Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Fishing probe apparatus

Номер патента: CA1327900C
Опубликовано: 22-03-1994
Автор(ы): Michael C. Park
Принадлежит: Aquametrics Inc

Реферат: Abstract A fishing probe apparatus comprises an immersible probe attached to the end of an optic fiber fishing line which carries optic signals transmitted by the probe to a receiver and display unit on the fishing pole. The probe transmits data pertaining to aquatic conditions in the vicinity of a leader and hook attached to the probe.

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Ultrasonic probe apparatus and method of manufacturing ultrasonic probe apparatus

Номер патента: US09532767B2. Автор: Dong Wook Kim,Kyung Il Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-03.

Probe apparatus and method for tracking the position and orientation of a stylus and controlling a cursor

Номер патента: US6125337A. Автор: Louis B. Rosenberg,Bruce M. Schena,Bernard G. Jackson. Владелец: MicroScribe LLC. Дата публикации: 2000-09-26.

Probe apparatus for monitoring conditions within a water body

Номер патента: US20190033266A1. Автор: Trevor J. Sumption. Владелец: GRAYDEN OUTDOOR LLC. Дата публикации: 2019-01-31.

Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer

Номер патента: US09910067B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Probe apparatus

Номер патента: EP3631474A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2020-04-08.

Probe apparatus

Номер патента: WO2018215694A8. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY. Дата публикации: 2018-12-20.

Probe apparatus

Номер патента: US20200158757A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2020-05-21.

Probe apparatus

Номер патента: US11486900B2. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2022-11-01.

Probe apparatus

Номер патента: WO2018215694A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY. Дата публикации: 2018-11-29.

Probe apparatus

Номер патента: US20150028907A1. Автор: Kazuya Yano,Eiichi Shinohara,Munetoshi Nagasaka,Yoshiyasu Kato,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

Bundled probe apparatus for multiple terminal contacting

Номер патента: US20020101248A1. Автор: January Kister,Krzysztof Dabrowiecki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-01.

Probe apparatus and test apparatus

Номер патента: US20110074456A1. Автор: Yoshio Komoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Integrated circuit probing apparatus having a temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US20080150567A1. Автор: Choon Leong Lou,Li Min Wang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2008-06-26.

Probing apparatus with temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US11754619B2. Автор: Choon Leong Lou,Chen-Wen Pan,Jung-Chieh Liu. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-12.

Integrated circuit probing apparatus having a temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US20090015283A1. Автор: Choon Leong Lou,Li Min Wang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Probe apparatus with a track

Номер патента: US11747394B1. Автор: Yi-Ju Chen,Jui-Hsiu JAO. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Probe apparatus with a track

Номер патента: US20230288473A1. Автор: Yi-Ju Chen,Jui-Hsiu JAO. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Probe apparatus

Номер патента: US09562942B2. Автор: Kenji Yamaguchi,Eiichi Shinohara,Masataka Hatta. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Probe apparatus and wafer mounting table for probe apparatus

Номер патента: US09523711B2. Автор: Eiji Hayashi,Kazuya Yano,Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Low temperature probing apparatus

Номер патента: US7791363B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2010-09-07.

Pipe mapping probe apparatus for searching pipe route position

Номер патента: US20160282122A1. Автор: Dong Hyun Kim,Jin Won Kim,Ja Yong KOO,Jung Hun Oh,Se Wan LEE,Kyung Seok Oh,Young Soo SEOK,Kyung Sob LEE,Yong Gun LEE,Gwang Ho JIN,In Hwan HYUN. Владелец: Water Resources Facilties & Maintenace Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Radio frequency probe apparatus

Номер патента: US09927484B2. Автор: Su Hwan Oh,Ki Soo Kim,Oh Kee Kwon,Young Ahn Leem,Chul Wook Lee,Young Tak Han. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2018-03-27.

Pipe mapping probe apparatus for searching pipe route position

Номер патента: US09921123B2. Автор: Dong Hyun Kim,Jin Won Kim,Ja Yong KOO,Jung Hun Oh,Se Wan LEE,Kyung Seok Oh,Young Soo SEOK,Kyung Sob LEE,Yong Gun LEE,Gwang Ho JIN,In Hwan HYUN. Владелец: Water Resources Facilities & Maintenance Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Test systems with a probe apparatus and index mechanism

Номер патента: US09726694B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Probe apparatus

Номер патента: US09658285B2. Автор: Isao Kouno,Eiichi Shinohara,Ikuo Ogasawara,Ken Taoka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Probe apparatus with optical length-measuring unit and probe testing method

Номер патента: US20050253613A1. Автор: Takahisa Hayashi,Shigekazu Komatsu,Takanori Hyakudomi,Hiromi Chaya,Yukihide Shigeno. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2005-11-17.

Probe apparatus with optical length-measuring unit and probe testing method

Номер патента: EP1617468A1. Автор: Shigekazu c/o Int. Prop. Dept. Komatsu,Takanori Intellectual Property Dept. H,Hiromi Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Chaya,Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Hayashi Takahisa,Yukihide Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Shigeno. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-01-18.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: CA2700220C. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Probe apparatus

Номер патента: FI20175463A1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY. Дата публикации: 2018-11-24.

Probe apparatus for measuring electrical characteristics of objects

Номер патента: US5416592A. Автор: Keiichi Yokota,Shigeoki Mori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1995-05-16.

Probe apparatus

Номер патента: US5399983A. Автор: Yasushi Nagasawa. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1995-03-21.

Probe apparatus having burn-in test function

Номер патента: US5568054A. Автор: Shinji Iino,Itaru Iida. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1996-10-22.

Scanning probe apparatus with in-situ measurement probe tip cleaning capability

Номер патента: US20080223118A1. Автор: LIN Zhou,Dmitriy Shneyder. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Probing apparatus equipped with heating device for light emitting chip

Номер патента: US20210156903A1. Автор: Hao Duan,Wen Pin Chuang,Yi Ching Lo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Probe apparatus for electrical inspection of printed circuit board assembly

Номер патента: US5850146A. Автор: Jae-hong Shim,Hyung-suck Cho,Do-young Kam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1998-12-15.

Probe apparatus

Номер патента: US5086270A. Автор: Tadashi Obikane,Hisashi Koike,Taketoshi Itoyama,Wataru Karasawa,Itaru Takao. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1992-02-04.

Probe card device used in probing apparatus

Номер патента: US5825192A. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-10-20.

Probe apparatus

Номер патента: US4812901A. Автор: Wataru Karasawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1989-03-14.

Probe apparatus for testing semiconductor wafers

Номер патента: GB2293268A. Автор: Sano Kunio. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1996-03-20.

Probe apparatus and method for measuring high-frequency signals

Номер патента: US5399978A. Автор: Cornelis G. C. M. De Kort,Joris J. Vrehen. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1995-03-21.

Probe apparatus

Номер патента: US5325052A. Автор: Satoru Yamashita. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1994-06-28.

Probe apparatus for testing semiconductor devices

Номер патента: US11802910B1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Probing apparatus with guarded signal traces

Номер патента: WO2008070590A2. Автор: Takao Saeki,Benjamin N. Eldridge,Yoichi Urakawa,Carl V. Reynolds. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2008-06-12.

Probe apparatus

Номер патента: US12000862B2. Автор: Masashi Kobayashi. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Probe apparatus for testing semiconductor devices

Номер патента: US20230366926A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: US12092708B2. Автор: Simon Richard Hattersley. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe apparatus for measuring depth-limited properties with low-coherence enhanced backscattering

Номер патента: US20180180814A1. Автор: Vadim Backman,Bradley Gould,Jeremy D. ROGERS,Nikhil N. MUTYAL,Andrew J. RADOSEVICH. Владелец: American Biooptics LLC. Дата публикации: 2018-06-28.

Probe apparatus for measuring depth-limited properties with low-coherence enhanced backscattering

Номер патента: US09885834B2. Автор: Vadim Backman,Bradley Gould,Jeremy D. ROGERS,Nikhil N. MUTYAL,Andrew J. RADOSEVICH. Владелец: American Biooptics LLC. Дата публикации: 2018-02-06.

Surgical probe apparatus and system

Номер патента: US09671504B2. Автор: Richard Mcferron. Владелец: Devicor Medical Products Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Probe apparatus and ultrasonic diagnostic apparatus therewith

Номер патента: KR101023657B1. Автор: 정진우. Владелец: 주식회사 메디슨. Дата публикации: 2011-03-25.

Ultrasonic Probe apparatus and Method for controlling Ultrasonic Probe apparatus thereof

Номер патента: KR102070262B1. Автор: 김승훈,고현우,김영태,심환. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2020-03-02.

Ultrasonic probe apparatus and method for fabricating ultrasonic probe apparatus

Номер патента: KR101383298B1. Автор: 김동욱,조경일. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2014-04-09.

Ultrasonic probe apparatus and ultrasonic imaging apparatus using the same

Номер патента: US9746448B2. Автор: Jin Ho Gu. Владелец: Samsung Medison Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Ultrasonic Probe Apparatus And Ultrasonic Imaging Apparatus Using The Same

Номер патента: CN105726060A. Автор: 具真浩. Владелец: Samsung Medison Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-06.

Surgical probe apparatus and system and method of use thereof

Номер патента: US20200046305A1. Автор: Trevor W.V. Speeg,Michael E. Henley,Brian Michael Ruffner,Michael B. Watts. Владелец: Devlcor Medical Products Inc. Дата публикации: 2020-02-13.

PROBE APPARATUS FOR MEASURING DEPTH-LIMITED PROPERTIES WITH LOW-COHERENCE ENHANCED BACKSCATTERING

Номер патента: US20210063644A1. Автор: Backman Vadim,Gould Bradley,Rogers Jeremy D.,Mutyal Nikhil N.,Radosevich Andrew J.,Nguyen The Quyen. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

PROBE APPARATUS FOR MEASURING DEPTH-LIMITED PROPERTIES WITH LOW-COHERENCE ENHANCED BACKSCATTERING

Номер патента: US20180180814A1. Автор: Backman Vadim,Gould Bradley,Rogers Jeremy D.,Mutyal Nikhil N.,Radosevich Andrew J.. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

SURGICAL PROBE APPARATUS AND SYSTEM AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20180235556A1. Автор: Speeg Trevor W.V.,Henley Michael E.,Ruffner Brian Michael,Watts Michael B.. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

Magnetic Probe Apparatus

Номер патента: US20200256935A1. Автор: Hattersley Simon Richard. Владелец: Endomagnetics Ltd.. Дата публикации: 2020-08-13.

Ultrasonic probe apparatus and control method thereof

Номер патента: US20170340313A9. Автор: Hwan SHIM,Young-Tae Kim,Seoung-hun Kim,Hyun-woo Koh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-11-30.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: US10634741B2. Автор: Simon Richard Hattersley. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2020-04-28.

Separating and binding type ultrasound probe apparatus

Номер патента: KR101496863B1. Автор: 박원섭. Владелец: 주식회사 휴먼스캔. Дата публикации: 2015-03-02.

Contrl method for 3d probe apparatus

Номер патента: KR101277770B1. Автор: 김성래,현용철,황원순. Владелец: 삼성메디슨 주식회사. Дата публикации: 2013-06-24.

Mobile ultrasound diagnosis probe apparatus for using two-dimension array data, mobile ultrasound diagnosis system using the same

Номер патента: WO2013162244A1. Автор: Jeong Won Ryu,You Chan Choung. Владелец: Healcerion Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-10-31.

A needle probe, apparatus for sensing compositional information, medical drain, method of measuring a thermal property, and method of sensing compositional information

Номер патента: WO2017178817A1. Автор: Kamaljit Singh Chana,Parvinderpal Singh SAINS. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2017-10-19.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: AU2010326366A1. Автор: Simon Richard Hattersley,Quentin Andrew Parkhurst. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2012-06-07.

Needle probe, apparatus for sensing compositional information, medical drain, method of measuring a thermal property, and method of sensing compositional information

Номер патента: US20220225890A1. Автор: Kamaljit Singh Chana,Parvinderpal Singh SAINS. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Needle probe, apparatus for sensing compositional information, medical drain, method of measuring a thermal property, and method of sensing compositional information

Номер патента: US11324416B2. Автор: Kamaljit Singh Chana,Parvinderpal Singh SAINS. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

Probe apparatus with laser guiding for locating a source of radioactivity

Номер патента: US7038205B2. Автор: Jerrold T. Bushberg,James P. Case. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2006-05-02.

Surgical probe apparatus and system

Номер патента: AU9593998A. Автор: . Владелец: Neoprobe Corp. Дата публикации: 1999-05-03.

Surgical probe apparatus and system

Номер патента: EP2291679A4. Автор: Richard Mcferron. Владелец: Neoprobe Corp. Дата публикации: 2017-05-24.

Probe apparatus with laser guiding for locating a source of radioactivity

Номер патента: CA2566030A1. Автор: Jerrold T. Bushberg,James P. Case. Владелец: James P. Case. Дата публикации: 2005-12-01.

Probing apparatus and positional deviation acquiring method

Номер патента: US20060238905A1. Автор: Daiki Kurihara,Takanori Hyakudomi,Hiromi Chaya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-10-26.

Surgical probe apparatus and system

Номер патента: EP3871605B1. Автор: Trevor W.V. Speeg,Michael E. Henley,Brian Michael Ruffner,Michael B. Watts. Владелец: Devicor Medical Products Inc. Дата публикации: 2024-03-20.

Surgical probe apparatus and system and method of use thereof

Номер патента: EP3367899A1. Автор: Trevor W.V. Speeg,Michael E. Henley,Brian Michael Ruffner,Michael B. Watts. Владелец: Devicor Medical Products Inc. Дата публикации: 2018-09-05.

Surgical probe apparatus and system and method of use thereof

Номер патента: US20180235556A1. Автор: Trevor W.V. Speeg,Michael E. Henley,Brian Michael Ruffner,Michael B. Watts. Владелец: Devicor Medical Products Inc. Дата публикации: 2018-08-23.

Surgical probe apparatus and system and method of use thereof

Номер патента: US20200046305A1. Автор: Trevor W.V. Speeg,Michael E. Henley,Brian Michael Ruffner,Michael B. Watts. Владелец: Devlcor Medical Products Inc. Дата публикации: 2020-02-13.

PROBE APPARATUS FOR MONITORING CONDITIONS WITHIN A WATER BODY

Номер патента: US20190033266A1. Автор: SUMPTION TREVOR J.. Владелец: GRAYDEN OUTDOOR, LLC. Дата публикации: 2019-01-31.

REMOTELY CONTROLLED SEMI-AUTOMATIC MECHANIZED SAMPLING AND TEMPERATURE MEASURING PROBE APPARATUS FOR MOLTEN STEEL IN METALLURGICAL FURNACES

Номер патента: US20160097686A1. Автор: Wunsche Edgar R.. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-07.

METHOD FOR COMPENSATING PROBE MISPLACEMENT AND PROBE APPARATUS

Номер патента: US20170219650A1. Автор: Kanev Stojan,HSU Yu-Hsun,Chen Chen-Ching,Ting Po-Yi. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Probe apparatus and method for measuring thermoelectric properties of materials

Номер патента: US6467951B1. Автор: Uttam Shyamalindu Ghoshal. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-10-22.

Multi-functional endoscopic probe apparatus

Номер патента: US5254117A. Автор: Larry Rigby,Eric Steckel,Dixon Ford. Владелец: Alton Dean Medical. Дата публикации: 1993-10-19.

Cryotherapy, thermal therapy, temperature modulation therapy, and probe apparatus therefor

Номер патента: EP3277164A1. Автор: Brooke Ren,Mark Grant,Richard Tyc. Владелец: Monteris Medical Corp. Дата публикации: 2018-02-07.

Cryotherapy, thermal therapy, temperature modulation therapy, and probe apparatus therefor

Номер патента: WO2016160551A1. Автор: Brooke Ren,Mark Grant,Richard Tyc. Владелец: MONTERIS MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

Method of using a doppler blood flow meter system having a flat probe apparatus for obtaining blood flow data

Номер патента: US20130274605A1. Автор: Yasushi Hayashi,Heather Bell. Владелец: Koven Tech Inc. Дата публикации: 2013-10-17.

Contact terminal for measurement, measurement apparatus, probe card set, wafer probe apparatus, and testing apparatus

Номер патента: US7474109B2. Автор: Tadao Saito,Shigeru Matsumura,Shin Sakiyama,Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Weight apparatus for a waveguide, probe apparatus, and method for manufacturing a weight apparatus

Номер патента: US09638568B2. Автор: Juergen Haas,Karl Griessbaum,Christian Hoferer. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2017-05-02.

Sample fixation mechanism for test with nano-probe, apparatus for test and sample test method

Номер патента: US20220381804A1. Автор: Jiabao CHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-01.

Probe apparatus and test apparatus

Номер патента: TW201142328A. Автор: Yoshio Komoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-12-01.

Ultrasonic array probe apparatus, system, and method for travelling over holes and off edges of a structure

Номер патента: EP1744156A3. Автор: James C. Kennedy,Clyde T. Uyehara,Mark L. Little. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2010-06-02.

Sample fixation mechanism for test with nano-probe, apparatus for test and sample test method

Номер патента: US12099076B2. Автор: Jiabao CHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Probe apparatus and probe control device

Номер патента: EP4455681A1. Автор: Ivo Rangelow,Xiangqian Zhou. Владелец: Parcan Nanotech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Diagnostic probe apparatus and related systems and methods

Номер патента: WO2024158435A1. Автор: David Douglas Barden. Владелец: Power Probe Group, Inc.. Дата публикации: 2024-08-02.

Weight apparatus for a waveguide, probe apparatus, and method for manufacturing a weight apparatus

Номер патента: US20150168203A1. Автор: Juergen Haas,Karl Griessbaum,Christian Hoferer. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2015-06-18.

ULTRASONIC IMAGING APPARATUS, ULTRASONIC PROBE APPARATUS, SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING ULTRASONIC IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20160209502A1. Автор: Kim Kyuhong,KIM Baehyung,PARK Suhyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-07-21.

CORRECTION APPARATUS, PROBE APPARATUS, AND TEST APPARATUS

Номер патента: US20140160270A1. Автор: Naito Takashi,HAYAKAWA Atsushi. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-12.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20100212429A1. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-08-26.

High voltage probe apparatus and method for tire inner surface anomaly detection

Номер патента: CA2814305C. Автор: Frank E. Gramling,Bradley D. Schober,David Andrew Judd,Christian Albert Beccavin. Владелец: Michelin Recherche et Technique SA Switzerland. Дата публикации: 2015-06-23.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: CA2700220A1. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Probing apparatus

Номер патента: GB1571979A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1980-07-23.

Wafer chuck inclination correcting method and probe apparatus

Номер патента: TW201205702A. Автор: Shuji Akiyama,Kazunari Ishii,Toshihiko Iijima. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-02-01.

Probing method and probe apparatus

Номер патента: TW200405013A. Автор: Yuichi Abe,Kenichi Kataoka,Tadatomo Suga,Shigekazu Komatsu,Toshihiro Itoh. Владелец: Toshihiro Itoh. Дата публикации: 2004-04-01.

Probing method and probe apparatus

Номер патента: TWI287090B. Автор: Katsuya Okumura,Kenichi Kataoka,Tadatomo Suga,Shigekazu Komatsu,Toshihiro Itoh. Владелец: Toshihiro Itoh. Дата публикации: 2007-09-21.

Probe apparatus and probe unit

Номер патента: TW201243342A. Автор: Yuki Saitoh,Yoshimi Nakayama,Toyokazu Saitoh,Megumi Akahira. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2012-11-01.

Flat-type probe apparatus for inspecting flat panel display device

Номер патента: TW200700733A. Автор: Soon-Cheol Choi. Владелец: Kodi S Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-01.

Probe apparatus

Номер патента: EP2824467B1. Автор: Kenji Yamaguchi,Eiichi Shinohara,Masataka Hatta. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-09-14.

Sound source probing apparatus, sound source probing method, and storage medium storing program therefor

Номер патента: EP3370232B1. Автор: Takeo Kanamori,Shintaro Yoshikuni,Kohhei Hayashida. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-15.

Fluid-monitoring probe apparatus and system

Номер патента: GB201704856D0. Автор: . Владелец: JDSE Ltd. Дата публикации: 2017-05-10.

Refractive index probe apparatus and system

Номер патента: WO2003032020A3. Автор: Dwight Sherod Walker,John Joseph Partridge,Lee Allen Barger. Владелец: Lee Allen Barger. Дата публикации: 2003-08-14.

Replaceable probe apparatus for probing semiconductor wafer

Номер патента: TW200931028A. Автор: William A Funk,Bryan J Root. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Probe apparatus

Номер патента: EP3631474B1. Автор: Vladimir Ermolov,Tauno Vähä-Heikkilä,Antti LAMMINEN,Jussi Saily,Pekka Rantakari. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2023-06-07.

Sampling probe apparatus for collecting a sample of a gas stream containing particulate matter and method of using the same

Номер патента: EP3433596B1. Автор: Robert Wyatt Baxter,Derrick James Hinkle. Владелец: DUST COMPANY Inc. Дата публикации: 2024-08-21.

Probe apparatus, assemblies, and methods for aspirating and dispensing liquids

Номер патента: EP3727694B1. Автор: Mark Edwards. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2023-07-19.

Probing apparatus

Номер патента: TW200628802A. Автор: Akito Kishida,Masaki Fuchiyama,Noriyasu Kiyota. Владелец: Tokyo Cathode Lab. Дата публикации: 2006-08-16.

Microelectronic fabrication die electrical probe apparatus electrical test method providing enhanced microelectronic fabrication die electrical test accuracy and efficiency

Номер патента: US20030094965A1. Автор: Ming-Song Tseng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2003-05-22.

High speed probing apparatus for semiconductor devices and probe stage for the same

Номер патента: TW201212139A. Автор: Yong Yu Liu. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-03-16.

Probe polishing method, program therefor, and probe apparatus

Номер патента: TW201027607A. Автор: Hideaki Tanaka,Satoshi Sano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-07-16.

Refractive index probe apparatus and system

Номер патента: WO2003032020A9. Автор: Dwight Sherod Walker,John Joseph Partridge,Lee Allen Barger. Владелец: Lee Allen Barger. Дата публикации: 2004-05-06.

Submersible probe apparatus for aqueous environment monitoring with new cam-twist interconnect liquid barrier and battery pack

Номер патента: EP1851537A4. Автор: Dustin S Rodriguez,Bruce A Barker,Duane B Mckee. Владелец: In Situ Inc. Дата публикации: 2010-08-18.

Probes, apparatuses and methods for use in scanning probe microscopy

Номер патента: WO2024057299A1. Автор: John Birkbeck,Jiewen XIAO,Shahal Ilani,Alon INBAR. Владелец: Yeda Research and Development Co. Ltd.. Дата публикации: 2024-03-21.

Submersible probe apparatus for aqueous environment monitoring with new cam-twist interconnect liquid barrier an battery pack

Номер патента: AU2006214469A1. Автор: Duane B. Mckee,Bruce A. Barker,Dustin S. Rodriguez. Владелец: In Situ Inc. Дата публикации: 2006-08-24.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: US09599663B2. Автор: Sang-Boo Kang,Ki-Sub LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Weight apparatus for a waveguide, probe apparatus, and method for manufacturing a weight apparatus

Номер патента: US20150168203A1. Автор: Griessbaum Karl,HOFERER Christian,HAAS Juergen. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-18.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: US8960006B2. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-02-24.

High Temperature- Low Leakage Probe Apparatus and Method of Manufacturing Same

Номер патента: US20120306524A1. Автор: John Williamson,Jaspreet Singh,Hai Dau,Rupinder S. Mand. Владелец: Spire Manufacturing Inc. Дата публикации: 2012-12-06.

OPTICAL MEASUREMENT APPARATUS AND PROBE APPARATUS

Номер патента: US20130329224A1. Автор: Ito Ryosuke,TAKAOKA Hideyuki,SHONO Yuki. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-12.

PROBE APPARATUS AND TEST APPARATUS

Номер патента: US20140145742A1. Автор: Sugai Katsushi. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-29.

APPARATUS AND METHOD FOR TERMINATING PROBE APPARATUS OF SEMICONDUCTOR WAFER

Номер патента: US20150084662A1. Автор: Root Bryan J.,Funk William A.. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

PROBE APPARATUS AND WAFER MOUNTING TABLE FOR PROBE APPARATUS

Номер патента: US20150145547A1. Автор: HAYASHI Eiji,NAGASAKA Munetoshi,Yano Kazuya. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-28.

ULTRASONIC PROBE APPARATUS AND ULTRASONIC IMAGING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20160187301A1. Автор: GU Jin Ho. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-30.

Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer

Номер патента: US20160187379A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2016-06-30.

Interface Apparatus, Interface Unit, Probe Apparatus, and Connection Method

Номер патента: US20180277991A1. Автор: Endo Tomoya. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2018-09-27.

Probing apparatus and method for adjusting probing apparatus

Номер патента: KR101337843B1. Автор: 슈이치 츠카다,다카시 아메미야. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-12-06.

Probe apparatus for electric conduction test of printed circuit board (Probe apparatus for electric conduction test of PCB)

Номер патента: KR980013589A. Автор: 조형석,심재홍,감도영. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1998-04-30.

Method of determining a remaining operating time of a potentiometric measuring probe, apparatus for performing the method, and use of the apparatus

Номер патента: HK1064441A1. Автор: Jurgen Ammann. Владелец: Mettler Toledo Gmbh. Дата публикации: 2005-01-28.

Method and apparatus for searching electromagnetic disturbing source and non-contact voltage probe apparatus therefor

Номер патента: EP1736788A2. Автор: Mitsuo Hattori,Ryuichi Kobayashi,Tsuyoshi Ideguchi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2006-12-27.

Method of determining a remaining operating time of a potentiometric measuring probe, apparatus for performing the method, and use of the apparatus

Номер патента: CN1223852C. Автор: 于尔根·阿曼. Владелец: Mettler Toledo AG. Дата публикации: 2005-10-19.

Probe apparatus, exhaust gas analyzing apparatus, and correction method

Номер патента: CN108931610B. Автор: 日下竹史,纳谷裕,森本刚文,竹康宏. Владелец: Energy Support Corp. Дата публикации: 2022-06-21.

Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer

Номер патента: US20050253612A1. Автор: Bryan Root,William Funk. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2005-11-17.

Method of determining a remaining operating time of a potentiometric measuring probe, apparatus for performing the method, and use of the apparatus

Номер патента: CN1486424A. Автор: ���ڶ���,于尔根·阿曼. Владелец: Mettler Toledo AG. Дата публикации: 2004-03-31.

Latching mechanism for test probe apparatus

Номер патента: US5013254A. Автор: Robert A. Williams,Jeffrey W. Herron. Владелец: Williams Instruments Inc. Дата публикации: 1991-05-07.

Probe apparatus, and wafer placing table for probe apparatus

Номер патента: EP2840598A1. Автор: Eiji Hayashi,Kazuya Yano,Munetoshi Nagasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-02-25.

Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer

Номер патента: US7170305B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2007-01-30.

Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer

Номер патента: TW591733B. Автор: William A Funk,Bryan J Root. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2004-06-11.

Probe apparatus and test apparatus

Номер патента: KR101138297B1. Автор: 요시오 코모토. Владелец: 가부시키가이샤 어드밴티스트. Дата публикации: 2012-04-25.

Method for determining remaining operating time of potential measurement probe, apparatus for implementing the method, and method of using the apparatus

Номер патента: JP2004525353A. Автор: アンマン，ユールゲン. Владелец: Mettler Toledo Schweiz GmbH. Дата публикации: 2004-08-19.

Probe apparatus and testing apparatus

Номер патента: WO2011036718A1. Автор: 甲元芳雄. Владелец: 株式会社アドバンテスト. Дата публикации: 2011-03-31.

Measurement probe apparatus and method

Номер патента: EP3688405A1. Автор: Michael John Wooldridge,Jamie John Buckingham,Ben Richard HOLDEN,Stephen Peter EWEN. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2020-08-05.

Measurement probe apparatus and method

Номер патента: WO2019063991A1. Автор: Michael John Wooldridge,Jamie John Buckingham,Ben Richard HOLDEN,Stephen Peter EWEN. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2019-04-04.

Semiconductor test probe apparatus and method

Номер патента: US20120086466A1. Автор: Arlen Chou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-04-12.

HIGH VOLTAGE PROBE APPARATUS AND METHOD FOR TIRE INNER SURFACE ANOMALY DETECTION

Номер патента: US20130162265A1. Автор: Beccavin Christian Albert,Gramling Frank E.,Judd David Andrew,Schober Bradley D.. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-27.

Replaceable coupon for a probing apparatus

Номер патента: US20130220513A1. Автор: Kenneth R. Smith. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2013-08-29.

PROBING APPARATUS EQUIPPED WITH HEATING DEVICE

Номер патента: US20130249579A1. Автор: Lin Hung-Yi,LIN Hsiu-Wei,CHENG Yu-Che. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2013-09-26.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20130249581A1. Автор: MIYAZONO Mitsuyoshi. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2013-09-26.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20140015955A1. Автор: Beijert Oscar. Владелец: BEIJERT ENGINEERING. Дата публикации: 2014-01-16.

PROBE APPARATUS FOR MEASURING DEPTH-LIMITED PROPERTIES WITH LOW-COHERENCE ENHANCED BACKSCATTERING

Номер патента: US20140036271A1. Автор: Backman Vadim,Gould Bradley,Rogers Jeremy D.,Mutyal Nikhil N.,Radosevich Andrew J.. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-06.

OPTICAL PROBE, APPARATUS AND SYSTEM

Номер патента: US20140060619A1. Автор: Feist Joerg Peter,Zhang Sijiong. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-06.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20150015285A1. Автор: YAMAGUCHI Kenji,HATTA Masataka,SHINOHARA Eiichi. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

RADIO FREQUENCY PROBE APPARATUS

Номер патента: US20170023635A1. Автор: Kwon Oh Kee,KIM Ki Soo,Oh Su Hwan,LEEM Young Ahn,HAN Young Tak,LEE Chul Wook. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2017-01-26.

TEST SYSTEMS WITH A PROBE APPARATUS AND INDEX MECHANISM

Номер патента: US20180024165A1. Автор: Root Bryan J.,Funk William A.,Dunklee John L.. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20150028907A1. Автор: SHINOHARA Eiichi,NAGASAKA Munetoshi,KATO Yoshiyasu,Yano Kazuya,Inomata Isamu. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-29.

INTEGRATED CIRCUIT SPIKE CHECK PROBING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20200033403A1. Автор: Bush William Joshua,Bhardwaj Neeraj,Shirazian Erfan,Sampath Madhusudan,Mason James Scott,Contractor Yazdi,Ramasamy Pavinkumar. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

PROBE APPARATUS, PROBE INSPECTION METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20200049762A1. Автор: Ishii Atsushi,Koizumi Shinya,MIYAZONO Mitsuyoshi,OTA Tomohiro,TASAKI Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

PROBE APPARATUS, ASSEMBLIES, AND METHODS FOR ASPIRATING AND DISPENSING LIQUIDS

Номер патента: US20210077991A1. Автор: Edwards Mark. Владелец: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS INC.. Дата публикации: 2021-03-18.

Probing apparatus and method of operating the same

Номер патента: US20210088581A1. Автор: Choon Leong Lou,Yi Ming Lau. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20220178967A1. Автор: Chen Ming-hui,HU Chun-Hao,CHANG Chin-Yuan,HSIEH HSUEH-CHENG. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-09.

PROBING APPARATUS FOR TAPPING ELECTRIC SIGNALS

Номер патента: US20180120376A1. Автор: NARASARAJU Vignesh,HELGESSON Karl-gösta. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

PROBE APPARATUS FOR TESTING CHIPS

Номер патента: US20150130490A1. Автор: Sudo Shigeo. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-14.

PROBING APPARATUS EQUIPPED WITH HEATING DEVICE FOR LIGHT EMITTING CHIP

Номер патента: US20210156903A1. Автор: CHUANG WEN PIN,LO YI CHING,DUAN Hao. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2021-05-27.

TEST SYSTEMS WITH A PROBE APPARATUS AND INDEX MECHANISM

Номер патента: US20140225636A1. Автор: Root Bryan J.,Funk William A.,Dunklee John L.. Владелец: CELADON SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2014-08-14.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20210173003A1. Автор: LOU CHOON LEONG,LIN CHANG-MING. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

PROBE GUIDE PLATE AND PROBE APPARATUS

Номер патента: US20170146569A1. Автор: SHIMIZU Yuichiro,Fujihara Kosuke,Yamasaki Tomoo,Mori Chikaomi. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

PROBE APPARATUS AND PROBE METHOD

Номер патента: US20160161553A1. Автор: SAIKI Kenta,AKAIKE Shinji,TAMURA Muneaki,KOSHIMIZU Kazuhiko,OKAZAKI Isao,KAWATSUKI Mitsuya,TSUDA Kiyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

METER PROBE APPARATUS

Номер патента: US20190154732A1. Автор: Adams James W.,Prohaska Richard,Beaty Rudy. Владелец: EATON CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-23.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20140247037A1. Автор: SHINOHARA Eiichi,TAOKA Ken. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-09-04.

PROBING METHOD, PROBE CARD FOR PERFORMING THE METHOD, AND PROBING APPARATUS INCLUDING THE PROBE CARD

Номер патента: US20140253154A1. Автор: KANG Sang-Boo,LIM Ki-Sub. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-09-11.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20200158757A1. Автор: Ermolov Vladimir,LAMMINEN Antti,SÄILY Jussi,VÄHÄ-HEIKKILÄ Tauno,RANTAKARI Pekka. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

High Temperature- Low Leakage Probe Apparatus and Method

Номер патента: US20210199695A1. Автор: Dau Hai,Shanmugan Kothandan. Владелец: Spire Manufacturing Inc.. Дата публикации: 2021-07-01.

INDUCTIVE TESTING PROBE APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DIE AND RELATED SYSTEMS AND METHODS

Номер патента: US20190178933A1. Автор: Hacker Jonathan S.,Tiwari Chandra S.,Lindenberg Tony M.,Bossart Kurt J.. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

TEST SYSTEMS WITH A PROBE APPARATUS AND INDEX MECHANISM

Номер патента: US20150204911A1. Автор: Root Bryan J.,Funk William A.,Dunklee John L.. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

MEASUREMENT PROBE APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20200191564A1. Автор: WOOLDRIDGE Michael John,BUCKINGHAM Jamie John,HOLDEN Ben Richard,EWEN Stephen Peter. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2020-06-18.

Sound source probing apparatus, sound source probing method, and storage medium storing program therefor

Номер патента: US20180255395A1. Автор: Takeo Kanamori,Shintaro Yoshikuni,Kohhei Hayashida. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2018-09-06.

PIPE MAPPING PROBE APPARATUS FOR SEARCHING PIPE ROUTE POSITION

Номер патента: US20160282122A1. Автор: Kim Dong Hyun,Kim Jin Won,Oh Kyung Seok,OH Jung Hun,Koo Ja Yong,SEOK Young Soo,LEE Kyung Sob,LEE Se Wan,LEE Yong Gun,JIN Gwang Ho,HYUN In Hwan. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-29.

Method and probe apparatus for testing pharmaceutical products

Номер патента: US20200264150A1. Автор: Kamaljit Singh Chana,Vikram SRIDHAR,Saranjit SIHRA,Pavinder SAGOO,Maxwell ADAMS. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Sampling Probe Apparatus for Collecting a Sample of a Gas Stream Containing Particulate Matter and Method of Using the Same

Номер патента: US20170336302A1. Автор: Baxter Robert Wyatt,Hinkle Derrick James. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

Probe apparatus and wafer transfer system

Номер патента: US20150362546A1. Автор: Yasuhiro Osuga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-12-17.

PROBING APPARATUS

Номер патента: US20200400740A1. Автор: Ku Wei-Cheng,LO YA-HUNG,TSAI SHOU-JEN,Fu Kang-Yen. Владелец: MPI corporation. Дата публикации: 2020-12-24.

Test system and probe apparatus

Номер патента: KR101160638B1. Автор: 요시하루 우메무라,요시오 코모토. Владелец: 가부시키가이샤 어드밴티스트. Дата публикации: 2012-06-28.

Replaceable probe apparatus for probing semiconductor wafer

Номер патента: CN102253251B. Автор: B·J·鲁特,W·A·芬克. Владелец: Caladon Systems Inc. Дата публикации: 2014-04-02.

Probe apparatus for test and fabrication method thereof

Номер патента: KR20130122869A. Автор: 이재학. Владелец: 주식회사 아이에스시. Дата публикации: 2013-11-11.

Auto-Probe Apparatus

Номер патента: KR102202035B1. Автор: 김동현,이용관. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2021-01-12.

Cam Up And Down Type Auto-Probe Apparatus

Номер патента: KR102157311B1. Автор: 김동현,이용관. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2020-10-23.

Probing apparatus for semiconductor device

Номер патента: CN102903650B. Автор: 许振荣,曾昭晟. Владелец: SIDA SCIENCE AND TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-25.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: KR102066155B1. Автор: 임기섭,강상부. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2020-01-14.

Rapid Input/Output Probing Apparatus and Input/Output Probing Method Using the Same, and Mixed Emulation/Simulation Method Based on It

Номер патента: KR100824503B1. Автор: 양세양. Владелец: 양세양. Дата публикации: 2008-04-22.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: KR20140110440A. Автор: 임기섭,강상부. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2014-09-17.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: KR100793637B1. Автор: 김석중,주영훈,신동원. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2008-01-10.

LCD Pannel Test Probe apparatus having Film Sheet type - Probe

Номер патента: KR200458562Y1. Автор: 박종화. Владелец: 윈포시스(주). Дата публикации: 2012-03-05.

Method of operating a probing apparatus

Номер патента: KR102333004B1. Автор: 춘 렁 러우,이 밍 라우. Владелец: 스타 테크놀로지스, 인코포레이션. Дата публикации: 2021-12-01.

Test probe apparatus

Номер патента: KR101322265B1. Автор: 여동구. Владелец: 주식회사 코리아 인스트루먼트. Дата публикации: 2013-10-28.

Integrated circuit probing apparatus including a capacitor bypass structure

Номер патента: KR100190540B1. Автор: 그레고리조지볼,해리죠셉볼. Владелец: 지지비 인더스트리즈, 인코포레이티드. Дата публикации: 1999-06-01.

Probe apparatus, probing method and stroage medium

Номер патента: KR100959703B1. Автор: 마사루 스즈키,가즈히로 다케베. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2010-05-24.

Probing apparatus and probing method

Номер патента: KR100880462B1. Автор: 슈지 아키야마,히로키 호사카,다다시 오비카네. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2009-01-28.

Bifurcated probe apparatus

Номер патента: KR101841107B1. Автор: 정영배. Владелец: 주식회사 아이에스시. Дата публикации: 2018-03-22.

Probing method and probing apparatus

Номер патента: KR100657105B1. Автор: 고바야시마사히토,이시이가즈나리. Владелец: 동경 엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 2006-12-12.

Fiber optic probes apparatus for spectrophotometry

Номер патента: US6580506B2. Автор: Guy W. Inman, Jr.. Владелец: LEAP Technologies Inc. Дата публикации: 2003-06-17.

Probe unit of micro pitch array and probe apparatus using the probe unit

Номер патента: KR100715492B1. Автор: 안재일. Владелец: (주)엠씨티코리아. Дата публикации: 2007-05-07.

The probe card device used in the probe apparatus

Номер патента: KR970008456A. Автор: 쥰이치 하기하라. Владелец: 도쿄 에레쿠토론 가부시키가이샤. Дата публикации: 1997-02-24.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: KR100773732B1. Автор: 김석중,신동원,문광훈. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2007-11-09.

Eddy current probe apparatus for testing blade

Номер патента: KR101771995B1. Автор: 이영우,박상열,하태구,신기보. Владелец: 한전케이피에스 주식회사. Дата публикации: 2017-08-28.

Wafer probing apparatus and its docking control methods for test head

Номер патента: KR100583949B1. Автор: 백승국. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-05-26.

Probing apparatus and probing method for electronic device

Номер патента: JP5706501B1. Автор: 小澤　裕一,裕一 小澤,靖仁 井口,徹夫 吉田,潤三 小塩. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-22.

Probe apparatus, probing method, and storage medium

Номер патента: KR101079017B1. Автор: 마사루 스즈키,야스히토 야마모토,주니치 하기하라. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-11-01.

Probe apparatus

Номер патента: KR100982874B1. Автор: 김영정. Владелец: 엠아이엠 세라믹스(주). Дата публикации: 2010-09-16.

Auto-Probe Apparatus

Номер патента: KR102157070B1. Автор: 김동현,이용관. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2020-09-17.

Probe apparatus and probing method

Номер патента: KR101020396B1. Автор: 후미토 가가미,야스히토 야마모토,가즈히로 오자와. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-03-08.

Eddy current probe apparatus for testing blade

Номер патента: KR20170071024A. Автор: 이영우,박상열,하태구,신기보. Владелец: 한전케이피에스 주식회사. Дата публикации: 2017-06-23.

Probe apparatus

Номер патента: KR100263841B1. Автор: 하루히코 요시오카,유타카 아카이케,지아키 모치즈키,이사오 고노. Владелец: 동경엘렉트론주식회사. Дата публикации: 2000-09-01.

PROBE APPARATUS WITH TRANSDUCERS FOR MEASURING THE INTERNAL DIMENSIONS OF AN ENVELOPE, PARTICULARLY A TUBE

Номер патента: FR2566114B1. Автор: Thomas Jay Blankinship. Владелец: Gearhart Industries Inc. Дата публикации: 1991-04-12.

Probe apparatus, assembly, and method for aspirating and dispensing liquids

Номер патента: CN111465449A. Автор: M.爱德华兹. Владелец: Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Дата публикации: 2020-07-28.

Probe apparatus

Номер патента: US7741837B2. Автор: Shuji Akiyama,Tadashi Obikane. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-06-22.

Microprobe and scanning probe apparatus using the same

Номер патента: JP3785018B2. Автор: 寛 高橋,喜春 白川部,信宏 清水,ブル ユルゲン,ヘーベル ウォルター,ケー ビニッヒ ゲルド,フェティガ ペーター. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2006-06-14.

Test systems with a probe apparatus and index mechanism

Номер патента: US8994390B2. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2015-03-31.

Sampling probe apparatus for collecting a sample of a gas stream containing particulate matter and method of using the same

Номер патента: US10551284B2. Автор: Robert Wyatt Baxter,Derrick James Hinkle. Владелец: DUST COMPANY Inc. Дата публикации: 2020-02-04.

Probe apparatus

Номер патента: CN101685132A. Автор: 远藤朋也,山田浩史,山县一美. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-03-31.

Probe apparatus for examining conductiveness of printed circuit board

Номер патента: KR0176627B1. Автор: 조형석,심재홍,감도영. Владелец: 윤덕용. Дата публикации: 1999-05-15.

Probe apparatus

Номер патента: US20050253611A1. Автор: Haruhiko Yoshioka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2005-11-17.

Probe apparatus

Номер патента: KR20130109063A. Автор: 미쯔요시 미야조노. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-10-07.

Probe apparatus and substrate transfer method

Номер патента: CN102116835B. Автор: 铃木胜,山田浩史,带金正,矢野和哉,山本保人. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-12-03.

Shielded probe apparatus for probing semiconductor wafer

Номер патента: US20040000920A1. Автор: Bryan Root,William Funk. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2004-01-01.

Integrated circuit (IC) transporting device for IC probe apparatus

Номер патента: US20070152654A1. Автор: Herbert Tsai. Владелец: TASK TECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2007-07-05.

Probe apparatus for electric conduction test of PCB

Номер патента: KR100207739B1. Автор: 조형석,심재홍,감도영. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-07-15.

Probe driving method, and probe apparatus

Номер патента: WO2002008774A1. Автор: Hidemi Koike,Akira Shimase,Junzo Azuma,Tohru Ishitani,Satoshi Tomimatsu,Aritoshi Sugimoto,Yuichi Hamamura,Isamu Sekihara. Владелец: HITACHI ULSI SYSTEMS CO., LTD.. Дата публикации: 2002-01-31.

Compliant probe apparatus

Номер патента: US6426638B1. Автор: Thomas H. Di Stefano. Владелец: Decision Track LLC. Дата публикации: 2002-07-30.

Probe apparatus

Номер патента: CN102713650A. Автор: 小笠原郁男,河野功,田冈健,筱原荣一. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-10-03.

Measurement probe apparatus for a probe microscope, measurement cell and scanning probe microscope

Номер патента: WO2009012765A3. Автор: Torsten Mueller,Torsten Jaehnke,Kathryn Anne Poole,Detlef Knebel. Владелец: Jpk Instruments Ag. Дата публикации: 2009-05-07.

Probe apparatus for measuring an electron state on a sample surface

Номер патента: US7487667B2. Автор: Takuya Matsumoto,Tomoji Kawai. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2009-02-10.

Compliant probe apparatus

Номер патента: WO2001084166A1. Автор: Thomas Di Stefano. Владелец: Thomas Di Stefano. Дата публикации: 2001-11-08.

Probe apparatus for a wafer solder bump

Номер патента: WO2011074837A2. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2011-06-23.

Method of operating a probing apparatus

Номер патента: US11054465B2. Автор: Choon Leong Lou,Yi Ming Lau. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2021-07-06.

Test system and probe apparatus

Номер патента: WO2009130794A1. Автор: 芳雄 甲元,芳春 梅村. Владелец: 株式会社アドバンテスト. Дата публикации: 2009-10-29.

Probing apparatus

Номер патента: KR101309169B1. Автор: 슈지 나라오카,야스아키 오사나이,타카오 야스타,마코토 요코야마,토시오 후쿠시,타케시 기무라. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2013-09-23.

Probing Apparatus

Номер патента: KR101034980B1. Автор: 마사시 하세가와,켄이찌 와시오. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2011-05-17.

Inflatable probe apparatus for uniformly contacting and testing microcircuits

Номер патента: US3493858A. Автор: David G Baron,Carl E Ruoff. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1970-02-03.

Component position verification using a probe apparatus

Номер патента: AU1208900A. Автор: James R. Riegel,Louis B Rosenberg. Владелец: MicroScribe LLC. Дата публикации: 2000-05-01.

Fiber optic probe apparatus and method

Номер патента: US5371600A. Автор: Rafael A. Sierra,James C. Hsia,Michael G. Clancy. Владелец: Candela Laser Corp. Дата публикации: 1994-12-06.

Probing apparatus for semiconductor device

Номер патента: CN102903650A. Автор: 许振荣,曾昭晟. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2013-01-30.

Probe apparatus

Номер патента: TW200409264A. Автор: Masayuki Noguchi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-06-01.

Replaceable probe apparatus for probing semiconductor wafer

Номер патента: CN101052886B. Автор: B·J·鲁特,W·A·芬克. Владелец: Caladon Systems Inc. Дата публикации: 2011-06-01.

Smart probe apparatus with automatic self-adjustment of an oscilloscope's bandwidth

Номер патента: EP1209472B1. Автор: Barton T. Hickman. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2011-10-26.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: TWI333071B. Автор: Dong-Won Shin,Suk-Joong Kim. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

TOMOGRAPHIC ATOMIC PROBE APPARATUS AND PARTICLE BEAM ASSISTED SAMPLE ANALYZED METHOD, AND USE OF SUCH A METHOD

Номер патента: FR3027399A1. Автор: Pascal Vincent,Alessandro Siria,Nicolas Blanchard,Philippe Poncharal. Владелец: Universite Claude Bernard Lyon 1 UCBL. Дата публикации: 2016-04-22.

Probe apparatus

Номер патента: CN111707850A. Автор: 魏豪,周嘉南,郑仰宏,邓洁如,谢尚融. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2020-09-25.

Probe apparatus

Номер патента: KR101443326B1. Автор: 이영진,손병기,안대현,안영명. Владелец: (주)한국케트. Дата публикации: 2014-09-30.

Magnetic probe apparatus and method for providing a wireless connection to a detection device

Номер патента: US7746241B2. Автор: Edmund O. Schweitzer, Iii,Laurence Virgil Feight,Donald C. Hicks,Witold R. Tellor. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2010-06-29.

Probing apparatus and method of operating the same

Номер патента: TWI719681B. Автор: 俊良 劉,毅敏 劉. Владелец: 思達科技股份有限公司. Дата публикации: 2021-02-21.

Microprobe and scanning probe apparatus having microprobe

Номер патента: US6667467B2. Автор: Hiroshi Takahashi,Nobuhiro Shimizu,Gerd K. Binnig,Yoshiharu Shirakawabe,Peter Vettiger,Jürgen P. BRUGGER,Walter Häberle. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2003-12-23.

Probing apparatus

Номер патента: TW298616B. Автор: Tomoaki Mochizuki,Haruhiko Yoshioka,Yutaka Akaike,Isao Kawano. Владелец: Tokyo Electron Co Ltd. Дата публикации: 1997-02-21.

Probe apparatus, probing method and storage medium

Номер патента: US20080238463A1. Автор: Masaru Suzuki,Kazuhiro TAKABE. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Probe apparatus

Номер патента: KR100754543B1. Автор: 요시오까하루히코. Владелец: 동경 엘렉트론 주식회사. Дата публикации: 2007-09-04.

Probe Apparatus

Номер патента: KR100452144B1. Автор: 야마모토히로시,오카무라마쯔오. Владелец: 가부시키가이샤 도쿄 웰드. Дата публикации: 2004-10-08.

Probing apparatus with temperature-adjusting modules for testing semiconductor devices

Номер патента: TW201029082A. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2010-08-01.

Method for detecting tips of probes, alignment method and storage medium storing the methods, and probe apparatus

Номер патента: US7800387B2. Автор: Yoshinao Kono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-09-21.

Roughness probe, apparatus with said roughness probe and respective use

Номер патента: EP3569976B1. Автор: Georg Mies. Владелец: Klingelnberg GmbH. Дата публикации: 2023-07-05.

Probe apparatus for inspecting small electronic components

Номер патента: KR101316826B1. Автор: 김선호,심학보. Владелец: 주식회사 한산테크. Дата публикации: 2013-10-08.

Needle trace transfer member and probe apparatus

Номер патента: KR101102718B1. Автор: 히로시 야마다,히로후미 가타기리,데츠지 와타나베,다케시 가와지. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-01-05.

Micro screw-type continuous penetration type TDR probe apparatus in situ

Номер патента: CN110398517A. Автор: 丁智,魏纲,魏新江,尹鑫晟,丁金婷,朱凌韬. Владелец: Zhejiang University City College ZUCC. Дата публикации: 2019-11-01.

Probe apparatus and inspection method of inspected object using the same

Номер патента: KR100291110B1. Автор: 가오루 마쓰다. Владелец: 동경 엘렉트론주식회사. Дата публикации: 2001-06-01.

Light probe apparatus for measuring infiltration using difference signal of reflected light

Номер патента: KR101754057B1. Автор: 전계록,김용진,이만섭,정인숙,신범주. Владелец: 부산대학교 산학협력단. Дата публикации: 2017-07-05.

Alignment method, tip position detecting device and probe apparatus

Номер патента: TW201003813A. Автор: Tetsuji Watanabe,Masaru Suzuki,Hiroshi Yamada,Takeshi Kawaji. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-01-16.

Ultrasonic probe apparatus

Номер патента: EP0607490A1. Автор: Hisao Ito,Takashi Hosokawa,Tomoyuki Kato,Yoshihiro Yoshikawa,Chuwa Tei,Wataru Takekawa. Владелец: Aloka Co Ltd. Дата публикации: 1994-07-27.

Probe guide plate having a silicon oxide layer formed on surfaces and on an inner wall of a through hole thereof, and a protective insulating layer formed on the silicon oxide layer, and probe apparatus including the probe guide plate

Номер патента: US10261110B2. Автор: Yuichiro Shimizu,Chikaomi Mori,Tomoo Yamasaki,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2019-04-16.

Probe apparatus having a sub-pcb for protecting over-current inflow

Номер патента: KR200456800Y1. Автор: 박종현,조준수. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2011-11-21.

A kind of pump probe apparatus and method based on optical fiber transmission

Номер патента: CN107941707A. Автор: 祝连庆,董明利,娄小平,李红,孙广开,宋言明,孟阔. Владелец: Beijing Information Science and Technology University. Дата публикации: 2018-04-20.

Probe apparatus and detection method

Номер патента: CN101498764B. Автор: 铃木胜,矢野和哉,下山宽志. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2013-11-06.

Pin type probe apparatus

Номер патента: KR102098650B1. Автор: 이용관,이기덕,민경미. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2020-04-10.

Probe apparatus for inspecting wafer

Номер патента: KR102406863B1. Автор: 임훈,임영순. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2022-06-10.

Probe apparatus and method for correcting contact position by adjusting overdriving amount

Номер патента: US8130004B2. Автор: Hiroshi Yamada,Shinya Koizumi,Tomoya Endo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-03-06.

Probe apparatus

Номер патента: CN113053774A. Автор: 刘俊良. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2021-06-29.

Auto-probe block of shorting bar type auto-probe apparatus

Номер патента: KR101830606B1. Автор: 이승택,이은중,손성우. Владелец: 엘지디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2018-04-05.

Probe driving method, and probe apparatus

Номер патента: EP1335209A1. Автор: Hidemi Koike,Junzo Azuma,Tohru Ishitani,Satoshi Central Research Laboratory TOMIMATSU,Aritoshi Device Development Center SUGIMOTO,Yuichi Prod. Engineering Research Lab. HAMAMURA,Isamu Hitachi ULSI Systems Co. Ltd. SEKIHARA,A. Semiconductor & Integrated Circuits SHIMASE. Владелец: Hitachi ULSI Systems Co Ltd. Дата публикации: 2003-08-13.

Test systems with a probe apparatus and index mechanism

Номер патента: TW201712355A. Автор: 布萊安Ｊ 魯特,威廉Ａ 方克,約翰Ｌ 鄧克理. Владелец: 色拉頓系統公司. Дата публикации: 2017-04-01.

Test systems with a probe apparatus and index mechanism

Номер патента: TW201812329A. Автор: J 魯特布萊安,A 方克威廉,L 鄧克理約翰. Владелец: 美商色拉頓系統公司. Дата публикации: 2018-04-01.

Probe apparatus for inspecting small electronic components

Номер патента: KR101381225B1. Автор: 김선호,심학보. Владелец: 주식회사 한산테크. Дата публикации: 2014-04-07.

A kind of ultrasonic probe apparatus

Номер патента: CN109374752A. Автор: 黄志强,杨庆富,邱伦厚,游祥. Владелец: AECC Guizhou Liyang Aviation Power Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-22.

Probe apparatus for measuring a color property of a liquid

Номер патента: US7684045B2. Автор: Jason R. Juhasz,Ken Stephen Schermacher,Anthony J. Martino. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2010-03-23.

Probe apparatus for wafer solder bump

Номер патента: KR101108479B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2012-01-31.

A kind of probe apparatus of impedance detection

Номер патента: CN105911355B. Автор: 赵凌云. Владелец: Nanjing Xie Chen Electronic Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-09.

For the high voltage probe apparatus and method of tire inner surface abnormality detection

Номер патента: CN103140746B. Автор: F·E·格拉姆林,B·D·肖伯,C·A·贝卡万,D·A·杰德. Владелец: Michelin Recherche et Technique SA Switzerland. Дата публикации: 2016-01-20.

Method for detecting tips of probes, alignment method and storage medium storing the methods, and probe apparatus

Номер патента: CN101082636A. Автор: 河野芳尚. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-12-05.

Probe apparatus of vertical probe card

Номер патента: CN107783024B. Автор: 李文聪,谢开杰. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-23.

Probe apparatus and probe needle polishing method

Номер патента: JP3144672B2. Автор: 清 竹腰. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2001-03-12.

Probe apparatus

Номер патента: CN109283371B. Автор: 林哲圣,叶政宏. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-07.

Magnetic probe apparatus and method for providing a wireless connection to a detection device

Номер патента: CA2654401C. Автор: Edmund O. Schweitzer,Laurence Virgil Feight,Witold R. Teller,Donald C. Hicks. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-01-08.

Shielded probe apparatus

Номер патента: TWI327226B. Автор: J Root Bryan,A Funk William. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2010-07-11.

Double optical probe apparatus for measuring refractive index of fluid reduced in case of specified reference temperature

Номер патента: JPS5784337A. Автор: Ruisu Haamaa Aran. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 1982-05-26.

Probe Apparatus

Номер патента: KR101123649B1. Автор: 토모아키 쿠가. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2012-03-20.

Probe apparatus and probing method

Номер патента: KR101025389B1. Автор: 히로시 아메미야,다이사쿠 아메미야. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-03-29.

Probe tip position detection method, storage medium recording this method, and probe apparatus

Номер патента: JP4996119B2. Автор: 将人 小林,孝憲 百留. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-08-08.

Probeing apparatus for testing cell of lcd

Номер патента: KR100756438B1. Автор: 박금성,이경용,오정후. Владелец: 주식회사 영우디에스피. Дата публикации: 2007-09-07.

Micromachined probe apparatus and methods for making and using same to characterize liquid in a fluidic channel and map embedded charge in a sample on a substrate

Номер патента: US20050017172A1. Автор: Yogesh Gianchandani,Ponnambalam Selvaganapathy,Kenichi Takahata,Larry Chu,Juda Shohet. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-27.

Probe apparatus

Номер патента: KR100887618B1. Автор: 권순종,윤명균. Владелец: (주)선인이엔지. Дата публикации: 2009-03-10.

Probe apparatus, probing method and storage medium

Номер патента: CN101498764A. Автор: 铃木胜,矢野和哉,下山宽志. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-08-05.

Probing apparatus for semiconductor device

Номер патента: KR100204915B1. Автор: 천병태,조성천. Владелец: 엘지반도체주식회사. Дата публикации: 1999-06-15.

A probe apparatus for low-temperature magnetic resonance force microscopy

Номер патента: KR101415053B1. Автор: 원순호. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2014-07-04.

Probe apparatus

Номер патента: KR20100033938A. Автор: 히로시 야마다,도모야 엔도,가즈미 야마가타. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2010-03-31.

Probe apparatus

Номер патента: US20100079161A1. Автор: Hiroshi Yamada,Kazumi Yamagata,Tomoya Endo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-04-01.

A probe apparatus and a method for polishing a probe

Номер патента: KR100330844B1. Автор: 기요시 다케코시. Владелец: 히가시 데쓰로. Дата публикации: 2002-06-20.

Magnetic probe apparatus and method for providing a wireless connection to a detection device

Номер патента: AU2007253736A1. Автор: Edmund O. Schweitzer,Laurence Virgil Feight,Witold R. Teller,Donald C. Hicks. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2007-11-29.

Probing apparatus with on-probe device-mapping function

Номер патента: KR101185205B1. Автор: 용 유 리우,춘 리용 로우,라이 펭 츄. Владелец: 스타 테크놀로지스 인코포레이션. Дата публикации: 2012-09-21.

Probe polishing method, program therefor, and probe apparatus

Номер патента: KR101208773B1. Автор: 히데아키 다나카,사토시 사노. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-12-05.

Ultrasonic array probe apparatus, system, and method for travelling over holes and off edges of a structure

Номер патента: EP1744156B1. Автор: James C. Kennedy,Clyde T. Uyehara,Mark L. Little. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2012-05-02.

Probe apparatus

Номер патента: AU3428593A. Автор: Stephen D Timm. Владелец: Zetec Inc. Дата публикации: 1993-07-28.

Probe guide plate and probe apparatus

Номер патента: TW201740120A. Автор: 藤原洸輔,清水雄一郎,山崎智生,森親臣. Владелец: 日本電子材料股份有限公司. Дата публикации: 2017-11-16.

Integrated circuit probing apparatus having a temperature-adjusting mechanism

Номер патента: US7576553B2. Автор: Li Min Wang,Choon-Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2009-08-18.

Probe apparatus and substrate transfer method

Номер патента: KR20110050365A. Автор: 히로시 야마다,마사루 스즈키,야스히토 야마모토,타다시 오비카네,카즈야 야노. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-05-13.

Probe driving method, and probe apparatus

Номер патента: EP1335209A4. Автор: Hidemi Koike,Akira Shimase,Junzo Azuma,Tohru Ishitani,Satoshi Tomimatsu,Aritoshi Sugimoto,Yuichi Hamamura,Isamu Sekihara. Владелец: Hitachi ULSI Systems Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-26.

Probe apparatus, probing method and storage medium

Номер патента: TW200944811A. Автор: Masaru Suzuki,Hiroshi Shimoyama,Kazuya Yano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-11-01.

Scanning probe apparatus

Номер патента: US20070187593A1. Автор: Susumu Yasuda,Takao Kusaka,Junichi Seki,Nobuki YOSHIMATSU. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-08-16.

Cantilever probe with dual plane fixutre and probe apparatus therewith

Номер патента: TW200602644A. Автор: January Kister. Владелец: MicroProbe Inc. Дата публикации: 2006-01-16.

Probe apparatus

Номер патента: KR101958856B1. Автор: 오스카 베이제르트. Владелец: 스티칭 컨티뉴테이트 베이제르트 엔지니어링. Дата публикации: 2019-03-15.

Probe apparatus

Номер патента: KR101523105B1. Автор: 히로시 야마다,도모야 엔도,가즈미 야마가타. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2015-05-26.

Probe apparatus

Номер патента: US20040036861A1. Автор: Haruhiko Yoshioka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-02-26.

Probe apparatus applicable to a wafer level burn-in screening

Номер патента: KR20020096874A. Автор: 이시자카마사아키,나카무라유미오. Владелец: 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2002-12-31.

Input/output probing apparatus and input/output probing method using the same, and mixed emulation/simulation method based on it

Номер патента: US6701491B1. Автор: Sei-Yang Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-02.

Probe apparatus and probe method

Номер патента: KR101808388B1. Автор: 신지 아카이케,무네아키 다무라,겐타 사이키,가즈히코 고시미즈,이사오 오카자키,미츠야 가와츠키,기요시 츠다. Владелец: 가부시기가이샤세이와고오가구세이샤꾸쇼오. Дата публикации: 2017-12-12.

Method for setting probe area and probe apparatus

Номер патента: JP2003248035A. Автор: Tomokazu Ozawa,Yozo Miura,洋三 三浦,友和 小澤. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2003-09-05.

Test system and probe apparatus

Номер патента: CN102017115B. Автор: 甲元芳雄,梅村芳春. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-07-25.

인쇄회로기판의 통전검사용 탐침장치 (Probe apparatus for electric conduction test of PCB)

Номер патента: KR980013587A. Автор: 조형석,심재홍. Владелец: 김광호. Дата публикации: 1998-04-30.

Optical probe, apparatus and system

Номер патента: WO2012049454A1. Автор: Jörg Peter Feist,Sijiong Zhang. Владелец: Southside Thermal Sciences (Sts) Limited. Дата публикации: 2012-04-19.

Method and probe apparatus for testing pharmaceutical products

Номер патента: US20200264150A1. Автор: Kamaljit Singh Chana,Vikram SRIDHAR,Saranjit SIHRA,Pavinder SAGOO,Maxwell ADAMS. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Method and probe apparatus for testing pharmaceutical products

Номер патента: WO2019064018A1. Автор: Kamaljit Singh Chana,Vikram SRIDHAR,Saranjit SIHRA,Pavinder SAGOO,Maxwell ADAMS. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2019-04-04.

Gas charge container, atom probe apparatus, and method for analyzing hydrogen position in material

Номер патента: AU2009263350A1. Автор: Jun Takahashi,Kazuto Kawakami,Haruo Ohmori. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2009-12-30.

Gas charge container, atom probe apparatus, and method for analyzing hydrogen position in material

Номер патента: EP2302349A4. Автор: Jun Takahashi,Kazuto Kawakami,Haruo Ohmori. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

Probing method, probing apparatus, and storage medium

Номер патента: TW200907370A. Автор: Kazunari Ishii. Владелец: Tokyo Electron Co Ltd. Дата публикации: 2009-02-16.

Probe apparatus applicable to a wafer level burn-in screening

Номер патента: TW555987B. Автор: Masaaki Ishizaka,Yumio Nakamura. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-01.

Method for a preliminary processing of a sample for an atom probe apparatus and sample and sample substrate prepared by said method

Номер патента: EP1731894B1. Автор: Takashi c/o SII NANOTECHNOLOGY INC. KAITO. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-24.

Method and probe apparatus for testing pharmaceutical products

Номер патента: EP3688456A1. Автор: Kamaljit Singh Chana,Vikram SRIDHAR,Saranjit SIHRA,Pavinder SAGOO,Maxwell ADAMS. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Flat-type probe apparatus for inspecting flat panel display device

Номер патента: TWI287091B. Автор: Soon-Cheol Choi. Владелец: Kodi S Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-21.

Probing apparatus, probing print-circuit board and probing system for high-voltage matrix-based probing

Номер патента: TW200720684A. Автор: Li-Jen Tang. Владелец: Ip Leader Technology Corp. Дата публикации: 2007-06-01.

Lidar and probe apparatus thereof

Номер патента: EP3919937A1. Автор: Jie Chen,Shaoqing Xiang,Yongji MU,Linsen DING. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Probe apparatus for display panel and probe positioning method

Номер патента: TW382114B. Автор: Manabu Hayashida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-02-11.

Electron probe apparatus

Номер патента: GB1120521A. Автор: . Владелец: Applied Research Laboratories Inc. Дата публикации: 1968-07-17.

Probe apparatus

Номер патента: EP2746794B1. Автор: Eiichi Shinohara,Ken Taoka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-10-05.

Probing apparatus and head plate opening/closing force-reducing mechanism

Номер патента: TW582081B. Автор: Masashi Shimizu,Tadashi Obikane. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-04-01.

Leveling mechanism for head plate and probe apparatus

Номер патента: TW201140092A. Автор: Shuji Akiyama,Kanji Tanaka,Koichi Matsuzaki,Hiroshi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Probe apparatus

Номер патента: TW201017181A. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-05-01.

High-speed probing apparatus

Номер патента: TW465001B. Автор: Shinji Iino. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2001-11-21.

Probing method, probing apparatus, and restoring/plasma etch processing mechanism of electrode

Номер патента: TW200416779A. Автор: Yuichi Abe,Kenichi Kubo,Shigekazu Komatsu,Kunihiro Furuya,Vincent Vezin. Владелец: Octec Inc. Дата публикации: 2004-09-01.

Fishing probe

Номер патента: FR586204A. Автор: Robert Charois. Владелец: . Дата публикации: 1925-03-20.

Fishing probe.

Номер патента: FR2708175B1. Автор: Svobodny Stanislas. Владелец: Svobodny Stanislas. Дата публикации: 1995-09-29.

SYNTHESIS OF LONG FISH PROBES

Номер патента: US20140256575A1. Автор: Leproust Emily Marine,Ruvolo Michael,Chen Siyuan. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-11.

Synthesis of long fish probes

Номер патента: US9580746B2. Автор: Siyuan Chen,Michael Ruvolo,Emily Marine Leproust. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2017-02-28.

Probe apparatus with function of automatic replacement of probe card

Номер патента: JPH01145587A. Автор: Shinichi Kobayashi,Taku Ogura,真一 小林,卓 小倉. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-06-07.

Optical deflection probe and optical deflection probe apparatus

Номер патента: JP4611788B2. Автор: 昌鎬 鄭. Владелец: Santec Corp. Дата публикации: 2011-01-12.

Electrostatic protected lcd panel, probing apparatus and monitoring method

Номер патента: KR100212276B1. Автор: 박승환,이근원. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-08-02.

Probe apparatus and optical microscopy comprising the same

Номер патента: KR102092656B1. Автор: 강치중,이태성. Владелец: 명지대학교 산학협력단. Дата публикации: 2020-03-25.

Service Discovery Protocol Probing Apparatus and Method for Smart Device

Номер патента: KR101742690B1. Автор: 이동만,손희석. Владелец: 한국과학기술원. Дата публикации: 2017-06-15.

Ultrasound imaging multi-array probe apparatus and system

Номер патента: US20240307089A1. Автор: James Pelletier,Gerd Schmieta,Paul Sheeran,Frank William Mauldin,Adam Dixon,Kathryn Ozgun,Zachary Leonard,Qikun Wang. Владелец: Rivanna Medical Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Ultrasound imaging multi-array probe apparatus and system

Номер патента: WO2024196876A2. Автор: James Pelletier,Gerd Schmieta,Paul Sheeran,Frank William Mauldin,Adam Dixon,Kathryn Ozgun,Zachary Leonard,Qikun Wang. Владелец: Rivanna Medical, Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: US09427186B2. Автор: Simon Richard Hattersley,Quentin Andrew Pankhurst. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2016-08-30.

ULTRASONIC PROBE APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC PROBE APPARATUS

Номер патента: US20130289410A1. Автор: KIM Dong Wook,CHO Kyung II. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-31.

PROBE APPARATUS, MEDICAL INSTRUMENT COMPRISING SAME, AND CONTROL METHOD OF PROBE APPARATUS

Номер патента: US20180249986A1. Автор: Kim Young-Hwan,Lee Jei-Young,KIM Dong-Ki,SEO Min-woo. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-06.

Spherical vibrating probe apparatus and method for conducting efficacy analysis of pain treatment using probe apparatus

Номер патента: CA2774272C. Автор: John Crosson,David Weinkle. Владелец: NewLife Sciences LLC. Дата публикации: 2018-03-20.

Spherical vibrating probe apparatus and method for conducting efficacy analysis of pain treatment using probe apparatus

Номер патента: CA2774272A1. Автор: John Crosson,David Weinkle. Владелец: NewLife Sciences LLC. Дата публикации: 2010-03-18.

Orifice probe apparatus and a method of use thereof

Номер патента: US20120130281A1. Автор: Nicholas Ahn. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-05-24.

LUMEN PROBE APPARATUSES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20130338440A1. Автор: Sinai Nir,BOADER Idan. Владелец: Inmotion Medical Ltd.. Дата публикации: 2013-12-19.

PHOTONIC PROBE APPARATUS WITH INTEGRATED TISSUE MARKING FACILITY

Номер патента: US20160066979A1. Автор: Keswarpu Payal,Gupta Vipin,Mueller Manfred,Firtion Celine. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2016-03-10.

ULTRASONIC PROBE APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20140148699A1. Автор: Kim Young-Tae,Shim Hwan,KIM Seoung-hun,KOH Hyun-woo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-05-29.

MOBILE ULTRASOUND DIAGNOSIS PROBE APPARATUS FOR USING TWO-DIMENSIONAL ARRAY DATA, MOBILE ULTRASOUND DIAGNOSIS SYSTEM USING THE SAME

Номер патента: US20150087987A1. Автор: RYU Jeong Won,CHOUNG You Chan. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

HYBRID MEDICAL IMAGING PROBE, APPARATUS AND PROCESS

Номер патента: US20220142611A1. Автор: ABBOSH Amin,REZAEIEH Sasan Ahdi,ZAMANI Ali. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

OPTICAL PROBE APPARATUS, SYSTEMS, METHODS FOR GUIDING TISSUE ASESSMENT

Номер патента: US20140187970A1. Автор: Bouma Brett Eugene,SUTER MELISSA J.,Hariri Lida P.,Tan Khay M.,Chee Chunmin,Shiskhov Milen. Владелец: The General Hospital Corporation. Дата публикации: 2014-07-03.

HEARING TESTING PROBE APPARATUS WITH DIGITAL INTERFACE

Номер патента: US20160113554A1. Автор: KILLION Mead C.,Iseberg Steve,Drambarean Viorel,Mapes-Riordan Dan,Siegel Jonathan,Dhar Sumitrajit,Viranyi Steve. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

NOISE-SUPPRESSING, SUCTION PROBE APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20140316357A1. Автор: Adams Jason P.. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-23.

CRYOTHERAPY, THERMAL THERAPY, TEMPERATURE MODULATION THERAPY, AND PROBE APPARATUS THEREFOR

Номер патента: US20190262057A1. Автор: TYC Richard,GRANT Mark A.. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-29.

CRYOTHERAPY, THERMAL THERAPY, TEMPERATURE MODULATION THERAPY, AND PROBE APPARATUS THEREFOR

Номер патента: US20160287308A1. Автор: TYC Richard,Ren Brooke,GRANT Mark. Владелец: MONTERIS MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

CRYOTHERAPY, THERMAL THERAPY, TEMPERATURE MODULATION THERAPY, AND PROBE APPARATUS THEREFOR

Номер патента: US20160287334A1. Автор: TYC Richard,Ren Brooke,GRANT Mark. Владелец: MONTERIS MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

Medical probe apparatus with enhanced RF, resistance heating, and microwave ablation capabilities

Номер патента: US5720718A. Автор: Ingemar H. Lundquist,Ronald G. Lax,Stuart D. Edwards,Hugh R. Sharkey,Arye Rosen,Paul Walinsky. Владелец: Vidamed Inc. Дата публикации: 1998-02-24.

Probe Apparatus

Номер патента: KR101399031B1. Автор: 슈지 나라오카,야스아키 오사나이,타케시 키무라,요지 세이노. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2014-05-27.

Orifice probe apparatus and a method of use thereof

Номер патента: US10413231B2. Автор: Nicholas Ahn. Владелец: Nicholas Ahn. Дата публикации: 2019-09-17.

Orifice probe apparatus and a method of use thereof

Номер патента: AU2016202842A1. Автор: Nicholas Ahn. Владелец: Nicholas Ahn. Дата публикации: 2016-05-26.

Probe Apparatus for urinary incontinence curer

Номер патента: KR101066108B1. Автор: 이일권. Владелец: 주식회사 청우메디칼. Дата публикации: 2011-09-20.

Electrosurgical probe apparatus

Номер патента: US4936842A. Автор: Frank D. D'Amelio,Dawn M. DeLemos,Dominick G. Esposito,Michelle d. Maxfield,Claude E. Petruzzi,Robert H. Quint. Владелец: Circon Corp. Дата публикации: 1990-06-26.

Photonic probe apparatus with integrated tissue marking facility

Номер патента: EP2814375B1. Автор: Payal Keswarpu,Celine Firtion,Manfred Muller,Vipin Gupta. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2020-04-08.

Intravenous animal probe apparatus - has collar pressed against neck with needle released by trigger mechanism

Номер патента: FR2269323A1. Автор: . Владелец: PERRIN CHARLES FR. Дата публикации: 1975-11-28.

Ultrasonic probe apparatus

Номер патента: CN110461239A. Автор: M·K-J·特维尔德,F·H·范黑施,P·J·吉莱恩. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2019-11-15.

Probe apparatus, precision detection method, precision detection system, and positioning system

Номер патента: WO2020220441A1. Автор: 陈波,李寅岩,魏玉彪. Владелец: 北京天智航医疗科技股份有限公司. Дата публикации: 2020-11-05.

Body surface probe, apparatus and method for non-invasively detecting medical conditions

Номер патента: EP1534115A2. Автор: Robert P. Schnall. Владелец: Itamar Medical Ltd. Дата публикации: 2005-06-01.

Medical probe apparatus with enhanced rf, resistance heating, and microwave ablation capabilities

Номер патента: WO1995018575A1. Автор: Rosen Arye,Ingemar H. Lundquist,Ronald G. Lax,Stuart D. Edwards,Hugh R. Sharkey,Paul Walinksy. Владелец: Vidamed, Inc.. Дата публикации: 1995-07-13.

Ultrasonic probe apparatus, and ultrasonic diagnostic system

Номер патента: JP2007330490A. Автор: Kiyoshi Matsumura,清志 松村. Владелец: GE Medical Systems Global Technology Co LLC. Дата публикации: 2007-12-27.

Lumen probe apparatuses and methods for using the same

Номер патента: US20100240955A1. Автор: Idan Boader,Nir Sinai. Владелец: Inmotion Medical Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Flexible probe apparatus

Номер патента: AU3232093A. Автор: Daniel Abenaim. Владелец: Analogic Corp. Дата публикации: 1993-06-28.

Biological probe apparatus and production thereof

Номер патента: JPS5946939A. Автор: ジエラルド・イ−・マツギニス. Владелец: Vital Signs Inc. Дата публикации: 1984-03-16.

Body surface probe, apparatus and method for non-invasively detecting medical conditions

Номер патента: US7621877B2. Автор: Robert P. Schnall. Владелец: Itamar Medical Ltd. Дата публикации: 2009-11-24.

Photonic probe apparatus with integrated tissue marking facility

Номер патента: US10716613B2. Автор: Payal Keswarpu,Celine Firtion,Manfred Mueller,Vipin Gupta. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2020-07-21.

Pelvic floor muscle therapy system, probe apparatus and method of use thereof

Номер патента: WO2017210870A1. Автор: 邬达明. Владелец: 东莞艮顺电子科技有限公司. Дата публикации: 2017-12-14.

Hearing testing probe apparatus with digital interface

Номер патента: WO2012103079A1. Автор: Mead C. Killion,Viorel Drambarean,Dan Mapes-Riordan,Jonathan SIEGEL,Steve Iseberg,Steve Viranyi,Sumitrajit DHAR. Владелец: ETYMOTIC RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2012-08-02.

Body surface probe, apparatus and method for non-invasively detecting medical conditions

Номер патента: AU2003242975A1. Автор: Robert P. Schnall. Владелец: Itamar Medical Ltd. Дата публикации: 2004-02-02.

A kind of multifunction micro probe apparatus

Номер патента: CN106236378A. Автор: 吉家国. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-12-21.

Body surface probe, apparatus and method for non-invasively detecting medical conditions

Номер патента: US20060064024A1. Автор: Robert Schnall. Владелец: Itamar Medical Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

Electronic cryogenic surgical probe apparatus and method

Номер патента: WO1992020289A1. Автор: Archie C. Hamilton. Владелец: Hamilton Archie C. Дата публикации: 1992-11-26.

Hybrid medical imaging probe, apparatus and process

Номер патента: WO2020181336A1. Автор: Amin Abbosh,Ali Zamani,Sasan Ahdi REZAEIEH. Владелец: EMvision Medical Devices Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Hybrid medical imaging probe, apparatus and process

Номер патента: CA3131272A1. Автор: Amin Abbosh,Ali Zamani,Sasan Ahdi REZAEIEH. Владелец: EMvision Medical Devices Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Hybrid medical imaging probe, apparatus and process

Номер патента: AU2020234528A1. Автор: Amin Abbosh,Ali Zamani,Sasan Ahdi REZAEIEH. Владелец: EMvision Medical Devices Ltd. Дата публикации: 2021-09-02.

Hybrid medical imaging probe, apparatus and process

Номер патента: EP3937791A1. Автор: Amin Abbosh,Ali Zamani,Sasan Ahdi REZAEIEH. Владелец: EMvision Medical Devices Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

A kind of preparation method of FISH probe

Номер патента: CN106222250A. Автор: 林清华,阮力,唐郑华,卢皇彬,林煌艺. Владелец: Amoy Diagnostics Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-14.

Preparation method of FISH probe of EGFR gene

Номер патента: CN109610010B. Автор: 许嘉森,刘志明,吴诗扬,朱蓉. Владелец: Surexam Bio Tech Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-10.

Voltage-applying probe, apparatus for manufacturing electron source using the probe, and method for manufacturing electron source using the apparatus

Номер патента: US20040164757A1. Автор: Akihiro Kimura,Kazuhiro Oki,Shigeto Kamata. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2004-08-26.

Voltage-applying probe, apparatus for manufacturing electron source using the probe, and method for manufacturing electron source using the apparatus

Номер патента: US20020177382A1. Автор: Akihiro Kimura,Kazuhiro Oki,Shigeto Kamata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-28.

Focused probe apparatus and method therefor

Номер патента: US09752433B2. Автор: Anthony H. Van Zuilekom,Mark A. Proett,Gregory N. Gilbert. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Radome conical nose probe apparatus for use with electrostatic sensor

Номер патента: IL121078A. Автор: . Владелец: Alliant Techsystems Inc. Дата публикации: 2002-07-25.

MULTI-ARRAY ULTRASONIC PROBE APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING MULTI-ARRAY PROBE APPARATUS

Номер патента: US20130242705A1. Автор: KIM Young-Il,KIM Dong Wook,KIM Bae Hyung,SONG Jong Keun,LEE Seung Heun,CHO Kyung II. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-09-19.

PLASMA PROCESSING APPARATUS AND PROBE APPARATUS

Номер патента: US20150114563A1. Автор: Sato Kenji,Hirano Taichi. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

Measuring probe apparatus for determining exhaust gas emission in motor vehicle, has elastic unit with two lamellas comprising pipe connection, where probe apparatus is connected with exhaust tail pipe by slid-over clamp connection

Номер патента: DE202006018228U1. Автор: . Владелец: Schreiber German Dipl-Ing (fh). Дата публикации: 2007-05-10.

Method, probe apparatus, and aggregation server apparatus for identifying influence range when network failure occurs in internet service with signaling

Номер патента: JP5051055B2. Автор: 大治 伊藤. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-10-17.

REMOTELY CONTROLLED SEMI-AUTOMATIC MECHANIZED SAMPLING AND TEMPERATURE MEASURING PROBE APPARATUS FOR MOLTEN STEEL IN METALLURGICAL FURNACES

Номер патента: US20130127096A1. Автор: Wunsche Edgar R.. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-23.

FOCUSED PROBE APPARATUS AND METHOD THEREFOR

Номер патента: US20160146005A1. Автор: Proett Mark A.,Gilbert Gregory N.,Van Zuilekom Anthony H.. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

A kind of pneumatic probe apparatus of piston adhesion type and its application method

Номер патента: CN108166539A. Автор: 刘星,朱亮,刘冬华,吴联定,龚剑,郭海龙,顾国明. Владелец: Shanghai Construction Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-15.

Radome nose cone probe apparatus for use with electrostatic sensor

Номер патента: EP0816762B1. Автор: Scott D. Crist. Владелец: Alliant Techsystems Inc. Дата публикации: 2002-11-13.

Probe apparatus testing an electrode of Plasma Display Panel

Номер патента: KR100350513B1. Автор: 박태욱. Владелец: 박태욱. Дата публикации: 2002-08-28.

A kind of probe apparatus of formation tester

Номер патента: CN110410071A. Автор: 余强,程明,鲍忠利,何小华,盛达,秦小飞,唐云飞,李炎伟,安申庆. Владелец: China Oilfield Services Ltd. Дата публикации: 2019-11-05.

Spiral contactor and method of fabricating the same, semiconductor probing apparatus and electronic device using the same

Номер патента: KR100456190B1. Автор: 요시다고이치,유키히로 히라이,우에다치히로. Владелец: 가부시키가이샤 어드밴스트 시스템즈 재팬. Дата публикации: 2004-11-09.

Focused probe apparatus and method therefor

Номер патента: US9284837B2. Автор: Anthony H. Van Zuilekom,Mark A. Proett,Gregory N Gilbert. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2016-03-15.

Foup opening/closing device and probe apparatus

Номер патента: CN101651112B. Автор: 带金正. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

Wafer probe apparatus with pneumatic wafer orienting mechanism

Номер патента: US4219110A. Автор: Hirohiko Ubukata. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-08-26.

Probing apparatus

Номер патента: KR100314874B1. Автор: 하세가와요시에이. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2001-11-23.

Foup opening/closing device and probe apparatus

Номер патента: CN101651112A. Автор: 带金正. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-02-17.

Soil probing apparatus

Номер патента: AU1543995A. Автор: Peter Dunn. Владелец: MINI SOIL SURVEYS Ltd. Дата публикации: 1995-08-21.

Hole probe apparatus and method

Номер патента: EP0600614A1. Автор: John W. Zienkiewicz,Bradley M. Roberts,Mark F. Cassidy. Владелец: Gemcor Engr Corp. Дата публикации: 1994-06-08.

Probing apparatus and probing method resulting therefrom

Номер патента: FR715285A. Автор: Ludwig Hammer. Владелец: . Дата публикации: 1931-11-28.

Probing apparatus

Номер патента: US3054285A. Автор: Roosen Petrus Hendrikus. Владелец: GOUDSCHE MACHF NV. Дата публикации: 1962-09-18.

Method of delivering target object to be processed, table mechanism of target object and probe apparatus

Номер патента: US20020044864A1. Автор: Takanori Hyakudomi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2002-04-18.

Probing apparatus for semiconductor device

Номер патента: JPS6262536A. Автор: Takamasa Sakai,Takayuki Baba,Yoshiyuki Nakagawa,元宏 河野,Motohiro Kono,良幸 中川,馬場　隆幸,坂井　高正. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-03-19.

Probe apparatus and method therefor

Номер патента: EP1648113A3. Автор: Kevin Mitchelll. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2008-06-04.

Fgfr3 fusion gene and pharmaceutical drug targeting same

Номер патента: RU2673943C2. Автор: Йосито НАКАНИСИ,Нукинори Акияма,Юкари НИСИТО. Владелец: Чугаи Сейяку Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-12-03.

Method and apparatus for improving image clarity and sensitivity in optical coherence tomography using dynamic feedback to control focal properties and coherence gating

Номер патента: US09897538B2. Автор: Guillermo J. Tearney,Brett Eugene Bouma. Владелец: General Hospital Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Multiple aperture probe internal apparatus and cable assemblies

Номер патента: US09788813B2. Автор: David M. Smith,Kenneth D. Brewer,Donald F. Specht,Sharon L. Adam. Владелец: Maui Imaging Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object

Номер патента: US5724264A. Автор: Louis B. Rosenberg,Bruce M. Schena,Bernard G. Jackson. Владелец: Immersion Human Interface Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object

Номер патента: US6078876A. Автор: Louis B. Rosenberg,Scott B. Brave,Bruce M. Schena. Владелец: MicroScribe LLC. Дата публикации: 2000-06-20.

Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object

Номер патента: US6134506A. Автор: Louis B. Rosenberg,Bruce M. Schena,Bernard G. Jackson. Владелец: MicroScribe LLC. Дата публикации: 2000-10-17.

Testing apparatus, method of manufacture and method of use thereof

Номер патента: WO2022079436A3. Автор: Kirsty McIntosh,Francesco MENNA. Владелец: Softcell Medical Limited. Дата публикации: 2022-05-27.

Testing apparatus, method of manufacture and method of use thereof

Номер патента: AU2021361244A1. Автор: Kirsty McIntosh,Francesco MENNA. Владелец: SOFTCELL MEDICAL Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Very narrow probe with coil

Номер патента: US20240197412A1. Автор: Assaf Govari,Vadim Gliner,Christopher Thomas Beeckler,Athanassios Papaioannou,Joseph Thomas Keyes. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Method for producing a precision 3-D measuring apparatus

Номер патента: US6015473A. Автор: Louis B. Rosenberg,Scott B. Brave,Bruce M. Schena,Bernard G. Jackson. Владелец: Immersion Corp. Дата публикации: 2000-01-18.

Testing Apparatus, Method Of Manufacture And Method Of Use Thereof

Номер патента: US20230380731A1. Автор: Kirsty McIntosh,Francesco MENNA. Владелец: SOFTCELL MEDICAL Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Testing apparatus, method of manufacture and method of use thereof

Номер патента: EP4228507A2. Автор: Kirsty McIntosh,Francesco MENNA. Владелец: SOFTCELL MEDICAL Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Testing apparatus, method of manufacture and method of use thereof

Номер патента: WO2022079436A2. Автор: Kirsty McIntosh,Francesco MENNA. Владелец: Softcell Medical Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Sensing device for analysis

Номер патента: CA1319831C. Автор: Amnon Kritzman,Menuha Beer,Alla Buch,Moshe Ish-Shalom,Eliezer Falkenstein. Владелец: Oct Optical Chemical Technologies Ltd. Дата публикации: 1993-07-06.

Multiple aperture probe internal apparatus and cable assemblies

Номер патента: WO2012051305A8. Автор: David M. Smith,Kenneth D. Brewer,Donald F. Specht,Sharon L. Adam. Владелец: MAUI IMAGING, INC.. Дата публикации: 2012-07-05.

Time-sharing fluorometer and reflectometer

Номер патента: US3811777A. Автор: B Chance. Владелец: JOHNSON RES FOUNDATION MEDICAL. Дата публикации: 1974-05-21.

Very narrow probe with coil

Номер патента: US11918298B2. Автор: Assaf Govari,Vadim Gliner,Christopher Thomas Beeckler,Athanassios Papaioannou,Joseph Thomas Keyes. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Systems and methods for designing accurate fluorescence in-situ hybridization probe detection on microscopic blood cell images using machine learning

Номер патента: WO2021133984A1. Автор: Paul Pagano,Daniel GRAMAJO-LEVENTON,Rebecca REED,Shahram TAHVILIAN,Lara BADEN,Bhushan GARWARE,Anurag PALKAR,Chimney SAVADIKAR. Владелец: Lunglife Ai. Дата публикации: 2021-07-01.

Systems and methods for designing accurate fluorescence in-situ hybridization probe detection on microscopic blood cell images using machine learning

Номер патента: US20230041229A1. Автор: Paul Pagano,Daniel GRAMAJO-LEVENTON,Rebecca REED,Shahram TAHVILIAN,Lara BADEN,Bhushan GARWARE,Chinmay SAVADIKAR,Anurag PALKAR. Владелец: Lunglife Ai Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Systems and methods for designing accurate fluorescence in-situ hybridization probe detection on microscopic blood cell images using machine learning

Номер патента: EP4081979A1. Автор: Paul Pagano,Daniel GRAMAJO-LEVENTON,Rebecca REED,Shahram TAHVILIAN,Lara BADEN,Bhushan GARWARE,Chinmay SAVADIKAR,Anurag PALKAR. Владелец: Lunglife Ai Inc. Дата публикации: 2022-11-02.

Improvements in or relating to cell analysis

Номер патента: AU2018355889B2. Автор: Wendy Naomi ERBER,Kathryn Amanda FULLER,Henry Yeuk Lam HUI. Владелец: University of Western Australia. Дата публикации: 2024-11-07.

Improvements in or relating to cell analysis

Номер патента: EP3701045A1. Автор: Wendy Naomi ERBER,Kathryn Amanda FULLER,Henry Yeuk Lam HUI. Владелец: University of Western Australia. Дата публикации: 2020-09-02.

Imaging and analyzing parameters of small moving objects such as cells

Номер патента: EP1257794A4. Автор: David Basiji,William Ortyn. Владелец: Amnis LLC. Дата публикации: 2006-12-13.

Imaging and analyzing parameters of small moving objects such as cells

Номер патента: EP1257794A1. Автор: David Basiji,William Ortyn. Владелец: Amnis LLC. Дата публикации: 2002-11-20.

Method and apparatus for measuring moisture content

Номер патента: US09523652B2. Автор: Brandon L. MCLELLAN,Julie A. Kluin. Владелец: Poet Research Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Method, apparatus, and computer program product for determining lane level traffic information

Номер патента: US20200025584A1. Автор: James Fowe. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2020-01-23.

Method, apparatus, and computer program product for determining lane level traffic information

Номер патента: US20200370913A1. Автор: James Fowe. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2020-11-26.

Apparatus and method for measuring deposits inside a tube

Номер патента: US09593930B2. Автор: Richard Lakhan,Brian Lepine,Joseph Renaud,Laurie Davey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-14.

Method and apparatus for locating a defective tube of a liquid metal-to-water tube type heat exchanger

Номер патента: UST963003I4. Автор: Steven L. Schrock,James D. Mangus. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1977-10-04.

Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station

Номер патента: EP1436636A4. Автор: Douglas J Thomson,Greg E Bridges. Владелец: SUSS MicroTec Test Systems GmbH. Дата публикации: 2005-04-27.

Motion sensor integrated nano-probe n/mems apparatus, method, and applications

Номер патента: US20190018039A1. Автор: Amit Lal,Kwame Amponsah. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-01-17.

Method, apparatus, and computer program product for anonymizing trajectories and stay points

Номер патента: US11751007B2. Автор: Olivier Dousse,Elena VIDYAKINA,Gavin Brown,Elena Mumford,Ori Dov. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2023-09-05.

Method, apparatus and computer program product for identifying road work within a road network

Номер патента: US12078990B2. Автор: Leon Stenneth. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-09-03.

Test apparatuses including probe card for testing semiconductor devices and operation methods thereof

Номер патента: US20200386786A1. Автор: Gyuyeol KIM,Yukyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-12-10.

Method, apparatus and computer program product for suppressing false positives of road work detection within a road network

Номер патента: US12057013B2. Автор: Leon Stenneth. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-08-06.

Method, apparatus, and computer program product for determining if probe data points have been map-matched

Номер патента: US20200302190A1. Автор: Ole Henry Dorum. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2020-09-24.

Method, apparatus, and computer program product for determining if probe data points have been map-matched

Номер патента: US10719719B2. Автор: Ole Henry Dorum. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2020-07-21.

Apparatus and Method for Eddy Current Inspection of Structures

Номер патента: US20140375309A1. Автор: Kim E. Graebner. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2014-12-25.

Method, apparatus, and computer program product for determining if probe data points have been map-matched

Номер патента: US20190272434A1. Автор: Ole Henry Dorum. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2019-09-05.

Apparatus and method for measuring deposits inside a tube

Номер патента: CA2766462C. Автор: Richard Lakhan,Brian Lepine,Joseph Renaud,Laurie Davey. Владелец: Atomic Energy of Canada Ltd AECL. Дата публикации: 2018-09-11.

Apparatus and method for measuring deposits inside a tube

Номер патента: CA3015451C. Автор: Richard Lakhan,Brian Lepine,Joseph Renaud,Laurie Davey. Владелец: Atomic Energy of Canada Ltd AECL. Дата публикации: 2021-02-02.

Sorbent tube apparatus

Номер патента: US20180128791A1. Автор: Jeremy Knight. Владелец: Endet Ltd. Дата публикации: 2018-05-10.

Sorbent tube apparatus

Номер патента: EP3281006A1. Автор: Jeremy Knight. Владелец: Endet Ltd. Дата публикации: 2018-02-14.

Method, apparatus, and computer program product for establishing reliability of crowd sourced data

Номер патента: US11668583B2. Автор: Anirudh Viswanathan. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2023-06-06.

Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station

Номер патента: AU6207900A. Автор: Greg E. Bridges,Douglas J. Thomson. Владелец: Micron Force Instruments Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station

Номер патента: WO2001004653A1. Автор: Greg E. Bridges,Douglas J. Thomson. Владелец: Mfi Technologies Corporation. Дата публикации: 2001-01-18.

Circuit trace probe and method

Номер патента: US20010005817A1. Автор: Raymond Caggiano,Charles Colpo,Jeffrey Hatley,W. Soroka,Rondell Watts. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-28.

Method, apparatus, and computer program product for lane-level route guidance

Номер патента: US11022457B2. Автор: James Fowe. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2021-06-01.

Ultrasound-guided non-invasive blood pressure measurement apparatus and methods

Номер патента: CA2933421A1. Автор: William R. Fry. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-07-09.

Method and apparatus for implementing automatic-calibration of tdr probing system

Номер патента: US20070265793A1. Автор: Matthew Doyle,Ankur Patel,Roger Booth,Lynn Landin,Thomas Liang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-11-15.

프로브 설비의 정렬 상태 점검에 기준으로 사용되는 웨이퍼 및그 제조방법

Номер патента: KR20000065608A. Автор: 정의근. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2000-11-15.

Machine learning a feature detector using synthetic training data

Номер патента: US12051235B2. Автор: Stephen O'Hara,Brad Keserich,Nicholas DRONEN. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-07-30.

Machine learning a feature detector using synthetic training data

Номер патента: US20190325264A1. Автор: Stephen O'Hara,Brad Keserich,Nicholas DRONEN. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2019-10-24.

Method of replacing an existing contact of a wafer probing assembly

Номер патента: US09429638B2. Автор: Kenneth R. Smith. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2016-08-30.

Connector contact contamination probe

Номер патента: US4218653A. Автор: George C. Emo. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1980-08-19.

Robust spectroscoptic optical probe

Номер патента: US5678751A. Автор: Daniel Charles Alsmeyer,Vincent Alvin Nicely,Norma Lindsey Buchanan,Gregory Wayne Nelson,Roger Dale Edwards. Владелец: Eastman Chemical Co. Дата публикации: 1997-10-21.

Method and apparatus for optical ice detection

Номер патента: US11749083B2. Автор: William D. Rice. Владелец: UNIVERSITY OF WYOMING. Дата публикации: 2023-09-05.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140210501A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Method, apparatus, and computer program product for probe data-based geometry generation

Номер патента: EP4273500A1. Автор: Fei Tang,Ole Henry Dorum,Bala Divakaruni. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2023-11-08.

Method, apparatus, and computer program product for probe data-based geometry generation

Номер патента: US20230358564A1. Автор: Fei Tang,Ole Henry Dorum,Bala Divakaruni. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2023-11-09.

Method and apparatus for optical ice detection

Номер патента: US20210110693A1. Автор: William D. Rice. Владелец: UNIVERSITY OF WYOMING. Дата публикации: 2021-04-15.

Multi-beam optical probe and system for dimensional measurement

Номер патента: CA2638919C. Автор: Marc Miousset,Jacques Fourot. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-08-06.

Membrane-coupled ultrasonic probe system for detecting flaws in a tubular

Номер патента: CA2773207C. Автор: Clive C. Lam,Yanming Guo,Kevin D. Logan,Qingshan Yuan. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2016-06-07.

Quad-disk static pressure probe

Номер патента: CA1322474C. Автор: Alfred J. Bedrad, Jr.,Randall T. Nishiyama,Alferd J. Bedrad, Jr.. Владелец: University of Colorado Foundation Inc. Дата публикации: 1993-09-28.

Generation and update of a lane network graph model

Номер патента: WO2019179804A1. Автор: Carolyn Johnston. Владелец: HERE Global B.V.. Дата публикации: 2019-09-26.

Sample fluid stream probe

Номер патента: US20130276904A1. Автор: John A. Cooper. Владелец: Cooper Environmental Services. Дата публикации: 2013-10-24.

Contactor having a global spring structure and methods of making and using the contactor

Номер патента: WO2007146584A2. Автор: John K. Gritters. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2007-12-21.

Inductor current measurement probe

Номер патента: US20180143264A1. Автор: Istvàn Novak,Peter J. Pupalaikis,Lawrence W. Jacobs. Владелец: Oracle International Corp. Дата публикации: 2018-05-24.

Generation and update of a lane network graph model

Номер патента: EP3769296A1. Автор: Carolyn Johnston. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2021-01-27.

Multi-tube high speed rotating probe

Номер патента: WO1995009323A1. Автор: Zoran Kuljis. Владелец: Combustion Engineering, Inc.. Дата публикации: 1995-04-06.

Contactor having a global spring structure and methods of making and using the contactor

Номер патента: EP2032999A2. Автор: John K. Gritters. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-03-11.

Kit and method for quantitatively detecting multiple pathogens without gene amplification

Номер патента: KR100615420B1. Автор: 김재만. Владелец: 김재만. Дата публикации: 2006-08-25.

Method, apparatus, and computer program product for defining a geo-defense area related to presence of a roadworker entity

Номер патента: US20240378998A1. Автор: Jingwei Xu,Bruce Bernhardt,Weimin Huang,Yuxin Guan. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-11-14.

Method, apparatus and computer program product for autonomous vehicle management at unsignalized intersections

Номер патента: US12071135B2. Автор: Jingwei Xu. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Dynamic privacy-sensitive operating modes

Номер патента: US11837083B2. Автор: Zack ZHU,Tero Keski-Valkama,David Jonietz,Elena Mumford. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2023-12-05.

Dynamic privacy-sensitive operating modes

Номер патента: US20200402393A1. Автор: Zack ZHU,Tero Keski-Valkama,David Jonietz,Elena Mumford. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2020-12-24.

Method, apparatus, and computer program product for quantifying the linkability of trajectory data

Номер патента: US11914747B2. Автор: Stefano Bennati,Aleksandra KOVACEVIC. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2024-02-27.

Method, apparatus, and computer program product for detecting changes in road traffic condition

Номер патента: US20210142661A1. Автор: Arnold Sheynman,Kyle Jackson,Daniela Radakovic. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2021-05-13.

Non-intrusive probe for double data rate interface

Номер патента: WO2017014894A1. Автор: Chong Ding,Douglas Bruce White,Roy Draughn. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2017-01-26.

Apparatus for examining target objects such as LCD panels

Номер патента: US5691764A. Автор: Shinji Iino,Kiyoshi Takekoshi,Itaru Iida. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1997-11-25.

Personalized therapeutic approaches to prostate cancer

Номер патента: CA3020076A1. Автор: Jacques Lapointe,Yogesh M. Bramhecha. Владелец: Royal Institution for the Advancement of Learning. Дата публикации: 2020-04-05.

Chiral diaryl macrocycles as modulators of protein kinases

Номер патента: RU2732405C2. Автор: Ишань ЛИ,Эван В. РОДЖЕРС,Даюн ЧЖАЙ,Вэй ДЭН,Джейн УНГ,Цзинжун Дж. ЦУЙ. Владелец: Тёрнинг Поинт Терапьютикс, Инк.. Дата публикации: 2020-09-16.

Slidable assemblies and probe elements

Номер патента: CA2112072C. Автор: Michael F. Scarffe. Владелец: Aztec Developments Ltd. Дата публикации: 2005-01-11.

Imaging probes and catheters for volumetric intraluminal ultrasound imaging and related systems

Номер патента: US6066096A. Автор: Jason O. Fiering,Stephen W. Smith,Edward D. Light,David M. Blaker,Thomas A. Hruschka. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2000-05-23.

Skin analyzer with speech capability

Номер патента: CA2199554C. Автор: Loren R. Ouellette. Владелец: Microline Technology Inc. Дата публикации: 2006-03-14.

Adjustable angle neuro stimulation probe apapratus

Номер патента: WO2018098014A1. Автор: Xialing Zhang. Владелец: Xialing Zhang. Дата публикации: 2018-05-31.

Diagnostic methods for determining prognosis of non-small cell lung cancer

Номер патента: US09994909B2. Автор: Larry E. Morrison,John Coon. Владелец: Abbott Molecular Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Method combining single cell gene expression mapping and targeted RNA or c-DNA sequencing using padlock oligonucleotides comprising a barcode region

Номер патента: US12146188B2. Автор: Robert Pinard,Seiyu Hosono. Владелец: Miltenyi Biotec GmbH. Дата публикации: 2024-11-19.

Means and method for fluorescent in situ hybridization using crispr-cas9 variants and a nuclease

Номер патента: EP4405498A1. Автор: KANG Han,Sheng Liu,Yongsheng CHENG. Владелец: Pixelbiosciences GmbH. Дата публикации: 2024-07-31.

Means and method for fluorescent in situ hybridization using crispr-cas9 variants and a nuclease

Номер патента: WO2023046924A1. Автор: KANG Han,Sheng Liu,Yongsheng CHENG. Владелец: Pixelbiotech Gmbh. Дата публикации: 2023-03-30.

Control preparation for fish methods in microbiology

Номер патента: US20190024157A1. Автор: Annette Moter. Владелец: Charite Universitaetsmedizin Berlin. Дата публикации: 2019-01-24.

Control preparation for fish methods in microbiology

Номер патента: WO2016120295A1. Автор: Annette Moter. Владелец: CHARITE UNIVERSITATSMEDIZIN BERLIN. Дата публикации: 2016-08-04.

Control preparation for fish methods in microbiology

Номер патента: EP3250712A1. Автор: Annette Moter. Владелец: Charite Universitaetsmedizin Berlin. Дата публикации: 2017-12-06.

LC Resonance Probe for Determining Local Plasma Density

Номер патента: US20120084046A1. Автор: Scott G. Walton,David R. Boris,David N. Walker,Richard F. Fernsler,David D. Blackwell. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2012-04-05.

Multichannel in-vitro metabolism real-time monitoring apparatus

Номер патента: US20160298075A1. Автор: Jun Zhu,Luyao Wang,Gang Huang,Qingguo Xie,Xiaoke WU. Владелец: Raycan Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-13.

Decomposition method

Номер патента: RU2258365C2. Автор: Сусанне ВИГ-МЕСАК. Владелец: Промесса Органик Аб. Дата публикации: 2005-08-20.

Apparatus for measuring a set of electrical characteristics in a plasma

Номер патента: MY142150A. Автор: Marakhtanov Alexei,Hudson Eric,Kimball Christopher,KEIL DOUGLAS. Владелец: Lam Res Corp. Дата публикации: 2010-09-30.

System for recovery of petroleum from petroleum impregnated media

Номер патента: CA1304286C. Автор: Calhoun G. Jeambey. Владелец: Edwards Development Corp. Дата публикации: 1992-06-30.

Test probe apparatus for detecting circuit board

Номер патента: SG152116A1. Автор: Caroline Yeh. Владелец: Caroline Yeh. Дата публикации: 2009-05-29.

Module probe apparatus and circuit board testing implement by using that probe apparatus

Номер патента: TW368118U. Автор: rong-hua You. Владелец: Hayes Corp. Дата публикации: 1999-08-21.

Probe apparatus

Номер патента: TW201128195A. Автор: Gunsei Kimoto. Владелец: Gunsei Kimoto. Дата публикации: 2011-08-16.

Phase-sensitive probing apparatus

Номер патента: TWI305828B. Автор: Chih Min Lin,Han Fu Wang,Chyan Chyi Wu,Cheng Chih Hsu. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2009-02-01.

Phase-sensitive probing apparatus

Номер патента: TW200827662A. Автор: Cheng-Chih Hsu,Chih-Min Lin,Chyan-Chyi Wu,Han-Fu Wang. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2008-07-01.

APPARATUS AND METHOD FOR TERMINATING PROBE APPARATUS OF SEMICONDUCTOR WAFER

Номер патента: US20120161804A1. Автор: Root Bryan J.,Funk William A.. Владелец: CELADON SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-06-28.

PROBE MANUFACTURING METHOD, PROBE STRUCTURE, PROBE APPARATUS, AND TEST APPARATUS

Номер патента: US20120161806A1. Автор: ASANO Koji,KITAZUME Hidenori. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-28.

PROBE STRUCTURE, PROBE APPARATUS, PROBE STRUCTURE MANUFACTURING METHOD, AND TEST APPARATUS

Номер патента: US20130038345A1. Автор: ASANO Koji,KITAZUME Hidenori. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2013-02-14.

Method and apparatus for derivation of probing capability as well as probing apparatus

Номер патента: JPH11304917A. Автор: Hideki Hayakawa,Akira Kawanaka,彰 川中,秀樹 早川,Shigetsune Kitazaki,恵凡 北崎. Владелец: Osaka Gas Co Ltd. Дата публикации: 1999-11-05.

Method and apparatus for derivation of probing capability as well as probing apparatus

Номер патента: JPH1039041A. Автор: Hideki Hayakawa,秀樹 早川,Hiroo Nakauchi,啓雄 中内. Владелец: Osaka Gas Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-13.

Probing apparatus, semiconductor device inspection apparatus and inspection method

Номер патента: JP3898074B2. Автор: 国男 松平. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-28.

PROBING APPARATUS FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING

Номер патента: US20120013358A1. Автор: Wang Cheng-Yi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-19.

PROBE APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING CONTACT POSITION

Номер патента: US20120119766A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-05-17.

PROBE APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING CONTACT POSITION

Номер патента: US20120126841A1. Автор: YAMADA Hiroshi,Koizumi Shinya,Endo Tomoya. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-05-24.

HEARING TESTING PROBE APPARATUS WITH DIGITAL INTERFACE

Номер патента: US20120191004A1. Автор: KILLION Mead C.,Iseberg Steve,Drambarean Viorel,Mapes-Riordan Dan,Siegel Jonathan,Dhar Sumitrajit,Viranyi Steve. Владелец: ETYMOTIC RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2012-07-26.

High Temperature- Low Leakage Probe Apparatus and Method of Manufacturing Same

Номер патента: US20120306524A1. Автор: . Владелец: Spire Manufacturing, Inc.. Дата публикации: 2012-12-06.

PROBING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20130027072A1. Автор: HSU CHEN JUNG,TSENG CHAO CHENG. Владелец: STAR TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2013-01-31.

PROBE APPARATUS

Номер патента: US20130063171A1. Автор: SHINOHARA Eiichi,TAOKA Ken,Ogasawara Ikuo,Kouno Isao. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2013-03-14.

PROBE BLOCK, PROBE CARD AND PROBE APPARATUS BOTH HAVING THE PROBE BLOCK

Номер патента: US20130113512A1. Автор: OGASAWARA Takashi,YAMAGUCHI Norie. Владелец: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS. Дата публикации: 2013-05-09.

HIGH-PRECISION SEMICONDUCTOR DEVICE PROBING APPARATUS AND SYSTEM THEREOF

Номер патента: US20130249584A1. Автор: LOU CHOON LEONG,CHEN Ho Yeh,TSENG HSIAO TING. Владелец: STAR TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2013-09-26.

PROBE APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20130271172A1. Автор: Armendariz Norman J.,Tong Kay Chan. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2013-10-17.

METHOD OF USING A DOPPLER BLOOD FLOW METER SYSTEM HAVING A FLAT PROBE APPARATUS FOR OBTAINING BLOOD FLOW DATA

Номер патента: US20130274605A1. Автор: Hayashi Yasushi,Bell Heather. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-17.

Probe apparatus

Номер патента: CN210626683U. Автор: 李法利. Владелец: 李法利. Дата публикации: 2020-05-26.

Dynamic probing apparatus

Номер патента: SU1214838A1. Автор: Игорь Алексеевич Маренинов,Виктор Кириллович Панков,Олег Константинович Вострецов,Франц Фабианович Савицкий,Валентин Александрович Бармин. Владелец: Уральское Отделение Ордена Октябрьской Революции Всесоюзного Государственного Проектно-Изыскательского И Научно-Исследовательского Института Энергетических Систем И Электрических Сетей "Энергосетьпроект". Дата публикации: 1986-02-28.

Dynamic probing apparatus

Номер патента: SU751903A2. Автор: Валерий Павлович Отрепьев,Александр Захарович Гистер,Борис Иванович Кулачкин. Владелец: Ордена Трудового Красного Знамени Научно-Исследовательский Институт Оснований И Подземных Сооружений Им.Н.М.Герсеванова. Дата публикации: 1980-07-30.

Probe apparatus and method

Номер патента: JP3138924B2. Автор: 秀明 田中,伸二 赤池. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2001-02-26.

Pipeline ultrasonic longitudinal guided wave flexible array detection probe apparatus

Номер патента: CN105021709A. Автор: 胡小平,于保华,胡扩. Владелец: Hangzhou Dianzi University. Дата публикации: 2015-11-04.

A kind of probe apparatus of millimeter wave weapon hidden on human body monitoring and control method

Номер патента: CN103235342B. Автор: 时翔,崔恒荣,季芳. Владелец: CHANGZHOU XINFEINING ELECTRONICS Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-23.

Ultrasonic wave probe apparatus

Номер патента: JPS5350884A. Автор: Hitoshi Masuda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1978-05-09.

Probing apparatus of grinding and contact check integrated type, and grinding method thereof

Номер патента: JP2003234384A. Автор: Hiroyuki Toyoda,裕之 豊田. Владелец: Kansai Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 2003-08-22.

Contact probe and its manufacture and probe apparatus having the contact probe

Номер патента: JPH10221371A. Автор: Hideaki Yoshida,秀昭 吉田,Toshinori Ishii,Nobuyoshi Tachikawa,利昇 石井,Atsushi Matsuda,厚 松田,Mitsuyoshi Ueki,光芳 植木,宣芳 立川. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1998-08-21.

Soil-probing apparatus

Номер патента: SU1135838A1. Автор: Борис Васильевич Гончаров,Альберт Алексеевич Киселев,Николай Кириллович Дедов,Алексей Алексеевич Голубинцев. Владелец: Северный Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института По Строительству Магистральных Трубопроводов. Дата публикации: 1985-01-23.

A kind of adjustable bidirectional probe apparatus for single channel ultrasonic wave defectoscope

Номер патента: CN205720111U. Автор: 李超,陈涛,柏永超,周文怡. Владелец: Baosteel Special Steel Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-23.

Probe apparatus and probing method

Номер патента: JP2764062B2. Автор: 清久 立山. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-06-11.

Biliary tract hose freezing probe apparatus with guide sheath device

Номер патента: CN216439299U. Автор: 张超,罗涛,张树新,张仲伟,敖国昆. Владелец: Beijing Kooland Medical Devices Co ltd. Дата публикации: 2022-05-06.

Probing apparatus and method

Номер патента: JP3028095B2. Автор: 敦 押本. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-04-04.

Probing apparatus and probe contact method

Номер патента: JP5904428B1. Автор: 義之 横山,桂 友瀧,秀明 長島,拓郎 田邨,横山　義之,智宏 吉用,正美 高取. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-13.

Probe apparatus and detection device

Номер патента: CN104102031A. Автор: 马兴. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-15.

Probe apparatus for magnetic force microscope

Номер патента: JP2003215020A. Автор: Masayuki Abe,真之 阿部. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2003-07-30.

Waveform probe apparatus and inspection method using it

Номер патента: JPH1090359A. Автор: Shinya Koyabu,真也 小藪. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1998-04-10.

Automatic material probing apparatus of bituminous shale retort furnace

Номер патента: CN201348528Y. Автор: 高健,张祥宇,韩放,鲍明福,曹福东,范平东. Владелец: FUSHUN MINING IND GROUP Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-18.

A kind of test probe apparatus

Номер патента: CN204649792U. Автор: 黄韬. Владелец: Nanjing Xie Chen Electronic Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-16.

Test probe apparatus

Номер патента: JPS6457180A. Автор: Kunio Matsumoto,Sanehiro Kudo,Yutaka Akiba,Akira Masaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-03-03.

Probing apparatus

Номер патента: JPS6370433A. Автор: Wataru Karasawa,唐沢　渉. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1988-03-30.

high sensitivity nondestructive detection method of array type flexible vortex flow probe and probe apparatus thereof

Номер патента: CN101413922A. Автор: 林俊明,王琪. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-04-22.

Probe apparatus for automatically lifting

Номер патента: CN204115748U. Автор: 洪金龙,仇增华. Владелец: Dongguan City Tian Qin Instrument Ltd. Дата публикации: 2015-01-21.

Automatic dna probing apparatus

Номер патента: JPH10239240A. Автор: Tomoharu Kajiyama,智晴 梶山,Yuji Miyahara,裕二 宮原. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-09-11.

Portable low-temp semiconductor probe apparatus

Номер патента: CN204347263U. Автор: 陈志强,李元景,刘以农,赵自然,刘耀红,张清军,李玉兰,朱维彬,毛绍基,何会绍,马秋峰,常建平. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-20.

Seismometer, and pit face front probing apparatus using the same

Номер патента: JP2017166881A. Автор: Hiroyuki Yamamoto,浩之 山本,Kazuhiro Onuma,和弘 大沼,Tadashi Nakatani,Teruo Sasaki,照夫 佐々木,山本　浩之,匡志 中谷. Владелец: Hazama Ando Corp. Дата публикации: 2017-09-21.

Vertical probing apparatus

Номер патента: TW200811443A. Автор: shi-chang Wu,Ming-Chu Chen,Hendra Sudin,xin-hong Lin. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2008-03-01.

High speed probing apparatus for semiconductor devices and probe stage for the same

Номер патента: TWM400658U. Автор: Yong-Yu Liu. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2011-03-21.

Test probe apparatus for multiple chips

Номер патента: TW201038949A. Автор: jia-tai Zhang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2010-11-01.

Positioning element used in probe apparatus

Номер патента: TW200712500A. Автор: xin-hong Lin,Jia-Xiang You. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2007-04-01.

High frequency probe apparatus

Номер патента: AU242542B2. Автор: . Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1960-11-15.

Microscope having multiple image-outputting devices and probing apparatus for integrated circuit devices using the same

Номер патента: TWM350714U. Автор: Choon-Leong Lou,Yong-Yu Liu. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2009-02-11.

Electron probe apparatus

Номер патента: CA785876A. Автор: Neuhaus Hermann. Владелец: APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 1968-05-21.

Medical imaging probe, apparatus and process

Номер патента: AU2019900842A0. Автор: . Владелец: EMvision Medical Devices Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Method of marking human 7th chromosome in metaphasic and interphasic cells

Номер патента: RU2425890C2. Автор: Юрий Борисович Юров,Иван Александрович Александров,Светлана Григорьевна Ворсанова,Илья Владимирович Соловьев,Иван Юрьевич Юров. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Московский научно-исследовательский институт педиатрии и детской хирургии" Министерства здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2011-08-10.

Probing appratus and probing method

Номер патента: MY170560A. Автор: Hung-I Lin,Chia-Tai Chang,Hsiu-Wei Lin,Shih-Shin Chen,Bo-Sian Lee,chun shao Huang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-08-19.

Cardioscan probe

Номер патента: CA1053362A. Автор: Reginald C. Eggleton. Владелец: INDIANAPOLIS CENTER FOR ADVANCED RESEARCH. Дата публикации: 1979-04-24.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.