• Главная
  • Measurement Method and Measurement Device of Critical Dimension of Sub-pixel

Measurement Method and Measurement Device of Critical Dimension of Sub-pixel

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Measurement method and measurement device of critical dimension of sub-pixel

Номер патента: US10204407B2. Автор: Zhiyi Sun,Huashan Pang. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-12.

METHOD AND HANDHELD DISTANCE MEASUREMENT DEVICE FOR INDIRECT DISTANCE MEASUREMENT BY MEANS OF IMAGE-ASSISTED ANGLE DETERMINATION FUNCTION

Номер патента: US20150109407A1. Автор: Giger Kurt. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

Film thickness measuring method and film thickness measuring device

Номер патента: CN108981624B. Автор: 刘公才. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-24.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Motion sensing method of sub-pixel level precision

Номер патента: US20090324019A1. Автор: Zhiqian Li,Yongqing Yan. Владелец: Beijing Sigmachip Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-31.

Motion sensing method of sub-pixel level precision

Номер патента: US8077925B2. Автор: Zhiqian Li,Yongqing Yan. Владелец: Beijing Sigmachip Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-13.

The positioning of the other real-time dynamic tumor image of sub-pixel and matching process

Номер патента: CN108682011A. Автор: 王春鹏,夏之秋,马宾. Владелец: Qilu University of Technology. Дата публикации: 2018-10-19.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Stress luminescence measurement method and stress luminescence measurement device

Номер патента: US11704786B2. Автор: Yusuke Yokoi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Method and handheld distance measuring device for creating a spatial model

Номер патента: US09470792B2. Автор: Kurt Giger. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2016-10-18.

Shape measuring method and shape measureing device

Номер патента: US09506748B2. Автор: Yoshitaka Ohta. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Image processing method and image processing apparatus

Номер патента: US20210110513A1. Автор: Hiroto Mizohana,Keita Dan. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Three-dimensional measurement method and display method, and three-dimensional measurement device

Номер патента: JP3406746B2. Автор: 正浩 堀江,一博 中井. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-12.

Thermal image smoothing method, surface temperature-measuring method, and surface temperature-measuring device

Номер патента: EP2696181A1. Автор: Kento Seki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2014-02-12.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: EP3460754B1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

FEATURE AMOUNT MEASUREMENT METHOD AND FEATURE AMOUNT MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210264587A1. Автор: KOBAYASHI Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

METHOD AND HANDHELD DISTANCE MEASURING DEVICE FOR CREATING A SPATIAL MODEL

Номер патента: US20150309174A1. Автор: Giger Kurt. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

Method for interpolation of sub-pixel values

Номер патента: RU2317654C2. Автор: Марта КАРЧЕВИЧ,Антти ХАЛЛАПУРО. Владелец: Нокиа Корпорейшн. Дата публикации: 2008-02-20.

Method and system for measuring critical dimension and monitoring fabrication uniformity

Номер патента: US20120212601A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-08-23.

Method and system for measuring critical dimension and monitoring fabrication uniformity

Номер патента: US20130188037A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2013-07-25.

Method and system for measuring critical dimension and monitoring fabrication uniformity

Номер патента: US20130182939A1. Автор: Wei Fang,HONG Xiao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2013-07-18.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Visible cephalometric measurement method, system and computer processing device

Номер патента: US20190073771A1. Автор: Jing Lei,Minfeng CHEN. Владелец: Fussen Technology Co ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

Method and apparatus for in-line control of dimensions of industrial products

Номер патента: RU2768110C2. Автор: Лоран КОСНО,Оливье КОЛЛЬ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2022-03-23.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: EP4446717A1. Автор: Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-16.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Light intensity measuring method and light intensity measuring device

Номер патента: EP1912060A1. Автор: Takami Shibazaki,Kaneyasu Okawa,Yuko Saida. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2008-04-16.

Measurement method, measurement program, and measurement system

Номер патента: US20180269116A1. Автор: Manabu Takakuwa,Kenji Konomi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Method and device for processing image, and storage medium

Номер патента: US20210027426A1. Автор: Hailong MA,Xiangxiang CHU,Qike ZHAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-28.

Novel target and extraction method of sub-pixel level angular points thereof

Номер патента: CN109255818B. Автор: 徐爱俊,周素茵,武新梅. Владелец: Zhejiang A&F University ZAFU. Дата публикации: 2021-05-28.

Method and system for measurement-device-independent quantum key distribution network

Номер патента: US20230254130A1. Автор: Chao Wang,Ci Wen LIM,Koon Tong GOH. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2023-08-10.

Method and system for measurement-device-independent quantum key distribution network

Номер патента: EP4183067A1. Автор: Chao Wang,Ci Wen LIM,Koon Tong GOH. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2023-05-24.

Display method and display device

Номер патента: US20240214549A1. Автор: JING Yu,Jian Gao,Sen Ma,Yanliu Sun. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Method and image processor unit for processing image data

Номер патента: WO2024153336A1. Автор: Noha El-Yamany. Владелец: DREAM CHIP TECHNOLOGIES GMBH. Дата публикации: 2024-07-25.

Method and image processor unit for processing image data

Номер патента: EP4430836A1. Автор: Noha EL-YAMANI. Владелец: DREAM CHIP TECHNOLOGIES GMBH. Дата публикации: 2024-09-18.

Method and apparatus for improving video camera output quality

Номер патента: WO1999049654A1. Автор: William C. DeLeeuw. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 1999-09-30.

Method and apparatus for improving video camera output quality

Номер патента: EP1072154A1. Автор: William C. DeLeeuw. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2001-01-31.

Method and apparatus for processing an image

Номер патента: US11816817B2. Автор: Seunghyun Lee,Sunil Lee,Jaesung Lee,Kyungmin Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-14.

Method and device for processing image

Номер патента: EP4319151A1. Автор: Seunghyun Lee,Sunil Lee,Jaesung Lee,Kyungmin Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-07.

Method and system of sub-pixel accuracy 3d measurement using multiple images

Номер патента: EP3241348A1. Автор: Oscar Nestares,Gowri Somanath. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-11-08.

Method and system for fabrication and use of a spectral basis filter

Номер патента: WO2022265889A3. Автор: Anthony J. Ragucci. Владелец: DRS Network & Imaging Systems, LLC. Дата публикации: 2023-03-02.

Method and system for fabrication and use of a spectral basis filter

Номер патента: EP4356172A2. Автор: Anthony J. Ragucci. Владелец: DRS Network and Imaging Systems LLC. Дата публикации: 2024-04-24.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: US20010055415A1. Автор: Takeo Nozaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Measuring method and a measuring device

Номер патента: US20230032791A1. Автор: Benedikt Köhler,Simon Haag,Lukas Buschle,Jasmin Keuser. Владелец: Karl Storz SE and Co KG. Дата публикации: 2023-02-02.

Method and apparatus for rendering light field image

Номер патента: US20230199136A1. Автор: Yeoul Lee,Jaesung Lee,Jihye Lee,Bora JIN,Youngjin YOON,Kyungmin Lim,Cheolseong PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Method and apparatus for rendering light field image

Номер патента: EP4386681A1. Автор: Yeoul Lee,Jaesung Lee,Jihye Lee,Bora JIN,Youngjin YOON,Kyungmin Lim,Cheolseong PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-19.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20180041694A1. Автор: Chang Yao-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-08.

Light intensity measuring method and light intensity measuring device

Номер патента: WO2007013551A1. Автор: Takami Shibazaki,Kaneyasu Okawa,Yuko Saida. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2007-02-01.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device

Номер патента: CN107687818B. Автор: 张耀宗. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-10.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device using the same

Номер патента: TW201809591A. Автор: 張耀宗. Владелец: 緯創資通股份有限公司. Дата публикации: 2018-03-16.

MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT PROGRAM, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180269116A1. Автор: Takakuwa Manabu,KONOMI Kenji. Владелец: Toshiba Memory Corporation. Дата публикации: 2018-09-20.

Measuring method, measuring apparatus, and measuring system

Номер патента: US20230087312A1. Автор: Shinya Yasuda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Three-dimensional measuring method and system

Номер патента: US20020118274A1. Автор: Akira Yahashi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Dimension measurement device, dimension measurement method, and program

Номер патента: EP4403872A1. Автор: Toru Matsunobu,Masaki Fukuda. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US20200386537A1. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2020-12-10.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US11156451B2. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2021-10-26.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Size measurement method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4361555A1. Автор: Fei Chen,Guannan JIANG,Tianhui WU. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Display panel including a plurality of sub-pixel

Номер патента: US09741299B2. Автор: Byung Hyun Lee,Dong Su Shin,Chi Youl Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Pixel circuit having a reset sub-circuit for resetting a plurality of sub-pixels and driving method thereof

Номер патента: US11961482B2. Автор: Haoxuan ZHENG,Zhaoyang LU. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Pixel circuit having a reset sub-circuit for resetting a plurality of sub-pixels and driving method thereof

Номер патента: US20240071321A1. Автор: Haoxuan ZHENG,Zhaoyang LU. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Determining size of sub pixels in a multi primary display for maximizing white point luminance level

Номер патента: US20130300640A1. Автор: Moshe Ben-Chorin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-14.

Method and device of measuring breakdown status of equipment

Номер патента: US20170146432A1. Автор: Sen-Chia Chang,Tsung-Jung Hsieh,Yao-Chung HSU. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-05-25.

Splicing display, driving method, and splicing display device

Номер патента: US20240038125A1. Автор: Qian Wang. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Exposure controlling method and an exposure controlling apparatus

Номер патента: US5740330A. Автор: Takuya Abe. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1998-04-14.

METHOD AND SYSTEM OF SUB PIXEL ACCURACY 3D MEASUREMENT USING MULTIPLE IMAGES

Номер патента: US20160188995A1. Автор: Nestares Oscar,Somanath Gowri. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-30.

Method of sub-pixel motion calculation and Sensor for chasing a position using this method

Номер патента: KR100683248B1. Автор: 안정홍. Владелец: 주식회사 애트랩. Дата публикации: 2007-02-15.

Free band measurement program, free band measurement method, and free band measurement device

Номер патента: JP6810339B2. Автор: 直樹 小口,忠翰 李. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-01-06.

Methods and systems for validating mobile devices of customers via third parties

Номер патента: US09888380B2. Автор: Abhinav Gupta,Bernard Mcmanus,Don McNelley. Владелец: Western Union Co. Дата публикации: 2018-02-06.

Measurement Method, Electronic Device, and Measurement System

Номер патента: US20160196415A1. Автор: YAN FEI,LIU Jianfeng,ZHANG Huanguo,Shi Xun. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-07.

Measurement method, sensor arrangement and measurement system

Номер патента: US8368393B2. Автор: Gerald Steiner,Thomas Bretterklieber,Hubert Zangl,Markus Brandner. Владелец: austriamicrosystems AG. Дата публикации: 2013-02-05.

Method and system for measurement-device-independent quantum key distribution network

Номер патента: EP4183067A4. Автор: Chao Wang,Ci Wen LIM,Koon Tong GOH. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2024-07-31.

Nrz signal amplifying device and method, and error rate measurement device and method

Номер патента: US20150067416A1. Автор: Takeshi Wada,Kazuhiro Fujinuma,Wataru Aoba. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

NRZ SIGNAL AMPLIFYING DEVICE AND METHOD, AND ERROR RATE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20150067416A1. Автор: Wada Takeshi,AOBA Wataru,FUJINUMA Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

Solid scanning optical writing device, and light amount correction method and light amount measuring device therefor

Номер патента: US6509922B2. Автор: Atsushi Fujita. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2003-01-21.

Methods and systems for validating mobile devices of customers via third parties

Номер патента: US20180160306A1. Автор: Abhinav Gupta,Bernard Mcmanus,Don McNelley. Владелец: Western Union Co. Дата публикации: 2018-06-07.

METHOD AND SYSTEM FOR IDENTIFYING ELECTRONIC DEVICES OF GENUINE CUSTOMERS OF ORGANIZATIONS

Номер патента: US20210056561A1. Автор: PAVLOV Georgy Eduardovich,BARANOV Aleksandr Borisovich. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

METHODS AND SYSTEMS FOR VALIDATING MOBILE DEVICES OF CUSTOMERS VIA THIRD PARTIES

Номер патента: US20160127898A1. Автор: Gupta Abhinav,McManus Bernard,McNelley Don. Владелец: The Western Union Company. Дата публикации: 2016-05-05.

METHODS AND SYSTEMS FOR VALIDATING MOBILE DEVICES OF CUSTOMERS VIA THIRD PARTIES

Номер патента: US20180160306A1. Автор: Gupta Abhinav,McManus Bernard,McNelley Don. Владелец: The Western Union Company. Дата публикации: 2018-06-07.

Methods and systems for validating mobile devices of customers via third parties

Номер патента: US20190274042A1. Автор: Abhinav Gupta,Bernard Mcmanus,Don McNelley. Владелец: Western Union Co. Дата публикации: 2019-09-05.

EFFICIENT FACT CHECKING METHOD AND SYSTEM UTILIZING SOURCES ON DEVICES OF DIFFERING SPEEDS

Номер патента: US20160307108A1. Автор: Myslinski Lucas J.. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING ELECTRONIC DEVICE OF VEHICLE

Номер патента: US20170371640A1. Автор: Choi Kee Hoon. Владелец: HYUNDAI MOTOR COMPANY. Дата публикации: 2017-12-28.

Method and apparatus for signaling between devices of a memory system

Номер патента: EP1253521B1. Автор: Frederick A. Ware,Craig E. Hampel,Richard E. Perego,Ely K. Tsern. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2011-01-26.

Efficient fact checking method and system utilizing sources on devices of differing speeds

Номер патента: US9858528B2. Автор: Lucas J. Myslinski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-01-02.

Method and apparatus for signaling between devices of a memory system

Номер патента: US8359445B2. Автор: Frederick A. Ware,Craig E. Hampel,Richard E. Perego,Ely K. Tsern. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2013-01-22.

A system, method and article of manufacture for organizing and managing asset-related tax information

Номер патента: WO2001016846A2. Автор: Harold Campbell. Владелец: Accenture LLP. Дата публикации: 2001-03-08.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20170191928A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-06.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Surface property measuring method and surface property measuring device

Номер патента: US20200132429A1. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Electromagnetic noise measurement method and electromagnetic noise measurement device

Номер патента: EP4332589A1. Автор: UMBERTO Paoletti. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-06.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20190271639A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: (dc) Drinker Biddle & Reath. Дата публикации: 2019-09-05.

Measuring method, measuring system, and measuring device

Номер патента: US20240077339A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Kimihiro Yokoyama,Ryoma KOBAYASHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Surface property measuring method and surface property measuring device

Номер патента: US11193749B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-12-07.

Control method and apparatus for quick change device of work tools

Номер патента: US20170293283A1. Автор: Liang Li,ZHEN Li,Thuong LE,Mingsheng Xiao. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2017-10-12.

Method and arrangement for measuring device

Номер патента: US20030066201A1. Автор: Hannu Moisio,Timo Saikanmaki. Владелец: Metso Paper Automation Oy. Дата публикации: 2003-04-10.

Method and system for operating technological devices of automating technology

Номер патента: US20180144616A1. Автор: Marcus Zinn. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2018-05-24.

Robustness measurement device, robustness measurement method, and storage medium

Номер патента: US20240185585A1. Автор: Tomoya Tsuruyama,Hidetaka Ohira. Владелец: Toshiba Digital Solutions Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Measurement method and device of near-eye display

Номер патента: US20240310626A1. Автор: QIAN LI,Li Song,Jiangen PAN. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US20190163200A1. Автор: Masahiro Kato. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP3637054A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US20200103234A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: US20240353386A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Measurement system and measurement method for measuring video processing quality

Номер патента: US09723302B2. Автор: Chun Guan TAY,Rajashekar DURAI. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Density measuring device, density measuring method, and computer program product

Номер патента: US09619729B2. Автор: Quoc Viet Pham. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Rendering system and method based on weighted value of sub-pixel region

Номер патента: US20120019518A1. Автор: Yun Tae Kim,Ju Yong Park,Dong Kyung Nam,Gee Young SUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-01-26.

Rendering system and method based on weighted value of sub-pixel region

Номер патента: US8988417B2. Автор: Yun Tae Kim,Ju Yong Park,Dong Kyung Nam,Gee Young SUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-03-24.

Display driving method and display driving device

Номер патента: US09691354B2. Автор: Xue Dong,Renwei Guo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Display panel and sensing method and driving method therefor

Номер патента: US12087235B2. Автор: Song Meng,Jingbo Xu,Jianbo Xian. Владелец: Hefei BOE Joint Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Display method and display device

Номер патента: US09576519B2. Автор: Xue Dong,Renwei Guo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Boundary judging method and device, and display driving method and device

Номер патента: US09779649B2. Автор: Xue Dong,Renwei Guo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Video display method and video display apparatus

Номер патента: US09986226B2. Автор: Tatsumi Watanabe,Ken Mashitani. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Display method and display panel

Номер патента: US09875682B2. Автор: Kai Yang,Rui Liu,Xiaobo Xie,Lingyun SHI,Quanhua He. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Display panel, driving method, and display device

Номер патента: US10769992B2. Автор: Yue Li,Gang Liu,Dongxu Xiang. Владелец: Shanghai Tianma AM OLED Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Display module, driving method, and display device

Номер патента: US20240212577A1. Автор: Qiang Gong,Ronglei DAI,Junhui Guo,Zuoyuan XU. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Compensation method and apparatus for under-display camera display area, device, and storage medium

Номер патента: EP4345598A1. Автор: Xiaoliang Zhang,Jiacheng He,Jisi WANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-03.

Pixel data compensation method and device for display device, display device

Номер патента: US11211015B2. Автор: Xinshe Yin. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-28.

Human Body Composition Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20240008760A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Display panel, driving method and display device

Номер патента: US11961439B2. Автор: Jie Chen,Haijiang YUAN,Jianlei Li. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Display panel and sensing method and driving method therefor

Номер патента: US20240203361A1. Автор: Song Meng,Jingbo Xu,Jianbo Xian. Владелец: Hefei BOE Joint Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Data processing method and apparatus for organic light emitting diode display device

Номер патента: US09898961B2. Автор: Jung-hyeon Kim,Ui-Taek Jeong,Tae-Gung Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Autostereoscopic display panel, alignment method, and autostereoscopic display method thereof

Номер патента: US09632324B2. Автор: Jhen-Shen Liao,Yung-Yu Hsieh. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Method and apparatus for processing images

Номер патента: EP4311233A1. Автор: Kangwon JEON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-24.

Method and device for processing image

Номер патента: US11961428B2. Автор: Kangwon JEON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Impurity measuring device

Номер патента: US6190520B1. Автор: Makiko Tamaoki,Yumi Sasaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-02-20.

THz MEASURING AND THz MEASURING DEVICE FOR MEASURING A CORRUGATED PIPE

Номер патента: US20230194243A1. Автор: Jan Hendrik Petermann. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-06-22.

Display device having a plurality of sub-pixels for displaying odd or even numbered grayscale levels

Номер патента: US11854498B2. Автор: Seunghwan Shin. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Display panel, display panel driving method, and electronic device

Номер патента: US11830452B2. Автор: Jinfeng Liu,Fengcheng XU. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Display method and display panel

Номер патента: US20160247440A1. Автор: Kai Yang,Rui Liu,Xiaobo Xie,Lingyun SHI,Quanhua He. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-25.

Method and device for generating a universal interlacing mapp ing

Номер патента: WO2023218234A1. Автор: Sabino Pisani. Владелец: Visutek 3D Gmbh. Дата публикации: 2023-11-16.

Method and apparatus for suppressing background light in time of flight sensor

Номер патента: US09786252B2. Автор: Jung Soon Shin,Seong Jin Kim,Euisik Yoon,Jihyun Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-10.

Thermal resistance measuring method and thermal resistance measuring device

Номер патента: US09601404B2. Автор: Toshiyuki Miyanagi,Yuichiro HINATA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Display apparatus, driving method, and electronic device

Номер патента: US20240347017A1. Автор: Tao Yang,Yue Yang,Dongchuan CHEN,Yanping Liao. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Scanning modification method and display device

Номер патента: US20220036787A1. Автор: Qianqian Liu,Chuanyan LAN,Xin Bi. Владелец: Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Display panel, detection method and display device

Номер патента: US11966135B2. Автор: Chuan Wu. Владелец: Chongqing Advance Display Technology Research. Дата публикации: 2024-04-23.

Display Panel, Detection Method and Display Device

Номер патента: US20210373378A1. Автор: Chuan Wu. Владелец: Chongqing Advance Display Technology Research. Дата публикации: 2021-12-02.

Autostereoscopic Display Panel, Alignment Method, and Autostereoscopic Display Method thereof

Номер патента: US20150062312A1. Автор: Jhen-Shen Liao,Yung-Yu Hsieh. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Driver device of led display panel and operation method thereof

Номер патента: US20210366407A1. Автор: HUNG-YI LIN,Chun-Hung Chen,Chia-Hsin Tung,Hsin-Hung Ou. Владелец: NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. Дата публикации: 2021-11-25.

Display panel, display method and display device

Номер патента: US10770514B1. Автор: Jialing Li. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Driving method and driving system for display panel

Номер патента: US20210020093A1. Автор: Wei Chen,Wenqin Zhao. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Tire tread radius measurement method and tread radius measurement device used in same

Номер патента: EP3109588A4. Автор: Tsuyoshi Ito,Satoshi Ito,Kiyoto Maruoka. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-11.

Quenching depth measuring method and quenching depth measuring device

Номер патента: EP2634571A4. Автор: Kazuhiro Kawasaki,Yuji Gotoh,Noriyoshi Takaoka,Yoshitaka Misaka. Владелец: Neturen Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-08.

Body composition measurement method and apparatus

Номер патента: EP4215110A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Display driving method and device, and display device

Номер патента: US20230410715A1. Автор: Jhenwei He. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device

Номер патента: US20180296131A1. Автор: Mikinori Nishimura,Ryosuke Kaji. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Method and System of Measuring Display Panel, and Display Device

Номер патента: US20210264878A1. Автор: Zhenli Song. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Display driving method and device, and display device

Номер патента: US11961446B2. Автор: Jhenwei He. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Method and system of measuring display panel, and display device

Номер патента: US11990105B2. Автор: Zhenli Song. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

The detection method and system of sub-pixel angle point

Номер патента: CN109211102A. Автор: 刘桂礼,孔全存,骆荣坤,樊夏辉,李东. Владелец: Beijing Information Science and Technology University. Дата публикации: 2019-01-15.

Measurement device, detection device, and measurement method

Номер патента: EP4091540A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Method and apparatus for increasing perceived display resolutions from an input image

Номер патента: US20180061301A1. Автор: Darwin Hu,Tsunglu Syu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-01.

Display device and method of sub-pixel transition

Номер патента: US20180090046A1. Автор: Sanghoon Kwon,Jongwon Hong. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Pre-charging of sub-pixels

Номер патента: US8717345B2. Автор: Zhibing Ge,Hopil Bae,Marduke Yousefpor. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2014-05-06.

Display device and method of sub-pixel transition

Номер патента: TW201814680A. Автор: 權想勳,洪鍾元. Владелец: 樂金顯示科技股份有限公司. Дата публикации: 2018-04-16.

Detection of position and motion of sub-pixel images

Номер патента: EP1079349A2. Автор: John Lindsay Galloway. Владелец: Infrared Integrated Systems Ltd. Дата публикации: 2001-02-28.

Detection of position and motion of sub-pixel images

Номер патента: EP1079349B1. Автор: John Lindsay Galloway. Владелец: Infrared Integrated Systems Ltd. Дата публикации: 2004-04-21.

Driver and method of sub-pixel rendering for delta-triad structured display

Номер патента: TW201320040A. Автор: Yojiro Matsueda,Hsueh-Yen Yang,Hong-Shen Lin. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2013-05-16.

Display substrate having different capacitance for active and non-active area of sub-pixels

Номер патента: GB2604762B. Автор: KIM Do-heon,KWON Kyeong-Seob. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-01.

Light source control device, light source control method, and distance measuring device

Номер патента: US20240272285A1. Автор: Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Laser Range Measuring Device, Laser Range Measuring Method and Laser Range Measuring Device

Номер патента: KR20230004200A. Автор: 신웅철. Владелец: 주식회사 맥파이테크. Дата публикации: 2023-01-06.

SURFACE SHAPE MEASURING METHOD, MISALIGNMENT AMOUNT CALCULATING METHOD, AND SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180149457A1. Автор: MASUTA Hikaru. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

FLOW MEASUREMENT METHOD AND A FLOW MEASUREMENT DEVICE FOR OPTICAL FLOW MEASUREMENT

Номер патента: US20200182671A1. Автор: Damaschke Nils,WILKE Bastian,Kleinwächter Andre,Schäper Martin. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

Tool length measuring method and tool length measuring device

Номер патента: US20120085893A1. Автор: Satoshi Miyamoto,Takayuki Nishioka. Владелец: Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-12.

THERMAL RESISTANCE MEASURING METHOD AND THERMAL RESISTANCE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20150003492A1. Автор: MIYANAGI Toshiyuki,HINATA Yuichiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

FLOW RATE MEASURING METHOD AND FLOW RATE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200011720A1. Автор: Ikeda Nobukazu,Sawada Yohei,Nagase Masaaki,Nishino Kouji. Владелец: FUJIKIN INCORPORATED. Дата публикации: 2020-01-09.

INTERNAL TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD AND INTERNAL TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20170016778A1. Автор: Shimizu Masao,Hamaguchi Tsuyoshi,NAKAGAWA Shinya. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2017-01-19.

FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190017807A1. Автор: Kondo Koji,OKADA Naoto,ARAMAKI Hirokatsu,IWAMOTO Katsuya. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-01-17.

BRILLOUIN SCATTERING MEASUREMENT METHOD AND BRILLOUIN SCATTERING MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20200041411A1. Автор: KISHIDA Kinzo,Nishiguchi Kenichi,Koyamada Yahei. Владелец: NEUBREX CO., LTD.. Дата публикации: 2020-02-06.

Optical Distance Measuring Method and Optical Distance Measuring Device

Номер патента: US20190064359A1. Автор: Yang Mengta. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

INNER LAYER MEASUREMENT METHOD AND INNER LAYER MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160097921A1. Автор: Oikaze Hirotoshi,Kabetani Yasuhiro,TAKECHI YOHEI,FURUTA TOMOTAKA. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-07.

SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20150106056A1. Автор: Umegaki Yoshiyuki,Harazono Manabu. Владелец: JFE STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2015-04-16.

RIGIDITY CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD AND RIGIDITY CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20220268678A1. Автор: SAEGUSA Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160131723A1. Автор: NAGASAKA Kimio. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-12.

SURFACE PROPERTY MEASURING METHOD AND SURFACE PROPERTY MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200132429A1. Автор: NAKAYAMA Tatsuki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2020-04-30.

CAPACITIVE MEASURING METHOD, AND FILLING LEVEL MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200141789A1. Автор: Kuhnen Raphael,Wernet Armin,Schneider Anna Klara. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-07.

CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD AND CIRCULAR DICHROISM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20170191928A1. Автор: SATOZONO Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD AND CIRCULAR DICHROISM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190271639A1. Автор: SATOZONO Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

MEASURING METHOD, MEASURING ARRANGEMENT AND MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190277768A1. Автор: MÄNTYLÄ Markku. Владелец: VALMET AUTOMATION OY. Дата публикации: 2019-09-12.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device

Номер патента: US20180296131A1. Автор: Mikinori Nishimura,Ryosuke Kaji. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Dew point measuring method and dew point measuring device

Номер патента: US20190310213A1. Автор: Toyohiro Chikyo,Jin Kawakita. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2019-10-10.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD AND FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160349038A1. Автор: Ohtsuka Kenichi,Nakano Tetsuhisa. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

CARRIER LIFESPAN MEASUREMENT METHOD AND CARRIER LIFESPAN MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20200408701A1. Автор: Nakamura Tomonori. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-12-31.

Panel current measuring method and panel current measuring device

Номер патента: JP4838090B2. Автор: 誠 河野,誠一 水越,高一 小野村. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2011-12-14.

Thermal resistance measurement method and thermal resistance measurement device

Номер патента: CN104251872B. Автор: 三柳俊之,日向裕朗,日向裕一朗. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-15.

Residual chlorine measuring method and residual chlorine measuring device

Номер патента: JP4734097B2. Автор: 浩一 松本,聡 野村,泰明 栄長,道生 村田,衛 柴田. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2011-07-27.

Height measuring method, height measuring program, height measuring device

Номер патента: JP5397537B2. Автор: 康夫 鈴木,雅哉 山口. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Fluid flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: JP3861161B2. Автор: 満 池田,巌 酒井,聡 串田,憲美 町田. Владелец: 株式会社エーティーエー. Дата публикации: 2006-12-20.

Leaked fuel measurement method and leaked fuel measurement device for internal combustion engine

Номер патента: WO2014030555A1. Автор: 寿一郎 右近. Владелец: 株式会社堀場製作所. Дата публикации: 2014-02-27.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: JP5199692B2. Автор: 文雄 大竹. Владелец: Surpass Industry Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-15.

Paper fiber orientation measuring method and fiber orientation measuring device

Номер патента: JP2720370B2. Автор: 裕司 阿部,和彦 福岡,丈治 稲留,昭夫 畑野. Владелец: Nippon Seishi KK. Дата публикации: 1998-03-04.

Wave aberration measuring method and wave aberration measuring device

Номер патента: CN102667439A. Автор: 田中一政. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-09-12.

Measuring method, measuring arrangement and measuring device

Номер патента: US10969343B2. Автор: Markku Mantyla. Владелец: VALMET AUTOMATION OY. Дата публикации: 2021-04-06.

Surface shape measurement method and surface shape measurement device

Номер патента: CN102713504A. Автор: 福井厚司,追风宽岁. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-03.

Surface position measuring method and surface position measuring device

Номер патента: EP1845361A1. Автор: Masaru Tanaka,Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2007-10-17.

Surface position measuring method and surface position measuring device

Номер патента: JPWO2006073068A1. Автор: 賢 田中,洋志 徳本,孝治 岡嶋,徳本 洋志. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2008-06-12.

Dew point measurement method and dew point measurement device

Номер патента: JP6898605B2. Автор: 豊裕 知京,仁 川喜多,知京 豊裕. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2021-07-07.

Specimen shape measurement method and specimen shape measurement device

Номер патента: WO2016185581A1. Автор: 鈴木良政,大出寿. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2016-11-24.

Calorific value measuring method and calorific value measuring device

Номер патента: JP7217401B2. Автор: 直也 北出,真 伊豫田. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-03.

Minute displacement measuring method and minute displacement measuring device

Номер патента: JPH0799325B2. Автор: 雅則 鈴木,篤暢 宇根,真 猪城. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 1995-10-25.

Brillouin scattering measurement method and Brillouin scattering measurement device

Номер патента: US11112358B2. Автор: Kinzo Kishida,Kenichi Nishiguchi,Yahei Koyamada. Владелец: Neubrex Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-07.

Sample shape measurement method and sample shape measurement device

Номер патента: WO2017175303A1. Автор: 鈴木良政. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2017-10-12.

Magnetic property measurement method and magnetic property measurement device

Номер патента: CN103562714A. Автор: 四辻淳一,冈田典久,西泽佑司,原园学. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 2014-02-05.

Pitch angle measuring method and pitch angle measuring device

Номер патента: CN107835930B. Автор: 松永浩司,金原和裕. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2020-03-17.

Loaded weight measurement method and loaded weight measurement device for dump truck

Номер патента: US20050167164A1. Автор: Shu Takeda. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2005-08-04.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: EP2090869B1. Автор: Fumio Ohtake. Владелец: Surpass Industry Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-01.

Gas permeability measurement method and gas permeability measurement device

Номер патента: SG123584A1. Автор: Hideki Okumura,Noriyasu Echigo,Hiroshi Satani. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-26.

Partial pressure measurement method and partial pressure measurement device

Номер патента: JP4909929B2. Автор: 勇夫 村岸,斉 山西,昌裕 山本,剛 小岩崎,光宏 吉永. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-04-04.

Loaded weight measurement method and loaded weight measurement device for dump truck

Номер патента: CN1641324A. Автор: 武田周. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2005-07-20.

Magneto-optical measurement method and magneto-optical measurement device

Номер патента: WO2017119237A1. Автор: 佑介 橋本,英治 齊藤. Владелец: 国立大学法人東北大学. Дата публикации: 2017-07-13.

Coupling load measuring method and coupling load measuring device

Номер патента: BR112017011456B1. Автор: Daniele Marcucci,Stefano Cioncolini,Filippo Gerbi,Marco MARRAZZO. Владелец: Nuovo Pignone Srl. Дата публикации: 2022-06-07.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: JPWO2006075406A1. Автор: 厚 小倉,敏也 小林. Владелец: 東京メータ株式会社. Дата публикации: 2008-06-12.

Calorific value measuring method and calorific value measuring device

Номер патента: JPWO2019198504A1. Автор: 直也 北出,真 伊豫田. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-12.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: WO2006075406A1. Автор: Atsushi Ogura,Toshiya Kobayashi. Владелец: Tokyo Meter Co., Ltd.. Дата публикации: 2006-07-20.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: TW201530091A. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-08-01.

Laser distance measurement method and laser distance measurement device

Номер патента: SG11201501295XA. Автор: Yutaka Hisamitsu,Kouichirou Nagata. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Laser distance measurement method and laser distance measurement device

Номер патента: EP2910973A4. Автор: Yutaka Hisamitsu,Kouichirou Nagata. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Dark area repair method and dark area repair device of curved liquid crystal display panel

Номер патента: US12072560B2. Автор: Liang Yu. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measuring method, support device and measuring device

Номер патента: WO2006097319A2. Автор: Klaus Michael Lass,Carlos Machado. Владелец: L.M.F. Fahrzeugtechnik Gmbh. Дата публикации: 2006-09-21.

Height measuring method for three dimensional shape measuring device

Номер патента: CN105823438A. Автор: 郑仲基,洪德和. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-08-03.

Continuous measurement method TRO(Total Residual Oxidant) measuring devices

Номер патента: KR101303349B1. Автор: 이광호,박규원,김성태,이해돈,박용석,문현주. Владелец: (주) 테크로스. Дата публикации: 2013-09-03.

Height measuring method for three dimensional shape measuring device

Номер патента: WO2013176482A1. Автор: 정중기,홍덕화. Владелец: 주식회사 고영테크놀러지. Дата публикации: 2013-11-28.

A kind of absolute value measurement method of temperature and measuring device

Номер патента: CN105486425B. Автор: 朱军,吕亮,徐峰,汪辉,俞本立,胡姗姗. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-05-01.

PIVKA-II MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT REAGENT, AND MEASUREMENT KIT

Номер патента: US20200088722A1. Автор: Yamaguchi Kentaro,Aoyagi Katsumi,Terao Azusa. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT APPARATUS, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20200182784A1. Автор: Nagai Fumio,NODA Tefsuya,FUJll Hideyuki. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

PIVKA-II MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT REAGENT, AND MEASUREMENT KIT

Номер патента: US20150219638A1. Автор: Yamaguchi Kentaro,Aoyagi Katsumi,Terao Azusa. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-06.

PIVKA-II measurement method, measurement reagent, and measurement kit

Номер патента: US10539559B2. Автор: Kentaro Yamaguchi,Katsumi Aoyagi,Azusa Terao. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-21.

PIVKA-II measurement method, measurement reagent, and measurement kit

Номер патента: CN104520710A. Автор: 青柳克己,山口建太郎,寺尾梓. Владелец: Sanko Junyaku Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-15.

Non-contact measurement method, measurement equipment and measurement system thereof

Номер патента: CN105387847A. Автор: 周彬. Владелец: 周彬. Дата публикации: 2016-03-09.

Pivka-ii measurement method, measurement reagent, and measurement kit

Номер патента: WO2014024853A1. Автор: 克己 青柳,建太郎 山口,梓 寺尾. Владелец: エーディア株式会社. Дата публикации: 2014-02-13.

Measurement method, measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: EP3505913A4. Автор: Tetsuya Noda,Hideyuki Fujii,Fumio Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-03.

Standard enlarged drawing measuring method, measurement apparatus and measuring system

Номер патента: CN107144222A. Автор: 陈芳,樊军,黄意. Владелец: AECC South Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-08.

Fluorescent spectrum correcting method and fluorescent spectrum measuring device

Номер патента: US11726031B2. Автор: Koji Futamura,Masaya Kakuta,Yasunobu Kato,Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Method and apparatus for performing a double shift print on a substrate

Номер патента: US6163368A. Автор: Bernie B. Hu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2000-12-19.

MEASUREMENT METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20140354614A1. Автор: NAGASHIMA Kensuke,DEYAMA Atsuyoshi,KAWAKAMI Takafumi,YONEMITSU Junro. Владелец: EIZO Corporation. Дата публикации: 2014-12-04.

Measurement method of microroughness and measurement apparatus using thereof

Номер патента: KR101390073B1. Автор: 정상한,조아진,노한얼. Владелец: 파크시스템스 주식회사. Дата публикации: 2014-04-30.

Measurement method, computer program, and measurement system

Номер патента: EP2757550A4. Автор: Kensuke Nagashima,Atsuyoshi Deyama,Takafumi Kawakami,Junro Yonemitsu. Владелец: Eizo Corp. Дата публикации: 2015-01-28.

Measurement method, computer program, and measurement system

Номер патента: EP2757550C0. Автор: Kensuke Nagashima,Atsuyoshi Deyama,Takafumi Kawakami,Junro Yonemitsu. Владелец: Eizo Corp. Дата публикации: 2023-08-23.

Light reduction mechanism, output data correction method, and laser beam measurement device

Номер патента: US11976966B1. Автор: Kazunori Komori. Владелец: Tamron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Dark area repair method and dark area repair device of curved liquid crystal display panel

Номер патента: US20240053626A1. Автор: Liang Yu. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Light reduction mechanism, output data correction method, and laser beam measurement device

Номер патента: US20240175746A1. Автор: Kazunori Komori. Владелец: Tamron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Measuring device

Номер патента: AU2021107207A4. Автор: Anthony Nicey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-12-09.

Fluorescent spectrum correcting method and fluorescent spectrum measuring device

Номер патента: US20230349819A1. Автор: Koji Futamura,Masaya Kakuta,Yasunobu Kato,Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Fluorescent spectrum correcting method and fluorescent spectrum measuring device

Номер патента: US20120123722A1. Автор: Koji Futamura,Masaya Kakuta,Yasunobu Kato,Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2012-05-17.

METHOD AND SYSTEM FOR CONFIGURATION OF DEVICES OF A CONTROL SYSTEM

Номер патента: US20170099183A1. Автор: VAIDYANATHAN Aparajithan,JETLEY Raoul. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-06.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20210123859A1. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

Measurement Data Management System, Measurement Data Management Method, And Optical Characteristic Measurement Device

Номер патента: US20190204156A1. Автор: Matsumoto Takuya. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200217784A9. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-09.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180348120A1. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

Methane number calculation method and methane number measurement device

Номер патента: US20170370831A1. Автор: Kenichi Kojima,Tomoo Ishiguro. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2017-12-28.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20220412881A1. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2022-12-29.

Swimmer posture adjustment method and swimmer information measurement device using same

Номер патента: EP2556862A1. Автор: Koji Wakayoshi. Владелец: Yamamoto Tomizo. Дата публикации: 2013-02-13.

Flow determining method and flow rate-measuring device

Номер патента: CN110234965A. Автор: 永濑正明,西野功二,池田信一,泽田洋平. Владелец: Fujikin Inc. Дата публикации: 2019-09-13.

Methane value calculation method and methane value measuring device

Номер патента: JP6759206B2. Автор: 謙一 小嶋,智生 石黒. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2020-09-23.

Flow determining method and flow rate-measuring device

Номер патента: CN100543425C. Автор: 小林敏也,小仓厚. Владелец: TOKYO METER CO Ltd. Дата публикации: 2009-09-23.

A kind of control method and a kind of display device of pixel circuit

Номер патента: CN109147647A. Автор: 周星耀,李玥. Владелец: Shanghai Tianma AM OLED Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-04.

For making multiple key fits in the method and apparatus of the authorization device of vehicle

Номер патента: CN103608221B. Автор: T·奥特,P·萨斯曼绍森. Владелец: Audi AG. Дата публикации: 2016-01-06.

Superposition accuracy management method and superposition accuracy measuring device used therefor

Номер патента: JP3414086B2. Автор: 篤志 染矢. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-06-09.

Method and system for configuration of devices of a control system

Номер патента: US10523502B2. Автор: Raoul JETLEY,Aparajithan VAIDYANATHAN. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2019-12-31.

Methane number calculation method and methane number measurement device

Номер патента: US10132746B2. Автор: Kenichi Kojima,Tomoo Ishiguro. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2018-11-20.

Method and system for operating technological devices of automating technology

Номер патента: US20180144616A1. Автор: ZINN Marcus. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2018-05-24.

METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING A DEVICE OF A DRIVE SYSTEM

Номер патента: US20160231288A1. Автор: Isabey Philippe. Владелец: WITTENSTEIN AG. Дата публикации: 2016-08-11.

Control method and apparatus for quick change device of work tools

Номер патента: US20170293283A1. Автор: Liang Li,ZHEN Li,Thuong LE,Mingsheng Xiao. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2017-10-12.

Display base plate, its manufacture method and there is the display device of this display base plate

Номер патента: CN102073181B. Автор: 许命九,崔相虔. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-01.

Method and the hand-hold communication device of work is shifted between many devices

Номер патента: CN103576125B. Автор: 林志杰,游鸿志,李永信,陈美融. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

Method and apparatus for making glass objects from glass feedstock

Номер патента: CA2103396A1. Автор: Richard Orr Maschmeyer,David Mark Koenig,Peter John Majestic. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 1994-07-01.

Method and device for controlling target device of host and client

Номер патента: US20160219494A1. Автор: Hun Lim,Yu-Mi Sohn,Jae-Eun Kang,Chang-Gun Ko. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-07-28.

Measurement device, measurement method, and storage medium

Номер патента: US20230288486A1. Автор: Tadashi Kaga,Yuki Tominaga,Mao Hori. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20230009318A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2023-01-12.

Semiconductor device measurement method

Номер патента: US20220077004A1. Автор: Hongxiang Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-03-10.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20240337572A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-10-10.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Separation measurement method and separation measurement device

Номер патента: US09714823B2. Автор: Andreas MÜLLER,Peter POLESKY,Katrin TRITSCH,Rolf-Dieter Woitscheck. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-07-25.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Three-dimensional measuring method and surveying system

Номер патента: US09958268B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: EP4336167A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-03-13.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: US20240295483A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09733066B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: US09476707B2. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2016-10-25.

Distance measuring device, distance measuring method, and speed measuring device

Номер патента: US12025705B2. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Water level measuring method and device

Номер патента: US20120174666A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F RUIJTENBERG HOLDING BV. Дата публикации: 2012-07-12.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Water level measuring method and device

Номер патента: WO2011016715A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F. RUIJTENBERG HOLDING B.V.. Дата публикации: 2011-02-10.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09541380B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Method and device for qualifying a mask of a lithography system

Номер патента: US20240103360A1. Автор: Carola Blaesing-Bangert,Steffen Weissenberg,Asad Rasool. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-03-28.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Aircraft engine rotor assembly method and device

Номер патента: US09724791B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-08-08.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4130652A1. Автор: Yosuke Muraki. Владелец: XTIA Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Measurement Device, Measurement Method, and Storage Medium

Номер патента: US20220373580A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Shinya Takiguchi. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Measuring device, measuring system, measuring method, and computer readable recording medium

Номер патента: US20170134035A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Shohei Kinoshita,Shigeki Shinoda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-05-11.

Control of critical dimension (CD)

Номер патента: EP1416330B1. Автор: Joseph Pellegrini,David Crow. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-07-29.

Thz measurement method and thz measurement device for measuring a measurement object

Номер патента: US20230288189A1. Автор: Marius Thiel,Ralph Klose. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Measuring device, measuring method, and vacuum processing apparatus

Номер патента: US20240290591A1. Автор: Atsushi Sawachi,Takuya Nishijima,Ichiro SONE,Suguru Sato. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Angle measuring device, angle measuring method, and in-vehicle device

Номер патента: US12032053B2. Автор: Kei Suwa,Satoshi KAGEME,Yu Shimizu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Pulse measurement device, biological information estimation device, pulse measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240277273A1. Автор: Hiroyuki Endoh,Kazuki Ihara. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Distance measuring device, distance measuring method, and distance measuring sensor

Номер патента: US20240264307A1. Автор: Yutaka Nakada. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Threaded shaft measuring device, threaded shaft measuring method, and adjustment jig

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Yoshiyuki Omori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Total organic carbon measurement method and total organic carbon measurement device

Номер патента: US20230011100A1. Автор: Masahito Yahata,Yoshiaki Nieda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20230161037A1. Автор: Tsuyoshi OGO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US12041351B2. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material

Номер патента: US20210223171A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US12044778B2. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material

Номер патента: EP3805733A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Measurement device, measurement method, and computer-readable medium

Номер патента: US20230017166A1. Автор: Shigeaki Sakurazawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20240323528A1. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US09995825B2. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Method for measuring the thickness of a layer of material, galvanizing method and related measuring device

Номер патента: US09797709B2. Автор: Jean Inard-Charvin,Geoffrey BRUNO. Владелец: ENOVASENSE. Дата публикации: 2017-10-24.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20210396875A1. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measurement device, measurement method, and computer program product

Номер патента: US20230014620A1. Автор: Shigeaki Sakurazawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measuring device, measuring method, and program

Номер патента: EP4394355A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Hidehito SATO. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: EP3637053A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Measurement device, measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240248114A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4403876A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measuring device, measuring method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240337560A1. Автор: Yoshihiro Kumagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Terahertz wave measuring device, measuring method, and measuring rig

Номер патента: US09784610B2. Автор: Hirohisa Uchida. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Measuring device, measuring method, and measuring program

Номер патента: EP4446706A1. Автор: Yoshihiro Kumagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Particle size measurement device

Номер патента: RU2554310C2. Автор: Мартин ХАЙНЕ,Стефан МАНЦ. Владелец: Бюлер АГ. Дата публикации: 2015-06-27.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Fluid mechanical property measurement method and measurement device

Номер патента: US9518908B2. Автор: Keiji Sakai,Tomoki Ishiwata. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2016-12-13.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: US20240271992A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Noribumi Shibayama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449A1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2022-05-18.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Measuring device and method for verifying the cut quality of a sheet using image scanning

Номер патента: US7473920B2. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: ECH Will GmbH and Co. Дата публикации: 2009-01-06.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4403878A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and device for measuring concentration of substance in fluid

Номер патента: US09970894B2. Автор: Jie Han,Yiping Han,Lijun Shen,Ray Xie. Владелец: Sunvou Medical Electronics Co ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Method and device for measuring plating ring assembly dimensions

Номер патента: US09891039B1. Автор: Sven Heiko Grünzig. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Fluid mechanical property measurement method and measurement device

Номер патента: US09518908B2. Автор: Keiji Sakai,Tomoki Ishiwata. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2016-12-13.

Measuring device, measuring method, and computer program product

Номер патента: US09513114B2. Автор: Satoshi Ito,Ryuzo Okada,Hideaki Uchiyama,Masaki Yamazaki,Akihito Seki,Yuta Itoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Measurement method for solar cell module

Номер патента: EP4191867A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Measurement method for photovoltaic module

Номер патента: US20230299716A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Weight measuring method and system

Номер патента: EP1241455B1. Автор: Pentti Sauli Asikainen. Владелец: Tamtron Oy. Дата публикации: 2005-08-10.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: US20050092099A1. Автор: Hiroshi Okuda,Akiko Kuse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Measuring device and measuring method for noise-corrected transmitter performance measurement

Номер патента: US10256924B1. Автор: Edwin Menzel. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-04-09.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Radar speed measurement method, radar, radar speed measurement device

Номер патента: US20240272296A1. Автор: Yanfeng DANG,Erxin ZHAO. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: US20240319060A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411410A1. Автор: YUAN Shen,Xiaoxian Li,Zhenguo DU,Bowen Wang,Xinyou Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and apparatus of full-field vibration measurement via microwave sensing

Номер патента: US12117371B2. Автор: Yuyong XIONG,Zhike PENG,Guang MENG. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-10-15.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US09412565B2. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: CA3224131A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2023-01-05.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4394354A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Measurement device, measurement method, recording medium, and phonograph record

Номер патента: US20230109304A1. Автор: Tadayoshi Okuda. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Automatic efficiency tracing method and its apparatus

Номер патента: US4761555A. Автор: Hiroaki Ishikawa. Владелец: ISHIKAWA IND CO Ltd. Дата публикации: 1988-08-02.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Error measurement and compensation methods, and apparatus

Номер патента: EP4383862A1. Автор: REN Da,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Neutron measuring method and neutron measuring device

Номер патента: US20240255654A1. Автор: Chun-Kai Huang. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Fetal head direction measuring device and method

Номер патента: EP3928711A1. Автор: Kai Wang,Youping WANG,Xiaoxing Lu. Владелец: Guangzhou Lian Med Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Measuring system, calibration device and measuring method with uncertainty analysis

Номер патента: US09903932B2. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-27.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Actuator ring characteristic measurement method

Номер патента: US09716833B2. Автор: Shoichiro Sengoku. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Method for measuring critical dimension of pattern on sample

Номер патента: US5750990A. Автор: Fumio Mizuno,Osamu Satoh. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-05-12.

Tunnel boring machine, measurement method, and measurement system

Номер патента: US20220220849A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-07-14.

Measurement method

Номер патента: EP4111131A1. Автор: John Charles Ould,Rose Crossland. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2023-01-04.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Distance measurement device, distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US20180100917A1. Автор: Jun Kawai,Takeshi Morikawa,Koichi Tezuka,Koichi Iida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

SiC WAFER DEFECT MEASURING METHOD, REFERENCE SAMPLE, AND METHOD OF MANUFACTURING SiC EPITAXIAL WAFER

Номер патента: US20190331603A1. Автор: Koji Kamei. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2019-10-31.

Gas measurement method for batch fermentation and in-vitro analysis platforms

Номер патента: EP3458816A1. Автор: Jing Liu. Владелец: Bioprocess Control Sweden AB. Дата публикации: 2019-03-27.

Image sensor, global shutter control method and computer storage medium

Номер патента: US12022202B2. Автор: YANG Pan,Dan Li. Владелец: Shanghai Juyou Smart Intelligence Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Adaptive support for interpolating values of sub-pixels for video coding

Номер патента: SG190847A1. Автор: Peisong Chen,Marta Karczewicz,Rahul P Panchal. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-07-31.

Adaptive support for interpolating values of sub-pixels for video coding

Номер патента: CA2820061C. Автор: Peisong Chen,Marta Karczewicz,Rahul P. Panchal. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2019-12-03.

Image Sensor, Global Shutter Control Method and Computer Storage Medium

Номер патента: US20220294963A1. Автор: YANG Pan,Dan Li. Владелец: Shanghai Juyou Smart Intelligence Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-15.

Image processor, image-processing method, and computer-readable medium

Номер патента: US20080310748A1. Автор: Takeshi Saito,Kazuo Asano,Shigeru Arai,Toru Misaizu. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Improved method and apparatus for sub-pixel interpolation

Номер патента: EP2532163A2. Автор: Rickard Sjöberg,Kenneth Andersson,Zhuangfei Wu. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2012-12-12.

Method and apparatus for sub-pixel interpolation

Номер патента: US20110194602A1. Автор: Rickard Sjöberg,Kenneth Andersson,Zhuangfei Wu. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2011-08-11.

Symmetry for interpolation filtering of sub-pixel positions in video coding

Номер патента: WO2009126928A1. Автор: YAN Ye,Marta Karczewicz. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2009-10-15.

Method and apparatus for taking biomechanical measurements

Номер патента: US20050197598A1. Автор: Peter Von Rogov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-09-08.

Beam measurement method and beam measurement device

Номер патента: EP4075849A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Adaptive support for interpolating values of sub-pixels for video coding

Номер патента: EP3203740A1. Автор: Peisong Chen,Marta Karczewicz,Rahul P. Panchal. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-08-09.

Method for measuring offset of sub-pixel in OLED manufacturing process

Номер патента: US9224957B1. Автор: ChiaPin Kang,Chin Chih Lin,Chunchieh Huang. Владелец: EverDisplay Optronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-29.

Symmetry for interoplation filtering of sub-pixel positions in video coding

Номер патента: US20090257494A1. Автор: YAN Ye,Marta Karczewicz. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2009-10-15.

Endoscope system, processor device, operation method, and distance measurement device

Номер патента: US10463240B2. Автор: Yasushi Shiraishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-05.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190290142A1. Автор: ISHIHARA Daisuke,KAWABATA Yasuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190307336A1. Автор: Fujii Kenji,Matsumoto Naoki,Mori Kentaro. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-10.

Device which can be applied in bone and/or tissue in the human body, and method and use of said device

Номер патента: EP1460961A1. Автор: Matts Andersson,Mikael Eriksson. Владелец: Nobel Biocare AB. Дата публикации: 2004-09-29.

HEART RATE MEASUREMENT METHOD AND HEART RATE MEASUREMENT DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20170164849A1. Автор: Lee James. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-15.

ELECTROCARDIOGRAPHY MEASUREMENT METHOD AND AN ELECTROCARDIOGRAPHY MEASUREMENT DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20150190069A1. Автор: Shih Wen-Hui,TAO Yi-Wei. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-09.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20180199822A1. Автор: Lee James. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-19.

Body composition measuring method and body composition measuring device

Номер патента: JP4124649B2. Автор: 一彦 吉田,善久 増尾. Владелец: Physion Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-23.

Mixing rate measuring method and mixing rate measuring device

Номер патента: JP5387735B1. Автор: 淳一 四辻,友彦 伊藤. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2014-01-15.

Body composition measuring method and body composition measuring device

Номер патента: JPWO2002043586A1. Автор: 吉田 一彦,増尾 善久. Владелец: 株式会社アートヘブンナイン. Дата публикации: 2004-04-02.

Ground resistivity measuring method and ground resistivity measuring device

Номер патента: JP6754196B2. Автор: 斉郁 藤原. Владелец: Taisei Corp. Дата публикации: 2020-09-09.

Blood sugar measurement method and blood sugar measurement device using multiple biological signals

Номер патента: EP3138493A4. Автор: Yeong Joon Gil. Владелец: Huinno Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-16.

Container position measuring method and container position measuring device

Номер патента: KR101638644B1. Автор: 다다시 가토,쇼이치 가토. Владелец: 가부시키가이샤 리퍼테크노. Дата публикации: 2016-07-11.

Packet transmission quality measurement method and packet reception measurement device

Номер патента: JP4798285B2. Автор: 祐士 野村,英明 宮崎,浩之 中原. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-10-19.

Sunshine duration measuring method and sunshine duration measuring device

Номер патента: CN102176074B. Автор: 张卫平,黄冠琅,肖钰斐,罗庭军. Владелец: GUANGXI UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-10-09.

Blood pressure measuring method and blood pressure measuring device

Номер патента: CN107960998A. Автор: 余文翰. Владелец: Guangdong Transtek Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-27.

Blood pressure measuring method, device and blood pressure measurement device

Номер патента: CN108836292A. Автор: 孙勋悦. Владелец: Guangdong Transtek Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-20.

PERFORMANCE MEASUREMENT METHOD, STORAGE MEDIUM, AND PERFORMANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20150012644A1. Автор: Kubota Atsushi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2015-01-08.

MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT APPARATUS AND MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20150318866A1. Автор: Sugawara Mitsutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-05.

Measuring method, measuring apparatus and measuring program

Номер патента: JP6095955B2. Автор: 勇喜 毛利,光俊 菅原,範和 石原. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-03-15.

INTER-RAT MEASUREMENT METHOD, RELATED APPARATUS, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180027439A1. Автор: Wu Xiaobo. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

Inter-system measurement method, related device and measurement system

Номер патента: EP3267717A1. Автор: Xiaobo Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-10.

Empty ring sewing up method and empty ring sewing up device of sewing machine

Номер патента: TW200940774A. Автор: Kaname Kusazumi. Владелец: Yamato Misin Seizou Kk. Дата публикации: 2009-10-01.

Bending method and single elongation value specifying device of bending apparatus

Номер патента: EP1319449A4. Автор: Kazunari Imai,Junichi Koyama,Hitoshi Omata,Osamu Hayama. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-22.

Semi-controllable device driving method and apparatus, and hybrid device

Номер патента: US20190052255A1. Автор: Qiaoshi Guo. Владелец: Guangzhou Kingser Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

Method and circuits for charge pump devices of phase-locked loops

Номер патента: US20190222216A1. Автор: Alan C. Rogers,Raghunand Bhagwan. Владелец: Analog Bits Inc. Дата публикации: 2019-07-18.

Cell handover method and apparatus

Номер патента: EP3972340A1. Автор: Rong Li,XIAN Meng,Yu Wang,Yunfei Qiao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Method and circuits for charge pump devices of phase-locked loops

Номер патента: US20180183446A1. Автор: Alan C. Rogers,Raghunand Bhagwan. Владелец: Analog Bits Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

Method and circuits for charge pump devices of phase-locked loops

Номер патента: EP3563483A1. Автор: Alan C. Rogers,Raghunand Bhagwan. Владелец: Analog Bits Inc. Дата публикации: 2019-11-06.

Method and circuits for charge pump devices of phase-locked loops

Номер патента: WO2018125594A1. Автор: Alan C. Rogers,Raghunand Bhagwan. Владелец: Analog Bits Inc.. Дата публикации: 2018-07-05.

BLOOD PRESSURE ESTIMATION METHOD AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20170135591A1. Автор: Ishizawa Hiroaki,KOYAMA Shouhei. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

COMPOSITE PROFILE EVALUATING METHOD AND COMPOSITE PROFILE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20170268390A1. Автор: Sato Fumio,Daimon Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

Feeding and discharging method and automatic feeding and discharging device of freeze dryer

Номер патента: CN115339662A. Автор: 王玺玫. Владелец: Hexin Suzhou Pharmaceutical Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-11-15.

access control method and device based on sensing device of Internet of things

Номер патента: CN110545559A. Автор: 陈海明. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2019-12-06.

A kind of processing method and its hot glue loading device of rhombic prism

Номер патента: CN108406505A. Автор: 金正彬. Владелец: MA'ANSHAN JIANGNAN OPTICAL CO Ltd. Дата публикации: 2018-08-17.

Sensor module, sensor module manufacturing method, and blood pressure measuring device

Номер патента: JP7091832B2. Автор: 剛 ▲濱▼口,雄樹 中川,隆 淵本. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-06-28.

Body parameter estimation method and body parameter measuring device

Номер патента: CN1537511A. Автор: ,竹原克. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2004-10-20.

The method of the control method and equipment and upgrading control device of fuel injector

Номер патента: CN107002582A. Автор: A·奥扬培拉,帕思·尤普. Владелец: WÄRTSILÄ FINLAND OY. Дата публикации: 2017-08-01.

Feeding and discharging method and automatic feeding and discharging device of freeze dryer

Номер патента: CN115339662B. Автор: 王玺玫. Владелец: Hexin Suzhou Pharmaceutical Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

A kind of method and wireless access network element device of quality of service mark

Номер патента: CN108430077A. Автор: 李刚. Владелец: China Mobile Communications Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-21.

Body parameter estimation method and body parameter measuring device

Номер патента: CN1294874C. Автор: 竹原克. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2007-01-17.

A kind of recovery method and aircraft black box recyclable device of aircraft black box

Номер патента: CN110015439A. Автор: 张彦军,陈良昌. Владелец: NORTH UNIVERSITY OF CHINA. Дата публикации: 2019-07-16.

Method and system for managing network devices of generic vendors and manufactures

Номер патента: US20130016628A1. Автор: Sebastiano Bertani,Cristian Piacente,Andrea Rincon Ray. Владелец: TANAZA Srl. Дата публикации: 2013-01-17.

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING TARGET DEVICE OF HOST AND CLIENT

Номер патента: US20200154261A1. Автор: SOHN Yu-mi,Lim Hun,KANG Jae-Eun,KO Chang-Gun. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

METHOD AND CIRCUITS FOR CHARGE PUMP DEVICES OF PHASE-LOCKED LOOPS

Номер патента: US20180183446A1. Автор: Rogers Alan C.,Bhagwan Raghunand. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING TARGET DEVICE OF HOST AND CLIENT

Номер патента: US20160219494A1. Автор: SOHN Yu-mi,Lim Hun,KANG Jae-Eun,KO Chang-Gun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-07-28.

METHOD AND CIRCUITS FOR CHARGE PUMP DEVICES OF PHASE-LOCKED LOOPS

Номер патента: US20190222216A1. Автор: Rogers Alan C.,Bhagwan Raghunand. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

Method and control for a starting device of an internal combustion engine

Номер патента: DE102008041040A1. Автор: Falco Sengebusch. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2010-02-25.

Method and controller for a starter device of an internal combustion engine

Номер патента: EP2324233B1. Автор: Falco Sengebusch. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2012-08-15.

Method and controller for a starter device of an internal combustion engine

Номер патента: CN102112729A. Автор: F.森格布斯奇. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2011-06-29.

Mixed sound output method and mixed sound output related device of mobile terminal

Номер патента: CN101697644A. Автор: 汪先健. Владелец: Hisense Mobile Communications Technology Co Ltd. Дата публикации: 2010-04-21.

For checking the method and charged particle multi beam device of sample

Номер патента: CN110192263A. Автор: 于尔根·弗洛森,彼得·克鲁伊特. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2019-08-30.

Control method and system for dust removal device of air conditioner filter screen

Номер патента: CN111664545A. Автор: 王光临. Владелец: Anhui Nanguo E&m Technology Development Co ltd. Дата публикации: 2020-09-15.

Method and controller for a starter device of an internal combustion engine

Номер патента: US20110202264A1. Автор: Falco Sengebusch. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2011-08-18.

Method and device for controlling braking device of vehicle provided with electric drive device

Номер патента: JPH1134855A. Автор: Izera Thomas,トーマス・イゼラ. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1999-02-09.

Method and arrangement in a drive device of a rod coating station

Номер патента: US6616977B1. Автор: Pekka Koskela. Владелец: Metso Paper Oy. Дата публикации: 2003-09-09.

Calf Stretcher and Measuring Device

Номер патента: US20230240930A1. Автор: Roger Stroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-03.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Fetus electrocardiogram signal measuring method and its device

Номер патента: US20100076330A1. Автор: Yoshitaka Kimura,Takuya Ito,Mitsuyuki Nakao,Kazunari Ohwada. Владелец: Tohoku Techno Arch Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-25.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Bandwidth measuring device, bandwidth measuring method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09621447B2. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20240090798A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20220240813A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Gait measurement device, estimation system, gait measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240245320A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

Band measurement device, band measurement method and computer program

Номер патента: EP1838046A3. Автор: Yasuhiro Mizukoshi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Method and system for controlling profile of critical dimension

Номер патента: US11908754B2. Автор: Jun Shimada,Chih-Teng Liao,Chen-Fon CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4385412A1. Автор: Takanori Ishikawa,Yukinojo KITAKAMI. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-06-19.

Blood pressure measurement method, and electronic device and medium thereof

Номер патента: EP4431012A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Measuring device, measurement method, and transmission system

Номер патента: US09647793B2. Автор: Takehiro Fujita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: US20240235672A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Reference signal measurement method and terminal devices

Номер патента: EP3883275A1. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Quality of service measurement method and device, and user plane function

Номер патента: EP4050933A1. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: EP4408070A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US20180184316A1. Автор: Lili Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Beam measurement method and apparatus, user equipment, network device and storage medium

Номер патента: EP4436070A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Sensing measurement method and related apparatus

Номер патента: EP4412296A1. Автор: Xun Yang,Chenchen LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: AU2021283545B2. Автор: Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement method and apparatus, device, and readable storage medium

Номер патента: EP4456599A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Multi-antenna noise power measuring method and apparatus

Номер патента: US09967041B1. Автор: Yan-Neng Chang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Method and node for interference measurement via inter-cell cooperation

Номер патента: US09838189B2. Автор: Yong Zheng,Yu Ngok Li,Yunfeng Sun. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US12028728B2. Автор: Rui Wang,Qinghai Zeng,Hongping Zhang,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: CA3182422A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20230199892A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement method and device

Номер патента: EP3840457A1. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US20240259118A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: CA3230606A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-09.

Measurement method and apparatus, terminal device and network device

Номер патента: US20230080009A1. Автор: Shukun Wang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-16.

Mobility measurement method and apparatus

Номер патента: EP4187958A1. Автор: Tingting GENG,Yedan WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20220060266A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang,Huahua Xiao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Channel measurement method and apparatus, electronic device and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220393912A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Information measurement method and apparatus

Номер патента: EP4436124A1. Автор: Xiangyang Zhu,Jinghai YU,Yufang HAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20240323741A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Channel measurement method and apparatus, and electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: EP4050820A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Measurement method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240349213A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Power measurement method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4447344A1. Автор: Dong Zhou,Liyuan ZHONG,Jiangtao Chen,Longming Zhu,Dao TIAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Measurement method and device, user equipment, network side equipment, and storage medium

Номер патента: EP4451730A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Interference measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4451580A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4447530A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Method and apparatus for measuring sidelink

Номер патента: US12052738B2. Автор: XING Yang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Breakdown voltage measuring method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09799506B2. Автор: Mitsuhiko Sakai. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring device and measuring method retroactively checking preconditions

Номер патента: US09763125B2. Автор: Jonas Baehr. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-09-12.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Method for measuring inside dimensions of shoes and measuring tool therefor

Номер патента: US09700104B2. Автор: Xin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20230421273A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Solid materials' electrical charge measuring method and electrical charge measuring device

Номер патента: CS245157B1. Автор: Pavel Sluka. Владелец: Pavel Sluka. Дата публикации: 1986-08-14.

Area-specific-resistance measuring method of metal and measuring device thereof

Номер патента: TW200905209A. Автор: Wei-Jia Xiong. Владелец: Atomic Energy Council. Дата публикации: 2009-02-01.

Rendering system and method based on weighted value of sub-pixel region

Номер патента: US20120019518A1. Автор: Nam Dong Kyung,PARK Ju Yong,KIM Yun Tae,SUNG Gee Young. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-26.

ADAPTIVE SUPPORT FOR INTERPOLATING VALUES OF SUB-PIXELS FOR VIDEO CODING

Номер патента: US20120147967A1. Автор: Karczewicz Marta,Chen Peisong,Panchal Rahul P.. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2012-06-14.

PRE-CHARGING OF SUB-PIXELS

Номер патента: US20120299894A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-29.

LAYOUT METHOD OF SUB-PIXEL RENDERINGS

Номер патента: US20130021328A1. Автор: Yang Hsueh-Yen,Lin Hong-Shen,Chu Shang-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-24.

METHOD OF SUB-PIXEL RENDERING FOR A DELTA-TRIAD STRUCTURED DISPLAY

Номер патента: US20130106891A1. Автор: Yang Hsueh-Yen,Matsueda Yojiro,Lin Hong-Shen. Владелец: AU OPTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-02.

DETERMINING SIZE OF SUB PIXELS IN A MULTI PRIMARY DISPLAY FOR MAXIMIZING WHITE POINT LUMINANCE LEVEL

Номер патента: US20130300640A1. Автор: Ben-Chorin Moshe. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-14.

A kind of sub-pixel edge detection method based on one-dimensional Gray Moment

Номер патента: CN104715491B. Автор: 杨兵兵,陈喆,殷福亮. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2017-07-21.

Method for improving digital photoetching resolution on basis of sub-pixel modulation

Номер патента: CN104820345B. Автор: 张志敏,李淑静,罗宁宁. Владелец: NANCHANG HANGKONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-03-22.

Edge processing method of sub-pixel rendering, and display apparatus

Номер патента: CN105096835A. Автор: 方丽婷,何春燕,张沼栋. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

Symmetry for interpolation filtering of sub-pixel positions in video coding

Номер патента: TW201012227A. Автор: YAN Ye,Marta Karczewicz. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2010-03-16.

Measuring method and filter performance measuring device of filter use of clean room

Номер патента: KR101514300B1. Автор: 이영준. Владелец: (주) 크린필텍. Дата публикации: 2015-04-22.

Moisture content detection device / moisture content measurement method and moisture content measurement device

Номер патента: JP3423518B2. Автор: 博 半沢. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-07.

Traffic flow measuring method and traffic flow measuring device by laser beam cutting method

Номер патента: JP2898356B2. Автор: 禎雄 高羽,平 魏. Владелец: Koito Industries Ltd. Дата публикации: 1999-05-31.

IMPULSE RESPONSE MEASURING METHOD AND IMPULSE RESPONSE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20120166123A1. Автор: Hino Shokichiro,Koide Hiroshi,Shoji Akihiro,Tsuchiya Koichi,Endo Tomohiko,Xie Qlusheng. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-28.

Chromatic dispersion measuring method and chromatic dispersion measuring device

Номер патента: JP3384322B2. Автор: 憲文 小林. Владелец: Hitachi Cable Ltd. Дата публикации: 2003-03-10.

Moving amount measuring method and moving amount measuring device

Номер патента: JP2675317B2. Автор: 雅則 鈴木,篤▲のぶ▼ 宇根. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 1997-11-12.

Electric resistance measuring method and electric resistance measuring device

Номер патента: JP3130209B2. Автор: 秀昭 菊地,正任 荒木,孝軒 車. Владелец: 旭電機株式会社. Дата публикации: 2001-01-31.

Cornea elasticity measurement method and cornea elasticity measurement device

Номер патента: CN105167805A. Автор: 王立科. Владелец: Shenzhen Yiling Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-23.

Pulley load measuring method and pulley load measuring device

Номер патента: JP3674755B2. Автор: 一寿 梶原. Владелец: Koyo Seiko Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-20.

Blood oxygen measuring method and blood oxygen measuring device

Номер патента: CN104887246B. Автор: 黄安麒. Владелец: Guangzhou Shiyuan Electronics Thecnology Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-15.

Optical specific affinity measuring method and specific affinity measuring device used therein

Номер патента: JP3353978B2. Автор: 正人 木村,隆 山田. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2002-12-09.

Tread shape measuring method and tread shape measuring device

Номер патента: JP6988434B2. Автор: 貴規 住谷. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Surface tension measuring method and surface tension measuring device

Номер патента: JP3015888B1. Автор: 秀明 磯貝. Владелец: 工業技術院長. Дата публикации: 2000-03-06.

Surface roughness measuring method and surface roughness measuring device

Номер патента: JP6642392B2. Автор: 中 市川. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Insulation degradation measurement method and insulation degradation measurement device

Номер патента: JP6511998B2. Автор: 淳起 藤井. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-05-15.

Bactericidal power measuring method and bactericidal power measuring device

Номер патента: JP6872896B2. Автор: 喜智 大野,大樹 川越. Владелец: Daiwa House Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-19.

Micro time measurement method and micro time measurement device

Номер патента: JP3196254B2. Автор: 直見 沢田,匡志 中村. Владелец: Suzuki Motor Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-06.

Water quality measurement method and water quality measurement device

Номер патента: JP3335776B2. Автор: 聡 西方,芳朗 小野,功 宗宮. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-21.

Air resistance measuring method and air resistance measuring device

Номер патента: JP2008076225A. Автор: Masumi Odagiri,真純 小田切. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Moisture content measuring method and moisture content measuring device

Номер патента: JP5262612B2. Автор: 吉幸 浅川,寛人 渡邉,栄三郎 神田. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2013-08-14.

Position coordinate measuring method and position coordinate measuring device

Номер патента: JP3298300B2. Автор: 直人 弓木,弘典 本庄. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2002-07-02.

Measurement method for interference and measurement device of interference

Номер патента: JPH11218411A. Автор: Hidenori Yamada,秀則 山田. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 1999-08-10.

Rotational accuracy measuring method and rotational accuracy measuring device

Номер патента: JP4096766B2. Автор: 繁一 奥村. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2008-06-04.

Obstacle position measuring method and obstacle position measuring device

Номер патента: JP3744352B2. Автор: 倫子 下村. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2006-02-08.

Pantograph contact force measuring method and contact force measuring device

Номер патента: JP4012108B2. Автор: 充 池田. Владелец: RAILWAY TECHNICAL RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2007-11-21.

Surface shape measurement method and surface shape measurement device

Номер патента: JP2017015653A. Автор: Shigeru Takasu,茂 高須. Владелец: Minebea Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-19.

Measurement method, measurement program, and measurement system equipped with measurement program

Номер патента: JP2018021858A. Автор: Akira Oishi,彰 大石. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-02-08.

Measurement method, measurement system and measurement module for heat conducting paste thickness

Номер патента: CN101063606A. Автор: 林哲熙,罗登男. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2007-10-31.

STYLUS ABRASION DETECTION METHOD AND SURFACE PROPERTY MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20120010826A1. Автор: KUROKI Shingo,Mishima Hideki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-12.

Caulking method and workpiece dimension measuring device

Номер патента: JP3793414B2. Автор: 忍 小林,靖夫 渡辺. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-05.

Gas analyzer calibration method and gas concentration measuring device

Номер патента: JPH087171B2. Автор: 雄一 佐々木,孝治 加藤,元衛 太田. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1996-01-29.

A kind of screen control method and its control device, display device of display device

Номер патента: CN109712532A. Автор: 赵辉. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-03.

Method and system, the intelligent electronic device of polyphaser observed object

Номер патента: CN106709957B. Автор: 高洪波. Владелец: Goertek Techology Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-17.

Migrate method and system and the terminal device of terminal applies

Номер патента: CN104063250B. Автор: 龙浩. Владелец: Nubia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-24.

Executing method and pen-type optical input device of multiple optical modules

Номер патента: CN102043482B. Автор: 李晓林,赖键模,李祖楠. Владелец: KYE Systems Corp. Дата публикации: 2012-07-04.

Method and device for communicating multiple devices of virtual local area network (VLAN) with one another

Номер патента: CN104518937A. Автор: 张永杰. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-04-15.

Electronic payment method and device thereof and peripheral device of electronic payment

Номер патента: CN103116843A. Автор: 林魁. Владелец: Fujian Landi Commercial Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-22.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

HARD PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, AND DEVICE THEREFOR

Номер патента: US20120001619A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for providing blood constituents

Номер патента: US20120000299A1. Автор: . Владелец: ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Automated Soil Measurement Device

Номер патента: US20120002192A1. Автор: . Владелец: SOLUM, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND DEVICES FOR THE SELECTIVE DETECTION OF MICROORGANISMS

Номер патента: US20120003661A1. Автор: . Владелец: C3 JIAN, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.