Semiconductor integrated circuit and method of saving and restoring internal state of the same
Номер патента: EP2199813A1
Опубликовано: 23-06-2010
Автор(ы): Shuichi Kunie, Tatsuya Kawasaki, Tsuneki Sasaki
Принадлежит: NEC Electronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 23-06-2010
Автор(ы): Shuichi Kunie, Tatsuya Kawasaki, Tsuneki Sasaki
Принадлежит: NEC Electronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Multi-core test processor, and integrated circuit test system and method
Номер патента: US12044720B1. Автор: Guoliang Mao. Владелец: Macrotest Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-07-23.