Measurement Method and Measurement Device of Critical Dimension of Sub-pixel
Номер патента: US20170193653A1
Опубликовано: 06-07-2017
Автор(ы): Pang Huashan, SUN Zhiyi
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 06-07-2017
Автор(ы): Pang Huashan, SUN Zhiyi
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Measurement method and measurement device of critical dimension of sub-pixel
Номер патента: US10204407B2. Автор: Zhiyi Sun,Huashan Pang. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-12.