Three-dimensional measurement method using feature sizes, and device using the method
Номер патента: DE112018002357T5
Опубликовано: 16-01-2020
Автор(ы): Daishi Takata, Motoharu Fujigaki, Yuichi Akatsuka
Принадлежит: University of Fukui
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 16-01-2020
Автор(ы): Daishi Takata, Motoharu Fujigaki, Yuichi Akatsuka
Принадлежит: University of Fukui
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Three-dimensional measurement device
Номер патента: US20240265560A1. Автор: Hitoshi Sakai,Masayasu Ikebuchi,Shuji Shimonaka. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-08.