• Главная
  • Inspection device and inspection learning model generation device

Inspection device and inspection learning model generation device

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-08-05.

Inspection device and inspection learning model generation device

Номер патента: EP3690410A3. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-11-25.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3141432A4. Автор: Toru Owada,Nobuyoshi Morita,Keisuke Hakuta,Makoto Kayashima. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2018-01-03.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US20210358120A1. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-18.

Drug supply device and drug inspection method in drug supply device

Номер патента: US09776755B2. Автор: Akira Kondo,Hideyuki Takahashi,Takashi Mori. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

LEARNING DEVICE, INSPECTION DEVICE, LEARNING METHOD, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210233232A1. Автор: Aikawa Hisashi,ARAI Hideyuki,SUGASAWA YUYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

Inspection device and method for operating inspection device

Номер патента: US11900642B2. Автор: Masumi Nomura,Seiichi Yoneda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Learning device, inspection device, learning method, and inspection method

Номер патента: CN112614086A. Автор: 塩见顺一. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-06.

Printed matter inspecting device, printed matter inspecting method, program, and printing apparatus

Номер патента: EP4032706A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190279350A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device and molded-product processing system

Номер патента: US20230281780A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection device and molded product processing system

Номер патента: EP4253945A1. Автор: Hiroshi Suzuki. Владелец: KIKUSUI SEISAKUSHO LTD. Дата публикации: 2023-10-04.

Work visual inspection device and work visual inspection method

Номер патента: US09838608B2. Автор: Hiroaki Chaki. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Weld bead inspection device

Номер патента: US20230137583A1. Автор: Min-Gab Bog,Hyeon Seop PARK,Na Yeong PARK,Kyoung Hwan HEO. Владелец: Agru Korea Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Inspection device, blister packing machine, and method of manufacturing blister pack

Номер патента: EP4194350A1. Автор: Eiji Ohta,Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-06-14.

Image inspection device

Номер патента: US20200072759A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-05.

Model generation device for visual inspection and visual inspection device

Номер патента: US20230274393A1. Автор: Yuuji KOUNOSU. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Image inspection device

Номер патента: EP3617809A1. Автор: Muneaki Kawai. Владелец: Riso Kagaku Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection route generation device and inspection route generation method

Номер патента: US20240042607A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Hiroki Morii,Kaichiro Nishi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection path generation device and inspection path generation method

Номер патента: EP4261530A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Hiroki Morii,Kaichiro Nishi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-10-18.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Methods and systems for generating learning model to predict failure of drain pump

Номер патента: WO2023176437A1. Автор: Akira Watanabe,Yoshinao Kitamura. Владелец: FURUNO ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: EP4321445A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Inspection device, blister packaging machine, and method for manufacturing blister pack

Номер патента: US20240040230A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Drug inspection device

Номер патента: US09870611B2. Автор: Koji Ito,Mei Zhang,Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Management system, maintenance schedule determination method, computer program, and learned model generation method

Номер патента: EP3992602A1. Автор: Kazuya Ito. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2022-05-04.

Inspection device, inspection facility and inspection device failure confirmation method

Номер патента: US20190120772A1. Автор: Yoshihiro Yamagata. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Learning model generation support apparatus, learning model generation support method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US12066417B2. Автор: Riki ETO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Guided inspection of an installed component using a handheld inspection device

Номер патента: US09852500B2. Автор: Robert J. Scheuerman,Rick F. Rourke. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2017-12-26.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP1930732A1. Автор: Naoki c/o TOKYO ELECTRON AT LIMITED IKEUCHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-06-11.

Deep learning model-based tumor-stroma ratio prediction method and analysis device

Номер патента: US20240320822A1. Автор: Kyoung-Mee KIM. Владелец: SAMSUNG LIFE PUBLIC WELFARE FOUNDATION. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190043181A1. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US10769777B2. Автор: Susumu Haga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-09-08.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US11373292B2. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-06-28.

Image generation device and appearance inspection device

Номер патента: US20200211169A1. Автор: Takeshi Tsutsumi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2020-07-02.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection device

Номер патента: US11977036B2. Автор: Makoto Nakatani,Akihiro Maenaka,Yoshinori TARUMOTO,Hironori TSUTSUMI. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US20220207684A1. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Inspection device, inspection method, machine learning device, and machine learning method

Номер патента: US12094102B2. Автор: Takehiro Sugino,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Model generation device for visual inspection and visual inspection device

Номер патента: US20230386014A1. Автор: Yuuji KOUNOSU. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Substrate inspection device and method

Номер патента: US09880408B2. Автор: Yongjin Lee,Tae Hyuck Yoon,Unsub LEE. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Motor vehicle inspection device and method for identifying motor vehicles

Номер патента: US09460132B2. Автор: Guenter Nobis,Ramon Amirpour,Roger Malmsheimer. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252620A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US20190257798A1. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-22.

Visual inspection device and visual inspection method

Номер патента: US20200202512A1. Автор: Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-25.

Fastener bulb inspection device

Номер патента: EP4382856A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Fastener Bulb Inspection Device

Номер патента: US20240185413A1. Автор: Farahnaz Sisco. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230036062A1. Автор: Tomohiro Matsuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Optical inspection device and optical inspection method using the same

Номер патента: US20240281923A1. Автор: Hyung Jin Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection device, inspection method, and program

Номер патента: EP4001831A1. Автор: Yuichi Ikeda,Kazuyuki Miyazawa,Akira Minezawa,Yukihiro TOKU. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-05-25.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: SG10201804792XA. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: Asm Tech Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Inspection device

Номер патента: US20220198792A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Inspection device

Номер патента: US20240337609A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Shozo Oda,Shiori IMAIZUMI. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection device

Номер патента: US20240346818A1. Автор: Shinichi Matsubara,Takafumi Miwa,Yuta Imai,Sayaka KURATA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Robotic inspection device for tank and pipe inspections

Номер патента: US20210131604A1. Автор: Rashid D. Al Hajri,Amer D. Hajri,Fikri A. Suwailah,Kazem H. Al Musabbeh. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Component inspection device

Номер патента: US20240070847A1. Автор: Shinji Sugita,Shimpei FUJII,Aoi Mochizuki. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20220277439A1. Автор: Yuichi Ikeda,Kazuyuki Miyazawa,Akira Minezawa,Yukihiro TOKU. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: US20240161287A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A2. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A3. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-06-06.

Biological tissue inspection device and method therefor[

Номер патента: EP3888533A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-10-06.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Marking inspection device and marking device for transparent edible objects

Номер патента: US20240053277A1. Автор: Junsuke Yasui,Kousuke OOKITA,Kazuaki MATSUTANI. Владелец: Qualicaps Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Learning device, inference device, diagnostic system, and model generation method

Номер патента: US20230153983A1. Автор: Daiki ATA,Satoshi NAMEMATSU,Tomo Ikuyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-05-18.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Biological tissue inspection device and method therefor

Номер патента: US20190196163A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-27.

Biological tissue inspection device and method therefor

Номер патента: US20200348499A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Min Young Hwangbo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2020-11-05.

Inspection device and method

Номер патента: US11852591B2. Автор: Yosuke NARUSE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Inspection area setting method for image inspecting device

Номер патента: US9269134B2. Автор: Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2016-02-23.

Inspection position identification method, three-dimensional image generation method, and inspection device

Номер патента: US11835475B2. Автор: Yosuke Yamamoto,Takuma Hirayama. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: US11428673B2. Автор: Toru Matsumoto. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-30.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Inspection device

Номер патента: US20220198636A1. Автор: Kazue Asano,Motohiro Shirai. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: US20180364180A1. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2018-12-20.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: MY184397A. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: ASMPT Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Drill hole inspection method, drill hole inspection system and inspection device

Номер патента: US11847774B2. Автор: Tai-Been Chen,Chen-Te Yu,Chia-Chien Pan. Владелец: Der Lih Fuh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP4249932A1. Автор: Yorikazu Kashiramoto. Владелец: So Brain Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: WO2007015506A1. Автор: Naoki Ikeuchi. Владелец: Yakabe, Masami. Дата публикации: 2007-02-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Microstructure inspecting device, and microstructure inspecting method

Номер патента: US20100307248A1. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190302958A1. Автор: Shinichi Miyazaki,Noriyuki Hoshiai. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Inspection device

Номер патента: US09863991B2. Автор: Shinji Matsumoto,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection device for sub-element of reticle pod

Номер патента: US20240295461A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Liquid crystal display driving device and liquid crystal inspection method using the same

Номер патента: US5757346A. Автор: Hiroaki Mita. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-26.

Inspection device and inspection method using the same

Номер патента: US20240061033A1. Автор: Taejoon KIM,Sangwook Yoo,Junseong Lee,Junghun Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Intelligent inspection devices

Номер патента: US20200090410A1. Автор: Junsoo Han,Yonghwan EOM,Cholok Han,Younghun YANG,Junseong JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-03-19.

Machine-learned model system

Номер патента: EP3616422A1. Автор: Matthew Simmons,Christine MCGAVRAN,Richard William Bukowski,Nima Asgharbeygi,Abraham Jack YACOBIAN. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2020-03-04.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: WO2015080191A1. Автор: 千里 吉村,由美子 大鹿. Владелец: ブラザー工業株式会社. Дата публикации: 2015-06-04.

Shape inspection device, processing device, height image processing device

Номер патента: US20240271925A1. Автор: Kaoru Kanayama,Takashi Atoro. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Learning method and device, program, learned model, and text generation device

Номер патента: US20220004719A1. Автор: Makoto Ozeki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-01-06.

Semiconductor inspecting method and semiconductor inspecting device

Номер патента: US20230206422A1. Автор: Akira Shimase,Xiangguang MAO,Akihito UCHIKADO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-29.

Inspection system and inspection device

Номер патента: US20230196875A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Method, apparatus, device and medium for managing contrastive learning model

Номер патента: US20240152816A1. Автор: Cheng Yang,Hao Wu. Владелец: Beijing Youzhuju Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Device and method for compressing machine learning model

Номер патента: EP3903240A1. Автор: Bin Sun,Hua Wang,Pei Fu,Zhenbo Luo,Yong A,Gaofei Wang,Shuli Yang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-03.

Ultrasonic inspection device and method of ultrasonic inspection

Номер патента: US09714924B2. Автор: Naotada Okada,Tomoko MORIOKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190283995A1. Автор: Tomio Ono,Kazuhiro Itsumi,Yasuharu Hosono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US9097681B2. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-04.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION FACILITY AND INSPECTION DEVICE FAILURE CONFIRMATION METHOD

Номер патента: US20190120772A1. Автор: YAMAGATA Yoshihiro. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-04-25.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200064274A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

INSPECTION DEVICES, INSPECTION METHODS AND INSPECTION SYSTEMS

Номер патента: US20170075026A1. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Huang Qingping,Yangdai Tianyi. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180149601A1. Автор: Uchida Satoshi,WAKIZAKA Yoshikazu,ENJOJI Takaharu,TAKANO Masayo,KATO Eiko. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection devices, inspection methods and inspection systems

Номер патента: US10408966B2. Автор: LI ZHANG,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Tianyi Yangdai. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-10.

Minute structure inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: CN101238376A. Автор: 池内直树,八壁正巳. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-08-06.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: US10495580B2. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2019-12-03.

Inspection device, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3361231B1. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

Inspection device, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2017169714A1. Автор: 孝明 伊藤. Владелец: 富士フイルム株式会社. Дата публикации: 2017-10-05.

INSPECTION DEVICE, BONDING SYSTEM AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140054463A1. Автор: Tomita Hiroshi,KOGA Shinji,Tamura Takeshi,MIYAHARA Akinori,IWANAGA Shuji. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection device, bonding system and inspection method

Номер патента: US20140055599A1. Автор: Hiroshi Tomita,Shinji Koga,Takeshi Tamura,Shuji Iwanaga,Akinori MIYAHARA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Inspection device, packaging machine and inspection method of packaging body

Номер патента: TWI729759B. Автор: 大谷剛將,大山剛,坂井田憲彥. Владелец: 日商Ckd股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-01.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: US20240298710A1. Автор: Seungwon Lee,Sungwook Yoon,Daenam HAN,Seoksu JANG,Yonghwan Kim. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

X-ray generation device, x-ray fluoroscopic image photographing device and ct image photographing device

Номер патента: EP3454356A2. Автор: Futoshi Ueki,Bunta MATSUHANA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-03-13.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4266932A1. Автор: Seungwon Lee,Sungwook Yoon,Daenam HAN,Seoksu JANG,Yonghwan Kim. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US12055499B2. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Substrate inspection device and component mounting device

Номер патента: US09511455B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: WO2018164692A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2018-09-13.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: EP3592196A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-01-15.

Device and method for inspecting a filtration unit

Номер патента: US20200103356A1. Автор: Todd HUTSON,Timothy EILRICH,Andrew BONGARD. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2020-04-02.

Display control device and storage medium

Номер патента: US20210302329A1. Автор: Kazuhiro Ota,Takeshi SONOHARA. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection device and inspection method for pillar-shaped honeycomb filter

Номер патента: US12117386B2. Автор: Yoshihiro Sato,Yuji Watanabe,Yuichi Tajima,Yohei KAJIURA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Conveying system for inspection device

Номер патента: GB2626516A. Автор: Huang Qingping,HONG Mingzhi,ZHANG Liguo,Yang Jianxue,Li Guipei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection device for a production machine

Номер патента: US09440758B2. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec Wiege und Positioniersysteme GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Pallet inspection device

Номер патента: US12037203B2. Автор: Wataru Kiyokawa. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Kneader internal inspection device

Номер патента: US20170225359A1. Автор: Eiji Takahashi,Hodaka Miura,Toshihide Fukui,Chitaka Manabe. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Abnormal noise inspection device, abnormal noise inspection method, program, and workpiece manufacturing method

Номер патента: EP3733359A1. Автор: Yuji KOBORI,Makoto TONEGAWA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240168045A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Automatic food inspection device

Номер патента: EP4406666A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-07-31.

Inspection device and ptp packaging machine

Номер патента: US20190283910A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection Device with Integrated X-ray and Weighing Device

Номер патента: US20240027370A1. Автор: Theo Düppre. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Package readying and inspection apparatus

Номер патента: US5337138A. Автор: Akihiko Takeshita,Tetsuji Masai,Kenichi Inada. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240073348A1. Автор: Tatsuya Shirasaka. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: EP4206665A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

X-ray inspection device and x-ray inspection system

Номер патента: US20230304947A1. Автор: Jong Hui Kim. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Appearance inspection device and blister packaging machine

Номер патента: US20200182799A1. Автор: Tadashi Inoguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240175805A1. Автор: Tatsuya Hirose,Tadashi SUMII,Hidetsugu NOSAKA,Yusuke TSURUI. Владелец: Taikisha Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection apparatus, ptp packaging machine, and inspection method

Номер патента: EP3767279A1. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Spot-welding electrode inspection device

Номер патента: US12036622B2. Автор: Kazuhiro Tezawa. Владелец: Kyokutoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Control mechanism for transformer in-situ inspection device

Номер патента: US09926052B2. Автор: Gregory A. Cole,Gregory F. Rossano,William Eakins,George Zhang,Daniel T. Lasko. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-03-27.

Container inspection device

Номер патента: US09823262B2. Автор: Osamu Yoshida,Chizuka Kai,Kunimitsu Toyoshima. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2017-11-21.

Thermocycling inspection device and chip holder

Номер патента: US11958052B2. Автор: Hiroshi Mitsutake,Ryoko Aso,Ryuichi Sekizawa. Владелец: METABOSCREEN CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Communication hole inspection device and communication hole inspection method

Номер патента: US20240151654A1. Автор: Satoshi Matsumoto,Masato YOKEMURA,Ken AKIYAMA. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection device, ptp packaging machine, and ptp sheet manufacturing method

Номер патента: EP3614127A1. Автор: Yukihiro Taguchi,Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Member inspection device and member repairing method

Номер патента: US20190041199A1. Автор: Yoichiro Ara,Yoshihiro Koketsu,Yuuko Ujihara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-02-07.

Wood material panel pressing device and method for monitoring a wood material panel pressing device

Номер патента: US20200094507A1. Автор: Daniel Sperlich. Владелец: SWISS KRONO Tec AG. Дата публикации: 2020-03-26.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US12117418B2. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection method

Номер патента: US20160003783A1. Автор: Yukitoshi Suzuki,Hidemi Takahashi,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection device and method of head up display for vehicle

Номер патента: US09573524B2. Автор: Dong Myong Kim. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11726066B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

In-line inspection devices

Номер патента: EP3874261A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-09-08.

In-line inspection devices

Номер патента: US20210364479A1. Автор: Daniel Joshua Stark,Aurel Adrian POPOVICIU,Ilker R. Capoglu. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2021-11-25.

Centralizer for Internal Pipe Inspection Device

Номер патента: CA2128619A1. Автор: Joseph R. Carapezza,Linda T. Ystueta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-02-03.

Ultrasonic Inspective Device for Simultaneous Pulse Echo and Through Transmission Inspection

Номер патента: US20210063357A1. Автор: James C. Kennedy,Jeffry J. Garvey,Roy Martin Gagnon. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-03-04.

Ultrasonic inspection device

Номер патента: EP4350342A1. Автор: Takao Koyama,Hideyuki Yamada,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Inspection device of vehicle driver assistance systems

Номер патента: US09545966B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection device, inspection method, and inspection device sensor

Номер патента: CN101107537A. Автор: 羽森宽,山冈秀嗣,石冈圣悟. Владелец: OHT Inc. Дата публикации: 2008-01-16.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: EP4249932A4. Автор: Yorikazu Kashiramoto. Владелец: So Brain Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Ultrasonic inspection device and inspection method

Номер патента: US20220236232A1. Автор: Atsushi Sugiura,Takuro Masuda,Masakazu Kamibayashi. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11898991B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220291173A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono,Noriko Yamamoto,Kazuhiro Itsumi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Non-destructive inspection device and method of structural parts of an aircraft

Номер патента: EP4257969A1. Автор: Carlos Miguel Giraldo,Jose Luis SANCHO GUTIERREZ. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2023-10-11.

Function inspection device of tco and inspection method using the same

Номер патента: KR101879463B1. Автор: 최성호,김종대,김창해,추성춘,이향목,이영목. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2018-07-17.

Ultrasonic inspection device and ultrasonic inspection unit

Номер патента: US20240060938A1. Автор: Shinji Wada,Ikuo Ihara,Tomohiro Koyama. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-02-22.

Charge generating devices and methods of making and use thereof

Номер патента: US20180372891A1. Автор: Lei Cao. Владелец: Ohio State Innovation Foundation. Дата публикации: 2018-12-27.

Ray generating device and control method thereof

Номер патента: US20240334585A1. Автор: Liang Zhang,Kejun Kang,Yuanjing Li,Chuanxiang Tang,Huaibi Chen,Yaohong Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

An aerosol generating device and capsule

Номер патента: MY198468A. Автор: James Thomas CARROLL,Lyndsey Alice BRYCE,Christopher William MURPHY. Владелец: Jt Int Sa. Дата публикации: 2023-08-31.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US09784676B2. Автор: HE Wang,XIANG Liu,Xin Fang,Peng Luo,Jiajia PENG. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Feeding device of hole inspection device and corresponding feeding method

Номер патента: EP3913323A1. Автор: Masao Watanabe,Tatsuo Nakahata,Ryohei Ono. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-11-24.

Inspection Device and Coating Apparatus Equipped With the Same

Номер патента: US20230003666A1. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Inspection device for cylindrical bodies

Номер патента: US20210207953A1. Автор: André Witzmann,Robert Witkowski,Armin Eisner. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2021-07-08.

Inspection device and coating apparatus equipped with the same

Номер патента: US12085514B2. Автор: Masahiro Ooe,Shuei Seno. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240353287A1. Автор: Takuya Iwamoto,Masao Akiyoshi,Kenji Amaya,Norihiko HANA,Masaki Umeda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Surface property inspection device and method

Номер патента: US09964520B2. Автор: Kazuhiro Ota,Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: US20240192141A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Appearance inspection device and apparatus for manufacturing battery cell

Номер патента: EP4386363A1. Автор: Lin Ma,Ming Zhang,Man Chen,Yunlong Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Automated Photography and Inspection Station

Номер патента: US20240319107A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: US20240302288A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device and inspection method for filter

Номер патента: EP4437862A1. Автор: Satoshi Nakamura,Yoshitaka Matsumoto,Shota Kobayashi,Masahiro Imuta,Akari ODAHARA. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Inspection device and manufacturing method of film-type battery

Номер патента: US20220205939A1. Автор: Satoshi Nakashima. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-06-30.

Ray collimation device and radiation inspection device

Номер патента: GB2625957A. Автор: YIN Wei,Liu Yaohong,Chen Yumei,Guan Weiqiang,LI Weike. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Adhesive inspection device and adhesive inspection method

Номер патента: US20200326176A1. Автор: Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2020-10-15.

Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09618563B2. Автор: Tomonori Nakamura,Mitsunori Nishizawa. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-11.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US20200033254A1. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Inspection device and inspection cage unit thereof

Номер патента: US10712257B2. Автор: Chen An SUNG,Yu-Jung Chu. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-14.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: US20240314420A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Car body inspection device and car body inspection method

Номер патента: EP4431922A1. Автор: Makoto Hirakawa,Teruki Kamada,Makoto Hino,Masaru Kumagai,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection device and inspection method for pillar shaped honeycomb filter

Номер патента: US20240255408A1. Автор: Yuji Watanabe,Hiroyoshi Inoue,Takuya Yamada,Takakazu KOYAMA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Image inspection device and program

Номер патента: US20200068081A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Strain inspection device and attaching method thereof

Номер патента: US09841365B2. Автор: Injoong Kim,Joungwook PARK,Hanna NOH,Sungsuu KIM,Gayoung RYU,Youngho CHA. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-12.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Automatic food inspection device

Номер патента: US20240167964A1. Автор: Hung Wen CHAO. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Display panel inspection device and display panel inspection method using the same

Номер патента: US20240219424A1. Автор: Dong Hoon Lee,Haewook YANG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Device and method for inspecting a sealing member

Номер патента: US09568303B2. Автор: Wan-Jae JOO. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Six-sided inspection mechanism for part and part appearance packaging inspection device

Номер патента: US20240053276A1. Автор: Xingke Wang. Владелец: Dongguan Jiezhan Precision Equipment Co ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection device and substrate inspection method using the same

Номер патента: US20240201100A1. Автор: Dongwook Lee,Sung Hune Yoo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Laser light source device and inspection device

Номер патента: US09991670B2. Автор: Kiwamu Takehisa,Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Battery cell inspection device and battery cell inspection system including the same

Номер патента: EP4068464A3. Автор: Sang Min Kim,Yong Jung Kim,Dong Whan SHIN. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device

Номер патента: US09696266B2. Автор: Toshiyasu Suyama. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-04.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US09541508B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Calibrating inspection devices

Номер патента: WO2019135886A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens-Brockway Glass Container Inc.. Дата публикации: 2019-07-11.

Calibrating Inspection Devices

Номер патента: US20190204239A1. Автор: William Anderson,James Ringlien. Владелец: Owens Brockway Glass Container Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20040004729A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection device of a tape reel

Номер патента: US20060082791A1. Автор: Yoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-04-20.

Exterior inspection device

Номер патента: US20170269003A1. Автор: Yasuhiko Enami,Yo-o HAYASHIDA. Владелец: Purex Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

X-ray inspection device

Номер патента: US20200253032A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

X-ray inspection device

Номер патента: EP3691420A1. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

X-ray inspection device

Номер патента: US11147149B2. Автор: Kotaro Kobayashi,Shinya Makino,Shingo KONDO,Hiromu Nishimura,Kaname Nishiue. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-12.

Medication container inspection device

Номер патента: WO2024054113A1. Автор: Joren Ide VAN DER HORST,Jim KIEFT,Joseph Roeland HENDRIKS. Владелец: Luo Automation B.V.. Дата публикации: 2024-03-14.

Lighting system for inspection device

Номер патента: RU2499185C2. Автор: Франц ЭНГЕЛЬХАРДТ. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2013-11-20.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Operator guided inspection device, system, and method

Номер патента: US20220178836A1. Автор: Thomas Alton Bartoshesky,Jonathan Douglas Williams,Robert Fuelep Biro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-09.

X-ray inspection device

Номер патента: EP4394457A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Shutter system and inspection device

Номер патента: EP4224148A1. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Security inspection device

Номер патента: US11747510B2. Автор: Feng Wang,Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Chunguang ZONG,Kejin Gao,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Detection device and detection method

Номер патента: US12099020B2. Автор: Sachio Iida,Norihito Mihota. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

X-ray inspection device

Номер патента: US09752996B2. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351B1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2007-05-02.

Electric inspection device of cockpit module assembly for vehicle

Номер патента: EP1591351A1. Автор: Satoshi Mizutani. Владелец: Denso Thermal Systems SpA. Дата публикации: 2005-11-02.

Self-Propelled Container and/or Vehicle Inspection Device

Номер патента: US20190250302A1. Автор: Jie Zhao,Haibo Qu. Владелец: Beijing Hualixing Sci Tech Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

X-ray inspection device

Номер патента: US20240219324A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection device

Номер патента: US20240201104A1. Автор: SHINJI Ueyama,MITSUNORI Numata,Kenji Suzuki,Tomoki Onishi,Ingi KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Shutter system and inspection device

Номер патента: US12047665B2. Автор: Masaki Takamatsu,Sena AMEMIYA,Jumpei SHIRAISHI,Kyohei SHIBUYA. Владелец: Nidec Copal Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device

Номер патента: US11774374B2. Автор: Takashi Sugata,Ryoji Kodama. Владелец: Nanosystem Solutions Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20240118223A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Masaya Yamamoto,Yoshihiro Satou,Ayumi TOMIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Drug Capsule Appearance Inspection Device

Номер патента: US20230236133A1. Автор: Ku Hyun Lee. Владелец: Sltg Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Side surface inspection device of cylindrical battery

Номер патента: US20240345000A1. Автор: Jiwon Kim,Tae Young Kim,Seung Gyun Hong. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Non-Destructive Inspection Device

Номер патента: US20240295511A1. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Massato TAKAMURA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-09-05.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317065A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Nondestructive inspecting device

Номер патента: US20240183801A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Visual inspection device

Номер патента: US20210381990A1. Автор: Claudio SEDAZZARI. Владелец: Opto Engineering SpA. Дата публикации: 2021-12-09.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: EP4067884A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Inspection device

Номер патента: US20230288327A1. Автор: Yuichiro Kamino,Hiroaki Minamide,Syusaku Yamamoto,Keisuke Kajikawa,Koji Nawata. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-09-14.

Inspection Device

Номер патента: US20160103187A1. Автор: Kenji Tsubosaka,Tetsuo Noguchi,Hiroo Yoshikawa,Yusuke Itoh. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: SE2251043A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-09.

Microstructure inspection device and system and use of the same

Номер патента: WO2024052463A1. Автор: Andreas Fischer. Владелец: SILEX MICROSYSTEMS AB. Дата публикации: 2024-03-14.

Tube weld x-ray inspection device

Номер патента: US20220317064A1. Автор: Nam Woo Kim,Young Ho KANG,Sang Sub KONG. Владелец: Digiray Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Device and method for inspecting display

Номер патента: US20190137408A1. Автор: Zhe Liu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Underwater inspection device and filtering method of its attitude sensor

Номер патента: US20200393419A1. Автор: HUI Li,Pengxiang LI. Владелец: Hainan University. Дата публикации: 2020-12-17.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US9151669B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4297106A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Battery inspection device and battery inspection method

Номер патента: EP3982450A1. Автор: Takahiro Murai. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2022-04-13.

Visual inspections device, method of manufacturing and program the same

Номер патента: US20210341394A1. Автор: Hideki Wada. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Analysis device and waveform processing program for analysis device

Номер патента: US20240219360A1. Автор: Hiroyuki Yasuda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection device

Номер патента: US09568437B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Inspection device and method for capturing inspection image

Номер патента: US11877063B2. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20190277772A1. Автор: Tomohiro Suzuki,Haruhiko Kusunose,Masayasu Nishizawa. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection device

Номер патента: EP4007480A1. Автор: Takahiro Kobayashi,Tomoya Fujimoto,Yuki INAURA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-06-01.

Spectrum-inspection device

Номер патента: US09972651B2. Автор: Wei-Ko Wang. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Security inspection device and transfer method therefor

Номер патента: US11933934B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Quanwei Song,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230358668A1. Автор: Chi-Yu Huang. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Automatic optical inspection device and method

Номер патента: US20190293566A1. Автор: WEN Xu,Fan Wang,Hongji Zhou,Pengli Zhang,Hailiang LU,Junwei JIA. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Inspecting device

Номер патента: US11852470B2. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Inspecting device

Номер патента: US20220136816A1. Автор: Chih-Feng Cheng,Chih-Chieh LIAO,Yu-Min Sun. Владелец: Global Unichip Corp. Дата публикации: 2022-05-05.

Surface inspection device

Номер патента: US20090079983A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-03-26.

Surface Inspection Device

Номер патента: US20100182603A1. Автор: Yoshihiko Fujimori,Yuwa Ishii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-07-22.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: EP3771308A1. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2021-01-27.

Optical inspection device

Номер патента: US12092582B2. Автор: Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection device for display apparatus

Номер патента: US20240302258A1. Автор: Gabtae Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Foreign matter inspecting device

Номер патента: EP4446730A1. Автор: Masahiro Yamaguchi,Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Inspection device for auto-loading feeder and electronic component pick and place machine

Номер патента: US12017861B2. Автор: Takeshi SAKURAYAMA. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Inspection device for painted surface of vehicle

Номер патента: US09546963B2. Автор: Jinho Seok,Sang Ki Hwang. Владелец: Digital Imaging Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Mounting inspection device

Номер патента: EP3048439A1. Автор: Mikio Nakajima,Mitsutaka Inagaki. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-27.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11906440B2. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Inspection device and method for inspecting an adhesive pattern on a substrate

Номер патента: US11801672B2. Автор: Eric Lingier,Alexander Wilhelm. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-10-31.

Dark-field optical inspection device

Номер патента: US11965834B2. Автор: Mayeul DURAND DE GEVIGNEY. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

Briquette inspection device and briquette inspection method

Номер патента: US20140146310A1. Автор: Koji Tsukada,Fumio Yuasa. Владелец: Furukawa Industrial Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240118220A1. Автор: Mitsuru Nitta,Shozo Oshio,Ryosuke SHIGITANI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Defect and appearance inspection device for photovoltaic panels

Номер патента: AU2020101507A4. Автор: Yong Wu,Huachao LI. Владелец: Suzhou Ju Neng Image Inspection Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: US20240011920A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection device

Номер патента: US20150355100A1. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-10.

Radiation Inspection Device

Номер патента: GB2617981A. Автор: LIU Lei,HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,Ji ZHENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Panel inspection device and method for inspecting a panel

Номер патента: EP4314927A1. Автор: Achim Zirkel. Владелец: Qioptiq Photonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-07.

Actuatable visual inspection device

Номер патента: US8836937B2. Автор: Christopher Edward Thompson,Thomas James Batzinger,Matthew Stephen Gutschow. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-16.

An inspection device for detecting surface faults, and an instrument incorporating such a device

Номер патента: CA2120948C. Автор: Ivar Jonsson. Владелец: IP-TEC AB. Дата публикации: 2004-12-07.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: EP4249961A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Multi-channel radiographic inspection device

Номер патента: CA3199574A1. Автор: LI ZHANG,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Container inspection device

Номер патента: NL2032976B1. Автор: Roeland Hendriks Joseph,Ide Van Der Horst Joren,Kieft Jim. Владелец: Luo Automation B V. Дата публикации: 2024-03-21.

Model parameter learning device, control device, and model parameter learning method

Номер патента: US11144789B2. Автор: Kosuke Nakanishi,Yuji Yasui,Wataru Sasaki,Shin Ishii. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2021-10-12.

Model parameter learning device, control device, and model parameter learning method

Номер патента: US20200097772A1. Автор: Kosuke Nakanishi,Yuji Yasui,Wataru Sasaki,Shin Ishii. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-26.

Learning method and device, program, learned model, and text generation device

Номер патента: WO2020218111A1. Автор: 誠 大関. Владелец: 富士フイルム株式会社. Дата публикации: 2020-10-29.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: EP4056978A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-09-14.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US20220349770A1. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Seal inspection device and seal inspection method

Номер патента: US12085481B2. Автор: Takayuki Sakurai,Hikaru Tadano,Yuta KASAI,Shotaro KARUBE,Masashi TAKEKOSHI. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection device and inspection method for speed variator

Номер патента: US11913853B2. Автор: Long-En Chiu. Владелец: Fulian Yuzhan Precision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Eye Glasses Lens Inspection Device with Interchangeable Lenses

Номер патента: US20230037795A1. Автор: Daryl Squicciarini. Владелец: OptiSource International Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: CA2623370A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-29.

Inspection device and method

Номер патента: US12044725B2. Автор: Hiroshi Fukuda,Toru Miura,Yoshiho Maeda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection device for headrest return prevention mechanism

Номер патента: US20090151481A1. Автор: Minoru Uda. Владелец: TS Tech Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Leak inspection device and leak inspection method

Номер патента: US20210278308A1. Автор: Tetsuya Matsukawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Planetary gear carrier pack transmission error inspection device

Номер патента: US9664592B2. Автор: Hyun Ku Lee,Jong Gu Do,Tae Hwi Lee. Владелец: PSYLOGIC Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Inspection device

Номер патента: US09683915B2. Автор: Yuuki Ogata. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Shape inspection device

Номер патента: US09625353B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Inspection device and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230228646A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Inspection device, inspection program, and inspection method

Номер патента: CN114127728A. Автор: 大竹由也,野口智史. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

DEVICE AND METHOD FOR COMPRESSING MACHINE LEARNING MODEL

Номер патента: US20200311552A1. Автор: Wang Hua,LUO Zhenbo,Sun Bin,Yang Shuli,A Yong,Wang Gaofei,Fu Pei. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2020-10-01.

Frequency generating device and operation method thereof

Номер патента: US12117865B2. Автор: Wen-Cheng Wang,Wan-Lin Hsieh,Sheng-Hsiang Kao. Владелец: Txc Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Aerosol generating device and payment system including the same

Номер патента: EP4369969A1. Автор: Won Kyeong Lee,Min Kyu Kim,Paul Joon SUNWOO. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-05-22.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418928A1. Автор: Minkyu Kim,Jongsub Lee,Byungsung CHO,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Frequency generating device and operation method thereof

Номер патента: US20240201726A1. Автор: Wen-Cheng Wang,Wan-Lin Hsieh,Sheng-Hsiang Kao. Владелец: Txc Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: CA3233719A1. Автор: Minkyu Kim,Jongsub Lee,Byungsung CHO,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Aerosol generating device and payment system including the same

Номер патента: WO2024076186A1. Автор: Won Kyeong Lee,Min Kyu Kim,Paul Joon SUNWOO. Владелец: KT&G CORPORATION. Дата публикации: 2024-04-11.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US09632110B2. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: US20240302419A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Security inspection device and control method therefor

Номер патента: AU2019414849A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US12032013B2. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US20220206049A1. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

Contact, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing contact

Номер патента: US12135336B2. Автор: Norihiro Ota. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20200141977A1. Автор: Yuji Ebiike,Naoto KAGUCHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Geometric inspection device for horological mobile components

Номер патента: US20210271206A1. Автор: Fabrice GANGUIN,Erich Welz. Владелец: ETA SA Manufacture Horlogere Suisse. Дата публикации: 2021-09-02.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240310427A1. Автор: Masahiro Fukushima,Kouhei Matsumoto,Haruko IWAI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Conduction inspection device member and conduction inspection device

Номер патента: US20190212365A1. Автор: Masao SASADAIRA,Xiaoge Wang. Владелец: Sekisui Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection device

Номер патента: US09599659B2. Автор: Keiji Tsuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection device for wiring of an integrated circuit

Номер патента: US6577151B1. Автор: Ming-Lang Tsai,Chia-Min Chuang,Chen-Ping Su,Chon-Tsai Yang. Владелец: Orient Semiconductor Electronics Ltd. Дата публикации: 2003-06-10.

Contact inspection device

Номер патента: US20240248117A1. Автор: Jung Min Lee,Suk Ju Kang,Eun Su Jun,Byungsu KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection device, method for producing multilayer electrode body and inspection method

Номер патента: US12117283B2. Автор: Haruhisa Yagi,Ryuta Abe,Tatsuya Masada. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Partial discharge determination device and method

Номер патента: EP4382925A1. Автор: Hiromichi Yamada,Mitsuyasu Kido,Shinsuke Onoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-06-12.

Charged Particle Beam Device and Optical Examination Device

Номер патента: US20200161194A1. Автор: Koichi Taniguchi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-21.

Inspection device for inspecting tft

Номер патента: US20080164902A1. Автор: Tomoyuki Taguchi,Kenichi Imura,Yoshitami Sakaguchi,Yoshinori Mekata,Daiju Nakanao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-10.

Wafer inspection device

Номер патента: US8638118B2. Автор: Satoshi Sasaki,Yoshirou Nakata. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-01-28.

Continuity inspection device

Номер патента: US09989577B2. Автор: Miyoshi MABUCHI. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Inspection device

Номер патента: US20180203041A1. Автор: Toshiyuki Sawada,Satoshi Iwashima. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-19.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Contact inspection device

Номер патента: US09759744B2. Автор: Kentaro Tanaka. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Semiconductor inspection device

Номер патента: US20170336442A1. Автор: Yuya SAEKI,Misuzu NISHIMURA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Inspection device for glass substrate

Номер патента: US20130049785A1. Автор: Wen-Da Cheng. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Inspection device with vertically moveable assembly

Номер патента: US09535089B2. Автор: Greg Olmstead,Gary Mark Gunderson. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Focus ring inspection device and focus ring inspection method

Номер патента: US20240159590A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee,Dong Mok Lee,Jin Il SUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Electronic component carrying device and electronic component inspection device

Номер патента: US20180080982A1. Автор: Masami Maeda,Daisuke Kirihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-22.

Obstacle sensor inspection device and method

Номер патента: US20230305162A1. Автор: Kenya Sumida. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Semiconductor element inspection device and inspection method

Номер патента: US20140125373A1. Автор: Hiroyuki Yamagishi,Shigeto Akahori,Shinyu Hirayama,Yoko Yamaji. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Inspection Device and Inspection Method Using Inspection Device

Номер патента: US20230288493A1. Автор: Atsushi Miyazaki,Keiji Nishimura. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: EP4400873A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Surface profile inspection device

Номер патента: US20120147919A1. Автор: Toshihiko Yoshikawa,Masataka Toda,Masaru HISANAGA. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Radiation protection arrangement and security inspection device

Номер патента: US20240361487A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Ming Chang,Yunda Sun,Le SHEN,Wuyang Liang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Optical axis angle inspection device

Номер патента: US09970751B2. Автор: Takayuki Ogawa,Tatsuya Sakai,Yoshitaka Hirai,Akira Sakamoto,Hirotaka Itoh. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspecting device and inspecting method

Номер патента: EP4306972A1. Автор: Shogo Suzuki,Noriaki Kimura,Kenjiro Kimura,Yutaro Nishimura,Yuki Mima. Владелец: Integral Geometry Science Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A3. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

A skin inspection device for identifying abnormalities

Номер патента: EP4306046A2. Автор: Chris Murphy,Gavin CORLEY,Simon Kiersey. Владелец: Bluedrop Medical Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Fluid visual inspection device

Номер патента: US20110100138A1. Автор: Yao-Sung HOU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-05-05.

Display module inspection device and display module inspection method

Номер патента: US11906561B2. Автор: Jun-young Ko,Joo-Hyeon Jeong,Bongil Kang,Sangkook KIM,Gayeon Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Wire disconnection inspecting device and method

Номер патента: CA2588855C. Автор: Katsumi Takeishi,Kazuyuki Fukamachi,Keita Sekine,John Cheek. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-29.

Miniature air gap inspection device

Номер патента: CA2264382C. Автор: Kenneth J. Hatley. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2007-10-09.

Substrate inspection device and substrate inspection method

Номер патента: US20230341454A1. Автор: Young Rok Kim,Se Yong Oh,Chul Joo Hwang,Gu Hyun JUNG,Jin An JUNG. Владелец: Jusung Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Data-based workflow generation device and method thereof

Номер патента: US20240311724A1. Автор: Zhi Zhang,Guoxin Sun. Владелец: Data Systems Consulting Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Imaging device and method for displaying multiple objects of an imaging view

Номер патента: US09699367B2. Автор: Junji Hayashi,Yoichi Iwasaki,Takehiro Koguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Heat-Not-Burn Aerosol-Generating Device Comprising a Transparent Heater

Номер патента: US20240260677A1. Автор: Patrick Debergh. Владелец: JT INTERNATIONAL SA. Дата публикации: 2024-08-08.

Medicine inspection device and medicine packaging system

Номер патента: US09994347B2. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Hiroyuki Yuyama,Dai SHIMIZUBE. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Learning model generating device, inferring device, and aeration amount control device

Номер патента: CA3179569A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Nobukazu Suzuki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-12-09.

Learning model generating device, inferring device, and aeration amount control device

Номер патента: EP4160324A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Nobukazu Suzuki. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Information processing device, learning device, and information processing method

Номер патента: US20210101384A1. Автор: Kazunaga Suzuki,Katsuaki Sato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Computer-Implemented Data Structure, Method, Inspection Device, and System for Transferring a Machine Learning Model

Номер патента: US20240273415A1. Автор: Daniel SCHALL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-08-15.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A2. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

General machine learning model, and model file generation and parsing method

Номер патента: EP3751477A1. Автор: Xunyu CHEN,Linyang WU,Weijian DU. Владелец: Shanghai Cambricon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-16.

Information processing device, driver specifying device, and learning model

Номер патента: EP3971815A1. Автор: Junichi Yamaguchi,Kimikazu ABE,Tatsunari KONDO. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2022-03-23.

Model generation method, computer program product, model generation device, and data processing device

Номер патента: US20230177316A1. Автор: Yuki Asada. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Smoking article packaging container inspection device, manufacturing device, and inspection method

Номер патента: EP3831729A1. Автор: Makoto Ueno. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2021-06-09.

Semiconductor inspection device and semiconductor inspection method

Номер патента: US12094138B2. Автор: Kazuhiro Hotta,Takafumi Higuchi,Tomochika Takeshima. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-17.

Three-dimensional (3D) model generation from two-dimensional (2D) images

Номер патента: US12079929B2. Автор: Nima Sarshar,Max Hwang. Владелец: Nextech Ar Solutions Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Information processing device and method for processing information

Номер патента: US20240312234A1. Автор: Takaaki Ito,Takafumi SEIMASA,Keisuke Tomiyasu,Huunam Nguyen. Владелец: Fronteo Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Machine learning model generator

Номер патента: US20240193490A1. Автор: Marios Anapliotis,Hassan SAWAF,Fady El-Rukby. Владелец: Aixplain Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Biological image transformation using machine-learning models

Номер патента: AU2021339584A9. Автор: Hervé MARIE-NELLY,Jeevaa Velayutham. Владелец: Insitro Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Energy efficient machine learning models

Номер патента: WO2024170865A1. Автор: Alan Thomas Bates. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2024-08-22.

Energy efficient machine learning models

Номер патента: EP4418166A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2024-08-21.

Label assignment model generation device and label assignment model generation method

Номер патента: US11610062B2. Автор: Michiko Tanaka,Takuya Oda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-03-21.

Label assignment model generation device and label assignment model generation method

Номер патента: US20210303789A1. Автор: Michiko Tanaka,Takuya Oda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-09-30.

Image inspection device

Номер патента: US20210385415A1. Автор: Ying-Nan Chen,Yi-Ning Lee. Владелец: Wen Chin Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Interface Device and Method for Configuring the Interface Device

Номер патента: US20210109764A1. Автор: Ingo Thon. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2021-04-15.

Method, electronic device, and computer program product for model training

Номер патента: US20230342662A1. Автор: Zhen Jia,Jiacheng Ni,Zijia Wang. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2023-10-26.

Developing machine-learning models

Номер патента: WO2022228679A1. Автор: Andreas Johnsson,Farnaz MORADI,Jalil TAGHIA,Hannes Larsson,Masoumeh EBRAHIMI,Carmen LEE. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2022-11-03.

Machine Learning Model Training Method and Device and Electronic Equipment

Номер патента: US20230030419A1. Автор: Tingting Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Method and system for incremental training of machine learning models on edge devices

Номер патента: US12088719B2. Автор: Subash Sundaresan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-10.

Learning model generation method, program, storage medium, and prelearned model

Номер патента: EP3971760A1. Автор: Haruhisa Masuda,Rumi KAWABE,Tatsuya TAKAKUWA,Kei Kuramoto. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Method for model adaptation, electronic device and computer program product

Номер патента: US20210133588A1. Автор: Jin Li,Sanping Li,WuiChak Wong. Владелец: EMC IP Holding Co LLC. Дата публикации: 2021-05-06.

Continuous learning models across edge hierarchies

Номер патента: WO2023278045A1. Автор: Paramvir Bahl,Yuanchao SHU,Ganesh Ananthanarayanan,Tsuwang Hsieh. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2023-01-05.

Continuous learning models across edge hierarchies

Номер патента: US20220414534A1. Автор: Paramvir Bahl,Yuanchao SHU,Ganesh Ananthanarayanan,Tsuwang Hsieh. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2022-12-29.

Continuous learning models across edge hierarchies

Номер патента: EP4363971A1. Автор: Paramvir Bahl,Yuanchao SHU,Ganesh Ananthanarayanan,Tsuwang Hsieh. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2024-05-08.

Hybrid disease and pest identifying device and method based on deep learning

Номер патента: LU102773B1. Автор: Song Caixia,Xu Pengmin,Qi Zhiguo,Lv Guangjie. Владелец: Univ Qingdao Agricultural. Дата публикации: 2021-10-25.

Hybrid disease and pest identifying device and method based on deep learning

Номер патента: AU2021101759A4. Автор: Caixia Song. Владелец: Qingdao Agricultural University. Дата публикации: 2021-07-08.

Generating and deploying machine learning models packages

Номер патента: EP3714362A1. Автор: Jiazhen Chen,Haiyang Liu,Jingwei Sun,Calvin Yue-Ren Kuo. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-30.

Biological image transformation using machine-learning models

Номер патента: US20220076067A1. Автор: Hervé MARIE-NELLY,Jeevaa Velayutham. Владелец: Insitro Inc. Дата публикации: 2022-03-10.

Biological image transformation using machine-learning models

Номер патента: US20220358331A1. Автор: Hervé MARIE-NELLY,Jeevaa Velayutham. Владелец: Insitro Inc. Дата публикации: 2022-11-10.

Biological image transformation using machine-learning models

Номер патента: EP4211657A2. Автор: Hervé MARIE-NELLY,Jeevaa Velayutham. Владелец: Insitro Inc. Дата публикации: 2023-07-19.

Image inspection device and image inspection method

Номер патента: EP4151421A3. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Feeder operation inspection device

Номер патента: EP4027762A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-07-13.

Feeder operation inspection device

Номер патента: US20220332514A1. Автор: Shuichiro KITO. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Computing device and method for generating realistic synthetic image data

Номер патента: US12045930B2. Автор: Amir Afrasiabi,Nick Shadbeh Evans. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-23.

Deep model training method and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20210118140A1. Автор: Jiahui Li. Владелец: Beijing Sensetime Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Machine learning model and encoder to predict online user journeys

Номер патента: US11727073B2. Автор: Danny Portman,Zachary D. Jones. Владелец: Zeta Global Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Recognition error correction device and correction model

Номер патента: US20220318571A1. Автор: Taishi IKEDA. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2022-10-06.

Machine learning modeling using social graph signals

Номер патента: US11966853B2. Автор: Qian You,Jason Brewer,John Cain Blackwood,Nima Khajehnouri,Hadi Minooei,Benjamin C. Steele. Владелец: Snap Inc. Дата публикации: 2024-04-23.

Machine learning model and encoder to predict online user journeys

Номер патента: US20230350960A1. Автор: Danny Portman,Zachary D. Jones. Владелец: Zeta Global Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Machine learning modeling using social graph signals

Номер патента: US20240202550A1. Автор: Qian You,Jason Brewer,John Cain Blackwood,Nima Khajehnouri,Hadi Minooei,Benjamin C. Steele. Владелец: Snap Inc. Дата публикации: 2024-06-20.

Method, device, and computer program product for processing faults

Номер патента: US20240220350A1. Автор: Jinpeng LIU,Jiacheng Ni,Zijia Wang. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-07-04.

Split screen application matching method of terminal, apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: US20240094871A1. Автор: Yiwen Yang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-21.

Method, device, and computer program product for processing faults

Номер патента: US12045126B1. Автор: Jinpeng LIU,Jiacheng Ni,Zijia Wang. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus and methods for training an educational machine-learning model

Номер патента: US20240311688A1. Автор: Michael Everest. Владелец: Edyou. Дата публикации: 2024-09-19.

Integrated Development Environments for Generating Machine Learning Models

Номер патента: US20240311100A1. Автор: Michael Terry,Aaron Donsbach,Andy Coenen,Ludovic Peran. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus and methods for training an educational machine-learning model

Номер патента: WO2024192244A2. Автор: Michael Everest. Владелец: Edyou. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus and methods for training an educational machine-learning model

Номер патента: WO2024192244A3. Автор: Michael Everest. Владелец: Edyou. Дата публикации: 2024-10-24.

Image inspection device and saving processing method for captured image

Номер патента: EP3886041A1. Автор: Tomohiro Suzuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Methods and systems for facilitating feature engineering for machine learning models

Номер патента: US20240202576A1. Автор: Olli Pekka Kostamaa,Ahmad Said Ghazal,Hanumath Rao Maduri. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-20.

Method, device, and computer program product for managing machine learning model

Номер патента: US12093553B2. Автор: Qiang Chen,Danqing SHA,Zhen Jia,Jinpeng LIU,Jiacheng Ni. Владелец: EMC IP Holding Co LLC. Дата публикации: 2024-09-17.

Translating text encodings of machine learning models to executable code

Номер патента: US20220121431A1. Автор: Jarred CAPELLMAN. Владелец: SparkCognition Inc. Дата публикации: 2022-04-21.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20240249400A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-25.

Learning device, learning method, inference device, and storage medium

Номер патента: US20230118767A1. Автор: Yusaku Konno. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

User-Specific Content Generation Using Text-To-Image Machine-Learned Models

Номер патента: US20240330381A1. Автор: Arash SADR. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-10-03.

User-specific content generation using text-to-image machine-learned models

Номер патента: WO2024206887A1. Автор: Arash SADR. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-10-03.

Machine learning models for video object segmentation

Номер патента: GB2626221A. Автор: SAA-GARRIGA Albert,JEONG MoonHwan,Yucel Mehmet,Manganelli Bruno,Miles Roy. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-17.

Model generation apparatus, model generation method, and recording medium

Номер патента: US20220301293A1. Автор: Tetsuo Inoshita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Machine learning model for automatically detecting faults using optical inspection

Номер патента: US20240127418A1. Автор: Thomas Decker,Michael LEBACHER. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-04-18.

Automated model generation platform for recursive model building

Номер патента: US12050973B2. Автор: Maharaj Mukherjee. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Program, Information Processing Method, Information Processing Device and Model Generation Method

Номер патента: US20240355653A1. Автор: Tatsuo Hiramura. Владелец: Spp Technologies Co Ttd. Дата публикации: 2024-10-24.

Learning model generating method and inspection device

Номер патента: US20230316718A1. Автор: Toshikazu Karube. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Generating synthetic data based on time series predictions and plural machine learning models

Номер патента: US20240111815A1. Автор: Austin Walters,Jeremy Goodsitt. Владелец: Capital One Services LLC. Дата публикации: 2024-04-04.

Determining localized image prediction errors to improve a machine learning model in predicting an image

Номер патента: US20240288764A1. Автор: Ayman Hamouda. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-29.

Deploying simplified machine learning models to resource-constrained edge devices

Номер патента: US20240169269A1. Автор: Vishal INDER SIKKA,Navin Budhiraja. Владелец: Vianai Systems Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Deploying simplified machine learning models to resource-constrained edge devices

Номер патента: WO2024108194A1. Автор: Vishal INDER SIKKA,Navin Budhiraja. Владелец: Vianai Systems, Inc.. Дата публикации: 2024-05-23.

Optimized latent missing feature detection for machine learning models

Номер патента: US20240265304A1. Автор: Eran Halperin,Kevin Wu,James Zou,Dominik Roman Christian DAHLEM. Владелец: Optum Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Calibrating pathogencity scores from a variant pathogencity machine-learning model

Номер патента: US20240290425A1. Автор: Kai-How FARH,Tobias Hamp,Jeffrey Mark EDE. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Calibrating pathogencity scores from a variant pathogencity machine-learning model

Номер патента: WO2024182530A1. Автор: Kai-How FARH,Tobias Hamp,Jeffrey Mark EDE. Владелец: Illumina, Inc.. Дата публикации: 2024-09-06.

Calibrating pathogenicity scores from a variant pathogenicity machine-learning model

Номер патента: WO2024182530A9. Автор: Kai-How FARH,Tobias Hamp,Jeffrey Mark EDE. Владелец: Illumina, Inc.. Дата публикации: 2024-10-10.

Machine learning model aggregation

Номер патента: US20240220860A1. Автор: Poorna Kale,Saideep Tiku,Shashank Bangalore Lakshman,Pavana Prakash,Febin Sunny. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Providing a secure and collaborative feedback mechanism for machine learning models

Номер патента: US20240311682A1. Автор: Luca COSTABELLO,Adrianna Janik. Владелец: Accenture Global Solutions Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Image inspection device, image forming device, and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20220012867A1. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection device, control method and control apparatus for the same

Номер патента: US20190295241A1. Автор: Yu Gu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Causal learning model

Номер патента: US20240362530A1. Автор: Prasanna SATTIGERI,Karthikeyan SHANMUGAM,Payel Das,Kahini Wadhawan,Samuel Chung Hoffman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Information processing method and device, and storage medium

Номер патента: EP4174729A1. Автор: Jun Sun,Shu Zhang,Yue Gao. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Systems and method for evaluating and selectively distilling machine-learned models on edge devices

Номер патента: EP4058947A1. Автор: Matthew Sharifi. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2022-09-21.

Machine learning model with layer level uncertainty metrics

Номер патента: US11809976B1. Автор: Shuyi Li,Kamalika Das,Apoorva Banubakode. Владелец: Intuit Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Learning model generation method, learning model generation device, and automatic musical performance robot

Номер патента: US11514876B2. Автор: Kazuhiko Yamamoto. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2022-11-29.

Selective inference generation with distributed machine-learned models

Номер патента: WO2020204938A1. Автор: Ivan Poupyrev,Gerard Pallipuram,Nicholas GILLIAN. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2020-10-08.

Generating image method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US20240257426A1. Автор: Qian He,Lijie Liu. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for generating assist features using machine learning model

Номер патента: US20240256976A1. Автор: Yu Cao,Jun Tao,Christopher Alan SPENCE. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-01.

Computer program, trained model generation method, and information processing device

Номер патента: EP4434437A1. Автор: Nao Kobayashi,Yuta Kumazu,Seigo Senya. Владелец: Anaut Inc. Дата публикации: 2024-09-25.

Deployment of machine learned models to plurality of devices

Номер патента: EP4423599A1. Автор: Robin Alfred VAN EMDEN,Maurits Clemens Kaptein. Владелец: Scailable BV. Дата публикации: 2024-09-04.

Sampling user equipments for federated learning model collection

Номер патента: US20230409962A1. Автор: Stephen MWANJE,Muhammad Majid BUTT,Fahad SYED MUHAMMAD. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2023-12-21.

Learned model generation method, machine learning system, program, and medical image processing device

Номер патента: EP4287114A1. Автор: Akira Kudo. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Search with machine-learned model-generated queries

Номер патента: WO2024137088A1. Автор: Arash SADR,Alice Au Quan. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-27.

Image retrieving device and image retrieving method

Номер патента: US20240160661A1. Автор: Yoshimi Moriya,Mitsuki Nakamura,Takayuki SEMITSU,Teng-Yok Lee,Shotaro ISHIGAMI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Computer-readable recording medium storing machine learning program, device, and method

Номер патента: US20240086710A1. Автор: Kenichi Kobayashi,Hiroaki Kingetsu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Unsupervised federated learning of machine learning model layers

Номер патента: US20240296834A1. Автор: Francoise Beaufays,Johan Schalkwyk,Khe Chai Sim. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-09-05.

Machine learning model correction

Номер патента: US20240046349A1. Автор: Sean Javad Kamkar,Jerome Louis Budzik,Geoffrey Michael Ward. Владелец: Zestfinance Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Automatic bio-specimen inspection system and inspection method thereof

Номер патента: US11967063B2. Автор: Shu Huang,Shang-Kun Li. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-23.

Biological image transformation using machine-learning models

Номер патента: WO2022055903A2. Автор: Hervé MARIE-NELLY,Jeevaa Velayutham. Владелец: Insitro, Inc.. Дата публикации: 2022-03-17.

Machine learning model correction

Номер патента: WO2024031006A1. Автор: Sean Javad Kamkar,Jerome Louis Budzik,Geoff WARD. Владелец: ZESTFINANCE, INC.. Дата публикации: 2024-02-08.

Information processing device and air conditioning system

Номер патента: US20240167716A1. Автор: Ippei SHINODA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Biological image transformation using machine-learning models

Номер патента: WO2022055903A3. Автор: Hervé MARIE-NELLY,Jeevaa Velayutham. Владелец: Insitro, Inc.. Дата публикации: 2022-04-21.

Deep learning model learning device and method for cancer region

Номер патента: EP3872817A1. Автор: Dong Min Kim,Won Tae Kim,Shin Uk Kang,Myung Jae Lee,Jin Seong JANG. Владелец: JLK Inc. Дата публикации: 2021-09-01.

Efficient integration of machine learning models in building management systems

Номер патента: US12045048B2. Автор: Priti SHINDE,Deepak Uppal. Владелец: Tyco Fire and Security GmbH. Дата публикации: 2024-07-23.

Method, apparatus, device and medium for managing model based on distance between samples

Номер патента: US20240346318A1. Автор: Cheng Yang,Hao Wu. Владелец: Beijing Youzhuju Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Evaluating machine learning model performance by leveraging system failures

Номер патента: US11763207B1. Автор: Aviv Ben Arie,Omer Zalmanson. Владелец: Intuit Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20220138983A1. Автор: Kentaro Hayashi,Hiromichi Godo. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Method and apparatus for transferring machine learning model parameter

Номер патента: US20230169398A1. Автор: Shiqiang Suo,Yingmin Wang. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Device and method for parallel processing of deep learning model

Номер патента: US20230169337A1. Автор: Hyun Woong Ko,Kyubyong Park. Владелец: Tunib Inc. Дата публикации: 2023-06-01.

Evaluation of machine learning models using agreement scores

Номер патента: US20240144080A1. Автор: Iam Palatnik de Sousa,Werner Spolidoro Freund,João Victor da Fonseca Pinto. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-05-02.

Generating synthetic data based on time series predictions and plural machine learning models

Номер патента: US11886516B1. Автор: Austin Walters,Jeremy Goodsitt. Владелец: Capital One Services LLC. Дата публикации: 2024-01-30.

Method for training a machine learning model

Номер патента: US20240370773A1. Автор: Valentin Loeffelmann,Ilya KAMENSHCHIKOV,Felix Milo Richter,Felix Berkenkamp,Diane Sabine Staudt. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-11-07.

Machine learning model certification

Номер патента: US11843522B2. Автор: Peter Szilagyi. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2023-12-12.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection device and method of inspection using the same

Номер патента: US20240233111A1. Автор: DooHyoung Lee,Dongha Lee,Juwon LEE,Sanghyung Lim,Kuhwan Chung,Joo Dong Yun. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Image inspection device, image inspection method, and prelearned model generation device

Номер патента: US20230162343A1. Автор: Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240346740A1. Автор: Min Kyu Yeo,Sun Woong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Utilization of visual auxiliary inspection devices for vehicle servicing system and method

Номер патента: US20060106630A1. Автор: Wang-Ying Lo. Владелец: DRACO PHOTOELECTRON Co Ltd. Дата публикации: 2006-05-18.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Inspection device, method, and computer program for inspection

Номер патента: US20230316490A1. Автор: Kazuhiro Arita,Akihito Ito,Yukiharu Tomita,Yasunori Nakamukai,Takahiko Naitou. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Image inspection device, console, and radiation imaging system

Номер патента: EP4029450A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-07-20.

Inspecting device, method for changing threshold, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09544447B2. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Three-dimensional building model generation based on classification of image elements

Номер патента: EP4420091A1. Автор: Ian Endres,Jack Michael LANGERMAN,Dario RETHAGE,Panfeng Li. Владелец: Hover Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Wafer containing cassette inspection device and method

Номер патента: US20100074514A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Takeki Kogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-03-25.

Computer program, learning model generation method, image processing method, and image processing device

Номер патента: EP4349267A1. Автор: Kensuke ISERI. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Inspection Device for Inspecting a Building or Structure

Номер патента: US20230073689A1. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2023-03-09.

Search with machine-learned model-generated queries

Номер патента: US11941678B1. Автор: Arash SADR,Alice Au Quan. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-03-26.

Printed material inspection device, printed material inspection method, program, and printing system

Номер патента: US20240161273A1. Автор: Takashi Matsuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20180197187A1. Автор: Wing Kin Hui,Hoi Ying Chung,Fong Man Hui. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device for inspecting a building or structure

Номер патента: US12002193B2. Автор: Kristian KLAUSEN,Øystein SKOTHEIM,Morten Fyhn AMUNDSEN. Владелец: Scoutdi AS. Дата публикации: 2024-06-04.

Search with Machine-Learned Model-Generated Queries

Номер патента: US20240202796A1. Автор: Arash SADR,Alice Au Quan. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-20.

Image inspection device, console, and radiographic system

Номер патента: US20220198663A1. Автор: Daiki Harada. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Learning model generation device, learning model generation method, and recording medium

Номер патента: US20230306744A1. Автор: Yuji Tahara,Rina TOMITA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Solder print inspecting device

Номер патента: US09471972B2. Автор: Yosuke Kamioka. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Systems and methods for constructing a dental arch image using a machine learning model

Номер патента: US11900538B2. Автор: Christopher Yancey,Jordan KATZMAN. Владелец: SDC US Smilepay SPV. Дата публикации: 2024-02-13.

System and method for automated construction of data sets for retraining a machine learning model

Номер патента: US20240144654A1. Автор: Peng Yu,Roni GURVICH. Владелец: Shopify Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Image processing device and image processing method

Номер патента: US20240303977A1. Автор: Yasuhisa Ikushima. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program product

Номер патента: US20210225112A1. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Voltage generation device and voltage generation method

Номер патента: US11429124B1. Автор: Yi-Chung Chou,Yu-Chin Chen,Chih-Yuan Kuo. Владелец: ITE Tech Inc. Дата публикации: 2022-08-30.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: US20230329353A1. Автор: Minkyu Kim,Jongsub Lee,Byungsung CHO,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4287899A1. Автор: Minkyu Kim,Jongsub Lee,Byungsung CHO,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-12-13.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4374217A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: EP4373675A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-05-29.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240300234A1. Автор: Thomas Hofmann,Felix MATHYS,Mauro TRUSCELLO. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection device for a converting machine

Номер патента: US20240326405A1. Автор: Thomas Hofmann,Francis Pilloud. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2024-10-03.

Computing device and method for determining a revised flight plan as a function of battery temperature

Номер патента: US12080177B2. Автор: Steven J. Foland. Владелец: Beta Air LLC. Дата публикации: 2024-09-03.

Handheld inspection device

Номер патента: EP4281254A1. Автор: Kennet Andersson,Johan RYMAN. Владелец: Bill Andersson Fordonslyftar Ab. Дата публикации: 2023-11-29.

Banknote inspection device, banknote inspection method, and banknote inspection program

Номер патента: CA3115746C. Автор: Akio Maruyama,Kazuhisa Yoshimura. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Image inspection device and image forming apparatus using the same

Номер патента: US20240168422A1. Автор: Yu Saito,Masakazu Shirai. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspecting device monitoring system

Номер патента: US09465385B2. Автор: Shingo Suzuki,Yosuke Kamioka,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection method for array substrate and inspection device for the same

Номер патента: US20020017917A1. Автор: Tomoyuki Taguchi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2002-02-14.

Visual inspection device

Номер патента: US20200053259A1. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl,Benjamin Oliver Ryan Cabot. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Mass spectrum processing apparatus and model generation method

Номер патента: EP3787003A1. Автор: Masahiko Takei,Takaya Satoh,Fuminori Uematsu. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

Mass spectrum processing apparatus and model generation method

Номер патента: US11211150B2. Автор: Masahiko Takei,Takaya Satoh,Fuminori Uematsu. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-12-28.

Visual inspection device

Номер патента: US09736342B2. Автор: Jason R. Crowe,Gareth Mueckl. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Light source device and camera inspection device using same

Номер патента: US20230231088A1. Автор: Ji Hyun Yun. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Inspection method and inspection device

Номер патента: EP2772920A2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-09-03.

Ultrasonic generation device and concrete forming system

Номер патента: US20240286313A1. Автор: FENG Yan,Ziming KOU,Juan Wu,Hulin WANG,Qichao REN,Yanwei PENG,Buwen ZHANG. Владелец: Shanxi Lingxuda Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Ultrasonic generation device and concrete forming system

Номер патента: CA3225944A1. Автор: FENG Yan,Ziming KOU,Juan Wu,Hulin WANG,Qichao REN,Yanwei PENG,Buwen ZHANG. Владелец: Shanxi Lingxuda Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Ultrasonic generation device and concrete forming system

Номер патента: CA3225944C. Автор: FENG Yan,Ziming KOU,Juan Wu,Hulin WANG,Qichao REN,Yanwei PENG,Buwen ZHANG. Владелец: Shanxi Lingxuda Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Soft tissue monitoring device and method

Номер патента: WO2023139394A1. Автор: Shefali BOHRA,Debra BABALOLA,Yukun GE,Himari TAMAMURA. Владелец: Dotplot Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Aerosol generating device and control method thereof

Номер патента: EP4397201A1. Автор: Zhongli XU,Yonghai LI,Linjian HUANG. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Aerosol generating device and heater therefor

Номер патента: EP4434363A1. Автор: Zhongli XU,Yonghai LI,Pengyu Zhuang. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Aerosol generating device and control method thereof

Номер патента: US20240365881A1. Автор: Zhongli XU,Yonghai LI,Linjian HUANG. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Aerosol generation device and control method therefor

Номер патента: EP4399982A1. Автор: Kuan Wang,Zhongli XU,Yonghai LI. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418931A1. Автор: Jaemin Lee,Jongsub Lee,Sangkyu Park,Byungsung CHO. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418932A1. Автор: Jongsub Lee,Sangkyu Park,Byungsung CHO. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Compressed air pipeline power generation device

Номер патента: US20230193877A1. Автор: Qiang Yan. Владелец: Talos Industry Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4422442A1. Автор: Taehun Kim,HyungJin JUNG,Jungho Han,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418934A1. Автор: Taehun Kim,HyungJin JUNG,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418936A1. Автор: Jongsub Lee,Sangkyu Park,Byungsung CHO. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418949A1. Автор: Jongsub Lee,Sangkyu Park,Byungsung CHO. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: US20240306732A1. Автор: Seungwon Lee,Sungwook Yoon,Daenam HAN,Seoksu JANG,Yonghwan Kim. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418926A1. Автор: Taehun Kim,HyungJin JUNG,Jungho Han,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4422449A1. Автор: Taehun Kim,HyungJin JUNG,Jungho Han,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4418933A1. Автор: Jongsub Lee,Sangkyu Park,Byungsung CHO,Wooseok CHUNG,Daenam HAN. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Aerosol-generating device automatically performing heating operation

Номер патента: US12075838B2. Автор: Yong Hwan Kim,Dae Nam HAN,Seung Won Lee,Sung Wook Yoon. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: WO2023219429A1. Автор: Sangkyu Park. Владелец: KT&G CORPORATION. Дата публикации: 2023-11-16.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: CA3233724A1. Автор: Jongsub Lee,Sangkyu Park,Byungsung CHO. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: WO2023219423A1. Автор: Jongsub Lee,Byungsung CHO,Soonhwan JUNG. Владелец: KT&G CORPORATION. Дата публикации: 2023-11-16.

Complex Heating Type Aerosol Generating Device

Номер патента: US20230346025A1. Автор: Seung Kiu Jeong,Hyuk Won. Владелец: Inno It Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: WO2023219426A1. Автор: Jongsub Lee,Byungsung CHO,Soonhwan JUNG. Владелец: KT&G CORPORATION. Дата публикации: 2023-11-16.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: WO2023219425A1. Автор: Jongsub Lee,Byungsung CHO,Soonhwan JUNG. Владелец: KT&G CORPORATION. Дата публикации: 2023-11-16.

Aerosol generation device and control method therefor

Номер патента: EP4140332A1. Автор: Jang Won Seo,Jin Chul Jung,Chul Ho Jang,Gyoung Min Go,Hyung Jin Bae,Jong Seong Jeong,Min Seok Jeong. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-03-01.

Aerosol generation device and control method thereof

Номер патента: US20230225415A1. Автор: Jang Won Seo,Jin Chul Jung,Chul Ho Jang,Gyoung Min Go,Hyung Jin Bae,Jong Seong Jeong,Min Seok Jeong. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: CA3227273A1. Автор: Taehun Kim,HyungJin JUNG,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-04-02.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: CA3233726A1. Автор: Taehun Kim,HyungJin JUNG,Jungho Han,Jueon Park. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

Aerosol generating device and operation method thereof

Номер патента: US11974612B2. Автор: Jong Sub Lee,Dae Nam HAN,Byung Sung Cho,Won Kyeong Lee. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Aerosol-generating device and operation method thereof

Номер патента: EP4266931A1. Автор: Seungwon Lee,Sungwook Yoon,Daenam HAN,Seoksu JANG,Yonghwan Kim. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Aerosol-generating device automatically performing heating operation

Номер патента: EP3869982A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2021-09-01.

Aerosol-generating device automatically performing heating operation

Номер патента: US20220408834A1. Автор: Yong Hwan Kim,Dae Nam HAN,Seung Won Lee,Sung Wook Yoon. Владелец: KT&G Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

AEROSOL-GENERATING DEVICE, AND METHOD OF SELECTING A CONSUMABLE USING THE AEROSOL-GENERATING DEVICE

Номер патента: US20180213847A1. Автор: REEVELL Tony. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

Aerosol-generating device and method for controlling a heater of an aerosol-generating device

Номер патента: US20200367569A1. Автор: Marie Farine. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS SA. Дата публикации: 2020-11-26.

aerosol generating device and method for controlling a heater of an aerosol generating device

Номер патента: BR112020008345A2. Автор: Marie Farine. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS S.A.. Дата публикации: 2020-11-03.

Method, device and system for identifying hydrodynamic parameters of wave power generation device

Номер патента: CN114439673A. Автор: 肖曦,黄宣睿,林泽川. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-05-06.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: US20230278137A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Laser processing device and nozzle inspection method

Номер патента: EP4230339A1. Автор: Kazuhiro Iwata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Automatic inspection device for corrugated paperboard machine, and corrugated paperboard machine

Номер патента: US09452585B2. Автор: Hiroshi Ota,Michio Suzuki. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2016-09-27.

Control machine learning model resource consumption in a vehicle

Номер патента: US20240336272A1. Автор: Rajeev Patwari,Bradley Lester Taylor. Владелец: Rivian IP Holdings LLC. Дата публикации: 2024-10-10.

Pipeline inspection device

Номер патента: US12053807B2. Автор: Gareth Mueckl,Christopher J. Turner,Samuel J. Krohlow. Владелец: Milwaukee Electric Tool Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Print head inspection method, print head inspection device and a printing device

Номер патента: US20070139461A1. Автор: Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Automatic machine control device and automatic machine control method

Номер патента: US20240269836A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Kaichiro Nishi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Device for controlling an inspection device for a wind turbine

Номер патента: CA3055106C. Автор: Johannes Rosen. Владелец: Innogy SE. Дата публикации: 2021-01-19.

Fog and haze removal device and method

Номер патента: NL2029829B1. Автор: Wang XiaoWei,WANG Guangjun,Wang Shusheng,Sun Xiaoquan,Zou Junchen,Ma Changzheng. Владелец: Henan Inst Of Metrology. Дата публикации: 2023-06-13.

Inspection device arrangement for an elevator rope

Номер патента: EP1362001A1. Автор: Vlad Zaharia,Pedro S. Baranda. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2003-11-19.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US09565086B2. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2017-02-07.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Inspection Device, Analysis/Display Device, Inspection Device

Номер патента: US20080191708A1. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-14.

Packet receiving method, deep packet inspection device and system

Номер патента: US09578040B2. Автор: Jiancheng GUO,Zhenggang You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Determining a load distribution for data units at a packet inspection device

Номер патента: US09935883B2. Автор: James M. Rolette,Damon E. Fleury. Владелец: Trend Micro Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Pest-accumulating device and pest-accumulating method

Номер патента: US09510583B2. Автор: Yoshiki Matsumoto,Tetsuya Kondo,Koh-En Yamauchi,Kohsyo Yamauchi. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-12-06.

Portable inspection device

Номер патента: US20230262342A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Portable inspection device

Номер патента: WO2022079690A1. Автор: Robin CAIRNS. Владелец: Cairns Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2022-04-21.

Inspection device for oral tissues or deposits, and inspection auxiliary member

Номер патента: US20240285171A1. Автор: Michiya Fujiki,Ryutaro ASHIDA,Shota Somekawa,Sayaka MATSUZAWA. Владелец: Shinsei Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Intraocular pressure inspection device

Номер патента: US20240130614A1. Автор: Chu-Ming Cheng,Chao-Ting Chen,Shao Hung Huang,Chi-Yuan Kang,Fong Hao Kuo,Yu-Chung TUNG. Владелец: Medimaging Integrated Solution Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Double-skin cryogenic tank equipped with at least one inspection device

Номер патента: US20240093838A1. Автор: Benoit Penven. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-03-21.

Inspection device for conveyor ducts for aeriform media

Номер патента: WO2004013543A1. Автор: Giuseppe Librizzi. Владелец: Al.P. S.R.L.. Дата публикации: 2004-02-12.

Inspection device

Номер патента: US20200365364A1. Автор: Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Hikaru Koyama,Atsuko SHINTANI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-11-19.

Inspection device

Номер патента: US10002740B2. Автор: Takeshi Murakami,Yasushi Toma,Kenji Watanabe,Kenji Terao,Masahiro Hatakeyama,Kenichi Suematsu,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-06-19.

Artificial intelligence/machine learning model identifier usage

Номер патента: WO2024165946A1. Автор: Mihai Enescu,Amaanat ALI,Keeth Saliya JAYASINGHE LADDU,Dimitri GOLD. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-15.

Multi-caliber dimensional inspection device for an assembled cartridge

Номер патента: US20180164085A1. Автор: Paolo MANDELLI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-14.

Network-transmission inspection device and network-transmission inspection method

Номер патента: US20140177453A1. Автор: Fu-Ming KANG. Владелец: WISTRON NEWEB CORP. Дата публикации: 2014-06-26.

Device and method for network traffic classification

Номер патента: WO2024183062A1. Автор: Maolin Chen,Yong Zhao,Dario Rossi,Fuxing CHEN,Kevin FAUVEL,Zigang CAO. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-09-12.

ROBOTIC DEVICE, INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20120201448A1. Автор: INOUE Tomohiro,NAMMOTO Takashi,HASHIMOTO Koichi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-09.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: JP5385703B2. Автор: 中原徳雄,石井寛明. Владелец: NIKKE MACHINE MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-08.

Inspection device, inspection method, and inspection program

Номер патента: JP6682467B2. Автор: 安和 森本,廣美 安井. Владелец: Nagoya Electric Works Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-15.

Inspection device, inspection system, and inspection program

Номер патента: JP2022056088A. Автор: 充 荒幡,Mitsuru Arahata. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

Inspection device, inspection method, and inspection processing program

Номер патента: JP4872438B2. Автор: 林  謙太,敦司 岡沢. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2012-02-08.

Inspection device adjustment method and inspection device

Номер патента: JP7156795B2. Автор: 隆二 長谷川,健二 柳詰,亮志 柏木. Владелец: Saki Corp. Дата публикации: 2022-10-19.

Inspecting device of reticle and inspecting method therefor

Номер патента: JPH102865A. Автор: Toru Tanida,徹 谷田. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1998-01-06.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROMAGNETIC ACTUATOR INSPECTION DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001652A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Automated photography and inspection station

Номер патента: WO2024197250A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers, Inc.. Дата публикации: 2024-09-26.

Capability-based machine learning model quantization

Номер патента: WO2024216618A1. Автор: Tianyang BAI,Yuwei REN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-10-24.