Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits
Номер патента: US7852100B2
Опубликовано: 14-12-2010
Автор(ы): Lee D. Whetsel
Принадлежит: Texas Instruments Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 14-12-2010
Автор(ы): Lee D. Whetsel
Принадлежит: Texas Instruments Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Parallel scan distributors and collectors and process of testing integrated circuits
Номер патента: US20100095176A1. Автор: Lee D. Whetsel. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2010-04-15.