Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Wafer temperature measurement tool

Номер патента: WO2014158549A1
Опубликовано: 02-10-2014
Автор(ы): David Vandenberg, Edward A. Mccloud
Принадлежит: QUALITAU, INC.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

In-situ wafer temperature measurement and control

Номер патента: WO2008033234A2. Автор: Keith Gaff. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2008-03-20.

In-situ wafer temperature measurement and control

Номер патента: WO2008033234A3. Автор: Keith Gaff. Владелец: Keith Gaff. Дата публикации: 2008-07-10.

In-situ wafer temperature measurement and control

Номер патента: US20080064126A1. Автор: Keith Gaff. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Systems and methods for wafer temperature measurement

Номер патента: WO2024006326A1. Автор: Tianxing Man,Songqi GAO,Devin SCHEIFELE. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2024-01-04.

Apparatus for temperature measurement and method of processing substrate

Номер патента: US20230083574A1. Автор: Yong Jun Seo,Su Jin Chae,Sang Hyun Son,Dong Ok AHN. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Substrate temperature measuring device, substrate processing apparatus including the same, and substrate temperature measuring method using the same

Номер патента: US20240019311A1. Автор: Yihwan Kim,Ji Hoon Kim,Yeon Tae KIM,Hun Yong PARK,Kee Soo Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Substrate holder having integrated temperature measurement electrical devices

Номер патента: US10978323B2. Автор: Eric Pape,Darrell EHRLICH,Mike Jing. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2021-04-13.

Optical sensor for remote temperature measurements

Номер патента: WO2023235192A1. Автор: Zheng Yan,Yan Sun,Ivan Maleev. Владелец: Tokyo Electron U.S. Holdings, Inc.. Дата публикации: 2023-12-07.

Optical sensor for remote temperature measurements

Номер патента: US20230395408A1. Автор: Zheng Yan,Yan Sun,Ivan Maleev. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Method for open-loop or closed-loop control of the temperature of a chuck for a wafer, temperature adjustment device, and wafer testing system

Номер патента: US11821941B2. Автор: Markus Eibl. Владелец: Att Advanced Temperature Test System GmbH. Дата публикации: 2023-11-21.

Transmission-Based Temperature Measurement of a Workpiece in a Thermal Processing System

Номер патента: US20240290664A1. Автор: Michael Yang,Michael Storek,Markus Lieberer,Rolf Bremensdorfer. Владелец: Mattson Thermal Products Gmbh. Дата публикации: 2024-08-29.

Transmission-based temperature measurement of a workpiece in a thermal processing system

Номер патента: US11610824B2. Автор: Michael Yang,Michael Storek,Markus Lieberer,Rolf Bremensdorfer. Владелец: Beijing E Town Semiconductor Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-21.

Shape-distortion standards for calibrating measurement tools for nominally flat objects

Номер патента: WO2020092280A1. Автор: Farhat Quli,Winfred Chow. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2020-05-07.

Synchronization between temperature measurement device and radiation sources

Номер патента: US20240014052A1. Автор: Benjamin Brosilow. Владелец: CI Systems Israel Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Temperature measurement method and heat treatment apparatus

Номер патента: US20230274959A1. Автор: Hikaru KAWARAZAKI,Takahiro Kitazawa. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Temperature measurement and heat-treating methods and systems

Номер патента: WO2003060447A1. Автор: David Malcolm Camm,Greg Stuart,Marcel Edmond Lefrancois,Shawna Kervin. Владелец: Vortek Industries Ltd.. Дата публикации: 2003-07-24.

Systems and methods for non-contact semiconductor temperature measurement

Номер патента: US20230298947A1. Автор: Kevin Anthony Grossklaus. Владелец: TUFTS UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-09-21.

Temperature measurement and temperature calibration methods and temperature measurement system

Номер патента: US12007289B2. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Temperature measurement and temperature calibration methods and temperature measurement system

Номер патента: US20210348972A1. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-11-11.

Temperature measurement arrangement in a power module

Номер патента: EP4310472A1. Автор: Daniel Christen,Francisco Canales,Sami Pettersson,Daniel Rothmund,Piotr Pawel CZYZ,Marcin Knafel. Владелец: ABB EMobility BV. Дата публикации: 2024-01-24.

Temperature Measurement Arrangement in a Power Module

Номер патента: US20240019315A1. Автор: Daniel Christen,Francisco Canales,Sami Pettersson,Daniel Rothmund,Piotr Pawel CZYZ,Marcin Knafel. Владелец: ABB EMobility BV. Дата публикации: 2024-01-18.

Wafer temperature measurement for wet etching bath applications

Номер патента: US20240242987A1. Автор: Zheng Yan,Ivan Maleev,Yaowu Ma,Basanta Bhaduri. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

METHODS AND APPARATUS FOR WAFER TEMPERATURE MEASUREMENT

Номер патента: US20190228997A1. Автор: Moradian Ala,HU Ji-Dih. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

Temperature measurement apparatus, method of estimating temperature profile, recording medium and heat treatment apparatus

Номер патента: US8992079B2. Автор: Masayuki Moroi,Hitoshi Kikuchi,Masato Koakutsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-03-31.

Electrostatic charge measurement tool

Номер патента: US11881424B2. Автор: Ho Fang,Subramani Iyer,Robert CHRONEOS, JR.. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Electrostatic charge measurement tool

Номер патента: US20230290662A1. Автор: Ho Fang,Subramani Iyer,Robert CHRONEOS, JR.. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Probe for temperature measurement, temperature measuring system and temperature measuring method using the same

Номер патента: US20110222581A1. Автор: Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-09-15.

Temperature measurement method, semiconductor substrate, and semiconductor device

Номер патента: US20230298948A1. Автор: Naoki Kosaka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Electronic circuit device, and temperature measurement method of electronic circuit device

Номер патента: EP4317925A1. Автор: Takuji Yasumoto. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Accurate temperature measurement for semiconductor applications

Номер патента: WO2006107571A2. Автор: Shrikant Lohokare. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2006-10-12.

Method and device for temperature measurement of finfet devices

Номер патента: US20180038742A1. Автор: Junhong Feng,Zhenghao Gan. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-02-08.

Method and device for temperature measurement of FinFET devices

Номер патента: US09970981B2. Автор: Junhong Feng,Zhenghao Gan. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Production-test die temperature measurement

Номер патента: US20140119405A1. Автор: Ricardo Pureza Coimbra,Edevaldo Pereira da Silva, Jr.,Pedro B. ZANETTA. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2014-05-01.

Temperature controller, temperature measurer, and plasma processing apparatus including the same

Номер патента: US20190385813A1. Автор: Hak-Young Kim,Bi-Ah SHIN,Bo-Ra YOON,Jun-Ho IM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-12-19.

Method of controlling a temperature of a chuck for a wafer, temperature setting device for setting a temperature of a chuck, and wafer test system for testing a wafer

Номер патента: TW202111462A. Автор: 馬克斯 艾伯. Владелец: 德商先進溫度測試系統有限公司. Дата публикации: 2021-03-16.

Method and apparatus for wafer temperature measurement using an independent light source

Номер патента: KR101464477B1. Автор: 지핑 리,자레드 아흐매드 리. Владелец: 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드. Дата публикации: 2014-11-24.

Method for open-loop or closed-loop control of the temperature of a chuck for a wafer, temperature adjustment device, and wafer testing system

Номер патента: EP4004970A1. Автор: Markus Eibl. Владелец: ATT Advanced Temperature Test Systems GmbH. Дата публикации: 2022-06-01.

Semiconductor wafer temperature determination by optical measurement of wafer expansion in processing apparatus chamber

Номер патента: CA2132851A1. Автор: Hiroichi Ishikawa,Michael Steven Kolesa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-10-28.

Semiconductor wafer temperature determination by optical measurement of wafer expansion in processing equipment chamber

Номер патента: JP2848704B2. Автор: イシカワ，ヒロイチ,スチーブン コレサ，マイクル. Владелец: MATEIARIARUZU RISAACHI CORP. Дата публикации: 1999-01-20.

Wafer temperature control device, wafer temperature control method, and wafer temperature control program

Номер патента: US20240234186A9. Автор: Kotaro Takijiri,Daisuke Hayashi. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: US20040037347A1. Автор: David Tao,Robert Meadows,Douglas Brown,Mathias Koch. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2004-02-26.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: EP1532666A2. Автор: David Tao,Douglas Brown,Mathias Koch,Robert David Meadows. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2005-05-25.

Optical path improvement, focus length change compensation, and stray light reduction for temperature measurement system of rtp tool

Номер патента: WO2004019386A2. Автор: David Tao,Douglas Brown,Mathias Koch,Robert David Meadows. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2004-03-04.

Wafer temperature control device, wafer temperature control method, and wafer temperature control program

Номер патента: US20240136212A1. Автор: Kotaro Takijiri,Daisuke Hayashi. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

In-situ wafer temperature measurement and control

Номер патента: US20190304820A1. Автор: John F. Baggett,Ronald N. Reece,Petros Miltiades Kopalidis. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2019-10-03.

Apparatus, system and method for real-time wafer temperature measurement based on light scattering

Номер патента: CA2136886C. Автор: Mehrdad M. Moslehi. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2007-07-10.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Secondary battery temperature measuring device

Номер патента: US20230366744A1. Автор: Kyu Beom Kim,Keun Jun LEE. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Semiconductor device and temperature measurement method

Номер патента: US20220244111A1. Автор: Shinichi Masuda. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

Cryogenic temperature measuring resistor element

Номер патента: US09464947B2. Автор: Koichi Ito,Takashi Mihara,Shinichiro Saraie. Владелец: Okazaki Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Temperature measuring device for measuring the temperature of a terminal of an electrical connector

Номер патента: US12100916B2. Автор: Olivier Pamart,Jose Ferreira,Eric Chatelus,Bruno Dupont. Владелец: Tyco Electronics France SAS. Дата публикации: 2024-09-24.

Temperature measuring method, substrate processing system and component to be provided in substrate processing apparatus of the substrate processing system

Номер патента: US09952032B2. Автор: Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

In-contact Continuous Temperature Measurement Probe for Non-insulated Electric-Current Carrying Conductor

Номер патента: US20240035897A1. Автор: Jamil A. Khan,Amitav Tikadar,Sowmya Raghu. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH CAROLINA. Дата публикации: 2024-02-01.

In-contact continuous temperature measurement probe for non-insulated electric-current carrying conductor

Номер патента: US11781921B2. Автор: Jamil A. Khan,Amitav Tikadar,Sowmya Raghu. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH CAROLINA. Дата публикации: 2023-10-10.

Temperature measurement in switchgear stations

Номер патента: CA2970154C. Автор: Jean-Luc Rayon,Vincenzo Girlando,Eros Stella. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2024-04-23.

In-contact Continuous Temperature Measurement Probe for Non-insulated Electric-Current Carrying Conductor

Номер патента: US20210181035A1. Автор: Jamil A. Khan,Amitav Tikadar,Sowmya Raghu. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH CAROLINA. Дата публикации: 2021-06-17.

Temperature measurement device and energy storage device including same

Номер патента: US20240035904A1. Автор: Hyung Suk Choi,Soo Hwan HAN. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Sensor fastening device for temperature measurement in an electrical machine of a motor vehicle

Номер патента: US12095313B2. Автор: Matthias Kästle,Christian Silvery,Marie-Luise Anke. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2024-09-17.

Delay-Free Temperature Measurement Of Power Switches

Номер патента: US20240319012A1. Автор: Fadi Rifai. Владелец: Vitesco Technologies GmbH. Дата публикации: 2024-09-26.

Temperature measurement arrangement for a battery system, a battery system, an electric vehicle, and a temperature measurement method

Номер патента: US20230155201A1. Автор: Michael Erhart,Florian MAXL. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-18.

Autonomous on-board temperature measurement device and method implemented by this device

Номер патента: US11988564B2. Автор: Olivier Bourgeois,Dimitri Tainoff,Anais Proudhom. Владелец: UNIVERSITE GRENOBLE ALPES. Дата публикации: 2024-05-21.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and battery system

Номер патента: US11978872B2. Автор: Tsuyoshi Koga,Masaya Murase. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Smart temperature-measurement system and method for container-type energy-storage battery module

Номер патента: EP4037058A1. Автор: Wei Jia,Dian Liu,Dehua SHANG. Владелец: Optim Shanghai New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-03.

Intelligent temperature measurement system for containerized energy storage battery modules and operation method thereof

Номер патента: US20210364365A1. Автор: Wei Jia,Dian Liu,Dehua SHANG. Владелец: Optim Shanghai New Energy Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Cryogenic temperature measuring resistor element

Номер патента: US20150211942A1. Автор: Koichi Ito,Takashi Mihara,Shinichiro Saraie. Владелец: Okazaki Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-30.

Apparatus, system and method for temperature measurement for dry-type transformer

Номер патента: US11835392B2. Автор: Jiansheng Chen,Chun Li,Yibo Zhang,Delun MENG. Владелец: Hitachi Energy Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Temperature measuring method and system for thin film solar cell process device

Номер патента: EP3444374A3. Автор: Zhang Mengshi. Владелец: Beijing Juntai Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-20.

Switching system temperature measurement

Номер патента: US20210190600A1. Автор: Thomas Hintze. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2021-06-24.

Temperature measuring device

Номер патента: US20230358615A1. Автор: Stephan Schafferhans,Krzysztof Murgott. Владелец: Lisa Draexlmaier GmbH. Дата публикации: 2023-11-09.

Sensor fastening device for temperature measurement in an electrical machine of a motor vehicle

Номер патента: US20220337132A1. Автор: Matthias Kästle,Christian Silvery,Marie-Luise Anke. Владелец: Schaeffler Technologies AG and Co KG. Дата публикации: 2022-10-20.

Vacuum sealing integrity of cryogenic electrostatic chucks using non-contact surface temperature measuring probes

Номер патента: US20240110836A1. Автор: Stephen Donald PROUTY,Andrew Antoine NOUJAIM,Alvaro Garcia,Martin Perez GUZMAN,Sankaranarayanan Ravi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

High-stability bluetooth temperature measurement probe

Номер патента: EP4328556A1. Автор: Jianhua Yu,Rongyuan Zhu,Guo Qu,Hengshou Qiu. Владелец: Shenzhen Kuki Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Temperature measurement system, temperature measurement method, and substrate processing apparatus

Номер патента: US11972921B2. Автор: Takeshi Kobayashi,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Temperature measurement device

Номер патента: US20220404214A1. Автор: Yusuke Hashimoto,Shunsuke Tomita,Tomoki Kanayama,Yuki KOMURO. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2022-12-22.

Improved vacuum sealing integrity of cryogenic electrostatic chucks using non-contact surface temperature measuring probes

Номер патента: WO2024072646A1. Автор: Stephen Donald PROUTY,Andrew Antoine NOUJAIM,Suresh Gupta,Tony Jefferson GNANAPRAKASA,Alvaro Garcia,Gautham BAMMANAHALLI,Tatsuichiro INOUE,Martin Perez GUZMAN,Sankaranarayanan Ravi. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-04-04.

High stability bluetooth temperature measuring probe

Номер патента: CA3186878A1. Автор: Jianhua Yu,Rongyuan Zhu,Guo Qu,Hengshou Qiu. Владелец: Shenzhen Kuki Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-15.

Bushings, system for temperature measurement and method for installing measuring assembly in bushing in switchgear

Номер патента: EP3752807B1. Автор: Jiansheng Chen,Chun Li,Yibo Zhang,Delun MENG,Zhijian ZHUANG,Zhiqiang Tao,Baokun XU. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-09-27.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US09412565B2. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Medical or dental instrument with a temperature-measuring device

Номер патента: US09526585B2. Автор: Karlheinz Eder,Christian Pruckner,Johann Grosslhuber. Владелец: W&H DENTALWERK BUERMOOS GMBH. Дата публикации: 2016-12-27.

Relay temperature measuring device and method

Номер патента: US20190334342A1. Автор: Sung-Hoon Choi,Dong-Jin Nam,Jeong-Min Shin,Yu-Hyun Sung. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Temperature measuring device

Номер патента: US11747215B2. Автор: Tsukasa Watanabe,Shunsuke Tomita,Shuzo Yamada,Kenji KIYA. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2023-09-05.

Temperature measuring device

Номер патента: US20220042857A1. Автор: Tsukasa Watanabe,Shunsuke Tomita,Shuzo Yamada,Kenji KIYA. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2022-02-10.

Relay temperature measuring device and method

Номер патента: US12095258B2. Автор: Sung-Hoon Choi,Dong-Jin Nam,Jeong-Min Shin,Yu-Hyun Sung. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Semiconductor workpiece temperature measurement system

Номер патента: US09933314B2. Автор: Jason M. Schaller,Ala Moradian,Morgan D. Evans,Klaus Petry. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Battery cell group temperature measurement system

Номер патента: US20240030507A1. Автор: Roger M. Brisbane,Seth P. Mansfield,Paul R. Campbell. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-01-25.

Conduit system for connecting a plurality of voltage tapping points and/or temperature measuring points of an electro-chemical device to a monitoring unit

Номер патента: US20120328919A1. Автор: Matthias Müller,Armin Diez,Wolfgang Fritz,Jan Groshert,Mark Laderer,Christoph Tamegger,Michael Kohnle. Владелец: ELRINGKLINGER AG. Дата публикации: 2012-12-27.

Configuration of battery management device for temperature measurement of microcontroller, and control method therefor

Номер патента: EP4206633A1. Автор: Jin Kyu JUNG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

EVSE with cordset handle temperature measurement

Номер патента: US09804034B2. Автор: Kevin M. JEFFERIES,Benjamin W. EDWARDS,Matthew L. WHITE,Konstantin A. Filippenko,Richard K. WEILER. Владелец: Schneider Electric USA Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Bluetooth temperature measuring probe

Номер патента: US20240201018A1. Автор: Rongyuan Zhu,Hengshou Qiu. Владелец: Shenzhen Kuki Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Bluetooth temperature measuring probe

Номер патента: CA3194896A1. Автор: Rongyuan Zhu,Hengshou Qiu. Владелец: Shenzhen Kuki Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-16.

Temperature measuring device

Номер патента: US20240353270A1. Автор: RANDEEP Singh,Hiromichi Tanaka,Tsuyoshi Ogawa,Akihiro Takamiya,Yoji Kawahara. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Configuration of battery management device for temperature measurement of microcontroller, and control method therefor

Номер патента: US20230369659A1. Автор: Jin Kyu JUNG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Temperature measurement apparatus for battery cell and method therefor

Номер патента: US20240055678A1. Автор: Hyung Suk Choi,Woo Jung KANG. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Probe for temperature measurement, temperature measuring system and temperature measuring method using the same

Номер патента: TW201202675A. Автор: Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-01-16.

Method for manufacturing semiconductor device, film thickness measurement method, temperature measurement method, and temperature measurement substrate

Номер патента: EP4435834A1. Автор: Makoto Moriyama,Takaki Hashimoto,Tsubasa IMAMURA,Ai Furubayashi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Method for manufacturing semiconductor device, film thickness measurement method, and temperature measurement method

Номер патента: US20240290666A1. Автор: Makoto Moriyama,Takaki Hashimoto,Tsubasa IMAMURA,Ai Furubayashi. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Wafer temperature control device, wafer temperature control method and wafer temperature control program

Номер патента: US20240258139A1. Автор: Kotaro Takijiri,Daisuke Hayashi. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Reaction apparatus for processing wafer, electrostatic chuck and wafer temperature control method

Номер патента: US20130126509A1. Автор: QIYANG He,YIYING Zhang. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Beijing Corp. Дата публикации: 2013-05-23.

Temperature measurement in a substrate processing apparatus

Номер патента: US20090120362A1. Автор: Tetsuya Hamada. Владелец: Screen Semiconductor Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-14.

Temperature measurement in a substrate processing apparatus

Номер патента: US8122851B2. Автор: Tetsuya Hamada. Владелец: Screen Semiconductor Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2012-02-28.

Wafer temperature sensing methods and related semiconductor wafer

Номер патента: US09562943B2. Автор: Jui-Cheng Huang,Mei-Chen Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Semiconductor wafer temperature measurement and control thereof using gas temperature measurement

Номер патента: US5992046A. Автор: Peter Weigand,Naohiro Shoda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-11-30.

Wafer temperature control device

Номер патента: US20240014051A1. Автор: Atsushi Kobayashi,Wataru Omuro. Владелец: Kelk Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Semiconductor wafer temperature control device and semiconductor wafer temperature control method

Номер патента: JP6735585B2. Автор: 和弘 三村,三村　和弘. Владелец: Kelk Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Temperature measurement circuit, temperature and light intensity measurement circuit, temperature measurement method and temperature and light intensity measurement method

Номер патента: US12123788B2. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US20140061190A1. Автор: Jeong-Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Yeon A. Hwang,Tae Gyoon Noh,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US09591699B2. Автор: Jeong Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Tae Gyoon Noh,Yeon A Hwang,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-07.

Temperature measurement structure, charging apparatus and motor vehicle

Номер патента: US20240369419A1. Автор: Chao Wang,Yongqiang Hao. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Temperature measuring device of a power semiconductor apparatus

Номер патента: US09562812B2. Автор: Hiroyuki Yoshimura. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Temperature measurement techniques for battery management circuits

Номер патента: US20240369423A1. Автор: Christian Heiling,Mario Fuchs,Heinrich Trebo. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-11-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US20230280398A1. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Номер патента: US11686766B2. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-27.

Temperature measuring device for container

Номер патента: US20210247236A1. Автор: Chao-Man Tseng. Владелец: K Jump Health Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Wafer temperature control method, temperature control system and semiconductor processing equipment

Номер патента: CN110362127B. Автор: 魏延宝. Владелец: Beijing Naura Microelectronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-02.

Temperature measurement device, integrated circuit, and temperature measurement method

Номер патента: US09897490B2. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Heating temperature measurement circuit and temperature measurement method therefor, and cooking apparatus and storage medium

Номер патента: EP4043847A1. Автор: Liang Zheng,Jun LEI,Shufeng Huang,Yunfeng Wang,Deyong JIANG,Zhihai MA. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Temperature measurement circuit, temperature measurement and light measurement circuit, temperature measurement method, and temperature measurement and light measurement method

Номер патента: EP3985368A1. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-20.

Temperature measurement structure, charging apparatus and motor vehicle

Номер патента: EP4390348A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20130315276A1. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2013-11-28.

Wearable electronic apparatus, body temperature measurement method, and wearable electronic device

Номер патента: US20240315569A1. Автор: Yi Liu,Chenlong Li,Chao Yao,Lipeng QI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Apparatus and method for temperature measurement and/or calibration via resonant peaks in an oscillator

Номер патента: US09859872B2. Автор: Adam Malpass. Владелец: Dialog Semiconductor UK Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US09593985B2. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Temperature sensor and temperature measurement apparatus

Номер патента: US11913842B2. Автор: Koichi Nagai,Naofumi Hino. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Temperature measurement for substrate carrier using a heater element array

Номер патента: US11929241B2. Автор: Zhiqiang Guo,Phillip Criminale. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Temperature measurement for substrate carrier using a heater element array

Номер патента: US20190295824A1. Автор: Zhiqiang Guo,Phillip Criminale. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Temperature measurement for substrate carrier using a heater element array

Номер патента: US20180053636A1. Автор: Zhiqiang Guo,Phillip Criminale. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-02-22.

Multipoint surface temperature measurement system and method thereof

Номер патента: US11680854B2. Автор: Ondrej Mecl,Noah John Joe Johnson. Владелец: Accelovant Technologies Corp. Дата публикации: 2023-06-20.

Multipoint surface temperature measurement system and method thereof

Номер патента: US20230129126A1. Автор: Ondrej Mecl,Noah John Joe Johnson. Владелец: Accelovant Technologies Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Radio Frequency Heating System with Temperature Measuring Component Based on Fluorescence

Номер патента: US20190132909A1. Автор: Zhiwei Wu,Liansheng CAO,Qiujin WANG. Владелец: Shanghai Gnd Etech Co ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Void monitoring device for measurement of wafer temperature variations

Номер патента: US20160155675A1. Автор: Jeffrey P. Gambino,Prakash Periasamy,Shawn A. Adderly,Samantha D. DiStefano,Mark J. Esposito. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-06-02.

VIRTUAL SENSOR FOR SPATIALLY RESOLVED WAFER TEMPERATURE CONTROL

Номер патента: US20190362991A1. Автор: Balasubramanian Ganesh,HALLER Uwe P.,MUNGEKAR Hemant. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

Non-intrusive or not very intrusive method for detecting stator defects by temperature measurements

Номер патента: WO2006039808A1. Автор: Jean Pronovost,Marius Cloutier,Marc Bissonnette,Louis-Pierre Lalonde. Владелец: VIBROSYSTM INC.. Дата публикации: 2006-04-20.

Wireless temperature-measurement system

Номер патента: EP3788332A2. Автор: Ronald J. Pulvermacher,David J. Pulvermacher,Donald E.Z. WEIER,Kerry WOODBURY. Владелец: Matrix Product Dev Inc. Дата публикации: 2021-03-10.

Temperature measurement using a thermistor

Номер патента: US20230366747A1. Автор: Zhong You,Johann G. Gaboriau,Amar Vellanki,Vamsikrishna Parupalli,Vikrant ARUMUGAM. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Wearable electronic apparatus, body temperature measurement method, and wearable electronic device

Номер патента: EP4350311A1. Автор: Yi Liu,Chenlong Li,Chao Yao,Lipeng QI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Earphones and temperature measurement method of earphones

Номер патента: EP4391582A1. Автор: LIN Lu,Yuchao ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Microelectromechanical oscillator having temperature measurement system, and method of operating same

Номер патента: US20070290763A1. Автор: Markus Lutz,Aaron Partridge,Bernhard E. Boser,Crist Y. Lu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-12-20.

Thermoelectric power generation structure and temperature measuring sensor

Номер патента: US11871669B2. Автор: Zongliang Song,Zhenhe Zhao. Владелец: Shenzhen Afu Intelligent Internet Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Apparatus and Method for Temperature Measurement and/or Calibration Via Resonant Peaks in an Oscillator

Номер патента: US20180102765A1. Автор: Adam Malpass. Владелец: Dialog Semiconductor UK Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20150139277A1. Автор: Inder Singh,Kent Suzuki,Edo Segal,Michael Fusaro,Dmitro Panin. Владелец: Kinsa Inc. Дата публикации: 2015-05-21.

Solar radiation correction in radiosonde temperature measurements

Номер патента: US11933938B2. Автор: Petteri Survo,Hannu Jauhiainen. Владелец: Vaisala Oy. Дата публикации: 2024-03-19.

Temperature measurement system

Номер патента: EP1962071A3. Автор: Douglas C. Myhre. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2009-07-29.

Temperature measuring device for metallurgical furnaces

Номер патента: US3946610A. Автор: Guy Sartorius. Владелец: Aciers Fins de L'est. Дата публикации: 1976-03-30.

Temperature measuring apparatus

Номер патента: CA1282254C. Автор: M. Dale Mayes. Владелец: Dow Chemical Co. Дата публикации: 1991-04-02.

Temperature measurement device

Номер патента: US20090252199A1. Автор: Tay-Jian Liu. Владелец: Foxconn Technology Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-08.

Temperature measurement device having separable thermal coupling wires

Номер патента: US20090268780A1. Автор: Tay-Jian Liu. Владелец: Foxconn Technology Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-29.

Temperature measuring structure, charging device, and motor vehicle

Номер патента: EP4400820A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Precise temperature measurement structure

Номер патента: US20240019314A1. Автор: Xiaofeng Qin. Владелец: Shanghai D&g Machinery Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Temperature measuring structure, charging device, and motor vehicle

Номер патента: US20240369420A1. Автор: Chao Wang,Yongqiang Hao. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Pipeline surface temperature measuring device with the installation device

Номер патента: RU2652661C1. Автор: Георгий Александрович Васильев,Сергей Алексеевич Суровикин,Валерий Васильевич Сосновиков,Сергей Алексеевич Ерохин. Владелец: Закрытое акционерное общество Специализированное конструкторское бюро "Термоприбор". Дата публикации: 2018-04-28.

Replacement system and replacement method for metallurgical temperature measuring and sampling probe

Номер патента: US20240344893A1. Автор: CHEN Shen,Changhong YE,Ruimin Wu,Xinghong SUN,Zhenhong WEI,Xitao SONG,Tianmao HUANG. Владелец: Baoshan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Dual-purpose temperature measuring device

Номер патента: US20240240997A1. Автор: Po-Hung Chen,Yung-Chang Chang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Temperature measuring device

Номер патента: US20210072091A1. Автор: Po-Hung Chen,Tseng-Lung Lin. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2021-03-11.

Methods and apparatuses for temperature measurement

Номер патента: WO2017122006A1. Автор: Robin CAIRNS,Michael James HOLT. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and temperature attenuation measurement method

Номер патента: US20230296447A1. Автор: Takashi Nonaka,Takahiro Okabe,Shigenao Maruyama,Toshinori Nakajima,Masaya Higashi,Yasushi Hosokawa,Manabu Orito,Yuya Iseki,Takuma Kogawa,Yutaro Tabata,Tadashi Matsudate. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Testing method for non-invasive temperature measuring instruments

Номер патента: EP3973262A1. Автор: Andreas Decker,Peter Ude,Wilhelm Daake,Jörg Gebhardt,Jürgen Horstkotte. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-03-30.

Temperature measuring board device and temperature measuring board thereof

Номер патента: US9810582B2. Автор: Hao-Chun Hsieh,Hsin-Lun Tsai,Kaun-Chang Wu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Temperature measuring board device and temperature measuring board thereof

Номер патента: US09810582B2. Автор: Hao-Chun Hsieh,Hsin-Lun Tsai,Kaun-Chang Wu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Wafer temperature measurement in an ion implantation system

Номер патента: US20230054419A1. Автор: Chien-Li Chen,Steven R. Walther. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2023-02-23.

Wafer temperature measurement in an ion implantation system

Номер патента: WO2021155270A1. Автор: Chien-Li Chen,Steven R. Walther. Владелец: ADVANCED ION BEAM TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-08-05.

Torch base including integrated temperature measurement and control capabilities

Номер патента: US12038332B2. Автор: Ilan Daniel Adir. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-16.

Temperature measurement device

Номер патента: US20180283961A1. Автор: Matthew Lang,Stephen Charles NUNN. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2018-10-04.

Temperature measurement device

Номер патента: EP3356776A1. Автор: Matthew Lang,Stephen Charles NUNN. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2018-08-08.

Temperature-measurement terminal structure

Номер патента: EP4459251A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP1486763A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Zixsys Inc. Дата публикации: 2004-12-15.

Temperature-measuring device with a temperature-measuring sleeve for measuring the temperature of a flowing medium

Номер патента: US20130343427A1. Автор: Anton Wellenhofer,Rolf-Harald Helmschrott. Владелец: Linde GmbH. Дата публикации: 2013-12-26.

Device for gripping and for reading of temperature values obtained by means of a temperature measuring device

Номер патента: CA1134646A. Автор: Per E.L. Persson,Bo H. Hdkansson. Владелец: Crafon Medical AB. Дата публикации: 1982-11-02.

Temperature-measuring probes

Номер патента: GB1338168A. Автор: . Владелец: SIRA INSTITUTE. Дата публикации: 1973-11-21.

Temperature measuring device and method for determining temperature

Номер патента: US11802799B2. Автор: Stefan Tabelander,Peter Ude,Wilhelm Daake,Joerg Gebhardt,Thilo Merlin. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-10-31.

Temperature Measurement Facility

Номер патента: US20240077365A1. Автор: Stefan Von Dosky,Thomas Bierweiler,Tim Scherer. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-03-07.

Method for Validating an Invasive Temperature Measurement System

Номер патента: US20230314241A1. Автор: Karsten Schroeder,Wilhelm Daake,Guruprasad Sosale,Joerg Gebhardt,Subhashish Dasgupta,Patric Ackermann,Horst Schwanzer. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-10-05.

Testing method for non-invasive temperature measuring instruments

Номер патента: WO2020234156A1. Автор: Andreas Decker,Peter Ude,Wilhelm Daake,Jörg Gebhardt,Jürgen Horstkotte. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2020-11-26.

Process fluid temperature measurement system with improved process intrusion

Номер патента: WO2018005082A1. Автор: Jason Rud,Steven Trimble. Владелец: Rosemount Inc.. Дата публикации: 2018-01-04.

Temperature measurement circuit and method, and microcomputer unit

Номер патента: US10670478B2. Автор: Masaaki Hirano,Chiaki Kumahara,Tetsuhiro Koyama. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2020-06-02.

Apparatus for temperature measurement

Номер патента: US5213417A. Автор: Mitsuya Otonari,Takeo Yamada,Naoki Harada,Masaru Yoshida,Shuichi Takano,Shinichiro Ohtaka. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 1993-05-25.

Temperature measuring board device and temperature measuring board thereof

Номер патента: US20150323393A1. Автор: Hao-Chun Hsieh,Hsin-Lun Tsai,Kaun-Chang Wu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2015-11-12.

Temperature measuring device of submarine chimney

Номер патента: LU500545B1. Автор: Haiyan Qi,Zhigang Zeng,Xuebo Yin. Владелец: Inst Oceanology Cas. Дата публикации: 2022-02-17.

Temperature measurement system and temperature measurement method

Номер патента: EP3106850A1. Автор: Hitomi MASUBUCHI,Daisaku Kanemoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-21.

Straight pipeline inner wall surface temperature measurement and transient identification method and computer terminal

Номер патента: EP4071655A1. Автор: Jun Tian,Hongtao Liu,Xin Liu,LANG Liu,Weihua Chen,Yalin Luo,Jun Ling,Qing Mao,Weijun Huang,Huaqing PENG,Benan CAI,Guihe ZHANG. Владелец: Northeast Electric Power University. Дата публикации: 2022-10-12.

Temperature measuring device for rotary kilns

Номер патента: US4118986A. Автор: Wilhelm Lange,Konrad Schymura,Dietrich Werner,Hans Georgi,Walter Pech. Владелец: Metallgesellschaft AG. Дата публикации: 1978-10-10.

Temperature-measuring thermal resistor with good anti-vibration performance

Номер патента: LU501993B1. Автор: Shijie DING,Shihai Zhao,Conglin Zhu,Xingguo Chen. Владелец: Tianchang Huining Electric Meter & Appliance Factory. Дата публикации: 2022-11-03.

Torch base including integrated temperature measurement and control capabilities

Номер патента: US20220107225A1. Автор: Ilan Daniel Adir. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-04-07.

Temperature measurement device

Номер патента: US20240068885A1. Автор: Tomoki Kanayama,Katsuhito Shirota,Yuki KOMURO. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2024-02-29.

Temperature measurement circuit and method, and microcomputer unit

Номер патента: US20180156675A1. Автор: Masaaki Hirano,Chiaki Kumahara,Tetsuhiro Koyama. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-06-07.

Temperature measurement device

Номер патента: AU2020465743A1. Автор: Yuji Sato,Toshinori YASUTOMI,Masaru Yamana,Takao Michinoshita,Toshiyuki SAIJYO. Владелец: Osaki Coolgen Corp. Дата публикации: 2023-03-30.

Temperature measurement device

Номер патента: US20230392994A1. Автор: Kenichi Nakayama,Shunsuke Tomita,Tomoki Kanayama. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2023-12-07.

Wafer temperature measurement in an ion implantation system

Номер патента: US11942343B2. Автор: Chien-Li Chen,Steven R. Walther. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

System and method for controlling wafer temperature

Номер патента: WO2003096391A2. Автор: Thomas E. Drake. Владелец: LOCKHEED MARTIN CORPORATION. Дата публикации: 2003-11-20.

System and method for controlling wafer temperature

Номер патента: WO2003096391A3. Автор: Thomas E Drake. Владелец: Thomas E Drake. Дата публикации: 2004-03-04.

Wafer defect measurement involves measuring depths of defects from wafer surface on basis of measured intensities of scattered laser radiation at two or more wafer temperatures

Номер патента: DE10027780A1. Автор: Hiroyuki Saito,Hiroyuki Goto,Hiroshi Shirai,Makiko Fujinami. Владелец: Toshiba Ceramics Co Ltd. Дата публикации: 2001-01-04.

Wafer Temperature Sensing Methods and Related Semiconductor Wafer

Номер патента: US20140139246A1. Автор: CHUANG MEI-CHEN,HUANG Jui-Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-05-22.

WAFER TEMPERATURE GRADIENT CONTROL TO SUPPRESS SLIP FORMATION IN HIGH-TEMPERATURE EPITAXIAL FILM GROWTH

Номер патента: US20220298672A1. Автор: "MSaad Hichem",Lin Xing,Demos Alexandros,Goodman Matthew,Naik Rutvij,Huang Shujin,Su Junwei,Lim Daw Gen. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

Method and reactor system for wafer temperature gradient control to suppress slip formation in high-temperature epitaxial film growth

Номер патента: TW202301501A. Автор: 蘇俊威,希肯 姆薩德,亞歷山卓 迪摩斯,林興,馬修 古德曼,道根 林,黃舒瑾,魯特維 奈克. Владелец: 荷蘭商Ａｓｍ Ｉｐ私人控股有限公司. Дата публикации: 2023-01-01.

System and method for controlling wafer temperature

Номер патента: AU2003234284A8. Автор: Thomas E Drake. Владелец: Lockheed Corp. Дата публикации: 2003-11-11.

System and method for controlling wafer temperature

Номер патента: AU2003234284A1. Автор: Thomas E. Drake. Владелец: Lockheed Corp. Дата публикации: 2003-11-11.

Temperature measuring apparatus

Номер патента: WO2011070319A1. Автор: Timothy Kenneth Barry. Владелец: Calex Electronics Limited. Дата публикации: 2011-06-16.

Electrical storage device temperature measuring method

Номер патента: US9229061B2. Автор: Hiroyuki Hebiguchi. Владелец: Alps Green Devices Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-05.

Temperature measuring apparatus, battery apparatus including the same and temperature measuring method

Номер патента: EP3907813B1. Автор: Seunghyun Lee,Donghyeon YU. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Mixed-mode temperature measurement communication phase conductor and temperature measurement communication system

Номер патента: EP2930721A4. Автор: Wei Li,Ying Zhang,ZhiHui Wang,Kai Zhang,Hongli Yu,Weiyong Wang,Yifan Lin,Bin Shu,Zhanwei Zhu. Владелец: Economic and Technological Research Institute of State Grid Beijing Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Temperature measuring device for measuring the temperature of a terminal of an electrical connector

Номер патента: EP4080180B1. Автор: Olivier Pamart,Jose Ferreira,Eric Chatelus,Bruno Dupont. Владелец: Tyco Electronics France SAS. Дата публикации: 2024-08-14.

Systems and methods for placing an imaging tool in a test and measurement tool

Номер патента: EP3144688A3. Автор: Duncan Kearsley,Paul RINGSRUD,Clark Huber. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2017-06-21.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: WO2024166017A1. Автор: Roland Greenwood. Владелец: Imdex Technologies Pty Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: AU2023200689A1. Автор: Roland Greenwood. Владелец: Imdex Tech Pty Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Temperature measurement system and temperature measurement method

Номер патента: US8342746B2. Автор: Atsushi Furuya,Yuji Ohba,Junichi Ishimine. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-01-01.

Temperature measuring gun base charging structure and temperature measuring gun applying same

Номер патента: US20240348092A1. Автор: Wenjian NI,Zeen ZHAO. Владелец: Ningbo Deli Tools Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Downhole measurement tool having a regulated voltage power supply and method of use thereof

Номер патента: US09602100B1. Автор: Leroy David Cordill. Владелец: Automation Solutions LLC. Дата публикации: 2017-03-21.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4332526A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20230417600A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Systems and methods for placing an imaging tool in a test and measurement tool

Номер патента: US20170078545A1. Автор: Clark N. Huber,Paul A. Ringsrud,Duncan N. Kearsley. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Externally mounted temperature calibration device for thermal cameras and temperature measurement system using the same

Номер патента: US11910124B2. Автор: Jung Hoon Lee,Joo Sung Lee. Владелец: MESH CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Temperature measurement system for furnaces

Номер патента: GB2548998A. Автор: Patrick Dubbs Tim,Leonard Shaver John,James Kelley Kreg. Владелец: Lumasense Technologies Holdings Inc. Дата публикации: 2017-10-04.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Temperature Measurement Method and Electronic Device

Номер патента: US20220146320A1. Автор: Wei Li,Jian Qin,Hua Jiang,Qi Xie,Liwei Huang,Kai QIAN,Landi LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Thermal image-based temperature measurement calibration method and thermal image device

Номер патента: US11818334B2. Автор: Chih-Jen Chen,Hung-Sheng Lin,Chun-Te CHUANG,Cheng Da KO. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-11-14.

Forehead temperature measurement system with high accuracy

Номер патента: US20220061675A1. Автор: Yi-Chung Chen,Yen-Chang Chu,Chih-Ming Sun,Ting-Yang Chang,Kai-Shun Chen,Po-Wei Yu. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Temperature Measurement System

Номер патента: US20210364361A1. Автор: Christopher Ring,Jon C. Beaver,Stewart John Parfitt. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Temperature measurement system

Номер патента: EP3922968A2. Автор: Christopher Ring,Jon C. Beaver,Stewart John Parfitt. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2021-12-15.

Temperature measurement system

Номер патента: US11680852B2. Автор: Christopher Ring,Jon C. Beaver,Stewart John Parfitt. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2023-06-20.

Distance compensation for thermal imaging temperature measurement of inner canthus systems and methods

Номер патента: US20230126197A1. Автор: Katrin Strandemar,Henning Hagman,Tien C. Nguyen,Petra Maretic. Владелец: FLIR Systems AB. Дата публикации: 2023-04-27.

Measurement tool, calibration method, calibration apparatus, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20170322048A1. Автор: Shin Aoki,Katsunobu Yoshida. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-09.

An Infrared Temperature Measuring Device for Aircraft Fault Detection

Номер патента: AU2021104858A4. Автор: Dongsheng Liu,Yanni LIU,Yahui Chen. Владелец: ZHEJIANG GONGSHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-30.

Infrared temperature measurement method and device

Номер патента: US20190107443A1. Автор: Jianmin Yuan. Владелец: SHENZHEN EVERBEST MACHINERY INDUSTRY Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Apparatus and method for rotor temperature measurement

Номер патента: US20220181950A1. Автор: LEI HAO,Wei Zeng,Scott E. Parrish,Jeremie Dernotte. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2022-06-09.

Remote temperature measurement system for gas turbine engine

Номер патента: US11859501B2. Автор: Paul Sheedy,Wayde R. Schmidt,Urcan GULER,John A. SHARON. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Remote temperature measurement system for gas turbine engine

Номер патента: US20210140336A1. Автор: Paul Sheedy,Wayde R. Schmidt,Urcan GULER,John A. SHARON. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2021-05-13.

Susceptor support shaft for improved wafer temperature uniformity and process repeatability

Номер патента: US9123765B2. Автор: Mehmet Tugrul Samir,Shu-Kwan LAU. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2015-09-01.

Rod for temperature measurement with easily replaceable thermocouple

Номер патента: RU2696348C2. Автор: Жан САЙАР. Владелец: Арева Нс. Дата публикации: 2019-08-01.

Temperature measurement device

Номер патента: US09528887B2. Автор: Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Temperature measuring device

Номер патента: US20240272009A1. Автор: Tseng-Lung Lin,I-Ling Chen,Chin-Hui Ku. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Method for manufacturing temperature measure units of thermometers

Номер патента: US20160327435A1. Автор: Chao-Man Tseng. Владелец: K Jump Health Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-10.

Method for manufacturing temperature measure units of thermometers

Номер патента: US09897492B2. Автор: Chao-Man Tseng. Владелец: K Jump Health Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: WO2020242732A1. Автор: Qin Chen,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Jeffrey D. Lischer,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2020-12-03.

Enhanced substrate temperature measurement apparatus, system and method

Номер патента: US20200378837A1. Автор: Qin Chen,D. Jeffrey Lischer,Lyudmila Stone,Dale K. Stone,Dawei Sun,Ron Serisky,Steven Anella,Chi-Yang Cheng. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2020-12-03.

Immersion-type temperature measuring apparatus using thermocouple

Номер патента: US5360269A. Автор: Hiroshi Suzuki,Koji Ogawa. Владелец: Tokyo Kogyo KK. Дата публикации: 1994-11-01.

Temperature measuring pyrometer probe which compensates for radiation heat transfer and pneumatic losses

Номер патента: US5116137A. Автор: Tian-yu Xiong,Lloyd McHie. Владелец: Institute of Gas Technology. Дата публикации: 1992-05-26.

Constructions for zero-heat-flux, deep tissue temperature measurement devices

Номер патента: WO2011126543A1. Автор: Gary L. Hansen,Albert P. Van Duren,Mark T. Bieberich,Ryan J. Staab,Allen H. Ziaimehr. Владелец: Arizant Healthcare Inc.. Дата публикации: 2011-10-13.

Correction of wafer temperature drift in a plasma reactor based upon continuous wafer temperature measurements using and in-situ wafer temperature optical probe

Номер патента: US6353210B1. Автор: Siamak Salimian,Mike Welch,Paul Luscher,Hamid Norrbakhsh,Brad Mays. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-03-05.

Dual sensor wafer temperature measurement system

Номер патента: WO2023192405A1. Автор: Mark Naoshi Kawaguchi,David S. L. Mui,Zhilin Huang,Butch Berney,Ilia Kalinovski. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2023-10-05.

Method and apparatus for controlling radial temperature gradient of wafer during wafer temperature ramping

Номер патента: JP2002514008A. Автор: デイヴィッド， ケー． カールソン，,ロジャー， エヌ． アンダーソン，. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-05-14.

Method and apparatus for controlling the radial temperature gradient of a wafer while ramping the wafer temperature

Номер патента: WO1999057751A2. Автор: David K. Carlson,Roger N. Anderson. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 1999-11-11.

Method and apparatus for controlling radial temperature gradient of wafer during wafer temperature ramping

Номер патента: JP4495340B2. Автор: デイヴィッド， ケー． カールソン，,ロジャー， エヌ． アンダーソン，. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2010-07-07.

Capacitively coupled plasma reactor having very agile wafer temperature control

Номер патента: US20070081294A1. Автор: Daniel Hoffman,Douglas Burns,Paul Brillhart,Richard Fovell,Kallol Bera,Hamid Tavassoli,Douglas Buchberger. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2007-04-12.

Use of an active wafer temperature control independent from wafer emissivity

Номер патента: KR100856432B1. Автор: 잭 황,로버트 제임스,에릭 제이 램버트,조나단 레오나르드,리차드 브린도스,카슨 엘 크넛슨,마크 암스트롱,저스틴 샌드포드. Владелец: 인텔 코포레이션. Дата публикации: 2008-09-04.

System and method for suppression of wafer temperature drift in cold-wall cvd systems

Номер патента: US20060057826A1. Автор: Wiebe De Boer. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2006-03-16.

System and method for suppression of wafer temperature drift in cold-wall CVD systems

Номер патента: US7921802B2. Автор: Wiebe De Boer. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2011-04-12.

Pyrometer calibrated wafer temperature estimator

Номер патента: US6596973B1. Автор: Ivo Raaijmakers,James J. Donald. Владелец: ASM America Inc. Дата публикации: 2003-07-22.

Temperature measurement method of heating plate, substrate processing apparatus and computer program for temperature measurement of heating plate

Номер патента: TW200614406A. Автор: Hiroshi Tomita,Ryuji Asai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-05-01.

Wafer temperature sensor including optical fiber, wafer temperature sensor system, and method of manufacturing wafer temperature sensor

Номер патента: US20240035903A1. Автор: Yoshiaki Moriya,Noriaki Imai. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-01.

Water environment temperature measurement tool

Номер патента: US11982573B2. Автор: Hong Zhou,Lei Sun,Cheng GAO,Ziyuan WANG,Jiajun Chen,Wenqiang Wang,Haoyue GAO,Qinghua Luan,Pengcheng GU. Владелец: Jiangsu Yuzhi River Basin Management Technology Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Water environment temperature measurement tool

Номер патента: US20240094068A1. Автор: Hong Zhou,Lei Sun,Cheng GAO,Ziyuan WANG,Jiajun Chen,Wenqiang Wang,Haoyue GAO,Qinghua Luan,Pengcheng GU. Владелец: Jiangsu Yuzhi River Basin Management Technology Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Quick-acting gas flow temperature measurement device

Номер патента: RU2604573C1. Автор: Владимир Дмитриевич Ковшов,Виль Файзулович Галиакбаров,Эмилия Вильевна Галиакбарова,Артур Игоревич Гулин,Жанна Артуровна Сухинец,Марат Сабирович Каримов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2016-12-10.

AMPULE OF DEFINED TEMPERATURE POINTS OF HIGH RELIABILITY AND METHOD FOR CALIBRATION OF SMALL-SIZE AND MINIATURE PRECISION PLATINUM RESISTANCE TEMPERATURE CONVERTERS WITH METALLIC BODY OF LENGTH OF 250 mm MAXIMUM, WITH THIN FILM AND WIRE SENSITIVE ELEMENTS INTENDED FOR APPLICATION OF HIGH-PRECISION TEMPERATURE MEASUREMENTS IN SMALL OBJECTS

Номер патента: RU2666956C2. Автор: Евгений Васильевич Васильев,Александр Александрович Игнатов,Леонид Дмитриевич Маркин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы" (ФГУП "ВНИИМС"). Дата публикации: 2018-09-13.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140036956A1. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US09341519B2. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Measuring unit for temperature measurement

Номер патента: RU2754756C1. Автор: Олег Александрович Поваляев. Владелец: Олег Александрович Поваляев. Дата публикации: 2021-09-07.

Continuous temperature measuring device and rh apparatus including same

Номер патента: RU2652648C2. Автор: Дзонг-Ан Ю,Кванг-Сун ПАРК,Йеонг-Ин КИМ. Владелец: Воодзин Электро-Ните Инк.. Дата публикации: 2018-04-28.

Device for pressure and temperature measuring

Номер патента: RU2603446C1. Автор: Акоп Айрапетович Казарян. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ"). Дата публикации: 2016-11-27.

Temperature measurement method

Номер патента: RU2752132C1. Автор: Олег Григорьевич Бондарь,Екатерина Олеговна Брежнева,Елена Сергеевна Двойных. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования. "Юго-Западный государственный университет" (ЮЗГУ). Дата публикации: 2021-07-23.

Ambient air temperature measurement method

Номер патента: RU2661459C2. Автор: Рафкат Абдулхаевич Кантюков,Рашад Карибуллович Гимранов,Андрей Владимирович Воронин,Сергей Геннадьевич Тимофеев,Рашит Гимадетдинович Шарафиев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром трансгаз Казань". Дата публикации: 2018-07-16.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2670355C1. Автор: Гурам Николаевич Ахобадзе. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-10-22.

A method of temperature measurement and recording as a function of time, and configuration for temperature measurement and recording as a function of time

Номер патента: EP3022538A1. Автор: Zbigniew Bigaj,Roman Frackowiak,Juliusz Jezierski,Dariusz Dziel. Владелец: Upload Technologies SA. Дата публикации: 2016-05-25.

A method of temperature measurement and recording as a function of time, and configuration for temperature measurement and recording as a function of time

Номер патента: WO2015008148A1. Автор: Zbigniew Bigaj,Roman Frackowiak,Juliusz Jezierski,Dariusz Dziel. Владелец: A4P Technologies S.A.. Дата публикации: 2015-01-22.

Temperature measurement system for an aerosol-generating device, aerosol-generating device comprising the temperature measurement system and method for measuring a temperature in an aerosol-generating device

Номер патента: EP4426146A1. Автор: Pier Paolo Monticone,Layth Sliman BOUCHUIGUIR. Владелец: JT INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-09-11.

Food temperature measuring device

Номер патента: US20230236069A1. Автор: Chih-Hsin Chen,Yung-Chang Chang,Feng-Lien Huang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Replacement system and replacement method for metallurgical temperature measuring and sampling probe

Номер патента: EP4372343A1. Автор: CHEN Shen,Changhong YE,Ruimin Wu,Xinghong SUN,Zhenhong WEI,Xitao SONG,Tianmao HUANG. Владелец: Baoshan Iron and Steel Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Temperature measurement circuit and temperature measurement device

Номер патента: US12025509B2. Автор: Kohei Shibata. Владелец: Mitsumi Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Dual-purpose temperature measuring device

Номер патента: US20240240992A1. Автор: Po-Hung Chen,Yung-Chang Chang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Method for detection of scale on esp using differential temperature measurement

Номер патента: US20240280012A1. Автор: Ryan Semple,Shawn Gunter. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-08-22.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Method for detection of scale on esp using differential temperature measurement

Номер патента: WO2024173911A1. Автор: Ryan Semple,Shawn Gunter. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2024-08-22.

Temperature measuring device, temperature measuring device set and method for configuring a temperature measuring device that can be operated with a thermocouple

Номер патента: US09658115B2. Автор: Martin Rombach,Wolfgang SCHWÖRER,Jens Akervall. Владелец: Testo SE and Co KGaA. Дата публикации: 2017-05-23.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Temperature measuring method using micro temperature sensing element

Номер патента: EP1640695B1. Автор: Yoshio Nat. Inst. for Materials Science BANDO,Yihua c/o Nat. Inst. for Materials Science GAO,Zongwen Nat. Inst. for Materials Science LIU,Dmitri Nat. Inst. for Materials Science GOLBERG. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2011-08-10.

Internal temperature measurement device

Номер патента: US20170276553A1. Автор: Masao Shimizu,Tsuyoshi Hamaguchi,Shinya Nakagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-09-28.

Method and apparatus for body temperature measurement, robot and storage medium

Номер патента: US20230160749A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Temperature measurement and calibration circuit, passive radio frequency identification tag and method for measuring temperature

Номер патента: US09915571B2. Автор: Patrick Bian Wu,Fuqiang Han,Xingyi Wang,Lingli Zhou,Shehu Qi,Yuanming Luo. Владелец: Wuxi Excel Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Temperature measurement devices

Номер патента: US09534962B2. Автор: Kuo-Jung Lan. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Gas turbine engine blade temperature measuring device

Номер патента: RU2769546C1. Автор: Владимир Андреевич Керножицкий,Павел Александрович Архипов,Алексей Васильевич Колычев,Максим Евгеньевич Ренев,Виталий Андреевич Савелов,Станислав Алексеевич Матвеев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Балтийский государственный технический университет "ВОЕНМЕХ" им. Д.Ф. Устинова (БГТУ "ВОЕНМЕХ"). Дата публикации: 2022-04-04.

Ambient air temperature measurement unit

Номер патента: RU2661544C2. Автор: Рафкат Абдулхаевич Кантюков,Рашад Карибуллович Гимранов,Андрей Владимирович Воронин,Сергей Геннадьевич Тимофеев,Рашит Гимадетдинович Шарафиев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром трансгаз Казань". Дата публикации: 2018-07-17.

Wireless temperature measuring device

Номер патента: RU2690719C1. Автор: Владимир Михайлович Каневский,Андрей Викторович Буташин,Андрей Борисович Колымагин,Дмитрий Юрьевич Елчин,Арсен Эмирбегович Муслимов. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук". Дата публикации: 2019-06-05.

Temperature measuring method using micro temperature sensing element

Номер патента: US20050238082A1. Автор: Yoshio Bando,Dmitri Golberg,Yihua Gao,Zongwen Liu. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2005-10-27.

Internal temperature measurement device and method

Номер патента: US12038334B2. Автор: Yujiro Tanaka,Michiko Seyama,Daichi Matsunaga. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Temperature measurement using fabry-pérot resonator on end of optical fiber

Номер патента: US20240255360A1. Автор: Mohammad Amin Tadayon,Robert B. Haines. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: US20220316962A1. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Temperature measurement apparatus and method

Номер патента: US09500537B2. Автор: Jun Abe,Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Fluorescence temperature measurement material, preparation method therefor, and use thereof

Номер патента: US20240279545A1. Автор: TAO Hu,YAN Gao,YAN Cui,Jian Song,Zhichao MENG. Владелец: WUYI UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-08-22.

Temperature Measuring Devices and Related Methods

Номер патента: US20130128922A1. Автор: Wei Wu,LIANG Cao. Владелец: EMERSON ELECTRIC CO. Дата публикации: 2013-05-23.

Apparatus and method for implementing axial focal region temperature measurement distribution detection through lateral probe

Номер патента: US20240285979A1. Автор: Jing Cai,Enguang Zhang,Xiangqing Kong,Ruibiao Guo,Feifei CHE. Владелец: Nanjing Khons Medtech Co ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Temperature measurement device

Номер патента: US09494466B2. Автор: Tadashi Mori,Toshiyuki Uchii. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-11-15.

Temperature measurement correction using multiple temperature sensors

Номер патента: WO2012021220A1. Автор: Matthew Miller,Ralph M. Kling. Владелец: CROSSBOW TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2012-02-16.

Core body temperature measurement device having battery charging structure

Номер патента: US20210393138A1. Автор: Young Jin Kim,Young Hoon Roh,Ha Chul JUNG,Won Jung CHOI. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2021-12-23.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: EP4265176A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-10-25.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: US20230414108A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-12-28.

Gate mate comprising detection passage system integrating temperature measurement and facial recognition

Номер патента: US11551473B2. Автор: Haiyang Yu,Zhihui WEN,Donghui ZHAN,Jiangqiang LIU,Yutao Han,Baozhi JIA. Владелец: Reconova Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-10.

Core body temperature measurement device having battery charging structure

Номер патента: EP3865058A1. Автор: Young Jin Kim,Young Hoon Roh,Ha Chul JUNG,Won Jung CHOI. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2021-08-18.

Gate mate comprising detection passage system integrating temperature measurement and facial recognition

Номер патента: US20210248353A1. Автор: Haiyang Yu,Zhihui WEN,Donghui ZHAN,Jiangqiang LIU,Yutao Han,Baozhi JIA. Владелец: Reconova Techonologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Temperature measurement head structure and clinical thermometer

Номер патента: US20160041044A1. Автор: Zhigang Zhao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-02-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20150003491A1. Автор: Hidenori Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Improved temperature measuring apparatus

Номер патента: EP1264164B1. Автор: David Victor Land. Владелец: University of Glasgow. Дата публикации: 2007-05-16.

Method and system for temperature measurement of fluid in pipe, electronic device and storage medium

Номер патента: US20240302222A1. Автор: Wenjie Liu,Chao Cai,Zhichao Wang,Demin Liu,Yandong Zhang,Zhigang Shi,Chuanbin FU. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-12.

New energy vehicle, vehicle-mounted charging device, temperature measurement circuit, and temperature measurement method

Номер патента: EP4443121A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Temperature measurement device

Номер патента: US20240353271A1. Автор: Yujiro Tanaka,Daichi Matsunaga. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Method for utltra-local optical temperature measurement

Номер патента: EP4459252A1. Автор: Igor Ivanovich Vlasov,Vadim Egonovich TSEEB,Aleksei Maksimovich ROMSHIN. Владелец: Nanthermix Sa. Дата публикации: 2024-11-06.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Temperature measurement system and abnormality detection method

Номер патента: US09816878B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Temperature measuring device and method for temperature measurement of the ambient air of a vehicle

Номер патента: US09766138B2. Автор: Thorben GUENZEL,Claus Jochemczyk. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2017-09-19.

Temperature measuring system and temperature measuring instrument

Номер патента: US09683900B2. Автор: Masaki Mitsui. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Temperature measurement method for ultraviolet light transmittance member, temperature measurement device for ultraviolet light transmittance member, and light source device

Номер патента: US09671290B2. Автор: Masafumi Mizuguchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Multi-mode temperature measuring device

Номер патента: US09442024B2. Автор: Hsuan-Hao Shih,Ta-Chieh YANG,Jui-Teng WANG. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Temperature measurement head structure and clinical thermometer

Номер патента: US09417139B2. Автор: Zhigang Zhao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-08-16.

Infrared Body Temperature Measurement Doll

Номер патента: US20220136906A1. Автор: Guoping Chen. Владелец: Shenzhen Aibolong Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Temperature measurement device and quality control system

Номер патента: EP3936844A1. Автор: Kazunori Nagasawa. Владелец: Medipal Holdings Corp. Дата публикации: 2022-01-12.

Temperature Measurement Device

Номер патента: US20230280214A1. Автор: Takashi Sakamoto,Masahiro Ueno,Yuichi Akage,Soichi Oka,Sohan Kawamura,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Filament temperature measuring device with fluid velocity and temperature compensator system

Номер патента: US20040141544A1. Автор: Sam Paris,Jagdish Madhav. Владелец: Ircon Inc. Дата публикации: 2004-07-22.

Gas turbine engine temperature measurement system

Номер патента: US20240309777A1. Автор: Guy STEVENSON. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2024-09-19.

Gas turbine engine temperature measurement system

Номер патента: EP4442966A1. Автор: Guy STEVENSON. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2024-10-09.

Temperature measurement device

Номер патента: US20240344904A1. Автор: Takuro Tajima,Yujiro Tanaka,Michiko Seyama,Daichi Matsunaga. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Method and system for processing a temperature measurement signal delivered by a sensor

Номер патента: US12050141B2. Автор: Benoit Pierre Marie Giraudet De Boudemange. Владелец: Safran Aircraft Engines SAS. Дата публикации: 2024-07-30.

Correction of a temperature measurement of a thermometric resistance-type temperature probe

Номер патента: US09863797B2. Автор: Maurice Georges Vernochet. Владелец: SNECMA SAS. Дата публикации: 2018-01-09.

Continuous temperature measuring device and RH apparatus including the same

Номер патента: US09689048B2. Автор: Kwang-Sun Park,Jong-An YOU,Yeong-In KIM. Владелец: Woojin Electro Nite Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Fast response temperature measurement within a gas turbine

Номер патента: US09506819B2. Автор: Martin Rose,Stephan Staudacher,Björn Weigel,Christian Eichler. Владелец: BERNS ENGINEERING CONSULTING GmbH. Дата публикации: 2016-11-29.

Method and system of pressure and temperature measurement by strain gage

Номер патента: RU2654311C1. Автор: Евгений Иванович Глинкин,Сергей Владимирович Фролов,Артём Андреевич Коробов,Кристина Сергеевна Савинова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный технический университет" (ФГБОУ ВО "ТГТУ"). Дата публикации: 2018-05-17.

Method of diagnosing temperature measurement circuits

Номер патента: RU2724247C1. Автор: Николай Афанасьевич Мухатаев. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений". Дата публикации: 2020-06-22.

Device for cutter temperature measuring by natural thermocouple

Номер патента: RU2650827C1. Автор: Александр Сергеевич Сергеев,Марк Григорьевич Кристаль,Александр Леонтьевич Плотников,Жанна Сергеевна Тихонова,Татьяна Вениаминовна Уварова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный технический университет" (ВолгГТУ). Дата публикации: 2018-04-17.

Biomedical information processing system using an application program collaborated with an ocular temperature measurement technique and method for the same

Номер патента: US20200008668A1. Автор: Horng-Ji Lai,Li-ping YU,Te-Lun Ma,Hsiang-Ching Lee. Владелец: Ubiquity Biomedical Corp. Дата публикации: 2020-01-09.

Temperature measuring device and method for measuring temperature

Номер патента: US20200064206A1. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2020-02-27.

Temperature measurement system

Номер патента: WO2024151677A1. Автор: Raphael Shapiro,John P. Taylor,Kevin Wu,Clint SEVER,Michael CREDELLE,Randall HILL,Jay GREENWOOD,Omar FONTES. Владелец: CUE HEALTH INC.. Дата публикации: 2024-07-18.

Accelerated cooking using surface temperature measurements

Номер патента: US20230333579A1. Автор: Christopher Charles Young. Владелец: Combustion LLC. Дата публикации: 2023-10-19.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240011848A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4303550A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-10.

High temperature measuring device

Номер патента: US4386049A. Автор: Richard D. Tokarz. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1983-05-31.

Temperature measurement substrate and temperature measurement system

Номер патента: US20190120703A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Tsuyoshi Moriya,Toshiya Matsuda,Kenya Iwasaki,Tadashi MITSUNARI,Masaaki Miyagawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-04-25.

Temperature measurement and temperature controlled switching based on helical sense dependent liquid crystal phases

Номер патента: US20020121625A1. Автор: Mark Green. Владелец: Polytechnic Institute of NYU. Дата публикации: 2002-09-05.

Temperature measurement and temperature controlled switching using change in helical sense

Номер патента: US20020018511A1. Автор: Mark Green,Jonathan Selinger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-14.

Wearable patch device for core body temperature measurements

Номер патента: US12097011B1. Автор: Limei Tian,Amir Tofighi Zavareh,John Hanks. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-24.

Temperature measurement method and apparatus based on passive rfid tag

Номер патента: US20240295446A1. Автор: Xu Zhang,Jia Liu,Xingyu Chen,Lijun Chen,Fuxing Wang. Владелец: Jiangsu Tooker Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Temperature-measuring device for a gas pipe connected to a heat engine of a motor vehicle, and heat engine and vehicle provided with said device

Номер патента: US09945757B2. Автор: Olivier Dixneuf. Владелец: SC2N SAS. Дата публикации: 2018-04-17.

Temperature measurement at high-voltage potential

Номер патента: US09945733B2. Автор: Michael Willsch,Markus Ritcher. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-04-17.

Temperature detection circuit and temperature measurement circuit

Номер патента: US09671293B2. Автор: Kazuhiro Kamiya,Kimitoshi Niratsuka. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Magnetic stirrer with a temperature measuring device

Номер патента: US09662620B2. Автор: Uwe Brauch,Thomas Hensle,Erhard Eble,Christian BABEL. Владелец: IKA Werke GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-30.

Ambient temperature measurement

Номер патента: US09557228B1. Автор: Pirooz Parvarandeh. Владелец: Maxim Integrated Products Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Process fluid medium temperature measurement

Номер патента: RU2543689C2. Автор: Джейсон Х. РАД,Лорен М. ЭНГЕЛСТЕД. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2015-03-10.

Submersible probe for temperature measurement and taking sample of metallic and slag melt in converter

Номер патента: RU2683376C1. Автор: Сергей Викторович Прохоров. Владелец: Сергей Викторович Прохоров. Дата публикации: 2019-03-28.

Relative deformations and temperature measuring device

Номер патента: RU2681431C1. Автор: Сергей Владимирович Левин,Ринат Назифович Шакиров,Алексей Владимирович Смирнов,Владимир Андреевич Белямов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"). Дата публикации: 2019-03-06.

Method of radiation pyrometer calibration and object temperature measurement

Номер патента: RU2700338C1. Автор: Анатолий Иванович Походун,Вячеслав Петрович Ходунков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева". Дата публикации: 2019-09-16.

A Heavy Oil Production Pipe Non-intrusion Temperature Measurement System

Номер патента: NL2031132B1. Автор: Chen Hao,Wang Min,Wang Chao,Yang Tingting,Mou Qiang,Gu Guangyan,Gu Sanchun,Wen Shining,hu Ze. Владелец: Univ Southwest Petroleum. Дата публикации: 2023-11-16.

A Heavy Oil Production Pipe Non-intrusion Temperature Measurement System

Номер патента: NL2031132A. Автор: Chen Hao,Wang Min,Wang Chao,Yang Tingting,Mou Qiang,Gu Guangyan,Gu Sanchun,Wen Shining,hu Ze. Владелец: Univ Southwest Petroleum. Дата публикации: 2023-09-11.

Method and system to correct signal of temperature measurement

Номер патента: RU2509991C2. Автор: Седри ДЖЕЛАССИ. Владелец: Снекма. Дата публикации: 2014-03-20.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD FOR PROVIDING LIGHT SPOT MARKS OF DIFFERENT COLORS

Номер патента: US20230007961A1. Автор: Yung-Chang Chang,Feng-Lien Huang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2023-01-12.

Temperature measuring system and temperature measuring method

Номер патента: US20160238460A1. Автор: Fumio Takei,Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-08-18.

Ntc temperature measurement circuit, ventilator and ventilator power on self-inspection method

Номер патента: EP4089383A1. Автор: Jun Zhao,Haibin Yu,Jiebing XU. Владелец: Vincent Medical Dongguan Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-16.

Ntc temperature measuring circuit, respirator and power-on self-test method for respirator

Номер патента: US20230145242A1. Автор: Jun Zhao,Haibin Yu,Jiebing XU. Владелец: Vincent Medical Dong Guan Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Temperature input unit, temperature measuring device, and recording medium

Номер патента: US20220042855A1. Автор: Kohei Yamashita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Smart temperature measurements device

Номер патента: RU2617458C2. Автор: Ксения Всеволодовна Сапожникова,Роальд Евгеньевич Тайманов,Флориан Фердинан Лекосье Адриен. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева". Дата публикации: 2017-04-25.

Electronic thermometer and body temperature measurement method

Номер патента: US9113774B2. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-25.

Method for calibrating a temperature measuring device of a dental oven and calibration element

Номер патента: CA3020358C. Автор: Christian Kurz. Владелец: SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2022-03-15.

Method for calibrating a temperature measuring device of a dental oven and calibration element

Номер патента: US20190128751A1. Автор: Christian Kurz. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Temperature measuring method capable of switching calculation based on displacement detection

Номер патента: CA3048865C. Автор: Zhenguang Chen. Владелец: Hetaida Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-23.

Temperature sensor, temperature measuring device, and temperature measuring method

Номер патента: US11867458B2. Автор: Manabu NAKAGAWASAI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Temperature measurement system and temperature measurement method

Номер патента: US20240159161A1. Автор: Kenta Wada,Hidekazu Yamashita,Tetsuya Yamasaki,Keisho Omichi,Tomohisa Takasaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Multi-spectral temperature measuring device based on adaptive emissivity model and temperature measuring method thereof

Номер патента: US20210293625A1. Автор: JING Jiang,Chao Wang,Tong Wang,Shan GAO,Ying Cui,Liwei Chen,Chunhui Zhao. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2021-09-23.

Temperature measuring device, lithography apparatus and method for measuring a temperature

Номер патента: US20240159600A1. Автор: Lars Berger,Thomas RETTENMAIER. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-05-16.

Temperature measurement

Номер патента: EP3727142A1. Автор: Chang Liu,Zhigang Chen,Ziming Liu,Weidong MENG. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2020-10-28.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2623196C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Борис Ашотович Арутюнов,Владимир Михайлович Строев,Валерий Васильевич Штейнбрехер. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный университет имени Г.Р. Державина". Дата публикации: 2017-06-22.

Temperature measurement system and abnormality detection method

Номер патента: CA2889157C. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-02.

Electronic circuit arrangement for temperature measurement based on a platinum resistor as a temperature sensing resistor

Номер патента: US5096303A. Автор: Marek Jeziorowski. Владелец: Norapp As. Дата публикации: 1992-03-17.

Method and apparatus for automatically testing temperature measuring devices

Номер патента: US4899297A. Автор: Susumu Kobayashi,Yoshikazu Sano,Kiyoshi Endo. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 1990-02-06.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20070019707A1. Автор: Paul Gottshall,Bahman Gozloo. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2007-01-25.

Temperature Measurement

Номер патента: GB2548452A. Автор: John Miller Peter. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2017-09-20.

Internal body temperature measurement device and internal body temperature measurement method

Номер патента: US11883133B2. Автор: Yujiro Tanaka,Michiko Seyama,Daichi Matsunaga. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20170097267A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Temperature measuring method and temperature measuring apparatus using the same

Номер патента: US20100040111A1. Автор: Yen-Hung Chen,Ping-Pao Cheng. Владелец: ITE Tech Inc. Дата публикации: 2010-02-18.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: US11852541B2. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Temperature measuring apparatus and temperature measuring method

Номер патента: US20140286375A1. Автор: Jun Abe,Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Temperature measuring circuit and measuring method thereof

Номер патента: EP3647749A1. Автор: Haibin Liu,Wenbo Liu,Guohui Hu,Pei QIAN,Luping Zhong,Xiantao ZHU,Zifeng LIANG,Shuanglin Guo,Wanxing Chen,Baolin ZHOU,Yanjun Peng. Владелец: Gree Wuhan Electric Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-06.

Temperature measurement system, temperature measurement method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: US20230266180A1. Автор: Shang-Yuan YUAN,Tung-Hsin HUANG. Владелец: Chicony Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

System and method for temperature measurement using a dual-array multi-spot-temperature sensor and transmitter assembly

Номер патента: US20190064002A1. Автор: Deepak Kumar,Surya Raichor,Anubhab Patra,Prakash Bist,Shiv Rai. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Temperature measuring apparatus and temperature measuring method

Номер патента: US20120224603A1. Автор: Jun Abe,Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-09-06.

Temperature-sensitive film and temperature measurement system using thereof

Номер патента: US20220326095A1. Автор: Tao Cai,Chang Sik Ha,Kyung Chun Kim,Yongzhu Yan. Владелец: University Industry Cooperation Foundation of Pusan National University. Дата публикации: 2022-10-13.

Temperature measurement device

Номер патента: US12031869B1. Автор: Zhibin Lyu. Владелец: Bbqovn Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

Temperature measurement sensor using material with a temperature dependent neutron capture cross section

Номер патента: EP3908816A1. Автор: Michael D. Heibel. Владелец: Westinghouse Electric Co LLC. Дата публикации: 2021-11-17.

Temperature measurement system and method using multimode of an optical resonator

Номер патента: WO2023183064A1. Автор: Mohammad Amin Tadayon,Robert B. Haines. Владелец: FLUKE CORPORATION. Дата публикации: 2023-09-28.

Temperature measurement using changes in dielectric constant and associated resonance

Номер патента: EP2008069A2. Автор: Thomas Holst,Jonathan Geisheimer,Scott Billington. Владелец: Radatec Inc. Дата публикации: 2008-12-31.

Technologies for temperature measurement of a processor

Номер патента: WO2017052990A1. Автор: Wei Shen,Jiangqi He,Chunlei Guo,Hongfei Yan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2017-03-30.

Calibrated temperature measurement system

Номер патента: US20140355651A1. Автор: Merit Hong,David Harnishfeger,Kris Kaufman. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Temperature measurement system and method

Номер патента: US20240142314A1. Автор: Guillermo Paniagua-Perez,Roberto Felix Nares Alcala,Lakshya Bhatnagar. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-05-02.

Bonding temperature measurement device of display panel

Номер патента: US20240304655A1. Автор: Jong Hyup Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Microfluidic chip, temperature measurement method using the same, and analysis device using the same

Номер патента: US20240293810A1. Автор: LI YANG,Yue Li,Le Gu,Bolin FAN,Qiuxu WEI. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Non-contact temperature measurement systems and methods

Номер патента: US12025504B2. Автор: Edward Miesak,Lawrence BLENKE. Владелец: L3Harris Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Temperature-measurement probe

Номер патента: US09719862B2. Автор: Matthew D. Mullin,David E. Quinn,John A. Lane,Craig M. Meyerson,Scott A. Martin,Matthew J. Kinsley,Anthony P. Wagner. Владелец: Welch Allyn Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Precision temperature measurement devices, sensors, and methods

Номер патента: US09658118B2. Автор: Gordon Alexander Charles,Mark Alan Lemkin. Владелец: Linear Technology LLC. Дата публикации: 2017-05-23.

Calibrated temperature measurement system

Номер патента: US09470585B2. Автор: Merit Hong,David Harnishfeger,Kris Kaufman. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Body temperature measuring device

Номер патента: US09464940B2. Автор: Ta Chieh Yang,Chih Ming Chen,Yung Tien Yao,Hsuan-Hao Shih. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

A temperature measuring device adopting a plurality of infrared sensors and its method

Номер патента: EP3511686A3. Автор: LIANG Cao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-10-23.

Temperature measuring devices and related methods

Номер патента: US9116052B2. Автор: Wei Wu,LIANG Cao. Владелец: EMERSON ELECTRIC CO. Дата публикации: 2015-08-25.

Internal body temperature measurement device and internal body temperature measurement method

Номер патента: US20210186337A1. Автор: Yujiro Tanaka,Michiko Seyama,Daichi Matsunaga. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Temperature Measuring Circuit

Номер патента: US20240044721A1. Автор: Mohammad Mahdi Ahmadi,Alan C. Rogers,Jitendrakumar B. Thummar. Владелец: Analog Bits Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Temperature Measuring Circuit and Measuring Method Thereof

Номер патента: US20200355561A1. Автор: Haibin Liu,Wenbo Liu,Guohui Hu,Pei QIAN,Luping Zhong,Xiantao ZHU,Zifeng LIANG,Shuanglin Guo,Wanxing Chen,Baolin ZHOU,Yanjun Peng. Владелец: Gree Wuhan Electric Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-12.

Temperature measurement circuit with multiple distributed small low-power temperature sensors

Номер патента: EP4053524A1. Автор: Matthew Powell,Dazhi Wei,Franciscus Petrus Antonius VAN DER VELDEN. Владелец: Dream Chip Technologies BV. Дата публикации: 2022-09-07.

Temperature Measurement Correction Using Multiple Temperature Sensors

Номер патента: US20120041703A1. Автор: Matthew Miller,Ralph M. Kling. Владелец: Crossbow Tech Inc. Дата публикации: 2012-02-16.

Improved temperature measuring apparatus

Номер патента: CA2402943A1. Автор: David Victor Land. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-13.

Technologies for temperature measurement of a processor

Номер патента: US20170091061A1. Автор: Wei Shen,Jiangqi He,Chunlei Guo,Hongfei Yan. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Temperature measuring apparatus

Номер патента: US20050053117A1. Автор: Steven Brown,Terrence O'Neill. Владелец: Quartex Inc. Дата публикации: 2005-03-10.

Improvements in or relating to temperature measuring apparatus

Номер патента: GB953762A. Автор: . Владелец: IAN LEMCO. Дата публикации: 1964-04-02.

Temperature measurement system and method using optical signal transmission through an optical interferometer

Номер патента: US11906368B2. Автор: Mohammad Amin Tadayon,Kevin R. Williamson. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Temperature measurement device

Номер патента: US20240085248A1. Автор: Shiro Saito,Hiraku Toida,Kosuke Kakuyanagi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Artificial intelligence based temperature measurement in mixed fluid chamber

Номер патента: US11842800B2. Автор: Tapas Chakravarty,Arijit Sinharay,Arpan Pal,Arijit Chowdhury,Rajat Kumar DAS. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Temperature measuring method capable of switching calculation based on displacement detection

Номер патента: US11639876B2. Автор: Zhenguang Chen. Владелец: Hetaida Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-02.

Temperature measuring system and temperature measuring instrument

Номер патента: US20150198486A1. Автор: Masaki Mitsui. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2015-07-16.

Temperature measurement sensor, temperature measurement system, and temperature measurement method

Номер патента: US11841278B2. Автор: Tong Wu,Tomohide Minami,Masaaki Miyagawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Temperature measurement circuit with multiple distributed small low-power temperature sensors

Номер патента: WO2022184754A1. Автор: Matthew Powell,Dazhi Wei,Franciscus Petrus Antonius VAN DER VELDEN. Владелец: Dream Chip Technologies B.V.. Дата публикации: 2022-09-09.

Gearbox temperature measurement device

Номер патента: US20200256746A1. Автор: Michael Jeffrey Lowry,Ii David E. Cornell. Владелец: Fairfield Manufacturing Co Inc. Дата публикации: 2020-08-13.

Optical temperature measurement technique utilizing phosphors

Номер патента: US4215275A. Автор: Kenneth A. Wickersheim. Владелец: Luxtron Corp. Дата публикации: 1980-07-29.

Fluid temperature measurement system

Номер патента: GB2336910A. Автор: Mark Harper,Roger Philip Ashworth. Владелец: BG PLC. Дата публикации: 1999-11-03.

Method and apparatus for optical temperature measurement

Номер патента: US5348396A. Автор: Patrick E. O'Rourke,Ronald R. Livingston,William S. Prather. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1994-09-20.

Sensor arrangement for temperature measurement

Номер патента: CA2158719C. Автор: Paul Clement Verstreken,Josef Theodoor Aegten. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2004-08-24.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and computer-readable non-transitory medium

Номер патента: US10775245B2. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-15.

Temperature measurement using ion implanted wafers

Номер патента: US5435646A. Автор: Warren F. McArthur,Fred C. Session. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1995-07-25.

Temperature measurement device and measurement method

Номер патента: EP2041538B1. Автор: Changlin Wang. Владелец: Mettler Toledo AG. Дата публикации: 2012-02-01.

Gearbox temperature measurement device

Номер патента: US11796397B2. Автор: Michael Jeffrey Lowry,David E. Cornell. Владелец: Fairfield Manufacturing Co Inc. Дата публикации: 2023-10-24.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and computer-readable non-transitory medium

Номер патента: US20180058948A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-03-01.

Device for acoustic temperature measurement

Номер патента: US20230358619A1. Автор: Peter Kalkert. Владелец: Kima Process Control Gmbh. Дата публикации: 2023-11-09.

Device for acoustic temperature measurement

Номер патента: WO2021122353A1. Автор: Peter Kalkert. Владелец: Kima Process Control Gmbh. Дата публикации: 2021-06-24.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and computer-readable non-transitory medium

Номер патента: US20180143085A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-05-24.

Wearable device and temperature measurement method

Номер патента: EP4224126A1. Автор: Ning Zhang,Chenlong Li,Chao Yao. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Wearable device and temperature measurement method

Номер патента: US20240172944A1. Автор: Ning Zhang,Chenlong Li,Chao Yao. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Power Monitoring for Correcting Ambient Temperature Measurement by Electronic Devices

Номер патента: US20240013734A1. Автор: Chintan Trehan,Philip Hobson Boothby,Emil Rahim,Arun Prakash Raghupathy,Jeffrey Kevin Tu,Kristen Rebecca Pownell. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Gas temperature measurement

Номер патента: US3596518A. Автор: John W Kirkpatrick. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 1971-08-03.

Digital temperature measuring device

Номер патента: RU2622484C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Борис Ашотович Арутюнов,Валерий Васильевич Штейнбрехер. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тамбовский государственный университет имени Г.Р. Державина". Дата публикации: 2017-06-15.

Outside air temperature measurement device and method

Номер патента: US9435694B2. Автор: Thomas Gregory Hubert. Владелец: Kelsey Hayes Co. Дата публикации: 2016-09-06.

Optical temperature measurement techniques utilizing phosphors

Номер патента: US4560286A. Автор: Kenneth A. Wickersheim. Владелец: Luxtron Corp. Дата публикации: 1985-12-24.

Temperature-measuring microwave radiometer apparatus

Номер патента: US5688050A. Автор: Fred Sterzer,Daniel D. Mawhinney. Владелец: MMTC Inc. Дата публикации: 1997-11-18.

Device for temperature measurement at an oxygen probe

Номер патента: US5562811A. Автор: Martin Lenfers. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1996-10-08.

Wireless temperature measurement system and signal processing method thereof

Номер патента: US11480472B2. Автор: Ning Wang,Shanbin LI,Xinglong HUANG,Shaokan Liu,Zhongyun ZHANG. Владелец: Zhejiang Huayuan Micro Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

Temperature measurement at high-voltage potential

Номер патента: CA2914238C. Автор: Michael Willsch,Markus Richter. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-08-21.

Integrated active fiber optic temperature measuring device

Номер патента: EP4276430A3. Автор: Ondrej Mecl,Noah John Joe Johnson,James William Wiltshire Garrow,Michael William Goldstein. Владелец: Accelovant Technologies Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Probe for conducting position resolved temperature measurements

Номер патента: EP4300061A1. Автор: Alex Lim,PeterJohn Green,Elicia Tiah,Venkata Munnamgi,Nilo Guillen,AhHock Law. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-03.

Temperature measurement system and method of calibration thereof

Номер патента: US11650107B2. Автор: Stijn Goossens. Владелец: Dana Automotive Systems Group LLC. Дата публикации: 2023-05-16.

High-sensitivity single-crystal fiber temperature measurement method based on the acoustic anisotropy and doping modulation of single-crystal fibers

Номер патента: US20220042859A1. Автор: Yang Li,Jian Zhang,Tao Wang,Xutang TAO,Zhitai JIA,Yanru YIN. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2022-02-10.

Temperature measuring apparatus with sensor assembly of sensing devices connected together

Номер патента: US9217677B2. Автор: Tsuneo Maebara,Yoshiyuki Hamanaka. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2015-12-22.

Temperature measuring apparatus, and temperature correction processing device

Номер патента: US20060080056A1. Автор: Masao Tsukizawa,Youji Takei. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-13.

Integrated active fiber optic temperature measuring device

Номер патента: CA3117948A1. Автор: Ondrej Mecl,James William Wiltshire Garrow,Michael William Goldstein,Noah Joe Johnson. Владелец: Accelovant Technologies Corp. Дата публикации: 2021-07-20.

Body temperature measuring system, data reading device, and driving control method thereof

Номер патента: US20120106589A1. Автор: Hitoshi Ozawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2012-05-03.

Temperature measurement device

Номер патента: US20180100772A1. Автор: Nobuo Suzuki,Kazuya OHIRA,Hirotaka Uemura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Temperature measurement system and method of calibration thereof

Номер патента: US20230251143A1. Автор: Stijn Goossens. Владелец: Dana Automotive Systems Group LLC. Дата публикации: 2023-08-10.

Integrated active fiber optic temperature measuring device

Номер патента: EP4276430A2. Автор: Ondrej Mecl,Noah John Joe Johnson,James William Wiltshire Garrow,Michael William Goldstein. Владелец: Accelovant Technologies Corp. Дата публикации: 2023-11-15.

Temperature measuring device, mechanical system, temperature measuring method, and program

Номер патента: US20220107228A1. Автор: Tadashi Kimura,Masahiro Sugihara,Shinsuke Sato,Masaya Kawano. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Temperature measuring device, mechanical system, temperature measuring method, and program

Номер патента: US11953384B2. Автор: Tadashi Kimura,Masahiro Sugihara,Shinsuke Sato,Masaya Kawano. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Temperature measurement system and method of calibration thereof

Номер патента: US20200271529A1. Автор: Stijn Goossens. Владелец: Dana Automotive Systems Group LLC. Дата публикации: 2020-08-27.

Temperature measurement system and method of calibration thereof

Номер патента: US20220128414A1. Автор: Stijn Goossens. Владелец: Dana Automotive Systems Group LLC. Дата публикации: 2022-04-28.

Temperature detection circuit and temperature measurement circuit

Номер патента: US20160146675A1. Автор: Kazuhiro Kamiya,Kimitoshi Niratsuka. Владелец: SPANSION LLC. Дата публикации: 2016-05-26.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: EP3627120A1. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Temperature calibration device and temperature measurement device

Номер патента: EP3783324A1. Автор: Yoshiharu Yamazaki,Shohei Miyatake. Владелец: Geomatec Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

Method and apparatus for precision temperature measurement

Номер патента: US4488824A. Автор: Robert J. Salem. Владелец: MIT TRADING CORP. Дата публикации: 1984-12-18.

Thermocouple temperature measurement circuit having cold junction compensation

Номер патента: US4120201A. Автор: Thomas J. Wargo. Владелец: Partlow Corp. Дата публикации: 1978-10-17.

Temperature measuring circuit

Номер патента: US3973147A. Автор: Ruey J. Yu. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 1976-08-03.

Method and system for gas temperature measurement

Номер патента: US10451573B2. Автор: Guanghua Wang,Danielle Marie Kalitan. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2019-10-22.

Device for temperature measurement and a method for the manufacture of such a device

Номер патента: CA1125537A. Автор: Bo H. Hdakansson,Per E. L. Persson,Berth-Ove G. Wall. Владелец: Crafon Medical AB. Дата публикации: 1982-06-15.

Temperature measuring device utilizing birefringence in photoelectric element

Номер патента: US4970385A. Автор: Ikuo Watanabe,Kyoichi Tatsuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1990-11-13.

Optical temperature measurement techniques

Номер патента: US4789992A. Автор: Kenneth A. Wickersheim,Mei H. Sun,Stanley O. Heinemann,Stanley O. Hinemann. Владелец: Luxtron Corp. Дата публикации: 1988-12-06.

Optoelectronic transducer module for thermographic temperature measurements

Номер патента: CA3137183C. Автор: Ondrej Mecl,Noah Jonh Joe Johnson,Kevin Matthew WEISS. Владелец: Accelovant Technologies Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

sewer pipe inflow and infiltration diagnosis method based on distributed fiber-optic temperature measurement system

Номер патента: US20230408345A1. Автор: Ming Xie,Hailong YIN,Zuxin XU,Longtian GUO. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-12-21.

Sewer pipe inflow and infiltration diagnosis method based on distributed fiber-optic temperature measurement system

Номер патента: US11920986B2. Автор: Ming Xie,Hailong YIN,Zuxin XU,Longtian GUO. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-03-05.

Non-Contact Temperature Measurement Systems and Methods

Номер патента: US20230112390A1. Автор: Edward Miesak,Lawrence BLENKE. Владелец: L3Harris Technologies Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Temperature measurement system and method using multimode of an optical resonator

Номер патента: US20230304871A1. Автор: Mohammad Amin Tadayon,Robert B. Haines. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Fine-grained indoor temperature measurements using smart devices for improved indoor climate and energy savings

Номер патента: US20220146333A1. Автор: Jonathan Fuerst,Mauricio Fadel Argerich. Владелец: NEC Laboratories Europe GmbH. Дата публикации: 2022-05-12.

Temperature Measurement System for Blank Molds in Glassware Forming Machines

Номер патента: US20200156982A1. Автор: Michael S. Thacker. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2020-05-21.

Temperature measurement system for blank molds in glassware forming machines

Номер патента: CA3120509A1. Автор: Michael S. Thacker. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2020-05-28.

Temperature measurement system for blank molds in glassware forming machines

Номер патента: EP3883894A1. Автор: Michael S. Thacker. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2021-09-29.

Temperature measurement using changes in dielectric constant and associated resonance

Номер патента: US20080175300A1. Автор: Thomas Holst,Jonathan Geisheimer,Scott Billington. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-24.

Pressure and temperature measuring device with improved fluid flow control

Номер патента: US11415476B2. Автор: Sergio Diez Garcia,Lesmes NICOLÁS HARO,Ignacio ARDAIZ USOZ. Владелец: Cebi Electromechanical Components Spain SA. Дата публикации: 2022-08-16.

System and method for body temperature measurement

Номер патента: US20130336357A1. Автор: Yousef ISSA. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-19.

Temperature measuring device

Номер патента: US20080187023A1. Автор: Tilo Jankowski,Rainer Kuepper. Владелец: Raytek GmbH. Дата публикации: 2008-08-07.

Capacitor temperature measurement apparatus

Номер патента: PH12019000426A1. Автор: Hideki NETSU. Владелец: Sanyo Electric Co. Дата публикации: 2020-05-27.

Temperature measurement using changes in dielectric constant and associated resonance

Номер патента: CA2649060A1. Автор: Thomas Holst,Jonathan Geisheimer,Scott Billington. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-25.

Temperature measurement system for hard disk drive

Номер патента: US20140105247A1. Автор: Kang Wu. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-17.

Infrared temperature-measurement probe

Номер патента: US20180364103A1. Автор: Yang Yang,Li Du,JING Jiang,Chao Wang,Fei Wang,Jun Hu,Ying DUAN,Yueming Wang,Zezhan ZHANG,Chengui ZHANG,Hongchuan JIANG,Jiexiong DING,Huiyuan Geng. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2018-12-20.

Temperature calibration device and temperature measurement device

Номер патента: US20210116309A1. Автор: Yoshiharu Yamazaki,Shohei Miyatake. Владелец: Geomatec Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Non-invasive temperature measurement of packaged food products

Номер патента: EP3710798A1. Автор: Patrick J. Magari,Michael G. Izenson,Scott D. Phillips,Jed C. WILBUR. Владелец: Coca Cola Co. Дата публикации: 2020-09-23.

Wafer temperature control device, control method for wafer temperature control device, and program for wafer temperature control device

Номер патента: WO2023013637A1. Автор: 大介 林,興太郎 瀧尻. Владелец: 株式会社堀場エステック. Дата публикации: 2023-02-09.

System and method for using measurement made by computerized measurement tool

Номер патента: US20190333290A1. Автор: Patrick S. Merg,David Costantino,Lester B. JOHNSON. Владелец: Snap On Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

Wafer temperature correction system for ion implantation device

Номер патента: US20130149799A1. Автор: Kazuhiro KANDATSU. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-06-13.

Wafer temperature correction system for ion implantation device

Номер патента: US8378316B2. Автор: Kazuhiro KANDATSU. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-02-19.

Method and device for measuring and controlling semiconductor-wafer temperature based on gas-temperature measurement

Номер патента: JPH11154669A. Автор: Peter Weigand,ヴァイガント ペーター,Baiguri Shoda,バイグリ ショーダ. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-06-08.

Semiconductor wafer temperature measurement and control thereof using gas temperature measurement

Номер патента: KR100567967B1. Автор: 피터 위간드,바이구리 쇼다. Владелец: 도시바(주). Дата публикации: 2006-05-25.

Semiconductor wafer temperature measurement and control thereof using gas temperature measurement

Номер патента: EP0902464A3. Автор: Peter Weigand,Baiguri Shoda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-02-18.

Void monitoring device for measurement of wafer temperature variations

Номер патента: US09543219B2. Автор: Jeffrey P. Gambino,Prakash Periasamy,Shawn A. Adderly,Samantha D. DiStefano,Mark J. Esposito. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Wafer temperature controller, wafer temperature control system, wafer temperature control method, computer readable recording medium, and plasma processing apparatus

Номер патента: TWI795692B. Автор: 吳磊,如彬 葉,張一川,伊凡 比久科夫. Владелец: 大陸商中微半導體設備（上海）股份有限公司. Дата публикации: 2023-03-11.

WAFER TEMPERATURE ADJUSTING DEVICE, WAFER PROCESSING APPARATUS, AND WAFER TEMPERATURE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20220270900A1. Автор: Hashiguchi Sadao. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

Environmental severity measurement tool

Номер патента: US09988914B2. Автор: Chris Konschuh,Mike Crowther,Landon Steiger,Michael Craig Shaw. Владелец: Arrival Oil Tools Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Measurement Tool and Method of Use

Номер патента: US20130049773A1. Автор: Margaret Cowsar Waid,Bryan W. Kasperski,Michael Andrew Yuratich. Владелец: Precision Energy Services Inc. Дата публикации: 2013-02-28.

Measurement tool and method of use

Номер патента: US09581580B2. Автор: Margaret Cowsar Waid,Bryan W. Kasperski,Michael Andrew Yuratich. Владелец: Precision Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Ion beam etching utilizing cryogenic wafer temperatures

Номер патента: US09779955B2. Автор: Thorsten Lill,Anthony Ricci,Ivan L. Berry, III. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Combined Leveling and Measurement Tool for Piping Elements

Номер патента: US20230194231A1. Автор: Erwin Escobar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-22.

Surface temperature measuring apparatus, surface temperature measuring method, and optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20240280408A1. Автор: Takashi Kawasaki,Hidehiko Fujii,Hitoshi Nagasawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-22.

WAFER TEMPERATURE MEASUREMENT IN AN ION IMPLANTATION SYSTEM

Номер патента: US20210242054A1. Автор: Chen Chien-Li,WALTHER Steven R.. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

IN-SITU WAFER TEMPERATURE MEASUREMENT AND CONTROL

Номер патента: US20190304820A1. Автор: Reece Ronald N.,Baggett John F.,Kopalidis Petros Miltiades. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Non-contact body temperature measuring device and method thereof

Номер патента: EP4035593A2. Автор: Hsing Ou Yang,Ta-Chieh YANG,Shih-Hsuan Hao,Chih-Yuan Haung. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-08-03.

Measurement Tool and Method of Measuring Brake Stroke

Номер патента: US20170205219A1. Автор: Marcel Rusz. Владелец: ArvinMeritor Technology LLC. Дата публикации: 2017-07-20.

Non-Contact Body Temperature Measuring Device and Method Thereof

Номер патента: US20230105817A1. Автор: Chih-Yuan Huang,Hsing Ou Yang,Hsuan-Hao Shih,Ta-Chieh YANG. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Measurement tool and method of measuring brake stroke

Номер патента: US09921043B2. Автор: Marcel Rusz. Владелец: ArvinMeritor Technology LLC. Дата публикации: 2018-03-20.

Device and method for molten metal temperature measurement

Номер патента: RU2768559C1. Автор: Фрэнк СТИВЕНС,Гвидо НЕЙЕНС,Кристиан РАДЕЛЕ,Марк ИНДЕХЕРБЕРГЕ. Владелец: Хераеус Электро-Ните Интернациональ Н.В.. Дата публикации: 2022-03-24.

Virtual measurement tool for a wearable visualization device

Номер патента: EP3224697A1. Автор: Michael Thomas,Brian Murphy,David Hill,Jon PAULOVICH,Nicholas Fajt,Johnathan Bevis. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2017-10-04.

Foot Size Measurement Tool and Foot Size Measurement Tool Set

Номер патента: US20220192324A1. Автор: Noboru Oshima. Владелец: Oshima Shoji Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Strain sensor based downhole fluid density measurement tool

Номер патента: GB2600875A. Автор: Linley Fripp Michael,Dan Vick James Jr. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2022-05-11.

Strain sensor based downhole fluid density measurement tool

Номер патента: US11879905B2. Автор: Michael Linley Fripp,James Dan Vick, Jr.. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2024-01-23.

Product measurement tool and method of measuring an object

Номер патента: US20140259713A1. Автор: Philip E. Nichols. Владелец: Perdue Foods LLC. Дата публикации: 2014-09-18.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240268681A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Method for Measuring Adiabatic Shear Temperature Rise Based on High-Speed Infrared Temperature Measuring Device

Номер патента: LU500247B1. Автор: Yulong Li,Qichao Ruan,Haosen Chen,Shengxin Zhu,Yazhou Guo. Владелец: Univ Northwestern Polytechnical. Дата публикации: 2021-12-06.

Non-contact Temperature Measuring System for Grape Leaf Surface Temperature in Field

Номер патента: LU501131B1. Автор: Guobin Shi. Владелец: Univ Guangdong Petrochem Tech. Дата публикации: 2022-06-30.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Body temperature measurement method, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230263399A1. Автор: Xiaofang Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Temperature measurement value processing device, heat generation body detection device, temperature measurement value processing method, and program

Номер патента: EP4206632A1. Автор: Takehiro Adachi,Yoshinori Nunome,Yohei Nakamoto,Kodai MASHIKO,Yusei Sasaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Thermal Systems Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Temperature measurement value processing device, heat generation body detection device, temperature measurement value processing method, and program

Номер патента: AU2021406419A1. Автор: Takehiro Adachi,Yoshinori Nunome,Yohei Nakamoto,Kodai MASHIKO,Yusei Sasaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Thermal Systems Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Gardening measurement tools

Номер патента: US20130055580A1. Автор: Eyal Melyon. Владелец: GROWEAT Ltd. Дата публикации: 2013-03-07.

Temperature measurement value processing device, heat generation body detection device, temperature measurement value processing method, and program

Номер патента: AU2021406419A9. Автор: Takehiro Adachi,Yoshinori Nunome,Yohei Nakamoto,Kodai MASHIKO,Yusei Sasaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Thermal Systems Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Temperature measurement value processing device, heat generation body detection device, temperature measurement value processing method, and program

Номер патента: AU2021406419B2. Автор: Takehiro Adachi,Yoshinori Nunome,Yohei Nakamoto,Kodai MASHIKO,Yusei Sasaki. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Thermal Systems Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Methods to perform an in-situ determination of a formation property of a downhole formation and in-situ formation property measurement tools

Номер патента: US11761332B2. Автор: Christopher Michael Jones,Jonas Toelke,Mehdi Alipour Kallehbasti,Anthony Herman Van Zulekom. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Temperature measuring gun base charging structure and temperature measuring gun applying same

Номер патента: EP4431887A1. Автор: Wenjian NI,Zeen ZHAO. Владелец: Ningbo Deli Tools Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Freeplay measurement tool and associated system and method

Номер патента: US20240351708A1. Автор: Anthony Klaib,Arpad E. Balogh, JR.. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-10-24.

Temperature measuring system

Номер патента: US20200249093A1. Автор: Darrel Zeltner,Dale R. Tree,Mohsen Rezasoltani,Scott Egbert. Владелец: Solar Turbines Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

Temperature measuring system

Номер патента: AU2020216085B2. Автор: Darrel Zeltner,Dale R. Tree,Mohsen Rezasoltani,Scott Egbert. Владелец: Solar Turbines Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Temperature measuring system

Номер патента: EP3918289A1. Автор: Darrel Zeltner,Dale R. Tree,Mohsen Rezasoltani,Scott Egbert. Владелец: Solar Turbines Inc. Дата публикации: 2021-12-08.

Thermistors on flexible layers and its use for temperature measurements within a battery pack

Номер патента: WO2019156561A1. Автор: Sandeep Unnikrishnan,Edsger Constant Pieter Smits,Peter Zalar,Helen KARDAN. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2019-08-15.

Single point and fiber optic temperature measurement for correction of a gas column weight in a well

Номер патента: WO2007098312A8. Автор: Jose Sierra,David O Johnson,Christopher L David. Владелец: Welldynamics B V. Дата публикации: 2008-10-09.

Temperature measuring system

Номер патента: AU2020216085A1. Автор: Darrel Zeltner,Dale R. Tree,Mohsen Rezasoltani,Scott Egbert. Владелец: Solar Turbines Inc. Дата публикации: 2021-08-05.

Non-linearity determination of positioning scanner of measurement tool

Номер патента: US20110314576A1. Автор: Carlos Strocchia-Rivera,George W. Banke, Jr.,James M. Robert. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-12-22.

Temperature Measuring Device for a Respiratory Humidifier

Номер патента: US20140238394A1. Автор: Rudolf Buechi. Владелец: HAMILTON BONADUZ AG. Дата публикации: 2014-08-28.

High-precision non-contact temperature measurement device

Номер патента: US11885690B2. Автор: Kun-Chi Lo,Shiang-Feng Tang,Shun-Lung Yen,Wen-Jen Lin. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2024-01-30.

Hall sensor apparatus with temperature measurement function and current sensor apparatus with the same function

Номер патента: US20190113550A1. Автор: Ki Chul Hong. Владелец: Itx-M2m Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

Cable diameter and bend radius quick measuring tool

Номер патента: US11274911B1. Автор: CHUN Chang,I-Hui Chen,Chen TSENG,Cheng-Hsiang Huang,Chih-Hung Yang. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2022-03-15.

Soil extraction and measurement tool

Номер патента: US20200271551A1. Автор: Victor A. Losolla. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-27.

Drift and measurement tools and methods

Номер патента: US20220155241A1. Автор: Naif Alnefaie,Bader Alsayegh,Amer Alharty. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2022-05-19.

Layout and measuring tool

Номер патента: US20200282548A1. Автор: Richard M. Hummel,Steven Charles Cross. Владелец: Woodpeckers LLC. Дата публикации: 2020-09-10.

A measurement tool and a method for determining a state of health (soh) of a capacitor component in a vehicle

Номер патента: EP4270034A1. Автор: Ranjith Kumar B,P Meshach Daniel. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: US20240309753A1. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: ZA202400603B. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instr Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Systems and methods of pyrometric temperature measurement and control in dye sublimation

Номер патента: EP4408668A1. Автор: Jeffrey HUMENICK,Jym KAUFFMAN,Rebecca GALLUP. Владелец: Sekisui Kydex LLC. Дата публикации: 2024-08-07.

Measurement tool having tip part made from polycrystalline diamond

Номер патента: EP4067808A1. Автор: Yutaka Kobayashi,Masashi Harada,Fumihide SAKANO. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Measuring tool

Номер патента: US09823056B2. Автор: De Yu. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Combination level and right angle measuring tool

Номер патента: US09778034B2. Автор: Walter Wells Rice. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Structural unit comprised of filling level measuring tool and remote element

Номер патента: RU2749560C1. Автор: Иоганнес МЕРКЕР,Андреас ШМОЛЛЬ,Даниэль ПЛЕСС. Владелец: Трума Герететехник Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2021-06-15.

Magnetic mixing systems incorporated with pressure, volume and temperature measurement cell

Номер патента: RU2388530C2. Автор: Эрик Геста Бруно ЛИНДЕБЕРГ. Владелец: Синвент Ас. Дата публикации: 2010-05-10.

Method of temperature measurement

Номер патента: RU2086935C1. Автор: Роберт Давлетович Мухамедяров,Рауил Ибрагимович Харисов. Владелец: Рауил Ибрагимович Харисов. Дата публикации: 1997-08-10.

Environmental severity measurement tool

Номер патента: GB2514457A8. Автор: Konschuh Chris,Crowther Mike,Steiger Landon,Craig Shaw Michael. Владелец: Arrival Oil Tools Inc. Дата публикации: 2017-03-29.

Apparatus and methods for continuous temperature measurement of molten metals

Номер патента: EP2954295A2. Автор: Jyoti Goda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-16.

Non-contact body temperature measurement device

Номер патента: US20230304865A1. Автор: Fu-Kang WANG,Pin-Hsun Juan,Yu-Chieh Wang,Ju-Yin Shih,Ya-Chi Su. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2023-09-28.

Non-contact body temperature measurement device

Номер патента: US12044574B2. Автор: Fu-Kang WANG,Pin-Hsun Juan,Yu-Chieh Wang,Ju-Yin Shih,Ya-Chi Su. Владелец: National Sun Yat Sen University. Дата публикации: 2024-07-23.

Method and System for Non-Contact Temperature Measurement of Spot on Target Object

Номер патента: US20240240991A1. Автор: Che-Chih Tsao,Guo-Sing Lin. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2024-07-18.

Battery cell group conductive temperature measurement system

Номер патента: US20240250325A1. Автор: Matthew PERNOT,Ethan T. Quy,Seth P. Mansfield,John M. Barnowsky. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-07-25.

Device for temperature measurements of surfaces with a low unknown and/or variable emissivity

Номер патента: US09976908B2. Автор: Francesco Pompei,Jason N. Jarboe. Владелец: Exergen Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Apparatus and methods for continuous temperature measurement of molten metals

Номер патента: US09546909B2. Автор: Jyoti Goda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection system with temperature measurement device

Номер патента: US09482582B2. Автор: Alexander KREUTZER. Владелец: iPEK International GmbH. Дата публикации: 2016-11-01.

One-position wafer temperature controller for single wafer tool

Номер патента: KR970013072A. Автор: 이사히로 하제가와,칼 파울 뮬러,베른하르트 엘. 포쉔리더,한스-요르크 티메,시어도어 반 케셀. Владелец: 인터내쇼날 비지니스 머신스 코포레이션. Дата публикации: 1997-03-29.

Critical dimension variation compensation across a wafer by means of local wafer temperature control

Номер патента: EP1599891B1. Автор: Robert J. Steger. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2010-09-01.

Measurement tool for collecting bodily samples with improved measurement precision

Номер патента: US11940458B2. Автор: Nobuhiko Inui,Tsutomu Nakamura,Kazuhiko Imamura,Ryousuke Takahashi. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Downhole measurement tool assembly for measuring and storing at least one quantity in a wellbore and for wireless surface read-out

Номер патента: WO2019160426A1. Автор: Lars OY. Владелец: Well Id. Дата публикации: 2019-08-22.

Downhole measurement tool assembly for measuring and storing at least one quantity in a wellbore and for wireless surface read-out

Номер патента: GB2584231A. Автор: Øy Lars. Владелец: Well ID AS. Дата публикации: 2020-11-25.

A brake pad friction material measuring tool

Номер патента: GB2467795A. Автор: Clive George Harvey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-08-18.

Thread measuring tool

Номер патента: WO1988004763A1. Автор: Leif Grundtvorm Larsen. Владелец: Larsen Leif Grundtvorn. Дата публикации: 1988-06-30.

Measurement tool and method for lithography masks

Номер патента: US12032298B2. Автор: Yoshihiro Tezuka,Adam Seeger,Ping Qu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Measurement tool for circle area

Номер патента: US20180172497A1. Автор: Jung-Hsuan Chen,Chao-Fu Shu,Chin-Guo Kuo. Владелец: National Taiwan Normal University NTNU. Дата публикации: 2018-06-21.

Measurement tool and method for lithography masks

Номер патента: EP4405753A1. Автор: Yoshihiro Tezuka,Adam Seeger,Ping Qu. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Rotor blade cuff measuring tool

Номер патента: EP1845873A2. Автор: Frank Mario Landino,Bernardo Goncalves Rocha,Gianni Celli,Edward Robert Landino,Raymond M. Glazier, Jr.. Владелец: Sikorsky Aircraft Corp. Дата публикации: 2007-10-24.

Rotor blade cuff measuring tool

Номер патента: CA2610558A1. Автор: Frank Mario Landino,Bernardo Goncalves Rocha,Gianni Celli,Edward Robert Landino,Raymond M. Glazier, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-07-26.

Rotor blade cuff measuring tool

Номер патента: WO2007084101A2. Автор: Frank Mario Landino,Bernardo Goncalves Rocha,Gianni Celli,Edward Robert Landino,Raymond M. Glazier, Jr.. Владелец: SIKORSKY AIRCRAFT CORPORATION. Дата публикации: 2007-07-26.

Temperature measurement method, apparatus, and system, storage medium, and program product

Номер патента: EP4242609A1. Автор: PING Yang,Shiliang PU,Di XIE,Chengshan Pang,Dongwei Ma. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Measuring tool attachment cover

Номер патента: US20230075939A1. Автор: Toshihiko Aoki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Temperature measurement system and endoscope

Номер патента: US20190265459A1. Автор: Susumu Takahashi,Yasuo Hirata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

MRI phantom including MRI compatible temperature measurement device and pressure expansion bladder device

Номер патента: US11733338B2. Автор: Walter Schneider,Michael A. Boss,Anthony P. Zuccolotto,Leroy K. Basler,John Dzikiy,Benjamin A. Rodack,Sudhir K. Pathak. Владелец: Psychology Software Tools Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Gear actuated angle measurement tool

Номер патента: US20090235545A1. Автор: Mark Lev Shapiro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-09-24.

Measurement tool and a method for determining a state of health (soh) of a capacitor component in a vehicle

Номер патента: US20230347743A1. Автор: Meshach Daniel PASUPATHY,Ranjith Kumar B. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: AU2023226748B2. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Immersion device for temperature measurement and method for position detection

Номер патента: US12123780B2. Автор: Michel Van Vlierberghe,Guido Neyens. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-10-22.

Radiation temperature measuring device

Номер патента: US20180372547A1. Автор: Hiroyuki Sasaki. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Electronic device for body temperature measurement and operation method thereof

Номер патента: US20240366091A1. Автор: Jeongmin Park,Hongji LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-07.

Measuring tool for disc brake device brake pad

Номер патента: US09897426B2. Автор: PI-LIANG WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-20.

Acoustic measurement tool

Номер патента: US09823376B2. Автор: Ioan-Alexandru MERCIU. Владелец: Statoil Petroleum ASA. Дата публикации: 2017-11-21.

Measurement tool and method of use

Номер патента: CA2646782C. Автор: Bryan W. Kasperski,Margaret C. Waid,Michael A. Yuratich. Владелец: Precision Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Pressure balanced transducer assembly and measurement tool

Номер патента: CA2984462A1. Автор: Junhuan ANG,Atiqur RAHMAN. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-01-05.

Construction layout and angle measurement tool

Номер патента: US20080052938A1. Автор: John Moss. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-03-06.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US20230105139A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Strain sensor based downhole fluid density measurement tool

Номер патента: CA3139149C. Автор: Michael Linley Fripp,James Dan Vick Jr. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Strain sensor based downhole fluid density measurement tool

Номер патента: AU2019466267A1. Автор: Michael Linley Fripp,James Dan VICK Jr.. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Radiation temperature measuring apparatus and turbo-molecular pump equipped with the same

Номер патента: US20030185272A1. Автор: Manabu Nonaka,Takashi Kabasawa,Tooru Miwata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-02.

Brightness temperature measuring device

Номер патента: RU2718727C1. Автор: Анатолий Иванович Походун,Вячеслав Петрович Ходунков,Юрий Альфредович Сильд,Виктор Маркович Фуксов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева". Дата публикации: 2020-04-14.

Temperature measuring system, substrate processing apparatus and temperature measuring method

Номер патента: US20120327394A1. Автор: Kenji Nagai,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-12-27.

Surface temperature measuring method, surface temperature measuring apparatus, hot-dip zinc plated steel sheet manufacturing method, and hot-dip zinc plated steel sheet manufacturing equipment

Номер патента: US20230366073A1. Автор: Hiroaki Ono,Yumiko Takei,Yuki Takeda,Nozomi HISAJIMA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Temperature measuring method and apparatus, device and system

Номер патента: EP4249869A1. Автор: Lin Du,Yuhao Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: CA3190342A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-03-29.

Temperature measurement apparatus, method of measuring temperature profile, recording medium and heat treatment apparatus

Номер патента: US9002674B2. Автор: Masayuki Moroi,Hitoshi Kikuchi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-04-07.

Non-contact temperature measuring device

Номер патента: US20190017877A1. Автор: Tseng-Lung Lin,An-Chin Lai. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2019-01-17.

Wafer temperature trajectory control method for high temperature ramp rate applications using dynamic predictive thermal modeling

Номер патента: TW200523997A. Автор: James Willis,Brian Matthews,Paul Lustiber. Владелец: Axcelis Tech Inc. Дата публикации: 2005-07-16.

Adjustable carpenters measuring tool

Номер патента: US4761890A. Автор: Michael F. Morrell. Владелец: Dan Claffey. Дата публикации: 1988-08-09.

Support bracket applicable to measuring tools

Номер патента: US4967482A. Автор: Donald L. Hoover,Ronald J. Rengle. Владелец: Future Line Inc. Дата публикации: 1990-11-06.

Surface temperature measurement method, surface temperature measurement device, method for manufacturing hot-dip galvanized steel sheet, and facility for manufacturing hot-dip galvanized steel sheet

Номер патента: EP4212837A1. Автор: Hiroaki Ono,Yumiko Takei,Yuki Takeda,Nozomi HISAJIMA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Blood vessel imaging temperature measurement method

Номер патента: US20190046043A1. Автор: Zhenguang Chen. Владелец: Hetaida Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

Body temperature measurement method, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4174460A1. Автор: Xiaofang Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Measuring tool for irradiation source and method for measuring radiation

Номер патента: EP3657220A1. Автор: Marco LAVALLE,Giulio Paolo Veronese. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-05-27.

Radiation temperature measurement device and radiation temperature measurement method

Номер патента: EP4303547A1. Автор: Koji Tominaga,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Measuring tool for irradiation source and method for measuring radiation

Номер патента: WO2020104280A1. Автор: Marco LAVALLE,Giulio Paolo Veronese. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2020-05-28.

Pole, installable along the sides of a railway line, for the execution of topographical surveys directed to verify the track layout of the railway line, and corresponding optical measuring tool and system, and use

Номер патента: EP3999805A1. Автор: Nicola Virgenti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-05-25.

Pole, installable along the sides of a railway line, for the execution of topographical surveys directed to verify the track layout of the railway line, and corresponding optical measuring tool and system, and use

Номер патента: WO2021014475A1. Автор: Nicola Virgenti. Владелец: Virgenti Nicola. Дата публикации: 2021-01-28.

Downhole measurement tool assembly for measuring and storing at least one quantity in a wellbore and for wireless surface read-out

Номер патента: US20210071520A1. Автор: Lars OY. Владелец: Well ID AS. Дата публикации: 2021-03-11.

Radiation temperature measurement device and radiation temperature measurement method

Номер патента: US20240110834A1. Автор: Koji Tominaga,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Measuring tool

Номер патента: EP3647721A1. Автор: Jun Wu,Ou Zhang. Владелец: CHANGZHOU HUADA KEJIE OPTO-ELECTRO INSTRUMENT Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-06.

Hall sensor for stress and temperature measurements in addition to magnetic field measurement

Номер патента: US6362618B1. Автор: Mario Motz. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2002-03-26.

Heat transfer limit experimental device of high-temperature heat pipe equipped with convenient temperature measurement box and method

Номер патента: US11892380B1. Автор: Wei Chen,Xu Zhang,Muhao ZHANG,Suyi Zhang,Xiaoqiang He,Shuhua Ding,Yugao Ma. Владелец: Chengdu Univeristy of Technology. Дата публикации: 2024-02-06.

Temperature Measurement Method, Apparatus, Device, and System

Номер патента: US20230314226A1. Автор: Lin Du,Yuhao Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Radiation temperature measuring device

Номер патента: US20200080897A1. Автор: Hiroyuki Sasaki,Masaru Sugiyama. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2020-03-12.

Infrared temperature measurement and stabilization thereof

Номер патента: CA3105500A1. Автор: Robert Maston. Владелец: CVG Management Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Infrared temperature measurement and stabilization thereof

Номер патента: EP3803300A1. Автор: Robert Maston. Владелец: CVG Management Corp. Дата публикации: 2021-04-14.

Infrared temperature measurement and stabilization thereof

Номер патента: CA2949657C. Автор: Robert A. Maston. Владелец: CVG Management Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Enhanced cooker hood with sensors for remote temperature measurement and presence detection

Номер патента: EP4184137A2. Автор: Giuseppe Bruno,Enrico Rosario Alessi,Fabio Passaniti,Antonella La Malfa. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-05-24.

Systems and methods for temperature measurement

Номер патента: US20230172457A1. Автор: Su Liu,Zhiqiang Yang,Tao Pu,Diquan XU,Ziwei WEI,Wuping Lu,Jie ZHAN. Владелец: Zhejiang Dahua Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Device for thermographic temperature measurement

Номер патента: EP4405651A1. Автор: Milan Honner,Vladislav LANG,Michal VANTNER,Jan ROUB,Tomá KOHLSCHÜTTER,Jan KLEPÁ EK. Владелец: Západoceská univerzita v Plzni. Дата публикации: 2024-07-31.

Method and system for gas temperature measurement

Номер патента: US09528880B2. Автор: Ronald Scott Bunker,Nirm Velumylum Nirmalan,Todd Garrett Wetzel,Guanghua Wang,Shawn David Wehe,Robert David Briggs,Robert Michael Zacharias. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-12-27.

Thread measurement tool

Номер патента: CA1239015A. Автор: Anthony Storace,Albert V. Yannella. Владелец: AMF Inc. Дата публикации: 1988-07-12.

Manually manipulated distance measuring tool

Номер патента: US4858328A. Автор: Dennis Heinen. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-08-22.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: AU2022323641B2. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Construction Measuring Tool

Номер патента: US20230408238A1. Автор: Frank Ray. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-21.

Measurement tool for portrait creation

Номер патента: WO2022108467A1. Автор: Amna ALJEFAIRI,Hanin HAMOUD. Владелец: Hamoud Hanin. Дата публикации: 2022-05-27.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: AU2022323641A1. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Pressure differential measuring tool

Номер патента: US20040065153A1. Автор: Shih-Chang Shih,Jain-Fa Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2004-04-08.

Differential device measuring tool and lubricating oil amount measuring method for differential device

Номер патента: US20200191255A1. Автор: Hiroshi Takemoto,Akuto Sekiguchi,Fumiya Yamamoto,Osamu Ogane,Ryota Ishino. Владелец: Musashi Seimitsu Industry Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-18.

Fiber optic temperature measurement with quantum dot nanocomposite

Номер патента: US20210206689A1. Автор: Hakan SAYINC,Claudia Maier. Владелец: LEONI Kabel GmbH. Дата публикации: 2021-07-08.

Electrical interconnect board for a battery module with integrated temperature measurement capabilities

Номер патента: EP4451417A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: AIRBUS SAS. Дата публикации: 2024-10-23.

Simple measurement tool having reaction regions separated by gel boundary regions

Номер патента: US10809256B2. Автор: Osamu Ohara,Ken Nonaka. Владелец: KAZUSA DNA RESEARCH INSTITUTE FOUNDATION. Дата публикации: 2020-10-20.

Method of temperature measurement and temperature-measuring device using the same

Номер патента: US20080037610A1. Автор: Akira Ohnishi. Владелец: Institute of Space and Astronautical Science of Japan Aerospace Exploration Agency. Дата публикации: 2008-02-14.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: CA3226103A1. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2023-02-09.

Cable diameter and bend radius quick measuring tool

Номер патента: US20220074726A1. Автор: CHUN Chang,I-Hui Chen,Chen TSENG,Cheng-Hsiang Huang,Chih-Hung Yang. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2022-03-10.

Gap measurement tool assembly, system, and method for measuring a gap between mating parts of a structure

Номер патента: US11852466B2. Автор: George Stephen Cowart. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-12-26.

Determining a fault condition in valve apparatus of an IC engine cylinder from intake air temperature measurements

Номер патента: GB2383639A. Автор: Edward J Lewandowski,Scott G Decker. Владелец: Cummins Engine Co Inc. Дата публикации: 2003-07-02.

Sensor arrangement for temperature measurement, and method for the measurement

Номер патента: CA2739070C. Автор: Jan Cuypers,Valere Indeherberge. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2017-01-10.

Temperature measuring means

Номер патента: GB694715A. Автор: . Владелец: Armstrong Siddeley Motors Ltd. Дата публикации: 1953-07-29.

Body temperature measuring patch using infrared temperature sensor

Номер патента: EP4074246A1. Автор: Youngshin LEE,Gyungchul KIM. Владелец: SEERSTECHNOLOGY CO Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Battery cell group conductive temperature measurement system

Номер патента: US20230268570A1. Автор: Matthew PERNOT,Ethan T. Quy,Seth P. Mansfield,John M. Barnowsky. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2023-08-24.

Temperature measuring device and method, and agitation/defoaming method

Номер патента: US20200232850A1. Автор: Ryosuke Eto,Fumihiko Takaoka. Владелец: Shashin Kagaku Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-23.

Non-contact temperature measuring device

Номер патента: US11867560B2. Автор: Ji Hyun Kim,Sang Wan SEO. Владелец: Addplus Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Battery cell group conductive temperature measurement system

Номер патента: US11984566B2. Автор: Matthew PERNOT,Ethan T. Quy,Seth P. Mansfield,John M. Barnowsky. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-05-14.

Temperature measurement calibration method without interference of shutter of thermal imaging module

Номер патента: US20230408342A1. Автор: Kuo-Jen Chang,Hsin-Chang Chen,Shiang-Feng Tang,Shun-Lung Yen. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2023-12-21.

Near-infrared temperature measurement method and system for tail of sintering trolley

Номер патента: AU2021106284A4. Автор: Han Yu,Hongbing Yu,Xiaoxuan Xu. Владелец: Shenzhen Research Institute Of Nankai Univ. Дата публикации: 2021-11-04.

Microencapsulated cholesteric liquid crystal temperature measuring device for determining the temperature of non-planar or planar surfaces

Номер патента: US4433637A. Автор: William H. Reeves,David B. McQuain,William L. Buirley,Donald E. Koopman. Владелец: Vectra International Corp. Дата публикации: 1984-02-28.

Device for pyrometric temperature measurement

Номер патента: US4730940A. Автор: Robert F. M. Herber,Herman J. Pieters,Anna M. Roelofsen,Wouter van Deijck. Владелец: GRUEN ANALYSENGERAETE GmbH. Дата публикации: 1988-03-15.

Optical pyrometer and technique for temperature measurement

Номер патента: CA1105287A. Автор: John R. Gebhart,Bruce E. Kinchen,Richard R. Strange. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 1981-07-21.

Radiation detector suitable for tympanic temperature measurement

Номер патента: CA2004743A1. Автор: Francesco Pompei,Joseph M. Looney, Jr.,Philip R. Gaudet, Jr.. Владелец: Exergen Corp. Дата публикации: 1990-06-06.

Spectroscopic temperature measurement

Номер патента: CA1062035A. Автор: Joseph J. Barrett. Владелец: Allied Chemical Corp. Дата публикации: 1979-09-11.

Temperature measurement assembly

Номер патента: EP3862733A1. Автор: Bert Gollnick. Владелец: Siemens Gamesa Renewable Energy AS. Дата публикации: 2021-08-11.

Rapid temperature measurement by wavelength modulation spectroscopy

Номер патента: WO2020206198A1. Автор: Yue Tian,Da Pan. Владелец: NEC Laboratories America, Inc.. Дата публикации: 2020-10-08.

Adjustable angle measurement tool

Номер патента: CA3133965A1. Автор: David VUKAJ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-10-01.

Driving device and method using temperature measurement and dual-gas-source valve control system

Номер патента: US20220270799A1. Автор: Guoquan Chen,Licheng Xie,Xianmin Deng,Jintang You,Guangzhi Mai. Владелец: Chant Heat Energy Science & Technology (zhongshan) Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-25.

Temperature measuring unit, disk drive suspension manufacturing apparatus, and disk drive suspension manufacturing method

Номер патента: US20230417605A1. Автор: Takeshi Shimoda. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Hybrid body temperature measurement system and method thereof

Номер патента: US20220330835A1. Автор: Kuo-Hsien LU,Chih-Hao Chiu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Temperature measuring device and furnace including the same

Номер патента: WO2023178258A1. Автор: Yuexin Chen,Zhixue Liu. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC.. Дата публикации: 2023-09-21.

Pressure and temperature measuring system

Номер патента: US11987082B2. Автор: Tyler Young,Justin Thaler,Adam M. Kemp,Justin T. Gloeckner,Kenneth J. Coyne. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-05-21.

Body temperature measurement method, and electronic device

Номер патента: EP4388988A1. Автор: LU Wang,Zhijian He,Rong Sheng,Runsen WANG,Yujia HAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Measuring tool for frameworks with sliding scale

Номер патента: CA1073664A. Автор: Torgny W. Horvallius. Владелец: Samefa AB. Дата публикации: 1980-03-18.

Nut and bolt head measuring tool

Номер патента: US5875558A. Автор: John S. Bakke,David C. Bakke. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-03-02.

Improvements in or relating to the production of wear-resistant surfaces of measuring tools or gauges

Номер патента: GB966604A. Автор: . Владелец: Karl Henry Mattsson. Дата публикации: 1964-08-12.

Gap measurement tool

Номер патента: CA1118195A. Автор: Salvatore R. Cuomo, Jr.,Thomas M. Ellington, Jr.. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1982-02-16.

Dust-proof structure for measuring tool

Номер патента: US20120272729A1. Автор: Shuji Hayashida,Rie Arai,Yuji Oura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2012-11-01.

Measurement tool installation apparatus and method

Номер патента: AU2023226748A1. Автор: Roland Greenwood,Lee Webb,John Carl JACKSON,Lachlan KENNELLY. Владелец: Reflex Instruments Asia Pacific Pty Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Cutter holder measuring tool, cutter holder detecting system and method for detecting cutter holder pose parameter

Номер патента: US20230373050A1. Автор: Baohai Sun,Shujing Wang,Xuemei Zong,Kaixuan KANG. Владелец: Xuzhou XCMG Road Construction Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Ammunition Measurement Tool

Номер патента: US20130219728A1. Автор: Rodney P. Hartman. Владелец: Forster Products Inc. Дата публикации: 2013-08-29.

Dust-proof structure for measuring tool

Номер патента: US20140102192A1. Автор: Shuji Hayashida,Rie Arai,Yuji Oura. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2014-04-17.

ION BEAM ETCHING UTILIZING CRYOGENIC WAFER TEMPERATURES

Номер патента: US20170250087A1. Автор: Berry,Ricci Anthony,LILL Thorsten,III Ivan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-31.

ELECTROSTATIC CHUCK WITH FLEXIBLE WAFER TEMPERATURE CONTROL

Номер патента: US20180286642A1. Автор: Comendant Keith,Holland John Patrick,Matyushkin Alexander,HAO Fangli,Wilcoxson Mark H.,OZEL Taner. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

ION BEAM ETCHING UTILIZING CRYOGENIC WAFER TEMPERATURES

Номер патента: US20170372911A1. Автор: Berry,Ricci Anthony,LILL Thorsten,III Ivan L.. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-28.

Uniform wafer temperature achievement in asymmetric chamber environments

Номер патента: CN108475610B. Автор: 段子青,周建华,毕峰,K·D·李,J·C·罗查-阿尔瓦雷斯,S·哈,P·康纳斯,N·J·布莱特. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-02-12.

Dual heating for precise wafer temperature control

Номер патента: TW201133553A. Автор: Michael X Yang. Владелец: Varian Semiconductor Equipment. Дата публикации: 2011-10-01.

Achieving uniform wafer temperature in asymmetric chamber environment

Номер патента: JP6861710B2. Автор: チェンホア チョウ，,クァンドゥック ダグラス リー，,ポール コナーズ，,スンウォン ハー，,フアン カルロス ロチャ−アルヴァレス，,フアン カルロス ロチャ−アルヴァレス，,クァンドゥック ダグラス リー，,ツーチン トアン，,ニコラス ジェー． ブライト，,ニコラス ジェー． ブライト，,フェン ビィ，. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-04-21.

Wafer temperature control method and apparatus

Номер патента: JP4034344B2. Автор: フセイン，アンワー,ノーバックシー，ハミド. Владелец: ラム リサーチ コーポレイション. Дата публикации: 2008-01-16.

Multifunctional heater/chiller pedestal for wide range wafer temperature control

Номер патента: KR101881332B1. Автор: 산지브 발루자,지엔화 주,토마스 노왁,데일 알. 두 보이스,주안 칼로스 로샤-알바레즈,립예우 얍,투안 안 응우옌 (마이크). Владелец: 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드. Дата публикации: 2018-07-24.

Equipment to improve wafer temperature uniformity for face-up wet processing

Номер патента: JP4644676B2. Автор: イアン， エー． パンチャム，,サン， ティー． ニュエン，,ゲーリー， ジェイ． ローゼン，. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2011-03-02.

Device for continuous temperature measurement of molten steel in the tundish using an infra-red pyrometer

Номер патента: EP1893959B1. Автор: José Raposo BARBOSA,Luiz Fernando Marzano,Fabiano Correa Martins,Marlon Odilon Xavier Silva,Aloísio da Silva GOMES. Владелец: Usinas Siderugicas de Minas Gerais SA. Дата публикации: 2012-05-23.

Temperature measuring device

Номер патента: US8071012B2. Автор: Martin Kendall. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2011-12-06.

Temperature measurement and control for photohermal processes

Номер патента: US4959244A. Автор: Carl M. Penney,Tushar S. Chande. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1990-09-25.

Radiation detector suitable for tympanic temperature measurement

Номер патента: US5271407A. Автор: Francesco Pompei,Joseph M. Looney, Jr.. Владелец: Exergen Corp. Дата публикации: 1993-12-21.

Systems and methods of adaptive two-wavelength single-camera imaging thermography (ATSIT) for accurate and smart in-situ process temperature measurement during metal additive manufacturing

Номер патента: US11874176B2. Автор: Xiayun Zhao,Chaitanya Krishna Prasad Vallabh. Владелец: University of Pittsburgh. Дата публикации: 2024-01-16.

Systems and methods for temperature measurement

Номер патента: US20230366738A1. Автор: Zhiqiang Yang,Tao Lou,Diquan XU,Wuping Lu,Jie ZHAN. Владелец: Zhejiang Dahua Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Infrared temperature measurement and stabilization thereof

Номер патента: CA3155403A1. Автор: Robert Maston. Владелец: CVG Management Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Simulation device for poor contact of internal contact of gas insulated switchgear and calibration method for infrared temperature measurement

Номер патента: AU2020244443A1. Автор: Honggang Chen,Kai Gao,Li Ma,Hua Huang,Youlong Lu,Lijun Jin,Xinlei QIAO. Владелец: East China Power Test and Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Pressure and temperature measuring device

Номер патента: US20210396618A1. Автор: Sergio Diez Garcia,Javier Garcia Izaguirre,Lesmes NICOLÁS HARO. Владелец: Cebi Electromechanical Components Spain SA. Дата публикации: 2021-12-23.

Pressure and temperature measuring device with improved compact design and installation

Номер патента: US11519804B2. Автор: Sergio Diez Garcia,Javier Garcia Izaguirre,Lesmes NICOLÁS HARO. Владелец: Cebi Electromechanical Components Spain SA. Дата публикации: 2022-12-06.

Fiber optic temperature measurement with quantum dot nanocomposite

Номер патента: US11993535B2. Автор: Hakan SAYINC,Claudia Maier. Владелец: Weinert Industries Ag. Дата публикации: 2024-05-28.

Systems and methods for temperature measurement

Номер патента: EP4162446A1. Автор: Su Liu,Zhiqiang Yang,Tao Pu,Diquan XU,Ziwei WEI,Wuping Lu,Jie ZHAN. Владелец: Zhejiang Dahua Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-12.

Aircraft brake temperature measurement

Номер патента: US20200158580A1. Автор: Brice CHERAY,Kurt BRÜGGEMANN. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Aircraft brake temperature measurement

Номер патента: EP3789744A1. Автор: Brice CHERAY,Kurt BRÜGGEMANN. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2021-03-10.

Temperature measurement circuit, temperature and light intensity measurement circuit, temperature measurement method and temperature and light intensity measurement method

Номер патента: EP3985368B1. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Hybrid design of heat spreader and temperature sensor for direct handheld device skin temperature measurement

Номер патента: WO2018057145A1. Автор: Rajat Mittal,Mehdi Saeidi,Ryan Coutts. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2018-03-29.

Portable electronic device with compensated ambient temperature measurement

Номер патента: US09784624B2. Автор: Andrea Sacchetti,Dominik Niederberger,Dominic Böni. Владелец: SENSIRION AG. Дата публикации: 2017-10-10.

Temperature sensor, device using same, and temperature measurement method

Номер патента: US10641660B2. Автор: Hiroshi Yamanaka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2020-05-05.

Device for measuring power in electrical protection panels in buildings by means of temperature measurement

Номер патента: US20240110958A1. Автор: Alvaro SANCHEZ MIRALLES,Jaime BOAL MARTIN-LARRAURI,Francisco María MARTIN MARTINEZ,Carlos RODRIGUEZ - MORCILLO GARCIA,Miguel Manuel MARTIN LOPO,Antonio VAZQUEZ BLANCO. Владелец: Stemy Energy SL. Дата публикации: 2024-04-04.

Temperature measurement and ambient light measurement in the case of self-luminous display technologies in automotive applications

Номер патента: US12063740B2. Автор: Markus Weber,Torsten Lahr,Jürgen Bäthis,Rüdiger Lotz. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2024-08-13.

Temperature measurement of a power semiconductor switching element

Номер патента: US12139214B2. Автор: Balázs Vargha. Владелец: Thyssenkrupp AG. Дата публикации: 2024-11-12.

Fast response and accurate temperature measurement of a hydraulic fluid

Номер патента: US20190101455A1. Автор: Ramesh Annamareddy,Richard William PHILLIPS,Venkata AnilKumar Mothe. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2019-04-04.

Online calibration of a temperature measurement point

Номер патента: US09429483B2. Автор: Jason Harold Rud,Loren Michael Engelstad,Dirk Willy Bauschke. Владелец: Rosemount Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Skin-point temperature measurement assembly

Номер патента: US11841277B2. Автор: Stefano Mella,Michele Conversano. Владелец: Endress and Hauser Wetzer GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-12-12.

Temperature measurement system

Номер патента: US09901258B2. Автор: Matthew D. Mullin,David E. Quinn,John A. Lane,Michael J. Anson. Владелец: Welch Allyn Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Combination isolation valve and check valve with integral flow rate, pressure, and/or temperature measurement with wireless power

Номер патента: EP4368864A3. Автор: Florin Rosca,Andrea PEZZUOLO. Владелец: Fluid Handling LLC. Дата публикации: 2024-07-24.

Temperature measurement system

Номер патента: US09474450B2. Автор: Matthew D. Mullin,David E. Quinn,John A. Lane,Michael J. Anson. Владелец: Welch Allyn Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Wearable device for noninvasive body temperature measurement

Номер патента: US20240245309A1. Автор: Ammar Al-Ali,Kevin Forrest,Valery G. Telfort. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Plasma reactor with feed forward thermal control system using a thermal model for accommodating rf power changes or wafer temperature changes

Номер патента: US20100319851A1. Автор: Daniel J. Hoffman,Douglas H. Burns,Douglas A. Buchberger, Jr.,Richard Fovell,Kallol Bera,Paul Lukas Brillhart,Hamid Tavassoli. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-12-23.

WAFER TEMPERATURE MEASUREMENT TOOL

Номер патента: US20140269822A1. Автор: VandenBerg David,McCloud Edward. Владелец: QUALITAU, INC.. Дата публикации: 2014-09-18.

Temperature measuring device, cooking apparatus and cooking system

Номер патента: EP3479650A1. Автор: Félix Querejeta Andueza,Jose Ignacio Mugica Odriozola,Aitor Zabalo Bayon. Владелец: Copreci SCL. Дата публикации: 2019-05-08.

Computing device and method using a neural network to analyze temperature measurements of an infrared sensor

Номер патента: CA3140465A1. Автор: Francois Gervais,Jean-Simon BOUCHER. Владелец: Distech Controls Inc. Дата публикации: 2022-07-08.

Temperature measuring device, cooking apparatus and cooking system

Номер патента: US20190141787A1. Автор: Félix Querejeta Andueza,Jose Ignacio Mugica Odriozola,Aitor Zabalo Bayon. Владелец: Copreci SCL. Дата публикации: 2019-05-09.

Non-invasive temperature measurement method and apparatus

Номер патента: EP1171758A4. Автор: Yoram Palti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Method and device for dehydrating highly active wastes based on dew-point temperature measurements

Номер патента: RU2377673C2. Автор: Кришна П. СИНГХ,Кришна П. СИНГХ (US). Владелец: Холтек Интернэшнл, Инк.. Дата публикации: 2009-12-27.

Test system for simulating rpv heat exchange characteristics of nuclear power plant, and heating and temperature measuring device

Номер патента: EP3979260A1. Автор: Peng Chen,Lei Zhang,Hui Fu,Dekui ZHAN,Shaoxiong XIA,Zijie WU,Huiyong Zhang,Junming LIANG. Владелец: China Nuclear Power Technology Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-06.

Sensor for aerosol generation apparatus, aerosol generation apparatus and temperature measurement apparatus

Номер патента: EP4223161A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Echocardiogram context measurement tool

Номер патента: US20200075175A1. Автор: Merlijn Sevenster,Amit Patel,Thomas Andre FORSBERG. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2020-03-05.

Inferential temperature measurement of an electrochromic device

Номер патента: EP1504303A1. Автор: James F. Ingalls,Freek Stoffelen. Владелец: Sage Electrochromics Inc. Дата публикации: 2005-02-09.

Echocardiogram context measurement tool

Номер патента: US12057236B2. Автор: Merlijn Sevenster,Amit Patel,Thomas Andre FORSBERG. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2024-08-06.

Measuring tool for adapter functions

Номер патента: RU2523194C2. Автор: Кеннет ШВЕД Питер,КРАДДОК Дейвид,ГРЕГГ Томас,ГЛЕНДЕННИНГ Бет,Норман ЛЕЙС Эрик,Гленн УИЛКИНС Стивен,Уилльям БРАЙС Джр. Фрэнк. Владелец: Интернэшнл Бизнес Машинз Корпорейшн. Дата публикации: 2014-07-20.

Coverage measurement tool for user defined coverage models

Номер патента: US6356858B1. Автор: Yossi Malka,Avi Ziv,Alon Gluska,Schmuel Ur. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-03-12.

Processes for using temperature measurements to determine health metrics

Номер патента: US20240000440A1. Автор: Travis Michael Stevens,Julia Breanne Everett. Владелец: Orpyx Medical Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Susceptor for vapor generation apparatus, vapor generation apparatus, and temperature measurement apparatus

Номер патента: US20230363463A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Temperature measuring device of fusing device and image forming apparatus

Номер патента: US12078945B2. Автор: Shinji Yamana. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Processes for using temperature measurements to determine health metrics

Номер патента: CA3202247A1. Автор: Travis Michael Stevens,Julia Breanne Everett. Владелец: Orpyx Medical Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-30.

Temperature measuring device, fixing device, and image forming apparatus

Номер патента: US20190121266A1. Автор: Masao Ando. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Body Temperature Measurement Devices, Methods, and Systems

Номер патента: US20230277745A1. Автор: Dennis M. Treu,Scott W. Newell,Jerome James. Владелец: Nxstage Medical Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Temperature measuring device, fixing device, and image forming apparatus

Номер патента: US20200012218A1. Автор: Masao Ando. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2020-01-09.

Power monitoring for correcting ambient temperature measurement by electronic devices

Номер патента: US11798501B2. Автор: Chintan Trehan,Philip Hobson Boothby,Emil Rahim,Arun Prakash Raghupathy,Jeffrey Kevin Tu,Kristen Rebecca Pownell. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-10-24.

Carpet measurement tool

Номер патента: US5477617A. Автор: John W. Guy. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-12-26.

Apparatus and method for improving dynamic refresh in a semiconductor memory device by temperature measurement

Номер патента: EP1784836A1. Автор: Perry Willmann Remaklus, Jr.,Robert Michael Walker. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2007-05-16.

Printed flexible radio frequency identification (rfid) passive temperature-measuring tag based on mxene ink

Номер патента: US20240202486A1. Автор: Yibin Ying,Jianfeng PING,Yuzhou SHAO. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-06-20.

Echocardiogram context measurement tool

Номер патента: US20220367068A1. Автор: Merlijn Sevenster,Amit Patel,Thomas Andre FORSBERG. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2022-11-17.

Liquid crystal display temperature measuring in adhesion material

Номер патента: MY123298A. Автор: Sturla Lutnaes. Владелец: Ericsson Telefon Ab L M. Дата публикации: 2006-05-31.

Suppressing interfacial reactions by varying the wafer temperature throughout deposition

Номер патента: US20180047645A1. Автор: Jon Henri,Ramesh Chandrasekharan,Seshasayee Varadarajan,Aaron R. Fellis,Andrew John McKerrow,James Samuel Sims. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2018-02-15.

SUPPRESSING INTERFACIAL REACTIONS BY VARYING THE WAFER TEMPERATURE THROUGHOUT DEPOSITION

Номер патента: US20200066607A1. Автор: Chandrasekharan Ramesh,Henri Jon,Fellis Aaron R.,Varadarajan Seshasayee,McKerrow Andrew John,Sims James Samuel. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

Apparatus to Improve Internal Wafer Temperature Profile

Номер патента: US20140224785A1. Автор: Ku Shao-Yen,Chou Chun-Li,Hsu Yu-Yen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-08-14.

Suppressing interfacial reactions by varying the wafer temperature throughout deposition

Номер патента: US10347547B2. Автор: Jon Henri,Ramesh Chandrasekharan,Seshasayee Varadarajan,Aaron R. Fellis,Andrew John McKerrow,James Samuel Sims. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2019-07-09.

Suppressing interfacial reactions by varying wafer temperature throughout deposition

Номер патента: KR102493002B1. Автор: 존 헨리,라메시 찬드라세카란,제임스 사무엘 심즈,앤드류 존 맥케로우,세샤세이 바라다라잔,아론 알. 펠리스. Владелец: 램 리써치 코포레이션. Дата публикации: 2023-01-27.

Suppressing interfacial reactions by varying wafer temperature throughout deposition

Номер патента: KR20230018507A. Автор: 존 헨리,라메시 찬드라세카란,제임스 사무엘 심즈,앤드류 존 맥케로우,세샤세이 바라다라잔,아론 알. 펠리스. Владелец: 램 리써치 코포레이션. Дата публикации: 2023-02-07.

In-situ low wafer temperature oxidized gas plasma surface treatment process

Номер патента: US5858882A. Автор: Liang-Tung Chang,Chih-Cherng Liao. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 1999-01-12.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: GB2592189A. Автор: Kale Kaustubh. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2021-08-25.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: EP4103898A1. Автор: Kaustubh Kale. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2022-12-21.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: WO2021161183A1. Автор: Kaustubh Kale. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2021-08-19.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: US20230056446A1. Автор: Kaustubh Kale. Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2023-02-23.

Silicon wafer temperature measurement by optical transmission monitoring

Номер патента: EP0429081A3. Автор: Peter V. Schwartz,James C. Sturm,Peter M. Garone. Владелец: Research Corp Technologies Inc. Дата публикации: 1991-08-21.

Wafer temperature measurement method and apparatus thereof

Номер патента: KR960011260B1. Автор: 김용길. Владелец: 한국베리안 주식회사. Дата публикации: 1996-08-21.

Wafer temperature measuring device using two wavelength infrared laser interferometer

Номер патента: KR960019638A. Автор: 장기호,최부연,이종현,장원익. Владелец: 재단법인 한국전자통신연구소. Дата публикации: 1996-06-17.

Silicon wafer temperature measurement by optical transmission monitoring

Номер патента: CA2030572A1. Автор: Peter V. Schwartz,James C. Sturm,Peter M. Garone. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-05-23.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: GB202001895D0. Автор: . Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2020-03-25.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: IL295094A. Автор: . Владелец: Edwards Vacuum LLC. Дата публикации: 2022-09-01.

Methods for determining wafer temperature

Номер патента: WO2008003080A3. Автор: Paul Janis Timans. Владелец: Mattson Tech Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Method of endpointing plasma strip process by measuring wafer temperature

Номер патента: US6352870B1. Автор: Jeremy Lansford. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2002-03-05.

Wafer-temperature detecting apparatus

Номер патента: KR930006305B1. Автор: 김용태,민석기. Владелец: 박원희. Дата публикации: 1993-07-12.

Semiconductor wafer temperature controller

Номер патента: JP2023512846A. Автор: カウスタブ ケイル. Владелец: エドワーズ バキューム リミテッド ライアビリティ カンパニー. Дата публикации: 2023-03-29.

A semiconductor wafer temperature control apparatus

Номер патента: TW202146826A. Автор: 考斯塔卜 凱爾. Владелец: 美商艾德華真空有限責任公司. Дата публикации: 2021-12-16.

Method and device for measuring body temperature, temperature measuring tool and storage medium

Номер патента: CN111854964A. Автор: 王维治. Владелец: Shenzhen Infinova Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-30.

Methods and apparatus for remote temperature measurement of a specular surface

Номер патента: WO2006124963A3. Автор: David A Markle. Владелец: Ultratech Inc. Дата публикации: 2007-10-04.

Optical fiber strain and temperature measurement apparatus and optical fiber strain and temperature measurement method

Номер патента: US12044582B2. Автор: Kengo KOIZUMI. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Thermal diffusion coefficient measuring device, and deep-body thermometer, deep-body temperature measuring device, and deep-body temperature measuring method using same

Номер патента: US11744469B2. Автор: Masahiko Ishida,Eiji Saitoh,Koichi Terashima,Akihiro Kirihara,Ryohto SAWADA,Ryo Iguchi,Yasuyuki Oikawa,Yuki SHIOMI. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-09-05.

Odmr temperature measurement method

Номер патента: EP3995819A1. Автор: Masazumi Fujiwara. Владелец: Okayama University NUC. Дата публикации: 2022-05-11.

Living body internal temperature measuring device and living body internal temperature measuring method

Номер патента: US11940333B2. Автор: Yujiro Tanaka,Michiko Seyama,Daichi Matsunaga. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Non-contacting temperature measurement system for automated fiber placement

Номер патента: US20230066485A1. Автор: Andrew D. Anderson,Christopher Sacco. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH CAROLINA. Дата публикации: 2023-03-02.

Total pressure and total temperature measurement in wet gas condition

Номер патента: US09846098B2. Автор: Filippo Gerbi,Marco MARRAZZO,Francesco MARASCHIELLO,Giampaolo MANFRIDA. Владелец: Nuovo Pignone Srl. Дата публикации: 2017-12-19.

Non-contact temperature measurement in molten metal applications

Номер патента: US09671291B2. Автор: Gary W. Hallum. Владелец: CCPI Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Temperature measuring apparatus and related improvements

Номер патента: EP1264163A1. Автор: David Victor Land. Владелец: University of Glasgow. Дата публикации: 2002-12-11.

Temperature measuring apparatus and related improvements

Номер патента: CA2402931A1. Автор: David Victor Land. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-13.

Method of measuring ambient temperature and a temperature measurement arrangement

Номер патента: US20040013159A1. Автор: Klaus Raum,Hans Fella. Владелец: Mahlo GmbH and Co KG. Дата публикации: 2004-01-22.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: EP4067846B1. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Method and apparatus for non-contact temperature measurement of a food item

Номер патента: US12055445B2. Автор: Doug Foreman,Mark Griffin,Douglas Martin Linn,Toni Kinsey,Bill BRITTING,Sam ENGEL,Jeremy GERARD,Travis SCARROW. Владелец: Tyson Foods Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Method for indirect temperature measurement of an object

Номер патента: US09863820B2. Автор: John Rankin. Владелец: CONNECTIVITY SYSTEMS Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Temperature measurement device, temperature measurement system, and temperature measurement method

Номер патента: EP3851819B1. Автор: Shunichi Miyazaki,Junichi Ogawa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Temperature measurement device, thermometer, temperature measurement method, and temperature attenuation measurement method

Номер патента: US20240068884A1. Автор: Takashi Nonaka,Takahiro Okabe,Shigenao Maruyama,Toshinori Nakajima,Masaya Higashi,Yasushi Hosokawa,Manabu Orito,Yuya Iseki,Takuma Kogawa,Yutaro Tabata,Tadashi Matsudate. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Single-point temperature calibration of resistance-based temperature measurements

Номер патента: US20230366754A1. Автор: Zhong You,Johann G. Gaboriau,Vamsikrishna Parupalli. Владелец: Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Humidity measuring device and dew point temperature measuring device

Номер патента: US11820333B2. Автор: Hiroyuki Sasaki. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Method for Calibrating a Motor Control Circuit to Improve Temperature Measurement in an Electrical Motor

Номер патента: US20110257910A1. Автор: Thomas J. Sheahan. Владелец: Nidec Motor Corp. Дата публикации: 2011-10-20.

Method for three-dimensional temperature measurement and apparatus

Номер патента: US20240175766A1. Автор: Kei Philipp Behruzi. Владелец: Arianegroup Gmbh. Дата публикации: 2024-05-30.

Accurate on-die temperature measurement using remote sensing

Номер патента: US20080082282A1. Автор: David Duarte,George Geannopoulos,Usman Mughal,Kedar Mangrulkar,Mathew Nazareth,Venkatesh Prasanna. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

System for verifying temperature measurement

Номер патента: GB2499175A8. Автор: McCormick Gavin,McCloskey David,COLBURN Michael,Bogner Stephen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-04.

Temperature measuring instrument, gas-insulated apparatus, and conductor temperature measuring method

Номер патента: EP3605047A4. Автор: Yoshiyuki Tamura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-18.

Transformer optical fiber temperature measuring system and measuring method thereof

Номер патента: ZA202204315B. Автор: Ran Duan,Xiaozhou FAN. Владелец: North China Electric Power Univ Baoding. Дата публикации: 2022-06-29.

A temperature measuring system and a sensor unit of such a temperature measuring system

Номер патента: TW400463B. Автор: G L G Ewals,T A G Heeren. Владелец: Oce Nederland BV. Дата публикации: 2000-08-01.

Method for verifying a temperature measurement in a micro-environment and system for verifying a temperature measurement in a micro-environment

Номер патента: US09976917B2. Автор: Hansueli MEYER,Dirk LEBER,Stephan Baehler. Владелец: Qiagen Instruments AG. Дата публикации: 2018-05-22.

Systems and methods for pressure and temperature measurement

Номер патента: US09512715B2. Автор: William Albert Challener,Li Airey. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Measuring emissivity and density of crude oil using a differential temperature measurement device

Номер патента: GB2502372A. Автор: Robin SLATER,Phillip Michael Bagley. Владелец: Aker Subsea Ltd. Дата публикации: 2013-11-27.

Ultrasonic temperature measurement device

Номер патента: US8801277B2. Автор: Mikhail Skliar,Kevin Whitty,Anthony Butterfield. Владелец: University of Utah Research Foundation UURF. Дата публикации: 2014-08-12.

Apparatus and Method for Balancing Impedance of a Resistivity Measuring Tool

Номер патента: US20140197839A1. Автор: Richard Bloemenkamp. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Apparatus and method for measuring tool degradation

Номер патента: EP1399291A1. Автор: Michael Roesner,Manfred Schneegans,David Wallis. Владелец: Infineon Technologies SC300 GmbH and Co KG. Дата публикации: 2004-03-24.

Angle Measurement Tool

Номер патента: GB2623967A. Автор: Bamford Daniel. Владелец: Metex Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Measuring wafer temperatures

Номер патента: EP0612862A1. Автор: Gary E. Miner,Christian M. Gronet. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 1994-08-31.

Temperature measurement method and temperature measurement tool

Номер патента: CN111579264B. Автор: 张江峰,陈方方,袁继尧,王婉怡. Владелец: Zhejiang Yinlun Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-18.

Brake lining gauge measurement tools

Номер патента: US09500462B2. Автор: Mark Reble. Владелец: Lisle Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Apparatus and method for remote temperature measurement

Номер патента: WO1994016297A1. Автор: Karam Kang,Matthew James Fairlie,Dan Evans,Serge Zouikin. Владелец: Alcan International Limited. Дата публикации: 1994-07-21.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and electric apparatus

Номер патента: US20240280410A1. Автор: Takahiro Nakai,Masaaki Shimada,Yuka TSUDA,Yudai Nakamura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Led temperature measurement setup via buffered direct injection (bdi) circuit

Номер патента: WO2024180027A1. Автор: Till-Jonas Ostermann,Celal Mohan OEGUEN,Bernd Scherwath,Felix Schmidt,Szu-Yu Huang,Samiul ISLAM,Henning ZIMMERMANN,Tobias BAUMGARTNER. Владелец: trinamiX GmbH. Дата публикации: 2024-09-06.

Measurement tool for obtaining tool face on a rotating drill collar

Номер патента: CA2554937A1. Автор: Robert Anthony Moore. Владелец: PathFinder Energy Services Inc. Дата публикации: 2007-02-02.

Measurement tool for obtaining tool face on a rotating drill collar

Номер патента: CA2554937C. Автор: Robert Anthony Moore. Владелец: PathFinder Energy Services Inc. Дата публикации: 2009-03-31.

Measurement assembly and measurement tool

Номер патента: EP4227650A1. Автор: Wu Lin,Jia Wang,ZhiHui Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Battery cell temperature measurement system

Номер патента: WO2024145591A1. Автор: Ronald J. Dulle,Mark D. Gunderson,Rengaraj Balakrishnan. Владелец: CPS Technology Holdings LLC. Дата публикации: 2024-07-04.

Compact emissivity and temperature measuring infrared detector

Номер патента: WO2006044883A3. Автор: John DiDomenico,Edward James Bevan,Max Michael Briggs,Robert W Gedridge Jr. Владелец: Millennium Engineering And Int. Дата публикации: 2006-10-26.

Compact emissivity and temperature measuring infrared detector

Номер патента: EP1807729A2. Автор: John DiDomenico,Robert W. Gedridge, Jr.,Edward James Bevan,Max Michael Briggs. Владелец: Millenium Engineering and Integration Co. Дата публикации: 2007-07-18.

Battery cell temperature measurement system

Номер патента: WO2024145591A9. Автор: Ronald J. Dulle,Mark D. Gunderson,Rengaraj Balakrishnan. Владелец: CPS Technology Holdings LLC. Дата публикации: 2024-09-12.

Manual measuring tool for rolls of material

Номер патента: US4677752A. Автор: Matthias J. Auchter. Владелец: Individual. Дата публикации: 1987-07-07.

Spectral emissivity and temperature measurements of metal powders during continuous processing in powder bed fusion additive manufacturing

Номер патента: US12036608B2. Автор: Ryan B. Wicker,Alfonso Fernandez,Cesar A. Terrazas-Najera,Ralph Felice. Владелец: University of Texas System. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and apparatus for downhole measurement tools

Номер патента: US09529113B2. Автор: Michael S. Bittar,Shanjun Li,Yumei Tang. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Process temperature measurement using infrared detector

Номер патента: US09488527B2. Автор: Jason Harold Rud. Владелец: Rosemount Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Single well transient electromagnetic measuring tool and method

Номер патента: CA2155691C. Автор: Leonty A. Tabarovsky,Christopher C. Payton,Kurt-M. Strack. Владелец: Western Atlas International Inc. Дата публикации: 2003-10-14.

Non-slip measuring tool and method of making

Номер патента: CA2534775C. Автор: Randal D. Schafer (Deceased),Margaret D. Schafer,Ansel Kelman,David A. Ray. Владелец: RULERSMITH IP Inc. Дата публикации: 2012-09-18.

Brake lining gauge measurement tools

Номер патента: US20160084627A1. Автор: Mark Reble. Владелец: Lisle Corp. Дата публикации: 2016-03-24.

Apparatus and Method for Actively Balancing Impedance of A Resistivity Measuring Tool

Номер патента: US20120326723A1. Автор: Emmanuel Legendre,Alain Dumont,Richard Bloemenkamp. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2012-12-27.

Method for exploiting pressure and temperature measurements of a vehicle tire

Номер патента: US11912074B2. Автор: Olivier Muhlhoff,Arnaud Delbast,Aurelien Fabre. Владелец: Compagnie Generale des Etablissements Michelin SCA. Дата публикации: 2024-02-27.

Total Pressure and Total Temperature Measurement in a Turbomachine

Номер патента: US20200256887A1. Автор: Nicolas Raimarckers,Frédéric VALLINO. Владелец: SAFRAN AERO BOOSTERS SA. Дата публикации: 2020-08-13.

Radiation thermometer, temperature measurement method, and temperature measurement program

Номер патента: EP4040122A4. Автор: Yasuo Furukawa,Naoyuki Matsumoto,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: EP3299781B1. Автор: Hisashi Isozaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Temperature measurement apparatus and method of measuring temperature

Номер патента: EP3745104B1. Автор: Viktor KASSOVSKI,Luc BUYDENS, Slaveyko Ivanov SLAVEYKOV,Aleksandar Ivanov GARGAVELOV. Владелец: MELEXIS TECHNOLOGIES NV. Дата публикации: 2024-09-25.

System and method for remote temperature measurements in a harsh environment

Номер патента: US09816865B2. Автор: Ando Feyh,Gary O'brien,Nikhil Ravi,Joel Oudart. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-11-14.

Improvements relating to cold junction temperature compensation in electrical temperature measuring networks

Номер патента: GB775593A. Автор: Donald Mckinlay Jr. Владелец: Bristol Co. Дата публикации: 1957-05-29.

Wafer Temperature Control System and Control Method, Computer Device, and Storage Medium

Номер патента: US20240269797A1. Автор: Qingqing Duan. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

A roof measuring tool and a method of positioning structural roof members during assembly of a roof

Номер патента: GB2627176A. Автор: Lee Ducker Ricky. Владелец: Nifty Systems Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Array type skin-conformal sensor for heart rate and body temperature measurement and heart rate and body temperature measurement apparatus

Номер патента: US20220409067A1. Автор: Kunnyun KIM. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2022-12-29.

Four-wire electric heating and ignition device capable of temperature measurement

Номер патента: CA3233257A1. Автор: Peter Leigh. Владелец: Chongqing Le Mark Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Method for determining error of in-core temperature measurements and device for its implementation

Номер патента: RU2542356C1. Автор: Павел Александрович Зайцев,Геннадий Николаевич Мельников,Степан Владимирович Приймак,Владимир Борисович Усачев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт Научно-производственное объединение "ЛУЧ" (ФГУП "НИИ НПО "ЛУЧ"). Дата публикации: 2015-02-20.

Measuring tool and method for providing a compensation sheet

Номер патента: WO2024160858A1. Автор: Arnaud Morel,David GENTIL,Jean-Claude Ansermot,Thomas SERRA-TOSIO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-08-08.

Pool measurement tool, system and method

Номер патента: US20080229600A1. Автор: James Bonander,Rich Laitta,Jason Weisenfluh. Владелец: SR Smith LLC. Дата публикации: 2008-09-25.

Temperature measuring device with a special mounting scheme of a pressure converter

Номер патента: EP4385468A1. Автор: Gediminas Paulauskas,Sebastian Friede,Arne Mundt. Владелец: OD OS GmbH. Дата публикации: 2024-06-19.

Disposable measuring tool

Номер патента: EP3364876A1. Автор: J. Francois Eid. Владелец: Coloplast AS. Дата публикации: 2018-08-29.

Adjustable arch measuring tool and associated use thereof

Номер патента: US09920539B1. Автор: Robert Butts. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-20.

Method for measuring inside dimensions of shoes and measuring tool therefor

Номер патента: US09700104B2. Автор: Xin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Orientation determination based on temperature measurements

Номер патента: US09592092B2. Автор: Dorin Panescu,Josef Vincent Koblish,Jessi E. Johnson,Eric Andrew SCHULTHEIS. Владелец: Advanced Cardiac Therapeutics Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Wireless skin temperature measurements in diving

Номер патента: EP2925215A1. Автор: Reima K. HOLOPAINEN,Jari M. A. TIIRA. Владелец: Johnson Outdoors Inc. Дата публикации: 2015-10-07.

Wireless skin temperature measurements in diving

Номер патента: WO2014085475A1. Автор: Reima K. HOLOPAINEN,Jari M. A. TIIRA. Владелец: Johnson Outdoors Inc.. Дата публикации: 2014-06-05.

Temperature measurement at evaporator outlet

Номер патента: US5398644A. Автор: Karl-Johan Nilsson,Stefan Schill. Владелец: ABB Carbon AB. Дата публикации: 1995-03-21.

Apparatus and method for tire temperature measurement

Номер патента: EP2483880A1. Автор: David Alan Weston. Владелец: Michelin Recherche et Technique SA Switzerland. Дата публикации: 2012-08-08.

Wireless skin temperature measurements in diving

Номер патента: US09585564B2. Автор: Reima K. HOLOPAINEN,Jari M. A. TIIRA. Владелец: Johnson Outdoors Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Maxillo-mandibular measurement tool

Номер патента: WO2024006707A2. Автор: Jesse A. Goldstein,Justin BEIRIGER. Владелец: University of Pittsburgh - of the Commonwealth System of Higher Education. Дата публикации: 2024-01-04.

Maxillo-mandibular measurement tool

Номер патента: WO2024006707A3. Автор: Jesse A. Goldstein,Justin BEIRIGER. Владелец: University of Pittsburgh - of the Commonwealth System of Higher Education. Дата публикации: 2024-03-28.

Ostomy measuring tool

Номер патента: EP2787939A1. Автор: Vigdis HANNESTAD,Lara Meisen Grut,Kinn Toft Olsen. Владелец: Hollister Inc. Дата публикации: 2014-10-15.

A Temperature Measuring Module for Digital PCR Microfluidic Chip

Номер патента: LU502877B1. Автор: Xi Chen,Lili Cui,Ran Zhang,Jian'an He,Dayong Gu. Владелец: Shenzhen Acad Inspection & Quarantine. Дата публикации: 2023-04-06.

Intra-Operative Heart Size Measuring Tool

Номер патента: US20180000381A1. Автор: William E. Cohn,Louis Labrousse,Robert G. Walsh,Aaron J. Hjelle. Владелец: Mardil Inc. Дата публикации: 2018-01-04.

Intra-operative heart size measuring tool

Номер патента: EP2410912A1. Автор: William E. Cohn,Louis Labrousse,Robert G. Walsh,Aaron J. Hjelle. Владелец: Mardil Inc. Дата публикации: 2012-02-01.

Intra-operative heart size measuring tool

Номер патента: US09763602B2. Автор: William E. Cohn,Louis Labrousse,Robert G. Walsh,Aaron J. Hjelle. Владелец: Mardil Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Intra-operative heart size measuring tool

Номер патента: US09427318B2. Автор: William E. Cohn,Louis Labrousse,Robert G. Walsh,Aaron J. Hjelle. Владелец: Mardil Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Jig measuring tool and use of the same

Номер патента: US3859729A. Автор: Richard D Pfeiffer. Владелец: Individual. Дата публикации: 1975-01-14.

Autonomous along string measurement tool

Номер патента: CA3234458A1. Автор: Anthony Durkowski,Paul D. Koottungal,Christian Nelson,Swathi MURALI. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2023-04-20.

Autonomous along string measurement tool

Номер патента: AU2022361909A1. Автор: Anthony Durkowski,Paul D. Koottungal,Christian Nelson,Swathi MURALI. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2024-05-16.

Autonomous along string measurement tool

Номер патента: AU2022361909A2. Автор: Anthony Durkowski,Paul D. Koottungal,Christian Nelson,Swathi MURALI. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2024-05-30.

Temperature measuring device for a gasifier

Номер патента: US5372618A. Автор: Herbert E. Andrus, Jr.. Владелец: Combustion Engineering Inc. Дата публикации: 1994-12-13.

Vented type stopper with temperature measurement function

Номер патента: EP3928891A1. Автор: Qixian XIE,Jiu ZHANG. Владелец: Shenyang Taihe Metallurgical Measurement And Control Technologies Co ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

A measuring tool for use in cutting to size lining mouldings and a method for cutting to size

Номер патента: WO2002064335A8. Автор: Bo Ansoe,Svend Aage Lauridsen. Владелец: Svend Aage Lauridsen. Дата публикации: 2004-04-29.

A measuring tool for use in cutting to size lining mouldings and a method for cutting to size

Номер патента: WO2002064335A1. Автор: Bo Anso,Svend Åge LAURIDSEN. Владелец: VKR Holding A/S. Дата публикации: 2002-08-22.

Split output port for pump with internal temperature measurement device

Номер патента: US20240218873A1. Автор: Richard Muizelaar,Paul Morton,Luke BOUWMEESTER,Brett O'REILLY. Владелец: Stackpole International Engineered Products Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and apparatus for real-time temperature measuring for high-intensity focused ultrasound(HIFU) therapy system

Номер патента: US8226559B2. Автор: Hao-Li Liu,Sheng-Min Huang,I-Yeh Lu. Владелец: Chang Gung University CGU. Дата публикации: 2012-07-24.

Skin temperature measuring apparatus for diagnosing disturbance of peripheral circulation

Номер патента: CA1327234C. Автор: Fuminao Tanitomi,Isamu Tanaka. Владелец: Kaisei Kogyo KK. Дата публикации: 1994-02-22.

Wire temperature measuring method for a wire electric discharge machine

Номер патента: US5590964A. Автор: Haruki Obara,Yuki Kita,Masaya Ito. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 1997-01-07.

Method for measuring inside dimensions of shoes and measuring tool therefor

Номер патента: US20160302531A1. Автор: Xin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-20.

Golf tee insertion depth measurement tool

Номер патента: US20150082649A1. Автор: Daniel R. Schumaier. Владелец: TEECORRECT LLC. Дата публикации: 2015-03-26.

Split output port for pump with internal temperature measurement device

Номер патента: WO2024141953A1. Автор: Richard Muizelaar,Paul Morton,Luke BOUWMEESTER,Brett O'REILLY. Владелец: Stackpole International Engineered Products, Ltd.. Дата публикации: 2024-07-04.

Packed column with built-in temperature measuring points

Номер патента: US5064506A. Автор: Dieter Sparenberg,Rolf Ullrich,Herbert Nuding. Владелец: Henkel AG and Co KGaA. Дата публикации: 1991-11-12.

Automated process control using manometric temperature measurement

Номер патента: US6971187B1. Автор: Xiaolin Tang,Steven L. Nail,Michael J. Pikal. Владелец: University of Connecticut. Дата публикации: 2005-12-06.

Rail Cant Measurement Tool and Method

Номер патента: US20130061482A1. Автор: Robert N. Madderom,Harold T. Ruggles,Brandon R. Huynh,Stefan T. Pendrick. Владелец: Holland LP. Дата публикации: 2013-03-14.

Temperature measurement apparatus for use in recreational and sporting activities

Номер патента: US4918851A. Автор: Aaron J. Peikin. Владелец: Individual. Дата публикации: 1990-04-24.

Temperature measurement-based high-intensity focused ultrasound output device

Номер патента: US20240165431A1. Автор: Sugun LEE. Владелец: Skingrab Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Wireless skin temperature measurements in diving

Номер патента: US20140148710A1. Автор: Reima K. HOLOPAINEN,Jari M.A. Tiira. Владелец: Johnson Outdoors Inc. Дата публикации: 2014-05-29.

Layer transfer device controlling locking and unlocking of cover based on evaluated temperatures determined based on temperatures measured by temperature sensors

Номер патента: US20210354500A1. Автор: Kentaro Mori,Ryosuke Sakai. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Layer transfer device controlling locking and unlocking of cover based on evaluated temperatures determined based on temperatures measured by temperature sensors

Номер патента: US11865859B2. Автор: Kentaro Mori,Ryosuke Sakai. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Measuring tool for collecting down hole information and metering valve for producing mud-pulse used in the same

Номер патента: US5495237A. Автор: Hideyuki Miyaji,Hajime Yuasa,Kazuho Hosono,Hikaru Kamiirisa,Keijiro Yamamoto. Владелец: Akishima Laboratories Mitsui Zosen Inc. Дата публикации: 1996-02-27.

Temperature measurement in arrays for delivering ttfields

Номер патента: NZ750440A. Автор: Yoram Wasserman,Mikhail Shtotland,Michael Krinitsky,Victor Kaikov. Владелец: Novocure GmbH. Дата публикации: 2023-03-31.

Temperature measuring device for internal-combustion engine

Номер патента: US4493304A. Автор: Tetsuo Nakajima,Hirotaka Kumata. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 1985-01-15.

Temperature measurement in arrays for delivering ttfields

Номер патента: CA3032571C. Автор: Yoram Wasserman,Mikhail Shtotland,Michael Krinitsky,Victor Kaikov. Владелец: Novocure GmbH. Дата публикации: 2023-10-31.

Core body temperature measurement

Номер патента: US11872156B2. Автор: Jerome Novak,Valery G. Telfort,Philip Perea. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Cement siding tolerance device and measurement tool

Номер патента: US11801707B1. Автор: Franklin Snider, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-31.

Endovascular catheter and method for temperature measurement

Номер патента: WO2003059428A1. Автор: Christodoulos Stefanadis. Владелец: Christodoulos Stefanadis. Дата публикации: 2003-07-24.

Heating roller apparatus with precise temperature measurement

Номер патента: US3961158A. Автор: Yasuhiro Asai,Muneharu Tabuchi,Shosen Bando,Tadashi Tabei. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 1976-06-01.

Temperature measuring and overflow preventing probe for pot

Номер патента: EP3936008A1. Автор: Zhen Fang,Huajin Chen,Zhen Sun,George Mohan Zhang,Zhilin PENG. Владелец: Shenzhen Buydeem Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-12.

Along string measurement tool with pressure sensor array

Номер патента: US20240183233A1. Автор: Jaideva C. Goswami,Richard Hewlett,Anthony PINK,Stephen Pink. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2024-06-06.

Core body temperature measurement

Номер патента: US20240216168A1. Автор: Valery G. Telfort,Philip Perea,Jerome J. Novak, Jr.. Владелец: Masimo Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Temperature measuring and overflow preventing probe for pot

Номер патента: US12022972B2. Автор: Zhen Fang,Huajin Chen,Zhen Sun,George Mohan Zhang,Zhilin PENG. Владелец: Shenzhen Buydeem Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Heart valve measurement tool

Номер патента: US5489296A. Автор: Jack W. Love,Charles S. Love. Владелец: Autogenics. Дата публикации: 1996-02-06.

Along string measurement tool with pressure sensor array

Номер патента: CA3224542A1. Автор: Jaideva C. Goswami,Richard Hewlett,Anthony PINK,Stephen Pink. Владелец: National Oilwell Varco LP. Дата публикации: 2022-12-29.

Method to control supply of refrigerant to evaporator based on temperature measurements

Номер патента: RU2640142C1. Автор: Роосбех ИСАДИ-САМАНАБАДИ. Владелец: Данфосс А/С. Дата публикации: 2017-12-26.

Ablation and temperature measurement devices

Номер патента: CA2852637C. Автор: J. Christopher Flaherty,John T. Garibotto,William J. Gorman,R. Maxwell Flaherty. Владелец: Securus Medical Group Inc. Дата публикации: 2019-08-27.

Scalpel for ophthalmic surgery with integrated temperature measurement, and process for realizing the same

Номер патента: EP1997461A3. Автор: Giovan Battista Angelini,Giampiero De Cesare. Владелец: Optikon 2000 SpA. Дата публикации: 2009-12-02.

A biased vascular temperature measuring device

Номер патента: EP1411819A1. Автор: Leonidas Diamantopoulos,Glenn Van Langenhove,Stewart M. Fox. Владелец: Thermocore Medical Systems NV. Дата публикации: 2004-04-28.

UNIFORM WAFER TEMPERATURE ACHIEVEMENT IN UNSYMMETRIC CHAMBER ENVIRONMENT

Номер патента: US20170178758A1. Автор: Bright Nicolas J.,Rocha-Alvarez Juan Carlos,Bi Feng,ZHOU Jianhua,LEE Kwangduk Douglas,Duan Ziqing,Connors Paul,HA Sungwon. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Measurement tool and methods for euv lithography masks

Номер патента: EP4405754A1. Автор: Yoshihiro Tezuka,Charles Holzwarth,Marieke Ordway. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Use of temperature measurements for indirect measurement of process variables in milling systems

Номер патента: US09486809B2. Автор: Michael Metzger,Harald Held,Florian Steinke. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2016-11-08.

Toner concentration field measurement tool

Номер патента: US20090202264A1. Автор: Mark A. Scheuer,Mark S. Petrush,Steven R. LeRoy. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2009-08-13.

System and method for manufactured article dynamic measurement, tool selection and toolpath generation

Номер патента: EP3906532A1. Автор: David Schneider,Jedidiah Buck MCCREADY. Владелец: KVAL Inc. Дата публикации: 2021-11-10.

Method for operating a heat exchanger using temperature measurements to determine saturation level

Номер патента: US09982955B2. Автор: Markus Friedl,Marc Thuillard. Владелец: Belimo Holding AG. Дата публикации: 2018-05-29.

System and method for manufactured article dynamic measurement, tool selection and toolpath generation

Номер патента: US20200218222A1. Автор: David Schneider,Jedidiah Buck MCCREADY. Владелец: KVAL Inc. Дата публикации: 2020-07-09.

System and method for manufactured article dynamic measurement, tool selection and toolpath generation

Номер патента: CA3092571A1. Автор: David Schneider,Jedidiah Buck MCCREADY. Владелец: KVAL Inc. Дата публикации: 2020-07-09.

Measurement tool and methods for EUV lithography masks

Номер патента: US11815810B2. Автор: Yoshihiro Tezuka,Charles Holzwarth,Marieke Ordway. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Measurement tool and methods for euv lithography masks

Номер патента: WO2023048853A1. Автор: Yoshihiro Tezuka,Charles Holzwarth,Marieke Ordway. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2023-03-30.

Synchronized power and/or temperature measurement in a millimeter wave (mmw) front end module

Номер патента: WO2022081616A1. Автор: Frank Lane,Harish Krishnaswamy. Владелец: Mixcomm, Inc.. Дата публикации: 2022-04-21.

Determining write-induced protrusion as a function of laser power using temperature measurements

Номер патента: US09607649B1. Автор: Huazhou Lou,Jason Riddering. Владелец: SEAGATE TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2017-03-28.

SUSCEPTOR SUPPORT SHAFT FOR IMPROVED WAFER TEMPERATURE UNIFORMITY AND PROCESS REPEATABILITY

Номер патента: US20140251208A1. Автор: Samir Mehmet Tugrul,LAU Shu-Kwan. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-11.

Control device of wafer temperature

Номер патента: JPS6179769A. Автор: Hiroshi Aoyama,弘 青山. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1986-04-23.

Proactive oxygen and temperature measurement and improved distribution of optimal reactor air factors in industrial reactors

Номер патента: SE1650928A1. Автор: Reza Shirazi Ahmad. Владелец: Reza Shirazi Ahmad. Дата публикации: 2017-12-29.

Method for controlling distribution of air factors in industrial reactors by proactive oxygen and temperature measurements

Номер патента: EP3475613A1. Автор: Ahmad Reza Shirazi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-05-01.

Femoral broach-based measurement tool

Номер патента: WO2023224830A1. Автор: Kevin Wayne Belew,Michael Scott Bennett,JR. Michael D. Hollandsworth,Abel Cham KIM,Kevin R. HAYS. Владелец: Smith & Nephew Asia Pacific Pte. Limited. Дата публикации: 2023-11-23.

Device and Method for Injectate Duration Measurement and Temperature Measurement

Номер патента: US20130289420A1. Автор: Ulrich Pfeiffer,Daniel Moulas,Reinhold Knoll. Владелец: Edwards Lifesciences IPRM AG. Дата публикации: 2013-10-31.

Lead flashing bending and measuring tool

Номер патента: GB2464716A. Автор: Simon Neil Stipetic. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-28.

Farrier's measuring tool and method for using

Номер патента: US20060201685A1. Автор: Pete Healey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-09-14.

Welding apparatus and temperature measuring apparatus

Номер патента: CA3217453A1. Автор: Yoshiya Takemura,Atsushi Fukunaga,Yasuharu Sakurai,Taisei Fujimoto,Shigeto TAKADA. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Temperature measurement in catheter

Номер патента: US09956035B2. Автор: Assaf Govari,Andres Claudio Altmann,Christopher Thomas Beeckler. Владелец: Biosense Webster Israel Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

System and method for exhaust gas recirculation flow correction using temperature measurements

Номер патента: US09926866B2. Автор: John L. Lahti,Michael J. Pipho,Dustin W. Ridenour,Michael J. Maney. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 2018-03-27.

Electrosurgical system and method having enhanced temperature measurement

Номер патента: US09585711B2. Автор: Duane W. Marion. Владелец: Arthrocare Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Digital automated temperature measure circuit and thermal calibration of variable temperature calorimetre

Номер патента: RU2377512C1. Автор: Лариса Петровна Бондарева,Елена Вячеславовна Григорова,Алексей Васильевич Каданцев,Артур Андреевич Гайдин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежская государственная технологическая академия". Дата публикации: 2009-12-27.

Temperature measuring transducer with metrological accuracy controller

Номер патента: RU2444707C1. Автор: Ксения Всеволодовна Сапожникова,Роальд Евгеньевич Тайманов,Юлия Витальевна Бакшеева. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева". Дата публикации: 2012-03-10.

Temperature measuring method

Номер патента: RU2163358C2. Автор: В.Р. Рассомагин,И.А. Овчинников,Л.В. Тунев. Владелец: Тунев Леонид Васильевич. Дата публикации: 2001-02-20.

Protective wear-resistant coating of measuring tool working surface

Номер патента: RU2026412C1. Автор: Олег Владимирович Селифанов,Эдуард Иванович Точицкий,Валерий Владимирович Акулич,Тамара Николаевна Шперова. Владелец: Инженерный центр "Плазмотег" АН Беларуси. Дата публикации: 1995-01-09.

Method for luminance temperature measurement

Номер патента: RU2338166C1. Автор: Александр Владимирович Кузнецов,Александр Владимирович Кузнецов (RU). Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт промышленного телевидения "Растр". Дата публикации: 2008-11-10.

Temperature measurement device

Номер патента: RU2492436C1. Автор: Павел Васильевич Михеев,Екатерина Павловна Кузуб. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2013-09-10.

Device for temperature measurement

Номер патента: RU2516036C1. Автор: Юрий Николаевич Петренко,Алексей Иванович Солдатов,Никита Владимирович Мартюшев,Александр Григорьевич Мельников,Илья Владимирович Семенков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". Дата публикации: 2014-05-20.

Device for temperature measurement for surface under electric tension

Номер патента: RU2337334C1. Автор: Владимир Александрович Мельников,Андрей Дмитриевич Пинтюшенко,Лев Ефимович Герцман. Владелец: Военный инженерно-технический университет. Дата публикации: 2008-10-27.

Device for measuring heat carrier temperature and wireless temperature measuring device

Номер патента: RU2450250C1. Автор: Владимир Александрович Беспалов,Юрий Исаакович Штерн,Яков Серафимович Кожевников,Дмитрий Борисович Рыгалин. Владелец: Дмитрий Борисович Рыгалин. Дата публикации: 2012-05-10.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2451913C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Константин Александрович Набатов,Игорь Николаевич Ищук,Дмитрий Юрьевич Хохлов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" (ГОУ ВПО "ТГТУ"). Дата публикации: 2012-05-27.

Adjusting device for surface temperature measurement sensor

Номер патента: RU2561797C1. Автор: Георгий Александрович Васильев,Валерий Васильевич Сосновиков,Сергей Алексеевич Ерохин,Александр Алексеевич Торопов. Владелец: Закрытое акционерное общество Специализированное конструкторское бюро "Термоприбор". Дата публикации: 2015-09-10.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2253846C1. Автор: В.И. Баженов,Н.И. Горбатенков,В.Л. Будкин,Н.П. Федулов. Владелец: Открытое акционерное общество "Раменское приборостроительное конструкторское бюро" (ОАО "РПКБ"). Дата публикации: 2005-06-10.

Temperature measuring procedure

Номер патента: RU2184943C1. Автор: А.Ф. Романченко,М.Е. Масленников,С.А. Шилов. Владелец: Уфимский технологический институт сервиса. Дата публикации: 2002-07-10.

Temperature measuring gage

Номер патента: RU2193170C2. Автор: Б.К. Григоровский,В.А. Чернушко,В.А. Языков. Владелец: Самарский государственный технический университет. Дата публикации: 2002-11-20.

Method of temperature measurement with use of temperature-sensitive resistor

Номер патента: RU2198384C2. Автор: С.В. Кривоносов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации". Дата публикации: 2003-02-10.

Remote temperature measuring device

Номер патента: RU2193169C2. Автор: В.Ф. Будников,В.В. Климов,И.В. Браташ,С.Н. Ретюнский,А.А. Енгибарян,Е.М. Костенко,А.А. Брусаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Кубаньгазпром". Дата публикации: 2002-11-20.

Method and acoustic thermometer for taking distant object temperature measurements

Номер патента: RU2061408C1. Автор: Виктор Иванович Пасечник,Андрей Анатольевич Аносов,Владимир Васильевич Шаблинский. Владелец: Владимир Васильевич Шаблинский. Дата публикации: 1996-06-10.

Method of temperature measurement

Номер патента: RU2554324C1. Автор: Станислав Паладиевич Васильев,Александр Сергеевич Савинов,Наиль Шаукатович Тютеряков,Руслан Миндыбаевич Байбатыров,Алена Сергеевна Тубольцева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Магнитогорский государственный технический университет им. Г.И. Носова" (ФГБОУ ВПО "МГТУ"). Дата публикации: 2015-06-27.

Body size measuring tool

Номер патента: CA184061S. Автор: . Владелец: Zozo Inc. Дата публикации: 2019-08-22.

Body size measuring tool

Номер патента: AU201816373S. Автор: . Владелец: Zozo. Дата публикации: 2018-11-22.

Body size measuring tool

Номер патента: AU201816375S. Автор: . Владелец: Zozo. Дата публикации: 2018-11-22.

Body size measuring tool

Номер патента: CA184063S. Автор: . Владелец: Zozo Inc. Дата публикации: 2019-08-22.

Body size measuring tool

Номер патента: AU201816372S. Автор: . Владелец: Zozo. Дата публикации: 2018-11-22.

SOLAR-PROTECTED SYSTEM OF CONTACTLESS TEMPERATURE MEASUREMENT

Номер патента: RU101179U8. Автор: Андрей Юрьевич Долганин,Раиса Николаевна Долганина,Галина Николаевна Шангина. Владелец: Галина Николаевна Шангина. Дата публикации: 2011-03-27.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2155327C1. Автор: Ю.С. Ильин,Е.Г. Зубов,А.И. Лебедева. Владелец: Центральный аэрогидродинамический институт им. проф. Н.Е.Жуковского. Дата публикации: 2000-08-27.

Meatus measuring tool

Номер патента: CA165380S. Автор: . Владелец: 0884543 BC Ltd. Дата публикации: 2016-06-08.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2164014C2. Автор: В.И. Носов,Б.В. Чубаров,В.В. Альт,Г.Л. Верещагин,В.А. Рихтер. Владелец: Сибирский физико-технический институт аграрных проблем Сибирского отделения Российской академии сельскохозяйственных наук. Дата публикации: 2001-03-10.

Hand Held Measuring Tool

Номер патента: AU201712038S. Автор: . Владелец: Glass World Pty Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Method of thermoresistant temperature measurement

Номер патента: RU2269750C2. Автор: Эдуард Константинович Шахов,Аркадий Петрович Писарев. Владелец: Пензенский государственный университет. Дата публикации: 2006-02-10.

Sensitive element on surface acoustic waves for temperature measurement

Номер патента: RU2592055C1. Автор: Сергей Владимирович Богословский,Геннадий Анатольевич Сапожников,Иван Георгиевич Анцев,Дмитрий Андреевич Шмидт. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радар ммс". Дата публикации: 2016-07-20.

Sensitive element on surface acoustic waves for temperature measurement

Номер патента: RU2590228C1. Автор: Сергей Владимирович Богословский,Геннадий Анатольевич Сапожников,Иван Георгиевич Анцев,Константин Владимирович Терехин. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радар ммс". Дата публикации: 2016-07-10.

Medium temperature measurement device

Номер патента: RU2534633C2. Автор: Александр Феликсович Буслаев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственный центр "МИРОНОМИКА". Дата публикации: 2014-12-10.

Temperature measurement and/or control instrument

Номер патента: RU2481560C1. Автор: Геннадий Иванович Романов,Александр Цулакович Вартаньянц. Владелец: Открытое акционерное общество "Термоприбор". Дата публикации: 2013-05-10.

Device for temperature measurement

Номер патента: RU2486482C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Константин Александрович Набатов,Дмитрий Юрьевич Хохлов,Владимир Аркадьевич Пручкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" (ФГБОУ ВПО "ТГТУ"). Дата публикации: 2013-06-27.

Temperature measuring method of structural surface with resistance sensitive element, device for its implementation and manufacturing method of described device

Номер патента: RU2476835C1. Автор: Вячеслав Васильевич Шевчук,Евгений Георгиевич Зубов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2013-02-27.

Measuring tool to control radius of curve of cylindrical surfaces of infinite length

Номер патента: RU2568332C1. Автор: Амбарцум Мкртичевич Керопян,Павел Яковлевич Бибиков,Дмитрий Ефимович Капуткин,Роман Константинович Басов,Михаил Юрьевич Завьялов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2015-11-20.

Well temperature measurement device

Номер патента: RU2381361C2. Автор: Владимир Николаевич Есауленко,Николай Владимирович Есауленко,Иван Викторович Никульшин. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение Высшего профессионального образования Астраханский государственный технический университет (ФГОУ ВПО АГТУ). Дата публикации: 2010-02-10.

Method of measuring surface temperature and temperature measuring device

Номер патента: RU2445589C1. Автор: Геннадий Алексеевич Копылов,Вячеслав Данилович Ковалев,Владимир Матвеевич Чуманов. Владелец: Владимир Матвеевич Чуманов. Дата публикации: 2012-03-20.

Procedure of diagnostics of temperature measuring circuits

Номер патента: RU2196307C2. Автор: А.М. Солодкий. Владелец: Предприятие "Астраханьгазпром" ОАО "Газпром". Дата публикации: 2003-01-10.

Method for determination of field and temperature dependences of the value of adiabatic temperature measurement using universal curve

Номер патента: RU2442975C2. Автор: Юрий Иванович Спичкин,Александр Метталинович Тишин,Викторино Франко-Гарсия,Алехандро Конде-Амиано,Илья Николаевич Зубков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Перспективные магнитные технологии и консультации". Дата публикации: 2012-02-20.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2554295C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Константин Александрович Набатов,Дмитрий Юрьевич Хохлов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" ФГБОУ ВПО ТГТУ. Дата публикации: 2015-06-27.

Method of temperature measurement

Номер патента: RU2017089C1. Автор: П.И. Бардило,Г.Г. Трищ,О.И. Лах. Владелец: Львовское акционерное общество "Термоприбор". Дата публикации: 1994-07-30.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2447412C2. Автор: Павел Васильевич Михеев,Екатерина Павловна Михеева. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2012-04-10.

Method of liquid temperature measurements

Номер патента: RU2571165C1. Автор: Станислав Святославович Сагаков,Лидия Рустамовна Амирова,Игорь Зорабович Корганов,Равиль Авхиидович Набибулин,Николай Михайлович Сизых,Дмитрий Вадимович Соколов. Владелец: Станислав Святославович Сагаков. Дата публикации: 2015-12-20.

Telescopic temperature measuring device

Номер патента: RU2411469C2. Автор: Валерий Александрович Медников,Дмитрий Владимирович Корбан,Дмитрий Владимирович Корбан (RU),Валерий Александрович Медников (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королева. Дата публикации: 2011-02-10.

Lamp temperature measuring apparatus

Номер патента: CA2049738C. Автор: Shu-Poon Li. Владелец: CANADIAN STANDARDS ASSOCIATION. Дата публикации: 1999-03-23.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2042931C1. Автор: М.Д. Нотариус. Владелец: Казанское приборостроительное конструкторское бюро. Дата публикации: 1995-08-27.

Method for temperature measurement using thermocouples; information measurement system for its implementation and temperature adapter

Номер патента: RU2475712C1. Автор: Вячеслав Васильевич Шевчук,Евгений Георгиевич Зубов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2013-02-20.

Body Size Measuring Tool

Номер патента: AU201811685S. Автор: . Владелец: Start Today Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-13.

Direct reading temperature measuring bridge circuit

Номер патента: CA1039971A. Автор: Arnfried Preuss. Владелец: Howaldtswerke Deutsche Werft GmbH. Дата публикации: 1978-10-10.

Body Size Measuring Tool

Номер патента: AU201811692S. Автор: . Владелец: Start Today Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-13.

Topological and motion measuring tool

Номер патента: CA2284085C. Автор: Lee Danisch. Владелец: CANADIAN SPACE AGENCY. Дата публикации: 2003-12-02.

Thermal imaging complex for visualisation of thermal fields and temperature measurement in patients with distal hypothermia

Номер патента: RU2432896C2. Автор: Людмила Михайловна Смирнова,Оксана Эдуардовна Гаевская. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Санкт-Петербургский научно-практический центр медико-социальной экспертизы, протезирования и реабилитации инвалидов им. Г.А. Альбрехта Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (ФГУ "СПбНЦЭР им. Альбрехта Росздрава"). Дата публикации: 2011-11-10.

Well temperature measurement device

Номер патента: RU2538014C1. Автор: Владимир Николаевич Есауленко,Андрей Сергеевич Обухов,Максим Алексеевич Шевченко,Владимир Сергеевич Шкодин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Астраханский государственный технический университет". Дата публикации: 2015-01-10.

Thermistor intended primarily for temperature measurement and procedure for manufacture of a thermistor

Номер патента: CA1316272C. Автор: Roy Saario,Per Silverberg,Clas-Goran Agnvall,Per Hallje,Ingvar Hansson. Владелец: Astra Meditec AB. Дата публикации: 1993-04-13.

Piezoelectric temperature sensor and silicon wafer temperature measurement jig

Номер патента: JP5098045B2. Автор: 規和 佐々木,靖 斉藤,泰 中田,一生 中間. Владелец: Tokyo Denpa Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-12.

METHOD AND APPARATUS FOR WAFER TEMPERATURE MEASUREMENT USING AN INDEPENDENT LIGHT SOURCE

Номер патента: US20130059403A1. Автор: Li Jiping,Lee Jared Ahmad. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2013-03-07.

Wafer temperature measurement method in semiconductor process

Номер патента: JP3753375B2. Автор: 博二 上坂. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2006-03-08.

REACTION APPARATUS FOR PROCESSING WAFER, ELECTROSTATIC CHUCK AND WAFER TEMPERATURE CONTROL METHOD

Номер патента: US20130126509A1. Автор: He Qiyang,Zhang Yiying. Владелец: SEMICONDUCTOR MANUFACTURING INTERNATIONAL (BEIJING) CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-23.

Wafer bonding chamber with dissimilar wafer temperatures

Номер патента: US20130199730A1. Автор: Thompson Douglas L.,SUMMERS Jeffery F.,Gudeman Chris. Владелец: Innovative Micro Technology. Дата публикации: 2013-08-08.

Reaction device for processing wafers, electrostatic chuck (ESC) and wafer temperature control method

Номер патента: CN103177996A. Автор: 张翼英,何其旸. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Beijing Corp. Дата публикации: 2013-06-26.

Reaction device for treating wafer, electrostatic chuck and wafer temperature control method

Номер патента: CN103137517A. Автор: 张翼英,何其旸,三重野文健. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Beijing Corp. Дата публикации: 2013-06-05.

Temperature measuring method, temperature measuring tool and temperature measuring device

Номер патента: JP5203801B2. Автор: 貴之 平野,雅夫 水野,勝文 富久. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2013-06-05.

Methods For Determining Wafer Temperature

Номер патента: US20120201271A1. Автор: Timans Paul Janis. Владелец: MATTSON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-08-09.

PULSED PLASMA WITH LOW WAFER TEMPERATURE FOR ULTRA THIN LAYER ETCHES

Номер патента: US20130109190A1. Автор: LUBOMIRSKY DMITRY,LILL Thorsten,SCHUEGRAF Klaus. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-02.

Apparatus and Method for Controlling Wafer Temperature

Номер патента: US20130130184A1. Автор: Lee Tze-Liang,Lu Chang-Shen,Lin Yi-Hung,Huang Tai-Chun,Tsai Pang-Yen,Li Jr-Hung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-05-23.

WAFER TEMPERATURE CORRECTION SYSTEM FOR ION IMPLANTATION DEVICE

Номер патента: US20130149799A1. Автор: KANDATSU Kazuhiro. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2013-06-13.

METHODS FOR IMPROVING WAFER TEMPERATURE UNIFORMITY

Номер патента: US20130164948A1. Автор: Wright Jason,Romero Martin. Владелец: INTERMOLECULAR, INC.. Дата публикации: 2013-06-27.

Wafer temperature adjusting equipment and its control method

Номер патента: JPH1154393A. Автор: Masamitsu Kitahashi,正光 北橋. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1999-02-26.

Wafer temperature sensing device with flexible circuit board

Номер патента: CN210322041U. Автор: 吴志伟,连超,王秋瑾,徐俊强,夏子奂. Владелец: Shanghai Gnd Etech Co ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Mechanism for controlling wafer temperature

Номер патента: JPS63236328A. Автор: Takeshi Harada,Hironori Kawahara,Yutaka Kakehi,Ryoji Fukuyama,武 原田,良次 福山,掛樋　豊,川原　博宣. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1988-10-03.

Lifting needle system capable of monitoring wafer temperature in real time and magnetron sputtering equipment

Номер патента: CN104746035A. Автор: 耿波,张同文,常大磊. Владелец: Beijing North Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-01.

Compression ring system capable of monitoring wafer temperature in real time and magnetron sputtering equipment

Номер патента: CN104746028A. Автор: 耿波,王宽冒,蒋秉轩,郭万国. Владелец: Beijing North Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-01.

Method for controlling wafer temperature

Номер патента: JPH11260803A. Автор: Keisuke Matsumoto,圭介 松本,陽一 伊藤,Yoichi Ito. Владелец: KASADO KIKAI KOGYO KK. Дата публикации: 1999-09-24.

Integrated circuit manufacturing process by synchronous surface treatment utilyzing oxygen gas plasma of low wafer temperature

Номер патента: JPH1167912A. Автор: Shisei Ryo,志成 廖,Ryoto Cho,良冬 張. Владелец: SHIJIE XIANJIN JITI ELECTRIC CO Ltd. Дата публикации: 1999-03-09.

Semiconductor wafer temperature controlling device

Номер патента: TW407292B. Автор: Tzai-Yi Chen,Ren-Yuan Yang. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2000-10-01.

A measuring tool

Номер патента: NZ623796A. Автор: Warren Arthur Baier. Владелец: Hansen Dev Ltd. Дата публикации: 2014-08-29.

Temperature measurement tool for liquid leakage

Номер патента: CN212963771U. Автор: 张家芹,姜丁然,戎舟舟. Владелец: Changzhou Jihang Test Equipment Co ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Device for temperature measurement

Номер патента: RU2017086C1. Автор: Александр Илларионович Юдин,Александр Иванович Осецкий. Владелец: Александр Иванович Осецкий. Дата публикации: 1994-07-30.

Oxide-fuel maximum-temperature measurement technology for ventilated fuel element core

Номер патента: RU2070754C1. Автор: В.В. Синявский,В.А. Корнилов. Владелец: Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им.С.П.Королева. Дата публикации: 1996-12-20.

Apparatus for measuring tool wear in a machine tool

Номер патента: PL274140A1. Автор: Maciej Szafarczyk,Andrzej Winiarski. Владелец: Politechnika Warszawska. Дата публикации: 1990-02-19.

Manual Measuring Tool

Номер патента: AU201712037S. Автор: . Владелец: Glass World Pty Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

CALORIMETRIC FLOW AND GAS FLOW SPEED SENSOR UI1 The invention relates to measurement technology. Famous calorimetric sensors for liquid and gas flow rates containing a heating element and a temperature meter have a relatively low sensitivity and accuracy in flows with low speed and with changes in the medium temperature. measurement accuracy in the proposed sensor; the heating element is designed as a thermoelectric battery, washed from the side of hot and cold junctions "The flow is located in the plane of the temperature meter, also made in the form of a thermoelectric battery. The drawing shows the proposed sensor. In the streamlined housing 1 with the hinge 2, there is a heater in the form of a flat thermoelectric battery 3 fed by direct current from the source 4. Cold and hot junctions of a thermoelectric battery have a thermal contact with the measured medium. The measuring element in the form of an electric thermopile 5 also has a thermal contact with the measured medium and is connected to the measuring mu 6.Rabotaet sensor device following obrazom.Potok liquid or gas, impacts on the casing 1 rotates around its Charney 1015202530ra-axis and is oriented in the direction of flow. The flow when flowing around one working surface of the battery 3 "is heated, and when flowing around the other, it cools. The heated and cooled flow is carried along one and the other sides of the housing to the corresponding surfaces of the measuring thermopile 5. Heat flows along the surfaces of the measuring thermopile, creating in it a temperature drop depending on the flow velocity. In proportion to the temperature difference obtained, the thermocouple is produced by the EMC measured by the device 6. When the temperature of the medium changes, the working surfaces of the heating and measuring thermopiles receive the same temperature increments, which eliminates the temperature error in measuring the flow rate. containing a heating element and a temperature meter, characterized in that, in order to increase the sensitivity and accuracy of the measurement, the heating lement is formed as a thermoelectric battery washed by hand with the hot and cold junctions of the oncoming 'and flow meter situated in the plane of temperature, made in the form of a thermoelectric battery.

Номер патента: SU436283A1. Автор: . Владелец: Специальное конструкторское бюро полупроводниковы. Дата публикации: 1974-07-15.

Method for remote temperature measurement

Номер патента: RU2194255C2. Автор: А.Н. Свиридов,В.Д. Бочков,И.И. Таубкин,В.Л. Бакуменко,А.В. Фурсов. Владелец: Государственное унитарное предприятие "НПО "ОРИОН". Дата публикации: 2002-12-10.

Liquid medium temperature measurement technique

Номер патента: RU2063005C1. Автор: Юрий Николаевич Жуков,Михаил Александрович Иванов,Рафкат Спартакович Тахаутдинов,Анатолий Иосифович Слонин,Сергей Константинович Носов,Евгений Николаевич Семенов,Юрий Федорович Панов,Валерий Тимофеевич Ждан,Вячеслав Гаврилович Смородин,Владимир Васильевич Чифоненко,Ирина Михайловна Игнатьева,Дмитрий Маркович Смаржик,Михаил Аскатович Азаматов,Виктор Михайлович Бузанник. Владелец: Виктор Михайлович Бузанник. Дата публикации: 1996-06-27.

Temperature measuring method and structure of probe for measurement

Номер патента: JPS54100784A. Автор: Hikari Oohashi,Katsuaki Hazome. Владелец: Hitachi Iruma Electronic Co Ltd. Дата публикации: 1979-08-08.

Single action loading and unloading device for temperature measuring material in contact temperature measuring instrument

Номер патента: JPS5347882A. Автор: Yoshihisa Tsuda. Владелец: Okazaki Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1978-04-28.

Method and system for monitoring roadway freezing point based on temperature measurements and conductivity measurements

Номер патента: NZ536161A. Автор: Patrick A Leonhardt. Владелец: Energy Absorption System. Дата публикации: 2006-03-31.

Temperature measuring system and measuring method using the same

Номер патента: TW201007147A. Автор: Ean-Sue Lee,Po-Yin Chao. Владелец: Hycon Technology Corp. Дата публикации: 2010-02-16.

Device for high-temperature measurements

Номер патента: RU2090847C1. Автор: А.И. Новиков,Л.Я. Козлов,А.Г. Фохтин,В.Г. Фохтин. Владелец: Московский институт стали и сплавов. Дата публикации: 1997-09-20.

Thread measurement tool

Номер патента: CA1254032A. Автор: Anthony Storace,Albert V. Yannella. Владелец: AMF Inc. Дата публикации: 1989-05-16.

Auxiliary tool for machine tool bearing measuring tool

Номер патента: CN211085033U. Автор: 李剑利,黄怀斌. Владелец: Zhongneng Tianjin Intelligent Transmission Equipment Co ltd. Дата публикации: 2020-07-24.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.