Probe card having redistributed wiring probe needle structure and probe card module using the same
Номер патента: US20090278561A1
Опубликовано: 12-11-2009
Автор(ы): Cha-Jea JO, Chang-seong Jeon, Hoon-Jung Kim, Nam-Seog Kim, Tae-Gyeong Chung
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 12-11-2009
Автор(ы): Cha-Jea JO, Chang-seong Jeon, Hoon-Jung Kim, Nam-Seog Kim, Tae-Gyeong Chung
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe card holding apparatus
Номер патента: US20120025858A1. Автор: Katsuhiko Namiki,Shigeaki Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-02.