垂直型探針以及具備其的探針卡
Номер патента: TW202202851A
Опубликовано: 16-01-2022
Автор(ы): 孫錫豪, 朱煐勛
Принадлежит: 南韓商Tse有限公司
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 16-01-2022
Автор(ы): 孫錫豪, 朱煐勛
Принадлежит: 南韓商Tse有限公司
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Multi-layer cantilever beam structure of probe card and method for manufacturing the same
Номер патента: KR101820267B1. Автор: 박상희,이태종,조용호,조병호. Владелец: (주) 마이크로프랜드. Дата публикации: 2018-01-18.