• Главная
  • Sealing component inspection method, inspection device, and inspection program

Sealing component inspection method, inspection device, and inspection program

Реферат: In this invention, amounts of gas permeation for each of a plurality of rubber sealing components that have been manufactured according to the same specifications are measured through helium leak testing and sample data is acquired in which for each sealing component, the measured value at a reference time CT during an unstable period A when the transmission amount was rising and the measured value in a stable period B when the transmission amount was stable are paired (sample acquisition). The plurality of acquired pairs of sample data are used to define the relationship between the measured value at the reference time CT and the measured value in the stable period as a linear function (function definition). Amounts of gas permeation of a sealing component to be inspected that has been manufactured according to the same specifications as the sealing components are measured through helium leak testing, and the defined linear function is used to estimate the value that would be measured for the sealing component to be inspected in the stable period B on the basis of measured values for the sealing component in the unstable period A (leak amount estimation).

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Sealing component inspection method, inspection device, and inspection program

Номер патента: EP4303556A1. Автор: Tatsuya Saito,Tomohiro Kawai. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-01-10.

Sealing component inspection method, inspection device, and inspection program

Номер патента: US20230417620A1. Автор: Tatsuya Saito,Tomohiro Kawai. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Battery pack leak inspection method and leak inspection device

Номер патента: JP7165303B2. Автор: 晃士 田丸. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-11-04.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Inspection program editing environment including real-time feedback related to throughput

Номер патента: US09933256B2. Автор: Dahai Yu,Bart De Vlieghere,Thomas Moch. Владелец: Mitutoyo Europe GmbH. Дата публикации: 2018-04-03.

Function inspection device of tco and inspection method using the same

Номер патента: KR101879463B1. Автор: 최성호,김종대,김창해,추성춘,이향목,이영목. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2018-07-17.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection method for semiconductor light-emitting device and manufacturing method for semiconductor light-emitting device

Номер патента: US20140210995A1. Автор: Masatoshi Abe. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2014-07-31.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240233106A9. Автор: Byungkyu Son. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240135521A1. Автор: Byungkyu Son. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-04-25.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: US20230206422A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-29.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP4131350A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-02-08.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: US20010055415A1. Автор: Takeo Nozaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Strength inspection method and strength inspection device

Номер патента: EP3929560A1. Автор: Hiraku Kawasaki. Владелец: IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Wafer inspection method and wafer inspection device

Номер патента: US10416229B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-09-17.

Inspection method for semiconductor light-emitting device and manufacturing method for semiconductor light-emitting device

Номер патента: US9395406B2. Автор: Masatoshi Abe. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2016-07-19.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US09742013B2. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection method for film covered battery

Номер патента: US09917337B2. Автор: Toshihiko Mankyu. Владелец: Automotive Energy Supply Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Inspection Equipment and Inspection Method

Номер патента: US20130187667A1. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-25.

Inspection equipment and inspection method

Номер патента: US9261475B2. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Welding inspection device

Номер патента: EP4431920A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3141432A4. Автор: Toru Owada,Nobuyoshi Morita,Keisuke Hakuta,Makoto Kayashima. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2018-01-03.

Tire inspection method and tire inspection device

Номер патента: CN111376507A. Автор: 伊藤秀平. Владелец: Toyo Tire and Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-07.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Disc inspecting method and disc inspecting device

Номер патента: US20120087222A1. Автор: Akitoshi Suzuki,Hiroaki Kobayashi,Toru Aida. Владелец: Sony DADC Corp. Дата публикации: 2012-04-12.

Device for monitoring the tightness of sealing components

Номер патента: US11892374B2. Автор: David Hassler,Pierre Jolivet,Julien Glory. Владелец: Gaztransport et Technigaz SA. Дата публикации: 2024-02-06.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A4. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US9097681B2. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-04.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

FIRE PROTECTION INSPECTION METHOD, FIRE PROTECTION INSPECTION DEVICE, AND REMOTE DEVICE

Номер патента: US20200394600A1. Автор: HE FU-QIANG,CHENG KUNG-CHIEH,KUO HUI-TSU,ZHAO JUN-QING. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-17.

LEARNING DEVICE, INSPECTION DEVICE, LEARNING METHOD, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210233232A1. Автор: Aikawa Hisashi,ARAI Hideyuki,SUGASAWA YUYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

Learning device, inspection device, learning method, and inspection method

Номер патента: CN112614086A. Автор: 塩见顺一. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

Soft error inspection method, soft error inspection device, and soft error inspection system

Номер патента: EP3637118B1. Автор: Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Soft error inspection method, soft error inspection device, and soft error inspection system

Номер патента: EP3637118A1. Автор: Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-04-15.

Soft error inspection method, soft error inspection device and soft error inspection system

Номер патента: JPWO2019038836A1. Автор: 武志 添田,添田 武志. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US20130286387A1. Автор: Masami Makuuchi,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-31.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US20130294677A1. Автор: Shunji Maeda,Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-07.

INSPECTION DEVICE, BONDING SYSTEM AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Tomita Hiroshi,KOGA Shinji,Tamura Takeshi,MIYAHARA Akinori,IWANAGA Shuji. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

ULTRASONIC INSPECTION METHOD AND ULTRASONIC INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20200049663A1. Автор: NARA Akihiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200064274A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20170074802A1. Автор: TAKAI Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

Strength inspection method and strength inspection device

Номер патента: US20220146385A1. Автор: Hiraku Kawasaki. Владелец: IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20150116702A1. Автор: Honda Toshifumi,Urano Yuta,Matsumoto Shunichi,Jingu Takahiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180149601A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

OPTICAL INSPECTION METHOD AND OPTICAL INSPECTION DEVICE FOR CONTAINERS

Номер патента: US20170154417A1. Автор: NIEDERMEIER Anton. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20160161422A1. Автор: Honda Toshifumi,Urano Yuta,Shibata Yukihiro,Taniguchi Atsushi,Matsumoto Shunichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Hiroi Takashi,Urano Takahiro,Hirose Nobuaki. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200173933A1. Автор: Sugiura Akihiko,Tada Hirotaro. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20150276623A1. Автор: Honda Toshifumi,Urano Yuta,Shibata Yukihiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

Wafer Inspection Method and Wafer Inspection Device

Номер патента: US20180275192A1. Автор: YAMADA Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

Substrate Inspection Method and Substrate Inspection Device

Номер патента: US20190271738A1. Автор: YAMADA Hiroshi,FUJIHARA Jun. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: CN101620190A. Автор: 藏所启一,铃木孝治. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-06.

Hygrograph inspection method and standard humidity generation device and method

Номер патента: CN110850040A. Автор: 柴学良. Владелец: XI'AN GEYUAN AUTOMATION TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-28.

Substrate inspection system, substrate inspection method and substrate inspection device

Номер патента: TW200504350A. Автор: Kazuhiko Fukazawa,Yasuto Kawashima. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2005-02-01.

Optical inspection method and optical inspection device for containers

Номер патента: DE102014216188A1. Автор: c/o Krones AG Niedermeier Anton. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2016-02-18.

Circuit inspection method and sample inspection device

Номер патента: CN107923939B. Автор: 影山晃,奈良安彦. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2021-11-19.

Defect inspection method, and defect inspection device

Номер патента: US20110141463A1. Автор: Minoru Noguchi,Shuichi Chikamatsu,Kenji Aiko,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Substrate inspection method and substrate inspection device

Номер патента: KR20220153499A. Автор: 이사무 다오다. Владелец: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤. Дата публикации: 2022-11-18.

Flaw inspection method and flaw inspection device

Номер патента: WO2014119454A1. Автор: 隆弘 田坂,允規 飯星,佳士郎 池田,繁 小野田. Владелец: 新日鐵住金株式会社. Дата публикации: 2014-08-07.

Tablet inspection method and tablet inspection device

Номер патента: WO2019138930A1. Автор: 和隆 谷口. Владелец: 株式会社Screenホールディングス. Дата публикации: 2019-07-18.

Surface condition inspection method and substrate inspection device

Номер патента: JP3551188B2. Автор: 清 村上,良樹 藤井. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2004-08-04.

Defect inspecting method and defect inspecting device

Номер патента: EP3660491A4. Автор: Akihiko Sugiura,Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Insulation inspection method and insulation inspection device

Номер патента: WO2013168729A1. Автор: 山下 宗寛. Владелец: 日本電産リード株式会社. Дата публикации: 2013-11-14.

Tool inspection method and tool inspection device

Номер патента: TW201543001A. Автор: Masaru Miyamoto,Yoshitomo Ishizaki,Tomohito Hattori,Yan-Wei Chen,Kousuke Miyawaki. Владелец: Takako Ind Inc. Дата публикации: 2015-11-16.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: US10495580B2. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2019-12-03.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: WO2012090367A1. Автор: 本田 敏文,雄太 浦野,芝田 行広. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2012-07-05.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: WO2012169458A1. Автор: 万人 五十嵐. Владелец: シャープ株式会社. Дата публикации: 2012-12-13.

Inspection device, packaging machine and inspection method of packaging body

Номер патента: TWI729759B. Автор: 大谷剛將,大山剛,坂井田憲彥. Владелец: 日商Ckd股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-01.

Surface inspection method and surface inspection device

Номер патента: TW200923348A. Автор: Yuji Kudo,Yoshihiko Fujimori. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-06-01.

Surface inspection method and surface inspection device

Номер патента: US20070229813A1. Автор: Kazuhiro Miyakawa,Yoichiro Iwa. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3361231B1. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

Inspection device, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2017169714A1. Автор: 孝明 伊藤. Владелец: 富士フイルム株式会社. Дата публикации: 2017-10-05.

Surface inspection method and surface inspection device

Номер патента: US7477373B2. Автор: Kazuhiro Miyakawa,Yoichiro Iwa. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2009-01-13.

Product inspection method and product inspection device

Номер патента: JP2023036975A. Автор: Takeshi Yamada,Koji Nakayama,剛 山田,幸治 中山,彩 太田,Aya Ota. Владелец: Towa Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-14.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: WO2021038633A1. Автор: 広井 高志,貴裕 浦野,展明 広瀬. Владелец: 株式会社日立ハイテク. Дата публикации: 2021-03-04.

Visual inspection method and visual inspection device

Номер патента: JP2017203734A. Автор: Jiro Umehara,二郎 梅原,梅原 二郎. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2017-11-16.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP4131350A4. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-05-08.

Board inspecting method and board inspecting device

Номер патента: TW200809227A. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2008-02-16.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION FACILITY AND INSPECTION DEVICE FAILURE CONFIRMATION METHOD

Номер патента: US20190120772A1. Автор: YAMAGATA Yoshihiro. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-04-25.

Inspection method of semiconductor integrated circuit device and semiconductor integrated circuit device

Номер патента: JP5399982B2. Автор: 共則 中村. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-01-29.

Inspection Method for Semiconductor Substrates Using Slope Data and Inspection Apparatus

Номер патента: US20190178808A1. Автор: Muhr Robert,Siedl Nicolas. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

Interface sealing component for a battery cover assembly, and related systems and methods

Номер патента: CA3024416C. Автор: Jean-Francois Leclerc,Francois Matte. Владелец: Volvo Group Canada Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Aviation component inspection using image recognition

Номер патента: US20210206515A1. Автор: Lukasz Malinowski,Michal Stefanowski,Ewelina Osko,Kamil Grzywinski,Piotr Pawliszcze. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-07-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Component inspection system and method

Номер патента: US12117813B2. Автор: Changsheng Guo,Maxime Lebrun,Clement Drouin Laberge,Daniel HAYEK,Samuel S. Yang. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and method

Номер патента: US12044725B2. Автор: Hiroshi Fukuda,Toru Miura,Yoshiho Maeda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Component inspection system and method

Номер патента: US20230111750A1. Автор: Changsheng Guo,Maxime Lebrun,Clement Drouin Laberge,Daniel HAYEK,Samuel S. Yang. Владелец: PRATT & WHITNEY CANADA CORP.. Дата публикации: 2023-04-13.

Component inspection system and method

Номер патента: CA3178807A1. Автор: Changsheng Guo,Maxime Lebrun,Clement Drouin Laberge,Daniel HAYEK,Samuel S. Yang. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2023-04-08.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Improved risk based inspection method

Номер патента: US20230196224A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: Single Buoy Moorings Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Improved risk based inspection method

Номер патента: WO2021214707A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: SINGLE BUOY MOORINGS INC.. Дата публикации: 2021-10-28.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US20150168267A1. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2015-06-18.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US09638606B2. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Component inspection

Номер патента: US20240068955A1. Автор: Stefan Feigl,Siarhei Lakhadanau. Владелец: Muehlbauer GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-29.

Analysis of release-resistant water in materials and related devices and methods

Номер патента: US20240345059A1. Автор: Michael Smith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-17.

Analysis of release-resistant water in materials and related devices and methods

Номер патента: US12055534B2. Автор: Michael P. Smith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-06.

Electronic component carrying device and electronic component inspection device

Номер патента: US20180080982A1. Автор: Masami Maeda,Daisuke Kirihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09618563B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-11.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Drug supply device and drug inspection method in drug supply device

Номер патента: US09776755B2. Автор: Akira Kondo,Hideyuki Takahashi,Takashi Mori. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Mounting inspection device

Номер патента: EP3048439A1. Автор: Mikio Nakajima,Mitsutaka Inagaki. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Inspection device

Номер патента: US11977036B2. Автор: Makoto Nakatani,Akihiro Maenaka,Yoshinori TARUMOTO,Hironori TSUTSUMI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190043181A1. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10769777B2. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Component inspection device

Номер патента: US20240070847A1. Автор: Shinji Sugita,Shimpei FUJII,Aoi Mochizuki. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Device and method for inspecting a sealing member

Номер патента: US09568303B2. Автор: Wan-Jae JOO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP1930732A1. Автор: Naoki c/o TOKYO ELECTRON AT LIMITED IKEUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Component inspection imaging apparatus structure

Номер патента: US20080253643A1. Автор: Chun-Nan Wu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-16.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Charged Particle Beam Device and Optical Examination Device

Номер патента: US20200161194A1. Автор: Koichi Taniguchi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-21.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Electrical component inspection instrument

Номер патента: US12105117B2. Автор: Osamu Hashiguchi,Junji OOSAKA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Electronic component inspection apparatus and electronic component inspection method

Номер патента: US11821843B2. Автор: Junji Morita,Daichi GEMBA. Владелец: Sumida Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

A programming apparatus of a visual inspection program

Номер патента: EP1210585A1. Автор: Tsuyoshi Masuda,Mitsuru Shirasawa. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 2002-06-05.

A programming apparatus of a visual inspection program

Номер патента: WO2002001208A1. Автор: Tsuyoshi Masuda,Mitsuru Shirasawa. Владелец: Matsushita Electric Works, Ltd.. Дата публикации: 2002-01-03.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Detection device and detection method

Номер патента: US12099020B2. Автор: Sachio Iida,Norihito Mihota. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Automated Photography and Inspection Station

Номер патента: US20240319107A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Display device and an inspection method of a display device

Номер патента: EP3866148A1. Автор: Kyun Ho KIM,Bong Im Park,Yong Jin SHIN,Uk Jae JANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-18.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Tire inspection method and device therefor

Номер патента: US09953409B2. Автор: Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Inspection method and device

Номер патента: US09841387B2. Автор: Hao-Kai CHOU,Chia-Ho YEN,Meng-Kun Lee,Liang-Pin Yu,Chun-Ti Chen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: CA2849139C. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: Alstom Technology AG. Дата публикации: 2016-06-07.

Electronic component inspection apparatus

Номер патента: US20130154661A1. Автор: Jeong Ho Shin,Hae Man Lee,Ik Hyun Shin. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-20.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Inspection system, extraction device, and inspection method

Номер патента: US20230367015A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240310427A1. Автор: Masahiro Fukushima,Kouhei Matsumoto,Haruko IWAI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Display control device and storage medium

Номер патента: US20210302329A1. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection method and inspecting device

Номер патента: US20240272125A1. Автор: Hiroki Katayama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Inspection system and inspection method of bare circuit board

Номер патента: US20240310428A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Chun-Hsien Chien,Hsuan-Yu Lai,Yu-Chung Hsieh. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240230751A9. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240133944A1. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Image inspection method with a plurality of cameras

Номер патента: US09892502B2. Автор: Frank Schumann. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP4249932A1. Автор: Yorikazu Kashiramoto. Владелец: So Brain Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US12086976B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240361257A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Wire rope inspection method, wire rope inspection system, and wire rope inspection device

Номер патента: US12135311B2. Автор: Hiromichi Tonami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Current sensor inspection system and current sensor inspection method

Номер патента: US09638721B2. Автор: Hisashi Nishimura,Toshikazu Suzuki. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Electrical resistance measurement method and component inspection process

Номер патента: US20080180115A1. Автор: Akio Ikeda,Masaharu Suzuki,Yoshiaki Hiratsuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-07-31.

Electrical resistance measurement method and component inspection process

Номер патента: US7911214B2. Автор: Akio Ikeda,Masaharu Suzuki,Yoshiaki Hiratsuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-03-22.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Appearance inspection system and appearance inspection method

Номер патента: US20230298151A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Movable inspection device and inspection method

Номер патента: EP4170329A1. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-26.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: SG10201804792XA. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: Asm Tech Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Inspection apparatus, inspection method, computer program and recordimg medium

Номер патента: US20190331476A1. Автор: Masakazu Ogasawara,Takanori OCHIAI. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Liquid crystal display driving device and liquid crystal inspection method using the same

Номер патента: US5757346A. Автор: Hiroaki Mita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-26.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US20230341454A1. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Wiring inspecting method, wiring inspecting apparatus, wiring inspecting program, and recording medium

Номер патента: US20140204199A1. Автор: Eiji Yamada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-07-24.

Wire harness conduction inspection method and wire harness conduction inspection program

Номер патента: US10955452B2. Автор: Kohta Ohishi. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2021-03-23.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180113165A1. Автор: Yoichi Sakamoto,Takayuki Hamada,Nobuyuki Takita. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: CA3142298A1. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Device and method for sensing mass airflow

Номер патента: RU2655908C2. Автор: Рамон АЛАРКОН,Майкл СТАРМАН. Владелец: ФОНТЕМ ХОЛДИНГС 4 Би.Ви.. Дата публикации: 2018-05-29.

Device and method for fitting

Номер патента: RU2702264C2. Автор: Геран СУНДХОЛЬМ,Енни ВИРНЕС,Минна АРРА. Владелец: Мариелла Лэйблз Ой. Дата публикации: 2019-10-07.

Device and method for determining erythrocyte sedimentation rate and other related parameters

Номер патента: RU2753649C1. Автор: Паоло ГАЛЬЯНО. Владелец: Алифакс С.Р.Л.. Дата публикации: 2021-08-19.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Disc inspecting method and disc inspecting device

Номер патента: TW201230025A. Автор: Akitoshi Suzuki,Hiroaki Kobayashi,Toru Aida. Владелец: Sony DADC Corp. Дата публикации: 2012-07-16.

IMAGE INSPECTION SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM STORING IMAGE INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20200096925A1. Автор: IKUTA Masaya. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

Defect inspecting method, defect inspecting apparatus, and storage medium storing defect inspection program

Номер патента: US8311316B2. Автор: Shuji Iwanaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-11-13.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE INSPECTION METHOD, AND IMAGE INSPECTION DEVICE COMPONENT

Номер патента: US20200342582A1. Автор: SUZUKI Makoto,Ishimoto Manabu,Morino Seiji. Владелец: QD LASER, INC.. Дата публикации: 2020-10-29.

REFERENCE-IMAGE CONFIRMATION METHOD, MASK INSPECTION METHOD, AND MASK INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20180101941A1. Автор: Matsumoto Eiji,ISOBE Manabu. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2018-04-12.

Solder joint determination method, solder inspection method, and solder inspection device

Номер патента: CN1901794A. Автор: 中川洋光,向井胜彦. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-24.

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20160019682A1. Автор: Hirai Takehiro,HARADA Minoru,Takagi Yuji,SAKAMOTO Masashi. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20140169657A1. Автор: Hirai Takehiro,HARADA Minoru,Miyamoto Atsushi,FUKUNAGA Fumihiko. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-19.

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20150356727A1. Автор: Urano Takahiro,Honda Toshifumi. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

Defect inspection method and defect inspection device for display panel

Номер патента: CN102803917A. Автор: 松本直基,吉元直树,上田泰广,植木章太,中西秀信. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

Tool inspection method and tool inspection device

Номер патента: WO2015115498A1. Автор: 延偉 陳,石崎 義公,優 宮本,智仁 服部,佑哉 新井. Владелец: 株式会社タカコ. Дата публикации: 2015-08-06.

Sealing system and seal component for a display assembly of a portable device

Номер патента: EP2151735A3. Автор: Bo Xu,Alan Mangaroo. Владелец: Psion Inc. Дата публикации: 2011-10-19.

Device and method for mounting of a lead-through means

Номер патента: US20010017468A1. Автор: Göran Johansson,Mans Pettersson. Владелец: Volvo AB. Дата публикации: 2001-08-30.

Airtight device and feedthrough module

Номер патента: US20230158317A1. Автор: Pai-Chieh Huang,Hsien-Chieh Hsieh. Владелец: Wiwynn Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Suspension adhesive and method for bonding and sealing components

Номер патента: US20020066519A1. Автор: Vishal Gauri,Daniel Polis. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2002-06-06.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Cryocooler and sealing component

Номер патента: US11754184B2. Автор: Shuntaro Adachi. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Optical disk device and optical pickup therefor

Номер патента: US20130182551A1. Автор: Tsukasa Takahashi,Daisuke Tomita,Jun Hato,Kenji KIYA. Владелец: Hitachi Media Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-18.

Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: US12094138B2. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-17.

Sealing component for an automotive driveline component, constructed of a silicone material

Номер патента: EP1838970A2. Автор: Shen-Ling Allen Wang. Владелец: GKN Driveline North America Inc. Дата публикации: 2007-10-03.

Numerical controller for machine having component inspection timing notification function

Номер патента: US09429933B2. Автор: Hideaki Misoka. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Image inspection system, image inspection method, and recording medium storing image inspection program

Номер патента: US9342898B2. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Rubber material and seal component and hose

Номер патента: GB2526415A. Автор: Hidekazu Kurimoto,Naoki Iwase,Teruyoshi Susaki. Владелец: Toyoda Gosei Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: EP4224261A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection method, inspection program, data creation method, and storage medium

Номер патента: US20240320391A1. Автор: Mitsuyo Asano. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device, inspection method, and medium

Номер патента: US20230297675A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: US20240320811A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: EP4435768A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Display panel, display device and inspection method

Номер патента: US09773440B2. Автор: Huasheng Yan. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Command inspection method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: US12124569B2. Автор: Yao Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09495910B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09443469B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-09-13.

Inspection system, inspection management device, inspection program creating method, and program

Номер патента: US20240224485A1. Автор: Takako Onishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Stencil programming and inspection using solder paste inspection system

Номер патента: US09743527B2. Автор: Paul R. Haugen,Brendan R. Hinnenkamp. Владелец: Cyberoptics Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Photoelectric conversion device and characteristic inspection method for same

Номер патента: US09509124B2. Автор: Akihiko Yoshikawa,Yoshihiro Ishitani,Kazuhide Kusakabe. Владелец: Chiba University NUC. Дата публикации: 2016-11-29.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program

Номер патента: CA3115746C. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program product

Номер патента: US20210225112A1. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Image inspection device, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20180089818A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Production-speed component inspection system and method

Номер патента: US11875502B2. Автор: Elizabeth Bullard,Brodie Schultz,Francis Maslar. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2024-01-16.

Production-speed component inspection system and method

Номер патента: US20240104715A1. Автор: Elizabeth Bullard,Brodie Schultz,Francis Maslar. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2024-03-28.

Image inspection system, image inspection method, and recording medium storing image inspection program

Номер патента: US20150063654A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Inspection program and inspection system

Номер патента: US20230214851A1. Автор: Hirokazu Watanabe,Makoto Tsuda,Keita Shibata. Владелец: Square Enix Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US7591180B2. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-09-22.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US20070070533A1. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection apparatus, inspection method and program

Номер патента: US12130949B2. Автор: Yoshihide Nakagawa. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Lamp holder, illumination device, display device and television receiver

Номер патента: RU2460012C2. Автор: Ясумори КУРОМИДЗУ. Владелец: Шарп Кабусики Кайся. Дата публикации: 2012-08-27.

Device and method of treatment of fluid media

Номер патента: RU2275245C2. Автор: Митчел Т. РОМАНИСЦИН,Перри. МКГУАР. Владелец: ЛАНСЕР ПАРТНЕРШИП, Лтд.. Дата публикации: 2006-04-27.

Device and method of making cutting plates

Номер патента: RU2602310C2. Автор: Амир Сатран,Александр ЗИБЕНБЕРГ. Владелец: Искар Лтд.. Дата публикации: 2016-11-20.

Visual inspection method and visual inspection device for elevator

Номер патента: CN112265880A. Автор: 刘漫丹,谭峥嵘,郑泽斌,彭晓炜. Владелец: Guangzhou Guangri Elevator Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-26.

Video stream inspection method and system, and computer device and storage medium

Номер патента: WO2019128187A1. Автор: 罗翀,李付群,英大林. Владелец: 深圳中兴网信科技有限公司. Дата публикации: 2019-07-04.

INSPECTION METHOD FOR INJECTION MOLDING DEVICE, TEST MOLD, AND INSPECTION SYSTEM

Номер патента: US20210221041A1. Автор: SASAGAWA Kakeru. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

Sealing device and sealing system

Номер патента: EP4394194A1. Автор: Xun Xu,YuXiang LI,Wenwei Zhang,Yuning ZHANG,Yuliang DONG,Quanxin Yun,Zhentao ZHAO. Владелец: BGI Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Surface cleaning device and cleaning system

Номер патента: AU2023375283A1. Автор: Jian Wang,Lavin Li. Владелец: Versuni Holding BV. Дата публикации: 2024-08-22.

Surface cleaning device and cleaning system

Номер патента: WO2024165210A1. Автор: Jian Wang,Lavin Li. Владелец: Versuni Holding B.V.. Дата публикации: 2024-08-15.

Surface cleaning device and cleaning system

Номер патента: EP4432891A1. Автор: Jian Wang,Lavin Li. Владелец: Versuni Holding BV. Дата публикации: 2024-09-25.

Surface cleaning device and cleaning system

Номер патента: EP4413909A1. Автор: Jian Wang,Lavin Li. Владелец: Versuni Holding BV. Дата публикации: 2024-08-14.

Sealing structure, device, and method for manufacturing device

Номер патента: US09343706B2. Автор: Kohei Yokoyama,Yusuke Nishido,Minato ITO. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Pin locking device for a sealing component of a seal cartridge assembly and method for assembling the seal cartridge

Номер патента: EP4127531A1. Автор: Giampiero MARINELLI. Владелец: Dresser Rand SAS. Дата публикации: 2023-02-08.

Sealing device and puncture device

Номер патента: US20240358407A1. Автор: Fang Liu. Владелец: Shenzhen Edge Medical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Electronic atomization device and atomization assembly

Номер патента: US12042601B2. Автор: Weidong Pan,Zhenyu Wu,Guanghui Li,Kui Li. Владелец: Shenzhen Smoore Technology Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Electronic atomization device and atomization assembly

Номер патента: US20200085108A1. Автор: Weidong Pan,Zhenyu Wu,Guanghui Li,Kui Li. Владелец: Shenzhen Smoore Technology Ltd. Дата публикации: 2020-03-19.

Electronic atomization device and atomization assembly

Номер патента: US20220409832A1. Автор: Weidong Pan,Zhenyu Wu,Guanghui Li,Kui Li. Владелец: Shenzhen Smoore Technology Ltd. Дата публикации: 2022-12-29.

Suspension liner with seal component

Номер патента: US09566175B2. Автор: Olafur Freyr HALLDORSSON. Владелец: OSSUR HF. Дата публикации: 2017-02-14.

Transcatheter valve prosthesis and a concurrently delivered sealing component

Номер патента: US09456897B2. Автор: Michael Krivoruchko,Adam Shipley. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2016-10-04.

Control valve and sealing component

Номер патента: US20240200672A1. Автор: LONG Lin,Yun Wang,Lixin Wang. Владелец: Zhejiang Sanhua Automotive Components Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Sealing component for step sewing seals of reducers housings

Номер патента: RU2660731C1. Автор: Ян ВОЙЛЕ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2018-07-09.

System and method for sealing components in a spa shell

Номер патента: EP4215173A1. Автор: Todd Anderson,Mark Mclane,Eric Hales,Nathan Tulett,Taylor BECK. Владелец: Bullfrog International LC. Дата публикации: 2023-07-26.

System and method for sealing components in a spa shell

Номер патента: CA3187197A1. Автор: Todd Anderson,Mark Mclane,Eric Hales,Nathan Tulett,Taylor BECK. Владелец: Bullfrog International LC. Дата публикации: 2023-07-20.

System and method for sealing components in a spa shell

Номер патента: AU2023200335A1. Автор: Todd Anderson,Mark Mclane,Eric Hales,Nathan Tulett,Taylor BECK. Владелец: Bullfrog International LC. Дата публикации: 2023-08-03.

Methods and systems for sterilizing sealed components of a drug delivery device

Номер патента: US20230136536A1. Автор: Steven CARDINALI,Kyle Breingan. Владелец: Insulet Corp. Дата публикации: 2023-05-04.

Drain system with a seal component

Номер патента: CA3133619A1. Автор: Lawrence G. Meyers. Владелец: Ebbe America LC. Дата публикации: 2022-04-08.

Drain system with a seal component

Номер патента: US11965324B2. Автор: Lawrence G. Meyers. Владелец: Ebbe America LC. Дата публикации: 2024-04-23.

Drain system with a seal component

Номер патента: US20220112973A1. Автор: Lawrence G. Meyers. Владелец: Ebbe America LC. Дата публикации: 2022-04-14.

Control valve and sealing component

Номер патента: EP4325104A1. Автор: LONG Lin,Yun Wang,Lixin Wang. Владелец: Zhejiang Sanhua Automotive Components Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-21.

Mems device and fabrication method thereof

Номер патента: US20200331749A1. Автор: Wei Dong,Pei-Chun Liao,Re-Ching Lin. Владелец: Wuhan Yanxi Micro Components Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-22.

Evaporation device and method

Номер патента: US20170107611A1. Автор: Junmin Sun,Xindi Zhang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-20.

Compliant seal component and associated method

Номер патента: US20190145275A1. Автор: Victor Hugo Silva Correia,Jonathan David Baldiga. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2019-05-16.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Electronic device and vehicle

Номер патента: EP4243220A1. Автор: Jianqiang Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Sealing device and puncture device

Номер патента: EP4374805A1. Автор: Fang Liu. Владелец: Shenzhen Edge Medical Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: US20230278137A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: EP4230339A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Semiconductor devices and methods of manufacturing the same

Номер патента: US20210167165A1. Автор: Hsin-Chih Lin,Yu-Chieh Chou. Владелец: Vanguard International Semiconductor Corp. Дата публикации: 2021-06-03.

Injection molding machine and inspection method of injection molding machine

Номер патента: US20220266491A1. Автор: Yoshitaka HOSOTSUBO. Владелец: Sodick Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-25.

Electric Drive Device and Electric Power Steering Device

Номер патента: US20190023305A1. Автор: Masao Fujimoto. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2019-01-24.

Apparatus and method for sealing components in tubes

Номер патента: GB1461494A. Автор: . Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 1977-01-13.

Pest-accumulating device and pest-accumulating method

Номер патента: US09510583B2. Автор: Yoshiki Matsumoto,Tetsuya Kondo,Koh-En Yamauchi,Kohsyo Yamauchi. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-12-06.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Elevator component inspection systems

Номер патента: US11932514B2. Автор: Sandeep Sudi,Daniel M. Tripp. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Machine posture inspection method and machine posture inspection system

Номер патента: US20240342910A1. Автор: Ting-Jen Yeh,Ting-yun FANG. Владелец: Point Robotics Medtech Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Network inspection method, network device and network management device

Номер патента: EP4440069A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Network Inspection Method, Network Device, and Network Management Device

Номер патента: US20240348522A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection method for semiconductor laser device and inspection device for semiconductor laser device

Номер патента: US20220376465A1. Автор: Akio SHIRASAKI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Devices and methods for crystalline lens tissue removal

Номер патента: RU2703694C2. Автор: Мария Цончева ГУГУЧКОВА,Льюк У. КЛАУСОН. Владелец: Янтек, Инк.. Дата публикации: 2019-10-21.

Stenting device and aorta stenting kit

Номер патента: RU2721137C2. Автор: Эрик ЛЕОПОЛЬД,Али ШАХРИАРИ. Владелец: ЭССАЙРУС МЕДИКАЛ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2020-05-18.

Device and method for heavy oil products hydroconversion

Номер патента: RU2709813C1. Автор: Марио МОЛИНАРИ,Сузи БОНОМИ. Владелец: Эни С.П.А.. Дата публикации: 2019-12-23.

Device and method of atomic-layer deposition of coating on substrate surface

Номер патента: RU2704875C2. Автор: Тимо МАЛИНЕН. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2019-10-31.

Device and system for sampling body fluid and its analysis

Номер патента: RU2508049C2. Автор: Кристиан ХЕРАУФ. Владелец: Ф.Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2014-02-27.

Improved device and method for product hydrolysis

Номер патента: RU2726654C2. Автор: Одвар БЬЁРГЕ,Оле Мариус БЬЁРГЕ,Эйнар ЛИД. Владелец: Фирмениш Са. Дата публикации: 2020-07-15.

PROGRAM INSPECTION METHOD AND NON-TRANSITORY, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM STORING INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20120185669A1. Автор: TERANISHI Shinsuke. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-07-19.

Inspection device, inspection system, and inspection program

Номер патента: JP2022056088A. Автор: 充 荒幡,Mitsuru Arahata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

Wire saw inspection method, wire saw inspection device, and cutting device

Номер патента: JP4434903B2. Автор: 直樹 峠,大介 井手. Владелец: Noritake Super Abrasive Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-17.

Wire rope inspection method, wire rope inspection device, and wire rope inspection system

Номер патента: JP2023027643A. Автор: Hiromichi Tonami,寛道 戸波. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

DISC INSPECTING METHOD AND DISC INSPECTING DEVICE

Номер патента: US20120087222A1. Автор: Suzuki Akitoshi,Kobayashi Hiroaki,Aida Toru. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-12.

CONTAMINATION INSPECTION METHOD AND CONTAMINATION INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20120147364A1. Автор: FUKUSHIMA Hideki,AKIYAMA Hiroshi,Gunji Masanori,Morioka Tomonari. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-14.

HOLE INSPECTION METHOD AND HOLE INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20130093876A1. Автор: OIKAWA Satoshi,Ohkubo Michiaki,ISHIZUKA YASUTAKA,OHNO MASAICHI. Владелец: HONDA MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-18.

Semiconductor element inspection method in substrate inspection device

Номер патента: JPH1131728A. Автор: Kazuhiro Ban,和浩 伴. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 1999-02-02.

Inspecting device of reticle and inspecting method therefor

Номер патента: JPH102865A. Автор: Toru Tanida,徹 谷田. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

Nondestructive inspection method and nondestructive inspection device for grout filling degree

Номер патента: JP5450177B2. Автор: 芳範 松田,和宏 葛目. Владелец: East Japan Railway Co. Дата публикации: 2014-03-26.

Metal member damage inspection method and damage inspection device

Номер патента: JP3156140B2. Автор: 眞琴 林,淑治 植山. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-04-16.

Pinhole inspection method and pinhole inspection device

Номер патента: JP7156699B2. Автор: 久仁男 上村,竜太郎 齋藤. Владелец: ニッカ電測株式会社. Дата публикации: 2022-10-19.

Package inspection method and package inspection device

Номер патента: JP7033491B2. Автор: 徹 長野. Владелец: Livedo Corp. Дата публикации: 2022-03-10.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: JPH10312461A. Автор: 徹 井田,Toshiya Takei,俊哉 竹井,Toru Ida. Владелец: Nippon Avionics Co Ltd. Дата публикации: 1998-11-24.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: JP3127434B2. Автор: 徹 井田,俊哉 竹井. Владелец: Nippon Avionics Co Ltd. Дата публикации: 2001-01-22.

Superposition inspection method and superposition inspection device

Номер патента: JP2004356553A. Автор: Makoto Takagi,誠 高木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2004-12-16.

Relay inspection method and relay inspection device

Номер патента: JP4580712B2. Автор: 裕昌 小林,史 川邊,顕彦 益田,洋 陶山,和行 目黒,守男 網代. Владелец: Chubu Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2010-11-17.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: JP2015059854A. Автор: 誠 坂口,Makoto Sakaguchi,坂口 誠. Владелец: Central Glass Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-30.

Leak inspection method and leak inspection device

Номер патента: JP3081190B2. Автор: 昭男 古瀬. Владелец: Cosmo Instruments Co Ltd. Дата публикации: 2000-08-28.

Pattern inspecting method, and pattern inspecting device

Номер патента: TWI458966B. Автор: Hitoshi Tanaka,Akihiro Sunouchi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-11-01.

Surface inspection method and surface inspection device

Номер патента: JP3536166B2. Автор: 秀明 南,義和 中野,孝之 森本,文男 畑田. Владелец: Tsubakimoto Chain Co. Дата публикации: 2004-06-07.

Endless metal belt quality inspection method and quality inspection device

Номер патента: JP3593967B2. Автор: 泉 内柴,宏幸 竹内,正己 山崎. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2004-11-24.

Nondestructive inspection method and nondestructive inspection device

Номер патента: JP4080377B2. Автор: 晃弘 小野,俊英 河部,善治 松村. Владелец: Cosmo Oil Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-23.

Tire shape inspection method, tire shape inspection device

Номер патента: JP5302701B2. Автор: 英二 高橋,尚和 迫田. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2013-10-02.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: JP3466286B2. Автор: 英夫 岡田,護俊 安藤,浩司 岡,頼弘 坂下. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-11-10.

Photodetector inspection method and photodetector inspection device

Номер патента: JP2006324588A. Автор: 浩一朗 杉本,Koichiro Sugimoto,Tomotake Kishida,朋丈 岸田. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Inspection device adjustment method and inspection device

Номер патента: JP7156795B2. Автор: 隆二 長谷川,健二 柳詰,亮志 柏木. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2022-10-19.

Inspection method of mixed foreign matter in vessel and inspection equipment

Номер патента: JPH1019799A. Автор: Yoshiki Misaki,嘉禧 三崎. Владелец: Mutual Corp. Дата публикации: 1998-01-23.

DEVICES AND METHODS FOR CUTTING AND EVACUATING TISSUE

Номер патента: US20120004595A1. Автор: DUBOIS Brian R.,NIELSEN James T.,GORDON Alexander. Владелец: LAURIMED, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Automated photography and inspection station

Номер патента: WO2024197250A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers, Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

FLEXIBLE MATERIAL FLOORING MITER DEVICE AND SYSTEM FOR FLEXIBLE MATERIAL FLOORING INSTALLATION

Номер патента: US20120000160A1. Автор: Herbert Robert R.,Foster Ernest D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Controlling Compressor of Vehicles

Номер патента: US20120000210A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING COMPRESSOR OF VEHICLES

Номер патента: US20120000211A1. Автор: Kwon Choon Gyu,KIM Jae Woong,LEE Chang Won. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Meter Devices and Methods

Номер патента: US20120000281A1. Автор: Vo Anh Nhat. Владелец: Dresser, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR ASCERTAINING PRESSURE VALUES

Номер патента: US20120000292A1. Автор: Loidreau Maxime,LEPIDIS Polichronis. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SAMPLING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120000296A1. Автор: WENG Yanwen. Владелец: SHENZHEN MINDRAY BIO-MEDICAL ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRASONIC SENSOR MODULE ATTACHING DEVICE AND ATTACHING METHOD

Номер патента: US20120000302A1. Автор: Inoue Satoru,MATSUMOTO Toru,Nishimoto Yukio. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR SEPARATING SURFACE LAYERS IN PRODUCTS OF THE FOOD INDUSTRY

Номер патента: US20120000331A9. Автор: Grabau Thomas. Владелец: NORDISCHER MASCHINENBAU RUD. BAADER GMBH + CO. KG. Дата публикации: 2012-01-05.

THERMAL DEVICE AND PHOTOVOLTAIC MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120000508A1. Автор: Yip Chui-Ling. Владелец: Du Pont Apollo Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000518A1. Автор: Tokioka Hidetada,ORITA Tae,YAMARIN Hiroya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

MASS FLOW CONTROLLER, MASS FLOW CONTROLLER SYSTEM, SUBSTRATE PROCESSING DEVICE, AND GAS FLOW RATE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120000542A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000570A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000571A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Fixing a Component in Position on a Component Carrier

Номер патента: US20120000601A1. Автор: Fessler-Knobel Martin,Huttner Roland. Владелец: MTU AERO ENGINES GMBH. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR STRIPPING A WAFER FROM A CARRIER

Номер патента: US20120000613A1. Автор: Thallner Erich. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

CABLE BARRIER POST ANCHORING DEVICE AND RELATED METHOD

Номер патента: US20120001037A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTMENT DEVICE AND METHOD OF USING

Номер патента: US20120001053A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SENSING DEVICE AND IMAGE SENSOR MODULE THEREOF

Номер патента: US20120001054A1. Автор: Wang Wei Chung,Shen Chi Chih,Li Kuo Hsiung,Chen Hui Hsuan,Chuang Jui Cheng. Владелец: PIXART IMAGING INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLE TRANSPORT COMPOSITIONS AND RELATED DEVICES AND METHODS (I)

Номер патента: US20120001127A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RESISTIVE RAM DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120001144A1. Автор: . Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001169A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FLEXIBLE SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001173A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001180A1. Автор: Yoshizumi Kensuke,YOKOI Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001182A1. Автор: Choi Jong-Hyun,Lee Dae-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFLECTIVE TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001188A1. Автор: HAYASHI Masami. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION REGION, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001198A1. Автор: Zhu Huilong,Yin Haizhou,Luo Zhijiong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001200A1. Автор: Yanagihara Manabu,Uemoto Yasuhiro,IKOSHI Ayanori,MORITA TATSUO. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Light Emitting Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001202A1. Автор: Horng Ray-Hua. Владелец: NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT-EMITTING DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001219A1. Автор: Park Kyungwook. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND LAMP

Номер патента: US20120001220A1. Автор: . Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT UNIT

Номер патента: US20120001221A1. Автор: . Владелец: LG INNOTEK CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE, AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE

Номер патента: US20120001222A1. Автор: CHOI Kwang Ki,MOON Ji hyung,LEE Sang Youl,SONG June O.,KIM Chung Song. Владелец: LG INNOTEK CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001226A1. Автор: . Владелец: Sanken Electric Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Forming the Same

Номер патента: US20120001229A1. Автор: Zhu Huilong,Liang Qingqing. Владелец: INSTITUTE OF MICROELECTRONICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES. Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THEREOF

Номер патента: US20120001246A1. Автор: . Владелец: Micron Technology Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001247A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001250A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001255A1. Автор: PARK JIN WON. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001257A1. Автор: MURAKAWA Kouichi. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001260A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE MANUFACTURING METHOD, SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120001290A1. Автор: Sawada Ken. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING SOLID STATE IMAGING DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001292A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001300A1. Автор: Ito Takayuki,ISHIDA Tatsuya,Yoshino Kenichi,Naito Tatsuya. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120001304A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001310A1. Автор: Horiki Hiroshi,NISHINO MASANORI. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001311A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME

Номер патента: US20120001321A1. Автор: IMAMURA Tomomi,Natsuda Tetsuo,Nishijo Yoshinosuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001324A1. Автор: Watabe Hiroshi,AOKI Hideo,MUKAIDA Hideko,Fukuda Masatoshi,Koshio Yasuhiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001331A1. Автор: . Владелец: KABUSHI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001332A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001333A1. Автор: HWANG Chang Youn. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001335A1. Автор: ENDO Yuta,TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001346A1. Автор: SEO Dae-Young,KIM Doo-Kang. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Connection Devices And Male-Female Connection System Comprising Them

Номер патента: US20120001423A1. Автор: OLIVIER Stephane. Владелец: Millipore Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Connection Devices And Male-Female Connection System Comprising Them

Номер патента: US20120001424A1. Автор: . Владелец: Millipore Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS POWER SUPPLY SYSTEM, WIRELESS POWER TRANSMITTING DEVICE, AND WIRELESS POWER RECEIVING DEVICE

Номер патента: US20120001485A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120001490A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Generating Alternating Current

Номер патента: US20120001491A1. Автор: Greizer Frank,Laschinski Joachim,Engel Bernd,Cramer Guenther. Владелец: SMA Solar Technology AG. Дата публикации: 2012-01-05.

FLAT PANEL DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001534A1. Автор: KIM Tae-Woong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF ILLUMINATION

Номер патента: US20120001553A1. Автор: . Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

MOTOR CONTROL DEVICE AND OUT-OF-STEP DETECTING METHOD

Номер патента: US20120001584A1. Автор: MATSUI Takayuki,TAKADA Kazuo. Владелец: MINEBEA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

BATTERY CHARGER, VOLTAGE MONITORING DEVICE AND SELF-DIAGNOSIS METHOD OF REFERENCE VOLTAGE CIRCUIT

Номер патента: US20120001588A1. Автор: . Владелец: OKI SEMICONDUCTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus for Energizing a Protective Device, and Associated Method

Номер патента: US20120001764A1. Автор: Naiva Matthew Wilbur,Verheyen Mark Alan,Riley Joseph Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DIGITIZING A SIGNAL

Номер патента: US20120001783A1. Автор: Eklund Jan-Erik,Rosenbaum Linnéa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ANTENNA DEVICE AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE

Номер патента: US20120001821A1. Автор: ISHIZUKA Kenichi,KAWAHATA Kazunari,Nishida Hiroshi,NAKANO Shinichi. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DISPLAY DEVICE AND DISPLAY METHOD

Номер патента: US20120001833A1. Автор: Dobschal Hans-Juergen,Rudolph Guenter,Lindig Karsten. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING NOISE

Номер патента: US20120001859A1. Автор: . Владелец: Pantech Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC BOOK READING DEVICE AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001872A1. Автор: Gong Bin. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INPUT/OUTPUT DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001874A1. Автор: KUROKAWA Yoshiyuki,IKEDA Takayuki. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Display device and display method

Номер патента: US20120001877A1. Автор: Morii Hideki,Yanagi Toshihiro,Miyata Hidekazu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DRIVING DEVICE AND DRIVING METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL, AND PLASMA DISPLAY APPARATUS

Номер патента: US20120001882A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001885A1. Автор: Kim Na-Young,Kang Ki-Nyeng,Park Yong-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPERATIONAL AMPLIFIER CIRCUIT, SIGNAL DRIVER, DISPLAY DEVICE, AND OFFSET VOLTAGE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120001892A1. Автор: KOJIMA Tomokazu. Владелец: Panasonic Corporaton. Дата публикации: 2012-01-05.

Display Device and Arrangement Method of OSD Switches

Номер патента: US20120001942A1. Автор: ABE Masatoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DRIVING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120001946A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THEREOF

Номер патента: US20120001950A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG MOBILE DISPLAY CO. LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC DISPLAY DEVICE AND DISPLAY DRIVE CIRCUIT

Номер патента: US20120001956A1. Автор: Sato Yoshihisa. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING DEVICE AND PRINTING METHOD

Номер патента: US20120001973A1. Автор: Sano Tsuyoshi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING DEVICE AND PRINTING METHOD

Номер патента: US20120001974A1. Автор: Mano Takahiro. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL APPARATUS, IMAGE SENSING DEVICE, AND CONTROL METHODS THEREOF

Номер патента: US20120002060A1. Автор: KUSANAGI SUGURU. Владелец: CANON KABISHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PROCESSING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120002067A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Video Signal Interpolation Device, Video Display Device, and Video Signal Interpolation Method

Номер патента: US20120002105A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHTING DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120002117A1. Автор: Matsumoto Shinji. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSATL DISPLAY DEVICE AND TELEVISION SET

Номер патента: US20120002118A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC IMAGE DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002123A1. Автор: KANG Dongwoo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHTING DEVICE, DISPLAY DEVICE AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120002135A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

PLANAR ILLUMINATION DEVICE AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120002136A1. Автор: NAGATA Takayuki,YAMAMOTO Kazuhisa,Itoh Tatsuo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL DETECTING DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT

Номер патента: US20120002215A1. Автор: TAKAHASHI Masaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND IMAGE SCANNING APPARATUS

Номер патента: US20120002248A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE READ DEVICE AND COPIER

Номер патента: US20120002252A1. Автор: Fujii Takashi,Kubo Hiroshi,Kosuga Yasuo,Nagano Tatsuaki,Morita Kenichiro,Akai Takeshi. Владелец: RICOH COMPANY, LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120002268A1. Автор: UCHIDA Masami. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SLIDE GLASS STORAGE DEVICE, CONVEYING DEVICE AND MICROSCOPE SYSTEM

Номер патента: US20120002277A1. Автор: Machida Yuichi,Suzuki Fumiyasu,Hirono Yu. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC WAVE GATHERING DEVICE AND SOLAR CELL MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120002291A1. Автор: Lee Shih-Chang,Hong Kai-Yi,Lo Wu-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC RECORDING AND REPRODUCTION DEVICE AND FLYING HEIGHT CONTROL METHOD

Номер патента: US20120002319A1. Автор: KONDO Masayuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

COOLING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002370A1. Автор: Ohsawa Kenji,Tsuruta Katsuya. Владелец: Molex Incorporated. Дата публикации: 2012-01-05.

HEAT PIPE TYPE COOLING DEVICE AND RAILCAR CONTROL EQUIPMENT USING THE SAME

Номер патента: US20120002373A1. Автор: KITAJIMA Hironori,SAKAYORI Hitoshi,SHIRAISHI Yuuzou. Владелец: HITACHI CABLE, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DUSTPROOF STRUCTURE FOR SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE AND SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002390A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus for Indicating a Status of an Apparatus That Energizes a Protective Device, and Associated Method

Номер патента: US20120002391A1. Автор: Van Weelden Ronald Arlin. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CARRIER COMPRISING AT LEAST ONE SEMICONDUCTOR LUMINOUS DEVICE AND CARRIER SYSTEM

Номер патента: US20120002409A1. Автор: . Владелец: OSRAM AG. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT SOURCE, LIGHT SOURCE DEVICE AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120002410A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND LUMINAIRE

Номер патента: US20120002435A1. Автор: Van Gorkom Ramon Pascal,Van Oers Denis Joseph Carel. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CONTROL METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120002457A1. Автор: KANDA Kazushige. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INTERLEAVED MEMORY PROGRAM AND VERIFY METHOD, DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120002474A1. Автор: . Владелец: ROUND ROCK RESEARCH, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

TEST MODE CONTROL CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST MODE ENTERING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002494A1. Автор: Jo Jun-Ho,PARK Kyu-Min,KIM BYOUNGSUL,LEE Hakyong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL RECORDING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120002523A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Wi-Fi Access Point Device and System

Номер патента: US20120002655A1. Автор: Bonnassieux Vincent,Martich Mark E.. Владелец: ORTRONICS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, TRANSMISSION DEVICE, AND RECEIVING DEVICE

Номер патента: US20120002661A1. Автор: Kubo Hiroshi,Nishimoto Hiroshi,Yamaoka Tomoya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ENCODING DEVICE AND METHOD AND MULTIMEDIA APPARATUS INCLUDING THE ENCODING DEVICE

Номер патента: US20120002724A1. Автор: KIim Seong Hee. Владелец: CORE LOGIC INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

RECEIVER, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SIGNAL TRANSMISSION METHOD

Номер патента: US20120002771A1. Автор: . Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Grating production method, diffraction grating device, and radiation imaging apparatus

Номер патента: US20120002785A1. Автор: KANEKO Yasuhisa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING MOVEMENT OF OBJECT

Номер патента: US20120002842A1. Автор: MURASHITA Kimitaka,WATANABE Yuri,Fujimura Koichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

DROWSINESS ASSESSMENT DEVICE AND PROGRAM

Номер патента: US20120002843A1. Автор: Tanaka Isahiko,KADOYA Akira,Omi Takuhiro,Yoda Takumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE-PROCESSING DEVICE AND IMAGE-PROCESSING METHOD, IMAGE-PICKUP DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20120002849A1. Автор: Tokuse Akira. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SIGNAL TRANSMISSION DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120002923A1. Автор: Nakano Yoshiaki,Song Xueliang,Yit Foo Cheong,Wang Shurong,Horiguchi Katsumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COUPLING DEVICE AND OPTICAL IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120002928A1. Автор: Irisawa Yuichiro. Владелец: TERUMO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR SPLICING OPTICAL FIBERS, AND USE OF AN END PIECE IN A DEVICE FOR SPLICING

Номер патента: US20120002929A1. Автор: . Владелец: DIAMOND SA. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL WAVEGUIDE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREOF

Номер патента: US20120002931A1. Автор: Watanabe Shinya. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFER DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120002996A1. Автор: TAKIGUCHI Toshiki,NAKANO Kuniaki,Izumi Hideshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of producing cleaning web, image-forming device and fixing device

Номер патента: US20120003020A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Pipeline Weighting Device and Method

Номер патента: US20120003049A1. Автор: Sprague Ian,McKay Charles Frederick. Владелец: CRC-EVANS CANADA LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FECAL SAMPLING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120003123A9. Автор: LaStella Vincent P.,Kupits Kenneth. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Manufacturing and Detecting Device and Method of Birefringent Lens Grating

Номер патента: US20120003380A1. Автор: Yu Bin. Владелец: Shenzhen Super Perfect Optics LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003426A1. Автор: . Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION FILM, DECORATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003433A1. Автор: . Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

GRAPHENE PROCESSING FOR DEVICE AND SENSOR APPLICATIONS

Номер патента: US20120003438A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION FILM, DECORATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003441A1. Автор: CHEN CHIA-FU. Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEPARATOR FOR AN ELECTRICITY STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120003525A1. Автор: . Владелец: TOMOEGAWA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ENERGY STORAGE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003535A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FUEL CELL DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120003556A1. Автор: Devoe Alan,Devoe Lambert. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FUEL CELL DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120003558A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003761A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120003797A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003805A1. Автор: Lee Tae-Jung,PARK MYOUNG-KYU,Bang Kee-In. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION BETWEEN A HOST DEVICE AND AN ACCESSORY VIA AN INTERMEDIATE DEVICE

Номер патента: US20120003934A1. Автор: Lydon Gregory T.,Tikalsky Terry,Ananny John,Laefer Jay S.. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION BETWEEN A HOST DEVICE AND AN ACCESSORY VIA AN INTERMEDIATE DEVICE

Номер патента: US20120003935A1. Автор: Lydon Gregory T.,Tikalsky Terry,Ananny John,Laefer Jay S.. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Radio-frequency Processing Device and Method and Related Wireless Communication Device

Номер патента: US20120003947A1. Автор: CHEN Wan-Ming,HO Chien-Ting,Su Chih-Chin,Lai Chung-Chi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE COMMUNICATIONS DEVICE, AND METHOD OF UPDATING TELEPHONE DIRECTORY OF MOBILE COMMUNICATIONS DEVICE

Номер патента: US20120003963A1. Автор: ORMSON Richard. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR PLACING A CALL ON A SELECTED COMMUNICATION LINE

Номер патента: US20120003968A1. Автор: LAZARIDIS Mihal. Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO GAMING DEVICE AND METHOD OF WAGERING ON A VIRTUAL FOOTBALL GAME

Номер патента: US20120004018A1. Автор: Reeves,III Allen N.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR REPLICATING A USER INTERFACE AT A DISPLAY

Номер патента: US20120004033A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Liquid Crystal Display Device And Method Of Manufacturing That

Номер патента: US20120004453A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR TISSUE INVAGINATION

Номер патента: US20120004505A1. Автор: DeVRIES Robert B.,Sullivan Roy H.,Tassy,JR. Marc,Dimatteo Kristian,Kwan Tak,Shaw William J.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Bone Imaging

Номер патента: US20120004536A1. Автор: Munro Chad. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM INCLUDING AN IMPLANTABLE MEDICAL DEVICE AND ELECTRONIC VALVE INDICATOR AND LOCATOR DEVICE

Номер патента: US20120004538A1. Автор: Bertrand William J.,Speckman Lori C.. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHOD FOR ACCELEROMETER-BASED CHARACTERIZATION OF CARDIAC SYNCHRONY AND DYSSYNCHRONY

Номер патента: US20120004564A1. Автор: Dobak,III John Daniel. Владелец: CARDIOSYNC, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE VISUALIZATION DEVICE AND METHOD VARIATIONS

Номер патента: US20120004577A1. Автор: . Владелец: Voyage Medical, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SERIAL VALVES AND HUBS FOR TUBULAR DEVICES AND METHODS FOR MAKING AND USING THEM

Номер патента: US20120004622A1. Автор: . Владелец: AUST DEVELOPMENT, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Suture Straightening Device and Method

Номер патента: US20120004672A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE-ACQUISITION AND FASTENING DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120004677A1. Автор: Swope Bretton,Cole David,BALBIERZ DANIEL J.,Hambly Pablo R.,England Justen,Crews Samuel T.,Purdy Craig Arthur. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD, RETENTION DEVICE AND MEDICAL TREATMENT DEVICE FOR STABLE SUPPORT OF A NEEDLE TO BE INSERTED INTO A PATIENT

Номер патента: US20120004681A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Implantable Medical Device and Charging System Employing Electric Fields

Номер патента: US20120004708A1. Автор: . Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Tensioned Meniscus Prosthetic Devices and Associated Methods

Номер патента: US20120004725A1. Автор: Linder-Ganz Eran,Shterling Avraham,DANINO Amir. Владелец: Active Implants Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

EXPANDABLE SUPPORT DEVICE AND METHOD OF USE

Номер патента: US20120004726A1. Автор: GREENHALGH E. Skott,ROMANO John-Paul. Владелец: STOUT MEDICAL GROUP, L.P.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND PROCESS FOR RECOGNIZING AND GUIDING INDIVIDUALLY PACKAGED PRODUCTS WITH A CODE

Номер патента: US20120004763A1. Автор: Freudelsperger Karl. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GRIPPING DEVICE, TRANSFER DEVICE, PROCESSING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120004773A1. Автор: . Владелец: SHIBAURA MECHATRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Task Management for Piloting an Aircraft

Номер патента: US20120004794A1. Автор: . Владелец: THALES. Дата публикации: 2012-01-05.

VEHICLE CONTROL DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING VEHICLE

Номер патента: US20120004801A1. Автор: Watanabe Takashi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SIGNAL EVALUATING DEVICE AND SIGNAL EVALUATING METHOD

Номер патента: US20120004877A1. Автор: Ueno Tatsuya. Владелец: YAMATAKE CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTION ANALYSIS DEVICE AND ACTION ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20120004887A1. Автор: Kawaguchi Kyoko,Tanabiki Masamoto. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Orthodontic devices and methods

Номер патента: RU2375010C2. Автор: Павел Даниелович МАИЛЯН. Владелец: Мейэдонтикс, Ллс (Сша). Дата публикации: 2009-12-10.