Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Semiconductor sample inspection device and inspection method

Semiconductor sample inspection device and inspection method

Номер патента: US11927626B2
Опубликовано: 12-03-2024
Автор(ы): Toshiki Yamada
Принадлежит: Hamamatsu Photonics KK
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180348297A1. Автор: Nakamura Tomonori. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2018-12-06.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: US20230184827A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection apparatus

Номер патента: EP4148438A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Shigeru EURA,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Semiconductor inspection device and method for inspecting semiconductor sample

Номер патента: US20230273253A1. Автор: Makoto Sakakibara,Satoshi Takada,Yasuhiro Shirasaki,Minami Shouji,Natsuki Tsuno. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20180348297A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-12-06.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20170123003A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-05-04.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US9588175B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-03-07.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20150276865A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-10-01.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20150276865A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-10-01.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Electrical characteristic inspection device for semiconductor device and electrical characteristic inspection method for semiconductor device

Номер патента: US11828786B2. Автор: Takaya Noguchi,Yasushi Hisaoka,Sumito Ogata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240310427A1. Автор: Masahiro Fukushima,Kouhei Matsumoto,Haruko IWAI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170123003A1. Автор: Nakamura Tomonori. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170176521A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09618563B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-11.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: US11828811B2. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE AND CIRCUIT BOARD INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170315672A1. Автор: TAKAHASHI Tadashi,HIBARINO Toshihisa,HONDA Mutsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-02.

Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method

Номер патента: KR101013243B1. Автор: 슈우지 야마오까,히로시 하모리,쇼고 이시오까. Владелец: 오에이치티 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2011-02-09.

Band distribution inspection device and band distribution inspection method

Номер патента: JP4698136B2. Автор: 泰一 大野,弘幸 松並,浩司 岡田. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2011-06-08.

Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method

Номер патента: CN1720458A. Автор: 羽森宽,山冈秀嗣,石冈圣悟. Владелец: OHT Inc. Дата публикации: 2006-01-11.

Inspection device, and conductive pattern inspection method

Номер патента: TW200643434A. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka,Hiroshi Hamori. Владелец: OHT Inc. Дата публикации: 2006-12-16.

Inspection device of semiconductor integrated circuit, inspection method of semiconductor integrated circuit, and control program of inspection device of semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20120043983A1. Автор: Toru Kume,Nobuhiro Sawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-02-23.

Apparatus for testing reliability of semiconductor sample

Номер патента: WO2006065073A1. Автор: Tae Hong Kim,Jong Jun You,Young Goo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2006-06-22.

Cooling unit, objective lens module, semiconductor inspection device, and semiconductor inspection method

Номер патента: US11841393B2. Автор: Tomonori Nakamura,Hiroyuki Matsuura,Hirotaka Nonaka,Hirotoshi Terada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-12-12.

Cooling unit, objective lens module, semiconductor inspection device, and semiconductor inspection method

Номер патента: US20220091182A1. Автор: Tomonori Nakamura,Hiroyuki Matsuura,Hirotaka Nonaka,Hirotoshi Terada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-03-24.

Cooling unit, objective lens module, semiconductor inspection device, and semiconductor inspection method

Номер патента: EP3904893A1. Автор: Tomonori Nakamura,Hiroyuki Matsuura,Hirotaka Nonaka,Hirotoshi Terada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-11-03.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: US20050055651A1. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: UMC Japan Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-10.

Method of and apparatus for measuring lifetime of carriers in semiconductor sample

Номер патента: US5760597A. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Hidehisa Hashizume,Naoyuki Yoshida,Yuji Hirao,Yutaka Kawata,Futoshi Ojima,Shingo Sumie. Владелец: Genesis Technology Co Ltd. Дата публикации: 1998-06-02.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Inspection device and method

Номер патента: US12044725B2. Автор: Hiroshi Fukuda,Toru Miura,Yoshiho Maeda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Inspection system and inspection method of bare circuit board

Номер патента: US20240310428A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Chun-Hsien Chien,Hsuan-Yu Lai,Yu-Chung Hsieh. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240230751A9. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Semiconductor device and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20240133944A1. Автор: Yoshiaki Tanaka,Kouji Nakajima. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Semiconductor integrated circuit device and inspection method for semiconductor integrated circuit device

Номер патента: US11808807B2. Автор: Kazunori Nemoto,Akira Kotabe,Akeo Satoh. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-11-07.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180113165A1. Автор: Yoichi Sakamoto,Takayuki Hamada,Nobuyuki Takita. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09562944B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-02-07.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160334459A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-17.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: KR101923846B1. Автор: 도모노리 나카무라,미츠노리 니시자와. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-11-29.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: KR101679527B1. Автор: 도모노리 나카무라,미츠노리 니시자와. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2016-11-24.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: KR20150112954A. Автор: 도모노리 나카무라,미츠노리 니시자와. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2015-10-07.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: WO2021024859A1. Автор: 建次郎 木村,勇輝 美馬,章吾 鈴木,木村　憲明. Владелец: 株式会社 Ｉｎｔｅｇｒａｌ Ｇｅｏｍｅｔｒｙ Ｓｃｉｅｎｃｅ. Дата публикации: 2021-02-11.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: EP4012819A4. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2023-08-30.

INSULATION INSPECTION DEVICE FOR MOTORS AND INSULATION INSPECTION METHOD FOR MOTORS

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Okada Shinichi,Shiota Hiroki,Muto Hirotaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2015-09-03.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150377959A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Liquid crystal display driving device and liquid crystal inspection method using the same

Номер патента: US5757346A. Автор: Hiroaki Mita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-26.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US11906561B2. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Optical information device, optical storage medium, optical storage medium inspection device, and optical storage inspection method

Номер патента: EP1494217A4. Автор: Atsushi Nakamura,Mamoru Shoji,Takashi Ishida,Shin-ichi Kadowaki. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-21.

Optical information device, optical storage medium, optical storage medium inspection device, and optical storage inspection method

Номер патента: EP2278347A2. Автор: Atsushi Nakamura,Mamoru Shoji,Takashi Ishida,Shin-ichi Kadowaki. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-26.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: TWI306657B. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: Umc Japan. Дата публикации: 2009-02-21.

Semiconductor device, and design method, inspection method, and design program therefor

Номер патента: TW200414486A. Автор: Shinobu Isobe. Владелец: Umc Japan. Дата публикации: 2004-08-01.

Method of evaluating metal contamination in semiconductor sample and method of manufacturing semiconductor substrate

Номер патента: US09372223B2. Автор: Kei Matsumoto,Ryuji OHNO. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2016-06-21.

Method and device for measuring the diffusion length of minority carriers in a semiconductor sample

Номер патента: US20050237080A1. Автор: Uwe Hermes. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-27.

Semiconductor measurement device and method of measuring semiconductor

Номер патента: US11060990B2. Автор: Masako Kobayashi,Kazunori Harada,Tsukasa Nakai,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-07-13.

Semiconductor measurement device and method of measuring semiconductor

Номер патента: US20190293586A1. Автор: Masako Kobayashi,Kazunori Harada,Tsukasa Nakai,Jun Hirota. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Inspection method for semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor device and inspection device for semiconductor substrate

Номер патента: US09753082B2. Автор: Yohei Iwahashi,Hidemi Senda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Semiconductor inspection method, semiconductor inspection device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US09508611B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Hirotaka Hamamura,Hiroyuki Okino,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Sample Inspection Apparatus, Inspection System, Thin Piece Sample Fabrication Apparatus, and Method for Inspecting Sample

Номер патента: US20240128047A1. Автор: Norio Sato,Masahiro Yoshida,Junichi Fuse,Hirotsugu KAJIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Inspection device, inspection system, intelligent power module, inspection method, and computer program product

Номер патента: US20190219628A1. Автор: Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection method for film covered battery

Номер патента: US09917337B2. Автор: Toshihiko Mankyu. Владелец: Automotive Energy Supply Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Inspection method for semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor device and inspection device for semiconductor substrate

Номер патента: US20160252571A1. Автор: Yohei Iwahashi,Hidemi Senda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-09-01.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US20230341454A1. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Electromagnetic wire coating layer inspection device, electromagnetic wire coating layer inspection method, and electromechanical manufacturing method

Номер патента: CN116325031A. Автор: 李旭涛,高桥贞治,三泽贵浩. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-06-23.

Function inspection device of tco and inspection method using the same

Номер патента: KR101879463B1. Автор: 최성호,김종대,김창해,추성춘,이향목,이영목. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2018-07-17.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150369755A1. Автор: Nakamura Tomonori,NISHIZAWA Mitsunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US20190188844A1. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US10922805B2. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US12078600B2. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Surface inspection device, shape correction device, surface inspection method, and shape correction method

Номер патента: US20220390222A1. Автор: Shuichi Tanaka,Noriyuki Sadaoka,Tatsuhiko Kawakami,Chiharu TACHIKAWAME. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Yasuhiro Yoshitake,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: MY171995A. Автор: CHAKI Hiroaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-11.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US11462335B2. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Positioning device, hole inspection device, positioning method and hole inspection method

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Fracture surface inspection device and fracture surface inspection method for loss evaluation

Номер патента: US11821725B2. Автор: Ryosuke MURAKAMI. Владелец: Yasunaga Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US20210151209A1. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Inspection device, packaging machine, and package inspection method

Номер патента: US11933742B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Wire harness continuity inspection device, wire harness continuity inspection program, and wire harness continuity inspection method

Номер патента: US09435843B2. Автор: Yasuhiro Mochizuki,Noriaki Sasaki,Kohta Ohishi. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Multilayer board, electronic device, and multilayer board inspection method

Номер патента: US20220285082A1. Автор: Kiminori Kouno,Koji KAMADA. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

ROBOT DEVICE, INSPECTION DEVICE, INSPECTION DEVICE OF GENERATOR, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180128879A1. Автор: KUWAHARA Hiroaki,Matsuzaki Akihiro,CHIKAOKA Hideo,IWATA Tomio,TERAI Fujio,GUNJI Yuuichiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2018-05-10.

Magnetic substance inspection device and magnetic substance inspection method

Номер патента: KR102198678B1. Автор: 겐지 이이지마. Владелец: 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼. Дата публикации: 2021-01-05.

X-ray inspection device and x-ray inspection method

Номер патента: US20060196914A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hisashi Hasegawa,Tomoyuki Hiramatsu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2006-09-07.

Circuit substrate inspection device and circuit substrate inspection method

Номер патента: TW200530602A. Автор: Satoshi Suzuki,Kiyoshi Kimura,Sugiro Shimoda. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2005-09-16.

Surface unevenness detection method and device, and magnetic disk inspection method

Номер патента: JP3063022B2. Автор: 順一 堀川,久雄 河合. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2000-07-12.

Taic coating device and ground state inspection method

Номер патента: CN104703708B. Автор: 藤原茂树,山崎勇,梅木雅之,川本章洋,浅田康德,永井公好. Владелец: Trinity Industrial Corp. Дата публикации: 2017-03-01.

Electrostatic coating device and ground state inspection method

Номер патента: EP2910310B1. Автор: Akihiro Kawamoto,Kimiyoshi Nagai,Shigeki Fujiwara,Isamu Yamasaki,Yasunori Asada,Masayuki UMEKI. Владелец: Trinity Industrial Corp. Дата публикации: 2018-01-31.

Auto probe device and using the inspecting method forLCD panel using the same

Номер патента: KR101281980B1. Автор: 이은중. Владелец: 엘지디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2013-07-03.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection method for semiconductor light-emitting device and manufacturing method for semiconductor light-emitting device

Номер патента: US20140210995A1. Автор: Masatoshi Abe. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2014-07-31.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Wire rope inspection method, wire rope inspection system, and wire rope inspection device

Номер патента: US12135311B2. Автор: Hiromichi Tonami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Current sensor inspection system and current sensor inspection method

Номер патента: US09638721B2. Автор: Hisashi Nishimura,Toshikazu Suzuki. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: US20230206422A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-29.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: EP4131350A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-02-08.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: CA3218147A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2022-11-10.

Device and method of voltage and power determination of every phase in medium voltage network

Номер патента: RU2635849C2. Автор: ТЕБОДО Летисия МЕССАЖ,Кристоф МОЛЬЕ,Стефан СИНИСТРО. Владелец: ШНЕЙДЕР ЭЛЕКТРИК ЭНДЮСТРИ САС. Дата публикации: 2017-11-16.

Method of determining parameters of impedance of a two-terminal device and device for its implementation

Номер патента: RU2698072C1. Автор: Валерий Львович Ким,Семён Алексеевич Андреев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет". Дата публикации: 2019-08-21.

Learning device, inspection device, learning method, and inspection method

Номер патента: US11977033B2. Автор: Hideyuki Arai,Yuya Sugasawa,Hisashi Aikawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Welding quality inspection device and welding quality inspection method

Номер патента: EP4306258A4. Автор: Jae Won Lim,Hak Kyun KIM,Je Jun Lee,Hong Jae MUN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection method

Номер патента: EP4099009A4. Автор: Osamu Hasegawa,Takashi Shibutani. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

X-ray inspection device and x-ray inspection method

Номер патента: EP4220142A4. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Multifunctional multi-piezo material having piezoelectric properties and mechanoluminescence properties, and multifunctional piezoelectric body, mems device, robot, strain/fatigue/damage diagnosis device, and non-destructive inspection method using same

Номер патента: US20230200253A1. Автор: Ruiping Wang,Chao-Nan Xu. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-06-22.

Optical element and optical device, optical element inspecting device and optical device inspecting device, and optical element inspecting method and optical device inspecting method

Номер патента: US20180286036A1. Автор: Koichiro Iwata. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US9097681B2. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-04.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

OPTICAL ELEMENT AND OPTICAL DEVICE, OPTICAL ELEMENT INSPECTING DEVICE AND OPTICAL DEVICE INSPECTING DEVICE, AND OPTICAL ELEMENT INSPECTING METHOD AND OPTICAL DEVICE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20180286036A1. Автор: Iwata Koichiro. Владелец: FUJIKURA LTD.. Дата публикации: 2018-10-04.

Cable fireproof blanket/tape quality sampling inspection combustion test device and evaluation method

Номер патента: CN110823954B. Автор: 陈伟,王谦,吴照国,何维晟,向洪,邓帮飞,肖前波,黄会贤,谢刚文. Владелец: State Grid Chongqing Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-24.

Ray inspection device and target inspection method

Номер патента: GB2619880A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Inspection terminal device, inspection device, inspection system, and inspection program

Номер патента: US20210279854A1. Автор: Takahiro Manabe,Yusuke Hirose,Yasutomo Shiomi,Taisuke WASHITANI,Kohsuke TAKAI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Fluid path inspection device and fluid path inspection method

Номер патента: US20170261396A1. Автор: Takuji Sasaki,Masaki Fujita,Jun Yoshioka,Jun KOGAWA,Toshiki AKAHIRA. Владелец: Takashin Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-14.

Particles, optical sheet, screen, display device, particle inspection device, particle manufacturing device, particle inspection method, particle manufacturing method, screen inspection method, and screen manufacturing method

Номер патента: EP3361312A1. Автор: Makio KURASHIGE,Shogo Kubota,Kaori NAKATSUGAWA. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2018-08-15.

Display device inspection device and display device inspection method

Номер патента: JP6890377B2. Автор: 白 濬 金,白 濬 金,重 永 柳,重 永 柳,承 楹 白,承 楹 白,彰 賢 柳,彰 賢 柳,徳 柱 林,徳 柱 林. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-18.

Screen mask inspection device, solder printing inspection device and screen mask inspection method

Номер патента: JP6952160B1. Автор: 大山　剛,剛 大山,憲彦 坂井田,和義 菊池,孝幸 新山. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Welding quality inspection device and welding quality inspection method

Номер патента: EP4306258A1. Автор: Jae Won Lim,Hak Kyun KIM,Je Jun Lee,Hong Jae MUN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Welding quality inspection device and welding quality inspection method

Номер патента: US20240042557A1. Автор: Jae Won Lim,Hak Kyun KIM,Je Jun Lee,Hong Jae MUN. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

X-ray inspection system, x-ray inspection device, and x-ray inspection method

Номер патента: EP4027135A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Daisuke Kudo. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

LEARNING DEVICE, INSPECTION DEVICE, LEARNING METHOD, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210233232A1. Автор: Aikawa Hisashi,ARAI Hideyuki,SUGASAWA YUYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

POSITIONING DEVICE, HOLE INSPECTION DEVICE, POSITIONING METHOD AND HOLE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Watanabe Masao,NAKAHATA Tatsuo,ONO Ryohei. Владелец: SUBARU CORPORATION. Дата публикации: 2020-12-03.

Substrate inspection device, substrate processing device, substrate inspection method, and substrate processing method

Номер патента: WO2020044784A1. Автор: 幸治 中川,友宏 松尾. Владелец: 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス. Дата публикации: 2020-03-05.

Inspection system, learning device, learning program, learning method, inspection device, inspection program, and inspection method

Номер патента: WO2021192627A1. Автор: 学 梅田. Владелец: 株式会社Ｌｉｘｉｌ. Дата публикации: 2021-09-30.

Learning device, inspection device, learning method, and inspection method

Номер патента: CN112614086A. Автор: 塩见顺一. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

Cannabis component extraction method, cannabis component inspection device, and cannabis component inspection method

Номер патента: WO2015122484A1. Автор: 亮二 阿部,富士男 斎木. Владелец: ウシオ電機株式会社. Дата публикации: 2015-08-20.

Weld inspection device, welding system, and weld inspection method

Номер патента: US20230330784A1. Автор: Satoru Asai,Keiji Kadota,Tetsuo Era,Kazufumi Nomura. Владелец: Daihen Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

SURFACE PROPERTY INSPECTION DEVICE AND SURFACE PROPERTY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140084910A1. Автор: MAKINO Yoshiyasu. Владелец: SINTOKOGIO, LTD.. Дата публикации: 2014-03-27.

SLEEVE POSITION INSPECTING DEVICE AND SLEEVE POSITION INSPECTING METHOD

Номер патента: US20200025553A1. Автор: Uchiyama Hideaki,TOKURA Kentaro,NAGAMOTO Naoki,KAKEHASHI Takao,IKEHARA Motohiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-23.

Mother glass inspection device and mother glass inspection method

Номер патента: US20140185040A1. Автор: Yungyu Lin. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-03.

Printed matter inspection device and printed matter inspection method

Номер патента: US20190154590A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-05-23.

Magnetic body inspection device and magnetic body inspection method

Номер патента: US20210215639A1. Автор: Kenji Iijima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-07-15.

MAGNETIC DISK INSPECTION DEVICE AND MAGNETIC DISK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160216216A1. Автор: Serikawa Shigeru,Ishiguro Takayuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-28.

FLUID PATH INSPECTION DEVICE AND FLUID PATH INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170261396A1. Автор: Fujita Masaki,Yoshioka Jun,SASAKI Takuji,KOGAWA Jun,AKAHIRA Toshiki. Владелец: TAKASHIN CO., LTD.. Дата публикации: 2017-09-14.

FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190302035A1. Автор: Kashu Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

Foreign object inspection device and foreign object inspection method

Номер патента: US20190304127A1. Автор: Koji Kashu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Ultrasonic nondestructive inspection device and ultrasonic nondestructive inspection method

Номер патента: KR101251204B1. Автор: 정현조. Владелец: 원광대학교산학협력단. Дата публикации: 2013-04-08.

Optical nonuniformity inspection device and optical nonuniformity inspection method

Номер патента: KR19980069996A. Автор: 우에타쿠니오. Владелец: 다이닛뽕스크린세이조오가부시키가이샤. Дата публикации: 1998-10-26.

Nanoprotrusion structure inspection device and nanoprotrusion structure inspection method

Номер патента: JP7191137B2. Автор: 正孝 浅井,詔一 土屋,友紀 佐藤,剛史 浅野,将大 内村,望美 立山. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-16.

Wafer surface inspection device and wafer surface inspection method using thereof

Номер патента: KR101403860B1. Автор: 김철호,김형태,김종석,김승택. Владелец: 한국생산기술연구원. Дата публикации: 2014-06-27.

IC lead inspection device and IC lead inspection method

Номер патента: JP2890578B2. Автор: 真人 高山,博 冨谷,秀治 大橋. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1999-05-17.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method

Номер патента: WO2022201910A1. Автор: 豊樹 神▲崎▼,翔太 染谷. Владелец: 株式会社堀場製作所. Дата публикации: 2022-09-29.

Injector nozzle inspection device and injector nozzle inspection method using the same

Номер патента: KR102220019B1. Автор: 오경근,이정근. Владелец: 주식회사 오성엠피. Дата публикации: 2021-02-25.

Motor vehicle inspection device and motor vehicle inspection method

Номер патента: WO2012031814A1. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2012-03-15.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US20220120697A1. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Workpiece visual inspection device and workpiece visual inspection method

Номер патента: CN104101605A. Автор: 茶木启明. Владелец: TOKYO WELLS CO Ltd. Дата публикации: 2014-10-15.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: TW201504618A. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-01.

Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method

Номер патента: CN108955749A. Автор: 小寺克义,后藤翼,鸟海马,鸟海一马. Владелец: TOKYO WELLS CO Ltd. Дата публикации: 2018-12-07.

Sleeve position inspection device and sleeve position inspection method

Номер патента: JPWO2018066614A1. Автор: 孝夫 掛橋,直樹 永元,健太郎 戸倉,永元　直樹,基博 池原,英昭 内山. Владелец: Sumitomo Mitsui Construction Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Agricultural product inspection device and agricultural product inspection method

Номер патента: JP5875186B2. Автор: 和則 二宮,知昭 寺尾,寿一 吉丸,誠児 村中,吉丸　寿一. Владелец: Shibuya Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-02.

Metal element inspection device and metal element inspection method

Номер патента: US7578209B2. Автор: Hiroaki Kuroda,Eiichiro Muramatsu. Владелец: JATCO Ltd. Дата публикации: 2009-08-25.

Visual spring inspection device and visual spring inspection method

Номер патента: WO2019009465A1. Автор: 문종판. Владелец: 문종판. Дата публикации: 2019-01-10.

Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method

Номер патента: CN108955749B. Автор: 小寺克义,后藤翼,鸟海一马. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Surface shape inspection device and surface shape inspection method

Номер патента: JP2022129355A. Автор: 由人 堀川,Yoshihito Horikawa,プラベシュ クマル プラダン,Kumar Pradhan Pravesh. Владелец: Rist Inc. Дата публикации: 2022-09-05.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method

Номер патента: US9710731B2. Автор: Hiromi Yamazaki,Kunitaka Asano,Tadahiro Katane,Hirohisa Fukuda. Владелец: Hitachi Information and Control Solutions Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Reticle defect inspection device and reticle defect inspection method

Номер патента: JP2009300426A. Автор: Toshiyuki Watanabe,英雄 土屋,利之 渡辺,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-12-24.

Foreign body inspection device and foreign body inspection method

Номер патента: TWI734992B. Автор: 佐野栄一,中村瑞樹. Владелец: 日商Ｆｋ光學研究所股份有限公司. Дата публикации: 2021-08-01.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method for container

Номер патента: WO2018101397A1. Автор: 千代子 高橋,裕宗 中村. Владелец: キリンテクノシステム株式会社. Дата публикации: 2018-06-07.

X-ray inspection device and x-ray inspection method

Номер патента: KR101562680B1. Автор: 요시키 마토바. Владелец: 가부시키가이샤 히타치 하이테크 사이언스. Дата публикации: 2015-10-22.

Optical element inspection device and optical element inspection method

Номер патента: US20030063293A1. Автор: Masashi Kitabayashi,Yuji Takado. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2003-04-03.

Sealed container internal pressure inspection device and internal pressure inspection method

Номер патента: EP2772740B1. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-23.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: EP3637100A4. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

X-RAY INSPECTING DEVICE, X-RAY THIN FILM INSPECTING METHOD, AND METHOD FOR MEASURING ROCKING CURVE

Номер патента: US20190227005A1. Автор: Takahashi Hideaki,OMOTE Kazuhiko,KAMBE Makoto,Ito Yoshiyasu,Verman Boris,Ogata Kiyoshi,Yoshihara Sei,Motono Hiroshi,Higuchi Akifusa,Umegaki Shiro,Asano Shigematsu,Yamaguchi Ryotaro,Horada Katsutaka,JIANG Licai,Kinefuchi Takao. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

HUMID AIR FORMING DEVICE, INSPECTION DEVICE COMPRISING SAME, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180320913A1. Автор: LEE Ho Jun,KIM Hong Ki,SER Jang Il,Kim Hyo Bin,SHIN Yong Seung. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2018-11-08.

The manufacturing method of optical fiber inspection device, fiber fabrication apparatus, the inspection method of optical fiber and optical fiber

Номер патента: CN108885182A. Автор: 橘久美子,藤井隆志,耕田浩. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-11-23.

Substrate inspection device, substrate processing apparatus, substrate inspection method and substrate processing method

Номер патента: TW201923306A. Автор: 松尾友宏,中川幸治. Владелец: 日商斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2019-06-16.

Substrate inspection device, substrate processing apparatus, substrate inspection method and substrate processing method

Номер патента: TW201825888A. Автор: 柏山真人,松尾友宏,查爾斯 派克楚斯基,森田彰彥. Владелец: 斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2018-07-16.

Substrate inspection device, substrate processing apparatus, substrate inspection method and substrate processing method

Номер патента: TW202009478A. Автор: 松尾友宏,中川幸治. Владелец: 日商斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2020-03-01.

X-ray inspecting device, x-ray thin film inspecting method, and method for measuring rocking curve

Номер патента: WO2018012527A1. Автор: 秀明 ▲高▼橋,志朗 梅垣,尾形　潔,亮 神戸,正 吉原,表　和彦,本野　寛,隆男 杵渕,伊藤　義泰,明房 樋口,繁松 淺野,僚太郎 山口,克隆 洞田,リーサイ ジャン,ボリス ヴァーマン. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-01-18.

Skin glycation inspection device, skin glycation inspection device system, and skin glycation inspection method

Номер патента: WO2017094188A1. Автор: 益義 山田,曽根原　剛志. Владелец: 株式会社日立製作所. Дата публикации: 2017-06-08.

INSPECTION DEVICE, BONDING SYSTEM AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Tomita Hiroshi,KOGA Shinji,Tamura Takeshi,MIYAHARA Akinori,IWANAGA Shuji. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

INSPECTION DEVICE, PACKAGING MACHINE, AND PACKAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220050066A1. Автор: Ohyama Tsuyoshi,Ohtani Takamasa,Sakaida Norihiko. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-17.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200064274A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN CHIP, AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yoshitake Yasuhiro,Honda Toshifumi,Urano Yuta,Shibata Yukihiro,FUKUSHIMA Hideki. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-11.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180149601A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3141432A4. Автор: Toru Owada,Nobuyoshi Morita,Keisuke Hakuta,Makoto Kayashima. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2018-01-03.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: US10495580B2. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2019-12-03.

Inspection device, packaging machine and inspection method of packaging body

Номер патента: TWI729759B. Автор: 大谷剛將,大山剛,坂井田憲彥. Владелец: 日商Ｃｋｄ股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-01.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3361231B1. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

Inspection device, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2017169714A1. Автор: 孝明 伊藤. Владелец: 富士フイルム株式会社. Дата публикации: 2017-10-05.

Glass sheet defect detection device, glass sheet manufacturing method, glass sheet, glass sheet quality judging device, and glass sheet inspection method

Номер патента: WO2008072693A1. Автор: Masakazu Iwata,Yasuhiro Nishimura,Hidemi Suizu. Владелец: NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD.. Дата публикации: 2008-06-19.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION FACILITY AND INSPECTION DEVICE FAILURE CONFIRMATION METHOD

Номер патента: US20190120772A1. Автор: YAMAGATA Yoshihiro. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-04-25.

Surface characteristic checks device and surface characteristic inspection method

Номер патента: CN103649744B. Автор: 牧野良保. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2016-09-21.

Medicated bag checks device and medicated bag inspection method

Номер патента: CN106290383A. Автор: 金俊昊. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-04.

Blood clotting check device and blood clotting inspection method

Номер патента: CN109642909A. Автор: 细川和也. Владелец: Fujimori Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-16.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: US20240320811A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Display drive device and image data inspection method

Номер патента: EP4435768A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Image inspection device, image formation device, image inspection method, and non-transitory recording medium storing a computer readable program

Номер патента: US20200250805A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-06.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Board conveyance device and conveyance belt inspection method

Номер патента: US20170285545A1. Автор: Toshihiro Kodama. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-05.

Semiconductor inspection method and system

Номер патента: EP3680649A1. Автор: Alex WINKLER. Владелец: DETECTION TECHNOLOGY OY. Дата публикации: 2020-07-15.

Apparatus for manufacturing analytical semiconductor samples and method for manufacturing analytical semiconductor samples by using the same

Номер патента: US20240085282A1. Автор: Sang Hyun Park,So Yeon Lee,Su Jin Shin,Gil Ho GU,Min Chul JO,Dae Gon YU,Yun Bin JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-14.

Method for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasound microscope

Номер патента: US20180113096A1. Автор: Helmut APPEL. Владелец: OSRAM Opto Semiconductors GmbH. Дата публикации: 2018-04-26.

Method for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program for the ultrasonic microscopic measurement of semiconductor samples, computer program product and ultrasound microscope

Номер патента: US10677760B2. Автор: Helmut APPEL. Владелец: OSRAM OLED GmbH. Дата публикации: 2020-06-09.

Method for assessing semiconductor sample, device for assessing semiconductor sample, and method for producing semiconductor wafer

Номер патента: EP4432334A1. Автор: Shuichi Samata,Noritomo Mitsugi,Shuto FUMOTO. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

System and process for analysis of semiconductor samples

Номер патента: WO2002095431A1. Автор: Stefan P. Svensson,William A. Beck. Владелец: University of Maryland, College Park. Дата публикации: 2002-11-28.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

High-speed surface inspection system for reticle pod and high-speed surface inspection method for reticle pod

Номер патента: US20240295504A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Method for preparing semiconductor sample with etched pit suitable for microscope observation

Номер патента: US11784059B2. Автор: Ming-Te Liu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Inspection method, classification method, management method, steel material production method, learning model generation method, learning model, inspection device, and steel material production equipment

Номер патента: US20240282098A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Back scattering inspection system and back scattering inspection method

Номер патента: US20210364455A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Patterned wafer inspection method and apparatus therefor

Номер патента: US20060017014A1. Автор: YASUTSUGU Usami,Masaki Hasegawa,Mari Nozoe,Yusuke Yajima,Katsuya Sugiyama,Katsuhiro Kuroda,Hiroyuki Shinada,Kaoru Umemura,Atsuko Takafuji,Hisaya Murakoshi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-01-26.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US11709094B2. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method

Номер патента: AU2019268718B2. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US20210048339A1. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US09742013B2. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Aerial optical fiber cable inspection method, aerial optical fiber cable inspection device, and program

Номер патента: US12031858B2. Автор: Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tatsuya Okamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Inspection device of display device and inspection method of display device

Номер патента: US09835565B2. Автор: Wal Jun Kim,Changhyun Ryu,JoongYoung RYU,Seung-Young BAECK,Deok joo LIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Drug supply device and drug inspection method in drug supply device

Номер патента: US09776755B2. Автор: Akira Kondo,Hideyuki Takahashi,Takashi Mori. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Substrate foreign matter inspection device and substrate foreign matter inspection method

Номер патента: US20230186458A1. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Kazuyoshi Kikuchi,Naohiro Zaima. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Inspection system for apparatus for manufacturing display device and inspection method for apparatus for manufacturing display device

Номер патента: US20230230353A1. Автор: Gihyun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Visual inspection device, visual inspection method, image generation device, and image generation method

Номер патента: US20240362771A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Shinichi Inoue,Hideaki Onozuka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Wheel fastening inspection method, wheel fastening method, wheel fastening inspection device and wheel fastening device

Номер патента: US09891123B2. Автор: Shinichi Kaneda,Yutaka UNEURA,Yuichi Daito. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240319110A1. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Sample inspection automation system and sample transfer method

Номер патента: US09952239B2. Автор: Kenichi Takahashi,Shigeru Yano,Masashi Akutsu,Kenichi Yasuzawa,Koji Kamoshida. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Image inspection method by polarized compensation for deformation of lens

Номер патента: US7580122B2. Автор: Kuo-Cheng Huang,Chia-Wei Hsu,Ting-Ming Huang,Wen-Hong Wu. Владелец: Instrument Technology Research Center. Дата публикации: 2009-08-25.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Sample inspection apparatus, sample inspection method, and sample inspection system

Номер патента: EP1936363A2. Автор: Hidetoshi Nishiyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-06-25.

Processing device and inspection apparatus for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: US20240230550A9. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

X-ray inspection device for drone, x-ray inspection device employing drone, and x-ray generator device for drone

Номер патента: US20200209172A1. Автор: BO Wang,Xiaojun Liu,Shuichi Suzuki,Norio Saito,Wenkang Guo. Владелец: Tsukuba Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection system

Номер патента: US20240272102A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Moving inspection device, moving inspection method, and method for manufacturing steel material

Номер патента: US12044658B2. Автор: Masaki Kobayashi,Koji Yamashita,Kouyou Miyawaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US09759666B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Sample inspection apparatus and control method thereof

Номер патента: US09476896B2. Автор: Jin Soo Park,Soo Hong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Device and method for inspecting a sealing member

Номер патента: US09568303B2. Автор: Wan-Jae JOO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Sample inspection system and operating method for management server thereof

Номер патента: EP2237044A3. Автор: Takashi Noguchi,Tatsuya Tokunaga,Masaki Takano,Naomi Ishii,Yayoi Shitara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Charged Particle Beam Device and Optical Examination Device

Номер патента: US20200161194A1. Автор: Koichi Taniguchi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-21.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

LIGHT DETECTION AND RANGING (LiDAR)-BASED INSPECTION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20230108333A1. Автор: Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

A sample inspection system

Номер патента: GB2592684A. Автор: Dicken Anthony. Владелец: Halo X Ray Tech Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Self-propelled inspection device and equipment inspection system

Номер патента: US20220397908A1. Автор: Kazuo Ono,Yuichi Igarashi,Takehito Ogata,Noriyasu HASEJIMA,Kazuya Murotani,Yuta Esaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-15.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Sample inspection automation system

Номер патента: US09645161B2. Автор: Masashi Akutsu,Kenichi Yasuzawa,Koji Kamoshida. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240103196A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Handheld inspection device and method of inspecting an infrastructure having a structure wall supported into material

Номер патента: CA3175708A1. Автор: Peter Marc CABOT. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Molding thickness inspection device, molding thickness inspection system including the same, and molding thickness inspection method

Номер патента: US20240200931A1. Автор: Chang-Beom Kim,Ji Yeon Son,Hyun Chul KANG,Yong Kwi Lee,Young Seog YOON. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-20.

A borescope inspection device and a method for performing non-destructive testing with the borescope inspection device

Номер патента: WO2024153463A1. Автор: Carlo Giolli,Remo Ribichini,Erica SCRINZI,Luca AMMANNATO,Frederico MANGIAVACCHI. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie - S.r.l.. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Detection device and detection method

Номер патента: US12099020B2. Автор: Sachio Iida,Norihito Mihota. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Automated Photography and Inspection Station

Номер патента: US20240319107A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: US09708902B2. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2017-07-18.

Adapter piece quality inspection method and apparatus, adapter piece production method, adapter piece production device, and medium

Номер патента: EP4428488A1. Автор: Zhongyang Wang,Zhongbao HUANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

X-ray inspection device and method for determining degree of consumption of target of x-ray tube in x-ray inspection device

Номер патента: US20190380193A1. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240210333A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection method and device

Номер патента: US09841387B2. Автор: Hao-Kai CHOU,Chia-Ho YEN,Meng-Kun Lee,Liang-Pin Yu,Chun-Ti Chen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Inspection system, extraction device, and inspection method

Номер патента: US20230367015A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Display device and an inspection method of a display device

Номер патента: EP3866148A1. Автор: Kyun Ho KIM,Bong Im Park,Yong Jin SHIN,Uk Jae JANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-18.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Material-strip feeding inspection method and apparatus for stacking machine, and stacking machine, device and medium

Номер патента: EP4407725A1. Автор: Hongyuan LI,Ya Dai,Canbin CHEN,Shiping FENG,Qiuhui ZHENG,Baiquan ZHAO. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Tire inspection method and device therefor

Номер патента: US09953409B2. Автор: Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

A sample inspection system

Номер патента: EP3997719A1. Автор: Paul Evans. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-05-18.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: EP4443142A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: US20240310293A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Systems and methods for sample inspection and review

Номер патента: US09939386B2. Автор: Isabella T. Lewis,Yakov Bobrov. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Semiconductor inspection device including a counter electrode with adjustable potentials used to obtain images for detection of defects, and inspection method using charged particle beam

Номер патента: US09846133B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Sample inspection system

Номер патента: US11703466B2. Автор: Anthony DICKEN. Владелец: Halo X Ray Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Sample inspection apparatus employing a diffraction detector

Номер патента: US20210199605A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-07-01.

Sample inspection apparatus

Номер патента: US20210063309A1. Автор: Shoichi Kanayama,Takeshi Yamauchi,Isao Nawata. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Refrigeration material examination device and examination system

Номер патента: EP4403894A1. Автор: Masato Watanabe,Shinya Kojima,Hideji Kawarazaki,Akifumi Miyano,Masahiro Kagimoto,Akihisa Yoshimura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

A sample inspection system

Номер патента: WO2021005320A1. Автор: Paul Evans. Владелец: The Nottingham Trent University. Дата публикации: 2021-01-14.

Display control device and storage medium

Номер патента: US20210302329A1. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Security inspection equipment, security inspection system and security inspection method

Номер патента: EP4459333A1. Автор: LEI Liu,Yuan Ma,Yuanjing Li,Tao Song,Shangmin Sun,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09470640B2. Автор: Atsushi Taniguchi,Yukihiro Shibata,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Quality inspection method for polyurethane samples, electronic nose device and storage medium

Номер патента: EP3775876A1. Автор: Hong Zhu,Irene Li. Владелец: Covestro Intellectual Property GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-02-17.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection method and inspecting device

Номер патента: US20240272125A1. Автор: Hiroki Katayama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Gate system for sample detection and method of sample inspection

Номер патента: US11215626B2. Автор: Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Yaohong Liu,Qiufeng Ma,Biao CAO,Weiping Zhu,Lili Yan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-04.

Gate system for sample detection and method of sample inspection

Номер патента: US20190346472A1. Автор: Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Yaohong Liu,Qiufeng Ma,Biao CAO,Weiping Zhu,Lili Yan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Crystallized sample inspection apparatus

Номер патента: US20140307080A1. Автор: Ki-Hyun Kim,Young-Gil Park,Ki-Won Oh,Shang-U KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-16.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: US20240219354A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: EP4397971A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection device of plugged honeycomb structure and inspection method of plugged honeycomb structure

Номер патента: US20100238281A1. Автор: Kensuke Tanaka,Akihiro Mizutani,Takayoshi Akao. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: US20230394643A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: US20240295532A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: EP4425171A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Inspection system and inspection method

Номер патента: AU2022244737A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Component inspection method, component manufacturing method, and component inspection device

Номер патента: US20240344929A1. Автор: Ryuta Ito,Atsuya SAKATA,Taro Tokutake,Hiroshi Makigano. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Image inspection method with a plurality of cameras

Номер патента: US09892502B2. Автор: Frank Schumann. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Optical inspection method, optical inspection program, processing device, and optical inspection apparatus

Номер патента: EP4249897A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-27.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240233106A9. Автор: Byungkyu Son. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240135521A1. Автор: Byungkyu Son. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-04-25.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US12031947B2. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Tsuyoshi Kobayashi,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Leak inspection device, leak inspection method, and leak inspection program

Номер патента: US20150253216A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Masatake Takahashi,Soichiro TAKATA,Shigeki Shinoda,Junichiro Mataga. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: US20240183793A1. Автор: Hisaji Murata,Yoshinori Satou,Yuya Sugasawa,Jeffry NAINGGOLAN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US12086976B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US20150168267A1. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2015-06-18.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US09638606B2. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Nondestructive inspection device using alternating magnetic field, and nondestructive inspection method

Номер патента: US09453817B2. Автор: Kunihiko Nakamura,Gijun Idei. Владелец: Dainichi Machine and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Movable ray inspection system and ray inspection method for a container

Номер патента: US20180172604A1. Автор: LI ZHANG,Ying Li,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Quanwei Song,Yulan Li,Chunguang ZONG,Hejun Zhou. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.

Cushioning device inspection system, a sampling device for inspection of a cushioning device and a cushioning device inspection method

Номер патента: US10023896B2. Автор: David Woolfson,Duncan Bain. Владелец: Pneuma Pure Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-07-17.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240361257A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Sample inspection system comprising a beam former to project a polygonal shell beam

Номер патента: US11971371B2. Автор: Paul Evans. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-30.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Inspection Equipment and Inspection Method

Номер патента: US20130187667A1. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-25.

Inspection equipment and inspection method

Номер патента: US9261475B2. Автор: Hiroshi Kawaguchi,Minori Noguchi,Masami Makuuchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-02-16.

Appearance inspection system and appearance inspection method

Номер патента: US20230298151A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Structure condition inspection device

Номер патента: RU2748789C1. Автор: Александр Николаевич Бирюков,Юрий Александрович Бирюков,Дмитрий Владимирович Бирюков,Евгений Олегович Добрышкин,Николай Александрович Бирюков,Алексей Валентинович Бондарев,Владимир Михайлович Бабенко,Артур Андреевич Пресняков,Матвей Русланович Раздобутько,Елена Юрьевна Тощева,Данил Алекандрович Василец. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-05-31.

Inspection device for detection of foreign substances

Номер патента: RU2529667C1. Автор: Мариус Михаэль ХЕРМАНН,Юрген ХЕРМАНН,Клаас ФРИТШЕ,Альфред ДРЕНГУЙС. Владелец: Кхс Гмбх. Дата публикации: 2014-09-27.

Inspection device with optical watermarks

Номер патента: RU2739522C1. Автор: Бернхард ХОЙФТ,Вольфганг ПОЛЬСТЕР,Микаэль УНГЕР. Владелец: Хойфт Зюстемтехник Гмбх. Дата публикации: 2020-12-25.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Method of manufacture of a dry-drawing stand for checking of operability of in-line inspection devices at a test pipeline test site

Номер патента: RU2653138C1. Автор: Алексей Анатольевич Крюков,Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть - Диаскан" (АО "Транснефть - Диаскан"). Дата публикации: 2018-05-07.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Rotational torque inspection method for wheel bearing device, and rotational torque inspection device for wheel bearing device

Номер патента: EP4202244A1. Автор: Shun Tamaki. Владелец: NTN Toyo Bearing Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-28.

Movable inspection device and inspection method

Номер патента: EP4170329A1. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-26.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: SG10201804792XA. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: Asm Tech Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Welding inspection device

Номер патента: EP4431920A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Inspection apparatus, inspection method, computer program and recordimg medium

Номер патента: US20190331476A1. Автор: Masakazu Ogasawara,Takanori OCHIAI. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Inspection method, classification method, management method, steel material manufacturing method, training model generation method, training model, inspection device, and steel material manufacturing facility

Номер патента: EP4361615A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Back-scattering inspection system and back-scattering inspection method

Номер патента: EP3786624A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: AU2021322676B2. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-08-29.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Inspection device

Номер патента: RU2322661C2. Автор: Вольфганг ШОРН,Мартин ВАЙСГЕРБЕР,Карстен БУХВАЛЬД,Ральф ПОЛЬ. Владелец: Кхс Машинен-Унд Анлагенбау Аг. Дата публикации: 2008-04-20.

Method of inspecting covering material, inspection device, method of producing covering material and covering material

Номер патента: RU2665353C1. Автор: Дайсуке ВАТАНАБЕ,Нацуки СИРАСАВА,Хисаси НИСИДА. Владелец: Дай Ниппон Принтинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-29.

Image alignment method, comparative inspection method, and comparative inspection device for comparative inspections

Номер патента: US20070036422A1. Автор: Shunji Maeda,Kaoru Sakai,Takafumi Okabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-02-15.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Surface inspection method using mold surface inspection device

Номер патента: US11733685B2. Автор: Sun Kyu Lee,Dae Gweon KOH,Jin Hyuk HONG,Han Ul KIM,Dinuka Ravimal Ranawaka Arachchige. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-08-22.

Cable inspection device and cable inspection method

Номер патента: EP4170330A1. Автор: Kenta Kato,Yuichi Yoshimura,Yoshimasa Ikeda,Takao Hashiguchi,Hirokazu Kitagawa,Yoshie OTAKE,Maki Mizuta. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-04-26.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Inspection device and inspection method upon construction of coke oven, and coke oven construction method

Номер патента: EP3922700A1. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-15.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device from a volatile fluid storage tank

Номер патента: US11931612B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Robotic inspection devices for simultaneous surface measurements at multiple orientations

Номер патента: US12061173B2. Автор: CHASE David,José APARICIO,Kevin Y. Low,Juan Roberto Mendoza Mora. Владелец: Gecko Robotics Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Optical transmission path inspecting system, and optical transmission path inspecting device

Номер патента: US12111224B2. Автор: Toshiyuki Miyamoto,Kenichiro Otsuka,Tetsufumi Tsuzaki,Yoshifumi Hishikawa,Gouichi FUKUMOTO. Владелец: Sumitomo Electric Optifrontier Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection device for rotating electric machine and inspection system for rotating electric machine

Номер патента: EP4092886A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daisuke Mizuno,Yasuki Hattori,Naoya Kadota,Daichi GOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-23.

Matching process device, matching process method, and inspection device employing same

Номер патента: US09619727B2. Автор: Yuichi Abe,Wataru Nagatomo,Hiroyuki Ushiba. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Human body back scattering inspection method and system

Номер патента: RU2602749C2. Автор: Юаньцзин ЛИ,Цзыжань ЧЖАО,Ваньлун У,Чжицян ЧЖЭНЬ,Ли ЧЗАН,Чжэньгуан ЧЖУ,Мин РУАН,Йинкан ЦЗИНЬ,Ле ТАН,Ксианли ДИН. Владелец: Цзинхуа Юниверсити. Дата публикации: 2016-11-20.

Defect Inspection Device and Defect Inspection Method

Номер патента: US20220317058A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Fluorescent Particles, Inspection Device Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present, And Inspection Method Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present

Номер патента: US20220089941A1. Автор: Masaaki Horie,Akira Miyahara. Владелец: CENTRAL TECHNO CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: EP4067812A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: US20230035817A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection device and inspection method for boiler furnace water wall tubes

Номер патента: US20110279828A1. Автор: Kai Zhang,Hideaki Murata,Hirotoshi Matsumoto,Keiji Ida. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Inspection method and system based on millimetre wave security inspection device, and server

Номер патента: EP4174717A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Ultrasonic inspection device, ultrasonic inspection method, and program

Номер патента: US20240036010A1. Автор: Masayuki Kobayashi,Kaoru Sakai,Natsuki SUGAYA,Koutaro Kikukawa. Владелец: Hitachi Power Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Load Port and Wafer Inspection Method Using the Same

Номер патента: US20240120222A1. Автор: Tsung-Che Yu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-11.

Nondestructive inspecting device, and nondestructive inspecting method

Номер патента: US20230393082A1. Автор: Kunihiro Fujita,Takaoki TAKANASHI,Yoshie OTAKE,Chihiro Iwamoto. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Device and method for identification of fingerprints

Номер патента: RU2683622C2. Автор: Алоис ХОМЕР. Владелец: НОВОМАТИК АГ. Дата публикации: 2019-03-29.

Device and method of the octane number determination and impurity of impurities in gasoline with ultrasound diagnostics

Номер патента: RU2654836C1. Автор: Игорь Алексеевич Ключиков,Олег Владимирович Яковлев,Екатерина Сергеевна Лашина,Вячеслав Николаевич Вервейко,Никита Александрович Емельянов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "МАЛОЕ ИННОВАЦИОННОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ "ТЕХНОЛОГИИ МОЛЕКУЛЯРНОЙ АКУСТИКИ". Дата публикации: 2018-05-22.

Quick test device and method

Номер патента: RU2657187C2. Автор: Дидерик Юстус Мария ЭНГБЕРСЕН,Ронни Йоханнес Кюнегонда МОРЕН,Джон Кеннет ЗЭЙС. Владелец: Фабпулус Б.В.. Дата публикации: 2018-06-08.

Method of monitoring and/or determining condition of force-measuring device and force-measuring device

Номер патента: RU2461802C2. Автор: Урс ЛОЕР,Курт ЕНСЕН,Фолькер ЦИБАРТ. Владелец: Меттлер-Толедо Аг. Дата публикации: 2012-09-20.

Device and method for diagnostics of secondary dental caries

Номер патента: RU2603428C2. Автор: Марцин ЮСТ,Пшемыслав ЛОСЬ,Михал ТЫЦ. Владелец: Нумед Сп З.О.О.. Дата публикации: 2016-11-27.

Device and method of local determination of parameters of quality and/or properties of inorganic systems of binding materials

Номер патента: RU2558643C2. Автор: Райнхардт ТРЕТТИН,Йильмаз САКАЛЛИ. Владелец: Мф Инструментс Гмбх. Дата публикации: 2015-08-10.

Aerosol delivery device and control case of aerosol delivery device

Номер патента: RU2765735C1. Автор: Раджеш СУР,Эрик Т. ХАНТ,Стивен Б. СИРС. Владелец: РАИ СТРЕТЕДЖИК ХОЛДИНГС, ИНК.. Дата публикации: 2022-02-02.

Device and method for pressure-tight food packages manufacturing of multilayer packing material canvas

Номер патента: RU2542315C2. Автор: Альберто ДОРАТИ,Роберто АНСАЛОНИ,Роберто ГРАМАЦИО. Владелец: ТЕТРА ЛАВАЛЬ ХОЛДИНГЗ ЭНД ФАЙНЭНС С.А.. Дата публикации: 2015-02-20.

Device and method of mixing loose rock

Номер патента: RU2647535C1. Автор: Вольфганг ФОЙГТ,Хоссейн ТУДЕШКИ. Владелец: Типко Тудешки Индастриал Процесс Контрол Гмбх. Дата публикации: 2018-03-16.

Device and method for sensing mass airflow

Номер патента: RU2655908C2. Автор: Рамон АЛАРКОН,Майкл СТАРМАН. Владелец: ФОНТЕМ ХОЛДИНГС 4 Би.Ви.. Дата публикации: 2018-05-29.

MICRONEEDLE ARRAY IMAGING DEVICE, MICRONEEDLE ARRAY IMAGING METHOD, MICRONEEDLE ARRAY INSPECTION DEVICE, AND MICRONEEDLE ARRAY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190188844A1. Автор: MUROOKA Takashi,ONISHI Kazuo. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2019-06-20.

PARTICLES, OPTICAL SHEET, SCREEN, DISPLAY DEVICE, PARTICLE INSPECTION DEVICE, PARTICLE MANUFACTURING DEVICE, PARTICLE INSPECTION METHOD, PARTICLE MANUFACTURING METHOD, SCREEN INSPECTION METHOD, AND SCREEN MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180299688A1. Автор: Kurashige Makio,KUBOTA SHOGO,NAKATSUGAWA Kaori. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

Address translation inspection device, central processing device, and address translation inspection method

Номер патента: CN102959526A. Автор: 中出实,户田信一. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2013-03-06.

Foreign Matter Inspection Device and Foreign Matter Inspection Method

Номер патента: US20130070084A1. Автор: Fukuda Hirohisa,Asano Kunitaka,Katane Tadahiro,Yamazaki Hiromi. Владелец: Hitachi Information & Control Solutions, Ltd.. Дата публикации: 2013-03-21.

DRUG SOLUTION INSPECTION DEVICE AND DRUG SOLUTION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130343620A1. Автор: Okuda Akinobu,OKAMOTO Tamao. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-26.

FOREIGN OBJECT INSPECTION DEVICE AND FOREIGN OBJECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190084013A1. Автор: MITSUE Toyoaki,SAWASAKI Tomio,KANAYAMA Chieko. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

WORK VISUAL INSPECTION DEVICE AND WORK VISUAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140307082A1. Автор: CHAKI Hiroaki. Владелец: TOKYO WELD CO., LTD.. Дата публикации: 2014-10-16.

WIRE SHAPE INSPECTING DEVICE AND WIRE SHAPE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20200388046A1. Автор: Amemiya Shigeru. Владелец: SHINKAWA LTD.. Дата публикации: 2020-12-10.

RUNWAY LIGHT INSPECTION DEVICE AND RUNWAY LIGHT INSPECTION METHOD

Номер патента: JP2023040007A. Автор: Norimasa Mizobe,憲政 溝邊. Владелец: Hotalux Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Article appearance inspection device and article appearance inspection method using same

Номер патента: CN109074647B. Автор: 李福女. Владелец: Gaoying Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-15.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, IMAGE INSPECTION METHOD AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20210073966A1. Автор: TESHIMA Katsunori,TSUE Yasushi. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2021-03-11.

Image inspection device, image formation device, image inspection method, and non-transitory recording medium storing a computer readable program

Номер патента: US20200250805A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-06.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234091A1. Автор: OKI Makoto,ITOU Jun. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234422A1. Автор: OKI Makoto,Esumi Yoshihiro. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234456A1. Автор: Mita Mieko. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

Inspection method, inspection device, inspection equipment and inspection medium for state of indicator lamp

Номер патента: CN111259892B. Автор: 林志伟,张登峰,郑淼,申心兰,蓝立强. Владелец: Fujian Centerm Information Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-04.

Image inspection device, image forming system, image inspection method, and program

Номер патента: CN111464714B. Автор: 大木亮,江角祯宏. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-04-19.

Inspection device, inspection program, and inspection method

Номер патента: CN114127728A. Автор: 大竹由也,野口智史. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

INSPECTION TERMINAL DEVICE, INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20210279854A1. Автор: Shiomi Yasutomo,HIROSE Yusuke,WASHITANI Taisuke,MANABE Takahiro,TAKAI Kohsuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2021-09-09.

Board conveyance device and conveyance belt inspection method

Номер патента: US20170285545A1. Автор: Toshihiro Kodama. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-05.

Integrated circuit device and peripheral circuit inspection method for integrated circuit device

Номер патента: JP2898230B2. Автор: ビート ロバート. Владелец: ESU JII ESU TOMUSON MAIKUROEREKUTORONIKUSU Ltd. Дата публикации: 1999-05-31.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Stereoscopic image inspection device, stereoscopic image processing device, and stereoscopic image inspection method

Номер патента: US09883162B2. Автор: Kentaro Matsumoto,Yuki Kobayashi,Yasunobu Ogura,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Attention ability inspection device and attention ability inspection method

Номер патента: US11819330B2. Автор: Hiroshi Kishi,Kentaro Yokoi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Attention ability inspection device and attention ability inspection method

Номер патента: US20220079486A1. Автор: Hiroshi Kishi,Kentaro Yokoi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Method for defect detection in a semiconductor sample in sample images with distortion

Номер патента: EP4377884A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Sven Meyer,Ulrich Hofmann,Thomas C. CHUST. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-06-05.

Method for defect detection in a semiconductor sample in sample images with distortion

Номер патента: US20240242334A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Sven Meyer,Ulrich Hofmann,Thomas C. CHUST. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-07-18.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US12073859B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240379120A1. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-11-14.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240233778A9. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Contact area size determination between 3d structures in an integrated semiconductor sample

Номер патента: WO2021083551A8. Автор: Thomas Korb,Eugen Foca,Alex Buxbaum,Dmitry Klochkov,Amir Avishai,Keumsil Lee. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2022-05-05.

Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: US12094138B2. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-17.

Defect detecting device and method

Номер патента: US20240127426A1. Автор: Sungwook Hwang,Kibum LEE,Seulgi OK,Tae Soo Shin. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

System, apparatus and method for centralized management of security inspection devices via field bus network

Номер патента: US09779054B2. Автор: Hui Ding,Jinyu Zhang,Hu Tang,Fei Fang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Sample inspection plan management device, sample inspection plan management system, sample inspection plan management method, and program

Номер патента: US20210005313A1. Автор: Yasuhisa Kaneko. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Intelligent passenger inspection channel system and intelligent passenger inspection method

Номер патента: US20240203126A1. Автор: Dong Li,LI ZHANG,Dan Yan,Zhiqiang Chen,Hu Tang,Yunda Sun,Yueyi LIU. Владелец: Nuctech Jiangsu Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Repair welding system, repair welding method, inspection device, and robot control device

Номер патента: EP3991901A1. Автор: Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN,Toshinari Mohri. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: US20180350191A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-06.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US11507007B2. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-22.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

A display processing device, a data transmission method, and an image data inspection method

Номер патента: EP4439543A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Display processing device, a data transmission method, and an image data inspection method

Номер патента: US20240330106A1. Автор: Man Jung Kim,Myung Yu KIM,Seok Jin JEONG,Bong Sin KWAK,Kwang Hee YOON. Владелец: LX Semicon Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: AU2020213356A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Management system for table games, substitute currency for gaming, inspection device, and management system of substitute currency for gaming

Номер патента: AU2022200450A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-17.

Inspection method, terminal device, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4432222A1. Автор: Ping Jiang,Lin Ma,Zhipeng Zhang,Gaofeng Lu,Ziyang SHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Device for sampling inspection

Номер патента: US3878726A. Автор: Touru Hamatani. Владелец: Individual. Дата публикации: 1975-04-22.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US20220011703A1. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Optical inspection device for surface of reticle pod and optical inspection method for surface of reticle pod

Номер патента: US20240295830A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Display panel, display device and inspection method

Номер патента: US09773440B2. Автор: Huasheng Yan. Владелец: Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Command inspection method and apparatus, computer device, and storage medium

Номер патента: US12124569B2. Автор: Yao Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09495910B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Номер патента: US09443469B2. Автор: Rajeev Rohatgi. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2016-09-13.

Improved risk based inspection method

Номер патента: US20230196224A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: Single Buoy Moorings Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Improved risk based inspection method

Номер патента: WO2021214707A1. Автор: Stephen Morton. Владелец: SINGLE BUOY MOORINGS INC.. Дата публикации: 2021-10-28.

Vulnerability inspection device, vulnerability inspection method, and vulnerability inspection program

Номер патента: US20220261482A1. Автор: Takuya Watanabe,Ayako Hasegawa,Mitsuaki AKIYAMA,Eitaro Shioji. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Foreign Matter or Abnormal Unsmoothness Inspection Apparatus and Foreign Matter or Abnormal Unsmoothness Inspection Method

Номер патента: US20100038531A1. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-02-18.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US7591180B2. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-09-22.

Contact inspection device, and contact inspection device and method for magnetic disk device

Номер патента: US20070070533A1. Автор: Masaru Nakakita. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection apparatus, inspection method and program

Номер патента: US12130949B2. Автор: Yoshihide Nakagawa. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Visual inspection device

Номер патента: US09986212B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Visual inspection device

Номер патента: US09693024B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US11900969B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Detection device, inspection device, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US20240135975A1. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Detection device, inspection device, magnetic tape cartridge, magnetic tape, magnetic tape drive, magnetic tape system, detection method, inspection method, and program

Номер патента: US12027185B2. Автор: Tetsuya Kaneko,Toru Nakao,Yoichi AKANO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Inspection level setting system, non-transitory computer readable medium storing program, and inspection level setting method

Номер патента: US20240357043A1. Автор: Daisuke Noguchi,Megumi Yamaguchi,Masatake KAWABE,Hiroyoshi NAKAYAMA. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection level setting system, program, and inspection level setting method

Номер патента: EP4451105A1. Автор: Daisuke Noguchi,Megumi Yamaguchi,Masatake KAWABE,Hiroyoshi NAKAYAMA. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-23.

Device and method for post-processing of audio signal using forecast-based profiling

Номер патента: RU2732995C1. Автор: Юрген ХЕРРЕ,Саша ДИШ,Кристиан УЛЕ,Петер ПРОКАЙН,Оливер ХЕЛЛЬМУТ,Патрик ГАМПП,Антониос КАРАМПОУРНИОТИС,Юлия ХАФЕНШТАЙН,Даниэль РИХТЕР. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2020-09-28.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Image processing method and image inspecting method

Номер патента: US20100128923A1. Автор: Toshiaki Kakii,Yoichi Hata,Kiyoshi Nishikawa,Yoshimitsu Goto,Hitoshi Kiya,Masaaki Fujiyoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-27.

Method for testing the reliability of error detection of an image inspection method

Номер патента: US09731500B2. Автор: Frank Schumann,Frank Soltwedel,Daniel Blatt. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2017-08-15.

Method for coding and decoding of images, coding and decoding device and corresponding computer programs

Номер патента: RU2751082C1. Автор: Феликс ГЕНРИ,Гордон КЛЭР. Владелец: Долби Интернэшнл Аб. Дата публикации: 2021-07-08.

Programmable logic circuit for controlling electrical plant, in particular nuclear plant, associated with control device and method

Номер патента: RU2769961C2. Автор: Матьё АЛЛОРИ,Никола ДЮПЮИ. Владелец: Фраматом. Дата публикации: 2022-04-11.

Device and method of generating control signal for multichannel synthesiser and device and method for multichannel synthesis

Номер патента: RU2361288C2. Автор: Юрген ХЕРРЕ,Хейко ПУРНХАГЕН,Кристофер КЕРЛИНГ,Йонас ЭНГДЕГАРД,Вернер ОМЕН,Саша ДИШ,Маттиас НОЙЗИНГЕР,Ерун БРЕБАРТ,Эрик СХЕЙЕРС. Владелец: Коудинг Текнолоджиз Аб. Дата публикации: 2009-07-10.

Method, device and media of information for dynamic change in function

Номер патента: RU2642362C2. Автор: Фэн ИНЬ,Минсин ЧЖУ. Владелец: ЗетТиИ Корпорейшн. Дата публикации: 2018-01-24.

Determination of distance and/or quality of acoustics between mobile device and base unit

Номер патента: RU2588596C2. Автор: Патрик КЕХИХЯН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2016-07-10.

Display control device and method

Номер патента: RU2494566C2. Автор: Хиротака СУЗУКИ. Владелец: Сони Корпорейшн. Дата публикации: 2013-09-27.

Device and method for marking application

Номер патента: RU2715462C1. Автор: Сергей Александрович Павлов,Алексей Васильевич Лежнев,Александр Леонидович Рощин,Омар Ахмедович Омаров. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью «Флуоресцентные информационные технологии». Дата публикации: 2020-02-28.

Image capturing device and accessories

Номер патента: RU2714847C2. Автор: Дзун КАМИЯ,Ясуюки ВАТАДЗАВА,Наото ФУДЗИХАСИ. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2020-02-19.

Device and method for processing audio signal containing transient signal

Номер патента: RU2598326C2. Автор: Гильом ФУШ,Николаус РЕТТЕЛБАХ,Фредерик НАГЕЛ,Саша ДИШ,Маркус МУЛТРУС. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2016-09-20.

Developing device and electrophotographic image forming device

Номер патента: RU2438154C1. Автор: Ясутака АКАСИ,Минору Ито,Казухито ВАКАБАЯСИ,Такума МАЦУДА,Масаеси СИМАМУРА,Сатоси ОТАКЕ,Дайсуке ЙОСИБА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2011-12-27.

Device and method for generation of output signals based on audio source signal, audio reproductive system and loudspeaker signal

Номер патента: RU2686026C2. Автор: Бернхард НОЙГЕБАУЭР,Кристиан БОРСС,Андреас ЗИЛЬЦЛЕ,Эмануэль ХАБЕТС,Зебастьян ШЛЕХТ,Ханне ШТЕНЦЕЛЬ. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2019-04-23.

Liquid-crystal optical device and method of its manufacturing

Номер патента: RU2415452C2. Автор: Сатоси НИИЯМА,Реми ТАНАКА. Владелец: Асахи Гласс Компани, Лимитед. Дата публикации: 2011-03-27.

Developing device and image forming device

Номер патента: RU2705749C1. Автор: Хидеки МАЕСИМА,Суити ГОФУКУ,Соити ИСИИ. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2019-11-11.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: EP3683002A1. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-22.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: US20200198053A1. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: EP3683002A4. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-04.

Laser processing head, optical fiber inspection device, and optical fiber inspection method

Номер патента: EP3683002B1. Автор: Takayuki Yamashita,Hideaki Yamaguchi,Ryo Ishikawa,Naoya Kato,Kenji Hoshino,Doukei Nagayasu,Shinya Domoto,Kiyotaka Eizumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Semiconductor device, communication device, and semiconductor device inspecting method

Номер патента: US20050093026A1. Автор: Toshiki Seshita,Yoshitomo Sagae. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2005-05-05.

STEREOSCOPIC IMAGE INSPECTION DEVICE, STEREOSCOPIC IMAGE PROCESSING DEVICE, AND STEREOSCOPIC IMAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130258061A1. Автор: Kobayashi Yuki,Maruyama Yuki,Matsumoto Kentaro,OGURA Yasunobu. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-03.

LIQUID EJECTION INSPECTION DEVICE AND LIQUID EJECTION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130141484A1. Автор: KUMAGAI Toshio,SUZUKI Toshiyuki,KASAI Tsuneo,SHINKAWA Osamu,HOSOKAWA Yasuhiro,IZUO Seiji. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2013-06-06.

ATTENTION ABILITY INSPECTION DEVICE AND ATTENTION ABILITY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220079486A1. Автор: Kishi Hiroshi,YOKOI Kentaro. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

NETWORK-TRANSMISSION INSPECTION DEVICE AND NETWORK-TRANSMISSION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140177453A1. Автор: KANG Fu-Ming. Владелец: Wistron NeWeb Corp.. Дата публикации: 2014-06-26.

LASER PROCESSING HEAD, OPTICAL FIBER INSPECTION DEVICE, AND OPTICAL FIBER INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200198053A1. Автор: Ishikawa Ryo,Yamashita Takayuki,Eizumi Kiyotaka,YAMAGUCHI Hideaki,Nagayasu Doukei,HOSHINO Kenji,KATO Naoya,DOMOTO Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-25.

Step pedal inspection device and step pedal inspection method

Номер патента: CN111196547B. Автор: 渡边隆行,小平法美,大西友治,野濑尊之. Владелец: Hitachi Building Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-13.

Welding Part Inspection Device and Welding Part Inspection Method Using the Same

Номер патента: KR20230058836A. Автор: 손민수,장세화. Владелец: 주식회사 엘지에너지솔루션. Дата публикации: 2023-05-03.

Step tread inspection device and step tread inspection method

Номер патента: JP6934465B2. Автор: 法美 小平,友治 大西,隆行 渡邉,尊之 野瀬. Владелец: Hitachi Building Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE INSPECTION SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20130301083A1. Автор: Kaneda Kanako. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

COLOR INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20190327387A1. Автор: Komatsu Manabu,Nakazawa Masamoto,Hashimoto Hideki,Konno Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

Inspection device, inspection system, and inspection method for passenger conveyor

Номер патента: TWI695808B. Автор: 平井敬秀,伊藤寬,橋口拓弥. Владелец: 日商三菱電機大樓技術服務股份有限公司. Дата публикации: 2020-06-11.

Semiconductor device, communication device, and semiconductor device inspecting method

Номер патента: US7468543B2. Автор: Toshiki Seshita,Yoshitomo Sagae. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-12-23.

MULTILAYER BOARD, ELECTRONIC DEVICE, AND MULTILAYER BOARD INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220285082A1. Автор: KOUNO Kiminori,KAMADA Koji. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-08.

Pressure sensor mounting structure of terminal crimping device and crimping force inspection method using the same

Номер патента: JP5959005B2. Автор: 祐治 後藤,喜昭 野本,千昭 波多野. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Drop liquid discharging device and shoot out inspection method

Номер патента: CN102689505B. Автор: 畑尾阳介. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-10-07.

Solid-state imaging device and pixel defect inspection method thereof

Номер патента: JP3912672B2. Автор: 圭司 馬渕,弘樹 佐藤,信男 中村,高志 阿部,智之 梅田,博明 藤田,英一 船津. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2007-05-09.

Photo device detection device and photo device inspection method

Номер патента: JP2014181975A. Автор: Akira Ito,明 伊藤,Hidetoshi Nakanishi,英俊 中西,Masakichi Touchi,政吉 斗内,巌 川山,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-09-29.

Submarine device and nuclear reactor inspection method

Номер патента: JP5273975B2. Автор: 広志 山本,岡田　　聡,祐司 細田,亮介 小林,豊 米谷. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2013-08-28.

Optical wavelength multiplexing transmission system, optical wavelength multiplexing device, and backup system inspection method

Номер патента: CN108781115B. Автор: 山本哲也. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-27.

Apparatus for transient annealing of semiconductor samples in a controlled ambient

Номер патента: US4721836A. Автор: Carl R. Zeisse,Edward R. Schumacher. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1988-01-26.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240098363A1. Автор: Yosuke Tanaka,Shoji Matsuda,Yasuhiro Okuno,Kotaro Nakamoto,Sukeyuki Shinotsuka,Shunsuke Torigai,Daiki KUREI,Koki Isobe. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: US20230278137A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: EP4230339A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Device and method of checking integrity of system for rapid reactivation of gas turbine engine of helicopter

Номер патента: RU2686531C2. Автор: Патрик МАРКОНИ,Камель СЕРГИН,Стефен ЛАНГФОРД,Ромэн ТИРЬЕ,Жан-Мишель БАЗЕ,Жером ИРИГУАЙЕН. Владелец: Сафран Хеликоптер Энджинз. Дата публикации: 2019-04-29.

Pest-accumulating device and pest-accumulating method

Номер патента: US09510583B2. Автор: Yoshiki Matsumoto,Tetsuya Kondo,Koh-En Yamauchi,Kohsyo Yamauchi. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-12-06.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Gas injection subsystem for use in an inspection system to inspect a sample by use of charged particles and inspection system having such gas injection subsystem

Номер патента: US20230402251A1. Автор: Sybren Sijbrandij,Mark Dimanna,Jeffrey Sauer,Brett Lewis,Louise Barris,Alexander Lombardi. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-12-14.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Allowance setting system, substrate inspection device, allowance setting method, and substrate inspection method

Номер патента: US12041724B2. Автор: Keiichi Ono,Kazuya Kotani,Mitsutaka Inagaki,Yuta YOKOI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: US09538677B2. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Machine posture inspection method and machine posture inspection system

Номер патента: US20240342910A1. Автор: Ting-Jen Yeh,Ting-yun FANG. Владелец: Point Robotics Medtech Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Network inspection method, network device and network management device

Номер патента: EP4440069A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Sample inspection apparatus

Номер патента: US20060255290A1. Автор: Daniel Turner,Santokh Bhadare,Ian Barkshire. Владелец: Oxford Instruments Analytical Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Apparatus for manufacturing semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, inspection apparatus for semiconductor device, and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20020158647A1. Автор: Masaaki Sugimoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Network Inspection Method, Network Device, and Network Management Device

Номер патента: US20240348522A1. Автор: Qin Wu,Xiaoping Ma,Xiaopeng Qin,Qiufang MA. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Photoelectric conversion device and characteristic inspection method for same

Номер патента: US09509124B2. Автор: Akihiko Yoshikawa,Yoshihiro Ishitani,Kazuhide Kusakabe. Владелец: Chiba University NUC. Дата публикации: 2016-11-29.

Train traffic control inspection device, train traffic control inspection method and program

Номер патента: US09751544B2. Автор: Yasuyuki Suzuki,Kenji Takao,Noritaka Yanai,Toshihiko Niinomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Traditional chinese medicine inspection device of composite millimeter-wave radar

Номер патента: US20230338109A1. Автор: ZHANG LEI,Yang Jie,Wang Bin,Liu Jia,Liu Baoyan,Wen Tiancai. Владелец: INSTITUTE OF INFORMATION ON TRADITIONAL CHINESE MEDICINE CHINA ACADEMY OF CHINESE MEDICAL SCIENCES. Дата публикации: 2023-10-26.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection method for semiconductor laser device and inspection device for semiconductor laser device

Номер патента: US20220376465A1. Автор: Akio SHIRASAKI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: EP4099610A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US12003624B2. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US20220393864A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A3. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Anti-aircraft missiles and missile launchers inspection method

Номер патента: RU2674453C1. Автор: Владимир Вячеславович Громов,Сергей Михайлович Мосалёв,Игорь Семенович Рыбкин,Эдуард Борисович Парфенов,Лев Геннадьевич Жокин,Владимир Александрович Кисарин. Владелец: Открытое акционерное общество "Завод им. В.А. Дегтярева". Дата публикации: 2018-12-10.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Device and method for creating channel in soft tissue

Номер патента: RU2766387C2. Автор: Вадим ШМУКЛЕР,Гилад ЛАВИ,Иосеф ГЛОВИНСКИ,Нир ИСРАЭЛИ. Владелец: Тель Хашомер Медикал Рисерч Инфрастракчер Энд Сервисес Лтд.. Дата публикации: 2022-03-15.

Devices and methods for moving fluid through installed peripheral intravenous catheter

Номер патента: RU2763749C2. Автор: Питамбер ДЕВГОН,Кевин Дж. ЭРЕНРАЙХ,Ричард Т. БРИГАНТИ,Брайан Дж. ФАНК. Владелец: Велано Васкулар, Инк.. Дата публикации: 2022-01-10.

Device and method of encoding/decoding signals in communication system

Номер патента: RU2384000C2. Автор: Дзун-Хиук СОНГ,Дзи-Чеол ЛИ,Геун-Хви ЛИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2010-03-10.

Device and method for uplink pilot signals for wcdma communication

Номер патента: RU2583840C2. Автор: Бо ЙЕРАНССОН,Эрик ЛАРССОН,Никлас ЙОХАНССОН,Йохан ХАЛТЕЛЛ,Йохан БЕРГМАН,Фредрик ОВЕСЙО. Владелец: Телефонактиболагет Лм Эрикссон (Пабл). Дата публикации: 2016-05-10.

Cutting device and support for it

Номер патента: RU2752854C2. Автор: Наги ДАЕР,Ричард БОЙД,Йоаким Антонио Суарес ДЕ СОЗА. Владелец: ДЖОЙ ГЛОБАЛ АНДЕРГРАУНД МАЙНИНГ ЭлЭлСи. Дата публикации: 2021-08-11.

Method of transmitting control channel resource, user device and base station

Номер патента: RU2586073C2. Автор: Чи ГАО,Лян СЯ,Чжэньфэй ТАН,Минюй ЧЖОУ. Владелец: Хуавей Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2016-06-10.

Device and method of obtaining methane, fertiliser based on organic substances and usable water from wastes of animal breeding

Номер патента: RU2540556C2. Автор: СЛИКЕ Й. Виктор ВАН. Владелец: ЭйТиДи УЭЙСТ СИСТЕМЗ ИНК.. Дата публикации: 2015-02-10.

Drive device and crusher

Номер патента: RU2598549C2. Автор: Фабрис ЛЕССАР. Владелец: Компани Ангренаж Э Редюктер-Мессиан-Дюран. Дата публикации: 2016-09-27.

Vaccination system for delivering vaccine to avian pullets, and associated methods, devices, and assemblies

Номер патента: RU2646626C2. Автор: Уильям Дуглас САМСОН,Марко Джованни ТРИВЕЛЛА,Раймонд Джон НЕМЧУРА,Дэниел Лии КЕННЕДИ,Дэвид Эндрю АЙХЕНБЕРГЕР,Уильям Браян КАРР,Стивен Аллан ДЬЮ. Владелец: Зоэтис Сервисиз Ллс. Дата публикации: 2018-03-06.

Method, data transmission device and communication system

Номер патента: RU2754435C2. Автор: Фын ЮЙ,Синь СЮН,Хайфэн ЮЙ. Владелец: Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2021-09-02.

Device and method of transfer molding of resin or pitch

Номер патента: RU2270096C2. Автор: Джеймс Ф. ПИГФОРД,Фрэнк ДИЛЛОН,Майкл Д. ВУД,Нэйл МАРДИ,Ричард А. ХЕКЕЛСБЕРГ,Марк Л. ЛАФОРЕСТ,Чарлз А. ПАРКЕР,Роджер У. ХОЛЛОУЭЙ. Владелец: Хонейвелл Интернэшнл Инк.. Дата публикации: 2006-02-20.

Flat metal workpiece embossing (method, device and object)

Номер патента: RU2611882C9. Автор: АНГЕРА Антони ФОНТ,ЛОПЕС Антонио КОНТРЕРАС,ДОНСЕЛЬ Даниэль ХИМЕНЕС,РОХАС Рамон МАРТИН. Владелец: Ардагх Мп Груп Незерландс Б.В.. Дата публикации: 2017-08-10.

Device and method for sheet-by-sheet separation of sheets from sheet material stack

Номер патента: RU2727846C1. Автор: Амит Кумар ЯДАВ. Владелец: Гизеке+Девриент Карренси Текнолоджи Гмбх. Дата публикации: 2020-07-24.

Devices and methods for connection of pipelines by ball joints

Номер патента: RU2543923C2. Автор: Майкл В. ХОРГАН. Владелец: Тайко Файэр Продактс Лп. Дата публикации: 2015-03-10.

Device and method for estimating thermalgetic and vibration sensitivity

Номер патента: RU2546409C2. Автор: ОРЛАНДИ Арьель Андрес ОДРИОСОЛА. Владелец: ОРЛАНДИ Арьель Андрес ОДРИОСОЛА. Дата публикации: 2015-04-10.

Power with resonant load conversion device and such device operation method with separation by time

Номер патента: RU2683639C9. Автор: Ясухиро КОНДО. Владелец: Мейденша Корпорейшн. Дата публикации: 2019-06-04.

Film-type contact device and heat exchanger packing

Номер патента: RU2438773C2. Автор: Алексей Анатольевич Осинцев,Карим Галимзянович Зиганшин,Галимзян Каримович Зиганшин,Николай Константинович Прокофьев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ИМПА Инжиниринг". Дата публикации: 2012-01-10.

Power output device, car comprising power output device, and module and method for control of power output device

Номер патента: RU2372213C2. Автор: Хироацу ЕНДО,Масаси ЙОСИМИ,Казуо КАВАГУТИ,Синити САСАДЕ,Йоити ТАДЗИМА,Синобу НИСИЯМА,Казуоми ОКАСАКА. Владелец: Аисин Ав Ко., Лтд.. Дата публикации: 2009-11-10.

Milking module, a milking device and a method for milking a group of animals

Номер патента: RU2727536C2. Автор: Джеффри ГАЛЛАХЕР,Петер МАННЕКЕ,Йоэль КАРРИГГ,Скотт ПАВЛОВИЧ. Владелец: ДЕЛАВАЛЬ ХОЛДИНГ АБ. Дата публикации: 2020-07-22.

Device and method for coal thermal production of aluminium

Номер патента: RU2486268C2. Автор: Джералд Е. КАРКИН,Джозеф А. ЛЕПИШ. Владелец: Алкоа Инк.. Дата публикации: 2013-06-27.

Radio transmission device and radio transmission method

Номер патента: RU2542750C1. Автор: Даити ИМАМУРА,Такаси ИВАИ,Садаки ФУТАГИ,Ацуси МАЦУМОТО. Владелец: Панасоник Интеллекчуал Проперти Корпорэйшн оф Америка. Дата публикации: 2015-02-27.

Method, transmission/reception device and system for configuring and controlling channels in wireless communication system using amc channels and diversity channels

Номер патента: RU2382501C2. Автор: Хван-Дзоон КВОН,Дзу-Хо ЛИ,Дзоон-Йоунг ЧО,Дзин-Киу ХАН,Донг-Хи КИМ,Юн-Ок ЧО. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2010-02-20.

Device and method for removal and unloading of cutting ends of rods from mechanical machine

Номер патента: RU2730350C2. Автор: Чезаре КУЧЧИ. Владелец: Куччи Джованни Энд К. С.Р.Л.. Дата публикации: 2020-08-21.

Aviation fuel tanks on the top ceiling ship storage and supply device and method

Номер патента: RU2667413C1. Автор: Владимир Сергеевич Соловьев,Андрей Александрович Карпов,Михаил Викторович Смирнов,Ян Анатольевич Склоцкий. Владелец: Публичное акционерное общество "Невское проектно-конструкторское бюро". Дата публикации: 2018-09-19.

Female element, holding device and pin system for excavators and similar machines

Номер патента: RU2723834C2. Автор: СОРИЯ Франсиско ПЕРЕС,БОЙКСЕДА Хорхе ТРИХИНЕР,Хоан ТУТО,ТОРДЕРА Альберт ХИМЕНО,ГАРСИА Хусто Хесус ОРТИС. Владелец: Металохения Рисерч Энд Текнолоджиз С.Л.. Дата публикации: 2020-06-17.

Device and method for manipulating loading for processing under isostatic pressure

Номер патента: RU2744787C2. Автор: Рогер ТУНХОЛЬМ. Владелец: Куинтус Текнолоджиз Аб. Дата публикации: 2021-03-15.

Device for placement of implant for tissue recovery, kit containing such device and method for tissue recovery

Номер патента: RU2641857C2. Автор: Майкл КАРДИНЕЙЛ,Роберт Дж. ТЭННХОСЕР,Эмиль Ричард СКЬЮЛА,Энтони УОРТИНГТОН. Владелец: Этикон, Инк.. Дата публикации: 2018-01-22.

Platform cooling device and internal combustion turbine engine

Номер патента: RU2605866C2. Автор: Аарон Изекиль СМИТ,Скотт Эдмонд ЭЛЛИС. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2016-12-27.

Implants for making connections with tissues, namely, with skeleton, and device and method of implantation

Номер патента: RU2314768C2. Автор: Йорг МАЙЕР,Лоран ТОРРИАНИ,Марсель АЭСШЛИМАНН,Антонио Ланчи. Владелец: Вудвелдинг Аг. Дата публикации: 2008-01-20.

Device and method for formation, accumulation and transfer of electric energy

Номер патента: RU2496208C2. Автор: Йенс БЕКЕРМАНН,Штефан ХАЙНБОКЕЛЬ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-10-20.

Intraocular devices and corresponding methods

Номер патента: RU2555115C2. Автор: Сяосяо ЧЖАН,Инь ЯН. Владелец: НОВАРТИС АГ. Дата публикации: 2015-07-10.

Device and method of bowling trek maintenance using precise feed injectors

Номер патента: RU2370324C2. Автор: Джордж В. БАКЛИ,Рой А. БАРКХОЛДЕР,Ричард А. ДЭВИС,Стивен Дж. ГОНРИНГ,Марк Х. МИД,Патрик Дж. МИТЧЕЛЛ,Трой А. РЕКНЕЙДЖЕЛ. Владелец: Брансвик Боулинг Энд Биллиардс Корпорэйшн. Дата публикации: 2009-10-20.

Device and method of normalizing thermal expansion of a cylinder of a steam turbine

Номер патента: RU2711886C1. Автор: Георг Давидович Авруцкий,Михаил Васильевич Лазарев,Анатолий Евгеньевич Захаров. Владелец: Открытое акционерное общество "Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени теплотехнический научно-исследовательский институт" (ОАО "ВТИ"). Дата публикации: 2020-01-23.

Multispectral photosensitive devices and sampling methods thereof

Номер патента: RU2534018C2. Автор: Сяопин ХУ. Владелец: БОЛИ МЕДИА КОММУНИКЕЙШНЗ (ШЭНЬЧЖЭНЬ) КО., ЛТД. Дата публикации: 2014-11-27.

Options for use of uv-curing sealants based on polythioethers for sealing of fastening devices and for leveling of surfaces

Номер патента: RU2670901C9. Автор: Брюс ВИРНЕЛЬСОН. Владелец: Прк-Десото Интернэшнл, Инк.. Дата публикации: 2018-12-12.

Piercing device and cartridge for piercing device

Номер патента: RU2754587C2. Автор: Масанори САЕКИ. Владелец: Масанори САЕКИ. Дата публикации: 2021-09-03.

Rotating multi-clipsator platform systems working together with adhesive sealing modules, adhesive sealing systems and relevant devices and methods

Номер патента: RU2629968C2. Автор: Деннис Дж. МЭЙ,Мэттью Д. ЛОУДЕР,Самуэль Д. ГРИГГС,Томас Е. УИТТЛСИ,Уилльям М. ПОТИТ. Владелец: Типпер Тай, Инк.. Дата публикации: 2017-09-05.

Connection device for cables, holder for socket of such connection device and set for connection of cables

Номер патента: RU2399127C1. Автор: Кристоф ДЕЗАР,Дидье ТУЙОН,Ивонник МАРСАК. Владелец: 3М Инновейтив Пропертиз Компани. Дата публикации: 2010-09-10.

Opening device and device for forming opening device on sheet packaging material

Номер патента: RU2660506C1. Автор: Даниэле ГОЛЬФЬЕРИ,Франко КАНИ. Владелец: ТЕТРА ЛАВАЛЬ ХОЛДИНГЗ ЭНД ФАЙНЭНС С.А.. Дата публикации: 2018-07-06.

Stimulation devices and methods for treating dry eye disease

Номер патента: RU2707167C2. Автор: Манфред ФРАНКЕ,Джеймс Дональд ЛОУДИН,Джон УАРДЛ,Марк Джефри ХОЛДБРУК. Владелец: Окулив, Инк.. Дата публикации: 2019-11-22.

Refueling unit, refueling device and refueling method

Номер патента: RU2342594C2. Автор: Ясууки ИИДА. Владелец: Тойота Джидоша Кабушики Кайша. Дата публикации: 2008-12-27.

Hydroponic plant growing device and growing system using this device

Номер патента: RU2746805C1. Автор: Алексей Игоревич Аминов. Владелец: Алексей Игоревич Аминов. Дата публикации: 2021-04-21.

Device and method of transmitting and receiving information for detecting errors in communication system

Номер патента: RU2375821C2. Автор: Хван-Дзоон КВОН,Хо-Киу ЧОЙ,Йоун-Сун КИМ,Донг-Хее КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2009-12-10.

Output device and replaceable element

Номер патента: RU2531725C2. Автор: Чжоу СЯНЬЧЖИ,Дун Сяо Ю,ДИПЕН Якобус Симон Петрус ВАН,Кристофер Леонард ПАДАЙН. Владелец: РЕКИТТ ЭНД КОЛМЭН (ОУВЕРСИЗ) ЛИМИТЕД. Дата публикации: 2014-10-27.

Glass sheets forming device and method

Номер патента: RU2719872C2. Автор: Джеймс П. Мл. ШНАБЕЛЬ,Дин М. НИТШКЕ,Дэвид Б. НИТШКЕ. Владелец: Гласстек, Инк.. Дата публикации: 2020-04-23.

Light emitting device and method of its manufacturing

Номер патента: RU2528604C2. Автор: Масацугу ИТИКАВА. Владелец: Нития Корпорейшн. Дата публикации: 2014-09-20.

Pump for linen processing device and laundry treatment device containing such a pump

Номер патента: RU2693809C1. Автор: Сунгвоон ДЗУНГ,Хундзун ДЗАНГ. Владелец: ЭлДжи ЭЛЕКТРОНИКС ИНК.. Дата публикации: 2019-07-04.

Extrusion device and method of semi-finished product extrusion made from elastomer material

Номер патента: RU2730339C2. Автор: ПРЕСТИ Гаэтано ЛО,Чезаре Эмануэле АМУРРИ. Владелец: ПИРЕЛЛИ ТАЙР С.П.А.. Дата публикации: 2020-08-21.

Sealing device and delivery system

Номер патента: RU2557689C2. Автор: Стивен Дж. МАСТЕРС,Брэд А. ОРИЛИА. Владелец: Гор Энтерпрайз Холдингс, Инк.. Дата публикации: 2015-07-27.

Device and method of injecting fluid pressure

Номер патента: RU2688058C1. Автор: Дмитрий Николаевич Спиркин. Владелец: Дмитрий Николаевич Спиркин. Дата публикации: 2019-05-17.

Unit for orienting eggs and related installation, device and method

Номер патента: RU2681159C1. Автор: Уилльям Донвук СУ,Джозеф ФЕДЕРОВИЧ. Владелец: ЗОИТИС СЕРВИСЕЗ ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-03-04.

Device and method for supplying content of service control and information on notification event in mobile broadcasting system

Номер патента: RU2371879C1. Автор: Коок-Хеуй ЛИ,Сунг-Ох ХВАНГ,Бо-Сун ДЗУНГ,Биунг-рае ЛИ,Дзонг-Хио ЛИ,Дзае-Квон ОХ,Дзае-Йонг ЛИ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2009-10-27.

Terminal device and a method of dividing a buffer

Номер патента: RU2693701C1. Автор: Акихико НИСИО,Тору ОИЗУМИ. Владелец: Сан Пэтент Траст. Дата публикации: 2019-07-04.

Device and method for incision closure

Номер патента: RU2540904C2. Автор: Йенс-Петер ЩТРЕНЦ. Владелец: Этикон, Инк.. Дата публикации: 2015-02-10.

Driver device and method of exciting for excitation of load, in particular, assembly of light-emitting diodes

Номер патента: RU2587475C2. Автор: Харальд Йозеф Гюнтер РАДЕРМАХЕР. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2016-06-20.

Device and method for producing metallic titanium

Номер патента: RU2764988C1. Автор: Акихиро САТО,Тецуя УДА,Йосинобу КУНИТОМО,Акихиро КИСИМОТО,Кадзухиро КУМАМОТО,Ясуси ДОДО,Такуя ХАСИМОТО,Акихико ЙОСИМУРА. Владелец: Киото Юниверсити. Дата публикации: 2022-01-24.

Three-phase balancing device and method of its control

Номер патента: RU2567747C1. Автор: Любовь Эммануиловна Рогинская,Сергей Анатольевич Сидоров,Артем Александрович Караваев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет". Дата публикации: 2015-11-10.

Assembly device and production system

Номер патента: RU2755803C1. Автор: Да ЛИ,Хэхуа ЦЗИНЬ,Цинвэнь ЛИ,Чжэньчжун ЮН,Маолинь ЛЮ,Дяньли ХУ. Владелец: Сучжоу Джернано Карбон Ко., Лтд.. Дата публикации: 2021-09-21.

Device and method for formation of multicharged ion beams

Номер патента: RU2716825C1. Автор: Дмитрий Владимирович Суворов,Геннадий Петрович Гололобов,Александр Борисович Толстогузов,Сергей Игоревич Гусев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2020-03-17.

Method, device and system for transfer and reception of non-coded channel information in multiplexing system with orthogonal frequency dividing channelling

Номер патента: RU2369970C2. Автор: Хван-Дзоон КВОН,Дзу-Хо ЛИ,Дзоон-Янг ЧО,Дзин-Киу ХАН,Донг-Хи КИМ,Юн-Ок ЧО. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2009-10-10.

Device and plant for sorting solid domestic wastes, and method of using them

Номер патента: RU2379134C2. Автор: Юрий Всеволодович Копылов,Дмитрий Юрьевич Копылов. Владелец: Юрий Всеволодович Копылов. Дата публикации: 2010-01-20.

Method, device and system for extraction of residual oil contained in pores of oil reservoir using pressure varied with low frequency

Номер патента: RU2768835C1. Автор: Цзиняо ВАН,Синлун ЧЭНЬ,Хайшуй ХАНЬ,Хунвэй ЮЙ,Сыюань ЛИ,Тияо ЧЖОУ,Цзэминь ЦЗИ,Шаньянь ЧЖАН,Цзячжун ВУ. Владелец: Петрочайна Компани Лимитед. Дата публикации: 2022-03-24.

Device and method for safe positioning of coronary stent in coronary arteries

Номер патента: RU2669994C2. Автор: Илья Владимирович Семисынов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "СЕВЕН САНС". Дата публикации: 2018-10-17.

Compressor control device and method (versions)

Номер патента: RU2439369C2. Автор: Франк С. УОЛЛИС,Митч М. КНАПКЕ,Эрнест Р. БЕРГМАН. Владелец: Эмерсон Клаймет Текнолоджис, Инк.. Дата публикации: 2012-01-10.

Hydraulic swivel interconnection device and its application in conjuction with heating radiator

Номер патента: RU2331819C2. Автор: Раффаэле БЕРГАМАНТЕ. Владелец: Ледда Джампьеро. Дата публикации: 2008-08-20.

Heating device and method of its production

Номер патента: RU2737048C2. Автор: Клаус САЙДЛЕР,Ульф-Дитер УЛЬКЕН. Владелец: Дженоптик Эдвансд Системз Гмбх. Дата публикации: 2020-11-24.

Internal combustion engine with liquid cooling with switching device and method of controlling switching device of internal combustion engine of this type

Номер патента: RU2688123C2. Автор: Ян МЕРИНГ,Кай ХОЕНБЕКЕН,Штефан КВИРИНГ,Бернд ШТАЙНЕР,Михаэль ТОБЕРГТЕ,Берт ПИНГЕН. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-05-17.

Nicotine salt formulations for aerosol devices and methods of use thereof

Номер патента: RU2659887C2. Автор: Адамс БОУЭН,Ченьюи КСИНГ. Владелец: Джуул Лэбз, Инк.. Дата публикации: 2018-07-04.

Image decoding method, image encoding method, image decoding device, image encoding device and image encoding and decoding device

Номер патента: RU2714371C2. Автор: Йоудзи Сибахара,Такахиро Ниси,Хисао Сасаи,Кеко ТАНИКАВА,Тосиясу СУГИО,Тору МАЦУНОБУ. Владелец: Сан Пэтент Траст. Дата публикации: 2020-02-14.

Devices and methods for crystalline lens tissue removal

Номер патента: RU2703694C2. Автор: Мария Цончева ГУГУЧКОВА,Льюк У. КЛАУСОН. Владелец: Янтек, Инк.. Дата публикации: 2019-10-21.

Control method of engine braking device, engine braking device and vehicle

Номер патента: RU2709898C2. Автор: Франц РАММЕР,Хайдрун КЛИНГЕР,Андре КРОЙЦРИГЛЕР. Владелец: МАН Трак унд Бас Эстеррайх АГ. Дата публикации: 2019-12-23.

Folding accuracy inspection device and folding accuracy inspection method in box making machine, box making machine, and folding accuracy adjustment method

Номер патента: JP4774350B2. Автор: 弘 佐藤. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Printing and Packaging Machinery Ltd. Дата публикации: 2011-09-14.

Light-emitting device, line-of-sight guidance device, non-destructive inspection device and non-destructive inspection method

Номер патента: JP7133850B2. Автор: 幸弘 柴尾. Владелец: Riken Kogyo Inc. Дата публикации: 2022-09-09.

Magnetic powder inspection device and magnetic powder inspection method

Номер патента: JP6893189B2. Автор: 明彦 神鳥,崇子 溝口,神鳥　明彦,法美 小平,友治 大西,馬場　理香,理香 馬場. Владелец: Hitachi Building Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Surface condition inspection device and surface condition inspection method

Номер патента: JP7087533B2. Автор: 達哉 黒木,泉 大根田. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2022-06-21.

Seal state inspection device and seal state inspection method

Номер патента: JP4698406B2. Автор: 滋弘 木下. Владелец: 日本テトラパック株式会社. Дата публикации: 2011-06-08.

Surface defect inspection device and surface defect inspection method

Номер патента: JP2015200603A. Автор: 耕平 栗原,Kohei Kurihara,熊野　晴彦,Haruhiko Kumano,晴彦 熊野,純一 鳥生,Junichi Torio. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2015-11-12.

Gas type inspection device and gas type inspection method of eye joint ferrule-equipped hose

Номер патента: JP2020193926A. Автор: Yuichi Shimizu,修三 金川,Shuzo Kanekawa,雄一 志水. Владелец: Nichirin Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Film thickness inspection device and film thickness inspection method

Номер патента: JP6701660B2. Автор: 弘行 平松,英樹 渡辺,庸男 歳桃,渡辺　英樹,超 唐. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-27.

Color tone inspection device and color tone inspection method

Номер патента: JP6738242B2. Автор: 信夫 今西,一成 大熊. Владелец: KMEW Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Bubble discrimination inspection device and bubble discrimination inspection method

Номер патента: JP5787670B2. Автор: 隆 大月,均 石津. Владелец: Mutual Corp. Дата публикации: 2015-09-30.

Eddy current inspection device and eddy current inspection method

Номер патента: JP5138713B2. Автор: 久 遠藤,亮 西水,弘文 大内,善夫 野中. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2013-02-06.

Soldering condition inspection device and soldering condition inspection method

Номер патента: JP3203397B2. Автор: 大介 永野,理 疋田. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2001-08-27.

Elevator rope tension inspection device and rope tension inspection method

Номер патента: JP5886724B2. Автор: 大輔 浅井,真人 中山,浅井　大輔. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-03-16.

Container opening inspection device and container opening inspection method

Номер патента: JP2019066198A. Автор: Yasuhiro Nishizaki,泰広 西▲崎▼. Владелец: Toyo Glass Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-25.

Gas tank inspection device and gas tank inspection method

Номер патента: JP5708554B2. Автор: 加藤　圭,圭 加藤. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: JP7193493B2. Автор: 善也 三浦. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Semiconductor laser inspection device and semiconductor laser inspection method

Номер патента: JP2022089153A. Автор: Yohei Mikami,洋平 見上,哲宏 深尾,Tetsuhiro Fukao. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-06-15.

Spark plug inspection device and spark plug inspection method

Номер патента: JP6008774B2. Автор: 魚住　由紀夫,由紀夫 魚住. Владелец: Aichi Machine Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-19.

Circuit pattern inspection device and circuit pattern inspection method thereof

Номер патента: KR20100067618A. Автор: 히로시 하모리. Владелец: 오에이치티 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2010-06-21.

Steam trap steam trap inspection device and steam leak inspection method

Номер патента: JP6836454B2. Автор: 康祐 澁谷. Владелец: Tlv Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

External appearance inspecting device and external appearance inspecting method

Номер патента: JPH11101619A. Автор: Toyoichi Nakamura,豊一 中村,Benjamin Sai,ベンジャミン サイ. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1999-04-13.

Semiconductor element inspection device and semiconductor element inspection method

Номер патента: JP2021111748A. Автор: Ryohei Tanuma,良平 田沼,晃一 村田,Koichi Murata,Isao Kamata,功穂 鎌田. Владелец: CENTRAL RESEARCH INSTITUTE OF ELECTRIC POWER INDUSTRY. Дата публикации: 2021-08-02.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method

Номер патента: JP2020020592A. Автор: 一郎 朝倉,Ichiro Asakura. Владелец: Takashima Giken Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-06.

Pattern shape inspection device and pattern shape inspection method

Номер патента: JP3341742B2. Автор: 潤一 矢野. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-11-05.

Container damage inspection device and container damage inspection method

Номер патента: JP2020027067A. Автор: Hiroyuki Tachibana,弘幸 橘,欣也 市村,Kinya Ichimura. Владелец: Mitsui E&S Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Gas tank inspection device and gas tank inspection method

Номер патента: JP5775486B2. Автор: 武史 石川,直彦 神山,石川　武史. Владелец: Iwatani Corp. Дата публикации: 2015-09-09.

Laser-excited ultrasonic generator, laser ultrasonic inspection device, and laser ultrasonic inspection method

Номер патента: JP7039371B2. Автор: 摂 山本,淳 千星,あずさ 菅原,誠 落合,岳志 星,晋一朗 仲村. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-22.

Foreign matter inspection device and foreign matter inspection method for vehicular lamp

Номер патента: JP2010043897A. Автор: Yoshimasa Toki,Michihiro Mabe,三千広 間部,芳正 土岐. Владелец: Koito Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2010-02-25.

Film thickness inspection device and film thickness inspection method

Номер патента: JP2017067702A. Автор: Hideki Watanabe,Tsuneo Saito,弘行 平松,英樹 渡辺,Chao Tang,庸男 歳桃,渡辺　英樹,超 唐,Hiroyuki Hiramatsu. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Joint position inspection device and joint position inspection method

Номер патента: JP2016109469A. Автор: 戸次　浩之,Hiroyuki Totsugi,浩之 戸次. Владелец: Waterworks Technology Development Organization Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-20.

Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method

Номер патента: TWI449897B. Автор: Hiroyuki Mochizuki,Katsuyoshi Kodera,Tasuku Goto. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-21.

Map data inspection device and map data inspection method

Номер патента: TW200639666A. Автор: Yoshikazu Takagi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2006-11-16.

Inspecting device of reticle and inspecting method therefor

Номер патента: JPH102865A. Автор: Toru Tanida,徹 谷田. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

Workpiece surface inspection device, surface inspection system, surface inspection method, and program

Номер патента: JP2021139817A. Автор: 将人 柏原,泰三 脇村,Masahito Kashiwabara,Taizo Wakimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-09-16.

Inspection device for molding and its inspection method

Номер патента: JP2000314610A. Автор: Tetsuo Hiraguchi,哲夫 平口. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2000-11-14.

Appearance inspection device for workpiece and appearance inspection method for workpiece

Номер патента: TW201140035A. Автор: Hiroyuki Mochizuki,Katsuyoshi Kodera,Tasuku Goto. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Inspection device adjustment method and inspection device

Номер патента: JP7156795B2. Автор: 隆二 長谷川,健二 柳詰,亮志 柏木. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2022-10-19.

Glass tube support, glass tube transfer device, and glass tube inspection method

Номер патента: JP6988274B2. Автор: 健治 田村. Владелец: Nippon Electric Glass Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Semiconductor memory device and pass / fail inspection method thereof

Номер патента: KR19990074594A. Автор: 염진선. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-10-05.

Log sampling system, storage device, and sampled log inspection method

Номер патента: JP2012173388A. Автор: Yusuke Ogaki,雄介 大垣. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-09-10.

Inspection device, inspection system, and inspection program

Номер патента: JP2022056088A. Автор: 充 荒幡,Mitsuru Arahata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ736686A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Method of verification of intratubal inspection devices

Номер патента: RU2596243C1. Автор: Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2016-09-10.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ735237A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Automated photography and inspection station

Номер патента: WO2024197250A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers, Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Powder granule sample inspection apparatus

Номер патента: CA2022556A1. Автор: Katsumi Tokoyama. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1992-02-03.

Frequency permit inspection device

Номер патента: RU2565504C1. Автор: Виктор Степанович Дубровин,Алексей Михайлович Зюзин. Владелец: Частное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных объединений". Дата публикации: 2015-10-20.

FLEXIBLE MATERIAL FLOORING MITER DEVICE AND SYSTEM FOR FLEXIBLE MATERIAL FLOORING INSTALLATION

Номер патента: US20120000160A1. Автор: Herbert Robert R.,Foster Ernest D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Controlling Compressor of Vehicles

Номер патента: US20120000210A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING COMPRESSOR OF VEHICLES

Номер патента: US20120000211A1. Автор: Kwon Choon Gyu,KIM Jae Woong,LEE Chang Won. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Meter Devices and Methods

Номер патента: US20120000281A1. Автор: Vo Anh Nhat. Владелец: Dresser, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SAMPLING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120000296A1. Автор: WENG Yanwen. Владелец: SHENZHEN MINDRAY BIO-MEDICAL ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRASONIC SENSOR MODULE ATTACHING DEVICE AND ATTACHING METHOD

Номер патента: US20120000302A1. Автор: Inoue Satoru,MATSUMOTO Toru,Nishimoto Yukio. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR SEPARATING SURFACE LAYERS IN PRODUCTS OF THE FOOD INDUSTRY

Номер патента: US20120000331A9. Автор: Grabau Thomas. Владелец: NORDISCHER MASCHINENBAU RUD. BAADER GMBH + CO. KG. Дата публикации: 2012-01-05.

THERMAL DEVICE AND PHOTOVOLTAIC MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120000508A1. Автор: Yip Chui-Ling. Владелец: Du Pont Apollo Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000518A1. Автор: Tokioka Hidetada,ORITA Tae,YAMARIN Hiroya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

MASS FLOW CONTROLLER, MASS FLOW CONTROLLER SYSTEM, SUBSTRATE PROCESSING DEVICE, AND GAS FLOW RATE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120000542A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000570A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLDING DEVICES AND METHODS FOR USING THE SAME

Номер патента: US20120000571A1. Автор: Foscarota Valentino. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Fixing a Component in Position on a Component Carrier

Номер патента: US20120000601A1. Автор: Fessler-Knobel Martin,Huttner Roland. Владелец: MTU AERO ENGINES GMBH. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR STRIPPING A WAFER FROM A CARRIER

Номер патента: US20120000613A1. Автор: Thallner Erich. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR FORMING DOUBLE EMULSION DROPLET COMPOSITIONS AND POLYMER PARTICLES

Номер патента: US20120000777A1. Автор: Garrell Robin L.,Tucker-Schwartz Alexander K.,Shepherd Heather,Chatterjee Debalina. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD TO CONDUCT AN ELECTROCHEMICAL REACTION ON A SURFACE OF A SEMI-CONDUCTOR SUBSTRATE

Номер патента: US20120000785A1. Автор: Zahraoui Said,Descours Francis,Raynal Frederic. Владелец: ALCHIMER. Дата публикации: 2012-01-05.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

CABLE BARRIER POST ANCHORING DEVICE AND RELATED METHOD

Номер патента: US20120001037A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ADJUSTMENT DEVICE AND METHOD OF USING

Номер патента: US20120001053A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SENSING DEVICE AND IMAGE SENSOR MODULE THEREOF

Номер патента: US20120001054A1. Автор: Wang Wei Chung,Shen Chi Chih,Li Kuo Hsiung,Chen Hui Hsuan,Chuang Jui Cheng. Владелец: PIXART IMAGING INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, RADIOLOGICAL IMAGING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001081A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLE TRANSPORT COMPOSITIONS AND RELATED DEVICES AND METHODS (I)

Номер патента: US20120001127A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RESISTIVE RAM DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120001144A1. Автор: . Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001169A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FLEXIBLE SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001173A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001180A1. Автор: Yoshizumi Kensuke,YOKOI Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001182A1. Автор: Choi Jong-Hyun,Lee Dae-Woo. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFLECTIVE TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001188A1. Автор: HAYASHI Masami. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION REGION, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001198A1. Автор: Zhu Huilong,Yin Haizhou,Luo Zhijiong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001200A1. Автор: Yanagihara Manabu,Uemoto Yasuhiro,IKOSHI Ayanori,MORITA TATSUO. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Light Emitting Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001202A1. Автор: Horng Ray-Hua. Владелец: NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT-EMITTING DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001219A1. Автор: Park Kyungwook. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND LAMP

Номер патента: US20120001220A1. Автор: . Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT UNIT

Номер патента: US20120001221A1. Автор: . Владелец: LG INNOTEK CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE, AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE

Номер патента: US20120001222A1. Автор: CHOI Kwang Ki,MOON Ji hyung,LEE Sang Youl,SONG June O.,KIM Chung Song. Владелец: LG INNOTEK CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001226A1. Автор: . Владелец: Sanken Electric Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Forming the Same

Номер патента: US20120001229A1. Автор: Zhu Huilong,Liang Qingqing. Владелец: INSTITUTE OF MICROELECTRONICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREFOR

Номер патента: US20120001244A1. Автор: Yamazaki Shunpei,KOYAMA Jun,MURAKAMI Satoshi,Tanaka Yukio,KITAKADO Hidehito. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THEREOF

Номер патента: US20120001246A1. Автор: . Владелец: Micron Technology Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001247A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001250A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001252A1. Автор: Alsmeier Johann,Purayath Vinod Robert,Chien Henry,Matamis George,Lee Yao-Sheng,Kai James,Zhang Yuan. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001257A1. Автор: MURAKAWA Kouichi. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001260A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE MANUFACTURING METHOD, SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120001290A1. Автор: Sawada Ken. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING SOLID STATE IMAGING DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001292A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001300A1. Автор: Ito Takayuki,ISHIDA Tatsuya,Yoshino Kenichi,Naito Tatsuya. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120001304A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001310A1. Автор: Horiki Hiroshi,NISHINO MASANORI. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001311A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME

Номер патента: US20120001321A1. Автор: IMAMURA Tomomi,Natsuda Tetsuo,Nishijo Yoshinosuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001324A1. Автор: Watabe Hiroshi,AOKI Hideo,MUKAIDA Hideko,Fukuda Masatoshi,Koshio Yasuhiro. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method of Forming Compliant Stress Relief Buffer Around Large Array WLCSP

Номер патента: US20120001325A1. Автор: Shim Il Kwon,Chow Seng Guan,Lin Yaojian. Владелец: STATS CHIPPAC, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001331A1. Автор: . Владелец: KABUSHI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001332A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001333A1. Автор: HWANG Chang Youn. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001335A1. Автор: ENDO Yuta,TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

THREE DIMENSIONAL SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001345A1. Автор: Hwang Kihyun,YANG Junkyu,Choi Hanmei,Park ChanJin,Min Gyungjin,Yoo Dongchul,Kong Yoochul. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001346A1. Автор: SEO Dae-Young,KIM Doo-Kang. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Connection Devices And Male-Female Connection System Comprising Them

Номер патента: US20120001423A1. Автор: OLIVIER Stephane. Владелец: Millipore Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Connection Devices And Male-Female Connection System Comprising Them

Номер патента: US20120001424A1. Автор: . Владелец: Millipore Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS POWER SUPPLY SYSTEM, WIRELESS POWER TRANSMITTING DEVICE, AND WIRELESS POWER RECEIVING DEVICE

Номер патента: US20120001485A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120001490A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Generating Alternating Current

Номер патента: US20120001491A1. Автор: Greizer Frank,Laschinski Joachim,Engel Bernd,Cramer Guenther. Владелец: SMA Solar Technology AG. Дата публикации: 2012-01-05.

FLAT PANEL DISPLAY DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001534A1. Автор: KIM Tae-Woong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF ILLUMINATION

Номер патента: US20120001553A1. Автор: . Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

MOTOR CONTROL DEVICE AND OUT-OF-STEP DETECTING METHOD

Номер патента: US20120001584A1. Автор: MATSUI Takayuki,TAKADA Kazuo. Владелец: MINEBEA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

BATTERY CHARGER, VOLTAGE MONITORING DEVICE AND SELF-DIAGNOSIS METHOD OF REFERENCE VOLTAGE CIRCUIT

Номер патента: US20120001588A1. Автор: . Владелец: OKI SEMICONDUCTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus for Energizing a Protective Device, and Associated Method

Номер патента: US20120001764A1. Автор: Naiva Matthew Wilbur,Verheyen Mark Alan,Riley Joseph Daniel. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DIGITIZING A SIGNAL

Номер патента: US20120001783A1. Автор: Eklund Jan-Erik,Rosenbaum Linnéa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ANTENNA DEVICE AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE

Номер патента: US20120001821A1. Автор: ISHIZUKA Kenichi,KAWAHATA Kazunari,Nishida Hiroshi,NAKANO Shinichi. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DISPLAY DEVICE AND DISPLAY METHOD

Номер патента: US20120001833A1. Автор: Dobschal Hans-Juergen,Rudolph Guenter,Lindig Karsten. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING NOISE

Номер патента: US20120001859A1. Автор: . Владелец: Pantech Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

INPUT/OUTPUT DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001874A1. Автор: KUROKAWA Yoshiyuki,IKEDA Takayuki. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Display device and display method

Номер патента: US20120001877A1. Автор: Morii Hideki,Yanagi Toshihiro,Miyata Hidekazu. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DRIVING DEVICE AND DRIVING METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL, AND PLASMA DISPLAY APPARATUS

Номер патента: US20120001882A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001885A1. Автор: Kim Na-Young,Kang Ki-Nyeng,Park Yong-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPERATIONAL AMPLIFIER CIRCUIT, SIGNAL DRIVER, DISPLAY DEVICE, AND OFFSET VOLTAGE ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120001892A1. Автор: KOJIMA Tomokazu. Владелец: Panasonic Corporaton. Дата публикации: 2012-01-05.

Display Device and Arrangement Method of OSD Switches

Номер патента: US20120001942A1. Автор: ABE Masatoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DRIVING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120001946A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THEREOF

Номер патента: US20120001950A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG MOBILE DISPLAY CO. LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC DISPLAY DEVICE AND DISPLAY DRIVE CIRCUIT

Номер патента: US20120001956A1. Автор: Sato Yoshihisa. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING DEVICE AND PRINTING METHOD

Номер патента: US20120001973A1. Автор: Sano Tsuyoshi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING DEVICE AND PRINTING METHOD

Номер патента: US20120001974A1. Автор: Mano Takahiro. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL APPARATUS, IMAGE SENSING DEVICE, AND CONTROL METHODS THEREOF

Номер патента: US20120002060A1. Автор: KUSANAGI SUGURU. Владелец: CANON KABISHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PROCESSING DEVICE AND IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120002067A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Video Signal Interpolation Device, Video Display Device, and Video Signal Interpolation Method

Номер патента: US20120002105A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHTING DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120002117A1. Автор: Matsumoto Shinji. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSATL DISPLAY DEVICE AND TELEVISION SET

Номер патента: US20120002118A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC IMAGE DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002123A1. Автор: KANG Dongwoo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120002133A1. Автор: Yamazaki Shunpei,KOYAMA Jun,Hirakata Yoshiharu. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHTING DEVICE, DISPLAY DEVICE AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120002135A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

PLANAR ILLUMINATION DEVICE AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20120002136A1. Автор: NAGATA Takayuki,YAMAMOTO Kazuhisa,Itoh Tatsuo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120002142A1. Автор: Fujiwara Sayuri,Satoh Eiji,Asaoka Yasushi,Deguchi Kazuhiro,Tanimoto Kazunori,MATSUDA TAKAFUMI,MIKUMO KATSUHIRO. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

Spectral Device and Method for Controlling Same

Номер патента: US20120002201A1. Автор: Ishii Hiroyasu,Sawada Kazuaki,Nakazawa Hirokazu. Владелец: National University Corporation TOYOHASHI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL DETECTING DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT

Номер патента: US20120002215A1. Автор: TAKAHASHI Masaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND IMAGE SCANNING APPARATUS

Номер патента: US20120002248A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE READ DEVICE AND COPIER

Номер патента: US20120002252A1. Автор: Fujii Takashi,Kubo Hiroshi,Kosuga Yasuo,Nagano Tatsuaki,Morita Kenichiro,Akai Takeshi. Владелец: RICOH COMPANY, LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS

Номер патента: US20120002268A1. Автор: UCHIDA Masami. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SLIDE GLASS STORAGE DEVICE, CONVEYING DEVICE AND MICROSCOPE SYSTEM

Номер патента: US20120002277A1. Автор: Machida Yuichi,Suzuki Fumiyasu,Hirono Yu. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC WAVE GATHERING DEVICE AND SOLAR CELL MODULE HAVING THE SAME

Номер патента: US20120002291A1. Автор: Lee Shih-Chang,Hong Kai-Yi,Lo Wu-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC RECORDING AND REPRODUCTION DEVICE AND FLYING HEIGHT CONTROL METHOD

Номер патента: US20120002319A1. Автор: KONDO Masayuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

COOLING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002370A1. Автор: Ohsawa Kenji,Tsuruta Katsuya. Владелец: Molex Incorporated. Дата публикации: 2012-01-05.

HEAT PIPE TYPE COOLING DEVICE AND RAILCAR CONTROL EQUIPMENT USING THE SAME

Номер патента: US20120002373A1. Автор: KITAJIMA Hironori,SAKAYORI Hitoshi,SHIRAISHI Yuuzou. Владелец: HITACHI CABLE, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND STRUCTURE FOR DISSIPATING HEAT AWAY FROM A RESISTOR HAVING NEIGHBORING DEVICES AND INTERCONNECTS

Номер патента: US20120002375A1. Автор: Lin Jian-Hong,Lee Tzu-Li,TSAI CHIEN SHIH,Lin Bi-Ling,Wei Bor-Jou,PENG Chin Chuan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

DUSTPROOF STRUCTURE FOR SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE AND SLIDE TYPE ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120002390A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus for Indicating a Status of an Apparatus That Energizes a Protective Device, and Associated Method

Номер патента: US20120002391A1. Автор: Van Weelden Ronald Arlin. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CARRIER COMPRISING AT LEAST ONE SEMICONDUCTOR LUMINOUS DEVICE AND CARRIER SYSTEM

Номер патента: US20120002409A1. Автор: . Владелец: OSRAM AG. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT SOURCE, LIGHT SOURCE DEVICE AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120002410A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SOCKET DEVICE, LAMP DEVICE AND LIGHTING DEVICE

Номер патента: US20120002429A1. Автор: WATANABE Satoshi,Shimizu Keiichi,Osada Takeshi,Tanaka Toshiya,Osawa Shigeru,Hisayasu Takeshi,Otake Hirokazu,Kawano Hitoshi,Sakai Makoto. Владелец: TOSHIBA LIGHTING & TECHNOLOGY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT EMITTING DEVICE AND LUMINAIRE

Номер патента: US20120002435A1. Автор: Van Gorkom Ramon Pascal,Van Oers Denis Joseph Carel. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CONTROL METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120002457A1. Автор: KANDA Kazushige. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

INTERLEAVED MEMORY PROGRAM AND VERIFY METHOD, DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120002474A1. Автор: . Владелец: ROUND ROCK RESEARCH, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

TEST MODE CONTROL CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST MODE ENTERING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002494A1. Автор: Jo Jun-Ho,PARK Kyu-Min,KIM BYOUNGSUL,LEE Hakyong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL DISC, OPTICAL DISC MANUFACTURING METHOD, OPTICAL DISC RECORDING DEVICE AND OPTICAL DISC REPRODUCTION DEVICE

Номер патента: US20120002517A1. Автор: Yamaoka Masaru,Shoji Mamoru,Nishikiori Keiji,Usui Makoto,Moriya Mitsuro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL RECORDING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120002523A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION TERMINAL DEVICE, WIRELESS COMMUNICATION BASE STATION DEVICE, AND RESOURCE REGION SETTING METHOD

Номер патента: US20120002631A1. Автор: Nishio Akihiko,Nakao Seigo. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Wi-Fi Access Point Device and System

Номер патента: US20120002655A1. Автор: Bonnassieux Vincent,Martich Mark E.. Владелец: ORTRONICS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, TRANSMISSION DEVICE, AND RECEIVING DEVICE

Номер патента: US20120002661A1. Автор: Kubo Hiroshi,Nishimoto Hiroshi,Yamaoka Tomoya. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ENCODING DEVICE AND METHOD AND MULTIMEDIA APPARATUS INCLUDING THE ENCODING DEVICE

Номер патента: US20120002724A1. Автор: KIim Seong Hee. Владелец: CORE LOGIC INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

RECEIVER, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SIGNAL TRANSMISSION METHOD

Номер патента: US20120002771A1. Автор: . Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Grating production method, diffraction grating device, and radiation imaging apparatus

Номер патента: US20120002785A1. Автор: KANEKO Yasuhisa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING MOVEMENT OF OBJECT

Номер патента: US20120002842A1. Автор: MURASHITA Kimitaka,WATANABE Yuri,Fujimura Koichi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

DROWSINESS ASSESSMENT DEVICE AND PROGRAM

Номер патента: US20120002843A1. Автор: Tanaka Isahiko,KADOYA Akira,Omi Takuhiro,Yoda Takumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE-PROCESSING DEVICE AND IMAGE-PROCESSING METHOD, IMAGE-PICKUP DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20120002849A1. Автор: Tokuse Akira. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SIGNAL TRANSMISSION DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120002923A1. Автор: Nakano Yoshiaki,Song Xueliang,Yit Foo Cheong,Wang Shurong,Horiguchi Katsumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COUPLING DEVICE AND OPTICAL IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120002928A1. Автор: Irisawa Yuichiro. Владелец: TERUMO KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR SPLICING OPTICAL FIBERS, AND USE OF AN END PIECE IN A DEVICE FOR SPLICING

Номер патента: US20120002929A1. Автор: . Владелец: DIAMOND SA. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL WAVEGUIDE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREOF

Номер патента: US20120002931A1. Автор: Watanabe Shinya. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ILLUMINATION DEVICE AND METHOD FOR EMBEDDING DATA SYMBOLS IN A LUMINANCE OUTPUT

Номер патента: US20120002974A1. Автор: Wendt Matthias,Radermacher Harald Josef Günther,SCHENK Tim Corneel Wilhelmus,Kuppen Johan Wilhelmus Hermanus. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSFER DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120002996A1. Автор: TAKIGUCHI Toshiki,NAKANO Kuniaki,Izumi Hideshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVELOPING DEVICE AND IMAGE FORMING DEVICE

Номер патента: US20120003014A1. Автор: YOSHIDA Tomohisa,ONODA Wataru,NAKAYAMA Kanji,Haga Masayasu,Ito Noboru,Iguchi Yoshiyuki. Владелец: Konica Minolta Business Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of producing cleaning web, image-forming device and fixing device

Номер патента: US20120003020A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Pipeline Weighting Device and Method

Номер патента: US20120003049A1. Автор: Sprague Ian,McKay Charles Frederick. Владелец: CRC-EVANS CANADA LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FECAL SAMPLING DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20120003123A9. Автор: LaStella Vincent P.,Kupits Kenneth. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Manufacturing and Detecting Device and Method of Birefringent Lens Grating

Номер патента: US20120003380A1. Автор: Yu Bin. Владелец: Shenzhen Super Perfect Optics LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003426A1. Автор: . Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION FILM, DECORATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003433A1. Автор: . Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL SHEET LAMINATING METHOD, OPTICAL SHEET LAMINATING DEVICE AND PROGRAM USED THEREWITH, AND DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120003434A1. Автор: HIROYA Tsutomu,SHIGEMURA Koji. Владелец: NEC LCD TECHNOLOGIES, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOSENSITIVE COMPOSITION, PATTERN FORMING MATERIAL, AND PHOTOSENSITIVE FILM, PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FILM, LOW REFRACTIVE INDEX FILM, OPTICAL DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING DEVICE EACH USING THE SAME

Номер патента: US20120003436A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOSENSITIVE COMPOSITION, PATTERN FORMING MATERIAL AND PHOTOSENSITIVE FILM USING THE SAME, PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FILM, ANTIREFLECTION FILM, INSULATING FILM, OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120003437A1. Автор: Kodama Kunihiko,WADA Kenji,OHTA Masaki. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

GRAPHENE PROCESSING FOR DEVICE AND SENSOR APPLICATIONS

Номер патента: US20120003438A1. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

DECORATION FILM, DECORATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DECORATION DEVICE

Номер патента: US20120003441A1. Автор: CHEN CHIA-FU. Владелец: SIPIX CHEMICAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEPARATOR FOR AN ELECTRICITY STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120003525A1. Автор: . Владелец: TOMOEGAWA CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ENERGY STORAGE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003535A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

FUEL CELL DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120003556A1. Автор: Devoe Alan,Devoe Lambert. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FUEL CELL DEVICE AND SYSTEM

Номер патента: US20120003558A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003761A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Manufacturing Method of Semiconductor Film, Manufacturing Method of Semiconductor Device, and Manufacturing Method of Photoelectric Conversion Device

Номер патента: US20120003787A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro,KATO Erika. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120003797A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003805A1. Автор: Lee Tae-Jung,PARK MYOUNG-KYU,Bang Kee-In. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION BETWEEN A HOST DEVICE AND AN ACCESSORY VIA AN INTERMEDIATE DEVICE

Номер патента: US20120003934A1. Автор: Lydon Gregory T.,Tikalsky Terry,Ananny John,Laefer Jay S.. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION BETWEEN A HOST DEVICE AND AN ACCESSORY VIA AN INTERMEDIATE DEVICE

Номер патента: US20120003935A1. Автор: Lydon Gregory T.,Tikalsky Terry,Ananny John,Laefer Jay S.. Владелец: Apple Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR FACILITATING SHORT-RANGE WIRELESS COMMUNICATIONS BETWEEN A MOBILE WIRELESS DEVICE AND AN AUXILIARY SYSTEM

Номер патента: US20120003936A1. Автор: . Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Radio-frequency Processing Device and Method and Related Wireless Communication Device

Номер патента: US20120003947A1. Автор: CHEN Wan-Ming,HO Chien-Ting,Su Chih-Chin,Lai Chung-Chi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE COMMUNICATIONS DEVICE, AND METHOD OF UPDATING TELEPHONE DIRECTORY OF MOBILE COMMUNICATIONS DEVICE

Номер патента: US20120003963A1. Автор: ORMSON Richard. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR PLACING A CALL ON A SELECTED COMMUNICATION LINE

Номер патента: US20120003968A1. Автор: LAZARIDIS Mihal. Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO GAMING DEVICE AND METHOD OF WAGERING ON A VIRTUAL FOOTBALL GAME

Номер патента: US20120004018A1. Автор: Reeves,III Allen N.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR REPLICATING A USER INTERFACE AT A DISPLAY

Номер патента: US20120004033A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT-EMITTING MATERIAL COMPRISING ORTHOMETALATED IRIDIUM COMPLEX, LIGHT-EMITTING DEVICE, HIGH EFFICIENCY RED LIGHT-EMITTING DEVICE, AND NOVEL IRIDIUM COMPLEX

Номер патента: US20120004410A1. Автор: Igarashi Tatsuya,KIMURA Keizo,Nii Kazumi. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR TISSUE INVAGINATION

Номер патента: US20120004505A1. Автор: DeVRIES Robert B.,Sullivan Roy H.,Tassy,JR. Marc,Dimatteo Kristian,Kwan Tak,Shaw William J.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM INCLUDING AN IMPLANTABLE MEDICAL DEVICE AND ELECTRONIC VALVE INDICATOR AND LOCATOR DEVICE

Номер патента: US20120004538A1. Автор: Bertrand William J.,Speckman Lori C.. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

CUFF FOR BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120004560A1. Автор: KAWANO Atsushi,SANO Yoshihiko,FUJITA Reiji,Nishioka Takanori,Tanaka Takahide. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHOD FOR ACCELEROMETER-BASED CHARACTERIZATION OF CARDIAC SYNCHRONY AND DYSSYNCHRONY

Номер патента: US20120004564A1. Автор: Dobak,III John Daniel. Владелец: CARDIOSYNC, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE VISUALIZATION DEVICE AND METHOD VARIATIONS

Номер патента: US20120004577A1. Автор: . Владелец: Voyage Medical, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR CUTTING AND EVACUATING TISSUE

Номер патента: US20120004595A1. Автор: DUBOIS Brian R.,NIELSEN James T.,GORDON Alexander. Владелец: LAURIMED, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

SERIAL VALVES AND HUBS FOR TUBULAR DEVICES AND METHODS FOR MAKING AND USING THEM

Номер патента: US20120004622A1. Автор: . Владелец: AUST DEVELOPMENT, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Suture Straightening Device and Method

Номер патента: US20120004672A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TISSUE-ACQUISITION AND FASTENING DEVICES AND METHODS

Номер патента: US20120004677A1. Автор: Swope Bretton,Cole David,BALBIERZ DANIEL J.,Hambly Pablo R.,England Justen,Crews Samuel T.,Purdy Craig Arthur. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD, RETENTION DEVICE AND MEDICAL TREATMENT DEVICE FOR STABLE SUPPORT OF A NEEDLE TO BE INSERTED INTO A PATIENT

Номер патента: US20120004681A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Implantable Medical Device and Charging System Employing Electric Fields

Номер патента: US20120004708A1. Автор: . Владелец: BOSTON SCIENTIFIC NEUROMODULATION CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Tensioned Meniscus Prosthetic Devices and Associated Methods

Номер патента: US20120004725A1. Автор: Linder-Ganz Eran,Shterling Avraham,DANINO Amir. Владелец: Active Implants Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

EXPANDABLE SUPPORT DEVICE AND METHOD OF USE

Номер патента: US20120004726A1. Автор: GREENHALGH E. Skott,ROMANO John-Paul. Владелец: STOUT MEDICAL GROUP, L.P.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND PROCESS FOR RECOGNIZING AND GUIDING INDIVIDUALLY PACKAGED PRODUCTS WITH A CODE

Номер патента: US20120004763A1. Автор: Freudelsperger Karl. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GRIPPING DEVICE, TRANSFER DEVICE, PROCESSING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20120004773A1. Автор: . Владелец: SHIBAURA MECHATRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Task Management for Piloting an Aircraft

Номер патента: US20120004794A1. Автор: . Владелец: THALES. Дата публикации: 2012-01-05.

VEHICLE CONTROL DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING VEHICLE

Номер патента: US20120004801A1. Автор: Watanabe Takashi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHODS FOR USE OF A DYNAMIC CONE PENETROMETER FOR EVALUATING SOIL COMPACTION

Номер патента: US20120004848A1. Автор: Kinast John Arthur,Farrag Khalid A.,Todres H.A. (Alan). Владелец: Sandy Golgart Sales Inc. d/b/a SGS. Дата публикации: 2012-01-05.

SIGNAL EVALUATING DEVICE AND SIGNAL EVALUATING METHOD

Номер патента: US20120004877A1. Автор: Ueno Tatsuya. Владелец: YAMATAKE CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTION ANALYSIS DEVICE AND ACTION ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20120004887A1. Автор: Kawaguchi Kyoko,Tanabiki Masamoto. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Magnetic powder inspection method

Номер патента: RU2474815C1. Автор: Александр Иванович Пашагин,Виталий Евгеньевич Щербинин. Владелец: Учреждение Российской академии наук Ордена Трудового Красного Знамени Институт физики металлов Уральского отделения РАН (ИФМ УрО РАН). Дата публикации: 2013-02-10.

Flaw inspection method for silicon-on-insulator films

Номер патента: RU2256256C1. Автор: В.Д. Скупов,В.К. Смолин,А.Ю. Малков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство Российской Федерации по Атомной Энергии. Дата публикации: 2005-07-10.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR ASCERTAINING PRESSURE VALUES

Номер патента: US20120000292A1. Автор: Loidreau Maxime,LEPIDIS Polichronis. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001255A1. Автор: PARK JIN WON. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC BOOK READING DEVICE AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001872A1. Автор: Gong Bin. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Liquid Crystal Display Device And Method Of Manufacturing That

Номер патента: US20120004453A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Device and Method for Bone Imaging

Номер патента: US20120004536A1. Автор: Munro Chad. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Rail guiding device and refrigerator using it

Номер патента: RU2445559C1. Автор: Синити ХОРИИ,Хироки КАВАБАТА. Владелец: ПАНАСОНИК КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2012-03-20.

Apparatus for inspecting, adjusting and converging optical axes of channels of multichannel devices and broadband radiator in visible and infrared regions

Номер патента: RU2511204C2. Автор: Андрей Николаевич Подкатилин,Александр Юрьевич Чистяков. Владелец: Открытое акционерное общество "Швабе-Приборы". Дата публикации: 2014-04-10.

Device and method for producing short-wave radiation from gas- discharge plasma

Номер патента: RU2252496C2. Автор: В.М. Борисов,О.Б. Христофоров,А.Ю. Виноходов,Ю.Б. Кирюхин,А.В. Прокофьев,Уве Бруно Штамм. Владелец: Христофоров Олег Борисович. Дата публикации: 2005-05-20.

Cavitation fuel oil heating device and method of its operation

Номер патента: RU2390693C2. Автор: Виктор Сергеевич Бороздин,Сергей Валентинович Ворожейкин. Владелец: ЗАО НПФ "ЭнергоТрансСервис-ТСА". Дата публикации: 2010-05-27.

Device and method rotary-pressure drilling of wells

Номер патента: RU2364698C1. Автор: Геннадий Андреевич Кулябин,Владимир Вениаминович Долгушин,Малик Мансурович Касимов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тюменский государственный нефтегазовый университет". Дата публикации: 2009-08-20.

Drainage device and method of removing liquid from body's cavity

Номер патента: RU2322268C1. Автор: Михаэль ЛАРССОН. Владелец: Медела Холдинг Аг. Дата публикации: 2008-04-20.

Clarification method of tubes of gas air cooling device and device for its implementation

Номер патента: RU2338899C1. Автор: Владимир Григорьевич Соляник,Александр Петрович Подолян,Сергей Владимирович Пудрий,Анатолий Степанович Мандра,Николай Борисович Налесный,н Александр Петрович Подол,Андрей Анатольевич Мандра,ник Владимир Григорьевич Сол. Владелец: Дочерняя Компания "Укртрансгаз" Национальной Акционерной Компании "Нефтегаз Украины". Дата публикации: 2008-11-20.

Device and method of electromagnet therapy

Номер патента: RU2318551C1. Автор: Сергей Владимирович Ильичев,Андрей Валерьевич Бывших,Вадим Алексеевич Михайлов,Юрий Алексеевич Пахоменков. Владелец: Вадим Алексеевич Михайлов. Дата публикации: 2008-03-10.

Subway station and method of its construction (device and method named after yurkevich pb)

Номер патента: RU2505646C2. Автор: Павел Борисович Юркевич. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Инженерное бюро Юркевича". Дата публикации: 2014-01-27.

Device and method of placing and clearing flexible long towed antenna

Номер патента: RU2497710C1. Автор: Валерий Иосифивич Зархин,Андрей Викторович Шатохин,Владимир Леонидович Вяльбо. Владелец: Открытое акционерное общество "Концерн "Океанприбор". Дата публикации: 2013-11-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.