Method of testing a gap fill for DRAM

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: NL2018616B1. Автор: OHTANI Kinya. Владелец: Shindengen Electric Mfg. Дата публикации: 2018-02-01.

Memory device and method of forming the same

Номер патента: US12108605B2. Автор: Chung-Te Lin,Feng-Cheng Yang,Chieh-Fang Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Array substrate, method of manufacturing array substrate and display device

Номер патента: US09508762B2. Автор: WEI Liu,Chunsheng Jiang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Profile control of a gap fill structure

Номер патента: US12057349B2. Автор: Chang-Yun Chang,Ming-Chang Wen,Wan-Yao Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Profile control of a gap fill structure

Номер патента: US20240363423A1. Автор: Chang-Yun Chang,Ming-Chang Wen,Wan-Yao Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Non-volatile memory device and method of manufacturing the non-volatile memory device

Номер патента: US20220344369A1. Автор: In Su Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2022-10-27.

Method of making a FinFET device

Номер патента: US09443768B2. Автор: Ming-Feng Shieh,Hung-Chang Hsieh,Han-Wei Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Gap fill self planarization on post EPI

Номер патента: US09831307B2. Автор: Po-Chang Chen,Ding-I Liu,Po-Hsiung Leu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Method of Manufacturing and Testing a Chip Package

Номер патента: US20140206109A1. Автор: Ossimitz Peter,BEER Gottfried,von Daak Matthias. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2014-07-24.

Method of making and testing a semiconductor device

Номер патента: EP0618455A2. Автор: Clyde George Bethea. Владелец: AT&T Corp. Дата публикации: 1994-10-05.

Method of manufacturing and testing a semiconductor device

Номер патента: US6972202B2. Автор: Kunio Kobayashi,Ryouji Nishihashi. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2005-12-06.

Semiconductor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US10084056B1. Автор: Hung-Wen Hsu,Jiech-Fun Lu,Hung-Ling Shih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-09-25.

Semiconductor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20180269299A1. Автор: Hung-Wen Hsu,Jiech-Fun Lu,Hung-Ling Shih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-09-20.

Methods of fabricating nonvolatile memory devices and related devices

Номер патента: US9240458B2. Автор: Chang-Sun Lee,Ji-Hwon Lee,Hyun-Seok Na,Joong-Shik Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-01-19.

Microlens of CMOS image sensor and method of manufacturing the same

Номер патента: US20060145218A1. Автор: Joon Hwang. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-06.

Test key for checking the window of a doped region and method of using the test key

Номер патента: US09685387B1. Автор: Zhe Wang,Lu Zou,Ching Hwa Tey. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US12142588B2. Автор: Jaehyung Park,Hoonjoo NA,Seokho KIM,Joohee Jang,Kyuha Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-12.

Method of making a structure

Номер патента: US09466528B2. Автор: Yu Lun Liu,Chia-Chu Liu,Kuei-Shun Chen,Yi-Shien Mor,Han-Hsun CHANG,Shiao-Chian YEH. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Method of forming composite opening and method of dual damascene process using the same

Номер патента: SG145607A1. Автор: Hong Ma. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2008-09-29.

Integrated circuit packages and methods of forming the same

Номер патента: US20240312836A1. Автор: Yung-Chi Lin,Yi-Hsiu Chen,Ming-Tsu Chung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method of gap-filling using amplitude modulation radio frequency power

Номер патента: US7605084B2. Автор: Young-Rok Kim,Jeong-Hoon Han,Jin-Hyuk Yoo. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-20.

Die Structures and Methods of Forming the Same

Номер патента: US20240079391A1. Автор: Sung-Feng Yeh,Chia-Hao Hsu,Kuo-Chiang Ting,Jian-Wei Hong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Method of manufacturing isolation structure for semiconductor device

Номер патента: US10256136B2. Автор: Eun-Jeong Kim,Han-Sang Song,Su-ho Kim,Jin-Yul Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2019-04-09.

Method of testing a three-dimensional integrated circuit

Номер патента: US09689914B2. Автор: Ching-Fang Chen,Hsiang-Tai Lu,Chih-Hsien Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Apparatus and method of testing a substrate using a supporting nest and testing probes

Номер патента: US09412898B2. Автор: Michele Vazzoler. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2016-08-09.

Semiconductor devices and methods of fabricating the same

Номер патента: US11889679B2. Автор: Eunjung Kim,Sungyeon RYU. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-30.

Methods of testing a semiconductor structure

Номер патента: EP2901168A1. Автор: Cheang-Whang CHANG,Myongseob Kim,Henley Liu,Boon Y. Ang,Yuqing Gong,Suresh P. PARAMESWARAN. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2015-08-05.

Semiconductor device and method of fabricating 3D package with short cycle time and high yield

Номер патента: US09941207B2. Автор: Yaojian Lin. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Method of testing semiconductor package

Номер патента: US11769698B2. Автор: Victor Chiang Liang,Yang-Che CHEN,Chen-hua Lin,Chwen-Ming Liu,Chi-Hui Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Test assembly and method of manufacturing the same

Номер патента: US10088502B2. Автор: Choon Leong Lou,Ho Yeh Chen. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2018-10-02.

Method of fabricating a semiconductor package

Номер патента: US09720013B2. Автор: Yi-Che Lai,Pin-Cheng Huang. Владелец: Siliconware Precision Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Semiconductor device and method of fabricating 3D package with short cycle time and high yield

Номер патента: US09653445B2. Автор: Yaojian Lin. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Methods and systems for filling a gap

Номер патента: US20240352576A1. Автор: Timothee Blanquart,Viljami Pore,Charles DEZELAH,René Henricus Jozef Vervuurt. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-10-24.

Methods and systems for filling a gap

Номер патента: US12104244B2. Автор: Timothee Blanquart,Viljami Pore,Charles DEZELAH,René Henricus Jozef Vervuurt. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-10-01.

Test handler and circulation method of test trays in test handler

Номер патента: US09958498B2. Автор: Yun-Sung Na,Young-Ho Kweon,Jong Ki Noh. Владелец: Techwing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Test method of test system and test system

Номер патента: US20240345155A1. Автор: Kenichi Narikawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures

Номер патента: US20230170207A1. Автор: Mikko Ritala,Markku Leskelä,Leo Salmi. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-06-01.

Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures

Номер патента: US12119220B2. Автор: Mikko Ritala,Markku Leskelä,Leo Salmi. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-10-15.

Die Structures and Methods of Forming the Same

Номер патента: US20240079364A1. Автор: Sung-Feng Yeh,Chia-Hao Hsu,Kuo-Chiang Ting,Jian-Wei Hong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Apparatus and method for testing a capacitive transducer and/or associated electronic circuitry

Номер патента: US09575116B2. Автор: John L. Pennock,Colin Findlay Steele. Владелец: Cirrus Logic Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

High aspect ratio gap fill using cyclic deposition and etch

Номер патента: WO2024044373A1. Автор: Takashi KURATOMI,Alexia Adilene PORTILLO RIVERA. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-02-29.

Method of manufacturing semiconductor device and method of testing the same

Номер патента: US20140248721A1. Автор: Hideaki Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-09-04.

Methods for forming gap-filling materials and related apparatus and structures

Номер патента: US20240222190A1. Автор: Timothee Blanquart,Jihee Jeon. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2024-07-04.

Method of filling gaps between dies using silicon dioxide

Номер патента: US20240355696A1. Автор: Ku-Feng Yang,Kuang-Wei Cheng,Chih-Hang Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Method of fabricating semiconductor cleaners

Номер патента: US09529366B2. Автор: Frank Weber. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-12-27.

Method of fabricating dual damascene structure

Номер патента: US20110021021A1. Автор: Hong Ma,Kuang-Yeh Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Test structure and methods of forming the same

Номер патента: US20230369146A1. Автор: Chih Ting Yeh,Wen Han Hung,Yen-Ning CHEN,Mao-Chia WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Enhanced stress tuning and interfacial adhesion for tungsten (w) gap fill

Номер патента: EP4377993A1. Автор: Wei Lei,Kai Wu,Nobuyuki Sasaki,Xi CEN,Shirish A. PETHE,Yun Taewoong. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

Method of manufacturing a chip package

Номер патента: US20200161183A1. Автор: Hung-Wen Lin,Chien-Chih Lai. Владелец: Comchip Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Method of producing semiconductor elements using a test structure

Номер патента: WO2004057672A1. Автор: Paul L. C. Simon,Aalt M. Van De Pol. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2004-07-08.

Integrated void fill for through silicon via

Номер патента: US20130122702A1. Автор: Kevin S. Petrarca,Richard P. Volant,Mukta G. Farooq. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-05-16.

Semiconductor device and method of forming double-sided through vias in saw streets

Номер патента: US09343429B2. Автор: Byung Tai Do,Reza A. Pagaila. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Substrate for power module and method of producing substrate for power module

Номер патента: US20230282589A1. Автор: Takashi Masuzawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Gap filling composition and pattern forming method using composition containing polymer

Номер патента: US20200319556A1. Автор: Tatsuro Nagahara,Xiaowei Wang. Владелец: AZ Electronic Materials SARL. Дата публикации: 2020-10-08.

Integration solution for nand deep contact gap fill

Номер патента: WO2024177753A1. Автор: Yang Li,YAO Xu,Kai Wu,Chao Li,Xianmin Tang,Meng Zhu,Rongjun Wang,Xi CEN,Insu HA,Jianqiu Guo. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-08-29.

Integration solution for nand deep contact gap fill

Номер патента: US20240282631A1. Автор: Yang Li,YAO Xu,Kai Wu,Chao Li,Xianmin Tang,Meng Zhu,Rongjun Wang,Xi CEN,Insu HA,Jianqiu Guo. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Systems and methods of testing memory devices

Номер патента: US12107022B2. Автор: Chia-En HUANG,Meng-Han LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method of manufacturing semiconductor package

Номер патента: US20240379491A1. Автор: Chen-Shien Chen,Chin-Fu Kao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-14.

Interconnect structure configured to control solder flow and method of manufacturing of same

Номер патента: US09609752B1. Автор: Jack V. Ajoian,Daniel L. Blass. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Package structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US11923259B2. Автор: Tsung-Fu Tsai,Szu-Wei Lu,Li-Hui Cheng,Pu Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Methods and systems for filling a gap

Номер патента: US20230098575A1. Автор: Timothee Blanquart,Viljami Pore,Charles DEZELAH,René Henricus Jozef Vervuurt. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-03-30.

Integrated void fill for through silicon via

Номер патента: WO2011090912A3. Автор: Kevin S. Petrarca,Richard P. Volant,Mukta G. Farooq. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2011-11-03.

Methods of forming interconnect structures

Номер патента: US20240258164A1. Автор: Xiaodong Wang,Yong Jin Kim,Jiajie Cen,Kevin Kashefi,Carmen Leal Cervantes. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Integrated void fill for through silicon via

Номер патента: WO2011090912A2. Автор: Kevin S. Petrarca,Richard P. Volant,Mukta G. Farooq. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2011-07-28.

Methods of forming interconnect structures

Номер патента: WO2024158877A1. Автор: Xiaodong Wang,Yong Jin Kim,Jiajie Cen,Kevin Kashefi,Carmen Leal Cervantes. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-08-02.

Methods of forming interconnect structures

Номер патента: US20240258161A1. Автор: Yong Jin Kim,Kevin Kashefi,Carmen Leal Cervantes,Xingye Wang. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Cooling package structure applied to integrated circuit and method of assembly thereof

Номер патента: US20230317555A1. Автор: Li Yuan,Jiang Zhi,ZHOU JIE,Xiao Yangyang. Владелец: Nvidia Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Methods of forming interconnect structures

Номер патента: WO2024163232A1. Автор: Yong Jin Kim,Kevin Kashefi,Carmen Leal Cervantes,Xingye Wang. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-08-08.

Method of manufacturing a flexible substrate with carbon nanotube vias and corresponding flexible substrate

Номер патента: US09941198B2. Автор: Di Jiang,Johan Liu. Владелец: SHT Smart High Tech AB. Дата публикации: 2018-04-10.

Display device and method of its manufacturing

Номер патента: RU2521223C1. Автор: Хироюки МОРИВАКИ. Владелец: Шарп Кабусики Кайся. Дата публикации: 2014-06-27.

Precursors for silicon dioxide gap fill

Номер патента: US20180130654A1. Автор: Jeffrey F. Roeder,Steven M. Bilodeau,Chongying Xu,Bryan C. Hendrix,Weimin Li,William Hunks. Владелец: Entegris Inc. Дата публикации: 2018-05-10.

Method of fabricating and testing a circuit board

Номер патента: US09623256B2. Автор: Robert R. Tong,Robert G. Lamont,Navin N. Bunyan,Damon Moazen. Владелец: Boston Scientific Neuromodulation Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Over-the-air measurement system and method of testing a device under test over-the-air

Номер патента: US20220236310A1. Автор: Corbett Rowell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-28.

Method of testing battery, battery testing apparatus, and battery

Номер патента: US20200365952A1. Автор: Shintaro NAGANO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2020-11-19.

Method of testing secondary battery

Номер патента: US20140210480A1. Автор: Hiroshi Hamaguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-07-31.

Method of control of a spectrometer

Номер патента: US11982656B2. Автор: Holger JEGLINSKI,Frank-Torsten HEINE. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-05-14.

Method of control of a spectrometer

Номер патента: GB2598770A. Автор: Jeglinski Holger,HEINE Frank-Torsten. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2022-03-16.

Testing a solenoid of a directional control valve

Номер патента: US09828821B2. Автор: Julian Davis,Martin Stokes. Владелец: GE Oil and Gas UK Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Method of testing secondary battery

Номер патента: US20130328566A1. Автор: Hiroaki Ikeda,Hisanao Kojima,Hisataka Fujimaki,Katsuyuki Hojo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-12.

Method of testing switch design to quantify feel

Номер патента: WO1998030875A1. Автор: Richard Ratke,Donald E. Ellison,Jonathan Dahlstrom. Владелец: United Technologies Automotive, Inc.. Дата публикации: 1998-07-16.

Production method of spark plug

Номер патента: US10439368B2. Автор: Kota NISHIMURA,Norihide Kachikawa. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-08.

Testing a circuit assembly that contains a piezoelectric switch

Номер патента: US20130257438A1. Автор: Douglas Hogg,John Echols. Владелец: Essex Electronics Inc. Дата публикации: 2013-10-03.

Method of Roll-Forming With Gap Fillers For Solenoid Used for Transmission

Номер патента: US20170309399A1. Автор: Philip A. Ruehl. Владелец: BorgWarner Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

Reactor and manufacturing method of reactor

Номер патента: US20210343473A1. Автор: Naoyuki Takahashi,Yuki Uchida,Takafumi Kondo,Yasuhiro Ueno,Kazuki FUNAHASHI,Yuko Murata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Device and method of antenna array calibration

Номер патента: RU2364029C2. Автор: Кристиан ШИБЛИХ. Владелец: Нокиа Сименс Нетворкс ГмбХ унд Ко.КГ. Дата публикации: 2009-08-10.

A high voltage pulse generator and a method of operating a high voltage pulse generator

Номер патента: WO2023073114A1. Автор: Peter Coenen,Guido Heremans,Stijn JANSSEN,Nico VAN DE POL. Владелец: VITO NV. Дата публикации: 2023-05-04.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US20230067209A1. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Method of making a spark gap

Номер патента: US3564682A. Автор: Joseph J Carroll Jr,Ferdinand A Rocchi. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 1971-02-23.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US20240345130A1. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Testing apparatus and method of using the same

Номер патента: US12066457B2. Автор: Jian-Ting CHEN,Cheng-Han Huang,Kuang-Hua Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Methods of manufacturing planar transformers

Номер патента: US09449746B2. Автор: Mark A. Johnston. Владелец: COVIDIEN LP. Дата публикации: 2016-09-20.

Methods of producing resistor elements

Номер патента: US6498068B1. Автор: Yukiko Ueda,Masahiko Kawase,Norimitsu Kitoh. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2002-12-24.

Method of manufacturing a planar electrode with large surface area

Номер патента: US20110019337A1. Автор: Gary Yama,Po-Jui Chen,Matthias Illing,Matthieu Liger. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2011-01-27.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240276891A1. Автор: Woo Tae Lee,Su Jee KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

System and method of calibrating and testing a qkd transmitter

Номер патента: WO2023131952A1. Автор: Nitzan LIVNEH,Yehuda PILNYAK,Hagai Shmuel EISENBERG. Владелец: Quant L R Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

System and method of calibrating and testing a qkd transmitter

Номер патента: IL313472A. Автор: Nitzan LIVNEH,Yehuda PILNYAK,Hagai Shmuel EISENBERG. Владелец: Heqa Security Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

A method of performing a test, a support instrument and a microliquid system comprising such support instrument

Номер патента: WO2007006315A3. Автор: Jacques Jonsmann,Jesper Bay. Владелец: Jesper Bay. Дата публикации: 2007-05-24.

Method of coating and testing a tank

Номер патента: US5336523A. Автор: George Wilson,Garry D. Chater. Владелец: Rheem Australia Pty Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Emulator, a data processing system including an emulator, and method of emulation for testing a system

Номер патента: US6742142B2. Автор: Shigeaki Iwasa,Mikio Takasugi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-05-25.

Method and system for testing a fibre optic network

Номер патента: GB2626745A. Автор: HORSLEY Ian. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and system for testing a fibre optic network

Номер патента: GB2626744A. Автор: HORSLEY Ian. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2024-08-07.

Transponder key testing device and method of testing a transponder key

Номер патента: EP3005320A1. Автор: Gregory CHAMBERS,Simon Ashby. Владелец: ASHBY Simon. Дата публикации: 2016-04-13.

Method of testing a cellular network system

Номер патента: EP1745665A1. Автор: Raymond Wu. Владелец: Ascom AG. Дата публикации: 2007-01-24.

One sheet test device and method of testing using the same

Номер патента: US20100277183A1. Автор: Sung-Kook Kim. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-04.

Method of testing a cellular network system

Номер патента: WO2005109932A1. Автор: Raymond Wu. Владелец: Ascom AG. Дата публикации: 2005-11-17.

Testing system and method of non-invasive testing

Номер патента: EP1293787A2. Автор: Timothy L. Boolos,Billy J. Chandler. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 2003-03-19.

System and method for testing a communications server

Номер патента: US6826505B1. Автор: Andrew Warner. Владелец: Digi International Inc. Дата публикации: 2004-11-30.

Power distribution systems and methods of testing a power distribution system

Номер патента: US09692223B2. Автор: Arun Kumar Singh,Scott Jeffrey Hall,Gary Vincent Hanrahan. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-06-27.

Heating system and method of testing a semiconductor device using a heating system

Номер патента: US09609693B2. Автор: Carlos Pereira,Maxime Clairet. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Force and/or motion measurement system and a method of testing a subject

Номер патента: US09526443B1. Автор: Necip Berme,Scott Zerkle Barnes,Lewis Michael Nashner. Владелец: Bertec Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Method of testing a dimming lighting system

Номер патента: EP3081055A1. Автор: Laszlo Sandor Ilyes,Magda Theresa VALERIAN. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-10-19.

Apparatus and method for testing a telecommunications system

Номер патента: WO1999062188B1. Автор: Jiliang Yu,Mark Greening,Tullio Robert De,John Kelvin Fidler. Владелец: John Kelvin Fidler. Дата публикации: 2000-04-20.

Method and system for testing a fibre optic network

Номер патента: GB2626743A. Автор: HORSLEY Ian. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2024-08-07.

Voltage suppressor test circuit and method of testing a voltage suppressor

Номер патента: US20190178930A1. Автор: John A. Dickey. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Method of estimating the motion in image processing

Номер патента: US8446950B2. Автор: Markus Schu,Peter Rieder,Marko Hahn,Christian Tuschen,Guenter Scheffler. Владелец: Entropic Communications LLC. Дата публикации: 2013-05-21.

Apparatus, system, and method of testing an acoustic device

Номер патента: EP4272461A1. Автор: Tzvi FRIDMAN,Mordehay Elbaz,Iddo Sheinfeld,Victor Melichov. Владелец: Silentium Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Method of reading and inputting data for testing system and testing system thereof

Номер патента: US20140068151A1. Автор: Janhong Guo. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2014-03-06.

Method of collecting information about test devices in a network

Номер патента: US09525750B2. Автор: Michael Stevens,John P. McIntire,Samuel M. Bauer,Canning Hsueh. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2016-12-20.

Method of testing, wafer, and testing station

Номер патента: GB2599102A. Автор: PETERS Frank,YANG Hua,Dernaika Mohamad,Caro Ludovic,Perrott Alison. Владелец: Rockley Photonics Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

System and method of discovering paths in a network

Номер патента: US09954736B2. Автор: Cyrus John Durgin,Brett A. Holton,Kelly Ann Wanser. Владелец: Fortinet Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Systems and methods of test packet handling

Номер патента: US09491083B2. Автор: Stephen J. Brolin,Ali Zaringhalam,Frank J. Schumeg. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Method of testing, wafer, and testing station

Номер патента: US20240012043A1. Автор: Hua Yang,Frank Peters,Ludovic Caro,Mohamad Dernaika,Alison Perrott. Владелец: Rockley Photonics Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Method of testing, wafer, and testing station

Номер патента: WO2022063893A1. Автор: Hua Yang,Frank Peters,Ludovic Caro,Mohamad Dernaika,Alison Perrott. Владелец: Rockley Photonics Limited. Дата публикации: 2022-03-31.

Device and method of testing accuracy of a current sensor in a switch cabinet

Номер патента: WO2017132943A1. Автор: Ying Jiang,Ping Su,Zhonghua Deng,Chun Cui,Fei Cen,Yongliang Liang. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2017-08-10.

System and method of discovering paths in a network

Номер патента: US20180227181A1. Автор: Cyrus John Durgin,Brett A. Holton,Kelly Ann Wanser. Владелец: Fortinet Inc. Дата публикации: 2018-08-09.

Fastening structure, electronic assembly and operating method of fastening structure

Номер патента: US20180235100A1. Автор: Yu-Ling Kuo,Tung-Ping Lee. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2018-08-16.

System and method of testing wireless component applications

Номер патента: EP1872227A4. Автор: Michael Shenfield,Michael Shkolnik,Alex Babut. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2008-08-20.

Device, network, and method of cell discovery

Номер патента: US09749938B2. Автор: QIAN Cheng,Weimin Xiao,Jialing Liu. Владелец: FutureWei Technologies Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Microphone test module and a method of testing microphones

Номер патента: US20210360360A1. Автор: Anton Schuster. Владелец: Cohu GmbH. Дата публикации: 2021-11-18.

A microphone test module and a method of testing microphones

Номер патента: PH12021050211A1. Автор: Anton Schuster. Владелец: Cohu GmbH. Дата публикации: 2022-01-24.

Device, network, and method of cell discovery

Номер патента: EP3090579A2. Автор: QIAN Cheng,Weimin Xiao,Jialing Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-09.

Method of controlling packet transmission interval

Номер патента: US09866465B2. Автор: Jae Man HONG. Владелец: Samsung SDS Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Method of performing programming and diagnostic functions for a microcontroller

Номер патента: US20060218531A1. Автор: Kevin Parker. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2006-09-28.

Flue inspection system and a method of inspecting and testing a flue

Номер патента: GB9725605D0. Автор: . Владелец: BG PLC. Дата публикации: 1998-02-04.

manufacturing method of a kitchen utensil having a gap and press machine thereof

Номер патента: KR100871450B1. Автор: 이충관. Владелец: 주식회사 백산상사. Дата публикации: 2008-12-03.

Method of making a magnetic head

Номер патента: GB1395017A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1975-05-21.

Portable programmer for time-of-day metering register system and method of using same

Номер патента: US4093997A. Автор: Warren R. Germer. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1978-06-06.

Method of making and testing a concrete pile

Номер патента: GB1373911A. Автор: . Владелец: Moon M R. Дата публикации: 1974-11-13.

switchgear and method of setting and testing a sealing seal of a well pipe hanger

Номер патента: BRPI1000805B1. Автор: Gette Nicholas. Владелец: Vetco Gray Inc. Дата публикации: 2019-08-13.

A method of assembling and testing a simulated cigarette

Номер патента: GB201417051D0. Автор: . Владелец: Kind Consumer Ltd. Дата публикации: 2014-11-12.

Flue inspection system and a method of inspecting and testing a flue

Номер патента: GB2320333B. Автор: Michael Rose. Владелец: BG PLC. Дата публикации: 2001-07-11.

Device and method of calibrating and testing a sensor for in vivo measurement of an analyte

Номер патента: US6275717B1. Автор: Joseph Gross,Meir Reingewirtz,Moshe George Katz. Владелец: Elan Corp PLC. Дата публикации: 2001-08-14.

METHOD OF ASSEMBLING AND TESTING A LINEAR PROPULSION SYSTEM

Номер патента: US20200062550A1. Автор: Rodriguez Fernando. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

METHOD OF NON-DESTRUCTIVE TESTING A CUTTING INSERT TO DETERMINE COATING THICKNESS

Номер патента: US20180172430A1. Автор: GEY CHRISTOPH,Kondameedi Naveen Kumar. Владелец: KENNAMETAL INC.. Дата публикации: 2018-06-21.

METHOD OF ASSEMBLING AND TESTING A SIMULATED CIGARETTE

Номер патента: US20170241857A1. Автор: Hearn Alex,NYEIN Khine Zaw,HACKETT David,Bowdrey Moira. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-24.

Method of non-destructively testing a work piece and non-destructive testing arrangement

Номер патента: EP1978357A1. Автор: Henrik Stiesdal. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2008-10-08.

Method of forming and testing a phase shift mask

Номер патента: US7232629B2. Автор: Lin-Hsin Tu,Kun-Rung Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-06-19.

Method of controlling and testing a wired home automation installation

Номер патента: EP1843229A3. Автор: Geoffroy Dumont D'ayot. Владелец: Somfy SA. Дата публикации: 2009-01-07.

Method of fabricating and testing a modular fuel injector

Номер патента: US6687997B2. Автор: Michael J. Hornby,Michael P. Dallmeyer,Robert MacFarland. Владелец: Siemens Automotive Corp. Дата публикации: 2004-02-10.

Method of driving and testing a semiconductor memory device

Номер патента: US6940769B2. Автор: Shun-Ker Wu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2005-09-06.

A method of testing a component of an electronic processing device

Номер патента: WO2019029038A1. Автор: Paul Anthony Smith,Gary Q Lau. Владелец: Ecorenew Dmcc. Дата публикации: 2019-02-14.

System and method of testing liquid crystal display device using dispensing state of liquid crystal dispensing apparatus

Номер патента: US7884893B2. Автор: Gu-Yun Bok. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2011-02-08.

Method of testing a stacked integrated circuit device

Номер патента: US12032021B2. Автор: Stephen Felix,Phillip HORSFIELD. Владелец: Graphcore Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Method and apparatus for testing a fully buffered memory module

Номер патента: US20070140025A1. Автор: Hong Chan,ALLEN Lawrence,Joseph Klein,Sunny Chang,Bosco Lai. Владелец: King Tiger Tech Inc. Дата публикации: 2007-06-21.

Turret handlers and methods of operations thereof

Номер патента: US09594111B2. Автор: Nee Wan Khoo,Theng Chao Long. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-03-14.

Method and apparatus for testing a test object

Номер патента: US20090051919A1. Автор: Michael Wild. Владелец: Ullrich Gmbh. Дата публикации: 2009-02-26.

Method of testing computer, computer test apparatus and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20110296147A1. Автор: Fumio Ichikawa,Tamoru Inoue. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-12-01.

Method of testing computer, computer test apparatus and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US8402316B2. Автор: Fumio Ichikawa,Tamoru Inoue. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-03-19.

Method and machine for testing a spacer grid of a nuclear fuel assembly

Номер патента: US20230178259A1. Автор: Antoine Duret,Victor Hatman,Eric Bourdais,Charles PINTOS. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2023-06-08.

Colorimetric COVID-19 Rapid-Test and Methods of Using Same

Номер патента: US20240182991A1. Автор: CHEN Liu,Jianhui Wang,Kien Pham. Владелец: YALE UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-06-06.

Method and machine for testing a spacer grid of a nuclear fuel assembly

Номер патента: WO2023104731A1. Автор: Antoine Duret,Victor Hatman,Eric Bourdais,Charles PINTOS. Владелец: FRAMATOME. Дата публикации: 2023-06-15.

Method and machine for testing a spacer grid of a nuclear fuel assembly

Номер патента: EP4445391A1. Автор: Antoine Duret,Victor Hatman,Eric Bourdais,Charles PINTOS. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2024-10-16.

Method of testing a vision aid

Номер патента: EP1196077B1. Автор: Peter Irons. Владелец: Omniread Group Ltd. Дата публикации: 2011-06-22.

Systems and methods for validation of test results in network testing

Номер патента: US20190384664A1. Автор: Michael Proctor,Marc Rondeau. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2019-12-19.

Methods of testing repair circuits of memory devices

Номер патента: US20240290414A1. Автор: Taeyun Kim,Taewon Kim,Sanghee KANG,Kiho Hyun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-29.

Method and apparatus of testing circuit, and storage medium

Номер патента: US12078671B2. Автор: Cheng GU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Electrostatic protection testing, monitoring, and human-machine visual interface system and methods of use

Номер патента: US09927482B2. Автор: Mark Halter. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2018-03-27.

Method and apparatus for testing a biological sample

Номер патента: US20200378947A1. Автор: Stephane Bombard,Emmanuel Guignet. Владелец: Bio Rad Europe GmbH. Дата публикации: 2020-12-03.

Measurement system and testing method of testing a device under test

Номер патента: US20240142345A1. Автор: Paul Gareth Lloyd. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-02.

Method of testing whether processing of flowable material will produce chemical changes to same

Номер патента: AU2342492A. Автор: John Yniol Hauser. Владелец: SOUS CHEF Ltd. Дата публикации: 1993-02-23.

Method of testing whether processing of flowable material will produce chemical changes to same

Номер патента: AU660704B2. Автор: John Yniol Hauser. Владелец: SOUS CHEF Ltd. Дата публикации: 1995-07-06.

Testing a device under test by sampling its clock and data signal

Номер патента: US20060247881A1. Автор: Bernd Laquai,Joerg-Walter Mohr. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-11-02.

System and method for testing a logic-based processing device

Номер патента: US09928150B2. Автор: Subhasish Mitra,Hai Lin. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2018-03-27.

Method of panels assembly

Номер патента: RU2406847C1. Автор: Пьер ДЕЛОР. Владелец: Эрбюс Франс. Дата публикации: 2010-12-20.

Method of testing a gas shut-down valve and a system for exercising the method

Номер патента: EP2817603A1. Автор: Bent Kortsen. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2014-12-31.

Method of testing a gas shut-down valve and a system for exercising the method

Номер патента: US20150007639A1. Автор: Bent Kortsen. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2015-01-08.

Method of seal validation with pre-treatment

Номер патента: GB2600194A. Автор: A Comeau Kyle. Владелец: Dril Quip Inc. Дата публикации: 2022-04-27.

Method of diagnosing, and a sensor device with self-diagnostic function

Номер патента: US20240219166A1. Автор: Sebastien Leroy,Lionel Tombez. Владелец: Melexis Technologies SA. Дата публикации: 2024-07-04.

Automatic generation of test layouts for testing a design rule checking tool

Номер патента: US09916412B2. Автор: Alexander Leonidovich Kerre,Mikhail Anatolievich Sotnikov. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Apparatus and method of testing a stick

Номер патента: US09612208B2. Автор: Nari AHN,Kiyoung Yeon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Method of testing a gas shut-down valve and a system for exercising the method

Номер патента: US09599530B2. Автор: Bent Kortsen. Владелец: IOP MARINE AS. Дата публикации: 2017-03-21.

Test system and test method of semiconductor device

Номер патента: US20020109522A1. Автор: Shinya Nakatani,Heiji Kobayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-08-15.

Method of testing

Номер патента: EP1897594A3. Автор: Robert John Phillips,David John Peacey. Владелец: Honeywell Normalair Garrett Holdings Ltd. Дата публикации: 2008-06-18.

Test assembly and method of testing an assembly for thermal fatigue

Номер патента: US20240102904A1. Автор: Tuo Luo. Владелец: Schaeffler Technolgoies Ag & Co Kg. Дата публикации: 2024-03-28.

Differential testing method of transaction processing systems

Номер патента: WO2024167653A1. Автор: Peter GROARKE,Mohan Raghavan,Jyoti PRABHA. Владелец: MasterCard International Incorporated. Дата публикации: 2024-08-15.

Test devices, test systems, and operating methods of test systems

Номер патента: US12111351B2. Автор: Sooyong Park,Ungjin Jang,Seonggwon JANG,YongJeong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Method of manufacturing uni- and no-code test stripes

Номер патента: RU2680140C2. Автор: Александер ИБАХ,Ильмаз ИСГЁРЕН. Владелец: Ф.Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2019-02-18.

Method of determining adequate connection of endoscope test channel

Номер патента: RU2431503C2. Автор: Хэл УИЛЛЬЯМС,Ричард А. ДЖЕКСОН. Владелец: Этикон, Инк.. Дата публикации: 2011-10-20.

Method of testing a tyre

Номер патента: WO2021024283A1. Автор: Diego Sabato,Andrea Salvatore VERGANI,Marcello VANALI,Marta BERARDENGO. Владелец: PIRELLI TYRE S.P.A.. Дата публикации: 2021-02-11.

Differential testing method of transaction processing systems

Номер патента: EP4411550A1. Автор: Peter GROARKE,Mohan Raghavan,Jyoti PRABHA. Владелец: Mastercard International Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Method of diagnosing, and a sensor device with self-diagnostic function

Номер патента: EP4394328A2. Автор: Sebastien Leroy,Lionel Tombez. Владелец: Melexis Technologies SA. Дата публикации: 2024-07-03.

Method of diagnosing, and a sensor device with self-diagnostic function

Номер патента: EP4394328A3. Автор: Sebastien Leroy,Lionel Tombez. Владелец: Melexis Technologies SA. Дата публикации: 2024-08-28.

Testing apparatus for testing display apparatus and method of testing the same

Номер патента: US09940859B2. Автор: Dae Won Kim,Inho Hwang,Hanki PARK,Chanhyung YOO,Wookjae LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Mobile bench to test tires and method of testing

Номер патента: RU2372600C2. Автор: Оливье РЕЖИ,Никола ЛАСТЭР,Жерар СВЕЛЭНЖ. Владелец: Эрбюс Франс. Дата публикации: 2009-11-10.

Method of testing a suspend operation

Номер патента: US12039186B2. Автор: Junyong PARK,Ilhan Park,Suyong Kim,Sangbum YUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and system for testing a semiconductor device against electrostatic discharge

Номер патента: US09897644B2. Автор: Philippe Debosque,Patrice Besse,Alain SALLES,Stephane Compaing. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Method of optimizing execution of test cases and a system thereof

Номер патента: US09529700B2. Автор: Ganesh Narayan,Girish Raghavan,Thamilchelvi Peterbarnabas. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Method of continuous receiving foam materials in pipes

Номер патента: RU2632689C9. Автор: Карстен ЭЛЛЕРЗИК,Кристоф Гризер-Шмитц. Владелец: БАСФ СЕ. Дата публикации: 2017-10-19.

Method of testing frozen ground by static sensing

Номер патента: RU2632994C1. Автор: Олег Николаевич Исаев. Владелец: Олег Николаевич Исаев. Дата публикации: 2017-10-11.

System and method for testing a specimen

Номер патента: US20230314249A1. Автор: Zhen Zhou,Duncan A. MACDOUGALL,Julian M. Reed. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2023-10-05.

Geology material organizer and method of use

Номер патента: US20210132027A1. Автор: Terry Kwao Bruce-Rockson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-05-06.

Pipetting unit and method of pipetting a test liquid

Номер патента: US09878322B2. Автор: Roland Hutter,Roland Stoeckli. Владелец: Roche Diagnostics Operations Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

System to control at least one drive of thrust reverser bonnets for turbojet engine and method of system testing

Номер патента: RU2492518C2. Автор: Хаким МАЛИУН. Владелец: Эрсель. Дата публикации: 2013-09-10.

Method of testing integrity of valve seat

Номер патента: RU2592146C2. Автор: Брюс Ф. ГРУМСТРУП. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2016-07-20.

Method of changing load on support surface of foot when walking

Номер патента: RU2687004C1. Автор: Игорь Михайлович Рулев. Владелец: Игорь Михайлович Рулев. Дата публикации: 2019-05-06.

Bottom-up gap fill using a liner

Номер патента: WO2024137313A1. Автор: Douglas Walter Agnew,Jennifer Leigh PETRAGLIA,Daniel Christopher MESSINA. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2024-06-27.

Design and test method of test plan

Номер патента: US20200250057A1. Автор: Adisak Paepoot,Chin Huat Lim,Ming-Li Shiu,Narut Udomchoke. Владелец: Delta Electronics Thailand PCL. Дата публикации: 2020-08-06.

Testing a micro electro-mechanical device

Номер патента: EP1206351A4. Автор: Kia Silverbrook. Владелец: SILVERBROOK RESEARCH PTY LTD. Дата публикации: 2003-03-12.

Method of testing a memory circuit and memory circuit

Номер патента: US11749370B2. Автор: Sai-Hooi Yeong,Shih-Lien Linus Lu,Chao-I Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Method of hemoglobin correction due to temperature variation

Номер патента: WO2007030325A3. Автор: Cheng Qian,Ziling Huo,William W Li. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2007-12-06.

Nonvolatile memory device and method of testing the same

Номер патента: US20090290435A1. Автор: Jin Yong Seong. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-11-26.

Analysis element for use in method of testing specimen

Номер патента: EP1725867A1. Автор: Yukio Sudo,Yoshiki Sakaino,Yoshihiko Abe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-11-29.

Method of testing a memory circuit and memory circuit

Номер патента: US12106814B2. Автор: Sai-Hooi Yeong,Shih-Lien Linus Lu,Chao-I Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Testing a fuse

Номер патента: US09720043B2. Автор: Timothy Adam BOXSHALL,Julian JEFFERIS. Владелец: GE Oil and Gas UK Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Method of vibroacoustic tests

Номер патента: RU2652152C1. Автор: Олег Савельевич Кочетов. Владелец: Олег Савельевич Кочетов. Дата публикации: 2018-04-25.

Method of testing memory array at operational speed using scan

Номер патента: US20090150729A1. Автор: Ishwardutt Parulkar,Paul J. Dickinson,Gaurav H. Agarwal,Krishna B. Rajan. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2009-06-11.

Indicator of biological stress and method of measuring biological stress

Номер патента: RU2519324C2. Автор: Ацуо СЕКИЯМА. Владелец: Ацуо СЕКИЯМА. Дата публикации: 2014-06-10.

Device and method of testing sensors

Номер патента: RU2405206C2. Автор: Норберт ХОЛЛЬ,Бернд ДЕРЕР. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2010-11-27.

Device for determining sealing integrity of container and method of its application

Номер патента: RU2544263C2. Автор: Энтони Эдвард ДЗИКОВИЧ. Владелец: НЕСТЕК С.А.. Дата публикации: 2015-03-20.

Method of lining a gully, gully obtained by the method and cup used for the method

Номер патента: WO2012064200A1. Автор: Kjell Aldar. Владелец: Olimb Group AS. Дата публикации: 2012-05-18.

Method of manufacturing sample containers

Номер патента: WO2013190120A1. Автор: Georg Bauer,Gottfried Reiter,Christoph Mauracher,Werner Balika. Владелец: SONY DADC AUSTRIA AG. Дата публикации: 2013-12-27.

Method of monitoring the loading of a subsea production system

Номер патента: GB2597978A. Автор: MARTENS JOAKIM,Tvitekkja Arve,Ivar Holberg Geir,Grennberg Victor. Владелец: Aker Solutions AS. Дата публикации: 2022-02-16.

Method of predicting human drug-drug interactions using a non-human mammalian model

Номер патента: WO2005123143A1. Автор: Robert E. Kimura. Владелец: RUSH UNIVERSITY MEDICAL CENTER. Дата публикации: 2005-12-29.

Methods of discovering or developing novel materials and molecules

Номер патента: WO2005120198A3. Автор: William A Goddard Iii,Roy Periana,Yongchun Tang. Владелец: Qateomix Llc. Дата публикации: 2006-05-18.

Method of screening for peptides capable of binding to a ubiquitin protein ligase (e3)

Номер патента: EP3969605A1. Автор: Alberto Moreno,Markus MUELLNER,Marta CARRARA,Jennifer HOWES. Владелец: PHOREMOST Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Flexural testing apparatus for materials and method of testing materials

Номер патента: US09739696B2. Автор: Dale N. Memering,Victor Luzzato. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

System and method of testing high brightness LED (HBLED)

Номер патента: US09442155B2. Автор: Daniel Creighton Morrow,Jonathan Leigh Dummer. Владелец: SOF-TEK INTEGRATORS Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Methods of fabricating shims for joining parts

Номер патента: US09429935B2. Автор: Darrell D. Jones,Theodore M. Boyl-Davis,Tracy E. Zimmerman. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-08-30.

Method of testing of hydro-electric turbine

Номер патента: RU2581260C2. Автор: Джеймс АЙВС,Пол Данн. Владелец: ОУПЕНХАЙДРОУ АйПи ЛИМИТЕД. Дата публикации: 2016-04-20.

Method of testing display device

Номер патента: US12033550B2. Автор: Sang-Woo Park,Heebum Park,Sungho Cho,Ahnho Jee,Keunhyuk Youn. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Low-Force Gap-Filling Conductive Structures

Номер патента: US20150355682A1. Автор: Derek W. Wright,Taylor H. Gilbert. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2015-12-10.

Memory device and method of testing the memory device for failure

Номер патента: US20240120020A1. Автор: Jung Ryul Ahn,Byung Wook Bae. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Test method of bioavailability and bioequivalence for xenobiotics using genetic profiling

Номер патента: US20100261219A1. Автор: Rodney J.Y. Ho,Dong-Chool Kim. Владелец: Ibiopharm Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-14.

Method of testing cache memory

Номер патента: US20030046620A1. Автор: Ching-Jer Liang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-06.

Method of testing display device

Номер патента: US20230316965A1. Автор: Sang-Woo Park,Heebum Park,Sungho Cho,Ahnho Jee,Keunhyuk Youn. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

System controller, semiconductor device, and method of testing interface

Номер патента: US20090285214A1. Автор: Kenji Uchida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-19.

System controller, semiconductor device, and method of testing interface

Номер патента: US8488606B2. Автор: Kenji Uchida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-07-16.

Method of testing

Номер патента: US09880068B2. Автор: Ian Richard Gower,Michael Frederick Bryant. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2018-01-30.

Manufacturing method of liquid ejection head

Номер патента: US09738076B2. Автор: Tamaki Sato,Masafumi Morisue,Tetsushi Ishikawa,Hirono Yoneyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Method of testing print head, printing method, device for testing print head, and printer

Номер патента: US09688066B2. Автор: Katsuto Sumi,Jun Yamanobe,Tadashi Kyoso. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Method of sealing a gap

Номер патента: US09506565B2. Автор: Jeremy Bradley. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Wire gauge device and method of determining wire gauge

Номер патента: US20210364271A1. Автор: Norman Dean Combs. Владелец: Dominion Energy Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Method of testing semiconductor devices and system for testing semiconductor devices

Номер патента: US20180188311A1. Автор: Oh Song Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-07-05.

Pressure testing assemblies for use in flow bodies and methods of testing flow bodies

Номер патента: US20060179933A1. Автор: Lee Cochran. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2006-08-17.

Method of testing an integrated circuit and an integrated circuit test apparatus

Номер патента: US20050099202A1. Автор: Theodore Houston,Bryan Sheffield. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2005-05-12.

Method of testing and corresponding vision aid

Номер патента: EP1196077A1. Автор: Peter Irons. Владелец: Tintavision Ltd. Дата публикации: 2002-04-17.

Method of testing integrated circuitry at system and module level

Номер патента: US20030110456A1. Автор: Nicholas Pavey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

Apparatus and method for calibrating a gap sensor of a machine tool

Номер патента: US20210318110A1. Автор: Rocklyn D. ANDERSON. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Test device for kinetic switches and method of testing kinetic switches

Номер патента: US20160356853A1. Автор: Frank A. FILANGERI,John J. CAMPANELLA. Владелец: Circor Aerospace Inc. Дата публикации: 2016-12-08.

Integral analysis method of inter-well tracer tests

Номер патента: US09835024B2. Автор: Jetzabeth Ramirez Sabag,Oscar Cerapio VALDIVIEZO MIJANGOS. Владелец: INSTITUTO MEXICANO DEL PETROLEO. Дата публикации: 2017-12-05.

Dispensing apparatus, method of dispensing, capping apparatus and method of capping

Номер патента: US09751741B2. Автор: Ulrich Schraudolph. Владелец: Xentiq Partners Pte Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Test device for kinetic switches and method of testing kinetic switches

Номер патента: US09551754B2. Автор: Frank A. FILANGERI,John J. CAMPANELLA. Владелец: Circor Aerospace Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Method of correcting alignment error of array inkjet head

Номер патента: US20100171781A1. Автор: Seo-hyun Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-07-08.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Method of manufacturing a display panel

Номер патента: US7589817B2. Автор: Masayoshi Uenishi. Владелец: Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-15.

Method of and system for dynamic automated test case generation and execution

Номер патента: WO2007081979A2. Автор: Robert S. Mason, Jr.,Jesse A. Noller. Владелец: ARCHIVAS, INC.. Дата публикации: 2007-07-19.

Method of and system for dynamic automated test case generation and execution

Номер патента: WO2007081979A3. Автор: Robert S Mason Jr,Jesse A Noller. Владелец: Archivas Inc. Дата публикации: 2008-04-17.

Remote control transmitter and method of inspecting the transmitter

Номер патента: US20030048510A1. Автор: Yoichi Hatano,Shosei Kawashima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-13.

Method of manufacturing a display panel

Номер патента: US20070109488A1. Автор: Masayoshi Uenishi. Владелец: Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-17.

A building and method of producing a building

Номер патента: WO1994002692A1. Автор: Kenneth William Thompson. Владелец: Allied Design And Management Services Limited. Дата публикации: 1994-02-03.

Method of correcting alignment error of array inkjet head

Номер патента: US8186794B2. Автор: Seo-hyun Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-05-29.

Method of testing multiple modules on an integrated circuit

Номер патента: US20030221150A1. Автор: Prashant Balakrishnan. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2003-11-27.

Method of producing structure

Номер патента: US20240278936A1. Автор: Yoichi Sato,Yutaka Yamagishi,Kazuma ASHIZAWA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Method of producing structure

Номер патента: EP4417524A1. Автор: Yoichi Sato,Yutaka Yamagishi,Kazuma ASHIZAWA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Method of identifying feature of test body and microrna cancer marker

Номер патента: EP4431619A2. Автор: Tomomi Ando,Mitsuko Ishihara,Yoshitake Sano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Method of identifying feature of test body and microrna cancer marker

Номер патента: US20240309459A1. Автор: Tomomi Ando,Mitsuko Ishihara,Yoshitake Sano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Method of identifying feature of test body and microrna cancer marker

Номер патента: EP4431619A3. Автор: Tomomi Ando,Mitsuko Ishihara,Yoshitake Sano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Testing system of exercise machine and method of remotely testing exercise machine

Номер патента: US09671316B2. Автор: Ching-Lu Hsu. Владелец: Gee Hoo Fitec Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Electric discharge machining die sinking device and related method of operation

Номер патента: US09452483B2. Автор: Yuefeng Luo,William Edward Adis,Michael Lewis JONES. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-09-27.

Method of integrating heterogeneous test automation frameworks

Номер патента: US09424169B1. Автор: Mikhail Galburt. Владелец: EMC Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Methods of making a core for a magnetic recording and reproducing head with narrow track width

Номер патента: US3798758A. Автор: K Stamers,D Case. Владелец: Fujitsu Services Ltd. Дата публикации: 1974-03-26.

Semiconductor test device and method of driving the same

Номер патента: US20230133368A1. Автор: Nack Hyun KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

A vehicle and method of measuring a gap

Номер патента: EP3781449A1. Автор: Darren Day. Владелец: Bentley Motors Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

Method of testing hearing and a hearing test system

Номер патента: US20160174880A1. Автор: Francis Kok-Ming Kuk,Petri Mikael Korhonen,Bryan Lee CROSE,Eric Christopher SEPER,Chi-Chuen LAU. Владелец: Widex AS. Дата публикации: 2016-06-23.

Method of testing for a leakage current between bit lines of nonvolatile memory device

Номер патента: US20100302866A1. Автор: Jae Won Cha,Duck Ju Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2010-12-02.

Method of comminuting particles

Номер патента: US11766760B2. Автор: Daniel Mallaley,Richard Joseph BROECKER. Владелец: COLD JET LLC. Дата публикации: 2023-09-26.

Method of manufacturing magnetic head

Номер патента: US20060174471A1. Автор: Kiyoshi Kobayashi. Владелец: Alps Electric Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-10.

Method of manufacturing dynamic pressure bearing device, and dynamic pressure bearing device

Номер патента: US20030012465A1. Автор: Junichi Nakamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-16.

Method of reducing air compressor noise

Номер патента: US12078160B2. Автор: Scott D. Craig,Dalton E. Mcfarland,Stephen J. Vos,Gary D. White. Владелец: Black and Decker Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Structural gap filler and related method of use

Номер патента: US20210222422A1. Автор: Larry R. Griffith,Scott M. Billsby. Владелец: Bohning Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Test systems and methods of testing devices

Номер патента: US09880195B2. Автор: Dale Vincent Ohmart. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Liquid crystal display device with gap spacer and push spacer and method of fabricating the same

Номер патента: US09766514B2. Автор: Hyongjong Choi,Youngjik Jo. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Electronic device and method of testing electronic device

Номер патента: US20240210471A1. Автор: Seaeun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-27.

Jaw crusher and method of adjusting gap width of jaw crusher

Номер патента: AU2022434339A1. Автор: Kenta Sawano. Владелец: Earthtechnica Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Meter bayonet tool and method of testing tension of meter socket jaws

Номер патента: US20140157907A1. Автор: David A. Johnson,Thomas L. Clarke. Владелец: SOUTHERN MARYLAND ELECTRIC COOPERATIVE Inc. Дата публикации: 2014-06-12.

Drive signal adjustment method of liquid ejecting head and liquid ejecting apparatus

Номер патента: US20180022089A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-25.

Information display panel and method of manufacturing same

Номер патента: US20100265567A1. Автор: Takanori Shoji,Taichi Kobayashi,Shinichi Kita. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2010-10-21.

Thin film magnetic head and method of manufacturing the same

Номер патента: US20030076628A1. Автор: Mitsumasa Okada,Kenichi Kawai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-04-24.

Active-matrix addressing liquid-crystal display device and method of fabricating same

Номер патента: US20020167636A1. Автор: Satoshi Ihida,Kyounei Yasuda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-11-14.

Concrete Mix Separating Device And Method Of Use

Номер патента: US20230398717A1. Автор: Oscar Hernandez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-14.

Method of making vacuum insulated panel with lasing duration

Номер патента: EP4423028A1. Автор: Scott V. Thomsen,Jun HUH. Владелец: Luxwall Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

Method of sealing an expansion joint

Номер патента: US09719248B1. Автор: Thomas Meacham. Владелец: Polyset Co. Дата публикации: 2017-08-01.

Non-surgical method of treatment for cataract

Номер патента: US09675623B2. Автор: Jason E. Gestwicki,Leah MAKLEY,Kathryn Mcmenimen. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2017-06-13.

Method of testing oils

Номер патента: AU6439090A. Автор: Robin Walter Hiley,Richard Keith Solly,Alan John Power,Joanna Frances Pedley,Ludek Ales Beranek,Shiela Joyce Marshman. Владелец: Commonwealth of Australia. Дата публикации: 1991-04-28.

A method of testing an unbonded flexible pipe

Номер патента: US20180231149A1. Автор: Kristian GLEJBØL,Michael Eilersen,Anders STRAARUP,Christian Ditlev CAPPELN. Владелец: National Oilwell Varco Denmark IS. Дата публикации: 2018-08-16.

Method of assaying lupus anticoagulant and assay reagent

Номер патента: US20040110242A1. Автор: Takao Koike,Tatsuya Atsumi. Владелец: Eisai Co Ltd. Дата публикации: 2004-06-10.

Method of assaying lupus anticoagulant and assay reagent

Номер патента: EP1380653A4. Автор: Takao Koike,Tatsuya Atsumi. Владелец: Eisai Co Ltd. Дата публикации: 2004-09-22.

Method of fitting an object to a gap

Номер патента: GB201005020D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-12.

Methods of making a tubular specimen with a predetermined wrinkle defect

Номер патента: CA2983956A1. Автор: Michael Burnett,Wei-Yueh Lee,Michael Dearman. Владелец: BELL HELICOPTER TEXTRON INC. Дата публикации: 2018-09-21.

Methods of making a tubular specimen with a predetermined wrinkle defect

Номер патента: CA2983956C. Автор: Michael Burnett,Wei-Yueh Lee,Michael Dearman. Владелец: Bell Helicopter Innovations. Дата публикации: 2020-08-04.

METHOD OF MEASURING AND TESTING A WORKPIECE AND GEAR CUTTING MACHINE

Номер патента: US20120213602A1. Автор: . Владелец: LIEBHERR-VERZAHNTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2012-08-23.

METABOLIC BIOMARKERS FOR OVARIAN CANCER AND METHODS OF USE THEREOF

Номер патента: US20120004854A1. Автор: Gray Alexander,Guan Wei,Fernandez Facundo M.,McDonald John,Zhou Manshui. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HONEYCOMB STRUCTURE BODY AND METHOD OF PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120003420A1. Автор: Betsushiyo Takahiro,Aoki Hiromasa,Sakamoto Kazuhisa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEPARATOR FOR AN ELECTRICITY STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120003525A1. Автор: . Владелец: TOMOEGAWA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE

Номер патента: US20120003812A1. Автор: Sasaki Makoto,NISHIGUCHI Taro,HARADA Shin,Okita Kyoko,Namikawa Yasuo. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MAKING A FUEL CELL DEVICE

Номер патента: US20120003570A1. Автор: Devoe Alan,Devoe Lambert. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001312A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MAKING A FUEL CELL DEVICE

Номер патента: US20120003571A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

NUCLEOTIDE SEQUENCES ENCODING GSH1 POLYPEPTIDES AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120004114A1. Автор: . Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY AND PIONEER HI-BRED INTERNATIONAL. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of manufacturing printed circuit board having flow preventing dam

Номер патента: US20120000067A1. Автор: CHOI Jin Won,KIM Seung Wan. Владелец: SAMSUNG ELLECTRO-MECHANICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001311A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

CARD READER AND CONTROL METHOD OF CARD READER

Номер патента: US20120002313A1. Автор: Ishikawa Kazutoshi,Higashi Katsuhisa,Miyabe Takaaki,Komatsu Yoshihito. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE DATA TEST UNIT, IMAGE APPARATUS HAVING THE SAME, AND METHOD OF TESTING IMAGE DATA USING THE SAME

Номер патента: US20120002886A1. Автор: JUN Hyun-Su. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

CANCER BIOMARKERS AND METHODS OF USE THEREOF

Номер патента: US20120003639A1. Автор: KERLIKOWSKE KARLA,TLSTY THEA D.,GAUTHIER MONA L.,BERMAN HAL K.,BREMER TROY,MOLINARO ANNETTE M.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SCREENING METHOD OF ANTI-LUNG OR ESOPHAGEAL CANCER COMPOUNDS

Номер патента: US20120004172A1. Автор: Nakamura Yusuke,Tsunoda Takuya,Daigo Yataro. Владелец: Oncotherapy Science, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY CELL THAT EMPLOYS A SELECTIVELY FABRICATED CARBON NANO-TUBE REVERSIBLE RESISTANCE-SWITCHING ELEMENT AND METHODS OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001150A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FIXTURE FOR EVALUATING A METAL-TO-METAL SEAL BETWEEN TUBULAR COMPONENTS AND METHOD OF USE OF SAME

Номер патента: US20120000273A1. Автор: Slack Maurice. Владелец: NOETIC ENGINEERING 2008 INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

BATTERY TAB JOINTS AND METHODS OF MAKING

Номер патента: US20120000964A1. Автор: . Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001310A1. Автор: Horiki Hiroshi,NISHINO MASANORI. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF PRODUCING C4 DICARBOXYLIC ACIDS

Номер патента: US20120003708A1. Автор: . Владелец: ARCHER DANIELS MIDLAND COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SOLID-STATE IMAGE SENSOR

Номер патента: US20120001291A1. Автор: Kokumai Kazuo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH A PLURALITY OF MEMORY BANKS AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120002464A1. Автор: MAE Kenji. Владелец: ELPIDA MEMORY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of testing aircraft electrical systems and testing device

Номер патента: RU2446405C2. Автор: Свен КНОП,Майк ГАЛИНСКИ. Владелец: Эйрбас Оперейшнз Гмбх. Дата публикации: 2012-03-27.

CONTROL SYSTEM AND METHOD OF USE FOR CONTROLLING CONCENTRATIONS OF ELECTROLYZED WATER IN CIP APPLICATIONS

Номер патента: US20120000488A1. Автор: Herdt Brandon,Ryther Robert. Владелец: ECOLAB USA INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Structure of LCD Panel and Method of Manufacturing the Same

Номер патента: US20120002156A1. Автор: Yi Hung Meng,Hung Tsai Chu. Владелец: AU OPTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRASOUND IMAGING SYSTEM AND METHODS OF IMAGING USING THE SAME

Номер патента: US20120004539A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of manufacturing composite parts

Номер патента: US20120000597A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF STACKING FLEXIBLE SUBSTRATE

Номер патента: US20120000602A1. Автор: KIM Yong Hae,PARK Dong Jin,Suh Kyung Soo,KIM Gi Heon,KIM Chul Am. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF REDUCING EROSION OF A METAL CAP LAYER DURING VIA PATTERNING IN SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20120003832A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of identifying aqueous solutions

Номер патента: RU2498291C1. Автор: Валерий Иванович Баньков. Владелец: Валерий Иванович Баньков. Дата публикации: 2013-11-10.

Method of vibroacoustic tests of specimens and models

Номер патента: RU2596239C1. Автор: Олег Савельевич Кочетов. Владелец: Олег Савельевич Кочетов. Дата публикации: 2016-09-10.

Method of checking condition of vehicle damping devices

Номер патента: RU2284023C1. Автор: Сергей Маркович Калачев. Владелец: Сергей Маркович Калачев. Дата публикации: 2006-09-20.

METHOD OF CONTROLLING WELDING

Номер патента: US20120000895A1. Автор: Nakagawa Akira,KAWAMOTO Atsuhiro,MUKAI Yasushi,KOWA Masaru,Sato Kimiya. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ANTI-COBRA TOXIN ANTIBODY FRAGMENTS AND METHOD OF PRODUCING A VHH LIBRARY

Номер патента: US20120003245A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FORMING STRAINED EPITAXIAL CARBON-DOPED SILICON FILMS

Номер патента: US20120003825A1. Автор: Dip Anthony. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF DISPENSING A TEETHING GEL WITH A METERED DOSE APPLICATOR

Номер патента: US20120004303A1. Автор: XU Yun,Benson Jennifer,Lavis Jeffry G.. Владелец: CHURCH & DWIGHT CO., INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

EDIBLE BREAD CUP AND METHOD OF PRODUCTION

Номер патента: US20120003363A1. Автор: Beloff Arthur L.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of estimating degree of life activity limitations in children in category ability to communicate

Номер патента: RU2462179C1. Автор: Александр Александрович Баранов,Лейла Сеймуровна Намазова-Баранова,Светлана Борисовна Лазуренко,Александр Геннадьевич Ильин,Александр Сергеевич Потапов,Людмила Михайловна Кузенкова,Галина Васильевна Волынец,Светлана Романовна Конова,Сергей Никифорович Пузин,Ольга Ивановна Маслова,Валерий Юрьевич Альбицкий,Татьяна Владимировна Яковлева,Любовь Ивановна Днепрова,Александр Сергеевич Потапов (RU),Сергей Никифорович Пузин (RU),Александр Александрович Баранов (RU),Галина Васильевна Волынец (RU),Лейла Сеймуровна Намазова-Баранова (RU),Александр Геннадьевич Ильин (RU),Валерий Юрьевич Альбицкий (RU),Татьяна Владимировна Яковлева (RU),Ольга Ивановна Маслова (RU),Людмила Михайловна Кузенкова (RU),Светлана Романовна Конова (RU),Любовь Ивановна Днепрова (RU),Светлана Борисовна Лазуренко (RU). Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научный центр здоровья детей" Российской академии медицинских наук (ФГБУ "НЦЗД" РАМН). Дата публикации: 2012-09-27.

METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL WAVEGUIDE

Номер патента: US20120003385A1. Автор: Naito Ryusuke. Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL WAVEGUIDE

Номер патента: US20120003393A1. Автор: . Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003829A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO GAMING DEVICE AND METHOD OF WAGERING ON A VIRTUAL FOOTBALL GAME

Номер патента: US20120004018A1. Автор: Reeves,III Allen N.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF TREATING DEGENERATIVE BONE CONDITIONS

Номер патента: US20120004594A1. Автор: Howe James,Schulz Olaf,Swaim Rick,Huber Bryan,Batts Joel,Harness David,Belaney Ryan. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of loose materials separation

Номер патента: RU2403099C2. Автор: Юрий Андреевич Маслов. Владелец: Юрий Андреевич Маслов. Дата публикации: 2010-11-10.