인쇄회로기판 배선의 신호특성 검사를 위한 측정회로 및 그를 이용한 신호 측정방법
Номер патента: KR980003619A
Опубликовано: 30-03-1998
Автор(ы): 최성훈, 최철용
Принадлежит: 양승택, 한국전자통신연구원
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 30-03-1998
Автор(ы): 최성훈, 최철용
Принадлежит: 양승택, 한국전자통신연구원
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same
Номер патента: US20230280398A1. Автор: Kwangho Kim,Sangho Kim,Yongjin Lee,Michael Choi,Junhee Shin,Jooseong Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.