• Главная
  • Print inspection method, print inspection apparatus and automatic print sorting system

Print inspection method, print inspection apparatus and automatic print sorting system

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection system, image inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240165945A1. Автор: Kohta AOYAGI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Solder print inspecting device

Номер патента: US09471972B2. Автор: Yosuke Kamioka. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US09767547B2. Автор: Masaya Takeda,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20180293724A1. Автор: Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-10-11.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US09846928B2. Автор: Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Aligning method for use in semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20190171328A1. Автор: Chien-Hung Chen,Yung-Chin LIU,Guan-Jhih Liou,Lin-Lin Chih. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Battery cell electrode sheet inspection method and apparatus, and electronic device

Номер патента: EP4401034A1. Автор: Zhihong Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09530202B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09495740B2. Автор: Toshiyuki Watanabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US09922415B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hiroteru Akiyama,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Print system, inspection apparatus, method of controlling inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240311998A1. Автор: Shinya Suzuki,Yuki Nakatani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US12125176B2. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Pattern inspection method and its apparatus

Номер патента: US20090169093A1. Автор: Shunji Maeda,Kaoru Sakai,Takafumi Okabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-02.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20210256677A1. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

Welding mark inspection method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US12134144B2. Автор: Xiaoyi Chen,Fei Chen,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US09535015B2. Автор: Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060159333A1. Автор: Akio Ishikawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-20.

Automatic inspection apparatus for tablets and automatic packing apparatus including the same

Номер патента: KR102034539B1. Автор: 김준호. Владелец: (주)제이브이엠. Дата публикации: 2019-10-21.

Automatic inspection apparatus for tablets and automatic packing apparatus including the same

Номер патента: KR20140057943A. Автор: 김준호. Владелец: (주)제이브이엠. Дата публикации: 2014-05-14.

Rapid and automatic virus imaging and analysis system as well as methods thereof

Номер патента: US20230170178A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Rapid and automatic virus imaging and analysis system as well as methods thereof

Номер патента: US20220108443A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Method for inspecting solution discharge apparatus and method for producing device

Номер патента: US09449379B2. Автор: Takayuki Miyoshi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Image inspection method and inspection region setting method

Номер патента: US09892504B2. Автор: Anh Nguyen,Yasuyo Kotake,Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20220414833A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: US20230334649A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Inspecting apparatus, peeling apparatus, and learned model generating method

Номер патента: US20230075359A1. Автор: Yuta Mizumoto. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

System, apparatus, and method for inspecting an aircraft window

Номер патента: US12037140B2. Автор: Arif Zaman,Jeff Siegmeth. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-16.

System, Apparatus, and Method for Inspecting an Aircraft Window

Номер патента: US20240166374A1. Автор: Arif Zaman,Jeff Siegmeth. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-05-23.

Defect inspection method and apparatus therefor

Номер патента: US09897555B2. Автор: Junichi Matsumoto. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspection system, inspection apparatus, and method for controlling the inspection apparatus

Номер патента: US20210397386A1. Автор: Kimio Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335588A1. Автор: Di He. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US11961222B2. Автор: Taehyun Kim,Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang,BongSuk Kim. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: US20240231713A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: EP4400961A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Board inspection apparatus and method

Номер патента: US09470752B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Seung-Jun Lee,Bong-Ha HWANG,Yu-jin Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-10-18.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: WO2019010087A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-01-10.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US12045975B2. Автор: Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: EP3649463A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-05-13.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20240289944A1. Автор: Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

AI-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US12087421B2. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Defect inspection method

Номер патента: US20240265524A1. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inertial sensor apparatus and method for creating an NDI image with hand scanning

Номер патента: US09465046B1. Автор: Gary E. Georgeson,William Paul Motzer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240265523A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09898814B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09390493B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-12.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230281796A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230030308A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20240276103A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Image inspection apparatus, printing system, and image inspection method

Номер патента: US20240340380A1. Автор: Kazuhiro Ijichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-10.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Construction inspection method, apparatus, and system

Номер патента: US20240104714A1. Автор: Lan Jiang,Qi Wang,Quan Gan. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Visual inspection apparatus and visual inspection methods

Номер патента: US20240013370A1. Автор: Hiroshi Yamashita,Masahiro Ibe,Kojiro Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20240114096A1. Автор: Takeshi Okada,Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Image inspection apparatus, image recording apparatus, and image inspection method

Номер патента: US20130057886A1. Автор: Takuya Yasuda. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-07.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230260104A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230239412A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Ground point cloud segmentation method and apparatus and automatic vehicle

Номер патента: US20240242356A1. Автор: Qi Kong,Xinyu Xu,Cong Ding,Jinbiao Lin. Владелец: Jingdong Kunpeng Jiangsu Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20200294223A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20190228521A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US11094051B2. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: US20230306586A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230070161A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Print control method, print driving device, image forming apparatus, and storage medium

Номер патента: CN113064560A. Автор: 余涵,商云鹰. Владелец: Zhuhai Pantum Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-02.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: EP4341660A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Nuovo Pignone Technologie Srl. Дата публикации: 2024-03-27.

Inspection method for bearing part and inspection apparatus for bearing part

Номер патента: US09702834B2. Автор: Toshihiko Sasaki,Kazuhiro Yagita,Takumi Fujita,Youichi Maruyama. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Wafer visual inspection apparatus and wafer visual inspection method

Номер патента: US20240257336A1. Автор: Tatsuya Osada. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: CA3218543A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-24.

Tire appearance inspection apparatus and method

Номер патента: US09677879B2. Автор: Tomoyuki Kaneko,Akinobu Mizutani. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09542737B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09495736B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Image processing method, apparatus and device

Номер патента: EP3859670A1. Автор: Yu Li,Tizheng WANG,Feilong MA,Xiujie HUANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US20160098828A1. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US09953407B2. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Substrate inspection system, substrate inspection method and recording medium

Номер патента: US20200386538A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Toyohisa Tsuruda,Yasuaki Noda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-10.

Live voting on time-delayed content and automatically generated content

Номер патента: WO2018125521A1. Автор: Meng Shi,Glen J. Anderson,John Gaffrey. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2018-07-05.

Substrate inspection apparatus and substrate treatment system including the same

Номер патента: US20240142389A1. Автор: Dong Min Park,Jeong Hoon Han,Jun Hyun LIM,Oh Yeol KWON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Tire appearance inspection apparatus

Номер патента: US09710904B2. Автор: Yoshitaka Fujisawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Printed image inspecting apparatus and printed image inspecting method

Номер патента: US20150002887A1. Автор: Toshihiro Sato,Shiro Koike,Atsushi Imamura,Tomotaka KATO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Management and control system for an inspection apparatus

Номер патента: US12067701B2. Автор: Nadav Leshem,Edo Reshef. Владелец: Inspect Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Transfer/Inspection Apparatus and Transfer Apparatus

Номер патента: US20070273875A1. Автор: Fow-Lai Poh,Masahiro Yaguchi,Tamaya Ubukata. Владелец: Tsukuba Seiko Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Enhanced roadway mark locator, inspection apparatus, and marker

Номер патента: US09784843B2. Автор: Matthew W. Smith,William R. Haller,Douglas D. DOLINAR,Charles C. Stahl. Владелец: Limn Tech LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

System and method for warehouse operation and automatic order fulfillment

Номер патента: EP4396111A2. Автор: Jan Zizka,Tomas Kovacovsky,Michal Maly. Владелец: Photoneo sro. Дата публикации: 2024-07-10.

Methods, apparatuses, and systems for operating an automated storage and retrieval system

Номер патента: EP4365799A1. Автор: Adin Lane Richardson. Владелец: INTELLIGRATED HEADQUARTERS LLC. Дата публикации: 2024-05-08.

Image inspection method and apparatus, and ink jet printing apparatus

Номер патента: US09792514B2. Автор: Masayuki UKISHIMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Image inspecting apparatus, image inspecting method and image inspecting program

Номер патента: US20190272630A1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Early detection of turning and automatic response by the vehicle

Номер патента: US09701241B2. Автор: Kaushik Raghu,Premkumar Natarajan. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2017-07-11.

Object inspection apparatus and object inspection method using same

Номер патента: US11908123B2. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Choung Min JUNG,Han Rim KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-20.

Medicine package inspection apparatus

Номер патента: US09731909B2. Автор: Jun Ho Kim. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240133682A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Automatic switching apparatus and automatic switching method

Номер патента: US20180239732A1. Автор: Sin-Hong Chen,Shang-Yi Yang,Tze-an Shen. Владелец: Aten International Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-23.

Apparatus and method for automatically analyzing malicious event log

Номер патента: EP4435649A1. Автор: Seung Chul Han,Hyo Seop BANG,Dong Hwan SUN. Владелец: NPCORE Inc. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240361244A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-10-31.

Apparatus and method for automatically performing system configuration

Номер патента: US20090259782A1. Автор: Chih-Feng Chen,Zigui Luo. Владелец: Inventec Corp. Дата публикации: 2009-10-15.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09542586B2. Автор: Eiji Matsumoto,Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Apparatus and methods for managing content

Номер патента: EP2601598A1. Автор: Thomas F. Doyle. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2013-06-12.

Apparatuses and methods for inputting a uniform resource locator

Номер патента: US09921735B2. Автор: Ming He,Ningjun DOU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Expert answer platform methods, apparatuses and media

Номер патента: US09735973B2. Автор: Arshia Tabrizi,Michael Jarema. Владелец: VIDOYEN Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

System, Apparatus and Method for Supporting Formal Verification of Informal Inference on a Computer

Номер патента: US20240095554A1. Автор: Eric Burton Baum. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-21.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Artificial intelligent based clothes handling apparatus and driving method of the same

Номер патента: US20210381149A1. Автор: Yunsik PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-12-09.

Method for dynamic and automatic creation of user interfaces

Номер патента: EP3216196A1. Автор: Chris Muench. Владелец: C Labs Corp. Дата публикации: 2017-09-13.

Apparatus and method of compressing neural network

Номер патента: US12124957B2. Автор: Youngmin OH. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-22.

Apparatus and method for displaying thumbnails

Номер патента: US09703867B2. Автор: Jin-Young Jeon,Young-Seop Han,Suk-Soon Kim,Bum-Taek LIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-11.

Inspection apparatus and reference image generation method

Номер патента: US20240257300A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US12106532B2. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Methods, apparatuses and computer program products for automated learning of data models

Номер патента: US09811605B2. Автор: Marwan Badawi Sabbouh. Владелец: Here Global BV. Дата публикации: 2017-11-07.

Method for splitting screen on mobile computing apparatus and system thereof

Номер патента: US20240146823A1. Автор: Yoo Jung Kim,In Pyo Kim,Mi Geon CHO,Da Gun LEE. Владелец: Samsung SDS Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Point of sale tax reporting and automatic collection system with tax register

Номер патента: WO1996036948A2. Автор: Paul A. Francisco,Frederick J. Petschauer. Владелец: Petschauer Frederick J. Дата публикации: 1996-11-21.

Method for scanning documents and automatically controlling the further processing of the documents

Номер патента: US20140126027A1. Автор: Thomas Meschede. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-05-08.

Remotely deploying and automatically customizing workstation images

Номер патента: US20120072560A1. Автор: Izzac Gonzalez,Carl D. Jacobs,Brandon T. DeCoster. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-03-22.

Method for accessing and automatically correlating data from a plurality of external data sources

Номер патента: US20150370843A1. Автор: Oswaldo Cavalcanti Dantas, Jr.. Владелец: YTRAIL AG. Дата публикации: 2015-12-24.

Electronic parking disc and automatic parking timekeeping method

Номер патента: EP4447010A1. Автор: Xing Min,Xiaoyong Yao. Владелец: Hangzhou Royal Craft Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Framework for dependency management and automatic file load in a network environment

Номер патента: US09785452B2. Автор: Lokesh Kumar Nandagopal,Deepesh Eliyot. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Apparatus and method for automatically adjusting camera

Номер патента: US8553083B2. Автор: Hyun-Soo Kim,Seong-taek Hwang,Sang-Ho Kim,Sang-Wook Oh,Sung-cheol Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-10-08.

Software inspection apparatus

Номер патента: US20170364432A1. Автор: Masataka Nishi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-21.

Browser extension for field detection and automatic population

Номер патента: US12045564B2. Автор: Kunal Arora,Matthew DE GANON,Dwij Trivedi. Владелец: Capital One Services LLC. Дата публикации: 2024-07-23.

Software design and automatic coding for parallel computing

Номер патента: WO2012037168A3. Автор: Kevin D. Howard. Владелец: Massively Parallel Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-07-05.

Software design and automatic coding for parallel computing

Номер патента: US20120066664A1. Автор: Kevin D. Howard. Владелец: Massively Parallel Technologies Inc. Дата публикации: 2012-03-15.

Multiple-platform estimating and automatic quoting for network-based parts resale

Номер патента: WO2005043343A3. Автор: Deathe Davis,Jay F Scruton,Orson P Davis. Владелец: Ps Holding Llc. Дата публикации: 2006-04-13.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: WO2023278715A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc.. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: CA3223326A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: EP4364034A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Combined code searching and automatic code navigation

Номер патента: US09727635B2. Автор: David Carroll Shepherd,Brian P. Robinson. Владелец: ABB Research Ltd Switzerland. Дата публикации: 2017-08-08.

Method and system for electronic order entry and automatic processing of photomask orders

Номер патента: WO2004003814A3. Автор: Pascal Huyghe,William B Knighton. Владелец: Dupont Photomasks Inc. Дата публикации: 2004-04-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20160054366A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2016-02-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2014167838A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

Distributed type traffic line tracing apparatus, and method using the same

Номер патента: US11895560B2. Автор: Jae-chern Yoo. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-02-06.

Automatic analysis system and automatic analysis method for infrastructure operation data

Номер патента: US20240036562A1. Автор: Hoyoun Jang,Yeonggeun Park,Woong HEO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Method and system for building training database using automatic anomaly detection and automatic labeling technology

Номер патента: US20230385333A1. Автор: Jeong Hun CHAE. Владелец: AImatics Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Print system, printing apparatus, method of controlling the printing apparatus, and storage medium

Номер патента: US11947853B2. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200250467A1. Автор: Eiji Matsumoto,Masaya Takeda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

Service method, service system and manufacturing / inspection apparatus

Номер патента: US20040260660A1. Автор: Hiroyoshi Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-23.

Automatically printing only pages containing blank signature lines

Номер патента: US20150331644A1. Автор: Ramesh Nagarajan. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2015-11-19.

Secondary battery inspection apparatus and method

Номер патента: US20200350637A1. Автор: Kwangyong YOU,Sunggeun JI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-05.

Charge Protocol Inspection Apparatus and Operating Method Thereof

Номер патента: US20240353497A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Welding inspection apparatus

Номер патента: CA3237559A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-11.

OPTICAL NON-DESTRUCTIVE INSPECTION METHOD AND OPTICAL NON-DESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20150355031A1. Автор: Matsumoto Naoki,MATSUMOTO Jun,YOSHIDA Kouya,SEO Ryotaro. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

Continual inspection method for axle assembly and inspection apparatus thereof

Номер патента: KR102149428B1. Автор: 류덕현. Владелец: 류덕현. Дата публикации: 2020-08-28.

Optical non-destructive inspection method and optical non-destructive inspection apparatus

Номер патента: EP3431972B1. Автор: Naoki Matsumoto,Hiroshi Ohara,Daisuke Kuroda,Ryota Umezawa. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2022-06-15.

POWDER RESIN FLOW INSPECTION METHOD AND POWDER RESIN FLOW INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20200300741A1. Автор: Suzuki Yosuke,Miyanaga Kenji,ENDO Takao,Kunieda Hiroshi,Sugai Naofumi. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

Air tight container of easy to leak inspection and inspection method of using it and inspection apparatus

Номер патента: KR101512298B1. Автор: 강성일. Владелец: 강성일. Дата публикации: 2015-04-15.

Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus

Номер патента: US11975410B2. Автор: Koji Funami. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus

Номер патента: US20240261907A1. Автор: Koji Funami. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Masaki Tatsumi,Haruo Takahashi,Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US09651607B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3206020A3. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130222004A1. Автор: Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2013-08-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09759656B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09450536B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US11916199B2. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Leak inspection method and leak inspection apparatus

Номер патента: US12046783B2. Автор: Satoshi Oyama,Yutaka Ebato,Takaaki Mitsuoka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection method and apparatus for piping

Номер патента: US20020090048A1. Автор: Fuminobu Takahashi,Masakazu Hisatsune,Makiko Miyauchi,Yuuichirou Mizumachi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-07-11.

Low-Voltage Alternating Current-Based Led Light With Built-In Cooling And Automatic Or Manual Dimming

Номер патента: US20170264690A1. Автор: Yvette Seifert Hirth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-14.

Low-voltage alternating current-based LED light with built-in cooling and automatic or manual dimming

Номер патента: US10728986B2. Автор: Yvette Seifert Hirth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-07-28.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US20140311223A1. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US9885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US09885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Low-voltage alternating current-based led light with built-in cooling and automatic or manual dimming

Номер патента: US09795006B2. Автор: Yvette Seifert Hirth. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection apparatus for a pressure vessel

Номер патента: US20230123853A1. Автор: Yong Joo Cho,Yong Ho Kim,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US20150015297A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-15.

Inspection method and apparatus using nuclear magnetic resonance

Номер патента: US5754047A. Автор: Yo Taniguchi,Etsuji Yamamoto,Hiroyuki Itagaki,Yukari Onodera. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 1998-05-19.

Optical stacked structure inspecting method and optical stacked structure inspecting apparatus

Номер патента: EP1719971B1. Автор: Yuki Nakamura. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-26.

ROTATION METHOD, INSPECTION METHOD, METHOD OF MANUFACTURING BEARING, BEARING, ROTATION APPARATUS, AND INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20180080500A1. Автор: Tanaka Yutaka,OOE Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

INSPECTION METHOD FOR BEARING PART AND INSPECTION APPARATUS FOR BEARING PART

Номер патента: US20150146857A1. Автор: FUJITA Takumi,Yagita Kazuhiro,Sasaki Toshihiko,Maruyama Youichi. Владелец: NTN CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

OPTICAL NON-DESTRUCTIVE INSPECTION METHOD AND OPTICAL NON-DESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20140339429A1. Автор: Matsumoto Naoki,YOSHIDA Kouya. Владелец: JTEKT CORPORATION. Дата публикации: 2014-11-20.

DEVICE INSPECTION METHOD, PROBE CARD, INTERPOSER, AND INSPECTION APPARATUS

Номер патента: US20170256324A1. Автор: KAGAMI Tetsuya,SUZUKI Kanji. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-07.

VEHICLE LAMP, INSPECTION METHOD OF VEHICLE LAMP, AND INSPECTION APPARATUS FOR VEHICLE LAMP

Номер патента: US20190271596A1. Автор: Aoki Yusuke. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

Apparatuses and methods for automatic printing press optimization

Номер патента: US8358438B2. Автор: Bruce Jackson,Ehud Chatow,Amiran Lavon. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2013-01-22.

Apparatuses and methods for automatic printing press optimization

Номер патента: WO2007120141A1. Автор: Amiran Lavon,Bruce J. Jackson,Udi Chataw. Владелец: Hewlett-Packard Development Company, L.P.. Дата публикации: 2007-10-25.

Method for forming printing inspection data

Номер патента: WO2004017703A2. Автор: Takashi Katsuki,Yuji Otake,Takahiro Fukagawa. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2004-02-26.

Method for forming printing inspection data

Номер патента: WO2004017703A3. Автор: Takashi Katsuki,Yuji Otake,Takahiro Fukagawa. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-27.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing device

Номер патента: US20240262116A1. Автор: Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Computing system, apparatus and method for automated dynamic geofencing on machines

Номер патента: AU2021401882A1. Автор: Matthew Fike,Vijayakumar Ramasamy,Micheal D. Valerio. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Inspection apparatus and component mounting system having the same

Номер патента: US12108536B2. Автор: Jeongyeob KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Sample inspection apparatus and control method thereof

Номер патента: US09476896B2. Автор: Jin Soo Park,Soo Hong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Vial grabber inspection apparatus

Номер патента: US20210325416A1. Автор: Mitchell Olin Setzer, SR.,Mitchell Olin Setzer, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-21.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US12050302B2. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Semiconductor ingot inspecting method and apparatus, and laser processing apparatus

Номер патента: MY197791A. Автор: YAMAMOTO RYOHEI,Hirata Kazuya,Takahashi Kunimitsu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-07-14.

Apparatus and method for automatic pallet builder calibration

Номер патента: US20230278221A1. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Tristan Bouchard,Yannick Delisle. Владелец: Symbotic Canada ULC. Дата публикации: 2023-09-07.

Apparatus and method for automatic pallet builder calibration

Номер патента: WO2023155003A1. Автор: Christian Simon,William LÉGARÉ,Tristan Bouchard,Yannik DELISLE. Владелец: Symbotic Canada, Ulc. Дата публикации: 2023-08-24.

Pattern inspection method, pattern formation control method, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US9433967B2. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Tennis Ball Sorter Apparatus and Methods of Using the Same

Номер патента: US20180326263A1. Автор: Christopher Rausch,Caroline Rausch,Rutu Brahmbhatt,Erin Cook. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-15.

Method of controlling and automatically restarting an automatic machine for processing tobacco articles

Номер патента: EP1457121A3. Автор: Fiorenzo Draghetti. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2005-04-27.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: US09446434B2. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Analysis, measurement and automatic classification system of road routes and operation method thereof

Номер патента: EP3497406A1. Автор: Paolo ANDREUCCI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-19.

Method for detecting, controlling and automatically compensating pressure in a polishing process

Номер патента: US20190126433A1. Автор: Yong Qiang Chen. Владелец: Tung Hung Automation Investment Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Method for detecting, controlling and automatically compensating pressure in a polishing process

Номер патента: US11623323B2. Автор: Yong Qiang Chen. Владелец: Tung Hung Automation Investment Ltd. Дата публикации: 2023-04-11.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: EP3274095A1. Автор: Jung-ki MIN,Young-Goun Lee,Jong-Gun Lee,Hyun-ju Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-31.

Computing system, apparatus and method for automated dynamic geofencing on machines

Номер патента: AU2021401882A9. Автор: Matthew Fike,Vijayakumar Ramasamy,Micheal D. Valerio. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230247312A1. Автор: Hiroki Nakajima,Masaru Ishida,Mikio Shibukawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Welding facility inspecting apparatus

Номер патента: US9976965B2. Автор: Bokdeok SEO,Seongrae NHO,Jimyeon SONG. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Integrated and automatic eyeglass temple assembly device

Номер патента: US20200004053A1. Автор: Jun Deng,Chuliang He. Владелец: Dongguan University of Technology. Дата публикации: 2020-01-02.

Produce sorting systems and methods

Номер патента: US20220219207A1. Автор: Ian Robert Madden. Владелец: DURAND-WAYLAND Inc. Дата публикации: 2022-07-14.

Inspection apparatus

Номер патента: US12036790B2. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: US20240280442A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-08-22.

Can seam inspection apparatus

Номер патента: WO1993003864A1. Автор: Wun Cheul Chong. Владелец: Wun Cheul Chong. Дата публикации: 1993-03-04.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180038808A1. Автор: DONG Lin,Hong Wang,Bin Hu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Jin Cui,Xianshun Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255444A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255445A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180180761A1. Автор: Hongqiu Wang,Guohua Wei,Yumin Yi,Hu Tang,Jianhong Zhang,Nei Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Hole Inspection Apparatus and Hole Inspection Method using the Same

Номер патента: US20090152461A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Reel-to-reel inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09671352B2. Автор: Suck-Ha WOO,Je-Youn JEE,Ki-Sang MOON. Владелец: Haesung DS Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Insulation inspection method and insulation inspection apparatus

Номер патента: US09606162B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Power theft inspection apparatus and power theft inspection method

Номер патента: US09476917B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Wafer surface inspection apparatus and wafer surface inspection method

Номер патента: US7420668B2. Автор: Kazuhiro Zama,Masayuki Hachiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-09-02.

Wafer surface inspection apparatus and wafer surface inspection method

Номер патента: US20070182957A1. Автор: Kazuhiro Zama,Masayuki Hachiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-09.

Apparatus and method for switching audio mode automatically

Номер патента: US20040122663A1. Автор: So Kim,Jun Ahn. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2004-06-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210140898A1. Автор: Tsutomu SAKUYAMA,Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09880196B2. Автор: Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method

Номер патента: US09874594B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09535108B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210405089A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US20150062570A1. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240248055A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210010959A1. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20210148837A1. Автор: Akihiro Takeda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP4396568A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11761704B2. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240302292A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-12.

X-ray inspection apparatus and inspection method of x-ray sensor unit

Номер патента: EP4435418A1. Автор: Keisuke Yoshida,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09557277B2. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09534957B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspection method for lithography

Номер патента: US09494872B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Marcus Adrianus Van De Kerkhof,Maurits van der Schaar,Kaustuve Bhattacharyya. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240369502A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090073430A1. Автор: Osamu Iwase. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

An apparatus and method for automatically displaying information

Номер патента: WO1999039252B1. Автор: Jae Young Kim,Tae Sin Ha,Myun Woo Lee,Chang Kyu Cho. Владелец: Hitouch Inc. Дата публикации: 2000-08-24.

Power theft inspection apparatus and method, and recording medium

Номер патента: US09927468B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Inspection methods and apparatuses for liquids

Номер патента: US09746404B2. Автор: Rui Fan,Hongqiu Wang,Yumin Yi,Huacheng Feng. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Номер патента: US20160225300A1. Автор: Chae-Han Hyun,Young-Taeg Jung,Jung-Hun Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Wavefront analysis inspection apparatus and method

Номер патента: EP2403396A1. Автор: Elie Meimoun. Владелец: Meimoun Elie. Дата публикации: 2012-01-11.

Hose preparation apparatus and method therefor

Номер патента: US20010003860A1. Автор: Thomas R. Clark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-21.

Panel inspecting apparatus and method

Номер патента: US09759665B2. Автор: Jin-woo Ahn,Hyeong-min Ahn,Tae-Yong Jo,Myoung-Ki Ahn,Tae-hyoung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Nondestructive inspection apparatus and inspection system of structure

Номер патента: US09746435B2. Автор: Yoshinori Ogawa,Michinobu Mizumura,Koichi Kajiyama. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Panel inspection apparatus and display panel

Номер патента: US09633588B2. Автор: Qibiao LV,Jehao Hsu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Phased array ultrasonic bolt inspection apparatus and method

Номер патента: US09429546B2. Автор: Zafir A. M. Abdo,Jason E. Williams,Thomas F. Quinn,Derrick Marcantel. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Method of determination, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US20130245979A1. Автор: Hiroya Kakimoto. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2013-09-19.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US20170112314A1. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-27.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US12007523B2. Автор: Jian Wu,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

Method of manufacturing organic el display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US20160247734A1. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-08-25.

Apparatus and method for inspecting poly-silicon

Номер патента: US7505155B2. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-17.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US12072181B2. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Portable inspection apparatus for X-ray tomography

Номер патента: US8031833B2. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-10-04.

Optical disk inspecting apparatus and method

Номер патента: US20100091626A1. Автор: Mitsumasa Kubo. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-15.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090207406A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-20.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20100273115A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Magnetic transfer apparatus and magnetic recording medium

Номер патента: MY131410A. Автор: Masaki Kondo,Mitsuo Kobayashi,Eiichi Fujisawa. Владелец: Fuji Elec Device Tech Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP2093611A3. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-27.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection apparatus and adjusting method

Номер патента: US09885670B2. Автор: Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: US09816938B2. Автор: Ajharali Amanullah. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Panel inspection apparatus and method

Номер патента: US09810640B2. Автор: Chao-Yi Yeh,Chih Yuan Liu,Pin-Chuan SU,Shang-Iun YANG. Владелец: Cheng Mei Instrument Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline

Номер патента: US09733216B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Aldo Canova. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-08-15.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240369356A1. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-07.

Light source apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US09696568B2. Автор: Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Method of manufacturing organic EL display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US09524914B2. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Internal pressure inspection apparatus and method for a sealed container

Номер патента: US09453776B2. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: EP3622263A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-03-18.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: WO2018209048A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2018-11-15.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A3. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-07-17.

Wafer surface defect inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12044631B2. Автор: Chia-Chi Tsai,I-Ching Li,Shang-Chi WANG,Miao-Pei Chen,Han-Zong Wu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Failure analysis method, apparatus, and program for semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20100241374A1. Автор: Masafumi Nikaido. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Inspection apparatus and methods for precision vibration-isolation tabletops

Номер патента: GB2587498A. Автор: B V Moutafis Alexander,Owens Robitaille Luc. Владелец: Technical Manufacturing Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Apparatus and method

Номер патента: GB2606534A. Автор: Aretos Anastasios,David Hall Liam,Conner Mclean Calum. Владелец: Nsonify Ltd. Дата публикации: 2022-11-16.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20120140211A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-07.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11175239B2. Автор: Akira Yabuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: US20010035951A1. Автор: Hisashi Isozaki,Hiroshi Yoshikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US12075537B2. Автор: Hiroaki Agawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus, and abnormality detection method

Номер патента: US09702754B2. Автор: Satoshi Sone. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Inspection apparatus

Номер патента: US20030028836A1. Автор: Jaime Maeda,Agemilson Da Silva,Fabio Cabral,Luis Pinheiro,Odiletil Silva,Cesar Peres. Владелец: Sony da Amazonia Ltda. Дата публикации: 2003-02-06.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Mask inspection apparatus and image creation method

Номер патента: WO2010089954A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura,Toshimichi Iwai,Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US10578847B2. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-03.

Apparatus and method for minimum energy tracking loop

Номер патента: US11824546B2. Автор: Jong Woo Kim,Bai Sun Kong. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2023-11-21.

Optical article inspection apparatus and method

Номер патента: EP4423474A1. Автор: Willard BEAMER,Forrest Blackburn,Neil Murphy,Joshua Hazle,Adam CHOROS,Laura ASKEW-CRAWFORD. Владелец: Transitions Optical Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US20170343783A1. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Automatic analyzer and automatic analysis system

Номер патента: US20240345109A1. Автор: Kenta Imai,Yuto Itagaki,Miwa Takeuchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Apparatus and method for detecting disease in dairy animals

Номер патента: US09766263B2. Автор: István Gyöngy,Robert Eric Boyce,Antonia Catherine White. Владелец: Icerobotics Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: WO2000009271A1. Автор: Steven A. Bresnahan,Kenneth A. Welchman,Henry J. Conaty, Jr.. Владелец: ACUSHNET COMPANY. Дата публикации: 2000-02-24.

X-ray cassette with radiation conversion window (mev-kev) and automatic loader

Номер патента: EP1502152A1. Автор: Boris Rapoport,Amir Berger,Jacob Koren. Владелец: Orex Computed Radiography. Дата публикации: 2005-02-02.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20220005666A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-01-06.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20200075287A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-03-05.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20140354799A1. Автор: Masafumi Asano,Tomoko Ojima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: US20030090659A1. Автор: Henry Conaty,Steven Bresnahan,Kenneth Welchman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-15.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20140168410A1. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US8670115B2. Автор: Yuji Miyoshi,Kazuhisa Hasumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Inspection apparatus for detecting defects in transparent substrates

Номер патента: EP1599722A2. Автор: Jason Hiltner,Kevin Gahagan. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2005-11-30.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US12105029B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Hole inspection method and apparatus

Номер патента: US09874436B2. Автор: Victor Vertoprakhov,Tian Poh Yew. Владелец: VISIONXTREME PTE LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Defect inspecting method and defect inspecting apparatus

Номер патента: US09841384B2. Автор: Toshiyuki Nakao,Shigenobu Maruyama,Yuta Urano,Akira Hamamatsu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices

Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US09519212B2. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Apparatus and method for a card dispensing system

Номер патента: US20050051965A1. Автор: Prem Gururajan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-10.

Apparatus and method for seamless data transfer to a cloud network

Номер патента: EP3143729A1. Автор: Kenneth Wayne Crawford,Stephen PAVLOSKY. Владелец: GE Intelligent Platforms Inc. Дата публикации: 2017-03-22.

Automatic navigation method and automatic navigation system

Номер патента: US20120116674A1. Автор: Shang-Yuan Cheng,Szu-Han TZAO,Jong-Jeng Hong. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2012-05-10.

Pouch cell deformation inspection device and deformation inspection method using same

Номер патента: EP4439776A1. Автор: In Jae Jang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Photomask inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US20240361684A1. Автор: Hsin-fu Tseng,Chien-Lin Chen,Chih-Wei Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection method and apparatus and lithographic apparatus

Номер патента: US09952518B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-24.

Automatic transport control method and automatic transport system using automatically guided vehicle

Номер патента: EP4361747A1. Автор: Dong Su Kim,Junyeong KIM. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Apparatus and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240077424A1. Автор: Hidong Kwak,Jeongho Ahn,Seulji SONG,Hyunwoo RYOO,Minji Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Manufacture defect analyzer with detecting function and inspecting method thereof

Номер патента: US20060221339A1. Автор: Yuan-Chiang Lee. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2006-10-05.

Ultrasonic inspection method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US11630085B2. Автор: Sou Kitazawa,Kazuya Ehara,Junichiro Naganuma,Yasuhiro NIDAIRA. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2023-04-18.

Apparatus and method for inspecting material of an object

Номер патента: US09897540B2. Автор: Ning Duan,Chao-Hung Ma,zhi-ling Chen,Shen-Kang Li. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Can body inspection apparatus and method

Номер патента: US09885667B2. Автор: Masayuki Nakamura,Wataru Ookubo. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Rotary member inspection method and rotary member inspection apparatus

Номер патента: US20230408352A1. Автор: Masazumi MIYAGO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

An iot based agricultural robot for extracting underground crops and automatic irrigation system

Номер патента: AU2021102485A4. Автор: Ravinder Pal Singh,Jasmeen Gill,Monika Mehra. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-01.

Non-Destructive Inspection Methods, Systems and Apparatuses Using Focusable X-Ray Backscatter Detectors

Номер патента: US20200371049A1. Автор: Morteza Safai. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-11-26.

Method, apparatus and system for inspecting a workpiece having a curved surface

Номер патента: WO2008157665A1. Автор: Hien T. Bui,Barry A. Fetzer. Владелец: The Boeing Company. Дата публикации: 2008-12-24.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Substrate inspection method and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20200025692A1. Автор: Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Radiation failure inspecting method and radiation failure inspecting apparatus

Номер патента: US20120211664A1. Автор: Mikito Nakajima. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Non-destructive inspection methods, systems and apparatuses using focusable x-ray backscatter detectors

Номер патента: EP3742156A1. Автор: Morteza Safai. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-11-25.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Surface inspection method and surface inspection apparatus

Номер патента: US20130194568A1. Автор: Teruyoshi Shimizu,Motonobu HATSUDA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2013-08-01.

Photomask inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12072621B2. Автор: Hsin-fu Tseng,Chien-Lin Chen,Chih-Wei Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus

Номер патента: US09506872B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Surface inspection method and surface inspection apparatus for steel sheet coated with resin

Номер патента: US09389169B2. Автор: Kaoru Tanaka,Jun Sakai,Akira Kazama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Projection apparatus and automatic projection adjustment method

Номер патента: US20220353480A1. Автор: Chien-Wei Wang,Chih-Lin Wang,Po-Yen Wu. Владелец: Coretronic Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Cutting apparatus and automatic cutting system of blade's raw material of blanking die

Номер патента: WO1993011900A1. Автор: Byung Jun Song. Владелец: Byung Jun Song. Дата публикации: 1993-06-24.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011919A1. Автор: Yoichi Karaki,Shinnosuke Ichikawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060098863A1. Автор: SHINJI Ueyama,Akio Ishikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-11.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20060192953A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-08-31.

Automatic test system and automatic test method for integrated-circuit devices

Номер патента: US20240003963A1. Автор: Chih-Hsiang Hsiao,Chao-Kun LEE,Cheng-En YU. Владелец: Kingston Digital Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: EP2002473A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-17.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: WO2007114642A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-10-11.

Inspection apparatus and method adapted to a scanning technique employing a rolling wire probe

Номер патента: US20030006757A1. Автор: Tak Eun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-09.

Systems and methods for robust and automatic face de-identification for CT and MRI

Номер патента: US12033740B2. Автор: Xue Feng,Quan Chen,Vasileios K. Papaioannou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-09.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20110129239A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US8448932B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3201565A1. Автор: Liam Hall. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-08-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20210382396A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230004093A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20240280520A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Takashi Hiroi,Yuko Otani,Yuya Isomae,Masakazu Kanezawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Shape inspecting device and shape inspecting method

Номер патента: EP3719442A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-10-07.

Apparatus and methods for identifying a mailpiece using an identification code

Номер патента: US20060091210A1. Автор: Bruce Brandt,Jay Fadely,Oscar Avant. Владелец: US Postal Service (USPS). Дата публикации: 2006-05-04.

Cuts control device in a visual control machine and automatic selection

Номер патента: WO2014136133A1. Автор: Oscar SALVA' DANIEL. Владелец: Doss Visual Solution S.R.L.. Дата публикации: 2014-09-12.

Synchronization and automatic resynchronization of multiple incremental recorders

Номер патента: WO1993018508A1. Автор: Joseph B. Curasi,Frank D. Wright. Владелец: Grumman Aerospace Corporation. Дата публикации: 1993-09-16.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4434919A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection apparatus

Номер патента: US12124176B2. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Pinball machine with animated playfield components and automatic level detection

Номер патента: US09604129B2. Автор: Gerald Stellenberg. Владелец: MULTIMORPHIC Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Inspection apparatus

Номер патента: US09601302B2. Автор: Takeshi Murakami,Tsutomu Karimata,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Automated cancer therapy apparatus and method of use thereof

Номер патента: US10993680B2. Автор: W. Davis Lee,Susan L. Michaud,Mark R. Amato,James P. Bennett,Jillian Reno,Nick Ruebel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-05-04.

Electronic control apparatus having learn and automatic operate modes

Номер патента: US3689892A. Автор: David A Glenn,David N Lytle. Владелец: Electroglas Inc. Дата публикации: 1972-09-05.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: US7423745B2. Автор: Hideyuki Moribe,Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Automatic decking and automatic fastening system

Номер патента: CA2286426C. Автор: John Campbell,Rino A. Fedato. Владелец: Motors Liquidation Co. Дата публикации: 2004-04-13.

Apparatus and method for detecting a dust particle having high purity inert gas atmosphere

Номер патента: US5574276A. Автор: Toshiyuki Ishimaru. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1996-11-12.

Gain stabilization apparatus and methods for spectral gamma ray measurment systems

Номер патента: CA2532930C. Автор: Medhat Mickael. Владелец: WEATHERFORD CANADA PARTNERSHIP. Дата публикации: 2013-11-26.

Apparatus and method for testing powder properties

Номер патента: US5583304A. Автор: Sanyasi R. Kalidindi. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-12-10.

Test apparatus for testing semiconductor packages and automatic test equipment having the same

Номер патента: US11614483B2. Автор: Jaehyun Kim,Dahm YU,Hyunmin Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-28.

Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method

Номер патента: US20190162756A1. Автор: Masato Utsumi. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Inspection apparatus and inspection method for light emitting device

Номер патента: US20130050691A1. Автор: Syu JIMBO,Norie Yamaguchi,Keita KOYAHARA. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230314362A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Test apparatus for testing semiconductor packages and automatic test equipment having the same

Номер патента: US20210325450A1. Автор: Jaehyun Kim,Dahm YU,Hyunmin Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-10-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Automated analyzer, automatic analysis system, and automatic sample analysis method

Номер патента: US11977050B2. Автор: Masashi Fukaya,Akihiro Yasui. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200064374A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A3. Автор: Yoram Koren,Stephen B Segall. Владелец: Stephen B Segall. Дата публикации: 2005-07-07.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20090244530A1. Автор: Susumu Iida,Shunsaku Kubota. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Evaluation apparatus and probe position inspection method

Номер патента: US9804197B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Norihiro Takesako. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Intrusion warning and automatic house lighting system

Номер патента: CA1198492A. Автор: Martial Chapdelaine. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-12-24.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA2821100C. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Dynamically extensible and automatically configurable building automation system and architecture

Номер патента: GB2445489A. Автор: Sean M Mccoy,David M Richards. Владелец: Trane International Inc. Дата публикации: 2008-07-09.

Powder granule sample inspection apparatus

Номер патента: US5261285A. Автор: Katsumi Tokoyama. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1993-11-16.

Dynamically extensible and automatically configurable building automation system and architecture

Номер патента: CA2620064C. Автор: David M. Richards,Sean M. McCoy. Владелец: Trane International Inc. Дата публикации: 2015-10-13.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210164914A1. Автор: Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927539B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130321015A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20110249108A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-10-13.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11940485B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Shigeru Kasai,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20230366838A1. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090058446A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20110063621A1. Автор: Yusaku Konno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Inspection apparatus and inspection method for semiconductor substrate

Номер патента: US20230314342A1. Автор: Koji Eguchi,Junichi Uehara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Charged particle beam inspection apparatus and charged particle beam inspection method

Номер патента: US20210202206A1. Автор: Hidekazu Takekoshi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

Device inspection apparatus and device inspection method

Номер патента: US20240192257A1. Автор: Shinya Kurebayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method using the same

Номер патента: US20240192154A1. Автор: Sungeun Lee,Sewon Kim,Jeongho Ahn,Kwangeun KIM,Huisoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20170356859A1. Автор: Yuji Umemoto,Shinji Sugita,Takako Onishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20130301041A1. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-14.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8699017B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8462327B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8169606B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-01.

A portable inspection apparatus

Номер патента: EP2802864A1. Автор: Ko Khee Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-19.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Connector inspection apparatus

Номер патента: US20020186021A1. Автор: Takao Fujita,Akira Nishino. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-12.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20120194808A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US20040085531A1. Автор: CHENG Chen,Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Kohachi Kawamura,Hsin Chou. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US6977721B2. Автор: Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Cheng Yu Chen,Hsin Tan Chou,Kohachi Kawamura. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Non-destructive inspection apparatus for containers of liquid foodstuffs

Номер патента: WO2001096842A3. Автор: Marco Pipino. Владелец: Marco Pipino. Дата публикации: 2002-05-16.

Pipe inner surface inspection apparatus

Номер патента: US20110314918A1. Автор: Masayoshi Nakai,Seiichi Kawanami,Masaya Takatsugu,Masaharu Michihashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-29.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method of verifying the detection capability of an x-ray inspection apparatus

Номер патента: WO2024009278A1. Автор: Guido Mahnke,Benedikt HOFFMANN. Владелец: METTLER-TOLEDO, LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: US20240328561A1. Автор: Dong Kyu Kim,Jae Jun Kim,Kwang Hyun Yoo,Hong Seok Song,Dae Kwang KIM,Byung Taek Oh,Seung Ung YANG,Hui Ryoung YOO. Владелец: Korea Gas Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Wafer image inspection apparatus

Номер патента: US09829441B2. Автор: SEGAL Ram,Tae Hoon Park. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Body drying and inspection apparatus

Номер патента: US09775474B2. Автор: Ernesto Holguin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection apparatus

Номер патента: US09599844B2. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Pellicle inspection apparatus

Номер патента: US09588421B2. Автор: Atsushi Tajima,Kiwamu Takehisa,Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Inspection apparatus for article storage facility

Номер патента: US09541534B2. Автор: Hiroshi Otsuka,Shinsuke Kawamura,Tadahiro YOSHIMOTO. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Gas cook-top with glass (capacitive) touch controls and automatic burner re-ignition

Номер патента: WO2007064893A3. Автор: Andrew Crnkovich. Владелец: Andrew Crnkovich. Дата публикации: 2007-10-18.

Gas cook-top with glass (capacitive) touch controls and automatic burner re-ignition

Номер патента: EP1960712A2. Автор: Andrew Crnkovich. Владелец: Robertshaw Controls Co. Дата публикации: 2008-08-27.

Gas cook-top with glass (capacitive) touch controls and automatic burner re-ignition

Номер патента: WO2007064893A2. Автор: Andrew Crnkovich. Владелец: ROBERTSHAW CONTROLS COMPANY. Дата публикации: 2007-06-07.

Inspection method for a recording head, inspection apparatus for a recording head, and recording apparatus

Номер патента: US20070291069A1. Автор: Makoto Shihoh,Takatsuna Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-12-20.

Punch pin hole inspection apparatus and method using punch and die

Номер патента: US12042976B2. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Engine restart control apparatus and engine restart inhibition apparatus

Номер патента: WO2016035266A1. Автор: Hiroaki Seguchi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-03-10.

Biomass powder impurity removal, baking and automatic treatment system

Номер патента: US20240173756A1. Автор: Yongjun Li,Zhihe Li,Shanjian LIU,Weiming YI. Владелец: Shandong University of Technology. Дата публикации: 2024-05-30.

Lifting and automatic positioning system of electric vehicles for battery swap

Номер патента: EP3303072A1. Автор: Francesco DI PIETRANTONIO,Giovambattista DI GUARDIA. Владелец: Picchio Spa. Дата публикации: 2018-04-11.

Lifting and automatic positioning system of electric vehicles for battery swap

Номер патента: WO2016188639A1. Автор: Francesco DI PIETRANTONIO,Giovambattista DI GUARDIA. Владелец: Picchio S.P.A.. Дата публикации: 2016-12-01.

Vehicle drive control apparatus and method

Номер патента: EP1939498A1. Автор: Yoshikazu Tanaka,Hideo Tomomatsu,Tooru Matsubara,Ayato Noumori. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2008-07-02.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US20190054425A1. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10569228B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10118132B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-11-06.

Fully automatic object supply system for cross belt sorting system

Номер патента: EP4458480A1. Автор: Xu Zhang,YE Cai,Qirong Wang,Qingsheng OUYANG. Владелец: Wayzim Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Strand positioning apparatus and method of using

Номер патента: US20010011466A1. Автор: Larry Howard,Randall Bascom,Russell Arterburn,John Dembowski. Владелец: Johns Manville International Inc. Дата публикации: 2001-08-09.

Inkjet printing apparatus and cleaning method therefor

Номер патента: EP4389428A1. Автор: Susumu Takahashi. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US20080309705A1. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US7963627B2. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Inspection apparatus and method for inspecting a sheet in a press

Номер патента: EP3197615A1. Автор: Stefano Bergami,Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2017-08-02.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: US09623513B2. Автор: Hiroaki Kishi,Atsushi Kawakita,Shuhei Ogura,Yuta IWAMOTO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Wire billet butt-welding apparatus and wire billet butt-welding method

Номер патента: EP4427860A1. Автор: Zhangquan Zhu,Huanfeng FENG,Shaojun JIANG,Gangfeng SUN,Lianyun Wei. Владелец: Zhejiang Hailiang Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Sanitary touch-free automatic condiment dispensing apparatus and method of use

Номер патента: US09809439B2. Автор: Ernest F. FALCO, III. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-07.

Apparatus and methods for tool(s) to work on building surface(s)

Номер патента: US09616456B1. Автор: David B. Jalbert. Владелец: Exceptional IP Holdings LLC. Дата публикации: 2017-04-11.

Self-contained liquid storage, delivery, and automatic fill apparatus and method

Номер патента: US20020023457A1. Автор: James Cunha,Dennis Cohlmia,James Steinbacher,Joel Hockenbury. Владелец: KAN-PAK LLC. Дата публикации: 2002-02-28.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: WO2013001303A9. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

Automatic logistics sorting system and automatic logistics sorting method

Номер патента: EP3689481A1. Автор: Jun Liu,Zheng Wang,Jianbei LI. Владелец: Beijing Geekplus Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Automatic logistics sorting system and automatic logistics sorting method

Номер патента: AU2017434611A1. Автор: Jun Liu,Zheng Wang,Jianbei LI. Владелец: Beijing Geekplus Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-16.

Apparatus and method for feeding flexible ring-shaped workpieces

Номер патента: WO2022151178A1. Автор: QI Lu,Zhiwei Li. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-07-21.

A unit, apparatus and method for cutting a chain of articles

Номер патента: EP4238728A1. Автор: Gabriele Sablone,Antonio Gallucci. Владелец: Fameccanica Data SpA. Дата публикации: 2023-09-06.

Apparatus and method for changing plates in a rotary printing press

Номер патента: EP1086812A3. Автор: Takeshi C/O Toride Plant Asai. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2002-01-30.

Scrap metal sorting system

Номер патента: US09486839B2. Автор: Daniel F. Gorzen,Paul TOREK,Kalyani CHAGANTI. Владелец: Huron Valley Steel Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Heating control apparatus and method for escalator system or automatic walkway system

Номер патента: EP4306470A1. Автор: Lifei Cheng,ZhaoXia Hu,Xinwei GONG,Kaisheng Xu. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-01-17.

Automatic leveling device and automatic leveling method

Номер патента: EP2174832A3. Автор: Hiroki KITAJIMA. Владелец: Omron Automotive Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-16.

Machine for clamping material to be fastened and automatically installing screws

Номер патента: US20030131690A1. Автор: Jeffrey Swanson,Eric Swanson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-17.

Apparatus and method for use in configuring an environment of an automobile

Номер патента: US09758116B2. Автор: Charles McCoy,True Xiong,Prisciliano Flores,Justin Gonzales. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US20130208042A1. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Contact welding heating component and automatic welding machine

Номер патента: US20200238631A1. Автор: Roger BÜRGLER,Paul RÖTHLIN. Владелец: LEISTER TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2020-07-30.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US8936342B2. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-20.

Sheet material inspection apparatus

Номер патента: CA1150184A. Автор: Jacques F. Demers,Gilles J. Brown. Владелец: Cygene Inc. Дата публикации: 1983-07-19.

Improvements in combined manual and automatic servo apparatus

Номер патента: GB826215A. Автор: . Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1959-12-31.

Wire billet butt-welding apparatus and wire billet butt-welding method

Номер патента: US11925997B1. Автор: Zhangquan Zhu,Huanfeng FENG,Shaojun JIANG,Gangfeng SUN,Lianyun Wei. Владелец: Zhejiang Hailiang Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Fluid dispensing apparatus and method

Номер патента: CA2671906C. Автор: Michael Chad Gehman. Владелец: Wayne Fueling Systems LLC. Дата публикации: 2016-09-06.

Multiple treating and automatically rinsing machine

Номер патента: EP1200207A1. Автор: Gianluca Bercelli,Enrico Folli. Владелец: S B R Srl. Дата публикации: 2002-05-02.

Multiple treating and automatically rinsing machine

Номер патента: AU6832500A. Автор: Gianluca Bercelli,Enrico Folli. Владелец: S B R Srl. Дата публикации: 2001-02-19.

Multiple treating and automatically rinsing machine

Номер патента: WO2001008822A1. Автор: Gianluca Bercelli,Enrico Folli. Владелец: S.B.R. S.R.L.. Дата публикации: 2001-02-08.

Telescopic fork mechanism and automatic handling equipment

Номер патента: US20220204327A1. Автор: Shuang Sun. Владелец: Hangzhou Eiorobot Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Gantry crane anti-collision and automatic stop device

Номер патента: LU506380B1. Автор: Hongyi QIN,Xiumin Wang,Xiaoshui Zhang. Владелец: Zhengzhou Eng Co Ltd Of China Railway Seventh Group. Дата публикации: 2024-08-09.

Mask inspecting apparatus

Номер патента: US20040004195A1. Автор: Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2004-01-08.

Sorting system having cover plates closing gaps between support structures

Номер патента: US09902569B2. Автор: Uffe Lykkegaard. Владелец: Beumer Group AS. Дата публикации: 2018-02-27.

Illumination control apparatus and failure detecting apparatus

Номер патента: CA2504549C. Автор: Kazuhiko Sato,Hirohito Miyazaki,Masaru Ishizaki. Владелец: Omron Automotive Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-04.

Method for calibration and automatic alignment in friction drive apparatus

Номер патента: CA2292861C. Автор: Kenneth O. Wood,Daren Yeo,Patrick Raiola. Владелец: Gerber Scientific Products Inc. Дата публикации: 2004-05-04.

High pressure spray cleaning method, apparatus and spray head

Номер патента: CA1076762A. Автор: Charley L. Hewett. Владелец: KEM-O-KLEEN. Дата публикации: 1980-05-06.

Multi-position Tailgate Retaining and Counterbalancing Apparatus and Method

Номер патента: US20110057469A1. Автор: Cary Russell Zielinsky. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-03-10.

Gravity-oriented one-way valve container apparatus and method

Номер патента: US11952201B2. Автор: Gameel Gabriel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-09.

Pine straw baling apparatus and method

Номер патента: US11904566B1. Автор: Matt Lowe. Владелец: Swift Straw Holdings LLC. Дата публикации: 2024-02-20.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: US20230356213A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Dual-layer linear cross belt sorting system

Номер патента: EP4049766A1. Автор: Bing Tang,Min Fan,Jinfei XIAO,Chunyang HUANG,Xiaofen YAO. Владелец: Kengic Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Nanoparticle production method, production device and automatic production device

Номер патента: US20160136732A1. Автор: Teruo Komatsu. Владелец: Applied Nanoparticle Laboratory Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Sorting system

Номер патента: EP3826947A1. Автор: Koen Maarten Geert Grobben. Владелец: Vanderlande Industries BV. Дата публикации: 2021-06-02.

Sorting system

Номер патента: WO2020022896A1. Автор: Koen Maarten Geert Grobben. Владелец: Vanderlande Industries B.V.. Дата публикации: 2020-01-30.

Sorting system

Номер патента: US20210284464A1. Автор: Koen Maarten Geert Grobben. Владелец: Vanderlande Industries BV. Дата публикации: 2021-09-16.

Weighing and sorting system and method

Номер патента: US09415938B2. Автор: Jesus R. Oropeza. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-08-16.

Adjustment device for sorting systems

Номер патента: RU2744861C2. Автор: Эгилл Тор РАГНАРССОН. Владелец: Стайл Ехф.. Дата публикации: 2021-03-16.

Floor decoration tile manufacturing system for automatic storage and supply and automatic air duct type control of temperature

Номер патента: US11850881B2. Автор: Jung Soo Seo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-26.

Discharge Inspection Apparatus and Discharge Inspection Method

Номер патента: US20110084998A1. Автор: Shinya Komatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: EP4275792A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Method for printing and automatically cutting a textile sheet

Номер патента: EP3651953A1. Автор: Fabrizio Giachetti. Владелец: Morgan Tecnica SpA. Дата публикации: 2020-05-20.

Container for transporting items of luggage in a sorting system and sorting system

Номер патента: US20150114804A1. Автор: David Delaney,Balthazar-Simon Ten Berge. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2015-04-30.

Clothing sorting systems and methods

Номер патента: WO2021002854A1. Автор: Patrick Tierney,Danny E. Alsop. Владелец: Revolution Systems, Llc. Дата публикации: 2021-01-07.

Sorting system

Номер патента: US20240327117A1. Автор: Paul MCELLIN,Sean DOUGLAS. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-03.

A sorting system

Номер патента: US20240351801A1. Автор: David John HYSLOP. Владелец: Hysort Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Sorting system

Номер патента: WO2024206614A1. Автор: Paul MCELLIN,Sean DOUGLAS. Владелец: Douglas Sean. Дата публикации: 2024-10-03.

Single-stream sorting systems and methods

Номер патента: US09993846B2. Автор: Danny E. Alsop, SR.. Владелец: Ultimate Specialties LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Print inspection apparatus, print system, print inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240364820A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-31.

Visual workpiece inspection apparatus and visual workpiece inspection method

Номер патента: MY167683A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,MOCHIZUKI Hiroyuki,Goto Tasuku. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-21.

Wafer and dut inspection apparatus and method using thereof

Номер патента: US20180158647A1. Автор: Bao-Hua Niu,Jung-Hsiang Chuang,David Hung-I Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Apparatus and method providing auto zoom in response to relative movement of target subject matter

Номер патента: US09661232B2. Автор: John G. Posa,Benjamin E. Posa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-23.

Automatic tracking control apparatus for camera apparatus and automatic tracking camera system having same

Номер патента: US09438783B2. Автор: Harukazu Watanabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Automatic ground fault circuit interrupter (GFCI) reset system and apparatus and method therefor

Номер патента: US11769997B1. Автор: Kenneth Mccoy. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09859096B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09728373B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Printing system, printing apparatus, inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US12081708B2. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Login method and apparatus, and open platform system

Номер патента: US09769155B2. Автор: Minghui Wang,Jinjing Cao. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Vibrating ram apparatus and method for operating the same

Номер патента: US20160069357A1. Автор: Jochen Spohr. Владелец: THYSSENKRUPP TIEFBAUTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2016-03-10.

Vibrating ram apparatus and method for operating the same

Номер патента: US9835178B2. Автор: Jochen Spohr. Владелец: THYSSENKRUPP TIEFBAUTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-12-05.

Semiconductor laser driving apparatus and method and image-forming apparatus

Номер патента: US20010017869A1. Автор: Takuya Takata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-08-30.

Terminal, and apparatus and method for previewing an image

Номер патента: US09973702B2. Автор: XING Yang,CHAO Gao,Hongcheng Wang,Changsheng Zhou,Sanfeng Yan,Yaoyao Sui. Владелец: Hisense USA Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Vibrating ram apparatus and method for operating the same

Номер патента: US09835178B2. Автор: Jochen Spohr. Владелец: THYSSENKRUPP TIEFBAUTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-12-05.

Processing apparatus and control method

Номер патента: US20240335185A1. Автор: Ryohei Ogawa,Nao Inoue,Yuji Sakamoto,Hidetoshi Nishimura,Mariko OTAGIRI,Shohei Hemmi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Information notification methods, apparatuses and electronic devices

Номер патента: US09531818B2. Автор: Bo Zhang,Chunlei Zhao. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Apparatus and method for rotating avian enclosures

Номер патента: US20040216690A1. Автор: Patrick Marshall. Владелец: BirdQuest LLC. Дата публикации: 2004-11-04.

Apparatus and method for rotating avian enclosures

Номер патента: US7011040B2. Автор: Patrick T. Marshall. Владелец: BirdQuest LLC. Дата публикации: 2006-03-14.

Display apparatus and display method thereof

Номер патента: US09648307B2. Автор: Kun-Woo Lee,Woo-Jong Cho,Jae-Kyu Shim,Bon-min Koo,Cheol-eun Jang,Hee-seung Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-09.

CT apparatus and an image processing method used by the same

Номер патента: US09386957B2. Автор: Bin Wang,Jun Li,Zhenhua Xu,Ximiao CAO,Xue li Wang. Владелец: GE Medical Systems Global Technology Co LLC. Дата публикации: 2016-07-12.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP3942590A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-01-26.

Inspection apparatus, image forming apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240275888A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection apparatus that inspects image printed on sheet, and image inspection method

Номер патента: US20240357044A1. Автор: Itsuki Akizuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Apparatus and method for automated handling of feeding formula bottles for babies

Номер патента: US20160157670A1. Автор: Dina NIRON,Daphna Blumenthal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-09.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Apparatus and method for automated handling of feeding formula bottles for babies

Номер патента: WO2015011709A1. Автор: Dina NIRON,Daphna Blumenthal. Владелец: BLUMENTHAL Daphna. Дата публикации: 2015-01-29.

Apparatus and method for a remote access server

Номер патента: EP1106002A1. Автор: Michael G. Hluchyj,Anthony J. Risica. Владелец: Sonus Networks Inc. Дата публикации: 2001-06-13.

Syringe holder and automatic injection device

Номер патента: RU2720168C2. Автор: Томас Марк КЕМП,Луиз ХОДЖСОН. Владелец: Санофи-Авентис Дойчланд Гмбх. Дата публикации: 2020-04-24.

Short to ground protection and automatic recovery

Номер патента: WO2022098813A1. Автор: Fernando Gonzalez,Christopher Twigg,Zbigniew Lata. Владелец: MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED. Дата публикации: 2022-05-12.

Broadcasting receiving apparatus and control method thereof

Номер патента: WO2014204051A1. Автор: Sang-Keun Park,Young-Joo Seo,Seung-ku Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-12-24.

Apparatus and method for automated handling of feeding formula bottles for babies

Номер патента: WO2015011709A4. Автор: Dina NIRON,Daphna Blumenthal. Владелец: BLUMENTHAL Daphna. Дата публикации: 2015-04-02.

Apparatus and method for foaming a beverage

Номер патента: US20240268598A1. Автор: Izaak Koller,Joshua Kruger,Timothy Hurd. Владелец: Starbucks Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

IP terminal apparatus and IP communication method

Номер патента: US20060104244A1. Автор: Masahiro Kanagawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Synchronous motor control apparatus and drive system using the same

Номер патента: US09923502B2. Автор: Naoki Okamoto,Yoshitaka Iwaji,Masaki Hano,Takeshi Umetsu. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2018-03-20.

Apparatus and method for transmitting/receiving voice signal through headset

Номер патента: US09748913B2. Автор: Hee Young Kim,Do Hwan Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-29.

X-ray imaging apparatus and control method thereof

Номер патента: US09532763B2. Автор: Duhgoon Lee,Myung Jin Chung,Phill Gu Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-03.

Rapid and automatic determination of metabolic efficiency in livestock

Номер патента: US09961883B2. Автор: Sean Thompson,Allan Schaefer,Kim Ominski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09571670B2. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Post automatic exposure control (aec) and automatic white balance (awb) processing to improve video quality

Номер патента: US20240259698A1. Автор: Zuguang Xiao,Yiqian WANG,Nan CUI. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Rapid and automatic determination of metabolic efficiency in livestock

Номер патента: US20150359199A1. Автор: Sean Thompson,Allan Schaefer,Kim Ominski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-17.

Self-organizing networks (SON) for mobility robustness optimization (MRO) and automatic network slice creation

Номер патента: US11950151B2. Автор: Joey Chou,Yizhi Yao. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Position arrival switch assembly and automatic cleaning apparatus

Номер патента: AU2022343136A1. Автор: Xing Li,PAN Cheng,Yungen QIN,Dalin OUYANG,Lvwu ZOU. Владелец: Beijing Rockrobo Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Hand washing, disinfection and automatic massage machine, and method of operating the same

Номер патента: US20220175197A1. Автор: Thuan Dac Ngo,Ha Viet Hoang,Tuan Minh Pham. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

Method and system for identifying and automatically registering domain names

Номер патента: US09531581B1. Автор: James N. Adkins, III,Todd Edebohls. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Apparatus and method for automatic reconciliation of data throughput

Номер патента: US9819592B2. Автор: Sheldon K. Meredith,William Cottrill,Sankat Chauhan. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2017-11-14.

Automatic coffee brewing apparatus and control method

Номер патента: CA2516413C. Автор: Dong-Lei Wang. Владелец: Toptechnology Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-15.

Automatic coffee brewing apparatus and control method

Номер патента: US20060156928A1. Автор: Dong-Iei Wang. Владелец: Dong-Iei Wang. Дата публикации: 2006-07-20.

Apparatus and method for automatic stimulation of mammals in response to blood gas analysis

Номер патента: US5329931A. Автор: Mir A. Imran,William L. Clauson. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-07-19.

Apparatus and method for automatically milking animals

Номер патента: US6009833A. Автор: Cornelis Van Der Lely. Владелец: Van Der Lely; Cornelis. Дата публикации: 2000-01-04.

Facsimile server apparatus and method configured to automatically transmit client address information to facsimile terminals

Номер патента: US5995240A. Автор: Masaki Sato. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 1999-11-30.

Apparatus and information service method through automatic print function in a facsimile system

Номер патента: US6055301A. Автор: Sung-Hyun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2000-04-25.

An improved machine for the automatic moulding and automatic delivery of ice cream

Номер патента: GB673707A. Автор: . Владелец: PRESTOMATIC HOLDING Co LT. Дата публикации: 1952-06-11.

High precision tens apparatus and method of use

Номер патента: US4769881A. Автор: Steven G. Belovich,Irby R. Pedigo. Владелец: Individual. Дата публикации: 1988-09-13.

Apparatus and method for controlling automatic operation of working unit of wheel loader

Номер патента: US9091044B2. Автор: Ki Hong Choi. Владелец: Doosan Infracore Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-28.

Apparatus and associated method for padding a trench

Номер патента: WO1997004183A1. Автор: Erik D. Scudder. Владелец: Scudder Erik D. Дата публикации: 1997-02-06.

Method and system for providing game using switching between continuous and automatic battle and manual battle

Номер патента: US11872488B2. Автор: Joohwan Lee. Владелец: Com2uS Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Stacked modulator and automatic gain control amplifier

Номер патента: EP1289124A3. Автор: Markus Pettersson,Simo Murtojardi. Владелец: Nokia Oyj. Дата публикации: 2004-04-14.

Unpowered and automatically flushing toilet seat, for water tank, having detachable and waterproof functions

Номер патента: US20190040614A1. Автор: Dong Jin Lee,Jae Tong Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-02-07.

Apparatus and method for temporary subsurface well sealing and equipment anchoring

Номер патента: US5697449A. Автор: David Martin,Mark Mccorry,Gregory E. Hennig. Владелец: Baker Hughes Inc. Дата публикации: 1997-12-16.

Heat treatment apparatus and method

Номер патента: GB1425742A. Автор: . Владелец: LOreal SA. Дата публикации: 1976-02-18.

Apparatus and method for dispensing particles

Номер патента: CA2291321C. Автор: Robert John Wilson,Russell James Memory,Robert K. Benneweis,Neil D. Klassen,James Newbern Wilson. Владелец: CNH Canada Ltd. Дата публикации: 2007-02-13.

Apparatus and method for dispensing particles

Номер патента: CA2291321A1. Автор: Robert John Wilson,Russell James Memory,Robert K. Benneweis,Neil D. Klassen,James Newbern Wilson. Владелец: Flexi Coil Ltd. Дата публикации: 2001-05-30.

Gas control/block valve and automatic circulation device of warm water using the gas valves

Номер патента: EP1709367A1. Автор: Young-Gyu Rho. Владелец: CNTEK Corp. Дата публикации: 2006-10-11.

Apparatus and method for epg sorting and automatic realignment

Номер патента: EP3291567A1. Автор: Alex Fishman,Kevin Lu,Isaac CHELLIN,Crx K Chai,Matthew Huntington. Владелец: OpenTV Inc. Дата публикации: 2018-03-07.

Apparatus and method for rotating avian enclosures

Номер патента: US20040089244A1. Автор: Patrick Marshall. Владелец: BirdQuest LLC. Дата публикации: 2004-05-13.

Wavelength configuration apparatus and system, and wavelength configuration method

Номер патента: EP4304114A1. Автор: Can Liu,Binghua CUI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Image forming system and inspection apparatus

Номер патента: US20230396716A1. Автор: Hiroyuki Eda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Display apparatus and display method thereof

Номер патента: US20150015462A1. Автор: Kun-Woo Lee,Woo-Jong Cho,Jae-Kyu Shim,Bon-min Koo,Cheol-eun Jang,Hee-seung Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-01-15.

Method and system for providing game using continuous and automatic battle function

Номер патента: US11779842B2. Автор: Joohwan Lee. Владелец: Com2uS Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection method, inspection apparatus, and plasma processing apparatus

Номер патента: US20210296091A1. Автор: Chishio Koshimizu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Charged Particle Beam Apparatus and Focus Adjusting Method Therefor

Номер патента: US20230230798A1. Автор: Keisuke Igarashi,Hiroyuki Chiba,Wei Chean TAN,Mai YOSHIHARA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Singulation and sorting system for electronic devices

Номер патента: WO2001085367A1. Автор: Krassimire Todorov Krastev,Chee Kong Fong. Владелец: Avalon Technology Pte Ltd. Дата публикации: 2001-11-15.

Powder granule sample inspection apparatus

Номер патента: CA2022556A1. Автор: Katsumi Tokoyama. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1992-02-03.

Sound insulation board inspection method and sound insulation board inspection apparatus

Номер патента: JP6533276B1. Автор: 正幸 志村. Владелец: 株式会社建設環境研究所. Дата публикации: 2019-06-19.

Circuit board appearance inspection method and circuit board appearance inspection apparatus

Номер патента: JP4249543B2. Автор: 靖司 水岡,大介 永井,和彦 友保. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Inspection Method for Pixel Array and Inspection Apparatus Thereof

Номер патента: US20120310575A1. Автор: Cheng Wen-Da. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-06.

Flip chip bonding inspection method and flip chip bonding inspection apparatus

Номер патента: JP4390685B2. Автор: 陽一郎 上田,崇行 深江. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-12-24.

Optical device defect inspection method and optical device defect inspection apparatus

Номер патента: JP5281815B2. Автор: 知久 小澤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-09-04.

System For Monitoring Foreign Particles, Process Processing Apparatus And Method Of Electronic Commerce

Номер патента: US20120002196A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS, APPARATUSES AND COMPUTER PROGRAM PRODUCTS FOR AUTOMATICALLY GENERATING SUGGESTED INFORMATION LAYERS IN AUGMENTED REALITY

Номер патента: US20120001939A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DIFFERENTIAL MOBILITY ANALYZER, PARTICLE MEASURING SYSTEM, AND PARTICLE SORTING SYSTEM

Номер патента: US20120001067A1. Автор: ORII Takaaki,KUDOH Satoshi. Владелец: RIKEN. Дата публикации: 2012-01-05.

RADIO TRANSMISSION APPARATUS AND RADIO TRANSMISSION METHOD

Номер патента: US20120002645A1. Автор: SUGAYA Shigeru. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

STROBO THIN FILM CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS AND ASSAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003659A1. Автор: Yoo Jae Chern. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

MOTOR CONTROL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS AND MOTOR CONTROL METHOD

Номер патента: US20120001579A1. Автор: Mori Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, AND EXPOSURE METHOD

Номер патента: US20120002186A1. Автор: Omura Yasuhiro,Okada Takaya,Nagasaka Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR BLOCKER DETECTON AND AUTOMATIC GAIN CONTROL

Номер патента: US20120004005A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Manually and automatically operated sliding window mechanism

Номер патента: RS20100369A2. Автор: Zoran Stojković. Владелец: Zoran Stojković. Дата публикации: 2012-02-29.

Improvements in Combined Electric Switches and Automatic Circuit Breakers.

Номер патента: GB190517888A. Автор: John Henry Holmes. Владелец: Individual. Дата публикации: 1906-07-05.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308B. Автор: Hideo Ueno. Владелец: SANFREUND CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-02.

Improvements in Water Heaters and Automatic Valve Attachments therefor.

Номер патента: GB189900587A. Автор: Joseph Winterflood. Владелец: Individual. Дата публикации: 1899-08-12.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308A. Автор: Hideo Ueno. Владелец: Sanfreund Corp. Дата публикации: 2014-05-30.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Tripping module and automatic switch having said module

Номер патента: RU2378731C1. Автор: Дзонг-Ман СОН. Владелец: ЭлЭс ИНДАСТРИАЛ СИСТЕМЗ КО., ЛТД.. Дата публикации: 2010-01-10.