• Главная
  • Oligomer probe array with improved signal to noise ratio and fabrication method thereof

Oligomer probe array with improved signal to noise ratio and fabrication method thereof

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Mutation induced optimization of receptor signal to noise ratio

Номер патента: US20040214992A1. Автор: Martin Beinborn,Alan Kopin. Владелец: New England Medical Center Hospitals Inc. Дата публикации: 2004-10-28.

Mutation induced optimization of receptor signal to noise ratio

Номер патента: WO2002090924A3. Автор: Martin Beinborn,Alan S Kopin. Владелец: New England Medical Center Inc. Дата публикации: 2003-02-20.

Mutation induced optimization of receptor signal to noise ratio

Номер патента: EP1393039A2. Автор: Alan S. Kopin,Martin Beinborn. Владелец: New England Medical Center Hospitals Inc. Дата публикации: 2004-03-03.

Mutation induced optimization of receptor signal to noise ratio

Номер патента: EP1393039A4. Автор: Alan S Kopin,Martin Dr Beinborn. Владелец: New England Medical Center Hospitals Inc. Дата публикации: 2005-06-22.

Organic light emitting diode display, and fabricating and inspecting methods thereof

Номер патента: US09547036B2. Автор: Woocheol Jeong,Imkuk KANG,Sungjun YUN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Improved signal-to-noise ratio for photoacoustic gas sensors

Номер патента: WO2024039541A1. Автор: Jeremy Parker,Stephen Bart,Nishit Goel. Владелец: Invensense, Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Signal-to-noise ratio for photoacoustic gas sensors

Номер патента: US20240060875A1. Автор: Jeremy Parker,Stephen Bart,Nishit Goel. Владелец: InvenSense Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Bonded unified semiconductor chips and fabrication and operation methods thereof

Номер патента: EP3891788A1. Автор: Jun Liu,Weihua Cheng. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Bonded unified semiconductor chips and fabrication and operation methods thereof

Номер патента: US20220093614A1. Автор: Jun Liu,Weihua Cheng. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Apparatus for controlling clock signals to be supplied to a plurality of processing modules and control method thereof

Номер патента: US09606610B2. Автор: Osamu Nomura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY, AND FABRICATING AND INSPECTING METHODS THEREOF

Номер патента: US20150162393A1. Автор: YUN Sungjun,Kang Imkuk,JEONG Woocheol. Владелец: LG DISPLAY CO., LTD.. Дата публикации: 2015-06-11.

TESTING STRUCTURE, AND FABRICATION AND TESTING METHODS THEREOF

Номер патента: US20180190551A1. Автор: Li Yong. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-05.

Organic light emitting diode display, and fabricating and inspecting methods thereof

Номер патента: CN104701348A. Автор: 郑宇喆,康任局,尹圣埈. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-10.

Fiber-optic methods and devices enabling multiphoton imaging with improved signal to-noise ratio

Номер патента: US09915819B2. Автор: Xingde Li,Yicong Wu,Wenxuan Liang. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-03-13.

Semiconductor diodes-based physiological measurement device with improved signal-to-noise ratio

Номер патента: US10517484B2. Автор: Mohammed N. Islam. Владелец: Omni Medsci Inc. Дата публикации: 2019-12-31.

Method of improving signal-to-noise for quantitation by mass spectrometry

Номер патента: CA2713085C. Автор: Yves Le Blanc,Bruce A. Thomson. Владелец: Applied Biosystems Canada Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Wearable devices comprising semiconductor diode light sources with improved signal-to-noise ratio

Номер патента: US20240180428A1. Автор: Mohammed N. Islam. Владелец: Omni Medsci Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: WO2004013683A3. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P Rose. Владелец: John P Rose. Дата публикации: 2004-04-29.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: EP1529236A2. Автор: Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu,John P. Rose. Владелец: University of Georgia Research Foundation Inc UGARF. Дата публикации: 2005-05-11.

Systems, methods, and media for improving signal-to-noise ratio in single-photon data

Номер патента: US11927700B1. Автор: Mohit Gupta,JONGHO LEE. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-03-12.

Monitoring signal-to-noise ratio in x-ray diffraction data

Номер патента: US20060067470A1. Автор: John Rose,Bi-Cheng Wang,Zheng-Qing Fu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-30.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in an nqr system

Номер патента: WO2013177522A3. Автор: Paul A. Zank. Владелец: R.A. MILLER INDUSTRIES, INC.. Дата публикации: 2014-01-09.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in an nqr system

Номер патента: EP2856195A2. Автор: Paul A. Zank. Владелец: RA Miller Industries Inc. Дата публикации: 2015-04-08.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in an nqr system

Номер патента: WO2013177522A4. Автор: Paul A. Zank. Владелец: R.A. MILLER INDUSTRIES, INC.. Дата публикации: 2014-03-27.

Compounds and systems for improving signal detection

Номер патента: US10435741B2. Автор: Stephen Yue,Gene Shen,Andrei Fedorov,Sophia Wu. Владелец: Pacific Biosciences of California Inc. Дата публикации: 2019-10-08.

Metal nanoparticle sensor and fabrication method

Номер патента: US12077844B2. Автор: BO XIAO. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-03.

Raman microscope with excellent ratio of signal to noise

Номер патента: WO2009014306A1. Автор: Yong Bum Kim. Владелец: Yong Bum Kim. Дата публикации: 2009-01-29.

Light guide plate, backlight unit having the same, and fabrication device and method thereof

Номер патента: WO2016177028A1. Автор: XIANG Liu. Владелец: Hefei Boe Display Light Co., Ltd.. Дата публикации: 2016-11-10.

Light guide plate, backlight unit having the same, and fabrication device and method thereof

Номер патента: US10195800B2. Автор: XIANG Liu. Владелец: Hefei BOE Display Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-05.

Light guide plate, backlight unit having the same, and fabrication device and method thereof

Номер патента: US20170139107A1. Автор: XIANG Liu. Владелец: Hefei BOE Display Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Ladar receiver with enhanced signal to noise ratio and method

Номер патента: US20180364332A1. Автор: Barry Lee Stann,Mark Michael Giza. Владелец: US Army Research Laboratory. Дата публикации: 2018-12-20.

Increasing signal to noise ratio of a pixel of a lidar system

Номер патента: WO2023166512A1. Автор: Shahar LEVY,Ronen ESHEL,Idan BAKISH,Elchanan SHAPIRA. Владелец: INNOVIZ TECHNOLOGIES LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Signal-to-noise ratio improving device for receiving systems having two wave collectors

Номер патента: US3737783A. Автор: J Oswald,Y Rainsard. Владелец: Alcatel CIT SA. Дата публикации: 1973-06-05.

Photodiode and Photodiode Array with Improved Performance Characteristics

Номер патента: US20130277786A1. Автор: Peter Steven Bui,Narayan Dass Taneja. Владелец: OSI Optoelectronics Inc. Дата публикации: 2013-10-24.

Method for measuring and displaying the audio signal/noise ratio

Номер патента: US20220317167A1. Автор: Leonardo Busi. Владелец: ELENOS Srl. Дата публикации: 2022-10-06.

Method for measuring and displaying the audio signal/noise ratio

Номер патента: EP4028784A1. Автор: Leonardo Busi. Владелец: ELENOS Srl. Дата публикации: 2022-07-20.

Photodiode and Photodiode Array with Improved Performance Characteristics

Номер патента: US20110248369A1. Автор: Peter Steven Bui,Narayan Dass Taneja. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-10-13.

Superconductive sensing circuit for providing improved signal-to-noise

Номер патента: CA1047127A. Автор: Kenneth D. Terlep,Harvey C. Hamel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1979-01-23.

Differential weighing system providing improved signal to noise ratio

Номер патента: CA1158263A. Автор: Stewart B. Blodgett. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-12-06.

System and method for improving optical signal-to-noise ratio measurement range of a monitoring device

Номер патента: WO2002009323A2. Автор: David Goodwin,David A. Coppeta. Владелец: Lightchip, Inc.. Дата публикации: 2002-01-31.

Signal-to-noise based error detection

Номер патента: US20210390440A1. Автор: Priti Ashvin Shah,Jonathan Allen Wildstrom. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Method and apparatus for improving das signal-to-noise ratio by means of local fk transform

Номер патента: EP4369051A1. Автор: Jing Wang,Junjun Wu,Yanpeng LI,Yanbin Zhang. Владелец: BGP Inc. Дата публикации: 2024-05-15.

Method and system for increasing signal-to-noise ratio in microbolometer arrays

Номер патента: WO2006033095A1. Автор: Ernest Grimberg. Владелец: OPGAL OPTRONIC INDUSTRIES LTD.. Дата публикации: 2006-03-30.

Method And System For Increasing Signal-To-Noise Ratio In Microbolometer Arrays

Номер патента: US20080067388A1. Автор: Ernest Grimberg. Владелец: Opgal Optronics Indudtries Ltd. Дата публикации: 2008-03-20.

Signal-to-Noise Enhancement

Номер патента: US20190139196A1. Автор: Steven Adler-Golden. Владелец: SPECTRAL SCIENCE Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

System for measuring signal to noise ratio in a speech signal

Номер патента: EP1129448B1. Автор: William S. Woods. Владелец: Starkey Laboratories Inc. Дата публикации: 2002-10-02.

System for measuring signal to noise ratio in a speech signal

Номер патента: EP1129448A1. Автор: William S. Woods. Владелец: Starkey Laboratories Inc. Дата публикации: 2001-09-05.

System for measuring signal to noise ratio in a speech signal

Номер патента: AU1522000A. Автор: William S. Woods. Владелец: Starkey Laboratories Inc. Дата публикации: 2000-05-29.

Electronic Package Device and Fabrication Method Thereof, Method for Testing Electronic Package Device

Номер патента: US20160056381A1. Автор: Dan Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-25.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US12075705B2. Автор: Wen Bin XIA. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

System and method for enhanced signal to noise ratio performance of a depth camera system

Номер патента: WO2017112028A1. Автор: Anders Grunnet-Jepsen,Krishna Swaminathan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2017-06-29.

Light detection system and methods thereof

Номер патента: US20240027591A1. Автор: Gerhard Maierbacher,Bernhard Siessegger. Владелец: OSRAM GMBH. Дата публикации: 2024-01-25.

Lidar device and operating method thereof

Номер патента: US20240085537A1. Автор: TATSUHIRO Otsuka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-14.

Noise removing circuit, operation method thereof, and integrated circuit including the same

Номер патента: US20220163574A1. Автор: Joo Hyung CHAE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Array crystal module and fabrication method thereof

Номер патента: US09599726B2. Автор: CHEN ZENG,Qingguo Xie,Daoming XI. Владелец: Raycan Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Increasing signal-to-noise ratios in lidar systems

Номер патента: WO2022076489A1. Автор: Bradley Jonathan Luff,Prakash Koonath. Владелец: SiLC Technologies, Inc.. Дата публикации: 2022-04-14.

Increasing signal-to-noise ratios in lidar systems

Номер патента: EP4226185A1. Автор: Bradley Jonathan Luff,Prakash Koonath. Владелец: SILC Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-16.

Signal-to-noise ratio (SNR) identification within a scene

Номер патента: US12033392B2. Автор: Gabriel Bowers. Владелец: Mobileye Vision Technologies Ag. Дата публикации: 2024-07-09.

Wire grid polarizer and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09897735B2. Автор: Yanbing WU,Yingyi LI. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Tip array structure and fabricating method of tip structure

Номер патента: US7814566B2. Автор: Wei-Su Chen. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2010-10-12.

Steep-slope field-effect transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US11869950B2. Автор: Yang-Kyu Choi,Myung-Su Kim. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2024-01-09.

Eyeglass of 3D glasses and fabrication method thereof, and 3D glasses

Номер патента: US09841613B2. Автор: Junwei Wang. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Display panel and fabricating method thereof

Номер патента: US11762239B2. Автор: Dongze Li,Yongming YIN. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Display panel and fabricating method thereof

Номер патента: US20210200038A1. Автор: Dongze Li,Yongming YIN. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-01.

System and method for accurately predicting signal to interference and noise ratio to improve communications system performance

Номер патента: IL148365A. Автор: . Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2007-10-31.

Hybrid beamforming method based on signal-to-leakage-plus-noise ratio in millimeter-wave mimo systems

Номер патента: NL2032777A. Автор: Liu Xiaoming,Wang Ye,Gan Lu,ZHANG Ran. Владелец: Univ Anhui Normal. Дата публикации: 2022-09-29.

Hybrid beamforming method based on signal-to-leakage-plus-noise ratio in millimeter-wave mimo systems

Номер патента: NL2032777B1. Автор: Liu Xiaoming,Wang Ye,Gan Lu,ZHANG Ran. Владелец: Univ Anhui Normal. Дата публикации: 2023-02-14.

Signal to interference and noise ratio estimation

Номер патента: US20180359038A1. Автор: Roberto Fantini,Maurizio Fodrini,Bruno Melis,Ivano COLLOTTA. Владелец: Telecom Italia SpA. Дата публикации: 2018-12-13.

Resource management for reporting signal-to-interference-plus-noise ratio

Номер патента: EP4000204A1. Автор: Hao Wu,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-05-25.

Resource management for reporting signal-to-interference-plus-noise ratio

Номер патента: CA3147469A1. Автор: Hao Wu,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

Resource management for reporting signal-to-interference-plus-noise ratio

Номер патента: US12149483B2. Автор: Hao Wu,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Signal to interference and noise ratio estimation

Номер патента: US20240275505A1. Автор: Brian D. Hart,Audrey YAZDANPARAST. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

A Hybrid Beamforming Method Based on Signal-to-Leakage-plus-Noise Ratio in Millimeter-Wave MIMO Systems

Номер патента: LU502526B1. Автор: LU Gan,Ye Wang,Xiaoming Liu,Ran Zhang. Владелец: Univ Anhui Normal. Дата публикации: 2024-01-19.

Techniques for measurement of signal-to-interference-plus-noise ratio (sinr)

Номер патента: WO2021226312A1. Автор: Tao Luo,Yan Zhou,Kiran Venugopal. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-11-11.

Resource management for reporting signal-to-interference-plus-noise ratio

Номер патента: CA3147469C. Автор: Hao Wu,Bo Gao,Zhaohua Lu,Yu Ngok Li,Chuangxin JIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Method and system for boosting transmission settings based on signal to interference and noise ratio

Номер патента: EP2951934A1. Автор: Ning Zhang,Shu Du,Zhanfeng Jia,Qinghai Gao. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2015-12-09.

Signal-to-interference plus noise ratio (sinr)-aware spatial reuse

Номер патента: WO2024103043A1. Автор: Sigurd Schelstraete,Marcos Martinez VAZQUEZ. Владелец: MaxLinear, Inc.. Дата публикации: 2024-05-16.

Signal-to-interference plus noise ratio (sinr)-aware spatial reuse

Номер патента: US20240163913A1. Автор: Sigurd Schelstraete,Marcos Martinez VAZQUEZ. Владелец: Maxlinear Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Apparatus for detecting signal to noise ratio of signal from optical disk and method thereof

Номер патента: KR100629509B1. Автор: 심재성,박현수. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-09-28.

Word-line decoder for multi-bit-per-cell and analog/multi-level memories with improved resolution and signal-to-noise ratio

Номер патента: US6285593B1. Автор: Sau C. Wong. Владелец: SanDisk Corp. Дата публикации: 2001-09-04.

Bonded unified semiconductor chips and fabrication and operation methods thereof

Номер патента: EP3891788B1. Автор: Jun Liu,Weihua Cheng. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

LIGHT GUIDE PLATE, BACKLIGHT UNIT HAVING THE SAME, AND FABRICATION DEVICE AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20170139107A1. Автор: LIU Xiang. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

DATA STORAGE DEVICE, AND FABRICATION AND CONTROL METHODS THEREOF

Номер патента: US20140307504A1. Автор: Park Eungjoon,HUNG Hsi-Hsien. Владелец: WINBOND ELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2014-10-16.

Liquid crystal display device and fabricating and driving method thereof

Номер патента: CN1991501A. Автор: 秋教燮,姜熙光. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-04.

Liquid crystal display device and fabricating and driving method thereof

Номер патента: US20110187954A1. Автор: Hee Kwang Kang,Kyo Seop Choo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-08-04.

APPARATUS FOR CONTROLLING CLOCK SIGNALS TO BE SUPPLIED TO A PLURALITY OF PROCESSING MODULES AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20150205325A1. Автор: Nomura Osamu. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

Multi-tubular reactor and multi-tubular reactor design and fabrication method

Номер патента: US09713800B2. Автор: Shingo Yamauchi,Tamotsu Takamoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Method and apparatus for improving signal-to-noise ratio of microphone signal

Номер патента: US11798572B2. Автор: Lang WU,Jiaxiang Liao,Chaofan Zeng. Владелец: Xiamen Yealink Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Signal-to-noise ratio image validation

Номер патента: US20180137120A1. Автор: Yoshitaka Utsumi,Sik Piu Kwan. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 2018-05-17.

Signal-to-noise ratio image validation

Номер патента: US09870377B2. Автор: Yoshitaka Utsumi,Sik Piu Kwan. Владелец: NCR Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Thermal imager with large dynamic range and improved signal-to-noise ratio

Номер патента: US09635283B2. Автор: Thomas Heinke. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Liquid crystal display device and fabrication method thereof

Номер патента: US20060273315A1. Автор: Yong-Min Ha,Han-Wook Hwang. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-07.

Audio processing based on target signal-to-noise ratio

Номер патента: US20240334125A1. Автор: Erik Visser,Rogerio Guedes Alves,Jacob Jon BEAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Audio processing based on target signal-to-noise ratio

Номер патента: WO2024205944A1. Автор: Erik Visser,Rogerio Guedes Alves,Jacob Jon BEAN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-10-03.

Systems and methods for enhancing a signal-to-noise ratio

Номер патента: US09886939B2. Автор: Remington Griffin. Владелец: Signal/noise Solutions LLC. Дата публикации: 2018-02-06.

Image processing device and method thereof

Номер патента: US09779321B2. Автор: Shih-Tse Chen,Hao-Tien Chiang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and apparatus for determining equalized signal-to-noise ratio in a storage device

Номер патента: US20020054443A1. Автор: UttHeng Kan,Edmun Seng,AikChuan Lim,KeyHee Tang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-09.

Denoising method based on signal-to-noise ratio

Номер патента: US20210004938A1. Автор: Tsung-Hsuan Li,Shih-Tse Chen,Wan-Ju Tang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Method and system for increasing signal-to-noise ratio

Номер патента: EP1982305A1. Автор: Shen-En Qian,Hisham Othman. Владелец: CANADIAN SPACE AGENCY. Дата публикации: 2008-10-22.

Method and system for increasing signal-to-noise ratio

Номер патента: CA2640683A1. Автор: Shen-En Qian,Hisham Othman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-08-09.

Method and camera for providing an estimation of a mean signal to noise ratio value for an image

Номер патента: EP2552099A1. Автор: Filip Johansson. Владелец: AXIS AB. Дата публикации: 2013-01-30.

Signal-to-noise ratio image validation

Номер патента: US20150310413A1. Автор: Yoshitaka Utsumi,Sik Piu Kwan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-10-29.

Audio systems, devices, MEMS microphones, and methods thereof

Номер патента: US11743635B2. Автор: Dean Robert Gary Anderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-29.

Audio systems, devices, mems microphones, and methods thereof

Номер патента: US20230403501A1. Автор: Dean Robert Gary Anderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-14.

Holographic storage optical system and beam calibrating method thereof

Номер патента: EP4116971A3. Автор: Jun Tian,Yicheng Liu,Dejiao Hu. Владелец: Amethystum Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-26.

Holographic storage optical system and beam calibrating method thereof

Номер патента: EP4116971A2. Автор: Jun Tian,Yicheng Liu,Dejiao Hu. Владелец: Amethystum Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Touch sensor mechanism and manufacturing method thereof

Номер патента: US09483150B2. Автор: Jun-Wen Chung. Владелец: TERA XTAL Tech CORP. Дата публикации: 2016-11-01.

Method for improving the signal to noise ratio of a wave form

Номер патента: US10524733B2. Автор: David Siegel,Canh Ly,Troy Lau,William D. Hairston. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 2020-01-07.

Holographic storage optical system and beam calibrating method thereof

Номер патента: US20220404766A1. Автор: Jun Tian,Yicheng Liu,Dejiao Hu. Владелец: Amethystum Storage Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Touch display device, touch driving circuit and touch driving method thereof

Номер патента: US11079876B2. Автор: Jaehun Jun,Hyeongwon Kang,Myungho SHIN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-03.

Thin film transistor array substrate and fabricating method thereof

Номер патента: US20100001286A1. Автор: Chih-Chieh Wang,Yao-Hong Chien,Xuan-Yu Liu,Li-Shan Chen. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2010-01-07.

Optical signal-to-noise ratio improving device

Номер патента: US7212334B2. Автор: Kazuo Hironishi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-05-01.

Optical signal-to-noise ratio improving device

Номер патента: US20060285200A1. Автор: Kazuo Hironishi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-12-21.

Display panel with single substrate and fabricating method thereof

Номер патента: US09983446B2. Автор: Yanbing WU,Wenbo Li,Dongsheng Wang,Youmei Dong. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Array substrate and fabricating method thereof, and display apparatus

Номер патента: US09696580B2. Автор: Tian Yang,Yanbing WU,Wenbo Li,Chunyan JI. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Method and image processing device for improving signal-to-noise ratio of image frame sequences

Номер патента: WO2022089917A1. Автор: Constantin Kappel,Kai WALTER. Владелец: Leica Microsystems CMS GmbH. Дата публикации: 2022-05-05.

Digital waveform generator having constant signal to noise ratio

Номер патента: WO1981000314A1. Автор: G Gross. Владелец: Norlin Ind Inc. Дата публикации: 1981-02-05.

Overlapping pattern differentiation at low signal-to-noise ratio

Номер патента: WO2019140434A3. Автор: Nancy E. KLECKNER,Frederick S. CHANG. Владелец: President and Fellows of Harvard College. Дата публикации: 2020-04-30.

Array substrate and fabrication method thereof, display device and driving method thereof

Номер патента: US09928801B2. Автор: Xin Gu,Jaegeon You. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09893098B2. Автор: Jian Guo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

UV mask and fabrication method thereof

Номер патента: US09638845B2. Автор: Sung Hun Song. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09466624B2. Автор: Jian Guo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Silicon-based rib-waveguide modulator and fabrication method thereof

Номер патента: US09429776B2. Автор: Changhua Chen,Dong Pan,Tuo SHI,Tzung-I Su,Yongbo Shao. Владелец: SiFotonics Technologies USA Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Array substrate and fabrication method thereof and display panel

Номер патента: US20190067339A1. Автор: Haihong Zheng. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Array substrate and fabrication method thereof and display device

Номер патента: US09804463B2. Автор: Qi Yao,Zhanfeng CAO,Xiaoyang Tong. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Touch device and fabrication method thereof

Номер патента: US09665230B2. Автор: FENG CHEN,Yuh-Wen Lee,Yanjun Xie,Hsiang-Lung Hsia,Xianbin Xu,Keming Ruan,Fengming Lin. Владелец: TPK Touch Solutions Xiamen Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

TN-type array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09620535B2. Автор: Song Wu,Jieqiong Bao. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Flexible display panel and fabricating method thereof, and image display terminal unit

Номер патента: US09591765B2. Автор: SeokHee JEONG,Jungchul Kim,Soonkwang Hong. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09437487B2. Автор: Shi Shu,Feng Zhang,Feng Gu,Fang He,Yaohui GU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US09418896B2. Автор: Kang-ill Seo,Jin-Wook Lee,Yong-min Cho,Hyun-Jae Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-16.

Touch-sensing liquid crystal panel and fabrication method thereof

Номер патента: US09355807B2. Автор: Kun-hua Tsai,Yu-Cheng Lin,Hsu-Ho Wu,Hsing-Ying LEE,Ping-Yuan Su. Владелец: Hannstar Display Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Image processing device and method thereof

Номер патента: US20160300326A1. Автор: Shih-Tse Chen,Hao-Tien Chiang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

Liquid crystal display and fabricating method thereof

Номер патента: US20040227892A1. Автор: Ya-Hsiang Tai,Jun Chang Chen. Владелец: Toppoly Optoelectronics Corp. Дата публикации: 2004-11-18.

[pixel structure and fabricating method thereof]

Номер патента: US20050036079A1. Автор: Daisuke Nishino,Chih-Hung Chiang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-17.

Pixel structure and fabricating method thereof

Номер патента: US20060033101A1. Автор: Daisuke Nishino,Chih-Hung Chiang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-16.

Liquid crystal panel and fabricating method thereof

Номер патента: US09933653B2. Автор: Yuejun TANG. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Mark structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09773739B2. Автор: Hong Wei Zhang,Kui Feng,Dao Liang LU. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Liquid crystal display panel, driving method and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09645455B2. Автор: Miki Kashima. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Waveplates on a curved surface and fabrication method thereof

Номер патента: EP3921145A1. Автор: Ying Geng,Babak Amirsolaimani. Владелец: Facebook Technologies LLC. Дата публикации: 2021-12-15.

Photo sensor and fabrication method thereof

Номер патента: US20080023782A1. Автор: Cha-Hsin Lin,Lurng-Shehng Lee,Ching-Chiun Wang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2008-01-31.

Display-panel motherboard and fabricating method thereof

Номер патента: US20200292862A1. Автор: JI Li,Lisen Wang,Zhiyang Gao,Zhaozhe Xu. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Flexible housing and fabrication method thereof

Номер патента: US20190307004A1. Автор: Run YANG,Xiaoli Fan. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Backlight Module and Fabricating Method Thereof, and Display Apparatus

Номер патента: US20160370536A1. Автор: Jifeng TAN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-22.

Pixel structure and fabricating method thereof

Номер патента: US8030652B2. Автор: Shih-Chin Chen,Ming-Hung Shih. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2011-10-04.

Liquid crystal panel for improving the uniformity of the parasitic capacitor and fabrication method thereof

Номер патента: US8179511B2. Автор: Moon Soo Kang,Hyung Ho Ahn. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-15.

Liquid crystal panel and fabrication method thereof

Номер патента: US20070103609A1. Автор: Moon Kang,Hyung Ahn. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-10.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20210184108A1. Автор: Ming Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Ferroelectric liquid crystal display and fabricating method thereof

Номер патента: US20020085145A1. Автор: Su Choi. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2002-07-04.

Driving apparatus of plasma display panel and fabrication method thereof

Номер патента: US20040036685A1. Автор: Jin Ryu,Sam Cho,Bong Baik,Woo Jang. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2004-02-26.

Ferroelectric liquid crystal display and fabricating method thereof

Номер патента: US20040070703A1. Автор: Su Choi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-15.

Recording medium cartridge and fabrication method thereof

Номер патента: US20070086111A1. Автор: Hideaki Shiga. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2007-04-19.

Color wheel unit and fabrication method thereof

Номер патента: US20070081265A1. Автор: Nak-Yun Sung,Yong-Wan Cho,Ji-Hyung Jung,Ju-Dong Oh,Kye-Woong Cho. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-12.

Driving apparatus of plasma display panel and fabrication method thereof

Номер патента: US20070236487A1. Автор: Jin Ryu,Sam Cho,Bong Baik,Woo Jang. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2007-10-11.

Display device and fabricating method thereof

Номер патента: US20180348552A1. Автор: Xin Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Array substrate and fabricating method thereof, display panel and display apparatus

Номер патента: US09893091B2. Автор: Hongming Zhan. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09893090B2. Автор: Heecheol KIM,Seungjin Choi,Youngsuk Song,Seongyeol Yoo. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Touch panel and fabrication method thereof

Номер патента: US09874954B2. Автор: Yuh-Wen Lee,Xianbin Xu,Fengming Lin,Chuangdai Tang. Владелец: TPK Touch Solutions Xiamen Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Polarizer and fabrication method thereof

Номер патента: US09739919B2. Автор: Long Zhang,Ting Zhou,Poping Shen. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Display substrate and fabricating method thereof, and display device

Номер патента: US09696594B2. Автор: Xiaobin Yin. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Device substrate and fabricating method thereof

Номер патента: US09581906B2. Автор: Kai Pei. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2017-02-28.

Motherboard, array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09461074B2. Автор: Xu Liu. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Color electrophoretic display panel and fabricating method thereof, and display device

Номер патента: US09454058B2. Автор: Mingchao Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Dual sensor imaging system and imaging method thereof

Номер патента: US20210217153A1. Автор: Shih-Yuan Peng,Yun-Chin Li,Kuo-Ming Lai,shu-chun Cheng,Hsu-Lien Huang. Владелец: Altek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-07-15.

Signal to noise determination in cellphones

Номер патента: US20190372689A1. Автор: David Carter,Genquan DUAN. Владелец: WIZR LLC. Дата публикации: 2019-12-05.

Contrast to noise ratio (cnr) enhancer

Номер патента: EP2646975A1. Автор: Andrei Feldman,Liran Goshen,Yechiel Lamash,Asher Gringauz,Guido Pardo-Roques,Jonathan Sapir. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2013-10-09.

Three-dimensional memory device and fabrication method thereof

Номер патента: EP3912188A1. Автор: Linchum WU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-24.

Three-dimensional memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US20210296351A1. Автор: Linchun Wu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Signal receiver adaptive to noise level

Номер патента: US20230266779A1. Автор: Sungchul Kim,Sanggil PARK. Владелец: Attowave Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20200303189A1. Автор: Zhi Dong WANG,Yi Ying ZHANG. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Touch display device, touch driving circuit and touch driving method thereof

Номер патента: US20210200415A1. Автор: Jaehun Jun,Hyeongwon Kang,Myungho SHIN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-01.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US12089501B2. Автор: Ming Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US12096696B2. Автор: JISONG Jin. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Touch substrate and fabrication method thereof and display apparatus

Номер патента: US09996188B2. Автор: Jun Li,Lei Zhang,Ming Hu,Xiaodong Xie. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Touch display panel and fabricating method thereof

Номер патента: US09785005B2. Автор: Po-Yuan Liu,Yu-Feng Chien,Hung-Wen Chou,Chia-Chun Yeh,Wen-Rei Guo,Chin-Chuan Liu. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2017-10-10.

Touch screen and fabrication method thereof

Номер патента: US09772707B2. Автор: Xiaomin Liu,Ting Zhou. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Programmable devices with current-facilitated migration and fabrication methods

Номер патента: US09691497B2. Автор: Min-Hwa Chi,Ajey P. Jacob,Suraj K. Patil. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Pixel structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09684216B2. Автор: Chien-Han Chen,Shih-Fang Chen,Chih-Cheng Wang. Владелец: E Ink Holdings Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Lower-power scrambling with improved signal integrity

Номер патента: EP3238345A1. Автор: Eng Hun Ooi,Christopher P. Mozak,Ee Loon Teoh,Brian R. McFarlane. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

Lower-power scrambling with improved signal integrity

Номер патента: US09792246B2. Автор: Eng Hun Ooi,Christopher P Mozak,Ee Loon Teoh,Brian R McFarlane. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Memory cell, memory device and manufacturing method thereof

Номер патента: KR970077656A. Автор: 전영권. Владелец: Lg 반도체주식회사. Дата публикации: 1997-12-12.

Methods and apparatus for improving signal-to-noise performance in quantum computation

Номер патента: GB2600697A. Автор: CAMPS Joan,UNDERWOOD Dan. Владелец: River Lane Research Ltd. Дата публикации: 2022-05-11.

Reconfigurable data bus system and method thereof

Номер патента: US20200142713A1. Автор: Chien-Min HSU,Shih-Hsien Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-05-07.

Display system and driving method thereof

Номер патента: US09715719B2. Автор: Tadashi Nakai. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Liquid crystal display device and a fabricating method

Номер патента: US20010013918A1. Автор: Kwang Park,Dong Kwak. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-16.

Flexible display panel and fabricating method thereof

Номер патента: US11793013B2. Автор: Jing Liu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Thin film transistor substrate and fabricating method thereof

Номер патента: US7816192B2. Автор: Hyun-Ho Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-19.

Silicon-Based Rib-Waveguide Modulator And Fabrication Method Thereof

Номер патента: US20150378185A1. Автор: Changhua Chen,Dong Pan,Tuo SHI,Tzung-I Su,Yongbo Shao. Владелец: SiFotonics Technologies USA Inc. Дата публикации: 2015-12-31.

Thin film transistor substrate and fabricating method thereof

Номер патента: US20080157085A1. Автор: Hyun-Ho Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-03.

Liquid crystal display and fabricating method thereof

Номер патента: US7646439B1. Автор: Seung Kyu Choi,Sang Moo Song. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-12.

Vector signaling code with improved noise margin

Номер патента: US12057976B2. Автор: Brian Holden,Amin Shokrollahi. Владелец: Kandou Labs SA. Дата публикации: 2024-08-06.

Mask and fabricating method thereof, and displaying base plate and fabricating method thereof

Номер патента: US20220149282A1. Автор: Pengcheng LU,Yunlong Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Hybrid drive shaft using friction-stir welding and fabrication method thereof

Номер патента: US09958003B2. Автор: Dong Ho Kim. Владелец: Woo Shin Emc Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Ultra-long silver nanowire material and fabrication method thereof

Номер патента: US12109621B2. Автор: Jing Zheng,Rui Dang. Владелец: Northwest Institute for Non Ferrous Metal Research. Дата публикации: 2024-10-08.

Vector signaling code with improved noise margin

Номер патента: US20190312760A1. Автор: Amin Shokrollahi. Владелец: Kandou Labs SA. Дата публикации: 2019-10-10.

Vector signaling code with improved noise margin

Номер патента: US20230379199A1. Автор: Brian Holden,Amin Shokrollahi. Владелец: Kandou Labs SA. Дата публикации: 2023-11-23.

Flooring material and fabrication method thereof

Номер патента: US09833974B2. Автор: Gyeongmin Lee,Hyunjong Kwon,Kyungtae Ha. Владелец: LG HAUSYS LTD. Дата публикации: 2017-12-05.

Laser firing apparatus for high efficiency solar cell and fabrication method thereof

Номер патента: WO2010077018A2. Автор: Jong-Hwan Kim,Hwa-Nyeon Kim,Ju-Hwan Yun. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2010-07-08.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US20110195257A1. Автор: Shu-Lin Ho,Hsin-Chang Hsiung. Владелец: Core Precision Material Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-11.

Complementary nanowire semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09972543B2. Автор: Deyuan Xiao. Владелец: Zing Semiconductor Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Composite film and fabrication method thereof, photoelectric element and photoelectric apparatus

Номер патента: US09828544B2. Автор: Chen Tang,Jingxia Gu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Complementary nanowire semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09779999B2. Автор: Deyuan Xiao. Владелец: Zing Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Inkjet printer head and fabricating method thereof

Номер патента: US20070171259A1. Автор: Won-Chul Sim,Soon-Young Kim,Jae-Woo Joung. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-26.

RF MEMS switch and fabrication method thereof

Номер патента: US7456713B2. Автор: Hee-Chul Lee,Jae-Yeong Park. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2008-11-25.

RF MEMS switch and fabrication method thereof

Номер патента: US20070109081A1. Автор: Hee-Chul Lee,Jae-Yeong Park. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-05-17.

Silicide capacitive micro electromechanical structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20230116389A1. Автор: Chun-Chieh Lin,Di-Bao Wang. Владелец: Taiwan Asia Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Aluminum alloy flux-cored welding wire and fabrication method thereof

Номер патента: US20240227087A1. Автор: Chang Miao,Rui CAO,Yutao Zhao,Xizhou Kai,Chengchao DU,Zhuangzhuang XU. Владелец: Jiangsu University. Дата публикации: 2024-07-11.

Integrated structure of mems device and cmos image sensor device and fabricating method thereof

Номер патента: US20100148283A1. Автор: Hui-Shen Shih. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2010-06-17.

Schottky diode with low leakage current and fabrication method thereof

Номер патента: US7382035B2. Автор: Hyung Choi,Dong-sik Shim,Il-Jong Song,Ja-nam Ku,Young-hoon Min. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-06-03.

Aluminum alloy flux-cored welding wire and fabrication method thereof

Номер патента: US12042885B1. Автор: Chang Miao,Rui CAO,Yutao Zhao,Xizhou Kai,Chengchao DU,Zhuangzhuang XU. Владелец: Jiangsu University. Дата публикации: 2024-07-23.

Fluid injection devices and fabrication methods thereof

Номер патента: US20060071302A1. Автор: Hung-Sheng Hu,Wei-Lin Chen,Der-Rong Shyn. Владелец: BenQ Corp. Дата публикации: 2006-04-06.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20230299189A1. Автор: Poren Tang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US12051737B2. Автор: Nan Wang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Optical security device and system and fabrication methods thereof

Номер патента: US09789724B2. Автор: Yingqiu Jiang,Aharon Hochbaum. Владелец: Opthentic Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Mems capacitance microphone and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230403514A1. Автор: Chien-Hsing Huang. Владелец: Qsensing Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-14.

Fabrication method and fabrication apparatus

Номер патента: US20240326320A1. Автор: Hiroyuki Naito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-03.

Thin-film double-glazed photovoltaic module and fabrication method thereof

Номер патента: CA3018695A1. Автор: Jinchun ZHANG. Владелец: Miasole Photovoltaic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-19.

Keyboard keys using marked elastic domes and fabrication method thereof

Номер патента: US7083343B2. Автор: Hung-Ming Tseng. Владелец: Darfon Electronics Corp. Дата публикации: 2006-08-01.

Ultra-long silver nanowire material and fabrication method thereof

Номер патента: US20240082917A1. Автор: Jing Zheng,Rui Dang. Владелец: Northwest Institute for Non Ferrous Metal Research. Дата публикации: 2024-03-14.

Methods for performing multi-disturber alien crosstalk limited signal-to-noise ratio tests

Номер патента: US20170134069A1. Автор: George Zimmerman,Benji Boban. Владелец: Commscope Inc of North Carolina. Дата публикации: 2017-05-11.

Dual emissive electroluminescent displays and fabricating and display methods thereof

Номер патента: US20060033424A1. Автор: Chung-Wen Ko. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2006-02-16.

Submodule hybrid mmc with low full-bridge ratio and dc fault processing method thereof

Номер патента: US20240243581A9. Автор: ZHENG Xu,Zheren Zhang,Yuzhe XU. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-18.

Submodule hybrid MMC with low full-bridge ratio and DC fault processing method thereof

Номер патента: US12062915B2. Автор: ZHENG Xu,Zheren Zhang,Yuzhe XU. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-08-13.

Maximum signal-to-interference-and-noise spread spectrum rake receiver and method

Номер патента: WO2004062121A3. Автор: Colin D Frank,Robert J Corke. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2005-01-27.

Layer 1 signal to interference plus noise ratio (l1-sinr) measurements with network configured measurement gaps

Номер патента: US20220069889A1. Автор: Tao Luo,Qian Zhang,Yan Zhou. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Method and apparatus for rake combining based upon signal to interference noise ratio

Номер патента: EP1563621A4. Автор: Ning Kong,Ian Riphagen,Michiel Lotter. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2008-07-16.

Procedure for formulating a signal to interference plus noise ratio

Номер патента: US09794850B2. Автор: Yi Song,YI Yu,Mo-Han Fong,Zhijun Cai,Chandra Sekhar Bontu,Rose Qingyang Hu. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Pacemaker with improved detection of and response to noise

Номер патента: EP0707866B1. Автор: Frits Maarten Van Krieken. Владелец: Vitatron Medical BV. Дата публикации: 2002-04-17.

Digital frequency synthesizer and method thereof

Номер патента: US7772893B2. Автор: Don-Chen Hsin,Hsiang-Chih Chen. Владелец: NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. Дата публикации: 2010-08-10.

Digital frequency synthesizer and method thereof

Номер патента: US20090015296A1. Автор: Don-Chen Hsin,Hsiang-Chih Chen. Владелец: NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. Дата публикации: 2009-01-15.

A method for measuring signal to interference plus noise ratio

Номер патента: AU2001216906A1. Автор: Michael Li,Daoben Li. Владелец: Linkair Comm Inc. Дата публикации: 2002-06-11.

Uplink signal to interference plus noise ratio estimation for massive mimo communication systems

Номер патента: US20180006743A1. Автор: Ping Liang,Dengkui Zhu,Boyu Li. Владелец: RF DSP Inc. Дата публикации: 2018-01-04.

Repeater and method for measuring signal-to-interference-plus-noise ratio thereof

Номер патента: US11476960B2. Автор: Nag Won Kwon. Владелец: Solid Inc. Дата публикации: 2022-10-18.

Method and device for predicting signal to interference and noise ratio

Номер патента: EP2566074B1. Автор: Yanwen Wang,Qinghong Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2018-02-14.

BONDED UNIFIED SEMICONDUCTOR CHIPS AND FABRICATION AND OPERATION METHODS THEREOF

Номер патента: US20220093614A1. Автор: Liu Jun,CHENG Weihua. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-24.

IMAGE SENSORS, AND FABRICATION AND OPERATION METHODS THEREOF

Номер патента: US20180277586A1. Автор: LIU Xuan Jie,ZHANG Hai Fang,Lu Jue,YAO Guo Feng. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

SEMICONDUCTOR CHIP, AND FABRICATION AND PACKAGING METHODS THEREOF

Номер патента: US20180337143A1. Автор: LU Li Hui,FEI Chun Chao,CHIANG Po Yuan,WANG Ya Ping. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-22.

BONDED UNIFIED SEMICONDUCTOR CHIPS AND FABRICATION AND OPERATION METHODS THEREOF

Номер патента: US20200350322A1. Автор: Liu Jun,CHENG Weihua. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

Method and apparatus to estimate signal to interference plus noise ratio (sinr) in a multiple antenna receiver

Номер патента: EP1774668A1. Автор: Roberto Rimini,Jukka Tapaninen. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2007-04-18.

Deodorant for clothes and fabrics and manufacturing method thereof

Номер патента: KR101822929B1. Автор: 윤혜진. Владелец: 윤혜진. Дата публикации: 2018-01-29.

Deodorant for clothes and fabrics and manufacturing method thereof

Номер патента: KR20170128861A. Автор: 윤혜진. Владелец: 윤혜진. Дата публикации: 2017-11-24.

Anti-skid and anti-bouncing yarn and fabric and production method thereof

Номер патента: CN110629342A. Автор: 贺光明,柯文博,周冰倩. Владелец: Foshan Shunde Lianjin Textile Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

Substrate structure, and fabrication and packaging methods thereof

Номер патента: US20220238351A1. Автор: Peng Chen,XinRu Zeng,Houde Zhou. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Heat insulation integrated ultra-thin panel fixing structural and fabrication and installation method thereof

Номер патента: CN106284899A. Автор: 周荣,周平,周奇,周述文. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-04.

Layer 1 signal to interference plus noise ratio (l1-sinr) measurements with network configured measurement gaps

Номер патента: EP4205296A1. Автор: Tao Luo,Qian Zhang,Yan Zhou. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-07-05.

MUTUAL INFORMATION BASED SIGNAL TO INTERFERENCE PLUS NOISE RATIO ESTIMATOR FOR RADIO LINK MONITORING

Номер патента: US20130195023A1. Автор: VAISANEN Petri,MAJONEN Kari. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2013-08-01.

UPLINK SIGNAL TO INTERFERENCE PLUS NOISE RATIO ESTIMATION FOR MASSIVE MIMO COMMUNICATION SYSTEMS

Номер патента: US20180006743A1. Автор: Zhu Dengkui,Liang Ping,Li Boyu. Владелец: RF DSP Inc.. Дата публикации: 2018-01-04.

WIRELESS NETWORK SIGNAL TO INTERFERENCE PLUS NOISE RATIO ESTIMATION FOR A RANDOM ACCESS CHANNEL

Номер патента: US20150023329A1. Автор: Jiang Jing,Purkovic Aleksandar,Yan Mingjian. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

LAYER 1 SIGNAL TO INTERFERENCE PLUS NOISE RATIO (L1-SINR) MEASUREMENTS WITH NETWORK CONFIGURED MEASUREMENT GAPS

Номер патента: US20220069889A1. Автор: Luo Tao,Zhang Qian,Zhou Yan. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

RESOURCE MANAGEMENT FOR REPORTING SIGNAL-TO-INTERFERENCE-PLUS-NOISE RATIO

Номер патента: US20220140960A1. Автор: Gao Bo,Li Yu Ngok,Wu Hao,Lu Zhaohua,JIANG Chuangxin. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-05.

WIRELESS ACCESS POINT SELECTION BASED ON SIGNAL-TO-INTERFERENCE-PLUS NOISE RATIO VALUE

Номер патента: US20180124694A1. Автор: Pefkianakis Ioannis,ZENG Yunze. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

Procedure for formulating a signal to interference plus noise ratio

Номер патента: US20140233408A1. Автор: Yi Song,YI Yu,Mo-Han Fong,Zhijun Cai,Chandra Sekhar Bontu,Rose Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-08-21.

Procedure for Formulating a Signal to Interference Plus Noise Ratio

Номер патента: US20160174126A1. Автор: Cai Zhijun,Yu Yi,BONTU Chandra Sekhar,Fong Mo-Han,Hu Rose Qingyang,Song Yi. Владелец: BlackBerry Limited. Дата публикации: 2016-06-16.

TECHNIQUES FOR INDICATING A USER EQUIPMENT CAPABILITY FOR LAYER 1 SIGNAL TO INTERFERENCE PLUS NOISE RATIO MEASUREMENT

Номер патента: US20210243629A1. Автор: Luo Tao,Zhou Yan,RYU Jung Ho. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

REPEATER AND METHOD FOR MEASURING SIGNAL-TO-INTERFERENCE-PLUS- NOISE RATIO THEREOF

Номер патента: US20210359776A1. Автор: Kwon Nag Won. Владелец: SOLiD, INC.. Дата публикации: 2021-11-18.

SIGNAL TO INTERFERENCE AND NOISE RATIO ESTIMATION

Номер патента: US20180359038A1. Автор: Melis Bruno,Fantini Roberto,FODRINI Maurizio,Collotta Ivano. Владелец: TELECOM ITALIA S.P.A.. Дата публикации: 2018-12-13.

Mutual information based signal to interference plus noise ratio estimator for radio link monitoring

Номер патента: WO2011089304A1. Автор: Kari Majonen,Petri Vaisanen. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2011-07-28.

Rake combining method and apparatus based on the signal-to-interference-plus-noise ratio

Номер патента: DE60328514D1. Автор: Ning Kong,Ian Riphagen,Michiel Lotter. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2009-09-03.

Procedure for formulating a signal to interference plus noise ratio

Номер патента: CN103703835A. Автор: 宋毅,蔡志军,房慕娴,余奕,昌德拉·S·波图,罗斯·胡. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2014-04-02.

Mutual information based signal to interference plus noise ratio estimator for radio link monitoring

Номер патента: EP2526638B1. Автор: Kari Majonen,Petri Vaisanen. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2018-02-28.

Signal to interference plus noise ratio (sinr) estimation method and device

Номер патента: WO2010091603A1. Автор: 李岩,刘文豪,张庆宏. Владелец: 中兴通讯股份有限公司. Дата публикации: 2010-08-19.

Resource management for reporting signal to interference plus noise ratio

Номер патента: CN114128198A. Автор: 吴昊,高波,鲁照华,李儒岳,蒋创新. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Method for measuring signal to interference plus noise ratio

Номер патента: CN1385043A. Автор: 李道本,李永会. Владелец: Linkair Communications Inc. Дата публикации: 2002-12-11.

Repeater and method for measuring signal-to-interference-plus- noise ratio thereof

Номер патента: US20210359776A1. Автор: Nag Won Kwon. Владелец: Solid Inc. Дата публикации: 2021-11-18.

Submodule hybrid mmc with low full-bridge ratio and dc fault processing method thereof

Номер патента: US20240030715A1. Автор: ZHENG Xu,Zheren Zhang,Yuzhe XU. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and method for creating calibration coefficient used to monitor optical signal-to-noise ratio

Номер патента: US9413455B2. Автор: Yasuhiko Aoki,Shoichiro Oda,Jeng-yuan Yang. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

CMOS image sensor, pixel unit and control method thereof

Номер патента: US09756271B2. Автор: LI Wang,Lin Wang,Wenzhe Luo. Владелец: Brigates Microelectronic Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Electrode with improved signal to noise ratio

Номер патента: US6139718A. Автор: Michael J. Tierney,Ronald T. Kurnik,Janet Tamada. Владелец: Cygnus Inc. Дата публикации: 2000-10-31.

Electrode with improved signal to noise ratio

Номер патента: CA2283240C. Автор: Michael J. Tierney,Ronald T. Kurnik,Janet Tamada. Владелец: Cygnus Inc. Дата публикации: 2003-07-29.

Electrode with improved signal to noise ratio

Номер патента: CA2283240A1. Автор: Michael J. Tierney,Ronald T. Kurnik,Janet Tamada. Владелец: Cygnus, Inc.. Дата публикации: 1998-10-01.

Antenna assembly and antenna structure with improved signal-to-noise ratio

Номер патента: US09929464B2. Автор: Stefan Droste,Christoph Degen,Gunther Vortmeier. Владелец: Saint Gobain Glass France SAS. Дата публикации: 2018-03-27.

Pre-incubation method to improve signal/noise ratio of nucleic acid assays

Номер патента: WO2004081221A3. Автор: Glen H Erikson,Jasmine I Daksis. Владелец: Jasmine I Daksis. Дата публикации: 2004-12-23.

Network reselection by a wireless communication device based on signal-to-noise ratio

Номер патента: US09826455B2. Автор: Sachin J. SANE,Sai Sravan Bharadwaj Karri. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Use of an apparatus for improving signal to noise ratio

Номер патента: US09641265B2. Автор: Sami Halen,Toni Rumpunen,Perttu Fagerlund,Tommi Ketola,Pekka Hilke. Владелец: TELESTE OYJ. Дата публикации: 2017-05-02.

System and method for improving the signal-to-noise ratio for reflective-based sensors

Номер патента: US20230240603A1. Автор: Jacob D. DOVE,Sarah L. Hayman,Krishna K. Chopra. Владелец: COVIDIEN LP. Дата публикации: 2023-08-03.

Monitoring apparatus for an optical signal to noise ratio, signal transmission apparatus and receiver

Номер патента: US09882636B2. Автор: Zhenning Tao,Liang Dou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Apparatus and method for improving signal-to-noise ratio in a multi-carrier CDMA communication system

Номер патента: US7505427B2. Автор: Joseph R. Cleveland. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-03-17.

Apparatus and method for improving signal-to-noise ratio in a multi-carrier CDMA communication system

Номер патента: US20050249109A1. Автор: Joseph Cleveland. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-11-10.

Wireless device, control method thereof, and non-transitory computer readable medium storing control program

Номер патента: US20220376720A1. Автор: Tatsuya Soma. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Multi-carrier transmission system and method thereof

Номер патента: MY122484A. Автор: Yusaku Okamura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2006-04-29.

Multi-carrier transmission system and method thereof

Номер патента: CA2262349C. Автор: Yusaku Okamura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2004-01-20.

Method and apparatus for improved signal-to-noise ratio in mass spectrometry

Номер патента: US20030042413A1. Автор: Andrew Krutchinsky,Brian Chait. Владелец: ROCKEFELLER UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-03-06.

Estimation of signal-to-noise ratio by processing measured error vector magnitude

Номер патента: WO2006039297A3. Автор: John Robert Wiss,Timothy Lyle Blalock. Владелец: L 3 Comm Titan Corp. Дата публикации: 2006-07-27.

Signal-to-noise monitoring in wdm optical communication systems

Номер патента: WO1998054862A1. Автор: Stephen B. Alexander,Henry H. Yaffe. Владелец: Ciena Corporation. Дата публикации: 1998-12-03.

Low-cost method for testing the signal-to-noise ratio of MEMS microphones

Номер патента: US09743205B2. Автор: Philip Sean Stetson. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-08-22.

Low-cost method for testing the signal-to-noise ratio of MEMS microphones

Номер патента: US09485599B2. Автор: Philip Sean Stetson. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-11-01.

Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry

Номер патента: CA2430512C. Автор: James W. Hager. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2010-06-29.

Method and apparatus for improving signal to noise ratio in a telecine machine

Номер патента: CA2042606C. Автор: Leslie G. Moore, Jr.. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1994-08-02.

Receiver input stage with an improvement of the signal to noise ratio

Номер патента: US4387470A. Автор: Robert Maurer,Hans P. Petry. Владелец: Licentia Patent Verwaltungs GmbH. Дата публикации: 1983-06-07.

Apparatus for channel equalization using multi antenna and method thereof

Номер патента: US20060034362A1. Автор: Byoung Kim,Woo Kim,Kyung Kang,In Choi,Yong Suh. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2006-02-16.

System and means for estimating the signal-to-noise ratio of acquired signals

Номер патента: US10194867B1. Автор: John Leonard Semmlow. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-05.

Class-D amplifier and multi-level output signal generated method thereof

Номер патента: US7675361B2. Автор: Lee-Chun Guo,Ming-Hsun Sung. Владелец: ITE Tech Inc. Дата публикации: 2010-03-09.

Ofdm signal to noise ratio detector and method

Номер патента: EP2837125A1. Автор: Mel Tang-Richardson,Christopher Michael Emerson. Владелец: Frontier Silicon Ltd. Дата публикации: 2015-02-18.

Ofdm signal to noise ratio detector and method

Номер патента: WO2013153382A1. Автор: Mel Tang-Richardson,Christopher Michael Emerson. Владелец: Frontier Silicon Limited. Дата публикации: 2013-10-17.

Analog-to-digital converter and operating method thereof

Номер патента: US20240356560A1. Автор: LEI Tan. Владелец: SG Micro Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Digital video broadcasting—terrestrial (DVB-T) system and modulation method thereof

Номер патента: US09781489B2. Автор: Kuo-Feng Kao. Владелец: Aten International Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Apparatus for monitoring optical signal to noise ratio, transmitter and communication system

Номер патента: US09698904B2. Автор: Zhenning Tao,Liang Dou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Apparatus and method for measuring nonlinear signal-to-noise ratio, and test instrument

Номер патента: US20230084994A1. Автор: Ke Zhang,Zhenning Tao,Tong YE,Xiaofei SU. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Apparatus and method for measuring nonlinear signal-to-noise ratio, and test instrument

Номер патента: US11881906B2. Автор: Ke Zhang,Zhenning Tao,Tong YE,Xiaofei SU. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Determination of an optical signal to noise ratio of a dual-polarization optical signal

Номер патента: US09838115B2. Автор: Erwan Pincemin,Yann Loussouarn. Владелец: ORANGE SA. Дата публикации: 2017-12-05.

Controlling signal-to-noise ratio in high dynamic range automatic exposure control imaging

Номер патента: US09787909B1. Автор: Ed HAWKINS. Владелец: STMicroelectronics Research and Development Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Method and apparatus for measuring signal to noise ratio in a tdma communications system

Номер патента: CA1165908A. Автор: Henry D. Chadwick,David W. Matthews. Владелец: SATELLITE BUSINESS SYSTEMS. Дата публикации: 1984-04-17.

Monitoring apparatus and method for an optical signal-to-noise ratio and receiver

Номер патента: US20160233955A1. Автор: Zhenning Tao,Liang Dou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-08-11.

Monitoring apparatus and method for an optical signal-to-noise ratio and receiver

Номер патента: US9871581B2. Автор: Zhenning Tao,Liang Dou. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Network reselection by a wireless communication device based on signal-to-noise ratio

Номер патента: US20150181497A1. Автор: Sachin J. SANE,Sai Sravan Bharadwaj Karri. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2015-06-25.

Method and apparatus for digital-to-analog conversion with improved signal-to-noise and distortion ratio

Номер патента: US20030063022A1. Автор: Peter Petersson,Patrik Eriksson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-03.

Frequency source with improved phase noise

Номер патента: US20160164528A1. Автор: Matthew A. Morton,Tina P. Srivastava. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2016-06-09.

Circuit structure and fabrication method thereof

Номер патента: US12133337B2. Автор: Yi Hung Lin,Li-Wei Sung. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and apparatus for signal-to-noise ratio (SNR) estimation

Номер патента: US09960866B1. Автор: Jungwon Lee,Binnan Zhuang,HongBing Cheng. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-01.

Signal to noise ratio estimation in optical communication networks

Номер патента: US09819411B2. Автор: Zhensheng JIA,Hung-Chang Chien,Jianjun Yu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Frequency source with improved phase noise

Номер патента: US09705513B2. Автор: Matthew A. Morton,Tina P. Srivastava. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Optical cover plate with improved solder mask dam on glass for image sensor package and fabrication method thereof

Номер патента: US09653500B2. Автор: Chia-Sheng Lin. Владелец: XinTec Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Signal-to-noise ratio indicating circuit for fm receivers

Номер патента: CA2026812A1. Автор: John F. Kennedy. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-05-31.

Method and apparatus for measuring signal to noise ratio in a TDMA communications system

Номер патента: US4408322A. Автор: Henry D. Chadwick,David W. Matthews. Владелец: SATELLITE BUSINESS SYSTEMS. Дата публикации: 1983-10-04.

Apparatus and method for monitoring optical signal to noise ratio, receiver and communication system

Номер патента: US20190149231A1. Автор: Zhenning Tao,Huihui Li. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-05-16.

Use of an apparatus for improving signal to noise ratio

Номер патента: US20160134384A1. Автор: Sami Halen,Toni Rumpunen,Perttu Fagerlund,Tommi Ketola,Pekka Hilke. Владелец: TELESTE OYJ. Дата публикации: 2016-05-12.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: EP4346122A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-03.

Electrically conductive yarn and fabric-based, noise-canceling, multimodal electrodes for physiological measurements

Номер патента: EP4346601A1. Автор: George Sun. Владелец: Nextiles Inc. Дата публикации: 2024-04-10.

Devices and methods for facilitating signal-to-noise ratio estimation of received wireless transmissions

Номер патента: WO2014099447A1. Автор: Roee Cohen. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-06-26.

Optical receiver with improved noise tolerance

Номер патента: US20100322623A1. Автор: Jeffrey T. Rahn. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2010-12-23.

Natural adhesive using garlic and fabricating method of the same

Номер патента: US20110000396A1. Автор: Jin Hwa Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-01-06.

Signal-to-noise ratio targeting

Номер патента: EP4165865A1. Автор: Rieko Verhagen,Yannyk Parulian Julian Bourquin,Jonathan Alambra PALERO,Mathivanan Damodaran. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2023-04-19.

Natural adhesive using garlic and fabricating method of the same

Номер патента: EP2195399A2. Автор: Jin Hwa Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-16.

Low signal to noise ratio acquisition and link characterization techniques for VSAT spread spectrum modems

Номер патента: EP1168674A3. Автор: James R. Morris. Владелец: Northrop Grumman Corp. Дата публикации: 2004-01-14.

Frequency conversion system with improved spurious response and frequency agility

Номер патента: US09548788B2. Автор: Matthew A. Morton,Tina P. Srivastava. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2017-01-17.

In-band optical signal-to-noise ratio measurement

Номер патента: US09425894B2. Автор: Ping W. Wan,Derrick Remedios. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2016-08-23.

Method, system, and device for detecting optical signal-to-noise ratio

Номер патента: US09397748B2. Автор: Xun Chen,Bailin Shen,Yingchun Shang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-07-19.

In-band signal-to-noise ratio monitor for an FSK relaying system

Номер патента: US4056838A. Автор: Michael J. Leib. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1977-11-01.

Device and method for measuring optical signal-to-noise ratio

Номер патента: US20180337727A1. Автор: Setsuo Yoshida,Shoichiro Oda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-11-22.

Imaging apparatus and control method thereof

Номер патента: WO2018092731A1. Автор: Toshiyuki Okubo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2018-05-24.

Measuring signal to noise ratio of a wdm optical signal

Номер патента: US20150256254A1. Автор: Axel Flettner. Владелец: JDSU Deutschland GmbH. Дата публикации: 2015-09-10.

Measuring signal to noise ratio of a wdm optical signal

Номер патента: US20170163338A1. Автор: Axel Flettner. Владелец: VIAVI SOLUTIONS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2017-06-08.

Measuring signal to noise ratio of a wdm optical signal

Номер патента: US20140226978A1. Автор: Axel Flettner. Владелец: JDSU Deutschland GmbH. Дата публикации: 2014-08-14.

Systems and methods for optical signal-to-noise ratio monitoring

Номер патента: US20190036600A1. Автор: Zhiping Jiang,Xuefeng Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-31.

Systems and methods for optical signal-to-noise ratio monitoring

Номер патента: EP3625902A1. Автор: Zhiping Jiang,Xuefeng Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-25.

Measuring signal to noise ratio of a WDM optical signal

Номер патента: US09979470B2. Автор: Axel Flettner. Владелец: VIAVI SOLUTIONS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2018-05-22.

PMOS transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US09741820B2. Автор: Lihong Xiao,Qiuhua Han. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Measuring signal to noise ratio of a WDM optical signal

Номер патента: US09553666B2. Автор: Axel Flettner. Владелец: VIAVI SOLUTIONS DEUTSCHLAND GMBH. Дата публикации: 2017-01-24.

Apparatus and method for improving the signal-to-noise ratio of video display signals

Номер патента: US5173776A. Автор: Philip R. Rigg,Neil Baumgarten. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1992-12-22.

Signal-to-noise monitoring in wdm optical communication systems

Номер патента: CA2291807C. Автор: Stephen B. Alexander,Henry H. Yaffe. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2008-10-21.

Optical signal-to-noise ratio measuring device and optical signal-to-noise ratio measuring method

Номер патента: US20170230112A1. Автор: Setsuo Yoshida,Shoichiro Oda,Keisuke Harada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Method and apparatus for determining signal-to-noise ratio

Номер патента: WO2012142014A1. Автор: Kai Xie,Susan M. Miller,Jerry Zhenyu Wang,Kumud Kumar Sanwal,Marc E. Shelton,Jongyin SUN. Владелец: ALCATEL LUCENT. Дата публикации: 2012-10-18.

In-service testing of optical signal-to-noise ratio

Номер патента: US20190115976A1. Автор: Lothar Moeller. Владелец: SubCom LLC. Дата публикации: 2019-04-18.

In-service testing of optical signal-to-noise ratio

Номер патента: US20190222312A1. Автор: Lothar Moeller. Владелец: SubCom LLC. Дата публикации: 2019-07-18.

Semiconductor fuses with nanowire fuse links and fabrication methods thereof

Номер патента: US10332834B2. Автор: Min-Hwa Chi,Chun Yu Wong,Ashish Baraskar,Jagar Singh. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2019-06-25.

Semiconductor Device and Fabricating Method Thereof

Номер патента: US20080079098A1. Автор: Ji Ho Hong. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Transistor device and fabrication method

Номер патента: US09741819B2. Автор: HAIYANG Zhang,Xuan Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Compressive sensing system based on personalized basis and method thereof

Номер патента: US09667456B2. Автор: Yi Chen,Yu-Min Lin,An-Yeu Wu,Hung-Chi Kuo. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-05-30.

Semiconductor fuses with nanowire fuse links and fabrication methods thereof

Номер патента: US09601428B2. Автор: Min-Hwa Chi,Chun Yu Wong,Ashish Baraskar,Jagar Singh. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Contact liners for integrated circuits and fabrication methods thereof

Номер патента: US09431303B2. Автор: Hui Zang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Battery recharging system with signal-to-noise responsive falling voltage slope charge termination

Номер патента: US5557190A. Автор: Daniele C. Brotto. Владелец: Black and Decker Inc. Дата публикации: 1996-09-17.

Fitting methodology and hearing prosthesis based on signal-to-noise ratio loss data

Номер патента: EP1359787A3. Автор: Aalbert De Vries,Rob Anton Jurjen De Vries. Владелец: GN Resound AS. Дата публикации: 2005-06-15.

Unbiased signal to interference ratio in wireless communications devices and methods therefor

Номер патента: WO2005006779A2. Автор: John P. Oliver,Alexandre Malette. Владелец: Motorola Inc.. Дата публикации: 2005-01-20.

Method and Apparatus for Monitoring Optical Signal-to-Noise Ratio

Номер патента: US20170033866A1. Автор: Dawei Wang,Huixiao MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20180047829A1. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-02-15.

Semiconductor device structures and fabrication methods thereof

Номер патента: WO2018223967A1. Автор: Rongfu ZHU. Владелец: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2018-12-13.

FinFET and fabrication method thereof

Номер патента: US9647067B1. Автор: Deyuan Xiao. Владелец: Zing Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Magnesium ion battery cathode material doped at magnesium site and fabricating method thereof

Номер патента: AU2021104796A4. Автор: Zhenbo Peng,Zhaoshen YU,Zhengyong Yuan. Владелец: Ningbo Polytechnic. Дата публикации: 2021-09-30.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20240274684A1. Автор: Deyuan Xiao,GuangSu SHAO,Yunsong QIU. Владелец: Beijing Superstring Academy of Memory Technology. Дата публикации: 2024-08-15.

Display panel, array substrate, and fabrication method thereof

Номер патента: US20170221925A1. Автор: Junhui Lou,Tianyi Wu. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Image sensor pixel and fabrication method thereof

Номер патента: EP1900029A1. Автор: Cheol Soo Park. Владелец: Siliconfile Technologies Inc. Дата публикации: 2008-03-19.

Stacked semiconductor package and fabricating method thereof

Номер патента: US20030075788A1. Автор: Un-Young Chung. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-24.

Semiconductor structures and fabrication method thereof, memory device and memory system

Номер патента: US20240355736A1. Автор: Min WEN,Zhen Pan,Chengbao Zhou. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Array substrate and fabrication method thereof, and display panel

Номер патента: US09929184B2. Автор: Seungjin Choi,Youngjin Song. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Amorphous silicon photoelectric device and fabricating method thereof

Номер патента: US09741893B2. Автор: Xu Chen,Shaoying Xu,Zhenyu Xie. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Silicon carbide semiconductor element and fabrication method thereof

Номер патента: US09728606B2. Автор: Takashi Tsuji,Kenji Fukuda,Akimasa Kinoshita. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Organic thin film transistor array substrate and fabrication method thereof

Номер патента: US09716135B2. Автор: Hongyuan Xu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09502517B2. Автор: Jun Cheng,Guangcai Yuan,Dongfang Wang,Xiangyong Kong,Ce ZHAO. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Method and apparatus for providing uplink signal-to-noise ratio (snr) estimation in a wireless communication system

Номер патента: CA2518183C. Автор: Durga Prasad Malladi. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-12-31.

Signal to noise ratio indicating circuit

Номер патента: US4038604A. Автор: Clement J. Koerber. Владелец: Cincinnati Electronics Corp. Дата публикации: 1977-07-26.

Apparatus and method for producing a signal-to-noise ratio figure of merit for digitally encoded-data

Номер патента: CA1240367A. Автор: Michael A. Robinton. Владелец: ROBINTON PRODUCTS Inc. Дата публикации: 1988-08-09.

Apparatus and method for monitoring signal-to-noise ratio in optical transmission systems

Номер патента: US20050031341A1. Автор: Howard Stuart. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2005-02-10.

Method for estimating a signal-to-noise ratio

Номер патента: US11757480B2. Автор: Chao Lin. Владелец: Continental Automotive Technologies GmbH. Дата публикации: 2023-09-12.

Wireless communication apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240214090A1. Автор: Minki AHN,Jung Woon Lee,Jinyong Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-27.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20210066462A1. Автор: Qingchun Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Optical modules having an improved optical signal to noise ratio

Номер патента: US20190103937A1. Автор: Fred A. Kish, Jr.,Jeffrey T. Rahn,Vikrant Lal,Peter W. Evans,Michael Reffle. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2019-04-04.

Optical modules having an improved optical signal to noise ratio

Номер патента: US20190081724A1. Автор: Fred A. Kish,Jeffrey T. Rahn,Vikrant Lal,Peter W. Evans,Michael Reffle. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Packaging structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20220246446A1. Автор: Lei Shi. Владелец: Nantong Tongfu Microelectronics Co ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

Apparatus for controlling transmission data and method thereof

Номер патента: US8738068B2. Автор: Beom Jin Jeon,Joong Heon Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-05-27.

Split-gate non-volatile memory and fabrication method thereof

Номер патента: US20200027888A1. Автор: Geeng-Chuan Chern. Владелец: Nexchip Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20180166342A1. Автор: Fei Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-06-14.

Resistive memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US8860003B2. Автор: Jae Min Oh. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2014-10-14.

Semiconductor stacking layer and fabricating method thereof

Номер патента: US20120202339A1. Автор: Chih-Yuan Hou. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2012-08-09.

Fin field-effect transistor and fabrication method thereof

Номер патента: EP3190610A3. Автор: Gang MAO. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-07-19.

Apparatus for controlling transmission data and method thereof

Номер патента: WO2010032936A3. Автор: Beom Jin Jeon,Joong Heon Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2013-02-28.

Thin film transistor and fabricating method thereof

Номер патента: US20020005540A1. Автор: Dong Kim,Kyo Moon. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2002-01-17.

Diffusion barrier layer for semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20030047811A1. Автор: Sung-Man Lee,Jae-Hee Ha,Hong Baik. Владелец: LG Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2003-03-13.

Thin film transistor and fabricating method thereof

Номер патента: US20020121667A1. Автор: Dong Kim,Kyo Moon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-05.

Circuit board structure for electrical testing and fabrication method thereof

Номер патента: US8222528B2. Автор: Pao-Hung Chou. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2012-07-17.

OLED display device and fabrication method thereof, display panel and display device

Номер патента: US09847488B2. Автор: Feng Bai,Jiuxia YANG. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Conductive plug structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09837311B2. Автор: Liang Wang,Xiaotian Ma. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Fin field effect transistor and fabricating method thereof

Номер патента: US09716178B2. Автор: Deyuan Xiao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Thin film transistor and fabrication method thereof, array substrate, and display device

Номер патента: US09716108B2. Автор: Jun Cheng,Guangcai Yuan. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Package structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09666536B2. Автор: Yi-Wei Liu,Yi-Che Lai,Hung-Wen Liu,Mao-Hua Yeh,Yan-Heng Chen. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Electroluminescence display device and fabrication method thereof

Номер патента: US09508779B2. Автор: Yuxin Zhang,Hongfei Cheng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Integrated device with inductive and capacitive portions and fabrication methods

Номер патента: US09460996B1. Автор: Min-Hwa Chi,Hui Zang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-10-04.

Apparatus for improving the signal to noise ratio of signals received at two antennas

Номер патента: US3652939A. Автор: Georges Levasseur. Владелец: Alcatel CIT SA. Дата публикации: 1972-03-28.

Method and apparatus for measuring and estimating optical signal to noise ratio in photonic networks

Номер патента: CA2375706A1. Автор: Peter J. Anslow,Richard W. Heath. Владелец: Nortel Networks Ltd. Дата публикации: 2002-09-12.

Digital signal/noise ratio amplifier apparatus for a communication system

Номер патента: CA1121275A. Автор: Harold B. Shutterly. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1982-04-06.

A video bus for high speed multi-resolution imagers and method thereof

Номер патента: EP1277235A1. Автор: Jeffrey Zarnowski,Matthew Pace,Thomas Vogelsong,Michael Joyner. Владелец: Photon Vision Systems Inc. Дата публикации: 2003-01-22.

Signal to noise ratio estimation in optical communication networks

Номер патента: US20160112122A1. Автор: Zhensheng JIA,Hung-Chang Chien,Jianjun Yu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-04-21.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US20240237329A1. Автор: Yu-Cheng Tung,Janbo Zhang. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US11990518B2. Автор: Jian-Feng Li,Chia-Hua Chang,Hsiang-Chieh Yen. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Single-sided light-emitting led chips and fabrication method thereof

Номер патента: US20200020832A1. Автор: Hui Lin,Liangchen Wang,Zhaozhong LIU,Wenxin LAN. Владелец: Shenzhen Niceuv Optics Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-16.

Quantum dot light-emitting diode and fabrication method thereof

Номер патента: US20230043770A1. Автор: Zhiwen NIE. Владелец: TCL Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-09.

Memory cells with vertical transistor and capacitor and fabrication methods thereof

Номер патента: US7445986B2. Автор: Cheng-Chih Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2008-11-04.

Structure of a memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US20040004256A1. Автор: Jiun-Ren Lai,Chun-Yi Yang,Shi-Xian Chen,Gwen Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-01-08.

Light emitting device and fabricating method thereof, and light emitting apparatus

Номер патента: US20240224582A1. Автор: Zhuo Chen,Tieshi WANG. Владелец: Beijing BOE Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Multi-bit memory unit and fabrication method thereof

Номер патента: US6858495B2. Автор: Erh-Kun Lai. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-22.

Organic silicon phosphate and fabrication method thereof

Номер патента: US20110160475A1. Автор: Dick Zhong,Hsueh-Tso Lin,Kuan-Ching Chen,Shang-Wei Tang. Владелец: Grand Tek Advance Material Science Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-30.

High-voltage-withstanding semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20080111192A1. Автор: Osamu Koike. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-15.

CMOS Device for Reducing Charge Sharing Effect and Fabrication Method Thereof

Номер патента: US20130161757A1. Автор: DONG Yang,Xing Zhang,Ru Huang,Fei Tan,Xia An,Qianqian Huang. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-06-27.

[organic light-emtting device and fabricating method thereof]

Номер патента: US20040189192A1. Автор: Wei-Pang Huang. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2004-09-30.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US20240194594A1. Автор: Min-Teng Chen. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Normally-closed device and fabrication method thereof

Номер патента: US20220285538A1. Автор: Zilan Li. Владелец: Guangdong Zhineng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

Semiconductor structure and fabrication method thereof, and memory

Номер патента: US20230189518A1. Автор: Heng-Chia Chang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-06-15.

Array substrate and fabrication method thereof, array substrate motherboard and display device

Номер патента: US20210335978A1. Автор: Hongfei Cheng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Semiconductor stacking layer and fabricating method thereof

Номер патента: US8188470B2. Автор: Chih-Yuan Hou. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2012-05-29.

Digital garment using digital band and fabricating method thereof

Номер патента: WO2009107907A1. Автор: Dae Hoon Lee,Gi Soo Chung,Jae Sang An. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology. Дата публикации: 2009-09-03.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US12046647B2. Автор: King Yuen Wong,Hang Liao,Lijie Zhang. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Cover plate and fabricating method thereof, display panel and display device

Номер патента: US20200052241A1. Автор: Wei Li,WEI Liu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

Three-dimensional memory and fabricating method thereof

Номер патента: US20230144830A1. Автор: YING Zhou,Ming Li,Zhenzhen Zhang,LongDong LIU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: WO2022027536A1. Автор: Han-Chin Chiu. Владелец: Innoscience (Zhuhai) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-02-10.

Semiconductor chip, semiconductor package and fabricating method thereof

Номер патента: US20160005697A1. Автор: Seok-Ha Lee,Hyun-Pil Noh,Jeong-Woon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-01-07.

Flat panel display device and fabrication method thereof

Номер патента: US20020041150A1. Автор: CHANG Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2002-04-11.

Flat panel display device and fabrication method thereof

Номер патента: EP1195814A3. Автор: Chang Nam Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2006-11-02.

Trench power MOSFET structure fabrication method

Номер патента: US9035378B2. Автор: Hsiu-wen Hsu,Chun-Ying Yeh,Yuan-Ming Lee. Владелец: Super Group Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-19.

Semiconductor device package and fabricating method thereof

Номер патента: US20090020881A1. Автор: Sang Chul Kim. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2009-01-22.

Single-sided light-emitting LED chips and fabrication method thereof

Номер патента: US10825960B2. Автор: Hui Lin,Liangchen Wang,Zhaozhong LIU,Wenxin LAN. Владелец: Shenzhen Niceuv Optics Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-03.

Three-dimensional memory devices having hydrogen blocking layer and fabrication methods thereof

Номер патента: US11728236B2. Автор: Jun Liu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-15.

Semiconductor Device and Fabrication Method thereof

Номер патента: US20200303380A1. Автор: Chen-Chih WANG,Yeu-Yang WANG. Владелец: Hexas Technology Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Memory cells with vertical transistor and capacitor and fabrication methods thereof

Номер патента: US20060175650A1. Автор: Cheng-Chih Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2006-08-10.

Memory cells with vertical transistor and capacitor and fabrication methods thereof

Номер патента: US20060270144A1. Автор: Cheng-Chih Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Array substrate and fabrication method thereof, display panel

Номер патента: US20220285466A1. Автор: Ming Liu,Qiuhua Meng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

Oled and fabrication method thereof, and display apparatus

Номер патента: US20160141343A1. Автор: Wenyu Ma. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-19.

Multi-bit memory unit and fabrication method thereof

Номер патента: US20050035388A1. Автор: Erh-Kun Lai. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-17.

Multi-bit memory unit and fabrication method thereof

Номер патента: US20030235967A1. Автор: Erh-Kun Lai. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2003-12-25.

Semiconductor Device and Fabricating Method Thereof

Номер патента: US20100148278A1. Автор: Dong Woo Kang. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Semiconductor stacking layer and fabricating method thereof

Номер патента: US20100258800A1. Автор: Chih-Yuan Hou. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2010-10-14.

Semiconductor devices and fabrication methods thereof

Номер патента: US20090065893A1. Автор: Chien-Jung Yang,Chi-Huang Wu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2009-03-12.

Ingan-based led epitaxial wafer and fabrication method thereof

Номер патента: EP3906586A1. Автор: Richard Notzel. Владелец: SOUTH CHINA NORMAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-11-10.

InGaN-BASED LED EPITAXIAL WAFER AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20220115560A1. Автор: Richard Notzel. Владелец: SOUTH CHINA NORMAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-04-14.

Split-gate non-volatile memory and fabrication method thereof

Номер патента: US10636801B2. Автор: Geeng-Chuan Chern. Владелец: Nexchip Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-28.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US12068373B2. Автор: Han-Chin Chiu. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Resistive memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US8980683B2. Автор: Min Yong Lee,JONG CHUL LEE,Young Ho Lee,Seung Beom Baek. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2015-03-17.

Active element and fabricating method thereof

Номер патента: US20160190342A1. Автор: Chia-Ming Chiang,Chih-Wen Lai,hao-wei Wang. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2016-06-30.

Array substrate for liquid crystal display device and fabrication method thereof

Номер патента: US8178881B2. Автор: Jae Young Oh,Soopool Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-15.

Resistive memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US8890104B2. Автор: Min Yong Lee,JONG CHUL LEE,Young Ho Lee,Seung Beom Baek. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2014-11-18.

Read-only memory cell and fabrication method thereof

Номер патента: US20050087823A1. Автор: Ying-Cheng Chuang,Ching-Nan Hsiao,Chao-Sung Lai,Yung-Meng Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Mask ROM, and fabrication method thereof

Номер патента: US20030038310A1. Автор: Min Lim. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2003-02-27.

Mask rom, and fabrication method thereof

Номер патента: US20040173857A1. Автор: Min Gyu Lim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-09.

Interconnection structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20040241978A1. Автор: Chih-Chao Yang,Ming-Shih Yeh,Chiung-Sheng Hsiung,Gwo-Shil Yang,Jen-Kon Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Semiconductor device having high voltage MOS transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20060148183A1. Автор: Yong Choi. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-07-06.

Display device and fabrication method thereof

Номер патента: US20070153158A1. Автор: Gee-Sung Chae. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-05.

Semiconductor structure, memory structure and fabrication methods thereof

Номер патента: US20220415898A1. Автор: Deyuan Xiao,GuangSu SHAO. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-29.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US12101943B2. Автор: WEI CHANG,Qingsong DU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Resistive memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US20130228733A1. Автор: Min Yong Lee,JONG CHUL LEE,Young Ho Lee,Seung Beom Baek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-09-05.

Resistive memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US20140322886A1. Автор: Min Yong Lee,JONG CHUL LEE,Young Ho Lee,Seung Beom Baek. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2014-10-30.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US9786508B2. Автор: Jie Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US20240355933A1. Автор: Gang Wu,Shiwei HE,Yongjian Yu,Guoguo Kong,Mingru Ge,Wangqin Yang. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US12087583B2. Автор: Jen-Chou Huang,Shengan ZHANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor package and fabricating method thereof

Номер патента: US20220302061A1. Автор: Hung-Hsin Hsu,Nan-Chun Lin,Shang-Yu Chang-Chien. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Three-dimensional memory devices and fabricating methods thereof

Номер патента: EP4454434A1. Автор: Di Wang,Kun Zhang,Wenxi Zhou,Lei Xue. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Three-dimensional memory devices and fabricating methods thereof

Номер патента: US12136599B2. Автор: He Chen,Yi Zhao,Shu Wu,Siping Hu,Ziqun HUA,Zhen Pan. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Organic thin film transistor, and fabricating method thereof

Номер патента: EP3408876A1. Автор: Leilei CHENG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-05.

Contact via structure and fabricating method thereof

Номер патента: US09978677B2. Автор: Ji Quan LIU. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Array substrate and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09972643B2. Автор: Ke Wang,Zhijun LV,Fangzhen Zhang,Jiushi WANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Semiconductor devices and fabricating methods thereof

Номер патента: US09954066B2. Автор: Ju-youn Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-24.

Flexible display device having a self-healing capability and fabrication method thereof

Номер патента: US09947899B2. Автор: Conghui LIU. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Thin film transistor and fabrication method thereof, array substrate and display

Номер патента: US09929277B2. Автор: Zhenyu Zhang,Changgang HUANG. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Organic light emitting display device and fabricating method thereof

Номер патента: US09923170B2. Автор: Taro Hasumi,Jongkyung KIM. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

OLED display device and fabrication method thereof

Номер патента: US09905797B2. Автор: YUTING ZHANG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Mask read-only memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US09905566B2. Автор: Chao Zhang,YiPeng Chan. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

OLED backplane and fabrication method thereof

Номер патента: US09882172B2. Автор: WEI Liu,Chunsheng Jiang,Jingfei Fang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Semicondcutor light-emitting device and fabricating method thereof

Номер патента: US09865777B2. Автор: Tzu-Han Hsu,Tung-Bao Lu. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2018-01-09.

Organic light-emitting display apparatus and fabrication method thereof

Номер патента: US09853241B2. Автор: Defeng Bi,Kaen Jiang. Владелец: Shanghai Tianma AM OLED Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Array substrate and fabrication method thereof, display device

Номер патента: US09837479B2. Автор: Hee Cheol Kim,Young Suk Song,Seong Yeol Yoo,Seung Jin Choi. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09825039B1. Автор: Ming-Chih Chen,Szu-Hao Lai,Po-Hsieh Lin,Yi-Chuen Eng. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

OLED and fabrication method thereof, and display apparatus

Номер патента: US09818810B2. Автор: Wenyu Ma. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Programmable via devices with metal/semiconductor via links and fabrication methods thereof

Номер патента: US09812393B2. Автор: Min-Hwa Chi,Ajey P. Jacob,Suraj K. Patil. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Semiconductor device, FinFET transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US09799676B2. Автор: Ming Zhou,Xinyun Xie. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Normally-off high electron mobility transistors and fabrication methods thereof

Номер патента: US09786775B2. Автор: Shang-Ju TU. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09786508B2. Автор: Jie Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Diodes and fabrication methods thereof

Номер патента: US09768325B2. Автор: Min-Hwa Chi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Semiconductor devices and fabricating methods thereof

Номер патента: US09768169B2. Автор: Jung-Gun You,Sug-Hyun Sung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-19.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09761716B2. Автор: ZHONGSHAN Hong. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09755067B2. Автор: Jung Hwan Lee,Min Gyu Lim,Yi Sun Chung. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Thin film transistor and fabrication method thereof, array substrate and display panel

Номер патента: US09721976B2. Автор: Lung Pao Hsin. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

LDMOS device and fabrication method thereof

Номер патента: US09721806B2. Автор: Lei Fang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

OLED display device and fabrication method thereof

Номер патента: US09711577B2. Автор: Peng Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Thin film transistor and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US09705007B2. Автор: WEI YANG,Wenlin Zhang,Woo Bong Lee,ce Ning. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Electroluminescence display device with a protective layer and fabrication method thereof

Номер патента: US09698380B2. Автор: Yuxin Zhang,Hongfei Cheng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Thin film transistor and fabricating method thereof

Номер патента: US09660060B2. Автор: Chih-Pang Chang,Tzu-Yin Kuo. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2017-05-23.

Organic light-emitting diode display and fabrication method thereof

Номер патента: US09640590B2. Автор: Chen-Yu Liu,Hsi-Chien Lin,Hung-Chieh Lu. Владелец: TPK Touch Solutions Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Memory device structure and fabricating method thereof

Номер патента: US09640432B2. Автор: Sheng-Fen Chiu,Shaobin Li,Jinshuang Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US9825039B1. Автор: Ming-Chih Chen,Szu-Hao Lai,Po-Hsieh Lin,Yi-Chuen Eng. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Semiconductor chip, semiconductor package and fabricating method thereof

Номер патента: US09620460B2. Автор: Seok-Ha Lee,Hyun-Pil Noh,Jeong-Woon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-11.

Semiconductor devices and fabrication methods thereof

Номер патента: US09543378B2. Автор: Jagar Singh. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Semiconductor devices and fabricating methods thereof

Номер патента: US09536878B2. Автор: Ju-youn Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-03.

Semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US09502555B2. Автор: Jin Woo Han. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Display substrate and fabricating method thereof, display panel, and display device

Номер патента: US09472578B2. Автор: Yunfei Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Electro-luminescence display panel and fabrication method thereof, display device

Номер патента: US09379332B2. Автор: Xue Dong,Peng Liu,Renwei Guo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-28.

Device for disconnecting the receiver in case of a small signal-to-noise ratio for a digital-modulated radio system

Номер патента: CA1173110A. Автор: Friedrich Müller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1984-08-21.

Signal storage tube system with enhanced signal-to-noise ratio

Номер патента: US3619704A. Автор: James W Schwartz. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-11-09.

Systems and methods for monitoring generalized optical signal-to-noise ratio

Номер патента: US20230118684A1. Автор: Zhiping Jiang,Choloong Hahn. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Signal-to-noise ratio targeting

Номер патента: US20230181118A1. Автор: Rieko Verhagen,Yannyk Parulian Julian Bourquin,Jonathan Alambra PALERO,Mathi Damodaran. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2023-06-15.

Three-dimensional memory and fabrication method thereof

Номер патента: US12052871B2. Автор: Wei Xu,Pan Huang,Zongliang Huo,Wenbin Zhou,Wenxiang Xu,Ji XIA. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Semiconductor devices and fabrication methods thereof

Номер патента: US20200098765A1. Автор: Fei Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Bonding structure, semiconductor chip and fabricating method thereof

Номер патента: US20240321686A1. Автор: Ming-Hsiu Lee,Dai-Ying LEE,Cheng-Hsien Lu,Wei-Lun Weng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Capacitor structures with embedded electrodes and fabrication methods thereof

Номер патента: US09881738B2. Автор: Min-Hwa Chi,Hui Zang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Nitride underlayer and fabrication method thereof

Номер патента: US09559261B2. Автор: Jie Zhang,Xiaofeng Liu,Dongyan Zhang,Duxiang Wang,Weihua Du. Владелец: Xiamen Sanan Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Electrical interconnection structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09490210B2. Автор: ZHONGSHAN Hong. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Signal to noise and interface estimator for analog voice channel

Номер патента: US6128494A. Автор: Jacob Rozmaryn. Владелец: Hughes Electronics Corp. Дата публикации: 2000-10-03.

Apparatus for increasing signal to noise ratio in television low light level scenes

Номер патента: US3716657A. Автор: L Niemyer. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1973-02-13.

Indicating a signal to noise ratio for downlink communication

Номер патента: WO2021150946A1. Автор: Ran Berliner,Igor Gutman,Oren Matsrafi,Ronen GREENBERGER,Yossi Waldman. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-07-29.

Methods and arrangements for selection of a wireless transmission method based upon signal to noise ratios

Номер патента: US20080239977A1. Автор: Feng Xue,Jun Shi,Sumeet Sandhu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Mitigation of optical signal to noise ratio degradation arising from polarization dependent loss

Номер патента: US20140376907A1. Автор: Inwoong Kim,Motoyoshi Sekiya,Olga Vassilieva. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-12-25.

Indicating a signal to noise ratio for downlink communication

Номер патента: US20210235462A1. Автор: Ran Berliner,Igor Gutman,Oren Matsrafi,Ronen GREENBERGER,Yossi Waldman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-07-29.

Indicating a signal to noise ratio for downlink communication

Номер патента: EP4094386A1. Автор: Ran Berliner,Igor Gutman,Oren Matsrafi,Ronen GREENBERGER,Yossi Waldman. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-11-30.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20220406915A1. Автор: Deyuan Xiao,GuangSu SHAO. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Contact pads of three-dimensional memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US12033966B2. Автор: He Chen,LIANG XIAO,Yongqing Wang,Shu Wu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20190172754A1. Автор: Cheng Long ZHANG. Владелец: SMIC Advanced Technology R&D Shanghai Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20200343101A1. Автор: JISONG Jin,Yanhua Wu,Junling PANG. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-10-29.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20230021267A1. Автор: QIAO LI,Zhi Yang,Yue Zhuo,Wentao Xu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-01-19.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20210057272A1. Автор: Tiantian Zhang,Jingjing Tan. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2021-02-25.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20200075603A1. Автор: Fei Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US10741689B2. Автор: YONG Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-08-11.

Semiconductor device and fabrication method thereof, memory and memory system

Номер патента: US20240306364A1. Автор: Zhaoyun TANG. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20200343386A1. Автор: Nan Wang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-10-29.

Packaging structure of semiconductor chip and formation method thereof

Номер патента: US12119308B2. Автор: Honghui Wang,Xiaoyong MIAO. Владелец: Tongfu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Contact pads of three-dimensional memory device and fabrication method thereof

Номер патента: US12133386B2. Автор: Yongqing Wang,Siping Hu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Semiconductor device and fabricating method of a gate with an epitaxial layer

Номер патента: US09985132B2. Автор: Chang Chun Xu. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Energy storage structures and fabrication methods thereof

Номер патента: US09831533B2. Автор: Anthony Sudano,Dave Rich,Renato Friello,Shreefal Sudhir MEHTA,Sudhir Rajaram KULKARNI. Владелец: Paper Battery Co. Дата публикации: 2017-11-28.

Automotive constant signal-to-noise ratio system for enhanced situation awareness

Номер патента: US09763003B2. Автор: John Usher,Steven W. Goldstein,John G. Casall. Владелец: Staten Techiya LLC. Дата публикации: 2017-09-12.

Power module and fabrication method for the same

Номер патента: US09673128B2. Автор: Masao Saito,Katsuhiko Yoshihara. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-06-06.

Solar cell and fabrication method thereof

Номер патента: US09583653B2. Автор: Jin HO KIM,Hyun Jung Park. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-02-28.

Visible light communication with increased signal-to-noise ratio

Номер патента: US09525487B2. Автор: Li Li,Vaske Mikani,Christopher Lee Bohler. Владелец: Cooper Technologies Co. Дата публикации: 2016-12-20.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US09472668B2. Автор: Xinyun Xie. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Method and apparatus of estimating signal to noise ratio in wireless communication system

Номер патента: KR20120119577A. Автор: 김준우,박윤옥,박형숙. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2012-10-31.

Method for improving signal-to-noise for multiply charged ions

Номер патента: CA2237255C. Автор: Igor Chernushevich,Bruce Thomson. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2007-07-24.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US12015067B2. Автор: Nan Wang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Microcontroller unit and fabrication method thereof

Номер патента: US11056476B2. Автор: Ying Tang,Xiaolin Yuan. Владелец: Ningbo Semiconductor International Corp. Дата публикации: 2021-07-06.

Light emitting diode structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20110260203A1. Автор: Hsien-Chia Lin,Tzu-Yu Tang. Владелец: Everlight Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-27.

Electronic device bonding structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20220068872A1. Автор: Chia-Fu Hsu,Kai-Ming Yang,Cheng-Ta Ko,Pu-Ju Lin. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Semiconductor laser device and fabrication method thereof

Номер патента: US20070096138A1. Автор: Makoto Tsuji. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2007-05-03.

Electrode for Secondary Battery and Fabrication Method Thereof

Номер патента: US20220190307A1. Автор: Jong Hyuk Lee,Mi Ryeong Lee,Hee Gyoung Kang. Владелец: SK Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Semiconductor laser device and fabrication method thereof

Номер патента: US7399997B2. Автор: Makoto Tsuji. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2008-07-15.

Back-illuminated image sensor and fabricating method thereof

Номер патента: US20130334636A1. Автор: Tzeng-Fei Wen. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2013-12-19.

Light-emitting diode chip structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20120153339A1. Автор: Kuo-Lung Fang,Kun-Fu Huang,Jun-Rong Chen,Chi-Wen Kuo,Jui-Yi Chu. Владелец: Lextar Electronics Corp. Дата публикации: 2012-06-21.

Connector and fabrication method thereof

Номер патента: US20130344742A1. Автор: Seiya Matsuo,Takashi Kuwahara. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2013-12-26.

Microcontroller unit and fabrication method thereof

Номер патента: US20200212028A1. Автор: Ying Tang,Xiaolin Yuan. Владелец: Ningbo Semiconductor International Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Front substrate of plasma display panel and fabrication method thereof

Номер патента: US20060043378A1. Автор: Sung-Wook Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2006-03-02.

Front substrate of plasma display panel and fabrication method thereof

Номер патента: US20040150341A1. Автор: Sung-Wook Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2004-08-05.

Power semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20130256789A1. Автор: Hsiu-wen Hsu,Sung-Nien Tang. Владелец: Super Group Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-03.

Semiconductor package and fabrication method thereof

Номер патента: US20170338186A1. Автор: Chun-Chi Ke,Fu-Tang HUANG. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-23.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US9082783B2. Автор: Hiroki Yamawaki,Shigehisa Inoue,Noriyuki ASAMI. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2015-07-14.

Semiconductor Device and Fabrication Method Thereof

Номер патента: US20150079756A1. Автор: Hiroki Yamawaki,Shigehisa Inoue,Noriyuki ASAMI. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2015-03-19.

Semiconductor laser device and fabrication method thereof

Номер патента: US20040240499A1. Автор: Makoto Tsuji. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2004-12-02.

Organic light-emitting display panel and fabricating method

Номер патента: US11228018B2. Автор: Jian Jin,Congyi SU. Владелец: Shanghai Tianma AM OLED Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-18.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US11742406B2. Автор: Tiantian Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2023-08-29.

Pixel structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20150123111A1. Автор: Jen-Yu Lee,Hung-Che Ting,Tsung-Hsiang Shih,Hong-Syu Chen,Shou-Wei Fang,Wei-Hao Tseng,Fan-Wei Chang. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2015-05-07.

Pixel structure and fabrication method thereof

Номер патента: US9331106B2. Автор: Jen-Yu Lee,Hung-Che Ting,Tsung-Hsiang Shih,Hong-Syu Chen,Shou-Wei Fang,Wei-Hao Tseng,Fan-Wei Chang. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2016-05-03.

Fuel cell and fabricating method thereof

Номер патента: WO2010079376A1. Автор: Tsung-Her Yeh,Chen-Chia Chou. Владелец: National Taiwan University Of Science & Technology. Дата публикации: 2010-07-15.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20240203986A1. Автор: LAN Yao,Quan Zhang,Boru Xie. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Display panel and fabrication method thereof, and display device

Номер патента: US12087747B2. Автор: LIANG Xing. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20240313078A1. Автор: HAIYANG Zhang,BO Su,Abraham Yoo,Hanzhu WU. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Memory devices having vertical transistors and fabricating methods thereof

Номер патента: EP4449503A1. Автор: WEI Liu,Ning Jiang,Chao Sun. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09754893B2. Автор: ZUOPENG He,Jingxiu Ding. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Semiconductor device having metal gate structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09728620B2. Автор: Ming Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Semiconductor light emitting device and fabricating method thereof

Номер патента: US09721931B2. Автор: Tao-Chih Chang,Chih-Ming Shen,Yu-Wei HUANG. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-08-01.

Memory devices having vertical transistors and fabricating methods thereof

Номер патента: US20240381620A1. Автор: WEI Liu,Ning Jiang,Chao Sun. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-14.

Modified tunneling field effect transistors and fabrication methods

Номер патента: US09673757B2. Автор: Min-Hwa Chi,Yanxiang Liu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US09646830B2. Автор: Guohui Cai. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Complementary metal oxide semiconductor transistor and fabricating method thereof

Номер патента: US09577011B2. Автор: Yi-Wei Chen,Yu-Pu Lin,Ta-wei Chiu,Chung-Tao Chen. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2017-02-21.

Semiconductor light-emitting device and fabricating method thereof

Номер патента: US09525107B2. Автор: Yu-Hsuan Liu,Chia-Yu Tseng. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Semiconductor device having metal gate and fabrication method thereof

Номер патента: US09524968B1. Автор: Chien-Ming Lai,Ya-Huei Tsai. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Semiconductor package and fabrication method thereof

Номер патента: US09520304B2. Автор: Shih-Kuang Chiu,Yi-Che Lai,Hong-Da Chang,Chi-Hsin Chiu. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Display panel and fabrication method thereof

Номер патента: US09508783B2. Автор: Yong Wu,Zhengzhong CHEN,Wenxin Jiang. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Organic light-emitting device and fabrication method for the same, and display device

Номер патента: US09496514B2. Автор: MINGHUA XUAN,BO Wang. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Chip package and fabrication method thereof

Номер патента: US09362134B2. Автор: Chia-Sheng Lin. Владелец: XinTec Inc. Дата публикации: 2016-06-07.

Apparatus for color channel signal-to-noise improvement in digital television

Номер патента: CA1206595A. Автор: Thomas V. Bolger. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1986-06-24.

Power module and fabrication method for the same

Номер патента: US09721875B2. Автор: Masao Saito,Katsuhiko Yoshihara. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-08-01.

Digital modem having a monitor for signal-to-noise ratio

Номер патента: US4555790A. Автор: Kenneth Martinez,William L. Betts. Владелец: Paradyne Corp. Дата публикации: 1985-11-26.

Improvements in or relating to noise reducing arrangements for discharge tube amplifiers

Номер патента: GB645935A. Автор: . Владелец: Philips Lamps Ltd. Дата публикации: 1950-11-15.

Optical modules having an improved optical signal to noise ratio

Номер патента: US11929826B2. Автор: Fred A. Kish, Jr.,Jeffrey T. Rahn,Vikrant Lal,Peter W. Evans,Michael Reffle. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Optical modules having an improved optical signal to noise ratio

Номер патента: US20190280798A1. Автор: Fred A. Kish,Jeffrey T. Rahn,Vikrant Lal,Peter W. Evans,Michael Reffle. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

A method, an apparatus or a computer program for estimating a signal to noise ratio

Номер патента: WO2007069077B1. Автор: Kari Majonen,Markku J Heikkila. Владелец: Markku J Heikkila. Дата публикации: 2008-02-28.

A method, an apparatus or a computer program for estimating a signal to noise ratio

Номер патента: WO2007069077A3. Автор: Kari Majonen,Markku J Heikkila. Владелец: Markku J Heikkila. Дата публикации: 2008-01-03.

A method, an apparatus or a computer program for estimating a signal to noise ratio

Номер патента: WO2007069077A2. Автор: Kari Majonen,Markku J. Heikkila. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2007-06-21.

Thermally conductive fibers and fabrics

Номер патента: US20070173589A1. Автор: L.P. Felipe Chibante. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-26.

Laundry apparatus and control method thereof

Номер патента: US11926947B2. Автор: Sangwook Hong,Changoh Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-03-12.

Laundry apparatus and control method thereof

Номер патента: US20200115839A1. Автор: Sangwook Hong,Changoh Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-04-16.

Chip package structure and fabrication

Номер патента: US20240371716A1. Автор: LI Tao,Shanshan Zhao,Baohua Zhang. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20230036754A1. Автор: Hui Xue,Kejun MU,Yutong SHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

Piezoelectric device and fabricating method thereof, and electronic device and controlling method thereof

Номер патента: US11985898B2. Автор: YuJu CHEN,Shuai Hou. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Multifunctional antistatic non-woven fabric and fabrication method thereof

Номер патента: US20100159773A1. Автор: Wei-Jen Lai,Sheng-Shan Chang. Владелец: TAIWAN TEXTILE RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2010-06-24.

Fdsoi device structure and preparation method thereof

Номер патента: US20220093799A1. Автор: Nan Li,Zhonghua Li,Jianghua LENG,Tianpeng Guan,Runling Li. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Integrated circuit leadframe and fabrication method therefor

Номер патента: SG173394A1. Автор: Pandi Chelvam Marimuthu,Byung Hoon Ahn. Владелец: Stats Chippac Ltd. Дата публикации: 2011-08-29.

Semiconductor device having a gate and fabrication method therefor

Номер патента: US20020034868A1. Автор: Ji Park,Dong Sohn. Владелец: Hyundai Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2002-03-21.

Rotor, fabrication device thereof and fabrication method therefor

Номер патента: US20240305178A1. Автор: Jianxin Yan. Владелец: Zhejiang PanGood Power Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Electrode and fabricating method therefor, electrochemical device, and electronic device

Номер патента: EP4432388A1. Автор: Qingwen Zhang,Yajie LI,Mingju LIU. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Signal-to-channel mapping for multi-channel, multi-signal transmission systems

Номер патента: US5991271A. Автор: Bruce A. Phillips,David C. Jones,Youngho Lee. Владелец: US West Inc. Дата публикации: 1999-11-23.

Led light bulb and fabrication method thereof

Номер патента: EP3290773A1. Автор: Szu-Min Fan. Владелец: Double Good Co. Дата публикации: 2018-03-07.

Light emitting diode and fabrication method thereof

Номер патента: MY165794A. Автор: Deyuan Xiao,Richard Rugin Chang. Владелец: Enraytek Optoelectronics Co. Дата публикации: 2018-04-27.

Apparatus for improving video signal-to-noise ratio

Номер патента: US4090221A. Автор: Denis John Connor. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1978-05-16.

LED light bulb and fabrication method thereof

Номер патента: US20180066812A1. Автор: Szu-Min Fan. Владелец: Double Good Co. Дата публикации: 2018-03-08.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20230317507A1. Автор: Taegyun Kim,Runping WU,Daejoong Won,Soonbyung Park. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Automotive constant signal-to-noise ratio system for enhanced situation awareness

Номер патента: EP2663470A2. Автор: John Usher,Steven W. Goldstein,John G. Casali. Владелец: Personics Holdings Inc. Дата публикации: 2013-11-20.

Semiconductor fuses with nanowire fuse links and fabrication methods thereof

Номер патента: US20170141031A1. Автор: Min-Hwa Chi,Chun Yu Wong,Ashish Baraskar,Jagar Singh. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-05-18.

Semiconductor fuses with nanowire fuse links and fabrication methods thereof

Номер патента: US20160284643A1. Автор: Min-Hwa Chi,Chun Yu Wong,Ashish Baraskar,Jagar Singh. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

MULTI-PIECE BOARD AND FABRICATION METHOD METHOD THEREOF

Номер патента: US20120047728A1. Автор: . Владелец: IBIDEN CO., LTD.. Дата публикации: 2012-03-01.

Anti-fuse one-time-programmable nonvolatile memory cell and fabricating and programming method thereof

Номер патента: TWI289855B. Автор: Hsiang-Lan Lung. Владелец: Macronix Int Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-11.

Multi-color blended yarn and fabric and production method thereof

Номер патента: CN102758363A. Автор: 徐伟杰,解新生,王景呈. Владелец: ZHEJIANG HUAFU MELANGE YARN CO Ltd. Дата публикации: 2012-10-31.

METHODS AND APPARATUS FOR ADJUSTING FORWARD LINK SIGNAL TO INTERFERENCE AND NOISE RATIO ESTIMATES

Номер патента: US20120263164A1. Автор: . Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-10-18.

Frequency selects the acquisition methods and device of Signal to Interference plus Noise Ratio parameter

Номер патента: CN105376010B. Автор: 张鹏程. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-08.

ONE-TRANSISTOR PIXEL ARRAY WITH CASCODED COLUMN CIRCUIT

Номер патента: US20120001236A1. Автор: Fife Keith. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

CHIP-SIZED PACKAGE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001328A1. Автор: Huang Chien-Ping,Ke Chun-Chi,Chang Chiang-Cheng. Владелец: SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT-EMITTING DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001219A1. Автор: Park Kyungwook. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Organic light emitting diode display and fabricating method thereof

Номер патента: US20120001206A1. Автор: Jeong Beung-Hwa,Kim Kwang-Nam,Jung Young-Ro,Ham Yun-Sik. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Optical module and fabrication method

Номер патента: US20120002915A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING APPARATUS AND PRINTING POSITION ADJUSTING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001972A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

Ball Grid Array with Improved Single-Ended and Differential Signal Performance

Номер патента: US20120001327A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

RGBW DISPLAY APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001947A1. Автор: Cheng Sheng-Wen,CHU-KE Hui. Владелец: AU OPTRONICS CORP.. Дата публикации: 2012-01-05.

POWER MONITORING DEVICE FOR IDENTIFYING STATE OF ELECTRIC APPLIANCE AND POWER MONITORING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120004871A1. Автор: . Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION APPARATUS HAVING HUMAN BODY CONTACT SENSING FUNCTION AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120003929A1. Автор: . Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFLECTIVE TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001188A1. Автор: HAYASHI Masami. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

INPUT/OUTPUT DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001874A1. Автор: KUROKAWA Yoshiyuki,IKEDA Takayuki. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO PROCESSING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002013A1. Автор: Asanuma Tomoya. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHORETIC DISPLAY AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001958A1. Автор: Hsieh Yao-Jen,Hung Chi-Mao,Liu Chun-Ting,Tseng Hsu-Ping,Hsu Ying Hua. Владелец: SIPIX TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Memory With Improved Block Switching

Номер патента: US20120002476A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS USING THE SAME AND MULTI-BIT TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002491A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.