory setting

Номер патента: EP4310856A1. Автор: Luis SUAREZ NOVAU. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2024-01-24.

Processing of test samples in a laboratory setting

Номер патента: US20240029840A1. Автор: Luis SUAREZ NOVAU. Владелец: Roche Diagnostics Operations Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Data label carrier information application and processing system and method

Номер патента: RU2670596C2. Автор: Лидун ЦЮЙ. Владелец: Лидун ЦЮЙ. Дата публикации: 2018-10-25.

Data label carrier information application and processing system and method

Номер патента: RU2670596C9. Автор: Лидун ЦЮЙ. Владелец: Лидун ЦЮЙ. Дата публикации: 2018-11-26.

Integrated circuit with memory self-test

Номер патента: CA1299289C. Автор: Duane Rodney Aadsen,Sunil Kumar Jain,Charles Eugene Stroud. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1992-04-21.

System and method for testing integrated circuits

Номер патента: US20120054565A1. Автор: Chu Pang Huang,Yin-Chin Huang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Test integration tool

Номер патента: US8484624B1. Автор: Nalledath P. Vinodkrishnan,Lavanya Srinivasan. Владелец: Sprint Communications Co LP. Дата публикации: 2013-07-09.

Video acquisition and processing systems

Номер патента: WO2010080646A3. Автор: Albert Rooyakkers,Jorge Rubinstein,Dimitri Choutov,Farooq Habib. Владелец: MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC.. Дата публикации: 2010-12-16.

Processing of photographs in a photographic laboratory by operators

Номер патента: US20010048819A1. Автор: Vanni Beggiao. Владелец: Systel International SpA. Дата публикации: 2001-12-06.

Method and System for Defect Prediction of Integrated Circuits

Номер патента: US20180218096A1. Автор: Jie Lin,Zhaoli Zhang,Zongchang Yu. Владелец: Dongfang Jingyuan Electron Ltd. Дата публикации: 2018-08-02.

Batch processing of multi-channel data

Номер патента: US20240338253A1. Автор: Mihir Mody,Deepak Poddar,Pramod Swami. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Method for processing of digital image (versions)

Номер патента: RU2368005C2. Автор: Йохан СТЕН,Сами НИЕМИ,Карл-Андерс ЙОХАНССОН. Владелец: Скаладо Аб. Дата публикации: 2009-09-20.

Workpiece processing system and processing method

Номер патента: US20160266575A1. Автор: Seiichi Asahara. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-09-15.

Process synchronization control system and process synchronization control method

Номер патента: US10165314B2. Автор: Yasuo Esaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-12-25.

Method and apparatus for real-time control of laser processing of materials

Номер патента: WO1995011106A1. Автор: Walter W. Duley,Grant Kinsman. Владелец: Powerlasers Ltd.. Дата публикации: 1995-04-27.

Method and system for improved processing of CPU intensive communications protocols

Номер патента: US20030056046A1. Автор: Dhananjay Nagalkar. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Data processing system and semicondutor integrated circuit

Номер патента: US20100088445A1. Автор: Akihiro Yamamoto,Hiroyuki Hamasaki,Yasuhiko Hoshi. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2010-04-08.

Process synchronization control system and process synchronization control method

Номер патента: US20180007408A1. Автор: Yasuo Esaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-01-04.

Method of restoring encapsulated integrated circuit devices

Номер патента: EP1613970A4. Автор: Timothy Calvin Visser,Gary Michael Uhl. Владелец: Smiths Aerospace LLC. Дата публикации: 2006-12-13.

Ordered Processing of Groups of Messages

Номер патента: US20140052798A1. Автор: William K. Johnson, Iii,Martin Anthony Serrano. Владелец: Attivio Inc. Дата публикации: 2014-02-20.

Ordered processing of groups of messages

Номер патента: EP2628098A2. Автор: Martin Anthony Serrano,William K Johnson. Владелец: Attivio Inc. Дата публикации: 2013-08-21.

Automatic processing of photographs in a photographic laboratory

Номер патента: US20010027405A1. Автор: Vanni Beggiao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-04.

Method of restoring encapsulated integrated circuit devices

Номер патента: WO2004097893A3. Автор: Timothy Calvin Visser,Gary Michael Uhl. Владелец: Gary Michael Uhl. Дата публикации: 2005-04-28.

Method of restoring encapsulated integrated circuit devices

Номер патента: WO2004097893A2. Автор: Timothy Calvin Visser,Gary Michael Uhl. Владелец: Smiths Aerospace, Inc.. Дата публикации: 2004-11-11.

Method of restoring encapsulated integrated circuit devices

Номер патента: EP1613970A2. Автор: Timothy Calvin Visser,Gary Michael Uhl. Владелец: Smiths Aerospace LLC. Дата публикации: 2006-01-11.

Information and processing display device with one or more divided regions

Номер патента: US12099717B2. Автор: Naoya Baba. Владелец: Faurecia Clarion Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method, apparatus and system for voltage screening of integrated circuits

Номер патента: US5999466A. Автор: Dean Gans,Ken W. Marr. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1999-12-07.

Method of testing memory module and memory module

Номер патента: US20060064611A1. Автор: Byung-se So,Seung-jin Seo,Hui-chong Shin,Seung-Man Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-23.

Plant maintenance management information processing method and processing system

Номер патента: US20240142963A1. Автор: Masayuki Tanabe,Kosuke TAKAISHI,Kazuyuki NAMBA. Владелец: JGC Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Efficient processing of time-bounded messages

Номер патента: EP1911189A2. Автор: William J. Bolosky,Atul Adya,Marcus Jon Jager,Ronnie I. Chaiken. Владелец: Microsoft Corp. Дата публикации: 2008-04-16.

Efficient processing of time-bounded messages

Номер патента: EP1911189B1. Автор: William J. Bolosky,Atul Adya,Marcus Jon Jager,Ronnie I. Chaiken. Владелец: Microsoft Corp. Дата публикации: 2012-04-18.

Method and system for characterizing integrated circuit design in target semiconductor manufacturing process

Номер патента: WO2014053191A1. Автор: Petr Dobrovolny,Phillip Christie. Владелец: IMEC. Дата публикации: 2014-04-10.

Systems, processes and integrated circuits for improved packet scheduling of media over packet

Номер патента: US20100118819A1. Автор: Andrew M. Welin. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-05-13.

Solvent removal of photoresist mask and gold impregnated residue and process

Номер патента: US20070093061A1. Автор: John Moore. Владелец: General Chemical Performance Products LLC. Дата публикации: 2007-04-26.

Processing photographic materials and processing system therefor

Номер патента: WO2000039637A1. Автор: Peter Jeffery Twist. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 2000-07-06.

Processing photographic materials and processing system therefor

Номер патента: US6284444B1. Автор: Peter J. Twist. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2001-09-04.

Method of producing phase masks in an automated layout generation for integrated circuits

Номер патента: US6485871B1. Автор: Thomas KRÜGER,Werner Schiele. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2002-11-26.

Processing photographic materials and processing system therefor

Номер патента: EP1058863A1. Автор: Peter Jeffery c/oKodak Limited Twist. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2000-12-13.

Design method of semiconductor integrated circuit and computer readable medium

Номер патента: US20120047480A1. Автор: Hiroaki Yamaoka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-02-23.

Process of manufacture of induction coil of transponder and transponder manufacture by this process

Номер патента: RU2214015C2. Автор: Франсуа ДРОЗ. Владелец: НАГРА АйДи С.А.. Дата публикации: 2003-10-10.

Plastic lens and process of making plastic lens

Номер патента: RU2271026C1. Автор: Синсуке ИТОХ,Масахиса КОСАКА. Владелец: Хойа Корпорейшн. Дата публикации: 2006-02-27.

Semiconductor integrated circuit and method of testing same

Номер патента: US7643365B2. Автор: Yoshikazu Kurose,Tetsumasa Meguro. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-01-05.

Generation of supplemental test programs for integrated circuit design testing

Номер патента: WO2023211471A1. Автор: Ning Yan,Masood Mortazavi. Владелец: Futurewei Technologies, Inc.. Дата публикации: 2023-11-02.

Method for performing speech recognition and processing system

Номер патента: US20100256978A1. Автор: Walter Rosenbaum. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2010-10-07.

Video processor, video processing method, integrated circuit for video processing, video playback device

Номер патента: US20110081132A1. Автор: Yoshiaki Iwata,Norihiro Matsui. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-04-07.

Multi-sensor video camera, and a method and processing pipeline for the same

Номер патента: US20180367789A1. Автор: Song Yuan,Toivo Henningsson. Владелец: AXIS AB. Дата публикации: 2018-12-20.

Integrated circuit device, resonator device, electronic device, and vehicle

Номер патента: US11005478B2. Автор: Hideo Haneda,Yasuhiro Sudo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-05-11.

Integrated circuit device, resonator device, electronic device, and vehicle

Номер патента: US20190238139A1. Автор: Hideo Haneda,Yasuhiro Sudo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Methods and systems for detecting and processing speech signals

Номер патента: US12051423B2. Автор: Turaj Zakizadeh SHABESTARY,Jay Pierre CIVELLI,David Tapuska,Mikhal Shemer. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-07-30.

Electronic processing of invoices with no purchase orders

Номер патента: US10984462B1. Автор: Timothy S. McEneny, Sr.,Erick W. Schutz,Joseph E. Fallon,Rita J. Carol. Владелец: VERSATA Inc. Дата публикации: 2021-04-20.

Semiconductor integrated circuit and method of testing semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20130163356A1. Автор: Hiroyuki Fujimoto,Masahiro Yanagida,Hitoshi Yamanaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-06-27.

Integrated circuit containing sram memory and method of testing same

Номер патента: WO2001086660A8. Автор: Roelof H W Salters. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2002-03-07.

System and process of automated ocular inflammatory region assessment

Номер патента: WO2024072330A1. Автор: Linda HANSAPINYO,Karn PATANUKHOM. Владелец: Chiang Mai University. Дата публикации: 2024-04-04.

Method and apparatus for building an integrated circuit

Номер патента: WO2001025975A3. Автор: Zhaoyun Xing,Russell Kao. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2002-08-08.

Method and system for improving the manufacturabilty of integrated circuits

Номер патента: EP1820130A1. Автор: Lionel Riviere Cazeaux. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2007-08-22.

Dynamic Triggering and Processing of Purchase Based on Computer Detection of Media Object

Номер патента: US20230334865A1. Автор: Rakesh RAVURU. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Data transfer between analog and digital integrated circuits

Номер патента: US12047088B2. Автор: Yongxuan Hu,Jose V Santos Martinez,Nileshbhai J Shah. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Method and apparatus for building an integrated circuit

Номер патента: WO2001025975A2. Автор: Zhaoyun Xing,Russell Kao. Владелец: SUN MICROSYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2001-04-12.

Method and system for improving the manufacurability of integrated circuits

Номер патента: WO2006058560A1. Автор: Lionel Riviere Cazeaux. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2006-06-08.

System and method for the acquisition and processing of data relating to a sports performance

Номер патента: WO2017013570A1. Автор: Tommaso GUSEO. Владелец: Wearit S.R.L.. Дата публикации: 2017-01-26.

Information processing system and processing method

Номер патента: US12061590B2. Автор: Kazuhiro Gono. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Method and device for phase-sensitive processing of sound signals

Номер патента: US8340321B2. Автор: Dietmar Ruwisch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-25.

Method and device for phase-sensitive processing of sound signals

Номер патента: US8477964B2. Автор: Dietmar Ruwisch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-07-02.

Method and processes for secure real time purchase validation award system

Номер патента: US20150302455A1. Автор: David Andrew McIntyre,Grant Lee Stewart,Donovan Keith Loucks. Владелец: YOUNG AMERICA LLC. Дата публикации: 2015-10-22.

Printing system and process management device

Номер патента: US12122147B2. Автор: Tsukasa Takeda,Shunsuke Akuta,Tomohiko Takizawa. Владелец: MIMAKI ENGINEERING CO LTD. Дата публикации: 2024-10-22.

Device and method of testing sensors

Номер патента: RU2405206C2. Автор: Норберт ХОЛЛЬ,Бернд ДЕРЕР. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2010-11-27.

Method and apparatus for dual thresholding in processing of barcode signals

Номер патента: EP1150241A3. Автор: Hong Tang. Владелец: NCR International Inc. Дата публикации: 2002-04-10.

Design and test method of test plan

Номер патента: US20200250057A1. Автор: Adisak Paepoot,Chin Huat Lim,Ming-Li Shiu,Narut Udomchoke. Владелец: Delta Electronics Thailand PCL. Дата публикации: 2020-08-06.

Apparatus, system, and method of testing an acoustic device

Номер патента: EP4272461A1. Автор: Tzvi FRIDMAN,Mordehay Elbaz,Iddo Sheinfeld,Victor Melichov. Владелец: Silentium Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Automated configuration code based selection of test cases for payment terminals

Номер патента: WO2016074943A1. Автор: Paul Evans,Paul Vanneste. Владелец: Mastercard Ireland. Дата публикации: 2016-05-19.

Controlling timing of execution of test instruction by target computing device

Номер патента: US20050283670A1. Автор: Juan Gomez,Subram Natarajan,Manoj Negi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

A neural network model for cochlear mechanics and processing

Номер патента: US20220248148A1. Автор: Sarah Verhulst,Deepak Baby,Fotios Drakopoulos,Arthur Van Den Broucke. Владелец: Universiteit Gent. Дата публикации: 2022-08-04.

Variable embedding method and processing system

Номер патента: US11715021B2. Автор: Masayoshi Terabe,Shuntaro OKADA,Masayuki Ohzeki. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-08-01.

Machine learning processing of contiguous slice image data

Номер патента: US12067698B2. Автор: Aaron Carass,Can Zhao,Jerry Prince. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-20.

Method and apparatus for signaling independent processing of media segments on cloud using metadata and startcode

Номер патента: EP4179705A1. Автор: Iraj Sodagar. Владелец: Tencent America LLC. Дата публикации: 2023-05-17.

Remote control signal learning and processing by a host device and accessory

Номер патента: WO2010129130A1. Автор: Scott Krueger. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2010-11-11.

Machine learning processing of contiguous slice image data

Номер патента: US11741580B2. Автор: Aaron Carass,Can Zhao,Jerry Prince. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-08-29.

Variable embedding method and processing system

Номер патента: CA3046768C. Автор: Masayoshi Terabe,Shuntaro OKADA,Masayuki Ohzeki. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2021-09-07.

Method and system for facilitating predictive maintainance of testing machine

Номер патента: US20230280737A1. Автор: Sudarsun SANTHIAPPAN,Praveen Kumar SURESH,Sriram RAJKUMAR. Владелец: Claritrics Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Moly mask construction and process

Номер патента: US20050001011A1. Автор: Michael Jerome,Peter Berasi,Doris Pulaski,Robert Rippstein. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-01-06.

Photographic paddle and process of use thereof

Номер патента: US20240267639A1. Автор: Davo Scheich. Владелец: Carvana LLC. Дата публикации: 2024-08-08.

Quantum devices and processes of use

Номер патента: US20230116924A1. Автор: Avetik Harutyunyan. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Quantum devices and processes of use

Номер патента: US12056574B2. Автор: Avetik Harutyunyan. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Through-dielectric-vias (TDVs) for 3D integrated circuits in silicon

Номер патента: US12087629B2. Автор: Cyprian Emeka Uzoh. Владелец: Adeia Semiconductor Technologies LLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Process of fabricating Bi-CMOS integrated circuit device

Номер патента: US5494844A. Автор: Hisamitsu Suzuki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1996-02-27.

Composite semiconductor integrated circuit and method of manufacture

Номер патента: US4095330A. Автор: Chung K. Kim. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 1978-06-20.

IMPROVEMENT IN REFRACTORY MATERIALS CONTAINING WATER AND PROCESSING PROCESS OF THEM

Номер патента: IT1149396B. Автор: William Gordon Long,Helen Hergenroder Moeller. Владелец: Babcock & Wilcox Co. Дата публикации: 1986-12-03.

Meatless sausage containing dietary fibers and processing process of meatless sausage

Номер патента: CN105685254A. Автор: 蔡祖明,李席芹. Владелец: ZUMING BEAN PRODUCTS CO Ltd. Дата публикации: 2016-06-22.

Transformer and processing process of transformer

Номер патента: JP7263549B2. Автор: 君 徐,加才 荘,威 劉,金国 蘇. Владелец: 陽光電源股▲ふん▼有限公司. Дата публикации: 2023-04-24.

Process of final passivation of an integrated circuit device

Номер патента: US6888225B2. Автор: Luca Zanotti,Giorgio De Santi. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2005-05-03.

Method of testing integrity of valve seat

Номер патента: RU2592146C2. Автор: Брюс Ф. ГРУМСТРУП. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2016-07-20.

Integrated Circuit with Interpolation to Avoid Harmonic Interference

Номер патента: US20110022875A1. Автор: Ahmadreza (Reza) Rofougaran,Arya Reza Behzad,Mark Gonikberg. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Integrated circuit with interpolation to avoid harmonic interference

Номер патента: US8266468B2. Автор: Ahmadreza (Reza) Rofougaran,Arya Reza Behzad,Mark Gonikberg. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Direct Attach Optical Receiver Module and Method of Testing

Номер патента: US20100276575A1. Автор: Stephen J. Kovacic,Iman Sherazi. Владелец: Gennum Corp. Дата публикации: 2010-11-04.

Apparatus and method for testing integrity of an ultrafilter membrane

Номер патента: EP4353276A3. Автор: Mauro Suffritti,Michela Carpani. Владелец: GAMBRO LUNDIA AB. Дата публикации: 2024-07-10.

Method and apparatus for characterizing an integrated circuit manufacturing process

Номер патента: US20100005436A1. Автор: Wayne Clark,Mark Laird,Yiping Szu. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2010-01-07.

Semiconductor package and method of testing same

Номер патента: US20120032167A1. Автор: Boon Yew Low,Vemal Raja Manikam,Teck Beng Lau. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2012-02-09.

Image cancelling mixer circuit on an integrated circuit chip

Номер патента: CA2065283C. Автор: Carl R. Battjes,Don H. Atherly. Владелец: Seiko Corp. Дата публикации: 2001-07-10.

Execution of testing processes on apparatuses

Номер патента: US20200296196A1. Автор: Eliel COHEN. Владелец: ENTIT SOFTWARE LLC. Дата публикации: 2020-09-17.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20050040869A1. Автор: Satoshi Ueno,Shinichiro Wada,Shinya Kajiyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-02-24.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20030222686A1. Автор: Satoshi Ueno,Shinichiro Wada,Shinya Kajiyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-12-04.

Optimized processing of electrodes for sofc and soec

Номер патента: EP4243128A1. Автор: Tad Armstrong,Justin Railsback. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

Method and device for processing of wastes

Номер патента: RU2179070C2. Автор: Лейф ГРУНДИЦ. Владелец: реКалчер АБ. Дата публикации: 2002-02-10.

Device for processing of used paper

Номер патента: RU2401899C2. Автор: Юдзи КОЯМА,Сигеру ТАМАИ. Владелец: Сид Ко., Лтд.. Дата публикации: 2010-10-20.

Method of manufacturing semiconductor integrated circuit BI-MOS device

Номер патента: US4486942A. Автор: Tadashi Hirao. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1984-12-11.

Method of manufacturing a semiconductor integrated circuit BI-MOS device

Номер патента: US4445268A. Автор: Tadashi Hirao. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1984-05-01.

Cleaning method and processing apparatus

Номер патента: US20190295825A1. Автор: Hiroshi Tsujimoto,Toshikatsu Tobana. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Integrated circuit formed with microphone transducer

Номер патента: WO2011081998A2. Автор: Marie Denison,Wei-Yan Shih,Brian E. Goodlin,Lance W. Barron. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2011-07-07.

Processing device and processing method

Номер патента: US9744516B2. Автор: Akira Matsuoka,Koji Noishiki. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Processing device and processing method

Номер патента: US20160038901A1. Автор: Akira Matsuoka,Koji Noishiki. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2016-02-11.

A machine for use in processing of rubber cot arbours

Номер патента: WO2016132382A2. Автор: Naresh Mistry,Jitendra MEVADA. Владелец: Mistry Naresh. Дата публикации: 2016-08-25.

Novel bismuth compound, process of producing the same, and process of producing a film

Номер патента: US20040204483A1. Автор: Kenichi Sekimoto,Noriaki Oshima,Taishi Furukawa. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 2004-10-14.

Process of collecting young leaves of rice plant and its processing method, processed goods and foods

Номер патента: US20020094368A1. Автор: Terumi Takaoka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

New photochemical reactor design and process for performing exothermic photochemical reactions

Номер патента: WO2024075010A1. Автор: Max Josef Braun. Владелец: Fluorinnovation L.L.C-Fz. Дата публикации: 2024-04-11.

A machine for use in processing of rubber cot arbours

Номер патента: EP3259389A2. Автор: Naresh Mistry,Jitendra Ishwarbhai Mevada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-12-27.

Base station, radio communications system, and processing method in base station

Номер патента: US09872294B2. Автор: Tsuyoshi Hasegawa,Hiroaki Arai,Tokuro Kubo. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Method and apparatus for harvesting and processing water hyacinths

Номер патента: RU2740644C2. Автор: Ребека БАХАДОРАНИ,Пьер БОНО. Владелец: Ин-Битвин Са. Дата публикации: 2021-01-19.

Moulding machine adapter and processing of joint

Номер патента: RU2573033C1. Автор: Жуй ШАО,Цзиго ЧЭН,Фудэ ЧЖОУ,Чуньхай ДАЙ. Владелец: ЮАНЬ Чжунсюэ. Дата публикации: 2016-01-20.

Integrated circuit transistor

Номер патента: US4125853A. Автор: William J. Ooms,Alan W. Fulton,Ray A. Reed. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1978-11-14.

Methods and systems for confirming the timely receipt and processing of data files

Номер патента: US6609137B2. Автор: Eugene Owen, Jr.. Владелец: BellSouth Intellectual Property Corp. Дата публикации: 2003-08-19.

Nanoparticles and process of producing same

Номер патента: EP4359344A1. Автор: Michel W. Barsoum,Hussein Osama BADR,Tarek Aly ELMELIGY. Владелец: DREXEL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-05-01.

Greensheet carriers and processing thereof

Номер патента: US20030096085A1. Автор: Govindarajan Natarajan,John Knickerbocker. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-05-22.

Methods and systems for confirming the timely receipt and processing of data files

Номер патента: US20020103808A1. Автор: Eugene Owen. Владелец: BellSouth Intellectual Property Corp. Дата публикации: 2002-08-01.

Method and system for hierarchical processing of protocol information in a wireless LAN

Номер патента: US8040861B2. Автор: Robert B. O'hara, Jr.,Patrice R. Calhoun. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2011-10-18.

Braces, method and process of use thereof for the repair of a storage rack

Номер патента: US20240246760A1. Автор: John Paul TURCICH. Владелец: Apex Storage LLC. Дата публикации: 2024-07-25.

Nanoparticles and process of producing same

Номер патента: US20240286918A1. Автор: Michel W. Barsoum,Hussein Osama BADR,Tarek Aly ELMELIGY. Владелец: DREXEL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-29.

Improved technique of making extrusion dies and processes related to it

Номер патента: RU2243047C2. Автор: Эдвард Джорж ФЕЛДКЭМП. Владелец: Префом Дайз Лимитед. Дата публикации: 2004-12-27.

System and process for oxy-fuel calcination of lime-bearing sludge

Номер патента: WO2024123608A1. Автор: Eric Eccleston. Владелец: T.En Process Technology, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

System and method for selective processing of web content

Номер патента: US20200280531A1. Автор: Gaspare GUCCIARDI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-09-03.

Superconducting magnet made of high-temperature bulk superconductor and process of producing same

Номер патента: US20030231091A1. Автор: Masato Murakami,Masaru Tomita. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-18.

Process of purification of protein

Номер патента: US20240239838A1. Автор: Om NARAYAN,Tarun Kumar Gupta,Mayankkumar THAKKAR. Владелец: Kashiv Biosciences LLC. Дата публикации: 2024-07-18.

Electronic cigarette and process of manufacturing same

Номер патента: CA3141249A1. Автор: XU Heng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-12.

Carton lidding and stacking apparatus and process

Номер патента: US20220410520A1. Автор: Robert Lindsay CRAIG,Simon John CRAIG,Mark Francis Roche. Владелец: Punchbowl Automation Ip Ltd. Дата публикации: 2022-12-29.

A carton lidding and stacking apparatus and process

Номер патента: EP4065473A1. Автор: Robert Lindsay CRAIG,Simon John CRAIG,Mark Francis Roche. Владелец: Punchbowl Packaging Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Virtual shortest path tree establishment and processing methods and path computation element

Номер патента: US10341220B2. Автор: Yi Lin,Haomian ZHENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-02.

Urethane-crosslinked polymeric microparticles and processes of manufacturing the same

Номер патента: US20230265249A1. Автор: Stephanie REED,Manasi Chawathe BAKER. Владелец: Secant Group LLC. Дата публикации: 2023-08-24.

Anhydrous mirtazapine crystals and process for the production thereof

Номер патента: EP1225174A4. Автор: Eiichi Iishi,Yoshiyuki Imamiya. Владелец: Sumika Fine Chemicals Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-23.

Anhydrous mirtazapine crystals and process for the production thereof

Номер патента: AU763502B2. Автор: Eiichi Iishi,Yoshiyuki Imamiya. Владелец: Sumika Fine Chemicals Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-24.

Washing machine failure detection and processing method

Номер патента: US20180135224A1. Автор: Lin Yang,YU Chen,Dafeng FANG,Kai Xue,Liangliang Yu. Владелец: Qingdao Haier Washing Machine Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-17.

Cyclohexenone compositions and process for making thereof

Номер патента: CA2901581C. Автор: Chih-Ming Chen,Sheng-Yung Liu,Wu-Che Wen,Hsiu-Yi CHENG. Владелец: Golden Biotechnology Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Process for repairing pit and process for repairing metal member

Номер патента: EP2475495A1. Автор: Takahisa Hoshika. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-18.

Manufacturing process of a Teflon dual-direction extending film filtration nonwoven (I)

Номер патента: US20050087286A1. Автор: James Huang,Chin Chou,Wen Kuo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-28.

Preparation of building mixtures and processing materials using micro-pulse micro-arc processing

Номер патента: US20240116060A1. Автор: Joseph Brifman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-11.

Preemptive processing of authentication requests for unified access management systems and applications

Номер патента: US20240031410A1. Автор: Dhruva Lakshmana Rao Batni. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Systems and processes of thermal fluid reclamation

Номер патента: WO2024211347A1. Автор: SHENG Peng,Charles Clinton Allgood. Владелец: THE CHEMOURS COMPANY FC, LLC. Дата публикации: 2024-10-10.

A fruit packaging tray, apparatus and process

Номер патента: NZ783384A. Автор: Robert Craig,Mark Roche,Simon Craig,Michael Powick. Владелец: Punchbowl Automation Ip Ltd. Дата публикации: 2024-07-05.

Systems and processes of thermal fluid reclamation

Номер патента: US20240336822A1. Автор: SHENG Peng,Charles Clinton Allgood. Владелец: Chemours Co FC LLC. Дата публикации: 2024-10-10.

Carrier of crystal of integrated circuit

Номер патента: RU2134466C1. Автор: А.И. Таран,В.К. Любимов. Владелец: Таран Александр Иванович. Дата публикации: 1999-08-10.

Semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US4885628A. Автор: Kenji Kaneko,Masatoshi Kimura,Isao Shimizu,Takeaki Okabe,Yasuo Nagai,Koozoo Sakamoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-12-05.

Direct attach optical receiver module and method of testing

Номер патента: US20060049338A1. Автор: Imran Sherazi,Stephen Kovacic. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-09.

Marking techniques for identifying integrated circuit parts at the time of testing

Номер патента: US5043657A. Автор: Bruce E. Amazeen,Mark M. Martin. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 1991-08-27.

Testing integrated circuits

Номер патента: US20100213968A1. Автор: Rudi De Winter,William Robert Betts. Владелец: Melexis UK Ltd. Дата публикации: 2010-08-26.

Apparatus and method for testing integrity of an ultrafilter membrane

Номер патента: EP4353276A2. Автор: Mauro Suffritti,Michela Carpani. Владелец: GAMBRO LUNDIA AB. Дата публикации: 2024-04-17.

Cathode material and process

Номер патента: WO2021090006A1. Автор: Holger Kunz,Sam Alexander,Christian Bruenig. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2021-05-14.

Ionic Air Flow Generator, With Emitter And Collector Stripes

Номер патента: US20220320833A1. Автор: Himanshu Pokharna,Carl Paul SCHLACHTE,Gary Alfred Oliverio. Владелец: Ventiva Inc. Дата публикации: 2022-10-06.

Seed layers and process of manufacturing seed layers

Номер патента: US20150027362A1. Автор: Nathan G. Stoddard. Владелец: AMG IdealCast Solar Corp. Дата публикации: 2015-01-29.

Hollow glass product with offset collar axis and process of manufacturing the same

Номер патента: US20020070190A1. Автор: Lucien Fosse,Rémy BADIN. Владелец: Saint Gobain Emballage SA. Дата публикации: 2002-06-13.

Wood step and process of making thereof

Номер патента: AU2020267179A1. Автор: Paolo Grossi,Roberto MODENA,Oskar Rainer,Paolo Accorra,Gianluca Endrizzi,Oswald Gromminger. Владелец: Rubner Holzbau Srl. Дата публикации: 2021-05-27.

Pupunha plywood and process for production of the same

Номер патента: WO2006130939A3. Автор: Ferreira Claudio Vieira. Владелец: Themoteo Alves Correa Pedro. Дата публикации: 2007-02-08.

Enhanced transmission acknowledgment delivery and processing

Номер патента: WO2018064117A1. Автор: Aziz Gholmieh,Sitaramanjaneyulu Kanamarlapudi,Liangchi Hsu. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2018-04-05.

Device for Electrical Engine Stator and Process of Manufacturing Coil Blade Plate

Номер патента: US20170194827A1. Автор: Anderson Ricardo Pacheco. Владелец: Whirlpool SA. Дата публикации: 2017-07-06.

Liquid distributor system and process of liquid distribution

Номер патента: WO2023244572A1. Автор: Paul Alvin Sechrist,Bjorn Daniel Heijstra,Joshua Jeremy Conolly. Владелец: Lanzatech, Inc.. Дата публикации: 2023-12-21.

Reaction chamber, processing system and processing method

Номер патента: CA3211291A1. Автор: Martin LIDSTRAND. Владелец: Trifilon AB. Дата публикации: 2022-09-15.

Reaction chamber, processing system and processing method

Номер патента: WO2022189409A1. Автор: Martin LIDSTRAND. Владелец: Trifilon AB. Дата публикации: 2022-09-15.

Systems and processes of identifying p2p applications based on behavioral signatures

Номер патента: WO2009092331A1. Автор: Dah Ming Chiu,Zhengjia Fu. Владелец: The Chinese University of Hong Kong. Дата публикации: 2009-07-30.

A system and process for dicing integrated circuits

Номер патента: WO2009128786A2. Автор: Seung Ho Baek,Seok Chan Lee,Jong Jae Jung,Deok Chun Jang,Chong Chen Lim. Владелец: ROKKO VENTURES PTE LTD. Дата публикации: 2009-10-22.

System and process for dicing integrated circuits

Номер патента: US20110045656A1. Автор: Chong Chen Lim. Владелец: ROKKO VENTURES PTE LTD. Дата публикации: 2011-02-24.

Processing of blocks or bales of feed

Номер патента: CA2880852C. Автор: Cornelis Hendricus Liet. Владелец: Trioliet Holding BV. Дата публикации: 2022-05-03.

Acetoacetylated saccharides and process of making the same

Номер патента: EP1463824A2. Автор: Lei Qiao,Peng George Wang,Huai N. Cheng,Wenhua Xie,Robert G. Nickol. Владелец: HERCULES LLC. Дата публикации: 2004-10-06.

Biomass feedstock recovery equipment and processes

Номер патента: US20240253051A1. Автор: John Casey Yunger,Kyle Tucker Watts,Caden PERRY,Matthew PERCIFIELD. Владелец: ENERGY CREATES ENERGY LLC. Дата публикации: 2024-08-01.

Liquid distributor system and process of liquid distribution

Номер патента: US12077800B2. Автор: Paul Alvin Sechrist,Bjorn Daniel Heijstra,Joshua Jeremy Conolly. Владелец: Lanzatech Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Catalysts and process for alpha-olefin polymerization

Номер патента: US3808188A. Автор: F Lochner,H Reuther. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 1974-04-30.

Cyclohexenone compositions and process for making thereof

Номер патента: EP2958883A1. Автор: Chih-Ming Chen,Sheng-Yung Liu,Wu-Che Wen,Hsiu-Yi CHENG. Владелец: Golden Biotechnology Corp. Дата публикации: 2015-12-30.

Cyclohexenone compositions and process for making thereof

Номер патента: WO2014130618A1. Автор: Chih-Ming Chen,Sheng-Yung Liu,Wu-Che Wen,Hsiu-Yi CHENG. Владелец: GOLDEN BIOTECHNOLOGY CORPORATION. Дата публикации: 2014-08-28.

Process of collecting and processing non-aqueous drip-liquids

Номер патента: AU8401291A. Автор: Max Gregor Paping. Владелец: Holding M G Paping BV. Дата публикации: 1992-03-30.

Process of collecting and processing non-aqueous drip-liquids

Номер патента: WO1992004576A1. Автор: Max Gregor Paping. Владелец: Holding M.G. Paping B.V.. Дата публикации: 1992-03-19.

Reaction system and process for preparing polymethoxy dimethyl ether

Номер патента: US9168503B2. Автор: Jing Chen,Chungu Xia,Heyuan Song,Meirong Kang. Владелец: Suzhou Ost Advanced Materials Co ltd. Дата публикации: 2015-10-27.

Quinones and process of obtaining same

Номер патента: US20200407303A1. Автор: Wolfgang Siegel,Karin SCHEIN-ALBRECHT. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2020-12-31.

Processing of blocks or bales of feed

Номер патента: EP2879483A1. Автор: Cornelis Hendricus Liet. Владелец: Trioliet Holding BV. Дата публикации: 2015-06-10.

Processing of blocks or bales of feed

Номер патента: WO2014021716A9. Автор: Cornelis Hendricus Liet. Владелец: TRIOLIET HOLDING B.V.. Дата публикации: 2015-06-04.

Processing of blocks or bales of feed

Номер патента: WO2014021716A1. Автор: Cornelis Hendricus Liet. Владелец: TRIOLIET HOLDING B.V.. Дата публикации: 2014-02-06.

Communication unit, integrated circuit and method of diverse polarisation

Номер патента: EP2514034A1. Автор: Joe Moore,Conor O'keeffe. Владелец: Socowave Technologies Ltd. Дата публикации: 2012-10-24.

Polishing pad with improved crosslinking density and process for preparing the same

Номер патента: US12076832B2. Автор: Hye Young HEO,Jong Wook YUN,Jang Won Seo,Eun Sun JOENG. Владелец: SK Enpulse Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Crystals of 3-hydroxypropionate and process of recovering 3-hydroxypropionic acid

Номер патента: EP4428117A2. Автор: Jae Hyung Kim,Donggyun KANG,In Young HUH,WooChul Jung,Kyung Muk LEE. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Liquid propionate-containing fermentate and process for the manufacture thereof

Номер патента: EP4449878A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Purac Biochem BV. Дата публикации: 2024-10-23.

Procedure for collection and processing of weed seeds and product obtained

Номер патента: US12041925B2. Автор: Ana Fernández Mouján,Hector Augusto Huergo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-23.

Anti-mist coating and process of application thereof

Номер патента: RU2742229C1. Автор: Даллас Аарон КОЛЕР. Владелец: ЭмСиЭс ИНДАСТРИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2021-02-03.

Material for high-temperature electrochemical equipment and process of its production

Номер патента: RU2050642C1. Автор: . Владелец: Груздев Александр Иванович. Дата публикации: 1995-12-20.

Cathode unit of diaphragm electrolyzer and process of its preparation

Номер патента: RU2148681C1. Автор: Жан Башо,Паскаль Стютзман. Владелец: Рон-Пуленк Шими. Дата публикации: 2000-05-10.

Solid electrolyte and process of its manufacture

Номер патента: RU2050641C1. Автор: . Владелец: Груздев Александр Иванович. Дата публикации: 1995-12-20.

Integrated circuit device

Номер патента: GB1426544A. Автор: . Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1976-03-03.

Process-tolerant integrated circuit design

Номер патента: US6496056B1. Автор: Masakazu Shoji. Владелец: Agere Systems LLC. Дата публикации: 2002-12-17.

Cathode material and process

Номер патента: EP4085023A1. Автор: Holger Kunz,Sam Alexander,Christian Bruenig. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2022-11-09.

A filling device for the production and processing of raspberry drinks

Номер патента: LU101934B1. Автор: Wenfang Zhang. Владелец: Qinghai Qicaihua Biological Tech Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-26.

Cleaning mechanism with tandem movement over emitter and collector surfaces

Номер патента: WO2011162932A2. Автор: Nels Jewell-Larsen,Kenneth A. Honer,Matthew K. Schwiebert. Владелец: TESSERA, INC.. Дата публикации: 2011-12-29.

Cleaning mechanism with tandem movement over emitter and collector surfaces

Номер патента: EP2582471A2. Автор: Nels Jewell-Larsen,Kenneth A. Honer,Matthew K. Schwiebert. Владелец: Tessera LLC. Дата публикации: 2013-04-24.

Welding wire and process for preparing the same

Номер патента: PH12014000282A1. Автор: Chien-Yu Chao,Tsung-Hung Lu. Владелец: Ta Ya Electric Wire and Cable Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-25.

Process of making theaflavins enriched tea extract

Номер патента: US20090092690A1. Автор: Shiming Li,Zhi-Hui Wang,Hsiu Wei Yang,Bu-xiang Sun,Ling-zhi Tang,Bo-feng Wu,Zhen-peng Chen. Владелец: WellGen Inc. Дата публикации: 2009-04-09.

Multi-wire LED rubber-covered string light and processing method thereof

Номер патента: US11767952B1. Автор: Chengzhuo Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-26.

Machine and process for preparing sterilized flexible-bags for packaging products

Номер патента: CA3071594A1. Автор: Jose Vicente MORALES VIZCAINO. Владелец: Liqui Box Spain SL. Дата публикации: 2019-02-07.

Game carcass retrieval and processing systems

Номер патента: US20120178352A1. Автор: Chris Watson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-07-12.

Convoluted multi-layer pad and process

Номер патента: WO2001023175A1. Автор: Steven E. Ogle. Владелец: L & P PROPERTY MANAGEMENT COMPANY. Дата публикации: 2001-04-05.

Machine and process for shaping, annealing and quenching glass sheets, or similar materials

Номер патента: AU2003288744A1. Автор: Stefano Spezzani. Владелец: Euros Meccanica SRL. Дата публикации: 2004-06-30.

Soldering Structure and Process of Making the same

Номер патента: US20160175989A1. Автор: Chih-Chi Chen,Yuan-Kai Liang. Владелец: CHUNG YUAN CHRISTIAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-06-23.

Oil cooler and process for manufacturing the same

Номер патента: US5044545A. Автор: Mamoru Tanaka,Masayuki Matsuda,Toyoharu Nishimura,Yasuji Takagi,Naoki Norimatsu. Владелец: Nichirin Rubber Ind Co Ltd. Дата публикации: 1991-09-03.

Methods for fabricating integrated circuits with controlled p-channel threshold voltage

Номер патента: US20130109166A1. Автор: Klaus Hempel,Dina Triyoso,Elke Erben. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2013-05-02.

Video Signal Processing Integrated Circuit

Номер патента: US20080284852A1. Автор: Kazuyoshi Oshima,Shinichi Yamasaki,Masanori Okubayashi. Владелец: Sanyo Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2008-11-20.

Video signal processing integrated circuit

Номер патента: US8339460B2. Автор: Kazuyoshi Oshima,Shinichi Yamasaki,Masanori Okubayashi. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2012-12-25.

Device and process for automatic locking of a steering column

Номер патента: US8417419B2. Автор: Philippe Lefaure. Владелец: LDL Technology SAS. Дата публикации: 2013-04-09.

Semiconductor memory and process for fabricating the same

Номер патента: US20040079982A1. Автор: Hidemitsu Mori,Koichi Takemura,Sota Shinohara,Yasuhiro Tsujita. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-29.

Heterogeneous structures and processing methods

Номер патента: US20220328339A1. Автор: Ronald S. Cok,Ruggero Loi. Владелец: X Celeprint Ltd. Дата публикации: 2022-10-13.

Stereogradient polyester copolymers and processes of preparing same

Номер патента: US20240262958A1. Автор: Moshe Kol,Michael Shuster,Rami HADOR. Владелец: Ramot at Tel Aviv University Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Integrated circuit formation using a silicon carbon film

Номер патента: WO2009042475A1. Автор: Laura M. Matz,Ting Tsui,Ping N. Jiang,William Wesley Dostalik. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2009-04-02.

Isostatic press and process of using same

Номер патента: WO2004096463A1. Автор: Marc Quint. Владелец: SNAP-TITE TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2004-11-11.

A unique method and process for treating dry red chilies/paprika/spices to reduce bacterial loads and pathogens

Номер патента: WO2007052286A3. Автор: Fasihuddin Syed. Владелец: Fasihuddin Syed. Дата публикации: 2007-09-07.

Isolated oleosome composition and process for preparing it

Номер патента: AU2020409115A1. Автор: Nils BILLECKE,Gustav WASCHATKO,Eliane GOOSSENS. Владелец: Cargill Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Machine allocation and processing processes of IC handler

Номер патента: TWI227324B. Автор: Yi-Ching Tsai. Владелец: TASK TECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2005-02-01.

Formula for improving insulation performance of PVC insulating material and processing process of formula

Номер патента: CN104194227A. Автор: 朱忠良. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-12-10.

Formula for improving insulation performance of PVC insulating material and processing process of formula

Номер патента: CN104194225A. Автор: 朱忠良. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-12-10.

Mat capable of being washed by water and machine and processing process of mat

Номер патента: CN104207560A. Автор: 李惠明. Владелец: NINGBO YINZHOU LIMING CRAFTWORKS CO Ltd. Дата публикации: 2014-12-17.

Formula and processing process of silica gel bulb hood capable of scattering light ray

Номер патента: CN102702751A. Автор: 林宏明. Владелец: DONGGUAN TAIYANG PLASTIC PRODUCTS Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-03.

With the stove silk bending process of screw clamping device and integrated circuit controller

Номер патента: CN103817267B. Автор: 张翠翠. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-09-23.

Formula and processing process of bedwetting treatment drug

Номер патента: CN103977074A. Автор: 徐怀录. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-08-13.

Formula and processing process of farmyard small pheasant thick chili sauce

Номер патента: CN103284126A. Автор: 朱德芬,陈简政. Владелец: XUZHOU DEZHENGYUAN CONDIMENT FACTORY. Дата публикации: 2013-09-11.

Process of fabricating high-density memory integrated circuit

Номер патента: TW288201B. Автор: Horng-Huei Jeng. Владелец: Vanguard Int Semiconduct Corp. Дата публикации: 1996-10-11.

Image Capture and Identification System and Process

Номер патента: US20120002872A1. Автор: Boncyk Wayne C.,Cohen Ronald H.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE DATA TEST UNIT, IMAGE APPARATUS HAVING THE SAME, AND METHOD OF TESTING IMAGE DATA USING THE SAME

Номер патента: US20120002886A1. Автор: JUN Hyun-Su. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

POLYURETHANE ELASTOMER FIBERS AND PROCESSING AGENT AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120004352A1. Автор: Arakawa Yasunobu,Ito Jun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR ALIGNMENT OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20120001340A1. Автор: . Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

FREQUENCY SPECIFIC CLOSED LOOP FEEDBACK CONTROL OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20120001651A1. Автор: Burr James B.,Koniaris Kleanthes G.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING AN INTEGRATED CIRCUIT DEVICE

Номер патента: US20120003806A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

INTEGRATED CIRCUIT WAFER DICING METHOD

Номер патента: US20120003817A1. Автор: Lin Ching-San,Wu Kun-Tai,Wang Chih-Chao. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR ON GLASS SUBSTRATE WITH STIFFENING LAYER AND PROCESS OF MAKING THE SAME

Номер патента: US20120001293A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Structure and Process for the Formation of TSVs

Номер патента: US20120001334A1. Автор: Kuo Chen-Cheng,Ching Kai-Ming,Chen-Shien Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Power control of an integrated circuit memory

Номер патента: US20120002499A1. Автор: Chong Yew Keong,Kinkade Martin Jay,Yeung Gus. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Process of search for gold-bearing bodies

Номер патента: RU2162615C1. Автор: К.В. Кистеров,С.Ю. Евсеев. Владелец: Кистеров Кирилл Всеволодович. Дата публикации: 2001-01-27.

Process of environmental testing of electronic equipment

Номер патента: RU2014626C1. Автор: К.Н. Маловик. Владелец: Маловик Константин Николаевич. Дата публикации: 1994-06-15.

HYDRODEMETALLIZATION CATALYST AND PROCESS

Номер патента: US20120000828A1. Автор: Kuperman Alexander E.,Maesen Theodorus,Dillon Christopher J.. Владелец: Chevron U.S.A. INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

PROCESSING OF TITANIUM-ALUMINUM-VANADIUM ALLOYS AND PRODUCTS MADE THEREBY

Номер патента: US20120003118A1. Автор: Hebda John J.,Hickman Randall W.,Graham Ronald A.. Владелец: ATI PROPERTIES, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

POROUS CERAMICS SHAPED BODY, AND PROCESS FOR PRODUCING SAME

Номер патента: US20120003464A1. Автор: Uoe Kousuke,Yoshino Hajime,Suzuki Keiichiro. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGING PARTICULATES, PAPER AND PROCESS, AND IMAGING OF PAPER USING DUAL WAVELENGTH LIGHT

Номер патента: US20120003592A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL PAPER COMAPNY. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEMS, METHODS AND APPARATUSES FOR MAGNETIC PROCESSING OF SOLAR MODULES

Номер патента: US20120003777A1. Автор: . Владелец: MIASOLE. Дата публикации: 2012-01-05.

Metal-Bridged Pillared Silicate Compounds And Process For Their Production

Номер патента: US20120004332A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

UZM-7 ALUMINOSILICATE ZEOLITE, METHOD OF PREPARATION AND PROCESSES USING UZM-7

Номер патента: US20120004484A1. Автор: . Владелец: UOP LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

UZM-45 ALUMINOSILICATE ZEOLITE, METHOD OF PREPARATION AND PROCESSES USING UZM-45

Номер патента: US20120004486A1. Автор: . Владелец: UOP LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

PLASMA-ARC-THROUGH APPARATUS AND PROCESS FOR SUBMERGED ELECTRIC ARCS

Номер патента: US20120000787A1. Автор: . Владелец: MAGNEGAS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE MANAGEMENT DEVICE, IMAGE MANAGEMENT METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND INTEGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20120002881A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

UZM-35 ZEOLITIC COMPOSITION, METHOD OF PREPARATION AND PROCESSES

Номер патента: US20120003147A1. Автор: . Владелец: UOP LLC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SELF-DISPERSIBLE COATED METAL OXIDE POWDER, AND PROCESS FOR PRODUCTION AND USE

Номер патента: US20120003287A1. Автор: Schlossman David,Shao Yun,Orr Carl. Владелец: KOBO PRODUCTS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

FAT-BASED CONFECTIONERY MATERIAL AND PROCESS FOR PRODUCTION THEREOF

Номер патента: US20120003359A1. Автор: Walker John Howard,Couzens Patrick. Владелец: NESTEC S.A.. Дата публикации: 2012-01-05.

POLYARYLENE POLYMERS AND PROCESSES FOR PREPARING

Номер патента: US20120004387A1. Автор: Teasley Mark F.. Владелец: E. I. Du Pont De Nemours and Company. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND PROCESS FOR RECOGNIZING AND GUIDING INDIVIDUALLY PACKAGED PRODUCTS WITH A CODE

Номер патента: US20120004763A1. Автор: Freudelsperger Karl. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Process of diagnostics of contact finning

Номер патента: RU2133180C1. Автор: А.Ф. Керемжанов,П.П. Архипов. Владелец: Архипов Павел Павлович. Дата публикации: 1999-07-20.

ISOTOPICALLY LABELED CHEMICALLY STABLE REAGENTS AND PROCESS FOR THE SYNTHESIS THEREOF

Номер патента: US20120004413A1. Автор: . Владелец: PerkinElmer Health Sciences, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Integrated circuit comparison method

Номер патента: CA1309511C. Автор: Vinod Kumar Agarwal,Benoit Nadeau-Dostie,Philip Stanley Wilcox. Владелец: Northern Telecom Ltd. Дата публикации: 1992-10-27.

IMAGE CODING APPARATUS, IMAGE CODING METHOD, PROGRAM, AND INTEGRATED CIRCUIT

Номер патента: US20120002022A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for automated processing of text information materials

Номер патента: RU2242048C2. Автор: В.Ф. Хорошевский,В.П. Клинцов. Владелец: Онтос Аг. Дата публикации: 2004-12-10.

Method of testing aircraft electrical systems and testing device

Номер патента: RU2446405C2. Автор: Свен КНОП,Майк ГАЛИНСКИ. Владелец: Эйрбас Оперейшнз Гмбх. Дата публикации: 2012-03-27.

An improved method and process of distillation and deodorisation of oils, fats or fatty acids.

Номер патента: MY106612A. Автор: S Panchal M. Владелец: S Panchal M. Дата публикации: 1995-06-30.

Process of producing canned sardines (sardina pilchardus) in sweet chili sauce style

Номер патента: PH22019001070Y1. Автор: Proserpina T Dionaldo,Elisheba P Sabandal. Владелец: Univ Tech Cebu. Дата публикации: 2019-10-02.

Improvements relating to Three Colour Screens and the Screen Process of Colour Photography.

Номер патента: GB190700495A. Автор: Robert Krayn. Владелец: Individual. Дата публикации: 1907-12-19.

Azepine derivatives and processes for producing same

Номер патента: GB929788A. Автор: . Владелец: JR Geigy AG. Дата публикации: 1963-06-26.

A freeze-dried pickled bamboo shoot and process of producing the same

Номер патента: PH22019050235U1. Автор: Denis V Policar,Arthur G Iba¥Ez. Владелец: Cagayan State Univ Carig Campus. Дата публикации: 2019-08-16.

Improvements in or relating to beta-aminopropionic acid and process of preparing same

Номер патента: GB577461A. Автор: . Владелец: Lederle Laboratories Inc. Дата публикации: 1946-05-20.

Oxychlorination catalyst and process using such a catalyst

Номер патента: MY144308A. Автор: Michel Strebelle,Andre Petitjean. Владелец: Solvay. Дата публикации: 2011-08-29.

Improvements in Printers' Overlays and Process of Making the same.

Номер патента: GB189919850A. Автор: Edward Bierstadt,Theodore Brockbank De Vinne. Владелец: Individual. Дата публикации: 1900-01-20.

Process of making spicy cacao chocolate balls

Номер патента: PH22021050126U1. Автор: John Carlo L Banan,Jr Gilbert C Magulod. Владелец: Cagayan State Univ Lasam Campus. Дата публикации: 2021-10-11.