Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Probe head

Номер патента: US09470715B2
Опубликовано: 18-10-2016
Автор(ы): Horng-Kuang Fan, Hsien-Ta HSU
Принадлежит: MPI Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Probe head having spring probes

Номер патента: US20240118313A1. Автор: Wei-Cheng Ku,Wen-Yi Wang,Chih-Wei Wen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: EP3903111A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-11-03.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: WO2020136045A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2020-07-02.

Probe head and vertical probe card comprising the same

Номер патента: US20230393172A1. Автор: Tien-Chia Lee,Chia-Hsiang Yu,Wen-Tsung Sung. Владелец: Silicon Future Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: US11867723B2. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-09.

Probe head with contact probes having an improved configuration

Номер патента: WO2024223314A1. Автор: Roberto Crippa,Giuseppe Crippa,Raffaele VALLAURI,Camilla Camarri,Stefano Felici,Fabio MORGANA,Nadia PADERNO,Giulia STUCCHI. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-10-31.

Probe head with linear probe

Номер патента: US11143674B2. Автор: Tzu Yang CHEN,Chia Ju Wei. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-12.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: US20220155348A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-05-19.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: WO2021023739A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2021-02-11.

Probe head and probe card

Номер патента: EP3715866A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: EP4010712A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-06-15.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: US12032003B2. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-07-09.

Probe head and probe card

Номер патента: US11733267B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Probe head for high frequency signal test and medium or low frequency signal test at the same time

Номер патента: US20210048452A1. Автор: Ching-Fang Yu,Chin-Tien Yang,Shang-Jung Hsieh,Hui-Pin Yang,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-02-18.

Probe head with linear probe

Номер патента: US20200011896A1. Автор: Tzu Yang CHEN,Chia Ju Wei. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-01-09.

Probe head for high frequency signal test and medium or low frequency signal test at the same time

Номер патента: US20210048451A1. Автор: Chin-Tien Yang,Tsung-Yi Chen,Yu-Hao Chen,Shang-Jung Hsieh,Hui-Pin Yang,Jhin-Ying Lyu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-02-18.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US20230143340A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Probe head and probe card having same

Номер патента: WO2021215790A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: POINT ENGINEERING CO., LTD.. Дата публикации: 2021-10-28.

Probe card device and probe head

Номер патента: US20190302147A1. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Improved contact element for a probe head for testing high-frequency electronic devices and relating probe head

Номер патента: WO2022101288A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-05-19.

Improved contact element for a probe head for testing high-frequency electronic devices and relating probe head

Номер патента: EP4244634A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-09-20.

Improved contact element for a probe head for testing high-frequency electronic devices and relating probe head

Номер патента: US20240012025A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-11.

PROBE HEAD FOR HIGH FREQUENCY SIGNAL TEST AND MEDIUM OR LOW FREQUENCY SIGNAL TEST AT THE SAME TIME

Номер патента: US20210048452A1. Автор: CHOU Yu-Wen,Yu Ching-Fang,Yang Chin-Tien,Hsieh Shang-Jung,YANG Hui-Pin,HSU Huo-Kang. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2021-02-18.

Probe head for reduced-pitch applications

Номер патента: WO2021122950A1. Автор: Roberto Crippa,Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2021-06-24.

Anti-rotation for wire probes in a probe head of a die tester

Номер патента: US09535095B2. Автор: David Shia,Todd P. Albertson,Keith J. Martin. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Probe head with replaceable probe board

Номер патента: EP4356149A1. Автор: Pardeep Kumar,Kwame Amponsah,Mehmet OZDOGAN,Clive A. D'SOUZA. Владелец: XALLENT Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Contact probe and relative probe head of an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: EP3555636A1. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-10-23.

Contact probe and relative probe head of an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: WO2018108675A1. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2018-06-21.

Probe head, probe card assembly using the same, and manufacturing method thereof

Номер патента: US09535091B2. Автор: Yuan-Pin Huang,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Wen-Feng LIAO. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: MY140511A. Автор: Michael L Anderson,Michael A Casolo,Edward A Mccloud,Mostarshed Shahriar. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2009-12-31.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: EP1917534A2. Автор: Shahriar Mostarshed,Michael L. Anderson,Edward A. Mccloud,Michael A. Casolo. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2008-05-07.

Probe head, probe assembly and spring probe structure including the same

Номер патента: US20240085455A1. Автор: Zhou Yi Lin. Владелец: Azoth Studio Ltd Co. Дата публикации: 2024-03-14.

Probe head assemblies, components thereof, test systems including the same, and methods of operating the same

Номер патента: US9989558B2. Автор: Eric Hill,Koby Duckworth. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2018-06-05.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: MY196938A. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-05-11.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: EP3555637A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-10-23.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: WO2018108777A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2018-06-21.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: PH12019501352A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-11-04.

Cantilever contact probe and corresponding probe head

Номер патента: EP3740765A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-11-25.

Cantilever contact probe and corresponding probe head

Номер патента: PH12020551056A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-08-23.

Probe head for reduced-pitch applications

Номер патента: US11953522B2. Автор: Roberto Crippa,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-04-09.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: US20190302185A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-10-03.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: US11971449B2. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-04-30.

Probe Head with Inductance Reducing Structure

Номер патента: US20180299486A1. Автор: Eric Hill,John Ebner,Benjamin N. Eldridge,Edin Sijercic. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2018-10-18.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: EP3903111B1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-08-07.

Vertical probe head and double-arm probe thereof

Номер патента: CN113376413A. Автор: 李文聪,谢开杰. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-10.

PROBE HEAD

Номер патента: US20170122978A1. Автор: LI TIEN-CHIA,CHUO Yi-Ching. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

Probe Head with Inductance Reducing Structure

Номер патента: US20180299486A1. Автор: Eric Hill,John Ebner,Benjamin N. Eldridge,Edin Sijercic. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2018-10-18.

Vertical probe head with improved contact with the element under test

Номер патента: KR20210108436A. Автор: 스테파노 페리시. Владелец: 테크노프로브 에스.피.에이.. Дата публикации: 2021-09-02.

Vertical probe and method for fabricating the same, and probe head and probe card using the same

Номер патента: CN107796966B. Автор: 许育祯,魏绍伦,范宏光. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2020-11-03.

PROBE HEAD AND CONDUCTIVE PROBE THEREOF

Номер патента: US20210003609A1. Автор: Huang YaJu,Wang Horngchieh. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

PROBE HEAD AND PROBE CARD

Номер патента: US20200309819A1. Автор: LIN Chin-Yi,Lin Che-Wei,WU Ting-Ju,Su Keng-Min. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2020-10-01.

PROBE HEAD FOR HIGH FREQUENCY SIGNAL TEST AND MEDIUM OR LOW FREQUENCY SIGNAL TEST AT THE SAME TIME

Номер патента: US20210048451A1. Автор: Yang Chin-Tien,Hsieh Shang-Jung,YANG Hui-Pin,Chen Tsung-Yi,Chen Yu-Hao,LYU JHIN-YING. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2021-02-18.

PROBE HEAD AND ELECTRONIC DEVICE TESTING SYSTEM

Номер патента: US20200309818A1. Автор: Albertson Todd P.,Kaza Anil,Whiting Patrick,Edenfeld Donald E.. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

Probe head

Номер патента: EP3712622A1. Автор: Hiroshi Ishigure,Yoshihiko Sakurai,Daisuke Hosokawa. Владелец: Yokowo Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-23.

Contact probe for probe heads of electronic devices and corresponding probe head

Номер патента: US20240027495A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-25.

Contact probe for probe heads of electronic devices and corresponding probe head

Номер патента: EP4260072A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-18.

Contact probe for probe heads of electronic devices

Номер патента: EP4193157A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-06-14.

Microelectromechanical probe and probe head having the same

Номер патента: US20180267083A1. Автор: Chien-Yu Lin,Yu-Chen Hsu,Mao-Fa Shen,Shao-Lun WEI,Neng-Hsuan KUO,Ching-Kai CHU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Contact probe for probe heads of electronic devices

Номер патента: US20230314476A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-05.

Contact probe for probe heads of electronic devices

Номер патента: US20240044940A1. Автор: Roberto Crippa,Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-02-08.

Probe head structure for probe test cards

Номер патента: TW201033620A. Автор: Rehan Kazmi,Son N Dang,Gerald W Back. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2010-09-16.

PROBE HEAD, PROBE MODULE AND PRODUCTION METHOD THEREOF

Номер патента: US20180231583A1. Автор: CHEN Kuang Yu. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-16.

PROBE HEAD WITH LINEAR PROBE

Номер патента: US20200011896A1. Автор: Chen Tzu Yang,Wei Chia Ju. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2020-01-09.

Contact probe and relative probe head of an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US20190293686A1. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-09-26.

Cantilever contact probe and corresponding probe head

Номер патента: US20200348337A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-11-05.

Contact probe and relative probe head of an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: EP3555636B1. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-04-27.

PROBE HEAD WITH LINEAR PROBE

Номер патента: US20200011898A1. Автор: Chen Tzu Yang,Wei Chia Ju. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2020-01-09.

CONTACT PROBE AND RELATIVE PROBE HEAD OF AN APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES

Номер патента: US20210247422A1. Автор: CRIPPA Roberto,VALLAURI Raffaele. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

CONTACT PROBE AND RELATIVE PROBE HEAD OF AN APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES

Номер патента: US20190293686A1. Автор: CRIPPA Roberto,VALLAURI Raffaele. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Cantilever contact probe and corresponding probe head

Номер патента: US20200348337A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-11-05.

Cantilever probe head and corresponding contact probe

Номер патента: CN111587377A. Автор: 里卡尔多·维托里. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-08-25.

Probe head manufacturing method of the probe card

Номер патента: KR102164020B1. Автор: 이재하. Владелец: 화인인스트루먼트 (주). Дата публикации: 2020-10-13.

Film probe card and probe head thereof

Номер патента: CN114200280B. Автор: 于海超,赵梁玉,王艾琳. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-15.

Cantilever probe head and corresponding contact probe

Номер патента: WO2019141633A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2019-07-25.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: KR20080042077A. Автор: 마이클 엘. 앤더슨,에드워드 에이. 맥클라우드,샤흐리아르 모스타르쉐드,마이클 에이. 카솔로. Владелец: 퀘리타우, 인크.. Дата публикации: 2008-05-14.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: CN102981029A. Автор: M.L.安德森,E.A.麦劳德,S.莫斯塔谢德,M.A.卡索洛. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2013-03-20.

Cantilever contact probe and corresponding probe head

Номер патента: EP3740765B1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-08-03.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: TW200721341A. Автор: Shahriar Mostarshed,Michael L Anderson,Michael A Casolo,Edward A Mccloud. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2007-06-01.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: IL189229A0. Автор: . Владелец: Casolo Michael A. Дата публикации: 2008-08-07.

Probe head for reduced-pitch applications

Номер патента: US20230021227A1. Автор: Roberto Crippa,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-01-19.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices with enhanced filtering properties

Номер патента: US20220034966A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-02-03.

Probe head assemblies, components thereof, test systems including the same, and methods of operating the same

Номер патента: US20160103153A1. Автор: Eric Hill,Koby Duckworth. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2016-04-14.

HYBRID PROBE HEAD ASSEMBLY FOR TESTING A WAFER DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20190369142A1. Автор: Treibergs Valts,Nelson Mitchell. Владелец: XCERRA CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-05.

Probe head assembly for use in testing multiple wafer die

Номер патента: US20080030214A1. Автор: Vinh Nguyen,Claude Hamrick. Владелец: Verticaltest Inc. Дата публикации: 2008-02-07.

Hybrid probe head assembly for testing a wafer device under test

Номер патента: WO2019231928A1. Автор: Valts Treibergs,Mitchell Nelson. Владелец: XCERRA CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-05.

Probe head for reduced-pitch applications

Номер патента: TW202124972A. Автор: 羅貝多 克立巴,史提伐諾 費利希. Владелец: 義大利商探針科技公司. Дата публикации: 2021-07-01.

Manufacturing method for probe head and wire wounding structure for the method

Номер патента: KR100765977B1. Автор: 이만식,이대수,최덕주,성인규,곽순령. Владелец: 주식회사 리뷰텍. Дата публикации: 2007-10-12.

Vertical probe head

Номер патента: US20230007997A1. Автор: Chin-Tien Yang,Horng-Chuan Sun,Yu-Hao Chen,Hui-Pin Yang,Chin-Yi Tsai,Yang-Hung Cheng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Probe head and die set having horizontally fine adjustable die and probe head adjusting method

Номер патента: US20220214379A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsin-Cheng Hung,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-07-07.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: US12085588B2. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-09-10.

Probe head comprising a guide with metallizations and method using it

Номер патента: WO2024133250A1. Автор: Stefano Felici,Fabio MORGANA. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Vertical probe head

Номер патента: US11774468B2. Автор: Chin-Tien Yang,Horng-Chuan Sun,Yu-Hao Chen,Hui-Pin Yang,Chin-Yi Tsai,Yang-Hung Cheng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Probe head with an improved contact between contact probes and metallized guide holes

Номер патента: US20240012027A1. Автор: Raffaele VALLAURI. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-11.

Probe head with an improved contact between contact probes and metallized guide holes

Номер патента: EP4244635A1. Автор: Raffaele VALLAURI. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-09-20.

Improved vertical probe head

Номер патента: WO2024132683A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11860192B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Large probe head for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: US20230417798A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-28.

Large probe head for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: WO2022112480A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-06-02.

Large probe head for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: EP4252012A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-04.

Method of centering probe head in mounting frame

Номер патента: US20220276281A1. Автор: Kalyanjit GHOSH,Doug Ondricek,Paul Hsiao. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2022-09-01.

Method of centering probe head in mounting frame

Номер патента: US12044704B2. Автор: Kalyanjit GHOSH,Paul Hsiao,Douglas Stewart Ondricek. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Probe head for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: WO2024132276A1. Автор: Stefano Felici,Fabio MORGANA. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Vertical probe head with a probe guide comprising circuit components integrated therein

Номер патента: EP4010713A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-06-15.

Vertical Probe Head

Номер патента: US20220155349A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-05-19.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US09638716B2. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11852656B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Tae Hwan Song. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe head and probe card comprising same

Номер патента: US20230152350A1. Автор: Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN,Dong Hyeok Seo. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Probe head with improved cooling system

Номер патента: WO2024133066A1. Автор: Raffaele VALLAURI. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Vertical probe head with a probe guide comprising circuit components integrated therein

Номер патента: WO2021023740A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2021-02-11.

Probe head and upper guider plate

Номер патента: US20160223590A1. Автор: Yung-Hsin Chen,Chih-Hao Hsu,Sang-Yi LIN. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

High density probe head for chip testing

Номер патента: USH663H. Автор: Dan Massopust. Владелец: Cray Research LLC. Дата публикации: 1989-08-01.

Probe head controlling mechanism for probe card assemblies

Номер патента: WO2010018463A2. Автор: Andrew W. Mcfarland,Brandon Liew,James M. Porter,Kevin Y. Yasumura. Владелец: Formfactor , Inc.. Дата публикации: 2010-02-18.

Probe head securing mechanism for probe assembly

Номер патента: US20190170816A1. Автор: Mohsen H. Mardi,Lik Huay Lim,King Yon Lew,Andy Widjaja. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2019-06-06.

Apparatus for the automated assembly of a probe head

Номер патента: US12000879B2. Автор: David Heriban,Jean-Christophe Villain,Roberto Subranni,Jocelyn Perreau,Florent Perrocheau,Anne Delettre. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-06-04.

Probe head for testing electronic devices comprising integrated optical elements

Номер патента: EP4204827A1. Автор: Riccardo Vettori,Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-07-05.

Apparatus and method for the automated assembly of a probe head

Номер патента: WO2019162194A1. Автор: David Heriban,Jean-Christophe Villain,Roberto Subranni,Jocelyn Perreau,Florent Perrocheau,Anne Delettre. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2019-08-29.

Probe head for testing electronic devices comprising integrated optical elements

Номер патента: US20230305054A1. Автор: Riccardo Vettori,Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-09-28.

Probe-head for led probe device

Номер патента: KR102271347B1. Автор: 박영성,장필국. Владелец: 주식회사 나노엑스. Дата публикации: 2021-06-30.

Prober in which probe head of probe card is replaced automatically

Номер патента: US10082524B2. Автор: Mitsuyoshi Miyazono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-09-25.

Probe head and method of producing tested semiconductor die and vertical probe manufacturing method

Номер патента: US20240175900A1. Автор: Chin-Yi Lin,Chao-Shun Wang,Tzu-Yang Chen,Tzu-Hao Chien,Li-Ming Fan. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Probe head structure

Номер патента: US20240302410A1. Автор: Hao Chen,Chen-Shien Chen,Mill-Jer Wang,Wen-Yi Lin,Chuan-Hsiang Sun,Chien-Chen Li. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Replaceable probe head having an operational amplifier

Номер патента: WO2013032986A2. Автор: Christopher J. Palassis,Christopher M. SCHUYLER. Владелец: YSI INCORPORATED. Дата публикации: 2013-03-07.

Replaceable probe head having an operational amplifier

Номер патента: EP2751528A2. Автор: Christopher J. Palassis,Christopher M. SCHUYLER. Владелец: YSI Inc. Дата публикации: 2014-07-09.

Probe head, probe coupler and probe arrangement

Номер патента: US20210148955A1. Автор: Andreas Ziegler,Martin Peschke,Roland Krimmer,Dirk Gehrke,Reiner Franke. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-05-20.

Probe Head

Номер патента: US20240125816A1. Автор: Michael Engels,Richard Booman,Michael J Mende,Iris Zimmermann,Kai Klein,Michael D Stevens,Mark Heimann,Peter Hildenhagen,Benno Jacobs,Frank Pannes,Thomas Podrebersek,Philipp Palffy-Daun-Seiler,Jurij Weber,Nadja Laeaeperi,Nicolas Frabasile,Juergen Trueller,Michael Eube,Matthew M Mende. Владелец: Pmk Mess und Kommunikationstechnik GmbH. Дата публикации: 2024-04-18.

Probe head with replaceable probe board

Номер патента: US20240310410A1. Автор: Pardeep Kumar,Kwame Amponsah,Mehmet OZDOGAN,Clive A. D'SOUZA. Владелец: XALLENT Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Cantilever type probe head

Номер патента: US20100259290A1. Автор: Shih-Ming Liu. Владелец: Allstron Inc. Дата публикации: 2010-10-14.

A probe head holder

Номер патента: EP1327889A3. Автор: Mark W. Nightingale,Marc W. Gessford. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2004-03-10.

Probe head comprising pogo pins for wafer-level burn-in test

Номер патента: EP4382920A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2024-06-12.

Probe head and probe assembly

Номер патента: US20240036073A1. Автор: Zhou Yi Lin. Владелец: Azoth Studio Ltd Co. Дата публикации: 2024-02-01.

Method for forming probe head structure

Номер патента: US12019097B2. Автор: Hao Chen,Chen-Shien Chen,Mill-Jer Wang,Wen-Yi Lin,Chuan-Hsiang Sun,Chien-Chen Li. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head

Номер патента: US20240183882A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microsoft SpA. Дата публикации: 2024-06-06.

Method for increasing strength of multi-probe heads probes

Номер патента: RU2724301C2. Автор: Лариса Александровна Васильева,Алексей Алексеевич Лопухин,Владимир Михайлович Акимов,Илья Владимирович Ефимов. Владелец: Акционерное общество "НПО "Орион". Дата публикации: 2020-06-22.

Contact probe for a probe head

Номер патента: US20230288447A1. Автор: Roberto Crippa,Stefano Felici,Fabio MORGANA. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-09-14.

Probe head with machined mounting pads and method of forming same

Номер патента: EP1984748A1. Автор: Steven Wang,Salleh Ismail,Raffi Garabedian. Владелец: Touchdown Technologies Inc. Дата публикации: 2008-10-29.

Probe head with machined mounting pads and method of forming same

Номер патента: WO2007092174A1. Автор: Steven Wang,Salleh Ismail,Raffi Garabedian. Владелец: TOUCHDOWN TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2007-08-16.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: PH12021550959A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-11-29.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: EP3877768A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-09-15.

Manufacturing method of probe-head for electrical device inspection

Номер патента: KR20220164683A. Автор: 박영성,장필국. Владелец: 주식회사 나노엑스. Дата публикации: 2022-12-13.

vertical probe head

Номер патента: TW202303162A. Автор: 蔡錦溢,楊惠彬,楊金田,陳宥豪,鄭仰宏,孫宏川. Владелец: 旺矽科技股份有限公司. Дата публикации: 2023-01-16.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: SG11202104299SA. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-05-28.

PROBES SUPPORT EQUIPPED WITH PROBES HEADS AND METHOD FOR ADJUSTING THE DISTANCE SEPARATING THE PROBES HEADS

Номер патента: FR2294448A1. Автор: Pieter Geldermans. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1976-07-09.

PROBE HEAD RECEIVER AND PROBE CARD ASSEMBLY HAVING THE SAME

Номер патента: US20170122984A1. Автор: Hsu Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

PROBE HEAD AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20210239735A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

Probe head receiver and probe card assembly having the same

Номер патента: US10866266B2. Автор: Ming-Cheng Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

PROBE HEAD

Номер патента: US20170059615A1. Автор: Hsu Chih-Hao,HSIEH Hsiang-Sheng,LIN Sang-Yi. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

TEST PROBE HEAD FOR FULL WAFER TESTING

Номер патента: US20160084882A1. Автор: Liu Yang,Dang Bing,Wright Steven L.,LUO Yu,Knickerbocker John. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2016-03-24.

PROBE HEAD

Номер патента: US20200393496A1. Автор: HOSOKAWA DAISUKE,SAKURAI Yoshihiko,ISHIGURE Hiroshi. Владелец: YOKOWO CO., LTD.. Дата публикации: 2020-12-17.

Mas stator of an NMR probe head with optimized microwave irradiation

Номер патента: US10197653B2. Автор: Armin Purea,Arndt von Bieren. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2019-02-05.

Mas stator of an nmr probe head with optimized microwave irradiation

Номер патента: US20180113183A1. Автор: Armin Purea,Arndt von Bieren. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2018-04-26.

Probe head assembly

Номер патента: WO1998053331A1. Автор: Zvi Yaniv,Nalin Kumar. Владелец: Si Diamond Technology, Inc.. Дата публикации: 1998-11-26.

Combined probe head for a vertical probe card and method for assembling and aligning the combined probe head thereof

Номер патента: US8933719B2. Автор: Wen-Chi Chen,Chao-Ching Huang,Chiu-Chu Chang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-01-13.

A method of fabricating vertical probe head

Номер патента: TW200724940A. Автор: Fuh-Yu Chang,Min-Chieh Chou,Jiu-Shu Tsai. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2007-07-01.

CONTACT ENGINES, PROBE HEAD ASSEMBLIES, PROBE SYSTEMS, AND ASSOCIATED METHODS FOR ON-WAFER TESTING OF THE WIRELESS OPERATION OF A DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20180149674A1. Автор: Bock Daniel Mark,Cleary Tim. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Contact engines, probe head assemblies, probe systems, and associated methods for on-wafer testing of the wireless operation of a device under test

Номер патента: US10571487B2. Автор: Daniel Mark Bock,Tim Cleary. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2020-02-25.

Contact engines, probe head assemblies, probe systems, and associated methods for on-wafer testing of the wireless operation of a device under test

Номер патента: EP3548907B1. Автор: Daniel Mark Bock,Tim Cleary. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2023-05-03.

PROBE HEAD AND UPPER GUIDER PLATE

Номер патента: US20160223590A1. Автор: Hsu Chih-Hao,LIN Sang-Yi,CHEN Yung-Hsin. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-04.

Probe head arrays

Номер патента: US20060145713A1. Автор: John Long,Roy Henson. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2006-07-06.

Multi-point probe head assembly

Номер патента: US3832632A. Автор: F Ardezzone. Владелец: Individual. Дата публикации: 1974-08-27.

Probe head assemblies with constrained internal motion and probe systems including the probe head assemblies

Номер патента: US20170212166A1. Автор: Brandon Liew. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2017-07-27.

Prevent film probe head and film probe card that probe drops

Номер патента: CN114441918A. Автор: 周明,于海超,赵梁玉. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-06.

Probe card for electrical inspection, and probe head of probe card

Номер патента: WO2020050645A1. Автор: 정영배. Владелец: 주식회사 아이에스시. Дата публикации: 2020-03-12.

POSITIONER OF PROBE CARD AND PROBE HEAD OF PROBE CARD

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Hsieh Shang-Jung,Lin Che-Wei,Chen Tsung-Yi,LEE CHUNG-TSE,LI TIEN-CHIA,KUO Chia-Yuan,CHEN Tzu-Yang. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Probe head securing mechanism for probe assembly

Номер патента: US20190170816A1. Автор: Mohsen H. Mardi,Lik Huay Lim,King Yon Lew,Andy Widjaja. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2019-06-06.

PROBE CARD DEVICE AND PROBE HEAD

Номер патента: US20190302147A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

PROBE HEAD ASSEMBLIES AND PROBE SYSTEMS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICES

Номер патента: US20170363681A1. Автор: Swart Roy E.,Liew Brandon,Salmon Jay. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-21.

Probe head and probe card having the same

Номер патента: KR102342806B1. Автор: 박승호,안범모,송태환. Владелец: (주)포인트엔지니어링. Дата публикации: 2021-12-23.

Probe head assemblies and probe systems for testing integrated circuit devices

Номер патента: US10120020B2. Автор: Jay Salmon,Roy E. Swart,Brandon Liew. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2018-11-06.

Probe head assemblies and probe systems for testing integrated circuit devices

Номер патента: TWI638164B. Автор: 傑 施曼,羅伊Ｅ 斯沃特,布蘭登 劉. Владелец: 美商加斯凱德微科技公司. Дата публикации: 2018-10-11.

Microcircuit test probe head - comprises needle probes held in position by flexible membrane attached to insulating base by bellows

Номер патента: FR2465231A1. Автор: Claude Vergnolle. Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1981-03-20.

Probe head controlling mechanism for probe card assemblies

Номер патента: TW201009348A. Автор: Brandon Liew,Porter, Jr,Andrew Weston Mcfarland,Kevin Youl Yasumura. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2010-03-01.

PROBE CARD DEVICE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20200166543A1. Автор: HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG,TSENG CHAO-HUI,WANG HSIEN-YU. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-28.

Interface board of a testing head for a test equipment of electronic devices and corresponding probe head

Номер патента: US9069015B2. Автор: Giovanni Campardo,Flavio Maggioni,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-06-30.

SYSTEM AND METHOD FOR ASSEMBLING A PROBE HEAD

Номер патента: US20150054537A1. Автор: Taber,JR. Frederick L.. Владелец: Corad Technology Inc.. Дата публикации: 2015-02-26.

Method of centering probe head in mounting frame

Номер патента: US20220276281A1. Автор: GHOSH KALYANJIT,Ondricek Doug,Hsiao Paul. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-01.

Shielding for Vertical Probe Heads

Номер патента: US20180196086A1. Автор: Eldridge Benjamin N.. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

MULTIPLE CONTACT PROBE HEAD DISASSEMBLY METHOD AND SYSTEM

Номер патента: US20170219631A1. Автор: Gardell David L.,Ayotte Stephen P.,Montaque Marvin G. L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

VERTICAL PROBE HEAD WITH IMPROVED CONTACT PROPERTIES TOWARDS A DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20210255218A1. Автор: FELICI Stefano. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-19.

VERTICAL PROBE HEAD HAVING AN IMPROVED CONTACT WITH A DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20210318355A1. Автор: FELICI Stefano. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-14.

PROBE HEAD FOR A TESTING APPARATUS OF ELECTRONIC DEVICES WITH ENHANCED FILTERING PROPERTIES

Номер патента: US20190302185A1. Автор: MAGGIONI Flavio. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

APPARATUS AND METHOD FOR THE AUTOMATED ASSEMBLY OF A PROBE HEAD

Номер патента: US20200379015A1. Автор: Villain Jean-Christophe,Heriban David,SUBRANNI Roberto,PERREAU Jocelyn,PERROCHEAU Florent,DELETTRE Anne. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

Replaceable modular probe head

Номер патента: US20070085554A1. Автор: Yeong-Her Wang,An-Hong Liu,Hsiang-Ming Huang,Yi-Chang Lee,Yao-Jung Lee. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2007-04-19.

Probe head assembly

Номер патента: DE3472007D1. Автор: Frank Harry Jenner. Владелец: Marconi Instruments Ltd. Дата публикации: 1988-07-14.

Shielding for vertical probe heads

Номер патента: US10598697B2. Автор: Benjamin N. Eldridge. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2020-03-24.

Probe head for a microelectronic contactor assembly, and methods of making same

Номер патента: US20100237888A1. Автор: Matthew Losey,Yohannes Desta,Lakshmikanth Namburi. Владелец: Touchdown Technologies Inc. Дата публикации: 2010-09-23.

Probe Head for Circuit Inspection

Номер патента: KR19980054957U. Автор: 김한중. Владелец: 서두칠. Дата публикации: 1998-10-07.

Probe head and probe head assembly method capable of avoiding probe short circuit

Номер патента: TWI763506B. Автор: 林哲緯,林進億,蘇耿民. Владелец: 旺矽科技股份有限公司. Дата публикации: 2022-05-01.

Align hole having probe pin and probe head assembly therof

Номер патента: KR20140003761A. Автор: 송원호,송지은. Владелец: 송지은. Дата публикации: 2014-01-10.

A probe head holder

Номер патента: EP1327889B1. Автор: Mark W. Nightingale,Marc W. Gessford. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2005-07-20.

Replaceable probe head having an operational amplifier

Номер патента: EP2751528B1. Автор: Christopher J. Palassis,Christopher M. SCHUYLER. Владелец: YSI Inc. Дата публикации: 2016-04-06.

PROBE HEAD AND CONDUCTIVE PROBE THEREOF

Номер патента: US20210003611A1. Автор: Huang YaJu,Wang Horng-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

MICROELECTROMECHANICAL PROBE AND PROBE HEAD HAVING THE SAME

Номер патента: US20180267083A1. Автор: HSU Yu-Chen,WEI Shao-Lun,LIN CHIEN-YU,SHEN Mao-Fa,KUO Neng-Hsuan,CHU Ching-Kai. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-20.

CANTILEVER PROBE HEAD AND CORRESPONDING CONTACT PROBE

Номер патента: US20200348336A1. Автор: Vettori Riccardo. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

The method of increasing the strength of the probes of multi-probe heads

Номер патента: RU2018144767A. Автор: Лариса Александровна Васильева,Алексей Алексеевич Лопухин,Владимир Михайлович Акимов,Илья Владимирович Ефимов. Владелец: Акционерное общество "НПО "Орион". Дата публикации: 2020-06-17.

Probe head with membrane suspension probe

Номер патента: JP5374568B2. Автор: スミス ケニス,ジョリー マイケル,ヴァン シケル ヴィクトリア. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2013-12-25.

Probe head adapter for measuring probe

Номер патента: CN1340713A. Автор: M·A·格斯福德,M·W·奈廷加勒,G·W·雷德. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2002-03-20.

Contact probe for probe head

Номер патента: KR20230038562A. Автор: 로베르토 크리파,스테파노 페리시,파비오 모르가나. Владелец: 테크노프로브 에스.피.에이.. Дата публикации: 2023-03-20.

Cartridge system for a probing head for an electrical test probe

Номер патента: US20040008046A1. Автор: Julie Campbell,Stephen Sekel,Stanley Sula. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2004-01-15.

Thin film with MEMS probe circuits and MEMS thin film probe head using the same

Номер патента: US7388388B2. Автор: Wen-Chang Dong. Владелец: Wen-Chang Dong. Дата публикации: 2008-06-17.

Probe head with linear probe

Номер патента: CN113721051A. Автор: 陈子扬,林进亿,巫晨睿,林圣瑜,徐铭达,韦嘉茹. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2021-11-30.

ANTI-ROTATION FOR WIRE PROBES IN A PROBE HEAD OF A DIE TESTER

Номер патента: US20150061713A1. Автор: Albertson Todd P.,Shia David,Mortin Keith J.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

PROBE HEAD, PROBE CARD ASSEMBLY USING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20160274147A1. Автор: Hsu Ming-Cheng,Huang Yuan-Pin,LIAO Wen-Feng,SU Wen-Tsai. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

Probe head having a membrane suspended probe

Номер патента: EP1766426A2. Автор: Kenneth Smith,Michael Jolley,Victoria Van Syckel. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2007-03-28.

MAS STATOR OF AN NMR PROBE HEAD WITH OPTIMIZED MICROWAVE IRRADIATION

Номер патента: US20180113183A1. Автор: Purea Armin,VON BIEREN Arndt. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-26.

Probe Head

Номер патента: US20140197859A1. Автор: HSU Hsien-Ta,FAN Horng- Kuang. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2014-07-17.

Automated Attaching And Detaching Of An Interchangeable Probe Head

Номер патента: US20140340103A1. Автор: Watanabe Masanori,Kasai Toshihiro. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2014-11-20.

Manufacturing method of probe-head for electrical device inspection

Номер патента: KR102472687B1. Автор: 박영성,장필국. Владелец: 주식회사 나노엑스. Дата публикации: 2022-11-30.

Optoelectronic oscilloscope probe head gives potential free measurement of electrical parameters.

Номер патента: DE10101633A1. Автор: Mathias Schumann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-03.

Probe head for measuring electric characteristic for multi-port circuit and method for measuring electric characteristic of multi-port circuit

Номер патента: JPH1064962A. Автор: Yoshinobu Sasaki,善伸 佐々木,Makio Komaru,真喜雄 小丸,純一 宇土元,Jiyunichi Udomoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-03-06.

Replaceable probe head

Номер патента: CN103038608A. Автор: C·J·帕拉西斯,M·T·詹姆斯. Владелец: YSI Inc. Дата публикации: 2013-04-10.

Probe head with waveguide with concentrated damping

Номер патента: EP2068156A2. Автор: Martin Dr. Peschke. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2009-06-10.

Probe head structure and method for forming the same

Номер патента: US20230065443A1. Автор: Hao Chen,Chen-Shien Chen,Mill-Jer Wang,Wen-Yi Lin,Chuan-Hsiang Sun,Chien-Chen Li. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Probe head for voltage tester - uses carrier rod coated with conducting lacquer and surrounded by casting resin

Номер патента: FR2442450A1. Автор: . Владелец: Karl Pfisterer Elektrorechnische Spezialartikel GmbH and Co KG. Дата публикации: 1980-06-20.

Oscilloscope probe head with fibre-optic sensor for galvanically separated detection of electric size

Номер патента: DE10101632A1. Автор: Mathias Schumann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-03.

Manufacturing method for manufacturing a contact probe for a probe head of an electronic device and a corresponding contact probe

Номер патента: KR20220043183A. Автор: 로베르토 크리파. Владелец: 테크노프로브 에스.피.에이.. Дата публикации: 2022-04-05.

Manufacturing method for manufacturing contact probes for probe heads of electronic devices and corresponding contact probe

Номер патента: TW202120939A. Автор: 羅貝多 克立巴. Владелец: 義大利商探針科技公司. Дата публикации: 2021-06-01.

Wafer testing probe card

Номер патента: US09823272B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Ming-Chi Chen,Tien-Chia LI,Dai-Jin YEH,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Pogo pin and probe card, and method of manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09651577B2. Автор: Joon-Yeon Kim,Sung-ho Joo,Yu-Kyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

Etching for probe wire tips for microelectronic device test

Номер патента: US09977054B2. Автор: David M. Craig,David Shia,Todd P. Albertson,Joseph D. Stanford. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Probe card electrically connectable with a semiconductor wafer

Номер патента: US8149008B2. Автор: Hiroshi Nakayama,Yoshio Yamada,Takashi Akao,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-03.

Electrical connecting device

Номер патента: EP3904891A1. Автор: Akihiro SHUTO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-03.

Electrical connecting device

Номер патента: US11828773B2. Автор: Akihiro SHUTO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Electrical connecting device

Номер патента: US20220074971A1. Автор: Akihiro SHUTO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-10.

A multi-channel, low input capacitance signal probe and probe head

Номер патента: EP1324055B1. Автор: Steve J. Lyford,Gary W. Reed,William R. Mark,Lester L. Larson. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2007-04-18.

Vertical probe array having a tiled membrane space transformer

Номер патента: EP3676619A1. Автор: Masanori Watanabe,Benjamin N. Eldridge,Scott Kuhnert,Jeffrey Coussens. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2020-07-08.

Vertical probe array having a tiled membrane space transformer

Номер патента: US20190064220A1. Автор: Masanori Watanabe,Benjamin N. Eldridge,Scott Kuhnert,Jeffrey Coussens. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Electrical connecting device

Номер патента: US12000867B2. Автор: Akihisa Akahira,Takayuki Hayashizaki,Hisao Narita,Mizuho Kon,Kenichi Suto. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Probe card

Номер патента: US12092660B2. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe card

Номер патента: US20240353445A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Automated attaching and detaching of an interchangeable probe head

Номер патента: US09689915B2. Автор: Toshihiro Kasai,Masanori Watanabe,Yoichi Urakawa. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Probe head with air cooling system

Номер патента: WO2024132749A1. Автор: Raffaele VALLAURI. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Fastening an nmr probe head to the shim tube end of the nmr magnet with automatable functional connections

Номер патента: US20230184854A1. Автор: Alexander Krahn,David Osen,Priyanga BANDARA,Jürgen Ganz. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2023-06-15.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US20140253112A1. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2014-09-11.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US20170269170A1. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-09-21.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US09684040B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-06-20.

Magnetic field probe and probe head thereof

Номер патента: US09817080B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-11-14.

Probe head of vertical probe card and manufacturing method of composite board of probe head

Номер патента: SG196803A1. Автор: Che-Wei Lin,Horng-Kuang Fan,Ming-Chi Chen,Mao-Fa Shen,Ming-Chu Chueh,Bang-Shun Liu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

NMR probe head with variable RF resonant circuit capacitor which can be adjusted in steps via a piezo-electric actuator

Номер патента: US09500726B2. Автор: Daniel Guy Baumann. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2016-11-22.

Magnetic resonance hyperpolarization and multiple irradiation probe head

Номер патента: EP2726894A1. Автор: Alessandro Macor,Emile De Rijk,Giuseppe Annino,Stefano Alberti. Владелец: Consiglio Nazionale delle Richerche CNR. Дата публикации: 2014-05-07.

Probe head of vertical probe card and manufacturing method of composite board of probe head

Номер патента: SG177836A1. Автор: Che-Wei Lin,Horng-Kuang Fan,Ming-Chi Chen,Mao-Fa Shen,Ming-Chu Chueh,Bang-Shun Liu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-02-28.

Transport device for an nmr mas rotor in a probe head ("mas shuttle")

Номер патента: US20200150199A1. Автор: Jonathan de Vries,Roger Meister,Sven Sieber. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2020-05-14.

NMR measuring device having a cooled probe head

Номер патента: US5889456A. Автор: René Triebe,Daniel Marek. Владелец: Spectrospin AG. Дата публикации: 1999-03-30.

NMR-MAS probe head with integrated transport conduit for an MAS rotor

Номер патента: US09778331B2. Автор: David Osen,Benno Knott,Andreas Hunkeler. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2017-10-03.

Nmr probe head with piezoelectric actuators

Номер патента: EP3714282A1. Автор: Marco Osterwalder,Samuel SALVISBERG. Владелец: QONETEC AG. Дата публикации: 2020-09-30.

Transceiver coil arrangement for an mas nmr probe head and method for designing a transceiver coil arrangement

Номер патента: US20240004005A1. Автор: Nicolas Freytag. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Radio frequency coil arrangement for magnetic resonance measurements and probe head for measuring resonance signals by utilizing such a radio frequency coil arrangement

Номер патента: US20070268077A1. Автор: Heinz Zeiger,Baudouin Dillmann. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2007-11-22.

Dnp probe head for high resolution, liquid-state nmr

Номер патента: WO2024115698A1. Автор: Luming YANG,Thorsten Marquardsen,Igor Tkach,Marina Bennati,Marcel Levien,Tomas Orlando,Alisa Leveasly,Richard Wylde. Владелец: Bruker Biospin Gmbh & Co. Kg. Дата публикации: 2024-06-06.

Magnetic resonance hyperpolarization and multiple irradiation probe head

Номер патента: US9448290B2. Автор: Alessandro Macor,Emile De Rijk,Giuseppe Annino,Stefano Alberti. Владелец: Consiglio Nazionale delle Richerche CNR. Дата публикации: 2016-09-20.

Probe head for nuclear magnetic resonance measurements

Номер патента: US20050168223A1. Автор: Heinz Zeiger,Baudouin Dillmann. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2005-08-04.

Magnetic resonance hyperpolarization and multiple irradiation probe head

Номер патента: WO2013000964A1. Автор: Alessandro Macor,Emile De Rijk,Giuseppe Annino,Stefano Alberti. Владелец: CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE. Дата публикации: 2013-01-03.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US09880202B2. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2018-01-30.

Probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180299489A1. Автор: Takashi Kawano,Tetsuya Yoshioka,Mika Nasu,Shigeki MAKISE. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Cooled NMR probe head with thermal insulation of the sample

Номер патента: US20010013779A1. Автор: Daniel Marek. Владелец: Bruker AG. Дата публикации: 2001-08-16.

Microwave coupler for optimizing a NMR probe head for MAS-DNP

Номер патента: US20160195593A1. Автор: Alexander Krahn,Armin Purea,Frank Engelke. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2016-07-07.

Nmr-mas probe head with pivotable stator

Номер патента: US20190242958A1. Автор: Alexander Krahn,Markus Mayer,Roger Meister,David Osen,Armin Purea. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2019-08-08.

Electric connection device

Номер патента: US11249109B2. Автор: Mika Nasu. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Probe card

Номер патента: US20230107255A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Probe card system, method of manufacturing probe card system, method of using probe card system

Номер патента: US20240027494A1. Автор: Ho-Ming Tong,Chao-Chun Lu. Владелец: Nd Hi Technologies Lab inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Probe joint and spring probe comprising the same

Номер патента: US20240085458A1. Автор: Zhou Yi Lin. Владелец: Azoth Studio Ltd Co. Дата публикации: 2024-03-14.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US20150048856A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-02-19.

향상된 필터링 특성을 갖는 전자 소자의 테스트 장치용 프로브 헤드

Номер патента: KR102470314B1. Автор: 플라비오 마기오니. Владелец: 테크노프로브 에스.피.에이.. Дата публикации: 2022-11-23.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: EP2859361A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-04-15.

Microbump cluster probing architecture for 2.5d and 3d dies

Номер патента: US20230314479A1. Автор: Ethan Caughey,Jagat Shakya,Joseph Parks, Jr.. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Abbreviated Loopback Attenuation

Номер патента: US20230393174A1. Автор: Uyen Nguyen,Tim Lesher,Jerry Martyniuk,Ernest Gammon MCREYNOLDS,Tomoe YOKOYAMA,David RASCHKO,Pratik Bakul GHATE. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2023-12-07.

Abbreviated loopback attenuation

Номер патента: WO2023235623A1. Автор: Uyen Nguyen,Tim Lesher,Jerry Martyniuk,Ernest Gammon MCREYNOLDS,Tomoe YOKOYAMA,David RASCHKO,Pratik Bakul GHATE. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2023-12-07.

Multi-channel signal acquisition probe

Номер патента: WO2007137241A2. Автор: Daniel B. Meyer,Jonathan D. Clem. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2007-11-29.

Multi-channel signal acquisition probe

Номер патента: WO2007137241A3. Автор: Jonathan D Clem,Daniel B Meyer. Владелец: Daniel B Meyer. Дата публикации: 2008-02-21.

전자 소자 테스트용 장치의 콘택 프로브 및 관련 프로브 헤드

Номер патента: KR102453358B1. Автор: 로베르토 크리파,라파엘 발라우리. Владелец: 테크노프로브 에스.피.에이.. Дата публикации: 2022-10-07.

Probe head and apparatus for intraoral confocal imaging using polarization-retarding coatings

Номер патента: US09693839B2. Автор: Yossef Atiya,Tal VERKER. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Probe head

Номер патента: US20070051005A1. Автор: Reinhold Schopf. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2007-03-08.

Probe Head

Номер патента: US20130027026A1. Автор: Reinhold Schopf. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2013-01-31.

Probe head of three-dimensional coordinate measuring device and touch detection method

Номер патента: US10197375B2. Автор: Hisayoshi Sakai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-05.

Optical probe heads

Номер патента: US5440126A. Автор: Evelyn E. K. Kemsley. Владелец: British Technology Group Ltd. Дата публикации: 1995-08-08.

Probe head for a coordinate measuring instrument

Номер патента: US4833792A. Автор: Peter Aehnelt,Eckhard Enderle. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1989-05-30.

Device for clamping the dlectable part of a probe head for co-ordinate measuring machine

Номер патента: GB2302589A. Автор: Roland Roth,Kurt Brenner,Karl Seitz,Klaus Herzog,Peter Aehnelt,Franz Szenger. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1997-01-22.

Ultrasonic probe head

Номер патента: US7992439B2. Автор: Aart Jan Van Bekkum,Jeoren Martin Van Klooster. Владелец: KROHNE AG. Дата публикации: 2011-08-09.

Positionable probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20210181237A1. Автор: Che-Wei Lin,Sheng-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Wen-Chi Chen,Hsueh-Chih Wu,Shu-Jui Chang,Zhi-Wei SU,Tzung-Je TZENG,Huo-Kang HSU,Jian-Kai HONG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Probe systems and methods

Номер патента: US20180088149A1. Автор: Rodney Jones,Peter McCann,Gavin Neil Fisher,Thomas Reiner Thaerigen,Koby L. Duckworth. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2018-03-29.

Probe systems and methods

Номер патента: EP3519836A1. Автор: Rodney Jones,Peter McCann,Gavin Neil Fisher,Thomas Reiner Thaerigen,Koby L. Duckworth. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2019-08-07.

Probe systems

Номер патента: EP4191259A1. Автор: Rodney Jones,Peter McCann,Gavin Neil Fisher,Thomas Reiner Thaerigen,Koby L Duckworth. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2023-06-07.

Probe systems and methods

Номер патента: US20200041544A1. Автор: Rodney Jones,Peter McCann,Gavin Neil Fisher,Thomas Reiner Thaerigen,Koby L. Duckworth. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2020-02-06.

Apparatus for providing a test signal from a device under test (dut) to a measurement instrument

Номер патента: US20210190830A1. Автор: Ryan Scott,Bogdan Szafraniec,Mike T. Mctigue,Howard Lankford. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Probe head of probe card and manufacturing method of composite board of probe head

Номер патента: US20120007627A1. Автор: Che-Wei Lin,Horng-Kuang Fan,Ming-Chi Chen,Mao-Fa Shen,Ming-Chu Chueh,Bang-Shun Liu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-01-12.

Probe head, its assembly method and probe card

Номер патента: US20040239351A1. Автор: Shuichi Sawada,Masaya Tsuchie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

A radio frequency coil arrangement for magnetic resonance measurements and a probe head for measuring resonance signals

Номер патента: GB2426345B. Автор: Heinz Zeiger,Baudouin Dillmann. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2008-08-13.

NMR probe head with variable RF resonant circuit capacitor which can be adjusted in steps via a piezo-electric actuator

Номер патента: GB2512208B. Автор: Guy Baumann Daniel. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2017-05-24.

NMR probe head with variable RF resonant circuit capacitor which can be adjusted in steps via a piezo-electric actuator

Номер патента: GB201404043D0. Автор: . Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2014-04-23.

NMR-MAS probe head with integral transport conduit for an MAS-rotor

Номер патента: GB2464807B. Автор: Benno Knott,Martin Armbruster. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2012-12-26.

MAGNETIC RESONANCE HYPERPOLARIZATION AND MULTIPLE IRRADIATION PROBE PROBE HEAD

Номер патента: US20140117988A1. Автор: Annino Giuseppe,Macor Alessandro,De Rijk Emile,Alberti Stefano. Владелец: COSIGLIO NAZIONALE DELLE RICHERCHE. Дата публикации: 2014-05-01.

MAGNETIC FIELD PROBE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20140253112A1. Автор: LU Hsin-Chia,CHOU Yien-Tien. Владелец: NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-09-11.

SYSTEM, A TANGENT PROBE CARD AND A PROBE HEAD ASSEMBLY FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFTER

Номер патента: US20180172732A1. Автор: LEUNG Wing Cheuk. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

PROBE HEAD STRUCTURE OF PROBE CARD AND TESTING METHOD

Номер патента: US20190242942A1. Автор: Wang Mill-Jer,Hsu Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

MAGNETIC FIELD PROBE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20170269170A1. Автор: LU Hsin-Chia,CHOU Yien-Tien. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

SYSTEM, A TANGENT PROBE CARD AND A PROBE HEAD ASSEMBLY FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER

Номер патента: US20200363453A1. Автор: LEUNG Wing Cheuk. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-19.

A system, a tangent probe card and a probe head assembly for testing semiconductor wafer

Номер патента: TWI710774B. Автор: 永焯 梁. Владелец: 永焯 梁. Дата публикации: 2020-11-21.

Transport device for an nmr mas rotor in a probe head ("mas shuttle")

Номер патента: WO2019016035A1. Автор: Jonathan de Vries,Roger Meister,Sven Sieber. Владелец: Bruker BioSpin AG. Дата публикации: 2019-01-24.

Probe head, its assembly method and probe card

Номер патента: TW200427989A. Автор: Shuichi Sawada,Masaya Tsuchie. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2004-12-16.

Probe-head-side probe extension for reducing b0 field disturbance of the test tube end

Номер патента: EP3906420B1. Автор: Daniel Schmidig. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2022-10-26.

Apparatus and method for automatically changing the probe head in a four-point probe system

Номер патента: US20030005783A1. Автор: James Chen,Gong Wang. Владелец: Chen James T.. Дата публикации: 2003-01-09.

MNR measuring device with cooled probe head

Номер патента: EP0878718A1. Автор: René Triebe,Daniel Marek. Владелец: Bruker AG. Дата публикации: 1998-11-18.

NMR spectrometer with a common refrigerator for cooling an NMR probe head and cryostat

Номер патента: GB2420611B. Автор: Marco Strobel. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2009-11-25.

NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE PROBE HEAD AND METHOD WITH MULTI-FUNCTIONAL SAMPLE ROTATION

Номер патента: US20130335079A1. Автор: SAMOSON Ago. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

NMR probe head with improved centering of the sample vial

Номер патента: US20150002152A1. Автор: Wilhelm Dirk,Schmidig Daniel,Al Adwan Stojilkovic Danijela. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

ADJUSTMENT DEVICE FOR AN RF RESONANT CIRCUIT OF AN NMR PROBE HEAD

Номер патента: US20190011509A1. Автор: Baumann Daniel Guy,Schmidig Daniel,Meister Roger,Kasper Christian. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-10.

NMR-MAS probe head with integrated transport conduit for an MAS rotor

Номер патента: US20140125340A1. Автор: OSEN David,KNOTT Benno,Hunkeler Andreas. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-08.

Transport device for an nmr mas rotor in a probe head ("mas shuttle")

Номер патента: US20200150199A1. Автор: Jonathan de Vries,Roger Meister,Sven Sieber. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2020-05-14.

MAS NMR PROBE HEAD ARRANGEMENT WITH REPLACEABLE STATOR

Номер патента: US20190154770A1. Автор: FREYTAG Nicolas,OSEN David,KUEHLER Fabian. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-23.

NMR probe head with variable RF resonant circuit capacitor which can be adjusted in steps via a piezo-electric actuator

Номер патента: US20140253124A1. Автор: Baumann Daniel Guy. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-11.

Microwave coupler for optimizing a NMR probe head for MAS-DNP

Номер патента: US20160195593A1. Автор: Alexander Krahn,Armin Purea,Frank Engelke. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2016-07-07.

NMR-MAS PROBE HEAD WITH PIVOTABLE STATOR

Номер патента: US20190242958A1. Автор: Mayer Markus,Meister Roger,OSEN David,Purea Armin,Krahn Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

NMR PROBE HEAD WITH A BACKBONE IN THE SHIELDING TUBE

Номер патента: US20190265315A1. Автор: OSEN David,Krahn Alexander,ARMBRUSTER Martin,BANDARA Priyanga,HAUEISEN Ralf,GANZ Juergen. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-29.

NMR PROBE HEAD COMPRISING A RELEASABLE HF SEAL

Номер патента: US20180340993A1. Автор: Schmidig Daniel,Meister Roger. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-29.

NMR PROBE HEAD WITH PIEZOELECTRIC ACTUATORS

Номер патента: US20200371176A1. Автор: OSTERWALDER Marco,SALVISBERG Samuel. Владелец: QONETEC AG. Дата публикации: 2020-11-26.

Probe head for NMR spectrometer

Номер патента: JP2002525637A. Автор: ヴィルフリード ベルグマン. Владелец: ヴィルフリード ベルグマン. Дата публикации: 2002-08-13.

Probe head for an electron spin resonance dosimeter

Номер патента: DE10207722B4. Автор: Dieter Dr. Schmalbein,Diether Maier,Andreas Dr. Kamlowski. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2004-11-11.

Method for controlling RF signals in an NMR system and probe head for carrying out the method

Номер патента: DE102009047565A1. Автор: . Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2011-06-09.

NMR probe head with improved centering of the sample tube.

Номер патента: CH708241A2. Автор: Daniel Schmidig,Danijela Al Adwan-Stojilkovic,Dirk Wilhelm. Владелец: Bruker BioSpin AG. Дата публикации: 2014-12-31.

Probe head for an NMR spectrometer

Номер патента: US6617851B1. Автор: Wilfried Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-09-09.

Probe head for an nmr spectrometer

Номер патента: EP1131647B1. Автор: Wilfried Bergmann. Владелец: Wilfried Bergmann. Дата публикации: 2005-12-07.

Probe head for an nmr spectrometer

Номер патента: EP1131647A2. Автор: Wilfried Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-12.

NMR probe head with integrated remote tuning

Номер патента: DE19744763C2. Автор: René Triebe,Oskar Schett,Jürg Fenner. Владелец: Bruker AG. Дата публикации: 1999-09-02.

MNR measuring device with cooled probe head

Номер патента: EP0878718B1. Автор: René Triebe,Daniel Marek. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2004-09-15.

Probe head for an NMR spectrometer

Номер патента: EP0782005B1. Автор: Max Erik Dipl.El.Ing.Eth Busse-Grawitz,Walter Dipl.El.Ing.Htl Roeck. Владелец: Bruker AG. Дата публикации: 2002-03-27.

Probe head for NMR spectrometer, esp.for examining small animals - includes screening device for HF coil provided by radial strips extending in axial direction of housing

Номер патента: DE4240434A1. Автор: Ulrich Dipl Chem Guenther. Владелец: EBERHARD GUENTHER GmbH. Дата публикации: 1994-06-09.

Cooled NMR probe head

Номер патента: JP4851261B2. Автор: 孝史 三木. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2012-01-11.

NMR probe head with a backbone in the shielding tube

Номер патента: US10768248B2. Автор: Alexander Krahn,David Osen,Priyanga BANDARA,Ralf Haueisen,Juergen GANZ,Martin Armbruster. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2020-09-08.

Automated attaching and detaching of an interchangeable probe head

Номер патента: TW201502521A. Автор: Toshihiro Kasai,Masanori Watanabe. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2015-01-16.

NMR probe head with improved centering of the sample vial

Номер патента: US9726735B2. Автор: Daniel Schmidig,Dirk Wilhelm,Danijela Al Adwan Stojilkovic. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2017-08-08.

NMR probe head with improved centering of the sample tube

Номер патента: DE102013212312A1. Автор: Daniel Schmidig,Danijela Al Adwan-Stojilkovic,Dirk Wilhelm. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2014-12-31.

NMR probe head with improved centering of the sample vial

Номер патента: GB2520375B. Автор: Schmidig Daniel,Al Adwan-Stojilkovic Danijela,Wilhem Dirk. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2020-06-17.

Probe head for flow-through NMR spectroscopy

Номер патента: DE4101473C2. Автор: Martin Hofmann,Manfred Dipl Chem Dr Spraul. Владелец: Bruker Analytische Messtechnik GmbH. Дата публикации: 1994-03-24.

High resolution NMR probe head for small sample volumes and method for operating the same

Номер патента: US7248049B2. Автор: Frank Volke,Martin Benecke. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2007-07-24.

Cooled NMR probe head comprising a device for centering the sample

Номер патента: US6466019B2. Автор: Daniel Marek. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2002-10-15.

Probe head for an NMR spectrometer

Номер патента: DE19844895A1. Автор: Wilfried Hellmuth Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-04-13.

MAS NMR probe head assembly with replaceable stator

Номер патента: DE102017220707B4. Автор: Nicolas Freytag,David Osen,Fabian Kühler. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2019-05-29.

Vacuum container for cooled magnetic resonance probe head

Номер патента: DE102006046888A1. Автор: Nicolas Freytag. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2008-04-17.

Adaptation device for an RF resonant circuit of an NMR probe head

Номер патента: DE102017211401B3. Автор: Daniel Schmidig,Daniel Guy Baumann,Christian Kasper,Roger Meister. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2018-10-18.

NMR probe head with heated housing

Номер патента: GB2434452B. Автор: Daniel Marek,Marco Sacher,Ralf Haueisen. Владелец: BRUKER BIOSPIN MRI GMBH. Дата публикации: 2009-08-12.

Magnetic resonance hyperpolarization and multiple irradiation probe head

Номер патента: EP2726894B1. Автор: Alessandro Macor,Emile De Rijk,Giuseppe Annino,Stefano Alberti. Владелец: Consiglio Nazionale delle Richerche CNR. Дата публикации: 2020-09-16.

Probe card

Номер патента: US20180267084A1. Автор: Wei-Cheng Chen,Chen-Yueh Kung,Wen-Yuan Chang. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2018-09-20.

Probe card

Номер патента: US09678109B2. Автор: Ming-Cheng Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Probe card

Номер патента: US20090219042A1. Автор: Hiroshi Nakayama,Shunsuke Sasaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-03.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: WO2022112479A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-06-02.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: EP4252011A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-04.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: WO2024132831A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices and corresponding space transformer

Номер патента: WO2023227575A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: US20240012028A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-11.

Coordinate measuring device has probe head with probe for mechanical contact of device under test, where probe is moved against base portion of probe head, and motorized drive is mechanically coupled with base portion of probe head

Номер патента: DE102008020250A1. Автор: Roland Roth,Kurt Brenner,Karl Seitz,Walter Dominicus. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2009-10-29.

Food integrity probe head

Номер патента: US20170328770A1. Автор: David Creasey,Thomas Hopkins,Dieter Bingemann. Владелец: Ocean Optics Inc. Дата публикации: 2017-11-16.

Food integrity probe head

Номер патента: WO2017197070A1. Автор: David Creasey,Thomas Hopkins,Dieter Bingemann. Владелец: OCEAN OPTICS, INC.. Дата публикации: 2017-11-16.

Planar probe head and ultrasonic testing device and method for a component

Номер патента: CA2766920C. Автор: Wolfgang Haase,Roman Koch,Walter De Odorico. Владелец: GE Sensing and Inspection Technologies GmbH. Дата публикации: 2017-05-16.

Ultrasonic transducer element package, ultrasonic transducer element chip, probe, probe head, electronic device, ultrasonic diagnostic apparatus, and method for producing ultrasonic transducer element package

Номер патента: US09826961B2. Автор: Yasunori Onishi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Ultrasonic transducer element unit, probe, probe head, electronic device, and ultrasonic diagnostic device

Номер патента: US09468419B2. Автор: Yasunori Onishi,Kanechika Kiyose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Ultrasonic transducer element chip, probe head, probe, electronic instrument, and ultrasonic diagnostic device

Номер патента: US09404959B2. Автор: Masaki Takahashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Probe head and use of a probe head

Номер патента: DE102020135067A1. Автор: Andreas Unger,Andreas Lichtinger,Joos Brell,Dominik Schneider. Владелец: CHEMIN GmbH. Дата публикации: 2022-06-30.

Infrared thermometer with heatable probe head and a combination of a protective cover and a probe head.

Номер патента: HK1042550A1. Автор: Bernhard Kraus,Horst Mannebach,Frank Beerwerth,Alexander Kloes,Elke Kahler. Владелец: Braun GmbH. Дата публикации: 2002-08-16.

Eddy current testing system with scanning probe head having parallel and normal sensing coils

Номер патента: US5483160A. Автор: James A. Gulliver,Christopher C. Holt,Kenneth D. Boness,Martin R. Anderson, deceased. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1996-01-09.

Image sensor testing probe card

Номер патента: US09494617B2. Автор: Wei-Feng Lin,Wen-Jen Ho,Yi-Chang Hsieh,Shih-Duen Lin,Chih-Pin Jen. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Coordinate measuring machine with belt drive guided probe head

Номер патента: EP3128291B1. Автор: Pascal Jordil. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2023-10-04.

Mechanically reconfigurable vertical tester interface for ic probing

Номер патента: WO2006002046A2. Автор: Barbara Vasquez,Benjamin N. Eldridge,Gaetan L. Mathieu,Makarand S. Shinde,Nicholas A. Sporck. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2006-01-05.

Mechanically reconfigurable vertical tester interface for ic probing

Номер патента: WO2006002046A3. Автор: Benjamin N Eldridge,Gaetan L Mathieu,Barbara Vasquez,Makarand S Shinde,Nicholas A Sporck. Владелец: Nicholas A Sporck. Дата публикации: 2006-05-18.

Probe head scanning probe microscope including the same

Номер патента: US20130111635A1. Автор: In-Su Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-05-02.

Ultrasonic transducer element chip, probe head, probe, electronic instrument, and ultrasonic diagnostic device

Номер патента: US20130223184A1. Автор: Masaki Takahashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-08-29.

ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, PROBE HEAD, ULTRASONIC PROBE, ELECTRONIC MACHINE, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20180091235A1. Автор: Matsuda Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-29.

Ceramic probe head for an air data probe

Номер патента: US20210181229A1. Автор: Christopher Sanden,Scott D. Isebrand,Greg Allen Seidel. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2021-06-17.

CALIBRATING AND OPERATING ROTARY DEVICES, IN PARTICULAR FOR ROTATING PROBE HEADS AND/OR PROBES OF COORDINATE MEASURING MACHINES

Номер патента: US20140236520A1. Автор: ENGEL Thomas,SEITZ DOMINIK,Sagemüller Rainer,Holzwarth Fabian. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2014-08-21.

Optical angular position sensor for e.g. drive shaft of engine block of e.g. formula-1 vehicle, has optical fibers mounted in cylinder constituting probe body and extending in direction of probe head by cylinder terminated by beveled end

Номер патента: FR2876181A1. Автор: Pierre Jean Thevon. Владелец: OPTEL THEVON SA. Дата публикации: 2006-04-07.

Ceramic probe head for an air data probe with and embedded heater

Номер патента: US11237183B2. Автор: Christopher Sanden,Scott D. Isebrand,Greg Allen Seidel. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2022-02-01.

ARRANGEMENT FOR INSERTING AND REMOVING A PROBE HEAD OF A PROBE INTO AND FROM A PROCESS ROOM

Номер патента: DE102018113583B4. Автор: Harri Salo. Владелец: Vaisala Oy. Дата публикации: 2022-02-24.

COORDINATE PROBING HEAD FOR PROBING MULTIPLE DIMENSIONED PIECES

Номер патента: IT7969470D0. Автор: Horst Donat. Владелец: Jenoptik Jena GmbH. Дата публикации: 1979-12-24.

Electronic water level measurement probe comprises tubular body with centrally positioned electrode and oscillator placed in probe head

Номер патента: NL1024927C1. Автор: Johannes Wijnandus Mar Bodewes. Владелец: Johannes Wijnandus Mar Bodewes. Дата публикации: 2005-06-06.

Imageing sensor, attitude detector, contact probe head and many sensor probes

Номер патента: CN103292686B. Автор: 日高和彦,石川修弘. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-03-01.

Copper foil thickness measuring probe and probe head thereof

Номер патента: CN115507735A. Автор: 刘冬,李强,曾庆熙. Владелец: Shandong Tianhou New Material Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-23.

Ultrasonic transducer element unit, probe, probe head, electronic device, and ultrasonic diagnostic device

Номер патента: EP2674227A2. Автор: Yasunori Onishi,Kanechika Kiyose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-12-18.

Ultrasonic transducer element unit, probe, probe head, electronic device, and ultrasonic diagnostic device

Номер патента: EP2674227A3. Автор: Yasunori Onishi,Kanechika Kiyose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-06-14.

Measuring machine probe head with inductive transducers - has interchangeable probe moving in three axes and is fitted with pneumatic zeroing system

Номер патента: DE2535249A1. Автор: Enno Wilken. Владелец: Vereinigte Flugtechnische Werke Fokker GmbH. Дата публикации: 1977-02-24.

probe that has a probe head in which an opening is formed to receive a sample to be analyzed

Номер патента: BR112012012866A2. Автор: Christian Born. Владелец: FOSS ANALYTICAL A/S. Дата публикации: 2020-07-21.

Ultrasonic diagnostic apparatus, probe head, ultrasonic probe, electronic machine, and ultrasonic diagnostic apparatus

Номер патента: US20180091235A1. Автор: Hiroshi Matsuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

System to detect corrosion induced by microbiological attack, at submerged offshore carbon steel installations, comprises use of probe attached to structure as cathode with anode at probe head to monitor current behavior between them

Номер патента: FR2862757A1. Автор: Catherine Cotiche. Владелец: CFG SERVICES. Дата публикации: 2005-05-27.

PROBE HEAD AND APPARATUS FOR INTRAORAL CONFOCAL IMAGING USING POLARIZATION-RETARDING COATINGS

Номер патента: US20170252132A1. Автор: Atiya Yossef,Verker Tal. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-07.

Probing head for co-ordinate measuring devices

Номер патента: EP1478898A1. Автор: Kurt Brenner,Eckhard Enderle. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2004-11-24.

Calibration of an articulating probe head for a coordinating positioning machine

Номер патента: GB9517214D0. Автор: . Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 1995-10-25.

Probe head for a coordinate measuring machine for determining spatial coordinates on a measurement object

Номер патента: US20130055832A1. Автор: Kurt Brenner,Walter Jenisch. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2013-03-07.

SCARA STRUCTURED COORDINATE MEASURING MACHINE WITH BELT DRIVE GUIDED PROBE HEAD

Номер патента: US20170038189A1. Автор: JORDIL Pascal. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-02-09.

REPLACEABLE PROBE HEAD

Номер патента: US20140130621A1. Автор: PALASSIS Christopher J.,James Michael T.. Владелец: YSI INCORPORATED. Дата публикации: 2014-05-15.

ROTARY PROBE HEAD

Номер патента: US20170059296A1. Автор: Pharand Michel,Chang Patrick S.,ROSA Matthew David,MARQUEZ Johnathan A.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

PROBE HEAD ROTATING MECHANISM

Номер патента: US20170059297A1. Автор: OHTA Hitoshi,MATSUMIYA Sadayuki,OOYAMA Yoshikazu,KUSAMA Hayato. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2017-03-02.

PROBE HEAD FOR A COORDINATE MEASURING MACHINE

Номер патента: US20170138718A1. Автор: RUCK Otto,Mueller Peter. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

Eddy Current Tester in Probe Head

Номер патента: US20180164251A1. Автор: Hand David A.,Coradi Michael D.. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-14.

ARTICULATING PROBE HEAD FOR MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20170167843A1. Автор: ANTREASYAN Dikran,DEMIERRE Laurent. Владелец: TESA SA. Дата публикации: 2017-06-15.

MEASURING PROBE HEAD

Номер патента: US20200182700A1. Автор: Seifert René,Kiener Christoph,Reznik Daniel,Krausz Ivo,SADOVOY Alexandr,SCHULZ Frank,Farahbod-Sternahl Lena,Klemke Thomas,Söl Rüstü,Rudolphi Angelo. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2020-06-11.

ARTICULATING PROBE HEAD FOR MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20200191541A1. Автор: ANTREASYAN Dikran,DEMIERRE Laurent. Владелец: TESA SA. Дата публикации: 2020-06-18.

PROBE HEAD OF THREE-DIMENSIONAL COORDINATE MEASURING DEVICE AND TOUCH DETECTION METHOD

Номер патента: US20170227345A1. Автор: SAKAI Hisayoshi. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-10.

MICROFLUIDIC PROBE HEAD FOR PROVIDING A SEQUENCE OF SEPARATE LIQUID VOLUMES SEPARATED BY SPACERS

Номер патента: US20160236194A1. Автор: Delamarche Emmanuel,Kaigala Govind,AUTEBERT Julien,VAN KOOTEN Xander Frank,Kashyap Aditya. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-18.

MICROFLUIDIC PROBE HEAD FOR PROCESSING A SEQUENCE OF LIQUID VOLUMES SEPARATED BY SPACERS

Номер патента: US20160243549A1. Автор: Delamarche Emmanuel,Kaigala Govind,AUTEBERT Julien,VAN KOOTEN Xander Frank. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-25.

MICROFLUIDIC PROBE HEAD FOR PROCESSING A SEQUENCE OF LIQUID VOLUMES SEPARATED BY SPACERS

Номер патента: US20200230599A1. Автор: Delamarche Emmanuel,Kaigala Govind,AUTEBERT Julien,VAN KOOTEN Xander Frank. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

FOOD INTEGRITY PROBE HEAD

Номер патента: US20170328770A1. Автор: Creasey David,Hopkins Thomas,BINGEMANN DIETER. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

MICROFLUIDIC PROBE HEAD FOR PROVIDING A SEQUENCE OF SEPARATE LIQUID VOLUMES SEPARATED BY SPACERS

Номер патента: US20190344268A1. Автор: Delamarche Emmanuel,Kaigala Govind,AUTEBERT Julien,VAN KOOTEN Xander Frank,Kashyap Aditya. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Probe head system for gear testing apparatus

Номер патента: KR101640427B1. Автор: 이종대,김명수,윤인식,김희재. Владелец: 기어테크 주식회사. Дата публикации: 2016-08-09.

Probe head manufacturing method

Номер патента: JP4425270B2. Автор: 正喜 江刺,宏和 高橋,崇人 小野. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2010-03-03.

PROBE HEAD FOR VERIFICATION OF LINEAR DIMENSIONS

Номер патента: FR2534682B1. Автор: Guido Golinelli,Carlo Dall Aglio. Владелец: Finike Italiana Marposs SpA. Дата публикации: 1987-01-09.

Precision electric probe head

Номер патента: FR1075852A. Автор: . Владелец: Manufacture de Machines du Haut Rhin SA MANURHIN. Дата публикации: 1954-10-20.

PROBE HEAD FOR MEASURING DEVICES

Номер патента: IT1175429B. Автор: Otto Klingler. Владелец: Mauser Werke Oberndorf. Дата публикации: 1987-07-01.

Ear thermometer with rotating-type probing head

Номер патента: TW437956U. Автор: Shau-Yu Peng. Владелец: Peng Shau Yu. Дата публикации: 2001-05-28.

Eddy current tester in probe head

Номер патента: CA2988544A1. Автор: David A. Hand,Michael D. Coradi. Владелец: CORESTAR INTERNATIONAL Corp. Дата публикации: 2018-06-13.

Probe head

Номер патента: DE102017208645A1. Автор: Christoph Kiener,Alexandr Sadovoy,Ivo KRAUSZ,Daniel Reznik,Lena Farahbod,Thomas Klemke,Angelo Rudolphi,Frank Schulz,Rene Seifert,Rüstü Söl. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-11-22.

Planar probe head and ultrasonic testing device and method for a component

Номер патента: CA2766920A1. Автор: Wolfgang Haase,Roman Koch,Walter De Odorico. Владелец: GE Sensing and Inspection Technologies GmbH. Дата публикации: 2010-06-03.

Three-dimensional coordinate measuring instrument probe head and contact detection method

Номер патента: JP2017142161A. Автор: Hisayoshi Sakai,久嘉 境,境　久嘉. Владелец: Mitsutoyo Kiko Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-17.

DYNAMIC PROBE HEAD

Номер патента: DE3234851A1. Автор: Kurt 7500 Karlsruhe Linder. Владелец: Mauser Werke Oberndorf GmbH. Дата публикации: 1984-03-22.

Coordinate measuring machine having a probe-head and electronic circuit for processing the touch signals

Номер патента: EP0643280B1. Автор: Eugen Aubele,Karl-Eugen Aubele,Anton Fuchs,Rudi Kern,Rudolf Rögele,Walter Puntigam. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1997-10-01.

Probe head

Номер патента: JP2994422B2. Автор: ロバーツ マクマートリィ デイビッド,ベルナード ジャーマン トーマス,ジェームス ベネット シモン,ランスロット チェス ジェームス. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 1999-12-27.

Probe head, in particular for coordinate measuring machines

Номер патента: DE2801656B2. Автор: David Roberts Wotton- Under-Edge Gloucestershire Mcmurtry (Grossbritannien). Владелец: RENISHAW ELECTRICAL Ltd WOTTON-UNDER-EDGE GLOUCESTERSHIRE. Дата публикации: 1979-07-26.

Articulating probe head for measuring system

Номер патента: US11204229B2. Автор: Dikran ANTREASYAN,Laurent DEMIERRE. Владелец: TESA SARL. Дата публикации: 2021-12-21.

PROBING HEAD

Номер патента: FR2303267A1. Автор: . Владелец: C Stiefelmayer GmbH and Co KG. Дата публикации: 1976-10-01.

Free-space coupling between laser, optical probe head, and spectrometer assemblies and other optical elements

Номер патента: WO2006036434A2. Автор: Yu Shen,Daryoosh Vakhshoori,Peili Chen,Masud Azimi,Peidong Wang,Kevin J. Knopp,Christopher D. Brown,Gregory H. Vander Rhodes,Leyun Zhu. Владелец: Ahura Corporation. Дата публикации: 2006-04-06.

Ultrasonic inclined probe head and method of operating same

Номер патента: EP0818679A2. Автор: Frank Bonitz. Владелец: Brown Boveri Reaktor GmbH. Дата публикации: 1998-01-14.

Probe Head

Номер патента: EP1619463A1. Автор: Reinhold Schopf. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2006-01-25.

PROBE HEAD FOR MEASURING APPARATUS

Номер патента: FR2562234B1. Автор: Otto Klingler,Kurt Linder. Владелец: Mauser Werke Oberndorf GmbH. Дата публикации: 1987-01-30.

Microfluidic probe head for processing arrays of liquid volumes separated by spacers

Номер патента: JP6796067B2. Автор: デラマルシェ、エマニュエル,オーテバート、ジュリアン,カイガーラ、ゴヴィンド,ヴァン、クーテン、ザンダー、フランク. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Planar Probe Head and Ultrasonic Testing Device and Method for a Component

Номер патента: US20110283799A1. Автор: Wolfgang Haase,Roman Heinrich Koch,Walter Franz De Odorico. Владелец: Walter Franz De Odorico. Дата публикации: 2011-11-24.

Straight rod type total temperature probe head based on thermal resistor

Номер патента: CN108896198B. Автор: 马宏伟,施磊. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-09-04.

Microfluidic probe head for providing a sequence of separate liquid volumes separated by spacers

Номер патента: US10549276B2. Автор: Emmanuel Delamarche,Xander Frank VAN KOOTEN,Govind Kaigala,Aditya Kashyap,Julien Autebert. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-02-04.

Probe head manufacturing method

Номер патента: WO2005119204A1. Автор: Hirokazu Takahashi,Masayoshi Esashi,Takahito Ono. Владелец: PIONEER CORPORATION. Дата публикации: 2005-12-15.

Planar probe head and ultrasonic testing device and method for a component

Номер патента: US8650959B2. Автор: Wolfgang Haase,Roman Heinrich Koch,Walter Franz De Odorico. Владелец: GE Sensing and Inspection Technologies GmbH. Дата публикации: 2014-02-18.

DEVICE FOR THE ON-LINE MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF A CONTINUOUS INDUSTRIAL SHEET, BASED ON TWO PROBING HEADS OPPOSED WITHOUT DIRECT CONTACT BY MEANS OF AIR CUSHIONS, OPERATED BY A GRAVIMETRIC TYPE INVARIANT PUSH

Номер патента: IT1269734B. Автор: Marziano Sgro'. Владелец: Aeonic Syst Italia Srl. Дата публикации: 1997-04-15.

PROBE HEAD FOR COORDINATE MEASURING DEVICES

Номер патента: DE3215878A1. Автор: Klaus Ing.(Grad.) 7082 Oberkochen Herzog,Franz Ing.(grad.) 7923 Königsbronn Szenger,Walter Dr. 7923 Königsbronn Werner. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1983-11-03.

Probe head and apparatus for intraoral confocal imaging

Номер патента: WO2016009294A1. Автор: Yossef Atiya,Tal VERKER. Владелец: Align Technology, Inc.. Дата публикации: 2016-01-21.

A kind of spark detection testing probe head performance device and method

Номер патента: CN109307552A. Автор: 王健,王娜娜,郭龙龙,苗楠,林卫波,李新光,钟明君,钟圣俊,蒋光宇. Владелец: Huile Insford Institute Of Environmental Protection And Safety (suzhou) Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-05.

PROBE HEAD FOR MEASURING APPARATUS

Номер патента: FR2562234A1. Автор: Otto Klingler,Kurt Linder. Владелец: Mauser Werke Oberndorf GmbH. Дата публикации: 1985-10-04.

Spark detector testing probe head performance method

Номер патента: CN110375858A. Автор: 程琰,郑凌杰. Владелец: Zhejiang Ou Kang Electronic Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-25.

Probe head and apparatus for intraoral confocal imaging

Номер патента: EP3169269B1. Автор: Yossef Atiya,Tal VERKER. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2020-01-15.

PROBE HEAD FOR CONTROLLING LINEAR DIMENSIONS.

Номер патента: DE69102035T2. Автор: Franco Danielli,Mario Possati,Aglio Carlo Dall. Владелец: Marposs Spa. Дата публикации: 1994-09-01.

Contacting temp. probe head with contact surface

Номер патента: DE19638117A1. Автор: David Wooten,Jianou Shi,Bruce Krein. Владелец: Fusion Systems Corp. Дата публикации: 1997-03-27.

DEVICE FOR IN-LINE MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF A CONTINUOUS INDUSTRIAL SHEET BASED ON TWO PROBING HEADS OPPOSED WITHOUT DIRECT CONTACT BY MEANS OF AIR CUSHIONS OPERATED BY A GRAVIMETRIC-TYPE INVARIANT PUSH

Номер патента: ITMI940915D0. Автор: Marziano Sgro'. Владелец: Aeonic Syst Italia Srl. Дата публикации: 1994-05-10.

Microfluidic probe head for providing a sequence of separate liquid volumes separated by spacers

Номер патента: GB201713688D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-11.

Probe head

Номер патента: EP0392699A3. Автор: David Roberts Mcmurtry,Thomas Bernard Jarman,Simon James Bennett. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 1991-03-13.

Method of error compensation in a coordinate measuring machine with an articulating probe head

Номер патента: EP1687589B1. Автор: David Roberts Mcmurtry,Kevyn Barry Jonas,Geoff McFarland. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2012-09-05.

Connecting plurality of probe heads to measurement arm of machine

Номер патента: GB8723286D0. Автор: . Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1987-11-11.

Probe card structure

Номер патента: US20230025864A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Fine pitch interface for probe card

Номер патента: US20140091825A1. Автор: Ka Ng Chui. Владелец: Corad Tech Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Planarizing probe card

Номер патента: WO2009075681A1. Автор: Raffi Garabedian,Ken Karklin. Владелец: TOUCHDOWN TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2009-06-18.

Connecting device for inspection

Номер патента: US11762008B2. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Ultrasound probe head comprising an imaging transducer with a shielding element

Номер патента: US09687682B2. Автор: François Lacoste. Владелец: Theraclion SA. Дата публикации: 2017-06-27.

Probe card for testing wafers with fine pitch circuit

Номер патента: US09970961B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Probe card for testing wafers

Номер патента: US09423423B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US11874313B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20220170961A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Test fixture including deflectable probes

Номер патента: US4633176A. Автор: William A. Reimer. Владелец: GTE Communication Systems Corp. Дата публикации: 1986-12-30.

Mechanically reconfigurable vertical tester interface for ic probing

Номер патента: EP1779471A2. Автор: Barbara Vasquez,Benjamin N. Eldridge,Gaetan L. Mathieu,Makarand S. Shinde,Nicholas A. Sporck. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2007-05-02.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: SG11201909342TA. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-11-28.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: MY200160A. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-09.

Probe cards, dut side modules of the probe cards, testing methods and systems that include the probe cards, tested devices and methods of producing tested devices by utilizing the probe cards

Номер патента: US20240241155A1. Автор: Che-Wei Lin,Sheng-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsueh-Chih Wu,Shu-Jui Chang,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Sheng-Yu Lin,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20200057095A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-02-20.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20220099703A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-03-31.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: PH12019502351A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-12-07.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: EP3615949A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-03-04.

Probe card structure

Номер патента: US11879913B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xinzhuo Technology Zhejiang Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

An amplitude-modulating probe card and its probe and amplitude-modulating structure

Номер патента: US20230384348A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Connecting device for inspection

Номер патента: US20220221502A1. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-14.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240118316A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Probe card testing device and testing device

Номер патента: US20200088764A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Planarizing interposer

Номер патента: EP1364221A4. Автор: Alexander Brandorff,William P Pardee. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2005-11-09.

Planarizing interposer

Номер патента: WO2002061442A1. Автор: Alexander Brandorff,William P. Pardee. Владелец: Wentworth Laboratories, Inc.. Дата публикации: 2002-08-08.

Probe card

Номер патента: US20230160926A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US11782075B2. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-10.

Multiple lead analog voltage probe with high signal integrity over a wide band width

Номер патента: US5625299A. Автор: Thomas F. Uhling,David J. Dascher,Keith C. Griggs. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1997-04-29.

Flexible microcircuit space transformer assembly

Номер патента: WO2005091916B1. Автор: Francis T Mcquade,Dean C Mazza,Salvatore Sanzari,Jeff P Ritell. Владелец: Wentworth Lab Inc. Дата публикации: 2008-01-10.

Flexible microcircuit space transformer assembly

Номер патента: MY138645A. Автор: Francis T Mcquade,Dean C Mazza,Salvatore Sanzari,Jeff P Ritell. Владелец: Wentworth Lab Inc. Дата публикации: 2009-07-31.

Stiffener plate for a probecard and method

Номер патента: US20130285690A1. Автор: John Andberg. Владелец: Advantest Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-10-31.

Circuit board for semiconductor test

Номер патента: US11852679B2. Автор: Shih-Ching Chen,Jun-Liang Lai,Shung-Bo Lin,Ta-Cheng Liao,Yu-Chih HSIAO,Kun-Han Hsieh. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe structure

Номер патента: US10514390B2. Автор: Chih-Peng HSIEH,Kai Chieh Hsieh,Wen Tsung LI. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-24.

Probe structure

Номер патента: US20180017593A1. Автор: Chih-Peng HSIEH,Kai Chieh Hsieh,Wen Tsung LI. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-18.

Method, system and probe for measuring and visualizing values of an electromagnetic parameter of a pcb

Номер патента: EP4296691A1. Автор: Gerd Bresser. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-27.

Probe tip formation for die sort and test

Номер патента: US09823273B2. Автор: Todd P. Albertson,Keith J. Martin,Kip P. Stevenson,Kamil S. Salloum. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Device and method of measuring properties of target

Номер патента: FI131113B1. Автор: Jussi Pukki. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2024-10-09.

Constant force ultrasound probe handle

Номер патента: US20230016204A1. Автор: Daniel R. STURNICK. Владелец: New York Society For Relief Of Ruptured And Cripped Maintaining Hospital For Special Su. Дата публикации: 2023-01-19.

Test instrument for testing charge storage devices

Номер патента: US09714983B2. Автор: Ian W. Hunter,Dean Ljubicic,Grant W. Kristofek. Владелец: Nucleus Scientific Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Electrical probe

Номер патента: US10712366B2. Автор: Chuan-Tse LIN,Hsu-Chang HSU,Kuo-Yen HSU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Electrical probe

Номер патента: US20190195911A1. Автор: Chuan-Tse LIN,Hsu-Chang HSU,Kuo-Yen HSU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2019-06-27.

Connecting device for inspection

Номер патента: US11899054B2. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Electrical connecting device and inspection method

Номер патента: US20210318354A1. Автор: Shota HETSUGI. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Electrical connecting device and inspection method

Номер патента: EP3893005A1. Автор: Shota HETSUGI. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Resistive probe tips

Номер патента: WO2005060719A3. Автор: Julie A Campbell,Lawrence W Jacobs. Владелец: Lawrence W Jacobs. Дата публикации: 2006-03-16.

Resistive probe tips

Номер патента: US20050134298A1. Автор: Julie Campbell,Lawrence Jacobs. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2005-06-23.

Electrical connecting device and inspection method

Номер патента: US11709182B2. Автор: Shota HETSUGI. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Method, system and probe for measuring and visualizing values of an electromagnetic parameter of a pcb

Номер патента: US20230417821A1. Автор: Gerd Bresser. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-28.

Double side probing of semiconductor devices

Номер патента: US7145353B2. Автор: John J. Fitzpatrick,Jeremy Hope,Adrian R. Overall. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2006-12-05.

Double side probing of semiconductor devices

Номер патента: US20050225339A1. Автор: John Fitzpatrick,Jeremy Hope,Adrian Overall. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2005-10-13.

Double side probing of semiconductor devices

Номер патента: WO2005098460A3. Автор: Jeremy Hope,Adrian R Overall,John J Fitzpatrick. Владелец: Wentworth Lab Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Probe card, apparatus and method for detecting contact force of probe card

Номер патента: US12055563B2. Автор: Yu-Hsien Tsai,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Te-Kun Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Automatic mercury probe for use with a semiconductor wafer

Номер патента: US7253649B1. Автор: James T. Chen. Владелец: Four Dimensions Inc. Дата публикации: 2007-08-07.

Measurement probe unit for metrology applications

Номер патента: US20180172442A1. Автор: Frank Thys. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-06-21.

Die design with integrated assembly aid

Номер патента: MY137372A. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Lab Inc. Дата публикации: 2009-01-30.

Device and method of measuring properties of target

Номер патента: WO2024074757A1. Автор: Jussi Pukki. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2024-04-11.

Device and method of measuring properties of target

Номер патента: FI20225896A1. Автор: Jussi Pukki. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2024-04-06.

Cap at resistors of electrical test probe

Номер патента: US7525328B2. Автор: Lawrence W. Jacobs,Julie A. Campbell. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2009-04-28.

Cap at resistors of electrical test probe

Номер патента: US20050168230A1. Автор: Julie Campbell,Lawrence Jacobs. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2005-08-04.

Method for achieving the measuring slip of membrane probes

Номер патента: US20230168280A1. Автор: Haichao Yu,Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Electrical test probe flexible spring tip

Номер патента: US20020052155A1. Автор: Julie Campbell,Lawrence Jacobs. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2002-05-02.

Double side probing of semiconductor devices

Номер патента: WO2005098460B1. Автор: Jeremy Hope,Adrian R Overall,John J Fitzpatrick. Владелец: Wentworth Lab Inc. Дата публикации: 2006-11-30.

Ground Reference Lead

Номер патента: US20240151745A1. Автор: Michael Engels,Kai Klein,Mark Heimann,Peter Hildenhagen,Thomas Podrebersek,Philipp Palffy-Daun-Seiler,Nadja Laaperi,Jurij Weber. Владелец: Pmk Mess und Kommunikationstechnik GmbH. Дата публикации: 2024-05-09.

Cap at resistors of electrical test probe

Номер патента: US20070273360A1. Автор: Julie Campbell,Lawrence Jacobs. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2007-11-29.

Sliding rail type probe

Номер патента: US09970960B2. Автор: Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Resistive probing tip system for logic analyzer probing systems

Номер патента: EP2375257A3. Автор: Richard A. Booman,Bruce C. Tollbom,Neil C. Clayton. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2014-08-20.

Test arrangement for testing high-frequency components, particularly silicon photonics devices under test

Номер патента: US11782072B2. Автор: Zhan Zhang,Jose Moreira,Paolo Mazzucchelli,Hubert WERKMANN,Fabio Pizza. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Test arrangement for testing high-frequency components, particularly silicon photonics devices under test

Номер патента: US20210302470A1. Автор: Zhan Zhang,Jose Moreira,Paolo Mazzucchelli,Hubert WERKMANN,Fabio Pizza. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

신호접속용 텐션 와이어 컨텍 프로브 헤드

Номер патента: KR20130016661A. Автор: 곽태성,이정신. Владелец: 주식회사 켐엘지. Дата публикации: 2013-02-18.

신호접속용 도금 링 형 컨텍 프로브 헤드

Номер патента: KR20130016662A. Автор: 곽태성,이정신. Владелец: (주) 현암바씨스. Дата публикации: 2013-02-18.

Probe Head-Cover Applicator and Method Thereof

Номер патента: US20230070576A1. Автор: Glade H. Howell. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Probe head-cover applicator and method thereof

Номер патента: US11759170B2. Автор: Glade H. Howell. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Method for assembling rigid probe heads

Номер патента: RU2753495C1. Автор: Алексей Алексеевич Лопухин,Владимир Михайлович Акимов,Илья Владимирович Ефимов,Никита Александрович Иродов. Владелец: Акционерное общество "НПО "Орион". Дата публикации: 2021-08-17.

Multilayer microfluidic probe head with immersion channels and fabrication thereof

Номер патента: GB201308835D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-07-03.

Multilayer microfluidic probe head with immersion channels and fabrication thereof

Номер патента: US09745949B2. Автор: Emmanuel Delamarche,Robert Lovchik,Govind Kaigala. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Microfluidic probe head with aspiration posts

Номер патента: WO2019150189A8. Автор: David P. Taylor,Robert Lovchik,Govind V. Kaigala,Itay Barak,Yochanan Uri,Marcel Buerge. Владелец: BIO-RAD EUROPE GMBH. Дата публикации: 2020-09-17.

Probe Head-Cover Applicator and Method Thereof

Номер патента: US20210059639A1. Автор: Glade H. Howell. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

Method for manufacturing rigid probe heads

Номер патента: RU2730888C1. Автор: Лариса Александровна Васильева,Алексей Алексеевич Лопухин,Владимир Михайлович Акимов,Илья Владимирович Ефимов,Никита Александрович Иродов. Владелец: Акционерное общество "НПО "Орион". Дата публикации: 2020-08-26.

Support and cover structures for an ultrasound probe head

Номер патента: US11998386B2. Автор: Eric W. Lindekugel,Eddie K. Burnside,Amir Orome,Jeremy B. Cox,Christian W. Crook,Daniel B. Blanchard,Jeanette E. Southard,Kevin W. Stinger. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Microfluidic probe head with barrier projections

Номер патента: US12011714B2. Автор: David P. Taylor,Laurent Guillon,Robert Lovchik,Govind V. Kaigala,Emilie Frisan,Claudia I. Trainito. Владелец: Bio Rad Europe GmbH. Дата публикации: 2024-06-18.

RF power probe head with a thermally conductive bushing

Номер патента: US6559650B2. Автор: David J. Coumou. Владелец: Eni Technology Inc. Дата публикации: 2003-05-06.

ULTRASONIC PROBE AND PROBE HEAD FOR ULTRASONIC PROBE

Номер патента: US20190307422A1. Автор: MAKITA Yasuhisa,OKADA Kengo. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2019-10-10.

Ultrasonic probes and probe heads for ultrasonic probes

Номер патента: JP7223594B2. Автор: 裕久 牧田,健吾 岡田. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

ULTRASONIC DEVICE, ULTRASONIC PROBE HEAD, ULTRASONIC PROBE, ELECTRONIC APPARATUS, ULTRASONIC IMAGING APPARATUS, AND METHOD FOR MANUFACTURING ULTRASONIC DEVICE

Номер патента: US20150112201A1. Автор: NAKANISHI Daisuke,YOSHIDA Kazuki,ONISHI Yasunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

ULTRASONIC DEVICE, ULTRASONIC PROBE HEAD, ULTRASONIC PROBE, ELECTRONIC APPARATUS, AND ULTRASONIC IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20150119717A1. Автор: YOSHIDA Kazuki,Suzuki Hironori,ONISHI Yasunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

Probe Head of Visual Inspection Image Sensor Probe For Tube Sheet Of The Steam Generator Secondary Side

Номер патента: KR102057630B1. Автор: 박준수,김세규,하만정. Владелец: 주식회사 무진에이앤엘. Дата публикации: 2019-12-19.

PROTECTIVE DEVICE FOR TOUCH-FREE, IN PARTICULAR OPTICAL PROBE HEAD AND OPERATING METHOD

Номер патента: US20130258472A1. Автор: Ritzl Hans. Владелец: SmartRay GmbH. Дата публикации: 2013-10-03.

PROBE HEAD AND APPARATUS FOR INTRAORAL CONFOCAL IMAGING

Номер патента: US20160015489A1. Автор: Atiya Yossef,Verker Tal. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

Support and cover structures for an ultrasound probe head

Номер патента: US10639008B2. Автор: Eric W. Lindekugel,Eddie K. Burnside,Amir Orome,Jeremy B. Cox,Christian W. Crook,Daniel B. Blanchard,Jeanette E. Southard,Kevin W. Stinger. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2020-05-05.

SUPPORT FOR MEASUREMENT DETECTOR, PROBING HEAD, OR OTHER SIMILAR BODY

Номер патента: FR2349892A1. Автор: . Владелец: Boewe Boehler and Weber KG. Дата публикации: 1977-11-25.

Probe head and method of fabricating the same

Номер патента: EP1691349A3. Автор: Yong-su Kim,Yun-woo 812-1706 Sinjeong Maeul Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-09-24.

Probe head and method of fabricating the same

Номер патента: CN100578630C. Автор: 金庸洙,南润宇. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-01-06.

Vertical probe card

Номер патента: US20190250190A1. Автор: Kai Liu,Yuanjun Shi. Владелец: Twinsolution Technology (suzhou) Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Spray cooling thermal management system and method for semiconductor probing, diagnostics, and failure analysis

Номер патента: US20090173476A1. Автор: Jonathan D. Frank,Tahir Cader,Thomas Wong,Charles Lester Tilton,Benjamin Hewett Tolman,George Joseph Wos,Alan Brent Roberts. Владелец: DCG Systems Inc. Дата публикации: 2009-07-09.

Multi-site concurrent wafer probe magnetic circuit testing

Номер патента: US20240219425A1. Автор: Dok Won Lee,Xinkun Huang,Roy Deidrick Solomon,Christopher Michael Ledbetter,Bret Alan Dahl. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Universal direct docking at probe test

Номер патента: US09903885B1. Автор: Morris R. Fox,Paras P. Shah,Eric G. Anusevicius,Ricardo C. Pakingan,Reinhardt B. Gatchalian. Владелец: Maxim Integrated Products Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Spray cooling thermal management system and method for semiconductor probing, diagnostics, and failure analysis

Номер патента: US20050275419A1. Автор: Tahir Cader,Thomas Wong,Alan Roberts,Jonathan Frank,Charles Tilton,George Wos,Benjamin Tolman. Владелец: Credence Systems Corp. Дата публикации: 2005-12-15.

Multi-site concurrent wafer probe magnetic circuit testing

Номер патента: US11927604B2. Автор: Dok Won Lee,Xinkun Huang,Roy Deidrick Solomon,Christopher Michael Ledbetter,Bret Alan Dahl. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Spray cooling thermal management system and method for semiconductor probing, diagnostics, and failure analysis

Номер патента: US20120007623A1. Автор: Jonathan D. Frank,Tahir Cader,Thomas Wong,Charles Lester Tilton,Benjamin Hewett Tolman,George Joseph Wos,Alan Brent Roberts. Владелец: DCG Systems Inc. Дата публикации: 2012-01-12.

Legs for forming a tripod with an electrical test probe tip

Номер патента: WO2002010777A1. Автор: Julie A. Campbell. Владелец: LeCroy Corporation. Дата публикации: 2002-02-07.

Apparatus and method for testing semiconductor devices

Номер патента: MY126215A. Автор: TSUI Ching Man,CHOW Lap Kei,Ho Hui Fai,Ngo Cam Nguyen Ronald. Владелец: ASM Assembly Automation Ltd. Дата публикации: 2006-09-29.

Support and cover structures for an ultrasound probe head

Номер патента: WO2012021542A3. Автор: Eric W. Lindekugel,Eddie K. Burnside,Jeremy B. Cox,Christian W. Crook,Daniel B. Blanchard,Jeanette E. Southard,Kevin W. Stinger. Владелец: C.R. BARD, INC.. Дата публикации: 2013-05-23.

Ultrasonic transducer device, probe head, ultrasonic probe, electronic machine and ultrasonic diagnostic apparatus

Номер патента: US09508916B2. Автор: Tomoaki Nakamura,Yasunori Onishi,Kazuki Yoshida,Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Ground probe pipe connection piece for a modular ground probe of a geothermal system, ground probe base, ground probe head and ground probe for a geothermal system

Номер патента: EP2716996A2. Автор: Jürgen Rudolf. Владелец: Uponor Innovation Ab. Дата публикации: 2014-04-09.

Ultrasonic wave oscillating element, ultrasonic wave probe head, manufacturing method for the ultrasonic wave probe head, and ultrasonic wave diagnostic device

Номер патента: JP2002112397A. Автор: Shuji Hiranuma,修二 平沼,Takanobu Sawai,隆信 澤居. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-04-12.

Multilayer microfluidic probe head with immersion channels and fabrication thereof

Номер патента: TW201233443A. Автор: Emmanuel Delamarche,Robert Lovchik,Govind Kaigala. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2012-08-16.

ULTRASONIC TRANSDUCER ELEMENT PACKAGE, ULTRASONIC TRANSDUCER ELEMENT CHIP, PROBE, PROBE HEAD, ELECTRONIC DEVICE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, AND METHOD FOR PRODUCING ULTRASONIC TRANSDUCER ELEMENT PACKAGE

Номер патента: US20130338502A1. Автор: ONISHI Yasunori. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

ULTRASONIC TRANSDUCER DEVICE, PROBE HEAD, ULTRASONIC PROBE, ELECTRONIC MACHINE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20140103781A1. Автор: YOSHIDA Kazuki,NAKAMURA Tomoaki,ONISHI Yasunori,ENDO Kogo. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-17.

ULTRASONIC TRANSDUCER DEVICE, PROBE HEAD, ULTRASONIC PROBE, ELECTRONIC MACHINE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20160329482A1. Автор: YOSHIDA Kazuki,NAKAMURA Tomoaki,ONISHI Yasunori,ENDO Kogo. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-10.

Plasma density measurement device for determining electron density of plasma, particularly low pressure plasma has electrode areas of opposing polarities that are provided on surface of probe core of probe head

Номер патента: DE102006014106B3. Автор: Ralf-Peter Prof. Brinkmann,Jörg Prof. Winter. Владелец: Ruhr Universitaet Bochum. Дата публикации: 2007-08-30.

FILMED ULTRASONIC PROBE WITH DIAMOND PROBE HEAD FOR ULTRASONIC ANGIOPLASTY

Номер патента: FR2747909B1. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-12-11.

Cryosurgical instrument for obtaining a tissue sample, method for chilling a probe head of a cryosurgical probe

Номер патента: CN102083381A. Автор: 克劳斯·菲舍尔,马蒂亚斯·福格特伦德,拉尔斯·布洛贝尔,丹尼尔·舍勒,马拉·希拉赫,伊尔玛·西格勒,马库斯·恩德勒. Владелец: Erbe Elecktromedizin GmbH. Дата публикации: 2011-06-01.

Flexible ultrasonic probe head, ultrasonic probe, and ultrasonic diagnostic device

Номер патента: WO2022210851A1. Автор: 学 西脇,真理 酒井. Владелец: 国立大学法人山形大学. Дата публикации: 2022-10-06.

ULTRASONIC TRANSDUCER ELEMENT UNIT, PROBE, PROBE HEAD, ELECTRONIC DEVICE, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE

Номер патента: US20130338507A1. Автор: KIYOSE Kanechika,ONISHI Yasunori. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, PROBE HEAD, ULTRASONIC PROBE, ELECTRONIC MACHINE, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20140104989A1. Автор: Matsuda Hiroshi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-17.

Dental diagnose device for non-invasive depth diagnostic of dental structures for course control of dental treatments for patient, has probe head for introducing into space of patient, and ultrasound unit and optical unit arranged in head

Номер патента: DE102010040832A1. Автор: Dr.-Ing. Specht Olaf,Prof. Dr.-Ing. habil. Behrend Detlef,Dr.-Ing. Schmidt Wolfram,Dipl.-Biol. Warkentin Mareike,Prof. Dr. med. dent. Ottl Peter,Prof. Dr.-Ing. habil. Schmitz Klaus-Peter. Владелец: UNIVERSITAET ROSTOCK. Дата публикации: 2012-03-15.

Ultrasound head e.g. ultrasound probe head, for use in ultrasound device for sonographic examination of tumors of human body, has storage container for storing contact gel, and dosing device for dosing gel and operated by foot pedal

Номер патента: DE102011015324A1. Автор: Anmelder Gleich. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-10-04.

Probe head with non-contact infrared temperature measuring device, high intensity focused ultrasonic device including the head, and automatic ultrasonic output control method using the device

Номер патента: KR102525286B1. Автор: 이수영,김은정,김정태. Владелец: (주)메사메디칼. Дата публикации: 2023-04-25.

Ultrasound probe head comprising an imaging transducer with a shielding element

Номер патента: US20130150715A1. Автор: Lacoste Francois. Владелец: THERACLION SAS. Дата публикации: 2013-06-13.

MULTILAYER MICROFLUIDIC PROBE HEAD WITH IMMERSION CHANNELS AND FABRICATION THEREOF

Номер патента: US20130333761A1. Автор: Delamarche Emmanuel,Kaigala Govind,Lovchik Robert. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2013-12-19.

VERTICAL MICROFLUIDIC PROBE HEAD WITH LARGE SCALE SURFACE PROCESSING APERTURES

Номер патента: US20190022640A1. Автор: TAYLOR David P.,Kaigala Govind,Lovchik Robert,Zeaf Ismael. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

Probe Head-Cover Applicator and Method Thereof

Номер патента: US20210059639A1. Автор: Howell Glade H.. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

Support and Cover Structures for an Ultrasound Probe Head

Номер патента: US20200245971A1. Автор: Eric W. Lindekugel,Eddie K. Burnside,Amir Orome,Jeremy B. Cox,Christian W. Crook,Daniel B. Blanchard,Jeanette E. Southard,Kevin W. Stinger. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

VERTICAL MICROFLUIDIC PROBE HEAD WITH LARGE SCALE SURFACE PROCESSING APERTURES

Номер патента: US20170304821A1. Автор: TAYLOR David P.,Kaigala Govind,Lovchik Robert,Zeaf Ismael. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

MICROFLUIDIC PROBE HEAD WITH ASPIRATION POSTS

Номер патента: US20200360924A1. Автор: Kaigala Govind V.,TAYLOR David P.,Lovchik Robert,Barak Itay,URI Yochanan,Buerge Marcel. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-19.

MICROFLUIDIC PROBE HEAD WITH BARRIER PROJECTIONS

Номер патента: US20200360925A1. Автор: Kaigala Govind V.,TAYLOR David P.,Lovchik Robert,GUILLON LAURENT,Frisan Emilie,Trainito Claudia I.. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-19.

Support and cover structures for an ultrasound probe head

Номер патента: CA2806353A1. Автор: Eric W. Lindekugel,Eddie K. Burnside,Jeremy B. Cox,Christian W. Crook,Daniel B. Blanchard,Jeanette E. Southard,Kevin W. Stinger. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2012-02-16.

Support and cover structures for ultrasound probe head

Номер патента: CN103228219A. Автор: E·W·林德库格尔,J·B·考克斯,E·K·伯恩赛德,D·B·布兰查德,C·W·克鲁克,J·E·索瑟德,K·W·斯廷格. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2013-07-31.

Microfluidic probe head with barrier protrusion

Номер патента: CN111936237A. Автор: E·弗里桑,L·格尤隆,R·洛夫奇克,D·P·泰勒,C·I·特拉尼托,G·V·凯加拉. Владелец: Bio Rad Europe GmbH. Дата публикации: 2020-11-13.

Probe head for semiconductor LSI inspection device and manufacturing method thereof

Номер патента: JPH0640106B2. Автор: 正男 三谷,毅 藤田,豊 秋庭,彰夫 藤原,博信 沖野. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-05-25.

Multilayer microfluidic probe head and method of fabrication thereof

Номер патента: CA2755298A1. Автор: Emmanuel Delamarche,Ute Drechsler,Robert Lovchik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

RF power probe head with a thermally conductive bushing

Номер патента: TW563162B. Автор: David J Coumou. Владелец: Eni Technology Inc. Дата публикации: 2003-11-21.

Cable locator with parallel LC tuned circuit - has inductance in probe head to sense signal transmitted down lost cable

Номер патента: FR2483155A2. Автор: Yves Saint-Jean. Владелец: INTERNALE ELECTR COMP. Дата публикации: 1981-11-27.

Probe head.

Номер патента: CH652933A5. Автор: Rene Gilliard. Владелец: Wilson Cook Medical Inc. Дата публикации: 1985-12-13.

Vertical microfluidic probe head with large scale surface treatment equipment

Номер патента: JP6962639B2. Автор: カイガラ、ゴーヴィンド,ロブチク、ロバート,テイラー、デイビット、フィリップ,ゼアフ、イシュマエル. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-11-05.

Vertical microfluidic probe head with large scale surface processing apertures

Номер патента: US10717078B2. Автор: David P. Taylor,Robert Lovchik,Govind Kaigala,Ismael Zeaf. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-07-21.

Method and apparatus for fabricating electrically conductive probe heads

Номер патента: EP0445679A3. Автор: Uwe Dr. Hartmann,Thomas Goeddenhenrich,Heiko Lemke,Hans-Peter Bochem. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 1992-07-08.

Vertical microfluidic probe head with large surface treatment orifice

Номер патента: CN109070042B. Автор: D·P·泰勒,G·凯加拉,R·拉夫奇克,I·奇夫. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-08-31.

Support and cover structures for an ultrasound probe head

Номер патента: US20110313293A1. Автор: Eric W. Lindekugel,Eddie K. Burnside,Jeremy B. Cox,Christian W. Crook,Daniel B. Blanchard,Jeanette E. Southard,Kevin W. Stinger. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2011-12-22.

"MULTILAYER MICROFLUIDIC PROBE HEAD AND SAME MANUFACTURING METHOD"

Номер патента: BRPI1007674A2. Автор: Drechsler Ute,Delamarche Emmanuel,Lovchik Robert,Emmanuel Delamarche,Ute Drechsler,Robert Lovchik. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2020-06-23.

Microfluidic probe head with aspiration posts

Номер патента: WO2019150189A1. Автор: David P. Taylor,Robert Lovchik,Govind V. Kaigala,Itay Barak,Yochanan Uri,Marcel Buerge. Владелец: BIO-RAD EUROPE GMBH. Дата публикации: 2019-08-08.

probe head

Номер патента: DE202009015391U1. Автор: . Владелец: Tracto-Technik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2010-01-28.

Vertical microfluidic probe head with large scale surface processing apertures

Номер патента: US10144008B2. Автор: David P. Taylor,Robert Lovchik,Govind Kaigala,Ismael Zeaf. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-12-04.

Fabrication of annular microfluidic probe heads

Номер патента: GB201404041D0. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-04-23.

Microfluidic probe head with aspiration posts

Номер патента: EP3749451B1. Автор: David P. Taylor,Robert Lovchik,Govind V. Kaigala,Itay Barak,Yochanan Uri,Marcel Buerge. Владелец: Bio Rad Laboratories Inc. Дата публикации: 2024-05-29.

Probe card structure

Номер патента: US20160305982A1. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-10-20.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US20040035706A1. Автор: Yeong-Her Wang,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. Lee,S. Cheng. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2004-02-26.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US7005054B2. Автор: Yeong-Her Wang,S. J. Cheng,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. J. Lee. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2006-02-28.

Seal method for direct liquid cooling of probes used at first level interconnect

Номер патента: US20140125367A1. Автор: James G. Maveety,Ronald Kirby,Joe Walczyk. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-05-08.

Probe card device and circuit protection assembly thereof

Номер патента: US20230360874A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Probe setup for combined epr and xas measurements

Номер патента: EP3724671A1. Автор: Sven Adomeit,Jabor RABEAH,Angelika BRÜCKNER. Владелец: Leibniz-Institut fur Katalyse Ev An Der Universitat Rostock. Дата публикации: 2020-10-21.

Apparatus and method for managing thermally induced motion of a probe card assembly

Номер патента: EP1877807A2. Автор: Gary W. Grube,Benjamin N. Eldridge,Gaetan L. Mathieu,A. Nicholas Sporck,Eric D. Hobbs,Makarand S. Shinde,Thomas N. Watson,Alexander N. Slocum. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2008-01-16.

Magnetic field probe, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09606198B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-03-28.

Shuttle for an NMR MAS rotor

Номер патента: US09903923B2. Автор: Markus Mayer,Oskar Schett,Daniel Guy Baumann,Franco Sestito. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and apparatus for ICT fixture probe cleaning

Номер патента: US09964563B1. Автор: David Durai Pandian Sam Gunasing,Teh Wee Min. Владелец: FLEXTRONICS AP LLC. Дата публикации: 2018-05-08.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices with improved thermal management

Номер патента: WO2024132800A1. Автор: Stefano Felici,Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Improvements in mas nmr

Номер патента: WO2023148202A1. Автор: Alexander BARNES,Chukun GAO,Pin-Hui Chen. Владелец: ETH Zurich. Дата публикации: 2023-08-10.

Manufacturing method of probing device

Номер патента: US20150185254A1. Автор: Chien-Chou Wu,Ming-Chi Chen,Chung-Che LI. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-07-02.

Real time chuck temperature monitoring

Номер патента: US20220178993A1. Автор: Guan Da Lee,Adi Irwan Herman. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2022-06-09.

Real time chuck temperature monitoring

Номер патента: WO2022125403A1. Автор: Guan Da Lee,Adi Irwan Herman. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2022-06-16.

Probe card testing device

Номер патента: US11808787B2. Автор: Ra-Min Tain,Tzyy-Jang Tseng,John Hon-Shing Lau,Kuo Ching Tien. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

NMR-MAS probehead with integral transport conduit for an MAS-rotor

Номер патента: US8212559B2. Автор: Benno Knott,Martin Armbruster. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2012-07-03.

EPR spectrometer with at least one pole piece made at least partially of a function material

Номер патента: US12072401B2. Автор: Ion Prisecaru,Lukas Haenichen. Владелец: Bruker Biospin & Co Kg GmbH. Дата публикации: 2024-08-27.

NMR spectrometer with refrigerator cooling

Номер патента: US20060096301A1. Автор: René Triebe,Daniel Marek,Daniel Baumann,Oskar Schett. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2006-05-11.

Mechanical apparatus for fast epr coils switching between rapid scan and cw modes

Номер патента: US20210278494A1. Автор: Sebastien Breham,Eric Beyer,Frédéric Jaspard. Владелец: Bruker France SAS. Дата публикации: 2021-09-09.

Spring loaded microwave interconnector

Номер патента: WO2008130865A3. Автор: Clifton Quan,Shahrokh Hashemi-Yeganeh,David E. Robert,Richard A. Montgomery. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2011-07-14.

Reduction in eddy current losses in electrically conducting sample materials with the assistance of special NMR sample tubes

Номер патента: US20070128086A1. Автор: Oskar Schett,Philippe Stauffenegger. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2007-06-07.

Connecting device for inspection

Номер патента: US20220034821A1. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Test clip and testing assembly

Номер патента: US20240014582A1. Автор: Bin Cao,Rongji ZHANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Detection clamp and detection assembly

Номер патента: EP4279927A1. Автор: Bin Cao,Rongji ZHANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Probe card and signal path switching module assembly

Номер патента: US20190120877A1. Автор: Hao Wei,Chia-Nan Chou,Yu-Hao Chen,Chien-Chiao CHEN,Chia-An YU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Wire Probe Assembly and Forming Process for Die Testing

Номер патента: US20140002124A1. Автор: David Shia,Michael T. Crocker,Todd P. Albertson,Lothar R. Kress. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2014-01-02.

Improvements in mas nmr

Номер патента: EP4224190A1. Автор: Alexander BARNES,Chukun GAO,Pin-Hui Chen. Владелец: Eidgenoessische Technische Hochschule Zurich ETHZ. Дата публикации: 2023-08-09.

Semiconductor testing apparatus for wafer probing testing and final packaged IC testing

Номер патента: US11835574B2. Автор: Shun-Bon Ho. Владелец: Test21 Taiwan Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Wafer test system and operating method thereof

Номер патента: US20230384365A1. Автор: Dong Kil KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Method and apparatus for radio frequency (RF) metrology

Номер патента: US6608446B1. Автор: David J. Coumou. Владелец: Eni Technology Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Microwave resonator with distributed bragg reflector (=DBR)

Номер патента: US20160161576A1. Автор: Alexander Krahn,Frank Engelke. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2016-06-09.

Microwave resonator with distributed bragg reflector (=DBR)

Номер патента: US10036787B2. Автор: Alexander Krahn,Frank Engelke. Владелец: Bruker BioSpin GmbH. Дата публикации: 2018-07-31.

Dynamic overdrive compensation test system and method

Номер патента: US20050116734A1. Автор: Mike Moran,Uday Savagaonkar. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2005-06-02.

Nmr probehead

Номер патента: US20240004004A1. Автор: Nicolas Freytag. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Package structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240061037A1. Автор: Chien-Hsun Lee,Tsung-Ding Wang,Hao-Cheng Hou,Jung-Wei CHENG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Continuous linear scanning of large flat panel media

Номер патента: WO2008051922A9. Автор: Eric Thompson,David Baldwin,Hai Tran,Daniel Toet,Robert Barnett,Kent Nguyen,Kaushal Gangakhedkar,Neil Nguyen,Steve Aochi. Владелец: Steve Aochi. Дата публикации: 2008-06-26.

Spring loaded microwave interconnector

Номер патента: WO2008130865A2. Автор: Clifton Quan,Shahrokh Hashemi-Yeganeh,David E. Robert,Richard A. Montgomery. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2008-10-30.

Mechanical apparatus for fast EPR coils switching between rapid scan and CW modes

Номер патента: US11187771B2. Автор: Sebastien Breham,Eric Beyer,Frédéric Jaspard. Владелец: Bruker France SAS. Дата публикации: 2021-11-30.

NMR probehead

Номер патента: US12000913B2. Автор: Nicolas Freytag. Владелец: Bruker Switzerland AG. Дата публикации: 2024-06-04.

Method of forming surface protrusions on an article and the article with the protrusions attached

Номер патента: US20150241476A1. Автор: Yang Liu,Lubomyr T. Romankiw,John Knickerbocker,Bing Dang,Maurice Mason. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Method of fabricating a device with ESD and I/O protection

Номер патента: US7883947B1. Автор: Shiann-Ming Liou,Chuan-Cheng Cheng,Choy Hing Li. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2011-02-08.

Systems and methods for testing electronic devices that include low power output drivers

Номер патента: US09470753B2. Автор: Kenneth R. Smith,Daniel M. BOCK. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2016-10-18.

Device and method for determining the absence of application of stresses on polyphase electrical transmission lines

Номер патента: AU2003294709A1. Автор: Christian Werner,Gerhard RÖHRENBECK. Владелец: Pfalzwerke Ag. Дата публикации: 2004-06-03.

Support member assembly for conductive contactor

Номер патента: US20050001637A1. Автор: Toshio Kazama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-06.

Radio frequency resonator system with optimized current distribution in the conducting elements

Номер патента: US7078902B2. Автор: Nicolas Freytag,Daniel Marek. Владелец: Bruker Biospin SAS. Дата публикации: 2006-07-18.

Systems and methods for testing electronic devices that include low power output drivers

Номер патента: WO2014074518A1. Автор: Kenneth R. Smith,Daniel M. BOCK. Владелец: Cascade Microtech, Inc.. Дата публикации: 2014-05-15.

Graphite probe and electrothermal atomizer including such a probe

Номер патента: US4721387A. Автор: Alistair A. Brown. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1988-01-26.

Magnetostrictive probe with mechanical and fluid coupling for guided wave testing of tubular structures

Номер патента: US09714922B2. Автор: Glenn M. Light,Sergey A. Vinogradov,Charles E. Duffer. Владелец: Southwest Research Institute SwRI. Дата публикации: 2017-07-25.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: EP3853642A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2021-07-28.

Method for operating a touch probe system and a touch probe system for executing the method

Номер патента: US20030019121A1. Автор: Kurt Feichtinger,Rainer Hagl. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2003-01-30.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: AU2019342706A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: AU2019342706B2. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: Chrysalabs Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: WO2020056506A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: 9371-0184 Québec Inc.. Дата публикации: 2020-03-26.

Ultrasonic probe

Номер патента: US09612227B2. Автор: Toru Watanabe,Hidetsugu Katsura,Takeo Yasuhara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Measuring device housing

Номер патента: US20150241252A1. Автор: Martin Lenze,Joe Kieliger. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2015-08-27.

Aspiration device for determining mechanical properties of soft tissues and methods therefor

Номер патента: EP4322831A1. Автор: Bettina Muller,Edoardo Mazza. Владелец: Eidgenoessische Technische Hochschule Zurich ETHZ. Дата публикации: 2024-02-21.

Multiple and interchangeable meter reading probes

Номер патента: EP2740114A2. Автор: Karl Jonsson,William Diehl,Sonny Windstrup,Yee Fen Ching,Fu Kin Fong,Kong Wei Lye,Christian Vandendorpe. Владелец: Greenwave Reality Pte Ltd. Дата публикации: 2014-06-11.

Aspiration device for determining mechanical properties of soft tissues and methods therefor

Номер патента: WO2022218684A1. Автор: Bettina Muller,Edoardo Mazza. Владелец: ETH Zurich. Дата публикации: 2022-10-20.

Aspiration device for determining mechanical properties of soft tissues and methods therefor

Номер патента: US20240201163A1. Автор: Edoardo Mazza,Bettina THUMM. Владелец: Eidgenoessische Technische Hochschule Zurich ETHZ. Дата публикации: 2024-06-20.

Structures to define flow confinement shape and confinement stability with uniform aspiration

Номер патента: WO2021026299A1. Автор: Robert Dean Lovchik,Iago PEREIRO PEREIRO,Govind Kaigala,Anna Fomitcheva Khartchenko. Владелец: Bio-Rad Laboratories, Inc.. Дата публикации: 2021-02-11.

Open-loop distance adjustment for a coordinate measuring machine

Номер патента: EP4386313A1. Автор: Peter Champ,Patrick ILG,Patryk WROCLAWSKI,Sascha SCHIWY,Kai IMHÄUSER. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2024-06-19.

Open-loop distance adjustment for a coordinate measuring machine

Номер патента: US20240200929A1. Автор: Patrick ILG,Pete CHAMP,Patryk WROCLAWSKI,Sascha SCHIWY,Kai IMHÄUSER. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2024-06-20.

Aspiration Device and Method for Determining Viscoelastic Properties of Biological Tissues and Synthetic Materials

Номер патента: US20190254587A1. Автор: Edoardo Mazza,Francisco Feijo Delgado,Clemens Clausen. Владелец: Eidgenoessische Technische Hochschule Zurich ETHZ. Дата публикации: 2019-08-22.

Steam generator tube probe and method of inspection

Номер патента: US09588082B2. Автор: Jeff Siegel,Weston POLLOCK,Adam RASMUSSEN,Cristhian GALVEZ,Eric Paul Young. Владелец: Nuscale Power LLC. Дата публикации: 2017-03-07.

Flush-mount combined static pressure and temperature probe with flow enhancement feature

Номер патента: US20210285385A1. Автор: Lisa Graham,Richard William PHILLIPS,Robert Edward Sable. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2021-09-16.

Total air temperature sensors

Номер патента: US09981756B2. Автор: Chester Schwie,Kyle Corniea,Erik Jewett. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Constant force ultrasound probe handle

Номер патента: EP4316381A1. Автор: Daniel R. STURNICK. Владелец: New York Society for Relief of Ruptured and Crippled. Дата публикации: 2024-02-07.

Non-destructive testing

Номер патента: GB1488833A. Автор: . Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1977-10-12.

Optical probe and method for real-time and in-situ measurements of soil properties

Номер патента: AU2021227731A8. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER,Jacques Michiels. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2022-12-01.

Optical probe and method for real-time and in-situ measurements of soil properties

Номер патента: US20230026607A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER,Jacques Michiels. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2023-01-26.

Optical probe and method for real-time and in-situ measurements of soil properties

Номер патента: CA3121099A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER,Jacques Michiels. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2021-08-26.

Optical probe and method for real-time and in-situ measurements of soil properties

Номер патента: CA3121099C. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER,Jacques Michiels. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2022-01-04.

Probe guide and holder

Номер патента: US4343092A. Автор: Raymond J. Prohaska,Robert O. Wahl,William D. Hay. Владелец: UPA Tech Inc. Дата публикации: 1982-08-10.

Dynamical monitoring and modelling of a coordinate measuring machine

Номер патента: US09593927B2. Автор: Bernhard Sprenger. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-03-14.

Probe system with detachable sensor probe that communicates wirelessly

Номер патента: WO2023172356A1. Автор: Scott S. DUNAWAY,David E. Lotton. Владелец: Hach Company. Дата публикации: 2023-09-14.

Probe system with detachable sensor probe that communicates wirelessly

Номер патента: US20230280325A1. Автор: Scott S. DUNAWAY,David E. Lotton. Владелец: Hach Co. Дата публикации: 2023-09-07.

Leak detector with clamp for enclosing a section of pipe

Номер патента: US12085479B2. Автор: LEIF Thyssen,Morten KLIETSCH,Lasse Parnell HANSEN. Владелец: Agramkow Fluid Systems AS. Дата публикации: 2024-09-10.

Dynamical monitoring of a coordinate measuring machine using recursive filtering

Номер патента: US09593928B2. Автор: Bernhard Sprenger. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-03-14.

Tethered laparoscopic probe

Номер патента: US20200367841A1. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Phil Marsden. Владелец: Lightpoint Medical Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Airflow angle, static and total pressure probe

Номер патента: EP3819641A3. Автор: Grant A. Gordon,Morris G. Anderson. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2021-07-21.

Tethered laparoscopic probe

Номер патента: US11963807B2. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Phil Marsden. Владелец: Lightpoint Surgical Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Ultrasound probes and apparatuses for ultrasound imaging including such

Номер патента: EP4267989A1. Автор: Mathieu Pernot,Thomas Deffieux,Bruno-Felix Osmanski,Charlie DEMENE,Adrien BERTOLO. Владелец: Iconeus SAS. Дата публикации: 2023-11-01.

Object spacing survey device

Номер патента: RU2335784C2. Автор: Андреас УЛЛЬРИХ,Рольф ЛАММ,Райнер РАЙХЕРТ,Йоханнес РИГЛЬ,Андреас ШТОЕГЕР. Владелец: Ферротрон Текнолоджиз Гмбх. Дата публикации: 2008-10-10.

Tethered laparoscopic probe

Номер патента: EP3749202A1. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Phil Marsden. Владелец: Lightpoint Medical Ltd. Дата публикации: 2020-12-16.

Method, apparatus, and system for providing a signed angle metric for mapmatching based on probe data

Номер патента: US20240191997A1. Автор: James Adeyemi Fowe,Sanskar KATIYAR. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-06-13.

Smart cover bug deterrent

Номер патента: US20190289842A1. Автор: Mark Baker,Mark Stephen Lopac. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Smart cover bug deterrent

Номер патента: US20220015352A1. Автор: Mark Baker,Mark Stephen Lopac. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2022-01-20.

Air data probe with optical pressure integration

Номер патента: CA3055853A1. Автор: Mark Sherwood Miller,Michael Paul Nesnidal,Greg Seidel,Kimiko Childress. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-06-14.

Ultrasound probes and apparatuses for ultrasound imaging including such

Номер патента: US20240183824A1. Автор: Mathieu Pernot,Thomas Deffieux,Bruno-Felix Osmanski,Charlie DEMENE,Adrien BERTOLO. Владелец: Iconeus SAS. Дата публикации: 2024-06-06.

Probe calibration

Номер патента: WO2006114603A3. Автор: Geoffrey Mcfarland,Kevyn Barry Jonas,Jean-Louis Grzesiak. Владелец: Jean-Louis Grzesiak. Дата публикации: 2007-09-20.

Multi-tube high speed rotating probe

Номер патента: WO1995009323A1. Автор: Zoran Kuljis. Владелец: Combustion Engineering, Inc.. Дата публикации: 1995-04-06.

Multi-function air data probe having multi-hole ports used for determining angle of attack, total and static pressure values

Номер патента: US20220120780A1. Автор: Grant A. Gordon,Morris G. Anderson. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2022-04-21.

3D image generation with position-sensing gamma probe

Номер патента: US09568612B1. Автор: Achraf Al Faraj,Khalid Kezzar,Hamoud Kassim. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-02-14.

Low row steam generator inspection probe

Номер патента: GB2505773A. Автор: Jeffrey Bishop Draper,Matthew Barton Wolf,Michael Alphonse Terhaar,Lance Edmund Maggy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-03-12.

Surface modified heater assembly

Номер патента: US20190291879A1. Автор: Mark Baker,Mark Stephen Lopac,Matthew Kulhanek,Colin E. Towne. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Surface modified heater assembly

Номер патента: US11866179B2. Автор: Mark Baker,Mark Stephen Lopac,Matthew Kulhanek,Colin E. Towne. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Air data probe with enhanced conduction integrated heater bore and features

Номер патента: CA3173608A1. Автор: Scott D. Isebrand,Scott Wigen,Greg Allen Seidel. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2023-04-01.

Microfluidic probe with bypass and control channels

Номер патента: US20180318832A1. Автор: David Taylor,Robert Dean Lovchik,Govind Kaigala. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Microfluidic probe with bypass and control channels

Номер патента: US20200114351A1. Автор: David Taylor,Robert Dean Lovchik,Govind Kaigala. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-04-16.

Method for recalibrating coordinate positioning apparatus

Номер патента: US09542355B2. Автор: Leo Christopher Somerville. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-01-10.

Scanning probe microscope providing unobstructed top down and bottom up views

Номер патента: US5854487A. Автор: Michael Kirk,Thai Nguyen,David Braunstein,Quoc Ly. Владелец: Park Scientific Instruments. Дата публикации: 1998-12-29.

Air data probe assembly method

Номер патента: US20190227094A1. Автор: Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly,Greg Seidel. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2019-07-25.

Apparatuses, systems, and methods for improved vibration resistance

Номер патента: US20200348152A1. Автор: Aaron Daniels,Murgesh R. Sajjan,Charles Licata. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2020-11-05.

Temperature sensor assembly

Номер патента: EP3431945A1. Автор: William L. Smith. Владелец: Smith Systems Inc. Дата публикации: 2019-01-23.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: US20230384476A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: CA3111619C. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2024-02-27.

Optical probe and method for in situ soil analysis

Номер патента: US11808913B2. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

System and method for roundabouts from probe data using vector fields

Номер патента: US09766081B2. Автор: Ole Henry Dorum. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2017-09-19.

Variable path length probe

Номер патента: CA2780107C. Автор: Christian Born. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2017-02-14.

Compliant temperature sensing system

Номер патента: WO2023230437A1. Автор: John Lilleland,Jacob Lindley. Владелец: WATLOW ELECTRIC MANUFACTURING COMPANY. Дата публикации: 2023-11-30.

Ultrasonic probe

Номер патента: US20150276685A1. Автор: Toru Watanabe,Hidetsugu Katsura,Takeo Yasuhara. Владелец: Hitachi Aloka Medical Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Air data probes

Номер патента: CA2923781C. Автор: Paul R. Johnson,Timothy T. Golly,Greg Seidel. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Optical probes and methods for spectral analysis

Номер патента: EP1264170A2. Автор: David M. Mayes,Anthony S. Lee,Anthony K. Maczura,Charles W. Von Rosenberg,Enrich R. Gross. Владелец: Textron Systems Corp. Дата публикации: 2002-12-11.

Structures to define flow confinement shape and confinement stability with uniform aspiration

Номер патента: EP4010118A1. Автор: Robert Dean Lovchik,Iago PEREIRO PEREIRO,Govind Kaigala,Anna Fomitcheva Khartchenko. Владелец: Bio Rad Laboratories Inc. Дата публикации: 2022-06-15.

Optical probe for scanning surfaces within constricted spaces

Номер патента: US6137116A. Автор: Israel Amir,John Burnet Macdonald,Kenneth Henry Billingham,Dennis J. Fitch,Frank P. Higgins,Frank Joseph Krainaker. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2000-10-24.

Coordinate measuring machine having a camera

Номер патента: EP2788714A1. Автор: Bo Pettersson,Knut Siercks,Benedikt Zebhauser,Klaus Schneider,Pascal Jordil,Jürg Hinderling,Eugen Voit. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2014-10-15.

Method for scanning the surface of a workpiece

Номер патента: EP1877729A2. Автор: Nicholas John Weston,Ian William Mclean,Leo Christopher Somerville,Martin Simon Rees. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2008-01-16.

Coordinate measuring machine

Номер патента: US20240210154A1. Автор: Claudio Iseli,Danick BRÜHLMANN,Nikolay Khanenya. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2024-06-27.

Coordinate measuring machine

Номер патента: EP4390305A1. Автор: Claudio Iseli,Danick BRÜHLMANN,Nikolay Khanenya. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2024-06-26.

Optical system for detection and characterization of abnormal tissue and cells

Номер патента: US09566030B2. Автор: Moshe Sarfaty,Amir Lev. Владелец: LS Biopath Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Methods for optical identification and characterization of abnormal tissue and cells

Номер патента: US09554743B2. Автор: Moshe Sarfaty,Amir Lev. Владелец: LS Biopath Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Eddy current probe

Номер патента: US20200232947A1. Автор: Tom O'Dell. Владелец: Zetec Inc. Дата публикации: 2020-07-23.

Eddy current probe

Номер патента: CA3069078C. Автор: Tom O'Dell. Владелец: Zetec Inc. Дата публикации: 2023-03-21.

Eddy current probe

Номер патента: EP3686592A1. Автор: Tom O'Dell. Владелец: Zetec Inc. Дата публикации: 2020-07-29.

Temperature probe assembly for gas turbine engine

Номер патента: US4132114A. Автор: James A. Laurelli,Chandra C. Shah. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1979-01-02.

Right angle sensor

Номер патента: CA2295649C. Автор: William L. Smith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-22.

Eddy current probe

Номер патента: CA3069078A1. Автор: Tom O'Dell. Владелец: Zetec Inc. Дата публикации: 2020-07-22.

Air data probes

Номер патента: CA2844549C. Автор: Charles Jae Doolittle,Brian Daniel Matheis,Roger Duane Foster. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2022-06-21.

Inspecting a steam generator

Номер патента: CA2911646C. Автор: Jeff Siegel,Weston POLLOCK,Adam RASMUSSEN,Cristhian GALVEZ,Eric Paul Young. Владелец: Nuscale Power LLC. Дата публикации: 2023-03-28.

Method and apparatus for determining an objects position, topography and for imaging

Номер патента: US5450203A. Автор: John A. Penkethman. Владелец: Electroglas Inc. Дата публикации: 1995-09-12.

Probe alignment fixture and method

Номер патента: US09903700B2. Автор: Andrew H. Smith. Владелец: Moog Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Measuring machine and method for automated measurement of an object

Номер патента: US09683828B2. Автор: Bo Pettersson,Knut Siercks,Benedikt Zebhauser. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-06-20.

Coordinate measuring apparatus having a device for profile measurements and method for making said profile measurements

Номер патента: US5778551A. Автор: Thomas Arndt,Karl Schepperle,Henrik Herklotz,Rainer Ohnheiser. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1998-07-14.

Body temperature thermometer and method fo measuring human body temperature utilizing calibration mapping

Номер патента: US5293877A. Автор: Gary J. O'Hara,John J. Korff,Peter A. Crill. Владелец: Sherwood IMS Inc. Дата публикации: 1994-03-15.

Probe system and method for operating a probe system

Номер патента: US20050168213A1. Автор: Klaus Groell. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2005-08-04.

Infrared thermometer utilizing calibration mapping

Номер патента: CA2098313C. Автор: Gary J. O'Hara,John J. Korff,Peter A. Crill. Владелец: Sherwood Service AG. Дата публикации: 2001-06-19.

Infrared radiation probe for measuring the temperature of low-emissivity materials in a production line

Номер патента: CA1319832C. Автор: Paolo Cielo,Jean-Claude Krapez,Christian Belanger. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 1993-07-06.

Optical probe and method for real-time and in-situ measurements of soil properties

Номер патента: EP4111241A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER,Jacques Michiels. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2023-01-04.

Ultrasonic probe and ultrasonic measurement system

Номер патента: EP3709887A1. Автор: Takuya Aizawa,Masashi Sato,Naoki Fukushima,Kazuya Nagase,Mitsuhiro Oura,Sou KUMAGAI,Nobuyuki Yasumaru,Hiroshi TORIGAI,Wataru MATSUZAWA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-09-23.

Probe for measuring plasma parameters

Номер патента: US11800627B2. Автор: Christian Schulz,Ilona Rolfes,Dennis Pohle. Владелец: Ruhr Universitaet Bochum. Дата публикации: 2023-10-24.

Probe for a capacitive sensor device and gap-measuring system

Номер патента: CA2713426A1. Автор: Gerhard Heider,Rene Schneider,Alfred Ecker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-08-06.

Optical probe and method for real-time and in-situ measurements of soil properties

Номер патента: AU2021227731A1. Автор: Gabriel MANGEAT,Benjamin DE LEENER,Jacques Michiels. Владелец: 9371 0184 Quebec Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Skin evaluation apparatus

Номер патента: GB2348699A. Автор: Duncan Shirreffs Bain,Martin William Ferguson-Pell,Alastair George Mcleod. Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2000-10-11.

Leak detector

Номер патента: EP3911931A2. Автор: LEIF Thyssen,Morten KLIETSCH,Lasse Parnell HANSEN. Владелец: Agramkow Fluid Systems AS. Дата публикации: 2021-11-24.

Leak detector

Номер патента: US20220307937A1. Автор: LEIF Thyssen,Morten KLIETSCH,Lasse Parnell HANSEN. Владелец: Agramkow Fluid Systems AS. Дата публикации: 2022-09-29.

Optical measurement system and method for determining height differential between two surfaces

Номер патента: US20030035117A1. Автор: Richard Tella,William Gong,Glenn Rankin. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-02-20.

Air data probe with weld sealed insert

Номер патента: EP4224173A2. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2023-08-09.

Air data probe with weld sealed insert

Номер патента: EP4224173A3. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2023-08-16.

Smart cover bug deterrent

Номер патента: US11856939B2. Автор: Mark Baker,Mark Stephen Lopac. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Air data probe with optical pressure integration

Номер патента: US20200191823A1. Автор: Mark Sherwood Miller,Greg Allen Seidel,Michael Paul Nesnidal,Kimiko Childress. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-06-18.

System and method of performing scanning probe microscopy on a substrate surface

Номер патента: US11320457B2. Автор: Roelof Willem HERFST,Anton Adriaan Bijnagte,Jan Jacobus Benjamin BIEMOND,Klara Maturova. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2022-05-03.

A lightweight and thermally stable metrology instrument for a coordinate position apparatus and method of manufacture of said instrument

Номер патента: EP1678723A1. Автор: David Roberts Mcmurtry,Hugo George Derrick,Stephen Paul Hunter. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2006-07-12.

Hand-held optical probe based imaging system with 3D tracking facilities

Номер патента: US09709733B2. Автор: Anuradha Godavarty,Banghe Zhu,Bhavani Jayachandran,Steven A. Regalado. Владелец: Florida International University FIU. Дата публикации: 2017-07-18.

Touch probe

Номер патента: EP1537376A1. Автор: David Roberts Mcmurtry,Stephen Edward Lummes. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2005-06-08.

Touch probe

Номер патента: WO2004025215A1. Автор: David Roberts Mcmurtry,Stephen Edward Lummes. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2004-03-25.

Measuring instrument with provision for interchangeable holding of probe pins and for their retrieval from magazine storage

Номер патента: US4688307A. Автор: Horst Schneider,Rainer Zeeh,Hans J. Neumann. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1987-08-25.

Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector

Номер патента: GB2513806A. Автор: Robert E Bridges. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2014-11-05.

Method for recalibrating coordinate positioning apparatus

Номер патента: EP2591310A1. Автор: Leo Christopher Somerville. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2013-05-15.

Ultrasound 3D imaging system

Номер патента: US12102479B2. Автор: Alice M. Chiang,Steven R. Broadstone,William M. Wong. Владелец: TeraTech Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Configuration for coupling chromatic range sensor optical probe to coordinate measurement machine

Номер патента: US20210156667A1. Автор: David William Sesko,Isaiah Freerksen. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Pneumatic line isolation and heating for air data probes

Номер патента: CA2622133C. Автор: Timothy Thomas Golly,Scott Joseph Braun,Patrick John Moynihan,Alexander Nathan Reid. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2013-01-08.

Multifunctional air data sensing probes

Номер патента: US5466067A. Автор: Floyd W. Hagen,John A. Severson,Gregg A. Hohenstein,Pennelle J. Trongard. Владелец: BF Goodrich Corp. Дата публикации: 1995-11-14.

Methods for optical identification and characterization of abnormal tissue and cells

Номер патента: US20100106025A1. Автор: Moshe Sarfaty,Amir Lev. Владелец: LS Biopath Inc. Дата публикации: 2010-04-29.

Laser alignment and control system

Номер патента: US5124524A. Автор: Alan D. Langerud,Michael C. Marshall,Charles M. Schuster. Владелец: Laser Design Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Air data probe with fully-encapsulated heater

Номер патента: EP3715859A1. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-09-30.

Air data probe with fully-encapsulated heater

Номер патента: US20200309808A1. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Air data probe with fully-encapsulated heater

Номер патента: CA3062546A1. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-09-25.

Hematology cell counting apparatus incorporating multiple transducers for sequential operation

Номер патента: US4296373A. Автор: Henry R. Angel,James W. Hennessy. Владелец: Hycel Inc. Дата публикации: 1981-10-20.

Apparatus for dental confocal imaging

Номер патента: CA2949448A1. Автор: Yossef Atiya,Nir Makmel,Tal VERKER. Владелец: Align Technology Inc. Дата публикации: 2016-01-14.

Supervised point map matcher

Номер патента: US20200208992A1. Автор: James Fowe. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2020-07-02.

Automated Optical Measurement System To Determine Semiconductor Properties

Номер патента: US20230304944A1. Автор: Vladimir Bulovic,Anthony T. TROUPE,Brandon T. MOTES,Dane William DEQUILETTES. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2023-09-28.

Calibration of a coordinate-measuring device

Номер патента: EP4343278A1. Автор: Beat Aebischer,Davide MANETTI,Julien CHARDONNENS,Christian De Graffenried,Shiyao Bergamaschini,Sepide Azhdari. Владелец: TESA SARL. Дата публикации: 2024-03-27.

Calibration of a coordinate-measuring device

Номер патента: US20240093987A1. Автор: Beat Aebischer,Davide MANETTI,Julien CHARDONNENS,Christian De Graffenried,Shiyao Bergamaschini,Sepide Azhdari. Владелец: TESA SARL. Дата публикации: 2024-03-21.

Air data probe with weld sealed insert

Номер патента: EP3751293A1. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-12-16.

Air data probe with weld sealed insert

Номер патента: US20200393484A1. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Air data probe with weld sealed insert

Номер патента: CA3062689A1. Автор: Greg Allen Seidel,Paul Robert Johnson,Timothy Thomas Golly. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-12-14.

Soil or snow probe

Номер патента: EP1459049A1. Автор: Roderick Mackenzie,Warwick Payten. Владелец: Himachal Safety Systems Pty Ltd. Дата публикации: 2004-09-22.

Soil or snow probe

Номер патента: EP1459049A4. Автор: Roderick Mackenzie,Warwick Payten. Владелец: Himachal Safety Systems Pty Ltd. Дата публикации: 2005-11-16.

Variable shape sensing element of a magnetostrictive oscillating ice detector sensor for improved ice collection efficiency using additive manufacturing

Номер патента: EP4325214A1. Автор: Jamison K. Roman,Jeremiah SCHWEITZER,Marc Regan. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2024-02-21.

Active thermal management for coordinate measuring machines

Номер патента: US20240019237A1. Автор: Danick BRÜHLMANN,Nikolay Khanenya. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2024-01-18.

Methods, apparatus, and articles of manufacture to measure pressure of a fluid

Номер патента: US20230366908A1. Автор: Tomasz Iglewski,Aleksander Piotr Pasieczny. Владелец: General Electric Co Polska Sp zoo. Дата публикации: 2023-11-16.

Coordinate measuring machine (CMM) and method of compensating errors in a CMM

Номер патента: US09435645B2. Автор: Bo Pettersson,Knut Siercks. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2016-09-06.

Microfluidic surface processing device and method

Номер патента: US09611529B2. Автор: Urs T. Duerig,Robert Lovchik. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Microfluidic surface processing device and method

Номер патента: US09611528B2. Автор: Robert Lovchik,Urs T Duerig. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Swaged mandrel pitot

Номер патента: EP3650867A1. Автор: Eric Marty,Kenneth L. Freiborg,Marc Wollak. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2020-05-13.

Easily attachable and detachable gauge for re-locating tested bevel gears on a gear-cutting machine

Номер патента: US4128945A. Автор: Murrell R. Barritt. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-12-12.

Ultrasound 3d imaging system

Номер патента: US20230346344A1. Автор: Alice M. Chiang,Steven R. Broadstone,William M. Wong. Владелец: TeraTech Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Optical reflection meter

Номер патента: CA1153579A. Автор: Jacobus J. T. Bosch,Petrus C. F. Borsboom. Владелец: Rijksuniversiteit Groningen. Дата публикации: 1983-09-13.

Surface-sensing device

Номер патента: US5152072A. Автор: David R. McMurtry,David G. Powley. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 1992-10-06.

Electrochemical apparatus for monitoring and/or measuring a component of a gas

Номер патента: CA1200841A. Автор: Andrew S. Clarkson. Владелец: British Nuclear Fuels PLC. Дата публикации: 1986-02-18.

Method for coordinate measurement of workpieces

Номер патента: US5425180A. Автор: Karl-Hermann Breyer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1995-06-20.

Metrology apparatus

Номер патента: EP2596319A2. Автор: David Roberts Mcmurtry,Stephen Paul Hunter. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2013-05-29.

Active thermal management for coordinate measuring machines

Номер патента: EP4310441A1. Автор: Danick BRÜHLMANN,Nikolay Khanenya. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2024-01-24.

Variable shape sensing element of a magnetostrictive oscillating ice detector sensor for improved ice collection efficiency using additive manufacturing

Номер патента: CA3208790A1. Автор: Jamison K. Roman,Jeremiah SCHWEITZER,Marc Regan. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2024-02-18.

Metrology apparatus and corresponding operating method

Номер патента: EP4295107A1. Автор: Andrew Geoffrey Butter,Benjamin George HOY. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2023-12-27.

Variable shape sensing element of a magnetostrictive oscillating ice detector sensor for improved ice collection efficiency using additive manufacturing

Номер патента: US20240060936A1. Автор: Jamison K. Roman,Jeremiah SCHWEITZER,Marc Regan. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US7024333B2. Автор: Rudolf Rögele,Dieter Kalmbach. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-04-04.

Probe shield

Номер патента: EP4031012A1. Автор: Shayne Messerly,Tab Robbins. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2022-07-27.

Fibre optic polishing tool

Номер патента: EP3573785A1. Автор: Richard Alan KERSHAW. Владелец: ALKER OPTICAL EQUIPMENT Ltd. Дата публикации: 2019-12-04.

Fibre optic polishing tool

Номер патента: WO2018138506A1. Автор: Richard Alan KERSHAW. Владелец: ALKER OPTICAL EQUIPMENT Ltd. Дата публикации: 2018-08-02.

Endoscopic probe

Номер патента: US5351691A. Автор: Pieter D. Brommersma. Владелец: OPTISCHE INDUCTRIE "DE OUDE DELFT" BV. Дата публикации: 1994-10-04.

Second generation hand held optical imager

Номер патента: US09635349B2. Автор: Anuradha Godavarty,Joseph Decerce. Владелец: Florida International University FIU. Дата публикации: 2017-04-25.

Probe Shield

Номер патента: US20210100625A1. Автор: Shayne Messerly,Tab Robbins. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2021-04-08.

Apparatus and method for detecting position of annulus spacer between concentric tubes

Номер патента: CA2795973C. Автор: Jaroslaw Jan Goszczynski. Владелец: Atomic Energy of Canada Ltd AECL. Дата публикации: 2021-01-12.

Fiber endoscope

Номер патента: US11963663B2. Автор: Johannes Fitzgerald De Boer,Fabio FEROLDI. Владелец: Stichting VU. Дата публикации: 2024-04-23.

Probe coordinate system driving apparatus

Номер патента: US6108613A. Автор: Takashi Noda,Tetsuo Kimura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Color wheel assembly and related light source system thereof

Номер патента: US20160124213A1. Автор: Yihong Yang. Владелец: Appotronics Corp Ltd. Дата публикации: 2016-05-05.

Rotary head recording system

Номер патента: CA1234623A. Автор: Theodore A. Schwarz. Владелец: Magnetic Peripherals Inc. Дата публикации: 1988-03-29.

Method of controlling a coordinate measuring apparatus

Номер патента: US5491638A. Автор: Heinz Peter,Bernd Georgi,Bernd Czepan. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1996-02-13.

Automatic bias control for electrostatic development

Номер патента: US3654893A. Автор: Douglas E Piper,James G Jarvis,Dale L Smith. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1972-04-11.

Multi-modal imaging system and method therefor

Номер патента: EP4054402A1. Автор: LaTonya Kilpatrick-Liverman,Ruikang Wang,Hrebesh Molly SUBHASH,Nhan LE. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2022-09-14.

Tethered laparoscopic probe grip

Номер патента: AU2019311332B2. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Francesca Oldfield. Владелец: Lightpoint Surgical Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Method and device for increasing applied substance absorption by skin

Номер патента: RU2297252C2. Автор: Джиан Франко БЕРНАБЕЙ,Джиан Франко БЕРНАБЕЙ (IT). Владелец: Маттиоли Инжиниринг Лтд. Дата публикации: 2007-04-20.

Method and dual-array transducer probe for real time mechanical imaging of prostate

Номер патента: EP1876958A2. Автор: Armen P. Sarvazyan,Vladimir Egorov,Sergiy Kanilo,Suren Airapetian. Владелец: Artann Laboratories Inc. Дата публикации: 2008-01-16.

Method and dual-array transducer probe for real time mechanical imaging of prostate

Номер патента: WO2006121877A2. Автор: Armen P. Sarvazyan,Vladimir Egorov,Sergiy Kanilo,Suren Airapetian. Владелец: ARTANN LABORATORIES, INC.. Дата публикации: 2006-11-16.

Tethered laparoscopic probe grip

Номер патента: US12070238B2. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Francesca Oldfield. Владелец: Lightpoint Surgical Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Tethered laparoscopic probe grip

Номер патента: US20240341794A1. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Francesca Oldfield. Владелец: Lightpoint Surgical Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Ultrasonic debrider probe

Номер патента: US09949751B2. Автор: Dan Voic. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2018-04-24.

Apparatus and method for measuring property of eye

Номер патента: WO2023089229A1. Автор: Mika Salkola,Viktor Honkanen. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2023-05-25.

Apparatus and method for measuring property of eye

Номер патента: FI20216186A1. Автор: Mika Salkola,Viktor Honkanen. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2023-03-14.

Apparatus for manufacturing light-emitting display device

Номер патента: EP3817036A1. Автор: Jin Young Kim,Hae Yun CHOI,Hyun Min Cho,Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im,Young Hoi Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Ultrasound probe accessory implement

Номер патента: WO2024049802A1. Автор: Anthony K. Misener,Bradley M. Wilkinson,Steffan SOWARDS,William Robert MCLAUGHLIN,Mark Newby,Bart Peterson. Владелец: BARD ACCESS SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2024-03-07.

Apparatus for manufacturing light-emitting display device

Номер патента: US20210126158A1. Автор: Jin Young Kim,Hae Yun CHOI,Hyun Min Cho,Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im,Young Hoi Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-29.

Ultrasound Probe Accessory Implement

Номер патента: US20240065674A1. Автор: Anthony K. Misener,Bradley M. Wilkinson,Steffan SOWARDS,William Robert MCLAUGHLIN,Mark Newby,Bart Peterson. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Ultrasonic instrument assembly and method for manufacturing same

Номер патента: US09622766B2. Автор: Dan Voic. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2017-04-18.

Tethered laparoscopic probe grip

Номер патента: EP3826546A1. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Francesca Oldfield. Владелец: Lightpoint Medical Ltd. Дата публикации: 2021-06-02.

Tethered laparoscopic probe grip

Номер патента: AU2019311332A1. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Francesca Oldfield. Владелец: Lightpoint Surgical Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Apparatus and method for manufacturing light-emitting display device

Номер патента: US12100689B2. Автор: Jin Oh KWAG,Hae Yun CHOI,Hyun Min Cho,Keun Kyu SONG,Jong Hyuk KANG,Han Su Kim,Eun A YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method of assembling photosensitive module on raster

Номер патента: RU2580184C1. Автор: Павел Валентинович Власов,Зинаида Николаевна Ефимова,Алексей Алексеевич Лопухин,Игорь Дмитриевич Бурлаков,Владимир Михайлович Акимов,Николай Георгиевич Мансветов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2016-04-10.

Methods for probing semiconductor fins through four-point probe and determining carrier concentrations

Номер патента: US09627280B2. Автор: Clement Hsingjen Wann,Yasutoshi Okuno,Ling-Yen Yeh,Chi-Yuan Shih,Wei-Chun Tsai,Yuan-Fu Shao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Methods for probing semiconductor fins and determining carrier concentrations therein

Номер патента: US09349659B2. Автор: Clement Hsingjen Wann,Yasutoshi Okuno,Ling-Yen Yeh,Chi-Yuan Shih,Wei-Chun Tsai,Yuan-Fu Shao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-05-24.

Method of assembling photosensitive module on holder

Номер патента: RU2581439C1. Автор: Анатолий Иванович Еремчук,Зинаида Николаевна Ефимова,Николай Георгиевич Мансветов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2016-04-20.

Neuromonitoring device

Номер патента: US20200100691A1. Автор: Jiancong LI,Zhigang Shi. Владелец: Jiangsu Baining Yingchuang Medical Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Ultrasonic surgical probe, assembly, and related method

Номер патента: US20180028207A1. Автор: Dan Voic,Paul Mikus,Scott Isola. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2018-02-01.

Ultrasonic surgical probe, assembly, and related method

Номер патента: EP3493751A1. Автор: Dan Voic,Paul Mikus,Scott Isola. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2019-06-12.

Apparatus and method for inserting electrode-based probes into biological tissue

Номер патента: US20210338127A1. Автор: Matthew L. Cavuto,Timothy Constandinou,Amos G. Winter. Владелец: Imperial College of Science Technology and Medicine. Дата публикации: 2021-11-04.

Tethered laparoscopic probe grip

Номер патента: US20210161549A1. Автор: KUNAL Vyas,Stewart Forbes,David Tuch,Gavin Ryan,Francesca Oldfield. Владелец: Lightpoint Medical Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Пробная установка имплантата

Номер патента: RU2663714C2. Автор: Кристофер ХАНТ,Стефани ПРИНС. Владелец: Депью (Айэлэнд). Дата публикации: 2018-08-08.

Probe holder

Номер патента: US20180028151A1. Автор: Akinori Sato,Masaru Ichimura,Naoyuki NARUSE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-01.

Cryosurgical probe with pre-cooling feature

Номер патента: US5759182A. Автор: Kelvin John Varney,Simon Richard Reeves. Владелец: Spembly Medical Ltd. Дата публикации: 1998-06-02.

Method for delivering a tool to the interior of a heat exchange tube

Номер патента: US09470414B2. Автор: Phillip J. Hawkins,Lyman J. Petrosky,Kurt K. Lichtenfels. Владелец: Westinghouse Electric Co LLC. Дата публикации: 2016-10-18.

A method and apparatus for delivering a tool to the interior of a heat exchange tube

Номер патента: EP2994918A1. Автор: Phillip J. Hawkins,Lyman J. Petrosky,Kurt K. Lichtenfels. Владелец: Westinghouse Electric Co LLC. Дата публикации: 2016-03-16.

Method for delivering a tool to the interior of a heat exchange tube

Номер патента: US20160146453A1. Автор: Phillip J. Hawkins,Lyman J. Petrosky,Kurt K. Lichtenfels. Владелец: Westinghouse Electric Co LLC. Дата публикации: 2016-05-26.

Additive material integrated heater deposited or embedded within magnetostrictive oscillating ice detector sensor

Номер патента: EP4301118A1. Автор: Matthew Webb,Jamison K. Roman,Jeremiah SCHWEIZER. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2024-01-03.

Additive material integrated heater deposited or embedded within magnetostrictive oscillating ice detector sensor

Номер патента: US20230406517A1. Автор: Matthew Webb,Jamison K. Roman,Jeremiah SCHWEITZER. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2023-12-21.

Additive material integrated heater deposited or embedded within magnetostrictive oscillating ice detector sensor

Номер патента: CA3194950A1. Автор: Matthew Webb,Jamison K. Roman,Jeremiah SCHWEITZER. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2023-12-17.

Measurement device and method for measuring properties of target

Номер патента: FI131114B1. Автор: Jussi Pukki. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2024-10-09.

Ultrasonic lipectomy probe and method for manufacture

Номер патента: US5527273A. Автор: Ronald R. Manna,Vaclav Podany. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 1996-06-18.

Probe and manufacturing method thereof

Номер патента: US20190090917A1. Автор: Zhen Feng,Qun Cao. Владелец: Beijing SMTP Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-28.

Measurement device and method for measuring properties of target

Номер патента: FI20225897A1. Автор: Jussi Pukki. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2024-04-06.

Ultrasonic lipectomy probe and method for manufacture

Номер патента: CA2201713C. Автор: Ronald R. Manna,Vaclav Podany. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2001-01-16.

Ultrasonic wound treatment apparatus and associated method

Номер патента: US09872697B2. Автор: Dan Voic. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2018-01-23.

Standoff adapter for ultrasound probe

Номер патента: US4796632A. Автор: Gary L. Wilson,Wing Law,Ronald J. Boyd. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1989-01-10.

Ultrasonic instrument assembly and method for manufacturing same

Номер патента: CA2921617C. Автор: Dan Voic. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2020-12-08.

Ultrasonic wound debrider probe and method of use

Номер патента: CA2602485C. Автор: Ronald R. Manna,Dan Voic,Scott Isola,Theodore A. D. Novak. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2013-10-29.

Probe holder

Номер патента: US12121396B2. Автор: Masato Eda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Ultrasonic probe

Номер патента: US09820720B2. Автор: Toru Watanabe,Hidemitsu Kobayashi,Hidetsugu Katsura,Takeo Yasuhara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-21.

Mobile friction welding machine

Номер патента: GB2320218A. Автор: Terence Boon. Владелец: Lead Sheet Association. Дата публикации: 1998-06-17.

Ultrasonic medical probe with failsafe for sterility

Номер патента: CA2992055C. Автор: Ronald Manna,Dan Voic,Scott Isola,Alexander Darian. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2023-10-17.

Apparatus and method for manufacturing light-emitting display device

Номер патента: US20210320089A1. Автор: Jin Oh KWAG,Hae Yun CHOI,Hyun Min Cho,Keun Kyu SONG,Jong Hyuk KANG,Han Su Kim,Eun A YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Apparatus and method of image registration

Номер патента: US09833221B2. Автор: Alexander SHIP,Christopher Hutchins. Владелец: LightLab Imaging Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Methods for Probing Semiconductor Fins and Determining Carrier Concentrations

Номер патента: US20160268174A1. Автор: Clement Hsingjen Wann,Yasutoshi Okuno,Ling-Yen Yeh,Chi-Yuan Shih,Wei-Chun Tsai,Yuan-Fu Shao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-15.

Portable ultrasound systems

Номер патента: US11890139B2. Автор: Jonathan Karl Burkholz. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-06.

Portable Ultrasound Systems and Methods

Номер патента: US20240090872A1. Автор: Jonathan Karl Burkholz. Владелец: Bard Access Systems Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Electrical systems for detection and characterization of abnormal tissue and cells

Номер патента: US8417328B2. Автор: Moshe Sarfaty,Amir Lev. Владелец: LS Biopath Inc. Дата публикации: 2013-04-09.

Multi-purpose instrument guide

Номер патента: US20170035385A1. Автор: Per Ehrenreich Nygaard,John Antol,Niels-Christian Sasady. Владелец: BK Medical AS. Дата публикации: 2017-02-09.

Invasive probe system

Номер патента: US5158086A. Автор: D. Michael Brown,Homer Fairley. Владелец: WL Gore and Associates Inc. Дата публикации: 1992-10-27.

Quick disconnect fastener

Номер патента: US20070271739A1. Автор: Frederick A. Slautterback. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-29.

Surgical instrumentation for performing endoluminal and/or transluminal anastomosis

Номер патента: EP1915956A1. Автор: Alessandro Pastorelli,Michele D'arcangelo,Federico Bilotti,Brian James Thompson,Roberto Tacchino. Владелец: Ethicon Endo Surgery Inc. Дата публикации: 2008-04-30.

Multi-purpose instrument guide

Номер патента: EP3131471A1. Автор: Per Ehrenreich Nygaard,John Antol,Niels-Christian Sasady. Владелец: BK Medical AS. Дата публикации: 2017-02-22.

Systems and methods for monitoring the amplification of DNA

Номер патента: US09777318B2. Автор: Kenton C. Hasson. Владелец: Canon US Life Sciences Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Portable noninvasive inspection device

Номер патента: US20160249809A1. Автор: Mang Ou-Yang,Jeng-Ren Duann,Yung-Jhe Yan,Ting-Wei Huang,Sing-Tsung Li,Jin-Chern Chiou,Yung-Jiun Lin,Chin-Siang Yang,Yao-Fang Hsieh,Ming-Hsui Tsai,Shuen-De Wu,Zheng-Lin He. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2016-09-01.

Rf-biased capacitively-coupled electrostatic (rfb-cce) probe arrangement for characterizing a film in a plasma processing chamber

Номер патента: WO2010005934A3. Автор: Jung Kim,Jean-Paul Booth,Luc Albarede,Douglas L. Keil. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2010-05-06.

A method and apparatus for delivering a tool to the interior of a heat exchange tube

Номер патента: WO2014182356A1. Автор: Phillip J. Hawkins,Lyman J. Petrosky,Kurt K. Lichtenfels. Владелец: WESTINGHOUSE ELECTRIC COMPANY LLC. Дата публикации: 2014-11-13.

Method of determining the temperature coefficient of resistance of thin conducting films using a four-probe measurement method

Номер патента: RU2703720C1. Автор: Иван Александрович Корж. Владелец: Акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (АО "ОНИИП"). Дата публикации: 2019-10-22.

Measurement device and method for measuring properties of target

Номер патента: WO2024074758A1. Автор: Jussi Pukki. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2024-04-11.

Ultrasonic wound treatment apparatus

Номер патента: CA2992121C. Автор: Dan Voic. Владелец: Misonix LLC. Дата публикации: 2023-11-07.

Photoacoustic device

Номер патента: EP3917381A1. Автор: Paul Beard,Edward Zhang,Rehman ANSARI,Nam Trung HUNYNH. Владелец: UCL BUSINESS LTD. Дата публикации: 2021-12-08.

Измеритель диагностический

Номер патента: RU2627679C1. Автор: Михаил Анатольевич Ерёмушкин,Андрей Петрович Рачин,Владимир Кириллович Куролес,Юрий Иванович Колягин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский научный центр медицинской реабилитации и курортологии" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "РНЦ МРиК" Минздрава России). Дата публикации: 2017-08-09.

Method of controlling a combustion flame and a microphonic probe allowing the application of the method

Номер патента: US4626191A. Автор: Claude Bertrand. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1986-12-02.

Probe holder

Номер патента: US20220378398A1. Автор: Masato Eda. Владелец: Fujifilm Healthcare Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Imaging system and method therefor

Номер патента: AU2018332808A1. Автор: Hrebesh Molly SUBHASH. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2020-03-19.

Imaging system and method therefor

Номер патента: AU2018332808B2. Автор: Hrebesh Molly SUBHASH. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2021-01-21.

Imaging system and method therefor

Номер патента: WO2019055332A1. Автор: Hrebesh Molly SUBHASH. Владелец: Colgate-Palmolive Company. Дата публикации: 2019-03-21.

Imaging system and method therefor

Номер патента: EP3664693A1. Автор: Hrebesh Molly SUBHASH. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2020-06-17.

Ultrasound apparatus cover

Номер патента: US09980700B2. Автор: Bradley Nelson,Alessandro Gubbini. Владелец: Sound Technology Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Method of controlling a combustion flame

Номер патента: US4538979A. Автор: Claude Bertrand. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1985-09-03.

Novel dental scanner device and system and methods of use

Номер патента: CA2950090C. Автор: Alfonso FERNÁNDEZ PULIDO,David Depablos Garcia. Владелец: CARNOJAAL SL. Дата публикации: 2022-05-03.

An ultra-flexible miniature optical coherence tomography catheter and imaging method for endomicroscopy of the inner ear

Номер патента: WO2023150435A2. Автор: Fang HOU,Konstantina Stankovic,Seamus Scott Winters,Alejandro Enrique ORTEGA,Guilermo TEARNEY. Владелец: MASSACHUSETTS EYE AND EAR INFIRMARY. Дата публикации: 2023-08-10.

An ultra-flexible miniature optical coherence tomography catheter and imaging method for endomicroscopy of the inner ear

Номер патента: WO2023150435A3. Автор: Fang HOU,Konstantina Stankovic,Seamus Scott Winters,Alejandro Enrique ORTEGA,Guilermo TEARNEY. Владелец: MASSACHUSETTS EYE AND EAR INFIRMARY. Дата публикации: 2023-09-28.

An ultra-flexible miniature optical coherence tomography catheter and imaging method for endomicroscopy of the inner ear

Номер патента: WO2023150435A8. Автор: Fang HOU,Guillermo Tearney,Konstantina Stankovic,Seamus Scott Winters,Alejandro Enrique ORTEGA. Владелец: MASSACHUSETTS EYE AND EAR INFIRMARY. Дата публикации: 2024-05-10.

Artificial airway sputum scab cleaner

Номер патента: US20190015616A1. Автор: Sanlian Zhou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-01-17.

Ultrasonic beam path determination and targeting

Номер патента: EP4284503A1. Автор: Warren Lee,Ying Fan,Jeffrey Michael Ashe,David Andrew Shoudy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2023-12-06.

Tunnel boring machine

Номер патента: AU2021263785A1. Автор: Werner Burger,Gerhard Wehrmeyer. Владелец: HERRENKNECHT AG. Дата публикации: 2022-10-20.

Artificial airway sputum scab cleaner

Номер патента: US10376664B2. Автор: Sanlian Zhou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-08-13.

Method for manufacturing probe heads for probing integrated circuits

Номер патента: TW200417743A. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng,Yao-Jung Lee,Shr-Jie Cheng. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-09-16.

Probe structure and probe head

Номер патента: TWM476927U. Автор: Chih-Hao Hsu,Sang-Yi LIN. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-04-21.

Method for manufacturing probe heads for probing integrated circuits

Номер патента: TW594027B. Автор: John Liu,Noty Tseng,Yau-Rung Li,Shr-Jia Jeng,Yeong Her Wang. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-06-21.

Probe head module for multi-site probing

Номер патента: TW200834085A. Автор: Yeong-Jyh Lin,An-Hong Liu,Shu-Ching Ho,Hsiang-Ming Huang,Yi-Chang Lee. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2008-08-16.

Probe card assembly with exchangeable probe head

Номер патента: TW547643U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Shr-Jie Jeng,Noty Tseng,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2003-08-11.

COMBINED PROBE HEAD FOR A VERTICAL PROBE CARD AND METHOD FOR ASSEMBLING AND ALIGNING THE COMBINED PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20120025859A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-02.

Probe head and method for forming probe needles on the probe head

Номер патента: TW577989B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Shr-Jie Jeng,Noty Tseng,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-03-01.

Probe head for measuring parameters of chips

Номер патента: RU2076392C1. Автор: А.М. Темнов. Владелец: Государственное научно-производственное предприятие "Исток". Дата публикации: 1997-03-27.

Probe head

Номер патента: GB9314835D0. Автор: . Владелец: RENSIHAW PLC. Дата публикации: 1993-09-01.

Modular probe head

Номер патента: TW200426380A. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng,S J Cheng,Y J Lee. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-12-01.

Probe head for testing device

Номер патента: TWI262569B. Автор: Lai-Fue Hsieh,Hsiu-Chu Chou,Kuo-Hsiung Juang. Владелец: Silicon Integrated Sys Corp. Дата публикации: 2006-09-21.

Modular probe head

Номер патента: TW200501298A. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yau-Rung Li,Yeong-Ching Chao,Shr-Jie Cheng. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2005-01-01.

Probe head for coordinate measuring machine

Номер патента: USD685275S1. Автор: Kurt Brenner,Thomas Engel,Tobias Woletz,Walter Matuschek,Christian Siegel,Walter Jenisch. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2013-07-02.

Probe head

Номер патента: USD1031997S1. Автор: Michael Engels,Richard Booman,Michael J Mende,Iris Zimmermann,Kai Klein,Michael D Stevens,Mark Heimann,Peter Hildenhagen,Benno Jacobs,Frank Pannes,Thomas Podrebersek,Philipp Palffy-Daun-Seiler,Nadja Laaperi,Jurij Weber,Nicolas Frabasile,Juergen Trueller,Michael Eube,Matthew M Mende. Владелец: Pmk Mess und Kommunikationstechnik GmbH. Дата публикации: 2024-06-18.

Probe head for testing device

Номер патента: TW200532835A. Автор: Lai-Fue Hsieh,Hsiu-Chu Chou,Kuo-Hsiung Juang. Владелец: Silicon Integrated Sys Corp. Дата публикации: 2005-10-01.

Electronic probe head

Номер патента: USD644738S1. Автор: Shawn V. Regan,Leah L. Hanson,Aron M. Olson. Владелец: Rhythmlink International LLC. Дата публикации: 2011-09-06.

Modulized probe head for high frequency

Номер патента: TW200608025A. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yeong-Ching Chao,Yi-Chang Lee,Y J Lee. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2006-03-01.

Probe head

Номер патента: GB9316196D0. Автор: . Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 1993-09-22.

Modulized probe head for high frequency

Номер патента: TWI284205B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yau-Rung Li,Yeong-Ching Chao,Yi-Chang Lee. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2007-07-21.

Tip cable component of a measurement probe head assembly

Номер патента: USD992437S1. Автор: Karl A. Rinder,Michael J. Mende,David Thomas Engquist,Heather J. Vermilyea,Tony Lee Tarr. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2023-07-18.

A cantilever type probe head

Номер патента: TW201033618A. Автор: shi-ming Liu. Владелец: Allstron Inc. Дата публикации: 2010-09-16.

Probe head and conductive probe thereof

Номер патента: CN210514406U. Автор: 王宏杰,黄雅如. Владелец: Premtek International Inc. Дата публикации: 2020-05-12.

Probe module, probe head and manufacturing method thereof

Номер патента: TWI619948B. Автор: 陳光宇. Владелец: 華邦電子股份有限公司. Дата публикации: 2018-04-01.

Probe head and conductive probe thereof

Номер патента: CN210514407U. Автор: 王宏杰,黄雅如. Владелец: Premtek International Inc. Дата публикации: 2020-05-12.

Vertical shaft underground for probing probing head

Номер патента: CN204731192U. Автор: 张斌,胡博,于润桥,夏桂锁,程东方,程强强. Владелец: Ningbo Yinzhou Citai Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-28.

Probe card, space converter, and manufacturing method of space converter comprising a space converter, a first washer set and a second washer set, a circuit board, and a probe head

Номер патента: TW201702611A. Автор: Hao Wei,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-01-16.

Electrical test probe probing head

Номер патента: USD444721S1. Автор: Julie A. Campbell. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2001-07-10.

INTERFACE BOARD OF A TESTING HEAD FOR A TEST EQUIPMENT OF ELECTRONIC DEVICES AND CORRESPONDING PROBE HEAD

Номер патента: US20140015560A1. Автор: Campardo Giovanni,Liberini Riccardo,MAGGIONI Flavio. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2014-01-16.

Probing head

Номер патента: SU907885A1. Автор: Анатолий Васильевич Кузнецов,Борис Анатольевич Милославов,Эдуард Георгиевич Гасилов,Анатолий Георгиевич Зайцев. Владелец: Пензенский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Технологического Института Приборостроения. Дата публикации: 1982-02-23.

Manufacture of probe head

Номер патента: JPH01156670A. Автор: Shusuke Yokoi,秀輔 横井. Владелец: Life Care Giken Inc. Дата публикации: 1989-06-20.

Modular probe head

Номер патента: TWI221015B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yau-Rung Li,Yeong-Ching Chao,Shr-Jia Jeng. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-09-11.

DELIVERING LIGHT VIA OPTICAL WAVEGUIDE AND MULTI-VIEW OPTICAL PROBE HEAD

Номер патента: US20120033911A1. Автор: Wang Feiling,Vertikov Andrey. Владелец: TOMOPHASE CORPORATION. Дата публикации: 2012-02-09.

MULTILAYER MICROFLUIDIC PROBE HEAD AND METHOD OF FABRICATION THEREOF

Номер патента: US20120048391A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-01.

MULTILAYER MICROFLUIDIC PROBE HEAD AND METHOD OF FABRICATION THEREOF

Номер патента: US20120285017A1. Автор: Drechsler Ute,Delamarche Emmanuel,Lovchik Robert. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-11-15.

PROBE HEAD ASSEMBLIES, COMPONENTS THEREOF, TEST SYSTEMS INCLUDING THE SAME, AND METHODS OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20120286817A1. Автор: . Владелец: Cascade Microtech, Inc.. Дата публикации: 2012-11-15.

Probe Head Formation Methods Employing Guide Plate Raising Assembly Mechanism

Номер патента: US20120319711A1. Автор: Hung Wensen,Kuo Yung-Hsin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-12-20.

Probe Head

Номер патента: US20130027026A1. Автор: SCHOPF Reinhold. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

PROBE HEAD TEST FIXTURE AND METHOD OF USING THE SAME

Номер патента: US20140084956A1. Автор: Surell Dennis Glenn L.. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-27.

ELASTOMERIC PARALLEL STAGE WITH FLEXURAL HINGES TO PROVIDE MULTI-DEGREE-OF-FREEDOM SENSITIVITY OF AN AERODYNAMICALLY FLOATED PROBE HEAD TO DISTURBANCE IN 3D SPACE

Номер патента: US20140096629A1. Автор: Liu Yu,Vella Sarah J.,Lavigne Gaetano,SKOROKHOD Vlad,Junginger Johann E.. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-10.

Ultrasound probe head

Номер патента: USD699359S1. Автор: Eric W. Lindekugel,Amir Orome,Matthew W. Bown. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2014-02-11.

Ultrasound probe head

Номер патента: USD754357S1. Автор: Eric W. Lindekugel,Amir Orome. Владелец: CR Bard Inc. Дата публикации: 2016-04-19.

Four-probe head for measuring material resistivity

Номер патента: SU1035683A1. Автор: Владимир Александрович Шмидт,Дмитрий Васильевич Силин. Владелец: Ордена Ленина физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе. Дата публикации: 1983-08-15.

Probe head

Номер патента: SU669430A1. Автор: Валерий Флорианович Бородзюля,Валерий Вячеславович Голубев. Владелец: Ленинградский Политехнический Институт Им.М.И.Калинина. Дата публикации: 1979-06-25.

Probe head

Номер патента: JPH01158347A. Автор: Hideaki Saito,秀昭 斎藤,Akio Ishino,Ikkan Murakami,昭夫 石野,一貫 村上. Владелец: FDK Corp. Дата публикации: 1989-06-21.

Probe head

Номер патента: JP2531042Y2. Автор: 正勝 久栖. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 1997-04-02.

Probe head of electronic component test device

Номер патента: CN203148990U. Автор: 林信忠,陈威助,游辉哲. Владелец: CHINA CONTACT PROBES Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-21.

Process of manufacturing probe heads

Номер патента: SU1206711A1. Автор: Евгений Григорьевич Утишев,Николай Николаевич Цопкало,Валерий Георгиевич Ли,Владимир Николаевич Нозиков. Владелец: Таганрогский радиотехнический институт им.В.Д.Калмыкова. Дата публикации: 1986-01-23.

Probe head for tracing particles in electric and magnetic fields

Номер патента: SU136800A1. Автор: И.М. Блейвас. Владелец: И.М. Блейвас. Дата публикации: 1960-11-30.

A kind of ultrasonic pressure balanced probe head for three-phase flow logging instrument

Номер патента: CN206753568U. Автор: 王慧,王建国,周国隆. Владелец: Chengdu Zhongyou Yilong Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-15.

Probe head

Номер патента: JPH1164382A. Автор: Hideaki Yoshida,秀昭 吉田,Nobuyoshi Tachikawa,宣芳 立川,尚文 岩元,Takafumi Iwamoto. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1999-03-05.

Probing head

Номер патента: SU661862A1. Автор: Николай Иванович Сменов,Харис Гафаевич Салимов. Владелец: Предприятие П/Я Х-5476. Дата публикации: 1979-05-05.

Novel ultrasound probe head

Номер патента: CN201244035Y. Автор: 杜昭钦. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-05-27.

Probe head for high frequency signal test and medium or low frequency signal test at the same time

Номер патента: TW202109050A. Автор: 楊惠彬,楊金田,謝尚融,陳宗毅,陳宥豪,呂知穎. Владелец: 旺矽科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-03-01.

Flying probe head

Номер патента: JP3008436B2. Автор: 博文 井上. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-02-14.

Manufacture for probe head

Номер патента: JPH11271360A. Автор: Ryuichi Takagi,進 春日部,Susumu Kasukabe,隆一 高木. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-10-08.

Probe head and integrated circuit measuring method

Номер патента: JP3363195B2. Автор: 真美子 中西. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-01-08.

Probing head for measuring electric parameters of microcircuits

Номер патента: SU790372A1. Автор: Василий Семенович Сафонов,Анатолий Иванович Вдовкин. Владелец: Предприятие П/Я А-7501. Дата публикации: 1980-12-23.

Cap for the probing head of the ear thermometer

Номер патента: TW381699U. Автор: Yang-Hung Lin. Владелец: Lin Yang Hung. Дата публикации: 2000-02-01.

Probe head

Номер патента: JP4462732B2. Автор: 守四郎 須藤. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2010-05-12.

Ear thermometer and probe head thereof

Номер патента: CN201269778Y. Автор: 王殿臣,洪综富,苏明绸. Владелец: Chang Gung Medical Supplies & Equipment Corp. Дата публикации: 2009-07-08.

Circular magnetic field probe head

Номер патента: CN201156083Y. Автор: 贾凡,刘道德,田菊,区健昌,冯桂山. Владелец: Chengdu Bikong Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2008-11-26.

Self-adapting probe head apparatus

Номер патента: CN201532382U. Автор: 王锐,石峥映,黄明全. Владелец: Nanjing Tycho Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2010-07-21.

Film carrier type semiconductor device, probe head for inspection, and positioning method

Номер патента: JPH11142472A. Автор: Kaoru Takahashi,馨 高橋. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1999-05-28.

Method of manufacturing probe head

Номер патента: JP3345948B2. Автор: 和夫 井上,正充 高波. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2002-11-18.

Long-service-life plug-in type probe head

Номер патента: CN201628730U. Автор: 王昕�,冯小明,王世进,勾永江. Владелец: Guangzhou Kunde Technology Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-10.

Circular magnetic field probe head

Номер патента: CN201156082Y. Автор: 贾凡,刘道德,田菊,区健昌,冯桂山. Владелец: Chengdu Bikong Science and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2008-11-26.

LED detection device with probe head

Номер патента: CN214750424U. Автор: 王庆民,宋庆军,孔强强. Владелец: Jining Semiconductor And Display Products Quality Inspection Center. Дата публикации: 2021-11-16.

Modular probe head

Номер патента: TWI220932B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng,Yau-Rung Li,Shr-Jia Jeng. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-09-11.

IR ear thermometer and probe head

Номер патента: TWM351066U. Автор: Ming-Chou Su,dian-chen Wang,zong-fu Hong. Владелец: Chang Gung Medical Supplies & Amp Equipment Corp. Дата публикации: 2009-02-21.

Low noise probe head

Номер патента: TWM253771U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-12-21.

Die plate assembly for probe head

Номер патента: USD1031738S1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsin-Cheng Hung,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Single action probe with acoustic communication channel for measuring temperature distribution of water by depth on ship course

Номер патента: RU2592723C1. Автор: Валерий Викторович Степанов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Арктический и Антарктический научно-исследовательский институт" (ФГБУ "ААНИИ"). Дата публикации: 2016-07-27.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE20200243A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE87268B1. Автор: CHUANG Han-Yu,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien,Peng Hans-Po-Han. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Method of oesophageal-intestinal anastomosis and probe for method implementation

Номер патента: RU2349270C2. Автор: Григорий Васильевич Бондарь,Геннадий Геннадиевич Псарас,Александр Вадимович Бондарь. Владелец: Григорий Васильевич Бондарь. Дата публикации: 2009-03-20.

A test system and test method thereof

Номер патента: PH12015000345A1. Автор: Chang Tsung-Yao,CHANG Chih-Chieh,HUANG CHENG-CHANG,Hsu Yao-Te,Yao Chien-Chung. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2016-06-20.

Coupler and pump for a beverage dispenser

Номер патента: CA1275983C. Автор: Anthony D. Brown. Владелец: GRUNDY DISPENSE SYSTEMS Inc. Дата публикации: 1990-11-06.

Optical probes and methods for spectral analysis

Номер патента: CA2618209A1. Автор: David M. Mayes,Erich R. Gross,Anthony S. Lee,Anthony K. Maczura,Charles W. Von Rosenberg. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-20.

Device for detecting persons buried by avalanches

Номер патента: CA1196515A. Автор: Heinz Howarde. Владелец: RBG Rohrnetzbau GmbH. Дата публикации: 1985-11-12.

Device for automated precision monitoring of specific resistance

Номер патента: RU2079850C1. Автор: Александр Николаевич Сергиевский. Владелец: Александр Николаевич Сергиевский. Дата публикации: 1997-05-20.

METHOD AND SYSTEM FOR ALIGNMENT OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20120001340A1. Автор: . Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

Support member assembly for conductive contact members

Номер патента: MY141086A. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-15.

Process for finding potential defect indications in real time while ultrasonically scanning a weld

Номер патента: CA3077280C. Автор: John Mark Davis,Archibald Leach COBBS,Charles Allan Hansen,Nicholas James Bublitz,Samuel Matthew Davis. Владелец: Veriphase Inc. Дата публикации: 2021-02-09.

探針頭之導板組

Номер патента: TWD214871S. Автор: 林哲緯,林進億,蘇耿民,洪欣呈. Владелец: 旺矽科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-10-21.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.