垂直式探针卡之探针装置
Номер патента: CN107783024B
Опубликовано: 23-06-2020
Автор(ы): 李文聪, 谢开杰
Принадлежит: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 23-06-2020
Автор(ы): 李文聪, 谢开杰
Принадлежит: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Test systems with a probe apparatus and index mechanism
Номер патента: US09726694B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2017-08-08.