Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head
Номер патента: US20240183882A1
Опубликовано: 06-06-2024
Автор(ы): Giuseppe Amelio
Принадлежит: Microsoft SpA
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 06-06-2024
Автор(ы): Giuseppe Amelio
Принадлежит: Microsoft SpA
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe head comprising pogo pins for wafer-level burn-in test
Номер патента: EP4382920A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2024-06-12.