• Главная
  • Electrostatic deflector, for electron beam exposure apparatus, with reduced charge-up

Electrostatic deflector, for electron beam exposure apparatus, with reduced charge-up

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Heat-spreading blanking system for high throughput electron beam apparatus

Номер патента: US09881764B2. Автор: Christopher Sears,Xinrong Jiang,Douglas Larson. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Electron beam processing

Номер патента: US20030047691A1. Автор: Christian Musil,J. Casey,Thomas Gannon,Clive Chandler,Xiadong Da. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2003-03-13.

Electron beam processing

Номер патента: WO2003012551A1. Автор: Clive Chandler,Xiadong Da,Christian R. Musil,David J. Casey, Jr.,Thomas J. Gannon. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2003-02-13.

Electron beam exposure method

Номер патента: US20140120475A1. Автор: Masahiro Takizawa,Shinichi Hamaguchi,Masaki Kurokawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-05-01.

Electron beam exposure method

Номер патента: US20150243482A1. Автор: Masahiro Takizawa,Shinichi Hamaguchi,Masaki Kurokawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Electron beam exposure method

Номер патента: US9116434B2. Автор: Masahiro Takizawa,Shinichi Hamaguchi,Masaki Kurokawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2015-08-25.

Circuit pattern design method,exposure method, charged-particle beam exposure system

Номер патента: US20020010906A1. Автор: Ryoichi Inanami,Shunko Magoshi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-01-24.

Electron beam exposure method

Номер патента: US9213240B2. Автор: Masahiro Takizawa,Shinichi Hamaguchi,Masaki Kurokawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2015-12-15.

Multi charged particle beam exposure method and multi charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US10134565B2. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-11-20.

Exposure apparatus and exposure method

Номер патента: US20170358426A1. Автор: Akio Yamada,Masahiro Seyama,Masaki Kurokawa,Shinji Sugatani. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Frame member for electron beam lithography device and electron beam lithography device

Номер патента: US20210375579A1. Автор: Koji Akashi,Shigenobu Furukawa. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Frame member for electron beam lithography device and electron beam lithography device

Номер патента: US11934096B2. Автор: Koji Akashi,Shigenobu Furukawa. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Exposure apparatus and exposure method

Номер патента: US9734988B2. Автор: Akio Yamada,Masahiro Seyama,Masaki Kurokawa,Shinji Sugatani. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Method for controlling the electronic beam exposure of wafers and masks using proximity correction

Номер патента: US20120293787A1. Автор: Reinhard Galler. Владелец: EQUICON SOFTWARE GMBH JENA. Дата публикации: 2012-11-22.

Multi charged particle beam exposure method and multi charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20180166254A1. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-06-14.

Electron beam apparatus and positional displacement correcting method of electron beam

Номер патента: US20180090298A1. Автор: Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-29.

Electron beam drawing apparatus, electron beam drawing method, and storage medium

Номер патента: US09430607B2. Автор: Masakazu HAMAJI,Takuya Tao. Владелец: Nippon Control System Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Direct nanolithography or printing method for electron beams in wet environment

Номер патента: US20170075234A1. Автор: Yue Lu,Furong CHEN,Manling Sui. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-03-16.

Patterning method using electron beam and exposure system configured to perform the same

Номер патента: US09411236B2. Автор: Yongseok Jung,Sanghee Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Exposure apparatus, exposure method and semiconductor device production method

Номер патента: EP1544895A3. Автор: Shigeru Moriya. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2007-01-17.

E-Beam Exposure Apparatus

Номер патента: US20090166552A1. Автор: Dong Sik Jang. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Multicolumn charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20170323760A1. Автор: Shinichi Kojima,Akio Yamada,Takamasa Sato,Masaki Kurokawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Electron beam lithography with a bilayer resist

Номер патента: AU2021236441A1. Автор: Ivan Milosavljevic,Amanda Simpson,Antonio Mei. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2022-05-19.

Electron beam lithography with a bilayer resist

Номер патента: EP3995895A1. Автор: Ivan Milosavljevic,Amanda Simpson,Antonio Mei. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2022-05-11.

Electron Beam Lithography With a Bilayer Resist

Номер патента: US20220137510A1. Автор: Ivan Milosavljevic,Amanda Simpson,Antonio Mei. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2022-05-05.

Spectrometer objective for electron beam mensuration techniques

Номер патента: US4808821A. Автор: Juergen Frosien,Hans-Peter Feuerbaum. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1989-02-28.

Deflector for multiple electron beams and multiple beam image acquiring apparatus

Номер патента: US20190378676A1. Автор: John Hartley. Владелец: Nuflare Technology America Inc. Дата публикации: 2019-12-12.

Electron Beam Interference Device and Electron Beam Interferometry

Номер патента: US20140332684A1. Автор: Hiroto Kasai,Ken Harada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-11-13.

Radiation correction method for electron beam lithography

Номер патента: US20040086786A1. Автор: San-De Tzu,Wei-Zen Chou,Chia Wu,Ching Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Charged particle beam exposure apparatus and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US6255663B1. Автор: Atsushi Yamada,Koichi Kamijo. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2001-07-03.

Method for correcting electron beam exposure data

Номер патента: US20060284120A1. Автор: Hiroshi Takita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-12-21.

Electron beam exposure device and exposure method

Номер патента: US20060252160A1. Автор: Tadahiro Ohmi,Shigetoshi Sugawa,Kiwamu Takehisa,Kimio Yanagida. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-09.

Method for electron beam-induced processing of a defect of a microlithographic photomask

Номер патента: US20240036456A1. Автор: Gilles Tabbone. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-02-01.

High resolution electron beam apparatus with dual-aperture schemes

Номер патента: EP4281988A1. Автор: Christopher Sears,Xinrong Jiang,Luca Grella,Nikolai Chubun. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Charged particle beam lens apparatus, charged particle beam column, and charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US10049854B2. Автор: Shinichi Kojima,Tomohiko Abe. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-08-14.

Alignment marks for electron beam lithography

Номер патента: US4407933A. Автор: David B. Fraser,Roderick K. Watts. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1983-10-04.

Spatial light modulator driven photocathode source electron beam pattern generator

Номер патента: WO2002013226A8. Автор: Paul C Allen. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-11-13.

Spatial light modulator driven photocathode source electron beam pattern generator

Номер патента: WO2002013226A3. Автор: Paul C Allen. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-09-06.

Spatial light modulator driven photocathode source electron beam pattern generator

Номер патента: EP1309983A2. Автор: Paul C. Allen. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-05-14.

Simplified reticle stage removal system for an electron beam system

Номер патента: US20030141461A1. Автор: Douglas Watson,W. Novak. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-07-31.

Method and system for adaptively scanning a sample during electron beam inspection

Номер патента: US09734987B2. Автор: HONG Xiao,Vivekanand Kini,David Chen,Gary Fan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Electron beam control method, electron beam drawing apparatus and method of fabricating a semiconductor device

Номер патента: US20060097191A1. Автор: Hiroyuki Mizuno. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-11.

Electromagnetic lens for electron beam exposure apparatus

Номер патента: US8957389B2. Автор: Akio Yamada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2015-02-17.

Apparatus and methods for electron beam lithography using array cathode

Номер патента: US09715995B1. Автор: Keith Standiford,Alan D. Brodie,Paul F. Petric. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Electron-beam irradiation apparatus and maintenance method for electron-beam irradiation apparatus

Номер патента: US20240087836A1. Автор: Masahiro Nagai,Toshio Kimura. Владелец: NHV Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Electron beam diagnostic for profiling high power beams

Номер патента: WO2006088486A1. Автор: John W. Elmer,Alan T. Teruya,Todd A. Palmer. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2006-08-24.

Test method of mask for electron-beam exposure and method of electron-beam exposure

Номер патента: US20010054697A1. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Electron beam exposure apparatus and electron beam exposure method

Номер патента: GB2379082A. Автор: Hitoshi Tanaka. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-02-26.

Manufacturing method of mask for electron beam proximity exposure and mask

Номер патента: US20020071994A1. Автор: Nobuo Shimazu,Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

Methods for forming pattern using electron beam and cell masks used in electron beam lithography

Номер патента: US20070166646A1. Автор: Seong-Woon Choi,Hee-Bom Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-07-19.

Methods for electron beam patterning

Номер патента: US9182660B2. Автор: BURN JENG LIN,Jaw-Jung Shin,Wen-Chuan Wang,Shy-Jay Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-11-10.

Plasma polymerized electron beam resist

Номер патента: EP1521997A2. Автор: Dominique Drouin,Yousef Awad,Jacques Beauvais,Eric Lavallee. Владелец: Quantiscript Inc. Дата публикации: 2005-04-13.

Exposure apparatus, manufacturing method of flat-panel display, device manufacturing method, and exposure method

Номер патента: US20200174373A1. Автор: Yasuo Aoki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Electron beam lithography with reduced charging effects

Номер патента: CA2103411C. Автор: Christophe Pierrat,John Joseph Demarco. Владелец: American Telephone and Telegraph Co Inc. Дата публикации: 1998-09-15.

Electron Beam Transport System

Номер патента: US20190246486A1. Автор: Roelof Harm KLUNDER,Gijsbertus Geert PGORTER,Johannes Aldegonda Theodoras Marie VAN DEN HOMBERG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2019-08-08.

Light exposure apparatus with cooling means

Номер патента: US4535234A. Автор: Takashi Fujimura,Masahiro Nishizawa,Katsuyu Takahashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1985-08-13.

Low energy electron beam lithography

Номер патента: US09557658B2. Автор: Takao Utsumi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-31.

Electron beam device

Номер патента: EP4170693A1. Автор: Alexander Henstra,Yuchen Deng,Holger Kohr. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-04-26.

EUV microlithography projection exposure apparatus with a heat light source

Номер патента: US09588435B2. Автор: Damian Fiolka. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-03-07.

Method for manufacturing electrostatic deflector, and electrostatic deflector

Номер патента: EP4254466A1. Автор: Takeshi Muneishi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Manufacturing method for electrostatic deflector and electrostatic deflector

Номер патента: US20240153731A1. Автор: Takeshi Muneishi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Electron beam window tile having non-uniform cross-sections

Номер патента: US09715990B2. Автор: Imtiaz Rangwalla,Rich ALEXY,Jonathan Baroud. Владелец: Energy Sciences Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Electrostatic deflector for charged particle optics

Номер патента: EP4303907A1. Автор: Markus DRESCHER,Jette Heyer,Philipp Wessels-Staarmann. Владелец: UNIVERSITAET HAMBURG. Дата публикации: 2024-01-10.

Exposure apparatus for forming a reticle

Номер патента: US20140218710A1. Автор: URAZAEV Vladimir,Jin Choi,Jin-Ha Jeong,Hea-Yun Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-08-07.

Electron beam recording materials

Номер патента: GB1333902A. Автор: . Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1973-10-17.

Magnetic deflector for an electron column

Номер патента: US20100148086A1. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Electron Microscope And Electron Beam Inspection System

Номер патента: US20080265161A1. Автор: Masaki Hasegawa,Hideo Todokoro,Hisaya Murakoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Micro-column electron beam apparatus

Номер патента: US20060151716A1. Автор: Dae Kim,Jin Jeong,Sang Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2006-07-13.

Electron beam processing with condensed ice

Номер патента: WO2012099635A3. Автор: Jene A. Golovchenko,Daniel Branton,Anpan Han. Владелец: President and Fellows of Harvard College. Дата публикации: 2012-12-27.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus and methods for high-resolution electron beam imaging

Номер патента: US20130256530A1. Автор: Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Electron beam microscope

Номер патента: US20240304410A1. Автор: Erik Essers. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Electron beam application apparatus

Номер патента: US20220319798A1. Автор: Takeshi Morimoto,Akira Ikegami,Yasuhiro Shirasaki,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Creating multiple electron beams with a photocathode film

Номер патента: EP4427255A1. Автор: Michael Steigerwald,Xinrong Jiang,Ralph Nyffenegger,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Electrostatic quadrupole deflector for microcolumn

Номер патента: US09666407B2. Автор: Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Tae Sik Oh. Владелец: Industry University Cooperation Foundation of Sun Moon University. Дата публикации: 2017-05-30.

Electron beam equipment

Номер патента: US09543053B2. Автор: Hajime Kawano,Yasunari Sohda,Takeyoshi Ohashi,Takafumi Miwa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Electron beam illumination device, and exposure apparatus with electron beam illumination device

Номер патента: US6037601A. Автор: Masahiko Okunuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2000-03-14.

Electron beam irradiation apparatus, electron beam exposure apparatus, and defect detection method

Номер патента: US6784426B2. Автор: Takayuki Sugiura,Hideki Nasuno. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-08-31.

Electron-beam irradiation apparatus and maintenance method for electron-beam irradiation apparatus

Номер патента: US12033828B2. Автор: Masahiro Nagai,Toshio Kimura. Владелец: NHV Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Detector for electron column and method for detecting electrons for electron column

Номер патента: EP1929505A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Detector for electron column and method for detecting electrons for electron column

Номер патента: US20090014650A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-01-15.

Detector for electron column and method for detecting electrons for electron column

Номер патента: WO2007021163A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-02-22.

Calibration method for electron beam exposer

Номер патента: US4763004A. Автор: HIROSHI Yasuda,Takayuki Miyazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1988-08-09.

Illumination system for electron beam lithography tool

Номер патента: EP1091386A3. Автор: Victor Katsap,Daniel Moonen,Warren Kazmir Waskiewicz,Peter Kruit. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2006-03-01.

Detector for electron column and method for detecting electrons for electron column

Номер патента: US8324573B2. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-04.

System for tomographic determination of the power distribution in electron beams

Номер патента: US5468966A. Автор: Dennis W. O'Brien,John W. Elmer,Alan T. Teruya. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 1995-11-21.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Electron beam pattern-writing column

Номер патента: WO1997025735A1. Автор: Thomas Chisholm. Владелец: Leica Lithography Systems Ltd.. Дата публикации: 1997-07-17.

Adjustment method and electron beam device

Номер патента: US20210012997A1. Автор: Tatsuya Kohama,Kenji Watanabe,Takehide Hayashi,Tsutomu Karimata,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

High throughput multi-electron beam system

Номер патента: US11869743B2. Автор: Xinrong Jiang. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

High throughput multi-electron beam system

Номер патента: EP4285399A1. Автор: Xinrong Jiang. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Miniature hybrid electron beam column

Номер патента: EP4427256A1. Автор: James Spallas,Lawrence Muray,Alan Brodie,John Gerling. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Electron beam irradiation device

Номер патента: US09960007B2. Автор: Takashi Sato,Hiroyuki Kashiwagi,Kazuto Matsuki,Ryoichi SUSUKI. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Illumination system for an EUV projection lithographic projection exposure apparatus

Номер патента: US09851641B2. Автор: Michael Patra. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-12-26.

EUV light source for a lighting device of a microlithographic projection exposure apparatus

Номер патента: US09823571B2. Автор: Michael Patra. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-11-21.

Alignment target for electron-beam write system

Номер патента: CA1195437A. Автор: T. Grant Davis. Владелец: Fairchild Camera and Instrument Corp. Дата публикации: 1985-10-15.

Electron-beam (e-beam) based semiconductor device features

Номер патента: WO2016133837A1. Автор: Stanley Seungchul SONG,Jeffrey Junhao XU,Da YANG,Choh fei Yeap. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2016-08-25.

Faraday cup for determination of power density distribution of electron beams

Номер патента: WO2000072048A1. Автор: John W. Elmer,Alan T. Teruya. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2000-11-30.

Electron-beam (E-beam) based semiconductor device features

Номер патента: US09502283B2. Автор: Stanley Seungchul SONG,Jeffrey Junhao XU,Da YANG,Choh fei Yeap. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Projection exposure apparatus with at least one manipulator

Номер патента: US09846367B2. Автор: Boris Bittner,Norbert Wabra,Martin von Hodenberg. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-12-19.

Ceramic structure and electrostatic deflector

Номер патента: US20230257307A1. Автор: Yuta Imaeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Electron beam exposure system and electron lens

Номер патента: US6777694B2. Автор: Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-08-17.

Electron exit window foil for electron beam emitter

Номер патента: US20230402245A1. Автор: Alaa Omrane. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2023-12-14.

Exposure regulated scanning illumination means for electron projection systems

Номер патента: US3854071A. Автор: M Heritage,G Wardly. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1974-12-10.

Method for Focusing Electron Beam in Electron Column

Номер патента: US20090200482A1. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-13.

Method for focusing electron beam in electron column

Номер патента: WO2007066961A1. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-06-14.

Method for focusing electron beam in electron column

Номер патента: US7902521B2. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-08.

Electron beam irradiation apparatus

Номер патента: US20200411275A1. Автор: Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2020-12-31.

Electron beam line evaporator

Номер патента: US4778974A. Автор: Siegfried Schiller,Manfred Neumann,Henry Morgner,Peter Unganz. Владелец: Bakish Materials Corp. Дата публикации: 1988-10-18.

Electron beam system

Номер патента: US20230317404A1. Автор: Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Electron beam exposure apparatus, electron lens, and device manufacturing method

Номер патента: US20020047096A1. Автор: Susumu Goto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-25.

System for electron beam detection

Номер патента: US09778186B2. Автор: Shinichi Kojima,Michael R. Gluszczak,Joseph A. DiRegolo,Hamada WAHBA. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

System for electron beam detection

Номер патента: WO2015160922A1. Автор: Shinichi Kojima,Michael R. Gluszczak,Joseph A. Di Regolo,Hamada WAHBA. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-22.

Height sensing system for electron beam metrology tool

Номер патента: US20240355579A1. Автор: Peter Lin,Yeishin Tung,Chengping Zhang,Mi ZHANG,Sameet SHRIYAN. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Height sensing system for electron beam metrology tool

Номер патента: WO2024226248A1. Автор: Peter Lin,Yeishin Tung,Chengping Zhang,Mi ZHANG,Sameet SHRIYAN. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-10-31.

Liquid crystal alignment using electron beam exposure

Номер патента: US20060000986A1. Автор: Satyendra Kumar,Carlos Vargas-Aburto,Qingbing Wing. Владелец: KENT STATE UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-01-05.

Device for electron-beam heating of materials

Номер патента: US4105890A. Автор: Boris A. Movchan,Viktor A. Timashov,Konstantin N. Kljuev. Владелец: Individual. Дата публикации: 1978-08-08.

Charged particle beam exposure apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09824860B2. Автор: Akio Yamada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Multi-beam inspection apparatus with improved detection performance of signal electrons

Номер патента: US11721521B2. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Zhong-Wei Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-08.

Multi-electron beam image acquisition apparatus and multi-electron beam image acquisition method

Номер патента: US20240282547A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Multi charged particle beam exposure method, and multi charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20170352520A1. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-07.

Electron beam lithography process with multiple columns

Номер патента: US09589764B2. Автор: Wen-Chuan Wang,Shy-Jay Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Electron beam recorder and electron beam irradiation position detecting method

Номер патента: US20080144472A1. Автор: Shinya Abe,Masahiko Tsukuda. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-19.

Electron beam monitoring device and electron beam irradiation system

Номер патента: EP4390975A1. Автор: Shinjiro Matsui. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-26.

Evaluation method and evaluation apparatus for electronic device

Номер патента: US11062876B2. Автор: Shoji Ikeda,Masaaki Niwa,Tetsuo Endoh,Kosuke Kimura. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2021-07-13.

Evaluation method and evaluation apparatus for electronic device

Номер патента: US20190304741A1. Автор: Shoji Ikeda,Masaaki Niwa,Tetsuo Endoh,Kosuke Kimura. Владелец: Toray Research Center Inc. Дата публикации: 2019-10-03.

Electron beam deflector

Номер патента: WO2023094795A1. Автор: Alex O'FARRELL. Владелец: Aquasium Technology Limited. Дата публикации: 2023-06-01.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Multiple-beam system for high-speed electron-beam inspection

Номер патента: WO2012128967A3. Автор: Xinrong Jiang,Liqun Han,John D. Greene. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-13.

Electron beam applying apparatus for recording information

Номер патента: EP1769521B1. Автор: Takashi Obara,Takeshi Miyazaki,Hideyuki Ohyi. Владелец: Crestec Corp. Дата публикации: 2012-03-07.

Electron beam irradiation device

Номер патента: US7705330B2. Автор: Seitaro NAKAO. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2010-04-27.

Electron beam apparatus with means for generating a rotation-symmetrical magnetic field

Номер патента: US3731094A. Автор: Poole J Le. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1973-05-01.

Projection electron beam lithography apparatus and method employing an estimator

Номер патента: US20020147507A1. Автор: Stuart Stanton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-10.

System and method for aligning electron beams in multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20230280293A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi,Xinan LUO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-07.

Electron-Beam Lithography Process with Multiple Columns

Номер патента: US20160284504A1. Автор: Wen-Chuan Wang,Shy-Jay Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Electron beam irradiation apparatus

Номер патента: US20140021348A1. Автор: Hajime Kawano,Shahedul Hoque. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Electron beam vaporizer and method for vaporizing a vaporization material by means of an electron beam

Номер патента: US20190318909A1. Автор: Carsten Deus. Владелец: Von Ardenne Asset GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-10-17.

Electron beam source and electron optical apparatus with one

Номер патента: DE10245052A1. Автор: Michael Dr. Steigerwald. Владелец: Leo Elektronenmikroskopie GmbH. Дата публикации: 2004-04-08.

Electron beam exposure apparatus and method

Номер патента: US20140131589A1. Автор: Akio Yamada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-05-15.

Electron-beam exposure system

Номер патента: US20060284119A1. Автор: Masaki Kurokawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-12-21.

Electron beam exposure data processing method, electron beam exposure method and apparatus

Номер патента: US5210696A. Автор: Keiko Yano. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1993-05-11.

Method and apparatus for electron-beam lithography

Номер патента: US7342241B2. Автор: Yasuko Aoki,Tsutomu Tawa,Yoshimitsu Saze. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-03-11.

Method and apparatus for electron-beam lithography

Номер патента: US20060011080A1. Автор: Yasuko Aoki,Tsutomu Tawa,Yoshimitsu Saze. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-01-19.

Multi-electron beam exposure method and apparatus

Номер патента: EP1387389A3. Автор: Shinichi Hashimoto,Haruo Yoda,Yoshikiyo Yui,Hiroya Hitachi Ltd. Ohta,Yasunari Hitachi Ltd. Souda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-01-04.

Optically-addressed phase modulator for electron beams

Номер патента: US12033829B2. Автор: Mark A. Kasevich,Adam Bowman,Stewart A. KOPPELL. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2024-07-09.

Electron beam exposure system

Номер патента: US5105089A. Автор: Akio Yamada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-04-14.

High resolution electron beam exposure machines

Номер патента: US20040217303A1. Автор: Martin Lepselter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-11-04.

Patterned heat conducting photocathode for electron beam source

Номер патента: WO2001009913A3. Автор: Andres Fernandez,Kim Lee,Marian Mankos,Tai-Hon Philip Chang,Steven T Coyle. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2001-10-04.

Charged-beam exposure system

Номер патента: US4914304A. Автор: Kiyomi Koyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1990-04-03.

Method of operating emitter for electron-beam projection lithography system

Номер патента: US20070278425A1. Автор: Chang-Hoon Choi,In-kyeong Yoo,Chang-wook Moon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-12-06.

Patterned heat conducting photocathode for electron beam source

Номер патента: EP1200977A2. Автор: Andres Fernandez,Kim Lee,Marian Mankos,Tai-Hon Philip Chang,Steven T. Coyle. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-05-02.

Electron beam exposure device

Номер патента: US5945683A. Автор: HIROSHI Yasuda,Hitoshi Tanaka,Yoshihisa Ooae,Tatsuro Ohkawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1999-08-31.

Electron-beam exposure system having an improved rate of exposure throughput

Номер патента: US5448075A. Автор: HIROSHI Yasuda,Shunsuke Fueki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1995-09-05.

Charged-particle beam exposure apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US20120126136A1. Автор: Hirohito Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-24.

Particle-beam exposure apparatus with overall-modulation of a patterned beam

Номер патента: WO2007112465A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication AG. Дата публикации: 2007-10-11.

Specimen stages for electron beam instruments

Номер патента: GB1477458A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1977-06-22.

Misalignment inspection method, charge beam exposure method, and substrate for pattern observation

Номер патента: US20010006216A1. Автор: Toru Koike. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-07-05.

Charged-particle beam exposure apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US8618516B2. Автор: Hirohito Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-12-31.

Charged-particle beam exposure apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US8981321B2. Автор: Hirohito Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-17.

Electron gun, electron beam application device, and method for forming multi-electron beam

Номер патента: EP4432328A1. Автор: Hokuto Iijima. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Charged particle beam exposure method utilizing subfield proximity corrections

Номер патента: US6087052A. Автор: Yasuo Manabe,Hiromi Hoshino. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2000-07-11.

Electron beam aperture element with beam shielding

Номер патента: EP1121704A1. Автор: Tao Zhang. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2001-08-08.

Method of and machine for pattern writing by an electron beam

Номер патента: EP1000437A1. Автор: David Martin Platton King,Barrie James Hughes. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2000-05-17.

Method of and machine for pattern writing by an electron beam

Номер патента: WO1999007009A1. Автор: David Martin Platton King,Barrie James Hughes. Владелец: Leica Lithography Systems Ltd.. Дата публикации: 1999-02-11.

Electron beam imaging with dual Wien-filter monochromator

Номер патента: US09443696B2. Автор: Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Electron beam irradiating apparatus and irradiating method

Номер патента: US7326943B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-02-05.

Electron beam irradiating apparatus and irradiating method

Номер патента: US20060192148A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-31.

Electron Beam Apparatus And Method Of Generating An Electron Beam Irradiation Pattern

Номер патента: US20100078555A1. Автор: Yuji Inoue,Masato Muraki,Haruo Yoda,Ryo Fujita,Kimiaki Ando. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-01.

Charged particle beam exposure method and apparatus

Номер патента: US5099133A. Автор: Akio Yamada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-03-24.

System and method for drift compensation on an electron beam based characterization tool

Номер патента: WO2017165308A1. Автор: Christopher Sears,Frank Laske. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-09-28.

System and method for drift compensation on an electron beam based characterization tool

Номер патента: US09892885B2. Автор: Christopher Sears,Frank Laske. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Apparatus and methods for aberration correction in electron beam based system

Номер патента: US09607802B2. Автор: Christopher F. Bevis. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Dual-mode electron beam lithography machine

Номер патента: GB2404783A. Автор: Timothy Groves. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2005-02-09.

Dual-mode electron beam lithography machine

Номер патента: US7053388B2. Автор: Gerhard Schubert,Brian Rafferty,Klaus-Dieter Adam,Nigel Crosland,Timothy Groves,Jeffrey Kristoff. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2006-05-30.

Electron beam apparatus

Номер патента: US20140361168A1. Автор: MITSUHIRO Togashi,TAKASHI Ogawa,YASUTSUGU Usami. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-12-11.

Minimization of electron fogging in electron beam lithography

Номер патента: EP1200979A1. Автор: Lee H. Veneklasen,Chen Hwa,Robert Innes,Allan L. Sagle,Sergey V. Babin. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2002-05-02.

Electron-beam spot optimization

Номер патента: WO2017184232A1. Автор: Eric Miller,Richard Zimmerman,Dustin Peterson,Vince Jones. Владелец: Moxtek, Inc.. Дата публикации: 2017-10-26.

Electron-Beam Spot Optimization

Номер патента: US20170309436A1. Автор: Eric Miller,Richard Zimmerman,Dustin Peterson,Vince Jones. Владелец: Moxtek Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

High voltage electron beam system and method

Номер патента: US09911571B2. Автор: Yosef Basson. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Method and means for dynamic correction of electrostatic deflector for electron beam tube

Номер патента: US4142132A. Автор: Kenneth J. Harte. Владелец: Control Data Corp. Дата публикации: 1979-02-27.

Output window for electron beam in isotope production

Номер патента: RU2762668C9. Автор: Дуглас УЛРИХ. Владелец: Канейдьен Лайт Сорс Инк.. Дата публикации: 2022-02-17.

Output window for electron beam in isotope production

Номер патента: RU2762668C2. Автор: Дуглас УЛРИХ. Владелец: Канейдьен Лайт Сорс Инк.. Дата публикации: 2021-12-21.

Electron beam emitter

Номер патента: RU2688941C2. Автор: Урс ХОСТЕТТЛЕР. Владелец: ТЕТРА ЛАВАЛЬ ХОЛДИНГЗ ЭНД ФАЙНЭНС С.А.. Дата публикации: 2019-05-23.

Electron beam probing techniques and related structures

Номер патента: US11996336B2. Автор: Amitava Majumdar,Radhakrishna Kotti,Mallesh Rajashekharaiah. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Electron beam probing techniques and related structures

Номер патента: US20220301946A1. Автор: Amitava Majumdar,Radhakrishna Kotti,Mallesh Rajashekharaiah. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Electron beam probing techniques and related structures

Номер патента: US20210166979A1. Автор: Amitava Majumdar,Radhakrishna Kotti,Mallesh Rajashekharaiah. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Electron beam probing techniques and related structures

Номер патента: US20240355685A1. Автор: Amitava Majumdar,Radhakrishna Kotti,Mallesh Rajashekharaiah. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Dielectric guide for electron beam transport

Номер патента: US4079285A. Автор: Roger G. Little. Владелец: Simulation Physics Inc. Дата публикации: 1978-03-14.

Electron beam exposure device

Номер патента: US6008495A. Автор: Hitoshi Tanaka,Yoshihisa Ooae. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1999-12-28.

Control method for electron beam sterilizing device and device performing said method

Номер патента: EP2332148A1. Автор: Kurt Holm. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2011-06-15.

Apparatus and methods for electron beam irradiation

Номер патента: US5530255A. Автор: Bernard J. Lyons,Marlin N. Schuetz,David A. Vroom. Владелец: Raychem Corp. Дата публикации: 1996-06-25.

Electron beam irradiation device and electron beam irradiation method

Номер патента: US20200266024A1. Автор: Tatsuya Matsumura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-08-20.

Method and device for cooling window foil of electron beam accelerator

Номер патента: RU2175172C2. Автор: Тацуя НИСИМУРА. Владелец: Ибара Корпорейшн. Дата публикации: 2001-10-20.

Conductive fixation for electron microscopy

Номер патента: US20200373121A1. Автор: Eduardo ROSA-MOLINAR. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2020-11-26.

Conductive fixation for electron microscopy

Номер патента: EP3737927A1. Автор: Eduardo ROSA-MOLINAR. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2020-11-18.

Conductive fixation for electron microscopy

Номер патента: CA3093534A1. Автор: Eduardo ROSA-MOLINAR. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2019-07-18.

Electron beam detecting device

Номер патента: US20150331018A1. Автор: Yukinobu Nishino,Ryo Abe,Yuichi Takenaka,Youhei Sakamoto. Владелец: Shibuya Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-19.

Electron beam detecting device

Номер патента: US09632117B2. Автор: Yukinobu Nishino,Ryo Abe,Yuichi Takenaka,Youhei Sakamoto. Владелец: Shibuya Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Method for verifying characteristics of an electron beam

Номер патента: US09543116B2. Автор: Tomas Lock. Владелец: ARCAM AB. Дата публикации: 2017-01-10.

Alignment of members to electron beams

Номер патента: GB1361804A. Автор: . Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1974-07-30.

Electron beam irradiation device

Номер патента: US20210113722A1. Автор: Tatsuya Matsumura,Takeaki HATTORI,Keigo Uchiyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-04-22.

Apparatus for measuring total pressure and partial pressure with common electron beam

Номер патента: WO2003103005A1. Автор: Robert E. Ellefson,Louis C. Frees. Владелец: Inficon, Inc.. Дата публикации: 2003-12-11.

Electron accelerator having a wide electron beam

Номер патента: WO2000034958A3. Автор: Avnery Tzvi. Владелец: Applied Advanced Technologies. Дата публикации: 2000-11-23.

Apparatus for measuring total pressure and partial pressure with common electron beam

Номер патента: US20020153820A1. Автор: Robert Ellefson,Louis Frees. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2002-10-24.

Switchable electron beam sterilizing device

Номер патента: EP2332149A1. Автор: Werner Haag,Kurt Holm,Dominique Cloetta. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2011-06-15.

Electron beam electrical power transmission system

Номер патента: CA1039797A. Автор: Robert S. Symons. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1978-10-03.

Characterization of an electron beam

Номер патента: US11892576B2. Автор: Tomi Tuohimaa,Per TAKMAN,Ulf Lundstrom. Владелец: EXCILLUM AB. Дата публикации: 2024-02-06.

Low voltage electron beam dosimeter device and method

Номер патента: EP3220963A1. Автор: Alaa Omrane. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2017-09-27.

Characterization of an electron beam

Номер патента: EP4062441A1. Автор: Tomi Tuohimaa,Per TAKMAN,Ulf Lundstrom. Владелец: EXCILLUM AB. Дата публикации: 2022-09-28.

Characterization of an electron beam

Номер патента: US20220404514A1. Автор: Tomi Tuohimaa,Per TAKMAN,Ulf Lundstrom. Владелец: EXCILLUM AB. Дата публикации: 2022-12-22.

Characterization of an electron beam

Номер патента: WO2021099202A1. Автор: Tomi Tuohimaa,Per TAKMAN,Ulf Lundstrom. Владелец: EXCILLUM AB. Дата публикации: 2021-05-27.

Integrated sub-nanometer-scale electron beam systems

Номер патента: EP1810299A2. Автор: Conrad W. Schneiker. Владелец: Biomed Solutions LLC. Дата публикации: 2007-07-25.

Integrated sub-nanometer-scale electron beam systems

Номер патента: EP1810299A4. Автор: Conrad W Schneiker. Владелец: Biomed Solutions LLC. Дата публикации: 2008-04-16.

Integrated sub-nanometer-scale electron beam systems

Номер патента: WO2006052549A2. Автор: Conrad W. Schneiker. Владелец: Biomed Solutions, LLC. Дата публикации: 2006-05-18.

Electron beam tube with moving display or memory

Номер патента: US3790851A. Автор: J Baring. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1974-02-05.

Convergent photon and electron beam generator device

Номер патента: US09583302B2. Автор: Rodolfo FIGUEROA SAAVEDRA,Mauro VALENTE. Владелец: Universidad Nacional de Cordoba. Дата публикации: 2017-02-28.

Manufacturing method for emitter for electron-beam projection lithography

Номер патента: US7091054B2. Автор: Dong-Wook Kim,In-kyeong Yoo,Chang-wook Moon,Soo-Hwan Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-15.

Clean room arrangement for electron beam lithography

Номер патента: US20030015670A1. Автор: Hsing-Yao Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-23.

Detecting registration marks with a low energy electron beam

Номер патента: WO1999053518A1. Автор: Tai-Hon Philip Chang,Hoseob Kim. Владелец: Etec Systems, Inc.. Дата публикации: 1999-10-21.

Dual-lens-gun electron beam apparatus and methods for high-resolution imaging with both high and low beam currents

Номер патента: EP2896062A1. Автор: Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-07-22.

Electron beam lithography system and method therefor

Номер патента: US20040065848A1. Автор: Takashi Onishi,Masaki Mizuochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-04-08.

Electron gun, electron beam applicator, and emission method of electron beam

Номер патента: US20240212967A1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Electron beam measuring apparatus

Номер патента: US5117111A. Автор: Shinichi Kato,Kazumitsu Nakamura,Yoshio Sakitani,Yoshihisa Minamikawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1992-05-26.

Electron-beam lithography system

Номер патента: GB2337359A. Автор: Koji Enomoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1999-11-17.

Improvements in and relating to vacuum chambers, particularly for electron beam welding machines

Номер патента: GB1101521A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1968-01-31.

Electron beam-based extreme ultraviolet light source device

Номер патента: EP4401513A1. Автор: Kyu Chang Park,Sung Tae Yoo. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Kyung Hee University. Дата публикации: 2024-07-17.

Electron beam welding systems employing a plasma cathode

Номер патента: US20240153739A1. Автор: John Noonan,Dean Walters. Владелец: Us Electron Inc. Дата публикации: 2024-05-09.

Electron-beam chamber

Номер патента: US3745320A. Автор: H Kindler,S Baumgartner. Владелец: Steigerwald Strahltecknik GmbH. Дата публикации: 1973-07-10.

Electron beam welding machine

Номер патента: US4317022A. Автор: Yoji Akutsu,Hisanao Kita,Yoshinori Karatsu,Takamitsu Nakazaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-02-23.

Charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US09478396B2. Автор: Akio Yamada,Shinichi Hamaguchi,Masaki Kurokawa,Shinji Sugatani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Traveling wave deflector for electron beams

Номер патента: CA1088992A. Автор: Ronald E. Correll,Alvin B. Christie. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1980-11-04.

Electron-beam exposure apparatus

Номер патента: US4879473A. Автор: Masahiko Sakamoto,Susumu Hoshinouchi,Nobuyuki Zumoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-11-07.

Non-planar extractor structure for electron source

Номер патента: EP2847781A1. Автор: Mehran Nasser-Ghodsi,Robert G. Haynes,Tomas Plettner,Christopher Malcolm Stanley Sears. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-03-18.

Electron beam application device and method for creating detection data in electron beam application device

Номер патента: EP4421842A1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

System and method for imaging a sample with an electron beam with a filtered energy spread

Номер патента: US09905391B2. Автор: Xinrong Jiang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Electron Beam Inspection System

Номер патента: US20220406560A1. Автор: Noriyuki Kobayashi,Ryuichi Kusakabe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Ultra broad band continuously tunable electron beam pulser

Номер патента: US20170162361A1. Автор: Chunguang Jing,Yimei Zhu,Jiaqi Qiu,Sergey V. Baryshev,June W. Lau. Владелец: Euclid Techlabs LLC. Дата публикации: 2017-06-08.

Electron gun, electron beam applying equipment and an electron beam emission method

Номер патента: EP4310883A1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-01-24.

Electron gun, electron beam applying device, and electron gun control method

Номер патента: EP3780063A1. Автор: Atsushi Koizumi,Hokuto Iijima. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2021-02-17.

Electron Gun, Electron Beam Applicator, and Method for Controlling Electron Gun

Номер патента: US20230131413A1. Автор: Atsushi Koizumi,Hokuto Iijima. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Electrostatic deflection control circuit and method of electronic beam measuring apparatus

Номер патента: US20070063146A1. Автор: Hiroshi Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-22.

Spot grid array electron beam imaging system

Номер патента: EP1446676A2. Автор: Gilad Almogy,Oren Reches. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-08-18.

Method of electron beam imaging of a specimen by combining images of an image sequence

Номер патента: US20140239176A1. Автор: Liang Jin,Benjamin Eugene BAMMES. Владелец: Direct Electron LP. Дата публикации: 2014-08-28.

Electron beam detection element, electron microscope, and transmission electron microscope

Номер патента: US20190139737A1. Автор: Yukihiro Kuroda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

Control Method for Electron Microscope and Electron Microscope

Номер патента: US20210074506A1. Автор: Mitsuru Koizumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Improved system for electron diffraction analysis

Номер патента: WO2019064013A1. Автор: Angus Bewick,Peter STATHAM. Владелец: Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited. Дата публикации: 2019-04-04.

Improved system for electron diffraction analysis

Номер патента: EP3688785A1. Автор: Angus Bewick,Peter STATHAM. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2020-08-05.

Buried junction mos memory capacitor target for electron beam addressable memory and method of using same

Номер патента: CA1104722A. Автор: Floyd O. Arntz. Владелец: Control Data Corp. Дата публикации: 1981-07-07.

Electron beam irradiation apparatus and method

Номер патента: WO2001002082A1. Автор: Yoshihiko Naitoh. Владелец: EBARA CORPORATION. Дата публикации: 2001-01-11.

Electronic apparatus and antenna setting method for electronic apparatus

Номер патента: US20180152214A1. Автор: Lin Wang,Hongyi Zhang,Peijie ZHAO,Degang Zhao. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-05-31.

Conveyance apparatus for electronic components

Номер патента: US09926145B2. Автор: Tomoyuki Otani,Hideaki Nozawa. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Case for electronic devices

Номер патента: US20240243518A1. Автор: Daniele Pellegrini,Enrico TOIGO. Владелец: Luxottica SRL. Дата публикации: 2024-07-18.

Electron beam exposure system and an apparatus for carrying out the same

Номер патента: CA1125441A. Автор: HIROSHI Yasuda,Kenichi Kawashima,Kenyu Uema. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1982-06-08.

Method of exposing using electron beam

Номер патента: US20050184258A1. Автор: Jin-Seung Sohn,Hae-Sung Kim,Eun-Hyoung Cho,Myung-bok Lee,Mee-suk Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-08-25.

Protective beam catcher for electron beam apparatus

Номер патента: US4152574A. Автор: Sigwalt Hart. Владелец: Steigerwald Strahltecknik GmbH. Дата публикации: 1979-05-01.

Electrostatic deflector, lithography apparatus, and method of manufacturing device

Номер патента: US20130344700A1. Автор: Toshiro Yamanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-12-26.

Charged beam exposure method and charged beam exposure apparatus

Номер патента: US20020072012A1. Автор: Hideaki Abe,Yuichiro Yamazaki,Tetsuro Nakasugi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

Metal wire cathode for electron beam apparatus

Номер патента: US4419561A. Автор: Jan B. Le Poole,Heico J. Frima. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1983-12-06.

Charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US4647782A. Автор: Shunichi Sano,Mamoru Nakasuji,Ryoichi Yoshikawa,Hirotsugu Wada. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1987-03-03.

Apparatus for electron beam lithography

Номер патента: US4199688A. Автор: Susumu Ozasa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1980-04-22.

Method of exposing using electron beam

Номер патента: US7154105B2. Автор: Jin-Seung Sohn,Hae-Sung Kim,Eun-Hyoung Cho,Myung-bok Lee,Mee-suk Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-12-26.

Electron beam duplication lithography method and apparatus

Номер патента: US20050121623A1. Автор: Seiichi Iwamatsu. Владелец: Applied Nanotech Holdings Inc. Дата публикации: 2005-06-09.

Variable-spot scanning in an electron beam exposure system

Номер патента: US4393312A. Автор: Michael G. R. Thomson,Robert J. Collier. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1983-07-12.

Electron beam control device for electron microscopes

Номер патента: US4451737A. Автор: Shigeto Isakozawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-05-29.

Dose modification proximity effect compensation (PEC) technique for electron beam lithography

Номер патента: US5736281A. Автор: George Patrick Watson. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 1998-04-07.

Improvements in ion generators for electron beam devices such as microscopes

Номер патента: GB999380A. Автор: . Владелец: Philips Electronics and Pharmaceutical Industries Corp. Дата публикации: 1965-07-21.

Specimen moving device for electron microscope

Номер патента: US4710633A. Автор: Shigeru Suzuki. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1987-12-01.

Filament for electron guns

Номер патента: US3869636A. Автор: Glen S Lawrence. Владелец: United Aircraft Corp. Дата публикации: 1975-03-04.

Method for exposing an electron beam

Номер патента: US4413187A. Автор: Masayuki Hattori,Toshihiko Osada,Yuji Tanaka,Yuji Akazawa,Takaharu Shima. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1983-11-01.

Specimen box for electron microscope capable of observing general specimen and live cell

Номер патента: EP1796133A3. Автор: Chih-Yu Chao,Wen-Jiunn Hsien. Владелец: Lee Bing-Huan. Дата публикации: 2007-09-19.

Beam generating system for electron beam measuring instruments

Номер патента: CA1302592C. Автор: Dieter Winkler,Burkhard Lischke. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1992-06-02.

Metal wire cathode for electron beam apparatus

Номер патента: CA1151320A. Автор: Jan B. Le Poole,Heico J. Frima. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1983-08-02.

Charged particle beam exposure method and charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20020028398A1. Автор: Kozo Ogino. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2002-03-07.

Cathode assembly for electron gun

Номер патента: US12062518B2. Автор: Ulric Ljungblad,Robin STEPHANSEN. Владелец: Freemelt AB. Дата публикации: 2024-08-13.

Cathode assembly for electron gun

Номер патента: US20240363303A1. Автор: Ulric Ljungblad,Robin STEPHANSEN. Владелец: Freemelt AB. Дата публикации: 2024-10-31.

Method of electron beam exposure

Номер патента: US4625121A. Автор: Shin-ichi Hamaguchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1986-11-25.

Electron beam exposure system

Номер патента: US4482810A. Автор: Larry Cooke. Владелец: Storage Technology Partners II. Дата публикации: 1984-11-13.

Electron beam adjustment method and three-dimensional powder bed fusion additive manufacturing apparatus

Номер патента: EP3912752A1. Автор: Takashi Sato,Shio EN. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-11-24.

Electron beam direct drawing method, system and recording medium

Номер патента: US6103434A. Автор: Naka Onoda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-08-15.

Method and apparatus for controlling electron beam intensity

Номер патента: RU2498442C2. Автор: Алоис МОНЦЕЛЬ,Гернот КАЙЛ. Владелец: Кхс Гмбх. Дата публикации: 2013-11-10.

Enhanced electron beam generation

Номер патента: EP3729484A1. Автор: Johan Backlund,Mattias Fager. Владелец: ARCAM AB. Дата публикации: 2020-10-28.

Electron beam plasma formation for surface chemistry

Номер патента: WO2001015199A1. Автор: George Wakalopulos. Владелец: Ushio International Technologies, Inc.. Дата публикации: 2001-03-01.

Electron beam-generating apparatus

Номер патента: US5763889A. Автор: Atsushi Kimura,Shoji Kato,Takeshi Tomita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-06-09.

Electron beam shielding apparatus and methods for shielding electron beams

Номер патента: EP1204984A1. Автор: Mark Hall,Leonard C. Ii Hainz,Ingo A. Grosse. Владелец: ATI Properties LLC. Дата публикации: 2002-05-15.

Electron beam shielding apparatus and methods for shielding electron beams

Номер патента: WO2001006537A1. Автор: Mark Hall,Leonard C. Ii Hainz,Ingo A. Grosse. Владелец: ATI PROPERTIES, INC.. Дата публикации: 2001-01-25.

Evaluation method, correction method, recording medium and electron beam lithography system

Номер патента: US20180269028A1. Автор: Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-09-20.

Evaluation method, correction method, recording medium and electron beam lithography system

Номер патента: US20170154755A1. Автор: Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-01.

Evaluation method, correction method, recording medium and electron beam lithography system

Номер патента: US09997329B2. Автор: Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Electron-beam evaporator

Номер патента: GB1540944A. Автор: . Владелец: Leybold Heraeus GmbH. Дата публикации: 1979-02-21.

Electron Beam Apparatus.

Номер патента: GB1196787A. Автор: . Владелец: Air Reduction Co Inc. Дата публикации: 1970-07-01.

Electron beam gun

Номер патента: US4731537A. Автор: P. Michael Fletcher,Kenneth E. Williams. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1988-03-15.

Dual-mode electron beam column

Номер патента: GB2421630B. Автор: Brian Rafferty. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2006-11-29.

Electron-beam apparatus and method of welding with this apparatus

Номер патента: US3602686A. Автор: Joseph Lempert. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1971-08-31.

Multiple electron-beam vapor source assembly

Номер патента: CA1101076A. Автор: Paul S. Mcleod,Kazumi N. Tsujimoto. Владелец: Airco Inc. Дата публикации: 1981-05-12.

Electron beam heating apparatus having means for sweeping the beam spot

Номер патента: US4035573A. Автор: Sergio Negri. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1977-07-12.

Electron beam writing equipment and method

Номер патента: EP1523028A3. Автор: Osamu Kamimura,Yoshinori Nakayama,Masato Muraki,Yasunari Sohda,Sayaka Tanimoto. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2011-06-01.

Electron beam lithography

Номер патента: GB2041639A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-09-10.

Electron beam generator for multiple columns

Номер патента: US20070296343A1. Автор: Takamasa Sato. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-12-27.

Electron beam patterning

Номер патента: US7958464B1. Автор: Luca Grella,Allen M. Carroll. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2011-06-07.

An electron beam evaporator with prolonged inter-maintenance periods and greater film thickness monitoring stability

Номер патента: GB201117595D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2011-11-23.

An electron beam evaporator

Номер патента: GB201218384D0. Автор: . Владелец: BOSTECH Ltd. Дата публикации: 2012-11-28.

Electron-beam irradiation method and device (alternatives)

Номер патента: RU2250532C2. Автор: Ацуси НАКАМУРА,Масахиро КИГА. Владелец: Ибара Корпорейшн. Дата публикации: 2005-04-20.

Electron beam pumped laser light source for projection television

Номер патента: US7898162B2. Автор: Michael D. Tiberi,Vladimir I. Kozlovsky. Владелец: Principia Lightworks Inc. Дата публикации: 2011-03-01.

Electron beam pumped laser light source for projection television

Номер патента: US20080054782A1. Автор: Michael Tiberi,Vladimir Kozlovsky. Владелец: Principia Lightworks Inc. Дата публикации: 2008-03-06.

Electron beam pumped laser light source for projection television

Номер патента: US20080081107A1. Автор: Michael Tiberi,Vladimir Kozlovsky. Владелец: Principia Lightworks Inc. Дата публикации: 2008-04-03.

Diamond supported photocathodes for electron sources

Номер патента: WO2001009915A8. Автор: Timothy Thomas,Andres Fernandez,Ming Yu,Marian Mankos,Xiaolan Chen,Steven T Coyle. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-10-23.

Diamond supported photocathodes for electron sources

Номер патента: EP1200974A1. Автор: Timothy Thomas,Andres Fernandez,Ming Yu,Marian Mankos,Xiaolan Chen,Steven T. Coyle. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2002-05-02.

Ferroelectric emitter for electron beam emission and radiation generation

Номер патента: US09646797B2. Автор: Moshe Einat. Владелец: Ariel University Research and Development Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Magneto-electrostatic sensing, focusing, and steering of electron beams in vacuum electron devices

Номер патента: WO2022104168A3. Автор: Diana Gamzina DAUGHERTY. Владелец: Elve Inc.. Дата публикации: 2022-06-23.

Magneto-electrostatic sensing, focusing, and steering of electron beams in vacuum electron devices

Номер патента: US20240258061A1. Автор: Diana Gamzina DAUGHERTY. Владелец: Elve Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Convergence correction device for electron beams in color picture tube and process of using

Номер патента: US20030048065A1. Автор: Song Shik. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-13.

Electron beam tube and window for electron beam extraction

Номер патента: US6870174B2. Автор: Katsuya Okumura,Masanori Yamaguchi. Владелец: Octec Inc. Дата публикации: 2005-03-22.

Image display apparatus with deformable accelerating electrodes

Номер патента: US4642517A. Автор: Mitsunori Yokomakura,Takashi Kanehisa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1987-02-10.

An improved cathode ray tube apparatus with reduced beam spot size

Номер патента: WO1994006146A1. Автор: Kern K. N. Chang. Владелец: Chang Kern K N. Дата публикации: 1994-03-17.

Improvements in and relating to amplifiers for electron current

Номер патента: GB497160A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1938-12-14.

Magneto-electrostatic sensing, focusing, and steering of electron beams in vacuum electron devices

Номер патента: US11961693B2. Автор: Diana Gamzina DAUGHERTY. Владелец: Elve Inc. Дата публикации: 2024-04-16.

Magneto-electrostatic sensing, focusing, and steering of electron beams in vacuum electron devices

Номер патента: EP4244880A2. Автор: Diana Gamzina DAUGHERTY. Владелец: Elve Inc. Дата публикации: 2023-09-20.

Cathode ray tube with arrangement for electron ray control

Номер патента: US6552503B2. Автор: Hans-Helmut Bechtel,Wolfgang Busselt,Harald Glaeser. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2003-04-22.

Cathode ray tube with arrangement for electron ray control

Номер патента: US20020079821A1. Автор: Hans-Helmut Bechtel,Wolfgang Busselt,Harald Glaeser. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-27.

Vacuum display device with reduced ion damage

Номер патента: EP1537593A1. Автор: Ramon P. Van Gorkom,Nijs C. Van Der Vaart,Johannes J. W. M. Rosink. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2005-06-08.

Cathode ray tubes with reduced browning properties

Номер патента: EP1153410A1. Автор: Richard L. Lehman. Владелец: International Lead Zinc Research Organization Inc. Дата публикации: 2001-11-14.

Cathode/heater assembly for electron-beam devices

Номер патента: CA2034920A1. Автор: Nikolai F. Osaulenko,Olgerd I. Babich,Nikolai N. Demchenko. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-07-26.

Electron-beam-pumped light source

Номер патента: US20130322484A1. Автор: Masanori Yamaguchi,Hiroyuki Takada,Ken Kataoka,Hiroshige Hata,Tsuyoshi Maesoba. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2013-12-05.

Electron emitter assembly and method for adjusting a power level of electron beams

Номер патента: US20060098783A1. Автор: COLIN Wilson,Bruce Dunham,John Price. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2006-05-11.

Electron beam melting furnace and method for operating same

Номер патента: US09773642B2. Автор: Takashi Oda,Takeshi Shiraki,Hisamune Tanaka. Владелец: Toho Titanium Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Color display tube system with reduced spot growth

Номер патента: US5027042A. Автор: Albertus A. S. Sluyterman,Marinus L. A. Vrinten,Lambert J. Stil. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1991-06-25.

High voltage standoff, current regulating, hollow electron beam switch tube

Номер патента: WO2000028569A1. Автор: Richard Brownell True. Владелец: Litton Systems, Inc.. Дата публикации: 2000-05-18.

Electron Beam 3D Printing Machine

Номер патента: US20190202000A1. Автор: Mariano Zarcone,Gildo Di Domenico,Flavio LUCIBELLO,Lorenzo SCATENA. Владелец: Consorzio Di Ricerca Hypatia. Дата публикации: 2019-07-04.

Electron beam 3d printing machine

Номер патента: WO2018025239A1. Автор: Mariano Zarcone,Gildo Di Domenico,Flavio LUCIBELLO,Lorenzo SCATENA. Владелец: Consorzio Di Ricerca Hypatia. Дата публикации: 2018-02-08.

Electron beam 3d printing machine

Номер патента: EP3493932A1. Автор: Mariano Zarcone,Gildo Di Domenico,Flavio LUCIBELLO,Lorenzo SCATENA. Владелец: Consorzio Di Ricerca Hypatia. Дата публикации: 2019-06-12.

Electron beam deflection lens for color crt

Номер патента: WO1993022790A1. Автор: Hsing-Yao Chen. Владелец: Chen Hsing Yao. Дата публикации: 1993-11-11.

Improvements in or relating to cathodes for electron discharge devices

Номер патента: GB455351A. Автор: . Владелец: Ferranti PLC. Дата публикации: 1936-10-16.

Color cathode ray tube system with reduced spot growth

Номер патента: US4988926A. Автор: Albertus A. S. Sluyterman,Marinus L. A. Vrinten. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1991-01-29.

Electrode structure for electron gun

Номер патента: US6847158B1. Автор: Philippe Arnaud,Arnaud Farizon. Владелец: Thomson Licensing SAS. Дата публикации: 2005-01-25.

X-ray generation using electron beam

Номер патента: US20210319971A1. Автор: Ryosuke Yabushita,Shinya Hattori,Naofumi Kosugi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-10-14.

Three-dimensional electron beam computed tomography

Номер патента: WO2005104952A8. Автор: Hermann Schomberg. Владелец: Hermann Schomberg. Дата публикации: 2006-10-05.

Multi-target x-ray tube with stationary electron beam position

Номер патента: US20140314209A1. Автор: Todd S. Parker,Dave Reynolds,Steven D. Liddiard. Владелец: Moxtek Inc. Дата публикации: 2014-10-23.

Laser electron-beam device

Номер патента: RU2192686C2. Автор: О.М. Макиенко,Н.Г. Румянцев. Владелец: Самсунг Дисплей Дивайсиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2002-11-10.

Making fused thorium carbide-tungsten cathodes for electron guns

Номер патента: US3590242A. Автор: Homer H Glascock Jr. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1971-06-29.

Improvements relating to cathodes for electron emissive devices

Номер патента: GB733191A. Автор: John Heywood Ludlow,Humphrey Grahame Bennetts. Владелец: Metropolitan Vickers Electrical Co Ltd. Дата публикации: 1955-07-06.

Electron beam welding method and apparatus

Номер патента: EP4387801A1. Автор: Colin Nigel Ribton,Vitalijs JEFIMOVS. Владелец: TWI Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Electron beam gun with kinematic coupling for high power rf vacuum devices

Номер патента: WO2017112411A1. Автор: Philipp Borchard. Владелец: Dymenso LLC. Дата публикации: 2017-06-29.

Electron beam gun with kinematic coupling for high power rf vacuum devices

Номер патента: EP3394875A1. Автор: Philipp Borchard. Владелец: Dymenso LLC. Дата публикации: 2018-10-31.

Electron beam deflection device for cathode ray tube

Номер патента: US6346769B1. Автор: Ichiro Saito,Koichi Iida. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-02-12.

Color cathode ray tube having improved arrangement of electron beams

Номер патента: US6320307B1. Автор: Toshiyuki Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-11-20.

Electron beam welding methods and apparatus

Номер патента: US20240359254A1. Автор: Vitalijs JEFIMOVS,Colin Ribton. Владелец: TWI Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

X-ray source, high-voltage generator, electron beam gun, rotary target assembly, rotary target, and rotary vacuum seal

Номер патента: US09966217B2. Автор: Roger Hadland. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-05-08.

X-ray source, high-voltage generator, electron beam gun, rotary target assembly, rotary target, and rotary vacuum seal

Номер патента: US09947501B2. Автор: Roger Hadland. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray source, high-voltage generator, electron beam gun, rotary target assembly, and rotary vacuum seal

Номер патента: US09941090B2. Автор: Roger Hadland. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-04-10.

Device for producing an electron beam

Номер патента: US09916960B2. Автор: Oliver Heid. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-03-13.

Electron beam gun with kinematic coupling for high power RF vacuum devices

Номер патента: US09502203B1. Автор: Philipp Borchard. Владелец: Dymenso LLC. Дата публикации: 2016-11-22.

Color picture tube apparatus with pincushion distortion correction

Номер патента: US6984929B1. Автор: Etsuji Tagami,Toshihiko Shichijyo. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-01-10.

Tuning the scanning electron beam computed tomography scanner

Номер патента: US5224137A. Автор: Roy E. Rand,Mark C. Nicely,Susan E. Plomgren,John L. Couch. Владелец: Imatron Inc. Дата публикации: 1993-06-29.

Electron emitter assembly and method for adjusting a size of electron beams

Номер патента: US20060098780A1. Автор: COLIN Wilson,Bruce Dunham,John Price. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2006-05-11.

High density electron beam generated by low voltage limiting aperture gun

Номер патента: US5220239A. Автор: Hsing-Yao Chen. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 1993-06-15.

Electron beam focusing system

Номер патента: GB1242003A. Автор: . Владелец: Minnesota Mining and Manufacturing Co. Дата публикации: 1971-08-11.

Multiple focal spot X-ray tube with multiple electron beam manipulating units

Номер патента: US7949102B2. Автор: Rolf Karl Otto Behling. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2011-05-24.

Electron gun for in-line color cathode ray tube having differently shaped electron beam passage apertures

Номер патента: US6031325A. Автор: Yasunobu Amano. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2000-02-29.

Method and apparatus for magnetic focusing of off-axis electron beam

Номер патента: EP1522084B1. Автор: Mark J. CATTELINO,Fred I. FRIEDLANDER. Владелец: Communications and Power Industries LLC. Дата публикации: 2011-11-16.

Electron beam deflection lens for crt

Номер патента: WO1993022791A1. Автор: Hsing-Yao Chen. Владелец: Chen Hsing Yao. Дата публикации: 1993-11-11.

Display device with electron beam guiding channels

Номер патента: EP1518254A1. Автор: Michel C. J. M. Vissenberg,Willem L. Ijzerman,Hubertus M. R. Cortenraad. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2005-03-30.

Method and apparatus for magnetic focusing of off-axis electron beam

Номер патента: WO2004006281A3. Автор: Mark J Cattelino,Fred I Friedlander. Владелец: Comm And Power Ind Inc. Дата публикации: 2004-07-22.

Method and apparatus for magnetic focusing of off-axis electron beam

Номер патента: WO2004006281A2. Автор: Mark J. Cattelino,Fred I. Friedlander. Владелец: Communications And Power Industries, Inc.. Дата публикации: 2004-01-15.

Electron beam apparatus and image displaying apparatus using the same

Номер патента: US20100201247A1. Автор: Toshihiko Takeda,Tamayo Hiroki,Takanori Suwa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-08-12.

Semiconductor device for emitting highly spin-polarized electron beam

Номер патента: CA2067843A1. Автор: Toshihiro Kato,Tsutomu Nakanishi,Takashi Saka,Hiromichi Horinaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-11-03.

Cathode ray tube with electron beam convergence regulator

Номер патента: US5955830A. Автор: Toshio Uyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-09-21.

Electron beam equipment

Номер патента: US4064543A. Автор: Peter Harold Phillips,David William Warwick. Владелец: Plessey Handel und Investments AG. Дата публикации: 1977-12-20.

Electron beam pumped semiconductor laser screen and associated fabrication method

Номер патента: US20040028109A1. Автор: Robert Morgan,Robert Rice,Neil Ruggieri,J. Whiteley,Richard Skogman. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2004-02-12.

Method and system for controlling electron beams from field emission cathodes

Номер патента: US20040017166A1. Автор: Kent Kalar,Byron Zollars,John Lorr. Владелец: Extreme Devices Inc. Дата публикации: 2004-01-29.

Electron beam accelerator

Номер патента: EP1194944A1. Автор: Tzvi Avnery,Kenneth P. Felis. Владелец: Advanced Electron Beams Inc. Дата публикации: 2002-04-10.

Microwave electron beam tubes

Номер патента: US3621316A. Автор: Geoffrey Thomas Clayworth. Владелец: English Electric Valve Co Ltd. Дата публикации: 1971-11-16.

Composite Electron Beam Vacuum Tube

Номер патента: US20240312754A1. Автор: Michael K. Strahan,Kyle Eversole. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-19.

Methods of plasma processing using a pulsed electron beam

Номер патента: WO2021141651A1. Автор: Alok Ranjan,Peter Ventzek. Владелец: Tokyo Electron U.S. Holdings, Inc.. Дата публикации: 2021-07-15.

Aligning and focusing an electron beam in an X-ray source

Номер патента: US09947502B2. Автор: Oscar Hemberg,Tomi Tuohimaa,Björn SUNDMAN. Владелец: EXCILLUM AB. Дата публикации: 2018-04-17.

Apparatus and method for providing a modulated electron beam

Номер патента: US4703228A. Автор: William P. West. Владелец: GA Technologies Inc. Дата публикации: 1987-10-27.

Electronically beam steerable antenna device

Номер патента: EP2715869A1. Автор: Roman Olegovich Maslennikov,Aleksey Andreevich ARTEMENKO. Владелец: "RADIO GIGABIT" LLC. Дата публикации: 2014-04-09.

Electronically beam-steerable antenna device

Номер патента: US09590300B2. Автор: Roman Olegovich Maslennikov,Aleksey Andreevich ARTEMENKO. Владелец: RADIO GIGABIT. Дата публикации: 2017-03-07.

Method for curing spin-on-glass film utilizing electron beam radiation

Номер патента: US6132814A. Автор: William R. Livesay,Matthew F. Ross,Anthony L. Rubiales. Владелец: Electron Vision Corp. Дата публикации: 2000-10-17.

Metal for electronics and method of production of such metal

Номер патента: RU2224808C2. Автор: Джеймс А. ФАЙФ. Владелец: Кабот Корпорейшн. Дата публикации: 2004-02-27.

Picking-up and placing process for electronic devices and electronic module

Номер патента: US09773711B2. Автор: Ming-Hsien Wu,Yen-Hsiang Fang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-09-26.

Machine for unloading micro-electronic beam lead chips

Номер патента: US3961409A. Автор: Theodore R. Sherwood. Владелец: Lockheed Missiles and Space Co Inc. Дата публикации: 1976-06-08.

Processing device for electronic components

Номер патента: MY196926A. Автор: Hajime Takamatsu. Владелец: Ueno Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Cooling system for electronic components and led lamp having the same

Номер патента: US09521777B2. Автор: Istvan Bakk. Владелец: Tridonic Jennersdorf GmbH. Дата публикации: 2016-12-13.

Method for improving electron-beam

Номер патента: US20120115087A1. Автор: Qiuxia Xu,Gaobo Xu. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-05-10.

Polymerizable composition, polymer, resist, and process for electron beam lithography

Номер патента: US20040081910A1. Автор: Klaus Elian,Rafael Abargues. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-29.

Polymerizable composition, polymer, resist, and process for electron beam lithography

Номер патента: US6821706B2. Автор: Klaus Elian,Rafael Abargues. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2004-11-23.

System, devices and methods for electron beam for plasma heating

Номер патента: US20230403779A1. Автор: Sergey Korepanov,Anton TKACHEV. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Method and apparatus for correcting proximity effect of electron beam

Номер патента: US20240184217A1. Автор: Shang Yang,Jian Xu,Yayi Wei. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2024-06-06.

System, devices and methods for electron beam for plasma heating

Номер патента: AU2021373891A9. Автор: Sergey Korepanov,Anton TKACHEV. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Electronic Doorbell System with Reduced Latency

Номер патента: US20200280701A1. Автор: Rajinder Singh,Nisheeth Gupta,Justin Maggard,Dnyanesh Patil,Dennis Aldover,Velabhai Bhedaru. Владелец: Arlo Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-03.

Electronic doorbell system with reduced latency

Номер патента: EP3703360A1. Автор: Rajinder Singh,Nisheeth Gupta,Justin Maggard,Dnyanesh Patil,Dennis Aldover,Velabhai Bhedaru. Владелец: Arlo Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-02.

Front panel for electronic apparatus and method for manufacturing front panel for electronic apparatus

Номер патента: PH12015000159A1. Автор: Yoshinori Kaneko. Владелец: Sanyo Electric Co. Дата публикации: 2016-12-05.

Multi-beam exposure scanning method and apparatus, and method for manufacturing printing plate

Номер патента: WO2010064730A1. Автор: Ichirou Miyagawa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2010-06-10.

Electron beam radiation system with collision detection functionality

Номер патента: US20240245933A1. Автор: Richard L. Johnson,Michael F. Turk. Владелец: Intraop Medical Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Ruggedizing apparatus and method for electronic equipment mounted on spacecraft

Номер патента: EP4243586A3. Автор: Norihiko Mochida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-22.

Ruggedizing apparatus and method for electronic equipment mounted on spacecraft

Номер патента: EP4243586A2. Автор: Norihiko Mochida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

3d lens with reduced back reflectance

Номер патента: US20170068028A1. Автор: Brian Thomas Sullivan,Peter Hook,Graham Carlow,Michelle Derouin. Владелец: Iridian Spectral Technologies Ltd. Дата публикации: 2017-03-09.

Ruggedizing apparatus and method for electronic equipment mounted on spacecraft

Номер патента: EP4236643A1. Автор: Norihiko Mochida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-08-30.

Device-independent audio for electronic devices

Номер патента: US20240267674A1. Автор: Jonathan D. Sheaffer,Joshua D. Atkins,Mehrez SOUDEN,Jason Wung,Siyuan YUAN. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Case for electronic devices and related electronic device

Номер патента: WO2024209228A1. Автор: Dino MICHELON,Gianluca CANDIOTTO. Владелец: LUXOTTICA S.R.L.. Дата публикации: 2024-10-10.

Accessory authentication for electronic devices

Номер патента: US09754099B2. Автор: Mitchell Adler,Anthony M. Fadell,John Wesley Archibald,Jonathan J. Rubinstein,Jesse Lee Dorogusker. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Cylindrical dual axis hinge for electronic devices

Номер патента: US09487981B1. Автор: Russell S. Aoki. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Protective case for electronic product

Номер патента: US09417662B1. Автор: Youru Feng. Владелец: Guangzhou Wenyi Communication Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Method of manufacturing mask for electron beam lithography and mask blank for electron beam lithography

Номер патента: US7029801B2. Автор: Mitsuhiro Yuasa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-04-18.

Method and apparatus for multi-beam exposure

Номер патента: US20060060798A1. Автор: Ichirou Miyagawa. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

Positive resist composition for electron beam, x-ray or euv and pattern forming method using the same

Номер патента: US20090246685A1. Автор: Katsuhiro Yamashita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Electron beam negative working resist composition

Номер патента: US6153354A. Автор: Kiyoshi Ishikawa,Katsumi Oomori,Yasuhiko Katsumata. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2000-11-28.

Scattering reticle for electron beam systems

Номер патента: US5674413A. Автор: Werner Stickel,Hans Christian Pfeiffer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-10-07.

Resist composition for electron beam, x-ray, or euv, and pattern-forming method using the same

Номер патента: EP2020616A2. Автор: Katsuhiro Yamashita,Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-02-04.

Microelectromechanical Apparatus with Heating Element

Номер патента: US20240085661A1. Автор: Arnd Kaelberer,Ralf Noltemeyer. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-03-14.

Mask for charged particle beam exposure, and method of forming the same

Номер патента: US20050008946A1. Автор: Kenichi Morimoto,Yoshinori Kinase,Yuki Aritsuka. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2005-01-13.

Projection exposure apparatus with optimized adjustment possibility

Номер патента: US09423696B2. Автор: Boris Bittner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2016-08-23.

Electron beam curable toners and processes thereof

Номер патента: EP1610186A3. Автор: Chieh-Min Cheng,T Hwee Ng. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2008-07-23.

Hand strap for electronic apparatus

Номер патента: US20170244438A1. Автор: Eiji Saitoh,Shinji Tomobe,Masami Tatehana. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-24.

Beam position monitor for electron linear accelerator

Номер патента: US9736922B2. Автор: Stefan Trummer. Владелец: Astyx GmbH. Дата публикации: 2017-08-15.

Video signal reproducing apparatus with electron beam scanning velocity modulation

Номер патента: CA1087302A. Автор: Susumu Yoshida,Yoshio Ishigaki,Takao Tsuchiya,Kinya Shinkai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1980-10-07.

Timebase stabilization and correction system for electron beam apparatus

Номер патента: US3573358A. Автор: Bob V Markevitch. Владелец: Ampex Corp. Дата публикации: 1971-04-06.

Interlace to non-interlace conversion for electron beam film recording

Номер патента: GB2268659A. Автор: John William Richards. Владелец: Sony Broadcast and Communications Ltd. Дата публикации: 1994-01-12.

Compensated electron beam deflection device

Номер патента: US4017805A. Автор: Herbert M. Wagner. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1977-04-12.

Screening device for electronic units on electronic board

Номер патента: RU2314664C2. Автор: Вальтер ФЮРЗИХ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2008-01-10.

Controlling x-ray tube electron beam optics during kvp switching

Номер патента: WO2024132742A1. Автор: Timothy Striker,Helmut Gerhard SCHMÜCKER. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: US20020145549A1. Автор: Sadeg Faris. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-10.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: US20050035889A1. Автор: Sadeg Faris. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-17.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: WO2002073809A3. Автор: Sadeg M Faris. Владелец: Reveo Inc. Дата публикации: 2004-03-04.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: WO2002073809A2. Автор: Sadeg M. Faris. Владелец: Reveo, Inc.. Дата публикации: 2002-09-19.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: EP1413056A2. Автор: Sadeg M. Faris. Владелец: Reveo Inc. Дата публикации: 2004-04-28.

Device of conditioning for cooling of air in cabinet for electronic devices

Номер патента: RU2515530C2. Автор: Бретислав СКЛЕНАК. Владелец: Штульц Гмбх. Дата публикации: 2014-05-10.

Multi-layered interface for interconnecting application programs to system bus lines for electronic devices

Номер патента: WO1998021862A1. Автор: Billy Gayle Moon. Владелец: ERICSSON INC.. Дата публикации: 1998-05-22.

Flame retardant benzocyclobutene resin with reduced brittleness

Номер патента: WO2001048071A1. Автор: Michael W. Wagaman,Thomas F. McCarthy. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2001-07-05.

Flame retardant benzocyclobutene resin with reduced brittleness

Номер патента: EP1303562A1. Автор: Michael W. Wagaman,Thomas F. McCarthy. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2003-04-23.

Body for electronic circuit

Номер патента: RU2435339C2. Автор: Мартин АЙХЛЕР,Рудольф ШМИДТ. Владелец: Бсх Бош Унд Сименс Хаусгерете Гмбх. Дата публикации: 2011-11-27.

Casing structure for electronic equipment

Номер патента: US20050061529A1. Автор: Hiroaki Ohashi,Hiroyoshi Omura. Владелец: Kyocera Mita Corp. Дата публикации: 2005-03-24.

Method of fabricating contact pads for electronic substrates

Номер патента: US11765826B2. Автор: Thomas Scott Morris,John August Orlowski,David Jandzinski. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Contact pads for electronic substrates and related methods

Номер патента: US20210007224A1. Автор: Thomas Scott Morris,John August Orlowski,David Jandzinski. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2021-01-07.

Charging case for electronic smoking device

Номер патента: US11758949B2. Автор: Hitesh Bagai,Andreas Ingo Beer. Владелец: Fontem Holdings 1 BV. Дата публикации: 2023-09-19.

Singulating and loading device for elongate holders for electronic components

Номер патента: MY143311A. Автор: Harmsen Wilhelmus Hendrikus Johannes,In Den Bosch Wilhelmus Johannes. Владелец: Fico BV. Дата публикации: 2011-04-15.

Charging case for electronic smoking device

Номер патента: US20240122270A1. Автор: Hitesh Bagai,Andreas Ingo Beer. Владелец: Fontem Holdings 1 BV. Дата публикации: 2024-04-18.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: US6980142B2. Автор: Sadeg M. Faris. Владелец: Reveo Inc. Дата публикации: 2005-12-27.

Computing apparatus with cross-subframe scheduling

Номер патента: US09800387B2. Автор: SEUNGHEE HAN,DEBDEEP CHATTERJEE,Gang Xiong,Marta MARTINEZ-TARRADELL. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Electron beam exposure system and electron beam exposure method

Номер патента: US20120250479A1. Автор: Seiichi Izawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Electron beam web irradiation apparatus and process

Номер патента: WO2010104820A2. Автор: John Drenter. Владелец: Pct Engineered System, Llc. Дата публикации: 2010-09-16.

Electron beam web irradiation apparatus and process

Номер патента: WO2010104820A8. Автор: John Drenter. Владелец: Pct Engineered Systems, Llc. Дата публикации: 2010-11-04.

Methods and apparatuses for electron beam testing electrical connections of a substrate

Номер патента: WO2023193889A1. Автор: Bernhard G. Mueller,Ludwig Ledl,Axel Wenzel. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-10-12.

Apparatus for electron beam irradiation of objects

Номер патента: US4492873A. Автор: Stanislav P. Dmitriev,Andrei S. Ivanov,Mikhail P. Sviniin,Mikhail T. Fedotov. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-01-08.

Control system for electron beam magnetometer sensor

Номер патента: US3657643A. Автор: Clarence Williams,James F Nicholson. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1972-04-18.

Active microwave cavity for electron paramagnetic resonance (EPR) apparatus

Номер патента: US4674513A. Автор: Louis J. Jasper, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 1987-06-23.

Electron beam system

Номер патента: CA2963246A1. Автор: Rily Carl Grunwald,John Charles Drenter. Владелец: Comet Technologies USA Inc. Дата публикации: 2016-04-07.

Method for eliminating artifacts in scanning electron beam computed tomographic images due to cone beam geometry

Номер патента: US6130929A. Автор: Partha Saha. Владелец: Imatron Inc. Дата публикации: 2000-10-10.

Additive layer manufacturing apparatus with process monitoring facility

Номер патента: WO2018134555A1. Автор: William Thomas RICHARDSON. Владелец: Reliance Precision Limited. Дата публикации: 2018-07-26.

Method and apparatus for electron curing on a cooled drum

Номер патента: CA1256397A. Автор: Edwin P. Tripp Iii. Владелец: Energy Sciences Inc. Дата публикации: 1989-06-27.

Real time monitoring of electron beam radiation dose

Номер патента: EP1206714A1. Автор: John Masefield,Sergey Alexandrovich Korenev,Jerry Kriebel,Stephen Scott Johnson. Владелец: Steris Inc. Дата публикации: 2002-05-22.

Method and device for treating poultry eggs using electron beams to sterilize the calcareous shell

Номер патента: CA3028861C. Автор: Björn Fischer,Sven Meißner. Владелец: Skan Stein Ag. Дата публикации: 2023-09-05.

Apparatus for electron curing of resin coated webs

Номер патента: CA1171383A. Автор: Alton K. Miller. Владелец: Kennecott Corp. Дата публикации: 1984-07-24.

Internal surface electron beam-irradiating device

Номер патента: US20190015535A1. Автор: Hiroyuki Daiku,Ichiro Sakai,Takeshi Noda. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2019-01-17.

On-line measurement of absorbed electron beam dosage in irradiated product

Номер патента: WO2002061464A1. Автор: Sergey A. Korenev. Владелец: STERIS INC.. Дата публикации: 2002-08-08.

Ultra-high density storage device with electron beam steering

Номер патента: US20020196725A1. Автор: Daniel Marshall. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 2002-12-26.

Electron beam sterilization apparatus

Номер патента: US20170239379A1. Автор: Shinichi Takeda,Kazuaki Sasaki,Takayasu Yokobayashi. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Systems and methods for controlling electron beam in radiotherapy

Номер патента: EP4090421A1. Автор: Peng Cheng,CHENG Ni,PENG Wang,Shoubo HE,Feichao FU. Владелец: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Method for testing through-silicon vias at wafer sort using electron beam deflection

Номер патента: US09903910B2. Автор: Brian D. Erickson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-27.

Method for testing through-silicon vias at wafer sort using electron beam deflection

Номер патента: US09529041B2. Автор: Brian D. Erickson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-12-27.

Electron beam addressable memory system

Номер патента: US3774116A. Автор: F Marlowe,C Wine. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1973-11-20.

Card sheet with electron-beam curable polymers as breakable layers in pre-cut substrates

Номер патента: EP1708874A4. Автор: Wayne L Bilodeau. Владелец: Avery Dennison Corp. Дата публикации: 2008-07-09.

Electron beam sterilization device

Номер патента: EP3974001A1. Автор: Ichiro Sakai,Ryuta Tanaka,Hiroki Yamada. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2022-03-30.

Electron beam irradiation apparatus

Номер патента: US09601224B2. Автор: Ichiro Sakai,Takayasu Yokobayashi. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Method of electron beam transport in an X-ray scanner

Номер патента: US09442213B2. Автор: Joseph Bendahan,James Kevin Jones,Deepa Angal-Kalinin,Kiril Borisov Marinov. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Accessory for electronic cigarette

Номер патента: RU2651475C2. Автор: Кеннет Х. ШЕЙФЕР. Владелец: Олтриа Клайент Сервисиз Ллк. Дата публикации: 2018-04-19.

Generation of information for electronic device calendar application

Номер патента: RU2392663C2. Автор: Киммо ЭКЛУНД. Владелец: Нокиа Корпорейшн. Дата публикации: 2010-06-20.

Additive layer manufacturing apparatus with process monitoring facility

Номер патента: EP3571540A1. Автор: William Thomas RICHARDSON. Владелец: Reliance Precision Ltd. Дата публикации: 2019-11-27.

Device and method for electronic document viewing

Номер патента: WO2013190339A1. Автор: Damir NAZAREVlĆ. Владелец: Nazarevlc Damir. Дата публикации: 2013-12-27.

Method and apparatus for correcting multipole aberrations of an electron beam in an ebt scanner

Номер патента: US20030230731A1. Автор: Roy Rand,Khem Garewal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-18.

Electron beam apparatus for work function measurements

Номер патента: US20080035845A1. Автор: Alexei Ermakov,Barbara Hinch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-02-14.

Electron beam irradiation apparatus

Номер патента: US4755686A. Автор: Satoshi Miyazaki,Hironori Muraki,Teruo Araki. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 1988-07-05.

Electronic voter card and method for electronic voting

Номер патента: US09418498B2. Автор: Rodney L. Griggs. Владелец: Vecsys LLC. Дата публикации: 2016-08-16.

Intention-based user interface control for electronic devices

Номер патента: US20240211053A1. Автор: James T. Turner,Peter L. Hajas. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

System, method, and device for electronically providing paving information

Номер патента: EP4158566A1. Автор: John Marsolek,Gautham Subramanian,Jacob McALPINE. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2023-04-05.

System, method, and device for electronically providing paving information

Номер патента: AU2021278104A1. Автор: John Marsolek,Gautham Subramanian,Jacob McALPINE. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2023-01-19.

System, method, and device for electronically providing paving information

Номер патента: CA3180377A1. Автор: John Marsolek,Gautham Subramanian,Jacob McALPINE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-12-02.

System, method, and device for electronically providing paving information

Номер патента: WO2021242517A1. Автор: John Marsolek,Gautham Subramanian,Jacob McALPINE. Владелец: CATERPILLAR INC.. Дата публикации: 2021-12-02.

Electron-beam addressed active-matrix spatial light modulator

Номер патента: WO2005091749A3. Автор: Duane A Haven,Marcial Vidal,David K Mutchler. Владелец: David K Mutchler. Дата публикации: 2009-03-26.

Retail engine for electronic smoking device

Номер патента: EP3051966A1. Автор: Ramon Alarcon,Christopher Kepner. Владелец: Fontem Holdings 4 BV. Дата публикации: 2016-08-10.

Textile covering for electronic device

Номер патента: EP3931673A1. Автор: Anatoly Churikov,Lincoln Matthew Ghioni,Paul Ryan SANDOVAL,Kelly Marie BOGAN. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2022-01-05.

Magnetic semiconductor memory and the reading method using spin-polarized electron beam

Номер патента: US6912148B2. Автор: Eric C. Hannah,Michael A. Brown. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-06-28.

Intention-based user interface control for electronic devices

Номер патента: EP4416579A1. Автор: James T. Turner,Peter L. Hajas. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-21.

System and process for electronic calendar payments

Номер патента: US12079850B2. Автор: Brian Chan,Kashif ARSHAD,Peter Hing-Cheong POON. Владелец: Bank of Montreal. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for electronic delivery of media

Номер патента: EP1801713A1. Автор: Are Stenberg,Nikolai Petchenikov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-27.

Apparatuses, systems and methods for electronic data logging

Номер патента: EP3951672A1. Автор: Yusuf Ozturk,Maged Riad,Ravi Kodavarti. Владелец: RM Acquisition LLC. Дата публикации: 2022-02-09.

Attestation for electronic signatures

Номер патента: US09984242B2. Автор: Benjamin David Follis. Владелец: Adobe Systems Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Writing device for electronic paper and electronic paper tag system

Номер патента: US09886109B2. Автор: Shiming Shi,Yanliu Sun. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Magnified screen cover protector for electronic devices

Номер патента: US09772498B2. Автор: Dana Conrad Kowasic. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-26.

Magnetic resonance imaging apparatus with segmented data acquisition

Номер патента: US09739858B2. Автор: Yuji Iwadate. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Electron Beam Apparatus

Номер патента: GB1195271A. Автор: Andrew David Garry Stewart,Alistar John Campbell. Владелец: Cambridge Instruments Ltd. Дата публикации: 1970-06-17.

Method of electron-beam welding and welded joints made by this method

Номер патента: RU2346795C2. Автор: Джон Томас МЕРФИ. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2009-02-20.

Fusing one or more cross sections by electron beam powder bed fusion

Номер патента: EP4217135A1. Автор: Frank Heinrichsdorff,Jan Drendel,Ruslan Logvinov. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2023-08-02.

Fusing one or more cross sections by electron beam powder bed fusion

Номер патента: WO2022117326A1. Автор: Frank Heinrichsdorff,Jan Drendel,Ruslan Logvinov. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2022-06-09.

Method for electron-beam butt welding

Номер патента: RU2701262C1. Автор: Татьяна Алексеевна Ващенко. Владелец: Ефремов Никита Андреевич. Дата публикации: 2019-09-25.

Method for electron beam welding (dot matrix)

Номер патента: CA1179741A. Автор: Albert M. Sciaky,William J. Farrell,Julius L. Solomon. Владелец: Sciaky Brothers Inc. Дата публикации: 1984-12-18.

Electron accelerator unit for electron beam therapy

Номер патента: US4638814A. Автор: Keith A. Spanswick. Владелец: Siemens Medical Laboratories Inc. Дата публикации: 1987-01-27.

Ink jet ink for electron beam curing, ink set, and image recording method

Номер патента: US20240327667A1. Автор: Toshiyuki Makuta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Electron beam-curing inkjet ink, ink set, and image recording method

Номер патента: EP4455232A1. Автор: Toshiyuki Makuta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Beam/seam alignment control for electron beam welding

Номер патента: US4183055A. Автор: James H. Burkhardt, Jr.,J. James Henry,Clyde M. Davenport. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1980-01-08.

Electron beam machining using rotating and shaped beam power distribution

Номер патента: US5534677A. Автор: Dennis W. O'Brien,John W. Elmer. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 1996-07-09.

Tungsten eye shields for electron beam treatment

Номер патента: US5487394A. Автор: Almon S. Shiu,Samuel S. Tung,Robert J. Gastorf. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 1996-01-30.

Method and apparatus for electron beam welding

Номер патента: US4163890A. Автор: Hiroyoshi Nagai,Kiyohide Terai. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 1979-08-07.

Electron beam curing inkjet ink, ink set, and image recording method

Номер патента: EP4316850A1. Автор: Toshiyuki Makuta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Ink jet ink for electron beam curing, ink set, and image recording method

Номер патента: US20240018374A1. Автор: Toshiyuki Makuta. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Backer for electron beam hole drilling

Номер патента: US4239954A. Автор: Curtiss G. Howard,Lester W. Jordan,Chester E. Yaworsky. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 1980-12-16.

Cigarette case for electronic cigarette

Номер патента: RU2590876C2. Автор: Киуминг ЛИУ. Владелец: Кимри Хай-Тек Инк.. Дата публикации: 2016-07-10.

Electron beam irradiation process and polymerizable stain applied to wood planking

Номер патента: US12043756B2. Автор: Paul Smith,Scott Fishel,Connor Fishel. Владелец: BOND DISTRIBUTING Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Electron beam melting method for metallic material

Номер патента: US20030084751A1. Автор: Norio Yamamoto,Katsuhiko Sakai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Electron beam irradiated osteoinductive bone implant

Номер патента: US20240277898A1. Автор: Erick Vasquez,Daniel A. Shimko,Kelly W. Schlachter. Владелец: WARSAW ORTHOPEDIC INC. Дата публикации: 2024-08-22.

Electron beam welding

Номер патента: US20220402067A1. Автор: Stanley G. READYHOOF. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2022-12-22.

Vehicle with reduced noise emission

Номер патента: RU2603631C2. Автор: Штеффен ТРЕБСТ. Владелец: Ман Трак Унд Бас Аг. Дата публикации: 2016-11-27.

Chemical reactions with reduced moisture content

Номер патента: RU2375298C2. Автор: Эндрю ХИЛЛ,Джон ХИЛЛ. Владелец: Атраверда Лимитед. Дата публикации: 2009-12-10.

Fire resistant cover for electronic device

Номер патента: RU2683980C1. Автор: Тофик Насир оглы Насиров. Владелец: Тофик Насир оглы Насиров. Дата публикации: 2019-04-03.

Low-consumption clutch actuating mechanism for electronic cylinders in locks and method for operating the same

Номер патента: CA2958710C. Автор: Carlos Ferreira,Ander Munoz. Владелец: Salto Systems SL. Дата публикации: 2023-09-19.

Pressure-sensitive adhesive sheet for electronic devices

Номер патента: US20200095474A1. Автор: Shigeki Watanabe,Masataka Nishiwaki,Kazuki Minoura,Masahito Niwa. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Multiple wire electron beam melting

Номер патента: EP2961557A1. Автор: Benjamin Zimmerman. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-06.

Joining method to perform defect-free, electron beam welds using a slope-out technique

Номер патента: EP4142976A1. Автор: Thomas DUTILLEUL. Владелец: CSG Electric Power Research Institute. Дата публикации: 2023-03-08.

Joining Method to Perform Defect-Free, Electron Beam Welds Using a Slope-Out Technique

Номер патента: US20240342822A1. Автор: Thomas DUTILLEUL. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-17.

Joining method to perform defect-free, electron beam welds using a slope-out technique

Номер патента: CA3181575A1. Автор: Thomas DUTILLEUL. Владелец: Electric Power Research Institute Inc. Дата публикации: 2021-11-04.

Joining method to perform defect-free, electron beam welds using a slope-out technique

Номер патента: WO2021222259A1. Автор: Thomas DUTILLEUL. Владелец: ELECTRIC POWER RESEARCH INSTITUTE, INC.. Дата публикации: 2021-11-04.

Multiple wire electron beam melting

Номер патента: US09902015B2. Автор: Benjamin J. Zimmerman. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Method for production of a dairy product with reduced plasmin activity

Номер патента: RU2703403C2. Автор: Харри КАЛЛИОЙНЕН,Саара ЛЯХТЕВЯНОЯ. Владелец: Валио Лтд. Дата публикации: 2019-10-16.

Refrigerating device with receiving slot for electronic module

Номер патента: RU2455594C2. Автор: Кристоф БЕКЕ. Владелец: Бсх Бош Унд Сименс Хаусгерете Гмбх. Дата публикации: 2012-07-10.

Vehicle windshield defrost apparatus with reduced dashboard space requirements

Номер патента: CA1239173A. Автор: Ronald D. Stouffer. Владелец: Bowles Fluidics Corp. Дата публикации: 1988-07-12.

Integrated apparatus for electronic opening and closing of vehicle door

Номер патента: WO2020036373A1. Автор: Hae Il Jeong. Владелец: Woobo Tech Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-02-20.

Wheelchair power apparatus for electronic driving conversion

Номер патента: US20190183698A1. Автор: Joon-Hyung Kim,Seong Hyun PAEK. Владелец: ROBO3 Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-20.

Methods and apparatus for dispersing a fluent material utilizing an electron beam

Номер патента: AU7034391A. Автор: Arnold James Kelly. Владелец: Charged Injection Corp. Дата публикации: 1991-06-13.

Electron beam curable inkjet ink composition

Номер патента: EP3423530A1. Автор: Kenji Suzuki. Владелец: INX International Ink Co. Дата публикации: 2019-01-09.

Molding, production method therefor, part for electronic devices and electronic device

Номер патента: US09556513B2. Автор: Takeshi Kondo,Wataru Iwaya. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

System for intraoperative electron beam radiotherapy using remotely located beam generator

Номер патента: US5161546A. Автор: Donald G. Bronn. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-11-10.

Method and means for dynamic correction of electrostatic deflector for electron beam tube

Номер патента: CA1130929A. Автор: Kenneth J. Harte. Владелец: Control Data Corp. Дата публикации: 1982-08-31.

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, AND EXPOSURE METHOD

Номер патента: US20120002186A1. Автор: Omura Yasuhiro,Okada Takaya,Nagasaka Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Recycling Method For Electronics Scrap In Order To Obtain Reusable Materials While Avoiding The Release Of Harmful Substances

Номер патента: US20120000999A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CASING FOR ELECTRONIC BALLAST

Номер патента: US20120002384A1. Автор: . Владелец: OSRAM GESELLSCHAFT MIT BESCHRAENKTER HAFTUNG. Дата публикации: 2012-01-05.

IMMUNOGLOBULINS WITH REDUCED AGGREGATION

Номер патента: US20120003211A1. Автор: Chennamsetty Naresh,Helk Bernhard,Kayser Veysel,Trout Bernhardt,Voynov Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Radionuclide production using intense electron beams

Номер патента: WO1998019740A9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1998-08-27.

LITHIUM CONDITIONED ENGINE WITH REDUCED CARBON OXIDE EMISSIONS

Номер патента: US20120000449A1. Автор: Taplin,JR. Harry R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device Including Ultra Low-K (ULK) Metallization Stacks with Reduced Chip-Package Interaction

Номер патента: US20120001323A1. Автор: . Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DETECTION OF CABLE CONNECTIONS FOR ELECTRONIC DEVICES

Номер патента: US20120003863A1. Автор: Kim Gyudong,Sung Baegin,Kim MyounHwan,Harrell Chandlee. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Controller for electronic device

Номер патента: CA172043S. Автор: . Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2018-01-25.

Measuring device for electronic components

Номер патента: CA165778S. Автор: . Владелец: Ilia Malamoud. Дата публикации: 2016-07-12.

EVOH Barrier Film with Reduced Autoclave Shock

Номер патента: US20120000166A1. Автор: . Владелец: CRYOVAC, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

LOCAL EXPOSURE APPARATUS, LOCAL EXPOSURE METHOD AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120002183A1. Автор: Tanaka Shigeki,Matsumura Yuki,Ota Yoshiharu,MORIYAMA Shigeru. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

MICROLITHOGRAPHIC PROJECTION EXPOSURE APPARATUS

Номер патента: US20120002185A1. Автор: . Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2012-01-05.