Immunoagglutination measurement apparatus

Реферат: IMMUNOAGGLUTINATION MEASUREMENT APPARATUS ABSTRACT OF THE DISCLOSURE: A buffer solution is sampled from a buffer solution vessel and is dispensed into a reaction vessel on a reaction table by first sampling/dispensing means, and a specimen containing an antigen or antibody to be measured is sampled from a specimen vessel and is dispensed into the reaction vessel by second sampling/dispensing means. A reagent containing insoluble carriers to which is bonded an antibody or antigen that specifically reacts with the antigen or antibody in the specimen is sampled from a reagent vessel and dispensed into the reaction vessel by third sampling/ dispensing means. The entire reaction table is shaken con-tinuously during mixing of the buffer solution, reagent and specimen, and the reaction vessel is maintained in an isothermal state. A stable antigen-antibody reaction in the resulting reaction solution is thus promoted to form an agglutinate of the insoluble carriers. The reaction solution is sampled from the reaction vessel and dispensed into a sample chamber by fourth sampling/dispensing means. The dispensed reaction solution is transferred to a detector through which the insoluble carriers are passed and in which a signal is generated based upon a difference in terms of electrical or optical characteristics. The degree of agglutination of the insoluble carriers is obtained as a numerical value, thus making it possible to quantify the antigen or antibody of interest contained in the specimen.

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Sample introduction system and particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09645059B2. Автор: Akihiro Katanishi,Takashi KIMBA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Sample measuring apparatus, reagent container, and method of measuring sample

Номер патента: US12130300B2. Автор: Tomohiro KUROIWA,Yutaka Kawamoto,Shingo KAIDA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Sample measuring apparatus, information reading apparatus, and information reading method

Номер патента: EP4439381A1. Автор: Masato Hayashi,Rentaro TAKENAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Particle measuring apparatus

Номер патента: US09513206B2. Автор: Takeshi Yamamoto,Kazuhiro Yamada. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20140025300A1. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US09513271B2. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Detection apparatus and measuring apparatus

Номер патента: US20230288320A1. Автор: Takashi Tajiri. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20230288306A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09788814B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: US09651510B2. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09513263B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Measurement apparatus

Номер патента: US10656086B2. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-05-19.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Gas concentration measuring apparatus with failure monitor

Номер патента: EP1582726A3. Автор: Tomoo Kawase,Eiichi Kurokawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Specific gravity measuring apparatus

Номер патента: US20130086984A1. Автор: Sadanori Kondo. Владелец: Alfa Mirage Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20090079984A1. Автор: Shinji Shimizu,Yoshiyuki Nagashima,Katsutoshi Tsurutani,Tomohiro Fukamizu. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190369018A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object

Номер патента: US09625257B2. Автор: Ralf Christoph,Wolfgang Rauh. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-04-18.

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer

Номер патента: US09541511B2. Автор: Assunta Vigliante. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: WO2016189327A1. Автор: Professor Stuart ROBSON,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Дата публикации: 2016-12-01.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Fine particle measurement apparatus with exhaust purification function

Номер патента: US20070216895A1. Автор: Kenji Watanabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-09-20.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Measurement apparatus, storage medium, system and method of manufacturing article

Номер патента: US20230196605A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

A measuring apparatus for measuring properties of a surface

Номер патента: EP3303989A1. Автор: Stuart Robson,Ben SARGEANT,Abdul Rahman EL-NOUNU. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2018-04-11.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: EP4361592A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20150101400A1. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Номер патента: US20220155203A1. Автор: Hiroya Nagasawa,Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Optical gas concentration measurement apparatus

Номер патента: US20220236173A1. Автор: Stefan Warnke,Eric Wertz,Alex S. Nikittin. Владелец: Advanced Energy Industries Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Fine particle measuring apparatus

Номер патента: US20150253247A1. Автор: Nao Nitta. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: EP3111198A1. Автор: Chulwoo PARK,Yeekyeong JUNG,Sunghwa Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: US20170059466A1. Автор: Chulwoo PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-03-02.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Grain gloss measurement apparatus

Номер патента: US20210192713A1. Автор: Hisashi Sakamoto,Koshiro Kajiyama. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Measuring apparatus

Номер патента: US20110011173A1. Автор: Bing-Jun Zhang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Beam scanner and surface measurement apparatus

Номер патента: US20100201993A1. Автор: Bae Kyun Kim,Tak Gyum Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-08-12.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20010015094A1. Автор: Yasunori Konaka. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-08-23.

Water vapor distribution measurement apparatus

Номер патента: US20240151641A1. Автор: Takayoshi Kaneko,Shintaro Ozawa,Naoto Kakuta,Rintaro TAKAGI. Владелец: Tokyo Metropolitan Public University Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240280435A1. Автор: Seung Woo Lee,Jin Woo Ahn,Tae Joong Kim,Seung Ryeol Lee,Myung Jun Lee,Ye Eun Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US12085413B2. Автор: Graham Richard Ferguson,Benjamin Jason Merrifield. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Fringe information measuring apparatus and substrate treating system including the same

Номер патента: US12097696B2. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on vortex dichroism

Номер патента: US20240329377A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-03.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Sample extracting device and residual solvent measuring apparatus including the same

Номер патента: US20210001328A1. Автор: Sanguk Son,Donghwa LEE,Jaeyong Choi,Daigeon YOON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Gas measurement apparatus

Номер патента: US20240361236A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof

Номер патента: US09915935B2. Автор: Yosuke Muraki,Fumitaka OTSUKA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Trace gas measurement apparatus for electrical equipment

Номер патента: US09874497B2. Автор: David Peter Robinson,Christopher Raymond CALVERT,Aidan Owens,Martin Duffy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Light measurement apparatus, method, program and recording medium

Номер патента: US09846120B2. Автор: Masaichi Hashimoto,Akiyoshi Irisawa. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09752971B2. Автор: Rentaro Kuroki,Sho Tomita. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Grain appearance measuring apparatus

Номер патента: US09607368B2. Автор: Hiroaki Takeuchi,Hideaki Matsushima,Hiroki Ishizuki. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Chlorine dioxide gas concentration measuring apparatus

Номер патента: US09551652B2. Автор: Masateru Takimoto,Katsuji HOTTA. Владелец: CSD Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Gas measurement apparatus

Номер патента: EP4455638A1. Автор: Yumiko Sugiyama,Yasuo Sakamaki,Saki KOBAKO,Kentaro Tezuka,Shigeo Uneme. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US20210181081A1. Автор: Tatsushi Ohyama,Mariko Miyashita. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: EP3994448A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2022-05-11.

Self-calibrating optical turbidity measuring apparatus

Номер патента: WO2021001277A1. Автор: Benjamin Carr,Andrew James Bowen. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-01-07.

Light measuring apparatus

Номер патента: US20190154583A1. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-05-23.

Light measuring apparatus

Номер патента: US10386304B2. Автор: Kakuro HIRAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-08-20.

X-Ray Fluorescence Measurement Apparatus

Номер патента: US20210018453A1. Автор: Genki Kinugasa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US20180077593A1. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-03-15.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Photoacoustic tomography measuring apparatus

Номер патента: WO2011135821A1. Автор: Koichi Suzuki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-11-03.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20240201072A1. Автор: Hiroshi Ono,Masayuki Tanaka,Kohei Noda,Moritsugu Sakamoto. Владелец: Opt Gate Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: EP3910308A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-17.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240230314A9. Автор: Jinyong Kim,Sungho Jang,Wookrae Kim,Garam CHOI,Jinseob KIM,Daehoon Han,Younguk JIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Gas volume measurement apparatus

Номер патента: US20240085231A1. Автор: Shaoteng Ren,Si LIN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Infrared circular dichroism measurement apparatus

Номер патента: US20230333006A1. Автор: Masaru Shimizu,Jun Koshobu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Flexural-rigidity measuring apparatus and method for measuring flexural rigidity

Номер патента: US20230032653A1. Автор: Masao Omori. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-02-02.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US20200397391A1. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-12-24.

Non-contact angle measuring apparatus

Номер патента: US11903755B2. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-20.

Gas measuring apparatus with a compact design

Номер патента: US20230133140A1. Автор: Holger Frank. Владелец: OPUS INSPECTION Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Measurement apparatus

Номер патента: US20200033292A1. Автор: Nobuei Washizu. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Electric potential measuring apparatus

Номер патента: US20130271110A1. Автор: Kazunori Yamanaka,Kazuaki Kurihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-10-17.

Measuring Apparatus

Номер патента: US20180173851A1. Автор: Francesco Visinoni,Matteo Minuti,Michele Martinelli. Владелец: Milestone SRL. Дата публикации: 2018-06-21.

Blood flow measurement apparatus

Номер патента: US20200029809A1. Автор: Masahiro Akiba. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Material property measuring apparatus

Номер патента: US20150090885A1. Автор: Yasushi Ichizawa,Naomichi Chida,Kazuki SETSUDA,Kumiko Horikoshi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20210356368A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-18.

X-ray ct measuring apparatus and interference prevention method thereof

Номер патента: US20190227004A1. Автор: Kozo Ariga,Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Blood Measuring Apparatus

Номер патента: US20120146619A1. Автор: Yoshihiro Niiyama. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200103220A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Radiometric measuring apparatus

Номер патента: US11029422B2. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-08.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US12000804B2. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-06-04.

Universal communication system for measurement apparatuses, method of communication relating thereto

Номер патента: US10064083B2. Автор: Cedric Neveu,Damien PELLETIER,Fabio FURLAN. Владелец: ECOMESURE. Дата публикации: 2018-08-28.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Acoustic-wave measuring apparatus and method

Номер патента: US20150335253A1. Автор: Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-26.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A2. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-01-05.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Optical physical quantity measuring apparatus

Номер патента: US20240295493A1. Автор: Daiki Yasuda,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Gas constituent measuring apparatus

Номер патента: US12061184B2. Автор: Kunihiko Nakamura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Optical comb measuring apparatus

Номер патента: US20240255423A1. Автор: Takao Sakurai. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Near-field polarized-light measurement apparatus

Номер патента: EP1715322A3. Автор: Tsutomu Inoue,Fuminori Sato,Yoshihito Narita,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2007-04-11.

Mist flow rate measuring apparatus

Номер патента: US20240085230A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Biological sample measurement apparatus

Номер патента: US20130323124A1. Автор: Akio Nagao,Hiroyuki Hamamoto,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

A fiber concentration profile measuring apparatus

Номер патента: SE1851372A1. Автор: Bengt Akerblom. Владелец: Daprox AB. Дата публикации: 2020-05-06.

Radiometric Measuring Apparatus

Номер патента: US20200183021A1. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Mapping-measurement apparatus

Номер патента: US20050088656A1. Автор: Hiroshi Tsukada,Noriaki Soga,Jun Koshoubu. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20240035943A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-02-01.

Portable measuring apparatus having groove for fitting cap

Номер патента: US20020029636A1. Автор: Toru Matsumoto,Akio Ohashi,Hiroshi Kohashi,Akiyoshi Fujitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-03-14.

Method for X-ray wavelength measurement and X-ray wavelength measurement apparatus

Номер патента: US20080240354A1. Автор: Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20080316495A1. Автор: Minoru Maeda,Takaaki Hirata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-12-25.

Component measurement apparatus

Номер патента: US20110216308A1. Автор: Hitoshi Hara,Shin-ichiro Tezuka. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-08.

Air impurity measurement apparatus and method

Номер патента: US20050169806A1. Автор: Kazuhiro Nishiki,Makiko Katano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-04.

Wafer measurement apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240248051A1. Автор: Younghoon Sohn,Souk Kim,Joonseo Song,Jaehyung Ahn,Inseok PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Measurement Apparatus

Номер патента: US20230236116A1. Автор: Hideki Tomita,Tatsuya IKEHARA,Koji Tojo,Tetsuo Furumiya. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2023-07-27.

Volume change measuring apparatus for frozen porous media

Номер патента: WO2023277853A3. Автор: Burak EVIRGEN,Mustafa TUNCAN,Onur UZUN,Selahattin ATTEPE. Владелец: Eskisehir Teknik Universitesi. Дата публикации: 2023-03-02.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240310279A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical concentration measuring apparatus

Номер патента: US20240310276A1. Автор: Hans Martin,Takaaki Furuya,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Biological component measurement apparatus

Номер патента: US12111256B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Vibration measuring apparatus using parametric speaker and two-dimensional scanning mirror

Номер патента: US09976990B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Spectroscopic measurement apparatus

Номер патента: US09927298B2. Автор: Yoshiyuki Shimizu,Yoichi Kawada,Toyohiko Yamauchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-03-27.

Particle measuring apparatus and particle measuring method

Номер патента: US09885649B2. Автор: Kenichi Otsuka,Masaki Hirano,Yuichi Kuroda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Environmental measurement apparatus and environmental measurement method

Номер патента: US09880132B2. Автор: Mitsuo Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Analytical device, method for manufacturing the same, and measuring apparatus using the same

Номер патента: US09835579B2. Автор: Yoshiharu Sato. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Gas measuring apparatus

Номер патента: US09829432B2. Автор: Hiroshi Hasegawa,Shigeyuki Takagi,Akira Maekawa,Yasutomo Shiomi,Tsutomu Kakuno,Miyuki Kusaba. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Blood measuring apparatus

Номер патента: US09823173B2. Автор: Satoshi Suzuki,Koji Masuda,Yoshihiro Niiyama. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Microparticle measuring apparatus

Номер патента: US09816913B2. Автор: Shingo Imanishi,Taichi Takeuchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Contact angle measurement apparatus

Номер патента: US09816909B2. Автор: Bernd Friedrich,Florian WESER,Carsten SCHEITHAUER. Владелец: Kruess GmbH Wissenschaftliche Laborgeraete. Дата публикации: 2017-11-14.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09791266B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-10-17.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09739605B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-08-22.

Measurement apparatus

Номер патента: US09726595B2. Автор: Hiroshi Tsuchiya,Kimiko Kazumura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-08-08.

Photoacoustic measuring apparatus

Номер патента: US09700214B2. Автор: Shuichi Kobayashi,Yukio Furukawa,Shigeru Ichihara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Object characteristics measurement apparatus

Номер патента: US09645116B2. Автор: Hiromi Yatsuda,Naoyuki Yoshimura. Владелец: Japan Radio Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Adsorption characteristic measuring apparatus

Номер патента: US09645069B2. Автор: Masahiko Matsukata,Masayuki Yoshida,Kazuyuki Nakai. Владелец: MicrotracBEL Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Static gel strength measurement apparatus and method

Номер патента: US09612232B2. Автор: David Hoffman,Grafton Montgomery,Guadalupe Hernandez Serafin. Владелец: OFI Testing Equipment Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09612108B2. Автор: Toru Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09594023B2. Автор: Sakuya Tamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement apparatus and method of measurement

Номер патента: US09588072B2. Автор: Tetsuya Takahashi,Yuki Kawamuro,Nobuhisa Handa. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-03-07.

Measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US09535007B2. Автор: Toshiyuki Hattori. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Reflection characteristic measuring apparatus

Номер патента: US09528934B2. Автор: Shigeki Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Magnetic signal measuring apparatus and magnetic signal measuring method

Номер патента: US09518957B2. Автор: Keiji Enpuku,Akihiko Kandori,Takako Mizoguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Optical measuring apparatus and method for the analysis of samples contained in liquid drops

Номер патента: US09488579B2. Автор: Torleif Ove Bjornson,Thomas Geiges. Владелец: TECAN TRADING AG. Дата публикации: 2016-11-08.

Microparticle measuring apparatus

Номер патента: US09429508B2. Автор: Shingo Imanishi,Taichi Takeuchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Particle size distribution measuring apparatus

Номер патента: US09429505B2. Автор: Shinichiro Totoki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Electrical resistance measurement apparatus and electrical resistance measurement method

Номер патента: US09372215B2. Автор: Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-21.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2982101C. Автор: Hironao Yamaji,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Optical measuring apparatus and wide-band light source device adaptable to same

Номер патента: EP1923692A1. Автор: Toshiaki Okuno. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-05-21.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: CA3185791A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-01-20.

Docking station for a surface measuring apparatus

Номер патента: US20200132593A1. Автор: Peter Schwarz. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2020-04-30.

Docking station for a surface measuring apparatus

Номер патента: US11060966B2. Автор: Peter Schwarz. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2021-07-13.

Phase difference measuring apparatus and method using a first and second receive signal

Номер патента: US5767409A. Автор: Seiji Yamaguchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1998-06-16.

Friction coefficient measurement apparatuses

Номер патента: EP3346257A1. Автор: Hironari Abe,Kosuke Abe,Noburu ISHIKAWA. Владелец: Nippo Ltd. Дата публикации: 2018-07-11.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20110058993A1. Автор: Takashi Nakagawa,Tokuo Kasai,Shinya Nakajima,Kazuhiro Ohmiya. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2011-03-10.

Measuring apparatus for determining an analyte in a liquid sample

Номер патента: CA2516490C. Автор: Bernd Roesicke,Wolfgang Clemens,Axel Gerlt. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2011-10-11.

Force measurement apparatus and method

Номер патента: US4644803A. Автор: Roger W. Ward. Владелец: QUARTZTRONICS Inc. Дата публикации: 1987-02-24.

Improvements relating to measuring apparatus for estimating the number of particles in a suspension

Номер патента: GB688945A. Автор: . Владелец: HANS HERMANN LOESCHCKE. Дата публикации: 1953-03-18.

Signal processing apparatus, optical tomographic measurement apparatus, and signal processing method

Номер патента: US20180073978A1. Автор: Yoshiki Okamoto,Masaaki Hara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-15.

Time measurement apparatus, time measurement method and method for producing a time measurement apparatus

Номер патента: US20210072706A1. Автор: Christian Lieb,Maximilan Engel. Владелец: T-Timr GmbH. Дата публикации: 2021-03-11.

Sample measuring apparatus

Номер патента: EP4290241A1. Автор: Masato Hayashi,Shuhei Kaneko,Fumiaki Iwase. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-12-13.

Optical measurement apparatus and optical measurement system

Номер патента: US8842285B2. Автор: Kazuhiro Gono. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2014-09-23.

Measurement apparatus and refrigeration system comprising same

Номер патента: US20240125529A1. Автор: LI Wang,BIN Yuan,Chenggang Wu,Xiuping Su. Владелец: York Wuxi Air Conditioning and Refrigeration Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Measurement apparatus and refrigeration system comprising same

Номер патента: EP4279838A1. Автор: LI Wang,BIN Yuan,Chenggang Wu,Xiuping Su. Владелец: York Wuxi Air Conditioning and Refrigeration Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Conductivity measurement apparatus

Номер патента: WO2022242592A1. Автор: Jianjun HAN,Zhenhua LIN,Jin Tang,Xiaoling Zhou,Nana DENG,Yingzhen TONG. Владелец: Mettler-Toledo Instruments (Shanghai) Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-11-24.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: EP2951597A1. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-12-09.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US20220206134A1. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Color measuring apparatus

Номер патента: US12025493B2. Автор: Tatsuya Shirane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Pressure measurement apparatus for inspecting therapeutic energy waves

Номер патента: US5357805A. Автор: Satoshi Aida,Katsuhiko Fujimoto,Nobuki Kudo,Masamichi Oyanagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1994-10-25.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US12085633B2. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Grain measurement apparatus

Номер патента: US09671273B2. Автор: Steven L. Harris,Matthew T. Emerick. Владелец: Juniper Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Optical distance measuring apparatus and electronic apparatus

Номер патента: US09568596B2. Автор: Hideo Wada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Image processing apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230258807A1. Автор: Hiroki Okada,Yoshiteru Takayama. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12038329B2. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measurement apparatus and biometric authentication apparatus

Номер патента: US20220309692A1. Автор: Katsuji Kimura,Youji Sakioka,Mitsuhiro Iwama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Light receiving apparatus and distance measuring apparatus

Номер патента: US12061292B2. Автор: Kenta Makimoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Electromagnetic-wave detection apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230288565A1. Автор: Hiroki Okada. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measuring apparatus for figures

Номер патента: US5708592A. Автор: Katsumi Kaji. Владелец: Ushikata Mfg Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-13.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240272003A1. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20020092189A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Distance measurement apparatus and setting method of transmission condition

Номер патента: US20240295650A1. Автор: Yukimitsu Yamada. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Current measuring apparatus, image forming apparatus, conveyance apparatus and method for measuring current

Номер патента: US09939469B2. Автор: Takeo Seki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: US09435677B1. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

Urine measurement apparatus

Номер патента: RU2539534C2. Автор: Микаэль ШАРЛЕЗ,Микаэль ЛЕФГРЕН. Владелец: Обзерв Медикал Апс. Дата публикации: 2015-01-20.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US20190078865A1. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US10859365B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Magnetic field measuring apparatus and apparatus for measuring spatial resolution of magnetic field detector

Номер патента: US6144196A. Автор: Naoya Tamaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-11-07.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20210131791A1. Автор: Masahiro Kawai,Yoshitaka Tsuboi,Shohei Tsukamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12044572B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20210208683A1. Автор: Shigeto Hattori. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Access area measurement apparatus

Номер патента: US5212890A. Автор: Glen W. White,R. Mark Mathews. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-25.

Measurement Apparatus Having Display Device

Номер патента: US20090165316A1. Автор: Kee-Weng Lai,Shan-Nan Chen. Владелец: Grenergy Opto Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Ball measuring apparatus

Номер патента: US20070075891A1. Автор: Takahiro Sajima. Владелец: SRI Sports Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Force measuring apparatus

Номер патента: US20080190216A1. Автор: Hideo Morimoto. Владелец: Nitta Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A3. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-11-10.

Wafer carrier measuring apparatus

Номер патента: US20240186163A1. Автор: Kuo-Hua Lee,Ming-Chien Chiu,Chia-Ho CHUANG,En-Nien Shen,Jyun-Ming Lyu,Xin-Yuan Huang. Владелец: Gudeng Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Method for Operating a Surface Measurement Apparatus

Номер патента: US20200200519A1. Автор: Adelbert Leber. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US6128083A. Автор: Asahiko Nogami. Владелец: Sony Precision Technology Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Vibration measuring apparatus

Номер патента: WO2019243808A1. Автор: Michael James Jones. Владелец: Jones Michael James. Дата публикации: 2019-12-26.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12085449B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2507813A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Dale Stubbs. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-06-09.

Flow measurement apparatus

Номер патента: US20240302194A1. Автор: Andreas Ehrlich,Mario Künzelmann,Gerry Schroeter. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring apparatus for the filling level of a container

Номер патента: US09885598B2. Автор: Petr Tesar,Jan Nekula,Martin Kalas. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-02-06.

Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus

Номер патента: US09866819B2. Автор: Shuichi Suzuki,Mitsuru Nakajima,Motoyasu Murai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Tool length measurement apparatus

Номер патента: US09863765B2. Автор: Akira Kimura,Ken Onoe. Владелец: DMG Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Fuel-level measuring apparatus

Номер патента: US09551605B2. Автор: Takeshi Watanabe,Akihiro Taguchi,Kotaro Tanaka,Naoki Ogiwara,Masaki Wakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Multiphase current measuring apparatus and method for multiphase current measurement

Номер патента: US20210109132A1. Автор: Claudia Glenske,Matthias Brusius. Владелец: SENSITEC GMBH. Дата публикации: 2021-04-15.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Torque measuring apparatus using magnetic bodies

Номер патента: US20150053024A1. Автор: Tae Hun KANG,Jeon II MOON. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2015-02-26.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: EP4224204A1. Автор: Emiko Shiraishi,Yohei Morita,Kei Takeyama,Junichiro Hayakawa,Kaho Oi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-09.

Inertial measurement apparatus and mechanical device

Номер патента: EP3816580A1. Автор: Faquan CHEN. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20200132797A1. Автор: Yusuke Ito,Masahiro Kawai,Takayuki Yanagisawa,Shumpei Kameyama,Masaharu Imaki,Yosuke Tsuzaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Measuring apparatus and method for same

Номер патента: EP3080548A1. Автор: Owen PEARCEY. Владелец: HATCH ASSOCIATES PTY LTD. Дата публикации: 2016-10-19.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100289895A1. Автор: Norihiro Imamura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-11-18.

Frequency measurement apparatus, microcontroller, and electronic apparatus

Номер патента: US20210405099A1. Автор: Keisuke Hashimoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US20220252436A1. Автор: Masataka Yamamuro. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Color-Measuring Apparatus, Print Control Apparatus, And Print Control Method

Номер патента: US20160142589A1. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Signal measuring apparatus

Номер патента: US20230258695A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20130010278A1. Автор: Hitoshi Ohmuro. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

Measurement apparatus, control method for measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: US20220373618A1. Автор: Yu Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US20170059316A1. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-02.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20140347677A1. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-11-27.

Measurement apparatus and driving apparatus

Номер патента: US20190128916A1. Автор: Takayuki Uozumi,Takefumi Ota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Flow measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2019243789A1. Автор: Victor Gawski,Gavin MUNRO. Владелец: Gm Flow Measurement Services Limited. Дата публикации: 2019-12-26.

Distance measuring apparatus using sensor cover

Номер патента: US20230034798A1. Автор: Jungwon Choi,Yongkeun JEE,Hyeonghwan CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20200096333A1. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Irradiation strength distribution measuring apparatus and method of measuring

Номер патента: WO2008089898A1. Автор: Rolf Freimann. Владелец: Carl Zeiss Smt Ag. Дата публикации: 2008-07-31.

Measurement apparatus

Номер патента: US20240264262A1. Автор: Yuki Kondo,Takashi Iwase,Chunqing LIANG. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20210239497A1. Автор: Harutsugu Fukumoto. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Signal measuring apparatus

Номер патента: GB2597059A. Автор: White Scott,Price Richard,Ramsdale Catherine,ALKHALIL Feras,SOU Antony. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Measuring apparatus, signal outputting method and storage medium

Номер патента: US20010037188A1. Автор: Masashi Tsuboi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2001-11-01.

Measuring apparatus and method of wafer geometry

Номер патента: US12072176B2. Автор: An Andrew Zeng. Владелец: Nanjing Zhongan Semiconductor Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Signal measuring apparatus

Номер патента: EP4176235A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Signal measuring apparatus

Номер патента: WO2022008904A1. Автор: Scott White,Richard Price,Catherine Ramsdale,Antony Sou,Feras ALKHALIL. Владелец: Pragmatic Semiconductor Limited. Дата публикации: 2022-01-13.

Optical Wavelength Measurement Apparatus and Method, Optical Wavelength Control Device, and Light Emitting System

Номер патента: US20240295437A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Current measuring apparatus with redundant current measurement

Номер патента: US20230266368A1. Автор: Jan Marien,Benedikt Kramm. Владелец: IsabellenHuette Heusler GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-08-24.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US9823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US9764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring apparatus

Номер патента: US20200006990A1. Автор: Yuki Yamamoto,Natsuki MIYASHITA,Tomohide TSUKASAKI. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Light measurement apparatus

Номер патента: US20150124249A1. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Biomagnetic measurement apparatus

Номер патента: US20030231016A1. Автор: Masahiro Murakami,Hitoshi Sasabuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2003-12-18.

Color measuring system, backing plate, and color measuring apparatus

Номер патента: US20230194340A1. Автор: Katsumi Yamada,So YOKOTA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Piston ring tension measurement apparatus

Номер патента: US20120006121A1. Автор: Atsuko Miyamoto. Владелец: Teikoku Piston Ring Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-12.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240310519A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212173A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20170212172A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20160282417A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US20180011147A1. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-11.

Intelligent measuring apparatus

Номер патента: US12111065B2. Автор: Ulrich Demuth,Manfred Ulrich,Michael Oswald. Владелец: REFCO MANUFACTURING LTD. Дата публикации: 2024-10-08.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Color measurement apparatus and printing apparatus

Номер патента: US09992383B2. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Optical velocity measuring apparatus and moving object

Номер патента: US09977044B2. Автор: Azusa Amino,Ryosuke Nakamura,Taishi Ueda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-22.

Method for measuring level of material level measuring apparatus

Номер патента: US09958309B2. Автор: I-Chu Lin,Liang-Chi CHANG,Chun-Han HUANG. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Correction device and correction method for optical measuring apparatus

Номер патента: US09958263B2. Автор: Ichiro Taniguchi,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Grounding resistance measurement apparatus and method of operating the same

Номер патента: US09910079B2. Автор: Tsung-Yuan Wu. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Minute object characteristics measuring apparatus

Номер патента: US09857216B2. Автор: Daichi Yamaguchi,Shuusuke SOMENO. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Solar cell measuring apparatus

Номер патента: US09825585B2. Автор: Jaewon Chang,Heejin NAM,Hyunjung PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-11-21.

Measuring apparatus to aide with hanging objects

Номер патента: US09823069B2. Автор: Betty Taylor. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-21.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804229B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09804228B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

End play measurement apparatus

Номер патента: US09791349B2. Автор: Michinori Hashimoto,Hideo Terasawa,Shinsaku Maeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US09764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Measurement apparatus

Номер патента: US09753127B2. Автор: Hirofumi Yamamoto,Akira Miki,Shinichirou Taguchi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of correcting measurement error of shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus

Номер патента: US09683839B2. Автор: Nobuhiro Ishikawa,Hideyuki Nakagawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09651876B2. Автор: Kenji Noda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09645201B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Voltage measuring apparatus

Номер патента: US09645199B2. Автор: Akira Kawabe,Gorou Mori. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement apparatus and method of measuring signal light quality

Номер патента: US09638574B2. Автор: Shoichiro Oda,Tomohiro Yamauchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Three-dimensional shape measurement apparatus and control method thereof

Номер патента: US09599462B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Roundness measuring apparatus

Номер патента: US09581424B2. Автор: Ryo Takanashi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Deposition rate measuring apparatus

Номер патента: US09562798B2. Автор: Hee Dok Choi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Measurement apparatus and wood processing system with such a measurement apparatus

Номер патента: US09541569B2. Автор: Hans Hundegger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Muzzle velocity measuring apparatus and method

Номер патента: US09513308B2. Автор: Sung-Min Lee,Jung-Yun Kim,Kyu-Chae JUNG,De-Rac SON,Jun-Goo SHIN. Владелец: Hanwha Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Granule measurement apparatus

Номер патента: US09500509B2. Автор: Daniel Allen EGNOR, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09453743B2. Автор: Wansoo LEE,Euncheol LEE,Taeksoo LEE. Владелец: Hitachi LG Data Storage Korea Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus

Номер патента: US09448052B2. Автор: Takashi Noda,Hiromi Deguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Light measurement apparatus

Номер патента: US09442010B2. Автор: Naoharu Yanagawa. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09429420B2. Автор: Hyunjoon Kim,Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2016-08-30.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09354041B2. Автор: Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Battery property measurement apparatus

Номер патента: US20210018566A1. Автор: Jin Hyun Lee,Young Joong Kim,Young Su SON. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20240060763A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: EP4367471A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: WO2023281270A1. Автор: Peter Qiu,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2023-01-12.

Eyeglass frame measurement apparatus

Номер патента: US7436523B2. Автор: Yoshinori Matsuyama,Motoshi Tanaka. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2008-10-14.

Press load measuring apparatus and method for press machine

Номер патента: US20200307138A1. Автор: Yasuyuki Kohno,Kazuki Honjo. Владелец: Aida Engineering Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Battery cell internal pressure measurement apparatus

Номер патента: US20240230444A9. Автор: Kyung-Min Lee,In-Seob HWANG,Chang-Hyun HWANG,Bong-Hyun Jeong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Force measurement apparatus for pile

Номер патента: US20240218856A1. Автор: Tzung-Ching Lee,Chao-Ta Huang,Yu-Hsuan SHIH,Che-Kai Yeh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-07-04.

Atmospheric pressure measuring apparatus and method of measuring atmospheric pressure

Номер патента: US20090288491A1. Автор: Yoshitaka Suzuki,Takahiro Imamura,Shinji Koganezawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Weight measurement apparatus, method of eliminating noise and method of designing digital filter

Номер патента: EP1416631A3. Автор: Tohru Morichi,Yukio Wakasa,Naoyuki Aikawa. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-20.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US10401151B2. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-09-03.

Measuring apparatus

Номер патента: US20150362549A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US8472030B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-25.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2016038361A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: Capaltec Limited. Дата публикации: 2016-03-17.

Ultrasound measuring apparatus and method for measuring the flow rate of a fluid

Номер патента: US10260919B2. Автор: Toralf Dietz,Arnd Schlicke,Henri Kirmse. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2019-04-16.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US20160341778A1. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-24.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Optical outer diameter measurement apparatus

Номер патента: US20180299257A1. Автор: Ryoichi Imaizumi,Ichirou Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Neutron flux measurement apparatus

Номер патента: US20240145107A1. Автор: Tetsushi AZUMA,Makoto SASANO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: EP3882660A1. Автор: Hideki Sakamoto. Владелец: Alpine Electronics Inc. Дата публикации: 2021-09-22.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240248208A1. Автор: Takahiro Inoue,Hideki Sato,Takayuki Shimizu,Tetsuro Ikeda,Isamu Kawabe. Владелец: Sharp Semiconductor Innovation Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Tilt angle measuring apparatus

Номер патента: US20040060357A1. Автор: Takashi Ohsawa,Akiharu Fukuda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-04-01.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: US20220091301A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

A weight measuring apparatus

Номер патента: EP4403887A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-24.

Length measurement apparatus

Номер патента: US20110148397A1. Автор: Josef Siraky,Florian Grieshaber. Владелец: SICK STEGMANN GMBH. Дата публикации: 2011-06-23.

Brain measurement apparatus

Номер патента: US20220386888A1. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2022-12-08.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Length Measuring Apparatus

Номер патента: US20220170728A1. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2022-06-02.

Length measuring apparatus

Номер патента: US11852469B2. Автор: Eiji Kan. Владелец: KAN MECHANICAL INDUSTRY Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20100245799A1. Автор: Boris KIRILLOV,Dong Ik Shin,Hong Ki Kim,Jung Eun Noh,Back Kue Lee,Joo Hong Kim. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-30.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Laser measuring apparatus

Номер патента: US5058119A. Автор: Masamichi Suzuki,Masaki Tomiya,Yoshiharu Kuwabara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 1991-10-15.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement apparatus, calculation method, system, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160346882A1. Автор: Tsuyoshi Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-01.

Collision reaction force measurement apparatus

Номер патента: US20060070431A1. Автор: Shigeo Ishikawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-04-06.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Optical displacement measuring apparatus

Номер патента: EP1985973A3. Автор: Tadashi Iwamoto. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Radiation measurement apparatus

Номер патента: US20140231646A1. Автор: Toru Onodera,Shunichiro Makino,Naoto Kume,Yoshinori Satoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Measurement apparatus

Номер патента: GB2604069A. Автор: Uemura Hiroaki. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-24.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Surface profile measuring apparatus, method of measuring surface profile, and method of manufacturing optical element

Номер патента: US20110141482A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-16.

Semiconductor measurement apparatus

Номер патента: US20240288265A1. Автор: YASUHIRO Hidaka,Jinyong Kim,Wookrae Kim,Ingi KIM,Jinseob KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-29.

Measuring apparatus

Номер патента: EP3191792A1. Автор: Andrew Barr,Michael Grace. Владелец: CAPALTEC Ltd. Дата публикации: 2017-07-19.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US9817051B2. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-14.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Thickness measuring apparatus

Номер патента: US20200208962A1. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US20230258779A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Automatic measuring apparatus and control method for the same

Номер патента: US20240263932A1. Автор: Masashi Yamaji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Gradient measuring apparatus and system

Номер патента: US20150377619A1. Автор: John C. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-31.

Optical Measuring Apparatuses

Номер патента: US20120105859A1. Автор: Kwang Soo Kim,Chang Hoon Choi,Tae Joong Kim,Young Heo,Byung Seon CHUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-05-03.

Protective device for a measuring apparatus

Номер патента: US11733073B2. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2023-08-22.

Protective Device for a Measuring Apparatus

Номер патента: US20210318148A1. Автор: Ralf Siegler,Ralph Lohner. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2021-10-14.

Weight measuring apparatus

Номер патента: AU2023285855A1. Автор: Yu-Min Tsao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-08.

Inertial measurement apparatus, electronic instrument, and moving object

Номер патента: US20210123736A1. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Flow measuring apparatus

Номер патента: WO1996030724A1. Автор: Cyril Ward Nugent. Владелец: Umeco Systems Limited. Дата публикации: 1996-10-03.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: EP3974874A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190219424A1. Автор: Hirokazu Kobayashi,Akio Kawai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Measuring apparatus with tape measure and pendulum for plumbing

Номер патента: EP1540267A1. Автор: Andrew Webb,Michael Meagor. Владелец: Markerite Trading Ltd. Дата публикации: 2005-06-15.

Measuring apparatus

Номер патента: US20230213331A1. Автор: Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US20100272321A1. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Current measurement apparatus

Номер патента: EP1740960A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Ltd. Дата публикации: 2007-01-10.

Current measurement apparatus

Номер патента: WO2005106507A1. Автор: Desmond Ebenezer,Albert Zwolinski. Владелец: Lem Heme Limited. Дата публикации: 2005-11-10.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: AU2007216862A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: US20080068585A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Rotatable Display for Test and Measurement Apparatus

Номер патента: US20110115470A1. Автор: Anthony Cake,Yann Oeffner,Tyler Cox,James Annichiarico,Daniel Monopoli,Chrsitopher K. Schroeder. Владелец: Lecroy Corp. Дата публикации: 2011-05-19.

Ultrasound flow rate measurement apparatus and manufacturing method for same

Номер патента: US20180156651A1. Автор: Torsten Schmidt,Jörg Schneider,Christian Schulz. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2018-06-07.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Volume measuring apparatus with multiple buttons

Номер патента: US20210372770A1. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Inner Diameter Measurement Apparatus

Номер патента: MY196233A. Автор: ABE Shuji,My Tien Phan. Владелец: Synztec Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-24.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20030084582A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Single-axial precision measuring apparatus

Номер патента: US20050022607A1. Автор: Cheng-Fu Hsiao. Владелец: Barmu Tech Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Measurement apparatus for FET characteristics

Номер патента: US20070279081A1. Автор: Yasushi Okawa. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-12-06.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020113956A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020107655A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-08.

Magnetic field measuring apparatus

Номер патента: US20210132161A1. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-06.

Measurement apparatus

Номер патента: US20230140458A1. Автор: Yoshiyuki Suzuki,Junichiro Hayakawa. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-05-04.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: EP4428506A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302211A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Tool measurement apparatus for a machine tool

Номер патента: EP4433257A1. Автор: William David Stockill. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-25.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240302208A1. Автор: Masaki Ito,Katsumi Yamada,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Control method and color measurement apparatus

Номер патента: US20240302215A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: US20240302209A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Interferometric displacement measurement apparatus

Номер патента: US20240310158A1. Автор: Peter Qui,Armin REICHOLD,Songyuan ZHAO,Edgar BRUCKE. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: US20240302160A1. Автор: Markus Adam ECKHARDT. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240329204A1. Автор: Shota Nakahara,Masayuki Omaki,Natsuki Honda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Color measurement apparatus

Номер патента: EP4428507A1. Автор: Masaki Ito,Takeshi Tokuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Distance measuring apparatus and light emitting device for distance measurement

Номер патента: US20240345222A1. Автор: Daisuke Iguchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-17.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: GB2629247A. Автор: Adam Eckhardt Markus. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Capacitance measurement apparatus

Номер патента: US12092671B2. Автор: CHEN CHEN. Владелец: Chipone Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Magnetic field measuring apparatus and magnetic field measuring method

Номер патента: US12066508B2. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Image projection measuring apparatus

Номер патента: US12066284B2. Автор: Takatoshi SUGAWARA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09989356B2. Автор: Tadashi Iwamoto,Kentaro Nemoto,Eisuke Moriuchi,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Linear displacement measuring apparatus

Номер патента: US09989345B2. Автор: Kazushi Kikuchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Position measurement apparatus

Номер патента: US09983310B2. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09982993B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Automatic angle-measured apparatus and method using the same

Номер патента: US09970789B2. Автор: Chia-Ching Lin,Ming-Chun Ho,Chin-Hui Chen,Shu-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Medical image measuring apparatus, method, and medium

Номер патента: US09968278B2. Автор: Yoshinori Itai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Magnetic field measurement apparatus, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09958514B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Optical measurement apparatus and method of manufacturing the same

Номер патента: US09952394B2. Автор: James Reynolds,Simon Meadowcroft,Robin Taylor. Владелец: Lein Applied Diagnostics Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09945887B2. Автор: Hiroshi Imai,Keiki Matsuura,Hiroyuki Tokusaki,Yasukazu Ohno. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09927516B2. Автор: Hirokazu SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09921301B2. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Surface property measuring apparatus and method for controlling the same

Номер патента: US09921044B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US09915516B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Measuring apparatus for measuring the trajectory of a target object

Номер патента: US09910146B2. Автор: Rudolf Protz. Владелец: MBDA Deutschland GmbH. Дата публикации: 2018-03-06.

Characteristic-measuring apparatus and characteristic-measuring method for multi-core fiber

Номер патента: US20180246008A1. Автор: Katsuhiro Takenaga,Shota Saito. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Measurement apparatus

Номер патента: US09863757B1. Автор: Hiroyuki Hotta. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus for three-dimensional profilometry and method thereof

Номер патента: US09858671B2. Автор: Liang-Chia Chen,Chung-An Hsieh,Ming-Xuan WENG. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2018-01-02.

Measuring apparatus

Номер патента: US09851194B2. Автор: Chun-Jen Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Measuring apparatus, method, and program

Номер патента: US09846027B2. Автор: Isao Kimura,Atsushi Takeuchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Pressure measurement apparatus, assemblies and methods

Номер патента: US09841340B1. Автор: Christopher John Harthan,Blair Randall Chalpin. Владелец: Scanivalve Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Distance measuring apparatus and method

Номер патента: US09835438B2. Автор: Hiroyuki Ohsawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09829303B2. Автор: Yasuhiro Yamauchi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US09823110B2. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US09817124B2. Автор: Kenji Aizawa,Shota Takemura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Alternating current loss measuring apparatus

Номер патента: US09817051B2. Автор: Takeshi Kawamura,Manabu Aoki,Yukinobu Imamura,Tatsuhiko Kawakami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-11-14.

Flow rate measuring apparatus

Номер патента: US09810561B2. Автор: Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Measuring apparatus and support mechanism of columnar work piece

Номер патента: US09810516B2. Автор: Tomomitsu SUGAWARA,Hirotada Anzai,Monya FUJIWARA. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Measurement circuit and measurement apparatus for wireless power transmission system

Номер патента: US09806538B2. Автор: Hironobu Takahashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Measuring apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US09797717B2. Автор: Masaki Nakajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Adsorption characteristic measuring apparatus

Номер патента: US09784637B2. Автор: Satoshi Taniguchi,Akira Endo,Masayuki Yoshida,Makoto Okawa,Kazuyuki Nakai,Marie SHIMOMURA. Владелец: MicrotracBEL Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Target material thickness measuring apparatus

Номер патента: US09778024B2. Автор: Liang Peng,Daeyoung Choi,Deyong Wang,Yefa Li,Congqi Zheng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Distance measuring apparatus using laser light

Номер патента: US09753125B2. Автор: Makoto Masuda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-05.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09736460B2. Автор: Jun Kanetake,Osafumi Nakayama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Magnetic field measurement apparatus

Номер патента: US09720058B2. Автор: Kimio Nagasaka,Hitoshi Ueno. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Three-dimensional measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09715730B2. Автор: Hideaki Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Electromagnetically force-compensating force-measuring apparatus

Номер патента: US09702752B2. Автор: Heinrich Feldotte,Heyko Holst. Владелец: Sartorius Lab Instruments GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-07-11.

Shape measuring apparatus

Номер патента: US09702688B2. Автор: Osamu Saito,Ichiro Taniguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Radiation measurement apparatus and radiation measurement method

Номер патента: US09696433B2. Автор: Koji Yasui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Hall-effect measurement apparatus

Номер патента: US09689935B2. Автор: Ming-Cheng Lin,Che-Hung Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Multi-joint arm type measurement apparatus

Номер патента: US09689663B2. Автор: Kentaro Nemoto,Yuichi NAGATAKI. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Measuring apparatus

Номер патента: US09684027B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measuring apparatus and measuring method utilizing insulating liquid

Номер патента: US09684015B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Kosuke Hatozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Ring laser measurement apparatus and method

Номер патента: US09683831B2. Автор: John W. Palmateer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-06-20.

Three-dimensional measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09679385B2. Автор: Hideaki Suzuki,Tadashi Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Polarization velocity vector measuring apparatus and polarization velocity vector measuring method

Номер патента: US09677943B2. Автор: Yoshihiro Kanda. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Contour line measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09672630B2. Автор: Yuuta Namiki,Fumikazu Warashina. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Optical measuring apparatus

Номер патента: US09658054B2. Автор: Koichi Watanabe,Daisuke Tomita,Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Marking implement for measuring apparatus

Номер патента: US09658046B2. Автор: Adam S Fulton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-05-23.

Distance measurement apparatus

Номер патента: US09651663B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Rotation angle measurement apparatus

Номер патента: US09625278B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Optical image measuring apparatus

Номер патента: US09600886B2. Автор: Takashi Fujimura,Hitoshi Shimizu. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Flow rate measuring apparatus

Номер патента: US09562797B2. Автор: Toshikuni Kurokawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Three-dimensional measuring apparatus and control method therefor

Номер патента: US09546863B2. Автор: Hiroshi Yoshikawa,Shiki Takabayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09544558B2. Автор: Hideo Takizawa,Hiroto Nozawa,Koyo TADA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Eyeglass frame shape measuring apparatus

Номер патента: US09535269B2. Автор: Tomoji Tanaka,Ryoji Shibata. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Alternating current power measuring apparatus

Номер патента: US09529024B2. Автор: Akio Ito,Hirotaka Oshima,Takayuki Ambe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Rotation angle measurement apparatus

Номер патента: US09523589B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Temperature measurement apparatus and method

Номер патента: US09500537B2. Автор: Jun Abe,Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US09500520B2. Автор: Kazuaki Ohkubo,Hisashi Shiraiwa. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Targeting device for electro-optical measuring apparatuses

Номер патента: US09482531B2. Автор: Frank Schroeder,Canpolat Orman. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2016-11-01.

Coordinate measuring apparatus for measuring a workpiece

Номер патента: US09476688B2. Автор: Berthold Matzkovits. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2016-10-25.

Tape measure apparatus with a rotating and sliding catch

Номер патента: US09470500B2. Автор: Paul Ricalde. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-18.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09467616B2. Автор: Takashi Kawamura,Kozo Ezawa,Shunsuke Yasugi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Volumetric-flow measuring apparatus having a foldable flow straightener

Номер патента: US09453746B2. Автор: Simon Brugger,Martin Rombach. Владелец: Testo SE and Co KGaA. Дата публикации: 2016-09-27.

Curvature measurement apparatus and method

Номер патента: US09453721B2. Автор: Yasushi Iyechika,Masato Akita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Optical measuring apparatus and method of stereoscopic display device

Номер патента: US09441953B2. Автор: Jae Hong Kim,Kyong Ho Lim,Dong Gyou Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Measurement apparatus, measurement method, and absolute encoder

Номер патента: US09423276B2. Автор: Makiko Ogasawara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Optical measuring apparatus

Номер патента: US09423241B2. Автор: Shinji Fukuda,Ryoichi Imaizumi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09410786B2. Автор: Chih-Kuang Chang,Sheng-Qiang Shen,Jun-Song Xu,Jun-Hua Li. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Height measuring apparatus and method thereof

Номер патента: US09360303B2. Автор: Yao-Tsung Chang,Chia-Hsien Li,Pai-Yang Lin,Shun-Chi Chung. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2016-06-07.

Image measuring apparatus

Номер патента: US09354433B2. Автор: Hiroyuki Yoshida. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Distance measurement apparatus, distance measurement method, and camera

Номер патента: US09354056B2. Автор: Daisuke Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Magnetic field measurement apparatus

Номер патента: US09351651B2. Автор: Kimio Nagasaka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Spherical-form measuring apparatus

Номер патента: US09297631B2. Автор: Yutaka Kuriyama,Takeshi Hagino,Yuichiro Yokoyama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-03-29.

Distance measurement method and apparatus, and relative position measurement apparatus

Номер патента: CA2030851A1. Автор: Tomoaki Ueda,Koei Obata. Владелец: Koei Obata. Дата публикации: 1991-05-25.

Flow measuring apparatus and inhalation apparatus comprising the same

Номер патента: CA2826516C. Автор: Thierry Poree. Владелец: Protecsom Amerique Du Nord Inc. Дата публикации: 2020-09-22.

Measuring Apparatus for Measuring the Force Factor of a Dynamic Loudspeaker Driver

Номер патента: US20200100039A1. Автор: Friedrich Reining. Владелец: Sound Solutions International Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Controlling and measuring apparatus with shutoff protection

Номер патента: RU2369876C2. Автор: Фабио ВЕРОНИ. Владелец: Энел Дистрибуционе С.П.А.. Дата публикации: 2009-10-10.

Wind turbine control having a Lidar wind speed measurement apparatus

Номер патента: GB2398841A. Автор: David Arthur Smith. Владелец: Qinetiq Ltd. Дата публикации: 2004-09-01.

Two-terminal circuit element measuring apparatus for performing contact checks

Номер патента: US5321363A. Автор: Hideki Wakamatsu,Hideshi Tanaka,Nobuo Nakata,Yohichi Kuboyama. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1994-06-14.

Surface measuring apparatus

Номер патента: US10760891B2. Автор: Philipp Steuer. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-09-01.

Measurement apparatus and control method

Номер патента: US8326021B2. Автор: Kazuhiko Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-12-04.

Optical range measuring apparatus

Номер патента: US3848999A. Автор: Armi G Dall. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1974-11-19.

Measuring apparatus for operating state

Номер патента: US20210341518A1. Автор: Markus FRIESEN,Felix Loske. Владелец: Harting Electric GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-11-04.

Measuring apparatus for operating state

Номер патента: US11899046B2. Автор: Markus FRIESEN,Felix Loske. Владелец: Harting Electric GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-13.

Measurement apparatus, image capturing apparatus, control method, and recording medium

Номер патента: US11812137B2. Автор: Takashi Sasaki,Akinari Takagi,Kazuya Nobayashi,Asahi Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Measurement apparatus

Номер патента: US11803775B2. Автор: Roland DINGAL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-10-31.

Measurement apparatus and method for controlling a measurement apparatus

Номер патента: US11879914B2. Автор: Wolfgang Herbordt. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-23.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2499503A1. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-09-19.

Distance and speed measuring apparatus

Номер патента: EP4006587A1. Автор: Hisato Uetsuka. Владелец: Steravision Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Measurement apparatus, image capturing apparatus, control method, and recording medium

Номер патента: US20200374468A1. Автор: Takashi Sasaki,Akinari Takagi,Kazuya Nobayashi,Asahi Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: AU2019315141A1. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US20220141394A1. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US20210258509A1. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: WO2020026917A3. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2020-03-19.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: EP3830341A2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: WO2020026917A2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2020-02-06.

Measurement apparatus

Номер патента: US20210035016A1. Автор: Roland DINGAL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-02-04.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011058375A1. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-05-19.

Displacement detection apparatus, displacement measuring apparatus and fixed point detection apparatus

Номер патента: EP1707924A3. Автор: Hideaki Tamiya. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2008-05-28.

Distance measuring apparatus of a target tracking type

Номер патента: US5515448A. Автор: Katsuo Nishitani. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 1996-05-07.

A dual function flow measurement apparatus having an array of sensors

Номер патента: CA2532468C. Автор: Alan D. Kersey,Michael A. Davis,Daniel L. Gysling. Владелец: Expro Meters Inc. Дата публикации: 2013-04-23.

Measuring apparatus, especially for measuring forces acting upon a bearing or the like

Номер патента: CA1119828A. Автор: Rolf Keller. Владелец: Sro Kugellagerwerke J Schmidt Roost AG. Дата публикации: 1982-03-16.

Three-dimensional measurement apparatus and method

Номер патента: US20110228052A1. Автор: Masaki Suwa,Tuo Zhuang,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2011-09-22.

Measuring apparatus

Номер патента: US4539758A. Автор: Raine R. Riutta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-09-10.

Vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20200348166A1. Автор: Masahiko Ohta. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-11-05.

Measuring apparatus and testing apparatus

Номер патента: US11796604B2. Автор: Junji IIJIMA. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Bearing vibration measuring apparatus, bearing vibration measuring method, and radial type bearing

Номер патента: US20050196090A1. Автор: Takashi Maeda,Kazumasa Nakajima,Takeo Kawamata. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2005-09-08.

Color measurement apparatus

Номер патента: US11768107B2. Автор: Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Liquid Level Measurement Apparatus

Номер патента: AU2022228113B2. Автор: Salar BASIRI,Alireza SHAFIGHI MALEKSHAH. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-02.

Measuring apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20140036250A1. Автор: Yoshiyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-02-06.

Position measuring apparatus and working apparatus using the same

Номер патента: US20020123858A1. Автор: Masakazu Matsumoto,Katsuyuki Ogura,Kozo Sugita. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2002-09-05.

Measurement apparatus and data processing method

Номер патента: US20190065439A1. Автор: Nobuyuki Hattori,Akihiro OHORI. Владелец: Daihen Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Measurement apparatus and data processing method

Номер патента: US20150248376A1. Автор: Nobuyuki Hattori,Akihiro OHORI. Владелец: Daihen Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Improved flow measurement apparatus and method of use

Номер патента: CA2985283C. Автор: Gavin MUNRO. Владелец: Gm Measurement Services Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Liquid Level Measurement Apparatus

Номер патента: AU2022228113A1. Автор: Salar BASIRI,Alireza SHAFIGHI MALEKSHAH. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-15.

Pulse signal width measurement apparatus and method, system, and medium

Номер патента: EP4336193A2. Автор: Shan Lu,Jian Wang,Junmou Zhang,Dongrong ZHANG. Владелец: Lemon Inc. Дата публикации: 2024-03-13.

Bearing vibration measuring apparatus, bearing vibration measuring method, and radial type bearing

Номер патента: US7107850B2. Автор: Takashi Maeda,Kazumasa Nakajima,Takeo Kawamata. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2006-09-19.

Tire measurement apparatus and method

Номер патента: US20240151610A1. Автор: Robert D. Fogal, Jr.,Christopher M. RUDYK,Joel M. Lesher. Владелец: International Marketing Inc. Дата публикации: 2024-05-09.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230324811A1. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Part program generating apparatus and program for image measuring apparatus

Номер патента: US20030039334A1. Автор: Akira Takada,Koichi Komatsu,Masato Shimizu,Kozo Ariga. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2003-02-27.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Overlay measuring apparatus

Номер патента: US20230273530A1. Автор: Chien-Hsien Liu. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Measurement apparatus and exposure apparatus

Номер патента: US8184263B2. Автор: Yasunori Furukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US20020091497A1. Автор: Otto Ruck. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2002-07-11.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20030108345A1. Автор: Hideo Yoshida,Yoshikazu Mihara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-12.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09733578B2. Автор: Satoshi Maruyama,Akihito Hashimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: US20070186792A1. Автор: Shigeru Murata,Masaji Mizuta. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2007-08-16.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US7024333B2. Автор: Rudolf Rögele,Dieter Kalmbach. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-04-04.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Transmissive disk, manufacturing method thereof, and levitation measurement apparatus using transmissive disk

Номер патента: US20080130011A1. Автор: Daisuke Kimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Beam position measuring apparatus and method

Номер патента: US20110149301A1. Автор: Vladimir Protopopov,Oui Serg Kim,Dong Seok BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-06-23.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US9779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US20170046828A1. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-16.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US09779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

System and method for voice control of measurement apparatus

Номер патента: US09770174B2. Автор: Mohammed N. Islam. Владелец: Omni Medsci Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Measurement apparatus configured to control the on/off state of illumination source

Номер патента: US09746656B2. Автор: Yoshiki Okamoto,Masaaki Hara,Terumasa Ito. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Wiring length measurement apparatus and recording media

Номер патента: US09715568B2. Автор: Katsuhiko Iwase,Shinichi Maeda. Владелец: Liquid Design Systems Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Irradiation module for a measuring apparatus

Номер патента: US09678436B2. Автор: Dietmar Schnier. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09585630B2. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Depth measurement apparatus and controlling method thereof

Номер патента: US09438887B2. Автор: Makoto Oigawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Bio-signal measurement apparatus, docking apparatus and methods of their coupling

Номер патента: US11241181B2. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Sami Hynynen. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2022-02-08.

Bio-signal measurement apparatus, docking apparatus and methods of their coupling

Номер патента: EP3824789A1. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Sami Hynynen. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2021-05-26.

Data Processing Apparatus, Measurement Apparatus and Data Collection Method

Номер патента: US20070213938A1. Автор: Akinori Kai. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2007-09-13.

Position measurement apparatus, imaging apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20080144047A1. Автор: Nozomu Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-19.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US11835865B2. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20160066796A1. Автор: Hisahiro Matsuhashi,Ryo SHINOZAKI,Katsuaki Sakata,Makoto ANEZAKI. Владелец: UNION TOOL Co. Дата публикации: 2016-03-10.

Medical measurement apparatus

Номер патента: US20240285364A1. Автор: Takahiko Shiraishi,Tatsushi CHIHARA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-29.

Method of adjusting plating apparatus, and measuring apparatus

Номер патента: US20180371636A1. Автор: Yuji Araki,Masashi Shimoyama,Jumpei Fujikata,Mizuki Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Biological measurement apparatus and biological stimulation apparatus

Номер патента: US09820910B2. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Okayama Prefectural Government. Дата публикации: 2017-11-21.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

A blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2001037727B1. Автор: Jozsef Beres,Miklos Illyes Jr. Владелец: Miklos Illyes Jr. Дата публикации: 2001-10-25.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Diagnostic measuring apparatus with integrated spectrometer

Номер патента: US09480423B2. Автор: Ok-Kyung Cho,Yoon Ok Kim. Владелец: INGO FLORE. Дата публикации: 2016-11-01.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20190090758A1. Автор: Kazumasa Ito,Yoshinori Ueda,Takashi Usuda. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000363A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: EP3600021A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2018180787A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2018-10-04.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000364A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Physiological information measuring apparatus

Номер патента: US09788727B2. Автор: Atsushi Narusawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Reconfigurable measuring apparatus and method for controlling apparatus

Номер патента: US09545212B2. Автор: Jong Pal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20220071542A1. Автор: Yuki Yagishita,Mao Katsuhara,Kazunari Yoshifuji,Takeshi Ohkawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Pulsebeat measurement apparatus

Номер патента: US20180317790A1. Автор: Masahiro Suzuki,Tomoaki Ueda. Владелец: KDDI Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021350A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Pattern measuring apparatus

Номер патента: US20140021349A1. Автор: Susumu Koyama,Tatsuya Maeda,Mitsuji Ikeda,Hiroshi Nishihama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20160199005A1. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-14.

Golf simulator or measurement apparatus

Номер патента: EP1575678A2. Автор: Brian Mooney,James Hourihan. Владелец: MONTAGUE KENYON Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Electrostatic deflection control circuit and method of electronic beam measuring apparatus

Номер патента: US20070063146A1. Автор: Hiroshi Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-22.

Resinous cover for use in bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020072687A1. Автор: Yoshikazu Yoshida,Ikuo Hakomori. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-06-13.

A blood flow measuring apparatus

Номер патента: EP1397071A1. Автор: Hans Strandberg. Владелец: St Jude Medical AB. Дата публикации: 2004-03-17.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US20180078145A1. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20100069764A1. Автор: Hee-Jung Kang. Владелец: Daeyomedi Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-18.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Tool holder with measuring apparatus

Номер патента: US20220118529A1. Автор: Thomas Grosch. Владелец: HAIMER GMBH. Дата публикации: 2022-04-21.

Eye refractive power measuring apparatus

Номер патента: US4744648A. Автор: Yasuo Kato,Yasufumi Fukuma,Kiwami Horiguchi,Kiichi Kamiyama. Владелец: Tokyo Kogaku Kikai KK. Дата публикации: 1988-05-17.

Fuel cell measurement apparatus

Номер патента: US20100253356A1. Автор: Chang-Sing Hwang,Chun-Huang Tsai. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2010-10-07.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09867545B2. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Biosignal measuring apparatus and method of measuring biosignal

Номер патента: US09662032B2. Автор: Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Biosignal measurement apparatus

Номер патента: US09655541B2. Автор: Seiji Wada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Ophthalmic measurement apparatus and ophthalmic measurement program

Номер патента: US09480396B2. Автор: Michihiro Takii,Noriji Kawai. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Dispersion measurement apparatus

Номер патента: US20120045160A1. Автор: Motoyoshi Sekiya,Yusaku Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-02-23.

Joint motion measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2021158956A1. Автор: James L. Cook,James P. Stannard,Trent M. Guess,Jamie B. HALL. Владелец: The Curators of the University of Missouri. Дата публикации: 2021-08-12.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20240008756A1. Автор: Hiroshi Masuda. Владелец: La View Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: EP3562564A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2019-11-06.

Measuring apparatus

Номер патента: WO2012093650A1. Автор: Takao Nakajima,Yasufumi Asao. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-07-12.

Noise quantity measuring apparatus

Номер патента: US7920153B2. Автор: Takayuki Satou,Hidetsugu Takahashi. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-05.

Biosignal measurement apparatus and method

Номер патента: EP3890601A1. Автор: Teemu Myllylä,Aleksandra ZIENKIEWICZ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-13.

Flatness-measuring apparatus for measuring the flatness of a metal strip

Номер патента: US12036592B2. Автор: Andreas Kastner,Frank Gorgels. Владелец: SMS group GmbH. Дата публикации: 2024-07-16.

Measurement apparatus

Номер патента: US20170202456A1. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Sho KIMURA,Kohei Yukawa,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Saori NISHIZAKI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Switch overcurrent measuring apparatus

Номер патента: US20240267039A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Atsuki Asano. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Corneal shape measuring apparatus

Номер патента: US5668623A. Автор: Akio Sakurai,Takeyuki Kato,Minoru Kamiya. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 1997-09-16.

Fuel cell potential measuring apparatus and manufacturing method therefor

Номер патента: US20100021781A1. Автор: Masahiko Sato,Toshifumi Suzuki,Hiromichi Yoshida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-28.

Body impedance measurement apparatus

Номер патента: US20120296231A1. Автор: Masahiro Kitagawa,Tsutomu Yamasawa,Nobuhiko OSOEGAWA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-11-22.

Stationary exercise machine with a power measurement apparatus

Номер патента: US20180185691A1. Автор: Joshua S. Smith,Benjamin A. Browning. Владелец: Nautilus Inc. Дата публикации: 2018-07-05.

Fiber network events measurement apparatus

Номер патента: US20130322871A1. Автор: Ching-Wen Hsiao,Yu-Shu Chen,Hsuan-Hung Wu,Fu-Chun Hung,Chun-Hung Su,Ching-Lin Wu,Shih-Tien Lin. Владелец: Polarlink Tech Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Bodily information measurement apparatus

Номер патента: US20180192947A1. Автор: Yuma Adachi,Kengo Nishiyama,Masayuki Fukutsuka,Yoshihide Tokko,Sunao Ouchida. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-07-12.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20120194203A1. Автор: Masato Osawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Measuring apparatus and measuring system

Номер патента: US20170086688A1. Автор: Yuji Masuda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Ophthalmic measurement apparatus

Номер патента: US20060192920A1. Автор: Masanao Fujieda,Yukinobu Ban. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Thyroid uptake measurement apparatus

Номер патента: US20110213246A1. Автор: Seung Jae Lee,Yong Kown Kim,Jin Hun Joung. Владелец: Nucare Medical Systems Inc. Дата публикации: 2011-09-01.

MEASUREMENT APPARATUS AND Non-PSC CONNECTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20240276328A1. Автор: Kazuyuki Koike,Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Physiological signal measurement apparatus

Номер патента: US20240268689A1. Автор: Chin-Tang Chuang,Jung-Teng Pan,Yuan Tsai Lin,Wen Ching Kao. Владелец: AUO Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240306917A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Myopotential measurement apparatus and myopotential measurement wearable equipment

Номер патента: US20220354412A1. Автор: Hisashi Kaneda. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Venous pressure measurement apparatus

Номер патента: US12064220B2. Автор: Naoki Kobayashi,Haruka Morimoto. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Blood pressure measurement apparatus and control method for the same

Номер патента: US09895084B2. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hiroyuki Kinoshita. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Method and device for inflating a cuff of a non-invasive blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US09833153B2. Автор: Sufang Ma. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2017-12-05.

Peak expiratory flow rate measurement apparatus

Номер патента: US09700235B2. Автор: Jeff Baker,Mark Bunker,Paul van der Pol. Владелец: Noble International LLC. Дата публикации: 2017-07-11.

Heartbeat measuring apparatus, heartbeat measuring method, and recording medium

Номер патента: US09693738B2. Автор: Takeshi Fukuda,Toru Sato,Takuya Sakamoto,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Dimension measurement apparatus calibration standard and method for forming the same

Номер патента: US09691587B2. Автор: Shiang-Bau Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Photobiological measurement apparatus

Номер патента: US09675260B2. Автор: Yoshihiro Inoue,Yoshinori Masuda,Akihiro Ishikawa,Satoru Kohno,Takashi Amita,Haruhide Udagawa. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Magnetic field measuring apparatus and cell array

Номер патента: US09642553B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Electrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US09636038B2. Автор: Yukio Nonaka. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US09622667B2. Автор: Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring apparatus and method

Номер патента: US09544211B2. Автор: Masashi Ito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Biological signal measuring apparatus and biological signal measuring method

Номер патента: US09526444B2. Автор: Kazumasa Ito,Naoki Kobayashi,Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Electrocardiographic waveform measuring apparatus

Номер патента: US09468388B2. Автор: Kazuhiro Sakai,Katsuyoshi Nishii. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Fat mass measurement apparatus

Номер патента: US09408553B2. Автор: Takehiro Hamaguchi,Hiromichi Karo,Yasuaki Murakawa,Kazuhisa Tanabe. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Ink jet break-off length measurement apparatus and method

Номер патента: US20090027459A1. Автор: Stephen F. Pond,Gilbert A. Hawkins,Michael J. Piatt,John C. Brazas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-01-29.

Ink jet break-off length measurement apparatus and method

Номер патента: US8226199B2. Автор: Stephen F. Pond,Gilbert A. Hawkins,Michael J. Piatt,John C. Brazas. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2012-07-24.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: CA1044917A. Автор: Dennis E. Bahr,Jeffrey C. Petzke. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 1978-12-26.

Item fixture, handle, method of attaching measuring apparatus to vehicle, and mobile measuring apparatus

Номер патента: US20240010134A1. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Measuring apparatus, method for measuring, and recorded program medium

Номер патента: US20240113955A1. Автор: Yuki Ashino,Takashi Hitani,Miyu YAKUMARU. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Measurement apparatus and measurement target setting method thereof

Номер патента: US20240155434A1. Автор: Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Movement function assessment system and movement function measurement apparatus

Номер патента: US20170251957A1. Автор: Akihiko Kandori,Yuhua Zhang,Yuko Sano,Kanako Esaki. Владелец: Hitachi Maxell Ltd. Дата публикации: 2017-09-07.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Improvements in or relating to Combined Electric Regulating and Measuring Apparatus.

Номер патента: GB190413483A. Автор: Emile Fauvin,Eugene Amiot,Edoaurd Cheneaux. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-02-02.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: CA156793S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2015-01-28.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: AU356604S. Автор: . Владелец: Huntleigh Technology Ltd. Дата публикации: 2014-07-28.

Sliding flip stop measuring apparatus

Номер патента: AU321976S. Автор: . Владелец: Elumatec Australia Pty Ltd. Дата публикации: 2008-11-10.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: CA2903535C. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2018-02-27.