垂直式探针卡之探针装置

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Test systems with a probe apparatus and index mechanism

Номер патента: US09726694B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Probe apparatus and wafer mounting table for probe apparatus

Номер патента: US09523711B2. Автор: Eiji Hayashi,Kazuya Yano,Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Probe apparatus

Номер патента: US09658285B2. Автор: Isao Kouno,Eiichi Shinohara,Ikuo Ogasawara,Ken Taoka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Integrated circuit probing apparatus having a temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US20090015283A1. Автор: Choon Leong Lou,Li Min Wang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Integrated circuit probing apparatus having a temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US20080150567A1. Автор: Choon Leong Lou,Li Min Wang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2008-06-26.

Head socket for contacting probe card and wafer test apparatus

Номер патента: WO2009017314A3. Автор: Sung-Chul Kim,Chang-Hak Lee. Владелец: Chang-Hak Lee. Дата публикации: 2009-04-02.

Head socket for contacting probe card and wafer test apparatus

Номер патента: WO2009017314A2. Автор: Sung-Chul Kim,Chang-Hak Lee. Владелец: Chang-Hak Lee. Дата публикации: 2009-02-05.

Probe card for testing semiconductor device, and semiconductor device test method

Номер патента: EP2023386A2. Автор: Shigeyuki Maruyama. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2009-02-11.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: US09599663B2. Автор: Sang-Boo Kang,Ki-Sub LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Probe card device used in probing apparatus

Номер патента: US5825192A. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-10-20.

Probing apparatus with guarded signal traces

Номер патента: WO2008070590A2. Автор: Takao Saeki,Benjamin N. Eldridge,Yoichi Urakawa,Carl V. Reynolds. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2008-06-12.

Probe card for inspecting light receiving device

Номер патента: US8120372B2. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-02-21.

Probe card for inspecting solid state imaging device

Номер патента: US20100013505A1. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-01-21.

Inspection unit, probe card, inspection device, and control system for inspection device

Номер патента: US09910089B2. Автор: Kenichi Washio,Norie Yamaguchi. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Probe card holding apparatus

Номер патента: US20120025858A1. Автор: Katsuhiko Namiki,Shigeaki Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-02.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: WO2008057897A2. Автор: Keith J. Breinlinger. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2008-05-15.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: EP2080030A2. Автор: Keith J. Breinlinger. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Method of manufacturing semiconductor device, and probe card

Номер патента: US09829507B2. Автор: Takashi Saito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Probe card with segmented substrate

Номер патента: WO2006060467A3. Автор: Scott R Williams. Владелец: K & S Interconnect Inc. Дата публикации: 2006-07-20.

Probe card and test apparatus having the probe card

Номер патента: US20210208183A1. Автор: Kyu Joong AN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-07-08.

Probe card and test apparatus having the probe card

Номер патента: US11193954B2. Автор: Kyu Joong AN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-12-07.

Probe card analysis system and method

Номер патента: US7782071B2. Автор: Eric Endres. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2010-08-24.

Probe card with angled probe and wafer testing method using the same

Номер патента: US11994555B2. Автор: Yuan-Chun Wu,Chang-Chun XU,Ni SHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: US20100283495A1. Автор: Won Hee Yoo,Byeung Gyu Chang. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-11.

Probe card and method for repairing probe card

Номер патента: US20240110974A1. Автор: Yutaka Tomita. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Spring probe and probe card having spring probe

Номер патента: US20170082656A1. Автор: Yi-Lung Lee,Tsung-Yi Chen,Horng-Kuang Fan,Horng-Chuan Sun,Shih-Shin Chen,Ting-Hsin Kuo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Probing apparatus with temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US11754619B2. Автор: Choon Leong Lou,Chen-Wen Pan,Jung-Chieh Liu. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-12.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Probe card transporting apparatus and to-be-connected body moving mechanism

Номер патента: US20040164756A1. Автор: Masaru Suzuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-08-26.

Probe card, method of manufacturing the probe card and alignment method

Номер патента: US20060132155A1. Автор: Kenji Yamada,Yoshirou Nakata. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-22.

Probe card

Номер патента: US20240044942A1. Автор: Hiroshi Yamanaka,Yuuki Nakamura,Masatoshi HASAKA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Probe card

Номер патента: US20240329085A1. Автор: Takeshi Todoroki. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Active probe card

Номер патента: US09506974B2. Автор: Hung-Wei Lai,Tsung-Jun Lee. Владелец: SITRONIX TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2016-11-29.

Probe and probe card

Номер патента: US20130265074A1. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-10.

System and method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: US20040227533A1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US20120150475A1. Автор: Raymond Kraft,John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US7579853B2. Автор: John T Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-08-25.

Probe card having separated upper and lower probe needle groups

Номер патента: US5926028A. Автор: Jun Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-07-20.

Assembling devices for probe card testing

Номер патента: WO2016077217A1. Автор: Roger Allen Sinsheimer. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2016-05-19.

Method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: WO2004083980A2. Автор: John T. Strom,Raymond H. Kraft. Владелец: Applied Precision, Llc. Дата публикации: 2004-09-30.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US20100073019A1. Автор: Raymond Kraft,John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2010-03-25.

System and method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: US20080238464A1. Автор: John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2008-10-02.

Multilayer Substrate and Probe Card

Номер патента: US20080191720A1. Автор: Jun Mochizuki,Hisatomi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Probe card

Номер патента: US20130328585A1. Автор: Ken Hasegawa,Yoshihito Onuma,Yoshihito Kitabatake,Takayuki Kogawa. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Probe card and inspection method

Номер патента: CA3032264C. Автор: Hidenori Ando,Makoto Kikuta. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-20.

Probe card and inspection method

Номер патента: US20210373049A1. Автор: Hidenori Ando,Makoto Kikuta. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Probe apparatus

Номер патента: US20150028907A1. Автор: Kazuya Yano,Eiichi Shinohara,Munetoshi Nagasaka,Yoshiyasu Kato,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

Probe Card and Method of Manufacturing Thereof

Номер патента: US20240044941A1. Автор: Masashi Ota,Keita Yamaguchi,Kenya Suzuki,Ai Yanagihara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Probe apparatus for electrical inspection of printed circuit board assembly

Номер патента: US5850146A. Автор: Jae-hong Shim,Hyung-suck Cho,Do-young Kam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1998-12-15.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: SG144939A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Probe card assembly with a dielectric structure

Номер патента: WO2006119405A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2006-11-09.

Probe apparatus

Номер патента: US4812901A. Автор: Wataru Karasawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1989-03-14.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: WO2006068388A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2006-06-29.

Probe card and switch module

Номер патента: EP3745142A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsueh-Chih Wu,Ting-Ju WU,Keng-Min Su,Ko-Chun WU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Space transformer comprising an isolation resistor for a probe card, and method for manufacturing same

Номер патента: US20110254578A1. Автор: Min Soo Kim,Sung Man Yoon. Владелец: Imtech Inc Korea. Дата публикации: 2011-10-20.

Probe card

Номер патента: US20130342235A1. Автор: Chung-Soo Han. Владелец: Sedicon Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-26.

Vertical probe card

Номер патента: US20190250190A1. Автор: Kai Liu,Yuanjun Shi. Владелец: Twinsolution Technology (suzhou) Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Probe card and manufacturing method

Номер патента: US09671431B2. Автор: Young Geun Park. Владелец: M2N Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Probe card and method for manufacturing probe card

Номер патента: US09459289B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: MY140511A. Автор: Michael L Anderson,Michael A Casolo,Edward A Mccloud,Mostarshed Shahriar. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2009-12-31.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: EP1917534A2. Автор: Shahriar Mostarshed,Michael L. Anderson,Edward A. Mccloud,Michael A. Casolo. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2008-05-07.

Probe card

Номер патента: WO2009025427A1. Автор: Yong Goo Lee,Maeng Youl Lee. Владелец: Gigalane Co.Ltd. Дата публикации: 2009-02-26.

Probe card locking device of a semiconductor wafer probe station

Номер патента: US5644246A. Автор: Ung-Gi Park,Dong-Seck Lee,Wha-Young Kim. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1997-07-01.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: EP1849016A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2007-10-31.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: WO2006088847A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: Sv Probe Pte Ltd.. Дата публикации: 2006-08-24.

Probe card

Номер патента: US20090144971A1. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Probe card

Номер патента: US12092660B2. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe card

Номер патента: US20240353445A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Probe card having a wiring substrate

Номер патента: US09488677B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake,Mitsuhiro Aizawa. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Probe card

Номер патента: US09476913B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake,Mitsuhiro Aizawa. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Probe card

Номер патента: US20100141289A1. Автор: Jong-Hoon Kim,Kwang-soo Park,Jin-ho So,Hyun-Ae Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-06-10.

Probe card

Номер патента: US5412329A. Автор: Shinji Iino,Keiichi Yokota,Tamio Kubota. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1995-05-02.

Probe card

Номер патента: US20090219042A1. Автор: Hiroshi Nakayama,Shunsuke Sasaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-03.

Probe card

Номер патента: US20230176091A1. Автор: Hiroki Yamashita. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Probe card

Номер патента: US20230107255A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Probe apparatus

Номер патента: EP3631474A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2020-04-08.

Probe apparatus

Номер патента: WO2018215694A8. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY. Дата публикации: 2018-12-20.

Probe apparatus

Номер патента: US20200158757A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2020-05-21.

Probe apparatus

Номер патента: US11486900B2. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2022-11-01.

Probe apparatus

Номер патента: WO2018215694A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY. Дата публикации: 2018-11-29.

Probe apparatus

Номер патента: FI20175463A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY. Дата публикации: 2018-11-24.

Probe card contact block and apparatus for electrical connection

Номер патента: EP1376140A3. Автор: Yoshiei Hasegawa. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2004-03-17.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices with improved thermal management

Номер патента: WO2024132800A1. Автор: Stefano Felici,Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Apparatus to prevent damage to probe card

Номер патента: US20030122564A1. Автор: Phillip Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-03.

Method to prevent damage to probe card

Номер патента: US20060114011A1. Автор: Phillip Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-01.

Probe Card System Having A Dielectric Fluid Dispenser

Номер патента: US20190064216A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-02-28.

Probe-card multilayer wiring substrate and probe card

Номер патента: US20230408547A1. Автор: Satoshi Abe,Tetsuo Fujimoto,Yusuke Harada,Shinya Hori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Probe card structure

Номер патента: US20160305982A1. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-10-20.

Heavy-duty probe card transfer and loading device

Номер патента: US20240063041A1. Автор: Ki Tae Kim,Dae Han Kim,Sang Kyun Park,Jung Shik LEE,Woon Seap Jang,Dong Hyug Oh. Владелец: Gosung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Method and apparatus for mounting, inspecting and adjusting probe card needles

Номер патента: US5890390A. Автор: Fred Throssel. Владелец: Silicon Systems Inc. Дата публикации: 1999-04-06.

Micro contact probe for probe card coated with carbon nano tube and febrication method thereof

Номер патента: KR101097217B1. Автор: 김정엽,한창수,이학주. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2011-12-22.

Vertical Probe Card

Номер патента: US20200191828A1. Автор: Tien-Chien Cheng. Владелец: Tien-Chien Cheng. Дата публикации: 2020-06-18.

Probe card and signal path switching module assembly

Номер патента: US20190120877A1. Автор: Hao Wei,Chia-Nan Chou,Yu-Hao Chen,Chien-Chiao CHEN,Chia-An YU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Multilayer wiring substrate, method of manufacturing same, and probe card having same

Номер патента: US11852655B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Multilayer wiring substrate, method of manufacturing same, and probe card having same

Номер патента: US20210116478A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Probe card and method of fabricating the same

Номер патента: WO2007049878A1. Автор: Oug-Ki Lee,Seong-Hoon Jeong,Kyu-Hyun Shin. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2007-05-03.

Probe card device and circuit protection assembly thereof

Номер патента: US20230360874A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Test apparatuses including probe card for testing semiconductor devices and operation methods thereof

Номер патента: US20200386786A1. Автор: Gyuyeol KIM,Yukyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-12-10.

Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer

Номер патента: US09910067B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Probe apparatus

Номер патента: US09562942B2. Автор: Kenji Yamaguchi,Eiichi Shinohara,Masataka Hatta. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Probe card attaching method

Номер патента: US09568501B2. Автор: Hiroshi Yamada,Hiroki Obi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Probe card partition scheme

Номер патента: US09513332B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Mill-Jer Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Transposed via arrangement in probe card for automated test equipment

Номер патента: US20210190828A1. Автор: Brian Brecht. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Probe card and test apparatus including probe card

Номер патента: US20240255545A1. Автор: Min Suk Kim,Seung il HONG. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Probe apparatus for testing semiconductor devices

Номер патента: US11802910B1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Probe apparatus for testing semiconductor devices

Номер патента: US20230366926A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Probe card holder

Номер патента: MY197465A. Автор: NARUMI TAKAYUKI,KIKUCHI YOSHINORI,YASUTA TAKAO,Hirota Hideki. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2023-06-19.

Probe card holding device and inspection device

Номер патента: US20210255217A1. Автор: Kazumi Yamagata,Tatsuo Kawashima. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

False detection method for loading probe card

Номер патента: US20200088788A1. Автор: Chia-Wei Wang,Wei-Jr YANG,Chien-Fang Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Probe card structure

Номер патента: US20230025864A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Probe head and probe card

Номер патента: US11733267B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Probe card

Номер патента: US20240264038A1. Автор: Sung Wook Cho,Yeon Su YEO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Probe card

Номер патента: US20240168059A1. Автор: Youngil Kim,Junoh Choi,Duhyun HWANG,Kyubeom KIM,Dongdae Kim,Jaehan Cho. Владелец: Top Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Prober and probe card cleaning method

Номер патента: US20210063443A1. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-03-04.

Micromachined silicon probe card for semiconductor dice and method of fabrication

Номер патента: US6072321A. Автор: Salman Akram,David R. Hembree,Alan G. Wood. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-06-06.

Probe Card Support Apparatus for Automatic Test Equipment

Номер патента: US20200003803A1. Автор: Scott Nelson. Владелец: REID-ASHMAN MANUFACTURING Inc. Дата публикации: 2020-01-02.

Probe head and probe card

Номер патента: EP3715866A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

고주파 소자 측정용 프로브 카드(Probe Card)

Номер патента: KR19990001662A. Автор: 김강보,강대석. Владелец: 한국전자 주식회사. Дата публикации: 1999-01-15.

Probe card

Номер патента: US09410987B2. Автор: Goro Nakatani,Masahiro Sakuragi,Koichi Niino. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Probe card test apparatus

Номер патента: US20210364551A1. Автор: Jinwoo Jung,Taejun KIM,Joonsu JI,Serim LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Method for testing special pattern and probe card defect in wafer testing

Номер патента: US9435847B2. Автор: Yen Lin,Shih-Hsien Chang,Kai-Wen Tu,Ching-Ren Cheng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Probe card structure

Номер патента: US11879913B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xinzhuo Technology Zhejiang Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Probe card and probe module thereof

Номер патента: US20210311095A1. Автор: Chung-Yen Huang,Chih-Hao Ho,Fuh-Chyun Tang,Chih-Wei Wen,Sheng-Feng Xu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Probe card testing device and testing device

Номер патента: US20200088764A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head

Номер патента: US20240183882A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microsoft SpA. Дата публикации: 2024-06-06.

Ceramic, probe guiding member, probe card, and socket for package inspection

Номер патента: US11940466B2. Автор: Wataru Yamagishi,Kazumasa Mori,Shunichi ETO. Владелец: Ferrotec Material Technologies Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Method for removing accumulated solder from probe card probing features

Номер патента: US6121058A. Автор: Melissa K. Shell,Richard S. Yoshimoto. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2000-09-19.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140210501A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Bundled probe apparatus for multiple terminal contacting

Номер патента: US20020101248A1. Автор: January Kister,Krzysztof Dabrowiecki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-01.

Probe apparatus

Номер патента: US5325052A. Автор: Satoru Yamashita. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1994-06-28.

Probe apparatus with a track

Номер патента: US11747394B1. Автор: Yi-Ju Chen,Jui-Hsiu JAO. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Probe apparatus with a track

Номер патента: US20230288473A1. Автор: Yi-Ju Chen,Jui-Hsiu JAO. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Probe card assemblies and probe pins including carbon nanotubes

Номер патента: EP2649463A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-10-16.

Probe Card Assemblies And Probe Pins Including Carbon Nanotubes

Номер патента: US20140028342A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-01-30.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: SG11201909342TA. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-11-28.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: WO2024132831A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Probe apparatus and test apparatus

Номер патента: US20110074456A1. Автор: Yoshio Komoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: MY200160A. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-09.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20200057095A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-02-20.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: EP3615949A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-03-04.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20220099703A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-03-31.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: PH12019502351A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-12-07.

Thermal control of a probe card assembly

Номер патента: WO2017151231A1. Автор: Kevin A. Thompson,Isaac N. Silva. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2017-09-08.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US8040147B2. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-10-18.

Thermal control of a probe card assembly

Номер патента: WO2017151231A9. Автор: Kevin A. Thompson,Isaac N. Silva. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2017-10-19.

Method of contacting substrate with probe card

Номер патента: US09863977B2. Автор: Hiroshi Yamada,Jun Mochizuki,Kunihiro Furuya,Takanori Hyakudomi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Planarizing probe card

Номер патента: WO2009075681A1. Автор: Raffi Garabedian,Ken Karklin. Владелец: TOUCHDOWN TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2009-06-18.

Probe card monitoring system and monitoring method thereof

Номер патента: US20240345134A1. Автор: Wei-Ting Chen,Shih-Ying Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Probe card for device under test

Номер патента: US12044719B2. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Probe card assembly

Номер патента: US09797928B2. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US09696402B2. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: SG11201907123PA. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-09-27.

Method for detecting contact force of probe card

Номер патента: US20240361354A1. Автор: Yu-Hsien Tsai,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Te-Kun Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Fine pitch interface for probe card

Номер патента: US20140091825A1. Автор: Ka Ng Chui. Владелец: Corad Tech Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Low-current probe card

Номер патента: US20030071644A1. Автор: Randy Schwindt. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2003-04-17.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: PH12019501890A1. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-10-21.

Probe Card For High-Frequency Applications

Номер патента: MY195983A. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-02-27.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: WO2018149838A1. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2018-08-23.

Probe card transporting apparatus and method

Номер патента: US20240183895A1. Автор: Ho Young Lee,Seung Chan Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US11782075B2. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-10.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US20110006798A1. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-13.

Probe card alignment

Номер патента: US20190018044A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Universal probe card and testing method

Номер патента: US20240310412A1. Автор: Chia-Wei Chen,Chung-Hsiung Ho,Ping-Jui Hsieh. Владелец: PanJit International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Probe card alignment

Номер патента: US20190018043A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US09638716B2. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Probe card apparatus having a heating element and process for using the same

Номер патента: US5124639A. Автор: Scott J. Carlin,Samuel Roberts, Jr.. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Mems probe card

Номер патента: US20230324437A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: WO2013006768A3. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,Michael Palumbo. Владелец: CELADON SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-03-14.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140239996A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee,Michael Palumbo. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Guide plate for probe card and manufacturing method thereof, and probe card having same

Номер патента: US20200132756A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

A wedge amplitude-modulation probe card and a main body thereof

Номер патента: US20240053384A1. Автор: Ming Zhou,Haichao Yu. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Probe card alignment

Номер патента: US20190391179A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Probe card and test equipment with the same

Номер патента: US09903888B2. Автор: HUNG-YI LIN,Chia-Tai Chang,Hsiu-Wei Lin. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Probe card system, method of manufacturing probe card system, method of using probe card system

Номер патента: US20240027494A1. Автор: Ho-Ming Tong,Chao-Chun Lu. Владелец: Nd Hi Technologies Lab inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Probe card assembly

Номер патента: US20170356933A1. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US20150168528A1. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-06-18.

Probe card for device under test

Номер патента: US20230251298A1. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-08-10.

Method and apparatus of wafer testing

Номер патента: US20140361804A1. Автор: Hao Chen,Mill-Jer Wang,Ching-Nen Peng,Hung-Chih Lin,Shang-Ju Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-12-11.

Alignment chip for probe card, probe card and probe card repair method

Номер патента: US20240103071A1. Автор: Takashi Yoshida. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Probe card management system and probe card management method

Номер патента: US20200191830A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Probe card pad geometry in automated test equipment

Номер патента: US20210190826A1. Автор: Brian Brecht,Steve Ledford. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Probe card assembly

Номер патента: US20160077129A1. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Probe card pad geometry in automated test equipment

Номер патента: WO2021133557A1. Автор: Brian Brecht,Steve Ledford. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2021-07-01.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: EP1061381B1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2004-12-29.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: US20020171414A1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2002-11-21.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: EP1519200B1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2007-01-10.

Probe card

Номер патента: US20050007134A1. Автор: Yoshinori Deguchi. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2005-01-13.

An amplitude-modulating probe card and its probe and amplitude-modulating structure

Номер патента: US20230384348A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Probe card

Номер патента: US20110163774A1. Автор: Toshifumi Minami,Hiroki Murotani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-07-07.

Probe card device and testing equipment thereof

Номер патента: US11761984B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Probe card

Номер патента: US20240280610A1. Автор: Yuji Kawasaki,Tatsunori Shimizu,Tsutomu Shoji,Tomohiro Kinoshita. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180299489A1. Автор: Takashi Kawano,Tetsuya Yoshioka,Mika Nasu,Shigeki MAKISE. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Probe card for testing wafers with fine pitch circuit

Номер патента: US09970961B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US09880202B2. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2018-01-30.

Probe card

Номер патента: US09678110B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Signal path switch and probe card having the signal path switch

Номер патента: US09442134B2. Автор: Wei Chen,Chun-Chung Huang,Wei-Cheng Ku,Hsin-Hsiang Liu,Jun-Liang Lai,Kuang-Chung Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Probe card for testing wafers

Номер патента: US09423423B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Cantilever probe card and carrier thereof

Номер патента: US20230349948A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: US09952255B2. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11852656B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Tae Hwan Song. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe head and probe card comprising same

Номер патента: US20230152350A1. Автор: Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN,Dong Hyeok Seo. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11860192B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Probe card stiffener with decoupling

Номер патента: US20120146679A1. Автор: Eric D. Hobbs,Kevin S. Chang. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: EP2859361A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-04-15.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

Probe card

Номер патента: US20230160926A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Probe Card System for Testing an Integrated Circuit

Номер патента: US20190033343A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-01-31.

Method and apparatus for enhanced probe card architecture

Номер патента: US20090273358A1. Автор: Brian Arkin. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Position Correction Method, Inspection Apparatus, and Probe Card

Номер патента: US20190277884A1. Автор: Shingo Ishida,Kunihiro Furuya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Vertical Probe And Jig For Vertical Probe

Номер патента: US20200182908A1. Автор: Nobuo Iwakuni,Tadashi Rokkaku,Akiko Iwana. Владелец: Probe Innovation Inc. Дата публикации: 2020-06-11.

Probe card for semiconductor IC test and method of manufacturing the same

Номер патента: US7768285B2. Автор: Minoru Sanada,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-08-03.

Probe card electrically connectable with a semiconductor wafer

Номер патента: US8149008B2. Автор: Hiroshi Nakayama,Yoshio Yamada,Takashi Akao,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-03.

Probe card device and matching probe thereof

Номер патента: US20200158756A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Kai-Chieh Hsieh,Hsien-yu Wang,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US20230143340A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Probe card having power converter and test system including the same

Номер патента: US20220341967A1. Автор: Sehoon Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-27.

Probe card and wafer testing assembly thereof

Номер патента: US20230065896A1. Автор: Yi-Chien Tsai,Yu-Shan Hu,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Probe card

Номер патента: US20230266365A1. Автор: Chikaomi Mori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Substrate structure and probe card having the same

Номер патента: WO2008105608A1. Автор: Chang-Soo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2008-09-04.

Probe card for testing film package

Номер патента: KR101003078B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2010-12-21.

Probe card device and directivity probe thereof

Номер патента: US20210223291A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Probe card with a needle and a testing apparatus including the same

Номер патента: US20170153275A1. Автор: Sangboo Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-01.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: WO2019219638A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2019-11-21.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: EP3794357A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-03-24.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US20150048856A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-02-19.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: WO2017075599A1. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2017-05-04.

Probe head controlling mechanism for probe card assemblies

Номер патента: WO2010018463A2. Автор: Andrew W. Mcfarland,Brandon Liew,James M. Porter,Kevin Y. Yasumura. Владелец: Formfactor , Inc.. Дата публикации: 2010-02-18.

Active non-contact probe card

Номер патента: US20110050262A1. Автор: Ming-Kun Chen,Yi-Lung Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2011-03-03.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US20240142497A1. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Probe Card and Method for Performing an Unclamped Inductive Switching Test

Номер патента: US20160041220A1. Автор: Michael Leutschacher,Norbert Rieser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2016-02-11.

Probe head and probe card having same

Номер патента: WO2021215790A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: POINT ENGINEERING CO., LTD.. Дата публикации: 2021-10-28.

Cantilever probe card and carrier thereof

Номер патента: US11879912B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Prober and needle-tip polishing device for probe card

Номер патента: US20150204909A1. Автор: Shuji Akiyama,Kazuya Yano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Probe structure and probe card device

Номер патента: US20220341969A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Probe card device having a probe structure with a protrusion portion

Номер патента: US11965912B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xingr Technologies Zhejiang Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: US20170122982A1. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-04.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US20040035706A1. Автор: Yeong-Her Wang,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. Lee,S. Cheng. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2004-02-26.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US7005054B2. Автор: Yeong-Her Wang,S. J. Cheng,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. J. Lee. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2006-02-28.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US12108543B2. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US20230217600A1. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Manufacturing method of a multi-layer for a probe card

Номер патента: US12019111B2. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI,Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-06-25.

Probe card testing device

Номер патента: US11808787B2. Автор: Ra-Min Tain,Tzyy-Jang Tseng,John Hon-Shing Lau,Kuo Ching Tien. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Electric Apparatus of and Electric Method for Electric Machine

Номер патента: US20240204567A1. Автор: Jouni Ikäheimo,Alex Danci. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-06-20.

Electric apparatus of and electric method for electric machine

Номер патента: EP4387029A1. Автор: Jouni Ikäheimo,Alex Danci. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-06-19.

Verticle probe card for attachment within a central corridor of a magnetic field generator

Номер патента: US6556031B2. Автор: James M. Forbis,Dennis J. Cahalan. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

Probe apparatus having burn-in test function

Номер патента: US5568054A. Автор: Shinji Iino,Itaru Iida. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1996-10-22.

Low temperature probing apparatus

Номер патента: US7791363B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2010-09-07.

Method and apparatus of wafer testing

Номер патента: US09448285B2. Автор: Hao Chen,Mill-Jer Wang,Ching-Nen Peng,Hung-Chih Lin,Shang-Ju Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Probing apparatus equipped with heating device for light emitting chip

Номер патента: US20210156903A1. Автор: Hao Duan,Wen Pin Chuang,Yi Ching Lo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Device of contacting substrate with probe card and substrate inspection apparatus having same

Номер патента: US09915698B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US20170082657A1. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US09841438B2. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Probe card analysis system and method

Номер патента: US09638782B2. Автор: Eric Endres,John T. Strom,Christopher Mclaughlin,Christian Kuwasaki. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Increasing thermal isolation of a probe card assembly

Номер патента: US20090230981A1. Автор: Kevin Y. Yasumura,Timothy Blomgren,Jacob C. Chang,Michael W. Huebner. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-09-17.

Probe card and measuring method for semiconductor wafers

Номер патента: US20070241765A1. Автор: Yosuke Kawamata. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2007-10-18.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US12078659B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Needle of probe card and method of manufacturing the same

Номер патента: WO2008123638A1. Автор: Joon Seok OH. Владелец: Im Co., Ltd.. Дата публикации: 2008-10-16.

Thin film probe card

Номер патента: US20070108999A1. Автор: Chih-Yuan Wang,Heng-Yi Chang. Владелец: Wintek Corp. Дата публикации: 2007-05-17.

Probe card and test device including the same

Номер патента: US20200072870A1. Автор: Tae Yong Jang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Apparatus of testing semiconductor

Номер патента: US20030210068A1. Автор: Yoshinori Fujiwara,Kazushi Sugiura. Владелец: Renesas Semiconductor Engineering Corp. Дата публикации: 2003-11-13.

Probe card method

Номер патента: US7352175B2. Автор: Hisanori Murata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-04-01.

Probe card device and rectangular probe

Номер патента: US10670630B2. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

Probe card device and rectangular probe

Номер патента: US20190227101A1. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-25.

Method and apparatus of testing circuit, and storage medium

Номер патента: US12078671B2. Автор: Cheng GU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: EP4252011A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-04.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: WO2022112479A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-06-02.

Probe apparatus

Номер патента: US5086270A. Автор: Tadashi Obikane,Hisashi Koike,Taketoshi Itoyama,Wataru Karasawa,Itaru Takao. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1992-02-04.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US20170059613A1. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

Area array (flip chip) probe card

Номер патента: US6130546A. Автор: Sayed Kamallodin Azizi. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2000-10-10.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: US20240012028A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-11.

Vertical probe card having different probes

Номер патента: US20230314477A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Probe seat of vertical probe device

Номер патента: US20170153271A1. Автор: Tsung-Yi Chen,Shih-Shin Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

Probe card including wireless interface and test system including the same

Номер патента: US09835681B2. Автор: Kyu-Jeong Lee,Yo-Jong Kim,Kyoung-hoon JEON,Il-kyo JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-05.

Apparatus of detecting position of rotating member and system of operating wiper

Номер патента: US09688249B2. Автор: Sang Woo CHUN,Jin Gyu HONG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-06-27.

Method and apparatus of positioning mobile terminal based on geomagnetism

Номер патента: US09451496B2. Автор: Xiao Qian,Hui Shen,Zhipeng Zhang,Yunjiao Yao,Liangjie Zhou. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Probe apparatus

Номер патента: US5399983A. Автор: Yasushi Nagasawa. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1995-03-21.

Probe apparatus for testing semiconductor wafers

Номер патента: GB2293268A. Автор: Sano Kunio. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1996-03-20.

Compliant probe apparatus

Номер патента: WO2001084166A1. Автор: Thomas Di Stefano. Владелец: Thomas Di Stefano. Дата публикации: 2001-11-08.

Probe apparatus for measuring electrical characteristics of objects

Номер патента: US5416592A. Автор: Keiichi Yokota,Shigeoki Mori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1995-05-16.

Vertical probe comprising slots and probe card for integrated circuit devices using the same

Номер патента: US7928749B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Probe apparatus

Номер патента: US12000862B2. Автор: Masashi Kobayashi. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Probe apparatus and method for measuring high-frequency signals

Номер патента: US5399978A. Автор: Cornelis G. C. M. De Kort,Joris J. Vrehen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1995-03-21.

Cantilever type probe card and method for production thereof

Номер патента: US20040070417A1. Автор: Yukihiro Isa. Владелец: UMC Japan Co Ltd. Дата публикации: 2004-04-15.

Apparatus and method for inspecting pins on a probe card

Номер патента: US09417308B2. Автор: Oscar Beijert. Владелец: Stichting Continuiteit Beijert Engineering. Дата публикации: 2016-08-16.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US11874313B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Probe card module

Номер патента: US20210223290A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Probe card

Номер патента: US20230194571A1. Автор: Ming-Hsien Chen,Tzu-Chien Wang,Wen-Yuan Hsu,jia-lin Lu. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20220170961A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Probe card module

Номер патента: US11156639B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2021-10-26.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices and corresponding space transformer

Номер патента: WO2023227575A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US9658249B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US09658249B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Pogo pin and probe card, and method of manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09651577B2. Автор: Joon-Yeon Kim,Sung-ho Joo,Yu-Kyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

Probe card and method for testing magnetic sensors

Номер патента: US09606144B2. Автор: Lianjun Liu,Phillip MATHER. Владелец: Everspin Technologies Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Probe card assembly for testing electronic devices

Номер патента: US09588139B2. Автор: Li Fan,Darcy K. Kelly-Greene,Gensaku Nagai,Jim Zhang,Edward J. Milovic,Mukesh K. Selvaraj. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Probe Card

Номер патента: US20100052710A1. Автор: Cheng-Chin Ni. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Probe card, and supporting structure and probe structure thereof

Номер патента: US20240319230A1. Автор: Yuan-Ting Tai,Hung-Chan Huang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Image sensor testing probe card

Номер патента: US09494617B2. Автор: Wei-Feng Lin,Wen-Jen Ho,Yi-Chang Hsieh,Shih-Duen Lin,Chih-Pin Jen. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Cleaning methods for probe cards

Номер патента: US20200041552A1. Автор: Chih-Chiang LAI. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Active probe card for high resolution/low noise wafer level testing

Номер патента: US4780670A. Автор: Robert S. Cherry. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

Probe card with reconfigurable circuitry

Номер патента: CA1270069A. Автор: Lloyd A. Walls,Edward S. Hoyt,Timothy A. Horel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1990-06-05.

Probe card fixture

Номер патента: US4935694A. Автор: Glenn R. Clarridge. Владелец: Electro Scientific Industries Inc. Дата публикации: 1990-06-19.

Method and apparatus for inspecting integrated circuit probe cards

Номер патента: US4918374A. Автор: Donald B. Snow,Ronald C. Seubert,John P. Stewart. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 1990-04-17.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240118316A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Jig for manufacturing probe card, probe alignment system comprising same, and probe card manufactured thereby

Номер патента: US20230176092A1. Автор: Oug Ki Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-08.

Probe card device and neck-like probe thereof

Номер патента: US20210223289A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Probe card

Номер патента: US20180267084A1. Автор: Wei-Cheng Chen,Chen-Yueh Kung,Wen-Yuan Chang. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2018-09-20.

Probe card

Номер патента: US12025637B2. Автор: Chin-Tien Yang,Chia-Tai Chang,Chin-Yi Tsai,Chen-Chih Yu,Cheng-Nien Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Probe card device and rectangular probe thereof

Номер патента: US20190317131A1. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-17.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: WO2007098293A3. Автор: Bahadir Tunaboylu,David T Beatson,Habib Kilicaslan,David F Mcdevitt. Владелец: David F Mcdevitt. Дата публикации: 2008-01-10.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: WO2007098293A2. Автор: David T. Beatson,Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan,David F. Mcdevitt. Владелец: Sv Probe Pte Ltd.. Дата публикации: 2007-08-30.

Beam assembly method for large area array multi-beam dut probe cards

Номер патента: WO2007098291A3. Автор: Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,John McGlory,Anh-Tai Nguyen. Владелец: Anh-Tai Nguyen. Дата публикации: 2008-01-17.

Probe card

Номер патента: US11953521B2. Автор: Chao-Cheng Ting,Huai-Yi Wang,Li-Hong LU,Lung-Chuan TSAI. Владелец: Bao Hong Semi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Beam assembly method for large area array multi-beam DUT probe cards

Номер патента: US20070251080A1. Автор: Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,John McGlory,Anh-Tai Thai Nguyen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-01.

Probe card and method of manufacturing semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20110281380A1. Автор: Akio Hasebe,Yasunori Narizuka,Etsuko Takane. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Probe card

Номер патента: US20020113608A1. Автор: Andy Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-22.

Probe head and vertical probe card comprising the same

Номер патента: US20230393172A1. Автор: Tien-Chia Lee,Chia-Hsiang Yu,Wen-Tsung Sung. Владелец: Silicon Future Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Probe card and wafer testing assembly thereof

Номер патента: US12099078B2. Автор: Yi-Chien Tsai,Yu-Shan Hu,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Probe card

Номер патента: US20160178668A1. Автор: Yong Seok Choi,Dae Hyeong Lee,Doo Yun Chung. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-23.

Cantilever probe card device and elastic probe thereof

Номер патента: US12092661B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Wafer testing probe card

Номер патента: US09823272B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Ming-Chi Chen,Tien-Chia LI,Dai-Jin YEH,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Probe card

Номер патента: US09759745B2. Автор: Yung-Hsin Kuo,Po-Yi Huang,Yuan-Li Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Probe card for simultaneously testing multiple dies

Номер патента: US09594096B2. Автор: You-Hua Chou,Yi-Jen LAI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

High frequency probe card for probing photoelectric device

Номер патента: US09535093B2. Автор: Chia-Tai Chang,Hui-Pin Yang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Guide plate for probe card

Номер патента: US09459287B2. Автор: Akinori Shiraishi,Teppei KIMURA,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Method of manufacturing space transformer for probe card

Номер патента: US09442135B2. Автор: Kuan-Chun Chou,Hui-Pin Yang,Huo-Kang HSU,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Testing head with vertical probes, particularly for high frequency applications

Номер патента: MY187095A. Автор: Daniele Acconcia. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-08-31.

Testing head with vertical probes, particularly for high frequency applications

Номер патента: EP3268751A1. Автор: Daniele Acconcia. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2018-01-17.

Probe card

Номер патента: US20240053383A1. Автор: Chao-Cheng Ting,Huai-Yi Wang,Li-Hong LU,Lung-Chuan TSAI. Владелец: Bao Hong Semi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Method for manufacturing a probe card

Номер патента: US20040155009A1. Автор: Yasuhiro Maeda,Koichi Wada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-08-12.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: MY144280A. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: MIMOS BERHAD. Дата публикации: 2011-08-29.

Probe card for testing film package

Номер патента: WO2010104337A3. Автор: Yi Bin Ihm,Nam Jung Her,Jun Soo Cho. Владелец: Pro-2000 Co. Ltd.. Дата публикации: 2010-12-23.

Probe card with improved temperature control

Номер патента: WO2023227538A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Vertical Probe Card

Номер патента: US20170227580A1. Автор: Ming Fang,Faheem Mohamedi. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-08-10.

Probe card for high-frequency testing

Номер патента: US20240168057A1. Автор: Wen-hao Cheng,Hung-Chun Huang,Yuan-Ting Tai. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Staggered probe card and conductive probe

Номер патента: US20210109129A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Hsiao-Kang Li,Ying-Ming Tiao. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Testing probe card for integrated circuit

Номер патента: TWI620936B. Автор: 謝開傑,李文聰,林承銳. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2018-04-11.

Probe card with improved transient power delivery

Номер патента: US20070145989A1. Автор: Hua Zhu,Timothy Swettlen,Erich Chuh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2007-06-28.

Probe card, and testing apparatus having the same

Номер патента: US20040046580A1. Автор: Yoshihiro Kashiba,Shigeki Maekawa,Yuetsu Watanabe,Megumi Takemoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-03-11.

Probe card

Номер патента: US20130321019A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Probe card device and transmission structure

Номер патента: US11933817B2. Автор: Pang-Chi Huang,Meng-Chieh Cheng,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Cryogenic probe card

Номер патента: EP4314847A1. Автор: Gregory Nolan NIELSON. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2024-02-07.

Vertical probe card and fence-like probe thereof

Номер патента: US20230314478A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Probe card for high voltage testing

Номер патента: US10168359B2. Автор: Chien-Hung Chen,Chin-Yi Tsai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-01-01.

Probe card

Номер патента: US20190212368A1. Автор: Kuan-Chun Chou,Horng-Kuang Fan,Yu-Chen Hsu,Hsien-Ta HSU,Ching-Hua Wu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Probe card

Номер патента: US11959941B2. Автор: Min-Chieh Chou,Tune-Hune Kao,Meng-Chi Huang,Yue-Zhen Huang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-16.

Cantilever type probe card for high frequency signal transmission

Номер патента: US9835651B2. Автор: Hao Wei,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Low-current pogo probe card

Номер патента: US7323895B2. Автор: Clarence E. Cowan,Paul A. Tervo. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2008-01-29.

Modular vertical probe card

Номер патента: US20230314481A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Cantilever probe card device and focusing probe thereof

Номер патента: US11913973B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Cantilever probe card and probe module thereof

Номер патента: US20230349953A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Cryogenic probe card

Номер патента: US20240118315A1. Автор: Gregory Nielson. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2024-04-11.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: WO2009066979A3. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: Mohd Ismahadi Syono. Дата публикации: 2009-07-23.

Vertical probe card device and fence-like probe thereof

Номер патента: US20230314480A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Cantilever probe card device and focusing probe thereof

Номер патента: US20230349951A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Low-current pogo probe card

Номер патента: US20040027145A1. Автор: Paul Tervo,Clarence Cowan. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2004-02-12.

Testing head with vertical probes for a probe card and corresponding method of assembly

Номер патента: EP4261547A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2023-10-18.

Probe card device and transmission structure

Номер патента: US20230033013A1. Автор: Pang-Chi Huang,Meng-Chieh Cheng,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Probe of probe card use, and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230258689A1. Автор: Kazumasa Okubo. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Probe card device and conductive probe thereof

Номер патента: US20200300893A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

High temperature probe card

Номер патента: US20030146770A1. Автор: Ivan Ivanov. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2003-08-07.

Cantilever probe card device and elastic probe thereof

Номер патента: US20230349952A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Vertical probe card and fence-like probe thereof

Номер патента: US11988686B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Probe Card

Номер патента: US20120146677A1. Автор: Duk Kyu Lee,Chang Min Im,Sang Bum Sim,Yun Kee Cho. Владелец: SDA Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Apparatus of measuring characteristics of semiconductor devices

Номер патента: US20070216435A1. Автор: Yasuhiko Iguchi. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-09-20.

Apparatus of automatically detecting type of cable connected to network and method thereof

Номер патента: US7356433B2. Автор: Wei-Hung Tsai. Владелец: Alpha Networks Inc. Дата публикации: 2008-04-08.

Assembly structure for making integrated circuit chip probe cards

Номер патента: US6204674B1. Автор: January Kister,Krzysztof Dabrowiecki. Владелец: Probe Technology Corp. Дата публикации: 2001-03-20.

Probe card needle cleaning frequency optimization

Номер патента: WO2004070405A8. Автор: Beng Ghee Tan. Владелец: Systems On Silicon Mfg Co Pte. Дата публикации: 2005-10-13.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: US7930219B2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: WO2003025601A1. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2003-03-27.

Method for making a probe card

Номер патента: US20080209719A1. Автор: Wen-Yu Lu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-04.

Method for producing a probe card

Номер патента: US20240110948A1. Автор: Kun-Hsien LIN,Edgar Hepp,Wabe Koelmans,Patrik SCHUERCH. Владелец: Exaddon AG. Дата публикации: 2024-04-04.

Chip test apparatus and probe card circuit

Номер патента: US20090224779A1. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2009-09-10.

Method for producing a probe card

Номер патента: EP4295163A1. Автор: Kun-Hsien LIN,Edgar Hepp,Wabe Koelmans,Patrik SCHUERCH. Владелец: Exaddon AG. Дата публикации: 2023-12-27.

Method and apparatus of controlling vibration of hybrid electric vehicle

Номер патента: US20180162406A1. Автор: You Sang SON,Sung Jae Kim,Jeong Soo Eo. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-06-14.

Method and apparatus of analyzing data, and storage medium

Номер патента: US20230288476A1. Автор: Huan Lu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-14.

Ultrasonic probe apparatus and method of manufacturing ultrasonic probe apparatus

Номер патента: US09532767B2. Автор: Dong Wook Kim,Kyung Il Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-03.

Method of making calibration solution for verifying calibration and linearity of vertical photometers

Номер патента: US5183761A. Автор: Gary M. Freeman,Mary J. Freeman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-02-02.

Monitoring method and monitoring apparatus of thimble bases

Номер патента: US10656099B2. Автор: Ping Chen. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-19.

Monitoring method and monitoring apparatus of thimble bases

Номер патента: US20190162677A1. Автор: Ping Chen. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Separating apparatus of biosubstance and separating method of the same

Номер патента: US20230118289A1. Автор: Ling-Yan Bao,Wei-Shan Hung. Владелец: Inventec Easy Doctor Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability

Номер патента: US20080223118A1. Автор: LIN Zhou,Dmitriy Shneyder. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Fishing probe apparatus

Номер патента: CA1327900C. Автор: Michael C. Park. Владелец: Aquametrics Inc. Дата публикации: 1994-03-22.

Road inclination estimating apparatus of vehicle

Номер патента: US11578974B2. Автор: Yoshihisa Yamada. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-02-14.

Road inclination estimating apparatus of vehicle

Номер патента: US20200355497A1. Автор: Yoshihisa Yamada. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2020-11-12.

Meteorological equipment to support flight operations of vertical takeoff and landing aircraft

Номер патента: US12043410B2. Автор: Manuela Sauer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-23.

Meteorological equipment to support flight operations of vertical takeoff and landing aircraft

Номер патента: US20240327029A1. Автор: Manuela Sauer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-10-03.

Process and device for checking the solidity of vertically anchored masts

Номер патента: CA2246705C. Автор: Mathias Roch,Oliver Roch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-25.

Determining orientation of vertical fractures with well logging tools

Номер патента: US5402392A. Автор: Sen-Tsuen Chen,Chih-Ping J. Lu,Long D. Pham. Владелец: Exxon Production Research Co. Дата публикации: 1995-03-28.

Meteorological equipment to support flight operations of vertical takeoff and landing aircraft

Номер патента: US20230271721A1. Автор: Manuela Sauer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-08-31.

Abnormal state detecting apparatus of torque sensor

Номер патента: EP1167939A3. Автор: Takayuki c/o Showa Corporation Ueno. Владелец: Showa Corp. Дата публикации: 2003-10-15.

Position aligning apparatus of vehicle and inspection method using the same

Номер патента: US09864360B2. Автор: Dongmyong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Calibrating apparatus of tire testing machine and calibrating method of tire testing machine

Номер патента: US09494494B2. Автор: Takahiko Ishii,Munenori Soejima,Takehiko Wakazono. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Detection method and apparatus of display panel

Номер патента: US20210225232A1. Автор: BIN Li. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Apparatus Of Rapid-Positioning With Curved Light Surface

Номер патента: US20210109182A1. Автор: Yong Liu,Zhaoguang Wang,Guang Tan. Владелец: Lingtrack Technology (shenzhen) Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Alignment apparatus of container

Номер патента: US20190367337A1. Автор: Hideo Noguchi. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2019-12-05.

Arrays of memory cells and methods of forming an array of vertically stacked tiers of memory cells

Номер патента: US10256275B2. Автор: Zengtao T. Liu. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-04-09.

Arrays of Memory Cells and Methods of Forming an Array of Vertically Stacked Tiers of Memory Cells

Номер патента: US20190189689A1. Автор: Zengtao T. Liu. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-06-20.

Arrays Of Memory Cells And Methods Of Forming An Array Of Vertically Stacked Tiers Of Memory Cells

Номер патента: US20150123070A1. Автор: Zengtao T. Liu. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2015-05-07.

Power distribution apparatus of vehicle and method for controlling the same

Номер патента: US11040676B2. Автор: Soon Il Bang. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-06-22.

Method and apparatus of detecting spectrum spread signal

Номер патента: US6359905B1. Автор: Yuji Kimura,Akira Ogino,Hisayoshi Moriwaki,Nozomu Ikeda,Takashi Kohashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-03-19.

Assembly of vertically aligned nanotube arrays containing particles and application thereof

Номер патента: EP3014624A1. Автор: WEI Han,David Tomanek. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-04.

Method and apparatus of video editing, and electronic device and storage medium

Номер патента: US12051445B1. Автор: Xiangrui Zeng,Jiayu Ji. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Method and apparatus of account login

Номер патента: EP2929479A1. Автор: Lei Wang,Yan Xia,Ji xU,FENG ZHU,Xiaowei Chen,Lingyun Chen,Mingxing Xu,Chao Feng Meng. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Method and apparatus of account login

Номер патента: WO2014089098A1. Автор: Lei Wang,Yan Xia,Ji xU,FENG ZHU,Xiaowei Chen,Lingyun Chen,Mingxing Xu,Chao Feng Meng. Владелец: ALIBABA GROUP HOLDING LIMITED. Дата публикации: 2014-06-12.

Method and apparatus of video editing, and electronic device and storage medium

Номер патента: US20240249751A1. Автор: Xiangrui Zeng,Jiayu Ji. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Method and apparatus of downloading and installing a client

Номер патента: US09921818B2. Автор: Ke Wang,Peiyuan Yang,Jiaoqi Sheng,Chao Feng Meng,Xiaoshuang Zhou. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Method and apparatus of detecting weak password

Номер патента: US09722997B2. Автор: Wen Zhang. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and apparatus of prompting an update of an application

Номер патента: US09552199B2. Автор: LI Wang,Yan Wang. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Method and apparatus of controlling network node

Номер патента: US20190302862A1. Автор: Li Zhai,Chao Wu,Robert Guowu Xia,Bryan Xiaoguang Fu,Sophia Xiaoxia Shu,Simon Xingwang Cai. Владелец: EMC IP Holding Co LLC. Дата публикации: 2019-10-03.

Method and apparatus of binarizing input signal, disc driver and recording medium

Номер патента: EP2047472A1. Автор: Hyun-Soo Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-04-15.

Input apparatus of a mobile terminal and a display method thereof

Номер патента: US20070018961A1. Автор: Ji-Myong Jeong. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2007-01-25.

Method and apparatus of binarizing input signal, disc driver and recording medium

Номер патента: WO2008013361A1. Автор: Hyun-Soo Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2008-01-31.

Probe apparatus with function of automatic replacement of probe card

Номер патента: JPH01145587A. Автор: Shinichi Kobayashi,Taku Ogura,真一 小林,卓 小倉. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-06-07.

Parallax correcting apparatus of a viewfinder

Номер патента: US20020181954A1. Автор: Kazuhiro Ichinokawa. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2002-12-05.

Multi-view drawing apparatus of three-dimensional objects, and method

Номер патента: US09881417B2. Автор: Kentaro Yamaguchi,Kei Utsugi,Yosuke Kawakami. Владелец: Celsys Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

System and method for harmonization of vertical projections for displaying of geospatial object data in mediated reality

Номер патента: WO2023065050A3. Автор: Alexandre PESTOV. Владелец: Vgis Inc.. Дата публикации: 2023-07-13.

System and method for harmonization of vertical projections for displaying of geospatial object data in mediated reality

Номер патента: WO2023065050A8. Автор: Alexandre PESTOV. Владелец: Vgis Inc.. Дата публикации: 2023-08-31.

System and method for harmonization of vertical projections for displaying of geospatial object data in mediated reality

Номер патента: WO2023065050A2. Автор: Alexandre PESTOV. Владелец: Vgis Inc.. Дата публикации: 2023-04-27.

System and method for harmonization of vertical projections for displaying of geospatial object data in mediated reality

Номер патента: US11836855B2. Автор: Alexandre PESTOV. Владелец: Vgis Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Method and system for design and modeling of vertical interconnects for 3DI applications

Номер патента: US8793637B2. Автор: David Goren,Rachel Gordin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-07-29.

Distortion information for each iteration of vertices reconstruction

Номер патента: US20240355001A1. Автор: Rajan Laxman Joshi,Madhukar Budagavi,Youngkwon Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-24.

Distortion information for each iteration of vertices reconstruction

Номер патента: WO2024219825A1. Автор: Rajan Laxman Joshi,Madhukar Budagavi,Youngkwon Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2024-10-24.

Method for optimizing a continuous complex system using a set of vertices and dynamic hierarchical constraints

Номер патента: EP1178376A3. Автор: Ronald N. Perry. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-09-18.

Wrist rest capable of vertically storing up a keyboard

Номер патента: US6942407B2. Автор: Kuan-Nan Chou. Владелец: Behavior Technical Computer Corp. Дата публикации: 2005-09-13.

Package structure of driving apparatus of display

Номер патента: US9423642B2. Автор: Ching-Yung Chen,Po-Cheng Lin. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Package structure of driving apparatus of display

Номер патента: US20150253618A1. Автор: Ching-Yung Chen,Po-Cheng Lin. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Package structure of driving apparatus of display

Номер патента: US09423642B2. Автор: Ching-Yung Chen,Po-Cheng Lin. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Method and Apparatus of Intelligent Analysis for Liver Tumor

Номер патента: US20240225588A1. Автор: Hsiao-Ching Nien,Ta-Hsiang Lin,Pei-Lien Chou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and apparatus of forecasting repurchase inclination

Номер патента: EP2534628A1. Автор: Ningjun Su. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2012-12-19.

Method and apparatus of optimizing search system

Номер патента: EP3961432A3. Автор: ZHEN Zhen,Jiajie Chen,Biao FAN,Zhixun Zheng,Zunyao XUE. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-25.

Method and Apparatus of Publishing Information

Номер патента: US20130254204A1. Автор: YiZhe Liu,Guang Qiu. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Method and apparatus of publishing information

Номер патента: WO2013142732A2. Автор: YiZhe Liu,Guang Qiu. Владелец: ALIBABA GROUP HOLDING LIMITED. Дата публикации: 2013-09-26.

Method and apparatus of publishing information

Номер патента: EP2828771A2. Автор: YiZhe Liu,Guang Qiu. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2015-01-28.

End position detecting apparatus of a mobile element, and a disk apparatus using the same

Номер патента: WO2000052687A1. Автор: Kazuhiro Takeuchi. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2000-09-08.

Pixel-based method and apparatus of obtaining downsampled image

Номер патента: US20160260198A1. Автор: HAO LI,Houliang Hu,Li-Wei Chu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-08.

Printing apparatus of toner-jet type

Номер патента: EP1008018A1. Автор: Per Sundström. Владелец: Array Printers AB. Дата публикации: 2000-06-14.

Printing apparatus of toner-jet type

Номер патента: WO1997034203A1. Автор: Per Sundström. Владелец: Ito Engineering Ab. Дата публикации: 1997-09-18.

Compact Disc Centering Apparatus of Compact Disc Player

Номер патента: US20110247024A1. Автор: Yung Ta Chen. Владелец: Valley Wood Electrical Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-06.

Method and apparatus of boundary refinement for instance segmentation

Номер патента: US20240127455A1. Автор: Hao Yang,XIAO Li,Hang Chen,Jianmin Li,Xiaolin HU,Chufeng TANG. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-04-18.

Method and apparatus of boundary refinement for instance segmentation

Номер патента: WO2022183402A1. Автор: Hao Yang,XIAO Li,Hang Chen,Jianmin Li,Xiaolin HU,Chufeng TANG. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2022-09-09.

Image processing method and apparatus of same

Номер патента: US7352884B2. Автор: Hiroshi Abe. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2008-04-01.

Method and apparatus of monitoring drive

Номер патента: EP4430476A1. Автор: Olli Alkkiomäki,Wenbin CAO. Владелец: ABB Beijing Drive Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Storage apparatus of electronic device

Номер патента: US09703334B2. Автор: Shinichirou Kouno,Shinichirou Okamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Pixel-based method and apparatus of obtaining downsampled image

Номер патента: US09563936B2. Автор: HAO LI,Houliang Hu,Li-Wei Chu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Method of friction welding and apparatus of friction welding

Номер патента: US09446490B2. Автор: Ryo Onose,Takehiro Okuno. Владелец: Nittan Valve Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Balancing apparatus of vehicle and control method thereof

Номер патента: US20170050685A1. Автор: Wook Hwan Seo. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-02-23.

Simultaneous starting apparatus of positioning decision module and method therefor

Номер патента: US20030176941A1. Автор: Seong-Beom Park. Владелец: LG Industrial Systems Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-18.

Electric light display apparatus of light blocking type

Номер патента: US4468660A. Автор: Shinya Ishida,Masayoshi Miyata. Владелец: Kinki Nippon Railway Co Ltd. Дата публикации: 1984-08-28.

Method and apparatus of providing picture related information

Номер патента: EP2836931A1. Автор: Xiahong Feng. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2015-02-18.

Methods and apparatuses of switching applications and adding entry information

Номер патента: EP3044677A1. Автор: Jiangsheng Ji. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2016-07-20.

Method and apparatus of transforming wave or field alternations into repetitive thrusts

Номер патента: WO2006075195A1. Автор: Chris Tsikoudas. Владелец: Chris Tsikoudas. Дата публикации: 2006-07-20.

Processing method and apparatus of capsule network model

Номер патента: EP3907664A1. Автор: Cheng Peng,Weiwei Wang,Jianfei Wang,Xuefeng Luo. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-10.

Method and apparatus of branch prediction

Номер патента: US20030236969A1. Автор: Nicolas Kacevas,Eran Altshuler. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2003-12-25.

Method and apparatus of identifying welding seams of a welding object

Номер патента: US10960483B2. Автор: Lei Mao,Peng KONG,Jingguo Ge. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-03-30.

Rear lamp apparatus of vehicle

Номер патента: US20190071001A1. Автор: Byoung Suk Ahn,Jung Wook Lim,Seung Hyeok Chang. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-03-07.

Tape loading apparatus of 8 mm video tape rewinder

Номер патента: US5228638A. Автор: Shigeyuki Ohmori. Владелец: Showa Electric Co Ltd. Дата публикации: 1993-07-20.

Methods and apparatuses of displaying preset animation effect image, electronic devices and storage media

Номер патента: US11763511B2. Автор: Haijun Fan. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Operation management apparatus of moving body

Номер патента: US20240270116A1. Автор: Takehito Masubuchi. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Developing apparatus of electrophotographic printer

Номер патента: US20030129003A1. Автор: Yong-Baek Yoo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-07-10.

Method and apparatus of controlling network payment

Номер патента: WO2016018677A1. Автор: Jianwei JIN. Владелец: ALIBABA GROUP HOLDING LIMITED. Дата публикации: 2016-02-04.

Method and apparatus of identifying disc types

Номер патента: US7577072B2. Автор: Cheol Jin. Владелец: Hitachi LG Data Storage Korea Inc. Дата публикации: 2009-08-18.

Developing apparatus of electric photographic printer

Номер патента: US20030099482A1. Автор: Jeong-jai Choi,Chung-Guk Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-05-29.

Image processing method and apparatus of same

Номер патента: US20060034501A1. Автор: Hiroshi Abe. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2006-02-16.

Disk discrimination method and apparatus of optical disk system

Номер патента: US20070086297A1. Автор: Jae-Heon Lee,Nam-Taek Hyung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-04-19.

Method and Apparatus of Tile-based Belief Propagation

Номер патента: US20100135585A1. Автор: Chia-Kai Liang,Homer H. Chen,Chao-Chung Cheng,Liang-Gee Chen,Ling-Hsiu Huang,Yen-Chieh Lai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-03.

Vertical alignment method of vertical type micro led and led assembly manufacturing method using the same

Номер патента: US20210098430A1. Автор: Chi-Young YOON,Bae-Gun JUNG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-04-01.

Fabrication of vertical field effect transistors with uniform structural profiles

Номер патента: US09837410B1. Автор: Kangguo Cheng. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Device architecture and method for precision enhancement of vertical semiconductor devices

Номер патента: US09997455B2. Автор: Thomas E. Harrington, III. Владелец: D3 Semiconductor LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Device architecture and method for precision enhancement of vertical semiconductor devices

Номер патента: US09589889B2. Автор: Thomas E. Harrington, III. Владелец: D3 Semiconductor LLC. Дата публикации: 2017-03-07.

Manufacturing method of vertically structured gan led device

Номер патента: WO2009002045A3. Автор: Meoung Whan Cho,Pil Guk Jang,Hyun Chul Ko,Byung Il Cho. Владелец: Byung Il Cho. Дата публикации: 2009-02-26.

Package structure applied to driving apparatus of display

Номер патента: US10937724B2. Автор: Ching-Yung Chen,Wen-Tsung Lin. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-03-02.

Method of replacing liquid of circulation line in substrate liquid processing apparatus of single-wafer type

Номер патента: US20110132465A1. Автор: Kazuyoshi Eshima. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-06-09.

Method and apparatus of power ring positioning to minimize crosstalk

Номер патента: US20080099905A1. Автор: Anwar Ali,Kalyan Doddapaneni,Tauman T. Lau. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2008-05-01.

Plasma etching method for semiconductor device and etching apparatus of the same

Номер патента: US20020137340A1. Автор: Kye-Hyun Baek,Kil-Ho Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-26.

Package structure and electronic apparatus of the same

Номер патента: US20110214902A1. Автор: Ho-Shyan Lin,Tsu-Yang Wong. Владелец: Amazing Microelectronic Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Structure of Vertical Cavity Surface Emitting Laser

Номер патента: US20200403377A1. Автор: Chih-Cheng Chen,Jia-Yu Lin,Yen Hsiang Wu. Владелец: TrueLight Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Structure of vertical cavity surface emitting laser

Номер патента: US11831125B2. Автор: Chih-Cheng Chen,Jia-Yu Lin,Yen Hsiang Wu. Владелец: TrueLight Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Button display apparatus of refrigerator

Номер патента: US20070151836A1. Автор: Seung-Jin Oh. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2007-07-05.

Coil apparatus of mobile terminal

Номер патента: US09947990B2. Автор: Qingwei SHI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Cooling apparatus of discharge lamp

Номер патента: US20090153061A1. Автор: Heon-Gu Cho. Владелец: SK America Inc. Дата публикации: 2009-06-18.

Electric circuit apparatus of injection molding machine

Номер патента: US20020142061A1. Автор: Arai Shuichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-03.

Manufacturing method for electrode apparatus of battery

Номер патента: US20050103405A1. Автор: David Wang,Chih-Ming Yu,Yi-Nuo Chen. Владелец: Polytronics Technology Corp. Дата публикации: 2005-05-19.

Method and apparatus of adaptive loop filter selection for positional taps in video coding

Номер патента: WO2024082899A1. Автор: Ching-Yeh Chen,Shih-Chun Chiu. Владелец: MEDIATEK INC.. Дата публикации: 2024-04-25.

Method of vertically assembling a generator of a wind turbine

Номер патента: US09627949B2. Автор: James Kenneth Booth,Rune Nielsen. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-04-18.

Printed circuit board of probe card

Номер патента: US09521750B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

YC-signal separation circuit responsive to magnitude of vertical correlation

Номер патента: US4754322A. Автор: Akihide Okuda,Isao Nakagawa,Kenji Katsumata,Masato Sugiyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1988-06-28.

Computerized system for analysis of vertices and edges of an electronic messaging system

Номер патента: US12101284B2. Автор: Benjamin Hathaway,David Setzer. Владелец: Virtual Connect Technoloties Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Transmission mechanism of vertical circuit board etching device

Номер патента: US20140021017A1. Автор: Ming-Hong Kuo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-01-23.

Method and apparatus of accessing channel in wireless communication system

Номер патента: RU2481747C2. Автор: Ён Хо СОК. Владелец: Эл Джи Электроникс Инк.. Дата публикации: 2013-05-10.

Method and apparatus of beam determination

Номер патента: WO2024152716A1. Автор: Wei Ling,Bingchao LIU. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-07-25.

Methods and apparatus of dynamic switching of waveforms

Номер патента: WO2023168654A1. Автор: Wei Ling,Yi Zhang,Chenxi Zhu,Bingchao LIU,Lingling Xiao. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2023-09-14.

Methods and apparatus of media device detection for minimally invasive media meters

Номер патента: US12075117B2. Автор: Venugopal Srinivasan,Alexander Topchy. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-08-27.

Method and apparatus of communication node used for radio communication

Номер патента: EP4247104A1. Автор: Xiaobo Zhang,Qiaoling YU. Владелец: Shanghai Langbo Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Methods and apparatus of rate matching mechanism

Номер патента: US20240313924A1. Автор: Wei Ling,Yi Zhang,Chenxi Zhu,Bingchao LIU,Lingling Xiao. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus of an electrical installation

Номер патента: EP4435985A1. Автор: Massimiliano Poli,Matteo Bassani. Владелец: Berker GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-25.

Methods and apparatuses of resource allocation for sidelink communication

Номер патента: EP4442054A1. Автор: Xin Guo,Haipeng Lei,Zhennian SUN,Xiaodong Yu. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Methods and apparatuses of resource allocation for sidelink communication

Номер патента: GB2629538A. Автор: GUO XIN,Sun Zhennian,Lei Haipeng,Yu Xiaodong. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Control apparatus of an AC generator for a vehicle

Номер патента: US09621089B2. Автор: Kazunori Tanaka,Keiichi Komurasaki,Katsuyuki Sumimoto,Jyunya Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Methods and apparatus of enhanced candidate allocation schemes for enhanced pdcch

Номер патента: EP4316119A1. Автор: Wei Ling,Yi Zhang,Chenxi Zhu,Bingchao LIU,Lingling Xiao. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Method and apparatus of supporting synchronization transmissions

Номер патента: WO2024113907A1. Автор: Mingzeng Dai,Xiaoying Xu,Congchi ZHANG. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-06-06.

Method and apparatus of adjusting parameter for electrical device

Номер патента: US12009736B2. Автор: Yaofeng LIN,Xinhai Li,Zongjie WU. Владелец: Tridonic GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-11.

Methods and apparatuses of encoding/decoding intra prediction mode using candidate intra prediction modes

Номер патента: US20160345012A1. Автор: Sun Young Lee. Владелец: Intellectual Discovery Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-24.

Methods and apparatuses of encoding/decoding intra prediction mode using candidate intra prediction modes

Номер патента: EP2764694A1. Автор: Sun Young Lee. Владелец: PANTECH CO LTD. Дата публикации: 2014-08-13.

Method and apparatus of using redundant bits in semi-statically configured harq-ack codebook

Номер патента: EP3665925A1. Автор: Haipeng Lei,Chenxi Zhu,Zhennian SUN,Zhi YAN. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2020-06-17.

Wireless apparatus of electric motorcycle

Номер патента: US20230135878A1. Автор: Hao-Yu Wu,Feng-Chih Tsai. Владелец: Kwang Yang Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Cooling apparatus of motor controller, motor controller, and vehicle

Номер патента: US20240237312A1. Автор: Xin Tan,Heping Ling,Dandan HUANG,Haijun LIU,Haixing Zhang. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Methods and apparatuses of supporting subsequent ltm

Номер патента: WO2024073946A1. Автор: LE Yan,Mingzeng Dai,Shuigen Yang,Lianhai WU,Congchi ZHANG,Bingchao LIU. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-04-11.

Methods and apparatuses of supporting lower layer mobility

Номер патента: WO2024065163A1. Автор: Mingzeng Dai,Shuigen Yang,Lianhai WU,Congchi ZHANG. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-04-04.

Color signal reproducing apparatus of television signal

Номер патента: EP1181819A1. Автор: Hisao Morita,Hiroshi Moribe,Nobuo Taketani,Ryuichi Shibutani. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2002-02-27.

Color signal reproducing apparatus of television signal

Номер патента: WO2000072588A1. Автор: Hisao Morita,Hiroshi Moribe,Nobuo Taketani,Ryuichi Shibutani. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2000-11-30.

Method and apparatus of supporting synchronization transmissions

Номер патента: WO2024113907A9. Автор: Mingzeng Dai,Xiaoying Xu,Congchi ZHANG. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and apparatus of supporting uplink control information multiplexing

Номер патента: WO2024159779A1. Автор: Wei Ling,Chenxi Zhu,Bingchao LIU. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-08-08.

Mismatch error calibration method and apparatus of a time interleaving digital-to-analog converter

Номер патента: US20240178853A1. Автор: Ke Zhang,Zhenning Tao. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Shielding apparatus of projection television

Номер патента: US20020036722A1. Автор: Masatoshi Hori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-28.

Method and apparatus of adjusting parameter for electrical device

Номер патента: WO2020082324A1. Автор: Yaofeng LIN,Xinhai Li,Zongjie WU. Владелец: TRIDONIC GMBH & CO KG. Дата публикации: 2020-04-30.

Automatic cooking compensation apparatus of microwave oven and method thereof

Номер патента: US20010003340A1. Автор: Kyung-hwan Choi. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2001-06-14.

Method and apparatus of wireless video transceiving based on multi-carrier technique

Номер патента: US20080122921A1. Автор: Jun Ren. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2008-05-29.

Method and Apparatus of Intelligent Charging Control for Automotive Battery

Номер патента: US20240308453A1. Автор: Peng Fan,Ke Lou,Zhenbin Zhou,Kaijun Zhou,Fusen Liu. Владелец: Topdon Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and apparatus of wireless video transceiving based on multi-carrier technique

Номер патента: US8350890B2. Автор: Jun Ren. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2013-01-08.

Automatic cooking compensation apparatus of microwave oven and method thereof

Номер патента: EP1107649A3. Автор: Kyung-hwan Choi. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2003-04-23.

Cryotherapy, thermal therapy, temperature modulation therapy, and probe apparatus therefor

Номер патента: EP3277164A1. Автор: Brooke Ren,Mark Grant,Richard Tyc. Владелец: Monteris Medical Corp. Дата публикации: 2018-02-07.

Cryotherapy, thermal therapy, temperature modulation therapy, and probe apparatus therefor

Номер патента: WO2016160551A1. Автор: Brooke Ren,Mark Grant,Richard Tyc. Владелец: MONTERIS MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

Multi-functional endoscopic probe apparatus

Номер патента: US5254117A. Автор: Larry Rigby,Eric Steckel,Dixon Ford. Владелец: Alton Dean Medical. Дата публикации: 1993-10-19.

Suspension apparatus of a vehicle

Номер патента: US4953890A. Автор: Shoichi Kamimura. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 1990-09-04.

Vertical take-off and landing method and apparatus of automobile

Номер патента: US20200070605A1. Автор: Hyung Su PARK. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-05.

Combined power plant of vertical take-off and landing aircraft

Номер патента: RU2758744C1. Автор: Юрий Иванович Безруков. Владелец: Юрий Иванович Безруков. Дата публикации: 2021-11-01.

Probe card gripper and transfer device comprising same

Номер патента: US20240270511A1. Автор: Ho Young Lee,Seung Chan Lee,Da Han KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Apparatus for treatment of vertically disposed surfaces

Номер патента: US3788010A. Автор: J Goff. Владелец: Individual. Дата публикации: 1974-01-29.

Double-sided toy car capable of vertical turning within sealed track

Номер патента: US09975055B2. Автор: Dongqing Cai. Владелец: Guangdong Auldey Animation and Toys Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Control of vertical heat treating vessels

Номер патента: CA1047765A. Автор: James R. Summer. Владелец: AA CAPITAL Corp. Дата публикации: 1979-02-06.

Foldable pot with removable hook for the configuration of vertical gardens

Номер патента: US20220217915A1. Автор: Jose Carlos Bejarano Bernal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-07-14.

Foldable pot with removable hook for the configuration of vertical gardens

Номер патента: US11910765B2. Автор: Jose Carlos Bejarano Bernal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-27.

Aircraft capable of vertical take-off

Номер патента: RU2704771C2. Автор: Ханс НИДЦБАЛЛА. Владелец: Эйрбас Дефенс Энд Спэйс Гмбх. Дата публикации: 2019-10-30.

Double-sided toy car capable of vertical turning within sealed track

Номер патента: CA2950224C. Автор: Dongqing Cai. Владелец: Guangdong Auldey Animation and Toys Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-24.

Systems and Methods for the Manufacture of Vertically Oriented Fluted Multiwalls

Номер патента: US20190084256A1. Автор: Oren Sitton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-03-21.

System and method for the manufacture of vertically oriented fluted multiwalls

Номер патента: WO2017025960A2. Автор: Oren Sitton. Владелец: Oren Sitton. Дата публикации: 2017-02-16.

Design of missile containers fixture in device of vertical missile launcher

Номер патента: RU2393411C2. Автор: Доминик МОНТЕЙ,Эрве БРЮНО. Владелец: Дснс. Дата публикации: 2010-06-27.

Production method of vertical freezers

Номер патента: WO2008034595A3. Автор: Augusto Buosi,Marco Beni. Владелец: ELECTROLUX HOME PRODUCTS CORPORATION N.V.. Дата публикации: 2014-01-03.

Travelling carriage for strips of vertical blinds

Номер патента: CA1161356A. Автор: Ursula Benthin. Владелец: SUNTEC SONNENSCHUTZECHNIK GmbH. Дата публикации: 1984-01-31.

Worm drive for setting the angular position of vertical lamella blinds

Номер патента: CA1316096C. Автор: Horst Spohr,Walter Hugin. Владелец: Bautex Adolf Stover Sohne GmbH and Co KG. Дата публикации: 1993-04-13.

A pair of vertically-adjacent, non-identical, storeys for a building

Номер патента: WO2023017270A1. Автор: Andrei SALTYKOV,Thomas William LACEY. Владелец: Lacey & Saltykov Architects Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Espresso coffee machine of vertical type with several dispensing units

Номер патента: EP1651085A1. Автор: Andrea Fregnan. Владелец: Elektra Srl. Дата публикации: 2006-05-03.

Espresso coffee machine of vertical type with several dispensing units

Номер патента: WO2005013783A1. Автор: Andrea Fregnan. Владелец: Elektra S.R.L.. Дата публикации: 2005-02-17.

Array of vertical axis turbines

Номер патента: GB2544466A. Автор: Franklin Steel Paul. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-24.

Heat exchanger having a plurality of vertical pipes for upward passage of a first heat-exchanging medium

Номер патента: CA1162911A. Автор: Dick G. Klaren. Владелец: Esmil BV. Дата публикации: 1984-02-28.

Cultivation of hazel tree with the crown having the form of vertical spindle on the support

Номер патента: GEP20146047B. Автор: Vlado Moulis. Владелец: Vlado Moulis. Дата публикации: 2014-02-25.

Multi-compartment device for the treatment of vertical flow wastewater

Номер патента: WO2014114378A1. Автор: Alfredo ZUFIAUR FERNÁNDEZ DE BETOÑO. Владелец: Zufiaur Fernandez De Beto O Alfredo. Дата публикации: 2014-07-31.

Reducing peak out-of-vertical loads in a wind turbine

Номер патента: EP4065837A1. Автор: Jacob Deleuran GRUNNET,Anders Steen NIELSEN,James Alexander NICHOLS. Владелец: Vestas Wind Systems AS. Дата публикации: 2022-10-05.

Reducing peak out-of-vertical loads in a wind turbine

Номер патента: US12000381B2. Автор: Jacob Deleuran GRUNNET,Anders Steen NIELSEN,James Alexander NICHOLS. Владелец: Vestas Wind Systems AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Apparatus of automatic rinsing of membrane filter in water purifier

Номер патента: RU2371236C2. Автор: Юнг-Ги КИМ,Су-Дзун ЛИ. Владелец: Вунгдзин Коувей Ко., Лтд.. Дата публикации: 2009-10-27.

Melting apparatus of submersible combustion

Номер патента: RU2699114C2. Автор: Бостьян МАРОЛЬТ,Дэвид ДЮКАРМ,Жерар ДЕМОТТ. Владелец: Кнауф Инзулацьон. Дата публикации: 2019-09-03.

Safety apparatus of juice extraction module for juicer

Номер патента: US20150182065A1. Автор: Jong Boo Kim. Владелец: Nuc Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Cpu heat dissipation apparatus of industrial control computer and using method thereof

Номер патента: CA3142411C. Автор: Yongzheng HUANG. Владелец: ADVANTECH TECHNOLOGY (CHINA) Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Tip separation apparatus of welding gun

Номер патента: US20240139853A1. Автор: Jong Chan Lim. Владелец: ATRON Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Cpu heat dissipation apparatus of industrial control computer and using method thereof

Номер патента: CA3142411A1. Автор: Yongzheng HUANG. Владелец: ADVANTECH TECHNOLOGY (CHINA) Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-06.

Internal propulsion apparatus of closed system using a coriolis force

Номер патента: WO2003087574A1. Автор: Byung Tae Chung. Владелец: Btt Co., Ltd. Дата публикации: 2003-10-23.

Filtering and condensing apparatus of suction type

Номер патента: US20110259807A1. Автор: Eiji Sakai,Tadashi Kunitani,Hiroyasu Yamane. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-27.

Tool exchanger apparatus of machine tool

Номер патента: US9533391B2. Автор: Masahiro Murota. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Traveling apparatus of crawler vehicle

Номер патента: US20040056531A1. Автор: Masatake Tamaru. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2004-03-25.

Fuel injection control apparatus of internal combustion engine

Номер патента: US20080140299A1. Автор: Yoshiyasu Ito,Yoshiya Yamamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-12.

Apparatus of a combined ice cream cup and a connecting means, and method of connecting ice cream cups

Номер патента: US20110315679A1. Автор: Eran Sasson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-29.

Combustion control apparatus of LPG reforming system and method for controlling the same

Номер патента: US12104789B2. Автор: Woo Ram KANG. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Lamp apparatus of vehicle and control method thereof

Номер патента: US11691561B2. Автор: Jong Su Kim,Eun Hee Kim,Seung Yeon Lee,Jong Hwa Kim,Ya Won Kim,Dong Hyuk Jung. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-04.

Control apparatus of engine

Номер патента: US09879617B2. Автор: Shinichi Murata,Yasuo Yamaguchi,Ayatoshi Matsunaga. Владелец: Mitsubishi Motors Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Shift control apparatus of manual transmission

Номер патента: US09851002B2. Автор: Dong-won Kim,Hyeong-Seok Hong. Владелец: Kyung Chang Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Control apparatus of internal combustion engine

Номер патента: US09599037B2. Автор: Hiroyuki Hokuto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Lamp apparatus of vehicle and control method thereof

Номер патента: US20210078485A1. Автор: Jong Su Kim,Eun Hee Kim,Seung Yeon Lee,Jong Hwa Kim,Ya Won Kim,Dong Hyuk Jung. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Resistance apparatus of a pendulum mechanism of an exercise equipment

Номер патента: US20100179036A1. Автор: Leao Wang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-15.

Ramp Apparatus of Door for Vehicle

Номер патента: US20210161737A1. Автор: Jae Yong Kim,Min Han Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-06-03.

Driving Distribution Apparatus of Drone Unit and Method for Controlling the Same

Номер патента: US20230076223A1. Автор: Nam Woo Lee,Seong Jae SHIN,Yong Lip Kim. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Throttle valve control apparatus of an internal combustion engine

Номер патента: EP2029877A1. Автор: Shigeki Miyashita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2009-03-04.

Throttle valve control apparatus of an internal combustion engine

Номер патента: EP2029877B1. Автор: Shigeki Miyashita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2011-12-28.

Throttle valve control apparatus of an internal combustion engine

Номер патента: WO2007141624A1. Автор: Shigeki Miyashita. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2007-12-13.

Delivery chain apparatus of a wood-working machine with saw blades

Номер патента: US20230294322A1. Автор: Chih-Chou Chang. Владелец: Kuang Yung Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Gas flow control apparatus of gas cooktop, manufacturing method therefor, and gas cooktop

Номер патента: WO2016051295A1. Автор: Xingzhou Li,Zeki Kafali,Jiabin Tao. Владелец: BSH HAUSGERÄTE GMBH. Дата публикации: 2016-04-07.

Disposal apparatus of combustible fluorine-series refrigerant composition and disposal method of same

Номер патента: US20020042553A1. Автор: Kazuo Takemasa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-11.

Cap seal for container such as drum, and doubly-sealing apparatus of container such as drum using the same

Номер патента: US20100219190A1. Автор: Kinji Mineo. Владелец: Yamato System Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-02.

Startup control apparatus of internal combustion engine and control method thereof

Номер патента: WO2007039811A1. Автор: Makoto Ogiso. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2007-04-12.

Variable valve actuation apparatus of internal combustion engine

Номер патента: US20100186695A1. Автор: Makoto Nakamura,Masahiro Shoji. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2010-07-29.

Variable valve apparatus of internal combustion engine

Номер патента: EP1703092A3. Автор: Shinichi Mitsubishi Jidosha Kogyo K.K.- Murata. Владелец: Mitsubishi Motors Corp. Дата публикации: 2009-10-21.

Variable valve apparatus of internal combustion engine

Номер патента: US20060236961A1. Автор: Shinichi Murata. Владелец: Mitsubishi Motors Corp. Дата публикации: 2006-10-26.

Multistage airbag impact absorption apparatus of vehicle

Номер патента: US20210354643A1. Автор: Kyung Won Yun,In Song PARK. Владелец: SMART AIR CHAMBER CO Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Startup control apparatus of internal combustion engine and control method thereof

Номер патента: EP1934451A1. Автор: Makoto Ogiso. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2008-06-25.

Control apparatus of vehicle

Номер патента: US9914455B2. Автор: Yusuke Nemoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Remaining pin detecting apparatus of a bowling machine

Номер патента: US3804408A. Автор: T Saito,T Kataoka,S Yamawaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 1974-04-16.

Power swivel apparatus of seat for vehicle

Номер патента: US20240270125A1. Автор: Jae Ho Kim,Ji Hwan Kim,Sang Ho Kim,Dong Woo Kim,Young Joon Kim,Ho Jin Jung,Byung Yong Choi,So Young Yoo,Sang Uk Yu. Владелец: Das Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Control apparatus of all-wheel drive vehicle

Номер патента: US20180170177A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-06-21.

Control apparatus of internal combustion engine

Номер патента: US20110172057A1. Автор: Yuichiro Shioura. Владелец: Suzuki Motor Corp. Дата публикации: 2011-07-14.

Control apparatus of vehicle

Номер патента: US20170072954A1. Автор: Yusuke Nemoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Control apparatus of rolling mill

Номер патента: US20130213103A1. Автор: Shigeo Kawamura,Kazuyuki Maruyama,Hiroyuki Imanari. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2013-08-22.

Wire rod cutting apparatus of spring manufacturing machine

Номер патента: US20050016347A1. Автор: Katsuhide Tsuritani. Владелец: Shinko Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2005-01-27.

Driving control apparatus of rotary brush for use in vacuum cleaner

Номер патента: US20080066258A1. Автор: Joo-Sung Moon. Владелец: Samsung Gwangju Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2008-03-20.

Diagnosis Function Detection Apparatus of Vehicle and Detection Method Thereof

Номер патента: US20100131179A1. Автор: Sang IL YOON. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2010-05-27.

Sheet feeding apparatus of ink-jet printer

Номер патента: US20030107634A1. Автор: Ju-Hyun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-06-12.

Apparatus of multi-air mode for vehicle air conditioner and method of controlling the same

Номер патента: US20240246386A1. Автор: Yongchul Kim,Jimin Park. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Distributive and dispersive mixing apparatus of the cddm type, and its use

Номер патента: EP2393581A1. Автор: Adam Jan Kowalski,Christopher John Brown,Graeme Neil Irving. Владелец: Unilever NV. Дата публикации: 2011-12-14.

Diagnosis function detection apparatus of vehicle and detection method thereof

Номер патента: US8200455B2. Автор: Sang IL YOON. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2012-06-12.

Test probe apparatus for detecting circuit board

Номер патента: SG152116A1. Автор: Caroline Yeh. Владелец: Caroline Yeh. Дата публикации: 2009-05-29.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE87416B1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE87268B1. Автор: CHUANG Han-Yu,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien,Peng Hans-Po-Han. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE20200243A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE20200242A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Flying wing of vertical take off and landing (fwvtl)

Номер патента: RU2364551C2. Автор: Юрий Иванович Безруков. Владелец: Юрий Иванович Безруков. Дата публикации: 2009-08-20.

Packing of vertical direct-flow reactor

Номер патента: RU2195364C1. Автор: С.В. Жестков,В.М. Косырев. Владелец: Косырев Владимир Михайлович. Дата публикации: 2002-12-27.

Tubing ring for attachment of vertical shafts of mine workings

Номер патента: RU2436959C2. Автор: Игорь Иванович Васильев. Владелец: ОАО "Днепротяжмаш". Дата публикации: 2011-12-20.

Device of vertical design

Номер патента: RU2589239C1. Автор: Сергей Иванович Чекалин. Владелец: Сергей Иванович Чекалин. Дата публикации: 2016-07-10.

A system of vertical and horizontal tube-like concrete masonry units

Номер патента: PH12019050072A1. Автор: Ardel G Satorre. Владелец: Ardel G Satorre. Дата публикации: 2021-03-01.

Improvements in the Construction of Vertical Boilers for Steam Generating Purposes.

Номер патента: GB190614133A. Автор: William Ramsay Marshall. Владелец: Individual. Дата публикации: 1906-10-04.

Vertical type high frequency probe card

Номер патента: SG140520A1. Автор: Chien-Liang Chen,Hsin-Hung Lin,Wei-Cheng Ku,Ming-Chi Chen,Hendra Sudin,Shih-Cheng Wu. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2008-03-28.

Safe aeroplane of vertical take-off and landing

Номер патента: RU2324626C1. Автор: Леонид Петрович Шингель. Владелец: Леонид Петрович Шингель. Дата публикации: 2008-05-20.

Method for decorative finishing of vertical surfaces

Номер патента: RU2384418C1. Автор: Андрей Анатольевич Ватлин. Владелец: Андрей Анатольевич Ватлин. Дата публикации: 2010-03-20.

Horizontal wells at corners of vertical well patterns for improving oil recovery efficiency

Номер патента: CA1259563A. Автор: Wann-Sheng Huang,Margaret A. Hight. Владелец: Texaco Development Corp. Дата публикации: 1989-09-19.

Coplanar and stripline probe card apparatus

Номер патента: CA1237534A. Автор: David A. Rowe,Binneg Y. Lao. Владелец: Magnavox Government and Industrial Electronics Co. Дата публикации: 1988-05-31.

PORTABLE DISPLAY APPARATUS OF VIDEO SIGNAL

Номер патента: US20120002104A1. Автор: . Владелец: BEYOND INNOVATION TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of restoring obturative apparatus of rectum

Номер патента: RU2405573C2. Автор: Александр Евгеньевич Машков,Марина Юрьевна Герасименко,Елена Владимировна Филатова,Александр Владимирович Куликов,Юрий Николаевич Филюшкин,Светлана Николаевна Смирнова,Вячеслав Викторович Слесарев,Екатерина Анатольевна Ермилова,Илья Юрьевич Шпуров,Дмитрий Алексеевич Пыхтеев,Александр Евгеньевич Машков (RU),Юрий Николаевич Филюшкин (RU),Екатерина Анатольевна Ермилова (RU),Вячеслав Викторович Слесарев (RU),Марина Юрьевна Герасименко (RU),Елена Владимировна Филатова (RU),Александр Владимирович Куликов (RU),Илья Юрьевич Шпуров (RU),Дмитрий Алексеевич Пыхтеев (RU),Светлана Николаевна Смирнова (RU). Владелец: Государственное учреждение Московский областной научно-исследовательский клинический институт им. М.Ф. Владимирского (МОНИКИ им. М.Ф. Владимирского). Дата публикации: 2010-12-10.

Improvements in Amusement Apparatus of the Gravity Railway Type

Номер патента: GB190711130A. Автор: Robert Hodges Bishop,William Down. Владелец: Individual. Дата публикации: 1908-01-23.

Commodity storage apparatus of vending machine

Номер патента: SG163482A1. Автор: Norihiro Ueda,Keiichi Nakajima,Yuki Ono,Tatsuo Murayama,Takeshi Kasai. Владелец: Fuji Electric Retail Systems. Дата публикации: 2010-08-30.

Manufacturing method and manufacturing apparatus of glass substrate for magnetic disc and manufacturing method of magnetic disc

Номер патента: SG148982A1. Автор: Osamu Koshimizu. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Improvements in Ships Telegraphs, and Signalling Apparatus of a like nature.

Номер патента: GB190116388A. Автор: Alfred Rene Upward,Alice Marie Ribett-Ca Mesurier. Владелец: Individual. Дата публикации: 1902-08-15.

Manufacturing method and manufacturing apparatus of glass substrate for magnetic disc and manufacturing method of magnetic disc

Номер патента: SG148981A1. Автор: Osamu Koshimizu. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Improvements in or relating to the Feed Apparatus of Printing Machines.

Номер патента: GB190515034A. Автор: . Владелец: JOSEPH HENRY MILLS. Дата публикации: 1906-01-04.

Improvements in Marine Life-saving Apparatus of the Breeches-buoy Type.

Номер патента: GB190622184A. Автор: John Wilfred Dalton. Владелец: Individual. Дата публикации: 1907-09-05.

Methods and apparatuses of mro in an ltm procedure

Номер патента: WO2024179021A1. Автор: LE Yan,Mingzeng Dai,Lianhai WU. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-09-06.