Probe with contact portion including Au and Cu alloy
Номер патента: US5266895A
Опубликовано: 30-11-1993
Автор(ы): Satoru Yamashita
Принадлежит: Tokyo Electron Yamanashi Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 30-11-1993
Автор(ы): Satoru Yamashita
Принадлежит: Tokyo Electron Yamanashi Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probes with fiducial targets, probe systems including the same, and associated methods
Номер патента: US20190227102A1. Автор: Kazuki Negishi,Joseph George Frankel,Koby L. Duckworth. Владелец: FormFactor Beaverton Inc. Дата публикации: 2019-07-25.