Semiconductor memory device having a single input terminal to select a buffer and method of testing the same
Номер патента: US7184324B2
Опубликовано: 27-02-2007
Автор(ы): Dong-Hak Shin, Seung-Hoon Lee
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 27-02-2007
Автор(ы): Dong-Hak Shin, Seung-Hoon Lee
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Semiconductor memory device and method of testing the same
Номер патента: US20140050035A1. Автор: Shin Ho Chu. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2014-02-20.