SEMICONDUCTOR COMPONENT BURN-IN TEST MODULE AND BURN-IN TEST EQUIPMENT
Номер патента: US20220043052A1
Опубликовано: 10-02-2022
Автор(ы): LIANG Hsing-Yueh, LIAO Po-Wei, Tsai Chia-Hung, Wang Yi-Ting, Wu Kuo-Jung
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 10-02-2022
Автор(ы): LIANG Hsing-Yueh, LIAO Po-Wei, Tsai Chia-Hung, Wang Yi-Ting, Wu Kuo-Jung
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Semiconductor component burn-in test module and burn-in test equipment
Номер патента: US20220043052A1. Автор: Yi-Ting Wang,Chia-Hung Tsai,Kuo-Jung Wu,Hsing-Yueh LIANG,Po-Wei LIAO. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.