Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method.

Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method.

Номер патента: NL2012996A
Опубликовано: 06-01-2015
Автор(ы): Richard Quintanilha
Принадлежит: ASML Netherlands BV
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method

Номер патента: US09904181B2. Автор: Richard Quintanilha. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-02-27.

Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3276419A1. Автор: Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Sander Bas ROOBOL,Nan Lin. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-01-31.

A substrate container, a lithographic apparatus and a method using a lithographic apparatus

Номер патента: WO2020187473A1. Автор: Giovanni Luca GATTOBIGIO,Frans Jansen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2020-09-24.

Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices

Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection apparatus, linearly movable beam displacer, and method

Номер патента: WO2023165823A1. Автор: Ferry Zijp,Douglas C. CAPPELLI,Bram Antonius Gerardus LOMANS,Bastiaan Lambertus Wilhelmus Marinus VAN DE VEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-09-07.

Photomask inspection apparatus and method of inspecting photomask using the same

Номер патента: US20240044741A1. Автор: Tae Joon Kim,Jeongmin Park,Chanhyeong Cho,Hyeonguk Yeo,Juil KIM,Daehoon Min. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Calibration Method, Inspection Method and Apparatus, Lithographic Apparatus, and Lithographic Processing Cell

Номер патента: US20110292365A1. Автор: Hugo Augustinus Joseph Cramer,Maurits van der Schaar. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-12-01.

Method of determining dose and focus, inspection apparatus, patterning device, substrate and device manufacturing method

Номер патента: US09964853B2. Автор: Hugo Augustinus Joseph Cramer,Adrianus Franciscus Petrus Engelen,Peter Clement Paul Vanoppen,Paul Christiaan Hinnen,Eric Jos Anton Brouwer,Jan Hendrik Den Besten. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-08.

Method of determining dose, inspection apparatus, patterning device, substrate and device manufacturing method

Номер патента: US09952517B2. Автор: Hugo Augustinus Joseph Cramer,Alok Verma. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-24.

Surface inspection apparatus, processing system, and method of manufacturing article

Номер патента: US11749546B2. Автор: Kenichi Kobayashi,Kohei Suzuki,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

System and method for correcting overlay errors in a lithographic process

Номер патента: US20210263427A1. Автор: Tong Yang,Zhiyang Li. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2021-08-26.

Inspection apparatus, inspection method, lithographic apparatus and manufacturing method

Номер патента: NL2017123A. Автор: Staals Frank,Christiaan Hinnen Paul,Cornelis Maria Luijten Carlo,Bernhard Van Oosten Anton. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-01-24.

Device manufacturing method and associated lithographic apparatus, inspection apparatus, and lithographic processing cell

Номер патента: WO2013087431A2. Автор: Michael Kubis,Arie Den Boef,Kaustuve Bhattacharyya,Martin Jak. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2013-06-20.

Device manufacturing method and associated lithographic apparatus, inspection apparatus, and lithographic processing cell

Номер патента: US9163935B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Michael Kubis,Kaustuve Bhattacharyya,Martin Jacobus Johan Jak. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2015-10-20.

Sensor, object positioning system, lithographic apparatus and device device manufacturing method

Номер патента: EP3189377A1. Автор: Ruud Antonius Catharina Maria Beerens,Sander Christiaan Broers,Theodorus Petrus Maria Cadee,Jan Van Eijk,Johannes Antonius Gerardus AKKERMANS,Hendrikus Johannes Schellens,Adrianus Marinus Wouter Heeren,Bo LENSSEN,George Alois Leonie Leenknegt,Jeroen Johannes Theodorus Hendrikus DE BEST,Richard Henricus Adrianus Van Lieshout,Peter Van Der Krieken. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-07-12.

Sensor, object positioning system, lithographic apparatus and device device manufacturing method.

Номер патента: NL2015190A. Автор: Van Eijk Jan,LENSSEN Bo,VAN DER KRIEKEN Peter,Antonius Catharina Maria Beerens Ruud,Christiaan Broers Sander,Antonius Gerardus Akkermans Johannes,Petrus Maria Cadee Theodorus,Johannes Theodorus Hendrikus De Best Jeroen,Marinus Wouter Heeren Adrianus,Alois Leonie Leenknegt George,Johannes Schellens Hendrikus,Henricus Adrianus Van Lieshout Richard. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-07-12.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Method of controlling a lithographic processing cell, device manufacturing method, lithographic apparatus, track unit, lithographic processing cell, and computer program

Номер патента: US20060197929A1. Автор: Johannes Onvlee,Roel Boumen,Norbertus Van Den Nieuwelaar. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-09-07.

Flushing system and method for a lithographic apparatus

Номер патента: WO2024125944A1. Автор: Johan Frederik DANNENBERG,Emericus Antoon Theodorus VAN DEN AKKER,Mart Willem LINTHORST,Ivo Michel KALKMAN,Syed Aaquib HAZARI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-20.

Flushing system and method for a lithographic apparatus

Номер патента: EP4386480A1. Автор: Johan Frederik DANNENBERG,Emericus Antoon Theodorus VAN DEN AKKER,Mart Willem LINTHORST,Ivo Michel KALKMAN,Syed Aaquib HAZARI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-19.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US09519212B2. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Inspection apparatus, inspection method and manufacturing method

Номер патента: US09632039B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Nitesh PANDEY,Stefan Michiel WITTE,Kjeld EIKEMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-04-25.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20080063258A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Apparatus and method for pattern inspection

Номер патента: US20100067778A1. Автор: SHUICHI TAMAMUSHI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2010-03-18.

SURFACE INSPECTION APPARATUS, PROCESSING SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING ARTICLE

Номер патента: US20210082726A1. Автор: Kobayashi Kenichi,Suzuki Kohei,Hirai Shinichiro. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

Method for controlling a lithographic apparatus and associated apparatuses

Номер патента: US12050406B2. Автор: Frank Staals. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-30.

SYSTEM AND METHOD FOR CORRECTING OVERLAY ERRORS IN A LITHOGRAPHIC PROCESS

Номер патента: US20210263427A1. Автор: YANG Tong,LI Zhiyang. Владелец: Onto Innovation, Inc.. Дата публикации: 2021-08-26.

Optical mask for focus monitor, monitoring method and device, and its manufacturing method

Номер патента: CN1412620A. Автор: 中尾修治,宫本由纪,玉田尚久,前岛伸六. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-04-23.

Inspection method and apparatus, substrates for use therein and device manufacturing method

Номер патента: US09835954B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Erik Willem BOGAART. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-12-05.

Substrate inspection apparatus, method of calibrating the substrate inspection apparatus, and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20200182777A1. Автор: YOON Sung Bae,Young Hoon Sohn,Yu Sin YANG,Jang Ik PARK,Kwang Rak KIM,Tae Yong Jo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Methods and apparatus for monitoring a manufacturing process, inspection apparatus, lithographic system, device manufacturing method

Номер патента: US11698346B2. Автор: Maurits van der Schaar,Murat BOZKURT,Alberto DA COSTA ASSAFRAO,Ioana Sorina Barbu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-11.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US20150062570A1. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Foreign matter inspection apparatus, foreign matter inspection method, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20220291144A1. Автор: Yuichi Fujita,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-09-15.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11175239B2. Автор: Akira Yabuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Inspection apparatus, coordinate detection apparatus, coordinate detection method, and wavefront aberration correction method

Номер патента: US09786057B2. Автор: Masafumi Shinoda,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Inspection apparatus and manufacturing method for semiconductor device

Номер патента: US20210199596A1. Автор: Yoshiyuki Nakagawa,Takehiro Toyoda,Hideki Ina,Yasushi Matsuno,Tomoyuki Tezuka,Kosuke Asano,Yasushi Ohta,Junya Tamaki,Masao Ishioka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US9134253B2. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-15.

Electronic system and method of specimen qualification

Номер патента: US12019032B2. Автор: Hung-Chih Chang,Wun-Ye Ku,Chug-Chi CHU,Chi-Min TU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Inspection apparatus, method of manufacturing template, and method of inspecting templates for nano imprint lithography

Номер патента: EP4296656A1. Автор: Keisuke Chiba,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

Inspection apparatus and substrate transfer method

Номер патента: US20220011676A1. Автор: Takashi Murakami,Takuya Tani,Toru TOKIMATSU. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection apparatus, method of manufacturing template, and method of inspecting template

Номер патента: US20230410283A1. Автор: Keisuke Chiba,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Inspection apparatus and methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09958791B2. Автор: Markus Gerardus Martinus Maria Van Kraaij,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Stefan Hunsche. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-01.

Metrology method and apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US09535342B2. Автор: Patrick Warnaar,Hendrik Jan Hidde SMILDE. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-01-03.

Illumination system, lithographic apparatus, mirror, method of removing contamination from a mirror and device manufacturing method

Номер патента: US20080149854A1. Автор: Vadim Yevgenyevich Banine,Derk Jan Wilfred Klunder,Maarten Marinus Johannes Wilhelmus Van Herpen,Harm-Jan Voorma,Mandeep Singh. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2008-06-26.

Lithographing apparatus and lithographing system

Номер патента: US20240241449A1. Автор: Chunyan Song,Xijun Li. Владелец: Westlake University. Дата публикации: 2024-07-18.

Projection optical apparatus, exposure method and apparatus, photomask, and device and photomask manufacturing method

Номер патента: US20080165334A1. Автор: Hitoshi Hatada,Masato Kumazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-07-10.

Lithographic apparatus having a contaminant trapping system, a contamination trapping system, a device manufacturing method, and a method for improving trapping of contaminants in a lithographic apparatus

Номер патента: US7161653B2. Автор: Vadim Yevgenyevich Banine,Levinus Pieter Bakker,Arnoud Wassink. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2007-01-09.

Conditioning system and method for a lithographic apparatus and a lithographic apparatus comprising a conditioning system

Номер патента: TWI596441B. Автор: 禎 史蒂芬 克里斯丁 威斯特雷肯,亞利山德洛斯 馬修,羅布 喬漢 希鐸 瑞登. Владелец: Ａｓｍｌ荷蘭公司. Дата публикации: 2017-08-21.

Conditioning system and method for a lithographic apparatus and a lithographic apparatus comprising a conditioning system

Номер патента: TW201606451A. Автор: 禎 史蒂芬 克里斯丁 威斯特雷肯,亞利山德洛斯 馬修,羅布 喬漢 希鐸 瑞登. Владелец: Ａｓｍｌ荷蘭公司. Дата публикации: 2016-02-16.

Lithographic apparatus and alignment measurement method in lithographic apparatus

Номер патента: JP4584139B2. Автор: ベルナルデュス マリア ファン ビルセン フランシスクス. Владелец: エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ．. Дата публикации: 2010-11-17.

Lithographic apparatus and sealing device for a lithographic apparatus

Номер патента: TW201142524A. Автор: Johannes Maquina. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-12-01.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090207406A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-20.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20100273115A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP2093611A3. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-27.

Method of determining focus, inspection apparatus, patterning device, substrate and device manufacturing method

Номер патента: US09939735B2. Автор: Christian Marinus Leewis,Paul Christiaan Hinnen,Shu-jin WANG,Kuo-Feng PAO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-10.

Method of determining focus, inspection apparatus, patterning device, substrate and device manufacturing method

Номер патента: US09594299B2. Автор: Christian Marinus Leewis,Paul Christiaan Hinnen,Shu-jin WANG,Kuo-Feng PAO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-03-14.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing data filtering

Номер патента: US09846368B2. Автор: Johannes Jacobus Matheus Baselmans,Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US12124176B2. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspection apparatus

Номер патента: US20210382396A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230004093A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Metrology method and apparatus, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09910366B2. Автор: Alexander Straaijer,Hendrik Jan Hidde SMILDE,Maurits van der Schaar,Scott Anderson Middlebrooks,Markus Gerardus Martinus Maria Van Kraaij,Niels GEYPEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-03-06.

Particle beam inspection apparatus

Номер патента: US20240258138A1. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Edwin Cornelis KADIJK,Te-Yu Chen,Erheng WANG,Christianus VAN HEUMEN Martijn Petrus,Caspar VAN BANNING Dennis Herman,Henricus Maria JACOBS Johannes Andreas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor manufacturing apparatus having a built-in inspection apparatus and a device manufacturing method using said manufacturing apparatus

Номер патента: US20040248329A1. Автор: Nobuharu Noji,Tohru Satake. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20060066833A1. Автор: Raimond Visser,Jan Kuit,Johannes Maquine,Dirk Bijvoet,Jan Hoogkamp,Hubert Segers. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-03-30.

Substrate with multilayer reflective film, mask blank, transfer mask and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09798050B2. Автор: Kazuhiro Hamamoto,Toshihiko Orihara. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09665012B2. Автор: Edo Maria Hulsebos. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-30.

Fluid handling structure, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: SG172638A1. Автор: Koen Steffens,Daniel Jozef Maria Direcks,Danny Maria Hubertus Philips,Den Dungen Clemens Johannes Gerardus Van,Putten Arnold Jan Van. Владелец: Asml Netherlands B V Nl. Дата публикации: 2011-07-28.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20110273679A1. Автор: Youri Johannes Laurentius Maria Van Dommelen,Paulus Martinus Maria Liebregts,Gert-Jan Gerardus Johannes Thomas Brands,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Marco Koert Stavenga,Jan Cornelis Van Der Hoeven,Richard Joseph Bruls,Rudy Jan Maria Pellens,Vijay Kumar Badam,Casper Roderik De Groot,Coen Cornelis Wilhelmus Verspaget,David Lucien Anstotz,Thijs Egidius Johannes Knaapen,Marcus Johannes VAN DER ZANDEN,Martijn Hendrik Kamphuis,Rudolf Adrianus Joannes Maas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-11-10.

Radiation source, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09414477B2. Автор: Erik Roelof Loopstra,Jan Bernard Plechelmus Van Schoot,Gerardus Hubertus Petrus Maria Swinkels. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-08-09.

Fluid handling structure, immersion lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20170176867A1. Автор: Daan Daniel Johannes Antonius Van Sommeren,Bruno Jean François Frackowiak,Arend KOOLMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-06-22.

Fluid handling structure, immersion lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP3172623A1. Автор: Daan Daniel Johannes Antonius Van Sommeren,Bruno Jean François Frackowiak,Arend KOOLMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-31.

Frame Assembly, Lithographic Apparatus and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20210240090A1. Автор: Hans Butler,Joep Sander DE BEER,Cornelius Adrianus Lambertus De Hoon,Jeroen Pieter STARREVELD,Martinus Van Duijnhoven,Maurice Willem Jozef Etiënn WIJCKMANS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-08-05.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US12072181B2. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240369356A1. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-07.

Particle inspection apparatus and method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US7388659B2. Автор: Yoichiro Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-17.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US10712295B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Devices and methods for continuous dielectrophoresis cell sorting to isolate different populations of cells, and applications thereof

Номер патента: WO2024025973A2. Автор: Lisa A. FLANAGAN,Alan Y. L. JIANG,Jaclyn Nicole HANAMOTO,Clarissa C. RO. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2024-02-01.

Devices and methods for continuous dielectrophoresis cell sorting to isolate different populations of cells, and applications thereof

Номер патента: WO2024025973A3. Автор: Lisa A. FLANAGAN,Alan Y. L. JIANG,Jaclyn Nicole HANAMOTO,Clarissa C. RO. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2024-03-14.

Devices and methods for continuous dielectrophoresis cell sorting to isolate different populations of cells, and applications thereof

Номер патента: US20240033737A1. Автор: Lisa A. FLANAGAN,Alan Y. L. JIANG,Jaclyn Nicole HANAMOTO,Clarissa C. RO. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2024-02-01.

Metrology method and inspection apparatus, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09946167B2. Автор: Arno Jan Bleeker,Patrick Warnaar,Hendrik Jan Hidde SMILDE,Michael Kubis,Willem Marie Julia Marcel Coene. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-17.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20140168410A1. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Inspection apparatus and reference image generation method

Номер патента: US20240257300A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for inspecting image, image forming apparatus, and computer-readable recording medium storing image inspecting program

Номер патента: US20110273732A1. Автор: Hitoshi Itoh,Keiji Kojima,Fumihiro Nakashige. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-10.

Inspection apparatus and method based on coherent diffraction imaging (cdi)

Номер патента: US20210164919A1. Автор: Seungbeom Park,Myungjun Lee,Taewan Kim,Jaehwang Jung,Kyungwon Yun,Jaehyeon Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Apparatus and method for inspection of substrate defect

Номер патента: US09678020B2. Автор: Yu-Sin Yang,Ji-Young Shin,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun,Joon-Seo SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-13.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US12090754B2. Автор: Dae Sung Kim,Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection apparatus and adjusting method

Номер патента: US09885670B2. Автор: Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09557277B2. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219315A1. Автор: LEI Tian,HAO WANG,Seungbeom Park,Hojun Lee,Myungjun Lee,Junho SHIN,Jiabei Zhu,Wookrae Kim,Jangwoon SUNG. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090073430A1. Автор: Osamu Iwase. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Device and method for inspecting rechargeable battery connection structure

Номер патента: US20090136115A1. Автор: Sakae SOTOOKA,Fusayoshi NOMURA. Владелец: Panasonic EV Energy Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-28.

Method for preparing focus-adjustment data for focusing lens system of optical defect-inspection apparatus, and focus adjustment wafer used in such method

Номер патента: US20070229811A1. Автор: Kenichi Sanada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20090244530A1. Автор: Susumu Iida,Shunsaku Kubota. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20200184631A1. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-06-11.

Adjustment method of inspection apparatus focus position, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20240280500A1. Автор: Ryoichi Hirano,Yasuhiro Yamashita,Toshiaki OTAKI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240192142A1. Автор: Tae-Jin Hwang,Seonghyeon CHEON,Jaemin SON,Se-Kwang Han. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection apparatus

Номер патента: US20140320860A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Makoto Taya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2014-10-30.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20140354799A1. Автор: Masafumi Asano,Tomoko Ojima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Inspection apparatus

Номер патента: US20130271754A1. Автор: Kazuo Takahashi,Hisashi Hatano,Nobuaki Hirose,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-17.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Mounted component inspection apparatus, component mounting machine comprising the mounted component inspection apparatus, and mounted component inspection method

Номер патента: US20100189340A1. Автор: Yoichiro Ueda. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-07-29.

Apparatus and Method for 3D Surface Inspection

Номер патента: US20180195971A1. Автор: Fan Wang,Pengli Zhang. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-12.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: US7423745B2. Автор: Hideyuki Moribe,Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Panel inspecting apparatus and method

Номер патента: US09759665B2. Автор: Jin-woo Ahn,Hyeong-min Ahn,Tae-Yong Jo,Myoung-Ki Ahn,Tae-hyoung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: WO2019010087A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-01-10.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: EP3649463A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-05-13.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: US20010035951A1. Автор: Hisashi Isozaki,Hiroshi Yoshikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: US09816938B2. Автор: Ajharali Amanullah. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20120140211A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-07.

AI-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US12087421B2. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Tire appearance inspection apparatus and method

Номер патента: US09677879B2. Автор: Tomoyuki Kaneko,Akinobu Mizutani. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Apparatus and method for inspecting poly-silicon

Номер патента: US7505155B2. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-17.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US09551670B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: WO2000009271A1. Автор: Steven A. Bresnahan,Kenneth A. Welchman,Henry J. Conaty, Jr.. Владелец: ACUSHNET COMPANY. Дата публикации: 2000-02-24.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: US20030090659A1. Автор: Henry Conaty,Steven Bresnahan,Kenneth Welchman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-15.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210140898A1. Автор: Tsutomu SAKUYAMA,Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3206020A3. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-08.

Nano projection structure inspection apparatus and nano projection structure inspection method

Номер патента: US11815467B2. Автор: Tsuyoshi Asano,Yuki Sato,Syoichi TSUCHIYA,Masataka Asai,Masahiro UCHIMURA,Nozomi TATEYAMA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Can body inspection apparatus and method

Номер патента: US09885667B2. Автор: Masayuki Nakamura,Wataru Ookubo. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US20220412898A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-12-29.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

System and method for inspecting a tubular

Номер патента: GB2626556A. Автор: McNay Graeme,Long David,Stander Jan,Biernacki Szymon. Владелец: Aisus Offshore Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Semiconductor inspection apparatus, method of inspecting semiconductor wafer, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240353351A1. Автор: Yasuhiro Kimura,Hirofumi OKI,Shinichiro Katsuki,Takuyo Nakamura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130222004A1. Автор: Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2013-08-29.

Solid Inspection Apparatus and Method of use

Номер патента: MY196658A. Автор: Dajun Yuan,M Shane Bowen,Joseph Francis PINTO,John Gerhardt Earney,Bala Murali K Venkatesan,Michael S Graige,Arthur Pitera. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09759656B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20220005666A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-01-06.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20200075287A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-03-05.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

System and method for simultaneous dark field and phase contrast inspection

Номер патента: US09726615B2. Автор: Qing Li,Donald Pettibone,Chuanyong Huang,Buzz Graves. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US8670115B2. Автор: Yuji Miyoshi,Kazuhisa Hasumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240302292A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-12.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Light source apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US09696568B2. Автор: Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Wafer visual inspection apparatus and wafer visual inspection method

Номер патента: US20240257336A1. Автор: Tatsuya Osada. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for fabricating a semiconductor device using a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20240304501A1. Автор: Ki Hun Kim,Yong Ju Jeon,Jeong-su Ha,Jhong Kwon KIM,Da Young MYOUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection apparatus

Номер патента: US09601302B2. Автор: Takeshi Murakami,Tsutomu Karimata,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09450536B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Non-destructive inspection system for display panel and method, and non-destructive inspection apparatus thereof

Номер патента: US09588060B2. Автор: Jae Young Kim,Ki Wan Kim,Yeong Ri JUNG. Владелец: OZ-TEC Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: US5090804A. Автор: Andrew K. Wong,Mohamed S. Kamel,John T. King. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-25.

Article inspection apparatus

Номер патента: US20230035626A1. Автор: Takashi Suzuki,Eiji Taniguchi,Shigeo Arai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A3. Автор: Yoram Koren,Stephen B Segall. Владелец: Stephen B Segall. Дата публикации: 2005-07-07.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A2. Автор: Yoram Koren,Stephen B. Segall. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF MICHIGAN. Дата публикации: 2005-01-20.

Medicine package inspection apparatus

Номер патента: US09731909B2. Автор: Jun Ho Kim. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Tire appearance inspection apparatus

Номер патента: US09710904B2. Автор: Yoshitaka Fujisawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: CA1295707C. Автор: John Thomas King,Mohamed Salem Kamel,Andrew Ka-Ching Wong. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-11.

System and method for internal coating of offshore pipeline weld joints with fluorescent anti-corrosion coatings and wet inspection

Номер патента: US11982632B2. Автор: Mana H. Al-Mansour. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-05-14.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Wafer image inspection apparatus

Номер патента: US09829441B2. Автор: SEGAL Ram,Tae Hoon Park. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Blade inspection apparatus

Номер патента: US09429526B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Surface inspection apparatus

Номер патента: US20220291137A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-09-15.

Visual inspection apparatus and method of inspecting display panel using the visual inspection apparatus

Номер патента: US7602959B2. Автор: Min-young Won,In-Cheol Song,Il-Ho Lee,Chan-Hyang Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-13.

Substrate-holder inspection apparatus, plating apparatus including the same, and appearance inspection apparatus

Номер патента: WO2018008343A1. Автор: Masaaki Kimura,Toshio Yokoyama,Kunio Oishi,Jumpei Fujikata,Yoshitaka Mukaiyama. Владелец: EBARA CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8699017B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8462327B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8169606B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-01.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20120194808A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Visual inspection apparatus having light source bank

Номер патента: EP2215512A1. Автор: Thomas W. Karpen,James J. Delmonico,Joshua Lynn Scott,Dennis W. McEnery,Joseph V. Lopez,Marjorie L. Buerkle. Владелец: GE Inspection Technologies LP. Дата публикации: 2010-08-11.

Method for inspecting a semiconductor element and inspection apparatus for executing the same

Номер патента: US20220018789A1. Автор: Yueh-Heng Lee,Kuo-Ming Tseng. Владелец: V5 Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Remote inspection apparatus for heating tube of steam generator

Номер патента: US09819842B2. Автор: Sung Ho Park,Kyung Sub Kim,Hong Seok Ryu,Jang Myong WOO. Владелец: Korea Plant Service and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Defect classifying method and optical inspection apparatus for silicon carbide substrate

Номер патента: US09551672B2. Автор: Yoshihiro Nakano,Hirokazu Seki,Masamichi Shinoda,Toshiyuki TODOROKI,Makoto TORIZAWA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: MY176794A. Автор: AMANULLAH Ajharali. Владелец: Semiconductor Tech & Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2020-08-21.

Apparatus and methods of inspecting a wire segment

Номер патента: US11933736B2. Автор: Brian J. Tillotson,Robert Paul Higgins,Andrej Martin Savol. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Substrate inspection apparatus and substrate treatment system including the same

Номер патента: US20240142389A1. Автор: Dong Min Park,Jeong Hoon Han,Jun Hyun LIM,Oh Yeol KWON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Method and device for imaging a fragmentation pattern formed in a ply of toughened glass

Номер патента: EP2205963A1. Автор: Simon Peter Aldred. Владелец: Pilkington Group Ltd. Дата публикации: 2010-07-14.

Inner surface image inspection apparatus

Номер патента: US20210157121A1. Автор: Masatoshi Numatsu. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Inspection apparatus for detecting defects in transparent substrates

Номер патента: EP1599722A2. Автор: Jason Hiltner,Kevin Gahagan. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2005-11-30.

Apparatus and method for non-destructive inspection

Номер патента: CA2411224C. Автор: Shogo Tanaka. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2008-01-15.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US7242016B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-07-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927539B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Jig for inspection apparatus, inspection apparatus, and inspection set

Номер патента: US11921151B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-03-05.

Hairpin type stator inspection apparatus and method for testing the same

Номер патента: US11711000B2. Автор: Seunghwan Lee. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Apparatus and method for inspecting pattern defect

Номер патента: US20120268742A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Hisashi Hatano,Hidetoshi Nishiyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: CA3158695C. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc. Дата публикации: 2023-07-18.

System and method for aligning electron beams in multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20230280293A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi,Xinan LUO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-07.

Apparatus for inspecting display panel and method for inspecting the same

Номер патента: US20020105638A1. Автор: Shigetaka Kobayashi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-08-08.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: WO2021097558A1. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc.. Дата публикации: 2021-05-27.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: AU2020387044A1. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc. Дата публикации: 2022-07-14.

Inspection apparatus

Номер патента: US8264679B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Method and device for imaging a fragmentation pattern formed in a ply of toughened glass

Номер патента: WO2009056882A1. Автор: Simon Peter Aldred. Владелец: Pilkington Group Limited. Дата публикации: 2009-05-07.

Inspecting apparatus for inspecting a multilayer structure

Номер патента: US09488598B2. Автор: Wal Jun Kim,Seung Young BAECK. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspection apparatus for inspecting semiconductor devices using charged particles

Номер патента: US11754517B2. Автор: Suyoung LEE,Jongmin Kim,Chungsam Jun,Kwangil SHIN,Ilsuk PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-12.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20210033541A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Apparatus and method for inspecting Poly-silicon

Номер патента: US20050174569A1. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-11.

Ai-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US20240112781A1. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20130301041A1. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-14.

Pipe outer surface inspection apparatus

Номер патента: CA2906711A1. Автор: Rick R. Kimpel, Jr.,Randall L. Perkins,Bryan KARASEK. Владелец: COMMERCIAL COATING SERVICES INTERNATIONAL LLC. Дата публикации: 2014-09-18.

Macro inspection apparatus and microscopic inspection method

Номер патента: US20090147248A1. Автор: Mitsuru Uda,Atsushi Kohayase. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US20240035986A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hiroki Morii,Takahiro Fujioka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Inspection apparatus, control method, and program

Номер патента: US11906441B2. Автор: Kyota Higa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20190346769A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Inspection apparatus and method of inspecting wafer

Номер патента: US20230204503A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Inkeun BAEK,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: WO2024094298A1. Автор: Victor Alvarez. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-05-10.

Substrate inspecting apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240192144A1. Автор: Yong Jun Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US9934896B2. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2018-04-03.

A kind of developing apparatus and its developing method, lithographic equipment

Номер патента: CN108255024A. Автор: 郭建,孟维欣,解洋,李晓锦,孙壮壮,见帅敏,徐景华. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-06.

An automatic inspection apparatus for stain and method for inspecting stain using thereof

Номер патента: KR20220112599A. Автор: 이태규,천준호,장문욱. Владелец: 동우 화인켐 주식회사. Дата публикации: 2022-08-11.

An inspection apparatus for tablet and method using the same

Номер патента: KR101274511B1. Автор: 신용관. Владелец: 주식회사 에프에이전자. Дата публикации: 2013-06-13.

System for single-molecule isolation for cell populations and single cells, and methods and uses thereof

Номер патента: US20210055290A1. Автор: Pingbo Huang,Qirui Zhao. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2021-02-25.

Millimeter wave security inspection apparatus and method for inspecting human or article

Номер патента: US20200249373A1. Автор: Ming Xu,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Yingkang Jin,Lingbo QIAO,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

System for single-molecule isolation for cell populations and single cells, and methods and uses thereof

Номер патента: US12007388B2. Автор: Pingbo Huang,Qirui Zhao. Владелец: Hong Kong University of Science and Technology HKUST. Дата публикации: 2024-06-11.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Inspection apparatus

Номер патента: US20240255437A1. Автор: Akifumi Sangu,Jaemin SON,Se-Kwang Han,Hyeran Ko. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection method, inspection apparatus and method of production of semiconductor device using them

Номер патента: US5936726A. Автор: Kazuo Takeda,Atsushi Hiraiwa,Hidetsugu Ishida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-08-10.

Inspection apparatus

Номер патента: US12036790B2. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Apparatus and method for detecting a dust particle having high purity inert gas atmosphere

Номер патента: US5574276A. Автор: Toshiyuki Ishimaru. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1996-11-12.

Container inspection apparatus and method of inspection

Номер патента: US3932042A. Автор: Siamac Faani,Ralph M. Chambers, Jr.. Владелец: Barry Wehmiller Co Inc. Дата публикации: 1976-01-13.

Inspection apparatus for a packaging machine and packaging machine having an inspection apparatus

Номер патента: WO2024008474A1. Автор: Stefano FLORE,Stefano Rossi,Antonio Melandri,Paolo Scarabelli,Massimo Viola,Giorgio PICCININI. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus, apparatus and method for manufacturing plate-like object, and method for manufacturing plate-like object

Номер патента: CN112074726A. Автор: 安江健造. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-11.

Devices, systems, and methods for detecting targeted compounds

Номер патента: CA3103543C. Автор: Babak Ziaie,Byunghoo Jung,Wuyang Yu,Weeseong SEO. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2023-08-01.

Compositions and methods of inducing rnai or type i ifn in ifn competent cells and uses thereof

Номер патента: CA3178673A1. Автор: Stephanie DEWITTE-ORR. Владелец: Wilfrid Laurier University. Дата публикации: 2021-12-02.

Compositions and methods of inducing RNAI or type I IFN in IFN competent cells and uses thereof

Номер патента: AU2021280414A1. Автор: Stephanie DEWITTE-ORR. Владелец: Wilfrid Laurier Univ. Дата публикации: 2022-12-08.

Flow Cells and Related Flow Cell Manifold Assemblies and Methods

Номер патента: US20240326042A1. Автор: Darren SEGALE,Bradley Drews,Jennifer Foley,Jack TWOMEY. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Compositions and methods of inducing rnai or type i ifn in ifn competent cells and uses thereof

Номер патента: EP4158027A4. Автор: Stephanie DEWITTE-ORR. Владелец: Wilfrid Laurier University. Дата публикации: 2024-06-26.

Double curvature X ray collective optics, double curvature X ray beam splitter and device and the manufacture method of the element with it

Номер патента: CN107408417A. Автор: 河原直树. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Devices and methods for mixing liquids back and forth between pump and measuring cell, and physico-chemical analysis of the liquids thus mixed

Номер патента: FR3105016A1. Автор: Sylvain Broussard. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-06-25.

Devices and methods for mixing liquids back and forth between pump and measuring cell, and physico-chemical analysis of the liquids thus mixed

Номер патента: FR3105016B1. Автор: Sylvain Broussard. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2022-01-14.

engineered dna polymerase, polynucleotide sequence, expression vector, host cell, composition, high-throughput assay system, and, methods for producing a engineered dna polymerase polypeptide in a host cell and for determining high throughput fidelity of a dna polymerase.

Номер патента: BR112021008186A2. Автор: Vesna Mitchell,Nikki DELLAS,David ELGART,Jonathan VROOM,Ericka Bermudez,Jovana Nazor,Mathew G. MILLER,Donald S. BASKERVILLE,Sandy M. GOMES,Nandhitha Subramanian. Владелец: CODEXIS, INC.. Дата публикации: 2021-08-17.

Compositions and methods for analyzing bacterial adherence and anti-adherence to mucus, epithelial cells and other cells

Номер патента: US20110034400A1. Автор: Juha Apajalahti,Karl A. Dawson,Marko Lauraeus,Colm Moran. Владелец: Alltech Corp. Дата публикации: 2011-02-10.

System and method for parallel processing using dynamically configurable proactive co-processing cells

Номер патента: US09852004B2. Автор: Alfonso Iniguez. Владелец: SWARM TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Mask inspection apparatus and image creation method

Номер патента: WO2010089954A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura,Toshimichi Iwai,Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

Pellicle inspection apparatus

Номер патента: US09588421B2. Автор: Atsushi Tajima,Kiwamu Takehisa,Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Reflective mask blank, method of manufacturing same, reflective mask and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09726969B2. Автор: Kazuhiro Hamamoto,Tsutomu Shoki,Tatsuo ASAKAWA. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Reflective mask blank, method of manufacturing reflective mask blank, reflective mask and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09720315B2. Автор: Kazuhiro Hamamoto,Tsutomu Shoki,Tatsuo ASAKAWA. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Method of manufacturing substrate with a multilayer reflective film, method of manufacturing a reflective mask blank, substrate with a multilayer reflective film, reflective mask blank, reflective mask and method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US09507254B2. Автор: Kazuhiro Hamamoto,Junichi Horikawa,Tsutomu Shoki,Toshihiko Orihara,Hirofumi Kozakai. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Mask blank substrate, substrate with multilayer reflective film, reflective mask blank, reflective mask, method of manufacturing mask blank substrate, method of manufacturing substrate with reflective film and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09581895B2. Автор: Kazuhiro Hamamoto,Junichi Horikawa,Tsutomu Shoki,Toshihiko Orihara. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Calibration circuit and method, phase-shifting circuit, radio-frequency transmitting circuit, radio-frequency receiving circuit, radar, and device

Номер патента: EP4369027A1. Автор: Zhengdong Liu,Wenting Zhou. Владелец: Calterah Semiconductor Technology Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Electric circuit and method for estimating the angular position of a rotor of an electric motor, and device for controlling an electric motor

Номер патента: US09523566B2. Автор: Giuseppe D'angelo,Giovanni Moselli,Virginia Clemente. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2016-12-20.

ELECTRIC CIRCUIT AND METHOD FOR ESTIMATING THE ANGULAR POSITION OF A ROTOR OF AN ELECTRIC MOTOR, AND DEVICE FOR CONTROLLING AN ELECTRIC MOTOR

Номер патента: US20150022131A1. Автор: "DANGELO Giuseppe",Moselli Giovanni,Clemente Virginia. Владелец: STMICROELECTRONICS S.R.L.. Дата публикации: 2015-01-22.

System and method for locating a mobile terminal, particularly for rescuing a person in distress, and device for awaking a corresponding mobile terminal

Номер патента: EP1355164A1. Автор: Jean-Gabriel Remy. Владелец: Societe Francaise du Radiotelephone SFR SA. Дата публикации: 2003-10-22.

Electric circuit and method for estimating the angular position of a rotor of an electric motor, and device for controlling an electric motor

Номер патента: US20150022131A1. Автор: Giuseppe D'angelo,Giovanni Moselli,Virginia Clemente. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2015-01-22.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180180761A1. Автор: Hongqiu Wang,Guohua Wei,Yumin Yi,Hu Tang,Jianhong Zhang,Nei Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Portable visual inspection apparatus and method for inspecting article

Номер патента: US12072296B2. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou,Sonny O Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Reel-to-reel inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09671352B2. Автор: Suck-Ha WOO,Je-Youn JEE,Ki-Sang MOON. Владелец: Haesung DS Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Panel inspection apparatus and method

Номер патента: US09810640B2. Автор: Chao-Yi Yeh,Chih Yuan Liu,Pin-Chuan SU,Shang-Iun YANG. Владелец: Cheng Mei Instrument Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A3. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-07-17.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20190228521A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240361244A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-10-31.

Apparatus and method for inspecting material of an object

Номер патента: US09897540B2. Автор: Ning Duan,Chao-Hung Ma,zhi-ling Chen,Shen-Kang Li. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20200294223A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US11094051B2. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US12105029B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Apparatus and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240077424A1. Автор: Hidong Kwak,Jeongho Ahn,Seulji SONG,Hyunwoo RYOO,Minji Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Magnetic transfer apparatus and magnetic recording medium

Номер патента: MY131410A. Автор: Masaki Kondo,Mitsuo Kobayashi,Eiichi Fujisawa. Владелец: Fuji Elec Device Tech Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: US09446434B2. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Hatching egg inspection apparatus and hatching egg inspecting method using a central and outer light emitter

Номер патента: US09435783B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Visual inspection apparatus, visual inspection method, image generation apparatus, and image generation method

Номер патента: US20240153066A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hideaki Onozuka,Takateru Seki,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230247312A1. Автор: Hiroki Nakajima,Masaru Ishida,Mikio Shibukawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Shape inspection apparatus for metallic body and shape inspection method for metallic body

Номер патента: US09903710B2. Автор: Hironao Yamaji,Yusuke Konno,Toshio Akagi,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

High-resolution terahertz wave concentration module, scattered light detection module, and high-resolution inspection apparatus using terahertz bessel beam

Номер патента: US20210140823A1. Автор: Sung-Wook Choi,Gyeong-sik Ok,Hyun-Joo Chang. Владелец: Korea Food Research Institute KFRI. Дата публикации: 2021-05-13.

Inspection apparatus comprising a first imager imaging fluorescence having a wavelength longer than a first wavelength and a second imager imaging fluorescence having a wavelength shorter than a second wavelength and inspection method

Номер патента: US12072289B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-27.

Appearance inspecting device, welding system, shape data correcting method, and method for appearance inspection of a weld

Номер патента: US20240337604A1. Автор: Masashi Yoshida,Toru Sakai,Michio Sakurai,Daichi Higashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Inspection apparatus using polarized lights

Номер патента: US09541493B2. Автор: Takashi Tsubota,Yoshinori Matsumoto,Akishige Ito,Toyoaki Hamaguchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US20090033925A1. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2009-02-05.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US7872744B2. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2011-01-18.

Inspection apparatus, method for controlling same, and storage medium

Номер патента: US12107996B2. Автор: Masato Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US20200150050A1. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-05-14.

Appearance inspection device, welding system, and method for appearance inspection of a weld

Номер патента: US20240337608A1. Автор: Toru Sakai,Michio Sakurai,Daichi Higashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Inspection apparatus

Номер патента: US09599844B2. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US09518931B2. Автор: Manabu Kido. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Device and method for measuring refraction coefficient of formation fluid

Номер патента: RU2318200C2. Автор: Рокко Дифоджио,Арнолд М. УОЛКОВ,Пол А. БЕРГРЕН. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2008-02-27.

Portable Visual Inspection Apparatus And Method for Inspecting Article

Номер патента: US20220341852A1. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Matthew ORLOWSKI,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Inspection apparatus, recording medium, and inspection system

Номер патента: US20240192143A1. Автор: Masaru Ohtsuka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Hatching egg inspection apparatus

Номер патента: US20150138537A1. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Mitsuo Yamamoto,Shinichi Fujitani,Takatsugu Tahara,Toyoaki Ohashi. Владелец: YAMAMOTO CORP. Дата публикации: 2015-05-21.

Package readying and inspection apparatus

Номер патента: US5337138A. Автор: Akihiko Takeshita,Tetsuji Masai,Kenichi Inada. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20170268925A1. Автор: Hiroyuki Hotta. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US20040085531A1. Автор: CHENG Chen,Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Kohachi Kawamura,Hsin Chou. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US6977721B2. Автор: Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Cheng Yu Chen,Hsin Tan Chou,Kohachi Kawamura. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

Optical inspection apparatus, optical inspection method, and non-transitory storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US20240319104A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Liquid crystal modulator for detecting a defective substrate and inspection apparatus having the same

Номер патента: US09581842B2. Автор: Suk Choi,Seunghee Lee,Young Eun Choi,Sung-Mo Gu,Changhyun Ryu,Youngwon Kim,Youngjin Noh,Chi Youn Chung. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chonbuk National University. Дата публикации: 2017-02-28.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: EP4280585A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011919A1. Автор: Yoichi Karaki,Shinnosuke Ichikawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20230377130A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230070161A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection apparatus for sheet

Номер патента: US20140077101A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2014-03-20.

Devices, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures

Номер патента: US09846313B2. Автор: Rafael Yuste,Volodymyr Nikolenko,Brendon O. Watson,Darcy Peterka. Владелец: Columbia University in the City of New York. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US09728374B2. Автор: Shinji Yamaguchi,Takehide Hayashi,Masahiro Hatakeyama,Masato Naka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Hatching egg inspection apparatus with vibration isolation

Номер патента: US09494565B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Apparatus and method for multimode analytical sensing of items such as food

Номер патента: US20190293620A1. Автор: Li Kang,Daniel L. Farkas,Fartash Vasefi,Alireza Akhbardeh,Stanislov Sokolov. Владелец: Safetyspect Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Apparatus and method for multimode analytical sensing of items such as food

Номер патента: US11885788B2. Автор: Li Kang,Daniel L. Farkas,Fartash Vasefi,Alireza Akhbardeh,Stanislov Sokolov. Владелец: Safety Spect Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Inspection apparatus and method for calibrating inspection apparatus

Номер патента: US20240029236A1. Автор: Shingo Mori,Masakazu Umehara,Naoya Kishimoto. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and methods for performing photoreactions and analytical methods and devices to detect photo-reacting compounds

Номер патента: WO2009134647A3. Автор: Anthony Jeannotte,Mark Basile. Владелец: WATERS TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2010-01-07.

Apparatus and methods for performing photoreactions and analytical methods and devices to detect photo-reacting compounds

Номер патента: EP2271932A2. Автор: Anthony Jeannotte,Mark Basile. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2011-01-12.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: WO2022183338A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems (Suzhou) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-09-09.

Photovoltaic devices inspection apparatus and method of determining defects in photovoltaic device

Номер патента: US20100002932A1. Автор: Toshio Shibuya,Masato Kasahara. Владелец: Nisshinbo Holdings Inc. Дата публикации: 2010-01-07.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: EP4302070A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-04-17.

Apparatus and method for inspecting appearance of workpiece

Номер патента: MY177803A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,OKAMOTO Yasuo. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-23.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180038808A1. Автор: DONG Lin,Hong Wang,Bin Hu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Jin Cui,Xianshun Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

Phased array ultrasonic bolt inspection apparatus and method

Номер патента: US09429546B2. Автор: Zafir A. M. Abdo,Jason E. Williams,Thomas F. Quinn,Derrick Marcantel. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

Self-propelled, reduced-water, internal non-destructive inspection apparatus

Номер патента: US09423381B2. Автор: Allison Jean Wright,Todd Brian Jaramillo,Kendall Ford Koerner. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Inspection apparatus and methods for precision vibration-isolation tabletops

Номер патента: GB2587498A. Автор: B V Moutafis Alexander,Owens Robitaille Luc. Владелец: Technical Manufacturing Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline by means of a superconducting magnet

Номер патента: WO2013098729A1. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Alessandro BAILINI. Владелец: ENI S.P.A.. Дата публикации: 2013-07-04.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline

Номер патента: US09733216B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Aldo Canova. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-08-15.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline by means of a superconducting magnet

Номер патента: US09535037B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Alessandro BAILINI. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-01-03.

Mobile back scattering imaging security inspection apparatus and method

Номер патента: US09846257B2. Автор: Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Xiao Tang,Guangwei Ding. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Transfer/Inspection Apparatus and Transfer Apparatus

Номер патента: US20070273875A1. Автор: Fow-Lai Poh,Masahiro Yaguchi,Tamaya Ubukata. Владелец: Tsukuba Seiko Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Nondestructive inspection apparatus and inspection system of structure

Номер патента: US09746435B2. Автор: Yoshinori Ogawa,Michinobu Mizumura,Koichi Kajiyama. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Inertial sensor apparatus and method for creating an NDI image with hand scanning

Номер патента: US09465046B1. Автор: Gary E. Georgeson,William Paul Motzer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-10-11.

Apparatus and method

Номер патента: GB2606534A. Автор: Aretos Anastasios,David Hall Liam,Conner Mclean Calum. Владелец: Nsonify Ltd. Дата публикации: 2022-11-16.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: US20230306586A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Vial grabber inspection apparatus

Номер патента: US20210325416A1. Автор: Mitchell Olin Setzer, SR.,Mitchell Olin Setzer, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-21.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: EP3916342A1. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-12-01.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310302A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4431927A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Insulator inspection apparatus and method

Номер патента: US09470620B2. Автор: Andrew John Phillips,Timothy Scott Shaw,Kristopher C. Kozak,Jerry A. Towler. Владелец: Electric Power Research Institute Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Masaki Tatsumi,Haruo Takahashi,Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20210148837A1. Автор: Akihiro Takeda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255444A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09542737B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09495736B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240369502A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Apparatus, systems, and methods for inspecting tubulars of different sizes

Номер патента: US12031945B1. Автор: Danny Uselton. Владелец: Scan Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255445A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210010959A1. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Portable inspection apparatus for X-ray tomography

Номер патента: US8031833B2. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-10-04.

Secondary battery inspection apparatus and method

Номер патента: US20200350637A1. Автор: Kwangyong YOU,Sunggeun JI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-05.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310301A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Sample inspection apparatus and control method thereof

Номер патента: US09476896B2. Автор: Jin Soo Park,Soo Hong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US12050302B2. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Battery cell welded part inspection apparatus, and battery cell welded part inspection method using same

Номер патента: EP4414121A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Hyun Min Oh. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Inspection apparatus, sensing apparatus, sensitivity control apparatus, inspection method, and program with pixel sensitivity control

Номер патента: US11448586B2. Автор: Hiroshi Mori,Yoshihiro Murakami,Masatoshi Takashima. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-09-20.

X-ray inspection apparatus and inspection method of x-ray sensor unit

Номер патента: EP4435418A1. Автор: Keisuke Yoshida,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Multi-electron beam inspection apparatus and adjustment method for the same

Номер патента: US20230080062A1. Автор: Koichi Ishii,Kazuhiko Inoue,Toshikatsu Akiba,Shohei Mikami. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection method, x-ray inspection program, and x-ray inspection system

Номер патента: EP2365320A3. Автор: Kiyoshi Murakami,Hironori Kasahara. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2014-03-05.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method using the same

Номер патента: US20180061041A1. Автор: Byeong Hwan Jeon,Tae Joong Kim,Jae Chol JOO,Jun Bum Park,Tae Heung AHN,Soo Ryonng Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Sensor chip breaking strength inspection apparatus and sensor chip breaking strength inspection method

Номер патента: US20070137310A1. Автор: Yuichi Sakai,Munehito Kumagai,Yoshitatsu Kawama,Yasuyuki Nakaoka,Hideki Yabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240248055A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP4396568A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

X-ray inspection apparatus with sensitivity correction unit and corresponding sensitivity correction method

Номер патента: EP4435416A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Pipe inner surface inspection apparatus

Номер патента: US20110314918A1. Автор: Masayoshi Nakai,Seiichi Kawanami,Masaya Takatsugu,Masaharu Michihashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-29.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4434919A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Image inspecting apparatus, image inspecting method and image inspecting program

Номер патента: US20190272630A1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Odor sniffing device and vehicle-mounted security inspection apparatus for container

Номер патента: US20230236093A1. Автор: Ge Li,Wei Wang,ZHENG Liang,Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Biao CAO,Weiping Zhu,Shengxi LIU,Nei Yang,Xiulin NI. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3201565A1. Автор: Liam Hall. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-08-09.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240068961A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Takashi Kanai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection apparatus for article storage facility

Номер патента: US09541534B2. Автор: Hiroshi Otsuka,Shinsuke Kawamura,Tadahiro YOSHIMOTO. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Joint connection method for long pipe, and method for producing coiled tubing with joints

Номер патента: US11859748B2. Автор: Akira TSUTO,Hiroyuki KAITANI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Radiographic inspection apparatus and method for inspecting target

Номер патента: GB2619858A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Inspection apparatus, unit selection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium storing an inspection program

Номер патента: US20230222645A1. Автор: Yutaka Kato,Masashi Kurita,Yuki Hasegawa,Yuki HANZAWA,Sakon Yamamoto,Shigenori NAGAE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Inspection apparatus for thin film transistor substrate

Номер патента: US20060186335A1. Автор: Sergey Antonov,Hyeong-min Ahn,Ho-Seok Choi,Mi-Jeong Song,Jeong-su Ha,Lemiachine Vassili. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-24.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: EP3274095A1. Автор: Jung-ki MIN,Young-Goun Lee,Jong-Gun Lee,Hyun-ju Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-31.

Method of verifying the detection capability of an x-ray inspection apparatus

Номер патента: WO2024009278A1. Автор: Guido Mahnke,Benedikt HOFFMANN. Владелец: METTLER-TOLEDO, LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Detector device, inspection apparatus and method

Номер патента: EP2545362A1. Автор: Ian Radley,Arnab Basu,Max Robinson. Владелец: Kromek Ltd. Дата публикации: 2013-01-16.

Detector Device, Inspection Apparatus and Method

Номер патента: US20130051521A1. Автор: Ian Radley,Arnab Basu,Max Robinson. Владелец: Kromek Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Inspection apparatus for a pressure vessel

Номер патента: US20230123853A1. Автор: Yong Joo Cho,Yong Ho Kim,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230030308A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20240276103A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

X-ray inspection apparatus and method of inspection with x-rays

Номер патента: US20230384246A1. Автор: Tsuneo Sato,Kazuya Iwata,Satoshi Matsubara,Toshiyuki Takahara,Yuta Seki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: US11841332B2. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-12-12.

X-ray inspection apparatus and method of inspection with x-rays

Номер патента: US20230384247A1. Автор: Tsuneo Sato,Kazuya Iwata,Satoshi Matsubara,Toshiyuki Takahara,Yuta Seki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20190212464A1. Автор: Noriaki Ikeda,Sachihiro NAKAGAWA. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240288592A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Non-destructive inspection apparatus for containers of liquid foodstuffs

Номер патента: WO2001096842A3. Автор: Marco Pipino. Владелец: Marco Pipino. Дата публикации: 2002-05-16.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240183804A1. Автор: Osamu Kinoshita. Владелец: Jed Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319117A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4425220A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4435417A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319118A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: US20240328561A1. Автор: Dong Kyu Kim,Jae Jun Kim,Kwang Hyun Yoo,Hong Seok Song,Dae Kwang KIM,Byung Taek Oh,Seung Ung YANG,Hui Ryoung YOO. Владелец: Korea Gas Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: CA2849139C. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: Alstom Technology AG. Дата публикации: 2016-06-07.

Remote environment inspection apparatus and method

Номер патента: CA2815623C. Автор: Andreas Boenisch. Владелец: Innospection Group Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Inspection apparatus and methods for precision vibration-isolation tabletops

Номер патента: US11898926B2. Автор: Alexander B. V. Moutafis,Luc Owens Robitaille. Владелец: Technical Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Inspection system by charged particle beam and method of manufacturing devices using the system

Номер патента: US20140034831A1. Автор: Takeshi Murakami,Toshifumi Kimba,Kenji Watanabe,Tsutomu Karimata,Mamoru Nakasuji,Masahiro Hatakeyama,Yuichiro Yamazaki,Mutsumi Saito,Nobuharu Noji,Tohru Satake,Hirosi Sobukawa,Shoji Yoshikawa,Shin Oowada,Ichirota Nagahama,Takamitsu Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Apparatuses and methods for extracting defect depth information and methods of improving semiconductor device manufacturing processes using defect depth information

Номер патента: US20140307052A1. Автор: Byoung-Ho Lee,Jeong-Ho Ahn,Dong-ryul Lee,Jong-Cheon Sun,Dong-Chul Ihm,Soo-bok Chin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-10-16.

X-ray thin film inspection apparatus and thin film inspection apparatus and method for patterned wafer

Номер патента: US7258485B2. Автор: Asao Nakano,Takao Kinefuchi,Hiroshi Motono,Atsunori Kiku. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2007-08-21.

Rapid prototype integrated matrix ultrasonic transducer array inspection apparatus, systems, and methods

Номер патента: US7430913B2. Автор: Dennis P. Sarr. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2008-10-07.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: CA2700220C. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Dual function non-destructive inspection apparatus and method

Номер патента: US20200003734A1. Автор: Daniel J. Wright,James J. Troy,Scott W. Lea,Gary Ernest Georgeson. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-01-02.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: GB2616274A. Автор: CHENG QIN,Roeton Adrian,Whyman Stuart. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20230366838A1. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Steam turbine inlet sleeve inspection apparatus and method

Номер патента: EP1322952A2. Автор: James A. Bauer,George F. Dailey,Michael J. Metala,Charles C. Moore. Владелец: Siemens Westinghouse Power Corp. Дата публикации: 2003-07-02.

Directional-deviation correction device and method for mobile-type radiation inspection apparatus

Номер патента: GB2610515A. Автор: HU YU,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,MENG Defang,WANG Yongming,GAO Yuxia,RAN Zhansen,Jiang Ruixin,Yu Yanwei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-08.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: US20230280287A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-07.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: EP4239322A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using the same

Номер патента: US20240210293A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240071795A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method using the same

Номер патента: US20230197402A1. Автор: Suyoung LEE,Janghee Lee,Chungsam Jun,Jonghyuk KANG,Yujin Cho,Inhye Park,Hongche Noh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Electrical characteristic parameter inspection apparatus, electrical characteristic parameter inspection method, and storage medium

Номер патента: US20230314355A1. Автор: Makoto Takada,Masaru Fuse,Junichi Jono. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-05.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20180252656A1. Автор: Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

System, apparatus, and method for quality control inspection

Номер патента: US12090538B1. Автор: Oscar M. Jaime,Craig Logan. Владелец: Roscoe Moss Manufacturing Co. Дата публикации: 2024-09-17.

Ultrasonic inspection apparatus, system and method for non-planar objects

Номер патента: WO2009002250A1. Автор: Lars Gustafsson,Christophe Mattei. Владелец: Bodycote Materials Testing Ab. Дата публикации: 2008-12-31.

Apparatus and method for nondestructive inspection

Номер патента: CA2743588C. Автор: Kunihiko Shinoda,Hidetaka Hattori,Hideki Horizono,Shigeyuki Matsubara,Masayuki Kanemasu,Hirotoshi Hujigaki,Susumu Ryuuou. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Radioactive source pigtail inspection apparatus and method

Номер патента: CA1182587A. Автор: Donald J. Olcott. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-02-12.

Inspecting Apparatus And Processing Apparatus Including The Same

Номер патента: MY195430A. Автор: SUGIYAMA Tomoaki,Kozai Hirohiko,MORIKAWA Naoki. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-01-20.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using same

Номер патента: EP4310986A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2620045A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nutech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11971370B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349841A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20180144998A1. Автор: Kwang Soo Kim,Sung-Won Park,Sangbong Park,Jeong-su Ha,Byeong Kyu CHA. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-24.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240133682A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: EP4250704A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-27.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927554B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11921059B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349846A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2619661A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-13.

Object inspection apparatus and object inspection method using same

Номер патента: US11908123B2. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Choung Min JUNG,Han Rim KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection apparatus for osseointegration of implants

Номер патента: US10390919B2. Автор: Min-Chun Pan,Jhao-Ming Yu,Chin-Sung Chen,Shih-Yao Wang,Shiou-Bair Lin. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2019-08-27.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US20150220809A1. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230258606A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230314362A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11977038B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349845A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349843A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349844A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Welding inspection apparatus

Номер патента: CA3237559A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-11.

Inspection apparatus for osseointegration of implants

Номер патента: US20180064517A1. Автор: Min-Chun Pan,Jhao-Ming Yu,Chin-Sung Chen,Shih-Yao Wang,Shiou-Bair Lin. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2018-03-08.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240192151A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3764088A3. Автор: Atsushi Iwai,Futoshi Yurugi,Hiroaki Maki,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

X-Ray Transmission Inspection Apparatus

Номер патента: US20150276626A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-01.

Inspection system and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240259502A1. Автор: Riko MIURA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Stereo x-ray inspection apparatus and method for forming three-dimensional image through volume reconstruction of image acquired from the same

Номер патента: US20120014506A1. Автор: Soon Yong Park,Seung Chan Oh,Nam Ho Lee,Seung Wook Lee,Young Gwan Hwang,Myung Kook Moon,Yong Chil Sec. Владелец: Korea Atomic Energy Research Institute KAERI. Дата публикации: 2012-01-19.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

Inspection system and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4411483A1. Автор: Riko MIURA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Inspection apparatus and method for inspecting a printed material

Номер патента: US11842094B2. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20110129239A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US8448932B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Image inspection apparatus and image forming apparatus using reading result of incident light reflected from target both via and not via light guide member

Номер патента: US10999450B2. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-05-04.

Image inspection apparatus and image forming apparatus

Номер патента: US20200389559A1. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-12-10.

Imaging apparatus and method, and device

Номер патента: US20240348766A1. Автор: Benhua WU,Jianfei WU. Владелец: Huaibei Kanghui Electronic Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240070841A1. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Systems and methods for security inspection

Номер патента: US20210255354A1. Автор: Qiaoxue WANG. Владелец: Zhejiang Dahua Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Optical article inspection apparatus and method

Номер патента: EP4423474A1. Автор: Willard BEAMER,Forrest Blackburn,Neil Murphy,Joshua Hazle,Adam CHOROS,Laura ASKEW-CRAWFORD. Владелец: Transitions Optical Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US12007523B2. Автор: Jian Wu,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: EP3622263A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-03-18.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: WO2018209048A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2018-11-15.

Hole Inspection Apparatus and Hole Inspection Method using the Same

Номер патента: US20090152461A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Power theft inspection apparatus and method, and recording medium

Номер патента: US09927468B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: EP4341660A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Nuovo Pignone Technologie Srl. Дата публикации: 2024-03-27.

Apparatus and methods for gauging parts

Номер патента: US09835431B1. Автор: LIN Huang,Adam Li,Anthony Freakes,Franklin W Agramonte Andujar,Ivan P Nieves Hernandez,Marcelino Montoya Ruiz,Carlos C Reyes. Владелец: Connecting Products Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US20170112314A1. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-27.

Wavefront analysis inspection apparatus and method

Номер патента: EP2403396A1. Автор: Elie Meimoun. Владелец: Meimoun Elie. Дата публикации: 2012-01-11.

Method of determination, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US20130245979A1. Автор: Hiroya Kakimoto. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2013-09-19.

Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Номер патента: US20160225300A1. Автор: Chae-Han Hyun,Young-Taeg Jung,Jung-Hun Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Methods for inspecting a turbine engine rotor thru bolt threads and associated thru bold rotor disc cavity and corresponding inspection apparatus

Номер патента: WO2015130871A1. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Joshua DeAscanis,James P. Williams,Clifford HATCHER JR.. Владелец: SIEMENS ENERGY, INC.. Дата публикации: 2015-09-03.

Cased goods inspection system and method therefor

Номер патента: CA3205722A1. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Samy METARI,Alexandre DUMAIS. Владелец: Symbotic Canada ULC. Дата публикации: 2022-07-28.

Cased goods inspection system and method therefor

Номер патента: WO2022155734A1. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Samy METARI,Alexandre DUMAIS. Владелец: Symbotic Canada, Ulc. Дата публикации: 2022-07-28.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a thru bolt threads inspection apparatus

Номер патента: US09494487B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Internal pressure inspection apparatus and method for a sealed container

Номер патента: US09453776B2. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Systems and methods for security inspection

Номер патента: EP3853641A1. Автор: Qiaoxue WANG. Владелец: Zhejiang Dahua Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Panel inspection apparatus and display panel

Номер патента: US09633588B2. Автор: Qibiao LV,Jehao Hsu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Insulation inspection method and insulation inspection apparatus

Номер патента: US09606162B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Power theft inspection apparatus and power theft inspection method

Номер патента: US09476917B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US9671459B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11761704B2. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Inspection apparatus and component mounting system having the same

Номер патента: US12108536B2. Автор: Jeongyeob KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Enhanced roadway mark locator, inspection apparatus, and marker

Номер патента: US09784843B2. Автор: Matthew W. Smith,William R. Haller,Douglas D. DOLINAR,Charles C. Stahl. Владелец: Limn Tech LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09535108B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09534957B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US20150115991A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method

Номер патента: US09874594B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Inspection apparatus for thermo-hygrometer based on phase change and methods for controlling and inspecting the same

Номер патента: US09846262B2. Автор: Jong Cheol Kim,Sang Wook Lee,Yong-Gyoo Kim,Byung Il Choi,Sang Bong WOO. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus, and abnormality detection method

Номер патента: US09702754B2. Автор: Satoshi Sone. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210405089A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US12075537B2. Автор: Hiroaki Agawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US09651607B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09880196B2. Автор: Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: US09869715B2. Автор: Akira Yamaguchi,Takashi Ishimoto,Takenori Takahashi,Yuji Shigesawa,Takashi Motoyama. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US12032012B1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: En Vigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US20240219446A1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: Envigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Behavior inspection apparatus and behavior inspection method for extensible flexible pipe joint

Номер патента: US20180045499A1. Автор: Yuji Noda,Shintaro Ikeda,Isamu Funakoshi. Владелец: Victaulic Company of Japan Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Device and method for logging data from an inspection probe to a computing device

Номер патента: US09625327B1. Автор: Eran Y. Bernstein. Владелец: E-Controlsystems Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Manufacturing Method of Optoelectronic Device and System for Aiding Manufacturing of Optoelectronic Device

Номер патента: US20220215523A1. Автор: Josuke OZAKI,Nobuhiro Nunoya. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-07-07.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

A portable inspection apparatus

Номер патента: EP2802864A1. Автор: Ko Khee Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-19.

Connector inspection apparatus

Номер патента: US20020186021A1. Автор: Takao Fujita,Akira Nishino. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-12.

Syringe for multiple doses and method

Номер патента: RU2592666C2. Автор: Даниэль ПИ. Владелец: ДР. ПИ ИНСТИТЬЮТ ЭлЭлСи. Дата публикации: 2016-07-27.

Signal inspection apparatus, signal inspection system, signal inspection method, and non-transitory computer-readable medium encoded with signal inspection program

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Shouhei MIYASHITA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230260104A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Charge Protocol Inspection Apparatus and Operating Method Thereof

Номер патента: US20240353497A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Pr-containing scintillator single crystal, method of manufacturing the same, radiation detector, and inspection apparatus

Номер патента: US09834858B2. Автор: Tsuguo Fukuda,Kenji Aoki,Akira Yoshikawa,Kei Kamada,Hiraku Ogino. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Inspection jig and circuit board inspection apparatus including the same

Номер патента: US12055579B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Fluid flow inspection and video recording system and method for turbine buckets

Номер патента: US20020073769A1. Автор: Robert Zabala,Bruce Knudsen,Ernest Cusick. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2002-06-20.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Systems and methods for security inspection

Номер патента: US11774625B2. Автор: Qiaoxue WANG. Владелец: Zhejiang Dahua Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20210325528A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Leak inspection method and leak inspection apparatus

Номер патента: US12046783B2. Автор: Satoshi Oyama,Yutaka Ebato,Takaaki Mitsuoka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: US11719744B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Body drying and inspection apparatus

Номер патента: US09775474B2. Автор: Ernesto Holguin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

System and device for detecting tools on rope and method for their detection

Номер патента: RU2753320C2. Автор: Аарон Митчелл КАРЛСОН,Брэдли Роберт МАРТИН. Владелец: Интеллиджент Уэллхэд Системс Инк.. Дата публикации: 2021-08-13.

Apparatus and method for the drilling and inspecting of holes

Номер патента: US4753555A. Автор: Douglas Thompson,David A. Yousko. Владелец: Yousko David A. Дата публикации: 1988-06-28.

Inspection apparatus and method adapted to a scanning technique employing a rolling wire probe

Номер патента: US20030006757A1. Автор: Tak Eun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-09.

Device inspection apparatus and device inspection method

Номер патента: US20240192257A1. Автор: Shinya Kurebayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Roller, spot inspection method and apparatus, coiled-material conveying method and apparatus, and device and medium

Номер патента: EP4397610A1. Автор: Ping Jiang,Zhipeng Zhang,Hongyuan LI,Yuyang Mao. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection jig and inspection apparatus

Номер патента: US11768226B2. Автор: Kohei Tsumura,Takanori Furukawa,Jyun YAMANOUCHI. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Workpiece positioning mechanism and workpiece inspection apparatus

Номер патента: US12078673B1. Автор: Shohei Suzuki,Taichi Aranami. Владелец: Takaoka Toko Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Inspecting apparatus of lane departure warning system for vehicle

Номер патента: US09511712B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Baggage inspection apparatus and method for determining the presence of explosives

Номер патента: CA1207835A. Автор: Armando De Los Santos,James D. King,William L. Rollwitz,George A. Matzkanin,Phillip A. Hornung. Владелец: Southwest Research Institute SwRI. Дата публикации: 1986-07-15.

Sample Inspection Apparatus, Inspection System, Thin Piece Sample Fabrication Apparatus, and Method for Inspecting Sample

Номер патента: US20240128047A1. Автор: Norio Sato,Masahiro Yoshida,Junichi Fuse,Hirotsugu KAJIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Inspection apparatus, inspection method, inspection program, and assembled battery system

Номер патента: US12044746B2. Автор: Daisuke Konishi,Kazuyuki Kawamoto,Jun Ikemoto,Hayato Tawa. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Failure analysis method, apparatus, and program for semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20100241374A1. Автор: Masafumi Nikaido. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US20140311223A1. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US9885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Electronic device inspection apparatus

Номер патента: US12123906B2. Автор: Masafumi Takeda,Yasuhiro Yamauchi,Yohei Mikami,Tetsuhiro Fukao,Motoyoshi Koyanagi,Kazuya ITOSE. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US09885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Method for determining set value of pressure for inspection in wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689916B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Substrate inspection apparatus

Номер патента: US09678107B2. Автор: Shingo Morita,Michio Murata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: EP2002473A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-17.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: WO2007114642A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-10-11.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: US20180328722A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2018-11-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200064374A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Pipeline pig and method of pipeline inspection

Номер патента: AU8913791A. Автор: Hugh Edmund Murray Hunt,Uwe Gerhard Kopke. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-06-25.

System and method for verifying screw threads

Номер патента: US09593926B2. Автор: Jonathan DeYaeger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-14.

Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof

Номер патента: US6148097A. Автор: Atsushi Kida,Masayuki Sugiura,Masato Hara,Toshihiro Nakayama. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2000-11-14.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA2821100C. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Inspection apparatus and method for hot glass containers

Номер патента: CA1051538A. Автор: James R. Sager. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1979-03-27.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2014167838A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11940485B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Shigeru Kasai,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: CA3218543A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-24.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: AU2022275971A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Nuovo Pignone Technologie Srl. Дата публикации: 2023-11-30.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US20220043055A1. Автор: Hiroyuki Nakayama,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240255563A1. Автор: Kyungwoon Jang,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daeseok HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Circuit board inspecting apparatus

Номер патента: US12055580B2. Автор: Takashi Isa,Toshihide Matsukawa. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Probe guide plate and semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09829509B2. Автор: Yuichiro Shimizu,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Cleaning method in inspection apparatus, and the inspection apparatus

Номер патента: US20200286728A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Apparatus and method for checking whether table is at tilt

Номер патента: US20180164095A1. Автор: Jong Won Kim,Yong Woo HAN. Владелец: Ismedia Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Construction inspection method, apparatus, and system

Номер патента: US20240104714A1. Автор: Lan Jiang,Qi Wang,Quan Gan. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US9833093B2. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-12-05.

Pin hole inspection apparatus and method

Номер патента: US11815429B2. Автор: Jin Ho Kang,Chang Rak KIM. Владелец: SK Siltron Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Pin hole inspection apparatus and method

Номер патента: US20230314270A1. Автор: Jin Ho Kang,Chang Rak KIM. Владелец: SK Siltron Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: US20240280442A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus

Номер патента: US20030028836A1. Автор: Jaime Maeda,Agemilson Da Silva,Fabio Cabral,Luis Pinheiro,Odiletil Silva,Cesar Peres. Владелец: Sony da Amazonia Ltda. Дата публикации: 2003-02-06.

Inspection apparatus and cleaning method of inspection apparatus

Номер патента: US11181573B2. Автор: Tomoya Endo,Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-11-23.

Cased goods inspection and method therefor

Номер патента: US11878873B2. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Samy METARI,Alexandre DUMAIS. Владелец: Symbotic Canada ULC. Дата публикации: 2024-01-23.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US11788892B2. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US20220090967A1. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20160054366A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2016-02-25.

Multiple-transmitting multiple-receiving antenna array arrangement for active millimeter wave security inspection imaging, and human body security inspection device and method

Номер патента: EP3647826A1. Автор: Jian Wu,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Yingkang Jin,Lingbo QIAO,Xuming MA,Yan YOU,Wenguo LUI. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-06.

Cased goods inspection system and method therefor

Номер патента: EP4281759A1. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Samy METARI,Alexandre DUMAIS. Владелец: Symbotic Canada ULC. Дата публикации: 2023-11-29.

Cased goods inspection system and method therefor

Номер патента: US20240166450A1. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Samy METARI,Alexandre DUMAIS. Владелец: Symbotic Canada ULC. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection apparatus and control method for inspection apparatus

Номер патента: EP3940403A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Inspection apparatus and control method for inspection apparatus

Номер патента: US11874319B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: EP3970980A2. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US20230408338A1. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Inspection apparatus and method of tone wheel for vehicle

Номер патента: WO2008143450A1. Автор: Jin Hur,Jaehwan Song. Владелец: Yusung Ft. Дата публикации: 2008-11-27.

Vehicle-mounted radar calibration device and method

Номер патента: US20200319298A1. Автор: Jin Chen,Xiaolong Wang,Longxue QIU,Xinguang TANG. Владелец: Autel Intelligent Technology Corp Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Systems and methods for automated fraud detection and analytics using aggregated payment vehicles and devices

Номер патента: US20230012585A1. Автор: David Mattei,Dennis A. Kettler. Владелец: Worldpay LLC. Дата публикации: 2023-01-19.

Systems and methods for automated fraud detection and analytics using aggregated payment vehicles and devices

Номер патента: US20220414669A1. Автор: Dennis Kettler,David Mattei. Владелец: Worldpay LLC. Дата публикации: 2022-12-29.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING ARTICLE

Номер патента: US20170186148A1. Автор: UEMURA Takanori. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-29.

System And Method For Proactive Communication Network Management Based Upon Area Occupancy

Номер патента: US20170118659A1. Автор: Bruce A. Friedman,Robert J. Alberte, JR.,Paul R. Brozowski. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-04-27.

System and method for proactive communication network management based upon area occupancy

Номер патента: US09781613B2. Автор: Bruce A. Friedman,Robert J. Alberte, JR.,Paul R. Brozowski. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-10-03.

Stretchable display panel and device and manufacturing method of the same

Номер патента: US12033544B2. Автор: Hyunju Jung,Eunah Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

System and Method For Parallel Processing Using Dynamically Configurable Proactive Co-Processing Cells

Номер патента: US20180121238A1. Автор: Iniguez Alfonso. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

SYSTEM AND METHOD FOR PARALLEL PROCESSING USING DYNAMICALLY CONFIGURABLE PROACTIVE CO-PROCESSING CELLS

Номер патента: US20140337850A1. Автор: Iniguez Alfonso. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-13.

System and method for parallel processing using dynamically configurable proactive co-processing cells

Номер патента: WO2016014263A3. Автор: Alfonso Iniguez. Владелец: Iniguez Alfonso. Дата публикации: 2016-03-17.

System, device and method for preventing hand-to-face contact

Номер патента: US12014646B2. Автор: Michael Krantz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-18.

Systems and devices accessing inaccessible servers

Номер патента: WO2004034190A9. Автор: James Hoffman,James Friskel. Владелец: Woodstock Systems LLC. Дата публикации: 2004-06-10.

Systems and methods of storing and managing configuration data in telecommunications systems and devices

Номер патента: US20140317160A1. Автор: Xingguo Zhang,Yimin Zhu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-10-23.

Systems and methods of storing and managing configuration data in telecommunications systems and devices

Номер патента: US20130204845A1. Автор: Xingguo Zhang,Yimin Zhu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-08-08.

Systems and methods of storing and managing configuration data in telecommunications systems and devices

Номер патента: US9213710B2. Автор: Xingguo Zhang,Yimin Zhu. Владелец: Dialogic Inc. Дата публикации: 2015-12-15.

Installation and method for processing batches of orders by distributing products in a storage area and device for applying the method

Номер патента: EP0897160A2. Автор: Jury George Ziembicki Dit Zembitski. Владелец: Ziembicki dit Zembitski Jury George. Дата публикации: 1999-02-17.

Ion-exchange fibers and method for producing same, method for removing and adsorbing chemical substance in water, and device for removing and adsorbing chemical substance in water

Номер патента: KR20140019379A. Автор: 유스케 히라이,와타루 미오,마사노부 다무라,요시토모 마츠모토,다카오 미치노부. Владелец: 가부시키가이샤 가네카. Дата публикации: 2014-02-14.

Stretchable display panel and device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20200111390A1. Автор: Hyunju Jung,Eunah Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

Device and method to carry out service of subscriber calling ring back tone signal colouring and device to produce file of subscriber calling tone signal colouring

Номер патента: RU2418380C2. Автор: Сыфан ЧЖАН. Владелец: Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2011-05-10.

Amorphous motor, manufacturing method thereof and device for implementing manufacturing method

Номер патента: LU504355B1. Автор: Yunzhang Fang. Владелец: Univ Zhejiang Normal. Дата публикации: 2023-12-04.

Polymeric metal chelating compositions and methods of preparing same for controlling growth and activities of living cells and organisms for therapeutic use in treating diseases in animals, fish or humans

Номер патента: US12024490B2. Автор: Bruce E. Holbein,Sazid Ali,Ganugapati Satyanarayana,M. Trisha C. Ang,Dnyaneshwar Vithoba Palaskar,Gireesh Mahandru,S. Vijaya Bhaskara Reddy. Владелец: CHELATION PARTNERS Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

System and Method for the Production, Formulation and Use of Conditioned Media, Cultured Cells and the Factors Included Therein

Номер патента: US20200316169A1. Автор: Nathan Newman,Dodanim Talavera-Adame,Alex Rajangam,Harpreet Sidhu. Владелец: Rinati Skin LLC. Дата публикации: 2020-10-08.

Memory arrays and methods used in forming a memory array comprising strings of memory cells and operative through-array-vias

Номер патента: EP4010923A1. Автор: JIAN Li,Yi Hu,Lifang Xu,David Daycock,Harsh Narendrakumar Jain,Brett D. Lowe,Matthew J. King,Indra V. Chary,Anilkumar Chandolu,Prakash Rau Mokhna Rau,Merri L. Carlson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2022-06-15.

Memory arrays and methods used in forming a memory array comprising strings of memory cells and operative through-array-vias

Номер патента: WO2021025748A1. Автор: JIAN Li,Yi Hu,Lifang Xu,David Daycock,Harsh Narendrakumar Jain,Brett D. Lowe,Matthew J. King,Indra V. Chary,Anilkumar Chandolu,Prakash Rau Mokhna Rau,Merri L. Carlson. Владелец: MICRON tECHNOLOGY , iNC.. Дата публикации: 2021-02-11.

Compositions and methods of synthetic ctla-4 tails for reprogramming of car-t cells and enhancement of anti-tumor efficacy

Номер патента: WO2023220644A1. Автор: Xiaoyu Zhou,Sidi Chen. Владелец: YALE UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-11-16.

Memory Arrays And Methods Used In Forming A Memory Array Comprising Strings Of Memory Cells And Operative Through-Array-Vias

Номер патента: US20210043644A1. Автор: JIAN Li,Yi Hu,Lifang Xu,David Daycock,Harsh Narendrakumar Jain,Brett D. Lowe,Matthew J. King,Indra V. Chary,Anilkumar Chandolu,Prakash Rau Mokhna Rau,Merri L. Carlson. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-02-11.

Memory arrays and methods used in forming a memory array comprising strings of memory cells and operative through-array-vias

Номер патента: US12010836B2. Автор: David Daycock,Prakash Rau Mokhna Rau. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Novel rna construct and methods of use thereof for enhancing the therapeutic effects of cytotoxic cells and stem cells

Номер патента: AU2024202032A1. Автор: Evren Alici. Владелец: Vycellix Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Solar cell and front electrode thereof, and manufacturing method

Номер патента: US20230343878A1. Автор: WEI Xia,LIN Zhang,Feng Gu,Tao Xu,Zhi Huang,Biao PENG,Taihong XIE,Xujin ZHAI,Guanqun Xu,Liubin Wan. Владелец: Tongwei Solar Jintang Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Solar cell and front electrode thereof, and manufacturing method

Номер патента: AU2021414045A1. Автор: WEI Xia,LIN Zhang,Feng Gu,Tao Xu,Zhi Huang,Biao PENG,Taihong XIE,Xujin ZHAI,Guanqun Xu,Liubin Wan. Владелец: Tongwei Solar Jintang Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection apparatus that inspects image formed by image forming apparatus, and method for controlling image forming system

Номер патента: US20240354034A1. Автор: Ryosuke Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20240289944A1. Автор: Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US10578847B2. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-03.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US20170343783A1. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Optical disk inspecting apparatus and method

Номер патента: US20100091626A1. Автор: Mitsumasa Kubo. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-15.

Print system, inspection apparatus, method of controlling inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240311998A1. Автор: Shinya Suzuki,Yuki Nakatani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a rotor disc cavity inspection apparatus

Номер патента: US09670795B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: US20240231713A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection system, design apparatus, and inspection method that generate correct answer data with design apparatus for production printing

Номер патента: US11470205B1. Автор: Taku Matsuo. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: EP4400961A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20220414833A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Management and control system for an inspection apparatus

Номер патента: US12067701B2. Автор: Nadav Leshem,Edo Reshef. Владелец: Inspect Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US12125176B2. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09776695B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-10-03.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09511831B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-12-06.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US09536297B2. Автор: Tadashi Kitai,Ato ARAKI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Vehicle self-inspection apparatus and method

Номер патента: EP4032041A1. Автор: William Doyle,Scott Nei,Michelle Kaiser Bray. Владелец: Kar Auction Services Inc Canada. Дата публикации: 2022-07-27.

Vehicle self-inspection apparatus and method

Номер патента: WO2021055988A1. Автор: William Doyle,Scott Nei,Michelle Kaiser Bray. Владелец: KAR Auction Services, Inc.. Дата публикации: 2021-03-25.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Vision inspection apparatus and method of compensating gamma defect and mura defect thereof

Номер патента: US09576541B2. Автор: Woo-Jin Jung,Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Kang-Hyun Kim,Jong-Hee NA,Jae-Seob CHUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09495740B2. Автор: Toshiyuki Watanabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Lighting apparatus, and optical inspection apparatus and optical microscope using the lighting apparatus

Номер патента: US09594240B2. Автор: MITSUHIRO Togashi,MITSUNORI Numata,Nobuyuki Kimura,Masaki Takada. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-14.

Inspecting apparatus, peeling apparatus, and learned model generating method

Номер патента: US20230075359A1. Автор: Yuta Mizumoto. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Magnetic characteristic inspecting apparatus and inspecting method using it

Номер патента: US20060132122A1. Автор: Ritsuro Orihashi,Masayoshi Takahashi,Masami Makuuchi,Shinji Homma. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-06-22.

Imaging inspection apparatus for setting one or more image-capturing positions on a line that connects two taught positions, control device thereof, and method of controlling imaging inspection apparatus

Номер патента: US09774827B2. Автор: Hideki Tanaka,Kazuhiko Kojima,Hiroaki Kitatsuji. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Inspection apparatus that notifies an inspection result of a book in accordance with a sheet inspection result, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US12137195B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-05.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Foreign matter or abnormal unsmoothness inspection apparatus and foreign matter or abnormal unsmoothness inspection method

Номер патента: US7629577B2. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Overprinting inspection apparatus and non-transitory computer readable medium storing overprinting inspection program

Номер патента: US12086482B2. Автор: Kodai Suzuki. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: EP4364034A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09898814B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09530202B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Apparatus and method to automatically distinguish between contamination and degradation of an article

Номер патента: US09508139B2. Автор: Michael Moore,Timothy Duffy,Kevin Patrick McCormick,Jeremy W. Sheaffer,Maksim Bobrov,Myra A. Torres,Abhijit Bhoite,Nikhil Beke. Владелец: Sikorsky Aircraft Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09390493B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-12.

Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20130044342A1. Автор: Hitomi Kaneko,Hiroyuki Kawamoto,Keiichi Miyamoto,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-21.

Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US9233551B2. Автор: Hitomi Kaneko,Hiroyuki Kawamoto,Keiichi Miyamoto,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-12.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240265523A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: WO2023278715A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc.. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: CA3223326A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US12106532B2. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Image inspection apparatus, printing system, and image inspection method

Номер патента: US20240340380A1. Автор: Kazuhiro Ijichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-10.

Apparatus and method for processing cell culture data

Номер патента: US09946834B2. Автор: Yen Choo,Christopher Johnson,Simon Lister,Marina Tarunina,Robert Merrifield. Владелец: Plasticell Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Vehicle safety-inspection apparatus

Номер патента: US09478075B1. Автор: Duncan Smith,Grant Toutant,Tristan Money. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-25.

Pattern inspection apparatus and method

Номер патента: US8045785B2. Автор: Tadashi Kitamura,Masahiro Yamamoto,Kazufumi Kubota,Shinichi Nakazawa,Neeti Vohra,Toshiaki Hasebe. Владелец: NGR Inc. Дата публикации: 2011-10-25.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20240114096A1. Автор: Takeshi Okada,Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240106935A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection system, inspection apparatus, and method for controlling the inspection apparatus

Номер патента: US20210397386A1. Автор: Kimio Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4346196A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

Method of manufacturing organic el display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US20160247734A1. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-08-25.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection system, image inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240165945A1. Автор: Kohta AOYAGI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Welded portion inspection apparatus of reactor pressure vessel

Номер патента: US20120051483A1. Автор: Satoshi Okada,Kenichi Otani,Ryosuke Kobayashi,Hidetaka Komuro,Yosuke Takatori. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Method of manufacturing organic EL display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US09524914B2. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Inspection system to register image data in inspection apparatus and execution of an inspection job, printing apparatus, method for controlling inspection system

Номер патента: US11838455B2. Автор: Hideshi Ichimi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Method for providing color images from a monochromatic electro-optical device using two optical channels and systems, apparatuses, and devices related thereto

Номер патента: EP1733273A2. Автор: Peter W. J. Jones,Dennis W. Purcell. Владелец: Tenebraex Corp. Дата публикации: 2006-12-20.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230281796A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Service method, service system and manufacturing / inspection apparatus

Номер патента: US20040260660A1. Автор: Hiroyoshi Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-23.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240015251A1. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12058290B2. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Aligning method for use in semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20190171328A1. Автор: Chien-Hung Chen,Yung-Chin LIU,Guan-Jhih Liou,Lin-Lin Chih. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20210256677A1. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230239412A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Wafer position status inspection apparatus

Номер патента: US12101559B2. Автор: Daisuke Sasaki,Yu-Hsin Liu,Cheng-Hsiang Lu. Владелец: Jun Fu Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Print system, printing apparatus, method of controlling the printing apparatus, and storage medium

Номер патента: US11947853B2. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20240029238A1. Автор: Masashi Oya,Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection system, inspection apparatus, and method of controlling these

Номер патента: US20240078400A1. Автор: Yoshitaka Oba. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection apparatus and inspection method for magnetic head or magnetic disk and inspection method for magnetic head

Номер патента: US20120075738A1. Автор: Toshiaki Suzuki,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa,Kazuhiko KISHIE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Polarizing mask and manufacturing method utilizing the polarizing mask

Номер патента: US09846312B2. Автор: Hyuk Yoon,Moon Soo Park,Bu Gon Shin,Sin Young Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Apparatus and method for inspecting surface state

Номер патента: US8615125B2. Автор: Shree Nayar,Daisuke Mitsumoto,Yasuhiro Ohnishi,Yasumoto Mori. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2013-12-24.

Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20160335760A9. Автор: Tadashi Kitai,Ato ARAKI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-17.

Inspection apparatus, inspection system, control method for inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20230064686A1. Автор: Toru Shinnae. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Inspection system, inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: EP4262182A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-18.

Cutting tool inspection apparatus and method

Номер патента: US20240033874A1. Автор: Hiroshi Ishiyama,Kenichi Yamagata,Yoshinori Monaka. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Apparatus and method for inspecting liquid crystal display

Номер патента: US20090290785A1. Автор: Bong Chul Kim,Dong Woo Kang,Ki Soub Yang,Soung Yeoul Eom. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Apparatus and method with large-scale computing

Номер патента: EP4160354A2. Автор: Jaejin Lee,Jae Hoon Jung,Daeyoung Park,Seung Wook Lee,Jinpyo Kim,Hyung-Dal Kwon,Wooseok CHANG,Byungwoo BANG,Sunghoon SON,Jae-Eon JO,Wookeun JUNG,Heehon KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-05.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Model training method and method, apparatus, and device for determining data similarity

Номер патента: EP3611657A1. Автор: Nan Jiang,Hongwei Zhao. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2020-02-19.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Cell Phone Battery Replacement/Refurbishment/Recycling Program and Method

Номер патента: US20190318323A1. Автор: Kyle Rose, SR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-10-17.

Device and method for training users of ambulatory medical devices

Номер патента: US09814835B2. Автор: Geoffrey A. Kruse,Michael J. Rosinko,Kim D. Blickenstaff. Владелец: Tandem Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

System apparatus and device for facilitating network edge device backup and methods of operation thereof

Номер патента: US09544499B2. Автор: Roni Herzel. Владелец: ENERGY RE-CONNECT Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: US20230273755A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-08-31.

Information management apparatus and information management program

Номер патента: US20220092533A1. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US20210398262A1. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US11830181B2. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20140226177A1. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-14.

Medical inspection apparatus and medical inspection system

Номер патента: US20180055360A1. Автор: Takashi Sakai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-03-01.

Method and device capable of executing instructions remotely in accordance with multiple logic units

Номер патента: US11711797B2. Автор: Fa-Long Luo,Glen E. Hush,Aaron P. Boehm. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-07-25.

Digital key generating system and method, vehicle unlocking method and apparatus, and device

Номер патента: AU2023285836A1. Автор: JIANG He. Владелец: Chongqing Changan Automobile Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Digital key generation system and method, vehicle unlocking method and apparatus, and device

Номер патента: EP4439499A1. Автор: JIANG He. Владелец: Chongqing Changan Automobile Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Danger alerting method and device, portable electronic apparatus

Номер патента: US09928710B2. Автор: Masakazu Okamura. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Apparatus and methods for dynamic role switching among USB hosts and devices

Номер патента: US09811488B2. Автор: Terrill M. Moore. Владелец: MCCI CORP. Дата публикации: 2017-11-07.

Apparatus and method for analysing events from sensor data by optimisation

Номер патента: US09713554B2. Автор: David Albert Barda,Mohammad Hadi Mashinchi. Владелец: FRED BERGMAN HEALTHCARE PTY LTD. Дата публикации: 2017-07-25.

Apparatus and method for displaying screen

Номер патента: US09666167B2. Автор: Young-Berm CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

System and method for simulating deployment configuration of an expandable device

Номер патента: US09504588B2. Автор: David Fiorella,Chandramouli Sadasivan,Henry Woo,Baruch Barry Lieber. Владелец: Research Foundation of State University of New York. Дата публикации: 2016-11-29.

System apparatus and device for facilitating network edge device backup and methods of operation thereof

Номер патента: US09438845B2. Автор: Roni Herzel. Владелец: ENERGY RE-CONNECT Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Method of iris authentication of user and device therefor

Номер патента: RU2670798C1. Автор: Алексей Михайлович Фартуков,Глеб Андреевич ОДИНОКИХ,Виталий Сергеевич ГНАТЮК,Владимир Алексеевич ЕРЕМЕЕВ,Джувоан Ю,Кванхён ЛИ,Хиджун ЛИ,Декю ШИН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-10-25.

Method of iris authentication of user and device therefor

Номер патента: RU2670798C9. Автор: Алексей Михайлович Фартуков,Глеб Андреевич ОДИНОКИХ,Виталий Сергеевич ГНАТЮК,Владимир Алексеевич ЕРЕМЕЕВ,Джувоан Ю,Кванхён ЛИ,Хиджун ЛИ,Декю ШИН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-11-26.

Inspection apparatus that coverts a result of sheet inspection into an inspection result of each book including a plurality of sheets, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US11812000B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US20240031504A1. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Image inspection apparatus, image recording apparatus, and image inspection method

Номер патента: US20130057886A1. Автор: Takuya Yasuda. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-07.

Outgoing email check system, check data providing apparatus, check data inspecting apparatus, and outgoing email check method

Номер патента: US8997183B2. Автор: Hiroshi Tsuda,Masayoshi Okamoto,Shinichi Mochizuki,Yoshinori Katayama,Fumihiko Kozakura,Kiyoshi Kurashige,Ryota Fukasawa,Aya Higashizono,Natsu Hashisaka. Владелец: Fujitsu Social Science Labs Ltd. Дата публикации: 2015-03-31.

Inspection apparatus and method

Номер патента: WO2005053314A3. Автор: Steven Morrison,Stuart James Clarke,Laurence Michael Linnett. Владелец: Fortkey Limeted. Дата публикации: 2006-04-27.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20200160496A1. Автор: Hiroteru Akiyama,Kazuhiro Nakashima,Manabu Isobe,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

System, device and method of skin image

Номер патента: RU2422081C2. Автор: Ядран БАНДИЧ (YU),Ядран БАНДИЧ,Дьюро КОРУГА (YU),Дьюро КОРУГА,Раул МЕХЕНДЭЙЛ,Сава МАРИНКОВИЧ. Владелец: Майскин, Инк.. Дата публикации: 2011-06-27.

Communication device and method

Номер патента: RU2747268C1. Автор: Вэйлян ЧЖАН,Чжиху ЛО,Чжэ ЦИНЬ. Владелец: Хуавей Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2021-05-04.

Cross-cutting circular saw device and method of object cross-cutting by circular saw device

Номер патента: RU2715863C2. Автор: Бенгт АНДРЕАССОН,Томас АНДРЕАССОН. Владелец: Икеа Сэпплай Аг. Дата публикации: 2020-03-03.

System and method for configuring computer applications and devices using inheritance

Номер патента: EP1348282A2. Автор: Victor Kouznetsov,Daniel Melchione. Владелец: Networks Associates Technology Inc. Дата публикации: 2003-10-01.

Methods and devices for a surgical hip replacement procedure

Номер патента: US09668867B2. Автор: Scott Kelley. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-06-06.

Holder of wearing tip for impact crusher with vertical shaft, set containing holder wearing tip, and method of reducing wear rate of wearing tip holder

Номер патента: RU2592561C2. Автор: Роуэн Дэллимор,Кнут Кьяэрран,Андреас Форсберг. Владелец: САНДВИК ИНТЕЛЛЕКЧУАЛ ПРОПЕРТИ АБ. Дата публикации: 2016-07-27.

Adhesive film for use in semiconductor device manufacture, manufacturing method of said adhesive film, semiconductor device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: SG11202002552PA. Автор: Keisuke Ohkubo,Masanori Natsukawa. Владелец: Hitachi Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-29.

Organic vapor phase deposition system and methods of use for simultaneous deposition of low and high evaporation temperature materials, and devices produced therein

Номер патента: US20170361354A1. Автор: Stephen R. Forrest,Byeongseop SONG. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2017-12-21.

Organic vapor phase deposition system and methods of use for simultaneous deposition of low and high evaporation temperature materials, and devices produced therein

Номер патента: EP3230489A1. Автор: Stephen R. Forrest,Byeongseop SONG. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2017-10-18.

Device and method of ammonia synthesis

Номер патента: RU2497754C2. Автор: Герт УНГАР,Юрг Дитер УНГАР. Владелец: Юрг Дитер УНГАР. Дата публикации: 2013-11-10.

Separator reinforced with web and method of its continuous manufacturing

Номер патента: RU2390586C2. Автор: Вим ДОЙЕН,Вальтер АДРИАНСЕНС,Рогер ЛЕЙСЕН. Владелец: Вламсе Инстеллинг Вор Технологис Ондерзук (Вито). Дата публикации: 2010-05-27.

Systems and methods for alarm of control channel

Номер патента: RU2408990C2. Автор: Аамод КХАНДЕКАР,Алексей ГОРОХОВ,Дэвид Джонатан ДЖУЛИАН,Тамер КАДОУС,Эдвард Харрисон ТИГ,Хемантх САМПАТХ. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2011-01-10.

Micromechanical component and method of its manufacturing

Номер патента: RU2371378C2. Автор: Вольфрам ГАЙГЕР,Уве БРЕНГ. Владелец: Литеф ГмбХ. Дата публикации: 2009-10-27.

System and method for configuring computer applications and devices using inheritance

Номер патента: WO2002054675A2. Автор: Victor Kouznetsov,Daniel Melchione. Владелец: Networks Associates Technology, Inc.. Дата публикации: 2002-07-11.

Multi-wavelength phototherapy devices, systems, and methods for the non-invasive treatment of damaged or diseased tissue

Номер патента: AU2024219716A1. Автор: SCOTT BRADLEY,Clark Tedford,Scott Delapp. Владелец: Lumithera Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Multi-wavelength phototherapy devices, systems, and methods for the non-invasive treatment of damaged or diseased tissue

Номер патента: AU2022203615B2. Автор: SCOTT BRADLEY,Clark Tedford,Scott Delapp. Владелец: Lumithera Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Devices, compositions and methods pertaining to microscopic analysis of microorganisms and other analytes of interest

Номер патента: US09976173B2. Автор: Martin Fuchs,Michelle C. Meltzer,Melissa K Deck. Владелец: Advandx Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Compositions and methods for modulating the sensitivity of cells to AHAS inhibitors

Номер патента: US09441238B2. Автор: Jun URANO,Michele M. Champagne. Владелец: Synthetic Genomics Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Methods and devices for determining a position of acetabular and femoral components during a surgical hip replacement procedure

Номер патента: US10792156B2. Автор: Scott Kelley. Владелец: Scott Kelley. Дата публикации: 2020-10-06.

Apparatus and method for the heat treatment of lignocellulosic material

Номер патента: CA2506996C. Автор: Bernard Robert,Jean-Pierre Bernon,Fabrice Robert,Jacky Drevet. Владелец: PCI Industries Inc Canada. Дата публикации: 2011-10-11.

Vision screening device, vision impairment screening system, improved vision screening process, method of assessment, and method of use

Номер патента: WO2023059348A1. Автор: David Huang,Michael Brownell,Darcy WENDEL,Patrick DEGUZMAN. Владелец: Axiom Innova, Inc.. Дата публикации: 2023-04-13.

Positive displacement closure devices and methods

Номер патента: US20240041472A1. Автор: Stephen M. Green,John M. Kirwan,Ronald P. CAPUTO. Владелец: Transluminal Technologies LLC. Дата публикации: 2024-02-08.

Compositions and methods for modifying muller glial cells

Номер патента: WO2024030930A9. Автор: Seth Blackshaw,Thanh Hoang. Владелец: THE JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-06-20.

Pharmaceutical composition comprising modified natural killer cells and antigen-specific t cells, manufacturing method thereof, and method of using the same

Номер патента: EP4417211A1. Автор: Jan-Mou LEE,Chih-Hao FANG,Ya-Fang CHENG,Keng-Li Lan. Владелец: FULLHOPE BIOMEDICAL Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Pharmaceutical composition comprising modified natural killer cells and antigen-specific t cells, manufacturing method thereof, and method of using the same

Номер патента: US20240279607A1. Автор: Jan-Mou LEE,Chih-Hao FANG,Ya-Fang CHENG,Keng-Li Lan. Владелец: FULLHOPE BIOMEDICAL Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Semiconductor apparatus, solid state imaging device, imaging apparatus and electronic equipment, and manufacturing method thereof

Номер патента: US09881962B2. Автор: Hidetsugu Otani,Yuuji Kishigami. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING TRANSMITTING POWER CONTROL IN CARRIER AGGREGATION SYSTEM ACROSS THE ENBS AND DEVICE

Номер патента: US20140135055A1. Автор: FU Jingxing,SUN Chengjun,Li Yingyang. Владелец: Samsung Electronics Co., Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Apparatus and method for combusting fuel at high pressure and high temperature, and associated system and device

Номер патента: CN102414511A. Автор: M.帕尔默,R.阿拉姆,G.小布朗. Владелец: Palmer Labs LLC. Дата публикации: 2012-04-11.

Apparatus and method for combusting fuel at high pressure and high temperature, and associated system and device

Номер патента: CN102414511B. Автор: M.帕尔默,R.阿拉姆,G.小布朗. Владелец: Palmer Labs LLC. Дата публикации: 2014-09-24.

System and method for proactive blocking of remote display protocol connection requests from suspicious users and devices

Номер патента: US20240080357A1. Автор: Jimmy Chang,David T. Sulcer,Anushree Kunal Pole,Virabrahma Prasad Krothapalli,Amitabh Bhuvangyan Sinha. Владелец: WorkSpot Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Method for storing and method for delivering at least one piece of data, corresponding computer program products and devices

Номер патента: US11985209B2. Автор: Dieter Schroth. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2024-05-14.

Methods and uses of using activators of nrf2 to enhance natural killer cells and/or t cell activity and/or survival

Номер патента: CA3216998A1. Автор: Rolf Kiessling,Elias Set Jeno Arner,Stina Linnéa WICKSTRÖM. Владелец: Proleukocyte AB. Дата публикации: 2022-11-03.

Methods and uses of using activators of nrf2 to enhance natural killer cells and/or t cell activity and/or survival

Номер патента: EP4373477A2. Автор: Rolf Kiessling,Elias Set Jeno Arner,Stina Linnéa WICKSTRÖM. Владелец: Proleukocyte AB. Дата публикации: 2024-05-29.

Methods and uses of using activators of nrf2 to enhance natural killer cells and/or t cell activity and/or survival

Номер патента: AU2022267787A1. Автор: Rolf Kiessling,Elias Set Jeno Arner,Stina Linnéa WICKSTRÖM. Владелец: Proleukocyte AB. Дата публикации: 2023-11-09.

Metal-supported cell and method for manufacturing metal-supported cell

Номер патента: EP3780206A1. Автор: Keita Iritsuki. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Compositions and methods for the depletion of cd5+ cells

Номер патента: WO2019108863A4. Автор: Michael Cooke,Rahul Palchaudhuri,Anthony Boitano. Владелец: Magenta Therapeutics, Inc.. Дата публикации: 2019-08-08.

Compositions and methods for the depletion of cd5+ cells

Номер патента: EP3717022A1. Автор: Michael Cooke,Rahul Palchaudhuri,Anthony Boitano,Sean MCDONOUGH. Владелец: Magenta Therapeutics Inc. Дата публикации: 2020-10-07.

Flow cells and related flow cell manifold assemblies and methods

Номер патента: EP4408584A1. Автор: Darren SEGALE,Bradley Drews,Jennifer Foley,Jack TWOMEY. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

Compositions and methods for modulating a genome in t cells, induced pluripotent stem cells, and respiratory epithelial cells

Номер патента: AU2023262203A1. Автор: Donghui Li,Cecilia Giovanna Silvia COTTA-RAMUSINO,Barrett Ethan Steinberg,Aamir MIR,Anne Helen Bothmer,Giulia SCHIROLI,Kyusik Kim,Jason John RODRIGUEZ,Alberto DE IACO,Pin-fang CHEN. Владелец: Flagship Pioneering Innovations VI Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Ferritic stainless steel excellent in corrosion resistance and conductivity and method for manufacturing the same, separator of proton-exchange membrane fuel cell and proton-exchange membrane fuel cell

Номер патента: US09587297B2. Автор: Shin Ishikawa,Tomohiro Ishii,Takumi Ujiro. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

System and method for remote monitoring of charging the battery of an electric vehicle, charger and device for use in the system and method

Номер патента: WO2013055205A2. Автор: Crijn Bouman,Ali Ugur,Egbert Wouter Joghum Robers,Evelinde VAN DORP,Robert TYRELL. Владелец: ABB B.V.. Дата публикации: 2013-04-18.

System and method for remote monitoring of charging the battery of an electric vehicle, charger and device for use in the system and method

Номер патента: EP2766215A2. Автор: Crijn Bouman,Ali Ugur,Evelinde VAN DORP,Robert TYRELL,Egbert Wouter Joghum ROBERTS. Владелец: Abb Bv. Дата публикации: 2014-08-20.

ION-EXCHANGE FIBERS AND METHOD FOR PRODUCING SAME, METHOD FOR REMOVING AND ADSORBING CHEMICAL SUBSTANCE IN WATER, AND DEVICE FOR REMOVING AND ADSORBING CHEMICAL SUBSTANCE IN WATER

Номер патента: US20140048489A1. Автор: Hirai Yusuke,Michinobu Takao,TAMURA Masanobu,Mio Wataru,Matsumoto Yoshitomo. Владелец: KANEKA CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-20.

SYSTEM AND METHOD FOR REMOTE MONITORING OF CHARGING THE BATTERY OF AN ELECTRIC VEHICLE, CHARGER AND DEVICE FOR USE IN THE SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20140266047A1. Автор: Bouman Crijn,Robers Egbert Wouter Joghum,Ugur Ali,Van Dorp Evelinde,Tyrell Robert. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Assembly system for reinforced concrete construction parts, its use for the establishment of reinforced concrete slats and method for the erection of clusters with such slats, as well as method and device for the manufacture of such slats

Номер патента: FR1023833A. Автор: Adolf Koch. Владелец: . Дата публикации: 1953-03-24.

Method for storing and method for transmitting at least one piece of data, corresponding computer program products and devices

Номер патента: DE102020003383B4. Автор: Dieter Schroth. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2021-12-30.

Systems and methods for improved over-current clipping

Номер патента: WO2009088886A2. Автор: Michael A. Kost. Владелец: INTERSIL AMERICAS INC.. Дата публикации: 2009-07-16.

Beverage dispensing apparatus and method for active pressure control thereof

Номер патента: CA3209495A1. Автор: Paul Fletcher,Stephen HOBDEN. Владелец: Lavazza Professional UK Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Beverage dispensing apparatus and method for active pressure control thereof

Номер патента: CA3209401A1. Автор: Paul Fletcher,Stephen HOBDEN. Владелец: Lavazza Professional UK Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Beverage dispensing apparatus and method for active pressure control thereof

Номер патента: CA3109475C. Автор: Paul Fletcher,Stephen HOBDEN. Владелец: Lavazza Professional UK Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

ORGANIC VAPOR PHASE DEPOSITION SYSTEM AND METHODS OF USE FOR SIMULTANEOUS DEPOSITION OF LOW AND HIGH EVAPORATION TEMPERATURE MATERIALS, AND DEVICES PRODUCED THEREIN

Номер патента: US20170361354A1. Автор: Forrest Stephen R.,SONG BYEONGSEOP. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-21.

Organic vapor phase deposition system and methods of use for simultaneous deposition of low and high evaporation temperature materials, and devices produced therein

Номер патента: EP3230489B1. Автор: Stephen R. Forrest,Byeongseop SONG. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2023-02-15.

Apparatus and and method for growing discrete ultralong cylindrical sp2 carbon structures

Номер патента: EP3810547A1. Автор: F. Keith Perkins,Adam L. Friedman,Erin Cleveland,Ignacio Perez De Leon,Paul M. Campbell. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2021-04-28.

Electrowetting microarray printing system and methods for bioactive tissue construct manufacturing

Номер патента: WO2009111723A9. Автор: Richard B. Fair,Peter I. Lelkes,Gongyao Zhou. Владелец: Duke University. Дата публикации: 2010-01-21.

APPARATUS AND METHOD FOR ELECTROMAGNETIC TREATMENT OF PLANT, ANIMAL, AND HUMAN TISSUE, ORGANS, CELLS, AND MOLECULES

Номер патента: US20140046115A1. Автор: PILLA ARTHUR A.. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-13.

Apparatus and method for electromagnetic treatment of plant, animal, and human tissue, organs, cells, and molecules

Номер патента: US20140046117A1. Автор: Arthur A. Pilla. Владелец: Ivivi Health Sciences LLC. Дата публикации: 2014-02-13.

APPARATUS AND METHOD FOR ELECTROMAGNETIC TREATMENT OF PLANT, ANIMAL, AND HUMAN TISSUE, ORGANS, CELLS, AND MOLECULES

Номер патента: US20170266458A1. Автор: PILLA ARTHUR A.. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

Method for judging wafer thinning, device structure and device and its manufacture method

Номер патента: CN101339893B. Автор: 邱文智,余振华,吴文进,张宏宾,杨固峰. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2010-11-17.

Apparatus and method for electromagnetic treatment of plant, animal, and human tissue, organs, cells, and molecules

Номер патента: US20050197522A1. Автор: Arthur Pilla. Владелец: PILLA ARTHUR A.. Дата публикации: 2005-09-08.

ROR1-POSITIVE MESENCHYMAL STEM CELLS AND METHOD FOR PREPARING SAME, PHARMACEUTICAL COMPOSITION CONTAINING ROR1-POSITIVE MESENCHYMAL STEM CELLS AND METHOD FOR PREPARING SAME, AND METHOD FOR PREVENTING OR TREATING DISEASE USING ROR1-POSITIVE MESENCHYMAL STEM CELLS

Номер патента: US20180333436A1. Автор: IKEYAMA Yoshifumi,NISHIDA Hiroyuki,TSUDA Tomohiro,UNO Eiko,YUMOTO Masayo,Suda Kazuma,Yoshino Mihoko,Ngo Xuan Trung. Владелец: ROHTO PHARMACEUTICAL CO., LTD.. Дата публикации: 2018-11-22.

First and second base stations and methods performed therein

Номер патента: RU2632211C2. Автор: Имадур РАХМАН,Али БЕХРАВАН. Владелец: ТЕЛЕФОНАКТИЕБОЛАГЕТ Л М ЭРИКССОН (ПАБЛ). Дата публикации: 2017-10-03.

ROR1-positive mesenchymal stem cells and methods for preparing them, pharmaceutical compositions containing ROR1-positive mesenchymal stem cells and methods for preparing them, and methods for preventing or treating diseases using ROR1-positive mesenchymal stem cells.

Номер патента: JP6998768B2. Автор: 浩之 西田,芳史 池山,智博 津田,栄子 宇野,真代 湯本,一真 須田,みほ子 吉野,スアン チュン ノ. Владелец: Rohto Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Blood component collection systems and methods

Номер патента: CA1235619A. Автор: Richard I. Brown,Robert J. Kruger. Владелец: Baxter Travenol Laboratories Inc. Дата публикации: 1988-04-26.

Multi-wavelength phototherapy devices, systems, and methods for the non-invasive treatment of damaged or diseased tissue

Номер патента: NZ730040A. Автор: SCOTT BRADLEY,Clark Tedford,Scott Delapp. Владелец: Lumithera Inc. Дата публикации: 2020-12-18.

Blood processing systems and methods for collecting mono nuclear cell

Номер патента: US5807492A. Автор: Kyungyoon Min,Richard I. Brown. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 1998-09-15.

Compositions and methods for modulating the sensitivity of cells to ahas inhibitors

Номер патента: CA2870908A1. Автор: Jun URANO,Michele M. Champagne. Владелец: Synthetic Genomics Inc. Дата публикации: 2013-10-31.

Multi-wavelength phototherapy devices, systems, and methods for the non-invasive treatment of damaged or diseased tissue

Номер патента: CA2960016C. Автор: SCOTT BRADLEY,Clark E. Tedford,Scott Delapp. Владелец: Lumithera Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Devices, compositions and methods pertaining to microscopic analysis of microorganisms and other analytes of interest

Номер патента: EP2906714A1. Автор: Martin Fuchs,Michelle C. Meltzer,Melissa K. DECK. Владелец: Advandx Inc. Дата публикации: 2015-08-19.

Devices, Compositions and Methods Pertaining To Microscopic Analysis Of Microorganisms and Other Analytes of Interest

Номер патента: US20150275280A1. Автор: Martin Fuchs,Michelle C. Meltzer,Melissa K Deck. Владелец: Advandx Inc. Дата публикации: 2015-10-01.

Devices, Compositions and Methods Pertaining To Microscopic Analysis Of Microorganisms and Other Analytes of Interest

Номер патента: US20190106734A1. Автор: Martin Fuchs,Michelle Meltzer,Melissa K. DECK. Владелец: Advandx Inc. Дата публикации: 2019-04-11.

Rodents comprising a humanized ttr locus and methods of use

Номер патента: EP4276185A2. Автор: Andrew J. Murphy,David Frendewey,Brian Zambrowicz,Suzanne HARTFORD,Meghan DRUMMOND SAMUELSON,Jeffrey HAINES. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Ror1-positive mesenchymal stem cells and method for preparing same, pharmaceutical composition containing ror1-positive mesenchymal stem cells and method for preparing same, and method for preventing or treating diseases by using ror1-positive mesenchymal stem cells

Номер патента: EP3342858B1. Автор: Hiroyuki Nishida,Tomohiro Tsuda,Kazuma Suda,Yoshifumi Ikeyama,Masayo Yumoto,Eiko UNO,Mihoko YOSHINO,Xuan Trung NGO. Владелец: Rohto Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Compositions and methods for modulation of sirpalpha-mediated signaling

Номер патента: US20230293686A1. Автор: Kenan Christopher Garcia,Ricardo A. FERNANDES,Junming REN. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2023-09-21.

Rodents comprising a humanized ttr locus and methods of use

Номер патента: EP4276185A3. Автор: Andrew J. Murphy,David Frendewey,Brian Zambrowicz,Suzanne HARTFORD,Meghan DRUMMOND SAMUELSON,Jeffrey HAINES. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-02-21.

Compositions and methods for modifying muller glial cells

Номер патента: WO2024030930A3. Автор: Seth Blackshaw,Thanh Hoang. Владелец: THE JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-18.

Non-human animals comprising a humanized TTR locus and methods of use

Номер патента: US12010979B2. Автор: Andrew J. Murphy,David Frendewey,Brian Zambrowicz,Suzanne HARTFORD,Meghan DRUMMOND SAMUELSON,Jeffery HAINES. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

It is integrated with enhanced and device and its manufacturing method of depletion type VDMOS

Номер патента: CN108550623A. Автор: 田甜,康剑,魏国栋,张曌. Владелец: SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO Ltd. Дата публикации: 2018-09-18.

Cell culture substrate and method for producing same, method for inducing differentiation of pluripotent stem cell, and cell culture kit

Номер патента: WO2022230734A1. Автор: 豪士 久野,裕 今泉,純平 門田. Владелец: 東ソー株式会社. Дата публикации: 2022-11-03.

Single cell for solid oxide fuel cell and method for manufacturing the same, and cathode for solid oxide fuel cell and method for manufacturing the same

Номер патента: JP2017123231A. Автор: 和樹 古性,Kazuki Kosho. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2017-07-13.

Compositions and methods for the depletion of cd5+ cells

Номер патента: US20210369854A1. Автор: Michael Cooke,Rahul Palchaudhuri,Anthony Boitano,Sean MCDONOUGH. Владелец: Magenta Therapeutics Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Battery control system and method of fuel cell vehicle

Номер патента: US20230402659A1. Автор: Young Woo Jung,Ki Chang Kim,Sang Hyun YOON,Seung Won Baik. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Cell culture substrate and method for producing same, method for inducing differentiation of pluripotent stem cell, and cell culture kit

Номер патента: EP4317407A1. Автор: Goshi Kuno,Yu IMAIZUMI,Junpei KADOTA. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Tissue storage, irrigation, and infusion medium and methods of use

Номер патента: WO2023205339A1. Автор: Matthew E. Cunningham,Guang-Ting Cong,Sheeraz Qureshi,Kyle MORSE. Владелец: New York Society For The Relief Of The Ruptured And Crippled, Maintaining The Hospital For Special Surgery. Дата публикации: 2023-10-26.

Compositions and methods for modulating a genome in t cells, induced pluripotent stem cells, and respiratory epithelial cells

Номер патента: WO2023212724A2. Автор: Donghui Li,Cecilia Giovanna Silvia COTTA-RAMUSINO,Barrett Ethan Steinberg,Aamir MIR,Anne Helen Bothmer,Giulia SCHIROLI,Kyusik Kim,Jason John RODRIGUEZ,Alberto DE IACO,Pin-fang CHEN. Владелец: Flagship Pioneering Innovations Vi, Llc. Дата публикации: 2023-11-02.

Compositions and methods for inducing anti-tumor immunity

Номер патента: EP1737958A1. Автор: Yi Yang,Ingegerd Hellstrom,Karl Erik Hellstrom. Владелец: Washington Research Foundation. Дата публикации: 2007-01-03.

Methods and uses of using activators of nrf2 to enhance natural killer cells and/or t cell activity and/or survival

Номер патента: WO2022229264A3. Автор: Rolf Kiessling,Elias Set Jeno Arner,Stina Linnéa WICKSTRÖM. Владелец: Arner Elias Set Jenoe. Дата публикации: 2022-12-08.

ANK and IL-12 compositions and methods

Номер патента: AU2018244221B2. Автор: Patrick Soon-Shiong,Peter SIELING,Kayvan Niazi,Adam LAZAR. Владелец: NantCell Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Compositions and methods for modulating a genome in t cells, induced pluripotent stem cells, and respiratory epithelial cells

Номер патента: WO2023212724A3. Автор: Donghui Li,Cecilia Giovanna Silvia COTTA-RAMUSINO,Barrett Ethan Steinberg,Aamir MIR,Anne Helen Bothmer,Giulia SCHIROLI,Kyusik Kim,Jason John RODRIGUEZ,Alberto DE IACO,Pin-fang CHEN. Владелец: Flagship Pioneering Innovations Vi, Llc. Дата публикации: 2023-11-30.

Compositions and methods for nucleic acid delivery systems

Номер патента: US20090048198A1. Автор: LI Wang,Robert C. MacDonald,Rumiana Koynova-Tenchova. Владелец: Northwestern University. Дата публикации: 2009-02-19.

Ank and il-12 compositions and methods

Номер патента: EP3601538A1. Автор: Patrick Soon-Shiong,Peter SIELING,Kayvan Niazi,Adam LAZAR. Владелец: NantCell Inc. Дата публикации: 2020-02-05.

Cell culture substrate and method for producing same, method for inducing differentiation of pluripotent stem cell, and cell culture kit

Номер патента: US20240218322A1. Автор: Goshi Kuno,Yu IMAIZUMI,Junpei KADOTA. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

FERRITIC STAINLESS STEEL EXCELLENT IN CORROSION RESISTANCE AND CONDUCTIVITY AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, SEPARATOR OF PROTON-EXCHANGE MEMBRANE FUEL CELL AND PROTON-EXCHANGE MEMBRANE FUEL CELL

Номер патента: US20130316262A1. Автор: ISHII Tomohiro,Ishikawa Shin,Ujiro Takumi. Владелец: JFE STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-28.

Memory Arrays And Methods Used In Forming A Memory Array Comprising Strings Of Memory Cells And Operative Through-Array-Vias

Номер патента: US20210013221A1. Автор: Daycock David,Rau Prakash Rau Mokhna. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-01-14.

System and Method for the Production, Formulation and Use of Conditioned Media, Cultured Cells and the Factors Included Therein

Номер патента: US20200056217A1. Автор: Newman Nathan,Rajangam Alex,Talavera-Adame Dodanim,Sidhu Harpreet. Владелец: Rinati Skin LLC. Дата публикации: 2020-02-20.

NOVEL RNA CONSTRUCT AND METHODS OF USE THEREOF FOR ENHANCING THE THERAPEUTIC EFFECTS OF CYTOTOXIC CELLS AND STEM CELLS

Номер патента: US20190076463A1. Автор: Alici Evren. Владелец: Vycellix, Inc.. Дата публикации: 2019-03-14.

POLYMERIC METAL CHELATING COMPOSITIONS AND METHODS OF PREPARING SAME FOR CONTROLLING GROWTH AND ACTIVITIES OF LIVING CELLS AND ORGANISMS

Номер патента: US20190169126A1. Автор: Ali Sazid,Holbein Bruce E.,Ang M. Trisha C.,Palaskar Dnyaneshwar Vithoba,Satyanarayana Ganugapati,Mahandru Gireesh,Reddy S. Vijaya Bhaskara. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

Memory Arrays And Methods Used In Forming A Memory Array Comprising Strings Of Memory Cells And Operative Through-Array-Vias

Номер патента: US20210257385A1. Автор: Li Jian,Xu Lifang,HU Yi,Daycock David,King Matthew J.,Jain Harsh Narendrakumar,Chary Indra V.,Carlson Merri L.,Rau Prakash Rau Mokhna,Chandolu Anilkumar,Lowe Brett D.. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-08-19.

Memory Arrays And Methods Used In Forming A Memory Array Comprising Strings Of Memory Cells And Operative Through-Array-Vias

Номер патента: US20210305267A1. Автор: Daycock David,Rau Prakash Rau Mokhna. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2021-09-30.

System and Method for the Production, Formulation and Use of Conditioned Media, Cultured Cells and the Factors Included Therein

Номер патента: US20200316169A1. Автор: Newman Nathan,Rajangam Alex,Talavera-Adame Dodanim,Sidhu Harpreet. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

Device and method for determining and / or regulating the temperature of a fuel cell and / or a fuel cell stack

Номер патента: DE19930876A1. Автор: Rolf Brueck,Meike Reizig,Joerg-Roman Konieczny,Joachim Grose. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2001-01-18.

Novel rNA construct and methods of use thereof for enhancing the therapeutic effects of cytotoxic cells and stem cells

Номер патента: AU2017240250A1. Автор: Evren Alici. Владелец: Vycellix Inc. Дата публикации: 2018-10-11.

Polymeric metal chelating compositions and methods of preparing same for controlling growth and activities of living cells and organisms

Номер патента: US11059785B2. Автор: Bruce E. Holbein,Sazid Ali,Ganugapati Satyanarayana,M. Trisha C. Ang,Dnyaneshwar Vithoba Palaskar,Gireesh Mahandru,S. Vijaya Bhaskara Reddy. Владелец: CHELATION PARTNERS Inc. Дата публикации: 2021-07-13.

Memory arrays and methods used in forming a memory array comprising strings of memory cells and operative through-array-vias

Номер патента: US11037944B2. Автор: David Daycock,Prakash Rau Mokhna Rau. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-06-15.

Novel rna construct and methods of use thereof for enhancing the therapeutic effects of cytotoxic cells and stem cells

Номер патента: CA3019577A1. Автор: Evren Alici. Владелец: Vycellix Inc. Дата публикации: 2017-10-05.

Novel rna construct and methods of use thereof for enhancing the therapeutic effects of cytotoxic cells and stem cells

Номер патента: KR20220143151A. Автор: 에브렌 알리시. Владелец: 바이셀릭스, 인크.. Дата публикации: 2022-10-24.

Polymer electrolyte fuel cell and electrode/film/frame assembly manufacturing method

Номер патента: KR100917732B1. Автор: 도시히로 마츠모토,히로키 구사카베,미츠오 요시무라,다카시 모리모토,노리히코 가와바타. Владелец: 파나소닉 주식회사. Дата публикации: 2009-09-15.

P-type PERC double-sided solar cell and its module, system and manufacturing method

Номер патента: KR102323459B1. Автор: 강 첸,캉-청 린,지에빈 팡. Владелец: 저지앙 아이코 솔라 에너지 테크놀로지 컴퍼니., 리미티드.. Дата публикации: 2021-11-08.

Perforated PERC double-sided solar cell and its assembly, system and manufacturing method

Номер патента: KR102240902B1. Автор: 강 첸,지에빈 팡,타-넹 호. Владелец: 저지앙 아이코 솔라 에너지 테크놀로지 컴퍼니., 리미티드.. Дата публикации: 2021-04-16.

Photovoltaic cell and photovoltaic chain and associated manufacturing method

Номер патента: CN113302746A. Автор: 阿曼德·贝蒂内利. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-08-24.

P-type PERC double-sided solar cell and its module, system and manufacturing method

Номер патента: KR102323458B1. Автор: 강 첸,캉-청 린,지에빈 팡. Владелец: 저지앙 아이코 솔라 에너지 테크놀로지 컴퍼니., 리미티드.. Дата публикации: 2021-11-08.

Reworkable flexible package battery cell and circuit board structure and manufacturing method thereof

Номер патента: CN103000852A. Автор: 李仁智,黄丰年. Владелец: UER Technology Corp. Дата публикации: 2013-03-27.

Polymer electrolyte fuel cell and electrode/film/frame assembly manufacturing method

Номер патента: CN101542799A. Автор: 松本敏宏,日下部弘树,川畑德彦,村田淳,森本隆志. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-23.

Novel host cell and used its target protein manufacturing method

Номер патента: CN110088279A. Автор: 西辉之. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2019-08-02.

Dye-sensitized solar cell transparent insulating film paste, dye-sensitized solar cell transparent insulating film, dye-sensitized solar cell, and dye-sensitized solar cell manufacturing method

Номер патента: JP5192888B2. Автор: 篤 福井,良亮 山中,礼元 韓,真悟 高野,信洋 福家,岳 藤橋. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2013-05-08.

Solar cell and front electrode thereof, and manufacturing method

Номер патента: EP4099403A4. Автор: WEI Xia,LIN Zhang,Feng Gu,Tao Xu,Zhi Huang,Biao PENG,Taihong XIE,Xujin ZHAI,Guanqun Xu,Liubin Wan. Владелец: Tongwei Solar Jintang Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Apparatus for processing packet using deep packet inspection information and method thereof

Номер патента: US20240106726A1. Автор: Junsung KIM,Yookyoung LEE,Byungkon SONG,Ganho CHOI. Владелец: Sysmate Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Wafer and dut inspection apparatus and method using thereof

Номер патента: US20180158647A1. Автор: Bao-Hua Niu,Jung-Hsiang Chuang,David Hung-I Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Printing system, printing apparatus, inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US12081708B2. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Visual workpiece inspection apparatus and visual workpiece inspection method

Номер патента: MY167683A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,MOCHIZUKI Hiroyuki,Goto Tasuku. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-21.

Inspection apparatus, image forming apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240275888A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US20100302295A1. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-02.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US8414100B2. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-04-09.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: WO2013001303A9. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

Punch pin hole inspection apparatus and method using punch and die

Номер патента: US12042976B2. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Hose preparation apparatus and method therefor

Номер патента: US20010003860A1. Автор: Thomas R. Clark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-21.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: US09623513B2. Автор: Hiroaki Kishi,Atsushi Kawakita,Shuhei Ogura,Yuta IWAMOTO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Ultrasound inspection apparatus, signal processing method for ultrasound inspection apparatus, and recording medium

Номер патента: US09907532B2. Автор: Tsuyoshi Tanabe,Noriaki Ida,Yasunori Ohta,Shin Nakata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US20080309705A1. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US7963627B2. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09859096B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Inspection apparatus that inspects image printed on sheet, and image inspection method

Номер патента: US20240357044A1. Автор: Itsuki Akizuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09728373B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Welding System, Welding Condition Calculation Apparatus,and Welding Condition Calculation Method

Номер патента: US20240100615A1. Автор: Seunghwan Park,Naoki Morihira,Makoto Ogata,Kazutoshi SUGIE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP3942590A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-01-26.

Method, apparatus, and device for using slice information, and storage medium

Номер патента: EP4340448A1. Автор: Qianxi Lu,Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-03-20.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Sensitivity testing method and device and inspection apparatus for a GSM communication terminal

Номер патента: US09414324B2. Автор: Lingliang Meng. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Leak resistance inspection apparatus for fuel element enclosures

Номер патента: RU2349976C1. Автор: Валерий Фёдорович Борисов,Сергей Александрович Гутов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2009-03-20.

Mask inspecting apparatus

Номер патента: US20040004195A1. Автор: Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2004-01-08.

Device for manufacturing cigarette packs and method of its control

Номер патента: RU2261198C2. Автор: Марио СПАТАФОРА. Владелец: Г.Д Сочиета`Пер Ациони. Дата публикации: 2005-09-27.

Methods and device for large-scale propagation of electronic access clients

Номер патента: RU2595904C2. Автор: Ли ЛИ,Сянин ЯН,Кевин МАКЛАФЛИН,Дэвид ХАГГЕРТИ,Джерролд ХОК,Бен ДЗУАНГ,Арун МАТИАС,Авинаш НАРАСИМХАН,Крис ШАРП,Юсуф ВАИД. Владелец: ЭППЛ ИНК.. Дата публикации: 2016-08-27.

Can seam inspection apparatus

Номер патента: WO1993003864A1. Автор: Wun Cheul Chong. Владелец: Wun Cheul Chong. Дата публикации: 1993-03-04.

Inspection apparatus for inspecting image on sheet and image forming system that inspects printed image on sheet

Номер патента: US20240357042A1. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus

Номер патента: US09982833B2. Автор: Jung Whan Yeum. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09571670B2. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Apparatus and process for perforating and stretching web

Номер патента: RU2604586C2. Автор: Джилл Марлен ОРР,Сара Бет ГРОСС,Ричард Джордж КОЕ,Лерой Джозеф КОЧЕР,Тимоти Ян МУЛЛЕЙН,Роберт Карл ИСБУРГ,Кевин Жерар МУХС. Владелец: Дзе Проктер Энд Гэмбл Компани. Дата публикации: 2016-12-10.

Phase compensated multiple moving head inspection apparatus

Номер патента: US3811553A. Автор: D Riggs. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1974-05-21.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US20200395191A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US11189459B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-30.

Method and device for eye implant delivery

Номер патента: RU2695563C2. Автор: Кит БИАНЧИ,Билл ХАРТСИГ,Скот Нанн,Мукунд ПАТЕЛ,Марк СПОНСЕЛ,Лайонел ВЕДРАЙН,Ариэль УАЙТЦ. Владелец: Форсайт Вижн4, Инк.. Дата публикации: 2019-07-24.

Apparatus and method for preparing a beverage from solvent and ingredients

Номер патента: RU2651887C2. Автор: Ван Кей Рики ХА. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2018-04-24.

Method, system and device for cryptographic protection of communication channels of unmanned aerial systems

Номер патента: RU2704268C1. Автор: Юрий Васильевич Романец,Сергей Петрович Панасенко,Владимир Кимович Сырчин,Кирилл Викторович Борисов,Ирина Евгеньевна Любушкина,Артем Владимирович Сиротин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Фирма "Анкад". Дата публикации: 2019-10-25.

Apparatus and method for insepecting cream solder printed on a substrate

Номер патента: WO2004012491A1. Автор: Takashi Katsuki,Minoru Murakami,Yuji Otake,Takahiro Fukagawa,Kimiyuki Yamasaki. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2004-02-05.

Image forming system and inspection apparatus

Номер патента: US20230396716A1. Автор: Hiroyuki Eda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Display device manufacturing apparatus and method

Номер патента: US20190341277A1. Автор: Juhee Lee,Myungsoo Huh,TaeJong Kim,Haeyoung YOO,Jaekyu Park,Hyunwoo Joo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-07.

Apparatus and method for injection moulding cap with tamperproof ring

Номер патента: RU2726538C2. Автор: Данило АЛЬБОНЕТТИ. Владелец: Сакми Кооператива Мекканичи Имола Сочьета' Кооператива. Дата публикации: 2020-07-14.

Method and device for sending feedback information, and method and device for receiving feedback information

Номер патента: EP3926869A1. Автор: Qiong JIA,Jiayin Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Print inspection apparatus, print system, print inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240364820A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-31.

Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting system having the same apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: US6038018A. Автор: Motosuke Miyoshi,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-03-14.

Apparatus and method for improved assisted ventilation

Номер патента: US20150297847A1. Автор: Clay NOLAN. Владелец: Colabs Inc. Дата публикации: 2015-10-22.

Apparatus and method for improved assisted ventilation

Номер патента: US20240277957A1. Автор: Clay NOLAN. Владелец: Colabs Medical Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Devices, systems and methods for ozone sanitization of continuous positive airway pressure devices

Номер патента: US12090241B2. Автор: Timothy Leyva,Mariusz Surowaniec,Michael U. SCHMIDT. Владелец: Soclean Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Devices, systems and methods for ozone sanitization of continuous positive airway pressure devices

Номер патента: US09907872B2. Автор: Michael Schmidt,Timothy Leyva,Mariusz Surowaniec. Владелец: Soclean Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Apparatus and method for improved assisted ventilation

Номер патента: US09757530B2. Автор: Clay NOLAN. Владелец: Colabs Inc. Дата публикации: 2017-09-12.

Dosage unit for delayed release of insecticide, measuring apparatus and device for thereof, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2501219C2. Автор: ГУЭЛЬ Эдуард МОНСОНИС,БАРЕА Хорди КОРТЕС,АРНАЛЬ Фредерик ДАЛЬМАУ. Владелец: Эс.Си.ДЖОНСОН ЭНД САН, ИНК.. Дата публикации: 2013-12-20.

Methods and devices for control of respective load currents for several in-series loads

Номер патента: RU2501195C2. Автор: Игорь А. ЛИЗ,Майк ДАТТА. Владелец: Филипс Солид-Стейт Лайтинг Солюшнз Инк.. Дата публикации: 2013-12-10.

Method and device for chemical cyclic combustion (clc) to obtain nitrogen of high degree of purity

Номер патента: RU2707224C2. Автор: Стефан БЕРТОЛЭН,Флоран ГИЛЛУ,Махди ЯЗДАНПАНАХ. Владелец: Тоталь Раффинаж Шими. Дата публикации: 2019-11-25.

Apparatuses and systems for freshwater production and brine waste recovery and methods thereof

Номер патента: CA3240266A1. Автор: Robert E. Miller,Scott E. Miller,Franklin N. KOONTZ. Владелец: Mage Llc. Дата публикации: 2023-06-15.

Apparatus and method for filtering radio frequency signals of transceiver integrated circuits

Номер патента: EP3248346A2. Автор: Scott R. Anderson,Ted J. BECK. Владелец: Cambium Networks Ltd. Дата публикации: 2017-11-29.

Method and device for agitating a grouping of cushioning articles

Номер патента: EP2812082A1. Автор: Richard A. Palumbo. Владелец: Palumbo Richard A. Дата публикации: 2014-12-17.

Semiconductor device, electronic apparatus, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: EP4391046A1. Автор: XIAOFENG Xu,Ming Wu,Eckart HOENE,Zhengyan HE,Luise PAWLAK. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Apparatus and method for filtering radio frequency signals of transceiver integrated circuits

Номер патента: US20170264243A1. Автор: Scott R. Anderson,Ted J. BECK. Владелец: Cambium Networks Ltd. Дата публикации: 2017-09-14.

Inspection apparatus capable of preventing lowering of position matching accuracy, method of controlling same, and storage medium

Номер патента: US11750747B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Apparatus and method for treating biological external tissue

Номер патента: EP1742589A2. Автор: Steve Young,Robert S. Anderson,Alon Maor. Владелец: Aesthera Corp. Дата публикации: 2007-01-17.

Apparatus and method for improved assisted ventilation

Номер патента: US20230277787A1. Автор: Clay NOLAN. Владелец: Colabs Medical Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Apparatus and method for filtering radio frequency signals of transceiver integrated circuits

Номер патента: US09948237B2. Автор: Scott R. Anderson,Ted J. BECK. Владелец: Cambium Networks Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Apparatus and methods for dilating and modifying ostia of paranasal sinuses and other intranasal or paranasal structures

Номер патента: US09713700B2. Автор: Joshua Makower,John Y. Chang,Julia D. Vrany,Amrish Jayprakash Walke. Владелец: Acclarent Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Apparatus and method for filtering radio frequency signals of transceiver integrated circuits

Номер патента: US09680415B2. Автор: Scott R. Anderson,Ted J. BECK. Владелец: Cambium Networks Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Apparatus and method of estimating displacement due to arm shake and device using said method and apparatus to obtain images

Номер патента: RU2433563C1. Автор: Чанг-Ву ЛИ,Юн-Чеол ШИН,Донг-Бум ЧОЙ,Тае-Вук НАМ,Чанг-Ву ЛИ (KR),Юн-Чеол ШИН (KR),Донг-Бум ЧОЙ (KR),Тае-Вук НАМ (KR). Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2011-11-10.

Method for stopping pipeline laying from ship (versions) and method of resuming pipeline laying from ship, vessel and connector for said ship

Номер патента: RU2600823C2. Автор: Кристиан Скайни,Терезио СИНЬЯРОЛДИ,Кимон Туллио АРДАВАНИС. Владелец: САЙПЕМ С.п.А.. Дата публикации: 2016-10-27.

Method and system for fine focusing secondary beam spots on detector for multi-beam inspection apparatus

Номер патента: WO2024013145A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Oleg Krupin,Xiaoyu JI,Zizhou GONG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US11838454B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

System and method for scanning a sample using multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20210217582A1. Автор: Joost Jeroen Ottens,Long Ma,Xuedong Liu,Weihua Yin,Youfei JIANG,Maria Johannes MAASSEN Martinus Gerardus,Wei-Te LI. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2021-07-15.

System and method for scanning a sample using multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20230274906A1. Автор: Joost Jeroen Ottens,Long Ma,Xuedong Liu,Weihua Yin,Youfei JIANG,Maria Johannes MAASSEN Martinus Gerardus,Wei-Te LI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US20230336667A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Loop mold for wearable device manufacturing

Номер патента: US20240227260A1. Автор: Antti Kalevi Lämsä. Владелец: OURA HEALTH OY. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for establishing trust without revealing identity

Номер патента: WO2004051923A1. Автор: Ernie Brickell. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2004-06-17.

System and method for establishing trust without revealing identity

Номер патента: EP1566011A1. Автор: Ernie Brickell. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2005-08-24.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US20190054425A1. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Apparatus and method for filtering radio frequency signals of transceiver integrated circuits

Номер патента: WO2016116761A2. Автор: Scott R. Anderson,Ted J. BECK. Владелец: Cambium Networks Ltd. Дата публикации: 2016-07-28.

Video encoding method and device, and video decoding method and device

Номер патента: US12075056B2. Автор: Minwoo Park,Narae Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10569228B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10118132B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-11-06.

Semiconductor manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220399222A1. Автор: WU LI,Tsubasa IMAMURA,Yuto Itagaki,Minki Chou. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-12-15.

Apparatus and method for moving and placing granulate

Номер патента: US20020094243A1. Автор: Robert Griffin,Richard Dunlop. Владелец: Air Pump Industries Inc. Дата публикации: 2002-07-18.

Systems, methods, and devices for electronic spectrum management for identifying signal-emitting devices

Номер патента: US20240214968A1. Автор: Ronald C. Dzierwa,Daniel Carbajal,David William Kleinbeck. Владелец: Digital Global Systems Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Heating control device and method for escalator system or moving sidewalk system

Номер патента: US12122640B2. Автор: Lifei Cheng,ZhaoXia Hu,Xinwei GONG,Kaisheng Xu. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Apparatus and method for controlling engine

Номер патента: US09903281B2. Автор: You Sang SON,Kyoung Pyo Ha,In Sang RYU,Kiyoung Kwon. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-02-27.

Image inspection apparatus that determines a line width of a test image, and image forming apparatus

Номер патента: US09762763B2. Автор: Toru Yamaguchi,Takahiro Kusunoki,Takashi Harashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-12.

Apparatus and method for establishing secure communication channels in an internet of things (IOT) system

Номер патента: US09729528B2. Автор: Scott Zimmerman,Joe Britt,Omar ZAKARIA. Владелец: Afero Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Methods and devices for transcatheter cerclage annuloplasty

Номер патента: US09579200B2. Автор: Ozgur Kocaturk,Robert J. Lederman. Владелец: US Department of Health and Human Services. Дата публикации: 2017-02-28.

Apparatus and method for collecting cord blood

Номер патента: US09375168B2. Автор: Miki Shacham. Владелец: SITUGEN Ltd. Дата публикации: 2016-06-28.

Apparatus and method for thin wafer transfer

Номер патента: US09349643B2. Автор: Molly Hladik,Blake Waterworth,Steven Matthew Rich,Kirk Emory. Владелец: Brewer Science Inc. Дата публикации: 2016-05-24.

Method and device for representation of feedback reports in radio communication system

Номер патента: RU2349055C2. Автор: Франческо ГРИЛЛИ,Лоренцо КАСАЧЧИЯ. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2009-03-10.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US11270866B2. Автор: Atsushi Ando,Takahiro Murata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-03-08.

Liquid-permeable device, refrigerator and method of manufacture of such device

Номер патента: RU2644593C1. Автор: Минь Ли,Эньвэй ДИН,Госинь ЮЙ,Вэйин ЧЖАН,Айминь ВАН,Юншэн СУНЬ,Жуйтао ТАО. Владелец: Циндао Хайер Джойнт Сток Ко., Лтд. Дата публикации: 2018-02-13.

Apparatus and method for handling an ophthalmic lens

Номер патента: CA2549855A1. Автор: Trevor O'neill,Fraser Wardrop. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-07.

Apparatus, system, and method of inspecting image, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20140313538A1. Автор: Hitomi Kaneko,Hiroyuki Kawamoto,Keiichi Miyamoto,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20170243716A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Charged particle beam inspection apparatus and method

Номер патента: WO2024132808A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI,Xuechen ZHU,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

A Substrate Container, a Lithographic Apparatus and a Method using a Lithographic Apparatus

Номер патента: NL2024620A. Автор: Jansen Frans,Luca Gattobigio Giovanni. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-01-29.

METHOD FOR INSPECTING SUBSTRATE, SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS, EXPOSURE SYSTEM, AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120122252A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-17.

Controller, Lithographic Apparatus, Method of Controlling the Position of an Object and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20120127449A1. Автор: BUTLER Hans,HOUKES Martijn,KAMIDI Ramidin Izair,VAN DE WIJDEVEN Jeroen Johan Maarten,VAN DE WAL Marinus Maria Johannes. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2012-05-24.

System and method for parallel processing using dynamically configurable advance co-processing cells

Номер патента: JP6740210B2. Автор: アリフォンソ イニゲス，. Владелец: アリフォンソ イニゲス，. Дата публикации: 2020-08-12.

METHOD FOR MANUFACTURING FRONT ELECTRODE OF SOLAR CELL AND SOLAR CELL DEVICE MANUFACTURED BY SAME

Номер патента: US20130319516A1. Автор: CHEN Chuan-Chi,CHIEN Jung-Wu. Владелец: Inventec Solar Energy Corporation. Дата публикации: 2013-12-05.

Device mounting apparatus and device mounting substrate manufacturing method

Номер патента: JP7154074B2. Автор: 洋介 清水. Владелец: Shibaura Mechatronics Corp . Дата публикации: 2022-10-17.

Apparatus and Method for Measurement of Radiation Intensity for Testing Reliability of Solar Cell, and Method for Testing Reliability of Solar Cell

Номер патента: US20130076382A1. Автор: Park Sang-Hyun,Gwak Jihye,Ahn Sejin,Yoon Kyung-Hoon,Shin Kee-Shik,Ahn SeoungKyu,Cho Ara,Yun Jae-Ho,Cho Jun-Sik,Yoo Jin-Su,Park Joo-Hyung,Eo Young-Joo. Владелец: KOREA INSTITUTE OF ENERGY RESEARCH. Дата публикации: 2013-03-28.

APPARATUS AND METHOD FOR MANAGING BATTERY PACK BY REFLECTING DEGRADATION DEGREE OF SECONDARY CELLS AND BATTERY PACK HAVING THE SAME

Номер патента: US20120274281A1. Автор: KIM Cheol-Taek. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2012-11-01.

System For Monitoring Foreign Particles, Process Processing Apparatus And Method Of Electronic Commerce

Номер патента: US20120002196A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ANNEALED WAFER, METHOD FOR PRODUCING ANNEALED WAFER AND METHOD FOR FABRICATING DEVICE

Номер патента: US20120001301A1. Автор: Ebara Koji,KIKUCHI Hiroyasu,Hayamizu Yoshinori. Владелец: SHIN-ETSU HANDOTAI CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ENERGY STORAGE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003535A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

INFORMATION STORAGE/READOUT DEVICE FOR USE IN CONTINUOUSLY MANUFACTURING SYSTEM FOR LIQUID-CRYSTAL DISPLAY ELEMENTS, AND METHOD AND SYSTEM FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120002154A1. Автор: Kitada Kazuo,Yura Tomokazu,Koshio Satoru,Nakazono Takuya,KIMURA Kouji,SHIMANOE Fumihito. Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR OPTIMIZING MAINTENANCE AND OTHER OPERATIONS OF FIELD DEVICES IN A PROCESS CONTROL SYSTEM USING USER-DEFINED DEVICE CONFIGURATIONS

Номер патента: US20120004743A1. Автор: . Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, RADIOLOGICAL IMAGING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001081A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR FORMING DOUBLE EMULSION DROPLET COMPOSITIONS AND POLYMER PARTICLES

Номер патента: US20120000777A1. Автор: Garrell Robin L.,Tucker-Schwartz Alexander K.,Shepherd Heather,Chatterjee Debalina. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FORMING SEMICONDUCTOR REGION AND METHOD FOR MANUFACTURING POWER STORAGE DEVICE

Номер патента: US20120003807A1. Автор: SHIMAZU Takashi,FURUNO Makoto. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ISOLATING A VIEWPORT

Номер патента: US20120000301A1. Автор: LITTLE Edwin Jackson,PAVOL Mark J.. Владелец: PRIMESTAR SOLAR. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and Method for Biogas Purification

Номер патента: US20120000357A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RESISTIVE RAM DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120001144A1. Автор: . Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPORATION APPARATUS AND METHODS

Номер патента: US20120003740A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR REPLICATING A USER INTERFACE AT A DISPLAY

Номер патента: US20120004033A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

System and Method for Joint Resurface Repair

Номер патента: US20120004663A1. Автор: . Владелец: ARTHROSURFACE INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR MONITORING A PHOTOVOLTAIC UNIT

Номер патента: US20120004870A1. Автор: Ney Jörg-Werner. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-01-05.

PAPER MACHINE BELT CONDITIONING SYSTEM, APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120000622A1. Автор: WEINSTEIN David I.,Perry Peter E.,Rivard James P.,Cirocki Pawel. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING RFID DEVICES ON SINGLE-USE CONNECTORS

Номер патента: US20120001731A1. Автор: . Владелец: GE HEALTHCARE BIOSCIENCE BIOPROCESS CORP.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR PRIORITIZING USER COMMUNICATIONS

Номер патента: US20120003959A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Novel composition and methods for the treatment of psoriasis

Номер патента: US20120003246A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of monitoring acetone low impurities in the expired air and device for its implementation

Номер патента: RU2597943C1. Автор: Александр Иванович Плеханов,Сергей Никитич Атутов,Николай Владимирович Суровцев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения Российской академии наук (ИАиЭ СО РАН). Дата публикации: 2016-09-20.

Container cover with its top part that allows needle to pass there through and sealing by heat and its bottom part compatible with fluid product containing fat, and method of its use

Номер патента: RU2395440C2. Автор: Дэниел ПАЙ,Натаниэль ХОУЛИ,Норберт ЭССИОН,Дебашиз САХОО,М. Джеффри ВИЛЛЕЙ,Эрик Е. ХАРТМАН,Джон ГУТИ. Владелец: Медикал Инстилл Текнолоджис, Инк.. Дата публикации: 2010-07-27.

METHOD FOR FORMING SILICON OXIDE FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003842A1. Автор: Tanaka Yoshinobu,Ueda Hirokazu,Ohsawa Yusuke. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001182A1. Автор: Choi Jong-Hyun,Lee Dae-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308B. Автор: Hideo Ueno. Владелец: SANFREUND CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-02.

THREE DIMENSIONAL SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001345A1. Автор: Hwang Kihyun,YANG Junkyu,Choi Hanmei,Park ChanJin,Min Gyungjin,Yoo Dongchul,Kong Yoochul. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003801A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308A. Автор: Hideo Ueno. Владелец: Sanfreund Corp. Дата публикации: 2014-05-30.

INK FOR ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, ORGANIC DISPLAY PANEL, ORGANIC DISPLAY APPARATUS, ORGANIC ELECTROLUMINESCENT APPARATUS, INK , FORMING METHOD OF FUNCTIONAL LAYER, AND ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE

Номер патента: US20120001124A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, AND EXPOSURE METHOD

Номер патента: US20120002186A1. Автор: Omura Yasuhiro,Okada Takaya,Nagasaka Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

STEREO VIDEO CODING APPARATUS AND STEREO VIDEO CODING METHOD

Номер патента: US20120002723A1. Автор: Abe Kiyofumi,Kobayashi Yuki,Maruyama Yuki,ARAKAWA Hiroshi,OHGOSE Hideyuki,URANO Katsuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Platinum Enhanced Alloy and Intravascular or Implantable Medical Devices Manufactured Therefrom

Номер патента: US20120004718A1. Автор: . Владелец: BOSTON SCIENTIFIC SCIMED, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.