Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • DAMAGE-FREE PLASMA-ENHANCED CVD PASSIVATION OF AlGaN/GaN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

DAMAGE-FREE PLASMA-ENHANCED CVD PASSIVATION OF AlGaN/GaN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: WO2017200827A8
Опубликовано: 12-07-2018
Автор(ы): Andrew D. Koehler, Karl D. Hobart, Marko J. Tadjer, Travis J. Anderson
Принадлежит: The Government of the United States of America, as represented by the Secretary of the Navy
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Damage-free plasma-enhanced CVD passivation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors

Номер патента: US09960266B2. Автор: Karl D. Hobart,Andrew D. Koehler,Travis J. Anderson,Marko J. Tadjer. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2018-05-01.

Damage-Free Plasma-Enhanced CVD Passivation of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20170338332A1. Автор: Karl D. Hobart,Andrew D. Koehler,Travis J. Anderson,Marko J. Tadjer. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2017-11-23.

DAMEGE-FREE PLASMA-ENHANCED CVD PASSIVATION OF AlGaN/GaN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: EP3459118A1. Автор: Karl D. Hobart,Andrew D. Koehler,Travis J. Anderson,Marko J. Tadjer. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2019-03-27.

P-gan high-electron-mobility transistor

Номер патента: US20240154021A1. Автор: Ting-Chang Chang,Shih-Kai Lin,Wei-Chen Huang,Chung-Wei Wu,Po-Hsun Chen,Yong-Ci Zhang,Sheng-Yao Chou. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2024-05-09.

High electron mobility transistor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20230369447A1. Автор: Jia-Zhe Liu,Tzu-Yao Lin. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Semiconductor structure, high electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US11967642B2. Автор: Chih-Yen Chen,Franky Juanda LUMBANTORUAN,Chun-Yang Chen,Tuan-Wei WANG. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-04-23.

High electron mobility transistor and method for manufacturing the same

Номер патента: KR20230000718A. Автор: 김종섭,박준혁,김준용,전우철,황선규. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2023-01-03.

An enhancement mode metal insulator semiconductor high electron mobility transistor

Номер патента: WO2020236180A1. Автор: Jamal Ramdani. Владелец: POWER INTEGRATIONS, INC.. Дата публикации: 2020-11-26.

An enhancement mode metal insulator semiconductor high electron mobility transistor

Номер патента: US20220254912A1. Автор: Jamal Ramdani. Владелец: Power Integrations Inc. Дата публикации: 2022-08-11.

An enhancement mode metal insulator semiconductor high electron mobility transistor

Номер патента: EP3973576A1. Автор: Jamal Ramdani. Владелец: Power Integrations Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

High mobility transistor element resulting from igto oxide semiconductor crystallization, and production method for same

Номер патента: US20240088270A1. Автор: Jae Kyeong Jeong,Bo Kyoung Kim,Nuri ON. Владелец: Industry University Cooperation Foundation IUCF HYU. Дата публикации: 2024-03-14.

METHOD OF FABRICATING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220293747A1. Автор: LIN Yung-Fong,CHOU Yu-Chieh,Hsieh Ting-En. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2022-09-15.

Damage-Free Plasma-Enhanced CVD Passivation of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20170338332A1. Автор: Hobart Karl D.,Anderson Travis J.,Tadjer Marko J.,Koehler Andrew D.. Владелец: The Government of the United States of America, as represented by the Secretary of the Navy. Дата публикации: 2017-11-23.

High electron mobility transistor and high electron mobility transistor forming method

Номер патента: US11799000B1. Автор: Yan Lai,Wei-Chen YANG. Владелец: Hiper Semiconductor Inc. Дата публикации: 2023-10-24.

High electron mobility transistor and high electron mobility transistor forming method

Номер патента: US20240213334A1. Автор: Yan Lai,Wei-Chen YANG. Владелец: Hiper Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

High-electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20240006511A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Gallium nitride high electron mobility transistor

Номер патента: US20230395694A1. Автор: Chan-Hong Chern,Yi-An Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230231021A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230231044A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12080787B2. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

High electron mobility transistor (HEMT) device structure

Номер патента: US10014402B1. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Kuei-Ming Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-07-03.

High Electron Mobility Transistor and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20200203502A1. Автор: David Zhou,Roy Wong,Han-Chin Chiu,Jinhan Zhang,Ming-Hong CHANG. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Methods of manufacturing high electron mobility transistors having a modified interface region

Номер патента: US12015075B2. Автор: Kyle BOTHE,Joshua BISGES. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US09704968B2. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Chun Lin Tsai,Fu-Chih Yang,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Surface treatment and passivation for high electron mobility transistors

Номер патента: US09666683B2. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Methods of manufacturing high electron mobility transistors having improved performance

Номер патента: EP4341998A1. Автор: Kyle BOTHE,Joshua BISGES. Владелец: Wolfspeed Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance

Номер патента: US20210134966A1. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyoung-Keun Lee. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance

Номер патента: WO2020142345A2. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyoung-Keun Lee. Владелец: CREE, INC.. Дата публикации: 2020-07-09.

High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance

Номер патента: EP3906583A2. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyoung-Keun Lee. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2021-11-10.

High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance

Номер патента: US11355600B2. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyoung-Keun Lee. Владелец: Wolfspeed Inc. Дата публикации: 2022-06-07.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US11804538B2. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Chun Lin Tsai,Fu-Chih Yang,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-31.

Process of forming a high electron mobility transistor including a gate electrode layer spaced apart from a silicon nitride film

Номер патента: US11710773B2. Автор: Yukinori Nose,Kenta Sugawara. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240113215A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

High electron mobility transistors and methods for fabricating the same

Номер патента: US20180374944A1. Автор: Francis J. Kub,Karl D. Hobart,Virginia D. Wheeler,Travis J. Anderson. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2018-12-27.

Method for manufacturing nitride-based high electron mobility transistor and nitride-based high electron mobility transistor

Номер патента: US20220037517A1. Автор: Noboru Fukuhara,Fumimasa Horikiri. Владелец: Sciocs Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Structure for increasing mobility in a high electron mobility transistor

Номер патента: US11101379B2. Автор: Haoran Li,Stacia Keller,Umesh K. Mishra,Xun Zheng,Brian Romanczyk,Matthew Guidry,Steven WIENECKE,Elaheh Ahmadi. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2021-08-24.

High electron mobility transistor, field-effect transistor, epitaxial substrate, method of manufacturing epitaxial substrate, and method of manufacturing group iii nitride transistor

Номер патента: CA2570558A1. Автор: Takashi Sakurada,Makoto Kiyama,Shin Hashimoto,Tatsuya Tanabe,Tomihito Miyazaki,Kouhei Miura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-30.

Access conductivity enhanced high electron mobility transistor

Номер патента: US09679762B2. Автор: Yan Zhu,Xinyu Zhang,Andrew Paul Edwards. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Manufacturing method for forming insulating structure of high electron mobility transistor

Номер патента: US20210074838A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-03-11.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12040380B2. Автор: Chen-Wei Pan,Chun-Pin Fang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Insulating structure of high electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20210013335A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

Iii-nitride/gallium oxide based high electron mobility transistors

Номер патента: US20230089714A1. Автор: Manijeh Razeghi. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2023-03-23.

Multi-channel gate-all-around high-electron-mobility transistor

Номер патента: US20220131013A1. Автор: YE Lu,Xia Li,Bin Yang,Gengming Tao,Chenjie TANG. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-04-28.

Elemental semiconductor material contact for high electron mobility transistor

Номер патента: US20140349449A1. Автор: Anirban Basu,Bahman Hekmatshoartabari,Davood Shahrjerdi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-11-27.

A heterostructure for a high electron mobility transistor and a method of producing the same

Номер патента: US20240304715A1. Автор: Olof Kordina,Jr-Tai Chen. Владелец: SweGaN AB. Дата публикации: 2024-09-12.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12107157B2. Автор: Zhi-Cheng Lee,Wei-Jen Chen,Kai-Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: US09899493B2. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

High-electron-mobility transistor having a buried field plate

Номер патента: US09728630B2. Автор: Oliver Haeberlen,Clemens Ostermaier,Gerhard Prechtl. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2017-08-08.

Doped gallium nitride high-electron mobility transistor

Номер патента: US09640650B2. Автор: Jinqiao Xie,Edward A. Beam, III. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

High electron mobility transistor with periodically carbon doped gallium nitride

Номер патента: US09608103B2. Автор: Jeffrey Craig Ramer,Karl Knieriem. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: US09525054B2. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Method for manufacturing nitride-based high electron mobility transistor and nitride-based high electron mobility transistor

Номер патента: US12002880B2. Автор: Noboru Fukuhara,Fumimasa Horikiri. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

High-electron-mobility transistor with high voltage endurance capability and preparation method thereof

Номер патента: US20210066481A1. Автор: Zilan Li. Владелец: Guangdong Zhineng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-04.

Gallium nitride-based high electron mobility transistor epitaxial wafer and preparation method therefor

Номер патента: US20230326996A1. Автор: Chen Su,Peng Li,HUI Wang,Jiahui Hu,Yuanyuan JIANG,Wubin Zhang. Владелец: HC Semitek Zhejiang Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

High Electron Mobility Transistor (HEMT) with a back barrier layer

Номер патента: US11855199B2. Автор: Ching-Yu Chen,Pravanshu Mohanta,Jiang-He Xie,Chia-Ling Yeh,Yu-Shine Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

High electron mobility transistor (hemt) with a back barrier layer

Номер патента: US20220384630A1. Автор: Ching-Yu Chen,Pravanshu Mohanta,Jiang-He Xie,Chia-Ling Yeh,Yu-Shine Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-12-01.

High electron mobility transistor (hemt) with a back barrier layer

Номер патента: US20240088284A1. Автор: Ching-Yu Chen,Pravanshu Mohanta,Jiang-He Xie,Chia-Ling Yeh,Yu-Shine Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

High-electron-mobility transistor with buried interconnect

Номер патента: EP3331027A2. Автор: Yongping Ding,Kyle Terrill,Ayman SHIBIB,Jinman Yang. Владелец: Vishay Siliconix Inc. Дата публикации: 2018-06-06.

A heterostructure for a high electron mobility transistor and a method of producing the same

Номер патента: TW201919238A. Автор: 陳志泰,歐羅夫 寇迪那. Владелец: 瑞典商斯維甘公司. Дата публикации: 2019-05-16.

High electron mobility transistor

Номер патента: EP3726585A2. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2020-10-21.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20210217885A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-07-15.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20220416073A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

High electron mobility transistor

Номер патента: EP4216281A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-26.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20200328298A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2020-10-15.

High electron mobility transistor with improved barrier layer

Номер патента: US11894453B2. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Method for manufacturing high electron mobility transistor with at least two barrier layers

Номер патента: US11462636B2. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

High electron mobility transistor

Номер патента: EP3726585A3. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-06.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240038871A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240071758A1. Автор: Wen-Jung Liao,Bo-Yu Chen,Chih-Tung Yeh,Ruey-Chyr Lee,You-Jia Chang,Yun-Chun Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US11810962B2. Автор: Cheng-Wei Chou,Hsin-Chih Lin. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Methods of fabricating semiconductor structures and high electron mobility transistors

Номер патента: US20190207012A1. Автор: Yu-Chieh Chou,Yung-Fung Lin. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-07-04.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230361207A1. Автор: Zhi-Cheng Lee,Wei-Jen Chen,Kai-Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US11749748B2. Автор: Zhi-Cheng Lee,Wei-Jen Chen,Kai-Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

High electron mobility transistor (hemt) devices and methods

Номер патента: US20210091219A1. Автор: Davide Giuseppe Patti. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2021-03-25.

High electron mobility transistor structure

Номер патента: US20190131427A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Fu-Chih Yang,King-Yuen Wong,Chih-Wen Hsiung,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: EP4328976A1. Автор: Wen-Jung Liao,Bo-Yu Chen,Chih-Tung Yeh,Ruey-Chyr Lee,You-Jia Chang,Yun-Chun Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

High electron mobility transistor with improved barrier layer

Номер патента: US20240120416A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

High-electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20210134978A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Heterostructure for a high electron mobility transistor and a method of producing the same

Номер патента: US12002881B2. Автор: Olof Kordina,Jr-Tai Chen. Владелец: SweGaN AB. Дата публикации: 2024-06-04.

High electron mobility transistor device and methods for forming the same

Номер патента: US20210057562A1. Автор: Chien-Jen Sun,Chi-Feng HSIEH,Tuan-Wei WANG. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-02-25.

High-electron-mobility transistor and method of manufacturing

Номер патента: US20230387282A1. Автор: Wei-Ting Chang,Pravanshu Mohanta,Jiang-He Xie,Ching Yu Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Double continuous graded back barrier group iii-nitride high electron mobility heterostructure

Номер патента: US20240162341A1. Автор: John Andrew Logan,Maher Bishara Tahhan. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2024-05-16.

Double continuous graded back barrier group iii-nitride high electron mobility heterostructure

Номер патента: WO2024107467A1. Автор: John Andrew Logan,Maher Bishara Tahhan. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2024-05-23.

Transistor having high withstand voltage and high electron mobility and preparation method therefor

Номер патента: US20220302292A1. Автор: Zilan Li. Владелец: Guangdong Zhineng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-22.

Transistor having high withstand voltage and high electron mobility and preparation method therefor

Номер патента: EP4006991A1. Автор: Zilan Li. Владелец: Guangdong Zhineng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Passivation of group iii-nitride heterojunction devices

Номер патента: US20150111371A1. Автор: Jing Chen,Zhikai Tang,Qimeng JIANG,Sen Huang. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2015-04-23.

Structure to increase breakdown voltage of high electron mobility transistor

Номер патента: US11289592B2. Автор: Ting-Chang Chang,Yu-Shan Lin,Wen-Chung Chen,Yu-Lin Tsai,Yu-Ching Tsao,Po-Hsun Chen. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2022-03-29.

Structure to increase breakdown voltage of high electron mobility transistor

Номер патента: US20210367068A1. Автор: Ting-Chang Chang,Yu-Shan Lin,Wen-Chung Chen,Yu-Lin Tsai,Yu-Ching Tsao,Po-Hsun Chen. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2021-11-25.

High electron mobility transistor

Номер патента: US9660066B2. Автор: Hao-Chung Kuo,Zhen-Yu Li,Chunyen Chang,An-Jye TZOU. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2017-05-23.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20160211330A1. Автор: Hao-Chung Kuo,Zhen-Yu Li,Chunyen Chang,An-Jye TZOU. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2016-07-21.

High electron mobility transistor and method for manufacturing high electron mobility transistor

Номер патента: WO2019163163A1. Автор: Koon Hoo Teo,Nadim CHOWDHURY. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2019-08-29.

Pseudomorphic high electron mobility transistor comprising doped low temperature buffer layer

Номер патента: US20140138746A1. Автор: Hans G. Rohdin,Nathan Perkins,Jonathan Abrokwah,John Stanback,Philbert Marsh. Владелец: Avago Technologies General IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2014-05-22.

Buffer layer for promoting electron mobility and thin film transistor having the same

Номер патента: US20090321744A1. Автор: Chia-Tien Peng,Kun-Chih Lin,Long-Sheng Liao. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2009-12-31.

Buffer layer for promoting electron mobility and thin film transistor having the same

Номер патента: US20040140468A1. Автор: Chia-Tien Peng,Kun-Chih Lin,Long-Sheng Liao. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2004-07-22.

Buffer layer for promoting electron mobility and thin film transistor having the same

Номер патента: US8178882B2. Автор: Chia-Tien Peng,Kun-Chih Lin,Long-Sheng Liao. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2012-05-15.

Buffer layer for promoting electron mobility and thin film transistor having the same

Номер патента: US7608475B2. Автор: Chia-Tien Peng,Kun-Chih Lin,Long-Sheng Liao. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2009-10-27.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) DEVICE STRUCTURE

Номер патента: US20180166565A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Chen Kuei-Ming. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2018-06-14.

Plasma enhanced CVD with periodic high voltage bias

Номер патента: US12094707B2. Автор: Kelvin Chan,Philip Allan Kraus,Simon Huang,Travis Koh. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

PLASMA ENHANCED CVD WITH PERIODIC HIGH VOLTAGE BIAS

Номер патента: US20210028012A1. Автор: Chan Kelvin,KRAUS Philip Allan,Koh Travis,Huang Simon. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

PLASMA ENHANCED CVD WITH PERIODIC HIGH VOLTAGE BIAS

Номер патента: US20190333764A1. Автор: Chan Kelvin,KRAUS Philip Allan,Koh Travis,Huang Simon. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-31.

Very low dielectric constant plasma-enhanced cvd films

Номер патента: US20060240652A1. Автор: Robert Mandal. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2006-10-26.

Very Low Dielectric Constant Plasma-Enhanced CVD Films

Номер патента: US20100081291A1. Автор: Robert P. Mandal. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2010-04-01.

Very low dielectric constant plasma-enhanced CVD films

Номер патента: US7601631B2. Автор: Robert P. Mandal. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2009-10-13.

Method for manufacturing semiconductor optical device using inductive coupled plasma-enhance CVD

Номер патента: US20070020954A1. Автор: Toshio Nomaguchi,Tetsuya Hattori. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2007-01-25.

Very low dielectric constant plasma-enhanced CVD films

Номер патента: US6596627B2. Автор: Robert P. Mandal. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-07-22.

Plasma enhanced CVD low k carbon-doped silicon oxide film deposition using VHF-RF power

Номер патента: US6797643B2. Автор: Li-Qun Xia,Srinivas D. Nemani,Ying Yu,Shankar Venkataraman,Maosheng Zhao,Juan Carlos Rocha-Alvarez. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-09-28.

Plasma enhanced cvd with periodic high voltage bias

Номер патента: US20190333764A1. Автор: Kelvin Chan,Philip Allan Kraus,Simon Huang,Travis Koh. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

Plasma enhanced cvd with periodic high voltage bias

Номер патента: US20210028012A1. Автор: Kelvin Chan,Philip Allan Kraus,Simon Huang,Travis Koh. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: US09876093B2. Автор: Chia-Shiung Tsai,Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US20230369449A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Chun Lin Tsai,Fu-Chih Yang,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

ELECTRONIC DEVICE INCLUDING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR INCLUDING A GATE ELECTRODE

Номер патента: US20200044067A1. Автор: Banerjee Abhishek,Moens Peter,VANMEERBEEK Piet. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2020-02-06.

Surface treatment and passivation for high electron mobility transistors

Номер патента: US20170104083A1. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-04-13.

Surface Treatment and Passivation for High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20190115447A1. Автор: TSAI Cheng-Yuan,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

Surface Treatment and Passivation for High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20200127114A1. Автор: TSAI Cheng-Yuan,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-23.

Process of forming high electron mobility transistor (hemt) and hemt formed by the same

Номер патента: US20210167188A1. Автор: Tadashi Watanabe,Hajime Matsuda. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

High Electron Mobility Transistor and Method of Forming the Same

Номер патента: US20180151692A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

METHOD OF MANUFACTURING GATE STRUCTURE FOR GALLIUM NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20200212197A1. Автор: Liu Chu-Kuang,Yang Hung-Kun. Владелец: EXCELLIANCE MOS CORPORATION. Дата публикации: 2020-07-02.

High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance

Номер патента: US20200219987A1. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyoung-Keun Lee. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2020-07-09.

SURFACE TREATMENT AND PASSIVATION FOR HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20210265486A1. Автор: TSAI Cheng-Yuan,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

METHOD OF FORMING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210280689A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

Surface Treatment and Passivation for High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20170263729A1. Автор: TSAI Cheng-Yuan,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-14.

High Electron Mobility Transistor and Method of Forming the Same

Номер патента: US20160293723A1. Автор: Chia-Shiung Tsai,Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-10-06.

METHOD OF FORMING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160308023A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

Method of Forming a High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20170317184A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

PROCESS OF FORMING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND HEMT FORMED BY THE SAME

Номер патента: US20200312982A1. Автор: WATANABE Tadashi,Matsuda Hajime. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC DEVICE INNOVATIONS, INC.. Дата публикации: 2020-10-01.

METHOD OF FORMING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20180350945A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20180374944A1. Автор: Hobart Karl D.,Kub Francis J.,Wheeler Virginia D.,Anderson Travis J.. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

METHOD OF FORMING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20200373408A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-26.

METHODS OF MANUFACTURING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS HAVING IMPROVED PERFORMANCE

Номер патента: US20220376085A1. Автор: Bothe Kyle,Bisges Joshua. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-24.

Electronic device comprising two high electron mobility transistors

Номер патента: US20220328471A1. Автор: Thomas Oheix,Matthieu Nongaillard. Владелец: Exagan SAS. Дата публикации: 2022-10-13.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240234539A9. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

High electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: CN112652659A. Автор: 张峻铭,侯俊良,黄哲弘,廖文荣. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-04-13.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240128353A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US11894441B2. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

High breakdown enhancement mode gallium nitride based high electron mobility transistors with integrated slant field plate

Номер патента: WO2008021544A3. Автор: Yuvaraj Dora,Chang Soo Suh,Umesh K Mishra. Владелец: Umesh K Mishra. Дата публикации: 2008-06-19.

A kind of preparation method of enhanced AlGaN/GaN high electron mobility transistor

Номер патента: CN105789047B. Автор: 马平,王军喜,李晋闽,张烁,刘波亭,吴冬雪. Владелец: Institute of Semiconductors of CAS. Дата публикации: 2018-12-18.

AlGaN/GaN high electron mobility transistor devices

Номер патента: US20060006414A1. Автор: Marianne Germain,Joff Derluyn,Maarten Leys. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2006-01-12.

AlGaN / GaN High Electron Mobility Crystal

Номер патента: TWI523220B. Автор: Jing Chen,Mao-Jun Wang. Владелец: Univ Hong Kong Science & Techn. Дата публикации: 2016-02-21.

Plasma enhanced CVD process for rapidly growing semiconductor films

Номер патента: US6313017B1. Автор: Walter J. Varhue. Владелец: University of Vermont and State Agricultural College. Дата публикации: 2001-11-06.

High electron mobility transistor fabrication process on reverse polarized substrate by layer transfer

Номер патента: US09935191B2. Автор: Patrick Morrow,Sansaptak DASGUPTA,Kimin Jun,Alejandro X. Levander. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Method for manufacturing nitride-based high electron mobility transistor and nitride-based high electron mobility transistor

Номер патента: US20220037517A1. Автор: Noboru Fukuhara,Fumimasa Horikiri. Владелец: Sciocs Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR MANUFACTURING METHOD AND HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20180197737A1. Автор: Kinoshita Hiroyuki. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2018-07-12.

High electron mobility transistor and method of manufacturing high electron mobility transistor

Номер патента: JP6668597B2. Автор: 健 中田. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2020-03-18.

High electron mobility transistor with doped semiconductor region in gate structure

Номер патента: US20240222488A1. Автор: Oliver Haeberlen,Gerhard Prechtl,Thomas Detzel. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2024-07-04.

Method of making high electron mobility transistor structure

Номер патента: US09583588B2. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Fu-Chih Yang,King-Yuen Wong,Chih-Wen Hsiung,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Multi-gate high electron mobility transistors (HEMTs) employing tuned recess depth gates for improved device linearity

Номер патента: US11855198B2. Автор: YE Lu,Peijie Feng,Junjing Bao,Chenjie TANG. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Multi-gate high electron mobility transistors (hemts) employing tuned recess depth gates for improved device linearity

Номер патента: WO2021207485A1. Автор: YE Lu,Peijie Feng,Junjing Bao,Chenjie TANG. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-10-14.

Multi-gate high electron mobility transistors (hemts) employing tuned recess depth gates for improved device linearity

Номер патента: EP4133530A1. Автор: YE Lu,Peijie Feng,Junjing Bao,Chenjie TANG. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-02-15.

High electron mobility transistor, field-effect transistor, epitaxial substrate, method of manufacturing epitaxial substrate, and method of manufacturing group iii nitride transistor

Номер патента: TW200705659A. Автор: Takashi Sakurada,Makoto Kiyama,Shin Hashimoto,Tatsuya Tanabe,Tomihito Miyazaki,Kouhei Miura. Владелец: Sumitomo Electric Industries. Дата публикации: 2007-02-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) FIN FIELD-EFFECT TRANSISTOR (FINFET)

Номер патента: US20200251582A1. Автор: YANG Bin,Li Xia,Tao Gengming. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

High Electron Mobility Transistor with Doped Semiconductor Region in Gate Structure

Номер патента: US20210234028A1. Автор: Oliver Haeberlen,Gerhard Prechtl,Thomas Detzel. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2021-07-29.

High electron mobility transistor structure and method

Номер патента: US20130334538A1. Автор: Paul Saunier. Владелец: Triquint Semiconductor Inc. Дата публикации: 2013-12-19.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: US20140008659A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Po-Chih Chen,Fu-Chih Yang,King-Yuen Wong,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-01-09.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) DEVICE AND METHOD OF FORMING SAME

Номер патента: US20200006522A1. Автор: Yeh Chia-Ling,Chen Ching Yu. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

High Electron Mobility Transistor and Method of Forming the Same

Номер патента: US20150021667A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-22.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) HAVING AN INDIUM-CONTAINING LAYER AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20210050209A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Hsu Chung-Chieh,Liu Po-Chun,CHIANG Chen-Hao,CHING Min-Chang. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-18.

METHOD OF MAKING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE

Номер патента: US20150056766A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-26.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20210057561A1. Автор: SUN Chien-Jen,HSIEH Chi-Feng,WANG Tuan-Wei. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2021-02-25.

High-Electron-Mobility Transistor Having a Buried Field Plate

Номер патента: US20160071967A1. Автор: Prechtl Gerhard,Haeberlen Oliver,Ostermaier Clemens. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

METHOD OF FORMING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20170077255A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Tsai Chun-Lin. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR FABRICATION PROCESS ON REVERSE POLARIZED SUBSTRATE BY LAYER TRANSFER

Номер патента: US20170077281A1. Автор: Jun Kimin,MORROW Patrick,DASGUPTA Sansaptak,LEVANDER ALEJANDRO X.. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

COMPOSITIONALLY GRADED NITRIDE-BASED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140167058A1. Автор: Cao Yu,Johnson Wayne,Laboutin Oleg. Владелец: IQE, KC, LLC. Дата публикации: 2014-06-19.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) WITH A BACK BARRIER LAYER

Номер патента: US20220140123A1. Автор: CHEN CHING-YU,Yeh Chia-Ling,Lin Yu-Shine,XIE Jiang-He,MOHANTA Pravanshu. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-05.

High Electron Mobility Transistor with Periodically Carbon Doped Gallium Nitride

Номер патента: US20160099345A1. Автор: Ramer Jeffrey Craig,Knieriem Karl. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-07.

High Electron Mobility Transistor and Method of Forming the Same

Номер патента: US20140191240A1. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

GROUP III NITRIDE BASED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20200105915A1. Автор: LIN Kaixin Vivian,Tripathy Sudhiranjan,Manippady Krishna Kumar,Bin Dolmanan Surani,Tan Hui Ru. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2020-04-02.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20160133738A1. Автор: CHANG EDWARD YI,Lin Yueh-Chin,Hsieh Ting-En. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-12.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE

Номер патента: US20190131427A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-02.

MANUFACTURING METHOD OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20200127115A1. Автор: Shih Ying-Ru,Chiu Hsien-Chin. Владелец: GlobalWafers Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-04-23.

HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND PROCESS TO FORM THE SAME

Номер патента: US20160149024A1. Автор: Makabe Isao. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2016-05-26.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR WITH BURIED INTERCONNECT

Номер патента: US20180158942A1. Автор: Ding Yongping,SHIBIB Ayman,TERRILL Kyle,YANG Jinman. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20200161447A1. Автор: Lin Hsin-Chih,CHOU CHENG-WEI. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2020-05-21.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210217885A1. Автор: YANG PO-YU. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) DEVICE AND METHOD OF FORMING SAME

Номер патента: US20210226040A1. Автор: Yeh Chia-Ling,Chen Ching Yu. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

High Electron Mobility Transistor with Doped Semiconductor Region in Gate Structure

Номер патента: US20210234028A1. Автор: Prechtl Gerhard,Haeberlen Oliver,Detzel Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

METHODS OF MANUFACTURING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20150221746A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,Hong Ki-ha,KIM Ki-Won,LEE Jung-hee,IM Ki-sik,KIM Dong-seok. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-06.

A heterostructure for a high electron mobility transistor and a method of producing the same

Номер патента: US20200203521A1. Автор: Olof Kordina,Jr-Tai Chen. Владелец: SweGaN AB. Дата публикации: 2020-06-25.

METHODS OF FABRICATING SEMICONDUCTOR STRUCTURES AND HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20190207012A1. Автор: CHOU Yu-Chieh,Lin Yung-Fung. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2019-07-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) HAVING AN INDIUM-CONTAINING LAYER AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20150236146A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Hsu Chung-Chieh,Liu Po-Chun,CHIANG Chen-Hao,CHING Min-Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2015-08-20.

INDIUM-CONTAINING CONTACT AND BARRIER LAYER FOR III-NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES

Номер патента: US20150255589A1. Автор: Fenwick William. Владелец: TOSHIBA CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND METHOD OF PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20160268411A1. Автор: Nakata Ken. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20190252510A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND PROCESS OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20170263743A1. Автор: Nakata Ken. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2017-09-14.

Access Conductivity Enhanced High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20160276473A1. Автор: Zhang Xinyu,ZHU Yan,Edwards Andrew Paul. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20180277646A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR WITH BURIED INTERCONNECT

Номер патента: US20190312137A1. Автор: Ding Yongping,SHIBIB Ayman,TERRILL Kyle,YANG Jinman. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-10.

METHOD OF FORMING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20150349087A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20200328288A1. Автор: Lin Hsin-Chih,CHOU CHENG-WEI. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2020-10-15.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20200328298A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2020-10-15.

Epitaxial structure for high-electron-mobility transistor and method for manufacturing the same

Номер патента: US20200350426A1. Автор: Nien-Tze Yeh,Yutao Fang,Boting Liu,Kaixuan Zhang. Владелец: Xiamen Sanan Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

High-Electron-Mobility Transistor Having a Buried Field Plate

Номер патента: US20170365702A1. Автор: Clemens Ostermaier,Gerhard Prechtl,Oliver Häberlen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2017-12-21.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220416073A1. Автор: YANG PO-YU. Владелец: UNITED MICROELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2022-12-29.

High electron mobility transistor and forming method thereof

Номер патента: CN103367418B. Автор: 余俊磊,姚福伟,游承儒,黄敬源,许竣为,杨富智,蔡俊琳. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-03-30.

High electron mobility transistor and manufacturing method of the same

Номер патента: JP2017168627A. Автор: Takeshi Nakada,健 中田,剛志 河内,Takeshi Kouchi,勇夫 眞壁,Isao Makabe,圭一 由比,Keiichi Yui. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Passivation of germanium surfaces

Номер патента: EP3335238A1. Автор: Emanuel I. Cooper,Hsing-chen Wu,Min-Chieh Yang,Steven Bilodeau. Владелец: ATMI Taiwan Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-20.

Passivation of germanium surfaces

Номер патента: US20180240674A1. Автор: Emanuel I. Cooper,Hsing-chen Wu,Min-Chieh Yang,Steven Bilodeau. Владелец: Entegris Inc. Дата публикации: 2018-08-23.

Passivation of germanium surfaces

Номер патента: US10290505B2. Автор: Emanuel I. Cooper,Hsing-chen Wu,Min-Chieh Yang,Steven Bilodeau. Владелец: Entegris Inc. Дата публикации: 2019-05-14.

Gallium Nitride high-electron mobility transistors with p-type layers and process for making the same

Номер патента: US12142674B2. Автор: Saptharishi Sriram. Владелец: Wolfspeed Inc. Дата публикации: 2024-11-12.

Enhancement-mode High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20200235218A1. Автор: Brice De Jaeger,Niels Posthuma,Steve Stoffels. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2020-07-23.

High electron mobility transistors, methods of manufacturing the same, and electronic devices including the same

Номер патента: US20150048421A1. Автор: Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Woo-Chul JEON,Hyo-ji CHOI,Young-Hwan Park,Ki-Yeol Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-02-19.

Enhancement-mode high electron mobility transistors with small fin isolation features

Номер патента: US20220344457A1. Автор: Jean Lapointe,Alireza LOGHMANY,Elias AL-ALAM. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 2022-10-27.

High electron mobility transistors and methods of fabricating the same

Номер патента: US09859410B2. Автор: Jong-Seob Kim,In-jun Hwang,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Hyuk-soon Choi,Ki-ha Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-02.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US09608100B2. Автор: Jong-Seob Kim,In-jun Hwang,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Hyuk-soon Choi,Jong-Bong Ha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-28.

High electron mobility transistors including lightly doped drain regions and methods of manufacturing the same

Номер патента: US09443968B2. Автор: Jong-Seob Kim,In-jun Hwang,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Hyuk-soon Choi,Ki-ha Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-13.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: US09379227B2. Автор: Jae-Hoon Lee,Chan-ho Park,Nam-young Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-06-28.

High electron mobility transistor, preparation method, and power amplifier/switch

Номер патента: EP4254507A1. Автор: Xiaoxiang Wu,Teng JIANG,Sike TAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

High electron mobility transistor

Номер патента: US12034071B2. Автор: Yang Du,Chia-Ching HUANG,Shin-Chen Lin. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240234559A1. Автор: Kuo-Yu Liao,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

High electron mobility transistor and fabricating method of the same

Номер патента: US20240222133A1. Автор: Kun-Yuan Liao,Chih-Tung Yeh,Ming-Hua Chang,Lung-En Kuo. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: EP4333042A3. Автор: Santosh Sharma,Steven Bentley. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: EP4333042A2. Автор: Santosh Sharma,Steven Bentley. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-03-06.

High electron mobility transistor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230299169A1. Автор: Chih-Hung Lu,Yu-Jen Huang,Jih-Wen Chou,Hsin-Hong Chen,Po-Hsien Yeh,Robin Christine Hwang. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20210193824A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240290875A1. Автор: Kuo-Yu Liao,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240322008A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

High electron mobility transistor

Номер патента: US12080778B2. Автор: Chun-Hsien Lin,An-Chi Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US12132103B2. Автор: Yu-Chieh Chou,Yung-Fong Lin,Tsung-Hsiang Lin,Li-Wen CHUANG. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Source/drain regions for high electron mobility transistors (HEMT) and methods of forming same

Номер патента: US09929248B2. Автор: Chun-Hsiang FAN,Mao-Lin Huang,Chun-Hsiung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Source/drain regions for high electron mobility transistors (HEMT) and methods of forming same

Номер патента: US09536962B1. Автор: Chun-Hsiang FAN,Mao-Lin Huang,Chun-Hsiung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20240371968A1. Автор: Chun-Hsien Lin,An-Chi Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Electronic device provided with a stack of two high electron mobility transistors arranged in a bridge half-arm

Номер патента: US20220359714A1. Автор: Thomas Oheix,Matthieu Nongaillard. Владелец: Exagan SAS. Дата публикации: 2022-11-10.

Gallium nitride high-electron mobility transistors with deep implanted p-type layers in silicon carbide substrates

Номер патента: WO2017223403A1. Автор: Saptharishi Sriram,Christer Hallin,Alexander Suvorov. Владелец: CREE, INC.. Дата публикации: 2017-12-28.

High electron mobility transistor, preparation method, and power amplifier/switch

Номер патента: US20230352558A1. Автор: Xiaoxiang Wu,Teng JIANG,Sike TAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Gallium Nitride High-Electron Mobility Transistors with Deep Implanted P-Type Layers in Silicon Carbide Substrates for Power Switching and Radio Frequency Applications and Process for Making the Same

Номер патента: US20170373178A1. Автор: Saptharishi Sriram,Christer Hallin,Alexander Suvorov. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2017-12-28.

Gallium nitride high-electron mobility transistors with deep implanted p-type layers in silicon carbide substrates

Номер патента: EP3475985A1. Автор: Saptharishi Sriram,Christer Hallin,Alexander Suvorov. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2019-05-01.

Metamorphic high electron mobility transistor-heterojunction bipolar transistor integration

Номер патента: US20210391321A1. Автор: Je-Hsiung Lan,Jonghae Kim,Ranadeep Dutta. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-12-16.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US9276098B2. Автор: Hong-Pyo HEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-03-01.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: US20160126339A1. Автор: Jae-Hoon Lee,Chan-ho Park,Nam-young Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-05-05.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: TW202115909A. Автор: 張峻銘,黃哲弘,廖文榮,侯俊良,葉治東. Владелец: 聯華電子股份有限公司. Дата публикации: 2021-04-16.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230275147A1. Автор: Kuo-Yu Liao,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

High electron mobility transistor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240079485A1. Автор: Chih-Hung Lu,Jih-Wen Chou,Bo-An Tsai,Zheng-Chang MU,Po-Hsien Yeh,Robin Christine Hwang. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20240021703A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Gallium nitride device and method for manufacturing high electron mobility transistor

Номер патента: US20240038847A1. Автор: Chun-Liang Hou,Chih Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230335614A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Gallium nitride device and method for manufacturing high electron mobility transistor

Номер патента: EP4312276A1. Автор: Chun-Liang Hou,Chih Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-31.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230387280A1. Автор: Wei-Chuan Tsai,Yen-Tsai Yi,Jin-Yan Chiou,Hsiang-Wen Ke. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US11735644B2. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Enhancement mode high electron mobility transistor

Номер патента: US11935947B2. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Source/Drain Regions for High Electron Mobility Transistors (HEMT) and Methods of Forming Same

Номер патента: US20170084717A1. Автор: Chun-Hsiang FAN,Mao-Lin Huang,Chun-Hsiung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-23.

Source/Drain Regions for High Electron Mobility Transistors (HEMT) and Methods of Forming Same

Номер патента: US20170025507A1. Автор: Chun-Hsiang FAN,Mao-Lin Huang,Chun-Hsiung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

High electron mobility transistor and method of manufacturing thereof

Номер патента: WO2023194211A1. Автор: Joff Derluyn,Prem Kumar Kandaswamy. Владелец: Soitec Belgium. Дата публикации: 2023-10-12.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US11804544B2. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

High electron mobility transistor

Номер патента: EP3772112A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-02-03.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230275146A1. Автор: Kuo-Yu Liao,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US11973133B2. Автор: Kuo-Yu Liao,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

High electron mobility transistor

Номер патента: US11784238B2. Автор: Chun-Hsien Lin,An-Chi Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Multi-gate high electron mobility transistors and methods of fabrication

Номер патента: EP3192101A1. Автор: Patrick Morrow,Sansaptak DASGUPTA,Kimin Jun,Alejandro X. Levander. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-07-19.

Method for fabricating a high electron mobility transistor

Номер патента: EP4210113A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-12.

Manufacturing of scalable gate length high electron mobility transistors

Номер патента: EP2601678A1. Автор: Marco Peroni,Paolo Romanini. Владелец: Selex ES SpA. Дата публикации: 2013-06-12.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20210083073A1. Автор: Chun-Hsien Lin,An-Chi Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20230402527A1. Автор: Chun-Hsien Lin,An-Chi Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

High electron mobility transistor

Номер патента: EP3796395A1. Автор: Chun-Hsien Lin,An-Chi Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-03-24.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240014310A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: US20240079405A1. Автор: Santosh Sharma,Steven Bentley. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20220093778A1. Автор: Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Hsing Chen,Yu-Ming Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

High electron mobility transistor (HEMT) and a method of forming the same

Номер патента: US9831332B2. Автор: Shinya Mizuno. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20230020271A1. Автор: Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Hsing Chen,Yu-Ming Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-01-19.

High electron mobility transistors having improved performance

Номер патента: US12009417B2. Автор: Kyle BOTHE,Joshua BISGES. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12009415B2. Автор: Kuo-Yu Liao,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20210013334A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20230238445A1. Автор: Chun-Ling Lin,Ko-Wei Lin,Chun-Chieh Chiu,Hsin-Fu Huang,Shu Min Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

High electron mobility transistor and fabricating method of the same

Номер патента: US20230112917A1. Автор: Kun-Yuan Liao,Chih-Tung Yeh,Ming-Hua Chang,Lung-En Kuo. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

High electron mobility transistor and fabricating method of the same

Номер патента: US12002681B2. Автор: Kun-Yuan Liao,Chih-Tung Yeh,Ming-Hua Chang,Lung-En Kuo. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20210036138A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-02-04.

Manufacturing of scalable gate length high electron mobility transistors

Номер патента: WO2012017389A1. Автор: Marco Peroni,Paolo Romanini. Владелец: SELEX SISTEMI INTEGRATI S.P.A.. Дата публикации: 2012-02-09.

High electron mobility transistor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20200111901A1. Автор: Wen-Ying Wen,Chih-hao Chen. Владелец: Nuvoton Technology Corp. Дата публикации: 2020-04-09.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12027604B2. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

A high electron mobility field effect transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: WO2013176905A4. Автор: Karim S. Boutros,Sameh Khalil. Владелец: HRL LABORATORIES, LLC. Дата публикации: 2014-01-23.

Semiconductor memory device with high electron mobility channels and method of manufacturing the same

Номер патента: US11882703B2. Автор: Hyung Jin Choi,Jae Hyeon Shin,Sungmook Lim,In Gon YANG,Gil Bok CHOI,Dae Hwan YUN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-01-23.

Method and device using titanium doped aluminum oxide for passivation of ferroelectric materials

Номер патента: US20040056276A1. Автор: HONG Ying,Sheng Hsu,Fengyan Zhang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-03-25.

Passivation of hybrid microelectronic circuits

Номер патента: US4628006A. Автор: Bonnie L. Rathbun,Philipp W. H. Schuessler. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1986-12-09.

Method of using titanium doped aluminum oxide for passivation of ferroelectric materials and devices including the same

Номер патента: US20020140011A1. Автор: HONG Ying,Sheng Hsu,Fengyan Zhang. Владелец: Sharp Laboratories of America Inc. Дата публикации: 2002-10-03.

High electron mobility transistor, radio frequency transistor, power amplifier, and method for preparing high electron mobility transistor

Номер патента: EP4407688A1. Автор: Bin Hu,Min Zhu,Huantao DUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

High electron mobility transistor, radio frequency transistor, power amplifier, and preparation method for high electron mobility transistor

Номер патента: US20240322029A1. Автор: Bin Hu,Min Zhu,Huantao DUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Structures for a high-electron-mobility transistor and related methods

Номер патента: US20210351286A1. Автор: Jiacheng LEI,Lawrence Selvaraj SUSAI,Joseph James Jerry. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2021-11-11.

Electronic assembly provided with a plurality of high electron mobility transistors

Номер патента: US20220328681A1. Автор: Thomas Oheix,Matthieu Nongaillard. Владелец: Exagan SAS. Дата публикации: 2022-10-13.

High electron mobility transistor and manufacturing method therefor, chip, and electronic device

Номер патента: EP4250368A1. Автор: Tao Liu,Wei Lu,Qiang He,Haijun Li,Juncai Ma,Zhili Zhang,Cen TANG,Jin Rao,Shuiming LI,Chunhua FAN,Yangyi ZHU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

High electron mobility transistor and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240313085A1. Автор: Shang-Hua Tsai. Владелец: Infinity Communication Tech Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

High electron mobility transistor and high electron mobility transistor forming method

Номер патента: US20240313084A1. Автор: Wei-Chih Ho. Владелец: Hiper Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

High electron mobility transistor (hemt) and forming method thereof

Номер патента: US20220181478A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Chih-Kai Kang,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee,Guan-Kai Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

Multi-Channel High Electron Mobility Transistor with Reduced Input Capacitance

Номер патента: US20240304670A1. Автор: Clemens Ostermaier. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2024-09-12.

Multi-channel high electron mobility transistor with reduced input capacitance

Номер патента: EP4428927A1. Автор: Clemens Ostermaier. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2024-09-11.

High electron mobility transistors with field plate electrode

Номер патента: US09577064B2. Автор: Marco Peroni,Paolo Romanini. Владелец: Selex ES SpA. Дата публикации: 2017-02-21.

High electron mobility transistors

Номер патента: US09425276B2. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-08-23.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20240136432A1. Автор: Edward Yi Chang,You-Chen WENG,Min-Lu KAO. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2024-04-25.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20240234561A9. Автор: Edward Yi Chang,You-Chen WENG,Min-Lu KAO. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2024-07-11.

High electron mobility transistor

Номер патента: US12034068B2. Автор: Joff Derluyn. Владелец: Soitec Belgium. Дата публикации: 2024-07-09.

A high electron mobility transistor

Номер патента: EP3642882A1. Автор: Joff Derluyn. Владелец: EPIGAN NV. Дата публикации: 2020-04-29.

High electron mobility transistor with semiconductor layer having a thickness varying along the transistor width

Номер патента: WO2019077784A1. Автор: Koon Hoo Teo,Nadim CHOWDHURY. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2019-04-25.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20230282740A1. Автор: Chih-Wei Chang,Bin-Siang Tsai,Ting-An Chien,Yao-Hsien Chung,Shih-Wei Su,Hao-Hsuan Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Method for fabricating high electron mobility transistor

Номер патента: US20230238455A1. Автор: Chih-Wei Chang,Bin-Siang Tsai,Ting-An Chien,Yao-Hsien Chung,Shih-Wei Su,Hao-Hsuan Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

High electron mobility transistor hemt device, wafer, packaging device, and electronic device

Номер патента: EP4210111A1. Автор: Hang Wang,DONGLIANG Zhang,Feng Xie,Jianyun Zhu,Ronghua XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-12.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20220262939A1. Автор: Chih-Wei Chang,Bin-Siang Tsai,Ting-An Chien,Yao-Hsien Chung,Shih-Wei Su,Hao-Hsuan Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

High electron mobility transistor esd protection structures

Номер патента: EP3599640A8. Автор: Chungchi Gina Liao,Muhammad Ayman Shibib. Владелец: Vishay Siliconix Inc. Дата публикации: 2020-04-15.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140187003A1. Автор: Chien-Wei Chiu,Tsung-Yu Yang,Tsung-Yi Huang,Chih-Fang Huang,Ting-Fu Chang. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2014-07-03.

High electron mobility transistors and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20110272741A1. Автор: In-jun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-11-10.

High electron mobility transistors having barrier liners and integration schemes

Номер патента: US20230155016A1. Автор: Zhong-Xiang He,Anthony Stamper,Ramsey HAZBUN,Pernell Dongmo. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2023-05-18.

High-electron-mobility transistors

Номер патента: US09525055B2. Автор: Jamal Ramdani,Alexey Kudymov,Linlin Liu. Владелец: Power Integrations Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Method for producing a semiconductor device comprising a Schottky diode and a high electron mobility transistor

Номер патента: US09431511B2. Автор: Silvia Lenci,Stefaan Decoutere. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2016-08-30.

High-electron-mobility transistor (hemt)

Номер патента: EP4383345A1. Автор: Mark D. Levy,Santosh Sharma,Michael J. Zierak,Steven J. Bentley. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-06-12.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: EP4379811A2. Автор: Santosh Sharma,Rajendran Krishnasamy,Johnatan A. Kantarovsky. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240234538A9. Автор: Edward Yi Chang,You-Chen WENG,Min-Lu KAO. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2024-07-11.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: US20140073095A1. Автор: Ken Sato. Владелец: Sanken Electric Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

High electron mobility transistor structure and fabrication method thereof

Номер патента: US20240243194A1. Автор: Shin-Cheng Lin,Chia-Ching HUANG. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240136422A1. Автор: Edward Yi Chang,You-Chen WENG,Min-Lu KAO. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2024-04-25.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12040392B2. Автор: Po-Wen Su,Shui-Yen Lu,Ming-Hua Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US12040393B2. Автор: Po-Wen Su,Shui-Yen Lu,Ming-Hua Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230369448A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou,Yi-Shan Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20240162313A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou,Ruey-Chyr Lee,Yi-Shan Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

High electron mobility transistor with reverse arrangement of channel layer and barrier layer

Номер патента: US20190334023A1. Автор: Ken Nakata. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

High electron mobility transistor with reverse arrangement of channel layer and barrier layer

Номер патента: US20200373423A1. Автор: Ken Nakata. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US12051740B2. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

High electron mobility transistor device

Номер патента: US20140253241A1. Автор: Jae-Hoon Lee,Chan-ho Park,Nam-young Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-11.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20180294341A1. Автор: Chih-Yen Chen,Hsien-Lung Yang. Владелец: Wavetek Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-10-11.

High electron mobility transistor structure and method of fabricating the same

Номер патента: US12057490B2. Автор: Ming-Chang Lu,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

RF high-electron-mobility transistors including group III-N stress neutral barrier layers with high breakdown voltages

Номер патента: US11710785B2. Автор: Debdeep Jena,Samuel James Bader,Huili Grace Xing,Reet Chaudhuri,Austin Hickman. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-25.

High electron mobility transistor (hemt)

Номер патента: EP3767685A1. Автор: Sheng-Hao Lin,Huai-Tzu Chiang,Kuan-Hung Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20220376100A1. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240258398A1. Автор: Boram Kim,Junhyuk Park,Jongseob Kim,Joonyong Kim,Jaejoon Oh,Injun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

High electron mobility transistor and method of fabricating the same

Номер патента: US12100758B2. Автор: Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

High electron mobility transistor device having a barrier layer with a protruding portion

Номер патента: US12100756B2. Автор: Tsai-Fu Chen,Hao-Ming Lee,Shou-Wei Hsieh,Ta Kang Lo. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240322030A1. Автор: Po-Wen Su,Shui-Yen Lu,Ming-Hua Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: EP4379811A3. Автор: Santosh Sharma,Rajendran Krishnasamy,Johnatan A. Kantarovsky. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

High electron mobility transistor structure and method of fabricating the same

Номер патента: US20240347621A1. Автор: Ming-Chang Lu,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Multi-channel high electron mobility transistor with doped gate fins

Номер патента: US20240332409A1. Автор: Clemens Ostermaier,Korbinian Reiser,Lauri Olavi Knuuttila. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2024-10-03.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20240355920A1. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240339532A1. Автор: Po-Wen Su,Shui-Yen Lu,Ming-Hua Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

High electron mobility transistor device having an aluminum-doped buffer layer

Номер патента: US20240355917A1. Автор: José JIMENEZ,Jinqiao Xie,Vipan Kumar. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

High electron mobility transistor device having an aluminum-doped buffer layer

Номер патента: US12074214B2. Автор: José JIMENEZ,Jinqiao Xie,Vipan Kumar. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Sensor-less overcurrent fault detection using high electron mobility transistors

Номер патента: US12074209B2. Автор: Jing Xu,Xiaoqing Song,Pietro CAIROLI,Utkarsh Raheja. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-08-27.

High electron mobility transistor

Номер патента: US09960264B1. Автор: Chih-Yen Chen,Hsien-Lung Yang. Владелец: Wavetek Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

High electron mobility transistor (HEMT) device and method of making the same

Номер патента: US09865721B1. Автор: Jinqiao Xie,Edward A. Beam, III. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US09793371B2. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Po-Chih Chen,King-Yuen Wong,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

High electron mobility transistor (HEMT)

Номер патента: US09735240B2. Автор: LONG Yang,Dong Lee,William Fenwick. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

High electron mobility transistors exhibiting dual depletion and methods of manufacturing the same

Номер патента: US09660048B2. Автор: Jong-Seob Kim,In-jun Hwang,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Hyuk-soon Choi,Ki-ha Hong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-23.

Structure for a gallium nitride (GaN) high electron mobility transistor

Номер патента: US09601608B2. Автор: Ming-Wei Tsai,King-Yuen Wong,Han-Chin Chiu,Sheng-De Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US09419093B2. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Po-Chih Chen,King-Yuen Wong,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US11757029B2. Автор: Jongseob Kim,Jaejoon Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-12.

Structures for a high-electron-mobility transistor and related methods

Номер патента: US11888051B2. Автор: Jiacheng LEI,Lawrence Selvaraj SUSAI,Joseph James Jerry. Владелец: GLOBALFOUNDRIES SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2024-01-30.

Method for manufacturing high-electron-mobility transistor

Номер патента: US20230402526A1. Автор: Chan-Shin Wu. Владелец: Ultraband Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Method for manufacturing high-electron-mobility transistor

Номер патента: EP4290582A1. Автор: Chan-Shin Wu. Владелец: Ultraband Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

High electron mobility transistors with field plate electrode

Номер патента: WO2012017390A1. Автор: Marco Peroni,Paolo Romanini. Владелец: SELEX SISTEMI INTEGRATI S.P.A.. Дата публикации: 2012-02-09.

High electron mobility transistor structure and manufacturing method therefor and application thereof

Номер патента: EP4318596A1. Автор: YU Zhou,QIAN LI,Qian Sun,Hui Yang,Yaozong ZHONG,Jianxun Liu,Xiaoning Zhan,Xinkun ZHANG. Владелец: Suzhou Institute of Nano Tech and Nano Bionics of CAS. Дата публикации: 2024-02-07.

High electron mobility transistor (HEMT) and forming method thereof

Номер патента: US11296214B2. Автор: Yi-Chung Sheng,Chih-Kai Kang,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee,Guan-Kai Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

Gallium Nitride High-Electron Mobility Transistors with Deep Implanted P-Type Layers in Silicon Carbide Substrates for Power Switching and Radio Frequency Applications and Process for Making the Same

Номер патента: US20190229187A1. Автор: Saptharishi Sriram,Thomas Smith. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2019-07-25.

High electron mobility transistor (hemt) and forming method thereof

Номер патента: US20220173236A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Chih-Kai Kang,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee,Guan-Kai Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

High electron mobility transistor (hemt) and forming method thereof

Номер патента: US20210020769A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Chih-Kai Kang,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee,Guan-Kai Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

High-electron-mobility transistor structure as well as fabricating method and use thereof

Номер патента: US20240186405A1. Автор: YU Zhou,QIAN LI,Qian Sun,Hui Yang,Yaozong ZHONG,Jianxun Liu,Xiaoning Zhan,Xinkun ZHANG. Владелец: Suzhou Institute of Nano Tech and Nano Bionics of CAS. Дата публикации: 2024-06-06.

High electron mobility transistor (hemt) and forming method thereof

Номер патента: EP3767683A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Chih-Kai Kang,Sheng-Yuan Hsueh,Chien-Liang Wu,Kuo-Hsing Lee,Guan-Kai Huang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

A high electron mobility transistor

Номер патента: WO2018234338A1. Автор: Joff Derluyn. Владелец: EPIGAN NV. Дата публикации: 2018-12-27.

Monolithic integration of enhancement-mode and depletion-mode galium nitride high electron mobility transistors

Номер патента: US20240014291A1. Автор: Elias AL ALAM,Alireza LOGHMANY. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 2024-01-11.

High electron mobility transistor devices having a silicided polysilicon layer

Номер патента: US11923446B2. Автор: Vibhor Jain,Siva P. Adusumilli,Yves Ngu,Johnatan Avraham Kantarovsky,MARK David LEVY,Ephrem Gebreselasie. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-03-05.

High Electron Mobility Transistor with Varying Semiconductor Layer

Номер патента: US20190115462A1. Автор: Koon Hoo Teo,Nadim CHOWDHURY. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2019-04-18.

High electron mobility transistor devices having a silicided polysilicon layer

Номер патента: US20240038882A1. Автор: Vibhor Jain,Siva P. Adusumilli,Yves Ngu,Johnatan Avraham Kantarovsky,MARK David LEVY,Ephrem Gebreselasie. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Method for epitaxy of high electron mobility transistor

Номер патента: US20240063291A1. Автор: Jia-Zhe Liu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Multi-threshold voltage galium nitride high electron mobility transistor

Номер патента: US20230420541A1. Автор: Elias AL ALAM,Alireza LOGHMANY. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 2023-12-28.

Monolithic integration of enhancement-mode and depletion-mode galium nitride high electron mobility transistors

Номер патента: CA3199022A1. Автор: Alireza LOGHMANY,Elias AL-ALAM. Владелец: NATIONAL RESEARCH COUNCIL OF CANADA. Дата публикации: 2022-05-19.

High electron mobility transistor structure and method of manufacturing the same

Номер патента: US20230290872A1. Автор: Po-Jung Lin,Jia-Zhe Liu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

High electron mobility transistor devices having a silicided polysilicon layer

Номер патента: US20240038881A1. Автор: Vibhor Jain,Siva P. Adusumilli,Yves Ngu,Johnatan Avraham Kantarovsky,MARK David LEVY,Ephrem Gebreselasie. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Method for Producing a Semiconductor Device Comprising a Schottky Diode and a High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20150214327A1. Автор: Silvia Lenci,Stefaan Decoutere. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2015-07-30.

Method for producing a semiconductor device comprising a Schottky diode and a high electron mobility transistor

Номер патента: US9276082B2. Автор: Silvia Lenci,Stefaan Decoutere. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2016-03-01.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140159048A1. Автор: Chien-Wei Chiu,Tsung-Yu Yang,Hung-Der Su,Tsung-Yi Huang,Tsung-Chieh Hsiao,Chih-Fang Huang,Ting-Fu Chang,Po-Chin Peng,Ya-Hsien Liu,K.C. Chang. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2014-06-12.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US12002879B2. Автор: Younghwan Park,Boram Kim,Dongchul Shin,Junhyuk Park,Sunkyu Hwang,Jongseob Kim,Joonyong Kim,Jaejoon Oh,Injun Hwang,Soogine Chong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-04.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140061724A1. Автор: Chien-Wei Chiu,Tsung-Yu Yang,Tsung-Yi Huang,Chih-Fang Huang,Ting-Fu Chang. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2014-03-06.

High electron mobility transistor and manufacturing method thereof, chip, and electronic device

Номер патента: US20230343835A1. Автор: Tao Liu,Wei Lu,Qiang He,Haijun Li,Juncai Ma,Zhili Zhang,Cen TANG,Jin Rao,Shuiming LI,Chunhua FAN,Yangyi ZHU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

High Electron Mobility Transistor ESD Protection Structures

Номер патента: US20200035666A1. Автор: Muhammed Ayman Shibib,Chungchi Gina Liao. Владелец: Vishay Siliconix Inc. Дата публикации: 2020-01-30.

Low power smith-purcell radiation sources based on high electron mobility transistor structures

Номер патента: US20230327011A1. Автор: John S Cetnar,David H Tomich,Shivashankar R Vangala. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 2023-10-12.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US11489048B2. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-11-01.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20240072153A1. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

High electron mobility transistors

Номер патента: US20240088242A1. Автор: Randy L. Wolf,Rebouh Benelbar,Rajendran Krishnasamy,Michel J. Abou-Khalil,Ajay RAMAN,Johnatan A. Kantarovsky. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20230369481A1. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

High electron mobility transistor having conductive plate on passivation layer and method for forming the same

Номер патента: US11855174B2. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Semiconductor structure and high electron mobility transistor

Номер патента: US11942519B2. Автор: Chih-Yen Chen,Franky Juanda LUMBANTORUAN. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20230290839A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou,Ruey-Chyr Lee,Yi-Shan Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: EP4312277A1. Автор: Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Lun Chen,Yen-Hsing Chen,Chun-Liang Kuo,Ruei-Hong SHEN. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-31.

Method for manufacturing high electron mobility transistor device

Номер патента: US20240006525A1. Автор: Kun-Yuan Liao,Chun-Lung Chen,Bo-Yu Chen,Lung-En Kuo,Yuan Yu Chung,You-Jia Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US20160359015A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Po-Chih Chen,King-Yuen Wong,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-08.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US20150140745A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Po-Chih Chen,King-Yuen Wong,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-05-21.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240038844A1. Автор: Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Lun Chen,Yen-Hsing Chen,Chun-Liang Kuo,Ruei-Hong SHEN. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230378314A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou,Yi-Shan Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Method for fabricating high electron mobility transistor

Номер патента: US20240072126A1. Автор: Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

High electron mobility transistor (hemt) device and method of forming the same

Номер патента: US20240014307A1. Автор: Wei Jen Chen,Kai Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

High electron mobility transistor and method of fabricating the same

Номер патента: US11830941B2. Автор: Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

High-electron-mobility transistor devices

Номер патента: US20180158940A1. Автор: Kyle Terrill,Ayman SHIBIB. Владелец: Vishay Siliconix Inc. Дата публикации: 2018-06-07.

High electron mobility transistor (HEMT)

Номер патента: US11843046B2. Автор: Sheng-Hao Lin,Huai-Tzu Chiang,Kuan-Hung Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

High electron mobility transistor

Номер патента: US11257939B2. Автор: Yu-Chi Wang,Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Hsing Chen,Yu-Ming Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-02-22.

Predisposed high electron mobility transistor

Номер патента: WO2014055314A3. Автор: Christer Hallin. Владелец: CREE, INC.. Дата публикации: 2014-08-07.

High-electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230335630A1. Автор: Ta-Kang Lo,Cheng-Han Wu,Cheng-Guo Chen,Jian-Li Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Integrated depletion and enhancement mode gallium nitride high-electron mobility transistors

Номер патента: US20240063219A1. Автор: JERRY JOSEPH James,Francois Hebert,Richard J. Rassel,Santosh Sharma,Steven J. Bentley. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

High-electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: EP4266374A1. Автор: Ta-Kang Lo,Cheng-Han Wu,Cheng-Guo Chen,Jian-Li Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-25.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20240097004A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Sensor-less overcurrent fault detection using high electron mobility transistors

Номер патента: EP4149000A1. Автор: Jing Xu,Xiaoqing Song,Pietro CAIROLI,Utkarsh Raheja. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-03-15.

High electron mobility transistors having improved passivation structures and reduces drain current drift, as well as methods of fabricating such devices

Номер патента: WO2024039968A3. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyle BOTHE,Jia GUO,Chris Hardiman,Elizabeth Keenan. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings, Inc.. Дата публикации: 2024-03-21.

High electron mobility transistors having reduced drain current drift and methods of fabricating such devices

Номер патента: WO2024039968A2. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyle BOTHE,Jia GUO,Chris Hardiman,Elizabeth Keenan. Владелец: Wolfspeed, Inc.. Дата публикации: 2024-02-22.

High electron mobility transistor (hemt) comprising stacked nanowire or nanosheet heterostructures

Номер патента: US20220328655A1. Автор: Xiuling Li,Shaloo Rakheja. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2022-10-13.

High electron mobility transistor epitaxial structure

Номер патента: US20240063270A1. Автор: Jia-Zhe Liu,Hong-Che LIN. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

High electron mobility transistor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230402537A1. Автор: Zhi-Cheng Lee,Huai-Tzu Chiang,Chuang-Han Hsieh,Kai Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20230100904A1. Автор: Po-Wen Su,Shui-Yen Lu,Ming-Hua Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-03-30.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: US20240178310A1. Автор: Santosh Sharma,Rajendran Krishnasamy,Johnatan A. Kantarovsky. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: US11616135B2. Автор: Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Hsing Chen,Yu-Ming Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-03-28.

High electron mobility transistor and method of forming the same

Номер патента: EP3863064A1. Автор: Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Hsing Chen,Yu-Ming Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-08-11.

Enhancement High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20230420498A1. Автор: Han-Chung Tai. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2023-12-28.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20240178285A1. Автор: Hsin-Chang Tsai,Shyh-Chiang Shen,Yi-Wei Lien,Wei-Chih Cheng. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

High electron mobility transistor and method of fabricating the same

Номер патента: US20240014309A1. Автор: Chun-Ming Chang,Chih-Tung Yeh. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Rf high-electron-mobility transistors including group iii-n stress neutral barrier layers with high breakdown voltages

Номер патента: US20200388701A1. Автор: Debdeep Jena,Samuel James Bader,Huili Grace Xing,Reet Chaudhuri,Austin Hickman. Владелец: Comell University. Дата публикации: 2020-12-10.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: US20240186384A1. Автор: Mark D. Levy,Santosh Sharma,Michael J. Zierak,Steven J. Bentley. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

High electron mobility transistor (hemt)

Номер патента: US20210020767A1. Автор: Sheng-Hao Lin,Huai-Tzu Chiang,Kuan-Hung Liu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

High electron mobility transistor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20230129579A1. Автор: Tsai-Fu Chen,Hao-Ming Lee,Shou-Wei Hsieh,Ta Kang Lo. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20210151591A1. Автор: Yu-Chi Wang,Tsung-Mu Yang,Yu-Ren Wang,Yen-Hsing Chen,Yu-Ming Hsu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US20150087118A1. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang,Han-Chin Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-03-26.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240194773A1. Автор: Tzu-Wen Wang,Yen-Chun Tseng,Chuan-Wei Chen. Владелец: Taiwan Asia Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Double aluminum nitride spacers for nitride high electron-mobility transistors

Номер патента: WO2013185089A1. Автор: Yu Cao,Wayne Johnson,Oleg Laboutin. Владелец: IQE KC, LLC. Дата публикации: 2013-12-12.

Transistor having high electron mobility (hemt), transistor assembly, method for controlling an hemt, and method for producing an hemt

Номер патента: US20230395708A1. Автор: Fabian LOFINK,Bernhard Wagner,Holger Kapels,Simon Fichtner. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2023-12-07.

Method for producing a transistor with a high degree of electron mobility, and produced transistor

Номер патента: US20230420542A1. Автор: Hans-Joachim Würfl,Elke Meissner. Владелец: Ferdinand Braun Institut GgmbH Leibniz Institut fuer Hoechstfrequenztechnik. Дата публикации: 2023-12-28.

Sensors using aigan/gan high electron mobility transistors

Номер патента: WO2009039298A2. Автор: Fan Ren,Stephen John Pearton,Tanmay Lele,Hung-Ta Wang,Byoung-Sam Kang. Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2009-03-26.

Mixed polarity AlGaN/GaN high electron mobility transistor based on sputtering AlN substrate and preparation method thereof

Номер патента: CN109559991B. Автор: 张涛,马晓华,郝跃,张进成,张雅超,任泽阳. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2020-09-15.

The method that Si base AlGaN/GaN high electron mobility transistor is transferred to flexible substrate

Номер патента: CN110148561A. Автор: 刘冉,田朋飞,郑立荣,赵德胜,林润泽. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-08-20.

Insulated gate AlGaN/GaN high electron mobility transistor with multi-channel fin structure

Номер патента: CN105355657A. Автор: 何云龙,王冲,马晓华,郑雪峰,郝跃,张进成,魏晓晓. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2016-02-24.

High K material-based stacked-gate AlGaN/GaN high-electron mobility MOS device

Номер патента: CN106571387A. Автор: 刘红侠,曹甲军. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2017-04-19.

Diamond producing method and DC plasma enhanced CVD apparatus

Номер патента: US09534315B2. Автор: Hitoshi Noguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Diamond producing method and dc plasma enhanced cvd apparatus

Номер патента: US20170073836A1. Автор: Hitoshi Noguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

PROCESS OF FORMING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND HEMT FORMED BY THE SAME

Номер патента: US20190081154A1. Автор: WATANABE Tadashi,Matsuda Hajime. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC DEVICE INNOVATIONS, INC.. Дата публикации: 2019-03-14.

High electron mobility transistor

Номер патента: US09570597B2. Автор: Jong-Seob Kim,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Woo-Chul JEON,Sun-Kyu Hwang,Jong-Bong Ha,Young-Hwan Park,Ki-Yeol Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-14.

High electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20130187197A1. Автор: Woo Jin Chang,Ho Kyun Ahn,Sung Bum Bae,Chull Won JU,Young Rak PARK,Jae Kyoung Mun,Eun Soo Nam,Dong Min Kang,Sang-Heung Lee,Hyung Sup Yoon,Jong-Won Lim,Seong-Il Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2013-07-25.

Method for making integrated heterojunction bipolar/high electron mobility transistor

Номер патента: US5920773A. Автор: Julia J. Brown,Madjid Hafizi,William E. Stanchina. Владелец: Hughes Electronics Corp. Дата публикации: 1999-07-06.

Normally-off high electron mobility transistor

Номер патента: US8890212B2. Автор: Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Woo-Chul JEON,Sun-Kyu Hwang,Young-Hwan Park,Kyoung-Yeon Kim,Joon-Yong Kim,Ki-Yeol Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-11-18.

Complementary high electron mobility transistor

Номер патента: US20230207679A1. Автор: Hsin-Ming Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

High electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20150087142A1. Автор: Woo Jin Chang,Ho Kyun Ahn,Sung Bum Bae,Chull Won JU,Young Rak PARK,Jae Kyoung Mun,Eun Soo Nam,Dong Min Kang,Sang-Heung Lee,Hyung Sup Yoon,Jong-Won Lim,Seong-Il Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2015-03-26.

N-face high electron mobility transistors with low buffer leakage and low parasitic resistance

Номер патента: TW200905876A. Автор: Yi Pei,Umesh K Mishra,Siddharth Rajan,Man Hoi Wong. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2009-02-01.

N-face high electron mobility transistors with low buffer leakage and low parasitic resistance

Номер патента: US7935985B2. Автор: Yi Pei,Umesh K. Mishra,Siddharth Rajan,Man Hoi Wong. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2011-05-03.

INSULATING STRUCTURE OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20210013335A1. Автор: Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20210057562A1. Автор: SUN Chien-Jen,HSIEH Chi-Feng,WANG Tuan-Wei. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2021-02-25.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR WITH HIGH VOLTAGE ENDURANCE CAPABILITY AND PREPARATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20210066481A1. Автор: LI Zilan. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

MANUFACTURING METHOD OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160071727A1. Автор: Yamamoto Takahiro,Ohno Akihito,ERA Atsushi. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-03-10.

MANUFACTURING METHOD FOR FORMING INSULATING STRUCTURE OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210074838A1. Автор: Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140151749A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,PARK Ki-yeol. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-06-05.

High Electron Mobility Transistor and Method of Forming the Same

Номер патента: US20170092738A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,CHIANG Chen-Hao,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-30.

DOPED GALLIUM NITRIDE HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20150200287A1. Автор: III Edward A.,Beam,Xie Jinqiao. Владелец: TRIQUINT SEMICONDUCTOR, INC.. Дата публикации: 2015-07-16.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS WITH HETEROJUNCTION DOPANT DIFFUSION BARRIER

Номер патента: US20180248028A1. Автор: Ghani Tahir,Rachmady Willy,Kavalieros Jack T.,Dewey Gilbert,Metz Matthew V.,Kennel Harold W.,Murthy Anand S.,Mohapatra Chandra S.. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2018-08-30.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS WITH COUNTER-DOPED DOPANT DIFFUSION BARRIER

Номер патента: US20180254332A1. Автор: Ghani Tahir,Rachmady Willy,Kavalieros Jack T.,Dewey Gilbert,Metz Matthew V.,Kennel Harold W.,Murthy Anand S.,Mohapatra Chandra S.. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2018-09-06.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20170271496A1. Автор: Nakata Ken,Yui Keiichi,KOUCHI Tsuyoshi,MAKABE lsao. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2017-09-21.

Reduction of plasma edge effect on plasma enhanced cvd processes

Номер патента: KR100728651B1. Автор: 쿠오-시 리우,라마나 비어라싱감,치 수,핑 수,마리오 데이브 실베티,갱 첸. Владелец: 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드. Дата публикации: 2007-06-15.

Reduction of plasma edge effect on plasma enhanced CVD processes

Номер патента: US6553932B2. Автор: Gang Chen,Ping Xu,Zhi Xu,Kuo-Shih Liu,Mario Dave Silvetti,Ramana Veerasingam. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

AlGaN/GaN high-electron-mobility power semiconductor device

Номер патента: CN105185827A. Автор: 任晓飞,孙伟锋,刘斯扬,陆生礼,时龙兴,魏家行,周迁. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-12-23.

Pulsed plasma enhanced CVD of metal silicide conductive films such as TiSi2

Номер патента: US5344792A. Автор: Trung T. Doan,Gurtej S. Sandhu. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1994-09-06.

Very low dielectric constant plasma-enhanced CVD films

Номер патента: US20050153574A1. Автор: Robert Mandal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-14.

Very low dielectric constant plasma-enhanced CVD films

Номер патента: US7094710B2. Автор: Robert P. Mandal. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2006-08-22.

Very low dielectric constant plasma-enhanced CVD films

Номер патента: US20020197849A1. Автор: Robert Mandal. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-12-26.

Spatial terahertz wave phase modulator based on high electron mobility transistor

Номер патента: US09865692B2. Автор: Yaxin Zhang,Yuncheng Zhao,Shixiong LIANG,Ziqiang YANG. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2018-01-09.

High electron mobility transistor with gate electrode below the channel

Номер патента: US20230197842A1. Автор: Peter Mueller,Thomas Morf,Cezar Bogdan Zota,Eunjung Cha. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Bidirectional device provided with a stack of two high electron mobility transistors connected head-to-tail

Номер патента: US20220336651A1. Автор: Thomas Oheix,Matthieu Nongaillard. Владелец: Exagan SAS. Дата публикации: 2022-10-20.

Pseudomorphic high electron mobility transistor, low noise amplifier, and related apparatus

Номер патента: US20240332412A1. Автор: TENG Teng,Xiaomin ZHOU,Jie Yu,Minglang YU,Jianwei Ye,Yusi XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Pseudomorphic high electron mobility transistor, low-noise amplifier and related device

Номер патента: EP4451341A1. Автор: TENG Teng,Xiaomin ZHOU,Jie Yu,Minglang YU,Jianwei Ye,Yusi XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

High-frequency group iii-nitride-based high electron mobility transistors with high-aluminum concentration barriers and recessed gates

Номер патента: US20240363745A1. Автор: Chirag Gupta,Jiahao Chen,Swarnav Mukhopadhyay,Shubhra Shweta Pasayat. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-10-31.

High-frequency group iii-nitride-based high electron mobility transistors with high-aluminum concentration barriers and recessed gates

Номер патента: WO2024226212A2. Автор: Chirag Gupta,Jiahao Chen,Swarnav Mukhopadhyay,Shubhra Shweta Pasayat. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-10-31.

Integrated circuit with high electron mobility transistor

Номер патента: GB2412238A. Автор: Chul Hong Park. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2005-09-21.

Reverse direction high-electron-mobility transistor circuit

Номер патента: US20200126970A1. Автор: David L. Whitney,Manuel M. Del Arroz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-04-23.

Back-barrier for gallium nitride based high electron mobility transistors

Номер патента: US20240234560A9. Автор: Robert Coffie. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Gallium nitride high electron mobility transistor and gate structure thereof

Номер патента: US20200212173A1. Автор: Chu-Kuang Liu,Hung-Kun Yang. Владелец: Excelliance Mos Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Gallium nitride high electron mobility transistor

Номер патента: US20230411509A1. Автор: Chu-Kuang Liu,Hung-Kun Yang. Владелец: Excelliance Mos Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

High electron mobility transistor device

Номер патента: US20230326980A1. Автор: Tzyy-Ming Cheng,Wei Jen Chen,Chi-Hsiao Chen,Kai Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Back-barrier for gallium nitride based high electron mobility transistors

Номер патента: EP4362105A2. Автор: Robert Coffie. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Back-barrier for gallium nitride based high electron mobility transistors

Номер патента: EP4362105A3. Автор: Robert Coffie. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

High Electron Mobility Transistor and Method for Fabricating the Same

Номер патента: US20110156100A1. Автор: Chien-I Kuo,Edward Yi Chang,Heng-Tung Hsu. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2011-06-30.

Field plate biasing of high electron mobility transistor

Номер патента: US20240282827A1. Автор: Marco A. Zuniga,Ashutosh Ravindra Joharapurkar,Thomas William Macelwee,Rohan Samsi,Lucas Andrew Milner,Vineet Unni,Jayasimha S. Prasad,Ramesh G. KARPUR. Владелец: GaN Systems Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Substrate biasing for bidirectional high electron mobility transistor device

Номер патента: US20240072161A1. Автор: Santosh Sharma. Владелец: GlobalFoundries US Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Field plate biasing of high electron mobility transistor

Номер патента: WO2024176174A1. Автор: Marco A. Zuniga,Thomas MacElwee,Jayasimha Prasad,Rohan Samsi,Ramesh Karpur,Vineet Unni,Lucas MILNER,Ashutosh Joharapurkar. Владелец: Infineon Technologies Canada Inc.. Дата публикации: 2024-08-29.

High electron mobility transistor

Номер патента: US09627523B2. Автор: Chih-Wei Yang,Chien-Kai Tung,Heng-Kuang Lin,Hsiang-Chun WANG,Hsein-chin CHIU. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Method and apparatus for controlling a gate voltage in high electron mobility transistor

Номер патента: US09461637B2. Автор: Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Woo-Chul JEON,Sun-Kyu Hwang,Jong-Bong Ha,Young-Hwan Park,Joon-Yong Kim,Ki-Yeol Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-04.

Reverse direction high-electron-mobility logic gate

Номер патента: US20200127664A1. Автор: David L. Whitney,Manuel M. Del Arroz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-04-23.

Reverse direction high-electron-mobility logic gate

Номер патента: US10651852B1. Автор: David L. Whitney,Manuel M. Del Arroz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-05-12.

Gallium nitride bi-directional high electron mobility transistor substrate voltage management circuit

Номер патента: US11838017B2. Автор: Michael J. Harrison,Patrick Lyle CHAPMAN,Christiaan Johannes van Antwerpen. Владелец: Enphase Energy Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Gallium nitride bi-directional high electron mobility transistor substrate voltage management circuit

Номер патента: EP4364205A1. Автор: Michael J. Harrison,Patrick Lyle CHAPMAN,Christiaan Johannes van Antwerpen. Владелец: Enphase Energy Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

High electron mobility transistor

Номер патента: US11251292B2. Автор: Yu Cao,Yongjie Cui,Andrew Arthur Ketterson. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2022-02-15.

Gallium nitride bi-directional high electron mobility transistor substrate voltage management circuit

Номер патента: US20220416784A1. Автор: Michael J. Harrison,Patrick Lyle CHAPMAN,Christiaan Johannes van Antwerpen. Владелец: Enphase Energy Inc. Дата публикации: 2022-12-29.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20200373419A1. Автор: Yu Cao,Yongjie Cui,Andrew Arthur Ketterson. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

GaN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220123136A1. Автор: Ting-Chang Chang,Yu-Shan Lin,Wen-Chung Chen,Hong-Chih Chen,Yun-Hsuan Lin,Mao-Chou Tai,Hao-Xuan Zheng,Fu-Yuan Jin,Fong-Min Ciou. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2022-04-21.

High Electron Mobility Transistor and manufacture method thereof

Номер патента: CN103579299B. Автор: 杨宗谕,黄宗义,邱建维,黄智方,张庭辅. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2016-04-13.

High electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: CN103579299A. Автор: 杨宗谕,黄宗义,邱建维,黄智方,张庭辅. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORP. Дата публикации: 2014-02-12.

Enhancement mode high-electron-mobility transistor having n-i-p semiconductor junction structure and applications thereof

Номер патента: US20230352574A1. Автор: Yu-Jen Liu,Tsung-Cheng Chang,Chia-Cheng Liu,Ming-Chin Chen,Ya-Yu YANG,Shang-Ju TU,Chung-Chih Tsai,Tien Ching FENG. Владелец: Unikorn Semiconductor Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Group-III nitride based high electron mobility transistor (HEMT) with barrier/spacer layer

Номер патента: US6849882B2. Автор: Umesh Mishra,Yifeng Wu,Stacia Keller,Prashant Chavarkar,Ioulia P. Smorchkova,Wladyslaw Walukiewicz. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2005-02-01.

High electron mobility transistor

Номер патента: US9331154B2. Автор: Chih-Wei Yang,Hsien-Chin Chiu,Chien-Kai Tung,Heng-Kuang Lin,Hsiang-Chun WANG. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

pseudomorphic high electron mobility transistor for suppressing negative differential resistance and method for producing the same

Номер патента: KR100554967B1. Автор: 이진구,오정훈,전병철,설우석,김삼동. Владелец: 김삼동. Дата публикации: 2006-03-03.

Aluminum gallium nitride/gallium nitride high electron mobility transistors having a gate contact on a gallium nitride based cap segment and methods of fabricating same

Номер патента: CA2453318C. Автор: Richard Peter Smith. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2014-06-10.

Group-iii nitride based high electron mobility transistor (hemt) with barrier/spacer layer

Номер патента: CA2447058C. Автор: Umesh Mishra,Yifeng Wu,Stacia Keller,Prashant Chavarkar,Ioulia P. Smorchkova,Wladyslaw Walukiewicz. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Aluminum free group iii-nitride based high electron mobility transistors and methods of fabricating same

Номер патента: EP1875514A1. Автор: Adam William Saxler. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2008-01-09.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20230335629A1. Автор: Zhibiao Zhou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20240136423A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

PSEUDOMORPHIC HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (pHEMT) COMPRISING LOW TEMPERATURE BUFFER LAYER

Номер патента: US20130285119A1. Автор: Phil Marsh,Hans G. Rohdin,Nate PERKINS,Jonathan Abrokwah,John Stanback. Владелец: Avago Technologies Wireless IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-10-31.

Method and apparatus for controlling a gate voltage in high electron mobility transistor

Номер патента: US20140240026A1. Автор: Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Woo-Chul JEON,Sun-Kyu Hwang,Jong-Bong Ha,Young-Hwan Park,Joon-Yong Kim,Ki-Yeol Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-08-28.

P-gan high electron mobility transistor field plating

Номер патента: WO2024030127A1. Автор: Ayman SHIBIB,Saba RAJABI. Владелец: Vishay Siliconix LLC. Дата публикации: 2024-02-08.

Back-barrier for gallium nitride based high electron mobility transistors

Номер патента: US20240136431A1. Автор: Robert Coffie. Владелец: Northrop Grumman Systems Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

High-electron mobility transistor

Номер патента: WO2010126288A1. Автор: Doyeol Ahn. Владелец: UNIVERSITY OF SEOUL INDUSTRY COOPERATION FOUNDATION. Дата публикации: 2010-11-04.

Capacitance networks for enhancing high voltage operation of a high electron mobility transistor and method therein

Номер патента: EP3997737A1. Автор: Alexey Kudymov,Sorin Georgescu,Kuo-Chang Yang,Kamal VARADARAJAN. Владелец: Power Integrations Inc. Дата публикации: 2022-05-18.

P-GaN HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20230378337A1. Автор: Ting-Chang Chang,yu-xuan Wang,Shih-Kai Lin,Wei-Chen Huang,Kai-Chun Chang,Mao-Chou Tai,Ting-Tzu Kuo. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2023-11-23.

High electron mobility transistor

Номер патента: US12002857B2. Автор: Shin-Cheng Lin,Chia-Ching HUANG. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

High electron mobility transistor

Номер патента: US11848376B1. Автор: Yan Lai,Wei-Chen YANG. Владелец: Hiper Semiconductor Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

Capacitance networks for enhancing high voltage operation of a high electron mobility transistor and method therein

Номер патента: US20220262941A1. Автор: Alexey Kudymov,Sorin Georgescu,Kuo-Chang Yang,Kamal VARADARAJAN. Владелец: Power Integrations Inc. Дата публикации: 2022-08-18.

High electron mobility transistors with charge compensation

Номер патента: US20200373383A1. Автор: Yuhao ZHANG. Владелец: Virginia Tech Intellectual Properties Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20240194774A1. Автор: Tzu-Wen Wang,Yen-Chun Tseng,Chuan-Wei Chen. Владелец: Taiwan Asia Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Reverse direction high-electron-mobility logic devices

Номер патента: US20200235742A1. Автор: David L. Whitney,Manuel M. Del Arroz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-07-23.

Reverse direction high-electron-mobility logic devices

Номер патента: US10879694B2. Автор: David L. Whitney,Manuel M. Del Arroz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-29.

Structure of high electron mobility light emitting transistor

Номер патента: US20160190384A1. Автор: Keh-Yung Cheng,Chun-Hung Wu,Yi-Chen Li,Chih-Fang Huang,Yu-Li Wang,Wei-Chen YANG,Shao-Yen Chiu,Ting-Fu Chang. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2016-06-30.

Structure of high electron mobility light emitting transistor

Номер патента: US09502602B2. Автор: Keh-Yung Cheng,Chun-Hung Wu,Yi-Chen Li,Chih-Fang Huang,Yu-Li Wang,Wei-Chen YANG,Shao-Yen Chiu,Ting-Fu Chang. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2016-11-22.

Passivation of transistor channel region interfaces

Номер патента: EP3353810A1. Автор: Tahir Ghani,Glenn A. Glass,Anand S. Murthy,Mark R. Brazier,Owen Y. Loh. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-08-01.

Stripping of deposits, especially silicon deposits, from the interior surface of a plasma-enhanced CVD reactor used for processing electronic and electrical devices

Номер патента: FR2777913A1. Автор: Jacques Schmitt,Emmanuel Turlot,Philippe Grousset. Владелец: Balzers Hochvakuum AG. Дата публикации: 1999-10-29.

Remote plasma source cleaning nozzle for plasma enhanced cvd chambers

Номер патента: US20200047222A1. Автор: Soo Young Choi,Chien-Teh Kao,Tae Kyung Won,Sanjay D. Yadav,Young dong Lee. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-02-13.

GaN-based high electron mobility transistors and fabrication method thereof

Номер патента: US12113127B2. Автор: Kuang-Po Hsueh. Владелец: Nanjing Greenchip Semiconductor Co ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Insulating structure of high electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20210013332A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20220278222A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: US20220278223A1. Автор: Che-Hung Huang,Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20220293779A1. Автор: HUANG CHIA-CHING,Du Yang,Lin Shin-Chen. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS HAVING IMPROVED CONTACT SPACING AND/OR IMPROVED CONTACT VIAS

Номер патента: US20200395474A1. Автор: Radulescu Fabian,Namishia Dan,Jones Evan,Fisher Jeremy,Sheppard Scott,Bothe Kyle,Hardiman Chris. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-17.

Method for cleaning a plasma enhanced CVD chamber

Номер патента: TWI236059B. Автор: Sheng-Wen Chen,Hung-Jui Chang,Ying-Lung Wang,Jean-Shiu-Hko Jang. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2005-07-11.

Structure of high electron mobility transistor growth on si substrate and the method thereof

Номер патента: US20130049070A1. Автор: Edward Yi Chang,Yueh-Chin Lin,Shih-Hsuan Tang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-02-28.

Structure of high electron mobility transistor growth on Si substrate and the method thereof

Номер патента: US8796117B2. Автор: Edward Yi Chang,Yueh-Chin Lin,Shih-Hsuan Tang. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2014-08-05.

Deuterium-based passivation of non-planar transistor interfaces

Номер патента: US20200286996A1. Автор: Tahir Ghani,Prashant Majhi,Glenn A. Glass,Anand S. Murthy,Aravind S. Killampalli,Mark R. Brazier,Jaya P. Gupta. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Deuterium-based passivation of non-planar transistor interfaces

Номер патента: US11094785B2. Автор: Tahir Ghani,Prashant Majhi,Glenn A. Glass,Anand S. Murthy,Aravind S. Killampalli,Mark R. Brazier,Jaya P. Gupta. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

ENHANCEMENT MODE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)

Номер патента: US20190067440A1. Автор: Shrivastava Mayank,Bhat Navakanta,SONI Ankit,RAGHAVAN Srinivasan,Dutta Gupta Sayak. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

Methods of forming high electron mobility transistors with controlled gate length and high electron mobility transistors with controlled gate length

Номер патента: US20240304678A1. Автор: Won Sang Lee. Владелец: Woflspeed Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor structure having both enhancement mode group iii-n high electron mobility transistors and depletion mode group iii-n high electron mobility transistors

Номер патента: US20210351288A1. Автор: John Logan,Brian D. Schultz,Kiuchul Hwang,Christos THOMIDIS. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2021-11-11.

High-electron-mobility transistor device with integrated p-n layer

Номер патента: US20240213239A1. Автор: James G. Fiorenza,Daniel Piedra. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

SEMICONDUCTOR STRUCTURE HAVING BOTH ENHANCEMENT MODE GROUP III-N HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND DEPLETION MODE GROUP III-N HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20210351288A1. Автор: Logan John,Hwang Kiuchul,Schultz Brian D.,Thomidis Christos. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2021-11-11.

SEMICONDUCTOR STRUCTURE HAVING BOTH ENHANCEMENT MODE GROUP III-N HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND DEPLETION MODE GROUP III-N HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20200328296A1. Автор: Logan John,Hwang Kiuchul,Schultz Brian D.,Thomidis Christos. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2020-10-15.

High electron mobility transistor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US11881478B2. Автор: Anbang ZHANG. Владелец: Innoscience Zhuhai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Semiconductor structure having both enhancement mode group iii-n high electron mobility transistors and depletion mode group iii-n high electron mobility transistors

Номер патента: SG11202106757RA. Автор: John Logan,Kiuchul Hwang,Christos THOMIDIS,Brian D Schultz. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2021-07-29.

Semiconductor structure having both enhancement mode group iii-n high electron mobility transistors and depletion mode group iii-n high electron mobility transistors

Номер патента: EP3953973A1. Автор: John Logan,Brian D. Schultz,Kiuchul Hwang,Christos THOMIDIS. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2022-02-16.

Semiconductor structure having both enhancement mode group iii-n high electron mobility transistors and depletion mode group iii-n high electron mobility transistors

Номер патента: WO2020209971A1. Автор: John Logan,Brian D. Schultz,Kiuchul Hwang,Christos THOMIDIS. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2020-10-15.

High electron mobility transistor devices

Номер патента: US20190067430A1. Автор: Hsin-Chih Lin,Shin-Cheng Lin,Yung-Hao Lin. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

High electron mobility transistor devices and method for fabricating the same

Номер патента: US20190067431A1. Автор: Hsin-Chih Lin,Shin-Cheng Lin,Yung-Hao Lin. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

High electron mobility transistor (HEMT) capable of absorbing a stored hole more efficiently and method for manufacturing the same

Номер патента: US09484429B2. Автор: Mayumi Morizuka,Yasuhiro Isobe. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

High-electron-mobility transistor employing gate first process and manufacturing method for the transistor

Номер патента: WO2014154120A1. Автор: 王鹏飞,张卫,孙清清,周鹏,刘晓勇. Владелец: 复旦大学. Дата публикации: 2014-10-02.

High-electron-mobility transistor device with integrated p-n layer

Номер патента: EP4391041A1. Автор: James Fiorenza,Daniel Piedra. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2024-06-26.

Selectively Area Regrown III-Nitride High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20130313613A1. Автор: Asif Khan,Vinod Adivarahan,Qhalid Fareed. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH CAROLINA. Дата публикации: 2013-11-28.

High electron mobility transistors and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20140021480A1. Автор: Woo-Chul JEON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-01-23.

High electron mobility transistor structure and method of making the same

Номер патента: US20160005823A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Fu-Chih Yang,King-Yuen Wong,Chih-Wen Hsiung,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20210013333A1. Автор: YANG PO-YU. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20210013334A1. Автор: Huang Shin-Chuan,Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming,CHEN Bo-Rong,Yeh Chih-Tung. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

Source/Drain Regions for High Electron Mobility Transistors (HEMT) and Methods of Forming Same

Номер патента: US20170025507A1. Автор: Chun-Hsiang FAN,Mao-Lin Huang,Chun-Hsiung Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210036138A1. Автор: Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US20150054035A1. Автор: Hong-Pyo HEO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-02-26.

Source/Drain Regions for High Electron Mobility Transistors (HEMT) and Methods of Forming Same

Номер патента: US20170084717A1. Автор: Huang Mao-Lin,Fan Chun-Hsiang,Lin Chun-Hsiung. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-23.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20220140124A1. Автор: Huang Shin-Chuan,Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming,CHEN Bo-Rong,Yeh Chih-Tung. Владелец: UNITED MICROELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2022-05-05.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20210098601A1. Автор: Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming,Yeh Chih-Tung,Huang Che-Hung. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20190103468A1. Автор: Lin Hsin-Chih,Lin Yung-Hao,LIN Shin-Cheng. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2019-04-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)

Номер патента: US20190115435A1. Автор: Lee Won Sang. Владелец: RFHIC Corporation. Дата публикации: 2019-04-18.

High Electron Mobility Transistor with Tunable Threshold Voltage

Номер патента: US20190115463A1. Автор: Teo Koon Hoo,Chowdhury Nadim. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20200111901A1. Автор: Chen Chih-Hao,Wen Wen-Ying. Владелец: Nuvoton Technology Corporation. Дата публикации: 2020-04-09.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210193824A1. Автор: Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

High-electron-mobility transistor

Номер патента: US20140252368A1. Автор: Jae-Hoon Lee,Chan-ho Park,Nam-young Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-11.

High Electron Mobility Transistors Having Improved Reliability

Номер патента: US20150236122A1. Автор: Fan Ren,Stephen John Pearton,Jihyun Kim. Владелец: University of Florida Research Foundation Inc. Дата публикации: 2015-08-20.

Enhancement-mode High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20200235218A1. Автор: Posthuma Niels,Stoffels Steve,De Jaeger Brice. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH TRENCH ISOLATION STRUCTURE CAPABLE OF APPLYING STRESS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20210280705A1. Автор: YANG PO-YU. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

High electron mobility transistor with trench isolation structure capable of applying stress and method of manufacturing the same

Номер патента: US20210280706A1. Автор: Po-Yu YANG. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20190252505A1. Автор: Lin Hsin-Chih,Lin Yung-Hao,LIN Shin-Cheng. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2019-08-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INDIUM NITRIDE LAYER

Номер патента: US20160284827A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,Lee Ru-Liang,CHIANG Chen-Hao,CHING Min-Chang. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-29.

METHODS FOR PROCESSING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)

Номер патента: US20200287004A1. Автор: Lee Won Sang. Владелец: RFHIC Corporation. Дата публикации: 2020-09-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)

Номер патента: US20170330940A1. Автор: Lee Won Sang. Владелец: RFHIC Corporation. Дата публикации: 2017-11-16.

GALLIUM NITRIDE HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH P-TYPE LAYERS AND PROCESS FOR MAKING THE SAME

Номер патента: US20170373176A1. Автор: Sriram Saptharishi. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-28.

GALLIUM NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR HAVING HIGH BREAKDOWN VOLTAGE AND FORMATION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20190393300A1. Автор: Li Chen,Zhang Feng,YAN Fawang,ZHAO Beiji,LIU Chunxue. Владелец: Shanghai Simgui Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-12-26.

Circuits and group iii-nitride high-electron mobility transistors with buried p-type layers improving overload recovery and process for implementing the same

Номер патента: US20220367696A1. Автор: Saptharishi Sriram,Thomas J. Smith, Jr.,Charles W. Richards, Iv. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS HAVING IMPROVED PERFORMANCE

Номер патента: US20220376099A1. Автор: Bothe Kyle,Bisges Joshua. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-24.

High electron mobility transistor and method of fabricating the same

Номер патента: CN112216736A. Автор: 杨柏宇. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

High electron mobility transistors and power amplifiers including said transistors having improved performance and reliability

Номер патента: EP3984068A1. Автор: Bruce Schmukler,Evan Jones,Scott Sheppard,Jeremy Fisher,Fabian Radulescu,Terry Alcorn,Kyle BOTHE,Chris Hardiman,Dan Namishia. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2022-04-20.

Epitaxial oxide high electron mobility transistor

Номер патента: US20230141076A1. Автор: Petar Atanackovic. Владелец: Silanna UV Technologies Pte Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

High electron mobility transistors and power amplifiers including said transistors having improved performance and reliability

Номер патента: US20200395475A1. Автор: Bruce Schmukler,Evan Jones,Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Terry Alcorn,Kyle BOTHE,Chris Hardiman,Dan Namishia. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

InGaAs/GaAs high electron mobility transistor

Номер патента: US6953955B2. Автор: Wei-Chou Hsu,Ching-Sung Lee. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2005-10-11.

Component with high electron mobility

Номер патента: US20230307360A1. Автор: Dominique BERGOGNE,Frederic Rothan. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2023-09-28.

Method for enhancing electron mobility in GaAs

Номер патента: US4383869A. Автор: Shing-gong Liu. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1983-05-17.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US11634356B2. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2023-04-25.

Process for the passivation of crystal defects

Номер патента: US4835006A. Автор: Adolf Muenzer,Heinrich Grasser. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1989-05-30.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US11926565B2. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2024-03-12.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US20210284569A1. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-09-16.

Glass and melt solder for the passivation of semiconductor components

Номер патента: US20230219839A1. Автор: Sabine Pichler-Wilhelm,Martin Letz,Linda Johanna Bartelt,Martun Hovhannisyan,Julia Gold,Antonio Trizzino. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2023-07-13.

METHOD OF MANUFACTURING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210104395A1. Автор: YAMAMURA Takuji,SUMIYOSHI Kazuhide,NISHIGUCHI Kenya. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2021-04-08.

Multi-function power control circuit using enhancement mode gallium nitride (gan) high electron mobility transistors (hemts)

Номер патента: US20170170731A1. Автор: Anthony G.P. Marini,James L. Larrauri,Simon P. Wainwright,Max Zafrani. Владелец: Freebird Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-06-15.

High power pseudomorphic gallium arsenide high electron mobility transistors

Номер патента: US5262660A. Автор: Po-Hsin Liu,Dwight C. Streit,Kin L. Tan. Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 1993-11-16.

Detection sensor comprising a selective high-electron-mobility transistor for detecting a gaseous or liquid component

Номер патента: US11408322B2. Автор: Vincent Aubry,Abdallah Ougazzaden,Yacine Halfaya,Paul Voss,Chris Bishop,Jean-Paul Salvestini. Владелец: Georgia Tech Lorraine. Дата публикации: 2022-08-09.

High electron mobility transistor, radio frequency transistor, power amplifier, and method for preparing high electron mobility transistor

Номер патента: EP4407688A4. Автор: Bin Hu,Min Zhu,Huantao DUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

High electron mobility transistors

Номер патента: US20160359034A1. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-08.

REDUCTION OF SURFACE LEAKAGE CURRENT BY SURFACE PASSIVATION OF CdZnTe AND RELATED MATERIALS USING HYPERTHERMAL OXYGEN ATOMS

Номер патента: WO1999027562A3. Автор: Mark A Hoffbauer,Thomas H Prettyman. Владелец: Thomas H Prettyman. Дата публикации: 1999-09-16.

Surface passivation of iii-v optoelectronic devices

Номер патента: WO2020242774A3. Автор: Andrew J. RITENOUR,Brendan M. Kayes. Владелец: Alta Devices, Inc.. Дата публикации: 2021-03-25.

Normally-off high electron mobility transistors and fabrication methods thereof

Номер патента: US09786775B2. Автор: Shang-Ju TU. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

High electron mobility transistor and manufacturing method therefor, chip, and electronic device

Номер патента: EP4250368A4. Автор: Tao Liu,Wei Lu,Qiang He,Haijun Li,Juncai Ma,Zhili Zhang,Cen TANG,Jin Rao,Shuiming LI,Chunhua FAN,Yangyi ZHU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

High electron mobility transistor and electronic device including the same

Номер патента: US20240274689A1. Автор: Boram Kim,Sunkyu Hwang,Jaejoon Oh,Injun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

High-electron-mobility transistor with protective diode

Номер патента: US09589951B2. Автор: Kiyoshi Takeuchi,Takashi Hase,Ippei Kume,Toshiharu Nagumo. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Nitride high electron mobility transistor wafer and manufacturing method of the nitride high electron mobility transistor wafer

Номер патента: KR102391923B1. Автор: 이호준,이태돈,조영우,송문규,박경욱,송현돈,배석태,남대호. Владелец: 주식회사 에이프로세미콘. Дата публикации: 2022-04-28.

High electron mobility transistor and method of manufacturing high electron mobility transistor

Номер патента: JP6746887B2. Автор: 健 中田. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Semiconductor device including high electron mobility transistor or high hole mobility transistor and method of fabricating the same

Номер патента: US11830940B2. Автор: Zilan Li. Владелец: Guangdong Zhineng Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Boron Surface Passivation of Phase Change Memory Material

Номер патента: US20240099166A1. Автор: Robert L. Bruce,Marinus Johannes Petrus Hopstaken,Luxherta Buzi,Charlie Tabachnick. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

High electron mobility transistor devices and methods for forming the same

Номер патента: US20210013331A1. Автор: Chih-Yen Chen. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

High Electron Mobility Transistor with Graded Back-Barrier Region

Номер патента: US20180138304A1. Автор: Gilberto Curatola. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2018-05-17.

High electron mobility transistor structure and manufacturing method therefor and application thereof

Номер патента: EP4318596A4. Автор: YU Zhou,QIAN LI,Qian Sun,Hui Yang,Yaozong ZHONG,Jianxun Liu,Xiaoning Zhan,Xinkun ZHANG. Владелец: Suzhou Institute of Nano Tech and Nano Bionics of CAS. Дата публикации: 2024-08-21.

High electron mobility transistor (hemt) and fabrication method therefor

Номер патента: EP3955313B1. Автор: Zilan Li. Владелец: Guangdong Zhineng Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

High electron mobility transistor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240274673A1. Автор: Hwi-Huang Chen,Chih-Hung Lu,Yu-Jen Huang,Jih-Wen Chou,Hsin-Hong Chen,Robin Christine Hwang. Владелец: Powerchip Semiconductor Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Methods of forming films including scandium at low temperatures using chemical vapor deposition to provide piezoelectric resonator devices and/or high electron mobility transistor devices

Номер патента: US12102010B2. Автор: Craig Moe,Jeffrey M. Leathersich. Владелец: Akoustis Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

High-electron-mobility transistor (HEMT) capable of protecting a III-V compound layer

Номер патента: US09941398B2. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Yu-Syuan Lin,Han-Chin Chiu,Yao-Chung Chang,Sheng-De Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Semiconductor device with high electron mobility transistor (HEMT) having source field plate

Номер патента: US09704982B2. Автор: Kentaro Chikamatsu,Taketoshi TANAKA,Minoru Akutsu. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-07-11.

High electron mobility transistor and method of forming the same using atomic layer deposition technique

Номер патента: US09685548B2. Автор: Ken Nakata. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Method of fabricating a high electron mobility transistor and fabricated transistor

Номер патента: DE102020214767A1. Автор: Hans-Joachim Würfl,Elke Meissner. Владелец: Ferdinand Braun Institut GgmbH Leibniz Inst Fuer Hoechstfrequenztechnik. Дата публикации: 2022-05-25.

High Electron Mobility Transistor (HEMT), Transistor Assembly, Method of Controlling a HEMT, and Method of Making a HEMT

Номер патента: DE102021201791A1. Автор: Fabian LOFINK,Bernhard Wagner,Holger Kapels,Simon Fichtner. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2022-08-25.

High electron mobility transistor with shortened recovery time

Номер патента: US9117742B2. Автор: Yoshitsugu Yamamoto,Hiroyuki Kinoshita,Tetsuo Kunii. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-08-25.

A STRUCTURE FOR INCREASING MOBILITY IN A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20190348532A1. Автор: Keller Stacia,Mishra Umesh K.,LI Haoran,Zheng Xun,Ahmadi Elaheh,Guidry Matthew,Romanczyk Brian,Wienecke Steven. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2019-11-14.

ELECTRONIC DEVICE PROVIDED WITH A STACK OF TWO HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS ARRANGED IN A BRIDGE HALF-ARM

Номер патента: US20220359714A1. Автор: Nongaillard Matthieu,Oheix Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-10.

Electronic device including a high electron mobility transistor including a gate electrode and a dielectric film

Номер патента: US10818787B1. Автор: Abhishek Banerjee,Peter Moens. Владелец: Deutsche Bank AG New York Branch. Дата публикации: 2020-10-27.

High electronic mobility transistor for optoelectronic application, has interface loaded with electrons at level of nucleation and barrier layers, and passivation layer made of aluminum oxide formed at surface of barrier layer

Номер патента: FR2922045A1. Автор: Erhard Kohn,Sylvain Delage,Farid Medjoub. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2009-04-10.

Composite-Channel High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20200411663A1. Автор: Sriram Saptharishi. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2020-12-31.

High electron mobility transistor hemt device, wafer, packaging device, and electronic device

Номер патента: EP4210111A4. Автор: Hang Wang,DONGLIANG Zhang,Feng Xie,Jianyun Zhu,Ronghua XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Metal-Oxide-Semiconductor High Electron Mobility Transistors and Methods of Fabrication

Номер патента: US20130288461A1. Автор: Dungan Thomas Edward,NIKKEL Philip Gene. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-31.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20190006498A1. Автор: Wong King-Yuen,TSAI Ming-Wei,Hsiung Chih-Wen,Lin Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20190013399A1. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) SEMICONDUCTOR DEVICES WITH REDUCED DYNAMIC RESISTANCE

Номер патента: US20210013336A1. Автор: Jeon Woochul,Salih Ali,Vaughan-Edmunds Llewellyn. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2021-01-14.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20220052166A1. Автор: Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming,Yeh Chih-Tung,Hsu Yi-Shan,Lee Ruey-Chyr. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

High Electron Mobility Transistor ESD Protection Structures

Номер патента: US20200035666A1. Автор: Shibib Muhammed Ayman,Liao Chungchi Gina. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

SEMICONDUCTOR DEVICE, HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND METHOD OF MANUFACTURING

Номер патента: US20150041825A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,Chen Xiaomeng,CHIANG Chen-Hao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2015-02-12.

LATERAL HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INTEGRATED CLAMP DIODE

Номер патента: US20200044033A1. Автор: Odnoblyudov Vladimir,Aktas Ozgur. Владелец: QROMIS, Inc.. Дата публикации: 2020-02-06.

III-NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20190051741A1. Автор: TUNG Chien-Kai,FENG Tien Ching. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-14.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210083073A1. Автор: Lin Chun-Hsien,LIU An-Chi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

METHOD OF FORMING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20150087118A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,CHIANG Chen-Hao,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

Group III-Nitride High-Electron Mobility Transistors with Buried P-Type Layers and Process for Making the Same

Номер патента: US20210104623A1. Автор: Smith Thomas,Sriram Saptharishi,Suvorov Alexander,Hallin Christer. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-08.

High electron mobility transistor and fabrication method thereof

Номер патента: US20210143257A1. Автор: Wen-Jung Liao,Chun-Ming Chang,Bo-rong CHEN,Shin-Chuan Huang,Chih-Tung Yeh,Chun-Liang Hou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20140203289A1. Автор: Chung-Yi Yu,Chi-Ming Chen,Po-Chun Liu,Chen-Hao Chiang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-07-24.

High Electron Mobility Transistor with Dual Thickness Barrier Layer

Номер патента: US20200119162A1. Автор: Curatola Gilberto,Haeberlen Oliver. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-16.

Method of forming a high electron mobility transistor

Номер патента: US20150140745A1. Автор: Chun-Wei Hsu,Jiun-Lei Jerry Yu,Po-Chih Chen,King-Yuen Wong,Fu-Wei YAO,Chen-Ju YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-05-21.

STRUCTURE FOR A GALLIUM NITRIDE (GaN) HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160141404A1. Автор: Wong King-Yuen,TSAI Ming-Wei,Chiu Han-Chin,Liu Sheng-de. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-19.

Group iii-nitride high-electron mobility transistors with gate connected buried p-type layers and process for making the same

Номер патента: US20210167199A1. Автор: Saptharishi Sriram,Jia GUO. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

High Electron Mobility Transistor with Graded Back-Barrier Region

Номер патента: US20180138304A1. Автор: Curatola Gilberto. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-17.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20210175343A1. Автор: Huang Shin-Chuan,Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming,CHEN Bo-Rong,Yeh Chih-Tung,Hsu Yi-Shan,Huang Che-Hung. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20140231816A1. Автор: Wong King-Yuen,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,Chiu Han-Chin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-08-21.

MANUFACTURING METHOD FOR FORMINGINSULATING STRUCTURE OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220293780A1. Автор: Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming. Владелец: UNITED MICROELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2022-09-15.

NORMALLY-OFF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND FABRICATION METHODS THEREOF

Номер патента: US20170154987A1. Автор: TU Shang-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

LATERAL HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INTEGRATED CLAMP DIODE

Номер патента: US20180158917A1. Автор: Odnoblyudov Vladimir,Aktas Ozgur. Владелец: QROMIS, Inc.. Дата публикации: 2018-06-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE

Номер патента: US20170170295A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20220310824A1. Автор: YANG PO-YU. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

Gallium Nitride High Electron Mobility Transistors (HEMTs) Having Reduced Current Collapse And Power Added Efficiency Enhancement

Номер патента: US20210202729A1. Автор: Logan John,Torabi Abbas,Schultz Brian D.. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2021-07-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)

Номер патента: US20170179271A1. Автор: Yang Long,Fenwick William,Lee Dong. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20200176593A1. Автор: Derluyn Joff. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20170194471A1. Автор: Yi Pei. Владелец: Gpower Semiconductor Inc. Дата публикации: 2017-07-06.

High Electron Mobility Transistor with Carrier Injection Mitigation Gate Structure

Номер патента: US20170200817A1. Автор: Curatola Gilberto,Prechtl Gerhard,Haeberlen Oliver,Ostermaier Clemens. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-13.

Enhancement Mode High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20160218204A1. Автор: Pei Yi. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20150221745A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,Hong Ki-ha. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-06.

High Electron Mobility Transistor and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20200203502A1. Автор: Wong Roy,Chiu Han-Chin,Zhou David,Chang Ming-Hong,Zhang Jinhan. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-25.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20210249528A1. Автор: Wang Yu-Ren,Hsu Yu-Ming,Chen Yen-Hsing,Yang Tsung-Mu. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20210249529A1. Автор: LU Shui-Yen,Chang Ming-Hua,Su Po-Wen. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INDIUM NITRIDE LAYER

Номер патента: US20150236101A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,Lee Ru-Liang,CHIANG Chen-Hao,CHING Min-Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2015-08-20.

High Electron Mobility Transistor and Method of Forming the Same

Номер патента: US20140319583A1. Автор: Wong King-Yuen,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,Chiu Han-Chin. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-30.

MULTI-GATE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS OF FABRICATION

Номер патента: US20170229565A1. Автор: Jun Kimin,MORROW Patrick,DASGUPTA Sansaptak,LEVANDER ALEJANDRO X.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20170236909A1. Автор: Kim Dong-Young,Min Byoung-Gue,Yoon Hyung Sup,Kim Hae Cheon,Nam Eun Soo,Kwon Yong-hwan,AHN Ho Kyun,KIM Seong Il,LEE Jong Min,LIM Jong-Won,KANG Dong Min,LEE Sang-Heung,DO Jae Won,CHO Kyu Jun,JUNG Hyun Wook. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2017-08-17.

Gallium Nitride High-Electron Mobility Transistors with Deep Implanted P-Type Layers in Silicon Carbide Substrates for Power Switching and Radio Frequency Applications and Process for Making the Same

Номер патента: US20190229187A1. Автор: Smith Thomas,Sriram Saptharishi. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20140332822A1. Автор: TAKEYA Motonobu. Владелец: SEOUL SEMICONDUCTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2014-11-13.

Group III-Nitride High-Electron Mobility Transistors with Buried P-Type Layers and Process for Making the Same

Номер патента: US20190237569A1. Автор: Smith Thomas,Sriram Saptharishi,Suvorov Alexander,Hallin Christer. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) DEVICE

Номер патента: US20190237570A1. Автор: III Edward A.,Beam,Xie Jinqiao. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

METHODS OF FORMING FILMS INCLUDING SCANDIUM AT LOW TEMPERATURES USING CHEMICAL VAPOR DEPOSITION TO PROVIDE PIEZOELECTRIC RESONATOR DEVICES AND/OR HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES

Номер патента: US20210280634A1. Автор: Moe Craig,Leathersich Jeffrey M.. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

High Electron Mobility Transistor Structure and Method of Making the Same

Номер патента: US20190245046A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210336042A1. Автор: Derluyn Joff. Владелец: . Дата публикации: 2021-10-28.

High-electron-mobility transistor (hemt) capable of protecting iii-v compound layer

Номер патента: US20170271492A1. Автор: Cheng-Yuan Tsai,Yu-Syuan Lin,Han-Chin Chiu,Yao-Chung Chang,Sheng-De Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

STRUCTURES FOR A HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND RELATED METHODS

Номер патента: US20210351286A1. Автор: LEI Jiacheng,JERRY JOSEPH James,SUSAI Lawrence Selvaraj. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-11.

Anti-barrier-conduction (abc) spacers for high electron-mobility transistors (hemts)

Номер патента: US20190267480A1. Автор: Keun-Yong BAN,Ashok T. Ramu. Владелец: Duet Microelectronics Inc. Дата публикации: 2019-08-29.

High Electron Mobility Transistor with Deep Charge Carrier Gas Contact Structure

Номер патента: US20190280093A1. Автор: Curatola Gilberto,Haeberlen Oliver. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-12.

High Electron Mobility Transistor with Dual Thickness Barrier Layer

Номер патента: US20190280100A1. Автор: Curatola Gilberto,Haeberlen Oliver. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-12.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH IMPROVED HEAT DISSIPATION

Номер патента: US20170294528A1. Автор: Ren Fan,Pearton Stephen John,Law Mark E.,Hwang Ya-Hsi. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-12.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20180294347A1. Автор: Wong King-Yuen,TSAI Ming-Wei,Hsiung Chih-Wen,Lin Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-11.

HIGH-VOLTAGE GAN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH REDUCED LEAKAGE CURRENT

Номер патента: US20170301780A1. Автор: Carlson Douglas,Boles Timothy E.,Kaleta Anthony. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings, Inc.. Дата публикации: 2017-10-19.

High-voltage gan high electron mobility transistors

Номер патента: US20170301781A1. Автор: Timothy E. Boles,Douglas CARLSON,Anthony Kaleta. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings Inc. Дата публикации: 2017-10-19.

High Electron Mobility Transistor Structure and Method of Making the Same

Номер патента: US20170338316A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FABRICATION HAVING REDUCED GATE LENGTH AND LEAK CURRENT

Номер патента: US20190334022A1. Автор: Charles Matthew,Buckley Julien,TORRES Alphonse. Владелец: Commissariat A L'Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives. Дата публикации: 2019-10-31.

METHOD OF FORMING A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160359015A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,CHEN Po-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-08.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20160359034A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,CHIANG Chen-Hao. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-08.

HIGH-VOLTAGE GAN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH REDUCED LEAKAGE CURRENT

Номер патента: US20190341480A1. Автор: Carlson Douglas,Boles Timothy E.,Kaleta Anthony. Владелец: MACOM Technology Solutions Holdings, Inc.. Дата публикации: 2019-11-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND A METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20160372588A1. Автор: Mizuno Shinya. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC DEVICE INNOVATIONS, INC.. Дата публикации: 2016-12-22.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) DEVICE AND METHOD OF MAKING THE SAME

Номер патента: US20170365700A1. Автор: III Edward A.,Beam,Xie Jinqiao. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-21.

Gallium Nitride High-Electron Mobility Transistors with Deep Implanted P-Type Layers in Silicon Carbide Substrates for Power Switching and Radio Frequency Applications and Process for Making the Same

Номер патента: US20170373178A1. Автор: Sriram Saptharishi,Suvorov Alexander,Hallin Christer. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-28.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20200365699A1. Автор: Chiu Han-Chin,Chang Ming-Hong,Liao Hang,WONG KINGYUEN. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-19.

High electron mobility transistor with reverse arrangement of channel layer and barrier layer

Номер патента: US20200373423A1. Автор: Ken Nakata. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

RF HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS INCLUDING GROUP III-N STRESS NEUTRAL BARRIER LAYERS WITH HIGH BREAKDOWN VOLTAGES

Номер патента: US20200388701A1. Автор: Bader Samuel James,Chaudhuri Reet,Xing Huili Grace,Jena Debdeep,Hickman Austin. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

High electron mobility transistor and method for forming the same

Номер патента: US20220376100A1. Автор: Po-Yu YANG,Hsun-Wen Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

A kind of high electron mobility transistor and preparation method thereof

Номер патента: CN109659354A. Автор: 李鹏,王群,胡加辉,郭炳磊,葛永晖,吕蒙普. Владелец: HC Semitek Zhejiang Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-19.

High-linearity enhanced gallium nitride high-electron-mobility transistor and preparation method thereof

Номер патента: CN111969046A. Автор: 刘志宏,郝跃,王泽宇,张进成,郝璐,蔡鸣,周弘,赵胜雷,张苇杭,段小玲. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2020-11-20.

REMOTE PLASMA SOURCE CLEANING NOZZLE FOR PLASMA ENHANCED CVD CHAMBERS

Номер патента: US20200047222A1. Автор: WON Tae Kyung,CHOI Soo Young,KAO Chien-Teh,LEE Young Dong,YADAV Sanjay D.. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

DIAMOND PRODUCING METHOD AND DC PLASMA ENHANCED CVD APPARATUS

Номер патента: US20170073836A1. Автор: Noguchi Hitoshi. Владелец: SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.. Дата публикации: 2017-03-16.

Apparatus for plasma-enhanced cvd using a gas separation-type showerhead and method of depositing silicon oxide using the same

Номер патента: KR100782292B1. Автор: 김경수,김호식,배근학. Владелец: 주식회사 아토. Дата публикации: 2007-12-05.

Method and apparatus for dual-frequency plasma-enhanced cvd

Номер патента: WO1997044141A1. Автор: Ludvik Martinu,Jolanta E. Klemberg-Sapieha,Nancy Lee Schultz Yamasaki,Christopher Wayne Lantman. Владелец: Optical Coating Laboratory, Inc.. Дата публикации: 1997-11-27.

Electronic device comprising two high electron mobility transistors

Номер патента: US20220320325A1. Автор: Thomas Oheix,Matthieu Nongaillard. Владелец: Exagan SAS. Дата публикации: 2022-10-06.

Monolithic cascode multi-channel high electron mobility transistors

Номер патента: US20240079484A1. Автор: Ming Xiao,Yuhao ZHANG. Владелец: Virginia Tech Intellectual Properties Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Semiconductor device with high-electron mobility transistor

Номер патента: US20230327008A1. Автор: Kirsten Emilie Moselund,Bogdan Cezar Zota,Eunjung Cha,Katarzyna Hnida-Gut. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Semiconductor device with high-electron mobility transistor

Номер патента: WO2023194825A1. Автор: Kirsten Emilie Moselund,Bogdan Cezar Zota,Eunjung Cha,Katarzyna Hnida-Gut. Владелец: Ibm Israel - Science & Technology Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

High electron mobility transistor semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: EP1923907A3. Автор: Weidong Liu,Jane Lee,Po-Hsin Liu,Jennifer Wang,Xiaobing Mei,Richard Lai,Wayne Yoshida,Linh Dang,Michael Barsky. Владелец: Northrop Grumman Space and Mission Systems Corp. Дата публикации: 2009-04-15.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20140042449A1. Автор: Jong-Seob Kim,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Woo-Chul JEON,Sun-Kyu Hwang,Jong-Bong Ha,Young-Hwan Park,Ki-Yeol Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-02-13.

Selectively Area Regrown III-Nitride High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20150001550A1. Автор: Khan Asif,Adivarahan Vinod,Fareed Qhalid. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INDIUM NITRIDE LAYER

Номер патента: US20160071969A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,Lee Ru-Liang,CHIANG Chen-Hao,CHING Min-Chang. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES

Номер патента: US20190067430A1. Автор: Lin Hsin-Chih,Lin Yung-Hao,LIN Shin-Cheng. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2019-02-28.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20190067431A1. Автор: Lin Hsin-Chih,Lin Yung-Hao,LIN Shin-Cheng. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2019-02-28.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20220093778A1. Автор: Wang Yu-Ren,Hsu Yu-Ming,Chen Yen-Hsing,Yang Tsung-Mu. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-24.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20150087142A1. Автор: Kim Seong-il,Yoon Hyung Sup,Nam Eun Soo,CHANG Woo Jin,AHN Ho Kyun,BAE Sung Bum,JU Chull Won,PARK Young Rak,MUN Jae Kyoung,LIM Jong-Won,KANG Dong Min,LEE Sang-Heung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2015-03-26.

A High-electron-mobility transistor (HEMT)

Номер патента: US20190081164A1. Автор: Mayank Shrivastava. Владелец: Indian Institute of Science IISC. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for Producing a Semiconductor Device Comprising a Schottky Diode and a High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20150214327A1. Автор: Decoutere Stefaan,Lenci Silvia. Владелец: IMEC. Дата публикации: 2015-07-30.

Semiconductor device including a high-electron-mobility transistor (hemt) and method for manufacturing the same

Номер патента: US20170229480A1. Автор: Jun-De JIN,Kuan-Chi Tsai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

CONTACT METALLURGY FOR SELF-ALIGNED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140346566A1. Автор: Basu Anirban. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-11-27.

ELEMENTAL SEMICONDUCTOR MATERIAL CONTACT FOR HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140349449A1. Автор: Shahrjerdi Davood,Hekmatshoartabari Bahman,Basu Anirban. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-11-27.

High electron mobility transistor and method of manufacturing the same

Номер патента: US20040061130A1. Автор: Mayumi Morizuka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-01.

Method of manufacturing a high electron mobility transistor

Номер патента: US6689652B2. Автор: Mayumi Morizuka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-02-10.

Bidirectional normally-off III-V high electron mobility transistor (HEMT)devices and circuits

Номер патента: US09960157B2. Автор: Gerhard Prechtl,Bernhard Zojer. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2018-05-01.

High electron mobility transistor having reduced threshold voltage variation and method of manufacturing the same

Номер патента: US09543391B2. Автор: In-jun Hwang,Jae-joon Oh,Jae-won Lee,Hyo-ji CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

High electron mobility transistor

Номер патента: US12068408B2. Автор: Olivier Trescases,Jaume Roig-Guitart,Peter Moens,Herbert DE VLEESCHOUWER,Mohammad Shawkat ZAMAN. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2024-08-20.

A high electron mobility transistor with source and drain electrodes below the channel

Номер патента: WO2023100058A1. Автор: Peter Mueller,Thomas Morf,Eunjung Cha,Bogdan ZOTA. Владелец: IBM Deutschland GmbH. Дата публикации: 2023-06-08.

Resurf iii-n high electron mobility transistor

Номер патента: WO2014179808A1. Автор: Naveen Tipirneni,Sameer Pendharkar,Jungwoo Joh. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2014-11-06.

Resurf iii-n high electron mobility transistor

Номер патента: EP2992559A1. Автор: Naveen Tipirneni,Sameer Pendharkar,Jungwoo Joh. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2016-03-09.

High electron mobility transistor

Номер патента: US5144378A. Автор: Kohki Hikosaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-09-01.

Lateral High Electron Mobility Transistor With Schottky Junction

Номер патента: US20130264580A1. Автор: Franz Hirler,Markus Zundel. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2013-10-10.

High electron mobility transistor with indium gallium nitride layer

Номер патента: TW201232776A. Автор: Paul Saunier. Владелец: Triquint Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-08-01.

High electron mobility transistor and method for fabricating the same

Номер патента: TW201123444A. Автор: Edward Yi Chang,Chie-Ni Kuo,Heng-Tung Hsu. Владелец: Univ Nat Chiao Tung. Дата публикации: 2011-07-01.

Gallium nitride bi-directional high electron mobility transistor in switched mode power converter applications

Номер патента: WO2022271618A1. Автор: Michael J. Harrison. Владелец: Enphase Energy, Inc.. Дата публикации: 2022-12-29.

Structure with photodiode, high electron mobility transistor, surface acoustic wave device and fabricating method of the same

Номер патента: US20240162208A1. Автор: Chih-Wei Chang,Chung-Yi Chiu,Da-Jun Lin,Fu-Yu Tsai,Bin-Siang Tsai. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Gallium nitride bi-directional high electron mobility transistor in switched mode power converter applications

Номер патента: US12088210B2. Автор: Michael J. Harrison. Владелец: Enphase Energy Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

High electron-mobility transistor

Номер патента: US09865720B2. Автор: Ken Nakata. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

High-electron mobility transistor with zinc oxide

Номер патента: US7105868B2. Автор: Shanthi Ganesan,Jeff Nause. Владелец: Cermet Inc. Дата публикации: 2006-09-12.

High electron mobility transistors

Номер патента: GB2239557A. Автор: Chun-Woo Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1991-07-03.

High electron mobility transistor with source and drain electrodes below the channel

Номер патента: US20230178642A1. Автор: Peter Mueller,Thomas Morf,Cezar Bogdan Zota,Eunjung Cha. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Electronic Device Including a High Electron Mobility Transistor Including a Gate Electrode and a Gate Interconnect and a Method of Using the Same

Номер патента: US20210005740A1. Автор: Banerjee Abhishek,Moens Peter. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2021-01-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS, METHODS OF MANUFACTURING THE SAME, AND ELECTRONIC DEVICES INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150048421A1. Автор: Shin Jai-kwang,Oh Jae-joon,CHOI Hyo-ji,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,PARK Ki-yeol. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-02-19.

Electronic Device Including a High Electron Mobility Transistor and a Diode

Номер патента: US20210225836A1. Автор: ROIG-GUITART Jaume,Mouhoubi Samir. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2021-07-22.

Electronic Device Including a High Electron Mobility Transistor Including a Gate Electrode and a Dielectric Film

Номер патента: US20200335617A1. Автор: Banerjee Abhishek,Moens Peter. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2020-10-22.

High electron mobility transistor having a boron nitride alloy interlayer and method of production

Номер патента: US20200273973A1. Автор: Xiaohang Li. Владелец: King Abdullah University of Science and Technology KAUST. Дата публикации: 2020-08-27.

High electron mobility transistors and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20130175539A1. Автор: Jong-Seob Kim,In-jun Hwang,Jai-Kwang Shin,Jae-joon Oh,Hyuk-soon Choi,Jong-Bong Ha,Ki-ha Hong,Chang-Yong Um. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-07-11.

MANUFACTURING OF SCALABLE GATE LENGTH HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20130189817A1. Автор: Peroni Marco,Romanini Paolo. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-25.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH FIELD PLATE ELECTRODE

Номер патента: US20130193487A1. Автор: Peroni Marco,Romanini Paolo. Владелец: SELES ES S.P.A.. Дата публикации: 2013-08-01.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130234207A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-09-12.

Lateral High Electron Mobility Transistor With Schottky Junction

Номер патента: US20130264580A1. Автор: Hirler Franz,Zundel Markus. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-10.

PSEUDOMORPHIC HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (pHEMT) COMPRISING LOW TEMPERATURE BUFFER LAYER

Номер патента: US20130285119A1. Автор: Phil Marsh,Hans G. Rohdin,Nate PERKINS,Jonathan Abrokwah,John Stanback. Владелец: Avago Technologies Wireless IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-10-31.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130302953A1. Автор: KIM Jun-youn,LEE Jae-won,CHOI Hyo-ji. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-14.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130307026A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,KIM Kyoung-yeon,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-11-21.

METHOD FOR HETEROEPITAXIAL GROWTH OF HIGH CHANNEL CONDUCTIVITY AND HIGH BREAKDOWN VOLTAGE NITROGEN POLAR HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20130307027A1. Автор: Lu Jing,Keller Stacia,Mishra Umesh K.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-21.

DOUBLE ALUMINUM NITRIDE SPACERS FOR NITRIDE HIGH ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20130341635A1. Автор: Cao Yu,Johnson Wayne,Laboutin Oleg. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-26.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140021510A1. Автор: Shin Jai-kwang,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,PARK Ki-yeol. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-23.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140021511A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,KIM Kyoung-yeon,KIM Joon-yong,PARK Ki-yeol,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-23.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140061725A1. Автор: Shin Jai-kwang,Ha Jong-bong,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,PARK Ki-yeol,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-03-06.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20140073095A1. Автор: SATO Ken. Владелец: Sanken Electric Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-03-13.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140077267A1. Автор: HEO Hong-Pyo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-03-20.

HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140097470A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,KIM Kyoung-yeon,KIM Joon-yong,HWANG Sun-kyu. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHODS FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20200006543A1. Автор: CHYI Jen-Inn,LIU Chia-Cheng,TU Shang-Ju,CHANG Tsung-Cheng,YANG Ya-Yu,Shen Yu-Jiun. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20150008485A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Hong Ki-ha. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

DEVICE AND SEMICONDUCTOR STRUCTURE FOR IMPROVING THE DISADVANTAGES OF P-GAN GATE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220029008A1. Автор: YANG Chun-Chieh,Lai Yu-Chen,Hsin Yue-Ming,ZHONG Yi-Nan. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-27.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICES AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20210013331A1. Автор: Chen Chih-Yen. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2021-01-14.

SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE HAVING THE SAME

Номер патента: US20220037516A1. Автор: Chen Chih-Yen,LUMBANTORUAN Franky Juanda. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corporation. Дата публикации: 2022-02-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20210020768A1. Автор: Chang Chun-Ming,Yeh Chih-Tung. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND FORMING METHOD THEREOF

Номер патента: US20210020769A1. Автор: Wu Chien-Liang,Kang Chih-Kai,Hsueh Sheng-Yuan,Sheng Yi-Chung,Lee Kuo-Hsing,Huang Guan-Kai. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

Hybrid high electron mobility transistor and active matrix structure

Номер патента: US20170047378A1. Автор: Ali Afzali-Ardakani,Devendra K. Sadana,Bahman Hekmatshoartabari,Davood Shahrjerdi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-16.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20150054034A1. Автор: Chih-Wei Yang,Hsien-Chin Chiu,Chien-Kai Tung,Heng-Kuang Lin,Hsiang-Chun WANG. Владелец: Epistar Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

HIGH ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20170054015A1. Автор: Nakata Ken. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD.. Дата публикации: 2017-02-23.

HIGH POWER PERFORMANCE GALLIUM NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH LEDGES AND FIELD PLATES

Номер патента: US20200052103A1. Автор: YANG Bin,Li Xia,Tao Gengming. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

ENHANCEMENT MODE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210066484A1. Автор: Huang Shin-Chuan,Hou Chun-Liang,Liao Wen-Jung,Chang Chun-Ming,CHEN Bo-Rong,Yeh Chih-Tung. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210066487A1. Автор: Wang Yu-Ren,WANG Yu-Chi,Hsu Yu-Ming,Chen Yen-Hsing,Yang Tsung-Mu. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

ENHANCEMENT-MODE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE AND METHOD OF MAKING SAME

Номер патента: US20140151712A1. Автор: Cao Yu,Johnson Wayne,Laboutin Oleg. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-05.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME USING ATOMIC LAYER DEPOSITION TECHNIQUE

Номер патента: US20170077283A1. Автор: Nakata Ken. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE WITH IMPROVED BREAKDOWN VOLTAGE PERFORMANCE

Номер патента: US20140170819A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-06-19.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20210091219A1. Автор: Patti Davide Giuseppe. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20140183598A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Chiu Han-Chin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-07-03.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140187003A1. Автор: Huang Tsung-Yi,Chiu Chien-Wei,Yang Tsung-Yu,Huang Chih-Fang,Chang Ting-Fu. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORPORATION, R.O.C. Дата публикации: 2014-07-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND FORMING METHOD THEREOF

Номер патента: US20220173236A1. Автор: Wu Chien-Liang,Kang Chih-Kai,Hsueh Sheng-Yuan,Sheng Yi-Chung,Lee Kuo-Hsing,Huang Guan-Kai. Владелец: UNITED MICROELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2022-06-02.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20150123139A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Oh Jae-joon,CHONG Soo-Gine,HWANG Sunk-yu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2015-05-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) AND FORMING METHOD THEREOF

Номер патента: US20220181478A1. Автор: Wu Chien-Liang,Kang Chih-Kai,Hsueh Sheng-Yuan,Sheng Yi-Chung,Lee Kuo-Hsing,Huang Guan-Kai. Владелец: UNITED MICROELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2022-06-09.

High Electron Mobility Transistor with Negative Capacitor Gate

Номер патента: US20190115445A1. Автор: Teo Koon Hoo,Chowdhury Nadim. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

High Electron Mobility Transistor with Varying Semiconductor Layer

Номер патента: US20190115462A1. Автор: Teo Koon Hoo,Chowdhury Nadim. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-18.

High Electron Mobility Transistor Structure

Номер патента: US20140209920A1. Автор: Tsai Chia-Shiung,Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-07-31.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20170133496A1. Автор: Wong King-Yuen,TSAI Ming-Wei,Hsiung Chih-Wen,Lin Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-11.

REVERSE DIRECTION HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR CIRCUIT

Номер патента: US20200126970A1. Автор: Whitney David L.,Del Arroz Manuel M.. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-23.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) SEMICONDUCTOR DEVICES WITH REDUCED DYNAMIC RESISTANCE

Номер патента: US20180138306A1. Автор: Jeon Woochul,Salih Ali,Vaughan-Edmunds Llewellyn. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2018-05-17.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20200144382A1. Автор: Chen Chih-Wei,Wen Wen-Ying. Владелец: Nuvoton Technology Corporation. Дата публикации: 2020-05-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20140239306A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-08-28.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20140242761A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,CHEN Po-Chih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-08-28.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR DEVICES

Номер патента: US20180158940A1. Автор: SHIBIB Ayman,TERRILL Kyle. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH LOCALIZED SUB-FIN ISOLATION

Номер патента: US20180158957A1. Автор: Ghani Tahir,Rachmady Willy,Kavalieros Jack T.,Dewey Gilbert,Metz Matthew V.,Murthy Anand S.,Mohapatra Chandra S.,Rahhal-Orabi Nadia M.,GARDNER Sanaz K.. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE

Номер патента: US20140253241A1. Автор: Lee Jae-Hoon,Lee Nam-Young,PARK Chan-Ho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-09-11.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20220310823A1. Автор: CHANG Chia-Ming,SYU Rong-Hao,SONG Chun-Han,LIAO Yu-An. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220310833A1. Автор: Park Younghwan,KIM Boram,KIM Jongseob,OH Jaejoon,CHONG Soogine,HWANG Sunkyu,SHIN Dongchul,KIM Joonyong,PARK Junhyuk,HWANG Injun,YU Minchul. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-09-29.

ENHANCEMENT-MODE HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210202728A1. Автор: Nongaillard Matthieu,Oheix Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

High Electron Mobility Transistor with Multiple Channels

Номер патента: US20140266324A1. Автор: Teo Koon Hoo,Ma Rui,Feng Peijie. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc.. Дата публикации: 2014-09-18.

GALLIUM NITRIDE BASED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR INCLUDING AN ALUMINUM GALLIUM NITRIDE BARRIER LAYER

Номер патента: US20160190296A1. Автор: NIE Hui,Kizilyalli Isik C.,Brown Richard J.,Bour David P.,Romano Linda,Prunty Thomas R.,Edwards Andrew P.,Raj Madhan M.. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-30.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20160190297A1. Автор: Ramdani Jamal,Liu LinLin,Kudymov Alexey. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-30.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160211330A1. Автор: Li Zhen-Yu,Kuo Hao-Chung,TZOU An-Jye,CHANG Chunyen. Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-07-21.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR DEVICES

Номер патента: US20190198651A1. Автор: SHIBIB Ayman,TERRILL Kyle. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-27.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20170213903A1. Автор: Wong King-Yuen,TSAI Ming-Wei,Hsiung Chih-Wen,Lin Ming-Cheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

GALLIUM NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND GATE STRUCTURE THEREOF

Номер патента: US20200212173A1. Автор: Liu Chu-Kuang,Yang Hung-Kun. Владелец: EXCELLIANCE MOS CORPORATION. Дата публикации: 2020-07-02.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160233326A1. Автор: LIN Heng-Kuang,YANG Chih-Wei,TUNG Chien-Kai,WANG Hsiang-Chun,CHIU Hsein-chin. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

Group III Nitride High Electron Mobility Transistor (HEMT) Device

Номер патента: US20140319584A1. Автор: Dong Zhihua,Cai Yong,YU Guohao,Zhang Baoshun. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-30.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140327043A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,JEON Woo-chul,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-11-06.

Spatial terahertz wave phase modulator based on high electron mobility transistor

Номер патента: US20170236912A1. Автор: Yaxin Zhang,Yuncheng Zhao,Shixiong LIANG,Ziqiang YANG. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2017-08-17.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT) WITH RESURF JUNCTION

Номер патента: US20200227543A1. Автор: Shrivastava Mayank,SOMAN Rohith,SONI Ankit,RAGHAVAN Srinivasan,BHAT Navakant. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-16.

III-Nitride High Electron Mobility Transistor Structures and Methods for Fabrication of Same

Номер патента: US20150255547A1. Автор: YUAN Li,Sun Haifeng,Lo Patrick Guo Qiang,Lee Kean Boon,Wang Weizhu,Selvaraj Susai Lawrence. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2015-09-10.

HYBRID HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND ACTIVE MATRIX STRUCTURE

Номер патента: US20190237511A1. Автор: Sadana Devendra K.,Afzali-Ardakani Ali,Shahrjerdi Davood,Hekmatshoartabari Bahman. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-01.

ELEMENTAL SEMICONDUCTOR MATERIAL CONTACTFOR HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140346567A1. Автор: Shahrjerdi Davood,Hekmatshoartabari Bahman,Basu Anirban. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2014-11-27.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20200251583A1. Автор: Chiang Huai-Tzu,Lin Sheng-Hao,Liu Kuan-Hung. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

TRENCH HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR DEVICE

Номер патента: US20140367695A1. Автор: Barlow Stephen P.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-18.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR HAVING A BORON NITRIDE ALLOY INTERLAYER AND METHOD OF PRODUCTION

Номер патента: US20200273973A1. Автор: Li Xiaohang. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

High electron mobility transistor (hemt) device

Номер патента: US20170294529A1. Автор: Jinqiao Xie,Edward A. Beam, III. Владелец: Qorvo US Inc. Дата публикации: 2017-10-12.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20180294341A1. Автор: Chen Chih-Yen,Yang Hsien-Lung. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-11.

HYBRID HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND ACTIVE MATRIX STRUCTURE

Номер патента: US20160315101A1. Автор: Sadana Devendra K.,Afzali-Ardakani Ali,Shahrjerdi Davood,Hekmatshoartabari Bahman. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-27.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20180301528A1. Автор: Chih-Yen Chen. Владелец: Wavetek Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Hybrid high electron mobility transistor and active matrix structure

Номер патента: US20160316539A1. Автор: Ali Afzali-Ardakani,Devendra K. Sadana,Bahman Hekmatshoartabari,Davood Shahrjerdi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-10-27.

DUAL-OPERATION DEPLETION/ENHANCEMENT MODE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20190326425A1. Автор: Ramu Ashok T.,Bayruns Robert J.,Bayruns John. Владелец: DUET MICROELECTRONICS LLC. Дата публикации: 2019-10-24.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH REVERSE ARRANGEMENT OF CHANNEL LAYER AND BARRIER LAYER

Номер патента: US20190334023A1. Автор: Nakata Ken. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC DEVICE INNOVATIONS,INC.. Дата публикации: 2019-10-31.

RESONANT BODY HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20150364669A1. Автор: Rais-Zadeh Mina,Ansari Azadeh. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

High Electron Mobility Transistors and Integrated Circuits with Improved Feature Uniformity and Reduced defects for Microwave and Millimetre Wave Applications

Номер патента: US20150372096A1. Автор: Shih Ishiang,Qiu Chunong,Shih Yi-Chi,Qiu Cindy X.. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH CHARGE COMPENSATION

Номер патента: US20200373383A1. Автор: Zhang Yuhao. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-26.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20200373419A1. Автор: Cao Yu,Ketterson Andrew Arthur,Cui Yongjie. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-26.

Composite-Channel High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20200411663A1. Автор: Saptharishi Sriram. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-31.

GALLIUM NITRIDE BI-DIRECTIONAL HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR IN SWITCHED-MODE NEUTRAL FORMING DEVICE APPLICATIONS

Номер патента: US20220360187A1. Автор: Harrison Michael J.. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220376102A1. Автор: KIM Jongseob,OH Jaejoon,HWANG Sunkyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-11-24.

GALLIUM NITRIDE BI-DIRECTIONAL HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR SUBSTRATE VOLTAGE MANAGEMENT CIRCUIT

Номер патента: US20220416784A1. Автор: Harrison Michael J.,Chapman Patrick Lyle,van Antwerpen Christiaan Johannes. Владелец: . Дата публикации: 2022-12-29.

T-gate and N-surface GaN/AlGaN fin-type high electron mobility transistor

Номер патента: CN105914232A. Автор: 郝跃,张进成,黄旭,张金风,安阳. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2016-08-31.

Apparatus for electrodeless measurement of electron mobility in nano material, apparatus for electrodeless measurement of hole mobility in nano material, method for electrodeless measurement of electron mobility in nano material, and method for electrodeless measurement of hole mobility in nano material

Номер патента: US20200225176A1. Автор: Yong Jin Kim,Jung Sub Lee,Kyu Wook IHM,Mi Hyun YANG. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2020-07-16.

Detection sensor having a sensor cell with a high-electron mobility transistor and ring resonator(s)

Номер патента: US11187671B2. Автор: Vincent Aubry,Abdallah Ougazzaden,Yacine Halfaya,Paul Voss,Jean-Paul Salvestini. Владелец: Georgia Tech Lorraine. Дата публикации: 2021-11-30.

Detection sensor having a sensor cell with a high-electron mobility transistor and ring resonator(s)

Номер патента: US20200278315A1. Автор: Vincent Aubry,Abdallah Ougazzaden,Yacine Halfaya,Paul Voss,Jean-Paul Salvestini. Владелец: Georgia Tech Lorraine. Дата публикации: 2020-09-03.

High electron conduction compound, electrochemical cell electrode incorporating this compound, method for electrode manufacture, and electrochemical cell

Номер патента: RU2279148C2. Автор: ХЁВЕЛЬН Фредерик Хендрик ВАН,Ламбертус ПЛОМП,Герард Доуи ЭЛЬЗИНГА. Владелец: Энергиеондерзоек Сентрум Недерланд. Дата публикации: 2006-06-27.

Method and device for reduction of passivation of battery module for reading meter readings

Номер патента: RU2594354C2. Автор: Николас ХИТ. Владелец: СЕНСУС ЮЭсЭй ИНК.. Дата публикации: 2016-08-20.

In-situ passivation of nonlinear optical crystals

Номер патента: WO2019040300A1. Автор: Yung-Ho Alex Chuang,Vladimir Dribinski,Mandar Paranjape. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

Electronic Device Comprising a Die Comprising a High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20200066568A1. Автор: Gordon M. Grivna,Ali Salih. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-02-27.

Electronic Device Comprising a Die Comprising a High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20200066568A1. Автор: Grivna Gordon M.,Salih Ali. Владелец: SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC. Дата публикации: 2020-02-27.

Electronic device comprising a die comprising a high electron mobility transistor

Номер патента: US10784140B2. Автор: Gordon M. Grivna,Ali Salih. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2020-09-22.

Group iii nitride-based high electron mobility transistor

Номер патента: US20130256681A1. Автор: Winston Wang,Willie Huang,Ivan Huang. Владелец: WIN Semiconductors Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

High electron mobility transistor (HEMT) and method of fabrication

Номер патента: US09947780B2. Автор: Gilbert Dewey,Ravi Pillarisetty,Han Wui Then,Marko Radosavljevic,Benjamin Chu-Kung,Robert Chau,Jack Kavalieros,Niloy Mukherjee,Matthew Metz. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

High electron mobility transistor - has lattice mismatched spacer layer between electron supply and electron transfer layers

Номер патента: FR2698722A1. Автор: Kikkawa Toshihide,Ochimizy Hirosato. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1994-06-03.

High electron mobility transistor, method of manufacturing the same and electronic device including transistor

Номер патента: KR102100927B1. Автор: 김선재,김태상,손경석. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2020-05-15.

High electron mobility transistor, method of manufacturing the same and electronic device including transistor

Номер патента: KR20150017040A. Автор: 김선재,김태상,손경석. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2015-02-16.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND POWER AMPLIFIERS INCLUDING SAID TRANSISTORS HAVING IMPROVED PERFORMANCE AND RELIABILITY

Номер патента: US20210175351A1. Автор: Radulescu Fabian,Namishia Dan,Jones Evan,Sheppard Scott,Alcorn Terry,Bothe Kyle,Hardiman Chris,Schmukler Bruce. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND POWER AMPLIFIERS INCLUDING SAID TRANSISTORS HAVING IMPROVED PERFORMANCE AND RELIABILITY

Номер патента: US20200395475A1. Автор: Radulescu Fabian,Namishia Dan,Jones Evan,Sheppard Scott,Alcorn Terry,Bothe Kyle,Hardiman Chris,Schmukler Bruce. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-17.

Junction high electron mobility transistor-heterojunction bipolar transistor (jhemt-hbt) monolithic microwave integrated circuit (mmic) and single growth method of fabrication

Номер патента: EP0829906A2. Автор: Jeffrey B. Shealy,Mehran Matloubian. Владелец: HE Holdings Inc. Дата публикации: 1998-03-18.

Semiconductor device, heterojunction bipolar transistor, and high electron mobility transistor

Номер патента: EP0624907A2. Автор: Shigekazu C/O Mitsubishi Denki K.K. Izumi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1994-11-17.

High electron mobility transistor

Номер патента: US5406099A. Автор: Shigeru Hiramatsu. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1995-04-11.

High electron mobility transistor

Номер патента: US20120274402A1. Автор: Christopher Boguslaw Kocon. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-11-01.

SHORT GATE-LENGTH HIGH ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS WITH ASYMMETRIC RECESS AND SELF-ALIGNED OHMIC ELECTRODES

Номер патента: US20130295757A1. Автор: Xu Dong,Chao Pane-chane,Chu Kanin. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)

Номер патента: US20210020767A1. Автор: Chiang Huai-Tzu,Lin Sheng-Hao,Liu Kuan-Hung. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

PSEUDOMORPHIC HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR COMPRISING DOPED LOW TEMPERATURE BUFFER LAYER

Номер патента: US20140138746A1. Автор: Abrokwah Jonathan,ROHDIN Hans G.,STANBACK John,Perkins Nathan,Marsh Philbert. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-22.

HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20160126339A1. Автор: Lee Jae-Hoon,Lee Nam-Young,PARK Chan-Ho. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

HIGH ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR PRIMARILY MADE OF NITRIDE SEMICONDUCTOR MATERIALS

Номер патента: US20170133499A1. Автор: MIZUE Chihoko. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-11.

ALUMINUM-GALLIUM-NITRIDE COMPOUND/GALLIUM-NITRIDE HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20180182879A1. Автор: REN Chunjiang,CHEN Tangsheng. Владелец: CHINA ELECTRONICS TECHNOLOGY GROUP CORPORATION NO. 55 RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2018-06-28.

Method for Producing a Semiconductor Device Comprising a Schottky Diode and a High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20140306235A1. Автор: Decoutere Stefaan,Lenci Silvia. Владелец: IMEC. Дата публикации: 2014-10-16.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20180308925A1. Автор: Chen Chih-Yen,Yang Hsien-Lung. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-25.

Gallium nitride based high electron mobility transistor (GaN-HEMT) device with an iron-doped cap layer and method of manufacturing the same

Номер патента: US09997594B2. Автор: Atsushi Yamada,Norikazu Nakamura,Tetsuro ISHIGURO. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

High electron mobility transistor having improved electron controllability

Номер патента: CA2080081C. Автор: Yoshikazu Nakagawa. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 1997-05-20.

High electron mobility transistor

Номер патента: US5321278A. Автор: Yoshikazu Nakagawa. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 1994-06-14.

High electron mobility transistor and manufacturing method therefor, chip, and electronic device

Номер патента: WO2022126353A1. Автор: 刘涛,李海军,贺强,张志利,汤岑,李水明,樊春华,饶进,鲁微,马俊彩,术洋溢. Владелец: 华为技术有限公司. Дата публикации: 2022-06-23.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20130146890A1. Автор: LEE Jae-won,Hwang In-jun,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,CHOI Hyo-ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-06-13.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140027779A1. Автор: KIM Jong-Seob,Hwang In-jun,Oh Jae-joon,CHOI Hyo-ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-30.

Protection Device for Normally-On and Normally-Off High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20140035003A1. Автор: Rieger Walter,Häberlen Oliver. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2014-02-06.

NORMALLY-OFF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140091363A1. Автор: Shin Jai-kwang,Oh Jae-joon,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,KIM Kyoung-yeon,KIM Joon-yong,PARK Ki-yeol,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-04-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF DRIVING THE SAME

Номер патента: US20140103969A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,PARK Ki-yeol. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-04-17.

PSEUDO-CONDUCTIVE HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND MICROELECTRONIC SENSORS BASED ON THEM

Номер патента: US20190021622A1. Автор: Lichtenstein Amir,RAM Ayal. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

DETECTION SENSOR COMPRISING A SELECTIVE HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR FOR DETECTING A GASEOUS OR LIQUID COMPONENT

Номер патента: US20200040798A1. Автор: AUBRY Vincent,OUGAZZADEN Abdallah,SALVESTINI Jean-Paul,VOSS Paul,HALFAYA Yacine,BISHOP Chris. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-06.

Rf acoustic wave resonators integrated with high electron mobility transistors including a shared piezoelectric/buffer layer and methods of forming the same

Номер патента: US20210067123A1. Автор: Craig Moe,Jeffrey B. Shealy,Mary Winters. Владелец: Akoustis Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20220085196A1. Автор: HUANG CHIA-CHING,Chen Chih-Yen,LUMBANTORUAN Franky Juanda. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

NOFF III-NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20190067465A1. Автор: SIZOV Victor. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

HYBRID HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND ACTIVE MATRIX STRUCTURE

Номер патента: US20170069689A1. Автор: Sadana Devendra K.,Afzali-Ardakani Ali,Shahrjerdi Davood,Hekmatshoartabari Bahman. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR INCLUDING PLURALITY OF GATE ELECTRODES

Номер патента: US20140151747A1. Автор: Shin Jai-kwang,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,PARK Ki-yeol,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-06-05.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140159048A1. Автор: Huang Tsung-Yi,Chiu Chien-Wei,Yang Tsung-Yu,Huang Chih-Fang,Hsiao Tsung-Chieh,Chang Ting-Fu,Su Hung-Der,PENG Po-Chin,Liu Ya-Hsien,Chang K.C.. Владелец: RICHTEK TECHNOLOGY CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-12.

High Electron Mobility Transistors with Minimized Performance Effects of Microcracks in the Channel Layers

Номер патента: US20150102387A1. Автор: Shih Ishiang,Qiu Chunong,Shih Yi-Chi,Qiu Cindy X.. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20150108547A1. Автор: Hwang In-jun. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

HIGH PERFORMANCE, HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS WITH GRAPHENE HOLE EXTRACTION CONTACTS

Номер патента: US20190140120A1. Автор: Ma Zhenqiang,Chang Tzu-Hsuan. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

High electron mobility transistors with improved gates and reduced surface traps

Номер патента: US20150263116A1. Автор: Shih Ishiang,Qiu Chunong,Shih Yi-Chi,Wu Jay-Hsing,Qiu Cindy X.. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

STRUCTURE TO INCREASE BREAKDOWN VOLTAGE OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20210367068A1. Автор: CHANG Ting-Chang,Tsai Yu-Lin,CHEN Po-Hsun,Lin Yu-Shan,Chen Wen-Chung,Tsao Yu-Ching. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-25.

GALLIUM NITRIDE BI-DIRECTIONAL HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR IN SWITCHED MODE POWER CONVERTER APPLICATIONS

Номер патента: US20220416678A1. Автор: Harrison Michael J.. Владелец: . Дата публикации: 2022-12-29.

High-electron mobility transistor terahertz wave modulator loaded in waveguide

Номер патента: US20200259235A1. Автор: Yaxin Zhang,Xilin ZHANG,Zhihong FENG,Shixiong LIANG,Ziqiang Yang Yang. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2020-08-13.

DETECTION SENSOR HAVING A SENSOR CELL WITH A HIGH-ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND RING RESONATOR(S)

Номер патента: US20200278315A1. Автор: AUBRY Vincent,OUGAZZADEN Abdallah,SALVESTINI Jean-Paul,VOSS Paul,HALFAYA Yacine. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

High electron mobility transistor-based terahertz wave space external modulator

Номер патента: US09590739B2. Автор: Shen Qiao,Yaxin Zhang,Zhihong FENG,Shixiong LIANG,Ziqiang YANG. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2017-03-07.

High-Voltage Gate Driver that Drives Group III-N High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20120176162A1. Автор: Karl Richard Heck. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 2012-07-12.

Power converter circuits including high electron mobility transistors for switching and rectification

Номер патента: US09467038B2. Автор: Robert Joseph Callanan. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Power amplifier having depletion mode high electron mobility transistor

Номер патента: US20110037521A1. Автор: Dong-Young Kim,Dong Min Kang,Sang-Heung Lee,Jong-Won Lim,Hae Cheon Kim,Hokyun Ahn,Woojin CHANG,Hong Gu Ji. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2011-02-17.

Power converter circuits including high electron mobility transistors for switching and rectification

Номер патента: US20150049514A1. Автор: Robert Joseph Callanan. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2015-02-19.

Vehicle electronic mobile device systems

Номер патента: US20170357359A1. Автор: Ida T. Mai-Krist. Владелец: Toyota Motor Engineering and Manufacturing North America Inc. Дата публикации: 2017-12-14.

Electronic mobile device holder

Номер патента: US09942998B1. Автор: John Mayes,George R. McDermand. Владелец: Flight Level Design Partners LLC. Дата публикации: 2018-04-10.

Method in an electronic mobile device, and such a device

Номер патента: US09549055B2. Автор: Martin NYSTROM,Alfred WIDELL. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Method in an electronic mobile device and such a device

Номер патента: US09398095B2. Автор: Mathias Jensen,Rodrigo Terra Rios. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-07-19.

Bluetooth-based limitation of functionality of motor vehicle drivers' personal electronic mobile smart devices during driving

Номер патента: WO2014072936A1. Автор: Dario DAFRE'. Владелец: FIAT GROUP AUTOMOBILES S.p.A.. Дата публикации: 2014-05-15.

Bluetooth-based limitation of functionality of motor vehicle drivers' personal electronic mobile smart devices during driving

Номер патента: EP2918066A1. Автор: Dario DAFRE'. Владелец: FCA Italy SpA. Дата публикации: 2015-09-16.

Method for providing an electronic ticket on a display of an electronic mobile device

Номер патента: EP4287676A1. Автор: Kai Meier,Ingo Kästner,Kerstin Hack. Владелец: CTS Eventim AG and Co KGaA. Дата публикации: 2023-12-06.

Method in an electronic mobile device and such a device

Номер патента: US20150163304A1. Автор: Mathias Jensen,Rodrigo Terra Rios. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

Method in an electronic mobile device, and such a device

Номер патента: EP3066820A1. Автор: Martin NYSTROM,Alfred WIDELL. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-09-14.

Method in an electronic mobile device, and such a device

Номер патента: US20160241693A1. Автор: Martin NYSTROM,Alfred WIDELL. Владелец: Sony Mobile Communications Inc. Дата публикации: 2016-08-18.

Method for regulating electron mobility of zinc oxide

Номер патента: US20240010512A1. Автор: Junjie Li,Tianshuo Zhang,Kai TONG,Longjia WU,Yulin GUO. Владелец: TCL Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Nfc-based limitation of functionality of motor vehicle drivers' personal electronic mobile smart devices during driving

Номер патента: EP2918065A1. Автор: Dario DAFRE'. Владелец: FCA Italy SpA. Дата публикации: 2015-09-16.

Electronic mobile device cover latch mechanism

Номер патента: US20110121584A1. Автор: Cody Allen Balk. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-26.

Method and system for correlating anatomy using an electronic mobile device transparent display screen

Номер патента: US09801693B1. Автор: Suk K. Kim-Whitty. Владелец: Sk Commercial Construction Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Pivotable display guide mechanism for an electronic mobile device

Номер патента: CA2769130C. Автор: Douglas Wayne Moskowitz,Martin Earl Holman Iv,Bruce Alan Ivanik. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2015-12-15.

Freezing system for electronic mobile device repair

Номер патента: CA3150137A1. Автор: Georgios Christodouloy HAJIPETROU,Hans CLAUSSEN,Charalampos KALYVAS. Владелец: Mobile Advanced Technologies LLC. Дата публикации: 2021-03-11.

Slide and offset pivot display for an electronic mobile device

Номер патента: CA2747713A1. Автор: Albert Murray Pegg. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2012-01-29.

Electronic mobile device having interchangeable covers

Номер патента: US20130231165A1. Автор: Jason Tyler Griffin,Tucker H. Fort,Przemyslaw Godycki. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2013-09-05.

Method and system of detection and passivation of an electric arc

Номер патента: US09837810B2. Автор: Philippe Tatry,Christian DONADILLE. Владелец: AIRBUS SAS. Дата публикации: 2017-12-05.

DIAMOND PRODUCING METHOD AND DC PLASMA ENHANCED CVD APPARATUS

Номер патента: US20140041574A1. Автор: Noguchi Hitoshi. Владелец: Shin-Estu Chemical Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-02-13.

Low temperature plasma enhanced CVD ceramic coating process for metal, alloy and ceramic materials

Номер патента: US6482476B1. Автор: Shengzhong Frank Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-19.

Plasma-enhanced CVD coating process

Номер патента: US5030475A. Автор: Volker Paquet,Ulrich Ackermann,Heinz-Werner Etzkorn,Ralf T. Kersten,Uwe Rutze. Владелец: Schott Glaswerke AG. Дата публикации: 1991-07-09.

Topside contact device and method for characterization of high electron mobility transistor (hemt) heterostructure on insulating and semi-insulating substrates

Номер патента: US20220381816A1. Автор: Jacek Lagowski,Marshall Wilson,Alexandre Savtchouk,Dmitriy Marinskiy,Bret Schrayer. Владелец: Semilab Semiconductor Physics Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-01.

Topside contact device and method for characterization of high electron mobility transistor (hemt) heterostructure on insulating and semi-insulating substrates

Номер патента: WO2022251045A1. Автор: Jacek Lagowski,Marshall Wilson,Alexandre Savtchouk,Dmitriy Marinskiy,Bret Schrayer. Владелец: Semilab Semiconductor Physics Laboratory Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-12-01.

Parameter extraction method for quasi-physical large-signal model for microwave gallium nitride high-electron-mobility transistors

Номер патента: US20210279379A1. Автор: Bo Yan,Yunqiu Wu,Yuehang Xu,Shuman Mao,Ruimin Xu. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2021-09-09.

Methods and apparatus to generate electronic mobile measurement census data

Номер патента: US11887133B2. Автор: Stephen S. Bell,Albert Ronald Perez,Tianjue Luo,Kumar Nagaraja Rao. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-01-30.

Methods and apparatus to generate electronic mobile measurement census data

Номер патента: US20180232748A1. Автор: Stephen S. Bell,Albert Ronald Perez,Tianjue Luo,Kumar Nagaraja Rao. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2018-08-16.

Methods, apparatus and computer readable media to generate electronic mobile measurement census data

Номер патента: US09953330B2. Автор: Stephen S. Bell,Albert Ronald Perez,Tianjue Luo,Kumar Nagaraja Rao. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2018-04-24.

Color analysis and control using an electronic mobile device transparent display screen integral with the use of augmented reality glasses

Номер патента: US20190197737A1. Автор: Suk K. Kim-Whitty. Владелец: Sk Commercial Construction Inc. Дата публикации: 2019-06-27.

Method for passivation of metal substrates and appropriate substrates with coating

Номер патента: RU2486286C2. Автор: Марк В. МАКМИЛЛЕН,Ричард Ф. КАРАБИН,Эдвард Ф. РАКИЕВИЧ,Мишель С. МАЙЛЗ. Владелец: Ппг Индастриз Огайо, Инк.. Дата публикации: 2013-06-27.

Zirconium- and titanium-bearing phosphating solution for passivation of metal composite surfaces

Номер патента: RU2464356C2. Автор: Йенс КРЕМЕР,Ян-Виллем БРОУВЕР,Маттиас ХАМАХЕР,Штефан ВИНКЕЛЬС,Франк-Оливер ПИЛАРЕК,Марк БАЛЬЦЕР. Владелец: Хенкель Аг Унд Ко. Кгаа. Дата публикации: 2012-10-20.

Method of passivation of contact surface of refractory reservoir made from mullite and slip used for realization of this method

Номер патента: RU2266880C1. Автор: Кристиан МАРТИ,Умберто АПРИЛЬ. Владелец: Снекма Мотер. Дата публикации: 2005-12-27.

Method for intra-loop passivation of steel surfaces of nuclear reactor

Номер патента: RU2542329C1. Автор: Петр Никифорович Мартынов,Радомир Шамильевич Асхадуллин,Константин Дмитриевич Иванов,Александр Юрьевич Легких,Сергей Викторович БУЛАВКИН,Саид Мирфаисович ШАРИКПУЛОВ,Алексей Николаевич Стороженко,Степан Артемович БОРОВИЦКИЙ,Александр Иванович Филин. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Акмэ-Инжиниринг". Дата публикации: 2015-02-20.

Method of passivation of strip-shaped black plate

Номер патента: RU2663232C2. Автор: Дирк МАТУШ,Райнер ЗАУЭР,Хельмут ОБЕРХОФФЕР,Андреа МАРМАНН,Татьяна КАСДОРФ,Герхард МЕНЦЕЛЬ,Райнер ГЁРЦ. Владелец: ТиссенКрупп Рассельштайн ГмбХ. Дата публикации: 2018-08-02.

Method of cleaning and passivation of inner surface of pipes with successive action of chemical reagent and steam-oxygen mixture

Номер патента: RU2704169C1. Автор: Лев Семенович Журавлев,Ольга Владимировна Овечкина,Сергей Евгеньевич Лысенко,Татьяна Давидовна Модестова. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Башкирская генерирующая компания" (ООО "БГК"). Дата публикации: 2019-10-24.

Electronic mobility aid platform and related use method

Номер патента: EP4327795A1. Автор: Diego Bertocchi,Federico Donzello. Владелец: Scen Srl. Дата публикации: 2024-02-28.

Method and system for correlating anatomy using an electronic mobile device transparent display screen

Номер патента: US20180177403A1. Автор: Suk K. Kim-Whitty. Владелец: Sk Commercial Construction Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

Wide-field imaging lens and optical image capturing device for electronic mobile devices

Номер патента: US20210356695A1. Автор: Stepan Evgenievich IVANOV,Viktoria Sergeevna KAIDARAKOVA. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-18.

Compositions And Methods for Pickling and Passivation of Stainless Steel Welds

Номер патента: US20230295809A1. Автор: Sergio Vitomir. Владелец: Protocol Environmental Solutions Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Composition for chromate-free passivation of galvanized steel surface

Номер патента: RU2677579C1. Автор: Тигран Ашотович Ваграмян,Наум Аронович Аснис,Неля Сетраковна Григорян,Алексей Александрович Абрашов,Екатерина Александровна Желудкова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский химико-технологический университет имени Д. И. Менделеева" (РХТУ им. Д. И. Менделеева). Дата публикации: 2019-01-17.

Method of preoperation physical-mechanical and steam cleaning and passivation of inner surface of boiler tubes from sediments

Номер патента: RU2599772C2. Автор: Анастасия Васильевна Кирилина,Сергей Юрьевич Суслов,Тамара Викторовна Зезюля,Александр Николаевич Полевич. Владелец: Открытое акционерное общество "Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени теплотехнический научно-исследовательский институт". Дата публикации: 2016-10-10.

Method for the in situ passivation of the steel surfaces of a nuclear reactor

Номер патента: CA2926597C. Автор: Petr Nikiforovich Martynov,Radomir Shamilievich ASKHADULLIN,Konstantin Dmitrievich IVANOV,Aleksandr Urievich LEGKIH,Aleksey Nikolaevich STOROZHENKO,Aleksandr Ivanovich FILIN,Sergey Viktorovich BULAVKIN,Said Mirfaisovich SHARIKPULOV,Stepan Artemovich BOROVITSKY. Владелец: AKME Engineering JSC. Дата публикации: 2019-04-23.

Method and apparatus for continuous passivation of sponge iron material

Номер патента: CA1062428A. Автор: Wolfgang B. Pietsch. Владелец: Midrex Corp. Дата публикации: 1979-09-18.

Metal passivation of heat - exchanger exposed to synthesis gas

Номер патента: GB2498271A. Автор: Peter Edward James Abbott,Martin Fowles. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2013-07-10.

Method and apparatus for film coated passivation of ink channels in ink jet printhead

Номер патента: US5334415A. Автор: Donald J. Hayes,John R. Pies. Владелец: Compaq Computer Corp. Дата публикации: 1994-08-02.

Zr-/ti-containing phosphating solution for passivation of metal composite surfaces

Номер патента: CA2669042C. Автор: Jens Kroemer,Jan-Willem Brouwer,Frank-Oliver Pilarek,Marc Balzer,Matthias Hamacher,Stephan Winkels. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-08-02.

Method for the passivation of the surface of coated metal bands and device for the application of the passive layer on a metal coated steel band

Номер патента: CA2558562C. Автор: Theodor Florian. Владелец: THYSSENKRUPP RASSELSTEIN GMBH. Дата публикации: 2014-11-04.

Passivation of ink jet print heads

Номер патента: EP1138498A1. Автор: Andrew Lee,Stuart Speakman,James Ashe,Christopher David Phillips. Владелец: Xaar Technology Ltd. Дата публикации: 2001-10-04.

Ex-situ reduction and dry passivation of noble metal catalysts

Номер патента: CA2581187C. Автор: Sylvain Hantzer,Stephen J. Mccarthy,Jean W. Beeckman,William G. Borghard. Владелец: ExxonMobil Research and Engineering Co. Дата публикации: 2012-08-07.

Metal passivation of heat-exchanger exposed to synthesis gas

Номер патента: US20130248770A1. Автор: Peter Edward James Abbott,Martin Fowles. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2013-09-26.

Ex-situ reduction and dry passivation of noble metal catalysts

Номер патента: EP1814664A2. Автор: Sylvain Hantzer,Stephen J. Mccarthy,Jean W. Beeckman,William G. Borghard. Владелец: ExxonMobil Research and Engineering Co. Дата публикации: 2007-08-08.

Ex-situ reduction and dry passivation of noble metal catalysts

Номер патента: WO2006039316A2. Автор: Sylvain Hantzer,Stephen J. Mccarthy,Jean W. Beeckman,William G. Borghard. Владелец: EXXONMOBIL RESEARCH AND ENGINEERING COMPANY. Дата публикации: 2006-04-13.

Ex-situ reduction and dry passivation of noble metal catalysts

Номер патента: CA2581187A1. Автор: Sylvain Hantzer,Stephen J. Mccarthy,Jean W. Beeckman,William G. Borghard. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-13.

After-passivation of phosphated metal surfaces

Номер патента: US4600447A. Автор: Heinz Portz,Reinhard Opitz,Kurt Hosemann. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 1986-07-15.

System for the passivation of metal surfaces affected by operating conditions and agents promoting corrosion

Номер патента: CA2063344C. Автор: Vincenzo Lagana'. Владелец: Urea Casale SA. Дата публикации: 2001-07-03.

Passivating of vanadium accumulated on inert or catalytic solid fluidizable particles

Номер патента: CA1212367A. Автор: H. Wayne Beck,Charles F. Lochow, Jr.,Charles W. Nibert. Владелец: Ashland Oil Inc. Дата публикации: 1986-10-07.

Process for the passivation of tinned stainless steel strip with a chrome-free passivation film

Номер патента: WO2002050341A3. Автор: Cristofaro Norma De. Владелец: Cristofaro Norma De. Дата публикации: 2003-09-25.

Computing device and method for enforcing passivity of scattering parameter equivalent circuit

Номер патента: US8798968B2. Автор: Shen-Chun Li,Shou-Kuo Hsu,Wen-Laing Tseng,Yu-Chang Pai,Cheng-Hsien Lee. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Computing device and method for enforcing passivity of scattering parameter equivalent circuit

Номер патента: US20120143584A1. Автор: Shen-Chun Li,Shou-Kuo Hsu,Wen-Laing Tseng,Yu-Chang Pai,Cheng-Hsien Lee. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-07.

Process for the passivation of tinned stainless steel strip with a chrome-free passivation film

Номер патента: EP1368515A2. Автор: Norma Ctro Sviluppo Materiali SpA DE CRISTOFARO. Владелец: Centro Sviluppo Materiali SpA. Дата публикации: 2003-12-10.

POWER CONVERTER CIRCUITS INCLUDING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS FOR SWITCHING AND RECTIFICATION

Номер патента: US20150049514A1. Автор: Callanan Robert Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-19.

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING A GATE VOLTAGE IN HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140240026A1. Автор: Shin Jai-kwang,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,JEON Woo-chul,PARK Young-hwan,KIM Joon-yong,PARK Ki-yeol,HWANG Sun-kyu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-08-28.

MULTI-FUNCTION POWER CONTROL CIRCUIT USING ENHANCEMENT MODE GALLIUM NITRIDE (GAN) HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS (HEMTS)

Номер патента: US20170170731A1. Автор: Marini Anthony G.P.,Larrauri James L.,Wainwright Simon P.,Zafrani Max. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-15.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR-BASED TERAHERTZ WAVE SPACE EXTERNAL MODULATOR

Номер патента: US20160233962A1. Автор: Feng Zhihong,ZHANG Yaxin,Liang Shixiong,Yang Ziqiang,QIAO Shen. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2016-08-11.

SENSORS USING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20140120630A1. Автор: Ren Fan,Pearton Stephen John,Wang Hung-Ta,LELE TANMAY,KANG BYOUNG-SAM. Владелец: University of Florida Research Foundation, Incorporated. Дата публикации: 2014-05-01.

METHOD AND SYSTEM FOR STEAM PURITY MONITORING THROUGH USE OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS

Номер патента: US20140154047A1. Автор: Witney Andrew Batton. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2014-06-05.

Parameter extraction method for quasi-physical large-signal model for microwave gallium nitride high-electron-mobility transistors

Номер патента: US20210279379A1. Автор: Bo Yan,Yunqiu Wu,Yuehang Xu,Shuman Mao,Ruimin Xu. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2021-09-09.

Manufacturing method of AlGaN/GaN insulated gate high electron mobility transistor (HEMT)

Номер патента: CN101710590B. Автор: 王冲,马晓华,郝跃,杨凌,高海霞,曹艳荣. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2011-12-07.

A kind of AlGaN/GaN HEMT transistor fabrication process

Номер патента: CN105552047B. Автор: 陈堂胜,任春江. Владелец: CETC 55 Research Institute. Дата публикации: 2018-02-27.

AlGaN/GaN high-electron-mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: CN101853880B. Автор: 王冲,马晓华,郝跃,杨凌,高海霞,曹艳荣. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2011-10-19.

Thin potential barrier enhanced AlGaN/GaN high electron mobility transistor and preparation method thereof

Номер патента: CN105931999B. Автор: 李鹏,杨眉,戴�峰,吕玲,马晓华,郑雪峰,郝跃,毛维,张亚松,何文龙,许晟瑞,曹艳荣,习鹤. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2018-06-26.

High-voltage gallium nitride high-electron mobility transistor

Номер патента: RU2534002C1. Автор: Николай Иванович Каргин,Роман Валериевич Рыжук,Руслан Иванович Иванов,Павел Игоревич Блинов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ" (НИЯУ МИФИ). Дата публикации: 2014-11-27.

Dispozitiv electronic mobil, sistem şi metodă pentru efectuarea operaţiunilor bancare online

Номер патента: RO134589A2. Автор: Neculai Agavriloaei. Владелец: Neculai Agavriloaei. Дата публикации: 2020-11-27.

Methods For In-Situ Passivation Of Silicon-On-Insulator Wafers

Номер патента: US20120003814A1. Автор: Ries Michael J.,Witte Dale A.,Stefanescu Anca,Jones Andrew M.. Владелец: MEMC ELECTRONIC MATERIALS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of passivation of equipment made from pearlite steels at minor amount of reagents

Номер патента: RU2271407C2. Автор: Валерий Владимирович Прозоров. Владелец: Валерий Владимирович Прозоров. Дата публикации: 2006-03-10.

Method and device for cleaning and passivation of inner surfaces of steam power plant water steam path

Номер патента: RU2588887C1. Автор: Александр Алексеевич Гольдин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ЛКЛ". Дата публикации: 2016-07-10.

Method of ecologically clean prestarting chemical cleaning and passivating of surfaces of heat power-generating equipment

Номер патента: RU2290586C1. Автор: Владимир Иванович Гомболевский,Борис Сергеевич Федосеев,Юрий Анатольевич Радин,Александр Федорович Богачев,Анатолий Яковлевич Копсов. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Всероссийский теплотехнический научно-исследовательский институт" (ОАО "ВТИ"). Дата публикации: 2006-12-27.

Passivation of metal surfaces for protection against atmospheric corrosion

Номер патента: RU2468125C1. Автор: Юрий Игоревич Кузнецов,Александр Александрович Чиркунов,Галина Владимировна Редькина,Илья Александрович Филиппов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук (ИФХЭ РАН). Дата публикации: 2012-11-27.

Composition for purification and passivation of surfaces of products from copper and copper-containing alloys

Номер патента: RU2568267C1. Автор: Валентина Васильевна Горбунова,Татьяна Борисовна Бойцова,Анна Алексеевна Кузьменко,Светлана Евгеньевна Мифоленкова,Агата Талгатовна Ахмедьярова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена". Дата публикации: 2015-11-20.

Method for cleaning and passivation of inner surface of boiler tubes with successive exposure to chemical agent and water-oxygen mixture

Номер патента: RU2525036C1. Автор: Надежда Наумовна Манькина,Лев Семенович Журавлев,Александр Алексеевич Гольдин. Владелец: Фонд поддержки научной, научно-технической и инновационной деятельности "Энергия без границ". Дата публикации: 2014-08-10.

Method of maintenance cleaning and passivation of drum boiler pipe inner surface and method of maintenance cleaning and passivation of pipe inner surface of combined-cycle plant waste-heat boiler (versions)

Номер патента: RU2525033C1. Автор: Анастасия Васильевна Кирилина,Сергей Юрьевич Суслов,Игорь Александрович Сергеев,Тамара Викторовна Зезюля,Игорь Сергеевич Суслов,Екатерина Александровна Соколова. Владелец: Фонд поддержки научной, научно-технический и инновационной деятельности "Энергия без границ". Дата публикации: 2014-08-10.

Method of steam and chemical cleaning and passivation of surfaces of metal pipes

Номер патента: RU2557155C1. Автор: Евгений Михайлович Марченко,Александр Николаевич Полевич,Юрий Евгеньевич Мишенин. Владелец: Юрий Евгеньевич Мишенин. Дата публикации: 2015-07-20.

Charging device for projectiles from hydride of metals with high extent of passivation of berillium, aluminium, titanium and their alloys

Номер патента: RU2463547C2. Автор: Александр Иванович Голодяев,Юрий Николаевич Шалимов. Владелец: Юрий Николаевич Шалимов. Дата публикации: 2012-10-10.

Method for passivation of pyrophoric metallic powders

Номер патента: RU2185262C2. Автор: В.И. Сухаренко,Л.И. Борисова,К.Б. Жогова. Владелец: Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики. Дата публикации: 2002-07-20.

Solution for passivation of metal surface

Номер патента: RU2090653C1. Автор: В.А. Гуськов,Т.К. Бундина,И.П. Якушева,Э.П. Жарикова. Владелец: Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной химии". Дата публикации: 1997-09-20.

Double channel pseudomorphic high electron mobility transistor

Номер патента: TW557567B. Автор: Kuo-Hui Yu,Wen-Chau Liu,Hung-Ming Chuang. Владелец: Univ Nat Cheng Kung. Дата публикации: 2003-10-11.

High electron mobility transistors

Номер патента: GB202400028D0. Автор: . Владелец: IQE plc. Дата публикации: 2024-02-14.

High electron mobility transistors

Номер патента: GB202400029D0. Автор: . Владелец: IQE plc. Дата публикации: 2024-02-14.

High electron mobility transistors

Номер патента: GB202406167D0. Автор: . Владелец: IQE plc. Дата публикации: 2024-06-19.

Method of vulcanization treatment on metamorphic InAlAs/InGaAs high electron mobility transistor (MHEMT)

Номер патента: TW200713463A. Автор: Yuan-Chang Huang,Liann-Be Chang,xian-qin Qiu,zhong-wen Chen,Wei-Xian Li. Владелец: Univ Chang Gung. Дата публикации: 2007-04-01.

A structure of high electron mobility transistor, a device comprising the structure and a metnod of producing the same

Номер патента: TW201114031A. Автор: Edward Yi Chang,Yun-Chi Wu,Yueh-Chin Lin. Владелец: Univ Nat Chiao Tung. Дата публикации: 2011-04-16.

EPITAXIAL SUBSTRATE FOR ELECTRONIC DEVICE, HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR, AND METHOD FOR PRODUCING THEM

Номер патента: JP6404738B2. Автор: 智彦 柴田,柴田　智彦. Владелец: Dowa Electronics Materials Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-17.

One-dimensional electronic gas GaN-based HEMT (High Electron Mobility Transistor) device adopting selective area epitaxy and preparation method thereof

Номер патента: CN103400856A. Автор: 马晓华,郝跃,陈伟伟,赵胜雷,汤国平. Владелец: Xidian University. Дата публикации: 2013-11-20.

ENHANCEMENT-MODE HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND THE MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120025270A1. Автор: CHANG EDWARD YI,Chang Chia-Hua,Lin Yueh-Chin. Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-02-02.

POWER CONVERTER CIRCUITS INCLUDING HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS FOR SWITCHING AND RECTIFCATION

Номер патента: US20120074920A1. Автор: Callanan Robert Joseph. Владелец: . Дата публикации: 2012-03-29.

E-Mode High Electron Mobility Transistor And Method Of Manufacturing The Same

Номер патента: US20120086049A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-04-12.

Methods Of Manufacturing High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20120088341A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,Hong Ki-ha,KIM Ki-Won,LEE Jung-hee,IM Ki-sik,KIM Dong-seok. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-12.

DEVICE HAVING SERIES-CONNECTED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120098037A1. Автор: CHANG EDWARD YI,HSU HENG-TUNG. Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-04-26.

E-Mode High Electron Mobility Transistors And Methods Of Manufacturing The Same

Номер патента: US20120112202A1. Автор: KIM Jong-Seob,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,Hong Ki-ha,Shin Jae-kwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-05-10.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR WITH INDIUM GALLIUM NITRIDE LAYER

Номер патента: US20120153356A1. Автор: Saunier Paul. Владелец: TRIQUINT SEMICONDUCTOR, INC.. Дата публикации: 2012-06-21.

High-Voltage Gate Driver that Drives Group III-N High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20120176162A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-07-12.

Low Noise Amplifiers Including Group III Nitride Based High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20120194276A1. Автор: Fisher Jeremy. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-02.

ENHANCEMENT-MODE HIGH-ELECTRON-MOBILITY TRANSISTOR AND THE MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120238064A1. Автор: . Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-09-20.

Lateral High Electron Mobility Transistor

Номер патента: US20120267636A1. Автор: Hirler Franz,Zundel Markus. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2012-10-25.

High Electron Mobility Transistors And Methods Of Manufacturing The Same

Номер патента: US20120280244A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-11-08.

Normally-Off High Electron Mobility Transistors

Номер патента: US20120280278A1. Автор: . Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG. Дата публикации: 2012-11-08.

DEVICE HAVING SERIES-CONNECTED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120305991A1. Автор: CHANG EDWARD YI,HSU HENG-TUNG. Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-12-06.

Enhancement Mode Group III-V High Electron Mobility Transistor (HEMT) and Method for Fabrication

Номер патента: US20120313106A1. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL RECTIFIER CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-13.

BIPOLAR HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHODS OF FORMING SAME

Номер патента: US20120326211A1. Автор: Stevens Kevin S.,Lutz Charles R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130001587A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,Hong Ki-ha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-01-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130032816A1. Автор: KIM Jong-Seob,Shin Jai-kwang,Hwang In-jun,Choi Hyuk-soon,Oh Jae-joon,Ha Jong-bong,Hong Ki-ha. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-02-07.

STRUCTURE OF HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR GROWTH ON SI SUBSTRATE AND THE METHOD THEREOF

Номер патента: US20130049070A1. Автор: Lin Yueh-Chin,YI CHANG Edward,Tang Shih-Hsuan. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-28.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130082240A1. Автор: KIM Jun-youn,LEE Jae-won,CHOI Hyo-ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-04.

STRUCTURE OF A HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND A FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20130082305A1. Автор: LIU Shih-Ming Joseph,YUAN Cheng-Guan. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR HAVING REDUCED THRESHOLD VOLTAGE VARIATION AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20130099285A1. Автор: LEE Jae-won,Hwang In-jun,Oh Jae-joon,CHOI Hyo-ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-25.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20130105808A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-05-02.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE AND METHOD

Номер патента: US20130105817A1. Автор: Saunier Paul. Владелец: TRIQUINT SEMICONDUCTOR, INC.. Дата публикации: 2013-05-02.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE WITH IMPROVED BREAKDOWN VOLTAGE PERFORMANCE

Номер патента: US20130134435A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-05-30.

High Electron Mobility Transistors with Multiple Channels

Номер патента: US20130141156A1. Автор: Duan Chunjie,Teo Koon Hoo,Feng Peijie,Oishi Toshiyuki,Masatoshi Nakayama. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-06.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR STRUCTURE WITH IMPROVED BREAKDOWN VOLTAGE PERFORMANCE

Номер патента: US20130161638A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,Hsiung Chih-Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-06-27.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20130168685A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-07-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20130168686A1. Автор: Hsu Chun-Wei,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju,CHEN Po-Chih. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-07-04.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20130187197A1. Автор: Kim Seong-il,Yoon Hyung Sup,Nam Eun Soo,CHANG Woo Jin,AHN Ho Kyun,BAE Sung Bum,JU Chull Won,PARK Young Rak,MUN Jae Kyoung,LIM Jong-Won,KANG Dong Min,LEE Sang-Heung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2013-07-25.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20130256679A1. Автор: Wong King-Yuen,Hsu Chun-Wei,YANG Fu-Chih,TSAI Chun Lin,YU Jiun-Lei Jerry,YAO Fu-Wei,YU Chen-Ju. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-10-03.

HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20140042446A1. Автор: Chen Chi-Ming,Yu Chung-Yi,Liu Po-Chun,CHIANG Chen-Hao,Chiu Han-Chin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-02-13.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140061658A1. Автор: Huang Tsung-Yi,Chiu Chien-Wei. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-06.

High Electron Mobility Transistor and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20140061724A1. Автор: Huang Tsung-Yi,Chiu Chien-Wei,Yang Tsung-Yu,Huang Chih-Fang,Chang Ting-Fu. Владелец: . Дата публикации: 2014-03-06.

PREDISPOSED HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR

Номер патента: US20140091309A1. Автор: Hallin Christer. Владелец: CREE, INC.. Дата публикации: 2014-04-03.

GaN high electron mobility transistor (HEMT) technology based monolithic integration active quasi circulator

Номер патента: CN104868866A. Автор: 蔡奇,车文荃,顾黎明,冯文杰,陈海东. Владелец: Nanjing University of Science and Technology. Дата публикации: 2015-08-26.

Structure of improving gallium nitride base high electronic mobility transistor property and producing method

Номер патента: CN1783512A. Автор: 王晓亮,王军喜,曾一平,李晋闽,李建平,胡国新,王翠梅. Владелец: Institute of Semiconductors of CAS. Дата публикации: 2006-06-07.

Enhanced high electron mobility transistor and manufacturing method thereof

Номер патента: CN102376760B. Автор: 张翼,张嘉华,林岳钦. Владелец: Spring Foundation of NCTU. Дата публикации: 2013-12-18.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.