Fin field effect transistor (FinFET) device structure with uneven gate structure and method for forming the same
Номер патента: US09583485B2
Опубликовано: 28-02-2017
Автор(ы): Chai-Wei Chang, Che-Cheng Chang, Po-Chi WU, Yi-Cheng Chao
Принадлежит: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 28-02-2017
Автор(ы): Chai-Wei Chang, Che-Cheng Chang, Po-Chi WU, Yi-Cheng Chao
Принадлежит: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of forming field effect transistors with replacement metal gates and contacts and resulting structure
Номер патента: US09911736B1. Автор: Hui Zang,Haigou Huang,Xiaofeng Qiu. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-03-06.