Circuit And Method For Monolithic Stacked Integrated Circuit Testing
Номер патента: US20150077147A1
Опубликовано: 19-03-2015
Автор(ы): Sandeep Kumar Goel
Принадлежит: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-03-2015
Автор(ы): Sandeep Kumar Goel
Принадлежит: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Circuit And Method For Monolithic Stacked Integrated Circuit Testing
Номер патента: US20150355277A1. Автор: Sandeep Kumar Goel,Ashok Mehta. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.