• Главная
  • Probe card having redistributed wiring probe needle structure and probe card module using the same

Probe card having redistributed wiring probe needle structure and probe card module using the same

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Probe card holding apparatus

Номер патента: US20120025858A1. Автор: Katsuhiko Namiki,Shigeaki Naito. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-02.

Probe and probe card

Номер патента: US20130265074A1. Автор: Minoru Sato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-10.

Method of manufacturing semiconductor device, and probe card

Номер патента: US09829507B2. Автор: Takashi Saito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Probe card for inspecting light receiving device

Номер патента: US8120372B2. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-02-21.

Probe card for inspecting solid state imaging device

Номер патента: US20100013505A1. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-01-21.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: WO2008057897A2. Автор: Keith J. Breinlinger. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2008-05-15.

Method and apparatus for providing active compliance in a probe card assembly

Номер патента: EP2080030A2. Автор: Keith J. Breinlinger. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Probe card analysis system and method

Номер патента: US7782071B2. Автор: Eric Endres. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2010-08-24.

Probe card

Номер патента: US20240329085A1. Автор: Takeshi Todoroki. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Spring probe and probe card having spring probe

Номер патента: US20170082656A1. Автор: Yi-Lung Lee,Tsung-Yi Chen,Horng-Kuang Fan,Horng-Chuan Sun,Shih-Shin Chen,Ting-Hsin Kuo. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Probe card

Номер патента: US20130342235A1. Автор: Chung-Soo Han. Владелец: Sedicon Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-26.

Probe card

Номер патента: US12092660B2. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe card

Номер патента: US20240353445A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: MY140511A. Автор: Michael L Anderson,Michael A Casolo,Edward A Mccloud,Mostarshed Shahriar. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2009-12-31.

Vertical probe card and air cooled probe head system

Номер патента: EP1917534A2. Автор: Shahriar Mostarshed,Michael L. Anderson,Edward A. Mccloud,Michael A. Casolo. Владелец: QualiTau Inc. Дата публикации: 2008-05-07.

Probe card locking device of a semiconductor wafer probe station

Номер патента: US5644246A. Автор: Ung-Gi Park,Dong-Seck Lee,Wha-Young Kim. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1997-07-01.

Probe card

Номер патента: US20230107255A1. Автор: Masahiro Takahashi,Shuji Takahashi,Satoshi Shoji,Kazuya Soma,Naruhiko Nishiwaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Probe card and probing test method for semiconductor integrated circuit using the probe card

Номер патента: JP3135825B2. Автор: 朋美 桃原. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-02-19.

Probe card contact block and apparatus for electrical connection

Номер патента: EP1376140A3. Автор: Yoshiei Hasegawa. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2004-03-17.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: SG144939A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: WO2006068388A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2006-06-29.

Probe card

Номер патента: US20090144971A1. Автор: Kiyoshi Takekoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Probe card and manufacturing method

Номер патента: US09671431B2. Автор: Young Geun Park. Владелец: M2N Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Probe substrate and probe card having the same

Номер патента: US20100283495A1. Автор: Won Hee Yoo,Byeung Gyu Chang. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-11.

Probe card with angled probe and wafer testing method using the same

Номер патента: US11994555B2. Автор: Yuan-Chun Wu,Chang-Chun XU,Ni SHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection unit, probe card, inspection device, and control system for inspection device

Номер патента: US09910089B2. Автор: Kenichi Washio,Norie Yamaguchi. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Probing method, probe card for performing the method, and probing apparatus including the probe card

Номер патента: US09599663B2. Автор: Sang-Boo Kang,Ki-Sub LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Probe card device used in probing apparatus

Номер патента: US5825192A. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1998-10-20.

Probe card with segmented substrate

Номер патента: WO2006060467A3. Автор: Scott R Williams. Владелец: K & S Interconnect Inc. Дата публикации: 2006-07-20.

Probe card and method for repairing probe card

Номер патента: US20240110974A1. Автор: Yutaka Tomita. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Head socket for contacting probe card and wafer test apparatus

Номер патента: WO2009017314A3. Автор: Sung-Chul Kim,Chang-Hak Lee. Владелец: Chang-Hak Lee. Дата публикации: 2009-04-02.

Head socket for contacting probe card and wafer test apparatus

Номер патента: WO2009017314A2. Автор: Sung-Chul Kim,Chang-Hak Lee. Владелец: Chang-Hak Lee. Дата публикации: 2009-02-05.

Testing module and testing method using the same

Номер патента: US20240133942A1. Автор: Hao Chen,Mill-Jer Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Testing module and testing method using the same

Номер патента: US11906573B2. Автор: Hao Chen,Mill-Jer Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Probe card for testing semiconductor device, and semiconductor device test method

Номер патента: EP2023386A2. Автор: Shigeyuki Maruyama. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2009-02-11.

Vertical probe comprising slots and probe card for integrated circuit devices using the same

Номер патента: US7928749B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180299489A1. Автор: Takashi Kawano,Tetsuya Yoshioka,Mika Nasu,Shigeki MAKISE. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: SG11201907123PA. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-09-27.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: PH12019501890A1. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-10-21.

Improved probe card for high-frequency applications

Номер патента: WO2018149838A1. Автор: Riccardo Vettori,Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2018-08-23.

Probe card device and directivity probe thereof

Номер патента: US20210223291A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Probe Card For High-Frequency Applications

Номер патента: MY195983A. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-02-27.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: WO2019219638A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2019-11-21.

High-performance probe card in high-frequency

Номер патента: EP3794357A1. Автор: Riccardo Vettori. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-03-24.

Active probe card

Номер патента: US09506974B2. Автор: Hung-Wei Lai,Tsung-Jun Lee. Владелец: SITRONIX TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2016-11-29.

Method for removing accumulated solder from probe card probing features

Номер патента: US6121058A. Автор: Melissa K. Shell,Richard S. Yoshimoto. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2000-09-19.

Probe card and test apparatus having the probe card

Номер патента: US20210208183A1. Автор: Kyu Joong AN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-07-08.

Probe card and test apparatus having the probe card

Номер патента: US11193954B2. Автор: Kyu Joong AN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-12-07.

Probe card

Номер патента: WO2009025427A1. Автор: Yong Goo Lee,Maeng Youl Lee. Владелец: Gigalane Co.Ltd. Дата публикации: 2009-02-26.

Probe Card System for Testing an Integrated Circuit

Номер патента: US20190033343A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-01-31.

Probe card system, probe loader device and manufacturing method of the probe loader device

Номер патента: US10274516B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2019-04-30.

Probe card system, probe loader device and manufacturing method of the probe loader device

Номер патента: US20180321278A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US20230143340A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Probe head and probe card having same

Номер патента: WO2021215790A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: POINT ENGINEERING CO., LTD.. Дата публикации: 2021-10-28.

Probe card holder

Номер патента: MY197465A. Автор: NARUMI TAKAYUKI,KIKUCHI YOSHINORI,YASUTA TAKAO,Hirota Hideki. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2023-06-19.

Transposed via arrangement in probe card for automated test equipment

Номер патента: US20210190828A1. Автор: Brian Brecht. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Probe head and probe card

Номер патента: US11733267B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Method for detecting contact force of probe card

Номер патента: US20240361354A1. Автор: Yu-Hsien Tsai,Ming-Cheng Hsu,Wen-Tsai Su,Te-Kun Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Position Correction Method, Inspection Apparatus, and Probe Card

Номер патента: US20190277884A1. Автор: Shingo Ishida,Kunihiro Furuya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Probe card and test apparatus including probe card

Номер патента: US20240255545A1. Автор: Min Suk Kim,Seung il HONG. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Probe head and probe card

Номер патента: EP3715866A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Keng-Min Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Universal probe card and testing method

Номер патента: US20240310412A1. Автор: Chia-Wei Chen,Chung-Hsiung Ho,Ping-Jui Hsieh. Владелец: PanJit International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Probe card system, method of manufacturing probe card system, method of using probe card system

Номер патента: US20240027494A1. Автор: Ho-Ming Tong,Chao-Chun Lu. Владелец: Nd Hi Technologies Lab inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Probe card assemblies and probe pins including carbon nanotubes

Номер патента: EP2649463A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Wentworth Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-10-16.

Probe card

Номер патента: US20110163774A1. Автор: Toshifumi Minami,Hiroki Murotani. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-07-07.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US09880202B2. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2018-01-30.

Probe Card Assemblies And Probe Pins Including Carbon Nanotubes

Номер патента: US20140028342A1. Автор: Alexander Brandorff. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-01-30.

Probe card

Номер патента: US20240168059A1. Автор: Youngil Kim,Junoh Choi,Duhyun HWANG,Kyubeom KIM,Dongdae Kim,Jaehan Cho. Владелец: Top Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Probe card with a needle and a testing apparatus including the same

Номер патента: US20170153275A1. Автор: Sangboo Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-01.

Alignment chip for probe card, probe card and probe card repair method

Номер патента: US20240103071A1. Автор: Takashi Yoshida. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Probe structure and probe card device

Номер патента: US20220341969A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: EP1061381B1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2004-12-29.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: US20020171414A1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2002-11-21.

Method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data

Номер патента: EP1519200B1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2007-01-10.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: EP2859361A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-04-15.

Probe head for wafer-level burn-in test (WLBI) and probe card comprising said probe head

Номер патента: US20240183882A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microsoft SpA. Дата публикации: 2024-06-06.

Cantilever probe card and carrier thereof

Номер патента: US20230349948A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Probe card electrically connectable with a semiconductor wafer

Номер патента: US8149008B2. Автор: Hiroshi Nakayama,Yoshio Yamada,Takashi Akao,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-03.

Probe card device and matching probe thereof

Номер патента: US20200158756A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Kai-Chieh Hsieh,Hsien-yu Wang,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Probe card for an apparatus for testing electronic devices

Номер патента: US20150048856A1. Автор: Riccardo Vettori,Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2015-02-19.

Probe card device having a probe structure with a protrusion portion

Номер патента: US11965912B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xingr Technologies Zhejiang Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Method and apparatus for enhanced probe card architecture

Номер патента: US20090273358A1. Автор: Brian Arkin. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Cantilever probe card and carrier thereof

Номер патента: US11879912B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Probe needle, probe card, inspection device and method using the probe needle

Номер патента: JP2003227847A. Автор: Naoki Hayashida,直樹 林田,Toyohiro Tsunakawa,豊廣 綱川. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-08-15.

Probe card assembly for testing electronic devices

Номер патента: US09588139B2. Автор: Li Fan,Darcy K. Kelly-Greene,Gensaku Nagai,Jim Zhang,Edward J. Milovic,Mukesh K. Selvaraj. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Probe card

Номер патента: US20100141289A1. Автор: Jong-Hoon Kim,Kwang-soo Park,Jin-ho So,Hyun-Ae Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-06-10.

Bumped semiconductor device and method for probing the same

Номер патента: MY112466A. Автор: M Hubacher Eric. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2001-06-30.

Probe card and test equipment with the same

Номер патента: US09903888B2. Автор: HUNG-YI LIN,Chia-Tai Chang,Hsiu-Wei Lin. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Probe card assembly with a dielectric structure

Номер патента: WO2006119405A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2006-11-09.

Probe card having a wiring substrate

Номер патента: US09488677B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake,Mitsuhiro Aizawa. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Low-current probe card

Номер патента: US20030071644A1. Автор: Randy Schwindt. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2003-04-17.

Multilayer Substrate and Probe Card

Номер патента: US20080191720A1. Автор: Jun Mochizuki,Hisatomi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Probe card

Номер патента: US20240280610A1. Автор: Yuji Kawasaki,Tatsunori Shimizu,Tsutomu Shoji,Tomohiro Kinoshita. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Needle of probe card and method of manufacturing the same

Номер патента: WO2008123638A1. Автор: Joon Seok OH. Владелец: Im Co., Ltd.. Дата публикации: 2008-10-16.

Probe card and switch module

Номер патента: EP3745142A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Hsueh-Chih Wu,Ting-Ju WU,Keng-Min Su,Ko-Chun WU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Space transformer comprising an isolation resistor for a probe card, and method for manufacturing same

Номер патента: US20110254578A1. Автор: Min Soo Kim,Sung Man Yoon. Владелец: Imtech Inc Korea. Дата публикации: 2011-10-20.

Probe card and method for manufacturing probe card

Номер патента: US09459289B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: EP1849016A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: SV Probe Pte Ltd. Дата публикации: 2007-10-31.

Probe card assembly and method of attaching probes to the probe card assembly

Номер патента: WO2006088847A1. Автор: Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan. Владелец: Sv Probe Pte Ltd.. Дата публикации: 2006-08-24.

Probe card

Номер патента: US20130328585A1. Автор: Ken Hasegawa,Yoshihito Onuma,Yoshihito Kitabatake,Takayuki Kogawa. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Probe card

Номер патента: US20090219042A1. Автор: Hiroshi Nakayama,Shunsuke Sasaki. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-03.

Probe card

Номер патента: US09476913B2. Автор: Yuichi Matsuda,Michio Horiuchi,Ryo Fukasawa,Yasue Tokutake,Mitsuhiro Aizawa. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Probe card

Номер патента: US5412329A. Автор: Shinji Iino,Keiichi Yokota,Tamio Kubota. Владелец: Tokyo Electron Yamanashi Ltd. Дата публикации: 1995-05-02.

Method for testing special pattern and probe card defect in wafer testing

Номер патента: US9435847B2. Автор: Yen Lin,Shih-Hsien Chang,Kai-Wen Tu,Ching-Ren Cheng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Probe card and inspection method

Номер патента: CA3032264C. Автор: Hidenori Ando,Makoto Kikuta. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-20.

Probe card and inspection method

Номер патента: US20210373049A1. Автор: Hidenori Ando,Makoto Kikuta. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-02.

Probe card

Номер патента: US20230176091A1. Автор: Hiroki Yamashita. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Probe and probe card for integrated circiut devices using the same

Номер патента: TWI369498B. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Star Techn Inc. Дата публикации: 2012-08-01.

Probe card having separated upper and lower probe needle groups

Номер патента: US5926028A. Автор: Jun Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-07-20.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Probe card

Номер патента: US20230194571A1. Автор: Ming-Hsien Chen,Tzu-Chien Wang,Wen-Yuan Hsu,jia-lin Lu. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Probe positioning and bonding device and probe bonding method

Номер патента: US20060169678A1. Автор: Jung-Hoon Lee,Oug-Ki Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2006-08-03.

Probe card for testing film package

Номер патента: WO2010104337A3. Автор: Yi Bin Ihm,Nam Jung Her,Jun Soo Cho. Владелец: Pro-2000 Co. Ltd.. Дата публикации: 2010-12-23.

Probe card device and rectangular probe thereof

Номер патента: US20190317131A1. Автор: Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-17.

Probe Card

Номер патента: US20100052710A1. Автор: Cheng-Chin Ni. Владелец: King Yuan Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Probe card transporting apparatus and to-be-connected body moving mechanism

Номер патента: US20040164756A1. Автор: Masaru Suzuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-08-26.

Probe card

Номер патента: US20130321019A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Probe card

Номер патента: US20240044942A1. Автор: Hiroshi Yamanaka,Yuuki Nakamura,Masatoshi HASAKA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Tester and Test Apparatus Including the Same

Номер патента: US20120139572A1. Автор: Yang-Gi Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-06-07.

Beam assembly method for large area array multi-beam dut probe cards

Номер патента: WO2007098291A3. Автор: Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,John McGlory,Anh-Tai Nguyen. Владелец: Anh-Tai Nguyen. Дата публикации: 2008-01-17.

Beam assembly method for large area array multi-beam DUT probe cards

Номер патента: US20070251080A1. Автор: Horst Clauberg,Bahadir Tunaboylu,John McGlory,Anh-Tai Thai Nguyen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-01.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US8106395B2. Автор: Takashi Kobayashi,Shuntaro Machida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-01-31.

Probe card, method of manufacturing the probe card and alignment method

Номер патента: US20060132155A1. Автор: Kenji Yamada,Yoshirou Nakata. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-22.

Prober and probe method

Номер патента: US6140828A. Автор: Shinji Iino,Haruhiko Yoshioka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2000-10-31.

Assembling devices for probe card testing

Номер патента: WO2016077217A1. Автор: Roger Allen Sinsheimer. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2016-05-19.

Method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: WO2004083980A2. Автор: John T. Strom,Raymond H. Kraft. Владелец: Applied Precision, Llc. Дата публикации: 2004-09-30.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US20100073019A1. Автор: Raymond Kraft,John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2010-03-25.

System and method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: US20040227533A1. Автор: John Strom. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

System and method of mitigating effects of component deflection in a probe card analyzer

Номер патента: US20080238464A1. Автор: John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2008-10-02.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US20120150475A1. Автор: Raymond Kraft,John T. Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Apparatus for obtaining planarity measurements with respect to a probe card analysis system

Номер патента: US7579853B2. Автор: John T Strom. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-08-25.

Vertical probe card

Номер патента: US20190250190A1. Автор: Kai Liu,Yuanjun Shi. Владелец: Twinsolution Technology (suzhou) Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US8040147B2. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-10-18.

Probe card holding device and inspection device

Номер патента: US20210255217A1. Автор: Kazumi Yamagata,Tatsuo Kawashima. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Probe card cassette and probe card

Номер патента: US20110006798A1. Автор: Takashi Ohtori,Shiro Nozaki,Kenichi Tsunogaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-13.

Cantilever type probe card and method for production thereof

Номер патента: US20040070417A1. Автор: Yukihiro Isa. Владелец: UMC Japan Co Ltd. Дата публикации: 2004-04-15.

Probe card, and testing apparatus having the same

Номер патента: US20040046580A1. Автор: Yoshihiro Kashiba,Shigeki Maekawa,Yuetsu Watanabe,Megumi Takemoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-03-11.

Pogo pin and probe card, and method of manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09651577B2. Автор: Joon-Yeon Kim,Sung-ho Joo,Yu-Kyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-16.

Probe needle and probe module using the same

Номер патента: US09618536B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Chien-Chou Wu,Ming-Chi Chen,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

High frequency probe card for probing photoelectric device

Номер патента: US09535093B2. Автор: Chia-Tai Chang,Hui-Pin Yang. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Probe head and vertical probe card comprising the same

Номер патента: US20230393172A1. Автор: Tien-Chia Lee,Chia-Hsiang Yu,Wen-Tsung Sung. Владелец: Silicon Future Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: MY144280A. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: MIMOS BERHAD. Дата публикации: 2011-08-29.

Low-current pogo probe card

Номер патента: US20040027145A1. Автор: Paul Tervo,Clarence Cowan. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2004-02-12.

Low-current pogo probe card

Номер патента: US7323895B2. Автор: Clarence E. Cowan,Paul A. Tervo. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2008-01-29.

Probe card

Номер патента: US12025637B2. Автор: Chin-Tien Yang,Chia-Tai Chang,Chin-Yi Tsai,Chen-Chih Yu,Cheng-Nien Su. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Mems based probe card and a method of testing semiconductor ion sensor using the same

Номер патента: WO2009066979A3. Автор: Mohd Ismahadi Syono. Владелец: Mohd Ismahadi Syono. Дата публикации: 2009-07-23.

Probe Needle and Probe Module Using the Same

Номер патента: US20140352460A1. Автор: Tsung-Yi Chen,Chien-Chou Wu,Ming-Chi Chen,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Wafer testing probe card

Номер патента: US09823272B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Ming-Chi Chen,Tien-Chia LI,Dai-Jin YEH,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Probe card device and neck-like probe thereof

Номер патента: US20210223289A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: WO2007098293A2. Автор: David T. Beatson,Bahadir Tunaboylu,Habib Kilicaslan,David F. Mcdevitt. Владелец: Sv Probe Pte Ltd.. Дата публикации: 2007-08-30.

Cantilever probe card device and elastic probe thereof

Номер патента: US12092661B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Probe of probe card use, and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230258689A1. Автор: Kazumasa Okubo. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Cleaning methods for probe cards

Номер патента: US20200041552A1. Автор: Chih-Chiang LAI. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blade probe and blade probe card

Номер патента: WO2007098293A3. Автор: Bahadir Tunaboylu,David T Beatson,Habib Kilicaslan,David F Mcdevitt. Владелец: David F Mcdevitt. Дата публикации: 2008-01-10.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US9658249B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US20170059613A1. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

Probe card capable of transmitting high-frequency signals

Номер патента: US09658249B2. Автор: Wei-Cheng Ku,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Jig for manufacturing probe card, probe alignment system comprising same, and probe card manufactured thereby

Номер патента: US20230176092A1. Автор: Oug Ki Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-08.

Probe card for high voltage testing

Номер патента: US10168359B2. Автор: Chien-Hung Chen,Chin-Yi Tsai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-01-01.

Staggered probe card and conductive probe

Номер патента: US20210109129A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Hsiao-Kang Li,Ying-Ming Tiao. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Cantilever type probe card for high frequency signal transmission

Номер патента: US9835651B2. Автор: Hao Wei,Wei-Cheng Ku,Chih-Hao Ho,Jun-Liang Lai. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Vertical Probe Card

Номер патента: US20170227580A1. Автор: Ming Fang,Faheem Mohamedi. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-08-10.

Probe card for high-frequency testing

Номер патента: US20240168057A1. Автор: Wen-hao Cheng,Hung-Chun Huang,Yuan-Ting Tai. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Cantilever probe card and probe module thereof

Номер патента: US20230349953A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Probe card

Номер патента: US20240053383A1. Автор: Chao-Cheng Ting,Huai-Yi Wang,Li-Hong LU,Lung-Chuan TSAI. Владелец: Bao Hong Semi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Probe card

Номер патента: US11953521B2. Автор: Chao-Cheng Ting,Huai-Yi Wang,Li-Hong LU,Lung-Chuan TSAI. Владелец: Bao Hong Semi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Method for manufacturing a probe card

Номер патента: US20040155009A1. Автор: Yasuhiro Maeda,Koichi Wada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-08-12.

Electronic detection interface and electronic detection module using the same

Номер патента: US12148786B2. Автор: Hsien-Te Chen. Владелец: Ultra Display Technology Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Cryogenic probe card

Номер патента: EP4314847A1. Автор: Gregory Nolan NIELSON. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2024-02-07.

Cryogenic probe card

Номер патента: US20240118315A1. Автор: Gregory Nielson. Владелец: Nielson Scientific LLC. Дата публикации: 2024-04-11.

Cantilever probe card device and focusing probe thereof

Номер патента: US20230349951A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Probe card device and conductive probe thereof

Номер патента: US20200300893A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Kai-Chieh Hsieh,Wei-Jhih Su,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Cantilever probe card device and elastic probe thereof

Номер патента: US20230349952A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Cantilever probe card device and focusing probe thereof

Номер патента: US11913973B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Hao-Yen Cheng,Rong-Yang Lai. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Probe card with improved transient power delivery

Номер патента: US20070145989A1. Автор: Hua Zhu,Timothy Swettlen,Erich Chuh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2007-06-28.

Probe Card and Method of Manufacturing Thereof

Номер патента: US20240044941A1. Автор: Masashi Ota,Keita Yamaguchi,Kenya Suzuki,Ai Yanagihara. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Probe card device and transmission structure

Номер патента: US11933817B2. Автор: Pang-Chi Huang,Meng-Chieh Cheng,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Probe card device and transmission structure

Номер патента: US20230033013A1. Автор: Pang-Chi Huang,Meng-Chieh Cheng,Wen-Tsung Lee,Hsun-Tai Wei. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Apparatus to prevent damage to probe card

Номер патента: US20030122564A1. Автор: Phillip Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-03.

Method to prevent damage to probe card

Номер патента: US20060114011A1. Автор: Phillip Byrd. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-01.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: WO2013006768A3. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,Michael Palumbo. Владелец: CELADON SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-03-14.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140239996A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee,Michael Palumbo. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Probe card for device under test

Номер патента: US12044719B2. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Probe Card System Having A Dielectric Fluid Dispenser

Номер патента: US20190064216A1. Автор: Vladimir V. Genkin,Alexander N. Pronin,Joseph A. Peters. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2019-02-28.

Probe card apparatus having a heating element and process for using the same

Номер патента: US5124639A. Автор: Scott J. Carlin,Samuel Roberts, Jr.. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Method and apparatus for mounting, inspecting and adjusting probe card needles

Номер патента: US5890390A. Автор: Fred Throssel. Владелец: Silicon Systems Inc. Дата публикации: 1999-04-06.

Probe card partition scheme

Номер патента: US09513332B2. Автор: Sandeep Kumar Goel,Mill-Jer Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Guide plate for probe card and manufacturing method thereof, and probe card having same

Номер патента: US20200132756A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Thermal control of a probe card assembly

Номер патента: WO2017151231A1. Автор: Kevin A. Thompson,Isaac N. Silva. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2017-09-08.

Thermal control of a probe card assembly

Номер патента: WO2017151231A9. Автор: Kevin A. Thompson,Isaac N. Silva. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2017-10-19.

Mechanism and method for cleaning probe needles

Номер патента: US5968282A. Автор: Rikihito Yamasaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-10-19.

Probe card for device under test

Номер патента: US20230251298A1. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-08-10.

Probe head and probe card comprising same

Номер патента: US20230152350A1. Автор: Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN,Dong Hyeok Seo. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11860192B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Probe card and signal path switching module assembly

Номер патента: US20190120877A1. Автор: Hao Wei,Chia-Nan Chou,Yu-Hao Chen,Chien-Chiao CHEN,Chia-An YU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Prober and probe card cleaning method

Номер патента: US20210063443A1. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-03-04.

Prober and needle-tip polishing device for probe card

Номер патента: US20150204909A1. Автор: Shuji Akiyama,Kazuya Yano. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Method of contacting substrate with probe card

Номер патента: US09863977B2. Автор: Hiroshi Yamada,Jun Mochizuki,Kunihiro Furuya,Takanori Hyakudomi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Tester and test apparatus for testing semiconductor devices having the same

Номер патента: US09671430B2. Автор: Young-Hyun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-06.

Substrate structure and probe card having the same

Номер патента: WO2008105608A1. Автор: Chang-Soo Lee. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2008-09-04.

Planarizing probe card

Номер патента: WO2009075681A1. Автор: Raffi Garabedian,Ken Karklin. Владелец: TOUCHDOWN TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2009-06-18.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices with improved thermal management

Номер патента: WO2024132800A1. Автор: Stefano Felici,Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Composite microelectronic spring structure and method for making same

Номер патента: WO2002058137A2. Автор: Gary W. Grube,Gaetan L. Mathieu,Igor K. Khandros. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2002-07-25.

Probe head and probe card having same

Номер патента: US11852656B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Tae Hwan Song. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Probe card

Номер патента: US20050007134A1. Автор: Yoshinori Deguchi. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2005-01-13.

Probe card monitoring system and monitoring method thereof

Номер патента: US20240345134A1. Автор: Wei-Ting Chen,Shih-Ying Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US09696402B2. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Probe card attaching method

Номер патента: US09568501B2. Автор: Hiroshi Yamada,Hiroki Obi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: WO2024132831A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2024-06-27.

Fine pitch interface for probe card

Номер патента: US20140091825A1. Автор: Ka Ng Chui. Владелец: Corad Tech Inc. Дата публикации: 2014-04-03.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: SG11201909342TA. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2019-11-28.

Probe card assembly

Номер патента: US09797928B2. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Signal path switch and probe card having the signal path switch

Номер патента: US09442134B2. Автор: Wei Chen,Chun-Chung Huang,Wei-Cheng Ku,Hsin-Hsiang Liu,Jun-Liang Lai,Kuang-Chung Chou. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Mems probe card

Номер патента: US20230324437A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Probe card having power converter and test system including the same

Номер патента: US20220341967A1. Автор: Sehoon Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-27.

Probe card pad geometry in automated test equipment

Номер патента: WO2021133557A1. Автор: Brian Brecht,Steve Ledford. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2021-07-01.

Probe card pad geometry in automated test equipment

Номер патента: US20210190826A1. Автор: Brian Brecht,Steve Ledford. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Probe card structure

Номер патента: US20230025864A1. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: MY200160A. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-12-09.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20200057095A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-02-20.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US20220099703A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2022-03-31.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: PH12019502351A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-12-07.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: EP3615949A1. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2020-03-04.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US20240142497A1. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Probe card transporting apparatus and method

Номер патента: US20240183895A1. Автор: Ho Young Lee,Seung Chan Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Probe card and method of fabricating the same

Номер патента: WO2007049878A1. Автор: Oug-Ki Lee,Seong-Hoon Jeong,Kyu-Hyun Shin. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2007-05-03.

Probe card structure

Номер патента: US20160305982A1. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-10-20.

Probe card for testing wafers with fine pitch circuit

Номер патента: US09970961B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US09638716B2. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Probe card for testing wafers

Номер патента: US09423423B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

False detection method for loading probe card

Номер патента: US20200088788A1. Автор: Chia-Wei Wang,Wei-Jr YANG,Chien-Fang Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Probe card test apparatus

Номер патента: US20210364551A1. Автор: Jinwoo Jung,Taejun KIM,Joonsu JI,Serim LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Probe card

Номер патента: US20240264038A1. Автор: Sung Wook Cho,Yeon Su YEO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: US09952255B2. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Probe card

Номер патента: US09678110B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Test apparatus having a probe card and connector mechanism

Номер патента: US20140210501A1. Автор: William A. Funk,Bryan J. Root,John L. Dunklee. Владелец: Celadon Systems Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Structure and methodology for determining test pad integrity

Номер патента: US20200124638A1. Автор: Reinaldo Vega,Pablo Nieves,Kushagra Sinha. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-04-23.

Heavy-duty probe card transfer and loading device

Номер патента: US20240063041A1. Автор: Ki Tae Kim,Dae Han Kim,Sang Kyun Park,Jung Shik LEE,Woon Seap Jang,Dong Hyug Oh. Владелец: Gosung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

A wedge amplitude-modulation probe card and a main body thereof

Номер патента: US20240053384A1. Автор: Ming Zhou,Haichao Yu. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

An amplitude-modulating probe card and its probe and amplitude-modulating structure

Номер патента: US20230384348A1. Автор: Liangyu ZHAO,Ailin WANG. Владелец: Maxone Semiconductor Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Probe card device and testing equipment thereof

Номер патента: US11761984B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Tecat Technologies Suzhou Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Probe card alignment

Номер патента: US20190018044A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Test apparatuses including probe card for testing semiconductor devices and operation methods thereof

Номер патента: US20200386786A1. Автор: Gyuyeol KIM,Yukyum KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-12-10.

Probe card alignment

Номер патента: US20190391179A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Probe card alignment

Номер патента: US20190018043A1. Автор: Martin Eckert,Roland Dieterle,Siegfried TOMASCHKO. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US20150168528A1. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-06-18.

Probe-card multilayer wiring substrate and probe card

Номер патента: US20230408547A1. Автор: Satoshi Abe,Tetsuo Fujimoto,Yusuke Harada,Shinya Hori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Probe card for semiconductor IC test and method of manufacturing the same

Номер патента: US7768285B2. Автор: Minoru Sanada,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-08-03.

Probe card assembly

Номер патента: US20170356933A1. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Probe card assembly

Номер патента: US20160077129A1. Автор: David L. Gardell,David M. Audette,Dustin FREGEAU,Grant W. WAGNER,Peter W. NEFF,Frederick H. Roy, III. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Multilayer wiring substrate, method of manufacturing same, and probe card having same

Номер патента: US11852655B2. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Multilayer wiring substrate, method of manufacturing same, and probe card having same

Номер патента: US20210116478A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Micromachined silicon probe card for semiconductor dice and method of fabrication

Номер патента: US6072321A. Автор: Salman Akram,David R. Hembree,Alan G. Wood. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-06-06.

Probe card structure

Номер патента: US11879913B2. Автор: Choon Leong Lou. Владелец: Xinzhuo Technology Zhejiang Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Probe card

Номер патента: US20230160926A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Probe card and probe module thereof

Номер патента: US20210311095A1. Автор: Chung-Yen Huang,Chih-Hao Ho,Fuh-Chyun Tang,Chih-Wei Wen,Sheng-Feng Xu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-07.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices

Номер патента: US11782075B2. Автор: Riccardo Liberini. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-10.

Probe Card Support Apparatus for Automatic Test Equipment

Номер патента: US20200003803A1. Автор: Scott Nelson. Владелец: REID-ASHMAN MANUFACTURING Inc. Дата публикации: 2020-01-02.

Vertical Probe Card

Номер патента: US20200191828A1. Автор: Tien-Chien Cheng. Владелец: Tien-Chien Cheng. Дата публикации: 2020-06-18.

Probe head controlling mechanism for probe card assemblies

Номер патента: WO2010018463A2. Автор: Andrew W. Mcfarland,Brandon Liew,James M. Porter,Kevin Y. Yasumura. Владелец: Formfactor , Inc.. Дата публикации: 2010-02-18.

Probe card

Номер патента: US20230266365A1. Автор: Chikaomi Mori. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Positioner of probe card and probe head of probe card

Номер патента: US20150377926A1. Автор: Che-Wei Lin,Tsung-Yi Chen,Shang-Jung Hsieh,Chung-Tse Lee,Chia-Yuan KUO,Tien-Chia LI,Tzu-Yang Chen. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

고주파 소자 측정용 프로브 카드(Probe Card)

Номер патента: KR19990001662A. Автор: 김강보,강대석. Владелец: 한국전자 주식회사. Дата публикации: 1999-01-15.

Ceramic, probe guiding member, probe card, and socket for package inspection

Номер патента: US11940466B2. Автор: Wataru Yamagishi,Kazumasa Mori,Shunichi ETO. Владелец: Ferrotec Material Technologies Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: WO2017075599A1. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2017-05-04.

Magnetically shielded probe card

Номер патента: US20170122982A1. Автор: Ann Margaret Gabrys,Mark William POULTER. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-05-04.

Probe card testing device and testing device

Номер патента: US20200088764A1. Автор: Kai-Chieh Hsieh,Wen-Tsung Lee. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Probe card stiffener with decoupling

Номер патента: US20120146679A1. Автор: Eric D. Hobbs,Kevin S. Chang. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Micro contact probe for probe card coated with carbon nano tube and febrication method thereof

Номер патента: KR101097217B1. Автор: 김정엽,한창수,이학주. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2011-12-22.

Semiconductor chip and method of fabricating the same

Номер патента: US20230178484A1. Автор: Donghwa LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-08.

Semiconductor chip and method of fabricating the same

Номер патента: EP4191334A3. Автор: Donghwa LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-06.

Probe card for testing film package

Номер патента: KR101003078B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2010-12-21.

Probe card and wafer testing assembly thereof

Номер патента: US20230065896A1. Автор: Yi-Chien Tsai,Yu-Shan Hu,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Active non-contact probe card

Номер патента: US20110050262A1. Автор: Ming-Kun Chen,Yi-Lung Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2011-03-03.

Probe card device and circuit protection assembly thereof

Номер патента: US20230360874A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

PROBE CARD, THERMAL INSULATION COVER ASSEMBLY FOR PROBE CARD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20170010306A1. Автор: NA Young-Mi,KIM Min-Gu. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-12.

Probe card

Номер патента: US09410987B2. Автор: Goro Nakatani,Masahiro Sakuragi,Koichi Niino. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Probe Card and Method for Performing an Unclamped Inductive Switching Test

Номер патента: US20160041220A1. Автор: Michael Leutschacher,Norbert Rieser. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2016-02-11.

Probe card device and rectangular probe

Номер патента: US20190227101A1. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-25.

Probe card device and rectangular probe

Номер патента: US10670630B2. Автор: Yen-Chen Chen,Wei-Jhih Su,Chih-Peng HSIEH. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

Test device and test method implementing the same

Номер патента: US20240310439A1. Автор: Jaewoong Choi,Gyuyeol KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Circuit board and smart card module and smart card utilizing the same

Номер патента: US10032708B2. Автор: Rong Zhang,Dominic John WARD,Yi Qi ZHANG. Владелец: Johnson Electric SA. Дата публикации: 2018-07-24.

Probe card module

Номер патента: US11156639B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2021-10-26.

Probe card module

Номер патента: US20210223290A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Method of manufacturing space transformer for probe card

Номер патента: US09442135B2. Автор: Kuan-Chun Chou,Hui-Pin Yang,Huo-Kang HSU,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Probe card, and supporting structure and probe structure thereof

Номер патента: US20240319230A1. Автор: Yuan-Ting Tai,Hung-Chan Huang. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Active probe card for high resolution/low noise wafer level testing

Номер патента: US4780670A. Автор: Robert S. Cherry. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

High temperature probe card

Номер патента: US20030146770A1. Автор: Ivan Ivanov. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2003-08-07.

Microelectronic contact structure, and method of making same.

Номер патента: US20010002340A1. Автор: Gary Grube,Benjamin Eldridge,Igor Khandros,Gaetan Mathieu. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2001-05-31.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: WO2022112479A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2022-06-02.

Image sensor testing probe card

Номер патента: US09494617B2. Автор: Wei-Feng Lin,Wen-Jen Ho,Yi-Chang Hsieh,Shih-Duen Lin,Chih-Pin Jen. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Vertical probe card having different probes

Номер патента: US20230314477A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Modular vertical probe card

Номер патента: US20230314481A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20220170961A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US11874313B2. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: EP4252011A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2023-10-04.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US12108543B2. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US20040035706A1. Автор: Yeong-Her Wang,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. Lee,S. Cheng. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2004-02-26.

Method for manufacturing probes of a probe card

Номер патента: US7005054B2. Автор: Yeong-Her Wang,S. J. Cheng,An-Hong Liu,Yuan-Ping Tseng,Y. J. Lee. Владелец: ChipMOS Technologies Bermuda Ltd. Дата публикации: 2006-02-28.

Probe card and method for testing magnetic sensors

Номер патента: US09606144B2. Автор: Lianjun Liu,Phillip MATHER. Владелец: Everspin Technologies Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Probe card

Номер патента: US20180267084A1. Автор: Wei-Cheng Chen,Chen-Yueh Kung,Wen-Yuan Chang. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2018-09-20.

Probe card for a testing apparatus of electronic devices and corresponding space transformer

Номер патента: WO2023227575A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Probe card and method of manufacturing semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US20110281380A1. Автор: Akio Hasebe,Yasunori Narizuka,Etsuko Takane. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Probe card

Номер патента: US20160178668A1. Автор: Yong Seok Choi,Dae Hyeong Lee,Doo Yun Chung. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-23.

Probe card

Номер патента: US09759745B2. Автор: Yung-Hsin Kuo,Po-Yi Huang,Yuan-Li Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Probe card with reconfigurable circuitry

Номер патента: CA1270069A. Автор: Lloyd A. Walls,Edward S. Hoyt,Timothy A. Horel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1990-06-05.

Method and apparatus for inspecting integrated circuit probe cards

Номер патента: US4918374A. Автор: Donald B. Snow,Ronald C. Seubert,John P. Stewart. Владелец: Applied Precision Inc. Дата публикации: 1990-04-17.

Probe card

Номер патента: US20020113608A1. Автор: Andy Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-22.

Probe card fixture

Номер патента: US4935694A. Автор: Glenn R. Clarridge. Владелец: Electro Scientific Industries Inc. Дата публикации: 1990-06-19.

Large probe card for testing electronic devices and related manufacturing method

Номер патента: US20240012028A1. Автор: Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-11.

Probe card and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240118316A1. Автор: Che-Wei Lin,Chin-Yi Lin,Ting-Ju WU,Chien-Kai Hung. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Guide plate for probe card

Номер патента: US09459287B2. Автор: Akinori Shiraishi,Teppei KIMURA,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Area array (flip chip) probe card

Номер патента: US6130546A. Автор: Sayed Kamallodin Azizi. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2000-10-10.

Vertical probe card device and fence-like probe thereof

Номер патента: US20230314480A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Vertical probe card and fence-like probe thereof

Номер патента: US20230314478A1. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Probe card testing device

Номер патента: US11808787B2. Автор: Ra-Min Tain,Tzyy-Jang Tseng,John Hon-Shing Lau,Kuo Ching Tien. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Vertical probe card and fence-like probe thereof

Номер патента: US11988686B2. Автор: Chao-Hui Tseng,Wei-Jhih Su,Mei-Hui Chen,Hao-Yen Cheng. Владелец: Chunghwa Precision Test Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Probe card and wafer testing assembly thereof

Номер патента: US12099078B2. Автор: Yi-Chien Tsai,Yu-Shan Hu,Yu-Wen Chou,Huo-Kang HSU. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Probe card for simultaneously testing multiple dies

Номер патента: US09594096B2. Автор: You-Hua Chou,Yi-Jen LAI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Testing head with vertical probes for a probe card and corresponding method of assembly

Номер патента: EP4261547A1. Автор: Giuseppe Amelio. Владелец: Microtest SpA. Дата публикации: 2023-10-18.

Probe card with improved temperature control

Номер патента: WO2023227538A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-11-30.

Testing probe card for integrated circuit

Номер патента: TWI620936B. Автор: 謝開傑,李文聰,林承銳. Владелец: 中華精測科技股份有限公司. Дата публикации: 2018-04-11.

Testing substrate and manufacturing method thereof and probe card

Номер патента: US20230217600A1. Автор: Chiao-Pei Chen,Chun-Hsiung Chou. Владелец: Hermes Testing Solutions Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Manufacturing method of a multi-layer for a probe card

Номер патента: US12019111B2. Автор: Roberto Crippa,Raffaele VALLAURI,Flavio Maggioni. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-06-25.

Probe card

Номер патента: US11959941B2. Автор: Min-Chieh Chou,Tune-Hune Kao,Meng-Chi Huang,Yue-Zhen Huang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-16.

Probe Card

Номер патента: US20120146677A1. Автор: Duk Kyu Lee,Chang Min Im,Sang Bum Sim,Yun Kee Cho. Владелец: SDA Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Methods for measuring dimensions of minute structures and apparatus for performing the same

Номер патента: US20040183015A1. Автор: Seok-Hwan Oh,Joon-Sung Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-09-23.

Probe card

Номер патента: US20190212368A1. Автор: Kuan-Chun Chou,Horng-Kuang Fan,Yu-Chen Hsu,Hsien-Ta HSU,Ching-Hua Wu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Verticle probe card for attachment within a central corridor of a magnetic field generator

Номер патента: US6556031B2. Автор: James M. Forbis,Dennis J. Cahalan. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card

Номер патента: US12078659B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Device of contacting substrate with probe card and substrate inspection apparatus having same

Номер патента: US09915698B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Probe card and test device including the same

Номер патента: US20200072870A1. Автор: Tae Yong Jang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US20170082657A1. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-03-23.

Guide plate for a probe card and probe card provided with same

Номер патента: US09841438B2. Автор: Teppei KIMURA,Liwen FAN. Владелец: Japan Electronic Materials Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Probe card analysis system and method

Номер патента: US09638782B2. Автор: Eric Endres,John T. Strom,Christopher Mclaughlin,Christian Kuwasaki. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Increasing thermal isolation of a probe card assembly

Номер патента: US20090230981A1. Автор: Kevin Y. Yasumura,Timothy Blomgren,Jacob C. Chang,Michael W. Huebner. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2009-09-17.

Probe card management system and probe card management method

Номер патента: US20200191830A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Thin film probe card

Номер патента: US20070108999A1. Автор: Chih-Yuan Wang,Heng-Yi Chang. Владелец: Wintek Corp. Дата публикации: 2007-05-17.

Probe card and measuring method for semiconductor wafers

Номер патента: US20070241765A1. Автор: Yosuke Kawamata. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2007-10-18.

Plunger and chip-testing module applying the same

Номер патента: US20070200583A1. Автор: Hsing-Chou Hsu,Hsin-Kuan Wu. Владелец: Via Technologies Inc. Дата публикации: 2007-08-30.

Probe card method

Номер патента: US7352175B2. Автор: Hisanori Murata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-04-01.

Oscillation device and measurement apparatus using the same

Номер патента: US9810808B2. Автор: Yoshinori Tateishi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Oscillation device and measurement apparatus using the same

Номер патента: US20170108613A1. Автор: Yoshinori Tateishi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-20.

Sensor-enabled geosynthetic material and method of making and using the same

Номер патента: EP2697621A1. Автор: Brian Grady,Kianoosh Hatami. Владелец: University of Oklahoma . Дата публикации: 2014-02-19.

Probe card including wireless interface and test system including the same

Номер патента: US09835681B2. Автор: Kyu-Jeong Lee,Yo-Jong Kim,Kyoung-hoon JEON,Il-kyo JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-05.

Authentication structure and authentication method using the same

Номер патента: US20180059018A1. Автор: Jaesoong LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Receiver, receiver for positioning system using the same, and positioning method

Номер патента: US20080075151A1. Автор: Masayuki Miyazaki,Kenichi Mizugaki,Ryosuke Fujiwara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-03-27.

Probe card needle cleaning frequency optimization

Номер патента: WO2004070405A8. Автор: Beng Ghee Tan. Владелец: Systems On Silicon Mfg Co Pte. Дата публикации: 2005-10-13.

Probe sheet with contact tip on stacked multi-layer and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240230717A1. Автор: Tae Kyun Kim,Yong Ho Cho. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for making a probe card

Номер патента: US20080209719A1. Автор: Wen-Yu Lu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-04.

Apparatus and method for inspecting pins on a probe card

Номер патента: US09417308B2. Автор: Oscar Beijert. Владелец: Stichting Continuiteit Beijert Engineering. Дата публикации: 2016-08-16.

Assembly structure for making integrated circuit chip probe cards

Номер патента: US6204674B1. Автор: January Kister,Krzysztof Dabrowiecki. Владелец: Probe Technology Corp. Дата публикации: 2001-03-20.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: US7930219B2. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Method and system for designing a probe card

Номер патента: WO2003025601A1. Автор: Benjamin N. Eldridge,Stefan Graef,Mark W. Brandemuehl,Yves Parent. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2003-03-27.

Method for producing a probe card

Номер патента: US20240110948A1. Автор: Kun-Hsien LIN,Edgar Hepp,Wabe Koelmans,Patrik SCHUERCH. Владелец: Exaddon AG. Дата публикации: 2024-04-04.

Method for producing a probe card

Номер патента: EP4295163A1. Автор: Kun-Hsien LIN,Edgar Hepp,Wabe Koelmans,Patrik SCHUERCH. Владелец: Exaddon AG. Дата публикации: 2023-12-27.

Chip test apparatus and probe card circuit

Номер патента: US20090224779A1. Автор: Chia-Chi Hsu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2009-09-10.

Radio frequency coil structure and assembly, and MRI apparatus using the same

Номер патента: US09933500B2. Автор: Seong Ho Yoon,Seul Gi PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-03.

Circuit Board and Smart Card Module and Smart Card Utilizing the Same

Номер патента: US20170221807A1. Автор: Rong Zhang,Dominic John WARD,Yi Qi ZHANG. Владелец: Johnson Electric SA. Дата публикации: 2017-08-03.

Replaceable frame assembly for accommodating expansion card module and electronic device having the same

Номер патента: US11953956B2. Автор: Shih-Tai Hung. Владелец: Lanner Electronics Inc. Дата публикации: 2024-04-09.

Method of diagnosing the lifetime of a structure and system for diagnosing the same

Номер патента: EP3945316A2. Автор: Sung Soo Kim,Young Suk Kim. Владелец: Mactec Corp. Дата публикации: 2022-02-02.

Method of diagnosing the lifetime of a structure and system for diagnosing the same

Номер патента: EP3945316A3. Автор: Sung Soo Kim,Young Suk Kim. Владелец: Mactec Corp. Дата публикации: 2022-04-13.

Method of diagnosing the lifetime of structures and system for diagnosing the same

Номер патента: US20220034831A1. Автор: Sung Soo Kim,Young Suk Kim. Владелец: Mactec Corp. Дата публикации: 2022-02-03.

Method of selecting route and terminal using the same

Номер патента: WO2008133378A1. Автор: Kyung So Yun. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2008-11-06.

Oxide thin film for a bolometer, process for producing the same, and infrared sensor using the same

Номер патента: US20030025079A1. Автор: Tsutomu Yoshitake,Hideto Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-02-06.

Strain sensor fixing device and torque sensor using the same

Номер патента: US12111217B2. Автор: Takayuki Endo,Kazuhiro Takada,Takatoshi Inoguchi. Владелец: Nidec Copal Electronics Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Particle-drop structures and methods for making and using the same

Номер патента: EP4455301A2. Автор: Dino Di Carlo,Chueh-Yu Wu. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2024-10-30.

Address/latitude and longitude converting device and geographical information system using the same

Номер патента: US09846715B2. Автор: Kosuke Yoshihara,Ko Shimazawa,Taiyo Kato. Владелец: Wingarc1st Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Method of diagnosing the lifetime of a structure and system for diagnosing the same

Номер патента: CA3186233A1. Автор: Sung Soo Kim,Young Suk Kim. Владелец: Mactec Corp. Дата публикации: 2022-02-03.

Signal line connection structure and apparatus using the same

Номер патента: US09484299B2. Автор: Sheng Wang,Xin Li,Lei Tang. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Backlight module with MJT LED and backlight unit including the same

Номер патента: US09853189B2. Автор: Hyuck Jung Choi,Young Jun Song,Il Kyung SUH. Владелец: Seoul Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Multilayer thin-film structure and phase shifting device using the same

Номер патента: US20210405498A1. Автор: Jeongyub Lee,Yongsung Kim,Jaekwan Kim,Changseung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-12-30.

Conductive structure and method for manufacturing same

Номер патента: US09766652B2. Автор: Ki-Hwan Kim,Sujin Kim,Song Ho Jang,Jin Hyong Lim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Flash memory structure and method of making the same

Номер патента: US9437600B2. Автор: Cheng-Yuan Hsu,Tzung-Hua Ying. Владелец: Powerchip Technology Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Flash memory structure and method of making the same

Номер патента: US20160071854A1. Автор: Cheng-Yuan Hsu,Tzung-Hua Ying. Владелец: Powerchip Technology Corp. Дата публикации: 2016-03-10.

Fluorescent substance and process for producing the same

Номер патента: US20120025138A1. Автор: Hideo Tamamura. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2012-02-02.

Flash memory structure and method of making the same

Номер патента: US09437600B2. Автор: Cheng-Yuan Hsu,Tzung-Hua Ying. Владелец: Powerchip Technology Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Conductive structure and method for manufacturing same

Номер патента: US20150223326A1. Автор: Ki-Hwan Kim,Sujin Kim,Jin Hyong Lim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Dual-backplane structure and electronic device using same

Номер патента: US11404810B2. Автор: Yuan Xue,Yaxu CHEN. Владелец: Celestica Technology Consultancy Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-02.

Dual-backplane structure and electronic device using same

Номер патента: US20210344131A1. Автор: Yuan Xue,Yaxu CHEN. Владелец: Celestica Technology Consultancy Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Conductive structure and method for manufacturing same

Номер патента: US09462682B2. Автор: Ki-Hwan Kim,Sujin Kim,Jin Hyong Lim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Button structure, manufacturing method thereof, and game controller using the same

Номер патента: US20170262067A1. Автор: Tsu-Hui Yu,Shu-An Huang. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-09-14.

Antenna stack structure and display device including the same

Номер патента: US12126072B2. Автор: Won Hee Lee,Yun Seok Oh,Seung Hyun Shin. Владелец: Dongwoo Fine Chem Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Clamping structure and carrying mechanism and optical disc drive using the same

Номер патента: US20070061822A1. Автор: Xiao-Ning Sun. Владелец: BenQ Corp. Дата публикации: 2007-03-15.

Fixing structure and backlight module using the same

Номер патента: US20080089076A1. Автор: Kuo-Tung Huang,Meng-Jia Hsiao. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2008-04-17.

Display device with height adjustment structure and terminal having the same

Номер патента: US09715249B2. Автор: Beom Han Kim,Sung Gi Kim,You Sik Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-25.

Camera module using small reflector, and optical device for augmented reality using same

Номер патента: US12055693B2. Автор: Jeong Hun Ha. Владелец: LetinAR Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Noise suppression apparatus and fan module using the same

Номер патента: US10408230B2. Автор: Yi-Hsieh Chiou,Po-Cheng Chen,Jing-Lung Chen. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2019-09-10.

Noise suppression apparatus and fan module using the same

Номер патента: US20170227019A1. Автор: Yi-Hsieh Chiou,Po-Cheng Chen,Jing-Lung Chen. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2017-08-10.

Expansion card fixing structure and electronic device using the same

Номер патента: US20240147647A1. Автор: Jia-Feng Lin. Владелец: Fulian Precision Electronics Tianjin Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Key derivation for a module using an embedded universal integrated circuit card

Номер патента: US11736283B2. Автор: John A. Nix. Владелец: Network 1 Technologies Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Turntable structure and electronic product protective case using same

Номер патента: US20240324744A1. Автор: Yuying Lin. Владелец: Guangzhou Roiskin Technology Co. Дата публикации: 2024-10-03.

Key derivation for a module using an embedded universal integrated circuit card

Номер патента: US09742562B2. Автор: John A. Nix. Владелец: M2M and IoT Technologies LLC. Дата публикации: 2017-08-22.

Modulator using a micro-ring resonator

Номер патента: EP3414619A1. Автор: Ofer Amrani,Shlomo Ruschin,Yossef EHRLICHMAN. Владелец: Ramot at Tel Aviv University Ltd. Дата публикации: 2018-12-19.

Fixing device and backlight module using the fixing device

Номер патента: US20130155652A1. Автор: Tian Zhang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-20.

Modulator using a micro-ring resonator

Номер патента: US20200233151A1. Автор: Ofer Amrani,Shlomo Ruschin,Yossef EHRLICHMAN. Владелец: Ramot at Tel Aviv University Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.

Memory controller and memory system including the same

Номер патента: US20210208967A1. Автор: Kijun Lee,Sanguhn CHA,Sunghye CHO,Myungkyu Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-07-08.

High-speed optical modulation using a quantum-well modulator

Номер патента: WO2010107852A3. Автор: Christopher R. Doerr. Владелец: Alcatel-Lucent USA Inc.. Дата публикации: 2011-01-13.

High-speed optical modulation using a quantum-well modulator

Номер патента: EP2409428A2. Автор: Christopher R. Doerr. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2012-01-25.

High-speed optical modulation using a quantum-well modulator

Номер патента: SG174460A1. Автор: Christopher R Doerr. Владелец: ALCATEL LUCENT. Дата публикации: 2011-10-28.

High-speed optical modulation using a quantum-well modulator

Номер патента: WO2010107852A2. Автор: Christopher R. Doerr. Владелец: Alcatel-Lucent USA Inc.. Дата публикации: 2010-09-23.

Composite heat dissipating structure and electronic device using the same

Номер патента: US20210092870A1. Автор: Yu-Wei Chang. Владелец: Chiun Mai Communication Systems Inc. Дата публикации: 2021-03-25.

LED driving apparatus, LED driving method and display apparatus using the same

Номер патента: US09390657B2. Автор: Jeong-il Kang,Tae-Sung Kim,Yong-Joo Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-07-12.

Circuit Board and Smart Card Module and Smart Card Utilizing the Same

Номер патента: US20170221806A1. Автор: Zhang Rong,Ward Dominic John,ZHANG Yi Qi. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Light-emitting diode chip and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230106020A1. Автор: Wei-Chen Chien,Li-Wei Hung,Hsin-Liang Yeh,Zhen-Jin WANG. Владелец: EPILEDS TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2023-04-06.

Antenna package structure and antenna packaging method

Номер патента: US20190288373A1. Автор: Yenheng CHEN,Chengchung LIN,Chengtar WU,Jangshen LIN. Владелец: SJ Semiconductor Jiangyin Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Semiconductor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20180286983A1. Автор: Fei Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Battery housing structure and button battery

Номер патента: EP4243176A1. Автор: Zhifeng CAO,Jiangbo HU. Владелец: Shenzhen Hynetech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Light bar and backlight module using same

Номер патента: US09588274B2. Автор: Gege Zhou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Light guide plate and side-edge backlight module using same

Номер патента: US09612382B2. Автор: Hu He,Chechang Hu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Light guide plate and backlight module using the same

Номер патента: US09329328B2. Автор: Han-Wen Tsai,Chao-Hung Weng,Shang-Wei Chen,Ming-Feng Kuo,Ming-dah Liu,Wen-Hsin Lo,Min-Yi Hsu. Владелец: Coretronic Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Prism sheet and backlight module using the same

Номер патента: US20090129094A1. Автор: Tung-Ming Hsu,Shao-Han Chang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-21.

Holographic storage layer, holographic disk using the same, and method for manufacturing the same

Номер патента: US09916853B2. Автор: Ching-Cherng Sun,Yeh-Wei Yu. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2018-03-13.

Holographic storage layer, holographic disk using the same, and method for manufacturing the same

Номер патента: US09895853B2. Автор: Ching-Cherng Sun,Yeh-Wei Yu. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2018-02-20.

Supporting structure and docking station using the same

Номер патента: US09541956B2. Автор: Chang-Cheng Lin,Ming-Jen Chen,Kuo-Kuang Liu,Yu-Chen Chu. Владелец: Universal Scientific Industrial Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Lens device and light source module using the same

Номер патента: US09441797B2. Автор: Kuang-Neng Yang,Chih-Min Huang,Kun-Hua Wu. Владелец: Lextar Electronics Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Lamp-fixing device and backlight module using the same

Номер патента: US20070171636A1. Автор: Shao-Han Chang,Li-Zhou Shi,Hua-Dong Zou,Yu-Ya Liu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-26.

Light guiding plate, backlight module and display device using the same

Номер патента: US20140185322A1. Автор: Ming Yi Liao. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2014-07-03.

Endoscope simulation apparatus and system and method using the same to perform simulation

Номер патента: US20100273134A1. Автор: Weijian Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-10-28.

Polyimide-based polymer film, substrate for display device, and optical device using the same

Номер патента: US12065543B2. Автор: Kyunghwan Kim,Chan Hyo Park. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Keyboard structure and electronic device using the same

Номер патента: US20210191474A1. Автор: Chih-Hao Lu. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Hollow backplane and backlight module using same

Номер патента: US20140071708A1. Автор: Yuchun Hsiao,Zexin WU. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Light adjusting sheet and backlight module using the same

Номер патента: US09933133B2. Автор: Chao-Hung Weng,Ming-dah Liu,Chun-Yu Liao,Min-Yi Hsu. Владелец: Coretronic Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Light-guiding pillar and vehicle lamp using the same

Номер патента: US09903553B2. Автор: Shih-Kai Lin,Yu-Min Lin,Mong-Ea Lin. Владелец: Lextar Electronics Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Lens array and optical module including the same

Номер патента: US09488790B2. Автор: Kazutaka Shibuya,Shimpei Morioka. Владелец: Enplas Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Information processing apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US09417861B2. Автор: Hiroshi Fuse. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-16.

Light bar and light emitting module using the same

Номер патента: US09383085B2. Автор: LIANG Fang,Ren-Yi SUN. Владелец: Au Optronics Suzhou Corp Ltd. Дата публикации: 2016-07-05.

Optical plate and backlight module using the same

Номер патента: US20080259636A1. Автор: Shao-Han Chang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-23.

Method for event processing using hierarchical structures and event processing system thereof

Номер патента: US9384069B2. Автор: Sang Yoon Lee,Sang Woo Lee,Yoo Jin Chang,Jae Man Kim. Владелец: LG CNS Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-05.

Conductive line structure and sensing device using the same

Номер патента: US09921699B2. Автор: Chun-Ting Liu,Su-Tsai Lu,Sheng-feng Chung. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-03-20.

Waveguide structure and preparation method

Номер патента: US09897754B2. Автор: Weishi Li,Libing Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Transparent projection screen with fresnel structure and projection system using the same

Номер патента: US20240272539A1. Автор: Jun Ma,Jiuzhi Xue. Владелец: Td Electrooptic Films Tdef Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

INTERFACE CARD MODULE AND ELECTRONIC DEVICE HAVING THE SAME

Номер патента: US20140049901A1. Автор: Zhu Chong-Xing. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-20.

Semiconductor packages and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20240055342A1. Автор: Kwangok Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-15.

Integrated circuit device having redistribution pattern

Номер патента: US20210066231A1. Автор: Jungmin Ko,Seungduk Baek,Yunrae Cho,Jinyeol Yang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

Transistor with pi-gate structure and method for producing the same

Номер патента: US20020063293A1. Автор: Yeon-Sik Chae,Jin-Koo Rhee,Hyun-Sik Park,Dan An. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-30.

Nonvolatile memory cells having lateral coupling structure and memory cell arrays using the same

Номер патента: US09627394B1. Автор: Sung Kun Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Semiconductor light emitting diode package and lighting device using the same

Номер патента: US09537055B2. Автор: Ho Young Song,Kyung Seok Oh,Myoung Bo Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-03.

Fan-out semiconductor package having redistribution line structure

Номер патента: US20200043840A1. Автор: Jong-Youn Kim,Seok-hyun Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-02-06.

Fan-out semiconductor package having redistribution line structure

Номер патента: US20210090986A1. Автор: Jong-Youn Kim,Seok-hyun Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-25.

Package substrate and chip package structure using the same

Номер патента: US12046543B2. Автор: Han-Chieh Hsieh,Cheng-chen HUANG,Chao-Min LAI,Nan-Chin Chuang. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Clip structure and semiconductor package using the same

Номер патента: US20190019746A1. Автор: Yun hwa CHOI,Armand Vincent Corazo JEREZA. Владелец: JMJ Korea Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Interconnect structure and method for forming the same

Номер патента: US09892921B2. Автор: QIYANG He,Chenglong Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Semiconductor device and method of forming the same

Номер патента: US09431406B1. Автор: Yao-Fu Chan,Ting-Feng Liao. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Self-forming barrier structure and semiconductor device having the same

Номер патента: US20140151884A1. Автор: Wen-Hsi Lee,Chia-Yang Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-05.

Connector structure and method of forming same

Номер патента: US09646943B1. Автор: Chen-Shien Chen,Mirng-Ji Lii,Sheng-Yu Wu,Chita Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Semiconductor package and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240047324A1. Автор: Dongwook Kim,Hyeonjeong Hwang,Kyounglim SUK,Inhyung SONG,Sehoon JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-08.

Apparatus including a plurality of heads and a method of using the same

Номер патента: WO2024072525A1. Автор: Byung-Jin Choi,Anshuman Cherala. Владелец: Canon Nanotechnologies, Inc.. Дата публикации: 2024-04-04.

Capacitor structure and manufacturing method therefor, and memory

Номер патента: EP3975233A1. Автор: Wenli CHEN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20220130982A1. Автор: Yang Xu,Seung Hun Lee,Hyun Kwan YU. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-28.

Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20200328290A1. Автор: Yang Xu,Seung Hun Lee,Hyun Kwan YU. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-10-15.

Semiconductor light emitting device and method for producing the same

Номер патента: US20120032225A1. Автор: Yoshiki Inoue,Takahiko Sakamoto,Yasutaka Hamaguchi. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Buried word line structure and method of forming the same

Номер патента: US20140159140A1. Автор: Inho Park,Lars Heineck. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2014-06-12.

Active Device Array Substrate and Method for Fabricating the Same

Номер патента: US20090256164A1. Автор: Kuo-Lung Fang,Hsiang-Lin Lin,Han-Tu Lin. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2009-10-15.

Semiconductor device with single step height and method for fabricating the same

Номер патента: US20220122991A1. Автор: Yu-Ting Lin,Mao-Ying Wang,Lai-Cheng TIEN,Hui-Lin Chen. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Active device array substrate and method for fabricating the same

Номер патента: US7781776B2. Автор: Kuo-Lung Fang,Hsiang-Lin Lin,Han-Tu Lin. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2010-08-24.

Light-emitting device, manufacturing method thereof and display module using the same

Номер патента: US12107080B2. Автор: Min-Hsun Hsieh,Tzu-Hsiang Wang. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Semiconductor device with composite word line structure and method for fabricating the same

Номер патента: US20240365537A1. Автор: Chun-Chi Lai. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Номер патента: US09905676B2. Автор: Yang Xu,Jinbum Kim,Kang Hun MOON,Choeun LEE,Sujin JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-27.

Wiring structure and semiconductor device

Номер патента: US20190371733A1. Автор: Junichi Koike. Владелец: Material Concept Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20130115743A1. Автор: Huilong Zhu,Haizhou Yin,Zhijiong Luo. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2013-05-09.

Thin film transistor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20050101071A1. Автор: Cheng-Chi Wang. Владелец: Chi Mei Optoelectronics Corp. Дата публикации: 2005-05-12.

Thin film transistor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20040063255A1. Автор: Cheng-Chi Wang. Владелец: Chi Mei Optoelectronics Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Semiconductor fin structure and method of forming the same

Номер патента: US10056467B2. Автор: Chih-Kai Hsu,Jyh-Shyang Jenq,Shih-Hung Tsai,Li-Wei Feng. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-08-21.

Package structures and methods of forming the same

Номер патента: US20230307338A1. Автор: Shin-puu Jeng,Chia-Hsiang Lin,Chien-Tung Yu,Chi-Pu Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Nonvolatile memory device having STI structure and method of fabricating the same

Номер патента: US20020182806A1. Автор: Sun-Young Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-12-05.

LED chip with improved bonding strength and LED module using the LED chip

Номер патента: US10818830B2. Автор: Daewon Kim,Yelim Won. Владелец: Lumens Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Die structure and die connecting method

Номер патента: US20110254153A1. Автор: Chia-Hung Hsu,Ching-San Lin,Chin-Yung Chen. Владелец: Raydium Semiconductor Corp. Дата публикации: 2011-10-20.

Collet structure and semiconductor fabricating apparatus including the same

Номер патента: US12106996B2. Автор: Byeong Ho Lee,Jung Bum Woo,Tae Hwan LIM,Soo Hyuk KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Via structure and methods of forming the same

Номер патента: US12010933B2. Автор: Feng-Jia Shiu,Chern-Yow Hsu,Wei-Chieh Huang,Jieh-Jang Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Thermal interface material and method of making and using the same

Номер патента: US09803125B2. Автор: Natalie A. Merrill,David E. Steele,Andrew D. Delano. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Semiconductor package structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US11973036B2. Автор: Ting-Yang CHOU. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-04-30.

P-ohmic contact structure and photodetector using the same

Номер патента: US20220102572A1. Автор: Ying Gao,Ling Zhou,Jianping Zhang. Владелец: Bolb Inc. Дата публикации: 2022-03-31.

Connector and electronic device system using the same

Номер патента: US9899753B1. Автор: Chia-Chin Chiang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Antenna Spring Structure and Electronic Device Using the Same

Номер патента: US20130009827A1. Автор: Ding Lu. Владелец: Inventec Appliances Corp. Дата публикации: 2013-01-10.

Switch structure and electronic device using the same

Номер патента: US09728352B2. Автор: I-Cheng Chuang,Hung-Wen Lin,Yu-Jing Liao,Ying-Yen Cheng,Chih-Wei Tu. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Anode of lithium battery and lithium battery using the same

Номер патента: US20180323437A1. Автор: Wen-Zhen Li,hong-ying Fu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Coupled inductor structure in tlvr technology and multi-phase voltage regulator module using same

Номер патента: US20240266104A1. Автор: Mingzhun Zhang. Владелец: Shanghai Metapwr Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Grounding system, grounding component, and methods of manufacturing and using the same

Номер патента: US20240145183A1. Автор: Bruce Barney. Владелец: Nike Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Wall structure and lighting system using the same

Номер патента: US09800038B2. Автор: Si Chung Noh,Ha Young Jhun. Владелец: Feelux Lighting Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Battery cell and battery module using the same

Номер патента: US09484558B2. Автор: HyungJin HWANG,Seoung Mun Baek. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Composite membrane and moisture adjustment module using same

Номер патента: US09853305B2. Автор: William B. Johnson,Keiichi Yamakawa,Mahesh Murthy,Thomas Berta. Владелец: WL Gore and Associates GK. Дата публикации: 2017-12-26.

Locking structure and system using the same

Номер патента: US09837227B2. Автор: Cheng-Kuang Tseng,Yi-Tong WANG,Chen-Kang MA. Владелец: Ability Enterprise Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Antenna structure and electronic device using the same

Номер патента: US09711840B2. Автор: Feng-Yu Lin. Владелец: Sercomm Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Fuel cell electrode and fuel cell using the same

Номер патента: US20180323444A1. Автор: Wen-Zhen Li,hong-ying Fu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Chicane blanker assemblies for charged particle beam systems and methods of using the same

Номер патента: US09767984B2. Автор: N. William Parker,Charles Otis,Kevin Kagarice. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-09-19.

Wireless transmission device and robot arm using the same

Номер патента: US09358684B1. Автор: Wei-Chi Chang,Tong-Kun He. Владелец: Merry Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-07.

Hydrogen absorbing alloy powder and nickel-metal hydride battery using the same

Номер патента: US20070009796A1. Автор: Hiroyuki Sakamoto,Shinichiro Ito,Shinichi Yuasa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2007-01-11.

Hydrogen absorbing alloy powder and nickel-metal hydride battery using the same

Номер патента: US7892678B2. Автор: Hiroyuki Sakamoto,Shinichiro Ito,Shinichi Yuasa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2011-02-22.

Light emitting device and display device using the same

Номер патента: US20080073661A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-03-27.

Electrode, battery using the same and method for manufacturing the electrode

Номер патента: US20070059603A1. Автор: Yoshinari Sasaki,Hidehisa Murase,Koji Shimotoku. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2007-03-15.

Adjustable inductor and method of using the same

Номер патента: US12087485B2. Автор: Kenneth Edward Pagenkopf. Владелец: Hubbell Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Elongated conductors and methods of making and using the same

Номер патента: US12070334B2. Автор: Landy Toth,Robert Schwartz. Владелец: Autonomix Medical Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Elongated conductors and methods of making and using the same

Номер патента: US09730639B2. Автор: Landy Toth,Robert Schwartz. Владелец: Autonomix Medical Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Fibrous structures comprising particles and methods for making the same

Номер патента: EP3847230A1. Автор: Mark Robert Sivik,Paul R. Mort, Iii,Frank William Denome. Владелец: Procter and Gamble Co. Дата публикации: 2021-07-14.

Resin composition and process for preparing multi-layer structure using the same

Номер патента: US20060047040A1. Автор: Mitsuzo Shida,Kuniyasu Kato,Hideshi Onishi,Mark Pucci. Владелец: Soarus LLC. Дата публикации: 2006-03-02.

Die Casting Mold and Die Casting Method using the the Same

Номер патента: KR101921508B1. Автор: 박영훈. Владелец: 박영훈. Дата публикации: 2018-11-23.

Printed circuit board of probe card

Номер патента: US09521750B2. Автор: Chien-Yao Hung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Handle sliding structure and selfie stick using same

Номер патента: US11744354B2. Автор: Xibin Xu. Владелец: Shenzhen Yuansu Chuangda Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Method of radio coverage extension and base station using the same

Номер патента: US20150124741A1. Автор: Shin-Lin Shieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2015-05-07.

Electronic equipment data center or co-location facility designs and methods of making and using the same

Номер патента: US09788455B1. Автор: Rob Roy. Владелец: Switch Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Method of radio coverage extension and base station using the same

Номер патента: US09515772B2. Автор: Shin-Lin Shieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-12-06.

Key fixing structure and electronic device using the same

Номер патента: US20080253069A1. Автор: Wei-Min Su,Shan-Wei Hong. Владелец: Qisda Corp. Дата публикации: 2008-10-16.

Heat exchanging module and electronic device applying the same

Номер патента: US20160286684A1. Автор: Lee-Long Chen,Wu-Chi LI. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

Heat exchanging module and electronic device applying the same

Номер патента: US09706682B2. Автор: Lee-Long Chen,Wu-Chi LI. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Multicast group transmission method and wireless network apparatus using the same

Номер патента: US09374238B2. Автор: Tan-Chun Lu,Szu-Cheng Wu. Владелец: Accton Technology Corp. Дата публикации: 2016-06-21.

Cleaning member, paper transmitting device and office machine using the same

Номер патента: US20230079248A1. Автор: Chien-Chih Chen,Bo-Wei CHANG. Владелец: Avision Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Heat dissipation structure and electronic device having the same

Номер патента: US20190166721A1. Автор: Yu-Wei Chang. Владелец: Chiun Mai Communication Systems Inc. Дата публикации: 2019-05-30.

Non-volatile memory structure and method of fabricating the same

Номер патента: US20040115887A1. Автор: Ching-Yu Chang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2004-06-17.

Sorting mobile environmentally-friendly pool for shale oil and gas solid and liquid phase wastes and method for using the same

Номер патента: SG10201808826SA. Автор: Hsu Tim. Владелец: Hsu Tim. Дата публикации: 2019-05-30.

Conditioning assembly, method for manufacturing the same, and assembled conditioner using the same

Номер патента: US20240001508A1. Автор: Ying-Tung Chen. Владелец: YTDIAMOND Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Probe card gripper and transfer device comprising same

Номер патента: US20240270511A1. Автор: Ho Young Lee,Seung Chan Lee,Da Han KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Injector for filter of dust collector and dust collector using the same

Номер патента: WO2009031785A3. Автор: Ki-ho Kim. Владелец: HOSUNG IND DEV CO Ltd. Дата публикации: 2009-05-14.

Injector for filter of dust collector and dust collector using the same

Номер патента: WO2009031785A2. Автор: Ki-ho Kim. Владелец: Hosung Ind. Dev. Co., Ltd.. Дата публикации: 2009-03-12.

Motor-linked blowing and sucking structure and health care tool using same

Номер патента: US12102592B1. Автор: Li Zhu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-01.

Partition structure and packaging box using the same

Номер патента: US20230271746A1. Автор: Szu-Ni Chen. Владелец: Futaijing Precision Electronics Yantai Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Ceramic Grill Hinge Structure and Ceramic Grill Using Same

Номер патента: US20240287841A1. Автор: Jing Chen,Xin Huang. Владелец: Yixing Xinpinyuan Ceramic Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Silicon carbide mems structures and methods of forming the same

Номер патента: WO2006020674A1. Автор: Chien-Hung Wu,Jeffrey M. Melzak. Владелец: Flx Micro, Inc.. Дата публикации: 2006-02-23.

Two-Way Door Opening Linkage Structure and Electric Cooking Device

Номер патента: AU2020104388A4. Автор: Xiao Cheng. Владелец: Foshan Shunde Kufu Electric Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Face mask structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20210289852A1. Автор: Chun-Yi Wu,Chien-Shou Liao,Chi-Jen Lan,Kuo-Pin Chuan,Jung-Chin Shen. Владелец: Asti Global Inc Taiwan. Дата публикации: 2021-09-23.

Polymer compound, precursor for the same and thin film-forming method using the same polymer precursor

Номер патента: US6949618B2. Автор: Takashi Kato. Владелец: Chisso Corp. Дата публикации: 2005-09-27.

Suction head structure and vacuum cleaner using the same

Номер патента: US20090064444A1. Автор: Sheng Wu,Jin-Shan Cui,San-Yan Zhang. Владелец: Sutech Trading Ltd. Дата публикации: 2009-03-12.

Suction head structure and vacuum cleaner using the same

Номер патента: US8087125B2. Автор: Sheng Wu,Jin-Shan Cui,San-Yan Zhang. Владелец: Fih Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2012-01-03.

Polymer compound, precursor for the same and thin film-forming method using the same polymer precursor

Номер патента: US7087311B2. Автор: Takashi Kato. Владелец: Chisso Corp. Дата публикации: 2006-08-08.

Novel polymer compound, precursor for the same and thin film-forming method using the same polymer precursor

Номер патента: US20060019109A1. Автор: Takashi Kato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-26.

Polymer resin composition, and polymer film, resin laminate using the same

Номер патента: US12122877B2. Автор: Soonyong PARK,Young Ji Tae,Il Hwan Choi,Jiae YEO. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Compounds comprising a hibonite structure and a method for their use

Номер патента: US09758385B2. Автор: Jun Li,Munirpallam A. Subramanian,Arthur W. SLEIGHT. Владелец: Oregon State University. Дата публикации: 2017-09-12.

Blower adapter and blower using the same

Номер патента: US8475146B2. Автор: XIANG Liu. Владелец: Zhongshan Broad Ocean Motor Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-02.

Blower adapter and blower using the same

Номер патента: US20110008196A1. Автор: XIANG Liu. Владелец: Zhongshan Broad Ocean Motor Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-13.

Stepless adjustable telescopic device and method using the same

Номер патента: US20210030147A1. Автор: Ying Zhang,Wentao Wang,Huaide REN,Yuan HUO. Владелец: Zhuhai Runxingtai Electrical Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Blower adapter and blower using the same

Номер патента: CA2700144A1. Автор: XIANG Liu. Владелец: Zhongshan Broad Ocean Motor Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-08.

Photocatalyst application liquid, photocatalytic structure, and production method therefor

Номер патента: PH12019550298A1. Автор: Mitsuhiro Yanagita,Daiya KOBAYASHI. Владелец: Nippon Soda Co. Дата публикации: 2021-01-11.

Rotary device for bio-printing and method for using the same

Номер патента: EP3689297A1. Автор: Huixing Zhou,Yujian James KANG. Владелец: Revotek Co ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Structures and methods of replicating the same

Номер патента: US20090020908A1. Автор: John T. Fourkas,Christopher Lafratta. Владелец: Boston College. Дата публикации: 2009-01-22.

Calcium-containing structures and methods of making and using the same

Номер патента: US09969971B2. Автор: L. Brian Starling,James E. Stephan. Владелец: CAP BIOTECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2018-05-15.

Fixing apparatus and computer apparatus using the same

Номер патента: US09822561B2. Автор: Yen-Chih Kuo,Chen-Yi Liao,Chih-Liang Chiang,ming-sen Wu. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Field-portable hole broaching machines and methods for using the same

Номер патента: US09434014B1. Автор: Darrell Robert Krueger. Владелец: BNSF Railway Co. Дата публикации: 2016-09-06.

Structures and methods of replicating the same

Номер патента: US09370881B2. Автор: John T. Fourkas,Christopher Lafratta. Владелец: Boston College. Дата публикации: 2016-06-21.

Fastener staging and placement system and method of using the same

Номер патента: US20150074981A1. Автор: Dewayne Eugene Blake. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-03-19.

Panel for a temporary structure and a structure comprising the same

Номер патента: AU2023282242A1. Автор: Stephen John Matthews. Владелец: Kingsmead Holdings Sw Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Compound having fluorinated naphthalene structure and liquid crystal composition of the same

Номер патента: US20150259599A1. Автор: Tetsuo Kusumoto,Kenta Tojo. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2015-09-17.

Adhesive packaging system and laminating methods using the same

Номер патента: WO2016000078A1. Автор: Martin Robitaille. Владелец: Marotech Inc.. Дата публикации: 2016-01-07.

Implant Support Structure And Method Of Fabrication Of Implant Using The Same

Номер патента: US20240342800A1. Автор: Heinrich George Crous. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Thin gel gasket and a method of making and using the same

Номер патента: US09803674B2. Автор: David Schmidt,Jeff Busby,Kent BOOMER,Matt BOYD. Владелец: Patent Well LLC. Дата публикации: 2017-10-31.

Fastener staging and placement system and method of using the same

Номер патента: US09707667B2. Автор: Dewayne Eugene Blake. Владелец: Invoke 3d LLC. Дата публикации: 2017-07-18.

Oil removing device and ammonia purification apparatus using the same

Номер патента: US09707507B2. Автор: Toshio Akiyama,Satoshi Arakawa,Koichi Yada,Atsuya Makita. Владелец: Japan Pionics Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Liquid crystal compound having 2, 6-difluorophenyl ether structure and liquid crystal composition thereof

Номер патента: US09637466B2. Автор: Tetsuo Kusumoto,Kenta Tojo. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Liquid crystal compound having 2, 6-difluorophenylether structure, and liquid crystal composition containing the same

Номер патента: US09573923B2. Автор: Tetsuo Kusumoto,Kenta Tojo. Владелец: DIC Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Implant support structure and method of fabrication of implant using the same

Номер патента: EP4450192A1. Автор: Heinrich George Crous. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Film forming composition and film forming method using the same

Номер патента: US20210115253A1. Автор: Masakazu Kobayashi,Go Noya,Yuki Ozaki. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2021-04-22.

Film forming composition and film forming method using the same

Номер патента: EP3607001A1. Автор: Masakazu Kobayashi,Go Noya,Yuki Ozaki. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2020-02-12.

Calibration tool for a vertical furnace and method of using the same

Номер патента: US20030196306A1. Автор: Yung-Pin Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2003-10-23.

Dentate structure and method of using the same

Номер патента: US20240240703A1. Автор: Ting-Jui Wang. Владелец: Fivegrand International Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Tubing package for an elongate medical device and method making and using the same

Номер патента: EP2797656A1. Автор: Niall Mcnamara. Владелец: ADVANT MEDICAL Ltd. Дата публикации: 2014-11-05.

Hydrodynamic bearing device, and spindle motor and information device using the same

Номер патента: US20080107367A1. Автор: Takanori Shiraishi,Katsushi Hirata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-08.

Vertical probe card and test module using the same

Номер патента: TW201344214A. Автор: Ying-Tai Tang. Владелец: CHIPMOS TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2013-11-01.

RISER CARD MODULE AND ELECTRONIC DEVICE HAVING THE SAME

Номер патента: US20130027875A1. Автор: Hsieh Te-Hsiung,Zheng Yong-Liang,Zhu Chong-Xing. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

Device for Measuring Deformation of a Structure and a Method for Measuring Deformation of a Structure Using the Same

Номер патента: US20120152030A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-06-21.

ELECTROMAGNETIC WAVE GATHERING DEVICE AND SOLAR CELL MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120002291A1. Автор: Lee Shih-Chang,Hong Kai-Yi,Lo Wu-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE20200242A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Probing method having alignment correcting mechanism and probe card

Номер патента: IE87416B1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE20200243A1. Автор: CHUANG Han-Yu,PENG PO-HAN,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Horizontality-adjustable probe card

Номер патента: IE87268B1. Автор: CHUANG Han-Yu,Chang Yu-Chieh,Han Chung-Hsien,Peng Hans-Po-Han. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Lamp Support Having Film Support and Backlight Module Using the Same

Номер патента: US20120002399A1. Автор: . Владелец: AU OPTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD OF ILLUMINATING INTERFEROMETRIC MODULATORS USING BACKLIGHTING

Номер патента: US20120001962A1. Автор: Tung Ming-Hau,Chui Clarence. Владелец: QUALCOMM MEMS Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120002285A1. Автор: Matsuda Manabu. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS FOR DRIVING AND SUPPORTING CRADLE AND MR SYSTEM HAVING THE SAME

Номер патента: US20120000016A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000518A1. Автор: Tokioka Hidetada,ORITA Tae,YAMARIN Hiroya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC MATERIAL AND ORGANIC LIGHT EMITTING DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120001157A1. Автор: . Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND LAMP

Номер патента: US20120001220A1. Автор: . Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRODE STRUCTURE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE ELECTRODE STRUCTURE

Номер патента: US20120001267A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR MODULE AND ELECTRONIC SYSTEM INCLUDING THE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001272A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SOLID-STATE IMAGE SENSOR

Номер патента: US20120001291A1. Автор: Kokumai Kazuo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

PLANAR ILLUMINATION DEVICE AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120002136A1. Автор: NAGATA Takayuki,YAMAMOTO Kazuhisa,Itoh Tatsuo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CONTROL METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120002457A1. Автор: KANDA Kazushige. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CRYSTALLINE CERIUM OXIDE AND PREPARATION METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120000137A1. Автор: CHOI Sang-Soon,CHO Seung-Beom,HA Hyun-Chul,KWAK Ick-Soon,CHO Jun-Yeon. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOVOLTAIC MODULE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000506A1. Автор: Kim Dong-Jin,KANG Ku-Hyun,NAM Yuk-Hyun,Lee Jung-Eun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SOLAR CELL AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000517A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Waterproof Structure and Electronic Equipment

Номер патента: US20120000687A1. Автор: . Владелец: Casio Hitachi Mobile Communications Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

NANOPOROUS FILMS AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000845A1. Автор: Park Han Oh,Kim Jae Ha,JIN Myung Kuk. Владелец: BIONEER CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SUPERHYDROPHILIC AND OLEOPHOBIC POROUS MATERIALS AND METHODS FOR MAKING AND USING THE SAME

Номер патента: US20120000853A1. Автор: Mabry Joseph M.,TUTEJA Anish,Kota Arun Kumar,Kwon Gibum. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION REGION, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001198A1. Автор: Zhu Huilong,Yin Haizhou,Luo Zhijiong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Forming the Same

Номер патента: US20120001229A1. Автор: Zhu Huilong,Liang Qingqing. Владелец: INSTITUTE OF MICROELECTRONICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES. Дата публикации: 2012-01-05.

GATE STRUCTURES AND METHOD OF FABRICATING SAME

Номер патента: US20120001266A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Structure and Process for the Formation of TSVs

Номер патента: US20120001334A1. Автор: Kuo Chen-Cheng,Ching Kai-Ming,Chen-Shien Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL IMAGE ACQUISITION APPARATUS HAVING ADAPTIVE OPTICS AND CONTROL METHOD FOR THE SAME

Номер патента: US20120002165A1. Автор: Saito Kenichi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISH. Дата публикации: 2012-01-05.

BELTS FOR ELECTROSTATOGRAPHIC APPARATUS AND METHODS FOR MAKING THE SAME

Номер патента: US20120003415A1. Автор: FROMM Paul M.. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

NITRIDE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120003446A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

HIGH RESOLUTION COMPLEX STRUCTURE AND ALLOSTERIC EFFECTS OF LOW MOLECULAR WEIGHT ACTIVATORS ON THE PROTEIN KINASE PDK1

Номер патента: US20120003668A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITAET DES SAARLANDES. Дата публикации: 2012-01-05.

ADHESIVE COMPOSITION AND OPTICAL MEMBER USING THE SAME

Номер патента: US20120004369A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY CELL THAT EMPLOYS A SELECTIVELY FABRICATED CARBON NANO-TUBE REVERSIBLE RESISTANCE-SWITCHING ELEMENT AND METHODS OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001150A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ETCHANTS AND METHODS OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICES USING THE SAME

Номер патента: US20120001264A1. Автор: YANG Jun-Kyu,Kim Hong-Suk,Hwang Ki-Hyun,Ahn Jae-Young,Lim Hun-Hyeong,KIM Jin-Gyun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR ON GLASS SUBSTRATE WITH STIFFENING LAYER AND PROCESS OF MAKING THE SAME

Номер патента: US20120001293A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTING SYSTEM, METHOD AND PROJECTOR INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120001931A1. Автор: HSIEH MING-CHIH. Владелец: HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SOLAR CELL AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003781A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003815A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for the Collection, Retention, and Redistribution of Rainwater and Methods of Construction of the Same

Номер патента: US20120000546A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RRAM structure and method of making the same

Номер патента: US20120001141A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CODEBOOK FOR MULTIPLE USER MULTIPLE INPUT MULTIPLE OUTPUT SYSTEM AND COMMUNICATION DEVICE USING THE CODEBOOK

Номер патента: US20120001780A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

PIEZORESISTIVE DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND PIEZORESISTIVE-TYPE TOUCH PANEL HAVING THE SAME

Номер патента: US20120001870A1. Автор: LEE Kang Won,Lee Seung Seob. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HEAD GIMBAL ASSEMBLY AND DISK DRIVE WITH THE SAME

Номер патента: US20120002322A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE MARKINGS AND METHODS FOR REVERSIBLY MARKING TISSUE EMPLOYING THE SAME

Номер патента: US20120003301A1. Автор: Agrawal Satish,Boggs Roger. Владелец: PERFORMANCE INDICATOR LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

SINGLE LAYER PHOTORECEPTOR AND METHODS OF USING THE SAME

Номер патента: US20120003578A1. Автор: HEUFT Matthew A.,Klenkler Richard A.,McGuire Gregory. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Vertical type high frequency probe card

Номер патента: SG140520A1. Автор: Chien-Liang Chen,Hsin-Hung Lin,Wei-Cheng Ku,Ming-Chi Chen,Hendra Sudin,Shih-Cheng Wu. Владелец: MJC Probe Inc. Дата публикации: 2008-03-28.

DEVELOPER CONTAINER AND IMAGE FORMING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20120003013A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CANNULA LINED WITH TISSUE IN-GROWTH MATERIAL AND METHOD OF USING THE SAME

Номер патента: US20120004496A1. Автор: . Владелец: CIRCULITE, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR PACKAGE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001329A1. Автор: Kim Young Lyong,Lee Jongho,AHN EUNCHUL,Kim Hyeongseob. Владелец: Samsung Electronics Co., Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

TWO-SIDE CABLE-ARRANGEMENT STRUCTURE AND ELECTRONIC APPARATUS THEREWITH

Номер патента: US20120000702A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

UZM-5, UZM-5P, AND UZM-6 CRYSTALLINE ALUMINOSILICATE ZEOLITES AND METHODS FOR PREPARING THE SAME

Номер патента: US20120004485A1. Автор: . Владелец: UOP LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Universal Control Scheme For Mobile Hydraulic Equipment And Method For Achieving The Same

Номер патента: US20120000192A1. Автор: Ramun John R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Aromatic amine derivative and organic electroluminescence device using the same

Номер патента: US20120001154A1. Автор: Kato Tomoki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC EL DISPLAY PANEL AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001186A1. Автор: ONO Shinya,KONDOH Tetsuro. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001885A1. Автор: Kim Na-Young,Kang Ki-Nyeng,Park Yong-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTING SYSTEM AND PROJECTOR INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120002179A1. Автор: HSIEH MING-CHIH. Владелец: HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

POLYAMIDE RESIN COMPOSITION, FILM COMPRISING THE SAME AND POLYAMIDE-BASED LAMINATE FILM

Номер патента: US20120003361A1. Автор: . Владелец: UBE INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003503A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Coplanar and stripline probe card apparatus

Номер патента: CA1237534A. Автор: David A. Rowe,Binneg Y. Lao. Владелец: Magnavox Government and Industrial Electronics Co. Дата публикации: 1988-05-31.

GLOVE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120000005A1. Автор: KISHIHARA Hidetoshi,II Yasuyuki. Владелец: SHOWA GLOVE CO.. Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTABLE SIGN FRAME AND METHOD OF USING THE SAME

Номер патента: US20120000106A1. Автор: WICK Melinda Jean. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Tricalcium Phosphate Coarse Particle Compositions and Methods for Making the Same

Номер патента: US20120000394A1. Автор: Delaney David C.,Jalota Sahil,Yetkinler Duran N.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MILKING PARLOUR AND METHOD FOR OPERATING THE SAME

Номер патента: US20120000427A1. Автор: . Владелец: DELAVAL HOLDING AB. Дата публикации: 2012-01-05.

STAMPER, METHOD OF MANUFACTURING THE STAMPER, AND MAGNETIC RECORDING MEDIUM MANUFACTURING METHOD USING THE STAMPER

Номер патента: US20120000885A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

POSITRON EMISSION IMAGING DEVICE AND METHOD OF USING THE SAME

Номер патента: US20120001064A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001180A1. Автор: Yoshizumi Kensuke,YOKOI Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001182A1. Автор: Choi Jong-Hyun,Lee Dae-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001255A1. Автор: PARK JIN WON. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001257A1. Автор: MURAKAWA Kouichi. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING MODULE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001544A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC IMPEDANCE ELEMENT AND MAGNETIC SENSOR USING THE SAME

Номер патента: US20120001626A1. Автор: Hirose Sakyo. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

MODULATION PROFILE GENERATOR AND SPREAD SPECTRUM CLOCK GENERATOR INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120001658A1. Автор: . Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2012-01-05.

POWDER MAGNETIC CORE AND MAGNETIC ELEMENT USING THE SAME

Номер патента: US20120001710A1. Автор: TAKAHASHI Takeshi,MATSUTANI NOBUYA,Wakabayashi Yuya. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFORMER AND FLAT PANEL DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120001886A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GATE DRIVING CIRCUIT AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120001894A1. Автор: LEE Hyun-Jeong,Kim Young-Do,Cha Je-Heon. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT MODULE AND DISPLAY APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20120001895A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFORMER AND FLAT PANEL DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120002387A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE DATA TEST UNIT, IMAGE APPARATUS HAVING THE SAME, AND METHOD OF TESTING IMAGE DATA USING THE SAME

Номер патента: US20120002886A1. Автор: JUN Hyun-Su. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

WAVELENGTH MULTIPLEXER/DEMULTIPLEXER AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120002918A1. Автор: . Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Biomarkers for Inflammatory Bowel Disease and Methods Using the Same

Номер патента: US20120003158A1. Автор: Alexander Danny,SHUSTER Jeffrey,KORZENIK Joshua,ZELLA Garrett. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

C1ORF59 PEPTIDES AND VACCINES INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120003253A1. Автор: Tsunoda Takuya,Ohsawa Ryuji,Yoshimura Sachiko,Watanabe Tomohisa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ENERGY STORAGE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003535A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

STROBO THIN FILM CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS AND ASSAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003659A1. Автор: Yoo Jae Chern. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DIODE HAVING A THERMAL CONDUCTIVE SUBSTRATE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003766A1. Автор: . Владелец: Seoul Opto Device Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003805A1. Автор: Lee Tae-Jung,PARK MYOUNG-KYU,Bang Kee-In. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001324A1. Автор: Watabe Hiroshi,AOKI Hideo,MUKAIDA Hideko,Fukuda Masatoshi,Koshio Yasuhiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120001490A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PIXEL AND ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120001893A1. Автор: . Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC DISK DRIVE AND REFRESH METHOD FOR THE SAME

Номер патента: US20120002315A1. Автор: Inoue Hiroaki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

HEAT PIPE TYPE COOLING DEVICE AND RAILCAR CONTROL EQUIPMENT USING THE SAME

Номер патента: US20120002373A1. Автор: KITAJIMA Hironori,SAKAYORI Hitoshi,SHIRAISHI Yuuzou. Владелец: HITACHI CABLE, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT GUIDING OBJECT AND LIGHTING DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120002443A1. Автор: Ye Zhi-Ting,Huang Kuo-Jui. Владелец: WINTEK CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS USING THE SAME AND MULTI-BIT TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002491A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

HONEYCOMB STRUCTURE BODY AND METHOD OF PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120003420A1. Автор: Betsushiyo Takahiro,Aoki Hiromasa,Sakamoto Kazuhisa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LED CHIP PACKAGE STRUCTURE USING SEDIMENTATION AND METHOD FOR MAKING THE SAME

Номер патента: US20120003765A1. Автор: . Владелец: HARVATEK CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

DISPLAY SUBSTRATE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND DISPLAY PANEL HAVING THE SAME

Номер патента: US20120003796A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Field emission electrode, method of manufacturing the same, and field emission device comprising the same

Номер патента: US20120003895A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE TERMINAL AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120003966A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE TERMINAL AND INFORMATION DISPLAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003990A1. Автор: LEE Min Ku. Владелец: Pantech Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

IRRADIATING COIL AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20120004532A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRASOUND IMAGING SYSTEM AND METHODS OF IMAGING USING THE SAME

Номер патента: US20120004539A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MOTORIZED SHAVING APPARATUS HEAD AND SHAVING APPARATUS IMPLEMENTING THE SAME

Номер патента: US20120000075A1. Автор: Ben-Ari Tsafrir. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Multi-Layer Compressible Foam Sheet and Method of Making the Same

Номер патента: US20120000384A1. Автор: Vest Ryan W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SUSPENSION OF CELLULOSE FIBERS AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120000392A1. Автор: Isogai Akira,Mukai Kenta,Kumamoto Yoshiaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SINGLE CRYSTAL COOLING APPARATUS AND SINGLE CRYSTAL GROWER INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120000416A1. Автор: Wang Hak-Eui,Na Gwang-Ha. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000570A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000571A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INSULATION MATERIAL COMPOSITION FOR DC POWER CABLE AND THE DC POWER CABLE USING THE SAME

Номер патента: US20120000694A1. Автор: . Владелец: LS Cable & System Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Wire harness wiring unit and wire harness wiring assembly having the same

Номер патента: US20120000704A1. Автор: Yamashita Takayuki. Владелец: Yazaki Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTIVE COMPOSITION AND THE POWER CABLE USING THE SAME

Номер патента: US20120001128A1. Автор: Kim Yoon-Jin,Kim Ung,Ko Chang-Mo. Владелец: LS Cable & System Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Light Emitting Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001202A1. Автор: Horng Ray-Hua. Владелец: NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE SENSOR AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001234A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001312A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001333A1. Автор: HWANG Chang Youn. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

WAFER STACKED PACKAGE WAVING BERTICAL HEAT EMISSION PATH AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001348A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

CORRELATED DOUBLE SAMPLING CIRCUIT AND IMAGE SENSOR INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120002093A1. Автор: Lee Dong Hun,HAM Seog Heon,Yoo Kwi Sung,Kwon Min Ho,Jung Wun-Ki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Structure of LCD Panel and Method of Manufacturing the Same

Номер патента: US20120002156A1. Автор: Yi Hung Meng,Hung Tsai Chu. Владелец: AU OPTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE TERMINAL AND TERMINAL SYSTEM HAVING THE SAME

Номер патента: US20120004000A1. Автор: CHOI Byungsung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Ophthalmic Compositions and Methods of Using the Same

Номер патента: US20120004265A1. Автор: Green Kenneth E.,CABALLA Susan,MINNO George E.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MATERIAL COMPOSITION AND OPTICAL ELEMENTS USING THE SAME

Номер патента: US20120004366A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ACRYL-BASED COPOLYMERS AND OPTICAL FILM INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120004372A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.