• Главная
  • Substrate inspection device and substrate inspection method

Substrate inspection device and substrate inspection method

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Substrate inspection device

Номер патента: US20190331731A1. Автор: Hiroshi Yamada,Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-10-31.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09618563B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-11.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Inspection device

Номер патента: US20180203041A1. Автор: Toshiyuki Sawada,Satoshi Iwashima. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Substrate inspection method and system

Номер патента: US20180040118A1. Автор: Yeon Hee Lee,Hye In LEE,Seung Ae SEO,Won Mi AHN,Jong Hui Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2018-02-08.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: US20230206422A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-29.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP4131350A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-02-08.

Substrate inspection method and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20200025692A1. Автор: Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Substrate inspection system, substrate inspection method and recording medium

Номер патента: US20200386538A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Toyohisa Tsuruda,Yasuaki Noda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-10.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Charged Particle Beam Device and Optical Examination Device

Номер патента: US20200161194A1. Автор: Koichi Taniguchi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-21.

Defect detection device and defect detection method

Номер патента: US20240255439A1. Автор: Donghoon Kim,Younghoon Sohn,Sungyoon Ryu,Sunhong JUN,Heeyoon Han. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection method for semiconductor light-emitting device and manufacturing method for semiconductor light-emitting device

Номер патента: US20140210995A1. Автор: Masatoshi Abe. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2014-07-31.

Inspection method for film covered battery

Номер патента: US09917337B2. Автор: Toshihiko Mankyu. Владелец: Automotive Energy Supply Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Inspection Device and Inspection Method Using Inspection Device

Номер патента: US20230288493A1. Автор: Atsushi Miyazaki,Keiji Nishimura. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Substrate inspection apparatus and substrate treatment system including the same

Номер патента: US20240142389A1. Автор: Dong Min Park,Jeong Hoon Han,Jun Hyun LIM,Oh Yeol KWON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Substrate inspection and repair device, and substrate evaluation system

Номер патента: WO2008015738A1. Автор: Makoto Shinohara,Daisuke Imai,Shin-Ichi Kuroda,Atsuo Nakatani. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2008-02-07.

Semiconductor device and its manufacturing method and inspection method

Номер патента: JP4610447B2. Автор: 義英 田崎. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-12.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Narrow-side substrate inspection device and narrow-side substrate inspection method

Номер патента: CN110095708B. Автор: 李俊华,何幼峰. Владелец: Nidec Read Machine Apparatus Zhejiang Co ltd. Дата публикации: 2020-05-01.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Switch probe and device and system for substrate inspection

Номер патента: US8836362B2. Автор: Tohru Hasegawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-16.

Substrate inspecting apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240192144A1. Автор: Yong Jun Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Substrate inspection method

Номер патента: US20240019380A1. Автор: Kiwook Song,Chungsam Jun,Kihong Chung,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Display device and an inspection method of a display device

Номер патента: EP3866148A1. Автор: Kyun Ho KIM,Bong Im Park,Yong Jin SHIN,Uk Jae JANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-18.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180113165A1. Автор: Yoichi Sakamoto,Takayuki Hamada,Nobuyuki Takita. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Load Port and Wafer Inspection Method Using the Same

Номер патента: US20240120222A1. Автор: Tsung-Che Yu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-11.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20240118223A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Masaya Yamamoto,Yoshihiro Satou,Ayumi TOMIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Insulating substrate inspecting method and inspecting apparatus

Номер патента: US20190361067A1. Автор: Tetsuya Ueda,Hiroki Shiota,Kazuki SAMESHIMA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Insulating substrate inspecting method and inspecting apparatus

Номер патента: US10996257B2. Автор: Tetsuya Ueda,Hiroki Shiota,Kazuki SAMESHIMA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-04.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US09742013B2. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240310427A1. Автор: Masahiro Fukushima,Kouhei Matsumoto,Haruko IWAI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Inspection Equipment and Inspection Method

Номер патента: US20130187667A1. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-25.

Inspection equipment and inspection method

Номер патента: US9261475B2. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Welding inspection device

Номер патента: EP4431920A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Side surface inspection device of cylindrical battery

Номер патента: US20240345000A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection device

Номер патента: US09599659B2. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Substrate inspection apparatus

Номер патента: US09678107B2. Автор: Shingo Morita,Michio Murata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method

Номер патента: US20190162756A1. Автор: Masato Utsumi. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US20140125373A1. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Substrate processing apparatus and substrate processing method

Номер патента: US12027393B2. Автор: Takuya Mori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Substrate processing apparatus and substrate processing method

Номер патента: US20210335636A1. Автор: Takuya Mori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

The inspection device of all-solid-state battery and inspection method

Номер патента: CN104204829B. Автор: 尾濑德洋. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-08-24.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Device of contacting substrate with probe card and substrate inspection apparatus having same

Номер патента: US09915698B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Inspection device and method

Номер патента: US12044725B2. Автор: Hiroshi Fukuda,Toru Miura,Yoshiho Maeda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection system and inspection method of bare circuit board

Номер патента: US20240310428A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Chun-Hsien Chien,Hsuan-Yu Lai,Yu-Chung Hsieh. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240230751A9. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240133944A1. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Semiconductor sample inspection device and inspection method

Номер патента: US11927626B2. Автор: Toshiki Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-12.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Device and method for inspecting a sealing member

Номер патента: US09568303B2. Автор: Wan-Jae JOO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Image inspection method with a plurality of cameras

Номер патента: US09892502B2. Автор: Frank Schumann. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240233106A9. Автор: Byungkyu Son. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240135521A1. Автор: Byungkyu Son. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-04-25.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Appearance inspection system and appearance inspection method

Номер патента: US20230298151A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Device and method for sensing mass airflow

Номер патента: RU2655908C2. Автор: Рамон АЛАРКОН,Майкл СТАРМАН. Владелец: ФОНТЕМ ХОЛДИНГС 4 Би.Ви.. Дата публикации: 2018-05-29.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Kneader internal inspection device

Номер патента: US20170225359A1. Автор: Eiji Takahashi,Hodaka Miura,Toshihide Fukui,Chitaka Manabe. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Robotic inspection device for tank and pipe inspections

Номер патента: US20210131604A1. Автор: Rashid D. Al Hajri,Amer D. Hajri,Fikri A. Suwailah,Kazem H. Al Musabbeh. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection device for sub-element of reticle pod

Номер патента: US20240295461A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Device and method for identification of fingerprints

Номер патента: RU2683622C2. Автор: Алоис ХОМЕР. Владелец: НОВОМАТИК АГ. Дата публикации: 2019-03-29.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: EP4306972A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Aerosol-generating article, preparation method, and inspection method

Номер патента: EP4226779A1. Автор: Cheng Liu,XU Wang,Lina GAO. Владелец: Shanghai New Tobacco Products Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor

Номер патента: WO2004079352A1. Автор: Junichi Matsumoto. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co. Ltd.. Дата публикации: 2004-09-16.

Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor

Номер патента: CN1784596A. Автор: 松本润一. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-07.

Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor

Номер патента: CN1784596B. Автор: 松本润一. Владелец: Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-06.

Automatic measuring and inspection device for inner diameter of pulley and inspection method thereof

Номер патента: KR101140721B1. Автор: 전규태. Владелец: 탑테크주식회사. Дата публикации: 2012-05-07.

Material testing device, and test piece holder and inspection method used in same

Номер патента: WO2014174574A1. Автор: 田窪 健二,泰範 川口. Владелец: 株式会社島津製作所. Дата публикации: 2014-10-30.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Wire rope inspection method, wire rope inspection system, and wire rope inspection device

Номер патента: US12135311B2. Автор: Hiromichi Tonami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Current sensor inspection system and current sensor inspection method

Номер патента: US09638721B2. Автор: Hisashi Nishimura,Toshikazu Suzuki. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Liquid crystal display driving device and liquid crystal inspection method using the same

Номер патента: US5757346A. Автор: Hiroaki Mita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-26.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9151669B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-06.

Active matrix substrate, display device, and active matrix substrate inspecting method

Номер патента: US20100006838A1. Автор: Masahiro Yoshida,Kazunori Tanimoto,Yasuhiro Mimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-01-14.

IMAGE PROCESSING DEVICE, FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE, IMAGE PROCESSING METHOD, AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190304125A1. Автор: Kashu Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Substrate inspection method and device

Номер патента: US20230033089A1. Автор: Junghoon Kim,Doyoung Yoon,Kwangil SHIN,Ilsuk PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-02.

Air pipe joint and measurement system for substrate inspection

Номер патента: US20190383752A1. Автор: Kai Shi. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-19.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Drug supply device and drug inspection method in drug supply device

Номер патента: US09776755B2. Автор: Akira Kondo,Hideyuki Takahashi,Takashi Mori. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Substrate inspection

Номер патента: EP2850385A1. Автор: Steven W. Meeks,Romain Sappey,Mahendra Prabhu Ramachandran. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-03-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Detection device and detection method

Номер патента: US12099020B2. Автор: Sachio Iida,Norihito Mihota. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection method and device

Номер патента: US09841387B2. Автор: Hao-Kai CHOU,Chia-Ho YEN,Meng-Kun Lee,Liang-Pin Yu,Chun-Ti Chen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Inspection system, extraction device, and inspection method

Номер патента: US20230367015A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Tire inspection method and device therefor

Номер патента: US09953409B2. Автор: Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Display control device and storage medium

Номер патента: US20210302329A1. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection method and inspecting device

Номер патента: US20240272125A1. Автор: Hiroki Katayama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US12086976B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US20150168267A1. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2015-06-18.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US09638606B2. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240361257A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Movable inspection device and inspection method

Номер патента: EP4170329A1. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-26.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection apparatus, inspection method, computer program and recordimg medium

Номер патента: US20190331476A1. Автор: Masakazu Ogasawara,Takanori OCHIAI. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Device and method for fitting

Номер патента: RU2702264C2. Автор: Геран СУНДХОЛЬМ,Енни ВИРНЕС,Минна АРРА. Владелец: Мариелла Лэйблз Ой. Дата публикации: 2019-10-07.

Device and method for determining erythrocyte sedimentation rate and other related parameters

Номер патента: RU2753649C1. Автор: Паоло ГАЛЬЯНО. Владелец: Алифакс С.Р.Л.. Дата публикации: 2021-08-19.

Panel inspection device and inspection method of panel

Номер патента: US8023721B2. Автор: Chih-Chiang Lee,Ching-Chun Chien,Hsien-Chang Kao,Kuo-Chang Teng. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US20220236232A1. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4394457A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Inspection device

Номер патента: US20240201104A1. Автор: SHINJI Ueyama,MITSUNORI Numata,Kenji Suzuki,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: US20090151481A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Operator guided inspection device, system, and method

Номер патента: US20220178836A1. Автор: Thomas Alton Bartoshesky,Jonathan Douglas Williams,Robert Fuelep Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

Security inspection device

Номер патента: US11747510B2. Автор: Feng Wang,Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Inspection device

Номер патента: US11774374B2. Автор: Takashi Sugata,Ryoji Kodama. Владелец: Nanosystem Solutions Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US9664592B2. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Drug Capsule Appearance Inspection Device

Номер патента: US20230236133A1. Автор: Ku Hyun Lee. Владелец: Sltg Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Inspection device

Номер патента: US20240346818A1. Автор: Shinichi Matsubara,Takafumi Miwa,Yuta Imai,Sayaka KURATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

X-ray inspection device

Номер патента: US09752996B2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection device

Номер патента: US09568437B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Two bodies misalignment device and determination method

Номер патента: RU2653771C2. Автор: ХОЛЦЛ Роланд. Владелец: ПРУФТЕХНИК Диетер Буш АГ. Дата публикации: 2018-05-14.

Device and method for diagnostics of secondary dental caries

Номер патента: RU2603428C2. Автор: Марцин ЮСТ,Пшемыслав ЛОСЬ,Михал ТЫЦ. Владелец: Нумед Сп З.О.О.. Дата публикации: 2016-11-27.

Electro-optical device and electronic apparatus

Номер патента: US20230309349A1. Автор: Takumi Kodama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspection device for article being inspected, spark plug inspection method, and method for manufacturing spark plug

Номер патента: US09432635B2. Автор: Asako Fujita. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Command inspection method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: US12124569B2. Автор: Yao Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspection apparatus, inspection method and program

Номер патента: US12130949B2. Автор: Yoshihide Nakagawa. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Image processing method and image inspecting method

Номер патента: US20100128923A1. Автор: Toshiaki Kakii,Yoichi Hata,Kiyoshi Nishikawa,Yoshimitsu Goto,Hitoshi Kiya,Masaaki Fujiyoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-27.

Information processing device and information processing method

Номер патента: RU2665254C1. Автор: Минами ОГАВА,Тацуя СИРАИ. Владелец: Рикох Компани, Лимитед. Дата публикации: 2018-08-28.

Visual inspection device

Номер патента: US09736342B2. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Lighting device, display device and tv receiver

Номер патента: RU2470219C2. Автор: Хироси КУНИИ. Владелец: Шарп Кабусики Кайся. Дата публикации: 2012-12-20.

IMAGE PROCESSING DEVICE, FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE, IMAGE PROCESSING METHOD, AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190304086A1. Автор: Kashu Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Photoelectric conversion device and characteristic inspection method for same

Номер патента: US09509124B2. Автор: Akihiko Yoshikawa,Yoshihiro Ishitani,Kazuhide Kusakabe. Владелец: Chiba University NUC. Дата публикации: 2016-11-29.

Dicing groove inspecting method and dicing method

Номер патента: US20240242968A1. Автор: Takashi Tamogami,Takeo Tsushima,Yusuke KANESHIRO. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Inspection method for semiconductor laser device and inspection device for semiconductor laser device

Номер патента: US20220376465A1. Автор: Akio SHIRASAKI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: US12094138B2. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-17.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: US20240320811A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: EP4435768A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Display panel, display device and inspection method

Номер патента: US09773440B2. Автор: Huasheng Yan. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09495910B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09443469B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-09-13.

Improved risk based inspection method

Номер патента: US20230196224A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: Single Buoy Moorings Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Improved risk based inspection method

Номер патента: WO2021214707A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: SINGLE BUOY MOORINGS INC.. Дата публикации: 2021-10-28.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US7591180B2. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-09-22.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US20070070533A1. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Lamp holder, illumination device, display device and television receiver

Номер патента: RU2460012C2. Автор: Ясумори КУРОМИДЗУ. Владелец: Шарп Кабусики Кайся. Дата публикации: 2012-08-27.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4374217A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4373675A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Utilization of visual auxiliary inspection devices for vehicle servicing system and method

Номер патента: US20060106630A1. Автор: Wang-Ying Lo. Владелец: DRACO PHOTOELECTRON Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Image inspection device, console, and radiation imaging system

Номер патента: EP4029450A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240300234A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240326405A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Inspection method and system

Номер патента: US09965844B1. Автор: Wei Fang,Jack Jau,Zhao-Li Zhang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

Method, device and media of information for dynamic change in function

Номер патента: RU2642362C2. Автор: Фэн ИНЬ,Минсин ЧЖУ. Владелец: ЗетТиИ Корпорейшн. Дата публикации: 2018-01-24.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Network inspection method, network device and network management device

Номер патента: EP4440069A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Network Inspection Method, Network Device, and Network Management Device

Номер патента: US20240348522A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Portable inspection device

Номер патента: US20230262342A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Portable inspection device

Номер патента: WO2022079690A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Transceiver arrangement, communication device, and method

Номер патента: US09853801B2. Автор: Henrik Sjöland,Stefan Andersson,Johan Wernehag. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2017-12-26.

Method, data transmission device and communication system

Номер патента: RU2754435C2. Автор: Фын ЮЙ,Синь СЮН,Хайфэн ЮЙ. Владелец: Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2021-09-02.

Device and method of image coding, device and method of image decoding and data media

Номер патента: RU2643450C1. Автор: Гийом ЛАРОШ. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-02-01.

Device and method for coal thermal production of aluminium

Номер патента: RU2486268C2. Автор: Джералд Е. КАРКИН,Джозеф А. ЛЕПИШ. Владелец: Алкоа Инк.. Дата публикации: 2013-06-27.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: US20230278137A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: EP4230339A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Pest-accumulating device and pest-accumulating method

Номер патента: US09510583B2. Автор: Yoshiki Matsumoto,Tetsuya Kondo,Koh-En Yamauchi,Kohsyo Yamauchi. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-12-06.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Machine posture inspection method and machine posture inspection system

Номер патента: US20240342910A1. Автор: Ting-Jen Yeh,Ting-yun FANG. Владелец: Point Robotics Medtech Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Devices and methods for crystalline lens tissue removal

Номер патента: RU2703694C2. Автор: Мария Цончева ГУГУЧКОВА,Льюк У. КЛАУСОН. Владелец: Янтек, Инк.. Дата публикации: 2019-10-21.

Stenting device and aorta stenting kit

Номер патента: RU2721137C2. Автор: Эрик ЛЕОПОЛЬД,Али ШАХРИАРИ. Владелец: ЭССАЙРУС МЕДИКАЛ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2020-05-18.

Device and method for heavy oil products hydroconversion

Номер патента: RU2709813C1. Автор: Марио МОЛИНАРИ,Сузи БОНОМИ. Владелец: Эни С.П.А.. Дата публикации: 2019-12-23.

Device and method of treatment of fluid media

Номер патента: RU2275245C2. Автор: Митчел Т. РОМАНИСЦИН,Перри. МКГУАР. Владелец: ЛАНСЕР ПАРТНЕРШИП, Лтд.. Дата публикации: 2006-04-27.

Device and method of atomic-layer deposition of coating on substrate surface

Номер патента: RU2704875C2. Автор: Тимо МАЛИНЕН. Владелец: Пикосан Ой. Дата публикации: 2019-10-31.

Device and method of making cutting plates

Номер патента: RU2602310C2. Автор: Амир Сатран,Александр ЗИБЕНБЕРГ. Владелец: Искар Лтд.. Дата публикации: 2016-11-20.

Device and system for sampling body fluid and its analysis

Номер патента: RU2508049C2. Автор: Кристиан ХЕРАУФ. Владелец: Ф.Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2014-02-27.

Improved device and method for product hydrolysis

Номер патента: RU2726654C2. Автор: Одвар БЬЁРГЕ,Оле Мариус БЬЁРГЕ,Эйнар ЛИД. Владелец: Фирмениш Са. Дата публикации: 2020-07-15.

Fluid dispensing device and valve having return means

Номер патента: RU2680054C2. Автор: Гийом БУЛЕ. Владелец: Гб Девелопмент. Дата публикации: 2019-02-14.

Device and method for isomerisation of benzene-containing raw material

Номер патента: RU2540272C2. Автор: Дейвид Джеймс ШЕКТЕРЛ. Владелец: Юоп Ллк. Дата публикации: 2015-02-10.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Intraocular pressure inspection device

Номер патента: US20240130614A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Chao-Ting Chen,Shao Hung Huang,Chi-Yuan Kang,Fong Hao Kuo,Yu-Chung TUNG. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Double-skin cryogenic tank equipped with at least one inspection device

Номер патента: US20240093838A1. Автор: Benoit Penven. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-03-21.

Injection device and procedure for using the device for introducing air and/or additive to the deeper layers of soil

Номер патента: CA3132713A1. Автор: Miklós Attila Tokés. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-10-15.

Pipeline inspection device

Номер патента: US12053807B2. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Downhole plug device, tube affixing method, and tube inspection method

Номер патента: CA3222896A1. Автор: Ramu MIIKE. Владелец: Kureha Corp. Дата публикации: 2023-01-05.

Downhole plug device, tube affixing method, and tube inspection method

Номер патента: US20240309725A1. Автор: Ramu MIIKE. Владелец: Kureha Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Automatic inspection device for corrugated paperboard machine, and corrugated paperboard machine

Номер патента: US09452585B2. Автор: Hiroshi Ota,Michio Suzuki. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2016-09-27.

Device and method for sorting bulk material

Номер патента: RU2660077C2. Автор: Зигмар ЛАМПЕ. Владелец: Сикора Аг. Дата публикации: 2018-07-04.

Drive device and crusher

Номер патента: RU2598549C2. Автор: Фабрис ЛЕССАР. Владелец: Компани Ангренаж Э Редюктер-Мессиан-Дюран. Дата публикации: 2016-09-27.

Devices and methods for connection of pipelines by ball joints

Номер патента: RU2543923C2. Автор: Майкл В. ХОРГАН. Владелец: Тайко Файэр Продактс Лп. Дата публикации: 2015-03-10.

Intraocular devices and corresponding methods

Номер патента: RU2555115C2. Автор: Сяосяо ЧЖАН,Инь ЯН. Владелец: НОВАРТИС АГ. Дата публикации: 2015-07-10.

Coating composition for implanted medical device and method for coating of such device

Номер патента: RU2308295C2. Автор: Виктор СЕВАСТЬЯНОВ. Владелец: Лс Медкап Гмбх. Дата публикации: 2007-10-20.

Piercing device and cartridge for piercing device

Номер патента: RU2754587C2. Автор: Масанори САЕКИ. Владелец: Масанори САЕКИ. Дата публикации: 2021-09-03.

Semiconductor device and manufacturing method thereof, and inspection method thereof

Номер патента: JP2005353676A. Автор: Masashi Miura,真史 三浦. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

Inspection device of medicine in housing body, and inspection method of medicine in housing body

Номер патента: JPH1033638A. Автор: Kazuki Doi,和樹 土井. Владелец: Takazono Sangyo Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-10.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MASS FLOW CONTROLLER, MASS FLOW CONTROLLER SYSTEM, SUBSTRATE PROCESSING DEVICE, AND GAS FLOW RATE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120000542A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLE TRANSPORT COMPOSITIONS AND RELATED DEVICES AND METHODS (I)

Номер патента: US20120001127A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001182A1. Автор: Choi Jong-Hyun,Lee Dae-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001250A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001332A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INPUT/OUTPUT DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001874A1. Автор: KUROKAWA Yoshiyuki,IKEDA Takayuki. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPERATIONAL AMPLIFIER CIRCUIT, SIGNAL DRIVER, DISPLAY DEVICE, AND OFFSET VOLTAGE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120001892A1. Автор: KOJIMA Tomokazu. Владелец: Panasonic Corporaton. Дата публикации: 2012-01-05.

FUEL CELL DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120003556A1. Автор: Devoe Alan,Devoe Lambert. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHOD FOR ACCELEROMETER-BASED CHARACTERIZATION OF CARDIAC SYNCHRONY AND DYSSYNCHRONY

Номер патента: US20120004564A1. Автор: Dobak,III John Daniel. Владелец: CARDIOSYNC, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR CUTTING AND EVACUATING TISSUE

Номер патента: US20120004595A1. Автор: DUBOIS Brian R.,NIELSEN James T.,GORDON Alexander. Владелец: LAURIMED, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Tensioned Meniscus Prosthetic Devices and Associated Methods

Номер патента: US20120004725A1. Автор: Linder-Ganz Eran,Shterling Avraham,DANINO Amir. Владелец: Active Implants Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE TRANSFER METHOD ADOPTED IN SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20120004753A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

FLEXIBLE MATERIAL FLOORING MITER DEVICE AND SYSTEM FOR FLEXIBLE MATERIAL FLOORING INSTALLATION

Номер патента: US20120000160A1. Автор: Herbert Robert R.,Foster Ernest D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Controlling Compressor of Vehicles

Номер патента: US20120000210A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING COMPRESSOR OF VEHICLES

Номер патента: US20120000211A1. Автор: Kwon Choon Gyu,KIM Jae Woong,LEE Chang Won. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Meter Devices and Methods

Номер патента: US20120000281A1. Автор: Vo Anh Nhat. Владелец: Dresser, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR ASCERTAINING PRESSURE VALUES

Номер патента: US20120000292A1. Автор: Loidreau Maxime,LEPIDIS Polichronis. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SAMPLING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120000296A1. Автор: WENG Yanwen. Владелец: SHENZHEN MINDRAY BIO-MEDICAL ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRASONIC SENSOR MODULE ATTACHING DEVICE AND ATTACHING METHOD

Номер патента: US20120000302A1. Автор: Inoue Satoru,MATSUMOTO Toru,Nishimoto Yukio. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR SEPARATING SURFACE LAYERS IN PRODUCTS OF THE FOOD INDUSTRY

Номер патента: US20120000331A9. Автор: Grabau Thomas. Владелец: NORDISCHER MASCHINENBAU RUD. BAADER GMBH + CO. KG. Дата публикации: 2012-01-05.

THERMAL DEVICE AND PHOTOVOLTAIC MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120000508A1. Автор: Yip Chui-Ling. Владелец: Du Pont Apollo Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000518A1. Автор: Tokioka Hidetada,ORITA Tae,YAMARIN Hiroya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000570A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000571A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Fixing a Component in Position on a Component Carrier

Номер патента: US20120000601A1. Автор: Fessler-Knobel Martin,Huttner Roland. Владелец: MTU AERO ENGINES GMBH. Дата публикации: 2012-01-05.

Laser Beam Irradiation Apparatus and Substrate Sealing Apparatus Including the Same

Номер патента: US20120000611A1. Автор: . Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SUBSTRATE STAGE, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM

Номер патента: US20120000612A1. Автор: Muraki Yusuke,ODAGIRI Masaya,FUJIHARA Jin. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR STRIPPING A WAFER FROM A CARRIER

Номер патента: US20120000613A1. Автор: Thallner Erich. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120000886A1. Автор: NISHINO Masaru,HONDA Masanobu,Kubota Kazuhiro,Ooya Yoshinobu. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

CABLE BARRIER POST ANCHORING DEVICE AND RELATED METHOD

Номер патента: US20120001037A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTMENT DEVICE AND METHOD OF USING

Номер патента: US20120001053A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SENSING DEVICE AND IMAGE SENSOR MODULE THEREOF

Номер патента: US20120001054A1. Автор: Wang Wei Chung,Shen Chi Chih,Li Kuo Hsiung,Chen Hui Hsuan,Chuang Jui Cheng. Владелец: PIXART IMAGING INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

RESISTIVE RAM DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120001144A1. Автор: . Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001169A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FLEXIBLE SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001173A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001180A1. Автор: Yoshizumi Kensuke,YOKOI Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFLECTIVE TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001188A1. Автор: HAYASHI Masami. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION REGION, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001198A1. Автор: Zhu Huilong,Yin Haizhou,Luo Zhijiong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001200A1. Автор: Yanagihara Manabu,Uemoto Yasuhiro,IKOSHI Ayanori,MORITA TATSUO. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Light Emitting Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001202A1. Автор: Horng Ray-Hua. Владелец: NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT-EMITTING DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001219A1. Автор: Park Kyungwook. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND LAMP

Номер патента: US20120001220A1. Автор: . Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT UNIT

Номер патента: US20120001221A1. Автор: . Владелец: LG INNOTEK CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE, AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE

Номер патента: US20120001222A1. Автор: CHOI Kwang Ki,MOON Ji hyung,LEE Sang Youl,SONG June O.,KIM Chung Song. Владелец: LG INNOTEK CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001226A1. Автор: . Владелец: Sanken Electric Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Forming the Same

Номер патента: US20120001229A1. Автор: Zhu Huilong,Liang Qingqing. Владелец: INSTITUTE OF MICROELECTRONICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES. Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THEREOF

Номер патента: US20120001246A1. Автор: . Владелец: Micron Technology Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001247A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001255A1. Автор: PARK JIN WON. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001257A1. Автор: MURAKAWA Kouichi. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001260A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE MANUFACTURING METHOD, SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120001290A1. Автор: Sawada Ken. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING SOLID STATE IMAGING DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001292A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001300A1. Автор: Ito Takayuki,ISHIDA Tatsuya,Yoshino Kenichi,Naito Tatsuya. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120001304A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001310A1. Автор: Horiki Hiroshi,NISHINO MASANORI. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001311A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME

Номер патента: US20120001321A1. Автор: IMAMURA Tomomi,Natsuda Tetsuo,Nishijo Yoshinosuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001324A1. Автор: Watabe Hiroshi,AOKI Hideo,MUKAIDA Hideko,Fukuda Masatoshi,Koshio Yasuhiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001331A1. Автор: . Владелец: KABUSHI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001333A1. Автор: HWANG Chang Youn. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001335A1. Автор: ENDO Yuta,TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001346A1. Автор: SEO Dae-Young,KIM Doo-Kang. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Connection Devices And Male-Female Connection System Comprising Them

Номер патента: US20120001423A1. Автор: OLIVIER Stephane. Владелец: Millipore Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Connection Devices And Male-Female Connection System Comprising Them

Номер патента: US20120001424A1. Автор: . Владелец: Millipore Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS POWER SUPPLY SYSTEM, WIRELESS POWER TRANSMITTING DEVICE, AND WIRELESS POWER RECEIVING DEVICE

Номер патента: US20120001485A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120001490A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Generating Alternating Current

Номер патента: US20120001491A1. Автор: Greizer Frank,Laschinski Joachim,Engel Bernd,Cramer Guenther. Владелец: SMA Solar Technology AG. Дата публикации: 2012-01-05.

FLAT PANEL DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001534A1. Автор: KIM Tae-Woong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF ILLUMINATION

Номер патента: US20120001553A1. Автор: . Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

MOTOR CONTROL DEVICE AND OUT-OF-STEP DETECTING METHOD

Номер патента: US20120001584A1. Автор: MATSUI Takayuki,TAKADA Kazuo. Владелец: MINEBEA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

BATTERY CHARGER, VOLTAGE MONITORING DEVICE AND SELF-DIAGNOSIS METHOD OF REFERENCE VOLTAGE CIRCUIT

Номер патента: US20120001588A1. Автор: . Владелец: OKI SEMICONDUCTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus for Energizing a Protective Device, and Associated Method

Номер патента: US20120001764A1. Автор: Naiva Matthew Wilbur,Verheyen Mark Alan,Riley Joseph Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DIGITIZING A SIGNAL

Номер патента: US20120001783A1. Автор: Eklund Jan-Erik,Rosenbaum Linnéa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ANTENNA DEVICE AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE

Номер патента: US20120001821A1. Автор: ISHIZUKA Kenichi,KAWAHATA Kazunari,Nishida Hiroshi,NAKANO Shinichi. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DISPLAY DEVICE AND DISPLAY METHOD

Номер патента: US20120001833A1. Автор: Dobschal Hans-Juergen,Rudolph Guenter,Lindig Karsten. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING NOISE

Номер патента: US20120001859A1. Автор: . Владелец: Pantech Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC BOOK READING DEVICE AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001872A1. Автор: Gong Bin. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Display device and display method

Номер патента: US20120001877A1. Автор: Morii Hideki,Yanagi Toshihiro,Miyata Hidekazu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DRIVING DEVICE AND DRIVING METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL, AND PLASMA DISPLAY APPARATUS

Номер патента: US20120001882A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001885A1. Автор: Kim Na-Young,Kang Ki-Nyeng,Park Yong-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Display Device and Arrangement Method of OSD Switches

Номер патента: US20120001942A1. Автор: ABE Masatoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DRIVING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120001946A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THEREOF

Номер патента: US20120001950A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG MOBILE DISPLAY CO. LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC DISPLAY DEVICE AND DISPLAY DRIVE CIRCUIT

Номер патента: US20120001956A1. Автор: Sato Yoshihisa. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING DEVICE AND PRINTING METHOD

Номер патента: US20120001973A1. Автор: Sano Tsuyoshi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING DEVICE AND PRINTING METHOD

Номер патента: US20120001974A1. Автор: Mano Takahiro. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL APPARATUS, IMAGE SENSING DEVICE, AND CONTROL METHODS THEREOF

Номер патента: US20120002060A1. Автор: KUSANAGI SUGURU. Владелец: CANON KABISHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PROCESSING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120002067A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Video Signal Interpolation Device, Video Display Device, and Video Signal Interpolation Method

Номер патента: US20120002105A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHTING DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120002117A1. Автор: Matsumoto Shinji. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSATL DISPLAY DEVICE AND TELEVISION SET

Номер патента: US20120002118A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC IMAGE DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002123A1. Автор: KANG Dongwoo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHTING DEVICE, DISPLAY DEVICE AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120002135A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

PLANAR ILLUMINATION DEVICE AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120002136A1. Автор: NAGATA Takayuki,YAMAMOTO Kazuhisa,Itoh Tatsuo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL DETECTING DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT

Номер патента: US20120002215A1. Автор: TAKAHASHI Masaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND IMAGE SCANNING APPARATUS

Номер патента: US20120002248A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE READ DEVICE AND COPIER

Номер патента: US20120002252A1. Автор: Fujii Takashi,Kubo Hiroshi,Kosuga Yasuo,Nagano Tatsuaki,Morita Kenichiro,Akai Takeshi. Владелец: RICOH COMPANY, LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120002268A1. Автор: UCHIDA Masami. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SLIDE GLASS STORAGE DEVICE, CONVEYING DEVICE AND MICROSCOPE SYSTEM

Номер патента: US20120002277A1. Автор: Machida Yuichi,Suzuki Fumiyasu,Hirono Yu. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC WAVE GATHERING DEVICE AND SOLAR CELL MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120002291A1. Автор: Lee Shih-Chang,Hong Kai-Yi,Lo Wu-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC RECORDING AND REPRODUCTION DEVICE AND FLYING HEIGHT CONTROL METHOD

Номер патента: US20120002319A1. Автор: KONDO Masayuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

COOLING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002370A1. Автор: Ohsawa Kenji,Tsuruta Katsuya. Владелец: Molex Incorporated. Дата публикации: 2012-01-05.

HEAT PIPE TYPE COOLING DEVICE AND RAILCAR CONTROL EQUIPMENT USING THE SAME

Номер патента: US20120002373A1. Автор: KITAJIMA Hironori,SAKAYORI Hitoshi,SHIRAISHI Yuuzou. Владелец: HITACHI CABLE, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DUSTPROOF STRUCTURE FOR SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE AND SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002390A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus for Indicating a Status of an Apparatus That Energizes a Protective Device, and Associated Method

Номер патента: US20120002391A1. Автор: Van Weelden Ronald Arlin. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CARRIER COMPRISING AT LEAST ONE SEMICONDUCTOR LUMINOUS DEVICE AND CARRIER SYSTEM

Номер патента: US20120002409A1. Автор: . Владелец: OSRAM AG. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT SOURCE, LIGHT SOURCE DEVICE AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120002410A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND LUMINAIRE

Номер патента: US20120002435A1. Автор: Van Gorkom Ramon Pascal,Van Oers Denis Joseph Carel. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CONTROL METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120002457A1. Автор: KANDA Kazushige. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INTERLEAVED MEMORY PROGRAM AND VERIFY METHOD, DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120002474A1. Автор: . Владелец: ROUND ROCK RESEARCH, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

TEST MODE CONTROL CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST MODE ENTERING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002494A1. Автор: Jo Jun-Ho,PARK Kyu-Min,KIM BYOUNGSUL,LEE Hakyong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DISK-SHAPED RECORDING MEDIUM, OPTICAL SPOT POSITION CONTROL DEVICE, AND OPTICAL SPOT POSITION CONTROL METHOD

Номер патента: US20120002519A1. Автор: Horigome Junichi. Владелец: Sony Optiarc Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL RECORDING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120002523A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Wi-Fi Access Point Device and System

Номер патента: US20120002655A1. Автор: Bonnassieux Vincent,Martich Mark E.. Владелец: ORTRONICS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, TRANSMISSION DEVICE, AND RECEIVING DEVICE

Номер патента: US20120002661A1. Автор: Kubo Hiroshi,Nishimoto Hiroshi,Yamaoka Tomoya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ENCODING DEVICE AND METHOD AND MULTIMEDIA APPARATUS INCLUDING THE ENCODING DEVICE

Номер патента: US20120002724A1. Автор: KIim Seong Hee. Владелец: CORE LOGIC INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

RECEIVER, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SIGNAL TRANSMISSION METHOD

Номер патента: US20120002771A1. Автор: . Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Grating production method, diffraction grating device, and radiation imaging apparatus

Номер патента: US20120002785A1. Автор: KANEKO Yasuhisa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING MOVEMENT OF OBJECT

Номер патента: US20120002842A1. Автор: MURASHITA Kimitaka,WATANABE Yuri,Fujimura Koichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

DROWSINESS ASSESSMENT DEVICE AND PROGRAM

Номер патента: US20120002843A1. Автор: Tanaka Isahiko,KADOYA Akira,Omi Takuhiro,Yoda Takumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE-PROCESSING DEVICE AND IMAGE-PROCESSING METHOD, IMAGE-PICKUP DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20120002849A1. Автор: Tokuse Akira. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SIGNAL TRANSMISSION DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120002923A1. Автор: Nakano Yoshiaki,Song Xueliang,Yit Foo Cheong,Wang Shurong,Horiguchi Katsumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COUPLING DEVICE AND OPTICAL IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120002928A1. Автор: Irisawa Yuichiro. Владелец: TERUMO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR SPLICING OPTICAL FIBERS, AND USE OF AN END PIECE IN A DEVICE FOR SPLICING

Номер патента: US20120002929A1. Автор: . Владелец: DIAMOND SA. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL WAVEGUIDE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREOF

Номер патента: US20120002931A1. Автор: Watanabe Shinya. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFER DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120002996A1. Автор: TAKIGUCHI Toshiki,NAKANO Kuniaki,Izumi Hideshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of producing cleaning web, image-forming device and fixing device

Номер патента: US20120003020A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Pipeline Weighting Device and Method

Номер патента: US20120003049A1. Автор: Sprague Ian,McKay Charles Frederick. Владелец: CRC-EVANS CANADA LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FECAL SAMPLING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120003123A9. Автор: LaStella Vincent P.,Kupits Kenneth. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Manufacturing and Detecting Device and Method of Birefringent Lens Grating

Номер патента: US20120003380A1. Автор: Yu Bin. Владелец: Shenzhen Super Perfect Optics LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003426A1. Автор: . Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION FILM, DECORATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003433A1. Автор: . Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

GRAPHENE PROCESSING FOR DEVICE AND SENSOR APPLICATIONS

Номер патента: US20120003438A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION FILM, DECORATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003441A1. Автор: CHEN CHIA-FU. Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Organometallic films, methods for applying organometallic films to substrates and substrates coated with such films

Номер патента: US20120003481A1. Автор: Hanson Eric L.. Владелец: Aculon, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEPARATOR FOR AN ELECTRICITY STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120003525A1. Автор: . Владелец: TOMOEGAWA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ENERGY STORAGE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003535A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FUEL CELL DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120003558A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003761A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120003797A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003805A1. Автор: Lee Tae-Jung,PARK MYOUNG-KYU,Bang Kee-In. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION BETWEEN A HOST DEVICE AND AN ACCESSORY VIA AN INTERMEDIATE DEVICE

Номер патента: US20120003934A1. Автор: Lydon Gregory T.,Tikalsky Terry,Ananny John,Laefer Jay S.. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION BETWEEN A HOST DEVICE AND AN ACCESSORY VIA AN INTERMEDIATE DEVICE

Номер патента: US20120003935A1. Автор: Lydon Gregory T.,Tikalsky Terry,Ananny John,Laefer Jay S.. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Radio-frequency Processing Device and Method and Related Wireless Communication Device

Номер патента: US20120003947A1. Автор: CHEN Wan-Ming,HO Chien-Ting,Su Chih-Chin,Lai Chung-Chi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE COMMUNICATIONS DEVICE, AND METHOD OF UPDATING TELEPHONE DIRECTORY OF MOBILE COMMUNICATIONS DEVICE

Номер патента: US20120003963A1. Автор: ORMSON Richard. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR PLACING A CALL ON A SELECTED COMMUNICATION LINE

Номер патента: US20120003968A1. Автор: LAZARIDIS Mihal. Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO GAMING DEVICE AND METHOD OF WAGERING ON A VIRTUAL FOOTBALL GAME

Номер патента: US20120004018A1. Автор: Reeves,III Allen N.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR REPLICATING A USER INTERFACE AT A DISPLAY

Номер патента: US20120004033A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Organometallic films, methods for applying organometallic films to substrates and substrates coated with such films

Номер патента: US20120004388A1. Автор: Hanson Eric L.. Владелец: Aculon, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Liquid Crystal Display Device And Method Of Manufacturing That

Номер патента: US20120004453A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR TISSUE INVAGINATION

Номер патента: US20120004505A1. Автор: DeVRIES Robert B.,Sullivan Roy H.,Tassy,JR. Marc,Dimatteo Kristian,Kwan Tak,Shaw William J.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Bone Imaging

Номер патента: US20120004536A1. Автор: Munro Chad. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM INCLUDING AN IMPLANTABLE MEDICAL DEVICE AND ELECTRONIC VALVE INDICATOR AND LOCATOR DEVICE

Номер патента: US20120004538A1. Автор: Bertrand William J.,Speckman Lori C.. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE VISUALIZATION DEVICE AND METHOD VARIATIONS

Номер патента: US20120004577A1. Автор: . Владелец: Voyage Medical, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SERIAL VALVES AND HUBS FOR TUBULAR DEVICES AND METHODS FOR MAKING AND USING THEM

Номер патента: US20120004622A1. Автор: . Владелец: AUST DEVELOPMENT, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Suture Straightening Device and Method

Номер патента: US20120004672A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE-ACQUISITION AND FASTENING DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120004677A1. Автор: Swope Bretton,Cole David,BALBIERZ DANIEL J.,Hambly Pablo R.,England Justen,Crews Samuel T.,Purdy Craig Arthur. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD, RETENTION DEVICE AND MEDICAL TREATMENT DEVICE FOR STABLE SUPPORT OF A NEEDLE TO BE INSERTED INTO A PATIENT

Номер патента: US20120004681A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Implantable Medical Device and Charging System Employing Electric Fields

Номер патента: US20120004708A1. Автор: . Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

EXPANDABLE SUPPORT DEVICE AND METHOD OF USE

Номер патента: US20120004726A1. Автор: GREENHALGH E. Skott,ROMANO John-Paul. Владелец: STOUT MEDICAL GROUP, L.P.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND PROCESS FOR RECOGNIZING AND GUIDING INDIVIDUALLY PACKAGED PRODUCTS WITH A CODE

Номер патента: US20120004763A1. Автор: Freudelsperger Karl. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GRIPPING DEVICE, TRANSFER DEVICE, PROCESSING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120004773A1. Автор: . Владелец: SHIBAURA MECHATRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Task Management for Piloting an Aircraft

Номер патента: US20120004794A1. Автор: . Владелец: THALES. Дата публикации: 2012-01-05.

VEHICLE CONTROL DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING VEHICLE

Номер патента: US20120004801A1. Автор: Watanabe Takashi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SIGNAL EVALUATING DEVICE AND SIGNAL EVALUATING METHOD

Номер патента: US20120004877A1. Автор: Ueno Tatsuya. Владелец: YAMATAKE CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTION ANALYSIS DEVICE AND ACTION ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20120004887A1. Автор: Kawaguchi Kyoko,Tanabiki Masamoto. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Orthodontic devices and methods

Номер патента: RU2375010C2. Автор: Павел Даниелович МАИЛЯН. Владелец: Мейэдонтикс, Ллс (Сша). Дата публикации: 2009-12-10.

Rail guiding device and refrigerator using it

Номер патента: RU2445559C1. Автор: Синити ХОРИИ,Хироки КАВАБАТА. Владелец: ПАНАСОНИК КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2012-03-20.