Guidance for geometrical and optical magnification in x-ray microscope
Номер патента: WO2024182373A1
Опубликовано: 06-09-2024
Автор(ы): Anke DUTSCHKE, Erich KUHLMAN, Hauyee Chang, Naomi Kotwal, Stephen Kelly, Susan Candell
Принадлежит: Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 06-09-2024
Автор(ы): Anke DUTSCHKE, Erich KUHLMAN, Hauyee Chang, Naomi Kotwal, Stephen Kelly, Susan Candell
Принадлежит: Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and system for guided parameter selection in x-ray microscope
Номер патента: WO2024182254A1. Автор: Gerhard Krampert,Brian Smyth,Naomi Kotwal,Hauyee Chang,Robin White,Justin Hanlon,Meow TAN,Anke DUTSCHKE. Владелец: Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc.. Дата публикации: 2024-09-06.