Inspection device and inspection learning model generation device
Номер патента: US20200249206A1
Опубликовано: 06-08-2020
Автор(ы): Masaaki Kano
Принадлежит: JTEKT Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 06-08-2020
Автор(ы): Masaaki Kano
Принадлежит: JTEKT Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Inspection device and inspection learning model generation device
Номер патента: US11604170B2. Автор: Masaaki Kano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-03-14.