Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Mapping type electronic microscope with decreased geometric aberration and space charge effect

Mapping type electronic microscope with decreased geometric aberration and space charge effect

Номер патента: TW200831889A
Опубликовано: 01-08-2008
Автор(ы): Takeshi Murakami, Wei-Ming Ren
Принадлежит: Ebara Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Mapping type electronic microsope with decreased geometric aberration and space charge effect

Номер патента: TWI431267B. Автор: Takeshi Murakami,Weiming Ren. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2014-03-21.

Mapping electron microscope with reduced geometric aberration and space charge effect

Номер патента: JP4283843B2. Автор: 武司 村上,偉明 任. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2009-06-24.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-10-05.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A3. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-02-01.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: US12106933B2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-10-01.

Electron microscope, aberration correction method, and imaging method

Номер патента: EP4415021A1. Автор: Motofumi Saitoh,Ryusuke Sagawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Electron Microscope, Aberration Correction Method, And Imaging Method

Номер патента: US20240274402A1. Автор: Motofumi Saitoh,Ryusuke Sagawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method of measuring aberration and electron microscope

Номер патента: US11764029B2. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Method of measuring aberration and electron microscope

Номер патента: EP4030462A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-07-20.

Electron Microscope

Номер патента: US20240242923A1. Автор: Michiko Suzuki,Yudai KUBO. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Tilt-imaging scanning electron microscope

Номер патента: WO2014085406A1. Автор: Ichiro Honjo,Christopher Sears,Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP2179437A1. Автор: Peter Rosenthal,John Berriman. Владелец: Medical Research Council. Дата публикации: 2010-04-28.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP2179437B1. Автор: Peter Rosenthal,John Berriman. Владелец: Medical Research Council. Дата публикации: 2012-05-16.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: EP4111484A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin. Дата публикации: 2023-01-04.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: US20230154724A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin. Дата публикации: 2023-05-18.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: WO2021170762A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: The Provost, Fellows, Scholars and other Members of Board of Trinity College Dublin. Дата публикации: 2021-09-02.

Measuring and controlling aberrations in electron microscopes

Номер патента: GB2576661A. Автор: Maria Tromp Rudolf. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Measuring and controlling aberrations in electron microscopes

Номер патента: WO2018211369A1. Автор: Rudolf Maria Tromp. Владелец: Ibm (China) Investment Company Limited. Дата публикации: 2018-11-22.

Particle-optical arrangement, in particular multi-beam particle microscope, with a magnet arrangement for separating a primary and a secondary particle-optical beam path

Номер патента: WO2024032930A1. Автор: Thomas Schmid,Markus Koch,Dirk Zeidler,Thomas Dieterle,Felix MENKE. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-02-15.

A scanning electron microscope

Номер патента: WO2009051333A1. Автор: Jong-Hyun Kim,In-Kyu Lee,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Sec Co., Ltd.. Дата публикации: 2009-04-23.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: EP3488459A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2019-05-29.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US8487251B2. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-16.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20110139981A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Aberration Correcting Device for an Electron Microscope and an Electron Microscope Comprising Such a Device

Номер патента: US20190228946A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: WO2018016961A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2018-01-25.

Transmission electron microscope

Номер патента: US09595416B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Electron Microscope, Multipole Element for Use Therein, and Control Method for Such Electron Microscope

Номер патента: US20240145210A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Electron Microscope And Electron Beam Inspection System

Номер патента: US20080265161A1. Автор: Masaki Hasegawa,Hideo Todokoro,Hisaya Murakoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Interference electron microscope

Номер патента: US20130313432A1. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Yoshio Takahashi,Shinji Aizawa,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2013-11-28.

Interference electron microscope

Номер патента: EP2667400A3. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Yoshio Takahashi,Shinji Aizawa,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2015-01-28.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2008058491B1. Автор: Filip Lopour,Jaroslav Jiruse. Владелец: Tescan S R O. Дата публикации: 2008-08-21.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20170309437A1. Автор: Masashi Sasaki,Daisuke Kobayashi,Shunsuke Sato,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Electron microscope

Номер патента: US20110133084A1. Автор: Toshiaki Tanigaki,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-09.

Electron microscope

Номер патента: US20040031921A1. Автор: Mitsuhide Matsushita,Yukihito Kondo,Mitsuaki Ohsaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2004-02-19.

Scanning Electron Microscope and Objective Lens

Номер патента: US20230014270A1. Автор: Motohiro Nakamura,Takeyuki Kobayashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09536703B2. Автор: Hideo Morishita,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Method of controlling transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: EP3716309A2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-30.

Method of Controlling Transmission Electron Microscope and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200312612A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Method of controlling transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: EP3716309A3. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-16.

Scanning transmission electron microscope and electron energy loss spectroscopy

Номер патента: US20050285037A1. Автор: Shunichi Watanabe,Kuniyasu Nakamura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Phase plate, method of fabricating same, and electron microscope

Номер патента: US09786467B2. Автор: Hirofumi Iijima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Electron Microscope and Method of Adjusting Same

Номер патента: US20160071683A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-03-10.

Charged Particle Beam Device, Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20170221676A1. Автор: Yasuhira Nagakubo,Takeshi Sunaoshi,Kazutaka Nimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Electron microscope

Номер патента: US09773639B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: EP4131326A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: US20240212971A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Interferometric electron microscope

Номер патента: EP3699949A1. Автор: Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2020-08-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO1998022971A3. Автор: Pierre Sudraud,Antoine Corbin,Rainer Sailer,David John Bate. Владелец: David John Bate. Дата публикации: 1998-07-23.

High voltage feedthrough assembly, time-resolved transmission electron microscope and method of electrode manipulation in a vacuum environment

Номер патента: EP3186818A2. Автор: Julian Hirscht. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2017-07-05.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB9910896D0. Автор: . Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 1999-07-07.

Electron microscope

Номер патента: US20130313431A1. Автор: Hideki Tanaka,Tsuyoshi Wakuda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Transmission electron microscope and method for observing specimen image with the same

Номер патента: US20110031395A1. Автор: Akira Sugawara,Ken Harada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-02-10.

Phase plate and electron microscope

Номер патента: US20140224988A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yoshio Takahashi,Hiroto Kasai,Hirokazu Tamaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-08-14.

Electron microscope, multipole element for use therein, and control method for such electron microscope

Номер патента: EP4362055A3. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Electron Microscope

Номер патента: US20180301315A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090057555A1. Автор: Kuo-Hsing Teng,Yang-Kuao Kuo. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Vacuum tube electron microscope

Номер патента: US09859097B2. Автор: Manu Prakash,R. Fabian W. Pease,Alireza Nojeh,James Stanley CYBULSKI. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2018-01-02.

Electron microscope and method of adjusting same

Номер патента: US09589761B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Modular ultra-high vacuum electron microscope

Номер патента: US20230101644A1. Автор: Rudolf Geurink,Hugo Cornelis VAN LEEUWEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-03-30.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: CA3224319A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: DELONG INSTRUMENTS AS. Дата публикации: 2023-12-29.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: WO2024002399A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: Delong Instruments A.S.. Дата публикации: 2024-01-04.

Electron microscope

Номер патента: US8841615B2. Автор: Tsutomu Nakanishi,Hidefumi Asano,Nobuo Tanaka,Yoshikazu Takeda,Toru Ujihara,Makoto Kuwahara,Koh Saitoh. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2014-09-23.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: EP4364179A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: DELONG INSTRUMENTS AS. Дата публикации: 2024-05-08.

Electron microscope, multipole element for use therein, and control method for such electron microscope

Номер патента: EP4362055A2. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Phase contrast electron microscope

Номер патента: US20100181481A1. Автор: Gerd Benner,Marko Matijevic. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-07-22.

Scanning electron microscope having detachable column, and image acquisition method using the same

Номер патента: US20220189732A1. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Electron microscope

Номер патента: US20040188613A1. Автор: Kazutoshi Kaji,Shigeto Isakozawa,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-09-30.

Scanning electron microscope having detachable column, and image acquisition method using the same

Номер патента: US11978610B2. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Integrated Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20210098227A1. Автор: Katherine L. Jungjohann,Khalid M. Hattar. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2021-04-01.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US20170025245A1. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-01-26.

Liner tube and electron microscope

Номер патента: US09997327B1. Автор: Hidetaka Sawada,Masashi Shimizu,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US09666409B2. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Method of using an environmental transmission electron microscope

Номер патента: US09570270B2. Автор: Alexander Henstra,Peter Christiaan Tiemeijer,Stan Johan Pieter Konings. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-02-14.

Phase contrast transmission electron microscope device

Номер патента: US20190122855A1. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Inter University Research Institute Corp National Institute of Natural Sciences. Дата публикации: 2019-04-25.

Electron microscope electron gun for facilitating position adjustment and electron microscope including same

Номер патента: US20180218874A1. Автор: Bok Lae CHO,In Yong Park. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-08-02.

Electron microscope

Номер патента: US10276342B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-04-30.

Electron Microscope

Номер патента: US20160225581A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Electron microscope

Номер патента: US9818576B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20100320385A1. Автор: Kazuo Aoki,Mitsugu Sato,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090050805A1. Автор: Kazuo Aoki,Mitsugu Sato,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Transmission electron microscope and method of adjusting optical system

Номер патента: US11742176B2. Автор: Yoshiki Oyama,Kazuki Yagi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Charged particle beam apparatus, scanning electron microscope, and method of operating a charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4295385A1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-12-27.

Magnetic lens apparatus for use in high-resolution scanning electron microscopes and lithographic processes

Номер патента: US6410923B1. Автор: Albert V. Crewe. Владелец: Arch Development Corp. Дата публикации: 2002-06-25.

Gas delivery system for environmental transmission electron microscope

Номер патента: US11837432B1. Автор: John Joseph Nogan,Katherine Leigh Jungjohann,Raymond Vernon Puckett. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2023-12-05.

Electron microscope and method of controlling same

Номер патента: US10607803B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-03-31.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: EP2601669A2. Автор: Stephen E. Mick,David P. Nackashi,Jr. John Damiano. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2013-06-12.

Electron microscope stage

Номер патента: US20210151281A1. Автор: Albert Visscher. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-05-20.

Electron Microscope and Method of Controlling Same

Номер патента: US20190139734A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Detachable column unit of scanning electron microscope, and method for providing the same

Номер патента: US20240212978A1. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US20170278670A1. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Electron detection unit and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010008307A3. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2010-08-19.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A1. Автор: David L. Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-03-12.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A4. Автор: David L Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2007-03-07.

Electron detection unit and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010008307A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2010-01-21.

Magnetization device for an electron microscope and method

Номер патента: EP4388573A1. Автор: Helmut Soltner,Michael Schaaf,Amir Hossein Tavabi,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Maximilian KRUTH. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-06-26.

Electron beam microscope with improved imaging gas and method of use

Номер патента: US09633816B2. Автор: John Scott,Milos Toth,Toby Shanley. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-25.

Scanning electron microscope with reconfigurable aperture means

Номер патента: GB2374723A. Автор: Michael Frank Dean,Giles Adam Edward Martin. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2002-10-23.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327A1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2001-04-04.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327A4. Автор: Kenneth H Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2005-12-07.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: WO1999066529A9. Автор: Kenneth H Downing. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2000-03-23.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327B1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2012-02-01.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: WO1999066529A1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 1999-12-23.

Electron microscope

Номер патента: EP1585165A3. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-03-12.

Magnetization device for an electron microscope and method

Номер патента: US20240258064A1. Автор: Helmut Soltner,Michael Schaaf,Amir Hossein Tavabi,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Maximilian KRUTH. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150014531A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Hideyuki Kazumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-01-15.

Compact inspection apparatus comprising a scanning electron microscope and an optical microscope

Номер патента: WO2016036250A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Wilhelmus Johannes Adriaan DE PINTH,Gijsbert DE SWART. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-03-10.

Compact inspection apparatus comprising a combination of a Scanning Electron Microscope and an Optical microscope.

Номер патента: NL2013432B1. Автор: Andries Pieter Johan Effting Ir,Johannes Adriaan De Pinth Wilhelmus,De Swart Gijsbert. Владелец: Delmic B V. Дата публикации: 2016-09-28.

Autofocus method for a scanning electron microscope

Номер патента: US20210027979A1. Автор: Daisuke Kubota. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

Multi-beam charged particle microscope with a detection unit for fast compensation of charging effects

Номер патента: WO2024165235A1. Автор: Andreas Haas,Thomas Schmid,Markus Koch,Dirk Zeidler,Thomas Dieterle,Stefan Schubert,Bjoern Miksch,Felix MENKE,Heiko BANZHAF. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-08-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09466458B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: AU5083299A. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2000-01-05.

Sample Holder and Electron Microscope

Номер патента: US20180374671A1. Автор: Takeo Sasaki,Masashi Shimizu,Ichiro Onishi,Kazuki Yagi,Shuichi YUASA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Sample holder and electron microscope

Номер патента: US10504690B2. Автор: Takeo Sasaki,Masashi Shimizu,Ichiro Onishi,Kazuki Yagi,Shuichi YUASA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-12-10.

Electron microscope

Номер патента: US20200303152A1. Автор: Hiroyuki Minemura,Yoichi Ose,Yumiko Anzai,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Multifunctional ultrafast electron gun of transmission electron microscope

Номер патента: US20160254117A1. Автор: Jianqi Li,Chao Ma,Huanfang TIAN,Gaolong CAO,Huaixin YANG. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2016-09-01.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20150243475A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Cathodoluminescence electron microscope

Номер патента: EP3966844A2. Автор: Jean Berney. Владелец: Attolight AG. Дата публикации: 2022-03-16.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: US20230298849A1. Автор: Ondrej Shanel,Jiri Benda,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek,Vojtech Dole{hacek over (z)}al,Tomá{hacek over (s)} Trnkócy. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-21.

Multifunctional ultrafast electron gun of transmission electron microscope

Номер патента: US09558909B2. Автор: Jianqi Li,Chao Ma,Huanfang TIAN,Gaolong CAO,Huaixin YANG. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2017-01-31.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US09431213B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908658B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Electron microscope and sample observation method

Номер патента: US10083814B2. Автор: Takeshi Sato,Kiyotaka Nakano,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-09-25.

Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20160064183A1. Автор: Takeshi Sato,Kiyotaka Nakano,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Electron microscope

Номер патента: US5811803A. Автор: Hiroshi Motoki,Fumio Komatsu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1998-09-22.

Liquid cell for electron microscope and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240038487A1. Автор: Jungwon Park,Jiwoong YANG,Hyeonjong MA. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-02-01.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: EP4250329A1. Автор: Jiri Benda,Vojtech Dolezal,Tomás Trnkócy,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-27.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20140117232A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2014-05-01.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20040011959A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2004-01-22.

Method for automatic focusing and astigmatism correction for an electron microscope

Номер патента: EP4441770A1. Автор: Philipp Schubert,Jörgen KORNFELD. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2024-10-09.

Method of observing electron microscopic images and an apparatus for carrying out of the same

Номер патента: US5345080A. Автор: Yusuke Yajima,Hiroyuki Shinada,Masakazu Ichikawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-09-06.

Method for automatic focusing and astigmatism correction for an electron microscope

Номер патента: WO2023099584A1. Автор: Philipp Schubert,Jörgen KORNFELD. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.. Дата публикации: 2023-06-08.

Scanning electron microscope and apparatus for detecting defect

Номер патента: US20070187598A1. Автор: Ichiro Tachibana,Muneyuki Fukuda,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Calibration of a scanning electron microscope

Номер патента: WO2001011656A1. Автор: Weidong Liu,Laurence S. Hordon,Jason C. Yee,David M. Goodstein. Владелец: Kla Tencor Corporation. Дата публикации: 2001-02-15.

Method for measuring information transfer limit in transmission electron microscope, and transmission electron microscope using the same

Номер патента: EP1918964A3. Автор: Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-04-16.

Scanning Electron Microscope Optical Condition Setting Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20120318977A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-12-20.

Holder assembly for cooperating with a nanoreactor and an electron microscope

Номер патента: US09812285B2. Автор: Pleun Dona,Luigi Mele. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-11-07.

Transmission electron microscope and method of displaying spectral image

Номер патента: EP2256780A3. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2010-12-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2023147406A3. Автор: Daniel Stephen GARDINER,Franklin Stampley WALDEN II,David P. Nackashi,Mark Uebel,John DAMIANO JR.,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L MARTHE JR.. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2023-11-16.

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: WO2000011702A1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2000-03-02.

Electron microscope for magnetic field measurement and magnetic field measurement method

Номер патента: US20190295817A1. Автор: Akira Sugawara,Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-26.

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: EP1110232A1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2001-06-27.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2023147406A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,Franklin Stampley WALDEN II,David P. Nackashi,Mark Uebel,John DAMIANO JR.,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L MARTHE JR.. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2023-08-03.

Transmission electron microscope provided with electronic spectroscope

Номер патента: EP1965407A3. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2010-01-27.

Electron microscope and measurement method

Номер патента: US09859095B2. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Microreactor for a transmission electron microscope and heating element and method of manufacture thereof

Номер патента: US09548184B2. Автор: Jan Fredrik Creemer,Hendrik Willem Zandbergen,Pasqualina Maria Sarro. Владелец: Stichting voor de Technische Wetenschappen STW. Дата публикации: 2017-01-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09305745B2. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-04-05.

An electron microscope magnification standard providing precise calibration in the magnification range 5000x-2000,000x

Номер патента: US20050045819A1. Автор: Devendra Sadana,Stephen Bedell,Anthony Domenicucci,John Bruley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-03.

Phase Plate For Phase-Contrast Electron Microscope, Method For Manufacturing the Same and Phase-Contrast Electron Microscope

Номер патента: US20080202918A1. Автор: Kuniaki Nagayama,Radostin Danev. Владелец: Nagayama IP Holdings LLC. Дата публикации: 2008-08-28.

Sample Observation Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20080283750A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

System and method for eliminating electromagnetic interference in vacuum cavity of scanning electron microscope

Номер патента: NL2030394B1. Автор: Tang Liang,Zhang Yuefei,Zhang Ze,Wang Yongfeng,Zhang Yixu,Liu Ling'en,Chen Jutian. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-11-30.

Electron microscope

Номер патента: US10741358B2. Автор: Jun Yamashita,Yuko Shimizu,Hirofumi Iijima,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-11.

Electron microscope and method of adjusting the same

Номер патента: US8859964B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Electron Microscope

Номер патента: US20200013582A1. Автор: Jun Yamashita,Yuko Shimizu,Hirofumi Iijima,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Electron Microscope

Номер патента: US20210066024A1. Автор: Hidekazu Suzuki,Hideki Kikuchi,Tadao Furutsu,Kouichirou Saitou,Ryoji Namekawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Electron Microscope and Method of Adjusting the Same

Номер патента: US20130327938A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Method for focusing a scanning electron microscope, computer program product for focusing a scanning electron microscope, and testing device

Номер патента: TWI730438B. Автор: 博海德 穆勒,庫普利特賽恩 維迪,尼可萊 柯納伯. Владелец: 美商應用材料股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-11.

Electron Microscope and Measurement Method

Номер патента: US20170025248A1. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Electron microscopes

Номер патента: US3746855A. Автор: D Hilditch. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1973-07-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150034824A1. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Transmission Electron Microscope Provided with Electronic Spectroscope

Номер патента: US20080203296A1. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Scanning Transmission Electron Microscope and Aberration Correction Method

Номер патента: US20200266025A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Izuru Chiyo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: US20060038127A1. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-02-23.

Transmission electron microscope specimen and method of manufacturing the same

Номер патента: US20200027691A1. Автор: Cheng-Lun HSIN,Wen-Wei WU,Wei-Huan TSAI,Jui-Yuan CHEN. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2020-01-23.

Electron emitting element and electron microscope

Номер патента: EP3968352A1. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2022-03-16.

Electron emission device and electron microscope

Номер патента: US12051557B2. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2024-07-30.

Membrane assembly, examination container and electron microscope

Номер патента: US20200027695A1. Автор: Tsu-Wei Huang,Shih-Yi LIU,Jia-Ling Wu,Maochan Chang. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Electron microscope device and imaging method using same

Номер патента: US09824853B2. Автор: Kenji Nakahira,Maki Tanaka,Mitsutoshi Kobayashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Holder assembly for cooperating with an environmental cell and an electron microscope

Номер патента: US09524850B2. Автор: Pleun Dona,Hendrik Willem Zandbergen,Gerardus Nicolaas Anne Van Veen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-12-20.

Electron microscope

Номер патента: CA1061477A. Автор: Karel D. van der Mast,Jan B. Le Poole. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1979-08-28.

Microreactor for a transmission electron microscope and heating element and method for the manufacture thereof

Номер патента: WO2006031104A9. Автор: Jan Fredrik Creemer,Hendrik Willem Zandbergen,Pasqualina Maria Sarro. Владелец: Pasqualina Maria Sarro. Дата публикации: 2006-10-19.

Method and apparatus allowing simultaneous direct observation and electron capture of scintillation images in an electron microscope

Номер патента: WO2009117077A3. Автор: James F. Mancuso,Leo A. Fama. Владелец: Mancuso James F. Дата публикации: 2009-11-12.

Scanning transmission electron microscope and aberration correction method

Номер патента: EP3690922A2. Автор: Shigeyuki Morishita,Izuru Chiyo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Method and apparatus allowing simultaneous direct observation and electron capture of scintillation images in an electron microscope

Номер патента: WO2009117077A2. Автор: James F. Mancuso,Leo A. Fama. Владелец: Mancuso James F. Дата публикации: 2009-09-24.

Measurement Method and Electron Microscope

Номер патента: US20190088447A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

Sample observation method and transmission electron microscope

Номер патента: US7705305B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Method for preparation of transmission electron microscope sample material utilizing sheet mesh

Номер патента: US5440123A. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1995-08-08.

Examination container and electron microscope

Номер патента: US20190080881A1. Автор: Tsu-Wei Huang,Shih-Yi LIU,Jia-Ling Wu,Maochan Chang. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Systems and methods for transferring a sample into and out of a vacuum chamber of a transmission electron microscope

Номер патента: EP4345862A1. Автор: Maarten Bischoff,Ondrej Ludmil Shánel. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-03.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: EP1628321A3. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-04-19.

Method of measuring the performance of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1415320A1. Автор: Peter Dirksen,Casparus A. H. Juffermans,Rene J. G. Elfrink. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-05-06.

Image forming method and electron microscope

Номер патента: US7838834B2. Автор: Ryoichi Ishii,Yoshihiko Nakayama,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-11-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5376792A. Автор: Frederick H. Schamber,Raymond E. Turocy. Владелец: RJ Lee Group Inc. Дата публикации: 1994-12-27.

Electron-beam tube including a thermionic-field emission cathode for a scanning electron microscope

Номер патента: US3809899A. Автор: T Baker,M Balsiger,K Considine,H Litsjo. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1974-05-07.

Method of analysis using energy loss spectrometer and transmission electron microscope equipped therewith

Номер патента: US7459680B2. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-12-02.

Sample holder for transmission electron microscope, sample analysis system including the same, and method for analyzing sample using the same

Номер патента: US20240153734A1. Автор: Donghoon Kwon,Yeoseon CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-09.

Method and electron microscope for measuring the similarity of two-dimensional images

Номер патента: US20090268969A1. Автор: Andreas Thust,Juri Barthel. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2009-10-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7307253B2. Автор: Kazuo Aoki,Masashi Sakamoto,Kohei Yamaguchi,Seiji Isogai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-12-11.

Method of analysis using energy loss spectrometer and transmission electron microscope equipped therewith

Номер патента: US20060255271A1. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Method of using a phase plate in a transmission electron microscope

Номер патента: US20140326876A1. Автор: Bart Buijsse,Radostin Stoyanov Danev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-11-06.

Image Forming Method and Electron Microscope

Номер патента: US20080224040A1. Автор: Ryoichi Ishii,Yoshihiko Nakayama,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Method and electron microscope for measuring the similarity of two-dimensional images

Номер патента: US8351710B2. Автор: Andreas Thust,Juri Barthel. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2013-01-08.

Ion beam apparatus and a method for neutralising space charge in an ion beam

Номер патента: GB2337632A. Автор: Stephen Moffatt,Jonathan Gerald England,Andrew James Timothy Holmes,David George Armour,Den Berg Jaap Van. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 1999-11-24.

Electron microscope with interchangeable multi-aperture arrangement and method for operating the elecetron microscope

Номер патента: EP3671803B1. Автор: Dieter Winkler,Thomas Jasinski. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-03-06.

Image type electron spin polarimeter

Номер патента: US09741533B2. Автор: Shan Qiao,Weishi Wan,Fuhao Ji. Владелец: Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology of CAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Control Method for Electron Microscope and Electron Microscope

Номер патента: US20210074506A1. Автор: Mitsuru Koizumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120211654A1. Автор: Toru Iwaya,Haruhiko Hatano,Tomohisa Ohtaki,Sakae Kobori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Collection of secondary electrons through the objective lens of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1305816A2. Автор: Robert L. Gerlach,Karel D. van der Mast,Michael R. Scheinfein. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2003-05-02.

Detector system for a scanning electron microscope

Номер патента: US3626184A. Автор: Albert V Crewe. Владелец: US Atomic Energy Commission (AEC). Дата публикации: 1971-12-07.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140084158A1. Автор: Tatsuru Kuramoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-03-27.

Semiconductor calibration wafer with no charge effect

Номер патента: US20030132374A1. Автор: Ming-Shuo Yen,Chi-Yao Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2003-07-17.

Method of measuring length with scanning type electron microscope

Номер патента: US6653634B1. Автор: Tadashi Otaka,Kouichi Nagai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-11-25.

A scanning electron microscope

Номер патента: EP1547121A1. Автор: Matthew James Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2005-06-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20060138324A1. Автор: Matthew Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2006-06-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7057184B1. Автор: Matthew J. Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2006-06-06.

A scanning electron microscope

Номер патента: WO2004030018A1. Автор: Matthew James Kershaw. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 2004-04-08.

Electron microscope and method of measuring aberrations

Номер патента: US09779911B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Electron microscope and elemental mapping image generation method

Номер патента: US09627175B2. Автор: Akira Yasuhara,Masaki Morita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Specimen holder for an electron microscope and device and method for mounting a specimen in an electron microscope

Номер патента: WO1996020495A3. Автор: Hendrik Willem Zandbergen,Van Voorst Andre Latenstein,Cornelis Westra,Gerardus Hendrikus Hoveling. Владелец: Stichting Tech Wetenschap. Дата публикации: 1996-09-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20210391142A1. Автор: Wei He,Sha Liu. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09472376B2. Автор: Hiroshi Makino,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Toshiyuki Yokosuka,Yoshinori Momonoi,Miki Isawa,Chahn Lee,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Tool-To-Tool Matching Control Method And Its System For Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110278453A1. Автор: Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-11-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7755045B2. Автор: Shinichi Tomita,Sukehiro Ito,Junichi Katane,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-13.

Electron microscope and image generation method

Номер патента: EP4120316A1. Автор: Motohiro Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-18.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20120187293A1. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Wataru Inami. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-07-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP1290714A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd CUTS. Дата публикации: 2003-03-12.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2001067483A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd.. Дата публикации: 2001-09-13.

Electron microscope

Номер патента: WO2022199721A1. Автор: Shuai Li,Shizuo QU,Jichuang HU. Владелец: Focus E-Beam Technology Pte. Ltd.. Дата публикации: 2022-09-29.

Scanning electron microscope and sample observation method

Номер патента: US09991092B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Hiroyuki Shinada,Hikaru Koyama,Osamu Komuro,Zhaohui Cheng. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Electron microscope and method of operating same

Номер патента: US09685302B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Method for characterization of a sample surface by using scanning electron microscope and scanning probe microscope

Номер патента: WO2017186198A1. Автор: Jan NEUMAN,Zdenek NOVACEK,Michal PAVERA. Владелец: Nenovision S.R.O.. Дата публикации: 2017-11-02.

Pre-Cryogenic Electron Microscope Specimen Holder

Номер патента: US20090283696A1. Автор: Chih-Yuan Tang. Владелец: E HONG INSTRUMENTS Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-19.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5834774A. Автор: Toshiharu Kobayashi,Tsutomu Negishi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-11-10.

System of scanning electron microscope sample box and method of opening the same

Номер патента: US20240014001A1. Автор: Ming Li,Hongmin Zhou,Shengquan FU. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2024-01-11.

Electron microscope for examining a specimen

Номер патента: WO2023110862A1. Автор: Moritz Becker,Eugen Foca. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

Secondary electron detector unit for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2004093120A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2004-10-28.

Secondary electron detector unit for a scanning electron microscope

Номер патента: US7425708B2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2008-09-16.

Method for creating reference images in electron microscopes

Номер патента: US20090080799A1. Автор: Paul E. Mooney. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR20130135541A. Автор: 박태훈,박필화. Владелец: (주)오로스 테크놀로지. Дата публикации: 2013-12-11.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: US5362964A. Автор: W. Ralph Knowles,William G. Schultz,Allen E. Armstrong. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1994-11-08.

Scanning transmission electron microscope using gas amplification

Номер патента: EP2182546B1. Автор: William Knowles,Milos Toth. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-10-26.

Cryogenic temperature control and tension/compression attachment stage for an electron microscope

Номер патента: US5355683A. Автор: Dale E. Taylor. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1994-10-18.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US6774364B2. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2004-08-10.

Electron gun and electron microscope

Номер патента: US20230298847A1. Автор: Masayoshi Nagao,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Edgardo Garcia Berrios,Yinying Xiao-Li,Lavinia Ghirardini. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Electron gun and electron microscope

Номер патента: WO2023177916A1. Автор: Masayoshi Nagao,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Edgardo Garcia Berrios,Yinying Xiao-Li,Lavinia Ghirardini. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-09-21.

Sample shape determination by measurement of surface slope with a scanning electron microscope

Номер патента: US6157032A. Автор: Stephen W. Into. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2000-12-05.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US20030193025A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Electron microscope and electron beam detector

Номер патента: US9355815B2. Автор: Yoichi Ose,Shin Imamura,Takashi Ohshima,Kenichi Hirane. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Electron Microscope and Method of Correcting Aberration

Номер патента: US20230026970A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Motofumi Saito,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Multi-beam charged particle imaging system with reduced charging effects

Номер патента: WO2024099587A1. Автор: Stefan Schubert. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-05-16.

Electron microscope equipped with automatic beam alignment

Номер патента: US20200161086A1. Автор: Jung Bum CHUN. Владелец: EMCRAFTS Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Transmission electron microscope

Номер патента: US20060255273A1. Автор: Hiroto Kasai,Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-11-16.

Transmission electron microscope

Номер патента: US7319225B2. Автор: Hiroto Kasai,Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-01-15.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20220415609A1. Автор: Takumi UEZONO,Tadanobu Toba,Hironori Itabashi,Masato Kamio. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Reinforced sample for transmission electron microscope

Номер патента: US09837246B1. Автор: Tomás Vystavel,Remco Theodorus Johannes Petrus Geurts. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-12-05.

Method and apparatus for correcting astigmatism in scanning electron microscopes and similar equipment

Номер патента: US4321468A. Автор: Takashi Kimura. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-03-23.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: US20230207254A1. Автор: Alexander Henstra,Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-06-29.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: US20200013580A1. Автор: Alexander Henstra,Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-01-09.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20200402760A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-12-24.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: EP3594987A3. Автор: Mr Alexander Henstra,Mr Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Scanning Transmission Electron Microscope With An Objective Electromagnetic Lens And A Method Of Use Thereof

Номер патента: US20180269030A1. Автор: Petras Stanislav,Lencova Bohumila,Benner Gerd Ludwig. Владелец: Tescan Tempe LLC. Дата публикации: 2018-09-20.

Electron microscope device

Номер патента: CA2743374C. Автор: Hirotaka Tanaka,Hisashi Isozaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2014-04-29.

Electron microscope

Номер патента: US20230028903A1. Автор: Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20230109853A1. Автор: Daisuke Kubota,Naoya Saitoh. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Portable electron microscope using micro-column

Номер патента: EP1794773A1. Автор: Ho Seob Kim,Byeng Jin Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-13.

Processing apparatus and method using a scanning electron microscope

Номер патента: US20150041643A1. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Ryo Kadoi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-12.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising co-condensers for continuous image resolution tuning

Номер патента: US11295927B1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-05.

Electron microscope and method of operating the same

Номер патента: EP2674961A3. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2015-01-07.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising co-condensers for continuous image resolution tuning

Номер патента: US20220108865A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Electron microscope and method of operating the same

Номер патента: US9772976B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Beam Alignment Method and Electron Microscope

Номер патента: US20170301507A1. Автор: Yuko Shimizu,Kazuya Yamazaki,Akira Yasuhara,Fumio Hosokawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

Electron microscope

Номер патента: US20140103208A1. Автор: Hiroyuki Noda,Mitsuru Onuma,Isao Nagaoki,Shuichi Mamishin. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-17.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20240186103A1. Автор: Hideki Kikuchi,Toshie Yaguchi,Akinari Hanawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Image acquisition method and electron microscope

Номер патента: US11456151B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-09-27.

Image Acquisition Method and Electron Microscope

Номер патента: US20220020561A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1678734A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-07-12.

Methods and apparatus for improving resolution and reducing noise in an image detector for an electron microscope

Номер патента: WO1998057350A1. Автор: Paul E. Mooney,John A. Hunt. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 1998-12-17.

Electron microscope

Номер патента: US09543115B2. Автор: Gerd Benner,Marko Matijevic. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2017-01-10.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4963737A. Автор: Seiichi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1990-10-16.

Detector for a electron microscope

Номер патента: CA1139457A. Автор: Siegfried Lichtenegger. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1983-01-11.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4585942A. Автор: Katsushige Tsuno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1986-04-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB1432887A. Автор: . Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1976-04-22.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908657B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Electron microscope and method of controlling same

Номер патента: EP4012743A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-06-15.

Electron Microscope and Method of Operating the Same

Номер патента: US20130332116A1. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Electron microscope

Номер патента: US20240128049A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Junichi Katane,Michio Hatano,Katsura Takaguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20210272770A1. Автор: Kenji Tanimoto,Yasunari Sohda,Yusuke Abe,Kaori BIZEN. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US11328898B2. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005041243A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-05-06.

Auger electron microscope and analysis method

Номер патента: US11391682B2. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

Electron microscope comprising an X-ray detector

Номер патента: US4450355A. Автор: Hendricus C. J. Marien,Michael N. Thompson. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1984-05-22.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US20220108867A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Aberration measurement method and electron microscope

Номер патента: US20190066968A1. Автор: Yuji Kohno,Akiho Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Multi-beam particle microscope with improved beam current control

Номер патента: EP4374410A1. Автор: Holger Kierey,Gero Storeck. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-05-29.

Scanning electron microscope with conversion means to produce a diffraction pattern

Номер патента: US3795809A. Автор: S Takashima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1974-03-05.

Inspection device using scanning electron microscope

Номер патента: US20040144928A1. Автор: Tadashi Hattori,Tetsuo Abe,Setsuo Norioka,Minoru Takeda,Seiichi Nakagawa,Hironori Fujita,Toshiaki Miyokawa,Naoki Date,Kouki Okawauchi,Yuichi Ak. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-29.

Method of Image Acquisition and Electron Microscope

Номер патента: US20180158646A1. Автор: Akiho Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Transmission electron microscope equipped with energy filter

Номер патента: US6586737B2. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2003-07-01.

Electron Microscope and Control Method

Номер патента: US20180330917A1. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-11-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: US10796879B2. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-10-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20190103245A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks,Wilhelmus Henrica Cornelis; THEUWS. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2019-04-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3424069A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2019-01-09.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2017150977A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom-World Holding B.V.. Дата публикации: 2017-09-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20140246584A1. Автор: Won-Guk SEO,Chang-Hoon Choi,Byeong-Hwan Jeon,Jeong-Woo HYUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-04.

Electron microscope

Номер патента: US20040144922A1. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi,Shuuichi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-07-29.

Electron microscope

Номер патента: US6833550B2. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi,Shuuichi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-21.

Scanning electron microscope apparatus and operation method thereof

Номер патента: US20210066034A1. Автор: Taeyong Lee,Sangkyo Lim,Yongmin CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

Transmission electron microscope having energy filter

Номер патента: US6140645A. Автор: Katsushige Tsuno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2000-10-31.

Scanning electron microscope scanning system

Номер патента: US3711711A. Автор: J Dao,N Yew. Владелец: ETEC CORP. Дата публикации: 1973-01-16.

Electron microscope having a compensation device for compensating the deviation of a diffraction image

Номер патента: US3571590A. Автор: Shinjiro Katagiri,Mamoru Nakano. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1971-03-23.

Electron microscope having a carrier

Номер патента: US20160172152A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Cheng-Yu Lee,Kun-Chih Tsai,Chun-Lin Chiang,Win-Ti Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-06-16.

Vacuumed device and a scanning electron microscope

Номер патента: US8492716B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B Nano Ltd. Дата публикации: 2013-07-23.

A vacuumed device and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010035265A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO LTD.. Дата публикации: 2010-04-01.

Stereo-scanning electron microscope

Номер патента: US3585382A. Автор: Tadao Suganuma. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1971-06-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3731257A2. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-10-28.

주사 전자 현미경(Scannig Electron Microscope, 이하 SEM), SEM을 동작시키는 방법 및 이를 이용한 반도체 소자를 제조하는 방법

Номер патента: KR20230068893A. Автор: 김석,손영훈,안재형,김광은. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2023-05-18.

Method for automatically aligning a scanning transmission electron microscope for precession electron diffraction data mapping

Номер патента: US20190295810A1. Автор: Stanislav Petras,Bohumila Lencova,Jon Karl WEISS,Gerd Ludwig Benner. Владелец: Tescan Tempe LLC. Дата публикации: 2019-09-26.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US8022356B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-09-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20100133426A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-03.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US7605364B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20080067337A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Scanning electron microscope/energy dispersive spectroscopy sample preparation method and sample produced thereby

Номер патента: US6362475B1. Автор: Catherine Vartuli,Jeffrey B. Bindell,Frederick A. Stevie. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2002-03-26.

Scanning type electron microscope

Номер патента: WO2006016613A1. Автор: Yoichi Ose,Makoto Ezumi,Noriaki Arai. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2006-02-16.

Electron microscope

Номер патента: US09679738B2. Автор: Takeshi Sato,Hiroaki Matsumoto,Yoshifumi Taniguchi,Ken Harada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Method and system for electron microscope with multiple cathodes

Номер патента: US09464998B2. Автор: Ahmed H. Zewail,John Spencer Baskin,Haihua Liu. Владелец: California Institute of Technology. Дата публикации: 2016-10-11.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: US4801801A. Автор: Tetsuo Oikawa,Junji Miyahara,Yoshiyasu Harada,Nobufumi Mori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-01-31.

Electron microscope

Номер патента: US4810886A. Автор: Tetsuo Oikawa,Junji Miyahara,Yoshiyasu Harada,Nobufumi Mori,Takayuki Katoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-03-07.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US09557253B2. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2017-01-31.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US12010430B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20240196094A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP3931853A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Jr. John Damiano,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20210235021A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-07-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2021034569A3. Автор: Daniel Stephen GARDINER,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Jr. John Damiano,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2021-04-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20210112203A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20220408024A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11477388B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-10-18.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11399138B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-07-26.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US10986279B1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-04-20.

Multi-beam electron microscope for electron channeling contrast imaging of semiconductor material

Номер патента: US09741532B1. Автор: Devendra K. Sadana,Stephen W. Bedell,John A. Ott,Brent A. Wacaser,Kunal Mukherjee. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and apparatus for measuring degree of vacuum in an electron microscope

Номер патента: US4803356A. Автор: Hiroki Kumahora,Eiichi Nishimura,Tsuneyuki Hashimoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-02-07.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP4414698A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Method for imaging with a scanning electron microscope and scanning electron microscope for carrying out the method

Номер патента: US20240290574A1. Автор: Daniel Fischer,Bernd Schindler,Andreas Schmaunz. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-29.

Ultimate analyzer, scanning transmission electron microscope and ultimate analysis method

Номер патента: US20030085356A1. Автор: Hiroyuki Tanaka,Takashi Aoyama,Kazutoshi Kaji,Shigeto Isakozawa,Shunroku Taya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Electron microscope using artificial intelligence training data

Номер патента: US20220199360A1. Автор: Junhee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Specimen box for electron microscope capable of observing general specimen and live cell

Номер патента: EP1796133A3. Автор: Chih-Yu Chao,Wen-Jiunn Hsien. Владелец: Lee Bing-Huan. Дата публикации: 2007-09-19.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US09583299B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Scanning electron microscope and sample observation method using the same

Номер патента: US6740877B2. Автор: Mitsugu Sato,Tetsuya Sawahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-05-25.

User interface for an electron microscope

Номер патента: EP2024732A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

User interface for an electron microscope

Номер патента: WO2007143734A3. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Leeuwen Hugo Van,Koen Arnoldus Wilhelm Driessen,Johannes Antonius Hend Persoon. Владелец: Johannes Antonius Hend Persoon. Дата публикации: 2008-05-22.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Johannes A.H.W.G. Persoon,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

User interface for an electron microscope

Номер патента: WO2007143734A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus Gerardus Persoon,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2007-12-13.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: WO2007143737A3. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Leeuwen Hugo Van,Koen Arnoldus Wilhelm Driessen,Johannes Antonius Hend Persoon. Владелец: Johannes Antonius Hend Persoon. Дата публикации: 2008-04-10.

Scanning electron microscope and calculation method for three-dimensional structure depth

Номер патента: US20200234916A1. Автор: Makoto Suzuki,Kenji Yasui,Toshiyuki Yokosuka,Yusuke Abe,Daisuke Bizen,Mayuka Osaki,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Spin-polarized scanning electron microscope

Номер патента: US20240249911A1. Автор: Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Makoto Kuwahara,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization

Номер патента: US11170972B2. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-11-09.

Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization

Номер патента: US20200402762A1. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: US20100252734A1. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-07.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: WO2009054605A4. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Byung-Chul Jeon. Дата публикации: 2009-06-11.

User interface for an electron microscope

Номер патента: US09865427B2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Martinus Petrus Maria Bierhoff,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W. G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-01-09.

Device for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US09818578B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Inspection system using scanning electron microscope

Номер патента: US8890067B2. Автор: Young-Gil Park,Won-Bong Baek,Ki-Won Oh. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-18.

Electron microscope, a camera for such an electron microscope, and a method of operating such an electron microscope

Номер патента: US5457317A. Автор: Teiji Katsuta,Isao Matsui,Katsuhisa Yonehara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1995-10-10.

Electron microscope and method for transmission electron microscopy imaging of sample arrays

Номер патента: EP3169986A1. Автор: Claude Dufresne,Holger Eickhoff. Владелец: Scienion GmbH. Дата публикации: 2017-05-24.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120061566A1. Автор: Takeshi Mizuno,Akira Ikegami,Minoru Yamazaki,Manabu Yano,Hideyuki Kazumi,Kazunari Asao,Yuki Ojima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-15.

Three-Dimensional Image Reconstruction Method, Image Processor, and Electron Microscope

Номер патента: US20170278669A1. Автор: Isamu Ishikawa,Yoshinori Fujiyoshi,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-28.

Electron Microscope

Номер патента: US20230238212A1. Автор: Hiroyasu Shichi,Naomasa Suzuki,Nobuhiro Okai,Masanobu IEDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Method of characterizing a fault in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024028468A3. Автор: Daniel Schwarz,Marion Batz,Gunther Scheunert,Katharina Gries,Daniel Alexander Emmrich,Julian Braun,David Laemmle. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-03-14.

Method of characterizing a fault in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024028468A2. Автор: Daniel Schwarz,Marion Batz,Gunther Scheunert,Katharina Gries,Daniel Alexander Emmrich,Julian Braun,David Laemmle. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-02-08.

Pole piece incorporating optical cavity for improved phase-contrast in electron microscope imaging

Номер патента: EP4391007A1. Автор: Pleun Dona,Bart Buijsse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-26.

Method and systems for balancing charges on a surface of an object comprising integrated circuit patterns in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024184078A2. Автор: Thomas Korb. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Electron microscope

Номер патента: US09754763B2. Автор: Toshiyuki Oyagi,Takafumi Yotsuji. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Analysis method using electron microscope, and electron microscope

Номер патента: US09748073B2. Автор: Takashi Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Work station including sample holder for cryogenic electron microscope for correlative imaging detection of light microscope and electron microscope, correlative imaging detection apparatus including same, and imaging detection method and imaging system using same

Номер патента: WO2016021745A1. Автор: 정현석,전상미. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2016-02-11.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US9773634B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: US20190043690A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2019-02-07.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: WO2019027737A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2019-02-07.

Magnetic field generation device, and transmission electron microscope sample holder capable of applying magnetic field

Номер патента: EP4145487A1. Автор: Wei Li,Xin Sun,Tian Bai,Renjie Chen,Aru YAN,Weixing Xia,Jiazhuan QIN. Владелец: Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS. Дата публикации: 2023-03-08.

Automatic preliminary irradiation apparatus in transmission electron microscope

Номер патента: US4939365A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akio Mori,Teruo Suzuki,Sadahiko Okamura,Shoji Kamimura. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1990-07-03.

Method for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180068827A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-08.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: EP4057320A1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-09-14.

A method of automated data acquisition for a transmission electron microscope

Номер патента: EP4345447A1. Автор: Peter Tiemeijer,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-03.

Method of automated data acquisition for a transmission electron microscope

Номер патента: US20240128050A1. Автор: Peter Tiemeijer,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-18.

System and method for electromagnetic interference shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US8952330B2. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-02-10.

Method of imaging defects using an electron microscope

Номер патента: WO2017103575A1. Автор: Atsufumi Hirohata. Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2017-06-22.

Electron microscope and beam irradiation method

Номер патента: US20200411278A1. Автор: Takamitsu Nagai. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2020-12-31.

Lens for a scanning electron microscope

Номер патента: US20040084620A1. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2004-05-06.

System and method for electromagnetic interferece shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US20130001419A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-03.

System And Method For Electromagnetic Interference Shielding For Critical Dimension-Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140124667A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W.G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

Reference sample with inclined support base, method for evaluating scanning electron microscope, and method for evaluating sic substrate

Номер патента: US20200279716A1. Автор: Tadaaki Kaneko,Koji Ashida. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-09-03.

Bifocal electron microscope

Номер патента: US20240272100A1. Автор: Alexander Henstra,Yuchen Deng,Holger Kohr. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-15.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A8. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh,Tyrrell Chris. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2023-12-13.

Transmission electron microscope high-resolution in-situ fluid freezing chip and preparation method therefor

Номер патента: GB2613733A. Автор: DENG JUNXIAN,Liao Honggang,Jiang Youhong. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-06-14.

Electron Microscope

Номер патента: US20190272971A1. Автор: Takeo Sasaki,Shigeyuki Morishita,Tomohiro NAKAMICHI. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-09-05.

A lens for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2001084593A2. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: The National University Of Singapore. Дата публикации: 2001-11-08.

Device and method for measuring correlation between fatigue performance and microstructure of one-dimensional (1d) nanomaterial in situ in transmission electron microscope (tem)

Номер патента: US20240035988A1. Автор: Lihua Wang,Xiaodong Han,Yan Ma. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-02-01.

Five-dimensional electron microscope and analysis method therefor

Номер патента: EP4407652A1. Автор: Asuka Nakamura,Takahiro SHIMOJIMA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-07-31.

Method for optimizing fluid flow across a sample within an electron microscope sample holder

Номер патента: US09997330B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Scanning-electron-microscope image processing device and scanning method

Номер патента: US09978558B2. Автор: Hajime Kawano,Kumiko Shimizu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Weak signal detection system and electron microscope equipped with same

Номер патента: US09576769B2. Автор: Wen Li,Masami Makuuchi,Hisaaki Kanai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Method for optimizing fluid flow across a sample within an electron microscope sample holder

Номер патента: US09466459B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Phase plate for a transmission electron microscope

Номер патента: US09460890B2. Автор: Steffen PATTAI,Patrick KURTH,Joerg Wamser. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-10-04.

Transmission electron microscope micro-grid

Номер патента: US09406481B2. Автор: Yang Wei,Shou-Shan Fan,xiao-yang Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Electron microscope

Номер патента: EP1263019A1. Автор: Eiko Nakazawa,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-04.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4429222A. Автор: Akira Yonezawa. Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1984-01-31.

Electron microscope

Номер патента: US4121100A. Автор: Shinjiro Katagiri,Yoshihisa Minamikawa,Morioki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1978-10-17.

Electronic microscope observation system and observation method

Номер патента: US6822232B1. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-11-23.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: US20230040811A1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2023-02-09.

Analysis method using electron microscope, and electron microscope

Номер патента: US20160365220A1. Автор: Takashi Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-15.

Pole piece incorporating optical cavity for improved phase-contrast in electron microscope imaging

Номер патента: US20240203685A1. Автор: Pleun Dona,Bart Buijsse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-20.

Stroboscopic scanning electron microscope

Номер патента: US4733075A. Автор: Masayuki Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1988-03-22.

Objective lens for electron microscope

Номер патента: US4383176A. Автор: Akira Yonezawa,Kohei Shirota. Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1983-05-10.

Electron-beam illuminating system for an electrical apparatus such as an electron microscope or the like

Номер патента: US3862419A. Автор: Lee Veneklasen. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1975-01-21.

Quantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: US4559450A. Автор: Vivian N. E. Robinson,Nicholas G. Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1985-12-17.

Scanning electron microscope objective lens system and method for specimen observation

Номер патента: US20210110994A1. Автор: Wei He,Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Electron microscope, device for measuring electron-photon correlation, and method for measuring electron-photon correlation

Номер патента: EP4307336A1. Автор: Hikaru Saito,Takumi Sannomiya,Sotatsu YANAGIMOTO,Keiichirou AKIBA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-01-17.

Packaging unit for liquid sample loading devices applied in electron microscope and packaging method

Номер патента: US20180010988A1. Автор: Shih-Wen Tseng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2018-01-11.

Measurement device for electron microscope

Номер патента: EP1454335A1. Автор: Krister Svensson,Andrey Danilov,Fredrik Althoff,H Kan Olin. Владелец: NANOFACTORY INSTRUMENTS AB. Дата публикации: 2004-09-08.

Liquid chip for electron microscope having excellent bulging resistance

Номер патента: US11747286B2. Автор: Jungjae PARK,Jongmin YUK,Namgyu NOH,Kunmo KOO,Sanghyeon JI. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2023-09-05.

Electron microscope, device for measuring electron-photon correlation, and method for measuring electron-photon correlation

Номер патента: US20240153736A1. Автор: Hikaru Saito,Takumi Sannomiya,Sotatsu YANAGIMOTO,Keiichirou AKIBA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-05-09.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: WO2007143736A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus Gerardus Persoon,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2007-12-13.

Magnetic electron microscope

Номер патента: US20090078869A1. Автор: Takao Matsumoto,Masanari Koguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Electron beam control device for electron microscopes

Номер патента: US4451737A. Автор: Shigeto Isakozawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-05-29.

Electron microscope method and apparatus for improving image phase contrast

Номер патента: US3566109A. Автор: Robert D Heidenreich. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1971-02-23.

Focusing apparatus used in a transmission electron microscope

Номер патента: US4698503A. Автор: Shigeto Isakozawa,Setsuo Nomura,Morioki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-10-06.

Electron microscope and calibration method

Номер патента: EP4283654A1. Автор: Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Transmission electron microscope high-resolution in situ fluid freezing chip and preparation method thereof

Номер патента: US20230326712A1. Автор: Honggang Liao. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-12.

Sample chip for electron microscope and its related application

Номер патента: US20190272972A1. Автор: Po Tsung Hsieh,Chung Jen Chung,Shih Wen Tseng,Chiu Hua Huang,Tzu Hsin Chen,Ya Wen Tsai. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-09-05.

Electron microscope and image capturing method using electron beam

Номер патента: US20140097342A1. Автор: Yoshinobu Kimura,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-10.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising plasma generator, and method thereof

Номер патента: US20220115204A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Packaging unit for liquid sample loading devices applied in electron microscope and packaging method

Номер патента: US10309878B2. Автор: Shih-Wen Tseng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-06-04.

Electron Microscope and Calibration Method

Номер патента: US20230386782A1. Автор: Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Method and device for observing a specimen in a field of view of an electron microscope

Номер патента: US20020027199A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Isao Nagaoki,Hiromi Inada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-03-07.

Electron microscope and image capturing method using electron beam

Номер патента: US8907279B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-12-09.

Method and device for observing a specimen in a field of view of an electron microscope

Номер патента: US20040173749A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Isao Nagaoki,Hiromi Inada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-09.

Electron Microscope and Specimen Orientation Alignment Method

Номер патента: US20240087840A1. Автор: Shuji Kawai,Motofumi Saitoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Charged particle microscope with vibration detection / correction

Номер патента: US09875879B2. Автор: Albert Visscher,Jeroen De Boeij,Johannes Antonius Maria van den Oetelaar. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Field-emission scanning auger electron microscope

Номер патента: US4698502A. Автор: James K. Gimzewski,Johannes G. Bednorz,Bruno Reihl. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1987-10-06.

Method and system for aligning images of sample layers obtained using a scanning electron microscope with a focused ion beam

Номер патента: RU2743231C1. Автор: Илья Владимирович Сафонов,Иван Викторович Якимчук,Ирина Анатольевна Реймерс. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2021-02-16.

Scanning electron microscope and similar apparatus

Номер патента: US20090294665A1. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-12-03.

Thermal-field type electron source composed of transition metal carbide material

Номер патента: US09490098B1. Автор: Gerald G. Magera,William A. Mackie. Владелец: Applied Physics Technologies Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Scanning electron microscope with a chamber which can be broken down, particularly for observing pieces of relatively large dimensions

Номер патента: US4313056A. Автор: Walter Hotz,Cosimo Gabriele,Francesco Porro. Владелец: Costruzioni Aeronautiche Giovanni Augusta SpA. Дата публикации: 1982-01-26.

Method of quantitative three-dimensional reconstruction of a sample surface in a scanning- electron microscope

Номер патента: RU2657000C1. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2018-06-08.

Scanning electron microscope and similar apparatus

Номер патента: US20050279937A1. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

Electron microscope with plural X-ray detectors for acquiring elemental spectrum

Номер патента: US10002741B2. Автор: Fu-Rong Chen,Tsu-Wei Huang,Chin-Liang Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-06-19.

Scanning Electron Microscope Objective Lens Calibration

Номер патента: US20190004298A1. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: EP3635468A1. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: WO2016013930A1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-01-28.

3d imaging system of scanning electron microscope

Номер патента: LU501201B1. Автор: Liang Tang. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-07-05.

Electron-microscopic image viewing system

Номер патента: US4866273A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Shoji Kamimura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-09-12.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: US20240272099A1. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-15.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: EP4423791A2. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-04.

Apparatus of measuring the orientation relationship between neighbouring grains using a gonimeter in a transmission electron microscope and method for revealing the characteristics of grain boundaries

Номер патента: EP2148190A3. Автор: In Soo Kim,Hyun Uk Hong,Baig Gyu Choi,Chang Yong Jo,Young Soo Yoo,Hi Won Jeong,Seong Moon Seo. Владелец: Korea Institute of Machinery and Materials KIMM. Дата публикации: 2011-02-23.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20240267628A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L. Marthe, JR.. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Electron microscope for examining a specimen

Номер патента: US20240302304A1. Автор: Moritz Becker,Eugen Foca. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Scanning electron microscope and sample observation method using scanning electron microscope

Номер патента: US20190348255A1. Автор: Makoto Sakakibara,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Daisuke Bizen. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: WO2023072919A3. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

Generation, acceleration, focusing and collection of a high-brightness, space-charge-dominated circular charged-particle beam

Номер патента: WO2008061173A3. Автор: Jing Zhou,Chiping Chen,Thomas M Bemis,Ronak J Bhatt. Владелец: Ronak J Bhatt. Дата публикации: 2008-08-21.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20020185599A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Generation, acceleration, focusing and collection of a high-brightness, space-charge-dominated circular charged-particle beam

Номер патента: WO2008061173A2. Автор: Jing Zhou,Chiping Chen,Thomas M. Bemis,Ronak J. Bhatt. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2008-05-22.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11514586B1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Nelson L Marthe, Jr.,Benjamin Bradshaw Larson. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-11-29.

Apparatus for automatically controlling the magnification factor of a scanning electron microscope

Номер патента: CA1282191C. Автор: Glen A. Herriot. Владелец: Vickers Instruments (Canada) Inc. Дата публикации: 1991-03-26.

Electron microscope for inspecting and processing of an object with miniaturized structures and method thereof

Номер патента: EP1903596A3. Автор: Johannes Bihr,Tobias Clauss,Michael Budach,Friedhelm Dr. Panteleit. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2011-01-05.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11902665B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Nelson L Marthe, Jr.,Benjamin Bradshaw Larson. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180045755A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: WO2018031602A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek, LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180328960A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-11-15.

Scanning electron microscope image anchoring to design for array

Номер патента: WO2022040109A1. Автор: Santosh Bhattacharyya,Steve ESBENSHADE. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2022-02-24.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20220377244A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L. Marthe, JR.. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Electron microscope and method of adjusting focus of electron microscope

Номер патента: US20210384006A1. Автор: Kenji Tanimoto,Hyejin Kim,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20080191135A1. Автор: Shuichi Takeuchi,Atsushi Muto,Yasuko Aoki,Tetsuya Sawahata,Mine Araki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Method for safe control of gas delivery to an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180203423A1. Автор: John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,James Rivenbark,Rebecca Thomas,Daniel S. Gardiner,Mark Uebel,Michael Zapata, III. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-07-19.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US20030193026A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Transmission electron microscope

Номер патента: US5350918A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Sadao Terakado,Morioki Kubozoe. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 1994-09-27.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US6768114B2. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2004-07-27.

Scanning electron microscope

Номер патента: US11756763B2. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Method for safe control of gas delivery to an electron microscope sample holder

Номер патента: US09915926B2. Автор: John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,James Rivenbark,Rebecca Thomas,Daniel S. Gardiner,Mark Uebel,Michael Zapata, III. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Electron microscope having a carrier

Номер патента: US09842722B2. Автор: Hsin-Hung Lee,Cheng-Yu Lee,Kun-Chih Tsai,Chun-Lin Chiang,Win-Ti Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-12-12.

Wafer sample retainer for an electron microscope

Номер патента: US5923040A. Автор: Lynn J. Carroll. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1999-07-13.

Improvements in and relating to electron microscopes

Номер патента: GB588120A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1947-05-14.

Improvements in or relating to electron-microscopes

Номер патента: GB634820A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1950-03-29.

Automatic electron microscope field counter

Номер патента: US3748468A. Автор: A Hartman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1973-07-24.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: EP3497453A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2019-06-19.

Additive composition of defocusing images in an electron microscope

Номер патента: US5466937A. Автор: Pieter Kruit. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1995-11-14.

Scanning electron microscopes

Номер патента: GB1436278A. Автор: . Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1976-05-19.

Electron microscope specimen holder

Номер патента: US5367171A. Автор: Yutaka Misawa,Takashi Aoyama,Kazuhiro Ueda,Koji Kimoto,Shigeto Isakozawa,Kishu Hosoi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-11-22.

Automatic control system for varying a d.c. high voltage for accelerating tube of electron microscope and the like

Номер патента: US3691377A. Автор: Shinjiro Katagiri,Teruo Nakahara,Isao Matsui,Yoshihisa Minamikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1972-09-12.

Scanning electron microscope operating in area scan and angle scan modes

Номер патента: US3801784A. Автор: D Wittry. Владелец: Research Corp. Дата публикации: 1974-04-02.

Scanning electron microscope fiber push-out apparatus and method

Номер патента: US5559329A. Автор: Brian E. Joseph,II Russell P. Stackpole,Everett H. Baker. Владелец: Touchstone Research Laboratory Ltd. Дата публикации: 1996-09-24.

Scanning electron microscope and method of processing the same

Номер патента: US5001344A. Автор: Makoto Kato,Shinobu Otsuka,Koichi Homma,Fuminobu Komura,Toshihiro Furuya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1991-03-19.

Electron microscope imaging stages and systems

Номер патента: WO2023205466A1. Автор: Eduardo ROSA-MOLINAR. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2023-10-26.

Electron microscope and aberration measurement method

Номер патента: EP4254467A1. Автор: Takeshi Kaneko,Hidetaka Sawada,Shigeyuki Morishita,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Secondary electron detector, especially in a scanning electron microscope

Номер патента: AU2003303138A1. Автор: Filip Lopour,Martin Zadrazil,Marcus Jacka. Владелец: Tescan sro. Дата публикации: 2004-07-22.

Scanning Electron Microscope Having Time Constant Measurement Capability

Номер патента: US20100258723A1. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-14.

Sample preparation system and method for electron microscope observation, and tape feeding mechanism used for sample preparation

Номер патента: US11990314B2. Автор: Shuichi Goto,Shinsuke Shibata,Hideyuki Okano,Tomoko Shindo. Владелец: Sanyu Electron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Light guide assembly for an electron microscope

Номер патента: US20210082659A1. Автор: Marek Uncovský,Michal GERYK,Jan Lásko. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-03-18.

Electron Microscope and Aberration Measurement Method

Номер патента: US20230349839A1. Автор: Takeshi Kaneko,Hidetaka Sawada,Shigeyuki Morishita,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

A specimen-carrier accessory device for the stereoscopic analysis by scanning electron microscope

Номер патента: EP1111650A3. Автор: Piero Iulita. Владелец: Fiat Auto SpA. Дата публикации: 2001-07-04.

Electron microscope sample holder fluid handling with independent pressure and flow control

Номер патента: WO2019010390A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,Jr. John Damiano. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2019-01-10.

Apparatus for recording and reproducing image produced by an electron microscope including an optical filter and a deflecting element

Номер патента: US4851677A. Автор: Kenji Takahashi,Yuichi Hosoi,Nobufumi Mori. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-25.

Electron microscope including an electromagnetic electron energy analyzing lens

Номер патента: US3619607A. Автор: Takeo Ichinokawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-11-09.

Specimen stage for an electron microscope

Номер патента: US3702399A. Автор: Jeffrey Harvey Lucas. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1972-11-07.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US8274048B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-25.

Electron microscope sample holder fluid handling with independent pressure and flow control

Номер патента: US11869744B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Light guide assembly for an electron microscope

Номер патента: US11335536B2. Автор: Marek Uncovský,Michal GERYK,Jan Lásko. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-05-17.

Secondary electron detector, especially in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1537595B1. Автор: Filip Lopour,Martin Zadrazil,Marcus Jacka. Владелец: Tescan sro. Дата публикации: 2012-04-11.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US7763852B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-27.

Surface emission type electron source and drawing device

Номер патента: EP2141725A4. Автор: Akira Kojima,Hideyuki Ohyi. Владелец: Crestec Corp. Дата публикации: 2010-09-15.

ACTIVATION CHAMBER AND KIT USED IN TREATMENT DEVICE FOR LOWERING ELECTRON AFFINITY, TREATMENT DEVICE THAT CONTAINS SAID KIT AND IS USED TO LOWER ELECTRONIC AFFINITY, PHOTOCATHODE ELECTRON-BEAM SOURCE, ELECTRON GUN CONTAINING PHOTOCATHODE ELECTRON-BEAM SOURCE, FREE-ELECTRON LASER ACCELERATOR, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON-BEAM HOLOGRAPHY MICROSCOPE, ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, ELECTRON-BEAM DIFFRACTION DEVICE, AND ELECTRON-BEAM SCANNING DEVICE

Номер патента: US20160172144A1. Автор: Nishitani Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

Activation chamber and kit used in treatment device for lowering electron affinity, treatment device that contains said kit and is used to lower electronic affinity, photocathode electron-beam source, electron gun containing photocathode electron-beam source, free-electron laser accelerator, transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron-beam holography microscope, electron-beam lithography device, electron-beam diffraction device, and electron-beam scanning device

Номер патента: EP3024012B1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2018-02-14.

Electron microscope observation system and observation method

Номер патента: US6956212B2. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-10-18.

Reducing space charge effects in ion beams using cusp-type magnetic fields

Номер патента: GB2378313A. Автор: Michiro Sugitani,Mitsukuni Tsukihara,Hiroshi Matsushita,Mitsuaki Kabasawa,Hiroki Murooka. Владелец: Sumitomo Eaton Nova Corp. Дата публикации: 2003-02-05.

Electron microscope observation system and observation method

Номер патента: US20050061975A1. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-24.

Scanning electron microscopic direct-write lithography system based on a compliant nano servo motion system

Номер патента: US20220291589A1. Автор: Zhen Zhang,Yijie LIU,Juntian QU. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-15.

Chemically-assisted ion beam milling system for the preparation of transmission electron microscope specimens

Номер патента: US5009743A. Автор: Peter R. Swann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 1991-04-23.

Electron beam detector, scanning type electron microscope, mass spectrometer, and ion detector

Номер патента: WO2002061458A1. Автор: Minoru Kondo,Toshimitsu Nagai,Atsushi Kibune. Владелец: Hamamatsu Photonics K. K.. Дата публикации: 2002-08-08.

Electron beam detector, scanning type electron microscope, mass spectrometer, and ion detector

Номер патента: US20040061054A1. Автор: Minoru Kondo,Toshimitsu Nagai,Atsushi Kibune. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2004-04-01.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: WO2005006384A2. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2005-01-20.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: EP1642313A2. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2006-04-05.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: EP1642313B1. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-12-22.

Method of operating a scanning electron microscope

Номер патента: US8227752B1. Автор: Hubert Mantz,Jaroslaw Paluszynski. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2012-07-24.

3D DEFECT CHARACTERIZATION OF CRYSTALLINE SAMPLES IN A SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20200013581A1. Автор: Vystavel Tomá{hacek over (s)},"Seda Bohuslav",Prokhodtseva Anna. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

Detachable Sample Chamber having Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) Function for Electron Microscope and Electron Microscope Comprising The Same

Номер патента: KR101983029B1. Автор: 조복래. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2019-05-29.

Spectrometer for scanning type electronic microscope

Номер патента: JPS5728220A. Автор: Bobuino Jiyatsukii,Sumo Jiyatsuku. Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-02-15.

Analysis electron microscope

Номер патента: US20010045515A1. Автор: Yuji Sato,Shigeto Isakozawa,Wataru Shimoyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-11-29.

Scanning electron microscope image-based pitch walk inspection method and method of manufacturing semiconductor device comprising the inspection method

Номер патента: US20230253179A1. Автор: Dongho Kim,Seunghune YANG,Sung Min NAM,Jaeseung JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-10.

Space Charge Reduction in TOF-MS

Номер патента: US20240312776A1. Автор: Igor Chernushevich,Pavel Ryumin,Nichols G. BLOOMFIELD. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Method of avoiding space charge saturation effects in an ion trap

Номер патента: CA2724238C. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Raymond Green. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Space charge reduction in tof-ms

Номер патента: EP4381535A1. Автор: Nic G. BLOOMFIELD,Igor Chernushevich,Pavel Ryumin. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2024-06-12.

Specimen observation apparatus including an optical microscope and a scanning electron microscope

Номер патента: US4349242A. Автор: Kazumichi Ogura. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-09-14.

Electron microscope

Номер патента: US5552602A. Автор: Yasuhiro Mitsui,Katsuhiro Kuroda,Tatsuo Makishima,Hiroshi Kakibayashi,Shigeto Isakozawa,Mikio Ichihashi,Hideo Tadokoro,Kazutaka Tsuji,Masanari Koguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1996-09-03.

Scanning electron microscope and methods of inspecting and reviewing samples

Номер патента: US09767986B2. Автор: David L. Brown,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Venkatraman Iyer,Jingjing Zhang,Devis CONTARATO,Marcel Trimpl. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Method and apparatus for non-invasive semiconductor technique for measuring dielectric/semiconductor interface trap density using scanning electron microscope charging

Номер патента: US20240071710A1. Автор: Timothy M. WONG. Владелец: Femtometrics Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Range-based real-time scanning electron microscope non-visual binner

Номер патента: US09947596B2. Автор: Arpit Jain,Arpit YATI,Olivier Moreau,Arun Lobo,Hemanta Kumar Roy. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Scanning electron microscope system capable of measuring in-cell overlay offset using high-energy electron beam and method thereof

Номер патента: US09934939B2. Автор: Sang Kil Lee,Chung Sam Jun,Min Kook Kim,Yu Sin YANG,Woo Seok KO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-03.

Electron microscope, and method for observing measurement sample

Номер патента: EP3757558A1. Автор: Toshiyuki Taniuchi,Shik Shin. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2020-12-30.

Nozzle-type electron beam irradiation device, and electron beam sterilization equipment equipped with same

Номер патента: US10568980B2. Автор: Hiroyuki Daiku,Ichiro Sakai,Takeshi Noda. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Nozzle-type electron beam irradiation device, and electron beam sterilization equipment equipped with same

Номер патента: US20190134241A1. Автор: Hiroyuki Daiku,Ichiro Sakai,Takeshi Noda. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Method and apparatus for non-invasive semiconductor technique for measuring dielectric/semiconductor interface trap density using scanning electron microscope charging

Номер патента: WO2024015795A1. Автор: Timothy M. WONG. Владелец: Femtometrix, Inc.. Дата публикации: 2024-01-18.

Improved tip for nanoscanning electron microscope

Номер патента: WO2005008707A3. Автор: Conrad W Schneiker,Robert W Gray. Владелец: Robert W Gray. Дата публикации: 2008-06-26.

Method for processing scanning electron microscope specimen

Номер патента: US20220397498A1. Автор: Guo Chen,LIN Cong,Ke Zhang,Kai-Li Jiang,Shou-Shan Fan,Xin-Yu Gao. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-15.

Electron microscope device and inclined hole measurement method using same

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Yuji Takagi,Fumihiko Fukunaga,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Applying CRT tube-type electron directingplates in a double slit system to provide an observable bridge between classical and quantum physics

Номер патента: US20140084178A1. Автор: James D. Welch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-03-27.

Improvements in or relating to space-charge wave tubes

Номер патента: GB867699A. Автор: . Владелец: Siemens and Halske AG. Дата публикации: 1961-05-10.

Tip for nanoscanning electron microscope

Номер патента: US20040079892A1. Автор: Robert Gray,Conrad Schneiker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-29.

Compensating for scanning electron microscope beam distortion-induced metrology error using design

Номер патента: WO2019136182A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-11.

Scanning electron microscope (sem) measurement method and apparatus

Номер патента: US20240079206A1. Автор: Kihyun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Electron microscope, and method for observing measurement sample

Номер патента: US20210140901A1. Автор: Toshiyuki Taniuchi,Shik Shin. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2021-05-13.

Compensating for Scanning Electron Microscope Beam Distortion-Induced Metrology Error Using Design

Номер патента: US20190214223A1. Автор: Hari Pathangi Sriraman. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Method of assembling multiple element type electron guns

Номер патента: US3561083A. Автор: Shinichi Sawagata. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1971-02-09.

Open-type X-ray tube comprising field emission type electron gun and X-ray inspection apparatus using the same

Номер патента: US09984847B2. Автор: Kenji Oohashi,Katsunori Minami,Kohei Shirota. Владелец: Mars Tohken Solution Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Ageing electron discharge tubes having space charge grids

Номер патента: GB675470A. Автор: . Владелец: RADIO PATENTS CORP. Дата публикации: 1952-07-09.

X-ray tube comprising field emission type electron gun and X-ray inspection apparatus using the same

Номер патента: EP2779203A3. Автор: Katsutoshi Minami,Kenji Oohashi,Kohei Shirota. Владелец: Mars Tohken X Ray Inspection Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-27.

Space charge control in a tandem ion trapping arrangement

Номер патента: GB2455386A. Автор: Jason Lee Wildgoose,Martin Green. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2009-06-10.

In-line type electron gun structure for color picture tubes

Номер патента: US4241275A. Автор: Masaaki Yamauchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1980-12-23.

In-line type electron gun

Номер патента: CA1272503A. Автор: Kazunori Ikegami,Souitirou Okuda,Eishou Nosaka,Tadahisa Yoshida. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1990-08-07.

In-line type electron gun and color cathode ray tube apparatus using the same

Номер патента: EP1562219A2. Автор: Hirofumi Ueno,Tsutomu Takekawa. Владелец: Matsushita Toshiba Picture Display Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-10.

Multi-focusing type electron gun for color cathode ray tubes

Номер патента: US5291094A. Автор: Sungwoo Lee. Владелец: Samsung Electron Devices Co Ltd. Дата публикации: 1994-03-01.

Method for making a field-emission type electron gun

Номер патента: US5620350A. Автор: Hisashi Takemura. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1997-04-15.

Field-emission type electron source and charged particle beam device using the same

Номер патента: US11935720B1. Автор: Zhongwei Chen,Dazhi Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-19.

Field-emission type electron source and charged particle beam device using the same

Номер патента: US11848169B1. Автор: Zhongwei Chen,Dazhi Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-19.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: GB2161018B. Автор: Yoshiyasu Harada,Takeshi Tomita,Kimio Ohi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-06-01.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: GB8509681D0. Автор: . Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1985-05-22.

Scan type electron microscope and secondary electron detector for electron searching device

Номер патента: JPS5790859A. Автор: Jiyatsuchietsuchi Jiyankaruro,Raanshiyu Yurugen,Toomasu Uookaa Kuraibu. Владелец: European Atomic Energy Community Euratom. Дата публикации: 1982-06-05.

Tiltable specimen holder for electron microscopes with electrical deflecting means to wobble the electron beam image

Номер патента: US3308294A. Автор: Ozasa Susumu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1967-03-07.

BODY BEAM MICROSCOPE, IN PARTICULAR ELECTRON MICROSCOPE, WITH ADJUSTMENT DEVICES TO CHANGE THE POSITION OF THE OBJECT TO BE IMAGED

Номер патента: DE2529735A1. Автор: Walter Prof Dr Hoppe. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 1977-01-20.

BODY BEAM MICROSCOPE, IN PARTICULAR ELECTRON MICROSCOPE, WITH ADJUSTMENT DEVICES FOR CHANGING THE POSITION OF THE OBJECT TO BE IMAGED AND PROCEDURES FOR OPERATING

Номер патента: DE2529735B2. Автор: Walter Prof Dr 8033 Martinsned Hoppe. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 1977-10-06.

PARTICLE BEAM MICROSCOPE, MORE PARTICULARLY ELECTRON MICROSCOPE, WITH ADJUSTMENT DEVICES FOR CHANGING THE POSITION OF THE OBJECT TO BE IMAGED.

Номер патента: NL7607280A. Автор: . Владелец: Max Planck Gesellschaft. Дата публикации: 1977-01-04.

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20130099117A1. Автор: Akima Hisanao,Yoshida Takaho. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-25.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US20140227734A1. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2014-08-14.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: JPS5832347A. Автор: Tetsuo Oikawa,哲夫 及川. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1983-02-25.

Focusing device of transmission type electron microscope

Номер патента: JPS61168852A. Автор: Shigeto Sunakozawa,成人 砂子沢,Moriki Kubozoe,Sadao Nomura,窪添　守起,野村　節生. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1986-07-30.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: JPS6132948A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,弘幸 小林. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1986-02-15.

Scanning type electronic microscope

Номер патента: JPS5986145A. Автор: Hideo Todokoro,秀男 戸所,Satoru Fukuhara,Mikio Ichihashi,幹雄 市橋,悟 福原. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-05-18.

Electron microscope, sample actuator for an electron microscope and method for observing microscopic images

Номер патента: DE69128104T2. Автор: Ryo Suzuki,Masatoshi Takeshita,Yusuke Yajima,Masakazu Ichikawa,Mikio Ichihashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-04-09.

Image display system of stroboscopic scanning type electron microscope

Номер патента: JPS5931549A. Автор: Hideo Todokoro,秀男 戸所,Satoru Fukuhara,悟 福原. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-02-20.

Circuit including semiconductor device with multiple individually biased space-charge control electrodes

Номер патента: US09647076B2. Автор: Michael Shur,Remigijus Gaska,Grigory Simin. Владелец: Sensor Electronic Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Semiconductor device with multiple space-charge control electrodes

Номер патента: US09312347B2. Автор: Michael Shur,Remigijus Gaska,Grigory Simin. Владелец: Sensor Electronic Technology Inc. Дата публикации: 2016-04-12.

Space charge dissipation type air terminal

Номер патента: WO2005057747A1. Автор: Young-Ki Chung. Владелец: Young-Ki Chung. Дата публикации: 2005-06-23.

Embedding resin composition for electron microscopey and method for observing sample with electron microscope using the same

Номер патента: US09870894B2. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiryu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2018-01-16.

Scanning electron microscope and image processing method

Номер патента: EP3654360A2. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-05-20.

Embedding resin composition for electron microscope, and method for observing sample on electron microscope using said composition

Номер патента: US20140212913A1. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiyu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2014-07-31.

Antenna system with decreased SAR value

Номер патента: US11056772B2. Автор: Kai Dong,Dawei Shi. Владелец: AAC Technologies Pte Ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Electroluminescent display with space charge removal

Номер патента: US5179316A. Автор: Mark D. Kellam. Владелец: MCNC. Дата публикации: 1993-01-12.

Antenna System with Decreased SAR Value

Номер патента: US20190386382A1. Автор: Kai Dong,Dawei Shi. Владелец: AAC Technologies Pte Ltd. Дата публикации: 2019-12-19.

Photodiode device with reducible space charge region

Номер патента: US20150287847A1. Автор: Jordi Teva. Владелец: ams AG. Дата публикации: 2015-10-08.

Connector for a card-type electronic device

Номер патента: US20040147151A1. Автор: James Koser. Владелец: FCI AMERICAS TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2004-07-29.

Pattern formation method that includes partially removing line and space pattern

Номер патента: US09502306B2. Автор: Tadashi Arai,Koichiro Tsujita. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Device with decreased noise, and noise reduction method

Номер патента: RU2479050C2. Автор: Михель ЭРТЛЬ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-04-10.

Scanning Electron Microscope and Image Processing Method

Номер патента: US20200161087A1. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Light-emitting element, optical detection module, manufacturing method for light-emitting element, and scanning electron microscope

Номер патента: US20240063328A1. Автор: Minoru Kondo,Junya Maeda,Takayuki Nakamura,Kuniyoshi Yamauchi,Satoru OKAWARA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-22.

Interplanetary networks for space internet and space positioning

Номер патента: US12015472B2. Автор: Jose E. Velazco. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-06-18.

Power amplifier with decreased RF return current losses

Номер патента: US12009792B2. Автор: Yi Zhu,Iouri Volokhine,Vittorio Cuoco,Jos Van Der Zanden. Владелец: Samba Holdco Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-11.

Structure having isolated deep substrate vias with decreased pitch and increased aspect ratio and related method

Номер патента: US09887123B2. Автор: Arjun Kar-Roy,David J. Howard. Владелец: Newport Fab LLC. Дата публикации: 2018-02-06.

3d nand structures with decreased pitch

Номер патента: US20200203374A1. Автор: Xinhai Han,Thomas Kwon. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-06-25.

Rotary manipulation type electronic device

Номер патента: US20070163870A1. Автор: Akira Matsumoto,Jun Sato,Yasuhiro Yoritsune,Takumi Nishimoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-19.

Method of manufacturing winding-type electronic component

Номер патента: US12073990B2. Автор: Takayuki Yamakita. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Space-Charge-Free Semiconductor and Method

Номер патента: US20090065803A1. Автор: Gary Wicks. Владелец: UNIVERSITY OF ROCHESTER. Дата публикации: 2009-03-12.

Chip type electronic part

Номер патента: US20020005588A1. Автор: Masahiko Kawase,Hidenobu Kimoto,Norimitsu Kitoh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-17.

Inverted space charge limited triode

Номер патента: US3599321A. Автор: Fred William Schmidlin. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 1971-08-17.

Electronic device including patch antenna assembly having capacitive feed points and spaced apart conductive shielding vias and related methods

Номер патента: US09825357B2. Автор: Francis E. Parsche. Владелец: HARRIS CORP. Дата публикации: 2017-11-21.

Space-charge-limited phototransistor

Номер патента: CA1039839A. Автор: Steven Magdo. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1978-10-03.

Method of mounting surface-mounted type electronic components on a printed circuit board

Номер патента: CA1294584C. Автор: Hiroshi Yagi,Sho Masujima,Atsuzo Tamashima,Masakazu Kamoshida. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 1992-01-21.

Holding apparatus for use in cleaner or dryer for dual pin type electronic parts

Номер патента: US4526185A. Автор: Yoshinori Fukuda. Владелец: IDEYA CO Ltd. Дата публикации: 1985-07-02.

Photodiode device with a field electrode for reducing the space charge region

Номер патента: EP2713409A1. Автор: Jordi Teva. Владелец: ams AG. Дата публикации: 2014-04-02.

Method for producing resin mold-type electronic component and resin mold-type electronic component

Номер патента: US20220028610A1. Автор: Kosuke YAZAWA. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Method for producing resin mold-type electronic component and resin mold-type electronic component

Номер патента: US12002622B2. Автор: Kosuke YAZAWA. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Soft magnetic alloy powder, soft magnetic sintered body, and coil-type electronic component

Номер патента: US20220336128A1. Автор: Takashi Suzuki,Shinichi Kondo,Kunihiko Kawasaki,Yusuke Nagai,Yuya ISHIMA,Yu Sakurai,Ryuichi Wada,Hideyuki Itoh,Kouichi Kakuda,Nami ENOMOTO. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Electrical connector having an outer conductor and a rear metallic plate secured to the outer conductor and a terminal with a protrusion exposed to air and spaced a predetermined distance from the rear metallic plate

Номер патента: US20210273387A1. Автор: De-Jin Chen,Xiao-Tong Liu. Владелец: Foxconn Interconnect Technology Ltd. Дата публикации: 2021-09-02.

Rotary operation type electronic component

Номер патента: US09412538B2. Автор: Taro Fukunaga. Владелец: Tokyo Cosmos Electric Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Multilevel and space-filling ground plane for miniature and multiband antennas, and antenna assembly

Номер патента: RU2303843C2. Автор: БАЛИАРДА Карлес ПУЭНТЕ,ИЛЬЕРА Рамиро КИНТЕРО,ИЛЬЕРА Рамиро КИНТЕРО (ES),БАЛИАРДА Карлес ПУЭНТЕ (ES). Владелец: Фрактус, С.А.. Дата публикации: 2007-07-27.

Cable wiring structure of sliding-type electronic apparatus, and electronic apparatus wiring harness

Номер патента: US20100243293A1. Автор: Yuuki Tanaka. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Positive space-charge closing switch apparatus

Номер патента: US4431946A. Автор: James P. O'Loughlin. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 1984-02-14.

Stress relaxation type electronic component, a stress relaxation type circuit board, and a stress relaxation type electronic component mounted member

Номер патента: CA2310765C. Автор: Masahide Tsukamoto,Yoshihiro Bessho,Kazuo Eda,Toru Ishida,Hideo Hatanaka,Minehiro Itagaki,Hiroaki Takezawa,Yasushi Fukumura. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-12.

Outer electrode structure for a chip type electronic part appropriate for reflow soldering

Номер патента: US5508562A. Автор: Shigeyuki Horie,Kimiharu Anao. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1996-04-16.

Resin sealing type semiconductor device and method of manufacturing the same, and resin sealing type electronic device

Номер патента: US20100052124A1. Автор: Takeshi Sasaki,Masahiro Shindo. Владелец: Sanyo Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-04.

Surface mount typed electronic circuit of small size capable of obtaining a high-Q

Номер патента: US20030137812A1. Автор: Takeo Suzuki,Shigeru Osada. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-24.

Method and apparatus for moldable material for terrestrial, marine, aeronautical and space applications which includes an ability to reflect radio frequency energy and which may be moldable into a parabolic or radio frequency reflector to obviate the need for reflector construction techniques which produce layers susceptible to layer separation and susceptible to fracture under extreme circumstances

Номер патента: US20210175632A1. Автор: Alexander Socransky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-06-10.

Method and apparatus for moldable material for terrestrial, marine, aeronautical and space applications which includes an ability to reflect radio frequency energy and which may be moldable into a parabolic or radio frequency reflector to obviate the need for reflector construction techniques which produce layers susceptible to layer separation and susceptible to fracture under extreme circumstances

Номер патента: US11848495B2. Автор: Alexander Socransky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-19.

Method and apparatus for moldable material for terrestrial, marine, aeronautical and space applications which includes an ability to reflect radio frequency energy and which may be moldable into a parabolic or radio frequency reflector to obviate the need for reflector construction techniques which produce layers susceptible to layer separation and susceptible to fracture under extreme circumstances

Номер патента: US20230109642A1. Автор: Alexander Socransky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-04-06.

Chip-type electronic component

Номер патента: US20240038754A1. Автор: Takashi Ohtsuka,Yukio MITAKE. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Composite-action type electronic component

Номер патента: MY127645A. Автор: Shinji Ishikawa. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-29.

Composite-action type electronic component

Номер патента: MY132357A. Автор: Ishikawa Shinji. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2007-10-31.

Sip-type electronic device and method for making such a device

Номер патента: US20240128227A1. Автор: Perceval Coudrain,Arnaud Garnier,Jeanne PIGNOL. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2024-04-18.

Protecting memory cells from in-process charging effects

Номер патента: US20190206498A1. Автор: Chun-Hsiung Hung,Yiching Liu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-04.

Chip-type electronic component

Номер патента: MY135576A. Автор: Takashi Aoki,Shirou Ootsuki,Akitoshi Yoshii,Taisuke Ahiko,Akira Goshima,Hiroki Houchi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2008-05-30.

Chip type electronic component for test, and mounted state test method

Номер патента: US20070242405A1. Автор: Takashi Chiba,Masaaki Togashi,Taisuke Ahiko,Sunao Masuda. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2007-10-18.

Soft magnetic metal particle, soft magnetic metal powder, magnetic element body, and coil-type electronic component

Номер патента: US20230298787A1. Автор: Hidenobu Umeda,Yu Sakurai,Ryuichi Wada,Hideyuki Itoh,Kouichi Kakuda. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Antenna device and wristwatch type electronic device

Номер патента: US11237526B2. Автор: Kazunori Kita,Hiroaki Otsubo,Hiroshi KATSUDA. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-01.

Hysteresis-type electronic controlling device for fuel injectors and associated method

Номер патента: WO2010130320A1. Автор: Massimo Lucano,Marcello Chiaberge,Gianluca Botto,Mirko Degiuseppe. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2010-11-18.

Antenna device and wristwatch type electronic device

Номер патента: US20200103833A1. Автор: Kazunori Kita,Hiroaki Otsubo,Hiroshi KATSUDA. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Laminated-type electronic component

Номер патента: US20130271254A1. Автор: Makoto Yamamoto,Satoru Maeda,Yutaka Noguchi. Владелец: Toko Inc. Дата публикации: 2013-10-17.

Graphite thin film/silicon substrate laminate, method for producing same and substrate for high exhaust heat-type electronic devices

Номер патента: EP3905305A1. Автор: Masataka Hasegawa. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-11-03.

Chip-type electronic component including thin-film circuit elements

Номер патента: US20070267659A1. Автор: Yutaka Aoki. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2007-11-22.

Charge effect transistor and a method for manufacturing the same

Номер патента: US5942790A. Автор: Kang Ho Park,Jeong Sook Ha. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 1999-08-24.

Laminate type electronic component and manufacturing method therefor

Номер патента: US20120169180A1. Автор: Wataru Ogawa,Makoto Ogawa,Yoji Yamamoto,Akihiro Motoki,Syunsuke TAKEUCHI,Masahito SARUBAN. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-05.

Scanning type electron microscope having capability of indicating a plurality of sample images and its similar apparatus

Номер патента: JPS57132658A. Автор: Masahiro Inoue,Shigetomo Yamazaki,Akira Onoguchi,Mitsuhisa Miyazawa. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-08-17.

Dissolution stage for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: CA2332319C. Автор: James A. Mitchell,Philip J. Palermo. Владелец: Euro Celtique SA. Дата публикации: 2004-07-13.

Sample holder for scanning electron microscope, scanning electron microscope image observation system, and scanning electron microscope image observation method

Номер патента: US09552959B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-01-24.

METHOD FOR PRODUCING PHOSPHOR PANEL, PHOSPHOR PANEL, IMAGE INTENSIFIER AND SCANNING-TYPE ELECTRONIC MICROSCOPE

Номер патента: US20220148848A1. Автор: WATANABE Hiroyuki,Hamana Yasumasa,SHIMANO Kenshi,NISHIZAWA Hiroji. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2022-05-12.

PROTECTIVE AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION OF BIOLOGICAL SAMPLE IN WATER-CONTAINING STATE, KIT FOR ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION, METHODS FOR OBSERVATION, DIAGNOSIS, EVALUATION, AND QUANTIFICATION BY ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE STAGE

Номер патента: US20160343539A1. Автор: Suzuki Hiroshi,Ishii Daisuke,HIRAKAWA Satoshi,HARIYAMA Takahiko,Ohta Isao,KAWASAKI Hideaki,Shimomura Masatsugu,Muranaka Yoshinori,TAKAKU Yasuharu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2016-11-24.

Protective agent for electron microscopic observation of biological sample in water-containing state, kit for electron microscopic observation, methods for observation, diagnosis, evaluation, and quantification by electron microscope, and sample stage

Номер патента: US10128078B2. Автор: Hiroshi Suzuki,Satoshi Hirakawa,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Hideaki Kawasaki,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2018-11-13.

Scanning type electron microscope

Номер патента: JPS5727548A. Автор: Naotake Saito. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-02-13.

Scanning type electron microscope and its similar device

Номер патента: JPS57145259A. Автор: Shigetomo Yamazaki. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-09-08.

Scanning type electron microscope device

Номер патента: JPS5642946A. Автор: Katsuya Okumura,Motosuke Miyoshi. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1981-04-21.

Specimen holder for an electron microscope, assembly of a specimen holder and an electron microscope and method for reducing thermal drift in an electron microscope.

Номер патента: NL1020936C2. Автор: Hendrik Willem Zandbergen. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2003-12-30.

Scanning type electron microscope

Номер патента: JPS61131352A. Автор: Hisashi Ishikawa,Shinjiro Katagiri,片桐　信二郎,石川　寿. Владелец: Hitachi Naka Seiki Ltd. Дата публикации: 1986-06-19.

Method for measuring line and space pattern using scanning electron microscope

Номер патента: US7433542B2. Автор: Atsushi Takane,Tatsuya Maeda,Takashi Iizumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-10-07.

Device for adjusting the position and the orientation around an axis of a sample holder for an electron microscope

Номер патента: US4405865A. Автор: Roger Valle,Alain Marraud,Bernard Genty. Владелец: Office National dEtudes et de Recherches Aerospatiales ONERA. Дата публикации: 1983-09-20.

Color discriminating scan type electron microscope

Номер патента: JPS5736762A. Автор: Hideki Yakida. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1982-02-27.

Focal point regulation device of stereoscopic scanning type electron microscope

Номер патента: JPS58198841A. Автор: Katsuhiro Kuroda,勝広 黒田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1983-11-18.

Scanning type electron microscope

Номер патента: JPS55151759A. Автор: Shuichi Saito,Junichi Ooyama. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1980-11-26.

Multi-stage accelerated field emission type electron microscope

Номер патента: JPS60117534A. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Tsutomu Kimura,Junji Endo,Susumu Ozasa,強 松田,力 木村,Akira Tonomura,Nobuyuki Osagabe,潤二 遠藤,小笹　進,外村　彰,長我部　信行. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1985-06-25.

Scan rotation type scanning type electron microscope and its similar device

Номер патента: JPS5868854A. Автор: 隆志 木村,Takashi Kimura,Hideaki Kaguma,英昭 鹿熊,Tomoo Nishina,仁科　智雄. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1983-04-23.

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, INSPECTION SYSTEM USING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND INSPECTION METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS

Номер патента: US20210012998A1. Автор: IIDA Yusuke,Yamamoto Takuma,Hamaguchi Akira,Ida Chihiro,Osaki Mayuka,Nishihata Takahiro. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

Communicating a number of resource blocks (rbs) parameter and a mapping types parameter for physical uplink control channel (pucch) configuration

Номер патента: US20240276500A1. Автор: Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Alexander Johann Maria Golitschek Edler Von Elbwart,Ali Ramadan ALI,Sher Ali CHEEMA. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

User equipment indication of code block mapping type preference for physical downlink shared channel

Номер патента: WO2023183711A1. Автор: Michael Levitsky,Daniel PAZ. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2023-09-28.

User equipment indication of code block mapping type preference for physical downlink shared channel

Номер патента: US20230309095A1. Автор: Michael Levitsky,Daniel PAZ. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Data channel mapping type and DM-RS configuration to enable L1 CLI measurement and reporting

Номер патента: US12035345B2. Автор: QIAN LI,Geng Wu,Hassan GHOZLAN,Dawei YING. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Communicating a number of resource blocks (rbs) parameter and a mapping types parameter for physical uplink control channel (pucch) configuration

Номер патента: AU2022272750A1. Автор: Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Alexander Johann Maria Golitschek Edler Von Elbwart,Ali Ramadan ALI,Sher Ali CHEEMA. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Communicating a number of resource blocks (rbs) parameter and a mapping types parameter for physical uplink control channel (pucch) configuration

Номер патента: EP4338347A1. Автор: Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Alexander Johann Maria Golitschek Edler Von Elbwart,Ali Ramadan ALI,Sher Ali CHEEMA. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Physical downlink shared channel mapping type for physical downlink shared channel repetition in one slot

Номер патента: EP4091287A1. Автор: Peter Gaal,Xiaoxia Zhang,Mostafa KHOSHNEVISAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-11-23.

Data channel mapping type and dm-rs configuration to enable l1 cli measurement and reporting

Номер патента: WO2020154496A1. Автор: QIAN LI,Geng Wu,Hassan GHOZLAN,Dawei YING. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2020-07-30.

Apparatus for providing mind map-type online community service

Номер патента: US20150120836A1. Автор: Seung Min BAEK,Ja Wook KOO,Sae Hyung KWON,Han Joo SONG. Владелец: Samsung SDS Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Method for maximizing the brightness of the bunches in a particle injector by converting a highly space-charged beam to a relativistic and emittance-dominated beam

Номер патента: US09408289B2. Автор: Fay Hannon. Владелец: Jefferson Science Associates LLC. Дата публикации: 2016-08-02.

Device and method for transmitting and receiving with decreased relation of pike power to average power in mobile communication system with orthogonal multiplexing with frequency separation

Номер патента: RU2264041C2. Автор: Сунг-Риул ЙУН,Ки-Хо ДЗУНГ,Хеунг-Гиоун РИУ,Биоунг-Ил ДЗИН,Ин-Бае КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2005-11-10.

System for detecting aerial and space objects using signals from geostationary earth satellites

Номер патента: RU2703294C1. Автор: Игорь Леонидович Афонин,Максим Витальевич Дубина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное военное образовательное учреждение высшего образования "Черноморское высшее военно-морское ордена Красной Звезды училище имени П.С. Нахимова" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2019-10-16.

Multiple-mode terminal in radio communication system with multi-channel input and space multiplexing

Номер патента: RU2329604C2. Автор: Джон У. КЕТЧУМ,Стивен Дж. ГОВАРД,Дж. Родни УОЛТОН,Марк С. УОЛЛЭЙС. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2008-07-20.

Seamless trick-mode with decreased latency for live transcode streaming

Номер патента: US09712889B2. Автор: Alexander Garland MacInnis,Hongtao Zhu. Владелец: Avago Technologies General IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Current regulator for electron microscope power supply

Номер патента: CA1092650A. Автор: Ronald A. Gatten. Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1980-12-30.

Space network node receiving data from terrestrial and space nodes

Номер патента: SG11201805547PA. Автор: Shahruzi IRANI. Владелец: Airbus Defence & Space Ltd. Дата публикации: 2018-07-30.

Heater assembly for cigarette-type electronic smoking device and cigarette-type electronic smoking device including the same

Номер патента: US11963552B2. Автор: Sang Dong Jeong. Владелец: Amosense Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Direct current power supply method in autonomous power supply system of space device and space device for its implementation

Номер патента: RU2677963C1. Автор: Виктор Владимирович Коротких,Михаил Владленович Нестеришин,Сергей Иванович Опенько,Сергей Григорьевич Кочура,Дмитрий Сергеевич Карплюк,Николай Васильевич Стадухин. Владелец: Акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2019-01-22.

Method and device for transmitting and receiving data over radio channels using multibeam antenna array and space-time encoding

Номер патента: RU2747797C2. Автор: Олег Анатольевич Финько,Денис Сергеевич Махов. Владелец: федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Краснодарское высшее военное орденов Жукова и Октябрьской Революции Краснознаменное училище имени генерала армии С.М. Штеменко" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-05-14.

Device comprising a space charge trapping layer

Номер патента: US9748758B2. Автор: Pierre Mirebeau,Jean-Maxime Saugrain. Владелец: Nexans SA. Дата публикации: 2017-08-29.

Mobile-type electronic apparatus and method for controlling the same

Номер патента: US20010036847A1. Автор: Tatsuo Chigira. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Transmission methods with delay diversity and space-frequency diversity

Номер патента: RU2438242C2. Автор: Фарук КХАН,Цзяньчжун ЧЖАН,РЕНСБУРГ Корнелиус ВАН,Инун ДИН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2011-12-27.

Engine on hall effect and space vehicle, including such engine

Номер патента: RU2703870C2. Автор: Фредерик Рафаэль Жан МАРШАНДИЗ,Ванесса ВИАЛЬ,Стефан ЗЮРБАШ. Владелец: Сафран Эркрафт Энджинз. Дата публикации: 2019-10-22.

Mounting structure and method for mounting card-type electronic device

Номер патента: US20030002270A1. Автор: Takashi Kitadai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-02.

Space network node receiving data from terrestrial and space nodes

Номер патента: WO2016116461A1. Автор: Shahruzi IRANI. Владелец: AIRBUS DEFENCE AND SPACE LIMITED. Дата публикации: 2016-07-28.

Space network node receiving data from terrestrial and space nodes

Номер патента: EP3228024A1. Автор: Shahruzi IRANI. Владелец: Airbus Defence and Space Ltd. Дата публикации: 2017-10-11.

Method to perform joint scheduling in the downlink or in the uplink of a centralized OFDM radio access network for a plurality of users considering time, frequency and space domains, scheduler device thereof and computer program products

Номер патента: US10153874B2. Автор: Javier LORCA HERNANDO. Владелец: Telefonica SA. Дата публикации: 2018-12-11.

Method to perform joint scheduling in the downlink or in the uplink of a centralized ofdm radio access network for a plurality of users considering time, frequency and space domains, scheduler device thereof and computer program products

Номер патента: US20170117996A1. Автор: Javier LORCA HERNANDO. Владелец: Telefonica SA. Дата публикации: 2017-04-27.

Method and arrangement for time and space switching data between incoming and outgoing bit streams, each belonging to a different clock domain

Номер патента: WO2001001638A1. Автор: Joachim Roos. Владелец: Net Insight AB. Дата публикации: 2001-01-04.

Surface-mounting type electronic circuit unit without detachment of solder

Номер патента: US20060185893A1. Автор: Shuichi Takeda. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-24.

Card-type electronic circuit unit

Номер патента: US20030048617A1. Автор: Daijo Shibata. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2003-03-13.

Terminal block cover for covering block and space between adjacent blocks

Номер патента: US4104703A. Автор: Kenneth W. Hotchkiss. Владелец: Proto Production Plastics Inc. Дата публикации: 1978-08-01.

Surface mounting type electronic device

Номер патента: US5821672A. Автор: Yuusei Oyama. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1998-10-13.

Cover tape for packaging chip type electronic parts

Номер патента: US5346765A. Автор: Shigeru Maeda,Tomoharu Miyamoto. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 1994-09-13.

Mounting structure of flat-lead package-type electronic component

Номер патента: CA1233910A. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Yasuo Kawamura,Nobuhide Okada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1988-03-08.

Transmission control apparatus and mechanically and electrically integrated type electronic control apparatus

Номер патента: US8339795B2. Автор: Toshiaki Ishii,Hiroshi Kameyama,Nobutake Tsuyuno,Itaru Tanabe. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2012-12-25.

Lead-type electronic-part-mounted printed circuit board, method of soldering lead-type electronic part and air-conditioner

Номер патента: US7710738B2. Автор: Tsuyoshi Miura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2010-05-04.

Heat generating heater for cigarette-type electronic cigarette device

Номер патента: US11944123B2. Автор: Chang Woo Oh. Владелец: Amosense Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Portable combination stove and space heater

Номер патента: US20230366558A1. Автор: Garold H. Williams,Konel S. Banner. Владелец: Instafire LLC. Дата публикации: 2023-11-16.

Glasses-type electronic device including flexible circuit board

Номер патента: US11852821B2. Автор: Minseok Kim,Junwhon UHM,Bumhee BAE,Hyunmo YANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-26.

High performance real-time interactive exploration and visualization of discrete geospatial data in time and space

Номер патента: US20160094637A1. Автор: Jeff Smith,Eric Hackathorn,Jebb Stewart,Julien Lynge. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2016-03-31.

Slide type electronic apparatus

Номер патента: US8564945B2. Автор: Hiroshi Yamada,Junichi Nakao,Toshiki Yamanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-10-22.

Portable combination stove and space heater

Номер патента: WO2023220246A1. Автор: Garold H. Williams,Konel S. Banner. Владелец: Instafire, Llc. Дата публикации: 2023-11-16.

Grounding mechanism for slide-type electronic devices

Номер патента: US20110266018A1. Автор: Chia-Hua Chen,Chao Duan. Владелец: Fih Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2011-11-03.

Sliding type electronic device including speaker

Номер патента: US20230288958A1. Автор: Wankyu Kim,Sangeun Lee,Changryong HEO,Joongyeon Cho,Junwoo Choi,Hyunsuk Kim,Baekeun CHO,Bohyeon Kim,Hyunggwang KANG,Byungwoo MIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-14.

Shaded-pole asynchronous motor, novel mathematical model and space harmonic thereof

Номер патента: WO2019245465A2. Автор: Adem DALCALI. Владелец: Karabuk Universitesi. Дата публикации: 2019-12-26.

Sliding type electronic device including speaker

Номер патента: EP4231116A1. Автор: Wankyu Kim,Sangeun Lee,Changryong HEO,Joongyeon Cho,Junwoo Choi,Hyunsuk Kim,Baekeun CHO,Bohyeon Kim,Hyunggwang KANG,Byungwoo MIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-23.

Predictive-type electronic body temperature thermometer circuit structure implementing temperature compensation

Номер патента: EP4113084A1. Автор: Fang Li,Tianping Shen. Владелец: CRM ICBG Wuxi Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Linkage fan blade structure and flip-type electronic device having the same

Номер патента: US20190278345A1. Автор: chang-xin Ye. Владелец: Pegatron Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Axial-type electronic component inserting method

Номер патента: US20010003864A1. Автор: Kiyoshi Imai,Hideaki Watanabe,Hiromi Kinoshita,Dai Yokoyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-21.

Slide type electronic apparatus

Номер патента: US20110149492A1. Автор: Hiroshi Yamada,Junichi Nakao,Toshiki Yamanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-06-23.

Wireless power transmission method and apparatus for improving spectrum efficiency and space efficiency based on impedance matching and relay resonance

Номер патента: US20150108850A1. Автор: Jung Ick Moon,In Kui Cho,Je Hoon Yun,Seong Min Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2015-04-23.

Light scanning microscope with spectral detection

Номер патента: US09989754B2. Автор: Ralf Wolleschensky,Daniel Schwedt,Tiemo Anhut,Lars-Christian Wittig,Ulrich Preiβer. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2018-06-05.

Zero-voltage switching type electronic ballast for fluorescent lamp

Номер патента: US5500792A. Автор: Nak-Choon Choi,Dal-Young Jeon,Kyung-Ha Jee,Bok-Ki Song,Dong-Myeong Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1996-03-19.

All-pixels reading type electronic endoscope apparatus

Номер патента: US6078353A. Автор: Mitsuru Higuchi,Kazuhiro Yamanaka. Владелец: Fuji Photo Optical Co Ltd. Дата публикации: 2000-06-20.

Chip type electronic part

Номер патента: US4990817A. Автор: Mitsuro Hamuro. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1991-02-05.

Mounting structure of flexible printed circuit board and sliding-type electronic device

Номер патента: US20140301046A1. Автор: Hiroshi Yamada,Toshiki Yamanaka,Takahiro Sakai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-10-09.

Mounting structure of flexible printed circuit board and sliding-type electronic device

Номер патента: US9030834B2. Автор: Hiroshi Yamada,Toshiki Yamanaka,Takahiro Sakai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-05-12.

Drawer-type electronics cabinet having circuit controlling device

Номер патента: US20240023286A1. Автор: Chin-Jung Liao. Владелец: Bluesky Cooking Style Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Glasses-type electronic device including flexible circuit board

Номер патента: EP4362612A1. Автор: Minseok Kim,Junwhon UHM,Bumhee BAE,Hyunmo YANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-01.

Flipper-type electronics cabinet having circuit controlling device

Номер патента: US20240022049A1. Автор: Chin-Jung Liao. Владелец: Bluesky Cooking Style Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Methods and Apparatuses for Addressing Chromatic Aberrations and Purple Fringing

Номер патента: US20130208151A1. Автор: Piotr Stec,Larry Murray,Alexandru Drimbarean. Владелец: DigitalOptics Corp Europe Ltd. Дата публикации: 2013-08-15.

Method and arrangement for determining optical aberrations and/or the topography, and/or recording refernece images of an eye

Номер патента: US20240000311A1. Автор: Gregor Stobrawa,Christian Münster. Владелец: CARL ZEISS MEDITEC AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Optical modulator having compensation for thermal and space charge effects

Номер патента: CA1003500A. Автор: Safwat G. Zaky. Владелец: Nortel Networks Ltd. Дата публикации: 1977-01-11.

Strobe scan type electron microscope

Номер патента: JPS60165733A. Автор: 哲也 佐野,Tetsuya Sano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1985-08-28.

Method, system for controlling dynamic map-type graphic interface and electronic device using the same

Номер патента: US09841871B2. Автор: Tzu-Hsiang Lan,Quan-Quan Liu. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Method, system for updating dynamic map-type graphic interface and electronic device using the same

Номер патента: US09626077B2. Автор: Tzu-Hsiang Lan,Quan-Quan Liu. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Method of management for map-type tour information

Номер патента: US8572128B2. Автор: Jiun-Ren Chen. Владелец: Lemon Info Tech Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-29.

Ferroelectric space charge capacitor memory system

Номер патента: US5151877A. Автор: Ciaran J. Brennan. Владелец: Charles Stark Draper Laboratory Inc. Дата публикации: 1992-09-29.

Device for obtaining electron microscopic image and local element analysis of radioactive sample by electron microscopy in radiation protection chamber

Номер патента: RU2678504C1. Автор: Андрей Викторович Жуков,Алексей Александрович Соболев,Вячеслав Евгеньевич Кирюхин,Вячеслав Викторович Светухин,Александр Николаевич Фомин,Вячеслав Владимирович Макарычев,Вячеслав Сергеевич Власенко,Александр Георгиевич Ульяненков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет". Дата публикации: 2019-01-29.

Image processing method and transmission electron microscope

Номер патента: EP3742386A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-25.

Image Processing Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200371331A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US20220092799A1. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US12062196B2. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Magnetic beam deflection system free of chromatic and geometric aberrations of second order

Номер патента: US4191887A. Автор: Karl L. Brown. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1980-03-04.

Method for preparing the surface of bone tissue samples to study their microstructure using a scanning electron microscope

Номер патента: RU2668879C1. Автор: Семен Александрович Борисов,Михаил Васильевич Гилев,Сергей Михайлович Кутепов,Владимир Сергеевич Кошелев,Яна Евгеньевна Казакова,Мария Юрьевна Измоденова,Дмитрий Викторович Зайцев,Дарья Владимировна Киселева,Пётр Евгеньевич Панфилов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уральский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБОУ ВО УГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2018-10-04.

Determination method, elimination method and apparatus for electron microscope aberration

Номер патента: US11971368B2. Автор: FANG Lin,Chen Wang,Qi Zhang. Владелец: SOUTH CHINA AGRICULTURAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-30.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: EP4367495A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2024-05-15.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: WO2023280458A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2023-01-12.

Use of milk mix for babyfood with decreased protein content

Номер патента: RU2390269C2. Автор: Филипп Стинхоут. Владелец: НЕСТЕК С.А.. Дата публикации: 2010-05-27.

Scanning electron microscope and a method for evaluating accuracy of repeated measurement using the same

Номер патента: US20050205780A1. Автор: Hiroki Kawada,Ryo Nakagaki,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-09-22.

Method and Apparatus For Measuring Dimension Of Circuit Pattern Formed On Substrate By Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110127429A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Tomofumi Nishiura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Determination method of value of space charge of clouds

Номер патента: RU2642830C1. Автор: Владимир Михайлович Чекрыжов,Сергей Владимирович Козлов,Павел Николаевич Свиркунов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-производственное объединение "Тайфун". Дата публикации: 2018-01-29.

Water-in-oil emulsion with decreased ability of splashing

Номер патента: RU2353096C2. Автор: Хиндрик ХЁЙЗИНГА,Роб БЕЛТМАН,Хенрикус Арнолдус ХЕНДРИКС,Геррит Лендерт ван Дер СХЕ,Йоханнес Якобус ВАРЕНДОРФ. Владелец: Юнилевер Н.В.. Дата публикации: 2009-04-27.

Slide-step type electronic gear shift apparatus

Номер патента: US20160334008A1. Автор: Jung-Hun Lee,Se-Jong Park,Han-Gil PARK. Владелец: Kostal Korea Ltd. Дата публикации: 2016-11-17.

Fire prevention and fire suppression systems and breathable fire-extinguishing compositions with decreased oxygen content to be adapted in inhabited rooms

Номер патента: RU2301095C2. Автор: Игорь К. КОТЛЯР. Владелец: Игорь К. КОТЛЯР. Дата публикации: 2007-06-20.

Plant with decreased dormant period and method for production thereof

Номер патента: RU2298034C2. Автор: Хироаки КИСАКА,Тецу МИВА,Тецуя МИВА. Владелец: Адзиномото Ко., Инк.. Дата публикации: 2007-04-27.

Method of quantitative evaluation of the degree of development of defects when operating pumping units of refueling equipment of rocket and space complexes

Номер патента: RU2673629C1. Автор: Александр Васильевич Спесивцев,Владимир Владимирович Типаев,Наталья Сергеевна Демидова,Алексей Михайлович Астанков. Владелец: Владимир Владимирович Типаев. Дата публикации: 2018-11-28.

Device and method for reduction in mass flow rate of air for combustion with decreased emission in expanded operating range for single-shaft gas turbine

Номер патента: RU2575837C2. Автор: Р. Ян МОВИЛЛ. Владелец: Опра Текнолоджиз Би.Ви.. Дата публикации: 2016-02-20.

Rocket and space complex and method of operation of rocket and space complex

Номер патента: RU2643744C2. Автор: Александр Георгиевич Леонов,Максим Вячеславович Палкин. Владелец: Акционерное общество "Военно-промышленная корпорация "Научно-производственное объединение машиностроения". Дата публикации: 2018-02-05.

Bent diffraction crystal with geometrical aberration compensation

Номер патента: US3777156A. Автор: D Hammond,H Fellner. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1973-12-04.

Coffee plant with decreased alpha-d-galactosidase activity

Номер патента: RU2303349C2. Автор: Джон Роджерс,Пьер МАРРАЧЧИНИ,Ален ДЕЗЕЙ. Владелец: Сосьете де Продюи Нестле С.А.. Дата публикации: 2007-07-27.

Dough products containing ethyl cellulose with decreased oil migration

Номер патента: RU2551966C2. Автор: Андреа КАТТАРУДЗА,Стюарт РЭДФОРД,Алехандро Грегорио МАРАНГОНИ. Владелец: Марс, Инкорпорейтед. Дата публикации: 2015-06-10.

Biological specimen of electron microscope

Номер патента: US20100243482A1. Автор: Chih-Yu Chao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-30.

Method of producing test-sample for transmission electron microscope

Номер патента: US11747243B2. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Process for the characterization of an insulator and the corresponding electron microscope

Номер патента: US5635715A. Автор: Hakim Janah,Daniel Acroute,Claude Faure,Claude Le Gressus,Jose Bezille,Guy Blaise,Gerard Moya. Владелец: A L'ENERGIE ATOMIQUE. Дата публикации: 1997-06-03.

Method for preparing a ruminant feed material with decreased rumen digestibility and a ruminant feed material

Номер патента: US20020150608A1. Автор: Paul Summer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-17.

Method of measuring an area of micro-objects of arbitrary shape in scanning electron microscope

Номер патента: US20070081742A1. Автор: Arkady Nikitin,Dmitriy Yeremin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-12.

Scanning electron microscope image distortion correction method, and semiconductor manufacturing method using the correction method

Номер патента: US20240242317A1. Автор: Sungeun Lee,Minsu Kang,Woojin Jung,Kwangeun KIM,Sangho Yun,Janghoon Kim,Seoyoung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

Noise filtering method and scanning electron microscope (sem) equipment alignment method using the same

Номер патента: US20240320804A1. Автор: Nohong KWAK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for examination of microarrays using scanning electron microscope

Номер патента: WO2004008188A8. Автор: Paul C Ciccolella,Maria A Hozbor. Владелец: Maria A Hozbor. Дата публикации: 2005-04-28.

Control unit bench testing products of rocket and space technology

Номер патента: RU2684979C1. Автор: Валерий Вячеславович Милютин,Вадим Александрович Лисейкин,Андрей Викторович Калита,Людмила Александровна Гордеева,Михаил Сергеевич Тегин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Компекс-Т". Дата публикации: 2019-04-16.

Method of determining alzheimer's disease risk using apolipoprotein e4 genotype analysis in combination with decreased estrogen levels

Номер патента: US20020098481A1. Автор: Donald E. Schmechel,Gillian Einstein,Laura W. Shaughnessy. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-25.

Self-refresh state with decreased power consumption

Номер патента: US20230420023A1. Автор: Dennis G. Montierth,Shawn M. Hilde,Garth N. Grubb. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-28.

Method of inspecting thin film magnetic head element using scanning electron microscope, and inspecting holding jig

Номер патента: US7564044B2. Автор: Akira Miyatake,Tomonari Hosaka,Keitaro Kikuchi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2009-07-21.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP4231227A2. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-08-23.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP4231227A3. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-11-15.

Method and lithographic structure for measuring lengths of lines and spaces

Номер патента: US20050250025A1. Автор: Yuji Yamaguchi. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2005-11-10.

Insole-type electronic device and method for manufacturing insole-type electronic device

Номер патента: US20220160072A1. Автор: Takeshi Itou,Kyoko Otsuka,Yuuki Momokawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-05-26.

Biocompatible space-charged electret materials with antibacterial and antiviral effects and methods of manufacture thereof

Номер патента: AU2023220163A1. Автор: Jianliang Gong,Chun Yin OR. Владелец: C Polar Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Handwritten type electronic paper display and manufacturing method thereof

Номер патента: US09830006B2. Автор: Zhuo Zhang,Danna SONG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

AAV virions with decreased immunoreactivity and uses therefor

Номер патента: US09506083B2. Автор: Alejandra Elena Arbetman,Peter C. Colosi,Michael A. Lochrie,Richard T. Surosky. Владелец: Genzyme Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Method for Analyzing Defects by Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: KR100668219B1. Автор: 김정태. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2007-01-11.

Isolation glass pack with separate glass sheets and spacing profile

Номер патента: RU2289666C2. Автор: Франц БАЙЕР. Владелец: Байер Изолирглас-Унд Машинентехник Гмбх. Дата публикации: 2006-12-20.

Aircraft mixed-mode aerorodynamic and space flight and method for its piloting

Номер патента: RU2441815C2. Автор: Жером БЕРТРАН,Кристоф ШАВАНЬЯК,Хуг ЛАПОРТ-ВЕЙВАДА,Оливье ПУЛЕН,Филипп МАТАРАН,Робер ЛЭН. Владелец: Астриум Сас. Дата публикации: 2012-02-10.

Aerostat rocket and space complex

Номер патента: RU2750558C2. Автор: Александр Иванович Козлов,Сергей Александрович Сорокин,Оксана Сергеевна Панфил. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "4 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-06-29.

Method of evaluating ability of perception of distance and space by human beings

Номер патента: RU2650593C1. Автор: Валерий Витальевич Роженцов,Игорь Александрович Загайнов,Мария Леонидовна Блинова. Владелец: Автономная некоммерческая организация высшего образования "Межрегиональный открытый социальный институт". Дата публикации: 2018-04-16.

Space-charge controlled electrostatic spraying

Номер патента: US4168327A. Автор: S. Edward Law. Владелец: Research Corp. Дата публикации: 1979-09-18.

Space-charge controlled electrostatic spraying

Номер патента: CA1063887A. Автор: S. Edward Law. Владелец: Research Corp. Дата публикации: 1979-10-09.

Breakfast cereals with decreased soaking

Номер патента: NZ539803A. Автор: Anniina Pouru,Leena Sinn. Владелец: Raisio Benecol Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP3968267A1. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY,Gouri Sankar Kar,Victor M. Blanco,Senthil Srinivasan Shanmugam Vadakupudhu Palayam. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2022-03-16.

Band type electronic device and substrate arrangement method

Номер патента: US09720376B2. Автор: Teppei Tsushima. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Device for undocking rocket and space objects

Номер патента: RU2759371C1. Автор: Валерий Николаевич Терешин. Владелец: Публичное акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им. С.П. Королева. Дата публикации: 2021-11-12.

Emulsion with decreased oil content and emulsifier forming its viscosity

Номер патента: RU2366197C2. Автор: Сергей Михайлович Мельников,Ядвига Малгорзата БИАЛЕК,Леонардо Хосе Санчес АКИНО,Кхалдун Исмаил БЕН-СМАИЛ. Владелец: Юнилевер Н.В.. Дата публикации: 2009-09-10.

Emulsion with decreased oil content and emulsifier forming its viscosity

Номер патента: RU2372783C2. Автор: Сергей Михайлович Мельников,Ядвига Малгорзата БИАЛЕК,Леонардо Хосе Санчес АКИНО. Владелец: Юнилевер Н.В.. Дата публикации: 2009-11-20.

Pump wear-proof thrust bearing with decreased cross-section

Номер патента: RU2578378C2. Автор: Кристофер М. БРАННЕР,Дейвид У. ЧИЛКОАТ,Джейсон Б. АЙВЕЗ. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2016-03-27.

Micrometeoroids spatial density and space debris particles measuring system

Номер патента: RU2658072C2. Автор: Михаил Павлович Калаев,Дмитрий Михайлович Рязанов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский национальный исследовательский университет имени академика С.П. Королева". Дата публикации: 2018-06-19.

Neutralization method of refueling equipment and items of rocket-and-space equipment and mobile complex for its implementation

Номер патента: RU2712354C1. Автор: Андрей Николаевич Горяев,Вадим Вадимович Назаренко,Раниль Альфритович Тугушев,Алексей Владимирович Нежельченко,Святослав Валентинович Лемешев,Михаил Викторович Телегин,Андрей Владимирович Соловьев. Владелец: Акционерное общество "Военно-промышленная корпорация "Научно-производственное объединение машиностроения". Дата публикации: 2020-01-28.

Block-copolymer with decreased contaminant content, polymer carrier, pharmaceutical agents on polymer form and method for production thereof

Номер патента: RU2282641C2. Автор: Масанобу СУЗУКИ,Казухиса СИМИЗУ,Такеси НАКАНИСИ,Риудзи УЕХАРА,Мегуми МАТИДА,Томоко АКУЦУ,Сигето ФУКУСИМА. Владелец: САКУРАИ Ясухиса. Дата публикации: 2006-08-27.

Laser device for selective treatment of acne with decreased skin temperature increase

Номер патента: RU2727233C2. Автор: Марко ТАЛЬЯФЕРРИ,Фабио КАННОНЕ,Джанлука ГРОЛЛА. Владелец: Кванта Систем С.П.А.. Дата публикации: 2020-07-21.

Method of preparing alkalophilic bacillus strain with decreased extracellular alkaline protease level, method of preparing high-alkaline protease and mutant form of high-alkaline protease

Номер патента: RU2060276C1. Автор: Корнелис ван дер Лаан Йоханнес,Альбертус Горардус ван Экелен Кристиан. Владелец: Гист-Брокейдс Н.В.. Дата публикации: 1996-05-20.

Cryogenic tank and space launcher with such tank

Номер патента: RU2531542C2. Автор: Джеймс БАТТЕРВОРТ,Жером ЛАКАПЕР. Владелец: Л`Эр Ликид Сосьете Аноним Пур Л`Этюд Э Л`Эксплуатасьон Де Проседе Жорж Клод. Дата публикации: 2014-10-20.

OLED sample or electron microscope examination and method for making the same

Номер патента: US20040265625A1. Автор: He-Ting Tsai. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2004-12-30.

Method for eliminating charging of photoresist on specimens during scanning electron microscope examination

Номер патента: US5783366A. Автор: Hsin-Pai Chen,Dong-Shiuh Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1998-07-21.

Device containing sample preparation sites for transmission electron microscopic analysis and processes of formation and use

Номер патента: US6140652A. Автор: Mike G. Shlepr,Jay J. Jeffreys. Владелец: Intersil Corp. Дата публикации: 2000-10-31.

Sediment analysis software along with scanning electron microscope toolbox for image processing

Номер патента: WO2023209421A1. Автор: Mohammad ZARE MANIZANI. Владелец: Zare Manizani Mohammad. Дата публикации: 2023-11-02.

Method of producing test-sample for transmission electron microscope

Номер патента: US20210102872A1. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Overhead mobile charger system for reaching and charging electric vehicles parked in a pair of adjacent and spaced-part rows of side-by-side parking spaces

Номер патента: US20120032635A1. Автор: Ronald Prosser,Stephen M. Burchett. Владелец: Prosser Group LLC. Дата публикации: 2012-02-09.

Device and method for measuring space charge in an electric cable specimen

Номер патента: US20240159841A1. Автор: Raphaël GUFFOND,Baptiste MENEGUZZO. Владелец: Nexans SA. Дата публикации: 2024-05-16.

Ruggedized sensor devices with decreased light scatter and associated systems and methods

Номер патента: US20230243650A1. Автор: Daniel THOMSSON,Manikaran SINGH,Divyesh Rana. Владелец: MineSense Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

System for separating bulk-supplied plant-bulbs and method for transporting and spacing plant-bulbs

Номер патента: CA3217045A1. Автор: Wim Struijk,Wim Van Der MEIJDEN,Wim VAN DER EL,Bastiaan OPHORST. Владелец: IG Specials BV. Дата публикации: 2022-11-17.

System for separating bulk-supplied plant-bulbs and method for transporting and spacing plant-bulbs

Номер патента: WO2022238333A1. Автор: Wim Struijk,Wim Van Der MEIJDEN,Wim VAN DER EL,Bastiaan OPHORST. Владелец: IG Specials B.V.. Дата публикации: 2022-11-17.

Mutant yeast strain with decreased glycerol production

Номер патента: US20150225747A1. Автор: Johan Thevelein,Georg Hubmann,Maria Remedios Foulquie-Moreno. Владелец: VIB VZW. Дата публикации: 2015-08-13.

Event based gambling method with decreased house liability

Номер патента: WO2022032371A1. Автор: Bear Trapp,Ray Derges. Владелец: 102124067 Saskatchewan Ltd.. Дата публикации: 2022-02-17.

Mutant yeast strain with decreased glycerol production

Номер патента: EP2900690A1. Автор: Johan Thevelein,Georg Hubmann,Maria Remedios Foulquie-Moreno. Владелец: Vlaams Instituut voor Biotechnologie VIB. Дата публикации: 2015-08-05.

Shoulder Strap Type Electronic Cooling Equipment for Pets

Номер патента: US20220369597A1. Автор: Chaocheng QIU. Владелец: Menarde LLC. Дата публикации: 2022-11-24.

Method and device for the technical support of the analysis of signals acquired by measurement, the signals having a time- and space-dependent signal characteristic

Номер патента: US20240268743A1. Автор: Oliver Hein. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-15.

Event based gambling method with decreased house liability

Номер патента: CA3109784A1. Автор: Bear Trapp,Ray Derges. Владелец: 102124067 Saskatchewan Ltd. Дата публикации: 2022-02-12.

Spectacle-type electronic device and assisting method

Номер патента: US20170059867A1. Автор: Akira Tanaka,Hiroki Kumagai,Takashi Sudo,Hiroaki Komaki,Yasuhiro Kanishima,Kenichi Doniwa,Nobuhide Okabayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

Test patterns for determining sizing and spacing of sub-resolution assist features (SRAFs)

Номер патента: US09904757B2. Автор: Ioana Graur,Amr Y. Abdo. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Spectacle-type electronic device and assisting method

Номер патента: US09897810B2. Автор: Akira Tanaka,Hiroki Kumagai,Takashi Sudo,Hiroaki Komaki,Yasuhiro Kanishima,Kenichi Doniwa,Nobuhide Okabayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Mutant yeast strain with decreased glycerol production

Номер патента: US09850502B2. Автор: Johan Thevelein,Georg Hubmann,Maria Remedios Foulquie-Moreno. Владелец: Vlaams Instituut voor Biotechnologie VIB. Дата публикации: 2017-12-26.

Ophthalmic surgical microscope with adaptive optics for optical wavefront compensation

Номер патента: US09585561B2. Автор: Alexander N. Artsyukhovich. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2017-03-07.

Aerostatic rocket and space complex

Номер патента: RU2682893C1. Автор: Александр Иванович Козлов,Сергей Александрович Сорокин,Татьяна Прокофьевна Сасько,Александр Юрьевич Гуляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "4 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2019-03-22.

Kinetic rocket-and-space weaponry system

Номер патента: RU2752730C1. Автор: Александр Александрович Горшков. Владелец: Александр Александрович Горшков. Дата публикации: 2021-07-30.

Method of separation in simulated movable layer with decreased number of large-diameter gate valves

Номер патента: RU2446853C2. Автор: Фредерик ОЖЬЕ,Филибер Лефлев,Жерар ОТЬЕ,Сильвэн ЛУРЕ. Владелец: Ифп. Дата публикации: 2012-04-10.

Device for micrometeoroids flows and space debris particles investigation

Номер патента: RU2610342C1. Автор: Николай Данилович Семкин,Алексей Михайлович Телегин. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2017-02-09.

Sealing and spacing unit for multiple glazed windows

Номер патента: US4109431A. Автор: George H. Bowser,Renato J. Mazzoni. Владелец: PPG Industries Inc. Дата публикации: 1978-08-29.

Method of creation of electrostatic protection from meteorites and space radiation charged particles

Номер патента: RU2629461C2. Автор: Алексей Геннадьевич Ребеко. Владелец: Алексей Геннадьевич Ребеко. Дата публикации: 2017-08-29.

Premolded expandable polystyrene sheet from which supporting and spacing members for web material rolls are to be cut

Номер патента: CA1167217A. Автор: Thomas A. Roellchen. Владелец: Ace Polymers Inc. Дата публикации: 1984-05-15.

A method and a device for space-charge measurement in cables using a pulsed electroacoustic method

Номер патента: CA2248610C. Автор: Christer Törnkvist,Kenneth Johansson. Владелец: ABB Research Ltd Sweden. Дата публикации: 2002-04-02.

A method and a system for maintaining steam temperature with decreased loads of a steam turbine power plant comprising a fluidized bed boiler

Номер патента: WO2019086752A1. Автор: Matti Nieminen,Mikko Varonen. Владелец: Valmet Technologies Oy. Дата публикации: 2019-05-09.

Drug targets for alzheimer's disease and other diseases associated with decreased neuronal metabolism

Номер патента: US20030059824A1. Автор: Samuel Henderson. Владелец: Accera Inc. Дата публикации: 2003-03-27.

Dynamic semiconductor memory device with decreased clocks

Номер патента: US4387448A. Автор: Yoshihiro Takemae,Shigeki Nozaki,Tsutomu Mezawa. Владелец: A AOKI AND ASSOC. Дата публикации: 1983-06-07.

Method for observing by scanning a celestial body and for measuring an angular velocity of a space vehicle, observation system for its implementation, and space vehicle comprisingsame

Номер патента: CA1326529C. Автор: Herve Sainct,Patrick Maute,Jean-Francois Plantier. Владелец: AIRBUS GROUP SAS. Дата публикации: 1994-01-25.

Strong focus space charge

Номер патента: US4287419A. Автор: Rex Booth. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1981-09-01.

A method and a system for maintaining steam temperature with decreased loads of a steam turbine power plant comprising a fluidized bed boiler

Номер патента: FI128409B. Автор: Matti Nieminen,Mikko Varonen. Владелец: Valmet Technologies Oy. Дата публикации: 2020-04-30.

DNA molecules encoding human tissue plasminogen activator variants with decreased clearance, vectors, and host cells

Номер патента: US5246850A. Автор: Bruce A. Keyt,William F. Bennett,Mark J. Zoller. Владелец: Genentech Inc. Дата публикации: 1993-09-21.

Panel fastener and space frame hub

Номер патента: US5624200A. Автор: Bryan J. Beaulieu. Владелец: Skyline Displays Inc. Дата публикации: 1997-04-29.

Premolded expandable polystyrene sheet from which supporting and spacing members for web material rolls are to be cut

Номер патента: US4385091A. Автор: Thomas A. Roellchen. Владелец: Ace Polymers Inc. Дата публикации: 1983-05-24.

Use of polyol esters of fatty acids in aerated frozen confection with decreased freezing point

Номер патента: US20070042100A1. Автор: Josélio Vieira,Myriam Schlegel. Владелец: Nestec SA. Дата публикации: 2007-02-22.

A METHOD FOR TREATING A PATIENT HAVING OR AT RISK FOR DEVELOPING A DISORDER ASSOCIATED WITH DECREASED EXPRESSION OF ß2 ADRENERGIC RECEPTORS OR NEED FOR INCREASED ß2 ADRENERGIC RECEPTOR ACTIVITY

Номер патента: WO2010117423A2. Автор: Jonathan S. Stamler,Liang XIE. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2010-10-14.

Biocompatible space-charged electret materials with antibacterial and antiviral effects and methods of manufacture thereof

Номер патента: WO2023158923A1. Автор: Jianliang Gong,Chun Yin OR. Владелец: C-Polar Technologies, Inc.. Дата публикации: 2023-08-24.

Ruggedized sensor devices with decreased light scatter and associated systems and methods

Номер патента: WO2023147667A1. Автор: Daniel THOMSSON,Manikaran SINGH,Divyesh Rana. Владелец: MineSense Technologies Ltd.. Дата публикации: 2023-08-10.

Surgical handpiece having magazine-type electronic component module

Номер патента: US20230172618A1. Автор: Jae Chul Lee,Duck Jong Kim,Jae Hong JEON,Ki Jung CHON,Heon Hang LIM,Ku Young JEON. Владелец: Sciencemedic Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Cube-type electronic automatic transmission

Номер патента: US09897196B2. Автор: Eun-Sik Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-02-20.

Signals processing device in ground and space forward-scattering radar system

Номер патента: RU2608338C1. Автор: Александр Борисович Бляхман,Александр Георгиевич Рындык,Анатолий Валентинович Самарин,Александр Валерьевич Мякиньков,Роман Сергеевич Фадеев,Владимир Николаевич Буров. Владелец: Акционерное общество "Федеральный научно-производственный центр "Нижегородский научно-исследовательский институт радиотехники". Дата публикации: 2017-01-17.

Method of making component of fibrous composite for aircraft and space engineering

Номер патента: RU2492046C2. Автор: Кристиан НИТШ. Владелец: Эйрбас Оператионс Гмбх. Дата публикации: 2013-09-10.

Automatic housing type electronic flashlight device of a folding type camera

Номер патента: US4601561A. Автор: Yoshimi Yamashita. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1986-07-22.

Apparatus for effecting alignment and spacing control of a mask and wafer for use in X-ray lithography

Номер патента: US4472824A. Автор: W. Derek Buckley. Владелец: Perkin Elmer Corp. Дата публикации: 1984-09-18.

Geographic and space positioning system and process

Номер патента: CA2540533C. Автор: Pierre Kaufmann. Владелец: FUNDACAO INSTITUTO NACIONAL DE TELECOMUNICACOES. Дата публикации: 2012-07-10.

Tunnel type electronic sphygmomanometer

Номер патента: US20060064022A1. Автор: Paul Yang,Shan-Yi Yu. Владелец: Health and Life Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

TEST PATTERNS FOR DETERMINING SIZING AND SPACING OF SUB-RESOLUTION ASSIST FEATURES (SRAFs)

Номер патента: US20170193150A1. Автор: Ioana Graur,Amr Y. Abdo. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-07-06.

System for separating bulk-supplied plant-bulbs and method for transporting and spacing plant-bulbs

Номер патента: EP4337577A1. Автор: Wim Struijk,Wim Van Der MEIJDEN,Wim VAN DER EL,Bastiaan OPHORST. Владелец: IG Specials BV. Дата публикации: 2024-03-20.

Method and device for the technical support of the analysis of signals acquired by measurement, the signals having a time- and space-dependent signal characteristic

Номер патента: US12011273B2. Автор: Oliver Hein. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-18.

System for separating bulk-supplied plant-bulbs and method for transporting and spacing plant-bulbs

Номер патента: US20240208743A1. Автор: Wim Struijk,Win Van Der MEIJDEN,Bastiaan OPHORST,Win VAN DER EL. Владелец: IG Specials BV. Дата публикации: 2024-06-27.

Slat angle and spacing stabilization for face-printed, tilted-slat puzzle

Номер патента: WO2012092308A1. Автор: Stephen D. Weinreich. Владелец: Weinreich Stephen D. Дата публикации: 2012-07-05.

Organ-type electronic pedal device

Номер патента: US20230059359A1. Автор: Ji Soo Kim,Eun Sik Kim,Hyeon Uk KIM,Jong Hwan Han. Владелец: Kyung Chang Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Sliding-type electronic apparatus with strengthening force structure

Номер патента: US20140055938A1. Автор: An-Szu Hsu,Hsiu-Fan Ho,Way-Han Dai. Владелец: First Dome Corp. Дата публикации: 2014-02-27.

Organ-type electronic pedal apparatus

Номер патента: US20230173916A1. Автор: Ji Soo Kim,Eun Sik Kim,Hyeon Uk KIM,Jong Hwan Han. Владелец: Kyung Chang Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Organ-type electronic pedal device

Номер патента: US11752866B2. Автор: Ji Soo Kim,Eun Sik Kim,Hyeon Uk KIM,Jong Hwan Han. Владелец: Kyung Chang Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Active scene mapping method based on constraint guidance and space optimization strategies

Номер патента: US20240295879A1. Автор: XIN YANG,Xuefeng Yin,Xiaopeng Wei,Baocai YIN. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-09-05.

Wavelength-multiplex and space-multiplex holographic storage device

Номер патента: US8054519B2. Автор: Te-Yuan Chung,Wei-Chia Su,Yeh-Hung Chen. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2011-11-08.

Signal selecting system for keyboard type electronic musical instrument with conductive and nonconductive switches to actuate key-gates

Номер патента: US3585892A. Автор: Takao Sato,Takatsugu Nakajima. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1971-06-22.

Energy-efficient and space-saving method for managing vapor pressure difference (vpd) in multilayered controlled environment agriculture (cea) cultivation facility

Номер патента: US20240349660A1. Автор: Walter Stark. Владелец: Msp TechnologyCom LLC. Дата публикации: 2024-10-24.

Precise estimation of arrival time of switching events close in time and space

Номер патента: US09632136B2. Автор: Franco Stellari. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Sliding operation type electronic auto shift lever

Номер патента: US09556950B2. Автор: Eun-Sik Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-01-31.

Flap type electronic automatic transmission lever

Номер патента: US09500275B2. Автор: Eun-Sik Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-22.

Bracelet-type electronic apparatus and frame thereof

Номер патента: US09442524B2. Автор: Yen-Cheng Lin,Sheng-Chieh Lin,Cheng-Yu Chen,Zhao-yin CHEN,Chung-Chuan Chu. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Probe of the atomic-force microscope with programmable dynamic of changes of the spectral portraits of the radiating element on the basis of quantum dots of the core-shell structure

Номер патента: RU2650702C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2018-04-17.

Scanning probe of atomic-force microscope with separated remote-controlled nanocomposite emitting element doped with quantum dots, upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2724987C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков,Сергей Игоревич Гусев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина". Дата публикации: 2020-06-29.

Scanning probe of atomic-force microscope with separable telecontrol nanocomposite emitting element based on upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2716849C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина". Дата публикации: 2020-03-17.

Scanning probe of atomic-force microscope with detachable remote-controlled nanocomposite radiating element doped with upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2716861C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина". Дата публикации: 2020-03-17.

Probe of atomic-force microscope with programmable spectral portrait of radiation element doped with quantum dots of core-shell structure

Номер патента: RU2629713C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2017-08-31.

Scanning probe microscope with multizonde sensor operation device

Номер патента: RU2695517C2. Автор: Евгений Владимирович Кузнецов,Андрей Викторович Быков,Вячеслав Викторович Поляков,Владимир Валерьевич Котов,Людмила Петровна Прилепская. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ". Дата публикации: 2019-07-23.

Scanning probe of atomic-force microscope with separable remote-controlled nanocomposite emitting element doped with quantum dots, upconverting and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2723899C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков,Сергей Игоревич Гусев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф.Уткина". Дата публикации: 2020-06-18.

Scanning probe of nuclear power microscope with the separated television controlled nanocomposite radiating element alloyed with quantum dots and magnetic nanoparticles of the nucleus-shell structure

Номер патента: RU2681258C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2019-03-05.

Self-biased ferroelectric space charge capacitor memory

Номер патента: US5343421A. Автор: Ciaran J. Brennan. Владелец: Charles Stark Draper Laboratory Inc. Дата публикации: 1994-08-30.

Table-type electronic percussion instrument

Номер патента: CA2209970C. Автор: Masaaki Mizuguchi,Yoshitaka Noguchi. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2001-11-06.

A system and method for an interactive access to project design and space layout planning

Номер патента: AU2020326572A1. Автор: Nilamkumar Jayntilal Patel. Владелец: Roots Decor India Pvt Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Merging and spacing speed target calculation

Номер патента: EP2140440A1. Автор: Richard D. Ridenour. Владелец: Aviation Communication and Surveillance Systems LLC. Дата публикации: 2010-01-06.

Electronic pen and cartridge-type electronic pen main body including an conductive center electrode and a peripheral electrode

Номер патента: US11874977B2. Автор: Shinya Aoki,Yoshiyuki Hashimoto,Takenori Kaneda. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Electronic pen and cartridge-type electronic pen main body including an conductive center electrode and a peripheral electrode

Номер патента: US20240103649A1. Автор: Shinya Aoki,Yoshiyuki Hashimoto,Takenori Kaneda. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

A system for evaluating the current evolutionary status of events or processes in a geographical region and for generating and visualizing predictions of the evolutionary dynamics in time and space

Номер патента: EP2652044A1. Автор: Paolo Massimo Buscema,Roberto SCIBETTA. Владелец: CSI Ricerca and Ambiente Srl. Дата публикации: 2013-10-23.

Considering input/output workload and space usage at a plurality of logical devices to select one of the logical devices to use to store an object

Номер патента: US20180329653A1. Автор: Matthew J. Anglin,Michael G. Sisco,Arthur John Colvig. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

Testing system for flip-type electronic device

Номер патента: US20080173110A1. Автор: Dong Li,Lei Li,Ping Chen,Zhi Cheng,Chang-Fa Sun,Xue-Liang Zhai,Ming-Feng Li,Yong-Zhi Tao. Владелец: Sutech Trading Ltd. Дата публикации: 2008-07-24.

Merging and spacing speed target calculation

Номер патента: WO2008122050A1. Автор: Richard D. Ridenour. Владелец: Aviation Communication & Surveillance Systems LLC. Дата публикации: 2008-10-09.

Testing system for flip-type electronic device

Номер патента: US7757566B2. Автор: Dong Li,Lei Li,Ping Chen,Zhi Cheng,Chang-Fa Sun,Xue-Liang Zhai,Ming-Feng Li,Yong-Zhi Tao. Владелец: Fih Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2010-07-20.

Method of producing a synthetic component of bases of hydraulic oils for rocket and space equipment

Номер патента: RU2703538C1. Автор: Владимир Александрович Тыщенко,Наталья Александровна Шейкина,Ирина Анатольевна Гаврилова,Надежда Владимировна Дмитриева,Ида Аркадьевна Куликова,Наталья Ивановна Каюткина,Сергей Николаевич Волгин,Константин Борисович Рудяк. Владелец: Публичное акционерное общество "Нефтяная компания "Роснефть" (ПАО "НК "Роснефть"). Дата публикации: 2019-10-21.

Product from aluminium alloy with high resistance to damages, namely to be used in aviation and space industry

Номер патента: RU2477331C2. Автор: Ринзе БЕНЕДИКТУС,Кристиан Йоахим КАЙДЕЛЬ,Альфред Людвиг ХАЙНЦ,Хинрих Йоханнес Вильхельм ХАРГАРТЕР. Владелец: Корус Алюминиум Вальцпродукте Гмбх. Дата публикации: 2013-03-10.

Scanning sounding microscope with liquid cell

Номер патента: RU2210731C2. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,М.Е. Алексеев. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2003-08-20.

Analog indicator type electronic timepiece and charging method thereof

Номер патента: US5581519A. Автор: Tatsuo Hara,Yasuhiro Oshima,Hidenori Makiba,Joji Kitahara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1996-12-03.

Molded roll support and spacing structure

Номер патента: US5934467A. Автор: James W. Gilfert,Robert W. Crandall,Loren D. Ervay. Владелец: Great Northern Corp. Дата публикации: 1999-08-10.

Arrangement of analog-type electronic wristwatch

Номер патента: US4477195A. Автор: Mitsuhiro Murata,Yasuo Kamiyama,Mitsuo Saitoh. Владелец: Citizen Watch Co Ltd. Дата публикации: 1984-10-16.

Time and space scaled S-model for turbulent fluid flow simulations

Номер патента: US8775140B2. Автор: Jiun-Der Yu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-07-08.

Glasses-type electronic device

Номер патента: US11933974B2. Автор: Takashi Nakagawa,Takayuki Ikeda,Shunpei Yamazaki,Kentaro Hayashi,Kiyotaka Kimura,Hideaki Shishido,Hidetomo Kobayashi,Kosei Nei. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Time and space adjustable system for inhibiting pathological target cells

Номер патента: US20180105595A1. Автор: Bo Song,PENG Wang,Huamao Wang. Владелец: Carsgen Therapeutics Ltd. Дата публикации: 2018-04-19.

Insole-type electronic device and control method for insole-type electronic device

Номер патента: US11871814B2. Автор: Yuuki Momokawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Flexible-type electronic device and operating method therefor

Номер патента: EP4235373A1. Автор: Changho Lee,Jinwan AN,Kwangtaek WOO,Deukkyu OH,Byoungkug KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-30.

Aligning and spacing articles

Номер патента: AU2180688A. Автор: Gary Morley. Владелец: Tweedy Of Burnley Ltd. Дата публикации: 1990-05-17.

Insole-type electronic device and control method for insole-type electronic device

Номер патента: US20220053872A1. Автор: Yuuki Momokawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Method of and Systems for Privacy Preserving Mobile Demographic Measurement of Individuals, Groups and Locations Over Time and Space

Номер патента: US20130340095A1. Автор: Farshid Alizadeh-Shabdiz,Edward James Morgan,Russel Kipp Jones,Nicolas Brachet,Andrew J. Broadstone. Владелец: Skyhook Wireless Inc. Дата публикации: 2013-12-19.

Acquisition and landing systems of airscrafts and spacecrafts in air and space

Номер патента: WO2016167733A1. Автор: Ali Riza Eroglu. Владелец: Eroğlu Ali Riza. Дата публикации: 2016-10-20.

Precedence-based fast and space-efficient ranking

Номер патента: US20200134036A1. Автор: Kumaresh Pattabiraman,Anthony Duane Duerr,Keren Kochava Baruch,Kunal Mukesh Cholera,Jianbao Tao,Santosh Kumar Kancha. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2020-04-30.

Testing system for flip type electronic device

Номер патента: US20110154917A1. Автор: Ying Yang,Yan-Feng Yang,Ling-Yu Huang,Zhan-Wei Huang. Владелец: Fih Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2011-06-30.

Slat angle and spacing stabilization for face-printed, tilted-slat puzzle

Номер патента: EP2658624A1. Автор: Stephen D. Weinreich. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-11-06.

Arrangement and method for focus monitoring in a microscope with digital image generation, preferably in a confocal microscope

Номер патента: US20030075667A1. Автор: Guenter Schoeppe. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2003-04-24.

Method for varying the flow rate of fuel in a distributor-type electronic control fuel-injection pump

Номер патента: US5115783A. Автор: HOSOKAWA Hitoshi,Kenichi Kubo,Hisashi Nakamura,Takashi Ohishi. Владелец: Zexel Corp. Дата публикации: 1992-05-26.

Structure of end portion of side-looking type electronic endoscope

Номер патента: US5569162A. Автор: Shuji Komi. Владелец: Fuji Photo Optical Co Ltd. Дата публикации: 1996-10-29.

Training type electronic musical instrument with keyboard indicators

Номер патента: US4694723A. Автор: Isao Shinohara,Itsuro Yoshimoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1987-09-22.

Recording sheet separating device in a transfer-type electronic copying machine

Номер патента: US4363550A. Автор: Kenshi Toshimitsu,Mitsuaki Kohyama,Akihiro Kanazashi. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-12-14.

Multiple-disc clutch type electronically controlled differential limiting device with a torsional damper for each driver shaft

Номер патента: US5445574A. Автор: Shinichi Sekiguchi,Hirotaka Kusukawa,Kenichi Tobita. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 1995-08-29.

Press-rotate-type electronic cigarette

Номер патента: US10495226B2. Автор: WEN Chen. Владелец: Shenzhen IVPS Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-03.

Shaped charge effect measurement

Номер патента: US20210072008A1. Автор: Dennis J. HAGGERTY. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-03-11.

Crystal oscillation-type electronic timepiece

Номер патента: US4296490A. Автор: Yasuhiko Nishikubo. Владелец: Citizen Watch Co Ltd. Дата публикации: 1981-10-20.

Slide Type Electronic Device

Номер патента: US20090296329A1. Автор: Wei-Kuo Lee,Chu-Chia Tsai,Kuo-Kun Lin. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2009-12-03.

Organ-type electronic pedal apparatus

Номер патента: US11833899B2. Автор: Ji Soo Kim,Eun Sik Kim,Hyeon Uk KIM,Jong Hwan Han. Владелец: Kyung Chang Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Organ-type electronic pedal apparatus

Номер патента: US11747851B2. Автор: Ji Soo Kim,Eun Sik Kim,Hyeon Uk KIM,Jong Hwan Han. Владелец: Kyung Chang Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Knock-type electronic pen including first and second position indicators located at different ends of a tubular casing

Номер патента: US12001618B2. Автор: Daisuke Watanabe,Masamitsu Ito,Ryoji KAMIYAMA. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Keyboard type electronic musical instrument

Номер патента: US4174651A. Автор: Ikutaro Kakehashi. Владелец: Roland Corp. Дата публикации: 1979-11-20.

Optical scanning microscope with linear scanning

Номер патента: US20060012868A1. Автор: Ralf Wolleschensky. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2006-01-19.

Continuous Zoom Stereoscopic Microscope with Adjustable Stereoscopic Angle

Номер патента: US20230221540A1. Автор: Chao Liu,Zhao Jiang,Yi Zheng,Di Wang,Qionghua Wang. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-13.

Optical scanning microscope with linear scanning

Номер патента: US7388713B2. Автор: Ralf Wolleschensky. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2008-06-17.

Scan-less confocal microscope with high resolution related applications

Номер патента: US12072480B2. Автор: Cheng Gong,Dongkyun Kang. Владелец: University of Arizona. Дата публикации: 2024-08-27.

Ophthalmic microscope with improved documentation capability

Номер патента: US20240274250A1. Автор: Jörg Breitenstein,Frank Zumkehr. Владелец: Haag Streit AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Raman microscope with excellent ratio of signal to noise

Номер патента: WO2009014306A1. Автор: Yong Bum Kim. Владелец: Yong Bum Kim. Дата публикации: 2009-01-29.

Microscope with at least one optical beam path

Номер патента: US20240302639A1. Автор: Ralf Wolleschensky,Johannes Knoblich,Jana Lepschi,Tobias-Michael Kaufhold. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Laser scanning microscope with spectrally resolving radiation detection

Номер патента: US20070188754A1. Автор: Gunter Moehler,Ralf Engelmann. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2007-08-16.

Microscopes with objective assembly crash detection and methods of utilizing the same

Номер патента: WO2020159887A1. Автор: Anthony James Lord,Sia Choon Beng,Gavin Neil Fisher,Gerald Lee Gisler. Владелец: Formfactor Beaverton, Inc.. Дата публикации: 2020-08-06.

Autofocus method for microscope and microscope with autofocus device

Номер патента: US20140168404A1. Автор: Peter Westphal,Reiner Mitzkus. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2014-06-19.

Computer-implemented methods for manual focus adjustment of a microscope and microscopes with manual focus adjustment

Номер патента: EP4439147A1. Автор: Sebastian Tille. Владелец: Leica Microsystems CMS GmbH. Дата публикации: 2024-10-02.

Lamp lens with reduced chromatic aberration and lamp for vehicle using the same

Номер патента: US09890919B2. Автор: Seong Yeon Han. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Microscope with spectroscopic capability

Номер патента: US09625370B2. Автор: Edward J. Bawolek. Владелец: EMPIRE TECHNOLOGY DEVELOPMENT LLC. Дата публикации: 2017-04-18.

Microscope with a light sheet

Номер патента: US09500849B2. Автор: Helmut Lippert,Matthias Wald,Christopher Power,Robert Hauschild. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2016-11-22.

Autofocus method for microscope and microscope with autofocus device

Номер патента: US09389405B2. Автор: Peter Westphal,Reiner Mitzkus. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2016-07-12.

Simple method of precision calibration of magnification of a scanning microscopes with the use of test diffraction grating

Номер патента: US20030071191A1. Автор: Arkady Nikitin,Dmitriy Yeremin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-04-17.

Method of precision calibration of magnification of a scanning microscope with the use of test diffraction grating

Номер патента: US20030029997A1. Автор: Arkady Nikitin,Dmitriy Yeremin. Владелец: GENERAL PHOSPHONIX LLC. Дата публикации: 2003-02-13.

Microscope with a proximity sensor

Номер патента: US20020181095A1. Автор: Wolfgang Rentzsch,Helmut Ruehl. Владелец: Leica Microsystems Wetzlar GmbH. Дата публикации: 2002-12-05.

Multiphoton fluorescence microscope with plane array detector

Номер патента: US20060245021A1. Автор: Dan Davidovici. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-02.

Illuminating device for an operation microscope with optically-mechanically coupled observer tubes

Номер патента: US5856883A. Автор: Ulrich Sander. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1999-01-05.

Microscope with increased resolution

Номер патента: GB2416445A. Автор: Ralf Wolleschensky. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2006-01-25.

Microscopes with objective assembly crash detection and methods of utilizing the same

Номер патента: US20200241278A1. Автор: Anthony James Lord,Sia Choon Beng,Gavin Neil Fisher,Gerald Lee Gisler. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2020-07-30.

Surgical microscope with gesture control and method for a gesture control of a surgical microscope

Номер патента: US20230355323A1. Автор: George Themelis. Владелец: Leica Instruments Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Surgical microscope with gesture control and method for a gesture control of a surgical microscope

Номер патента: US11744653B2. Автор: George Themelis. Владелец: Leica Instruments Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

High-performance euv microscope with free form illumination system

Номер патента: US20240011922A1. Автор: Dong Gun Lee. Владелец: Esol Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Microscopes with objective assembly crash detection and methods of utilizing the same

Номер патента: EP3918401A1. Автор: Anthony James Lord,Sia Choon Beng,Gavin Neil Fisher,Gerald Lee Gisler. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2021-12-08.

Microscopes with objective assembly crash detection and methods of utilizing the same

Номер патента: WO2020159887A9. Автор: Anthony James Lord,Sia Choon Beng,Gavin Neil Fisher,Gerald Lee Gisler. Владелец: Formfactor Beaverton, Inc.. Дата публикации: 2020-10-15.

Ophthalmic lenses for correcting aberration and methods of making said lenses

Номер патента: RU2489745C2. Автор: Кхалед ЧЕХАБ,Росс ФРАНКЛИН,Бретт ДЭВИС,Майкл КОЛЛИНЗ. Владелец: Джонсон Энд Джонсон Вижн Кэа, Инк.. Дата публикации: 2013-08-10.

Lamp lens with reduced chromatic aberration and lamp for vehicle using the same

Номер патента: US20160084464A1. Автор: Seong Yeon Han. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-24.

System for measurement of aberrations and topometry

Номер патента: EP1372463B1. Автор: Eugene Curatu. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2008-04-09.

Glass lens having reduced chromatic aberration and refractive index gradient

Номер патента: US3827785A. Автор: K Matsushita,K Nishizawa,M Toyama. Владелец: Nippon Selfoc Co Ltd. Дата публикации: 1974-08-06.

Scanning tunneling microscope for reflex type electron microscope

Номер патента: JPH01130457A. Автор: Keiji Yamazaki,啓司 山崎. Владелец: Showa Aluminum Corp. Дата публикации: 1989-05-23.

Electronic device with dynamic map-type interface, method for controlling the dynamic map-type interface and system thereof

Номер патента: TW201516846A. Автор: Xiao-Guang Li. Владелец: Hon Hai Prec Ind Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-01.

Electronic device with dynamic map-type interface, method for controlling the dynamic map-type interface and system thereof

Номер патента: TW201432551A. Автор: Tzu-Hsiang Lan,Quan-Quan Liu. Владелец: Hon Hai Prec Ind Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-16.

Magnetic beam deflection device that have no secondary chromatic aberration and geometric aberration

Номер патента: JPS54152386A. Автор: Resurii Buraun Kaaru. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1979-11-30.

Apparatus, Methods, and HDL Code for Determining the Coefficients of a Function With Decreased Latency

Номер патента: US20110264724A1. Автор: Walter E. Pelton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-10-27.

Method and device for the synthesis of three-dimensional animated map-type images

Номер патента: GB8705032D0. Автор: . Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1992-09-16.

Apparatus for detecting micrometeoroids and space debris particles

Номер патента: RU2476908C2. Автор: Дмитрий Владимирович Родин,Николай Данилович Семкин,Алексей Михайлович Телегин,Михаил Павлович Калаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2013-02-27.

Method of three-dimensional reconstruction of surface of sample using images obtained using raster electronic microscope

Номер патента: RU2704390C2. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Александр Юрьевич Кузин,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2019-10-28.

Magnetic immersion lens for emission electron microscope

Номер патента: RU2572806C1. Автор: Алексей Алексеевич Исаев. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина"). Дата публикации: 2016-01-20.

DUSTPROOF STRUCTURE FOR SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE AND SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002390A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for preparing blood preparation for electron-microscopic investigation

Номер патента: RU2273027C1. Автор: Людмила Витальевна Астахова,Елена Станиславовна Головнева,Ольга Геннадьевна Бондаренко,Станислав Юрьевич Белоусов. Владелец: Государственное учреждение "Челябинский государственный институт лезерной хирургии". Дата публикации: 2006-03-27.

Improvements in Machines for Justifying and Spacing Type.

Номер патента: GB189804379A. Автор: John Tyrrell Boyes. Владелец: Individual. Дата публикации: 1898-09-24.

Improvements in Apparatus for Justifying and Spacing Type.

Номер патента: GB190203486A. Автор: William Phillips Thompson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1902-05-29.

Improvements in Apparatus for Justifying and Spacing out Type.

Номер патента: GB189817302A. Автор: William Phillips Thompson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1899-08-10.

Method to prepare samples of microorganisms biofilms for survey in scanning electronic microscope

Номер патента: RU2484446C1. Автор: Зинаида Степановна Науменко,Руфина Юрьевна Очеретина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова" Министерства здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-06-10.

Magnetron-type electron gun for generating helical electron beams with reflected electron trap

Номер патента: RU2523447C2. Автор: Михаил Юрьевич Глявин,Михаил Иванович Петелин,Аркадий Львович Гольденберг. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт прикладной физики Российской академии наук(ИПФ РАН),. Дата публикации: 2014-07-20.

Radar antenna with decreased effective scattering area

Номер патента: RU2400882C1. Автор: Сергей Владимирович Ковалев,Олег Владимирович Король,Сергей Михайлович Нестеров,Иван Алексеевич Скородумов,Виталий Владимирович Подъячев. Владелец: Фгу "2 Цнии Минобороны России". Дата публикации: 2010-09-27.

Method and apparatus for measuring relaxation time constant of space charge in dielectric liquids

Номер патента: RU2453857C1. Автор: Валентин Самуилович Аксельрод,Гирш Иосифович Авербух,Александр Викторович Бурбуков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2012-06-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: MY128346A. Автор: Sudraud Pierre,Corbin Antoine,Sailer Rainer,Bate David John. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2007-01-31.

Reinforcement method for reinforced concrete pillar with decreased load-bearing capacity

Номер патента: RU2274719C2. Автор: Кирилл Константинович Нежданов,Алексей Кириллович Нежданов,В чеслав Александрович Туманов,Вячеслав Александрович Туманов,Антон Вячеславович Туманов,Антон В чеславович Туманов. Владелец: Пензенский государственный университет архитектуры и строительства. Дата публикации: 2006-04-20.

Device to enter digital signals into redundant control system for bench testing of rocket and space equipment

Номер патента: RU2459224C1. Автор: Валерий Вячеславович Милютин,Николай Сергеевич Данилов,Вадим Александрович Лисейкин,Валерий Леонидович Зиновьев. Владелец: Федеральное казенное предприятие "Научно-испытательный центр ракетно-космической промышленности". Дата публикации: 2012-08-20.

Stationary bench for rocket and space carrier head unit

Номер патента: RU2543150C2. Автор: Юлий Александрович Драгомирецкий,Сергей Васильевич Васильев,Виктор Михайлович Яковлев,Алексей Аркадьевич Дилидудко,Виталий Федорович Мороз. Владелец: Публичное акционерное общество "ДНЕПРОТЯЖМАШ". Дата публикации: 2015-02-27.

Method for tomographic sample analysis in scanning electron microscope

Номер патента: RU2453946C1. Автор: Глеб Сергеевич Жданов. Владелец: Глеб Сергеевич Жданов. Дата публикации: 2012-06-20.

Apparatus for determining magnification on electron micrographs during electron microscope analysis

Номер патента: RU2482443C2. Автор: Алексей Николаевич Евсеев,Константин Валерьевич Тимофеев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный государственный медицинский университет" Министерство здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-05-20.

Device for protection of spacecraft and space stations against impact action of space medium particles

Номер патента: RU2299839C1. Автор: Александр Игоревич Малкин,Михаил Михайлович Кононенко,Тимофей Александрович Шумихин. Владелец: Михаил Михайлович Кононенко. Дата публикации: 2007-05-27.

Method of preparing a cross-sectional sample of a scanning electron microscope

Номер патента: KR960026065A. Автор: 김경수,조경익,남산. Владелец: 재단법인 한국전자통신연구소. Дата публикации: 1996-07-20.

Mobile aircraft rocket-and-space system

Номер патента: RU2353546C2. Автор: Владимир Григорьевич Дегтярь,Анатолий Степанович Карпов,Вячеслав Андреевич Данилкин,Валерий Васильевич Сабуренко,Масхут Шакирович Канбиков,Лариса Витальевна Шевалдина. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Государственный Ракетный Центр Имени Академика В.П. Макеева". Дата публикации: 2009-04-27.

Polymer composition with decreased combustibility

Номер патента: RU2079521C1. Автор: А.Е. Чернов,Л.И. Раткевич,В.К. Строков. Владелец: Открытое акционерное общество "Томский нефтехимический комбинат". Дата публикации: 1997-05-20.

Global terrestrial-space detection system for air and space objects

Номер патента: RU2578168C1. Автор: Александр Борисович Бляхман,Анатолий Валентинович Самарин. Владелец: Акционерное общество "Федеральный научно-производственный центр "Нижегородский научно-исследовательский институт радиотехники" (АО "ФНПЦ "ННИИРТ"). Дата публикации: 2016-03-20.

Method for automatic temperature adjustment with decreased dynamic error in apparatus with heating cover

Номер патента: RU2259580C2. Автор: Ю.Я. Максимов. Владелец: Курский государственный технический университет. Дата публикации: 2005-08-27.

Device for space charge generation

Номер патента: RU2596908C1. Автор: Александр Федорович Запольский,Алексей Александрович Манешкин,Евгений Владимирович Салтыков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"). Дата публикации: 2016-09-10.

Method of treating children suffering neurogenic bladder dysfunction with decreased urinate activity by biological feedback

Номер патента: RU2452531C1. Автор: Роман Олегович Игнатьев,Наталья Борисовна Гусева,Евгений Леонидович Вишневский,Андрей Петрович Панин. Владелец: Наталья Борисовна Гусева. Дата публикации: 2012-06-10.

Device for protection of spacecraft and space stations against high-velocity impact action of space medium particles

Номер патента: RU2299838C1. Автор: Александр Игоревич Малкин,Михаил Михайлович Кононенко,Тимофей Александрович Шумихин. Владелец: Михаил Михайлович Кононенко. Дата публикации: 2007-05-27.

Device of micrometeorite and space debris part registration

Номер патента: RU2522504C2. Автор: Николай Данилович Семкин,Алексей Михайлович Телегин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2014-07-20.

Method for location and spacing of round timbers affected by radionuclides

Номер патента: RU2247022C2. Автор: А.С. Торопов,Е.В. Жидова,В.М. Меркелов,В.Ф. Краснова. Владелец: Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2005-02-27.

Method for location and spacing of round timbers having pith rot

Номер патента: RU2252135C1. Автор: А.С. Торопов,А.В. Конаков,Е.С. Шарапов,А.М. Махотин. Владелец: Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2005-05-20.

Supporting and spacing member for web material rolls

Номер патента: CA1216260A. Автор: Thomas A. Roellchen. Владелец: ARVRON Inc. Дата публикации: 1987-01-06.

Improvements in or relating to the Casting of Printers' Quads and Spaces.

Номер патента: GB190226887A. Автор: Harold Malcolm Duncan,Charles Ridgeway Macauley. Владелец: Individual. Дата публикации: 1903-12-03.

Device for electric energy transmission in rocket and space complexes (versions)

Номер патента: RU2521108C2. Автор: Ефим Леонидович Межирицкий,Дмитрий Семенович Стребков,Александр Георгиевич Жучков,Леонид Юрьевич Юферев,Олег Алексеевич Рощин,Владимир Владимирович Морозов. Владелец: Российская Академия Сельскохозяйственных наук Государственное научное учреждение Всероссийский научно-исследовательский институт электрификации сельского хозяйства (ГНУ ВИЭСХ). Дата публикации: 2014-06-27.

Apparatus for generating space charge in atmosphere

Номер патента: RU2060639C1. Автор: Лев Александрович Похмельных. Владелец: Лев Александрович Похмельных. Дата публикации: 1996-05-27.

Scanning probe microscope with multiple-probe sensor operating device

Номер патента: RU2538412C1. Автор: Андрей Викторович Быков,Виктор Александрович Быков. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "Нанотехнология Мдт". Дата публикации: 2015-01-10.

Probe of atomic-force microscope with nanocomposite radiating element doped by quantum points and magnetic nanoparticles of core-shell structure

Номер патента: RU2587691C1. Автор: Владимир Анатольевич Линьков,Николай Владимирович Вишняков,Павел Владимирович Линьков,Юрий Владимирович Линьков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2016-06-20.

Method of calibrating radar station from effective radar cross-section value during dynamic measurement of effective radar cross-section of ballistic and space objects

Номер патента: RU2519820C1. Автор: Виктор Порфирьевич Мисник,Александр Петрович Полуян,Наталья Васильевна Рябцева,Владимир Николаевич Тучин. Владелец: Открытое акционерное общество "Корпорация космических систем специального назначения "Комета". Дата публикации: 2014-06-20.

Method for packet transmission of messages between transmitting and receiving sides in network with ground and space subscribers

Номер патента: RU2562365C2. Автор: Виктор Иванович Лавров,Александр Анатольевич Усольцев,Анатолий Алексеевич Безруков,Юрий Григорьевич Выгонский,Евгений Парфенович Екимов,Андрей Николаевич Невзорский. Владелец: Открытое акционерное общество "Спутниковая система "Гонец". Дата публикации: 2015-09-10.

Method of transmission of telemetric information, adapted to different situations, arising during tests of rocket and space equipment, and system for its realisation

Номер патента: RU2571584C2. Автор: Сергей Сергеевич Кукушкин,Валерий Иванович Кузнецов. Владелец: Сергей Сергеевич Кукушкин. Дата публикации: 2015-12-20.

Scanning sounding microscope with liquid cell

Номер патента: RU2210818C2. Автор: В.А. Быков,С.А. Саунин,А.Д. Самойленко. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2003-08-20.

Scanning probe microscope with an equivalent of scanner

Номер патента: RU2249264C1. Автор: А.В. Беляев,В.А. Быков,С.А. Саунин,В.В. Жижимонтов,ев А.В. Бел (RU),В.В. Жижимонтов (RU),В.А. Быков (RU),С.А. Саунин (RU). Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-03-27.

Scanning probe microscope with electrochemical cell

Номер патента: RU2248600C1. Автор: В.А. Быков,А.И. Данилов,Д.А. Козодаев,С.А. Саунин,Д.Ю. Соколов. Владелец: Зао "Нт-Мдт". Дата публикации: 2005-03-20.

Two-photon scanning microscope with automatic precision image focusing and method for automatic precision image focusing

Номер патента: RU2515341C2. Автор: Елена Дмитриевна Мишина,Сергей Владимирович Семин,Наталия Эдуардовна Шерстюк,Сергей Дмитриевич Лавров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики". Дата публикации: 2014-05-10.

Electron beam detection method, electron beam detection method for scanning type electron microscope, dimension calibration method for scanning type electron microscope, and dimension calibration device for electron beam detection device and scanning type electron microscope

Номер патента: JPH10144248A. Автор: Toshio Onodera,登 内田,Noboru Uchida,和幸 桑原,Kazuyuki Kuwabara,俊雄 小野寺. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-29.

Wien filter and direct mapping type reflection electron microscope

Номер патента: JPH11233062A. Автор: Makoto Kato,藤 誠 嘉. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1999-08-27.

Secondary electron detecting device for scan-type electron microscope or its analogous device

Номер патента: JPS54154260A. Автор: Tadashi Otaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1979-12-05.

Sample table for scanning type electron microscope, and method for locating sample on scanning type electron microscope

Номер патента: JP2013235778A. Автор: Akira Taniyama,明 谷山,Masato Hamanaka,真人 浜中. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2013-11-21.

Method for producing panoramic image in raster electron microscope

Номер патента: RU2181515C2. Автор: В.Н. Филиппов. Владелец: Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения РАН. Дата публикации: 2002-04-20.

Scanning type electron microscope

Номер патента: CA434082A. Автор: Richard L. Snyder, Jr.. Владелец: Radio Corporation of America. Дата публикации: 1946-04-09.

Scan type electron microscope

Номер патента: JPS52115162A. Автор: Kimio Kanda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-09-27.

Composite type electronic microscope

Номер патента: JPS52155961A. Автор: Toshio Kochi,Yoshihisa Namikawa,Shinjiro Katagiri,Moriki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-12-24.

Map-type instant guidance searching method and map-type instant guidance searching system

Номер патента: CN101672654A. Автор: 吴耀宗. Владелец: Inventec Corp. Дата публикации: 2010-03-17.

Electron-ray deflecting apparatus for scan-type electron microscope

Номер патента: JPS5557247A. Автор: Shuichi Saito,Susumu Takashima. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1980-04-26.

Analogous device of scanning type electronic microscope, etc.

Номер патента: JPS5267568A. Автор: Shozo Kasai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-06-04.

Scanning type electron microscope

Номер патента: JPS63264855A. Автор: Shohei Suzuki,正平 鈴木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1988-11-01.

Raster-type electron microscope

Номер патента: SU1638745A1. Автор: Альберт Евдокимович Лукьянов,Александр Михайлович Янченко,Алексей Алексеевич Патрин. Владелец: Белорусский государственный университет им.В.И.Ленина. Дата публикации: 1991-03-30.

Adjustment method of corpuscle powder sample for scanning-type electronic microscope

Номер патента: JPS5515034A. Автор: Shinichi Sawamura. Владелец: NUCLEAR FUEL CO Ltd. Дата публикации: 1980-02-01.

Transmission type electron microscope

Номер патента: JPS64636A. Автор: Hisashi Sato,Moriki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-01-05.

Focus correction device for scanning type electron microscope

Номер патента: JPS51124370A. Автор: Takashi Shimatani. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1976-10-29.

Confocal scanning transmission type electron microscope device and three-dimensional tomographic observation method

Номер патента: JP2012043563A. Автор: Yasutoshi Odaka,康稔 小▲高▼. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Scan type electronic microscope

Номер патента: JPS52115163A. Автор: Kimio Kanda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-09-27.

Transmission electron microscope observation base sample, transmission electron microscope measurement method, and transmission electron microscope apparatus

Номер патента: JP3735614B2. Автор: 島 章 高,田 善 己 鎌. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-01-18.

Magnification ratio display unit for scanning type electronic microscope

Номер патента: JPS5315737A. Автор: Osamu Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1978-02-14.

Method for preparing transmission type electron microscope test piece

Номер патента: CN105486553A. Автор: 李文旭,田宜加. Владелец: Powerchip Technology Corp. Дата публикации: 2016-04-13.

Scanning type electronic microscope and analogous equipment

Номер патента: JPH1021864A. Автор: Osamu Yamada,Kashio Kageyama,理 山田,則幸 兼岡,甲子男 影山,Noriyuki Kaneoka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-01-23.

Scanning vibration estimating apparatus for scanning type electron microscope

Номер патента: JPS6452369A. Автор: Hisahiro Furuya,Koichi Honma,Fuminobu Furumura,Akira Kagami,Takashi Iiizumi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-02-28.

Automatic focussing unit for scanning type electronic microscope

Номер патента: JPS5448476A. Автор: Takao Namae. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1979-04-17.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.