Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Pipeline inspection device

Номер патента: US12053807B2
Опубликовано: 06-08-2024
Автор(ы): Christopher J. Turner, Gareth Mueckl, Samuel J. Krohlow
Принадлежит: Milwaukee Electric Tool Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Pipeline inspection device

Номер патента: US20180169719A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-06-21.

Pipeline inspection device

Номер патента: EP3555704A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2019-10-23.

Pipeline inspection device

Номер патента: US20200030858A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Pipeline inspection device

Номер патента: US20210354178A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Pipeline inspection device

Номер патента: US20200030858A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

PIPELINE INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20180169719A1. Автор: Mueckl Gareth,Turner Christopher J.,Krohlow Samuel J.. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

Pipeline inspection device

Номер патента: US20210354178A1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Pipeline inspection device

Номер патента: EP3555704B1. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Cleaning module for a pipeline inspection gauge

Номер патента: US20230279984A1. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2023-09-07.

Deployment system for an upper bundle steam generator cleaning/inspection device

Номер патента: CA2182509C. Автор: Alan Brightman,Steve Jens,Augustus J. Ashton, Iii,Steven K. Ruggieri,Timothy J. Lovett. Владелец: Foster Miller Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Pipeline inspection system

Номер патента: US20230003330A1. Автор: Ung-Kyun Lee. Владелец: CATHOLIC KWANDONG UNIVERSITY INDUSTRY COOPERATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-01-05.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device from a volatile fluid storage tank

Номер патента: US11931612B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device from a volatile liquid storage tank

Номер патента: US11925824B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-03-12.

Method and apparatus for launching and recovering a remote inspection device while suppressing volatile vapor with foam

Номер патента: US12011626B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran,Troy L. STAIRES,Benjamin C. MOORE. Владелец: Phillips 66 Co. Дата публикации: 2024-06-18.

Fluid pipe inspection device having non-motorized displacement

Номер патента: AU2018356205B2. Автор: Emmanuelle Louise-Alexandrine Baron,Etienne Damerose,Aude Garda,Guillaume Binet,Benoit Collignon. Владелец: Suez International SAS. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspection device and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230228646A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Pipeline inspection robot with crisscross structure-changeable crawler belts and control method thereof

Номер патента: US20240353049A1. Автор: Bo Xu,Aiguo SONG,Huijun Li,Tianyuan MIAO,Qinjie JI,Shaohu Wang,Yuefeng Xu. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-24.

Speed control devices for a smart pipeline inspection gauge

Номер патента: US12055260B2. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2024-08-06.

An intelligent floating drainage pipeline inspection system

Номер патента: LU505923B1. Автор: Hongbin Gao. Владелец: Univ Henan Urban Construction. Дата публикации: 2024-06-28.

Unmanned aerial vehicle (UAV)-based intelligent anomaly identification method for petroleum pipeline inspection

Номер патента: US11353162B1. Автор: Yu Zhang,LIN Yue,Qiong Li,Jianjun He. Владелец: Chengdu Univeristy of Technology. Дата публикации: 2022-06-07.

Hub connection for pipeline inspection device

Номер патента: US11892373B2. Автор: Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Speed control devices for a smart pipeline inspection gauge

Номер патента: CA3075860A1. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2019-03-21.

Speed control devices for a smart pipeline inspection gauge

Номер патента: EP3682215A1. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2020-07-22.

Speed control devices for a smart pipeline inspection gauge

Номер патента: US20190078721A1. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2019-03-14.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Inspection device for detection of foreign substances

Номер патента: RU2529667C1. Автор: Мариус Михаэль ХЕРМАНН,Юрген ХЕРМАНН,Клаас ФРИТШЕ,Альфред ДРЕНГУЙС. Владелец: Кхс Гмбх. Дата публикации: 2014-09-27.

X-ray inspection device for drone, x-ray inspection device employing drone, and x-ray generator device for drone

Номер патента: US20200209172A1. Автор: BO Wang,Xiaojun Liu,Shuichi Suzuki,Norio Saito,Wenkang Guo. Владелец: Tsukuba Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Inspection device, plate-like object manufacturing device, inspection method, and plate-like object manufacturing method

Номер патента: AU2019268718B2. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Repair welding system, repair welding method, inspection device, and robot control device

Номер патента: EP3991901A1. Автор: Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN,Toshinari Mohri. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Cutting position designation device, cutting position designation method, cutting system, and x-ray inspection device

Номер патента: EP4424480A3. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Shingo KONDO,Daisuke Kudo,Yunosuke MASAOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspection device

Номер патента: RU2322661C2. Автор: Вольфганг ШОРН,Мартин ВАЙСГЕРБЕР,Карстен БУХВАЛЬД,Ральф ПОЛЬ. Владелец: Кхс Машинен-Унд Анлагенбау Аг. Дата публикации: 2008-04-20.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Molding thickness inspection device, molding thickness inspection system including the same, and molding thickness inspection method

Номер патента: US20240200931A1. Автор: Chang-Beom Kim,Ji Yeon Son,Hyun Chul KANG,Yong Kwi Lee,Young Seog YOON. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Cup for a pipeline inspection gauge

Номер патента: US11204300B2. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2021-12-21.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4374217A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240210333A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: US20230394643A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4373675A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Kneader internal inspection device

Номер патента: US20170225359A1. Автор: Eiji Takahashi,Hodaka Miura,Toshihide Fukui,Chitaka Manabe. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240300234A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240326405A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Automatic inspection device for corrugated paperboard machine, and corrugated paperboard machine

Номер патента: US09452585B2. Автор: Hiroshi Ota,Michio Suzuki. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2016-09-27.

Image inspection device

Номер патента: US20200072759A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Image inspection device

Номер патента: EP3617809A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Feeder operation inspection device

Номер патента: EP4027762A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-07-13.

Feeder operation inspection device

Номер патента: US20220332514A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351B1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2007-05-02.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US12036622B2. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Pallet inspection device

Номер патента: US12037203B2. Автор: Wataru Kiyokawa. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Image inspection device

Номер патента: US20210385415A1. Автор: Ying-Nan Chen,Yi-Ning Lee. Владелец: Wen Chin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: EP3771308A1. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2021-01-27.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351A1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2005-11-02.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Repair welding inspection device and repair welding inspection method

Номер патента: US12078600B2. Автор: Kazuki HANADA,Takamichi KOMATSU,Ryutaro MONDEN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Handheld inspection device

Номер патента: EP4281254A1. Автор: Kennet Andersson,Johan RYMAN. Владелец: Bill Andersson Fordonslyftar Ab. Дата публикации: 2023-11-29.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: US12017861B2. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Control mechanism for transformer in-situ inspection device

Номер патента: US09926052B2. Автор: Gregory A. Cole,Gregory F. Rossano,William Eakins,George Zhang,Daniel T. Lasko. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-03-27.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Container inspection device

Номер патента: US09823262B2. Автор: Osamu Yoshida,Chizuka Kai,Kunimitsu Toyoshima. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2017-11-21.

Train traffic control inspection device, train traffic control inspection method and program

Номер патента: US09751544B2. Автор: Yasuyuki Suzuki,Kenji Takao,Noritaka Yanai,Toshihiko Niinomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection device of vehicle driver assistance systems

Номер патента: US09545966B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-01-17.

Door closure inspection device and method for automobile

Номер патента: GB2456117A. Автор: Yasuo Okumura,Koji Fujiwara,Ryo Taniguchi,Takanobu Fujii,Kuniaki Nishimura,Kazuhiko Sumida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-08.

Device for controlling an inspection device for a wind turbine

Номер патента: CA3055106C. Автор: Johannes Rosen. Владелец: Innogy SE. Дата публикации: 2021-01-19.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US11900642B2. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Method and apparatus of controlling an automatic inspection device

Номер патента: US4070561A. Автор: Nishizawa Shunichi,Igarashi Taenzi,Fujishima Shigeru. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1978-01-24.

Member inspection device and member repairing method

Номер патента: US20190041199A1. Автор: Yoichiro Ara,Yoshihiro Koketsu,Yuuko Ujihara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device, ptp packaging machine, and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: EP3614127A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Inspection Device with Integrated X-ray and Weighing Device

Номер патента: US20240027370A1. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus and method for treating plastic preforms with inspection device

Номер патента: US11999093B2. Автор: Florian Geltinger. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-04.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: EP4321445A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Inspection device arrangement for an elevator rope

Номер патента: EP1362001A1. Автор: Vlad Zaharia,Pedro S. Baranda. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2003-11-19.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: SE2251043A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-09.

Inspection device and method for checking an object produced by sintering for defects

Номер патента: US11983862B2. Автор: Sven Crull,Shahrooz Sadeghi Borujeni,Yasin Bayzidi. Владелец: Volkswagen A En Gesellschaft. Дата публикации: 2024-05-14.

Machine learning model generation device, machine learning model generation method, program, inspection device, inspection method, and printing device

Номер патента: US11820132B2. Автор: Masayuki UKISHIMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: WO2024052463A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection device, PTP packaging machine and calibration method of inspection device

Номер патента: US12007331B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Inspection device, blister packaging machine, and blister sheet manufacturing method

Номер патента: US11808714B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: US20240040230A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Appearance inspection device and blister packaging machine

Номер патента: US20200182799A1. Автор: Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Inspection device, PTP packaging machine and inspection method

Номер патента: US11981469B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspection device for determining insertion of connector, and robot device having inspection device

Номер патента: US20210003535A1. Автор: Yoshitake Furuya,Takahide MINE. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20240092353A1. Автор: Masao Nakagawa,Toshimichi Takahashi. Владелец: National Agency For Automobile and Land Transport Technology NALTEC. Дата публикации: 2024-03-21.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP1930732A1. Автор: Naoki c/o TOKYO ELECTRON AT LIMITED IKEUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Wiring harness security inspection device

Номер патента: US5365176A. Автор: Doyle E. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-11-15.

Robotic inspection device

Номер патента: CA2944946A1. Автор: Maurício GALASSI,Ramon Romankevicius Costa,Gustavo Medeiros Freitas,Pal Johan From,Guilherme Pires Sales De Carvalho,Anders Royroy,Peter Wilhelmus Jacques Derks. Владелец: Petroleo Brasileiro SA Petrobras. Дата публикации: 2017-04-14.

Inspection device for collector head and inspection method of collector head

Номер патента: US20200049752A1. Автор: Kotaro Nakamura,Kenichi Kitazawa,Hiroaki Shintani,Yuichi AHIKO. Владелец: Koshin Seikosho Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

Image inspection device, image formation device, image inspection method, and non-transitory recording medium storing a computer readable program

Номер патента: US20200250805A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-06.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Piezoelectric head inspection device and droplet jetting device

Номер патента: US20090244152A1. Автор: Sunao Ishizaki. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: US20230304947A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspection device of winding appearance of tape and improvement processing method for the same

Номер патента: US20040021096A1. Автор: Nobuyuki Tada,Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-02-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230226646A1. Автор: Hyun Soo Kim,Seong-Gyu Hwang,Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO,Hyun Beom JEONG. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: EP4206665A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Air-bag inspection device and method

Номер патента: US20180096538A1. Автор: Hiroshi Saito,Hiroshi Miwa,Keiichiro Maekawa,Taisuke YOSHIDA,Takafumi Murakoshi,Masamori Umegae. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-05.

Inspection device of winding appearance of tape and improvement processing method for the same

Номер патента: US20050145742A1. Автор: Nobuyuki Tada,Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-07.

Inspection device for loose objects, such as tablets

Номер патента: CA2514315C. Автор: Minne Jorritsma. Владелец: Dijkstra Vereenigde Bedrijven BV. Дата публикации: 2011-09-27.

Core inspection device, core inspection system, and core inspection method

Номер патента: US11953425B2. Автор: Hiroki Matsuoka,Takashi Hanai. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Electronic label inspection device

Номер патента: US20220205927A1. Автор: LU LIU,Xiaobo Lin,Zhenhua Meng. Владелец: Guangzhou Pulisi Technology Co, Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Rail inspection device

Номер патента: US20230339523A1. Автор: HongJin Kim,Won Young Kim,Bo Seung HWANG,Hyuk Jae Sung,In Kyeong HWANG,Hyungsik UM,Sangjune Bae,Byeong Hyeon Lim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Tape inspection device and secondary battery manufacturing system having the same

Номер патента: US20220172345A1. Автор: Sang Min Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Inspection device

Номер патента: US20230274408A1. Автор: Naoto Kobayashi. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Graphene-based non-destructive inspection device and related method

Номер патента: SG10201803835YA. Автор: BRELATI Antonio,Del Giudice Rosario,ROMANO Tommaso. Владелец: Leonardo SpA. Дата публикации: 2018-12-28.

Charging function inspection device

Номер патента: US20230173943A1. Автор: Hoo Taeg LEE. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: CA3179935A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2022-02-24.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: EP4200086A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2023-06-28.

Support for transporting containers in a microwave inspection device and a device and method of inspection of containers using the support

Номер патента: WO2022038430A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: G.D S.p.A.. Дата публикации: 2022-02-24.

Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate

Номер патента: US11801672B2. Автор: Eric Lingier,Alexander Wilhelm. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Photographing apparatus and inspection device

Номер патента: US11985399B2. Автор: SHUANG Wang,Hua Zhang,Haoran Wang,Zhaowei Liu,Jialong Li,Yonglong Li,Yongcan CHEN. Владелец: Sichuan Energy Internet Research Institute EIRI Tsinghua University. Дата публикации: 2024-05-14.

Image inspection device, printing device including the same, and image inspection method

Номер патента: US20230088442A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US20200249206A1. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: EP4035816A1. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-03.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: CA3154156A1. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Inkjet head inspection device

Номер патента: US20060066683A1. Автор: Kohzo Hara. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-30.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240073348A1. Автор: Tatsuya Shirasaka. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Baggage inspection device

Номер патента: US20230080948A1. Автор: Masaki Takahashi,Yoshiyuki Ikemoto,Tetsuo Murakami,Eishi Kawasaki,Yutaka Hasebe,Kiyotaka Uchida,Kazuaki Takayama,Chihaya OGAWA. Владелец: Nippon Signal Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190283910A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Component pre-inspection device for hybrid irregular component insertion robot

Номер патента: US20240075624A1. Автор: Jangseon Hwang,Harkdo Maeng. Владелец: Power Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Component pre-inspection device for hybrid irregular component insertion robot

Номер патента: EP4346347A1. Автор: Jangseon Hwang,Harkdo Maeng. Владелец: Power Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20240077387A1. Автор: Toshimichi Takahashi,Keisuke Tada,Morio ONAI. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: EP4224150A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device for the inspection of two-dimensionally extending metal objects

Номер патента: US20230122236A1. Автор: Michael Schulte. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection device, ptp packaging machine and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: US20200047934A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A3. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-11-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: CA3028563C. Автор: Manabu Watanabe,Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Fujio Terai,Hitoshi Katayama,Yuichiro Gunji. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

Screw inspection device

Номер патента: US4457622A. Автор: Michio Kato,Hidekazu Hoshino,Hayao Takahashi. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 1984-07-03.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: MY171995A. Автор: CHAKI Hiroaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-11.

Surface inspection device

Номер патента: GB2348492A. Автор: Masao Watanabe,Akiko Okubo. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2000-10-04.

Inspection device and processing system

Номер патента: US20230335421A1. Автор: Takeshi Sakamoto,Iku Sano,Takafumi Ogiwara. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Wire rope inspection device and wire rope inspection system

Номер патента: EP4212868A1. Автор: Yoshio Takami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Defect inspection device

Номер патента: US11790512B2. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Sualab Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Film inspection device

Номер патента: US20180100809A1. Автор: Hiroki KITOH. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Elevator rope inspection device and method for inspecting an elevator rope

Номер патента: EP3617123A1. Автор: Mitsuru Kato,Hideki Miyazawa,Yusuke Watabe,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2020-03-04.

Elevator rope inspection device and method for inspecting an elevator rope

Номер патента: US20200071130A1. Автор: Mitsuru Kato,Hideki Miyazawa,Yusuke Watabe,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2020-03-05.

Image inspection device and saving processing method for captured image for inspection based on recoding resolution

Номер патента: US11769243B2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Inspection device, printer, and method to inspect images accurately

Номер патента: US11902476B2. Автор: Hiroto Takahashi. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Thermocycling inspection device and chip holder

Номер патента: US11958052B2. Автор: Hiroshi Mitsutake,Ryoko Aso,Ryuichi Sekizawa. Владелец: METABOSCREEN CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Wire rope inspection device and wire rope inspection system

Номер патента: US20230273155A1. Автор: Yoshio Takami. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Workforce augmenting inspection device

Номер патента: US11754507B2. Автор: Christopher Lee Colaw,Andrew Timothy Modjeski,Spencer Tull Meyer,Alexander McLean Tramm,II Jean-Pierre Njock. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Vehicle inspection device and article transfer system having the same

Номер патента: US20220058897A1. Автор: Shin Young Cheong,Tae In Kim,Jong Seon JOEN,Hyun Seong MOON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-24.

Nozzle inspecting device in fluid discharge apparatus, fluid discharge apparatus, and nozzle inspection method

Номер патента: US8147028B2. Автор: Keigo ITO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230109456A1. Автор: Takeshi Sakamoto,Iku Sano,Takafumi Ogiwara. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-04-06.

Die Coater Inspection Device and Method

Номер патента: US20240033774A1. Автор: Myung Han Lee,Jeong Yong Lee,Duck Joong Yun,Do Hyun Lee,Woo Jin An,Eui Seok Sa. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US20240082944A1. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Vehicle inspection device and vehicle inspection system

Номер патента: US20210092331A1. Автор: Takahiro Iijima,Naoki Kato,Akira Terauchi,Hiroyuki Tomosugi,Kayoko Fukasawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-25.

Defect inspection device, defect inspection method, and method for producing separator roll

Номер патента: US20180159102A1. Автор: Yasuyuki Kondo,Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A3. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Image inspection device and saving processing method for captured image

Номер патента: EP3886041A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Workforce Augmenting Inspection Device

Номер патента: US20220317053A1. Автор: Christopher Lee Colaw,Andrew Timothy Modjeski,Spencer Tull Meyer,Alexander McLean Tramm,II Jean-Pierre Njock. Владелец: Lockheed Martin Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Submersible inspection device and redundant wireless communicaiton with a base station

Номер патента: US20180157251A1. Автор: Biao Zhang,Daniel Lasko,Gregory A. Cole,Thomas Fuhlbrigge,William Eakins,Harshang Shah,Andrew Salm,Luiz CHEIM,Carlos Morato,Poorvi Patel. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-06-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190283995A1. Автор: Tomio Ono,Kazuhiro Itsumi,Yasuharu Hosono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: US20230334649A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-10-19.

Oil filter inspection device having interchangeable adapters and drive pin assembly having detents

Номер патента: US20080264839A1. Автор: Antonio Suarez. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Charging protocol inspection device and operating method therefor

Номер патента: CA3226710A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

A pipeline inspection vehicle

Номер патента: ZA814395B. Автор: J Foster. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1982-07-28.

Improved pipeline inspection vehicles

Номер патента: AU525454B1. Автор: John Laurence Foster. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1982-11-04.

Pipeline pig and method of pipeline inspection

Номер патента: AU8913791A. Автор: Hugh Edmund Murray Hunt,Uwe Gerhard Kopke. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-06-25.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: US09708902B2. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2017-07-18.

Bridge inspecting device and method

Номер патента: US8830315B2. Автор: Ping-Hung Lin,Shih-Chung Kang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2014-09-09.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US20220050058A1. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2022-02-17.

Borehole inspection device and system with a self-cleaning system and method for loading explosives in boreholes

Номер патента: CA2823896C. Автор: Jorge Lopez Rodriguez. Владелец: MaxamCorp Holding SL. Дата публикации: 2018-08-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3875891A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20210104035A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Method for pipeline inspection

Номер патента: US09404903B2. Автор: Thomas James Batzinger,Jeffrey Earle Sutherland,Ruediger Bauernschmitt,Achim Hugger,David Martin Paige. Владелец: PII Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Eddy current pipeline inspection device and method

Номер патента: NZ503358A. Автор: John Ferris Burd,James Edward Ramshaw. Владелец: Bg Transco Plc. Дата публикации: 2001-09-28.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Pipeline inspection gauge (pig) alert system

Номер патента: US20140102205A1. Автор: Ahmd Abdallah Al-Jassem Qanaei. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-04-17.

Pipelines inspection device containing centered head

Номер патента: RU2343336C2. Автор: Ив СУЛЯБАЙ,Жоэль БРЭН,Ив СУЛЯБАЙ (FR),Жоэль БРЭН (FR). Владелец: Компани Женераль де Матьер Нюклеэр. Дата публикации: 2009-01-10.

Use of survival modeling methods with pipeline inspection data for determining causal factors for corrosion under insulation

Номер патента: EP2847719A1. Автор: Richard Bailey,Eric Ziegel,Kip Sprague. Владелец: BP Exploration Operating Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-18.

Use of survival modeling methods with pipeline inspection data for determining causal factors for corrosion under insulation

Номер патента: WO2013169239A1. Автор: Richard Bailey,Eric Ziegel,Kip Sprague. Владелец: BP Exploration Operating Company Limited. Дата публикации: 2013-11-14.

Apparatus for pipeline inspection and method of assembly

Номер патента: US20120175537A1. Автор: Raymond Paul Harvey,Leon Joseph Fussell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-07-12.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA2821100C. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Pipeline inspection device with enhanced image control

Номер патента: US20230300299A1. Автор: Christopher J. Turner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Operating a pipeline inspection gauge

Номер патента: WO2023230347A1. Автор: Imran Sharif Vehra. Владелец: Halliburton Energy Services, Inc.. Дата публикации: 2023-11-30.

Pipeline inspection devices and methods

Номер патента: US11732833B2. Автор: Fereydun Tabaian. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-22.

Operating A Pipeline Inspection Gauge

Номер патента: US20230383891A1. Автор: Imran Sharif Vehra. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Pipeline inspection device for heating network of thermal power plant

Номер патента: LU504915B1. Автор: LEI Liu,Hongbo Liu,Yi Miao,Liqun Wang,Jia CUI,Jiahong Gong,Zaixin Cui,Shengxi Zhang,Caiqi Cong. Владелец: Huaneng Power Int Inc Dalian Power Plant. Дата публикации: 2024-02-15.

Pulsed eddy current pipeline inspection system and method

Номер патента: CA2630050C. Автор: Andrew May,Changting Wang,Yuri Plotnikov,Shridhar Nath. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2015-08-04.

Ultrasonic pipeline inspection system and method

Номер патента: CA3080826A1. Автор: Andy Bain,Ibrahim Abu-Aisha. Владелец: NDT Global Corporate Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Ultrasonic pipeline inspection system and method

Номер патента: US20210003532A1. Автор: Andy Bain,Ibrahim Abu-Aisha. Владелец: NDT Global Corporate Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Planar array pipeline inspection tool

Номер патента: US20190219541A1. Автор: Paul Lott,Yuan Ji. Владелец: Exxam Systems LLC. Дата публикации: 2019-07-18.

System of pipeline inspection gauge for deepwater pipeline

Номер патента: MY185854A. Автор: Mohd Hashim Fakhruldin,Azmi Md Haniffa Mohamad. Владелец: Institute Of Tech Petronas Sdn Bhd. Дата публикации: 2021-06-14.

Methods and systems for tracking a pipeline inspection gauge

Номер патента: US20230102764A1. Автор: Seyed Ehsan Jalilian,Yuhong Liu,Arne Dankers,Mehri OWJIMEHR. Владелец: Hifi Engineering Inc. Дата публикации: 2023-03-30.

Speed control system for a pipeline inspection vehicle

Номер патента: US4388871A. Автор: Ian Smith,John C. Braithwaite. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1983-06-21.

Pipeline inspection tool with deformable body

Номер патента: CA3159478A1. Автор: Ed Maynard,Roger L. Poe,Joseph Alan Morton. Владелец: TDW Delaware Inc. Дата публикации: 2021-07-15.

Pipeline inspection tool with deformable body

Номер патента: WO2021142061A1. Автор: Ed Maynard,Roger L. Poe,Joseph Alan Morton. Владелец: TDW Delaware, Inc.. Дата публикации: 2021-07-15.

Pipeline inspection apparatus and method using two different ultrasound wavemodes

Номер патента: CA2711894C. Автор: David Paige. Владелец: PII Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Power systems and methods for a pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA3026751C. Автор: Christoph Boeld,Francesco Papini,Alexander Felix Fiseni. Владелец: Baker Hughes Energy Technology UK Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Structure condition inspection device

Номер патента: RU2748789C1. Автор: Александр Николаевич Бирюков,Юрий Александрович Бирюков,Дмитрий Владимирович Бирюков,Евгений Олегович Добрышкин,Николай Александрович Бирюков,Алексей Валентинович Бондарев,Владимир Михайлович Бабенко,Артур Андреевич Пресняков,Матвей Русланович Раздобутько,Елена Юрьевна Тощева,Данил Алекандрович Василец. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулёва" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2021-05-31.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection system

Номер патента: US20240272102A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Inspection device of display device and inspection method of display device

Номер патента: US09835565B2. Автор: Wal Jun Kim,Changhyun Ryu,JoongYoung RYU,Seung-Young BAECK,Deok joo LIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection device with optical watermarks

Номер патента: RU2739522C1. Автор: Бернхард ХОЙФТ,Вольфганг ПОЛЬСТЕР,Микаэль УНГЕР. Владелец: Хойфт Зюстемтехник Гмбх. Дата публикации: 2020-12-25.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Method of manufacture of a dry-drawing stand for checking of operability of in-line inspection devices at a test pipeline test site

Номер патента: RU2653138C1. Автор: Алексей Анатольевич Крюков,Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть - Диаскан" (АО "Транснефть - Диаскан"). Дата публикации: 2018-05-07.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Traditional chinese medicine inspection device of composite millimeter-wave radar

Номер патента: US20230338109A1. Автор: ZHANG LEI,Yang Jie,Wang Bin,Liu Jia,Liu Baoyan,Wen Tiancai. Владелец: INSTITUTE OF INFORMATION ON TRADITIONAL CHINESE MEDICINE CHINA ACADEMY OF CHINESE MEDICAL SCIENCES. Дата публикации: 2023-10-26.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US11507007B2. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-22.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

System, apparatus and method for centralized management of security inspection devices via field bus network

Номер патента: US09779054B2. Автор: Hui Ding,Jinyu Zhang,Hu Tang,Fei Fang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Moving inspection device, moving inspection method, and method for manufacturing steel material

Номер патента: US12044658B2. Автор: Masaki Kobayashi,Koji Yamashita,Kouyou Miyawaki. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: EP4443142A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: US20240310293A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Substrate foreign matter inspection device and substrate foreign matter inspection method

Номер патента: US20230186458A1. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Kazuyoshi Kikuchi,Naohiro Zaima. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: AU2021322676B2. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Self-propelled inspection device and equipment inspection system

Номер патента: US20220397908A1. Автор: Kazuo Ono,Yuichi Igarashi,Takehito Ogata,Noriyasu HASEJIMA,Kazuya Murotani,Yuta Esaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-15.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Visual inspection device

Номер патента: US09986212B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Semiconductor inspection device including a counter electrode with adjustable potentials used to obtain images for detection of defects, and inspection method using charged particle beam

Номер патента: US09846133B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-19.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Visual inspection device

Номер патента: US09693024B2. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R. F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Method of inspecting covering material, inspection device, method of producing covering material and covering material

Номер патента: RU2665353C1. Автор: Дайсуке ВАТАНАБЕ,Нацуки СИРАСАВА,Хисаси НИСИДА. Владелец: Дай Ниппон Принтинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-29.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: CA3218147A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2022-11-10.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Surface inspection device, shape correction device, surface inspection method, and shape correction method

Номер патента: US20220390222A1. Автор: Shuichi Tanaka,Noriyuki Sadaoka,Tatsuhiko Kawakami,Chiharu TACHIKAWAME. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US10922805B2. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-02-16.

Microneedle array imaging device, microneedle array imaging method, microneedle array inspection device, and microneedle array inspection method

Номер патента: US20190188844A1. Автор: Kazuo Onishi,Takashi Murooka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

LIGHT DETECTION AND RANGING (LiDAR)-BASED INSPECTION DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20230108333A1. Автор: Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Robotic inspection devices for simultaneous surface measurements at multiple orientations

Номер патента: US12061173B2. Автор: CHASE David,José APARICIO,Kevin Y. Low,Juan Roberto Mendoza Mora. Владелец: Gecko Robotics Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Glossiness inspection device, glossiness inspection method, and image forming apparatus

Номер патента: US20220011703A1. Автор: Atsushi Takahashi,Hitoshi Asano,Yumiko Izumiya,Akimasa Ishikawa,Hirotada Seki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

A borescope inspection device and a method for performing non-destructive testing with the borescope inspection device

Номер патента: WO2024153463A1. Автор: Carlo Giolli,Remo Ribichini,Erica SCRINZI,Luca AMMANNATO,Frederico MANGIAVACCHI. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie - S.r.l.. Дата публикации: 2024-07-25.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240319110A1. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Optical transmission path inspecting system, and optical transmission path inspecting device

Номер патента: US12111224B2. Автор: Toshiyuki Miyamoto,Kenichiro Otsuka,Tetsufumi Tsuzaki,Yoshifumi Hishikawa,Gouichi FUKUMOTO. Владелец: Sumitomo Electric Optifrontier Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device for rotating electric machine and inspection system for rotating electric machine

Номер патента: EP4092886A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daisuke Mizuno,Yasuki Hattori,Naoya Kadota,Daichi GOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-23.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Matching process device, matching process method, and inspection device employing same

Номер патента: US09619727B2. Автор: Yuichi Abe,Wataru Nagatomo,Hiroyuki Ushiba. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: US09538677B2. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-01-03.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

X-ray inspection device and method for determining degree of consumption of target of x-ray tube in x-ray inspection device

Номер патента: US20190380193A1. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Intraocular pressure inspection device

Номер патента: US20240130614A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Chao-Ting Chen,Shao Hung Huang,Chi-Yuan Kang,Fong Hao Kuo,Yu-Chung TUNG. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: US20240219354A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and holder for sonic inspection device

Номер патента: EP4397971A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Hirofumi Ueno,Syuhei SUZUKI,Kohei Nara,Takashi KUMATA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4394457A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Inspection device of plugged honeycomb structure and inspection method of plugged honeycomb structure

Номер патента: US20100238281A1. Автор: Kensuke Tanaka,Akihiro Mizutani,Takayoshi Akao. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2010-09-23.

Image inspection device for inspecting image, image forming apparatus for forming image, and program for inspection device

Номер патента: US12020424B2. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-25.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240098363A1. Автор: Yosuke Tanaka,Shoji Matsuda,Yasuhiro Okuno,Kotaro Nakamoto,Sukeyuki Shinotsuka,Shunsuke Torigai,Daiki KUREI,Koki Isobe. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Inspection device

Номер патента: US20240201104A1. Автор: SHINJI Ueyama,MITSUNORI Numata,Kenji Suzuki,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Portable inspection device

Номер патента: US20230262342A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Portable inspection device

Номер патента: WO2022079690A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240103196A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Double-skin cryogenic tank equipped with at least one inspection device

Номер патента: US20240093838A1. Автор: Benoit Penven. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-03-21.

Utilization of visual auxiliary inspection devices for vehicle servicing system and method

Номер патента: US20060106630A1. Автор: Wang-Ying Lo. Владелец: DRACO PHOTOELECTRON Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Handheld inspection device and method of inspecting an infrastructure having a structure wall supported into material

Номер патента: CA3175708A1. Автор: Peter Marc CABOT. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: US20090151481A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: AU2022361726A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Alex BLONDECK,Louise Emma BEN-NATHAN. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: CA3233156A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Lousie Emma BEN-NATHAN,Alex BLONDECK. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Operator guided inspection device, system, and method

Номер патента: US20220178836A1. Автор: Thomas Alton Bartoshesky,Jonathan Douglas Williams,Robert Fuelep Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Security inspection device

Номер патента: US11747510B2. Автор: Feng Wang,Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device

Номер патента: US11774374B2. Автор: Takashi Sugata,Ryoji Kodama. Владелец: Nanosystem Solutions Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US9664592B2. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Cervical inspection device, methods of control thereof, and cervical sampling brush

Номер патента: EP4412533A1. Автор: Mark HELMICH,Gary Badham,Alex BLONDECK,Louise Emma BEN-NATHAN. Владелец: Lbn Innovations Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection device for inspecting the position of trademark on integrated circuit

Номер патента: US20030111724A1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chen-Ping Su,Yung-Yuan Lee. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-19.

Image inspection device, console, and radiation imaging system

Номер патента: EP4029450A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Inspection device

Номер патента: US20180203041A1. Автор: Toshiyuki Sawada,Satoshi Iwashima. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20240118223A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Masaya Yamamoto,Yoshihiro Satou,Ayumi TOMIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Drug Capsule Appearance Inspection Device

Номер патента: US20230236133A1. Автор: Ku Hyun Lee. Владелец: Sltg Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Robotic inspection device for tank and pipe inspections

Номер патента: US20210131604A1. Автор: Rashid D. Al Hajri,Amer D. Hajri,Fikri A. Suwailah,Kazem H. Al Musabbeh. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: US20240295532A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member for sonic inspection device

Номер патента: EP4425171A1. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Inspection device for body to be inspected and inspection device of foreign matters in liquid filled in transparent container

Номер патента: US6882422B2. Автор: Hiromi Yamazaki,Tadahiro Katane,Hirohisa Fukuda. Владелец: Hitachi Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2005-04-19.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Inspection device for sub-element of reticle pod

Номер патента: US20240295461A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Side surface inspection device of cylindrical battery

Номер патента: US20240345000A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Cover opening inspection device for gearbox spline shaft and secondary sun gear of wind turbine generator system

Номер патента: ZA202309792B. Автор: ZHENG Li,Jianguo Wang,Wenbin Ma,Shibin Li,Fengqi WANG,Lianwu Zhang. Владелец: Huaneng Tongliao Wind Power Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Visual inspection device, visual inspection method, image generation device, and image generation method

Номер патента: US20240362771A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Shinichi Inoue,Hideaki Onozuka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection device

Номер патента: US20240346818A1. Автор: Shinichi Matsubara,Takafumi Miwa,Yuta Imai,Sayaka KURATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

Aerial optical fiber cable inspection method, aerial optical fiber cable inspection device, and program

Номер патента: US12031858B2. Автор: Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tatsuya Okamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Property inspection devices, methods, and systems

Номер патента: US09970881B1. Автор: James P. Hillman,Cynthia Blasing,Damien Brunet,Dan D. Cable,Adolfo J. Fernandez,Jeffrey A. Kreth,Shane Osborne,Robert A. Pacheco,Renee Sokolowski. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2018-05-15.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Stereoscopic image inspection device, stereoscopic image processing device, and stereoscopic image inspection method

Номер патента: US09883162B2. Автор: Kentaro Matsumoto,Yuki Kobayashi,Yasunobu Ogura,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US09752996B2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Visual inspection device

Номер патента: US09736342B2. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Roof inspection devices, methods, and systems

Номер патента: US09706173B1. Автор: James P. Hillman,Cynthia Blasing,Damien Brunet,Dan D. Cable,Adolfo J. Fernandez,Jeffrey A. Kreth,Shane Osborne,Robert A. Pacheco,Renee Sokolowski. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2017-07-11.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Inspection device

Номер патента: US09599659B2. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection device

Номер патента: US09568437B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: EP4350342A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

X-ray inspection device

Номер патента: US20240219324A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Vulnerability inspection device, vulnerability inspection method, and vulnerability inspection program

Номер патента: US20220261482A1. Автор: Takuya Watanabe,Ayako Hasegawa,Mitsuaki AKIYAMA,Eitaro Shioji. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-08-18.

Multi-caliber dimensional inspection device for an assembled cartridge

Номер патента: US20180164085A1. Автор: Paolo MANDELLI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-14.

Inspecting device

Номер патента: US11852470B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317065A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: EP4400873A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Allowance setting system, substrate inspection device, allowance setting method, and substrate inspection method

Номер патента: US12041724B2. Автор: Keiichi Ono,Kazuya Kotani,Mitsutaka Inagaki,Yuta YOKOI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3734261A1. Автор: Hideaki Takahashi,Naoki Matsushima,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Shiro Umegaki,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono,Shigematsu Asano,Sei Yoshihara,Katsutaka Horada,Ryotaro YAMAGUCHI,Akifusa Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US12031947B2. Автор: Akiko Hirao,Yutaka Nakai,Tomio Ono,Tsuyoshi Kobayashi,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Centralizer for Internal Pipe Inspection Device

Номер патента: CA2128619A1. Автор: Joseph R. Carapezza,Linda T. Ystueta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-02-03.

Visual inspection device

Номер патента: US20210381990A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2021-12-09.

Semiconductor inspection device

Номер патента: US20170336442A1. Автор: Yuya SAEKI,Misuzu NISHIMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Mura inspection device for compressing mura data through dimensionality reduction, operating method, and display system including the same

Номер патента: US20230148119A1. Автор: Se Whan NA,Pil-Seung Heo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-05-11.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316490A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Medication container inspection device

Номер патента: WO2024054113A1. Автор: Joren Ide VAN DER HORST,Jim KIEFT,Joseph Roeland HENDRIKS. Владелец: Luo Automation B.V.. Дата публикации: 2024-03-14.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Surface profile inspection device

Номер патента: US20120147919A1. Автор: Toshihiko Yoshikawa,Masataka Toda,Masaru HISANAGA. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Leak inspection device, leak inspection method, and leak inspection program

Номер патента: US20150253216A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Masatake Takahashi,Soichiro TAKATA,Shigeki Shinoda,Junichiro Mataga. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: WO2004013543A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: Al.P. S.R.L.. Дата публикации: 2004-02-12.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US12047665B2. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Inspection device for wiring of an integrated circuit

Номер патента: US6577151B1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chia-Min Chuang,Chen-Ping Su,Chon-Tsai Yang. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-10.

Inspecting device

Номер патента: US20220136816A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2022-05-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Inspection device, inspection system, intelligent power module, inspection method, and computer program product

Номер патента: US20190219628A1. Автор: Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Surface inspection device

Номер патента: US20090079983A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-03-26.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Inspection device for glass substrate

Номер патента: US20130049785A1. Автор: Wen-Da Cheng. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: EP4067884A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317064A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20100182603A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-22.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: US20240183793A1. Автор: Hisaji Murata,Yoshinori Satou,Yuya Sugasawa,Jeffry NAINGGOLAN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device

Номер патента: US20230288327A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Inspection Device

Номер патента: US20160103187A1. Автор: Kenji Tsubosaka,Tetsuo Noguchi,Hiroo Yoshikawa,Yusuke Itoh. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Inspection device

Номер патента: US20200365364A1. Автор: Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Hikaru Koyama,Atsuko SHINTANI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-11-19.

Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Yasuhiro Yoshitake,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Image inspection device, console, and radiographic system

Номер патента: US20220198663A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Inspection device

Номер патента: US10002740B2. Автор: Takeshi Murakami,Yasushi Toma,Kenji Watanabe,Kenji Terao,Masahiro Hatakeyama,Kenichi Suematsu,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-06-19.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Shutter system and inspection device

Номер патента: EP4224148A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Optical inspection device for surface of reticle pod and optical inspection method for surface of reticle pod

Номер патента: US20240295830A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection method, classification method, management method, steel material production method, learning model generation method, learning model, inspection device, and steel material production equipment

Номер патента: US20240282098A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Contact inspection device

Номер патента: US20240248117A1. Автор: Jung Min Lee,Suk Ju Kang,Eun Su Jun,Byungsu KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Optical inspection device

Номер патента: US12092582B2. Автор: Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection device for display apparatus

Номер патента: US20240302258A1. Автор: Gabtae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Portable fault location and inspection device for high voltage equipment based on acoustic wave method

Номер патента: AU2021103450A4. Автор: Yi Jiang,Jinbo Zhang,Jiajia SONG. Владелец: CHANGZHOU CAMPUS OF HOHAI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-08-12.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection device for oral tissues or deposits, and inspection auxiliary member

Номер патента: US20240285171A1. Автор: Michiya Fujiki,Ryutaro ASHIDA,Shota Somekawa,Sayaka MATSUZAWA. Владелец: Shinsei Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Non-Destructive Inspection Device

Номер патента: US20240295511A1. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Massato TAKAMURA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-09-05.

Foreign matter inspecting device

Номер патента: EP4446730A1. Автор: Masahiro Yamaguchi,Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US12125243B2. Автор: Kiyotaka Tsuchibuchi,Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-22.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: US20240361487A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Continuity inspection device

Номер патента: US09989577B2. Автор: Miyoshi MABUCHI. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Spectrum-inspection device

Номер патента: US09972651B2. Автор: Wei-Ko Wang. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Optical axis angle inspection device

Номер патента: US09970751B2. Автор: Takayuki Ogawa,Tatsuya Sakai,Yoshitaka Hirai,Akira Sakamoto,Hirotaka Itoh. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection device

Номер патента: US09863991B2. Автор: Shinji Matsumoto,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Guided inspection of an installed component using a handheld inspection device

Номер патента: US09852500B2. Автор: Robert J. Scheuerman,Rick F. Rourke. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Contact inspection device

Номер патента: US09759744B2. Автор: Kentaro Tanaka. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Inspection device

Номер патента: US09683915B2. Автор: Yuuki Ogata. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Shape inspection device

Номер патента: US09625353B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection device for painted surface of vehicle

Номер патента: US09546963B2. Автор: Jinho Seok,Sang Ki Hwang. Владелец: Digital Imaging Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspecting device, method for changing threshold, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09544447B2. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection device with vertically moveable assembly

Номер патента: US09535089B2. Автор: Greg Olmstead,Gary Mark Gunderson. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Semiconductor inspection method, semiconductor inspection device and manufacturing method of semiconductor element

Номер патента: US09508611B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Yuki Mori,Natsuki Tsuno,Toshiyuki Ohno,Hiroya Ohta,Hirotaka Hamamura,Hiroyuki Okino,Renichi Yamada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Visual inspection device including a moveable display

Номер патента: US09473749B2. Автор: David A. Selby,Scott Schneider,Matthew J. Mergener,Steven W. Hyma,Corey J. Dickert. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Solder print inspecting device

Номер патента: US09471972B2. Автор: Yosuke Kamioka. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Nondestructive inspection device using alternating magnetic field, and nondestructive inspection method

Номер патента: US09453817B2. Автор: Kunihiko Nakamura,Gijun Idei. Владелец: Dainichi Machine and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Analysis device, specimen production device, inspection device, operation method for specimen production device, and operation method for inspection device

Номер патента: EP4306631A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-17.

Analysis Device, Specimen Production Device, Inspection Device, Operation Method for Specimen Production Device, and Operation Method for Inspection Device

Номер патента: US20240183870A1. Автор: Sakiko Narikawa,Megumi Mizuno,Naomi Ishii. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Constitutive device quality determination server, inspection system, inspection system terminal device, and inspection device

Номер патента: US11930599B2. Автор: Hiroshi Murakami,Kazumi Hoshikawa. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Vehicle inspection device

Номер патента: US20200096607A1. Автор: Yasuhiro Okuno,Kenichiro Kurai,Kazuyuki Fukamachi,Michiaki Okubo,Kazumori Sakai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Container liquid leak inspection device

Номер патента: NZ622023B2. Автор: Toshiya Kobayashi,Toshiaki Iizuka,Takuya Sakurai,Kosuke Tamura. Владелец: SUNTORY HOLDINGS LIMITED. Дата публикации: 2016-03-30.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: AU2022327644A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-02-29.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: EP4099610A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US12003624B2. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Quantum cryptographic communication system, key management inspection device, key management inspection method, and computer program product

Номер патента: US20220393864A1. Автор: Yoshimichi Tanizawa,Mari Matsumoto,Kazuaki Doi,Toshiki NAKASHIMA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Method for inspecting a tank, sluice device and arrangement comprising a tank, a sluice device and an inspection device

Номер патента: CA3228620A1. Автор: Matthias Grote,Berry KRIJBOLDER. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-02-16.

Recipe creation device for use in semiconductor measurement device or semiconductor inspection device

Номер патента: US10984143B2. Автор: Yoshihiro Ota,Hiromi Fujita,Toshikazu Kawahara,Shigeki SUKEGAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Improvements in and relating to mount inspecting devices

Номер патента: GB755393A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1956-08-22.

Inspection Device for Inspecting a Building or Structure

Номер патента: US20230073689A1. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2023-03-09.

Portable non-destructive inspection device and support casing therefor

Номер патента: US6112593A. Автор: Shigenori Aoki,Shigeru Miwa,Takenori Hiroki,Tohru Miyata,Hajime Mizunoya,Seigo Kikuchi. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2000-09-05.

Light source device and camera inspection device using same

Номер патента: US20230231088A1. Автор: Ji Hyun Yun. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US11428673B2. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-30.

Index selection device, information processing device, information processing system, inspection device, inspection system, index selection method, and index selection program

Номер патента: US20240005477A1. Автор: Koki TACHI. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-04.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Electrical characteristic inspection device for semiconductor device and electrical characteristic inspection method for semiconductor device

Номер патента: US11828786B2. Автор: Takaya Noguchi,Yasushi Hisaoka,Sumito Ogata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Radiation Inspection Device

Номер патента: GB2617981A. Автор: LIU Lei,HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,Ji ZHENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Wafer containing cassette inspection device and method

Номер патента: US20100074514A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Takeki Kogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-25.

Seam inspection device

Номер патента: US10947663B2. Автор: Koji Hiraoka,Kimiko Fujie. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2021-03-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: US20240161287A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A2. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Underwater inspection device and filtering method of its attitude sensor

Номер патента: US20200393419A1. Автор: HUI Li,Pengxiang LI. Владелец: Hainan University. Дата публикации: 2020-12-17.

Positioning device, hole inspection device, positioning method and hole inspection method

Номер патента: US20200378749A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Inspection device, control method and control apparatus for the same

Номер патента: US20190295241A1. Автор: Yu Gu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Seam inspection device

Номер патента: US20190284750A1. Автор: Koji Hiraoka,Kimiko Fujie. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device for inspecting a building or structure

Номер патента: US12002193B2. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Inspection device, packaging sheet manufacturing device, and inspection method

Номер патента: US11994477B2. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Container liquid leak inspection device

Номер патента: NZ622023A. Автор: Toshiya Kobayashi,Toshiaki Iizuka,Takuya Sakurai,Kosuke Tamura. Владелец: Suntory Holdings Ltd. Дата публикации: 2015-12-24.

Inspection device

Номер патента: EP4007480A1. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-06-01.

Electronic component carrying device and electronic component inspection device

Номер патента: US20180080982A1. Автор: Masami Maeda,Daisuke Kirihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Visual inspections device, method of manufacturing and program the same

Номер патента: US20210341394A1. Автор: Hideki Wada. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A3. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-06-06.

Device and method of improved measurements by means of inspection device

Номер патента: RU2566605C2. Автор: Гарри А. КРАНЕНДОНК,Лоренс К. МЮРРЭЙ. Владелец: Лайфскен, Инк.. Дата публикации: 2015-10-27.

Road inspection device for checking vehicle-mounted instrument for correct road tall

Номер патента: RU2210110C2. Автор: Андреас ВИДЛЬ,Рональд БАРКЕР. Владелец: Маннесманн Аг. Дата публикации: 2003-08-10.

Method and system for steering an insertion tube of a video inspection device

Номер патента: US9404871B2. Автор: James Jonathan Delmonico. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-08-02.

Inspection method and inspection device

Номер патента: EP2772920A2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-09-03.

Light distribution inspection device, light distribution inspection method, endoscope system, and storage medium

Номер патента: US20220361731A1. Автор: Yasuo Sasaki,Hiroyuki Kamee. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Inspection device of display device, method of inspecting mother substrate for display device, and display device

Номер патента: US20160363612A1. Автор: Satoru Tomita,Nobuyuki Ishige. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2016-12-15.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US11960246B2. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2024-04-16.

Intelligent inspection devices

Номер патента: US20200090410A1. Автор: Junsoo Han,Yonghwan EOM,Cholok Han,Younghun YANG,Junseong JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-03-19.

Inspection device for masks for semiconductor lithography and method

Номер патента: US11867642B2. Автор: Heiko Feldmann,Holger Seitz,Thomas Zeuner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-01-09.

Blister-strip inspection device

Номер патента: US11830180B2. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Blister Partners Holding Bv. Дата публикации: 2023-11-28.

Driving device and inspection device

Номер патента: AU2022231255A1. Автор: WEI Ren,PENG Wang,Qian Huang,Shuai LIU,Zhen Fu,Minyong GU,Zaifeng LI. Владелец: Beijing Tianma Intelligent Control Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Inspection device for masks for semiconductor lithography and method

Номер патента: US20210156809A1. Автор: Heiko Feldmann,Holger Seitz,Thomas Zeuner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2021-05-27.

Endoscope fluorescence inspection device

Номер патента: EP3876813A1. Автор: Mark Jackson,Tuan Nguyen,Nicholas G. BROMILEY,Huyen Bui,Joshua J. Korth,Mer Win CHEONG. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2021-09-15.

Blister strip inspection device

Номер патента: CA2984064C. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Hmgeb Holding BV. Дата публикации: 2023-08-22.

Blister-strip inspection device

Номер патента: US20240087110A1. Автор: Gijsbert Olivier Van Schelven. Владелец: Blister Partners Holding Bv. Дата публикации: 2024-03-14.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Manufacturing method of semiconductor device, inspection device of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20180277449A1. Автор: Yu Muto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Visual inspection device

Номер патента: CA2717776C. Автор: Paul Fry,Scott Schneider,Rick Gray,Raymond Wai-Man Chan,Desmond Wai-Nang Tse,Errol John U. Badajos,Derek Chiu-Hing Chow,Hugues Marie R.F. Sanoner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9151669B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-06.

Inspection device for heterogeneous structures

Номер патента: GB2428477A. Автор: David Richard Andrews. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-31.

Mounting inspection device

Номер патента: EP3048439A1. Автор: Mikio Nakajima,Mitsutaka Inagaki. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US20220236232A1. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Rotatable inspection device for defect detection

Номер патента: WO2020234786A8. Автор: Gilles Santi,Marc Lany,Frederic Monnier,Bernard Revaz,Alain BERTHOUD,Julien HUBLEUR. Владелец: Sensima Inspection Sàrl. Дата публикации: 2021-06-24.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A3. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Inspection device

Номер патента: US20230314471A1. Автор: Masaki Noguchi. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Optical inspection device and method

Номер патента: EP3821235A1. Автор: Bertram Adriaan van der Zwan,Sjoerd Oostrom,Bart Gerardus SPEET. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2021-05-19.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A2. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20220012867A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US11373292B2. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-06-28.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: GB2620182A. Автор: Murphy Christopher,CORLEY Gavin,KIERSEY Simon. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Inspection device, packaging machine, and package inspection method

Номер патента: US11933742B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180113165A1. Автор: Yoichi Sakamoto,Takayuki Hamada,Nobuyuki Takita. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-04-26.

Inspection system and inspection device

Номер патента: US20230196875A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US20200211169A1. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Backdoor inspection device, user device, system, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277083A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Image sensor inspection device

Номер патента: EP2080061A2. Автор: Walter Parkola,Martin J. Wood. Владелец: Delkin Devices Inc. Дата публикации: 2009-07-22.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: US20230280146A1. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2023-09-07.

Semiconductor sample inspection device and inspection method

Номер патента: US11927626B2. Автор: Toshiki Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection device, inspection method of semiconductor substrate, manufacturing method of semiconductor substrate, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20220336293A1. Автор: Tamio Matsumura,Shunichi Watabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Cable inspection device and cable inspection method

Номер патента: EP4170330A1. Автор: Kenta Kato,Yuichi Yoshimura,Yoshimasa Ikeda,Takao Hashiguchi,Hirokazu Kitagawa,Yoshie OTAKE,Maki Mizuta. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-04-26.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20190079025A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Shape inspection device, processing device, height image processing device using characteristic points in combination with correcetion reference regions to correct height measurements

Номер патента: US12000688B2. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Internal inspection device for determining a length of a tubular good

Номер патента: AU2021322676A1. Автор: Sebastien Petit,Alastair BRODIE,Lucas Kling E Silva,Nicolas WILBERT,Nestor MEDEIROS. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2023-03-02.

Image sensor inspection device

Номер патента: US20110090491A1. Автор: Walter Parkola,Martin J. Martin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-21.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: Masaaki Komori,Katsuo Oki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: US20240230515A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-07-11.

Magnetic system of scanner-inspection device

Номер патента: RU2680103C2. Автор: Анатолий Аркадиевич Марков. Владелец: Анатолий Аркадиевич Марков. Дата публикации: 2019-02-15.

Ultrasonic inspection device with linear scanning and ultrasonic inspection method with linear scanning

Номер патента: RU2690063C1. Автор: Сецу ЯМАМОТО,Дзун СЕМБОСИ,Адзуса СУГАВАРА,Кентаро ЦУТИХАСИ,Масару ОЦУКА. Владелец: Тосиба Энерджи Системс Энд Солюшнс Корпорейшн. Дата публикации: 2019-05-30.

Inspection device for inspecting the dimensions of an object

Номер патента: US5351410A. Автор: Lucien Hainneville. Владелец: Societe Industrielle de Liaisons Electriques SA. Дата публикации: 1994-10-04.

Actuatable visual inspection device

Номер патента: US8836937B2. Автор: Christopher Edward Thompson,Thomas James Batzinger,Matthew Stephen Gutschow. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-16.

System for mobile device cradle and tube gripper of non-destructive testing inspection device

Номер патента: CA2844160A1. Автор: Kevin Andrew Coombs,Joshua Lynn Scott,Gerard Frederick Beckhusen. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-13.

Blood inspection device

Номер патента: CA2646721A1. Автор: Masaki Fujiwara,Toshihiro Akiyama,Toshiki Matsumoto,Keisuke Matsumura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Miniature air gap inspection device

Номер патента: CA2264382C. Автор: Kenneth J. Hatley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-10-09.

Pipe inspection device

Номер патента: CA2914772C. Автор: Jakob KESSELBERG. Владелец: VRETMASKIN EL & MEKANIK AB. Дата публикации: 2019-02-26.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: WO2017202535A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2017-11-30.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11933934B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: EP4306972A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US11953314B2. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Inspection device, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20190279349A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideaki Okano,Takeshi Morino,Masataka Shiratsuchi,Yoshinori Honguh. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-09-12.

Skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: US20240000374A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Pressure point inspection device

Номер патента: US20140109683A1. Автор: Hao Jin,Xiaoxin Zhang,Junjie Huang,Jungmao Tsai,Huifang Duan,Bingcheng Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-24.

Image inspection device, computer-readable recording medium storing a program, and image forming device

Номер патента: US11825036B2. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection device for tubular good with ultrasonic sensors

Номер патента: WO2024017753A1. Автор: Lucas Kling E Silva,Claudio CAMERINI. Владелец: VALLOUREC OIL AND GAS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: CA3205211A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Image inspection device, computer-readable recording medium storing a program, and image forming device

Номер патента: US20240040045A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-02-01.

Image inspection device and method

Номер патента: US20190005634A1. Автор: Kuo-Kai HUNG,Chun-Neng Chan,Pin-Cheng Kung. Владелец: Noporvis Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-03.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: EP4067812A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: US20230035817A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2023-02-02.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: EP4350343A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11768312B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Hui Meng,Chunguang ZONG,Xuping Fan,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device

Номер патента: US11977036B2. Автор: Makoto Nakatani,Akihiro Maenaka,Yoshinori TARUMOTO,Hironori TSUTSUMI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Marking inspection device and marking device for transparent edible objects

Номер патента: US20240053277A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Marking inspection device on transparent edible body and marking device

Номер патента: EP4293345A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: AU2023204075A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20240085380A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Defect and appearance inspection device for photovoltaic panels

Номер патента: AU2020101507A4. Автор: Yong Wu,Huachao LI. Владелец: Suzhou Ju Neng Image Inspection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Imaging device, bump inspection device, and imaging method

Номер патента: US20200166334A1. Автор: Takeya Tsukamoto,Takashi Miyasaka,Alexsandr JUK,Alain Ross,Shigeya KIKUTA. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: CA3207889A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Inspection device

Номер патента: US20220198636A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Hosiery inspection device and method

Номер патента: WO2003079756A3. Автор: Michael Faircloth. Владелец: Michael Faircloth. Дата публикации: 2003-11-27.

Hosiery inspection device and method

Номер патента: WO2003079756A2. Автор: Michael Faircloth. Владелец: Sara Lee Corporation. Дата публикации: 2003-10-02.

Nondestructive inspecting device, and nondestructive inspecting method

Номер патента: US20230393082A1. Автор: Kunihiro Fujita,Takaoki TAKANASHI,Yoshie OTAKE,Chihiro Iwamoto. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-12-07.

Electric connection inspection device, and manufacturing method and electric connection method for semiconductor device

Номер патента: GB2619415A. Автор: Mori Yuki,KONISHI Kumiko,MIKI Hiroshi,SAGAWA Masakazu. Владелец: Hitachi Power Semiconductor Device Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Inspection device

Номер патента: EP3800468A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Yoichi Yamamoto,Jun Ikeda,Daisuke Kudo,Futoshi Yurugi,Haruhiko Komori,Michihiko TODORI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-07.

Method, System and Inspection Device for Securely Executing Control Applications

Номер патента: US20240219879A1. Автор: Daniel Schneider,Axel Pfau,Rainer Falk,Stefan Pyka,Christian Peter Feist,Franz Sperl. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-07-04.

Optical inspection device for optical performance test of display device and optical inspection method using the same

Номер патента: US12025571B2. Автор: HEE YOUNG LEE,Gil Yeong PARK,Min Kyoung JUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: AU2022270948A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-11-23.

Automotive fuel tank inspection device

Номер патента: US20050162643A1. Автор: Thomas Karpen. Владелец: Everest Vit Inc. Дата публикации: 2005-07-28.

Airway inspection device

Номер патента: GB2421087A. Автор: Simon Barry,DUNCAN Bradley,Paul Borkowski. Владелец: ROYAL FREE HAMPSTEAD NHS TRUST. Дата публикации: 2006-06-14.

Liquid crystal display panel inspection device and method for manufacturing same

Номер патента: US5933018A. Автор: Hiroto Komatsu. Владелец: Shin Etsu Polymer Co Ltd. Дата публикации: 1999-08-03.

Oral inspection device

Номер патента: US4872838A. Автор: Wade Canter,Kimberly Canter,Shawn Canter,Chip Canter. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-10-10.

Fuel cell assembly and inspection device

Номер патента: CA2657182C. Автор: Kazuhiro Watanabe. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2011-06-21.

Defect Inspection Device and Defect Inspection Method

Номер патента: US20220317058A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Surface state inspecting device for inspecting the state of parallel first and second surfaces

Номер патента: US4999511A. Автор: Michio Kohno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1991-03-12.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Inspection device for tubular good with ultrasonic sensors

Номер патента: EP4310493A1. Автор: Lucas Kling E Silva,Claudio CAMERINI. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-01-24.

Handheld fastener removal inspection device

Номер патента: WO2024026299A1. Автор: James Becker,Mervyn Rudgley,William Palleva,Dominick MAMMOLITO. Владелец: Perfect Point EDM. Дата публикации: 2024-02-01.

A wireless intelligent remote inspection device for pressurized systems

Номер патента: WO2024018380A1. Автор: Deepali Mittal. Владелец: Deepali Mittal. Дата публикации: 2024-01-25.

Non-destructive inspection device and method of structural parts of an aircraft

Номер патента: EP4257969A1. Автор: Carlos Miguel Giraldo,Jose Luis SANCHO GUTIERREZ. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2023-10-11.

Handheld fastener removal inspection device

Номер патента: US20240027360A1. Автор: James Becker,Mervyn Rudgley,William Palleva,Dominick MAMMOLITO. Владелец: Perfect Point EDM. Дата публикации: 2024-01-25.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

EUV mask inspection device using multilayer reflection zone plate

Номер патента: US11898970B2. Автор: Dong Gun Lee. Владелец: Esol Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Electronic component lead inspection device

Номер патента: US6727713B1. Автор: Dong-Sik Jang,Jong-Ju Choi. Владелец: ViewWell Co Inc. Дата публикации: 2004-04-27.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4298997A1. Автор: Christopher Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Ray inspection device and target inspection method

Номер патента: GB2619880A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Inspection device and method for capturing inspection image

Номер патента: US11877063B2. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

X-ray inspection device

Номер патента: US20180122526A1. Автор: Koji Omori,Daiki Kataoka. Владелец: Anritsu Infivis Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-03.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program

Номер патента: CA3115746C. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Ray inspection device, and method for inspecting target

Номер патента: GB2620536A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20220005176A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-06.

Inspection device, image forming apparatus, and program for inspection device

Номер патента: US20230281798A1. Автор: Tatsuya Nakano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-09-07.

Portable noninvasive inspection device

Номер патента: US20160249809A1. Автор: Mang Ou-Yang,Jeng-Ren Duann,Yung-Jhe Yan,Ting-Wei Huang,Sing-Tsung Li,Jin-Chern Chiou,Yung-Jiun Lin,Chin-Siang Yang,Yao-Fang Hsieh,Ming-Hsui Tsai,Shuen-De Wu,Zheng-Lin He. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2016-09-01.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Biological tissue inspection device and method therefor[

Номер патента: EP3888533A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-10-06.

Image inspection device, image forming apparatus, and image inspection method

Номер патента: EP3787272A1. Автор: Hiroaki Kodaira,Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-03-03.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US20140125373A1. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Image inspecting device and image forming apparatus incorporating the image inspecting device

Номер патента: US11800037B2. Автор: Satoshi Nakayama,Tatsuya Ishii,Tohru Matsumoto,Kohta AOYAGI,Kimiharu Yamazaki,Ryosuke Ebinuma,Ryoh ISHITSUKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Surface inspection method using mold surface inspection device

Номер патента: US11733685B2. Автор: Sun Kyu Lee,Dae Gweon KOH,Jin Hyuk HONG,Han Ul KIM,Dinuka Ravimal Ranawaka Arachchige. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-08-22.

Inspection area setting method for image inspecting device

Номер патента: US9269134B2. Автор: Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2016-02-23.

Inspection device

Номер патента: US20150355100A1. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.

Inspection Device and Inspection Method Using Inspection Device

Номер патента: US20230288493A1. Автор: Atsushi Miyazaki,Keiji Nishimura. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Fluid visual inspection device

Номер патента: US20110100138A1. Автор: Yao-Sung HOU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-05.

Inspection position identification method, three-dimensional image generation method, and inspection device

Номер патента: US11835475B2. Автор: Yosuke Yamamoto,Takuma Hirayama. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Image inspection device, image forming system, and storage medium

Номер патента: US20240012595A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-11.

Visual inspection device for objects made of soft, flexible, flat material, especially textiles

Номер патента: AU4947893A. Автор: Klaus Mauder. Владелец: Klaus Mauder. Дата публикации: 1994-03-15.

Inspection device for substrate deformation at high temperatures and inspection method for substrate deformation at high temperatures using the same

Номер патента: US20140152980A1. Автор: Dong Yong Kim,Tae Yoon Kim,Suk Jin Ham,Mi Yang KIM,Gyu Seok KIM,Hee Suk CHUNG,Yong Choon PARK. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.

Can lid inspection device, camera position adjustment method, and camera positioning jig

Номер патента: US11898964B2. Автор: Toshio Kogure. Владелец: Showa Aluminum Can Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240159694A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Wafer inspection device

Номер патента: US20130147504A1. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-06-13.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Inspection devices and related systems and methods

Номер патента: US20190257799A1. Автор: Jeremy D. Palmer,Ronald G. Mellus,Edwin Dean S. Oba. Владелец: Northrop Grumman Innovation Systems LLC. Дата публикации: 2019-08-22.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Ultrasonic inspection device, ultrasonic inspection method, and program

Номер патента: US20240036010A1. Автор: Masayuki Kobayashi,Kaoru Sakai,Natsuki SUGAYA,Koutaro Kikukawa. Владелец: Hitachi Power Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Backdoor inspection device, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277079A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Inspection device for the quality control of rod-shaped articles

Номер патента: US20230393160A1. Автор: Eugenio Navacchia,Ivano Montoleone. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS SA. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection device for cooling plate

Номер патента: US20240019236A1. Автор: Ki Young Kim,Sang Do Lee,Sung Joo Kim,Sung Gye Park,Tae Moon KWON. Владелец: Do Lim Industry Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Optical inspection device

Номер патента: US20070070528A1. Автор: Chien-Fu Chen,Ming-Chich Chung,Ken Yen,Walong Sheu,Yan-Gu Lai,Ace Lin,Chiung-Hui Chen,Hsien-Chung Chiu. Владелец: Micro Digital Automation Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Obstacle sensor inspection device and method

Номер патента: US20230305162A1. Автор: Kenya Sumida. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Radiation inspection device

Номер патента: US20240069240A1. Автор: Zheng Ji,LEI Liu,Yuan Ma,Yu Hu,Shangmin Sun,Chunguang ZONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Image inspection device, image forming apparatus, inspection report creating program, and inspection report

Номер патента: US20210104030A1. Автор: Daisuke Genda,Jun Itou,Yasushi Tsue. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-04-08.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US20150192496A1. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2015-07-09.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Water cut-off inspection device for grommet

Номер патента: US6382016B1. Автор: Yoshitsugu Fujita,Yoshihiro Araki,Katsumi Furukawa. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-05-07.

Inspection device and method of inspecting and repairing display panel by using the same

Номер патента: US20230078237A1. Автор: Hyun Min Cho,Sung-Chan Jo,Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Water quality inspection device

Номер патента: US20220365057A1. Автор: Doyeon PI. Владелец: Piquant Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Inspection device and article transfer inspection system

Номер патента: EP4365640A1. Автор: Ying Li,Qi Zhang,Yuan Ma,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuejing Yang,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Yiwei GUO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Radiographic inspection device and method of inspecting object

Номер патента: US20240156293A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device for light-regulating film, and production device for light-regulating film

Номер патента: US9709496B2. Автор: Tsuyoshi Maeda,Daisuke Shinozaki,Yasushi Asaoka,Shohei Katsuta. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Wafer inspection device

Номер патента: US20070040241A1. Автор: Guenter Schmidt,Albert Kreh,Michael Halama. Владелец: VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2007-02-22.

Coating Inspection Device

Номер патента: US20130057849A1. Автор: Shi-Hsien Yeh. Владелец: Nike Inc. Дата публикации: 2013-03-07.

Inspection device for use in a potentially explosive atmosphere

Номер патента: NL2021581B1. Автор: Schreurs Roelof. Владелец: Exrobotics B V. Дата публикации: 2020-05-01.

Inspection device for use in a potentially explosive atmosphere

Номер патента: WO2020050711A1. Автор: Roelof Schreurs. Владелец: Exrobotics B.V.. Дата публикации: 2020-03-12.

Appearance Inspection Device of Crimp Terminal

Номер патента: US20210088326A1. Автор: Tatsuo Osada. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Appearance inspection device of crimp terminal

Номер патента: US11236994B2. Автор: Tatsuo Osada. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2022-02-01.

Image inspection device, image inspection method, and prelearned model generation device

Номер патента: US20230162343A1. Автор: Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

X-ray thin film inspection device

Номер патента: US20170299528A1. Автор: Hideaki Takahashi,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Muneo Yoshida,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-19.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20240068992A1. Автор: Takao Koyama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Dark-field inspection device with real time variable function

Номер патента: US20240192133A1. Автор: Tae Hoon Park,Oh Hyung Kwon. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Cloth abnormality inspecting device within a sealed container for a loom

Номер патента: US5433253A. Автор: Hiroshi Miyake,Masashi Toda,Hironori Ito,Shigeto Ozaki,Atsuhisa Ando. Владелец: Toyoda Jidoshokki Seisakusho KK. Дата публикации: 1995-07-18.

Atom probe inspection device, field ion microscope, and distortion correction method

Номер патента: US10916405B2. Автор: Takahiro Ikeda,Akira KURAMOTO,Haruko Akutsu. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-02-09.

Method for creating pipe session layout by data of pipeline position determining intra-tube inspection device

Номер патента: RU2617628C2. Автор: Роман Георгиевич Ивашкин,Денис Олегович Поротиков,Эльдар Фяритович Сафаров,Александр Шотович Домненков. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2017-04-25.

Pattern inspection method and pattern inspection device

Номер патента: US20010055415A1. Автор: Takeo Nozaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Tube weld seam inspection device

Номер патента: CA2083872A1. Автор: Ronald A. Tobar. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-28.

Flat-panel product inspection device

Номер патента: US9880409B2. Автор: Wei Zhao,Hongtao Ma,Jinping Zhou,Guodong Wang,Lizhu YU,Xiaolong TIAN. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Visual inspection device

Номер патента: CA2827321C. Автор: David A. Selby,Scott Schneider,Matthew J. Mergener,Steven W. Hyma,Corey J. Dickert. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-08-25.

Panel inspection device and inspection method of panel

Номер патента: US8023721B2. Автор: Chih-Chiang Lee,Ching-Chun Chien,Hsien-Chang Kao,Kuo-Chang Teng. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method

Номер патента: CA2807917C. Автор: Hisashi Endo,Akira Nishimizu,Noriyuki Sadaoka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection device

Номер патента: CA2729654C. Автор: Andrew Bond-Thorley. Владелец: Airbus Operations Ltd. Дата публикации: 2016-04-26.

Circuit board inspection device

Номер патента: US20050017743A1. Автор: Koji Adachi,Kaoru Yasukawa,Norikazu Yamada,Tetsuichi Satonaga,Koki Uwatoko,Eigo Nakagawa. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2005-01-27.

Wire disconnection inspecting device and method

Номер патента: CA2588855C. Автор: Katsumi Takeishi,Kazuyuki Fukamachi,Keita Sekine,John Cheek. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Threaded-hole inspection device

Номер патента: US11035657B2. Автор: Atsushi Sato,Yasuo Sato,Takao Hayashi,Tetsuya Horiuchi,Mamoru Watanabe,Mamoru Hara,Teruyuki MIYASHITA,Kenji MIYAMORI,Koji MIYAMORI. Владелец: DAI-ICHI SOKUHAN WORKS Co. Дата публикации: 2021-06-15.

Battery pack and inspection device therefor

Номер патента: US6639387B2. Автор: Katsunori Kitagawa,Tetsuo Nagahisa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-28.

Secondary battery inspection method and secondary battery inspection device

Номер патента: CA3141786C. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-20.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: EP4249961A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: CA3199574A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Container inspection device

Номер патента: NL2032976B1. Автор: Roeland Hendriks Joseph,Ide Van Der Horst Joren,Kieft Jim. Владелец: Luo Automation B V. Дата публикации: 2024-03-21.

Component inspection device

Номер патента: US20240070847A1. Автор: Shinji Sugita,Shimpei FUJII,Aoi Mochizuki. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection device for tubular good

Номер патента: EP4310492A1. Автор: Lucas Kling E Silva. Владелец: Vallourec Oil and Gas France SAS. Дата публикации: 2024-01-24.

Inspection device and method

Номер патента: US11852591B2. Автор: Yosuke NARUSE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Storage battery inspection device and storage battery inspection method

Номер патента: US11828811B2. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection device for tubular good

Номер патента: WO2024017758A1. Автор: Lucas Kling E Silva. Владелец: VALLOUREC OIL AND GAS FRANCE. Дата публикации: 2024-01-25.

Defect inspection device

Номер патента: US20240096667A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Fluorescent Particles, Inspection Device Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present, And Inspection Method Using Fluorescent Particles For Visualizing and Inspecting Motion/Movement Of Fluid In Locations Where Fluid Is Present

Номер патента: US20220089941A1. Автор: Masaaki Horie,Akira Miyahara. Владелец: CENTRAL TECHNO CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: US20240011920A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Semiconductor inspection device and method for inspecting semiconductor sample

Номер патента: US20230273253A1. Автор: Makoto Sakakibara,Satoshi Takada,Yasuhiro Shirasaki,Minami Shouji,Natsuki Tsuno. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11898991B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220291173A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240055223A1. Автор: Chihiro IDA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspecting device, defect inspecting method, and storage medium

Номер патента: US11830174B2. Автор: Masashi Kurita,Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Ball bearing inspection device and inspection method

Номер патента: US20170089807A1. Автор: Daisuke Kondo,Katsuyuki Kawamura,Shinichi Takamura,Taito SHIBUYA,Kentarou KACHI. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2017-03-30.

Foreign-matter inspection device

Номер патента: US20180321166A1. Автор: Takayuki Tanaka,Takuya Yaegashi. Владелец: Nissin Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: US20240027369A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11906440B2. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US20170261439A1. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-14.

Inspection device

Номер патента: US11393656B2. Автор: Motoki KADOWAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

X-ray inspection device, x-ray inspection method, and method of manufacturing structure

Номер патента: US20180045660A1. Автор: Naoshi Sakaguchi,Hirotomo YASHIMA,Takahiro MICHIMOTO. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-02-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20220084176A1. Автор: Hironobu Tamura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Protective relay inspection device

Номер патента: US11892509B2. Автор: Jae-Shik Yoon. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program product

Номер патента: US20210225112A1. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Drill hole inspection method, drill hole inspection system and inspection device

Номер патента: US11847774B2. Автор: Tai-Been Chen,Chen-Te Yu,Chia-Chien Pan. Владелец: Der Lih Fuh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Inspecting device of display panel and inspecting method of display panel using the same

Номер патента: US20200135073A1. Автор: Hyungjin Lee,Se Yoon Oh,Dae Hong Kim,Sung Hoon Yang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Tire inspection device with gas sensor leak detection and tire inspection method with gas sensor leak detection

Номер патента: US11874198B2. Автор: Takeshi Kato,Yuichi Doki,Akane IIZUKA. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection device having a box-like body

Номер патента: EP4224149A1. Автор: Francesco Tosoratti. Владелец: MB Elettronica Srl. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220092758A1. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection device

Номер патента: US10908095B2. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2021-02-02.

Strength inspection method and strength inspection device

Номер патента: EP3929560A1. Автор: Hiraku Kawasaki. Владелец: IHI Inspection and Instrumentation Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Image inspection device, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20180089818A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Magnetic particle inspection device

Номер патента: US20210080521A1. Автор: Yuki Arai. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190043181A1. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device

Номер патента: US20190219518A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10769777B2. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20190285980A1. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Visual inspection device

Номер патента: US11953449B2. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2024-04-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11796481B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20160216217A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-07-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9568439B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9329136B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240133824A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Sheet inspection device

Номер патента: US11959863B2. Автор: Yuto Kawashima. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Measurement and inspection device

Номер патента: US10692687B2. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Shinichi Murakami,Minoru Yamazaki,Hajime Kawano,Yuko Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-06-23.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4269991A1. Автор: Nobuyuki Kamihara,Kohei Kawazoe,Yuki Yano,Toshinobu MURAKI,Kiwamu Nakajima,Takayuki Moritake,Yusuke HASHIDA,Kanata FUJII. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-11-01.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: EP3951409A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device

Номер патента: US20230034016A1. Автор: Hideki Shoji,Ichiro Munakata,Satoshi Tanno. Владелец: Toyo System Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US20230349950A1. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11788973B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Inspection device

Номер патента: US20230236223A1. Автор: Tomohisa Hoshino. Владелец: Yokowo Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Visual inspection device

Номер патента: US20220349836A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SRS. Дата публикации: 2022-11-03.

Defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection computer program product

Номер патента: US20240020821A1. Автор: Akira Moriya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection device and method of inspecting inspection target using the same

Номер патента: US20240060903A1. Автор: Byoung-Ju Kim,Hyojin Kim,Sangsu Lee,Jihoon SEO,Myoungchul KIM,Tae-gu Kang,Seungbum Park,Tae-Jun Ahn,Hyoyul Lee,Jeonghwa Ha. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11971367B2. Автор: Yasuyuki Nuriya. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Surface inspection device, surface inspection method, and manufacturing method of metal strip

Номер патента: US20230349836A1. Автор: Keisuke Yoshida. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Acoustic inspection method, acoustic inspection device, and couplant

Номер патента: US11788991B2. Автор: Akiko Hirao,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Inspection device

Номер патента: US20240060762A1. Автор: Daisuke Fukuoka,Takafumi HARAGUCHI. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device and inspection method for boiler furnace water wall tubes

Номер патента: US20110279828A1. Автор: Kai Zhang,Hideaki Murata,Hirotoshi Matsumoto,Keiji Ida. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP4249932A1. Автор: Yorikazu Kashiramoto. Владелец: So Brain Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Checking method and checking system based on millimeter wave security inspection device and server

Номер патента: US20230251399A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection method and system based on millimetre wave security inspection device, and server

Номер патента: EP4174717A1. Автор: LI ZHANG,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Xiaoyi He,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Yaning Li,Yihai ZHANG,Mengjiao ZHAO,Xiaoxiao FENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US20230224568A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200378900A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory compu ter readable medium storing inspection program

Номер патента: US11741597B2. Автор: Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-29.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220172333A1. Автор: Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-06-02.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20140253911A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-09-11.

Sonic inspection device, sonic inspection method, and contact member

Номер патента: US20220291174A1. Автор: Akiko Hirao,Tomio Ono,Noriko Yamamoto. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US11906561B2. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection device for display apparatus and inspection method for display apparatus

Номер патента: US20240094246A1. Автор: Daewon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Insulation inspecting device

Номер патента: US11768234B2. Автор: Noriaki Yamamoto,Yasushi Taniguchi,Haruhisa Yagi,Takahiro Kuhara,Noriyuki Maruyama. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20240153061A1. Автор: Takuya Ogawa,Keiko Inoue,Shoji Yachida,Toshinori Hosoi,Shigeaki NAMIKI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230036062A1. Автор: Tomohiro Matsuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspecting device, inspecting method, and program

Номер патента: US20190285554A1. Автор: Yoshinori Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection method, classification method, management method, steel material manufacturing method, training model generation method, training model, inspection device, and steel material manufacturing facility

Номер патента: EP4361615A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Electrode surface inspection device

Номер патента: EP4332554A1. Автор: Tae Young Kim,Seung Gyun Hong,Hongjae KO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Inspection device

Номер патента: US20230316484A1. Автор: Toshikazu Karube. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240118220A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Probe, probe card and contact inspection device

Номер патента: US20180088150A1. Автор: Tomoaki Kuga. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Container inspection device and inspection method

Номер патента: PH12017501890A1. Автор: Chiyoko TAKAHASHI. Владелец: Kirin Techno System Company Ltd. Дата публикации: 2018-03-05.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US11462335B2. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-10-04.

Inspection device

Номер патента: US20190222810A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: EP4224261A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-08-09.

Semiconductor inspection device and method of inspecting a semiconductor wafer

Номер патента: US20220115252A1. Автор: Noriaki Noji. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Unit Cell Inspecting Device, Electrode Assembly Manufacturing Equipment Including Same, and Electrode Assembly Manufacturing Method

Номер патента: US20240055644A1. Автор: Ha Yong Jung,Jong Myung Lee,Kwan Woo Lee,Hyun Jae PARK. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: EP4314927A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220065820A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3964831A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-09.

Inspection device

Номер патента: US20200204714A1. Автор: Yukio Ichikawa,Munehiro Takayama,Masataka Toda. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-25.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Inspection device

Номер патента: US20210287875A1. Автор: Motoki KADOWAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-09-16.

Particle inspection device and particle inspection method

Номер патента: US20240159686A1. Автор: Toyoki Kanzaki,Shota SOMEYA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Optical foreign matter inspection device

Номер патента: US20240044806A1. Автор: Masami Makuuchi,Hisaaki Kanai. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10698531B2. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2020-06-30.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220172400A1. Автор: Kiyotaka Tsuchibuchi,Daigo Hama,Rina Takeuchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-06-02.

Inspection device

Номер патента: US20190220999A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190277772A1. Автор: Tomohiro Suzuki,Haruhiko Kusunose,Masayasu Nishizawa. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device for rotating electric machine and method of inspecting rotating electric machine

Номер патента: US11892510B2. Автор: Masao Akiyoshi,Norihiko HANA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Image inspection device and image forming system

Номер патента: US20190220970A1. Автор: Makoto Oki,Yusuke Mimura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-18.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4224154A1. Автор: Osamu Hirose,Ken IWAKAWA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

X-ray inspection device

Номер патента: US20230243764A1. Автор: Osamu Hirose,Ken IWAKAWA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US7746464B2. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-29.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9546939B2. Автор: Koji Shiratsuchi,Zhengyong Liu,Rintaro Nagaoka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection device for inspecting quality of printed images

Номер патента: US11997234B2. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device, image forming apparatus, and non-transitory computer readable medium storing inspection program

Номер патента: US20220094811A1. Автор: Yosuke TASHIRO. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection device

Номер патента: US20190222808A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Wheel blank inspection device

Номер патента: US20190063896A1. Автор: ZHEN Li,Huiying Liu,Dan YAO. Владелец: CITIC Dicastal Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252620A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection device

Номер патента: US20190219516A1. Автор: Shinji Kato,Masaru Horiguchi,Kohei Nakamura,Hiroyuki Iwatsuki,Katsuhiro Miyagaki. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-07-18.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20200273158A1. Автор: Hiroshi Oota. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Fracture surface inspection device and fracture surface inspection method for loss evaluation

Номер патента: US11821725B2. Автор: Ryosuke MURAKAMI. Владелец: Yasunaga Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Tube weld X-ray inspection device comprising an X-ray source, an X-ray source support, and an image plate fixing part for fixing an image plate

Номер патента: US11860113B2. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US11874236B2. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US20120250175A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Inspection device

Номер патента: US20230125628A1. Автор: SHINJI Ueyama,Harutaka Sekiya,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-27.

Backdoor inspection device, backdoor inspection method, and computer-readablemedium

Номер патента: US20230229766A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Vehicle battery inspection device

Номер патента: US20230258582A1. Автор: Hideki Sakai,Atsushi Sakurai,Tatsuya Hattori,Yuji Isogai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: EP1558878A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: ALP SRL. Дата публикации: 2005-08-03.

Supporting force inspection device and supporting force inspection method

Номер патента: US20210151209A1. Автор: Kazuo Hirota,Shingo Nishida,Ryoichi Kawakami. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection unit

Номер патента: US20240060938A1. Автор: Shinji Wada,Ikuo Ihara,Tomohiro Koyama. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-02-22.

Portable security inspection device based on millimetre wave imaging

Номер патента: US20190293833A1. Автор: Rong Wang,Yanli Liu,Hanjiang Chen,Chunchao QI,Zhihui Feng,Xiaoxiang HOU. Владелец: China Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316501A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: US20220320606A1. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A2. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US20210063326A1. Автор: Hideaki Takahashi,Naoki Matsushima,Yoshiyasu Ito,Kiyoshi Ogata,Shiro Umegaki,Kazuhiko Omote,Hiroshi Motono,Shigematsu Asano,Sei Yoshihara,Katsutaka Horada,Ryotaro YAMAGUCHI,Akifusa Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Substrate inspection device

Номер патента: US20190331731A1. Автор: Hiroshi Yamada,Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-10-31.

Radiation detector and radiation inspection device including same

Номер патента: CA3221712A1. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Inspection device

Номер патента: US20230288326A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Container inspection device and inspection method

Номер патента: PH12017501890B1. Автор: Chiyoko TAKAHASHI. Владелец: Kirin Techno System Company Ltd. Дата публикации: 2018-03-05.

Optical inspection device and optical inspection method

Номер патента: US20240210238A1. Автор: Je Won YOO,In Hyuk Kim,Joo Yeol Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Inspection device, inspection method, and medium

Номер патента: US20230297675A1. Автор: Taku Taniguchi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Pipeline inspection device

Номер патента: CA3205194A1. Автор: Ian Moreau,Shenhua SUN. Владелец: Kakivik Asset Management LLC. Дата публикации: 2022-08-25.

Pipeline inspection device

Номер патента: WO2022178413A1. Автор: Ian Moreau,Shenhua SUN. Владелец: Kakivik Asset Management, LLC. Дата публикации: 2022-08-25.

Autonomous pipeline inspection using magnetic tomography

Номер патента: US09746444B2. Автор: Valerian Goroshevskiy,Svetlana Kamaeva,Igor Kolesnikov,Leonid Ivlev. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-29.

Systems and methods for inspecting pipelines using a pipeline inspection robot

Номер патента: US11946882B2. Автор: Kelly MORRIS,Elliott MORRIS,John MUSGRAVE. Владелец: Mistras Group Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: CN217543532U. Автор: S·J·高乌略,C·J·特纳. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

SYSTEMS AND METHODS FOR INSPECTING PIPELINES USING A PIPELINE INSPECTION ROBOT

Номер патента: US20220026374A1. Автор: Morris Kelly,Morris Elliott,Musgrave John. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-27.

Systems and methods for inspecting pipelines using a pipeline inspection robot

Номер патента: US20200173935A1. Автор: Kelly MORRIS,Elliott MORRIS,John MUSGRAVE. Владелец: Mistras Group, Inc.. Дата публикации: 2020-06-04.

Robotic device for pipeline inspection and method of inspecting pipeline using the same

Номер патента: KR101290794B1. Автор: 박진형,김병수,최용호,김태훈,배성준,정희용. Владелец: 삼성중공업 주식회사. Дата публикации: 2013-07-30.

Systems and methods for inspecting pipelines using a pipeline inspection robot

Номер патента: CA3063259A1. Автор: Kelly MORRIS,Elliott MORRIS,John MUSGRAVE. Владелец: Mistras Group Inc. Дата публикации: 2020-06-03.

Pipeline inspection device for movement within pipes - has circulating strips powered by drive motor to run parallel to surface of device

Номер патента: FR2342455A1. Автор: . Владелец: SIGEL GFELLER ALWIN. Дата публикации: 1977-09-23.

Hub connection for pipeline inspection device

Номер патента: EP3814839A4. Автор: Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2022-04-20.

SPEED CONTROL DEVICES FOR A SMART PIPELINE INSPECTION GAUGE

Номер патента: US20190078721A1. Автор: PIRNER PAUL. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-14.

UNDERWATER PIPELINE INSPECTION CRAWLER

Номер патента: US20180080904A1. Автор: Abdellatif Fadl,Outa Ali,Al Nahwi Ammar,Al-Taie Ihsan. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

Underwater pipeline inspection crawler

Номер патента: US20180080905A1. Автор: Fadl Abdellatif,Ali Outa,Ihsan Al-Taie,Ammar Al Nahwi. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2018-03-22.

Underwater pipeline inspection device launcher assembly used by unmanned vessel

Номер патента: WO2018014394A1. Автор: 杨越. Владелец: 杨越. Дата публикации: 2018-01-25.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: AU2021371453A9. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Pipeline inspection system

Номер патента: US09599571B2. Автор: Hermann Herrlich,G. Gregory Penza,George Lohr. Владелец: ULC Robotics Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Apparatus for pipeline inspection and method of controlling same

Номер патента: US20120174689A1. Автор: Raymond Paul Harvey,Leon Joseph Fussell,Nigel RENNISON. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-07-12.

Pipeline inspection apparatus for the internal inspection of pipelines

Номер патента: US09599528B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Luciano SCALTRITO,Marco Pirola,Jean Marc TULLIANI. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-03-21.

Collapsible pipeline inspection tool

Номер патента: CA3151532A1. Автор: David Burton,David E. Russell. Владелец: Pica Pipeline Inspection and Condition Analysis Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Spiral magnetic field apparatus and method for pipeline inspection

Номер патента: US20100117635A1. Автор: Philip M. Hoyt. Владелец: Hoyt Philip M. Дата публикации: 2010-05-13.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: AU2021371453A1. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: EP4237875A1. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-09-06.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: WO2022087747A8. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: PURE TECHNOLOGIES LTD.. Дата публикации: 2023-04-20.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: WO2022087747A1. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: PURE TECHNOLOGIES LTD.. Дата публикации: 2022-05-05.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: CA3192307A1. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

CCTV pipeline inspection system data management system and computer-based monitoring/action application

Номер патента: US20070297752A1. Автор: Robert Charles Soltysik. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-12-27.

Pipeline inspection method for carrying out an airtightness inspection on a conduit

Номер патента: US12061134B2. Автор: Norihiro FUJIMOTO,Masashi SHINTAKU,Yoshihiro IRIYAMA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Rft pipeline inspection system and method therefor

Номер патента: EP1899701A2. Автор: David J. Brown,John H. Stout. Владелец: Arizona Public Service Co. Дата публикации: 2008-03-19.

Rft pipeline inspection system and method therefor

Номер патента: WO2007005517A3. Автор: David J Brown,John H Stout. Владелец: John H Stout. Дата публикации: 2008-01-24.

Rft pipeline inspection system and method therefor

Номер патента: CA2613055A1. Автор: David J. Brown,John H. Stout. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-11.

Rft pipeline inspection system and method therefor

Номер патента: WO2007005517A2. Автор: David J. Brown,John H. Stout. Владелец: ARIZONA PUBLIC SERVICE COMPANY. Дата публикации: 2007-01-11.

Eddy current pipeline inspection device and method

Номер патента: IL134883A0. Автор: . Владелец: British Gas PLC. Дата публикации: 2001-05-20.

Eddy current pipeline inspection device and method

Номер патента: AU8871598A. Автор: John Ferris Burd,James Edward Ramshaw. Владелец: Lattice Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 1999-03-29.

Maneuverable pipeline inspection device

Номер патента: EP4237875A4. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Dynamic spacer for a smart pipeline inspection gauge

Номер патента: US20180010934A1. Автор: Paul Pirner. Владелец: Entegra LLP. Дата публикации: 2018-01-11.

Apparatus and method for pipeline inspection using EMAT generated shear waves

Номер патента: AU2020280907A1. Автор: Sergey Popov. Владелец: J Van Beugen Beheer BV. Дата публикации: 2022-01-20.

PIPELINE INSPECTION DEVICE AND PIPELINE INSPECTION SYSTEM

Номер патента: US20150247823A1. Автор: Park Sang-Ki,Gil Doo-Song,Ahn Yeon-Shik,Jung Gye-Jo. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-03.

Apparatus and method for pipeline inspection using emat generated shear waves

Номер патента: EP3973283A1. Автор: Sergey Popov. Владелец: J Van Beugen Beheer BV. Дата публикации: 2022-03-30.

Apparatus and method for pipeline inspection using emat generated shear waves

Номер патента: WO2020234394A1. Автор: Sergey Popov. Владелец: J Van Beugen Beheer B.V.. Дата публикации: 2020-11-26.

Pipeline inspection gauge

Номер патента: US20160334297A1. Автор: Paul Pirner. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-17.

Surround for pipeline inspection equipment

Номер патента: US20190200108A1. Автор: Peter O. Paulson,Kyle HENTSCHEL. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2019-06-27.

Method and apparatus for ultrasonic pipeline inspection

Номер патента: US5460046A. Автор: James S. Edwards,Philip M. Maltby,John C. Hamilton. Владелец: TDW Delaware Inc. Дата публикации: 1995-10-24.

Pipeline inspection

Номер патента: CA2737555A1. Автор: John Dobbs. Владелец: Analogic Corp. Дата публикации: 2010-03-25.

Surround for Pipeline Inspection Equipment

Номер патента: US20210314687A1. Автор: Peter O. Paulson,Kyle HENTSCHEL. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2021-10-07.

Pipeline inspection systems and methods

Номер патента: US20230349499A1. Автор: Muzdalifah ZAKARIA,Ahmad Kamil MAHMOOD,Lukman AB RAHIM,Izzatdin ABDUL AZIZ,Jafreezal JAAFAR,Mohd Fadzil HASSAN,Mohd Hilmi HASAN,M Nazmi M ALI,M Hisham ABU BAKAR,Ahmad Sirwan M TUSELIM. Владелец: Petroliam Nasional Bhd Petronas. Дата публикации: 2023-11-02.

PIPELINE INSPECTION APPARATUS FOR THE INTERNAL INSPECTION OF PIPELINES

Номер патента: US20150059498A1. Автор: Di Lullo Alberto Giulio,SCALTRITO Luciano,Pirola Marco,Tulliani Jean Marc. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

PIPELINE INSPECTION INFORMATION MANAGING DEVICE AND PIPELINE INSPECTION INFORMATION MANAGING METHOD

Номер патента: US20190250060A1. Автор: KAWAI Sumio. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-15.

Photographic pipeline inspection apparatus including an optical port wiper

Номер патента: US4363545A. Автор: Edward F. Schaefer,Lawrence R. Lozynski,Donald E. Lorenzi. Владелец: Magnaflux Corp. Дата публикации: 1982-12-14.

Pipeline inspection apparatus for the internal inspection of pipelines

Номер патента: WO2013102807A3. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Luciano SCALTRITO,Marco Pirola,Jean Marc TULLIANI. Владелец: ENI S.P.A.. Дата публикации: 2013-10-24.

Ultrasonic pipeline inspection system and method

Номер патента: EP3084415A1. Автор: Arno Willem Frederik Volker,Paul Louis Maria Joseph van Neer,Huibert Blokland,Gerrit Blacquiere. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2016-10-26.

Pipeline inspection

Номер патента: CA2617525A1. Автор: Michael William Mandziuk,Paul Douglas Gies. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-08.

Pipeline inspection

Номер патента: EP1913375A1. Автор: Michael William Mandziuk,Paul Douglas Gies. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2008-04-23.

Magnet assemblies for pipeline inspection vehicles

Номер патента: ZA81267B. Автор: M Sharp,J Braithwaite. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1982-01-27.

Improvements in magnet assemblies for pipeline inspection vehicles

Номер патента: DE3164786D1. Автор: Michael Ronald Garnett Sharp,John Colin Braithwiate. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1984-08-23.

Pipeline inspection

Номер патента: GB8528864D0. Автор: . Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1985-12-24.

A pipeline inspection system and method

Номер патента: GB202102585D0. Автор: . Владелец: Scanprobe Techniques Ltd. Дата публикации: 2021-04-07.

Spot detection algorithm for external pipeline inspection applications

Номер патента: WO2022221300A1. Автор: Abubaker Saeed,Ahmed Alalouni. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2022-10-20.

Braking pipeline inspection vehicles

Номер патента: AU511001B2. Автор: J. C. and Smith I Braithwaite. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1980-07-24.

Braking pipeline inspection vehicles

Номер патента: AU3864378A. Автор: J. C. and Smith I Braithwaite. Владелец: British Gas PLC. Дата публикации: 1980-02-07.

Pipeline robot and pipeline inspection equipment

Номер патента: CN112128512A. Автор: 李华忠,周彦兵. Владелец: SHENZHEN INSTITUTE OF INFORMATION TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-12-25.

Self-propelled pipeline inspection unit follows a spiral path through the pipeline, with a measuring unit to test its condition without damage

Номер патента: DE102007058043A1. Автор: . Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2009-06-04.

Pipeline pig for pipeline inspection and maintenance has a slider arranged perpendicular to the pig axis with support elements that are held against the pipe wall by a spring force

Номер патента: DE10257058A1. Автор: Reinhold Dipl.-Ing. Reif,Maarten Dipl.-Ing. Jaegers,Matthias Rotsch. Владелец: ARCHINGER AG. Дата публикации: 2004-07-15.

Pipeline inspection tool with deformable body and inspection method thereof

Номер патента: EP4055311B1. Автор: Ed Maynard,Roger L. Poe,Joseph Alan Morton. Владелец: TDW Delaware Inc. Дата публикации: 2023-10-11.

Pipeline inspection method

Номер патента: US20220268660A1. Автор: Norihiro FUJIMOTO,Masashi SHINTAKU,Yoshihiro IRIYAMA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Pipeline Inspection Devices And Methods

Номер патента: US20220043331A1. Автор: Tabaian Fereydun. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

Maneuverable Pipeline Inspection Device

Номер патента: US20220136637A1. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Pipeline Inspection Devices And Methods

Номер патента: US20200088341A1. Автор: Tabaian Fereydun. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

Pipeline Inspection Device

Номер патента: US20220268392A1. Автор: SUN Zhenhua,Moreau Ian. Владелец: Kakivik Asset Management, LLC. Дата публикации: 2022-08-25.

Pipeline Inspection Device

Номер патента: US20220268393A1. Автор: SUN Zhenhua,Moreau Ian. Владелец: Kakivik Asset Management, LLC. Дата публикации: 2022-08-25.

Pipeline Inspection Device

Номер патента: US20170191601A1. Автор: Sever Veysel Firat. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

PIPELINE INSPECTION DEVICE WITH ENHANCED IMAGE CONTROL

Номер патента: US20210250551A1. Автор: Turner Christopher J.. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

Pipeline-Inspecting Device

Номер патента: US20210356066A1. Автор: Viviers Dennis Frederick. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-18.

HUB CONNECTION FOR PIPELINE INSPECTION DEVICE

Номер патента: US20190346330A1. Автор: Turner Christopher J.,Krohlow Samuel J.. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Flexible pipeline inspection device

Номер патента: CN111089220B. Автор: 江文松,王可为,窦雨菲,解袆帆,阙亚津. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2021-04-13.

Flexible pipeline inspection device

Номер патента: CN111089220A. Автор: 江文松,王可为,窦雨菲,解袆帆,阙亚津. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2020-05-01.

Pipeline inspection device with enhanced image control

Номер патента: WO2021163241A1. Автор: Christopher J. Turner. Владелец: MILWAUKEE ELECTRIC TOOL CORPORATION. Дата публикации: 2021-08-19.

Nuclear power equipment pipeline inspection device

Номер патента: CN114334195A. Автор: 刘忠,张彦召,刘洪群,张舟永,潘姚凡. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-12.

Stabilizer For A Pipeline Inspection Device

Номер патента: US20210148504A1. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Pipeline inspection device with radial cameras

Номер патента: CA2256185A1. Автор: Philip George Anderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-06-15.

Pipeline-inspecting device

Номер патента: ZA201900660B. Автор: Dennis Frederick Viviers. Владелец: Dennis Frederick Viviers. Дата публикации: 2019-09-25.

Stabilizer for a pipeline inspection device

Номер патента: EP4058813A4. Автор: Jeffrey Chak-Fai KWAN. Владелец: Pure Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-11-15.

Pipeline inspection device with enhanced image control

Номер патента: EP4103906A4. Автор: Christopher J Turner. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Apparatus for pipeline inspection

Номер патента: US20120176127A1. Автор: Raymond Paul Harvey,Leon Joseph Fussell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-07-12.

METHOD FOR PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20130125654A1. Автор: Batzinger Thomas James,Sutherland Jeffrey Earle,Bauernschmitt Ruediger,Hugger Achim,Paige David Martin. Владелец: PII LIMITED. Дата публикации: 2013-05-23.

APPARATUS FOR PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20130133429A1. Автор: HERRON William,PALMA Robert. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-30.

Pipeline Inspection Piglets

Номер патента: US20140009598A1. Автор: Genc Yakup,Schick Anton,"ODonnell Thomas",Mallinson Theodore James. Владелец: Siemens Corporation. Дата публикации: 2014-01-09.

Pipeline Inspection Apparatus

Номер патента: US20140013872A1. Автор: Thursby Jonathan. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-16.

ULTRASONIC PIPELINE INSPECTION SYSTEM AND METHOD

Номер патента: US20210003532A1. Автор: Bain Andy,Abu-Aisha Ibrahim. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-07.

DYNAMIC SPACER FOR A SMART PIPELINE INSPECTION GAUGE

Номер патента: US20180010934A1. Автор: PIRNER PAUL. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-11.

Pipeline Inspection Apparatus

Номер патента: US20160069769A1. Автор: Thursby Jonathan,Peck Shaun,Jay Chris. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

PIPELINE INSPECTION CRAWLER

Номер патента: US20200064219A1. Автор: Akiona Nicholas. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

EDDY CURRENT PIPELINE INSPECTION APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20160103099A1. Автор: Ji Yuan,Lott Paul,Bowler John R.. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-14.

SYSTEM AND METHOD FOR PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20180106697A1. Автор: PENZA G. Gregory,KODADEK Robert E.,LAGOSZ-SINCLAIR Benjamin,PASSARETTI Michael,FELDMAN Eric S.. Владелец: . Дата публикации: 2018-04-19.

Sensor carrier of a pipeline inspection system

Номер патента: CA181498S. Автор: . Владелец: PII Pipetronix GmbH. Дата публикации: 2019-10-03.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA1153604A. Автор: Donald E. Lorenzi,John J. Flaherty,Edward Schaefer,Donald T. O'connor. Владелец: Magnaflux Corp. Дата публикации: 1983-09-13.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ736686A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Method of verification of intratubal inspection devices

Номер патента: RU2596243C1. Автор: Андрей Владимирович Кулешов,Валерий Порфирьевич Дегтев. Владелец: Акционерное общество "Транснефть-Диаскан" (АО "Транснефть-Диаскан"). Дата публикации: 2016-09-10.

Frequency permit inspection device

Номер патента: RU2565504C1. Автор: Виктор Степанович Дубровин,Алексей Михайлович Зюзин. Владелец: Частное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования "Саранский Дом науки и техники Российского Союза научных и инженерных общественных объединений". Дата публикации: 2015-10-20.

Nondestructive inspection device

Номер патента: RU2006856C1. Автор: В.И. Филичкин,А.Г. Таксанц. Владелец: Научно-производственное объединение "Научно-исследовательский и конструкторский институт монтажной технологии". Дата публикации: 1994-01-30.

System of calibration of measuring and vibration inspection device controlled by microprocessor

Номер патента: RU2313773C1. Автор: Николай Геннадьевич Зайцев. Владелец: Открытое акционерное общество "Магистральные нефтепроводы Центральной Сибири". Дата публикации: 2007-12-27.

Long products ultrasonic inspection device

Номер патента: RU2359264C1. Автор: Николай Николаевич Егоров,Сергей Васильевич Титов,Константин Эдуардович Тоом,Игорь Эрнстович Махов. Владелец: Закрытое акционерное общество "СИСТЕМЫ СТАРМАНС". Дата публикации: 2009-06-20.

Parenchymal organ biopsy and spectroscopic inspection device

Номер патента: RU2529629C1. Автор: Виктор Борисович Лощенов,Александр Александрович Потапов,Антон Григорьевич Гаврилов,Сергей Алексеевич Маряшев,Сергей Алексеевич Горяйнов,Денис Александрович Гольбин,Вадим Юрьевич Жуков,Сергей Александрович Кисарьев,Вячеслав Вячеславович Назаров,Татьяна Александровна Савельева,Марина Николаевна Холодцова,Павел Вячеславович Грачёв,Петр Владимирович Зеленков. Владелец: Закрытое акционерное общество "БИОСПЕК" (ЗАО "БИОСПЕК"). Дата публикации: 2014-09-27.

Display housing for a remote inspection device

Номер патента: CA121250S. Автор: . Владелец: Perceptron Inc. Дата публикации: 2008-10-09.

Inspection device for medical tablet

Номер патента: CA140698S. Автор: . Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-01-24.

Inspection device for medical tablet

Номер патента: CA140699S. Автор: . Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-01-24.

Rehabilitation pipeline inspection method and rehabilitation pipeline inspection method including rehabilitation pipeline inspection process

Номер патента: JP5678300B2. Автор: 康弘 横島,横島　康弘,章光 工藤. Владелец: 有限会社横島. Дата публикации: 2015-02-25.

Pipeline inspecting device

Номер патента: TW200728183A. Автор: Ching-Fu Tsou,Xing-Zheng Zhang,qi-zhi Lai. Владелец: Xing-Zheng Zhang. Дата публикации: 2007-08-01.

Furnace pipeline inspection device

Номер патента: TWI386615B. Автор: . Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2013-02-21.

Furnace interior pipeline inspection device

Номер патента: TW201012937A. Автор: Shun-Fu Hong,qing-wei Tang,Pei-Shen Weng,yue-sheng Huang,An-Tai Yue,yong-yuan He,Quan-Yang Wu,Rui-Biao Chen,Rong-Zhuan Lin,Hong-Ji Zuo. Владелец: China Steel Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

APPARATUS FOR PIPELINE INSPECTION AND METHOD OF PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20120325004A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

APPARATUS FOR PIPELINE INSPECTION AND METHOD OF PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20130025370A1. Автор: HERRON William,PALMA Robert. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-31.

Pipeline inspection device and inspection method

Номер патента: JP6395161B2. Автор: 勉 石崎,石崎　勉,純生 廣田. Владелец: 三由工業株式会社. Дата публикации: 2018-09-26.

Pipeline inspection system

Номер патента: GB8412883D0. Автор: . Владелец: Surveys Ltd N B. Дата публикации: 1984-06-27.

Improved pipeline inspection vehicles

Номер патента: AU525454B2. Автор: John Laurence Foster. Владелец: LANHAM MACHINERY CO Inc. Дата публикации: 1982-11-04.

An image processing apparatus having a top-and-bottom correction function, a pipeline inspection system equipped with the image processing apparatus, and a pipeline image processing method.

Номер патента: JP4535974B2. Автор: 正信 黒岩,朗 野口. Владелец: Airec Engineering Corp. Дата публикации: 2010-09-01.

Pipeline inspection device based on rotating electromagnetic field

Номер патента: CN104330468A. Автор: 李伟,陈国明,殷晓康,袁新安,闫安. Владелец: China University of Petroleum East China. Дата публикации: 2015-02-04.

Internal pipeline inspection device for building fire-fighting water

Номер патента: CN218236624U. Автор: 赖心游. Владелец: Shenzhen Ansu Fire Detection Co ltd. Дата публикации: 2023-01-06.

Gas pipeline inspection device

Номер патента: CN210687794U. Автор: 黄志强,李淇. Владелец: ZHUZHOU ENN GAS Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-05.

Pipeline inspection device

Номер патента: CN214662935U. Автор: 周钊名. Владелец: TIANJIN KEEP RUNNING TECHNOLOGY DEVELOPMENT Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-09.

Carry on unmanned aerial vehicle pipeline inspection device of laser methane gas leak detection ware

Номер патента: CN205504489U. Автор: 王晓东,温永刚,游咏,吕枫,许嘉欣,陈春玲,郭乃飞,付贵添. Владелец: Shenzhen Gas Corp Ltd. Дата публикации: 2016-08-24.

Unmanned aerial vehicle pipeline inspection device

Номер патента: CN211720659U. Автор: 李鹏,沈建飞,靳文昌,牛俊伟. Владелец: Zhengzhou Xinda Institute of Advanced Technology. Дата публикации: 2020-10-20.

Hub for pipeline inspection device

Номер патента: USD1014879S1. Автор: Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Pipeline inspection device

Номер патента: GB9409843D0. Автор: . Владелец: CLIFTON BRIAN V. Дата публикации: 1994-07-06.

Pipeline inspecting device

Номер патента: TWI272237B. Автор: Ching-Fu Tsou,Shing-Jeng Jang,Chi-Jr Lai. Владелец: Shing-Jeng Jang. Дата публикации: 2007-02-01.

CAMERA-BASED PIPELINE INSPECTION SYSTEM

Номер патента: US20120069172A1. Автор: Hudritsch Marcus. Владелец: CD Lab AG. Дата публикации: 2012-03-22.

APPARATUS FOR PIPELINE INSPECTION AND METHOD OF ASSEMBLY

Номер патента: US20120175537A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-07-12.

APPARATUS FOR PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20120297882A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-29.

APPARATUS FOR PIPELINE INSPECTION

Номер патента: US20130174674A1. Автор: FUSSELL Leon Joseph,HARVEY Raymond Paul. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-11.

USE OF SURVIVAL MODELING METHODS WITH PIPELINE INSPECTION DATA FOR DETERMINING CAUSAL FACTORS FOR CORROSION UNDER INSULATION

Номер патента: US20130304438A1. Автор: Ziegel Eric,Bailey Richard S.,Sprague Kip P.. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-14.

PIPELINE INSPECTION GAUGE EXTRACTOR

Номер патента: US20140000046A1. Автор: Laymon Matthew S.. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-02.

PIPELINE INSPECTION GAUGE (PIG) ALERT SYSTEM

Номер патента: US20140102205A1. Автор: QANAEI AHMD ABDALLAH AL-JASSEM. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-17.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.