Semiconductor device, temperature sensor and power supply voltage monitor
Номер патента: US20210231508A1
Опубликовано: 29-07-2021
Автор(ы): Masanori Ikeda, Tadashi Kameyama
Принадлежит: Renesas Electronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-07-2021
Автор(ы): Masanori Ikeda, Tadashi Kameyama
Принадлежит: Renesas Electronics Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of inspecting semiconductor device, semiconductor device, and probe card
Номер патента: US12078659B2. Автор: Masaaki Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.