• Главная
  • Spin qubit quantum device read by impedance measurement

Spin qubit quantum device read by impedance measurement

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Silicon quantum device structures defined by metallic structures

Номер патента: US11778927B2. Автор: John Morton,Sofia Patomaki. Владелец: Quantum Motion Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Silicon quantum device structures defined by metallic structures

Номер патента: US20230217840A1. Автор: John Morton,Sofia Patomaki. Владелец: Quantum Motion Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Quantum device with low surface losses

Номер патента: AU2022233255B2. Автор: Yves Martin,Antoine Hervier,Jason Orcutt,Martin Sandberg,Harry MAMIN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Quantum device with low surface losses

Номер патента: EP4305557A1. Автор: Yves Martin,Antoine Hervier,Jason Orcutt,Martin Sandberg,Harry MAMIN. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Electron hole spin qubit transistor, and methods for forming a electron hole spin qubit transistor

Номер патента: WO2023161360A1. Автор: Martin Andreas OLSSON. Владелец: Epinovatech AB. Дата публикации: 2023-08-31.

Electron hole spin qubit transistor, and methods for forming a electron hole spin qubit transistor

Номер патента: AU2023225130A1. Автор: Martin Andreas OLSSON. Владелец: Epinovatech AB. Дата публикации: 2024-08-22.

Electron hole spin qubit transistor, and methods for forming a electron hole spin qubit transistor

Номер патента: EP4235794A1. Автор: Martin Andreas OLSSON. Владелец: Epinovatech AB. Дата публикации: 2023-08-30.

Quantum device integrating a buried metallic electrode

Номер патента: US20230063360A1. Автор: Heimanu Niebojewski. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2023-03-02.

Quantum device with modular quantum building blocks

Номер патента: US20200035902A1. Автор: Salvatore Bernardo Olivadese,Mark Ritter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Technologies for scalable spin qubit readout

Номер патента: US20230320237A1. Автор: Stefano Pellerano,Jongseok Park,Bishnu Prasad Patra. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Systems and methods for creating and using higher degree interactions between quantum devices

Номер патента: EP3335161A1. Автор: Richard G. Harris. Владелец: D Wave Systems Inc. Дата публикации: 2018-06-20.

Magnetic contacts for spin qubits

Номер патента: US20200194566A1. Автор: Sasikanth Manipatruni,Ian A. Young,Dmitri E. Nikonov,Ravi Pillarisetty,James S. Clarke. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Magnetic contacts for spin qubits

Номер патента: WO2018125062A1. Автор: Sasikanth Manipatruni,Ian A. Young,Dmitri E. Nikonov,Ravi Pillarisetty,James S. Clarke. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2018-07-05.

Etched spin-qubit for high temperature operation

Номер патента: US10387792B1. Автор: Rongming Chu,Andrey A. KISELEV,Danny M. Kim,Thaddeus D. Ladd. Владелец: HRL LABORATORIES LLC. Дата публикации: 2019-08-20.

Magnetic contacts for spin qubits

Номер патента: US11264476B2. Автор: Sasikanth Manipatruni,Ian A. Young,Dmitri E. Nikonov,Ravi Pillarisetty,James S. Clarke. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Quantum device

Номер патента: US20230008193A1. Автор: Kunihiko Ishihara,Katsumi Kikuchi,Suguru Watanabe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Simulating errors of a quantum device using variational quantum channels

Номер патента: WO2020214910A1. Автор: Katabarwa Amara. Владелец: Zapata Computing, Inc.. Дата публикации: 2020-10-22.

Simulating Errors of a Quantum Device Using Variational Quantum Channels

Номер патента: US20200334107A1. Автор: Amara Katabarwa. Владелец: Zapata Computing Inc. Дата публикации: 2020-10-22.

Simulating errors of a quantum device using variational quantum channels

Номер патента: CA3133917A1. Автор: Katabarwa Amara. Владелец: Zapata Computing Inc. Дата публикации: 2020-10-22.

Simulating errors of a quantum device using variational quantum channels

Номер патента: EP3956770A1. Автор: Katabarwa Amara. Владелец: Zapata Computing Inc. Дата публикации: 2022-02-23.

Silicon-based spin-qubit quantum magnetometer and radar system with all electrical control

Номер патента: US20220190174A1. Автор: Pierre Gandolfo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-16.

Silicon-based spin-qubit quantum magnetometer and radar system with all electrical control

Номер патента: US11894475B2. Автор: Pierre Gandolfo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-06.

Reducing dissipation and frequency noise in quantum devices using a local vacuum cavity

Номер патента: US20190207075A1. Автор: Anthony Edward MEGRANT. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2019-07-04.

Reducing dissipation and frequency noise in quantum devices using a local vacuum cavity

Номер патента: US20230057880A1. Автор: Anthony Edward MEGRANT. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-02-23.

Quantum device

Номер патента: US20240234293A9. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Quantum device

Номер патента: US20240136274A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Holder, quantum device, and manufacturing method of quantum device

Номер патента: US20220036229A1. Автор: Yoshihito Hashimoto,Hideyuki Satou,Tomohiro Yamaji,Aiko Uchiyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-03.

Holder, quantum device, and manufacturing method of quantum device

Номер патента: US11983603B2. Автор: Yoshihito Hashimoto,Hideyuki Satou,Tomohiro Yamaji,Aiko Uchiyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Quantum device

Номер патента: US12108690B2. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Holder and mounting method for quantum device

Номер патента: EP4364195A1. Автор: Peter Ulrik Kann,Søren ANDRESEN,Merlin VON SOOSTEN. Владелец: Qdevil Aps. Дата публикации: 2024-05-08.

Quantum device

Номер патента: US20210399195A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Quantum device

Номер патента: US20230345844A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Quantum device

Номер патента: US11805708B2. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Quantum device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20210408358A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Quantum device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20210399194A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Quantum device and method of manufacturing the same

Номер патента: US11696517B2. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-07-04.

Quantum device and method of manufacturing the same

Номер патента: US11871682B2. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Quantum device

Номер патента: US20240065116A1. Автор: Kunihiko Ishihara,Katsumi Kikuchi,Suguru Watanabe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Quantum device

Номер патента: US20240079281A1. Автор: Kunihiko Ishihara,Katsumi Kikuchi,Suguru Watanabe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Coupling of quantum devices by readout resonators

Номер патента: FI20226113A1. Автор: Caspar Ockeloen-Korppi,Alpo VÄLIMAA. Владелец: IQM Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-17.

Coupling of quantum devices by readout resonators

Номер патента: WO2024126891A1. Автор: Caspar Ockeloen-Korppi,Alpo VÄLIMAA. Владелец: IQM Finland Oy. Дата публикации: 2024-06-20.

Spin qubit electronic device

Номер патента: US20240046134A1. Автор: Richard Fournel,Xavier Baillin. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2024-02-08.

QUANTUM DEVICE WITH SPIN QUBITS

Номер патента: US20180331108A1. Автор: De Franceschi Silvano,Vinet Maud,HUTIN Louis,Meunier Tristan. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-15.

MAGNETIC CONTACTS FOR SPIN QUBITS

Номер патента: US20200194566A1. Автор: Nikonov Dmitri E.,Pillarisetty Ravi,CLARKE JAMES S.,Manipatruni Sasikanth,Young Ian A.. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2020-06-18.

Reducing dissipation and frequency noise in quantum devices using a local vacuum cavity

Номер патента: EP3513443A1. Автор: Anthony Edward MEGRANT. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2019-07-24.

Reducing dissipation and frequency noise in quantum devices using a local vacuum cavity

Номер патента: US11849652B2. Автор: Anthony Edward MEGRANT. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-12-19.

Reducing dissipation and frequency noise in quantum devices using a local vacuum cavity

Номер патента: CA3036945C. Автор: Anthony Edward MEGRANT. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-10-03.

Quantum device and method of operating same

Номер патента: WO2023082014A1. Автор: Pascal Lemieux,Julien Camirand Lemyre. Владелец: Nord Quantique inc.. Дата публикации: 2023-05-19.

Quantum device and method of operating same

Номер патента: AU2022387286A1. Автор: Pascal Lemieux,Julien Camirand Lemyre. Владелец: Nord Quantique Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Quantum device and method of operating same

Номер патента: CA3238220A1. Автор: Pascal Lemieux,Julien Camirand Lemyre. Владелец: Nord Quantique Inc. Дата публикации: 2023-05-19.

Quantum device and method of operating same

Номер патента: EP4433959A1. Автор: Pascal Lemieux,Julien Camirand Lemyre. Владелец: Nord Quantique Inc. Дата публикации: 2024-09-25.

Self assembled monolayer formed on a quantum device

Номер патента: WO2021156318A9. Автор: Ali Afzali-Ardakani,Richard Haight,Vivekananda Adiga,Martin Sandberg. Владелец: IBM Deutschland GmbH. Дата публикации: 2022-10-06.

Self assembled monolayer formed on a quantum device

Номер патента: WO2021156318A1. Автор: Ali Afzali-Ardakani,Richard Haight,Vivekananda Adiga,Martin Sandberg. Владелец: IBM Deutschland GmbH. Дата публикации: 2021-08-12.

Self assembled monolayer formed on a quantum device

Номер патента: EP4101012A1. Автор: Ali Afzali-Ardakani,Richard Haight,Vivekananda Adiga,Martin Sandberg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-12-14.

Self assembled monolayer formed on a quantum device

Номер патента: AU2021215331B2. Автор: Ali Afzali-Ardakani,Richard Haight,Vivekananda Adiga,Martin Sandberg. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Quantum device with modular quantum building blocks

Номер патента: WO2020020948A1. Автор: Salvatore Bernardo Olivadese,Mark Ritter. Владелец: Ibm United Kingdom Limited. Дата публикации: 2020-01-30.

Quantum device with modular quantum building blocks

Номер патента: US11812673B2. Автор: Salvatore Bernardo Olivadese,Mark Ritter. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Semiconductor quantum device ESD protection

Номер патента: US11735578B2. Автор: Peter Mueller,Thomas Morf,Matthias Mergenthaler,Mridula Prathapan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Method for treating tantalum metal thin film, quantum device, and quantum chip

Номер патента: US20240164221A1. Автор: Hao Deng,Xiaohang Zhang. Владелец: Alibaba Damo Hangzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Arrangement and method for tuning a quantum device

Номер патента: WO2024062151A1. Автор: Ugur Yilmaz,Olli-Pentti SAIRA,Jayshankar NATH. Владелец: IQM Finland Oy. Дата публикации: 2024-03-28.

Impedance measurement

Номер патента: US12019043B2. Автор: Javier CALPE MARAVILLA,Liam Patrick Riordan,Jose Carlos Conchell ANO. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-06-25.

Protocol to initiate communication between quantum devices configured to send or receive quantum objects

Номер патента: US20230039262A1. Автор: Guillaume Mantelet. Владелец: Voltigeur Networks. Дата публикации: 2023-02-09.

Protocol to initiate communication between quantum devices configured to send or receive quantum objects

Номер патента: WO2021151214A1. Автор: Guillaume Mantelet. Владелец: Voltigeur Networks. Дата публикации: 2021-08-05.

Protocol to initiate communication between quantum devices configured to send or receive quantum objects

Номер патента: CA3165246A1. Автор: Guillaume Mantelet. Владелец: Voltigeur Networks. Дата публикации: 2021-08-05.

Quantum devices and processes of use

Номер патента: US20230116924A1. Автор: Avetik Harutyunyan. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Quantum devices and processes of use

Номер патента: US12056574B2. Автор: Avetik Harutyunyan. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Charging and discharging jig for impedance measurement of battery cell

Номер патента: US20240077545A1. Автор: Ki Hyun Kim. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Series tee splitter for impedance measurements

Номер патента: US11754605B2. Автор: Tyler Bowman,Matthew Halligan. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2023-09-12.

Systems and methods for hematocrit impedance measurement using switched capacitor accumulator

Номер патента: EP3923805A1. Автор: Steven V. Leone. Владелец: Trividia Health Inc. Дата публикации: 2021-12-22.

Systems and methods for hematocrit impedance measurement using switched capacitor accumulator

Номер патента: AU2020223077A1. Автор: Steven V. Leone. Владелец: Trividia Health Inc. Дата публикации: 2021-09-02.

Energy storage cell impedance measuring apparatus, methods and related systems

Номер патента: CA2991036C. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison,Jon P. Christophersen. Владелец: Morrison John L. Дата публикации: 2020-06-30.

Systems and methods for tuning capacitance in quantum devices

Номер патента: US20240333286A1. Автор: Emile M. Hoskinson,Mark H. Volkmann,Min Jan TSAI. Владелец: 1372934 BC Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Quantum devices and methods for making the same

Номер патента: US20230389346A1. Автор: I-Hsiang Wang,Pei-Wen Li,Po-Yu HONG. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-11-30.

Accumulation gate for quantum device

Номер патента: EP4320643A1. Автор: Nodar SAMKHARADZE,Guoji ZHENG. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2024-02-14.

Accumulation gate for quantum device

Номер патента: US20240204089A1. Автор: Nodar SAMKHARADZE,Guoji ZHENG. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2024-06-20.

Quantum device

Номер патента: US20230231016A1. Автор: Tetsufumi Tanamoto. Владелец: TEIKYO UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-20.

Quantum device

Номер патента: EP4167289A1. Автор: Tetsufumi Tanamoto. Владелец: TEIKYO UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-04-19.

Execution of n-qubit quantum gates

Номер патента: WO2021252035A1. Автор: Alexander Vaschillo,Vadym Kliuchnikov,Martin Henri Roetteler. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2021-12-16.

Execution of n-qubit quantum gates

Номер патента: US20210374586A1. Автор: Alexander Vaschillo,Vadym Kliuchnikov,Martin Henri Roetteler. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2021-12-02.

Execution of n-qubit quantum gates

Номер патента: EP4158552A1. Автор: Alexander Vaschillo,Vadym Kliuchnikov,Martin Henri Roetteler. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2023-04-05.

Execution of n-qubit quantum gates

Номер патента: EP4235520A2. Автор: Alexander Vaschillo,Vadym Kliuchnikov,Martin Henri Roetteler. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2023-08-30.

Execution of n-qubit quantum gates

Номер патента: EP4235520A3. Автор: Alexander Vaschillo,Vadym Kliuchnikov,Martin Henri Roetteler. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2023-10-18.

Execution of n-qubit quantum gates

Номер патента: AU2021290061A1. Автор: Alexander Vaschillo,Vadym Kliuchnikov,Martin Henri Roetteler. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2022-11-17.

Noise cancellation in impedance measurement circuits

Номер патента: US20220061690A1. Автор: Colin G. Lyden,Oliver J. Brennan,Thomas J. Tansley. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2022-03-03.

High-precision impedance measurement device

Номер патента: US11899073B2. Автор: Young Jae Lee,Young Jin Hong,Hyung Bin Son,Gyeong Rin CHOI. Владелец: Mintech Co ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Battery impedance measurement circuit

Номер патента: EP4220208A1. Автор: J.p.m VAN LAMMEREN. Владелец: Datang Nxp Semiconductors Xuzhou Co ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Device and method for impedance measurement and adaptive antenna tuning

Номер патента: RU2710666C1. Автор: Пин ШИ. Владелец: Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-12-30.

TECHNOLOGY TO DYNAMICALLY MODULATE MEMORY DEVICE READ GRANULARITY

Номер патента: US20190004796A1. Автор: DU YU,WAKCHAURE Yogesh B.,PELSTER David J.,Ayyasamy Sudhakar,Golez Mark Anthony S.. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

Optomechanical interface for spin qubits

Номер патента: US20230066365A1. Автор: Matthew Mitchell,Paul Barclay,David Lake,Prasoon Shandilya,Denis Sukachev. Владелец: UTI LP. Дата публикации: 2023-03-02.

Method and system for decomposing single-qubit quantum circuits into a discrete basis

Номер патента: US09836698B2. Автор: Alexei Bocharov,Krysta Svore. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2017-12-05.

Method and system for decomposing single-qubit quantum circuits into a discrete basis

Номер патента: WO2014015203A1. Автор: Alexei Bocharov,Krysta Svore. Владелец: MICROSOFT CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

Methods and apparatuses for operating a gaussian boson sampling quantum device as an annealer

Номер патента: US20220172092A1. Автор: MUGEL Samuel,ORÚS Román. Владелец: Multiverse Computing SL. Дата публикации: 2022-06-02.

Quantum device, quantum bit readout device, and electronic circuit

Номер патента: US20240273392A1. Автор: Tetsufumi Tanamoto. Владелец: TEIKYO UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-15.

Quantum device, quantum bit readout device, and electronic circuit

Номер патента: EP4361902A9. Автор: Tetsufumi Tanamoto. Владелец: TEIKYO UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-28.

Quantum device, quantum bit readout device, and electronic circuit

Номер патента: EP4361902A1. Автор: Tetsufumi Tanamoto. Владелец: TEIKYO UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-05-01.

Methods and apparatuses for operating a gaussian boson sampling quantum device as an annealer

Номер патента: EP4009247A1. Автор: Roman Orus,Samuel Mugel. Владелец: Multiverse Computing SL. Дата публикации: 2022-06-08.

Methods and apparatuses for optimal decision with quantum device

Номер патента: EP4027293A1. Автор: Roman Orus,Samuel Mugel. Владелец: Multiverse Computing SL. Дата публикации: 2022-07-13.

Quantum device

Номер патента: US20240160982A1. Автор: Akira Miyata,Katsumi Kikuchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

In-situ On-line and Embedded Battery Impedance Measurement Device Using Active Balancing Circuits

Номер патента: US20210006077A1. Автор: Carlos Rentel. Владелец: Xwave Innovations Inc. Дата публикации: 2021-01-07.

Impedance measurement system and mobile communication device comprising an impedance measurement system

Номер патента: US9379761B2. Автор: Peter VAN DER CAMMEN. Владелец: Qualcomm Technologies Inc. Дата публикации: 2016-06-28.

Quantum device, manufacturing method thereof, and electronic device

Номер патента: US20240090348A1. Автор: Ye Li,Hui Yang. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Improvements in or relating to impedance measuring equipment

Номер патента: GB662707A. Автор: Albert Frank Boff. Владелец: Standard Telephone and Cables PLC. Дата публикации: 1951-12-12.

Method of detecting inclination angle of image frame read by microfilm reader

Номер патента: US5465125A. Автор: Ushio Anayama. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1995-11-07.

Image processing apparatus and method, and storage medium capable of being read by a computer

Номер патента: US6707983B1. Автор: Hiroaki Endo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2004-03-16.

Quantum device and preparation method therefor, and electronic device

Номер патента: EP4365937A1. Автор: Ye Li,Hui Yang. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Quantum device

Номер патента: US20210408354A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Suguru Watanabe,Hideyuki Satou,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Quantum device

Номер патента: US20230309419A1. Автор: Akira Miyata,Kenji Nanba,Katsumi Kikuchi,Takanori Nishi,Ayami YAMAGUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Nonvolatile semiconductor memory device, reading, writing and erasing methods thereof, and manufacturing method thereof

Номер патента: JP4117998B2. Автор: 祥光 山内. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2008-07-16.

RANGING DEVICE READ-OUT CIRCUIT

Номер патента: US20170139040A1. Автор: Mellot Pascal,Drader Marc,McLeod Stuart. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

Nonvolatile memory device, reading method thereof and memory system including the same

Номер патента: KR101635505B1. Автор: 김기현,장재훈,이운경,심선일. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2016-07-01.

Ranging device read-out circuit

Номер патента: US20170139040A1. Автор: Marc Drader,Pascal Mellot,Stuart Mcleod. Владелец: STMicroelectronics Research and Development Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Electromagnetic Wave Impedance Measuring Apparatus and Calibration Method of Impedance

Номер патента: US20190235000A1. Автор: LEE Dong-joon,Hong Young-Pyo,KOO Hyunji,KANG No-Weon. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

Parametrically driven two-qubit quantum gates with controllable zz-interaction

Номер патента: WO2024229368A1. Автор: Julian Shaw Kelly,Charles Neill. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-11-07.

Parametrically driven two-qubit quantum gates with controllable zz-interaction

Номер патента: US20240370755A1. Автор: Julian Shaw Kelly,Charles Neill. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-11-07.

Applying Two-qubit Quantum Logic Gates in a Superconducting Quantum Processing Unit

Номер патента: US20230409942A1. Автор: Nicolas Didier,Eyob A. Sete,Stefano Poletto. Владелец: Rigetti and Co LLC. Дата публикации: 2023-12-21.

Applying two-qubit quantum logic gates in a superconducting quantum processing unit

Номер патента: EP4268148A1. Автор: Nicolas Didier,Stefano Poletto,Eyob SETE. Владелец: Rigetti and Co LLC. Дата публикации: 2023-11-01.

Backtesting quantum device calibration

Номер патента: WO2024186361A2. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-09-12.

Quantum devices and memory structures for quantum metrology

Номер патента: US20240354617A1. Автор: Elad Mentovich,Itshak Kalifa. Владелец: MELLANOX TECHNOLOGIES LTD. Дата публикации: 2024-10-24.

Readout of quantum devices

Номер патента: WO2024156939A1. Автор: Andrew Guthrie. Владелец: IQM Finland Oy. Дата публикации: 2024-08-02.

Operating quantum devices using a temporal metric

Номер патента: US12130694B2. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-10-29.

Backtesting Quantum Device Calibration

Номер патента: US20240160976A1. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Operating quantum devices using a temporal metric

Номер патента: WO2023191845A2. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-10-05.

Operating quantum devices using a temporal metric

Номер патента: AU2022449871A1. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-03-14.

Operating quantum devices using a temporal metric

Номер патента: CA3231384A1. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-10-05.

Operating quantum devices using a temporal metric

Номер патента: EP4377854A2. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-05.

Operating quantum devices using a temporal metric

Номер патента: WO2023191845A3. Автор: Paul Victor KLIMOV. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Quantum device and configuration method thereof

Номер патента: US20240062089A1. Автор: Yuichi Igarashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Analyzing electrical impedance measurements of an electromechanical battery

Номер патента: US11474158B2. Автор: Valentin BOSS. Владелец: NOVUM ENGINEERING GMBH. Дата публикации: 2022-10-18.

Analyzing electrical impedance measurements of an electrochemical battery

Номер патента: EP3812779A1. Автор: Valentin BOSS. Владелец: NOVUM ENGINEERING GMBH. Дата публикации: 2021-04-28.

Quantum device and quantum operation device

Номер патента: US20240302590A1. Автор: Kenichi Kawaguchi,Tetsuya Miyatake,Shintaro Sato,Toshiki Iwai,Yoshiyasu Doi,Tetsuro ISHIGURO. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Quantum device and quantum operation apparatus

Номер патента: EP4435509A1. Автор: Kenichi Kawaguchi,Tetsuya Miyatake,Shintaro Sato,Toshiki Iwai,Yoshiyasu Doi,Tetsuro ISHIGURO. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Machine learning network for screening quantum devices

Номер патента: CA3126479A1. Автор: Antonio Rodolph Bighetti Mei. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2022-03-18.

Machine learning network for screening quantum devices

Номер патента: EP3975058A1. Автор: Antonio Rodolph Bighetti Mei. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2022-03-30.

Machine learning network for screening quantum devices

Номер патента: AU2021209294A1. Автор: Antonio Rodolph Bighetti Mei. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2022-04-07.

Read determination device, read determination method, and read determination program

Номер патента: US20150296034A1. Автор: Shanshan Yu,Akinori TAGUCHI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-10-15.

DEVICE FOR DETECTING RAIL DEFECTS BY IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: FR3032794B1. Автор: Rene Tutzauer,Jacques Pore,Marc Burier,Aurelie Pornin,Frederic Lalloyer,Herve Collard. Владелец: Metrolab SAS. Дата публикации: 2017-10-06.

Composite code pattern, generating device, reading device, method, and program

Номер патента: US11755867B2. Автор: Kenji Yoshida,Masakatsu Morii. Владелец: IP SOLUTIONS Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

READ DETERMINATION DEVICE, READ DETERMINATION METHOD, AND READ DETERMINATION PROGRAM

Номер патента: US20150296034A1. Автор: Taguchi Akinori,YU Shanshan. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2015-10-15.

Systems and methods for impedance measurement of a battery cell

Номер патента: US20220341999A1. Автор: Daniel A. KONOPKA,John Richard HOWLETT, III. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2022-10-27.

IMPEDANCE MEASURING DEVICE AND CONTROL METHOD FOR IMPEDANCE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20160028095A1. Автор: Sakai Masanobu. Владелец: NISSAN MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2016-01-28.

COMPOSITE CODE PATTERN, GENERATING DEVICE, READING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210103786A1. Автор: Yoshida Kenji,MORII Masakatsu. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-08.

Impedance measuring device and control method for impedance measuring device

Номер патента: CA2905584A1. Автор: Masanobu Sakai. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Impedance measurement device and the control method of impedance measurement device

Номер патента: CN105008937B. Автор: 酒井政信. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-23.

Impedance measuring device and control method for impedance measuring device

Номер патента: WO2014141752A1. Автор: 酒井 政信. Владелец: 日産自動車株式会社. Дата публикации: 2014-09-18.

Impedance measuring apparatus and impedance measuring method

Номер патента: JPWO2015145615A1. Автор: 哲也 青木,青木 哲也,政信 酒井,充彦 松本,酒井 政信. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-13.

Impedance measuring device and control method of impedance measuring device

Номер патента: JPWO2014141752A1. Автор: 政信 酒井,酒井 政信. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Impedance measuring instrument and impedance measuring method

Номер патента: CN106133539A. Автор: 酒井政信,青木哲也,松本充彦. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-16.

Systems and methods for impedance measurement of a battery cell

Номер патента: EP4154377A4. Автор: Daniel A Konopka,Iii John Richard Howlett,Jeffrey J Holt. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2024-07-03.

Battery cell impedance measurement method and apparatus

Номер патента: US20120280693A1. Автор: Matheus Johannes Gerardus Lammers. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-11-08.

Battery cell impedance measurement method and apparatus

Номер патента: US20120280693A1. Автор: Matheus Johannes Gerardus Lammers. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-11-08.

Series Tee Splitter for Impedance Measurements

Номер патента: US20220099720A1. Автор: Tyler Bowman,Matthew Halligan. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2022-03-31.

ACCESS CONTROL AUTHENTICATION BASED ON IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20160165450A1. Автор: de Léon David,Nord Lars,Thörn Ola,Hunt Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

Systems and Methods for Hematocrit Impedance Measurement Using Switched Capacitor Accumulator

Номер патента: US20200253514A1. Автор: Leone Steven V.. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

Efficient read by reconstruction

Номер патента: US12008266B2. Автор: Jun He,John Colgrove,Vincent Wang,Mark Fay,Renjie Fan. Владелец: Pure Storage Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Storage device read-disturb-based block read temperature utilization system

Номер патента: US11922019B2. Автор: Walter A. O'Brien, III,Ali Aiouaz,Leland W. THOMPSON. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-03-05.

Storage device read-disturb-based read temperature map utilization system

Номер патента: US11914494B2. Автор: Walter A. O'Brien, III,Ali Aiouaz,Leland W. THOMPSON. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-02-27.

System and method for caching solid state device read request results

Номер патента: US09990298B2. Автор: Lee Anton Sendelbach,Jeffrey S. Werning. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Multi-device read protocol using a single device group read command

Номер патента: US11789891B2. Автор: Wayne Ballantyne. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Impedance measuring device and measuring method using the same

Номер патента: KR20190068310A. Автор: 권순재,박종철,유형준,이태재,조한원,윤석오. Владелец: 한국과학기술원. Дата публикации: 2019-06-18.

Transducer interface pair impedance measurement

Номер патента: US20190039091A1. Автор: Baher S. Haroun,Krishnaswamy Nagaraj,Asif Qaiyum. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-02-07.

Current-to-voltage converting apparatus and impedance measuring apparatus

Номер патента: US20040212374A1. Автор: Yukoh Iwasaki. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-10-28.

Integrated circuit device for impedance measurement

Номер патента: US09651582B2. Автор: Anton Salfelner. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2017-05-16.

Battery impedance measurement circuit

Номер патента: EP4220208A4. Автор: Lammeren J P M Van. Владелец: Shanghai Dn Semiconductors Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Noise cancellation in impedance measurement circuits

Номер патента: EP3964129C0. Автор: Colin Lyden,Oliver Brennan,Thomas TANSLEY. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-07-03.

Noise cancellation in impedance measurement circuits

Номер патента: EP3964129B1. Автор: Colin Lyden,Oliver Brennan,Thomas TANSLEY. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2024-07-03.

RF Impedance Measurement and Tuning System

Номер патента: US20200088773A1. Автор: Bauder Ruediger,Thomas Anthony,Solomko Valentyn. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

MULTI-CELL AC IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20210223327A1. Автор: MARSILI Stefano,Berger Andreas,ROSE Matthias,Winkler Christian,HOFER Guenter,Hoermaier Klaus,Misra Akshay. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

IMPEDANCE MEASURING SEMICONDUCTOR CIRCUIT

Номер патента: US20190250197A1. Автор: Suzuki Hiroto. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-15.

Impedance measurement system for power system transmission lines

Номер патента: EP1142076A1. Автор: Yi Hu,David G. Hart,Damir Novosel,Bernhard Bachmann,Murari M. Saha. Владелец: ABB Power T&D Co Inc. Дата публикации: 2001-10-10.

Image reading apparatus, program, and recording medium which can be read by computer

Номер патента: US20020181032A1. Автор: Hisashi Sano. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-12-05.

Scanner that combines images read by first and second sensor arrays, scan program, and method of producing scan data

Номер патента: US10397434B2. Автор: Kiyoharu Momose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Method for optimizing the reading by a user equipment of mcch(mbms point-to-multipoint control channel)information

Номер патента: EP2014124A1. Автор: Vincent Roger. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2009-01-14.

Method for optimizing the reading by a user equipment of mcch(mbms point-to-multipoint control channel)information

Номер патента: WO2007126156A1. Автор: Vincent Roger. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2007-11-08.

Quantum device and its manufacturing method

Номер патента: US20230422636A1. Автор: Tetsuro Sato,Tsuyoshi Yamamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Quantum device

Номер патента: US20240206350A1. Автор: Yohei Kawakami,Tomohiro Yamaji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Quantum device and its manufacturing method

Номер патента: US20240099160A1. Автор: Tetsuro Sato,Tsuyoshi Tsuyoshi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and related electronic device for adjustment of a radio frequency circuit by impedance loading features

Номер патента: US8019307B2. Автор: Yung-Jinn Chen. Владелец: Winstron NeWeb Corp. Дата публикации: 2011-09-13.

Paramagnetic Tree Coupling Of Spin Qubits

Номер патента: US20190213494A1. Автор: Andrew J. Kerman. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2019-07-11.

Paramagnetic Tree Coupling Of Spin Qubits

Номер патента: US20190213494A1. Автор: Andrew J. Kerman. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2019-07-11.

Efficient quantum chemistry simulation using gate-based qubit quantum devices

Номер патента: EP4062331A1. Автор: Jose Gamez,Vincent ELFVING,Christian GOGOLIN. Владелец: Qu & Co Chemistry BV. Дата публикации: 2022-09-28.

Method and system for optimal decomposition of single-qubit quantum circuits using standard quantum gates

Номер патента: US20140026107A1. Автор: Alexei Bocharov,Krysta Svore. Владелец: Microsoft Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Magnétomètre et radar quantique à spin-qubit implementés en silicium et controllés electriquement

Номер патента: FR3117605B1. Автор: Pierre Gandolfo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-02-17.

Magnétomètre et radar quantique à spin-qubit implementés en silicium et controllés electriquement

Номер патента: FR3117605A1. Автор: Pierre Gandolfo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-17.

Method and apparatus for electrode impedance measurement

Номер патента: AU2016256667B2. Автор: Ray Keech. Владелец: ABB Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

Impedance measuring device

Номер патента: EP4394401A1. Автор: Naoya Kitamura,Ryohei Yoshihara,Kazuaki Haneda. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Apparatus and method for storage device reading

Номер патента: US20160042787A1. Автор: Robert J. Brooks. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2016-02-11.

Impedance measuring device for biological samples and impedance measuring system for biological samples

Номер патента: US09952168B2. Автор: MarcAurele Brun,Kazumasa Sato. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Reduction of noise in impedance measurement circuits

Номер патента: EP4157067A1. Автор: Colin G. Lyden,Oliver J. Brennan,Thomas J. Tansley. Владелец: Analog Devices International ULC. Дата публикации: 2023-04-05.

Reduction of noise in impedance measurement circuits

Номер патента: WO2021245108A1. Автор: Colin G. Lyden,Oliver J. Brennan,Thomas J. Tansley. Владелец: Analog Devices International Unlimited Company. Дата публикации: 2021-12-09.

Impedance measurement system with incorporated internal measurement drift compensation networks

Номер патента: CA2588448A1. Автор: David Jones,Peter Leigh-Jones,Dirk Kupershoek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-15.

Circuit for impedance measurements

Номер патента: WO2023078923A1. Автор: Stefan OLEJINICZAK. Владелец: Mettler-Toledo GmbH. Дата публикации: 2023-05-11.

Systems and methods for battery reactive impedance measurements

Номер патента: US20240264239A1. Автор: Anthony John Allen. Владелец: Renesas Electronics America Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Apparatus and method for storage device reading

Номер патента: EP2932505A1. Автор: Robert J. Brooks. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2015-10-21.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Loop impedance measuring apparatus and method for subscriber loop interface circuits

Номер патента: EP1079591A3. Автор: Christopher Ludeman. Владелец: Intersil Corp. Дата публикации: 2003-06-04.

Device and Method for Battery Impedance Measurement

Номер патента: US20200132781A1. Автор: Stefano Marsili,Klaus Hoermaier,Akshay Misra,Filippo Rosetti. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-04-30.

Battery electrical impedance measurement

Номер патента: WO2023174895A1. Автор: Colin G. Lyden,Patrick Pratt,Brendan M. DALY. Владелец: Analog Devices International Unlimited Company. Дата публикации: 2023-09-21.

Impedance measurement device

Номер патента: US20230346239A1. Автор: Dennis Wayne SCHLAHT,Aaron Ogilvie. Владелец: Impedimed Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Impedance measurement system

Номер патента: US20240032814A1. Автор: Tim Essex,Matthew Joseph Miller,Jack Gerald COSENTINO. Владелец: Impedimed Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Systems and Methods for Hematocrit Impedance Measurement Using Difference Identity Phase

Номер патента: US20200256820A1. Автор: Steven V. Leone. Владелец: Trividia Health Inc. Дата публикации: 2020-08-13.

Bioelectrical impedance measuring system

Номер патента: US3971365A. Автор: Leland B. Smith. Владелец: Beckman Instruments Inc. Дата публикации: 1976-07-27.

Methods and devices for liquid impedance measurement using a four-electrode device

Номер патента: EP4332558A1. Автор: Pawel Bembnowicz. Владелец: STICHTING IMEC NEDERLAND. Дата публикации: 2024-03-06.

Zero-sequence impedance measurement of coupled ac transmission lines

Номер патента: US20220413026A1. Автор: Mahdi Davarpanah,Hamed Morsali. Владелец: Electronic Sazan Fan Aria Co. Дата публикации: 2022-12-29.

AC Impedance Measurement Circuit with Calibration Function

Номер патента: US20210382100A1. Автор: Yu-Wei Chuang,Po-Yin Chao,Shui-Chu Lee. Владелец: Hycon Technology Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Multispectral impedance measurements across strings of interconnected cells

Номер патента: US11714056B2. Автор: Jon P. Christophersen. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2023-08-01.

Acoustic impedance measuring system and acoustic impedance measuring method

Номер патента: US11774320B1. Автор: Chiung C. Lo,Kuan-Ju Tseng,Wen-Chien Chen. Владелец: Xmems Labs Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Zero-sequence impedance measurement of coupled ac transmission lines

Номер патента: WO2024047379A1. Автор: Mahdi Davarpanah,Hamed Morsali. Владелец: Hamed Morsali. Дата публикации: 2024-03-07.

Multispectral Impedance Measurements Across Strings Of Interconnected Cells

Номер патента: US20230375491A1. Автор: Jon P. Christophersen. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Methods and devices for liquid impedance measurement using a four-electrode device

Номер патента: US20240077441A1. Автор: Pawel Bembnowicz. Владелец: STICHTING IMEC NEDERLAND. Дата публикации: 2024-03-07.

Multispectral Impedance Measurements Across Strings Of Interconnected Cells

Номер патента: US20210215628A1. Автор: Jon P. Christophersen. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2021-07-15.

Impedance measurement system

Номер патента: US20230075287A1. Автор: Tomohiro Abe. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Enhanced chirp excitation signal for broadband impedance measurement

Номер патента: EP3963345A1. Автор: John Morrison,Jon P. Christophersen,Bryce HILL. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2022-03-09.

Contrast agent to assess quality of occlusion through impedance measurement

Номер патента: WO2016086313A1. Автор: Nicolas COULOMBE,Jean Pierre Lalonde. Владелец: MEDTRONIC CRYOCATH LP. Дата публикации: 2016-06-09.

Contrast agent to assess quality of occlusion through impedance measurement

Номер патента: US09956025B2. Автор: Nicolas COULOMBE,Jean-Pierre Lalonde. Владелец: MEDTRONIC CRYOCATH LP. Дата публикации: 2018-05-01.

Impedance measuring circuit

Номер патента: US09817035B2. Автор: Shigeo Imai,Yosuke Ogawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Impedance measuring device for printed wiring board

Номер патента: US6856152B2. Автор: Yorio Hidehira. Владелец: MicroCraft KK. Дата публикации: 2005-02-15.

On-line battery impedance measurement

Номер патента: CA2101475C. Автор: John W. Wurst. Владелец: BTECH Inc. Дата публикации: 1997-12-09.

Method of Calibrating Impedance Measurements of A Battery

Номер патента: US20210181290A1. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2021-06-17.

Method Of Calibrating Impedance Measurements Of A Battery

Номер патента: US20200241102A1. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-30.

Impedance measurement device

Номер патента: EP3801243A1. Автор: David Melin,Nima Askary Lord,Angelica Korsfeldt,Alexandra Josefsson,Andreas Berndtsson. Владелец: SCIBASE AB. Дата публикации: 2021-04-14.

Novel Biosensing Technology Based on Enzymatic Electrochemical Impedance Measurement

Номер патента: US20190064100A1. Автор: Koji Sode,Junko SHIMAZAKI. Владелец: Ultizyme International Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Method of calibrating impedance measurements of a battery

Номер патента: US10942240B2. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2021-03-09.

Method Of Calibrating Impedance Measurements Of A Battery

Номер патента: US20190302215A1. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2019-10-03.

Impedance measuring apparatus of package substrate and method for the same

Номер патента: US7292054B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-11-06.

Vascular impedance measurement instrument

Номер патента: US5211177A. Автор: Stanley M. Finkelstein,Jay N. Cohn,Charles F. Chesney. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 1993-05-18.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US20100171517A1. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-07-08.

Circuit module for impedance measuring circuit

Номер патента: GB2124785A. Автор: David C Goodey. Владелец: WKR Ltd. Дата публикации: 1984-02-22.

Contrast agent to assess quality of occlusion through impedance measurement

Номер патента: US20200179029A1. Автор: Nicolas COULOMBE,Jean-Pierre Lalonde. Владелец: MEDTRONIC CRYOCATH LP. Дата публикации: 2020-06-11.

Contrast agent to assess quality of occlusion through impedance measurement

Номер патента: US20180206901A1. Автор: Nicolas COULOMBE,Jean-Pierre Lalonde. Владелец: MEDTRONIC CRYOCATH LP. Дата публикации: 2018-07-26.

Impedance measurement in diagnostic testing

Номер патента: US20210123902A1. Автор: Xin Zhang,Isaac Chase NOVET,Venugopal Gopinathan,Gaurav Vohra,Thomas G. O'Dwyer,YounJae KOOK. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2021-04-29.

Contrast agent to assess quality of occlusion through impedance measurement

Номер патента: EP3226757A1. Автор: Nicolas COULOMBE,Jean Pierre Lalonde. Владелец: MEDTRONIC CRYOCATH LP. Дата публикации: 2017-10-11.

Multiplexed readout of quantum devices

Номер патента: WO2023023194A3. Автор: Mohamed Hamed Awida HASSAN. Владелец: Fermi Research Alliance, LLC. Дата публикации: 2023-03-30.

Book for joint reading by a visually impaired person and a sighted person

Номер патента: US5033964A. Автор: Shawn M. Phelps. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-07-23.

Photosensitive device read by charge transfer

Номер патента: US4430672A. Автор: Jean Luc Berger. Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1984-02-07.

Component impedance measurement and characterization at high transient voltages

Номер патента: US12072362B2. Автор: Mohit Gopalraj. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Impedance measurement for a haptic load

Номер патента: EP4421767A2. Автор: Liangguo SHEN,Joseph Dale RUTKOWSKI,Joshua ZAZZERA,Nathaniel Salazar. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Exposure head, image forming device, reading head and reading device

Номер патента: JP6943225B2. Автор: 蓮 中道. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Memory recording device, reading-out device, recording and reading-out devices

Номер патента: CN1351379A. Автор: 西原孝史,山田升,儿岛理惠. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2002-05-29.

Equivalent impedance measurement method and apparatus for photovoltaic assembly

Номер патента: EP4344056A1. Автор: Kun Wang,Fangcheng LIU,Kai Xin. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-27.

Systems and methods for impedance measurement of a battery cell

Номер патента: CA3223271A1. Автор: Daniel A. KONOPKA,John Richard HOWLETT III. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-05.

Systems and methods for impedance measurement of a battery cell

Номер патента: AU2022301001A1. Автор: Daniel A. KONOPKA,John Richard HOWLETT III. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Systems and methods for impedance measurement of a battery cell

Номер патента: EP4364264A1. Автор: Daniel A. KONOPKA,John Richard HOWLETT III. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Enhanced Impedance Measurement using CTMU

Номер патента: US20220413025A1. Автор: Bogdan Bolocan,Ezana Haile,Pat Richards. Владелец: Microchip Technology Inc. Дата публикации: 2022-12-29.

Enhanced impedance measurement using CTMU

Номер патента: US11906559B2. Автор: Bogdan Bolocan,Ezana Haile,Pat Richards. Владелец: Microchip Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-20.

Impedance measurement for a haptic load

Номер патента: US11722085B2. Автор: Liangguo SHEN,Joseph Dale RUTKOWSKI,Joshua ZAZZERA,Nathaniel Salazar. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-08-08.

Impedance measurement for a haptic load

Номер патента: WO2022155001A1. Автор: Liangguo SHEN,Joseph Dale RUTKOWSKI,Joshua ZAZZERA,Nathaniel Salazar. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-07-21.

Impedance measurement for a haptic load

Номер патента: EP4278197A1. Автор: Liangguo SHEN,Joseph Dale RUTKOWSKI,Joshua ZAZZERA,Nathaniel Salazar. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-11-22.

System and method for merging live medical device readings into virtual doctor visit secure video

Номер патента: WO2022132253A1. Автор: William W. JENNINGS. Владелец: ARRIS Enterprises LLC. Дата публикации: 2022-06-23.

IOT DEVICE READING TRANSFORMATIONS

Номер патента: US20220272162A1. Автор: Hassane Anes. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

Impedance measuring circuit, its method, and capacitance measuring circuit

Номер патента: CN1842712A. Автор: 池内直树,八壁正巳. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-10-04.

Magnetoresistive device, read head having the same, and drive

Номер патента: US20030090844A1. Автор: Atsushi Tanaka,Yoshihiko Seyama,Keiichi Nagasaka,Yutaka Shimizu,Hirotaka Oshima. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-05-15.

Impedance measuring circuit, its method, and capacitance measuring circuit

Номер патента: CN100454028C. Автор: 池内直树,八壁正巳. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-01-21.

Magnetoresistive device, read head and storage having the same

Номер патента: US20080013220A1. Автор: Tomohisa Yasukawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-01-17.

Iot device reading transformations

Номер патента: US20220272162A1. Автор: Anes Hassane. Владелец: Insight Direct Usa Inc. Дата публикации: 2022-08-25.

IoT device reading transformations

Номер патента: US11902385B2. Автор: Anes Hassane. Владелец: Insight Direct Usa Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

System and method for merging live medical device readings into virtual doctor visit secure video

Номер патента: US20220200974A1. Автор: William W. JENNINGS. Владелец: ARRIS Enterprises LLC. Дата публикации: 2022-06-23.

Test fixture for impedance measurements

Номер патента: WO2004113935A3. Автор: Satish Prabhakaran,Charles Roger Sullivan. Владелец: Charles Roger Sullivan. Дата публикации: 2005-03-24.

Equivalent impedance measurement method and apparatus for photovoltaic assembly

Номер патента: EP4344056A4. Автор: Kun Wang,Fangcheng LIU,Kai Xin. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

In-situ On-line and Embedded Battery Impedance Measurement Device Using Active Balancing Circuits

Номер патента: US20210006077A1. Автор: Rentel Carlos. Владелец: X-wave Innovations, Inc.. Дата публикации: 2021-01-07.

BATTERY IMPEDANCE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20210141023A1. Автор: Gunji Keita. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-13.

Universal Non-Invasive Chamber Impedance Measurement System and Associated Methods

Номер патента: US20180151331A1. Автор: Schaefer David,Liu Chin-Yi,MAROHL Dan. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

SYSTEMS AND METHODS FOR IMPEDANCE MEASUREMENT OF A BATTERY CELL

Номер патента: US20210367442A1. Автор: III John Richard,HOWLETT,KONOPKA Daniel A.,HOLT Jeffrey J.. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-25.

Reduction of Inrush Current Due to Voltage Sags by Impedance Removal Timing

Номер патента: EP2680386A1. Автор: Deepak Divan. Владелец: Georgia Tech Research Institute. Дата публикации: 2014-01-01.

Test system for adjusting a wireless communication device by impedance loading features

Номер патента: TW200931043A. Автор: Chen-Shu Peng. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2009-07-16.

Device and method for operating a semiconductor spin qubit quantum computer

Номер патента: WO2024193788A1. Автор: Matthias Künne. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JULICH GMBH. Дата публикации: 2024-09-26.

Methods and circuits for performing two-qubit quantum gates

Номер патента: WO2023102654A1. Автор: Alireza NAJAFI-YAZDI,Gabriel ETHIER-MAJCHER,Claudéric OUELLET-PLAMONDON. Владелец: Anyon Systems Inc.. Дата публикации: 2023-06-15.

Methods and circuits for performing two-qubit quantum gates

Номер патента: US20240070502A1. Автор: Alireza NAJAFI-YAZDI,Gabriel ETHIER-MAJCHER,Claudéric QUELLET-PLAMONDON. Владелец: Anyon Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Methods and circuits for performing two-qubit quantum gates

Номер патента: CA3239898A1. Автор: Alireza NAJAFI-YAZDI,Gabriel ETHIER-MAJCHER,Claudéric OUELLET-PLAMONDON. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-15.

Methods and circuits for performing two-qubit quantum gates

Номер патента: US12067460B2. Автор: Alireza NAJAFI-YAZDI,Gabriel ETHIER-MAJCHER,Claudéric OUELLET-PLAMONDON. Владелец: Anyon Systems Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Methods and circuits for performing two-qubit quantum gates

Номер патента: EP4445300A1. Автор: Alireza NAJAFI-YAZDI,Gabriel ETHIER-MAJCHER,Claudéric OUELLET-PLAMONDON. Владелец: Anyon Systems Inc. Дата публикации: 2024-10-16.

Systems and methods for implementing remote-state preparation on a noisy-intermediate size quantum device

Номер патента: US20230368060A1. Автор: Laura Lewis. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-16.

PARAMAGNETIC TREE COUPLING OF SPIN QUBITS

Номер патента: US20170140296A1. Автор: Kerman Andrew J.. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

Reading system, reading device, reading method, and storage medium

Номер патента: US11900664B2. Автор: Toshikazu TAKI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Speaker impedance measurement

Номер патента: WO2012004348A1. Автор: Sergio Pernici,Robert Nilsson,Federico Guanziroli,Jan Thimansson. Владелец: ST-Ericsson SA. Дата публикации: 2012-01-12.

READING SYSTEM, READING DEVICE, READING METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20200342251A1. Автор: TAKI Toshikazu. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2020-10-29.

Monitoring of physiological parameters with impedance measurement

Номер патента: EP4236791A1. Автор: Randal C. Schulhauser,Hyun J. Yoon,Jason C. Lee,Jon E. THISSEN,Ashley L. Galarneau. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Wearable device having structure preventing measurement error caused by impedance

Номер патента: US20220142544A1. Автор: Jong Ook Jeong,Seung Bum CHO,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Impedance measurement circuit

Номер патента: US4870341A. Автор: James M. Pihl,Denny C. Edwards. Владелец: First Medical Devices Corp. Дата публикации: 1989-09-26.

Mucosal impedance measuring device with endoscopic articulation

Номер патента: EP3930562A1. Автор: Charles Lindsay. Владелец: Diversatek Healthcare Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Method and system for electrode impedance measurement

Номер патента: US09980662B2. Автор: Stéphane Bibian,Tatjana Zikov. Владелец: Neurowave Systems Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

Evaluating impedance measurements

Номер патента: AU2019348188B2. Автор: Richelle Leanne Gaw,Benjamin Sanchez TERRONES. Владелец: Impedimed Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Electrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US09636038B2. Автор: Yukio Nonaka. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020072687A1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20120194203A1. Автор: Masato Osawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Printheads with sensor plate impedance measurement

Номер патента: US09962949B2. Автор: Andrew Van Brocklin,Adam L. Ghozeil,Scott A. Linn,David Maxfield. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2018-05-08.

Method and device for bio impedance measurement

Номер патента: US09839370B2. Автор: Olivier Chetelat. Владелец: Centre Suisse dElectronique et Microtechnique SA CSEM. Дата публикации: 2017-12-12.

Electrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20150238116A1. Автор: Yukio Nonaka. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Body impedance measurement apparatus

Номер патента: US20120296231A1. Автор: Masahiro Kitagawa,Tsutomu Yamasawa,Nobuhiko OSOEGAWA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-11-22.

Determining a time instant for an impedance measurement

Номер патента: US09776395B2. Автор: Daryl E Anderson,Peter James Fricke,Eric T Martin. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2017-10-03.

Biopsy system having tissue sample impedance measurement

Номер патента: CA3154455A1. Автор: Brian Boyle,Ranjani Sampath Kumaran,Bryon Pelzek. Владелец: Bard Peripheral Vascular Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

Device and method for dynamic skin impedance measurement and correction

Номер патента: US11896358B2. Автор: Tao Zhang,Weihui Li. Владелец: Wellness Allied Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Combinatorial sensing of sweat biomarkers using potentiometric and impedance measurements

Номер патента: EP3166486A2. Автор: Jason C. Heikenfeld,Zachary Cole Sonner,Joshua A. Hagen. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 2017-05-17.

Impedance measurement circuit architecture

Номер патента: US11826577B2. Автор: Michael KEMMERER,Scott G. Sorenson. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2023-11-28.

Vascular impedance measuring device and method of determining impedance

Номер патента: US20170086682A1. Автор: Andrew Kelly JOHNSON. Владелец: RUSH UNIVERSITY MEDICAL CENTER. Дата публикации: 2017-03-30.

Impedance measurement and demodulation using implantable device

Номер патента: EP2240076A2. Автор: William J. Linder,Michael J. Lyden,Angela M. Muttonen,George D. Ritzinger. Владелец: Cardiac Pacemakers Inc. Дата публикации: 2010-10-20.

Impedance measurement circuit architecture

Номер патента: WO2022182495A1. Автор: Michael KEMMERER,Scott G. Sorenson. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2022-09-01.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US6738660B2. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2004-05-18.

Determination of biological conditions using impedance measurements

Номер патента: CA2444211C. Автор: Stig Ollmar,Peter ÅBERG,Ingrid Nicander. Владелец: SCIBASE AB. Дата публикации: 2013-11-19.

Apparatus and method for impedance measurement of body tissues

Номер патента: US4823797A. Автор: Roland Heinze,Karl Stangl. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1989-04-25.

Assessment of cardiac wall motion using impedance measurements

Номер патента: WO2011025617A1. Автор: Theodore Chow. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2011-03-03.

Determining a time instant for an impedance measurement

Номер патента: EP3137302A1. Автор: Daryl E. Anderson,Peter James Fricke,Eric T. Martin. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2017-03-08.

Assessment of cardiac wall motion using impedance measurements

Номер патента: EP2473103A1. Автор: Theodore Chow. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2012-07-11.

Reading control device, reading control method, and vehicle

Номер патента: US20240176968A1. Автор: Akira Imai,Masakazu Ishimaru. Владелец: Isuzu Motors Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Printing device, reading method, and program

Номер патента: EP3919277A1. Автор: Yosuke Kimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-12-08.

Reading device, reading method, reading program, and settlement processing method

Номер патента: EP3901812A1. Автор: Ryo TAKAO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Reading device, reading method, reading program, and settlement processing method

Номер патента: US20210133413A1. Автор: Ryo TAKAO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Information processing system and program storage device read by the system

Номер патента: US6020971A. Автор: Hiromi Mori,Norihiko Asai,Tokunori Kato. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2000-02-01.

METHOD AND SYSTEM FOR OPTIMAL DECOMPOSITION OF SINGLE-QUBIT QUANTUM CIRCUITS USING STANDARD QUANTUM GATES

Номер патента: US20150186587A1. Автор: Svore Krysta,Bocharov Alexei. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-02.

Multiplying data storage device read throughput

Номер патента: US20210382827A1. Автор: XIONG Liu,Li Hong Zhang. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2021-12-09.

Multiplying data storage device read throughput

Номер патента: US20210034542A1. Автор: XIONG Liu,Li Hong Zhang. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2021-02-04.

Reading device, reading method, reading program, and settlement processing method

Номер патента: EP3901812A4. Автор: Ryo TAKAO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-02-23.

Optical device reading method and device

Номер патента: EP2583132A1. Автор: Axel Lundvall. Владелец: ROLLING OPTICS AB. Дата публикации: 2013-04-24.

Radio frequency signal modulation by impedance variation

Номер патента: IL283817B2. Автор: Stefan Meyer,Matthieu Boubat,OLCHEVSKIIvan,SANDOZJean-Paul. Владелец: Sandozjean Paul. Дата публикации: 2024-04-01.

Read-in Device, Read-in Result Output Method, and Medium

Номер патента: US20150193646A1. Автор: USHIKI Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-09.

MULTI-DEVICE READ PROTOCOL USING A SINGLE DEVICE GROUP READ COMMAND

Номер патента: US20210216494A1. Автор: Ballantyne Wayne. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-15.

Control device, reading device, task assistance system, non-transitory computer readable medium, and control method

Номер патента: US10832203B2. Автор: Masanori Wada. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-10.

Read-in device, read-in result output method, and program

Номер патента: WO2013179436A1. Автор: 崇 丑木. Владелец: 株式会社オプトエレクトロニクス. Дата публикации: 2013-12-05.

Radio frequency signal modulation by impedance variation

Номер патента: IL283817B1. Автор: Stefan Meyer,Matthieu Boubat,OLCHEVSKIIvan,SANDOZJean-Paul. Владелец: Sandozjean Paul. Дата публикации: 2023-12-01.

Radio frequency signal modulation by impedance variation

Номер патента: US12131215B2. Автор: Stefan Meyer,Jean-Paul Sandoz,Ivan Olchevski,Matthieu Boubat. Владелец: Mhm Microtechnique Sarl. Дата публикации: 2024-10-29.

RADIO FREQUENCY SIGNAL MODULATION BY IMPEDANCE VARIATION

Номер патента: US20220027583A1. Автор: Meyer Stefan,Sandoz Jean-Paul,OLCHEVSKI Ivan,BOUBAT Matthieu. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-27.

Radio frequency signal modulation by impedance variation

Номер патента: EP3667550B1. Автор: Stefan Meyer,Jean-Paul Sandoz,Ivan Olchevski,Matthieu Boubat. Владелец: Innolab Engineering Sarl. Дата публикации: 2021-02-17.

Printing device, reading method, and program

Номер патента: EP3919277B1. Автор: Yosuke Kimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-09-06.

Detection and mitigation for solid-state storage device read failures due to weak erase

Номер патента: US20200264944A1. Автор: Antoine Khoueir,Darshana H. Mehta. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2020-08-20.

Storage device reading and writing cold data based on identifier and operating method of the storage device

Номер патента: US20240338136A1. Автор: Seung Soo Kim,Hyeong Jae CHOI. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

OPTICAL DEVICE READING METHOD AND DEVICE

Номер патента: US20130098999A1. Автор: Lundvall Axel. Владелец: ROLLING OPTICS AB. Дата публикации: 2013-04-25.

MULTIPLYING DATA STORAGE DEVICE READ THROUGHPUT

Номер патента: US20210034542A1. Автор: Liu Xiong,ZHANG Li Hong. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

Reducing solid state Storage device read tail latency

Номер патента: US20190056870A1. Автор: QI Wu,Fei Sun,Jinjin He. Владелец: ScaleFlux Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Printing Device, Reading System, and POS System

Номер патента: US20150234620A1. Автор: Takamoto Akio,Ueno Yoshihiro,Furuhata Tadashi,Terashima Katsutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

DETECTION AND MITIGATION FOR SOLID-STATE STORAGE DEVICE READ FAILURES DUE TO WEAK ERASE

Номер патента: US20200264944A1. Автор: Khoueir Antoine,MEHTA Darshana H.. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2020-08-20.

PRINTING DEVICE READING INFORMATION FROM AND WRITING INFORMATION TO STORAGE ELEMENT PROVIDED ON TAPE

Номер патента: US20200293845A1. Автор: MURAYAMA Kentaro,TERADA Kohei,HAYASHI Yuji. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

SYSTEM AND METHOD FOR CACHING SOLID STATE DEVICE READ REQUEST RESULTS

Номер патента: US20150324134A1. Автор: SENDELBACH Lee Anton,Werning Jeffrey S.. Владелец: HGST NETHERLANDS B.V.. Дата публикации: 2015-11-12.

A kind of method and device reading electronic labeling information

Номер патента: CN106203556B. Автор: 褚维戈. Владелец: INTELLIGENT WEISHI TECHNOLOGY (SHENZHEN) Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-01.

A kind of device reading automotive number plate two dimensional code

Номер патента: CN106022193B. Автор: 赵子方,赵子江. Владелец: SICHUAN TONG'AN INDUSTRY Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-11.

Terminal device, read-write equipment, data transmission system and hardware initialization method

Номер патента: CN106776428A. Автор: 刘伟. Владелец: Guangzhou Shirui Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-31.

Methods and circuits for DDR-2 memory device read data resynchronization

Номер патента: US7558151B1. Автор: Mikhail Svoiski. Владелец: Integrated Device Technology Inc. Дата публикации: 2009-07-07.

Information processing device, reading device and program

Номер патента: JP7224925B2. Автор: 慎治 三枝,隆志 冨山. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2023-02-20.

Method and device for controlling storage device reading and writing

Номер патента: WO2019196588A1. Автор: 于峰,张朝,章强,李虎军,熊平,曹耀斌. Владелец: 中兴通讯股份有限公司. Дата публикации: 2019-10-17.

Multi-layer image file, generation method and device, read method and device

Номер патента: CN106991143B. Автор: 马柳青,贾庆雷,周淮浦. Владелец: SUZHOU ZHONGKE TUXIN NETWORK TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-19.

System and method for caching solid state device read request results

Номер патента: GB201507569D0. Автор: . Владелец: HGST NETHERLANDS BV. Дата публикации: 2015-06-17.

Tracking of catheter from insertion point to heart using impedance measurements

Номер патента: US09629570B2. Автор: Meir Bar-tal. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Determination of Body Fat Content by Body-Volume-Distribution and Body-Impedance-Measurement

Номер патента: US20190223788A1. Автор: Schultes Gerhard,Kreuzgruber Peter. Владелец: Naked Labs Austria GMBH. Дата публикации: 2019-07-25.

Reading device, reading method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11956393B2. Автор: Takashi Maeda. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Reading device, read method and reading program

Номер патента: CN107205101A. Автор: 田村友伸,酒井克英,浅野齐,藤森春充. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

READING DEVICE READING ORIGINAL AND ESTIMATING CORNER SHAPE THEREOF

Номер патента: US20210281699A1. Автор: MOTOYAMA Toshiki. Владелец: BROTHER KOGYO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2021-09-09.

Solid-state imaging device, camera system, solid-state imaging device reading method and program

Номер патента: US20110102646A1. Автор: Yusuke Minagawa. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-05-05.

DEVICE FOR CONTROLLING CURRENT STRENGTH BY IMPEDANCE.

Номер патента: NL8600150A. Автор: . Владелец: Nederlanden Staat. Дата публикации: 1987-08-17.

Image Reading Apparatus That Reads by Intended Read Size and Image Processing Apparatus

Номер патента: US20160295051A1. Автор: Tetsuya Maeda,Takushi DANDOKO. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2016-10-06.

Image reading apparatus that reads by intended read size and image processing apparatus

Номер патента: US09749488B2. Автор: Tetsuya Maeda,Takushi DANDOKO. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM AND MOBILE COMMUNICATION DEVICE COMPRISING AN IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20150349833A1. Автор: van der Cammen Peter. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-03.

INFORMATION DETECTING DEVICE, READING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, AND INFORMATION DETECTING METHOD

Номер патента: US20190335061A1. Автор: Nakazawa Masamoto,Hashimoto Hideki,Nikaku Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-31.

Solid state imaging device reading apparatus and image scanner using the same, and method

Номер патента: DE69125643D1. Автор: Fumikazu Nagano. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1997-05-22.

Subscriber line impedance measurement method and measuring circuit

Номер патента: CN1162745A. Автор: 大野正彦. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1997-10-22.

Image processing device, reading device, image forming apparatus, and amount-of-characteristic detecting method

Номер патента: US11917113B2. Автор: Yuuto WATANABE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Kennelly circle interpolation of impedance measurements

Номер патента: US20150117655A1. Автор: Grace Zhao,Anders Edgren. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

Kennelly circle interpolation of impedance measurements

Номер патента: US20150117655A1. Автор: Grace Zhao,Anders Edgren. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

Electronic Device With Impedance Measurement Circuitry

Номер патента: US20160204821A1. Автор: Pascolini Mattia,Han Liang,Mow Matthew A.,Tsai Ming-Ju,Lee Victor C.,Biedka Thomas E.,Judkins James G.. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-14.

TRANSDUCER IMPEDANCE MEASUREMENT FOR HEARING AID

Номер патента: US20150256945A1. Автор: MAZANEC PAUL R.. Владелец: ENVOY MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-10.

Memory device read training method

Номер патента: US20190080771A1. Автор: Sungjin Han. Владелец: Integrated Silicon Solution Inc. Дата публикации: 2019-03-14.

Control of memory device reading based on cell resistance

Номер патента: US09685227B2. Автор: Dae-Seok Byeon,Hyun-Kook PARK,Yeong-Taek Lee,Yong-kyu Lee,Hyo-Jin KWON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-20.

Verification of electrical continuity by impedance measurements

Номер патента: CA1257904A. Автор: Jean-Paul Kayser,Pierre V.A. Lahitte,Michel J. Raymond. Владелец: AIRBUS GROUP SAS. Дата публикации: 1989-07-25.

Systems and methods for hematocrit impedance measurement using 4-wire measurement

Номер патента: AU2022400944A1. Автор: Brent E. Modzelewski,Steven V. Leone. Владелец: Trividia Health Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Systems and methods for hematocrit impedance measurement using 4-wire measurement

Номер патента: EP4441497A1. Автор: Brent E. Modzelewski,Steven V. Leone. Владелец: Trividia Health Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Mechanism for read/write device, read/write device, and method of cleaning read/write head

Номер патента: HK1094372A1. Автор: Atsushi Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2007-03-30.

Digital approach to the removal of AC parasitics for impedance measurements

Номер патента: US09910074B2. Автор: Christopher G. Regier,Blake A. Lindell,Pablo Limon. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Non steady state energy cell impedance measurement

Номер патента: US20240201273A1. Автор: Edwin Schapendonk,Matheus Johannus Gerardus Lammers,Henri Verhoeven,Oswald Moonen. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-06-20.

Non steady state energy cell impedance measurement

Номер патента: EP4390420A1. Автор: Edwin Schapendonk,Matheus Johannus Gerardus Lammers,Henri Verhoeven,Oswald Moonen. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2024-06-26.

Memory device, memory device read method

Номер патента: US20060034135A1. Автор: Fumi Kambara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-02-16.

Memory device, memory device read method

Номер патента: US7065002B2. Автор: Fumi Kambara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-06-20.

Exposure device, reading head, image formation apparatus, and image reading apparatus

Номер патента: US10691041B2. Автор: Tomoki Igari,Manabu KIDA. Владелец: Oki Data Corp. Дата публикации: 2020-06-23.

Method and system for impedance measurement in an integrated Circuit

Номер патента: US8519720B2. Автор: Jochen Supper,Roland Frech,Thomas-Michael Winkel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-08-27.

Sensor device, setting device, reading device, and article administration system

Номер патента: US6882273B2. Автор: Shiro Kano. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2005-04-19.

Memory device read operations

Номер патента: WO2022197513A1. Автор: Yoshihiko Kamata. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2022-09-22.

Semiconductor storage device, read method thereof, and test method thereof

Номер патента: US20200335148A1. Автор: Keizo Morita. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2020-10-22.

Impedance measurement of individual actuators of a piezoelectric print head

Номер патента: US20190302160A1. Автор: David L. Knierim. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Microwave impedance measurement apparatus

Номер патента: WO1982003921A1. Автор: Mfg Co Ltd Gabriel. Владелец: Botterell Stanley William Henry. Дата публикации: 1982-11-11.

Low frequency impedance measurement with source measure units

Номер патента: US09829520B2. Автор: Gregory Sobolewski. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2017-11-28.

Impedance measurement behind subsea transformer

Номер патента: US09727054B2. Автор: Audun Magne Askeland. Владелец: OneSubsea IP UK Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Impedance measurements in battery management circuits

Номер патента: US11802917B1. Автор: Christian Walther,Christian Heiling,Markus Ekler. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-10-31.

LENS UNIT, EXPOSURE DEVICE, READING HEAD, IMAGE FORMING APPARATUS, AND IMAGE READING APPARATUS

Номер патента: US20200292732A1. Автор: YAMAMURA Akihiro,NAGAMINE Masamitsu,NAKAMICHI Ren. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

EXPOSURE DEVICE, READING HEAD, IMAGE FORMATION APPARATUS, AND IMAGE READING APPARATUS

Номер патента: US20190361368A1. Автор: KIDA Manabu,IGARI Tomoki. Владелец: Oki Data Corporation. Дата публикации: 2019-11-28.

Optical disc, recording device, reading device, recording method, and reading method

Номер патента: JP4917888B2. Автор: 基志 伊藤,優 甲斐田. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-04-18.

Digital Approach to the Removal of AC Parasitics for Impedance Measurements

Номер патента: US20170139001A1. Автор: Christopher G. Regier,Blake A. Lindell,Pablo Limon. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2017-05-18.

Exposure device, reading head, image formation apparatus, and image reading apparatus

Номер патента: US20190361368A1. Автор: Tomoki Igari,Manabu KIDA. Владелец: Oki Data Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Impedance measurement

Номер патента: GB2626826A. Автор: WEINER Nicholas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-07.

Impedance measurement device

Номер патента: US20240230780A1. Автор: Koichi Yanagisawa,Hiroyoshi Ikeda,Akinori Hotta,Shin Kasai,Tomoharu Sakai,Hiroyuki Toya,Yasuyuki Tsukioka. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Impedance measurement system with incorporated internal measurement drift compensation networks

Номер патента: GB2435330B. Автор: David Jones,Peter Leigh-Jones,Dirk Kupershoek. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2009-09-23.

Impedance Measurement System with incorporated internal measurement drift compensation networks

Номер патента: AU2006287367A1. Автор: David Jones,Peter Leigh-Jones,Dirk Kupershoek. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2007-03-15.

Battery DC impedance measurement

Номер патента: US09841465B2. Автор: Daniel Ladret. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2017-12-12.

Impedance measuring probe

Номер патента: GB2296774A. Автор: Hideki Wakamatsu. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1996-07-10.

Method for making cement impedance measurements with characterized transducer

Номер патента: US5146432A. Автор: Sevig Ayter,Christopher V. Kimball. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 1992-09-08.

Current detecting device, impedance measuring instrument and power measuring instrument

Номер патента: US20010008375A1. Автор: Kazuyuki Yagi. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2001-07-19.

Method and apparatus for detecting biologycal particles in a medium by impedance metering

Номер патента: HU200842B. Автор: David John Clarke,Barrie Blake-Coleman. Владелец: HEALTH LAB SERVICE BOARD. Дата публикации: 1990-08-28.

Microorganism measuring method by impedance method

Номер патента: JPS56125652A. Автор: Hidehiko Fujioka. Владелец: Japan Tectron Instruments Corp. Дата публикации: 1981-10-02.

Reducing the effect of noise on impedance measurements

Номер патента: GB2027215A. Автор: . Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 1980-02-13.

Battery impedance measurement circuits and methods thereof

Номер патента: US20210109159A1. Автор: Joop Petrus Maria van Lammeren. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2021-04-15.

Method and device with impedance measuring

Номер патента: US20240118323A1. Автор: Minkyu Je,Nahm IL KOO,Ji-Hoon SUH,Haidam CHOI. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2024-04-11.

Low frequency impedance measurement with source measure units

Номер патента: US20140145729A1. Автор: Gregory Sobolewski. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2014-05-29.

Ultra-low-noise, on-chip quantum devices

Номер патента: US20220179283A1. Автор: Sergey V. Polyakov,Ivan A. Burenkov. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2022-06-09.

METHOD FOR SEQUENTIALLY MEASURING IMPEDANCE, MEASUREMENT DEVICE, AND FUEL CELL SYSTEM

Номер патента: US20130103224A1. Автор: WAKE Chihiro,YOSHIDA Hiromichi,Egami Masahiro. Владелец: HONDA MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-25.

Semiconductor memory device, reading method thereof, and data storage device having the same

Номер патента: US20130135928A1. Автор: Wan Seob LEE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2013-05-30.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM, IMPEDANCE MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM

Номер патента: US20140043039A1. Автор: Kusumoto Manabu,Kawakami Masashi. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-13.

Apparatus and method for storage device reading

Номер патента: US20160042787A1. Автор: Robert J. Brooks. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2016-02-11.

DATA STORAGE DEVICE READING DATA FROM MAGNETIC TAPE IN FORWARD AND REVERSE DIRECTION

Номер патента: US20220068308A1. Автор: Malina James N.,HANSON WELDON M.,Burton Derrick E.. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

Low frequency impedance measurement with source measure units

Номер патента: US20180059157A1. Автор: Gregory Sobolewski. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2018-03-01.

CONTROL DEVICE, READING DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, AND CONTROL PROGRAM

Номер патента: US20190061397A1. Автор: YAGO Hiroaki. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2019-02-28.

MEMORY DEVICE READ TRAINING METHOD

Номер патента: US20190080771A1. Автор: Han SungJin. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-14.

MODIFIED AREAL DENSITIES FOR DEGRADED STORAGE DEVICE READ HEADS

Номер патента: US20150117173A1. Автор: Pit Remmelt,Jen David H.,Green Paul Marion. Владелец: HGST NETHERLANDS B.V.. Дата публикации: 2015-04-30.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, READING METHOD, AND PROGRAMMING METHOD

Номер патента: US20150155043A1. Автор: Yano Masaru. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

MEMORY DEVICE READ OPERATIONS

Номер патента: US20220301634A1. Автор: KAMATA Yoshihiko. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2022-09-22.

IMPEDANCE MEASURING DEVICE FOR BIOLOGICAL SAMPLES AND IMPEDANCE MEASURING SYSTEM FOR BIOLOGICAL SAMPLES

Номер патента: US20180202955A1. Автор: Sato Kazumasa,BRUN MARCAURELE. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2018-07-19.

IMPEDANCE MEASURING DEVICE FOR BIOLOGICAL SAMPLES AND IMPEDANCE MEASURING SYSTEM FOR BIOLOGICAL SAMPLES

Номер патента: US20150323480A1. Автор: Sato Kazumasa,BRUN MARCAURELE. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2015-11-12.

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, READ METHOD THEREOF, AND TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20200335148A1. Автор: Morita Keizo. Владелец: FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED. Дата публикации: 2020-10-22.

MEMORY DEVICE READING AND CONTROL

Номер патента: US20150364188A1. Автор: Lee Yong-Kyu,BYEON DAE-SEOK,LEE YEONG-TAEK,PARK HYUN-KOOK,KWON HYO-JIN. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

Recorder device, reading device and regulating device

Номер патента: WO1996018977A3. Автор: Andrew Mcdonald,Victor Leo Duffy,Alan Polkinghorne. Владелец: Vu Data Limited. Дата публикации: 1996-09-26.

OPTICAL RECORDING DEVICE READING AN INFORMATION MEDIUM COMPRISING TWO LASER SOURCES OF DIFFERENT WAVELENGTHS

Номер патента: FR2498752B1. Автор: . Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1985-07-05.

Semiconductor memory device reading out data pattern

Номер патента: KR100719377B1. Автор: 허낙원. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2007-05-17.

Near-field microwave measuring system based on impedance measurement

Номер патента: CN111189855A. Автор: 张洮. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-05-22.

Method and apparatus for storage device read phase auto-calibration

Номер патента: US20060080564A1. Автор: Yi-Shu Chang,Seng-Huang Tang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Impedance measuring apparatus and impedance measuring method

Номер патента: JP3608952B2. Автор: 彰 湯川. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2005-01-12.

Impedance Measuring Bridges

Номер патента: GB2025074A. Автор: . Владелец: Tait D A G. Дата публикации: 1980-01-16.

Sensor device, setting device, reading device, and article administration system

Номер патента: WO2001092830A1. Автор: Shiro Kano. Владелец: YAMATAKE CORPORATION. Дата публикации: 2001-12-06.

Semiconductor memory circuit device, read control method

Номер патента: KR101054322B1. Автор: 겐스케 시노하라. Владелец: 후지쯔 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2011-08-05.

Recorder device, reading device and regulating device

Номер патента: US6252823B1. Автор: Andrew Mcdonald,Victor Leo Duffy,Alan Polkinghorne. Владелец: Vu Data Ltd. Дата публикации: 2001-06-26.

Measuring frequency and integration period design method of internal impedance measurement

Номер патента: KR100838997B1. Автор: 김득수. Владелец: 주식회사 파워트론. Дата публикации: 2008-06-19.

Impedance measurement

Номер патента: GB2616518A. Автор: WEINER Nicholas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-13.

System and method for state of power estimation of a battery using impedance measurements

Номер патента: WO2023212699A9. Автор: Johannes TRAA,Hemtej Gullapalli,Omer TANOVIC. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2024-03-28.

Impedance measurement

Номер патента: GB202312461D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-27.

Impedance measurement

Номер патента: GB202301390D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-15.

Reducing the effect of noise on impedance measurements

Номер патента: GB2027215B. Автор: . Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 1982-10-13.

Method and apparatus for electrode impedance measurement

Номер патента: EP3168582B1. Автор: Ray Keech. Владелец: ABB Ltd Great Britain. Дата публикации: 2019-05-01.

A system for complex impedance measurement

Номер патента: AU2007260584A1. Автор: Terry Calvin Chilcott,Hans Gerard Leonard Coster. Владелец: Inphaze Pty Ltd. Дата публикации: 2007-12-21.

Integrative high impedance measuring, automatic calibrating device

Номер патента: TW329934U. Автор: Sai-Hoi Tsao,Yu-Chuang Lin,Chun-Chun Chen. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 1998-04-11.

Impedance measurement device and method

Номер патента: US09726702B2. Автор: Colin Lyden,Tudor Vinereanu,Donal Bourke,Dermot O'keeffe,David Harty. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Nonvolatile semiconductor memory device which reads by decreasing effective threshold voltage of selector gate transistor

Номер патента: US20070014182A1. Автор: Susumu Shuto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-18.

Breast classification based on impedance measurements

Номер патента: US20130184606A1. Автор: Ehud Nachaliel,Ron Ginor. Владелец: Mirabel Medical Systems Ltd. Дата публикации: 2013-07-18.

ULTRASONIC FLOW METER WITH ZERO IMPEDANCE MEASURING ELECTRONICS

Номер патента: US20130205913A1. Автор: Sørensen Jens Lykke,Honoré Janus. Владелец: KAMSTRUP A/S. Дата публикации: 2013-08-15.

IMPEDANCE MEASURING CIRCUIT

Номер патента: US20130214800A1. Автор: Beck Riley D.,Layton Kent D.,Tyler Matthew A.,Grange Scott R.. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-22.

Impedance measurement device and method

Номер патента: US20130271155A1. Автор: Colin Lyden,Tudor Vinereanu,Donal Bourke,Dermot O'keeffe,David Harty. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2013-10-17.

Method and Apparatus for Electrical Impedance Measurements

Номер патента: US20140002109A1. Автор: UGAWA Hiroaki. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-02.

IMPEDANCE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20140009178A1. Автор: TONG SONG-LIN,BAI YUN,LI JI-CHAO. Владелец: HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-09.

ENERGY STORAGE CELL IMPEDANCE MEASURING APPARATUS, METHODS AND RELATED SYSTEMS

Номер патента: US20170003354A1. Автор: CHRISTOPHERSEN JON P.,Morrison John L.,Morrison William H.. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-05.

BATTERY DC IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20150025822A1. Автор: Ladret Daniel. Владелец: STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.. Дата публикации: 2015-01-22.

AC Impedance Measurement Circuit with Calibration Function

Номер патента: US20220074980A1. Автор: CHUANG Yu-Wei,Chao Po-Yin,Lee Shui-Chu. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-10.

Novel Biosensing Technology Based on Enzymatic Electrochemical Impedance Measurement

Номер патента: US20190064100A1. Автор: Sode Koji,Shimazaki Junko. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

ANALYTE DETECTION USING ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE SPECTROSCOPY-BASED IMAGINARY IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20200064297A1. Автор: Smith Marcus,LaBelle Jeffrey,Lin Chi,Probst David. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

IMPEDANCE MEASURING CIRCUIT

Номер патента: US20170086702A1. Автор: Kurose Daisuke,Nakatsuka Shinji,Kim Sinnyoung. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

IMPEDANCE MEASURING CIRCUIT

Номер патента: US20170097377A1. Автор: Imai Shigeo,Ogawa Yosuke. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-06.

IMPEDANCE MEASUREMENT IN DIAGNOSTIC TESTING

Номер патента: US20210123902A1. Автор: Zhang Xin,GOPINATHAN Venugopal,Vohra Gaurav,"ODwyer Thomas G.",Novet Isaac Chase,KOOK YounJae. Владелец: ANALOG DEVICES, INC.. Дата публикации: 2021-04-29.

IMPEDANCE MEASURING SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND BLOOD-SUGAR LEVEL METER

Номер патента: US20190113472A1. Автор: OKADO Kazuo,Watanabe Kunihiko,MASUMOTO Gaku. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

METHOD AND APPARATUS FOR ELECTRODE IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20170131131A1. Автор: KEECH Ray. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-11.

TRACKING OF CATHETER FROM INSERTION POINT TO HEART USING IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20150141798A1. Автор: Bar-Tal Meir. Владелец: Biosense Webster (Israel) Ltd.. Дата публикации: 2015-05-21.

Digital Approach to the Removal of AC Parasitics for Impedance Measurements

Номер патента: US20170139001A1. Автор: Regier Christopher G.,Lindell Blake A.,Limon Pablo. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

Device and Method for Battery Impedance Measurement

Номер патента: US20200132781A1. Автор: Stefano Marsili,Klaus Hoermaier,Akshay Misra,Filippo Rosetti. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-04-30.

Method of Calibrating Impedance Measurements of A Battery

Номер патента: US20210181290A1. Автор: Morrison John L.,Morrison William H.. Владелец: Dynexus Technology, Inc.. Дата публикации: 2021-06-17.

GROUND IMPEDANCE MEASUREMENT OF A CONDUIT SYSTEM

Номер патента: US20200150070A1. Автор: Manahan Joseph Michael,Freer Benjamin Avery. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

Impedance Measurement Device

Номер патента: US20210196144A1. Автор: David Melin,Nima Askary Lord,Angelica Korsfeldt,Alexandra Josefsson,Andreas Berndtsson. Владелец: SCIBASE AB. Дата публикации: 2021-07-01.

Patient Electrode Impedance Measurement

Номер патента: US20140257119A1. Автор: LeMay Charles. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-11.

COMPENSATION AND CALIBRATION FOR A LOW POWER BIO-IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20180172793A1. Автор: PASSONI Marco,ROSSI Stefano,CAGIDIACO Alessia. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

In-Vitro Sensor Using a Tetrapolar Impedance Measurement

Номер патента: US20170176366A1. Автор: Paul Patrick J.,Modzelewski Brent E.. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

System and Circuit for Self-Adjusting Impedance Measurement

Номер патента: US20140266268A1. Автор: Frank H. Lipowitz. Владелец: TransTech Systems Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

CONTRAST AGENT TO ASSESS QUALITY OF OCCLUSION THROUGH IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20200179029A1. Автор: LALONDE Jean-Pierre,COULOMBE Nicolas. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

AUTOMATING REACTIVE IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20210255594A1. Автор: Prisco Joseph,Petrich Michael Paul. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-19.

METHOD FOR CONTACTLESS ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20190227014A1. Автор: Yu Lawrence,MENG Ellis F.. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTHERN CALIFORNIA. Дата публикации: 2019-07-25.

Method Of Calibrating Impedance Measurements Of A Battery

Номер патента: US20200241102A1. Автор: John L. Morrison,William H. Morrison. Владелец: Dynexus Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-30.

IMPEDANCE MEASURING DEVICE FOR LAMINATED BATTERY

Номер патента: US20150276888A1. Автор: Sakai Masanobu. Владелец: NISSAN MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2015-10-01.

Device and Method for Monitoring a Reliability of a Cell Impedance Measurement of a Battery Cell

Номер патента: US20200256924A1. Автор: MARSILI Stefano,HOFER Guenter,Hoermaier Klaus. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

AC Impedance Measurement Circuit with Calibration Function

Номер патента: US20210382100A1. Автор: Yu-Wei Chuang,Po-Yin Chao,Shui-Chu Lee. Владелец: Hycon Technology Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20200271608A1. Автор: Neel Christian. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

IMPEDANCE MEASUREMENT CIRCUIT

Номер патента: US20150305648A1. Автор: Venkataraman Jagannathan,OSWAL SANDEEP KESRIMAL,Udupa Anand Hariraj,Ahmed Hussam. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

COMPENSATION AND CALIBRATION FOR A LOW POWER BIO-IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190285717A1. Автор: PASSONI Marco,ROSSI Stefano,CAGIDIACO Alessia. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-19.

IMPEDANCE MEASUREMENT OF INDIVIDUAL ACTUATORS OF A PIEZOELECTRIC PRINT HEAD

Номер патента: US20190302160A1. Автор: Knierim David L.. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

SYSTEMS AND METHODS FOR IDENTIFYING MATERIAL DURING AN OPHTHALMIC PROCEDURE USING AC IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20200309760A1. Автор: Durant Dan. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

LOW-COST COMPLEX IMPEDANCE MEASUREMENT CIRCUIT

Номер патента: US20170336469A1. Автор: Lamesch Laurent. Владелец: IEE INTERNATIONAL ELECTRONICS & ENGINEERING S.A.. Дата публикации: 2017-11-23.

Localization of anomalies and guidance of invasive tools by impedance imaging

Номер патента: WO2001043630A3. Автор: Ehud Nachaliel,Abraham Saad,Amos Ori. Владелец: Amos Ori. Дата публикации: 2002-01-24.

Measuring lung volume changes by impedance pneumography

Номер патента: US20150051469A1. Автор: Ville-Pekka Seppä,Jari Viik. Владелец: Tampere University of Technology. Дата публикации: 2015-02-19.

Measuring lung volume changes by impedance pneumography

Номер патента: WO2013150185A1. Автор: Ville-Pekka Seppä,Jari Viik. Владелец: TAMPEREEN TEKNILLINEN YLIOPISTO. Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring lung volume changes by impedance pneumography

Номер патента: EP2833788A1. Автор: Ville-Pekka Seppä,Jari Viik. Владелец: Tampere University of Technology. Дата публикации: 2015-02-11.

Pharmaceutically active agents that impede the formation of amyloid by impeding the genesis or growth of dms

Номер патента: CA2279834A1. Автор: Paul Averback. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-08-13.

Hematocrit sensor based on impedance measurement in cardiovascular implantable electronic devices

Номер патента: EP4426415A1. Автор: Geert Morren. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2024-09-11.

Impedance measurement system

Номер патента: US20180199885A1. Автор: David W. Mortara. Владелец: Mortara Instrument LLC. Дата публикации: 2018-07-19.

Impedance measurement system

Номер патента: US09913614B2. Автор: David W. Mortara. Владелец: Mortara Instrument LLC. Дата публикации: 2018-03-13.

Cardioversion/defibrillation lead impedance measurement system

Номер патента: US5755742A. Автор: Barbara J. Schmid,Robert J. Schuelke,Jonathan R. Gering. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 1998-05-26.

Wearable device having structure preventing measurement error caused by impedance

Номер патента: EP3995078C0. Автор: Jong Ook Jeong,Seung Bum CHO,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Pedicle impedence measuring probe

Номер патента: WO2006132946A3. Автор: William J Mcginnis. Владелец: Neurophysiological Concepts Ll. Дата публикации: 2007-02-15.

Measuring lung volume changes by impedance pneumography

Номер патента: EP2833788A4. Автор: Ville-Pekka Seppä,Jari Viik. Владелец: TIDE MEDICAL Oy. Дата публикации: 2015-12-16.

Detecting worsening heart failure based on impedance measurements

Номер патента: EP2194865A1. Автор: Douglas A. Hettrick,Shantanu Sarkar,Robert W. Stadler. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2010-06-16.

Impedance measurements using burst pulses to prevent noise on ecg

Номер патента: US20220369989A1. Автор: Assaf Govari,Yaron Ephrath. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Assessing hemodynamics using electrical impedance measurements

Номер патента: US20230039829A1. Автор: Daniela Davi Madureira Iope. Владелец: Timper Medical BV. Дата публикации: 2023-02-09.

MEASURING LUNG VOLUME CHANGES BY IMPEDANCE PNEUMOGRAPHY

Номер патента: US20150051469A1. Автор: Seppä Ville-Pekka,Viik Jari. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-19.

WEARABLE DEVICE HAVING STRUCTURE PREVENTING MEASUREMENT ERROR CAUSED BY IMPEDANCE

Номер патента: US20220142544A1. Автор: Jeong Jong Ook,CHO Seung Bum,CHAE Deok Byeong. Владелец: ATSENS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-05-12.

Puncturing device with impedance measuring facility

Номер патента: CA2576387A1. Автор: Armin Grundmann. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2007-08-04.

Relative impedance measurement

Номер патента: CA2859340C. Автор: Daniel Osadchy. Владелец: Biosense Webster Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Nervous system stimulation via skin electrodes using feedback from skin impedance measurements

Номер патента: GB2414407A. Автор: James Richard Colthurst. Владелец: Eumedic Ltd. Дата публикации: 2005-11-30.

Improved apparatus and method for performing impedance measurements

Номер патента: CA2451054A1. Автор: Frank Zhang,Joel Steven Ironstone,Kenneth Carless Smith. Владелец: Z Tech Canada Inc. Дата публикации: 2004-05-27.

Bioelectricity impedance measuring device, a malnutrition measurement system, a malnutrition measurement method

Номер патента: US7844325B2. Автор: Tomoko Takehara. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2010-11-30.

Pathology assessment with impedance measurements using convergent bioelectric lead fields

Номер патента: EP1848334A2. Автор: Robert Patterson,Andres Belalcazar. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 2007-10-31.

Wearable device having structure preventing measurement error caused by impedance

Номер патента: EP3995078B1. Автор: Jong Ook Jeong,Seung Bum CHO,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

MEASURING ELECTRODE IMPEDANCE IN AN IMPEDANCE MEASUREMENT CIRCUIT

Номер патента: US20180214084A1. Автор: Venkataraman Jagannathan,OSWAL SANDEEP KESRIMAL,Udupa Anand Hariraj,Ahmed Hussam. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

Continuous Non-Ivasive Measurement of Tissue Temperatures Based on Impedance Measurements

Номер патента: US20150320333A1. Автор: Zimmer Armin. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-12.

Continuous Non-invasive Measurement of Tissue Temperatures based on Impedance Measurements

Номер патента: US20190343398A1. Автор: Zimmer Armin. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Bioelectrical impedance measuring method and body composition measuring apparatus

Номер патента: KR100423675B1. Автор: 후쿠다요시노리. Владелец: 가부시키가이샤 타니타. Дата публикации: 2004-03-19.

The non-invasive measurement of tissue temperature based on impedance measurement

Номер патента: CN104955386B. Автор: 齐默·阿明. Владелец: Zimmer MedizinSysteme GmbH. Дата публикации: 2019-03-01.

Abdominal impedance measuring device and body composition measuring device

Номер патента: JP4413938B2. Автор: 良雄 酒井. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2010-02-10.

Continuous non-invasive measurement of tissue temperatures based on impedance measurements

Номер патента: KR102231303B1. Автор: 아르민 짐머. Владелец: 짐머 메디진시스템 게엠바하. Дата публикации: 2021-03-23.

MEDICAL DEVICE WITH AN IMPEDANCE MEASUREMENT TO MEASURE VISCERAL FAT

Номер патента: DE602006018545D1. Автор: Andreas Blomqvist. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2011-01-05.

Respiration impedance measuring device and method, and respiration impedance display method

Номер патента: US20110060237A1. Автор: Yoshio Shimizu,Hajime Kurosawa,Toshiaki Hoki. Владелец: CHEST M I Inc. Дата публикации: 2011-03-10.

Continuous non-invasive measurement of tissue temperatures based on impedance measurements

Номер патента: ES2617698T3. Автор: Armin Zimmer. Владелец: Zimmer MedizinSysteme GmbH. Дата публикации: 2017-06-19.

Method and apparatus for apical detection with complex impedance measurement

Номер патента: WO1998012983A1. Автор: C. Johan Masreliez. Владелец: Ormco Corporation. Дата публикации: 1998-04-02.

Human body impedance measuring device and human body impedance measuring method

Номер патента: CN113456050A. Автор: 黄玮. Владелец: Chipsea Technologies Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-01.

Medical measuring device for bioelectrical impedance measurement

Номер патента: EP2203114B1. Автор: Yoon Ok Kim,Ok Kyung Cho. Владелец: Flore Ingo. Дата публикации: 2011-11-16.

Bioelectrical impedance measuring method and body composition measuring apparatus

Номер патента: EP1080686B1. Автор: Yoshinori Fukuda. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2004-03-31.

Impedance measurement sensor and impedance measurement device

Номер патента: JP5656219B2. Автор: 正裕 古谷,崇洋 新井. Владелец: CENTRAL RESEARCH INSTITUTE OF ELECTRIC POWER INDUSTRY. Дата публикации: 2015-01-21.

Medical measurement device for bioelectrical impedance measurement

Номер патента: KR101629974B1. Автор: 조옥경,김윤옥. Владелец: 플로레, 잉고. Дата публикации: 2016-06-14.

Respiratory impedance measuring apparatus and method and respiratory impedance display method

Номер патента: CA2717318C. Автор: Yoshio Shimizu,Hajime Kurosawa,Toshiaki Hoki. Владелец: CHEST M I Inc. Дата публикации: 2015-04-21.

Detecting worsening heart failure based on impedance measurements

Номер патента: US8255046B2. Автор: Douglas A. Hettrick,Shantanu Sarkar,Robert W. Stadler. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2012-08-28.

Pressure measuring catheter with impedance measuring function

Номер патента: CN219374645U. Автор: 覃浪,�田宏,潘冰. Владелец: Chongqing Jinshan Medical Technology Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-21.

Cleaning device, reading device, and image forming apparatus

Номер патента: US20240091818A1. Автор: Masakazu Shirai,Akio SHIMONAGA. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-03-21.

Implantable medical device employing single drive, dual sense impedance measuring

Номер патента: EP1390101A1. Автор: Douglas R. Daum. Владелец: Cardiac Pacemakers Inc. Дата публикации: 2004-02-25.

Resinous cover comprising electrodes for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: EP1212981B1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2006-03-29.

Balloon ablation catheter impedance measurement for lesion assessment

Номер патента: IL298869A. Автор: Govari Assaf,Adawi Eid. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2023-07-01.

Impedance measurement

Номер патента: IL293218B2. Автор: Ronen Amir,Bergida Shlomi. Владелец: Sensible Medical Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Analysing impedance measurements

Номер патента: AU2009214826A1. Автор: Richelle Leanne Gaw. Владелец: Impedimed Ltd. Дата публикации: 2009-08-20.

Body impedance measurement apparatus and method

Номер патента: EP3524147B1. Автор: Tomislav MATIC,Marijan HERCEG,Josip JOB,Ratko GRBIC. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2023-09-13.

A monitor for monitoring diastolic relaxation using impedance measurement

Номер патента: EP1339320B1. Автор: Karin Järverud. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2005-11-02.

Automated ecg lead impedance measurement integrated into ecg gating circuitry

Номер патента: EP2077749A1. Автор: Richard Alan Mentelos. Владелец: Ivy Biomedical Systems Inc. Дата публикации: 2009-07-15.

Variable frequency impedance measurement

Номер патента: US09776012B2. Автор: Joseph Sullivan,Fred Chapman,Scott Schweizer. Владелец: Physio Control Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

METHOD AND DEVICE FOR QUALITY ASSESSMENT OF AN ELECTRICAL IMPEDANCE MEASUREMENT ON TISSUE

Номер патента: US20130131539A1. Автор: Åberg Peter,Goldkuhl Fredrik,Dalmau Jörgen. Владелец: SCIBASE AB. Дата публикации: 2013-05-23.

OPERATIONAL ELECTRODE IMPEDANCE MEASUREMENT FOR AN IMPLANTABLE MEDICAL STIMULATOR

Номер патента: US20130211478A1. Автор: Kelly Kevin J.. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2013-08-15.

Variable frequency impedance measurement

Номер патента: US20130218218A1. Автор: Joseph Sullivan,Fred Chapman,Scott Schweizer. Владелец: Physio Control Inc. Дата публикации: 2013-08-22.

Method and Device for Intracochlea Impedance Measurement

Номер патента: US20160015291A1. Автор: Mauch Herbert,Carter Paul,Tsampazis Kostas. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

Body impedance measurement apparatus and method

Номер патента: US20210030304A1. Автор: Tomislav MATIC,Marijan HERCEG,Josip JOB,Ratko GRBIC. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2021-02-04.

BELT FOR ELECTRO IMPEDANCE MEASUREMENT AND METHOD USING SUCH BELT

Номер патента: US20150038823A1. Автор: Brunner Josef X.,Bohm Stephan H.. Владелец: SWISSTOM AG. Дата публикации: 2015-02-05.

Determining a time instant for an impedance measurement

Номер патента: US20170050428A1. Автор: Daryl E Anderson,Peter James Fricke,Eric T Martin. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2017-02-23.

Method for bio impedance measurement

Номер патента: US20140128765A1. Автор: Chetelat Olivier. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-08.

HUMAN BODY IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20170065201A1. Автор: Park Moon Seo. Владелец: MSP CO., LTD. Дата публикации: 2017-03-09.

UPPER LIMB MULTI-JOINT IMPEDANCE MEASUREMENT METHOD AND APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20180085016A1. Автор: KANG Sang Hoon,KIM Sung Shin. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-29.

Impedance Measurement Process

Номер патента: US20160089051A1. Автор: CORNISH Bruce Herbert,THOMAS Brian John,SMITH Jye Geoffrey. Владелец: Impedimed Limited. Дата публикации: 2016-03-31.

VASCULAR IMPEDANCE MEASURING DEVICE AND METHOD OF DETERMINING IMPEDANCE

Номер патента: US20170086682A1. Автор: JOHNSON Andrew Kelly. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

LOW-PROFILE INTERCRANIAL DEVICE WITH ENHANCING GROUNDING TO ENSURE PROPER IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20220266001A1. Автор: Rabinovitz Bradley,Clawson Corbin,Shah Jimmy. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

BODY IMPEDANCE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180153432A1. Автор: SKRABAL Falko,GLITZNER Philipp. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

BIOELECTRICAL IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20210186358A1. Автор: Huang Chun-Feng,Liao Chi-Yao. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

Electrode Impedance Measurement

Номер патента: US20180184980A1. Автор: Qin Derek Y.. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

METHODS OF ASSESSING CONTACT BETWEEN AN ELECTRODE AND TISSUE USING COMPLEX IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20190183378A1. Автор: Curran Timothy G.,Mosesov Artem. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-20.

BIOELECTRICAL IMPEDANCE MEASUREMENT APPARATUS

Номер патента: US20140288457A1. Автор: Lee Chao-Fa,Chang Shih-Jung,Lee Yu-Shen. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-25.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180199885A1. Автор: Mortara David W.. Владелец: Mortara Instrument, Inc.. Дата публикации: 2018-07-19.

IMPEDANCE MEASUREMENTS USING BURST PULSES TO PREVENT NOISE ON ECG

Номер патента: US20200196894A1. Автор: Govari Assaf,Ephrath Yaron. Владелец: Biosense Webster (Israel) Ltd.. Дата публикации: 2020-06-25.

CONTRAST AGENT TO ASSESS QUALITY OF OCCLUSION THROUGH IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20180206901A1. Автор: LALONDE Jean-Pierre,COULOMBE Nicolas. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-26.

AIRWAY IMPEDANCE MEASUREMENT INTEGRATED WITH RESPIRATORY TREATMENT DEVICES

Номер патента: US20140309546A1. Автор: Vink Teunis Johannes,Fazzi Alberto,Von Hollen Dirk Erneset. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-16.

Electrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20150238116A1. Автор: Yukio Nonaka. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180235508A1. Автор: Cosentino Jack Gerald,Essex Tim,Miller Matthew Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

BIOELECTRICAL IMPEDANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140330158A1. Автор: Lee Chao-Fa,Chang Shih-Jung. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20200237254A1. Автор: Cosentino Jack Gerald,Essex Tim,Miller Matthew Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

METHODS OF ASSESSING CONTACT BETWEEN AN ELECTRODE AND TISSUE USING COMPLEX IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20190274581A1. Автор: Curran Timothy G.,Mosesov Artem. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-12.

PRINTHEADS WITH SENSOR PLATE IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20180297370A1. Автор: Maxfield David,Linn Scott A.,Ghozeil Adam L.,Van Brocklin Andrew. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20150327811A1. Автор: Mortara David W.. Владелец: Mortara Instrument, Inc.. Дата публикации: 2015-11-19.

IMPEDANCE MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180333071A1. Автор: Essex Tim,Miller Matthew Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-22.

Photon-spin qubit conversion method and conversion apparatus

Номер патента: JP4399597B2. Автор: 俊一 武藤. Владелец: 国立大学法人 北海道大学. Дата публикации: 2010-01-20.

Semiconductor storage device, reading method, and recording medium on which reading method is recorded

Номер патента: JP3605266B2. Автор: 辰雄 中島. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2004-12-22.

Impedance measuring circuit, its method, and capacitance measuring circuit

Номер патента: AU2002332152A1. Автор: Naoki Ikeuchi,Masami Yakabe. Владелец: Sumitomo Metal Industries Ltd. Дата публикации: 2003-03-24.

Impedance measuring circuit and capacitance measuring circuit

Номер патента: AU2002332151A1. Автор: Koichi Nakano,Toshiyuki Matsumoto,Naoki Ikeuchi,Masami Yakabe. Владелец: Hokuto Electronics Inc. Дата публикации: 2003-03-24.

METHOD AND SYSTEM FOR DECOMPOSING SINGLE-QUBIT QUANTUM CIRCUITS INTO A DISCRETE BASIS

Номер патента: US20140026108A1. Автор: Svore Krysta,Bocharov Alexei. Владелец: MICROSOFT CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

System and method for parallel implementation of multi-qubit quantum gates

Номер патента: IL289635A. Автор: . Владелец: Massachusetts Inst Technology. Дата публикации: 2022-03-01.

METHOD FOR CHARACTERIZING AN ELECTRICAL SYSTEM BY IMPEDANCE SPECTROSCOPY

Номер патента: US20120105075A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-03.

Charge coupled device read only memory

Номер патента: CA994910A. Автор: George E. Smith. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1976-08-10.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICES, READING PROGRAM AND METHOD FOR MEMORY DEVICES

Номер патента: US20120230106A1. Автор: Yano Masaru. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-13.

POWER MANAGEMENT FOR STORAGE DEVICE READ CHANNEL

Номер патента: US20140071558A1. Автор: Lu Jing,Chen Lei,Yen Johnson. Владелец: LSI Corporation. Дата публикации: 2014-03-13.

LOW FREQUENCY IMPEDANCE MEASUREMENT WITH SOURCE MEASURE UNITS

Номер патента: US20140145729A1. Автор: Sobolewski Gregory. Владелец: KEITHLEY INSTRUMENTS, INC.. Дата публикации: 2014-05-29.

DEVICE READING INFORMATION WITH FILES

Номер патента: SU399077A1. Автор: В. Титкоз Б.. Владелец: . Дата публикации: 1973-09-27.

Storage device reading phase automatic correction method and correlated mechanism

Номер патента: CN1635578A. Автор: 张义树,汤森煌. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2005-07-06.

A kind of device read for drauht scale

Номер патента: CN204223159U. Автор: 不公告发明人. Владелец: Lv Guangqiang. Дата публикации: 2015-03-25.

DEVICE READING CYLINDRICAL MAGNETIC DOMAINS

Номер патента: SU435560A1. Автор: . Владелец: В. Е. Красовский Институт электронных управл ющих машин. Дата публикации: 1974-07-05.

Bio-electrical impedance measuring electrode and measuring method

Номер патента: CN100584269C. Автор: 蒋辉,王晓虹,吴琪,熊新翔. Владелец: CHONGQING BOEN FUKE MEDICAL EQUIPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-27.

Control method of electronic system and mobile device, reading device and control method thereof

Номер патента: CN102736879A. Автор: 黄国丰. Владелец: Prime View International Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-17.

Biologic impedance measuring instrument and biologic impedance measuring instrument combination

Номер патента: CN102475546B. Автор: 林君明. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-05-07.

Inkjet printing device, read data storage method and program

Номер патента: JP7215960B2. Автор: 悠太 住吉. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Impedance measuring device and impedance measuring method

Номер патента: JP6778514B2. Автор: 秀明 田中,北村 直也,直也 北村,田中 秀明. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Prepaid card system, encoding device, reading device, and card discriminating method

Номер патента: JP3502286B2. Автор: 隆之 鎌田,秀男 高島. Владелец: NTT Data Corp. Дата публикации: 2004-03-02.

Impedance measuring device and impedance measuring method

Номер патента: JP2014098691A. Автор: Yasuyoshi Kamata,康良 鎌田. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2014-05-29.

Characteristic impedance measuring method and measuring apparatus

Номер патента: JP4506154B2. Автор: 寛康 大森,賢一 羽廣. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2010-07-21.

Impedance measurement method

Номер патента: AU643031B2. Автор: Ronald Christopher Shaw Fox. Владелец: Alcatel Australia Ltd. Дата публикации: 1993-11-04.

Impedance measuring networks

Номер патента: CA651233A. Автор: L. Mell Thomas. Владелец: TRANS WEIGH CO. Дата публикации: 1962-10-30.

Impedance measurement structure

Номер патента: TWI221193B. Автор: Jr-Shing Shiu,Shin-Jou Shiu. Владелец: Via Tech Inc. Дата публикации: 2004-09-21.

Probe dynamic impedance measuring instrument equipped with image alignment system and laser cleaning apparatus

Номер патента: TWM366171U. Автор: Caroline Yeh. Владелец: Dimond Shamrock Entpr Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

Impedance measuring device

Номер патента: JPS52146278A. Автор: Youichi Matsuo,Toshiaki Fujie. Владелец: Nissin Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-12-05.

Method and device for intracochlea impedance measurement

Номер патента: AU2008903936A0. Автор: . Владелец: Cochlear Ltd. Дата публикации: 2008-08-21.

Impedance measurement method

Номер патента: AU7924591A. Автор: Ronald Christopher Shaw Fox. Владелец: Alcatel Australia Ltd. Дата публикации: 1993-01-28.

Device for automatic impedance measurement

Номер патента: JPS53100871A. Автор: Kunihide Takeshima. Владелец: Soshin Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-09-02.

Device for automatic impedance measurement

Номер патента: JPS53100870A. Автор: Akito Sazuka,Kunihide Takeshima. Владелец: Soshin Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-09-02.

Method and device for intracochlea impedance measurement

Номер патента: AU2007904682A0. Автор: . Владелец: Cochlear Ltd. Дата публикации: 2007-09-13.

Impedance measuring device

Номер патента: JPS52117676A. Автор: Youichi Matsuo,Shinobu Naohara. Владелец: Nissin Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-10-03.

Micro impedance measuring apparatus

Номер патента: JPS54156680A. Автор: Hiroaki Kodama,Cho Nakamura. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 1979-12-10.

A system for complex impedance measurement

Номер патента: AU2006903255A0. Автор: Terry Alvin Chilcott,Hans G.L. Coster. Владелец: Inphaze Pty Ltd. Дата публикации: 2006-06-29.

Method and system for monitoring tissue ablation through constrained impedance measurements

Номер патента: AU2019901118A0. Автор: . Владелец: Western Sydney Local Health District. Дата публикации: 2019-04-18.

Method and apparatus for vector impedance measurement.

Номер патента: ZA9710504B. Автор: James Dallas Graham,John David Keevil West. Владелец: GRINAKER ELECTRONICS Ltd. Дата публикации: 1998-06-10.

Impedance measuring device

Номер патента: AUPO764097A0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-07-24.

Method And System For Impedance Measurement In An Integrated Circuit

Номер патента: US20120013353A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-19.

POSITIONING CATHETERS USING IMPEDANCE MEASUREMENT

Номер патента: US20120078342A1. Автор: Lippert Michael,Vollkron Michael. Владелец: BIOTRONIK SE & Co. KG. Дата публикации: 2012-03-29.

RESPIRATION IMPEDANCE MEASURING DEVICE AND RESPIRATION IMPEDANCE DISPLAY METHOD

Номер патента: US20120101400A1. Автор: Kurosawa Hajime,Shimizu Yoshio,Hoki Toshiaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-26.

SPECTROSCOPIC BATTERY-CELL IMPEDANCE MEASUREMENT ARRANGEMENT

Номер патента: US20120105070A1. Автор: . Владелец: NXP B.V.. Дата публикации: 2012-05-03.

SENSING IN AN IMPLANTABLE DEVICE IN THE PRESENCE OF AN INTERFERING SIGNAL USING LEAD IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20120109001A1. Автор: Ellingson Michael L.. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-03.

Dual Frequency Impedance Measurement of Hematocrit in Strips

Номер патента: US20120111739A1. Автор: Pasqua John J.,Shields Christine,Carlson Angela. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-10.

Bio-Impedance Measurement Apparatus and Assembly

Номер патента: US20120123291A1. Автор: . Владелец: CHUNG HUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-05-17.

IMPEDANCE MEASUREMENT TO MONITOR ORGAN PERFUSION OR HEMODYNAMIC STATUS

Номер патента: US20120150169A1. Автор: CHO Yong K.,Hettrick Douglas A.,Scheiner Avram,Karamanoglu Mustafa,Zielinksi Todd M.. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-14.

SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING PHYSIOLOGICAL PARAMETERS BASED ON ELECTRICAL IMPEDANCE MEASUREMENTS

Номер патента: US20120157866A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-21.

Pore Structure Analyzer Based on Non-Contact Impedance Measurement for Cement-Based Materials

Номер патента: US20120158333A1. Автор: . Владелец: THE HONG KONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-06-21.

IMPEDANCE MEASUREMENT IN AN ACTIVE RADIO FREQUENCY TRANSMITTER

Номер патента: US20120170632A1. Автор: Walker Brian. Владелец: NAUTEL LIMITED. Дата публикации: 2012-07-05.

BIOELECTRICAL IMPEDANCE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120194203A1. Автор: . Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-02.

MULTI FREQUENCY AND MULTI POLARITY COMPLEX IMPEDANCE MEASUREMENTS TO ASSESS ABLATION LESIONS

Номер патента: US20120197243A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-02.

BODY IMPEDANCE MEASUREMENT APPARATUS

Номер патента: US20120296231A1. Автор: . Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2012-11-22.

DEVICE FOR CALCULATING IMPEDANCES OF BATTERY CELL AND BATTERY IMPEDANCE MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20130030737A1. Автор: OKADA Syuhei. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-31.