• Главная
  • Structure and method for multi-gate semiconductor devices

Structure and method for multi-gate semiconductor devices

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Metal oxide semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230170401A1. Автор: He Sun,Jiakun Wang. Владелец: Hangzhou Silicon Magic Semiconductor Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

MULTI-GATE SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20190348498A1. Автор: Chen Tzu-Chiang,CHIANG Hung-Li,CHEN I-Sheng,CHENG Chao-Ching,Huang Shih-Syuan. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Multi gate semiconductor device

Номер патента: US20230207559A1. Автор: Nam Kyu Cho,Sang Gil Lee,Seok Hoon Kim,Pan Kwi Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-29.

Semiconductor structure with conductive structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230378260A1. Автор: Ka-Hing Fung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Semiconductor devices and methods for forming the same

Номер патента: US09525045B1. Автор: Jun-Wei Chen,Chih-Cherng Liao,Chia-hao Lee,Pei-Heng HUNG. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Multi-gate semiconductor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US12107162B2. Автор: Hung-Yu Wei,Kai Jen,Pei-Hsiu PENG. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for forming multi-gate semiconductor structure

Номер патента: US20230420567A1. Автор: Yu-Wen Wang,chun-ming Yang,Yu-Jiun PENG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Gate structures for multi-gate devices

Номер патента: US20230317799A1. Автор: Chi On Chui,Wei-Cheng Wang,Kuan-Ting Liu,Shih-Hang Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

MULTI-GATE SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20190123189A1. Автор: WU Cheng-Hsien,Yeh Ling-Yen,Chen Tzu-Chiang,CHEN I-Sheng,DIAZ Carlos H.. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-25.

Inner spacer features for multi-gate transistors

Номер патента: US12087842B2. Автор: Chia-Pin Lin,Chih-Hao Yu,Bone-Fong Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Inner spacer features for multi-gate transistors

Номер патента: US20230335620A1. Автор: Chia-Pin Lin,Chih-Hao Yu,Bone-Fong Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

GATE STRUCTURE FOR MULTI-GATE DEVICE AND RELATED METHODS

Номер патента: US20230012454A1. Автор: Yu Kuo-Feng,Chen Chien-Yuan,LEE Chih-Wei,Hsu Chih-Yu,CHEN Jiao-Hao. Владелец: . Дата публикации: 2023-01-12.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20240266256A1. Автор: Sangmoon Lee,Jinbum Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-08.

Memory devices and methods of manufacturing thereof

Номер патента: US20230255022A1. Автор: Yih Wang,Chia-En HUANG,Meng-Sheng CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Memory devices and methods of manufacturing thereof

Номер патента: US20220367491A1. Автор: Yih Wang,Chia-En HUANG,Meng-Sheng CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Semiconductor Structure and Manufacturing Method for the Same

Номер патента: US20130295728A1. Автор: Cheng-Chi Lin,Shyi-Yuan Wu,Shih-Chin Lien,Chen-Yuan Lin. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-07.

Methods for fabricating high voltage transistor and the semiconductor device

Номер патента: TW201236081A. Автор: Sen Zhang,yan-jun Li. Владелец: O2Micro Inc. Дата публикации: 2012-09-01.

Power semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20160155794A1. Автор: In Su Kim. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2016-06-02.

Method for fabricating a local interconnect in a semiconductor device

Номер патента: US09881872B2. Автор: Sai-Hooi Yeong,Jui-Yao Lai,Ying-Yan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US20240234319A9. Автор: Jin Kyu Kim,Jae Hyun Ahn,Ho Jun Kim,So Ra You,Jee Woong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US20240136290A1. Автор: Jin Kyu Kim,Jae Hyun Ahn,Ho Jun Kim,So Ra You,Jee Woong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-25.

Semiconductor devices and methods of fabricating the same

Номер патента: US09627474B2. Автор: Chien-Mao Chen,Po-Shu WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Apparatus and methods for radio frequency switching

Номер патента: US20240039531A1. Автор: Guillaume Alexandre Blin. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

MULTI-GATE SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20150162334A1. Автор: Yu Tsung-Hsing,Goto Ken-Ichi,Wu Zhiqiang,Hsieh Wen-Hsing,SHEU YI-MING,WANG CHIH-CHING,Ho Jon-Hsu,Huang Ching-Fang,YEH Chih-Chieh. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

Semiconductor devices

Номер патента: EP4261893A1. Автор: Jung Hwan Chun,Kyu-hee Han,Jun Hyuk LIM,Jong Min Baek,Sang Shin Jang,Koung Min RYU,Bong Kwan Baek,Jung Hoo Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-18.

Method for preventing dishing during the manufacture of semiconductor devices

Номер патента: US10373876B2. Автор: Kuan-Liang Liu,Shih-Yin Hsiao. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2019-08-06.

Method for preventing dishing during the manufacture of semiconductor devices

Номер патента: US20180233416A1. Автор: Kuan-Liang Liu,Shih-Yin Hsiao. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-08-16.

Method for preventing dishing during the manufacture of semiconductor devices

Номер патента: US09978647B2. Автор: Kuan-Liang Liu,Shih-Yin Hsiao. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Method for preventing dishing during the manufacture of semiconductor devices

Номер патента: US20170186652A1. Автор: Kuan-Liang Liu,Shih-Yin Hsiao. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Self-Aligned Spacers for Multi-Gate Devices and Method of Fabrication Thereof

Номер патента: US20200052132A1. Автор: Wang Chih-hao,Ching Kuo-Cheng,Ju Shi Ning,Cheng Kuan-Lun,CHEN GUAN-LIN. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

Recessed contact for multi-gate fet optimizing series resistance

Номер патента: US20130023093A1. Автор: Josephine B. Chang,Chung-Hsun Lin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-01-24.

Multi-gate semiconductor devices with improved hot-carrier injection immunity

Номер патента: US09614041B1. Автор: Zhihong Zhang,Hongning Yang,Jiang-Kai Zuo. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Multi-gate semiconductor device with self-aligned epitaxial source and drain

Номер патента: EP2517231A1. Автор: Tahir Ghani,Harry Gomez,Annalisa Cappellani,Anand S. Murthy,Kuan-Yueh Shen. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2012-10-31.

Method for manufacturing etch stop areas for contacting semiconductor devices

Номер патента: US20180114724A1. Автор: Dmitri Alex Tschumakow,Claus Dahl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-04-26.

Method for manufacturing etch stop areas for contacting semiconductor devices

Номер патента: US10354917B2. Автор: Dmitri Alex Tschumakow,Claus Dahl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2019-07-16.

Semiconductor device structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US20190148511A1. Автор: Hsiang-Wei Lin,Chung-Chi Ko. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-16.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20120007172A1. Автор: Seung Wan Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-01-12.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US5973362A. Автор: Hae Chang Yang,Min Wha Park. Владелец: LG Semicon Co Ltd. Дата публикации: 1999-10-26.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US12100743B2. Автор: Yu-Jen Huang,Shin-Hong CHEN,Ying-Chi Cheng. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Semiconductor devices and methods of forming the same

Номер патента: US20140124854A1. Автор: Jongchul Park,Ji-Young Min,Heedon Hwang,Insang JEON,Woogwan SHIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-08.

Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20050139912A1. Автор: Kwan-Ju Koh. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Transistor gate structure, and manufacturing method therefor

Номер патента: US20190378907A1. Автор: Shiming Wang,Zhanyuan Hu,Zhiseng HUANG. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-12.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US9595590B2. Автор: Yu Shin RYU,Bo Seok OH. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20170141213A1. Автор: Jin Yeong SON,Yu Shin RYU,Bo Seok OH. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US11804535B2. Автор: Jong Chul Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-31.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20150102405A1. Автор: Yu Shin RYU,Bo Seok OH. Владелец: MagnaChip Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2015-04-16.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20230132488A1. Автор: Yu-Jen Huang,Shin-Hong CHEN,Ying-Chi Cheng. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2023-05-04.

Methods for fabricating a metal structure for a semiconductor device

Номер патента: US09865690B2. Автор: Chuanxin Lian,Liping Daniel Hou. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Fabricating method of lateral-diffused metal oxide semiconductor device

Номер патента: US09780171B2. Автор: Ming-Shing Chen,Wei-Ting Wu,Ming-Hui Chang,Chao-Chun Ning. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor device and method

Номер патента: US12057342B2. Автор: Chun-Hung Lee,Shiang-Bau Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Semiconductor device and methods of formation

Номер патента: US20230343637A1. Автор: Chih-Hsuan Lin,Hsi Chung CHEN,Ying-Yu Lai,Chih-Yun WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Forming method for floating contact hole, and semiconductor device

Номер патента: US20240290846A1. Автор: Song Zhang,Wenming Zhu,Qun Liu,Yaohui ZHOU,Dejin Wang. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for producing compound semiconductor wafer and compound semiconductor device

Номер патента: US7576352B2. Автор: Hisashi Yamada,Noboru Fukuhara. Владелец: Sumika Epi Solution Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-18.

Method for manufacturing compound semiconductor wafer and compound semiconductor device

Номер патента: US20060001044A1. Автор: Hisashi Yamada,Noboru Fukuhara. Владелец: Sumika Epi Solution Co Ltd. Дата публикации: 2006-01-05.

Method for manufacturing compound semiconductor wafer and compound semiconductor device

Номер патента: EP1542288A4. Автор: Hisashi Yamada,Noboru Fukuhara. Владелец: Sumika Epi Solution Co Ltd. Дата публикации: 2008-05-21.

Method for manufacturing compound semiconductor wafer and compound semiconductor device

Номер патента: US7208387B2. Автор: Hisashi Yamada,Noboru Fukuhara. Владелец: Sumika Epi Solution Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-24.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20200105922A1. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20190181258A1. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US11942560B2. Автор: Anbang ZHANG. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Apparatus and method for multi-gate transistors

Номер патента: DE102012111822A1. Автор: Georgios Vellianitis. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Conformal Source and Drain Contacts for Multi-Gate Field Effect Transistors

Номер патента: US20190123157A1. Автор: Wang Chih-hao,SUN Yuan-Chen,Yeh Ling-Yen,Yeo Yee-Chia,DIAZ Carlos H.. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-25.

Conformal Source and Drain Contacts for Multi-Gate Field Effect Transistors

Номер патента: US20170194442A1. Автор: Wang Chih-hao,SUN Yuan-Chen,Yeh Ling-Yen,Yeo Yee-Chia,DIAZ Carlos H.. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US11508848B2. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2022-11-22.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20210083093A1. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US10861976B2. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US10522685B2. Автор: Meng Zhao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2019-12-31.

Multi-gate semiconductor device for memory and method for forming the same

Номер патента: US12075608B2. Автор: Huai-Ying Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Semiconductor device and method of forming thereof

Номер патента: US20240203882A1. Автор: Kang-ill Seo,Jongjin Lee,MyungHoon JUNG,Jaejik Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20060157715A1. Автор: Tae-Hong Lim. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20070075383A1. Автор: Tae-Hong Lim. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Semiconductor device

Номер патента: US9076886B2. Автор: Dong-il Park,Jong-Sam Kim,Ae-Gyeong Kim,Kyoung-Eun Uhm,Tae-Cheol Lee,Yong-sang Jeong,Jin-Ha Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-07-07.

Alignment monitoring structure and alignment monitoring method for semiconductor devices

Номер патента: US09589854B2. Автор: Dominik Olligs. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20230420560A1. Автор: Yu-Hao Ho. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Semiconductor devices and methods for fabricating the same

Номер патента: US20050139933A1. Автор: Young-Hun Seo. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Method for forming step channel of semiconductor device

Номер патента: US20060141800A1. Автор: Young Cho. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-06-29.

Method for forming step channel of semiconductor device

Номер патента: US7309656B2. Автор: Young Man Cho. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-12-18.

MULTI-GATE SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20210257491A1. Автор: WEI Hung-Yu,Jen Kai,PENG Pei-Hsiu. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-19.

Method for forming dual gate of a semiconductor device

Номер патента: US20020164857A1. Автор: Jae-Hee Ha. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2002-11-07.

Semiconductor device including multiple spacers and a method for preparing the same

Номер патента: US20240258404A1. Автор: Chung-Lin Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor device including multiple spacers and a method for preparing the same

Номер патента: US20240258405A1. Автор: Chung-Lin Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Recessed contact for multi-gate fet optimizing series resistance

Номер патента: US20130023093A1. Автор: Josephine B. Chang,Chung-Hsun Lin. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-01-24.

Source and Drain Surface Treatment for Multi-Gate Field Effect Transistors

Номер патента: US20200044062A1. Автор: Lu Wei-Yuan,Fan Wei-Han,Fan Chun-Hsiang,YANG Yu-Lin,Yeong Sai-Hooi. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-06.

Source and Drain Surface Treatment for Multi-Gate Field Effect Transistors

Номер патента: US20190165139A1. Автор: Lu Wei-Yuan,Fan Wei-Han,Fan Chun-Hsiang,YANG Yu-Lin,Yeong Sai-Hooi. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-30.

Semiconductor device with asymmetric transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20060170116A1. Автор: Tae-Woo Jung,Sang-Won Oh. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-08-03.

Semiconductor devices and methods for fabricating the same

Номер патента: EP4283683A1. Автор: Hyun Cheol Kim,Yong Seok Kim,Dae Won Ha,Ki Heun Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-29.

MULTI-GATE SEMICONDUCTOR DEVICES WITH IMPROVED HOT-CARRIER INJECTION IMMUNITY

Номер патента: US20170077233A1. Автор: ZHANG ZHIHONG,ZUO JIANG-KAI,Yang Hongning. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

Multi-gate semiconductor devices

Номер патента: US20110089500A1. Автор: XIN Lin,Hongning Yang,Jiang-Kai Zuo. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2011-04-21.

Semiconductor Device and Method for Fabricating the Same

Номер патента: US20100163983A1. Автор: Yong Keon Choi. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2010-07-01.

Multi-gate semiconductor device with self-aligned epitaxial source and drain

Номер патента: TW201137985A. Автор: Tahir Ghani,Anand Murthy,Harry Gomez,Annalisa Cappellani,Kuan-Yueh Shen. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2011-11-01.

Semiconductor devices and methods for fabricating the same

Номер патента: US20230387297A1. Автор: Hyun Cheol Kim,Yong Seok Kim,Dae Won Ha,Ki Heun Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Manufacturing method for crystal, crystal, and semiconductor device

Номер патента: US20110254017A1. Автор: Shin Harada,Taro Nishiguchi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2011-10-20.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US12068391B2. Автор: King Yuen Wong,Anbang ZHANG. Владелец: Innoscience Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20240371969A1. Автор: King Yuen Wong,Anbang ZHANG. Владелец: Innoscience Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Method of manufacture for a silicon-on-plastic semiconductor device with interfacial adhesion layer

Номер патента: US09812350B2. Автор: Julio C. Costa. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: WO2022051932A1. Автор: Chao Yang,Chunhua ZHOU,Qiyue Zhao. Владелец: Innoscience (Suzhou) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-03-17.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US11862722B2. Автор: Chao Yang,Chunhua ZHOU,Qiyue Zhao. Владелец: Innoscience Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Semiconductor device structure having a channel layer with different roughness

Номер патента: US20230284435A1. Автор: Chung-Lin Huang,Szu-Yao Chang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US7915684B2. Автор: Yoshifumi Tanada. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-29.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US12034070B2. Автор: Peng-Yi Wu. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20220376096A1. Автор: Peng-Yi Wu. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: WO2021258293A1. Автор: Peng-Yi Wu. Владелец: Innoscience (Zhuhai) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2021-12-30.

Apparatuses and methods for semiconductor circuit layout

Номер патента: US20180175017A1. Автор: Takashi Ishihara,Yasuhiko Tanuma. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-06-21.

Apparatuses and methods for semiconductor circuit layout

Номер патента: US20190348493A1. Автор: Takashi Ishihara,Yasuhiko Tanuma. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Apparatuses and methods for semiconductor circuit layout

Номер патента: US09929135B2. Автор: Takashi Ishihara,Yasuhiko Tanuma. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Forming method for floating contact hole, and semiconductor device

Номер патента: EP4401119A1. Автор: Song Zhang,Wenming Zhu,Qun Liu,Yaohui ZHOU,Dejin Wang. Владелец: CSMC Technologies Fab2 Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Semiconductor device gate stack

Номер патента: GB2560866A. Автор: Kwon Unoh,Narayanan Vijay,Bao Ruqiang,KRISHNAN SIDDARTH. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-09-26.

Apparatus and methods for multi-gate silicon-on-insulator transistors

Номер патента: US20060279333A1. Автор: Minchang Liang,Yow-Juang Liu. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2006-12-14.

Apparatus and methods for multi-gate silicon-on-insulator transistors

Номер патента: US20080061821A1. Автор: Minchang Liang,Yow-Juang Liu. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Apparatus and methods for multi-gate silicon-on-insulator transistors

Номер патента: US7112997B1. Автор: Minchang Liang,Yow-Juang W. Liu. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2006-09-26.

Method for manufacturing an interconnect structure for stacked semiconductor device

Номер патента: US20020074670A1. Автор: Tadatomo Suga. Владелец: Tadatomo Suga. Дата публикации: 2002-06-20.

Semiconductor device structure

Номер патента: US20240297227A1. Автор: Han-Chin Chiu. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US09953685B2. Автор: Chia-Jung Hsu,Wein-Town Sun,Chun-Yuan Lo,Jui-Ming Kuo. Владелец: eMemory Technology Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Semiconductor device, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09595584B2. Автор: Katsuhisa Nagao. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-03-14.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US12021121B2. Автор: Han-Chin Chiu. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Semiconductor device having mirror-symmetric terminals and methods of forming the same

Номер патента: US09673135B2. Автор: Wei Zhang,John D. Weld,Douglas Dean Lopata. Владелец: Altera Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Silicon phosphide semiconductor device

Номер патента: US11749567B2. Автор: Tuoh Bin Ng,Tzu-Ching Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Semiconductor device, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11862672B2. Автор: Katsuhisa Nagao. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2024-01-02.

Semiconductor device and method of manufacture

Номер патента: US20200381309A1. Автор: Tuoh Bin Ng,Tzu-Ching Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Vertical semiconductor device and manufacturing method therefor

Номер патента: US20240072113A1. Автор: Tim Böttcher,Steffen Holland,Stefan Berglund,Seong-Woo BAE,Detlef Oelgeschlaeger. Владелец: Nexperia BV. Дата публикации: 2024-02-29.

OXIDE SINTERED BODY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, SPUTTERING TARGET, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20190259588A1. Автор: Miyanaga Miki,Watatani Kenichi,Awata Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-22.

Silicon Phosphide Semiconductor Device

Номер патента: US20230360974A1. Автор: Tuoh Bin Ng,Tzu-Ching Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Method for forming a gate insulating film for semiconductor devices

Номер патента: US6303481B2. Автор: Dong Su Park. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2001-10-16.

Multi-gate semiconductor devices

Номер патента: TW201203540A. Автор: Shinichiro Takatani. Владелец: WIN Semiconductors Corp. Дата публикации: 2012-01-16.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US12087851B2. Автор: Yulong Zhang,Ming-Hong CHANG,Junhui Ma. Владелец: Innoscience Suzhou Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor devices including empty spaces

Номер патента: US09953928B2. Автор: Jin-Hyung Park,Byoung-Deog Choi,Hong-Rae Kim,Hee-Young Park,Sang-Ho Roh,Kyung-Mun Byun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-24.

Semiconductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US20120326261A1. Автор: Chung-Yu Hung,Wing-Chor CHAN,Chien-Wen Chu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-27.

Semiconductor structure comprising p-type N-face GAN-based semiconductor layer and manufacturing method for the same

Номер патента: US12080786B2. Автор: Kai Cheng. Владелец: Enkris Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US20130015508A1. Автор: Wen-Yueh Jang. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing thereof

Номер патента: WO2022116036A1. Автор: Yulong Zhang,Ming-Hong CHANG,Junhui Ma. Владелец: Innoscience (suzhou) Semiconductor Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-06-09.

Semiconductor Structure and Preparing Method for Semiconductor Structure

Номер патента: US20220085195A1. Автор: Kai Cheng. Владелец: Enkris Semiconductor Inc. Дата публикации: 2022-03-17.

Method for manufacturing gate structure for use in semiconductor device

Номер патента: TW200515494A. Автор: Yi-Nan Chen,Chang-Rong Wu,Kuo-Chien Wu,Tzu-En Ho. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2005-05-01.

Method for manufacturing gate structure for use in semiconductor device

Номер патента: TWI223338B. Автор: Yi-Nan Chen,Chang-Rong Wu,Kuo-Chien Wu,Tzu-En Ho. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2004-11-01.

ALIGNMENT MONITORING STRUCTURE AND ALIGNMENT MONITORING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20160336240A1. Автор: OLLIGS Dominik. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-17.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230326991A1. Автор: Da-Jun Lin,Fu-Yu Tsai,Bin-Siang Tsai,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20090057770A1. Автор: Sung-Man Pang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-05.

Integrated circuit device with a gate electrode structure and a corresponding method for the production

Номер патента: DE102007042950A1. Автор: Tim Boescke. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2009-01-15.

Semiconductor device including vertical supporting structure

Номер патента: US20240105715A1. Автор: Wen-Chieh Wang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Semiconductor device including vertical supporting structure

Номер патента: US20240105714A1. Автор: Wen-Chieh Wang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09881917B2. Автор: Chien-Hua Chen,Sheng-chi Hsieh,Teck-Chong Lee,Hsu-Chiang Shih. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: WO2024040563A1. Автор: Yi He,Jheng-Sheng You,Weixing DU. Владелец: Innoscience (suzhou) Semiconductor Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-02-29.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US20090101994A1. Автор: Kyoung-Mi Moon. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2009-04-23.

Semiconductor device structure with fine patterns and method for forming the same

Номер патента: US20210280425A1. Автор: Yi-Hsien CHOU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Semiconductor device structures and methods of manufacturing the same

Номер патента: US11972996B2. Автор: Hang Liao,Chunhua ZHOU,Qingyuan HE. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Semiconductor structure and manufacturing method for the semiconductor structure

Номер патента: US11876129B2. Автор: Kai Cheng. Владелец: Enkris Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-01-16.

Method for fabricating recess pattern in semiconductor device

Номер патента: US7862991B2. Автор: Yong-Soon Jung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-01-04.

Contact Isolation in Semiconductor Devices

Номер патента: US20210066116A1. Автор: Zheng Tao,Boon Teik CHAN,Waikin Li. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2021-03-04.

Contact isolation in semiconductor devices

Номер патента: US11862452B2. Автор: Zheng Tao,Boon Teik CHAN,Waikin Li. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2024-01-02.

Method for clean procedure during manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11990346B2. Автор: Hsuan-Hsu Chen,Zhen Wu,Chun-Lung Chen,Chuan-Chang Wu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Method for controlling an opening width in a semiconductor device and related structure

Номер патента: TW521347B. Автор: Klaus F Schuegraf. Владелец: Conexant Systems Inc. Дата публикации: 2003-02-21.

Method for integrating replacement gate in semiconductor device

Номер патента: US20130005097A1. Автор: Qiuxia Xu,Gaobo Xu. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2013-01-03.

Method for forming multi-layer metal line of semiconductor device

Номер патента: US20030129825A1. Автор: Jun Yoon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-10.

Apparatus and method for removing an organic material from a semiconductor device

Номер патента: US20020058345A1. Автор: Eckhard Marx,Bernd Stottko,Torsten Schneider,Anne Kurtenbach. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-16.

Methods for forming on-chip capacitor structures in semiconductor devices

Номер патента: US12108603B2. Автор: LIANG Chen. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for forming lead wires in hybrid-bonded semiconductor devices

Номер патента: WO2019037584A1. Автор: Meng Yan,Siping Hu,Jifeng Zhu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-02-28.

Methods for forming shallow trench isolation structures in semiconductor devices

Номер патента: US20050142802A1. Автор: Young Seo. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Method for forming lead wires in hybrid-bonded semiconductor devices

Номер патента: US11996322B2. Автор: Meng Yan,Jifeng Zhu,Si Ping HU. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Method for producing group III nitride-based compound semiconductor device

Номер патента: US20100248404A1. Автор: Masahiro Ohashi,Toshiya Umemura. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Method for fabricating a gate mask of a semiconductor device

Номер патента: US7309627B2. Автор: Osamu Kato. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-18.

Method for fabricating a gate mask of a semiconductor device

Номер патента: US20060014341A1. Автор: Osamu Kato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-19.

Method for forming a shielding layer on a semiconductor device

Номер патента: US20240332209A1. Автор: KyoWang Koo,JiSik MOON,Hyunseok Park. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Method for manufacturing capacitor array, capacitor array, and semiconductor device

Номер патента: US20230231007A1. Автор: Liutao ZHOU,Shuo Pan. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-20.

Method for forming a metal plug of a semiconductor device

Номер патента: US20030013299A1. Автор: Jung Kim,Ki-Hong Yang. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-01-16.

Method for manufacturing a front electrode of a semiconductor device

Номер патента: US20160260851A1. Автор: Xiaoli Liu,Delin Li. Владелец: Soltrium Advanced Materials Technology Ltd Shenzhen. Дата публикации: 2016-09-08.

Methods for reducing transfer pattern defects in a semiconductor device

Номер патента: US20200294802A1. Автор: LIN Zhou,Regina FREED,Steven R. Sherman,Nadine Alexis. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-09-17.

Methods for reducing transfer pattern defects in a semiconductor device

Номер патента: WO2020185391A1. Автор: LIN Zhou,Regina FREED,Steven R. Sherman,Nadine Alexis. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-09-17.

Methods for reducing transfer pattern defects in a semiconductor device

Номер патента: US11217448B2. Автор: LIN Zhou,Regina FREED,Steven R. Sherman,Nadine Alexis. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-01-04.

Method for manufacturing a front electrode of a semiconductor device

Номер патента: US09508877B2. Автор: Xiaoli Liu,Delin Li. Владелец: Soltrium Advanced Materials Technology. Дата публикации: 2016-11-29.

Methods for fabricating an STI film of a semiconductor device

Номер патента: US7217633B2. Автор: Geon-Ook Park. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-15.

Methods for fabricating an STI film of a semiconductor device

Номер патента: US20050142805A1. Автор: Geon-Ook Park. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Method for fabricating a fine pattern in a semiconductor device

Номер патента: US20080003834A1. Автор: Jae-Young Lee,Sung-Kwon Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-01-03.

Method for etching a metal layer in a semiconductor device

Номер патента: US20040154186A1. Автор: Sang Hun Oh. Владелец: Anam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-08-12.

Method for fabricating an inter dielectric layer in semiconductor device

Номер патента: US09437423B2. Автор: Byung Soo Eun. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Method for forming an interconnect pattern in a semiconductor device

Номер патента: US20020142614A1. Автор: Eisuke Kodama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-10-03.

Methods for manufacturing shallow trench isolation layers of semiconductor devices

Номер патента: US20060024913A1. Автор: Bo Jo. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-02-02.

Methods for reducing micro and macro scalloping on semiconductor devices

Номер патента: US20240249936A1. Автор: Srinivas D. Nemani,Ellie Y. Yieh,Jong Mun Kim,Mang-Mang Ling. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Methods for reducing micro and macro scalloping on semiconductor devices

Номер патента: WO2024158449A1. Автор: Srinivas D. Nemani,Ellie Y. Yieh,Jong Mun Kim. Владелец: Ling, Mang-Mang. Дата публикации: 2024-08-02.

Apparatus and Method For Generating Test Pattern Data For Testing Semiconductor Device

Номер патента: US20080040639A1. Автор: Jong Koo Kang. Владелец: UniTest Inc. Дата публикации: 2008-02-14.

Apparatus and methods for effecting a burn-in procedure on semiconductor devices

Номер патента: US4745354A. Автор: Douglas S. Fraser. Владелец: FTS Systems Inc. Дата публикации: 1988-05-17.

Apparatus and methods for effecting a burn-in procedure on semiconductor devices.

Номер патента: MY100200A. Автор: S Fraser Douglas. Владелец: Fts System Inc. Дата публикации: 1990-04-10.

Method for determining lead span and planarity of semiconductor devices

Номер патента: US6489173B1. Автор: Alvin P. Cyril. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-03.

Method for the insulation of polysilicon film in semiconductor device

Номер патента: US5376576A. Автор: Sang H. Park,Chang S. Moon,Dae I. Park. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1994-12-27.

Method for making a quad leadframe for a semiconductor device

Номер патента: US5339518A. Автор: Truoc T. Tran,Wilhelm Sterlin. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1994-08-23.

Method for forming a contact window in a semiconductor device

Номер патента: WO2003028084A1. Автор: Dev Alok,Juanita A. Barone,Regina Conrad. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2003-04-03.

Methods for reducing transfer pattern defects in a semiconductor device

Номер патента: US20200357639A1. Автор: LIN Zhou,Regina FREED,Steven R. Sherman,Nadine Alexis. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-11-12.

Method for forming storage node contact plug of semiconductor device

Номер патента: US20040264132A1. Автор: Yun-Seok Cho,Yu-Chang Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-12-30.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US09893071B2. Автор: Jae Soo Kim,Jae Chun Cha. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

Semiconductor device having a saddle fin shaped gate and method for manufacturing the same

Номер патента: US20110306178A1. Автор: Seung Joo Baek. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-12-15.

Semiconductor device structure having a profile modifier

Номер патента: US20230253214A1. Автор: Shih-En LIN,Jui-Lin Chin. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Semiconductor device structure having a profile modifier

Номер патента: US11854832B2. Автор: Shih-En LIN,Jui-Lin Chin. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Semiconductor structure and preparation method for semiconductor structure

Номер патента: US20220293422A1. Автор: Jun Wei,Huan Xia,Zijie Wang,Yuanhao Gao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-15.

Memory structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US11895841B2. Автор: Chi-Pin Lu,Pei-Ci Jhang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Reservoir capacitor of semiconductor device

Номер патента: US9263452B2. Автор: Ae Rim JIN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-02-16.

Semiconductor device including line-type active region and method for manufacturing the same

Номер патента: US20120146121A1. Автор: Kyung Do Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20110254083A1. Автор: Hae Il SONG. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-10-20.

Semiconductor device having a buried gate and method for forming the same

Номер патента: US8536644B2. Автор: Hae Il SONG. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2013-09-17.

Semiconductor device structure and method of manufacturing the same

Номер патента: WO2024103247A1. Автор: Chang Chen,Xiaoming Liu,Xinyu Li. Владелец: Innoscience (suzhou) Semiconductor Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-05-23.

Method for forming a DRAM semiconductor device with a sense amplifier

Номер патента: US20070148850A1. Автор: Dong Chul Koo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-28.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20120043605A1. Автор: Se In KWON,Hyun Jin Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-02-23.

Composite substrate, semiconductor structure, and manfufacturing method for composite substrate

Номер патента: US20240304675A1. Автор: Kai Cheng. Владелец: Enkris Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20110291182A1. Автор: Seung Hwan Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-12-01.

Method for Reducing Bipolar Degradation in an SIC Semiconductor Device and Semiconductor Device

Номер патента: US20170012102A1. Автор: Schulze Hans-Joachim,Rupp Roland,Konrath Jens Peter. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-12.

Semiconductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US20140264621A1. Автор: Erh-Kun Lai,Guan-Ru Lee. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Semiconductor device and method for determining state of semiconductor material of semiconductor device

Номер патента: CN103575787A. Автор: S.诺尔. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2014-02-12.

Semiconductor device contact pad and method of contact pad fabrication

Номер патента: US12034027B2. Автор: Hui Zang. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US09570391B2. Автор: Song Hyeuk Im. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Semiconductor device having bonding structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240074145A1. Автор: Yi-Jen Lo,Chiang-Lin Shih,Hsih-Yang Chiu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Semiconductor device having semiconductor channel layer and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240107744A1. Автор: Hsih-Yang Chiu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Semiconductor device with etched landing pad surface

Номер патента: US20240023307A1. Автор: Yen-Ho CHU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Semiconductor device, semiconductor component and display panel including the same

Номер патента: US11894489B2. Автор: Min-Hsun Hsieh,Yu-Tsu Lee,Wei-Jen Hsueh. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Semiconductor structure and method of fabricating same

Номер патента: US20230048193A1. Автор: RAN Li,Xing Jin,Ming Cheng,Zhengqing SUN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-02-16.

Method for Forming Super Contact in Semiconductor Device

Номер патента: US20100140806A1. Автор: Sang Chul Kim. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2010-06-10.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US8946855B2. Автор: Sang Ho Sohn. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2015-02-03.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS FOR FORMING PATTERNED RADIATION BLOCKING ON A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20150255502A1. Автор: Borthakur Swarnal,Sulfridge Marc. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS FOR FORMING PATTERNED RADIATION BLOCKING ON A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20170317136A1. Автор: Borthakur Swarnal,Sulfridge Marc. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS FOR FORMING PATTERNED RADIATION BLOCKING ON A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20190355779A1. Автор: Borthakur Swarnal,Sulfridge Marc. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-21.

Laminar structure and a production method for same

Номер патента: US09508995B2. Автор: Han Shin Choi,Hye Sook Joo. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology KITECH. Дата публикации: 2016-11-29.

Semiconductor device structure with fine boron nitride spacer patterns and method for forming the same

Номер патента: US20220037155A1. Автор: Pei-Cheng Fan. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2022-02-03.

Wafer level package (WLP) and method for forming the same

Номер патента: US09520372B1. Автор: Shin-puu Jeng,Hsien-Wen Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Semiconductor device package and method for manufacturing the same

Номер патента: US12040287B2. Автор: Chih-Cheng LEE,Hsing Kuo TIEN. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240312940A1. Автор: Chih-Wei Wu,Ying-Ching Shih,Hung-Wei TSAI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor device structure including a bonding structure

Номер патента: US20240153900A1. Автор: Shing-Yih Shih,Sheng-Fu Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Semiconductor device structure with air gap and method for forming the same

Номер патента: US20210090939A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Semiconductor device structure including a bonding structure

Номер патента: US20240153902A1. Автор: Shing-Yih Shih,Sheng-Fu Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Pad structure and testkey structure and testing method for semiconductor device

Номер патента: US11906577B2. Автор: Le Li,Jiwei He,Linzhi LU. Владелец: Wuhan Xinxin Semiconductor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Structure and method of reinforcing a conductor soldering point of semiconductor device

Номер патента: US09837371B2. Автор: Jing Wu,Honghui Wang,Haizhong SHI. Владелец: Tongfu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09524975B2. Автор: Dae Sung EOM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Heater for annealing trapped charge in a semiconductor device

Номер патента: US20060103007A1. Автор: Philip Oldiges,John Aitken,Ethan Cannon,Alvin Strong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-05-18.

Semiconductor device structure with air gap

Номер патента: US20210366762A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2021-11-25.

Semiconductor device structure with air gap

Номер патента: US12087620B2. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor device structures

Номер патента: US20140353803A1. Автор: Adam L. Olson,William R. Brown,Ho Seop Eom,Xue Chen,Kaveri Jain,Anton J. deVilliers,Lijing Gou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2014-12-04.

Semiconductor packaging structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US09892988B2. Автор: Diann-Fang Lin,Yu-Shan Hu. Владелец: DAWNING LEADING TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2018-02-13.

Semiconductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US20210296208A1. Автор: Ming-Hsiu Lee,Dai-Ying LEE. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Semiconductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US20220199490A1. Автор: Ming-Hsiu Lee,Dai-Ying LEE. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Inductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US12131863B2. Автор: Erh-Kun Lai,Hsiang-Lan Lung. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Semiconductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US11776873B2. Автор: Ming-Hsiu Lee,Dai-Ying LEE. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Semiconductor device package and method for manufacturing the same

Номер патента: US20220028801A1. Автор: Chih-Cheng LEE,Hsing Kuo TIEN. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Semiconductor device structure and method for preparing the same

Номер патента: US20240087895A1. Автор: Cheng-Hsiang Fan. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Semiconductor device structure and method for preparing the same

Номер патента: US20230386842A1. Автор: Cheng-Hsiang Fan. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Wafer Level Package (WLP) and Method for Forming the Same

Номер патента: US20200098705A1. Автор: Shin-puu Jeng,Hsien-Wen Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Epitaxial structure and epitaxial growth method for forming epitaxial layer with cavities

Номер патента: US09673353B2. Автор: Jun-Rong Chen,Hsiu-Mei CHOU,Jhao-Cheng YE. Владелец: Lextar Electronics Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Epitaxial structure and epitaxial growth method for forming epitaxial layer with cavities

Номер патента: US09601661B2. Автор: Jun-Rong Chen,Hsiu-Mei CHOU,Jhao-Cheng YE. Владелец: Lextar Electronics Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Semiconductor device with decoupling capacitor structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240088111A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Semiconductor device with decoupling capacitor structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240088113A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20100213617A1. Автор: Seung Bum Kim,Jong Kuk KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-08-26.

Semiconductor device package and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230223320A1. Автор: Zhou Zhou,Adam Brown,Ricardo Yandoc. Владелец: Nexperia BV. Дата публикации: 2023-07-13.

Semiconductor device including fluorine diffusion barrier layer and method for manufacturing the same

Номер патента: US20080054465A1. Автор: Jong-Taek Hwang. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2008-03-06.

Semiconductor device including isolation structure with impurity and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240347374A1. Автор: Kuo-Chung Hsu,En-Jui Li. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Semiconductor device including isolation structure with impurity and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240347375A1. Автор: Kuo-Chung Hsu,En-Jui Li. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Semiconductor device with nano-gaps and method for manufacturing the same

Номер патента: US09646849B2. Автор: Yu-Cheng Tung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US09524921B2. Автор: Tae-Seong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-12-20.

Semiconductor devices having through-electrodes and methods for fabricating the same

Номер патента: US09355961B2. Автор: Chajea JO,Hyunsoo Chung,Taeje Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-05-31.

Semiconductor device structure and method for forming the same

Номер патента: US20170229396A1. Автор: Tien-I Bao,Tai-I Yang,Wei-Chen CHU,Tien-Lu Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20240130254A1. Автор: Chuan-Fu Wang,Yen-Min TING,Yu-Huan Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US20200075712A1. Автор: Shaofeng Ding,Jeong Hoon Ahn. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-05.

Semiconductor device package and method for packaging the same

Номер патента: US20210082835A1. Автор: Lu-Ming Lai,Yu-Che Huang. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2021-03-18.

Semiconductor device having semiconductor channel layer and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240107745A1. Автор: Hsih-Yang Chiu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Semiconductor device having dual damascene line structure and method for fabricating the same

Номер патента: US20020030280A1. Автор: Kyung-Tae Lee,Seong-ho Liu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2002-03-14.

Methods for forming hole structure in semiconductor device

Номер патента: US11876016B2. Автор: Gang Yang,Jian Dai,Biao Zheng,Xiang Hui ZHAO,Zui Xin ZENG,Lianjuan Ren. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Multi-height interconnect structures and associated systems and methods

Номер патента: US20230170331A1. Автор: Kyle K. Kirby. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-06-01.

Multi-height interconnect structures and associated systems and methods

Номер патента: US20210242174A1. Автор: Kyle K. Kirby. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-08-05.

Multi-height interconnect structures and associated systems and methods

Номер патента: WO2021158340A1. Автор: Kyle K. Kirby. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-08-12.

Bonding pad structure disposed in semiconductor device and related method

Номер патента: US20080290457A1. Автор: Ming-Dou Ker,Yuan-Wen Hsiao,Yuh-Kuang Tseng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-11-27.

Pad structure and testkey structure and testing method for semiconductor device

Номер патента: US20220404416A1. Автор: Le Li,Jiwei He,Linzhi LU. Владелец: Wuhan Xinxin Semiconductor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

PCSS-based semiconductor device, switching device, and method

Номер патента: US09595623B1. Автор: Chenggang Xie. Владелец: ROCKWELL COLLINS INC. Дата публикации: 2017-03-14.

Structure and method of reinforcing a conductor soldering point of semiconductor device

Номер патента: US20170207189A1. Автор: Jing Wu,Honghui Wang,Haizhong SHI. Владелец: Tongfu Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Misalignment test structure and method thereof

Номер патента: US7217581B2. Автор: Yu-Wei Ting,Chien-Chang Huang,Chin-Ling Huang,Tie-Jiang Wu,Bo-Ching Jiang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2007-05-15.

Methods for forming hole structure in semiconductor device

Номер патента: US11817348B2. Автор: Gang Yang,Jian Dai,Biao Zheng,Xiang Hui ZHAO,Zui Xin ZENG,Lianjuan Ren. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

SOI Structure and Method for Utilizing Trenches for Signal Isolation and Linearity

Номер патента: US20130181321A1. Автор: Paul D. Hurwitz,Robert L. Zwingman. Владелец: Newport Fab LLC. Дата публикации: 2013-07-18.

Processing method for semiconductor surface defects and preparation method for semiconductor devices

Номер патента: US12033857B2. Автор: Xianghong Jiang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Method for forming gate oxide layer in semiconductor device

Номер патента: US20050142770A1. Автор: Yong Choi. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Detection and Reduction of Dielectric Breakdown in Semiconductor Devices

Номер патента: US20080211500A1. Автор: Masayasu Miyata,William A. Goddard,Jamil Tahir-Kheli. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-04.

Detection and reduction of dielectric breakdown in semiconductor devices

Номер патента: WO2005031850A3. Автор: William A Goddard Iii,Masayasu Miyata,Jamil Tahir-Kheli. Владелец: Jamil Tahir-Kheli. Дата публикации: 2006-01-05.

Package structure for semiconductor device and preparation method thereof

Номер патента: US12040241B2. Автор: CHEN Liu,Yuming Zhang,Hongliang LV. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2024-07-16.

Method for Forming Isolation Layer in Semiconductor Devices

Номер патента: US20070166949A1. Автор: In Kyu Chun. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-19.

Package structure and method for manufacturing the same

Номер патента: US20210398911A1. Автор: Po-Sheng Huang,Lee-Cheng Shen,Chao-Hsuan Wang. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2021-12-23.

Memory structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US20230284463A1. Автор: Erh-Kun Lai,Hsiang-Lan Lung,Chiao-Wen Yeh. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Systems and methods for deposition of molybdenum for source/drain contacts

Номер патента: US20230298902A1. Автор: Dong Li,Petri Raisanen,Eric James Shero,Jiyeon Kim. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-09-21.

Method for forming isolation layer in semiconductor device

Номер патента: US20030119266A1. Автор: Cheol Park. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-26.

Method for forming bit line of semiconductor device

Номер патента: US20040067656A1. Автор: Sung Jin,Jai Roh. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-04-08.

Method for manufacturing semiconductor device with nano-gaps

Номер патента: US09799553B2. Автор: Yu-Cheng Tung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Semiconductor structures and manufacturing methods

Номер патента: CA1212181A. Автор: Michael G. Adlerstein. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 1986-09-30.

Chip structure, packaging structure and manufacturing method for chip structure

Номер патента: US11769745B2. Автор: Liye Duan,Zongmin LIU,Mengjun Hou,Jijing HUANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Barrier-free interconnect structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US12009293B2. Автор: Pei-Yu Wang,Cheng-Ting Chung,Wei Ju Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Method for forming metal line in a semiconductor device

Номер патента: US20070166987A1. Автор: Han-Choon Lee,In-Cheol Baek. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-19.

Method for forming metal line in a semiconductor device

Номер патента: US7632754B2. Автор: Han-Choon Lee,In-Cheol Baek. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2009-12-15.

METAL STRUCTURE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND METAL WIRE AND SEMICONDUCTOR DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20210028024A1. Автор: Yoon Boun,KIM Do Yoon,TAKAI Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Memory, memory substrate structure, and preparation method for memory substrate structure

Номер патента: EP3971974A1. Автор: Zhen Zhou. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-03-23.

Manufacturing method for glass substrate and glass substrate

Номер патента: US12068181B2. Автор: Yuichi Yoshida,Keisuke Hanashima,Yuha KOBAYASHI. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Method for etching metal layer of a semiconductor device using hard mask

Номер патента: US6008135A. Автор: Yong-Tak Lee,Sang-Jeong Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1999-12-28.

Method for fabricating isolation layer in semiconductor device

Номер патента: US20040203225A1. Автор: Seung Pyi. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-10-14.

Semiconductor device and semiconductor package

Номер патента: US11923328B2. Автор: Hsin He HUANG. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-03-05.

Semiconductor device and semiconductor package

Номер патента: US20240250053A1. Автор: Hsin He HUANG. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Inductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US20220336145A1. Автор: Erh-Kun Lai,Hsiang-Lan Lung. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Junction structure and junction method for conductive projection

Номер патента: US20050056445A1. Автор: Yuji Nishitani,Hiroshi Asami,Ken Orui,Hiroko Jinno. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-03-17.

Method for forming isolation film

Номер патента: US6656851B1. Автор: Young-Kuk Cha. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-12-02.

Method for stabilizing high pressure oxidation of a semiconductor device

Номер патента: US20060035473A1. Автор: Scott DeBoer,Randhir Thakur,F. Gealy,Husam Al-Shareef,Dave Chapek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-16.

Method for stabilizing high pressure oxidation of a semiconductor device

Номер патента: US20040185677A1. Автор: Scott DeBoer,Randhir Thakur,F. Gealy,Husam Al-Shareef,Dave Chapek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-23.

Method for stabilizing high pressure oxidation of a semiconductor device

Номер патента: US20050279283A1. Автор: Scott DeBoer,Randhir Thakur,F. Gealy,Husam Al-Shareef,Dave Chapek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-22.

Method for wire connection for laser programming of semiconductor device

Номер патента: KR970003920B1. Автор: Chang-Jae Lee,Won-Hyuk Lee. Владелец: LG Semicon Co Ltd. Дата публикации: 1997-03-22.

Methods for planarizing a metal layer

Номер патента: US20050142829A1. Автор: Joo-hyun Lee. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Methods for planarizing a metal layer

Номер патента: US7192869B2. Автор: Joo-hyun Lee. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-20.

Semiconductor devices and methods for producing the same

Номер патента: US11728620B2. Автор: Qing Wang,Chuni Ghosh,Guoyang Xu. Владелец: Princeton Optronics Inc. Дата публикации: 2023-08-15.

Semiconductor device and method for making the same

Номер патента: US20240096634A1. Автор: Sooyeon HAN,IkSoo JI. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Semiconductor devices and methods for producing the same

Номер патента: EP3732707A1. Автор: Qing Wang,Chuni Ghosh,Guoyang Xu. Владелец: Princeton Optronics Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Semiconductor device with capacitor and fuse, and method for manufacturing the same

Номер патента: US20090212389A1. Автор: Roh Il Cheol. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-08-27.

Method for reducing pillar structure dimensions of a semiconductor device

Номер патента: WO2009045347A1. Автор: Michael Chan,Steven J. Radigan,Yung-Tin Chen,Paul Poon. Владелец: SanDisk 3D LLC. Дата публикации: 2009-04-09.

Method for forming an interconnect pattern in a semiconductor device

Номер патента: TW521350B. Автор: Eisuke Kodama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-02-21.

Method for fabricating a fine pattern in a semiconductor device

Номер патента: TW200802539A. Автор: Jae-Young Lee,Sung-Kwon Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-01-01.

Method for improving the electrical characteristics of germanium semiconductor devices

Номер патента: US3227580A. Автор: Clarence G Thornton. Владелец: Philco Ford Corp. Дата публикации: 1966-01-04.

Method for forming a fine pattern of a semiconductor device

Номер патента: TW200814145A. Автор: Jae-Chang Jung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-03-16.

Emitting method for charged particle beam in manufacture of semiconductor device

Номер патента: JPS57193030A. Автор: Yasuo Iida. Владелец: Nippon Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-11-27.

Method for forming an insulating layer of a semiconductor device

Номер патента: IE55741B1. Автор: . Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1991-01-02.

Method for forming triple well structure in a semiconductor device

Номер патента: TW432499B. Автор: Jung-Hoon Lee,Bon-Seong Koo,Yoon-Nam Kim. Владелец: Hyundai Electronics Ind. Дата публикации: 2001-05-01.

Method for preventing Cu contamination and oxidation in semiconductor device manufacturing

Номер патента: TWI272677B. Автор: Chen-Hua Yu,Chung-Shi Liu,Boq-Kang Hu. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2007-02-01.

A method for forming a meterial layer in a semiconductor device using liquid phase deposition

Номер патента: SG54195A1. Автор: Faivel S Pintchovski. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1998-11-16.

Method for implanting a cell channel ion of semiconductor device

Номер патента: TW200610062A. Автор: Woo-Kyung Sun,Won-chang Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-03-16.

Method for implanting a cell channel ion of semiconductor device

Номер патента: TWI294150B. Автор: Won Chang Lee,Woo Kyung Sun. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-03-01.

Semiconductor device with nano-gaps and method for manufacturing the same

Номер патента: US20160268198A1. Автор: Yu-Cheng Tung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2016-09-15.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20150140804A1. Автор: Sang Ho Sohn. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2015-05-21.

Semiconductor device package, antenna device, and method for manufacturing the same

Номер патента: US11830799B2. Автор: Bernd Karl Appelt,You-Lung Yen. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Semiconductor device and method for making the same

Номер патента: US20230411304A1. Автор: Junghoon Kim,KyungMoon Kim,KyoWang Koo,YoungSang KIM,HeeYoun Kim. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Interconnections for a semiconductor device and method for forming same

Номер патента: US20020041034A1. Автор: Walter Moden,Warren Farnworth,Larry Kinsman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-11.

Semiconductor device including mark structure for measuring overlay error and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240047372A1. Автор: Chih-Hsuan Yeh. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Semiconductor device including mark structure for measuring overlay error and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240047368A1. Автор: Chih-Hsuan Yeh. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Nitride-based semiconductor module and method for manufacturing thereof

Номер патента: WO2022233000A1. Автор: Chunhua ZHOU,Weigang YAO. Владелец: Innoscience (Suzhou) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-11-10.

Photoresist coating composition and method for forming fine contact of semiconductor device

Номер патента: US8133547B2. Автор: Jae Chang Jung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-03-13.

Semiconductor devices with pyramidal shielding and method for making the same

Номер патента: US20240055368A1. Автор: Changoh Kim,JinHee Jung,Omin Kwon. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US10930602B2. Автор: Seung Hun Han,Yun Rae Cho,Ae Nee Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-02-23.

Semiconductor device and method for fabricating the same

Номер патента: US11784137B2. Автор: Seung Hun Han,Yun Rae Cho,Ae Nee Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-10.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US11784111B2. Автор: HUNG-YI LIN,Wu Chou HSU,Chin-Cheng Kuo,Cheng-Yuan KUNG. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

Semiconductor device with supporter against which bonding wire is disposed and method for prparing the same

Номер патента: US20230395557A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Interconnection structure with composite isolation feature and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240047360A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Semiconductor device with etched landing pad surface and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240023308A1. Автор: Yen-Ho CHU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20160043030A1. Автор: Kun-Yuan Liao,Feng-Yi Chang,Chun-Lung Chen,Chia-Lin Lu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2016-02-11.

Interconnection structure with composite isolation feature and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240047361A1. Автор: Tse-Yao Huang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Semiconductor Device and Method for Fabricating the Same

Номер патента: US20140191414A1. Автор: Tae-Seong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

EPITAXIAL STRUCTURE AND EPITAXIAL GROWTH METHOD FOR FORMING EPITAXIAL LAYER WITH CAVITIES

Номер патента: US20140008766A1. Автор: Chen Jun-Rong,Chou Hsiu-Mei,Ye Jhao-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

Stacked package structure and stacked packaging method for chip

Номер патента: US20170110441A1. Автор: Xiaochun Tan. Владелец: Hangzhou Silergy Semiconductor Technology LTD. Дата публикации: 2017-04-20.

EPITAXIAL STRUCTURE AND EPITAXIAL GROWTH METHOD FOR FORMING EPITAXIAL LAYER WITH CAVITIES

Номер патента: US20170154769A1. Автор: Chen Jun-Rong,Chou Hsiu-Mei,Ye Jhao-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

EPITAXIAL STRUCTURE AND EPITAXIAL GROWTH METHOD FOR FORMING EPITAXIAL LAYER WITH CAVITIES

Номер патента: US20150228853A1. Автор: Chen Jun-Rong,Chou Hsiu-Mei,Ye Jhao-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-13.

EPITAXIAL STRUCTURE AND EPITAXIAL GROWTH METHOD FOR FORMING EPITAXIAL LAYER WITH CAVITIES

Номер патента: US20150228854A1. Автор: Chen Jun-Rong,Chou Hsiu-Mei,Ye Jhao-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-13.

STACKED CAPACITOR STRUCTURE AND A FABRICATING METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20140312460A1. Автор: LEE TZUNG-HAN. Владелец: INOTERA MEMORIES, INC.. Дата публикации: 2014-10-23.

STACKED PACKAGE STRUCTURE AND STACKED PACKAGING METHOD FOR CHIP

Номер патента: US20200328191A1. Автор: Tan Xiaochun. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-15.

A kind of closed structure and its manufacture method for wafer-level packaging

Номер патента: CN105600738B. Автор: 贾斌,祝明国,胡念楚. Владелец: RDA MICROELECTRONICS (SHANGHAI) CORP Ltd. Дата публикации: 2018-02-02.

Magnetic screen encapsulating structure and its manufacturing method for MRAM device

Номер патента: CN109559998A. Автор: 高山,郑富阳. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2019-04-02.

Semiconductor device with substrate for electrical connection

Номер патента: US20230369280A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS FOR FORMING PATTERNED RADIATION BLOCKING ON A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20130280851A1. Автор: Borthakur Swarnal,Sulfridge Marc. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

Semiconductor device with fixing feature on which bonding wire is disposed

Номер патента: US20240014165A1. Автор: Wu-Der Yang. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Apparatus and method for treating plasma, and facility for manufacturing semiconductor devices

Номер патента: KR100655445B1. Автор: 박영규,한석현. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-12-08.

Semiconductor devices having a capacitor and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20050073053A1. Автор: Jeong Park. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-04-07.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US20220307818A1. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US11867497B2. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Package Structure for Semiconductor Device and Preparation Method Thereof

Номер патента: US20220319940A1. Автор: CHEN Liu,Yuming Zhang,Hongliang LV. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2022-10-06.

Apparatus and method for generating test pattern data for testing semiconductor device

Номер патента: TW200817698A. Автор: Jong-Koo Kang. Владелец: UniTest Inc. Дата публикации: 2008-04-16.

Apparatus and method for generating test pattern data for testing semiconductor device

Номер патента: TWI333077B. Автор: Jong Koo Kang. Владелец: UniTest Inc. Дата публикации: 2010-11-11.

SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING CRITICAL PARAMETERS RESULTING FROM A SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATION PROCESS

Номер патента: US20180053698A1. Автор: Liu Lianjun,Holm Paige M.. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

OXIDE SINTERED BODY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, SPUTTERING TARGET, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20170069474A1. Автор: Miyanaga Miki,Watatani Kenichi,Awata Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

Method for fabricating air gap for semiconductor device

Номер патента: US7803713B2. Автор: Hsueh-Chung Chen,Shin-puu Jeng,Hsien-Wei Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2010-09-28.

Apparatus and method for dissipating heat in a plurality of semiconductor device modules

Номер патента: CN113314483A. Автор: S·U·阿里芬,曲小鹏. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-08-27.

Apparatus and method for high temperature environmental testing of a semiconductor device

Номер патента: EP0247927B1. Автор: Toshio Usui. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-01-29.

Method for manufacturing semiconductor device with nano-gaps

Номер патента: US20170200633A1. Автор: Yu-Cheng Tung. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-07-13.

Semiconductor device and programming method thereof

Номер патента: US20130037859A1. Автор: Chao Zhao,Huilong Zhu,Huicai Zhong,Qingqing Liang. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2013-02-14.

System and method for characterizing critical parameters resulting from a semiconductor device fabrication process

Номер патента: EP3284715B1. Автор: Lianjun Liu,Paige M. Holm. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2019-08-28.

Method for manufacturing device isolation insulating film of semiconductor device

Номер патента: KR960026618A. Автор: 김승준. Владелец: 현대전자산업 주식회사. Дата публикации: 1996-07-22.

Isolation method of semiconductor device

Номер патента: US5447885A. Автор: Hyun-Jin Cho,Oh-Hyun Kwon,Heung-mo Yang,Yun-sung Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1995-09-05.

Semiconductor device and method of isolating metals in encapsulating material used in semiconductor device

Номер патента: TW510029B. Автор: Yukio Takigawa,Ei Yano. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-11-11.

Method for interconnecting semiconductor devices

Номер патента: US5536683A. Автор: Sun-Chieh Chien,Jeng Ping Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 1996-07-16.

Method for forming metal wiring of semiconductor device

Номер патента: US5459100A. Автор: Kyeong K. Choi. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1995-10-17.

Methods for designing spacers for use in stacking semiconductor devices or semiconductor device components

Номер патента: US20060035408A1. Автор: James Derderian. Владелец: Derderian James M. Дата публикации: 2006-02-16.

Method of fabricating a thin film and metal wiring in a semiconductor device

Номер патента: US20070155169A1. Автор: Han-Choon Lee,In-Cheol Baek. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-05.

Method for fabricating fine pattern in semiconductor device

Номер патента: US20110076851A1. Автор: Jin-Ki Jung. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-03-31.

Method for forming isolation layer of semiconductor device

Номер патента: US20020137307A1. Автор: CHANG Kim,Wan Kim. Владелец: Kim Wan Shick. Дата публикации: 2002-09-26.

Method of forming gate electrode in semiconductor device

Номер патента: US20040259369A1. Автор: Cha Dong,Ho Son. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Method for Processing a Substrate Assembly and Wafer Composite Structure

Номер патента: US20200402832A1. Автор: Francisco Javier Santos Rodriguez,Peter Irsigler. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-12-24.

Engagement structure and engagement method for the same

Номер патента: US20240322486A1. Автор: Ting-Jui Wang. Владелец: Fivegrand International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Vehicle installation structure and vehicle installation method for fuel cell stack

Номер патента: US20210078414A1. Автор: Satoshi Ajisaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Vehicle installation structure and vehicle installation method for fuel cell stack

Номер патента: US11752886B2. Автор: Satoshi Ajisaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

LAMINAR STRUCTURE AND A PRODUCTION METHOD FOR SAME

Номер патента: US20140120457A1. Автор: Choi Han Shin,Joo Hye Sook. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology. Дата публикации: 2014-05-01.

Packaging structure and relative manufacturing method for passive component

Номер патента: TW200635002A. Автор: Han-Cheng Hsu,Xin-Hua Li. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2006-10-01.

Method for detecting hysteresis characteristic of comparator and semiconductor device

Номер патента: US09425776B2. Автор: Yanfei Chen. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-08-23.

Method for forming cylindrical capacitor lower plate in semiconductor device

Номер патента: US5858834A. Автор: Toshiyuki Hirota,Kiyotaka Sakamoto,Shuji Fujiwara. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1999-01-12.

Semiconductor device structure having channel layer with reduced aperture and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240064961A1. Автор: Yu Xiao. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Semiconductor device structure having channel layer with reduced aperture and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240064963A1. Автор: Yu Xiao. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Method for forming a cylinder capacitor in the dram process

Номер патента: US5989954A. Автор: Jenn Ming Huang,Yu-Hua Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1999-11-23.

Multi-stage analog-to-digital converter with pipeline structure and method for coding the same

Номер патента: US20040070530A1. Автор: Seung-bin You. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-04-15.

Circuit and method for generating column path control signals in semiconductor device

Номер патента: TW200820264A. Автор: Seung-Wook Kwack. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-05-01.

Circuit and method for generating column path control signals in semiconductor device

Номер патента: TWI366831B. Автор: Seung Wook KWACK. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Superconducting quantum chip structure and superconducting quantum chip preparation method

Номер патента: EP4227862A1. Автор: Yongjie Zhao. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Grounding structure and grounding method of vacuum tube audio amplifier

Номер патента: CA3013505A1. Автор: Hsi-Hsien Chen. Владелец: Echowell Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Grounding structure and grounding method of vacuum tube audio amplifier

Номер патента: CA3013505C. Автор: Hsi-Hsien Chen. Владелец: Echowell Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

The optical network structure and data transport method for IPTV data transport

Номер патента: KR101029365B1. Автор: 최병화,윤경모,이선무. Владелец: 주식회사 케이티. Дата публикации: 2011-04-13.

Coil inserting structure and coil inserting method for alternating current motor winding

Номер патента: CN113410934A. Автор: 彭飞飞,陈敬东,朱锡辉,万滨滨. Владелец: Kangfu Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-09-17.

Superframe structure and beacon scheduling method for mesh networking

Номер патента: KR101255535B1. Автор: 주성순,채종석,정운철,신창섭,이안석,황소영. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2013-04-16.

Semiconductor device including conductive network of protective film molecules and fine particles

Номер патента: US7626197B2. Автор: Shinichiro Kondo,Daisuke Hobara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2009-12-01.

Layout routing structure and layout routing method for improving SI performance of signal

Номер патента: US11126777B2. Автор: Ning Wu. Владелец: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-21.

Heat dissipation structure and heat dissipation method for electronic controller

Номер патента: CN114867330B. Автор: 郑学强. Владелец: Qingdao Hishing Electronics Co ltd. Дата публикации: 2023-06-23.

Electric motor having wire connection structure and wire connection method for the same

Номер патента: US8358041B2. Автор: Masafumi Sakuma,Ryoji Mizutani,Shigetaka Isogai. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-22.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR DETECTING STATE OF INPUT SIGNAL OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20150102838A1. Автор: CHOI Hoon,BAEK Seung-Geun. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2015-04-16.

Lead coplanarity inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US5563703A. Автор: Christopher J. Lebeau,James E. Hopkins. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1996-10-08.

METHOD FOR COMPENSATING EFFECTS OF SUBSTRATE STRESSES IN SEMICONDUCTOR DEVICES, AND CORRESPONDING DEVICE

Номер патента: US20180026609A1. Автор: Scilla Giuseppe. Владелец: STMICROELECTRONICS S.R.L.. Дата публикации: 2018-01-25.

Method for identifying a peripheral device in a semiconductor device

Номер патента: DE69735907D1. Автор: Hiroshi Kume. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-22.

Form-rolling die structure and form-rolling method for compound screw

Номер патента: US20140338412A1. Автор: Michiwaki Hiroshi. Владелец: Next Innovation GK. Дата публикации: 2014-11-20.

A method for predicting a lifetime of a power semiconductor device

Номер патента: EP4417984A1. Автор: Michal Orkisz,Marcin Firla,Erald Pjetri. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-08-21.

A method for predicting a lifetime of a power semiconductor device

Номер патента: WO2024175541A1. Автор: Michal Orkisz,Marcin Firla,Erald Pjetri. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-08-29.

Photosensitive resin composition, production method for cured relief pattern using it, and semiconductor device

Номер патента: US7598009B2. Автор: Kenichiro Sato,Naoya Sugimoto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-10-06.

Alignment coating structure and alignment coating method for substrate

Номер патента: US20220050335A1. Автор: Guizhi MA,Yongkal LI. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-17.

Method for estimating the early failure rate of semiconductor devices

Номер патента: US20060107094A1. Автор: Thomas Anderson,John Carulli. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-05-18.

Method for determining a matched routing arrangement for semiconductor devices

Номер патента: US20040044977A1. Автор: Michael Lee,Brooklin Gore,Matthew Priest. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-04.

Semiconductor device, memory system, and method of correcting duty cycle of output signal from semiconductor device

Номер патента: US11961586B2. Автор: Kensuke Yamamoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Structure and Method for Producing a Precious Metal Thin-Film Laminate

Номер патента: US20140377517A1. Автор: Paul Diffendaffer,Laurie Johansen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-12-25.

Multi-blocks structure and method for forming a composite part from said structure

Номер патента: CA3240649A1. Автор: Serge Luquain. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-29.

Method for preparing composition

Номер патента: RU2244542C2. Автор: Патрик БУССОН,Марко ШРЁДЕР. Владелец: Ф.Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2005-01-20.

Concrete foundation structure and construction method for same

Номер патента: AU2019439273A1. Автор: Yumiko FUNAKOSHI,Yu NAGAYAMA. Владелец: Prex Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Concrete foundation structure and construction method for same

Номер патента: AU2019439273B2. Автор: Yumiko FUNAKOSHI,Yu NAGAYAMA. Владелец: Prex Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

On-wafer burn-in of semiconductor devices using thermal rollover

Номер патента: US20040119486A1. Автор: Charlie WANG,Hong Hou,Wenlin Luo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-24.

Washer and fastening structure, and fastening release method

Номер патента: EP4411153A1. Автор: Hiroshi Saeki. Владелец: Nippon Plarad Co. Дата публикации: 2024-08-07.

Semiconductor structure and manufacturing method for the same

Номер патента: US10112825B2. Автор: Weng-Yi Chen,Kuan-Yu Wang,Te-Huang Chiu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-10-30.

Composite nano-substance of cocoa-charcoal cladded conjugate structure and manufacturing method for yarn thereof

Номер патента: US20230093187A1. Автор: Si-Rong Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-23.

Temperature control structure and temperature control method for transport container

Номер патента: US20240255208A1. Автор: Akio Sugimoto. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for preparing test samples for semiconductor devices

Номер патента: US20210348990A1. Автор: Qiang Chen,Yanrong Qiu,Jinde Gao. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2021-11-11.

Mounting structure and mounting method for hood of cab

Номер патента: MY201348A. Автор: Xing Zhang,Yangchun Min,Xihong Jin,Fengqin Liu,Xiaorong Yang. Владелец: CRRC Zhuzhou Locomotive Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-19.

Cooling structure and method for control rod drive device and atomic reactor

Номер патента: EP2246860A1. Автор: Nobuki Uda,Chikara Kurimura. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2010-11-03.

Liquid tank puncture repair kit and method

Номер патента: US20060272723A1. Автор: Thomas Ohnstad,Russell Monk,James Jackson Henry. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-12-07.

Liquid tank puncture repair kit and method

Номер патента: WO2006052287A1. Автор: Thomas S. Ohnstad,Russell A. Monk,James J. M. Henry. Владелец: Henry James J M. Дата публикации: 2006-05-18.

Liquid tank puncture repair kit and method

Номер патента: EP1800050A1. Автор: Thomas S. Ohnstad,James J.M. Henry,Russell A. Monk. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-27.

Analyzing an operation of a power semiconductor device

Номер патента: WO2021175564A1. Автор: Angus Bryant. Владелец: Maschinenfabrik Reinhausen GmbH. Дата публикации: 2021-09-10.

Circuit and method for preserving data in sleep mode of semiconductor device using test scan chain

Номер патента: TWI294626B. Автор: Jin-Hyeok Choi,Sam-Yong Bahng. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-03-11.

Injection moulding machine - with injection unit(s) which can pivot for multi gate or multimaterial injection

Номер патента: FR2159568A5. Автор: . Владелец: BRETEAU MICHEL. Дата публикации: 1973-06-22.

Fastening structure and fastening method

Номер патента: US11841040B2. Автор: Kouki Tomimura,Akiyoshi Hikosaka. Владелец: Nippon Steel Nisshin Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Analyzing an operation of a power semiconductor device

Номер патента: EP3875973A1. Автор: Angus Toby Bryant. Владелец: Maschinenfabrik Reinhausen Gebrueder Scheubeck GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-09-08.

Photonic spectrometry device and method, method for calibrating the device, and use of the device

Номер патента: US09400336B2. Автор: Eric Berruyer. Владелец: AREVA NP SAS. Дата публикации: 2016-07-26.

Package structure and packaging method

Номер патента: US20130266774A1. Автор: Pinyen Lin,Yu-Fu Kang. Владелец: Touch Micro System Technology Inc. Дата публикации: 2013-10-10.

Method for testing memory cell in semiconductor device

Номер патента: US6556493B2. Автор: Tae-Kyu Kim,Yoon-Soo Jang,Young-Seon You,Mun-Hwa Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

Cover attachment structure and cover attachment method for cover attachment structure

Номер патента: US20180325224A1. Автор: Yuko Fukuda,Wanli Zhang,Hikaru Okuyama. Владелец: YKK Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

Sock structure and manufacturing method thereof

Номер патента: US20200237022A1. Автор: Yih-Ping Luh. Владелец: Qingyuan Global Technology Services Ltd. Дата публикации: 2020-07-30.

Supplementary Feeding Structure and Supplementary Feeding Method for Calves

Номер патента: LU503045B1. Автор: Li Li,Xuedong Yang. Владелец: Guizhou Extension Station Of Grassland Tech. Дата публикации: 2023-05-15.

Semiconductor device having pda function

Номер патента: US20240242756A1. Автор: Chikara Kondo. Владелец: Longitude Licensing Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Semiconductor device having PDA function

Номер патента: US09715921B2. Автор: Chikara Kondo. Владелец: Longitude Semiconductor SARL. Дата публикации: 2017-07-25.

Semiconductor device having PDA function

Номер патента: US09466343B2. Автор: Chikara Kondo. Владелец: PS4 Luxco SARL. Дата публикации: 2016-10-11.

Temperature control structure and temperature control method for transport container

Номер патента: EP4321825A1. Автор: Akio Sugimoto. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-02-14.

Illumination structure and light distributing method for the illumination structure

Номер патента: US20180066821A1. Автор: Yi Chen,Tzu-Tse Huang,Chuan-Kao Wei,Chih-Wei Tseng,Yi-Ren Lin. Владелец: Adi Optics. Дата публикации: 2018-03-08.

COVER ATTACHMENT STRUCTURE AND COVER ATTACHMENT METHOD FOR COVER ATTACHMENT STRUCTURE

Номер патента: US20180325224A1. Автор: Zhang Wanli,FUKUDA Yuko,Okuyama Hikaru. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-15.

Leakage prevention structure and leakage prevention method for repairing leaks of concrete structures

Номер патента: KR102273788B1. Автор: 최상국,최동석,윤현호,구성만. Владелец: 최동석. Дата публикации: 2021-07-06.

Illumination structure and light distributing method for the illumination structure

Номер патента: US10883691B2. Автор: Yi Chen,Tzu-Tse Huang,Chuan-Kao Wei,Chih-Wei Tseng,Yi-Ren Lin. Владелец: Adi Optics. Дата публикации: 2021-01-05.

On-wafer burn-in of semiconductor devices using thermal rollover

Номер патента: US20040002175A1. Автор: Charlie WANG,Hong Hou,Wenlin Luo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-01-01.

Method for detecting central position of pellet in semiconductor device

Номер патента: JPS57125307A. Автор: Takashi Kamiharashi. Владелец: Kaijo Denki Co Ltd. Дата публикации: 1982-08-04.

Method for evaluating the potential of sphagnum moss material for absorbing liquid

Номер патента: US5661997A. Автор: Yvon Levesque,Sylvaine Cote,Denis Gallagher. Владелец: Johnson and Johnson Inc. Дата публикации: 1997-09-02.

STRESS DETECTION DEVICE FOR LIGHT-TRANSMISSIVE STRUCTURE AND STRESS DETECTION METHOD FOR THE SAME

Номер патента: US20150377722A1. Автор: LIU Fang,FENG Hongbo,DONG Ruijun,ZENG Zhihui,SU YUEFENG. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

The rail fixed structure and it's method for which a spring clip and this were used

Номер патента: KR101072860B1. Автор: 권호진,황광하,박광련,유응대. Владелец: 삼표이앤씨 주식회사. Дата публикации: 2011-10-17.

Apparatus and method for minimizing the delay times in a semiconductor device

Номер патента: US6148434A. Автор: Yasuyuki Nozuyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-11-14.

PIVOTAL ATTACHING STRUCTURE AND PIVOTAL ATTACHING METHOD FOR RELATIVELY ROTATING MEMBERS

Номер патента: US20150016869A1. Автор: SUZUKI Hiroyuki. Владелец: SHIROKI CORPORATION. Дата публикации: 2015-01-15.

ALIGNMENT COATING STRUCTURE AND ALIGNMENT COATING METHOD FOR SUBSTRATE

Номер патента: US20220050335A1. Автор: MA Guizhi,LI Yongkal. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

VEHICLE INSTALLATION STRUCTURE AND VEHICLE INSTALLATION METHOD FOR FUEL CELL STACK

Номер патента: US20210078414A1. Автор: Ajisaka Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

LAYOUT ROUTING STRUCTURE AND LAYOUT ROUTING METHOD FOR IMPROVING SI PERFORMANCE OF SIGNAL

Номер патента: US20210224461A1. Автор: Wu Ning. Владелец: ZHENGZHOU YUNHAI INFORMATION TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2021-07-22.

FORM-ROLLING DIE STRUCTURE AND FORM-ROLLING METHOD FOR COMPOUND SCREW

Номер патента: US20140308092A1. Автор: Hiroshi Michiwaki. Владелец: NEXT INNOVATION INC.. Дата публикации: 2014-10-16.

FORM-ROLLING DIE STRUCTURE AND FORM-ROLLING METHOD FOR COMPOUND SCREW

Номер патента: US20140338412A1. Автор: Hiroshi Michiwaki. Владелец: NEXT INNOVATION INC.. Дата публикации: 2014-11-20.

PRESSURE EQUALIZING STRUCTURE AND PRESSURE EQUALIZING METHOD FOR GASIFICATION FURNACE APPARATUS

Номер патента: US20140345198A1. Автор: Shibata Yasunari,Shinada Osamu,HAARI Kenta. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-27.

Floor sound-absorbing structure and the construction method for preventing interlayer noise

Номер патента: KR101624963B1. Автор: 강성구. Владелец: 강성구. Дата публикации: 2016-05-27.

Structure and temperature cotrol method for cold storage room of refrigerator

Номер патента: KR100301466B1. Автор: 김석노. Владелец: 구자홍. Дата публикации: 2001-09-22.

A floating offshore structure and a management method for the same

Номер патента: KR101848963B1. Автор: 이동진. Владелец: 현대중공업 주식회사. Дата публикации: 2018-04-16.

Soil-nail Structure and Soil-nailing method for slope-reinforcement-construction

Номер патента: KR100448037B1. Автор: 곽윤형,곽근우. Владелец: 함형운. Дата публикации: 2004-09-16.

A flow valve structure and flow changing method for a bidet

Номер патента: KR100585194B1. Автор: 윤순형. Владелец: 주식회사 삼홍테크. Дата публикации: 2006-05-30.

A floating offshore structure and a management method for the same

Номер патента: KR101848965B1. Автор: 이동진. Владелец: 현대중공업 주식회사. Дата публикации: 2018-04-16.

Soil-nail Structure and Soilr-nailing method for slope-reinforcement-construction

Номер патента: KR100448039B1. Автор: 곽윤형. Владелец: 곽윤형. Дата публикации: 2004-09-18.

A floating offshore structure and a management method for the same

Номер патента: KR101848966B1. Автор: 이동진. Владелец: 현대중공업 주식회사. Дата публикации: 2018-04-16.

A structure and the manufacturing method for friction parts on concrete pump

Номер патента: CN1742159A. Автор: 韩乐洙. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-01.

Wafer structure and epitaxial growth method for growing the same

Номер патента: US20060151797A1. Автор: Sung-soo Park. Владелец: Samsung Corning Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-13.

Position matching structure and position matching method for two-sided stepper

Номер патента: WO2014048211A1. Автор: 徐春云. Владелец: 无锡华润上华半导体有限公司. Дата публикации: 2014-04-03.

A kind of Wing structure and its assemble method for vehicle

Номер патента: CN106364573B. Автор: 杜伟,李红艳,汪万松. Владелец: Zhejiang Geely New Energy Commercial Vehicle Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-19.

Floating track structure and its construction method for vibration prevention

Номер патента: KR19980081939A. Автор: 이상진. Владелец: 신종서. Дата публикации: 1998-11-25.

A kind of suction barrel shape foundation structure and its installation method for silt sea bed

Номер патента: CN107724420B. Автор: 王立忠,周文杰,国振. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2019-04-12.

Processor having cache structure and Cache management method for elevating operation speed

Номер патента: KR100486259B1. Автор: 박성배. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-05-03.

Aluminum alloy material, aluminum alloy structure, and a manufacturing method for the same

Номер патента: BR112014013132A2. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2018-08-21.

Structure and motion planning method for downpipe three-dimensional crossing pipeline climbing robot

Номер патента: CN111673720A. Автор: 张兴国,骆杨,胡晓彤,陆金霞. Владелец: Nantong University. Дата публикации: 2020-09-18.

Paper structure and the production method for being formed on its surface groove pattern

Номер патента: CN108312642A. Автор: 黄扬清. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-24.

Sealing structure and its encapsulating method for gaseous fuel

Номер патента: CN107250641B. Автор: 阿兰·M·J·图切特,尼沙·S·西里尔. Владелец: Westport Power Inc. Дата публикации: 2019-06-07.

Pleated filter structure and air filtering method for air cleaner

Номер патента: CN107148309A. Автор: 苏婧,J·玛拉. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2017-09-08.

Rotor spindle structure and its assemble method for gas-turbine unit

Номер патента: CN108005786A. Автор: B.W.米勒,B.H.埃尔塔斯. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-05-08.

A floating offshore structure and a management method for the same

Номер патента: KR101848964B1. Автор: 이동진. Владелец: 현대중공업 주식회사. Дата публикации: 2018-04-16.

Dried hanging hang structure and its application method for stone curtain wall

Номер патента: CN105604223B. Автор: 李燕丽,申利宾,李宴玲. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-12-25.

Packing box structure and glass substrate method for packing

Номер патента: CN105366152B. Автор: 葛丹萍. Владелец: InfoVision Optoelectronics Kunshan Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-03.

A kind of new suction barrel shape foundation structure and its installation method for silt sea bed

Номер патента: CN107724420A. Автор: 王立忠,周文杰,国振. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2018-02-23.

Wafer structure and epitaxial growth method for growing the same

Номер патента: US20090181525A1. Автор: Sung-soo Park. Владелец: Samsung Corning Precision Glass Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-16.

Temperature control structure and temperature control method for transport container

Номер патента: WO2022254987A1. Автор: 明男 杉本. Владелец: 株式会社神戸製鋼所. Дата публикации: 2022-12-08.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: US20050055651A1. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: UMC Japan Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-10.

SYSTEMS AND METHODS FOR TRACKING PROGRESS OF DESIGN OF A SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20190235713A1. Автор: Levy Amir,BORENSTEIN Yuval,BARKAI David. Владелец: MELLANOX TECHNOLOGIES LTD.. Дата публикации: 2019-08-01.

Laser-based irradiation apparatus and methods for monitoring the dose-rate response of semiconductor devices

Номер патента: US7019311B1. Автор: Kevin M. Horn. Владелец: Sandia Corp. Дата публикации: 2006-03-28.

System and method for code and data security in a semiconductor device

Номер патента: EP1280038A2. Автор: David P. Foley,Thiru Gnanasabapathy. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2003-01-29.

Apparatus and method for latency control in high frequency synchronous semiconductor device

Номер патента: TW200636743A. Автор: Sang-Sic Yoon,Si-Hong Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-10-16.

Operating a pipeline flattener in a semiconductor device

Номер патента: US20190303166A1. Автор: Johann Zipperer,Christian Wiencke,Markus Koesler,Wolfgang Lutsch. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-10-03.

Operating a Pipeline Flattener in a Semiconductor Device

Номер патента: US20130046962A1. Автор: Johann Zipperer,Christian Wiencke,Markus Koesler,Wolfgang Lutsch. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-02-21.

Analyzing an operation of a power semiconductor device

Номер патента: WO2020058437A1. Автор: Angus Bryant. Владелец: Maschinenfabrik Reinhausen GmbH. Дата публикации: 2020-03-26.

Analyzing an operation of a power semiconductor device

Номер патента: EP3627162A1. Автор: Angus Bryant. Владелец: Maschinenfabrik Reinhausen Gebrueder Scheubeck GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-03-25.

Apparatus and method for latency control in high frequency synchronous semiconductor device

Номер патента: TWI276112B. Автор: Sang-Sic Yoon,Si-Hong Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-03-11.

Semiconductor device and method of adjusting internal power supply potential of the semiconductor device

Номер патента: US5736894A. Автор: Makoto Suwa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

Multi-gate semiconductor devices

Номер патента: US20120001230A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001324A1. Автор: Watabe Hiroshi,AOKI Hideo,MUKAIDA Hideko,Fukuda Masatoshi,Koshio Yasuhiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003809A1. Автор: KIM Young Deuk. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

A motorcycle chassis structure and the manufacturing method for the motorcycle equipped with the same chassis structure

Номер патента: TW200724434A. Автор: Yu-Wei Chen. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-01.

A sealing structure and the sealing method for a printhead

Номер патента: TW200714478A. Автор: Ying-Lun Chang,Hsien-Chung Tai. Владелец: Microjet Technology Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-16.

A Touch Sensing Structure and Its Making Method for Reducing Reflectivity

Номер патента: TWI537785B. Автор: wen-kai Luo,xi-yao Wu. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-11.

A sealing structure and the sealing method for a printhead

Номер патента: TWI259808B. Автор: Ying-Lun Chang,Hsien-Chung Tai. Владелец: Microjet Technology Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-11.

Anti-floating pile for underground structures and anti-floating method for underground structures

Номер патента: JP5882143B2. Автор: 英一郎 佐伯. Владелец: Hinode Ltd. Дата публикации: 2016-03-09.

Joint material for concrete structure and joint finishing method for concrete structure using the same

Номер патента: JP2651294B2. Автор: 恵三 田辺,勇次郎 菅谷. Владелец: MATETSUKUSU KK. Дата публикации: 1997-09-10.

Suspended ceiling structure and seismic retrofitting method for suspended ceiling structure

Номер патента: JP6164447B2. Автор: 英雄 内本,記彦 櫻庭,美香 石井. Владелец: Shimizu Corp. Дата публикации: 2017-07-19.

A thin film structure and a fabrication method for the thin film structure

Номер патента: TWI342829B. Автор: Arthur Chang,Fu Ming Chen,Tsungtang Shih. Владелец: Asustek Comp Inc. Дата публикации: 2011-06-01.

A thin film structure and a fabrication method for the thin film structure

Номер патента: TW200938370A. Автор: Arthur Chang,Fu-Ming Chen,Tsung-Tang Shih. Владелец: Asustek Comp Inc. Дата публикации: 2009-09-16.

Method for forming silicide in removable spacer of semiconductor device

Номер патента: TW471041B. Автор: Jian-Ting Lin,Hua-Jou Tzeng. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2002-01-01.

A kind of pile tube combining structure and for the method for construction of Wharf Engineering

Номер патента: CN103321237B. Автор: 刘松,刘声树. Владелец: CCCC Second Harbor Consultants Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-25.

HYBRID CIRCUIT STRUCTURE AND PARTIAL BACKFILL METHOD FOR IMPROVING THERMAL CYCLING RELIABILITY OF SAME

Номер патента: US20130069192A1. Автор: Cooper Donald E.,TENNANT William E.. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-21.

Intersection structure and signal control method for increasing green signal time

Номер патента: KR19990074477A. Автор: 김용덕,곽동달. Владелец: 이종수. Дата публикации: 1999-10-05.

Body fixing structure and body fixing method for decorative panel

Номер патента: JP4703412B2. Автор: 東宣 小神野,康久 白谷. Владелец: Sanwa Shutter Corp. Дата публикации: 2011-06-15.

A kind of test structure and its manufacturing method for array substrate

Номер патента: CN103926761B. Автор: 梁艳峰. Владелец: Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-10.

Energy absorption structure and energy absorption method for automobile

Номер патента: JP4321250B2. Автор: 伸敏 清水. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-26.

Wear prevention structure and wear prevention method for sidewall of pallet truck

Номер патента: JP5884188B2. Автор: 英司 半田. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2016-03-15.

Reinforcement arrangement structure and reinforcement arrangement method for column

Номер патента: JP2005273321A. Автор: Kouji Maehama,光爾 前浜. Владелец: Shimizu Corp. Дата публикации: 2005-10-06.

Encapsulation structure and its encapsulation method for computer electric microphone

Номер патента: CN101150886B. Автор: 陈荣泰,朱俊勋. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2011-07-13.

Crack inducing joint structure and water stopping method for concrete wall

Номер патента: JPH1037320A. Автор: Shinichi Oeda,伸一 大枝,Yasushi Sawai,康 澤井. Владелец: Shimizu Corp. Дата публикации: 1998-02-10.

Seismic reinforcement structure and seismic reinforcement method for concrete frame

Номер патента: JP5594889B2. Автор: 幸弘 竹本,知幸 田村. Владелец: 株式会社ケー・エフ・シー. Дата публикации: 2014-09-24.

Fillet welding structure and fillet welding method for axle housing

Номер патента: JP4886532B2. Автор: 靖之 栗田. Владелец: Press Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2012-02-29.

Edge sealing structure and edge sealing method for multilayer board

Номер патента: CN102259375A. Автор: 何志雄,余成强. Владелец: ZHONGSHAN FOURSEAS FURNITURE Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-30.

Fall prevention structure and fall prevention method for existing finished walls

Номер патента: JP4289627B2. Автор: 毅 大塚,威夫 末綱. Владелец: 日本樹脂施工協同組合. Дата публикации: 2009-07-01.

Water shutoff structure and water stop method for temporary closing

Номер патента: JP4604771B2. Автор: 康博 飯田,正三 加藤,浩二 上野. Владелец: Obayashi Corp. Дата публикации: 2011-01-05.

Oil supply structure and oil supply method for linear guide apparatus

Номер патента: JP2010190306A. Автор: Kazuaki Oga,和昭 大賀. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2010-09-02.

Gas seal structure and gas seal method for rotary kiln

Номер патента: JP5708380B2. Автор: 万雄 工藤,俊彦 永倉,秋宏 田邊,敦 貝掛,将史 開田. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2015-04-30.

Online cleaning structure and online cleaning method for heat exchanger

Номер патента: CN112696972A. Автор: 苟海燕. Владелец: National Energy Group Coal Coking Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-23.

LED packaged structure and surface roughening method for same

Номер патента: CN102820400B. Автор: 刘国旭. Владелец: Shineon Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-18.

Hybrid self - assembly molecular structure and its preparation method for reducing spore germination rate

Номер патента: TWI465343B. Автор: . Владелец: Univ Nat Formosa. Дата публикации: 2014-12-21.

Semiconductor device and method for manufacturing metal electrode used in the semiconductor device

Номер патента: JP2759025B2. Автор: 良忠 米田. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1998-05-28.

Method for manufacturing device isolation oxide film of semiconductor device

Номер патента: KR960026585A. Автор: 김승준. Владелец: 현대전자산업 주식회사. Дата публикации: 1996-07-22.