Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Probe card

Номер патента: US20180267084A1
Опубликовано: 20-09-2018
Автор(ы): Chen-Yueh Kung, Wei-Cheng Chen, Wen-Yuan Chang
Принадлежит: Via Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Probe card pad geometry in automated test equipment

Номер патента: WO2021133557A1. Автор: Brian Brecht,Steve Ledford. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2021-07-01.

Probe card pad geometry in automated test equipment

Номер патента: US20210190826A1. Автор: Brian Brecht,Steve Ledford. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11860192B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Probe card and wafer testing assembly thereof

Номер патента: US20230065896A1. Автор: Yi-Chien Tsai,Yu-Shan Hu,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Probe card for fine pitch circuit probe testing of semiconductor integrated circuit devices and methods of forming the same

Номер патента: US20240272200A1. Автор: Yuan-Li Lin,Hsiao Kang LI,I-Tee LEE. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Probe card monitoring system and monitoring method thereof

Номер патента: US20240345134A1. Автор: Wei-Ting Chen,Shih-Ying Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Probe card assembly with a dielectric structure

Номер патента: WO2006119405A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2006-11-09.

Probe cards, dut side modules of the probe cards, testing methods and systems that include the probe cards, tested devices and methods of producing tested devices by utilizing the probe cards

Номер патента: US20240241155A1. Автор: Che-Wei Lin,Sheng-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsueh-Chih Wu,Shu-Jui Chang,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Sheng-Yu Lin,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: WO2024132831A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: SG11201909342TA. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-11-28.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US11874313B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20220170961A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Probe card structure

Номер патента: US20230025864A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Probe card

Номер патента: US12025637B2. Автор: Chin-Tien Yang,Chia-Tai Chang,Chin-Yi Tsai,Chen-Chih Yu,Cheng-Nien Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: MY200160A. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-09.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: EP3615949A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-03-04.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20200057095A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-02-20.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20220099703A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-03-31.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: PH12019502351A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-12-07.

Pogo pin and probe card, and method of manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09651577B2. Автор: Joon-Yeon Kim,Sung-ho Joo,Yu-Kyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

Wafer testing probe card

Номер патента: US09823272B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Ming-Chi Chen,Tien-Chia LI,Dai-Jin YEH,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Probe head and vertical probe card comprising the same

Номер патента: US20230393172A1. Автор: Tien-Chia Lee,Chia-Hsiang Yu,Wen-Tsung Sung. Владелец: Silicon Future Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Probe card transporting apparatus and method

Номер патента: US20240183895A1. Автор: Ho Young Lee,Seung Chan Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Probe card for testing wafers with fine pitch circuit

Номер патента: US09970961B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Probe card for testing wafers

Номер патента: US09423423B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US09880202B2. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2018-01-30.

Mems probe card

Номер патента: US20230324437A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Probe card and method of manufacturing semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20110281380A1. Автор: Akio Hasebe,Yasunori Narizuka,Etsuko Takane. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Probe card

Номер патента: US09759745B2. Автор: Yung-Hsin Kuo,Po-Yi Huang,Yuan-Li Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Probe card for testing semiconductor integrated circuit and method of manufacturing the same

Номер патента: US20010015650A1. Автор: Masahiro Tanaka,Yoshihiro Kashiba,Shigeki Maekawa,Yoshinori Deguchi,Megumi Takemoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2001-08-23.

Alignment adjusting mechanism for probe card, position adjusting module using the same and modularized probing device

Номер патента: US09470750B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Chung-Tse Lee,Shih-Shin Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Probe card fixture

Номер патента: US4935694A. Автор: Glenn R. Clarridge. Владелец: Electro Scientific Industries Inc. Дата публикации: 1990-06-19.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240118316A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Probe card structure

Номер патента: US11879913B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xinzhuo Technology Zhejiang Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices and corresponding space transformer

Номер патента: WO2023227575A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Staggered probe card and conductive probe

Номер патента: US20210109129A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Hsiao-Kang Li,Ying-Ming Tiao. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Area array (flip chip) probe card

Номер патента: US6130546A. Автор: Sayed Kamallodin Azizi. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2000-10-10.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: EP2859361A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-04-15.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US11782075B2. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-10.

Vertical probe card having different probes

Номер патента: US20230314477A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Probe card and wafer testing assembly thereof

Номер патента: US12099078B2. Автор: Yi-Chien Tsai,Yu-Shan Hu,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Probe card for simultaneously testing multiple dies

Номер патента: US09594096B2. Автор: You-Hua Chou,Yi-Jen LAI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Probe card

Номер патента: US20090219042A1. Автор: Hiroshi Nakayama,Shunsuke Sasaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-03.

Modular vertical probe card

Номер патента: US20230314481A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Vertical probe card device and fence-like probe thereof

Номер патента: US20230314480A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Vertical probe card and fence-like probe thereof

Номер патента: US20230314478A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Vertical probe card and fence-like probe thereof

Номер патента: US11988686B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Vertical Probe Card

Номер патента: US20170227580A1. Автор: Ming Fang,Faheem Mohamedi. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-08-10.

Vertical probe comprising slots and probe card for integrated circuit devices using the same

Номер патента: US7928749B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Cryogenic probe card

Номер патента: EP4314847A1. Автор: Gregory Nolan NIELSON. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2024-02-07.

Cryogenic probe card

Номер патента: US20240118315A1. Автор: Gregory Nielson. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2024-04-11.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US20150048856A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-02-19.

Testing head with vertical probes for a probe card and corresponding method of assembly

Номер патента: EP4261547A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2023-10-18.

Probe card with improved temperature control

Номер патента: WO2023227538A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Probe card device and rectangular probe

Номер патента: US20190227101A1. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-25.

Probe card device and conductive probe thereof

Номер патента: US20200300893A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Probe card device and rectangular probe

Номер патента: US10670630B2. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

Substrate structure and probe card having the same

Номер патента: WO2008105608A1. Автор: Chang-Soo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2008-09-04.

Probe card stiffener with decoupling

Номер патента: US20120146679A1. Автор: Eric D. Hobbs,Kevin S. Chang. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

High temperature probe card

Номер патента: US20030146770A1. Автор: Ivan Ivanov. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2003-08-07.

Probe Card

Номер патента: US20120146677A1. Автор: Duk Kyu Lee,Chang Min Im,Sang Bum Sim,Yun Kee Cho. Владелец: SDA Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Probe card

Номер патента: US20190212368A1. Автор: Kuan-Chun Chou,Horng-Kuang Fan,Yu-Chen Hsu,Hsien-Ta HSU,Ching-Hua Wu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Method of contacting substrate with probe card

Номер патента: US09863977B2. Автор: Hiroshi Yamada,Jun Mochizuki,Kunihiro Furuya,Takanori Hyakudomi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Method And System For Compensating Thermally Induced Motion Of Probe Cards

Номер патента: US20060238211A1. Автор: Gary Grube,Benjamin Eldridge,Gaetan Mathieu,Makarand Shinde,Ken Matsubayashi,Richard Larder. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Thermal control of a probe card assembly

Номер патента: WO2017151231A1. Автор: Kevin A. Thompson,Isaac N. Silva. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2017-09-08.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US8040147B2. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-10-18.

Thermal control of a probe card assembly

Номер патента: WO2017151231A9. Автор: Kevin A. Thompson,Isaac N. Silva. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2017-10-19.

Cantilever type probe card and method for production thereof

Номер патента: US20040070417A1. Автор: Yukihiro Isa. Владелец: UMC Japan Co Ltd. Дата публикации: 2004-04-15.

Planarizing probe card

Номер патента: WO2009075681A1. Автор: Raffi Garabedian,Ken Karklin. Владелец: TOUCHDOWN TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2009-06-18.

Probe card partition scheme

Номер патента: US09513332B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Mill-Jer Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Probe card for device under test

Номер патента: US12044719B2. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US09696402B2. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Probe card attaching method

Номер патента: US09568501B2. Автор: Hiroshi Yamada,Hiroki Obi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: US09599663B2. Автор: Sang-Boo Kang,Ki-Sub LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Transposed via arrangement in probe card for automated test equipment

Номер патента: US20210190828A1. Автор: Brian Brecht. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Fine pitch interface for probe card

Номер патента: US20140091825A1. Автор: Ka Ng Chui. Владелец: Corad Tech Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Probe head and probe card

Номер патента: US11733267B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Probe card assembly

Номер патента: US09797928B2. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: WO2022112479A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-06-02.

Probe card and having opposite surfaces with different directions and test apparatus including probe card thereof

Номер патента: US09933478B2. Автор: Tomoko Fujiwara,Takao Sueyama,Keiko Kaneda,Michiko Ego. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Image sensor testing probe card

Номер патента: US09494617B2. Автор: Wei-Feng Lin,Wen-Jen Ho,Yi-Chang Hsieh,Shih-Duen Lin,Chih-Pin Jen. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Probe card module

Номер патента: US20210223290A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Probe card module

Номер патента: US11156639B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2021-10-26.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: EP4252011A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-04.

Probe card, and supporting structure and probe structure thereof

Номер патента: US20240319230A1. Автор: Yuan-Ting Tai,Hung-Chan Huang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Low-current probe card

Номер патента: US20030071644A1. Автор: Randy Schwindt. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2003-04-17.

Probe card

Номер патента: US20230194571A1. Автор: Ming-Hsien Chen,Tzu-Chien Wang,Wen-Yuan Hsu,jia-lin Lu. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Probe card and method for testing magnetic sensors

Номер патента: US09606144B2. Автор: Lianjun Liu,Phillip MATHER. Владелец: Everspin Technologies Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Probe card assembly for testing electronic devices

Номер патента: US09588139B2. Автор: Li Fan,Darcy K. Kelly-Greene,Gensaku Nagai,Jim Zhang,Edward J. Milovic,Mukesh K. Selvaraj. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Universal probe card and testing method

Номер патента: US20240310412A1. Автор: Chia-Wei Chen,Chung-Hsiung Ho,Ping-Jui Hsieh. Владелец: PanJit International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Probe head and probe card

Номер патента: EP3715866A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Probe card

Номер патента: US12092660B2. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe card

Номер патента: US20240353445A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Safety system for needle probe card for high-voltage and high-current test on power semiconductor devices, related test machine and corresponding testing method

Номер патента: US12092659B2. Автор: Carlo CIANFEROTTI,Marco Marcinno′. Владелец: CREA COLLAUDI ELETTRONICI AUTOMATIZZATI Srl. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180299489A1. Автор: Takashi Kawano,Tetsuya Yoshioka,Mika Nasu,Shigeki MAKISE. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US09638716B2. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Arch type probe and probe card using same

Номер патента: US20050099194A1. Автор: Atsushi Mine,Kazumichi Machida,Teruhisa Sakata,Atsuo URATA,Teppei KIMURA,Toranosuke Furusho. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2005-05-12.

Probe card

Номер патента: US20130342235A1. Автор: Chung-Soo Han. Владелец: Sedicon Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-26.

High frequency probe card for probing photoelectric device

Номер патента: US09535093B2. Автор: Chia-Tai Chang,Hui-Pin Yang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: US09952255B2. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Probe card, method for designing probe card, method for producing tested semiconductor device method for testing unpackaged semiconductor by probe card, device under test and probe system

Номер патента: US20240077519A1. Автор: Hao Wei,Yu-Hao Chen,Yang-Hung Cheng,Jhin-Ying Lyu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: WO2013006768A3. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,Michael Palumbo. Владелец: CELADON SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-03-14.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140239996A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee,Michael Palumbo. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Probe card device and rectangular probe thereof

Номер патента: US20190317131A1. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-17.

Customizable probe cards, probe systems including the same, and related methods

Номер патента: WO2021118729A1. Автор: Masanori Watanabe,Nobuhiro Kawamata,Yoichi Funatoko,Masahiro Sameshima. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2021-06-17.

Probe card holding device and inspection device

Номер патента: US20210255217A1. Автор: Kazumi Yamagata,Tatsuo Kawashima. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Method and System for Compensating Thermally Induced Motion of Probe Cards

Номер патента: US20080094088A1. Автор: Gary Grube,Benjamin Eldridge,Gaetan Mathieu,Makarand Shinde,Ken Matsubayashi,Richard Larder. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2008-04-24.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: MY140511A. Автор: Michael L Anderson,Michael A Casolo,Edward A Mccloud,Mostarshed Shahriar. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2009-12-31.

Probe card device and neck-like probe thereof

Номер патента: US20210223289A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Probe card test apparatus

Номер патента: US20210364551A1. Автор: Jinwoo Jung,Taejun KIM,Joonsu JI,Serim LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: EP1917534A2. Автор: Shahriar Mostarshed,Michael L. Anderson,Edward A. Mccloud,Michael A. Casolo. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2008-05-07.

False detection method for loading probe card

Номер патента: US20200088788A1. Автор: Chia-Wei Wang,Wei-Jr YANG,Chien-Fang Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: WO2007098293A2. Автор: David T. Beatson,Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan,David F. Mcdevitt. Владелец: Sv Probe Pte Ltd.. Дата публикации: 2007-08-30.

Probe card apparatus having a heating element and process for using the same

Номер патента: US5124639A. Автор: Scott J. Carlin,Samuel Roberts, Jr.. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Probe card

Номер патента: WO2009025427A1. Автор: Yong Goo Lee,Maeng Youl Lee. Владелец: Gigalane Co.Ltd. Дата публикации: 2009-02-26.

Probe card system, method of manufacturing probe card system, method of using probe card system

Номер патента: US20240027494A1. Автор: Ho-Ming Tong,Chao-Chun Lu. Владелец: Nd Hi Technologies Lab inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Guide plate for probe card and manufacturing method thereof, and probe card having same

Номер патента: US20200132756A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Probe card assemblies and probe pins including carbon nanotubes

Номер патента: EP2649463A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-10-16.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: US20100283495A1. Автор: Won Hee Yoo,Byeung Gyu Chang. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-11.

Cantilever probe card device and elastic probe thereof

Номер патента: US12092661B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US20110006798A1. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-13.

Probe card and switch module

Номер патента: EP3745142A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsueh-Chih Wu,Ting-Ju WU,Keng-Min Su,Ko-Chun WU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: WO2007098293A3. Автор: Bahadir Tunaboylu,David T Beatson,Habib Kilicaslan,David F Mcdevitt. Владелец: David F Mcdevitt. Дата публикации: 2008-01-10.

Probe Card Assemblies And Probe Pins Including Carbon Nanotubes

Номер патента: US20140028342A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-01-30.

Probe card alignment

Номер патента: US20190018044A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Test apparatuses including probe card for testing semiconductor devices and operation methods thereof

Номер патента: US20200386786A1. Автор: Gyuyeol KIM,Yukyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-12-10.

Probe card

Номер патента: US20160178668A1. Автор: Yong Seok Choi,Dae Hyeong Lee,Doo Yun Chung. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-23.

Probe card alignment

Номер патента: US20190018043A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

A wedge amplitude-modulation probe card and a main body thereof

Номер патента: US20240053384A1. Автор: Ming Zhou,Haichao Yu. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Probe card

Номер патента: US20240168059A1. Автор: Youngil Kim,Junoh Choi,Duhyun HWANG,Kyubeom KIM,Dongdae Kim,Jaehan Cho. Владелец: Top Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Probe Card

Номер патента: US20100052710A1. Автор: Cheng-Chin Ni. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Probe card alignment

Номер патента: US20190391179A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Probe card for semiconductor wafers and method and system for testing wafers

Номер патента: US6060891A. Автор: Salman Akram,David R. Hembree,Alan G. Wood,Warren M. Farnworth,C. Patrick Doherty,Andrew J. Krivy. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-05-09.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140210501A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Probe card device and testing equipment thereof

Номер патента: US11761984B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Method of manufacturing space transformer for probe card

Номер патента: US09442135B2. Автор: Kuan-Chun Chou,Hui-Pin Yang,Huo-Kang HSU,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

An amplitude-modulating probe card and its probe and amplitude-modulating structure

Номер патента: US20230384348A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Probe card

Номер патента: US20100141289A1. Автор: Jong-Hoon Kim,Kwang-soo Park,Jin-ho So,Hyun-Ae Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-06-10.

Probe card

Номер патента: US20020113608A1. Автор: Andy Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-22.

Probe card with reconfigurable circuitry

Номер патента: CA1270069A. Автор: Lloyd A. Walls,Edward S. Hoyt,Timothy A. Horel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1990-06-05.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US20150168528A1. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-06-18.

Probe card for device under test

Номер патента: US20230251298A1. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-08-10.

Method and apparatus for inspecting integrated circuit probe cards

Номер патента: US4918374A. Автор: Donald B. Snow,Ronald C. Seubert,John P. Stewart. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 1990-04-17.

Probe card device used in probing apparatus

Номер патента: US5825192A. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-10-20.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: EP1849016A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2007-10-31.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: WO2006088847A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: Sv Probe Pte Ltd.. Дата публикации: 2006-08-24.

Alignment chip for probe card, probe card and probe card repair method

Номер патента: US20240103071A1. Автор: Takashi Yoshida. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Probe card

Номер патента: US20130328585A1. Автор: Ken Hasegawa,Yoshihito Onuma,Yoshihito Kitabatake,Takayuki Kogawa. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Signal path switch and probe card having the signal path switch

Номер патента: US09442134B2. Автор: Wei Chen,Chun-Chung Huang,Wei-Cheng Ku,Hsin-Hsiang Liu,Jun-Liang Lai,Kuang-Chung Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Guide plate for probe card

Номер патента: US09459287B2. Автор: Akinori Shiraishi,Teppei KIMURA,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Active probe card for high resolution/low noise wafer level testing

Номер патента: US4780670A. Автор: Robert S. Cherry. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

Integrated light conditioning devices on a probe card for testing imaging devices, and methods of fabricating same

Номер патента: US7868630B2. Автор: John Caldwell,Randy Cleverly. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2011-01-11.

Probe card assembly

Номер патента: US20170356933A1. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Probe card assembly

Номер патента: US20160077129A1. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Probe card with segmented substrate

Номер патента: WO2006060467A3. Автор: Scott R Williams. Владелец: K & S Interconnect Inc. Дата публикации: 2006-07-20.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: US20240012028A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-11.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11852656B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Tae Hwan Song. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe head and probe card comprising same

Номер патента: US20230152350A1. Автор: Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN,Dong Hyeok Seo. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Probe card

Номер патента: US20130321019A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Jig for manufacturing probe card, probe alignment system comprising same, and probe card manufactured thereby

Номер патента: US20230176092A1. Автор: Oug Ki Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-08.

Probe cards, system for manufacturing semiconductor device, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20210055328A1. Автор: Sungho JOO,Gyeongwon PARK,Gyuyeol KIM,Ikbum LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-02-25.

Probe card

Номер патента: US20050007134A1. Автор: Yoshinori Deguchi. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2005-01-13.

Probe card for a magnetically-actuable device and test system including the probe card

Номер патента: US20180237293A1. Автор: Marco Rossi,Giacomo Calcaterra,Sergio Mansueto Reina. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2018-08-23.

Probe card for testing film package

Номер патента: WO2010104337A3. Автор: Yi Bin Ihm,Nam Jung Her,Jun Soo Cho. Владелец: Pro-2000 Co. Ltd.. Дата публикации: 2010-12-23.

Probe card and method for repairing probe card

Номер патента: US20240110974A1. Автор: Yutaka Tomita. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Probe card and probe module thereof

Номер патента: US20210311095A1. Автор: Chung-Yen Huang,Chih-Hao Ho,Fuh-Chyun Tang,Chih-Wei Wen,Sheng-Feng Xu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Probe card, and testing apparatus having the same

Номер патента: US20040046580A1. Автор: Yoshihiro Kashiba,Shigeki Maekawa,Yuetsu Watanabe,Megumi Takemoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-03-11.

Probe card

Номер патента: US20230160926A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Safety system for needle probe card for high-voltage and high-current test on power semiconductor devices, related test machine and corresponding testing method

Номер патента: WO2021240431A1. Автор: Marco Marcinno',Carlo CIANFEROTTI. Владелец: Crea Collaudi Elettronici Automatizzati S.R.L.. Дата публикации: 2021-12-02.

Probe Card Support Apparatus for Automatic Test Equipment

Номер патента: US20200003803A1. Автор: Scott Nelson. Владелец: REID-ASHMAN MANUFACTURING Inc. Дата публикации: 2020-01-02.

Safety system for needle probe card for high-voltage and high-current test on power semiconductor devices, related test machine and corresponding testing method

Номер патента: EP4018207A1. Автор: Marco Marcinno',Carlo CIANFEROTTI. Владелец: Crea Collaudi Elettr Automatizzati Srl. Дата публикации: 2022-06-29.

Probe card

Номер патента: US20230107255A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Probe card for high-frequency testing

Номер патента: US20240168057A1. Автор: Wen-hao Cheng,Hung-Chun Huang,Yuan-Ting Tai. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

Probe card

Номер патента: US20240053383A1. Автор: Chao-Cheng Ting,Huai-Yi Wang,Li-Hong LU,Lung-Chuan TSAI. Владелец: Bao Hong Semi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Probe card

Номер патента: US11953521B2. Автор: Chao-Cheng Ting,Huai-Yi Wang,Li-Hong LU,Lung-Chuan TSAI. Владелец: Bao Hong Semi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

고주파 소자 측정용 프로브 카드(Probe Card)

Номер патента: KR19990001662A. Автор: 김강보,강대석. Владелец: 한국전자 주식회사. Дата публикации: 1999-01-15.

Probe card having a wiring substrate

Номер патента: US09488677B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake,Mitsuhiro Aizawa. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Probe card

Номер патента: US09476913B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake,Mitsuhiro Aizawa. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Cantilever probe card and carrier thereof

Номер патента: US20230349948A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Probe card

Номер патента: US20230266365A1. Автор: Chikaomi Mori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US20240142497A1. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Cantilever probe card and probe module thereof

Номер патента: US20230349953A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Probe head controlling mechanism for probe card assemblies

Номер патента: WO2010018463A2. Автор: Andrew W. Mcfarland,Brandon Liew,James M. Porter,Kevin Y. Yasumura. Владелец: Formfactor , Inc.. Дата публикации: 2010-02-18.

Probe card

Номер патента: US5412329A. Автор: Shinji Iino,Keiichi Yokota,Tamio Kubota. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1995-05-02.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: WO2017075599A1. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2017-05-04.

Probe structure and probe card device

Номер патента: US20220341969A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: US20170122982A1. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-04.

Probe card device having a probe structure with a protrusion portion

Номер патента: US11965912B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xingr Technologies Zhejiang Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Probe card electrically connectable with a semiconductor wafer

Номер патента: US8149008B2. Автор: Hiroshi Nakayama,Yoshio Yamada,Takashi Akao,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-03.

Probe card device and directivity probe thereof

Номер патента: US20210223291A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Low-current pogo probe card

Номер патента: US7323895B2. Автор: Clarence E. Cowan,Paul A. Tervo. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2008-01-29.

Low-current pogo probe card

Номер патента: US20040027145A1. Автор: Paul Tervo,Clarence Cowan. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2004-02-12.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US20230143340A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Cantilever probe card device and focusing probe thereof

Номер патента: US20230349951A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Probe of probe card use, and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230258689A1. Автор: Kazumasa Okubo. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Probe head and probe card having same

Номер патента: WO2021215790A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: POINT ENGINEERING CO., LTD.. Дата публикации: 2021-10-28.

Cantilever probe card device and elastic probe thereof

Номер патента: US20230349952A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Cantilever probe card device and focusing probe thereof

Номер патента: US11913973B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Testing probe card for integrated circuit

Номер патента: TWI620936B. Автор: 謝開傑,李文聰,林承銳. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2018-04-11.

Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device and probe card

Номер патента: US7271015B2. Автор: Akio Hasebe,Hideyuki Matsumoto,Masayoshi Okamoto,Akira Shimase,Yasuhiro Motoyama,Shingo Yorisaki. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-09-18.

Probe card with improved transient power delivery

Номер патента: US20070145989A1. Автор: Hua Zhu,Timothy Swettlen,Erich Chuh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2007-06-28.

Method and apparatus for enhanced probe card architecture

Номер патента: US20090273358A1. Автор: Brian Arkin. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Probe card with a needle and a testing apparatus including the same

Номер патента: US20170153275A1. Автор: Sangboo Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-01.

Probe card testing device and testing device

Номер патента: US20200088764A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: WO2019219638A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2019-11-21.

Probe card for high voltage testing

Номер патента: US10168359B2. Автор: Chien-Hung Chen,Chin-Yi Tsai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-01-01.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: EP3794357A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-03-24.

Probe card for semiconductor IC test and method of manufacturing the same

Номер патента: US7768285B2. Автор: Minoru Sanada,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-08-03.

Probe card having power converter and test system including the same

Номер патента: US20220341967A1. Автор: Sehoon Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-27.

Prober and needle-tip polishing device for probe card

Номер патента: US20150204909A1. Автор: Shuji Akiyama,Kazuya Yano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Probe card device and transmission structure

Номер патента: US11933817B2. Автор: Pang-Chi Huang,Meng-Chieh Cheng,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Probe card device and three-dimensional signal transfer structure thereof

Номер патента: US20190377004A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-12.

Probe card for testing film package

Номер патента: KR101003078B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2010-12-21.

Probe card

Номер патента: US11959941B2. Автор: Min-Chieh Chou,Tune-Hune Kao,Meng-Chi Huang,Yue-Zhen Huang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-16.

Probe card

Номер патента: US20230176091A1. Автор: Hiroki Yamashita. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Short-circuit probe card, wafer test system, and fault detection method for the wafer test system

Номер патента: US11821919B2. Автор: Shu-Chi Lin,Chung-Hsuan KAN,Yih-Chau Chen,Yuan-Long TSAI,Hsuan-Min HO. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Probe card device and transmission structure

Номер патента: US20230033013A1. Автор: Pang-Chi Huang,Meng-Chieh Cheng,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Cantilever probe card and carrier thereof

Номер патента: US11879912B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Probe card

Номер патента: US09678109B2. Автор: Ming-Cheng Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Improved power supply transient performance (power integrity) for a probe card assembly in an integrated circuit test environment

Номер патента: EP3304110A1. Автор: Thomas P. Warwick,James V. Russell,Dhananjaya Turpuseema. Владелец: R&D Circuits Inc. Дата публикации: 2018-04-11.

PROBE CARD AND METHOD FOR PRODUCING A PROBE CARD

Номер патента: US20150168456A1. Автор: FRANK Oliver,DOMINIZI Karl,Standner Klaus,Zielke Stefan. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-18.

PROBE CARD CASE AND PROBE CARD TRANSFER METHOD

Номер патента: US20150285838A1. Автор: Amemiya Takashi,Mori Chikaomi. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

GUIDE PLATE FOR PROBE CARD AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20200271693A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

PROBE CARD SUPPORT INSERT, CONTAINER, SYSTEM AND METHOD FOR STORING AND TRANSPORTING ONE OR MORE PROBE CARDS

Номер патента: US20180335448A1. Автор: Belfi Christopher,KRAUS Amy. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2018-11-22.

Method of manufacturing space transformer for probe card and space transformer for probe card by the same

Номер патента: KR101870739B1. Автор: 이준석. Владелец: 주식회사 와이컴. Дата публикации: 2018-06-29.

Space transformer for probe card, method for manufacturing thereof and probe card

Номер патента: KR101935002B1. Автор: 안윤태,김석중. Владелец: (주) 루켄테크놀러지스. Дата публикации: 2019-01-03.

Probe card, and apparatus and method for testing semiconductor device using the probe card

Номер патента: US8493087B2. Автор: SANGHOON Lee,Chang-Hyun Cho,Sang-Gu Kang,Joonyeon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-07-23.

Vertical probe and its preparation method and the probe and probe card using vertical probe

Номер патента: CN107796966A. Автор: 许育祯,魏绍伦,范宏光. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Probe and probe card

Номер патента: EP4310892A1. Автор: Takayuki Hayashizaki,Mika Nasu,Misaki Toyoda,Mizuho Kon,Kenichi Suto. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Probe and probe card

Номер патента: US20240168056A1. Автор: Takayuki Hayashizaki,Mika Nasu,Misaki Toyoda,Mizuho Kon,Kenichi Suto. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Probe card characteristic measuring device, probe device, and probe method

Номер патента: JP4782953B2. Автор: 勝 鈴木. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-09-28.

Vertical probe and method for fabricating the same, and probe head and probe card using the same

Номер патента: CN107796966B. Автор: 许育祯,魏绍伦,范宏光. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2020-11-03.

Conductive probe, method of manufacturing the same, and probe card device having the same

Номер патента: US20230333141A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Substrate structure and probe card having the same

Номер патента: TW200837358A. Автор: Chang-Soo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-09-16.

Substrate structure and probe card having the same

Номер патента: TWI357980B. Автор: Chang-Soo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2012-02-11.

Portable probe card assembly

Номер патента: US20240219423A1. Автор: William A. Funk,Garrett TRANQUILLO,Riley KAISER. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Probe card stiffener with decoupling

Номер патента: TW201237427A. Автор: Eric D Hobbs,kevin s Chang. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2012-09-16.

Probe card for inspecting semiconductor device

Номер патента: KR100405037B1. Автор: Yong Jin,Tae Goo Lee,Hong Jin Chong. Владелец: From 30 Co Ltd. Дата публикации: 2003-11-10.

Probe card having vertical type needles and the method thereof

Номер патента: AU6670896A. Автор: Jae Woo Nam. Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-03-12.

Probe card

Номер патента: TW200848749A. Автор: Hiroshi Nakayama,Yoshio Yamada,Takashi Akao,Mitsuhiro Nagaya,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-16.

PROBE CARD DEVICE AND RECTANGULAR PROBE THEREOF

Номер патента: US20190072584A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-07.

PROBE CARD DEVICE AND ROUND PROBE THEREOF

Номер патента: US20190086443A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

PROBE CARD DEVICE AND DUAL-ARM PROBE

Номер патента: US20220170960A1. Автор: SU WEI-JHIH,HSIEH KAI-CHIEH,RAMACHANDRAN Vel Sankar,CHEN HONG-MING. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-02.

PROBE HEAD RECEIVER AND PROBE CARD ASSEMBLY HAVING THE SAME

Номер патента: US20170122984A1. Автор: Hsu Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

MEMS Probe Card Assembly having Decoupled Electrical and Mechanical Probe connections

Номер патента: US20190128924A1. Автор: Kister January,Selvaraj Mukesh. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-02.

PROBE CARD DEVICE AND MATCHING PROBE THEREOF

Номер патента: US20200158756A1. Автор: HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG,TSENG CHAO-HUI,WANG HSIEN-YU. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

PROBE CARD DEVICE AND PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20200166543A1. Автор: HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG,TSENG CHAO-HUI,WANG HSIEN-YU. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-28.

PROBE HEAD AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20210239735A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

Position adjustable probing device and probe card assembly using the same

Номер патента: US20140306729A1. Автор: Tsung-Yi Chen,Chung-Tse Lee,Shih-Shin Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-10-16.

PROBE CARD DEVICE AND CONDUCTIVE PROBE THEREOF

Номер патента: US20200300893A1. Автор: SU WEI-JHIH,HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG,TSENG CHAO-HUI. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

PROBE HEAD AND PROBE CARD

Номер патента: US20200309819A1. Автор: LIN Chin-Yi,Lin Che-Wei,WU Ting-Ju,Su Keng-Min. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2020-10-01.

MEMS probe card assembly with decoupled electrical and mechanical probe connections

Номер патента: CN111247437B. Автор: J·基斯特,M·塞尔瓦拉. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2022-08-30.

The probe block structure of probe card for semiconducter testing apparatus

Номер патента: KR100955493B1. Автор: 이수호. Владелец: 이수호. Дата публикации: 2010-04-30.

Probe head and probe card having the same

Номер патента: KR102342806B1. Автор: 박승호,안범모,송태환. Владелец: (주)포인트엔지니어링. Дата публикации: 2021-12-23.

Probe holding device of probe card for wafer test

Номер патента: KR950015660U. Автор: 이상희. Владелец: 금성일렉트론주식회사. Дата публикации: 1995-06-19.

MEMS probe card assembly with decoupled electrical and mechanical probe connections

Номер патента: CN111247437A. Автор: J·基斯特,M·塞尔瓦拉. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2020-06-05.

Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a potting region

Номер патента: WO2008045225A3. Автор: January Kister. Владелец: MicroProbe Inc. Дата публикации: 2008-06-26.

Probe card device and fence-like probe thereof

Номер патента: TWI736361B. Автор: 謝開傑,蘇偉誌,李文聰,魏遜泰. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-08-11.

Probe and probe card for integrated circiut devices using the same

Номер патента: TWI369498B. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-08-01.

Mems probe card assembly having decoupled electrical and mechanical probe connections

Номер патента: TWI787378B. Автор: 穆凱希 賽薇拉,詹努維利 齊斯特. Владелец: 美商鋒法特股份有限公司. Дата публикации: 2022-12-21.

Structureof probe needle for probe card

Номер патента: KR100656034B1. Автор: 전병준. Владелец: 전병준. Дата публикации: 2006-12-11.

Cantilever probe card probe tip structure

Номер патента: TWI591348B. Автор: Zheng-Long Huang. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-11.

Sheet-form probe and probe card and wafer inspection method

Номер патента: WO2006051880A1. Автор: Hitoshi Fujiyama,Mutsuhiko Yoshioka,Hisao Igarashi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2006-05-18.

Probe card device having fan-out probe

Номер патента: TW202202849A. Автор: 謝開傑,蘇偉誌,李文聰,魏遜泰. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2022-01-16.

Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a potting region

Номер патента: US20080088327A1. Автор: January Kister. Владелец: MicroProbe Inc. Дата публикации: 2008-04-17.

Vertical probe and probe card

Номер патента: CN115308456B. Автор: 张威,刘志广. Владелец: Shenzhen Doctor Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-03-10.

Vertical probe card and rectangular probe thereof

Номер патента: CN111721980B. Автор: 谢开杰,曾照晖,刁盈铭. Владелец: Taiwan Zhonghua Precision Measurement Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-11-04.

Probe card, semiconductor device testing apparatus, and probe contact method

Номер патента: US20030098701A1. Автор: Shigenobu Ishihara,Shigekazu Aoki,Kenji Togashi,Tetsuhiro Nanbu,Tsutomu Tatematsu,Morihiko Hamada,Yoshikazu Arisaka,Kunihiro Itagaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-05-29.

Probe device and probe card using the same

Номер патента: TW200530597A. Автор: Sunin Hendra. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2005-09-16.

Probe card having wertical probes

Номер патента: TW200813435A. Автор: Hyoseok Daniel Yang,Ng Chui Ka. Владелец: Corad Technology Inc U S A. Дата публикации: 2008-03-16.

Apparatus and method for protecting probe card and probes using thermal heat sensor trace

Номер патента: US20230358787A1. Автор: Arthur ISAKHAROV. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Position adjustable probing device and probe card assembly using the same

Номер патента: US9435856B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Chung-Tse Lee,Shih-Shin Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Probe head receiver and probe card assembly having the same

Номер патента: US10866266B2. Автор: Ming-Cheng Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Probe card wiring structure

Номер патента: US20120194210A1. Автор: Wensen Hung,Yung-Hsin Kuo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2012-08-02.

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20130342232A1. Автор: Park Young Geun. Владелец: M2N INC.. Дата публикации: 2013-12-26.

PROBE CARD FOR A TESTING APPARATUS OF ELECTRONIC DEVICES WITH ENHANCED FILTERING PROPERTIES

Номер патента: US20180024167A1. Автор: MAGGIONI Flavio. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

PROBE CARD FOR AN APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES

Номер патента: US20150048856A1. Автор: Vettori Riccardo,Liberini Riccardo. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-19.

COAXIAL PROBE CARD DEVICE

Номер патента: US20180095111A1. Автор: TSAI Chin-Yi,YU Chen-Chih,Huang Yi-Chia,LIN Chung-Chi,SU CHENG-NIEN. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-05.

PROBE CARD AND TESTING METHOD

Номер патента: US20170108535A1. Автор: LIU Chang-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

PROBE CARD FOR ELECTRONIC DEVICES

Номер патента: US20190113539A1. Автор: CRIPPA Roberto,FELICI Stefano. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

Inspection unit, probe card, inspection device, and control system for inspection device

Номер патента: US09910089B2. Автор: Kenichi Washio,Norie Yamaguchi. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Space transformer, manufacturing method of the space transformer and probe card having the space transformer

Номер патента: WO2007094599A1. Автор: Ki-Jun Kim,Dong Yeul Choi,Young-Whee Cho. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2007-08-23.

Probe card with angled probe and wafer testing method using the same

Номер патента: US11994555B2. Автор: Yuan-Chun Wu,Chang-Chun XU,Ni SHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Probe card holder

Номер патента: MY197465A. Автор: NARUMI TAKAYUKI,KIKUCHI YOSHINORI,YASUTA TAKAO,Hirota Hideki. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2023-06-19.

Probe card

Номер патента: US09678110B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Active probe card

Номер патента: US09506974B2. Автор: Hung-Wei Lai,Tsung-Jun Lee. Владелец: SITRONIX TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2016-11-29.

Probe card and method for manufacturing probe card

Номер патента: US09459289B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Space transformer comprising an isolation resistor for a probe card, and method for manufacturing same

Номер патента: US20110254578A1. Автор: Min Soo Kim,Sung Man Yoon. Владелец: Imtech Inc Korea. Дата публикации: 2011-10-20.

Prober and probe card cleaning method

Номер патента: US20210063443A1. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-03-04.

Probe Card System for Testing an Integrated Circuit

Номер патента: US20190033343A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-01-31.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: SG11201907123PA. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-09-27.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: WO2018149838A1. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2018-08-23.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: PH12019501890A1. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-10-21.

Positionable probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20210181237A1. Автор: Che-Wei Lin,Sheng-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Wen-Chi Chen,Hsueh-Chih Wu,Shu-Jui Chang,Zhi-Wei SU,Tzung-Je TZENG,Huo-Kang HSU,Jian-Kai HONG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Beam assembly method for large area array multi-beam dut probe cards

Номер патента: WO2007098291A3. Автор: Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,John McGlory,Anh-Tai Nguyen. Владелец: Anh-Tai Nguyen. Дата публикации: 2008-01-17.

Beam assembly method for large area array multi-beam DUT probe cards

Номер патента: US20070251080A1. Автор: Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,John McGlory,Anh-Tai Thai Nguyen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-01.

Probe card

Номер патента: US20240329085A1. Автор: Takeshi Todoroki. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Method for manufacturing a probe card

Номер патента: US20040155009A1. Автор: Yasuhiro Maeda,Koichi Wada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-08-12.

Probe Card For High-Frequency Applications

Номер патента: MY195983A. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-02-27.

Probe card for testing semiconductor device, and semiconductor device test method

Номер патента: EP2023386A2. Автор: Shigeyuki Maruyama. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2009-02-11.

Active non-contact probe card

Номер патента: US20110050262A1. Автор: Ming-Kun Chen,Yi-Lung Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2011-03-03.

Probe card system, probe loader device and manufacturing method of the probe loader device

Номер патента: US10274516B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2019-04-30.

Probe card system, probe loader device and manufacturing method of the probe loader device

Номер патента: US20180321278A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: US20220155348A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-05-19.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: EP4010712A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-06-15.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: WO2021023739A1. Автор: Roberto Crippa. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2021-02-11.

Probe head for electronic devices and corresponding probe card

Номер патента: US12032003B2. Автор: Roberto Crippa. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-07-09.

Probe head, probe card assembly using the same, and manufacturing method thereof

Номер патента: US09535091B2. Автор: Yuan-Pin Huang,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Wen-Feng LIAO. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Probe card, needle of probe card and manufacturing methods of needle of probe card

Номер патента: KR100767012B1. Автор: 오준석. Владелец: 주식회사 아이엠. Дата публикации: 2007-10-17.

PROBE CARD INSPECTION WAFER, PROBE CARD INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF INSPECTING PROBE CARD

Номер патента: US20200088827A1. Автор: JUNG JIN-WOO,Ji Joon-su,Kim Dany,Nam Han-jik. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

Probe for testing a semiconductor device and a probe card including the same

Номер патента: US20220308088A1. Автор: Sehoon Park,Young Jun Park,Sung Hoon Lee,Woojun Choi,Gyuyeol KIM,Seungwon JEONG,Yu-Kyum KIM,Hanjik Nam. Владелец: KOREA INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Probe for testing a semiconductor device and a probe card including the same

Номер патента: US12038458B2. Автор: Sehoon Park,Young Jun Park,Sung Hoon Lee,Woojun Choi,Gyuyeol KIM,Seungwon JEONG,Yu-Kyum KIM,Hanjik Nam. Владелец: KOREA INSTRUMENT CO Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Low tolerance probe card and probe ring systems

Номер патента: US5949244A. Автор: David M. Miley. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-09-07.

Probe card, probe, probe manufacturing method, and probe card manufacturing method

Номер патента: WO2002097453A1. Автор: Seiichi Hata,Takehisa Takoshima,Wataru Narazaki,Akira Shimokoube. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2002-12-05.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: KR102066155B1. Автор: 임기섭,강상부. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2020-01-14.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: KR20140110440A. Автор: 임기섭,강상부. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2014-09-17.

Probe card, coaxial probe beam for probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: KR950006472A. Автор: 히로시 마루모,사도루 야마시다,노부유끼 네기시,쇼이찌 가나이. Владелец: 가부시끼가이샤 쥰고샤. Дата публикации: 1995-03-21.

Probe device, probe card channel information creation program, and probe card channel information creation device

Номер патента: WO2004010491A1. Автор: Hironobu Abe,Yukihiko Fukasawa. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2004-01-29.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: US20060181292A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: K&S Interconnect Inc. Дата публикации: 2006-08-17.

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD, PROBE CARD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR FORMING PROBE

Номер патента: US20150123691A1. Автор: NAKATANI Goro,SAKURAGI Masahiro,NIINO Koichi. Владелец: ROHM CO., LTD.. Дата публикации: 2015-05-07.

POSITIONER OF PROBE CARD AND PROBE HEAD OF PROBE CARD

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Hsieh Shang-Jung,Lin Che-Wei,Chen Tsung-Yi,LEE CHUNG-TSE,LI TIEN-CHIA,KUO Chia-Yuan,CHEN Tzu-Yang. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Probe card and probing test method for semiconductor integrated circuit using the probe card

Номер патента: JP3135825B2. Автор: 朋美 桃原. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-02-19.

Transferring mechanism for probe card, method for transferring probe card, and probe device

Номер патента: KR101272449B1. Автор: 다이스께 이노우에,슈우지 아끼야마. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-06-07.

Probe card for electrical inspection, and probe head of probe card

Номер патента: WO2020050645A1. Автор: 정영배. Владелец: 주식회사 아이에스시. Дата публикации: 2020-03-12.

Vertical probe card, probes for vertical probe card and method of making the same

Номер патента: US20060170440A1. Автор: Hendra Sudin. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2006-08-03.

Probe, probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180088150A1. Автор: Tomoaki Kuga. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Arch type probe and probe card using same

Номер патента: TWI234660B. Автор: Atsushi Mine,Kazumichi Machida,Atsuo URATA,Teppei KIMURA,Toranosuke Furusho. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2005-06-21.

Probe card assembly and probes therein

Номер патента: TW201018918A. Автор: Cheng-Chin Ni,Kun-Chou Chen. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-05-16.

Probe and probe card

Номер патента: TW200912326A. Автор: Koichi Wada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-03-16.

Method and Apparatus for a Probe Card

Номер патента: US20160299173A1. Автор: Walter A. Schindler,Jerry Choy. Владелец: Elma Electronic Inc. Дата публикации: 2016-10-13.

Membrane probe card

Номер патента: US09709599B2. Автор: Ming-Cheng Hsu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Probe card device and probe head

Номер патента: US20190302147A1. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Power Supply Transient Performance (Power Integrity) for a Probe Card Assembly in an Integrated Circuit Test Environment

Номер патента: US20170250146A1. Автор: Thomas P. Warwick,James V. Russell,Dhananjaya Turpuseema. Владелец: R&D Circuits Inc. Дата публикации: 2017-08-31.

Power supply transient performance (power integrity) for a probe card assembly in an integrated circuit test environment

Номер патента: US09793226B2. Автор: Thomas P. Warwick,James V. Russell,Dhananjaya Turpuseema. Владелец: R&D Circuits Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Probe installation circuit board and probe device for probe card

Номер патента: US20220349919A1. Автор: Yi-Lung Lee,Yu-Shan Hu,Shao-Lun WEI,Yu-Wen Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

High speed probe card device and rectangular probe

Номер патента: US20200233014A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.

GUIDE PLATE FOR PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20200132756A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

Probe card case and probe card transfer method

Номер патента: TW201723505A. Автор: 森親臣,雨宮貴. Владелец: 日本電子材料股份有限公司. Дата публикации: 2017-07-01.

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD

Номер патента: US20140055157A1. Автор: Shiraishi Akinori,Higashi Mitsutoshi,Sakaguchi Hiedeaki. Владелец: SHINKO ELECTRIC INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2014-02-27.

PROBE CARD, THERMAL INSULATION COVER ASSEMBLY FOR PROBE CARD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20170010306A1. Автор: NA Young-Mi,KIM Min-Gu. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-12.

APPARATUS FOR CLAMPING A PROBE CARD AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180017595A1. Автор: Park Jae-Hyoung,KIM Sung-Hyup,Park Sung-Yong,Na Jeong-min,KANG Sang-Boo,KIM Jae-Geun,YOO Sang-Kyu,JOO Jae-Hoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2018-01-18.

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD

Номер патента: US20150137849A1. Автор: Matsuda Yuichi,Horiuchi Michio,Tokutake Yasue,FUKASAWA Ryo. Владелец: SHINKO ELECTRIC INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2015-05-21.

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CARD AND PROBE CARD MANUFACTURED USING SAME

Номер патента: US20210199696A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Song Tae Hwan. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

PROBE CARD MANAGEMENT SYSTEM AND PROBE CARD MANAGEMENT METHOD

Номер патента: US20200191830A1. Автор: WATANABE Shinjiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-18.

LAMINATED ANODIC ALUMINUM OXIDE STRUCTURE, GUIDE PLATE OF PROBE CARD USING SAME, AND PROBE CARD HAVING SAME

Номер патента: US20210331446A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-28.

Method, system for utilizing a probe card, and the probe card

Номер патента: US20170276701A1. Автор: Chang-Ming Liu,Shih-Hua Hsu,Chien-Hao Lin,Ning-Chun HSU. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2017-09-28.

Needle of probe card using micro-fabrication, manufacturing method thereof and probe card manufactured by the needle

Номер патента: KR100515235B1. Автор: 조병호. Владелец: (주) 마이크로프랜드. Дата публикации: 2005-09-26.

Guide plate for probe card and probe card comprising same

Номер патента: CN111610353A. Автор: 安范模,朴胜浩,边圣铉. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Probe card and Needle of Probe card

Номер патента: KR200443286Y1. Автор: 전태운. Владелец: 주식회사 아이엠. Дата публикации: 2009-02-10.

Method for producing contact element of probe card and contact element of probe card produced from the same

Номер патента: KR100736776B1. Автор: 장철호. Владелец: 세크론 주식회사. Дата публикации: 2007-07-09.

Probe card inspection wafer and probe card inspection system

Номер патента: CN110907788A. Автор: 池俊洙,金檀义,南汉直,郑晋宇. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-24.

Method for producing probe card and probe card thereby

Номер патента: KR101301738B1. Автор: 김영진. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2013-08-29.

Probe card and method for manufacturing probe card

Номер патента: WO2003062837A1. Автор: Akio Kojima. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2003-07-31.

Probe card-use laminate wiring substrate and probe card equipped with same

Номер патента: WO2017057542A1. Автор: 竹村　忠治,酒井　範夫,喜人 大坪,川上　弘倫. Владелец: 株式会社村田製作所. Дата публикации: 2017-04-06.

Probe card case and probe card transfer method

Номер патента: WO2014080850A1. Автор: 森　親臣,貴 雨宮. Владелец: 日本電子材料株式会社. Дата публикации: 2014-05-30.

A probe card pin and a probe card using the same

Номер патента: KR101184364B1. Автор: 전병준,장경규. Владелец: 장경규. Дата публикации: 2012-09-20.

Probe-card multilayer wiring substrate and probe card

Номер патента: WO2022107225A1. Автор: 智 阿部,真也 堀,哲生 藤本,勇介 原田. Владелец: 日本電子材料株式会社. Дата публикации: 2022-05-27.

Needle for vertical probe card with scrub control and bending direction control and vertical probe card using thereof

Номер патента: KR102164373B1. Автор: 신상훈,김홍찬,권영휘,위성연,신용건. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2020-10-12.

GUIDE PLATE FOR A PROBE CARD AND PROBE CARD PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20170082657A1. Автор: KIMURA Teppei,FAN Liwen. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

Probe card and method of manufacturing the same, and method for repairing of probe card

Номер патента: KR100815494B1. Автор: 히데노리 키타즈메,와타루 나라자키,코이치 와다. Владелец: 가부시키가이샤 아드반테스트. Дата публикации: 2008-03-20.

Probe card and method for repairing probe card

Номер патента: WO2022224438A1. Автор: 浩 富田. Владелец: 日本電子材料株式会社. Дата публикации: 2022-10-27.

OPTICAL PROBE, OPTICAL PROBE ARRAY, OPTICAL PROBE CARD, AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL PROBE

Номер патента: US20210364552A1. Автор: SAITO Yuki,HARAKO Shou,OKUTA Michitaka,FUKUSHI Jukiya. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-25.

Probe tip, probe card, method of manufacturing the probe tip and method of manufacturing a probe structure

Номер патента: KR100830352B1. Автор: 최우창. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2008-05-19.

Probes, Probe Fabrication, and Vertical Probe Card Assembly Using Probes

Номер патента: KR970075919A. Автор: 히로시 이와타,마사오 오오쿠보,카주마사 오오쿠보. Владелец: 니혼덴시자이료오 카부시키가이샤. Дата публикации: 1997-12-10.

PROBE INSTALLATION CIRCUIT BOARD AND PROBE DEVICE FOR PROBE CARD

Номер патента: US20220349919A1. Автор: CHOU Yu-Wen,Hu Yu-Shan,LEE Yi-Lung,WEI Shao-Lun. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2022-11-03.

Prevent film probe head and film probe card that probe drops

Номер патента: CN114441918A. Автор: 周明,于海超,赵梁玉. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-06.

PROBE CARD, PROBING SYSTEM AND PROBING METHOD

Номер патента: US20210208182A1. Автор: LOU CHOON LEONG. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-08.

Probe Guide, Probe Card, And Method For Probe Guide Manufacturing

Номер патента: US20170242057A1. Автор: Yuichiro Shimizu,Chikaomi Mori,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

PROBE CARD HAVING REPLACEABLE PROBE MODULE AND ASSEMBLING METHOD AND PROBE MODULE REPLACING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20170315149A1. Автор: Wu Cheng-En,CHEN Shih-Shin,YU CHIA-HSIANG. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

Method of making high-frequency probe, probe card using the high-frequency probe

Номер патента: US7724009B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Kuan-Chun Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2010-05-25.

Fine pitch probe card methods and systems

Номер патента: WO2018118075A1. Автор: David Shia,Pooya Tadayon. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2018-06-28.

Combined probe head for a vertical probe card and method for assembling and aligning the combined probe head thereof

Номер патента: US8933719B2. Автор: Wen-Chi Chen,Chao-Ching Huang,Chiu-Chu Chang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-01-13.

Probe card having cantilever probes, producing method and detecting probe needlepoint locating methods

Номер патента: CN101178414A. Автор: 徐家梧,杨丹尼尔,利安李立史高普高夫. Владелец: Corad Tech Inc. Дата публикации: 2008-05-14.

Vortex probe, probe testing device, probe card system and failure analysis method of multi-chip module

Номер патента: CN110907672A. Автор: 廖致傑,孙育民,程志丰. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2020-03-24.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe carb assembly

Номер патента: TW200643425A. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2006-12-16.

Anisotropic conductive connector for inspecting wafer, manufacturing method thereof, waver inspection probe card, manufacturing method thereof, and wafer inspection device

Номер патента: TW200625725A. Автор: Kiyoshi Kimura,Daisuke Yamada,Sugiro Shimoda,Fujio Hara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-07-16.

Probe card for testing wafer

Номер патента: TW200831913A. Автор: Ho-Jeong Choi,Hyun-Ae Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-08-01.

Probe card

Номер патента: TW201140073A. Автор: Yong-Goo Lee,Maeng-Youl Lee,Duk-Kyu Kwon. Владелец: GigaLane Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Intelligent probe card architecture

Номер патента: TWI376504B. Автор: Charles A Miller,Roy J Henson,Matthew E Craft. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2012-11-11.

Probe card

Номер патента: TWI269874B. Автор: Atsushi Mine,Kazumichi Machida,Atsuo URATA. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2007-01-01.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: EP3794357B1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-01-19.

Contactor, probe card, and method of manufacturing contactor

Номер патента: TW200842370A. Автор: Masanori Nakamura,Shigeru Matsumura,Hidenori Kitazume. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2008-11-01.

Probe card

Номер патента: TW200925610A. Автор: Nobuyuki Yamaguchi,Satoshi Narita,Hisao Narita. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2009-06-16.

Probe card and switch module

Номер патента: EP3745142B1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsueh-Chih Wu,Ting-Ju WU,Keng-Min Su,Ko-Chun WU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Safety system for needle probe card for high-voltage and high-current test on power semiconductor devices, related test machine and corresponding testing method

Номер патента: EP4018207B1. Автор: Marco Marcinno',Carlo CIANFEROTTI. Владелец: CREA COLLAUDI ELETTRONICI AUTOMATIZZATI Srl. Дата публикации: 2024-08-28.

Method for pre-heating probe card

Номер патента: US09519022B2. Автор: Hiroshi Yamada,Shinji Kojima,Hiroshi Shimoyama,Takaaki Hoshino,Takeshi SAIGUSA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

PROBE ASSEMBLY, PROBE CARD INCLUDING THE SAME, AND METHODS FOR MANUFACTURING THESE

Номер патента: US20130154682A1. Автор: NARITA Satoshi,SASAKI Kenji. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2013-06-20.

Probe Card Assemblies And Probe Pins Including Carbon Nanotubes

Номер патента: US20140028342A1. Автор: Brandorff Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-30.

HIGH FREQUENCY PROBE CARD FOR PROBING PHOTOELECTRIC DEVICE

Номер патента: US20150028911A1. Автор: Chang Chia-Tai,YANG Hui-Pin. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-29.

VERTICAL PROBE CARD FOR MICRO-BUMP PROBING

Номер патента: US20150061719A1. Автор: LEE Jae Hwan,PARK Sang Jin,YOON Ki Chea. Владелец: soulbrain ENG Co., Ltd.. Дата публикации: 2015-03-05.

PROBE DEVICE OF VERTICAL PROBE CARD

Номер патента: US20180059140A1. Автор: LI Wen Tsung,HSIEH Kai Chieh. Владелец: CHUNGHWA PRECISION TEST TECH. CO., LTD.. Дата публикации: 2018-03-01.

PROBE AND A PROBE CARD INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20200081035A1. Автор: LEE Sung-Hoon,Lee Tae-Jong,Kim Byoung-Joo,LEE MI-RYE,YEO HWANG-JIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2020-03-12.

PROBE, PROBE CARD AND CONTACT INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20180088150A1. Автор: KUGA Tomoaki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2018-03-29.

CUSTOMIZABLE PROBE CARDS, PROBE SYSTEMS INCLUDING THE SAME, AND RELATED METHODS

Номер патента: US20210172978A1. Автор: Watanabe Masanori,Sameshima Masahiro,Kawamata Nobuhiro,Funatoko Yoichi. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

PROBE CARD DEVICE AND NECK-LIKE PROBE THEREOF

Номер патента: US20210223289A1. Автор: SU WEI-JHIH,HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG,Wei Hsun-Tai. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

Probe card device and directivity probe thereof

Номер патента: US20210223291A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

PROBE CARD DEVICE AND RECTANGULAR PROBE THEREOF

Номер патента: US20190212367A1. Автор: Chen Yen-Chen,HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-11.

PROBE CARD DEVICE AND RECTANGULAR PROBE

Номер патента: US20190227101A1. Автор: Chen Yen-Chen,HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

HIGH SPEED PROBE CARD DEVICE AND RECTANGULAR PROBE

Номер патента: US20200233014A1. Автор: HSIEH KAI-CHIEH,LEE WEN-TSUNG. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

ANODIC ALUMINUM OXIDE MOLD, MANUFACTURING METHOD THEREOF, HALF-FINISHED PROBE PRODUCT, MANUFACTURING METHOD THEREOF, PROBE CARD, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20210337674A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Song Tae Hwan. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-28.

DEVICE TEST PAD PROBE CARD STRUCTURE WITH INDIVIDUAL PROBE MANIPULATION CAPABILITY

Номер патента: US20200284823A1. Автор: Vega Reinaldo,Nieves Pablo,Sinha Kushagra. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-10.

PROBE CARD DEVICE AND PROBE HEAD

Номер патента: US20190302147A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

PROBE CARD DEVICE AND RECTANGULAR PROBE THEREOF

Номер патента: US20190317131A1. Автор: HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

PROBE CARD DEVICE AND RECTANGULAR PROBE THEREOF

Номер патента: US20190324057A1. Автор: Chen Yen-Chen,HSIEH CHIH-PENG,SU WEI-JHIH. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

Selectively configurable probe structures, e.g., selectively configurable probe cards for testing microelectronic components

Номер патента: US7170304B2. Автор: Ralph Schaeffer,Brett Crump. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-01-30.

Film type probe card with cantilever probe for RF chip test

Номер патента: KR102062470B1. Автор: 고기돈. Владелец: 고기돈. Дата публикации: 2020-02-17.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: KR100996924B1. Автор: 김홍찬. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-11-26.

Multi-pin Structured Probe and Probe Card

Номер патента: KR102241018B1. Автор: 쇼고 미즈타니. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2021-04-16.

Probe needle and probe card using the same

Номер патента: KR101209068B1. Автор: 김일. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2012-12-06.

Probe and probe card having the same

Номер патента: KR101010673B1. Автор: 유정희,주영훈,전병일. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2011-01-24.

Probe Card with Wire Probes

Номер патента: KR101704188B1. Автор: 김일. Владелец: 김일. Дата публикации: 2017-02-22.

Probe, manufacture of same, and vertically operative type probe card assembly employing same

Номер патента: CN1159001A. Автор: 岩田浩,大久保昌男,大久保和正. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 1997-09-10.

Probe card having planarization means

Номер патента: KR20090006431A. Автор: 채종현. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2009-01-15.

Probe unit and probe card having the same

Номер патента: KR101010666B1. Автор: 박종현,주영훈,전병일,최유권,권혁랑. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2011-01-24.

Probe pin and probe card having the same

Номер патента: KR101538937B1. Автор: 정희석,구황섭,정학섭,김현제,방호섭,백종율. Владелец: 주식회사 기가레인. Дата публикации: 2015-07-27.

Multi-probe card unit and probe inspection device having same

Номер патента: KR100909966B1. Автор: 조창현,강성모,김준연,유상규,강상구. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2009-07-29.

Probing test system of probe card, semiconductor integrated circuit and test method

Номер патента: KR970018326A. Автор: 도모미 모모하라. Владелец: 가부시키가이샤 도시바샤. Дата публикации: 1997-04-30.

Probe needle for semiconductor probe card

Номер патента: KR101034325B1. Автор: 이해원,윤채영,최윤숙,방용우. Владелец: (주)메리테크. Дата публикации: 2011-05-16.

The probe card device used in the probe apparatus

Номер патента: KR970008456A. Автор: 쥰이치 하기하라. Владелец: 도쿄 에레쿠토론 가부시키가이샤. Дата публикации: 1997-02-24.

Doughnut type parallel probe card and method of wafer testing using the same

Номер патента: KR100652421B1. Автор: 조창현,강성모,유상규. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-12-01.

Vertical probe pin and probe card with the same

Номер патента: KR102145398B1. Автор: 주영훈,손석호. Владелец: 피엠피(주). Дата публикации: 2020-08-19.

Vertical probe pin and probe card with the same

Номер патента: TW202202851A. Автор: 孫錫豪,朱煐勛. Владелец: 南韓商Ｔｓｅ有限公司. Дата публикации: 2022-01-16.

Probe card device and spring-like probe

Номер патента: TWI751940B. Автор: 謝開傑,蘇偉誌,陳弘明,帥 李. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2022-01-01.

Probe of a probe card

Номер патента: KR100791895B1. Автор: 채종현. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2008-01-07.

Straight needle probe card with adjustable probe force

Номер патента: KR101886536B1. Автор: 이재복,황덕하. Владелец: 주식회사 텝스. Дата публикации: 2018-08-07.

Probe card assembly having an actuator for bending the probe substrate

Номер патента: US8427183B2. Автор: Gary W. Grube,Benjamin N. Eldridge,Gaetan L. Mathieu. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2013-04-23.

Probe member for wafer inspection, probe card for wafer inspection and wafer inspection apparatus

Номер патента: EP1811310A4. Автор: Hitoshi Fujiyama,Mutsuhiko Yoshioka,Hisao Igarashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-02-29.

Probe card device and probe for use therein

Номер патента: EP1281973A4. Автор: Minoru Yoshida,Seiichi Ohashi. Владелец: Innotech Corp Japan. Дата публикации: 2004-11-24.

Probe sheet adhesion holder, probe card, semiconductor inspection apparatus, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: TW200730828A. Автор: Akio Hasebe,Yasunori Narizuka,Susumu Kasukabe,Teruo Shoji,Yoshinori Deguchi. Владелец: Renesas Tech Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Probe card with vertical hollow probe tip

Номер патента: KR19990084644A. Автор: 이정훈,이억기. Владелец: 이억기. Дата публикации: 1999-12-06.

Probe card with coplanar daughter card

Номер патента: TW577988B. Автор: A Nicholas Sporck,Makarand S Shinde. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2004-03-01.

Including having the probe card of the straight probe of adjustable contact force

Номер патента: CN110088633A. Автор: 李在馥,黃德夏. Владелец: Teps Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-02.

Probe substrate and probe card with the same

Номер патента: KR100977165B1. Автор: 김형태,정석. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2010-08-20.

Probe member for wafer inspection, probe card for wafer inspection and wafer inspection equipment

Номер патента: KR101167750B1. Автор: 히사오 이가라시,무쯔히꼬 요시오까,히또시 후지야마. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2012-07-23.

Vertical probe pin and probe card having same

Номер патента: WO2022010246A1. Автор: 주영훈,손석호. Владелец: 주식회사 티에스이. Дата публикации: 2022-01-13.

Probe member for wafer inspection, probe card for wafer inspection and wafer inspection equipment

Номер патента: EP1806589A1. Автор: Hitoshi Fujiyama,Mutsuhiko Yoshioka,Hisao Igarashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2007-07-11.

Probe, manufacture of same, and vertically operative type probe card assembly employing same

Номер патента: CN1129797C. Автор: 岩田浩,大久保昌男,大久保和正. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2003-12-03.

Probe head manufacturing method of the probe card

Номер патента: KR102164020B1. Автор: 이재하. Владелец: 화인인스트루먼트 (주). Дата публикации: 2020-10-13.

Film probe card and probe head thereof

Номер патента: CN114200280B. Автор: 于海超,赵梁玉,王艾琳. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-15.

Probe assembly for probe card

Номер патента: KR100867330B1. Автор: 전병희,강대철. Владелец: 주식회사 엔아이씨테크. Дата публикации: 2008-11-06.

Replaceable probe set and probe card

Номер патента: CN113640558B. Автор: 谢国芳,兰欣,周卫金. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2022-06-14.

Probe card adjustment mechanism and probe device

Номер патента: TWI389229B. Автор: Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-03-11.

Straight needle probe card with adjustable probe force

Номер патента: TW201823732A. Автор: 李在馥,黃德夏. Владелец: 南韓商特普斯有限公司. Дата публикации: 2018-07-01.

Probe card device and rectangular probe thereof

Номер патента: US10613117B2. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-07.

Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a retention arrangement

Номер патента: US20070132466A1. Автор: January Kister. Владелец: MicroProbe Inc. Дата публикации: 2007-06-14.

Probe member for wafer inspection, probe card for wafer inspection and wafer inspection apparatus

Номер патента: KR101167748B1. Автор: 히사오 이가라시,무쯔히꼬 요시오까,히또시 후지야마. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2012-07-23.

High frequency probe card for probing photoelectric device

Номер патента: CN104345186A. Автор: 张嘉泰,杨惠彬. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2015-02-11.

Probe card with coplanar daughter card

Номер патента: US20020145437A1. Автор: A. Sporck,Makarand Shinde. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2002-10-10.

Probe module and probe card

Номер патента: CN108732393A. Автор: 顾伟正,何志浩,王裕文,魏豪,周嘉南,许育祯,郑仰宏. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2018-11-02.

Probe card device and conductive probe thereof

Номер патента: CN111721976B. Автор: 李文聪,苏伟志,谢开杰,曾照晖. Владелец: Taiwan Zhonghua Precision Measurement Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-04-28.

Cantilever probe needle for probe card, its manufacture, and control method

Номер патента: JPH1138041A. Автор: Masaharu Mizuta,正治 水田. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1999-02-12.

Probe card, probe and semiconductor testing device

Номер патента: JPH11344510A. Автор: Akio Kojima,昭夫 小嶋. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1999-12-14.

Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a retention arrangement

Номер патента: US20080111572A1. Автор: January Kister. Владелец: MicroProbe Inc. Дата публикации: 2008-05-15.

Probe member for wafer inspection, probe card for wafer inspection and wafer inspection equipment

Номер патента: TW200633313A. Автор: Hitoshi Fujiyama,Mutsuhiko Yoshioka,Hisao Igarashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-09-16.

Probing test method for probe card and semiconductor integrated circuit

Номер патента: KR100328408B1. Автор: 도모미 모모하라. Владелец: 니시무로 타이죠. Дата публикации: 2002-07-06.

Vertical probe pin and probe card having same

Номер патента: US20230258691A1. Автор: Seok Ho Son,Young Hun JU. Владелец: TSE Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Mechanism for adjusting probe card, and probe device

Номер патента: TW200644144A. Автор: Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-12-16.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: KR20080042077A. Автор: 마이클 엘. 앤더슨,에드워드 에이. 맥클라우드,샤흐리아르 모스타르쉐드,마이클 에이. 카솔로. Владелец: 퀘리타우, 인크.. Дата публикации: 2008-05-14.

Probe card and probe contact method

Номер патента: US20030098702A1. Автор: Shigenobu Ishihara,Kenji Togashi,Tetsuhiro Nanbu,Tsutomu Tatematsu,Morihiko Hamada,Yoshikazu Arisaka,Kunihiro Itagaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-05-29.

Probe card for probing integrated circuit

Номер патента: CN103063886A. Автор: 陈颢,林鸿志,王敏哲,彭经能. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-04-24.

Probe scrubber for probe card

Номер патента: KR20100024062A. Автор: 정상용. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2010-03-05.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: CN102981029A. Автор: M.L.安德森,E.A.麦劳德,S.莫斯塔谢德,M.A.卡索洛. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2013-03-20.

Probe card for preventing a probe tip burnt

Номер патента: KR20010112792A. Автор: 장제열,박계홍. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2001-12-22.

Probe, manufacture of same, and vertically operative type probe card assembly employing the same

Номер патента: KR100212169B1. Автор: 히로시 이와타,마사오 오오쿠보,카주마사 오오쿠보. Владелец: 니혼 덴시자이료가부시키가이샤. Дата публикации: 1999-08-02.

Probe card device and dual-arm probe

Номер патента: KR20220076264A. Автор: 가이졔 시에,웨이지 쑤,홍밍 천,벨 산카아 라마찬드란. Владелец: 충화 프레시전 테스트 테크 컴퍼티 리미티드. Дата публикации: 2022-06-08.

Probe card with coplanar daughter card

Номер патента: US20050140381A1. Автор: A. Sporck,Makarand Shinde. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Method for manufacturing probe and probe card

Номер патента: KR100996926B1. Автор: 한정섭. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-12-01.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: KR101600019B1. Автор: 김병기. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2016-03-04.

Probe head controlling mechanism for probe card assemblies

Номер патента: TW201009348A. Автор: Brandon Liew,Porter, Jr,Andrew Weston Mcfarland,Kevin Youl Yasumura. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2010-03-01.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: TW200721341A. Автор: Shahriar Mostarshed,Michael L Anderson,Michael A Casolo,Edward A Mccloud. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2007-06-01.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: IL189229A0. Автор: . Владелец: Casolo Michael A. Дата публикации: 2008-08-07.

Probe needle for probe card

Номер патента: TW200732668A. Автор: Norihisa Himeno. Владелец: Tokusen Kogyo Kk. Дата публикации: 2007-09-01.

Probe, probe card and contact inspection device

Номер патента: EP3301458B1. Автор: Tomoaki Kuga. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-18.

Probe card holding mechanism and probe device

Номер патента: TWI402508B. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-07-21.

Probe card assembly and probes therein

Номер патента: TW201000913A. Автор: Cheng-Chin Ni. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-01.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: TW200809213A. Автор: Bahadir Tunaboylu,David T Beatson,Habib Kilicaslan,David F Mcdevitt. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2008-02-16.

PROBE FOR TESTING A SEMICONDUCTOR DEVICE AND A PROBE CARD INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20220308088A1. Автор: LEE Sung Hoon,Park Young Jun,PARK Sehoon,KIM Gyuyeol,Choi Woojun,JEONG Seungwon,KIM Yu-Kyum,NAM HANJIK. Владелец: Korea Instrument Co.,Ltd.. Дата публикации: 2022-09-29.

Probe card device and probe for use therein

Номер патента: WO2001079865A1. Автор: Minoru Yoshida,Seiichi Ohashi. Владелец: Innotech Corporation. Дата публикации: 2001-10-25.

Probe card adjustment mechanism and probe device

Номер патента: JP4102884B2. Автор: 旨俊 長坂. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-18.

A kind of probe card of the probe of compatible different size

Номер патента: CN105675929B. Автор: 赵敏,周柯. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2019-05-03.

Adjustment mechanism for probe card and probe device

Номер патента: KR100787400B1. Автор: 무네토시 나가사카. Владелец: 동경 엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 2007-12-21.

Wireless probe card verification system and method

Номер патента: US20120239339A1. Автор: Susumu Kaneko. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2012-09-20.

Probe card and method for testing magnetic sensors

Номер патента: US20130009659A1. Автор: Lianjun Liu,Phillip MATHER. Владелец: Everspin Technologies Inc. Дата публикации: 2013-01-10.

Probe Card And Manufacturing Method Therefor

Номер патента: US20130265073A1. Автор: Matsuda Kazuhiro,Nakano Hirofumi,Uemura Taishi. Владелец: Japan Electronic Materials Corporation. Дата публикации: 2013-10-10.

PROBE CARD

Номер патента: US20130342235A1. Автор: HAN Chung-Soo. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-26.

PROBE CARD, TEST METHOD FOR IMAGING ELEMENT AND TEST APPARATUS

Номер патента: US20140062517A1. Автор: Harada Tamotsu. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2014-03-06.

PROBE CARD FOR CIRCUIT-TESTING

Номер патента: US20140091827A1. Автор: HUNG Chien-Yao. Владелец: Hermes-Epitek Corp.. Дата публикации: 2014-04-03.

SPACE TRANSFORMER AND PROBE CARD

Номер патента: US20150002180A1. Автор: Miyaji Shinya,Kaneda Noriyoshi,Endo Naoki. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2015-01-01.

PROBE CARD, AND CONNECTING CIRCUIT BOARD AND SIGNAL FEEDING STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20160018439A1. Автор: Wei Hao,Ku Wei-Cheng,LAI JUN-LIANG,HO CHIH-HAO. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2016-01-21.

PROBE CARD ALIGNMENT

Номер патента: US20190018044A1. Автор: ECKERT Martin,Dieterle Roland,Tomaschko Siegfried. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-17.

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20150022230A1. Автор: Matsuda Yuichi,Horiuchi Michio,Tokutake Yasue,FUKASAWA Ryo,AIZAWA Mitsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

Image Sensor Testing Probe Card

Номер патента: US20170023614A1. Автор: JEN Chih-Pin,YANG Ming-Chang,YANG Sheng-Kuai. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

PROBE CARD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20170030966A1. Автор: PAGANI Alberto. Владелец: STMICROELECTRONICS S.R.L.. Дата публикации: 2017-02-02.

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20220050126A1. Автор: Ahn Bum Mo,Park Seung Ho,Byun Sung Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

INSPECTION UNIT, PROBE CARD, INSPECTION DEVICE, AND CONTROL SYSTEM FOR INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20140118018A1. Автор: YAMAGUCHI Norie,WASHIO Kenichi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2014-05-01.

PROBE CARD STRUCTURE, ASSEMBLING METHOD THEREOF AND REPLACING METHOD THEREOF

Номер патента: US20160047844A1. Автор: Wang Tzu-Chien,HSU WEN-YUAN,CHIU Sheng-Hsun. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-18.

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140125372A1. Автор: Matsuda Yuichi,Horiuchi Michio,Tokutake Yasue,FUKASAWA Ryo,AIZAWA Mitsuhiro. Владелец: SHINKO ELECTRIC INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2014-05-08.

Large-Area Probe Card and Method of Manufacturing the Same

Номер патента: US20150054541A1. Автор: Jung Hee seok,LEE Kyu Han. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-26.

PROBER AND PROBE CARD CLEANING METHOD

Номер патента: US20210063443A1. Автор: FUJIHARA Jun. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

PROBE CARD AND INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20140145741A1. Автор: KIKUCHI YOSHINORI,NAKATA Yoshiro,FUJITA Hirose. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2014-05-29.

Probe card testing device and testing device

Номер патента: US20200088764A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

FALSE DETECTION METHOD FOR LOADING PROBE CARD

Номер патента: US20200088788A1. Автор: WANG Chia-Wei,HUANG CHIEN-FANG,YANG Wei-Jr. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

HYBRID PROBE CARD FOR TESTING COMPONENT MOUNTED WAFER

Номер патента: US20210102974A1. Автор: PARK Jaehoon,LEE Jaebok,IM Yunchang. Владелец: TEPS CO., LTD.. Дата публикации: 2021-04-08.

PROBE CARD FOR HIGH FREQUENCY APPLICATIONS

Номер патента: US20210123950A1. Автор: Vettori Riccardo. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

SHORT-CIRCUIT PROBE CARD, WAFER TEST SYSTEM, AND FAULT DETECTION METHOD FOR THE WAFER TEST SYSTEM

Номер патента: US20210123951A1. Автор: LIN Shu-chi,KAN Chung-Hsuan,CHEN Yih-Chau,TSAI Yuan-Long,HO Hsuan-Min. Владелец: WINBOND ELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2021-04-29.

PROBE CARD HOLDER

Номер патента: US20200103442A1. Автор: NARUMI TAKAYUKI,KIKUCHI YOSHINORI,YASUTA TAKAO,Hirota Hideki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2020-04-02.

Method and system for aligning probe card in semiconductor device testing

Номер патента: US20200110131A1. Автор: Chiu-Hua Chung,Kai-Di CHUANG,Tien-Chung LEE,Kang-Tai PENG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR MEASURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20210140998A1. Автор: Matsumoto Takayuki,NAKAMURA Tomoaki,MATSUBAYASHI Hiroto. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2021-05-13.

Probe card and probe device using such probe card

Номер патента: DE19717369A1. Автор: Masakazu Nakabayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-04-09.

Probe and a probe card including the same

Номер патента: US20200081035A1. Автор: Byoung-Joo Kim,Sung-Hoon Lee,Tae-Jong Lee,Mi-Rye Lee,Hwang-Jin Yeo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-12.

PROBE CARD BOARD, PROBE CARD, AND INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20200064375A1. Автор: Imai Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

Method for manufacturing probe card and probe card thereby

Номер патента: KR100823311B1. Автор: 김영진,유재봉. Владелец: 세크론 주식회사. Дата публикации: 2008-04-18.

Probe card and probe card forming method

Номер патента: JP3123483B2. Автор: 直治 仙波,康志 副島. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-01-09.

Method for manufacturing space transformer of probe card and machining apparatus of ceramic plate for space transformer of probe card

Номер патента: KR102102311B1. Автор: 이준석,진용. Владелец: 주식회사 와이컴. Дата публикации: 2020-04-21.

Method for manufacturing probe card and probe card manufactured thereby

Номер патента: KR100823312B1. Автор: 김영진,유재봉. Владелец: 세크론 주식회사. Дата публикации: 2008-04-18.

Probe, probe assembly and probe card comprising it

Номер патента: KR20130047933A. Автор: 김세종,남인철. Владелец: 솔브레인이엔지 주식회사. Дата публикации: 2013-05-09.

Manufacturing method of probe pin having connection part and probe pin manufactured by the same and probe card having the same

Номер патента: KR101329546B1. Автор: 안용훈. Владелец: 권오경. Дата публикации: 2013-11-15.

Sawing tile corners on probe card substrates

Номер патента: WO2008008570A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Roy J. Henson,Eric D. Hobbs,Makarand S. Shinde,Peter B. Mathews. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2008-01-17.

Space transformer, manufacturing method of the space transformer and probe card having the space transformer

Номер патента: TWI324255B. Автор: Ki-Jun Kim,Young-Whee Cho,Dong-Yeul Choi. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2010-05-01.

Sawing tile corners on probe card substrates

Номер патента: EP2033001A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Roy J. Henson,Eric D. Hobbs,Makarand S. Shinde,Peter B. Mathews. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-03-11.

CONVERSION CARD FOR USE WITH PROBE CARD

Номер патента: US20150323566A1. Автор: JAN TING-JUE. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-12.

Probe of a probe card

Номер патента: KR100753555B1. Автор: 채종현. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2007-08-31.

Approach for fabricating cantilever probes for probe card assemblies

Номер патента: US7637007B2. Автор: Mark Cunningham,Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,Senthil Theppakuttai,John McGlory. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Method for manufacturing probe and probe card

Номер патента: KR100977207B1. Автор: 한정섭. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-08-20.

Probe Structure and probe card having the same

Номер патента: KR101506624B1. Автор: 이호준,이소형. Владелец: (주) 미코에스앤피. Дата публикации: 2015-04-06.

Prober in which probe head of probe card is replaced automatically

Номер патента: US10082524B2. Автор: Mitsuyoshi Miyazono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-09-25.

Probe card with angled probe and wafer testing method using the same

Номер патента: US11105848B2. Автор: Yuan-Chun Wu,Chang-Chun XU,Ni SHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-08-31.

Probe for use in probe card

Номер патента: KR100872065B1. Автор: 채종현. Владелец: (주)엠투엔. Дата публикации: 2008-12-05.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20130088251A1. Автор: Yong Seok Choi,Ki Pyo Hong,Dae Hyeong Lee,Won Chul Ma. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Probe card

Номер патента: US20170010305A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2017-01-12.

Probe Card System for Testing an Integrated Circuit

Номер патента: US20190033343A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-01-31.

Image Sensor Testing Probe Card

Номер патента: US20140125370A1. Автор: Hsieh Yi-Chang,Lin Wei-Feng,Ho Wen-Jen,JEN Chih-Pin,Lin Shih-Duen. Владелец: OMNIVISION TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2014-05-08.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: SG144939A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: WO2006068388A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2006-06-29.

Tester and method for calibrating probe card and device under testing (DUT)

Номер патента: US11852657B2. Автор: You-Hsien Lin,Shan ZHANG,wei chou Wang,Yung-Shiuan Chen,Tzu-Chia LIU,Hsin-Hsuan CHEN,Zhenzheng JIANG,Mingxiu ZHONG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe card holding apparatus

Номер патента: US20120025858A1. Автор: Katsuhiko Namiki,Shigeaki Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-02.

Vertical probe card

Номер патента: US20190250190A1. Автор: Kai Liu,Yuanjun Shi. Владелец: Twinsolution Technology (suzhou) Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Method for detecting contact force of probe card

Номер патента: US20240361354A1. Автор: Yu-Hsien Tsai,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Te-Kun Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Probe card, apparatus and method for detecting contact force of probe card

Номер патента: US12055563B2. Автор: Yu-Hsien Tsai,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Te-Kun Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Probe card and manufacturing method

Номер патента: US09671431B2. Автор: Young Geun Park. Владелец: M2N Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: EP2080030A2. Автор: Keith J. Breinlinger. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Probe card and test apparatus including probe card

Номер патента: US20240255545A1. Автор: Min Suk Kim,Seung il HONG. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: WO2008057897A2. Автор: Keith J. Breinlinger. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2008-05-15.

Spring probe and probe card having spring probe

Номер патента: US20170082656A1. Автор: Yi-Lung Lee,Tsung-Yi Chen,Horng-Kuang Fan,Horng-Chuan Sun,Shih-Shin Chen,Ting-Hsin Kuo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Probe card and test equipment with the same

Номер патента: US09903888B2. Автор: HUNG-YI LIN,Chia-Tai Chang,Hsiu-Wei Lin. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Multilayer Substrate and Probe Card

Номер патента: US20080191720A1. Автор: Jun Mochizuki,Hisatomi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Probe card

Номер патента: US20110163774A1. Автор: Toshifumi Minami,Hiroki Murotani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-07-07.

Ceramic, probe guiding member, probe card, and socket for package inspection

Номер патента: PH12020550262A1. Автор: Wataru Yamagishi,Kazumasa Mori,Shunichi ETO. Владелец: Ferrotec Material Tech Corporation. Дата публикации: 2021-03-01.

Probe card

Номер патента: US20240280610A1. Автор: Yuji Kawasaki,Tatsunori Shimizu,Tsutomu Shoji,Tomohiro Kinoshita. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Probe card

Номер патента: US20240264038A1. Автор: Sung Wook Cho,Yeon Su YEO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US9658249B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Probe card

Номер патента: US20090144971A1. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US20170059613A1. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US09658249B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Probe card locking device of a semiconductor wafer probe station

Номер патента: US5644246A. Автор: Ung-Gi Park,Dong-Seck Lee,Wha-Young Kim. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1997-07-01.

Cleaning methods for probe cards

Номер патента: US20200041552A1. Автор: Chih-Chiang LAI. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Tester and method for calibrating probe card and device under testing (dut)

Номер патента: US20210270868A1. Автор: You-Hsien Lin,Shan ZHANG,wei chou Wang,Yung-Shiuan Chen,Tzu-Chia LIU,Hsin-Hsuan CHEN,Zhenzheng JIANG,Mingxiu ZHONG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-09-02.

Apparatus and method for limiting over travel in a probe card assembly

Номер патента: WO2004059331A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Ravindra V. Shenoy,Carl V. Reynolds,Timothy E. Cooper. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2004-07-15.

Method of manufacturing semiconductor device, and probe card

Номер патента: US09829507B2. Автор: Takashi Saito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Position Correction Method, Inspection Apparatus, and Probe Card

Номер патента: US20190277884A1. Автор: Shingo Ishida,Kunihiro Furuya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Probe card and test apparatus having the probe card

Номер патента: US20210208183A1. Автор: Kyu Joong AN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-07-08.

Probe card and test apparatus having the probe card

Номер патента: US11193954B2. Автор: Kyu Joong AN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-12-07.

Method for removing accumulated solder from probe card probing features

Номер патента: US6121058A. Автор: Melissa K. Shell,Richard S. Yoshimoto. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2000-09-19.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: EP1519200B1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2007-01-10.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: EP1061381B1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2004-12-29.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: US20020171414A1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2002-11-21.

Micromachined silicon probe card for semiconductor dice and method of fabrication

Номер патента: US6072321A. Автор: Salman Akram,David R. Hembree,Alan G. Wood. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-06-06.

Probe card analysis system and method

Номер патента: US7782071B2. Автор: Eric Endres. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2010-08-24.

Head socket for contacting probe card and wafer test apparatus

Номер патента: WO2009017314A3. Автор: Sung-Chul Kim,Chang-Hak Lee. Владелец: Chang-Hak Lee. Дата публикации: 2009-04-02.

Head socket for contacting probe card and wafer test apparatus

Номер патента: WO2009017314A2. Автор: Sung-Chul Kim,Chang-Hak Lee. Владелец: Chang-Hak Lee. Дата публикации: 2009-02-05.

Cantilever type probe card for high frequency signal transmission

Номер патента: US9835651B2. Автор: Hao Wei,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Probe and probe card

Номер патента: US20130265074A1. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-10.

Probe card and method for performing an unclamped inductive switching test using multiple equal-length interconnection lines emanating from a common connection node

Номер патента: US09933476B2. Автор: Michael Leutschacher,Norbert Rieser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2018-04-03.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: MY144280A. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: MIMOS BERHAD. Дата публикации: 2011-08-29.

Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head

Номер патента: US20240183882A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microsoft SpA. Дата публикации: 2024-06-06.

Probe card device and matching probe thereof

Номер патента: US20200158756A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Kai-Chieh Hsieh,Hsien-yu Wang,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Radio frequency probe and probe card including a signal needle and grounding needle coupled to a microstrip transmission line

Номер патента: US5594358A. Автор: Osamu Ishikawa,Hiroyasu Takehara. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1997-01-14.

Method for testing special pattern and probe card defect in wafer testing

Номер патента: US9435847B2. Автор: Yen Lin,Shih-Hsien Chang,Kai-Wen Tu,Ching-Ren Cheng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Ceramic, probe guiding member, probe card, and socket for package inspection

Номер патента: US11940466B2. Автор: Wataru Yamagishi,Kazumasa Mori,Shunichi ETO. Владелец: Ferrotec Material Technologies Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Needle of probe card and method of manufacturing the same

Номер патента: WO2008123638A1. Автор: Joon Seok OH. Владелец: Im Co., Ltd.. Дата публикации: 2008-10-16.

Probe card for inspecting light receiving device

Номер патента: US8120372B2. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-02-21.

Probe card for inspecting solid state imaging device

Номер патента: US20100013505A1. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-01-21.

Probe card and inspection method

Номер патента: CA3032264C. Автор: Hidenori Ando,Makoto Kikuta. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-20.

Probe card needle shape and method of manufacturing

Номер патента: US20240151743A1. Автор: Wen-Chun Tu,Ting-Yu Chiu,Yi-Neng Chang,Te-Kun Lin,Chien Fang HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Probe card, semiconductor measuring device, and semiconductor measuring system

Номер патента: US20210140998A1. Автор: Takayuki Matsumoto,Tomoaki Nakamura,Hiroto Matsubayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

Probe card and inspection method

Номер патента: US20210373049A1. Автор: Hidenori Ando,Makoto Kikuta. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: WO2009066979A3. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: Mohd Ismahadi Syono. Дата публикации: 2009-07-23.

Probe Card and Method for Performing an Unclamped Inductive Switching Test

Номер патента: US20160041220A1. Автор: Michael Leutschacher,Norbert Rieser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2016-02-11.

Probe card contact block and apparatus for electrical connection

Номер патента: EP1376140A3. Автор: Yoshiei Hasegawa. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2004-03-17.

Contact terminal for measurement, measurement apparatus, probe card set, wafer probe apparatus, and testing apparatus

Номер патента: US7474109B2. Автор: Tadao Saito,Shigeru Matsumura,Shin Sakiyama,Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Fine pitch probe card

Номер патента: US12085589B2. Автор: Kwame Amponsah,Sirui Tan,Mehmet OZDOGAN. Владелец: XALLENT Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Wafer probe card, analysis apparatus including the same, and method of fabricating the wafer probe card

Номер патента: EP3610275C0. Автор: Dae Sik Kim,Jong Hoon Jung,Sung Yeol Kim,Seung Yong Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-12.

Probe card, thermal insulation cover assembly for probe card, and apparatus of testing semiconducotr device including the probe card

Номер патента: KR102328101B1. Автор: 김민구,나영미. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-11-17.

Membrane Sheet with Bumps for Probe Card, Probe Card and Method for Manufacturing Membrane Sheet with Bumps for Probe Card

Номер патента: US20140327463A1. Автор: Tago Toshio,Ishizaka Masaaki. Владелец: ELFINOTE TECHNOLOGY CORPORATION. Дата публикации: 2014-11-06.

Probe card and semiconductor testing device using probe sheet or probe card and semiconductor device producing method

Номер патента: KR100781856B1. Автор: 스스무 가스까베,다께시 야마모또. Владелец: 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼. Дата публикации: 2007-12-03.

Probe card having redistributed wiring probe needle structure and probe card module using the same

Номер патента: US20090278561A1. Автор: Nam-Seog Kim,Cha-Jea JO,Chang-seong Jeon,Hoon-Jung Kim,Tae-Gyeong Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-11-12.

Method of forming connection pin, probe, connection pin, probe card, and method of producing probe card

Номер патента: TW200704937A. Автор: Hisatomi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-02-01.

Method of bonding probes and method of manufacturing a probe card using the same

Номер патента: TWI323786B. Автор: Ki-Joon Kim,Yong-Hwi Jo. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2010-04-21.

Mems probe card with angled probes

Номер патента: WO2020257190A1. Автор: Kwame Amponsah,Sirui Tan,Mehmet OZDOGAN. Владелец: Xallent LLC. Дата публикации: 2020-12-24.

Ceramic, probe guiding member, probe card and socket for package inspection

Номер патента: US20230312423A1. Автор: Wataru Yamagishi,Kazumasa Mori,Shunichi ETO. Владелец: Ferrotec Material Technologies Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Probe structure and probe card having the same

Номер патента: TW200841021A. Автор: Ung-Gi Park,Young-Woo Shin. Владелец: Mico TN Ltd. Дата публикации: 2008-10-16.

BOARD FOR PROBE CARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE CARD

Номер патента: US20150028912A1. Автор: Park Yun Hwi,Shin Ji Hwan,CHO Beom Joon,Oh Kwang Jae,CHOO Ho Sung,CHOI Jung Goo,NA Ji Sung. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-29.

PROBE CARD CASE AND PROBE CARD TRANSFER METHOD

Номер патента: US20170153272A1. Автор: Amemiya Takashi,Mori Chikaomi. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

PROBE CARD LOADING APPARATUS AND PROBE CARD MANAGING SYSTEM INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20160185535A1. Автор: Park Byung-Soo,KIM Youngin,Yoo Byungkook,KIM Jongsam,PARK Sookil,JEONG Seong Sil,CHOI Wooseong,LEE Younghyen. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-30.

PROBE CARD FOR A MAGNETICALLY-ACTUABLE DEVICE AND TEST SYSTEM INCLUDING THE PROBE CARD

Номер патента: US20180237293A1. Автор: Calcaterra Giacomo,ROSSI Marco,Reina Sergio Mansueto. Владелец: STMICROELECTRONICS S.R.L.. Дата публикации: 2018-08-23.

Probe card, tester having probe card and a testing method using tester

Номер патента: JP2007033450A. Автор: In-Su Kim,淳鍾 朴,Soon-Jong Park,永吉 ▲ペ▼,Young-Gil Bae,仁秀 金. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-02-08.

Method of Manufacturing Needle for Probe Card Using Fine Processing Technology, Needle Manufactured by the Method, and Probe Card Comprising the Needle

Номер патента: US20080197866A1. Автор: Byung Ho Jo. Владелец: Microfriend Inc. Дата публикации: 2008-08-21.

Probe card, check device and inspection method using the probe card

Номер патента: CN107526018A. Автор: 清藤英博,深见美行,齐藤祐贵. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-29.

High-frequency probe card and transmission line for high-frequency probe card

Номер патента: US20080007278A1. Автор: Hsin-Hung Lin,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Te-Chen Feng. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2008-01-10.

Trolley for probe card and operation method of probe card using the same

Номер патента: TW200921832A. Автор: Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-05-16.

Wafer probe card, analysis apparatus including the same, and method of fabricating the wafer probe card

Номер патента: EP3610275B1. Автор: Dae Sik Kim,Jong Hoon Jung,Sung Yeol Kim,Seung Yong Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-12.

Probe card, thermal insulation cover assembly for probe card, and semiconductor device test apparatus including the same

Номер патента: US10082536B2. Автор: Min-Gu Kim,Young-Mi NA. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-09-25.

The probe card and the handling method of the probe card using the trolley

Номер патента: TWI459492B. Автор: Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-11-01.

Probe, method of manufacturing probe, method and device for attaching probe, and probe card

Номер патента: JP2003215161A. Автор: 清 竹腰,Kiyoshi Takekoshi,久富 保坂,Hisatomi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2003-07-30.

SPRING PROBE AND PROBE CARD HAVING SPRING PROBE

Номер патента: US20170082656A1. Автор: LEE Yi-Lung,Chen Tsung-Yi,FAN Horng-Kuang,CHEN Shih-Shin,KUO Ting-Hsin,SUN Horng-Chuan. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

PROBE CARD SYSTEM, PROBE LOADER DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE PROBE LOADER DEVICE

Номер патента: US20180321278A1. Автор: Sun Yu-Min,Cheng Chih-Feng,LIAO Chih-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-08.

Board for probe card, inspection apparatus, photo-fabrication apparatus and photo-fabrication method

Номер патента: US20070069744A1. Автор: Takayoshi Tanabe,Takao Yashiro,Yasuyuki Koyagi,Hiroko Shimozuma. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Probe needle structure of probe card for testing semiconductor device and method for fabricating probe needle

Номер патента: KR100607766B1. Автор: 주창영. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2006-08-01.

Dissimilar metal joint probe, method for manufacturing the same, and probe card using dissimilar metal joint probe

Номер патента: JP3116306B2. Автор: 昌男 大久保,順也 田中,輝明 藤永,和正 大久保,哲司 上野,純一 田畑. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2000-12-11.

Hollow probe tip manufacturing method used for probe card and its probe tip

Номер патента: KR19990084645A. Автор: 이정훈,이억기. Владелец: 이억기. Дата публикации: 1999-12-06.

Probe, probe card and process for manufacturing probe

Номер патента: CN101720438A. Автор: 和田晃一. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-06-02.

Probe needle material, probe needle and probe card using the same, and inspection method

Номер патента: JPWO2009040986A1. Автор: 隆之 和蛇田. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-13.

Probe needle, probe card, inspection device and method using the probe needle

Номер патента: JP2003227847A. Автор: Naoki Hayashida,直樹 林田,Toyohiro Tsunakawa,豊廣 綱川. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-08-15.

Probe, probe card, and probe manufacturing method

Номер патента: JPWO2009004721A1. Автор: 晃一 和田,和田　晃一. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-08-26.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: TW200831908A. Автор: Keith Breinlinger. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2008-08-01.

Method of manufacturing multilayer wiring board, probe card including multilayer wiring board manufactured by the method, and multilayer wiring board

Номер патента: US20150008951A1. Автор: Yoshihito OTSUBO. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-08.

Semiconductor device connector, semiconductor device carrier, semiconductor device socket using the same and probe card

Номер патента: US20060138641A1. Автор: Takeyuki Suzuki. Владелец: Yamaichi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-29.

Wiring board and probe card

Номер патента: US20240027493A1. Автор: Yoshihiro Toda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Method of manufacturing multilayer wiring board, probe card including multilayer wiring board manufactured by the method, and multilayer wiring board

Номер патента: US09523709B2. Автор: Yoshihito OTSUBO. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

PROBE AND PROBE CARD

Номер патента: US20130265074A1. Автор: Sato Minoru. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-10.

CONTACT PROBE AND PROBE CARD

Номер патента: US20140043055A1. Автор: Souma Akira,UEBAYASHI Masatomo. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2014-02-13.

CERAMIC, PROBE GUIDING MEMBER, PROBE CARD, AND SOCKET FOR PACKAGE INSPECTION

Номер патента: US20210188714A1. Автор: YAMAGISHI Wataru,MORI Kazumasa,ETO Shunichi. Владелец: FERROTEC MATERIAL TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2021-06-24.

PROBE CARD, PROBE STRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140266280A1. Автор: YEH Shu Jeng,TU Min Chang,WU Jo Chang,OU Hui Mei,HSU Cheng Ching. Владелец: WIN SEMICONDUCTORS CORP.. Дата публикации: 2014-09-18.

ALIGNMENT ADJUSTING MECHANISM FOR PROBE CARD, POSITION ADJUSTING MODULE USING THE SAME AND MODULARIZED PROBING DEVICE

Номер патента: US20140306730A1. Автор: Chen Tsung-Yi,LEE CHUNG-TSE,CHEN Shih-Shin. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2014-10-16.

CERAMIC, PROBE GUIDING MEMBER, PROBE CARD, AND SOCKET FOR PACKAGE INSPECTION

Номер патента: US20200241047A1. Автор: YAMAGISHI Wataru,MORI Kazumasa,ETO Shunichi. Владелец: FERROTEC MATERIAL TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-07-30.

PROBE AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180299490A1. Автор: KIM Jae-Won,KIM GYU-YEOL,KIM Yu-Kyum. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

High frequency printed wiring boards, probe cards and probe devices

Номер патента: KR960018607A. Автор: 구니오 사노. Владелец: 도오교오 에레구토론 야마나시 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1996-06-17.

Probe sheet, probe card, semiconductor inspection apparatus, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: JP4465995B2. Автор: 武志 山本,進 春日部. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2010-05-26.

Contact Probe and Probe Card

Номер патента: KR101468390B1. Автор: 마사토모 우에바야시,아키라 소마. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2014-12-04.

Method of fabricating cantilever type probe and method of fabricating probe card using the same

Номер патента: CN101461050A. Автор: 李瀚茂,曹容辉. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2009-06-17.

Method for forming probe structure of probe card

Номер патента: KR100796207B1. Автор: 김성환,김봉환,김종복,박범진. Владелец: 주식회사 유니테스트. Дата публикации: 2008-01-24.

Method for fabricating probe needle tip of probe card

Номер патента: KR100546831B1. Автор: 조병호. Владелец: (주) 마이크로프랜드. Дата публикации: 2006-01-25.

Semiconductor wafer storage device, connection method between integrated circuit terminal and probe terminal for inspection of semiconductor wafer and apparatus therefor, inspection method for semiconductor integrated circuit, probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: KR950021323A. Автор: 도시오 야마다,요시로우 나가다,아쯔시 후지와라,이사오 미야나가,신 하시모또,유끼하루 우라오까,야쓰시 오꾸다,겐조우 하따다. Владелец: 마쯔시다 덴기 산교 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1995-07-26.

Probe needle for probe card

Номер патента: US6366106B1. Автор: Yoshio Kimori,Yoshinobu Kageyama,Tomoki Kitafuji. Владелец: Tokusen Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2002-04-02.

Probe card device and self-aligned probe

Номер патента: KR20220071856A. Автор: 가이졔 시에,웨이지 쑤,홍밍 천,벨 산카아 라마찬드란. Владелец: 충화 프레시전 테스트 테크 컴퍼티 리미티드. Дата публикации: 2022-05-31.

Probe assembly and probe card having the same

Номер патента: KR101329812B1. Автор: 심영대. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2013-11-15.

Probes of probe card and the method of making the same

Номер патента: KR100744736B1. Автор: 치충 첸. Владелец: 엠제이씨 프로브 인코포레이션. Дата публикации: 2007-08-01.

Integrated circuits probe card having a reinforced structure of electric contact for probes

Номер патента: KR20130082046A. Автор: 춘 렁 루,치 쿤 첸,호 예 첸. Владелец: 스타 테크놀로지스 인코포레이션. Дата публикации: 2013-07-18.

Probe sheet, probe card, semiconductor inspection apparatus, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: JP2005024377A. Автор: Takeshi Yamamoto,武志 山本,進 春日部,Susumu Kasukabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-01-27.

Cantilever probe structure for a probe card assembly

Номер патента: US20070089551A1. Автор: Scott Williams,David Beatson,Bahadir Tunaboylu,Edward Laurent,Edward Malantonio. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2007-04-26.

Probe of vertical probe card

Номер патента: US20090212805A1. Автор: Huang-chih Chen,Been-long Chen. Владелец: IPWorks Technology Corp. Дата публикации: 2009-08-27.

Substrate test probing equipments having forcing part in test head and force-receiving pattern in probe card and methods of using the same

Номер патента: KR100835281B1. Автор: 조창현,강성모,김준연,유상규,강상구. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2008-06-05.

Probe Assembly of Probe Card and Manufacturing Method thereof

Номер патента: KR100968520B1. Автор: 이재하. Владелец: 이재하. Дата публикации: 2010-07-08.

Integrated circuits probe card having a reinforced structure of electric contact for probes

Номер патента: KR101296523B1. Автор: 춘 렁 루,치 쿤 첸,호 예 첸. Владелец: 스타 테크놀로지스 인코포레이션. Дата публикации: 2013-08-13.

Probe and probe card

Номер патента: JP2006242774A. Автор: 清 竹腰,Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-09-14.

Probes of cantilever probe card

Номер патента: TW200937019A. Автор: Huang-chih Chen,Been-long Chen. Владелец: IPWorks Technology Corp. Дата публикации: 2009-09-01.

Probe, probe card and electronic component testing apparatus

Номер патента: WO2011024303A1. Автор: 哲也 杭谷. Владелец: 株式会社アドバンテスト. Дата публикации: 2011-03-03.

Probes and probe cards

Номер патента: JPWO2015037741A1. Автор: 智一 庄司,基康 近藤,雅俊 大井,雅晴 大井. Владелец: TECHNOPROBE, CO., LTD.. Дата публикации: 2017-03-02.

Probe apparatus of vertical probe card

Номер патента: CN107783024B. Автор: 李文聪,谢开杰. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-23.

Probe card fixing apparatus of probe station for testing wafer

Номер патента: KR0144230B1. Автор: 이동석. Владелец: 김주용. Дата публикации: 1998-08-17.

Probe contact assembly for probe card in semiconductor chip inspection system, has inclined contact pin assembly with conductive layer formed on substrate, which when contacts pad spring power is generated

Номер патента: DE10003282A1. Автор: Theodore A Khoury,Mark R Jones,James W Frame. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2000-10-19.

Sockets for inspecting ceramics, probe guide elements, probe cards and packages

Номер патента: KR102505460B1. Автор: 와타루 야마기시,가즈마사 모리,슌이치 에토,šœ이치 에토. Владелец: 가부시키가이샤 페로텍 머티리얼 테크놀로지즈. Дата публикации: 2023-03-03.

Probe for probe card and method for manufacturing the same

Номер патента: KR100988814B1. Автор: 김형태,정석. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2010-10-20.

Probe for high frequency signal transmission and probe card using the same

Номер патента: KR100959599B1. Автор: 웨이-쳉 쿠,치-하오 호,치아-타이 창,호-후이 린,치엔-호 린. Владелец: 엠피아이 코포레이션. Дата публикации: 2010-05-27.

Ceramic, probe guide member, probe card, and socket for package inspection

Номер патента: CN111247115A. Автор: 山岸航,森一政,卫藤俊一. Владелец: Flt Materials Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-05.

Method of bonding probes and method of making a probe card using the same

Номер патента: DE112007000256T5. Автор: Ki-Joon Kim,Yong-Hwi Bucheon Jo. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-12-11.

Sockets for inspection of ceramics, probe guide elements, probe cards and packages

Номер патента: KR102419954B1. Автор: 와타루 야마기시,가즈마사 모리,슌이치 에토,šœ이치 에토. Владелец: 가부시키가이샤 페로텍 머티리얼 테크놀로지즈. Дата публикации: 2022-07-12.

Method of fabricating cantilever type probe and method of fabricating probe card using the same

Номер патента: US20090173712A1. Автор: Yong-Hwi Jo,Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2009-07-09.

Volcano type probe, its manufacturing method and probe card having it

Номер патента: KR100446551B1. Автор: 이억기. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2004-09-01.

Method For Manufacturing Probe Structure Of Probe Card

Номер патента: US20080190891A1. Автор: Bum Jin Park,Jong Bok Kim,Bong Hwan KIM. Владелец: UniTest Inc. Дата публикации: 2008-08-14.

Probe card for testing semiconductor devices and vertical probe thereof

Номер патента: TWM404480U. Автор: Chih-Kun Chen,Choon-Leong Lou. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2011-05-21.

Ceramic, probe-guiding part, probe card and socket for inspecting package

Номер патента: EP4129953A4. Автор: Wataru Yamagishi,Kazumasa Mori,Shunichi ETO. Владелец: Ferrotec Material Technologies Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Probe card for testing semiconductor devices and vertical probe thereof

Номер патента: TW201209417A. Автор: Chih-Kun Chen,Choon Leong Lou. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Probe card locking device of a semiconductior wafer probe station

Номер патента: GB9607330D0. Автор: . Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1996-06-12.

Probe card locking device of a semiconductor wafer probe station

Номер патента: GB2299704B. Автор: Dong-Seck Lee. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1999-05-19.

PROBE HEAD, PROBE CARD ASSEMBLY USING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20160274147A1. Автор: Hsu Ming-Cheng,Huang Yuan-Pin,LIAO Wen-Feng,SU Wen-Tsai. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

Method for manufacturing probe structure of probe card

Номер патента: KR100796202B1. Автор: 김봉환,김종복,박범진. Владелец: 주식회사 유니테스트. Дата публикации: 2008-01-24.

Mullite-Based Sintered Body, Circuit Board Using Same and Probe Card

Номер патента: US20130176048A1. Автор: Furukubo Yuya,Nakayama Toru. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-11.

PROBE CARD

Номер патента: US20130328585A1. Автор: HASEGAWA Ken,ONUMA Yoshihito,KITABATAKE Yoshihito,KOGAWA Takayuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2013-12-12.

PROBE CARD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20140070834A1. Автор: PAGANI Alberto. Владелец: STMICROELECTRONICS S.R.L.. Дата публикации: 2014-03-13.

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20140077833A1. Автор: Chen Ming-Chi,Wu Chien-Chou,Chen Tsung-Yi,LEE CHUNG-TSE. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2014-03-20.

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20150022229A1. Автор: Matsuda Yuichi,Horiuchi Michio,Tokutake Yasue,FUKASAWA Ryo,AIZAWA Mitsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD

Номер патента: US20180045756A1. Автор: Saito Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-15.

STAND ALONE MULTI-CELL PROBE CARD FOR AT-SPEED FUNCTIONAL TESTING

Номер патента: US20140125371A1. Автор: CHUNG MENG-HSIU,Lai Hung-Wei. Владелец: HERMES TESTING SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2014-05-08.

PROBE CARD CAPABLE OF TRANSMITTING HIGH-FREQUENCY SIGNALS

Номер патента: US20170059613A1. Автор: Ku Wei-Cheng,LAI JUN-LIANG. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

HIGH-PERFORMANCE PROBE CARD IN HIGH-FREQUENCY

Номер патента: US20210063478A1. Автор: Vettori Riccardo. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

Apparatus to prevent damage to probe card

Номер патента: US20030122564A1. Автор: Phillip Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-03.

Method to prevent damage to probe card

Номер патента: US20060114011A1. Автор: Phillip Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-01.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Device of contacting substrate with probe card and substrate inspection apparatus having same

Номер патента: US09915698B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices with improved thermal management

Номер патента: WO2024132800A1. Автор: Stefano Felici,Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Apparatus and method for inspecting pins on a probe card

Номер патента: US09417308B2. Автор: Oscar Beijert. Владелец: Stichting Continuiteit Beijert Engineering. Дата публикации: 2016-08-16.

Membrane sheet with bumps for probe card, probe card and method for manufacturing membrane sheet with bumps for probe card

Номер патента: US09642255B2. Автор: Masaaki Ishizaka,Toshio Tago. Владелец: Elfinote Technology Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Probe Card System Having A Dielectric Fluid Dispenser

Номер патента: US20190064216A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-02-28.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US20170082657A1. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Probe card needle cleaning frequency optimization

Номер патента: WO2004070405A8. Автор: Beng Ghee Tan. Владелец: Systems On Silicon Mfg Co Pte. Дата публикации: 2005-10-13.

Verticle probe card for attachment within a central corridor of a magnetic field generator

Номер патента: US6556031B2. Автор: James M. Forbis,Dennis J. Cahalan. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US09841438B2. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Apparatus and method for managing thermally induced motion of a probe card assembly

Номер патента: EP1877807A2. Автор: Gary W. Grube,Benjamin N. Eldridge,Gaetan L. Mathieu,A. Nicholas Sporck,Eric D. Hobbs,Makarand S. Shinde,Thomas N. Watson,Alexander N. Slocum. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2008-01-16.

Probe card analysis system and method

Номер патента: US09638782B2. Автор: Eric Endres,John T. Strom,Christopher Mclaughlin,Christian Kuwasaki. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US20040035706A1. Автор: Yeong-Her Wang,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. Lee,S. Cheng. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2004-02-26.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US7005054B2. Автор: Yeong-Her Wang,S. J. Cheng,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. J. Lee. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2006-02-28.

Probe card structure

Номер патента: US20160305982A1. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-10-20.

Probe card device and circuit protection assembly thereof

Номер патента: US20230360874A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US12078659B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

A probe card for testing power devices under high temperature and high voltage

Номер патента: US20230258690A1. Автор: Ming Zhou,Xinggang WANG,Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Assembly structure for making integrated circuit chip probe cards

Номер патента: US6204674B1. Автор: January Kister,Krzysztof Dabrowiecki. Владелец: Probe Technology Corp. Дата публикации: 2001-03-20.

Probe card

Номер патента: US09410987B2. Автор: Goro Nakatani,Masahiro Sakuragi,Koichi Niino. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Increasing thermal isolation of a probe card assembly

Номер патента: US20090230981A1. Автор: Kevin Y. Yasumura,Timothy Blomgren,Jacob C. Chang,Michael W. Huebner. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-09-17.

Probe head of vertical probe card and manufacturing method of composite board of probe head

Номер патента: SG196803A1. Автор: Che-Wei Lin,Horng-Kuang Fan,Ming-Chi Chen,Mao-Fa Shen,Ming-Chu Chueh,Bang-Shun Liu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

Integrated Optical/Electrical Probe Card for Testing Optical, Electrical, and Optoelectronic Devices in a Semiconductor Die

Номер патента: US20210080295A1. Автор: Yasir Qamar,Edward Preisier. Владелец: Newport Fab LLC. Дата публикации: 2021-03-18.

Opto-electrical probe card platform for wafer-level testing of optical mems structures

Номер патента: US20230393173A1. Автор: Bassem Mortada,Yasser M. Sabry,Diaa Khalil,Bassam Saadany,Ahmed SHEBL,Momen Anwar,Tarek Mohamed Zeinah,Mohamed RAMADAN,Mohamed Hamouda,Ahmed Emad,Mohamed Badr,Moez ElMassry. Владелец: SI Ware Systems Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Probe card transporting apparatus and to-be-connected body moving mechanism

Номер патента: US20040164756A1. Автор: Masaru Suzuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-08-26.

Probe-card multilayer wiring substrate and probe card

Номер патента: US20230408547A1. Автор: Satoshi Abe,Tetsuo Fujimoto,Yusuke Harada,Shinya Hori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Probe card

Номер патента: US20240044942A1. Автор: Hiroshi Yamanaka,Yuuki Nakamura,Masatoshi HASAKA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Method and apparatus for mounting, inspecting and adjusting probe card needles

Номер патента: US5890390A. Автор: Fred Throssel. Владелец: Silicon Systems Inc. Дата публикации: 1999-04-06.

Probe head of vertical probe card and manufacturing method of composite board of probe head

Номер патента: SG177836A1. Автор: Che-Wei Lin,Horng-Kuang Fan,Ming-Chi Chen,Mao-Fa Shen,Ming-Chu Chueh,Bang-Shun Liu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-02-28.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: US7930219B2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: WO2003025601A1. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2003-03-27.

Probe card management system and probe card management method

Номер патента: US20200191830A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Probe card and measuring method for semiconductor wafers

Номер патента: US20070241765A1. Автор: Yosuke Kawamata. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2007-10-18.

Thin film probe card

Номер патента: US20070108999A1. Автор: Chih-Yuan Wang,Heng-Yi Chang. Владелец: Wintek Corp. Дата публикации: 2007-05-17.

Probe card and test device including the same

Номер патента: US20200072870A1. Автор: Tae Yong Jang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Probe card configured to connect to a probe pad located in saw street of a semiconductor wafer

Номер патента: US20230280372A1. Автор: Guillaume Alexandre Blin,Engin Ibrahim Pehlivanoglu. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US12108543B2. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Probe card including wireless interface and test system including the same

Номер патента: US09835681B2. Автор: Kyu-Jeong Lee,Yo-Jong Kim,Kyoung-hoon JEON,Il-kyo JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-05.

Probe card having separated upper and lower probe needle groups

Номер патента: US5926028A. Автор: Jun Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-07-20.

Method for producing a probe card

Номер патента: US20240110948A1. Автор: Kun-Hsien LIN,Edgar Hepp,Wabe Koelmans,Patrik SCHUERCH. Владелец: Exaddon AG. Дата публикации: 2024-04-04.

Vertical Probe Card

Номер патента: US20200191828A1. Автор: Tien-Chien Cheng. Владелец: Tien-Chien Cheng. Дата публикации: 2020-06-18.

Probe card testing device

Номер патента: US11808787B2. Автор: Ra-Min Tain,Tzyy-Jang Tseng,John Hon-Shing Lau,Kuo Ching Tien. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Method for producing a probe card

Номер патента: EP4295163A1. Автор: Kun-Hsien LIN,Edgar Hepp,Wabe Koelmans,Patrik SCHUERCH. Владелец: Exaddon AG. Дата публикации: 2023-12-27.

Method for making a probe card

Номер патента: US20080209719A1. Автор: Wen-Yu Lu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-04.

Probe card, method of manufacturing the probe card and alignment method

Номер патента: US20060132155A1. Автор: Kenji Yamada,Yoshirou Nakata. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-22.

Probe card and signal path switching module assembly

Номер патента: US20190120877A1. Автор: Hao Wei,Chia-Nan Chou,Yu-Hao Chen,Chien-Chiao CHEN,Chia-An YU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Chip test apparatus and probe card circuit

Номер патента: US20090224779A1. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2009-09-10.

Heavy-duty probe card transfer and loading device

Номер патента: US20240063041A1. Автор: Ki Tae Kim,Dae Han Kim,Sang Kyun Park,Jung Shik LEE,Woon Seap Jang,Dong Hyug Oh. Владелец: Gosung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Probe card method

Номер патента: US7352175B2. Автор: Hisanori Murata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-04-01.

Probe card and method of fabricating the same

Номер патента: WO2007049878A1. Автор: Oug-Ki Lee,Seong-Hoon Jeong,Kyu-Hyun Shin. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2007-05-03.

Micro contact probe for probe card coated with carbon nano tube and febrication method thereof

Номер патента: KR101097217B1. Автор: 김정엽,한창수,이학주. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2011-12-22.

Flexible membrane adapted to carry high-frequency (RF) power signals and corresponding probe card for the high-frequency (RF) power test of electronic devices

Номер патента: WO2022112100A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-06-02.

Probe Card and Method of Manufacturing Thereof

Номер патента: US20240044941A1. Автор: Masashi Ota,Keita Yamaguchi,Kenya Suzuki,Ai Yanagihara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Flexible membrane adapted to carry high-frequency (rf) power signals and corresponding probe card for the high-frequency (rf) power test of electronic devices

Номер патента: EP4252010A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-04.

Multilayer wiring substrate, method of manufacturing same, and probe card having same

Номер патента: US20210116478A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Assembling devices for probe card testing

Номер патента: WO2016077217A1. Автор: Roger Allen Sinsheimer. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2016-05-19.

Method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: WO2004083980A2. Автор: John T. Strom,Raymond H. Kraft. Владелец: Applied Precision, Llc. Дата публикации: 2004-09-30.

Method for producing a multi-layer of a probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: EP3622304A1. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI,Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-03-18.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US20100073019A1. Автор: Raymond Kraft,John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2010-03-25.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US20230217600A1. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

System and method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: US20040227533A1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US20120150475A1. Автор: Raymond Kraft,John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US7579853B2. Автор: John T Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-08-25.

Multilayer wiring substrate, method of manufacturing same, and probe card having same

Номер патента: US11852655B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Manufacturing method of a multi-layer for a probe card

Номер патента: US12019111B2. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI,Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-06-25.

System and method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: US20080238464A1. Автор: John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2008-10-02.

Integrated electro-microfluidic probe card, system and method for using the same

Номер патента: US09523642B2. Автор: Fei-Lung Lai,Yi-Shao LIU,Chun-Wen Cheng,Chun-Ren Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Construction structures and manufacturing processes for probe card assemblies and packages having wafer level springs

Номер патента: WO2004001807B1. Автор: Sammy Mok,Frank Swiatowiec,Fu-Chiung Chong,Joseph Michael Haemer,Syamal Kumar Lahiri. Владелец: NanoNexus Inc. Дата публикации: 2005-02-03.

Construction structures and manufacturing processes for probe card assemblies and packages having wafer level springs

Номер патента: EP1549962A2. Автор: Sammy Mok,Frank Swiatowiec,Fu-Chiung Chong,Joseph Michael Haemer,Syamal Kumar Lahiri. Владелец: NanoNexus Inc. Дата публикации: 2005-07-06.

Construction structures and manufacturing processes for probe card assemblies and packages having wafer level springs

Номер патента: EP1549962A4. Автор: Sammy Mok,Frank Swiatowiec,Fu-Chiung Chong,Joseph Michael Haemer,Syamal Kumar Lahiri. Владелец: NanoNexus Inc. Дата публикации: 2005-12-14.

A guide plate for a probe card, and a guide plate for a probe card

Номер патента: TWI577992B. Автор: 木村哲平,樊利文. Владелец: 日本電子材料股份有限公司. Дата публикации: 2017-04-11.

Heater substrate, probe card substrate, and probe card

Номер патента: US12013433B2. Автор: Hidenori Tanaka,Daisuke JINGU. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Methods of fabricating probe cards including nanotubes

Номер патента: US09851378B2. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Membrane sheet with bumps for probe card, probe card and method for manufacturing membrane sheet with bumps for probe card

Номер патента: KR101955663B1. Автор: 토시오 타고,마사아키 이시자카. Владелец: 엘피노트 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-03-07.

Probe card tilt adjustment method, probe card tilt detection method, and program recording medium recording probe card tilt detection method

Номер патента: JP5295588B2. Автор: 浩史 山田,哲治 渡辺,武司 川路. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-09-18.

PROBING METHOD, PROBE CARD FOR PERFORMING THE METHOD, AND PROBING APPARATUS INCLUDING THE PROBE CARD

Номер патента: US20140253154A1. Автор: KANG Sang-Boo,LIM Ki-Sub. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-09-11.

Probe card probe and probe card probe testing method

Номер патента: CN115201654A. Автор: 梁建,罗雄科. Владелец: Shanghai Zenfocus Semi Tech Co ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Flexible membrane adapted to carry high-frequency (rf) power signals and corresponding probe card for the high-frequency (rf) power test of electronic devices

Номер патента: US20230408548A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-21.

Method and apparatus for a probe card

Номер патента: US09921262B2. Автор: Walter A Schindler,Jerry Choy. Владелец: Elma Electronic Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Optical probe, optical probe array, optical probe card, and method of manufacturing optical probe

Номер патента: US20210364552A1. Автор: Yuki Saito,Michitaka Okuta,Jukiya Fukushi,Shou HARAKO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Probe card device

Номер патента: US20230288450A1. Автор: Pei-Liang Chiu. Владелец: Princo Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Optical probe, optical probe array, optical probe card, and method of manufacturing optical probe

Номер патента: US11971431B2. Автор: Yuki Saito,Michitaka Okuta,Jukiya Fukushi,Shou HARAKO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

WAFER PROBE CARD, ANALYSIS APPARATUS INCLUDING THE SAME, AND METHOD OF FABRICATING THE WAFER PROBE CARD

Номер патента: US20180340985A1. Автор: Kim Sung Yeol,Shin Seung Yong,KIM Dae Sik,JUNG Jong Hoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2018-11-29.

Probe card, test apparatus including the probe card, and related methods of manufacturing

Номер патента: US20190064219A1. Автор: Jae-Hong Kim,In-Kyu Park,Duke Kimm,Seung-Hwan Kim,Jun-Bo Yoon,Yong-Hoon Yoon,Chang-Keun Kim,Min-woo Rhee,Ji-Nyeong Yun,Dong-uk Kwon. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2019-02-28.

PROBE CARD AND MULTILAYER CIRCUIT BOARD THIS PROBE CARD INCLUDES

Номер патента: US20170146570A1. Автор: TAKEMURA Tadaji. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

PROBE CARD AND TEST APPARATUS HAVING THE PROBE CARD

Номер патента: US20210208183A1. Автор: AN Kyu Joong. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2021-07-08.

MULTILAYER CIRCUIT BOARD USED FOR PROBE CARD AND PROBE CARD INCLUDING MULTILAYER CIRCUIT BOARD

Номер патента: US20180364280A1. Автор: TAKEMURA Tadaji,Kawakami Hiromichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-20.

Manufacturing method for ceramic substrate for probe card and ceramic substrate for probe card

Номер патента: KR101153492B1. Автор: 이택정,장병규,박윤휘. Владелец: 삼성전기주식회사. Дата публикации: 2012-06-11.

Apparatus for transferring a probe card and method of transferring a probe card

Номер патента: KR101503143B1. Автор: 이상희. Владелец: 세메스 주식회사. Дата публикации: 2015-03-18.

Substrate abutting device to probe card, substrate inspection device provided with substrate abutting device, and substrate abutting method to probe card

Номер патента: JP5993649B2. Автор: 浩史 山田. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-09-14.

Probe card, method of manufacturing the probe card and alignment method

Номер патента: CN1812070A. Автор: 山田健司,中田义朗. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-02.

Probe card and Test System including the Probe Card

Номер патента: KR102188060B1. Автор: 전경훈,정일교,이규정,김요정. Владелец: 삼성전자 주식회사. Дата публикации: 2020-12-07.

Probe card assembly substrate, probe card assembly and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: JP4157589B1. Автор: 毅 小山田,匡史 宮脇,征一朗 伊藤. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2008-10-01.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US9535096B2. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Laminated wiring board for probe card and probe card provided with the same

Номер патента: JP6508416B2. Автор: 竹村　忠治,忠治 竹村,弘倫 川上,川上　弘倫. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-08.

Mounting method for probe card, and probe card transferring and loading assisting device used therefor

Номер патента: JP2007165715A. Автор: Tomoaki Mochizuki,Munetoshi Nagasaka,旨俊 長坂,智秋 望月,Kiso Kyo,▲キ▼ 相 姜. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-28.

Multilayer circuit board used for probe card and probe card including multilayer circuit board

Номер патента: US20180364280A1. Автор: Hiromichi Kawakami,Tadaji Takemura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-20.

GUIDE PLATE FOR A PROBE CARD AND PROBE CARD PROVIDED WITH SAME

Номер патента: US20150301083A1. Автор: KIMURA Teppei,FAN Liwen. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-22.

Probe pin, probe card, and probe device

Номер патента: TW200736617A. Автор: Kenichi Kataoka,Toshihiro Itoh,Ka Toh. Владелец: Univ Tokyo. Дата публикации: 2007-10-01.

Probe head of probe card and manufacturing method of composite board of probe head

Номер патента: US20120007627A1. Автор: Che-Wei Lin,Horng-Kuang Fan,Ming-Chi Chen,Mao-Fa Shen,Ming-Chu Chueh,Bang-Shun Liu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-01-12.

Probe head, its assembly method and probe card

Номер патента: US20040239351A1. Автор: Shuichi Sawada,Masaya Tsuchie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Test device, probe card and test method

Номер патента: TW200933179A. Автор: Shigemi Komagata,Yuji Ariyama. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-08-01.

Solid high aspect ratio via hole used for burn-in boards, wafer sort probe cards, and package test load boards with electronic circuitry

Номер патента: US20080100291A1. Автор: Romi O. Mayder. Владелец: Silicon Test Systems Inc. Дата публикации: 2008-05-01.

Transporting mechanism, movable probe card transporting apparatus using transporting mechanism, and prober

Номер патента: SG115601A1. Автор: Kawaguchi Koji,SUZUKI Masaru,AMEMIYA Hiroshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2005-10-28.

Probe card

Номер патента: TWI222518B. Автор: Chikaomi Mori. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2004-10-21.

Method of positioning an anisotropic conductive connector, method of positioning the anisotropic conductive connector and a circuit board for inspection, anisotropic conductive connector, and probe card

Номер патента: US20090015281A1. Автор: Mutsuhiko Yoshioka,Masaya Naoi,Akira Matsuura,Takashi Amemiya,Tomohisa Hoshino,Syuichi Tsukada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-01-15.

Multilayer ceramic substrate and probe card including same

Номер патента: US11651904B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-16.

Probe card

Номер патента: TW200402535A. Автор: Chikaomi Mori. Владелец: Nihon Denshizairyo KK. Дата публикации: 2004-02-16.

Apparatus for testing chip and circuit of probe card

Номер патента: TW200938853A. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Mechanical decoupling of a probe card assembly to improve thermal response

Номер патента: TW201027078A. Автор: Eric D Hobbs,Keith J Breinlinger. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2010-07-16.

Circuit board and probe card

Номер патента: US12114423B2. Автор: Yoshihiro Toda,Youichiro HONDA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

CIS circuit test probe card

Номер патента: TW201022677A. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2010-06-16.

Probe card detecting apparatus, wafer position alignment apparatus and wafer position alignment method

Номер патента: TW201245742A. Автор: Hiroshi Yamada,Hiroki Obi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-11-16.

SYSTEM, A TANGENT PROBE CARD AND A PROBE HEAD ASSEMBLY FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFTER

Номер патента: US20180172732A1. Автор: LEUNG Wing Cheuk. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

PROBE HEAD STRUCTURE OF PROBE CARD AND TESTING METHOD

Номер патента: US20190242942A1. Автор: Wang Mill-Jer,Hsu Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

SYSTEM, A TANGENT PROBE CARD AND A PROBE HEAD ASSEMBLY FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER

Номер патента: US20200363453A1. Автор: LEUNG Wing Cheuk. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-19.

REUSABLE PROBE CARD WITH REMOVABLE PROBE INSERT

Номер патента: US20200386787A1. Автор: Contractor Yazdi Dinshaw,HITE John Allen,Riddick Gerard,Ochotorena,Jr. Ray Joseph,Brumley William Edward,Teran Enrique. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Transfer circuit, connection sheet, probe sheet, probe card, semiconductor inspection apparatus, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: KR100938038B1. Автор: 스스무 가스까베,데루따까 모리,야스노리 나리즈까,노리오 쥬조. Владелец: 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지. Дата публикации: 2010-01-21.

Transmission circuit, probe sheet, probe card, semiconductor detector and producing method

Номер патента: CN101074970A. Автор: 春日部进,成塚康则,森照享,中条德男. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2007-11-21.

Probe sheet, probe card and method of manufacturing the same

Номер патента: KR101340416B1. Автор: 심영대. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2013-12-13.

Probe cards including nanotube probes and methods of fabricating

Номер патента: CN102224548B. Автор: A·布兰多夫. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2014-09-10.

Approach for fabricating probe elements for probe card assemblies using a reusable substrate

Номер патента: US20070222466A1. Автор: Richard Mccullough,Keith Heinemann,Jamin Ling,Brian McHugh,Jordan Wahl. Владелец: Wahl Jordan L. Дата публикации: 2007-09-27.

A system, a tangent probe card and a probe head assembly for testing semiconductor wafer

Номер патента: TWI710774B. Автор: 永焯 梁. Владелец: 永焯 梁. Дата публикации: 2020-11-21.

Probe cards including nanotube probes and methods of fabricating

Номер патента: EP2329502A4. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2012-08-22.

Thin-film probe sheet and method of manufacturing the same, probe card, and semiconductor chip inspection apparatus

Номер патента: US20100301884A1. Автор: Akio Hasebe,Kenji Kawakami,Akira Yabushita,Yasunori Narizuka,Etsuko Takane. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2010-12-02.

Probe and probe card including the same

Номер патента: KR102252595B1. Автор: 김재원,김규열,김유겸. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-05-17.

Probe cleaning method of probe card

Номер патента: TW504785B. Автор: Yu-Hsin Liu,Kuang-Ping Tang. Владелец: Powerchip Semiconductor Corp. Дата публикации: 2002-10-01.

Probe Assembly, Probe Card Including the Same, and Methods for Manufacturing These

Номер патента: KR101399030B1. Автор: 사토시 나리타,켄지 사사키. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2014-05-30.

Approach for fabricating probe elements for probe card assemblies using a reusable substrate

Номер патента: US7637009B2. Автор: Richard Mccullough,Keith Heinemann,Jamin Ling,Brian McHugh,Jordan Lane Wahl. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Transmission circuit, probe sheet, probe card, semiconductor detector and producing method

Номер патента: CN100587496C. Автор: 春日部进,成塚康则,森照享,中条德男. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2010-02-03.

Probe card capable of multi-probing

Номер патента: US20070152688A1. Автор: Min-Gu Kim,Young-soo An,Ho-Jeong Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-07-05.

Method to build a wirebond probe card in a many at a time fashion

Номер патента: WO2006023741A3. Автор: Benjamin N Eldridge,Bruce J Barbara. Владелец: Bruce J Barbara. Дата публикации: 2007-12-06.

Method to build a wirebond probe card in a many at a time fashion

Номер патента: EP1779128A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Bruce J. Barbara. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2007-05-02.

Method to build a wirebond probe card in a many at a time fashion

Номер патента: WO2006023741A2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Bruce J. Barbara. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2006-03-02.

Apparatus for detecting a probe location in a probe card

Номер патента: TW200900702A. Автор: Si-Yong Choi,Gyun Jeong. Владелец: Secron Co Ltd. Дата публикации: 2009-01-01.

Probe head, its assembly method and probe card

Номер патента: TW200427989A. Автор: Shuichi Sawada,Masaya Tsuchie. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2004-12-16.

Probe card including nanotube probe and manufacturing method thereof

Номер патента: JP5486745B2. Автор: ブランドルフ、アレキサンダー. Владелец: ウェントワース ラボラトリーズ、インク．. Дата публикации: 2014-05-07.

System and method for a multisite, integrated, combination probe card and spider card

Номер патента: US20060087331A1. Автор: Michael Young,Mark Higginbottom. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-04-27.

Optical probes, probe cards, measuring systems and measuring methods

Номер патента: KR20220127827A. Автор: 유키 사이토,미치타카 오쿠타,쥬키야 후쿠시. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2022-09-20.

Probe card assembly with an interchangeable probe insert

Номер патента: US7898242B2. Автор: Takao Saeki,Benjamin N. Eldridge,Carl V. Reynolds,Nobuhiro Kawamata. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2011-03-01.

PROBE CARD ANALYSIS SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20140021970A1. Автор: Endres Eric,Strom John T.,Kuwasaki Christian,McLaughlin Christopher. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

METHODS OF FABRICATING PROBE CARDS INCLUDING NANOTUBES

Номер патента: US20180045757A1. Автор: Brandorff Alexander. Владелец: Wentworth Laboratories, Inc.. Дата публикации: 2018-02-15.

Probe card testing device

Номер патента: US20220065897A1. Автор: Ra-Min Tain,Tzyy-Jang Tseng,John Hon-Shing Lau,Kuo Ching Tien. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Integrated Optical/Electrical Probe Card for Testing Optical, Electrical, and Optoelectronic Devices in a Semiconductor Die

Номер патента: US20210080295A1. Автор: Yasir Qamar,Edward Preisier. Владелец: Newport Fab LLC. Дата публикации: 2021-03-18.

Test probe card

Номер патента: US20150109016A1. Автор: Choon Leong Lou,Ho Yeh Chen. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2015-04-23.

PROBE CARD DEVICE

Номер патента: US20200103441A1. Автор: Guu Yeong-yan,YANG CHIH-KUANG,CHOU CHUN-HSIUNG. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-02.

Probe card for probing wafers with raised contact elements

Номер патента: CN100526901C. Автор: G·L·马蒂厄,B·N·埃尔德里奇,G·W·格鲁伯. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-08-12.

INTEGRATED ELECTRO-MICROFLUIDIC PROBE CARD, SYSTEM AND METHOD FOR USING THE SAME

Номер патента: US20140134748A1. Автор: Cheng Chun-Wen,Liu Yi-Shao,Cheng Chun-Ren,Lai Fei-Lung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-05-15.

Opto-electrical probe card platform for wafer-level testing of optical mems structures

Номер патента: WO2023235586A1. Автор: Bassem Mortada,Yasser M. Sabry,Diaa Khalil,Bassam Saadany,Ahmed SHEBL,Momen Anwar,Tarek Mohamed Zeinah,Mohamed RAMADAN,Mohamed Hamouda,Ahmed Emad,Mohamed Badr,Moez ElMassry. Владелец: SI-WARE SYSTEMS. Дата публикации: 2023-12-07.

Method for analyzing the RF performance of a probe card, detector assembly and system for analyzing the RF performance of a probe card

Номер патента: US09577770B2. Автор: Paul Oneil,Hanns-Georg Ochsenkuehn,Oscar Beijert. Владелец: Aps Soutions GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Method for analyzing the rf performance of a probe card, detector assembly and system for analyzing the rf performance of a probe card

Номер патента: US20160329974A1. Автор: Paul Oneil,Hanns-Georg Ochsenkuehn,Oscar Beijert. Владелец: BE PRECISION TECHNOLOGY. Дата публикации: 2016-11-10.

Probe card gripper and transfer device comprising same

Номер патента: US20240270511A1. Автор: Ho Young Lee,Seung Chan Lee,Da Han KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Printed circuit board of probe card

Номер патента: US09521750B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Probe apparatus with function of automatic replacement of probe card

Номер патента: JPH01145587A. Автор: Shinichi Kobayashi,Taku Ogura,真一 小林,卓 小倉. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-06-07.

Probe pin and probe card using the same

Номер патента: TW201124732A. Автор: Been-long Chen,Shu-Mei Chang. Владелец: IPWorks Technology Corp. Дата публикации: 2011-07-16.

METHOD FOR ANALYZING THE RF PERFORMANCE OF A PROBE CARD, DETECTOR ASSEMBLY AND SYSTEM FOR ANALYZING THE RF PERFORMANCE OF A PROBE CARD

Номер патента: US20160329974A1. Автор: Beijert Oscar,Oneil Paul,Ochsenkuehn Hanns-Georg. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-10.

Probe card, testing apparaus and method using the probe card, manufacturing method of display apparatus using this same and display apparatus manufactured by that method

Номер патента: KR102173102B1. Автор: 박재석,민재식,이재엽,조병구. Владелец: (주)라이타이저. Дата публикации: 2020-11-04.

Multilayer wiring substrate, manufacturing method therefor, and substrate for probe card

Номер патента: US09961768B2. Автор: Toru MEGURO,Yoshihito OTSUBO,Tatsunori Kan. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Multilayer wiring substrate, probe card, and method for manufacturing multilayer wiring substrate

Номер патента: US09456494B2. Автор: Norio Sakai,Yoshihito OTSUBO. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Fabricaiton method of probe pin for probe card

Номер патента: KR101079369B1. Автор: 김상진,박호준,장병규,손희주. Владелец: 삼성전기주식회사. Дата публикации: 2011-11-02.

Probe welding method of probe card, beam shaping method and optical path

Номер патента: CN116618836A. Автор: 邹斌,汪明涛,罗雄科. Владелец: Shanghai Zenfocus Semi Tech Co ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

CONNECTION STRUCTURAL MEMBER AND CONNECTION STRUCTURAL MEMBER MODULE, AND PROBE CARD ASSEMBLY AND WAFER TESTING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20170054240A1. Автор: LEE JUN-HEE. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-23.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE87416B1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE20200242A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE20200243A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE87268B1. Автор: CHUANG Han-Yu,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien,Peng Hans-Po-Han. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Vertical type high frequency probe card

Номер патента: SG140520A1. Автор: Chien-Liang Chen,Hsin-Hung Lin,Wei-Cheng Ku,Ming-Chi Chen,Hendra Sudin,Shih-Cheng Wu. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2008-03-28.

Replaceable probe device and probe card using same

Номер патента: SG166720A1. Автор: Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Chi-Chao Chang,Chao-Ping Hsieh,Chia-Tai Chang,Hui-Pin Yang,Ping-Hsiao Liao,Chiu-Kui Chen,Kuo-Meng Hsu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2010-12-29.

Coplanar and stripline probe card apparatus

Номер патента: CA1237534A. Автор: David A. Rowe,Binneg Y. Lao. Владелец: Magnavox Government and Industrial Electronics Co. Дата публикации: 1988-05-31.

Membrane sheet attached with bumps for probe card, probe card, and method for manufacturing membrane sheet attached with bumps for probe card

Номер патента: TW201447311A. Автор: Masaaki Ishizaka,Toshio Tago. Владелец: Elfinote Technology Corp. Дата публикации: 2014-12-16.

PROBE PIN, PROBE CARD USING THE PROBE PIN, AND METHOD OF MANUFACTURING THE PROBE CARD

Номер патента: US20130162278A1. Автор: CHOI Yong Seok,Hong Ki Pyo,Lee Dae Hyeong,Ma Won Chul,CHUNG Doo Yun. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-27.

Sensing system with multiple probe sets, probe card and testing method

Номер патента: TW200728742A. Автор: Charles Chia-Ming Chuang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2007-08-01.

Probe adjustment platform for vertical probe card

Номер патента: TW201027081A. Автор: ben-shan Zhao,Jia-Jin Chen,jia-lun Liu. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-16.

Convert card of probe card and method thereof

Номер патента: TWI314995B. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2009-09-21.

Probe covering device of probe card

Номер патента: TWI237118B. Автор: Wen-Chi Chen. Владелец: Wen-Chi Chen. Дата публикации: 2005-08-01.

Probe card for probing a semiconductor wafer

Номер патента: TW526919U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-04-01.

Probe card assembly with exchangeable probe head

Номер патента: TW547643U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Shr-Jie Jeng,Noty Tseng,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2003-08-11.

Probe card assembly for probing a wafer

Номер патента: TW540819U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Shr-Jie Jeng,Noty Tseng,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2003-07-01.

Probe card assembly and probe holder thereof

Номер патента: TW201037317A. Автор: Chi-Ming Yi. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2010-10-16.

Approach for fabricating cantilever probes for probe card assemblies

Номер патента: TW200745560A. Автор: Mark Cunningham,Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,Senthil Theppakuttai,John McGlory. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2007-12-16.

A vertical resilient probe and a wafer-level vertical probing card attached with a pressure sensor

Номер патента: TW200528726A. Автор: Win-Chin Tsai,Jiun-Ming Lin. Владелец: Jiun-Ming Lin. Дата публикации: 2005-09-01.

Integrated circuits probe card having a therometer apparatus for probes

Номер патента: TWM436929U. Автор: Choon-Leong Lou,Hsiao-Ting Tseng. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-09-01.

Convert card of probe card and method thereof

Номер патента: TW200804818A. Автор: wen-qi Chen. Владелец: wen-qi Chen. Дата публикации: 2008-01-16.

Telescopic spring probe and probe card having the telescopic spring probe having a probe seat, the probe, and a circuit board

Номер патента: TW201712345A. Автор: zong-yi Chen,Ting-Xin Guo,Shi-xin CHEN,yi-long Li,Hong-Chuan Sun,hong-guang Fan. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-04-01.

Probe card support device and probe card assembly

Номер патента: TWM551698U. Автор: 李君平,蕭博剛. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2017-11-11.

METHOD OF MANUFACTURING CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD AND CERAMIC SUBSTRATE FOR PROBE CARD

Номер патента: US20120048602A1. Автор: Chang Byeung Gyu,Lee Taek Jung,Park Yun Hwi. Владелец: . Дата публикации: 2012-03-01.

CONTACT TERMINAL FOR A PROBE CARD, AND THE PROBE CARD

Номер патента: US20130099813A1. Автор: Hoshino Tomohisa,Amemiya Takashi. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2013-04-25.

Substrate for probe card, and probe card

Номер патента: JP2011075489A. Автор: Takashi Yoshida,吉田　　敬,Tomohiro Ishida,友弘 石田. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Circuit board for probe card and probe card having the same

Номер патента: JP6418918B2. Автор: 慶一郎 木下. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-11-07.

Semiconductor device suitable for inspection using integrated wafer type probe card, its inspection method and the probe card

Номер патента: JPH11121556A. Автор: Takashi Taniguchi,隆 谷口. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1999-04-30.

Method, system for utilizing a probe card device, and the probe card device

Номер патента: TWI616664B. Автор: 林建豪,劉昌明,許仕樺,許寗鈞. Владелец: 創意電子股份有限公司. Дата публикации: 2018-03-01.

Probe card wiring board and probe card using the same

Номер патента: JP5084668B2. Автор: 浩司 山本,智英 長谷川,克仁 森,有哉 古久保. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

Space transformer, ceramic substrate for probe card, manufacturing method of space transformer, and forming method of ceramic substrate for probe card

Номер патента: JP2019178961A. Автор: 淳一朗 二階堂,孝宏 山川,Takahiro Yamakawa,山川　孝宏,裕章 繁村,Hiroaki Shigemura,Junichiro Nikaido. Владелец: Yokowo Mfg Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-17.

High-frequency probe card and transmission line for high-frequency probe card

Номер патента: SG138517A1. Автор: Hsin-Hung Lin,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Te-Chen Feng. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2008-01-28.

Probe card and test method using the probe card

Номер патента: JP3120760B2. Автор: 一男 国政. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-12-25.

Method, system for utilizing a probe card device, and the probe card device

Номер патента: TW201734486A. Автор: 林建豪,劉昌明,許仕樺,許寗鈞. Владелец: 創意電子股份有限公司. Дата публикации: 2017-10-01.

PROBE BLOCK, PROBE CARD AND PROBE APPARATUS BOTH HAVING THE PROBE BLOCK

Номер патента: US20130113512A1. Автор: OGASAWARA Takashi,YAMAGUCHI Norie. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2013-05-09.

COMBINED PROBE HEAD FOR A VERTICAL PROBE CARD AND METHOD FOR ASSEMBLING AND ALIGNING THE COMBINED PROBE HEAD THEREOF

Номер патента: US20120025859A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-02.

Probe and probe card using the probe

Номер патента: JPH11142438A. Автор: Masao Okubo,Hiroshi Iwata,浩 岩田,昌男 大久保,Kazumasa Okubo,和正 大久保. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 1999-05-28.

Tee probe and probe card using the tee probe

Номер патента: JP3600584B2. Автор: 昌男 大久保,和正 大久保. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2004-12-15.

Probe needle for testing semiconductor device, manufacturing method thereof, and probe card provided with the probe needle

Номер патента: JP3391352B2. Автор: 善宣 出口,良裕 加柴,滋樹 前川,めぐみ 竹本,一伸 三木. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-03-31.

Probe, probe card device, and method of manufacturing probe

Номер патента: JP2003215158A. Автор: Minoru Yoshida,Seiichi Ohashi,稔 ▲吉▼田,誠一 大橋. Владелец: Innotech Corp. Дата публикации: 2003-07-30.

Probe card and its probe module and power probe

Номер патента: TWI592077B. Автор: Hao Wei,Wei Cheng Ku,Chih Hao Ho,Jun Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Quality calibration method of probe card

Номер патента: TW200419160A. Автор: Lee-Chung Lin,Jun-Hao Huang,Chun-Chieh Hsiao. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2004-10-01.

Probe card for testing semiconductor device

Номер патента: TW523091U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-03-01.

Cantilever type probe card

Номер патента: TW201237426A. Автор: Wei-Cheng Ku,Chao-Ping Hsieh,zhi-hao He,Jian-Ming Luo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-09-16.

Probe card assembly, method of adjusting the planarization of the same and method of assembling the same

Номер патента: TWI223083B. Автор: Alexander Brandorff,William P Pardee. Владелец: Wentworth Lab Inc. Дата публикации: 2004-11-01.

Electrical connection structure of wafer probe card

Номер патента: TWM271160U. Автор: Wen-Chang Dung,Ji-Tsuen Guo,Jeng-Shiun Wu,Da-Chiun Chen. Владелец: Rigidtech Microelectronics Cor. Дата публикации: 2005-07-21.

High power probe card

Номер патента: TWI429916B. Автор: . Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

A probe card assembly

Номер патента: TW511712U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-11-21.

Flat modular probe card

Номер патента: TW587700U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Shr-Jie Jeng,Noty Tseng,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-05-11.

Interposer of probe card

Номер патента: TWI278643B. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yau-Rung Li. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2007-04-11.

Contact structure of a probe card

Номер патента: TWM259162U. Автор: Jimmy Hsu,Ted Hsu. Владелец: Via Tech Inc. Дата публикации: 2005-03-11.

Flat high frequency probe card

Номер патента: TW576506U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2004-02-11.

Cantilever probe card

Номер патента: TWI425220B. Автор: Wei Cheng Ku,Chao Ping Hsieh. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-02-01.

Manufacturing method of a probe card

Номер патента: TW200928383A. Автор: Wen-Yu Liu. Владелец: Wen-Yu Liu. Дата публикации: 2009-07-01.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: AU2002333661A1. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2003-04-01.

Method for resetting the reflow position of a circuit board for a probe card

Номер патента: TWI517773B. Автор: . Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-01-11.

Cantilever probe card for testing of high-frequency IC

Номер патента: TWI276381B. Автор: Chia-Chang Sheu. Владелец: Sv Probe Technology Taiwan Co. Дата публикации: 2007-03-11.

Probe card and semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: TW201234016A. Автор: Masato Chiba,Hideaki Nishi,Yukihiro Makanae. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2012-08-16.

Probe cards and semiconductor inspection devices and semiconductor inspection methods

Номер патента: TWI425221B. Автор: Masato Chiba,Hideaki Nishi,Yukihiro Makanae. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2014-02-01.

Probe card structure capable of simultaneously adapting to testers of different specifications

Номер патента: TWM401775U. Автор: Chien-Yao Hung,Chih-Yao Chen. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2011-04-11.

A vertical probe card

Номер патента: TW201102663A. Автор: Shu-Hong Liu,Zheng-Long Huang,Yu-Hong Liu. Владелец: Pleader Yamaichi Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-16.

Over-hanging type probe card with protection mechanism

Номер патента: TWM348234U. Автор: Wen-Bin Su,Qiu-Gui Chen,Xuan-Long Zhang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2009-01-01.

Probe card

Номер патента: JPS55102247A. Автор: Masao Okubo. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 1980-08-05.

Modular probe card device

Номер патента: TWM369456U. Автор: Ya-Ru Huang,hong-zhi Lu,hong-jie Wang. Владелец: Premtek Int Inc. Дата публикации: 2009-11-21.

Interposer of probe card

Номер патента: TW200530604A. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Yau-Rung Lee. Владелец: Chipmos Technologies Bermuda. Дата публикации: 2005-09-16.

Base structure of probe card

Номер патента: TW497717U. Автор: John Liu,Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-08-01.

Probe card configuration for low mechanical flexural strength electrical routing substrates

Номер патента: TW200537113A. Автор: Benjamin N Eldridge,Makarand S Shinde,Timothy E Cooper,Ravindra V Shenoy,Richard A Larder. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2005-11-16.

Probe card able to send differential signaling pair

Номер патента: TW200719115A. Автор: wei-zheng Gu. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2007-05-16.

Probe card

Номер патента: TWM381067U. Автор: Kuo-Tung Lin,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Chung-Chi Lin,Tsung-Yenms Huang. Владелец: Mpi Corporaion. Дата публикации: 2010-05-21.

IC probe card (2)

Номер патента: TW200728746A. Автор: hong-guang Fan. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2007-08-01.

Probe card having an expanded power plane, a structure of the expanded power plane and method thereof

Номер патента: TW201105977A. Автор: Chung-Yi Chang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2011-02-16.

Probe card for testing semiconductor wafer

Номер патента: TW523095U. Автор: John Liu,Yeong-Her Wang,Noty Tseng. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-03-01.

Probe card and assembly method thereof

Номер патента: TW200848747A. Автор: zheng-yi Wang. Владелец: Allstron Inc. Дата публикации: 2008-12-16.

High frequency probe card module and its adjustment method

Номер патента: TW200925614A. Автор: Shu-Hong Liu,Zheng-Long Huang. Владелец: Probeleader Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-16.

Calibration equipment for probe card

Номер патента: TW201000909A. Автор: jun-hong Huang,Shang-Da Liu. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-01.

Area array probe card

Номер патента: TW201111797A. Автор: Hui-Ping Yang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2011-04-01.

Method of manufacturing a probe card

Номер патента: AU2002315551A1. Автор: Chih-Chiang Tseng,Gary W. Grube,Benjamin N. Eldridge,Gaetan L. Mathieu,Poya Lotfizadeh,Igor K. Khandros. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2003-01-29.

MENS RF probe cards

Номер патента: TW200411185A. Автор: Jung-Tang Huang,Chia-Hung Chou,Sheng-Hsiung Shih. Владелец: Chien Hui Chuan. Дата публикации: 2004-07-01.

Method of repairing probe card and probe board using the same

Номер патента: US20120013360A1. Автор: Oh Kwang Jae,Kim Joo Yong,CHOI Yoon Hyuck,KIM Bong Gyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-19.

Probe Card for Testing Semiconductor Devices and Vertical Probe Thereof

Номер патента: US20120043987A1. Автор: LOU CHOON LEONG,Chen Chih Kun. Владелец: STAR TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2012-02-23.

PROBE, PROBE CARD AND ELECTRONIC DEVICE TESTING APPARATUS

Номер патента: US20120133383A1. Автор: Kuitani Tetsuya. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2012-05-31.

Probe Cards Including Nanotube Probes and Methods of Fabricating

Номер патента: US20120199280A1. Автор: Brandorff Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-09.

Probe Card for Probing Integrated Circuits

Номер патента: US20120313659A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-12-13.

CIRCUIT-TEST PROBE CARD AND PROBE SUBSTRATE STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20130082728A1. Автор: WANG Ching-Dong. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-04.

Probe Cards for Probing Integrated Circuits

Номер патента: US20130099812A1. Автор: Chen Hao,Wang Mill-Jer,Lin Hung-Chih,Peng Ching-Nen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-04-25.

Coaxial probe for wafer probe cards and spider using same

Номер патента: CN102384991A. Автор: 陈建宏,张智泓. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-03-21.

Probe device with automatic probe card exchange function

Номер патента: JPH07107546B2. Автор: 渉 唐沢. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1995-11-15.

Method for fixing and supporting probe card and its probe substrate

Номер патента: JP2009002760A. Автор: Shinichiro Furusaki,新一郎 古崎. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2009-01-08.

Probe card and probe pin

Номер патента: JPH11344509A. Автор: Hiroshi Katagawa,浩 片川. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-12-14.

Electropolishing method for probe tip of probe card

Номер патента: JP2901078B2. Автор: 知 山下. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-06-02.

Probe card device and rectangular probe thereof

Номер патента: TWI683108B. Автор: 蘇偉誌,謝智鵬,陳彥辰. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2020-01-21.

Lift type probe card reverse-side probe adjustment tool

Номер патента: TWI220171B. Автор: Lin-Pao Lin. Владелец: Macronix Int Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-11.

Probe device of probe card

Номер патента: CN100507577C. Автор: 陈志忠,范宏光. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2009-07-01.

Integrated card (IC) tester capable of changing with different probe cards

Номер патента: CN101738575A. Автор: 蔡秉谚,陈峰杰. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-16.

Probe card silicon substrate with contact holes for fixing and arranging probes

Номер патента: CN214585618U. Автор: 金鑫,严日东. Владелец: Mingzhen Micro Electromechanical Shanghai Co ltd. Дата публикации: 2021-11-02.

Probe assembly, method for manufacturing the same, and probe card for IC measurement using the same

Номер патента: JP3240793B2. Автор: 重男 池田. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2001-12-25.

Probe adjusts device, wafer reliability test equipment and probe card configuration

Номер патента: CN208672753U. Автор: 汪海,叶定文,张鸣帆. Владелец: Huaian Imaging Device Manufacturer Corp. Дата публикации: 2019-03-29.

Probe needle structure and probe card using the same

Номер патента: JP2001330627A. Автор: Akio Kojima,昭夫 小嶋. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2001-11-30.

Probe card device having fan-out probe

Номер патента: TWI736486B. Автор: 謝開傑,蘇偉誌,李文聰,魏遜泰. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-08-11.

Probe device of vertical probe card

Номер патента: TWM529167U. Автор: 謝開傑,李文聰,簡志勝. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2016-09-21.

Probe of probe card and its manufacturing method

Номер патента: CN100516886C. Автор: 陈志忠. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Transition card used to test probe card

Номер патента: CN203894399U. Автор: 詹定叡. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-10-22.

Multifunctional probe card achieving compatibility between chip probing and final tests

Номер патента: CN203350300U. Автор: 陈婷,辛吉升,谢晋春,朱渊源. Владелец: Shanghai Hua Hong NEC Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-18.

Semiconductor wafer, solder bump measurement probe, and vertical probe card using it

Номер патента: JP2003240801A. Автор: Masao Okubo,昌男 大久保,Kazumasa Okubo,和正 大久保,光中 文,Hikarichiyu Bun. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2003-08-27.

Probe card fixing mechanis and probe device

Номер патента: JPH1031035A. Автор: Hisashi Nakajima,Takeshi Shimura,久 中島,和人 横森,Kazuto Yokomori,剛 志村. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-02-03.

Probe unit and probe card using it

Номер патента: JPH1183900A. Автор: Noriyuki Nakamura,紀之 中村. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 1999-03-26.

Probe replacement method and probe card

Номер патента: JP5016420B2. Автор: 一道 町田. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2012-09-05.

Probe card device with multi-type probe

Номер патента: TW202318003A. Автор: 蘇偉誌,李文聰,魏遜泰,曾照暉. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2023-05-01.

Vertical probe card having cantilever probe

Номер патента: TW202146905A. Автор: 謝開傑,蘇偉誌,李文聰,魏遜泰. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-12-16.

Probe card for circuit-testing and structure of probe substrate thereof

Номер патента: TWM423836U. Автор: Ching-Dong Wang. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2012-03-01.

Probe card, space converter, and manufacturing method of space converter comprising a space converter, a first washer set and a second washer set, a circuit board, and a probe head

Номер патента: TW201702611A. Автор: Hao Wei,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-01-16.

Replaceable probe device and probe card using the same

Номер патента: TW201042266A. Автор: wei-zheng Gu,Qiu-Gui Chen,zhi-hao He,zhao-ping Xie,Bing-Xiao Liao,Qi-Zhao Zhang,jia-tai Zhang,Guo-Meng Xu,hui-bin Yang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

A vertical resilient probe and a wafer-level vertical probing card attached with a pressure sensor

Номер патента: TWI231371B. Автор: Jium-Ming Lin,Win-Chin Tsai. Владелец: Jium-Ming Lin. Дата публикации: 2005-04-21.

with the same micro-electromechanical process to fabricate vertical chip writing probe base and its probe card

Номер патента: TW201219793A. Автор: Hai Wang,Min-Lang Zhang. Владелец: Mingchi Inst Of Technology. Дата публикации: 2012-05-16.

Method of setting contact speed of probe card and probe testing system

Номер патента: TW200628796A. Автор: LI Wang,Te-Hsing Chiang. Владелец: Powerchip Semiconductor Corp. Дата публикации: 2006-08-16.

Probe cleaning jig for probe card

Номер патента: CN215641427U. Автор: 涂智翔,吴灿煌,苏华庭. Владелец: Hefei Core Semiconductor Co ltd. Дата публикации: 2022-01-25.

Integrated card (IC) tester capable of changing with different probe cards

Номер патента: CN101738575B. Автор: 蔡秉谚,陈峰杰. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-21.

Method of setting contact speed of probe card and probe testing system

Номер патента: TWI271520B. Автор: LI Wang,Te-Hsing Chiang. Владелец: Powerchip Semiconductor Corp. Дата публикации: 2007-01-21.

METHOD FOR FABRICATING A SEMICONDUCTOR TEST PROBE CARD SPACE TRANSFORMER

Номер патента: US20120017428A1. Автор: HSU Ming Cheng,CHAO Clinton Chih-Chieh. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-26.

PROBE CARD HOLDING APPARATUS

Номер патента: US20120025858A1. Автор: NAMIKI Katsuhiko,NAITO Shigeaki. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2012-02-02.

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD

Номер патента: US20120042509A1. Автор: TAKEYA Toshinaga. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2012-02-23.

WAFER INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR PRE-HEATING PROBE CARD

Номер патента: US20120062259A1. Автор: YAMADA Hiroshi,Kojima Shinji,SHIMOYAMA Hiroshi,HOSHINO Takaaki,SAIGUSA Takeshi. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-03-15.

PROBE CARD

Номер патента: US20120081140A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-04-05.

PROBE CARD HOLDING APPARATUS AND PROBER

Номер патента: US20120126843A1. Автор: Shibahara Satoshi. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2012-05-24.

Manufacturing method of probe card

Номер патента: US20120132615A1. Автор: Mochizuki Jun. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-05-31.

Probe Card

Номер патента: US20120146677A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-14.

Probe Card and Method of Testing a Semiconductor Device

Номер патента: US20120168964A1. Автор: KIM Yang-gi. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-05.

HIGH-FREQUENCY VERTICAL SPRING PROBE CARD STRUCTURE

Номер патента: US20120187971A1. Автор: Huang Cheng-Lung. Владелец: PLeader-YAMAICHI Co., Ltd. Дата публикации: 2012-07-26.

PROBE CARD

Номер патента: US20120194213A1. Автор: Kataoka Kenichi,Komatsu Shigekazu. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-08-02.

Construction Structures and Manufacturing Processes for Integrated Circuit Wafer Probe Card Assemblies

Номер патента: US20120212248A9. Автор: Li Sha,Chong Fu Chiung,Bottoms W.R.,Chieh Erh-Kong,Litza Anna,McKay Douglas L.,Milter Roman L.. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-23.

PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120229157A1. Автор: . Владелец: SHINKO ELECTRIC INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2012-09-13.

PROBE CARD DETECTING APPARATUS, WAFER POSITION ALIGNMENT APPARATUS AND WAFER POSITION ALIGNMENT METHOD

Номер патента: US20120242359A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-09-27.

PROBE-CARD INTERPOSER CONSTRUCTED USING HEXAGONAL MODULES

Номер патента: US20120264320A1. Автор: Parrish Frank B.,Mellinger Josh M.. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2012-10-18.

PROBE CARD

Номер патента: US20120306523A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-12-06.

ACTIVE PROBE CARD FOR ELECTRICAL WAFER SORT OF INTEGRATED CIRCUITS

Номер патента: US20130027071A1. Автор: PAGANI Alberto,Canegallo Roberto,Scandiuzzo Mauro,Cardu Roberto,Franchi Scarselli Eleonora. Владелец: STMicroelectonics S.r.I.. Дата публикации: 2013-01-31.

PROBE CARD CONTAINER

Номер патента: US20130056390A1. Автор: Saito Morihiro. Владелец: KYODO CO., LTD. Дата публикации: 2013-03-07.

TEST PROBE CARD

Номер патента: US20130069683A1. Автор: Hung Wensen,Kuo Yung-Hsin,Yao Po-Shi. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-03-21.

SUPPORT BODY FOR CONTACT TERMINALS AND PROBE CARD

Номер патента: US20130093446A1. Автор: Mochizuki Jun,Furuya Kunihiro. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2013-04-18.

PROBE CARD HANDLING CARRIAGE

Номер патента: US20130099815A1. Автор: Choi Yong Won,KIM Kwang Jun,Sang Tae Jun,Sim Hyun Sik,Nam Ki Hoon,Seo Jong Hwi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-25.

DC-AC PROBE CARD TOPOLOGY

Номер патента: US20130113511A1. Автор: Goeke Wayne C.,Knauer William. Владелец: KEITHLEY INSTRUMENTS, INC.. Дата публикации: 2013-05-09.

PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130120016A1. Автор: KASAI Yuki,Saito Tomokazu. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2013-05-16.

SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE CARD

Номер патента: US20130141079A1. Автор: HWANG Gyu Man,Shin Ji Hwan. Владелец: SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD. Дата публикации: 2013-06-06.

Wafer Probe Card

Номер патента: US20130141130A1. Автор: Wang Chia-Huang,Lu Hsin Chieh,Lee Jung Fu. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-06.

PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130162280A1. Автор: CHOI Yong Seok,Hong Ki Pyo,Lee Dae Hyeong,Ma Won Chul,CHUNG Doo Yun. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-27.

Probe Card and Fabricating Method Thereof

Номер патента: US20130162281A1. Автор: TSAI Chun-Yen,Hsueh Nien-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-27.

SPACE TRANSFORMER FOR PROBE CARD AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130299221A1. Автор: Oh Kwang Jae,Kim Joo Yong,CHOI Yoon Hyuck,KIM Bong Gyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-11-14.

FINE PITCH INTERFACE FOR PROBE CARD

Номер патента: US20140091818A1. Автор: Chui Ka Ng. Владелец: Corad Technology Inc.. Дата публикации: 2014-04-03.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.