NEGATIVE GATE STRESS OPERATION IN MULTI-PASS PROGRAMMING AND MEMORY DEVICE THEREOF
Номер патента: US20220310182A1
Опубликовано: 29-09-2022
Автор(ы): Dong Zhipeng, Li Haibo, ZHANG Min
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-09-2022
Автор(ы): Dong Zhipeng, Li Haibo, ZHANG Min
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Negative gate stress operation in multi-pass programming and memory device thereof
Номер патента: US20220310181A1. Автор: Li Xiang,Min Zhang,Haibo Li,Ling Chu,Zhipeng DONG,Haiwen Fang. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.