Kelvin contact probe structure and a Kelvin inspection fixture provided with the same
Номер патента: US09476912B2
Опубликовано: 25-10-2016
Автор(ы): Fumiaki Nanami, Shinichi Nakamura
Принадлежит: Unitechno Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 25-10-2016
Автор(ы): Fumiaki Nanami, Shinichi Nakamura
Принадлежит: Unitechno Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe device and method of assembling the same
Номер патента: US20220178969A1. Автор: Choon Leong Lou,Tien-Chia LI. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2022-06-09.